UNIVERSIDADE FEDERAL DE MINAS GERAIS

PROGRAMA DE PS-GRADUAO EM
ENGENHARIA MECNICA

METODOLOGIA DE GESTO DE ATIVOS PARA CHAVE

SECCIONADORA 15 kV

THIAGO FERREIRA QUERINO

Belo Horizonte, 23 de Fevereiro de 2015

 Thiago Ferreira Querino

METODOLOGIA DE GESTO DE ATIVOS PARA CHAVE

SECCIONADORA 15 kV

Dissertao apresentada ao Programa de Ps-Graduao em

Engenharia Mecnica da Universidade Federal de Minas Gerais,
como requisito parcial obteno do ttulo de Mestre em
Engenharia Mecnica.
Orientador: Prof. Dr. Roberto Mrcio de Andrade
rea de concentrao: Energia e Sustentabilidade
Linha de Pesquisa: Sistemas e Equipamentos Trmicos

Belo Horizonte
Escola de Engenharia da UFMG
2015
 Universidade Federal de Minas Gerais
Programa de Ps-Graduao em Engenharia Mecnica
Pampulha 31.270-901- Belo Horizonte MG
Av. Antonio Carlos, 6627
Tel.: +55 31 3499-5145 - Fax.: +55 31 3443-3783
www.demec.ufmg.br - E-mail: cpgmec@demec.ufmg.br

METODOLOGIA DE GESTO DE ATIVOS PARA CHAVE

SECCIONADORA 15 kV

THIAGO FERREIRA QUERINO

Dissertao defendida e aprovada em de de pela Banca Examinadora designada

pelo Colegiado do Programa de Ps-Graduao em Engenharia Mecnica da Universidade
Federal de Minas Gerais, como parte dos requisitos necessrios obteno do ttulo de
"Mestre em Engenharia Mecnica", na rea de concentrao de Energia e
Sustentabilidade.

__________________________________________________________________
Prof. Dr. Roberto Mrcio de Andrade - (Instituio de origem) Orientador

____________________________________________________________________
Prof./Profa. Dr./Dra. (nome) - (Instituio de origem) Examinador

____________________________________________________________________
Prof./Profa. Dr./Dra. (nome) - (Instituio de origem) Examinador

____________________________________________________________________
Prof./Profa. Dr./Dra. (nome) - (Instituio de origem) Examinador

____________________________________________________________________
Prof./Profa. Dr./Dra. (nome) - (Instituio de origem) - Examinador
 AGRADECIMENTOS

Agradeo a Deus, Criador de todas as coisas visveis e invisveis, que me logrou a capacidade
de realizar esse trabalho.

minha esposa Ketley e nossa amada Pietra pelo apoio incondicional nas horas de alegria e
tristeza, vitrias e derrotas, famlia que me acompanhar at o dia que Deus quiser.

Aos meus pais, Manoel e Vera, pela formao moral, religiosa e pessoal, alm de valores
slidos com os quais pude fundamentar meus caminhos.

minha irm Tatiane e sua famlia (meu afilhado Joo Gabriel e cunhado Otvio) pelo
suporte emocional, espiritual e logstico (!) sempre que se fez necessrio.

Ao Slvio e sua famlia pela amizade, apoio e companheirismo.

Ao meu orientador, inspirador e incentivador desse trabalho, Prof. Dr. Roberto Mrcio, pelas
discusses realizadas, conselhos ministrados e conversas ricas em humanidade e
conhecimento, sendo a primeira to rara no ambiente da Academia.

Ao Henrique, que inspirou discusses inestimveis sobre esse trabalho, alm de me

possibilitar usar de seus esforos para a concluso do mesmo.

Aos estimados Benedito e Rafael, pelo auxlio prestado na sequncia desse trabalho,
realizao de experimentos e discusses diversas, alm dos momentos de descontrao e
partilha de conhecimento.

Companhia Energtica de Minas Gerais e Agncia Nacional de Energia Eltrica, por

fomentar esta pesquisa.

Aos Srs. Marco Antnio, Haroldo Rezende e Carlo Tenaglia e todos os funcionrios do
SENAI Euvaldo Lodi pelo apoio e pelas horas liberadas para estudo e pesquisa.

E, enfim, a toda equipe do LabTerm, Flvio, Selson, William, Glenda, Cris, Victor, Miriam e
todos aqueles que participaram indiretamente ou diretamente desse trabalho, que, certamente,
fruto daquilo que h de melhor em cada um de ns.
2 Cor 12,9
Disse o Senhor: Basta-te minha graa, porque na fraqueza que se revela
totalmente a minha fora. Portanto, prefiro gloriar-me das minhas fraquezas,
para que habite em mim a fora de Cristo.
 SUMRIO

LISTA DE FIGURAS ........................................................................................... 08

LISTA DE TABELAS........................................................................................... 10
LISTA DE ABREVIATURAS E SIGLAS .......................................................... 11
NOMENCLATURA ............................................................................................. 13
RESUMO .............................................................................................................. 14
1 INTRODUO ................................................................................................ 15
1.1 Objetivo Geral ................................................................................................ 17
1.2 Objetivos Especficos ................................................................................... 17
2 O SETOR ELTRICO ....................................................................................... 18
2.1 Subsistema de Transmisso............................................................................. 19
2.2 Subsistema de Distribuio............................................................................. 19
2.3 Chave Seccionadora....................................................................................... 20
2.4 Teoria do contato eltrico ............................................................................. 25
2.5 Resistncia de Constrio............................................................................... 27
2.6 Resistncia de Filme........... .......................................................................... 29
2.7 Modos de Falha em Chaves Seccionadoras .................................................... 31
3 GESTO DE ATIVOS ...................................................................................... 33
3.1 Gesto da Manuteno .................................................................................... 33
3.2 ISO 55000: Especificao para Gesto de Ativos .......................................... 35
3.3 Tomada de Deciso ....................................................................................... 39
3.4 Gesto de Ativos em Utilities ......................................................................... 40
3.5 Monitoramento de Ativos .............................................................................. 41
4 TERMOGRAFIA............................................................................................... 44
4.1 Termografia Infravermelha ............................................................................. 44
4.2 Temperatura .................................................................................................... 45
4.3 Incerteza de resultados em termografia............. ............................................ 49
4.4 Fontes de Incerteza em Termografia .......... .................................................. 51
5 METODOLOGIA ............................................................................................ 55
5.1 Metodologia Experimental.............................................................................. 55
5.2 Metodologia Terica....................................................................................... 60
5.2.1 Risco Tcnico............................................................................................... 60
5.2.2 Risco Econmico.......................................................................................... 64
6 RESULTADOS ................................................................................................. 67
6.1 Anlise de Termogramas ...................................................................... 67
6.2 Resultados experimentais ............................................................................... 68
6.3 Resultados tericos............................................................. ........................... 71
6.4 Risco Tcnico................................................................................................. 73

6.4.1 Aplicao do Histrico do Carregamento Eltrico .................................... 73

6.4.2 Temperaturas atingidas e Formao de Camada de xido ......................... 76
6.4.3 Resistncia de Contato................................................................................. 79
6.4.4 Influncia do Aumento de Temperatura na vida til do equipamento ....... 80
6.4.5 Clculo da vida til...................................................................................... 80
6.5 Risco econmico............................................................................................. 83
6.6 Aplicao da metodologia no banco de dados................................................. 84
6.6.1 Seleo dos relatrios de inspeo no banco de dados ............................... 84
6.6.2 Risco tcnico ............................................................................................. 85
6.6.3 Risco econmico ....................................................................................... 91
7 CONCLUSO ................................................................................................. 93
REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS.................................................................. 96
ABSTRACT........................................................................................................... 102
 LISTA DE FIGURAS

FIGURA 2.1 Cadeia de Fornecimento de Energia Eltrica 18

FIGURA 2.2 Tipos de Chaves Seccionadoras 22

FIGURA 2.3
Chave Seccionadora Unipolar 15 kV vista frontal 23
(a)
FIGURA 2.3
Chave Seccionadora Unipolar 15 kV vista superior 23
(b)
FIGURA 2.4 Esquema de Formao de a-spots em um contato eltrico 26

FIGURA 2.5 Resistncia de Constrio em um contato eltrico 28

FIGURA 4.1 Chave seccionadora 15 kV ligada fonte geradora de energia 46

FIGURA 4.2 Transferncia de calor por conduo na chave seccionadora 48

FIGURA 4.3 Fontes de Incerteza em Termografia Infravermelha 51

FIGURA 5.1 Representao Grfica da Metodologia Empregada no Trabalho 56

FIGURA 5.2 Layout do experimento 57

FIGURA 5.3 Posicionamento dos termopares 57

FIGURA 5.4 Interface do sofware IMT - Incerteza em Medies Termogrficas 59

Limites de temperatura e elevao de temperatura NBR IEC
FIGURA 5.5 63
60694:2006
Faixas de corrente aplicadas em Chaves Seccionadoras de 15 kV
FIGURA 6.1 67
entre 2007-2012 na Cemig-D
Valores de Variao de Temperatura (T) obtidas em inspees
FIGURA 6.2 termogrficas de chaves seccionadoras entre 2007-2012 na Cemig- 67
D
Temperaturas IMT das chaves degradada e ntegra em comparao
FIGURA 6.3 68
com a temperatura limite IEC 60694
Comparao de Tamb e Faixas de Tolerncia de acordo com
FIGURA 6.4 69
NETA (2007)
Comparao de valores de resistncia no contato entre as chaves
FIGURA 6.5 70
ntegra e degradada
Comparao dos valores de temperatura do modelo terico e
FIGURA 6.6 71
experimental
Histrico de correntes de carga em cada circuito da Subestao
FIGURA 6.7 74
Betim 4 no ano de 2014 (A)
Histrico de correntes de carga em cada circuito da Subestao
FIGURA 6.8 75
Betim 4 no ano de 2014 (B)
FIGURA 6.9 Valores de temperatura mxima atingidos para os respectivos ativos 76

FIGURA 6.10 Valores de Corrente Mxima atingidos para os respectivos ativos 76

FIGURA 6.11 Histogramas dos valores de temperatura e respectivas frequncias 78

Resultados de Camada Formada durante o perodo de Janeiro-
FIGURA 6.12 78
Agosto 2014
FIGURA 6.13 Resultados de Resistncia de Contato obtida no perodo 79
Representao grfica da influncia da temperatura na vida do
FIGURA 6.14 80
contato
Faixas Crticas de vida de uma chave seccionadora aplicada em
FIGURA 6.15 83
subestaes
Comparao dos valores de Temperatura Aparente e calculada por
FIGURA 6.16 86
meio do software IMT
FIGURA 6.17 Comparao dos valores de tref 1 e tref2 87

FIGURA 6.18 Comparao dos valores de tamb 1 e tamb2 88

FIGURA 6.19
Nveis de criticidade em funo da pontuao atribuda 89
FIGURA 6.20 Comparao de Valores de VUR min e VUR mx.
90
 LISTA DE TABELAS

Efeito da fora aplicada no valor da rea de conduo real em

TABELA 2.1 28
superfcies limpas
TABELA 2.2 Valores de Resistividade em funo da temperatura 29

TABELA 3.1 Tipos de Ativos 36

TABELA 4.1 Vantagens e Desvantagens da Termografia 44

Resistividade de Tnel em funo do estado de degradao para
TABELA 5.1 61
contatos em cobre
Valores de Referncia de Resistividade Superficial, Camada
TABELA 5.2 61
Formada e Condio.
TABELA 6.1 Critrios e aes sugeridas pela NETA MTS 2013 68
Porcentagem de contribuio das fontes de incerteza para faixas de
TABELA 6.2 72
corrente ensaiadas Chave Integra
Porcentagem de contribuio das fontes de incerteza para faixas de
TABELA 6.3 72
corrente ensaiadas Chave Degradada
TABELA 6.4 Vida til Remanescente no Pior Cenrio para os ativos propostos 81

TABELA 6.5 Vida til Remanescente no Melhor Cenrio para os ativos propostos 81

TABELA 6.6 Classificao das Grandezas em Faixas (Alarme) 83

TABELA 6.7 Classificao quanto Probabilidade de Perda da Funo Principal 83

TABELA 6.8 Impacto Financeiro de uma falha (em R$) 84

TABELA 6.9 Exposio Financeira calculada para cada equipamento 84

TABELA 6.10 Dados extrados dos relatrios de inspeo termogrfica 84

TABELA 6.11 Resumo de resultados dos modelos de criticidade 91

Resultados de exposio financeira para modelos de criticidade
TABELA 6.12 92
Cemig D e proposto
 LISTA DE ABREVIATURAS E SIGLAS

ANEEL Agncia Nacional de Energia Eltrica

BETQ Subestao Betim 4
BSI British Standart Institute
CEMIG Companhia Energtica de Minas Gerais
CEMIG D CEMIG Distribuio SA
CEMIG-GT CEMIG Gerao e Transmisso SA
CMMS Sistemas Computadorizados de Controle da Manuteno
CNPq Conselho Nacional de Desenvolvimento Cientfico e Tecnolgico
DEC Durao Equivalente de Interrupo
DEMEC Departamento de Engenharia Mecnica
DIC Durao de interrupo individual por unidade consumidora
DICRI Durao da interrupo individual ocorrida em dia crtico por unidade
consumidora
DMIC Durao Mxima de interrupo contnua por unidade consumidora
DRT Resoluo Digital da Temperatura
ELETROBRS Centrais Eltricas Brasileiras S.A.
EQ Equao
FEC Frequncia Equivalente de Interrupo
FIC Frequncia de Interrupo individual por unidade consumidora
FIG Figura
GUM Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement
IAM Institute of Asset Management
IEC International Electrotechnical Comission Comisso Internacional de
Eletrotcnica
KPI Key Performance Indicators Indicadores-Chave de Desempenho
ISO International Organization for Standardization Organizao
Internacional para Padronizao
IMT Incerteza de Medio Termogrfica
LCC Life-cycle cost
ME Mnimo erro
MMC Mtodo de Monte Carlo
MSR Resoluo Espacial de Medio
UM Uniformidade da Medio
NAMS National Asset Management Strategy Comitee
NBR Norma Brasileira
NETA International Electrical Testing Association
NGE Erro gerado por rudo
NOS Operador Nacional do Sistema
O&M Operao & Manuteno
PAS 55 Publicly Avaliable Specification 55 Especificao Disponvel ao
Publico 55
P&D Pesquisa e Desenvolvimento
PIF Provvel Indicativo de Falha
PPGMEC Programa de Ps-Graduao em Engenharia Mecnica
PP Perda de Potncia
RE Repetitividade
RI Risco Imediato
SE Subestao de Energia
SEP Sistema Eltrico de Potncia
SMC Simulao de Monte Carlo
TAB Tabela
TR Technical Report Relatrio Tcnico
TS Technical Specification
UFMG Universidade Federal de Minas Gerais
VIM Vocabulrio Internacional Metrolgico
VUR Vida til Remanescente
 NOMENCLATURA

a Raio elementar m
Asup rea superficial m2
F Fora N
H Dureza MPa
h Coeficiente total de transferncia de calor W/mK
hconv Coeficiente convectivo mdio W/mK
hr Coeficiente de transferncia de calor por radiao W/mK
I Corrente Eltrica A
k Constante de Boltzmann m kg s-2 K-1
2

nk Constante adimensional -
qcond Taxa de transferncia de calor por conduo para os cabos W
qconv Taxa de dissipao de calor por conveco W
qger Taxa de gerao de calor por efeito Joule W
qrad Taxa de dissipao de calor por radiao W
R Resistncia Eltrica
Rc Resistncia de Constrio
Rf Resistncia de Filme
Rrc Resistncia de Contato
s Espessura da camada de xido final
sa rea de contato total m2
so Espessura da camada de xido inicial
T Temperatura em algum ponto genrico C
t Coeficiente de Student -
t Tempo para oxidao do contato h
T Temperatura Ambiente C
Tatm Temperatura Atmosfrica C
Tc Temperatura do contato K
u(x) Incerteza padro da varivel x -
U(x) Incerteza expandida da varivel x
Incerteza expandida da varivel x com intervalo de
U95%(x) -
abrangncia de 95%
uc(x) Incerteza combinada da varivel x -
w Energia de ativao eV
ef Nmero de graus de liberdade efetivos -
Diferena entre temperatura ambiente e temperatura do
Tamb
objeto C
Diferena entre temperatura do objeto e temperatura de
Tref C
referncia
Coeficiente de correo em funo do grau de
-
acabamento da superfcie
Emissividade -
Resistividade do material .m
o Resistividade de superfcie .m2
 RESUMO

Face ao ambiente de negcio do setor eltrico brasileiro, cada vez mais hostil ineficincia
operacional (causa de aumento de custos) e gesto inadequada da qualidade e quantidade de
informao fornecida, as concessionrias de energia eltrica sentem a necessidade de
aperfeioar polticas de operao e manuteno, visando a reduo de custos e maximizao
da disponibilidade e confiabilidade de seus equipamentos, princpios esses pregados pela
Gesto de Ativos. Com a finalidade de implantar tais princpios, foi proposta, nesse trabalho,
uma metodologia de gesto de ativos para o equipamento chave seccionadora, partindo do
modo de falha aquecimento no contato, usando modelo matemtico de aquecimento e vida
til do contato, a partir da medio de temperatura via inspeo termogrfica, com parmetros
metrolgicos associados, objetivando inferir o aumento da camada de xido, alm da
determinao do risco tcnico do ativo a partir do modo de falha supracitado associado ao
risco de perda da funo do equipamento. Foi caracterizada a influncia do fenmeno de
incremento de temperatura na formao da camada de xido na superfcie de contato, com
aumento de temperatura na ordem de 30C, tornando a degradao do componente mais
severa, minimizando sua expectativa de vida til e aumentando o risco de uma falha
catastrfica. Tal fato leva a um risco econmico cujo valor de exposio financeira
negativo, em que postergar a interveno menos vantajoso que realiz-la, muito em funo
da importncia do referido ativo em atividades de manobra e operao dentro do sistema
eltrico de potncia. A metodologia apresentada foi aplicada em 4 ativos da distribuidora,
usando dados de inspees termogrficas, obtendo resultados de risco tcnico, que
comparados com outros critrios de criticidade apresentados na literatura, demonstrou uma
assertividade mnima de 75 %, sendo que tal metodologia baseada em critrios
fundamentados em bases cientfica e metrolgica.

