XXII Seminrio Nacional de Distribuio de Energia Eltri

SENDI 2016 - 07 a 10 de novembro

Curitiba - PR - Brasil

Eduardo Kazumi
Alexandre Albarello Costa Lin Ting Yen
Yamakawa
Instituto de Instituto de
Instituto de Tecnologia
Tecnologia para o Tecnologia para o
para o Desenvolvimento
Desenvolvimento Desenvolvimento
alexandre.costa@lactec.org.br eduardo@lactec.org.br lin.yen@lactec.org.br

Tiago Augusto Silva

Felipe Jose Lachovicz Marcio Biehl Hamerschmidt
Santana
Instituto de Tecnologia Companhia
Copel Distribuio S.A.
para o Desenvolvimento Paranaense de Energia
felipe.lachovicz@lactec.org.br marcio.hamerschmidt@copel.com tiago.santana@copel.com

DESENVOLVIMENTO DE UM ENSAIO DE VIDA ACELERADO SIMPLIFICADO PARA MEDIDORES ELETRNICOS

DE ENERGIA - PRIMEIROS RESULTADOS

Palavras-chave

Confiabilidade
Distribuio Weibull
Ensaio de vida acelerado
Medidores eletrnicos de energia

Resumo

Medidores eletrnicos de energia eltrica so uma evoluo com relao aos antigos eletromecnicos, porm
problemas relacionados a durao destes equipamentos j so conhecidos pelas distribuidoras. Com ponto de
partida na norma ABNT 16078:2012, o presente trabalho objetiva o desenvolvimento de um ensaio de vida
acelerado simplificado e representativo do ciclo de vida de um medidor em campo, de forma a poder ser
utilizado pela concessionria Copel em seus processos de aquisio de novos medidores. Um laboratrio com
cinco cmaras climticas foi montado para o projeto, alm da aquisio de softwares de anlise e
instrumentao auxiliar. O primeiro lote de medidores monofsicos j foi ensaiado pela 16078:2012 e os
primeiros resultados obtidos para anlise e adequao dos procedimentos e condies de teste. Algumas
amostras com os principais modos de falha encontrados foram analisadas, e tem-se as primeiras concluses a
respeito de alguns mecanismos de falha, bem como aperfeioamentos nos procedimentos de ensaio a serem

1/12
considerados. O segundo lote de 150 medidores trifsicos encontra-se em ensaio com os parmetros de teste j
adaptados de forma a reduzir sua durao. O projeto est em andamento, com concluso prevista para
setembro de 2017.

1. Introduo

Um problema grave das distribuidoras de energia hoje a falha de equipamentos de forma prematura, sendo que aqui o
objeto de estudo o medidor eletrnico de energia. Atualmente a vida til regulatria para este item 13 anos, contudo,
altos ndices de falha denunciam que esta durabilidade no ser atingida, o que representa um grande prejuzo para as
concessionrias distribuidoras. A ttulo de informao, os melhores medidores eletromecnicos produzidos at o incio
dos anos 2000 tinham uma vida til mdia prxima de 50 anos, para um tempo de retorno do investimento de 20 anos,
portanto alm de se pagarem, geravam receita para a distribuidora por longo tempo. Os ltimos lotes de medidores
eletromecnicos produzidos at 2003 j tiveram sua qualidade bastante reduzida, refletindo num tempo de vida til de
aproximadamente 17 anos, fato este devido a provvel utilizao de componentes de m qualidade pelos fabricantes
para encerramento das linhas de produo. Os medidores eletrnicos, desde os primeiros modelos e lotes adquiridos
pela Copel tm apresentado uma vida til curta com relao a regulamentao de 13 anos mnimos, portanto, o que
parecia uma grande vantagem em termos de custo, por um preo de venda menor que metade do preo de um
eletromecnico, tornou-se um problema sistemtico para a distribuidora (SANTANA, 2012, p. 38-58).

