Teora de Elasticidad

Elasticidad es la propiedad que tienen algunos materiales sometidos a esfuerzos y

deformaciones, de recuperar su forma original, dentro de ciertos lmites, al
desaparecer el efecto de los esfuerzos.
Esta definicin esta ntimamente ligada al concepto de mdulo elstico, que
relaciona a los esfuerzos con las deformaciones unitarias.

Mdulo de elasticidad o mdulo de Young es la relacin de la fuerza aplicada a un

material y la deformacin producida a causa de esa fuerza.
Este comportamiento se ejemplifica claramente con la ley de Hook.

Al incrementar los esfuerzos, las deformaciones aumentaran proporcionalmente,

mientras no se rebase el punto de limite elstico. Si se contina aumentando los
esfuerzos, las deformaciones ya no sern proporcionales, y al desaparecer los
esfuerzos quedarn algunas deformaciones permanentes. Si el incremento de los
esfuerzos alcanza la ruptura, el cuerpo se rompe.
Esfuerzo
Fuerza aplicada a un cuerpo(roca) por unidad de superficie.

=

Consideramos un plano orientado al azar de rea A, que contiene un punto O, y
sobre el cual acta una fuerza F, la resultante de todas las fuerzas que actan
sobre A. El esfuerzo en el punto O, sobre el plano A cuya normal est en la
direccin OP, se define como:

=( )

Se pueden considerar dos tipos bsicos de deformaciones:

-Conservando el volumen.
-Vareando el volumen.
Deformaciones longitudinales conservando el volumen. Son producidas por
esfuerzos de tensin y compresin.
Si se conserva el volumen se originan deformaciones en el sentido transversal para
compensar las deformaciones en el sentido longitudinal.

Deformaciones longitudinales variando el volumen. Deformacin longitudinal con

variacin de volumen. Este tipo de deformacin se obtiene cuando los esfuerzos
estn uniformemente distribuidos, como en el caso de una prensa hidrulica.

=

ptica Geomtrica

Este campo de la ptica se ocupa de la aplicacin de las leyes de reflexin y

refraccin de la luz al diseo de lentes y otros componentes de instrumentos pticos.
Si un rayo de luz que se propaga a travs de un medio homogneo incide sobre la
superficie de un segundo medio homogneo, parte de la luz es reflejada y parte
entra como rayo refractado en el segundo medio, donde puede o no ser absorbido.
El plano de incidencia se define como el plano formado por el rayo incidente y la
normal (es decir, la lnea perpendicular a la superficie del medio) en el punto de
incidencia.

El ngulo de incidencia es el ngulo entre el rayo incidente y la normal. Los ngulos

de reflexin y refraccin se definen de modo anlogo.
Las leyes de la reflexin afirman que el ngulo de incidencia es igual al ngulo de
reflexin, y que el rayo incidente, el rayo reflejado y la normal en el punto de
incidencia se encuentran en un mismo plano.
En la figura 2, la fuente de luz es el objeto A; un punto de A emite rayos en todas
las direcciones.

Los dos rayos que inciden sobre el espejo en B y C, por ejemplo, se reflejan como
rayos BD y CE.
Para un observador situado delante del espejo, esos rayos parecen venir del punto
F que est detrs del espejo.
De las leyes de reflexin se deduce que CF y BF forman el mismo ngulo con la
superficie del espejo que AC y AB.
Reflexin y refraccin

Las leyes de reflexin y refraccin de la luz suelen deducirse empleando la teora

ondulatoria de la luz introducida en el siglo XVII por el matemtico, astrnomo y
fsico holands Christian Huygens.

Principio de Huygens: Todo punto de frente de onda se comporta como un

nuevo centro generador de ondas.

Cuando las ondas secundarias llegan a otro medio u objeto, cada punto del lmite
entre los medios se convierte en una fuente de dos conjuntos de ondas.
El conjunto reflejado vuelve al primer medio, y el conjunto refractado entra en el
segundo medio.
El comportamiento de los rayos reflejados y refractados puede explicarse por el
principio de Huygens.

Ley de Snell
Utilizando el principio de Huygens. Un frente de onda AB limitado por dos
trayectorias, avanza hacia una discontinuidad con una velocidad 1 formando un
ngulo incidente i con la normal a la discontinuidad.

Al avanzar el frente de onda AB, despus de un intervalo de tiempo

llega a la posicin CD, en el punto C empieza a vibrar, tenindose desplazamientos
proporcionales a 1 y a 2,en cada medio.
En el transcurso de tiempo T, el punto D avanza hacia el punto E, mientras tanto
el punto C ha vibrado, tenindose un desplazamiento CF en el medio de velocidad
1 , y CG en el medio de velocidad 2.

