Optik Für Ingenieure

Pedrotti · Pedrotti · Bausch · Schmidt
Optik für Ingenieure

F. Pedrotti · L. Pedrotti · W. Bausch · H. Schmidt
Optik für Ingenieure

Grundlagen
3., bearbeitete und aktualisierte Auflage
Mit 407 Abbildungen und 28 Tabellen
123
Prof. Dr. Frank L. Pedrotti S.J. St. Louis University, St. Louis, Missouri
Prof. Dr. Leno S. Pedrotti Center for Occupational Research and
Development, Waco, Texas
Prof. Dr. Werner Bausch i. R. Fachhochschule Darmstadt
Prof. Dr. Hartmut Schmidt* Fachbereich Mathematik und
Naturwissenschaften
Schöfferstr. 3
64295 Darmstadt
* und Johann Wolfgang Goethe-
Universität
Fachbereich Physik
60325 Frankfurt am Main
bausch.w@t-online.de
hschmidt@fh.darmstadt.de
Titel der amerikanischen Originalausgabe:

Introduction to Optics, 2nd Edition, by Frank L. Pedrotti S.J. and Leno S. Pedrotti, © 1993
by Prentice Hall Inc.,
a Pearson Education Company, Upper Saddle River, New Jersey, USA
1. Aufl. der deutschen Übersetzung:
© 1996 der deutschen Ausgabe by Prentice Hall Verlag GmbH
2. Auflage:
© 2002 Springer-Verlag Heidelberg
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ISBN-10 3-540-22813-6 Springer Berlin Heidelberg New York

ISBN-13 978-3-540-22813-6 Springer Berlin Heidelberg New York
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Inhaltsverzeichnis
1 Was ist Licht? . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
2 Erzeugung und Messung von Licht . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9

2.1 Elektromagnetisches Spektrum . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
2.2 Strahlungsphysikalische Größen (Radiometrie) . . . . . . . . . . . . . . . . 10
2.3 Lichttechnische Größen (Fotometrie) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
2.4 Schwarzer Strahler (Hohlraumstrahler) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
2.5 Optische Strahlungsquellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
2.6 Strahlungsdetektoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
3 Geometrische Optik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
3.1 Huygenssches Prinzip . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
3.2 Das Fermatsche Prinzip . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
3.3 Umkehrung des Lichtweges . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
3.4 Brechung an einer ebenen Grenzfläche . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
3.5 Abbildung durch ein optisches System . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
3.6 Brechung an einer sphärischen Fläche – Vorzeichenkonvention . . . 58
3.7 Dünne Linsen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
3.8 Krümmung von Wellenfronten und Brechwert von Linsen . . . . . . . 70
3.9 Newtonsche Abbildungsgleichung für die Linse . . . . . . . . . . . . . . . . 72
3.10 Reflexion an ebenen Spiegeln . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73
3.11 Reflexion an einer Kugeloberfläche . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76
4 Matrixmethoden der paraxialen Optik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85

4.1 Die dicke Linse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85
4.2 Die Matrixmethode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
4.3 Die Translationsmatrix . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 91
4.4 Die Brechungsmatrix . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 92
4.5 Die Reflexionsmatrix . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94
VI Inhaltsverzeichnis
4.6 Die Matrizen für dicke und dünne Linsen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95

4.7 Systemmatrix . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97
4.8 Bedeutung der Elemente der Systemmatrix . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100
4.9 Lage der Hauptpunkte eines optischen Systems . . . . . . . . . . . . . . . . 103
4.10 Beispiele zur Systemmatrix und den Hauptpunkten . . . . . . . . . . . . 107
4.11 Raytracing . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109
5 Abbildungsfehler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 115
5.1 Strahl- und Wellenaberrationen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116
5.2 Brechung an einer Kugelfläche (Seidelsche Näherung) . . . . . . . . . . 118
5.3 Sphärische Aberration/ Öffnungsfehler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 124
5.4 Koma . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 128
5.5 Astigmatismus und Bildfeldwölbung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 131
5.6 Verzeichnung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 134
5.7 Chromatische Aberration/Farbfehler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 137
6 Optische Instrumente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 147

6.1 Blenden, Pupillen und Luken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 147
6.1.1 Bildhelligkeit: Blenden und Pupillen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 148
6.1.2 Hauptstrahl . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 151
6.1.3 Gesichtsfeld . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 153
6.2 Prismen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 156
6.3 Die Kamera . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 170
6.4 Lupen und Okulare . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 176
6.5 Mikroskope . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 184
6.6 Fernrohre . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 191
7 Optik des Auges . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 205

7.1 Aufbau des Auges . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 206
7.2 Das Auge als optisches Instrument . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 208
7.3 Funktion des Auges . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 211
7.4 Augenfehler und ihre Korrektur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 216
7.5 Lasertherapie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 223
8 Wellengleichungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 233
8.1 Eindimensionale Wellengleichung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 233
8.2 Harmonische Wellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 235
8.3 Komplexe Zahlen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 239
8.4 Harmonische Wellen in komplexer Darstellung . . . . . . . . . . . . . . . . 242
8.5 Ebene Wellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 243
8.6 Kugelwellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 245
8.7 Elektromagnetische Wellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 245
8.7.1 Feldstärke und Geschwindigkeit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 245
Inhaltsverzeichnis VII
8.7.2 Maxwellsche Gleichungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 248

8.7.3 Intensität . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 250
8.8 Doppler-Effekt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 253
9 Interferenz von Wellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 259

9.1 Superpositionsprinzip . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 260
9.2 Überlagerung gleichlaufender, gleichfrequenter Wellen . . . . . . . . . . 261
9.3 Kohärente und inkohärente Sender . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 267
9.4 Interferenz ebener Wellen beliebiger Frequenz und Richtung . . . . 268
9.5 Stehende Wellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 270
9.6 Interferenz schräger“ Wellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 271
”
9.7 Phasen- und Gruppengeschwindigkeit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 274
10 Lichtinterferenz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 281
10.1 Zweistrahlinterferenz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 282
10.2 Der Youngsche Doppelspalt-Versuch . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 286
10.3 Doppelspaltinterferenz mit virtuellen Quellen . . . . . . . . . . . . . . . . . 291
10.4 Interferenz an dielektrischen Schichten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 293
10.5 Interferenzen gleicher Dicke . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 299
10.6 Newton-Ringe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 301
10.7 Dickenmessung mittels Interferenz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 303
11 Optische Interferometrie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 309

11.1 Das Michelson-Interferometer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 310
11.2 Anwendungen des Michelson-Interferometers . . . . . . . . . . . . . . . . . . 314
11.3 Modifikationen des Michelson-Interferometers . . . . . . . . . . . . . . . . . 316
11.4 Stokes-Beziehungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 318
11.5 Vielstrahlinterferenz an einer Planplatte . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 320
11.6 Fabry-Perot-Interferometer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 323
11.7 Streifenprofil: Airy-Funktion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 326
11.8 Auflösungsvermögen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 328
11.9 Nutzbarer Spektralbereich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 331
12 Kohärenz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 337
12.1 Fourier-Reihen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 337
12.2 Fourier-Integrale . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 343
12.3 Fourier-Analyse endlicher Wellenzüge . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 346
12.4 Zeitliche Kohärenz und natürliche spektrale Linienbreite . . . . . . . . 353
12.5 Teilkohärenz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 354
12.6 Räumliche Kohärenz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 361
12.7 Räumlicher Kohärenzbereich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 363
VIII Inhaltsverzeichnis
13 Holografie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 371
13.1 Konventionelle und holografische Fotografie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 371
13.2 Hologramm einer Punktquelle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 373
13.3 Hologramm eines ausgedehnten Gegenstandes . . . . . . . . . . . . . . . . . 376
13.4 Eigenschaften des Hologramms . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 381
13.5 Weißlicht-Hologramme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 381
13.6 Weitere Anwendungen der Holografie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 383
14 Matrixbeschreibung der Polarisation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 389

14.1 Beschreibung von polarisiertem Licht mit Jones-Vektoren . . . . . . . 390
14.2 Matrizendarstellung von Polarisatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 406
15 Erzeugung von polarisiertem Licht . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 421

15.1 Dichroismus: Polarisation durch selektive Absorption . . . . . . . . . . . 421
15.2 Polarisation bei Reflexion an dielektrischen Oberflächen . . . . . . . . 425
15.3 Polarisation durch Streuung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 428
15.4 Anisotropie der Brechzahl . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 432
15.5 Doppelbrechung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 437
15.6 Optische Aktivität . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 442
15.7 Spannungsoptik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 447
15.8 Polarisation durch Flüssigkristalle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 449
16 Fraunhofer-Beugung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 459
16.1 Beugung am Einzelspalt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 461
16.2 Beugungsbedingte Strahldivergenz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 466
16.3 Rechteck- und Kreisblenden . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 468
16.4 Auflösungsvermögen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 472
16.5 Beugung am Doppelspalt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 478
16.6 Gitterbeugung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 482
17 Das Beugungsgitter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 493

17.1 Die Gittergleichung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 494
17.2 Nutzbarer Spektralbereich eines Gitters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 495
17.3 Dispersion des Gitters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 497
17.4 Auflösungsvermögen des Gitters . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 499
17.5 Gittertypen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 501
17.6 Blaze-Technik für Gitter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 504
17.7 Gitterkopien . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 509
17.8 Interferenzgitter (holografische Gitter) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 510
17.9 Gitterinstrumente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 512
Inhaltsverzeichnis IX
18 Fresnel-Beugung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 519
18.1 Fresnel-Kirchhoffsches Beugungsintegral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 520
18.2 Kriterium für Fresnel-Beugung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 524
18.3 Fresnel-Beugung an Kreisblenden . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 526
18.4 Fresnelsche Zonenplatte . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 529
18.5 Fresnel-Beugung an Rechteckaperturen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 533
18.6 Die Cornu-Spirale . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 535
18.7 Anwendungen der Cornu-Spirale . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 538
18.8 Babinetsches Prinzip . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 546
19 Interferenz an Mehrfachschichten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 553

19.1 Transfer-Matrix . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 554
19.2 Reflexion bei senkrechtem Einfall des Lichtes . . . . . . . . . . . . . . . . . . 559
19.3 Reflexminderung durch zwei Schichten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 561
19.4 Reflexminderung durch drei Schichten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 565
19.5 Hochreflektierende Schichten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 566
20 Fresnelsche Gleichungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 573

20.1 Die Fresnelschen Formeln . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 573
20.2 Reflexion an optisch dichteren und dünneren Medien . . . . . . . . . . . 579
20.2.1 Reflexion und Transmission bei n < n . . . . . . . . . . . . . . . . 580
20.2.2 Reflexion und Transmission bei n > n . . . . . . . . . . . . . . . . 583
20.3 Phasenänderung bei Reflexion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 583
20.4 Energieerhaltung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 589
20.5 Evaneszente Wellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 590
20.6 Komplexe Brechzahl . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 593
20.7 Metallreflexion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 595
21 Grundlagen der Laser . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 601

21.1 Einsteins Quantentheorie der Strahlung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 602
21.2 Wesentliche Komponenten des Lasers . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 609
21.3 Laserprinzip . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 613
21.4 Eigenschaften des Laserlichtes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 618
21.4.1 Einfarbigkeit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 618
21.4.2 Kohärenz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 623
21.4.3 Strahldivergenz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 626
21.4.4 Laserintensität . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 630
21.4.5 Fokussierbarkeit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 633
21.5 Lasertypen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 638
X Inhaltsverzeichnis
22 Eigenschaften von Laserstrahlen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 641

22.1 Die dreidimensionale Wellengleichung und elektromagnetische
Wellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 642
22.2 Fresnel-Näherung von Kugelwellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 643
22.3 Der Gaußsche Strahl . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 645
22.4 Strahltaille und Wellenfront des Gaußschen Strahls . . . . . . . . . . . . 648
22.5 Stabile und instabile Laserresonatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 653
22.6 Laserstrahlausbreitung durch beliebige optische Systeme . . . . . . . . 655
22.7 Gaußsche Strahlen höherer Ordnung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 665
23 Laseranwendungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 673
23.1 Laserwirkungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 674
23.2 Laser und Information . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 682
23.3 Gegenwärtige Entwicklungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 689
24 Faseroptik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 693
24.1 Anwendungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 694
24.2 Optische Übertragungssysteme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 694
24.3 Bandbreite und Übertragungsrate . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 698
24.4 Lichtausbreitung in Fasern . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 698
24.5 Erlaubte Moden . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 702
24.6 Dämpfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 705
24.7 Signalverzerrung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 710
24.7.1 Modendispersion der Stufenindexfaser . . . . . . . . . . . . . . . . . . 710
24.7.2 Gradientenindexfaser und deren Modendispersion . . . . . . . 712
24.7.3 Materialdispersion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 713
24.7.4 Wellenleiterdispersion und maximale Bitraten . . . . . . . . . . . 717
24.8 GRIN-Optik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 719
24.9 Richtkoppler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 723
25 Fourier-Optik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 731
25.1 Optische Abbildung und Signalverarbeitung . . . . . . . . . . . . . . . . . . 732
25.1.1 Fraunhofer-Beugung und Fourier-Transformation . . . . . . . . 732
25.1.2 Ortsfrequenzanalyse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 736
25.1.3 Optische Filterung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 740
25.1.4 Optische Korrelation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 742
25.1.5 Optische Abbildung als Faltung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 746
25.1.6 Systembeschreibung mit Hilfe der Übertragungsfunktion . . 752
25.1.7 Modulationsübertragungsfunktion der perfekten Abbildung 755
25.2 Fourier-Spektroskopie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 758
Inhaltsverzeichnis XI
26 Nichtlineare Optik und Lichtmodulation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 765

26.1 Nichtlineare Medien . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 766
26.2 Frequenzverdopplung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 767
26.3 Frequenzmischung und Brechzahlmodulation . . . . . . . . . . . . . . . . . . 773
26.4 Der Pockels-Effekt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 776
26.5 Der Kerr-Effekt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 783
26.6 Faraday-Effekt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 785
26.7 Akustooptische Effekte . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 788
26.8 Nichtlineare optische Phasenkonjugation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 793
27 Optische Konstanten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 803

27.1 Definition der optischen Konstanten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 804
27.2 Mikroskopische Theorie der optischen Konstanten . . . . . . . . . . . . . 808
27.3 Optische Konstanten der Dielektrika . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 815
27.3.1 Dispersion von Gläsern . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 815
27.3.2 Optische Konstanten der Ionenkristalle . . . . . . . . . . . . . . . . . 818
27.4 Optische Eigenschaften der Metalle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 821
27.5 Plasmafrequenz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 824
Index . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 835
Vorwort zur 1. Auflage
Das vorliegende Buch ist die Übertragung des erfolgreichen amerikanischen Lehr-
buches Introduction to Optics von Frank L. und Leno S. Pedrotti ins Deut-
sche. Der Originaltext wurde überarbeitet, die deutschen DIN-Bezeichnungs-
und -Vorzeichenregeln verwendet und die Darstellung an die Voraussetzungen
im deutschsprachigen Raum – so weit möglich – angeglichen. Einige Kapitel
wurden um wichtige Aspekte, wie Modenstrukturen in Lichtwellenleitern und
Lasern, Flüssigkristalle, systemtheoretische Ansätze und GRIN-Optik, ergänzt.
Optik: Eine Einführung will einen möglichst umfassenden Überblick über die
faszinierenden Teilbereiche der Optik geben. Vor 1960 (Vor-Laserzeit) war die
Alltagserfahrung mit der Optik in der Regel auf den Gebrauch eines Fotoappa-
rates, eines Fernglases, einer Lupe, eines Mikroskops oder lediglich einer Brille
beschränkt. Heute begegnet uns täglich eine Vielzahl unterschiedlicher und teil-
weise komplexer optischer Systeme. Im Supermarkt werden an der Kasse die
Strichcodes auf Waren durch Laserscanner erfasst. Kopiergerät und Fax sowie
Laserdrucker, CD-Abspielgeräte, Videokameras, Hologramme und Telekommu-
nikation mit Lichtwellenleitern gehören zum normalen Umfeld. In den Medien
werden uns die Leistungen und Grenzen der modernen Optotechnik, z.B. beim
Hubble-Teleskop, vor Augen geführt. In Forschung, Entwicklung und in der indus-
triellen Produktion dienen Laser, Optoelektronik, Faseroptik sowie Anwendungen
der nichtlinearen Optik als wichtige Werkzeuge.
Dieser Breite an aktuellen und zu erwartenden Anwendungen will das Buch ge-
recht werden. Neben den klassischen Feldern – geometrische Optik, Abbildungs-
fehler, optische Instrumente, Interferenz- und Beugungsphänomene – die in der
Anwendung bei optischen Sensoren, der Beleuchtungsoptik und der Bildverarbei-
tung zunehmende Bedeutung haben, werden moderne Bereiche der Optik – wie
Laser, Holografie, Faseroptik, dielektrische Filme, Fourieroptik – dargestellt. Die
Anforderungen an die mathematischen Vorkenntnisse des Lesers sind je nach op-
tischem Teilgebiet sehr unterschiedlich, gute (Fach-)Abiturkenntnisse sind aber
meist ausreichend. Mit einfachen 2 × 2- Matrizen kann man in der paraxialen
XIV Vorwort
Näherung die Abbildung durch optische Systeme, die Wirkung von Polarisati-
onselementen, reflexmindernde Beschichtungen oder die Ausbreitung eines La-
serstrahles (Gaußstrahles) berechnen. Im Gegensatz zum Original haben wir bei
der Anwendung der Maxwell-Gleichungen auf die Vektoranalysis verzichtet.
Dieses Buch will anhand von Beispielen und einfachen mathematischen Herlei-
tungen die Grundlagen und Prinzipien der Optik verständlich machen und eig-
net sich für das Grundstudium und Selbststudium von Studierenden der Physik,
Natur- und Ingenieurwissenschaften. Durch die Vermittlung von Prinzipien zum
Entwurf optischer Geräte und die Behandlung weitergehender Themen ist es auch
im Hauptstudium – insbesondere für die ingenieurwissenschaftlichen Fachberei-
che – wertvoll. Zu jedem Kapitel gibt es eine Sammlung von durchgerechneten
Beispielen und Übungen unterschiedlicher Schwierigkeitsgrade, die der Vertiefung
des Stoffes dienen.
Die Idee, eine deutschsprachige Fassung des Buches der Brüder Pedrotti zu er-
stellen, eröffnete sich in den Lehrveranstaltungen, d.h. Vorlesungen, Übungen
und Labors des Aufbaustudienganges Optotechnik und Bildverarbeitung“ an
”
der Fachhochschule Darmstadt. Einer von uns (HS), hatte die Qualitäten des
Pedrotti“ bereits während der Arbeit in der Industrie schätzen gelernt. Die
”
beabsichtigten Änderungen besprachen wir im Sommer 1993 mit den Brüdern
Pedrotti, die unser Vorhaben sehr positiv aufnahmen. Zu Beginn der Arbeit ha-
ben wir die amerikanische Ausgabe mehreren deutschen Kollegen übersandt und
sie um ihren Kommentar gebeten. In der 1. Auflage konnten wir noch nicht alle
Änderungsvorschläge berücksichtigen.
Die Erstellung eines so umfangreichen Buches ist nur mit kompetenter, profes-
sioneller Unterstützung möglich. Wir möchten deshalb den Fachkollegen für ihre
Anregungen und Korrekturhinweise, dem Verlagsleiter bei Prentice-Hall, Herrn
Pakendorf, für seine große Geduld und Frau Eckert für das Schreiben des um-
fangreichen Manuskriptes danken. Der größte Dank gilt unseren Familien. Ohne
ihr besonderes Verständnis für den hohen über drei Jahre andauernden zeitlichen
Aufwand für dieses Buch wäre dieses Projekt nicht möglich gewesen.
Darmstadt, im Sommer 1996 Werner Bausch

Hartmut Schmidt
Vorwort zur 3. Auflage
Die 2002 im Springer-Verlag erschienene 2. Auflage mit dem geänderten Titel Op-
tik für Ingenieure: Grundlagen war bereits im Laufe des Jahres 2004 vergriffen.
Bei der Neuauflage konnten wir die Fortschritte auf dem Gebiet der modernen
Optik vor allem dadurch berücksichtigen, dass wir die Fachkollegen in unserem
Studiengang Optotechnik und Bildverarbeitung“ für Anregungen zur Aktua-
”
lisierung und Korrekturvorschläge gewinnen konnten. Änderungsvorschläge von
Lesern der ersten beiden Auflagen versuchten wir ebenfalls zu berücksichtigen. So
wurden die umfangreichsten Änderungen und Ergänzungen in den Laserkapiteln
(Laserdiode) und bei der Faseroptik vorgenommen.
Bei der Neuauflage wurden insbesondere die fotografischen Abbildungen verbes-
sert und eine neue druckfertige Vorlage in LATEXerstellt. Diese umfangreiche Ar-
beit leistete Herr Daniel Reymann, Student unseres Studiengangs, mit hohem
Einsatz und vielen eigenen Ideen und Vorschlägen, wofür wir ihm herzlich dan-
ken.
Unser Dank gilt auch unseren Kollegen, den Herren Blendowske, Brinkmann,
Dirks, Großkopf, Heddrich, Liesem, Rohlfing, Schoenes und Ströbel, für ihre Mit-
arbeit und Empfehlungen; weiterhin dem Springer-Verlag mit Frau Hestermann-
Beyerle für ihre fundierte Begleitung und Herrn Holzwarth für seine Hilfe und
Unterstützung beim Design des Buches. Besonderen Dank sagen wir unseren Fa-
milien, die wiederum Verständnis für die zeitliche Inanspruchnahme hatten. In
manchen Momenten hat mich (HS) Kalliope, die Muse der Wissenschaft, be-
flügelt, die Arbeit voranzutreiben.
Darmstadt, im Herbst 2004 Werner Bausch

Hartmut Schmidt
Größen und Formelzeichen
a, a Objekt- und Bildweite C Kapazität

a Beschleunigung C Krümmungsmittelpunkt
aS , ap , aR Bezugs-, Nah- und d Kreisblendendurchmesser
Fernpunktweite d Scheitelabstand von
A Fläche Flächen
A Auflösungsvermögen dA , dE Amplituden-, bzw.
α Streu-, Beugungs- und Energieeindringtiefe
Abstrahlwinkel dopt optischer Weg
α Keilwinkel zwischen ds Skintiefe
Flächen D Brechwert einer Linse
α Dämpfungskoeffizient von D Gitterdispersion
Fasern
D Schwellenempfindlichkeit
b (Spalt-)Breite
Detektor
B Beugungsverbreiterung
D∗ Detektivität
B Übertragung-, Bitrate
D(R) optische Übertragungs-
B magnetische Induktion
funktion (OTF)
β Drehwinkel (opt.
Aktivität) δ Phasendifferenz
β Abbildungsmaßstab δ Ablenkungswinkel, Winkel
β Spaltbeugungsparameter zwischen Strahlrichtungen
(16.10) δ(x) δ-, Dirac-Funktion
χ elektrische Suszeptibilität ∆ Differenz, z.B. ∆x
c Licht-, Wellengeschwindig- ∆ Gangunterschied
keit ∆n relative Kern-Mantel-
c0 Vakuumlichtgeschwin- Brechzahldifferenz
digkeit (bisweilen ∆t Zeitdifferenz, Pulsbreite
nur c) e Hauptpunktabstand von
c g , cp , cs Gruppen-, Phasen- und zwei optischen Systemen
Schallgeschwindigkeit E elektrische Feldstärke
XVIII Größen und Formelzeichen
E, Ee Beleuchtungs- und h Plancksches Wirkungs-

Bestrahlungsstärke quantum
ε, ε , εr Einfalls-, Brechungs- und h(X, Y ) Punktbildfunktion (PSF)
Reflexionswinkel H, He Belichtung, Bestrahlung
εg Grenzwinkel der H, H Hauptpunkte
Totalreflexion H Hubble-Konstante
εp Brewster-Winkel H magnetische Feldstärke
ε0 elektrische Feldkonstante Hm Hermite-Polynom der
des Vakuums Ordnung m
εr Dielektrizitätszahl I Intensität
ε = ε0 εr Dielektrizitätskonstante I, Ie Lichtstärke,
√ Strahlstärke
f Frequenz j −1, imaginäre Einheit
f Oszillatorenstärke j Jones-Vektor für
f, f Objekt- und Bildbrenn- Polarisationszustände
weite Jm (x) Bessel-Funktion m-ter
F Fouriertransformation Ordnung
F −1 inverse Fouriertransforma- κ Absorptions-, Extinktions-
tion koeffizient
Φ, Φe Lichtstrom, Strahlungs- k, k Kreiswellenzahl,
fluss Wellenvektor
F/F 2 Spalt- oder Formfaktor/- k̃ = λ1 Wellenzahl
Funktion κ/κ Ortskreisfrequenz/-Vektor
ϕ Phase k, K Blendenzahl
ϕ Winkel bei Polarkoordina- K, K Knotenpunkte
ten K fotometrisches Strah-
ϕ0 Nullphasenwinkel lungsäquivalent
f12 Faltungsintegral (25.24) K Absorptions-, Extinktions-
g Brechzahlexponent bei konstante
GRIN K Kerr-Konstante
g g-Parameter bei l Länge, Entfernung
Laserresonatoren l azimutale Modenzahl
g Gitterkonstante, (Laserresonator)
(Doppel-)Spaltabstand lK Kristallkohärenzlänge
G/G 2
Gitter-, Struktur-Faktor/- (26.7)
Funktion lt , lr zeitliche bzw. räumliche
γ Coddington-Formfaktor Kohärenzlänge
γ12 Kohärenzgrad L Länge (Laserresonator)
γi γ-Parameter bei L, Le Leuchtdichte, Strahldichte
Mehrfachschichten (19.4) Lp Perioden-, Pitchlänge
Γ Vergrößerung, Winkelver- (24.36)
(l)
größerung Lp Laguerre-Polynom der
h Einfallshöhe eines Strahles Ordnung p, l
Größen und Formelzeichen XIX
λ, λ0 Wellenlänge, Vakuumwel- q longitudinale Modenzahl

lenlänge (Laserresonator)
m Ordnungszahl q komplexer Strahlparame-
(m = 0, 1, . . ., Beu- ter (Laserresonator)
gung) Q, q Ladung, Einzellladung
m Modenzahl, Modenindex Qe Strahlungsenergie
(Faseroptik) r (Krümmungs-)Radius
m Modenzahl (x-Richtung, r Reflexionsfaktor
Laserresonator) r Ortsvektor, Verschiebungs-
m Ruhmasse vektor
M Modulation, (Streifen-)- r, R lineare und quadratische
Konstrast elektrooptische Konstante
Me spezifische Ausstrahlung R Krümmungsradius
M, MWL Material-, Wellenleiterdis- Wellenfront
persionskoeffizient R/R Ortsfrequenz/-vektor
µ Beweglichkeit Rn Radius der Zonenplatte
µ0 magnetische Feldkonstante Reflexionsgrad
des Vakuums
spezifische Rotation (opt.
µr Permeabilitätszahl Aktivität)
n Ordnungszahl
Krümmungsradius
(n = 1, 2, . . ., Beu-
Resonatorspiegel (Laser)
gung)
(f ) spektrale Strahlungsdichte
n Modenzahl (y-Richtung,
s Auslenkung
Laserresonator)
s spektrale Detektoremp-
n, n /n Brechzahl/komplexe
findlichkeit
Brechzahl
no , nao ordentliche, außerordentli- s, s Objekt- und Bildschnitt-
che Brechzahl weite
N Anzahl sEH , sAH’ Hauptpunktabstände
Nv Anzahldichte sEK , sAK’ Knotenpunktabstände
(N/V )(18.35) S Scheitelpunkt

S Poynting-Vektor
NF Fresnel-Zahl

S Stokes-Vektor für
ν Abbesche Zahl
O, O Objekt- und Bildpunkt auf Polarisationszustände
der Achse σ, σ Strahlwinkel zur optischen
p radiale Modenzahl Achse
(Laserresonator) t Transmissionsfaktor
p Impuls t Zeit
P Leistung t Brennpunktabstand von
P, P Objekt- und Bildpunkt optischen Systemen
außerhalb der Achse T Temperatur
P elektrische Polarisation T Airy-Funktion
p elektrisches Dipolmoment T Periodendauer
XX Größen und Formelzeichen

T (R) Modulations-Über- w Strahltaillenradius
tragungsfunktion (Gauß-Strahl)
(MTF) w, w halber Feldwinkel,
τ Transmissionsgrad Sehwinkel
τ0 , τc Kohärenzzeit W Arbeit, Energie
ϑ Polarisationswinkel ω, ωp (Plasma-)Kreisfrequenz
Θ(R) Phasen-Übertragungsfunk-
Ω Raumwinkel
tion (PTF)
θ halber Strahlöffnungs- Ω0 Einheits-Raumwinkel
winkel (Gauß-Strahl) X, Y Koordinaten in der Bild-
θ Winkel zwischen bzw. Beugungs-(Fourier)-
Polarisationsrichtungen Ebene
θ Bragg-Winkel x, y Koordinaten in der Objekt-
u, u Aperturwinkel bzw. Aperturebene
u, u Unschärfekreisdurchmesser x , y Koordinaten in der
U, UHW Spannung, Halbwellen- Bildebene
spannung ymin minimal auflösbarer
v Geschwindigkeit Abstand
v Fresnel-Aperturkoordinate z Lichtausbreitungsrichtung
V V -Faserparameter
z, z brennpunktbezogene
V Verdet-Konstante
Objekt- und Bildweite
V Volumen
zR Rayleigh-Länge
V (λ) spektraler Hellemp-
findlichkeitsgrad des Z Wellenwiderstand
Auges z komplexe Zahl
1
Was ist Licht?
Einleitung
Das Verständnis der physikalischen Natur des Lichtes hat sich in der Wissen-
schaftsgeschichte faszinierend entwickelt. Seit dem Entstehen einer modernen
Naturwissenschaft im 16. und 17. Jahrhundert hat man versucht, Licht mit den
komplementären Modellen Teilchen“ oder Welle“ zu beschreiben, wobei ab-
” ”
wechselnd eines der Modelle den Vorzug erhielt. Erst in unserem Jahrhundert
erkannte man, dass Licht sowohl Wellen- als auch Teilcheneigenschaften auf-
weist. Zahlreiche bedeutende Wissenschaftler versuchten, diesen Welle-Teilchen-
Dualismus zu lösen. Dies gelang schließlich durch die Entwicklung der Quanten-
elektrodynamik, eine der bedeutendsten und erfolgreichsten Theorien der moder-
nen Physik.
Im Folgenden wollen wir einige Höhepunkte der Entwicklung der modernen
Optik skizzieren. Hierbei müssen wir neben der Optik einige weitere Gebiete
der Physik, vor allem die Elektrodynamik und die Atomphysik, mit einbeziehen.
Dies zeigt, dass der Erkenntnisprozess zu einer Integration der physikalischen
Teilgebiete führte, mit dem Ergebnis, dass Licht und subatomare Teilchen, wie die
Elektronen, mit Hilfe derselben Modelle Materie“ oder Energie“ zu verstehen
” ”
sind.
2 1 Was ist Licht?
Im 17. Jahrhundert war der prominenteste Vertreter der Teilchentheorie des

Lichtes Isaac Newton (1643-1727), der Genius, der auch eine einheitliche Theo-
rie der Mechanik und Gravitation schuf. In seiner Opticks“ betrachtet New-
”
ton Licht als einen Strom sehr kleiner Teilchen, die von der Lichtquelle ausge-
sandt werden und sich geradlinig ausbreiten. Obwohl sich Newton oft vehement
gegen physikalische Hypothesen aussprach, die nicht direkt durch Beobachtun-
gen oder Experimente erhärtet waren, beharrte er auf seiner Teilchenhypothe-
se. Wichtige Grundlage war für ihn die Beobachtung, dass bei Licht scharfe
Schatten entstehen können – im Gegensatz zu Wasser- und Schallwellen, die
an Hindernissen gebeugt werden. Newton untersuchte auch jene Interferenzmus-
ter, die heute als Newtonsche Ringe bezeichnet werden und die nicht einfach
durch Teilchenströme erklärbar sind. Er erweiterte daraufhin das Teilchenbild
und erklärte diese Lichtmuster als fits of easy reflection and easy transmission“,
”
also eine Art periodische Teilchenbewegung aufgrund anziehender und absto-
ßender Kräfte, die von den Materialien im Lichtweg ausgeübt werden. Wegen
Newtons überragenden wissenschaftlichen Leistungen – vor allem in der Mecha-
nik – konnte sich seine Betrachtung des Lichtes auch noch im 18. Jahrhundert
durchsetzen.
Kurze Geschichte der Optik – Photonen- und Wellenmodell
Christiaan Huygens (1629-1695), holländischer Physiker und Mathematiker und

Zeitgenosse Newtons, entwickelte in seiner Abhandlung über das Licht ( Tracta-
”
tus de lumine“) 1690 die Hypothese, dass Licht eine Wellenbewegung darstellt,
die sich, ausgehend von einer Quelle, in einem alles durchdringenden elastischen
Medium, dem Äther, in alle Richtungen ausbreitet. Ihn beeindruckte die Be-
obachtung, dass sich zwei kreuzende Lichtstrahlen überhaupt nicht beeinflussen,
wie dies auch von Wasser- und Schallwellen bekannt ist. Mit Hilfe seiner Theorie
entwickelte er das nach ihm benannte Huygenssche Prinzip und konnte hiermit
Reflexion und Brechung sowie die Doppelbrechung von Kalkspat erklären.
Fast genau 100 Jahre nach der Veröffentlichung von Newtons Opticks“ führte
”
der Engländer Thomas Young (1773-1829) ein entscheidendes Experiment durch,
das die Welleneigenschaften des Lichtes bewies und damit den Übergang vom
Teilchen- zum Wellenbild des Lichtes bewirkte. In seinem berühmten Doppel-
spaltexperiment wurde ein undurchlässiger Schirm mit zwei kleinen Öffnungen
mit dem monochromatischen Licht einer kleinen Öffnung beleuchtet. Die beob-
achteten Schatten“ bildeten ein komplexes Interferenzmuster ähnlich dem von
”
Wasserwellen.
Die Erfolge der Wellentheorie setzten sich bis ins 20. Jahrhundert fort. Im
ausgehenden 19. Jahrhundert mit seinem absoluten Vertrauen auf die aktuelle
wissenschaftliche Erkenntnis gab es kaum Zweifel, dass das Licht – wie fast alle
1 Was ist Licht? 3
Gebiete der klassischen Physik – gut erforscht und verstanden war. Dies folgte
aus zahlreichen Arbeiten, von denen nur einige erwähnt seien:
1821 veröffentlichte Augustin Fresnel (1788-1827) die Ergebnisse seiner Ex-

perimente und Analysen, die Licht als Transversalwellen behandeln. Er zeigte,
dass die Doppelbrechung von Kalkspat mit polarisiertem Licht verbunden ist.
Vor ihm war man davon ausgegangen, dass die Lichtwellen des Fluids“ Äther
”
notwendigerweise longitudinal sind, analog zu Schallwellen in einer Flüssigkeit,
die keine transversalen Wellen transportiert. Mit Hilfe der Fresnelschen Glei-
chungen konnte er die Reflexion und Transmission polarisierten Lichtes an der
Grenzfläche zwischen zwei optischen Medien beschreiben.
James Clark Maxwell (1831-1879) fasste die experimentellen Beobachtungen
der Gebiete Elektrizität und Magnetismus in seinen 4 Maxwellgleichungen zusam-
men. Aus diesen folgte eine Voraussage für die Geschwindigkeit elektromagneti-
scher Wellen im Äther, die mit dem Messwert der Lichtgeschwindigkeit überein-
stimmte. Dies bestätigte die Modellvorstellung von Licht als elektromagnetischer
Welle, die einen – besonders wichtigen – Ausschnitt des elektromagnetischen
Spektrums darstellt. 1887 versuchten Albert Michelson und Edward Morley ver-
geblich, mit Hilfe eines optischen Interferenzexperiments die Bewegung der Erde
relativ zum Äther festzustellen. Dies gab u.a. den Anstoß zu Albert Einsteins
(1879-1955) spezieller Relativitätstheorie (1905), in der sich die Annahme eines
Äthers als überflüssig erweist“; damit entfällt auch die Komplikation einer trans-
”
versalen Schwingung im Innern einer Flüssigkeit.
Im 19. Jahrhundert entstand ein festes Fundament für die Wellentheorie,
das allerdings gegen Ende des Jahrhunderts wieder zu bröckeln begann, so dass
der Welle-Teilchen-Disput neu entbrannte. Die Wellentheorie versagt bei der Er-
klärung der Wärmestrahlung und der Wechselwirkung von Licht mit Materie,
z.B. beim Photoeffekt. Im Jahre 1900 – also gerade an der Schwelle zum 20.
Jahrhundert – berichtete Max Planck (1858-1947) in einer Sitzung der Deutschen
Physikalischen Gesellschaft, dass er die Gesetze der Schwarzkörperstrahlung nur
dann korrekt herleiten konnte, wenn er von der merkwürdigen Annahme ausging,
dass Licht in Energiepaketen und nicht als kontinuierliche Welle emittiert wird;
damit waren die Quanten und die Quantenmechanik geboren. Nach Planck ist
die Energie WPh eines Quants elektromagnetischer Strahlung proportional zur
Frequenz f
Quanten-, Photonenenergie WPh = hf (1.1)
mit h = 6,626 · 10−34 Ws2 , dem Planckschen Wirkungsquantum. Bei der Un-
tersuchung des äußeren Photoeffekts, der Auslösung von Elektronen aus einer
Metalloberfläche durch Licht, hatte Lenard 1902 entdeckt, dass die kinetische
Energie der Elektronen nur von der Lichtfrequenz und nicht von der Lichtinten-
sität abhängt. Unterhalb einer Grenzfrequenz fg konnten keine Elektronen mehr
4 1 Was ist Licht?
ausgelöst werden. Einstein erklärte dies 1905 mit Hilfe von Plancks Gleichung als
Wechselwirkung eines Stroms von Lichtquanten (Photonen) mit den Elektronen,
die mit der sogenannten Austrittsarbeit WA im Metall gebunden sind. Die Pho-
tonen übertragen ihre gesamte Energie hf auf die Elektronen und werden dabei
vernichtet. Die maximale kinetische Energie Wkin der austretenden Elektronen
ist dann die Differenz von Photonenenergie und Austrittsarbeit:
Wkin = hf − WA (1.2)
Für Frequenzen f < fg = WA /h reicht die Photonenenergie nicht mehr zur
Überwindung der Bindungsenergie aus. Der Däne Niels Bohr (1885-1962) stellte
1913 bei der Erklärung der Emissions- und Absorptionsprozesse in H-Atomen
folgende Bedingung auf:
Bohrsche Frequenzbedingung hfmn = Wm − Wn (1.3)
wonach die Energie hfmn der absorbierten und emittierten Photonen gleich der
Differenz der diskreten Energien Wm und Wn des Elektrons in den Schalen m und
n ist. Hiermit konnte er das Linienspektrum des Wasserstoffs erklären. Das Kor-
puskelmodell des Lichtes kam 1922 auch Arthur Compton zu Hilfe, der hiermit
die inelastische (Compton-) Streuung von Röntgenstrahlen an freien Elektronen
erklärte. Entsprechend den klassischen Stoßgesetzen treffen hierbei Röntgenpho-
tonen auf ruhende Elektronen und übertragen hierbei einen Teil ihrer Energie –
unter Erhaltung von Gesamtenergie und Gesamtimpuls.
Diese Erfolge des Teilchenmodells zeigten, dass Licht als eine besondere Art
von Materie anzusehen ist, der Energie und Impuls zugeordnet ist. Louis de Bro-
glie (1892-1987) verallgemeinerte diese Erkenntnis und veröffentlichte 1924 die
Hypothese, dass (mikroskopische) Teilchen mit dem Impuls p auch Welleneigen-
schaften mit der Materiewellenlänge oder der
h
de-Broglie-Wellenlänge λ= (1.4)
p
aufweisen sollten, wobei h wieder die Plancksche Konstante ist. Erste Bestäti-
gungen seiner Hypothese erfolgten 1927-28 durch Clinton Davisson und Lester
Germer in den USA und Sir George Thomson in England bei Experimenten, die
sich nur als Beugung von Elektronen an Kristallgittern interpretieren ließen.
Damit galt der Welle-Teilchen-Dualismus universell. Licht verhielt sich bei
Ausbreitungs-, Interferenz- und Beugungsphänomenen wie Wellen; es konnte sich
aber auch bei der Wechselwirkung mit Materie, z.B. beim Photoeffekt, als Teil-
chen verhalten. Auf der anderen Seite zeigten Elektronen in der Regel Teilchen-
eigenschaften, die z.B. beim punktförmigen Aufblitzen einer Szintillationsschicht
1 Was ist Licht? 5
zu beobachten waren; in anderen Fällen – beispielsweise bei der Doppelspaltbeu-

gung mit Hilfe eines Elektronenmikroskops – waren sie als Wellen zu betrachten.
Dass sich Photonen und Elektronen sowohl als Teilchen als auch als Wellen
verhalten, schien zunächst ein unlösbarer Widerspruch, da ja Teilchen und Wellen
völlig verschiedene Eigenschaften sind. Allmählich wurde, insbesondere durch die
Überlegungen von Bohr klar, dass Photon und Elektron weder Teilchen noch Wel-
len sind, sondern komplexere und weitgehend unanschauliche Gebilde darstellen.
Bohr formulierte hierfür das Prinzip der Komplementarität.
Bei der Erklärung physikalischer Phänomene versucht man natürlich, auf die
gut bekannten Modelle Welle und Teilchen zurückzugreifen. Es zeigt sich jedoch,
dass keines dieser beiden Modelle für ein umfassendes Verständnis des Photons
oder Elektrons ausreicht. Wir müssen uns damit begnügen, festzustellen, dass in
bestimmten Situationen wellenähnliche und in anderen teilchenähnliche Eigen-
schaften vorherrschen. Wir kennen aber kein einfaches physikalisches Modell, das
alle beobachteten Phänomene beschreibt.
Quanten- oder Wellenmechanik befasst sich mit im Raum – mehr oder we-
niger – lokalisierten Teilchen und beschreibt somit sowohl Licht als auch Ma-
terie. In Verbindung mit der speziellen Relativitätstheorie gelten für Impuls p,
Wellenlänge λ, Geschwindigkeit v und kinetische Energie Wkin als Funktion der
Gesamtenergie W und (Ruh-)Masse m:
√
W 2 − m2 c4
p= (1.5)
c
h hc
λ= =√ (1.6)
p W − m 2 c4
2

pc2 m2 c4
v= =c 1− (1.7)
W W2
1
Wkin = W − mc2 = mc2 (γ − 1) mit γ= (1.8)
2
1 − (v/c)
Hierbei ist c die Vakuumlichtgeschwindigkeit, mc2 die Ruhenergie W0 und Wkin

die Arbeit zur Beschleunigung eines anfangs ruhenden Teilchens auf die Ge-
schwindigkeit v. Wir sehen, dass die kinetische Energie nicht mehr einfach durch
2 mv gegeben ist; dieser Ausdruck folgt erst für v c durch Reihenentwicklung
1 2
von γ. Die relativistische Masse ergibt sich zu mrel = γm.

Photonen unterscheiden sich von anderen Teilchen, wie Elektronen und Neu-
tronen, wesentlich dadurch, dass sie keine Ruhmasse haben. Dann vereinfachen
sich die obigen Beziehungen (1.5) bis (1.8) bei Verwendung von W = WPh = hf
(s. (1.1)) zu:
6 1 Was ist Licht?
W hf h
p= = = (1.9)
c c λ
h hc c
λ= = = (1.10)
p W f
pc2
v= =c (1.11)
W
W = Wkin = hf (1.12)
Während Teilchen mit endlicher Ruhmasse die Lichtgeschwindigkeit c nur asymp-
totisch für W → ∞ erreichen, bewegen sich masselose Teilchen im Vakuum immer
mit der konstanten Geschwindigkeit c. Die Energie eines Photons ist von seiner
Geschwindigkeit unabhängig, kinetische und Gesamtenergie stimmen überein!
Beispiel 1.1 Relativistisches“ Elektron und Photon
”
Elektronen (Ruhenergie W0 = 0,511 MeV) werden auf eine kinetische Ener-
gie von 2,5 MeV beschleunigt. Bestimmen Sie den relativistischen Impuls, die
Wellenlänge und die Geschwindigkeit der Elektronen. Ermitteln Sie die ent-
sprechenden Größen für ein Photon (γ-Quant) derselben Energie.
Lösung
Die Gesamtenergie ist die Summe von kinetischer und Ruhenergie:
W = W0 + Wkin = 3,011 MeV = 4,82 · 10−13 Ws.
Aus (1.5) folgt für den Impuls

p = 1,58 · 10−21 kg m/s.
Die Materiewellenlänge ist dann

h
λ = = 4,18 · 10−13 m = 418 fm1
p
und die Geschwindigkeit v = 2,95 · 108 m/s bzw. v/c = 0,985.