desejvel que ocorra um desenvolvimento industrial que possibilite atingir o perodo de vida til prevista pelo
regulador, porm, a crescente disputa de preos faz com que fabricantes optem por solues mais simples e menos
confiveis. Portanto faz-se necessrio estabelecer um padro mnimo de qualidade e uma forma de verificao da real
expectativa de vida destes equipamentos. Atualmente a norma ABNT 16078:2012 relaciona um conjunto de ensaios de
envelhecimento acelerado em medidores eletrnicos de energia. Contudo, a plena aplicabilidade desta norma requer
longos perodos de ensaio em 150 exemplares de um mesmo modelo de medidor. A estrutura imobilizada durante estes
ensaios representa valores significativos e isto tem contribudo para inviabilizar sua aplicao. O projeto de pesquisa e
desenvolvimento PD 2866 aqui descrito prope o estudo de uma simplificao dos procedimentos de ensaio, visando
especialmente a reduo do tempo necessrio e consequentemente a reduo dos custos envolvidos. Visando tambm
a credibilidade desta simplificao, esto sendo utilizados modelos j em uso pela distribuidora, ou seja, somente
medidores eletrnicos monofsicos e polifsicos, com display digital, portando medidores eletrnicos com display
ciclomtrico no esto sendo considerados.

O medidor eletrnico de energia possui basicamente quatro blocos funcionais: fonte de alimentao, circuitos de
condicionamento de tenso e corrente, circuito de medio microprocessado e interfaces com o usurio (display e portas
de comunicao). As arquiteturas de cada bloco funcional variam entre fabricantes e entre modelos pelos mais diversos
motivos, portanto no objetivo principal deste trabalho o mapeamento e anlise do hardware especfico dos medidores
falhos, mas elaborar o teste de vida acelerado considerando os medidores como caixas pretas, ou seja, tornar o teste
desenvolvido independente de qualquer arquitetura de hardware, modelo ou fabricante. Devido a isto, a abordagem at
o momento tem sido predominantemente estatstica, sendo utilizados para anlise dos resultados parciais as tcnicas
baseadas em aproximaes das curvas de vida dos medidores por funes densidade de probabilidade (PDF) Weibull
ou outras pertinentes. A ttulo de enriquecimento do projeto e gerao de material adicional para a tese de doutorado a
ser entregue juntamente com o presente estudo, anlises dos medidores falhos em seus principais modos de falha tem
sido executadas visando melhor compreenso dos seus mecanismos de ocorrncia e causas raiz, acrescentando ao
desenvolvimento um feedback de informaes baseadas tambm em fsica da falha.

A Copel no possui atualmente uma base de dados ampla que relacione o retorno de campo dos seus medidores
eletrnicos com seus modos de falha e tempos de operao. Por conta disso, neste projeto tambm foi desenvolvido um
software

2/12
para cadastro dos medidores retornados com defeito e suas respectivas informaes, cujo objetivo iniciar um
acompanhamento de longo prazo do ciclo de vida dos medidores eletrnicos instalados pela distribuidora e,
consequentemente, confrontar os dados de vida dos medidores em campo com as expectativas de vida levantadas
atravs do teste de vida acelerado desenvolvido. Este projeto ocorre basicamente em duas etapas. A primeira, em fase
de concluso, consiste em um conjunto de ensaios baseados na norma existente e a segunda no desenvolvimento de
metodologia simplificada. Alm da norma ABNT, normas IEC e bibliografias relacionadas foram adquiridas. Para
execuo dos testes foram compradas cinco cmaras climticas conforme a figura 1. Todas possuem faixa de controle
de temperatura de -40 C a 150 C, flutuao de 0,5 C, e faixa de controle de umidade relativa do ar de 20% a 98% e
flutuao de 3% no pior caso. Uma das cmaras tem um dispositivo de controle adicional para extra baixa umidade,
controlando a mesma a partir de 5%.

Figura 1 Laboratrio de cmaras climticas dos Institutos LACTEC.

