En la difracción de rayos X se hace incidir un haz colimado de rayos x, con una longitud de

inda de 0.05 y 0.25 nm, sobre la muestra, y es difractado por fases cristalinas de la muestra
de acuerdo a la ley de Bragg n= 2dsin, donde d es el espacio interpelaran, la intensidad
de la difracción de rayos X se mide como función del ángulo difractado 2 y la orientación
de la muestra. Este patrón es para identificar las fases cristalinas de la muestra y para medir
sus propiedades estructúrales.

Diferencia entre red y estructura cristalina:

Una estructura cristalina esta constituida de átomos, y una red cristalina es un patrón
infinito de puntos, cada uno de los cuales debe tener el mismo entorno en la misma
orientación.

El efecto piezoeléctrico se encuentra solo en cristales que carecen de centro de simetría.

Los crustales que no poseen un centro de simetría tienen una o mas direcciones polares o
ejes polares. Un eje polar es aquel que no esta relacionado por simetría con ninguna otra
dirección en el cristal.
El efecto piezoeléctrico en materiales cristalinos se define en gran medida por la simetría de
un cristal. Las consideraciones de simetría son indispensables para comprender las
propiedades piezoeléctricas de cristales simples, cerámicos y películas delgadas.

Radiación electromagnética:
Se considera un movimiento ondulatorio y un haz de partículas llamadas fotones.

Fluorescencia:
Es la emisión de la radiación electromagnética, normalmente luz visible, de un material
cuando va de un estado excitado, en el que ha absorbido la energía, a un estado de energía
inferior.

Factores que influyen en el ensanchamiento de las señales de rayos X:

Efectos instrumentales, tamaño de cristalita y tención en la red.
¿Cuantos parámetros son necesarios para describir la celda de un material que cristaliza en
el sistema cubico?
R= una celda unitaria se puede describir por las interacciones entre las longitudes (a,b,c) de
sus lados y los ángulos interacciónales (, . ) entre ellos las longitudes se miden a partir
de una esquina de la celda, que toma como origen. Estas longitudes y angulos se llaman
parámetros de red.

Índice de Miller:
Familia de planos en cristalografía se describe usando tres índices enteros h, k y l, que se
denominan índices de cristalografía o de Miller, se utilizan para identificar diferentes
planos de átomos.

Proyección estereográfica.
Conjunto de puntos en la superficie de la esfera proporciona una representación completa
de un conjunto de direcciones en el espacio tridimensional, las direcciones son el conjunto
de líneas desde el centro de la esfera.

Como se producen los rayos X en el equipo:

Se producen en un tubo de rayos X que consta de dos electrodos metálicos encerrados en
una cámara de vacío. Los electrones se producen calentando un cátodo de filamento de
tungsteno. El cátodo tiene un potencial negativo alto y los electrones se aceleran hacia el
ánodo. Los electrones chocan con el ánodo. La perdida de energía de los electrones debido
al impacto con el ánodo metálico se manifiesta como rayos X.