Für das Photon erhalten wir statt dessen mit m = 0:
p = 1,61 · 10−21 kg m/s, λ = 412 fm sowie v = c.
Ein weiterer wichtiger Unterschied zwischen Elektron und Photon besteht da-
rin, dass Elektronen der Fermi- und Photonen der Bose-Statistik gehorchen. Aus
der Fermi-Statistik folgt die Einschränkung, dass sich zwei Elektronen in demsel-
ben wechselwirkenden System nie in demselben Quantenzustand befinden, d.h.
1
fm = femto“-m = 10−15 m.
”
1 Was ist Licht? 7
exakt gleiche physikalische Eigenschaften aufweisen dürfen. In der Bose-Statistik

gilt dieses Verbot nicht, so dass eine große Zahl von benachbarten Photonen
mit gleichen Impulsen und Energien existieren kann. Dies ist in Lichtstrahlen der
Fall, weshalb die Teilchennatur des Strahls im Allgemeinen unbemerkt bleibt und
Licht als kontinuierliche elektromagnetische Welle zu beschreiben ist. Bei dieser
Betrachtung erscheinen elektromagnetische Felder als eine spezielle Realisierung
von Photonenzuständen.
Eine wesentliche Konsequenz der Wellennatur von Teilchen ist in Heisenbergs
(1901-1970) Unbestimmheitsrelationen enthalten. Hiernach gehorchen Teilchen
keinen deterministischen Bewegungsgleichungen, sondern die Theorie sagt nur
Wahrscheinlichkeiten voraus. In der Wellenmechanik sind den Teilchen über die
fundamentale Wellengleichung Wellenamplituden zugeordnet, deren Betragsqua-
drat proportional zu der Wahrscheinlichkeit ist, ein Teilchen in einem bestimmten
Zeitintervall in einem Raumbereich anzutreffen. Damit wird auch die Intensität
dieser Wellen, die ebenfalls proportional zum Amplitudenquadrat ist, ein Maß
für diese Wahrscheinlichkeit. Für große Teilchenzahlen gehen Wahrscheinlichkei-
ten in scharfe Werte über. Wir können dann für die Bestrahlungsstärke Ee einer
Lichtwelle im Teilchenbild schreiben
Bestrahlungsstärke im Photonenbild Ṅ
Ee = hf (1.13)
A
2
mit [Ee ] = W/m . Hierbei ist Ṅ /A die Photonenstromdichte (Einheit: Photo-
nen/(s ·m2 )), die auf die bestrahlte Fläche trifft. Auf diese Weise lassen sich
Interferenz- und Beugungsmuster auch im Teilchenbild erklären. Die Wellen-
amplituden bestimmen jeweils die Wahrscheinlichkeiten für das Auftreffen der
Teilchen an den einzelnen Punkten der Bestrahlungsmuster.
In der Quantenelektrodynamik, die die Prinzipien von Wellenmechanik und
spezieller Relativitätstheorie vereint und den Welle-Teilchen-Dualismus auflöst,
nimmt man an, dass Photonen nur mit Ladungen wechselwirken. Beispielsweise
kann ein Elektron sowohl Photonen absorbieren als auch emittieren, wobei die je-
weilige Wahrscheinlichkeit dem Ladungsquadrat proportional ist. Hierbei gilt für
die Bose-Teilchen des Lichtes kein Erhaltungssatz der Teilchenzahl. Elektronen
und Photonen gehorchen denselben allgemeinen Prinzipien, wodurch wesentliche
Unterschiede aufgehoben werden. Durch diese Vereinheitlichung wird Licht nur
als eine andere Form von Materie betrachtet.
Die von uns zugrunde gelegte Beschreibung behält die komplementären
Aspekte von Teilchen und Welle bei und beschreibt die experimentellen Beo-
bachtungen durch das jeweils richtige“ Modell. Wir werden sehen, dass für viele
”
optische Phänomene (z.B. die Lichtbeugung), die in diesem Buch behandelt wer-
den, das Wellenmodell des Lichtes angemessen ist. Das Photonenbild ist aber
beim Verständnis der Lichtabsorption und Lichtemission sowie der Photonen-
detektoren unerlässlich.
8 1 Was ist Licht?
Übungen
1.1 Berechnen Sie die de Broglie-Wellenlänge
a) eines Golfballs mit 50 g Masse und einer Geschwindigkeit von 20 m/s,
b) eines Elektrons mit 10 eV kinetischer Energie.
1.2 Die Empfindlichkeitsschwelle des menschlichen Auges liegt im günstigsten Fall bei
etwa 100 Photonen/s. Das Auge ist bei einer Wellenlänge von etwa 550 nm am emp-
findlichsten. Welche minimale Lichtleistung kann das Auge demnach detektieren?
1.3 Wie groß ist die Energie (in eV) von Photonen vom Rand des sichtbaren Spektrums
bei 400 und 700 nm?
1.4 Bestimmen Sie Energie und Impuls eines Photons, dessen Energie gleich der Ruh-
energie des Elektrons (s. Üb. 1.5) ist.
1.5 Zeigen Sie, dass die Ruhenergie des Elektrons 0,511 MeV beträgt.
1.6 Ein Elektron durchfällt eine Potentialdifferenz von 1 MV. Zeigen Sie, dass man für
seinen Impuls schreiben kann: p = 1,422 MeV/c, wobei c die Vakuumlichtgeschwin-
digkeit ist.
1.7 Beweisen Sie die folgende reduzierte Größengleichung für den Zusammenhang zwi-
schen Photonenergie und Wellenlänge:
WPh 1240 nm
=
eV λ
1.8 Beweisen Sie, dass für v c die relativistische kinetische Energie
Wkin = mc2 (γ − 1)
in den klassischen Ausdruck Wkin = 12 mv 2 übergeht.
1.9 Ein Proton wird auf eine kinetische Energie von 2 GeV beschleunigt. Finden Sie:
a) seinen Impuls,
b) seine de Broglie-Wellenlänge und
c) die Wellenlänge eines Photons mit der gleichen Gesamtenergie.
1.10 Bei senkrechter Einstrahlung liegt die Bestrahlungsstärke der Sonne in Meereshöhe
bei etwa 1 kW/m2 . Berechnen Sie hieraus für eine mittlere Wellenlänge von 550 nm
die Photonenstromdichte bezogen auf 1 cm2 .
1.11 Zwei parallele Lichtstrahlen gleicher Leistung, aber unterschiedlicher Wellenlänge,
treffen auf eine Oberfläche. Zeigen Sie, dass hierbei das Verhältnis der Photonen-
ströme gleich dem der Wellenlängen ist.
2
Erzeugung und Messung von Licht
Einleitung
Die elektromagnetische Strahlung von Strahlungsquellen kann unterschiedliche
Wellenlänge (oder Frequenz) und Stärke aufweisen. Die Einteilung aufgrund
der Wellenlänge wird durch das elektromagnetische Spektrum charakterisiert.
Die Änderungen in der Stärke werden durch physikalische Begriffe beschrieben,
die sich in den Gebieten der Radiometrie (Strahlungsphysik) und Fotometrie
(Lichttechnik) entwickelt haben. Quellen und Detektoren der elektromagneti-
schen Strahlung klassifiziert man nach dem entsprechenden spektralen Bereich
und nach der Stärke des erzeugten (Quellen) oder des nachgewiesenen Signals
(Detektoren).
2.1 Elektromagnetisches Spektrum

Eine elektromagnetische Störung, die sich durch den Raum als Welle aus-
breitet, nennt man monochromatisch, wenn sie nur ein sehr schmales Wel-
lenlängenband (∆λ ≈ 0) enthält oder polychromatisch, wenn sie viele Wel-
lenlängen, entweder diskret oder in Form eines Kontinuums, aufweist. Die Ver-
teilung der Energie über die verschiedenen Teilwellen nennt man Spektrum der
10 2 Erzeugung und Messung von Licht
Strahlung. Das Adjektiv spektral beinhaltet die Wellenlängenabhängigkeit. Ver-

schiedene Bereiche des elektromagnetischen Spektrums werden gesondert ge-
kennzeichnet, wie z.B. Radiowellen, γ-Strahlung, Licht und ultraviolette Strah-
lung. Die meisten der gebräuchlichen Bezeichnungen sind in Abb. 2.1 ange-
geben, in der das elektromagnetische Spektrum sowohl in Abhängigkeit von
der Wellenlänge λ als auch von der Frequenz f gezeigt wird. Diese beiden
Größen hängen über die Wellengeschwindigkeit (Phasengeschwindigkeit) c zu-
sammen:
Phasengeschwindigkeit einer Welle c = λf (2.1)
Die Strahlung, die in Abb. 2.1 angenommen wird, soll sich im Vakuum ausbreiten,
wo näherungsweise c0 = 3 · 108 m/s gilt. Gebräuchliche Einheiten für die Wel-
lenlängen sind Nanometer (1 nm = 10−9 m) oder Mikrometer (1 µm = 10−6 m).
Die Bereiche verschiedener Wellenlängen sind nicht präzise begrenzt. Die Ge-
biete können überlappen, wie z.B. beim Kontinuum von der Röntgen- bis zur
Gammastrahlung. In DIN 5031 sind die Wellenlängenbereiche genormt festgelegt.
Der enge Bereich elektromagnetischer Wellen von ungefähr 380 nm bis 780 nm
verursacht einen Sinneseindruck im menschlichen Auge und wird deshalb als
Licht bezeichnet. Diese sichtbare Region des Spektrums, die die Farben vom
Roten (langwelliges Ende) bis zum Violetten (kurzwelliges Ende) beinhaltet, ist
durch die unsichtbaren ultravioletten – 100 nm bis 380 nm – und infraroten –
780 nm bis 1 mm – Bereiche begrenzt. Diese drei Bereiche zusammen umfas-
sen die optische Strahlung, die nach DIN 5031 von λ = 100 nm bis ca. 1 mm
reicht.
2.2 Strahlungsphysikalische Größen (Radiometrie)

In der Strahlungsphysik beschäftigt man sich mit der Messung elektromagne-
tischer Strahlung. In diesem Kapitel führen wir die strahlungsphysikalischen
Größen ein, die zur Charakterisierung des Energieinhaltes der Strahlung be-
nutzt werden. Später diskutieren wir kurz einige der physikalischen Prinzipien,
die in Messgeräten zur Messung von Strahlung genutzt werden. In der Praxis
werden eine Vielzahl strahlungsphysikalischer Begriffe eingeführt und eingesetzt.
Wir führen hier nur die gebräuchlichsten an. Diese Größen und die zugehörigen
Einheiten sind in Tabelle 2.1 dargestellt.
Die strahlungsphysikalischen Größen erscheinen mit dem Index e“ (ener-
”
getisch), um sie von den ähnlichen lichttechnischen Begriffen zu unterscheiden.
Die Größen Strahlungsenergie Qe und Strahlungsfluss Φe einer Quelle bedürfen
2.2 Strahlungsphysikalische Größen (Radiometrie) 11
Abb. 2.1. Elektromagnetisches Spektrum als Funktion der Wellenlänge im Vakuum

und der Frequenz. Der kleine Bereich des sichtbaren Spektrums ist vergrößert heraus-
gezeichnet
keiner weiteren Erklärung. Die Strahlungsflussdichte auf einer Empfänger-Fläche

nennt man:
dΦe W
Bestrahlungsstärke Ee = mit [Ee ] = (2.2)
dA2 m2
Tabelle 2.1. Radiometrische und fotometrische Größen
Strahlungsphysikalische Größen Lichttechnische Größen

Benennung Zeichen Einheit Definition Benennung Zeichen Einheit
Strahlungs- Qe Ws Lichtmenge Q lm s
energie
dQe
Strahlungs- Φe W Φe = dt
Lichtstrom Φ lm
fluss
dΦe
Strahlstärke Ie W/sr Ie = dΩ
Lichtstärke I cd = lm/sr
2 dIe
Strahldichte Le W/(m sr) Le = dA1 cos ε
Leuchtdichte L cd/m2
Bestrahlungs- Ee W/m2 Ee = dΦe
dA2 Beleuchtungs- E lx = lm/m2
stärke stärke
dΦe,H
spezifische Me W/m2 Me = dA1
Ausstrahlung

Bestrahlung He Ws/m2 He = Ee dt Belichtung H lx s
Anmerkung: Φe,H ist der Strahlungsfluss einer Strahlungsquelle in den Halbraum,
dA1 = Flächenelement der Quelle, dA2 = Flächenelement des
Empfängers, s. Abb. 2.5
sr = sterad, lm = Lumen, cd = Candela, lx = Lux.
Die Strahlungsflussdichte einer Quelle, die den Strahlungsfluss dΦe,H vom

Flächenelement dA1 in den Halbraum strahlt, bezeichnet man als:
dΦe,H W
spezifische Ausstrahlung Me = mit [Me ] = (2.3)
dA1 m2
Den durch eine Punktquelle in eine gegebene Richtung (s. Abb. 2.2) emittier-
ten Strahlungsfluss Φe pro Raumwinkeleinheit dΩ nennt man:
dΦe W
Strahlstärke Ie = mit [Ie ] = (2.4)
dΩ sr
Die Strahlstärke Ie einer Kugel, die die Leistung Φe gleichförmig in alle Richtun-
gen abstrahlt, ist z.B. Φe /4π sr, da der Raumwinkel in diesem Fall 4π sr beträgt.
Abb. 2.2. Die Strahlstärke Ie = dΦ

dΩ
e
ist der Fluss pro Raumwinkeleinheit, dem hier
die Kreisfläche dA zugeordnet wurde. Es gilt dΩ = dA/r2
Die Änderung der Bestrahlungsstärke mit dem Abstand von der Quelle (s.
Abb. 2.3) ergibt sich, wenn man die Bestrahlungsstärke auf einer Kugelfläche,
die konzentrisch um die Punktquelle liegt, berechnet. Der Raumwinkel beträgt
4π und die Kugeloberfläche A = 4πr2 . Damit ist:
Φe 4πIe Ie
Ee = = = 2 (2.5)
A 4πr2 r
Abb. 2.3. Bestrahlungsstärke einer Punktquelle als Funktion des Abstandes. Der Fluss,
der von der Punktquelle ausgeht, verteilt sich über zunehmend größere Flächen und
bewirkt damit eine Bestrahlungsstärke, die mit 1/r 2 abnimmt
Die Strahldichte Le gibt die Strahlstärke der projizierten Quellenfläche (effek-

tive Senderfläche) an, die senkrecht zur Beobachtungsrichtung steht. Sie ist mit
(2.4) gegeben durch:
dIe d2 Φe W
Strahldichte Le = = mit [Le ] = (2.6)
dA1 cos ε dΩ dA1 cos ε sr m2
Im Folgenden wollen wir die Bedeutung der Strahlstärke für den besonderen
Fall eines Lambertschen Strahlers diskutieren. Die Strahlstärke wird für einen
vorgegebenen Raumwinkel durch die feste Aperturblende AB in der Entfernung
r von der strahlenden Oberfläche festgelegt, wie in Abb. 2.4 gezeigt. Die Blende
kann z.B. die Eingangsöffnung eines Messinstrumentes sein, das den gesamten
Strahlungsfluss, der durch die Öffnung eintritt, misst. In Richtung der Normalen
auf der Oberfläche beobachtet man bei ε die maximale Strahlstärke Ie0 . Bewegt
man die Apertur auf einem Kreis (Kugeloberfläche) mit dem Radius r, wobei man
den Winkel ε vergrößert, so nimmt von der Beobachtungsrichtung aus gemessen
die Strahlstärke proportional zu cos ε ab:
Abstrahlungscharakteristik
Ie (ε) = Ie0 cos ε (2.7)
eines Lambertschen Strahlers
Misst man die Strahldichte Le für jeden Winkel ε, so ist diese konstant, weil für
jeden Winkel die Bestrahlungsstärke durch die Fläche A1 cos ε dividiert wird, so
dass die Kosinusabhängigkeit verschwindet:
Ie (ε) Ie0 cos ε Ie0

Le = = = = konst. (2.8)
A1 cos ε A1 cos ε A1
Abb. 2.4. a) Strahlungsfluss entlang einer Beobachtungsrichtung, die unter dem Winkel
ε zur Normalen der abstrahlenden Oberfläche steht. Die strahlende Fläche ist gerastert,
ihre Projektion gestrichelt gezeichnet. b) Strahlstärke des Lambertschen Strahlers in
Abhängigkeit vom Abstrahlwinkel im Polardiagramm
Ist die Strahldichte einer strahlenden Oberfläche unabhängig vom Beobach-

tungswinkel, so handelt es sich um einen Lambertschen Strahler.
Für sogenannte Kugelstrahler gilt demgegenüber I(ε) = konst. Die Glühwen-

del einer Lampe wirkt in der Ebene, die die Achse der Wendel enthält wie ein
Lambertstrahler, in der Ebene senkrecht dazu wie ein Kugelstrahler.
Als Nächstes zeigen wir, dass die Strahldichte für einen Strahl, der sich in
einem homogenen, nicht absorbierenden Medium ausbreitet, überall denselben
Wert aufweist. Abbildung 2.5 zeigt einen Strahl in solch einem Medium, wobei
zur Übersicht nur der zentrale Strahl gezeichnet ist und das schmale umgebende
Strahlenbündel, das durch die Flächenelemente dA1 und dA2 geht, nicht gezeigt
wird. Der zentrale Strahl trifft relativ zu den Oberflächennormalen unter den
Winkeln ε1 und ε2 , auf die Flächen, so wie in Abb. 2.5 gezeigt. Der Raumwinkel
ist dΩ1 = dA2 cos ε2 /r2 , wobei dA2 cos ε2 die Projektion der Fläche dA2 darstellt.
Nach (2.6) erhält man für die Strahldichte L1 auf dA1 :
d2 Φe1 d2 Φe1
Le1 = = (2.9)
dΩ1 dA1 cos ε1 (dA2 cos ε2 /r2 ) dA1 cos ε1
In ähnlicher Weise erhalten wir bei Vertauschung von dA1 und dA2 in Abb. 2.5:
d2 Φe2 d2 Φe2
Le2 = = (2.10)
dΩ2 dA2 cos ε2 (dA1 cos ε1 /r2 ) dA2 cos ε2
Abb. 2.5. Nachweis der Erhaltung der Strahldichte in einem homogenen verlustfreien
Material
In einem nicht absorbierendem Medium bleibt die Leistung im Strahlenbündel

konstant, das bedeutet dΦe1 = dΦe2 , so dass wir aus (2.9) und (2.10) schließen
können, dass Le1 = Le2 ist. Daraus ergibt sich, dass die Strahldichte des Strahles
immer gleich der Strahldichte der Quelle ist, es gilt dann Le1 = Le2 = Le0 .
Betrachten wir als Nächstes Abb. 2.6 und untersuchen den Anteil der Strah-
lungsleistung, der das Flächenelement dA2 auf der Oberfläche A2 vom Flächen-
Abb. 2.6. Beleuchtung einer Fläche durch eine andere strahlende Oberfläche. Jedes
strahlende Flächenelement dA1 trägt zur Bestrahlung jedes bestrahlten Flächenelemen-
tes dA2 bei
element dA1 der Quellenfläche A1 erreicht. Die Verbindungslinie der Flächenele-

mente hat die Länge r12 und bildet mit den Oberflächennormalen die Winkel ε1
und ε2 .
Die Strahlungsleistung beträgt d2 Φe12 . Mit (2.9) und (2.10) erhält man:
Le cos ε1 cos ε2
d2 Φe12 = 2 dA1 dA2
r12
und für die Gesamtstrahlungsleistung auf der gesamten zweiten Oberfläche auf-
grund der Einstrahlung von der gesamten ersten Fläche durch Integration

Le cos ε1 cos ε2
Φe12 = 2 dA1 dA2 (2.11)
A1 A2 r12
Hieraus ergibt sich für die Abstrahlung in den Halbraum:
Lambertscher Strahler Φe = πIe0 Ω0

(2.12)
Kugelstrahler Φe = 2πIe0 Ω0
mit Ω0 = 1 sr als Einheits“-Raumwinkel.

”
Da wir bei dieser Integration die Leistung und nicht die Amplituden ad-
diert haben, nehmen wir stillschweigend an, dass die Strahlungsquelle inkohären-
te Strahlung emittiert. In einem späteren Kapitel werden wir uns ausführlicher
mit der Addition inkohärenter und kohärenter Strahlung beschäftigen.
2.3 Lichttechnische Größen (Fotometrie)

Die strahlungsphysikalischen (radiometrischen) Größen kennzeichnen die Strah-
lungsenergie bei allen Wellenlängen. Bei der Fotometrie beschränkt man sich
2.3 Lichttechnische Größen (Fotometrie) 17
auf den sichtbaren Anteil des optischen Spektrums. Die Radiometrie ist eine
rein physikalische Messung, während bei der Fotometrie die Empfindlichkeit des
menschlichen Auges für verschiedene Wellenlängen berücksichtigt wird und man
deshalb physiologisch-physikalische Messungen durchführt. Damit berücksichtigt
man, dass das menschliche Auge als Detektor keine konstante spektrale Empfind-
lichkeit aufweist; die Nachweisempfindlichkeit für verschiedene Wellenlängen ist
unterschiedlich. Betrachtet man drei Lichtquellen von gleicher Strahlungsdichte,
die z.B. blaues, gelbes und rotes Licht aussenden, so wird die gelbe Lichtquel-
le viel heller erscheinen als die anderen. Benutzt man fotometrische Einheiten,
so misst man die Eigenschaften der sichtbaren Strahlung so, wie sie dem nor-
malen Auge erscheinen und nicht wie sie ein physikalischer Detektor nachweist.
Da (glücklicherweise) nicht alle menschlichen Augen identisch sind, hat man ei-
ne Standardempfindlichkeit festgelegt, die in Abb. 2.7 gezeigt ist. Hier ist die
relative Helligkeitsempfindlichkeit des Auges gegen die Wellenlänge (spektraler
Hellempfindlichkeitsgrad nach DIN 5031, Blatt 3) aufgetragen. Man sieht, dass
die maximale Empfindlichkeit bei der gelb-grünen Wellenlänge von 555 nm auf-
tritt. Dies gilt für die Empfindlichkeit des Auges für photopische Anpassung
(Zapfensehen), also bei Tag. Für kleinere Beleuchtungsstärken, wenn das Au-
ge auf skotopische Anpassung (Stäbchensehen) adaptiert ist, verschiebt sich das
Maximum der Kurve zum Grünen hin und liegt bei 507 nm. Der menschliche
Farbeindruck ist eine Funktion der Beleuchtungsstärke, bei sehr niedrigen Be-
leuchtungsstärken hat man keinerlei Farbeindruck mehr. Eine Möglichkeit dies
nachzuweisen, ist der Vergleich der Farben von Sternen, wie sie dem Auge er-
scheinen, mit Farbfotografien.
Die Abhängigkeit der Farbempfindung von einer minimalen Beleuchtung
lässt sich durch Projektion eines Farbdias auf einen Schirm mit sehr niedri-
ger Stromstärke der Projektorglühlampe zeigen. Bei sehr kleinen elektrischen
Strömen erscheint das Farbdia auf dem Schirm schwarz-weiß, bzw. in Grautönen.
Erst bei Steigerung der Stromstärke über einen Grenzwert erhält man ein far-
biges Bild. Andererseits kann man sehr intensive Strahlung auch jenseits der
Wellenlängengrenze der Standard-Augenempfindlichkeit sehen. So ist die Infra-
rotstrahlung eines Gallium-Arsenid-(GaAs-) Halbleiterlasers bei ca. 900 nm als
tiefes Rot wahrnehmbar.
Die radiometrischen Größen hängen mit den fotometrischen Größen über die
Augenempfindlichkeitskurve der Abb. 2.7 in der folgenden Weise zusammen: Ei-
nem Strahlungsfluss von 1 W bei der Peakwellenlänge 555 nm, wo die Augenemp-
findlichkeit für Tagessehen maximal ist, entspricht ein Lichtstrom von 683 lm (Lu-
men). Dieser Wert genügt der neuen Definition der Basiseinheit Candela; in der
DIN 5031 ist noch 685 lm/W angegeben. Dann entspricht z.B. bei λ = 610 nm,
wo die Augenempfindlichkeit 0,5 (oder 50%) beträgt, 1 W Strahlungsfluss einem
Lichtstrom von Φ = 0,5·683 lm = 341,5 lm. Die Kurve zeigt, dass bei λ = 510 nm,
im Blau-Grünen, der Helligkeitseindruck wieder auf 50% abgefallen ist. Fotome-
trische Einheiten entsprechen in ihrer Definition radiometrischen Einheiten. Dies
Abb. 2.7. Standardisierter spektraler Hellempfindlichkeitsgrad des menschlichen Auges

(DIN 5031). V (λ): Tagessehen (photopische Anpassung). V (λ): Nachtsehen (skotopi-
sche Anpassung). Der Lichtstrom Φ beschreibt den Helligkeitseindruck, z.B. Tagessehen:
Φ = Km Φe V (λ), wobei Km = 683 lm/W der Maximalwert des fotometrischen Strah-
lungsäquivalentes bei Tagessehen ist
ist in Tab. 2.1 gezeigt. Im Allgemeinen werden entsprechende Größen durch die
folgende Gleichung zueinander in Beziehung gesetzt
fotometrische Größe = K(λ) · radiometrische Größe (2.13)
wobei K(λ) die absolute spektrale Empfindlichkeit für monochromatische Strah-

lung der Wellenlänge λ angibt. V (λ) ist der spektrale Hellempfindlichkeitsgrad für
das Tagessehen und V (λ) der spektrale Hellempfindlichkeitsgrad für das Nacht-
sehen, wie durch die DIN-Kurve angegeben; damit gilt für die absolute spektrale
Empfindlichkeit für Tages- und Nachtsehen:
Tagessehen K(λ) = Km · V (λ) mit Km = 683 lm

W (2.14)
Nachtsehen K (λ) = Km

· V (λ) mit Km

= 1699 lm
W
2.4 Schwarzer Strahler (Hohlraumstrahler) 19
wobei Km der Maximalwert des fotometrischen Strahlungsäquivalentes für das

Tagessehen und Km für das Nachtsehen ist.
Fotometrische (lichttechnische) Größen werden durch das vorangestellte Wort
Licht- (Leucht-) gekennzeichnet und weisen die gleichen Formelzeichen wie die
strahlungsphysikalischen Größen auf, nur der Index e“ wird weggelassen. Die
”
Einheit des Lichtstroms Φ ist das Lumen, die Einheit der Lichtstärke I die Can-
dela (cd), die der Leuchtdichte L ist Candela/m2 und die der Beleuchtungsstärke
E ist Lux (lx = lm/m2 ).
Beispiel 2.1 Strahlungsphysikalische und lichttechnische Größen
einer Glühlampe
Eine Glühlampe, die 10 W Strahlungsleistung abgibt, befindet sich 2 m von
einer Oberfläche entfernt. Die Oberfläche steht senkrecht zur Verbindungslinie
zwischen der Glühlampe und der Oberfläche. Berechnen Sie die Bestrahlungs-
stärke auf der Oberfläche. Ermitteln Sie die Beleuchtungsstärke unter der
Annahme, dass die 10 W von einer roten Glühbirne bei λ = 650 nm emittiert
werden.
Lösung
10 W
Bestrahlungsstärke Ee = PA = 4π(2m) W
2 = 0,2 m2
Aus der DIN-Kurve erhält man V (650 nm) ≈ 0,1. Damit ergibt sich die
Beleuchtungsstärke: E = K(λ) · Ee = Km · V (λ) · Ee :
lm W lm
E = 683 · 0,1 · 0,2 2 = 13,7 2 = 13,7 lx
W m m
Damit würde man mit einem Radiometer 2 W/m2 und mit einem Fotometer
13,7 lx messen.
Bei polychromatischer Strahlung sind die radiometrischen und fotometrischen

Größen im Allgemeinen Funktionen der Wellenlänge. Diese Abhängigkeit kenn-
zeichnet man durch Vorstellen des Wortes spektral und durch Zusatz des Index
λ“ oder durch Hinzufügen des Buchstabens λ in Klammern. Man gibt z.B. den
”
spektralen Strahlungsfluss durch Φeλ = dΦ dλ an. Der gesamte Strahlungsfluss er-
e
gibt sich dann durch Integration über den entsprechenden Wellenlängenbereich:

λ2
Φe = Φeλ (λ) dλ
λ1
2.4 Schwarzer Strahler (Hohlraumstrahler)
Ein schwarzer Strahler ist ein idealer Absorber: Die gesamte Strahlung, die auf
ihn einfällt, wird unabhängig von Einfallswinkel oder Wellenlänge vollständig
absorbiert. Ein schwarzer Strahler ist auch eine ideale Strahlungsquelle: Keine
Oberfläche, die dieselbe Temperatur wie der schwarze Strahler aufweist, kann
im thermischen Gleichgewicht mehr Strahlung als dieser abgeben. In der Praxis
realisiert man ihn durch eine geschwärzte Oberfläche oder durch einen Hohl-
raumstrahler mit schwarzen Innenflächen, der eine im Verhältnis zur inneren
Oberfläche sehr kleine Öffnung aufweist. Ein einfaches Beispiel für einen schwar-
zen Strahler ist eine Oberfläche, die durch die scharfen Kanten eines Stapels von
Rasierklingen gebildet wird. Die Anordnung der Rasierklingenkanten absorbiert
das einfallende Licht aufgrund der Vielfachreflexion fast vollständig.
Die spezifische spektrale Ausstrahlung Meλ ist durch Max Planck berechnet
worden. Er fand, dass der Strahlungsprozess und der Absorptionsprozess quan-
tisiert sein müssen. Das Ergebnis dieser Berechnung ergibt für die spezifische
spektrale Ausstrahlung

2πhc20 1
Meλ = (2.15)
λ5 ehc0 /λkT − 1
wobei die physikalischen Konstanten h, c0 und k die Plancksche Konstante, die
Vakuumlichtgeschwindigkeit und die Boltzmann-Konstante darstellen. Setzt man
die bekannten Werte dieser Konstanten ein, so erhält man das

Plancksches 3,742 · 108 1 W
Meλ = (2.16)
Strahlungsgesetz λ5 e 14388/λT − 1 m µm
2
wobei man λ in µm (Mikrometer) und T in K (Kelvin) einsetzt. Meλ ist in

Abb. 2.8 für verschiedene Temperaturen dargestellt. Die spezifische spektrale
Ausstrahlung nimmt bei jeder Wellenlänge mit der absoluten Temperatur zu.
Das Maximum der Kurven verschiebt sich mit zunehmender Temperatur zu
kürzeren Wellenlängen und fällt für T = 5000 und 6000 K in den Bereich des sicht-
baren Spektrums (gestrichelte vertikale Linien). Die Änderung der Wellenlänge
λmax , bei der die spezifische spektrale Ausstrahlung maximal ist, mit der Tempe-
ratur findet man durch Differenzieren von Meλ nach λ und nachfolgendes Null-
setzen der entsprechenden Gleichung. Man erhält:
Wiensches hc
λmax T = = 2,8971 · 103 µm K (2.17)
Verschiebungsgesetz 4,966k
Das Wiensche Verschiebungsgesetz ist durch die fett gestrichelte Kurve in Abb. 2.8
veranschaulicht. Integriert man die spezifische spektrale Ausstrahlung von (2.16)
über alle Wellenlängen, so erhält man die gesamte spezifische spektrale Ausstrah-
lung Me als Fläche unter der Schwarzkörperstrahlungskurve bei der Temperatur T :
Stefan-Boltzmann-Gesetz Me = σ T 4 (2.18)
2.4 Schwarzer Strahler (Hohlraumstrahler) 21
Abb. 2.8. Spektrale Verteilung der Schwarzkörperstrahlung für vier verschiedene Tem-
peraturen. Die vertikalen, gestrichelten Linien kennzeichnen das sichtbare Spektrum und
die fett gestrichelte Linie, die die Maxima der vier Kurven verbindet, kennzeichnet das
Wiensche Verschiebungsgesetz
wobei die Stefan-Boltzmann-Konstante σ = 5,670 · 10−8 W/(m2 K4 ) ist.

Die Strahlung von realen Oberflächen ist immer geringer als die einer Schwarz-
körper - oder Planckschen Strahlungsquelle, was man durch die Angabe des Emis-
sionsgrades εE berücksichtigt. Unterscheidet man nun zwischen der spezifischen
spektralen Ausstrahlung Meλ,p eines zu untersuchenden Probekörpers und der
des schwarzen Strahlers Meλ,s bei gleicher Temperatur, so erhalten wir:
Meλ,p
εE (λ) = (2.19)
Meλ,s
Das Verhältnis εE (λ) der spektralen Ausstrahlungen ist im Allgemeinen wel-

lenlängenabhängig. In den Spezialfällen, bei denen εE (λ) = konst. unabhängig
von der Wellenlänge ist, nennt man den Probekörper einen grauen Strahler . In
diesem Fall ist die spektrale Ausstrahlung des Probekörpers immer proportional
zu der des schwarzen Strahlers, und die Kurven unterscheiden sich nur um einen
konstanten Faktor. So ist z.B. die spezifische spektrale Ausstrahlung eines heißen
Wolframfadens sehr ähnlich der eines grauen Strahlers mit εE = 0,4 − 0,5.
Die Schwarzkörperstrahlung kann man zur Definition einer Farbskala in Ein-
heiten der absoluten Temperatur benutzen. Die Farbtemperatur einer Probelicht-
quelle ist dann die Temperatur eines schwarzen Strahlers, der in seiner spektralen
Verteilung Meλ dieser Quelle in einem bestimmten Spektralbereich so nahe wie
möglich kommt. In diesem Sinne sagt man, dass z.B. eine Kerzenflamme eine
Farbtemperatur von 1900 K aufweist, während die Sonne eine typische Farbtem-
peratur von 5500 K besitzt.
2.5 Optische Strahlungsquellen

Wir kennen natürliche Strahlungsquellen, wie z.B. das Sonnenlicht oder das
Streulicht vom Himmel, oder künstliche Lichtquellen, wie z.B. Glühlampen oder
Gasentladungslampen. Das Licht der verschiedenen Quellen kann monochroma-
tisch bzw. spektral kontinuierlich verteilt sein oder aus einzelnen Spektrallinien
bestehen. Die Verteilung der Strahlungsenergie über die Wellenlänge bestimmt
die Farbe des Lichtes und damit die Farbe der Oberflächen, die man bei Be-
leuchtung mit diesem Licht sieht. Jeder der einen Fotoapparat benutzt, ist sich
bewusst, dass die auf dem Film registrierte Farbe des Objektes von der Art der
Lichtquelle, die man zur Beleuchtung benutzt, abhängt. Lichtquellen wandeln
zugeführte Energie nur teilweise in Strahlungsenergie um. Bei den Temperatur-
strahlern wird die zugeführte Energie zunächst in Wärmeenergie umgewandelt
und dann vom erwärmten Körper als Strahlung abgegeben. Bei den Lumines-
zensstrahlern wird die zugeführte Energie sofort in innere Energie, z.B. eines
Atoms durch Anregung gebundener Elektronen, umgewandelt. Die abgegebene
Strahlung ist für die jeweiligen Atome (Moleküle) charakteristisch.
Der folgende kurze, nicht vollständige Überblick klassifiziert die Lichtquellen
in folgender Weise:
Natürliche Lichtquellen
Sonnenlicht, Streulicht vom Himmel
Temperaturstrahler
schwarze Strahler
Globarquellen
Glühlampen
Hochintensive Lichtbogenquellen
2.5 Optische Strahlungsquellen 23
Lumineszenzstrahler
Entladungslampen
Leuchtstoffröhren
Halbleiterdioden (LED)
kohärente Lichtquellen (Laser)
Das Tageslicht besteht aus direkter Sonnenstrahlung und Streulicht vom Him-
mel. Das direkt von der Sonne kommende Licht hat eine spektrale Verteilung, die
deutlich verschieden vom Streulicht des Himmels ist, das vorwiegend blaue Farb-
komponenten aufweist. Die spektrale solare Bestrahlungsstärke ist in Abb. 2.9
dargestellt.
Abb. 2.9. Solare Bestrahlungsstärke oberhalb der Erdatmosphäre bzw. auf Meeres-
niveau bei klarer Sicht und Sonne im Zenith
Die extraterrestrische solare Strahlung zeigt, dass sich die Sonne annähernd
wie ein Schwarzkörperstrahler mit der Temperatur 6000 K im Zentrum der Son-
nenscheibe und ca. 5000 K am Rand verhält. Die Strahlung, die auf der Erd-
oberfläche eintrifft, wird durch die Absorption in der Erdatmosphäre verändert.
Die gesamte Bestrahlungsstärke Ee gerade außerhalb der Erdatmosphäre ist die
Solarkonstante mit 1355 W/m2 . Steht die Sonne im Zenith, so ist die Bestrah-
lungsstärke auf einer horizontalen, ebenen Fläche Ee = 1120 W/m2 . Dies gilt
für einen wolkenlosen Himmel. Man setzt die solare Strahlung gewöhnlich nicht
als Lichtquelle im Labor ein, sondern verwendet Hochdruck-Xenonlampen mit
geeigneten Filtern zur Simulation dieser Strahlung.
Künstliche optische Strahlungsquellen, die Licht aufgrund des Aufheizens von
Materie, z.B. durch elektrischen Strom, emittieren, nennt man Temperaturstrah-
ler. Die Strahlungsenergie wird über ein breites Kontinuum von Wellenlängen
abgegeben. Käufliche schwarze Strahler bestehen aus einem Hohlraum, der ein
kleines Loch aufweist. Diese Anordnung hat einen konstanten, wellenlängenun-
abhängigen Emissionsgrad, der fast gleich 1 ist. Solche Strahlungsquellen sind für
Betriebstemperaturen im Bereich von flüssigem Stickstoff (-196◦ C, 77 K) bis zu
Temperaturen von 300◦ C erhältlich. Eine Glühlampe, die besonders im infraro-
ten Bereich nützlich ist, ist die sogenannte Nernstquelle. Diese Quelle besteht aus
einem zylindrischen Rohr oder einem Stab aus Zirkon-, Yttrium- und Thorium-
oxid, der durch elektrischen Strom geheizt wird. Der nutzbare Spektralbereich
reicht vom Sichtbaren bis zu 30 µm. Die Nernstquelle verhält sich wie ein grau-
er Strahler mit einem Emissionsgrad größer 0,75. Benutzt man als Stabmaterial
gesintertes Siliziumkarbid, so erhält man den sogenannten Globarstrahler mit ei-
nem Emissionsgrad von 0,88 und der Charakteristik eines grauen Strahlers (s.
Abb. 2.10).
Abb. 2.10. Infrarot-Strahlungsquelle (Globar) mit kontinuierlichem Spektrum von 1

bis 25 µm. Die Quelle besteht aus einem Siliziumkarbid-Widerstand von 6 mm Durch-
messer bei ca. 1000 K
Die Wolfram-Glühfadenlampe ist eine häufig benutzte Quelle für optische

Instrumente. Sie gibt kontinuierliche Strahlung im sichtbaren und infraroten Be-
reich ab. Diese Lampe gibt es in einer großen Auswahl von Glühfadenformen
und Ausführungen des Glaskolbens. Der Glühfaden kann als Wendel oder als
Bändchen ausgebildet sein. Ein flaches Band liefert eine sehr homogene strahlen-
de Oberfläche. Der Glaskolben besteht für Anwendungen bei hoher Temperatur
aus Quarzglas. Die Strahlung im sichtbaren Bereich ist der eines grauen Strah-
lers sehr ähnlich, der Emissionsgrad erreicht Werte von 1, wenn der Glühfaden
sehr eng gewendelt ist. Die fotometrische (lichttechnische) Emission hängt von
der Glühfadentemperatur und der elektrischen Stromstärke ab. Wenn die Lampe
in Betrieb ist, dampft vom Glühfaden immer etwas Wolfram ab und lagert sich
auf der Innenseite des Glaskolbens ab. Man erhält dort einen dunklen Film, der
den Lichtstrom der Lampe über die Lebensdauer bis zu 20% vermindern kann.
Dieser Prozess führt zu einem dünneren Glühdraht und erhöht damit den elek-
trischen Widerstand. Füllt man den Glaskolben bei einem Druck von 0,8 bar mit
einem chemisch nicht reaktiven Gas, gewöhnlich Stickstoff oder Argon, so kann
man diesen Verdampfungsprozess verlangsamen. Dieses Problem hat man noch
besser bei der Quarzhalogen- oder Wolframhalogen-Lampe durch Zusatz von Ha-
logendämpfen (Jod, Brom) zum Gas gelöst. Der Halogendampf bewirkt in einem
regenerativen Zyklus, dass der Glaskolben von Wolfram frei bleibt. Jod reagiert
mit dem Wolframniederschlag auf dem Glas zum gasförmigen Reaktionsprodukt
Wolframjodid, das auf dem heißen Glühdraht nur bei Standardbedingungen (ho-
he Temperaturen) wieder dissoziiert und dabei Wolfram und Jod freisetzt. Eine
typische spektrale Bestrahlungskurve einer 100 W-Quarzhalogenglühlampe ist in
Abb. 2.11 gegeben.
Als hochintensive Punktstrahlungsquelle setzt man die Zirkon-Bogenlampe
ein, wobei die elektrische Anschlussleistung zwischen 1 und 500 W variiert. Man
benutzt eine Oxidkathode in einer Argonatmosphäre und erzeugt zusätzlich Zir-
kondampf. Strahlung wird durch Glühemission der schmelzenden Kathodenober-
fläche sowie durch den angeregten Zirkondampf und das Argongas erzeugt. Sie
wird durch ein kleines Loch von 0,1 bis 3 mm Durchmesser emittiert, das sich
in der metallischen Anode befindet. Die spektrale Verteilung entspricht der ei-
nes grauen Strahlers bei 3200 K. Eine Quecksilberdampf-Kurzbogenlampe mit
Pel = 200 W liefert L = 40 000 cd/cm2, in anderen Ausführungen erreicht man
Leuchtdichten bis L = 220 000 cd/cm2. Die Lampe entspricht einem grauen Strah-
ler von 3000 K und liefert kontinuierliche Strahlung von 0,3 µm bis 2,5 µm.
Bei der Wolframbogenlampe heizt eine Bogenentladung zwischen zwei Wolf-
ramelektroden die Elektroden in einer Atmosphäre von Argon so weit auf, dass
man eine spektrale Strahlungsverteilung ähnlich der einer Wolframlampe von
3100 K erhält.
Für hohe Leuchtdichten muss man andere Lampenkonstruktionen verwenden.
Die älteste Quelle dieser Art ist die Kohle-Lichtbogenlampe, die immer noch als
Projektorlampe eingesetzt wird. Der Hochstromlichtbogen entsteht zwischen zwei
Abb. 2.11. Spektrale Strahlungsstärke einer 10 W Quarzhalogenlampe, die kontinuier-

liche Strahlung von 0,3 bis 2,5 µm liefert
Kohlestäben in Luft. Eine 200 A-Kohlebogenlampe hat eine maximale Leucht-

dichte von 160 000 cd/cm2 mit einer spektrale Verteilung, die der eines grauen
Strahlers von 6000 K ähnlich ist. Durch Einsatz verschiedener Materialien im
Kern des Kohlestabes kann man einen großen Bereich von spektralen Verteilun-
gen abdecken. Wenn man um den Lichtbogen herum den Gasdruck stark erhöht,
erhält man eine Hochdruckbogenlampe und die Strahlung weist sowohl Linien
als auch ein kontinuierliches Spektrum auf.
Abbildung 2.12 zeigt eine solche Lampe mit Gehäuse. Die gebräuchlichste die-
ser Lampen, die elektrische Anschlussleistungen von Pel = 50 W bis Pel = 50 kW
aufweist, ist die Hochdruck-Quecksilberbogenlampe, die eine vergleichsweise ge-
ringe kontinuierliche Strahlung, aber starke Spektrallinien aufweist und eine
gute Strahlungsquelle im Ultravioletten ist. Die Xenonlampe emittiert konti-
nuierliche Strahlung vom nahen Ultraviolett über das Sichtbare bis zum na-
hen Infrarot; die Quecksilber-Xenon-Bogenlampe liefert eine Überlagerung des
Quecksilberspektrums mit der kontinuierlichen Strahlung des Xenons und ein
Xenon-Linienspektrum bei 0,8 µm bis 1 µm. Wie schon vorher beschrieben, ist
die Farbqualität der Xenon-Lampe mit einer Farbtemperatur von 6000 K ähnlich
der des Sonnenlichtes. Spektrale Emissionskurven der Xenon- und Quecksilber-
Xenonlampe sind in den Abbildungen 2.13 und 2.14 gezeigt. Eine Xenon-Kurz-
bogenlampe mit 250 W elektrischer Anschlussleistung liefert Leuchtdichten bis
zu 26 000 cd/cm2 .
Die Wasserstoff - und Deuterium-Bogenlampen sind vor allem für die Ultra-
violett-Spektroskopie geeignet, da sie im Ultravioletten ein kontinuierliches Spekt-
rum bei hoher Leuchtdichte abgeben. Abbildung 2.15 zeigt die typische spektrale
Emission einer Deuterium-Lampe, die ein linienfreies Kontinuum von 180 nm bis
400 nm liefert.
Abb. 2.12. Kurzbogenlichtquelle: a) Kurzbogenlampe, b) Lampe mit rückseitigem

Spiegel und vorgesetzter Optik im Gehäuse der Lichtquelle eingebaut
In der Gasentladungslampe, die zu den Luminiszenzstrahlern gehört, fließt

über zwei Elektroden ein Strom durch das ionisierte Gas, das in einer Glas-
oder Quarzröhre eingeschlossen ist. Glas absorbiert ultraviolette Strahlung un-
terhalb ungefähr 400 nm, wogegen Quarz bis 180 nm durchlässig ist. Das elektri-
sche Feld zwischen den Elektroden beschleunigt die Elektronen so hoch, dass sie
die Gasatome ionisieren können. Als Elektronenquelle kann man eine geheizte
Kathode (Glühemission), ein starkes elektrisches Feld an der Kathode (Feldemis-
sion) oder den Stoß von positiven Ionen auf die Kathodenoberfläche (sekundäre
Emission) einsetzen. Beim Übergang der angeregten Gasatome in energetisch
tiefer liegende Zustände wird Energie in Form von Strahlung (Photonen) frei.
Betriebsbedingungen wie hoher Druck oder hohe Temperatur ergeben im All-
gemeinen eine kontinuierliche spektrale Verteilung, zusätzlich zu den verbreiter-
ten Spektrallinien des Gases. Man erreicht Leuchtdichten bis 1100 cd/cm2 für
Pel = 250 W. Bei niedrigem Druck und niedrigen Stromstärken treten schar-
fe Spektrallinien auf und der kontinuierliche Hintergrund wird sehr klein. Diese
Abb. 2.13. Spektrale Emission einer Hochdruck-Xenon-Kurzbogenlampe
Abb. 2.14. Spektrale Emission einer Niederdruck-Quecksilber-Xenon-Bogenlampe

Abb. 2.15. Spektrale Emission einer Niederdruck-Deuterium-Bogenlampe bei 50 W
Betriebsbedingungen setzt man für scharfe Spektrallinien in monochromatischen

Quellen ein. Die Natriumentladungslampe liefert als Spektrallampe nur Strah-
lung in einem engen Bereich, der aus den gelben Spektrallinien bei 589,0 und
589,6 nm besteht. Monochromatische Strahlung bei Wellenlängen von 404,7 nm
(violett), 534,8 nm und 546,1 nm (grün) und 577,0 und 579,1 nm (gelb) liefert die
Quecksilber-Niederdruck-Gasentladungslampe. Mit anderen Gasen oder Dämpfen
erzeugt man Spektrallinien bei anderen Wellenlängen. Für hohe spektrale Rein-
heit benötigt man Gase, die isotopenrein sind.
Blitzlampen sind intensive Strahlungsquellen für sichtbare Strahlung und
Strahlung in nahem Infrarot. Bei diesen Lampen wird durch die Entladung eines
Kondensators mit hohem Strom eine kurzzeitige Gasentladung erreicht. Meis-
tens benutzt man Xenon als Füllgas. Blitzlampen für den einmaligen Gebrauch
liefern hochintensive Lichtblitze durch die schnelle Verbrennung von metallischer
(Aluminium- oder Zirkon-) Folie oder Draht in einer reinen Sauerstoffatmosphäre.
In den Leuchtstofflampen erfolgt eine Quecksilberdampf-Gasentladung bei
niedrigem Druck und niedrigen Stromstärken. Die ultraviolette Strahlung der
angeregten Quecksilberatome wird in der Leuchtstoffbeschichtung auf der In-
nenseite der Glasröhre durch Fluoreszenz in sichtbares Licht umgewandelt. Die
spektrale Verteilung hängt von den Eigenschaften des verwendeten Leuchtstoffs
ab. Tageslicht-Lampen weisen z.B. eine Mischung von Zink-Beryllium-Silikat und
Magnesium-Wolframat auf.
Die Leuchtdiode (LED) hat sich in der Gegenwart (2004) von einer Licht-
quelle niedriger Leuchtdichte zu einer Hochleistungslichtquelle entwickelt, deren
optoelektrischer Wirkungsgrad vergleichbar mit dem der Hochdruckgasentladun-
gen (z.B. Xe) ist. Das Licht wird – im Unterschied zu den vorher beschriebenen
Quellen – in einem pn-Übergang in Halbleitern erzeugt. Der Dioden-Chip be-
findet sich in einem gasdicht abgeschlossenen Gehäuse. Wenn man eine kleine
Spannung (einige Volt) in Durchlassrichtung der Diode anlegt, werden Photo-
nen durch die Rekombination von Elektronen und Löchern in der Umgebung der
pn-Grenzschicht erzeugt. Verfügbare LEDs reichen von der In-Ga-As-P-(Indium-
Gallium-Arsenid-Phosphid-) Infrarotdiode, die bei einer Wellenlänge von ca.
1,2 µm maximal emittiert, bis zur GaN-(Gallium-Nitrid-) Diode, die bei 400 nm
violettes Licht abgibt. Die Leuchtdioden liefern eine spektrale Verteilung mit
einer Halbwertsbreite (Wellenlängendifferenz in halber Höhe der spektralen Ver-
teilung) von ∆λ = 35 nm im Infrarot (λ ≈ 900 nm) bis ∆λ = 6 nm im Violett
(λ ≈ 400 nm), wie in Abb. 2.16 gezeigt. Ändert man die Zusammensetzung des
Halbleitermaterials, so kann man in einem weiten Spektralbereich Strahlung er-
zeugen. Eine LED kann auch – mit Abstrichen an der Farbqualität – weißes“
”
Licht abgeben. Hierbei wird die kurzwellige Strahlung aus der pn-Schicht durch
eine geeignete Fluoreszenzschicht auf dem Chip in Licht umgewandelt. Höchste
Leuchtdichten werden mit Dünnfilm-LEDs erreicht. Sie haben nur eine dünne,
Licht erzeugende Schicht, die so nahe an der Oberfläche ist, dass sie fast das ge-
samte, intern mit hohem Wirkungsgrad (> 100 lm/W) erzeugte, Licht nach oben
abgeben. Die Leuchtdichten einer LED mit einer Fläche von 350 µm × 350 µm
erreichen Werte von 2,5 · 106 cd/m2 . Eine andere Klasse von LEDs, die OLEDs
(organische LEDs, organische Verbindungen als lichtabgebende Schicht) wird für
die Anzeigen (Displays) in Mobiltelefonen oder anderen elektronischen Geräten
eingesetzt. Da diese Anzeigen dünn sind, kann die Bauhöhe sehr gering sein.
Abb. 2.16. Spektren von Leuchtdioden
Der Laser ist eine sehr wichtige moderne Lichtquelle, die kohärente und mono-
chromatische Strahlung bei sehr hoher Intensität im ultravioletten, sichtbaren
2.6 Strahlungsdetektoren 31
und infraroten Bereich abgibt. Wegen der zentralen Rolle, die der Laser als opti-
sches Instrument spielt, wird er in den Kapiteln 21–23 ausführlich behandelt.
2.6 Strahlungsdetektoren
Jede Vorrichtung, die eine messbare physikalische Antwort auf die einfallen-
de Strahlungsenergie liefert, ist ein Detektor. Der gebräuchlichste Detektor ist
natürlich das Auge, das einen subjektiven Eindruck liefert. Die im Folgenden
diskutierten Detektoren erlauben eine quantitative und objektive Messung. Das
Auge spielt beim menschlichen Sehen eine entscheidende Rolle und wird deshalb
in Kapitel 7 ausführlich behandelt.
Abb. 2.17. a) Thermoelement, das aus verschiedenen Materialien (dunkle und hel-
le Linien) aufgebaut ist, die an den Punkten T1 und T2 verbunden sind, wobei eine
Temperaturdifferenz an den Verbindungsstellen eine Spannung an den Enden ergibt.
b) Reihenschaltung von Thermoelementen (Thermosäule, Thermopile). Strahlung wird
an den Verbindungsstellen T1 , die in thermischem Kontakt mit einem schwarzen Ab-
sorber sind, absorbiert; die Verbindungsstellen T2 sind von den Stellen T1 thermisch
isoliert. c) Industrielle Ausführung, äußerer Durchmesser ca. 3 mm. Die Thermoelemen-
te (Antimon-Wismut) werden auf eine dünne Folie im Vakuum aufgedampft
Die gebräuchlichsten Detektoren kann man wie folgt klassifizieren:

Thermische Detektoren
Thermoelemente und Thermosäulen (Thermopiles)
Bolometer und Thermistoren
Pyroelektrische Detektoren
Pneumatische oder Golay-Detektoren
Quantendetektoren
Vakuum-Photozelle, Photomultiplier (Sekundärelektronenvervielfacher)
Photowiderstand
Photoelement, Solarzelle
Photodiode
Fotografischer Film
Wenn die primäre Antwort eines Detektors auf einfallende Strahlung ein Tem-
peraturanstieg ist, so nennt man dieses Gerät einen thermischen Detektor. Die
Empfängerfläche ist gewöhnlich ein dünner, geschwärzter Metallstreifen oder ein
Plättchen eines Halbleitermaterials, die über alle Wellenlängen effizient absor-
bieren. Ein Gerät, in dem die Temperaturdifferenz an zwei Verbindungsstellen
verschiedener Metalle oder unterschiedlich dotierter Halbleiter eine Spannung er-
zeugt, nennt man Thermoelement (s. Abb. 2.17 a). Dieser Effekt lässt sich durch
die Reihenschaltung von Thermoelementen verstärken. Diesen Detektor nennt
man Thermosäule (Thermopile, s. Abb. 2.17 b). Es gibt auch thermische Detek-
toren, bei denen ein Widerstandskörper insgesamt seine Temperatur verändert
und man diese Widerstandsänderung misst. In einer solchen Messvorrichtung
wird als Messelement entweder ein Metall (Bolometer ) oder häufiger ein Halblei-
ter (Thermistor ) eingesetzt. Typischerweise benutzt man zwei geschwärzte emp-
findliche Elemente in benachbarten Zweigen einer Brückenschaltung, wobei ein
Element der einfallenden Strahlung ausgesetzt ist und das andere abgeschirmt
wird. Aufgrund der Widerstandsänderung tritt ein Brückenstrom auf, der zur
Messung der Strahlung genutzt wird. Im pyroelektrischen Detektor bewirkt die
Temperaturänderung eine Veränderung der Oberflächenladung von bestimmten
Materialien, wie z.B. Lithiumtantalat (LiTaO3 ) oder Triglyzinsulfat (TGS), die
den pyroelektrischen Effekt zeigen. Der Detektor reagiert nur auf Strahlungsände-
rungen. Bei zeitlich konstanter Strahlung liefert er kein Signal. Die Golay-Zelle
benutzt zum Nachweis die thermische Ausdehnung eines Gases. Die von einer
geschwärzten Membran absorbierte Wärme wird an das Gas in einer gasdichten
Kammer weitergegeben. Der Druckanstieg im Gas äußert sich in einer Verformung
der kammerbegrenzenden Wände, die gewöhnlich optisch, z.B. über die Reflexion
an einem Spiegel, nachgewiesen wird (s. Abb. 2.18). Thermische Detektoren rea-
gieren im Allgemeinen langsam auf Änderungen der einfallenden Strahlung. Bei
schnellen Signalen, z.B. Pulsen mit Anstiegs- und Abfallszeiten im ms-Bereich,
sind thermische Detektoren in der Regel überfordert und man benutzt die schnel-
leren Quantendetektoren. Das Zeitverhalten der Detektoren wird durch die Zeit-
konstante τ charakterisiert. Diese gibt die Zeit an, die nach einer Änderung des
Eingangssignals vergehen muss, bis das Ausgangssignal z.B. 63% des Endwertes
erreicht.
Quantendetektoren reagieren direkt auf die einfallenden Photonen der Strah-
lung. Die Photonen wirken direkt auf die Elektronen im Detektormaterial. Wenn
dabei Elektronen aus der bestrahlten Oberfläche ausgelöst werden, nennt man
dieses Gerät einen photoemissiven Detektor (äußerer Photoeffekt). Typischerwei-
se absorbiert eine photosensitive Oberfläche (Photokathode, enthält meist Alkali-
Abb. 2.18. Pneumatischer Golay-Infrarotdetektor
Metalle mit niedriger Austrittsarbeit für Elektronen) Photonen, deren Energie

hf größer als die Austrittsarbeit der im Metall gebundenen Elektronen ist. Wer-
den die photoemittierten Elektronen durch eine positive Anode in einer evaku-
ierten Röhre gesammelt und als Strom in einem äußeren Kreis nachgewiesen,
so nennt man diesen Detektor eine Vakuum-Photozelle. Wird das Signal intern
durch sekundäre Elektronenemission verstärkt, so ist dies ein Photomultiplier (s.
Abb. 2.19). In diesem Fall werden die primären Photoelektronen beschleunigt,
so dass bei einer Folge von Stößen mit den Elektroden (Dynoden) der Strom
durch die zusätzlich aus den Dynoden ausgelösten sekundären Elektronen (Se-
kundärelektronenvervielfacher = SEV) verstärkt wird. Am Ausgang des Pho-
tomultipliers erhält man durch die lawinenartige Zunahme der Verstärkung ein
hohes Ausgangssignal, das zum einfallenden Photonenstrom proportional ist. Der
spektrale Bereich von Photomultipliern mit verschiedenen Photokathoden reicht
unter Berücksichtigung der Transmission des Fenstermaterials von λ = 160 nm
(Sb-Cs) bis λ = 1200 nm (Ag-O-Cs).
Abb. 2.19. Prinzip des Photomultipliers. Die Photonen treffen durch ein seitliches
Fenster auf die Photokathode. Von der Photokathode emittierte Elektronen werden auf
die nächste Dynode beschleunigt und lösen über Stöße von Dynode zu Dynode mehr
sekundäre Elektronen aus. Der verstärkte Strom wird auf der Anode nachgewiesen
In der gasgefüllten Photozelle nutzt man eine andere Möglichkeit der Verstär-
kung. Hierbei werden zusätzliche Elektronen durch Ionisation des Restgases er-
zeugt. Im Fall von genügend energetischen Photonen (λ < 550 nm) ist die Emp-
findlichkeit von photoemissiven Detektoren ausreichend, um einzelne Photonen
zu zählen. Dieser Detektortyp hat damit überragende Empfindlichkeit im sicht-
baren und ultravioletten Spektralbereich.
Für Wellenlängen im Infraroten – jenseits ca. 1,2 µm – gibt es keine Photo-
emitter und man benutzt photoleitende Detektoren (Photowiderstände). In diesen
Detektoren werden Photonen in dünnen Filmen oder im Volumen des Materials
absorbiert und erzeugen dort zusätzliche freie Ladungen in Form von Elektron-
Lochpaaren (innerer Photoeffekt). Sowohl die negativen (Elektronen) als auch
die positiven (Löcher, Defektelektronen) Ladungen vergrößern die elektrische
Leitfähigkeit des Materials. Ohne Beleuchtung bewirkt eine angelegte Spannung
einen kleinen Dunkelstrom im Messwiderstand. Bei Beleuchtung erniedrigen die
zusätzlichen Ladungsträger den Widerstand und man erhält bei konstanter äuße-
rer Spannung einen erhöhten Photostrom, der proportional zum Photonenstrom
ist. Als Material verwendet man CdS (Cadmiumsulfid) und CdSe (Cadmiumse-
lenid) im Sichtbaren bzw. im nahen Infrarot (s. Abb. 2.20). Im ferneren Infra-
rotbereich werden PbS-(Bleisulfid, 0,8–3 µm) und PbSe-(Bleiselenid, 1–5 µm) De-
tektoren eingesetzt. Im Wellenlängengebiet von 1–8 µm weisen die Halbleiterma-
terialien PbS, PbSe und PbTe (Bleitellurid) einen großen photovoltaischen Effekt
auf und haben eine größere Empfindlichkeit als die Thermosäule oder gewöhnliche
Bolometer. Bei größeren Wellenlängen (λ > 5 µm) muss man Photowiderstände
kühlen, um ausreichende Empfindlichkeit für niederenergetische Photonen sicher-
zustellen.
Der gebräuchlichste photovoltaische Detektor ist ein pn-Übergang in Form
des Photoelementes, das ohne Fremdspannung betrieben wird. Das Photoelement
besteht aus einem pn-Übergang aus p-dotiertem und n-dotiertem Silizium. Die
Dotierung bedeutet den Zusatz von geringen Mengen an Fremdmaterial zum
Halbleiter, die entweder einen Überschuss (n-Typ) oder einen Mangel (p-Typ)
der Leitungselektronen bewirken. Im Grenzbereich zwischen diesen Materialien
entsteht aufgrund der Diffusion der Ladungsträger ein elektrisches Feld. Wenn in
der Umgebung des pn-Übergangs Photonen absorbiert werden, werden die erzeug-
ten Elektron-LochElektron-Lochpaare durch dieses Feld getrennt und man erhält
eine äußere Spannungsänderung, den photovoltaischen Effekt. Die Leerlaufspan-
nung nimmt logarithmisch mit der Beleuchtungsstärke zu und geht gegen einen
Sättigungswert. Die Solarzelle und der Belichtungsmesser in der Fotografie sind
Anwendungen dieses Detektors.
Betreibt man den pn-Übergang mit einer Vorspannung (engl: BIAS) in Sperr-
Richtung, so ist der Strom proportional zum einfallenden Photonenstrom (bzw.
der Beleuchtungsstärke). Man bezeichnet dieses Element als Photodiode. In der
pin-Photodiode hat man zwischen der sehr dünnen p-Schicht und der n-Schicht
eine dickere (bis 1 mm) Schicht aus reinem, nichtdotierten (schwachdotierten)
Abb. 2.20. Spektrale Empfindlichkeit von Photowiderständen. a) CdS- Element, die

maximale Empfindlichkeit liegt bei ca. 550 nm, in der Nähe der maximalen Empfindlich-
keit des Auges für Tagessehen. b) CdSe-Element mit maximaler Empfindlichkeit bei ca.
740 nm, geeignet zum Nachweis der Strahlung im nahen Infrarot, z.B. einer Glühlampe
Halbleitermaterial, das eigenleitend (engl.: intrinsic) ist. pin“ steht für die Rei-
”
henfolge der Schichten, p-dotiert–intrinsic–n-dotiert. Der Dunkelstrom (Strom
mit ”BIAS”, ohne Bestrahlung) ist besonders klein. Wegen der dicken i-Schicht
erreicht man eine hohe Quantenausbeute (Verhältnis von erzeugten Ladungs-
trägern zu einfallenden Photonen). Die pin-Diode hat Grenzfrequenzen im GHz-
Bereich. Bei der Lawinendiode (Avalanche-Photo-Diode, APD), die ähnlich wie
die pin-Diode aufgebaut ist, sorgt ein interner Verstärkungsmechanismus für
höhere Empfindlichkeit. Hierbei werden in der i-Schicht durch Stoßionisation
zusätzliche Ladungsträger erzeugt.
Man verwendet auch zweidimensionale Matrixanordnungen (Arrays) von Pho-
todioden als Bildgeber. Jedes Photodioden- oder MOS- (Metalloxid-Halbleiter-)
Element der Matrix reagiert auf die einfallende Strahlung und liefert ein Pixel
(picture element, Bildelement) am Ausgang. Bei der Belichtung speichert jedes
der diskreten Elemente auf einem Siliziumchip die photoinduzierte Ladung in ei-
nem Potentialtopf“, der durch die angelegte Gatterspannung erzeugt wird. Die
”
gespeicherte Ladung in jedem Pixel ist ein Maß für die lokale Bestrahlungsstärke
und wird zur elektronischen Aufzeichnung des Bildes abgefragt. Die Abtastung
und das Auslesen werden durch Ladungstransfer entlang Reihen solcher Elemente
(CCD, charge coupled device, ladungsgekoppelte Elemente) oder durch Zufuhr
von Ladung durch das darunterliegende Halbleitermaterial (CID, charge injection
device) ausgeführt. Durch sequentielles Lesen der gespeicherten Ladung rekon-
struiert man die ursprüngliche Bestrahlungsstärkeverteilung und ermittelt damit
das Bild. CCDs in Matrixanordnung werden in Fernsehkameras oder in astrono-
mischen Teleskopen und Spektrographen eingesetzt.
Ein weiterer Photodetektor ist der fotografische Film oder die Fotoplatte. Es
sind fotografische Emulsionen mit einer spektralen Empfindlichkeit verfügbar,
die vom Röntgenstrahlungsbereich bis in den nahen Infrarotbereich (ca. 1,2 µm)
reicht. Das empfindliche Material ist eine Emulsion von Silberhalogenid-Kristallen
oder -Körnern. Ein einfallendes Photon löst ein Elektron des Halogen-Ions ab,
das sich dann mit dem Silber-Ion vereinigt und ein neutrales Silberatom er-
gibt. Nach der Belichtung enthält die Emulsion vor der Entwicklung zunächst
ein latentes Bild, eine Verteilung von reduzierten Silberatomen, die durch die
empfangene Strahlungsenergie bestimmt ist. Das latente Bild wird durch den
Entwickler verstärkt und sichtbar gemacht. Die eingesetzten chemischen Reak-
tionen liefern weitere freie Elektronen, um den Reduktionsprozess fortzusetzen,
wobei das latente Bild als Katalysator für den weiteren Ablauf wirkt. Die Dichte
der Silberatome und damit die Schwärzung des Films ist sowohl von der Be-
strahlungsstärke als auch von der Belichtungszeit – also von der Bestrahlung –
abhängig. Damit hat der fotografische Film im Gegensatz zu anderen Detektoren
den Vorteil der Integration eines Lichtsignals. Sogar schwache Strahlung kann
durch den kumulativen Effekt einer langen Belichtungszeit nachgewiesen werden.
Unsensibilisierte Schichten von AgBr sind nur für Licht mit λ < 490 nm emp-
findlich. Orthochromatische sensibilisierte Schichten sind für λ ≤ 590 nm, also bis
zum Gelb empfindlich. Panchromatische sensibilisierte Schichten weisen Licht im
Bereich von λ = 380 − 700 nm nach.
Die absolute spektrale Empfindlichkeit s eines Detektors kann man als das
Verhältnis von Ausgangs- zu Eingangssignal definieren, z.B. für eine Photodiode:
absolute spektrale Photostrom IPhoto

Empfindlichkeit sΦ (λ) = = (2.20)
Strahlungsfluss Φe (λ)
Eingangsgröße ist der Strahlungsfluss oder die Bestrahlungsstärke. Das Aus-

gangssignal ist ein Strom oder eine Spannung. Detektor und zugehöriger Verstär-
ker sollten ein Ausgangssignal liefern, das proportional zum Eingangssignal ist.
Im Allgemeinen ist s von der Wellenlänge abhängig. Ein nicht selektiver Detek-
tor ist in seinem Ausgangssignal nur vom Strahlungsfluss abhängig, nicht von der
Wellenlänge. Thermische Detektoren benutzen eine geschwärzte Empfangsfläche,
die meist nicht selektiv ist. Die Eintrittsfenster von Detektoren wirken aufgrund
der wellenlängenabhängigen Transmission selektiv.
Die Schwellenempfindlichkeit D eines Detektors ist das Reziproke der rausch-

äquivalenten (minimal detektierbaren) Strahlungsleistung, die man noise equiva-
lent power (NEP) ΦN des Detektors nennt:
1
Schwellenempfindlichkeit D= (2.21)
ΦN
Für den Vergleich verschiedener Detektoren benutzt man eine weitere Größe,
die
√
∗ A∆f
Detektivität D = (2.22)
ΦN
Hierbei ist A die empfindliche Fläche des Detektors und ∆f die Frequenzband-
breite des Messverstärkers. Die Grenzfrequenz
√ eines Detektors ist die Frequenz,
bei der die Empfindlichkeit s auf das 1/ 2-fache (−3 dB) des Wertes bei zeitlich
konstanter Beleuchtung zurückgegangen ist.
Die minimal detektierbare Leistung ist durch das Untergrundrauschen des
Detektors begrenzt. Es gibt viele Quellen für dieses Untergrundrauschen, z.B.
statistische Fluktuation von Photonen (Strahlungsrauschen, Photonenrauschen),
oder die thermische Bewegung von Ladungsträgern (Widerstands- oder Johnson-
Rauschen), die in allen Detektoren auftreten. Es gibt das Erzeugungs- und Re-
kombinationsrauschen aufgrund statistischer Fluktuationen der Anzahl der La-
dungsträger in Photoleitern, das Schrotrauschen aufgrund der zufälligen Emission
von Elektronen in photoemissiven Detektoren und das Rauschen aufgrund von
Temperaturfluktuationen in thermischen Detektoren.
Übungen
2.1 Berechnen Sie die Frequenzen elektromagnetischer Strahlung, die einen Sinnesein-
druck im normalen Auge hervorrufen.
2.2 Eine monochromatische Lichtquelle strahlt bei 500 nm mit einer Leistung von
500 W.
a) Nur 2% der Gesamtleistung erreichen das Auge als Lichtstrom. Wie groß ist
der Lichtstrom am Auge?
b) Die Quelle strahlt gleichförmig in alle Raumrichtungen. Berechnen Sie die
Strahlstärke und die Lichtstärke.
c) Die strahlende Fläche der Quelle beträgt 50 cm2 . Berechnen Sie die spezifische
Ausstrahlung.
d) Wie groß sind Bestrahlungsstärke und Beleuchtungsstärke auf einem Schirm,
der 2 m von der Quelle entfernt ist, wenn die Oberfläche senkrecht zum einfal-
lenden Strahlungsfluss ist?
e) Der Schirm enthält eine Bohrung mit 5 cm Durchmesser. Wie groß sind Strah-
lungsfluss und Lichtstrom, die durch das Loch gelangen?
2.3 a) Ein 50 mW He-Cd-Laser emittiert bei 441,6 nm und ein 4-mW–He-Ne-Laser
bei 632,8 nm. Benutzen Sie Abb. 2.7, um die relative Helligkeit der beiden
Laserstrahlen gleichen Durchmessers auf einem weißen Papier zu vergleichen.
Nehmen Sie Tagessehen an (photopische Sicht).
b) Wie groß muss die Leistung eines Argonionen-Lasers sein, der bei 488 nm emit-
tiert, damit die Helligkeit eines grünen 0,5-mW–He-Ne-Lasers bei 543,5 nm
unter den Bedingungen von a) erreicht wird?
2.4 Eine Lampe, die 3 m direkt oberhalb eines Punktes P am Boden eines Raumes
angebracht ist, erzeugt in P eine Beleuchtungsstärke von 100 lm/m2 .
a) Wie groß ist die Lichtstärke der Lampe?
b) Wie groß ist die Beleuchtungsstärke auf einem anderen Punkt am Boden, der
1 m vom Punkt P entfernt ist?
2.5 Ein Parkplatz wird bei Nacht durch gleiche Lampen an der Spitze von zwei Mas-
ten, die 9 m hoch und 12 m voneinander entfernt sind, beleuchtet. Nehmen Sie an,
dass die Lampen gleichmäßig in alle Raumrichtungen strahlen. Vergleichen Sie die
Beleuchtungsstärke am Boden für Punkte direkt unter der Lampe und in der Mitte
zwischen beiden Lampen.
2.6 Eine kleine Quelle mit einer Lichtstärke von 100 cd befindet sich im Brennpunkt
eines Kugelspiegels von 50 cm Bildbrennweite und 10 cm Durchmesser. Wie groß ist
die mittlere Beleuchtungsstärke eines parallelen Strahlenbündels, das vom Spiegel
reflektiert wird, wenn man einen Reflexionsgrad von 80% annimmt?
2.7 a) Die Sonne erscheint von der Erdoberfläche aus unter einem Winkel von 0,5◦ .
Die Beleuchtungsstärke ist bei senkrechtem Einfall ungefähr 105 lx. Bestimmen
Sie die Leuchtdichte der Sonne.
b) Bestimmen Sie die Beleuchtungsstärke auf einer horizontalen Oberfläche unter-
halb des halbkugelförmigen Himmels mit der gleichförmigen Leuchtdichte L.
2.8 Eine kreisförmige Scheibe mit dem Radius 20 cm und der gleichförmigen Leucht-
dichte 105 cd/m2 beleuchtet eine kleine ebene Oberfläche von 1 cm2 , die 1 m vom
Zentrum der Scheibe entfernt ist. Die kleine Oberfläche ist so orientiert, dass ihre
Normale unter einem Winkel von 45◦ zu der Verbindungsachse zwischen den Zen-
tren beider Oberflächen steht. Die Achse ist senkrecht zur kreisförmigen Scheibe.
Wie groß ist der Lichtstrom, der auf die kleine Fläche einfällt?
2.9 Leiten Sie das Wiensche Verschiebungsgesetz aus der Planckschen Formel für die
spezifische Ausstrahlung der schwarzen Strahlers ab.
2.10 Leiten Sie das Stefan-Boltzmannsche Gesetz aus der Planckschen Formel für die
spezifische Ausstrahlung der Schwarzkörperstrahlung ab.
(Hinweis: Benutzen Sie die Substitution x = hc/λkT , um die Integration zu ver-
einfachen.)
2.11 Das Maximum des solaren Spektrums liegt bei ungefähr 500 nm. Bestimmen Sie die
Oberflächentemperatur der Sonne, wobei Sie annehmen, dass diese ein schwarzer
Strahler ist.
2.12 a) Bei welcher Wellenlänge zeigt ein schwarzer Strahler mit T = 6000 K die höchs-
te spezifische Ausstrahlung pro Wellenlängeneinheit?
b) Der schwarze Strahler werde durch eine Öffnung von 1 mm Durchmesser eines
Hohlraumstrahlers von 6000 K realisiert. Bestimmen Sie die Leistung, die durch
die Öffnung im Wellenlängenbereich von 550 – 551 nm abgestrahlt wird.
2.13 Bei gegebener Temperatur ergibt sich λmax = 550 nm für einen Hohlraumstrahler.
Die Hohlraumtemperatur wird so weit erhöht, bis sich die spezifische Ausstrahlung
verdoppelt. Wie groß ist die neue Temperatur und die neue Wellenlänge maximaler
Ausstrahlung λmax ?
2.14 Wie groß muss die Temperatur eines grauen Strahlers mit dem Emissionsgrad εE =
0,45 sein, um die gleiche spezifische Ausstrahlung wie ein schwarzer Strahler bei
T = 5000 K zu erreichen?
3
Geometrische Optik
Einleitung
Die Ausbreitung von Licht muss nicht in jedem Fall als Wellenbewegung betrach-
tet werden. Wenn die Wellenlänge des Lichtes vernachlässigbar klein gegenüber
den Abmessungen der Komponenten des optischen Systems ist, kann man in der
Näherung der geometrischen Optik arbeiten. Kann der Wellencharakter des Lich-
tes nicht vernachlässigt werden, so spricht man von Wellenoptik. Die geometrische
Optik ist ein Spezialfall der Wellenoptik.
W ellenoptik −−−−→ geometrische Optik

λ→0
Da die Wellenlänge von Licht normalerweise sehr klein gegenüber der Größe ge-
bräuchlicher Objekte ist, kann man das Verhalten eines Lichtbündels, das durch
Blendenöffnungen verläuft oder auf Hindernisse trifft, durch die geometrische
Optik erklären. Wir erinnern uns, dass die Beobachtung von scharfen Schatten
Newton zu der Behauptung veranlasste, dass die offensichtliche geradlinige Aus-
breitung von Licht durch einen Strom von Lichtkorpuskeln besser erklärt wird als
durch eine Wellenbewegung. Die Ausbreitung langwelliger Wellen, z.B. Wasser-
42 3 Geometrische Optik
oder Schallwellen, ist dafür bekannt, dass man eine deutliche Beugung um Hin-
dernisse herum erkennen kann. Zur Zeit von Isaac Newton gab es schon erste Be-
obachtungen der Beugung von Lichtwellen. Der Jesuit Francesco Grimaldi hatte
die feine Struktur am Rand eines Schattens bemerkt, die nicht durch die gerad-
linige Ausbreitung von Licht erklärbar war. Die Abweichung von der geradlinigen
Ausbreitung von Licht an der Kante eines Hindernisses wurde Beugung genannt.
Innerhalb der Näherung der geometrischen Optik betrachtet man Licht als
Strahlen, die sich geradlinig von einer Quelle ausbreiten. Der Strahl ist dann der
Weg, entlang dessen sich Lichtenergie von einem Punkt eines optischen Systems
zu einem anderen Punkt ausbreitet. Der Strahl ist eine nützliche Konstruktions-
hilfe, aber eine abstrakte Vorstellung, da in der Praxis natürlich nur Lichtbündel
existieren. Diese kann man nie so weit einengen, dass sie mathematischen Li-
nien entsprechen. Der Laserstrahl ist wahrscheinlich die beste Näherung eines
Lichtstrahles. Wenn man jedoch eine Blendenöffnung, durch die der Laserstrahl
verläuft, sehr klein macht, beginnt der Strahl nach dieser Blendenöffnung eine
charakteristische Beugungsverbreiterung zu zeigen.
Läuft ein Lichtstrahl durch ein optisches System, das aus mehreren homoge-
nen Medien besteht, so ist der optische Weg eine Abfolge von Richtungsände-
rungen mit dazwischen liegenden geradlinigen Abschnitten. Diese ergeben sich
jedesmal, wenn Licht reflektiert oder gebrochen wird. Folglich sind die nachste-
henden Gesetze grundlegend für die geometrische Optik:
Reflexionsgesetz
Wird ein Lichtstrahl an der Grenzfläche zwischen zwei homogenen Medien reflek-
tiert, so bleibt der reflektierte Strahl in der Einfallsebene und der Reflexionswinkel
εr ist betragsmäßig gleich groß wie der Einfallswinkel ε.
Reflexionsgesetz εr = −ε (3.1)
Die Einfallsebene ist durch den einfallenden Strahl und das Einfallslot definiert.
Das Einfallslot ist die Normale auf der Grenzfläche im Einfallspunkt.
Die Vorzeichenkonvention und die Bezeichnungsregeln werden im Kapitel 3.6
(Brechung an einer sphärischen Fläche) ausführlich erklärt. Wie aus Abb. 3.1
ersichtlich, werden die Winkel relativ zum Einfallslot gemessen, wobei sich das
Vorzeichen des Winkels aus der Richtung der kürzesten Drehung des Bezugs-
schenkels (Lot) in die Strahlrichtung ergibt. Linksdrehungen des Bezugsschen-
kels ergeben ein positives Vorzeichen des Winkels, Rechtsdrehungen ein negatives.
Diese Vorzeichen müssen für die Zahlenwerte der Winkel benutzt werden. Sie sind
in Abb. 3.1 deshalb nur als Erinnerung in Klammern (+) oder (−) angegeben.
3.1 Huygenssches Prinzip 43
Brechungsgesetz von Snellius
Wenn ein Lichtstrahl an der Grenzfläche zwischen zwei homogenen, optisch iso-
tropen Medien gebrochen wird, so bleibt der gebrochene Strahl in der Einfalls-
ebene und der Sinus des Brechungswinkels ε ist direkt proportional zum Sinus
des Einfallswinkels ε:
sin ε
= konst. (3.2)
sin ε
Beide Gesetze sind in Abb. 3.1 dargestellt. An der Grenzfläche zwischen zwei
transparenten Medien wird der einfallende Strahl partiell reflektiert und partiell
transmittiert.
Abb. 3.1. Darstellung des Reflexions- und Brechungsgesetzes
3.1 Huygenssches Prinzip

Der holländische Physiker Christiaan Huygens (1629-1695) betrachtete Licht als
eine Serie von Wellenpulsen, die von jedem Punkt eines leuchtenden Körpers
ausgehen. Die Ausbreitung sollte durch eine Relaiskette aus Ätherteilchen er-
folgen. Als Äther bezeichnete er ein elastisches Medium, das den ganzen Raum
ausfüllt. Im Rahmen dieses Modells betrachtete Huygens jeden Punkt einer sich
ausbreitenden Störung als Ausgangspunkt von neuen Pulsen, die zu der Störung
beitrugen. Um zu zeigen, wie dieses Modell der Lichtausbreitung die Gesetze der
geometrischen Optik erklärt, schlug er folgendes Prinzip vor:
Jeder Punkt einer sich ausbreitenden Wellenfront kann als Ausgangspunkt

von Elementarwellen (Kugelwellen) gleicher Frequenz, Wellenlänge und
Polarisation betrachtet werden, die sich selbst wieder mit Lichtgeschwindig-
keit ausbreiten und deren Einhüllende die neue Wellenfront festlegt.
Abb. 3.2. Huygenssches Prinzip für eine ebene und für eine Kugelwelle
In Abb. 3.2 wird dieses Prinzip auf eine ebene und eine Kugelwelle angewandt.
In jedem dieser Fälle bestimmt der Streckenzug AB die anfängliche Wellenfront,
und A B ist die neue Wellenfront zu einem späteren Zeitpunkt t. Der Radius
jeder Elementarwelle (sphärische Welle) ist c · t, wobei c die Geschwindigkeit des
Lichtes im Ausbreitungsmedium ist. Nach Huygens ist ein Teil der Elementar-
welle bei der Anwendung des Prinzips zu vernachlässigen. Andernfalls würde man
die geradlinige Ausbreitung des Lichtes aus diesem Prinzip nicht ableiten können.
Dies lässt sich aus Abb. 3.3 entnehmen, die die Ausbreitung einer sphärischen
Welle beschreibt, die vom Punkt O ausgeht und auf eine Öffnung A1 B1 fällt.
Unter der Annahme der geradlinigen Ausbreitung des Lichtes bilden die Geraden
OA und OB die scharfen Kanten des Schattens auf der rechten Seite der Blen-
denöffnung. Einige der Elementarwellen, die von Punkten auf der Wellenfront
(Bogen A1 B1 ) ausgehen, überlappen jedoch im Bereich des Schattens. Folgt man
Huygens, so werden diese nicht berücksichtigt, und die neue Wellenfront endet
an den Punkten A1 und B1 . Durch diese Näherung vermied Huygens – fälschlich
– die Beugung von Licht in den Bereich des geometrischen Schattens. Huygens
3.1 Huygenssches Prinzip 45
vernachlässigte auch die Wellenfront, die durch die rückwärtige Hälfte der Ele-
mentarwellen gebildet wird und in die entgegengesetzte Richtung läuft. Trotz der
Schwächen seines Modells, die später von Fresnel und anderen beseitigt wurden,
konnte Huygens durch Anwendung dieses Prinzips die Gesetze der Reflexion und
der Brechung ableiten.
Abb. 3.3. Huygensche Konstruktion für eine Wellenfront, die auf ein Hindernis, in
diesem Fall eine Blendenöffnung, trifft
Abbildung 3.4 illustriert die Ableitung des Reflexionsgesetzes mit Hilfe der
Huygensschen Konstruktion für die Reflexion eines schmalen, parallelen Lichtbün-
dels. Das Huygenssche Prinzip muss hier modifiziert werden, um die Reflexion
einer Wellenfront AC, die schräg auf eine ebene Grenzfläche XY trifft, zu be-
schreiben. Der Einfallswinkel der Strahlen AD, BE und CF relativ zur Senk-
rechten P D (Einfallslot) ist ε. Punkte auf der Wellenfront AC kommen nicht
gleichzeitig auf der Grenzfläche an. Dies muss man bei der Konstruktion der Ele-
mentarwellen, die die reflektierte Wellenfront bestimmen, berücksichtigen. Wenn
die Grenzfläche XY nicht vorhanden wäre, würde die Huygenssche Konstruktion
die Wellenfront GI ergeben. Die reflektierende Fläche bewirkt, dass während des
gleichen Zeitintervalls, das der Strahl CF benötigt, um von Punkt F nach I zu
kommen, der Strahl BE zunächst die Strecke EJ und nach der Reflexion zusätz-
lich eine Strecke der Länge JH zurücklegt. Deshalb wird für den reflektierten
Anteil eine Elementarwelle um J mit dem Radius JH gezeichnet, die oberhalb
der reflektierenden Oberfläche verläuft. In gleicher Weise wird eine Elementar-
welle mit dem Radius DG und dem Zentrum D gezeichnet, die die Ausbreitung
Abb. 3.4. Ableitung des Reflexionsgesetzes (obere Abbildung) sowie des Brechungsge-
setzes aus dem Huygensschen Prinzip
3.2 Das Fermatsche Prinzip 47
nach der Reflexion für den unteren Teil des Strahlbündels beschreibt. Die neue
Wellenfront verläuft tangential zu diesen Elementarwellen in den Punkten M
und N und ist in der Abbildung als KI gezeigt. Ein repräsentativer reflektierter
Strahl ist DL, der senkrecht zur reflektierten Wellenfront gezeichnet ist. Das Ein-
fallslot P D benutzt man, um den Einfallswinkel und den Reflexionswinkel des
Strahles zu definieren. Die Konstruktion zeigt, dass Einfalls- und Ausfallswinkel
im Betrag gleich groß sind, wie in Abb. 3.4 angegeben.
In Abb. 3.4 wird die Huygenssche Konstruktion für das Brechungsgesetz ge-
zeigt. Hierbei müssen wir unterschiedliche Geschwindigkeiten des Lichtes im obe-
ren und unteren Medium berücksichtigen. Wenn die Geschwindigkeit des Lichtes
im Vakuum c0 ist, dann beschreiben wir die Geschwindigkeit des Lichtes im obe-
ren Medium durch den Quotienten c0 /n, wobei n eine Konstante ist, die das
Medium charakterisiert und die als Brechzahl bezeichnet wird. Die Geschwin-
digkeit des Lichtes im unteren Medium beträgt c = c0 /n . Die Punkte D, E
und F der einfallenden Wellenfront kommen an den Punkten D, J und I der
ebenen Grenzfläche XY zu verschiedenen Zeiten an. Ohne die brechende Fläche
entsteht die Wellenfront GI, wenn der einfallende Strahl CF den Punkt I er-
reicht. Während des Fortschreitens des Strahles CF von F nach I in der Zeit t
breitet sich der Strahl AD in dem unteren Medium aus, wo die Geschwindigkeit
z.B. geringer ist. Beträgt die Entfernung F I = DG = c · t, so konstruiert man
eine Elementarwelle mit dem Radius c · t mit dem Zentrum D. Den Radius DM
kann man wie folgt schreiben:

DG n
DM = c t = c = DG
c n
In gleicher Weise zeichnet man eine Elementarwelle mit dem Radius JN =
(n/n )JH um den Punkt J. Die neue Wellenfront KI enthält einen Punkt I
auf der Grenzfläche und ist, wie in der Abbildung zu sehen, tangential zu den
Elementarwellen in den Punkten M und N . Die geometrische Beziehung zwi-
schen den Winkeln ε und ε , die sich für den einfallenden Strahl AD und den
gebrochenen Strahl DL ergibt, ist das Brechungsgesetz (Abb. 3.4):
Snelliussches Brechungsgesetz n sin ε = n sin ε (3.3)
3.2 Das Fermatsche Prinzip

Die Gesetze der geometrischen Optik können auch aus einer anderen fundamenta-
len Hypothese abgeleitet werden. Die grundlegenden Annahmen des Fermatschen
Prinzips wurden bereits von Hero von Alexandria, der im 2. Jh. v. Chr. lebte,
genannt. Nach seiner Vorstellung nimmt Licht immer den kürzesten Weg zwi-
schen zwei Punkten. Für die Ausbreitung zwischen zwei Punkten in demselben
homogenen Medium ist dieser Weg selbstverständlich die gerade Linie, die die
beiden Punkte verbindet. In Abb. 3.5 ist die Ableitung des Reflexionsgesetzes
über das Fermatsche Prinzip dargestellt. Hier ist nun nach dem kürzesten Weg
mit einer Reflexion am Spiegel gefragt. Die Abbildung zeigt drei mögliche Wege
von Punkt A zu Punkt B, wobei in den Punkten C und E bei der Reflexion
offensichtlich Ein- und Ausfallswinkel nicht entgegengesetzt gleich groß sind. Be-
trachten wir einen beliebigen Weg ACB. Wenn der Punkt A auf der Senkrechten
AO so gewählt wird, dass AO gleich OA ist, so sind die rechtwinkeligen Dreiecke
AOC und A OC kongruent. Daraus folgt, dass AC gleich A C ist. Damit ist die
Entfernung, die der Strahl vom Punkt A zum Punkt B über C zurücklegt die
gleiche wie von Punkt A zu B über C. Die kürzeste Entfernung von A nach B
ist offensichtlich die gerade Linie A DB, so dass der Weg ADB die richtige Wahl
ist und dem tatsächlichen Lichtweg entspricht. Aus elementaren geometrischen
Überlegungen (gleiche Scheitelwinkel) folgt, dass für diesen Weg εr = −ε gilt. Die
Forderung, dass A DB eine einfache gerade Linie sein muss, legt fest, dass der
reflektierte Strahl in der Einfallsebene liegen muss. Hier ist es die Papierebene.
Abb. 3.5. Konstruktion zum Beweis des Reflexionsgesetzes aus dem Heroschen Prinzip
Der französische Mathematiker Pierre de Fermat (1601 od. 1608-1665) gene-

ralisierte das Prinzip von Hero, um das Brechungsgesetz zu beweisen. Wenn der
Endpunkt C – wie in Abb. 3.6 – unterhalb der Fläche eines zweiten Mediums
liegt, so muss der richtige Lichtweg nicht der kürzeste geometrische Weg bzw.
die gerade Linie AC sein, denn dies würde den Winkel des gebrochenen Strahles
gleich dem Einfallswinkel machen und das empirisch festgestellte Brechungsgesetz
verletzen. Fermat forderte deshalb, dass der Lichtstrahl von A nach C den Weg
nimmt, auf dem er die kürzeste Zeit braucht. Diese Generalisierung schließt das
3.2 Das Fermatsche Prinzip 49
Herosche Prinzip als Spezialfall ein. Wenn sich das Licht im zweiten Medium
langsamer ausbreitet, wie in Abb. 3.6 angenommen, dann wird es an der Grenz-
fläche so gebrochen, dass es einen Weg bevorzugt, auf dem es das zweite Medium
in kürzerer Zeit durchläuft. Damit wird die gesamte Laufzeit t von A nach C
minimiert. Wir erhalten
AB BC
t= +
c c
Abb. 3.6. Beweis des Brechungsgesetzes aus dem Fermatschen Prinzip
wobei c und c die Geschwindigkeiten des Lichtes im ersten und im zweiten

Medium sind. Benutzt man den Satz von Pythagoras und entnimmt die Ent-
fernungen aus Abb. 3.6, so erhält man:

z12 + h2 z22 + (b − h)2
t= +
c c
Da eine andere Wahl des Weges die Position des Punktes B und damit auch die
Entfernung h ändert, können wir die Zeit mit dt/dh = 0 minimieren:
dt h b−h
= 2 − 2 =0
dh c z1 + h2
c z2 + (b − h)2
Nach Abb. 3.6 können wir in der Formel die Winkel für den einfallenden und
gebrochenen Strahl einsetzen und erhalten:
dt sin ε sin ε
= − =0
dh c c
Daraus entnimmt man, dass
c · sin ε = c · sin ε
ist. Führt man die Brechzahlen der Medien durch die Relation c = c0 /n ein, so
erhalten wir wieder das Brechungsgesetz
n sin ε = n sin ε (3.3)
Um die allgemeine Gültigkeit des Fermatschen Prinzips zu erreichen, ist, wie zu-
vor für das Huygenssche Prinzip, eine Überarbeitung nötig. Es gibt Situationen,
in denen der tatsächliche Weg, den ein Lichtstrahl nimmt, nicht die minimale
Zeit erfordert, sondern einer von vielen möglichen Wegen ist, für die jedesmal die
gleiche Zeit benötigt wird. Als Beispiel für den zuletzt angegebenen Fall betrach-
ten wir die Ausbreitung von Licht, das von einem Brennpunkt im Innern eines
Ellipsoidspiegels über eine unendliche Zahl von Wegen zum anderen Brennpunkt
läuft (s. Abb. 3.9 a). Da die Ellipse der Ort aller Punkte ist, für den die Summe
der Abstände von den zwei Brennpunkten konstant ist, erfordern alle Lichtwege
die gleiche Zeit. Präziser formuliert man:
Fermatsches Prinzip:
Der tatsächliche Weg, den ein Lichtstrahl bei seiner Ausbreitung zwischen
zwei gegebenen Punkten in einem optischen System nimmt, ist so beschaf-
fen, dass die optische Weglänge bei Variation des Lichtweges ein Extremum
darstellt.
Dies bedeutet, dass bei einer geringen Änderung des Lichtweges die optische
Weglänge unverändert bleibt. Die so definierten extremalen Wege nennt man
stationär“. Wellen, die sich auf Wegen eng benachbart zu den stationären“
” ”
Wegen ausbreiten, interferieren konstruktiv und dominieren deshalb die Licht-
ausbreitung. Die letzte Fassung des Fermatschen Prinzips beruht auf der Variati-
onsrechnung. Die Variationsrechnung legt die Funktion fest, für die ein bestimm-
tes Integral einen Extremwert annimmt. In der Optik ist dies das Integral über
die Zeitintervalle, die ein Lichtstrahl auf seinem Weg benötigt1 :

ds 1
t= = n(s) ds = Extr.
c c0
Hierbei bedeuten n die Brechzahl, s den Weg und c, c0 die Lichtgeschwindigkeit
im Medium bzw. im Vakuum.
1
Ein ähnliches Prinzip, das Hamilton-Prinzip der kleinsten Wirkung, fordert in der
Mechanik ein Minimum des bestimmten Integrals der Lagrange-Funktion (Differenz
von kinetischer und potentieller Energie). Die Newtonschen Gesetze der Mechanik
folgen hieraus.
3.4 Brechung an einer ebenen Grenzfläche 51
3.3 Umkehrung des Lichtweges

Betrachten wir noch einmal die Fälle der Reflexion und Brechung, die in den Abb.
3.5 und 3.6 dargestellt sind. Wenn die Punkte A und B ausgetauscht werden, so
dass nun B die Lichtquelle ist und A der Punkt, in dem wir das Licht beobachten,
so sagt das Fermatsche Prinzip den gleichen Lichtweg voraus wie vorher. Dies
bedeutet, dass jeder Lichtstrahl in einem optischen System immer den gleichen
Weg zurück nimmt, wenn man den Lichtweg umkehrt. Dieses Prinzip ist sehr
nützlich, wie wir in späteren Kapiteln erkennen werden.
3.4 Brechung an einer ebenen Grenzfläche
Betrachten wir den Lichtstrahl (1) in Abb. 3.7 a, der unter dem Einfallswinkel
ε auf eine ebene Grenzfläche, die zwei transparente Medien trennt, auftrifft. Die
beiden Medien haben die Brechzahlen n und n , wobei n > n gilt. Der Austritts-
winkel des gebrochenen Strahls sei ε . Das Brechungsgesetz lautet:
n sin ε = n sin ε (3.3)

Das Brechungsgesetz ergibt, dass beim Übergang vom optisch dichteren zum op-
tisch dünneren Medium (n > n ) der Strahl vom Lot weg gebrochen wird. Kehrt
man den Lichtweg um, so sieht man, dass beim Übergang vom optisch dünne-
ren zum optisch dichteren Medium der Strahl zum Lot hin gebrochen wird. Das
Brechungsgesetz fordert, dass der Strahl (3), der senkrecht auf die Grenzfläche
trifft (Einfallswinkel ε = 0), ohne Richtungsänderung weiter läuft (Brechungs-
winkel ε = 0, unabhängig vom Verhältnis der Brechzahlen). Die drei Strahlen in
Abb. 3.7 a gehen von einer Punktquelle unterhalb der Grenzfläche z.B. im Wasser
(n = 1,33) aus und gehen in ein oberes Medium, das eine kleinere Brechzahl hat
(z.B. Luft, n = 1). Untersucht man, ob die drei Strahlen außerhalb des Was-
sers von einer scheinbaren Lichtquelle innerhalb des Wassers ausgehen können,
so geschieht dies durch rückwärtige Verlängerung der Strahlen (1), (2) und (3) in
Abb. 3.7 a durch gestrichelte Linien. Man erkennt, dass sich die drei Visierlinien
nicht in einem Punkt schneiden. Für Strahlen, die unter einem kleinen Einfalls-
winkel auf die Grenzfläche fallen, ergibt sich jedoch ein eindeutiger Bildpunkt.
Für kleine Einfallswinkel gilt die paraxiale Näherung:
sin ε ≈ tan ε ≈ ε (im Bogenmaß)

Ausgehend von (3.3) kann dann das Brechungsgesetz durch
n tan ε = n tan ε
genähert werden. Entnehmen wir den Tangens aus Abb. 3.7 b, so erhalten wir:
h h
n = n .
s s
Abb. 3.7. Brechung und Totalreflexion an einer ebenen Grenzfläche
Der Bildpunkt entsteht im Abstand s von der Oberfläche. Damit erhält man die
n
Bildschnittweite einer Planfläche s = s (3.4)
n
und den
n − n
Bildversatz einer Planfläche OO = s (3.5)
n
3.5 Abbildung durch ein optisches System 53
Hierbei ist s die entsprechende Tiefe des Gegenstandes. Dies bedeutet, dass Ob-
jekte, die sich unter Wasser befinden, bei Betrachtung von einer Stelle ober-
halb der Wasseroberfläche näher an der Oberfläche zu sein scheinen, als sie es
tatsächlich sind. Für Wasser erhält man s = (1/1,33)s = 3/4s. Bei Betrachtung
des Unterwasserobjektes mit dem Auge bekommt man auch dann ein scharfes
Bild, wenn der Winkel ε größer ist, d.h. wenn man flach auf die Wasseroberfläche
schaut. Dies liegt daran, dass die Öffnung der Pupille nur ein schmales Bündel
von Lichtstrahlen für die Entstehung des Bildes auf der Netzhaut durchlässt.
Da diese Strahlen sich nur wenig in ihrer Richtung unterscheiden, scheinen sie
von demselben Bildpunkt auszugehen. Die scheinbare Tiefe dieses Bildes ist je-
doch nicht 3/4 der Objekttiefe wie für paraxiale Strahlen und außerdem vom
Beobachtungswinkel abhängig.
Strahlen, die unter einem großen Einfallswinkel auf die Grenzfläche treffen,
werden auch die Grenzfläche unter einem immer größeren Ausfallswinkel (Bre-
chungswinkel) verlassen, wie das in Abb. 3.7 c dargestellt ist. Ein kritischer Ein-
fallswinkel εg wird für den Brechungswinkel ε = 90◦ erreicht. Daraus ergibt sich
über das Brechungsgesetz (für n > n ):
n n
sin εg = sin 90◦ =
n n
und hieraus der
n
Grenzwinkel der Totalreflexion εg = arcsin mit n > n (3.6)
n
Für Einfallswinkel ε > εg wird der einfallende Strahl total reflektiert. Die Total-
reflexion ist von größter Bedeutung für die Ausbreitung von Licht in Glasfasern,
wie dies in Kapitel 24 beschrieben wird. Wir sollten uns merken, dass dieser
optische Effekt nur dann auftritt, wenn n größer als n ist, dies bedeutet, dass
Licht aus dem optisch dichteren Medium auf eine Grenzfläche zu einem optisch
dünneren Medium trifft.
3.5 Abbildung durch ein optisches System

