Beruflich Dokumente
Kultur Dokumente
Fitopatlogos (Espaol)
Riley, M. 2003. Microscopa Bsica - Una Destreza Importante para Fitopatlogos. Trans. Jos Carlos Ureta R. 2008. The Plant
Health Instructor. DOI: 10.1094/PHI-I-2008-0715-01
OBJETIVOS:
Familiarizar al estudiante con los componentes de los microscopios comnmente utilizados por
fitopatlogos.
Ensear el cuidado y mantenimiento apropiado de los microscopios.
Aprender los pasos de un adecuado manejo del enfoque y observacin de especimenes con los
microscopios.
Determinar la magnificacin de los microscopios.
INTRODUCCIN:
Usted va a embarcarse en la aventura de su vida en el laboratorio de fitopatologa. El microscopio es
una de las herramientas ms tiles que tiene un fitopatlogo, cuando trata de identificar al agente causal
de una enfermedad en plantas. Algunas veces el microscopio le brindar informacin que le permitir
conocer exactamente la causa de una enfermedad en plantas. En otros casos, pueden ser importantes
para determinar que ciertos fitopatgenos no estn causando un problema fitopatolgico.
El uso adecuado de un microscopio es una de las destrezas ms importantes que debe aprender un
estudiante que se inicia en el estudio de la fitopatologa. Los microscopios se desarrollaron a finales del
siglo XVII y hoy en da, continan siendo importantes para la identificacin de hongos y algunos otros
agentes causales de enfermedades en plantas. Aunque el estudio de los microscopios se les ha
enseado en sus cursos introductorios de las materias cientficas, frecuentemente los estudiantes no
aprenden como utilizarlos y cuidarlos adecuadamente. Es ms, en ciertos cursos se les indica que los
microscopios ya estn preparados e instalados en su sitio y que no se les recomienda que cambien
nada de lo ya establecido, fuera de efectuar el enfoque correspondiente. Esta publicacin les proveer
con informacin bsica e instrucciones en como preparar, usar y cuidar de microscopios, tcnicas
esenciales para estudiantes de Fitopatologa.
Figura 1. Partes de un Microscopio Compuesto. Haga clic en imagen para una visin ms detallada .
Figura 2. Partes de un Microscopio de Diseccin. Haga clic en imagen para una visin ms detallada.
Dos tipos de microscopios son usados comnmente en el curso introductorio de fitopatologa. Estos
microscopios son el microscopio compuesto (Figura #1) y el microscopio de diseccin (Figura #2). Este
ltimo es usado frecuentemente para la observacin de objetos ms grandes y generalmente presentan
magnificaciones menores a los 100X. La fuente de luz se ubica en la parte superior o puede ser
transmitida a travs de la platina (traslcida). Los microscopios compuestos son utilizados para la
observacin de especimenes ms pequeos, los cuales son colocados sobre portaobjetos y cubiertos
con un cubreobjetos. Los especimenes a observar deben dejar pasar la luz a travs de ellos, en cierta
medida, para que la luz llegue a los lentes del microscopio. La magnificacin comnmente encontrada
en los microscopios compuestos est entre los 10X a 1000X.
Componentes de esta prctica incluyen a:
MATERIALES:
Microscopio Compuesto.
Microscopio de Diseccin.
Portaobjetos y Cubreobjetos.
Tijeras.
Botella de agua con gotero.
Aceite de Inmersin.
Letras e escritas en un tamao de letra #6 e impresas en papel blanco, luego se reduce a un 50%
sobre un acetato que puede ser cortado en letras e individuales para cada estudiante (tamao final
de la letra e es 0.6 x 0.45 mm)
PROCEDIMIENTO:
PARTES DEL MICROSCOPIO.
Se debe familiarizar con las distintas partes de los microscopios antes de utilizarlos, porque se
necesitar conocer en donde se ubican las mismas en los diferentes microscopios. Algunos de estos
componentes pueden ubicarse en sitios ligeramente diferentes dependiendo del modelo de microscopio
de que se trate. Tmese algunos minutos para estudiar las figuras 1 y 2 antes de proceder. Las
principales partes del microscopio compuesto y del de diseccin y sus usos se encuentran establecidas
en la Tabla 1. Anote las diferencias entre estos microscopios antes de continuar.
