Univ. Sci. 2014, Vol.

19 (2): 123-131
doi: 10.11144/Javeriana.SC19-2.ccop
Freely available on line

original article

Clculo de constantes pticas de pelculas

delgadas de Cu3BiS3 a travs del mtodo de Wolfe
F. Mesa1 , V. Ballesteros2, A. Dussan3

Calculation of the optical constants of Cu3BiS3 thin films using the Wolfe method
Abstract
Using the Wolfe method, we calculated the procurement of optical constants. These constants, absorption
coefficient (), refraction index of (n) and thin film thickness (d ), are significant in the optical characterization
of the material. We compared the Wolfe method with the method employed by R. Swanepoel. To estimate the
optical constants of semiconductor thin films, we developed a constrained nonlinear programming model, based
solely, on known transmission data. Ultimately, we presented a solution to this nonlinear programming model
for quadratic programming. Through numerical experiments and transmittance spectral data of Cu3BiS3 thin
films, we obtained values of a= 10378.34 cm1, n = 2.4595, d =989.71 nm and Eg= 1.39 Ev, demonstrating the
reliability of the proposed method.
Keywords: Cu3BiS3 thin films; optical constants; Wolfe method.

Introduccin
El mtodo propuesto por R. Swanepoel en 1983
Edited by Beynor Paez & Alberto Acosta permite la determinacin de propiedades pticas de
1 Unidad de Estudios Universitarios, Universidad del Rosario, Bogot, pelculas delgadas (Swanepoel 1983). Este mtodo
Colombia. puede ser usado para evaluar el ndice de refraccin,
2 Facultad de Ingeniera, Universidad Libre- Bogot, Colombia. espesor, ndice de absorcin, coeficiente de extincin y
3 Departamento de Fsica, Grupo de Materiales Nanoestructurados, brecha de energa prohibida ptica ( gap ) de pelculas
Universidad Nacional de Colombia - Bogot, Colombia.
delgadas sobre sustratos transparentes (Snchez-
Received: 22-11-2013 Accepted: 20-03-2014 Gonzlez et al. 2006, Ragina et al. 2011, Dorranian et
Published on line: 28-04-2014
al. 2012, Ehsani et al. 2013)
Citation: Mesa F, Ballesteros V, Dussan A (2014) Clculo de
constantes pticas de pelculas delgadas de Cu3BiS3 a travs Por otra parte, se han llevado a cabo trabajos
del mtodo de Wolfe. Universitas Scientiarum 19(2): 123-131
doi: 10.11144/Javeriana.SC19-2.ccop
exhaustivos con el propsito de verificar las
condiciones de favorabilidad del uso de pelculas
Funding: Universidad Libre, Universidad Nacional de Colombia delgadas de Cu3BiS3 como capa absorbente en
Electronic supplementary material: Supt. 1 dispositivos fotovoltaicos (Estrella et al. 2003, Gerein

Universitas Scientiarum, Journal of the Faculty of Sciences, Pontificia Universidad Javeriana, is licensed under the Creative Commons 2.5 of Colombia: Attribution - Noncommercial - No Derivative Works.
124 Constantes pticas

