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Crashkurs Textur

Inhalt:

Historisches zum Texturbegriff

Textur und Anisotropie kristalliner Stoffe

Koordinatensysteme

Kristall- und Probensymmetrie

Orientierungsdarstellung durch Eulerwinkel - der G-Raum

Die Orientierungsdichtefunktion (ODF)

Polfiguren, Projektionsfaden

Texturapproximation durch Modellkomponenten

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Historisches zum Texturbegriff


Der Texturbegriff hat seinen Ursprung im lateinischen "textura" und heißt wörtlich übersetzt Gewebe. Mit
einer der heutigen sehr nahe kommenden Bedeutung, aber ohne Abgrenzung zum Strukturbegriff, wurde
dieser in den Geowissenschaften Anfang des neunzehnten Jahrhunderts zur Beschreibung "der räumlichen
Anordnung von Teilchen" eingeführt. Die Abgrenzung erfolgte erst 1939 durch Wassermann: "Die
Gesamtheit der Orientierungen der Kristalle eines vielkristallinen Stückes bezeichnet man als Textur".
Tatsächlich sind Bergleuten und Mineralogen mit bloßem Auge erkennbare Texturen wegen ihrer
Auswirkungen sowohl auf die Eigenschaften als auch auf den Abbau der Gesteine schon frühzeitig
aufgefallen. Zum Beispiel besteht Schiefer aus parallel angeordneten, blättrigen Mineralen, so daß sich
dünnste Platten aus dem Gestein lösen lassen. Der Texturbestimmung mit dem bloßem Auge folgte
irgendwann die mit dem Mikroskop, wobei viele Kristallite eines Dünnschliffes bezüglich ihrer Orientierung
und Größe im Gestein einzeln ausgemessen wurden. So ermittelte Richtungsverteilungen (Polfiguren)
kristallographischer c-Achsen bildeten den Ausgangspunkt zur Klassifizierung der in natürlich
deformierten Quarziten auftretenden Texturtypen.

Die eigentliche Texturforschung begann 1912 nach der Laueschen Entdeckung der
Röntgenstrahlinterferenzen in Kristallen. Die sich an einem Einkristall ergebenden Beugungsbilder sind
durch helle scharfe Punkte charakterisiert. Verwaschene Maxima in den Beugungsbildern von Metallfolien
konnten als Vorzugsorientierungen der Metallkristallite gedeutet werden. Wever und Schmid schlugen 1927
ein Verfahren zur röntgenographischen Bestimmung von Polfiguren vor. Röntgenstrahlen lassen sich wegen
ihrer geringen Eindringtiefe (ca. 0.1 mm) für Texturuntersuchungen besonders feinkörniger Substanzen
verwenden, so daß bis in die siebziger Jahre vorrangig Metalle untersucht wurden. Texturbestimmungen
für Metalle haben außerdem den Vorteil, für große Probenbereiche repräsentativ zu sein, da die Textur
aufgrund der Kontinuität des Fertigungsprozesses innerhalb der Probe relativ kleinen Schwankungen
unterliegt. Mit dem Ziel, Texturaussagen auch über extrem kleine Volumenbereiche (dünne Schichten) zu
treffen, wurden neben der Röntgenstrahlung bald auch Elektronen zur Polfigurbestimmung herangezogen.
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Für den optimalen Einsatz der metallischen Werkstoffe war zunächst das Verständnis der
Richtungsabhängigkeit ihrer mechanischen Eigenschaften von vorrangigem Interesse, wobei neben den
anisotropen Kristalleigenschaften der Verformungsprozeß als Ursache der Anisotropie des Vielkristalls
erkannt wurde: "Solche Unterschiede bilden sich vor allem dann aus, wenn, wie beim Walzen von Blechen,
der Werkstoff bei der Verarbeitung vorwiegend in einer Richtung gestreckt wird" [Wassermann 1939].

Beim Drahtziehen z.B. richten sich die Kupferkristalle mit ihrer (111) Richtung parallel zur
Drahtziehrichtung aus.

