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𝑁−1
𝑛 1 2𝜋𝑁𝑘
𝐹 ( )= ∑ 𝑚(𝑘𝑇)𝑒 −𝑗 𝑁 𝑛 = 0,1, … .∗ 𝑁 − 1
𝑁𝑇 𝑁
𝑘 →0
Donde:
N = Número de muestras de la ventana que se analiza
T = Periodo de muestreo
n = Índice de la frecuencia que se desea obtener
m(𝑘𝑇) = muestra tomada en el instante kT (muestra kèsima).
𝑥 (𝑛) = ∑ 𝑥[𝑘]𝛿[𝑛 − 𝑘]
𝑘=−∞
𝑌𝑝 (𝐹)
𝐻𝑝 (𝐹) =
𝑋𝑝 (𝐹)