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Fiabilidad Industrial
Contenidos
1. Fundamentos estadsticos y modelos de Fiabilidad
2. Estimacin y ensayos
3. Fiabilidad de sistemas
Bibliografa
TEMA 1:
FUNDAMENTOS ESTADISTICOS Y MODELOS DE FIABILIDAD
OBJETIVOS:
CONTENIDOS:
1.
2.
3.
4.
5.
Introduccin
Conceptos bsicos
Cuantificacin de la fiabilidad
Tasa de fallo
Modelos de Fiabilidad
2. Conceptos bsicos
Definicin de Fiabilidad
Conceptos clave:
Unidad: cada uno de los elementos simples o compuestos que son objeto de
estudio.
Misin: Servicio u objetivo que debe ser cumplido por las unidades estudiadas.
Fallo: Cualquier circunstancia que impide que la unidad complete su misin.
xito: Ausencia de fallo durante la misin.
Condiciones: Caractersticas del entorno en que la misin debe desarrollarse.
Edad de una unidad: cualquier forma de medir su actividad pasada.
3. Cuantificacin de la Fiabilidad
Necesitamos una medida numrica de la seguridad de funcionamiento de
un producto, es decir, de la capacidad que tiene para cumplir con xito una
determinada misin. Una medida de sta capacidad es la Funcin de
Fiabilidad (o Funcin de Supervivencia) = R(t).
Funcin de Fiabilidad: Probabilidad de que una unidad cumpla con xito una
misin concreta, desde el instante 1 hasta el instante 2, bajo unas condiciones
dadas:
R(t , t )
1
F (t , t ) 1 R(t , t )
1
R(t1 , t2 ) P(T t2 t1 )
F (t , t ) P(T t t ) 1 R(t , t )
1
Simplificando
R(t ) P(T t )
F (t ) P(T t ) 1 R(t )
4. Tasa
2. de
Cuantificacin
Fallo
de la Fiabilidad
Velocidad de extincin o variacin relativa del nmero de supervivientes en el
instante t. Se relaciona con el n de fallos por ud de tiempo.
(t )
Tasa de Fallo:
f (t )
R (t )
p (t )
Fallos accidentales:
Fallos por
envejecimiento:
e (t )
(t ) p (t ) a e (t )
5. Modelos de Fiabilidad
1. Distribucin Exponencial
Diremos que una variable T (continua y no negativa) sigue una distribucin
Exponencial , T EXP ( ) , si su funcin de densidad es:
f (t ) e t
con
t0 , 0
Funcin de Distribucin:
F (t ) P (T t ) 1 e t
Funcin de Fiabilidad:
R (t ) P (T t ) e t
Valor medio:
E (T )
Varianza:
Var (T )
t1,t 2
Distribucin Weibull
Diremos que una variable T (continua y no negativa) sigue una distribucin de Weibull
, T W ( , , ) , si su funcin de densidad es:
1
(t )
f (t )
e
( )
donde:
t
)
con t 0
Funcin de Distribucin:
Funcin de Fiabilidad:
F (t ) P(T t ) 1 e
R(t ) P (T t ) e
t
)
t
)
Funcin de Distribucin:
(t )
f (t )
e
( )
t
( )
F (t ) P (T t ) 1 e
Funcin de Fiabilidad:
R (t ) P (T t ) e
Valor medio:
E (T ) (1
donde
t
( )
t
( )
Tasas de fallo
Si T EXP ( )
Funcin de densidad :
Funcin de Fiabilidad:
Tasa de Fallo:
f (t ) e t
con
R(t ) P (T t ) e t
(t )
f (t )
R(t )
t0 ,0
constante
Si T W ( 0, , )
(
)
(t )
Funcin de densidad: f (t )
e
( )
Funcin de Fiabilidad:
Tasa de Fallo:
R(t ) P(T t )
(t )
t
( )
e
(t ) 1
f (t )
R (t )
( )
1 decreciente
1 constante
1 creciente
Ejemplos
Ejemplo 1: Modelo Exponencial
TEMA 2:
ESTIMACIN Y ENSAYOS
OBJETIVOS:
CONTENIDOS:
1.
2.
3.
4.
5.