Palavras-chave: Gesto de Ativos, Chave Seccionadora, Termografia, Risco Tcnico, Risco

Econmico.
 15

1. INTRODUO

Empresas concessionrias de distribuio de eletricidade, basicamente, tm como

misso disponibilizar recursos para o transporte e entrega da energia de fontes geradoras at
os pontos de consumo. Portanto, no se tratam de empresas de produo; seus lucros advm
do tamanho do parque de ativos disponibilizado e dos custos que praticam para mant-los,
entregando os nveis de servio regulamentados. (DINIZ, 2013).
A regulao do setor eltrico feita pela ANEEL (Agncia Nacional de Energia
Eltrica) que, desde 1997, estabelece ciclos de reviso tarifria peridica. atravs dos
contratos com as concessionrias, a fim de avaliar o equilbrio econmico-financeiro da
concesso. Atualmente, est em vigncia o 3 Ciclo de Revises Tarifrias Peridicas, que
impele questes tpicas do setor privado, como reduo de custos, aumento do desempenho
da cadeia produtiva e melhoria dos indicadores relacionados qualidade do servio prestado.
Tratando-se da reduo e custos, um dos setores mais questionados a
manuteno, por tratar-se de um setor de apoio operao produtiva que, em principio, no
agrega valor ao produto final. Contudo, sob a perspectiva do setor eltrico, a manuteno
exerce papel relevante para o atingimento dos indicadores propostos pelo rgo
regulamentador.
Visando aumentar a eficincia operacional do setor eltrico, vrias tcnicas e
metodologias vm sendo implantadas nos ltimos anos, com especial destaque para a
termografia, que objetiva estimar a temperatura de um corpo a partir da radiao emitida por
ele,
Entretanto, essa tcnica robusta tem sido usada de modo eminentemente
qualitativo nos mais variados segmentos, o que se constitui um desperdcio de recursos
financeiros, tcnicos e de tempo. O carter quantitativo pouco reportado na literatura,
contribuindo para a subutilizao da tcnica. (OHLSSON, OLOFSSON 2014);
(BAGAVATHIAPAN, 2013); (CHRZANOWSKI, 2001); (FERRERO, SALICONE 2006).
Desconhecer ou ignorar os aspectos quantitativos envolvidos em um sistema de medio to
complexo um forte indcio de gerao de resultados de medio sem qualquer confiabilidade
associada, bem como a ocorrncia de tomada de deciso baseada em informaes que no
condizem com a realidade (ou parte dela), que conduziro perda de tempo e recursos atravs
de decises errneas e/ou precipitadas.
 16

O uso da termografia quantitativa para anlise do estado de conservao em obras

de arte foi abordada por TAVARES (2006), onde a autora enfatiza a importncia da
determinao da incerteza de medio da temperatura para validao da tcnica numa
aplicao to especfica. Alm disso, ressaltada tambm a importncia do uso adequado de
valores de emissividade, a fim de fornecer dados confiveis que no levem falsos alarmes de
irregularidades.
No trabalho de WHITENTON (2009), a termografia quantitativa usada para
estimar a temperatura da ferramenta de corte e da pea, durante o processo de fabricao
mecnica usinagem, onde o material retirado com desprendimento de resduos metlicos
conhecidos como cavacos. Nesse trabalho, o autor identifica cinco fontes de incerteza,
destacando a emissividade como fonte de incerteza dominante frente outras fontes.
LANE et al. (2013) apresentaram um estudo comparativo para avaliao de
incertezas em termografia aplicada a processos de usinagem em altas velocidade com uso de
mtodo analtico e numrico, usando o mtodo de Monte Carlo para estimar as fontes de
incerteza de um ponto objeto, devido alterao de valores de emissividade entre a
ferramenta de corte, a pea usinada e a apara metlica desprendida. Observou-se que, a fonte
predominante de incerteza era a emissividade, principalmente, devido ao fato de tal grandeza
variar em funo do tempo e da posio do ponto objeto.
O emprego da termografia como tcnica de monitoramento de ativos no setor
eltrico deve ser feito observando-se a criticidade do ativo e a compreenso dos mecanismos
de transferncia de calor atuantes, de modo a predizer um estado limite quanto vida til do
equipamento por meio de modelos matemticos. (ABU-ELANIEN,SALAMA 2014)
DOROVATOVSKI e LIIK (2005) utilizaram a tcnica no diagnstico de emendas
e conectores. Apesar de abordarem o problema quantitativamente, utilizando valores
absolutos de temperatura na tomada de deciso, ainda assim, baseiam seu diagnstico em
comparaes entre os objetos, no fazendo uso de modelos matemticos e consideraes
metrolgicas relacionadas identificao e quantificao de fontes de incerteza.
BRAUNOVIC et al (2009) aplicaram a termografia para monitoramento da
condio de conexes eltricas parafusadas, com o auxlio de um modelo auto-regressivo
integrado de mdia mvel, que tinha a funo de determinar a vida til restante da conexo
em funo da temperatura de trabalho. Apesar dos resultados obtidos indicarem ganhos em
termos de confiabilidade, h de se considerar que o uso desse modelo depende de um
fornecimento contnuo de dados para aliment-lo.
 17

Deste modo, como aplicao de termografia quantitativa no setor eltrico, neste

trabalho, ser inicialmente usado o modelo de TEIXEIRA (2012), capaz de associar ao valor
absoluto de temperatura, a sua incerteza, baseada nos mtodos tradicionais (GUM) ou em
simulaes de Monte Carlo (SMC). Para diagnosticar o estado do contato da chave
seccionadora, ser usada a medio de temperatura, da qual foi extrado um modelo que
descreve o balano de energia, visando estimar a resistncia eltrica de contato, que, segundo
modelo proposto pela IEC TR 60943(2009), pode ser classificada de acordo com valores de
vida til ao longo de um perodo de tempo, em funo do aumento da resistncia de contato,
consequncia da progressiva formao de camada de xido no contato. Com os valores de
temperatura e carregamento, pode-se inferir a vida til do contato devido formao da
camada de xido, e, consequentemente, o aumento da resistncia eltrica de contato.
Os resultados sero analisados sob os princpios de gesto de ativos, conforme
abordados pela ISO 55000 (2014), balizados pela regulamentao do setor eltrico (ANEEL,
2008).

1.1 Objetivo Geral

Desenvolver uma metodologia terico-experimental baseada nas melhores

prticas de Gesto de Ativos, para manuteno do ativo Chave Seccionadora, minimizando os
riscos tcnico e econmico existentes.

1.2 Objetivos Especficos

1. Realizar anlise do banco de dados de relatrios de inspees

termogrficas de chaves seccionadoras, a fim de identificar modos de falha, graus de
criticidade atingidos, valores de temperatura medidos, dentre outros.
2. Realizar experimento com Chave Seccionadora, analisando funcionalidade,
confiabilidade e integridade do ativo;
3. Desenvolver modelo matemtico da Chave Seccionadora, de modo a
entender o processo de transferncia de calor durante a operao do ativo;
4. Estimar risco tcnico envolvido no manuseio do ativo Chave Seccionadora;
5. Estimar risco econmico na operao da Chave Seccionadora;
6. Aplicar modelos de risco tcnico e econmico em ativos similares, de modo
a consolidar a metodologia proposta.
 18

2. O SETOR ELTRICO

O Sistema Eltrico de Potncia (SEP) geralmente dividido em sistema de

gerao, de transmisso e de distribuio, sendo que, no Brasil, a partir de 2005, cada diviso
passou a ser de responsabilidade de uma empresa especfica. Na gerao de energia eltrica
uma tenso alternada produzida, a qual expressa por uma onda senoidal, com frequncia
fixa e amplitude que varia conforme a modalidade do atendimento em baixa, mdia ou alta
tenso. Essa onda senoidal propaga-se pelo sistema eltrico mantendo a frequncia constante
e modificando a amplitude, medida que trafegue por transformadores. Os consumidores
conectam-se ao sistema eltrico e recebem o produto e o servio de energia eltrica.
(FIGUEIREDO, 2014).
A FIG. 2.1 mostra a cadeia de fornecimento de energia eltrica da gerao at o
consumo, tendo em vista que, a gerao independe do mtodo de gerao de energia adotado
(hidreltrica, nuclear, elica):

FIGURA 2.1 - Cadeia de Fornecimento de Energia Eltrica

FONTE - ANEEL (2008)

A atividade de transmisso de energia eltrica convive com o efeito Joule, que

consiste na perda de potncia (PP) devida dissipao de calor que ocorre na passagem de
uma dada corrente eltrica I por um corpo de resistncia R. Essa potncia expressa por:

(2.1)
 19

graas ao efeito Joule que a tenso deve ser aumentada na sada da gerao para
a transmisso, de modo que possa ser transportada por longas distncias sem maiores
prejuzos quanto quantidade de energia transportada, havendo, contudo aquecimento do
condutor de energia eltrica.
Nesse trabalho, em particular, so estudados as caractersticas e dados pertinentes
empresa Cemig (Companhia Energtica de Minas Gerais), holding de controle estatal, que
constituda das empresas Cemig Distribuio S.A e Cemig Gerao e Transmisso S.A.
A Cemig Distribuio S.A. a maior distribuidora de energia eltrica do Brasil
em extenso de rede, contando com, aproximadamente, 454.000 km de redes de distribuio e
17.000 km de linhas de distribuio. J a Cemig Gerao e Transmisso S.A. possui em
operao 63 usinas, sendo 58 hidreltricas, duas termeltricas e trs elicas, com 6.746 MW
de capacidade instalada. Na rea de transmisso, opera uma rede de 7.500 km.

2.1 Subsistema de Transmisso

Aps a gerao, a energia eltrica transmitida atravs das linhas, formadas por
redes de cabos areos, revestidos por camadas isolantes e fixados em grandes torres de ao.
Outros elementos importantes das redes de transmisso so os isolantes de vidro ou porcelana,
que sustentam os cabos e impedem descargas eltricas durante o trajeto.
Neste processo, a eletricidade passa por diversas subestaes, onde aparelhos
transformadores aumentam ou diminuem sua voltagem, alterando a tenso eltrica.
(ELETROBRS, 2014). No incio do percurso, os transformadores elevam a tenso, evitando
a perda excessiva de energia. Quando a eletricidade chega perto dos centros de consumo, as
subestaes diminuem a tenso eltrica, para que ela possa chegar s residncias, empresas e
indstrias.

2.2 Subsistema de Distribuio

O sistema de distribuio conecta eletricamente a estrutura de transmisso s

unidades consumidoras. Nas subestaes de distribuio, o objetivo reduzir a tenso dos
grandes blocos de energia, que chegam atravs das linhas de distribuio, para valores mdios
de tenso e distribu-los aos pontos de consumo atravs de uma malha de condutores bastante
ramificada, ao longo de ruas e avenidas.
 20

Das subestaes de distribuio saem em mdia tenso, os chamados

alimentadores, que podem ser entendidos como as subdivises das redes de distribuio. Os
alimentadores so compostos dos condutores, suas emendas e conexes, dos transformadores
de distribuio, dos postes e isoladores, de equipamentos de proteo (fusveis), de manobra
(religadores e chaves de manobra) e, em alguns pontos, tambm existem equipamentos para
controle de tenso (capacitores e reguladores). A parte final do sistema de distribuio
constitui-se da chamada Rede Secundria, onde os nveis de tenso foram reduzidos ainda
mais para fins de segurana s pessoas pelos transformadores de distribuio, e
conectados s casas, atravs de ramais de ligao. Incluem-se, tambm, os equipamentos de
medio de consumo de energia, popularmente denominados como padro ou relgio.
(DINIZ, 2013).

2.3 Chave Seccionadora

Um dos componentes mais importantes de uma Subestao a Chave

Seccionadora, que um dispositivo que pode operar com ou sem carga, cuja funo
interromper a passagem de corrente em um determinado ponto ou bloquear parte do circuito
para manuteno e/ou em casos especiais (segurana, por exemplo)
A chave seccionadora um dispositivo mecnico de manobra capaz de abrir e
fechar o circuito quando uma corrente de intensidade desprezvel interrompida ou
restabelecida ou quando no ocorre variao de tenso significativa atravs dos terminais de
cada polo do seccionador. tambm capaz de conduzir correntes sob condies normais do
circuito e, durante o tempo especificado, correntes sob condies anormais, tais como curto-
circuito. (NBR IEC 60694,2006)
A FIG. 2.2 representa os tipos de chaves seccionadoras existentes em Sistemas
Eltricos de Potncia, descritos logo a seguir:
Secionador Monopolar Tipo Faca: Secionador de operao vertical, constitudo
por duas colunas isolantes fixas, sendo uma o suporte do contato fixo e a outra suporte da
articulao do contato mvel (faca), provida de argola para operao por vara de manobra,
dispondo normalmente de trava de segurana.
Secionador de Abertura Lateral: Secionador de operao lateral constitudo por
duas colunas isolantes, sendo uma, suporte do contato fixo e a outra rotativa, suporte do
contato mve1 e pela qual se faz a operao da chave, devendo o terminal da coluna mvel
permitir sua rotao.
 21

Secionador de Dupla Abertura Lateral: Secionador de operao lateral e corte

duplo, constitudo por trs colunas isolantes, sendo duas fixas externas, suportes dos contatos
fixos e uma coluna central rotativa, suporte do contato mvel, que, na posio aberta, divide a
distncia de abertura em duas partes.
Secionador de Abertura Vertical: Secionador de operao vertical constitudo
por trs colunas isolantes, sendo duas fixas, suportes dos contatos fixo e mve1 e uma rotativa
que aciona o contato mvel, sendo que, na posio aberta, o contato mvel (lmina) encontra-
se na posio vertical e, quando se fecha, passa a posio horizontal.
Secionador Abertura Vertical Reversa: Secionador de operao vertical e
suportes independentes, constitudo por um contato fixo superior suportado por uma coluna
isolante fixa ou barramento e o conjunta do contato mve1 (lmina) e seu suporte, constitudo
por uma coluna fixa que tem a funo de suporte e uma coluna rotativa que aciona o contato
mvel.
Nesse trabalho, o objeto de estudo o seccionador tipo faca, descrito
anteriormente. Tal equipamento, ainda de acordo com a NBR IEC 60694 (2006), composto
dos seguintes itens, conforme o descritivo abaixo e a FIG. 2.3 (a) e FIG. 2.3 (b):

1. Base - Parte da chave onde so fixados os corpos isolantes e que serve tambm
para fixao mecnica da chave na estrutura;
2. Trava de Segurana - Dispositivo mecnico que permite o travamento da chave
na posio fechada, acionado apenas pelo olhal, de modo a impedir uma abertura acidental da
chave;
3. Olhal - Dispositivo acoplado lmina que permite a introduo do cabeote da
vara de manobra, de modo a permitir a operao da chave (tanto abertura quanto fechamento);
4. Gancho - Dispositivo incorporado na parte superior do contato fixo, de maneira
a possibilitar o acoplamento da ferramenta de abertura sob carga, servindo tambm como guia
mecnico para a lmina;
5. Lmina de contato mvel - Elemento condutor mvel que, devido ao seu
movimento relativo durante uma operao da chave, acopla e desacopla os contatos, fechando
ou abrindo o circuito;
6. Guia da Lmina - Dispositivo incorporado ao terminal de contato fixo da chave
seccionadora de faca unipolar que direciona as lminas da faca na operao de fechamento;
 22

REPRESENTAO
DESCRIO
ESQUEMTICA

Secionador Monopolar Tipo Faca

Secionador Monopolar Tipo Faca

em
Tandem (GB + 2TD)

Secionador de Abertura Lateral

Secionador de Dupla Abertura

Lateral

Secionador de Abertura Vertical

Secionador Abertura Vertical

Reversa

FIGURA 2.2 - Tipos de Chaves Seccionadoras

FONTE - Catlogo WEG Seccionadoras para Alta Tenso (adaptado)
 23

381

600

FIGURA 2.3 (a) - Chave Seccionadora Unipolar 15 kV vista frontal

FONTE - Catlogo DELMAR Mod.: DP

FIGURA 2.3 (b) - Chave Seccionadora Unipolar 15 kV vista superior

FONTE - Catlogo DELMAR Mod.: DP
 24

O estudo de chaves seccionadoras, deteco de falhas de operao e sua correta

alocao no Sistema Eltrico de Potncia alvo de alguns estudos, conforme descrito a
seguir:
No trabalho de DE SOUZA JR et al (2012), considera-se uma conexo em boas
condies aquela que apresenta a menor resistncia possvel passagem de corrente, sendo
idealmente um curto-circuito com impedncia zero. A melhor maneira de avaliar a qualidade
de uma conexo medir sua resistncia, mas isso trabalhoso e exige equipamentos e
treinamento especfico. Normalmente utiliza-se uma grandeza correlacionada: a temperatura.
Como a dissipao de potncia em uma conexo diretamente proporcional sua resistncia,
quanto maior sua variao de temperatura, maior sua resistncia. Contudo, a temperatura
tambm influenciada por outros fatores como a corrente que atravessa o circuito, tipo do
material e temperatura ambiente.
LAMBERT et al (2008) descreveu uma sistemtica de monitoramento da
operao de abertura e fechamento de seccionadoras tripolares de 345 kV baseada em
algoritmos de Redes Neurais. Nesse estudo, foram simuladas operaes de fechamento e
abertura de chaves seccionadoras, com o registro das curvas de corrente, para criao de
padres de funcionamento que seriam comparados com o algoritmo baseado em redes neurais.
Entretanto o foco do trabalho era na identificao de uma falha em potencial, sem entender a
relao causa-efeito existente.
SOUZA (2002) desenvolveu uma metodologia para dar suporte para a
determinao de quando efetuar manuteno numa chave seccionadora de alta tenso, fazendo
anlise das curvas da corrente do motor de acionamento verificando suas variaes, em
funo dos problemas que possam ocorrer, determinando se esta anlise poder trazer
informaes importantes para a manuteno.
MARDEGAN (2013) cita uma parada de uma planta qumica no Brasil devido
falha no fechamento de um polo de uma chave seccionadora de 138 kV. Essa falha ocorreu
devido a um problema no alinhamento da lmina da chave seccionadora, gerando arco eltrico
na fase correspondente.
DE ASSIS et al (2012) trabalha com uma abordagem multiobjetiva para
alocao de chaves seccionadoras afirmando que, uma alternativa para melhorar a
confiabilidade e minimizar a energia no fornecida atravs da alocao de chaves na rede. A
instalao de chaves seccionadoras (normalmente fechadas - NF) minimiza o tempo de
interrupo, isolando a rea da rede montante da falha. Chaves seccionadoras juntamente
 25

com as de manobras (normalmente abertas - NA) so usadas para realizar a transferncia de

carga jusante da falha, utilizando alimentadores adjacentes durante o processo de
recuperao. Assim, uma alocao cuidadosa pode resultar em ganhos significativos na
confiabilidade do sistema.
De acordo com DE FIGUEIREDO (1986), alm de suas funes tpicas,
chaves seccionadoras funcionam sob condies bem mais exigentes que as de projeto, sendo
substitutas de disjuntores, em manobras envolvendo linhas de transmisso, transformadores e
interligao de sistemas eltricos, devendo, portanto, envolver procedimentos de mxima
segurana.
No trabalho de COLAO et al (2010) desenvolvido um sistema de
monitoramento de chaves seccionadoras semi-pantogrficas em redes de 230 kV e 500 kV
com uso de imagens digitais e algoritmo baseado em redes neurais. Contudo (tratando-se de
um sistema de medio) no so citadas fontes de incerteza associadas ao resultado de
medio.
Embora existam muitos trabalhos na literatura sobre chaves seccionadoras, no
foram encontrados trabalhos que tratam de modelos matemticos que associem a vida til de
uma chave seccionadora a partir de um modo de falha e uma grandeza mensurvel, em que,
alm de associar parmetros metrolgicos, atribuem-se nveis de criticidade de acordo com
princpios de confiabilidade - caracterizando o risco tcnico - alm de inferir os valores de
exposio financeira a esse risco. (DREIFUERST, 2012);(MENSAH,2011); LINDQUIST et
al (2005).

2.4 Teoria do Contato Eltrico

De acordo com a IEC TR 60643 (2009), a resistncia de contato definida como a

resistncia circulao de corrente eltrica, atravs da interface de contato entre dois
materiais condutores. Nessa regio onde a corrente eltrica passa ocorre aquecimento por
efeito Joule, que perda de energia por dissipao de calor; alm disso, ocorre tambm o
envelhecimento do contato devido reao qumica do material do contato com o meio
circundante.
Quando tais materiais estabelecem entre si tal resistncia de contato, no ocorre
um perfeito assentamento entre as faces dos contatos, em funo do grau de rugosidade
existente em qualquer material manufaturado, independente do processo utilizado. Os pontos
 26

onde esses dois materiais se tocam so chamados de contatos elementares (ou a-spots),
representados atravs do esquema da FIG. 2.4:

Linhas de Corrente

Contato

Contato

Pontos de Contato (a-spots)

rea Contato Aparente

FIGURA 2.4 - Esquema de Formao de a-spots em um contato eltrico

FONTE - IEC TR 60943:2009 (adaptado)

A presena dos a-spots tem consequncia direta na formao de vazios no contato,

onde o oxignio e outros agentes corrosivos podem se infiltrar e reagir com o metal exposto.
Pode-se assumir que a rea de seo transversal efetiva igual rea de contato
total Sa, produto entre os n contatos elementares existentes e as respectivas reas
(considerando sua seo transversal redonda). Assim sendo, pode-se calcular Sa atravs da
EQ. (2.2):

(2.2)

O valor de Sa depende do valor da fora F aplicada que pressiona os contatos, bem

como da dureza superficial H do material que constitui os contatos, alm do acabamento
 27

superficial. Partindo do princpio que a presso exercida nos contatos igual dureza do
material tem-se:

(2.3)

Contudo, de acordo com a IEC TR 60643 (2009) a EQ. (2.3) s deve ser aplicada
para F50 N.
De tal forma, podem-se igualar as EQ. (2.2) e (2.3), obtendo:

Onde um coeficiente de correo em funo do grau de acabamento da

superfcie: se a superfcie for extremamente polida, a resistncia de contato tende a diminuir
por causa da reduo dos a-spots e a razo entre fora e dureza tende a unidade. Usualmente
adotam-se valores oscilando entre 0,3 (contatos com desgaste) e 0,6 (contatos novos).
Expressando as demais variveis em funo do raio elementar a deduzida uma
frmula para o clculo de tal grandeza:

(2.4)

O nmero de contatos elementares dado por

(2.5)
Onde nk = 2,5 10 5 (unidades no SI).