Ajuste del Botn grande que mueve el cabezal hacia arriba y abajo para
macromtrico observar la muestra en el enfoque macromtrico.
Iluminador, Fuente
Controla la cantidad de luz que se transfiere a la muestra.
lumnica
Eje giratorio del Usado para ajustar el espejo para que refleje la luz a travs de la
espejo muestra.
Las fuentes de luz se requieren para la mayora de los microscopios. El cordn elctrico de la fuente
lumnica debe ser insertado en una salida elctrica adecuada. En algunos modelos de microscopios de
diseccin la fuente de luz es una unidad separada. Esta fuente de luz puede ser insertada en un espacio
que presenta el brazo para poder iluminar la muestra desde arriba, en direccin hacia la platina.
Alternativamente, la fuente de luz puede ser colocada cerca de la platina a nivel de la muestra o debajo
de la platina.
Algunos microscopios compuestos a menudo presentan objetivos que slo pueden ser utilizados con
aceite de inmersin. Estos objetivos se identifican por tener grabada la palabra oil (aceite, en ingls) en
un lado, cerca del nmero que indica el aumento del objetivo. Estos objetivos no pueden ser utilizados
sin el aceite de inmersin. Los otros objetivos no deben ser usados con aceite de inmersin ya que se
pueden daar si son inmersos en este aceite. El uso de lentes de inmersin es esencial cuando se
observan estructuras menores de 10 m de tamao. Por ejemplo, este aumento se requiere cuando se
requiere determinar la forma de una clula bacteriana. El aceite de inmersin no incrementa el aumento
de los lentes, pero mejora la resolucin y la nitidez de la imagen producida por dicho objetivo. Cuando la
luz pasa a travs de un material a otro, por ejemplo del vidrio al aire, la luz se refracta o distorsiona. La
luz de diferentes longitudes de onda se inclina a diferentes ngulos. Estas refracciones dan como
resultado una distorsin la cual se manifiesta ms a medida que el aumento del lente es mayor. Al
colocar una gota de aceite de inmersin, el cual tiene el mismo ndice de refraccin que el vidrio, entre el
objetivo de 100X y el portaobjetos (placa) se reduce significativamente la dispersin de la luz que
ocurrira sino se utiliza el aceite de inmersin. Por ello, se incrementa la resolucin de la imagen.
Para determinar el aumento de cualquier imagen se necesita multiplicar el aumento del ocular por el
aumento del objetivo. Si existen lentes auxiliares en un microscopio de diseccin, el aumento debe ser
multiplicado por el del ocular y el del objetivo. Es importante anotar los diferentes aumentos utilizados
para poder comparar el tamao relativo de las imgenes que se observen. En muchos casos se
requerir de usar uno o varios aumentos para observar todos los detalles de la muestra.
Pregunta: Cul es el mximo aumento que puede obtener con su microscopio compuesto?
________________
Con el uso de aceite de inmersin? ____________
Sin el uso de aceite de inmersin? _____________
Pregunta: Cul es el aumento mnimo y mximo que se puede obtener, cuando se usa el ajuste
asociado a su botn de aumento (zoom) localizado a un costado de su microscopio de diseccin
(figura 4)?
Pregunta: Cul es el mximo aumento disponible cuando se utiliza su microscopio de
diseccin? Recuerde incluir el factor que representa los lentes auxiliares o suplementarios, si
estn presentes en su microscopio, y el mximo para el ajuste de aumento y oculares.
Figura 5a. Mtodos de ajuste del ancho de los oculares A: Botn entre los oculares, se mueve para ajustar el ancho.
Figura 5b. Simplemente se empuja o hala a los lados, en donde se sostiene los oculares para ajustar el ancho. (Cortesa de M. B.
Riley)
AJUSTE DE LAS PIEZAS OCULARES.
