Tugas MAKUL Fisika Terapan

X-Ray Difraction (XRD)

Diusulkan oleh:
Sulfianty 1512140012

UNIVERSITAS NEGERI MAKASSAR

MAKASSAR
2018
BAB I PENDAHULUAN
A. Latar Belakang
Fisika merupakan salah satu bidang ilmu pengetahuan alam (IPA)
yang penerapannya banyak dijumpai dalam kehidupan sehari-hari. Fisika
berperan penting dalam setiap perkembangan ilmu pengetahuan dan
teknologi. Ilmu fisika dijadikan sebagai dasar pemikiran, teori, dan acuan
untuk menemukan hal-hal baru. Selanjutnya fisika menjadi salah satu bahan
ajar yang diberikan pada lembaga pendidikan.
Salah satunya yaitu X-ray difraction (XRD). X-ray difraction digunakan
untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan
parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. Prinsip-
prinsip fisika yang adalah dalam XRD seperti persamaan yang digunakan
untuk analisis, prinsip kerjanya menggunakan sinar-x, dll. Untuk itu,
dilakukanlah kajian tentang penerapan fisika pada XRD.
B. Tujuan
1. Mengetahui penerapan persamaan fisika pada X-ray Difraction (XRD)
2. Mengetahui prinsip kerja dari X-ray Difraction (XRD)
C. Manfaat
1. Dapat mengetahui Penerapan persamaan fisika pada X-ray Difraction
(XRD).
2. Dapat engetahui prinsip kerja dari X-ray Difraction (XRD).

BAB II KAJIAN TEORI

Proses analisis menggunakan X-ray diffraction (XRD) merupakan salah

satu metoda karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan
hingga sekarang. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin
dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk
mendapatkan ukuran partikel. Sinar X merupakan radiasi elektromagnetik yang
memiliki energi tinggi sekitar 200 eV sampai 1 MeV. Sinar X dihasilkan oleh
interaksi antara berkas elektron eksternal dengan elektron pada kulit atom.
Spektrum sinar X memilki panjang gelombang 10-10 s/d 5-10 nm, berfrekuensi
1017-1020 Hz dan memiliki energi 103-106 eV. Panjang gelombang sinar X
memiliki orde yang sama dengan jarak antar atom sehingga dapat digunakan
sebagai sumber difraksi kristal. SinarX dihasilkan dari tumbukan elektron
berkecepatan tinggi dengan logam sasaran. Olehk arena itu, suatu tabung sinar X
harus mempunyai suatu sumber elektron, voltase tinggi, dan logam sasaran.
Selanjutnya elektron elektron yang ditumbukan ini mengalami pengurangan
kecepatan dengan cepat dan energinya diubah menjadi foton.
Sinar X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada tahun 1895,
di Universitas Wurtzburg, Jerman. Karena asalnya tidak diketahui waktu itu maka
disebut sinar X. Untuk penemuan ini Rontgen mendapat hadiah nobel pada tahun
1901, yang merupakan hadiah nobel pertama di bidang fisika. Sejak
ditemukannya, sinar-X telah umum digunakan untuk tujuan pemeriksaan tidak
merusak pada material maupun manusia. Disamping itu, sinar-X dapat juga
digunakan untuk menghasilkan pola difraksi tertentu yang dapat digunakan dalam
analisis kualitatif dan kuantitatif material. Pengujian dengan menggunakan sinar
X disebut dengan pengujian XRD (X-Ray Diffraction).
XRD digunakan untuk analisis komposisi fasa atau senyawa pada material dan
juga karakterisasi kristal. Prinsip dasar XRD adalah mendifraksi cahaya yang
melalui celah kristal. Difraksi cahaya oleh kisi-kisi atau kristal ini dapat terjadi
apabila difraksi tersebut berasal dari radius yang memiliki panjang gelombang
yang setara dengan jarak antar atom, yaitu sekitar 1 Angstrom. Radiasi yang
digunakan berupa radiasi sinar-X, elektron, dan neutron. Sinar-X merupakan foton
dengan energi tinggi yang memiliki panjang gelombang berkisar antara 0.5
sampai 2.5 Angstrom. Ketika berkas sinar-X berinteraksi dengan suatu material,
maka sebagian berkas akan diabsorbsi, ditransmisikan, dan sebagian lagi
dihamburkan terdifraksi. Hamburan terdifraksi inilah yang dideteksi oleh XRD.
Berkas sinar X yang dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena
fasanya berbeda dan ada juga yang saling menguatkan karena fasanya sama.
Berkas sinar X yang saling menguatkan itulah yang disebut sebagai berkas
difraksi. Hukum Bragg merumuskan tentang persyaratan yang harus dipenuhi agar
berkas sinar X yang dihamburkan tersebut merupakan berkas difraksi. Ilustrasi
difraksi sinar-X pada XRD dapat dilihat pada Gambar 1 dan Gambar 2.
 Gambar 2 : Ilustrasi difraksi sinar-X pada XRD [2]