A resistncia de contato composta de duas parcelas, que so respectivamente a

Resistncia de Constrio e a Resistncia de Filme. Ambos os conceitos so definidos a
seguir, bem como as equaes matemticas envolvidas, assim como as variveis que
compem tais equaes.

2.5 Resistncia de Constrio

 28

A Resistncia de Constrio trata-se da resistncia eltrica obtida da restrio

imposta pelo exerccio do esforo mecnico existente entre os contatos, facilitando a
passagem da corrente eltrica por esse ponto. Esse fenmeno representado na FIG. 2.5:

FIGURA 2.5 - Resistncia de Constrio em um contato eltrico

FONTE - Braunovic et al 2006 (adaptado)

BRAUNOVIC et al. (2006) atestam que a rea de conduo real (que

corresponde ao valor de Sa) geralmente menos de 1% da rea de contato aparente. A razo
entre as reas de contato real e contato aparente em funo de vrios valores de fora
expressa na TAB. (2.1) para cobre recozido:

TABELA 2.1
Efeito da fora aplicada no valor da rea de conduo real em superfcies limpas

rea de conduo real/rea de contato aparente (%)

Material/Carga Aplicada 10 N 100 N 1000 N

Cobre Recozido 0,008 0,08 0,8

FONTE - BRAUNOVIC et al (2006)
 29

O valor da Resistncia de Constrio para n contatos elementares expresso em

funo da resistividade do material e do raio elementar a, donde se obtm:

(2.6)

O valor da resistividade dado em funo do material aplicado no contato, que

pode variar em funo da temperatura ambiente. Para o cobre recozido os valores de
resistividade esto descritos na TAB. (2.2):

TABELA 2.2
Valores de Resistividade em funo da temperatura

Temperatura (C) Resistividade (10-8 .m)

0 1,5881
20 1,7241
36,85 1,838
60 1,995
FONTE: IEC TR 60643 (2009)

Os valores do nmero de contatos elementares n e o raio do contato elementar a

so calculados a partir das EQ. (2.4) e (2.5).

2.6 Resistncia de Filme

Os pontos onde existem contatos elementares geralmente no tm uma interface

livre de corroso. Na verdade, em qualquer superfcie de metal puro, inicialmente torna-se
coberta com uma camada de oxignio molecular, levando aps algum tempo formao de
uma camada homognea de xido de poucos nanmetros de espessura. Se esta camada for
suficientemente compacta e uniforme, de modo a proteger o metal, a oxidao pode parar e o
metal sofre passivao, fenmeno de tpica ocorrncia em materiais como o alumnio e o ao
inoxidvel a temperaturas normais.
Para outros metais (cobre, nquel e estanho, na presena de oxignio; prata na
presena de gases sulfurosos), a formao da primeira camada de produto da reao
produzido por oxidao ou corroso diminui-se a reao subsequente, que, no entanto
continua, mas com velocidades progressivamente menores.
 30

A formao de uma determinada camada de xido de espessura s pode ser alterada

em funo do tempo t e temperatura termodinmica T. Segundo a IEC TR 60643 (2009) esse
princpio retratado por meio da EQ. (2.7):

( ) (2.7)

Onde w a energia de ativao (eV), X uma constante e k a constante de

Boltzmann (1,3806488 10-23 m2 kg s-2 K-1)
A resistividade de tnel o (ou resistividade de superfcie) a grandeza utilizada
para caracterizar as propriedades condutoras da camada de xido formada, sendo expressa em
m2, onde tal resistividade depende da natureza do xido (ou outros produtos de reao com
a atmosfera) e a sua espessura.
SIMMONS (1963) elaborou um trabalho onde o valor da resistividade superficial
foi calculado em funo da camada de xido formada em uma fina pelcula isolante, onde a
relao entre os valores da resistividade superficial e da camada de xido formada
apresentaram comportamento prximo de uma reta ascendente.
Os valores de resistividade de tnel em funo do efeito de constrio foram
estudados por NAKAMURA e MINOWA (1989), onde os autores usaram de anlise por
elementos finitos para simular o comportamento da condutncia na regio de interface do
contato, obtendo aumento do valor da resistividade superficial com sensvel reduo do efeito
de constrio.
Ainda de acordo com a IEC TR 60643 (2009), se a camada de xido abrange a
rea de contato real Sa de modo uniforme, a resistncia Rf aparente entre as duas faces ser
expressa pela EQ. (2.8):

(2.8)

Como o valor de Sa calculado pela EQ. (2.2), pode-se reescrever a EQ. (2.8)
como a seguir:

A Resistncia de Contato pode ser expressa como a soma algbrica entre as

Resistncias de Constrio e de Filme, de acordo com a IEC TR 60643 (2009):
 31

(2.9)

(2.9)

Substituindo os valores das EQ (2.6) e (2.8) na EQ. (2.9) obtm-se:

Assume-se um valor de =0,45 para simplificao matemtica.

2.7 Modos de Falha em Chaves Seccionadoras

O termo falha diz respeito ao trmino da capacidade de um item desempenhar a

funo requerida, sendo que essa ltima definida como funo ou combinao de funes de
um item que so consideradas necessrias para prover um dado servio. (NBR 5462 1994)
O modo de falha definido por ALVES et al (2006) como o efeito pelo qual uma
falha observada em um item que falhou, ou seja, como se pode observar o defeito.
Tendo em vista essa definio, pode-se inferir que os modos de falha presentes em
chaves seccionadoras esto essencialmente relacionados com:
Aquecimento excessivo de algumas partes da chave, tais como contato
principal, mecanismo de articulao e conexes;
Quebra e/ou ruptura de partes da chave devido perda de resistncia mecnica,
tais como molas e ganchos;
Acoplamento inadequado entre o contato e a lmina da chave durante operao
do equipamento.
O aquecimento excessivo de partes da chave est relacionado com vrios fatores,
como a quantidade de corrente eltrica que passa pelas partes supracitadas, afrouxamento de
conexes, presena de sujidades, particulados, umidade, corpos estranhos, dentre outros,
assim como ausncia de atividades peridicas de limpeza, reaperto e lubrificao. Esse
aquecimento excessivo tratado nas inspees termogrficas como anomalia trmica e
representou, cerca de, 42% das manutenes em subestaes de 138 kV da regio central do
estado de Minas Gerais no ano de 2011. (LOPES, 2013)
 32

A dissipao de calor pelas vrias partes da chave, constitudas de materiais

dissimilares entre si, pode causar perda de caractersticas mecnicas, lembrando que esse
equipamento est sujeito tambm a esforos mecnicos provenientes da operao de abertura
e fechamento do contato. Assim sendo, razovel considerar a resistncia mecnica de itens
que sofrem diretamente esses esforos, sendo, por muitas vezes, tais esforos de natureza
cclica e aleatria, aumentando o nvel de incerteza quanto definio de parmetros
adequados de servio. Nessa situao encontram-se os ganchos de abertura e a mola, que
sendo fabricados em ao fundido e ao cromo vandio so itens suscetveis oscilao de
calor proveniente do ambiente e da carga a qual o equipamento est exposto.
Quando do funcionamento da chave seccionadora, existe a possibilidade de um
mau contato ou acoplamento inadequado entre o contato e a lmina da chave devido
interferncia mecnica excessiva, deformao plstica causada anteriormente por abertura
forada do contato j submetido a ciclos de aquecimento severo, alm de desalinhamento
entre as partes mveis. Esse mau contato pode causar aumento significativo da resistncia
eltrica, com respectivo aumento da temperatura, levando ocorrncia de anomalia trmica
ou, at mesmo, de falha abrupta do equipamento.
Dentre os modos de falha citados, ser abordado ao longo do trabalho o modo de
falha relacionado com o aquecimento excessivo de partes da chave, levando ocorrncia de
anomalia trmica. Os demais modos de falha foram relegados a segundo plano devido a dois
fatores:
1- tais modos de falha a priori podem ser identificados por meio da medio
de temperatura do ponto em questo, devido provvel dissipao de calor existente no local
e,
2- por no serem to significativos para o modelo de chave abordada nesse
estudo (chaves de 15 kV).
 33

3. GESTO DE ATIVOS

3.1 Gesto da Manuteno

De acordo com SLACK et al (2009), manuteno o termo usado para abordar a

forma pela qual as organizaes tentam evitar as falhas ao cuidar de suas instalaes fsicas,
sendo uma parte importante da maioria das atividades de produo, especialmente aquelas
cujas instalaes fsicas tem papel fundamental na produo de seus bens e servios. O autor
ainda afirma que em operaes como centrais eltricas, hotis, companhias areas e refinarias
petroqumicas, as atividades de manuteno so responsveis por parte significativa do tempo
e da ateno da gerncia de produo.
Entre os modelos de manuteno existentes destacam-se os seguintes:

Manuteno Corretiva: Trata-se do modelo de manuteno em que a

interveno d-se aps a falha do equipamento, causando a parada do
processo produtivo e/ou sua menor eficcia.
Manuteno Preventiva: Tambm denominada de manuteno baseada no
tempo, determina perodos de tempo adequados para a interveno no
equipamento, antes mesmo da proximidade da falha.
Manuteno Preditiva: conhecida como manuteno baseada na
condio, em que se pretende, por meio do monitoramento contnuo de
parmetros operacionais mensurveis, garantir a operao do equipamento
durante o mximo de tempo possvel.

Atualmente, tais modelos de manuteno no so excludentes, sendo

empregados em conjunto para garantir o desempenho adequado de instalaes industriais dos
mais diversos segmentos, de modo a assegurar custos adequados para as organizaes.
Naturalmente, cada modelo possui vantagens e desvantagens em seu emprego,
que so, essencialmente, analisadas sob a tica dos conceitos de Mantenabilidade,
Confiabilidade e Disponibilidade, descritos a seguir:
 34

Mantenabilidade: Capacidade de um item ser mantido ou recolocado em

condies de executar suas funes requeridas, sob condies de uso
especficas, quando a manuteno executada sob condies determinadas
e mediante procedimentos e meios prescritos.
Confiabilidade: Capacidade de um item desempenhar uma funo
requerida sob condies especificadas, durante um dado intervalo de
tempo.
Disponibilidade: Capacidade de um item estar em condies de executar
uma certa funo em um dado instante ou durante um intervalo de tempo
determinado, levando-se em conta os aspectos combinados de sua
confiabilidade, mantenabilidade e suporte de manuteno, supondo que os
recursos externos requeridos estejam assegurados. (NBR 5462 1994)

Entende-se que o motivo de existir a funo manuteno (ou seja, sua misso)
garantir a disponibilidade e confiabilidade das instalaes, com um mnimo de
mantenabilidade possvel. Ao compreenderem a importncia da funo manuteno em seus
processos de negcio, vrias organizaes tratam de elaborar sua prpria misso da
manuteno, como, por exemplo, o grupo Vallourec, multinacional lder na fabricao de
tubos com costura e sem costura, cuja misso da manuteno :

Manter uma boa qualidade de servio, assegurando que o equipamento funcione

sem problemas, e ajudar a produo para aperfeioar o uso de recursos de
produo.(VALLOUREC,2014)

H at pouco tempo, o conceito predominante era de que a misso da manuteno

era de restabelecer as condies originais dos equipamentos/sistemas. Hoje. a misso da
manuteno garantir a disponibilidade da funo dos equipamentos e instalaes de modo a
atender a um processo de produo ou de servio, com confiabilidade, segurana, preservao
do meio ambiente e custo adequados.(OLIVEIRA e SILVA,2013)
Ao mesmo tempo em que a manuteno se consolida como funo estratgica,
surge entre os pases do antigo imprio britnico uma linha de pensamento, advinda de
indstrias altamente estruturadas e reguladas, como as foras armadas, companhias areas e
setor nuclear, e, posteriormente, utilities (concessionrias de servio pblico), que estende a
penetrao da manuteno dentro do contexto estratgico empresarial. Pioneiros como Roger
Byrne e Jim Kennedy, na Austrlia, ou John Woodhouse e Colin Labouchere, na Inglaterra,
 35

argumentavam que a manuteno precisava ir alm de simplesmente garantir o atendimento

demanda atual (ou disponibilidade) ao menor custo, mas considerar como esta demanda se
alterar no futuro e decidir o quanto gastar agora para antecipar estas mudanas, trazendo um
forte componente econmico discusso (WALLSGROVE, 2011).
LLOYD (2012) atesta que, ao redor de todo o mundo, os negcios relacionados
com infraestrutura (como Energia Eltrica, gua, Gs) e outras organizaes dependem
fortemente da disponibilidade e confiabilidade dos seus ativos fsicos para o sucesso do
negcio e vem atingindo concluses similares sobre a necessidade de mais e melhores
estratgias de como operar seus ativos.
Dessa forma, na tomada de deciso de uma empresa, por exemplo, entre realizar a
manuteno de um ativo danificado, ou adquirir um ativo novo, necessrio conhecer os
custos envolvidos em cada uma das etapas, ou seja, os custos de aquisio, operao,
manuteno e descarte. Por isso, o custo compreendendo todas as fases chamado de custo de
ciclo de vida, em ingls life-cycle cost (LCC), o qual consiste na metodologia para estimativa
de custos reais dos ativos e tambm para gerir a vida econmica de tais ativos. (CESCA,
2012).
Essa abordagem traz tona um componente econmico antes inexistente para
gestores de manuteno, que atualmente amplamente divulgada pelo termo Gesto de
Ativos Fsicos.

3.2 ISO 55000: Especificao para Gesto de Ativos

Um dos primeiros marcos da Gesto da Ativos foi a publicao, em 1993, do

Australian Asset Management Manual pelo NAMS - National Asset Management Strategy
Comitee, focado na gesto da infraestrutura das cidades australianas. Em 1997 foi fundado o
IAM - Institute of Asset Management - na Inglaterra, porm focado nas ferramentas de gesto
da manuteno (softwares). (DINIZ, 2013).
Em 1998, o NAMS publicou um manual internacional, denominado International
Infrastructure Management Manual, que curiosamente no levava o termo Ativo por recear o
comit que haveria confuso com o contexto financeiro (WALLSGROVE, 2011). Destes
manuais originou-se uma especificao de gesto de ativos de mbito internacional, publicada
em 2004 pelo BSI - British Standards Institution - sob a liderana do IAM, denominada PAS-
55, ou Publicly Available Specification 55 - Asset Management, tendo sido revisada, em 2008,
aps diversas contribuies de mais de cinquenta instituies, empresas ou indivduos por
 36

todo o mundo, principalmente do Reino Unido e Europa. Na Gr-Bretanha, a aderncia

especificao por parte das concessionrias de servio pblico hoje mandatria; nos Estados
Unidos, sua disseminao ainda restrita (MAKANSI; HURST, 2012).
Conforme MCKEOWN (2014) no ano de 2014, aps o trabalho de comits
representando 31 pases durante 3 anos, foi publicada a srie de normas ISO 55000, composta
dos seguintes documentos:

ISO 55000: Gesto de Ativos: Definio, Princpios e Terminologia.

ISO 55001: Gesto de Ativos: Gerenciamento de Sistemas Requisitos.
ISO 55002: Gesto de Ativos: Gerenciamento de Sistemas Orientaes para
aplicao da ISO 55001.

Ao criar esses trs documentos distintos, os itens que outrora foram combinados
na PAS 55-1, agora esto divididos entre as normas ISO 55000 e ISO 55001. A norma ISO
55002 corresponde diretamente PAS 55-2, fornecendo orientaes sobre a interpretao e
aplicao dos requisitos da ISO 55001. (WOODHOUSE, 2014). As palavras que compem o
termo Gesto de Ativos sero discutidas adiante, a fim de fornecer argumentos para uma
definio mais aprofundada.
O termo Ativo segundo a ISO 50000(2014) trata-se de item, objeto ou entidade
que tem valor real ou potencial para uma organizao. Na TAB. (3.1) esto descritos os tipos
de ativos existentes e suas respectivas definies:

TABELA 3.1
Tipos de Ativos

Humanos: conhecimento e habilidade dos empregados

Financeiros: capital, moeda, cotas societrias, aes
Informacionais: dados e informaes sobre o negcio, e sua qualidade, metodologias
Intangveis: reputao, imagem, marca
Fsicos: mquinas, instalaes, produtos, edifcios, terrenos, estoques...
FONTE: DINIZ (2013)

De modo similar a PAS-55, a ISO 55000 focada em ativos fsicos. Contudo

MCKEOWN (2014) refora que, num cenrio econmico e mercadolgico em que se busca
aumentar continuamente o desempenho dos ativos fsicos, naturalmente se agrega valor
imagem da companhia, bem como a marca, que tambm so ativos.
 37

As palavras Gerir ou Gerenciar so amplamente empregadas no universo

corporativo atual, em que coletar rapidamente dados mensurveis, analisar situaes em
tempo mnimo e tomar decises assertivas dos pontos de vista financeiro, mercadolgico e
operacional so pr-requisitos para uma organizao ter o mnimo de sucesso, sendo aqui
sucesso compreendido como manter-se atuante no mercado, com o mnimo de lucro. Dentro
dessa tica, pode-se afirmar que Gerir ou Gerenciar basicamente decidir por anlise de
dados.
Deste modo, pode-se inferir que o termo Gesto de Ativos diz respeito ao
processo de tomada de deciso (embasada por dados e informaes relevantes e
quantificveis) sobre qualquer item, entidade ou objeto que tem valor real ou potencial para a
organizao.
Segundo a ISO 55000 (2014), Gesto de Ativos : Toda atividade coordenada de
uma organizao para obter valor de seus ativos (Traduo Livre, p. 4, 2014).
Embora seja uma definio curta, cheia de significado, como visto a seguir:

Atividade coordenada: Coordenao pressupe organizao e planejamento, ou

seja, no ambiente de Gesto de Ativos as aes so planejadas, programadas,
executadas e avaliadas sistematicamente, objetivando a melhoria contnua dos
processos. MCKEOWN (2014) afirma que, a Gesto de Ativos traduz as metas
estratgicas da organizao em mtricas financeiras e tcnicas, que embasam
planos de ao a serem executados por setores prprios.
Organizao: O ambiente de Gesto de Ativos o ambiente organizacional, ou
seja, deve envolver todas as partes interessadas do negcio: acionistas,
funcionrios, comunidade, fornecedores, dentre outros.
Valor: o resultado da realizao de tarefas que contribuem efetivamente para
uma determinada operao, ou seja, nessa etapa de um dado processo, um
determinado ativo estar gerando valor se contribuir efetivamente para o
processo para o qual foi especificado. (BATTAGLIA; BERGAMO, 2010)