2. Desenvolvimento

2.1. Medies iniciais

2.1.1 Temperatura e umidade relativa nominais

Os medidores eletrnicos, por se tratarem de equipamentos estticos e expostos a variaes ambientais frequentes ao
longo de sua vida til, tem suas condies de operao ambientais determinadas por faixas e no por valor nominal. Os
modelos de extrapolao de vida por estresse acelerado necessitam de um valor de referncia para o clculo da
previso de vida, portanto necessrio estabelecer uma temperatura e uma umidade nominal do medidor, para tanto
foram realizadas medies de temperatura no interior de uma caixa plstica de medio exposta diretamente ao sol,
com face norte, nas instalaes do LACTEC e Copel em Curitiba. A figura 2 mostra a distribuio de temperaturas
medidas no perodo de 08/01/2015 a 21/05/2015.

3/12
 Figura 2 Distribuio das medies em caixa plstica de medio

Com base nesta distribuio, e considerando que Curitiba uma regio tradicionalmente mais fria do que o restante do
estado do Paran, foi determinado que a temperatura nominal de trabalho de um medidor 25 C. Um perodo maior de
medio no foi possvel devido a indisponibilidade de equipamento. A umidade relativa do ar tambm foi medida no
ambiente e constatou-se que ela varia inversamente proporcional a temperatura, assim foi determinado um valor de
umidade relativa nominal de 60%, correspondendo a uma mdia temporal da umidade relativa ambiente.

2.1.2 Variao da temperatura interna com a carga

Os medidores eletrnicos frequentemente utilizam como sensor de corrente resistores shunt srie com a carga ou
transformadores de corrente, de forma a amostrar a corrente passante para o consumidor. Quanto maior o valor da
corrente de carga, maior tende a ser o aquecimento do barramento e dos elementos sensores, assim, foi realizada uma
medio com variao da corrente de carga e temperatura de ensaio, de forma a avaliar qual a corrente de carga
relevante para utilizao durante a execuo dos testes acelerados. Para tanto, foram utilizados oito patamares de
corrente, em tenso nominal de 127V, 50% de umidade relativa, medindo-se a temperatura interna do medidor em 8
patamares de temperaturas, resultando em 64 combinaes de teste. Foram utilizados um medidor monofsico e um
medidor trifsico nestas condies. Um termopar tipo T foi inserido no meio das amostras, de forma a permanecer no ar,
sem contato com partes plsticas, metlicas ou eletrnicas.

O resultado das medies mostrado nos grficos da figura 3. No medidor monofsico houve uma elevao mdia 0,06
C/A, o que pode ser considerado irrelevante. No medidor trifsico, a elevao de temperatura interna com a corrente de
carga praticamente no ocorreu, confirmando os resultados encontrados em outra pesquisa chinesa (YANG, 2014, p. 218-
219), porm, quando a tenso da carga foi mudada de 127V para 220V, houve um salto de 5,5 C adicionais para
aproximadamente 15 C adicionais, o que nos leva a concluir que a elevao da temperatura interna do medidor com a
corrente permanece desprezvel, ficando predominantemente dependente da tenso aplicada. Isto se deve ao tipo de
tecnologia aplicada na fonte de alimentao do medidor, pois circuitos reguladores de tenso dissipam potncia
proporcionalmente a tenso aplicada. Pela concluso de que a corrente de carga no altera significativamente a
temperatura interna do medidor durante os testes, estabeleceu-se uma corrente de carga de aproximadamente 1,3 A, o
que corresponde a uma carga resistiva de 100 Ohms em 127 V. O objetivo desta corrente durante os ensaios sob stress
acelerado manter os circuitos do medidor funcionando e mudando de estado para contabilizar a energia utilizada.

