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Deteccion de entrelazamiento espacial de fotones

generados por el proceso de conversion espontanea


parametrica descendente usando camara EMCCD.

Proyecto de Tesis
Pablo Octavio Riquelme Jara.
Ingeniero Civil en Telecomunicaciones.
6 de febrero de 2017.

Prof. Patrocinante: PhD, Guilherme Xavier B.


Comision: PhD, Sebastian Godoy M.
PhD, Esteban Sepulveda G.
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Introduccion

Definicion de problema
El problema a resolver en este Proyecto de Tesis es comprobar,
mediante experimentacion, caracterizacion y comparacion, el
potencial de una camara EMCCD en la observacion para calcular el
entrelazamiento espacial en los fotones individuales.
Objetivo general
Cuantificar experimental el entrelazamiento espacial de fotones
individuales con una camara EMCCD comercial, para comprobar el
aumento en magnitud del numero de Schmidt utilizando un filtro de
tipo no gaussiano.

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Introduccion

Objetivos especficos
1 Estimacion de la PSF y la resolucion del problema inverso.
2 Caracterizar experimentalmente el largo efectivo del Cristal BBO y el
foco de la lente mediante la camara EMCCD ProEM 512 B.
3 Alinear y preparar la fuente de luz basada en SPDC tipo I.
4 Calibrar la camara considerando los valores establecidos para el
experimento de medicion y deteccion de fotones individuales.
5 Analizar datos obtenidos en el proceso de adquisicion y recopilacion,
para comparar resultados experimentales y teoricos del experimento.

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Introduccion

Hipotesis
La hipotesis de esta propuesta de tesis es que se puede incrementar el
numero de Schmidt que cuantifica el entrelazamiento de un estado
bipartito puro, utilizando un modulador espacial MFEE y la
tecnologa de sensores opticos EMCCD para la deteccion y estimacion
de los datos experimentales.
Alcances y limitaciones
Se limitara la manipulacion y el traslado de la camara EMCCD, ya
que cuenta con un servidor especialmente adecuado para su
utilizacion y ademas se puede controlar al 100 % de forma remota.
Solo se limitara a la deteccion de fotones entrelazados de la fuente de
luz SPDC tipo I.

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Conversion Parametrica Espontanea Descendente - SPDC
Es un metodo muy empleado, ya que pueden ser usado para obtener
estados fotonicos entrelazados, es decir, pares de fotones correlacionados
en algun modo, primordialmente espacial, temporal o en frecuencia.

Figura 1: Relacion de conservacion de energa y momentum en el proceso SPDC.

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Conversion Parametrica Espontanea Descendente - SPDC

(a) (b)

Figura 2: (a) Diferentes secciones de conos, en los cuales smbolos iguales


representan fotones conjugados que satisfacen la condicion de phase-matching,
(b) Conos producidos del SPDC Tipo I.

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Conversion Parametrica Espontanea Descendente - SPDC

Las fuentes de fotones individuales han demostrado ser un factor


importante en distintas areas

Aplicaciones de la SPDC
Computacion cuantica
Criptografa cuantica
Teleportacion

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Estimacion del entrelazamiento espacial

Los fsico Law y Eberly han usado el numero de Schmidt para calcular
el entrelazamiento de dos fotones generados en el proceso SPDC para un
pump Gaussiano, la ecuacion se puede escribir de la forma
1 1 2
K= b + , (1)
4 b
El entrelazamiento en esta aproximacion Gaussiana sirve como lmite
inferior, ya que, el estado Gaussiano es siempre menos entrelazado que
un estado no Gaussiano con los mismos anchos.

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Estimacion del entrelazamiento espacial
Se ilustra el cambio del numero de Schmidt en funcion del parametro b.
De aqu se observa que K incrementa cuando el parametro b aumenta o
disminuye, es decir, crece para b  1 y b  1, alcanzando su menor
valor K = 1 para b = 1

Figura 3: Numero de Schmidt del estado espacial Gaussiano generado en SPDC


en funcion del parametro b.

