MANUAL

DE
PROYECTOS
EN
PTICA

1
2
 MANUAL DE PROYECTOS
EN PTICA
Creado por el equipo tcnico de Newport Corporation
con el apoyo del Dr. Donald C. OShea de School of
Physics en el Georgia Institute of Technology

3
4
 TABLA DE CONTENIDOS
PREFACIO ........................................................................................................................................ 7
TEXTO ELEMENTAL.......................................................................................................................... 9
0.1. ptica Geomtrica ............................................................................................................... 9
0.2. Ecuacin de las lentes delgadas ......................................................................................... 15
0.3. Difraccin ........................................................................................................................... 18
0.4 Interferencia ....................................................................................................................... 26
0.5. Polarizacin ........................................................................................................................ 32
0.6. Lseres............................................................................................................................... 40
0.7 Teora de Abbe de Formacin de Imgenes. ...................................................................... 55
ENSAMBLE DE COMPONENTES..................................................................................................... 63
Ensamble Dirigidor de Haz: (BSA-I) ........................................................................................... 64
Ensamble Dirigidor de Haz Modificado: (BSA-III)...................................................................... 66
Ensamble Dirigidor de Haz Modificado (BSA-II)........................................................................ 68
Ensamble de Objetivo (TA-I) ..................................................................................................... 69
Ensamble de Objetivo Modificado (TA-II) ................................................................................. 70
Ensamble de Lentes (LCA) ......................................................................................................... 71
Ensamble de Plataforma de Rotacin (RSA-I) ........................................................................... 72
Ensamble de lser (LA) .............................................................................................................. 73
SECCION DE PROYECTOS............................................................................................................... 75
1.1 Proyecto # 1: Las leyes de la ptica geomtrica. ................................................................ 75
1.2 Proyecto # 2: La ecuacin de las lentes delgadas. .............................................................. 84
1.3 Proyecto # 3: Expansin de un haz de lser. ...................................................................... 89
1.4 Proyecto #4: Difraccin por aberturas circulares .............................................................. 95
1.5 Proyecto # 5: Difraccin por una rendija e interferencia de doble rendija. ..................... 101
1.6 Proyecto # 6: El interfermetro de Michelson. ................................................................ 107
1.7 Proyecto # 7: Coherencia y lseres. .................................................................................. 112
1.8 Proyecto # 8: Polarizacin de la luz. ................................................................................. 116
1.9 Proyecto # 9: Birrefringencia de materiales. .................................................................... 123
1.10 Proyecto # 10: Teora de Abbe de formacin de imgenes. .......................................... 127

5
6
 PROYECTOS EN OPTICA

PREFACIO

El Kit de proyectos en ptica es un paquete de equipo de laboratorio que contiene todas las
componentes pticas y opto-mecnicas necesarias para realizar un conjunto de experimentos
que proporcionarn a los estudiantes los conocimientos bsicos de ptica y la experiencia
prctica en tcnicas de laboratorio. Los proyectos propuestos cubren un ancho rango de tpicos
que van desde teora bsica de lentes hasta interferometra y teora de formacin de imgenes.
El Manual de Proyectos en ptica ha sido desarrollado por el equipo tcnico de Newport
Corporation y el Profesor Donald C. OShea, para proporcionar a los educadores los medios
convenientes para estimular el inters y la creatividad de sus estudiantes.

Este manual comienza con una descripcin de las diversas componentes y ensambles mecnicos
que sern usados en diversas combinaciones para cada experimento. Adems, esas componentes
pueden ensamblarse en muchas otras configuraciones que permitirn el diseo y la ejecucin de
experimentos ms complejos. Uno de los beneficios de construir esos experimentos usando un
banco ptico (algunas veces llamado mesa ptica) y las componentes pticas estndares, es que
el estudiante puede ver que estas componentes se usan en gran variedad de circunstancias
diferentes para resolver problemas experimentales particulares, en vez de estar frente a un
artculo que realiza una sola tarea en una sola forma.

El Texto Elemental relaciona diversos fenmenos pticos con los diez proyectos en este manual.
La descripcin de cada proyecto contiene un planteamiento de objetivos que puntualiza el
fenmeno que se va a medir, los principios pticos que estn siendo estudiados, una breve
exposicin de las ecuaciones relevantes que gobiernan el experimento o referencias a la seccin
apropiada del Texto Elemental, una lista de todo el equipo necesario y un conjunto de
instrucciones paso a paso que guiarn al estudiante a travs del ejercicio de laboratorio. Despus
de la descripcin detallada del experimento, est una lista de experimentos algo ms elaborados
que extendern los conceptos bsicos ya explorados. La facilidad con la cual pueden hacerse esos
experimentos adicionales depender de los recursos con que se cuente y de la inventiva del
instructor y del estudiante.

La lista de equipo para los experimentos individuales se da en trminos de las componentes que
se requieren para construir los ensambles y de otros elementos que son parte del kit de
proyectos. Otros artculos requeridos, tales como cintas mtricas, reglas o pantallas pueden ser
proporcionados por el instructor o pueden obtenerse fcilmente. Otros ms, para los
experimentos elaborados, pueden ser algo ms difciles de conseguir, pero muchos se
encuentran en la mayora de los laboratorios de programas de licenciatura. Los estudiantes

7
deben entender que el propsito del equipo es conseguir datos confiables, usando cualquier cosa
que se requiera. Puede permitirse al estudiante tener cierta ingenuidad al resolver algunos de
los problemas, pero si sus elecciones afectaran materialmente sus datos, un instructor debe estar
preparado para intervenir.

Se intenta que estos experimentos sean usados por instructores de estudiantes los primeros aos
de ingeniera y ciencias fsicas o en un curso avanzado de laboratorio en una escuela preparatoria.
Los proyectos siguen el perfil general de estudio encontrado en la mayora de los libros de texto,
aunque algo del material sobre lseres y formacin de imgenes se aparta del currculo estndar
de hoy en da. Ellos deberan encontrar su mayor aplicabilidad como auxiliares instruccionales
para reforzar los conceptos enseados en esos libros.

NOTA DEL TRADUCTOR: Este manual es una traduccin del PROJECTS IN OPTICS WORKBOOK
obtenido como parte del PROJECTS IN OPTICS KIT de la compaa Newport Corporation y
adquirido por el Laboratorio de ptica de la FACULTAD DE CIENCIAS FSICO MATEMTICAS de la
BENEMRITA UNIVERSIDAD AUTNOMA DE PUEBLA. Esta traduccin se realiza con fines
estrictamente educativos y para uso interno del laboratorio.

8
 TEXTO ELEMENTAL

La ptica es un rea de estudio fascinante. En muchas reas de la ciencia y la ingeniera, el

entendimiento de los conceptos y efectos relacionados con dichas reas puede ser difcil debido
a que sus resultados no son fciles de reproducir. Pero en la ptica, se puede ver exactamente lo
que est pasando, se pueden variar las condiciones y ver los resultados. Este Texto Elemental
intenta proporcionar una introduccin a las 10 demostraciones y proyectos contenidos en este
Manual de Proyectos en ptica. Al final del texto se da una lista de referencias que pueden
proporcionar fundamentos adicionales.

0.1. ptica Geomtrica

No hay necesidad de convencer a nadie de que la luz viaja en lnea recta; cuando vemos los rayos
de sol pasar entre las hojas de un rbol en la niebla de la maana, confiamos en que nuestra vista
no nos engaa. La idea de rayos de luz viajando en lneas rectas a travs del espacio es correcta
mientras la longitud de onda de la radiacin sea mucho ms pequea que las ventanas, pasajes,
y agujeros que puedan restringir el camino de la luz. Cuando esto no se cumple, debe
considerarse el fenmeno de difraccin y debe calcularse su efecto sobre la direccin y el patrn
de la radiacin propagada. Sin embargo, en una primera aproximacin, cuando la difraccin
puede ser ignorada, podemos considerar que el avance de la luz a travs de un sistema ptico
puede trazarse siguiendo trayectorias en lnea recta o rayos de luz. Este es el dominio de la ptica
geomtrica.
Parte de la belleza de la ptica, como sucede en un buen juego, es que las reglas son tan simples,
las consecuencias tan variadas y a veces elaboradas, que uno nunca se cansa de jugar. La ptica
Geomtrica puede expresarse como un conjunto de tres leyes:
1. La ley de transmisin.
En una regin de ndice de refraccin constante, la luz viaja en lnea recta.
2. La ley de Reflexin
La luz que incide sobre una superficie plana a un ngulo con respecto a la normal a la
superficie es reflejada en un ngulo igual al ngulo incidente (Fig. 0.1).
= (0-1)

3. La ley de Refraccin (ley de SneIl)

La luz en un medio de ndice de refraccin , incidente sobre una superficie plana con un

9
 ngulo con respecto a la normal es refractada con un ngulo en un medio de ndice
de refraccin nt como (Fig. 0.1):

sin = sin (0-2)

Fig. 0.1 Reflexin y refraccin de luz en una interfase

Un corolario de esas tres reglas es que los rayos incidente, reflejado y transmitido, y la normal a
la interfase, todos ellos estn en un mismo plano, llamado plano de incidencia, el cual se define
como el plano que contiene la normal a la superficie y la direccin del rayo incidente.
Nota que la tercera de esas ecuaciones no est escrita como una razn de funciones seno, como
suele verse en los primeros estudios, sino como un producto de sin . Esto se debe a que en
esta forma la ecuacin no es ambigua con respecto a cul ndice de refraccin corresponde a qu
ngulo. Si se recuerda as, nunca habr dificultades al tratar de terminar qu ndice va en qu
lugar al resolver para los ngulos. El Proyecto # 1 te permitir verificar las leyes de la reflexin y
la refraccin.
Un caso especial debe considerarse si el ndice de refraccin del medio incidente es mayor que
el del medio de transmisin ( > ). Resolviendo para obtenemos
(0-3)
sin = sin

En este caso, ( / ) > 1, y sin puede ir de 0 a 1. De esta forma, para ngulos grandes de
parecera que tenemos sin > 1. Pero sin debe ser tambin menor que 1, as que hay un
ngulo crtico = donde sin = ( / ) y sin = 1. Esto significa que el rayo transmitido

10
est viajando perpendicularmente a la normal (es decir, paralelo a la interfase) como muestra el
rayo # 2 en la Fig. 0.2. Para ngulos de incidencia mayores que no hay luz transmitida: la luz
se refleja totalmente hacia el medio incidente (observa el rayo # 3, Fig. 0.2). Este efecto se llama
reflexin total interna y ser usado en el Proyecto # 1 para medir el ndice de refraccin de un
prisma.

Como se ilustra en la Fig. 0.3, los prismas pueden proporcionar espejos altamente reflectantes,
no absorbentes, explotando la reflexin total interna.

Fig. 0.2 Tres rayos incidentes a ngulos cercanos o al ngulo crtico.

-
Fig. 0.3 Reflexin total interna en prismas.

11
La reflexin total interna es la base para la transmisin de la luz a travs de fibras pticas.
Nosotros no cubrimos el diseo de sistemas de fibra ptica en este manual porque la aplicacin
se ha vuelto altamente especializada y est ms cercanamente ligada a la teora moderna de
comunicaciones que a la ptica geomtrica. Un manual y una serie de experimentos sobre fibras
pticas estn disponibles en Newport en nuestros Proyectos en fibras pticas.

Lentes

En la mayora de los diseos pticos, las componentes para la formacin de imgenes las
lentes y los espejos curvos son simtricas con respecto a una lnea, llamada eje ptico. Cada
una de las superficies curvas de una lente tiene un centro de curvatura. Una lnea imaginaria
entre los centros de curvatura de las dos superficies de la lente establece el eje ptico, como se
muestra en la Fig. 0.4. En la mayora de los casos se supone que el eje ptico de todas las
componentes es el mismo. Esta lnea establece una referencia para el sistema ptico.

Fig.- 0.4 El eje ptico de una lente.

Al dibujar rayos a travs de una serie de lentes, uno puede determinar cmo y dnde se formar
la imagen. Hay convenciones para el trazo de rayos y aunque no son universalmente aceptadas,
esas convenciones son tan usadas que es conveniente adoptarlas para bosquejar y hacer clculos.

1. El objeto se coloca a la izquierda del sistema ptico. La luz se traza a travs del sistema de
izquierda a derecha hasta que una componente de reflexin altera la direccin general.
Aunque uno podra dibujar algn objeto reconocible para obtener su imagen con el
sistema, el ms simple es una flecha vertical. (La imagen de la flecha formada por el
sistema ptico, indica si las imgenes subsecuentes estarn derechas o invertidas con
respecto al objeto original y las otras imgenes.) Si suponemos que la luz del objeto viaja

12
 en todas direcciones, podemos dibujar una fuente resplandeciente de rayos desde
cualquier punto sobre la flecha. La imagen se forma donde todos los rayos del punto, que
son redirigidos por el sistema ptico, otra vez convergen a un punto.
Uno de los dispositivos ms simples para formar imgenes es la lente positiva. Si el objeto
se coloca muy lejos (en el infinito, es el trmino usual), los rayos provenientes del objeto
son paralelos al eje ptico y producen una imagen en el punto focal de la lente, a una
distancia f de la lente (la distancia f es la distancia focal), como se muestra en la Fig. 0.5(a).
Una lente negativa tambin tiene un punto focal, como se muestra en la Fig. 0.5(b). Sin
embargo, en este caso, los rayos paralelos no convergen a un punto, sino que parecen
divergir de un punto a distancia f al frente de la lente.

2. Un rayo de luz paralelo al eje ptico de una lente pasar, despus de la refraccin, a travs
del punto focal a una distancia f del vrtice de la lente.

3. Un rayo de luz que pase a travs del punto focal de una lente ser refractado paralelo al
eje ptico.

Fig. 0.5 Enfocamiento de luz paralela por lentes positiva y negativa

13
4. Un rayo de luz dirigido hacia el centro de la lente no se desva.
La formacin de una imagen con una lente positiva se muestra en la Fig. 0.6. Nota que los
rayos se cruzan en un punto en el espacio. Si pusiera una pantalla en ese punto vera la
imagen en foco ah. Debido a que la imagen puede encontrarse en un plano accesible en
el espacio, es llamada imagen real. Para una lente negativa, los rayos de un objeto no se
cruzan despus de la transmisin, como se muestra en la Fig. 0.7, sino que parecen venir
de algn punto detrs de la lente. Esta imagen, la cual no puede observarse sobre una
pantalla en algn punto en el espacio es llamada imagen virtual. Otro ejemplo de imagen
virtual es la imagen que ves en el espejo del bao en las maanas. Uno puede tambin
producir una imagen virtual con una lente positiva, si el objeto se coloca entre el vrtice
y el punto focal. Las etiquetas real y virtual no implican que un tipo de imagen es til
y el otro no, simplemente indican si los rayos redirigidos por el sistema ptico convergen
o no.
La mayora de los sistemas pticos contienen ms de una lente o espejo. Las
combinaciones de elementos no son difciles de manejar de acuerdo a la siguiente regla:

5. La imagen del objeto original producida por el primer elemento se convierte en el objeto
para el segundo elemento. El objeto de cada elemento adicional es la imagen del
elemento previo.
Se pueden manejar sistemas ms elaborados de manera similar a lo anterior; en muchos
casos estos sistemas pueden dividirse en sistemas ms simples que pueden ser manejarse
separadamente, en principio, y unirse despus.

Fig. 0.6. Formacin de la imagen de un objeto puntual por una lente positiva.
Una imagen real invertida respecto al objeto es formada por la lente.

14
 Fig. 0.7. Formacin de la imagen de un objeto puntual por una lente negativa.
Una imagen virtual derecha respecto al objeto es formada por la lente.

0.2. Ecuacin de las lentes delgadas

Hasta aqu no hemos utilizado ningn nmero con los ejemplos que hemos mostrado. Ante la
existencia de mtodos grficos para evaluar un sistema ptico, el trazo de rayos solamente se
usa como un bosquejo. Es a travs del clculo como podemos especificar los componentes
necesarios, modificar los valores iniciales, y entender las limitaciones del diseo.
Los rayos trazados cerca del eje ptico de un sistema, aquellos que tienen un ngulo pequeo
con respecto al eje, son los que pueden calcularse ms fcilmente debido a algunas
aproximaciones simples que pueden hacerse en esta regin. Esta aproximacin se llama
aproximacin paraxial, y los rayos se llaman rayos paraxiales.
Antes de proceder, debe plantearse un conjunto de convenciones para los signos en los
clculos con lentes delgadas para consideraciones posteriores. Las convenciones usadas aqu son
aquellas que se usan en la mayora de los textos de preparatoria y de licenciatura en fsica. Estas
no son las convenciones usadas por la mayora de los ingenieros pticos. Es desafortunado, pero
sta es una de las dificultades que se encuentran en muchos campos de la tecnologa. Nosotros
usamos un sistema coordenado estndar derecho, con la luz propagndose generalmente a lo
largo del eje z.

1. La luz inicialmente viaja de izquierda a derecha en direccin positiva.

2. Las distancias focales de los elementos convergentes son positivas; los elementos

15
 divergentes tienen distancias focales negativas.
3. Las distancias de los objetos son positivas si el objeto est colocado a la izquierda de una
lente y negativas si est colocado a la derecha de la lente.
4. Las distancias de las imgenes son positivas si la imagen se encuentra a la derecha de una
lente y negativas si se encuentra a la izquierda de la lente.

Fig. 0.8. Geometra para una derivacin de la ecuacin de las lentes delgadas.

Podemos derivar la relacin objeto-imagen para una lente. Con referencia a la Fig. 0.8, usemos
dos rayos de un objeto puntual fuera del eje, uno paralelo al eje, y uno a travs de la distancia
focal. Cuando los rayos son trazados, forman un conjunto de tringulos semejantes ABC y BCD.
En ABC,
+ (0-4a)
=

Y en BDC

+ (0-4b)
=

Sumando esas dos ecuaciones y dividiendo entre + obtenemos la ecuacin de las lentes
delgadas
1 1 1 (0-5)
= +

16
Resolviendo las ecuaciones 0-4 a y 0-4 b para + puedes mostrar que la amplificacin
transversal o amplificacin lateral, , de una lente delgada, es decir, la razn de la altura de la
imagen y la altura del objeto , es simplemente la razn de la distancia a la imagen sobre la
distancia al objeto:
(0-6)
= =

Con la inclusin del signo negativo en la ecuacin, esta razn no solo da el tamao de la imagen
final, su signo tambin indica la orientacin de la imagen con respecto al objeto: el signo negativo
indica que la imagen est invertida con respecto al objeto. La amplificacin axial o longitudinal,
es decir, la amplificacin de una distancia entre dos puntos sobre el eje, puede ser mostrada
como el cuadrado de la amplificacin transversal o lateral.

1 = 2 (0-7)

Al referirnos a la amplificacin transversal, usaremos una sin subndice.

La relacin entre imagen y objeto en una lente de distancia focal positiva es la misma para todas
las lentes: Si comenzamos con un objeto en el infinito, encontramos, de la Ec. 0.5 que la imagen
real est localizada en el punto focal de la lente (1/ = 0, de esta forma = ), y a medida que
el objeto se aproxima a la lente, la distancia imagen se incrementa hasta que alcanza el punto
2 al otro lado de la lente. En este punto, el objeto y la imagen son del mismo tamao y estn a
la misma distancia de la lente. Conforme el objeto se mueve de 2f a f, la imagen se mueve de 2f
a infinito. Un objeto colocado entre una lente positiva y su punto focal forma una imagen virtual
amplificada que decrece en amplificacin conforme el objeto se aproxima a la lente. Para una
lente negativa, la situacin es ms simple: comenzando con un objeto en el infinito, una imagen
virtual, disminuida, parece estar en el punto focal del mismo lado de la lente que el objeto. Si el
objeto se acerca a la lente, lo mismo hace la imagen, hasta que el objeto y la imagen son iguales
en tamao sobre la lente. Estas relaciones sern exploradas en detalle, en el Proyecto # 2.
El clculo para una combinacin de lentes no es mucho ms difcil que para una sola lente. Como
indicamos antes, con el bosquejo de rayos, la imagen de la lente precedente se vuelve objeto
para la lente subsecuente.
Una situacin particular, que es analizada en el Proyecto # 2, es determinar la distancia focal de
una lente negativa. La idea es reenfocar la imagen virtual creada por la lente negativa con una
lente positiva para crear una imagen real. En la Fig. 0.9, una lente positiva de distancia focal
conocida f2 forma una imagen de la imagen virtual creada por una lente negativa de distancia
focal desconocida f1. La potencia de la lente positiva es suficiente para crear una imagen real a
una distancia 3 de sta. Determinando qu distancia al objeto 2 sera la adecuada para esta
distancia focal y distancia imagen, puede encontrarse la distancia imagen de la lente negativa,

17
basndose en la regla 5 de la Seccin 0.1: la imagen de una lente sirve como el objeto para una
lente subsecuente. La distancia a la imagen 1 para la lente negativa es la separacin entre las
lentes 1 menos la distancia al objeto 2 de la lente positiva. Como la distancia original al objeto
y la distancia a la imagen 1 han sido encontradas, la distancia focal de la lente negativa puede
encontrarse de la ecuacin de las lentes delgadas.
En muchos diseos pticos se usan varias lentes juntas para producir una mejor imagen. La
distancia focal efectiva de la combinacin de lentes puede ser calculada por mtodos de trazo de
rayos. En el caso de dos lentes delgadas en contacto, la distancia focal efectiva de la combinacin
est dada por
1 1 1 (0-8)
= +
1 2

Fig. 0.9 Determinacin de la distancia focal de una lente negativa

con el uso de una lente positiva de distancia focal conocida.

0.3. Difraccin

Aunque las dos secciones previas trataron a la luz como rayos propagndose en lneas rectas,
este modelo no describe todo el rango de fenmenos pticos que pueden explorarse dentro de
los experimentos en Proyectos en ptica. Hay algunos conceptos adicionales que son necesarios
para explicar ciertas limitaciones de los rayos pticos y para describir algunas de las tcnicas que
nos llevarn a analizar las imgenes y a controlar la amplitud y la direccin de la luz. Esta seccin
es una breve revisin de dos importantes fenmenos en ptica fsica: la interferencia y la
difraccin. Para una discusin completa de estos y otros temas relacionados, el lector debera
consultar una o ms referencias.

18
 0.3.1 Principio de Huygens
La luz es una onda electromagntica compuesta de muchas longitudes de onda. Como la luz de
una fuente cualquiera (an un lser!) consiste en campos de diferente longitud de onda,
parecera que es difcil analizar su efecto resultante. Pero los efectos de la luz compuesta de
muchos colores pueden entenderse determinando lo que pasa para una onda monocromtica
(de una sola longitud de onda) y luego sumando los campos de todos los colores presentes. De
esta forma, analizando la luz monocromtica, somos capaces de calcular lo que pasara en casos
no monocromticos. Aunque es posible expresar matemticamente una onda electromagntica,
describiremos grficamente las ondas de luz y usaremos esas representaciones para
proporcionar ideas a varios fenmenos pticos. En muchos casos esto es todo lo que se necesita
para avanzar.
Un campo electromagntico puede ser descrito como una combinacin de campos elctricos (E)
y magnticos (H) cuyas direcciones son perpendiculares a la direccin de propagacin de la onda
(), como se muestra en la Fig. 0.10. Debido a que los campos elctricos y magnticos son
proporcionales entre s, solo necesitamos describir uno de los dos campos para entender lo que
est pasando en una onda de luz. En la mayora de los casos, una onda de luz se describe
nicamente en trminos del campo elctrico. El diagrama de la Fig. 0.10 representa el campo en
un punto en el espacio y en el tiempo. Es el arreglo de los campos elctricos y magnticos en el
espacio lo que determina como progresa el campo de luz.

Fig. 0.10. Onda plana monocromtica propagndose a lo largo del eje z. En una onda plana,
los campos elctrico y magntico son constantes en un plano x-y. El vector k est en la
direccin de propagacin.

19
Una forma de pensar acerca de los campos de luz es usar el concepto de frente de onda. Si
graficamos el campo elctrico como una funcin del tiempo a lo largo de la direccin de
propagacin, encontraremos lugares sobre la onda donde el campo es un mximo en una
direccin, otros lugares donde es cero, y otros lugares donde el campo es un mximo en la
direccin opuesta, como se muestra en la Fig. 0.11. Estos lugares representan diferentes fases
de la onda. Por supuesto, la fase de la onda cambia continuamente a lo largo de la direccin de
propagacin. Para seguir el progreso de una onda, en cambio, nos concentraremos en un punto
en particular sobre la fase, usualmente en un punto donde la amplitud del campo elctrico sea
un mximo. Si todos los puntos en la vecindad tienen esta misma amplitud, ellos forman una
superficie de fase constante, o frente de onda. En general, los frentes de onda de una fuente de
luz pueden tener cualquier forma, pero algunas de las formas ms simples de los frentes de onda
se usan al describir algunos fenmenos pticos.

Fig. 0.11 Onda plana monocromtica propagndose a lo largo del eje z. Las lneas
slidas y las lneas punteadas indican los mximos positivos y negativos de las
amplitudes de los campos.

Una onda plana es un campo de luz compuesto de superficies planas de fase constante
perpendiculares a la direccin de propagacin. En la direccin de propagacin, el campo elctrico
vara senoidalmente de tal forma que se repite a cada longitud de onda. Para representar esta
onda, hemos dibujado los planos de mxima fuerza del campo elctrico, como se muestra en Fig.
0.11, donde las lneas slidas representan planos en los cuales el vector de campo elctrico est
apuntando en la direccin positiva y las lneas punteadas representan planos en los cuales el
vector de campo elctrico est apuntando en la direccin negativa. Los planos slidos estn
separados por una longitud de onda, as como los planos punteados.