et al. 2006 a,b, Mesa et al. 2009, Mesa et al. 2010,

Mesa et al. 2012 a,b). Uno de los aspectos relevantes
del trabajo de caracterizacin de pelculas delgadas
es, sin lugar a dudas, la determinacin de constantes
pticas que constituye una de las fases iniciales para
la aplicacin del compuesto Cu3BiS3 en celdas solares.
Actualmente, muchas de las investigaciones se han
enfocado en el uso de la programacin no lineal,
en particular el Mtodo de Wolfe, cuyos primeros
destinos fueron los propsitos econmicos, hacia la
obtencin de un modelo matemtico particular que
permita aproximarse a los objetivos de diseo del
Mtodo de Swanepoel.
En cuanto a cualidades de convergencia de
mtodos de programacin no lineal, tambin existe Fig. 1. Sistema compuesto por una pelcula
un amplio espectro de trabajos (Csallner et al. 1996, absorbente sobre un sustrato transparente finito.
Mohd 2000, Hager 2006, Shi 2009, Lu et al. 2011)
que se han enfocado en evaluar la velocidad de Por otra parte, el sustrato transparente posee un
convergencia en funcin de algoritmos de iteracin y espesor que resulta varias veces ms grande que d, un
que le dan un lugar sobresaliente al mtodo de Wolfe ndice de refraccin s y un coeficiente de absorcin
en el escenario de los mtodos de optimizacin. En s = 0. El ndice de refraccin del aire circundante
este trabajo se utiliza el mtodo dado por Wolfe para se aproximar a n0 = 1 y se deben tener en cuenta,
determinar constantes pticas de diferentes tipos de con el propsito de presentar un anlisis riguroso en
semiconductores tipo pelcula delgada, comparado las mltiples reflexiones que se generan en las tres
con el mtodo tradicional reportado por Swanepoel. interfaces, al momento de determinar la magnitud de T.
Adicionalmente, se hace un especial nfasis en el
compuesto de Cu3BiS3 el cual puede ser usado para El espectro puede ser dividido en cuatro regiones
aplicaciones fotovoltaicas. (Figura 2). En la regin transparente = 0 y la
transmisin se encuentra determinada por n y s a
travs de las reflexiones mltiples. En la regin de
Materiales y mtodos
Mtodo propuesto por Swanepoel: Este mtodo
(Swanepoel 1983), basado en el modelo terico para
el Silicio amorfo -Si: H de Clark (1980), toma como
referente inicial una pelcula delgada sobre un sustrato
transparente; dicha pelcula tiene un espesor d y un
ndice de refraccin complejo n = n ik, en el que n
corresponde al ndice de refraccin y k al coeficiente
de extincin (Figura 1). Sin embargo, cuando k=0,
implica que la solucin obtenida para el ndice de
refraccin est en el plano de los nmeros reales. Este
ndice puede ser expresado en trminos del coeficiente
de absorcin a travs de la ecuacin 1:
Fig. 2. Espectro de transmitancia definido en
k =
4 (1) las regiones de alta, media-baja y cero absorcin,
delimitando en sus envolventes los puntos de
donde: es la longitud de onda. transmitancia mximos (TM) y mnimos (Tm).

Universitas Scientiarum Vol. 19 (2): 123-131 www.javeriana.edu.co/scientiarum/web

Mesa et al. 125

absorcin dbil es pequeo pero la transmisin x = exp( d )

empieza a reducirse; en la regin de absorcin media
es grande y la transmisin disminuye debido al efecto 4k
a=
de . En la regin de fuerte absorcin, la transmisin
disminuye drsticamente debido, casi exclusivamente,
a la influencia de . donde: x es una expresin para la absorbancia. Para
Modelo Matemtico: En primera instancia, se el caso de un substrato asumido infinito, la transmisin
considerar nicamente el sustrato de modo que la T est dada por ecuacin 8:
transmisin libre de interferencia estar dada por la A"x
ecuacin 2 y 3 (Supt. 1). T = B" C "x + D "x 2 (8)
donde:
2
(1 R)
Ts = (2)
1 R
2
A'' = 16s (n 2+k 2)
donde: B'' = [(n + 1)2 + k 2 ][(n + s)2 + k 2]
R= ( + ) s 1
s 1
2

(3) C '' = [(n 2 1 + k 2 )(n 2 s 2 + k 2 ) + 4k 2 s] 2 cos

donde: R es la reflectancia de la muestra o pelcula. k [2(n 2 s 2 + k 2 )+2s (n 2 1 + k 2)] 2 sin
2s D''=[(n 1)2 + k 2 ][(n s)2 + k 2]
Ts = s 2 +1 (4)
En concordancia con lo anterior, Swanepoel
donde: el valor del ndice de refraccin s es
propone una simplificacin de las ecuaciones (7)
(ecuacin 4 y 5).
y (8) si se asume que k = 0, que resulta ser una
1
(
s = 1
Ts Ts
1
2
) (5) aproximacin vlida en la mayor parte de la regin
espectral presentada en la figura 1, de la siguiente
forma: ecuacin 9.
Por otra parte, la ecuacin fundamental asociada a
las franjas de interferencia est dada por Ax
T = B C x cos + D x 2 (9)
2nd = m (6)
donde:
donde: m es el patrn de interferencia y d el espesor
(ecuacin 6). A = 16n 2s (10a)

