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EPSILON 5

Mxima innovacin para el anlisis


de metales pesados

The Analytical X-ray Company


Excelencia analtica

El anlisis elemental mediante


Ventajas de la espectroscopia de FRX espectroscopia de fluorescencia de
Mtodo no destructivo rayosX (FRX) es una tcnica de eficacia
demostrada para diversos sectores. Esto
Apto para muestras slidas, lquidas o polvos incluye metales, cemento, aceites,
Preparacin de muestras sencilla, rpida y segura polmeros, plsticos, alimentos, minera,
Mediciones con un alto nivel de exactitud y minerales, geologa, medioambiente y
residuos. La preparacin de muestras
reproducibilidad sencilla, el anlisis no destructivo, la
Amplio intervalo dinmico de concentraciones exactitud, la precisin, el amplio
intervalo dinmico y los lmites de
deteccin adecuados o excelentes para
muchos elementos de la tabla peridica
son los principales motivos por los que
este sistema se usa para numerosas
aplicaciones de investigacin e
industriales. Adems, los sistemas
modernos son fciles de usar, muy
fiables, seguros y rentables.

Dado que las caractersticas del sistema


se siguen perfeccionando y el
rendimiento analtico es cada vez ms
alto, la fluorescencia de rayosX se ha
convertido en una herramienta de
anlisis indispensable.
Acerca de la
espectroscopia de
fluorescencia
de rayosX

Con la incorporacin de cinco tecnologas


patentadas, Epsilon5 ofrece un
rendimiento superior a cualquier otro
sistema para el anlisis de metales medios y
pesados.

El espectrmetro
Epsilon5

Mxima innovacin
ptica polarizadora
Su concepto de innovacin y calidad ha
tridimensional para aumentar los
convertido a PANalytical en el principal
lmites de deteccin mediante la
proveedor del mundo de instrumentos
reduccin del ruido de fondo
de rayosX para anlisis. La compaa,
espectral
anteriormente Philips Analytical, tiene
Tubo de rayos X de nodo de Gd
ms de medio siglo de experiencia en
o Sc/W de 100kV para aumentar
este dinmico sector.
la excitacin de lneas K de
elementos pesados
Uno de los aspectos fundamentales de la
Detector de Ge eficaz al 100%
En
filosofa empresarial de PANalytical es el INF

erg
RA
para garantizar un nivel de
y
RE
objetivo de que sus productos y servicios
D

deteccin alto para todos los


aumenten la eficacia de los procesos de
VIS

elementos de la tabla peridica


IBL

los clientes. sta ha sido la motivacin


E

15 objetivos de polarizacin/
LIG

principal para el desarrollo de Epsilon5.


HT

secundarios para optimizar la


UL LET

fuente de excitacin segn los


VIO

0.1
TR

Epsilon 5
A
25

elementos de inters
keV YS

Con un sistema de hardware y software


X-R

Cambiador de muestras X-Y para


A

125

totalmente integrado, Epsilon5 se ha


garantizar la manipulacin
keV YS
-R

diseado para un rendimiento ptimo


A

desatendida y flexible de hasta


con todos los elementos de la tabla
130 muestras en seis bandejas.
peridica. Con la incorporacin de cinco ICP - OES -SPEC
XRF
tecnologas patentadas, es el sistema de
referencia para el anlisis de FRX de
calidad y rendimiento ptimos.
Epsilon 5: combustibles alternativos A diferencia de muchas otras tcnicas de
Se trata de un sistema precalibrado anlisis mediante espectroscopia mediante
Epsilon 5 se caracteriza por FRX, no es necesaria la disolucin de la
especial para el anlisis de determinaciones altamente precisas en muestra. Dado que se evitan las posibles
combustibles alternativos slidos. niveles inferiores a ppm, supera en inexactitudes provocadas por una disolucin
rendimiento a otros sistemas de anlisis incompleta, el anlisis exhaustivo mediante
La calibracin se configura FRX garantiza la exactitud y la fiabilidad de
de metales medios y pesados, y es los resultados.
mediante una serie de materiales de adecuado para una amplia variedad de
referencia certificados. elementos, muchos de los cuales son de
La correccin exacta de la matriz especial importancia para el medio
permite usar la calibracin para una ambiente.
amplia variedad de combustibles
alternativos slidos.
Una herramienta Geologa
fundamental Reciclaje
RoHS y RAEE
Medio ambiente
Combustibles
alternativos

El sistema Epsilon5 combina todas las


ventajas de las tcnicas de FRX
convencionales con un rendimiento muy
superior para el anlisis de metales medios y
pesados. Por consiguiente, es compatible con una amplia
variedad de aplicaciones de sectores como la geologa, la
agricultura, el uso de fsiles como combustibles secundarios,
el control de emisiones industriales, el reciclaje, la produccin
de catalizadores y la fabricacin o eliminacin de residuos de
aparatos elctricos y electrnicos segn las directivas RoHS
yRAEE.

