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REVISTA COLOMBIANA DE FSICA, VOL. 38, No. 2.

2006

ESPECTROMETRIA DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X


D. Martnez B1, O. D. Gil Novoa1, A. J. Barn Gonzlez1
1
Escuela de Fsica, Universidad Pedaggica y Tecnolgica de Colombia, Tunja, Grupo Fsica
de Materiales
(Recibido 16 de Sep.2005; Aceptado 27 de Mar. 2006; Publicado 16 de Jun. 2006)
RESUMEN
La espectrometra de rayos x es un conjunto de tcnicas que permiten detectar y cuantificar la
composicin de una muestra de material desconocido irradindola con Rayos X, se caracteriza por
el hecho de que la radiacin resultante del anlisis se descompone en sus diferentes longitudes de
onda o espectros para el anlisis sobre los elementos o compuestos que contiene la muestra. Los
Rayos X de fluorescencia tienen una longitud de onda mayor que la de los Rayos X primarios, estos son caractersticos del material irradiado o radiador; su emisin siempre va acompaada de fotoelectrones y las longitudes de onda de estos rayos son independientes de la longitud de onda de
la radiacin primaria.1

Palabras claves: espectrometria, fluorescencia, rayos x.


ABSTRAC
X Ray Spectrometry is a set of techniques that allows to detect and quantify the sample composition of unknown material by its irradiation with X Rays. This technique is characterized by the fact
that the resulting radiation from the analysis is decomposed in its different wavelengths or spectra
for the analysis on the elements or compounds that the sample contains. The fluorescent X Rays
have a wavelengths greater than those of primary X Rays, these are characteristic of irradiated or
radiator material, their emission are always accompanied by photoelectrons and the wavelengths of
this rays are independent from the primary radiation wavelengths.1

Keywords: Spectrometry, fluorescent, X Ray


Introduccin
Los mtodos espectroscpicos se basan en las transiciones que se producen entre los diferentes
estados energticos de los tomos o las molculas como consecuencia de la interaccin entre la
materia y una radiacin electromagntica de determinada energa. En este sentido, un espectro
es una representacin de la distribucin de intensidad de la radiacin electromagntica que ha
sido emitida o absorbida por una muestra de una sustancia en funcin de la longitud de onda (la
frecuencia la energa del fotn) de dicha radiacin. Existen, por lo tanto, espectros de emisin
y de absorcin.
De acuerdo con la cuantizacin de la energa, la energa absorbida o emitida por un sistema
depende nicamente de la separacin entre los niveles de energa inicial y final entre los que se
verifica el salto del electrn. Un sistema material, constituido por molculas, puede tener diferentes tipos de niveles de energa, entre otros: la energa de vibracin, la energa de rotacin, la
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energa electrnica y la energa de orientacin de los espines respecto a un campo magntico


externo.
En el campo de rayos X son muy interesantes los espectros de fluorescencia por el gran potencial analtico (qumico) que poseen, ya que los rayos X producen fluorescencia en determinados
materiales.
1. Descripcin de la tcnica
La fluorescencia de rayos X (FRX) es una tcnica espectroscpica que utiliza la emisin secundaria o fluorescente de radiacin X generada al excitar una muestra con una fuente de radiacin
X. La energa absorbida por los tomos de la muestra genera la produccin de rayos X secundarios, de fluorescencia emitidos por la muestra. Estos rayos X secundarios tienen una intensidad proporcional a la concentracin de cada elemento de la muestra, por ello, al cuantificar
esta radiacin se determina la cantidad de cada elemento presente en la muestra. Ello se debe a
que la radiacin X incidente o primaria expulsa electrones de capas interiores del tomo. Los
electrones de capas ms externas ocupan los lugares vacantes, el exceso energtico resultante de
esta transicin se disipa en forma de fotones, radiacin X fluorescente o secundaria, con una
longitud de onda caracterstica que depende del gradiente energtico entre los orbitales electrnicos implicados y, una intensidad directamente relacionada con la concentracin del elemento
en la muestra. La FRX es la tcnica empleada, normalmente, cuando se quiere conocer con
rapidez la composicin elemental exacta de una sustancia, pues permite determinar todos los
elementos del sistema peridico, desde el flor hasta el uranio, en muestras slidas, en polvos y
en lquidos. As mismo mediante la utilizacin de patrones adecuados es posible realizar el
anlisis cuantitativo de los elementos presentes.2 En la FRX el anlisis de los espectros de emisin es cualitativo para elementos qumicos con nmero atmico mayor de 4 (berilio)3.
Fig. 1a

Fig. 1b

Figura 1. Esquema de fotoefecto en el tomo de titanio. (a) Generacin de hueco en la rbita K del tomo;
(b) Emisin de fotones por el tomo en la capa K y K