Introduccin
Tipos de Ensayos
Ensayos de estimacin
Ensayos de comparacin
Casos prcticos
1. INTRODUCCIN
El uso de los modelos de fiabilidad presentados en los captulos
anteriores requiere el conocimiento del valor de los parmetros
de los que dependen (tasa de fallo, parmetro de forma,
parmetro de escala).
No existe ningn procedimiento numrico-deductivo que
permita conocer la fiabilidad (o parmetros de los que depende)
de las unidades a estudiar.
Luego slo es posible conseguir dicha informacin por va de la
experimentacin y ensayos.
Se deben tener muy presentes las condiciones de trabajo a las
que estarn sometidos durante su servicio.
Los ensayos pretenden simular el comportamiento del producto
en manos del usuario final.
De la observacin de la vida real de las unidades se deduce que
componentes tericamente iguales tienen comportamientos
distintos al someterlos a unas mismas condiciones
de
funcionamiento. Este hecho es la razn de la necesidad de un
tratamiento estadstico de los datos.
PROCEDIMIENTO RAZONABLE:
2. TIPOS DE ENSAYOS
OBJETIVO de los ensayos en fiabilidad: Conocer el
comportamiento que tendr el producto cuando sea realmente
utilizado y poder estimar los parmetros de los modelos de
fiabilidad utilizados para estudiar la variable aleatoria tiempo hasta
el fallo.
CLASIFICACIN:
a) Por los objetivos:
Ensayos de medida
Ensayos de control
Ensayos de investigacin
Ensayos en condiciones reales de funcionamiento
3. ENSAYOS DE ESTIMACIN
OBJETIVO : Conocer la distribucin de probabilidad que
sigue la vida o tiempo hasta el fallo de las unidades a estudiar.
Para ello se examina una muestra de tamao n de un mismo
tipo de unidades.
3.1 Modelo Exponencial
T
r
r = n de componentes que
han fallado ; (r <= n)
T ti ( n r )t r
1
Con reemplazamiento
T nt r
Estimacin por IC de parmetros
Ensayo censurado o limitado por fallos
Intervalo bilateral
Intervalo unilateral
2T
2 (
2r
tr = t de la componente r (ltima)
2T
2 (1
2r
2T
Cota mnima
22r( )
2T
2 (
2 ( r 21)
2T
22((r)1)
2T
2 (1
2 ( r 1)2
Cota mnima
IC 95 %
286278 286278
;
5473.45 ; 20964.
8.231
31.526
EJEMPLO
100 componentes elegidos al azar son contrastados (sin reemplazamiento) de forma que el test
es detenido cuando han fallado 9 componentes (test censurado o limitado por fallos). Si el
tiempo hasta el fallo en horas fue:
60
115
370
415
508
560
630
820
900
Estmese suponiendo que la variable Tiempo hasta el fallo se distribuye segn un modelo
exponencial:
a. la vida media y la tasa de fallo
b. la fiabilidad a las 5.000 horas
c.
T * EXP( ) E T *
Se trata de un test sin reemplazamiento, por tanto la estimacin puntual del parmetro , ,
se realizar de la forma siguiente:
T
r
T t i (n r )t r
i 1
con n = 100 y r = 9:
T= 60+115+370+415+508+560+630+820+900 + (100-9)900 = 86278 horas
T 86278
9586.44 horas
r
9
0.0001043 fallos / hora
99586.44
2T
2T
2T
IC (1 ) 2 ( / 2 ) ; 2 (1 / 2 )
2r
2r
donde 22(r / 2) y 22(r1 / 2 ) son, respectivamente, los valores que dejan a su derecha un rea de
286278 286278
IC 95 %
;
5473.45 ; 20964.16
8.231
31.526
EJEMPLO
Se desea determinar la fiabilidad de un componente electrnico que se haya en su vida til. Se
someten a ensayo 20 componentes de este tipo. El ensayo es detenido 2500 horas (ensayo
limitado por tiempo) sin que se haya observado el fallo de ningn componente. Basado en este
ensayo y con un nivel de confianza del 90 % es realista esperar que dicho tipo de
componente presente una fiabilidad del 85 % para un ao de operacin normal? Suponer que
el funcionamiento es continuo durante todo un ao.