20
Otro frente de onda muy usado para el anlisis de ondas de luz es la onda esfrica. Una fuente
puntual, una fuente ficticia de dimensiones infinitamente pequeas, emite un frente de onda
que viaja hacia afuera en todas direcciones produciendo frentes de onda que consisten en
cascarones esfricos centrados en la fuente puntual. Esas ondas esfricas se propagan hacia
afuera de la fuente puntual con un radio igual a la distancia entre el frente de onda y la fuente
puntual, como se muestra esquemticamente en la Fig. 0.12. Lejos de la fuente, el radio del
frente de onda es tan grande que los frentes de onda son aproximadamente planos. Otra forma
de crear ondas esfricas es enfocar una onda plana. La Fig. 0.13 muestra las ondas esfricas
colapsndose a un punto y entonces expandindose. Las ondas nunca se colapsan en un punto
real debido a la difraccin (Ve a la siguiente seccin). Hay muchas otras formas posibles de
campos de ondas, pero estos dos son los que necesitamos para nuestra discusin sobre la
interferencia.

Fig. 0.12. Ondas esfricas alejndose de la fuente puntual. Lejos de la fuente puntual,
el radio del frente de onda es grande y los frentes de onda son aproximadamente
ondas planas.

Fig. 0.13. Generacin de ondas esfricas enfocando ondas planas en un punto.

La difraccin impide a las ondas enfocarse en un punto.

21
Hasta aqu lo que hemos descrito son frentes de onda aislados. Qu pasa cuando dos o ms
frentes de onda estn presentes en la misma regin? La teora electromagntica muestra que
podemos aplicar el principio de superposicin: donde las ondas se traslapan en la misma regin
del espacio, el campo resultante en ese punto en el espacio y el tiempo, se encuentra sumando
los campos elctricos de las ondas individuales en ese punto. Por ahora estamos suponiendo que
los campos elctricos de todas las ondas tienen la misma polarizacin (direccin del campo
elctrico) y que pueden sumarse como escalares. Si las direcciones de los campos no son las
mismas, entonces los campos deben sumarse como vectores. Ni nuestros ojos ni ningn detector
ve el campo elctrico de una onda de luz. Todos los detectores miden el cuadrado del campo
elctrico promediado en el tiempo sobre algn rea. Esto es, la irradiancia de la luz dada en
trminos de watt /metro cuadrado (/2 ) o en unidades similares de potencia por unidad de
rea.

Fig. 0.14. Construccin de Huygens de un frente de onda de

Forma arbitraria propagndose.

Dado algn frente de onda resultante en el espacio, cmo predecimos su comportamiento al

propagarse? Esto se hace invocando el Principio de Huygens. O, en trminos de las descripciones
grficas que ya hemos definido, la construccin de Huygens (Fig. 0.14): Dado un frente de onda
de forma arbitraria, localice un arreglo de fuentes puntuales sobre el frente de onda, tal que la
intensidad de cada fuente puntual sea proporcional a la amplitud de la onda en ese punto.

22
Permita que la fuente puntual se propague un tiempo t, tal que el radio sea igual a ( es la
velocidad de la luz) y sume las fuentes resultantes. La envolvente resultante de las fuentes
puntuales es el frente de onda a un tiempo t despus del frente de onda inicial. Este principio
puede ser usado para analizar fenmenos ondulatorios de complejidad considerable.

Difraccin de Fresnel y Fraunhofer

La difraccin de la luz surge de los efectos que tienen sobre la propagacin de la luz las aberturas
y fronteras de las interfases que sta encuentra en su camino. En su forma ms simple, las orillas
de lentes, aberturas y otras componentes pticas causan que la luz que pasa a travs del sistema
ptico se desve de los caminos que predicen por los rayos pticos. Aunque ciertos efectos de la
difraccin son muy tiles, finalmente todos los resultados pticos estn limitados por la
difraccin si hay suficiente seal, y por el ruido elctrico u ptico si la seal es pequea.
Cuando una onda plana ilumina una rendija, el patrn de onda resultante que pasa la rendija
puede construirse usando el Principio de Huygens representando el frente de onda en la rendija
como un conjunto de fuentes puntuales, todas emitiendo en fase. La forma del patrn de
irradiancia que se observa depende de la distancia de la abertura de difraccin, el tamao de la
abertura y la longitud de onda de la iluminacin. Si la luz difractada se examina cerca de la
abertura, el patrn se parecer a la abertura con algunas variaciones sorprendentes (tales como
encontrar un punto de luz en la sombra de un material opaco circular). Esta forma de difraccin
es llamada difraccin de Fresnel y es algo difcil de calcular.
A cierta distancia de la abertura, el patrn se convierte en el patrn de difraccin de Fraunhofer.
Este tipo de difraccin es fcil de calcular y determina en la mayora de los casos, las limitaciones
pticas de sistemas de mayor precisin ptica. El patrn de difraccin ms simple es aquel debido
a una abertura en forma de rendija larga. Debido a la relacin de la longitud de la rendija respecto
a su ancho, el efecto ms fuerte se da con rendijas ms angostas. El patrn de difraccin
resultante de una rendija en una pantalla distante contiene mximos y mnimos, como se
muestra en la Fig. 0.15(a). La luz se difracta fuertemente en la direccin perpendicular a las orillas
de la rendija. Una medida de la cantidad de difraccin es el espacio entre el mximo central y la
primera franja oscura en el patrn de difraccin. Las diferencias en los patrones de difraccin de
Fraunhofer y Fresnel sern exploradas en el Proyecto # 4.
A distancias alejadas de la rendija, el patrn de difraccin de Fraunhofer no cambia de forma,
sino solamente de tamao. La separacin entre franjas se expresa en trminos del seno de la
separacin angular entre el mximo central y el centro de la primera franja oscura,
(0-9)
sin =

Donde es el ancho de la rendija y es la longitud de onda de la luz que la ilumina. Nota que a
medida que el ancho de la rendija se vuelve ms pequeo, el ngulo de difraccin se vuelve ms
grande. Si el ancho de la rendija no es demasiado pequeo, el seno puede ser reemplazado por

23
su argumento,
(0-10)
=

Si conocemos la longitud de onda de la luz que ilumina la rendija, el ngulo de difraccin puede
medirse y pude determinarse el ancho de esta rendija de difraccin. En el Proyecto # 5 sers
capaz de hacerlo.

En el caso de aberturas circulares, el patrn de difraccin es tambin circular, como se indica en

la Fig. 0.15(b), y la separacin angular entre el mximo central y la primera franja oscura est
dada por

sin = 1.22

o para una grande,
(0-11)
= 1.22

donde es el dimetro de la abertura. Como en el caso de la rendija, para pequeos valores de

/, el seno puede ser remplazado por el ngulo. La determinacin del dimetro de algunos
pinholes (orificios) de diferentes tamaos es parte del Proyecto #4.

Fig. 1.15. Difraccin de la luz por aberturas

(a) Una rendija

24
 Fig. 1.15. Difraccin de la luz por aberturas
(b) Abertura circular

Una buena aproximacin de una fuente puntual es una estrella brillante. Un par de estrellas
cercanas entre s pueden dar una medida de los lmites de difraccin de un sistema. Si las estrellas
tienen la misma magnitud (brillo aparente), la resolucin del sistema puede determinarse por la
separacin angular ms pequea entre tales fuentes a la cual se ven separadas (estn resueltas).
Si suponemos que las aberraciones del sistema ptico son suficientemente pequeas, la
difraccin es la nica limitacin para resolver las imgenes de esas dos fuentes puntuales.
Aunque un tanto artificial, un lmite de resolucin que ha sido usado en muchos casos es que dos
fuentes puntuales apenas se resuelven, si el mximo del patrn de difraccin de una de las
fuentes cae sobre el primer anillo oscuro del patrn de la segunda fuente puntual, como se
muestra en la Fig. 0.16, entonces
(0-12)
= 1.22 .

Esta condicin para la resolucin se conoce como Criterio de Rayleigh y se usa en otros campos
del diseo ptico, para especificar la resolucin de sistemas pticos.

25
 0.4 Interferencia

Mientras la difraccin proporciona el lmite que nos dice qu tan lejos puede ser extendida una
tcnica ptica, la interferencia es la responsable para algunos de los efectos ms tiles en el
campo de la ptica, los cuales van de las rejillas de difraccin a la holografa. Como veremos, un
patrn de interferencia a menudo se conecta con alguna geometra simple. Una vez que se
describe esa geometra, la interferencia es fcil de entender y analizar.

Fig. 0.16. Criterio de Rayleigh. Se muestra la grfica de la intensidad a lo largo de la

lnea entre los centros de dos patrones de difraccin bajo la foto de dos fuentes resueltas
bajo el criterio de Rayleigh

0.4.1 Experimento de Young

En la Fig. 0.17 se muestra la geometra y el patrn de onda para uno de los experimentos ms
simples de interferencia: el experimento de Young. Dos pequeos pinholes (orificios), separados
por una distancia son iluminados por una onda plana produciendo dos fuentes puntuales que
crean dos ondas esfricas superpuestas. La figura muestra una vista transversal de los frentes de

26
onda de ambas fuentes en un plano que contiene a los pinholes. Nota que en puntos a lo largo
de una lnea equidistante de ambos pinholes, las ondas de las dos fuentes estn siempre en fase.
De esta forma, a lo largo de la lnea C los campos elctricos se suman en fase para dar un campo
que es dos veces el valor de un solo campo; la irradiancia en un punto a lo largo de la lnea, la
cual es proporcional al cuadrado del campo elctrico, ser cuatro veces la presentada en el caso
de un solo pinhole. Cuando los campos se suman para dar un valor ms grande, nos referimos a
interferencia constructiva. Hay otras direcciones, tales como aquellas a lo largo de la lnea
punteada D, en las cuales las ondas de las dos fuentes estn siempre 180 fuera de fase. Esto es,
cuando una fuente tiene un campo elctrico mximo positivo, la otra tiene el mismo valor pero
negativo, as los campos siempre se cancelan y ninguna luz se detecta a lo largo de esas lneas D,
mientras ambas fuentes estn presentes. Esta condicin de cancelar los campos elctricos se
llama interferencia destructiva. Entre los dos extremos de mxima interferencia constructiva y
destructiva, la irradiancia vara entre cuatro veces la irradiancia mxima para un solo pinhole y
cero. Puede mostrarse que la energa total que cae sobre la superficie de una pantalla colocada
en el patrn de interferencia es ni ms ni menos que dos veces la de una sola fuente puntual,
pero es la interferencia lo que causa que la distribucin de la luz se arregle de manera diferente.

Fig. 0.17. Experimento de Young. La luz difractada por dos pinholes est en la pantalla S2.
La interferencia de dos ondas esfricas produce una variacin en la irradiancia sobre S2 , que
est graficada a la derecha de la pantalla.

Algunos clculos simples muestran que la diferencia de distancias viajadas desde los pinholes a
un punto sobre la pantalla es

= sin . (0-13)

27
En el caso de interferencia constructiva, los frentes de onda llegan a la pantalla en fase. Esto
significa que hay uno, dos o varios nmeros enteros de longitud de onda de diferencia entre los
dos caminos que viaja la luz hasta el punto de una franja brillante. De esta forma, los ngulos en
los que las franjas brillante ocurren estn dados por

= sin = ( = 1,2,3 ) (0-14)

Si la ecuacin de arriba se resuelve para los ngulos en los que se encuentran las franjas
brillantes y si uno aplica la aproximacin de que para ngulos pequeos el seno puede ser
reemplazado por el ngulo en radianes, se obtiene:

(0-15)
( = 1,2,3, )

La separacin angular para franjas vecinas es entonces la diferencia entre +1 y

(0-16)
=

Esta es la separacin angular entre franjas, que ser medida en el Proyecto #5 para determinar
la separacin entre dos rendijas.

0.4.2 El interfermetro de Michelson

Otra geometra de interferencia que ser investigada en el Proyecto # 6 y usada para medir un
parmetro importante para un lser en el Proyecto # 7 se muestra en la Fig. 0.18. Este es un
interfermetro de Michelson, el cual est compuesto por un divisor de haz y dos espejos. (Este
dispositivo a veces es llamado interfermetro de Twyman-Green, cuando se usa con una fuente
monocromtica tal como un lser, para probar componentes pticas.) El divisor de haz es un
espejo parcialmente reflejante que separa la luz incidente en dos haces de igual intensidad.
Despus de reflejarse por los espejos, los dos haces se recombinan de tal forma que viajan en la
misma direccin cuando llegan a la pantalla. Si los dos espejos estn a la misma distancia (1 =
2 en la Fig. 0.18) del divisor de haz, entonces los dos haces estn siempre en fase una vez que
son recombinados, justo como es el caso a lo largo de la lnea de interferencia constructiva en el
experimento de Young. Ahora la condicin de interferencia constructiva y destructiva depende
de la diferencia de caminos viajada por los dos haces. Como cada haz debe viajar la distancia del
divisor de haz a su respectivo espejo y regresar, la distancia viajada por el haz es 2. Si la

28
diferencia de camino, 2 L1 2 L2 es igual a un nmero entero de longitudes de onda, m , donde
m es un entero, entonces las dos ondas estn en fase y la interferencia en la pantalla ser
constructiva.

(0-17)
1 2 = ( = , 2, 1,0,1,2, )
2

Si la diferencia de camino es un nmero entero de longitudes de onda ms media longitud de

onda, la interferencia sobre la pantalla ser destructiva. Esto puede expresarse como:

(0-18)
1 2 = ( = ).
4

En la mayora de los casos los frentes de onda de dos haces cuando son recombinados no son
planos sino que son frentes de onda esfricos con radio de curvatura grande. El patrn de
interferencia para dos frentes de onda de diferente curvatura es una serie de anillos brillantes y
oscuros. Sin embargo, la discusin de arriba an se mantiene para cualquier punto de la pantalla.
Usualmente, sin embargo, el centro del patrn es el punto usado para los clculos.

En la discusin de arriba, se supuso que el medio entre el divisor de haz y los espejos es aire sin
perturbaciones. Si, sin embargo, seguimos la posibilidad de que el ndice de refraccin en esas
regiones pueda ser diferente, la ecuacin para las franjas brillantes seria escrita como:

(0-17-a)
1 1 2 2 = ( =. . . 1,0,1, ).
2

De esta forma, cualquier cambio en el ndice de refraccin en las regiones puede tambin
contribuir al patrn de interferencia como se ver en el Proyecto # 6.

En el diseo de sistemas pticos, los interfermetros como el de Michelson pueden usarse para
medir distancias muy pequeas. Por ejemplo, un movimiento de uno de los espejos por
solamente un cuarto de longitud de onda (correspondiente al cambio de la longitud del camino
de una media longitud de onda) cambia la irradiancia detectada en la pantalla de un mximo a
un mnimo. De esta forma, los dispositivos que contienen interfermetros pueden ser usarse
para medir movimientos de una fraccin de longitud de onda. Una aplicacin de la interferencia
que se ha desarrollado debido a la invencin del lser es la holografa. Esta fascinante materia se
explora en un conjunto separado de experimentos en Proyectos en holografa de Newport.

29
 Fig. 0.18. Interfermetro de Michelson.

Fig. 0.19. Difraccin de la luz por una rejilla de difraccin.

30
 Fig. 0.20. Ordenes de difraccin de una rejilla iluminada por luz blanca.
(a) Los rayos denotan los lmites superior e inferior de los haces difractados para los
extremos rojo (R) y azul (B) del espectro;
(b) espectro producido al enfocar cada haz colimado de longitudes de onda a un punto
en el plano focal.

0.4.3. La rejilla de difraccin

Resulta algo confuso el uso del trmino rejilla de difraccin para referirnos al artculo bajo
discusin. Aunque la difraccin crea en efecto la dispersin de la luz a partir de una serie regular
de rendijas cercanamente espaciadas, es la interferencia combinada de los mltiples haces lo que

31
permite a una rejilla de difraccin desviar y separar la luz. En la Fig. 0.19, una serie de rendijas
angostas, cada una de ellas separada de sus rendijas vecinas por una distancia d, es iluminada
por una onda plana. Cada rendija es entonces una fuente puntual (en este caso una lnea) en fase
con todas las otras rendijas. A algn ngulo d , respecto a la normal a la rendija, la diferencia de
camino entre las rendijas vecinas ser (vase la Fig. 0.19):

= sin

Ocurrir interferencia constructiva a ese ngulo si la diferencia de camino x es igual a un

nmero entero de longitudes de onda:

m = sin (m = entero) (0-19)

Esta ecuacin, llamada la ecuacin de la rejilla, es vlida para cualquier longitud de onda. Como
cualquier rejilla tiene una separacin entre rendijas constante d, la luz de diferentes longitudes
de onda ser difractada a diferentes ngulos. Esto explica por qu una rejilla de difraccin puede
usarse en lugar de un prisma para separar la luz en sus colores. Debido a que varios enteros
pueden satisfacer la ecuacin de la rejilla, hay varios ngulos para los cuales la luz monocromtica
ser difractada. Esto ser examinado en el Proyecto # 5. De esta forma, cuando una rejilla es
iluminada con luz blanca, la luz ser dispersada en varios espectros correspondientes a los
enteros m ..., 1 , 2 ,..., como se ilustra en la Fig. 0.20(a). Insertando una lente despus de la
rejilla, el espectro puede proyectarse sobre una pantalla a una distancia igual a la distancia focal
de la lente, Fig. 0.20(b). Estos son llamados los rdenes de la rendija y son etiquetados por el
valor de m.

0.5. Polarizacin

Debido a que los campos elctrico y magntico son cantidades vectoriales, sus magnitudes y
direcciones deben ser especificadas. Sin embargo, como las direcciones de los dos campos son
siempre perpendiculares una a la otra en medios no absorbentes, la direccin del campo elctrico
de una onda luminosa suele usarse para especificar la direccin de polarizacin de la luz. El tipo
y la cantidad de polarizacin pueden determinarse y convertirse a otros tipos de polarizacin. Si
entiendes las propiedades de polarizacin de la luz, puedes controlar su cantidad y su direccin
a travs del uso de estas propiedades.

32
 0.5.1. Tipos de polarizacin.

La forma de polarizacin de la luz puede ser algo compleja. Sin embargo, para la mayora de las
situaciones en el laboratorio, hay un nmero limitado de tipos que son necesarios para describir
la polarizacin de la luz en un sistema ptico. La Fig. 0.21 muestra el camino trazado por el campo
elctrico durante un ciclo completo de oscilacin de la onda ( = 1/) para varios de los
diferentes tipos de polarizacin, donde es la frecuencia de la luz. La Fig. 0.21(a) muestra
polarizacin lineal, donde la orientacin del vector de campo elctrico no cambia con el tiempo
mientras que su amplitud oscila de una valor mximo en una direccin, a un valor mximo en la
direccin opuesta. La orientacin del campo elctrico se da con respecto a algn eje
perpendicular a la direccin de propagacin. En algunos casos, puede ser una direccin de
referencia en el laboratorio o sistema ptico, y se especifica que es horizontal o verticalmente
polarizada o polarizada a algn ngulo respecto a un eje coordenado.

Fig. 0.21 Tres orientaciones especiales de polarizacin:

(a) lineal, a lo largo de un eje coordenado: (b) lineal, las componentes a lo
largo de ejes coordenados estn en fase ( = 0 ) y de esta forma producen
polarizacin lineal; (c) Las mismas componentes, 90 fuera de fase, producen
polarizacin elptica.

33
Debido a que el campo elctrico es una cantidad vectorial, los campos elctricos se suman como
vectores. Por ejemplo, dos campos, y , linealmente polarizados a ngulos rectos uno al otro
y oscilando en fase (el mximo para ambas ondas ocurre al mismo tiempo), se combinarn para
dar otra onda linealmente polarizada, mostrada en la Fig. 0.21(b), cuya direccin (tan = / )
y amplitud (2 + 2 ) se encuentran por adicin de las dos componentes. Si estos campos estn
90 fuera de fase (el mximo en un campo ocurre cuando el otro campo es cero), el campo
elctrico de los campos combinados traza una elipse durante un ciclo, como se muestra en la Fig.
0.21(c). El resultado es llamado luz elpticamente polarizada. La excentricidad de la elipse es la
razn de las amplitudes de las dos componentes. Si las dos componentes son iguales, el trazo es
un crculo. Esta polarizacin es llamada polarizacin circular. Como la direccin de rotacin del
vector depende de las fases relativas de las dos componentes, debe especificarse la orientacin
de este tipo de polarizacin. Si el campo elctrico proveniente de una fuente hacia el observador
rota en sentido contrario a las manecillas del reloj, se dice que la polarizacin es izquierda. La
polarizacin derecha tiene el sentido opuesto, en el mismo sentido que las manecillas del reloj.
Esta nomenclatura se aplica tanto a polarizacin elptica como circular. La luz cuya direccin de
polarizacin no sigue un patrn simple tal como los descritos aqu algunas veces es llamada luz
no polarizada. Esto puede ser algo confuso debido a que el campo tiene una direccin
instantnea de polarizacin en todo tiempo, pero puede no ser fcil descubrir qu patrn
presenta. Un trmino ms descriptivo es el de luz aleatoriamente polarizada.

La luz de la mayora de las fuentes naturales tiene a ser aleatoriamente polarizada. Aunque hay
varios mtodos para convertirla a polarizacin lineal, solo cubriremos aquellos que son
comnmente usados en el diseo ptico. Un mtodo es la reflexin, debido a que la cantidad de
luz reflejada por una superficie inclinada depende de la orientacin de la polarizacin incidente
y la normal a la superficie. Una geometra de particular inters es aquella en la que la direccin
de propagacin de los rayos reflejado y refractado en una interfase son perpendiculares uno al
otro, como se muestra en la Fig. 0.22. En esta orientacin la componente de la luz polarizada
paralela al plano de incidencia (el plano que contiene el vector de propagacin incidente y la
normal a la superficie, es decir, el plano de la pgina para la Fig. 0.22) es 100% transmitida. No
hay reflexin para esta polarizacin en esta geometra. Para la componente de la luz
perpendicular al plano de incidencia, hay alguna luz reflejada y el resto es transmitido. El ngulo
de incidencia para el cual esto ocurre es llamado ngulo de Brewster, B, y est dado por:

(0-20)
tan =

Como un ejemplo, para un vidrio, = 1.523 y el ngulo de Brewster es 56.7. La medicin del
ngulo de Brewster es parte del Proyecto # 8.

34
 Fig. 0.22. Geometra para el ngulo de Brewster.

Fig. 0.23. Un polarizador de pila de placas, que trabaja al ngulo de Brewster,

refleja alguna porcin de la polarizacin perpendicular y transmite toda la polarizacin
paralela. Despus de algn nmero de transmisiones, la mayora de la polarizacin
perpendicular ha sido reflejada dejando una componente paralela
altamente polarizada.

Algunas veces solamente se necesita una pequea cantidad de luz polarizada, y la luz reflejada
por una sola superficie inclinada al ngulo de Brewster puede ser suficiente. Si se necesita
polarizar un haz de forma casi completa, se puede construir un polarizador lineal apilando varias

35
placas de vidrio (por ejemplo, portaobjetos de microscopio) al ngulo de Brewster respecto a la
direccin del haz. Como indica la Fig. 0.23, cada interfase rechaza una pequea cantidad de luz
polarizada perpendicular al plano de incidencia.
El polarizador de pila de placas descrito es algo voluminoso y tiende a ensuciarse, reduciendo
su eficiencia. Las pelculas polarizadoras plsticas son ms fciles de usar y montar. Estas pelculas
absorben selectivamente la mayor parte de una componente de polarizacin y transmiten la
mayor parte de la otra. El origen de esta seleccin de polarizacin es la alineacin de cadenas
lineales de polmeros a las cuales estn fijas las molculas de yodo que absorben la luz. La luz que
est polarizada paralelamente a las cadenas es fcilmente absorbida, mientras que la luz
polarizada perpendicularmente a las cadenas es transmitida mayormente. Las hojas
polarizadoras hechas por Polaroid Corporation son etiquetadas por su tipo y transmisin. Tres
polarizadores lineales comunes son HN-22, HN-32 y HN-38, donde el nmero que sigue al HN
indica el porcentaje de luz incidente no polarizada que es transmitido por el polarizador como
luz polarizada.
Cuando miras algo escrito sobre una pgina a travs de un cristal de calcita (carbonato de calcio),
ves una doble imagen. Si rotas la calcita, manteniendo su superficie sobre la pgina, una de las
imgenes rota con el cristal mientras que la otra permanece fija. Este fenmeno se conoce como
doble refraccin (birrefringencia). Si examinamos estas imgenes a travs de una hoja
polarizadora, encontramos que cada imagen tiene una polarizacin definida, y estas
polarizaciones son perpendiculares una a la otra.
El cristal de calcita pertenece a una clase completa de cristales que exhiben doble refraccin. La
base fsica para este fenmeno se describe en detalle en la mayora de los textos de ptica. Para
nuestros propsitos es suficiente saber que el cristal tiene un ndice de refraccin que vara con
la direccin de propagacin en el cristal y la direccin de polarizacin. El eje ptico del cristal
(no hay conexin al eje ptico de una lente o un sistema) es una direccin en el cristal respecto
al cual se refieren todas las otras direcciones. La luz cuya componente de polarizacin es
perpendicular al eje ptico viaja a travs del cristal como si fuera una pieza ordinaria de vidrio
con un solo ndice de refraccin, no. La luz de esta polarizacin es llamada rayo ordinario. El plano
que contiene al eje ptico tiene un ndice de refraccin que vara entre no y un valor diferente,
ne. El material exhibe un ndice de refraccin ne donde la componente del campo es paralela al
eje ptico y la direccin de propagacin de la luz es perpendicular al eje ptico. La luz de esta
polarizacin es llamada rayo extraordinario. La accin del cristal sobre la luz de estas dos
componentes de polarizacin ortogonales proporciona las dobles imgenes y la polarizacin de
la luz por transmisin a travs de cristales. Si una de estas componentes pudiera bloquearse o
desviarse mientras que la otra componente se transmite por el cristal, puede conseguirse un alto
grado de polarizacin.
En muchos casos los polarizadores son usados para proporcionar informacin acerca de un
material que produce, de alguna manera, un cambio en la forma de la luz polarizada que pasa a
travs de l. La configuracin estndar, mostrada en la Fig. 0.24, consiste de una fuente de luz S,
un polarizador P, el material M, otro polarizador, llamado analizador A, y un detector D.