Ao expressar sua preocupao com a gerao de valor, a ISO 55000 oferece um

nvel superior no ato de se executar a Gesto de Ativos dentro das organizaes; associando
essa gerao de valor com um nvel de risco determinado em conjunto com o ciclo de vida do
ativo tem-se uma metodologia com grande potencial de fundamentar o processo de tomada de
 38

deciso em mtricas quantificveis, que no so refns unicamente da opinio de gestores ou

do instinto de alguma das partes interessadas, agregando um grau de incerteza quantificvel,
que pode justificar (ou no) uma determinada ao.
Sendo uma atividade coordenada, a Gesto de Ativos deve estar intrinsecamente
relacionada com o planejamento estratgico da organizao que, segundo SLACK et al
(2009), o padro global de decises e aes que posicionam a organizao em seu ambiente
e tm o objetivo de faz-la atingir seus objetivos de longo prazo. De fato, o desenvolvimento
de um sistema de gesto de ativos deve nascer dentro do planejamento estratgico das
organizaes, garantindo que, as decises a serem tomadas sobre os ativos estejam alinhadas
s demais estratgias da empresa, todas contribuindo para o resultado final. (DINIZ, 2013).
Como a ISO 55000 objetiva a estruturao de um sistema de gesto, ela coloca
como primeiros requisitos para a gesto de ativos que uma organizao elabore e transforme
em documentos elementos denominados Polticas, Estratgias, Objetivos e Planos de Gesto
de seus ativos, sendo que tais elementos devem estar alinhados com os objetivos estratgicos
estabelecidos anteriormente.
A Poltica de Gesto de Ativos uma espcie de carta de intenes da
organizao, sendo, portanto, um documento capaz de determinar regras e limites a serem
usados para balizar planos e estratgias, bem como nvel de comprometimento, da
organizao para com os seus ativos.
A Estratgia de Gesto de Ativos traduz os objetivos do planejamento estratgico
da organizao e da poltica de Gesto de Ativos em um plano de ao de longo prazo. Pode-
se afirmar que esse elemento que garante a fidelidade da Gesto de Ativos em relao ao
Planejamento Estratgico da organizao, pois ela vai direcionar os nveis de servio a serem
entregues pelos ativos assistidos, os custos envolvidos em atividades rotineiras, de
investimento, de Pesquisa e Desenvolvimento (P&D), atualizao do ativo, aquisio e/ou
reforma de peas de reposio, reviso de planos anuais de manuteno, bem como rotinas de
inspees preditivas, dentre outros.
Para tanto, essencial organizao conhecer seus ativos, de modo a possuir um
conjunto de dados e informaes fidedignas sobre os ativos que compem o parque fabril.
No complexo dispor de um sistema computadorizado que realize o controle de servios
realizados nos ativos, popularmente conhecidos como CMMSS, contudo, a maior parte das
empresas possui tal sistema por comodismo ou exigncia normativa, como no caso de
empresas do segmento automobilstico e autopeas, em que a existncia e uso de um sistema
como esse requisito obrigatrio da TS 16949:2009, logo caracterizando, na maior parte dos
 39

casos, em dados com baixa qualidade, no preenchimento de campos em formulrios

eletrnicos como descrio de servios executados, horrio, datas, dentre outros, numa lista
extensa de itens que, salvo exceo do gestor, no so observados pela maior parte dos
envolvidos no processo.
Como sada da Estratgia de Gesto de Ativos, tem-se a formulao dos
Objetivos de Gesto de Ativos, que sempre que possvel devem ser objetivos SMART, que
segundo GEORGES, FALSARELLA (2014) um acrnimo de Specific (especifico),
Measurable (mensurvel), Attainable (exeqvel), Realistic (realista), Time Bond (limitado no
tempo); tais objetivos podem ser expressos por KPIs relacionados disponibilidade,
mantenabilidade, confiabilidade, satisfao do cliente atendido, conformidade com requisitos
impostos por terceiros (agentes reguladores, governo, sociedade civil).
vlido ressaltar que, obrigatoriamente dentre os objetivos estabelecidos, deve
ser criada uma hierarquizao, de modo que, num caso onde ocorram objetivos conflituosos
entre si, exista uma priorizao de um objetivo A em detrimento de um objetivo B.
J os Planos de Gesto de Ativos referem-se s aes desdobradas dos objetivos
propostos para a Gesto de Ativos anteriormente, devidamente alinhados com os recursos
necessrios para tal, quem so os responsveis pela execuo e controle de tais planos, os
riscos envolvidos na ineficcia ou no atingimento dos objetivos estipulados.
Como em todo sistema de gesto, essencial que toda essa documentao possua
um carter dinmico, em que a melhoria contnua permeie todos os nveis do referido sistema,
tornando-o simbitico com o planejamento estratgico da organizao.

3.3 Tomada de Deciso

LLOYD (2012) destaca que a mudana de cultura, juntamente com a atitude das
pessoas e seus valores pessoais, bem como o ambiente organizacional e os objetivos
estratgicos da organizao, so os principais aspectos numa incorporao de uma prtica de
Gesto de Ativos eficaz, auxiliando num processo de tomada de deciso mais rpido e
assertivo.
A tomada de deciso um dos problemas-chave na teoria e prtica contempornea
de direo dos sistemas e da sociedade. Esta situao configura-se at certo ponto normal,
pois o ato de tomada de deciso o momento central de qualquer processo de direo e
gesto. A tomada de deciso est presente em todas as funes de direo e gesto, sendo a
prpria deciso o resultado principal esperado no trabalho ou funcionamento do sistema. A
 40

deciso origina a informao necessria na direo e gesto, que transporta at ao nvel

executivo sob forma de tarefas, planos, normas, comandos e serve de base para as aes
objetivas subsequentes. Todos os processos, no nosso ponto de vista, devem ser vistos como
atos de tomada de deciso. (CUREVA, 2014).
ANGELONI (2003) afirma que o grande desafio dos tomadores de deciso o de
transformar dados em informao e informao em conhecimento, minimizando as
interferncias individuais nesse processo de transformao.
Sob esta tica, o Gestor de Ativos deve ser uma figura proeminente no processo
de tomada de deciso, usando de conhecimentos tcnicos, gerenciais e financeiros para
decidir sob a tica desse novo universo que se vislumbra, onde se busca balizar o risco em
funo do ganho obtido ou potencial, agregando valor ao negcio da organizao, sob a forma
de ganhos financeiros, participao no mercado e valorizao da marca junto s partes
interessadas.

3.4 Gesto de Ativos em Utilities

vital para as utilities (concessionrias de obras pblicas em nvel municipal ou

regional) para manter e gerenciar estas redes de distribuio de servios pblicos de uma
forma eficaz, eficiente e sustentvel. As concessionrias so cada vez mais exigidas, diante
das expectativas do pblico e novas exigncias regulamentares para a proteo do bem estar
pblico, sade e meio ambiente, assim como o uso eficiente dos recursos pblicos. (YOUNIS;
KNIGHT, 2014) .
A atividade das companhias de eletricidade, gs, gua e outras, a prestao de
servios de fornecimento de energia ou combustvel ou gua tratada, com qualidade,
segurana e continuidade, entregue s portas das casas. Mas o seu negcio consiste em manter
seus ativos operacionais, em boas condies e principalmente, gerando valor. Trata-se de um
negcio inserido numa realidade na qual, por um lado, os Governos (atravs das agncias
reguladoras) exigem melhor desempenho em termos de segurana, confiabilidade e
universalidade do fornecimento; por outro, os consumidores so mais crticos em relao s
tarifas e ao nvel de servio entregue; e h ainda os acionistas, sempre desejando maior lucro,
retorno para os investimentos e valor agregado. (DINIZ, 2013).
Levando em considerao todos esses requisitos conflitantes, as empresas tm
sido impelidas a analisar qualitativamente e quantitativamente suas despesas e investimentos,
especialmente no que tange manuteno de seus ativos, buscando um denominador comum
 41

entre as exigncias regulatrias, os riscos envolvidos e os custos praticados para atender tais
exigncias.
REDER (2005) comparou a abordagem tradicional com a abordagem no ambiente
de Gesto de Ativos em sistemas de Distribuio de Energia Eltrica, destacando que a
primeira tem se concentrado na gesto da infraestrutura de uma rea geogrfica mnima
atravs de uma SE, a fim de administrar a quantidade de energia entregue ao mercado
consumidor e o crescimento e funcionamento do sistema local. Essa abordagem resulta em:
1. Despesas que provavelmente no so implantados para aperfeioar o
desempenho de todo o sistema (e no somente daquela subestao).
2. Diferenas entre infraestrutura de subestaes diferentes.
3. Ausncia de pro atividade para compartilhar recursos entre as subestaes.
Ainda de acordo com a autora, nesse tipo de abordagem as decises so tomadas
unicamente em funo do benefcio da SE, no levando em conta o impacto global no
sistema. A tolerncia ao risco mnima, e h uma propenso para trabalhar unicamente dentro
do microuniverso da SE, em vez de buscar a melhoria de todo o sistema, caracterizando uma
ausncia clara de viso holstica por parte dessa abordagem.
Por tudo aqui exposto, se faz claramente necessria uma abordagem gerencial por
parte dos departamentos de operao e manuteno das concessionrias de energia eltrica
baseada nas premissas da PAS 55 e da ISO 55000, levando seus ativos a um nvel de
desempenho superior, aumentando o resultado operacional da organizao.
Uma das formas de operacionalizar as premissas da Gesto de Ativos atravs da
melhoria das inspees e medies que so rotineiras dentro da abordagem tradicional da
manuteno, com a ressalva de que dentro do ambiente de Gesto de Ativos essas tcnicas e
sistemas de medio devem fornecer dados com nvel de confiabilidade assegurada por
padres metrolgicos mnimos ou, quando no for possvel ou vivel economicamente,
respaldados por normas internacionalmente aceitas, que estejam em consonncia com a
realidade da instalao inspecionada ou grandeza medida.
A reduo constante dos intervalos de inspeo perfeitamente considervel,
desde que os custos envolvidos sejam menores que os custos de uma eventual falha, uma vez
que tal reduo implica num aumento da confiabilidade da medio, com a contrapartida de
um aumento de custo operacional.

3.5 Monitoramento de Ativos

 42

O monitoramento de Ativos consiste em acompanhar variveis e grandezas

relacionadas diretamente com o atendimento da funo requerida por parte dos ativos, de
modo que, quando tal varivel ou grandeza apresenta uma variao significativa tem-se uma
resposta em relao ao nvel de desempenho da funo (a priori), caracterizando, portanto,
um provvel dano ou, no pior dos cenrios, uma falha.
Como essa condio no vlida para todos os ativos e todas as condies
existentes dentro de uma instalao, em sistemas cuja interrupo da funo de um dado ativo
acarreta em impactos indesejveis dentro da tica gerencial existem os chamados Sistemas
Supervisrios, que so softwares dedicados coleta e armazenamento de dados operacionais
especificados anteriormente.
No caso do Monitoramento de Ativos no basta somente acompanhar a evoluo
das variveis, mas sim controlar, ou seja, o acompanhamento deve gerar uma ao junto ao
ativo, baseada num dado coletado que ser contextualizado mediante a condio de operao
momentnea, de modo a fornecer uma informao adequada para a tomada de deciso
adequada (intervir ou no no equipamento).
Tal acompanhamento d-se atravs da mensurao de grandezas ou parmetros
tais como temperatura, nvel de vibrao, quantidade de particulados suspensos presentes em
uma substncia lquida, presena de descontinuidades superficiais e/ou subsuperficiais.
O monitoramento nasce de uma necessidade comum rea de manuteno: cerca
de um tero das atividades de manuteno preventiva (aquela disparada por tempo, ou por
nmero de operaes) mostra-se desnecessria, pois, durante a interveno, conclui-se que
havia, ainda, plenas condies do equipamento desempenhar suas funes por mais tempo,
sem risco de quebra (ALMEIDA, 2009). Essa situao originada pela premissa errnea de
que possvel prever a falha de um ativo a partir do histrico de manutenes realizadas,
lembrando que nem sempre as informaes coletadas em intervenes anteriores e
armazenadas nos CMMSs so fidedignas, alm de que, diante de uma realidade
mercadolgica cada vez mais competitiva, o uso errneo ou inadequado de um dado ativo
para cumprir com um determinado objetivo em detrimento da violao da funo primeira
para a qual o equipamento foi projetado recorrente.
Uma caracterstica comum aos equipamentos eltricos a presena de
mecanismos de transferncia de calor quando da passagem de corrente eltrica
(BRAUNOVIC et al, 2006), eventualmente causando danos s propriedades mecnicas da
regio de contato entre os metais dissimilares ou idnticos tpicos de unies que constituem os
 43

chamados contatos eltricos, que compem diversos equipamentos do SEP, como o objeto de
estudo desse trabalho, bem como cabos, contatores, disjuntores, conexes, emendas, etc.
Os danos causados nessa regio levam a vrios efeitos indesejveis, dentre eles o
mais notrio, o chamado mau-contato, que acentua o dano citado, resultando num ciclo que
geralmente culmina com o aumento da resistncia eltrica at a falha.do ativo.
O monitoramento de tal situao requer um equilbrio tnue entre o custo
operacional de tal sistema de medio, o risco de uma eventual falha por falta de
monitoramento e o atendimento normas de continuidade e qualidade no fornecimento do
servio contratado, no caso, fornecimento de energia eltrica.
Baseado nessa premissa h de se considerar o uso de modelos matemticos que
levem em considerao todas as condies operacionais e demais parmetros e caractersticas
dos ativos que possam influenciar o tempo de operao at a falha ou a sua vida til num
determinado perodo, sendo que tais modelos devero ser validados por prticas
experimentais consistentes e com resultados mensurveis, assim como tais resultados devem
ter um nvel de incerteza associado.
Assim, o processo de gesto de ativos, associado com o monitoramento da
resistncia de contato (tal como qualquer outro parmetro de equipamentos quaisquer), pode
ser ento detalhado como a seguir (DINIZ, 2013 apud CIGR, 2006):
1. Monitoramento: compreende a aquisio e armazenagem de dados, seja de
resultados de inspeo ou de ensaios em equipamentos no energizados, de sensores especiais
(monitoramento da condio) ou de sensores para variveis de processo (superviso e
controle), incluindo variveis da proteo e dados bsicos da placa de identificao (cadastro).
2. Anlise: refere-se ao tratamento da base de dados recente e histrica,
procurando evidncias de anormalidade, em um primeiro nvel de indicao (feita atravs de
uma notificao ao responsvel).
3. Diagnstico/Prognstico: nveis onde diagnsticos da condio ou das causas
de falha podem ser feitos, e prognsticos com indicao de aes a tomar podem ser
determinados, a partir de mtodos cientficos.
4. Anlise de Risco e Gerenciamento: compreende avaliaes da anlise do risco
operativo, considerando no apenas o contexto tcnico, mas tambm o econmico (inclusive
no que tange ao aspecto estratgico para o negcio), resultando em recomendaes de
procedimentos mais adequados, a serem tomados acerca do parque de ativos como um todo.
 44

4. TERMOGRAFIA

4.1 Termografia Infravermelha

Os sistemas de medio de temperatura podem ser classificados em medio com

contato e sem contato.
Em medies sem contato, notrio o uso de tcnicas no invasivas denominadas
NDTE (Nondestructive testing and evaluation), em que a deteco de uma distribuio
anormal de temperatura superficial torna-se indcio de algum dano ao elemento inspecionado.
(SUNDARAVALLI et al, 2014)
Dentro desse grupo situa-se a Termografia, tcnica de medio sem contato do
campo de temperatura de uma superfcie, atravs de uma imagem gerada pela radiao
trmica no espectro infravermelho emitida pela superfcie. As medies de temperatura por
meio de termografia dividem-se em duas categorias, a passiva e a ativa.
A termografia passiva caracteriza-se pela no estimulao trmica artificial do
objeto em estudo. Os testes so realizados quando a temperatura ambiente e da amostra so
naturalmente diferentes (MALDAGUE, 2000).
A TAB. (4.1) mostra as vantagens e desvantagens do uso da Termografia:

TABELA 4.1
Vantagens e Desvantagens da Termografia

VANTAGENS
Facilidade de operao
Tcnica no intrusiva e no destrutiva
Possibilidade de medio de variadas
condies do objeto e do ambiente
DESVANTAGENS
Dificuldade na determinao da emissividade do
objeto
Interferncia das perdas de calor sobre o contraste
das imagens
Limitao de deteco de defeitos em regies
mais profundas do objeto

A termografia passiva essencialmente aplicada de modo qualitativo, onde o

principal objetivo localizar diferenas significativas de temperatura, associando tal diferena
a uma eventual anomalia trmica. (KOMINSKY, MARTIN; 2006)
Embora a termografia passiva qualitativa seja a mais praticada, o carter
qualitativo de seus resultados no implica que cautela, planejamento e treinamento adequado
 45

sejam dispensveis. Para se obter melhores resultados, o tcnico responsvel deve ser
experiente no apenas na utilizao do termovisor, mas tambm deve conhecer as
caractersticas dos equipamentos e materiais inspecionados, alm de ser capaz de avaliar as
condies ambientais. O ceticismo quanto extenso da aplicabilidade da termografia se
deve, na maioria das vezes, ao seu uso inapropriado, a pobres interpretaes de resultados e
incapacidade de empregar a tcnica correta de investigao (TITMAN, 2001).

4.2 Temperatura

A temperatura associada agitao ou movimento das partculas (tomos ou

molculas) que compe um corpo ou substncia. Seu valor dado em funo da energia
interna apresentada pelo corpo ou substncia e se altera em funo de trocas de calor e
trabalho com a vizinhana. Logo, a temperatura de um objeto pode ser determinada pelo
resultado de um balano de energias, calculado a partir dos mecanismos de transferncia de
calor presentes nos corpos.(DINIZ,2013)
Existem 3 mecanismos de calor, que so conduo, radiao e conveco, ainda
que esse ltimo mecanismo no seja unicamente um mecanismo de transferncia de calor
porque o seu funcionamento tambm depende de transporte de massa. Contudo, como em tal
mecanismo tambm ocorre transmisso de energia de regies de alta temperatura para regies
de baixa temperatura, razovel afirmar que o uso do termo transferncia de calor por
conveco seja aceito. (KREITH,2010)
No desenvolvimento de seu modelo matemtico para clculo de temperatura de
conectores eltricos usados no Sistema Eltrico de Potncia, FERREIRA (2013) sugeriu que a
modelagem matemtica do processo de aquecimento de tais conectores a determinao do
campo de temperatura em funo das condies impostas. Essa abordagem foi usada pelo
mesmo autor no desenvolvimento do modelo de aquecimento de uma chave seccionadora de
15 kV, conforme descrito na sequncia desse trabalho.
A FIG 4.1 mostra uma chave seccionadora modelo Unipolar 15kV com a
marcao das reas do contato principal e da articulao esquerda e direita,
respectivamente.
 46

FIGURA 4.1 - Chave seccionadora 15 kV ligada fonte geradora de energia.

De maneira geral, essas duas regies oferecem uma maior resistncia passagem
de corrente eltrica quando a linha est energizada. Associado a isso, inicia-se um processo de
gerao de calor (dissipao de energia eltrica) por efeito Joule, sendo que todo o calor
gerado dissipado atravs dos modos bsicos de transferncia de calor: conveco, radiao e
conduo trmica. Em regime permanente, esses mecanismos esto relacionados segundo a
EQ (4.1):

( ) : (4.1)

Onde:

(Taxa de gerao de calor por efeito Joule)

(Taxa de transferncia de calor por conduo para os

cabos)

( ) (Taxa de dissipao de calor por conveco)

( ) (Taxa de dissipao de calor por radiao)

Essa equao representativa do balano de energia pode ser resolvida em termos

de variveis globais (formulao integral), sendo de soluo mais simples em comparao
com a formulao diferencial. No entanto, sua aplicao requer certos cuidados, uma vez que
 47

as variaes locais de temperatura podem ser significativas e, com essa abordagem, a

temperatura avaliada segundo um valor mdio.
A geometria particular do contato principal e da articulao da chave seccionadora
pode ser simplificada como a composio de geometrias mais simples como placas verticais,
horizontais e cilindros (no caso do contato), para as quais existem na literatura correlaes
empricas especficas que se propem a modelar a conveco. Portanto, essa idealizao
permite simplificar o clculo do coeficiente convectivo mdio que representa o processo de
transferncia de calor por conveco, conforme a EQ (4.2):

(4.2)

Ou seja, o coeficiente convectivo mdio para a conveco na regio de interesse

pode ser calculada como a mdia ponderada (pela rea) dos coeficientes convectivos
individuais obtidos para cada elemento que compe o conjunto.
Como a chave seccionadora apresenta, em geral, uma resistncia eltrica superior
a dos cabos condutores, natural que exista uma diferena de temperatura entre um ponto do
componente e um ponto do cabo. Essa diferena de temperatura pode ser entendida como uma
diferena de potencial trmico, a qual promove um fluxo de calor oriunda da regio de maior
temperatura (maior potencial) em direo regio de menor temperatura (menor potencial).
Da mesma forma que a chave tende a perder energia trmica atravs da
transferncia de calor por conduo para os cabos, esse fenmeno tambm ocorre em direo
a outras duas regies de menor temperatura: a base da chave (por onde no ocorre gerao de
calor) e as lminas de contato (onde a resistncia eltrica menor). A FIG. 4.2 ilustra as
direes preferenciais de transferncia de calor por conduo partindo do contato principal e
da articulao da chave seccionadora.
 48

FIGURA 4.2 - Transferncia de calor por conduo na chave seccionadora

Cada componente do fluxo de calor por conduo recebe tratamento especfico

por se tratarem de casos diferentes de transferncia de calor por conduo. No primeiro caso,
o isolador no gera calor; no segundo, as lminas de contato tm seo reta retangular e
possuem gerao de calor; e, no terceiro caso, os cabos tm seo circular, geram calor e
podem apresentar uma camada de isolamento. A equao diferencial de cada caso dada a
seguir.