Figura 3 Elevao da temperatura interna com corrente de carga monofsica

2.1.3 Penetrao de umidade no medidor

4/12
De forma a verificar quanto aproximadamente de umidade penetra dentro de um medidor durante o teste acelerado, foi
medida a umidade relativa dentro de medidores monofsicos e trifsicos em condies de stress trmico e alta umidade.
Foi utilizado um transmissor de umidade do modelo NOVUS-RHT-100, com o elemento sensor inserido no meio do
medidor, suspenso no ar. Foram utilizadas temperaturas de 65, 75 e 85 C, e umidade relativa de 98%, o mximo
alcanvel pelas cmaras do LACTEC. O resultado do teste mostrou que, em mdia, a umidade interna permanece
cerca de 16,5 % abaixo da umidade da cmara durante o perodo de medio.

2.1.4 Mapeamento dos componentes crticos termicamente

Para melhor compreender os limites de operao dos medidores, de forma a determinar os limites climticos que podem
ser utilizados nos ensaios, uma amostra foi desmontada e se levantou os limites operacionais dos principais
componentes utilizados no modelo do medidor utilizado neste primeiro lote. A tabela 1 resume os dados pesquisados.

Tabela 1 Mapeamento das caractersticas dos principais componentes utilizados.

Conforme mostrado, a menor temperatura mxima entre os principais componentes 85 C, portanto o nvel de stress
trmico utilizado nos ensaios, a princpio, no dever exceder este valor de forma a evitar que modos de falha
indesejados surjam e mascarem os resultados obtidos. Temperaturas superiores a este limite necessitam de uma
investigao mais aprimorada. Nenhum dos componentes pesquisados possui restrio quanto aos limites de umidade
relativa, portanto, a mxima umidade relativa do ar a ser utilizada nos testes fica restrita a mxima umidade alcanvel e
controlvel pelas cmaras climticas do LACTEC, ou seja, 98%.

2.2. Teste de vida acelerado

2.2.1 Condies de estresse acelerado

Foi estabelecido que o primeiro lote de medidores a ser testado em condies de stress acelerado seria de medidores
monofsicos pela sua simplicidade com relao aos polifsicos. Na norma ABNT 16078:2012, recomenda-se a utilizao
de 150 amostras divididas igualmente em cinco condies de stress, ou seja, 30 medidores por cmara climtica. O
objetivo do teste deste primeiro lote basicamente conhecer o comportamento dos medidores em condies de stress
acelerado. Foram utilizadas as 150 amostras do mesmo fabricante e modelo do medidor por questes de disponibilidade
de amostras.

A norma estabelece trs nveis de stress trmico e de umidade relativa do ar, sendo eles mximo, mdio e mnimo. As
combinaes entre eles resultam em nove condies de teste, mas eliminando condies mnimo-mnimo e mdio-
mnimo que so as que resultariam menor envelhecimento das amostras, resultam cinco condies de teste conforme a
tabela 2.

Tabela 2 Nveis de stress para o teste de vida acelerado do primeiro lote de medidores

5/12
Os valores de temperatura so os mesmos recomendados na norma ABNT 16078:2012, os valores de umidade foram
escolhidos a partir da mxima umidade controlvel das cmaras, ficando um pouco acima dos valores de norma, o que
no deve ter outra consequncia a no ser acelerar mais o teste, j que no h limitao de umidade para os medidores
em questo.

Os medidores sob ensaio so todos monofsicos, classe B. Suas caractersticas eltricas so 120 V, 15 A (100 A pico),
60 Hz, 1 elemento, 2 fios, com constante de 1 Wh/impulso. Uma carga resistiva de 100 Ohms, foi utilizada durante o
teste resultando numa corrente de carga de aproximadamente 1,28 A. Os 30 medidores de cada cmara foram ligados
em srie. Antes do incio do teste de vida acelerado todos os medidores tiveram seus erros de medio iniciais checados
com um padro de energia no laboratrio de metrologia no LACTEC e foi realizada uma vistoria geral em cada amostra,
para deteco de possveis defeitos prvios. Todas as amostras foram consideradas aptas para incio do teste.