El bombardeo de los tomos con fotones de energa suficientemente alta hace que los electrones
de las rbitas internas de los tomos salten al exterior tal como se muestra en la Figura 1a. Este
proceso se llama efecto fotoelctrico y genera la formacin de un in positivo atmico. Los
electrones de las orbitas externas de este in se desplazan a ocupar la vacante en orbitas internas, as el exceso de energa se libera en forma de un fotn de rayos X secundario. De esta manera se inicia una serie de desplazamientos de electrones de las rbitas externas a las internas.
La emisin de fotones de series K se presenta en la Figura 1b. Los detectores de rayos X recogen todos los fotones emitidos por muestra y analizan sus energas. La energa de fotones secundarios emitidos por la muestra es nica para los tomos que la componen. Al ser energas
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de los distintos niveles electrnicos caractersticas para cada tipo de tomos, la radiacin X
emitida ser caracterstica para cada elemento, y, en principio, no depender de la sustancia
qumica en la que se encuentre, ya que, en general, estas radiaciones estn originadas por transiciones entre los niveles electrnicos internos, cuyas energas no se ven afectadas por el tipo de
enlace existente. Analizando la intensidad de diferentes lneas presentes en espectro de rayos X
emitidos por muestra se puede identificar la composicin atmica de la muestra.
Existen tres tipos bsicos de instrumentos de fluorescencia de rayos X: los dispersivos de longitud de onda, los dispersivos de energas y los no dispersivos.
2. Anlisis cualitativo y cuantitativo
Anlisis cualitativo: la FRX es utilizada para llevar a cabo anlisis cualitativos de
muestras slidas (filtros, metales, rocas, muestras en polvo, tejidos, etc.), sin preparacin de la
muestra. El nico requisito es que sta tenga un tamao inferior al del portamuestras. Con un
tiempo de anlisis entre quince minutos para los elementos mayoritarios y treinta minutos para
los minoritarios y las trazas, se puede encontrar presencia en la muestra de todos los elementos
de la tabla peridica con un peso atmico superior o igual al del flor. La cuantificacin de los
elementos en un material se realiza mediante la comparacin con una recta de calibracin confeccionada. La informacin cualitativa (Figura 2) se puede convertir en datos semicuantitativos
midiendo cuidadosamente las alturas de los picos.
Anlisis cuantitativo: los instrumentos modernos de fluorescencia de rayos X son capaces de
proporcionar anlisis cuantitativos de materiales complejos con una precisin que iguala o supera la de los mtodos qumicos clsicos por va hmeda o la de los otros mtodos instrumentales. Sin embargo, para la precisin del anlisis se requiere disponer de estndares de calibrado
que se aproximen lo mas posible a las muestras tanto en composicin qumica como fsica o
bien de mtodos adecuados para considerar los efectos de la matriz.

Figura 2. Espectro de fluorescencia de rayos X de un billete de banco autntico registrado con espectrmetro dispersivo de longitudes de onda.

Anlisis semicuantitativo: generalmente los espectrmetros vienen equipados con software para
el anlisis semicuantitativo en todo tipo de muestras, con la capacidad de identificar elementos
de peso atmico superior o igual al Boro, este permite la correccin de las interferencias espectrales que puedan presentarse y los efectos de la matriz en parmetros fundamentales. Estn
excluidos el H, Li, 61Pm, 43Tc, 84Po, 85At, los gases nobles (excepto el argn) y los actnidos del
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Ac al 103Lr (excepto 90Th y 92U).
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La FRX permite la determinacin de la composicin de aleaciones que contengan hasta cuatro


elementos, la composicin y el grosor de una capa elemental, binaria o ternaria y el grosor de
dos o tres capas elementales.
3.

Anlisis y discusin

Ventajas del mtodo XRF. El anlisis es no destructivo, la interpretacin de resultados es


simple, permite diferentes tamaos de muestras y facilita el anlisis de multicomponentes complejos en pocos minutos.
Desventajas. Necesidad de patrones, limitada sensitividad del mtodo en la deteccin de los
elementos ligeros (el numero atmico mnimo es 6 carbono)
4. Conclusiones
La seleccin apropiada de estndares de calibracin es fundamental en la aplicacin de FRX,
esta es un mtodo no destructivo en el sentido en que la muestra no sufre daos durante el anlisis. Frecuentemente no es necesaria la toma de muestras; el equipo puede ser dispuesto para
acomodar objetos de grandes dimensiones. Las muestras analizadas pueden volver a analizarse
las veces que se desee sin que sufran daos. Existen ciertas limitacin a este carcter no destructivo, ya que ciertos materiales pueden deteriorarse cuando estn sometidos durante largos
pedidos a una intensa radiacin con rayos X. As, determinados minerales, vidrios, cermicas y
otros materiales inorgnicos pueden llegar a adquirir un color, normalmente pasajero, distinto
del original. Existen pocos mtodos analticos que permitan variedad de formas y tipos de
muestras como la FRX. Las muestras pueden estar en forma de slidos, pastillas, polvos, lquidos y pelculas finas. El material puede ser metal, mineral, cermico, vidrio, plstico, tela, papel, o prcticamente cualquier tipo. La forma y el tamao pueden ser muy variables.
Referencias
[1] BERMUDEZ P. J., Teora y Prctica de la Espectroscopia de Rayos X.. Primera Edicin, Editorial
Alhambra S.A., Espaa. 1967.
[2] WILLARD Hobart h., LYNNE L. Herrit, DEAN Jhon A., Mtodos Instrumentales de Anlisis, Compaa editorial S.A. Mxico 1977.
[3] SKOOG Douglas A., LEARY James J, Anlisis instrumental, Cuarta edicin, McGraw-Hill, Espaa
2004, Pg. 436.

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