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Qualit
contrle.
Exprimentation
Ap.gestion
Prpa travail
Salle de cours
Pr-requis :
- Connaissance sur les mots clef de la qualit.
- Notions sur les outils de la qualit.
- Connaissance sur les lments de statistiques lies la production.
Savoirs nouveaux :
L'lve devra tre capable, la fin de la squence, d'tablir une carte de contrle et
interprter le rsultat relatif la production.
Conditions de ralisation :
Une heure et demi de COURS permettra de traiter la notion d'indice de capabilit
d'un procd, d'une machine, de dvelopper les capacits tablir, complter et
interprter une carte de contrle.( axe VTT )
Le S.P.C.
Statistical Process Control,
Surveillance des Procds en Continu
ou Matrise Statistique des Procds
Quand ?
Pourquoi ?
Comment?
O ? Mesurer la qualit
50
45
40
35
30
Obj
25
20
15
10
5
0
Schma de gestion
90
80
70
60
Identification du problme 50
40
30
20
10
Diagramme Pareto
1 2 3 4 5 TOTAL 60 90 45
A 50
80 40
70 35
B 40 60 30
50 25
30
C 40
20
30
20 15
D 20
10
10 10
5
E 0
0 0
Feuille de
. relevs
Carte de contrle
. Histogramme Nuages de points
.
La mettre en oeuvre
Contrler le rsultat
Le S.P.C est une mthode d'auto-contrle qui permet un oprateur de vrifier le niveau de
qualit atteint par son poste, et de le stimuler pour accrotre sans cesse le niveau de qualit.
Etape 3 TEMPS
Amlioration de la capabilit
Pas de pices hors tolrance.
Le procd est sous contrle.
Le procd est capable.
On "matrise" le procd.
Sous contrle
Procd
(variation imputable aux
prvisible
causes alatoires rduites)
Etape 2 Tolrance : Ti
Infrieure
Suppressions des principales
causes assignables. Ts : Tolrance
Le procd est prvisible. Suprieure
La rpartition suit une courbe de
gauss.
Prsence de pices hors tolrance.
Le procd n'est pas capable. Sous contrle (causes
assignables limines)
Etape 1
Le procd n'est pas sous contrle.
Procd
Prsence de causes assignables. non
La rpartition ne suit pas une prvisible
courbe de gauss.
Prsence de pices hors tolrance.
Hors contrle
Le procd n'est pas capable.
(causes assignables prsentes)
BILAN:
Lyce J-H Fabre page 2
LA DEMARCHE QUALITE : complter et interprter une carte de contrle. Terminale STI-GM optA
ETAPE 1 :
ETAPE 2 :
ETAPE 3 :
ETUDES DE LA CAPABILIT :
Image de la
Cm : capabilit machine
IT de production machine
Image de la
Cp : capabilit procd
IT de production du procd
1- OBJECTIFS :
2- PRINCIPE DE FONCTIONNEMENT :
Lyce J-H Fabre page 3
LA DEMARCHE QUALITE : complter et interprter une carte de contrle. Terminale STI-GM optA
1 2 3 4 5 6 7 8 N de prlvements
Carte de contrle de la moyenne
Une intervention sur le processus de fabrication pourra tre dcide suivant la position
des points reports (exemple : un point entre les lignes Ls et Lc entrane un prlvement plus
rapproch).
10!0.1
12!0.1
A chaque heure, il est important de noter les vnements qui sont intervenus :
___________________________________________________________________________
_
Sans ce journal de bord, aucune analyse de la production ne sera possible.
Il faut y signaler : .
.
.
.
.
.
.