La expresin formal para la transmisin T asociada B = (n+1)3 (n+s 2) (10b)

a un sistema como el mostrado en la figura 1, es
C = 2 (n 2 1)(n 2 s 2 ) (10c)
(ecuacin 7).
A'x D = (n 1)3 (n s 2 ) (10d)
T= (7)
B'- C 'x D 'x 2 4nd
= (10e)
donde:
x = exp ( d ) (10f)
A'=16S( n 2 + k 2 )
B'=[(n + 1) + k2 ][(n + 1) (n + s) +k2 ]
2 2 La absorbancia x para un sistema como el
presentado anteriormente (ecuaciones 10), est dada
C'=[(n 2 1 + k 2) (n 2 s 2 + k 2) 2k 2 (s 2+1)] 2 cos en trminos de la transmisin libre de interferencia T
-k [ 2(n 2 s 2 + k 2)+(s 2+1)(n 2 1 + k 2)] 2 sin por ecuacin 11.

4nd ( P+( P 2 + 2Q T (1 R 2 R 3)
= x= (11)
Q

Universitas Scientiarum Vol. 19 (2): 123-131 www.javeriana.edu.co/scientiarum/ojs

126 Constantes pticas

donde: 2s s2 + 1
donde: M =
Q = R1 R2 + R1 R3 2 R1 R2 R3 Tm 2
P = (R1 1)(R2 1)(R3 1) En consecuencia, TM es una funcin de n y s, y n
puede ser calculada a partir de Tm usando la ecuacin (15).
R 1 = [(1 n)/(1 + n)]
2

Regin de baja y media absorcin: En esta regin se

R 2 = [(n s)/(n + s)]
2
encuentra que 0 y x < 1. A continuacin, restando
R 1 = [(s 1)/(s + 1)]
2 el recproco de la ecuacin (12) de la ecuacin (13) se
obtiene una expresin independiente de x:
Posteriormente, Swanepoel plantea dos ecuaciones
representativas de los extremos de las franjas de
1 1 2c
interferencia (ecuacin 12 y 13), stas son: = (16)
Tm Tm A
Ax
TM = B C x + D x 2 (12) Reemplazando la ecuacin (10) en la ecuacin (16)
y y resolviendo para n se obtiene:

Ax n = [N + (N 2 S 2 ) ] (17)
Tm = B + C x + D x 2 (13)
donde:

donde: TM y Tm es la transmitancia en los picos
mximos y mnimos respectivamente, que son
funciones continuas de y por lo tanto de n () y x ().
Regin Transparente: Una revisin de lo que
acontece en la regin transparente, conlleva a definir
que = 0 y por consiguiente x = 1 en las ecuaciones
(12) y (13). Ahora, reemplazando la ecuacin (10) en la
ecuacin (12), se obtiene que:
2s
TM = s 2 + 1 (14)
TM Tm s2 + 1
N = 2s Tm TM + 2
Ahora bien, la ecuacin (17) se puede emplear para
determinar n(), a partir de TM y Tm. Una vez que se
conoce n(), se conocer la magnitud de las constantes
presentes en la ecuacin (10) y se podr realizar el
clculo de x. Por otro lado, resulta sencillo verificar que
las ecuaciones (12) y (13) son ecuaciones cuadrticas
que pueden ser resueltas para x. Resolviendo la
ecuacin (12) se obtiene (ecuacin 18) que:
EM [E M (n 2 1) (n 2 s 4)]
2 3

La ecuacin resultante (ecuacin 14), es idntica a x= (18)

(n 1) (n s 2 )
3

la ecuacin (4), por lo que los mximos de las franjas

de interferencia son una funcin exclusivamente de s y donde:
coinciden con TS. Cuando los mximos se alejan de TS, EM = 8n s + (n 2 1) (n 2 s 2)
2 3

se evidencia el inicio de la absorcin. La ecuacin (14) TM

puede ser utilizada para determinar s en esta regin,
Por otra parte, resolviendo la ecuacin (13) se tiene:
haciendo uso de la forma de la ecuacin (5).