36
 Fig. 0.24 Anlisis de luz polarizada.

Usualmente el polarizador es un polarizador lineal, as como el analizador. Algunas veces, sin

embargo, se usan polarizadores que producen otros tipos de polarizacin.
La cantidad de luz transmitida por un polarizador depende de la polarizacin del haz incidente y
la calidad del polarizador. Tomemos, por ejemplo, un polarizador perfecto uno que transmite
toda la luz para una polarizacin y rechaza (por absorcin o reflexin) toda la luz de la otra
polarizacin. La direccin de polarizacin de la luz transmitida es el eje de polarizacin, o
simplemente el eje del polarizador. Como la luz aleatoriamente polarizada no tiene una
polarizacin preferente, habra cantidades iguales de luz incidente para dos direcciones de
polarizacin ortogonales. De esta forma, un polarizador lineal perfecto tendra una designacin
de Polaroid de HN-50, debido a que pasara la mitad de la radiacin incidente y absorbera la otra
mitad. La fuente en la Fig. 0.24 est aleatoriamente polarizada, y el polarizador pasa luz
linealmente polarizada de irradiancia Io. Si el material M, cambia la polarizacin incidente
rotndola un ngulo , cul es la cantidad de luz transmitida a travs de un analizador cuyo eje
de transmisin est orientado paralelamente al eje del primer polarizador? Como el campo
elctrico es un vector, podemos descomponerlo en dos componentes, una paralela al eje del
analizador, la otra perpendicular a este eje. Esto es

= 0 cos + 0 sin (0-21)

Nota que las componentes paralela y perpendicular se refieren a su orientacin respecto al eje
del analizador y no al plano de incidencia como en el caso del ngulo de Brewster. El campo
transmitido es la componente paralela, y la irradiancia transmitida Itrans es el promedio en el
tiempo del cuadrado del campo elctrico
= 02 cos2 = 02 cos 2
O
= 0 cos2 (0-22)

37
Esta ecuacin, que relaciona la irradiancia de la luz polarizada transmitida a travs de un
polarizador perfecto con la irradiancia de la luz polarizada incidente, es conocida como Ley de
Malus, en honor a su descubridor, Etienne Malus, un ingeniero del Ejrcito Francs. Para un
polarizador no perfecto, debe ser reemplazado por 0 , donde es la fraccin de la
polarizacin preferente transmitida por el polarizador.

0.5.2. Modificadores de la polarizacin.

Adems de servir como polarizadores lineales, los cristales birrefringentes pueden usarse para
cambiar el tipo de polarizacin de un haz de luz. Describiremos el efecto que estos modificadores
de polarizacin tienen sobre el haz y dejaremos la explicacin de su operacin a un texto de
ptica fsica.
En un cristal birrefringente, la luz cuya polarizacin es paralela al eje ptico viaja a una velocidad
de / ; para una polarizacin perpendicular a esta, la velocidad es / . En la calcita > y
de esta forma la velocidad de la luz polarizada paralelamente al eje ptico, es mayor que .
Por lo tanto, en la calcita, el eje ptico es llamado el eje rpido y un eje perpendicular es el eje
lento. En otros cristales puede ser mayor que y la designacin de los ejes rpido y lento
debe revertirse.
El primer dispositivo que describimos es la placa de cuarto de onda. La placa consiste de un cristal
birrefringente de un grosor especfico d, cortado de tal forma que el eje ptico es paralelo al
plano de la placa y perpendicular a la orilla, como se muestra en la Fig. 0.25. La placa est
orientada de modo que su plano es perpendicular a la direccin del haz y sus ejes lento y rpido
estn a 45 de la direccin de la luz incidente linealmente polarizada. Debido a esta geometra de
45, la luz incidente se divide en componentes lenta y rpida de igual amplitud viajando a travs
del cristal. La placa se corta de tal forma que las componentes, que estn en fase al entrar al
cristal, viajan a diferentes velocidades a travs de l y salen en un punto cuando estn 90, o un
cuarto de onda, fuera de fase. Esta salida de componentes de igual amplitud, 90 fuera de fase,
es entonces luz circularmente polarizada. Puede mostrarse que cuando la luz circularmente
polarizada pasa a travs de la misma placa, resulta luz linealmente polarizada. Tambin, debera
notarse que si la geometra de entrada de 45 no se mantiene, la salida es luz elpticamente
polarizada. El ngulo entre la direccin de polarizacin de entrada y el eje ptico determina la
excentricidad de la elipse.
Si un cristal se corta de forma que tenga dos veces el grosor de la placa de cuarto de onda, se
tiene una placa de media onda. En este caso, la luz linealmente polarizada a cualquier ngulo ,
con respecto al eje ptico proporciona dos componentes perpendiculares que terminan 180
fuera de fase despus de pasar a travs del cristal. Esto significa que respecto a una de las
polarizaciones, la otra polarizacin est a 180 de su direccin original. Estas componentes
pueden ser combinadas, como se muestra en la Fig. 0.26, para dar una resultante cuya direccin
ha sido rotada 2 de la polarizacin original. Algunas veces, una placa de media onda es llamada

38
rotador de polarizacin. ste tambin cambia la orientacin de la polarizacin circular de
izquierda a derecha o al revs. Esta discusin de placas de onda supone que el grosor del cristal
d es correcto solamente para la longitud de onda de la radiacin incidente. En la prctica, hay un
rango de longitudes de onda alrededor del valor correcto para el cual estos modificadores de la
polarizacin trabajan bastante bien.

Fig. 0.25 Placa de cuarto de onda. Con luz incidente linealmente polarizada esta placa retarda
90 una componente respecto a la otra. Esto produce luz circularmente polarizada.
Con otras orientaciones, produce luz elpticamente polarizada.

Fig. 0.26. Placa de media onda. La placa produce una diferencia de fase de 180 entre las
componentes de la luz incidente linealmente polarizada. Si la direccin de polarizacin
original est a un ngulo , respecto al eje ptico, la polarizacin transmitida est rotada
a 2 de la original.

39
Las placas de onda proporcionan buenos ejemplos del uso de la polarizacin para controlar la luz.
Una demostracin especfica que realizars como parte del Proyecto # 9 concierne una reduccin
de la reflexin. Luz aleatoriamente polarizada se enva hacia un polarizador y luego hacia una
placa de cuarto de onda para crear luz circularmente polarizada, como notamos arriba. Cuando
la luz circularmente polarizada es reflejada por una superficie, su orientacin se invierte (derecha
para la izquierda o izquierda para la derecha). Cuando la luz pasa a travs de la placa de cuarto
de onda por segunda vez, la luz circularmente polarizada de la orientacin opuesta se vuelve luz
linealmente polarizada, pero rotada 90 respecto a la polarizacin incidente. Luego de pasar a
travs del polarizador lineal por segunda vez, la luz es absorbida. La luz que emana de una
superficie reflectora (el monitor de una computadora, por ejemplo) no estar sujeta a esta
absorcin y una gran porcin ser transmitida por el polarizador. Una pantalla de computadora
anti-reflejante es una aplicacin de estos dispositivos. La luz de una habitacin debe
experimentar el paso a travs de una combinacin de polarizador-placa de onda dos veces y es,
de esta forma, eliminada, mientras que la luz de la pantalla de una computadora es transmitida
a travs de la combinacin solamente una vez y nicamente se reduce su brillo. De esta forma,
el contraste de la imagen sobre la pantalla de la computadora se acenta significativamente
usando esta tcnica de polarizacin.

0.6. Lseres.

La salida de un lser es muy diferente que la mayora de las otras fuentes de luz. Despus de
describir el tipo ms simple de haz, el haz de modo gaussiano TEM00 y sus parmetros, veremos
las formas de colimar el haz. Discutiremos el efecto de una construccin sobre su salida y un
mtodo mediante el cual sta salida puede medirse.

0.6.1. Caractersticas de un haz gaussiano.

El trmino gaussiano describe la variacin en la irradiancia a lo largo de una lnea perpendicular

a la direccin de propagacin y a travs del centro del haz, como se muestra en la Fig. 0.27. La
irradiancia es simtrica alrededor del eje del haz y vara radialmente hacia fuera de este eje con
la forma
2 / 2
() = 0 2 1 (0-23)

o en trminos del dimetro del haz

2 /2
() = 0 2 1

40
donde r1 y d1 son las cantidades que definen la extensin radial del haz. Estos valores son, por
definicin, el radio y el dimetro del haz donde la irradiancia es 1 e 2 del valor sobre el eje del
haz, 0 .

Fig. 0.27. Perfil de un haz gaussiano. Grfica de la irradiancia contra la distancia

radial del eje del haz.

0.6.1.1. Cintura y divergencia del haz

La Fig. 0.27 muestra un haz de rayos paralelos. En realidad, un haz Gaussiano cualquiera, diverge
a partir de una cierta regin en la que el haz es ms pequeo, llamada cintura del haz, o converge
a ella, como se muestra en la Fig. 0.28. La cantidad de divergencia o convergencia se mide
mediante el ngulo completo de divergencia del haz , que es el ngulo subtendido por los
puntos de dimetro 1 e 2 para distancias alejadas de la cintura del haz como se muestra en la Fig.
0.28. En algunos textos y artculos sobre lseres, el ngulo se mide a partir del eje del haz a la
asntota 1 e 2 , es decir, es un medio ngulo. Sin embargo, es el ngulo total de divergencia, como
se define aqu, lo que usualmente viene en las hojas de especificaciones de la mayora de los
lseres. Debido a la simetra hacia cualquier lado del haz, el ngulo de convergencia es igual al
ngulo de divergencia. Nos referiremos a ste ltimo en ambos casos.

41
Bajo las leyes de la ptica geomtrica un haz gaussiano que converge con un ngulo de debera
colapsar a un punto. Debido a la difraccin, esto no ocurre. Sin embargo, en la interseccin de
las asntotas que definen , el haz alcanza un valor mnimo d0, el dimetro de la cintura del haz.
Puede mostrarse que para un modo TEM00, d0 depende del ngulo de divergencia como:
4 (0-24)
0 =

donde es la longitud de onda de la radiacin. Nota que para un haz Gaussiano de una longitud
de onda particular, el producto d 0 es constante. De esta forma, para una cintura de haz muy
pequea la divergencia debe ser grande y para un haz altamente colimado ( pequeo), la cintura
del haz debe ser grande.

La variacin del dimetro del haz en la vecindad de la cintura del haz se muestra en la Fig. 0.28 y
est dado por
2 = 02 + 2 2 (0-25)

donde d es el dimetro a una distancia de la cintura del haz a lo largo del eje del mismo.

Fig. 0.28. Variacin del dimetro de un haz gaussiano en la vecindad de la cintura del haz.
El tamao del haz en su punto ms pequeo es d0: el ngulo total de divergencia, definido por
las asntotas ms pequeas para los puntos 1 e 2 a una distancia grande
de la cintura del haz es .

0.6.1.2. El Rango de Rayleigh.

Es muy til caracterizar la extensin de la regin de la cintura del haz con un parmetro llamado
el Rango de Rayleigh. (En otras descripciones de los haces Gaussianos esta extensin es algunas
veces caracterizada por el parmetro confocal del haz y es igual a dos veces el rango de Rayleigh.)

42
Rescribiendo la Ec. 0-25 como

= 0 1 + (/0 )2 (0-26)

definimos el Rango de Rayleigh como la distancia de la cintura del haz a donde el dimetro del
haz se ha incrementado a d 0 2 . Obviamente esto ocurre cuando el segundo trmino bajo el
radical es la unidad, esto es, cuando

0 (0-27)
= =

Aunque la definicin de debe parecer algo arbitraria, esta eleccin particular ofrece ms que
solo conveniencia. La Fig. 0.29 muestra una grfica del radio de curvatura de los frentes de onda
en un haz gaussiano como una funcin de z. Para grandes distancias medidas desde la cintura del
haz, los frentes de onda son casi planos, dando valores que tienden a infinito. En la cintura del
haz, los frentes de onda son planos tambin, y, de esta forma, el valor absoluto del radio de
curvatura de los frentes de onda debe ir desde infinito para grandes distancias hasta un mnimo
y regresar a infinito en la cintura del haz. Esto tambin es verdad en el otro lado de la cintura del
haz pero con el signo opuesto. Puede mostrarse que el mnimo del valor absoluto del radio de
curvatura ocurre cuando z z R , esto es, a una distancia de un rango de Rayleigh a cualquier
lado de la cintura del haz. De la Fig. 0.29, la regin colimada de la cintura de un haz Gaussiano
puede tomarse como 2 .

Fig. 0.29. Grfica del radio de curvatura (R) contra la distancia (z) desde la cintura del haz. El
valor absoluto del radio es un mnimo en el punto zR, al rango de Rayleigh. En el lmite de la
ptica geomtrica, el radio de curvatura de los frentes de onda sigue la lnea
punteada.

43
El rango de Rayleigh puede ser expresado de varias formas:

0 4 02 (0-28)
= = =
2 4

De aqu, vemos que las tres caractersticas de un haz gaussiano son dependientes unas de las
otras. Dada una de las tres cantidades, d0, zR, y la longitud de onda de la radiacin, el
comportamiento del haz est completamente descrito. As, por ejemplo, si un lser de helio-nen
tiene un dimetro TEM00 especificado de 1 mm, entonces

4 1.27 6.33 107

= = = 0.8 mrad
0 1 103

y

z R d 0 110 3 0.8 10 1.25m
3

El rango de Rayleigh de un lser tpico de helio-nen es considerable.

0.6.2 Colimacin de un haz de lser.

Mediante el uso de lentes, la divergencia, la cintura del haz y el rango de Rayleigh de un haz
Gaussiano pueden cambiarse. Sin embargo, de la discusin de arriba, es claro que las relaciones
entre los diversos parmetros del haz no pueden ser cambiadas. De esta forma, incrementar la
colimacin de un haz reduciendo la divergencia requiere que la cintura del haz se incremente,
debido a que el producto del dimetro de la cintura y la divergencia es constante. Esto se hace
primero creando un haz con una divergencia fuerte y una cintura pequea y luego poniendo la
cintura del haz en el punto focal de una lente de distancia focal grande. Esto es, hacer pasar el
haz a travs de un telescopio invertido. El lser ir de la lente ocular a la lente objetivo.
Hay dos formas de realizar esto. Una es usando un telescopio Galileano, el cual consiste de una
lente ocular negativa y una lente objetivo positiva, como se muestra en la Fig. 0.30(a). La luz
diverge a partir de la lente negativa produciendo una cintura de haz virtual y la lente objetivo se
coloca a una distancia igual a la suma algebraica de las distancias focales de las lentes para
producir un haz ms colimado. Puede mostrarse que el decremento en la divergencia es igual a
la divergencia original dividida por la amplificacin del telescopio, la cual es igual a la razn entre
las distancias focales del objetivo y el ocular. El segundo mtodo usa un telescopio Kepleriano
(Fig. 0.30(b)). La lente ocular es una lente positiva de tal forma que el haz viene a un foco y
entonces diverge para ser colimado por la lente objetivo.

44
 Fig. 0.30 Colimacin de un haz gaussiano. (a) Telescopio galileano.
(b) Telescopio Kepleriano. Ocular de distancia focal fe; distancia focal del objetivo, fo.

El Proyecto # 3 demostrar el diseo de estos dos tipos de expansores de haces de lser. Cada
uno tiene distintas ventajas. La ventaja del expansor de haz Galileano ocurre para sistemas de
lseres de alta potencia o de pulsos. Como el haz no converge a un foco, dentro del camino ptico
del expansor de haz, la densidad de potencia del haz decrece. Si las lentes y sus alrededores
pueden soportar el haz inicial, podrn soportarlo en cualquier parte del camino ptico. Aunque
el expansor de haz Kepleriano puede dar proporciones similares de expansin del haz, la
densidad de potencia en el foco de la primera lente es muy grande. De hecho, con una alta
potencia, un lser de pulsos puede provocar una turbulencia del aire en el espacio entre las
lentes. Esta turbulencia es causada por el campo elctrico muy fuerte que resulta de enfocar el
haz en un pequeo dimetro creando relmpagos en miniatura. (Muchos investigadores han sido
desagradablemente sorprendidos cuando estos relmpagos en miniatura destruyeron algunos
equipos pticos muy caros.)
La principal ventaja del expansor de haz Kepleriano es que un pinhole de un dimetro ptimo
puede ser colocado en el foco de la primera lente para ordenar el haz de lser rechazando la
parte de la energa del lser que esta fuera del dimetro del orificio. Este concepto de filtrado
espacial ser explorado en el Proyecto # 10.

45
 0.6.3 Modos axiales de un Lser.

Las propiedades de la luz lser incluyen monocromaticidad, baja divergencia (ya explorada en las
secciones previas), un alto grado de coherencia, la cual engloba ambas propiedades. Esta seccin
es una discusin de la coherencia del lser y un experimento histrico que ilustra uno de los
conceptos usando un dispositivo moderno.
Una discusin completa del principio de accin del lser tomara una cantidad sustancial de
espacio y tiempo de lectura. Para una explicacin del concepto aludimos a las referencias. La base
de los lseres es un proceso fsico llamado emisin estimulada. sta aparece como la tercera y
cuarta letra de las siglas LSER (Amplificacin de la luz mediante Emisin de Radiacin
Estimulada). La amplificacin es solamente el principio del proceso en la mayora de los lseres,
debido a que el incremento en la luz mientras pasa a travs de un volumen amplificante es
usualmente demasiado modesta. Si la radiacin fuera solamente amplificada durante un solo
paso a travs del volumen, sera til solo marginalmente. Sin embargo, cuando se colocan espejos
en ambos extremos del medio amplificador, la luz regresa al medio para obtener amplificacin
adicional (Fig. 0.31). La salida til del lser pasa a travs de uno de los espejos, el cual refleja la
mayor parte de la luz, pero transmite una pequea fraccin, usualmente del orden del 5% ( ms
del 40% para lseres de alta potencia). El otro espejo es totalmente reflejante. Pero los espejos
de los lseres hacen ms que confinar la mayor parte de la luz; tambin determinan la
distribucin de las longitudes de onda que pueden soportar amplificacin en el lser.

Fig. 0.31. La cavidad del lser. La distancia entre los espejos

Es un parmetro importante en la salida de un lser.

46
 Fig. 0.32. Onda estacionaria.

Los espejos sirven como un interfermetro simple pero efectivo, y para solamente ciertas
longitudes de onda, como en el caso del interfermetro de Michelson, habr interferencia
constructiva. Los espejos forman una estructura resonante que almacena o soporta solamente
ciertas frecuencias. Esto puede compararse con la resonancia de una cuerda de guitarra en la que
la nota que la cuerda produce cuando el tirn est determinado por la longitud de la cuerda. Una
nota diferente se obtiene cambiando la posicin del dedo en una cuerda de guitarra. La nota (en
realidad, las notas) est determinada por la cantidad de tensin que el guitarrista pone sobre la
cuerda y la longitud de sta. Cualquier libro fundamental de fsica mostrar que las condiciones
impuestas sobre la cuerda de longitud L producir una nota cuya longitud de onda es tal que un
nmero entero de medias longitudes de onda es igual a L,

(0-29)
=
2

En la Fig. 0.32 se muestra una onda estacionaria con tres medias longitudes de onda. En la
mayora de los lseres, a menos que se tomen precauciones especiales, varias longitudes de onda
satisfacen esta condicin de resonancia. Nos referimos a estas longitudes de onda como modos

axiales del lser. Como 2 = , donde q es un entero, las longitudes de onda soportadas por el
lser son
2 (0-29a)
=

Las frecuencias de estos modos estn dadas por c , donde c es la velocidad de la luz.
Insertando la expresin para las longitudes de onda, las frecuencias de los modos resonantes
estn dadas por
= (/2)

47
donde q es un entero. La frecuencia de separacin entre estos modos axiales es igual a la
diferencia entre modos cuyos enteros difieren en la unidad:
(0-30)
= +1 = ( + 1) =
2 2 2

as, la separacin entre modos vecinos de un lser es constante y depende solamente de la

distancia entre los espejos en el lser, como muestra la Fig. 0.33. Como la potencia obtenida en
lseres pequeos de helio-nen, como el usado para los proyectos descritos en este manual, est
relacionada con la longitud del lser, la separacin entre espejos est determinada por los
fabricantes para producir la potencia requerida por el lser. Pero la banda de longitudes de onda
que puede mantener la emisin estimulada est determinada por la fsica atmica del medio, en
este caso el nen. Esta banda no cambia radicalmente para la mayora de los tubos de lser helio-
nen. De esta forma, el nmero de modos axiales depende principalmente de la distancia entre
los espejos, L. Mientras ms separados estn los espejos, ms cercanas son las frecuencias de los
modos axiales. De esta forma, los lseres largos de helio-nen de alta potencia tienen un gran
nmero de modos axiales, mientras que los lseres de potencia moderada usados en el Kit de
Proyectos en ptica, tienen un pequeo nmero (usualmente tres) de modos axiales.

Fig. 0.33. Distribucin de los modos de un lser. Grfica

de la potencia en la salida de un lser como una funcin de la frecuencia.

48
 Fig. 0.34. Salida de un lser de tres modos. La polarizacin
Relativa de cada modo est indicada como su base.

Una de las otras relaciones entre los modos vecinos de un lser, adems de su separacin, es que
su polarizacin es ortogonal (cruzada) a la de sus vecinos (Fig. 0.34). De esta forma, si
examinamos un lser de tres modos con las herramientas apropiadas, esperaramos encontrar
que los otros tendran una polarizacin perpendicular. Esto significa que, mientras los modos
axiales estn separados en frecuencia por /2, los modos de la misma polarizacin estn
separados por /.
Al observar a travs de una rejilla de difraccin en la salida de un lser de tres modos, vemos un
solo color. Deben emplearse interfermetros de alta resolucin para exhibir los modos axiales de
un lser. Sin embargo, es posible tambin usar un interfermetro de Michelson para investigar
los modos sin recurrir a dispositivos de alta resolucin. Esta tcnica tiene aplicaciones especiales
en la regin del infrarrojo del espectro.

0.6.4 Coherencia de un lser.

Cuando decimos que algo es coherente en la vida diaria, usualmente significa que ste, una
pintura, una pieza musical, un plan de accin, tiene sentido. Que es consistente. Est en este
concepto la idea de consistencia y predictibilidad. El juicio de lo que es coherente o no, sin
embargo, es una prueba individual. Lo que una persona puede encontrar coherente en la msica
heavy-metal, otra persona lo escuchara en blues.... Este concepto de coherencia como una
forma predecible o consistente de alguna idea o de algn trabajo en las artes tiene con mucho el
mismo significado cuando se aplica a las fuentes de luz. Qu tan consistente es un campo de luz

49
de un punto a otro? Cmo se hace la comparacin? La interferencia del haz de luz consigo
mismo hace la comparacin. Si hay una relacin constante entre un punto en un haz de lser y
otro punto, entonces la interferencia de ondas separadas por esa distancia producir un patrn
de interferencia estable. Si, sin embargo, la amplitud, la fase o la longitud de onda cambia entre
esos dos puntos, la interferencia, mientras est aun siempre presente, variar constantemente
con el tiempo. Este patrn de interferencia inestable puede an exhibir franjas, pero estas franjas
se borrarn. Esta prdida de visibilidad de las franjas como una funcin de la distancia entre los
puntos de comparacin es la medida de la coherencia de la luz. Esta visibilidad puede ser medida
por el contraste de las franjas de interferencia. El contraste est definido por

(0-31)
=
+

Donde es la irradiancia de las franjas brillantes e es la irradiancia de las franjas oscuras

(Fig. 0.35). Este contraste est determinado por el paso de la luz desde la fuente a travs de un
interfermetro de brazos desiguales. Cambiando la diferencia de longitud de camino entre los
brazos en el interfermetro, puede registrarse la visibilidad de las franjas como una funcin de
esta diferencia. A partir de estas observaciones, puede hacerse la medicin de la coherencia de
una fuente usando un interfermetro de Michelson.

Fig. 0.35. Contraste

50
 Fig. 0.36. Funcin de visibilidad.

Si una fuente fuera absolutamente monocromtica, no habra expansin en frecuencias en su

espectro. Esto es, el ancho de su banda de frecuencias sera cero. Para que esto sea verdadero,
todas las partes de la onda exhiben la misma dependencia senoidal desde un extremo de la onda
hasta el otro. De esta forma, una onda realmente monocromtica nunca mostrara alguna falta
de contraste en las franjas, sin importar qu tan grande se haga la diferencia de longitud de
camino. Pero todas las fuentes, an los lseres contienen una distribucin de longitudes de onda.
Por consiguiente, mientras se incrementa la diferencia de longitud de camino, el frente de onda
en un punto sobre el haz se sale de fase con otro punto sobre el haz. Una medida de la distancia
a la cual esto ocurre es la longitud de coherencia de un lser. Esta est relacionada al ancho de
la banda de frecuencias de un lser por
(0-32)
=

Cualquier medicin de la longitud de coherencia de una fuente de luz por observacin de la

visibilidad de las franjas de un interfermetro de Michelson dar informacin sobre el ancho de
banda de esa fuente y, por consiguiente, de su coherencia. Por ejemplo, supongamos que la
fuente es un lser con algn ensanchamiento. Mientras la longitud de los brazos en un
interfermetro de Michelson, como se muestra en la Fig. 0.36, se vuelve desigual (el espejo se
mueve de A a B), una de las partes de la onda interferir con otra parte que se retrasa en un
tiempo igual a la diferencia en la longitud de camino dividida por la velocidad de la luz.
Eventualmente las ondas comienzan a salirse del paso y el contraste de las franjas comienza a
disminuir por causa de que las relaciones de fase entre las dos ondas estn variando ligeramente

51
debido al ensanchamiento en frecuencias en la luz. Mientras mayor sea el ensanchamiento del
haz, ms rpidamente la visibilidad de las franjas ir a cero.
Un caso particularmente interesante consiste de una fuente con solamente unos cuantos modos
presentes como es el caso del lser de helio-nen de tres modos discutido arriba. Debido a que
solamente interfiere luz de la misma polarizacin, habr dos modos (1 , 3 ) en el lser que
pueden interferir el uno con el otro. El tercer modo (2) con polarizacin ortogonal usualmente
se elimina al pasar la salida del lser a travs de un polarizador. Con los espejos del
interfermetro colocados a igual longitud de camino hay dos conjuntos de franjas, una de cada
uno de los modos. Como la diferencia de longitud de camino es cero, estos dos conjuntos de
franjas de alto contraste se superponen uno al otro. Pero cuando la longitud de camino se
incrementa, las franjas comienzan a desfasarse. Hasta que, finalmente, el mximo de
interferencia de uno de los conjuntos de franjas se superpone al mnimo de interferencia del otro
conjunto de franjas y el contraste va a cero. El clculo de esta condicin es realmente simple. La
condicin para un mximo de interferencia est dada por
(0-33)
1 2 = m = entero
2

y para un mnimo de interferencia por

(0-34)
1 2 = m = enteros impares
4

Si suponemos que el cambio en la longitud de camino va de cero al punto donde la visibilidad va

a cero primero, entonces para una longitud de onda, 1,

1 (0-35)
1 2 = m = entero
2

y para el otro modo con la misma polarizacin hay un mnimo.

