CEP CPK B4 2017 CEP BAndrade

Control Estadstico de Procesos
Se define el control estadstico de procesos

(CEP) como la aplicacin de los mtodos
estadsticos a la medicin y anlisis de las
causas de la variacin en cualquier proceso
Brahim Andrade -1-

Medicin de la calidad en Manufactura
Aspectos a Controlar
Porcentaje de produccin que cumple con las especificaciones (durante

y al final del proceso, enviado sin cumplir con especificaciones a
bodega del cliente)
Cantidad de desperdicio, de reproceso, devoluciones
Nmero de defectos encontrado en auditoria de producto (despus de

inspeccin).
Costo de garanta debidos a defectos de fabricacin
Medida global de la calidad del producto
Cantidad de produccin degradada.
Porcentaje de instrumentos que cumplen con los programas de

calibracin
Brahim Andrade -2-

Generalidades de las grficas de control Estadstico
Una GCE es una comparacin de los datos de desempeo del proceso

con los limites de control estadstico calculados, dibujados como
rectas limitantes sobre la grfica
El objetivo es detectar las causas especiales (o atribuibles) de la

variacin en un proceso, mediante el anlisis de los datos, tanto
pasados como futuros.
Variaciones de causa comn ( o debida al azar): variaciones inherentes

al proceso.
Variaciones especiales: las que causan una variacin anormal.
Cuando un proceso opera sin causas especiales de variacin se dice

que se encuentra en estado de control estadstico
Brahim Andrade -3-

Ventajas del Control Estadstico
Proceso bajo control estadstico:

Permite predecir su comportamiento (corto plazo)
Opera con menor variabilidad que un proceso con causas
especiales
Ayuda a quienes intentan hacer una reduccin a largo plazo
en la variabilidad
Un proceso estable (como el verificado por el control
estadstico), que tambin cumple con las especificaciones del
proceso proporciona evidencia de que tiene condiciones que,
si se mantienen, darn un producto aceptable.
Brahim Andrade -4-

Pasos para establecer una Grfica de Control
Elegir la caracterstica que quiere graficarse

Dar prioridad a las de alta tasa de defectos.
Usar Pareto para establecer prioridades
Identificar las variables del proceso y las condiciones que contribuyen a las
caractersticas del producto terminado.
Elegir el tipo de grfico de control
Decidir la lnea central que debe usarse y la base para calcular los lmites
Proporcionar un sistema de recoleccin de datos: formato sencillo, instrumentos

que registren al igual de que indican, condiciones de trabajo.
Calcular los lmites de control y proporcionar instrucciones especficas sobre la

interpretacin de los resultados y las acciones que debe tomar cada persona.
Graficar los datos e interpretas los resultados.
Brahim Andrade -5-

Calculo de lmites de Grficas
Grfico para Lnea central Lmite inferior Limite superior
Promedios X X X A2 R X + A2 R
Rangos R R D3 R D4 R
Porcentaje de No p p 3( p (1- p )/n)^ p + 3( p (1- p )/n)^

conformidad p
Numero de no c c 3( c ) ^ c + 3( c ) ^
conformidades c
Brahim Andrade -6-

Comparacin
Grficas de medidas Promedio y Rango Porcentaje de no Nmero de no

Estadsticas (X y R) conforme (p) conformidades (c)
Tipo de datos requerido Datos de variables (valores Datos de atributos (nmero Datos de Atributos
medidos de una de unidades defectuosas de (nmero de defectos por
caracterstica) un producto) unidad de producto)
Campo general de Control de caractersticas Control de fraccin global Control de nmero global
Aplicacin individuales de defectuosos de un de defectos por unidad
proceso
Ventajas significativas Proporciona una utilizacin Los datos requeridos con Iguales ventajas de la
mxima de la informacin frecuencia estn grfica p pero tambin
disponible de los datos disponibles en los registros proporcionan una medida
de inspeccin de defectos
Desventajas significativas No se entiende a menos que No proporciona No proporciona
se de capacitacin, puede informacin detallada del informacin detallada del
causar confusin entre los control de caractersticas control de caractersticas
lmites de control y los de individuales individuales
tolerancia
Tamao de muestra De 4 a 5 Muestras de 25, 50 o 100 Cualquier unidad
conveniente de un
producto, como un
televisor, 100 gramos de
azcar.
Brahim Andrade -7-