Em [E m (n 2 1) (n 2 s 4)]
2 3

Reemplazando las equivalencias de los trminos de x= (19)

(n 1) (n s 2 )
3
la ecuacin (7) en la ecuacin (11), con x = 1 se tiene:
4 n 2s donde:
Tm = n 4 + n 2 (s 2 + 1) + s 2
Em = 8n s + (n 2 1) (n 2 s 2)
2 3

Tm
que es equivalente a
Sumando los recprocos de las ecuaciones (12) y

n = [M + (M s ) ]
2 2
(13) se obtiene que:

Universitas Scientiarum Vol. 19 (2): 123-131 www.javeriana.edu.co/scientiarum/web

Mesa et al. 127

2 TmTM Ax donde:
= (20)
Tm + TM B + Dx
2
128 n 4 s 2
G= +n 2 (n 2 1)2(s 1 1)2+(n 2 1)2 (n 2 s 2)2
T
2
y resolviendo para x conduce (ecuaciones 21 y 22) a:

F [F (n 2 1) (n 2 s 4)]
2 3
La ecuacin (25) es equivalente a la ecuacin (11).
x= (21) Esto se puede usar para determinar n a partir de T
(n 2 1) (n s 2 )
3

en la regin transparente donde = 0. Tomando x =

donde: 1 en la ecuacin (25) y resolviendo para n, se obtiene
(ecuacin 26) que:
8 n2 s
F= n = [H + (H 2-S 2 ) ] (26)
Ti
con:
2 TmTM
Ti = (22) 4s 2 s 2+ 1
TM + Tm H= +
(s 2 +1)T 2
2

A partir de la ecuacin (20) y la ecuacin (9) se puede

inferir que Ti representa una curva que pasa a travs de Regin de fuerte absorcin: En esta situacin las
los puntos de inflexin de las franjas presentadas en la franjas de interferencia desaparecen, por lo que no hay
figura. La transmisin libre de interferencia. T puede forma de calcular n y x independientemente en esta
ser calculada a partir de las franjas de interferencia, regin a partir del espectro de transmisin nicamente.
integrando la ecuacin (9) entre un mximo y un Swanepoel sugiere extrapolar los valores calculados
mnimo adyacente: en las dems regiones para obtener las cantidades
de n, mientras que para obtener los valores de x se
1

Ax
T =
B Cx cos +Dx 2 )
d (21) puede utilizar cualquiera de las frmulas presentadas
anteriormente con sus respectivas curvas. Para altos
valores de las cuatro curvas TM, T, Ti y Tm convergen
Asumiendo una regin de integracin mnima, en una nica curva T0. Si se desprecian los efectos de
donde todos los parmetros son constantes, la integral la interferencia, la ecuacin (9) se puede escribir para
conduce a: x < 1 (ver ecuacin 27) como:
Ax (23) T0 Ax /B
T=
[ (B Cx cos +Dx )(B +Cx cos +Dx )]
2 2
o

Sustituyendo las ecuaciones (12) y (13) en la

(n 1)3 (n +s 2)
x T0 (27)
ecuacin (23), se encuentra que: 16 n 2s

T = TmTM (24) Resultados

T es por lo tanto la media geomtrica de TM y Tm, Para la implementacin del mtodo de Wolfe se
la ecuacin (24) es una relacin bastante utilizada. A realiz un procedimiento que consiste en extraer las
continuacin, resolviendo la ecuacin (23) para x se matrices y vectores que salen de las restricciones del
tiene: problema de programacin no lineal y operarlas de
acuerdo a los enunciados establecidos en los lemas
(1,2) y teorema 1, que se presentan en la seccin el
mtodo de Wolfe para programacin cuadrtica. El
{G [G 2
(n 2 1) (n 2 s 4)]
6
} software utilizado para esta aplicacin es Scilab con
x= (25)
(n 2 1) (n s 2 )
3
licencia GNU libre - Linux. Para poder establecer el

Universitas Scientiarum Vol. 19 (2): 123-131 www.javeriana.edu.co/scientiarum/ojs