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Estimacion del entrelazamiento espacial

Por otra parte, se demostro que para un estado puro de dos fotones, como
el generado en la SPDC, el numero de Schmidt viene dado por el
inverso del grado global de coherencia de la fuente, es decir
Z 2 Z 2
INF () d IFF () d
1
K= Z
Z
, (2)
2
I2NF () d I2FF () d

Donde, es la longitud de onda de los fotones gemelos, INF y IFF son las
cuentas (Intensidad) medidas en Nearfield y en Farfield, respectivamente.
Vemos que es posible obtener el numero de Schmidt solo midiendo
las dos distribuciones del perfil de un foton. Recordemos que el
numero de Schmidt K esta relacionado con la cantidad de entrelazamiento
que tiene un estado, entre mas grande sea el valor de K, mayor sera el
entrelazamiento.
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Dispositivo de cargas acopladas de multiplicacion de
electrones - EMCCD

Es la camara EMCCD mas avanzada


disponible en el mercado hoy en da, que
utiliza la ultima tecnologia de lectura
electronica de bajo ruido y un EMCCD
retroiluminado 512x512 con una alta
sensibilidad. Cuenta con un modo de EM
de alta velocidad para capturar cinetica
rapida y una velocidad normal baja en
modo de CCD con muy bajo ruido de Figura 4: Camara EMCCD
lectura para aplicaciones de fotometra de ProEM 512-B de Princeton
Instrument.
precision.

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Dispositivo de cargas acopladas de multiplicacion de
electrones - EMCCD
Eficiencia cuantica: es una cantidad definida para un dispositivo
fotosensible como el porcentaje de fotones que chocan con la superficie
fotorreactiva que producira un par electron-hueco.

Figura 5: Curva de Eficiencia Cuantica.


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Dispositivo de cargas acopladas de multiplicacion de
electrones - EMCCD

En la Figura ??, ayuda a entender el proceso de captura y en que parte de


este se generan los diferentes ruidos estudiados.

Figura 6: Esquema de las fuentes de ruido durante la medicion de fotones.

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Dispositivo de cargas acopladas de multiplicacion de
electrones - EMCCD

Las camaras EMCCD son apropiadas para varias aplicaciones en imagen


con niveles de luz muy bajos en el rango de longitud de onda visible al
cercano al infrarrojo que requieren altas velocidades y tiempos de
exposicion muy cortos.

Aplicaciones de la camara
EMCCD
Imagenologia biologica.
Microscopa de fluorescencia.
Astronoma.
Inspeccion de celdas solares.

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Algoritmo de correccion de ruido Flatfielding

Con el fin de minimizar los efectos de las senales no deseadas que afectan
el rendimiento de la camara se aplica un metodo de correccion de ruido
conocido como Flatfielding.
Se aplicar una correccion con la captura del Flatfield Imagen que
permite dividir las pequenas faltas de uniformidad en traspaso de
carga de pxel a pxel.
Se realiza la captura del Background con el fin de realizar la
sustraccion del ruido de patron fijo (Ruido de fondo).
La ecuacion que se utiliza para aplicar la correccion es la siguiente:

Suma(Imagen RAW x1000) Suma(Background x1000)


Imagen corregida = , (3)
Suma(Flatfield Imagen x1000)

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Diseno del Setup
El Setup final utilizado para realizar el experimento de Concentracion de
Entrelazamiento es descrito como:
Donde:
1.- Laser estado solido UV 355 [nm].
2.- Espejo reflector.
3.- Iris marcador de trayectoria.
4.- Placa /2.
5.- Cristal no-lineal BBO tipo I
(- Borato de Bario, BaB2 O4 ).
6.- Filtro pasa alto 400 [nm].
7.- Lente doble acromatico 650 - 1050
[nm],
f=150 [mm] y f=75 [mm].
8.- Modulador Espacial LC2002.
9.- Filtro pasa alto RG665, 665[nm].
10.- Filtro 710 2 [nm].
11.- Camara EMCCD ProEM 512-B.
Figura 7: Setup esquematico del circuito optico.
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Utlizacion de una lente doble

Una consideracion relevante fue la lente doble acromatico 650 - 1050 [nm],
que resulta de la union de una lente divergente plano concava y una lente
convergente biconvexa.

Campo cercano (Near Field) f 0 =75 [mm]:

Figura 8: Esquema de funcionamiento del lente doble con f 0 =75 [mm], utilizado
para observar en campo cercano.

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Utilizacion de una lente doble

Campo lejano (Far Field) f 0 =150 [mm]:

Figura 9: Esquema de funcionamiento del lente doble con f 0 =150 [mm], utilizado
para observar en campo lejano.

Para esto se propone la utilizacion de la lente de mayor foco como base de


observacion.

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Alineacion y funcionamiento de una doble rendija
Cuando se trabaja con componentes opticos es muy importante alinear y
sobre todo cuando se trabaja con sensores opticos. Esto se desarrolla
observando en el campo lejano, donde se observar un patron de
interferencia.