Se requieren de varios ajustes antes de observar a los especimenes. En microscopios bioculares (con
dos oculares) la distancia entre ellos se debe ajustar acorde a su distancia interpupilar y con ambos ojos
observar una sola imagen. Existen diferentes formas de ajustar la distancia, dependiendo del
microscopio que se este utilizando. En algunos microscopios existe un botn entre los oculares que
ajusta la distancia entre stos. (Figura 5A). Otros microscopios se ajustan moviendo los oculares (Figura
5B). Dicho ajuste es especfico para cada persona, por ello se requieren de ajuste mnimos cuando una
persona ha utilizado previamente el microscopio. Haga este ajuste previo a iniciar la observacin. Los
diferentes ajustes son necesarios para una mejor observacin y que no se presenten incomodidades y
fatiga de sus ojos al efectuar las observaciones pertinentes. Este procedimiento de ajuste se realiza una
vez se vaya a iniciar la observacin de la placa correspondiente.
COLOCACIN Y ENFOQUE DE ESPECMENES EN UN PORTAOBJETOS.
Lo primero que se debe considerar es la colocacin de la placa y el enfoque. Para proceder se obtiene
una letra "e" que se proveer al inicio. Despus de enfocar la letra "e", se iniciar la ilustracin respecto
al movimiento y orientacin del material a observar en la placa.
Figura 6. Botn de ajuste del micromtrico utilizado para proporcionar un mayor acceso a la platina y el ajuste inicial de la
imagen. (Cortesa de M. B. Riley)
6. Levante el cabezal utilizando el tornillo macromtrico para iniciar la observacin (Figura 6). En
algunos casos la platina es la que se mueve y no el cabezal.
Figura 7. Rotacin del revlver para colocar en posicin al objetivo deseado. (Cortesa de M. B. Riley )
7. Rote el revlver para iniciar la observacin con el objetivo de menor aumento, usualmente 4x o
10x, segn sea el caso (Figura 7).
Figura 8. Perilla del condensador para ajustar el nivel de luz que pasa a travs de la muestra. (Cortesa de M. B. Riley)
9. Coloque la placa sobre la platina con la marca en la placa a su lado opuesto. Coloque la letra
"e" directamente por encima del centro del condensador que se encuentra ubicado debajo de la
platina y que puede ser observado a travs de la abertura que presenta la platina.
10. Utilizando el botn respectivo, levante el condensador, hasta que la punta del mismo se
encuentre a una distancia de la placa de aproximadamente el grosor de una lmina de papel
toalla. (Figura 9).
Figura 10. Botn del ajuste del micromtrico usado para obtener el enfoque mximo. (Cortesa de M. B. Riley)
11. Rote el tornillo micromtrico a una posicin aproximada de su punto medio. (Figura 10).
12. Rote el tornillo macromtrico hasta que la placa casi toque el objetivo. Asegrese de observar
desde lado del microscopio mientras alcanza la distancia de observacin. No se recomienda
forzar el objetivo dentro de la placa ya que la rompera o ms importante an se daara el
objetivo.
13. Utilizando su ojo y ocular derecho, suavemente mueve el tornillo macromtrico hasta que este
enfocada la letra e. Ajuste su visin hasta observar el mejor enfoque posible.
14. Luego use el tornillo micromtrico hasta obtener la imagen ms ntida posible. (Figura 10). Si
ms de un apersona est utilizando el microscopio, cada una de ellas necesitar de efectuar
este ajuste en su visin.
15. Sin mover el enfoque efectuado con el ojo derecho, observe la letra e con el ojo y ocular
izquierdo. Use el ajuste de dioptra moviendo en sentido contrario a las manecillas del reloj, del
ojo izquierdo hasta que se observe fuera de foco la letra e. Posterior a ello, mueve el ajuste de
dioptra en sentido de las manecillas del reloj hasta que se obtenga un enfoque ntido. Este
ajuste reducir el agotamiento del ojo.
Indicacin: Dibuje lo que observa. Observe la parte superior de la letra e vista desde el
microscopio.
Pregunta: Si se necesita observar hacia el lado izquierdo de la muestra, hacia que direccin se
necesita mover la placa? _______________________
Pregunta: Si se necesita observar la parte superior de su muestra, hacia que direccin necesita
mover la placa? ________________________
17. Para incrementar el aumento se procede como sigue: Asegrese de que su muestra est
enfocada correctamente con el objetivo de ms bajo poder utilizado en un momento dado.
18. Mientras observa el objetivo, asegrese de que su movimiento no toque la placa y se deslice
adecuadamente, mueve el revlver al siguiente objetivo de superior aumento y que est en la
posicin correcta sobre la muestra. La mayora de los microscopios tienen posiciones en donde
el objetivo, si est colocado adecuadamente, hace un ruido seco o chasquido. Si la luz no se
observa o el crculo de luz no est centrado, coloque el revlver en la posicin correcta.