3 3 (0-35)
1 2 = +
2 4

Igualando esas dos expresiones y rearreglando trminos, obtenemos

52
 1 3 (1 3 ) 3 (0-35)
= =
2 2 2 4
o
3
=
2

La separacin en las longitudes de onda puede expresarse como una separacin en las
frecuencias por
= / (0-36)

donde y son los valores promedio en los intervalos y . Insertando esta expresin para
, obtenemos
(0-37)
=
2

El entero m es un nmero extremadamente grande en la mayora de los casos y no suele

determinarse fcilmente, pero est relacionado con el valor promedio de la longitud de onda de
la fuente por L1 L2 m 1 2 . Si colocamos L L1 L2 , resolvemos para m e insertamos la
expresin para ,

(0-38)
= = =
2 4 4

debido a que c .

De esta forma, la separacin en frecuencias entre modos puede medirse determinando la

diferencia de longitud de camino cuando los dos patrones de franjas de interferencia no
coinciden uno con otro, causando que la visibilidad vaya a cero, como se describe en la Fig. 0.37.
Puede demostrarse tambin que hay mnimos adicionales en la visibilidad en 3c 4L ,
5c 4L , etc. El mximo de visibilidad ocurre a medio camino entre estos mnimos mientras los
dos patrones de franjas vuelven a coincidir. En el Proyecto # 7, este efecto le har capaz de
determinar la separacin de los modos para el lser usado en estos proyectos. Lo que se ha
derivado aqu es un caso simple de muchos ms implicados en la aplicacin de esta tcnica. Es
posible medir el contraste de las franjas como una funcin de la posicin del espejo
(interferograma) y almacenarlo en la memoria de una computadora. Se ha mostrado que una
transformacin matemtica (la misma Transformada de Fourier que discutiremos en la siguiente
seccin) de la funcin de visibilidad da el espectro de frecuencias de la fuente.

53
Aunque esto puede quiz parecer difcil, la llegada de poderosas computadoras ha reducido el
costo e incrementado la utilidad de esta tcnica, particularmente en la parte del infrarrojo lejano
del espectro. Estos instrumentos son conocidos como espectrmetros de la transformada de
Fourier.

Fig. 0.37. Funcin de visibilidad para sistema de dos modos.

Fig. 0.38. Ordenes de difraccin.

54
 0.7 Teora de Abbe de Formacin de Imgenes.

La discusin anterior de la formacin de imgenes dependa del trazo de una serie de rayos para
determinar la posicin y el tamao de la imagen, mostrando que solamente necesitamos unos
cuantos rayos. Esta aproximacin ignora las posibilidades de que la fuente pudiera ser
monocromtica y suficientemente coherente como para que los efectos de la interferencia y la
difraccin puedan tomar parte en la formacin de una imagen. Lo que describiremos y
demostraremos despus en el Proyecto # 10, es que despus de que la luz que formar una
imanen ha pasado por la lente, podemos intervenir y cambiar la imagen en muchas formas
especiales. Se ha encontrado que esta aproximacin de la formacin de imgenes se usa en
muchas aplicaciones de la ptica moderna. Para empezar a entender este concepto, necesitamos
revisar brevemente la rejilla de difraccin discutida en la Seccin 0.4.3, debido a que la rejilla es
una de las ilustraciones ms simples de esta nueva forma de pensar acerca de la formacin de
imgenes. Consideremos una rejilla de difraccin que consiste de una serie de bandas angostas
absorbentes y transmitentes (negras y blancas) igualmente espaciadas. Es posible determinar
matemticamente no solamente las direcciones de los rdenes de difraccin

(0-39)
sen = , m = entero

sino tambin las irradiancias relativas de los puntos difractadas respecto a los otros. Si insertamos
una lente despus de la rejilla de difraccin, podemos trasladar los rdenes de la rejilla de
difraccin desde infinito hasta el plano focal posterior de la lente (Fig. 0.38). Veremos cmo
puede usarse esto para entender la formacin de imgenes.

0.7.1 Frecuencias espaciales.

Estamos familiarizados con la idea de las repeticiones en el tiempo. Las fuentes de seales
elctricas y de audio con frecuencias nicas, particularmente cuando se relacionan con el sonido
son usadas para probar la respuesta del equipo. Un buen sistema de alta fidelidad reproducir
un ancho rango de frecuencias desde los graves profundos alrededor de 20 Hz (ciclos por
segundo), esto es, desde lo mnimo que puede escucharse, hasta lo que es casi imposible de
escuchar, 15,000 Hz, dependiendo de que tan bien hayas tratado tus odos durante tu vida. Como
se not anteriormente, la frecuencia del campo electromagntico determina si la radiacin es
visible para los ojos. Otra vez, esta variacin peridica en el campo elctrico toma lugar en el
tiempo. As como es posible hablar de la variacin de las ondas elctricas y del sonido con el
tiempo, en ptica, las variaciones en el espacio pueden ser expresadas como frecuencias

55
espaciales. stas se expresan usualmente en ciclos/mm (o mm-1). Ellas indican la rapidez con la
que un objeto o imagen vara en el espacio en vez del tiempo. Un ejemplo que muestra varias
frecuencias espaciales est dado en la Fig. 0.39.

Como en el caso de muchas seales elctricas y de sonido, la mayora de los patrones espaciales
repetitivos no consisten de una sola frecuencia, sino que, como un acorde musical, estn
formadas por alguna frecuencia fundamental y sus sobre-tonos o armnicos. La discusin de las
frecuencias espaciales en ptica se basa en una interesante, pero relativamente complicada
matemtica. Podras querer leer esta seccin de una vez, para adquirir las ideas generales y
entonces regresar despus de que hayas hecho el Proyecto # 10. Ciertamente, este es un ejemplo
de los casos en los que el trabajo tcnico mejorar tu entendimiento de la discusin del tema.

Fig. 0.39. Frecuencias espaciales en un objeto.

Fig. 0.40. Rejilla senoidal contra rejilla blanco y negro.

(Anlisis de Fourier).

56
Un ejemplo de un objeto con pocas frecuencias espaciales es la rejilla de difraccin. Si la rejilla ya
discutida consiste de una variacin senoidal, como se muestra en la Fig. 0.40(a), habra solamente
un orden cero y los primeros rdenes (m = 1 ). Como los patrones repetitivos en general no
tienen una variacin senoidal, aparecen rdenes adicionales de difraccin y en el caso de rejillas
blanco y negro, est presente una serie completa de rdenes de difraccin (Fig. 0.40(b)).
Todo esto puede expresarse matemticamente en trminos de la Teora de Fourier. Nosotros no
nos ocuparemos de la expresin matemtica de la teora, sino solamente de expresar
grficamente el resultado tan simplemente como sea posible.
Cualquier funcin peridica (repetitiva) puede expresarse como una serie de funciones seno y
coseno que consiste de la frecuencia peridica fundamental, , y sus armnicas (aquellas
frecuencias que son mltiplos de la frecuencia fundamental (2f, 3f, ...)). La cantidad con la que
cada frecuencia contribuye a la frecuencia original puede calcularse usando algunas expresiones
estndares del clculo integral. La descomposicin del patrn peridico en sus armnicas se
denomina Anlisis de Fourier. Este anlisis determina la amplitud de cada contribucin de las
armnicas a la funcin original y su fase relativa a la fundamental (en fase o 180 fuera de fase).

Fig. 0.41. Sntesis de Fourier.

El procedimiento puede ser invertido, en cierto sentido. Si un patrn de la frecuencia

fundamental es combinado con las cantidades apropiadas de las armnicas, es posible aproximar
cualquier funcin con una frecuencia de repeticin de la fundamental. Este proceso se denomina
Sntesis de Fourier. Para sintetizar completamente una funcin tal como nuestro ejemplo de una
rejilla alternante blanco y negro, se necesitara un nmero infinito de armnicas. Si solamente se
usan frecuencias por arriba de algn valor especfico, la funcin sintetizada se parecer a la

57
funcin que queremos, pero sus orillas no estarn tan bien definidas como en la original. Un
ejemplo simple (Fig. 0.41) usando solo una fundamental y dos armnicas muestra el principio de
la sntesis de una funcin de onda cuadrada, similar a nuestra rejilla blanco y negro. Lo que
investigars en el Proyecto # 10 son tcnicas pticas que usan anlisis y sntesis de Fourier en la
creacin de imgenes.

0.7.2 Formacin de imgenes.

Si una rejilla de Ronchi (blanco y negro) se ilumina con ondas planas de luz monocromtica, se
generarn varios rdenes de difraccin. Estos haces de ondas planas difractados a diferentes
ngulos dados por la Ec. 0-39, pueden ser enfocados con una lente colocada detrs de la rejilla
de difraccin, como muestra la Fig. 0.42. Los puntos enfocados tienen intensidades que son
proporcionales al cuadrado de las amplitudes que podramos calcular para esta rejilla de
difraccin. En efecto, la combinacin de lser y lente sirve como una analizador ptico de Fourier
para un objeto difractor.

Fig. 0.42. Anlisis ptico de Fourier

Cuando un haz de lser ilumina una rejilla, la luz se difractar y el espectro de frecuencias
espaciales se desplegar en el plano focal posterior de la lente. Resulta que si el objeto no es una
rejilla o una serie de lneas con varios espaciamientos repetitivos, el patrn de luz en el plano
focal posterior an describe el contenido de frecuencias espaciales encontradas en el objeto. Los

58
objetos que son grandes y que varan suavemente representan bajas frecuencias espaciales y no
difractarn mucho el haz. Sus contribuciones, por consiguiente, estn cerca del eje ptico de la
lente. Los objetos pequeos o que tienen detalles finos y bordes muy marcados causarn
difraccin sustancial y sus contribuciones sern encontradas ms lejos del eje ptico en el plano
focal posterior de la lente.

Supongamos que usamos como objeto una malla cuadrada de alambre. sta es un par de rejillas
cruzadas solo que un poco ms burdas que la discutida anteriormente (Fig. 0.42). Cuando esta
rejilla cuadrada se ilumina con un haz de lser, los rdenes de difraccin se enfocan a una serie
de puntos en la parte posterior del plano focal de la lente y las frecuencias espaciales forman una
rejilla bidimensional de puntos. La separacin entre los puntos est determinada por la distancia
entre alambres vecinos, representando la constante de la rejilla para esta rejilla rudimentaria.
Si la lente est a ms de una distancia focal de la rejilla, entonces en alguna posicin posterior al
plano de la transformada de Fourier, se formar una imagen real de la rejilla. La geometra est
mostrada en la Fig. 0.43. El punto de inters de este arreglo es que la imagen puede entenderse
como una distribucin de luz que surge de la interferencia de la luz desde las componentes de la
frecuencia espacial del objeto colocado en el plano focal posterior de la lente. En otras palabras,
la imagen es una sntesis de Fourier de las frecuencias espaciales en la rejilla.
Esta imagen puede pensarse como un proceso de dos pasos: el anlisis de Fourier seguido de la
sntesis de Fourier. Esta aproximacin para analizar imgenes fue primero propuesta por Ernst
Abbe, un catedrtico de la Universidad de Jena, que fue contratado por Carl Zeiss para entender
y disear lentes de microscopio. Despus de algunos estudios uno ve que mientras mayor sea el
ngulo con el que la lente formadora de imgenes colecta la luz, mayor es la resolucin posible,
debido a que las componentes ms altas de las frecuencias espaciales aparecen alejadas del eje.
Aunque muy poca luz se colecta cerca de la orilla de la lente, es esta luz la que contribuye a los
detalles finos en imgenes de alta resolucin.

Fig. 0.43. Teora de Abbe de Formacin de Imgenes.

59
 0.7.3 Filtraje espacial.

Debido a que la luz en el plano de la transformada de Fourier (Fig. 0.43) est arreglada de acuerdo
al incremento de la frecuencia espacial con el radio, entonces cualquier intervencin en este
plano en la forma de un obstculo cambiar la distribucin de frecuencias espaciales en el plano.
Tambin cambiar el contenido de la imagen, pero en una forma predecible.
El procedimiento de modificar una imagen cambiando las frecuencias espaciales contenidas en
ella es llamado filtraje espacial. Un ejemplo de tal procedimiento es el filtraje espacial de una
transparencia de una imagen de una pantalla de televisin. La transformada de Fourier de la
transparencia, parecer un parche en el centro de la diapositiva con una serie de puntos
igualmente espaciados arreglados en una lnea vertical. Estos puntos representan una
caracterstica peridica como de rejilla en la diapositiva. Esta rejilla es debida a una serie de lneas
paralelas, llamada raster, es usada para construir una imagen sobre la pantalla de televisin. El
haz de electrones que escribe sobre el frente del tubo en una TV, lo hace como una serie de lneas
paralelas. Encendiendo y apagando el haz como barriendo la pantalla y bajndolo un poco en
cada paso, el circuito construye una imagen en el tubo. Si miras de cerca una pantalla de
televisin puedes ver el raster. Si los puntos representan el raster dnde est el resto de la
imagen? Reside en el parche en el centro del haz. Este proceso de anlisis y sntesis para formar
imgenes ser demostrado como uno de los experimentos en el Proyecto # 10.

Fig. 0.44. Filtraje espacial.

Hay diversas aplicaciones que estn basadas en esta aproximacin de formacin de imgenes.
Una de ellas limpia un haz de lser. La distribucin de irradiancia del haz en muchos lseres es
Gaussiana (Seccin 0.6.1) tal como sale en el espejo de salida del lser. Sin embargo, el polvo y
las pequeas imperfecciones en la lente, ventanas y superficies que atraviesa o sobre las que se
refleja pueden producir irregularidades en el patrn de irradiancia. La distribucin Gaussiana
representa una variacin de las bajas frecuencias espaciales en el haz, mientras que las

60
irregularidades contienen altas frecuencias espaciales. Cuando el haz de lser es enfocado con
un objetivo de microscopio, como se muestra en la Fig. 0.44, estas variaciones estn arregladas
de acuerdo a sus frecuencias espaciales. Si un pequeo pinhole, cuyo dimetro sea lo
suficientemente grande para pasar la porcin Gaussiana de baja frecuencia del haz y bloquear la
parte de alta frecuencia, las irregularidades sern removidas del haz emergente y resultar un
lser limpio.
Otra aplicacin implica el uso de frecuencias espaciales para reconocimiento de objetos. En
algunas reas de examinacin fotogrfica, la cantidad de datos para analizar es enorme. Dada
una caracterstica de inters que tiene un conjunto particular de frecuencias espaciales
conectado con ella (espaciamiento entre vas en el caso de ferrocarriles, por ejemplo), la
combinacin de lser y lente puede usarse para reconocer la posible presencia de estas
caractersticas en la fotografa. Otras aplicaciones incluyen inspeccin de productos, tales como
las puntas de agujas hipodrmicas. El patrn de frecuencia espacial promedio para un gran
nmero de agujas buenas se almacena en una memoria de computadora. Entonces el patrn de
cada nueva punta se compara con l. Aquellas agujas que no satisfacen el patrn almacenado
dentro de cierto criterio son rechazadas. Como la posicin de la punta no afecta el patrn de
frecuencia espacial, la prueba es insensible a errores de colocacin, mientras que una inspeccin
directa de la imagen de la punta de la aguja tendra que localizarse con un alto grado de precisin.

0.8 Referencias

Elements of Modern Optical Design, Donald C. OShea

J. Wiley & Sons, Inc., 1985

Optics (2a. Edicin), E. Hecht

Adisson Wesley

Fundamentals of Optics, F. Jenkins y H. White

McGraw-Hill, 1957

Contemporary Optics for Scientists and Engineers, Nussbaum

Prentice-Hall, inc. 1976

The Optics Problem Solver

Research and Education Association, 1986

61
62
 ENSAMBLE DE COMPONENTES

Todos los experimentos de este kit usan un determinado nmero de ensambles de componentes
que son similares. Para simplificar el arreglo experimental hemos incluido una seccin sobre la
construccin de estos ensambles. Esta seccin de componentes contiene esquemas de cada
ensamble e instrucciones fciles de entender.
Las partes estn etiquetadas con letras en las instrucciones. El nmero de catlogo de Newport
que aparece sobre algunos de los artculos est enlistado enseguida de la parte etiquetada. Los
nmeros de catlogo entre parntesis denotan versiones mtricas del mismo artculo.

Alineacin de Componentes

Todos los ensambles, excepto el ensamble de lentes (LCA), pueden atornillarse a la cubierta
ptica. La alineacin de muchas de las componentes se hace ms simple dirigiendo los caminos
pticos a lo largo de los agujeros para tornillos sobre la superficie. Para ajustar la altura o
alineacin de un componente, rota el ensamble en el soporte para poste y vuelve a fijar el
poste.
En varios de los experimentos posteriores, notars que hay algunos ensambles estndar en las
mismas posiciones. Una geometra en particular que se usa para todos los experimentos
despus del Proyecto # 3, tiene forma de U: un brazo consiste de un ensamble de lser (LA) y
un ensamble dirigidor de haz (BSA-I). El lado de la U est entre este BSA-I y un segundo BSA-I.
En algunos experimentos se encuentra un expansor de haz, descrito y construido en el Proyecto
# 3, dentro del brazo entre los dos ensambles dirigidores de haz. El tercer brazo consiste de
cualquier nmero de componentes que son especficos al experimento en particular. Si los
experimentos se hacen en orden, entonces debera ser posible construir la geometra bsica en
forma de U, LA ms dos BSA-I, y conducir el balance de los experimentos sin tener que
desmontarlo despus de cada conjunto de experimentos.

UNA NOTA SOBRE EL MANIPULACION OPTICA

Cuando manipules componentes pticas, trata las superficies de lentes y espejos con cuidado.
Nunca toques estas superficies. Si hay paos para lentes o cubiertas para dedos disponibles,
salas para proteger las superficies de los aceites de tus dedos y la contaminacin. Si no hay,
maneja las componentes por sus orillas. Ensambla las componentes sobre una superficie plana.
(No levantes las componentes sobre la mesa ms de lo necesario).
63
 Ensamble Dirigidor de Haz: (BSA-I)*

Este ensamble consiste en:

Parte No. De Catlogo Cantidad Descripcin
A 10R08ER.1 1 Espejo de 1 plg.
B MM-1H (M-MM-1H) 1 Soporte de Espejo
C MM-1 (M-MM-1) 1 Montura de espejo, ajustable
D COR-1 1 Barra de Centro de Rotacin
E SP-3 (M-SP-3) 1 Poste, 3 plg.
F VPH-2 (M-VPH-2) 1 Soporte para poste, 2 plg.
AA 8-32 (M4) 2 Tornillos de cabeza
BB - 20 (M6) 1 Tornillos de cabeza
CC 8-32 (M4) 1 Tornillo

1. Coloca el espejo de una pulgada (A) en su soporte (B).

Si el espejo parece estar chueco, coloca algunas hojas
de pauelo para lentes sobre la mesa y cuidadosamente
coloca el sujetador y el espejo sobre ellas con el espejo
hacia abajo. Empuja hacia abajo hasta que el fondo del
espejo entre en el sujetador.
No muevas el espejo sobre el pauelo o puedes
provocar severos daos sobre la cubierta del espejo.

2. Pon el sujetador de espejo (B) en la montura ajustable

para espejo (C). Asegura el sujetador de espejo en la
montura usando el tornillo (CC) en su lado. No lo
aprietes con ms fuerza que la de un dedo.
3. Usa uno de los dos tornillos de cabeza 8-32 (AA) para
sujetar la barra (D) de modo que la orilla del espejo
quede sobre el centro del poste (E). Puedes necesitar
primero remover el tornillo que viene con el poste (E).
Guarda este tornillo.
4. Usa el segundo tornillo de cabeza 8-32 para fijar el
ensamble de espejo (A-B-C) al otro agujero en la barra
(D).
5. Inserta un tornillo de - 20 (BB) en el soporte para
poste (F) desde adentro, coloca el soporte sobre un
agujero en la cubierta ptica donde vaya a localizarse el

*
BSA: Del ingles Beam Steering Assembly

64
 ensamble y apritalo.
6. Coloca el ensamble (A-B-C-D-E) en el soporte F y
apritalo lo suficiente para mantenerlos unidos.

NOTA: Para algunos ensambles, el Soporte para poste no

est sujeto directamente a la cubierta ptica, sino que el
tornillo (BB) se inserta a travs de una base plana (K) desde
el fondo. Esto da una base al ensamble y le permite
moverse sobre la mesa.

65
 Ensamble Dirigidor de Haz Modificado: (BSA-III)*

Este ensamble consiste de:

Parte No. De Catlogo Cantidad Descripcin
A 10R08ER.1 1 Espejo de 1 plg.
B MM-1H (M-MM-1H) 1 Sujetador de espejo
C MM-1 (M-MM-1) 1 Montura de espejo, ajustable
E SP-3 (M-SP-3) 1 Poste, 3 plg.
F VPH-2 (M-VPH-2) 1 Soporte para poste, 2 plg.
H CA-2 (M-CA-2) 1 Sujetador de ngulo variable (nuez) (nuez)
AA 8-32 (M4) 2 Tornillos de cabeza
CC 8-32 (M4) 1 Tornillo
DD 8-32 (M4) 1 Tornillo

1. Coloca el espejo de una pulgada (A)

en su sujetador (B). Si el espejo parece
estar chueco, coloca algunas hojas de
pauelo para lentes sobre la mesa y
cuidadosamente coloca el sujetador y
el espejo sobre ellas con el espejo
hacia abajo. Empuja hacia abajo hasta
que el fondo del espejo entre en el
sujetador.
No muevas el espejo sobre el pauelo
o puedes provocar severos daos
sobre la cubierta del espejo.

2. Pon el sujetador de espejo (B) en la

montura ajustable para espejo (C).
Asegura el sujetador de espejo en la
montura usando el tornillo (CC) en su
lado. No lo aprietes con ms fuerza de
la de un dedo.
3. Inserta un tornillo 8-32 (DD) en un
poste. Atornilla la montura para
espejo (C) sobre l.

*
BSA: Del ingles Beam Steering Assembly

66
 4. Inserta esta combinacin de montura para espejo-poste (E-A-B-C) en la nuez (H) en el
agujero ms lejano de la perilla. Inserta un segundo poste (E) en el agujero que queda en
la nuez (H). Suavemente aprieta la perilla para mantener los dos postes en su lugar.
5. Inserta un tornillo de cabeza de -20 (BB) en el soporte para poste (F) desde su interior,
coloca el soporte sobre el agujero en la cubierta ptica donde el ensamble vaya a estar
localizado y aprieta hasta que el tornillo quede al fondo del soporte (F).
6. Inserta el ensamble de poste (E-A-B-C-H-E) en el Soporte para poste y suavemente aprieta
el tornillo para mantener el ensamble unido.

Se intenta que esta versin del ensamble dirigidor de haz est fijo en un lugar y el movimiento
del espejo se haga cambiando la longitud y direccin de los postes (E) en la nuez (H).

67
 Ensamble Dirigidor de Haz Modificado (BSA-II)*

Este ensamble consiste en:

Parte No. De Catlogo Cantidad Descripcin
C MM-1 (M-MM-1) 1 Montura de espejo
E SP-3 (M-SP-3) 1 Poste, 3 plg.
F VPH-2 (M-VPH-2) 1 Soporte para poste, 2 plg.
R RSP-1T 1 Plataforma de Rotacin
BB - 20 (M6) 1 Tornillos de cabeza
CC 8-32 (M4) 1 Tornillo

Esta versin modificada del ensamble dirigidor de haz,

consiste de una montura ajustable para espejo (C) cuya
superficie se monta de forma perpendicular al poste (E)
con un tornillo 8-32 (CC), como se muestra. El Soporte
para poste est sujeto al centro de una plataforma de
rotacin (R).

*
BSA: Del ingles Beam Steering Assembly

68
 Ensamble de Objetivo (TA-I)*

Este ensamble consiste de:

Parte No. De Catlogo Cantidad Descripcin
E SP-3 (M-SP-3) 1 Poste, 3 plg.
F VPH-2 (M-VPH-2) 1 Soporte para poste, 2 plg.
G FC-1 (M-FC-1) 1 Montura para filtro
H CA-2 (M-CA-2) 1 Sujetador de ngulo variable (nuez) (nuez)
BB - 20 (M6) 1 Tornillos de cabeza
DD 8-32 (M4) 1 Tornillo

1. Inserta el tornillo 8-32 (DD) en un extremo

del poste (E). Atornilla la montura para filtro
(G) en este tornillo 8-32.
2. Inserta esta combinacin de poste y
montura para filtro (E-G) en una nuez (H).
3. Inserta un tornillo de cabeza de -20 (BB)
en el soporte para poste (F) desde el
interior, colcalo sobre el agujero en la
cubierta ptica donde el ensamble vaya a
estar colocado y aprieta hasta que el
tornillo toque el fondo de (F).
4. Inserta el ensamble (E-G-H-E) en el soporte
para poste (F) y aprieta suavemente el
tornillo para mantener el ensamble unido.
Se intenta que esta versin del ensamble de
objetivo est fijo en un lugar y el movimiento
del objetivo se haga cambiando la longitud y
direccin de los postes (E) en el Sujetador de
ngulo variable (nuez).