In diesem Abschnitt diskutieren wir den Begriff der optischen Abbildung und ge-
ben die praktischen und theoretischen Gründe an, die bewirken, dass ein Bild
nicht ideal ist. In Abb. 3.8 enthält der Bereich, der mit optisches System“ be-
”
zeichnet wird, eine beliebige Anzahl von reflektierenden und/oder brechenden
Oberflächen beliebiger Krümmung und Brechzahl, die die Richtung von Strahlen,
die den Objektpunkt O verlassen, ändern. Wir sehen daraus, dass jedes Medium
homogen und isotrop ist und deshalb durch eine einzige Brechzahl charakterisiert
werden kann. Wir erkennen aus der Abbildung, dass vom Objektpunkt O Strah-
len in alle Richtungen des Objektraumes, der vor der ersten reflektierenden oder
Abb. 3.8. Erzeugung eines Bildes durch ein optisches System
brechenden Fläche des optischen Systems liegt, ausgehen. Die Kugeloberflächen,

die normal zu den Strahlen verlaufen, nennt man Wellenfronten. Alle Strahlen,
die von O ausgehen, erreichen eine Wellenfront in der gleichen Zeit.
Im Objektraum divergieren die Strahlen, und die sphärischen Wellenfronten
(Kugelflächen) werden größer. Wir nehmen nun an, dass das optische System die
Strahlen so umlenkt, dass sich die Wellenfronten beim Verlassen des optischen
Systems im Bildraum zusammenziehen und die Strahlen in einen einzigen Punkt
konvergieren, den wir Bildpunkt O nennen. Aus dem Fermatschen Prinzip folgt,
dass jeder Strahl, der von O ausgeht und bei O endet, die gleiche Zeit benötigt.
Diese Strahlen nennt man isochron (gleichzeitig). Weiterhin können wir aus dem
Prinzip der Lichtumkehr folgern, dass, wenn O der Objektpunkt ist, jeder Strahl
seine Richtung umkehrt, dabei aber seinen Weg durch das optische System bei-
behält und somit O der korrespondierende Bildpunkt wird. Die Punkte O und
O nennt man deshalb konjugierte Punkte des optischen Systems. Jeder Strahl,
der von O ausgeht und durch ein ideal abbildendes optisches System verläuft,
geht auch wieder durch den Punkt O hindurch. Wenn man ein ausgedehntes
Objekt abbilden will, muss diese Vorschrift für jeden Objektpunkt und seinen
konjugierten Bildpunkt gelten.
In der Praxis sind die Bilder nicht ideal, d.h. Punkte werden nicht in Punkte
abgebildet, da Lichtstreuung, Abbildungsfehler und Beugung auftreten. Einige
der Strahlen, die von O ausgehen, erreichen O nicht, weil an den brechenden
Oberflächen diffuse oder spiegelnde Reflexion auftritt und außerdem Streuung an
Inhomogenitäten in den transparenten Medien auftreten kann. Diese Schwächung
des Lichtes vermindert die Helligkeit des Bildes. Es kann jedoch auch vorkom-
men, dass einige Strahlen, die von anderen Objektpunkten Ok (nicht in Abb. 3.8
gezeigt) ausgehen, durch O verlaufen und damit das Bild verfälschen. Wenn das
optische System nicht für alle möglichen Objektstrahlen eine eindeutige Bezie-
hung zwischen Objekt- und Bildpunkten bewirkt, wie das für die konjugierte
Abbildung aller Objektpunkte nötig ist, so sprechen wir von Abbildungsfehlern
(Aberrationen). Die Aberrationen werden im Kapitel 5 behandelt. Jedes opti-
sche System verarbeitet nur einen Teil der Wellenfront, die vom Objekt ausgeht,
deshalb kann das Bild nicht exakt scharf sein. Man erhält ein unscharfes, beu-
gungsbegrenztes Bild. Beugung tritt immer auf, da Licht als Welle betrachtet
werden muss. Nur in dem nicht erreichbaren Grenzwert der geometrischen Op-
tik, wo λ → 0 gilt, würden Beugungseffekte vollständig verschwinden.
Ideal abbildende reflektierende Oberflächen werden in Abb. 3.9 gezeigt.
Objekt- und Bildpunkte können durch Umkehrung des Lichtweges vertauscht
werden. Wir sehen, dass in Abb. 3.9 b das Bild virtuell ist. Dies bedeutet, dass
das Bild nur durch rückwärtige (gestrichelte) Verlängerung der Strahlen entsteht.
Das virtuelle Bild ist nicht auf einem Schirm auffangbar. In Abb. 3.9 c wird deut-
lich, dass die parallel reflektierten Strahlen ein Bild im Unendlichen erzeugen.
In jedem Fall können wir zeigen, dass das Fermatsche Prinzip, das isochrone
Strahlen zwischen Objekt- und Bildpunkten fordert, die geometrische Form der
reflektierenden Flächen festlegt. Fragen wir uns nun nach der Gleichung für eine
geeignete brechende Oberfläche, die den Objektpunkt O in den Bildpunkt O
überführt, wie in Abb. 3.10 gezeigt. Dort ist ein beliebiger Punkt P mit den Ko-
ordinaten y, z auf der zu beschreibenden Oberfläche Σ angegeben. Wir fordern,
dass jeder Strahl, der von O ausgeht, wie z.B. OP O , so gebrochen wird, dass
er durch O verläuft. Ein anderer Strahl ist OSO , der senkrecht zur Oberfläche
durch den Scheitel S verläuft. Nach dem Fermatschen Prinzip sind diese Strahlen
isochron. Da die Medien auf jeder Seite der brechenden Oberfläche verschiedene
Brechzahlen aufweisen, sind die isochronen Strahlen jedoch nicht von gleicher
geometrischer Länge. Die Laufzeit eines Strahles durch ein Medium der Dicke d
mit der Brechzahl n ist:
d nd
t= =
c c0
Gleiche Laufzeiten bedeuten gleiche Werte des Produkts:
optische W eglänge = n d = Brechzahl × geometrischer W eg (3.7)
In dem eben beschriebenen Problem fordert das Fermatsche Prinzip, dass
nl1 + n l1 = nl2 + n l2 = konst. (3.8)

ist, wobei die Entfernungen in Abb. 3.10 definiert sind. Benutzt man die y, z-
Koordinaten des Punktes P , so erhält man für die erste Summe in (3.8):

n y 2 + z 2 + n y 2 + (l2 + l2 − z) = konst.
2
(3.8 a)
Die Konstante in der Gleichung lässt sich aus (3.8) für ein gegebenes Problem
berechnen. Gleichung (3.8 a) beschreibt ein kartesisches Ovaloid (Rotation eines
Ovales um die z-Achse) wie in Abb. 3.11 a als Ausschnitt gezeigt.
Bei den meisten Anwendungen möchte man jedoch das Bild in demselben opti-
schen Medium wie das Objekt erhalten. Dieses Ziel wird durch eine Linse erreicht,
Abb. 3.9. Fehlerfreie Abbildung durch reflektierende Oberflächen mit konjugierten

Objekt- und Bildpunkten. In c) ist die Abbildung nur für die dort gezeigten achsenparal-
lelen Strahlen fehlerfrei!
Abb. 3.10. Fehlerfreie Abbildung. Brechende Oberfläche Σ, die den Objektpunkt O

in den Bildpunkt O überführt
die die Lichtstrahlen an zwei Oberflächen bricht und damit ein Bild außerhalb
der Linse erzeugt. Es ist deshalb von besonderem Interesse, die Oberflächen zu
bestimmen, die nach der ersten Brechung jeden Objektstrahl parallel zum ande-
ren machen. Wenn solche Strahlen auf die zweite Oberfläche fallen, können sie
erneut so gebrochen werden, dass sie ein fehlerfreies Bild erzeugen. Die entspre-
chenden Flächen sind in den Abbildungen 3.11 b und 3.11 c angegeben. Abhängig
Abb. 3.11. Abbildungsfehlerfreie Oberflächen. a) Das kartesische Ovaloid bildet O in

O ab. b) Die hyperbolische Oberfläche bildet den Objektpunkt O ins Unendliche ab,
wobei O in einem Brennpunkt liegt und n < n ist. c) Elliptische Oberfläche, die den
Objektpunkt O ins Unendliche abbildet, wobei O in einem Brennpunkt liegt und n > n
ist
von der relativen Größe der Brechzahlen ist die brechende Oberfläche entweder
ein Hyperboloid (n < n ) oder ein Ellipsoid (n > n ).
In Abb. 3.12 ist eine doppelt hyperbolische Linse gezeigt. Fehlerfreie Abbil-
dung wird nur für die Objektpunkte O auf der optischen Achse erreicht, die den
korrekten Abstand zur der Linse haben. Für Punkte, die näher an der Linse lie-
gen, ist die Abbildung nicht ideal. Je größer das Objekt ist, um so ungenauer ist
die Abbildung. Da die Bilder von ausgedehnten Objekten nicht frei von Abbil-
dungsfehlern sind und hyperbolische Oberflächen zudem schwierig herzustellen
sind, macht man die Oberflächen meistens sphärisch (Kugelflächen). Die sphäri-
schen Aberrationen, die man so erzeugt, werden als Kompromiss akzeptiert, da
Abb. 3.12. Fehlerfreie Abbildung durch eine Linie mit asphärischen (hyperbolischen
Flächen)
Kugeloberflächen wesentlich leichter und preiswerter herzustellen sind. Für op-

tische Systeme, die hohen Anforderungen an die Abbildungsqualität genügen
müssen, werden aber durchaus Linsen mit asphärischen Flächen eingesetzt.
In der weiteren Behandlung der geometrischen Optik konzentrieren wir uns
auf den Fall von sphärischen reflektierenden und brechenden Flächen mit einem
Krümmungsradius r. Der Spezialfall r → ∞ gilt für die ebene Oberfläche.
3.6 Brechung an einer sphärischen Fläche –

Vorzeichenkonvention
Die verwendeten Formelzeichen sind in einer Tabelle am Buchanfang angege-
ben. Basis für die Bezeichnungsregelung ist die DIN 1335 . Punkte werden durch
lateinische Großbuchstaben und Strecken durch lateinische Kleinbuchstaben ge-
kennzeichnet. Die Winkel sind mit griechischen Kleinbuchstaben bezeichnet.
Konjugierte Größen, die nach Definition paarweise einander zugeordnet sind,
werden mit dem gleichen Buchstaben beschrieben. Die bildseitige Größe wird
zusätzlich mit einem Strich ( ) markiert. So ist y eine Strecke in der Gegenstands-
ebene und y die zugehörige Strecke in der Bildebene. Demgegenüber wird der
Objektbrennpunkt mit F , der Bildbrennpunkt mit F und die Objektbrennweite
mit f und die Bildbrennweite mit f bezeichnet, wobei die objektseitige Größe
zusätzlich einen Querstrich trägt. Dies soll deutlich machen, dass F und F nicht
konjugiert sind, d.h. sie sind nicht einander abbildbar, denn das Bild von F liegt
nicht in F .
Die Lichtrichtung verläuft von links nach rechts. Blickt man in Lichtrichtung,
so ist n die Brechzahl vor einer Grenzfläche und n die Brechzahl hinter der
Grenzfläche. Strecken werden von einem Bezugspunkt (in den Zeichnungen als
Punkt markiert) gemessen und sind durch einseitige Pfeile gekennzeichnet. Alle
Strecken, die von einem Bezugspunkt aus nach rechts oder nach oben gemessen
werden, sind positiv. Strecken, die von einem Bezugspunkt aus nach links oder
nach unten gemessen werden, sind negativ. Zur Veranschaulichung sind teilweise
in den Zeichnungen in Klammern zusätzlich beigefügte Vorzeichen angegeben.
Diese in Klammern angegebenen Vorzeichen sind nur eine Hilfe. Sie verdeutlichen,
dass man beim Einsetzen eines Zahlenwertes diesen mit einem positiven oder
negativen Vorzeichen versehen muss.
Die Vorzeichen von Winkeln werden relativ zu einem Bezugsschenkel be-
stimmt. Bei den Schnittwinkeln σ, σ mit der optischen Achse ist der Strahl
Bezugsachse. Für die Ein- und Ausfallswinkel ε, ε ist das Einfallslot Bezugs-
schenkel. Ein positives Vorzeichen ergibt sich, wenn man den Bezugsschenkel
entgegen dem Uhrzeigersinn bis zum Zusammenfallen mit dem anderen Schenkel
drehen muss ( Linksdrehung“). Die Winkelpfeile in den Zeichnungen zeigen vom
”
Bezugsschenkel weg.
3.6 Brechung an einer sphärischen Fläche – Vorzeichenkonvention 59
Abb. 3.13. Bezeichnungsregeln für die Vorzeichen von Strecken und Winkeln nach
DIN 1335
Diese Vorzeichenregeln sind in den Abbildungen 3.13 und 3.14 (Krümmungs-

radius einer Kugelfläche) veranschaulicht.
Beispiel 3.1 Vorzeichendefinition
Ein Gegenstand hat eine Größe von 0,2 m. Man legt die z-Achse (Lichtrich-
tung) durch den Fußpunkt O des Gegenstandes. Es sei a die Gegenstandsweite
und a die Bildweite. Hat der Gegenstand einen Abstand von 0,8 m von der
eingezeichneten Ebene, so muss man in den Gleichungen a = −0,8 m ein-
setzen. Für den Krümmungsradius der Kugelfläche in Abb. 3.14 wäre r =
+2,5 cm einzusetzen. Berechnet man z.B. für den Schnittwinkel σ = +25◦ ,
dann muss in der entsprechenden Zeichnung (s. Abb. 3.13) der bildseitige
Strahl von links nach rechts abfallend verlaufen. Bezugsschenkel ist stets der
Strahl, der hier durch Linksdrehung zur Deckung mit der optischen Achse
gebracht wird.
Wir wenden uns nun der Behandlung der Brechung einer sphärischen Kugel-
fläche mit dem Krümmungsradius r und dem Krümmungsradius C zu, wie sie
in Abb. 3.14 dargestellt ist. Ein Strahl geht vom Objektpunkt O aus und wird
vom Objekt aus gesehen an der konvexen Fläche zum Punkt O hin gebrochen.
Es gilt das Brechungsgesetz: n sin ε = n sin ε .
Im Folgenden wird die Brechung in der sogenannten paraxialen Näherung

behandelt. Dies bedeutet, dass nur achsennahe Strahlen zugelassen werden und
damit Einfalls- und Brechungswinkel nur kleine Werte annehmen.
Man entwickelt deshalb die Winkelfunktionen in eine Reihe:
ε3 ε5
sin ε = ε − 3! + 5! − ···
(3.9)
ε2 ε4
cos ε = 1 − 2!
+ 4!
− ···
Bricht man diese Reihenentwicklung nach dem ersten Glied ab, so gilt:
sin ε
sin ε ≈ ε, cos ε ≈ 1 und tan ε = ≈ε (3.10)
cos ε
Das Brechungsgesetz lautet dann:
paraxiales Brechungsgesetz n ε = n ε (3.11)
Abb. 3.14. Strahlverlauf und Schnittweiten bei einer brechenden Kugelfläche
Aus der Abb. 3.14 lässt sich in dem Dreieck CO P der Außenwinkel ϕ =
σ + ε entnehmen. Aus Dreieck CP O berechnet man den Außenwinkel ε = ϕ− σ.

Substituiert man ε und ε in (3.11), so erhält man:
n(ϕ − σ) = n (ϕ − σ ) (3.12)
Als Nächstes ersetzen wir die Winkel durch den Tangens des entsprechenden
Winkels, wie sich das aus Abb. 3.14 entnehmen lässt, wobei die Entfernung SQ in
der paraxialen Näherung sehr klein ist und deshalb QC = r (QO = s, QO = s )
angenommen wird. Wir erhalten

h h h h
n − = n − (3.13)
r s r s
und hieraus die:
Schnittweitengleichung einer Fläche mit dem Krümmungsradius r
n n n − n
− = (3.14)
s s r
Die Größe s ist die Bildschnittweite. Sie wird vom Scheitel S der gekrümmten
Fläche aus gemessen. s ist die Objektschnittweite und r der Krümmungsradius
der brechenden Fläche.
Für r → ∞ erhält man eine ebene brechende Fläche und damit die Schnitt-
weitengleichung einer ebenen Fläche:
n
s = s (3.4)
n
wobei s die scheinbare“ Tiefe ist, wie wir sie im vorherigen Abschnitt bestimmt
”
haben.
Der Abbildungsmaßstab β = y /y eines ausgedehnten Objekts y lässt sich
aus Abb. 3.15 entnehmen. Für den Strahl, der auf den Scheitel S fällt, gilt in der
paraxialen Näherung nε = n ε . Wenn man weiterhin den Tangens für die Winkel
einsetzt, so erhält man:
y y
n = n
s s
und den
y n s
Abbildungsmaßstab β einer Fläche β = = (3.15)
y n s
Da y in diesem Falle positiv und y negativ ist, erkennt man, dass β einen
negativen Wert annimmt. Allgemein lässt sich daraus entnehmen, dass ein nega-
tives Vorzeichen für den Abbildungsmaßstab entgegengesetzte Orientierung von
Gegenstand und Bild bedeutet. Im Falle einer ebenen brechenden Fläche kann
man (3.4) in (3.15) einsetzen und erhält damit β = 1. Deshalb haben die Bil-
der, die durch eine ebene brechende Fläche erzeugt werden, gleiche Größe und
Orientierung wie das Objekt.
Abb. 3.15. Definition des Abbildungsmaßstabes bei einer brechenden Kugelfläche
Werden bei der Abbildung mehrere Flächen durchlaufen, für die
n1 s1 n2 s2 nl sl

β1 = · , β2 = · , ..., βl = ·
n1 s1 n2 s2 nl sl
gilt, so ergibt sich der
y
Abbildungsmaßstab einer Flächenfolge β = = β1 β2 . . . βl (3.16)
y
Setzt man in (3.15) (nach Abb. 3.14) für s = h/σ und für s = h/σ , so ergibt
sich für ein beliebiges System die
Helmholtz-Lagrange-Invariante y n σ = y n σ (3.17)
Dies bedeutet, dass das Produkt aus Objekt- bzw. Bildgröße, der Brechzahl und
dem Strahlwinkel mit der Achse (Öffnungswinkel) für den paraxialen Objektraum
und den Bildraum eines beliebigen optischen Systems eine Erhaltungsgröße ist.
Beispiel 3.2 Brechung an Kugelflächen
Wir wenden die eben gewonnenen Erkenntnisse auf die Brechung an sphäri-
schen Flächen an. In Abb. 3.16 a ist ein Objekt in Luft 30 cm von einer kon-
vexen sphärischen Fläche mit dem Krümmungsradius r = 5 cm entfernt. Auf
der rechten Seite der Grenzfläche befindet sich Wasser (n = 1,33). Bevor
wir repräsentative Strahlen konstruieren, bestimmen wir zunächst die Bild-
schnittweite und den Abbildungsmaßstab des Bildes, indem wir (3.14) und
(3.15) benutzen. Gleichung (3.14) wird zu:
1,33 1 1,33 − 1

− =
s −30,5 cm 5 cm
Wir erhalten s = 0,4 m. Das positive Vorzeichen zeigt an, dass das Bild auf
der rechten Seite der Grenzfläche liegt. Auf der rechten Seite entsteht demnach
im Schnittpunkt der Strahlen ein reelles Bild.
Aus (3.15) erhält man:
1 · 40 cm
β = = −1
1,33 · (−30,5) cm
Dies bedeutet, dass das Bild relativ zum Objekt invertiert ist und die gleiche
Größe wie dieses hat. Abbildung 3.16 a zeigt das Bild und einige repräsenta-
tive Strahlen. In diesem Beispiel erstreckt sich das Medium weit genug zur
rechten Seite der sphärischen Fläche, so dass das Bild innerhalb dieses Medi-
ums entsteht und keine weitere Brechung auftritt. Wir wollen nun annehmen
(s. Abb. 3.16 b), dass das zweite Medium eine dicke Linse mit der Scheiteldicke
d = 10 cm ist, die eine zweite konkave sphärische Fläche mit dem Krümmungs-
radius r2 = −5 cm hat. Die Brechung an der ersten Oberfläche wird durch
diese Änderung nicht beeinflusst. Innerhalb der Linse haben die Strahlen eine
Richtung, die ein Bild im Abstand von 40 cm von der ersten Fläche ergeben
würde. Diese Strahlen werden jedoch von der zweiten Oberfläche gebrochen
und produzieren deshalb ein anderes Bild, wie in der Abbildung gezeigt. Das
reelle Bild für die Oberfläche (1) ist ein virtuelles Objekt für die Oberfläche
(2), da dieses Objekt auf der rechten Seite der Oberfläche (2) als gedachte
(gestrichelte) Verlängerung der Strahlen entsteht.
Für die zweite Brechung erhält man somit aus (3.14) und mit s2 = s1 −d =
40 cm − 10 cm = 30 cm sowie n2 = 1 für das Umgebungsmedium Luft
1 1,33 1 − 1,33
− =
s2 30 cm −5 cm
und damit s2 = 9,1 cm. Aus (3.15) ergibt sich der Abbildungsmaßstab zu
1,33 · 9,1 cm 2
β2 = ≈ = 0,4
1 · (30) cm 5
Das endgültige Bild hat also 2/5 der Größe des virtuellen Objektes und die
gleiche Orientierung. Für den gesamten Abbildungsmaßstab gilt β = β1 ·β2 =
−0,4. Relativ zu dem Originalobjekt hat das endgültige Bild 2/5 von dessen
Größe und ist invertiert.
Das soeben gezeigte Verfahren lässt sich für die Brechung an einer beliebi-
gen Flächenfolge generalisieren. Die einzelnen Brechungsvorgänge werden in der
Reihenfolge, in der das Licht auftrifft, behandelt. Die Objektschnittweite des l-
ten Schrittes ist durch die Bildschnittweite des (l − 1)-ten Schrittes bestimmt.
Wenn das Bild des (l − 1)-ten Schrittes nicht vor der brechenden Fläche entsteht,
so dient das virtuelle Bild, das bei der gestrichelten Verlängerung der reellen
Strahlen entsteht, als virtuelles Objekt für den l-ten Schritt.
Abb. 3.16. Beispiel für die Brechung an sphärischen Flächen a) Brechung durch eine
einzelne sphärische Fläche. b) Brechung durch eine dicke Linse. Die Indizes 1 und 2
beziehen sich auf die Brechungen an der ersten und zweiten Grenzfläche
3.7 Dünne Linsen

Wir wenden nun die angegebene Methode bei der Ableitung der Abbildungsglei-
chung für die dünne Linse an. Wie auch im Beispiel zu Abb. 3.16 sind hier zwei
Brechungen an Kugelflächen zu berücksichtigen. Hierbei vereinfachen wir das op-
tische System in der Weise, dass die Scheiteldicke der Linse im Vergleich zu den
Gegenstands- und Bildweiten vernachlässigt wird. Diese Näherung lässt sich für
viele praktische Fälle verwenden. Wir nehmen nun an, dass auf beiden Seiten der
Linse das gleiche Medium mit der Brechzahl n1 ist und die Brechzahl des Linsen-
materials nL beträgt. Damit ist n1 = n2 und n1 = n2 = nL (s. Abb. 3.16). Zum
besseren Verständnis werden im Folgenden auch die Gleichungen ohne diese Ver-
einfachungen für die Brechzahlen angegeben. Für die erste brechende Oberfläche
mit dem Krümmungsradius r1 gilt
n1 n1 n − n1 nL n1 nL − n1
− = 1 oder − = (3.18)
s1 s1 r1 s1 s1 r1
3.7 Dünne Linsen 65
und an der zweiten Grenzfläche mit dem Krümmungsradius r2 erhalten wir:
n2 n2 n2 − n2 n1 nL n1 − nL
− = oder − = (3.19)
s2 s2 r2
s2 s2 r2
Die zweite Objektweite ist gegeben durch
s2 = s1 − d (3.20)
wobei d die Scheiteldicke der Linse ist, die in der Näherung der dünnen Linse
über den Linsendurchmesser konstant ist. Bei zusätzlicher Vernachlässigung von
d erhält man dann:
s2 = s1 (3.21)
Wir setzen nun diesen Wert für s2 in (3.19) ein und addieren (3.18) und (3.19):

n1 n1 1 1
− + = (nL − n1 ) −
s1 s2 r1 r2
Nun ist aber s1 die anfängliche Gegenstandsschnittweite und s2 die endgültige
Bildschnittweite; deshalb lassen wird die s-Indizes weg und schreiben einfach

1 1 nL − n1 1 1
− = − (3.22)
s s n1 r1 r2
Die Bildbrennweite einer dünnen Linse (d ≈ 0) definieren wir als die Schnitt-
weite für ein Objekt im Unendlichen und entsprechend die Gegenstandsbrenn-
weite als Gegenstandsschnittweite für ein Bild im Unendlichen. Wir erhalten mit
s = f und 1/s = 0 aus (3.22) die

1 nL − n1 1 1
Bildbrennweite einer dünnen Linse = − (3.23)
f n1 r1 r2
Gleichung (3.23) ergibt die Brennweite für eine Linse der Brechzahl nL und
mit den Krümmungsradien r1 und r2 , wobei die Linse in einem Medium mit
der Brechzahl n1 benutzt wird. In den meisten Fällen befindet sich die Linse
in Luft und es gilt n1 = 1. In der Näherung der dünnen Linse (d ≈ 0) kann
man die Schnittweiten, die von den Linsenscheiteln aus gemessen werden, durch
Gegenstands- und Bildweite ersetzen. Damit ergibt sich mit (3.23) aus (3.22):
1 1 1
Abbildungsgleichung der dünnen Linse
− = (3.24)
a a f
Hierbei bezeichnet man a als Bildweite und a als Gegenstandsweite. Für reale,
dicke Linsen werden die Brennweiten, sowie Bild- und Gegenstandsweiten relativ
zu den Hauptpunkten und nicht zu den Linsenscheiteln gemessen (s. Kap. 4).
Für prinzipielle Überlegungen an einfachen optischen Systemen ist die Näherung
durch dünne Linsen als erste Abschätzung nützlich.
Wir untersuchen nun die Wirkung von Linsen auf ebene Wellenfronten (s.
Abb. 3.17) und sehen, dass eine Positivlinse (Sammellinse, Bildbrennweite f > 0,
Bildbrennpunkt F rechts von der Linse), die in der Mitte dicker ist als am Rand,
eine konvergente Wellenfront erzeugt. Dagegen bewirkt eine Negativlinse (Zer-
streuungslinse, Bildbrennweite f < 0, Bildbrennpunkt F links von der Linse),
die in der Mitte dünner als am Rand ist, dass die einfallenden parallelen Strahlen
hinter der Linse divergieren. Der Anteil der Wellenfront, der durch den dickeren
Teil der Linse geht, wird relativ zu anderen Lichtwegen verzögert.
Abb. 3.17. Wirkung a) einer Sammellinse mit f > 0 und b) einer Zerstreuungslinse
mit f < 0 auf ebene Wellenfronten
Die Konstruktionen des Abbildungsstrahlenganges für Sammellinsen und Zer-

streuungslinsen mit Hilfe dreier repräsentativer Strahlen – Parallelstrahl (1),
Brennpunktstrahl (2), Mittelpunktstrahl (3) – sind in der Abb. 3.18 angegeben.
Man verwendet eine symbolische Darstellung der dünnen Linse, die aus einer
vertikalen Linie mit Pfeilen an den Enden besteht, wobei die Pfeile symbolisch
die Form der Linse beschreiben. Der Parallelstrahl (1), der von der Spitze des
Objektes ausgeht, verläuft parallel zur optischen Achse und geht auf der rechten
Seite der Linse durch den bildseitigen Brennpunkt. Bei Abb. 3.18 b verläuft der
einfallende Parallelstrahl (1) nach dem Durchgang durch die Linse so weiter, als
würde er, wie durch den gestrichelten Verlauf angedeutet, vom Bildbrennpunkt
F herkommen. Den Brennpunktstrahl (2) kann man in entsprechender Weise für
beide Linsen konstruieren.
Die zwei gezeichneten Strahlen sind ausreichend, um den Bildpunkt festzule-
gen. Zusätzlich kann man jedoch den Mittelpunktstrahl (3) zeichnen, der ungebro-
chen durch den Mittelpunkt der Linse geht. Der mittlere Teil der Linse verhält
Abb. 3.18. Strahlendiagramme für die Abbildung durch a) Sammellinse, b) Zerstreu-

ungslinse
sich wie eine planparallele Platte, die die Richtung des einfallenden Strahles nicht
ändert und wegen ihrer geringen Dicke den Strahl kaum parallel verschiebt.
Konstruktionsstrahlen für die optische Abbildung mit dünnen Linsen
(nach Abb. 3.18)
(1) Parallelstrahl → Brennpunktstrahl
(2) Brennpunktstrahl → Parallelstrahl
(3) nicht gebrochener Mittelpunktstrahl
Bei der Konstruktion der Strahlenverläufe sehen wir, dass mit Ausnahme
des Mittelpunktstrahls jeder Strahl durch eine Sammellinse zur optischen Achse
hin gebrochen wird, während jede Brechung bei der Zerstreuungslinse von der
optischen Achse weg erfolgt. Aus den Strahlendiagrammen ergibt sich, dass der
Winkel w, unter dem die Objektstrecke y vom Mittelpunkt der Linse aus gesehen
wird gleich dem Winkel w ist, unter dem die Bildstrecke y gesehen wird. Damit
erhält man aus den ähnlichen Dreiecken für das reelle Bild in 3.18 a oder für das
virtuelle Bild in 3.18 b den
y a
Abbildungsmaßstab β = = (3.25)
y a
Weitere Beispiele für Strahlendiagramme von zwei Linsen, die hintereinander auf
der optischen Achse angeordnet sind, werden in Abb. 3.19 gezeigt und in Beispiel
3.3 diskutiert.
Beispiel 3.3 Zweilinsiges optisches System mit dünnen Linsen
Berechnen und beschreiben Sie das Zwischenbild und das Endbild für ein
zweilinsiges optisches System, wie es in der Abb. 3.19 a dargestellt ist. Hierbei
sei f1 = 15 cm, f2 = −15 cm und der Abstand der beiden Linsen e = 60 cm.
Der Gegenstand befindet sich 25 cm vor der ersten Linse.
Lösung
Die erste Linse ist eine Sammellinse mit f1 = 15 cm. Der Gegenstand ist bei
a1 = −25 cm. Aus (3.24) folgt die Bildweite:
a1 f1 −25 cm · 15 cm
a1 = = = +37,5 cm
a1 + f1 −25 cm + 15 cm
Wir erhalten den Abbildungsmaßstab:
a1 37,5 cm
β1 = = = −1,5
a1 −25 cm
Das erste Bild (Zwischenbild) ist demnach reell und liegt 37,5 cm rechts von
der ersten Linse. Relativ zum Gegenstand ist das Bild invertiert (weil β
negativ ist), und das Zwischenbild ist 1,5-mal so groß wie der Gegenstand.
Die zweite Linse ist eine Zerstreuungslinse: f2 = −15 cm. Das reelle
Zwischenbild ist reelles Objekt für die zweite Linse mit der Objektweite
a2 = a1 − e = 37,5 cm − 60 cm = −22,5 cm. Wir sehen, dass es sich auf der
linken Seite der Linse (2) befindet. Dadurch ergibt sich:
a2 · f2 −22,5 cm · (−15 cm)

a2 = = = −9 cm
a2 + f2 −22,5 cm − 15 cm
und
a2 −9 cm
β2 = = = 0,4
a2 −22,5 cm
Das Endbild ist virtuell, 9 cm links von der zweiten Linse, relativ zum Zwi-
schenbild nicht invertiert (β2 ist positiv) und 0,4 mal so groß wie dieses. Die
Gesamtvergrößerung ist durch β = β1 β2 = −1,5·0,4 = −0,6 gegeben. Hieraus
ersieht man, dass das Endbild relativ zum Anfangsobjekt invertiert ist und
0,6-mal so groß ist wie dieses. Alle diese Eigenschaften sind qualitativ aus
dem Strahlendiagramm der Abb. 3.19 a zu entnehmen.
Abb. 3.19. a) Erzeugung eines virtuellen Bildes durch ein optisches System, das aus
einer Sammellinse (1) und einer Zerstreuungslinse (2) besteht. b) Erzeugung eines reel-
len Bildes O durch ein optisches System aus zwei Sammellinsen. Das Zwischenbild O
ist bei a reelles und bei b virtuelles Objekt für die zweite Linse
3.8 Krümmung von Wellenfronten und Brechwert von

Linsen
Für bestimmte Anwendungen kann eine andere Interpretation der Abbildungs-
gleichung der dünnen Linse nützlich sein. Aus der Abbildungsgleichung der
dünnen Linse
1 1 1
− = (3.24)
a a f
und aus Abb. 3.20 erkennen wir, dass sich zum einen aus den Kehrwerten von
Gegenstands- und Bildweite der Kehrwert der Bildbrennweite ergibt; zum ande-
ren beschreiben die Kehrwerte von Gegenstands- und Bildweite die Krümmungs-
radien der Wellenfronten, die um den Gegenstand O und das Bild O zentriert
sind.
Eine ebene Wellenfront hat eine Krümmung von 0 (Krümmungsradius = ∞).
Abbildung 3.20 zeigt Kugelwellen, die von einem Gegenstandspunkt O ausgehen
und die die Krümmung V = 1/a beim Auftreffen auf die dünne Linse haben.
Wir sehen in Abb. 3.20 a, dass nach der Brechung die Wellenfronten auf den
Bildpunkt O zulaufen, oder, wie in Abb. 3.20 b gezeigt, sich weiter ausdehnen
und scheinbar vom virtuellen Bildpunkt O herkommen. Nach dem Durchgang
durch die Linse ist die Krümmung der Wellenfronten V = 1/a Die Änderung
der Krümmung beim Übergang vom Gegenstandsraum in den Bildraum wird vom
Brechwert D der Linse verursacht, der durch den Kehrwert der Bildbrennweite
D = 1/f gegeben ist. Mit dieser Definition lässt sich (3.22) in folgender Weise
schreiben:
1
V−V = = D (3.26)
f
Die Einheiten von V und V sind reziproke Längen. Wenn man die Länge in Me-
tern misst, so ergibt sich für die reziproken Werte die Einheit 1/m oder Dioptrie
(dpt). Der Brechwert einer Linse mit einer Bildbrennweite von f = 2 m beträgt
D = 5 dpt.
Die oben genannte Darstellung betont mehr die Krümmung der Wellenfront
oder die Konvergenz oder Divergenz der Strahlen als Gegenstands- oder Bildwei-
ten. Daraus ergibt sich, dass der Grad der Konvergenz V der Strahlen auf der
Bildseite zum einen durch den ursprünglichen Grad der Konvergenz V auf der
Objektseite und zum anderen durch den Brechwert 1/f der Linse bestimmt wird.
Gleichung (3.26) kann auch auf den Fall der Brechung an einer einfachen Grenz-
fläche angewandt werden. In diesem Fall ergibt sich aus (3.14) für den Brechwert
der einzelnen Fläche D = (n − n)/r.
Das Rechnen mit Brechwerten ist noch in einem anderen Fall nützlich. Wenn
man dünne Linsen sehr nahe zusammenbringt, so kann man wegen der verschwin-
denden Scheiteldicke dieses optische System als eine einzelne dünne Linse be-
3.8 Krümmung von Wellenfronten und Brechwert von Linsen 71
Abb. 3.20. Änderung in der Krümmung einer Wellenfront bei der Brechung durch eine
dünne Linse. a) Sammellinse, b) Zerstreuungslinse
trachten und die Brennweite der Kombination als Funktion der Einzelbrennwei-
ten f1 , f2 , . . . der einzelnen Linsen berechnen. Wir können beispielsweise für ein
zweilinsiges System folgende Abbildungsgleichungen angeben:
1 1 1 1 1 1
− = und − = .
a1 a1 f1 a2 a2 f2
Da für den hier betrachteten Fall die beiden Linsen sehr nahe zusammenliegen,
gilt a2 = a1 und damit ergibt sich bei Addition der zwei Abbildungsgleichungen
1 1 1 1 1
− = + =
a2 a1 f1 f2 f
Man sieht, dass die Summe der einzelnen reziproken Brennweiten das Reziproke
der Gesamtbrennweite f des Paares ergibt. Verallgemeinert erhält man:
Gesamtbrennweite für Hintereinanderschaltung von dünnen Linsen ohne
Zwischenraum
1 1 1

= + + . . . oder D = D1 + D2 + . . . (3.27)
f f1 f2
Man sieht, dass sich die reziproken Brennweiten oder Brechwerte (D = 1/f )
der Linsen addieren.
3.9 Newtonsche Abbildungsgleichung für die Linse

Misst man Gegenstands- und Bildweiten relativ zu den Brennpunkten einer Linse,
wie durch die Abstände z und z in der Abb. 3.21 (Linse in Luft) angegeben, so
erhält man die Newtonsche Form der Abbildungsgleichung. Die Dreiecke 1 und
2 (bzw. 1 und 2 ), die sich durch die Brennpunktstrahlen und die dünne
Linse zu beiden Seiten der Linse ergeben, sind ähnlich (Strahlensatz). Deshalb
gilt für den Abbildungsmaßstab:
−y −f y f
= und = (3.28)
y −z −y z
Hieraus erhält man die
Newtonsche Form der
Abbildungsgleichung z · z = f · f oder z · z = −f 2 (3.29)
wobei für den Fall gleicher Medien auf beiden Seiten der Linse für die Gegen-
standsbrennweite f = −f eingesetzt wurde. Diese Form der Abbildungsgleichung
Abb. 3.21. Ableitung der Newtonschen Abbildungsgleichung für die dünne Linse
3.10 Reflexion an ebenen Spiegeln 73
gilt auch für dicke Linsen, da die Abstände von Gegenstand und Bild relativ zu
den Brennpunktlagen und nicht zu Linsenoberflächen gemessen werden.
Aus (3.28) ergibt sich die
−f −z f
Newtonsche Form des Abbildungsmaßstabes β = = = (3.30)
z f z
3.10 Reflexion an ebenen Spiegeln

Im Folgenden wollen wir die Erzeugung von Bildern durch ebene Spiegel diskutie-
ren. Hierzu müssen wir zwischen der Reflexion an einer ideal ebenen Oberfläche
und der diffusen Reflexion an einer rauen Oberfläche unterscheiden. Im ersten
Fall gehorchen Strahlen, die auf die Oberfläche treffen, dem Reflexionsgesetz
(3.1) und aus einem einfallenden Parallelstrahlbündel wird durch die Reflexion
ein ausfallendes Parallelstrahlbündel. Im zweiten Fall wird zwar das Reflexions-
gesetz lokal in jedem Punkt befolgt, die mikroskopisch körnige Oberfläche erzeugt
jedoch reflektierte Strahlen, die in verschiedene Richtungen verlaufen und damit
als Ergebnis eine diffuse Streuung des einfallenden Strahlbündels. Jede ebene
Oberfläche erzeugt immer einen Anteil einer solchen diffusen Reflexion, da man
in der Praxis keine ideal ebene Oberfläche herstellen kann. Aus der Winkelver-
teilung der reflektierten Strahlung kann man auf die Oberflächengüte schließen.
Im Weiteren werden wir ideale Reflexion voraussetzen.
Betrachten wir die Reflexion eines einzelnen Lichtstrahles OP an der xy-
Fläche in Abb. 3.22 a. Aufgrund des Reflexionsgesetzes bleibt der reflektierte
Strahl P Q in der Einfallsebene, die durch die Flächennormale im Auftreffpunkt
des einfallenden Strahles und den einfallenden Strahl definiert wird. Wenn man
den Weg OP Q in seine xyz-Komponenten aufspaltet, so sieht man, dass durch
die Reflexion die Richtung des Strahles OP bezüglich der z-Richtung umgekehrt
wird. Dies bedeutet, dass die z-Komponente invertiert wird. Wenn die Richtung
des einfallenden Strahles durch den Einheitsvektor er1 = (ex1 , ey1 , ez1 ) gegeben
ist, so erhält man aufgrund der Reflexion:
er1 = (ex1 , ey1 , ez1 ) → er2 = (ex1 , ey1 , −ez1 )

Wenn ein Strahl nacheinander von drei exakt rechtwinklig zueinander angeord-
neten Ebenen (Tripelspiegel), wie z.B. in der Ecke eines Würfels, reflektiert wird
(s. Abb. 3.22 b), so ergibt sich
er1 = (ex1 , ey1 , ez1 ) → er2 = (−ex1 , −ey1 , −ez1 )

Tabelle 3.1. Zusammenstellung wichtiger Formeln zur Brechung und zur Abbildung
Snelliussches n sin ε = n sin ε (3.3)

Brechungsgesetz
paraxiales n ε = n ε (3.11)
Brechungsgesetz
optische Weglänge n d = Brechzahl × geometrischer W eg (3.7)

n
Grenzwinkel der εg = arcsin mit n > n (3.6)
Totalreflexion n
n n n − n
Schnittweitengleichung − = (3.14)
einer Fläche mit dem s s r
Krümmungsradius r
n
Schnittweitengleichung s = s (3.4)
einer ebenen Fläche n
y n s
Abbildungsmaßstab β β = = (3.15)
einer Fläche y n s
y
Abbildungsmaßstab β = = β1 β2 . . . βl (3.16)
einer Flächenfolge y
Helmholtz-Lagrange- y n σ = y n σ (3.17)
Invariante

1 nL − n1 1 1
Bildbrennweite einer = − (3.23)
dünnen Linse f n1 r1 r2
1 1 1
Abbildungsgleichung
− = (3.24)
der dünnen Linse a a f
y a f
Abbildungsmaßstab β = = = (3.25)
y a a + f
1 1 1
Gesamtbrennweite für = + +... (3.27)
Hintereinanderschal- f f1 f2
tung von dünnen Linsen
ohne Zwischenraum
Newtonsche Form der z · z = f · f oder z · z = −f 2 (3.29)

Abbildungsgleichung
−f −z f
Newtonsche Form des β = = = (3.30)
Abbildungsmaßstabes z f z
3.10 Reflexion an ebenen Spiegeln 75
und der Strahl kommt exakt antiparallel zum einfallenden Strahl zurück. Eine
Anordnung von mehreren solcher Tripelspiegel bewirkt die exakte Rückspiege-
lung eines Strahlenbündels, so z.B. Licht eines Autoscheinwerfers durch die Re-
flektoren am Straßenrand oder eines Laserstrahles von einem Reflektor auf der
Mondoberfläche.
Bei einem Tripelspiegel wird der reflektierte Strahl unabhängig von der Dre-
hung des Tripelspiegels um beliebige Achsen exakt um 180◦ gegenüber dem
einfallenden Strahl umgelenkt.
Abb. 3.22. Reflexion an ebenen Spiegeln a) Einfach-, b) Tripelspiegel
Die Abbildung durch ebene Spiegel ist in Abb. 3.23 a dargestellt. Ein punktför-
miges Objekt O sendet Strahlen auf einen Spiegel. Das Reflexionsgesetz stellt
sicher, dass die Dreiecke ON P und O N P kongruent sind, so dass alle reflek-
tierten Strahlen scheinbar von dem Bildpunkt O ausgehen. Dieser liegt auf der
Normalen ON und die Bildweite O N ist im Betrag (ohne Vorzeichen) gleich
der Gegenstandsweite ON . Das Auge sieht ein punktförmiges Bild bei O ge-
nau in der gleichen Weise wie es einen realen punktförmigen Gegenstand sehen
würde, der in O angeordnet ist. Da es keinen realen Strahlenverlauf jenseits der
Spiegeloberfläche gibt, ist das entstehende Bild virtuell. Man kann es vor dem
Spiegel nicht auf einem weißen Blatt Papier auffangen, wie dies für ein reelles
Bild möglich wäre.
Alle Punkte eines ausgedehnten Objektes, z.B. die Pfeile in Abb. 3.23 b, wer-
den durch einen ebenen Spiegel in der gleichen Weise abgebildet: Zu jedem Gegen-
standspunkt gibt es einen Bildpunkt, der um soviel unterhalb der reflektierenden
Fläche liegt, wie der Objektpunkt sich oberhalb der Fläche befindet. Die Verbin-
dungslinie von Objekt- und Bildpunkt steht senkrecht auf der Oberfläche. Wir
stellen fest, dass die Lage des Bildes nicht von der Position des Auges abhängt.
Abb. 3.23. Abbildung durch ebene Spiegel
Weiterhin zeigt Abb. 3.23 b, dass die Bildgröße identisch zur Gegenstandsgröße
ist, dass also der Abbildungsmaßstab gerade gleich 1 ist. Die Änderung der Ori-
entierung durch die Spiegelung wird in Abb. 3.23 c dargestellt, wobei hier der
Spiegel nicht direkt unterhalb des Gegenstandes liegt. Zur Konstruktion des Bil-
des verlängert man die Spiegelebene. Abbildung 3.23 d zeigt Vielfachbilder eines
Gegenstandspunktes O, die sich durch zwei senkrecht zueinander stehende Spie-
gelflächen ergeben. Die Bilder O1 und O2 werden durch einfache Reflexion an den
beiden Spiegeln gebildet, aber das dritte Bild O3 entsteht durch die nacheinander
erfolgende Reflexion an beiden Spiegeloberflächen.
3.11 Reflexion an einer Kugeloberfläche

Kugelspiegel können entweder konkav oder konvex sein, je nachdem, ob der
Krümmungsmittelpunkt C auf der gleichen Seite wie der Gegenstandspunkt
O liegt oder auf der entgegengesetzten Seite. In Abb. 3.24 wird ein konkaver
Spiegel gezeigt und die Abbildung des Objektpunktes O in den Bildpunkt O
dargestellt. Bei einer Spiegelung wird der Lichtweg bezüglich der z-Achse (op-
tische Achse) umgekehrt, was auch in den Abbildungsgleichungen zu Vorzei-
chenänderungen führen würde. Deshalb faltet (=
ˆ Spiegelung) man den Strah-
lengang an der Scheitelebene der Spiegelfläche auf und erhält dann einen Bild-
3.11 Reflexion an einer Kugeloberfläche 77
Abb. 3.24. Reflexion an einem sphärischen Hohlspiegel. Es wird der normale“ und der
”
aufgefaltete“ Strahlengang dargestellt. Mit der Auffaltung wird die Vorzeichenände-
”
rung, die bei der Reflexion wegen der Umkehr der Lichtrichtung auftritt, beseitigt

punkt OAuf (Auffaltung). Dies bedeutet eine Vorzeichenumkehr für s und f .
Das Auffaltungsverfahren hat bei der Berechnung des Strahlengangs in Laser-
resonatoren (s. Kap. 21) besondere Bedeutung. Es ergibt sich für die
aufgefaltete Spiegelfläche :
1 1 2 1
Schnittweitengleichung − = = (3.31)
sAuf s rAuf fAuf
rAuf r
Brennweiten fAuf = und f Auf = (3.32)
2 2
1 1 1
Abbildungsgleichung − = (3.33)
aAuf a fAuf

y a
Abbildungsmaßstab β = = Auf (3.34)
y a
Bei Abbildung einer Objektstrecke y wirkt die aufgefaltete Spiegelfläche wie eine
dünne Linse, d.h. s und sAuf kann man durch a und aAuf ersetzen. Das Reflexi-
onsgesetz an der aufgefalteten Spiegelfläche lautet εAuf = ε.
Abbildung 3.25 zeigt den Strahlenverlauf an einigen sphärischen Spiegeln ohne
Auffaltung. Es gilt für die
nicht aufgefaltete Spiegelfläche :