Figura 10: Esquema de funcionamiento de una doble rendija y patron de


interferencia resultante.

Luego, se establece que la utilizacion de una doble rendija principalmente


debido a que es conocido el patron de interferencia.
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Resultados: Patron de interferencia doble rendija
Para establecer la correcta distancia entre la lente y el sensor optico dentro
de la camara, y asegurar la correcta visualizacion del plano de Fourier se
utiliza una lente doble con f 0 =150 [mm] como base.

(a) (b)

Figura 11: Imagen del patron de interferencia, (a) Lente a 150 [mm] de la
camara, (b) Lente a 165 [mm] de la camara.
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Resultados: analisis de las imagenes experimentales
Se obtiene la curva de interferencia en cada imagen, en comparacion con
la curva teorica de interferencia mediante un ajuste.

(a) (b)

Figura 12: Grafica del Patron de interferencia a 150 [mm] de la lente, (a) Ajuste
teorico con foco=150 [mm] y ECM=0,11821, (b) Ajuste teorico con foco=147
[mm] y ECM=0,11891.

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Resultados: analisis de las imagenes experimentales

(a) (b)

Figura 13: Grafica del Patron de interferencia a 165 [mm] de la lente, (a) Ajuste
teorico con foco=165 [mm] y ECM=0,13876, (b) Ajuste teorico con foco=150
[mm] y ECM=0,15939.

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Resultados: variacion del ECM
De la justificacion anterior, se considera entonces encontrar el mejor ajuste
de foco que resulte en un menor ndice de ECM, centrando esfuerzos en el
patron de interferencia a 150 [mm] que ha mostrado mejores resultados,
obteniendo.

Figura 14: Grafica de variacion del ECM en la imagen capturada a 150 [mm] de la
Lente a distintos valores de foco.

Luego, el sensor se encuentra a 15 1 [mm] al interior de la camara, valor


inferior al sugerido por el fabricante de 17,5 [mm].
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Resultados: Doble rendija y Magnificacion
Con la finalidad de conocer el ndice de la magnificacion en el experimento
y obtener correctos resultados de observacion.

(a) (b)

Figura 15: Doble rendija, (a) Imagen normalizada con aumento en la ROI, (b)
Grafica de ajuste de datos obtenidos y medidas reales.

La constante de magnificacion resultante es de 0,956 en magnitud, es


decir una reduccion del 4.4 % de lo observado en el plano imagen.
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Resultados: Largo efectivo de generacion, Cristal BBO

Entonces para determinar el largo del cristal BBO se utiliza la relacion


entre el largo efectivo de generacion y el foco de la lente usada en la
observacion de plano de Fourier, esto descrito mediante la siguiente
ecuacion:
L
a = 0 2, (4)
(f )
Donde, L es el largo efectivo de generacion del cristal, f 0 es el foco de la
lente y a es un factor dentro del argumento de la funcion sinc que se
ajusta mediante un fitting (aproximacion) a la representacion experimental
de la configuracion colineal del Farfield.

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Resultados: Largo efectivo de generacion, Cristal BBO
A continuacion se observa la curva de variacion del Largo efectivo del
cristal respecto al Foco y el punto con las mediciones teoricas, resultando.

Figura 16: Grafica de curva obtenida de la relacion del foco respecto al largo
efectivo de generacion del cristal BBO y punto con coordenadas propuesta por el
fabricante (Foco: 150 [mm] y Largo del cristal: 5[mm]).

Se observa que el punto teorico no se encuentran inscritos en la curva, por


lo tanto se calcula la menor distancia punto-curva, obteniendo un foco:
149,5 [mm] y un Largo aproximado del cristal: 3,4 [mm].
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Resultados: Imagenes del SPDC de tipo I, Campo lejano
Se realiza una comparacion de las imagenes obtenidas del SPDC de tipo I
en el campo lejano para cada una de las configuraciones resultantes. Estas
las definimos como: Estado entrelazado no colineal y Estado
entrelazado colineal. Estas configuraciones son representadas mediante
la siguiente ecuacion:
"  #2
a (x c)2 +

I |E | = sinc , (5)

Donde, es la longitud de onda de los fotones gemelos, c es una


constante experimental obtenida del ancho de la funcion gaussiana que
se ajusta al plano imagen del pump por la magnificacion obtenida, a es un
parametro que relaciona el foco de la lente en el plano de Fourier y el
largo efectivo de generacion de los fotones gemelos, x representan las
dimensiones reales del sensor y es el angulo de apertura de
emision que poseen los conos generados por los fotones gemelos.
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Resultados: Imagenes del SPDC de tipo I, Campo lejano
A continuacion se presenta la configuracion espacial en el estado
entrelazado no colinial:

(a) (b)

Figura 17: Configuracion espacial en el estado entrelazado no colineal con


= 1, 032, (a) Imagen experimental, (b) Imagen aproximada con R = 0, 989
(Fitting en 2D).