La medicin de niveles bajos de elementos txicos, como los


metales muy pesados, es especialmente importante para las
aplicaciones medioambientales. La preocupacin mundial por
el medio ambiente y el efecto de la industria y el consumismo
sigue en aumento. Adems, la legislacin que regula el uso y
la emisin en el medio ambiente de metales pesados txicos
es cada vez ms estricta. Los aspectos legales son numerosos y
requieren el anlisis de materiales de tipos muy diversos y con
distintas concentraciones de elementos.

Esta diversidad en lo que respecta al tipo de muestra y el


intervalo de medicin se puede controlar fcilmente con el
sistema Epsilon5. Materiales slidos, polvos prensados, polvos
sueltos, grnulos, lquidos, pelculas delgadas y filtros se
pueden colocar directamente en el instrumento. Las
calibraciones cubren un gran nmero de intervalos de
concentracin (de niveles inferiores a ppm hasta el 100%) y la
rutina de cuantificacin automtica del software permite la
manipulacin de tipos de muestras y formas fsicas muy
diferentes mediante una sola calibracin. No es necesario un
conocimiento previo de la composicin qumica de la
muestra.
EDXRF de vanguardia

Sample

Acerca de los espectrmetros FRX EDXRF sencilla


La configuracin bsica de todos los Los espectrmetros EDXRF sencillos se
espectrmetros incluye una fuente, una caracterizan por una geometra
muestra y un sistema de deteccin. La bidimensional o de excitacin directa, ya
generacin de informacin til depende que el tubo de rayosX que irradia la Source
de la separacin o dispersin del muestra y el detector que registra el
espectro de radiacin procedente de la espectro se encuentran en el mismo
muestra, lo que permite identificar y plano. Aunque esto permite una
contar los rayosX caractersticos. Esto se excitacin muy eficaz de la muestra, el Detector
consigue de dos formas: espectro registrado no slo contiene el
FRX de dispersin de longitud de espectro de la muestra, sino tambin
onda (WDXRF) con un cristal para una gran parte del espectro del tubo de
dispersar el espectro. rayosX disperso. Esto contribuye a unos
FRX de dispersin de energa (EDXRF) niveles de ruido de fondo relativamente
para determinar directamente los altos e influye negativamente en los
niveles de energa de los distintos lmites de deteccin alcanzables.
rayosX del espectro.

EDXRF polarizadora
Con una geometra tridimensional o
cartesiana, el espectro del tubo de
rayosX se elimina mediante la
polarizacin. La reduccin resultante del
ruido de fondo espectral permite
I(cps/ch)

alcanzar unos lmites de deteccin muy


inferiores.

El uso de distintos objetivos 4 5


Energy (keV)
5 7 8

polarizadores, colocados en el primer ptica bidimensional


eje del camino ptico con una
geometra tridimensional, ofrece
ventajas adicionales para el anlisis.
Mientras que algunos objetivos
solamente dispersan la irradiacin del
tubo de rayosX en la muestra, otros
materiales tienen una fluorescencia que El haz principal (de color amarillo) del
I(cps/ch)

produce rayosX intensos y casi tubo de rayosX irradia un objetivo


monocromticos que irradian la polarizador colocado en el primer eje.
muestra. Si se usan distintos objetivos, es Tras la dispersin a 90, los rayosX se
posible optimizar la fuente de excitacin desplazan por el segundo eje (de color 4 5
Energy (keV)
6 7 8

especficamente para analizar los azul) hasta la muestra. Por ltimo, el ptica tridimensional
elementos de inters. detector colocado en el tercer eje (de
color morado) registra el espectro de la
muestra.
Ventajas para el cliente