1 1 1
Schnittweitengleichung
+ = (3.35)
s s f
r r
Brennweiten f = und f = (3.36)
2 2
1 1 1
Abbildungsgleichung + = (3.37)
a a f

y a
Abbildungsmaßstab β = =− (3.38)
y a
Abb. 3.25. Brennpunkte und Abbildung an sphärischen Spiegeln ohne Auffaltung
In Abb. 3.26 wird die Bildkonstruktion für einen Hohlspiegel und einen Wölb-
spiegel gezeigt.
Beispiel 3.4 Reflexion an Kugelspiegeln mit/ohne Auf faltung
Ein 3 cm großer Gegenstand wird 20 cm vom Scheitel eines a) konvexen und
b) konkaven Spiegels aufgestellt. Der Betrag der Brennweite ist jeweils 10 cm.
Bestimmen Sie Lage und Abbildungsmaßstab des Bildes.
Abb. 3.26. Abbildung durch sphärische Spiegel (ohne Auffaltung): a) Konkavspiegel

(Hohlspiegel), verkleinertes reelles Bild, b) Konkavspiegel (Hohlspiegel), vergrößertes
virtuelles Bild, c) Konvexspiegel (Wölbspiegel), verkleinertes virtuelles Bild, (1) Paral-
lelstrahl, (2) Brennpunktstrahl, (3) Mittelpunktstrahl
Lösung

a1) konvexer Spiegel, mit Auffaltung, fAuf = −10 cm, a = −20 cm. Aus
aAuf − a = fAuf
1 1 1
folgt:

afAuf −20 cm · (−10) cm
aAuf = = = −6,67 cm
a + fAuf −20 cm − 10 cm
a −6,67 cm
β = Auf = = 0,333
a −20 cm
Das Bild nach Auffaltung liegt 6,67 cm links vom Scheitel des Spiegels,
hat die gleiche Orientierung wie der Gegenstand und ist 1/3 so groß wie
dieser.
a2) konvexer Spiegel, keine Auffaltung, f = 10 cm, a = −20 cm. Hier folgt
aus a1 + a1 = f1 :
af −20 cm · 10 cm
a = = = 6,67 cm
a − f −20 cm − 10 cm
a 6,67 cm
β = − = − = 0,333
a −20 cm
Das Bild liegt 6,67 cm rechts vom Scheitel des Spiegels, hat die gleiche
Orientierung wie der Gegenstand und ist 1/3 so groß wie dieser.

b) konkaver Spiegel, Auffaltung, fAuf = 10 cm, a = −20 cm. Hier gilt:

af −20 cm · 10 cm
aAuf = Auf
= = 20 cm
a + fAuf −20 cm + 10 cm
a 20 cm
β = Auf = = −1
a −20 cm
Das Bild liegt 20 cm rechts vom Scheitel des Spiegels, hat die umgekehrte
Orientierung wie der Gegenstand und ist genauso groß wie dieser.
Übungen
Hinweis: Die Brechzahl von Wasser beträgt 1,33, für Glas wird, wenn nicht
anders angegeben, n = 1,5 verwendet.
3.1 Berechnen Sie die Laufzeit eines Lichtstrahles, der die Entfernungen z1 im Medium
der Brechzahl n1 , z2 im Medium der Brechzahl n2 , . . . sowie zm im Medium mit nm
zurücklegt. Geben Sie das Ergebnis Ihrer Berechnung in Form einer Summe an.
3.2 Bestimmen Sie das kartesische Ovaloid für die ideale Abbildung mit einer brechen-
den Fläche, wenn der Objektpunkt auf der optischen z-Achse 20 cm vom Scheitel
der Oberfläche entfernt ist und der konjugierte Bildpunkt 10 cm innerhalb des zwei-
ten Mediums liegt. Nehmen Sie für das brechende Medium eine Brechzahl von 1,5
an, das äußere Medium sei Luft. Bestimmen Sie die Gleichung für den Schnitt des
Ovaloids mit der yz-Ebene, wobei der Koordinatennullpunkt im Objektpunkt liegt.
Stellen Sie eine Tabelle mit den y- und z-Koordinaten der Fläche auf und zeichnen
Sie die Fläche mit einigen Konstruktionsstrahlen.
3.3 Eine bikonvexe Linse hat einen Durchmesser von 5 cm und die Randdicke null. Ein
Punktobjekt auf der optischen Achse erzeugt ein reelles Bild auf der entgegengesetz-
ten Seite. Gegenstand und Bild sind 30 cm von der Mittelebene der Linse entfernt.
Das Linsenmaterial hat eine Brechzahl von 1,52. Benutzen Sie den Satz von der
Gleichheit der optischen Wege durch das Zentrum und den Rand der Linse, um die
Dicke der Linse in der Mitte zu bestimmen.
3.4 Eine Glaskugel von 5 cm Durchmesser hat einen kleinen Kratzer auf ihrer Ober-
fläche. Man beobachtet den Kratzer durch das Glas entlang einer Achse durch den
Mittelpunkt von einer Position direkt gegenüber. An welcher Stelle erscheint der
Kratzer und wie groß ist sein Abbildungsmaßstab?
3.5 An welcher Stelle vor einer sphärischen brechenden Fläche muss man ein Objekt
anordnen, damit die Brechung parallele Lichtstrahlen erzeugt? Wie groß ist die
Brennweite einer einzigen brechenden Oberfläche?
3.6 Ein kleiner Goldfisch wird im Innern eines kugelförmigen Aquariums von 30 cm
Durchmesser betrachtet. Bestimmen Sie die scheinbare Position und den Abbil-
dungsmaßstab des Fischauges, wenn die tatsächliche Position
a) im Zentrum der Kugel und
b) in der Mitte der Sichtlinie vom Zentrum zum Rand ist.
Nehmen Sie an, dass das Glas so dünn ist, dass sein Einfluss auf die Brechung
vernachlässigt werden kann.
3.7 Ein kleines Objekt befindet sich vor dem dünnen, konvex–sphärischen Glasfenster
eines Wassertanks. Der Krümmungsradius der Fensterfläche ist 5 cm. Die innere
hintere Seite des Tanks besteht aus einem ebenen Spiegel, der 25 cm vom Fenster
entfernt ist. Bestimmen Sie Ort und Größe des Bildes eines Objektes, das sich 30
cm vom Fenster entfernt außerhalb des Tanks befindet. Die Brechung durch das
Glas des Fensters kann vernachlässigt werden.
3.8 Eine plankonvexe Linse hat eine Bildbrennweite von 25 cm und soll aus Glas der
Brechzahl 1,52 hergestellt werden. Berechnen Sie den Krümmungsradius der Schleif-
und Polierwerkzeuge, die bei der Herstellung der Linse benötigt werden.
3.9 Berechnen Sie die Brennweite einer dünnen Meniskuslinse, deren sphärische Ober-
flächen die Krümmungsradien 5 und 10 cm haben. Die Brechzahl des Glases ist 1,5.
Berechnen Sie eine Positiv- und eine Negativlinse.
3.10 Eine Seite eines Aquariums besteht aus einer großen Glaslinse (n = 1,5). Die Linse
ist bikonvex mit Krümmungsradien vom Betrag 30 cm. Ein kleiner Fisch im Aqua-
rium ist 20 cm von der Linse entfernt. Wo scheint sich der Fisch zu befinden, wenn
man ihn durch die Linse betrachtet? Wie groß ist der Abbildungsmaßstab?
3.11 Zwei dünne Linsen haben Bildbrennweiten von −5 und +20 cm. Bestimmen Sie ihre
resultierende Brennweite, wenn sie
a) sich im optischen Kontakt befinden und
b) 10 cm voneinander entfernt sind.
3.12 Zwei identische dünne plankonvexe Linsen mit Krümmungsradien vom Betrag 15 cm
sind so angeordnet, dass ihre gekrümmten Oberflächen im Scheitel aneinander-
stoßen. Der Zwischenraum zwischen den Linsen ist mit Öl der Brechzahl 1,65 gefüllt.
Die Brechzahl des Glases ist 1,5. Bestimmen Sie die Brennweite der Kombination.
(Hinweis: Betrachten Sie die Ölschicht als dünne Zwischenlinse.)
3.13 Ein Okular besteht aus zwei dünnen Linsen von 20 mm Bildbrennweite im Abstand
von 16 mm.
a) Wo muss man ein kleines selbstleuchtendes Objekt positionieren, damit das
Licht, das vom Objekt ausgeht, parallel gemacht wird?
b) Welche Orientierung hat das Bild relativ zum Objekt? Ist das Bild vergrößert?
Klären Sie diese Fragen anhand einer Strahlenkonstruktion.
3.14 Eine dünne Zerstreuungslinse und ein konkaver Spiegel haben Bildbrennweiten, die
dem Betrage nach gleich sind. Drei halbe Brennweiten vor die Zerstreuungslinse
wird ein Gegenstand positioniert. Der Spiegel befindet sich in der Entfernung 3f
auf der anderen Seite der Linse. Bestimmen Sie die Bildlage in der paraxialen
Näherung.
a) Verwenden Sie ein Strahlendiagramm.
b) Berechnen Sie die Lage und Größe des Bildes.
3.15 Ein kleines Objekt ist 20 cm von der ersten Linse eines dreilinsigen Systems entfernt,
das die Bildbrennweiten 10 cm, 15 cm und 20 cm aufweist. Der Abstand zwischen
den ersten beiden Linsen ist 30 cm, der zwischen den letzten beiden 20 cm. Be-
rechnen Sie die endgültige Bildlage relativ zur Position der letzten Linse sowie den
Abbildungsmaßstab, wenn:
a) alle drei Linsen Positivlinsen sind,
b) die mittlere Linse eine Negativlinse ist,
c) die erste und letzte Linse Negativlinsen sind.
Zeichnen Sie für jeden der Fälle ein Strahlendiagramm.
3.16 Eine dünne konvexe Glaslinse hat eine Bildbrennweite von 30 cm in Luft. Bringt
man die Linse in eine durchsichtige Flüssigkeit, so wird sie eine Negativlinse mit
einer Bildbrennweite von f = −188 cm. Bestimmen Sie die Brechzahl der Flüssig-
keit.
3.17 Auf einem Schirm möchte man ein vierfach vergrößertes Bild eines hellen Objektes
erzeugen. Hierzu soll eine plankonvexe Linse mit n = 1,5 und r2 = −16 cm benutzt
werden. Verwenden Sie die Newtonsche Form der Abbildungsgleichung und bestim-
men Sie den Abstand des Objektes und des Schirmes von der Linse. Hat das Bild
die gleiche Orientierung wie das Objekt? Überprüfen Sie Ihr Resultat anhand der
gewöhnlichen Abbildungsgleichung.
3.18 Drei dünne Linsen der Bildbrennweiten 10 cm, 20 cm und −40 cm werden in opti-
schen Kontakt gebracht und bilden eine Verbundlinse.
a) Bestimmen Sie den Brechwert jeder einzelnen Linse und den Brechwert der
Kombination.
b) Bestimmen Sie den Krümmungsradius der Kugelwellen, die von einem Objekt-
punkt 12 cm vor dem System ausgehen und den Krümmungsradius der resultie-
renden Kugelwellen, die auf das Bild zulaufen. Ermitteln Sie aus dem Ergebnis
die Bildweite in cm.
3.19 Eine Linse wird entlang der optischen Achse zwischen einem festen Objekt und
einem festen Bildschirm bewegt. Die Entfernung l zwischen Gegenstand und Bild
ist größer als die vierfache Bildbrennweite der Linse. Man findet zwei Stellungen der
Linse für die auf dem Schirm ein scharfes Bild entsteht, in einem Falle vergrößert
und im anderen Falle verkleinert. Die beiden Linsenpositionen unterscheiden sich
um die Entfernung e. Zeigen Sie, dass die Bildbrennweite der Linse durch
f = (l2 − e2 )/4l
gegeben ist. Dies ist die Besselsche Methode, um die Brennweite einer Linse zu
bestimmen.
3.20 Auf einem Schirm wird mit einer Linse das Bild eines Gegenstandes entworfen.
Man hält die Position der Linse fest und bewegt sowohl den Gegenstand als auch
das Bild in eine neue Position, die wieder ein scharfes Bild ergibt. Die zwei Gegen-
standspositionen seien O1 und O2 und die Abbildungsmaßstäbe β1 und β2 . Zeigen
Sie, dass die Bildbrennweite der Linse durch folgende Formel gegeben ist:
O1 O2
f =
1/β1 − 1/β2
Dies ist die Abbesche Methode zur Bestimmung der Brennweite einer Linse.
3.21 Ermitteln Sie das Reflexionsgesetz mit Hilfe des Fermatschen Prinzips durch Mini-
mierung des Weges eines beliebigen Strahles vom Quell- zum Aufpunkt.
3.22 Bestimmen Sie das Verhältnis der Brennweiten von zwei identischen dünnen plan-
konvexen Linsen, wobei die eine auf der flachen Seite und die andere auf der ge-
krümmten Seite verspiegelt ist. Das Licht fällt jeweils auf die unverspiegelte Seite
ein.
3.23 Zeigen Sie, dass bei der Abbildung durch eine dünne Linse die minimale Entfernung
von Gegenstand und Bild gleich 4f ist. Für welche Lage von Bild und Gegenstand
findet man dies?
3.24 Ein Lichtstrahl durchläuft eine Reihe von ebenen Grenzflächen, die alle parallel
zueinander sind und Gebiete unterschiedlicher Dicke und Brechzahl voneinander
trennen.
a) Zeigen Sie, dass für ein- und ausfallenden Strahl das Brechungsgesetz mit den
Brechzahlen des ersten und letzten Gebietes gilt, so, als ob die dazwischenlie-
genden Gebiete nicht existieren.
b) Berechnen Sie die Parallelverschiebung des auslaufenden relativ zum einlaufen-
den Strahl.
3.25 Ein paralleler Lichtstrahl fällt auf eine plankonvexe Linse von 4 cm Dicke. Der
Krümmungsradius der konvexen Seite beträgt r = −4 cm. Die Brechzahl des Lin-
senmaterials beträgt 1,5 und die Linse wird in Luft benutzt. Bestimmen Sie die
Lage von objekt- und bildseitigem Brennpunkt der Linse.
3.26 Eine sphärische Grenzfläche hat einen Krümmungsradius von r = 10 cm und trennt
Materialien der Brechzahlen 1 und 4/3. Der Krümmungsmittelpunkt liegt auf der
Seite mit der höheren Brechzahl. Bestimmen Sie die Brennweiten für Licht, das
von jeder Seite einfällt. Wie ändert sich das Ergebnis, wenn die zwei Brechzahlen
vertauscht werden?
3.27 Ein Flugzeug wird für Luftaufnahmen zur Erstellung einer Landkarte eingesetzt.
Der Maßstab der Karte soll 1:50 000 sein, das Kameraobjektiv hat eine Bildbrenn-
weite von 150 cm. Bestimmen Sie die geeignete Höhe für die Luftaufnahme.
3.28 Bestimmen Sie die minimale Höhe eines Wandspiegels, der es einer 1,80 m großen
Person gestattet, sich vollständig zu sehen. Skizzieren Sie Strahlen, die vom Kopf
und von den Füßen der Person ausgehen und bestimmen Sie eine geeignete Anord-
nung des Spiegels, so dass die Person ihr vollständiges Bild unabhängig von ihrem
Abstand vom Spiegel sehen kann.
3.29 Der Einfallswinkel eines Lichtstrahles, der auf die Mitte der obersten Fläche eines
durchsichtigen Würfels einfällt, beträgt 45◦ . Die Brechzahl des Würfelmaterials ist
1,414. Skizzieren Sie den Strahlenverlauf durch den Würfel.
3.30 Zur Bestimmung der Brechzahl einer transparenten Glasplatte benutzt man folgen-
des Verfahren: Ein Mikroskop wird zunächst auf einen kleinen Kratzer in der oberen
Oberfläche fokussiert (scharf gestellt) und die Position des Objektivs notiert. Bringt
man das Objektiv des Mikroskops um 1,87 mm näher an die Glasplatte heran, so
sieht man wieder ein scharfes Bild des Kratzers. Die Dicke der Platte ist 1,5 mm.
Warum sieht man das zweite scharfe Bild und wie groß ist die Brechzahl des Glases?
3.31 Eine kleiner Lichtpunkt auf der unteren Fläche eines Glasquaders von 2,25 cm Di-
cke wird durch das Glas betrachtet. Die Strahlen des an der oberen Fläche total
reflektierten Lichtes ergeben einen Kreis von 7,6 cm Durchmesser auf der unteren
Fläche. Bestimmen Sie die Brechzahl des Glases.
3.32 Zeigen Sie, dass die Parallelverschiebung s eines Lichtstrahles, der eine planparallele
Platte der Dicke d durchläuft, durch
d sin(ε − ε )
s=
cos ε

gegeben ist, wobei ε und ε Einfalls- und Brechungswinkel sind. Bestimmen Sie die
Verschiebung, wenn d = 3 cm, n = 1,5 und ε = 50◦ ist.
3.33 Ein Maßstab von 1 m Länge liegt entlang der optischen Achse eines konvexen Spie-
gels der Bildbrennweite f = −40 cm, wobei das nähere Ende 60 cm von der Spie-
geloberfläche entfernt ist. Wie groß ist das Bild des Maßstabes?
3.34 Eine Halbkugel aus Glas ist auf der gekrümmten Oberfläche versilbert. Im Glas
befindet sich auf der optischen Achse eine kleine Luftblase, die 5 cm von der ebe-
nen Oberfläche entfernt ist. Der Krümmungsradius der sphärischen Fläche beträgt
7,5 cm. Wenn man entlang der optischen Achse auf die ebene Oberfläche schaut, so
sieht man zwei Bilder der Luftblase. Warum entstehen sie und wo liegen sie?
3.35 Ein konkaver Spiegel entwirft auf einem Schirm ein Bild, das doppelt so groß wie
der Gegenstand ist. Gegenstand und Spiegel werden dann so verschoben, dass das
Bild dreimal so groß wie der Gegenstand wird. Wenn bei diesem Verfahren der
Spiegel um 75 cm bewegt wird, wie weit muss man dann den Gegenstand bewegen?
Wie groß ist die Brennweite des Spiegels?
4
Matrixmethoden der paraxialen Optik
Einleitung
In diesem Kapitel beschäftigen wir uns mit Methoden zur Analyse komplizierter
optischer Systeme. Solche Systeme weisen mehrere brechende oder reflektierende
Elemente auf, die hintereinander auf der optischen Achse angeordnet sind.
Wir beginnen mit der Beschreibung der dicken Linse, wobei wir den Begriff
des Hauptpunktes bzw. der Hauptebene einführen. Im Weiteren beschäftigen wir
uns mit der Berechnung von optischen Systemen mit der Matrixmethode. Hierbei
werden 2 × 2 Matrizen multipliziert, die die Komponenten des Linsensystems
beschreiben. Mit diesem Verfahren kann man die Gesamtmatrix des optischen
Systems ermitteln, aus der sich dann z.B. die Hauptpunkte berechnen lassen.
4.1 Die dicke Linse
Betrachten wir zunächst eine sphärische dicke Linse. Die Linsenoberflächen sind
Kugelflächen, deren Krümmungsmittelpunkte auf der optischen Achse des opti-
schen Gesamtsystems liegen (zentrierte Kugelflächen). Die Scheiteldicke (Dicke
entlang der optischen Achse) kann nicht vernachlässigt werden, wenn man die
optische Abbildung mit dieser Linse berechnet. Für eine dünne Linse sollte die
86 4 Matrixmethoden der paraxialen Optik
Scheiteldicke d ≈ 0 sein. Ob eine Linse in die Kategorie dünn“ oder dick“ ein-
” ”
zuordnen ist, hängt von der Genauigkeit ab, die bei der optischen Berechnung
erforderlich ist. Die Abbildungseigenschaften der dicken Linse können mit den
Methoden, die in Kap. 3 behandelt worden sind, bestimmt werden: Das Bild ei-
nes gegebenen Objektes, das durch die Brechung an der ersten Fläche erzeugt
wird, wird zum Objekt für die Abbildung durch die zweite Linsenfläche. In der
Gegenstandsweite für die Berechnung der Abbildung durch die zweite Grenz-
fläche muss nun die Dicke der Linse berücksichtigt werden. Das Bild, das durch
die zweite Linsenfläche erzeugt wird, ist dann das endgültige Bild, das die dicke
Linse entwirft.
Die optische Abbildung durch eine dicke Linse kann auch so dargestellt wer-
den, dass die Ermittlung von Lage und Größe der Bilder für beliebige Objekte
sehr ähnlich zum Verfahren für die dünne Linse erfolgt. Die Beschreibung einer
dicken Linse durch Hauptpunkte, Knotenpunkte und Brennweiten ist sehr nütz-
lich, da sie auch auf beliebig komplizierte optische Systeme anwendbar und dort
besonders vorteilhaft ist.
Man findet für die dicke Linse drei ausgezeichnete Punktepaare (Kardinal-
punkte), aus denen die abbildenden Eigenschaften abgeleitet werden können. Die
Ebenen, die in den Kardinalpunkten senkrecht zu den optischen Achsen stehen,
nennt man Kardinalebenen 1 .
Die sechs Kardinalpunkte (s. Abb. 4.1 und 4.2) sind:
– der Objektbrennpunkt und der Bildbrennpunkt (F , F )
– die beiden Hauptpunkte (H, H ),
– die Knotenpunkte (K, K ).
Abb. 4.1. Hauptpunkte H und H eines optischen Systems
Ein Strahl ausgehend vom Objektbrennpunkt F verläuft nach der Linse paral-
lel zur optischen Achse (s. Abb. 4.1 a, Bild im Unendlichen“). Ein Strahl paral-
”
lel zur Achse (Objekt im Unendlichen“) wird durch die Linse in der Weise
”
1
Diese Flächen sind tatsächlich leicht gekrümmt, in der paraxialen Näherung werden
sie als Ebenen approximiert.
4.1 Die dicke Linse 87
Abb. 4.2. Knotenpunkte K, K eines optischen Systems
gebrochen, dass er durch den Bildbrennpunkt F verläuft (s. Abb. 4.1 b). Die
Verlängerungen des einlaufenden und des ausfallenden Strahles schneiden sich
nach Definition in den Hauptebenen. Diese werden in den Hauptpunkten H und
H von der optischen Achse durchstoßen. Für eine dünne“ Linse fallen die zwei
”
Hauptebenen zusammen. Man benutzt eine vertikale Linie, um diese Hauptebene
darzustellen. Im Allgemeinen sind die beiden Hauptebenen voneinander getrennt,
sie können sogar weit außerhalb des optischen Systems selbst liegen. Wenn die
Lage der Hauptebenen bekannt ist, kann man den Abbildungsstrahlengang zeich-
nen. Die Strahlen, die durch die Brennpunkte verlaufen, ändern ihre Richtung
am Schnittpunkt mit den Hauptebenen (s. Abb. 4.1). Der dritte Strahl, den man
normalerweise in Strahlkonstruktionen für dünne Linsen anwendet, ist der Strahl
durch den Mittelpunkt der Linse. Dieser Mittelpunktstrahl wird für eine dünne
Linse weder abgelenkt noch parallel verschoben. Mit Hilfe der Knotenpunkte kann
man diesen Strahl auch bei einer dicken Linse oder einem beliebigen optischen
System konstruieren (s. Abb. 4.2). Jeder Strahl, der durch den Knotenpunkt K
verläuft, verlässt das optische System parallel zum einfallenden Strahl, ist aber
so verschoben, dass er aus dem zweiten Knotenpunkt K entspringt.
Die Lagen aller sechs für die Konstruktion wichtigen Kardinalpunkte sind in
Abb. 4.3 gezeigt.
Für die Vorzeichen der Strecken wird dieselbe Konvention wie in Kap. 3
benutzt: Strecken, die von links nach rechts gemessen werden, haben ein posi-
tives Vorzeichen und die von rechts nach links haben ein negatives Vorzeichen.
Für die dicke Linse beschreiben die Entfernungen s1H und s2H die Positionen
der Hauptpunkte relativ zu den Scheitelpunkten S1 und S2 , während f und f
die Entfernungen der Brennpunkte von den Hauptpunkten angeben. Die Brenn-
weiten werden also nicht von den Scheitelpunkten der Linse aus gemessen. Die
gerichteten Strecken sind wieder durch einen dicken Punkt (Ursprung) und eine
Pfeilspitze (Zielpunkt) dargestellt.
Im Folgenden werden wir die paraxialen Grundgleichungen für die dicke Linse
ohne Beweis angeben. Obwohl die Ableitung nur einfache Algebra und Geometrie
Abb. 4.3. Symbole, die zur Beschreibung der Kardinalpunkte der dicken Linse benutzt
werden. Dies sind die Brennpunkte (F , F ), die Hauptpunkte (H, H ) und die Knoten-
punkte (K, K ). Geometrische Bezugsgrößen sind die Scheitelpunkte S1 , S2 sowie die
Krümmungsmittelpunkte C1 und C2
beinhaltet, ist sie etwas aufwändig. Später in diesem Kapitel werden wir diese
Gleichungen über die Matrixmethode relativ einfach ermitteln können.
Verwendet man die Symbole, die in Abb. 4.3 definiert sind, und die Schnitt-
weitengleichungen für die Brechung an einer Flächenfolge (s. Kap. 3), so erhält
man die
Objektbrennweite der dicken Linse
1 nL − n nL − n (nL − n) (nL − n ) d
= − − (4.1)
f nr2 nr1 nnL r1 r2
und die:
n
Bildbrennweite f = − f (4.2)
n
Wir sehen, dass die zwei Brennweiten dann von gleichem Betrag sind, wenn die
Linse nur von demselben brechenden Medium umgeben ist, so dass n = n ist.
Für den Abstand der Hauptpunkte gilt:
nL − n
Abstand des objektseitigen Hauptpunktes s1H = fd (4.3)
nL r2
nL − n
Abstand des bildseitigen Hauptpunktes s2H = − f d (4.4)
nL r1
4.1 Die dicke Linse 89
Der Abstand der Knotenpunkte ist gegeben durch:

Abstand des objektseitigen n nL − n
s1K = 1 − + d f (4.5)
Knotenpunktes n nL r2

Abstand des bildseitigen n nL − n
s2K = 1− − d f (4.6)
Knotenpunktes n nL r1
Die Brechzahl der Medien auf beiden Seiten der Linse ist im allgemeinsten Fall
verschieden. Dann gelten die
allgemeine Abbildungsgleichung f f

+ =1 (4.7)
a a
und der
a n
allgemeine Abbildungsmaßstab β = (4.8)
an
Hierbei sind die Gegenstands- und Bildweiten a und a sowie die Gegenstands-
und Bildbrennweiten f und f relativ zu den entsprechenden Hauptebenen ge-
messen. Für den einfachen Fall einer Linse in Luft, mit n = n = 1, erhält man
s1H = s1K und s2H = s2K , objekt- und bildseitiger Hauptpunkt fallen mit dem
entsprechenden Knotenpunkt zusammen. Weiterhin sind Bild- und Objektbrenn-
weiten gleich groß und es gelten die Gleichungen, die wir bereits in Kap. 3 bei
der Abbildung mit der dünnen Linse kennengelernt haben:
1 1 1
Abbildungsgleichung für beidseitig gleiche Medien
− = (3.24)
a a f
y a
Abbildungsmaßstab für beidseitig gleiche Medien β = = (3.25)
y a
Beispiel 4.1 Brennweiten und Hauptpunkte der dicken Linse

Bestimmen Sie die Brennweiten und die Hauptpunkte einer 4 cm dicken, bi-
konvexen Linse aus Glas mit der Brechzahl nL = 1,52 und Krümmungsradien
von ±25 cm, wenn die Linse die Eintrittsöffnung eines langen Zylinders, der
mit Wasser (n = 1,33) gefüllt ist, abschließt.
Lösung
Dicke Linse
Aus (4.1) folgt:
1 1,52 − 1,33 1,52 − 1 (1,52 − 1) · (1,52 − 1,33) 0,04 m
= − −
f 1 · (−0,25 m) 1 · (0,25 m) 1 · 1,52 −0,25 m · 0,25 m
Damit ist f = −0,357 m und der objektseitige Brennpunkt F liegt 35,7 cm

links des Hauptpunktes H. Mit (4.2) erhält man:
1,33
f = − (−0,357 m) = 0,475 m.
1
Der bildseitige Brennpunkt F liegt 47,5 cm rechts vom Hauptpunkt H . Mit
(4.3) und (4.4) berechnet man:
1,52 − 1,33
s1H = · (−0,357 m) · 0,04 m = 0,00714 m = 7,14 mm
1,52 · (−0,25 m)
1,52 − 1
s2H =− · 0,475 m · 0,04 m = −0,026 m = −26 mm
1,52 · 0,25 m
Der Hauptpunkt H liegt also 7,14 mm rechts des linken Linsenscheitels und
H liegt 26 mm links des rechten Scheitels.
4.2 Die Matrixmethode

Wenn das optische System aus mehreren Elementen besteht, z.B. den 4 oder 5
Linsen, die das Objektiv einer Kamera bilden, benötigen wir ein allgemeines Ver-
fahren, das die Berechnung der optischen Kenngrößen dieses Systems erleichtert.
Solange wir uns auf paraxiale Strahlen beschränken, kann dies im Rahmen einer
einfachen Matrixmethode erfolgen.
Wir beschreiben im Folgenden das Verfahren zur Bildkonstruktion. Wir be-
nutzen Matrizen, um Änderungen in der Höhe und im Winkel der Strahlen zu
beschreiben, wenn sie beim Durchlaufen des optischen Systems aufeinander fol-
gende Reflexionen und Brechungen erfahren. Wir werden zeigen, dass diese Ände-
rungen in der Höhe und in der Richtung eines Strahles im Rahmen der paraxialen
Näherung durch lineare Gleichungssysteme beschrieben werden, die sich in Ma-
trixform schreiben lassen. Kombiniert man die Matrizen, die einzelne Brechungen
und Reflexionen beschreiben, so lässt sich ein gegebenes optisches System durch
eine einzige Gesamtmatrix darstellen, aus der die wesentlichen Eigenschaften des
zusammengesetzten optischen Systems abgeleitet werden können. Diese Methode
ist auch die Basis der Rechenmethoden zur Verfolgung eines Strahles durch ein
optisches System beliebiger Komplexität.
4.3 Die Translationsmatrix 91
Abbildung 4.4 zeigt den Verlauf eines einzelnen Strahles durch ein optisches
System. Der einfallende Strahl (Index E ) wird durch die Entfernung zE in der die
erste brechende Fläche liegt, sowie durch seine Höhe hE und den Steigungswinkel
σE relativ zur optischen Achse charakterisiert. In diesem System ändert sich der
Steigungswinkel bei jeder Brechung, z.B. in den Punkten 1 − 5 und bei jeder
Reflexion, z.B. im Punkt 6. Die Höhe h des Strahles relativ zur optischen Achse
ändert sich ebenfalls beim Durchlaufen des optischen Systems. Zur Beibehaltung
der Vorzeichenkonventionen ist zusätzlich der aufgefaltete Strahlengang (s. Kap.
3) bei der Reflexion am Spiegel 6 eingezeichnet.
Wir wollen nun ein Verfahren entwickeln, mit dem wir Höhe und Steigungs-
winkel des Strahles an jeder Stelle des optischen Systems berechnen können. Für
gegebene Eingangsdaten hE , und σE beim Achsenpunkt T wollen wir die Aus-
gangsdaten hA und σA im Punkt T ermitteln.
Abb. 4.4. Verlauf eines Strahles durch ein optisches System. Der Strahl kann durch
seine Höhe h und den Steigungswinkel σ beschrieben werden. Auf der rechten Seite der
Abbildung ist auch die Auffaltung des reflektierten Strahles (s. Kap. 3) eingezeichnet
4.3 Die Translationsmatrix

Zunächst wollen wir die Translation eines Strahles (s. Abb. 4.5) in einem ho-
mogenen Medium betrachten. Die in axialer Richtung zurückgelegte Entfernung
wird durch l beschrieben; in den Punkten 0 und 1 ist die Höhe und die Stei-
gung des Strahles durch die Parameter h0 und σ0 bzw. h1 und σ1 gegeben. Die
Strahlhöhen h0 bzw. h1 sollten nicht mit der Objektgröße y bzw. der Bildgröße
y verwechselt werden.
Hier gilt σ1 = σ0 und h1 = h0 − l tan σ0 . Beim Einsetzen von Werten für h, l
und σ muss man auf die Vorzeichen achten. Nimmt man als Beispiel Abb. 4.5, so
hätten die Zahlenwerte für h, l positive und der für σ ein negatives Vorzeichen.
Diese Gleichungen kann man mit Hilfe der paraxialen Näherung tan σ0 ≈ σ0
umschreiben:
h1 = h0 · 1 + σ0 · (−l) σ1 = h0 · 0 + σ0 · 1 (4.9)
In Matrixschreibweise erhält man dann folgende Gleichungen:

h1 1 −l h0
= (4.10)
σ1 0 1 σ0
mit der

1 −l
Translationsmatrix T= (4.11)
0 1
Die Eingangsdaten (hE = h0 , σE = σ0 ) werden durch die Translationsmatrix in

die Ausgangsdaten (hA = h1 , σA = σ1 ) transformiert.
Abb. 4.5. Translation eines Strahles
4.4 Die Brechungsmatrix

Als Nächstes wollen wir die Brechung des Strahles an einer Kugelfläche be-
rechnen, die zwei Medien mit den Brechzahlen n und n voneinander trennt (s.
Abb. 4.6). Wir berechnen wieder die Kenngrößen des Strahles (h , σ ) nach der
Brechung aus denen vor der Brechung (h, σ). Die Brechung geschieht in einem
Punkt, deshalb tritt keine Änderung des Strahlabstandes zur Achse auf; es gilt
h = h.
Für die Winkel ergibt sich aus Abb. 4.6:
h h
σ = ϕ − ε = − ε und σ = ϕ − ε = − ε
r r
Mit der paraxialen Form des Brechungsgesetzes n · ε = n · ε erhalten wir

4.4 Die Brechungsmatrix 93

n h n − n n
σ = −
ε+ = h+ σ
n r n r n
und damit das lineare Gleichungssystem
h = h
· 1 + σ · 0
n − n (4.12)
σ = h + σ nn
n r
oder in Matrixform

⎛ ⎞

h 1 0 h
= ⎝ n − n n ⎠
σ σ
n r n
und damit die:
⎛ ⎞
1 0
Brechungsmatrix für Kugelfläche B = ⎝ n − n n ⎠ (4.13)
n r n
Abb. 4.6. Brechung an einer Kugelfläche (sphärische Fläche)
Strecken, die in Lichtrichtung orientiert sind, erfordern ein positives Vorzeichen

für den Zahlenwert, den man bei der Berechnung einsetzt, z.B. hat in Abb. 4.6
der Krümmungsradius, der von der sphärischen Fläche aus gezählt wird, einen
positiven Zahlenwert. Für Strecken, die entgegengesetzt zur Lichtrichtung orien-
tiert sind, muss ein negativer Zahlenwert eingesetzt werden. Für den Fall r → ∞
erhält man die Brechungsmatrix für eine ebene Fläche.
4.5 Die Reflexionsmatrix

Zum Abschluss betrachten wir die Reflexion an einer sphärischen Fläche, so wie
sie in Abb. 4.7 gezeigt wird.
Abb. 4.7. Reflexion an einer Kugelfläche (sphärische Fläche) ohne und mit Auffaltung
Wie in Kapitel 3 beschrieben, verwenden wir den aufgefalteten“ Strahlengang,

”
bei dem die Lichtrichtung nicht durch die Reflexion umgekehrt wird. Aus der
Schnittweitengleichung für die aufgefaltete Spiegelfläche
1 1 1 2 2

− = = =− (3.31)
s s f rAuf r
erhält man mit h = h und durch Einsetzen von s = h/σ und s = h/σ (s.
Abb. 4.7) in der paraxialen Näherung das Gleichungssystem2:
h = h · 1 + σ · 0
(4.14)
σ = h −2
r +σ·1
2
In den Gleichungen ist bei s der Index Auf“ weggelassen.
”
4.6 Die Matrizen für dicke und dünne Linsen 95
oder in Matrixform

h 1 0 h
=
−2
σ r
1 σ
und damit:
Reflexionssmatrix für die spiegelnde Kugelfläche bei aufgefaltetem Strahlengang

1 0
R= (4.15)
−2
r 1
4.6 Die Matrizen für dicke und dünne Linsen

Wir leiten nun die Matrix ab, die die Wirkung einer dicken Linse auf einen Licht-
strahl beschreibt. Um allgemein zu bleiben, nehmen wir verschiedene Medien auf
beiden Seiten der Linse an. Diese haben die Brechzahlen n und n (s. Abb. 4.8).
Beim Durchgang durch die Linse erfährt der Strahl zwei Brechungen und eine
Translation. Dies sind Schritte, für die wir schon zuvor die entsprechenden Ma-
trizen abgeleitet haben. Ausgehend von der Abb. 4.8 wählen wir der Einfachheit
halber eine Meniskenlinse mit zwei positiven Krümmungsradien und können dann
symbolisch schreiben:

h1 h0
= M1 für die erste Brechung (Brechungsmatrix B1 = M1 ) und
σ1 σ0

h2 h1
= M2 für die Translation (Translationsmatrix T = M2 ) und
σ2 σ1

h3 h2
= M3 für die zweite Brechung (Brechungsmatrix B2 = M3 )
σ3 σ2
oder insgesamt:

h3 h0
= M3 M2 M1 (4.16)
σ3 σ0
Es ist offensichtlich, dass die dicke Linse durch die Matrix M = M3 M2 M1 darge-
stellt werden kann. Wir erinnern uns daran, dass die Multiplikation von Matrizen
assoziativ, aber nicht kommutativ ist. Deshalb muss die absteigende Ordnung die-
ses Matrizenproduktes erhalten bleiben. Die einzelnen Matrizen wirken auf den
Lichtstrahl in derselben Reihenfolge und Art und Weise wie die entsprechenden
optischen Phänomene – Brechung, Translation, Reflexion – den Lichtstrahl bei
seinem Durchgang durch das System beeinflussen.
Wir wenden dieses Resultat auf die dicke Linse in Abb. 4.8 an, deren Brechzahl
nL und deren Dicke für die gesamte Linse näherungsweise d beträgt. Die Medien
links und rechts von der Linse weisen unterschiedliche Brechzahlen n bzw. n auf.
Wenn B für eine Brechungsmatrix und T für eine Translationsmatrix steht, ergibt
sich für die dicke Linse die zusammengesetzte Matrix M = B2 TB1 :

Strahlmatrix der 1 0 1 −d 1 0
Mdick = (4.17)
dicken Linse n −nL nL nL −n n

n r2 n 0 1 nL r1 nL
Wir vereinfachen die Matrix für den Fall einer dünnen Linse (d = 0), die auf
beiden Seiten von Medien mit der gleichen Brechzahl (n = n ) umgeben ist, und
erhalten

1 0 1 0 1 0
L= (4.18)
n−nL nL nL −n n
nr2 n 0 1 nL r1 nL
und nach Multiplikation der Matrizen:

⎛ ⎞
L=⎝n 1 0
⎠ (4.19)
L −n
n
1
r1 − 1
r2 1
Abb. 4.8. Verlauf eines Strahles durch eine dicke Linse

4.7 Systemmatrix 97
Das Matrixelement in der ersten Spalte und zweiten Zeile kann man als Kehrwert
der bildseitigen Brennweite der dünnen Linse darstellen:

1 nL − n 1 1
= − (3.23)
f n r1 r2
Daraus ergibt sich die Strahlmatrix für die dünne Linse:

1 0
Strahlmatrix der dünnen Linse L= (4.20)
1
f 1
Wie gewöhnlich ist f positiv für eine Sammellinse und negativ für eine Zerstreu-
ungslinse. In Tabelle 4.1 sind die bisher abgeleiteten Matrizen zusammengestellt.
4.7 Systemmatrix
Wir verallgemeinern den obigen Formalismus und erhalten eine Matrixgleichung,
die eine beliebige Anzahl K von Translationen, Reflexionen und Brechungen be-
schreibt:

hA hE
= MK MK−1 . . . M2 M1 (4.21)
σA σE
Die Matrix für das Gesamtsystem ist dann
M = MK MK−1 . . . M2 M1 (4.22)
Für ein beliebiges optisches System erhält man so eine einfache 2 × 2-Matrix, die
man Systemmatrix nennt.
Beispiel 4.2 Systemmatrix der dicken Linse
Bestimmen Sie die Systemmatrix für die dicke Linse der Abb. 4.8, deren
Matrix vor der Multiplikation durch (4.17) gegeben ist. Die dicke Linse hat
die folgenden Parameter: r1 = 45 cm, r2 = −30 cm, d = 5 cm, nL = 1,6,
n = n = 1.
Tabelle 4.1. Strahlmatrizen

⎛ ⎞
⎜ 1 −l ⎟
Translationsmatrix T=⎜
⎝
⎟
⎠
0 1
⎛ ⎞
⎜ 1 0 ⎟
Brechungsmatrix B=⎜
⎝
⎟
⎠
Kugelfläche n −n n
n r n
⎛ ⎞
⎜1 0 ⎟
Brechungsmatrix BE = ⎜
⎝
⎟
⎠
ebene Fläche n
0 n
⎛ ⎞
⎜ 1 0⎟
Matrix dünne Linse L=⎜
⎝
⎟
⎠
1
f 1

1 nL − n 1 1
= −
f n r1 r2
⎛ ⎞
⎜ 1 0⎟
Reflexionsmatrix R=⎜
⎝
⎟
⎠
aufgefalteter Kugel- 2
1
rAuf
spiegel
4.7 Systemmatrix 99
Lösung

1 0 1 −5 cm 1 0
Mdick =
−1 1 1
50 cm 1,6 0 1 120 cm 1,6
oder schließlich:

23
− 258cm
Mdick = 24
−7 17
1200 cm 16
Die Systemmatrix wird gewöhnlich in der symbolischen Form

AB
Systemmatrix M= (4.23)
CD
dargestellt. Die Elemente A, B, C und D beschreiben spezielle Eigenschaften des

optischen Systems, wie wir im Folgenden sehen werden. Beachten Sie, dass die
Werte der Matrixelemente des Systems von der Wahl des Orts von Strahlein-
gang und Strahlausgang abhängen. Für den Fall der dicken Linse, den wir gerade
berechnet haben, ist als Eingangsebene die linke Linsenoberfläche und als Aus-
gangsebene die rechte Linsenoberfläche gewählt worden. Wenn man die Ein- bzw.
die Ausgangsebene nach links oder rechts verschieben würde, müsste die System-
matrix entsprechende Translationsmatrizen enthalten, die die Entfernungen der
Verschiebung angeben. Die Matrixelemente ändern sich und die Systemmatrix
beschreibt nun das vergrößerte System. Unabhängig hiervon hat die Determi-
nante der Systemmatrix eine wichtige Eigenschaft:
nE
det M = AD − BC = (4.24)
nA
nE und nA sind die Brechzahlen des Eingangs- und Ausgangsmediums des opti-
schen Systems. Die Determinanten aller Matrizen, die in Tabelle 4.1 angegeben
sind, haben entweder die Werte n/n oder 1. Weiterhin gilt allgemein, dass die
Determinante eines Produkts von Matrizen gleich dem Produkt der Determinan-
ten ist. Symbolisch gilt:
det M = det MK · MK−1 · MK−2 · . . . · det M2 · M1 (4.25)

Bei der Berechnung dieses Produkts fallen alle Brechzahlen der Zwischenmedien
heraus und es bleibt nur das Verhältnis nE /nA übrig. Sehr oft sind nE und nA
die Brechzahlen von Luft und damit ist det M = 1. Gleichung (4.24) dient der
Überprüfung der Systemmatrix.
4.8 Bedeutung der Elemente der Systemmatrix

Wir untersuchen nun die Sonderfälle, bei denen eines der Elemente in der System-
matrix den Wert 0“ annimmt. In symbolischer Form erhalten wir aus (4.23)
”

hA AB hE
= (4.26)

σA CD σE
Dies ist äquivalent zu den algebraischen Relationen:
hA = AhE + BσE

(4.27)

σA = ChE + DσE
Abb. 4.9. Spezialfälle der Systemmatrix. a) Für D = 0 ist die Eingangsebene die
objektseitige Brennebene des optischen Systems. b) Für A = 0 ist die Ausgangsebe-
ne die bildseitige Brennebene des Systems. c) Für B = 0 sind die Eingangsebene (=
Objektebene) und die Ausgangsebene (= Bildebene) zueinander konjugiert, A = y /y
gibt den Abbildungsmaßstab an. d) Für C = 0 ergibt ein paralleles Strahlenbündel auf

der Eingangsebene ein paralleles Bündel auf der Ausgangsebene, D = σA /σE gibt die
Winkelvergrößerung an
4.8 Bedeutung der Elemente der Systemmatrix 101
Spezialfälle der Systemmatrix:

a) D = 0

In diesem Fall ist σA = ChE unabhängig von σE . Da hE festgelegt ist, be-
deutet dies, dass alle Strahlen, die einen Punkt in der Eingangsebene ver-

lassen, denselben Winkel σA auf der Ausgangsebene aufweisen, unabhängig
von ihrem Winkel in der Eingangsebene. Wie in Abb. 4.9 a gezeigt ist, fällt
die Eingangsebene mit der objektseitigen Brennebene des optischen Systems
zusammen.
b) A = 0
Dieser Fall ist dem vorher beschriebenen sehr ähnlich. Hier ist hA = BσE und
dies bedeutet, dass hA unabhängig von hE ist. Daraus folgt, dass Strahlen, die
die Eingangsebene unter demselben Winkel verlassen, unabhängig von ihrer
Höhe hE alle unter der gleichen Höhe hA auf der Ausgangsebene ankommen.
Wie Abb. 4.9 b zeigt, ist die Ausgangsebene hier die bildseitige Brennebene
des Systems.
c) B = 0
Hier ist hA = AhE , unabhängig von σE . Alle Strahlen, die von einem Punkt
der Höhe y = hE in der Eingangsebene ausgehen, kommen bei der gleichen
Höhe y = hA auf der Ausgangsebene an. Diese Punkte sind zueinander konju-
gierte Objekt- und Bildpunkte (s. Abb. 4.9 c), Eingangs- und Ausgangsebene
sind konjugierte Ebenen des optischen Systems. Weiterhin gilt für den Abbil-
dungsmaßstab β = y /y = hA /hE = A.
d) C = 0

Hier ist σA = DσE , unabhängig von hE . Dieser Fall ist analog zum Fall
c), wobei hier die Strahlhöhen durch die Richtungen ersetzt sind. Parallele
Eingangsstrahlen ergeben hier parallele Ausgangsstrahlen in einer anderen
Richtung. Weiterhin ergibt Γ = σA
/σE = D die Winkelvergrößerung. Ein
System, für das C = 0 gilt, wird auch als afokales System bezeichnet, wie
es z.B. beim Fernrohr realisiert ist. Das Fernrohr nimmt typisch parallele
Strahlen eines weit entfernten Objektes durch das Objektiv auf, parallele
Strahlen verlassen das Okular.
Beispiel 4.3 Systemmatrix eines Kunststoffstabes

Wir illustrieren den Fall c) durch ein Beispiel. Hierzu ordnen wir rechts von
einem kleinen Objekt in einen Abstand von zE = 16 cm die linke Grenzfläche
eines sehr langen Kunststoffstabes an. Diese weist eine polierte Kugelfläche
mit dem Krümmungsradius r = 4 cm auf (s. Abb. 4.10). Die Brechzahl des
Kunststoffmaterials beträgt n = 1,5, der Stab befindet sich in Luft.
Wir fordern, dass das unbekannte Bild auf der Ausgangs-Referenzfläche

entsteht, die einen Abstand zA von der sphärischen Kugelfläche aufweist.