Durch Taylor wurden 1938 mit dem nach ihm benannten Modell die Grundlagen zur Simulation der
Texturentstehung bei Verformungsprozessen geschaffen. Ein klassisches Beispiel für den Textureinfluß auf
die Werkstoffeigenschaften ist die sogenannte Zipfelbildung beim Tiefziehen. Das texturabhängige
Auftreten von Zipfeln bedeutet Material- und Qualitätsverlust. Vor allem seit den dreißiger Jahren
interessierten aus technischer Sicht neben den mechanischen auch andere, beispielsweise magnetische,
Werkstoffeigenschaften. Eine interessante Anwendung der anisotropen Wärmeausdehnung von Zinkblech
bot die Herstellung temperaturunabhängiger Unruhen für Taschenuhren. Der Einfluß der Textur auf die
Korrosionsgeschwindigkeit wurde 1928 von Glauner und Glocker in ersten Untersuchungen nachgewiesen.

Bis in die fünfziger Jahre hinein erfolgte die Auswertung der Röntgenbeugungsbilder auf fotografischem
Wege, wobei kaum mehr als zehn Intensitätsstufen unterschieden werden konnten. Weiterführende,
quantitative Berechnungen, zum Beispiel anisotroper Materialeigenschaften, waren deshalb kaum möglich.
Mit der aus der Kernphysik stammenden Zählrohrtechnik konnten seit 1949 Polfigurwerte wesentlich
genauer bestimmt werden. Neutronen, die seit den fünfziger Jahren an Forschungsreaktoren zur Verfügung
standen, wurden bald auch zur Texturbestimmung eingesetzt. Aufgrund ihres geringen Streuquerschnitts
erlauben Neutronen Texturuntersuchungen an grobkörnigen Materialien, so an Gesteinen. Wichtige
Neuerungen in der Experimentiertechnik waren die ortsauflösenden Detektoren in der Röntgen- und
Neutronenbeugung, die energiedispersiven Detektoren in der Röntgenbeugung und deren Pendant in der
Neutronenstreuung, das Flugzeitdiffraktometer.

Bis in die sechziger Jahre erfolgten Texturaussagen praktisch nur anhand von Polfiguren und
Vorzugsorientierungen. Mit der Vervollkommnung der Experimentiertechnik und der zunehmenden
Anwendbarkeit texturanalytischer Ergebnisse zeigte sich aber, daß Polfiguren die Textur nur unvollständig
beschreiben. Eine neue Etappe der Texturanalyse wurde von Wiglin, Bunge und Roe eingeleitet, die den
Begriff der Orientierungsdichtefunktion - ODF einführten und, ausgehend von den im
Diffraktionsexperiment meßbaren Polfiguren, eine Methode zu ihrer Berechnung entwickelten. Damit
wurden wesentliche Voraussetzungen für die Berechnung von Werkstoffeigenschaften bzw. die quantitative
Beschreibung texturmodifizierender Prozesse in polykristallinen Materialien geschaffen.

Seit den siebziger Jahren erfuhr der Untersuchungsgegenstand der Texturforschung eine grundlegende
Erweiterung. Waren es bis dahin vor allem Metalle, die untersucht wurden, so werden heute gleichermaßen
Texturbestimmungen an natürlichen und künstlichen Gesteinen, an Polymeren oder anderen neuartigen
Werkstoffen (Dünnschichtsysteme, Fullerene, Hochtemperatur-Supraleiter) durchgeführt. Bei der
ODF-Bestimmung nichtmetallischer Materialien treten jedoch zusätzliche Probleme, wie Mehrphasigkeit,
niedrige Kristallsymmetrien, inhomogener Probenaufbau oder ein breites Korngrößen- bzw.
Kornformspektrum auf, die sowohl die experimentelle als auch mathematisch/methodische Bestimmbarkeit
der Texturen unmittelbar beeinträchtigen. Deshalb wurden neue Experimentiertechniken und
ODF-Berechnungsmethoden entwickelt, von denen einige hier dargestellt werden.