Caso 1

( )

(4.3)
Caso 2

( )

(4.4)
Caso 3

( )
( )
(4.5)
 49

Para a soluo de tais equaes estudaram-se as diferenas entre a resoluo por

meio de soluo numrica e analtica para cabos montados com conectores aparafusados
usados em Subestaes, comparando os valores do modelo com dados experimentais. Ao
modelar o processo de aquecimento de conexes eltricas, os resultados experimentais
mostram que a taxa de transferncia de calor por conduo , em geral, significativa. Foi
demonstrada que a soluo numrica a maneira mais indicada para soluo, uma vez que
sua formulao admite variaes locais das propriedades fsicas, enquanto que a soluo
analtica por coeficientes constantes depende fortemente da preciso na determinao dos
valores mdios desses parmetros Alm disso, a soluo numrica permite o clculo de um
comprimento de referncia, a partir do qual os valores de temperatura medidos no so
influenciados pela proximidade com um ponto de anomalia trmica, uma informao
extremamente til para as equipes de manuteno de componentes eltricos desse tipo,
auxiliando no diagnstico e no processo de tomada de deciso. (FERREIRA, ANDRADE,
2014)
O modelo de medio de temperatura com uso de termovisores foi estudado por
TEIXEIRA (2012), onde o autor determinou as relaes matemticas que regem a interao
entre as grandezas envolvidas nesse sistema de medio, bem como as eventuais variaes
associadas ao resultado, por meio de rotina de programao no ambiente MatLab. Nesse
trabalho o mesmo modelo foi adotado devido robustez de resultados proporcionada,
elevando a qualidade das medies praticadas por meio de termovisores.

4.3 Incerteza de resultados em Termografia

Todo e qualquer sistema de medio tem por finalidade expressar

quantitativamente o comportamento aproximado de uma grandeza da natureza submetida
medio, o que pode ser expresso como mensurando. (VIM, 2007). O valor atribudo a tal
grandeza denominado Valor Verdadeiro, que o valor consistente com a definio de uma
dada grandeza especfica. Contudo, todo sistema de medio propicia um valor que no
expressa de modo fidedigno (indicao) o comportamento do mensurando, sendo essa
diferena expressa pelo termo Erro de Medio, que expresso matematicamente como:

(4.6)

Onde E=erro de medio / I= Indicao /VV=Valor Verdadeiro

 50

De acordo com ALBERTAZZI, SOUZA (2008), o erro de medio no

constante e varia em funo alguns fatores tais como:
Ao do operador
Variao das condies ambientais
Passagem do Tempo
Outros
Uma vez no sendo necessariamente constante, importante compreender quais
so as parcelas que compem o erro de medio. A primeira parcela refere-se aos erros
sistemticos, que correspondem ao valor mdio do erro de medio. A segunda parcela trata-
se dos erros aleatrios, que dizem respeito parcela imprevisvel do erro de medio,
responsvel pelas variaes encontradas em medies repetidas. O erro de medio expresso
por um nmero (ALBERTAZZI; SOUZA, 2008).
A toda medio existe um erro associado. Uma vez que no se pode evitar a
modificao introduzida pelo instrumento de medio ou as possveis variaes do
mensurando, nunca se obter o valor exato da grandeza, a avaliao sempre ser imprecisa. O
melhor que se pode fazer conhecer e considerar uma faixa provvel dentro da qual deve
situar-se o valor verdadeiro associado ao mensurando. (ALBERTAZZI; SOUSA, 2008).
Essa faixa, denominada incerteza do resultado de medio, ou simplesmente
incerteza, de acordo com o VIM (2007) o parmetro, associado ao resultado de uma
medio, que caracteriza a disperso dos valores que podem ser fundamentadamente
atribudos a um mensurando.
Todo fator que d origem dvidas no resultado de um processo de medio
denominado fonte de incerteza.
A Incerteza padro (u) corresponde a uma medida da intensidade da
componente aleatria do erro de medio. Corresponde ao desvio-padro dos erros de
medio (ALBERTAZZI; SOUSA, 2008). expressa por:

( )
(4.7)

Onde
 51

s = desvio padro da amostra

I =Mdia das Indicaes
Ii= i-nsima indicao
n = nmero de medies repetidas realizadas

4.4 Fontes de Incerteza em Termografia

Em oposio ao nmero expressivo de trabalhos voltados para as aplicaes da

termografia (BAGAVATHIAPAN, 2013), esto as publicaes dedicadas anlise da
qualidade dos resultados obtidos por ela. A escassez de trabalhos publicados sobre este
assunto evidencia a utilizao das tcnicas de obteno de imagens trmicas apenas como
uma ferramenta qualitativa pelos setores de manuteno. Todavia, um procedimento de
inspeo termogrfico no seria completo se o grau de confiabilidade dos resultados no fosse
conhecido. Do contrrio, um termograma representaria apenas uma imagem colorida com
valores de temperatura que podem estar corretos ou totalmente equivocados.
Dessa maneira, os trabalhos de CHRZANOWSKI (2001), TAVARES (2006) e
TEIXEIRA (2012) contribuem de maneira significativa acerca das fontes de incerteza em
Termografia, identificando-as e quantificando-as em aplicaes da tcnica nos mais diversos
segmentos, buscando manter padres metrolgicos minimamente aceitveis.
A FIG. 4.3 ilustra as fontes de incerteza existentes em medio por Termografia
infravermelha, de acordo com TAVARES (2006) e CHRZANOWSKI (2001):

FIGURA 4.3 - Fontes de Incerteza em Termografia Infravermelha

 52

As fontes de incerteza de medio podem ser divididas em intrnsecas, prprias

dos componentes internos do termovisor, e de medio (ou externas), associadas ao
conhecimento incompleto dos parmetros radiomtricos necessrios para a caracterizao do
mensurando e das condies ambientais (CHRZANOWSKI, 2001).
As fontes intrnsecas de incerteza de um termovisor so atribudas aos seguintes
componentes: erro gerado por rudo (NGE), estabilidade da temperatura (TS), repetitividade
(RE), resoluo digital da temperatura (DRT), mnimo erro (ME), resoluo espacial da
medio (MSR), e a uniformidade da medio (MU).
Essas fontes so detalhadas a seguir:
Erro gerado por rudo (NGE): desvio padro da leitura de temperatura devido
aos rudos internos do sistema.
Estabilidade da temperatura (TS): faixa na qual os resultados de medio, em
diferentes temperaturas ambientes, esto localizados.
Repetitividade (RE): preciso da medio sob condies de repetitividade.
Resoluo Digital da Temperatura (DRT): menor diferena entre dois nveis de
temperatura que podem ser distinguidos devido s limitaes do canal digital do termovisor.
Mnimo erro (ME): disperso do valor registrado pelo termovisor, em relao
temperatura do mensurando para medies realizadas em condio de calibrao.
Resoluo Espacial de Medio (MSR): mnima dimenso angular do
mensurando que no produz influncia sobre o resultado de medio.
Uniformidade da Medio (MU): faixa que abrange os resultados da medio
para diferentes posies do mensurando dentro do campo de viso do termovisor.
As fontes de incerteza de medio externas so atribudas ao conhecimento
incompleto dos parmetros presentes no modelo matemtico da medio, a menos do sinal S,
todos os demais parmetros devem ser ajustados pelo usurio no termovisor para caracterizar
o mensurando e as condies ambientais locais.
De acordo com TEIXEIRA (2012), das quatro variveis a que o usurio tem
acesso, a emissividade a mais crtica, porm, tambm a mais negligenciada. Seu valor
deve ser determinado experimentalmente, o que, na maioria das aplicaes, no possvel.
Por conseguinte, os usurios so levados a adotar valores tabelados ou aproximaes que no
refletem a verdadeira emissividade do mensurando, uma vez que, esta tambm funo das
condies superficiais do material que compe o objeto.
 53

Incerteza Combinada (uc) - Corresponde ao valor do desvio padro resultante da

ao combinada das componentes aleatrias de todas as fontes de incerteza que afetam um
processo de medio. Para estimar a incerteza combinada de n fontes de incerteza, todas
estatisticamente no correlacionadas (independentes) usa-se a EQ. (4.8):

(4.8)

Onde
uc=incerteza combinada
ui= incerteza padro da i-nsima fonte de incerteza

Incerteza Expandida (U) - o intervalo dentro do qual, para uma probabilidade

de 95% (geralmente) espera-se encontrar a componente aleatria dos erros de um processo de
medio. dada pela seguinte equao:

(4.9)

Onde
U = incerteza expandida do processo de medio
t = coeficiente de Student correspondente ao nmero de graus de liberdade efetivos e a 95%
de probabilidade
uc=incerteza combinada:

O nmero de graus de liberdade efetivos o nmero de medies repetidas menos

um correspondente ao valor da incerteza combinada. Ele expresso pela frmula de Welch
Satterthwaite:

(4.10)

Onde:
uc=incerteza combinada
ef = nmero de graus de liberdade efetivos
 54

un= incerteza padro da i-nsima fonte de incerteza

i = nmero de graus de liberdade da i-sima fonte de incerteza

O resultado de uma medio (RM) pode ser expresso por meio da EQ.(4.11):

(4.11)

Onde:
RB = resultado base
U95%=incerteza expandida com intervalo de abrangncia de 95%

O clculo da incerteza de um mensurando , na maioria das vezes, complexo e

demanda recursos humanos e financeiros, o que o torna invivel (do ponto de vista
operacional) para muitas aplicaes que no no mbito da Academia e em atividades
laboratoriais. Entretanto, sua verdadeira importncia reside no fato de que a presena de uma
faixa de incerteza associada indicao do sistema de medio um atestado claro de
preocupao com o risco presente naquele resultado, uma vez que existe um tratamento
estatstico dos dados coletados, alm de atribuir um valor de probabilidade para ocorrncia de
um determinado efeito.
 55

5. METODOLOGIA

A metodologia empregada nesse trabalho est sintetizada na FIG. 5.1. Consiste

numa prtica experimental (com o intuito de obter informaes sobre o comportamento do
ativo em atmosfera controlada) e no desenvolvimento de um modelo terico, que objetivou
estimar a vida til do ativo por meio de padres tecnicamente mensurveis, embasado pelos
resultados do experimento.
Inicialmente foi feita uma anlise do banco de dados de relatrios de inspees
termogrficas da Cemig-D, no perodo de 2007 a 2012, referentes atividade da
concessionria na Regio Metropolitana de Belo Horizonte. Nesse banco de dados foram
selecionados todos os termogramas referentes s inspees termogrficas em chaves
seccionadoras, bem como informaes relevantes, tais como o nvel de tenso aplicada
(consequentemente o tipo de chave), horrio e data da inspeo, valor de temperatura medido,
localizao da anomalia trmica, grau de criticidade atingido, dentre outros.

5.1 Metodologia Experimental

Aps essa etapa, foi elaborado o planejamento do experimento a ser realizado com
uma chave retirada de operao (sem quaisquer informaes sobre o equipamento, como
temperatura de falha, motivo de retirada de operao, etc.) e com uma chave que nunca havia
entrado em operao, objetivando coletar dados sobre o comportamento da chave em funo
de sua degradao em um ambiente controlado.
Usou-se a infraestrutura do Laboratrio de Termometria para realizao de tais
experimentos, que consiste basicamente nos seguintes itens:
Chave seccionadora faca unipolar Tenso 15 kV, Corrente Nominal 630 A;
Termocmera FLIR SC660;
Fonte de corrente LET-1000-RD, EuroSMC;
Mdulo de aquisio Agilent, modelo 34490A interligado ao computador;
Termopares (tipo T)
Cabo condutor de alumnio 170 mm2 (336 AWG);
Termmetro-higrmetro de bancada;
Microhmmetro Instrum de 10 A;
 56

FIGURA 5.1 - Representao Grfica da Metodologia Empregada no Trabalho

 57

O layout do experimento demonstrado na FIG. 5.2:

FIGURA 5.2: Layout do experimento

A chave seccionadora foi ligada fonte de corrente por meio dos cabos
condutores conectados. A fonte de corrente era ajustada para valores sequenciais arbitrrios
de 50, 100, 150, 200, 250, 300, 350, 400, 450, 500, 550 e 630 A. Os termopares conectados
ao mdulo de aquisio de dados foram fixados nos contatos fixo e mvel, alm da lmina de
contato, conforme indicado na FIG. 5.3. A cmera termogrfica foi ajustada para capturar
imagens a cada 5 minutos, a uma distncia de 0,8 metros da bancada. Os ensaios foram
realizados de modo sequencial para esses valores de corrente e a cada faixa de corrente
ajustada, as medidas da resistncia, da corrente, da umidade relativa do ar e da temperatura
ambiente eram obtidas aps se atingir o regime permanente (na prtica esta condio
satisfeita quando a variao no excede 1 K por hora). Um novo ciclo de ensaios era iniciado
aps o retorno da temperatura do equipamento para o valor da temperatura ambiente. A
metodologia experimental foi aplicada nas duas chaves (designadas aqui como Chave ntegra
e Chave Degradada), contudo, vale-se ressaltar a necessidade de um acabamento superficial
para medies mais adequadas dos valores de resistncia na Chave Degradada. Ademais, as
chaves foram usadas em seu estado original, afim de guardar a maior semelhana com
condies operacionais praticadas (como por exemplo altos valores de refletividade)

FIGURA 5.3: Posicionamento dos termopares

 58

Ao trmino dos 22 ciclos trmicos (11 ciclos para a chave ntegra e 11 ciclos para
a chave degradada) os termogramas obtidos foram selecionados, extraindo-se 44 termogramas
de cada chave (em mdia 35 % dos termogramas capturados), que foram exportados para um
computador para a determinao da emissividade por meio do mtodo radiomtrico direto
com uso do software Quick Report da FLIR Technologies e das informaes de temperatura
obtidas pelos termopares, segundo Perin (2009 apud Andrade Jnior et al, 2014). Esses
termogramas foram selecionados em funo do atingimento do regime permanente e da
anlise qualitativa das imagens (como a ausncia de refletividade, por exemplo).
Visando estabelecer um critrio metrolgico adequado para o trabalho, aps a
determinao das emissividades foram marcados os pontos de interesse para avaliao da
temperatura com uso do software ThermaCAM Researcher PRO 2.10, desenvolvido pela Flir,
em formato. MAT e estimadas as temperaturas externas para as faixas de corrente aplicadas,
assim como as incertezas de medio termogrfica, que foram calculadas usando o modelo de
TEIXEIRA (2012) e o software IMT (Incerteza de Medio Termogrfica) considerando o
intervalo de abrangncia de = 95%. As incertezas foram calculadas pelos mtodos GUM
(Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement) e MMC (Mtodo de Monte Carlo).
A FIG.5.4 mostra a interface grfica do IMT, com a imagem trmica de um dos ciclos
trmicos aplicados ao longo do experimento.
Em paralelo com os experimentos realizados nas chaves degradada e ntegra, foi
desenvolvido o modelo matemtico do processo de transferncia de calor do ativo,
desenvolvido a partir da aplicao de um balano de energia nos dois pontos crticos
observados na anlise dos termogramas, respectivamente, no contato principal e na
articulao, utilizando a conceituao bsica dos mecanismos de transferncia de calor
disponvel na literatura. A seguir, o modelo foi validado por meio da comparao com os
resultados do experimento realizado em ambiente laboratorial.
Partindo dos valores do balano de energia e conforme os dados disponveis na
literatura, foram elaborados os modelos de risco tcnico e de risco econmico para a chave
seccionadora.
 59

FIGURA 5.4 - Interface do sofware IMT - Incerteza em Medies Termogrficas

 60

5.2 Metodologia Terica

5.2.1 Risco Tcnico

O risco tcnico trata da avaliao das consequncias ou impactos de um evento

indesejado, medidos em termos de parmetros tcnicos. Esses parmetros tcnicos podem ser
grandezas da natureza cujo comportamento seja significativo para o desempenho do ativo e
que sejam mensurveis, afim de que sejam monitoradas por meio de um sistema de medio
qualquer.
Assumindo que o modo de falha prioritrio em chaves seccionadoras de 15 kV o
aquecimento no contato principal, pode-se inferir que o aumento de temperatura provoca um
aumento de resistncia eltrica de contato, que pode ser calculada atravs da EQ. (2.9).
A EQ.(2.9) requer vrios parmetros de entrada, sendo cada um deles discretizado
nas linhas seguintes.
O coeficiente de correo trata-se de um valor adimensional que caracteriza o
grau de acabamento da superfcie; tal valor ser maior quanto melhor for o acabamento
superficial da regio do contato, com efeitos de rugosidade minimizados. Conforme citado na
no Captulo 2, o valor desse coeficiente varia entre 0,3 e 0,6, sendo adotado para esse trabalho
o valor de 0,45, mesmo valor adotado pela IEC TR 60943(2009) para fundamentar a EQ.
(2.9).
A dureza de um material (caracterizada neste trabalho pela varivel H)
definida tradicionalmente como a resistncia que um material oferece a um esforo externo de
penetrao. De acordo com a IEC TR 60943 (2009), o valor da dureza do material estudado
(cobre) foi assumida como 350 MPa.
O valor da fora F aplicada no contato responsvel pelo fenmeno de constrio,
elucidado no Captulo 2, foi calculado a partir da seguinte mtrica: a norma IEC TR 60943
(2009) estabelece que a EQ. (2.3) s deve ser usada para casos onde a fora de no mnimo
50 N. Contudo, a IEC 60694 (2006) preconiza que o esforo mximo para carregamento da
mola de abertura e fechamento da chave seccionadora de 250 N. Tomando por base esses
valores limtrofes calculou-se a mdia aritmtica dos dois valores, chegando-se a um valor de
F =150 N.
Com base nas premissas acima, foi calculado o valor da Resistncia de
Constrio utilizando o valor de resistividade do cobre para 20C, de acordo com a TAB.
(2.2) e a EQ. (2.6), onde o valor do raio do contato elementar foi calculado usando as EQ.
(2.4) e (2.5).
 61

A resistncia de constrio foi considerada constante uma vez que, segundo

SILVEIRA et al. (1981), a fora de constrio em um contato submetido corrente alternada
apresenta variao significativa para temperaturas acima de 673 K.
Em funo dos valores de temperatura atingidos durantes os testes e de acordo
com o valor mximo admissvel de temperatura, a dureza no alterada, pois no ocorre a
temperatura de recozimento do Cobre, que 190 C.
Para o clculo da Resistncia de Filme os valores adotados da Resistividade
Superficial o esto descritos na TAB. (5.1):

TABELA 5.1
Resistividade de Tnel em funo do estado de degradao para contatos em cobre
ESTADO DE
METAL DEGRADAO o(m2)
Novo 2x10-12 a 3x10-11
Cobre
Oxidado 1x10-10
FONTE - IEC TR 60943 (2009)

Os valores do nmero de contatos elementares n e o raio do a-spot a foram

assumidos de acordo com o exposto nos pargrafos anteriores.
De acordo com a TAB. (5.1), a IEC TR 60943 (2009) estabelece nveis de
degradao em funo do valor da resistividade, alm de afirmar que o valor de s geralmente
no excede a 10 nm e a camada inicial so de 20 x 10-10 m, de acordo com os estudos de
HOLM (1967) e assumindo a relao entre essa grandeza e a espessura da camada de xido s
foi estipulada a condio exposta na TAB. (5.2):

TABELA 5.2
Valores de Referncia de Resistividade Superficial, Camada Formada e Condio.

o
s () Condio
(m2)
2x10-12 20 Novo
-10
1x10 100 Degradado
-10
1 = 1x10 m
 62

Assim sendo, usando-se da tcnica de mnimos quadrados foi possvel traar a

funo que relaciona o aumento da camada s (Y) em funo do aumento da resistividade de
tnel o (X), que :

(5.1)
Tambm indicada pela IEC TR 60943 apud HOLM (1967) a EQ. (5.2), que
resultado da EQ. (2.7) para o cobre exposto atmosfera, onde se relaciona a espessura de
camada inicial so , a espessura de camada final s com o tempo t de ocorrncia desse fenmeno,
a uma dada temperatura Tc :

( )
(5.2)

Reescrevendo a EQ. (5.2) pode-se calcular o tempo necessrio para se alcanar

uma situao crtica s (no caso s = 100 ) a uma dada temperatura Tc:

( )
(5.3)

A temperatura Tc de acordo com a FIG.5.5 deste trabalho varia em funo da parte

do equipamento analisada e do material que a compem.
Para a situao em estudo, tm-se contatos em ligas de cobre nu expostos ao ar, o
que indica uma temperatura mxima admissvel de 75C. Admite-se, portanto, que a condio
limite do equipamento d-se mediante um aquecimento de 75C, com uma resistividade
superficial de 1x10-10 m2 e com uma camada final de 100 .
 63

FIGURA 5.5 Limites de temperatura e elevao de temperatura NBR IEC 60694:2006

 64

Partindo dos resultados dos valores de balano de energia e correntes aplicadas foi
deduzida a EQ. (5.4) pelo mtodo dos mnimos quadrados que relaciona o valor da corrente
(X) e o valor da temperatura atingida (Y).