128
problema de la minimizacin se obtuvieron valores
de transmitancia espectral experimentales de pelculas
delgadas de Cu3BiS3 usando un espectrofotmetro
VIS-NIR Oriel (Figura 3).
Fig. 3. Curva tpica de transmitancia espectral
experimental obtenida para pelculas delgadas de
Cu3BiS3
El problema de minimizacin: La situacin
propuesta en este artculo consiste en realizar una
estimacin del coeficiente de absorcin, el ndice de
refraccin y el espesor de la pelcula delgada, a partir
de datos de transmisin conocidos. La transmisin
terica T es una funcin que contiene las siguientes
variables:
Ti = T [ i, s(i), d, n(i), (i)]
donde: Ti sigue representando una curva que pasa
a travs de los puntos de inflexin. En consecuencia,
para cada longitud de onda i se deben cumplir que:
Transmisin experimental (Te) = Transmisin terica (Tt)
Por lo tanto, el modelo de programacin no lineal
ser:
N
Minimizar T = {Ti T [i, s(i), d, n(i), (i)]}2
i=1
Universitas Scientiarum Vol. 19 (2): 123-131
Constantes pticas
sujeto a:
[ ]
ni ni-1 i i+1 (n n )
i+1 i-1 0
i+1 i-1
i i-1 [ i i+1
i+1 i-1](
i+1 )0
i-1
ni+1 ni 0
i+1 i 0
A
i, ni 0
El mtodo de Wolfe para programacin cuadrtica:
Philip Wolfe propuso un mtodo computacional para
encontrar el mnimo de una funcin cuadrtica sujeta a
restricciones en forma de desigualdades lineales (Wolfe
1959, Zhang 2011). El procedimiento propuesto
es equivalente al mtodo simplex de programacin
lineal (Prescott 2004, Dodo 2007, Xu et al. 2007, Du
et al. 2011, Wan et al. 2011) y tom como referencia
el procedimiento de Barankin-Dorfman para tal
propsito. Las proposiciones formales del mtodo de
Wolfe se presentan a continuacin:
Lema 1. x T Cx = 0 implica que Cx = 0
Para el lema 1 se establece que si la transpuesta de
la matriz de coeficientes no es reducida por renglones
se obtiene una matriz nula.
Lema 2. Para cualquier 0, el conjunto
solucin de todos los x factibles tales que
f(, x) = F() es la interseccin de una variedad lineal
con el conjunto de restricciones y px es constante
sobre este conjunto para > 0.
Para el lema 2 implica que la solucin factible
se encontrara en los vrtices ptimos del polgono
acotado establecido por el mtodo de Wolfe
Teorema 1. Para 0, F() es una funcin
cncava; px es montona no creciente; y x es una
solucin y del problema:
Min { yT Cy : y 0, Ay = b, py px}
Teorema 2. Si x 0, Ax = b, y existe v 0 (ves n
por 1) y u (u es m por 1) tal que (ver ecuaciones 28 y 29)
vT = 0 (28)
Cx v + AT u + pT = 0 (29)
www.javeriana.edu.co/scientiarum/web
Mesa et al. 129

entonces x resuelve el problema en un 39%. Al realizar el clculo a partir de las 8

1 iteraciones, se obtiene tanto para los dos mtodos
Min {px + 2 x Cx : x 0, Ax = b} (Wolfe y Swanepoel), tres ecuaciones funcionales
en trminos de la funcin de onda, determinando
Solucin numrica: A continuacin, se presentan los
as los valores de espesor, como de coeficiente
resultados, discriminados por iteraciones, de resolver
de absorcin y de la brecha de energa prohibida
el problema de programacin no lineal a travs del
(Eg). El Eg puede ser obtenido a partir de la curva
mtodo de Wolfe (Tabla 1). Los resultados obtenidos
de (hv )2 vs. h v, realizando una extrapolacin e
al finalizar la octava iteracin, pueden considerarse los
interseccin con el eje horizontal, dado por la
valores ptimos del modelo propuesto.
ecuacin (Murphy 2007).