Constantes para las Graficas X y R
n A2 D3 D4 d2
2 1.88 0 3.268 1.128
3 1.023 0 2.574 1.693
4 0.729 0 2.282 2.059
5 0.577 0 2.114 2.326
6 0.483 0 2.004 2.534
7 0.419 0.076 1.927 2.704
8 0.373 0.136 1.864 2.847
9 0.337 0.184 1.816 2.970
10 0.308 0.223 1.777 3.078
15 0.223 0.348 1.652 3.472
Factores reproducidos de ASTM
Brahim Andrade -8-

Ejemplo: Control de Rangos
1 Hora 1 2 3 4 5 6 X R LCS LCC LCI R

8:00 4.90 4.80 4.80 5.10 0.60 5.20 5.23 1.80 3.25 1.62 0 1.80
9:00 6.80 5.10 5.20 7.10 5.30 5.20 5.78 2.00 3.25 1.62 0 2.00
10:00 7.10 6.90 5.90 6.20 6.90 6.90 6.65 1.20 3.25 1.62 0 1.20
11:00 6.80 6.20 6.50 7.10 7.60 6.80 6.83 1.40 3.25 1.62 0 1.40
12:00 6.00 4.60 4.50 4.50 4.30 5.20 4.85 1.70 3.25 1.62 0 1.70
29.34 8.10
X = 5.87
R = 1.62
LCS = D4 * R (2.004)(1.62) = 3.25
LCI = D3 * R (0)*(1.62) = 0
Grafico de Control de Rangos
3.5
3
2.5 LCS
2 LCC
1.5 LCI
1 R
0.5
0
1 2 3 4 5
Como el grfico R indicaque la variacin de R est dentro de control, se puede

elaborar el grfico X para comprobar la varicacin de las medias.
Brahim Andrade -9-

Ejemplo. Grafico de Medias
LCS = X + A2*R = 5.87 + (0.483)(1.62) = 6.65 LCS LCC LCI X

6.65 5.87 5.09 5.23
LCC =X 5.87 6.65 5.87 5.09 5.78
6.65 5.87 5.09 6.65
LCI = X - A2R = 5.87 - (0.483)(1.62) = 5.09 6.65 5.87 5.09 6.83
6.65 5.87 5.09 4.85
Grfico de Medias
6.5
6
LCS
LCC
5.5
LCI
X
5
4.5
4
1 2 3 4 5
INTERPRETACIN
Se ve que el proceso est fuera de control. Las medias de las muestras 3 y 4
son superiores al LCS. Se deber interrumpir el proceso de produccin y determinar
y corregirse la causa asignable.
Brahim Andrade - 10 -
Interpretacin de grficos : X y R
La X fuera de los limites de control son seal de un cambio general que

afecta todas las piezas posteriores al primer subgrupo fuera de los limites
Las causas comunes son:
CAMBIO EN MATERIAL
EL PERSONAL
LA PREPARACION DE LA MAQUINA
EL DESGSASTE DE LAS HERRAMIENTAS
LA TEMPERATURA O VIBRACIN
Las R fuera de los limites indican que la uniformidad del proceso ha

cambiado
Las causas comunes son:
CAMBIO DE PERSONAL
AUMENTO EN LA VARIABILIDAD DEL MATERIAL
DESGASTE EXCESIVO EN LA MAQUINARIA DEL PROCESO
Tcnicas de
Control de
Calidad
Grficos Muestreo y
de Control Aceptacin
Por Variables Riesgos
Grfico X asociados
Grfico R
Por Atributos
Papel del
Grfico P nmero de
Grfico C aceptacin
Planes de
Muestreo
Grficos de Control por Atributos
Grficos Tipo P: Grficos tipo C:

Miden la proporcin registran el nmero
de defectos
de defectos por
unidad.
P = (# de defectos en una muestra)
(tamao de muestra) C = # de defectos por unidad
P = (# defectos en todas las mtas.)
# total de uni. inspeccionadas
Ejemplo. Grafico Tipo P
Ejemplo de grficos tipo P
Defectos en K = 15 muestras de tamao n = 40
Muestra Defectos P
1 10 0.250 Grfico tipo P
2 12 0.300
3 9 0.225 0.800
4 15 0.375
5 27 0.675 0.700
6 8 0.200
7 11 0.275 0.600
Porcin de defectos
8 11 0.275
9 13 0.325 0.500 P
10 15 0.375 LCC
0.400
11 17 0.425 LCS
12 3 0.075 LCI
0.300
13 25 0.625
14 18 0.450 0.200
15 17 0.425
Suma 211 0.100
0.000
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
Muestras
P = 211/600 = 0.3517 Las muestras 5 y 13, estn claramente fuera de control, la

busqueda de causas asignables determino que est
LCS = P + 3 (P(1- P) / n)^(1/2) = 0.5782 produccin fue hecha por personal temporal mal entrenado
La muestra 12, con baja cantidad de defectos, resulto por utilizar
LCI = P - 3 (P(1- P) / n)^(1/2) = 0.1252 materia prima de mejor calidad, cuando el proveedor habitua
no pudo entregas la materia prima de costumbre
Ejemplo. Grafico Tipo C
Ejemplo Grfico de control tipo C
Nmero de defectos en 20 piezas de envoltorio para regalos
Hoja No. # Defectos

1 5 Grfico Tipo C
2 4
3 3 18
4 5
5 16 16
6 1 14
7 8
Defectos por unidad
8 9 12
9 9 # Defectos
10 4 10
LCS
11 3 LCC
8
12 15 LCI
13 10 6
14 8
15 4 4
16 2
2
17 10
18 12 0
19 7
1
11
13
15
17
19
20 17 Unidades inspeccionadas
Suma 152
C = 152/20 = 7.6 LCS = 7.6 + 3(2.725) = 15.87

C = (C)^(1/2) = (7.6)^(1/2) = 2.757 LCI = 7.6 -3(2.725) = -0.67
Las unidades 5 y 20 indican que el proceso est fuera de control y se deben determinar las causas
El lmite de control inferior se pone igual a cero, puesto que es imposible tener un nmero de
defectos negativo.
Muestreo y Aceptacin
Muestreo Nmero de aceptacin

Se inspecciona una Es el nmero mximo
muestra de un envo o de defectos que se
de un lote de pueden detectar en una
produccin para
determinar si cumple muestra sin rechazar
determinadas todo el envo.
especificaciones
mnimas de calidad y Garantiza que el AQL,
por consiguiente es se mantiene sin
aceptable. rechazar ms envos
correctos que los
correspondientes al
porcentaje aplicado
Tipos de Error
Riesgo del Proveedor: Riesgo del Cliente:
La probabilidad de que un error de La probabilidad de que un error de
muestreo haga que el cliente muestreo haga que el cliente acepte
rechace un envo correcto y lo un envo que contenga un nmero
devuelva al proveedor es un riesgo desproporcionado de defectos es un
del proveedor. riesgo del cliente.
Se denomina error tipo I ( Alfa ) Se denomina error tipo II (Beta )
CONTROL ESTADISTICO
DEL PROCESO / Cpk
HABILIDAD DEL PROCESO ( Definiciones)
Proceso
Combinacin nica de maquinas, herramientas, mtodos, materiales y personas involucradas en la produccin
Conjunto de actividades mutuamente relacionadas o que interactuan, las cuales transforman entradas en
salidas.
Habilidad
Esta palabra se usa en el sentido de aptitud, basada en el desempeo probado, para lograr resultados que se
puedan medir.
Habilidad medida
Esto se refiere al hecho de que la habilidad del proceso se cuantifica a partir de datos que, a su vez, son el
resultado de la medicin del trabajo realizado por el proceso
Habilidad inherente
Esto se refiere a la uniformidad del producto que resulta de un proceso que se encuentra en estado de control
estadstico.
Producto
La medicin se hace sobre el producto porque el resultado final es la variacin del producto
USOS DE LA INFORMACION DE HABILIDAD DE PROCESO
Predecir el grado de variabilidad que exhibirn los procesos
Seleccionar, entre los procesos que compiten, el mas adecuado para que las
tolerancias se cumplan.
Planear la interrelacin de procesos secuenciales
Proporcionar una base cuantitativa para establecer un programa de