2.2.2 Procedimento de teste

O teste do primeiro lote teve incio em 21/09/2015. Os medidores foram dispostos de frente para a janela de inspeo
das cmaras climticas, de forma a possibilitar uma inspeo visual diria do funcionamento dos displays e LEDs.
Mesmo com a deteco visual de falhas em displays e LEDs, a mesma somente confirmada se aps o resfriamento
temperatura ambiente o problema persistir, conforme recomendado em norma. Por restries devido a agenda do
laboratrio de metrologia do LACTEC para verificao do erro das amostras, chegou-se a um perodo mdio de
verificao de 467 horas entre paradas.

Os modos de falha relacionados na norma brasileira foram aqui considerados como sendo: medidor queimar (MQ);
medidor parar de medir ou medir incorretamente (FC medidor fora de classe); medidor parar de mostrar o registro (FD
falha de display); LEDs com problemas (NP LED no pisca/no funciona); falhas intermitentes ou outras falhas (FI).
Foram deixados de fora problemas relacionados a interrupo de comandos externos e comunicao com o medidor
pela caracterstica do modelo e por estarem sendo considerados problemas que possam afetar a leitura do consumo de
energia por leituristas ou tcnicos de campo da concessionria. Problemas mecnicos relacionados a oxidao dos
blocos de terminais ou deformaes na caixa plstica dos medidores tambm foram desconsiderados devido ao foco
deste estudo ser o envelhecimento da eletrnica dos medidores.

2.2.3 Dados coletados do teste de vida acelerado

Foram realizadas inspees dirias nos displays e LEDs dos medidores sob ensaio, e foram realizadas ao todo 10
paradas totais das cmaras para verificao dos erros de medio dos 150 medidores, totalizando 4667 horas de ensaio
com 88% de falhas ao final. As amostras detectadas falhas foram retiradas somente durante as paradas das cmaras e
enviadas para anlise do time de eletrnica. A tabela 3 mostra os dados totalizados por verificao.

Tabela 3 Percentuais de falhas ao longo do teste de vida acelerado.

6/12
O teste foi finalizado neste ponto porque dos 18 medidores restantes, 17 estavam na condio de 65 C, 98% UR, que
a condio de menor stress entre as cinco. O objetivo inicial era levar todos os medidores a falha, porm, se
extrapolarmos linearmente a taxa de falhas observada, conforme mostrado na figura 4, o teste provavelmente passaria
de 5500 horas ocasionando impactos no cronograma do projeto.

Figura 4 Progresso das falhas ao longo do teste de vida acelerado.

possvel notar tambm na porcentagem de falhas parciais por parada, a semelhana com a conhecida curva da
banheira, que representa o ciclo de vida de um produto (MEEKER, 1998, p. 34-35). Esta curva apresenta 30% de falhas
prematuras no teste, tendo novamente incremento na taxa de falhas a partir de 3000 horas de ensaio, o que
representaria o incio da fase de desgaste (wear out). O decremento na taxa de falhas a partir de 4187 horas deve-se ao
trmino das amostras nas condies mais severas, permanecendo somente amostras nas condies de 65 C, 98% e
75 C, 98%, condies estas que se mostraram bem menos desgastantes que as restantes influenciando pouco no
teste, conforme mostra o grfico de contorno da figura 5, que relaciona o parmetro de forma (beta) com a vida
caracterstica (eta) representada em cada condio de stress. Vale aqui ressaltar que no existe um critrio oficial para
determinao do que ou no aceitvel como falhas prematuras, cabendo a fabricantes e concessionrias um consenso
a respeito.

Visando uma melhor compreenso dos dados coletados ao longo do teste acelerado, as falhas foram distribudas por
tempo de teste e tipo de falha, conforme mostrado na figura 6. Nestes grficos possvel notar que a curva da banheira
dos medidores, neste caso, composta predominantemente por FC e FD. Os medidores queimados, bem como os
problemas relacionados aos LEDs e outras falhas intermitentes aparecem somente no incio do teste, o que gera
suspeita de outros motivos para ocorrncia que no o envelhecimento.

7/12
 Figura 5 Impacto sobre a vida caracterstica das amostras em cada condio de estressamento.

Figura 6 Distribuio das falhas ocorridas ao longo do teste de vida acelerado.