Dari Gambar 2 dapat dideskripsikan sebagai berikut. Sinar datang yang

menumbuk pada titik pada bidang pertama dan dihamburkan oleh atom P. Sinar
datang yang kedua menumbuk bidang berikutnya dan dihamburkan oleh atom Q,
sinar ini menempuh jarak SQ + QT bila dua sinar tersebut paralel dan satu fasa
(saling menguatkan). Jarak tempuh ini merupakan kelipatan (n) panjang
gelombang (λ), sehingga persamaan menjadi :
n  SQ  QT

n  d hkl Sin  d hkl sin 

 2d hkl sin 
Persamaan diatas dikenal juga sebagai Bragg’s law, dimana, berdasarkan
persamaan diatas, maka kita dapat mengetahui panjang gelombang sinar X (λ) dan
sudut datang pada bidang kisi (θ), maka dengan ita kita akan dapat mengestimasi
jarak antara dua bidang planar kristal (d001). Dari metode difraksi kita dapat
mengetahui secara langsung mengenai jarak rata-rata antar bidang atom.
Kemudian kita juga dapat menentukan orientasi dari kristal tunggal. Secara
langsung mendeteksi struktur kristal dari suatu material yang belum diketahui
komposisinya. Kemudian secara tidak langsung mengukur ukuran, bentuk dan
internal stres dari suatu kristal. Prinsip dari difraksi terjadi sebagai akibat dari
pantulan elastis yang terjadi ketika sebuah sinar berinteraksi dengan sebuah target.
Pantulan yang tidak terjadi kehilangan energi disebut pantulan elastis (elastic
scatering). Ada dua karakteristik utama dari difraksi yaitu geometri dan intensitas.
Geometri dari difraksi secara sederhana dijelaskan oleh Bragg’s Law (Lihat
persamaan 2). Misalkan ada dua pantulan sinar α dan β. Secara matematis sinar β
tertinggal dari sinar α sejauh SQ+QT yang sama dengan 2d sin θ secara
geometris. Agar dua sinar ini dalam fasa yang sama maka jarak ini harus berupa
kelipatan bilangan bulat dari panjang gelombang sinar λ. Maka didapatkanlah
Hukum Bragg: 2d sin θ = nλ. Secara matematis, difraksi hanya terjadi ketika
Hukum Bragg dipenuhi. Secara fisis jika kita mengetahui panjang gelombang dari
sinar yang membentur kemudian kita bisa mengontrol sudut dari benturan maka
kita bisa menentukan jarak antar atom (geometri dari latis). Persamaan ini adalah
persamaan utama dalam difraksi. Secara praktis sebenarnya nilai n pada
persamaan Bragg diatas nilainya 1. Sehingga cukup dengan persamaan 2d sin θ =
λ . Dengan menghitung d dari rumus Bragg serta mengetahui nilai h, k, l dari
masing-masing nilai d, dengan rumus-rumus yang telah ditentukan tiap-tiap
bidang kristal kita bisa menentukan latis parameter (a, b dan c) sesuai dengan
bentuk kristalnya.

BAB III PEMBAHASAN

Pada jurnal tersebut menggunakan metode XRD untuk menganalisis
struktur ZnO untuk menentukan parameter seperti parameter kisi, orientasi
pertumbuhan preferensial dan mosaicity pada lapisan.

BAB IV KESIMPULAN
Proses analisis menggunakan X-ray diffraction (XRD) merupakan salah
satu metoda karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan
hingga sekarang dan menggunakan prinsip fisika seperti difaksi sinar-x, dll.