La production du support d'axe tant stabilise, 8h30 on effectue le premier prlvement:
numro (i)
chantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
pice n1 6.15 6.21 6.14 6.15 6.18 6.18 6.19 6.12 6.18 6.18
pice n2 6.14 6.15 6.16 6.13 6.13 6.17 6.19 6.15 6.17 6.14
pice n3 6.21 6.13 6.18 6.10 6.14 6.14 6.17 6.15 6.2 6.15
pice n4 6.20 6.14 6.10 6.19 6.18 6.18 6.17 6.14 6.2 6.12
pice n5 6.13 6.10 6.18 6.17 6.20 6.17 6.13 6.15 6.1 6.14
moyenne (Xi)
6.166 6.146 6.152 6.148 6.166 6.178 6.17 6.142 6.17 6.146
d'chantillon
Etendue (Wi)
0.08 0.11 0.08 0.09 0.07 0.02 0.06 0.03 0.1 0.06
d'chantillon
heure du 8h30 9h30 10h30 11h30 12h00 13h00 14h00 15h00 16h00 17h00
prlvement
jour lundi lundi lundi lundi lundi lundi lundi lundi lundi lundi
vnement pause
de
midi
6.2
6.16
6.12 N d'chantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23
0,1
0,08
0,06
0,04
0,02
0 N d'chantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23
y Limites de contrle.
suprieure LSC X = X + KW
infrieure LIC X = X KW
y Limites de surveillance.
2
suprieure LSS X = X + KW
3
2
infrieure LIS X = X KW
3
y Limite de contrle.
suprieure LSCW = AW
infrieure LICW = BW
y Limites de surveillance.
suprieure LSSW = W +
2
3
(
AW W )
infrieure
2
(
LISW = W + BW W
3
)
Les coefficients A, B et K sont fonction de la taille de l'chantillon.
Effectif
de chaque 3 4 5 6 7 8
chantillon
A 2,574 2,282 2,114 2,004 1,924 1,864
B 0 0 0 0 0,076 0,136
K 1,023 0,729 0,577 0,483 0,419 0,373
) Calcul de X et W : X=
W=
LIC X =
LSS X =
LIS X =
LSCW=
LICW=
LSSW=
LISW=
6.2
6.16
6.12 N d'chantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23
0,14
0,12
0,1
0,08
0,06
0,04
0,02
0 N d'chantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23
Variations de l'tendue
Rsultat du contrle Constats Interprtations Corrections
Variations de la moyenne
Rsultat du contrle Constats Interprtations Corrections
Le S.P.C.
Statistical Process Control,
Surveillance des Procds en Continu
ou Matrise Statistique des Procds
Quand ? - Lorsque nous voulons suivre graphiquement et chronologiquement la qualit
d'un caractre mesurable ou non sur un individu dtermin.
Comment? - Par l'utilisation judicieuse et raisonne des cartes de contrle ; suivant le cas :
carte de contrle la mesure ; ou carte de contrle par attribut
O ? Mesurer la qualit
50
45
40
35
30
Obj
25
20
15
10
5
0
Schma de gestion
90
80
70
60
Identification du problme 50
40
30
20
10
Diagramme Pareto
1 2 3 4 5 TOTAL 60 90 45
A 50
80 40
70 35
B 40 60 30
50 25
30
C 40
20
30
20 15
D 20
10
10 10
5
E 0
0 0
Feuille de
. relevs
Carte de contrle
. Histogramme Nuages de points
.
La mettre en oeuvre
Contrler le rsultat
Le S.P.C est une mthode d'auto-contrle qui permet un oprateur de vrifier le niveau de
qualit atteint par son poste, et de le stimuler pour accrotre sans cesse le niveau de qualit.
Elle a pour objectif de supprimer les effets assignables (connus, que l'on peut
supprimer ) pour ne soumettre le procd qu'a ces propres variations (ex: jeux dans les
glissires )
Un procd est dit sous contrle statistique quand aprs avoir identifi et supprim
toutes les causes assignables les seules causes de variation sont alatoires.
Etape 3 TEMPS
Amlioration de la capabilit
Pas de pices hors tolrance.
Le procd est sous contrle.
Le procd est capable.
On "matrise" le procd.
Sous contrle
Procd
(variation imputable aux
prvisible
causes alatoires rduites)
Etape 2 Tolrance : Ti
Infrieure
Suppressions des principales
causes assignables. Ts : Tolrance
Le procd est prvisible. Suprieure
La rpartition suit une courbe de
gauss.
Prsence de pices hors tolrance.