A taxa de falhas por FC foi descrescente ao longo do teste, algo inesperado pois para os principais modos de falha
esperava-se taxa crescente com o tempo. A anlise destas amostras no elucidou a causa da ocorrncia
predominantemente no incio do teste, porm, suspeita-se que tenham correlao com as causas que levaram os
medidores a queima pelas elevadas quantidades de ambos os modos de falha coincidirem nas condies de 75C-98%,
85C-90% e 85C-98%, conforme mostrado na Tabela 4. Uma investigao mais apurada a respeito encontra-se em
andamento atravs de anlises do hardware e cruzamento de informaes com outros testes em outros modelos.

A taxa de falhas por FD foi crescente ao longo do tempo, conforme era esperado. Ocorreram alguns problemas de
descolamento da pelcula dos displays, mas como no foi detectada a ocorrncia em campo deste mesmo defeito, ele foi
desconsiderado por no interferir na leitura dos registros. O descolamento somente no ocorreu na condio de 65C-
98%, podendo estar relacionado a temperatura mxima suportvel pelo componente, o que contradiz a prpria faixa de
operao do medidor estabelecida pelo fabricante.

Tabela 4 Totais de falhas por condio de stress e por tipo de falha.

8/12
2.2.4 Anlise dos dados coletados

Em cada parada os dados parciais foram analisados pelo software Reliasoft ALTA 9.0 Standard, e um teste de aderncia
foi realizado previamente para checagem da distribuio que melhor representa os dados de vida coletados. Em todas
as etapas o teste de aderncia recomendou a distribuio Weibull de dois parmetros.

A distribuio Weibull possui basicamente um parmetro beta de forma, e um parmetro eta de vida caracterstica,
relacionado ao espraiamento da funo (NELSON, 2004, p. 63-65). O modelo de envelhecimento utilizado com a distribuio
Weibull o Temperatura-Umidade, que uma variao da relao generalizada de Eyring (RELIAWIKI, 2016, p. 1). Este
modelo de envelhecimento considera a energia de ativao Ea relacionada aos modos de falha dos medidores. A
energia de ativao, medida em eltron-volts (eV), por definio a quantidade de energia necessria para desencadear
uma reao. No caso dos testes de vida acelerados representa quanta energia necessria para levar um medidor ao
mesmo modo de falha que ocorreria em campo em condies normais de operao.

O levantamento dos parmetros da distribuio Weibull pelo software ALTA foi realizado com suspenses a direita, por
somente haver certeza de os tempos at a falha das amostras em sucesso ser maior que o tempo da ltima verificao
(MEEKER, 1998, p. 34-35). Suspenses a esquerda no foram considerados devido aos intervalos de inspeo terem ficado
em mdia longos demais para este tipo de anlise, aumentando muito a incerteza nos resultados. Considerando que
conforme a quantidade de falhas tende a falha total das amostras sob teste, ao final foi feita uma comparao
considerando anlises com e sem suspenses. Os resultados obtidos so mostrados na tabela 5.

Tabela 5 Evoluo dos dados obtidos para o modelo de acelerao.

possvel observar atravs dos dados da tabela a convergncia nos valores de Ea e beta. A energia de ativao por
volta de 0,8 eV corresponde a energia de ativao geral para semicondutores citada na literatura, que
aproximadamente 0,85 eV. O valor de beta pouco maior que 1 representa uma distribuio com taxa de falhas
levemente crescente, o que pode tambm ser observado na figura 4.

Os valores de eta no entanto divergem, chegando a valores de vida caracterstica de centenas de anos, o que irreal.
Para testar a convergncia deste parmetro, foi realizada uma anlise extrema considerando todos os medidores falhos,
com todas as suspenses consideradas como falhas no momento da parada final do teste. O resultado de eta ento
convergiu para prximo de 45 anos, significando que a divergncia pode estar atrelada s suspenses restantes ou a

9/12
resultados errneos dos testes. Na sequncia, somente as falhas ocorridas foram consideradas excluindo-se as
suspenses, chegando a um eta de 1,5 anos e confirmando a sensibilidade as suspenses restantes. Conforme
mostrado na figura 8, a condio menos estressante parece estar elevando o valor de vida caracterstica de forma
errnea, alm de que esta grande variao nos resultados de eta pode ser indicativa de alguma anomalia ocorrida
durante os testes. Portanto, analisando os grficos da figura 6, e considerando a elevada taxa de falhas prematuras
observadas, nota-se haver relao com eventos iniciais do teste.

