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Tema 1: Introducción
Los procesos industriales, la ciencia y la tecnología se caracterizan por
la necesidad de generar y medir magnitudes con precisión y fiabilidad
A principios de siglo la instrumentación se basaba en principios
mecánicos (balanza) y eléctricos.
Hoy día: bajo coste de los aparatos electrónicos
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Tema 1: sistemas de instrumentación
de fabricación críticos:
Gran fiabilidad
Más complejo
Linealidad Automatizado, control por ordenador
Precisión Coste elevado
Más sencillo
Coste razonable
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Tema 1: sistemas de instrumentación
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Tema 1: Tipos de instrumentos electrónicos
1.2. Tipos de instrumentos electrónicos: clasificación
Instrumentos transductores. Estos instrumentos se dividen en dos
tipos:
Un primer dispositivo (sensor) que situado en cierto medio, genera una
señal de una determinada magnitud física convertible en otra forma física.
Un segundo dispositivo (transductor) que realiza la conversión a señal
eléctrica.
Es normal denominar sensor al conjunto formado por el dispositivo sensor
y el transductor acoplado a él
Conversores, adaptadores de señal: convierten una señal (eléctrica o
no) en una señal eléctrica de características especiales
A/D, D/A
Amplificadores, adaptación del rango, filtrado (media temporal)
conversores corriente/voltaje, voltaje/corriente
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Tema 1: Tipos de instrumentos electrónicos
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Tema 1: señales eléctricas
temperaturas. V = f(T1-T0)
Si V es pequeña, debemos amplificarlo
y se convierte a medidas de T establecidas.
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Tema 1: señales eléctricas
¿Cómo pueden representarse las señales eléctricas?: Voltaje, Corriente,
etc.
Estas magnitudes varían a lo largo del tiempo y representan información
Clasificación de señales eléctricas: atendiendo si la información va en la
amplitud o en la frecuencia
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Tema 1. Amplitud: señales analógicas
A.1. Señales analógicas: información en la amplitud
Variables: sinusoidales de frecuencia mínima > 0. (periódicas o no
periódicas)
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Tema 1. Amplitud: señales digitales 2
Una señal se puede representar con “n” bits.
Si tenemos “n” bits, el número máximo de valores que podemos representar es
de 2n
Cambio de binario a decimal (1 bit, 2 bits, 3 bits...)
Sistema decimal (base diez) 5347= 5*103 +3*102+4*101+7*100
Sistema binario (base 2) (3 bits) 100 = 1*22+0*21+0*20
Salida
100
Salida
Salida
011
01
010
001
0 00
000
0.0 2.5 5.0 0.00 1.25 2.50 3.75 5.00 0.00 1.25 2.50 3.75 5.00
Estas señales binarias digitales son las que utilizan los ordenadores
Cuando queramos introducir datos, por ejemplo a un ordenador, o a un
display digital tendremos que convertirlos a este formato:
A D
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Tema 1. Amplitud: señales digitales 4
contiene la información en
la duración de un impulso
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Tema 1: sistemas de medida
1.4. Sistemas de medida
Señal
Requisitos básicos DUT M
Excitación
D M Dispositivo Aparato
Keithley bajo análisis de medida
Keithley
Los sistemas reales son más complejos
Setup/Control
DUT
M Uso
Señal analógica Datos digitales
Keithley
D
D Setup/Control
D M Uso
D
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Tema 1: multiplexación
Multiplexación. Ejemplo: conmutación de redes de telefonía fija
3 terminales de teléfonos en una única línea
Terminal 1 : D1
4
3 D1
2
1
D2
0 D3
t1 t2 t3 t4 t5 t6
Terminal 2 : D2
4
3 Línea
2
1
0 Línea
t1 t2 t3 t4 t5 t6
D1 D2 D3 D1 D2 D3
Terminal 3 : D3 4
4 3
3 2
2 1
Se pierde información !!
1 0
0 t1 t2 t3 t4 t5
t1 t2 t3 t4 t5 t6
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Tema 1: sistemas de medida
Telecomunicaciones
D
D Setup/Control
D M Uso
D
Aislamiento Tiempo de respuesta
Distancia Detección de errores
Comunicaciones Fiabilidad
Modo de fallos
Radio Repetibilidad
Seguridad
Keithley
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Tema 1: configuraciones 1
Configuraciones diferentes de sistemas de medida:
Instrumentos independientes
D M
Keithley
Años 70: Los buses IEEE y serie hicieron posible los instrumentos de medida
conectados al PC
Software (SW)
Bus
D M
PC
Keithley
Hoy día, todos los instrumentos tienen incorporado el GPIB (IEEE 488: puerto
paralelo) y/u opciones de comuniación serie, de modo que se pueden
almacenar datos.
Los instrumentos de última tecnología incorporan comunicaciones : Ethernet,
USB, etc y las nuevas interfaces que aparezcan.