Wir wollen den Bildabstand zA und den Abbildungsmaßstab bestimmen. Die
Systemmatrix besteht aus dem Produkt von 3 Matrizen: einer Translation T1
in Luft vom Objekt zum Stab, einer Brechung B an der sphärischen Oberfläche
und einer Translation T2 im Stabmaterial bis zum Bild. Wir erinnern uns
daran, die Matrizen in der umgekehrten Form als Produkt zu schreiben, und
erhalten M = T2 BT1 , also

1 −zA 1 0 1 −16 cm
M= 1,50−1 1
0 1 4 cm·1,50 1,50 0 1

zA 2zA
1− 12 cm −16 cm + 3
=
1
12 cm − 23

Die gesuchte Größe zA ist in den Matrixelementen enthalten. Wie vorher
beschrieben, ist für den Fall B = 0 die Ausgangsebene die Bildebene. Damit
2z
kann man den Bildabstand erhalten, indem man B = −16 cm+ 3A = 0 setzt.

Hieraus folgt zA = 24 cm.
Der Abbildungsmaßstab ist durch den Wert des Matrixelementes A gegeben:

zA
β = A = 1 − = −1.
12 cm
Wir schließen hieraus, dass das Bild 24 cm innerhalb des Stabes entsteht, es
ist invertiert und hat dieselbe Größe wie das Objekt. Dieses Beispiel zeigt,
wie die Systemmatrix benutzt werden kann, um auf einfache Art und Weise
Lage und Größe des Bildes zu erhalten. Man muss aber in jedem Fall prüfen,
inwieweit man nicht einfacher und schneller mit den Formeln der Gaußschen
Optik (s. Kap. 3) zum Ziel kommt. Der Vorteil der Matrixmethode liegt darin,
dass man auch sehr komplizierte Systeme, die aus vielen Elementen bestehen,
relativ einfach berechnen kann.
4.9 Lage der Hauptpunkte eines optischen Systems 103
Abb. 4.10. Beispiel für die Matrixmethode, Abbildung durch einen Kunststoffstab
4.9 Lage der Hauptpunkte eines optischen Systems

Die Eigenschaften eines optischen Systems können aus den Elementen A, B, C
und D der Systemmatrix abgeleitet werden. In Abb. 4.11 verallgemeinern wir die
Abb. 4.3, indem wir die Abstände der sechs Kardinalpunkte relativ zur Eingangs-
und Ausgangsebene E und A, die als Grenzen des berechneten optischen Systems
festgelegt werden, definieren. Die Brennpunkte F und F sind um die Objekt- und
Bildbrennweite f und f von den Hauptebenen und um die Brennpunktsabstände
f E und fA von der Eingangs- und Ausgangsebene entfernt. Die Abstände sEH
und sAH geben die relative Lage der Hauptpunkte und die Abstände sEK und
sAK die der Knotenpunkte an. Entfernungen, die von der Bezugsebene nach
rechts gemessen werden, sind wieder positiv und nach links gemessene negativ.
Haupt- und Knotenpunkte können durchaus auch außerhalb des optischen Sys-
tems liegen, d.h. außerhalb des Gebietes, das durch Eingangs- und Ausgangsebene
definiert ist.
Wir leiten nun die Beziehung zwischen den Entfernungen, die in Abb. 4.11
definiert sind, und den Systemmatrixelementen her. Wir betrachten hierzu die
Abb. 4.12 a, die die Entfernungen f E , sEH und f herausgreift, die relativ zur
Eingangsebene definiert sind. Die Eingangskoordinaten eines gegebenen Strahles
durch den Brennpunkt F sind (hE , σE ) und die Ausgangskoordinaten (hA , 0).
Damit ergeben sich die Strahlgleichungen zu:
hA = AhE + BσE und

(4.28)

σA = 0 = ChE + DσE oder hE = −(D/C)σE
Für kleine Winkel können wir σE = hE /f E setzen. Damit ergibt sich:
hE D
fE = =− (4.29)
σE C
In ähnlicher Weise erhalten wir mit σE = hA /f :
Abb. 4.11. Lage der 6 Kardinalpunkte eines optischen Systems. Die Konstruktions-
strahlen, die zu den Knotenpunkten und den Hauptebenen gehören, werden ebenfalls
angegeben
hA AhE + BσE AD

f = = =B− , also
σE σE C (4.30)
nE 1
f = − AD−BC
C = − detC M = −
nA C
Mit (4.29) und (4.30) erhalten wir den objektseitigen Hauptebenenabstand sEH :

D nE 1 1 nE
sEH = f E − f = − + = −D (4.31)
C nA C C nA
Aus der Abb. 4.12 b kann man ähnliche Beziehungen für den bildseitigen Hauptebe-
nenabstand sAH , Brennpunktabstand fA und Bildbrennweite f gewinnen. Die
Ergebnisse der zuletzt genannten Berechnungen sind in Tabelle 4.2 dargestellt.
Aus Abb. 4.12 c können wir die objekt- und bildseitigen Abstände sEK und sAK
der Knotenpunkte bestimmen. Für kleine Winkel σE gilt
hE
σE = (4.32)
sEK
Eingangs- und Ausgangsstrahlen schneiden die optische Achse unter demselben

Winkel. Aus den Gleichungen (4.27) erhalten wir mit σE = σA :
hE 1−D
σE = C hE + D σE oder = (4.33)
σE C
4.9 Lage der Hauptpunkte eines optischen Systems 105
Abb. 4.12. a) Strahlkonstruktion zur Ableitung von objektseitigem Hauptebenen-

abstand sEH , Brennpunktabstand f E und Objektbrennweite f aus den Matrixelemen-
ten A, B, C und D. b) Strahlkonstruktion zur Ableitung von bildseitigem Hauptebenen-

abstand sAH , Brennpunktabstand fA und Bildbrennweite f aus den Matrixelementen.
c) Strahlkonstruktion zur Ableitung der objekt- und bildseitigen Knotenpunktabstände
sEK und sAK aus den Matrixelementen
Kombinieren wir (4.32) und (4.33), so erhalten wir:

1−D
sEK = (4.34)
C
Tabelle 4.2. Lage der Kardinalpunkte in Abhängigkeit von den Elementen der Sys-
temmatrix. Die Abstände sind für die Objektseite auf die Eingangsebene und für die
Bildseite auf die Ausgangsebene bezogen. Die Ebenen werden vor Beginn der Berech-
nung definiert, man kann diese z.B. in die Scheitelpunkte von Linsenoberflächen legen
und erhält dann die Abstände relativ zu den Scheiteln. Die Brennweiten sind relativ zu
ihren Hauptebenen definiert.
D
fE = − objektseitiger Abstand des Brennpunktes F
C
A
fA = bildseitiger Abstand des Brennpunktes F
C
nE /nA − D
sEH = objektseitiger Abstand des Hauptpunktes H
C
A−1
sAH = bildseitiger Abstand des Hauptpunktes H
C
1−D
sEK = objektseitiger Abstand des Knotenpunktes K
C
A − nE /nA
sAK = bildseitiger Abstand des Knotenpunktes K
C
nE /nA
f = f E − sEH = − objektseitige Brennweite∗
C
1
f = fA

− sAH = bildseitige Brennweite∗
C
A, B, C und D sind die Elemente der Systemmatrix (4.23)
∗
relativ zu den jeweiligen Hauptebenen
In ähnlicher Weise ergibt sich:
A − nE /nA
sAK = (4.35)
C
Bei der Ableitung von (4.35) benutzten wir det M = AB − BC = nE /nA . Alle
Resultate sind in Tabelle 4.2 zusammengefasst. Aus den Beziehungen, die dort
aufgelistet sind, folgen die allgemeinen Sätze:
4.10 Beispiele zur Systemmatrix und den Hauptpunkten 107
1. Hauptpunkte und Knotenpunkte fallen zusammen (sEH = sEK und sAH =

sAK ), wenn Eingangs- und Ausgangsmedien gleiche Brechzahlen besitzen.
2. Objekt- und Bildbrennweite eines optischen Systems sind von gleichem Be-
trag, wenn Eingangs- und Ausgangsmedien die gleichen Brechzahlen besitzen.
3. Der Abstand der Hauptpunkte ist immer gleich dem Abstand der Knoten-
punkte: sEH − sAH = sEK − sAK .
4.10 Beispiele zur Systemmatrix und den Hauptpunkten

Als Beispiel wollen wir ein optisches System betrachten, das aus zwei dünnen
Linsen in Luft besteht, die um den Abstand e voneinander entfernt sind (s.
Abb. 4.13). Die Linsen haben die Bildbrennweiten f1 und f2 , die positiv oder
negativ sein können.
Abb. 4.13. Zweilinsiges optisches System in Luft, der Abstand der beiden dünnen
Linsen beträgt e
Wenn die Eingangs- und Ausgangsebene am Ort der Linsen liegen, so besteht
die Systemmatrix aus den zwei Matrizen L1 und L2 für die dünnen Linsen und
der Translationsmatrix T entsprechend der Entfernung e zwischen ihnen. Damit
erhält man die Systemmatrix M = L2 TL1 oder:
⎛ ⎞
⎛ ⎞
1 0
⎠ 1 −e ⎝ 1 0
M=⎝ 1 1
⎠
f2 1 0 1 f1 1
⎛ ⎞
1 − fe −e
=⎝
1 ⎠ (4.36)
1
f2 1 − fe + 1
f1 1− e
f2
1
Wir können die Gesamtbrennweite f dieses Systems aus der Systemmatrix M

ableiten. Wegen f = 1/C gilt:
1 1 1 e

= + − (4.37)
f f1 f2 f1 f2
Weiterhin fallen der objektseitige Haupt- und Knotenpunkt bei der Entfernung
sEH = sEK = (1 − D)/C von der ersten Linse und der bildseitige Haupt- und
Knotenpunkt im Abstand sAH = sAK = (A − 1)/C von der zweiten Linse
zusammen. Deshalb ist:
f f
sEH = sEK = e und sAH = sAK = − e (4.38)
f2 f1
Beispiel 4.4 Brennweiten und Hauptpunkte des Huygensschen

Okulars
Diese Ergebnisse wollen wir auf das Huygenssche Okular anwenden. Das
Okular besteht aus zwei dünnen positiven Linsen, die sich im Abstand
e = (f1 + f2 )/2 befinden. Wir nehmen f1 = 3,125 cm und f2 = 2,083 cm
an.
Lösung
Aus (4.37) erhalten wir mit e = 2,604 cm für f = 2,5 cm. Die Lupenver-
größerung ΓL = −aS /f ist deshalb 10-fach. Hierbei ist as = −0,25 m die
Bezugssehweite bei Betrachtung mit dem Auge. Dies ist eine genormte
Nahsehweite (s. Kap. 6 und 7), die für normalsichtige Menschen (weder
kurz- noch weitsichtig) typisch ist.
Aus (4.38) erhalten wir sEH = 3,125 cm und sAH = −2,083 cm. Das
optische System ist in Abb. 4.14 zusammen mit den Hauptpunkten und den
Konstruktionsstrahlen gezeigt. Die einfallenden Objektstrahlen ergeben ein
virtuelles Objekt O , das zwischen beiden Linsen liegt. Die divergenten
Strahlen, die das System verlassen, ergeben ein vergrößertes virtuelles Bild,
das man sieht, wenn man in das Okular hineinschaut. Das Huygenssche
Okular wird in Kapitel 6 ausführlich diskutiert.
Beispiel 4.5 Brennweiten und Hauptpunkte einer dicken

konvexplanen Linse
Zum Abschluss wollen wir die Hauptpunkte einer halbkugelförmigen Glas-
linse bestimmen und ein Strahlendiagramm skizzieren (s. Abb. 4.15). Die
Krümmungsradien der Linse sind r1 = 3 cm und r2 = ∞. Die Linse befindet
sich in Luft und das Linsenmaterial hat eine Brechzahl von nL = 1,5.
4.11 Raytracing 109
Abb. 4.14. Strahlenkonstruktion mit den Hauptpunkten für das Huygenssche Okular
Lösung
Die Eingangs- und Ausgangsebenen befinden sich bei den Scheiteln der
beiden Linsenflächen und damit ist M = B2 TB1 :

1 0 1 −3 cm 1 0
M= 0,5 1
0 1,5 0 1 1,5·3 cm 1,5

2
3 −2 cm
=
1
6 cm 1
wobei det M = 1 gilt. Mit den Beziehungen aus Tabelle 4.2 erhalten wir die
Werte f E = −6 cm, fA = 4 cm, sEH = 0, sAH = −2 cm, f = −6 cm und
f = 6 cm. Haupt- und Knotenpunkte der konvexplanen Linse fallen
zusammen, sie sind in Abb. 4.15 mit H und H bezeichnet. Wir sehen, dass
die objektseitige Hauptebene am Scheitel der konvexen Fläche liegt und die
bildseitige Hauptebene um zwei Drittel der Dicke der Linse von der planen
Fläche entfernt ist. Allgemein lässt sich für die konvexplane Linse ableiten,
dass, solange die Brechzahl des Mediums außerhalb der Linse überall gleich
ist, die eine Hauptebene immer am Scheitel der Kugelfläche liegt und die
andere um den Quotienten -d/nL von der planen Linsenfläche entfernt ist.
In Abb. 4.15 sind die Konstruktionsstrahlen unter Benutzung der Haupt-
und Knotenebenen für ein beliebiges reelles Objekt y eingezeichnet. In
diesem Fall zeigen die ausfallenden Strahlen ein virtuelles Bild y nahe dem
Objekt, das genauso wie dieses orientiert und etwas vergrößert ist.
4.11 Raytracing
Die Annahme der paraxialen Strahlen vereinfacht die Beschreibung des Verlaufs
von Lichtstrahlen durch ein optisches System erheblich, da keine Winkelfunktio-
Abb. 4.15. Strahlenkonstruktion für eine halbkugelförmige konvexplane Linse
Abb. 4.16. In einem keilförmigen Stab aus PMMA breitet sich ein Lichtbündel mit
einem Anfangs-Öffnungswinkel von 35◦ aus. Die Einfallswinkel auf die Grenzfläche wer-
den immer kleiner. Kurz vor dem Stabende tritt das Licht seitlich aus dem Stab aus,
so dass praktisch kein Licht den Stab am Ende verlässt. Es sind nur Lichtstrahlen mit
Intensitäten oberhalb einer Schwelle angezeigt. Dieses Beispiel zeigt, dass es keinen
Lichttrichter“ gibt. Die Raytracing-Berechnungen wurden mit OPTICAD“ durch-
” ”
geführt.
4.11 Raytracing 111
nen in den Gleichungen auftauchen. Für viele Anwendungen ist diese Näherung
ausreichend, da in einem optischen System das Bild in der Regel von Lichtstrahlen
nahe der optischen Achse erzeugt wird. Wenn jedoch die Qualität des Bildes ver-
bessert werden soll, muss man Wege finden, die Abbildungsfehler zu vermeiden,
die durch die Strahlen erzeugt werden, die mehr oder weniger von der idealen An-
nahme abweichen. Um den tatsächlichen Weg von individuellen Strahlen durch
ein optisches System zu verfolgen, muss jeder Strahl verfolgt werden (traced),
wobei man das Reflexions- und das Brechungsgesetz auf alle Komponenten des
optischen Systems anwendet. Diese Technik nennt man Raytracing (Strahlverfol-
gung), da diese früher von Hand, also grafisch mit Maßstab und Winkelmesser
in einem stufenweise ablaufenden Prozess für eine genaue geometrische Vorlage
eines optischen Systems durchgeführt wurde. Heute ist mit Hilfe von Rechnern
die Berechnung des Strahlverlaufs einfach und schnell möglich.
Raytracing-Methoden sind oft auf meridionale Strahlen beschränkt, dies sind
Strahlen, die in einer Ebene liegen, die die optische Achse enthält. An dieser Stel-
le wird auf das Verfahren nicht genauer eingegangen, da inzwischen eine Vielzahl
von Raytracing-Programmen für den Einsatz auf dem PC zur Verfügung ste-
hen. Als Beispiel seien hier die Programme ”ASAP”, ”OPTICAD” und ”SIG-
MA 2100” genannt, die ein unbeschränktes (unconstrained, non-sequential) Ver-
fahren einsetzen. Hierbei werden an jeder optischen Grenzfläche die Intensitäten
des reflektierten und des gebrochenen Strahles mit Hilfe der Fresnelgleichungen
berechnet, wobei der Strahl im optischen System ohne Einschränkung hin- und
herlaufen kann. Bei einem anderen Typ von Programmen wird vorausgesetzt,
dass das Licht das optische System nur in einer Richtung (z.B. von links nach
rechts) durchläuft.
Übungen
4.1 Eine bikonvexe Linse der Scheiteldicke 5 cm und der Brechzahl 1,6 hat Oberflächen
mit den Krümmungsradien ±0,4 m. Die Linse wird mit einer Seite auf Wasser ge-
legt, die entgegengesetzte Oberfläche ist in Berührung mit Luft. Bestimmen Sie die
Brennweiten und skizzieren Sie Brennpunkt- und Hauptpunktlagen.
4.2 Eine bikonkave Linse mit n = 1,53 hat Oberflächen mit den Brechwerten von 5 dpt
und 8 dpt. Die Linse befindet sich in Luft und hat eine Scheiteldicke von 3 cm.
a) Bestimmen Sie die Lage der Brenn- und der Hauptpunkte.
b) Ein Gegenstand befindet sich 30 cm vom linken Scheitelpunkt der Linse ent-
fernt. Bestimmen Sie die Lage des Bildes relativ zum Linsenzentrum.
c) Berechnen Sie die paraxiale Bildweite in der Näherung der dünnen Linse. Wie
groß ist der prozentuale Fehler gegenüber genauer Berechnung (dicke Linse)?
4.3 Eine bikonkave Linse hat Krümmungsradien von -0,2 m und +0,1 m. Die Brechzahl
beträgt 1,5 und die Scheiteldicke 5 cm. Ein 2,5 cm großes Objekt befindet sich 8 cm
vom linken Scheitel der Linse entfernt. Bestimmen Sie Größe und Lage des Bildes.
4.4 Eine bikonvexe Linse hat Oberflächen mit den Krümmungsradien ±0,1 m und eine
Scheiteldicke von 2 cm. Die Brechzahl des Glases beträgt nL = 1,61 und die Linse
befindet sich zwischen Luft und Wasser (nW = 1,33). Links von der Linse befindet
sich in 60 cm Abstand vom Scheitel ein Gegenstand von 5 cm Größe. Bestimmen
Sie die Hauptpunkte der Linse sowie Lage und Größe des Bildes.
4.5 Eine hohle Glaskugel von 10 cm Radius wird mit Wasser gefüllt. Für paraxiale
Strahlen ist die Brechung aufgrund der dünnen Glaswand zu vernachlässigen.
a) Bestimmen Sie die Hauptpunkte und fertigen Sie eine maßstäbliche Skizze an.
b) Berechnen Sie für ein kleines Objekt, das sich 20 cm von der Kugel entfernt
befindet, die Lage des Bildes und den Abbildungsmaßstab.
c) Überprüfen Sie Ihre Berechnungen durch eine maßstäbliche Skizze mit den
Konstruktionsstrahlen.
4.6 Eine Reihe von Lichtstrahlen trifft auf die ebene Oberfläche einer Glashalbkugel in
Luft mit 5 cm Radius und der Brechzahl n = 1,5.
a) Ein Strahl trifft parallel zur optischen Achse und im Abstand von 1 cm von
dieser auf die Glashalbkugel. Stellen Sie die Systemmatrix für die Brechung
an der Glaskugel auf und bestimmen Sie den Ausgangsabstand und den Aus-
gangswinkel des Strahles.
b) Berechnen Sie die Systemmatrix für ein neues System, dessen Ausgangsebene

sich im Abstand zA von der Glashalbkugel befindet.
c) Benutzen Sie die neue Systemmatrix, um den Schnittpunkt des oben beschrie-
benen Strahles mit der optischen Achse zu bestimmen.
4.7 Eine Linse hat die folgenden Spezifikationen: r1 = 1,5 cm = r2 , Scheiteldicke d =
2 cm, n = 1,0, nL = 1,6 und n = 1,3. Bestimmen Sie die Hauptpunkte mit der
Matrixmethode. Zeichnen Sie eine maßstäbliche Skizze der Linse und konstruieren
Sie den Strahlenverlauf für ein von Ihnen gewähltes Objekt.
4.8 Eine dünne Positivlinse der Bildbrennweite f1 = 10 cm ist 5 cm von einer dünnen
Negativlinse der Bildbrennweite f2 = −10 cm entfernt. Bestimmen Sie mit der Ma-
trixmethode die Bildbrennweite der Kombination und die Lage der Brennpunkte
und Hauptebenen. Zeichnen Sie eine maßstäbliche Skizze des Systems und konstru-
ieren Sie den Strahlenverlauf für ein beliebiges Objekt, das sich vor dem System
befindet.
4.9 Eine Glaslinse von 3 cm Scheiteldicke hat eine konvexe Oberfläche mit einem
Krümmungsradius von 5 cm und eine weitere konvexe Oberfläche mit einem Ra-
dius von −2 cm. Die erste Fläche ist auf der linken Seite in Kontakt mit Luft und
die andere mit einer Flüssigkeit der Brechzahl 1,4. Die Brechzahl des Glases ist 1,5.
Bestimmen Sie die Lage der Brennpunkte, der Hauptpunkte und die Brennweiten
des Systems. Benutzen Sie die Matrixmethode.
4.10 a) Bestimmen Sie die Systemmatrix für ein einfaches System, das aus einer dünnen
Linse der Bildbrennweite 10 cm besteht und für das die Eingangsebene 30 cm
vor und die Ausgangsebene 15 cm hinter der Linse liegt.
b) Zeigen Sie, dass die Matrixelemente die bekannten Positionen der sechs Kardi-
nalpunkte einer dünnen Linse angeben.
c) Warum ist in diesem Fall das Matrixelement B = 0? Was ist die besondere
Bedeutung von A in diesem Fall?
4.11 Raytracing 113
4.11 Die Kristallkugel einer Wahrsagerin hat eine Brechzahl von 1,5 und einen Durch-
messer von 20 cm.
a) Bestimmen Sie mit der Matrixmethode den Ort der Hauptpunkte.
b) An welcher Stelle wird Sonnenlicht durch die Kristallkugel fokussiert?
4.12 Eine dicke Linse hat eine konkave und eine konvexe Oberfläche mit betragsmäßig
gleichen Krümmungsradien von 5 cm. Sie hat eine Scheiteldicke von 1 cm, die Brech-
zahl beträgt 1,5. Finden Sie:
a) die Systemmatrix für die Linse in Luft,
b) die Hauptpunkte. Zeichnen Sie für ein beliebiges Objekt das Strahlendiagramm.
4.13 Ein achromatisches Dublett besteht aus einer positiven Kronglaslinse der Brechzahl
1,52 und der Scheiteldicke 1 cm, die mit einer negativen Flintglaslinse der Brech-
zahl 1,62 und der Scheiteldicke 0,5 cm zusammengekittet ist. Alle Oberflächen ha-
ben einen Krümmungsradius vom Betrag 20 cm. Das Dublett soll in Luft benutzt
werden. Bestimmen Sie:
a) die Systemmatrixelemente für die Ein- und Ausgangsebene im Scheitelpunkt
der Linsenoberflächen;
b) die Hauptpunkte;
c) die Bildbrennweite der Kombination, wobei Sie die Linsengleichung (3.23) und
die Gleichung zur Ermittlung der Bildbrennweite zweier Linsen in optischem
Kontakt benutzen. Vergleichen Sie diese Berechnung von f , für die dünne
Linsen angenommen sind, mit dem vorherigen Wert.
4.14 Vergrößern Sie das optische System der Abb. 4.15 so, dass ein Objektraum auf der
linken und ein Bildraum auf der rechten Seite der Linse eingeschlossen ist. Die linke
Linsenoberfläche habe von der neuen Eingangsebene im Objektraum den Abstand

zE und die neue Ausgangsebene im Bildraum den Abstand zA von der Linse.
a) Berechnen Sie die Systemmatrix für das vergrößerte System.
b) Untersuchen Sie das Matrixelement B, um die allgemeine Beziehung zwischen
Gegenstands- und Bildweiten der Linse zu erhalten. Leiten Sie die allgemeine
Beziehung für den Abbildungmaßstab her.
c) Berechnen Sie aus den Ergebnissen von b) die Bildentfernung und den Abbil-
dungmaßstab für einen Gegenstand, der sich 20 cm von der linken Seite der
Linse befindet.
d) Welche Information kann man aus der Systemmatrix erhalten, wenn man die
Matrixelemente A = D = 0 (s. Abb. 4.9)setzt?
4.15 Bestimmen Sie die Systemmatrix für das Kameraobjektiv in Abb. 6.19 a (Cooke-
sches Triplett). Das Licht trifft von der linken Seite her auf sechs sphärische Ober-
flächen, deren Krümmungsradien r1 bis r6 sind. Die Dicken der drei Linsen sind d1
bis d3 und die Brechzahlen n1 bis n3 . Der Abstand in Luft zwischen den Linsenober-
flächen betrage e1 und e2 . Skizzieren Sie das Linsensystem mit den Hauptpunkten.
Wie weit hinter der letzten Oberfläche muss sich die Filmebene befinden, um par-
axiale Strahlen zu fokussieren?
Daten:
r1 = 19,4 mm d1 = 4,29 mm e1 = 1,63 mm n1 = 1,611
r2 = -128,3 mm d2 = 0,93 mm e2 = 12,90 mm n2 = 1,5744
r3 = -57,8 mm d3 = 3,03 mm n3 = 1,6110
r4 = 18,9 mm
r5 = 311,3 mm
r6 = -66,4 mm
4.16 Berechnen Sie die Systemmatrix (Matrizen ausmultiplizieren) einer dicken Linse
ausgehend von (4.17), aber ohne die Annahme der Bedingung n = n und d = 0.
Bestimmen Sie die Matrixelemente A, B, C und D der dicken Linse.
4.17 Entnehmen Sie die Orte der Hauptpunkte mit Hilfe der Tabelle 4.2 aus den Ma-
trixelementen der dicken Linse in Aufgabe 4.16 und verifizieren Sie, dass f und f
durch (4.1) und (4.2) gegeben sind. Bestätigen Sie außerdem, dass die Abstände
s1H , s2H , s1K und s2K durch die Gleichungen (4.3) bis (4.6) gegeben sind.
5
Abbildungsfehler
Einleitung
In den bisherigen Berechnungen der Abbildung durch ein optisches System ha-
ben wir ideale Verhältnisse angenommen. Dies bedeutet, dass jedem Objektpunkt
durch die Abbildung umkehrbar eindeutig ein Bildpunkt zugeordnet wird. Geo-
metrische Figuren werden hierbei in ähnliche Figuren überführt. Eine Objek-
tebene, die senkrecht zur optischen Achse steht, wird mit ortsinvariantem Abbil-
dungsmaßstab über die Ebene in eine achsensenkrechte Bildebene transformiert.
Eine ideale Abbildung erhält man bei der Beschränkung auf paraxiale Strahlen.
Dies sind Strahlen, die nahe der optischen Achse verlaufen und kleine Winkel re-
lativ zu dieser aufweisen. In diesem Fall nehmen auch Einfalls-, Reflexions- und
Brechungswinkel kleine Werte an. Damit kann die Reihenentwicklung der Sinus-
und Kosinusfunktion für σ (Schnittwinkel) oder ε (Einfallswinkel), gegeben durch
ε3 ε5
sin ε = ε − + − ... ≈ ε
3! 5!
ε2 ε4
cos ε = 1 − + −... ≈ 1
2! 4!
jeweils durch den ersten Term angenähert werden. Die Grenzen des Paraxial-
gebietes hängen von der geforderten Genauigkeit ab. Sie sind nicht allgemein
festgelegt.
116 5 Abbildungsfehler
Die Optik des Paraxialgebietes wird Gaußsche Optik genannt. Der Einschluss
von Termen höherer Ordnung der Reihenentwicklung in den Berechnungen
ergibt eine Abweichung von der idealen Abbildung mit zunehmendem Winkel.
Diese Abweichungen werden als Abbildungsfehler (Aberrationen) bezeichnet.
Wenn in der Reihenentwicklung der nächste Term (z.B. ε3 in der Näherung

für sin ε) berücksichtigt wird, so erhält man eine Theorie, die die Abbildungs-
fehler der dritten Ordnung enthält. Diese werden, wie auch die Fehler anderer
Ordnung, durch die oft benutzten Kugelgrenzflächen von optischen Elementen
(Linsen, Spiegel) verursacht. Die Aberrationen verschwinden z.B. für ebene Spie-
gel oder Linsen mit asphärischen Grenzflächen. Die Abbildungsfehler dritter Ord-
nung sind durch den deutschen Mathematiker Ludwig von Seidel untersucht und
klassifiziert worden und werden deshalb Seidelsche Aberrationen genannt.
Für monochromatisches Licht gibt es fünf Seidelsche Abbildungsfehler
(geometrische Fehler): sphärische Aberration, Koma, Astigmatismus, Bild-
feldwölbung und Verzeichnung.
Ein zusätzlicher Abbildungsfehler, die chromatische Aberration rührt von

den wellenlängenabhängigen Abbildungseigenschaften (Brechzahl n(λ), Disper-
sion der optischen Werkstoffe) des optischen Systems her. In diesem Kapitel
erfolgt eine kurze Berechnung der Abbildungsfehler dritter Ordnung und eine
qualitative Beschreibung jeden Fehlers zusammen mit den typischen Verfahren
für seine Vermeidung.
5.1 Strahl- und Wellenaberrationen

Die Abweichung von der idealen Abbildung kann entweder durch die Strahl- oder
die Wellenaberrationen beschrieben werden. In Abb. 5.1 sehen wir zwei Wellen-
fronten, die von einem optischen System ausgehen, das einen Objektpunkt O ab-
bildet. Die Wellenfront W1 ist eine Kugelwellenfront, die ein ideales, punktförmi-
ges Bild in O ergibt. Die Wellenfront W2 ist ein Beispiel für die tatsächliche
Wellenfront. Sie hat eine asphärische Approximation, deren Form aus exakten
Berechnungen des Strahlengangs im optischen System für einen gegebenen Ob-
jektpunkt folgt. Die Strahlen durch A und B, die senkrecht auf den zugehöri-
gen Wellenfronten stehen, schneiden die paraxiale Bildebene nicht in demselben
Punkt.
Der Fehler in Richtung der optischen Achse, dargestellt durch die Entfernung
LO , wird Längsabweichung (longitudinale Aberration) genannt, während der
Fehler O OF senkrecht zur optischen Achse, der in der Bildebene gemessen
wird, Querabweichung (transversale oder laterale Aberration) genannt wird.
5.1 Strahl- und Wellenaberrationen 117
Dies sind die Strahlaberrationen. Alternativ hierzu kann man die Aberration als
Abweichung der deformierten Wellenfront von der idealen Wellenfront bei ver-
schiedenen Abständen von der optischen Achse beschreiben. Am Ort des Punktes
B ist die Wellenfrontaberration durch die Entfernung AB gegeben (s. Abb. 5.1).
Wir sehen, dass die Strahlen, die zu den beiden Wellenfronten gehören und die
durch den Punkt S auf der optischen Achse verlaufen, auf der optischen Achse
denselben Bildpunkt O treffen. Strahlen, die durch Punkte zwischen S und B
gehen, treffen die Bildebene in anderen Punkten in der Umgebung von O und
erzeugen ein unscharfes Bild als Folge der Aberration. Die maximalen Strahl-
aberrationen bestimmen die Größe des Zerstreuungskreises der als unscharfes Bild
eines Objektpunktes entsteht. Die Optimierung der Konstruktion eines optischen
Systems zielt immer darauf ab, die Strahlaberrationen so weit zu reduzieren, dass
sie ähnlich klein wie die unvermeidlichen Beugungserscheinungen werden.
Abb. 5.1. Strahl- und Wellenfrontaberrationen eines optischen Systems
Die Strahlaberration, die zur Wellenaberration AB gehören, werden im Fol-

genden berechnet. Hierzu wird der Abstand AB = q in Abhängigkeit von der
Größe h der Apertur, die den bildseitigen Öffnungswinkel des Systems festlegt,
ermittelt. Aus Abb. 5.2 ergibt sich, dass der Winkel α zwischen den tatsächlichen
und den idealen Strahlen, die von einem Punkt P in der Höhe h auf der Wellen-
front ausgehen, gleich dem Winkel zwischen den Tangenten an die Wellenfronten
ist. Die Wellenfronten, die durch das optische System geformt werden, breiten
sich im Bildraum mit der Brechzahl n aus. Aus der Abb. 5.2 (s. Ausschnitt) ent-
nimmt man den die infinitesimale Wellenfrontaberration dq als optische Weglänge
im Bildraum:
dq = n α dh (5.1)
Der Differentialquotient dq/dh beschreibt die Krümmung der Wellenfront im

Punkt P . Die Querabweichung ∆y in der y-z-Ebene, die von den Strahlen in der
Nachbarschaft von P herrührt, ergibt sich in Näherung zu:
s dq
Querabweichung ∆y = αs = (5.2)
n dh
Hierbei ist s die paraxiale Bildschnittweite der Wellenfront und α wurde aus
(5.1) entnommen. In x-Richtung, senkrecht zur y-z-Ebene (Papierebene) erhält
man in ähnlicher Weise, wenn h nicht in der y-z-Ebene liegt:
s dq
∆x = (5.3)
n dhx
Die Längsabweichung ∆z lässt sich aus der Querabweichung ∆y berechnen:
∆y s ∆y
Längsabweichung ∆z = ≈ (5.4)
tan σ h
Abb. 5.2. Zusammenhang zwischen den Strahlaberrationen ∆y und ∆z in der y-z-

Ebene und der Wellenaberration q. Der vergrößerte Bildausschnitt zeigt die Änderung
dq der Wellenaberration als Folge der Änderung dh in der Aperturgröße
5.2 Brechung an einer Kugelfläche (Seidelsche Näherung)

Im Folgenden wollen wir die Brechung an einer einzelnen Kugelfläche berechnen.
Hierbei berücksichtigen wir Winkelfehler bis zur 3. Ordnung. In Abb. 5.3 sehen
5.2 Brechung an einer Kugelfläche (Seidelsche Näherung) 119
wir, wie ein beliebiger Strahl OQ, der von einem axialen Objektpunkt O ausgeht,
durch eine sphärische Fläche gebrochen wird, deren Krümmungsmittelpunkt C
ist. Die Grenzfläche trennt zwei Medien mit den Brechzahlen n und n . Der
gebrochene Strahl führt zu einem axialen Bildpunkt in O . Nach dem Fermatschen
Prinzip sind in erster Näherung die optischen Weglängen der Strahlen OQO
und OSO gleich. Es treten Strahlaberrationen auf, da sich die Strahlweglängen
OQO für unterschiedliche Lagen des Punktes Q auf der sphärischen Grenzfläche
unterscheiden. Wir definieren die Aberration im Punkt Q als:
q(Q) = (OQO − OSO )OW (5.5)
Abb. 5.3. Brechung eines Strahles an einer sphärischen Grenzfläche
Hierbei weist der Index OW darauf hin, dass die optische Weglängendifferenz1
zu berechnen ist, d.h.:
q(Q) = (nl + n l ) − (n s − ns) (5.6)

Benutzt man den Kosinussatz, so kann man die Längen l und l durch die Größen,
die in Abb. 5.3 definiert sind, ausdrücken:
l2 = r2 + (r − s)2 − 2r(r − s) cos ϕ (5.7)

2 2
l = r + (r − s ) + 2r(r − s ) cos ϕ
2
(5.8)
Verwendet man die Näherung

1
Bei der Ableitung werden die in Kapitel 3 beschriebenen Vorzeichenkonventionen
benutzt. Die Teilabschnitte l und l des Lichtweges haben beide positive Vorzeichen.
ϕ2 ϕ4
cos ϕ ≈ 1 − + (5.9)
2! 4!
so erhält man mit ϕ ≈ h/r:

h2 h4
cos ϕ ≈ 1 − + (5.10)
2r2 24r4
Setzt man (5.10) in (5.7) und (5.8) ein und formt um, so erhält man:
2 1/2
h (r − s) h4 (r − s)
l = −s 1 + − (5.11)
rs2 12r3 s2
2 1/2
h (r − s ) h4 (r − s )
l = s 1 + − (5.12)
rs2 12r3 s2
Ersetzt man den Inhalt der eckigen Klammern in (5.11) und (5.12) durch x und
x , so kann man die Quadratwurzel der Ausdrücke in den geschweiften Klammern
durch die binomische Entwicklung nähern:
x x2
(1 + x)1/2 ≈ 1 + − (5.13)
2 8
Damit gilt:

x x2
l ≈ −s 1 + − (5.14)
2 8
2

x x
l ≈ s 1 + − (5.15)
2 8
und somit:

h2 (r − s) h4 (r − s) h4 (r − s)2
l = −s 1 + − − (5.16)
2rs2 24r3 s2 8r2 s4

h2 (r − s ) h4 (r − s ) h4 (r − s )2
l =s 1+ − − (5.17)
2rs2 24r3 s2 8r2 s4
wobei Terme mit h6 und h8 vernachlässigt sind.

Die Gleichungen für l und l werden in (5.6) eingesetzt und nach Umformung
folgt die Wellenaberration:
2 2
h2 n n n − n h4 n 1 1 1 1 n
q(Q) =
− − − − − − +
2 s s r 8 s r s s r s
(5.18)
Der erste Term in h2 stellt die paraxiale Näherung dar. Die eckigen Klammern
enthalten die Schnittweitengleichung (3.14) für die Abbildung durch ein brechen-
de Kugelfläche. Der h2 -Term ist somit gleich 0. Der Abbildungsfehler 3. Ordnung
ist durch den Term in h4 gegeben. Die Bezeichnung 3. Ordnung“ bezieht sich
”
auf die auftretende Potenz des halben Strahlbündelöffnungswinkels u = h/s bei

dq
der Berechnung der Querabweichung ∆y = ns dh . Wenn h klein ist, so sind die
Strahlen paraxial und die Aberration, die durch den h4 -Term gegeben ist, kann
vernachlässigt werden. Der Inhalt der eckigen Klammern, der bei dem Faktor
h4 steht, ist unabhängig von h. Dies zeigt, dass die Wellenaberration propor-
tional zur vierten Potenz der Strahlhöhe (Durchstoßhöhe, Durchgangshöhe) h –
gemessen von der optischen Achse – ist:
q = g h4 (5.19)
Hierbei ist g eine Proportionalitätskonstante. Dies ist das Ergebnis unserer Be-
rechnung für axiale Objektpunkte. Wir werden das Resultat später verallgemei-
nern und die Abbildungsfehler für nicht axiale Objektpunkte berechnen.
Wir haben die Aberration q(Q) als die Differenz der optischen Weglängen für
die idealen und die tatsächlichen Strahlen berechnet, die sich aus der Wellen-
aberration AB in Abb. 5.1 ergeben. Die Abweichung AB der tatsächlichen von
der idealen Kugelwellenfront ist vom Abstand h von der optischen Achse und
damit vom Öffnungswinkel des abbildenden Strahlenbündels abhängig und wird
als sphärische Aberration oder Öffnungsfehler bezeichnet.
Abb. 5.4. Vergleich von axialen und schiefen Strahlenbündeln, die durch eine Eintritts-
pupille verlaufen
Bevor wir die sphärische Aberration im Einzelnen untersuchen, wollen wir

uns den anderen Abbildungsfehlern 3. Ordnung zuwenden. Dazu analysieren wir
nichtaxiale Objektpunkte. In Abb. 5.4 sind zwei Strahlenbündel gezeigt, deren
Öffnungswinkel durch die als Eintrittspupille EP wirkende Aperturblende (s.
Kap. 6.1) bestimmt wird. Ein Strahlenbündel, das vom axialen Objektpunkt
O ausgeht, ergibt ein unscharfes Bild um den paraxialen Bildpunkt O herum.
Dieses Bild wird durch die sphärische Aberration beeinflusst, wobei die Stärke
der Aberration von der Höhe h0 der Randstrahlen des Strahlenbündels abhängt.
Das Strahlenbündel ist symmetrisch zur optischen Achse OCO , wobei C der
Krümmungsmittelpunkt der brechenden Fläche ist. Weiterhin wird ein schiefes
Strahlenbündel gezeigt, das von einem außeraxialen Objektpunkt P ausgeht. Die-
ses Bündel ist nicht symmetrisch zur Achse OO , ohne die begrenzende Apertur
EP wäre seine Symmetrieachse durch die Gerade P CP gegeben. Die Höhe hP
der Strahlen des schiefen Bündels muss von der zuletzt genannten Achse aus ge-
messen werden, um die Aberrationen aus (5.19) ableiten zu können. Wir erken-
nen, dass die Abweichung von der Symmetrieachse im Falle des schiefen Bündels
viel größer ist. Das schiefe Strahlenbündel führt zu stärkeren Aberrationen als
ein entsprechendes Strahlenbündel, das von axialen Objektpunkten ausgeht. Die
Größe von hP ist in hohem Maß von der Lage der Apertur abhängig. Letzere hat
den geringsten Einfluss, wenn sie in der Nähe des Krümmungsmittelpunktes C
positioniert wird.
Betrachten wir nun das außeraxiale Strahlenbündel, das vom Objektpunkt P
ausgeht, wie in Abb. 5.5 gezeigt. Die Aberrationsfunktion qB (Q) für den Punkt
Q auf der Wellenfront lässt sich in folgender Form schreiben:
qB (Q) = (P QP − P BP )OW = g(BQ)4 = g4B (5.20)

In (5.20) messen wir die den Abstand des Strahles P QP relativ zur Achse
P BP und nehmen an, dass die Punkte B, S und Q in einer vertikalen Ebene
liegen, die die Wellenfront im Punkt S annähert. Man kann zeigen, dass diese
Näherung die Ergebnisse der Theorie der Abbildungsfehler in dritter Ordnung
nicht verändert. Wir haben (5.19) benutzt und den Abstand BQ durch die Größe
B ersetzt.
In ähnlicher Weise kann man für den Wellenfrontpunkt S ableiten:
qB (S) = (P SP − P BP )OW = g(BS)4 = gb4 (5.21)

Bezieht man den Punkt Q auf die optische Achse SC, so lässt sich eine außeraxiale
Aberrationsfunktion q(Q) definieren, die sich aus der Differenz der axialen Ab-
errationen bei Q und S berechnen lässt:
q(Q) = qB (Q) − qB (S) = g4B − gb4 = g(4B − b4 ) (5.22)

Wendet man den Kosinussatz auf das Detailbild in Abb. 5.5 an, so erhält man:
Abb. 5.5. Abbildung eines außeraxialen Punktes P . Die Aberration für einen beliebigen
Punkt Q auf der Wellenfront kann auf die Symmetrieachse P BP oder die optische
Achse OCO bezogen werden. Die gestrichelte Linie stellt eine genäherte Wellenfront in
S dar. Das untere Bild zeigt eine Frontansicht eines Teiles der Wellenfront
2B = 2 + b2 + 2b cos θ

Wenn man diesen Ausdruck für B in (5.22) einsetzt, ergibt sich:

q(Q) = g 4 + 42 b2 cos2 θ + 22 b2 + 43 b cos θ + 4b3 cos θ (5.23)
Aus den ähnlichen Dreiecken SBC und O P C in Abb. 5.5 erkennt man, dass
die Entfernung SB = b proportional zur Höhe y des paraxialen Bildpunktes P
über der optischen Achse ist. Dies lässt sich als
b = ky (5.24)
schreiben, wobei k eine Proportionalitätskonstante ist. Ersetzt man b in (5.23)
durch ky , so erhält man für die Wellenaberration:
q(Q) = 0 C40 4 + 1 C31 y 3 cos θ + 2 C22 y 2 2 cos2 θ + 2 C20 y 2 2 + 3 C11 y 3 cos θ

(5.25)
Die Koeffizienten C in (5.25) haben Indizes, die die Exponenten der Größen y ,
und cos θ beschreiben. So gehört z.B. der Koeffizient 1 C31 zum Term y 3 cos θ,
wobei y in der ersten, in der dritten und cos θ in der ersten Potenz auftritt.
Der vorangestellte Index von 1 C31 soll die Potenz der objektabhängigen Größe
y von der Potenz der aperturabhängigen Größen 3 und cos θ mit den nachge-
stellten Indizes von 1 C31 deutlicher unterscheiden. Die einzelnen Terme in (5.25)
beschreiben Wellenfrontaberrationen, die zur Gesamtaberration des Bildes bei-
tragen.
Geht man zu den Strahlaberrationen über und berücksichtigt ∆y ≈ d dq
y
, so
2
erhält man die fünf (monochromatischen) Seidelschen Aberrationen , die – wie
aus (5.25) hervorgeht – additive Größen sind:
Seidelsche Aberrationen
3 cos θ sphärische Aberration 3 sin θ

y 2 (2 + cos 2θ) Koma y 2 sin 2θ
∆y ∼ y 2 cos θ Astigmatismus ∆x ∼ y 2 sin θ
y 2 cos θ Bildfeldwölbung y 2 sin θ
y 3 Verzeichnung 0
Jede Aberration ist durch die Abhängigkeit von y (Abweichung von axialer“
”
Abbildung), (Durchmesser der Apertur z.B. der brechenden Fläche) und θ
(Drehsymmetrie um die optische Achse) charakterisiert. Die Näherung 3. Ord-
”
nung“ erkennt man daran, dass in den Produkten y m n für die Exponenten
m + n = 3 gilt. y und sind zum Seh- bzw. zum Öffnungswinkel proportional.
Wir sehen, dass der erste Term, der die sphärische Aberration beschreibt, (5.19)
entspricht, wobei die Größe der Apertur kennzeichnet.
Wir beschreiben nun die beobachtbaren Auswirkungen dieser Aberrationen
und erläutern die Verfahren zur Reduktion der Abbildungsfehler.
5.3 Sphärische Aberration/ Öffnungsfehler

Der Term 0 C40 4 in (5.25) beschreibt die sphärische Aberration. Dies ist der
einzige Term, der nicht von y abhängt. Deshalb tritt die sphärische Aberration
auch für axiale Objekt- und Bildpunkte auf, wie es für eine einzelne Linse in der

Abb. 5.6 a gezeigt wird. Der axiale Bildpunkt OE wird durch Strahlen erzeugt, die
die Linse in größerem Abstand von der optischen Achse durchlaufen, während der
paraxiale Bildpunkt O durch achsennahe Strahlen gebildet wird. Die Entfernung

OE O auf der optischen Achse beschreibt die longitudinale sphärische Aberration
2
Born u. Wolf: Principles of Optics.
5.3 Sphärische Aberration/ Öffnungsfehler 125
– Längsabweichung –, die proportional zu 2 ist. Die Entfernung O G in der

paraxialen Bildebene gibt die entsprechende transversale sphärische Aberration
– Querabweichung – an, die proportional zu 3 ist. Die Aberrationen hängen

außerdem von der Gegenstandsweite ab. Wenn OE links von O liegt, wie hier
für den Fall einer Sammellinse gezeigt, so nennt man die sphärische Aberration

positiv (sphärische Überkorrektion). Für eine Zerstreuungslinse befindet sich OE

auf der rechten Seite von O , und die sphärische Aberration bezeichnet man als

negativ(sphärische Unterkorrektion). In einem Punkt OM zwischen OE und O
auf der optischen Achse erhält man in der Praxis einen besten“ Brennpunkt.
”
Das Bild an dieser Stelle hat den kleinsten Zerstreuungskreis. Benutzt man (5.2)
und (5.4) für die transversale und longitudinale Aberration, so kann man die
entsprechenden sphärischen Strahlaberrationen wie folgt erhalten:
s dq s dq s 3
sphärische Querabweichung ∆y = = = 4 0 C40 cos θ
n dh n dy n
und
s ∆y 0 C40 s
2
sphärische Längsabweichung ∆z = =4 2
y n
Abb. 5.6. Sphärische Aberration einer Linse mit dem Ergebnis a) unterschiedlicher
Bildweiten und b) verschiedener Brennweiten. (Zur Veranschaulichung ist die Strahl-
konstruktion für eine dünne Linse mit ihrer Hauptebene ohne den Strahlenverlauf in
der Linse gezeichnet)
Beispiel 5.1 Sphärische Strahlaberration

Ein paralleles Strahlenbündel trifft parallel zur Achse eines Glasstabes auf
dessen sphärische Eingangsoberfläche mit dem Krümmungsradius r = 4 cm.
Die Brechzahl des Glasstabes ist n = 1,6. Bestimmen Sie die longitudinale
und die transversale sphärische Strahlaberration für Licht, das im Abstand
h = 1 cm von der optischen Achse auf den Stab trifft.
Lösung
Für große Schnittweiten s → −∞ wird (5.18) näherungsweise:
2
h4 n 1 1
q=− −
8 s s r
dq
Um ∆z zu berechnen, muss man zunächst die Ableitung dh ermitteln:
2
dq h3 n 1 1
=− −
dh 2 s s r
Die Schnittweite s wie auch die Brennweite der Oberfläche lässt sich aus
der paraxialen Schnittweitengleichung (3.14) gewinnen:
1,6 1 0,6

− = oder s = 10,667 cm
s ∞ 4 cm
dq
Damit lässt sich dh berechnen:
2
dq 1 cm3 1,6 1 1
=− − = −0,001831
dh 2 10,667 cm 10,667 cm 4 cm
s dq 10,667 cm
∆y = = (−0,001831) = −0,0122 cm
n dh 1,6
s 10,667 cm
∆z = ∆y = (−0,0122 cm) = −0,130 cm
h 1 cm
Die Abb. 5.6 b zeigt die sphärische Aberration, wenn sich der Gegenstand im
Unendlichen befindet. Die Strahlen durch Kreiszonen verschiedenen Durchmes-
sers auf der Linse ergeben verschiedene Brennweiten, so dass f eine Funktion
der Strahlhöhe h ist. Die normalerweise angegebene Brennweite einer Linse gilt
für den Grenzfall h → 0. Diese Brennweite beträgt nach (3.23):

1 1 1
= (n − 1) − (5.26)
f r1 r2
Gleichung (5.26) gilt für eine dünne Linse in Luft, wobei die Brechzahl des Lin-
senmaterials n beträgt und die Krümmungsradien der Oberflächen r1 und r2
sind. Aus (5.26) ergibt sich, dass eine gegebene Brennweite f durch verschiede-
ne Kombinationen von r1 und r2 erzeugt werden kann. Verschiedene Paare von
Krümmungsradien, die zu der gleichen Brennweite gehören, können einen großen
Einfluss auf die sphärische Aberration der Linse haben. Abbildung 5.7 zeigt die
Änderung in der Form einer Linse, wenn die Durchbiegung durch Änderung der
Krümmungsradien variiert wird und die Brennweite konstant bleibt.
5.3 Sphärische Aberration/ Öffnungsfehler 127
Als Maß für die Form der Linse benutzt man den
r2 + r1
Coddington-Formfaktor γ= (5.27)
r2 − r1
wobei die übliche Vorzeichenkonvention für r1 und r2 verwandt wird. Gibt man
z.B. die Brechzahl n = 1,5 und die Bildbrennweite f = 10 cm einer dünnen Linse
vor, so hat man die Freiheit, eine bikonvexe Linse mit dem Formfaktor γ = 0
(r1 = 10 cm, r2 = −10 cm), eine plankonvexe Linse mit γ = +1 (r1 = 5 cm)
oder eine Meniskuslinse mit γ = +2 (r1 = 3,33 cm, r2 = 10 cm) zu verwenden.
Diese Linsenformen sowie auch die spiegelbildlichen Formen mit den negativen
Formfaktoren werden in der Abb. 5.7 gezeigt.
Abb. 5.7. Ausführungsformen von Einzellinsen identischer Brennweite. Der

Coddington-Formfaktor, der unter jeder Linse angegeben ist, dient zur Klassifizierung
der Linsenform
Die sphärische Aberration einer einzelnen sphärischen brechenden Fläche ist

durch (5.18) gegeben. Bei einer dünnen Linse tragen beide Grenzflächen zur
sphärischen Aberration bei. Die gesamte longitudinale sphärische Aberration ei-
ner dünnen Linse kann man als Differenz a1 − a1 p darstellen, wobei ah die Bild-
h
weite für einen Strahl der Höhe h und ap die paraxiale Bildweite ist.