*
TA: Del ingls Target Assembly
*Se entiende por objetivo un objeto que puede ser una transparencia, tarjeta, pantalla, placa portaobjetos, etc.

69
 Ensamble de Objetivo Modificado (TA-II)*

Este ensamble consiste de:

Parte No. De Catlogo Cantidad Descripcin
E SP-3 (M-SP-3) 1 Poste, 3 plg.
F VPH-2 (M-VPH-2) 1 Soporte para poste, 2 plg.
G FC-1 (M-FC-1) 1 Montura para filtro
K B-2 (M-B-2) 1 Base plana
BB - 20 (M6) 1 Tornillos de cabeza
DD 8-32 (M4) 1 Tornillo

Este ensamble modificado no usa el Sujetador

de ngulo variable (nuez) (H) y consiste de la
combinacin filtro-poste (E-G) montado
directamente en el soporte para poste (F) y
una base plana (K) con los tornillos de -20 y
los tornillos de cabeza (BB). No se intenta que
este ensamble est fijo en la cubierta ptica,
sino que se mueva junto con la base (K).

*
TA: Del ingls Target Assembly

70
 Ensamble de Lentes (LCA)*
Este ensamble consiste en:
Parte No. De Catlogo Cantidad Descripcin
E SP-3 (M-SP-3) 1 Poste, 3 plg.
F VPH-2 (M-VPH-2) 1 Soporte para poste, 2 plg.
J AC-1 (M-AC-1) 1 Montura para lentes
K B-2 (M-B-2) 1 Base plana
BB - 20 (M6) 1 Tornillos de cabeza
CC 8-32 (M4) 1 Tornillo

1. Inserta el tornillo (CC) en la base de la

montura para lentes (J).
2. Atornilla el poste (E) en el tornillo (CC) fijo a
la base de la montura para lentes. Aprieta el
poste firmemente.
3. Coloca el soporte (F) sobre el agujero central
de la base plana (K), inserta un tornillo -20
a travs de la base y aprieta hasta que el
tornillo se fije en el soporte (F).
4. Inserta la combinacin de montura para
lente-poste (E-J) en el Soporte para poste (F)
y aprieta la perilla para mantener el
ensamble unido.

No se pretende que este ensamble est fijo a la

cubierta ptica, sino que se mueva sobre ella.

*
LCA: Del ingls Lenses Chuck Asembly

71
 Ensamble de Plataforma de Rotacin (RSA-I)*
Este ensamble consiste en:
Parte No. De Catlogo Cantidad Descripcin
E SP-3 (M-SP-3) 1 Poste, 3 plg.
F VPH-2 (M-VPH-2) 1 Soporte para poste, 2 plg.
R RSP-1 1 Plataforma de Rotacin
BB - 20 (M6) 1 Tornillos de cabeza
CC 8-32 (M4) 1 Tornillo

Este ensamble ser usado en dos versiones

ligeramente diferentes. El tipo RSA-1 tendr una
plataforma de rotacin (R) montada de tal forma
que la apertura de 1 plg. sea perpendicular a la
superficie de la cubierta ptica.

1. Inserta el tornillo (CC) en el poste (E). Deja

aproximadamente de plg saliendo del poste.
2. En uno de los agujeros en el centro del lado
angosto, atornilla la plataforma de rotacin (R)
en el tornillo (CC) del poste (E).
3. Inserta un tornillo de cabeza de -20 (BB) dentro
de un Soporte para poste (F), coloca el soporte
sobre el agujero de la cubierta ptica donde el
ensamble vaya a estar colocado y apritalo.
4. Inserta el ensamble poste-plataforma de rotacin
(E-R) en el Soporte para poste (F) y aprieta la
perilla para mantener el ensamble en su lugar.

*
RSA: Del ingls Rotation Stage Assembly

72
 Ensamble de lser (LA)*
Este ensamble consiste en:
Parte No. De Catlogo Cantidad Descripcin
M 41 (M-41) 1 Barra (vstago) de 7 plg.
N 340-RC (M-340-RP) 1 Abrazadera
P ULM 1 Montura para lser de 1 plg
Q U-1301 1 Lser de He-Ne
BB - 20 (M6) 1 Tornillos de cabeza

Advertencia
El lser He-Ne puede causar daos permanentes a tu visin. Nunca mires directamente
dentro del tubo de lser o por reflexin producida por una superficie reflectora. No uses
anillos u otro tipo de joyera brillante cuando trabajes con lseres. Usa solamente reflectores
difusos (tarjetas blancas de 3 x 5) para ver el haz de He-Ne. Protege a tus compaeros de la
exposicin accidental al haz de lser. Siempre bloquea el haz cerca del lser cuando el dejes
experimento sin atencin.
1. Monta el vstago (M) sobre la cubierta
ptica colocando la llave dentro del
conducto transversal a su longitud y
atornllala sobre uno de los orificios de
la mesa. Aprieta la perilla con la llave
hasta que la barra est firmemente fija
a la mesa.
2. Atornilla la montura del lser (P) sobre
la barra abrazadora (N) con los dos
tornillos de - 2 (BB).
3. Coloca la combinacin de montura de
lser-barra abrazadora (N-P) en la barra
(M) y aprieta la perilla sobre la barra
abrazadora (N).
4. Inserta el lser (Q) en la montura de
lser (P) de tal forma que
aproximadamente 3 plg. salgan a ambos
lados de la abrazadera. Rota el lser (Q)
hasta que la marca de alineacin del
frente est arriba y suavemente aprieta
el tornillo para fijarlo. No aprietes
demasiado, el lser podra sufrir daos.

*
LA: Del ingls Laser Assembly

73
74
 SECCION DE PROYECTOS

1.1 Proyecto # 1: Las leyes de la ptica geomtrica.

Todos los diseos pticos estn basados en dos leyes de la ptica muy simples; las leyes de
reflexin y refraccin. Cualquier anlisis de un sistema ptico, sin importar cun elaborado sea,
se hace usando esas dos leyes para simular el paso de los rayos de luz a travs de las lentes y
ventanas y sobre los espejos que componen el dispositivo ptico. As, la base de casi todo lo que
puedas hacer en ptica comienza con esas dos simples leyes. Es, por lo tanto, apropiado que el
primer experimento en este manual sea una demostracin de esas leyes.
Lo primero que hars es verificar la ley de la reflexin: el ngulo de reflexin es igual al ngulo
de incidencia. Entonces verificars la ley de refraccin tambin conocida como Ley de Snell, la
cual plantea que el producto del ndice de refraccin de un medio y el seno del ngulo de
incidencia de un rayo sobre un lado de una interfase entre dos medios pticos es igual al producto
del ndice de refraccin y el seno del ngulo con el que el rayo es transmitido sobre el otro lado
de la interfase. Esto puede ser planteado matemticamente como:

sen = sen (1-1)

Donde es el ndice de refraccin en el medio incidente, _ es el ngulo entre la normal local

a la interfase y la direccin del rayo incidente, es el ndice de refraccin del medio de
transmisin, y es el ngulo entre la normal local y la direccin del rayo transmitido. Esos
ngulos se miden entre el rayo y la normal a la superficie donde ste golpea la interfase. La
direccin de la normal cambia sobre superficies curvas, tal como sobre una lente o espejo curvo,
as la normal es algunas veces llamada la normal local, debido a que se aplica solo en el punto
sobre la superficie y no en puntos vecinos.
En suma, para verificar las leyes bsicas de la ptica geomtrica, este primer experimento
tambin familiarizar al estudiante con las herramientas del oficio, es decir, las componentes
que constituyen el arreglo experimental. Las etiquetas que estn colocadas sobre los artculos
son las mismas usadas en la seccin de ensamble de componentes.

75
La ley de reflexin

Una nota sobre la toma de datos

La medicin y el registro de datos para estos proyectos son tan importantes como los efectos
que estars explorando. Es solo midiendo el tamao del efecto y comprobndolo con las
expresiones dadas en el texto, que la materia bajo discusin puede ser verdaderamente
entendida. Hasta que los datos son analizados, el proyecto es una bonita demostracin de un
efecto ptico y no un experimento de ptica.
Los datos debern registrarse en un libro estndar de registro de laboratorio, de ser posible. El
registro deber ser tan ordenado como sea posible. Si algo se registra incorrectamente, ser
subrayado con una sola lnea y el valor correcto recordado enseguida de este. No borres ningn
dato de tu registro. Cuando hay suficientes datos y un rango razonable, sern graficados de la
manera ms usada. Tu instructor puede ayudarte a determinar esto.

La ley de la reflexin ser verificada mostrando que el ngulo a travs del cual un haz es reflejado
por un espejo (ngulo de incidencia ms ngulo de reflexin) es dos veces el ngulo formado por
el haz incidente y la normal a la superficie del espejo (ngulo de incidencia). Explorando el ngulo
de incidencia con el cual un haz de lser He-Ne golpea el espejo, sers capaz de mostrar que el
ngulo total a travs del cual es haz es reflejado es dos veces ese ngulo.

Arreglo experimental.

Equipo de Newport Requerido:

Parte Cantidad Descripcin

LA 1 Ensamble de lser
BSA-I 2 Ensamble dirigidor de haz
BSA-II 1 Ensamble dirigidor de haz modificado
BSA-III 1 Ensamble dirigidor de haz modificado
TA-I 1 Ensamble de Objetivo
RSP-1T 1 Plataforma de Rotacin
05BR08 1 Prisma
16569-01 1 Tanque plstico transparente

76
Equipo adicional requerido:

Parte Cantidad Descripcin

QI 1 Tarjeta
QW 1 Cinta mtrica o regla

1. La cubierta ptica deber colocarse sobre una mesa cercana a un muro o al lado de un
gabinete. Pega una hoja de papel sobre el muro o gabinete a la misma altura a la cual
colocaras el lser en el siguiente paso.

2. Monta un lser He Ne como se describe en la parte de ensamble de lser (LA) de la

seccin de Ensamble de Componentes y colcalo en la parte de atrs de la cubierta.

3. Monta un Ensamble Dirigidor de haz (BSA-I) sobre una Plataforma de Rotacin (R). La
Plataforma de Rotacin se fija entonces a la cubierta con tornillos de -20. El ensamble
dirigidor de haz deber colocarse de tal forma que el haz de lser incidente sea paralelo
al muro cercano, como se muestra en la Fig. 1.1.

Fig. 1-1. Vista esquemtica del Proyecto # 1. Ley de la reflexin.

4. Ajusta el Espejo Dirigidor de Haz para que refleje al haz de lser sobre s mismo. Registra
la posicin de la plataforma de rotacin o en tu cuaderno de notas de laboratorio.

77
 DEBERS TENER EXTREMO CUIDADO PARA EVITAR LA EXPOSICIN ACCIDENTAL DE TUS
COMPAEROS CUANDO ESTS DIRIGIENDO EL HAZ DE LASER HACIA AFUERA DEL REA
DE LA CUBIERTA PTICA

5. Explora el ngulo del espejo girando la plataforma de rotacin de tal forma que el haz de
lser se refleje sobre la pieza de papel sobre el muro. Registra el nuevo ngulo en tu
cuaderno y sobre la hoja de papel del muro justo arriba de la marca localizando el centro
del haz. Haz esto para diferentes ngulos de rotacin que produzcan posiciones del haz
separadas por una pulgada o ms sobre el muro.

6. Mide la distancia perpendicular Y del espejo al muro y la distancia X de ese punto sobre
el muro a la marca sobre el muro como se muestra en la Fig. 1.2. Usa tu conocimiento de
las definiciones de las funciones trigonomtricas y una calculadora para determinar el
ngulo entre la direccin del haz de lser y la direccin del haz reflejado usando las
medidas de la distancia que has hecho. Registra tus clculos y esos ngulos enseguida de
los ngulos de incidencia.

7. Compara los ngulos totales reflejados con los ngulos de incidencia ( 0 ). Debers
encontrar que el ngulo total de desviacin del haz es dos veces el ngulo de incidencia,
confirmado la ley de la reflexin.

Fig. 1-2. Geometra para el clculo de los ngulos de incidencia y deflexin del haz.

78
 Una nota sobre la montura de los espejos

Todos los movimientos del haz en esta parte del experimento fueron hechos usando la
plataforma de rotacin (R). Sin embargo, puedes tambin mover el haz usando el botn
sobre la montura ajustable (C). Nota que un botn mueve el haz horizontalmente y el otro
verticalmente. No todas las monturas ajustables mueven el haz en dos direcciones
perpendiculares una a la otra. Aquellas monturas que lo hacen son llamadas monturas
ortogonales, debido a que los movimientos son en ngulos rectos, u ortogonales unos a los
otros. Es mucho ms fcil localizar un haz con tales ajustes. Examina la montura y ve si
puedes entender como su diseo proporciona esta caracterstica.

La ley de refraccin

La verificacin de la ley de refraccin ser mostrada midiendo los ngulos incidente y transmitido
de un haz incidente de lser He-Ne sobre una interfase aire-agua.

Arreglo experimental.

1. Monta un ensamble de lser (LA) sobre la cubierta ptica con el haz paralelo a la orilla, como
se muestra en la Fig. 1.3. Coloca el lser usando la barra abrazadora (S) a la mxima altura
sobre la superficie de la cubierta.

2. Monta dos Ensambles dirigidores de haz (BSA-I) en las esquinas de la cubierta ptica como se
muestra en la Fig. 1.3.

3. Monta un Ensamble Dirigidor de Haz Modificado (BSA-III) descrito en la seccin de Ensamble

de componentes. Coloca el Soporte para Poste (F) fuera del eje del haz, de tal manera que el
espejo est en lnea con el haz de lser. Rota el espejo para dirigir el haz aproximadamente a
un ngulo de 45 grados a la superficie de la mesa.

4. Mide la distancia perpendicular de donde el lser intersecta el espejo (H1 en la Fig. 1.4) al
fondo de la caja de plstico. Mide la distancia de este punto a donde el haz de lser golpea el
fondo de la caja plstica (V1 en la Fig. 1.4). Llena la caja de plstico con agua clara hasta 1cm
por debajo del borde.

79
 Fig. 1-3. Vista esquemtica del Proyecto # 1. Ley de refraccin.

5. De la misma manera que en el paso # 4, mide la distancia perpendicular del punto donde el
haz de lser entra en la superficie del agua al fondo de la caja (H2 en la Fig. 1.4) y desde este
punto sobre el fondo a donde el haz de lser golpea el fondo de la caja plstica (V2 en la Fig.
1.4)

Fig. 1-4. Medidas para determinar el ndice de refraccin de un lquido.

6. Puedes ahora calcular los ngulos incidente y refractado del haz en el agua. Usando la Eq.
1-1 dada arriba y el hecho de que el ndice de refraccin del aire es 1.0, encuentra los
senos de los ngulos y determina el ndice de refraccin del agua. Tu valor debe ser
cercano a 1.33. Si no lo es, debes revisar tus mediciones y tus clculos. Asegrate de que
las distancias medidas son las distancias descritas arriba.

80
Experimentos adicionales.

Si en el laboratorio hay otros lquidos disponibles, puedes llenar el tanque y tambin medir su
ndice de refraccin. Puedes checar tu respuesta en tablas de referencia de ndices de refraccin
en manuales estndares.

# 1 Medida del ndice de refraccin de un Slido Transparente usando la Reflexin Total

Interna.

El fenmeno de reflexin total interna (RTI) discutido en el texto Elemental ser usado para
determinar el ndice de refraccin de un prisma. La geometra es algo intrincada, pero permite la
determinacin del ndice de refraccin de un prisma estndar 45-45-90 sin causar ningn dao
al prisma.

Como se puntualiz en el Texto Elemental, el ngulo de incidencia al cual una interfase cambia
de transmitir alguna luz a la reflexin total interna es llamado el ngulo crtico, . A este ngulo,
donde el rayo transmitido viaja a lo largo de la frontera de una interfase aire-vidrio, el ngulo
transmitido es 90. El ngulo crtico est relacionado con el ndice de refraccin del material n
como
1
sen =

En el caso del experimento que vas a hacer, las cosas son un poco ms complicadas, pero no
mucho. En lugar de una sola interfase hay dos. La primera de las interfases no implica RTI. Es
rotando un prisma hasta que la RTI ocurra en la segunda interfase y midiendo el ngulo entre
un haz no refractado y el haz en el ngulo crtico que podemos determinar el ndice de refraccin
del prisma a partir de una ecuacin cuya prueba se deja como ejercicio.
2
2 = sen2 0 + (2 + sen 0 ) (1-2)

donde o est relacionado con el ngulo a travs del cual el haz es desviado, por

0 = 45 (1-3)

81
Arreglo Experimental.

1. Monta un Ensamble para lser (LA) a lo largo de la orilla de la cubierta ptica con la salida
apuntando hacia un muro cercano. Monta un Ensamble Dirigidor de Haz que haya sido
modificado para colocar la montura para espejo paralela a la superficie de la cubierta
(BSA-II en la seccin de Ensamble de Componentes) sobre el centro de una plataforma de
rotacin (R). El haz de lser deber estar 4 o 5 mm ms alto que el BSA-II y paralelo a la
superficie de la cubierta (alineado). Pega una pieza de papel sobre el muro.

Coloca un espejo plano redondo de una pulgada (sin montura) contra el muro y ajusta el
ngulo del lser de tal forma que el haz sea retro-reflejado sobre s mismo. Esto asegura
que el haz est en ngulo recto con el muro para nuestros clculos. Quita el espejo y
marca la posicin del haz de lser sobre el papel pegado en el muro. Esto representa el
haz no desviado.

2. Coloca el prisma de tal forma que el haz de lser incida sobre uno de sus lados cortos
como se muestra en la Fig. 1.5. Retro-refleja el haz hacia la fuente. Puedes necesitar
ajustar el tornillo de la montura sobre la cual est colocado el prisma. El centro de la
hipotenusa del prisma deber estar sobre el centro de rotacin. Mide la distancia del
centro de rotacin del prisma al muro.

Fig. 1-5. Vista superior del experimento sobre el ndice de refraccin.

82
 4. Rota el prisma en el sentido de las manecillas del reloj girando la plataforma de rotacin
(R) hasta que el haz salga por la hipotenusa del prisma y toque la pared. Haz esto varias
veces hasta que sientas que ests en la posicin exacta (transicin) en la cual la luz
comienza a ser transmitida fuera de la hipotenusa. La medicin de o se da como
tan(0 + 45) = / donde X es la distancia de la interfase al muro y Y es la distancia
medida desde la posicin de referencia (donde el haz toca el muro sin el prisma) hasta la
posicin del haz cuando se ha alcanzado el ngulo crtico.

4. Sustituye este clculo en la formula dada arriba y compara este valor (1.517) con el ndice
publicado del vidrio BK7 a la longitud de onda del lser de Helio-Nen.

Este experimento te ha proporcionado la oportunidad de usar un tipo de equipo de laboratorio

disponible en la mayora de las compaas. Despus, en algunos proyectos, los ngulos y las
distancias son determinados y el equipo modular que usaste aqu puede ser reemplazado por
componentes pticas especficas y soportes fabricados a las especificaciones obtenidas del
experimento. Pero mientras un proyecto est en fase experimental, la flexibilidad del equipo
usado aqu hace capaces a los ingenieros para construir rpidamente y revisar sus sistemas
pticos.

# 2 ndices Gradientes.

Este experimento particular debe ser preparado con anticipacin. Llena el tanque con agua y
agrega varias cucharadas de sal a l. Permite que el tanque est sin perturbaciones toda la noche.
Dirige un haz de lser a lo largo de la longitud del tanque, por debajo y paralelo a la superficie.
Intenta esto a diferentes alturas dentro del tanque. Nota que el haz emerge del tanque a una
diferente altura de la que entra. Esto se debe a que hay un ndice gradiente de refraccin en el
tanque. Los ndices gradientes inclinan la luz en diferentes lugares. Ellos son los responsables de
los espejismos y la apariencia de manchas distantes de humedad sobre una carretera caliente. La
tecnologa ptica ahora depende de pequeas componentes pticas que tienen ndices
gradientes diseado en ellas de tal forma que actan como lentes. Son las referidas lentes GRIN,
donde las primeras dos letras son tomadas de gradiente y las dos segundas son tomadas de
ndice.

83
 1.2 Proyecto # 2: La ecuacin de las lentes delgadas.
Mientras que la idea de crear imgenes con lentes es fcil de comprender, entender la
localizacin, amplificacin y orientacin de una imagen usualmente viene del trabajo con las
mismas lentes. Este proyecto es ms que una verificacin de la ecuacin de las lentes delgadas,
es tambin un estudio de los tamaos y orientaciones de las imgenes y del efecto de la
combinacin de lentes y su distancia focal equivalente.

En este experimento aplicars la forma gaussiana de la ecuacin de las lentes delgadas:

1 1 1 (2-1)
= +
0

para determinar la distancia focal de una lente o combinacin de lentes. Mediante medidas
cuidadosas de las distancias al objeto (s0) y las distancias de la imagen (si) (Fig. 2-1) es posible
calcular la distancia focal (f) de una lente desconocida con un error menor al uno por ciento de
la distancia focal real. El uso de esta ecuacin requiere que el grosor de la lente sea pequeo con
respecto a su distancia focal. Si la lente es demasiado delgada, la ecuacin falla y se requiere
un clculo ms complicado para determinar la distancia de la imagen y la amplificacin (consulta
las referencias).

Fig. 2-1. Definicin de los parmetros de las lentes.

Como una sola lente negativa no puede producir una imagen real, se usa una combinacin de
una lente positiva y una lente negativa para determinar la distancia focal de la lente negativa.

La relacin entre la posicin del objeto y la imagen se asume que es correcta una vez que se
conoce la forma Gaussiana de la ecuacin de las lentes delgadas. Pero usualmente se olvida que
se han hecho algunas aproximaciones al derivar la ecuacin. Esta ecuacin tiene uso como un
mtodo para determinar la localizacin y la distancia focal de varias lentes, pero como un medio
84
para hacer ingeniera ptica, no puede proporcionar la precisin requerida para hacer clculos
serios de diseo ptico. Con todo ello, los experimentos que implican la ecuacin de las lentes
delgadas pueden ser muy tiles como un medio para explorar la naturaleza de la formacin de
imgenes.

Arreglo experimental.

Equipo de Newport Requerido:

Parte Cantidad Descripcin

TA-I 1 Ensamble de objetivo
TA-II 1 Ensamble de objetivo modificado
LCA 2 Ensamble de lentes
LKIT-2 1 Kit de lentes
LP1 KPX094 1 Lente positiva de 100mm de distancia focal
LP2 KPX106 1 Lente positiva de 200mm de distancia focal
LP3 KPX076 1 Lente positiva de 25.4mm de distancia focal
LN1 KPC043 1 Lente negativa de 25.4mm de distancia focal

Equipo adicional requerido:

Parte Cantidad Descripcin

QW 1 Cinta Mtrica
QI 1 Tarjeta
QT 1 Objetivo
QQ 1 Lmpara de alta intensidad

1. Construye un objetivo (QT) sobre una tarjeta dibujando una cuadrcula con las lneas
separadas 5 mm. Esto te servir como objeto y podrs comparar el tamao de las
imgenes que generas con este objeto para determinar la amplificacin. Agrega algunas
flechas para hacerte capaz de determinar si la imagen esta invertida o derecha. Monta

85
 esto en un ensamble de objetivo (TA-I) cerca de la orilla de la cubierta (Fig. 2-2).

2. Desenrolla la cinta mtrica a lo largo de la orilla de la cubierta. Coloca una lmpara de alta
intensidad aproximadamente dos pulgadas detrs y a la misma altura que el objetivo.

Fig. 2-2. Proyecto # 2. Arreglo para una lente positiva.

Lente Positiva.

3. Lee la nota sobre el manejo de lentes en la seccin de ensamble de componentes si es

que an no lo has hecho. Toma una lente positiva de 100 mm de distancia focal del kit de
lentes y mntala en un ensamble de lentes (LCA).

4. Coloca la lente a 125 mm del objetivo y registra en tu cuaderno la distancia exacta entre
la lente y el objetivo. Esta es la primera distancia objeto.

5. Monta la tarjeta blanca (pantalla) en una segunda montura para ensamble de objetivo
(TA-II). Coloca el TA-II al final de la tabla ptica y lentamente muvela hacia la lente hasta
que se vea claramente la imagen. Contina moviendo el TA-II hasta que la imagen
comience a verse borrosa. Aljala de la lente hasta que la imagen se vea otra vez. Mueve
el TA-II para producir la imagen ms ntida y marca esta posicin. La distancia de la lente
a la tarjeta es la distancia imagen. Registra este valor junto con la distancia objeto.

6. Sobre la pantalla, marca dos puntos en la imagen que representen la distancia entre un
86
 nmero especfico de lneas de la cuadricula y, ya sea ahora o despus, mide la distancia
entre esos puntos. Mide la distancia entre los puntos correspondientes sobre la
cuadrcula (objeto). Registra los valores en tu cuaderno junto con las distancias imagen y
objeto.

7. Repite los pasos del 4 al 6 con la distancia al objeto ahora en los valores de 150, 200, 400
y 600 mm. Registra las distancias objeto e imagen y la distancia entre dos puntos que
marcaste sobre la imagen. Esto te dar suficientes datos para hacer una buena
determinacin de la distancia focal de la lente.