19. Use el tornillo micromtrico para que sea ntida su observacin. No debiera tener que utilizar el
tornillo macromtrico, si el enfoque anterior fue el adecuado.
21. Si se necesita usar aceite de inmersin, se requiere usar una gota del mismo en la placa, en el
sito que se desea observar. (Aceite mineral u otros aceites no deben ser utilizados). Al mover el
revlver hacia la posicin del objetivo de inmersin, detngase a media distancia entre el
objetivo anterior y el de inmersin. (Figure 11).
23. Mueve el revlver de manera que el objetivo de inmersin est directamente sobre la placa. La
gota de aceite de inmersin debe formar un puente entre el objetivo y la placa.
24. Use el tornillo micromtrico para observar una imagen ntida de su muestra.
26. Nota importante: Asegrese de que los otros objetivos no se impregnen de aceite de inmersin,
ya que se pueden daar.
27. Cuando termine la observacin con el lente de inmersin, levante el cabezal o baje la platina,
segn sea el caso de acuerdo a su microscopio, limpie de inmediato el objetivo del aceite
adherido y remueva la placa con el aceite. Limpie el aceite de las placas si se van a volver a
utilizar o si son placas permanentes de laboratorio. Los objetivos se pueden limpiar con papel
de lente u agua destilada. Solamente use papel de lente para limpiar los objetivos ya que otros
materiales como, papel toalla, toallitas, otros, pueden daarlos.
28. Cada vez que se requiera de remover una placa, siempre levante el cabezal o baje la platina,
para posteriormente remover la placa observada. Para evitar que de manera descuidada se
dae el objetivo al rozarlo con la placa.
Las muestras son colocadas sobre la platina y se les mueve a mano. La luz puede ser transmitida a
travs de la placa, ajustando el espejo debajo de la muestra o la muestra puede observarse con luz
proveniente de la parte superior. Use los pasos que se indican a continuacin, ignorando a aquellos que
no aplican para su microscopio.
Figura 12. Microscopio de diseccin con la fuente de luz posicionada de manera tal que es transmitida hacia arriba desde la parte
inferior a travs de la muestra. A Eje giratorio del espejo usado para ajustar el ngulo del espejo para reflejar la luz. (Cortesa
de M. B. Riley)
Para observar la letra e es mejor usar la luz proveniente de la parte inferior de la muestra .
Pregunta: Existe alguna diferencia entre lo que se observ anteriormente con el microscopio
compuesto? Si es as, cul/es son las diferencias? __________________________
Aumento Total = Ocular X Lente Auxiliar X Graduacin en el Botn de Ajuste de Aumento (zoom).
________ = ________ X ________ X __________
Pregunta: Cundo utilizara la fuente de luz que provenga de la parte superior del microscopio?
Y, Cul es la ventaja de esta posicin? ________________________
http://www.apsnet.org/edcenter/intropp/LabExercises/Pages/Microscopio.aspx
El relieve lo describimos bajo, medio, alto, muy alto etc. (en algunos casos bajo
negativo o medio negativo).
Granos xenomorfos de fluorita rosada, mostrando un relieve medio negativo, debido a su bajo
ndice de refraccin (IR= 1.43). Luz polarizada plana.
Lado mayor de la imagen (mm)= 1.4
Relieve bajo negativo en un grano azulado de sodalita (IR= 1.48) que contrasta ligeramente
con los minerales de su entorno de mayor ndice de refraccin (feldespatos). Luz polarizada
plana.
Lado mayor de la imagen (mm)= 1.6
Relieve muy bajo positivo, en el cuarzo (IR= 1.54-1.55) los lmites de grano son casi
imperceptibles. Luz polarizada plana.
Lado mayor de la imagen (mm)= 2.8
Relieve medio (positivo), en la biotita (IR= 1.6-1.7) los lmites de grano se aprecian con
claridad. Luz polarizada plana.
Lado mayor de la imagen (mm)= 2.5
Relieve medio, en la turmalina tipo chorlo (IR= 1.64-1.67) los lmites de grano se aprecian con
claridad. Luz polarizada plana.