1 1 h2 1 n+2 2 n3
− = 3 γ + 4(n + 1)pγ + (3n + 2)(n − 1)p +
2
ah ap 8f n(n − 1) n − 1 n−1
(5.28)

+a
Hierbei ist p = aa −a , f die Bildbrennweite und n die Brechzahl der dünnen
Linse.
Minimale aber nicht verschwindende sphärische Aberration (s. Übung 5.11)
erreicht man für den Coddington-Faktor:
2(n2 − 1)
γS = − p (5.29)
n+2
Für einen Gegenstand im Unendlichen ist γS = 0,71, wobei die Brechzahl der Lin-
se n = 1,5 beträgt. Dieser Formfaktor ist dem der plankonvexen Linse (γ = +1)
ähnlich. Deshalb werden in optischen Systemen oft plankonvexe Linsen – wobei
die konvexe Seite den parallel einfallenden Strahlen zugewandt ist – eingesetzt,
um die sphärische Aberration zu minimalisieren. Im allgemeinen ist ein Mini-
mum der sphärischen Aberration gleichbedeutend mit gleich großer Brechung an
den beiden Linsenflächen. Eine Verminderung der sphärischen Aberration lässt
sich durch Linsenkombinationen erreichen, weil Positivlinsen und Negativlinsen
sphärische Aberration mit entgegengesetzten Vorzeichen erzeugen. Eine häufige
Anwendung dieser Technik findet man in den Doppellinsen (Dublett), die mitein-
ander verkittet sind. Die Korrektur der sphärischen Aberration ist hierbei nur für
eine Linsenzone exakt. Die fehlerfreie Abbildung für alle Linsenzonen lässt sich
durch die aplanatische Abbildung (siehe Übung 5.2), oder asphärische Flächen
erreichen.
5.4 Koma
Die Koma 3 ist in (5.25) durch den Term 1 C31 y 3 cos θ gegeben, der eine außer-
axiale Aberration (y = 0) beschreibt. Die Koma ist nicht rotationssymmetrisch
um die optische Achse (cos θ = konst.) und nimmt mit dem Öffnungswinkel des
Strahlbündels stark zu.
Die Koma ergibt kometenschweifähnliche Bildfehler.
Schränkt man den Öffnungswinkel deutlich ein, was den Öffnungsfehler verklei-
nert, so bleibt wegen y = 0, ein Restfehler bestehen. Abbildung 5.8 a verdeutlicht
die Aberration für ein schräges Bündel paralleler Strahlen, das in einer vertikalen
Ebene liegt und durch eine einzelne Linse gebrochen wird.
Jede Kreiszone auf der Linse erzeugt ein kreisförmiges Bild, das man koma-
tischen Kreis nennt. Die Strahlen in einer vertikalen Ebene der Kreiszone des
Strahlenbündels ergeben ein Bild im oberen Teil jedes komatischen Kreises,
während Zonenstrahlen, die in einer horizontalen Ebene liegen, ein Bild im un-
teren Teil des komatischen Kreises erzeugen. Jedes andere Strahlenbündel er-
zeugt Bilder, die den komatischen Kreis vervollständigen. Die Kombination all
dieser komatischen Kreise, die im Radius mit dem Zonenradius zunehmen, er-
geben die kometenschweifähnliche Figur, die in der Abb. 5.8 b gezeigt ist und
von der der Name dieser Aberration stammt. Tatsächlich ergibt jede Zone einen
unterschiedlichen Abbildungsmaßstab, so dass yc (Zentralstrahlen) nicht gleich
ye (Randstrahlen) ist. Wie die sphärische Aberration kann auch die Koma als
eine positive Größe (ye > yc ) oder als negative Größe (ye < yc ) auftreten.
3
Die Koma, nicht das Koma.
5.4 Koma 129
Abb. 5.8. a) Koma durch ein schräges, tangentiales Bündel paralleler Strahlen, das
von einem weit entfernten, außeraxialen Objektpunkt ausgeht. Die Strahlen ergeben
jeweils den obersten Punkt für den zugehörigen komatischen Kreis. b) Erzeugung eines
schweifähnlichen Bildes durch eine Reihe von komatischen Kreisen. Die übrigen Bild-
punkte jedes einzelnen Kreises werden durch windschiefe Bündel erzeugt, z.B. durch ein
sagittales Bündel in der Ebene senkrecht zur y − z-Ebene. c) Nicht paraxiale Strahlen
von einem Objektpunkt P nahe der optischen Achse erzeugen einen Bildpunkt P , der
der Abbeschen Sinusbedingung genügt
Ohne die gewöhnlich benutzte paraxiale Näherung – Beschränkung auf die-

jenigen Strahlen, die kleine Neigungswinkel zur optischen Achse aufweisen und
nahe zu dieser sind – kann man zeigen, dass für Objektpunkte nahe der optischen
Achse jeder Strahl, der an einer sphärischen Grenzfläche gebrochen wird, die
Abbesche Sinusbedingung erfüllen muss. Zur Beseitigung der Koma ist die Abbe-
sche Sinusbedingung eine notwendige Voraussetzung; bei fehlender sphärischer
Aberration ist sie auch hinreichend.
Zur Herleitung der Sinusbedingung muss man einen Zusammenhang zwi-

schen dem Abbildungsmaßstab und dem Öffnungswinkel des abbildenden Strah-
lenbündels herstellen.
Mit dem Sinussatz und dem Brechungsgesetz (s. Abb. 5.8 c) gilt:
sin u sin ε sin u sin ε

= , = , n sin ε = n sin ε ,
r PC r P C
y PC
= und ny sin u = n y sin u
y P C
Hier bedeuten y und y die Objekt- und Bildgröße und die Winkel u und u
sind die halben Öffnungswinkel des Strahlenbündels in den optischen Medien
n und n . Berechnet man den Abbildungsmaßstab, so lässt sich die Abbesche
Sinusbedingung in folgender Form schreiben:
y n sin u
Abbesche Sinusbedingung β = = (5.30)
y n sin u
Um die Koma zu vermeiden, muss der Abbildungsmaßstab bei der Brechung in

allen Kreiszonen der Linse und damit für alle Werte des halben Öffnungswinkels
u bei der Abbildung gleich und damit die Sinusbedingung erfüllt sein.
Um die Sinusbedingung zu erfüllen (β = konst.), sind die bei Strahlenkon-
struktionen benutzten Hauptflächen im Allgemeinen nicht eben, sondern Kugel-
flächen mit ihren Mittelpunkten in O bzw. O . Allerdings ist für OC = ∞ die
objektseitige Hauptfläche H eine Ebene und H eine Kugelfläche mit r = f . Die
einzelnen Linsenzonen (unterschiedliches h) ergeben dann die gleiche Brennweite.
Um die Koma zu minimieren, wählt man wie bei der sphärischen Aberra-
tion eine geeignete Linsenform. Der Coddington Formfaktor (5.27), der minimale
sphärische Aberration erzeugt, ist ähnlich dem, der auch die Koma minimiert, so
dass beide Aberrationen durch die Wahl von nur einer Linsenform erheblich redu-
ziert werden können. Man kann zeigen, dass für eine Linse keine Koma existiert,
wenn:
2
2n − n − 1 a +a
keine Koma γK = − (5.31)
n+1 a − a
Im vorigen Beispiel der Linse mit n = 1,5 und einem Objekt im Unendlichen er-
gibt (5.31) einen Wert von γK = 0,8, der nahe dem Wert für minimale sphärische
Aberration γS = 0,7 ist. Ein optisches System, das die Sinusbedingung erfüllt,
nennt man aplanatisch. Aplanatische Linsen bilden kleine Gegenstände in der
Nähe der optischen Achse ohne Koma ab.
5.5 Astigmatismus und Bildfeldwölbung 131
5.5 Astigmatismus und Bildfeldwölbung

Eine aplanatische Optik weist immer noch zwei eng miteinander verknüpfte
Aberrationen auf, deren Wellenaberrationsterme zusammengefügt y 2 2
2
2 C22 cos θ+ + 2 C20 ) ergeben. Der erste Term erzeugt Astigmatismus und der
zweite Term, der symmetrisch um die optische Achse ist, wird Bildfeldwölbung
genannt. Beide Aberrationen nehmen in gleicher Weise mit dem Achsenabstand
des Objektpunktes und mit der Größe der Apertur der brechenden Fläche zu.
In der Abb. 5.9 a sind die Referenzebenen, die man bei der Diskussion des
Astigmatismus oder der Koma verwendet, erläutert.
Ein nicht auf der optischen Achse liegender Objektpunkt und die optische
Achse definieren die Tangentialebene (Meridionalebene). Die Sagittalebene
steht senkrecht auf der Tangentialebene. Der Hauptstrahl liegt als einziger
Strahl in beiden Ebenen
Die Abb. 5.9 a und 5.9 b illustrieren die astigmatischen Bilder eines außeraxia-
len Objektpunktes P durch ein tangentiales Strahlenbündel im Schnitt tt und
ein sagittales Bündel von Strahlen durch den Schnitt ss einer einzelnen Linse. Da
diese senkrecht zueinander stehenden Strahlenbündel in unterschiedlichen Ent-
fernungen von der Linse fokussiert werden, sind die zwei Bilder Linien, die an den
Positionen S und T für das sagittale und das tangentiale Bündel entstehen. Die
Brennlinie bei T liegt in der sagittalen und die Brennlinie bei S in der tangentia-
len Ebene. Hält man einen Schirm senkrecht zum Hauptstrahl und bewegt ihn von
S zu T , so werden die beobachteten Bilder auf diesem Weg von elliptischer Form
sein. Ungefähr in der Mitte zwischen S und T wird der Brennfleck kreisförmig,
man erhält eine Kreisfläche geringster Verzerrung. Der Ort der Linienbilder S
und T liegt für verschiedene Objektpunkte P auf gekrümmten Flächen, wie in
Abb. 5.9 c dargestellt. Die Abweichung der beiden Flächen voneinander, entlang
eines beliebigen Hauptstrahles zu einem gegebenen Objektpunkt, beschreibt die
Größe des Astigmatismus. Dieser ist ungefähr proportional zum Quadrat des Ab-
standes von der optischen Achse. Wenn die T -Fläche links von der S-Fläche zu
finden ist, wie hier gezeigt, so nennt man den Astigmatismus positiv, im anderen
Fall negativ.
Wenn die Punkte P auf einer Kreislinie in einer Objektebene senkrecht zur
optischen Achse liegen, so erhält man auf der T -Fläche ein scharfes Bild. Gleich-
zeitig wird jedoch in der S-Fläche das Bild der Kreislinie unscharf sein und überall
die Breite der S-Brennlinie“ aufweisen. Andererseits werden Objektpunkte ent-
”
lang radialer Linien des Objektkreises nur in der S-Fläche scharfe radiale Bilder
erzeugen (s. Abb. 5.9 e).
Der Astigmatismus ergibt für kreisförmige oder radiale Elemente ( Wagenrad
”
mit Speichen“), die sich in der Objektebene befinden, eine scharfe Abbildung
in zwei unterschiedlichen Bildflächen.
Aus Abb. 5.9 c erkennen wir, dass zur Eliminierung des Astigmatismus die tan-
gentialen und sagittalen Bildflächen (Bildschalen) zusammenfallen müssen. Wenn
die Krümmung dieser Flächen durch die Änderung der Linsenform oder Abstände
so verändert wird, dass sie zusammenfallen, so erhält man die sogenannte Petzval-
Fläche. Für ein aplanatisches System erhält man auf dieser Fläche punktförmige
Bilder von Punktobjekten. Ist diese Fläche gekrümmt, so hat man zwar den
Astigmatismus eliminiert, aber die Bildfeldwölbung bleibt bestehen. Um unter
diesen Bedingungen eine scharfe Abbildung zu erhalten, muss man die Aufzeich-
nungsebene (Filmebene) in der Form einer Petzval-Fläche krümmen. Die Petzval-
Fläche kann für jedes optische System festgelegt werden, sogar wenn die T - und
S-Flächen nicht zusammenfallen. Die Petzval-Fläche ist im Gegensatz zu den
T - und S-Flächen unabhängig von der Linsenform oder der Position der Linse
und hängt nur von den Brechzahlen und Brennweiten der beteiligten Linsen ab.
In der Theorie 3. Ordnung ist die Petzval-Oberfläche um einen Faktor 3 weiter
5.5 Astigmatismus und Bildfeldwölbung 133
Abb. 5.9. a) Astigmatische Linienbilder an den Positionen S und T eines außeraxialen

Objektpunktes P durch tangentiale (tt ) und sagittale (ss ) Bündel von Lichtstrah-
len. b) Fotografie von astigmatischen Bildern, die durch eine Linse erzeugt werden,
wie in Abb. 5.9 a gezeigt. Die Linienbilder in S und T werden durch Fluoreszenzschir-
me als Querschnitte der Strahlen sichtbar gemacht. c) Astigmatische Bildflächen einer
Linse(Bildschalen). d) Astigmatische Abbildung von radialen und kreisförmigen Objek-
ten. e) Einsatz einer Apertur, um die Bildflächen einer Linse einzuebnen“. Die Fläche
”
zwischen den S- und T -Flächen, auf der ein schärferes Bild entsteht, ist durch eine
gestrichelte Linie dargestellt
von der T -Fläche entfernt als von der S-Fläche und liegt immer auf der Seite
der S-Fläche, die in der T -Fläche abgewandt ist. Zwei Linsen haben eine ebene
Petzval-Fläche, wobei die Bildfeldwölbung eliminiert wird, wenn folgende Bedin-
gung erfüllt ist:
n1 f1 + n2 f2 = 0
Für die Petzval-Fläche einer Anzahl k dünner Linsen in Luft gilt die Bedingung:

k
1 1
Petzval-Summe = (5.32)
n i fi rp
i=1
rp ist der Krümmungsradius der Petzval-Fläche. Für kleine Werte der Petzval-
Summe erhält man eine fast ebene Bildfläche.
Die Einebnung des Feldes aufgrund dieser Bedingung kann nicht durch eine
einzelne Linse bewirkt werden, lässt sich aber durch den Einsatz einer Apertur
(siehe Abb. 5.9 d) erreichen. Bei dieser Anordnung verlaufen die schiefen Haupt-
strahlen, die durch die Apertur festgelegt werden, nicht durch das Zentrum der
Linse. Die S- und T - astigmatischen Flächen sind nun entgegengesetzt gekrümmt,
und die Oberfläche geringster Verzerrung ist eben, wie dies in der Abbildung ge-
zeigt ist.
Diese preiswerte Methode zur Einebnung der Bildfläche wird in einfachen
Kameras benutzt. In anderen Anordnungen, bei denen die Petzval-Bedingung
nicht ohne Aufgabe anderer Forderungen erfüllt werden kann, verwendet man eine
langbrennweitige Linse nahe der Bildebene. Die Linse wirkt der Bildfeldwölbung
entgegen, ohne andererseits die Bildqualität allzu sehr zu beeinträchtigen. In
der Theorie der Abbildungsfehler 5. Ordnung kann man erreichen, dass sich die
T - und S-Flächen in einem gewissen Abstand von der optischen Achse einan-
der nähern und sogar schneiden. Man erreicht einen geringeren Astigmatismus
in einer mittleren Brennebene. Im anastigmatischen Kameraobjektiv wird dies
ausgenutzt.
5.6 Verzeichnung
Wenn alle anderen vorher beschriebenen Seidelschen Aberrationen eliminiert wer-
den, bleibt noch eine letzte, fünfte Aberration übrig, die Verzeichnung genannt
wird und die in (5.25) durch den Term 3 C11 y 3 cos θ gegeben ist. Sogar wenn
Gegenstandspunkte scharf in Bildpunkte abgebildet werden, zeigt sich die Ver-
zeichnung als Änderung des Abbildungsmaßstabes von Objekten in unterschiedli-
chem Abstand von der optischen Achse. Wenn die Vergrößerung mit dem Abstand
von der Achse zunimmt, erhält man aus dem quadratischen Netz Abb. 5.10 a, das
als Gegenstand dient, ein Bild, wie in Abb. 5.10 b gezeigt. Das Ergebnis nennt
5.6 Verzeichnung 135
Abb. 5.10. Abbildung: a) eines quadratischen Netzes, b) kissenförmige Verzeichnung,

c) tonnenförmige Verzeichnung aufgrund unterschiedlicher Vergrößerung
man kissenförmige Verzeichnung. Wenn andererseits die Vergrößerung mit dem

Abstand von der Achse abnimmt, erhält man ein Bild, wie in Abb. 5.10 c ge-
zeigt, das man tonnenförmige Verzeichnung nennt. Das Bild ist in jedem Fall
scharf, aber verzeichnet. Solche Verzeichnungen werden durch Begrenzungen des
Strahlbündels durch Aperturen oder Linsenfassungen, die wie Aperturen wirken,
hervorgerufen. Aus Abb. 5.11 a können wir diesen Effekt entnehmen. Dort ist
das Bild eines außeraxialen Punktes, das durch eine einzelne Linse erzeugt wird,
gezeigt. Es sind zwei Strahlenbündel dargestellt, jedes ist durch eine Apertur be-
grenzt, die sich (1) in einem gewissen Abstand von der Linse befindet, während
(2) nahe der Linse positioniert ist. Wenn die Apertur der Linse genähert wird,
wird der Weg zur Linse kürzer. Bei Position (1) sieht man, dass der Lichtweg
vom Objekt zur Linse größer – und damit auch die Vergrößerung kleiner – ist.
Diese Abnahme der Vergrößerung aufgrund der Position der Apertur wird noch
deutlicher, wenn der Objektpunkt weiter von der Achse entfernt ist, so dass
das Bild eine tonnenförmige Verzeichnung aufweist. Bringt man die Apertur in
den Bildraum der Linse, so kann man die Auswirkung dieser Maßnahme aus
der gleichen Abbildung entnehmen, wenn man alle Strahlen und die Rolle von
Gegenstands- und Bildweite vertauscht.
In diesem Fall ist das Verhältnis von Gegenstands- zu Bildweite kleiner und im
Bild tritt die kissenförmige Verzeichnung auf. Wenn die Apertur sehr nahe an
die Linse gebracht wird, tritt diese Verzeichnung nicht auf. Ein symmetrisches
Dublett, das eine Apertur in der Mitte zwischen den beiden Linsen aufweist,
ist aufgrund beider Effekte frei von Verzeichnung für den Abbildungsmaßstab
β = −1. Die Auswirkung der Lage der Apertur auf die Verzeichnung wird in den
Abb. 5.11 b, c und d gezeigt.
Abb. 5.11. a) Auswirkung einer Apertur auf die Verzeichnung eines Bildes durch ei-
ne Linse. Die Apertur bei Pos. (1) erzeugt mehr tonnenförmige Verzeichnung als in
Position (2). Vertauscht man Gegenstand und Bild, so erzeugt dasselbe System kis-
senförmige Verzeichnung. b) Abbildung eines quadratischen Netzes durch eine Posi-
tivlinse. Befindet sich die Apertur zwischen Gegenstand (hinten) und Linse, so tritt
tonnenförmige Verzeichnung des Bildes auf. c) Abbildung eines quadratischen Netzes
durch eine Positivlinse. Befindet sich die Apertur nahe bei der Linse, so ist das Bild frei
von Verzeichnung d) Bild eines quadratischen Netzes durch eine Positivlinse. Befindet
sich die Apertur zwischen Linse und Bild, so tritt kissenförmige Verzeichnung des Bildes
auf
5.7 Chromatische Aberration/Farbfehler 137
5.7 Chromatische Aberration/Farbfehler

Die letzte Aberration, die wir diskutieren, ist nicht monochromatisch. Weder die
Näherung 1. Ordnung (Gaußsche oder paraxiale) noch die Theorie 3. Ordnung,
mit der wir uns in den vorhergehenden Abschnitten beschäftigt haben, berück-
sichtigten die Dispersion bei der Brechung. Bei normaler Dispersion, die wir im
Folgenden behandeln werden, nimmt die Brechzahl mit zunehmender Wellenlänge
ab. Jede Glasart ist durch den Verlauf der Funktion n(λ) gekennzeichnet. Auf-
grund der Dispersion tritt eine zusätzliche chromatische Aberration (C.A.) auf.
Dies gilt auch für die paraxiale Optik, bei der Bilder, die durch verschiedene
Farben des Lichtes erzeugt werden, nicht zusammenfallen. Bei den monochro-
matischen Aberrationen dritter Ordnung (5.25) können wir chromatische Effekte
durch die Berücksichtigung der Wellenlängenabhängigkeit jedes Koeffizienten in
der Entwicklung berücksichtigen.
Die chromatische Aberration einer Linse ist in Abb. 5.12 a gezeigt. Da die
Bildbrennweite f einer Linse von der Brechzahl des Glases abhängt, ist f auch
eine Funktion der Wellenlänge. Die Abbildung zeigt, dass parallel einfallende
Lichtstrahlen für das rote und violette Ende des sichtbaren Spektrums durch
die Linse in verschiedenen Brennpunkten fokussiert werden. Wir sehen, dass ein
Kegel violetten Lichtes einen Zerstreuungskreis um den roten Brennpunkt bei R
erzeugt. Für weißes“ Licht werden die dazwischen liegenden Farben zwischen
”
diesen beiden Punkten fokussiert werden. Die stärkere Brechung der kürzeren
Wellenlängen bringt für eine Positivlinse den violetten Brennpunkt näher an die
Linse.
Abbildung 5.12 b zeigt die chromatische Aberration für einen außeraxialen
Objektpunkt und stellt die longitudinale chromatische Aberration und die trans-
versale chromatische Aberration dar.
Die longitudinale chromatische Aberration wird auch Farblängsfehler ge-
nannt, da die Bilder für verschiedene Farben nicht im gleichen Abstand zur
Linse liegen. Die transversale chromatische Aberration – Farbvergrößerungs-
fehler – kann als unterschiedliche Vergrößerung bei der Abbildung des Ob-
jektes durch verschiedene Farben interpretiert werden.
Man beseitigt die chromatische Aberration durch den Einsatz mehrerer brechen-
der Elemente entgegengesetzten Brechwertes. Gebräuchlich ist der so genannte
Achromat, ein Linsensystem, das aus einer konvexen und einer konkaven Linse un-
terschiedlicher Glasarten besteht, die dicht hintereinander angeordnet oder auch
verkittet sind. Die Dispersion der Komponenten ist bei geeigneter Auswahl der
Glassorten umgekehrt proportional zum Brechwert. Dieses Linsensystem weist für
eine gegebene Brennweite eine verringerte chromatische Aberration über einen
beträchtlichen Teil des sichtbaren Spektrums auf.
Die Linsenform der einzelnen Linse ist für die Achromatisierung ohne Bedeu-
tung, man kann durch geeignete Wahl (Coddington-Faktor) zusätzlich monochro-
Abb. 5.12. Chromatische Aberration (C.A., übertrieben gezeichnet) für eine dünne
Linse. Die Auswirkung a) auf die Brennweite und b) auf die longitudinalen und trans-
versalen Abweichungen für rotes (R) und violettes (V) Licht sind dargestellt.
matische Abbildungsfehler beheben. Bei vielen Achromaten sind die sphärische

Aberration und die Koma für eine mittlere Wellenlänge korrigiert und auch die
Abbesche Sinusbedingung erfüllt.
Abb. 5.13. Achromatisches Dublett, bestehend aus (1) einer bikonvexen Kronglaslinse
verkittet mit (2) einer Negativlinse aus Flintglas. Die Bezeichnung der vier Krümmungs-
radien ist angegeben
Der Aufbau eines achromatischen Dubletts ist in Abb. 5.13 gezeigt. Für den
Mittelpunkt des sichtbaren Spektrums im Gelben, wie er durch die Fraunhofer-
Wellenlänge λd = 587,56 nm gegeben ist, erhält man für die Brechwerte der
beiden Linsen:

1 1 1
D1d = = (n1d − 1) − ≡ (n1d − 1)K1 (5.33)
f1d r11 r12

1 1 1
D2d = = (n2d − 1) − ≡ (n2d − 1)K2 (5.34)
f2d r21 r22
Hierbei sind die Krümmungsradien wie in Abb. 5.13 angegeben. nd bezeichnet die
Brechzahl für die Fraunhofer-d-Linie. Zusätzlich haben wir die Konstanten K1
und K2 für die Linsengeometrie (Krümmungsradien) eingeführt. In (4.32) haben
wir bereits gezeigt, dass der Brechwert eines Dubletts zweier Linsen im Abstand
e gegeben ist durch:
1 1 1 e
= + − (5.35)
f f1 f2 f1 f2
oder
D = D1 + D2 − eD1 D2 (5.36)
Für ein verkittetes Dublett dünner Linsen ist der Abstand zwischen beiden Linsen
e = 0, und die Brechwerte der Linsen werden einfach addiert.
D = D1 + D2 (5.37)
Benutzt man (5.33) und (5.34), so erhält man:
D = (n1 − 1)K1 + (n2 − 1)K2 (5.38)

Die chromatische Aberration verschwindet für die Wellenlänge
λd , wenn der
Brechwert unabhängig von der Wellenlänge ist, oder ∂D
∂λ d = 0. Angewandt
auf (5.38) ergibt diese Bedingung:
∂D ∂n1 ∂n2
= K1 + K2 (5.39)
∂λ ∂λ ∂λ
Die Dispersion ∂n
∂λ in der Umgebung von λd kann man durch die Werte bei den
roten und blauen Fraunhofer-Wellenlängen, λC = 656,3 nm und λF = 486,1 nm,
annähern:
∂n nF − nC
≈ (5.40)
∂λ λF − λC
Die Dispersion der Gläser setzen wir in (5.39) ein und erweitern, so dass:

∂n1d n1F − n1C n1d − 1 D1d
K1 = K1 = (5.41)
∂λ λF − λC n1d − 1 (λF − λC )ν1d

∂n2d n2F − n2C n2d − 1 D2d
K2 = K2 = (5.42)
∂λ λF − λC n2d − 1 (λF − λC )ν2d
Hierbei haben wir (5.33) und (5.34) benutzt und die Abbesche Zahl νd eingeführt.
Diese ist definiert als:
nd − 1
Abbesche Zahl νd ≡ (5.43)
nF − nC
n1d −1
wobei ν1d = n1F −n1C die Abbesche Zahl für die Linse (1) bedeutet.
Eine große Abbesche Zahl beschreibt ein brechendes Material geringer Dis-
persion, nd ist die Hauptbrechzahl und liegt im gelbgrünen Bereich in der Nähe
der maximalen Empfindlichkeit des Auges. Die Brechzahldifferenz nF − nC wird
Hauptdispersion genannt.
In neueren Katalogen benutzt man eine andere Abbesche Zahl
ne − 1
νe ≡
nF − nC
mit den Fraunhofer-Wellenlängen λe = 546,07 nm, λF = 479,99 nm und λC =
643,85 nm.
Setzt man (5.41) und (5.42) in (5.39) ein, so erhält man als Bedingung für
verschwindende chromatische Aberration:
D1d ν1d
ν2d D1d + ν1d D2d = 0 oder =− (5.44)
D2d ν2d
Da die Abbesche Zahl immer positiv ist, bedeutet dies, dass man eine Kombina-
tion aus einer Positiv- und einer Negativlinse bilden muss. Aus (5.37) und (5.44)
kann man den Brechwert der einzelnen Elemente als Vielfaches des gewünschten
Brechwertes Dd der Kombination berechnen:
1 −ν1d ν2d
= D1d = Dd und D2d = Dd (5.45)
f1 ν2d − ν1d ν2d − ν1d
Für die Krümmungsfaktoren K, die in (5.33) und (5.34) eingeführt wurden, erhält
man:
D1d D2d
K1 = und K2 = (5.46)
n1d − 1 n2d − 1
Zur Vereinfachung wählen wir die Linse (1) bikonvex (gleicher Betrag des
Krümmungsradius für beide Oberflächen). Zusätzlich müssen die Krümmungs-
radien der beiden Linsen an der Grenzfläche übereinstimmen. Die Krümmungs-
radien genügen deshalb den Gleichungen:
2 r12
r11 = , r12 = −r21 , r21 = r12 , und r22 = (5.47)
K1 1 − K2 r12
Für die Konstruktion eines achromatischen Dubletts entnimmt man die Brech-
zahlen und die Abbesche Zahl für die benutzen Gläser aus den Angaben des
Herstellers, wie sie in Tabelle 5.1 dargestellt sind.
Die Berechnung des achromatischen Dubletts lässt sich einfach durchführen,
indem man (5.45), (5.46) und (5.47) der Reihe nach anwendet. Benutzt man z.B.
520 636 Kronglas und 617 366 Flintglas, um einen Achromaten mit f = 15 cm
zu konstruieren, so erhält man aus den Gleichungen folgende Krümmungsradien:
r11 = 6,6218 cm; r12 = −6,6218 cm; r21 = −6,6218 cm; r22 = −223,29 cm.
Unter Benutzung dieser Werte kann man mit (5.33) und (5.34) die Brennweiten
für jede der Fraunhofer-Linien berechnen. Diesen Fall finden sie in Tab. 5.1:
Tabelle 5.1. Einzel- und Gesamtbrennweiten eines zweilinsigen Anchromaten
f1 /cm f2 /cm f /cm

λd 6,3653 -11,0575 15,000
λC 6,3961 -11,1470 15,007
λF 6,2966 -10,8485 15,007
Abb. 5.14. Dublett mit verschiedenen Hauptebenen für rotes und blaues Licht.
a) Gleiche Brennweiten bewirken verbleibende longitudinale chromatische Aberration
(Farblängsfehler). b) Gleiche Brennpunktlagen bewirken eine bleibende transversale
chromatische Aberration (Farbvergrößerungsfehler)
Konstruiert man einen Achromaten als dünne Linse, so sind die Brennweiten
fast gleich und damit werden die longitudinale und die transversale chromatische
Aberration gleichzeitig eliminiert. Die bildseitigen Hauptebenen für eine dicke
Linse oder ein optisches System aus mehreren Linsen müssen für unterschiedli-
che Wellenlängen nicht zusammenfallen, so wie dies für eine dünne Linse der Fall
ist. Dann führen gleiche Brennweiten bei einer dicken Linse nicht zu einem einzi-
gen wellenlängenunabhängigen Brennpunkt auf der Achse, und die longitudinale
chromatische Aberration bleibt bestehen (s. Abb. 5.14 a). Wenn die Brennweiten
Tabelle 5.2. Auswahl optischer Gläser
Type Katalog- Abbesche nc nd nF

code∗ Zahl νD
gerundet
nd −1
(nd − 1) nF −nC 656,3 nm 587,56 nm 486,1 nm
10νd
Borkron 517 642 64,17 1,51432 1,51680 1,52238
(BK 7)
Borkron 520 636 63,59 1,51764 1,52015 1,52582
Baritleichtkron 573 574 57,43 1,56956 1,57259 1,57953
Baritschwerkron 638 555 55,49 1,63461 1,63810 1,64611
Schwerflint 617 366 36,60 1,61218 1,61715 1,62904
Flint 620 380 37,97 1,61564 1,62045 1,63198
Schwerflint 689 312 31,15 1,68250 1,68893 1,70460
Schwerflint 805 255 25,46 1,79608 1,80518 1,82771
(SF 6)
Quarzglas 458 678 67,83 1,45637 1,45846 1,46313
∗
Beispiel: Borkron: nd = 1,5168; 1000(nd − 1) ≈ 517; νd = 64,17; 10νd ≈ 642 ergibt
den Code: 517 642
für rotes und blaues Licht nicht übereinstimmen (s. Abb. 5.14 b), so verursacht

die Differenz in fB und fR einen Unterschied im Abbildungsmaßstab und die
transversale chromatische Aberration (Farbvergrößerungsfehler) bleibt bestehen.
Zur Beseitigung dieses Fehlers müssen die Hauptebenen für die zwei korrigierten
Wellenlängen zusammenfallen.
Eine weitere Möglichkeit zur Vermeidung der chromatischen Aberration be-
steht darin, zwei getrennte Linsen aus derselben Glassorte (n1 = n2 = n) im
Abstand e = 0 zu benutzen. Die Bedingung ∂D ∂λ = 0, angewandt auf (5.36) ergibt
nun:
∂D ∂ 2

= (n − 1) (K1 + K2 ) − (n − 1) K1 K2 e = 0
∂λ ∂λ
Hieraus folgt der Linsenabstand zur:
f1 + f2
Achromatisierung eines zweilinsigen Systems e= (5.48)
2
durch den Abstand e.

Dieses Verfahren benutzt man zur Achromatisierung zweilinsiger Okulare (Huy-

gens oder Ramsden), die in Kapitel 6 vorgestellt werden.
Übungen
5.1 Verifizieren Sie (5.18) durch Einsetzen von (5.16) und (5.17) in (5.6).
5.2 Die Bild- und Objektschnittweiten einer sphärischen brechenden Oberfläche erfüllen
zusätzlich zu (3.14) die Beziehung 1/s = −1/s + 1/r. Zeigen Sie, dass dann
a) s = (n /n )s gilt und
b) q(Q) für die sphärische Aberration in (5.18) verschwindet.
c) Zeigen Sie, dass q(Q) auch für s = r und für Strahlen, die die sphärische Ober-
fläche im Scheitel durchsetzen, verschwindet. Solche Bildpunkte nennt man
aplanatische Punkte.
d) Bestimmen Sie die aplanatischen Punkte für eine sphärische Oberfläche mit
dem Krümmungsradius 8 cm, die zwei Medien mit den Brechzahlen 1,36 und
1,70 trennt.
5.3 Ein kollimierter Lichtstrahl fällt auf die ebene Seite einer plankonvexen Linse der
Brechzahl 1,5 und des Durchmessers 50 mm mit dem Krümmungsradius −40 mm.
Bestimmen Sie die sphärische Wellenaberration, sowie die longitudinale und die
transversale sphärische Strahlaberration.
5.4 Zeigen Sie, dass für einen sphärischen Konkavspiegel eine analoge Rechnung wie für
die brechende Kugelfläche folgende Aberration 3. Ordnung ergibt:
2
h4 1 1
q= −
4r r s
wobei r für den Krümmungsradius steht.

5.5 Benutzen Sie das Ergebnis von Aufgabe 5.4 und bestimmen Sie die Wellenaberrati-
on, die transversale und die longitudinale Aberration für einen Kugelspiegel von 2 m
Bildbrennweite und 50 cm Durchmesser, wenn dieser ein Bild eines weit entfernten
punktförmigen Objektes entwirft.
5.6 In einem Spiegelteleskop wird ein Kugelspiegel mit dem Durchmesser d und der
Bildbrennweite f = 3 m benutzt, wobei f /d = 3,75 gilt.
a) Benutzen Sie das Ergebnis von Aufgabe 4 und ermitteln Sie die Größe der
sphärischen Wellenaberration des Teleskops.
b) Es wird eine Korrekturplatte nach Schmidt (siehe Kapitel 6) mit der Brechzahl
1,4 installiert, um die sphärische Aberration zu korrigieren. Wie groß muss der
Unterschied in der Plattendicke zwischen Zentrum und Rand sein?
5.7 Eine Linse mit dem Brechwert 4 dpt und dem Durchmesser 6 cm ergibt eine longi-
tudinale sphärische Aberration von 1 cm bei der Abbildung eines axialen Objekt-
punktes. Das Objekt ist 50 cm von der Linse entfernt. Bestimmen Sie:
a) die transversale sphärische Aberration und
b) den Durchmesser des Brennflecks in der paraxialen Brennebene.
5.8 Bestimmen Sie für eine dünne Linse mit n = 1,5, r1 = 10 cm und r2 = −10 cm die
longitudinale und transversale sphärische Strahlaberration, wenn die einfallenden
Strahlen parallel zur Achse durch einen unendlich schmalen Kreisring mit dem
Radius h = 1 cm verlaufen.
5.9 Bestimmen Sie für eine Linse die longitudinale sphärische Strahlaberration als
Funktion der Strahlhöhe h, indem Sie die Gleichung für die sphärische Aberra-
tion einer dünnen Linse aus Aufgabe 5.8 benutzen. Zeichnen Sie die longitudinale
Strahlaberration als Funktion der Strahlhöhe für h = 0, 1, 2, 3, 4 und 5 cm auf.
Die Linse hat eine Brechzahl von 1,6 und die Krümmungsradien der Oberflächen
sind r1 = 36 cm und r2 = −18 cm. Die einfallenden Lichtstrahlen sind parallel zur
optischen Achse.
5.10 Eine bikonvexe Linse der Brechzahl 1,5 mit den Krümmungsradien 15 cm und
−15 cm entwirft ein Bild eines axialen Objektpunktes, der sich 25 cm von der Linse
entfernt befindet, wobei die Strahlen durch einen unendlich schmalen Kreisring mit
dem Radius h = 2 cm an der Linse verlaufen. Bestimmen Sie die longitudinale und
die transversale sphärische Strahlaberration (s. Aufg. 5.8).
5.11 Zeigen Sie mit (5.28), dass für e = (1/ah ) − (1/ap ) und de
dγ
= 0 die Bedingung für
minimale sphärische Aberration erfüllt ist, wenn:
2(n2 − 1)p
γ=
n+2
wobei γ für den Coddington-Formfaktor steht.
5.12 Eine Positivlinse mit der Brechzahl 1,5 und der Bildbrennweite 30 cm wird in ih-
rer Form so verändert, dass Coddington-Formfaktoren von 0,7 und 3,0 auftreten.
Bestimmen Sie die entsprechenden Krümmungsradien der Linsenoberfläche.
5.13 Eine dünne Positivlinse der Bildbrennweite 20 cm ist so ausgelegt, dass sie mini-
male sphärische Aberration in der Bildebene, die 30 cm von der Linse entfernt ist,
aufweist. Die Brechzahl der Linse ist 1,6. Bestimmen Sie die Krümmungsradien der
Linsenoberflächen.
5.14 Eine dünne plankonvexe Linse mit 1 m Bildbrennweite und der Brechzahl 1,6 soll
so orientiert sein, dass sie bei der Fokussierung eines kollimierten Lichtbündels
möglichst kleine sphärische Aberration aufweist. Zeigen Sie, dass bei der richtigen
Orientierung das parallele Licht auf die gekrümmte Seite der Linse auffällt und
vergleichen Sie den Coddington Formfaktor für beide Orientierungen mit dem Wert
für minimale sphärische Aberration.
5.15 Ein paralleles Lichtbündel wird mit einer Positivlinse bei minimaler sphärischer Ab-
erration fokussiert. Die Bildbrennweite beträgt 30 cm. Das Glas hat eine Brechzahl
von 1,5. Bestimmen Sie:
a) den Coddington-Formfaktor,
b) die Krümmungsradien der Linse.
c) Wie ändern sich die Antworten, wenn man die Linse zur Erzeugung eines kol-
limierten Lichtstrahles bei punktförmiger Quelle benutzt?
5.16 Bearbeiten Sie Aufgabe 5.15, wenn die Linse kleine Koma aufweisen soll.
5.17 Eine Positivlinse der Bildbrennweite 20 cm wird zur Bildumkehr benutzt, d.h. die
Linse ändert die Orientierung des Bildes, ohne die Größe zu verändern. Welche
Krümmungsradien für die Linsenoberflächen ergeben für diese Anwendung mini-
male sphärische Aberration? Die Brechzahl des Linsenmaterials ist 1,5.
5.18 Bearbeiten Sie Aufgabe 5.17, wenn die Linse die Koma reduzieren soll.
5.19 Die Bildfeldwölbung einer Linse aus Kronglas (n = 1,5230) mit 20 cm Bildbrenn-
weite soll verringert werden. Zu diesem Zweck wird eine zweite Linse aus Flintglas
(n = 1,7200) hinzugefügt. Wie groß sollte ihre Bildbrennweite sein? Die angegebe-
nen Brechzahlen beziehen sich auf Natriumlicht der mittleren Wellenlänge 589,3 nm.
5.20 Ein Fernrohrobjektiv besteht aus einem Dublett aus einer Positivlinse (n1 =
1,5736, f1 = 3,543 cm) und einer Negativlinse (n2 = 1,6039, f2 = −5,391 cm), die
zusammengekittet sind.
a) Bestimmen Sie den Radius der Petzval-Oberfläche.
b) Welche Bildbrennweite muss die Negativlinse aufweisen, um eine ebene Petzval-
Oberfläche zu ergeben?
5.21 Entwerfen Sie ein achromatisches Dublett aus 517 645 Kron- und 620 380 Flintglas,
das eine Gesamtbildbrennweite von 20 cm aufweisen soll. Die Kronglaslinse soll
bikonvex sein. Bestimmen Sie die Krümmungsradien der äußeren Linsenoberflächen
und die Bildbrennweite für die d-, C-, und F -Fraunhofer-Linien.
5.22 Entwerfen Sie ein achromatisches Dublett mit 5 cm Bildbrennweite aus 638 555
Kron- und 805 255 Flintglas. Bestimmen Sie:
a) die Krümmungsradien der Linsenoberflächen,
b) die Bildbrennweiten für die d-, C- und F - Fraunhofer-Linien,
c) die Brechwerte der einzelnen Elemente.
d) Wird (5.44) erfüllt?
5.23 Entwerfen Sie ein achromatisches Dublett von −10 cm Bildbrennweite aus 573 574-
Kronglas und 689 312-Flintglas. Die Kronglaslinse soll bikonvex sein. Bestimmen
Sie:
a) die Krümmungsradien der Linsenoberflächen,
b) die einzelnen Bildbrennweiten für die Fraunhofer-d-Linie,
c) die Gesamtbildbrennweiten der Linse für die d-, C- und F -Fraunhofer-Linie.
6
Optische Instrumente
Einleitung
In diesem Kapitel werden wir die Methoden der geometrischen Optik, die wir
vorher entwickelt haben, bei der Diskussion verschiedener optischer Instrumente
einsetzen. Das Kapitel beginnt mit einer Einführung in die Wirkung von Blen-
den, Pupillen und Luken, die den Öffnungswinkel der Lichtbündel begrenzen,
die von optischen Instrumenten verarbeitet werden. Blenden bestimmen z.B. die
Helligkeitsverteilung in der Bildebene, die Bildschärfe“ oder den Bildausschnitt.
”
Folgende optische Instrumente werden behandelt: Prisma, Kamera, Lupe, Oku-
lar, Mikroskop und Fernrohr.
6.1 Blenden, Pupillen und Luken

Bisher haben wir Verfahren untersucht, die den Verlauf von Strahlen durch ein
optisches System Schritt für Schritt durch die Formeln der Gaußschen Optik (Ka-
pitel 3) oder die Matrixmethode (Kapitel 4) beschreiben. Dies waren Konstruk-
tionsmethoden für die optische Abbildung, wir sprechen vom Abbildungsstrah-
lengang, der durch die Konstruktionsstrahlen definiert ist. Nicht jeder Strahl, der
von einem Objektpunkt ausgeht und in ein optisches System eintritt, trägt jedoch
zum Bild bei. Abhängig vom Ort des Objektpunktes und dem Neigungswinkel des
Strahls bezüglich der optischen Achse kann dieser Strahl aufgrund des Durchmes-
sers der optischen Bauelemente (Linsen, Spiegel, Blenden) blockiert werden. Ein
Objektpunkt wird deshalb durch Lichtbündel abgebildet, deren Öffnungswinkel
durch die optischen Bauelemente begrenzt ist (s. Abb. 6.1).
148 6 Optische Instrumente
Blenden werden u.a. zur Verbesserung der optischen Abbildung eingesetzt.