8. Usando la relacin para la distancia focal de las lentes, distancia objeto y distancia imagen
1 f 1 s0 1 si , calcula la distancia focal de la lente usando cada uno de los conjuntos
de datos. Encuentra el promedio de los resultados y compara este valor al especificado
en el kit de lentes. Tambin calcula la amplificacin de la imagen para cada distancia
objeto a partir de las distancias marcadas y medidas sobre la tarjeta blanca dividida por
la distancia correspondiente sobre QT. Compara esas a la razn de la imagen dividida por
la distancia del objeto. (Ve la Ec. 0-6 en el Texto Elemental).

9. Regresa a la primera ubicacin de la lente con una distancia del objeto de 125 mm.
Verifica que la imagen est localizada en el punto que registraste antes moviendo el TA-
II a la posicin correcta. Ahora, manteniendo el TA-II fijo, mueve la lente hacia l hasta
que consigas una imagen sobre la pantalla. Mide las nuevas distancias objeto e imagen y
calcula la amplificacin. Muestra ella alguna relacin con las mediciones anteriores?

Lente negativa.

Las lentes bi-cncavas tienen distancias focales negativas y la imagen que forman es virtual.
Como las distancias a la imagen solamente pueden medirse cuando las imgenes son reales, la
tcnica que usa una lente positiva auxiliar de distancia focal conocida, descrita en la Seccin 0-2
del Texto Elemental, es usada para determinar la distancia focal de una lente negativa.

10. Coloca una lente de distancia focal negativa (LN1) en un LCA con su lado cncavo viendo
hacia el objeto y mide la distancia del objeto a la lente.

11. Enseguida coloca la lente positiva, cuya distancia focal ya se ha medido, alejada ms de

87
 100 mm de la lente negativa. Obtn una imagen ntida y mide la distancia imagen de la
lente positiva.

12. Como conoces la distancia focal de la lente positiva y has medido la distancia imagen,
puedes calcular la distancia objeto que sera requerida para esta distancia imagen si
solamente una lente positiva estuviera presente. La imagen de la lente negativa es el
objeto para la lente positiva (Regla # 5 en la Seccin 0-1). Resta la distancia objeto
calculada para la lente positiva del espacio entre las dos lentes. Esta es la distancia imagen
para la lente negativa y ser negativa. Observa la Fig. 0-9 en el Texto Elemental para
ayudarte a visualizarla. Recalcula la distancia focal de la frmula de arriba (recuerda usar
los signos correctos de las distancias imagen y objeto). Compara esto con el valor en la
gua del kit de lentes.

Fig. 2-3. Proyecto # 2. Arreglo para una lente negativa.

Experimentos adicionales

Combinaciones de lentes

1. Usando una combinacin de lentes del kit de lentes (por ejemplo una lente de 100 mm
EFL (LP-1) y una lente de 200 mm EFL (LP-2)), monta las dos lentes, una seguida de la otra.
Debes pegar con cinta las dos lentes juntas en varios puntos cerca de las orillas. No pongas
cinta cerca del centro de las lentes. Mide la distancia focal de la combinacin de lentes
como arriba para encontrar la distancia focal efectiva. Compara estos resultados con el
valor calculado usando la Ec. 0-8 en el Texto elemental.

88
 2. Repite el paso previo usando una lente positiva y una lente negativa. Para asegurar que
conseguirs una imagen real puedes usar una lente negativa cuyo valor absoluto de su
distancia focal sea ms grande que la distancia focal de la lente positiva Por qu es esto
necesario?

3. Usando dos LCAs pon la EFL (LP1) de 100 mm en una y la EFL (LP2) de 25.4 mm en la otra.
Coloca la LP1 a 200 mmm del objeto y registra la distancia objeto. Coloca y registra la
distancia imagen y la orientacin. Coloca la LP3 a 60 mm ms all de la posicin de la
imagen y mueve el TA-II para encontrar la imagen para la combinacin. Registra la
separacin entre las lentes y la amplificacin y orientacin de la imagen final. Nota que
mientras la primera imagen fue invertida, la segunda imagen est erecta con respecto al
objeto original. Verifica tus mediciones aplicando la ecuacin de las lentes delgadas dos
veces para calcular las posiciones y amplificaciones de las imgenes intermedia y final.

1.3 Proyecto # 3: Expansin de un haz de lser.

Muchas veces, cuando se usa un lser en un sistema ptico, se requiere ya sea un haz muy grande
o con una pequea divergencia (no cambia de tamao con la longitud del experimento). En
algunos casos el tamao del haz se vuelve crtico, por ejemplo, al medir la distancia de la Tierra
a la Luna, el dimetro de un haz de un metro de dimetro puede expandirse varios cientos metros
y cuando regresa e intersecta la superficie de la Tierra tiene varios kilmetros de dimetro. La
seal regresada de esta expansin es millones de veces ms pequea que la seal original, de tal
forma que la divergencia del haz de lser debe ser reducida para producir seales detectables.
An en el caso de experimentos en la superficie de la Tierra, se requiere un alto grado de
colimacin para muchas aplicaciones incluyendo algunos de los proyectos en este manual.
Como se puntualiz en el Texto elemental, el producto de una cintura pequea de haz y la
divergencia de una lente es una constante:

4 (3-1)
0 =

Por lo tanto, si queremos un haz ms colimado, la divergencia debe reducirse y esto puede
hacerse solamente incrementando la cintura del haz. Este proceso no puede hacerse fcilmente
por una sola lente. Primero, el haz debe ser divergido con una lente de distancia focal corta y
entonces ser re-colimado con una cintura grande y una divergencia pequea. El arreglo de las
lentes es esencialmente el de un telescopio invertido. Es invertido debido a que la luz entra por
89
la lente ocular (la lente de distancia focal ms corta) y sale por la lente objetivo. La cantidad de
expansin del haz, y por lo tanto, la reduccin de la divergencia es igual a la potencia del
telescopio, la cual es simplemente la razn de las distancias focales de las lentes del telescopio.
Por lo tanto, despus de pasar a travs de un expansor de haz, la divergencia deber ser igual a
la divergencia anterior dividida entre la potencia del telescopio.

Este experimento demostrar el diseo de dos tipos de expansores de haz de lser el Galileano
y el Kepleriano. Cada uno tiene distintas ventajas. De estos experimentos ganars experiencia en
la alineacin de haces de lser y componentes y aprenders algunas tcnicas simples que hacen
el proceso de alineacin mucho ms fcil.

El montaje que construirs en este experimento ser usado para varios experimentos (# 4, 6, 7 y
10) que requieren iluminacin con lser expandido. Vale la pena escribir abajo, en tu cuaderno
de notas cualquier cosa que te ayude a montar y alinear rpidamente el expansor de haz, debido
a que lo hars otras veces.

Fig. 3-1. Colimacin gaussiana de haces. (a) Telescopio galileano.

(b) Telescopio Kepleriano. Distancia focal del ocular, fc; distancia focal del objetivo fo.

NOTAS EN LA ALINEACIN DE HACES DE LSER.

Pega una tarjeta con un agujero ligeramente ms grande que el haz de lser, a la salida del
mismo, de tal forma que el lser pase a travs de l y las reflexiones posteriores producidas
por las componentes puedan ser vistas fcilmente.

90
Para cada lente hay dos reflexiones, una desde cada superficie. Cuando los centros de las dos
reflexiones estn a la altura del haz, la altura de la lente est adecuadamente ajustada. Cuando
se superponen, el haz est en el centro de la lente. Y cuando estn centradas con respecto a la
salida del lser, las lentes no estn inclinadas con respecto al haz.
En algunos casos, si el haz regresado es demasiado fuerte (como en el caso de este
experimento), el lser tendr una salida irregular debido a que las vibraciones del mundo
exterior pueden ser acopladas al lser. Sin embargo, en el caso de artculos tales como
expansores de haz, donde no tratas de enviar toda la luz de regreso al lser, las pequeas
reflexiones de los componentes no tienen efecto mensurable en los proyectos descritos en este
manual.

Arreglo Experimental.

Equipo de Newport requerido:

Parte Cantidad Descripcin

LA 1 Ensamble de lser
BSA-I 2 Ensamble dirigidor de haz
LCA 2 Ensamble de lentes
TA-I 1 Ensamble de objetivo
LKIT-2 1 Kit de lentes
LP2 KPX106 1 Lente positiva de 200mm de distancia focal
LP3 KPX076 1 Lente positiva de 25.4mm de distancia focal
LN1 KPC043 1 Lente negativa de 25.4mm de distancia focal

Equipo adicional requerido:

Parte Cantidad Descripcin

QI 1 Tarjeta indicadora (pantalla)
1 Cinta
1 Regla no metlica ni brillante

91
1. Monta un ensamble de lser (LA) a la parte trasera de la cubierta. Ajusta la posicin del
lser de tal forma que el haz sea paralelo a la orilla y adems a una lnea de agujeros en
la mesa ptica (verifica la alineacin). Pega una tarjeta indicadora con un pequeo
agujero (de aprox. 2 mm) al frente del lser, de tal forma que el haz pueda pasar a travs
de l. Esta tarjeta ser usada como una pantalla para monitorear las reflexiones
producidas por los componentes tan pronto como sean incluidas en el haz. Estas
reflexiones, cuando son centradas con respecto a la salida del haz, indican que la lente
est centrada en el haz con su eje ptico paralelo a l.

2. Monta un ensamble dirigidor de haz (BSA-I) aproximadamente a 4 pulgadas de la esquina

contigua ms lejana de la mesa ptica (Fig. 3-2). Ajusta la altura de la montura para espejo
hasta que el haz intersecte el centro del espejo. Entonces, rota el poste en el soporte para
poste hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla izquierda y a la superficie de la mesa
ptica.

3. Coloca un segundo ensamble dirigidor de haz en la esquina izquierda ms baja de la mesa

ptica, (Fig. 3-2). Ajusta la montura de espejo hasta que el haz de lser sea paralelo a la
orilla frontal y a la superficie de la mesa ptica.

4. Usa una cinta mtrica o regla para medir al haz a varias distancias de la salida del lser,
hasta una distancia de 10 m, si la habitacin lo permite. Tendrs que hacer una estimacin
del tamao del haz, debido a que, como se discuti en el Texto Elemental, la irradiancia
del haz cae suavemente desde el centro. Registra los tamaos de haz a varias distancias
separadas aproximadamente un metro. Calcula una divergencia para el haz de lser.
Como se indica en el texto elemental, el dimetro del haz varia como

2 () = 02 + 2 2 (0-25)

Suponemos que d0 es el dimetro del haz medido cerca del lser y que z es la distancia
desde el lser, usa la ecuacin de arriba para determinar el valor de basado en las
mediciones para varios valores de z. Encontrars valores ms exactos de para valores
ms grandes de z. El promedio de los valores medidos debe estar en la vecindad de 1 mili
radin.

92
El expansor de haz galileano.

5. Inserta un lente negativa (LN1) de distancia focal corta (-25.4 mm) en un ensamble de
lentes (LCA) y mntala a 5 pulgadas del primer ensamble dirigidor de haz. Alinea la lente
subiendo o bajando el poste en el soporte para poste y deslizando la LCA de tal manera
que el haz divergente este centrado sobre el espejo del segundo ensamble dirigidor de
haz. Puedes tambin usar las sugerencias de alineacin dadas previamente.

6. Inserta una lente positiva (LP2) de distancia focal ms larga (200 mm) en una LCA y
colcala aproximadamente a 175 mm (la suma de las distancias focales de las dos lentes,
recordando que la primera lente es una lente negativa) de la primera lente en el haz de
lser divergente. Otra vez, centra el haz sobre el espejo del segundo BSA y usa las
reflexiones de las lentes para auxiliarte en la alineacin del haz.

Fig. 3-2. Vista esquemtica del experimento del

Expansor de haz Galileano.

7. Rota el segundo BSA de tal forma que el haz regrese a travs de las dos lentes a cualquier
lado de la apertura de salida del lser. (Si el haz regresado entra en la apertura de salida,
el lser puede exhibir intensas fluctuaciones y no podrs determinar el tamao del haz
regresado).

8. Cuidadosamente ajusta la posicin de la ltima lente movindola hacia atrs y hacia

delante a lo largo del haz hasta que el haz que regresa sea del mismo tamao que el haz
que sale.

93
 9. Rota el segundo BSA y dirige el haz de lser hacia el final de la habitacin y mide el
dimetro justo despus del expansor de haz y en varios lugares a lo largo del haz
(separados al menos un metro). Dependiendo de la precisin de tu alineacin y de la
distancia disponible, puede ser difcil ver alguna divergencia.

10. Como discutimos arriba, la divergencia decrece con el incremento del dimetro de la
cintura del haz. El expansor incrementa el dimetro del haz y como resultado decrece su
divergencia en la misma razn que la expansin del haz. Aunque es difcil ser preciso en
la medicin de la divergencia, compara el valor estimado de la divergencia del haz
colimado dividido entre la potencia del telescopio. Puedes desear tratar otras
combinaciones de lentes. Asegrate de que no escoges una combinacin de lentes que a
una correcta separacin haga un haz que sobrellene la segunda lente y cause difraccin
(Vase el Proyecto # 4).

El expansor de haz Kepleriano.

1. Reemplaza la lente negativa (LN1) con una lente positiva de distancia focal corta (25.4
mm) (LP3) y usa los mismos ajustes para centrar el haz en las lentes y en el espejo del
segundo BSA. Ajusta la distancia entre las dos lentes para que sea la suma de sus
distancias focales (Fig. 3-2).

Fig. 3-3. Vista esquemtica del experimento del expansor de haz Kepleriano.

94
 3. Ajusta el espejo dirigidor de haz otra vez para la condicin de igual tamao de punto en
la salida del lser.

4. Repite los pasos 7, 8, y 9 del Expansor de Haz Galileano incluyendo una estimacin de la
colimacin del haz de lser para esta geometra. Intenta otras combinaciones de lentes.

NOTA: Cualquiera de estos dos expansores de haz pueden usarse en los Proyectos # 4, 6, 7 y
10. El expansor de haz que vas a construir ah depender principalmente de la razn de
expansin requerida.

1.4 Proyecto #4: Difraccin por aberturas circulares

La mayora de los sistemas pticos con los que trabajars, estn formados de componentes cuyas
aperturas son circulares. Pueden ser espejos, lentes, o agujeros en las estructuras que contienen
las componentes. A pesar de que ellos permiten que la luz sea transmitida, tambin restringen la
cantidad de luz en un sistema ptico y causan una limitacin bsica a la resolucin del sistema
ptico.
En este experimento medirs los efectos de la difraccin de aperturas circulares (Fig. 4-1). La
difraccin asociada con el tamao de la apertura determina la potencia de resolucin de todos
los instrumentos pticos, desde el microscopio electrnico hasta la gigantesca antena de un
radiotelescopio. En resumen, descubrirs que un objeto slido no solamente proyecta una
sombra sino que es posible que una mancha brillante aparezca en el centro de esa sombra. Los
patrones de difraccin que examinars estn localizados uno cerca de la apertura de difraccin y
el otro ms lejos. El primero es llamado difraccin de Fresnel (Freh NEL); el segundo es llamado
difraccin de Fraunhofer (FRAWN hoffer).

ADVERTENCIA

Para ser capaz de ver algunos de los patrones de difraccin, este experimento ser realizado
en una habitacin oscura. Debern tomarse extremas precauciones en lo concerniente al haz
de lser He Ne. Tus pupilas se estarn expandiendo y permitirn el paso de 60 veces ms luz
que en una habitacin iluminada. NO MIRES DIRECTAMENTE LA REFLEXION ESPECULAR O EL
HAZ DE LSER. PON ATENCIN A TUS ALREDEDORES Y A TUS COMPAEROS DE TRABAJO.
CAMINAR EN LA OSCURIDAD PUEDE SER PELIGROSO.

95
 Fig. 4-1. Difraccin producida por una apertura circular.

Arreglo experimental.

Equipo de Newport requerido:

Parte Cantidad Descripcin

LA 1 Ensamble de lser
BSA-I 2 Ensamble dirigidor de haz
LCA 2 Ensamble de lentes
TA-I 1 Ensamble de objetivo
TA-II 1 Ensamble de objetivo modificado
LP4 KPX100 1 Lente de 150 mm de distancia focal
LN1 KPC043 1 Lente de 25 mm de distancia focal
TP1 1 Objetivo. Pinhole de 0.001 de diam.

96
TP2 1 Objetivo. Pinhole de 0.002 de diam.
TP3 1 Objetivo. Pinhole de 0.080 de diam.
TF 1 Objetivo de Fresnel

Equipo adicional requerido:

Parte Cantidad Descripcin

QW 1 Cinta Mtrica
QI 1 Tarjeta indicadora (pantalla)

1. Monta un ensamble de lser (LA) en la parte trasera de la cubierta ptica. Ajusta la

posicin del lser de tal forma que el haz sea paralelo a la orilla y adems a una lnea de
agujeros en la cubierta ptica. Pega una tarjeta indicadora con un pequeo agujero en
ella (aproximadamente 2mm) al frente del lser, de tal forma que el haz pueda pasar a
travs de l. Esta tarjeta ser usada como pantalla para monitorear las reflexiones
producidas por las componentes tan pronto como sean insertadas en el haz. Mira la nota
en el Proyecto # 3 sobre la alineacin de haces de lser.

2. Monta un ensamble dirigidor de haz (BSA- I) aproximadamente a 4 pulgadas de la esquina

contigua ms lejana de la mesa ptica (Fig. 4-2). Ajusta la altura de la montura para
espejo, hasta que el haz intersecte el centro de ste. Entonces rota el poste en el Soporte
para poste hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla izquierda y a la superficie de la
mesa ptica.
3. Coloca un segundo ensamble dirigidor de haz (BSA-I) en lnea con el haz de lser en la
esquina izquierda inferior de la cubierta ptica, (Fig. 4-2). Rota y ajusta la montura para
espejo hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla frontal y a la superficie de la
cubierta ptica.

11. Coloca una tarjeta indicadora (pantalla) en un ensamble sujetador de objetivo modificado
(TA-II) y colcalo al final de la cubierta ptica de tal forma que el haz golpee el centro de
la tarjeta.

97
 5. Monta un ensamble de lentes (LCA) cinco pulgadas a la derecha del ultimo espejo dirigidor
de haz y directamente en lnea con el haz de lser. Este ser el sujetador de la apertura.

Fig. 4-2. Vista esquemtica del experimento de Difraccin

De Fraunhofer usando TP 1

Difraccin de Fraunhofer de una apertura circular.

6. Cuidadosamente coloca el pinhole (TP1) (0.001 de dimetro) en el LCA. Ajusta la montura

de tal forma que el haz de lser golpee el objetivo aproximadamente en el centro.
ADVERTENCIA: El objetivo reflejar un gran porcentaje del haz.

7. Ajusta el ltimo espejo dirigidor de haz, de tal forma que el haz de lser llene el agujero.
Esto puede ser realizado de mejor forma viendo el lado de atrs del objetivo (ms alejado
del lser) a 45 y buscando un resplandor rojo brillante. Esto ocurrir cuando el haz de
lser (o parte de l) est iluminando la apertura.

8. Observa la pantalla. Cuidadosamente ajusta el ltimo espejo dirigidor de haz para

producir la imagen ms brillante. Deberas ver un crculo central brillante rodeado por
bandas circulares oscuras e iluminadas. Este es el patrn del disco de Airy. Mide la
distancia de TP1 a la tarjeta indicadora en el TA-II. Marca y entonces mide el dimetro de
la primera banda circular oscura alrededor del crculo brillante central. Esta es una medida
de la cantidad difraccin causada por el pinhole.

9. Como se puntualiz en el Texto Elemental, la subtensin angular de la banda oscura est

98
 relacionada a la longitud de onda y dimetro del pinhole por
(0-11)
sen = 1.22

Donde D es el dimetro y es la longitud de onda. Como el ngulo de difraccin es

pequeo, el seno y la tangente del ngulo son iguales. La tangente se encuentra al dividir
el radio de la banda oscura por la distancia del pinhole a la tarjeta indicadora registrada
en el paso # 8. Insertando la longitud de onda del lser He-Ne ( = 633 nm) en la ecuacin,
calcula el dimetro del pinhole.

10. Todas las aperturas circulares exhibirn el patrn de Airy. Reemplaza la TPl con TP2
(0.002 de dimetro). Necesitars usar una Montura sujetadora de objetivo (TA-I)
aproximadamente a cuatro pulgadas de la orilla de la mesa ptica y en lnea con la
posicin del ensamble de lentes. Mide el dimetro de la primera franja oscura y la
distancia entre el pinhole y la tarjeta indicadora. Calcula el dimetro del pinhole
basndote en este dato.
Estas series de anillos para una apertura circular causan que los objetos que estn muy
juntos se superpongan en el plano focal del instrumento de observacin y limitan el poder
de resolucin para telescopios de gran apertura.

11. Ensambla un expansor de haz 6:1, usando las tcnicas del Proyecto # 3, entre la primera
y la segunda montura dirigidora de haz (BSA-I) como se muestra en la Fig. 4-3. Reemplaza
TP2 por TP3 (pinhole de 0.08 de dimetro). Como la apertura es muy grande, reemplaza
la montura para tarjeta TA-II con un tercer BSA-I y dirige el haz a un muro que est alejado
ms de 10 pies. Mide el dimetro de la primera banda oscura y estima la distancia entre
el pinhole y el muro. Calcula el dimetro del pinhole. En el Texto elemental discutimos
que en el campo lejano el patrn de difraccin de Fraunhofer no cambia en forma, sino
solamente en tamao. Usando la tarjeta indicadora, mira el patrn de difraccin
comenzando en el pinhole y alejndote hacia el muro. A una distancia de alrededor de 2
pies del pinhole veras que la mancha brillante central se volver una pequea mancha
oscura. Dependiendo de qu tan bien est montado el expansor, esta pequea mancha
oscura puede ser fcil o difcil de resolver. Sin embargo, cuando la mancha del centro
cambia de brillante a oscura y hasta cuando brilla otra vez se trata de difraccin de
Fresnel.

99
 Fig. 4-2. Vista esquemtica del experimento de Difraccin
De Fraunhofer usando TP2.

Difraccin de Fresnel de aperturas circulares.

12. Reemplaza TP3 con la placa de Fresnel (TF). Mira el patrn de difraccin sobre la pantalla
blanca. Nota que el centro de la imagen tiene varios anillos brillantes y oscuros. Esta es
tambin difraccin de Fresnel. Dependiendo de la distancia del TA-II al TF, el centro del
patrn debe ser brillante u oscuro. Aunque la placa de Fresnel tiene un crculo central
absorbente, nota que an hay luz en el centro del patrn. La mancha brillante en el centro
es a veces llamada Mancha de Poisson o Mancha de Arago

Fig. 4.3. Vista esquemtica del experimento de difraccin de Fresnel.

100
 13. Examina las sombras de otros objetos ponindolos en el haz de lser expandido. Puntas
de lpiz, alambres y pequeas cuentas sobre una cuerda son buenos objetos que dan
patrones de Fresnel interesantes. Nota cmo cambian los patrones conforme mueves los
objetos a lo largo de la direccin del haz. Dibuja algunos de los patrones ms interesantes
en tu cuaderno.

Una descripcin detallada de los resultados puede ser encontrada en The optics problem solver
por the Research y Education Association.

1.5 Proyecto # 5: Difraccin por una rendija e interferencia de doble

rendija.

La difraccin de la luz ocurre si se ilumina una apertura que tenga dimensiones que son del orden
de la longitud de onda de la luz que est siendo usada. En el caso de una rendija que tiene una
estrecha apertura, esto es, infinitamente alta, la difraccin toma lugar en la direccin
perpendicular a la dimensin ms pequea.
Adems, la luz de una rendija interferir con la luz de una segunda rendija cercana para producir
un patrn de interferencia que combina las propiedades de interferencia de una sola rendija con
el patrn de interferencia de dos fuentes cercanas. (Fig. 5-1).

Fig. 5-1. Difraccin producida por una sola rendija.

101
Arreglo experimental.

Equipo de Newport Requerido:

Parte Cantidad Descripcin

LA 1 Ensamble de lser
BSA-I 2 Ensamble dirigidor de haz
TA-I 1 Ensamble de Objetivo
TA-II 1 Ensamble de Objetivo
TSS 1 Objetivo. Una rendija
TDS 1 Objetivo. Rendija dual.
DG 1 Rejilla de difraccin
Equipo adicional requerido:

Parte Cantidad Descripcin

QI 1 Tarjeta indicadora
QW 1 Cinta mtrica o regla

1. Monta un ensamble de lser (LA) a la parte trasera de la cubierta ptica (Fig. 5-2). Ajusta
la posicin del lser de tal manera que el haz sea paralelo a la orilla y adems a una lnea
de agujeros en la superficie. Pega una tarjeta indicadora con un pequeo agujero (2 mm
aprox.) enfrente del lser, de tal forma que el haz de lser pueda pasar a travs de l. Esta
carta ser usada como pantalla para monitorear las reflexiones producidas por las
componentes tan pronto como sean insertadas en el haz. Mira la nota en el Proyecto # 3
sobre la alineacin de haces de lser.

2. Monta un ensamble dirigidor de haz (BSA-I) a aproximadamente cuatro pulgadas de la

esquina ms lejana de la mesa ptica (Fig. 5-2). Ajusta la altura de la montura para espejo
hasta que el haz intersecte el centro de*l espejo. Entontes rota el poste en el soporte
para poste hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla izquierda y a la superficie de la
cubierta ptica.

102
 3. Coloca un segundo ensamble dirigidor de haz (BSA-I) en lnea con el haz de lser en la
esquina inferior izquierda de la mesa ptica, (Fig. 5-2). Rota y ajusta la montura para
espejo hasta que el haz sea paralelo a la orilla frontal y a la superficie de la cubierta ptica.

Fig. 5-2. Vista esquemtica de los experimentos de difraccin.

4. Coloca una tarjeta indicadora en un ensamble sujetador de objetivo modificado (TA-II) y

mntalo al final de la cubierta ptica de tal forma que el haz golpee el centro de la tarjeta.