SOLUCIN
T EXP( ) ET
En primer lugar debemos de calcular el tiempo medio hasta el fallo. Debido a que no ha habido
ningn fallo (r = 0) durante el ensayo no podemos realizar una estimacin puntual del MTBF
del tipo de componente con la expresin:
T
MTBF
r
2T
22((r )1)
Como el nivel de confianza del (1 )100 % 90 % 0.10 . El tiempo acumulado del test
ser:
T = nTr = 202500 = 50000 horas
2T
22((r )1)
250000
21715.53 horas
4.605
R (t ) e
8760
21715 .53
0.6680 0.85
n 50
20 n 50
n 20
Fi (ti )
i
n
i
n 1
i 0.3
Fi (ti )
n 0.4
Fi (ti )
Se representan los pares de ptos ( ti, Fi(ti) ) y si obtenemos una recta podemos
afirmar que la distribucin de la duracin de los componentes sigue un modelo
de Weibull.
Los parmetros tecta y beta se leen en el grfico:
beta en el arco circular graduado
tecta entrando por F(ti) = 0.63 y leyendo sobre la recta el valor en el eje de accisas
TBF
(minutos)
15840
24480
24480
31680
46080
48960
54720
56160
69120
86400
92160
93600
97920
102240
116640
122400
125280
136800
142560
149760
149760
158400
172800
184320
194400
200160
211680
217440
226080
228960
246240
260640
266400
272160
276480
290880
296640
302400
319680
331200
336960
338400
341280
351360
361440
362880
374400
375840
380160
380160
397440
Fi(ti) (%)
0,91
1,82
2,73
3,64
4,55
5,45
6,36
7,27
8,18
9,09
10
10,91
11,82
12,73
13,64
14,55
15,45
16,36
17,27
18,18
19,09
20
20,91
21,82
22,73
23,64
24,55
25,45
26,36
27,27
28,18
29,09
30
30,91
31,82
32,73
33,64
34,55
35,45
36,36
37,27
38,18
39,09
40
40,91
41,82
42,73
43,64
44,55
45,45
46,36
TBF
(minutos)
414720
429120
429120
436320
439200
442080
444960
453600
456480
460800
466560
473760
479520
486720
491040
496800
499680
502560
504000
524160
524160
527040
528480
532800
547200
557280
561600
561600
563040
571680
581760
594720
597600
599040
601920
620640
620640
639360
645120
655200
658080
669600
676800
689760
692640
705600
718560
725760
728640
737280
750240
Fi(ti) (%)
50,91
51,82
52,73
53,64
54,55
55,45
56,36
57,27
58,18
59,09
60
60,91
61,82
62,73
63,64
64,55
65,45
66,36
67,27
68,18
69,09
70
70,91
71,82
72,73
73,64
74,55
75,45
76,36
77,27
78,18
79,09
80
80,91
81,82
82,73
83,64
84,55
85,45
86,36
87,27
88,18
89,09
90
90,91
91,82
92,73
93,64
94,55
95,45
96,36
F(t)
=1.82
= 445103
t(i) minutos
4. ENSAYOS DE COMPARACIN
H 0 : 0
vs H1 : 0
H 0 : 0
vs H1 : 0
H 0 : 0
vs H1 : 0
2T
sigue 22r( )
Donde
T t i (n r )t r
i 1
T ntr
Test de hiptesis
Deseamos comprobar si se verifican determinadas hiptesis establecidas sobre
el valor de algn parmetro.
Tenemos cierto riesgo de cometer un error por el carcter aleatorio de la
informacin
Etapas para la realizacin de un test de hiptesis
Definir una hiptesis (Hiptesis nula, H0): la decisin consiste en aceptarla o
rechazarla a travs de la informacin de la muestra
Definir la hiptesis alternativa, H1: ser aceptada cuando la primera sea rechazada
Tomar una muestra
Aplicar la regla de decisin
Errores de 1 y 2 especie:
Aceptar
Correcto
Verdadera
H0
Rechazar
Error 1 Especie
Aceptar
Error 2 Especie
Falsa
Rechazar
Correcto
EJEMPLO
La fiabilidad de un componente electrnico est siendo investigada. El
objetivo para el MTBF es de superar las 2000 horas. Se someten a ensayo
10 componentes de este tipo. El ensayo es detenido cuando han fallado 2
componentes a las 187 y a las 462 horas (ensayo truncado o limitado por
fallos). Determinar si el tipo de componente ensayado cumple el objetivo
marcado. Se desea utilizar un = 0.05.