( )
(5.4)

Os dados de carregamento extrados referem-se chaves de entrada e sada da

subestao, uma vez que tais chaves so criticas por no apresentarem substitutas imediatas
(by-pass), necessitando de uma transferncia de carga que nem sempre possvel. Esses
dados so coletados automaticamente em intervalos de 15 minutos para cada fase do sistema
(vermelho azul e branco).
Usando os dados de carregamento disponibilizados pela Cemig D, as temperaturas
foram estimadas para cada instante de t=15 minutos (0,25 h) e usando a EQ. (5.2) foi
calculada a formao de camada de xido para o instante de tempo de aquecimento, partindo
da premissa que durante esse intervalo de tempo o aquecimento foi constante.
O acmulo de xido sobre o contato promove um aumento no valor da camada s
que pode ser estimado ao trmino de um dado perodo como o caso, onde aps o clculo
desse acmulo a vida til do ativo foi determinada por meio de ndices de confiabilidade
usados por DINIZ (2013) em seu trabalho, tomando a premissa de que a chave seccionadora
possui, de acordo com a ANEEL, uma vida til contbil de 15 anos. Considerando 365 dias
de trabalho no ano e 24 horas/dia de trabalho, tem-se uma vida til de operao (que coincide
com a vida contbil) de 131.400 horas.

5.2.2 Risco Econmico

O risco econmico caracterizado como a ocorrncia de perdas ou ganhos

financeiros em funo da probabilidade de ocorrncia de um determinado evento. Para o
clculo do risco econmico, adotou-se a abordagem de Exposio Financeira, que, segundo
DINIZ (2013), ocorre da seguinte forma: dada a probabilidade pj de um risco j se materializar
a um determinado impacto financeiro associado (positivo ou negativo), a exposio
financeira ( ) correspondente, caso se aceite o risco, dada por:

(5.5)
( )
 65

Onde i = taxa unitria de desconto, a fim de considerar o valor do dinheiro no

tempo.
Ainda de acordo com DINIZ (2013), a proposta decidir entre realizar a
manuteno ou no, aceitando um risco de falha . Se a manuteno for adiada, o impacto
financeiro a economia de Cman com uma probabilidade (1 ), pois esta a probabilidade
do ativo no falhar. Caso a falha acontea, o impacto ser um custo incorrido Cf, negativo. As
perdas adicionais de energia so sempre negativas e com probabilidade 1. Alm disso,
foi considerado que as perdas aumentam a uma taxa = 3%, referente mdia dos valores de
taxa de crescimento de mercado nos ltimos 5 anos. A taxa unitria de desconto ser =
11,4%, que corresponde ao valor mdio de taxa de retorno sobre o capital do setor eltrico
com imposto. Portanto, a EQ. (5.5) pode ser reescrita da seguinte maneira:

[( ) ( )( )
]( )( )
(5.6)

Onde N = perodo de tempo, em anos.

O custo da falha Cf, quando da ocorrncia de uma interrupo no sistema eltrico,

composto de:
Custo do atendimento ocorrncia (recomposio do sistema e custo do call-
center),
Custo do reparo propriamente dito, ou descarte do equipamento avariado,
Custo do no faturamento de energia, ou lucro cessante,
Custo advindo de penalidades regulatrias (multas, compensao a
consumidores e reduo na tarifa),
Custo com a perda da remunerao referente ao ativo, caso venha a ser
descartado,
Custo de gesto e engenharia (dedicao de executivos para contingenciar a
falha, anlise da falha, arranjos de emergncia, sobreavisos etc.),
Custo imagem da empresa (implica gastos com campanhas, propaganda,
gastos com projetos excepcionais etc.), com perda de valor de mercado.
De tal forma que se pode expressar matematicamente o custo da falha Cf, como:

(5.7)
 66

Os custos de atendimento so determinados, considerando que 5% dos

consumidores afetados iro recorrer ao atendimento, a um custo mdio de R$ 0,92 por 2
minutos de ligao por consumidor afetado. Estes custos foram obtidos em sites de empresas
prestadoras do servio, poca desta pesquisa.
O custo de reposio do sistema foi baseado em dados de precificao de servios
da Cemig-D, para o caso de uma chave seccionadora tripolar necessitar de manuteno
corretiva sero necessrios trs funcionrios durante 3 horas para realizar a tarefa,
reestabelecendo a funo do ativo. O custo dessa tarefa de R$ 957.
Para o reparo ou descarte do equipamento, devem-se considerar os custos do
material empregado e das taxas administrativas (20%) afetas. Para a chave seccionadora
tripolar tem-se um custo aproximado de R$ 2733.
O lucro cessante determinado assumindo que o tempo total de interrupo de
energia causada pela falha de 1 hora. Durante esse perodo, ser considerado o montante de
energia que deixou de ser consumida nesse perodo na proporo mdia das classes de
consumidores (Residencial: 89% e Comercial 11%, com custos respectivos de 540,59
R$/MWh e 455,75 R$/MWh). De acordo com a ANEEL (2013), preciso ainda, considerar
um fator de 0,35 para se obter a parcela que efetivamente vai para a distribuidora, razo entre
os valores das parcelas A e B que compem a Receita Requerida.
Para o clculo do custo com compensao a consumidores, ser considerado
tambm que os indicadores estaro no limite das metas e utilizado o valor de R$ 9963 por
hora de violao como base para os clculos. Esse valor foi calculado tendo em vista a
regulamentao vigente, onde existe compensao direta ao consumidor em caso de violao
dos indicadores DIC, FIC, DMIC e DICRI. Os valores podem ser de at 20 vezes o valor da
energia que seria consumida pelo cliente durante o perodo de interrupo.
Os demais custos citados ( ) no sero levados em
considerao nesse trabalho, devido ao mnimo efeito causado ao custo da falha e/ou por
serem de difcil determinao. Contudo (visando uma melhor compreenso do impacto
financeiro causado pela ocorrncia da falha) bastaria som-los s demais parcelas
supracitadas.
Aps usar os modelos de risco tcnico e econmico nos ativos selecionados, a
metodologia proposta ser aplicada em resultados obtidos de relatrios de inspeo
termogrfica constantes do banco de dados e seus resultados sero comparados a
metodologias para determinao de criticidade de ativos disponveis na literatura.
 67

6. RESULTADOS

6.1 Anlise de Termogramas

A anlise dos relatrios de inspeo termogrfica fornecidos pela Cemig-D

demonstrou que cerca de 83% das 445 anomalias trmicas detectadas do-se em chaves
seccionadoras de cdigo F, que correspondem a uma faixa de tenso de 11-20 kV. Dentre esse
percentual, foi identificado que cerca de 70% das anomalias trmicas acontecem no contato
principal do equipamento,
Os valores de corrente so demonstrados em um grfico de setores, que compe a
FIG. 6.1. J os valores de elevao de temperatura so mostrados na FIG. 6.2

Corrente Aplicada
(em A)
8%
22% 0-101

102-202
31%
8% 203-303
304-404

31% acima de 404

FIGURA 6.1 - Faixas de corrente aplicadas em Chaves Seccionadoras de 15 kV entre 2007-2012 na

Cemig-D

T (em C)
2% 6%
1% 0-13
5% 14-24
11% 25-35
4% 36-46
47-57
11% 26% 58-68
69-79
80-89
14% 90-99
20% acima de 100

FIGURA 6.2 - Valores de Variao de Temperatura (T) obtidas em inspees termogrficas de chaves
seccionadoras entre 2007-2012 na Cemig-D.
 68

Um dos critrios vastamente aplicados em inspees termogrficas no setor

eltrico para o clculo de T, corresponde diferena entre a temperatura do equipamento
supostamente em falha e a temperatura de um equipamento idntico que funciona sob
condies similares. Tendo em vista os resultados apresentados nas FIG (6.1) e (6.2), nota-se
que, em 70% dos termogramas observada uma ocorrncia de faixas de corrente de 0 a 400 A
, com uma predominncia de correntes de 100 a 300 A. Dentro dessa faixa, cerca de 71% dos
termogramas apontam para valores de T de at 46C. Valendo-se da TAB. (6.1), nota-se que
cerca de 64% dos termogramas indicam valores de T que extrapolam os limites
especificados pela NETA.

TABELA 6.1
Critrios e aes sugeridas pela NETA MTS 2013

Tpref Tamb Ao Recomendada

1C - 3C 1C - 10C Possvel Indicativo de falha
4C - 15C 11C - 20C Provvel Indicativo de falha
---- 21C - 40C Monitorar at medidas corretivas sejam tomadas
>15C > 40C Reparo imediato

FONTE - NETA MTS (2013) adaptado

6.2 Resultados experimentais

A realizao dos experimentos com as chaves seccionadoras ntegra e degradada

tem seus resultados expostos a seguir, iniciando pela FIG. 6.3:
115,00

95,00
Temperatura (em C)

75,00 CHAVE INTEGRA

55,00 CHAVE DEGRADADA

35,00
LIMITE DE
TEMPERATURA IEC
60694(C)
15,00

-5,00
100 150 200 250 300 350 400 450 500 550 630
Corrente (A)

FIGURA 6.3 - Temperaturas IMT das chaves degradada e ntegra em comparao com a temperatura limite IEC
60694
 69

O grfico de linhas referente FIG.6.3 constitudo de dois eixos que

relacionam os valores de temperatura medida no experimento com a devida incerteza
associada e os valores de corrente empregados no ensaio. Observa-se o efeito da emissividade
sobre a incerteza de medio nas inspees termogrficas, efeito esse traduzido nos grandes
intervalos de abrangncia existentes para os valores que compem a curva de temperatura da
chave ntegra. Em aproximadamente 55% das faixas de corrente do experimento, o intervalo
de abrangncia engloba os valores de temperatura da chave degradada, o que demonstra a
coerncia do experimento, que, considerando os parmetros metrolgicos adotados, indica
claramente o aquecimento do contato em temperaturas acima dos limites especificados pela
IEC 60694 (2006).
Outro critrio amplamente usado para clculo do T o Tamb, usado na
determinao do grau de degradao de um dado equipamento no sistema eltrico baseado na
NETA, expresso pela EQ. (6.1), consistindo na diferena entre a temperatura medida e a
temperatura ambiente no qual o mensurando est inserido:
(6.1)

onde Tp a temperatura do objeto e Tamb refere-se temperatura ambiente.

A FIG. 6.4 descreve, por meio de um grfico de linhas que relaciona as grandezas
Tamb e corrente, o comportamento de Tamb para a Chave Integra e para a Chave Degradada:

80,00

70,00

60,00
Tamb Ch.Integra (C)
Tamb (C)

50,00

40,00 Tamb Ch.Degradada

(C)
30,00 Faixa PIF NETA (C)
20,00
Faixa RI NETA (C)
10,00

0,00
100 150 200 250 300 350 400 450 500 550 630

Corrente (A)

FIGURA 6.4 - Comparao de Tamb e Faixas De Tolerncia de acordo com NETA (2013)
 70

Nota-se a grande oscilao nos valores de Tamb para a chave ntegra, oscilao
essa que, associada com os grandes intervalos de abrangncia provocados por baixos valores
de emissividade, provocam dubiedade na interpretao dos resultados em relao s faixas
PIF (Provvel Indicativo de Falha) e RI (Risco Imediato), ou seja, o ativo pode pertencer a 2
faixas de criticidade, podendo ser considerado inapto sua funo, sem ter chegado ao
trmino de sua vida til, como tambm pode ser considerado apto, mas apresentar falha
abrupta, incorrendo em perda da funo especificada, prejuzos imagem da organizao,
danos materiais e impactos econmicos diversos.
A FIG (6.5) demonstra o comportamento dos valores da Resistncia de Contato
no experimento ao longo das faixas de corrente citadas:

350,00

300,00
Resistncia (m)

250,00

200,00
RESISTNCIA CONTATO
150,00 CH.INTEGRA
RESISTNCIA CONTATO
100,00
CH.DEGRADADA
50,00

0,00
100 150 200 250 300 350 400 450 500 550 630
Corrente (A)

FIGURA 6.5 - Comparao de valores de resistncia no contato entre as chaves ntegra e degradada.

Na FIG (6.5) representado um grfico de linhas composto dos eixos horizontal

(corrente) e vertical (resistncia eltrica do contato); percebe-se que a oscilao dos valores de
resistncia no contato da chave degradada foi cerca de 30 vezes maior que nos valores de
resistncia no contato da chave ntegra, caracterizando a ocorrncia de dano ao contato. Essa
oscilao no valor da resistncia de contato para a chave degradada devido formao de
camada de xido em sua superfcie, devido ao aquecimento e exposio s intempries
ambientais, tais como tempestades, ventos, sol, agentes biolgicos, dentre outros.
 71

6.3 Resultados Tericos

O balano de energia demonstrado anteriormente foi usado como modelo terico

base para os dados de entrada do modelo de risco tcnico. Os valores de temperatura atingidos
durante o experimento foram comparados com os valores tericos e comparados com os
resultados demonstrados na FIG 6.6:

120

100
Temperatura (C)

80

60

40

20

0
0 100 200 300 400 500 600 700
Corrente (A)

Temperatura Terica Temperatura IMT Ch.Integra Temperatura IMT Ch.Degradada

FIGURA 6.6: Comparao dos valores de temperatura do modelo terico e experimental

A FIG 6.6 ilustra por meio de um grfico de linhas que relaciona a temperatura
atingida (em C) a um determinado valor de corrente (em A), que o resultado do modelo
terico aproxima-se do resultado experimental em 82% das faixas de corrente sugeridas,
indicando grande grau de acerto. Devem-se destacar os grandes valores de incerteza
expandida dos resultados de temperatura obtidos no experimento para a chave ntegra, sendo
que para a chave degradada a incerteza expandida foi cerca de cinco vezes menor, valendo-se
de um intervalo de abrangncia de 95% em ambas as medies
A TAB. 6.2 mostra os percentuais de contribuio das fontes de incerteza para os
valores de corrente ensaiados na chave seccionadora ntegra. Durante os experimentos os
valores de corrente e temperatura aumentaram na ordem de 13 e 4 vezes respectivamente,
resultando numa mudana nos valores de contribuio das fontes de incerteza de medio;
para baixos valores de corrente a principal fonte de incerteza de medio era a temperatura
ambiente e as incertezas intrnsecas do termovisor, enquanto que para valores de corrente
acima de 300 A, a fonte de incerteza de medio predominante foi a emissividade. Essa
informao relevante, pois indica que devem ser tomadas medidas preventivas quando da
 72

ocorrncia de inspeo termogrfica em ativos recm-instalados e que estiverem operando

abaixo de 50% de sua corrente nominal, sob o risco de se medir a temperatura refletida do
ativo e no sua temperatura real, assim como o uso correto dos valores de emissividade, que
o principal parmetro de objeto ajustado pelo usurio do termovisor e que influencia de modo
substancial o valor do mensurando. Outra alternativa para reduzir a incerteza causada por
baixos valores de emissividade o uso de cobertura ou modificao da superfcie
inspecionada com uso de tintas, conforme demonstrado por GOMES JR el al. (2011), onde os
autores conseguiram reduzir em 10 vezes o valor da incerteza de medio.

TABELA 6.2
Porcentagem de contribuio das fontes de incerteza para faixas de corrente ensaiadas Chave Integra

Corrente (A) T amb(C) T atm (C) Dist.(m) Incert.Int.

100 4% 80% 0% 0% 15%
150 29% 62% 0% 0% 9%
200 36% 45% 0% 1% 18%
250 41% 42% 0% 0% 16%
300 48% 46% 0% 0% 6%
350 68% 25% 0% 0% 7%
400 76% 20% 0% 0% 4%
450 76% 21% 0% 0% 3%
500 80% 17% 0% 0% 3%
550 83% 14% 0% 0% 3%
630 85% 12% 0% 0% 3%

A TAB. 6.3 mostra os percentuais de contribuio das fontes de incerteza para os

valores de corrente ensaiados na chave seccionadora degradada:

TABELA 6.3
Porcentagem de contribuio das fontes de incerteza para faixas de corrente ensaiadas Chave Degradada

Corrente (A) T amb(C) T atm(C) Dist.(m) Incert.Int.

100 31% 19% 0% 0% 49%
150 44% 16% 0% 0% 39%
200 62% 9% 0% 0% 27%
250 71% 6% 0% 1% 23%
300 75% 4% 0% 1% 20%
350 78% 5% 0% 1% 16%
400 81% 3% 0% 1% 15%
450 84% 3% 0% 1% 12%
500 86% 2% 0% 1% 11%
550 88% 2% 0% 1% 10%
630 89% 1% 0% 1% 9%
 73

Nota-se semelhana quanto aos valores de contribuio das fontes de incerteza do

experimento da chave ntegra e da degradada, sendo que, nessa ltima, a emissividade a
fonte de incerteza predominante para valores de corrente a partir de 150 A, muito em funo
dos altos valores de emissividade envolvidos na medio, devido formao de xido na
superfcie de toda a chave, mesmo aps o trabalho de acabamento superficial manual com lixa
dgua. Para correntes abaixo desse valor, as incertezas intrnsecas tornam-se ligeiramente
maiores que a emissividade.