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Tema 1: configuraciones 2
Años 80: Sistemas de adquisición de datos (S.A.D.) basados en PC
Software (SW)
D
M Instrumentos
D PC S. A. D. basados en PC
M
M
D
Keithley
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Tema 1: configuraciones 3
Sistemas combinados
Instrumento independiente
D M
Instrumento remoto
D M
Telecomunicaciones
Instrumentos
D conectado a PC
Software (SW)
D Bus
M
M PC
D
D M
Instrumentos
D
S. A. D. Basado
en PC D
Keithley
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Tema 1: Errores de medida
1.5. Errores de medida
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Tema 1: descripción del error
Descripción del error
Error absoluto: diferencia entre el resultado de medida y el valor “verdadero” : x0
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Tema 1: descripción del error
C
Caso A Caso B Caso C 340
o 329 5 m/s 325 5 m/s 345 2 m/s
Compatible Compatible Incompatible 330 A
B
320
velocidad (m/s)
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Tema 1: descripción del error
x
Maneras de expresar el error relativo en porcentaje: 100
x0
En general:
Error relativo > 10 % es un m al resultado
Error relativo < 1 % es un resultado excelente
Ejemplos
Radio de una esfera: 6 1 cm 17 % de error (muy pobre)
Longitud de un estadio : 120.4 0.1 m 0.08 % (muy bueno)
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Tema 1: expresión de las medidas
Expresión de las medidas
Uso de una cifra decimal significativa salvo que esta cifra tome valor 1 (tomaríamos la
segunda)
La ultima cifra significativa del valor de la magnitud debe ser del mismo orden de
magnitud (en la misma posición decimal) que el de el error
El valor medido y su inexactitud (error) deben darse con valores numéricos compatibles
Normas de redondeo:
Si la cifra que se omite es <5,
se elimina
Si la cifra eliminada es 5,
se aumenta una unidad la última
cifra retenida
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Tema 1: expresión de las medidas
Clase de precisión
Para comparar distintos sistemas de medida entre sí en cuanto a su exactitud, se
introduce la denominada “clase de precisión”.
Todos los sistemas de medida de una misma clase tienen un error en la medida,
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Tema 1: discrepancia entre medidas
Discrepancia entre diferentes medidas
Diferencia entre dos valores medidos de la misma magnitud
¿Cuando una discrepancia es significativa?: Depende del tamaño comparado con los
errores:
Ejemplo: medida de una resistencia:
45 45 B
Primer caso Segundo caso B
Alumno A 40 5 35 2 40 A 40
Alumno B 42 6 45 1
Discrepancia no Discrepancia 35 35 A
significativa significativa
30 30
Resistencia ()
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Tema 1: Tipos de errores
1.6. Tipos de Errores
Ejemplo: medida de la masa de un objeto mediante una balanza sensible (corrientes de aire , etc.).
Ejemplo: “error cero” instrumento no vuelve a cero cuando el parámetro que se está midiendo toma un
valor cero
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Tema 1: errores aleatorios
Propiedades de los errores aleatorios:
Errores positivos y negativos de igual valor absoluto tienen la misma probabilidad
Al aumentar el número de medidas la media aritmética de los errores tiende a cero
de cierto valor
Con un
número
Distribución de errores aleatorios : Gaussiana bajo de
lecturas
Con n medidas: x1, x2 ... xn bajo las mismas condiciones: no se
observa
n
la
Valor medio: xi Gaussia
x i na
n
Desviaciones: d i x i x n
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Tema 1: errores aleatorios, sistemáticos
Error standard = Sm especifica la probabilidad de Sm
n 1
que x esté próximo al x0
El valor medio está desplazado de manera sistemática un cierto valor: X= x0’- x0
Error de discretización:
asociado a la sensibilidad del aparato (digital)
Errores aberrantes
Valores muy alejados del resto de la medidas o del valor esperado
Son fundamentalmente equivocaciones
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Tema 1: resolución, precisión
1.7. Resolución, exactitud (precisión) y sensibilidad de los sistemas
de medidas
Definiciones
Evaluación de sistemas que describen sus
de medida características
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Tema 1: resolución, precisión
Resolución: Factores de conversión
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Tema 1: resolución, precisión
Rango= fondo de escala. Menor rango (indica la escala menor) en el caso de que
tengamos un aparato multiescala (ver ejemplo).
La sensibilidad no es lo mismo (aunque a veces se confunde) con la precisión.
Esta magnitud siempre se especifica en las unidades del parámetro medido
Ejemplo:
La sensibilidad, por ejemplo, de un A/D de 16 bits en un voltímetro que tiene tres escalas
de: 2 V, 20 V y 200 V:
16 bits: la resolución en cuentas es de 1 entre: 216 (65536)
El menor rango: 2 V
Sensibilidad = 2V /65536= 30 mV
(si estoy convirtiendo de analógico a digital, el valor más pequeño de voltaje que puedo
detectar y que corresponderá a 1 bit de los 16 bits es 30 mV).