Le procd n'est pas capable. Sous contrle (causes
assignables limines)
Etape 1
Le procd n'est pas sous contrle.
Procd
Prsence de causes assignables. non
La rpartition ne suit pas une prvisible
courbe de gauss.
Prsence de pices hors tolrance.
Hors contrle
Le procd n'est pas capable.
(causes assignables prsentes)
BILAN:
ETAPE 1 : liminer les causes assignables et rendre le processus prvisible.
ETAPE 2 : effectuer un test de normalit puis rechercher rduire les dispersions
alatoires.
ETAPE 3 : tude de la capabilit.
ETUDES DE LA CAPABILIT :
Image de la
Cp : est l'image de la qualit des pices livres chez le client capabilit procd
IT de production du procd
1- OBJECTIFS :
Le suivi et la matrise des dispersions disposent d'un outil : les cartes de contrle. Elles
permettent d'avoir une image du droulement du processus de fabrication et d'intervenir
rapidement et bon escient sur celui-ci.
2- PRINCIPE DE FONCTIONNEMENT :
Nous supposons que la distribution de la spcification contrler suit une loi normale
(ou sensiblement normale).
Pour suivre l'volution du procd, des prlvements d'chantillons sont effectus
rgulirement (par exemple : 5 pices toutes les heures).
Pour chaque chantillon la moyenne et l'tendue (ou d'autres paramtres) sont calcules sur
la caractristique surveiller. Ces valeurs sont portes sur un graphique.
Lsc
Lss moyenne de la
caractristique sur
X un chantillon de
Lis n pices sur le 7me
prlvement
Lic
1 2 3 4 5 6 7 8 N de prlvements
Carte de contrle de la moyenne
Une intervention sur le processus de fabrication pourra tre dcide suivant la position
des points reports (exemple : un point entre les lignes Ls et Lc entrane un prlvement plus
rapproch).
12!0 1
10!0 1
A chaque heure, il est important de noter les vnements qui sont intervenus : C'EST LA
CONSTRUCTION DU JOURNAL DE BORD DE LA FABRICATION.
6.2
6.16
6.12 N d'chantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23
0,12
0,1
0,08
0,06
0,04
0,02
0 N d'chantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23
y Limites de contrle.
suprieure LSC X = X + KW
infrieure LIC X = X KW
y Limites de surveillance.
2
suprieure LSS X = X + KW
3
2
infrieure LIS X = X KW
3
y Limite de contrle.
suprieure LSCW = AW
infrieure LICW = BW
y Limites de surveillance.
suprieure LSSW = W +
2
3
(
AW W )
infrieure
2
(
LISW = W + BW W
3
)
Les coefficients A, B et K sont fonction de la taille de l'chantillon.
Effectif
de chaque 3 4 5 6 7 8
chantillon
A 2,574 2,282 2,114 2,004 1,924 1,864
B 0 0 0 0 0,076 0,136
K 1,023 0,729 0,577 0,483 0,419 0,373
1 n
) Calcul de X et W : X= Xi =6.1584 mm
n i =1
1 n
W= Wi =0.07mm
n i =1
LSC X = X + KW = 6.1584+0.577.0.07=6.199mm
2 2
LIS X = X 1,94802 (0 ,577 .0 ,005=) =6.131
KW = 36.1584-2/3(0.577*0.07) mmmm
31,946
3 3
LSSW = W +
2
3
( 2
)
005 + ( 2,114.0 ,005 0 ,005)== 0.121
AW W = 0 ,0.07+(2/3)(2.114*0.07-0.07)
3
0 ,0087mm
mm
LISW = W +
2
3
( 2
)
005 + (0 0 ,005) = 0 ,0016
BW W = 0 ,0.07+(2/3)(0*0.07-0.07)
3
= 0.023mm
mm
LSC
6.2
LSS
6.16
LIS
6.12 LIC N d'chantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23
LSC
0,14
0,12 LSS
0,1
0,08
0,06
0,04
LIS
0,02
0 LIC N d'chantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23
Variations de l'tendue
Rsultat du contrle Constats Interprtations Corrections
Variations de la moyenne
Rsultat du contrle Constats Interprtations Corrections