5. Monta un TA-I cinco pulgadas a la derecha del ultimo espejo dirigidor de haz y a cuatro
pulgadas del haz de lser. Este ser el sujetador para la rendija y para la doble rendija.

Difraccin de una sola rendija.

6. Cuidadosamente coloca la TSS (rendija aislada 0.002 plg de ancho) en el TA-I. Ajusta la
montura de tal forma que el haz golpee el blanco aproximadamente en el centro.

ADVERTENCIA
El objetivo reflejar un gran porcentaje del haz.

8. Ajusta el ltimo espejo dirigidor de haz de tal forma que el haz llene la rendija. Esto puede
ser realizado de mejor manera viendo el lado de atrs del objetivo a 45 y buscando un

103
 resplandor rojo brillante. Esto ocurrir cuando el haz de lser est iluminando la rendija.

9. Observa la tarjeta blanca. Cuidadosamente ajusta el ltimo espejo dirigidor de haz para
producir la imagen ms brillante. Debers ver una banda central brillante con varias
bandas oscuras a cada lado. Este es el patrn de difraccin de una sola rendija. Marca en
la tarjeta indicadora las posiciones de tantas bandas oscuras como te sea posible ver
fcilmente. Nota que la banda central es ms grande que las bandas de los lados. Mide la
distancia entre el centro de las bandas oscuras a ambos lados de la banda central y la
distancia de la rendija a la tarjeta indicadora. Calcula el ngulo en la rendija entre el
mximo central y la primera banda oscura. Recuerda que la distancia entre las primeras
franjas oscuras es dos veces la distancia entre la parte central y la primera banda oscura.
Basado en las expresiones dadas en el Texto elemental, la subtensin angular de la banda
del mximo central a la primera franja oscura est dada por

(0-9)
sen =

Si la longitud de onda del lser de He-Ne es 633 nm, determina el ancho de la rendija
partir de tus clculos.

Experimento de Young de doble rendija.

1. Puede realizarse un segundo experimento relacionado con el montaje previo. Reemplaza

el TSS por un blanco TDS (rendija dual 0.002 plg de ancho con 0.008 plg de separacin)
y la tarjeta indicadora usada como pantalla de observacin. Mide la distancia R de la
rendija a la tarjeta indicadora.

2. El patrn tendr una serie de mximos y mnimos separados dentro del desarrollo del
patrn original de una sola rendija. Estas franjas son el patrn de interferencia de la doble
rendija. Marca las posiciones de los mnimos x1, x2, ... de esas franjas cercanamente
espaciadas. Calcula las separaciones promedio x x1 x2 . Tambin marca la
localizacin del mnimo de la franja grande (la posicin donde las franjas de interferencia
desaparecen).

3. Calcula la separacin de las franjas con la ecuacin

104
 (5-2)
=

y regstralo en tu cuaderno. Con este valor de y la longitud de onda del lser ( =

633nm) puedes calcular la separacin de las rejillas usando la Ec. 0-16 del Texto
Elemental.

4. Toma una tarjeta o la orilla de una regla y cuidadosamente insrtala enfrente de una de
las dos rejillas. Esto requiere un poco de prctica. Si lo haces bien, vers que el patrn de
interferencia desaparece y el patrn de difraccin de una sola rendija permanece. Nota
que cuando retiras el objeto que est bloqueando la luz de cualquiera de las rendijas
introduces franjas oscuras. Por supuesto que la luz en las franjas brillantes es ms
brillante. Ests usando luz para empujar luz alrededor!

Fig. 5-3. Vista esquemtica del experimento de

Young de doble rendija

Experimentos adicionales.

Rejilla de difraccin.

Existen patrones de ms alto orden de difraccin para 3, 4, 5,... rendijas igualmente espaciadas.
Eventualmente, el nmero de aberturas se vuelve muy largo y los resultados se aproximan a la

105
rejilla de difraccin descrita en la Seccin 0.4.3 en el Texto Elemental. La mayora de los
instrumentos de alta resolucin para determinar las caractersticas de transmisin o reflexin de
los materiales pticos usan alguna forma de rejilla.

1. Monta una rejilla de difraccin (DG) en el TA-I e ilumnala con el haz de lser. Monta una
nueva tarjeta indicadora en el TA-II y colcala detrs de la DG, de tal forma que puedan
verse varios rdenes de difraccin.

2. Aleja el TA-II de la DG hasta que solamente unos pocos puntos permanezcan sobre la
pantalla y sus separaciones sean fcilmente medidas. Marca las posiciones de los rdenes
de difraccin sobre la tarjeta y etiqueta cada uno con el orden (0 para un haz no
difractado). Mide la distancia de la DG a la pantalla.

3. Calcula los ngulos de difraccin a partir de las mediciones. Nota que los ngulos son
suficientemente grandes y no podrs usar la aproximacin para ngulos pequeos.
Debers usar la tangente inversa para obtener el ngulo.

4. La separacin entre las ranuras o constante de rejilla, para esta rejilla se encuentra
tomando el recproco de la frecuencia de la rejilla, la cual es 13,400 ranuras por pulgada.
De la separacin entre las ranuras y las mediciones angulares para varios rdenes,
determina la longitud de onda del lser de He Ne. Compara el resultado con 633 nm.

Fig. 5-4. Vista esquemtica del experimento de la

Rejilla de difraccin.

106
El espectro de otras fuentes puede ser estudiado usando esta rejilla de difraccin, pero se
requieren componentes adicionales. Como la mayora no sern lseres con haces marcadamente
definidos, las fuentes iluminan una rendija. La luz de una rendija est entonces colimada para
proporcionar un ngulo constante de incidencia de la rejilla. Los haces difractados son entonces
reenfocados a unas series de imgenes de rendijas que estn separadas en los colores del
espectro de la fuente colocada en el plano focal de la lente foco. Ve cualquiera de las referencias
de ptica para la descripcin de un espectrmetro simple de rejillas de transmisin.

En la mayora de los espectrmetros comerciales, la rejilla de difraccin de reflexin en lugar de

ser de transmisin. Esto se debe a que el instrumento es ms compacto y las rejillas tienden a ser
ms eficientes en este modo.

1.6 Proyecto # 6: El interfermetro de Michelson.

En este experimento construirs un interfermetro de Michelson similar al descrito en el Texto

Elemental y lo usars como medio para observar pequeos desplazamientos y cambios en los
ndices de refraccin. Cuando este arreglo de componentes se usa para probar componentes
pticos en luz monocromtica es llamado Interfermetro de Twyman-Green. El interfermetro
de Twyman-Green es ampliamente usado para probar la ptica y los sistemas pticos, y
proporciona medios para medir la cantidad de aberraciones presentes en esos sistemas pticos.
En lugar de hacer tal distincin, el dispositivo ser llamado Interfermetro de Michelson en este
manual.

Arreglo Experimental.

Equipo de Newport Requerido:

Parte Cantidad Descripcin

LA 1 Ensamble de lser

107
BSA-I 3 Ensamble dirigidor de haz
BSA-I* 1 Ensamble dirigidor de haz con base B-2
LCA 3 Ensamble de lentes
TA-II* 1 Ensamble de Objetivo sin base B-2
LKIT-2 1 Kit de lentes
FK-BS 1 Divisor de haz

Equipo adicional requerido:

Parte Cantidad Descripcin

QI 1 Tarjeta indicadora
QW 1 Cinta mtrica o regla
1. Monta un ensamble para lser (LA) en la parte trasera de la cubierta ptica (Fig. 6-1).
Ajusta la posicin del lser de tal forma que el haz sea paralelo a la orilla y a una lnea de
agujeros en la superficie de la mesa ptica. Pega una tarjeta indicadora con un pequeo
orificio (aproximadamente 2 mm) enfrente del lser, tal que el haz pueda pasar a travs
de l. Esta tarjeta ser usada como pantalla para monitorear las reflexiones producidas
por los componentes tan pronto como sean insertadas en el haz. Ve la nota en el Proyecto
# 3 sobre la alineacin de haces de lser.

2. Monta un ensamble dirigidor de haz (BSA-I) a cuatro pulgadas aproximadamente de la

esquina ms lejana de la cubierta ptica (Fig. 6-1). Ajusta la altura de la montura para
espejo hasta que el haz intersecte el centro del espejo. Entontes rota el poste en el
soporte para poste hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla izquierda y a la
superficie de la cubierta ptica.

3. Coloca un segundo ensamble dirigidor de haz (BSA-I) en lnea con el haz de lser en la
esquina inferior izquierda de la cubierta ptica, (Fig. 6-1). Rota y ajusta la montura para
espejo hasta que el haz sea paralelo a la orilla frontal y a la superficie de la cubierta ptica.

4. Monta un expansor de haz entre los dos primeros BSA-I como se explic en el Proyecto #
3. Este expansor genera una onda plana expandida que es necesaria para construir el
interfermetro.

108
5. Coloca un ensamble de lentes (LCA) aproximadamente a 5 plg a la derecha de la ltima
montura BSA-I. Monta un divisor de haz 50/50 en la LCA y rota el ensamble 45 del camino
ptico. El haz reflejado de la primera superficie deber ser perpendicular a e ir en la
direccin de la orilla frontal de la cubierta ptica. El divisor de haz divide el haz que ingresa
en dos componentes iguales para los dos brazos del interfermetro.

6. Coloca un BSA-I con su espejo centrado alrededor del camino del haz reflejado y
aproximadamente a 5 plg del divisor de haz de tal forma que el haz sea retro-reflejado
hacia la tarjeta indicadora pegada al lser. Este espejo ser llamado espejo de referencia.

7. Coloca un segundo BSA-I con su espejo centrado alrededor del camino del haz transmitido
5 plg ms all del divisor de haz para interceptar el haz transmitido (Fig. 6-1). Ajusta el
espejo hasta que el haz sea dirigido hacia atrs a la tarjeta indicadora pegada al lser. Este
espejo ser llamado espejo de prueba.

Fig. 6-1. Vista esquemtica del experimento del

Interfermetro de Michelson.

8. Usa un TA-II (sin base) con una tarjeta indicadora (QI) como una pantalla de observacin
al otro lado del divisor de haz a partir espejo de referencia (Ve el paso # 6). Ajusta los
espejos en los dos brazos del interfermetro hasta que los dos haces se superpongan en
la pantalla. Habr reflexiones combinadas en la pantalla de observacin y en la tarjeta en
el frente del lser. Alinear los dos haces sobre esta tarjeta es bueno para una rpida
alineacin aproximada.

9. Como estamos haciendo que los dos haces coincidan, una serie de franjas brillantes y

109
 oscuras aparecern representando el patrn de interferencia entre los dos frentes de
onda. La orientacin y separacin de las franjas puede ser controlada ajustando los
espejos de referencia y prueba. Usualmente es mejor usar un espejo para ajuste. Ajusta
el espejo de tal forma que aproximadamente 5 franjas aparezcan cruzando el haz sobre
la tarjeta. El nmero de franjas puede variarse en una direccin particular inclinando el
espejo de referencia en una direccin perpendicular a la direccin de las franjas. Tu
interfermetro de Michelson est ahora completo.

10. Cualquier curvatura presente en las franjas representa diferencias de fase entre las ondas
que han cruzado los dos brazos del interfermetro, es decir, el brazo del espejo de
referencia y el brazo del espejo de prueba. Si se supone que el espejo de referencia es
perfectamente plano, entonces la curvatura en las franjas puede deberse al hecho de que
el espejo bajo prueba no es plano, sino que tiene un cierto radio de curvatura o
aberraciones. Estas aberraciones causan que la onda plana, generada por el expansor, en
el brazo de prueba se vuelva una onda no tan plana. La interferencia del frente de onda
plana de referencia con el frente de onda del espejo de prueba crear un patrn de franjas
curvas con separacin variante. La cantidad de desviacin de una franja curva de una lnea
recta representa el cambio de fase introducido por el componente bajo prueba. Esta
desviacin, medida en nmero de franjas, da dos veces la desviacin del frente de onda
de prueba por causa del frente de onda de referencia en longitud de onda de luz lser. La
cantidad de aberracin del espejo de prueba (W) puede ser calculada como sigue:

= /2 (6-1)

Donde W se expresa en unidades de longitud de onda del lser empleado (en este caso la
longitud de onda del lser es 633 nm), y el desplazamiento en las franjas en las franjas es
la altura de la franja expresada en unidades de la distancia de separacin promedio de las
franjas en el patrn de interferencia. El factor de 2 surge del hecho de que la reflexin
duplica la cantidad de aberracin.

11. Mueve la segunda lente del expansor de haz lentamente hacia la primera. El haz
expandido ahora diverge, causando que el frente de onda sea esfrico en lugar de plano.
Las franjas se volvern circulares y si ajustas la coincidencia del haz, podrs ver un patrn
de blanco o diana 1

1
Del ingls bulls eye, el blanco o diana es un patrn de crculos concntricos utilizado,
por ejemplo, en las prcticas de tiro con arco

110
 12. Enciende el cautn (QS), y despus de calentarlo colcalo en el camino de la luz en el brazo
de prueba. Observa los cambios en las franjas alrededor de la punta del soldador. El
cambio en las franjas se debe al cambio de fase introducido por el aire caliente que rodea
la punta. El aire caliente tiene diferente densidad e ndice de refraccin que el aire fro y
en consecuencia los dos brazos tienen una longitud de camino ptico diferente.

13. Inserta parcialmente tu dedo en uno de los brazos del interfermetro, de tal forma que
su sombra pueda verse en la pantalla. Nota las variaciones en las franjas debidas al calor
de tu dedo. Tambin coloca la palma de tu mano justo bajo uno de los brazos del
interfermetro.

14. Contina con el espejo de prueba y nota que muy poca fuerza nos lleva a pequeas
desviaciones de este espejo. Estas desviaciones son mensurables como indic el cambio
en las franjas. Para cada franja que se mueve ms de un punto en el centro del patrn, el
espejo se ha movido media longitud de onda a lo largo de la direccin del haz. Trata de
concebir una manera de mover lentamente un espejo. Si el movimiento es lo
suficientemente lento puedes contar el nmero de franjas y determinar el
desplazamiento del espejo.

15. Otra manera de cambiar el camino ptico dentro del interfermetro es insertar un
material transparente, tal como un portaobjetos de microscopio u otro material plano,
en uno de los brazos. La desviacin del patrn de franjas del sistema no perturbado es
una medida del ndice de refraccin y de la variacin del grosor del material.

Experimentos adicionales.

Medida de la distancia.

Dependencia temporal de las franjas.

1. Despus de montar el interfermetro de Michelson, monitorea el cambio en el patrn

de franjas como una funcin del tiempo. Usualmente los cambios trmicos causarn
pequeas expansiones y contracciones en las distancias componentes y esto resultar en
un cambio temporal de las franjas.

111
 Dependencia de vibracin de las franjas.

2. Golpea ligeramente la superficie de la mesa y monitorea los cambios en las franjas.

Cunto le toma a la vibracin amortiguarse? Detectas algn movimiento vibracional
cuando azotas una puerta, caminas por la habitacin o saltas? Algunas mesas tienen
amortiguadores de aire o resortes para aislar un sistema ptico, como un Interfermetro
de Michelson, de las vibraciones del mundo exterior.

Detector de Movimiento.

3. Este es un experimento algo ms elaborado y requiere un detector de luz tal como una
foto celda o fototransistor. Reemplaza la pantalla de observacin con el detector y un
agujero que permita solamente el paso de las franjas. Cuando el patrn de franjas se
mueve, la luz en el detector crear, alternadamente, seales fuertes y dbiles. Si el
detector se conecta a un amplificador de audio y bocina, la seal alternante
proporcionar un sonido audible. La frecuencia del sonido depender del nmero de
franjas por segundo que pasan por el agujero. Como cada franja representa un
movimiento del espejo de media longitud de onda, el tono de la onda de sonido
representa la velocidad del movimiento del espejo.

1.7 Proyecto # 7: Coherencia y lseres.

Este proyecto se aparta de los experimentos de la ptica clsica descritos hasta este punto en
este manual. En este proyecto examinars una de las caractersticas de los lseres con un
interfermetro de Michelson para determinar la frecuencia de separacin entre los modos
axiales del lser (Secc. 0.6.3). El lser estndar He-Ne proporcionado en el kit produce tres
longitudes de onda separadas en frecuencia por c/2L, donde c es la velocidad de la luz y L es la
distancia entre los extremos de los espejos del lser (aproximadamente la longitud del tubo del
lser).

La tcnica usada para este proyecto fue descrita en la Seccin 0.6.4 del Texto Elemental.
Observando la visibilidad de las franjas del interfermetro de Michelson sers capaz de medir la
112
frecuencia entre los modos axiales en el lser. El interfermetro de Michelson es descrito en la
Seccin 0.4.2 del Texto elemental y fue construido en el Proyecto # 6.

Arreglo experimental.

NOTA:

Si ya has construido el interfermetro de Michelson del Proyecto # 6, el montaje ya est casi

completo. La nica modificacin que tendrs que hacer es cambiar el espejo de referencia (paso
5) de un ensamble de base fija que se atornilla a la mesa ptica por un ensamble mvil
sujetando una base B-2 de un los ensambles LCA al ensamble BSA-I (Fig. 7-1). Tambin, ajusta
el expansor de haz para un frente de onda plano, el pequeo haz reflejado sobre la tarjeta en
el frente del lser har la alineacin coincidente ms rpido. Una vez hecho esto, puedes
empezar en el paso # 10. Debido a que el ensamble del espejo de referencia no est
perfectamente fijo, necesitaras reajustarlo para encontrar las franjas cada vez que muevas o
atropelles este ensamble.

1. Monta un ensamble para lser (LA) a la parte trasera de la mesa ptica (Fig. 7-1). Ajusta
la posicin del lser de tal forma que el haz sea paralelo a la orilla y a una lnea de agujeros
en la superficie de la mesa ptica. Pega una tarjeta indicadora con un pequeo orificio
(aproximadamente 2 mm) enfrente del lser, de tal forma que el haz pueda pasar a travs
de l. Esta tarjeta ser usada como pantalla para monitorear las reflexiones producidas
por los componentes tan pronto como sean insertadas en el haz. Ve la nota en el Proyecto
# 3 sobre la alineacin de haces de lser.

2. Monta un ensamble dirigidor de haz (BSA-I) a cuatro pulgadas aproximadamente de la

esquina ms lejana de la mesa ptica (Fig. 7-1). Ajusta la altura de la montura para espejo
hasta que el haz intersecte el centro del espejo. Entontes rota el poste en el soporte para
poste hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla izquierda y a la superficie de la mesa
ptica.
3. Coloca un segundo ensamble dirigidor de haz (BSA-I) en lnea con el haz de lser en la
esquina inferior izquierda de la mesa ptica, (Fig. 7-1).

4. Monta un expansor de haz entre los dos primeros BSA-I como se explic en el Proyecto #
3. Monta la primera lente a la mesa ptica sin base B-2 (Fig. 7-1).Este expansor genera
una onda plana expandida que es necesaria para construir el interfermetro.

113
5. Coloca un ensamble de lentes (LCA) aproximadamente a 5 plg a la derecha de la ltima
montura BSA-I. Monta un divisor de haz 50/50 en la LCA y rota el ensamble 45 del camino
ptico. El haz reflejado de la primera superficie deber ser perpendicular a e ir en la
direccin de la orilla frontal de la mesa ptica. El divisor de haz divide el haz que ingresa
en dos componentes iguales para los dos brazos del interfermetro.

6. Coloca un BSA-I con su espejo centrado alrededor del camino del haz reflejado y
aproximadamente a 5 plg del divisor de haz para interceptar el haz reflejado (Fig. 7-1).
Ajusta el espejo hasta que su haz sea regresado a la tarjeta indicadora pegada al lser.
Este espejo ser llamado el espejo fijo.

Fig. 7-1. Vista esquemtica del experimento de coherencia.

7. Coloca un BSA-I* (modificado con una base B-2, de tal forma que pueda moverse sobre la
mesa ptica) con su espejo centrado respecto al camino del haz transmitido y
aproximadamente a 5 plg adelante del divisor de haz de tal forma que es haz sea retro-
reflejado hacia el lser. Este espejo ser llamado el espejo mvil.

8. Usa un TA-II (sin base) con una tarjeta indicadora (QI) como pantalla de observacin al
otro lado del divisor de haz, frente al espejo fijo (Ve el paso numero 6). Ajusta los espejos
en los dos brazos del interfermetro hasta que los dos haces se superpongan en la
pantalla. Habr reflexiones combinadas en la pantalla de observacin y en la tarjeta en el
frente del lser.

114
9. Como los dos haces se hacen coincidir, una serie de franjas brillantes y oscuras aparecern
representando el patrn de interferencia entre los dos frentes de onda. La orientacin y
separacin de las franjas puede ser controlada ajustando los espejos fijo y mvil.
Usualmente es mejor usar un espejo para ajuste. Ajusta el espejo de tal forma que
aproximadamente 5 franjas aparezcan sobre la tarjeta. El nmero de franjas puede
variarse en una direccin particular inclinando el espejo de referencia en una direccin
perpendicular a la direccin de las franjas. Tu interfermetro de Michelson est ahora
completo.

10. Ajusta la posicin del espejo hasta que la diferencia de camino entre los dos brazos del
interfermetro sea igual. En este caso, sin embargo, los dos caminos no son tan iguales
debido a que la luz que tiene que pasar por el vidrio para salir del divisor de haz viaja una
distancia adicional, el camino dentro del vidrio debe ser multiplicado por el ndice de
refraccin. En el caso del divisor de haz (FK-BS), la longitud del camino ptico adicional es
aproximadamente 2 2 veces el grosor del divisor de haz.

11. Coloca la cinta mtrica sobre la mesa con alguna de sus divisiones principales en lnea con
el centro del divisor de haz. Registra el valor en tu cuaderno.

12. Traslada el espejo mvil alejndolo del divisor de haz en incrementos de plg. Cada vez
que el espejo se mueva reajusta su inclinacin hasta que se observen de 4 a 6 franjas.
Habr una posicin en la diferencia de camino donde las franjas parezcan aparecer y
desaparecer gradualmente. Cuidadosamente mueve el espejo respecto a esta posicin
hasta no puedas hacer que las franjas aparezcan. Registra esta posicin.

13. Contina alejando el espejo del divisor de haz y observa que el contraste se incrementa.
Usando la misma tcnica de arriba, busca las posiciones del espejo que den el mayor
contraste posible. Puedes ir ms all de esta posicin y regresar varias veces para verificar
tu decisin. Registra el valor para el contraste mximo.

14. Pon atencin para encontrar contrastes mximos y mnimos adicionales. Si eres capaz de
hacer esto, registra tambin las posiciones. La distancia entre mximos y mnimos
sucesivos deber ser la misma. Si tienes ms de un valor, toma el promedio de las
distancias mnimas y mximas.

15. En el Texto Elemental (Seccin 0.6.4) mostramos que si la visibilidad de las franjas va de
un mximo a un mnimo en una distancia L, la frecuencia de separacin entre dos salidas
de un lser que causan esta variacin de contraste es

115
 (7-1)
= = =
2 4 4

Calcula la diferencia de frecuencias basndote en los valores que has medido para L.

16. Se mostr que la frecuencia de separacin entre los modos contiguos de un lser era c/2L.
Basndote en la separacin de frecuencias determinada en el paso # 15, encuentra la
distancia entre espejos en el tubo de lser que estas usando. Es razonable este valor
basndose en las dimensiones exteriores del lser?

Experimentos adicionales.

Si se agrega un polarizador al sistema en la salida del lser mientras el espejo est en la

posicin de mnimo contraste y el polarizador se rota paralelamente al modo doble de salida,
el contraste de las franjas ser maximizado. Los modos que contribuyen a la mayor variacin
de contraste estarn ahora separados por c/L. Como los modos estn espaciados dos veces
la separacin del experimento anterior, el contraste mnimo ocurrir a la mitad del valor de
L encontrado en el Paso # 15. Rota 90 el polarizador y observa la variacin del contraste
mientras mueves el espejo. No esperes algo tan dramtico como los efectos que has estado
midiendo, debido a que ahora estas observando la interferencia de un solo modo del lser.
Necesitaras la diferencia de longitud de un campo de ftbol en uno de los brazos para reducir
el contraste. De esta forma la longitud de coherencia de este lser con un solo modo
seleccionado por polarizacin es del orden de cientos de metros. Esto puede ser comparado
con la longitud de coherencia de una fuente de luz de sodio estndar de laboratorio (0.045
nm medio ancho @ =550 nm) la cual tiene una longitud de coherencia de aproximadamente
2 mm.

1.8 Proyecto # 8: Polarizacin de la luz.

Aunque la idea de polarizacin es bastante simple (Seccin 0.5 del Texto Elemental), permanece
algo abstracta hasta que puedes trabajar con luz y sus diversas formas de polarizacin. El objeto
de este proyecto es darte alguna experiencia en la orientacin y generacin de luz polarizada.
Como se puntualiz en el Texto Elemental, (Seccin 0.6.3) y se explor en el Proyecto # 7, la

116
salida del lser usado en el Kit de Proyectos en ptica tiene tres modos con dos de estos modos
polarizados ortogonalmente al tercero. Como el lser no tiene sistema especial de estabilizacin
de circuitos, los modos del lser tendern a arrastrar la frecuencia, de tal forma que uno de los
modos de una polarizacin sea rechazado y un modo de polarizacin ortogonal sea aceptado. As
que el modo simple de polarizacin se polariza ortogonalmente y viceversa. Este fenmeno se
refiere a un modo de arrastre. Su efecto sobre estos experimentos es que la salida del lser en
una polarizacin particular cambiar lentamente con el tiempo.
As, mientras haces mediciones durante este experimento, cuida que algunas variaciones de la
potencia no puedan ser debidas a tus esfuerzos por cambiar una variable, sino que puedan ser
causados por efectos del modo de arrastre. Dos formas de minimizar estos efectos son: (1) dejar
que el lser se caliente tan pronto como entres al Laboratorio y (2) tomar las series de datos ms
de una vez para dar razn de cualquier variacin de la fuente. Si tienes tiempo, puedes
monitorear y registrar la potencia de salida del lser para algn periodo de tiempo cuando no
ests realizando los experimentos. Estas medidas tomadas antes de que el haz toque algn
elemento son muy usadas para evaluar este fenmeno de variacin de potencia.

