SERRANO LAZO TANIA JUDITH LAB.

INGENIERÍA DE MATERIALES
20/02/18

CUESTIONARIO PREVIO

CUESTIONARIO PREVIO
1. ¿Qué papel pueden jugar las imperfecciones cristalinas de tipo puntual (sitios vacantes,
átomos intersticiales, átomos sustitucionales) en el comportamiento de un material?

El plantear que un material clasificado como cristalino posee estructura cristalina es una idealización
que no siempre se cumple en los materiales reales. La forma como están colocados los átomos en
un material real normalmente difiere de la posición ideal que se espera a partir de la estructura
cristalina

a. Vacancias. Son puntos de red vacíos en la estructura del material. Estos lugares deberían
idealmente estar ocupados por átomos, sin embargo se encuentran vacíos.

b. Átomos sustitucionales. En teoría un material puro está formado exclusivamente por el mismo tipo
de átomos. Los materiales reales no son 100% puros sino que poseen impurezas, las cuales se
definen como átomos diferentes a los átomos del material original. Cuando uno de esos átomos
diferentes sustituye a un átomo original ocupando su punto de red, recibe el nombre de átomo
sustitucional.

c. Átomos intersticiales. Son átomos que ocupan lugares que no están definidos en la estructura
cristalina.
En otras palabras, son átomos cuya posición no está definida por un punto de red. Normalmente
estos átomos se colocan en los intersticios que se forman entre los átomos originales, por lo que se
les llama átomos intersticiales.

2. ¿En qué tipo de proceso (químico, térmico, mecánico, etc.) se presenta la generación de
dislocaciones?
Se introducen en la res durante el proceso de solidificación del material o al deformarlo

3. ¿Mediante qué instrumento o técnica experimental se pueden ver dislocaciones en un

material? Presente imágenes de dislocaciones.
4.
El microscopio electrónico de transmisión se utiliza para observar dislocaciones, se enfoca un rayo
de electrones sobre una hoja extremadamente delgada del material, el haz de electrones interactúa
con las imperfecciones en el material, causando diferencias en la fracción de electrones
transmitidos.
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5. Presentar imágenes en las que se puedan distinguir con claridad los límites de grano en un
material y definir qué características presentan dichos límites.

6. Explicar cuál es el principio de operación de:

a) Un microscopio electrónico de transmisión (MET).
El microscopio electrónico de transmisión se utiliza para observar dislocaciones, se enfoca un rayo
de electrones sobre una hoja extremadamente delgada del material, el haz de electrones interactúa
con las imperfecciones en el material, causando diferencias en la fracción de electrones
transmitidos.

b) Un difractómetro de Rayos X.
El contador de radiación X, Geiger, contabiliza la intensidad del haz difractado, en cuentas por
segundo, cuando forma un ángulo 2q con la muestra y cumple con las condiciones de reflexión. El
mecanismo de desplazamiento del contador está conectado al de desplazamiento de la muestra a
doble velocidad.
En resumen, el método operatorio descrito consta:
1 - Preparación y montaje de una muestra conformada por polvos, o en su defecto por un conglomerado
de cristales con orientaciones aleatoriamente distribuidas, como un metal o aleación policristalina.
2 - Selección del anticátodo que definirá el espectro característico Esp l y el del filtro monocromatizador
que selecciona la radiación l elegida.
3 - Selección de las condiciones de operación de la lámpara, KV y mA, en función de la radiación
escogida, l.
4 - Recorrido del nonius porta muestras desde a = 0 a 90º y del contador de 0 a 180º con registro de la
intensidad de radiación Ir = f(a)
c) Un microscopio de fuerza atómica.
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El Microscopio de Fuerza Atómica (MFA) es un instrumento mecano-óptico capaz de detectar

fuerzas del orden de los nanonewton. Al analizar una muestra, se registra continuamente la altura
sobre la superficie de una sonda o punta cristalina de forma piramidal. La sonda va acoplada a un
listón microscópico, muy sensible al efecto de las fuerzas, de sólo unos 200 μm de longitud.

Provee la imagen de una superficie sin que intervegan los efectos eléctricos, al medir las fuerzas
mecánicas en la punta detectora, por lo que también resulta útil para materiales no conductores

7. ¿Para qué aplicación son empleados los microscopios de la pregunta anterior? Presentar y
comentar imágenes obtenidas en los mismos.
Se pueden observar distintos contrastes al ver el haz de luz trasmitido en una pantalla, apreciando
con detenimiento la estructura cristalina de los materiales.

BIBLIOGRAFÍA
 Thornton y Colangelo. Ciencia de materiales para ingeniería . Prentice Hall
Hispanoamericana. 1ª. Edición 1987.
 Askeland. Ciencia e ingeniería de materiales . International Thompson Editores. 3ª. Edición
1998.
 MATTER (Material Teaching Educational Resourses). The University of Liverpool, 1997.