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Textur und Anisotropie kristalliner Stoffe
Ein Kristall ist dadurch gekennzeichnet, daß seine Bausteine (Atome, Ionen) räumlich periodisch
angeordnet sind. Daraus folgt grundsätzlich eine Richtungsabhängigkeit (Anisotropie) der
Kristalleigenschaften. So kann sich bei einem Graphitkristall der Elastizitätsmodul in Abhängigkeit von der
Richtung um den Faktor 22 unterscheiden.

Die meisten natürlichen oder künstlichen festen Stoffe (Gesteine, Keramiken, Metallegierungen oder
Polymere) bestehen aus vielen Kristalliten unterschiedlicher Größe und Form, die verschieden orientiert
aneinander stoßen. Sie sind in der Regel mehrphasig, d.h. sie enthalten häufig mehrere kristalline Phasen
verschiedenartiger Kristallstruktur. Der wichtigste Parameter zur Beschreibung der Anisotropie
polykristalliner Werkstoffe ist die Textur. Eine geregelte Textur, bei der die Kristallite einer Phase wenige
Vorzugsorientierungen innehaben, bewirkt durch die über die Gitterstruktur der Kristallite bedingte
Anisotropie physikalischer Eigenschaften eine solche auch für das polykristalline Material.

Haben alle Kristallite die gleiche Orientierung, entspricht die Anisotropie des Vielkristalls exakt der des
Einkristalls (rechts). Im Falle einer regellosen Textur (links), bei der alle Orientierungen gleich häufig
vorhanden sind, ist das Verhalten des polykristallinen Materials isotrop, obwohl jeder Baustein (Kristallit)
für sich ein anisotropes Verhalten zeigt. Die oben dargestellte Textur wie auch der darunter gezeichnete
Anisotropiekörper (Mitte) beschreibt einen möglichen Realfall. Durch gezielte Erzeugung bestimmter
Texturen können die anisotropen Eigenschaften eines Werkstoffes innerhalb der beschriebenen Grenzfälle
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variiert, und so den jeweils vorliegenden Einsatzbedingungen angepaßt werden. Verbesserte experimentelle
und theoretische Methoden bei der Texturbestimmung führten in den letzten Jahren zu einer sich ständig
erweiternden Vielfalt der untersuchten Stoffklassen, Prozesse bzw. der zu modifizierenden Eigenschaften:

vielkristalline Stoffe: Metalle, Legierungen,intermetallische Verbindungen, Keramikwerkstoffe,


Verbundwerkstoffe, Polymere, Halbleiter, Nanokristalle, Supraleiter, Gesteine;
texturmodifizierende Prozesse: Deformation, Rekristallisation, Phasenumwandlungen, Schichtsynthese mit
Plasma, Laser- und Ionenstrahlen, Kristallisation an Grenzflächen, Starre Partikelrotation;
anisotrope Eigenschaften: Plastizität, Elastizität, Härte, Festigkeit, Spaltbarkeit, thermische Ausdehnung
und Leitfähigkeit, elektrische Leitfähigkeit, Magnetisierung, Korrosionsbeständigkeit, optische
Eigenschaften.

Die hier angedeutete Vielfalt texturmodifizierender Prozesse erzeugt eine noch größere Vielfalt
materialspezifischer Texturen, da die in einem Material vorhandenen, verschiedenen Phasen aufgrund ihrer
Struktur und Eigenschaften unterschiedlich reagieren, was dann auch in jeweils verschiedenen Texturen
dokumentiert ist. Die Kenntnis der Ausgangs- und Endtexturen einer Probe ist deshalb die wichtigste
Voraussetzung für die Untersuchung und Beschreibung texturmodifizierender Prozesse und ihrer
Bedingungen. Erst deren Kenntnis erlaubt eine gezielte Manipulation anisotroper Eigenschaften in
kristallinen Werkstoffen und damit die Herstellung ensprechender Design-Werkstoffe.

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Koordinatensysteme
Zur Orientierungsbeschreibung eines Kristallits müssen sowohl an der Probe als auch am Kristalliten
kartesische Rechtskoordinatensysteme fixiert werden, wobei zwecks Vergleichbarkeit verschiedener
Texturen für das Anbringen der Koordinatensysteme einheitliche Konventionen gelten sollten.