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Resultados: Imagenes del SPDC de tipo I, Campo lejano
Se observa la comparacion en una dimension, la intensidad en la imagen
experimental y la aproximacion teorica, considerando la obtencion de la
muestra en el eje de las abscisa con respecto al pixel central.

(a) (b)

Figura 18: Grafica obtenida de la imagen experimental en el estado entrelazado


no colinial con = 1, 032 y una aproximacion (Fitting ), (a) Comparacion lineal,
(b) Comparacion logartmica.
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Resultados: Imagenes del SPDC de tipo I, Campo lejano
De la misma forma, presenta la siguiente configuracion espacial en el
estado entrelazado no colinial:

(a) (b)

Figura 19: Configuracion espacial en el estado entrelazado no colineal con


= 0, 2672, (a) Imagen experimental, (b) Imagen aproximada con R = 0, 9975
(Fitting en 2D).

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Resultados: Imagenes del SPDC de tipo I, Campo lejano
Se observa la comparacion en una dimension, la intensidad en la imagen
experimental y la aproximacion teorica, considerando la obtencion de la
muestra en el eje de las abscisa con respecto al pixel central.

(a) (b)

Figura 20: Grafica obtenida de la imagen experimental en el estado entrelazado


no colinial con = 0, 2672 y una aproximacion (Fitting ), (a) Comparacion
lineal, (b) Comparacion logartmica.
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Resultados: Imagenes del SPDC de tipo I, Campo lejano
Finalmente, se tiene la configuracion espacial en el estado entrelazado
colineal (Maxima generacion de fotones gemelos).

(a) (b)

Figura 21: Configuracion espacial en el estado entrelazado colinial con


= 1, 502x108 0, (a) Imagen experimental, (b) Imagen aproximada con
R = 0, 998 (Fitting en 2D).

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Resultados: Imagenes del SPDC de tipo I, Campo lejano
Se observa la comparacion en una dimension, la intensidad en la imagen
experimental y la aproximacion teorica, considerando la obtencion de la
muestra en el eje de las abscisa con respecto al pixel central.

(a) (b)

Figura 22: Grafica obtenida de la imagen experimental en el estado entrelazado


colinial con = 1, 502x108 0 y una aproximacion (Fitting ), (a) Comparacion
lineal, (b) Comparacion logartmica.
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Resultados: Imagenes del SPDC de tipo I, Campo cercano
Por otra parte, cuando se utiliza una lente con foco a 75 [mm] en el Setup,
se esta observando campo cercano, es decir el plano imagen del pump que
incide en el cristal BBO en la generacion de fotones gemelos.

(a) (b)

Figura 23: Plano imagen del pump de entrada, (a) Imagen experimental, (b)
Imagen aproximada con R = 0, 997 (Fitting en 2D).

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Resultados: Imagenes del SPDC de tipo I
Se observa la comparacion en una dimension de la intensidad en la imagen
experimental, en los ejes x e y con el fin de comprobar que la distribucion
gaussiana que describe al pump de entrada no es simetrica, es decir

(a) (b)

Figura 24: Grafica obtenida de la imagen experimental en el plano imagen de


pump de entrada, (a) Comparacion lineal eje x, (b) Comparacion lineal eje y.

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Resultados: Estimacion del numero de Schmidt

Se realiza primer lugar, el calculo de la magnitud del lmite


inferior K=597,25 en magnitud, este valor brinda un primer
acercamiento para estimar el numero de Schmidt.
Continuando con el experimento, se obtienen todos los parametros y
variables necesarios para estimar el valor analtico del numero de
Schmidt K=1.406,30 en magnitud, valor utilizado como base para
discriminar los resultados propuesto de ambos metodos.
El primera instancia, se utilizan como parametros de entrada las
imagenes corregidas y capturadas experimentalmente, en la ecuacion
(??) obteniendo como resultado un K=1.859,77 en magnitud, esto
considerando un espacio de muestra finito, dado por la cantidad de
pixeles presente en el sensor para ambos casos (campo lejano y
campo cercano).