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Tema 1: resolución, precisión
Precisión o exactitud
La precisión absoluta: proximidad entre el resultado de la medida y su valor
verdadero comparado con un valor patrón aceptado.
Se realiza una verificación o ajuste de un dispositivo dentro de un % de un valor
estándar conocido de diferentes Laboratorios
NIST (National Institute of Standars and Technology)
NPL (National Physical Laboratory)
CEM (Centro Español de Metrología), etc.
mantienen valores patrón para muchos valores medidos.
La calibración de dispositivos por comparación con otros elementos patrón
autorizados La precisión para instrumentos de medida de alta calidad
son proporciona para 90 días, 1-5 años, etc. desde la última calibración
La precisión relativa es la relación entre un valor desconocido y un valor de referencia
establecido localmente.
Repetibilidad
Capacidad para medir la misma entrada al mismo valor una y otra vez.
Una posible valoración es la mitad de la anchura de la distribución de probabilidades de
los valores medidos (anchura de la Gaussiana).
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Tema 1: Errores de medida
Comparación de resolución, precisión y repetibilidad
El centro = valor correcto
El radio =resolución (a un
radio más pequeño le
corresponde mayor
resolución). Los círculos más
pequeños (rojo, violeta)
representan medidas de alta
resolución
Precisión absoluta= La
distancia al centro de la diana
(error sistemático)
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Tema 1: fuentes de error en sistemas de medida
1.8. Fuentes de error en los sistemas de medida
Influencias en las
Valores erróneos
medidas
Error en la instrumentación
Errores provocados por el ambiente y las interconexiones
Captación de ruido externo
Resistencia de las conexiones: multímetros
FEM térmicas: termopar
Capacidad/tiempos de estabilización
Lazos de tierra
Errores de aliasing
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Tema 1: error en la instrumentación
Error en la instrumentación
Algunos errores de medida están provocados por el propio instrumento.
El error en la instrumentación posee dos componentes:
1º C 100º C
Error de
ganancia:
Error de
offset: 102 ºC
100 ºC
0º C
1º C
Ambos errores deben ser facilitados por el fabricante y dependen a veces de la Tª y del
tiempo que pasa desde la última calibración.
Ejemplo: DMM
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Tema 1: error en la instrumentación
Error en la instrumentación (continuación)
El error de instrumentación puede ser mayor que la propia sensibilidad del instrumento
Ejemplo: DMM
Tanto el error de ganancia como el de offset deben ser especificados por el fabricante,
y dependen a veces de la Tª y del tiempo que pasa desde la última calibración.
El error de offset es más significativo en la parte baja del rango mejor hacer
las medidas en la parte alta del rango (ejemplo)
También puede haber una componente del error asociado al ruido interno y generado
por el instrumento de medida (% del rango especificado por el dispositivo)
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Tema 1: captación de ruido externo
Errores provocados por el ambiente y las interconexiones
Captación de ruido externo
El más común es el generado por la red
eléctrica: 50 - 60 Hz
Frecuencia= 50 Hz
Periodo= PCL= 20 mSeg
El ruido superpuesto a una señal continua
(dc) = Vcc provoca medidas fluctuantes
Keithley
Vcc= 115.5 mV
NMRR: valor de la tensión de ruido
“pico a pico” Vpp en dB
Vpp= 1 mV
Para minimizar los efectos del ruido se realiza la integración sobre ciclos de red
cuya frecuencia de muestreo es menor que 1 PCL
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Tema 1: interferencias electromagnéticas
Errores provocados por el ambiente y las interconexiones
Interferencias electromagnéticas con los campos magnéticos (causados por
motores, generadores, dispositivos de alta corriente)
Ley de Lenz: fem
d
d
0 H S H
dt dt
S
(los voltajes inducidos pueden ser cientos de microvoltios o más ) e-
Estos errores pueden minimizarse de dos formas:
Keithley
Keithley
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Tema 1: capacidades de cables
Errores provocados por el ambiente y las interconexiones
Capacidad / tiempo de estabilización
R= 10 M
t= RD= 2 mSeg
C= 200 pF
VI N=VS+IR
Keithley
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Tema 1: errores de aliasing
Errores provocados por el ambiente y las interconexiones
Errores de aliasing
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Tema 1: unidades de medida
R. Pallás. 1987
R. Pallás. 1987
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Figuras cortesía de:
J. Turner, M. Hill. “Instrumentation for Engineers and Scientists”.
Oxford University Press.1999.
R. Pallás, Instrumentación Electrónica. Marcombo, 1987.
E. Mandado, P. Mariño y A. Lago, Instrumentación Electrónica.
Marcombo. 1995.
Keithley. Instrumentos de Medida S.L.
http://www.tutco.com/_images/products/dimensiondrawing/ther
mocouple_diagram.png
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