Das Probenkoordinatensystem KA wird im allgemeinen der Prozeßgeometrie angepaßt, falls diese bekannt
ist. So wird bei einer gewalzten Probe die Walzrichtung R parallel zu XA und die Normalenrichtung N
parallel zu ZA gewählt. Das Kristallkoordinatensystem KB sollte nach folgender Vorschrift an den
Basisvektoren a, b und c des Bravaisgitters befestigt werden:

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Kristall- und Probensymmetrie


Kristall- und Probensymmetrie führen dazu, daß für die Festlegung des kristall- bzw. probenfesten
Koordinatensystems mehrere äquivalente Möglichkeiten existieren:

Anschaulich bewirkt die Kristallsymmetrie keine Vervielfältigung des Kristallits, da durch die
Symmetrieoperationen das Kristallgitter auf sich selbst abgebildet wird (linke Abbildung). Dagegen bewirkt
eine Probensymmetrie die Existenz mehrerer Kristallite mit anschaulich verschiedenen, hinsichtlich der
Probensymmetrie aber äquivalenten Orientierungen. In der rechten Abbildung sind diese für drei
verschiedene Orientierungen mit jeweils gleicher Farbe dargestellt.
Die Probensymmetrie ist hier durch die Punktgruppe C6 gegeben. Stellen Sie sich dazu eine
pyramidenförmige Probe mit einem Sechseck als Grundfläche vor, welches parallel zur Zeichenfläche liegt.
Verursacht wird eine Probensymmterie durch den texurmodifizierenden Prozeß bzw. durch die Umgebung
der kristallinen Phase. Das Beispiel zeigt 13 Vorzugsorientierungen eines dünnen Films (Kristallsymmetrie
D6h), welcher auf einem ebenfalls hexagonalen, einkristallinen Substrat erzeugt wurde. Da die c-Achse des
Substratkristalls parallel zur Probennormalen ist, gibt es zu jeder Vorzugsorientierung noch fünf weitere
äquivalente Vorzugsorientierungen. In Sonderfällen, d.h. für spezielle Orientierungen, können die
äquivalenten Orientierungen auch zusammenfallen (oliv-grüner Kristallit).

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Orientierungsdarstellung durch Eulerwinkel - der G-Raum


Eine Orientierung g ist durch diejenige Drehung beschrieben, die das probenfeste Koordinatensystem K A in
das kristallfeste System KB des jeweiligen Kristalliten überführt.

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Wird die Drehung dabei in drei sukzessiv auszuführende Teildrehungen (K-Knotenlinie) zerlegt:

1. überführt XA Þ K,Drehachse: Z (ZA), Drehwinkel:j1,


2. überführt ZA Þ ZB Drehachse: K, Drehwinkel: F,
3. überführt K Þ XB, Drehachse: Z (ZB), Drehwinkel:j2,

erhält man die Eulerwinkel (j1,F,j2)=g als Orientierungsparameter. Jede Drehung mit dem Drehwinkel
2p+a um eine beliebige Drehachse ist identisch mit einer Drehung mit a. Der Raum aller Orientierungen
(kurz G-Raum) ist somit zyklisch, abgeschlossen und durch

vollständig beschrieben.

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Die Orientierungsdichtefunktion (ODF)


Mit Hilfe der ODF f(g) wird die Textur einer kristallinen Phase quantitativ beschrieben. In einem
Gedankenexperiment seien sämtliche Kristallite einer Probe entsprechend ihrer Orientierung in einen
Setzkasten einsortiert:

Die Häufigkeit (der Volumenanteil) aller Kristallite mit einer Orientierung g in dg (dg charakterisiert die
Größe eines Kästchens) ist hier durch eine entsprechend große Elementarzelle des (im Beispiel hexagonalen)
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Kristallgitters dargestellt. Beim Grenzübergang dgÞ0 geht die Häufigkeit in den Funktionswert f(g) über, so
daß die ODF f(g) durch die Beziehung

definiert ist. Dabei beschreibt V das Probenvolumen und dVg das Volumen aller Kristallite, die eine
Orientierung g innerhalb des Winkelelements dg besitzen. Üblich ist die graphische Darstellung der ODF
auf Eulerschnitten. Dabei werden die Eulerwinkel j1,F,j2 auf rechtwinkligen Koordinatenachsen
aufgetragen, wodurch der sphärische G-Raum erheblich verzerrt wird.