Lado mayor de la imagen (mm)= 3.4
Relieve alto en varios cristales de granate (IR= 1.7-1.8). Luz polarizada plana.
Lado mayor de la imagen (mm)= 6
Relieve muy alto en titanita (IR= 1.9-2.0). Luz polarizada plana.
Lado mayor de la imagen (mm)= 1.2
Volver al ndice
Reproducir pase
Ejemplos de minerales con diferente relieve, ordenados de menor a mayor ndice de refraccin.
Aunque en la mayor parte de los casos el relieve es directamente proporcional al
ndice de refraccin, podemos tener relieves negativos, bajos o moderados, en el
caso de minerales con ndices de refraccin muy bajos.
En casos excepcionales (carbonatos) se da un pleocrosmo de relieve, o lo que
es lo mismo, un cambio en el relieve al girar la muestra.
Comportamiento de la lnea de Becke en un mineral sumergido en una gota de
aceite de inmersin. En A la lnea de Becke entra hacia el mineral (al enfocar en
el plano), ya que presenta mayor ndice de refraccin que el aceite; en B, la lnea
de Becke sale hacia el aceite (con mayor ndice de refraccin que el mineral).
http://www.ehu.eus/mineralogiaoptica/Atlas_de_Mineralogia_Optica/Propiedades_Opticas/Paginas/Indice_de_refraccion_
y_Relieve.html
ndice de refraccin ( n )
Un rayo de luz por lo general se inclina cuando pasa de una sustancia a otra, el fenmeno es conocido
como refraccin. El ndice de refraccin n de un material se expresa por la relacin entre velocidad de la
luz en aire (V) y su velocidad en el medio ms denso (v), es decir n= V/v (el ndice de refraccin del
aire se toma como 1). Esto quiere decir que el ndice de refraccin es igual al inverso de la velocidad n=
1/v . La relacin precisa entre la relacin de los senos de los ngulos de incidencia y de refraccin de la
luz viene dada por la ley de Snell, la cual establece que para los dos mismos medios la relacin seno i y
seno r es constante.
Fenmeno de refraccin
Se puede mostrar simplemente que el ndice de refraccin de una sustancia es igual a la relacin entre la
velocidad de la luz en el aire y en la sustancia. En otras palabras, el alto ndice de refraccin de una
sustancia, y el bajo de la luz es el paso a travs de l.
El ndice de refraccin de los minerales comunes es de 1.43 a 3.22.
Los minerales isotrpicos pueden dar un solo valor del ndice de refraccin. Los minerales anisotrpicos,
sin embargo, presentan el fenmeno de doble refraccin.
Doble refraccin
Si un pequeo clivaje romboidal de una calcita pticamente clara se coloca sobre un pequeo punto dos
imgenes de ese punto se ven. Las dos imgenes representan los dos rayos polarizados separados
producidos por la calcita anisotrpica. El hecho de que dos imgenes se puedan ver, demuestra que cada
rayo representa un ndice de refraccin diferente (y tambin una diferente velocidad de la luz). Este
fenmeno es conocido como doble refraccin, y es caracterstico de todos los minerales anisotrpicos.
Aunque el ndice de refraccin de la calcita muy fuerte. Para los minerales anisotrpicos este ndice
varia continuamente dependiendo de la direccin de la vibracin de la luz dentro del cristal.
Todas las sustancias transparentes pueden dividirse en dos grupos: istropos y anistropos. Todos los
minerales excepto aquellos que pertenecen al sistema cubico son anisotrpicos (aunque algunos
minerales anisotrpicos pueden en la prctica parecen ser isotrpicos.
Los minerales cbicos no polarizan la luz que pasa a travs de ellos y no varan direccionalmente en su
efecto sobre la luz. Los minerales cbicos son por lo tanto llamados isotrpicos. El vidrio y las
sustancias amorfas son llamadas tambin isotrpicas. En estas substancias la luz se mueve en todas
direcciones con la misma velocidad, y cada sustancia istropa tiene un solo ndice de refraccin.
La isotropa refleja directamente el alto grado de regularidad en la estructura atmica de los minerales
cbicos. En las sustancias anisotrpicas, que comprenden todos los cristales, excepto los del sistema
isomtrico, la velocidad de la luz vara con la direccin cristalogrfica y por lo tanto existe un intervalo
de ndices de refraccin.