Tabla 1. Valores de , n y d obtenidos por el mtodo hv = Eg hv (30)

de Wolfe para el nmero de iteraciones ( i ). En la
octava iteracin los valores presentan una desviacin
del 0.5% comparados con los de Swanepoel.
donde: hv es la energa del fotn. A partir de las
curvas de (hv)2 en funcin hv (Figura 4; Heavens
i i (cm-1) ni di (nm) 1991, Monemara et al. 2005) se obtuvo como resultado
1 13768.87 3.5786 1236.83 un valor de Eg=1.40 eV, espesor de d = 989.71 nm
y un coeficiente de absorcin de 10378.34 cm1,
2 13490.01 3.3544 1179.55
presentando una desviacin del 0.5 % del valor
3 12954.61 3.2992 1084.32 reportado usando el mtodo de Swanepoel (Dorranian
4 12103.49 3.0063 1036.77 et al. 2012, Shaaban et al. 2012)
5 11951.76 2.8848 1019.44
6 11211.12 2.6733 1009.99 Conclusin
7 10925.63 2.5793 1001.55 A partir de un anlisis geomtrico de las curvas de
8 10378.34 2.4595 989.71 transmitancia espectral experimental, se obtuvo
valores de constantes pticas para el semiconductor
Discusin de Cu3BiS3. Con el mtodo de Wolfe se obtuvo una
Muchos de los estudios realizados para el clculo mayor eficiencia computacional reduciendo la cantidad
de las constantes pticas de pelculas delgadas de iteraciones comparadas con las desarrolladas por
usando el mtodo de Swanepoel, reportan que Swanepoel, implicando una reduccin en el clculo
para el Cu3BiS3 se ha obtenido un valor de la de la diferencia entre la transmitancia experimental
brecha de energa prohibida alrededor de ~1.40 eV y terica. En comparacin, los dos mtodos llegan
(Mesa et al. 2012, Kumar 2013), para espesores de al mismo resultado presentado solo una desviacin
aproximadamente 950 nm, con una obtencin de del 0.5 %, resultado que permite ser utilizado como
un coeficiente de absorcin mayor que 104 cm-1. herramienta de caracterizacin ptica para materiales
Por otra parte, la implementacin computacional de aplicacin optoelectrnica.
del mtodo de Wolfe (Frausto 2009, Khobragade
2012), con una tolerancia declarada de 10-6 Agradecimientos
(equivalente a la tolerancia usada por Swanepoel), Este trabajo fue soportado por proyectos de la Universidad
hace que el sistema de inecuaciones cuadrticas Libre, Universidad Nacional de Colombia y un
reduzca la cantidad de iteraciones y de pasos agradecimiento especial a la Universidad del Rosario.
comparados con los de Swanepoel, que tiene como
fundamento la programacin lineal. Esto conlleva Conflicto de intereses
a que la cantidad de iteraciones se reduzca de 13 a
8, mejorando la eficiencia computacional de clculo Este trabajo no presenta conflicto de intereses.

Universitas Scientiarum Vol. 19 (2): 123-131 www.javeriana.edu.co/scientiarum/ojs