verificaciones de control peridico del proceso
Asignar las maquinas a los tipos de trabajo, para los cuales son ms
adecuadas
Servir como base para las especificaciones de los requerimientos de calidad
Formula estandarizada
Habilidad de proceso = + 3 (un total de 6 S)
Donde S= la desviacin estndar del proceso, cuando se encuentra en estado de control estadstico
Si el proceso est centrado en la especificacin nominal y sigue una distribucin Normal, 99.73% de la
produccin caer a menos de 3S de la especificacin nominal.
Cp= Tasa de Habilidad = Rango de especificacin

Habilidad del proceso
Cp = LES LEI
6S
ndice de habilidad del proceso (Cp)
Indice de Habilidad del Proceso Producto total fuera de los limites de

especificacin en los dos lados (proceso es
centrado)
Cp
0.5 13.36%
0.67 4.55%
1.00 0.3%
1.33 64 PPM
1.63 1 PPM
2.00 0
ndice de Habilidad Cpk
La habilidad del proceso, segn se mide con Cp, se refiere a la variacin de

un proceso alrededor del valor promedio.
Cp, mide la habilidad potencial (suponiendo que el promedio del proceso es igual al punto
medio de los limites de especificacin)
El ndice Cpk, refleja la proximidad de me media actual del proceso al limite

de especificacin superior (LES) o a inferior (LEI)
Se calcula, mediante:
Cpk = mn [ X-LEI , LES-X ]

3S 3S
Entre mas alto el valor de Cpk, mas baja ser la

Cantidad de producto que este fuera de los limites
de especificacin
Control Estadstico del Proceso
TALLER No. 3
Ejercicio en Grupo, desarrolle los grficos de control

solicitados
Ejercicio: Realice un grafico de control de promedios y rangos con
los limites de control
Nmero de X R Nmero De X R
Muestra muestra
1 15.1 9.1 14 9.8 17.5
2 12.3 9.9 15 8.8 10.5
3 7.4 9.7 16 8.1 4.4
4 8.7 6.7 17 6.3 4.1
5 8.8 7.1 18 10.5 5.7
6 11.7 9.1 19 9.7 6.4
7 10.2 12.1 20 11.7 4.6
8 11.5 10.8 21 13.2 7.2
9 11.2 13.5 22 12.5 8.3
10 10.2 6.9 23 7.5 6.4
11 9.6 5 24 8.8 6.9
12 7.6 8.2 25 8.0 6.4
13 7.6 5.4
Ejercicio 2:bosqueje un grafico de control con limites de control
Nmero de Defectuosos Nmero De Defectuosos

Muestra Porcentaje muestra Porcentaje
1 4 14 4
2 3 15 4
3 5 16 5
4 6 17 3
5 7 18 0
6 5 19 3
7 4 20 2
8 2 21 1
9 5 22 3
10 6 23 4
11 4 24 2
12 3 25 2
13 3
Ejercicio 3: realice in grafico de control
Nmero de Nmero de Nmero De Nmero de

Muestra imperfecciones muestra imperfecciones
1 14 14 22
2 5 15 1
3 10 16 6
4 19 17 14
5 0 18 8
6 6 19 6
7 2 20 9
8 9 21 7
9 8 22 1
10 7 23 5
11 3 24 12
12 12 25 4
13 1
Muestreo de
aceptacin de lotes.
Lotes y seleccin.
Formacin del lote.
Al formar un lote este influye en la eficacia del plan de muestreo de aceptacin.
Lotes deben de ser homogneos.