SOLUCIN
En primer lugar vamos a estimar el MTBF de forma puntual:
T
r
T t i (n r )t r con n = 10 y r = 2:
i 1
T 4345
2172.5 horas
r
2
Con esta informacin podramos creer que efectivamente el MTBF > 2000 horas que era el
objetivo a alcanzar. Sin embargo, no podemos concluir de esta forma con nuestra
investigacin. Para obtener conclusiones acerca de la poblacin de la cul provienen las
observaciones, necesitamos plantear un contraste de hiptesis del tipo:
libertad nos permite tambin realizar contrastes de hiptesis del tipo H 0 : 0 frente a
H 1 : 0 en la forma habitual, utilizando el valor de T apropiado segn el test sea con o sin
reemplazamiento. Aceptaremos Ho si
2T
0
2T
22r( )
2
Ho
H1
24345
4.345 < 42 (0.05 ) 149.488
.86
2000
2T
Aceptaremos Ho si
2T
182 ( 0.05)
Ho
H1
2T
286278
34.51 > 182 ( 0.05) 28.87
5000
Por tanto no podemos aceptar Ho y debemos aceptar H1. La conclusin del test es que
aceptamos la afirmacin del fabricante.
TEMA 3:
FIABILIDAD DE SISTEMAS
OBJETIVOS:
CONTENIDOS:
1.
2.
3.
4.
5.
Introduccin
Conceptos bsicos
Fiabilidad sistemas serie
Fiabilidad sistemas serie
Fiabilidad sistemas generales
Sistemas Serie
RS = R1 R2 ... Rn
45
Sistemas Paralelo
1
2
Sistemas Serie-Paralelo
C
RA
RB
RC
RD
D
C
RC
RB
RD
C
RC = 1 (1
(1--RC)(1
)(1--RC)
Series system:
an example
Series system:
an example
Parallel system:
an example
PROBLEMA
El circuito de encendido de un quemador industrial de un horno de rodillos para la coccin de
baldosas cermicas est compuesto por un subsistema de dos electrovlvulas (A y B
conectadas en paralelo) conectado en serie a otra electrovlvula (C). El tiempo hasta el fallo
de las tres electrovlvulas sigue la siguiente distribucin:
Electrovlvulas A y B: distribucin exponencial de media 72000 horas.
Electrovlvula C: distribucin exponencial de media desconocida.
3) El nuevo proveedor afirma que la vida media de dichos componentes que fabrica es
estrictamente mayor que 4500 horas. es aceptable dicha afirmacin?.
SOLUCION
Sea T la variable aleatoria continua no negativa duracin o tiempo hasta el fallo del
componente en horas. T sigue un modelo exponencial de valor medio :
T EXP( ) ET
MTBF
A
C
B
5000
) 0.933
72000
0.9218
0.926
1 (1 0.933) 2
Ln(0.926)
0.00001538 fallos / hora
5000
MTBF
1
65035.54 horas
0.00001538
PROBLEMA N
Una empresa del sector cermico est plantendose adquirir una nueva planta de
fabricacin para producir un nuevo tipo de baldosa cermica. La planta consta de una
planta de atomizacin, cuatro lneas de prensado, secado y esmaltado y un horno de
rodillos monococcin. La configuracin de la planta es la que aparece en la figura:
Horno monococcin
Lnea Prensado, secado y esmaltado 3
0.85
0.90
0.87
0.92
0.89
0.90
SOLUCION
MTBF
MTBF MTTR
Sabemos que la planta se haya en su periodo de vida til y por ello la distribucin del
tiempo hasta el fallo puede ser modelizada mediante el modelo exponencial.
Ln0.7648
3.0610 5 fallos por hora
8760
MTBF
100000
32669.4 horas entre fallos
3.06
1
) 16(1 ) 16(1.5) 160.88623 14.18 horas
Disponibilidad =
MTBF
32669.4
0.9995
MTBF MTTR 32669.4 14.18