130
Referencias
Clark AH (1980) Poljwystalline and Amorphous Thin
Film Devices (ed) LL Kazmerski, New York,USA,
pp 135-152
Csallner AE, Csendes T (1996) the convergence speed of
interval methods for global optimization. Computers Math.
Applic. 31(4):173-178 http://dx.doi.org/10.1016/0898-
1221(95)00229-4
Dodo A, Davidson RA, Xu N, Nozick L (2007) Application
of regional earthquake mitigation optimization.
Computers & Operations Research 34:2478-2494
http://dx.doi.org/10.1016/j.cor.2005.09.016
Dorranian D, Dejam L, Mosayebian G (2012) Optical
characterization of Cu3N thin film with Swanepoel
method. Journal of Theoretical and Applied Physics 6:13
doi: 10.1186/2251-7235-6-13
Du X, Liu J (2011) Global convergence of a spectral Hs
conjugate gradient method. Procedia Engineering 15:1487-
1492 http://dx.doi.org/10.1016/j.proeng.2011.08.276
Ehsani MH, Rezagholipour H, Azizi S, GhavamiMirmahalle
SF, HosseiniSiyanaki F (2013) Optical and structural
properties of cadmium telluride films grown by glancing
angle deposition. Phys. Scr. 88: 025602 doi: 10.1088/0031-
8949/88/02/025602
Estrella V, Nair MTS, Nair PK (2003) Semiconducting
Cu3BiS3 thin films formed by the solid-state reaction
of CuS and bismuth thin films. Semicond. Sci. Technol.
18:190-194 doi: 10.1088/0268-1242/18/2/322
Frausto-Solis J, Gozales M, Lopez R (2009) MICAI 2009:
Advances in Artificial Intelligence Lecture Notes
in Computer Science (ed) Using Wolfes Method in
Support Vector Machines Learning Stage. Springer
Berlin Heidelberg, Guanajuato, Mexico, pp 488-499
doi: 10.1007/978-3-642-05258-3_43
Gerein N, Haber J (2006) One-Step Synthesis and Optical
and Electrical Properties of Thin Film Cu3BiS3 for Use
as a Solar Absorber in Photovoltaic Devices. Chem. Mater.
18:6297-6302 doi: 10.1021/cm061453r
Gerein N, Haber J, (2006) Synthesis of Cu3BiS3 Thin Films
by Heating Metal and Metal Sulphide Precursor Films
under Hydrogen Sulphide. Chem. Mater. 18:6289-6396
doi: 10.1021/cm061452z
Hager W, Zhang H (2006) A survey of nonlinear conjugate
gradient methods. Pac. J. Optim. 2:35-58
Heavens O (1991) Optical Properties of Thin Solid Films.
Dover Publications
Khobragade N, Lamba N (2012) Alternative approach
to Wolfes modified simplex method for quadratic
programming problems. Int. J. Latest Trend Math.
2(1):19-24
Universitas Scientiarum Vol. 19 (2): 123-131
Constantes pticas
Kumar M, Persson C (2013) Cu3BiS3 as a potential
photovoltaic absorber with high optical efficiency. Applied
Physics Letters 102(6):062109 doi: 10.1063/1.4792751
Lu A, Liu H, Zheng X, Cong W (2011) A variant spectral-type
FR conjugate gradient method and its global convergence.
Applied Mathematics and Computation 217:5547-5552
http://dx.doi.org/10.1016/j.amc.2010.12.028
Mesa F, Dussan A, Gordillo G (2009) Evidence of trapping
levels and photoelectric properties of Cu3BiS3 thin films.
Physica B: Condensed Matter 404:5227-5230 http://dx.doi.
org/10.1016/j.physb.2009.08.302
Mesa F, Gordillo G, Dittrich T, Ellmer K, Baier R et al. (2010)
Transient surface photovoltage of p-type Cu3BiS3. Appl.
Phys. Lett. 96:082113 http://dx.doi.org/10.1063/1.3334728
Mesa F, Dussan A, Sandino J, Lichte H (2012)
Characterization of Al/Cu3BiS3/buffer/ZnO solar cells
structure by TEM. Journal of Nanoparticle Research 14:1054
doi: 10.1007/s11051-012-1054-7
Mesa F, Chamorro W, Vallejo W, Baier R, Dittrich T et al.
(2012) Junction formation of Cu3BiS3 investigated by
Kelvin probe force microscopy and surface photovoltage
measurements. Beilstein J. Nanotechnol. (3):277-284 doi:
10.3762/bjnano.3.31
Mohd IB (2000), Identification of region of attraction for
global optimization problem using interval symmetric
operator. Applied Mathematics and Computation 110:121-
131 http://dx.doi.org/10.1016/S0096-3003(98)10145-5
Monemara B, Paskova P, Kasic A (2005) Optical properties
of InN-the bandgap question. Superlattices and
Microstructures 38:3856 http://dx.doi.org/10.1016/j.
spmi.2005.04.006
Murphy AB (2007) Optical properties of an optically
rough coating from inversion of diffuse reflectance
measurements. Appl. Opt. 46:3133-3143 doi: 10.1364/