No deben de complicar el manejo de materiales del proveedor y cliente.
Los lotes deben de ser tan grandes como sea posible.
Muestreo para aceptacin.
La inspeccin de materias primas, productos
semiterminados o productos terminados es parte
importante del aseguramiento de calidad.
Es til en las siguientes situaciones:

Cuando el costo de inspeccin al 100 % es muy alto y no es
tecnolgicamente factible.
Muchos artculos y la tasa de errores es suficientemente
alta.
Cuando se desea una reduccin en la inspeccin.
Aceptacin de lotes
malos y rechazo de
lotes buenos.
Es menos costoso.
No se genera tanta
Menor manejo del informacin sobre el
producto --- producto o el
reduccin de proceso.
daos.
S e n e c e s i t a
planeacin y
R e d u c c i n d e documentacin del
cantidad de errores proceso de muestreo
de inspeccin.
Tipos de planes de muestreo.
Hay diferentes tipos de clasificaciones de los planes de muestreo para la
aceptacin.
Las variables son carctersticas de calidad que se miden en una escala numrica
y los atributos se expresan de forma:
aceptable.
No aceptable.
Muestreo por aceptacin de atributos.
Este plan consiste en inspeccionar muestras aleatorias de n unidades tomadas de
lotes tamao N y observar el nmero de artculos defectuosos d de las muestras.
dc
dc
Muestreo simple.
Muestreo doble.
Muestreo simple.
Se toma una muestra aleatoria de n unidades del lote para su estudio y se

determina el destino de todo el lote con base a la informacin obtenida de la
muestra.
Al extraer la muestra se inspecciona sobre las bases de aceptacin o rechazo para

encontrar c o menos unidades defectuosas.
Existe una curva que muestra la bondad con la que funciona el programa de
muestreo.
Ac se representan probabilidades de aceptacin Pa, contra la proporcion de

unidades p para los lotes.
Estas proporciones y riesgos se deduxen de la naturaleza del la curva CO y as

determinar si el muestreo cumple con las especificaciones.
Muestreo doble.
Se selecciona una muestra inicial y se toma una decisin basada en la
infromacin de esta muestra.
Aceptar el lote.
Rechazar el lote.
T o m a r u n a s e g u n d a
muestra.
Muestreo mltiple.
Extensin del muestreo doble a varias fases en el que puden necesitarse mas de
dos muestras para llegar a una decisin acerca del lote.
Los tamaos muestrales son menores que un muestreo simple o doble.
Muestreo secuencial.
Extensin del muestreo mltiple a un nmero elevado de fases en el que se van
seleccionando artculos de uno en uno en el lote.
Se toma la decisin de aceptar o rechazar el lote o bien seleccionar otro artculo

para seguir inspeccionando.
Military Standard 105
MIL-STD-105
Esta norma, es un estndar de la defensa de Estados Unidos que provee

procedimientos y tablas para muestreo por atributos.
Esta fue impuesta en los aos 50 como de uso obligatorio para los proveedores
del ejrcito.
Esta norma fue adoptada fuera de las aplicaciones militares, para las que haba
sido propuesta.
La norma est formada por un conjunto de 10 tablas y procedimientos de
aplicacin.
Los planes obligan a adaptarse a Niveles de Calidad Aceptables (NCA), y permiten

elegir entre tres niveles principales de inspeccin.
En los procedimientos se indican como ir variando la rigurosidad de la inspeccin

segn sean los resultados obtenidos.
Esquema de muestreo.
Un esquema de muestreo consiste en la combinacin de un plan normal de
muestreo, un plan firme de muestreo y un plan reducido de muestro, junto con
reglas para cambiar de uno a otro plan.
Esta norma ofrece tipos de muestreo:

Simple.
Doble.
Mltiple.
Nivel de inspeccin.
Se necesita decidir en un nivel de inspeccin que cumpla con los Niveles de

Calidad Aceptables.
Esto determina la relacin entre el tamao del lote y el tamao de la muestra.
Pasos en la norma.
1. Decidir un NCA.
2. Decidir en el nivel de inspeccin que se desea.
3. Determinar el tamao de lote.
4. Ver en la tabla para encontrar el tamao de la muestra.
5. Decidir en el tipo de muestreo a utilizar.
6. Ver en la tabla adecuada para encontrar el plan a utilizar.
Taller 4
Tarea Individual
Instrucciones

CEP CPK B4 2017 CEP BAndrade

Hochgeladen von

Dokumentinformationen

Originaltitel

Copyright

Verfügbare Formate

Dieses Dokument teilen

Dokument teilen oder einbetten

Freigabeoptionen

Stufen Sie dieses Dokument als nützlich ein?