Fig. 8-1. Placa de media onda. La placa produce un retraso de 180 en la fase entre las
componentes E y Ede la luz incidente linealmente polarizada. Si la direccin de
polarizacin original es a un ngulo al eje ptico, la polarizacin transmitida es rotada
aproximadamente 2 de la original.

NOTA: Parte de este experimento requiere una medida de los niveles de potencia pticos; no es
posible realizar esta tarea confiando nicamente en tu vista, ya que la estructura de tus ojos con
un diafragma que se cierra cuando la luz se vuelve demasiado brillante los hace buenos
detectores de imgenes pero pobres medidores de potencia. Por lo tanto, puede usarse o
construirse algn tipo de detector ptico. Si no tienes un Newport 615 o algn Detector ptico
equivalente, necesitaras obtener un voltmetro estndar de laboratorio y construir un detector
simple. Aunque hay algunos dispositivos que harn el trabajo, las instrucciones al final de este
117
Proyecto sern suficientes para construir un circuito fotodetector simple

Arreglo Experimental.

Equipo de Newport Requerido:

Parte Cantidad Descripcin

LA 1 Ensamble de lser
BSA-I 2 Ensamble dirigidor de haz
RSP-1T 1 Plataforma de Rotacin
LCA 2 Ensamble de lentes
TA-II 1 Ensamble de Objetivo
R (RSP--1T) 1 Plataforma de rotacin
2 Polarizador lineal

Equipo adicional requerido:

Parte Cantidad Descripcin

QI 1 Tarjeta indicadora
QV 1 Voltmetro
QD 1 Foto detector o celda solar
QM 1 Porta objeto de microscopio

1. Monta un ensamble para lser (LA) a la parte trasera de la cubierta ptica. Ajusta la
posicin del lser de tal forma que el haz sea paralelo a la orilla y a una lnea de agujeros
en la superficie de la cubierta ptica. Pega una tarjeta indicadora con un pequeo orificio
(aproximadamente 2 mm) enfrente del lser, tal que el haz pueda pasar a travs de l.
Esta tarjeta ser usada como pantalla para monitorear las reflexiones producidas por los

118
 componentes tan pronto como stas sean insertadas en el haz. Ve la nota en el Proyecto
# 3 sobre la alineacin de haces de lser.

2. Monta un ensamble dirigidor de haz (BSA-I) a cuatro pulgadas aproximadamente de la

esquina ms lejana de la cubierta ptica (Fig. 8-2). Ajusta la altura de la montura para
espejo hasta que el haz intersecte el centro del espejo. Entontes rota el poste en el
soporte para poste hasta que el haz de lser sea paralelo a la orilla izquierda y a la
superficie de la cubierta ptica.

3. Coloca un segundo ensamble dirigidor de haz (BSA-I) en lnea con el haz de lser en la
esquina inferior izquierda de la mesa ptica, (Fig. 8-2). Rota y ajusta la montura para
espejo hasta que el haz sea paralelo a la orilla frontal y a la superficie de la cubierta ptica.

4. Coloca el detector en un ensamble de lentes (LCA) y mntala bien ms all del segundo
BSA-I de tal forma que el haz golpee el centro del detector.

5. Monta un polarizador en un ensamble LCA con su eje hacia arriba. Pega un segundo
polarizador por las orillas a un ensamble de plataforma de rotacin (RSA-I) de tal forma
que su eje de transmisin sea vertical cuando la plataforma de rotacin este colocada a
360. Coloca ambos ensambles directamente en lnea con el haz lser entre el segundo
BSA-I y el detector. La salida del dispositivo ser proporcional a la irradiancia de la luz
(Watts/m2). Esta cantidad es proporcional al cuadrado de la amplitud del campo elctrico,
como se discuti en la Seccin 0.5.1 del Texto Elemental. Rota el segundo polarizador en
incrementos de 10 entre 0 y 180, registrando el ngulo y la medida que marca el
detector.

6. Grafica los resultados de tus mediciones y compralas con la Ley de Malus.

= 0 cos2 (0-18)

Tendrs que adaptar tu grfica de comparacin a la Io, que es el mximo valor registrado.

Tambin puedes haberte equivocado un poco en la orientacin de alguno de los

polarizadores por lo tanto las dos curvas pueden estar movidas a lo largo del eje del ngulo.
Puedes tener que ajustar tus grficas para hacer la comparacin, pero debers justificar
cualquier ajuste en tu cuaderno.

119
 Fig. 8-2. Vista esquemtica del experimento de polarizacin de la luz.
7. Quita el RSA-I de la cubierta y desmonta la Plataforma de Rotacin. Quita el polarizador
e inserta el adaptador en el agujero de una pulgada. Monta un ensamble de lentes (LCA)
sin base sobre esta plataforma usando el agujero en el centro del adaptador. La
plataforma de rotacin (R) se sujeta entonces a la mesa con tornillos 1/4-20. Coloca la
LCA de tal forma que el haz de lser pase a travs del centro del soporte de lentes. Pega
un portaobjetos de microscopio (QM) al soporte de lentes de tal forma que el
portaobjetos se mantenga firmemente en su lugar y el haz no pase a travs de la cinta.
(Fig. 8-3).

8. Coloca la Plataforma de Rotacin (R) a 0. Rota la montura para lente en su soporte de tal
forma que el haz reflejado del portaobjetos regrese a la entrada del haz. Puedes querer
usar la tarjeta indicadora con el agujero en ella para colocar el haz. Aprieta el tornillo en
el poste, de tal forma que la montura para lentes se fije en la plataforma.

9. Rota el polarizador de tal forma que el eje de transmisin sea horizontal a la mesa. Esto
significa que el vector de polarizacin es ahora horizontal y est en un plano formado por
la direccin del haz de lser y la normal a la superficie del portaobjetos de microscopio.
El plano definido por esas dos direcciones se llama plano de incidencia.

10. Reemplaza el detector en el LCA con un ensamble de objetivo modificado (TA-II) debido
a que vas a tener que seguir al haz sobre la mesa.

11. Rota la plataforma de rotacin (R) alejndola de 0 y observa la reflexin del portaobjetos
sobre la tarjeta indicadora montada en TA-II. En algunos puntos en este proceso, la
reflexin del portaobjetos se volver muy dbil. Busca despus del punto de reflexin
mnima y observa que la irradiancia del haz reflejado se incrementa. Mediante sucesivas

120
 aproximaciones, has que la plataforma produzca la mnima reflexin. (Puedes encontrar
que puedes mejorar el mnimo modificando ligeramente el ngulo de polarizacin).
Registra el ngulo de la plataforma de rotacin y determina el ngulo entre el haz y la
normal a la superficie. Compara este ngulo con el ngulo de Brewster, discutido en la
Seccin 0.5.1 en el Texto Elemental, y evala el que se da ah.

12. Rota la polarizacin de entrada del haz a la polarizacin ortogonal y observa que la
reduccin en la irradiancia del haz reflejado no ocurre para ningn ngulo.

Fig. 8-3. Vista esquemtica del experimento del

Angulo de Brewster.

Ejercicios adicionales.

Si tu foto detector es lo suficientemente sensible, es posible medir la potencia del haz reflejado
para ambas polarizaciones. Puede compararse una grfica de las potencias registradas como una
funcin del ngulo de incidencia con las curvas tericas que vienen en la mayora de los textos
de ptica en las secciones de polarizacin de la luz por reflexin.
Otro uso de la luz polarizada es medir el contenido de azcar de algunas mieles en la industria de
los dulces. La base de esta medida es el hecho de que los azcares son materiales pticamente
activos, causando que el plano de polarizacin de la luz que pasa a travs del lquido, rote. La
cantidad de rotacin depende de la concentracin de azcar y del espesor de la muestra a travs
de la cual viaja la luz. De esta forma, construyendo un dispositivo con una longitud estndar de
la muestra y conociendo la constante de rotacin del azcar, puede determinarse la
concentracin del lquido azucarado.
Por ejemplo, la miel de maz sin color (Karo es la marca estndar) tiene una constante de rotacin

121
para la luz visible que puede medirse fcilmente. Usando un tanque de plstico transparente tal
como el usado en el Proyecto #1, llena el fondo del tanque con miel a suficiente altura para pasar
un haz a travs de ella y colocarla sobre una caja u otro objeto para subir el lquido a la altura
correcta del haz. Sin el haz en el tanque, coloca dos polarizadores cruzados, entonces inserta el
tanque de miel entre ellos. Debido a la actividad ptica de la miel, la luz rotar y ser transmitida
por el analizador. El ngulo de polarizacin puede ser determinado rotando el analizador para
eliminar el haz. La constante de rotacin es igual a ese ngulo dividido por la distancia que el haz
viaj a travs de la miel.
Cuando hayas terminado, vaca el tanque y coloca la miel en una jarra cubierta. Enjuaga el tanque
y scalo para prevenir un desorden pegajoso la prxima vez que se use.

Circuito usado para medir luz en un experimento de luz polarizada.

El circuito alterno es para un equipo de medicin de baja impedancia. Conecta a tierra los pins 5
y 6 si no los usas.

122
Q1 IR Photo Transistor / Radio Shack P/N 276-145 SDP 8403-301
U1 JFET OP AMP / Radio Shack P/N 276-1715

1.9 Proyecto # 9: Birrefringencia de materiales.

La polarizacin de la luz puede ser usada para controlar el paso de la luz a travs de un sistema
ptico e imprimir informacin sobre una onda luminosa cambiando (modulando) la cantidad de
luz de materiales birrefringentes.

En este proyecto la birrefringencia de un material se usar para cambiar la polarizacin del lser.
Usando una placa de cuarto de onda y un polarizador, construirs un aislante ptico. Cuando
agregues una segunda placa de cuarto de onda, resultar un rotador de polarizacin.

Arreglo experimental.

Equipo de Newport Requerido:

Parte Cantidad Descripcin

LA 1 Ensamble de lser
BSA-I 3 Ensamble dirigidor de haz
RSA-I 1 Ensamble de plataforma de rotacin
LCA 1 Ensamble de lentes
LCA* 2 Ensamble de lentes sin base B-2
TA-II 2 Ensamble de Objetivo
FK-B2 1 Divisor de haz
2 Polarizador lineal
2 Placas de cuarto de onda

123
Equipo adicional requerido:

Parte Cantidad Descripcin

QI 2 Tarjeta indicadora
Cinta

1. Monta un ensamble de lser (LA) a la parte trasera de la cubierta ptica (Fig. 6-1). Ajusta
la posicin del lser de tal forma que el haz sea paralelo a la orilla y a una lnea de agujeros
en la superficie de la mesa ptica. Pega una tarjeta indicadora con un pequeo orificio
(aproximadamente 2 mm) enfrente del lser, tal que el haz pueda pasar a travs de l.
Esta tarjeta ser usada como pantalla para monitorear las reflexiones producidas por los
componentes tan pronto como sean insertados en el haz. Ve la nota en el Proyecto # 3
sobre la alineacin de haces de lser.

2. Monta un ensamble dirigidor de haz (BSA-I) a cuatro pulgadas aproximadamente de la

esquina contigua ms lejana de la mesa ptica. Ajusta la altura del espejo hasta que el haz
intersecte su centro. Entontes rota el poste en el soporte para poste hasta que el haz de
lser sea paralelo a la orilla izquierda y a la superficie de la cubierta ptica.

3. Coloca un segundo ensamble dirigidor de haz (BSA-I) en lnea con el haz de lser
aproximadamente a dos terceras partes del camino a lo largo del lado izquierdo de la
mesa ptica. Rota y ajusta la montura para espejo hasta que el haz sea paralelo a la orilla
frontal y a la superficie de la cubierta ptica.

4. Monta el divisor de haz en un ensamble de lentes (LCA) y coloca la unidad a cuatro

pulgadas a la derecha del ltimo espejo dirigidor de haz. Ajusta el divisor de haz de tal
forma que su superficie est orientada a 45 hacia el ltimo espejo dirigidor de haz.

5. Coloca una pieza de cartn o algn otro objeto en la orilla de la cubierta ptica para
bloquear la luz reflejada por la superficie posterior del divisor de haz (la superficie trasera
del divisor de haz es siempre la superficie opuesta a la superficie que divide el haz). Habr
al menos dos haces de intensidad desigual.

6. Coloca un ensamble modificado de objetivo (TA-II) sobre el lado opuesto del divisor de
haz. Inserta una tarjeta blanca en el soporte a la altura del haz. Esta ser usada para
monitorear la cantidad de luz reflejada.

124
7. Monta un polarizador en un ensamble de lentes (LCA) sin base B-2 y a su vez monta el
arreglo sobre la mesa ptica en lnea con el haz de lser y varias pulgadas a la derecha del
divisor de haz. Coloca el polarizador con la marca de los grados hacia arriba. Rota la
montura de lentes ligeramente de tal forma que la reflexin de este polarizador pueda
ser vista sobre la tarjeta indicadora.

8. Monta un segundo polarizador en un ensamble de lentes (LCA) sin base B-2 y mntalo 7
pulgadas a la derecha del primer polarizador. Coloca un segundo TA-II a la derecha del
segundo polarizador. Rota el segundo polarizador hasta que bloquee completamente la
luz del primer polarizador (es decir, sus ejes de polarizacin deben estar cruzados). Rota
la montura para lentes ligeramente de tal forma que la reflexin de este segundo
polarizador pueda ser reconocida como un haz separado.

9. Inserta la placa de cuarto de onda en un Ensamble de Plataforma de rotacin (RSA-I).

Coloca el ensamble entre los dos polarizadores. Lentamente rota la placa de cuarto de
onda hasta que la salida a travs del segundo polarizador sea un mximo.

10. Afloja el segundo polarizador en su montura para lentes y rota. Nota que la salida no
cambia debido a que la luz esta ahora circularmente polarizada y hay una componente
igual en cualquier direccin de la orientacin de polarizacin. La placa de cuarto de onda
ha convertido la entrada lineal del haz a un haz circularmente polarizado.

Fig. 9-1. Vista esquemtica del experimento de

Birrefringencia de materiales.

125
11. Habiendo verificado que la placa ha producido luz circularmente polarizada, reemplaza el
segundo polarizador con un espejo en un ensamble dirigidor de haz BSA-I, (Fig. 9-2).
Observa las reflexiones de la luz en la tarjeta indicadora. Habr reflexiones superficiales
provenientes de las superficies del polarizador y la placa de cuarto de onda, pero no habr
reflexin fuerte del espejo debido a que como se puntualiz en la Seccin 0.5.2 del Texto
Elemental, el espejo invierte la luz circularmente polarizada y en el segundo paso a travs
de la placa de cuarto de onda, el haz est nuevamente linealmente polarizado pero en
ngulos rectos a la polarizacin original. Cuando el haz reflejado golpea el polarizador otra
vez, es absorbido. Puedes probar esto ya sea quitando o rotando la placa de cuarto de
onda o rotando un poco el polarizador de entrada. En cualquier caso, la luz en el espejo
ya no est circularmente polarizada. Esto es equivalente a decir que el haz saliente ha
sido aislado de reflexiones despus de la placa de cuarto de onda.

Fig. 9-2

12. Comenzando con el arreglo completado en el Paso # 9, con una sola placa de cuarto de
onda en el RSA-I, coloca una segunda placa de cuarto de onda entre los polarizadores
cruzados sin perturbar la orientacin de la primera. Rota la segunda placa de cuarto de
onda hasta que la luz que pasa a travs del segundo polarizador sea mxima.
Cuidadosamente pega esta segunda placa de cuarto de onda al RSA-I en el cual est
montada la primera placa de cuarto de onda. Has creado ahora una placa de media onda
que rota la polarizacin entrante en 90. Para comprobar que esto efectivamente es as,
rota el segundo polarizador para producir el mnimo de transmisin. Encontrars que lo
tienes que rotar 90 y que los ejes de los dos polarizadores son ahora paralelos.

13. Finalmente, rota el primer polarizador en algn ngulo especfico, digamos 10, y anota
la cantidad por la que el segundo polarizador debe ser rotado para extinguir el haz.
Encontrars que el analizador debe rotarse en dos veces el ngulo del polarizador inicial.

126
 1.10 Proyecto # 10: Teora de Abbe de formacin de imgenes.

Este experimento toca el contenido del tema de frecuencia espacial de los objetos y cmo stos
pueden usarse para controlar la forma y calidad de una imagen. Este tema es similar a encontrar
el contenido de frecuencia armnica de una forma ondulatoria como por ejemplo, la producida
por un instrumento musical. Un instrumento musical puede producir un tono bajo y un tono
alto. Podemos controlar la calidad del sonido filtrando una de las dos frecuencias armnicas con
un filtro pasa-bajas o un filtro pasa-altas. Una discusin de la teora bsica fue dada en la Seccin
0.7 del Texto elemental.

Como notamos en el Texto Elemental, los objetos tienen cierto perfil de intensidad que se
traduce en la correspondiente distribucin de frecuencias espaciales. En este proyecto la
distribucin frecuencial de un objeto iluminado con un haz de lser ser examinada con una sola
lente colocada despus de una diapositiva o lmina. La distribucin de luz formada en el plano
focal nos dice el contenido de frecuencia del objeto, y manipulando la luz en ese plano
controlamos la calidad y contenido de la imagen que ser exhibida.
El haz de lser que estamos usando tiene un perfil suave, es decir, la distribucin de intensidad
no tiene variaciones, y cuando est enfocada produce un nico y pequeo punto, es decir, el haz
original contiene solamente frecuencias espaciales bajas; por otro lado, si pasamos este haz a
travs de una rejilla o pantalla que introduzca muchas variaciones en el perfil del lser, entonces,
en el plano focal de la lente veremos varios puntos indicando que han sido agregadas
componentes de frecuencia espacial adicionales. Construyamos un montaje que nos permita
examinar esta caracterstica.

Arreglo experimental.

Equipo de Newport Requerido:

Parte Cantidad Descripcin

LA 1 Ensamble de lser
BSA-I 2 Ensamble dirigidor de haz
LCA 1 Ensamble de lentes

127
LCA* 2 Ensamble de lentes sin base B-2
TA-II 2 Ensamble de Objetivo
2 Lentes para expansor de haz
TL KPX100 1 Lente transformadora (a50 mm EFL)
Transparencias

Equipo adicional requerido:

Parte Cantidad Descripcin

QI 2 Tarjeta indicadora
1 Porta objetos de microscopio
Palillos, otros materiales para pegar

1. Monta un ensamble de lser (LA) al lado ms lejano de la cubierta ptica (Fig. 10-1). Ajusta
la posicin del lser de tal forma que el haz sea paralelo a la orilla y en lnea con una lnea
de agujeros en la superficie de la mesa ptica. Pega una tarjeta indicadora con un
pequeo agujero (aproximadamente 2 mm) en el frente del lser, de tal forma que el haz
pueda pasar a travs de l. Esta tarjeta ser usada como pantalla para monitorear las
reflexiones producidas por las componentes tan pronto como sean insertadas en el haz.
Mira la nota en el Proyecto # 3 sobre la alineacin de haces de lser.

2. Monta un ensamble dirigidor de haz (BSA-I) a cuatro pulgadas aproximadamente de la

esquina ms lejana de la mesa ptica (Fig. 5-2). Ajusta la altura del espejo hasta que el
haz intersecte su centro. Entontes rota el poste en el soporte para poste hasta que el haz
de lser sea paralelo a la orilla izquierda y a la superficie de la cubierta ptica.

3. Coloca un segundo ensamble dirigidor de haz (BSA-I) en lnea con el haz de lser en la
esquina izquierda ms baja de la mesa ptica. Rota y ajusta la montura para espejo hasta
que el haz de lser sea paralelo a la orilla frontal y a la superficie de la mesa ptica.

4. Coloca un expansor de haz entre los dos primeros BSA-I como se explic en el Proyecto #
3. Monta la primera lente en la mesa ptica sin la base B-2 (Fig. 10-1).

128
5. Coloca una lente transformadora de 150 mm en una LCA sin base a 12 plg del segundo
BSA-I y cntrala en el camino del haz.

6. Monta un ensamble de objetivo modificado (TA-II) con una tarjeta indicadora y colcalo
en el foco del haz, a 150 mm de la lente transformadora. El plano de la tarjeta representa
el plano focal posterior de la lente. En algunos de los experimentos la tarjeta indicadora
ser reemplazada por un portaobjetos de microscopio.

7. Monta un segundo ensamble de objetivo modificado (TA-II) sin base 225 mm antes de la
lente transformadora. Este ensamble ser usado para colocar la diapositiva en el camino
de la luz lser. Este ensamble ser llamado soporte de diapositiva.

Fig. 10-1. Vista esquemtica del experimento de

Formacin de imgenes.

8. El montaje para la examinacin de las diapositivas est listo. La imagen ser observada
sobre una tarjeta indicadora en otro ensamble de objetivo, modificado. La posicin del
plano de observacin estar ahora aproximadamente a 450 mm despus de la ltima
lente y dar una imagen de aproximadamente dos veces el tamao de la diapositiva
objeto cuando la tarjeta en el punto focal posterior de la lente sea removida.

9. Quita cualquier diapositiva sujeta al soporte de diapositiva. En el plano focal posterior

vemos una sola mancha enfocada. La posicin de la mancha localiza el nivel dc de

129
 iluminacin del haz que entra en la lente. Cualesquiera otras manchas que aparezcan
sobre la tarjeta indican que estn presentes otras frecuencias espaciales. Quita la tarjeta
del plano focal posterior y vers iluminacin uniforme (o nivel dc) en el lugar de
observacin.

10. Coloca el objetivo de malla cuadrada en el soporte de diapositiva y vuelve a colocar la

tarjeta indicadora en el plano focal de la lente. Aqu veras un patrn con la forma de una
rejilla cuadrada de puntos que representan el contenido de frecuencia de la malla en
ambos ejes: horizontal (eje x) y vertical (eje y). Marca con un lpiz sobre la tarjeta, la
posicin de estos ejes. Las manchas en el eje x (o y) representan frecuencias presentes en
esa direccin de la diapositiva.

11. Quita la tarjeta del plano focal posterior y mueve el TA-II en el plano imagen para
conseguir la imagen ms definida. Esta imagen puede ser manipulada eliminando ciertas
frecuencias, en gran parte en la misma forma como un filtro de audio de alta fidelidad
controla el tono de un instrumento musical. Para ilustrar esto, corta una rendija vertical
angosta en una seccin de la tarjeta indicadora de tal forma que solamente aquellos
puntos sobre el eje horizontal pasen a travs del corte. Coloca la tarjeta en el TA-II en el
plano focal posterior de tal forma que el resto de los puntos sean bloqueados por la
tarjeta. Examina la imagen sobre la tarjeta indicadora en el plano de observacin y
registra lo que ves. Notars que la imagen consiste de solamente lneas horizontales.
Cuando quitas la rendija del plano focal, la imagen se parece al objeto original.

12. Rota la tarjeta en el Paso # 11 de tal forma que pasen los puntos en el eje-y. Registra lo
que ves.

13. Haz otro corte de tal forma que solamente el punto central sea transmitido. Nota que
solo iluminacin uniforme est presente en el plano de observacin, es decir, has filtrado
todas las frecuencias ms altas y todo lo que dejas son las frecuencias bajas (es decir,
iluminacin relativamente uniforme). Este es el principio del filtro espacial. ste limpia los
haces pticos quitando las frecuencias altas centrando el haz a travs de un agujero,
obstruyendo as los armnicos no deseados.

14. Otros cortes pueden insertarse en el plano focal posterior. Por ejemplo, si haces un filtro
en forma de un agujero ms grande que pase solamente los puntos central y los dos
adyacentes. Registra lo que ves. Nota que esto quita las orillas afiladas de la imagen y
produce una imagen suave. Alternativamente puedes hacer un filtro especial que
obstruir solamente el punto central poniendo un punto de tinta en un portaobjetos de
microscopio y colocndolo en el punto central en el plano focal posterior. Registra tus
observaciones. Esto quitara la iluminacin uniforme de la imagen y realzar las orillas.

130
15. Reemplaza la malla cuadrada en el soporte para diapositiva con cualquier diapositiva.
Nota que esta imagen tiene superpuestas muchas lneas horizontales. En el plano focal
posterior de la lente la distribucin de la luz consiste de una distribucin irregular de luz
representando las muchas frecuencias espaciales presentes en la imagen. Superpuesta a
esta distribucin est un conjunto de puntos tenues alineados a lo largo del eje vertical y
pasando a travs del punto central. Esta lnea de puntos representa el contenido de
frecuencias de lneas horizontales en la diapositiva.

16. Pega con cinta al microscopio dos alfileres (o palillos u objetos delgados) de tal forma que
cuando est colocado atrs en el plano focal los objetos obstruyan esta lnea vertical de
puntos. El punto central no deber ser obstruido. Registra tus observaciones. Quita y
luego vuelve a colocar este filtro de aguja.

17. Pueden hacerse y usarse otros cortes en el plano focal posterior. Por ejemplo, corta un
agujero en la tarjeta indicadora de tal forma que obstruya los puntos externos. Esos
puntos contienen la informacin de alta frecuencia. Registra tus observaciones.
Obstruirlas nos lleva a una imagen ms suave, ms borrosa, como se ve en el plano de
observacin.

131
132
 Primera versin
Dr. Gilberto Camacho Basilio (Responsable)
Lic. Rosibel Carrada Legaria (Servicio Social)
Puebla, Pue., Agosto de 2002

Segunda versin
Dr. Gilberto Camacho Basilio (Responsable)
M.C. Gabriel Aguilar Soto (Tcnico Acadmico)
Puebla, Pue., Agosto de 2004.

Tercera versin
Dr. Cruz Meneses Fabin (Responsable)
Dra. Rosibel Carrada Legaria (Tcnico acadmico)
Puebla, Pue., Enero de 2016

133