Aufgrund der im Beispiel vorhandenen Kristall- und Probensymmetrie (kubisch/tetragonal bzw.


orthorhombisch) kann die Darstellung in einem reduzierten Grundbereich 0£j1,F,j2£p/2 erfolgen.

Grundbereichsgrenzen für die ODF-Abbildung im Eulerraum:

Bereichsgrenzen bezüglich j2 und F für alle möglichen Kristallsymmetrien (die mit * markierten Fälle
erzeugen Dreifachbereiche):
GB C1 C2 D2 C3 D3 C4 D4 C6 D6 T* O*
F£ 180° 180° 90° 180° 90° 180° 90° 180° 90° 90° 90°
j2£ 360° 180° 180° 120° 120° 90° 90° 60° 60° 180° 90°

Grenzen von j1 für die trikline, monokline und orthorhombische Probensymmetrie:


GB C 1 C2 D2
j1£ 360° 180° 90°

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Polfiguren, Projektionsfaden
Bis in die sechziger Jahre erfolgten Texturaussagen praktisch nur anhand von Polfiguren und daran
abgeschätzter Vorzugsorientierungen (Ideallagen). Heute liegt ihre Bedeutung darin begründet, daß diese
Polfiguren experimentell leicht zugänglich sind. Eine wichtige Aufgabe der Texturanalyse (und des
MulTex-Programms) besteht deshalb darin, aus den gemessenen Polfiguren die ODF jeder Phase einer
Probe zu berechnen.
Eine Polfigur ist durch die Beziehung

definiert, d.h. sie ist proportional zum Volumenanteil aller Kristallite, deren Kristallrichtung h parallel dem
Probenvektor y ist (vgl. Abschn. 3.2.1). Bei der Messung beschreibt y die Richtung vom Streuvektor des
Diffraktometers relativ zum Probenkoordinatensystem. Durch geeignete Probendrehung kann y den
gesamten Raumwinkelbereich (Polkugel) erfassen. Wegen des Friedel’schen Gesetzes, wonach die Intensität
des gebeugten Strahls für +y und -y gleich ist, muß aber nur der halbe Winkelraum abgetastet werden.
Experimentelle Einschränkungen führen in der Regel aber zu kleineren Meßbereichen, man spricht dann
von unvollständigen Polfiguren.

Die Abbildung links zeigt die vollständige, experimentelle (112) Polfigur einer hexagonalen GaN-Schicht.
Kleine PF-Werte sind blau, große Werte rot eingefärbt. In der Polfigur ist ein relatives Maximum mit der
Probenrichtung yp sichtbar, welches durch einen gelben Punkt markiert ist. Die rechte Abbildung zeigt
einen Kristalliten dessen Kristallrichtung h p=(112) parallel zu yp ist und deshalb einen Beitrag zum
entsprechenden Polfigurwert liefert. Beide Vektoren sind miteinander über die Kristallorientierung g
(Drehung die KA nach KB überführt) durch hp=gyp (oder hp||yp) verknüpft, m.a.W. die Orientierung g
projiziert yp auf hp.
Neben dem Kristallit mit der dargestellten Orientierung leisten auch alle Kristallite einen Beitrag zum
'gelben' Polfigurwert, deren Orientierung sich durch eine beliebige Drehung um die eingezeichnete Achse
aus der dargestellten Orientierung ergibt.
Die Menge dieser Orientierungen gp(j) wird Projektionsfaden (oder Orientierungsfaden) genannt, da all
diese Orientierungen über hp=gp(j)yp die Probenrichtung yp auf die Kristallrichtung hp abbilden.
Daraus ergibt sich eine sehr wichtige Aussage:

Polfiguren sind zweidimensionale Projektionen der dreidimensionalen ODF (Textur) !!