Sind diese Inhalte unangemessen?

Copyright:

Verfügbare Formate

CEP CPK B4 2017 CEP BAndrade

Hochgeladen von

Copyright:

Verfügbare Formate

Control Estadstico de Procesos

Se define el control estadstico de procesos

Brahim Andrade -1-

Porcentaje de produccin que cumple con las especificaciones (durante

Cantidad de desperdicio, de reproceso, devoluciones

Nmero de defectos encontrado en auditoria de producto (despus de

Costo de garanta debidos a defectos de fabricacin

Medida global de la calidad del producto

Cantidad de produccin degradada.

Porcentaje de instrumentos que cumplen con los programas de

Brahim Andrade -2-

Una GCE es una comparacin de los datos de desempeo del proceso

El objetivo es detectar las causas especiales (o atribuibles) de la

Variaciones de causa comn ( o debida al azar): variaciones inherentes

Variaciones especiales: las que causan una variacin anormal.

Cuando un proceso opera sin causas especiales de variacin se dice

Brahim Andrade -3-

Proceso bajo control estadstico:

Brahim Andrade -4-

Elegir la caracterstica que quiere graficarse

Elegir el tipo de grfico de control

Proporcionar un sistema de recoleccin de datos: formato sencillo, instrumentos

Calcular los lmites de control y proporcionar instrucciones especficas sobre la

Graficar los datos e interpretas los resultados.

Brahim Andrade -5-

Grfico para Lnea central Lmite inferior Limite superior

Porcentaje de No p p 3( p (1- p )/n)^ p + 3( p (1- p )/n)^

Brahim Andrade -6-

Grficas de medidas Promedio y Rango Porcentaje de no Nmero de no

Brahim Andrade -7-

Factores reproducidos de ASTM

Brahim Andrade -8-

1 Hora 1 2 3 4 5 6 X R LCS LCC LCI R

LCS = D4 * R (2.004)(1.62) = 3.25

Grafico de Control de Rangos

Como el grfico R indicaque la variacin de R est dentro de control, se puede

Brahim Andrade -9-

LCS = X + A2*R = 5.87 + (0.483)(1.62) = 6.65 LCS LCC LCI X

La X fuera de los limites de control son seal de un cambio general que

Las R fuera de los limites indican que la uniformidad del proceso ha

Grficos Tipo P: Grficos tipo C:

(tamao de muestra) C = # de defectos por unidad

P = (# defectos en todas las mtas.)

# total de uni. inspeccionadas

P = 211/600 = 0.3517 Las muestras 5 y 13, estn claramente fuera de control, la

Hoja No. # Defectos

C = 152/20 = 7.6 LCS = 7.6 + 3(2.725) = 15.87

Muestreo Nmero de aceptacin

Predecir el grado de variabilidad que exhibirn los procesos

Planear la interrelacin de procesos secuenciales

Proporcionar una base cuantitativa para establecer un programa de

Servir como base para las especificaciones de los requerimientos de calidad

Habilidad de proceso = + 3 (un total de 6 S)

Cp= Tasa de Habilidad = Rango de especificacin

Indice de Habilidad del Proceso Producto total fuera de los limites de

La habilidad del proceso, segn se mide con Cp, se refiere a la variacin de

El ndice Cpk, refleja la proximidad de me media actual del proceso al limite

Cpk = mn [ X-LEI , LES-X ]

Entre mas alto el valor de Cpk, mas baja ser la

Ejercicio en Grupo, desarrolle los grficos de control

Nmero de Defectuosos Nmero De Defectuosos

Nmero de Nmero de Nmero De Nmero de

Lotes deben de ser homogneos.