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Resultados: Estimacion del numero de Schmidt

Finalmente, se utiliza la aproximacion de dos dimensiones en las


imagenes experimentales (fitting en 2D), con sus respectivos
parametros a un alto nivel de correlacion, resultando en las
imagenes de la Figura ?? (b) y Figura ?? (b) considerando como
espacio de muestra finito la resolucion dada por la cantidad de
pixeles presente en el sensor, valor que puede ser modificable
debido a que obtengo ecuaciones que dependiendo de la resolucion
pueden aumentan o disminuyen. Entonces, si se considera una
resolucion lo mas real posibles es decir con la cantidad de pixeles
presente en el sensor e igual tamano en ambas imagenes, se
obtiene como resultado un K=1.391,25 en magnitud, valor mucho
mas cercano en comparacion al resultado del primer metodo que
utiliza las imagenes experimentales.

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Resultados: Estimacion del numero de Schmidt
Luego, se modifica la resolucion para cada imagen, resultando

(a) (b)

Figura 25: Imagen aproximada, (a) Farfield en el estado entrelazado colineal con
resolucion 580x580, (b) Nearfield con resolucion 257x257.

Los valores son obtenidos mediante iteracion y con valores digitales reales,
resultado un K=1.406,25 en magnitud, valor aproximadamente igual al
valor analtico.
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Conclusiones I
La construccion de la fuente de luz SPDC es considerada una
fuente basica, pero cuenta con muchos detalles significantes los
cuales fueron resueltos por pruebas establecidas, analisis de los
componentes, correccion de imagenes adquiridas y literatura
relacionada.
Conocer el patron de interferencia de la doble rendija para
calcular de la distancia del sensor y el largor efectivo del cristal,
resultaron ser indispensable al momento de adquirir resultados
experimentales reales del experimento de concentracion de
entrelazamiento.
La estimacion del ECM en la aproximacion de curvas es un
importante indicador.
El calculo de la magnificacion siempre de debe realizar cuando se
trabaja en el espacio libre, al utilizar lentes y sensores opticos,
puesto que modifican el tamano de la imagen que se desea medir y
observar.
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Conclusiones II

La medicion de la estimacion del numero de Schmidt no resulto


para nada trivial y se debio optar por utilizar las aproximaciones
en dos dimensiones tanto del campo cercano (Nearfield) como del
estado entrelazado colineal en el campo lejano (Farfield) realizando
una modificacion en la resolucion para cada caso, el que se define
como el parametro de entrada de la ecuacion que describe cada una
de las configuraciones con un alto nivel de correlacion.
Se logra una mejor comprension de la utilizacion de filtro no
gaussiano, bajo que condiciones se establecieron las medidas y sus
dimensiones, lo que resulta muy relevante en la implementacion
de esta segunda etapa del experimento.

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Diagrama de Gantt

La planificacion para la finalizacion de este proyecto, comienza a contarse


desde la semana del 14 de agosto hasta el da 2 de diciembre, as, la
planificacion tentativa sera la siguiente:
A. Lectura y analisis, de publicaciones relacionadas al tema.
B. Calibracion y caracterizacion de camara.
C. Establecer modelo de ruidos.
D. Estudio del efecto de variaciones en el numero de fotones.
E. Alinear y preparar la fuente de luz basada en SPDC tipo I.
F. Estimacion de la PSF y la resolucion del problema inverso.
G. Resultados experimentales.
H. Escribir Tesis de Magister.

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Diagrama de Gantt

Figura 26: Diagrama de Gantt.

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Infinitas Gracias.

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Bibliografa

[1] Evelyn Acuna Ortega, Concentracion de entrelazamiento espacial de


los fotones gemelos, Examen de grado, Magister en Ciencias Fsicas,
Universidad de Concepcion, Chile, 2014.
[2] Esteban Sepulveda Gomez, Medidas practicas en informacion
cuantica, Tesis de postgrado para optar al grado de Magster en Ciencias
con mencion en Fsica, Universidad de Concepcion, Chile, 2015.
[3] Nielsen, M. A., & Chuang, I. L. (2010). Quantum computation and
quantum information. Cambridge university press.
[4] Brassard, G., Chaum, D., & Crepeau, C. (1988). Minimum disclosure
proofs of knowledge. Journal of Computer and System Sciences, 37(2),
156-189.
[5] Grassani, D., Azzini, S., Liscidini, M., Galli, M., Strain, M. J., Sorel,
M.,... & Bajoni, D. (2015). Micrometer-scale integrated silicon source of
time-energy entangled photons. Optica, 2(2), 88-94

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