Considerando agora que a queima de medidores ocorreu nas primeiras 1200 horas de teste, e se encontram dentro
deste perodo os 30% de falhas encontradas na primeira checagem e outro pico inesperado na ocorrncia de FC na
terceira checagem, resolveu-se suspender as falhas ocorridas neste perodo e observar o resultado sem a influncia das
mesmas. A anlise refeita resultou em uma convergncia da vida caracterstica dos medidores em eta = 22,9 anos, o
que ainda um valor superestimado para medidores eletrnicos. Alm disso os valores de Ea e beta se modificaram
para 0,516 eV e 6,46 respectivamente.

Detectada a influncia das falhas prematuras nos resultados, seguiu-se expandindo o perodo de suspenso para 2000
horas, o que resultou em eta = 6,8 anos, Ea = 0,385 eV e beta = 9,25. Esta simplificao adicional mostrou que a
condio de 85 C, 98% ficou completamente suprimida na anlise pois todos as amostras nesta condio falharam
antes de 2000 horas, ou seja, as falhas ocorridas foram todas consideradas como retiradas antecipadamente do teste.
A partir disso, suspendeu-se completamente a condio de 85 C, 98%, suspendendo tambm todas as falhas
anteriores a 1200 horas de ensaio como prematuras de forma a eliminar a influncia destes dados. Agora os
parmetros da curva Weibull convergiram para beta = 4,91, Ea = 0,506 e eta = 17 anos. Estes valores denotam uma
distribuio Weibull com taxa de falhas crescente no tempo na regio de desgaste (wear out) devido ao elevado beta e
consequente baixa taxa de falhas prematuras, o que pode ser observado no grfico da figura 7, que mostra a
probabilidade de falha das amostras ao longo do tempo.

Figura 7 Probabilidade de falha dos medidores ao longo dos anos.

10/12
Se compararmos este resultado aos de uma anlise com todos os medidores falhos ao final do teste, ou seja, sem
suspenses e desconsiderando os itens anteriormente descritos como responsveis por distorcer os resultados,
chegamos a um valor de beta = 3,25, Ea = 0,46 e eta = 16 anos, prximo do valor analisado com a suspenso das
amostras corrigida. Nota-se assim que, aps as devidas correes, a anlise final com suspenses e sem tendem a
valores prximos, o que era esperado apesar dos valores ainda elevados de vida caracterstica dos medidores. A figura
8 traz um comparativo das duas distribuies, confirmando assim a validade dos resultados.

Figura 8 Comparativo das distribuies com e sem suspenses.

3. Concluses

As proximidades nos valores recalculados de Ea e beta, aliados as diferenas de eta levam a concluses interessantese
mais indagaes a serem investigadas, conforme descrito nos itens abaixo:

1- O modelo de medidor em questo parece ter baixa robustez devido ao baixo valor de Ea e a elevada taxa de falhas
prematuras. Um baixo Ea indica que pouca energia necessita ser aplicada ao medidor para leva-o a falha e por
consequncia, o mesmo no deve suportar condies mais estressantes, conforme ocorrido com a falha total das
amostras na condio de maior stress em aproximadamente 43% do tempo do teste. Esta concluso de especial
interesse na simplificao e reduo dos tempos de teste e ser melhor avaliada nos prximos lotes de amostras.

2- Apesar de estar no limite da faixa especificada para o medidor, a condio de 85 C, 98% UR no foi suportada pelo
mesmo. A razo mais provvel disso que esta combinao de stress possa estar ocasionando modos de falha
adicionais e danificando o medidor ao invs de envelhec-lo proporcionalmente ao que ocorreria em campo.