AO.46.003133
Prescott ES (2004) Computing solutions to moral-hazard
programs using the DantzigWolfe decomposition
algorithm. Journal of Economic Dynamics & Control 28:777-
800 http://dx.doi.org/10.1016/S0165-1889(03)00053-8
Ragina AJ, Murali K, Preetha KC, Deepa K, Remadevi TL
(2011) A Study of Optical Parameters of Tin Sulphide
Thin Films Using the Swanepoel Method. AIP Conf. Proc.
1391:752-754 doi: http://dx.doi.org/10.1063/1.3643669
Snchez-Gonzlez J, Diaz A, Guiberteau F (2006)
Determination of optical properties in nanostructured
thin films using the Swanepoel method. Applied Surface
Science 252:6013-6017 http://dx.doi.org/10.1016/j.
apsusc.2005.11.009
Shaaban E, Yahia I, El-Metwally E (2012) Validity of
Swanepoel's Method for Calculating the Optical
Constants of Thick Films. Acta Physica Polonica A
121(3):628-636
www.javeriana.edu.co/scientiarum/web
Mesa et al.
Shi Z, Guo J (2009) A new family of conjugate gradient
methods. Journal of Computational and Applied Mathematics
224:444-457 http://dx.doi.org/10.1016/j.cam.2008.05.012
Swanepoel R (1983) Determination of the thickness and
optical constants of amorphous silicon. J. Phys. E: Sci.
Instrum.16:1214 doi: 10.1088/0022-3735/16/12/023
Xu N, Davidson RA, Nozick LK, Dodo A (2007)
The risk-return trade off in optimizing regional
earthquake mitigation investment. Structure
and Infrastructure Engineering 3:133-146 doi:
10.1080/15732470600591083
Clculo de constantes pticas de pelculas delgadas de Cu3BiS3
a travs del mtodo de Wolfe
Resumen. Se calcul la obtencin de las constantes pticas
usando el mtodo de Wolfe. Dichas contantes: coeficiente
de absorcin (), ndice de refraccin (n) y espesor de una
pelcula delgada (d ), son de importancia en el proceso de
caracterizacin ptica del material. Se realiz una comparacin
del mtodo del Wolfe con el mtodo empleado por R.
Swanepoel. Se desarroll un modelo de programacin no
lineal con restricciones, de manera que fue posible estimar
las constantes pticas de pelculas delgadas semiconductoras,
a partir nicamente, de datos de transmisin conocidos. Se
present una solucin al modelo de programacin no lineal
para programacin cuadrtica. Se demostr la confiabilidad
del mtodo propuesto, obteniendo valores de = 10378.34
cm1, n = 2.4595, d =989.71 nm y Eg = 1.39 Ev, a travs de
experimentos numricos con datos de medidas de transmitancia
espectral en pelculas delgadas de Cu3BiS3.
Palabras clave: Pelculas delgadas de Cu3BiS3; constantes
pticas; mtodo de Wolfe.
Universitas Scientiarum Vol. 19 (2): 123-131
131
Wan Z, Yang Z, Wang Y (2011) New spectral PRP conjugate
gradient method for unconstrained optimization. Applied
Mathematics Letters 24:16-22 http://dx.doi.org/10.1016/j.
aml.2010.08.002
Wolfe P (1959) The simplex method for quadratic
programming. Econometrica 27(3):382-398 http://www.
jstor.org/stable/1909468
Zhang Z, Zhang H (2011) An Efficient and Concise Algorithm
for Convex Quadratic Programming and Its Application
to Markowitzs Portfolio Selection Model. Technology and
Investment 2(4):229-239 doi: 10.4236/ti.2011.24024
Calculou-se de constantes ticas de pelculas finas de Cu3BiS3
atravs do mtodo de Wolfe
Resumo. Calculou-se a obteno de constantes ticas
utilizando o mtodo de Wolfe. Estas constantes: coeficiente de
absoro (), ndice de refrao (n) e espessura de uma pelcula
fina (d ), so importantes no processo de caracterizao tica
do material. Realizou-se uma comparao do mtodo de Wolfe
com o mtodo utilizado por R. Swanepoel. Desenvolveu-se um
modelo de programao no linear com restries, de modo
que foi possvel estimar as constantes ticas de pelculas finas
semicondutores, a partir unicamente, de dados de transmisso
conhecidos. Apresentou-se uma soluo ao modelo de
programao no linear para programao quadrtica. Mostrou-
se a confiabilidade do mtodo proposto, obtendo valores de
= 10378.34 cm1, n = 2.4595, d =989.71 nm y Eg = 1.39 Ev,
atravs de experincias numricas com dados de medidas de
transmisso espectral em pelculas finas de Cu3BiS3.
Palavras-chave: Pelculas finas de Cu3BiS3; constantes pticas;
mtodo de Wolfe.
www.javeriana.edu.co/scientiarum/ojs