USB Test Report

Overall Result: FAIL

Test Configuration Details
Device Description
HSSQ Fixture USBIF
Use Pulse Generator No
Test Method USBET
Test Point Device
Test Session Details
Infiniium SW Version 06.00.01001
Infiniium Model Number DSOS804A
Infiniium Serial Number MY55380116
Application SW Version 3.92
Debug Mode Used No
Model: 10:1 1M Ohm Probe 
Serial: No Serial Num 
Probe (Channel 1)
Atten: Not Calibrated, Using Default Atten (1.0000E+01) 
Skew: Not Calibrated, Using Default Skew
Model: 10:1 1M Ohm Probe 
Serial: No Serial Num 
Probe (Channel 2)
Atten: Not Calibrated, Using Default Atten (1.0000E+01) 
Skew: Not Calibrated, Using Default Skew
Model: 10:1 1M Ohm Probe 
Serial: No Serial Num 
Probe (Channel 3)
Atten: Not Calibrated, Using Default Atten (1.0000E+01) 
Skew: Not Calibrated, Using Default Skew
Last Test Date 2017­12­11 15:28:10 UTC ­08:00
Summary of Results
Test Statistics
Failed 6
Passed 22
Total 28

Margin Thresholds
Warning < 2 %
Critical < 0 %

# # Actual
Pass Test Name Margin Pass Limits
Failed Trials Value
EL_2 EL_4 EL_5 Data Eye and Mask ­100.0
1 1 Fail Pass/Fail
Test %
100.0
0 1 EL_6 Device Rise Time Pass Pass/Fail
%
100.0
0 1 EL_6 Device Fall Time Pass Pass/Fail
%
100.0
0 1 EL_7 Device Non­Monotonic Edge Test Pass Pass/Fail
%
64.735 63.610 ns <= VALUE
0 1 EL_21 Device Sync Field Length Test 43.7 %
ns <= 65.610 ns
16.892 15.600 ns <= VALUE
0 1 EL_25 Device EOP Length Test 38.5 %
ns <= 17.700 ns
EL_22 Measure Interpacket Gap 241.660 16.640 ns <= VALUE
0 1 41.2 %
Between Second and Third Packets ns <= 399.400 ns
EL_22 Measure Interpacket Gap 223.271 16.640 ns <= VALUE
0 1 46.0 %
Between First and Second Packets ns <= 399.400 ns
EL_38 EL_39 Device Suspend Timing 3.000 ms <= VALUE
0 1 3.004 ms 3.2 %
Response <= 3.125 ms
100.0
0 1 VBUS Before Enumerate 0.000 V VALUE <= 400 mV
%
100.0
0 1 D+ Before Enumerate 0.000 V VALUE <= 400 mV
%
100.0
0 1 D­ Before Enumerate 0.000 V VALUE <= 400 mV
%
100.0
0 1 VBUS After Enumerate 0.000 V VALUE <= 400 mV
%
100.0
0 1 D+ After Enumerate 0.000 V VALUE <= 400 mV
%
100.0
0 1 D­ After Enumerate 0.000 V VALUE <= 400 mV
%
100.0
0 1 Upstream Full Speed Signal Quality Test Pass Pass/Fail
%
1 1 Upstream Full Speed Rise Time Test Warning ­100.0 Pass/Fail
(information only) %
 Upstream Full Speed Fall Time Test ­100.0
1 1 Warning Pass/Fail
(information only) %
­20.000 mV <=
2.000
0 1 EL_8 Device J Test 45.0 % VALUE <= 20.000
mV
mV
­20.000 mV <=
2.000
0 1 EL_8 Device K Test 45.0 % VALUE <= 20.000
mV
mV
100.0
0 1 EL_9 Device SE0_NAK Test Pass Pass/Fail
%
EL_28 Measure Device CHIRP­K 3.008629 2.500 µs <= VALUE
0 1 49.9 %
Latency ms <= 6.000000 ms
1.000 ms <= VALUE
EL_29 Measure Device CHIRP­K ­31.8
1 1 50 µs <= MaxChirpKWidth
Duration %
s
EL_31 Device Hi­Speed Terminations 1 ns <= VALUE <=
0 1 4.130 µs 0.8 %
Enable and D+ Disconnect Time 500.000 µs
100.0
0 1 Inrush Current Test pass Pass/Fail
%
100.0
0 1 Upstream Low Speed Signal Quality Test Pass Pass/Fail
%
Upstream Low Speed Rise Time ­100.0
1 1 Warning Pass/Fail
Test(information only) %
Upstream Low Speed Fall Time ­100.0
1 1 Warning Pass/Fail
Test(information only) %

Report Detail
Next 
EL_2 EL_4 EL_5 Data Eye and Mask Test Reference: USB 2.0 Specification, Section 7.1.11.,
Section 7.1.2.2.
Test Summary:  FAIL  Test Description:  EL_2: A USB 2.0 hi­Speed transmitter data rate must be
480Mb/s +/­ 0.05%. EL_4: A USB 2.0 upstream facing port on a device without a captive cable must
meet Template 1 transform waveform requirements measured at TP3. EL_5: A USB 2.0 upstream
facing port on a device with a captive cable must meet Template 2 transform waveform requirements
measured at TP2.
 
Pass Limits:Pass/FailDevice Data Eye TestFail
Result Details:
Result Details
 
Test Packet(See image)Eye Diagram(See image)Connection typeSMASignal Eyeeye
failure!Signal Eye Failure(6987 data points violate eye)EOP Width TestPassEOP Width 7.88Signal
Rate 480.0053 MHzSignal Rate TestPassSignal Rate FailureN/AConsecutive Jitter Range­
106.949 ps to 57.406 psConsecutive RMS Jitter32.739 psPaired JK Jitter Range­77.223 ps to
78.598 psPaired JK RMS Jitter17.401 psPaired KJ Jitter Range­35.049 ps to 49.369 psPaired KJ
RMS Jitter13.321 psRisngEdge 575.31 FallingEdge 571.79 EL_5:Port Under TestPort1
Trial 1  
Trial 1: Test Packet