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2006
Fig. 1b
Figura 1. Esquema de fotoefecto en el tomo de titanio. (a) Generacin de hueco en la rbita K del tomo;
(b) Emisin de fotones por el tomo en la capa K y K
El bombardeo de los tomos con fotones de energa suficientemente alta hace que los electrones
de las rbitas internas de los tomos salten al exterior tal como se muestra en la Figura 1a. Este
proceso se llama efecto fotoelctrico y genera la formacin de un in positivo atmico. Los
electrones de las orbitas externas de este in se desplazan a ocupar la vacante en orbitas internas, as el exceso de energa se libera en forma de un fotn de rayos X secundario. De esta manera se inicia una serie de desplazamientos de electrones de las rbitas externas a las internas.
La emisin de fotones de series K se presenta en la Figura 1b. Los detectores de rayos X recogen todos los fotones emitidos por muestra y analizan sus energas. La energa de fotones secundarios emitidos por la muestra es nica para los tomos que la componen. Al ser energas
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de los distintos niveles electrnicos caractersticas para cada tipo de tomos, la radiacin X
emitida ser caracterstica para cada elemento, y, en principio, no depender de la sustancia
qumica en la que se encuentre, ya que, en general, estas radiaciones estn originadas por transiciones entre los niveles electrnicos internos, cuyas energas no se ven afectadas por el tipo de
enlace existente. Analizando la intensidad de diferentes lneas presentes en espectro de rayos X
emitidos por muestra se puede identificar la composicin atmica de la muestra.
Existen tres tipos bsicos de instrumentos de fluorescencia de rayos X: los dispersivos de longitud de onda, los dispersivos de energas y los no dispersivos.
2. Anlisis cualitativo y cuantitativo
Anlisis cualitativo: la FRX es utilizada para llevar a cabo anlisis cualitativos de
muestras slidas (filtros, metales, rocas, muestras en polvo, tejidos, etc.), sin preparacin de la
muestra. El nico requisito es que sta tenga un tamao inferior al del portamuestras. Con un
tiempo de anlisis entre quince minutos para los elementos mayoritarios y treinta minutos para
los minoritarios y las trazas, se puede encontrar presencia en la muestra de todos los elementos
de la tabla peridica con un peso atmico superior o igual al del flor. La cuantificacin de los
elementos en un material se realiza mediante la comparacin con una recta de calibracin confeccionada. La informacin cualitativa (Figura 2) se puede convertir en datos semicuantitativos
midiendo cuidadosamente las alturas de los picos.
Anlisis cuantitativo: los instrumentos modernos de fluorescencia de rayos X son capaces de
proporcionar anlisis cuantitativos de materiales complejos con una precisin que iguala o supera la de los mtodos qumicos clsicos por va hmeda o la de los otros mtodos instrumentales. Sin embargo, para la precisin del anlisis se requiere disponer de estndares de calibrado
que se aproximen lo mas posible a las muestras tanto en composicin qumica como fsica o
bien de mtodos adecuados para considerar los efectos de la matriz.
Figura 2. Espectro de fluorescencia de rayos X de un billete de banco autntico registrado con espectrmetro dispersivo de longitudes de onda.
Anlisis semicuantitativo: generalmente los espectrmetros vienen equipados con software para
el anlisis semicuantitativo en todo tipo de muestras, con la capacidad de identificar elementos
de peso atmico superior o igual al Boro, este permite la correccin de las interferencias espectrales que puedan presentarse y los efectos de la matriz en parmetros fundamentales. Estn
excluidos el H, Li, 61Pm, 43Tc, 84Po, 85At, los gases nobles (excepto el argn) y los actnidos del
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Ac al 103Lr (excepto 90Th y 92U).
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Anlisis y discusin
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