6.4 Risco Tcnico

6.4.1 Aplicao do Histrico do Carregamento Eltrico

Para validao do modelo proposto foram usados dados de carregamento da

subestao Betim 4, localizada na cidade de Betim, na regio metropolitana de Belo
Horizonte devido sua importncia para a economia daquela cidade em funo do alto
nmero de empresas concentradas na regio, durante os primeiros 8 meses do ano de 2014,
representados por grficos de linhas relacionando a corrente eltrica aplicada em cada fase do
circuito ao longo do perodo de um ms, representados nas FIG. 6.7 e 6.8.
Os dados de carregamento extrados referem-se chaves de entrada e sada da
subestao, uma vez que so crticas por no apresentarem substitutas imediatas (by-pass),
necessitando de uma transferncia de carga que nem sempre possvel. Esses dados so
coletados automaticamente em intervalos de 15 minutos para cada fase do sistema (vermelho
azul e branco).
Notam-se algumas oscilaes de corrente tpicas de sistemas eltricos de potncia,
caracterizadas por transferncia de carga do circuito, baixa demanda, manutenes e/ou obras,
assim como demais contingncias tpicas do segmento. Foram suprimidos valores de carga
abaixo de 1 A e valores nulos, caracterizados como rudos no sistema de medio e que no
causaram aumentos significativos de temperatura. Percebe-se tambm que, os valores de
corrente oscilam entre 100 e 200 A em 60 % dos equipamentos estudados, com eventuais
picos entre 400 A. que so muito curtos frente durao de tempo total (cerca de 5%).
 74

400.000
Corrente (A/1000)
300.000

200.000

100.000

0
janeiro-14 fevereiro-14 maro-14 abril-14 maio-14 junho-14 julho-14 agosto-14

Corrente Fase AZ Corrente Fase BR Corrente Fase VM

BETQ404F
400.000
Corrente (A/1000)

300.000

200.000

100.000

0
janeiro-14 fevereiro-14 maro-14 abril-14 maio-14 junho-14 julho-14 agosto-14

Corrente Fase AZ Corrente Fase BR Corrente Fase VM

BETQ405F
FIGURA 6.7 - Histrico de correntes de carga em cada circuito da Subestao Betim 4 no ano de
2014 (A)
 75

400.000
Corrente (A/1000)

300.000

200.000

100.000

0
janeiro-14 fevereiro-14 maro-14 abril-14 maio-14 junho-14 julho-14 agosto-14

Corrente Fase AZ Corrente Fase BR Corrente Fase VM

BETQ407F
400.000
Corrente (A/1000)

300.000

200.000

100.000

0
janeiro-14 fevereiro-14 maro-14 abril-14 maio-14 junho-14 julho-14 agosto-14

Corrente Fase AZ Corrente Fase BR Corrente Fase VM

BETQ408F

400.000
Corrente (A/1000)

300.000

200.000

100.000

0
janeiro-14 fevereiro-14 maro-14 abril-14 maio-14 junho-14 julho-14 agosto-14

Corrente Fase AZ Corrente Fase BR Corrente Fase VM

BETQ410F

FIGURA 6.8 - Histrico de correntes de carga em cada circuito da Subestao Betim 4 no ano de
2014 (B)
 76

6.4.2 Temperaturas atingidas e Formao de Camada de xido

A passagem de corrente produz um aumento de temperatura na regio do contato

dos ativos citados que pode ser calculado pelo modelo terico proposto. Esse aumento de
temperatura demonstrado na FIG. 6.9:

58
56 54
55
54
Temperatura (C)

52 52
50 49 49
48
46
44
42
40
BETQ404F BETQ405F BETQ407F BETQ408F BETQ410F

FIGURA 6.9 - Valores de temperatura mxima atingidos para os respectivos ativos

Os valores de temperatura citados na FIG.6.9 esto cerca de 25% abaixo do valor

limite estabelecido pela NBR IEC 60694:2006 para contatos de cobre nu, que de 75C,
constituindo em uma informao importante para a gesto da vida til desses ativos, bem
como operacionalizao do sistema.
Os valores de corrente mxima atingidos ao longo do perodo de estudo tambm
seguem esse padro, ou seja, operam cerca de 27% abaixo da corrente nominal do
equipamento, fato esse evidenciado pela FIG. 6.10 a seguir:
480
460
440 429,30
437,40
Corrente (A)

420 416,10
400 388,50 391,20
380
360
340
320
300
BETQ404F BETQ405F BETQ407F BETQ408F BETQ410F

FIGURA 6.10 - Valores de Corrente Mxima atingidos para os respectivos ativos

 77

No eixo vertical so representados os valores de corrente aplicados, enquanto que

no eixo horizontal so discriminados os ativos submetidos a tais correntes. Outro ponto a
considerar a durao efetiva de aquecimento do contato, pois o acmulo de camada de xido
ser to maior quanto o aumento da temperatura, bem como do tempo de aquecimento, ou
seja, o aumento do tempo de aquecimento para um valor superior de temperatura que
realmente causa o dano ao contato, caracterizado pelo aumento da camada de xido no
contato.
Nesse trabalho, a frequncia de aquecimento para os ativos em estudo
representada por histogramas construdos a partir das distribuies de frequncia das
temperaturas em funo das condies de carregamento. A FIG (6.11) demonstra esse
fenmeno:
20000 20000
Frequncia Absoluta

Frequncia Absoluta
15000 15000

10000 10000

5000 5000

0 0
20-2525-3030-3535-4040-4545-50 20-2525-3030-3535-4040-4545-50
Faixas de Temperatura (C) Faixas de Temperatura (C)

Fase BR Fase AZ Fase VM Fase BR Fase AZ Fase VM

BETQ404F BETQ405F

20000 20000
Frequncia Absoluta
Frequncia Absoluta

15000 15000

10000 10000

5000 5000

0 0
20-25 25-30 30-35 35-40 40-45 45-50 20-25 25-30 30-35 35-40 40-45 45-50
Faixas de Temperatura (C) Faixas de Temperatura (C)

Fase BR Fase AZ Fase VM Fase BR Fase AZ Fase VM

BETQ407F BETQ408F
 78

12000

Frequncia Absoluta
10000
8000
6000
4000
2000
0
20-25 25-30 30-35 35-40 40-45 45-50
Faixas de Temperatura (C)

Fase BR Fase AZ Fase VM

BETQ410F

FIGURA 6.11 - Histogramas dos valores de temperatura e respectivas frequncias

Os histogramas mostrados anteriormente ilustram que, durante cerca de 60% do

carregamento ocorrem temperaturas de aquecimento na ordem de 25 a 30C, ou seja,
temperaturas cerca de 63% abaixo do valor de temperatura limtrofe estabelecido pela IEC
NBR 60694:2006. Contudo, nota-se que as chaves BETQ404F e BETQ410F possuem valores
de frequncia absoluta significativos para as faixas de temperatura de 30 a 35C e 35 a 40C ,
o que se constitui em um fator importante de observao, quanto vida til, a ser observado
mais adiante nesse trabalho.
Devido ao aquecimento sofrido pelo contato por efeito Joule, tem-se a formao
de uma dada camada de xido. A FIG 6.12 expe os resultados da aplicao da EQ (5.2) para
cada um dos equipamentos, usando como dados de entradas os valores de corrente para cada
fase do sistema expostos nas FIG. 6.10 e 6.11:
24,00
Camada de xido Formada

23,50
23,00
22,50
22,11
()

22,00 21,96
21,50
21,36 21,23 21,17
21,00
20,50
20,00
BETQ404F BETQ405F BETQ407F BETQ408F BETQ410F
FIGURA 6.12 - Resultados de Camada Formada durante o perodo de Janeiro-Agosto 2014
 79

Os equipamentos BETQ404F e BETQ410F foram os que obtiveram os maiores

valores de camada formada, fato esse explicado pela maior frequncia de temperaturas entre
25 e 40C. H de se destacar tambm que, em BETQ404F existe uma incerteza 10 vezes
maior que BETQ410F, devido aos valores de corrente diferentes entre as fases que compem
o circuito, levando a valores dispersos entre si. Contudo, a oscilao desse valor de camada
pequena em escala, uma vez que a espessura da camada expressa em Angstroms (10-10 m).
Esse fenmeno tambm refletido nos equipamentos BETQ405F e BETQ407F
pelo mesmo motivo, entretanto, o fato desses circuitos terem atingido temperaturas entre 20 e
30C durante cerca de 70% do tempo fez com que a camada formada fosse, em mdia, cerca
de 5% menor que os valores atingidos por BETQ404F e BETQ410F.
No equipamento BETQ408F visualiza-se o valor mais baixo de formao de
camada, pelo motivo de nesse circuito haver baixos valores de temperatura (entre 20 e 25C)
durante 60 % do tempo, ou seja, a maior parte do perodo.

6.4.3 Resistncia de Contato

A FIG.6.13 ilustra os valores de resistncia de contato calculados para os referidos

ativos, tomando por base o valor da temperatura mxima atingida em cada circuito estudado.
Resistncia de Contato ()

23,00

21,56 21,74
21,00 21,18

19,44
19,00 19,01

17,00

15,00
BETQ404F BETQ405F BETQ407F BETQ408F BETQ410F

FIG 6.13 - Resultados de Resistncia de Contato obtida no perodo

Nota-se que os valores obtidos de resistncia de contato oscilam em torno de 14 %

em relao aos valores nominais, contudo no caracterizando um aumento significativo da
resistncia eltrica, resultando em pequenas perdas por efeito Joule devido ao aumento da
resistncia.
 80

6.4.4 Influncia do Aumento de Temperatura na vida til do equipamento

A influncia do aumento da temperatura na vida do contato determinada por

meio da aplicao sucessiva da EQ. (5.2). Essa influncia ilustrada num grfico que
relaciona a vida til do contato (em horas) e a temperatura do contato (em C) exposta a
seguir:
1,00E+07
1,00E+06
Vida til esperada (h)

1,00E+05
1,00E+04
1,00E+03
1,00E+02
1,00E+01
1,00E+00
20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75
Temperatura (C)

FIGURA 6.14 - Representao grfica da influncia da temperatura na vida do contato

A temperatura citada na FIG (6.14) calculada para regime permanente, logo se

pode notar que, para um valor de temperatura de 20C, o contato ter uma vida til esperada
de 2.653.152 horas e, para uma temperatura limtrofe indicada na NBR IEC 60694:2006 de
75C, tem-se uma vida til esperada de 4818 horas. Para esses clculos foram considerados
valores de camada inicial de 20 e camada final de 100 .
Percebe-se uma queda acentuada da vida til para valores de temperatura entre 20
e 25C, onde essa queda de, aproximadamente, 49%. Portanto se pode inferir que, o
aumento de temperatura durante um perodo de tempo prolongado sobre regime permanente
induz a uma queda significativa do valor de vida til esperada do contato.

6.4.5 Clculo da Vida til Remanescente

Levando em considerao os valores de camada formada no perodo como

camada inicial e o aquecimento em regime permanente para o maior valor de temperatura
atingido no perodo, a Vida til Remanescente (VUR) foi calculada, estimando assim a
durabilidade do contato mediante a condio de exposio citada. Esse valor foi estimado
 81

para os valores mximo e mnimo de temperatura de cada um dos ativos citados, em funo
da variao de temperatura entre as fases do seccionador. Para tanto, foram estimados dois
cenrios, intitulados Pior Cenrio e Melhor Cenrio. Foi considerado como tempo
mximo de operao o tempo de depreciao contbil indicado pela ANEEL (2008), que de
15 anos ou 131.400 horas, considerando um regime de trabalho contnuo. Os resultados de
VUR esto expressos na TAB. (6.4):
TABELA 6.4
Vida til Remanescente no Pior Cenrio para os ativos propostos

TEMPERATURA (C) VUR PIOR CENRIO (h) %VUR PIOR CENRIO

BETQ404F 54 42.846 33%
BETQ405F 55 38.331 29%
BETQ407F 49 72.785 55%
BETQ408F 49 70.392 54%
BETQ410F 52 50.676 39%

Tomando por base os valores de temperatura propostos e sabendo que a camada

final S de 100 , os valores de VUR indicam uma vida acima de 40.000 horas em 80% dos
casos, exceo feita a BETQ405F que, devido a um valor de temperatura elevado pontual
atingido durante o perodo de estudo, teve uma VUR calculada de aproximadamente 38.000
horas, evidenciando a influncia da temperatura no clculo da vida til estimada do contato.
Os valores absolutos de VUR foram representados em porcentagem atravs da
razo entre VUR e a vida de depreciao contbil prevista de 131.400 horas, buscando
aperfeioar o uso do ativo, igualando sua vida tcnica em operao sua vida contbil.
Tendo em vista o ambiente descrito como Melhor Cenrio foi elaborada a
TAB. (6.5):
TABELA 6.5
Vida til Remanescente no Melhor Cenrio para os ativos propostos
%VUR MELHOR
TEMPERATURA (C) VUR MELHOR CENRIO (h)
CENRIO
BETQ404F 48 77.984 59%
BETQ405F 50 62.166 47%
BETQ407F 46 100.761 77%
BETQ408F 44 135.689 103%
BETQ410F 50 66.208 50%

Para o Melhor Cenrio atingiu-se valores de vida de at 3x maiores que os

valores de VUR no Pior Cenrio, muito devido s temperaturas envolvidas, em mdia 10%
menores em relao ao cenrio anterior. Destaca-se o caso do ativo BETQ408F, que
 82

extrapolou em 3% a vida til estabelecida para o equipamento. Isto se deve em boa parte para
os baixos valores de temperatura e da mnima formao de camada de xido no contato da
chave.
Orientando-se por tabelas de confiabilidade, ao avaliar o percentual de VUR,
possvel classificar a condio do ativo de acordo com a TAB. (6.6). Para cada faixa da
grandeza, pode-se associar uma probabilidade de falhas, conforme mostra a TAB. (6.7).
TABELA 6.6
Classificao das Grandezas em Faixas (Alarme)
CONDIO DESCRIO Lim.Inf.Faixa(%VUR) Lim.Sup.Faixa(%VUR)
Valores da grandeza prximos a
Normal 60% 100%
parmetros de novo.

Grandeza apresenta piora leve,

Alterada envelhecimento normal. Acompanhar 20% 59%
evoluo confirme rotina.

Grandeza indica que existe defeito ou o 10% 19%

equipamento/
Degradada
componente aproxima-se do fim de
vida til. Programar interveno.

Grandeza indica que existe defeito 0% 9%

Crtica grave, que em curto tempo evoluir
para falha. Realizar correo urgente.
FONTE: DINIZ (2013)
TABELA 6.7
Classificao quanto Probabilidade de Perda da Funo Principal
CONDIO DESCRIO
Nenhuma grandeza est fora de limites, nem apresenta tendncia de violao.
Improvvel p=5%
p=5% Ativo em boa condio.

Uma ou mais grandezas apresentam tendncia de violao de limites, porm

Remota p=20% encontram-se abaixo dos limites. Pequenos defeitos que podem aguardar
correo na prxima manuteno de rotina.

Uma ou mais grandezas violaram os limites e continuam com tendncia de

Provvel p=50% agravamento. Defeitos importantes que requerem manuteno programada
fora da rotina.

O nvel de violao da grandeza crtico, requerendo aes imediatas.

Certa p=95% Defeitos graves que requerem manuteno urgente ou retirada do
equipamento de servio.
Fonte: DINIZ (2013)

Com essas premissas, e orientado pela EQ. (6.3) ao extrapolar os dados, possvel
traar faixas que representem diferentes fases da vida do ativo FIG.6.15 (DINIZ, 2013).
 83

Normal

Alterada

Degradada
Crtica

FIGURA 6.15 - Faixas Crticas de vida de uma chave seccionadora aplicada em subestaes

No primeiro tero da vida, mesmo com um aumento da temperatura de at 10C, o

comportamento da chave to bom quanto uma nova, com VUR entre 100 e 60%. A partir de
um valor limite de VUR de 60%, considera-se a chave com um envelhecimento aprecivel,
sendo necessrio o acompanhamento por meio de inspees tipicamente executadas pela
organizao. A faixa de programao de substituio do equipamento dar-se-ia atingir a faixa
Degradada, em que a temperatura de, aproximadamente, 58C, sendo que intervenes
urgentes iriam ser necessrias para faixas de VUR abaixo de 10%, ou seja, em temperaturas a
partir de 66C.

6.5 Risco Econmico

O impacto financeiro de eventuais falhas das chaves seccionadoras em estudo est

demonstrado na TAB. (6.8), orientando-se pelas condies citadas nas TAB. (6.6) e (6.7),
tambm levando em considerao o ponto de substituio como sendo a entrada na faixa
Degradada, ou seja, assumida uma probabilidade p=0,2 de o ativo falhar.
Em todos os casos a exposio financeira negativa, significando que no ,
financeiramente, interessante postergar a interveno at o contato degradar-se por completo.
Nesses casos, os custos de falha justificam uma interveno antes do esgotamento da vida do
contato, considerando valores de perdas de energia na ordem de centavos de reais. Esse fato
pode ser observado na TAB. (6.9).
 84

Contudo, os valores de exposio financeira (mesmo que negativos) so baixos,

diante dos demais custos envolvidos, levando em considerao que estes foram os mesmos
para todos os pontos operativos. Alm disto, vlido recordar-se que se tratam de
equipamentos sem quaisquer tipo de by-pass, ou seja, no possuem reserva.

TABELA 6.8
Impacto Financeiro de uma falha (em R$)

Equipamento Material Atendimento Reparo Lucro Cessante Penalidades Total

BETQ404F -2733,00 -1934,36 -957,00 -348,72 -9963,40 -15936,48
BETQ405F -2733,00 -1934,36 -957,00 -348,72 -9963,40 -15936,48
BETQ407F -2733,00 -1934,36 -957,00 -348,72 -9963,40 -15936,48
BETQ408F -2733,00 -1934,36 -957,00 -348,72 -9963,40 -15936,48
BETQ410F -2733,00 -1934,36 -957,00 -348,72 -9963,40 -15936,48

TABELA 6.9
Exposio Financeira calculada para cada equipamento

Pior Cenrio Melhor Cenrio

Equipamento Exposio Financeira (R$) Exposio Financeira (R$)
BETQ404F -194,76 -299,54
BETQ405F -174,86 -241,49
BETQ407F -268,9 -413,49
BETQ408F -268,87 -571,04
BETQ410F -216,87 -268,95

6.6 Aplicao da metodologia no banco de dados

6.6.1 Seleo dos Relatrios de Inspeo no Banco de Dados

De posse dos relatrios de inspeo termogrfica disponveis no banco de dados

foram selecionados relatrios dos ativos BETQ 408F5, BETQ404F3, BETQ407F3 e
BETQ410F3 conforme TAB (6.10):
TABELA 6.10
Dados extrados dos relatrios de inspeo termogrfica

Corrente Prazo para Temp.

tref (C) Tamb (C) Medida Pontuao interveno Aparente
(A) (dias) (C)
BETQ408F5 38,1 25 150 18 60 60,00
BETQ404F3 91 23 300 25 0 113,70
BETQ407F3 21,3 29 135 12 120 52,60
BETQ410F3 78,7 29 200 25 0 111,70
 85

Na TAB (6.10) esto dispostos dados que compe um tpico relatrio de inspeo
termogrfica, como o valor da temperatura ambiente, a corrente aplicada no circuito quando
da inspeo e o valor de elevao de temperatura tref , bem como a pontuao atingida em
funo de parmetros citados anteriormente , o prazo recomendado para interveno e o valor
da temperatura medida durante a inspeo (aqui denominada Temperatura Aparente). Se
observa que existe uma variao de 433 % nos valores de tref, onde os ativos BETQ 404F3 e
BETQ 410F3 tiveram medies de temperatura com resultados acima dos 110 C, indicando
uma falha incipiente, razo pela qual a pontuao nesses ativos ser superior pontuao
mxima e o prazo para interveno ser imediato.
Os valores de temperatura ambiente oscilaram cerca de 16%, em funo dos
horrios de realizao das inspees (entre 17:00 e 20:00 horas), o que no coincidiu
necessariamente com um aumento do carregamento do circuito que em 75 % dos casos
permaneceu abaixo de 300 A.
De acordo com os procedimentos operacionais vigentes na Cemig-D, os valores
de emissividade adotados para obteno de tais informaes so constantes e iguais a 0,75.
Tal abordagem ser questionada durante o levantamento do risco tcnico.