; = ; = ; =


= =

; = ; = ; =

= Sen I = Sen r Ley de Snell (Reflexin)

Analizando simultneamente los medios .

; = ; =

; = ; =

Igualando CE

=

Pero = =

Sustituyendo

= =

= ()

Divergencia esfrica
Es la expansin geomtrica que provoca la aparente perdida de energa (intensidad
y densidad) de una onda que se propaga durante el viaje. La divergencia esfrica
disminuye la energa con respecto el cuadrado de la distancia de la fuente.

Cuando se propaga una onda ssmica, la energa se extiende a lo largo de la

superficie del frente de onda. Para las ondas cilndricas y esfricas la superficie
aumenta con el aumento del radio. Es por eso que la energa disminuye. La Energa
de las diferentes ondas es proporcional a:
Onda plana: Constante
onda cilndrica: ~ 1 / r
onda esfrica: ~ 1 / r2
La energa de las ondas del cuerpo (esfrica) y de la interfaz (cilndrica) es
proporcional a (1 / r2) y (1 / r), respectivamente. La amplitud de las ondas del cuerpo
y de la interfaz son proporcionales a (1 / r) y (1 / o), respectivamente (la energa es
proporcional a (amplitud).

Ecuaciones de Zoeppritz
Son un conjunto de ecuaciones que describe la separacin de la energa en un
campo de onda, con respecto a su ngulo de incidencia en un lmite a lo largo del
cual las propiedades de la roca y el contenido de fluidos cambian. Describen la
particin de la energa de la onda ssmica en una interfaz, tpicamente un lmite
entre dos capas diferentes de la roca.

Las ecuaciones son importantes en la geofsica porque relacionan la amplitud de la

onda P incidente sobre una interfaz plana y la amplitud de las ondas P y S reflejadas
y refractadas al ngulo de incidencia y su densidad. Son la base para investigar los
factores que afectan la amplitud de una onda ssmica de retorno cuando se altera
el ngulo de incidencia - tambin conocido como anlisis de amplitud que es una
tcnica til en la deteccin de depsitos de petrleo.
Las ecuaciones de Zoeppritz tambin se utilizan en modelado inverso para calcular
las velocidades P y S y la densidad a partir de datos ssmicos.
Las ecuaciones de Zoeppritz relacionan no solo las amplitudes de una onda P
incidente (de amplitud Ap = 1) desde el medio 1 y desde el medio 2 con las de las
ondas P y S reflejadas y transmitidas a travs de los coeficiente de reflexin y
transmisin (ver Figura 1.1), sino tambin el caso anlogo en que se tiene una onda
S incidente, tambin desde el medio 1 y desde el medio 2.
Estas relaciones involucran todos los coeficientes de reflexin y transmisin (Rpp,
Rps, Rsp, Rss, Tpp, Tps, etc.) y todas las propiedades fsicas de los dos medios
(velocidades y densidades). En el caso particular de la Figura 1.1 (onda P incidente
desde el medio 1), las ecuaciones de Zoeppritz estn conformadas por un sistema
de cuatro ecuaciones con cuatro incgnitas, y se pueden escribir de la siguiente
manera:
donde

siendo Z1, Z2, W1 y W2 las correspondientes impedancias para las ondas P y S en

cada uno de los medios:

Z1 = 1Vp1, Z2 = 2Vp2, W1 = 1Vs1, W2 = 2Vs2.

Dado un ngulo de incidencia i y las propiedades fsicas de los dos medios, estas
ecuaciones se pueden resolver numricamente y as hallar los coeficientes de
reflexin y transmisin correspondientes. Previamente, los ngulos t, r y t
deben ser calculados mediante la Ley de Snell generalizada.
Hay varias aproximaciones lineales a las ecuaciones de Zoeppritz:
-La aproximacin de Bortfeld: Utiliza la razn de Poisson para separar los
coeficientes de reflexin en tres trminos: Incidencia normal, factor fluido y factor de
rigidez.
-La aproximacin de Shuey
-La aproximacin de Aki-Richards

Bibliografa

-Reporte Elastic impedance, P. Connolly (The Leading Edge, 1999)

- Gress Gmez, r. (2013). Caractersticas geolgicas-geofsicas de los yacimientos
petroleros en secuencias calcreas de cuenca. Universidad Nacional Autnoma de
Mxico. Facultad de Ingeniera.
- Soto Contreras, K. (2013), Aplicacin de atributos ssmicos (AVO), en facies
terrgenas del terciario para la generacin de localizaciones exploratorias en el
rea de Tacotalpa. Universidad Nacional Autnoma de Mxico.

-R. Ganssle Graham (2012). Calculation of a Synthetic Gather using the Aki-
Richards Approximation to the Zoeppritz Equations, B.S. University of New
Orleans.