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FACULTAD DE INGENIERIA
LABORATORIO DE
FISICA BASICA III
INFORME No 1
INSTRUMENTACION
Grupo: D
Fecha: 1-Sep-2014
Laboratorio Fsica Bsica II 2014
INSTRUMENTACIN
A. TRATAMIENTO DE DATOS
Mediciones
1. Para la seal del punto 6. Del PROCEDIMIENTO, con las medidas obtenidas con el osciloscopio
verificar que y
En la hoja de datos
Con (1)
Con (2)
2. Para la seal del punto 6. del PROCEDIMIENTO, con los datos tomados con el osciloscopio y los clculos
necesarios, expresar la seal en la forma y realizar un grfico de esta funcin. En este
grfico, ubicar los puntos obtenidos en la Tabla 1 de la Hoja de Datos
Con la formula , y
Con (3)
Con (4)
Con (5)
Laboratorio Fsica Bsica II 2014
Entonces:
0.50
0.00
0 0.0001 0.0002 0.0003 0.0004 0.0005 0.0006 0.0007 0.0008
Voltaje (V)
-0.50
Series1
-1.00
Series2
-1.50
-2.00
-2.50
Tiempo (s)
3. En base a la tabla 1, elaborar una tabla comparativa que, adems, incluya los valores de
voltaje calculados con la expresin del punto anterior y la diferencia porcentual de los valores
medidos respecto a los calculados.
Diferencia
N t t Vc (calc.) Ve(tabla 1) (Ve-Vc)/Vc*100%
%
1 0 0 -0,58 -0,58 0%
2 88 0,000088 0,70 0,76 8,5%
3 188 0,000188 0,52 0,42 19,6%
4 280 0,000280 -0,96 -1,08 12,5%
5 380 0,000380 -2,03 -2,02 0,7%
6 476 0,000476 -1,27 -1,14 10,5%
7 572 0,000572 0,33 0,44 33,6%
8 672 0,000672 0,81 0,76 5,8%
9 752 0,000752 -0,18 -0,32 81,9%
Laboratorio Fsica Bsica II 2014
La ltima columna muestra la diferencia porcentual de los valores medios respecto a los
calculados
4. Comprobar que la seal obtenida en el punto 10 del procedimiento, tena las caractersticas
de voltaje requeridas
5. Para la seal obtenida en el punto 10 del procedimiento, demostrar que no poda tenerse
una representacin ms grande de un periodo de la seal considerando que los factores de
escala vertical van de una secuencia 1-2-5 y que los factores de escala horizontal van de una
escala 1-2.5-5
La seal usada de periodo igual a 370,8 microsegundos entra en ese rango de forma
adecuada.
La seal usada de Vpp igual a 2,92 V entra en ese rango de forma adecuada.
En el experimento se utiliz una onda cuadrada que oscilaba entre -1,4V y +3,8V y con una
frecuencia de 1,202 KHz.
La seal usada de periodo igual a 370,8 microsegundos entra en ese rango de forma adecuada.
La seal usada de Vpp igual a 5,20V entra en ese rango de forma adecuada.
B. Cuestionario
En el caso de una seal senoidal no, dado que la variacin de nivel DC solo produce un
corrimiento, en el que no se ha deformado la seal por lo que la amplitud permanecer
constante.
La seal de entrada puede ser cualquier funcin, como cuadrada, diente de sierra, etc.
Mientras la seal de disparo es necesariamente una funcin diente de sierra.
3. Qu se puede concluir si, variando el nivel de disparo, no hay variacin notable en el trazo
de una seal en el osciloscopio?
Si se puede, suponga un electrn que es lanzado por el eje de las placas. Este electrn
experimenta una desviacin x que es proporcional a la diferencia de potencial V1 entre las
placas H, un par de placas paralelas del plano XZ (placas V) sometidas a una diferencia de
potencial V 2 desviaran al has de electrones en la direccin de eje Y una distancia y que es
proporcional a V 2 . Este es el principio del osciloscopio como instrumento de medida de
voltajes constantes.
Laboratorio Fsica Bsica II 2014
PANTALLA
HAZ DE Y
ELECTRONES
X
PLACAS V
CAON DE
ELECTRONES
PLACAS H
La velocidad de muestreo es la frecuencia con que el convertidor A/D (analgico a digital) mide
los niveles de una seal, las muestras son, a grandes rasgos anlogas a una serie de
instantneas. Si el convertidor toma diez muestras de la seal cada segundo, tendra una
velocidad de muestreo de 10 Hz.