6.6.2 Risco Tcnico

O modelo de risco tcnico apresentado nesse trabalho foi aplicado nos ativos
listados na TAB (6.10). As informaes constantes dessa tabela foram usadas como entradas
para determinar a Vida til Remanescente (VUR) dos ativos, bem como comparar a
metodologia proposta com outros critrios vigentes.
Para tanto, as temperaturas foram recalculadas com o uso do software IMT
desenvolvido por TEIXEIRA (2012), levando em considerao os valores de emissividade
encontrados na realizao do experimento com a chave degradada em funo das correntes
aplicadas. Os resultados esto expostos na FIG (6.16)
 86

120,00

110,00

100,00
Temperatura (C)

90,00

80,00 Temp.IMT (C)

Temp. Aparente (C)
70,00

60,00

50,00

40,00
BETQ408F5 BETQ404F3 BETQ407F3 BETQ410F3

FIGURA 6.16 : Comparao dos valores de Temperatura Aparente e calculada por meio do software IMT

A FIG (6.16) composta de dois eixos ortogonais, contendo os cdigos dos ativos
no eixo horizontal e os valores de temperatura em graus Celsius no eixo vertical. Observando
a disposio dos dados, pode-se inferir que a uniformizao dos valores de emissividade
preconizados pela Cemig D induz valores errneos de medio da temperatura ,
empobrecendo a qualidade das medies realizadas. Em nenhum dos casos estudados o valor
da Temperatura Aparente foi igual ao intervalo de abrangncia fornecido pelo IMT, se
aproximando do limite superior do intervalo de abrangncia para a temperatura do ativo
BETQ408F5.
Em todos os casos estudados, os valores de incerteza expandida U95% nunca
foram maiores que 7,7% do Resultado Base, com destaque para a contribuio dos valores de
emissividade para a incerteza de medio, que sempre foram maiores que 70%,
caracterizando a importncia do correto uso dos parmetros radiomtrico no uso e preparao
do termovisor para inspees termogrficas.
Os valores de temperatura calculados pelo IMT para os ativos BETQ408F5 e
BETQ410F3 esto acima dos valores estabelecidos pela IEC 60694:2006, contudo so cerca
de 20% menores que os valores encontrados nos relatrios de inspeo, muito em funo dos
valores de emissividade empregados.
A FIG. 6.17 ilustra os valores de tref segundo o relatrio de inspeo (tref 1) e de
acordo com o IMT (tref2)
 87

100
90
80

tref (C) 70
60
50 tref1 (C)
40 tref2 (C)
30
20
10
0
BETQ408F5 BETQ404F3 BETQ407F3 BETQ410F3

FIGURA 6.17 : Comparao dos valores de tref 1 e tref2

A FIG 6.17 indica os valores de tref1 e tref2 em relao cada ativo estudado. Os
valores de temperatura de referncia para o clculo de tref2 foram obtidos do modelo terico
demonstrado anteriormente e subtrados dos valores de temperatura calculados com o IMT.
Os valores apontam diferenas entre os resultados de tref1 e tref2 que variam at
44%, como no caso do ativo BETQ404F3, onde o valor terico de referncia 40 % maior
que o empregado no relatrio, o que contribui para a diferena significativa encontrada. O
valor de tref1 para o ativo BETQ408F5 tambm varia alm dos intervalos de abrangncia em
funo dos valores de temperatura do modelo terico cerca de 6C maior que o valor da
temperatura de referncia adotada no relatrio. Nos demais ativos, esse parmetro varia muito
prximo dos intervalos de abrangncia adotados.
A FIG 6.18 compara os valores de tamb1(de acordo com os relatrios de inspeo)
e tamb2(em relao ao calculado por meio do IMT), por meio de um grfico de barras em tons
de preto e cinza. Em ambos os casos o valor de temperatura ambiente adotado foi o indicado
no relatrio de inspeo termogrfica.
Na FIG 6.18 visualiza-se a grande diferena entre os valores tamb1 e tamb2 para o
ativo BETQ404F3, diferena essa que se da em funo da temperatura ambiente ser a mais
baixa registrada dentre os ativos estudados e a discrepncia entre os valores de temperatura
citados na FIG 6.16.
 88

100,00 90,70
90,00 82,70
80,00
68,55
70,00 62,90
tamb (C)

60,00
50,00 tamb2(C)
40,00 35,00 tamb1(C)
30,32
30,00 23,60
20,00 16,11

10,00
0,00
BETQ408F5 BETQ404F3 BETQ407F3 BETQ410F3

FIGURA 6.18 : Comparao dos valores de tamb 1 e tamb2

Desconhecem-se as condies de medio e, consequentemente, a incerteza

associada ao valor da temperatura ambiente adotada pelo relatrio, fator esse que pode ser
preponderante na adoo desse critrio de falha, uma vez que no se sabe o comportamento
estatstico dessa grandeza, o que no garante dados com qualidade e confiabilidade
asseguradas para uma tomada de deciso adequada.
A NBR IEC 60694(2006) estabelece que, para contatos de cobre n, o valor
mximo de elevao de temperatura para temperaturas ambientes menores que 40C deve ser
igual a 35 C. De acordo com tal critrio, os ativos BETQ404F3 e BETQ410F3 extrapolam a
especificao, tanto para tamb 1 e tamb2.Para BETQ408F5 existe uma condio extrema para
tamb 1, contudo tamb2 indica ,levando em conta a incerteza expandida da temperatura ,um
valor mximo de 34,21 C para 95% dos casos, onde em 5% dos casos pode ocorrer valores
acima de 35C.Em BETQ407F3 tamb 1 e tamb2 encontram-se cerca de 40% abaixo da
condio limite especificada.
A Cemig D usa uma tabela de pontuao que relaciona os valores de pontuao
obtidos e um prazo mximo para interveno no ativo. Essa pontuao foi adaptada usando as
faixas de criticidade adotadas por esse trabalho, a fim de estabelecer uma base de comparao
entre os modelos de criticidade. Essa adaptao representada pela FIG.6.19:
 89

FIGURA 6.19: Nveis de criticidade em funo da pontuao atribuda

No eixo vertical esto representados os valores de porcentagem de prazo para

interveno, enquanto que no eixo horizontal so representados os valores de pontuao
atribudos ao relatrio. Quando o relatrio indica pontuao de at 10 pontos, entende-se que
o ativo requer apenas monitoramento de acordo com os planos de manuteno vigentes. Para
valores de pontuao entre 10 a 20 pontos o ativo entra na faixa alterado, onde se entende
que seu funcionamento ainda est a contento, contudo uma interveno se faz necessria,
sendo o prazo para tal interveno entre 120 e 30 dias, para as pontuaes de menor e maior
expresso, respectivamente. A partir de 21 pontos o ativo entra na faixa degradado, que
indica uma probabilidade de falha mais alta, onde no ocorrendo a interveno num prazo de
at 10 dias, pode levar o ativo a atingir a faixa crtico, faixa na qual o ativo tem um risco
iminente de falha, com pontuao superior a 24 pontos e prazo de interveno imediato.
Analisando a FIG (6.19) e comparando com os valores de pontuao expressos na
TAB (6.10) entende-se que os ativos BETQ 404F3 e BETQ 410F3 j estariam em falha
iminente, com prazo de interveno imediato, ambos pertencentes faixa crtico.
J os ativos BETQ407F3 e BETQ408F5 pertencem faixa alterado, com prazo
de interveno entre 120 e 60 dias, respectivamente, o que fornece uma informao relevante
do ponto de vista de programao de interveno, podendo eventualmente priorizar a
interveno no ativo BETQ408F5 em detrimento ao ativo BETQ407F3.
 90

A FIG.6.20 indica os valores de VUR para cada um dos ativos estudados,

baseados nas temperaturas calculadas por meio do IMT, com as respectivas incertezas
expandidas associadas.
120%
114%
100%

80%

66%
60% VUR min(%)
VUR max(%)
40% 42%

20% 18%
2%
1% 0% 1%
0%
BETQ408F5 BETQ404F3 BETQ407F3 BETQ410F3

FIGURA 6.20: Comparao de Valores de VUR min e VUR mx.

Os valores de VUR indicam o trmino da vida til dos ativos BETQ404F3 e

BETQ410F3, indicando , no mximo,3170 horas e 1199 horas de durao, respectivamente.
Em ambos os casos, a temperatura acima do recomendado contribui para a reduzida vida til
dos ativos.
Para BETQ408F5 os valores de VUR oscilam de 42% (indicando a faixa
Alterada) at 18% (pertencente faixa Degradada). Tal variao explicada pelos
valores de temperatura utilizados e da hiptese simplificadora de aquecimento em regime
permanente. Isso evidencia a importncia de se realizar medies com incertezas associadas,
de modo a fornecer informaes de qualidade para a tomada de deciso. Contudo dentro dessa
faixa a funo do ativo parcialmente prejudicada, sem que haja probabilidade de falha
iminente.
Em BETQ407F3 VUR min e VUR mx. possuem valores que so categorizados na
faixa Normal, onde a funo do equipamento desempenhada de maneira satisfatria,
sendo que para VUR mx o valor ultrapassa a vida contbil do ativo de 131.400 horas em cerca
de 17.965 horas.
A TAB.(6.11) apresenta um resumo dos resultados obtidos com a aplicao dos
vrios modelos de criticidade apresentados, comparando-os metodologia proposta neste
trabalho.
 91

TABELA 6.11
Resumo de resultados dos modelos de criticidade

DADOS IMT
NETA
Cdigo do NBR IEC Metodologia Assertividade
CEMIG
Ativo Critrio tref Critrio tamb 60694:2006 Proposta (%)

BETQ408F5 RI PIF Alterado Conforme Alterado 75%

BETQ404F3 RI RI Crtico No Conforme Crtico 100%
BETQ407F3 RI PIF Alterado Conforme Normal 75%
BETQ410F3 RI RI Crtico No Conforme Crtico 100%

Em cada uma das colunas so apresentados os resultados de acordo com o critrio

de criticidade adotado. Na segunda e terceira colunas os critrios tref e tamb so calculados
em funo dos valores de temperatura do modelo terico e do IMT. Para efeito de
comparao, admite-se que o modelo satisfatrio ao conseguir identificar se o ativo est
apto ou no para cumprir sua funo requerida.
Na ltima coluna mostrada a assertividade da metodologia, que para os ativos
BETQ404F3 e BETQ410F3 foi de 100%, o que demonstra que tais equipamentos esto
inaptos para cumprir sua funo requerida, pois em todos os critrios o resultado foi o mesmo.
O ativo BETQ407F3 indica uma assertividade de 75%, onde o critrio tref foi o
nico que indicou falha. Tal resultado pode ser atribudo metodologia de clculo dessa
grandeza, onde a temperatura do equipamento tomado como referncia pode ser inadequada,
gerando um erro de interpretao do resultado, onde o dado fornecido no possui elevada
confiabilidade.
Para BETQ408F5 a assertividade foi de 75%, onde novamente o nico critrio
que aponta para uma falha iminente do ativo tref, onde a temperatura do equipamento de
referncia preponderante no clculo da variao de temperatura entre os equipamentos.

6.6.3 Risco Econmico

Os resultados da aplicao do modelo de risco econmico no banco de dados

esto expostos na TAB (6.12). No clculo do risco econmico, foram utilizados somente os
critrios de criticidade do modelo da Cemig D e o proposto neste trabalho. Tais critrios
foram usados por atrelarem diversos estados de conservao do ativo, e no somente
caracterizar o equipamento como bom ou ruim.
 92

TABELA 6.12
Resultados de exposio financeira para modelos de criticidade Cemig D e proposto

Exposio
Exposio
Cdigo do Financeira
Financeira
Ativo Modelo
CEMIG (R$)
Proposto (R$)
BETQ408F5 -116,80 -190,51
BETQ404F3 -113,71 -118,71
BETQ407F3 -117,44 -521,00
BETQ410F3 -113,71 -114,00

Para a aplicao da metodologia foi considerada que a probabilidade de falha de

0,2 e o tempo de vida til igual ao exposto anteriormente nas FIG (6.22) e (6.23). Para o
critrio da Cemig D foi considerada que a vida til remanescente era igual ao prazo mximo
para interveno.
Face ao exposto acima, nota-se que os valores de exposio financeira so
negativos, indicando que no vantajoso postergar a interveno, justificando uma
interveno antes do esgotamento da vida do ativo, lembrando que se trata de equipamentos
sem quaisquer tipos de by-pass, ou seja, no possuem reserva.
Os valores de exposio financeira para o modelo proposto maior do que o
modelo adotado pela Cemig D, sendo que nos ativos BETQ408F5 e BETQ407F3 esse valor
excepcionalmente alto, em funo de serem equipamentos com vida til remanescente mais
alta que BETQ404F3 e BETQ410F3.
 93

7. CONCLUSO

O presente trabalho destinou-se a desenvolver uma metodologia para definio e

formulao de estratgia segundo os princpios pregados pela Gesto de Ativos, onde a chave
seccionadora foi o ativo selecionado. A anlise do banco de dados de inspees termogrficas
da Cemig-D foi usada como ponto de incio do trabalho, a fim de descobrir quais eram os
tipos de chaves que possuam um nmero considervel de anomalias trmicas, bem como a
localizao dessas anomalias, modos de falha, graus de criticidade atingidos, alm de outros
parmetros controlados por esse tipo de inspeo.
O aquecimento do equipamento foi devidamente modelado atravs de um balano
de energia, utilizando a conceituao bsica dos mecanismos de transferncia de calor
disponveis na literatura.
O modelo proposto foi validado por meio de prtica experimental,
metodologicamente fundamentada nas normas praticadas pelo setor em ensaios de rotina do
ativo, tais como a IEC NBR 60694:2006 e IEC NBR 62271:102.
Para predio da vida til do ativo equaes disponveis na literatura foram
utilizadas, de tal forma a determinar a vida til remanescente, sob condies especficas e
mensurveis, baseado no modo de falha predominante. A seguir, foram estimados os riscos
tcnico e econmico envolvidos com a operao e manuteno do ativo.
A anlise do banco de dados revelou que chaves entre 11 e 20 kV so
responsveis pela maioria das anomalias trmicas detectadas em inspees termogrficas na
Cemig D, com correntes de trabalho entre 100 e 300 A. Tal anlise indicou tambm que o
modo de falha predominante nesse ativo o aquecimento do contato principal, em que o valor
de elevao de temperatura chega at em 46C em aproximadamente metade dos casos.
As informaes oriundas da anlise do banco de dados serviram como base para a
elaborao do procedimento experimental descrito na Metodologia desse trabalho. Realizando
o experimento com chaves ntegra e degradada e medindo a temperatura com o termovisor,
percebeu-se a disparidade na incerteza de medio, donde pode-se inferir que possvel
determinar que uma chave degradada est, de fato, degradada, ao passo que isso no
possvel para a chave ntegra, devido aos altos valores de incerteza associados ao resultado.
 94

Em paralelo execuo do procedimento experimental formulou-se o processo de

transferncia de calor no ativo quando em operao. Aps identificar os mecanismos de
transferncia de calor atuantes, foram estabelecidas as relaes matemticas correspondentes,
de modo que foram identificadas as possibilidades de resoluo pelo mtodo analtico e
numrico, onde foi adotada a soluo numrica, por levar em considerao as variaes locais
de aquecimento. O modelo foi validado por meio da comparao dos resultados da soluo
numrica com os resultados obtidos na realizao do procedimento experimental, sendo o
modelo terico condizente com a realidade apontada pelo experimento.
Usando o modelo terico de aquecimento por base e as equaes de clculo de
Resistncia de Contato disponveis na norma IEC TR 60943(2009) e em BRAUNOVIC et al
(2006), o risco tcnico do ativo foi estimado, por meio dos dados de carregamento eltrico
referente ao ano de 2014 e dos valores obtidos do modelo terico. Os ativos avaliados
obtiveram resultados satisfatrios de risco tcnico, situados dentro das faixas Normal e
Alterada, onde aes de correo no so recomendadas, sendo necessrias somente aes
de monitoramento e controle.
Baseado no risco tcnico, o risco econmico foi calculado com aplicao do
mtodo da exposio financeira, que resultou em valores negativos para todos os ativos
estudados, donde se conclui que uma possvel postergao da interveno desaconselhvel,
devido ao alto custo envolvido na ocorrncia de falha.
A fim de consolidar o modelo proposto, relatrios de inspeo termogrfica da
mesma subestao observada foram usados como dados de entrada para avaliao do grau de
acerto da metodologia empregada, assim como outros modelos disponveis na literatura. Foi
constatado que a metodologia indicou um grau de acerto de pelo menos 75% em relao aos
outros modelos de criticidade existentes.
Face aos resultados expostos, a primeira ao a ser tomada a investigao de
outros modos de falha existentes em chaves seccionadoras de 15 kV, bem como a
elaborao de metodologias, segundo os princpios da Gesto de Ativos, para tais modos
de falha. Essa ao justifica-se, pois o presente trabalho cobre os riscos tcnico e econmico
associados aos dispositivos seccionadores de 15 kV para o aquecimento do contato principal,
sem levar em conta aquecimentos em outras partes do dispositivo, como o conjunto da
articulao, o gancho de abertura em carga, a mola de toro, dentre outros, que constituem-se
em pontos do equipamento tambm suscetveis ao da elevao de temperatura com danos
sua integridade fsica, propriedades mecnicas e desempenho operacional.
 95

Alm da investigao de outros modos de falha para chaves seccionadoras de 15

kV, existem outros tipos de dispositivos seccionadores com funcionamento similar, contudo
com tenso de alimentao diferentes dentro do parque de ativos da Cemig-D, tornando-se,
ento, interessante desenvolver modelos de risco tcnico e econmico para tais
equipamentos, que geralmente quando influenciados por uma falha produzem impactos
no desempenho operacional da SE. O trabalho de LINDQUIST et al (2005) constitui-se como
uma boa base para o desenvolvimento de modelos de risco tcnico e econmico para
seccionadores com tenso de 220 kV e 400 kV.
Durante a realizao da prtica experimental, notou-se uma grande disperso dos
valores de emissividade para a chave seccionadora ntegra e para a chave seccionadora
degradada. Esses valores introduziram nas medies faixas significativas de incerteza
(especialmente para a chave seccionadora ntegra). Portanto, de fundamental importncia,
quando da inspeo termogrfica, ajustar corretamente os valores de entrada (parmetros
do objeto) no termovisor, objetivando reduzir as fontes de incerteza associadas ao sistema de
medio.
Neste trabalho as fontes de incertezas associadas termografia infravermelha
foram discutidas, bem como suas influncias no resultado da medio, tornando-se uma fonte
rica de discusso, onde deseja-se saber qual a faixa de valores que podem ser obtidos de uma
medio mediante uma dada probabilidade de ocorrncia. Essa variao passa a ser um
interessante objeto de estudo ao ser associado a um dado econmico na formulao de uma
estratgia de Gesto de Ativos. Sendo assim, interessante associar (sempre que possvel)
parmetros metrolgicos aos resultados de medio termogrfica, a fim de garantir uma
maior confiabilidade do resultado proposto, aumentando a credibilidade da tcnica, tornando-
a uma importante aliada do Gestor de Ativos, desde que subsidiada por modelos de risco
tcnico e econmico coerentes.
O modelo de risco econmico desenvolvido neste trabalho foi o mesmo adotado
por DINIZ (2013), que fez uso da Exposio Financeira. Como sugesto de continuidade do
trabalho, pode-se avaliar e comparar outros modelos disponveis na literatura, objetivando
enriquecer a discusso, como, por exemplo, o modelo trabalhado por MARQUES et al
(2014).
 96

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ABSTRACT

In view of the business environment of the Brazilian electricity sector, increasingly hostile to
operational inefficiency (because of increased costs) and inadequate management of the
quality and quantity of information provided, the electric utilities feel the need to improve
operating policies and maintenance, aimed at reducing costs and maximizing the availability
and reliability of their equipment, these principles preached by Asset Management. In order to
implement these principles, it was proposed that study, an asset management methodology for
the disconnect switchgear equipment, based on the failure mode "heating in contact", using
the mathematical model of heating and lifetime of the contact, from the temperature
measurement via thermographic inspection with associated metrological parameters, aiming
to infer increased electrical resistance, in addition to the determination of the active technical
risk from the aforementioned failure mode associated with the technical risk of loss of
equipment function. It was characterized the influence of temperature increase phenomenon
in the formation of the oxide layer on the contact surface with increase in temperature of
about 30 C, making the degradation of the more severe component, minimizing its life
expectancy and increasing the risk of a catastrophic failure. This fact leads to an economic
risk which the value of financial exposure is negative, in which postponing the intervention is
less advantageous than perform it, much depending on the size of that asset as of
maneuvering, operating activities within the electric power system, The presented
methodology was applied in 4 assets of the distributor, using data thermographic inspections,
obtaining results of technical risk, which compared with other critical criteria presented in the
literature, showed a minimum of assertiveness 75%, and such methodology is based on
established criteria in scientific and metrological bases.

Keywords: Asset Management, Disconnect Switchgear, Thermography, Technical Risk,

Economic Risk.