K-Ka 1 Ca-K a 1
Mn-Ka 1
Fe-K a 1
sensibilidad son relativamente bajos, lo
que tiene como resultado unos lmites
Cr-K b1
de deteccin superiores. Mediante la
I(cps/ch)

Ca-K b1 Ti-Kb1
combinacin de altos niveles de tensin
V-Kb1

de excitacin y un detector de estado


V-Ka 1
Ti-Ka 1
La-L b1 Cr-K a 1
La-L a 2 Pr-L a 2 Ce-L b1 Pr-L b1
Ba-L a 2 Ce-L a 2 Nd-La 2

slido de calidad superior, el sistema


Nd-Lb1
Ba-L a 1 Ce-L a 1 Nd-La 1 Sm-L a 2
Pr-L a 1 Sm-L b1
La-L a 1 Sm-L a 1

4 5 6
Epsilon5 permite eliminar estos
Energy (keV)
problemas y convierte el anlisis de
Ce-K a 1
elementos pesados con lneasK en una
La-Ka1
realidad. Esto tiene como resultado
adems una resolucin espectral
I(cps/ch)

Ce-K b1
Ce-K a 2

Ba-K a 1
La-K a 2

Pr-K a 2 Ba-K b1 Nd-Ka 1


La-K b1
Sm-K a 2
excelente y unos lmites de deteccin
Pr-K a 1 Nd-Ka 2

Flexibilidad analtica Ba-K a 2


inferiores.
El sistema Epsilon 5 se puede "adaptar" 30 32 34 36 38

mediante un conjunto de objetivos Energy (keV) Anlisis no destructivo


polarizadores y secundarios La combinacin de baja potencia
programables para alcanzar lmites de Determinacin de niveles bajos de (600W) y ptica tridimensional de
deteccin mnimos para un gran nmero elementos pesados mejorada Epsilon5 minimiza el calentamiento de
de elementos. Esta "adaptacin" Tradicionalmente, en el caso de las la muestra y los daos asociados a los
elimina la necesidad de cambiar el tubo tcnicas de FRX, los elementos pesados rayosX. Por lo tanto, el anlisis no
de rayosX para lograr un rendimiento se analizan mediante sus lneas afecta a las muestras e incluso se
ptimo. espectrales de la serieL. Esto se debe a pueden medir repetidamente lminas y
las restricciones impuestas en relacin filtros delicados durante perodos de
con el uso de lneasK con voltajes de tiempo prolongados.
excitacin inadecuados, una eficacia del
detector inferior a la ptima y, en el Precisin
caso de WDXRF, una dispersin Epsilon 5 aprovecha la precisin
deficiente. El principal problema inherente a las tcnicasFRX. Dado que
derivado del uso de lneasL es su las calibraciones se pueden mantener
posicin en partes de alta densidad del durante muchos meses, ya no son
espectro, normalmente con necesarias las recalibraciones frecuentes
superposiciones de lneas de elementos asociadas a las tcnicas con otros
principales. Adems, los niveles de instrumentos.
Caractersticas del sistema

Ba
Ce
Nd
100kV
La
Sn Sb
I(cps/ch)

I
70kV

50kV

24 27 30 34 37 40
Energy (keV)

Tubo de rayosX de Gd o Sc/W de alta Objetivos (5)


tensin (1) Se pueden usar hasta 15 objetivos
Con una capacidad de funcionamiento a (combinacin de fluorescencia
una potencia mxima de 600W y niveles polarizadora y secundaria). El sistema
de tensin de 25kV a 100kV, los tubos bsico se configura con nueve objetivos
de rayosX patentados de PANalytical para cubrir un gran nmero de
son nicos en el mbito de los elementos de la tabla peridica.
espectrmetros EDXRF. Las lneas del Adems, se pueden configurar otras seis
tubo caractersticas del nodo de Gd posiciones de objetivos si se requieren
aumentan la fluorescencia de los unas condiciones de excitacin ptimas
elementos en el intervalo de rodio a para alcanzar lmites de deteccin
bario y las lneas del tubo de Sc del mnimos para aplicaciones especficas.
nodo de Sc/W aumentan la Hay disponible una gran variedad de
fluorescencia de los elementos ms objetivos adicionales.
ligeros. La capacidad de 100kV del tubo
supone una serie de ventajas para la
excitacin de las lneasK de los
elementos pesados.
2590