3- A vida caracterstica real deste modelo de medidor pode ter ficado mascarada pela possvel ocorrncia de modos de
falha diversos que no representam o envelhecimento do mesmo, e pela menor condio de estressamento que
mostrou-se demasiadamente suave para o perodo de ensaio realizado. A baixa Ea contrasta com um elevado valor de
vida caracterstica do modelo, levando a concluir que o medidor teria grande durabilidade em condies de operao

11/12
prximas do ideal, porm, ao ser exposto a condies prximas dos seus limites operacionais ambientais, sua vida til
tende a cair drasticamente. Pode-se concluir disto que a sua vida caracterstica real provavelmente bem menor do que
o valor obtido de 17 anos, considerando-se que as oscilaes de temperatura e umidade em campo so dirias e podem
chegar a valores extremos.

4- O prprio procedimento de ensaio estabelecido pode estar adicionando mecanismos de falha no representativos a
operao em campo. A norma ABNT 16078:2012 estabelece algumas condies de teste, mas no especifica os
procedimentos relativos a execuo dos ensaios propriamente ditos. As condies em que devem ocorrer as variaes
de temperatura e umidade, tanto no aquecimento quanto no resfriamento das cmaras no so definidos e podem
ocasionar choques trmicos e condensaes de gua nos componentes das amostras. Os perodos de checagem das
amostras tambm no so definidos, sendo somente estabelecido que a norma se refere a ensaios com nveis de stress
constantes, ou seja, o mnimo perodo de verificao das amostras sem considerar o stressamento varivel no tempo
no est claro. Considera-se aqui que os perodos de amostragem utilizados foram tambm demasiadamente longos,
gerando incertezas quanto aos medidores fora de classe.

5- As queimas de amostras se concentraram somente no perodo inicial do teste e no se distriburam em todas as

condies, alm do mais, nas condies em que ocorreram no parece haver correlao direta entre a frequncia das
queimas e os nveis de temperatura ou umidade estabelecidos. Este perodo de ocorrncia coincide com relatos de
eventos de flutuao de tenso perceptveis nas instalaes de iluminao, portanto pode haver relao entre a queima
destes medidores e problemas de qualidade de energia. Esta hiptese est em investigao, pois o medidor
normalmente o primeiro equipamento na entrada de uma instalao e deveria ter grande imudade a estes eventos.

Um segundo lote de 150 medidores trifsicos j se encontra em teste acelerado, com os nveis de stress modificados, e
com outros cuidados para eliminao de fontes de incertezas nos resultados, como a instalao de um estabilizador de
tenso trifsico na alimentao dos circuitos dos medidores, procedimentos de aquecimento e resfriamento das cmaras
em rampa, reduzindo assim o risco de condensao de umidade nos medidores sob ensaio. Foi estabelecido tambm
um perodo de verificao dos medidores de 7 dias atravs de um padro de calibrao trifsico porttil, dessa maneira,
alm de reduzir os intervalos de verificao para um valor fixo, evita-se desmontar o setup de ensaio e dessa forma
inserir outras fontes de incertezas.

4. Referncias bibliogrficas

SANTANA, TIAGO A. Engenharia da confiabilidade aplicada medio de energia eltrica, UTFPR 2012.

NELSON, WAYNE B. Accelerated Testing Statistical Models, Test Plans and Data Analysis, Ed. Wiley Inter Science,
2004, p 63-65.

RELIAWIKI. Generalized Eyring Relationship. Acesso em 01/05/2016, disponvel em:

http://www.reliawiki.com/index.php/Generalized_Eyring_Relationship

MEEKER, WILLIAN Q., ESCOBAR, LUIS A. Statistical Methods for Reliability Data, Ed. Wiley Inter Science, 1998.

YANG, Z et al. Smart Electricity meter reliability prediction based on accelerated degradation testing and modeling, 2014

_________________________________________

12/12