Die Texturberechnung aus Polfiguren, die das MulTex-Programm zum Ziel hat, ist ein tomographisches
Problem (im Orientierungsraum), dessen Lösung auf der Kenntnis des Projektionsfadens beruht.

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Texturapproximation durch Modellkomponenten


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Eine vollständige Texturbeschreibung erfordert infolge der beträchtlichen Größe des Orientierungsraums
im allgemeinen sehr große Datenmengen. Bei einem vorgegebenen Orientierungsabstand (Auflösung) von
ca. 5° und trikliner Kristallsymmetrie müssen die ODF- Werte für » 120 000 Stützstellen angegeben werden.
Auf der Grundlage des Orientierungsabstands können jedoch sogenannte Texturkomponenten, d.h.
'aufgeweichte' Einzelorientierungen definiert werden, die eine Texturbeschreibung mit erheblich weniger
Parametern (Datenkomprimierung) gestatten. Bei geeigneter Wahl dieser Komponenten lassen sich die
Texturen großer Probenserien exakt miteinander vergleichen bzw. Texturänderungen und ihre
verursachenden Prozesse quantitativ beschreiben.
Die schematische Darstellung zeigt eine sphärischen Texturkomponente mit dem Zentrum gc und der
Streubreite bc.

Dargestellt sind neben der Vorzugsorientierung gc noch weitere Orientierungen, die aus gc durch Rotation
um die Richtung senkrecht zur Papierebene erzeugt werden können.
Der Volumenanteil aller zu einer Orientierung gehörenden Kristallite ist durch das Volumen der
entsprechend orientierten Elementarzelle gegeben und hängt nur vom Kippwinkel wc ab. Der Kippwinkel
wc beschreibt den Abstand der gekippten Orientierung von der Vorzugsorientierung gc
(Orientierungsabstand).
Zur mathematischen Beschreibung benutze ich eine dem Orientierungsraum angepaßte Gaussverteilung:

fc(g)= Ic [I0(Sc) - I1(Sc)]-1 exp(Sccoswc) mit Sc= ln2/(1-cos(bc/2))


I0, I sind verallgemeinerte Besselfunktionen. Der Volumennanteil I c aller durch die Komponente
beschriebenen Kristallite ist durch das Integral dieser Verteilung (grau schraffiert) gegeben. b c ist die
Halbwertsbreite, die im Falle einer sphärischen Texturkomponente (Vorzugsorientierung) diese unabhängig
von der Richtung der Drehachse ist.
Bei einer Faserkomponente(Vorzugsrichtung) hängt die Verteilung vom Winkel zwischen der Drehachse n
und der Faserachse fc ab. Für die Drehachsen n, die senkrecht auf der Faserachse stehen erhält man die
oben dargestellte Verteilung mit der Streubreite a c. Ist n parallel zu fc ist die Verteilung konstant, d.h.
unabhängig vom Kippwinkel wc .
Mit der Annahme, daß sich jede real auftretende Textur in guter Näherung als Überlagerung einer
endlichen Anzahl von Texturkomponenten unterschiedlicher Form und Streubreite darstellen läßt
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(c-Komponentenindex):

wurde das hier vorliegende geometrische Approximationsverfahren zur Texturbestimmung aus


Beugungspolfiguren entwickelt, welches auch für mehrphasige Proben anwendbar ist. Dabei werden die
Komponentenparameter:

Volumenanteil Ic
Vorzugsorientierung gc
Faserachse fc
Streubreiten ac, bc

interaktiv und sukzessiv auf dem PC-Monitor abgeschätzt und anschließend mittels nichtlinearer
Optimierung verbessert (siehe Beispiel). Die Reduktion der Texturdaten auf nur wenige Komponenten
ermöglicht Texturabschätzungen anhand von Polfigurdaten, die hinsichtlich Qualität (Meßfehler) oder
Quantität stark eingeschränkt sind.

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