Regulacin de corriente automtica (2) 2585


Los distintos tipos de muestras
I(cps/mA)

presentan caractersticas espectrales 2580

variables, lo que dificulta la CSE = 0.045%


RMS = 0.054%

determinacin de la configuracin de 2575


DAY 1 DAY 2 DAY 3 DAY 4

potencia ptima. La linealidad del


generador Epsilon5 permite mantener
el rendimiento ptimo de la muestra
mediante la regulacin de la corriente
del tubo de rayosX entre muestras. Estabilidad
El sistema Epsilon 5 se basa en varias
Camino ptico (3) dcadas de experiencia de PANalytical
La geometra tridimensional, con la en el mbito del desarrollo de
tecnologa antidispersin exclusiva, espectrmetros WDXRF, los cuales son
garantiza un alto grado de polarizacin, conocidos por su excelente estabilidad.
lo que permite eliminar por completo Su estructura resistente, sus
del espectro medido incluso las lneas componentes mecnicos precisos y su
espectrales de alta intensidad usadas control exhaustivo de la temperatura de
para excitar la muestra. la consola (35 1,0 C) ofrecen una
estabilidad excepcional.
Electrnica de contaje (4)
La alta resolucin de los canales en el
intervalo espectral de 100keV se logra
con la innovadora electrnica de
contaje, la cual incluye un analizador
multicanal con procesamiento de
seales digitales con capacidad para
controlar ms de 16.000 canales.
1
3

1.2
Detectores de rayosX (6)
Ge (5mm)
El detector de Ge de estado slido con
1.0
sistema de enfriamiento mediante
0.8 Si(Li) (3mm) nitrgeno lquido PAN-32 se caracteriza
Relative Efficiency

0.6 por un alto nivel de eficacia para la


Si-drift (0.3mm) deteccin de todos los elementos de la
0.4
tabla peridica. A diferencia de otros
0.2
detectores de estado slido, mantiene
0
0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50
una eficacia del 100% para las lneasK
Energy (keV)
de los elementos pesados, con lo que es
LiF200 (Fine Collimator) la opcin perfecta para la fuente de
excitacin de alta tensin de Epsilon5.
Ba

Cs
El detector PAN-32 tiene una resolucin
espectral excepcional con niveles de
energa altos en comparacin con la
obtenida con las tcnicas de WDXRF con
Intensity

cristales de dispersin.
Ge Solid-State Detector

0 30 32 34 36
Energy (keV)

1.00

0.90
Full Width at Half Maximum (keV)

0.80
LiF200 (Fine collimator)
0.70

0.60

0.50

0.40

0.30 Ge solid-state detector

0.20

0.10

0.00
0 10 20 30 40
Energy (keV)
7

8
2

9
Caractersticas del sistema

Cambiador de muestras X-Y (7) Movilidad y accesibilidad (9)


El cambiador puede contener hasta seis Montado en una estructura con ruedas,
bandejas de muestras. Hay distintas el sistema Epsilon5 se puede maniobrar
bandejas disponibles para fcilmente en espacios reducidos del
portamuestras, anillos de acero y laboratorio. Los paneles desmontables
muestras sin montar de dimetros de 25, en todos los lados del instrumento
32, 41 y 50mm. La capacidad total facilitan el acceso para las tareas de
depende del tamao de la muestra (las mantenimiento.
bandejas para portamuestras o anillos
de acero pueden contener ocho
muestras y las bandejas para muestras
sin montar de 25mm de dimetro
pueden contener 21 muestras). No se
aplica ninguna restriccin en lo que
respecta a los tipos de muestras del
10 cambiador. Dado que el cambiador
detecta la diferencia entre los
portamuestras con muestras slidas y
lquidas, protege el instrumento de la
colocacin accidental de lquidos en
condiciones de vaco. El sistema de
colocacin inteligente ordena
automticamente las mediciones de
aplicaciones lquidas y slidas, lo que
aumenta la estabilidad dado que se Conexiones externas
minimiza el nmero de cambios del El sistema Epsilon 5 se conecta a una
medio de anlisis. toma mural estndar (por ejemplo,
230V y 13A) y al PC mediante los
El tiempo de colocacin se reduce puertos USB y UTP. No se requiere el uso
mediante la colocacin y retirada de agua para el enfriamiento externo.
directas de las muestras sin montar en
una copa en la posicin de medicin. Deteccin del nivel de nitrgeno lquido
(10)
La posicin de colocacin prioritaria Los sensores de nivel controlan el
permite la colocacin y el anlisis suministro de nitrgeno lquido
inmediatos de las muestras urgentes y necesario para el detectorPAN-32. La
con preferencia durante la manipulacin indicacin de llenado del vaso Dewar de
sistemtica de las muestras. nitrgeno de activa con cuatro das de
antelacin para ofrecer un margen
Sistema de purga de gas (8) amplio incluso en el caso de los fines de
Se puede usar un sistema de purga de semana largos. Los circuitos a prueba de
gas de helio o nitrgeno para el anlisis fallos impiden que se produzcan daos
de lquidos y polvos sueltos finos. El en el instrumento si no hay nitrgeno
cambio del medio de anlisis se puede disponible.
realizar en menos de tres minutos.
Ventajas para el
cliente

La seguridad es lo primero
El sistema Epsilon 5 supera los ms
estrictos requisitos de seguridad frente a
la radiacin de rayosX. La cmara de
anlisis, con un excelente sistema de
proteccin, consta de un bloque de
bronce slido de casi 40kg. En
combinacin con los mecanismos de
bloqueo electrnico de seguridad,
garantiza el funcionamiento seguro y
elimina la necesidad de usar un sistema
de monitorizacin de rayosX externo.

Manipulacin correcta de las muestras


garantizada
El cambiador de muestras X-Y,
fcilmente accesible y totalmente
integrado, garantiza la manipulacin
desatendida de las muestras. Los slidos,
los lquidos y los filtros se pueden
colocar y medir en cualquier orden.

Compacto y mvil
El sistema Epsilon 5 tiene pocos
requisitos para su uso en el laboratorio.
Puede recibir alimentacin y una toma
mural estndar y no requiere ningn
dispositivo de enfriamiento externo de
uso frecuente como con otros
instrumentos FRX de alta potencia. Con
una resistente estructura con ruedas
para facilitar la movilidad, el diseo
compacto de Epsilon5 ocupa poco
espacio en el laboratorio (84x75cm).
Software
totalmente
integrado

De vanguardia

El software de alto rendimiento de El funcionamiento sencillo de Epsilon5


Epsilon5 est totalmente integrado y se basa en una serie de algoritmos
combina el control del instrumento, la avanzados de configuracin del
Comparacin de concentraciones calculadas y manipulacin de las muestras y las instrumento, anlisis del espectro y
certificadas para distintos materiales de funciones de anlisis en un solo calibracin. Por ejemplo, la complejidad
referencia (por ejemplo, carbn, plstico y acero) programa. El prctico asistente gua al del espectro de una muestra se revela
en la que se demuestra la capacidad de anlisis
usuario paso a paso durante el mediante un nuevo algoritmo de
de la rutina de cuantificacin automtica.
procedimiento de anlisis y simplifica el desconvolucin desarrollado en
Cenizas volantes (NBS1633a) control del proceso de calibracin. colaboracin con los principales
Elemento Certificado Cuantificacin Adems, ofrece las funciones y la expertos del mbito de las matemticas
(ppm) (ppm) capacidad de seguimiento necesarias aplicadas*.
Nquel 127 129 para la acreditacin de laboratorios y
Cobre 118 130 mtodos. Los usuarios ms
Zinc 220 231 experimentados cuentan con la Acreditacin de
Arsnico 145 156 flexibilidad necesaria para ajustar los laboratorios y mtodos
Rubidio 131 137 parmetros predeterminados.
Estroncio 830 829 El seguimiento de los resultados
Zirconio 310 314 La rutina de cuantificacin automtica (para demostrar la relacin de las
Bario 1500 1460 (basada en calibraciones de parmetros calibraciones con los valores
Plstico (BCR680) fundamentales) permite controlar el certificados) es un aspecto
Elemento Certificado Cuantificacin anlisis de muestras desconocidas, y la importante de la prctica analtica
(ppm) (ppm) rutina de bsqueda y correspondencia moderna y obligatorio para la
Cromo 114,6 110 de picos espectrales facilita el anlisis acreditacin de laboratorios. El
Arsnico 30,9 25,5 cualitativo. software de Epsilon5 ofrece a los
Bromo 808 821 usuarios un control total del
Mercurio 25,3 27,6 Hay disponibles cuatro niveles de proceso de calibracin y permite
Plomo 107,6 116 funcionalidad para el usuario (con la demostrar fcilmente la posibilidad
Cadmio 140,8 140 opcin de proteccin con contrasea) de seguimiento del mtodo.
Acero (SS65) para proteger el instrumento y
Elemento Certificado Cuantificacin garantizar la seguridad de los datos.
(%) (%) Adems, los inicios de sesin diferentes
Manganeso 0,94 0,88 para usuarios del sistema y usuarios de
Cromo 18,45 18,5 mantenimiento separan con claridad los *La evaluacin del espectro se realiza con el
Molibdeno 0,03 0,03 procedimientos del cliente y el acceso ajuste de mnimos cuadrados no lineales, basado
Nquel 9,47 9,53 para las tareas de mantenimiento del en el algoritmo AXIL desarrollado en la
universidad de Amberes.
Volframio 0,02 0,01 instrumento.
Cobre 0,13 0,14
Hierro 69,6 70,0
Rendimiento 40
Sn