Microscopio polarizante
El microscopio polarizante se emplea para examinar los minerales transparentes. ste se diferencia del
usado por los bilogos, patlogos y otros cientficos, en que est equipado con una platina giratoria y
diversos aparatos que permiten el estudio de objetos en luz polarizada. Es empleado para:
- Examinar tanto granos minerales, fragmentos y pequeos cristales, como secciones delgadas de
minerales, rocas y otros cristales.
- Interpretar las texturas y relaciones varias de las sustancias naturales o artificiales, tal como
aparecen en las secciones delgadas.
El sistema de lentes del microscopio polarizante es muy parecido al sistema de lentes de los
microscopios compuestos corrientes, pero contiene varias modificaciones que incrementan su utilidad en
el trabajo con los minerales. Las caractersticas ms distintivas son los dispositivos polarizante y
analizador, situados respectivamente debajo y encima de la platina; as como la platina rotativa, los
lentes Amici-Nertrand y varios accesorios tales como la lmina de mica, la lmina de yeso, la cua de
cuarzo y el compensador.
Para el estudio de los minerales en el microscopio polarizante se utiliza, indistintamente, luz polarizada
plana y luz con los planos de polarizacin cruzados. Para el examen entre planos cruzados, por ejemplo,
se intercalan en el eje ptico placas polarizantes.
Para todos los grupos de minerales se observan las siguientes propiedades y/o caractersticas:
Forma, contorno
Tamao
Clivaje, fractura
Maclas, zoneamiento
Para los minerales opacos las siguientes propiedades y/o caractersticas pueden ser observadas
Transparencia de bordes delgados a lo largo de fracturas.
Color y pleocrosmo.
o
Carcter ptico o signo, (+) o (-).
Tipo de extincin y tamao de ngulos de extincin (excepto en minerales ortorrmbicos).
En las secciones delgadas en donde no es posible determinar el ndice de refraccin, los ndices son
comparados con el ndice del blsamo de Canad (n = ca.1.54). Si es inferior, puede decirse que el
relieve es negativo, y si es superior es positivo.
Bibliografa:
Las diferencias entre los ndices de los minerales y los del medio que los rodea se
traduce en diversos grados de relieve, definindose trminos como relieve bajo,
moderado, alto, muy alto y extremo. Cuando se conoce el valor del ndice de
refraccin del medio de inclusin, el grado de relieve sirve para cuantificar el
valor absoluto del ndice de refraccin del mineral.
Pulsando sobre las siguiente lneas activas aparecen imgenes de granos con
distintos grados de relieve y con los valores de sus ndices de refraccin dentro
de los mrgenes que se indican (todos los granos estn includos en Blsamo de
Canada n=1,54 y se asume que todos ellos tienen "n" mayor que el del medio).
1,50 - 1,60
1,60 - 1,70
1,70 - 1,80
1,80 - 1,90
1,90 - 2,00
> 2,00
todos
En las escenas anteriores se han mostrado granos cuyos ndices varian en una
dcima. Sin embargo, el valor del ndice puede ser precisado con una mayor
exactitud para valores muy prximos al del medio.
n = 1,54
n = 1,56
n = 1,58
http://edafologia.ugr.es/optmine/ppl/releval.htm
pendientedemigracion.ucm.es/info/investig/Optica/Optica_3.ppt
pendientedemigracion.ucm.es/info/investig/Optica/Optica_1.ppt
Relieve
ndice de
ejemplo
relieve refraccin
yeso (1.52 -
calcita (1.658 -
1.486)
corindn (1.76 -
alto 1 67 - 1,76
1.77)
muy alto > l.76 circn (1.90 - 2.00)
Tabla 16.2.- Relieve de algunos minerales en
funcin de su ndice de refraccin
Cambio de relieve
https://es.scribd.com/doc/212041293/Informe-de-Optica-Joel
Nicoles paralelos
Fig. 38 Desplazamiento de la Lnea de Becke
Si la platina se baja y la lnea se desplaza hacia
fuera del mineral, significa entonces que el ndice
del Blsamo es mayor al del mineral.
https://prezi.com/spxegn0oxg7d/microscopia-optica-de-minerales/
Colores de interferencia
OBJETIVOS: