T60 Construido

. .
Equipo en prueba - Ajustes del dispositivo

. . .
Subestacin/Baha:
Subestacin: Direccin de subestacin:
Baha: Direccin de baha:
. . .
Dispositivo:
Nombre/descripcin: T60 Fabricante: GE
Tipo de dispositivo: Direccin del dispositivo:
No de serie:
Info adicional 1:
Info adicional 2:
Hardware Configuration
.
Equipo en prueba
Tipo No de serie
CMC356 FC710K
. .
Comprobacin del hardware
Realizado en Resultado Detalles
19/07/2017 01:13:32 Correcta
p.m.
QuickCMC1 T60:
. .
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON QuickCMC Versin: 3.10
Comienzo: 19-jul-2017 11:51:03 Fin:
Nombre de usuario: Administrador:
Compaa:
Resultados de la prueba
Resumen
0 pruebas correctas, 0 pruebas incorrectas, 0 pruebas no
evaluadas
No hay resultados disponibles!
QuickCMC1 T60-EQUILIBRADO:
. .
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON QuickCMC Versin: 3.10
Comienzo: 19-jul-2017 11:48:37 Fin:
Nombre de usuario: Administrador:
Compaa:
Resultados de la prueba
Resumen
0 pruebas correctas, 0 pruebas incorrectas, 0 pruebas no
evaluadas
No hay resultados disponibles!
Diff Operating Characteristic:

. .
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON Diff Operating Versin: 3.10
Characteristic
Comienzo: 19-jul-2017 13:13:49 Fin: 19-jul-2017 13:14:22
Nombre de usuario: David Mendoza Administrador: Departamento de Protecciones
Compaa: Ditec Proyectos
Resultados de la prueba de ubicacin de falta L1-L2-L3 en el lado de

referencia Primario
Ipol Idiff NominalIdiff real Desv (rel) Desv (abs) Prueba de Estado Resultado
verificacin
0.70 In n/a 0.183 In n/a n/a Probado Correcta
1.60 In n/a 0.466 In n/a n/a Probado Correcta
.
Estado de la prueba:
Prueba correcta
2 de 2 puntos
probados. 2 puntos
correctos. 0 puntos
incorrectos.
Diff Configuration:
. .
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON Diff Configuration Versin: 3.10
Resultados de la prueba de tipo de falta L1-L2 en ubicacin de falta

Primario
. . .
Ipru = 2.00 In Estado: Probado Resultado: Correcta
Fase Imed_diff Imed_pol
L1 0.000 In 0.000 In
L2 0.000 In 0.000 In
L3 0.000 In 0.000 In
. . .
L1 0.000 In 0.000 In
L2 0.000 In 0.000 In
L3 0.000 In 0.000 In
. . .
L1 0.000 In 0.000 In
L2 0.000 In 0.000 In
L3 0.000 In 0.000 In
.
.
Estado de la
prueba:
Prueba correcta
Diff Configuration - FALLA SEC:

. .
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON Diff Configuration Versin: 3.10
Resultados de la prueba de tipo de falta L1-L2-L3 en ubicacin de falta

Secundario
. . .
L1 0.000 In 0.000 In
L2 0.000 In 0.000 In
L3 0.000 In 0.000 In
. . .
L1 0.000 In 0.000 In
L2 0.000 In 0.000 In
L3 0.000 In 0.000 In
. . .
L1 0.000 In 0.000 In
L2 0.000 In 0.000 In
L3 0.000 In 0.000 In
.
.
Estado de la
prueba:
Prueba correcta
Diff Harmonic Restraint 2:

. .
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON Diff Harmonic Restraint Versin: 3.10
Resultados de la prueba para fase de prueba L1-E en el lado de referencia

Primario para 2. Armnico
Idiff Ixf/Idiff ngulo Disparo Estado Resultado
(Ixf,Idiff)
1.90 I/In 13.00 % -120.0 S Probado Correcta
3.00 I/In 16.60 % -120.0 No Probado Correcta
.
Estado:
2 de 2 puntos probados. 2 puntos
correctos. 0 puntos incorrectos.
Evaluacin general: Prueba correcta
Diff Harmonic Restraint 2-BUSQ:

. .
Mdulo de prueba
Resultados de la prueba para fase de prueba L1-L2-L3 en el lado de

referencia Primario para 2. Armnico
Idiff Ixf/Idiff Ixf/Idiff real ngulo Desv (rel) Desv.(abs) Prueba de Estado Resultado
nominal (Ixf,Idiff) verificacin
1.00 I/In 15.000 % 13.15 % -120.0 -12.36 % -1.8545 Probado Correcta
.
Estado:
Diff Harmonic Restraint 2-BUSQ2:

. .
Mdulo de prueba
Resultados de la prueba para fase de prueba L1-L2-L3 en el lado de

referencia Primario para 2. Armnico
.
Estado:
Diff Harmonic Restraint 5:

. .
Mdulo de prueba
Resultados de la prueba para fase de prueba L2-E en el lado de referencia

Primario para 5. Armnico
.
Estado:
Diff Trip Time Characteristic:

. .
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON Diff Trip Time Versin: 3.10
Characteristic
Resultados de la prueba de tipo de falta L1-E en el lado de referencia

Primario
Idiff Ipol t de disparo t de disparo Desv (rel) Desv (abs) Estado Resultado
nominal real
1.00 In 1.00 In 0.0200 s 0.0299 s 49.50 % 0.0099 s Probado Correcta
.
Estado:
Overcurrent-60KV:
Equipo en prueba - Parmetros de sobrecorriente
.
General - Valores:
Tol. tiem. abs.: 0.04 s Conexin del TT: n/a
To. tiem. rel.: 5.00 % Conexin del pto. de n/a
estrella del TC:
Tol. corr. abs.: 0.05 Iref
Tol. corr. rel.: 5.00 %
Direccional: No
.
Elementos - Fase:
Activo Nombre Caracterstica de disparo I arranque Tiempo Relacin de Direccin
restauracin:
S I #1 Fase CEI Normalmente inversa 0.96 Iref 0.09 0.95 No direccional
S I #2 Fase CEI Tiempo definido 3.54 Iref 0.10 s 0.95 No direccional
. .
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON Overcurrent Versin: 3.10
Ajustes de la prueba:
.
Modelo de Falta:
Referencia de tiempo: Inicio de la falta
Corriente de carga: 0.000 A
ngulo de carga: n/a
Tiempo de pre-falta: 100.0 ms
Tiempo mx. abs.: 240.0 s
Tiempo de post-falta: 500.0 ms
Tiempo mx. rel.: 100.0 %
Activar salida de tensin: No
Tensin de falta LN (todas fases menos las n/a
bifsicas):
Tensin de falta LL (para faltas bifsicas): n/a
CC en disminucin activa: No
Constante de tiempo: n/a
Tiempo mn. car. IP: 50.00 ms
Reposicin trmica activa: No
Mtodo de Habilitar reposicin: n/a
Mensaje de reposicin trmica: n/a
.
Prueba de disparo:
Tipo Relativa a Factor Magnitud ngulo tnom. tmin tmax
L1-L2-L3 (---) n/a 1.200 A n/a 2.817 s 2.195 s 3.843 s
L1-L2-L3 (---) n/a 1.500 A n/a 1.405 s 1.203 s 1.668 s
L1-L2-L3 (---) n/a 2.600 A n/a 626.0 ms 556.5 ms 700.4 ms
L1-L2-L3 (---) n/a 3.400 A n/a 491.9 ms 60.00 ms 553.0 ms
.
Salidas binarias:
Nombre Estado
Sal. bin. 1 0
Sal. bin. 2 0
Sal. bin. 3 0
Sal. bin. 4 0
Entradas binarias:
Lgica del trigger: And
Nombre Estado del trigger
Disparo 1
Entr. bin. 2 X
.
Resultados de la prueba de disparo:
Tipo Relativa a Factor Magnitud ngulo tnom. treal Desviacin Sobrecarga Resultado
L1-L2-L3 (---) n/a 1.200 A n/a 2.817 s 2.962 s 5.147 % No Correcta
L1-L2-L3 (---) n/a 1.500 A n/a 1.405 s 1.439 s 2.380 % No Correcta
L1-L2-L3 (---) n/a 2.600 A n/a 626.0 ms 644.8 ms 2.997 % No Correcta
L1-L2-L3 (---) n/a 3.400 A n/a 491.9 ms 514.7 ms 4.633 % No Correcta
.
Estado:
4 de 4 puntos probados.
4 puntos correctos.
0 puntos incorrectos.

Overcurrent-13.8KV:
Equipo en prueba - Parmetros de sobrecorriente
.
General - Valores:
Tol. tiem. abs.: 0.04 s Conexin del TT: n/a
To. tiem. rel.: 5.00 % Conexin del pto. de n/a
estrella del TC:
Tol. corr. abs.: 0.05 Iref
Tol. corr. rel.: 5.00 %
Direccional: No
.
Elementos - Fase:
Activo Nombre Caracterstica de disparo I arranque Tiempo Relacin de Direccin
restauracin:
S I #1 Fase CEI Normalmente inversa 1.04 Iref 0.09 0.95 No direccional
. .
Mdulo de prueba
Nombre: OMICRON Overcurrent Versin: 3.10
Ajustes de la prueba:
.
Modelo de Falta:
Referencia de tiempo: Inicio de la falta
Corriente de carga: 0.000 A
ngulo de carga: n/a
Tiempo de pre-falta: 100.0 ms
Tiempo mx. abs.: 240.0 s
Tiempo de post-falta: 500.0 ms
Tiempo mx. rel.: 100.0 %
Activar salida de tensin: No
Tensin de falta LN (todas fases menos las n/a
bifsicas):
Tensin de falta LL (para faltas bifsicas): n/a
CC en disminucin activa: No
Constante de tiempo: n/a
Tiempo mn. car. IP: 50.00 ms
Reposicin trmica activa: No
Mtodo de Habilitar reposicin: n/a
Mensaje de reposicin trmica: n/a
.
Prueba de disparo:
Tipo Relativa a Factor Magnitud ngulo tnom. tmin tmax
L1-L2 I #1 Fase 1.154 1.200 A n/a 4.396 s 3.113 s 7.199 s
L1-L2 I #1 Fase 1.442 1.500 A n/a 1.714 s 1.436 s 2.094 s
L1-L2 I #1 Fase 2.404 2.500 A n/a 712.0 ms 634.2 ms 796.6 ms
L1-L2 I #1 Fase 3.846 4.000 A n/a 461.4 ms 405.1 ms 519.9 ms
.
Salidas binarias:
Nombre Estado
Sal. bin. 1 0
Sal. bin. 2 0
Sal. bin. 3 0
Sal. bin. 4 0
Entradas binarias:
Lgica del trigger: And
Nombre Estado del trigger
Disparo 1
Entr. bin. 2 X
.
Resultados de la prueba de disparo:
Tipo Relativa a Factor Magnitud ngulo tnom. treal Desviacin Sobrecarga Resultado
L1-L2 I #1 Fase 1.154 1.200 A n/a 4.396 s 4.967 s 12.98 % No Correcta
L1-L2 I #1 Fase 1.442 1.500 A n/a 1.714 s 1.760 s 2.662 % No Correcta
L1-L2 I #1 Fase 2.404 2.500 A n/a 712.0 ms 730.8 ms 2.638 % No Correcta
L1-L2 I #1 Fase 3.846 4.000 A n/a 461.4 ms 483.0 ms 4.679 % No Correcta
.
Estado:
4 de 4 puntos probados.
4 puntos correctos.
0 puntos incorrectos.

T60 Construido

Hochgeladen von

Dokumentinformationen

Originaltitel

Copyright

Verfügbare Formate

Dieses Dokument teilen

Dokument teilen oder einbetten

Freigabeoptionen

Stufen Sie dieses Dokument als nützlich ein?

Sind diese Inhalte unangemessen?

Copyright:

Verfügbare Formate

T60 Construido

Hochgeladen von

Copyright:

Verfügbare Formate

. .

Equipo en prueba - Ajustes del dispositivo

Diff Operating Characteristic:

Resultados de la prueba de ubicacin de falta L1-L2-L3 en el lado de

Resultados de la prueba de tipo de falta L1-L2 en ubicacin de falta

Diff Configuration - FALLA SEC:

Resultados de la prueba de tipo de falta L1-L2-L3 en ubicacin de falta

Diff Harmonic Restraint 2:

Resultados de la prueba para fase de prueba L1-E en el lado de referencia

Evaluacin general: Prueba correcta

Diff Harmonic Restraint 2-BUSQ:

Resultados de la prueba para fase de prueba L1-L2-L3 en el lado de

Diff Harmonic Restraint 2-BUSQ2:

Resultados de la prueba para fase de prueba L1-L2-L3 en el lado de

Evaluacin general: Prueba correcta

Diff Harmonic Restraint 5:

Resultados de la prueba para fase de prueba L2-E en el lado de referencia

Evaluacin general: Prueba correcta

Diff Trip Time Characteristic:

Resultados de la prueba de tipo de falta L1-E en el lado de referencia

Evaluacin general: Prueba correcta

Evaluacin general: Prueba correcta

Evaluacin general: Prueba correcta

Das könnte Ihnen auch gefallen