excepcional 39

Conc. (ppm)
38

La combinacin nica de los estrictos


estndares de calidad, el diseo
37
innovador y la tecnologa avanzada de
PANalytical garantizan el rendimiento
analtico sin precedentes de Epsilon5.
36
Las mediciones son exactas y precisas, y 0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75
la estabilidad del instrumento es tal que
las calibraciones individuales se pueden
usar durante meses. Por lo tanto, los Medidas repetidas de una sola muestra durante un perodo de 6 meses en las que
lentos procedimientos de repeticin de se demuestran la precisin y la estabilidad a largo plazo del sistema.
Datos cedidos por British Geological
la estandarizacin son innecesarios y los Survey

datos generados son muy constantes en


el tiempo.

Sin embargo, el aspecto ms importante


Application LLD (ppm)

es la determinacin de bajos niveles de Epsilon 5


metales pesados. Incluso en WD-XRF
comparacin con un sistema WDXRF
tpico, Epsilon5 ofrece un rendimiento
superior para elementos como el
molibdeno o los xidos de tierras raras y
un rendimiento adecuado para muchos
otros elementos.

Cd Sn Sb Te I Cs Ba La Ce Nd
Comparacin de la aplicacin de lmites de deteccin inferiores con un sistema
WDXRF tpico en la que se demuestra el rendimiento superior de Epsilon5.

Rb Ce
RMS = 3.6352 RMS = 1.6683
Correl. = 0.9994 Correl. = 0.9982
R corr. (cps/mA)
R corr. (cps/mA)

0 200 400 0 20 40 60 80 100


C chem. (Rb ppm) C chem. (Ce ppm)

Los grficos de calibracin para rubidio (Rb) y cerio (Ce) son una representacin grfica del nivel de exactitud alcanzable con
Epsilon5 (basado en 200s de mediciones en tiempo real).

La rutina de bsqueda y
correspondencia de picos Cu-K a 1 Ba-K a 1
Zn-Ka 1
espectrales de Epsilon5 se puede Cu-K b1

realizar para espectros individuales Zn-Kb1

o conjuntos de espectros para Ba-K a 2


I(counts/ch)

facilitar la evaluacin exacta de los Sr-K a 2


As-K a 2 Ba-K b1
elementos presentes, incluso en As-K a 1
Sr-K a 1
Sr-K b1 Ag-Kb1
As-K b2 La-K a 2 Cs-K b1
niveles deppm. Br-Ka 2
Rb-K b1 Y-Kb1
Zr-Ka 2
Cd-K b1
Sn-K a 2 La-K a 1
Pb-L a 1 Pb-L b1 Ag-Ka 2 Sb-K b1 Ce-K a 2
Zr-Ka 1 Zr-Kb1 Sn-K a 1
Rb-K a 2 Ag-Ka 1 Ce-K a 1 La-K b1
Nb-Ka 2 Sb-K a 2 Cs-K a 2
Cd-K a 2
Rb-K a 1 Mo-Ka 2 Mo-Kb1 Sb-K a 1 Sn-K b1 Cs-K a 1
Br-Ka 1 Y-Ka 2 Mo-Ka 1 Pd-K a 2 Cd-K a 1
Br-Kb1 Y-Ka 1 Nb-Ka 1 Nb-Kb1 Pd-K a 1

10 20 30
Energy (keV)
PANalytical: la principal compaa para
FRX

Una comprensin en profundidad


El prestigio de PANalytical por lo que respecta a la innovacin y la
calidad tiene su origen en el intercambio activo de informacin e ideas
entre clientes, investigadores, profesores y los propios expertos de la
compaa. Esta colaboracin tiene un gran valor y permite comprender
en profundidad las necesidades de los clientes. Adems, permite a
PANalytical fabricar los sistemas ms avanzados tcnicamente, verstiles
y rentables.

La compaa, anteriormente Philips Analytical, lleva suministrando


instrumentos de rayosX para la caracterizacin de materiales ms de 50
aos desde la introduccin del innovador difractmetro con contador
Norelco Geiger en 1948. Durante los aos setenta y ochenta, los
espectrmetros FRX de la serie PW1400 tuvieron un gran xito y algunos
an se siguen usando 25 aos despus de su lanzamiento. Ms
recientemente, los espectrmetros de la serie PW2400/MagiX son los ms
usados en comparacin con otros instrumentos WDXRF y su antecesor, el
sistema Axios, es sin duda el mejor espectrmetro de dispersin de
longitud de onda.

El sistema Epsilon 5 contina esta tradicin mediante la combinacin de


las ventajas de las tcnicas de EDXRF tridimensional con la estabilidad a
largo plazo y la fiabilidad propias de los espectrmetros de PANalytical.
La calidad como objetivo

Calidad garantizada
La calidad es un aspecto esencial para PANalytical. El sistema
Epsilon 5 se ha diseado, fabricado y probado segn el
estricto control de calidad de PANalytical en la fbrica con
certificacin ISO 9001:2000 de la compaa.

Servicio de asistencia al
cliente

Asistencia al cliente especializada


Para PANalytical la asistencia al cliente es fundamental. Con
una amplia red de centros de servicio, los equipos de
especialistas en aplicaciones atienden a ms clientes y operan
en ms pases que ningn otro fabricante de equipos de
rayosX para anlisis.
Global y local

PANalytical
PANalytical es el principal proveedor mundial de instrumentos analticos y software PANalytical B.V.

puede interpretar como una representacin o garanta de la exactitud, vigencia o exhaustividad de dicha informacin. El contenido de este
Aunque se han tomado todas las precauciones debidas para garantizar que la informacin de este documento sea exacta, ninguna parte se
Lelyweg 1, 7602 EA Almelo

documento est sujeto a cambios sin previo aviso. Pngase en contacto con nosotros para solicitar la ltima versin de este documento o
para difraccin de rayosX (DRX) y espectrometra de fluorescencia de rayosX (FRX),
con ms de medio siglo de experiencia. El equipo de caracterizacin de materiales Pases Bajos
se utiliza para la investigacin y el desarrollo cientficos, para aplicaciones de T +31 (0) 546 534 444
control de procesos industriales y para la metrologa de semiconductores. F +31 (0) 546 534 598
PANalytical, fundada en 1948 como parte de Philips, cuenta con unos 1.000 info@panalytical.com
empleados en todo el mundo. Sus oficinas centrales se encuentran en Almelo, www.panalytical.com
Pases Bajos. Dispone de laboratorios de aplicaciones completamente equipados en
Japn, China, EE.UU. y Pases Bajos. Las actividades de investigacin de PANalytical Oficinas de ventas regionales
se realizan en Almelo (Pases Bajos) y en el campus de la Universidad de Sussex en
Brighton (Reino Unido). El centro principal y el centro de suministro se encuentran Amrica
en dos emplazamientos en los Pases Bajos: Almelo (desarrollo y produccin T +1 508 647 1100
de instrumentos de rayosX) y Eindhoven (desarrollo y produccin de tubos de F +1 508 647 1115
rayosX). Una red de ventas y servicio en ms de 60 pases garantiza un nivel
excepcional de asistencia al cliente. Europa, Oriente Prximo y frica
La compaa tiene la certificacin ISO9001-2008 e ISO 14001. T +31 (0) 546 834 444
informacin adicional. PANalytical B.V. 2009. 9498 707 27341 PN8518

F +31 (0) 546 834 499


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