Im Kap. 5 haben wir gesehen, dass Blenden zur Verringerung der sphärischen
Aberration, des Astigmatismus und der Verzeichnung benutzt werden können.
In anderen Anwendungen setzt man Blenden ein, um das Bild scharf zu begren-
zen, wie man z.B. beim Hineinblicken in das Okular eines optischen Instrumentes
erkennt. Man benutzt Blenden, um störende Lichtstreuung an optischen Kom-
ponenten abzuschirmen. Blenden sind immer gegenwärtig, da jede Linse einen
endlichen Durchmesser hat und deshalb als Blende im System wirkt.
Blenden beeinflussen die Eigenschaften eines optischen Systems in entschei-
dender Weise. Die Verringerung des Durchmessers einer einzelnen Linse kann zur
Reduktion der Abbildungsfehler führen, wobei dann offensichtlich das Bild, das
von der Linse entworfen wird, geringere Helligkeit aufweist. In diesem Kapitel
untersuchen wir, wie die Schärfentiefe der Abbildung durch ein optisches System
vergrößert wird, wenn man den wirksamen Durchmesser der Linse verringert. Der
Linsendurchmesser bestimmt durch die unvermeidbaren Beugungserscheinungen
(s. Kap. 16) auch bei aberrationsfreier Optik die Auflösung im Bild. Zusätzlich
definieren Blenden den Feldwinkel ( Blickwinkel“, Gesichtsfeld“) und damit die
” ”
Ausdehnung des Objektfeldes, das im Bild erscheint.
6.1.1 Bildhelligkeit: Blenden und Pupillen
Aperturblende (AB)
Aperturblende nennt man die körperliche Blende in einem optischen System,

die den Öffnungswinkel 2u des abbildenden Strahlenbündels begrenzt, das von
einem axialen Objektpunkt ausgeht (s. Abb. 6.1 a).
Die Helligkeit des Bildes wird durch die Aperturblende festgelegt. Die Blende“
”
der Kamera oder die Iris des menschlichen Auges sind Beispiele für Aperturblen-
den. Ein anderes Beispiel ist das Fernrohr, in dem die Öffnung (Durchmesser)
der Objektivlinse als Aperturblende festlegt, wie viel Licht vom Fernrohr aufge-
nommen wird. Die Aperturblende ist jedoch nicht immer identisch mit der ersten
Komponente eines optischen Systems. In Abb. 6.1 a bestimmt die Blende AB vor
der Linse als Aperturblende den Öffnungswinkel des Strahlenbündels, das durch
die Linse verarbeitet werden kann. Wenn jedoch das Objekt OP näher an die AB
herangeführt wird, kann schließlich die Linsenfassung die begrenzende Apertur
werden. In diesem Fall ist der Öffnungswinkel des Bündels, das von der Linsen-
fassung begrenzt wird, kleiner als der von der Blende vor der Linse vorgegebene
Winkel, so dass die Linse als Aperturblende wirkt.
6.1 Blenden, Pupillen und Luken 149
Abb. 6.1. Begrenzung von Strahlenbündeln durch verschiedene Kombinationen von

Sammellinse und Aperturblende (AB)
Eintrittspupille (EP )
Die Eintrittspupille ist das Bild der Aperturblende, wenn man von der
Objektseite in das optische System blickt.
In Abb. 6.1 a ist dies die Aperturblende AB selbst, in diesem Falle sind also AB
und EP identisch. Dies ist aber nicht der allgemeine Fall, wie wir aus Abb. 6.1 b
erkennen. Hier steht die Aperturblende hinter der Linse, wie in den meisten foto-
grafischen Kameras. Welche Komponente wirkt nun bündelbegrenzend? Es ist die
Komponente, deren Größe den Öffnungswinkel des Strahlenbündels, das von O
ausgeht, begrenzt. In der Abbildung ist die Eintrittspupille durch die gestrichelte
Linie, die mit EP bezeichnet ist, markiert. Strahlen, die von O auf diese virtu-
elle Blende zulaufen, haben einen kleineren Öffnungswinkel als Strahlen, die auf
die Begrenzung der Linse fallen. Strahlen, die von O aus auf den Rand der EP
zielen, werden durch die Linse so gebrochen, dass sie gerade am Rand der realen
Aperturblende vorbeigehen. Dies gilt, weil AB und EP zueinander konjugiert
sind. Die Randpunkte der EP sind die Bilder der Randpunkte der AB.
In Abb. 6.1 c wird ein weiteres Beispiel gezeigt, bei dem die Blende vor der
Linse steht und als Aperturblende für das System wirkt. Dieser Fall ist von
Abb. 6.1 a verschieden, weil die Blende innerhalb der Brennweite der Linse liegt.
Trotzdem wirkt die Blende als Aperturblende für das System, weil sie – und nicht
die Linse – bündelbegrenzend wirkt. Weiterhin ist sie die EP des Systems, da sich
kein weiteres abbildendes Element zwischen der Aperturblende und dem Objekt
befindet.
Austrittspupille (AP )
Die Eintrittspupille eines optischen Systems ist das Bild der Aperturblende, das
man von der Objektseite aus im optischen System sieht. Von der Bildseite des
optischen Systems aus sieht man ein anderes Bild der Aperturblende, das den
Öffnungswinkel 2u des austretenden Strahlenbündels begrenzt.
Die Austrittspupille ist das Bild der Aperturblende, wenn man von der Bild-
seite in das optischen Systems blickt.
Die Austrittspupille ist folglich das Bild der Aperturblende, das durch die abbil-
denden Elemente zwischen der Blende und dem Bild des Objektes erzeugt wird.
Die Aperturblende in Abb. 6.1 b ist auch Austrittspupille des Systems, da sie
das letzte optische Bauteil im Strahlverlauf ist. Die Austrittspupille ist zur Aper-
turblende konjugiert, die Ebenen AP und AB sind hier zueinander konjugierte
Ebenen. Die AP ist immer zur EP konjugiert, d.h. die AP ist das Bild der EP .
In Abb. 6.1 a ist die AP das reelle Bild der EP ; in Abb. 6.1 c ist sie ein virtuelles
Bild. Wir sehen, dass in jedem Fall die Strahlen, die den Rand der Eintrittspupille
treffen, auch den Rand der Austrittspupille berühren.
In dem System der Abb. 6.1 a erhält man auf einem Schirm, den man an den
Ort der Austrittspupille bringt, ein scharfes Bild der kreisförmigen Öffnung der
Aperturblende. In einem optischen System, wie z.B. dem Okular, ist es wich-
tig, die Austrittspupille in Bezug auf Lage und Durchmesser mit der Pupille des
Auges in Übereinstimmung zu bringen. Die Austrittspupille begrenzt den Öff-
nungswinkel 2u der Strahlen, die einen Bildpunkt ergeben.
6.1.2 Hauptstrahl
Der Hauptstrahl eines von einem Objektpunkt ausgehenden Lichtbündels zielt

auf die Mitte der Eintrittspupille. Der Hauptstrahl verlässt das optische Sys-
tem in der Richtung, die durch die Mitte der Austrittspupille und den kon-
jugierten Bildpunkt festgelegt ist.
Der Hauptstrahl ist repräsentativ für das abbildende Lichtbündel. Die Eintritts-
pupille ist das Bild der Aperturblende und zur Austrittspupille konjugiert, des-
halb muss der Hauptstrahl real durch die Mitte der Aperturblende verlaufen.
Untersuchen Sie dieses Verhalten in allen drei Systemen der Abb. 6.1. Sie erken-
nen, dass der Hauptstrahl im Strahlenbündel, das von einem axialen Objektpunkt
ausgeht, mit der optischen Achse übereinstimmt.
Abb. 6.2. Begrenzung von Lichtstrahlen in einem optischen System, das aus zwei
Positivlinsen und einer Blende besteht
Als Nächstes betrachten wir ein System, das etwas komplizierter als das von
Abb. 6.1 ist. Natürlich kann die einzelne Linse der Abb. 6.1 für ein komplettes
optisches System stehen, wobei die Strahlenwege durch die Hauptpunkte festge-
legt sind. In Abb. 6.2 wird ein System dargestellt, das aus zwei Linsen L1 und
L2 mit einer Blende AB zwischen den beiden Linsen besteht. Zunächst müssen
wir folgende Frage beantworten: Welches Element wirkt als die bündelbegrenzen-
de Aperturblende des Gesamtsystems? Hierzu bestimmen wir, welches Element
des gegebenen Systems – in diesem Fall AB, L1 oder L2 – die Eintrittspupille
festlegt, die vom Objektpunkt aus gesehen das Strahlenbündel mit dem kleinsten
Öffnungswinkel definiert. Um zu entscheiden, welches Element die Aperturblende
ist, bestimmt man die Eintrittspupille jedes Elementes:
L2 : Durch ein Konstruktionsstrahlendiagramm oder eine Berechnung lässt
sich das Bild L2 der Linsenöffnung L2 , das durch L1 erzeugt wird,
ermitteln. In Abb. 6.2 ist Lage und Größe dieses Bildes gezeigt.
AB: Das Bild der Blende AB, das durch L1 entworfen wird, ist virtuell, es
ist mit AB1 bezeichnet.
L1 : Da die Linse L1 das erste Systemelement ist,wirkt sie auch als
Eintrittspupille.
Die drei Pupillen L2 , L1 und AB1 werden als Nächstes vom axialen Objektpunkt
O aus betrachtet. Daraus, dass AB1 für ein Bündel von O aus den kleinsten
Öffnungswinkel aufweist, schließen wir, dass die Blende AB die Aperturblende
und AB1 die Eintrittspupille des Systems ist.
Wenn die Aperturblende ermittelt ist, wird sie durch die rechts befindlichen
optischen Elemente abgebildet und definiert die Austrittspupille. In unserem Fall
wird AB durch L2 in AB2 abgebildet. In Abb. 6.2 ist der Hauptstrahl zusam-
men mit zwei Randstrahlen, die von den Randpunkten O und P des Objektes
ausgehen und auf den Rand der Eintrittspupille zielen, gezeichnet.
Wir sehen, dass der Hauptstrahl real durch die Mitte der Aperturblende AB
verläuft, auf die Mitte der Eintrittsspupille EP zielt und aus der Mitte der AP
kommt. Der Hauptstrahl – oder seine Verlängerung – schneidet die optische Ach-
se in den Ebenen AB, AB1 und AB2 . Das Strahlenbündel, das vom Objektpunkt
O oder P ausgeht und dessen Öffnungswinkel durch die Eintrittspupille AB1 be-
grenzt wird, durchläuft gerade noch die Austrittspupille AB2 . Das reelle Bild des
Objektes, das durch L1 erzeugt wird, ist durch O P bezeichnet. Das endgültige
Bild des Objektes, das durch L2 erzeugt wird, ist virtuell, da die Strahlen, die
durch O oder P verlaufen, rechts von L2 divergieren.
6.1.3 Gesichtsfeld
Feldblende (F B)
Der Öffnungswinkel des Strahlenbündels, das von einem axialen Objektpunkt

ausgeht, wird durch die Eintrittspupille begrenzt, die damit die Helligkeit des
Bildes bestimmt. Eine weitere Kenngröße eines optischen Systems ist die Größe
des abgebildeten Objektfeldes.
Hierzu gibt es zwei Möglichkeiten. Man kann zum einen für eine bestimmte
Objektweite den Durchmesser (oder bei einem Rechteckfeld Breite und Höhe) di-
rekt angeben, zum anderen kann man den Feldwinkel 2w als Kenngröße nennen.
w ist der Winkel zwischen der optischen Achse und dem Hauptstrahl, der von ei-
nem Randpunkt des vom optischen System höchstens abbildbaren Objektfeldes
ausgeht und auf die Mitte der Eintrittspupille zielt, und w der entsprechende
bildseitige Winkel für den Hauptstrahl, der aus der Richtung der Mitte der Ein-
trittspupille auf einen Randpunkt des Bildfeldes zuläuft.
Das Element, das die Größe des vom optischen System abbildbaren Objekt-
feldes bzw. den Feldwinkel festlegt, nennt man Feldblende.
Ein sehr einfaches Beispiel für die Einschränkung des Feldes ist ein Blick durch
ein Fenster. Die Feldblende einer Kamera ist das Filmformat, das die Größe
des Filmbildes begrenzt, sie liegt hier in der Bildebene. Bei einem Diaprojektor
ist der Diarahmen eine Feldblende, die sich in der Objektebene befindet und
damit den projizierten Ausschnitt des Filmes definiert. Linsen können ebenfalls
als Feldblenden wirken, wie weiter unten gezeigt wird.
Um zu sehen, wie eine Feldblende wirkt, betrachten wir Abb. 6.3. In Teil
a) besteht das optische System aus einer einzelnen Linse und einer Blende, die
sich vor der Linse befindet. Strahlenbündel, die von einem axialen Objektpunkt O
ausgehen, sind im Öffnungswinkel durch die Blende beschränkt. Sie werden durch
die Linse zum Punkt O fokussiert. Das Gleiche gilt für einen außeraxialen Punkt
P und sein Bild P . In beiden Fällen ist die Linse groß genug, um das auftreffende
Strahlenbündel vollständig zu verarbeiten. Wenn die Objektebene gleichmäßig
hell ist und die Blende durch ein kreisförmiges Loch gebildet wird, dann ist die
Bestrahlungsstärke innerhalb eines Kreises mit dem Radius O P in der Bild-
ebene homogen. Der Hauptstrahl, der von P ausgeht, durchläuft alle Elemente
des optischen Systems ohne Einschränkung. Der Punkt P liegt offensichtlich im
Objektfeld. Dieses wird vom Feldwinkel 2w, der durch den Linsendurchmesser
definiert ist, festgelegt.
Betrachtet man nun Objektpunkte, die weiter von der optischen Achse ent-
fernt sind, so wird ein Teil der Strahlen aus solchen Punkten – nach Durchlaufen
der Blende – die Linse verfehlen. Dies gilt z.B. für Punkt P2 im Teil b) der
Abb. 6.3, wobei das gleiche optische System wie in a) vorliegt. P2 ist so gewählt,
dass der Haupt- oder zentrale Strahl des Bündels gerade den oberen Rand der
Abb. 6.3. Die Abbildungen a) und b) zeigen für dasselbe optische System die Wirkung
der Linsenöffnung als Feldblende. In a) wird der Punkt P ohne Einschränkung abgebil-
det. In b) tritt Vignettierung (Abschattung, geringere Helligkeit im Bildpunkt P2 ) auf
und der Punkt P3 wird nicht mehr abgebildet. Abb. c) ist ein Beispiel für ein kompli-
zierteres optisches System, wobei die durch die Hauptstrahlen und die Feldblende F B
definierten Feldwinkel 2w bzw. 2w in Objekt- und Bildraum dargestellt sind. In diesem
Fall sind die Pupillen und Luken reelle Bilder der Apertur- und der Feldblende
Linse verfehlt. Ungefähr die Hälfte des Strahlenbündels geht verloren, dies bedeu-
tet, dass der Bildpunkt P2 ungefähr halb so viel Licht empfängt wie die Punkte
O und P1 . Betrachtet man die Bildebene, so nimmt die Helligkeit mit zuneh-
mender Entfernung von der optischen Achse ab. Diese teilweise Abschattung der
äußeren Teile eines Bildes durch eine Blende, die für außeraxiale Objektpunkte
auftritt, nennt man Vignettierung. Starke Vignettierung erzeugt ein Bild eines
punktförmigen Objektes, das astigmatisch aussieht. Schließlich wählen wir einen
Objektpunkt P3 so, dass alle Strahlen, die durch die Blende gehen, die Linse
vollständig verfehlen. Im betrachteten Fall wirkt die Linsenöffnung als Feldblen-
de.
Wenn der Rand des Bildfeldes scharf begrenzt werden soll, ist es sinnvoll, die
Feldblende in die Bildebene zu bringen, so dass sie mit dem Bild zugleich scharf
ist. Ein einfaches Beispiel einer solchen Feldblende ist die Maske in der Filmebene
einer Kamera. Die Begrenzung des Feldwinkels durch eine Blende ist sinnvoll,
wenn z.B. die Abbildung durch achsenferne Strahlen wegen der Bildfehler mindere
Qualität aufweist oder wenn die Vignettierung die Beleuchtungsstärke in den
achsenfernen Teilen des Bildes reduziert.
Eintrittsluke (EL)
Die Eintrittsluke ist das Bild der Feldblende, das auf der Objektseite durch alle
optischen Elemente, die links von ihr liegen, erzeugt wird. Die Eintrittsluke be-
grenzt den Feldwinkel des Systems. Wenn die Feldblende in der Bildebene liegt,
findet man die Eintrittsluke in der konjugierten Objektebene. Die Eintrittsluke
legt die Ausdehnung des Objektfeldes in vertikaler und horizontaler Richtung
fest.
Austrittsluke (AL)
Die Austrittsluke ist das Bild der Feldblende von der Bildseite des optischen
Systems her gesehen.
In der Abb. 6.3 c sind die Feldblende und Ein- und Austrittsluke für ein kom-
plizierteres optisches System dargestellt, das aus zwei Linsen und zwei Apertur-
blenden besteht. Die erste Blende ist die Aperturblende des Systems, aus der die
Eintrittspupille durch Abbildung mit der Linse L1 und die Austrittspupille durch
Abbildung mit der Linse L2 erzeugt wird. Die zweite Blende ist die Feldblende
mit den entsprechenden Bildern: der Eintrittsluke auf der linken Seite und der
Austrittsluke auf der rechten Seite. Der Feldwinkel im Objektraum kann durch
den Winkel 2w beschrieben werden, dessen Scheitel in der Eintrittspupille liegt
und der durch die Eintrittsluke begrenzt wird. In gleicher Weise kann der Feld-
winkel im Bildraum durch 2w angegeben werden. Wir sehen, dass der Feldwinkel
des optischen Systems durch die Eintrittsluke bzw. die Feldblende festgelegt wird.
Da EL und AL beide Bilder der Feldblende F B sind, liegen sie in zueinander
konjugierten Ebenen. Deshalb laufen die eingezeichneten Hauptstrahlen genau

an den Rändern von Eintrittsluke, Feldblende und Austrittsluke vorbei.
Zusammenfassung wichtiger Begriffe
Helligkeit
Aperturblende: Die in einem optischen System physikalisch vor-
handene Blende, die den Öffnungswinkel des Strah-
lenbündels begrenzt, das von einem axialen Objekt-
punkt ausgeht und noch durch das System verarbei-
tet wird.
Eintrittspupille: Das Bild der Aperturblende von der Objektseite des
optischen Systems aus gesehen.
Austrittspupille: Das Bild der Aperturblende von der Bildseite des
optischen Systems aus gesehen.
Feldwinkel
Feldblende: Die physikalisch vorhandene Blende, die den Feld-
winkel 2w eines optischen Systems begrenzt. w ist
der Winkel zwischen der optischen Achse und einem
Hauptstrahl, der von einem Randpunkt des vom op-
tischen System gerade noch abbildbaren Objektfel-
des ausgeht und auf die Mitte der Eintrittspupille
zielt.
Eintrittsluke: Das Bild der Feldblende von der Objektseite des op-
tischen Systems aus gesehen.
Austrittsluke: Das Bild der Feldblende von der Bildseite des opti-
schen Systems aus gesehen.
6.2 Prismen
Ablenkung durch ein Prisma
Die obere Hälfte einer bikonvexen sphärischen Linse erzeugt in der paraxialen
Näherung ein Bild eines axialen Objektpunktes, wie das in Abb. 6.4 gezeigt ist.
Wenn die Linsenoberfläche vom Rand der Linse aus vollständig eben fortgesetzt
wird, erhält man ein Prisma und die paraxialen Strahlen bilden keinen konjugier-
ten Bildpunkt. Es ist trotzdem hilfreich, in einigen Fällen ein Prisma als Hälfte
einer konvexen Linse anzusehen.
6.2 Prismen 157
Abb. 6.4. Die Strahlablenkung durch eine Hälfte einer bikonvexen Linse ist der Wir-
kung eines Prismas ähnlich
Im Folgenden leiten wir Beziehungen ab, die den Verlauf eines einzelnen Licht-
strahles durch ein Prisma beschreiben. Die Brechung an jeder Oberfläche ist
durch das Brechungsgesetz gegeben. Die Stärke der Brechung ist abhängig von
der Brechzahl des Prismenmaterials und deshalb auch eine Funktion der Wel-
lenlänge des einfallenden Lichtes.
Die Änderung der Brechzahl und der Lichtgeschwindigkeit mit der Wel-
lenlänge nennt man Dispersion, sie wird später ausführlich behandelt. Zunächst
nehmen wir monochromatisches (einfarbiges) Licht an, dem aufgrund des Pris-
menmaterials eine bestimmte Brechzahl zugeordnet ist. Die Winkel, die den Ver-
lauf des Strahles durch das Prisma beschreiben, sind in Abb. 6.5 definiert.
Abb. 6.5. Verlauf eines beliebigen Strahls durch ein Prisma
Der Einfallswinkel und der Brechungswinkel an jeder Prismenoberfläche sind rela-

tiv zu den Einfallsloten (Oberflächennormalen beim Ein- und Austrittspunkt)
gemessen. Die Gesamtwinkelablenkung δ aufgrund der Brechung durch das ge-
samte Prisma ist die Summe der Winkeländerungen δ1 und δ2 an der ersten und
der zweiten Oberfläche. Das Brechungsgesetz ergibt für die beiden Oberflächen
eines Prismas in Luft:
n1 sin ε1 = n1 sin ε1 mit n1 = 1, n1 = n gilt sin ε1 = n sin ε1 (6.1)
n2 sin ε2 = n2 sin ε2 mit n2 = n, n2 = 1 gilt n sin ε2 = sin ε2 (6.2)
Aus der Zeichnung ergeben sich die folgenden geometrischen Beziehungen für die
Winkel:
δ1 = ε1 − ε1 (6.3)
δ2 = ε2 − ε2 (6.4)
α = ε1 − ε2 (6.5)
Benutzt man (6.1) bis (6.5) zur Programmierung eines Rechners, so kann man
leicht die Reihe von Rechenoperationen durchführen, die schließlich den Ablenk-
winkel δ ergeben. Wenn der brechende Winkel und die Brechzahl n des Pris-
menmaterials gegeben sind, so erhält man durch stufenweise Berechnung eines
Strahles mit dem Einfallswinkel ε1 folgende Beziehungen:

sin ε1
ε1 = arcsin (6.6)
n
δ1 = ε1 − ε1 (6.3)
ε2 = ε1 − α (6.7)
ε2 = arcsin(n sin ε2 ) (6.8)
δ = δ1 + δ2 = ε1 − ε1 + ε2 − ε2 = α + ε2 − ε1 (6.9)
oder mit

ε2 = arcsin(cos α sin ε1 − sin α n2 − sin2 ε1 )
Hieraus ergibt sich die Strahlablenkung δ:

Strahlablenkung δ für ein Prisma in Luft mit brechendem Winkel α,
Brechzahl n, Einfallswinkel ε1 und Ausfallswinkel ε2
δ = α + ε2 − ε1

= α − ε1 + arcsin(cos α sin ε1 − sin α n2 − sin2 ε1 ) (6.10)
Die Änderung des Ablenkwinkels δ mit dem Einfallswinkel ist in Abb. 6.6 für
α = 30◦ und n = 1,5 gezeigt. Wir sehen, dass die minimale Ablenkung für ε1 =
23◦ auftritt. Die Brechung durch ein Prisma bei minimaler Ablenkung δmin wird
oft im Experiment eingesetzt. Wir sehen, dass für minimale Gesamtablenkung
der Lichtstrahl symmetrisch (s. Abb. 6.7) durch das Prisma verläuft. In diesem
Fall vereinfachen sich die geometrischen Beziehungen mit ε2 = −ε1 = −ε1 sym
und ε1 = −ε2 zu
6.2 Prismen 159
Abb. 6.6. Gesamtablenkung δ als Funktion des Einfallswinkels für einen Lichtstrahl
durch ein Prisma mit α = 30◦ und n = 1,5. Die minimale Gesamtablenkung tritt für
einen Einfallswinkel von ε1 = 23◦ auf
δmin = −2 ε1sym − 2 ε2 (6.11)

und aus (6.5) ergibt sich α = −2 ε2 . Damit erhalten wir:
δmin = α − 2 ε1sym (6.12)

und aus (6.1) mit sin ε1sym = n sin α/2:
α
α − δmin
sin = n sin (6.13)
2 2
bzw.
Prisma,
minimale Gesamtablenkung δmin = α − 2 arcsin(n sin α/2) (6.14)
Aus (6.13) folgt:

Bestimmung der Brechzahl n des Prismenmaterials aus der minimalen
Strahlablenkung δmin
sin (α−δ2min )
n= (6.15)
sin α2
Abb. 6.7. Verlauf eines Strahles durch ein Prisma für minimale Gesamtablenkung
Gleichung (6.15) ermöglicht die Berechnung der Brechzahl n des Prismenmateri-

als, wenn man den brechenden Winkel α und den Winkel δmin der minimalen Ge-
samtablenkung kennt. Eine wichtige Näherung von (6.15) ergibt sich für den Fall
von kleinen Prismenwinkeln und entsprechend kleiner Gesamtablenkung. Nähert
man den Sinus des Winkels durch den Winkel im Bogenmaß, so erhält man:
δmin ≈ −α (n − 1) (6.16)
◦
Für einen brechenden Winkel von α = 15 beträgt die Abweichung aufgrund von
(6.16) ungefähr 1% vom exakten Wert. Für α = 30◦ beträgt der Fehler 5%.
Abb. 6.8. Typische Dispersionskurve und daraus folgende Farbzerlegung von weißem
Licht bei der Brechung durch ein Prisma
6.2 Prismen 161
Dispersion
Gleichung (6.10) gibt die Gesamtablenkung eines monochromatischen Licht-

strahls durch ein Prisma als Funktion der Brechzahl an. Die Brechzahl hängt
jedoch von der Wellenlänge ab, deshalb ist es sinnvoll, für diese Größe n(λ) zu
schreiben. Dies bedeutet, dass die Gesamtablenkung δ von der Wellenlänge des
einfallenden Lichtes bestimmt wird und verschiedene Wellenlängenkomponenten
des einfallenden Lichtes durch die Brechung
im Prisma voneinander getrennt wer-
den. Eine typische Dispersionskurve dn dλ

= 0 und die Aufspaltung eines Licht-
strahles in seine verschiedenen Farbkomponenten sind in Abb. 6.8 gezeigt. Wir
sehen, dass kürzere Wellenlängen größere Brechzahlen und damit kleinere Licht-
geschwindigkeiten im Prismenmaterial aufweisen. Violettes Licht wird deshalb
durch die Brechung im Prisma am stärksten abgelenkt. Die Dispersion, die in
der Kurve in Abb. 6.8 gezeigt ist, wird normale“ Dispersion genannt; sie ist
”
materialabhängig.
Eine empirische Beziehung, die die Kurve approximiert, wurde von Cauchy
angegeben.
A2 A3
n(λ) = A0 + + 4 + ... (6.17)
λ2 λ
Abb. 6.9. Charakteristische Strahlverläufe, die die Winkeldispersion als Differenz der
Ablenkwinkel δF −δC für zwei Fraunhofer-Wellenlängen λF und λC sowie die Ablenkung
δd für die mittlere Wellenlänge zeigen
wobei A0 , A2 , A3 , . . . empirische Konstanten (s. (27.41)) sind, die sich aus einem
Fit an die Daten eines bestimmten Materials ergeben. Oft sind die beiden ersten
Terme dieses Ausdrucks ausreichend, um eine vernünftige Näherung zu ergeben.
Dies bedeutet, dass man nur experimentelle Ergebnisse der Brechzahl für zwei
bestimmte Wellenlängen benötigt, um A0 und A2 zu bestimmen und damit die
Dispersionskurve zu nähern. Für die Steigung der Dispersionskurve ergibt sich
dann aus Cauchys Formel dn/dλ ≈ −2A2 /λ3 . Die Dispersion wird in Kap. 27
ausführlicher behandelt.
dδ
Es ist wichtig, dass man die Winkeldispersion dλ (Farbzerlegung) von der
Ablenkung δ unterscheidet. Es gilt: dλ = dn · dλ . Man erkennt, dass die Win-
dδ dδ dn
dδ
keldispersion beim Prisma von der geometrischen Größe dn und der Eigenschaft
dn
dλ des Prismenmaterials abhängt. Obwohl Prismenmaterialien großer Brechzahl
n eine große Ablenkung bei gegebener Wellenlänge erzeugen, muss die Disper-
sion oder die Aufspaltung benachbarter Wellenlängen nicht entsprechend groß
sein. Abbildung 6.9 zeigt den Unterschied. Historisch wurde die Dispersion durch
die Brechzahlen bei drei Wellenlängen in der Mitte und am Rand des sichtba-
ren Spektrums charakterisiert. Diese Wellenlängen nennt man Fraunhofer-Linien.
Diese findet man als Absorptionslinien im solaren Spektrum, das J. v. Fraunhofer
untersucht hat. Die Wellenlängen der Linien sind zusammen mit den Brechzah-
len für gebräuchliche Gläser in Tab. 6.1 gegeben. Die F - und C-Linien rühren
von der Absorption durch Wasserstoffatome her; die D-Absorptionslinie kommt
von der Absorption durch Natriumatome in der äußeren Atmosphäre der Son-
ne. Da die gelbe Natrium-D-Linie ein Dublett ist (589,0 und 589,6 nm), wird in
Berechnungen die mittlere Wellenlänge 589,3 nm benutzt. Später hat man die
monochromatischere d-Linie des Heliums bei 587,56 nm eingesetzt, um das Zen-
trum des sichtbaren Spektrums zu charakterisieren. Heute wird oft die grüne
e-Quecksilberlinie bei 546,07 nm verwandt, die nahe am Maximum der Augen-
empfindlichkeit (s. Abb. 2.7) liegt.
Tabelle 6.1. Fraunhofer-Linien und Brechzahlen für gebräuchliche Gläser
λ/nm Linie Brechzahl n

Kronglas BK 7 Flintglas SF 12
486,1 F , blau, Wasserstoff 1,5224 1,7046
587,6 d, gelb, Helium 1,5168 1,6891
589,3 D, gelb, Natrium 1,5167 1,6889
656,3 C, rot, Wasserstoff 1,5143 1,6825
Abbesche Zahl νd 64,17 31,15
Für die weitere Rechnung beschränken wir uns auf ein schmales Prisma bei
dem der brechende Winkel α klein ist, so dass sin α ≈ α gilt. Bei minimaler
Strahlablenkung für die d-Linie erhält man für das Verhältnis der Winkelauf-
spreizung δF − δC der F - und C-Wellenlängen verglichen mit der Ablenkung δd
der d-Wellenlänge, wie in Abb. 6.9 gezeigt, aus (6.16):
δF − δC nF − nC
=
δd nd − 1
6.2 Prismen 163
Das Verhältnis von mittlerer Ablenkung zu mittlerer Winkelaufspreizung nennt

man Abbesche Zahl (s. Kap. 5):
δd nd − 1
νd = = (6.18)
δF − δC nF − nC
In Tabelle 6.1 beträgt die Abbesche Zahl für Kronglas BK 7 νd = 64,17 und für
Flintglas SF 12 νd = 31,15. Wegen des Nenners (nF − nC ) bedeutet die hohe
Abbesche Zahl für das Kronglas niedrige Dispersion ( dn
dλ
klein) und die niedrige
dn
Abbesche Zahl für das Flintglas hohe Dispersion ( dλ groß).
Prismenspektrometer
Bei diesem Instrument benutzt man ein Prisma als dispersives Element, wobei
der brechende Winkel des Prismas und die Winkelablenkung für verschiedene
Wellenlängen bekannt sind. Seine wesentlichen Komponenten sind in Abb. 6.10
gezeigt. Das zu analysierende Licht wird auf einen engen Spalt S fokussiert,
dann durch die Linse L kollimiert und durch das Prisma P gebrochen, das häufig
auf einem drehbaren Tisch befestigt ist. Lichtstrahlen bestimmter Wellenlänge
verlassen das Prisma nach der Brechung parallel und können durch ein Fernrohr,
das auf Unendlich eingestellt ist, beobachtet werden.
Abb. 6.10. Komponenten eines Spektroskops, S = Eintrittsspalt, L = Kollimatorlinse,

P = dispergierendes Prisma
Bei der Drehung des Fernrohres bezüglich des Prismentisches beobachtet man
bei richtig eingestellter Optik ein scharfes Bild des Spaltes für jede Wellenlängen-
komponente. Die Ablenkung δ wird relativ zur Fernrohrposition bei der Beobach-
tung des Spaltes ohne das Prisma gemessen. Benutzt man das Instrument für Be-
obachtungen ohne die Winkelverschiebung der Spektrallinien zu messen, so nennt
man es Spektroskop. Verwendet man zusätzliche Instrumente, um das Spektrum
aufzuzeichnen, z.B. einen fotografischen Film in der Brennebene eines Objektivs,
so nennt man das Instrument einen Spektrographen. Für ein Prisma aus einer
bestimmten Glassorte ist der nutzbare Wellenlängenbereich durch den Transmis-

sionsbereich des Glases festgelegt. Um z.B. einen Spektrographen für das Ultra-
violette aufzubauen, verwendet man Prismen aus Quarz (SiO2 ) und Kalkspat
(CaF2 ). Strahlung im infraroten Bereich kann man mit Prismen untersuchen, die
aus Alkalihalogeniden (NaCl, KCl) oder Saphir (Al2 O3 ) bestehen.
Farbauf lösung
Wenn die Wellenlängendifferenz zwischen zwei Komponenten eines Lichtstrahles,
der auf ein Prisma einfällt, sehr klein wird, kann das Prisma diese schließlich nicht
mehr auflösen. Die Auflösung eines Prismenspektrographen ist eine Kenngröße,
die wir in diesem Abschnitt bestimmen wollen. Betrachten wir zwei Spektrallini-
en auf dem fotografischen Film eines Prismenspektrographen. Diese Linien sind
Bilder des Spaltes, das bedeutet, dass man für eine genaue Wellenlängenmessung
den Eintrittsspalt so schmal wie möglich einstellen sollte, vorausgesetzt es erfolgt
immer noch eine ausreichende Belichtung des Filmes. Für kleine Spaltbreiten
findet man, dass das Bild einer – exakt monochromatischen – Spektrallinie ei-
ne Breite aufweist, die von der Größe der kollimierenden Linse oder der Größe
der Prismenfläche abhängt. Dieses Phänomen rührt von der Beugung des Lich-
tes her, die wir in einem anderen Kapitel behandeln werden. Da die Linienbilder
aufgrund der Beugung eine nicht weiter reduzierbare Breite haben, findet man
bei abnehmenden ∆λ, dass sich die Linien so weit überlappen, dass sie nicht
mehr unterscheidbar sind. Man erreicht den Grenzwert für die Auflösung des In-
strumentes. Keine weitere Vergrößerung der Bilder kann eine höhere Auflösung
erzeugen, mit der man die nahe nebeneinander liegenden Spektrallinien unter-
scheiden kann.
Betrachten wir Abb. 6.11 a, in der ein monochromatisches paralleles Licht-
bündel auf ein Prisma so einfällt, dass es die Prismenoberfläche vollständig
ausfüllt. Aus dem Fermatschen Prinzip folgt, dass der Strahl F T W isochron
(gleichzeitig) zu dem Strahl GX ist, da sie auf den gleichen ebenen Wellenfron-
ten GF und XW beginnen und enden.
Die Berechnung der optischen Wege ergibt
F T + T W = GX = n1 b
wobei b die Basislänge des Prismas und n1 die Brechzahl des Prismas bei der
Wellenlänge λ1 ist. Wenn eine zweite benachbarte Wellenlängenkomponente λ2
mit λ2 − λ1 = ∆λ im einfallenden Strahl vorhanden ist, gehört zur Kompo-
nente λ2 die Brechzahl n2 = n1 − ∆n. Bei normaler Dispersion ist ∆n eine
kleine positive Größe. Die auslaufenden Wellenfronten der beiden Komponen-
ten, die in Abb. 6.11 b gezeigt sind, sind also durch eine kleine Winkeldifferenz
∆δ getrennt und werden deshalb in verschiedenen Punkten der Brennebene des
Objektives fokussiert. Das Fermatsche Prinzip ergibt angewandt auf die zweite
Komponente λ2 :
6.2 Prismen 165
Abb. 6.11. Konstruktionsdiagramme zur Bestimmung der chromatischen Auflösung

eines Prismas. a) Brechung von monochromatischem Licht. b) Brechung von zwei Wel-
lenlängenkomponenten, die sich um ∆λ unterscheiden
F T + T W = F T + T W − ∆s = (n1 − ∆n) b
Subtrahiert man die beiden letzten Gleichungen, so erhält man
∆s = b ∆n (6.19)
oder

dn
∆s = b ∆λ (6.20)
dλ
Gleichung (6.20) zeigt den Zusammenhang zwischen Weglängendifferenz ∆s und

Wellenlängendifferenz ∆λ. Man kann auch die Ablenkungsdifferenz einführen

∆s b dn
∆δ = = ∆λ (6.21)
h h dλ
wobei h die Strahlbreite ist. Wir wenden nun das Rayleigh-Kriterium an, welches
den Grenzwert der Auflösung für beugungsbegrenzte Bilder liefert. Dieses Krite-
rium wird in der späteren Behandlung der Beugung erläutert und angewendet,
wobei gezeigt wird, dass die minimale Winkeldifferenz ∆δ zweier Wellenfronten,
bei der die Bilder gerade auflösbar sind, gegeben ist durch:
λ
∆δ = (6.22)
h
Kombiniert man (6.21) und (6.22), so erhält man

λ b dn
= ∆λ
h h dλ
oder für die minimale unterscheidbare Wellenlängendifferenz:
λ
∆λmin = dn (6.23)
b dλ
Man definiert nun das

λ dn
Auflösungsvermögen Prisma A= = b (6.24)
∆λmin dλ
wobei (6.23) benutzt wird. Bei vorgegebener Dispersion aufgrund der Glassorte
kann man die Auflösung eines Prismas durch Vergrößerung der Basis b erhöhen.
Diese Technik führt bald zu sehr großen und schweren Prismen. dn/dλ kann
man z.B. aus der Cauchy-Formel (6.17) und den Daten des Prismenmaterials
berechnen.
Beispiel 6.1 Auf lösungsvermögen Prisma
Bestimmen Sie das Auflösungsvermögen und die minimal auflösbare Wel-
lenlängendifferenz für ein Prisma der Basislänge 5 cm, das aus Flintglas be-
steht.
Lösung
Wir können mit Hilfe von Tab. 6.1 den Mittelwert der Dispersion für
λ = 550 nm näherungsweise berechnen:
∆n nF − nd 1,7046 − 1,6891
= = = −1,5271 · 10−4 nm−1
∆λ λF − λd 486,1 nm − 587,6 nm
Damit ergibt sich das Auflösungsvermögen zu:

dn
A = b = 0,05 · 109 nm · 1,5271 · 10−4 nm−1 = 7636
dλ
Die minimale auflösbare Wellenlängendifferenz im Gebiet um 550 nm ist

damit:
λ 550 nm
∆λmin = = ≈ 0,072 nm = 72 pm
A 7636
6.2 Prismen 167
Obwohl Gitterspektrographen eine höhere Auflösung erreichen, nutzen sie im

Allgemeinen den angebotenen Strahlungsfluss weniger gut. Außerdem erzeugen
sie für dieselbe Wellenlänge Bilder höherer Beugungsordnung, was sehr störend
ist, wenn man eine Quelle mit einer breiten spektralen Verteilung untersucht. Die
Beugungsbilder verschiedener Ordnung überlappen dann, und die Wellenlänge ist
nicht unmittelbar zuzuordnen. Gitterspektrographen werden später beschrieben.
Prismen für spezielle Anwendungen

Prismen lassen sich so kombinieren, dass man insgesamt ein achromatisches Ver-
halten bekommt. Dies bedeutet, dass die Winkeldispersion für zwei gegebene Wel-
lenlängen verschwindet und die Ablenkung bestehen bleibt. Andererseits kann
man ein Geradsichtprisma verwenden, um verschwindende Ablenkung für eine
bestimmte Wellenlänge zu erreichen, wobei die Winkeldispersion erhalten bleibt.
Prinzipskizzen dieser Kombinationen zweier Prismen sind in Abb. 6.12 gezeigt.
Die Anordnung von Prismen in Abb. 6.12 a ist so gewählt, dass ein Prisma die
Winkeldispersion des anderen gerade aufhebt, man kann aber auch die Prismen
so zusammensetzen, dass man doppelte Winkeldispersion erreicht.
Abb. 6.12. Achromatisches und nichtablenkendes Prisma
In Spektrometern verwendet man Prismen, die für unterschiedliche Wel-

lenlängen – bei Drehung des Prismas – eine konstante Ablenkung erzeugen. Ein
Beispiel ist das Pellin-Broca-Prisma, das in Abb. 6.13 dargestellt ist. Ein kolli-
miertes Lichtbündel tritt in das Prisma durch die Fläche AB ein und verlässt das
Prisma durch die Fläche AD, wobei der austretende Strahl um 90◦ bezüglich der
Richtung des eintretenden Strahles abgelenkt ist. Die gestrichelten Linien sind
nur hinzugefügt, um die Wirkung des Prismas zu verstehen. Ein Teilstrahl vor-
gegebener Wellenlänge durchläuft das Prisma mit minimaler Ablenkung, wobei
die Lichtstrahlen innerhalb des Prismas parallel zur Prismenbasis AC verlaufen.
An der Fläche BC tritt Totalreflexion auf, die den Lichtstrahl in den Prismenab-
schnitt ADC weiterleitet, wo die weitere Ausbreitung wieder unter der Bedingung
Abb. 6.13. Pellin-Broca-Prisma für konstante Ablenkung
der minimalen Ablenkung erfolgt. Da der Prismenabschnitt BEC nur als Spiegel
dient, verläuft der Strahl mit minimaler Ablenkung durch die Abschnitte AEB
und ADC, die zusammen ein Prisma mit einem brechenden Winkel von 60◦ er-
geben. Die Spektrallinie wird im Brennpunkt F der Linse L registriert. Das
Prisma wird auf dem Prismentisch gedreht (um eine Achse, die senkrecht zur
Papieroberfläche steht). Bei der Rotation tritt für verschiedene Wellenlängen im
einfallenden Strahl die Bedingung minimaler Ablenkung auf, was einen Brenn-
punkt in F ergibt. Die Drehung des Prismas kann in Winkelgraden oder noch
günstiger in Wellenlängen kalibriert werden.
Reflektierende Prismen
Prismen, bei denen Totalreflexion auftritt, werden häufig in optischen Systemen

benutzt, um die Richtung der optischen Achse oder die Orientierung von Bildern
zu ändern. Natürlich können Prismen alleine keine Bilder erzeugen. Wenn man sie
in Verbindung mit abbildenden Elementen benutzt, kollimiert man das Licht vor
dem Eintritt in das Prisma und lässt es senkrecht auf die Prismenoberfläche ein-
fallen, um prismatische Bildfehler zu vermeiden. Man kann statt Reflexionspris-
men auch ebene Spiegel einsetzen, aber die reflektierenden Prismenoberflächen
sind leichter vor Verschmutzung zu schützen, und die Totalreflexion ergibt einen
höheren Reflexionsgrad. Ein weiterer, wichtiger Vorteil ist die mechanische Sta-
bilität der Winkel von Prismenoberflächen.
6.2 Prismen 169
Abb. 6.14. Änderung der Bildorientierung durch Prismen. a) Rechtwinkliges Prisma.

b) Dove-Prisma. c) Penta-Prisma mit pentagonaler Schnittfläche d) Porro-Prisma.
6.3 Die Kamera

Der einfachste Typ einer Kamera ist die Lochkamera (s. Abb. 6.15 a). Lichtstrah-
len eines Objektes treten durch ein kleines Loch in einen lichtdichten Kasten ein
und treffen auf einen fotografischen Film. Vor dem kleinen Loch kann noch ei-
ne einfache Anordnung, die als Verschluss dient, angebracht sein, z.B. ein Stück
schwarzes Klebeband. Dann wird ein Bild des Gegenstandes auf die rückwärtige
Seite des Kastens projiziert, auf der sich der Film befindet.
Wie schon vorher festgestellt, wird ein idealer Bildpunkt so definiert, dass je-
der Strahl eines Objektpunktes, der durch das optische System verarbeitet wird,
den konjugierten Bildpunkt trifft. Eine Lochkamera fokussiert nicht und nutzt
nur wenige Strahlen, die von einem Objektpunkt ausgehen. Wegen des geringen
Durchmessers des Loches, wird jedoch jeder Punkt des Bildes nur durch Strah-
len getroffen, die annähernd von demselben Punkt des Objektes ausgehen, wie
in Abb. 6.15 b gezeigt. Von jedem Objektpunkt gehen Bündel von Strahlen aus,
die durch das Loch begrenzt sind und deshalb ein kleines kreisförmiges Bild auf
dem Schirm erzeugen, so wie in Abb. 6.15 a zu sehen. Die Überlappung dieser
Kreise als Bilder der konjugierten Objektpunkte ergeben ein Bild, dessen Schärfe
vom Durchmesser jedes einzelnen Kreises abhängt. Wenn die Durchmesser zu
groß sind, erhält man ein unscharfes Bild. Reduziert man die Größe des Loches,
dann wird das Bild schärfer, bis eine bestimmte Größe erreicht ist. Verkleinert
man den Durchmesser weiter, dann werden die Bilder jedes Objektpunktes auf-
grund der Beugung wieder breiter und das Bild verschwimmt. Im Experiment
findet man, dass die günstigste Lochgröße ungefähr 0,5 mm beträgt, wenn der
Abstand zwischen Loch und Filmoberfläche ungefähr 25 cm ist. Das Loch sollte
ideal kreisförmig in eine möglichst dünne Folie gestanzt werden. Ein günstiger
Aufbau ist ein Loch in einer Aluminiumfolie, die durch eine große Blende getragen
wird. Der Hauptvorteil einer Lochkamera besteht darin, dass man nicht fokus-
sieren, also die Brennweite der Linse den gegebenen Bild- und Gegenstandswei-
ten anpassen muss. Damit werden alle Gegenstände unabhängig von ihrem Ab-
stand zur Kamera auf dem Schirm scharf abgebildet, die Schärfentiefe wird sehr
groß. Der Nachteil dieser Kamera besteht darin, dass das Loch nur wenig Licht
durchlässt und deshalb die Belichtungszeiten sehr lang sind. Diese Beschränkung
wird jedoch heute durch den Einsatz empfindlicher CCD-Empfänger ausgegli-
chen, die es erlauben, die Lochkamera für technische Anwendungen einzusetzen.
Die Lochkamera ist nicht für die Abbildung bewegter Objekte geeignet. Die Ent-
fernung vom Loch zur Bildebene, deren Bildformat als Feldblende wirkt, beein-
flusst die Schärfe des Bildes und den Feldwinkel. Verkleinert man die Entfernung
zur Bildebene, so wird der Feldwinkel und bei gleicher Entfernung zum Objekt
das Objektfeld größer. Bei unverändertem Bildformat wird dann die Größe eines
bestimmten Objektes in der Szene abnehmen. Die Bildkreise werden ebenfalls
kleiner.
6.3 Die Kamera 171
Abb. 6.15. Abbildung durch eine Lochkamera
Abb. 6.16. Einfache Kamera
Vergrößert man das Loch der Kamera so weit, dass man eine Sammellinse
einsetzen kann, dann erhält man die grundlegenden Elemente einer gewöhnlichen
Kamera (s. Abb. 6.16). Vorteile dieser Modifikation sind zum einen eine Erhöhung
der Helligkeit des Bildes und zum anderen eine Erhöhung der Bildschärfe. Der
Öffnungswinkel des Strahlenbündels, das von einem Objektpunkt ausgeht, ist
wegen des größeren Durchmessers der Linse entsprechend größer, dies erhöht die
Beleuchtungsstärke in der Bildebene. Der Abstand der Linse zur Bildebene ist
nun durch Objektweite und die Bildbrennweite der Linse festgelegt. Für weit
entfernte Objekte liegt die Bildebene annähernd in der Brennebene der Linse.
Für nähere Objekte liegt das Bild weiter von der Linse entfernt. Da die Bild-
ebene im Allgemeinen durch die Filmebene festgelegt ist, erzeugt man ein schar-
fes Bild durch Änderung des Abstandes der Linse vom Film, dies bedeutet das
Fokussieren (Scharfstellen) des Kameraobjektivs. Die Extrema der möglichen
Linsenpositionen bestimmen die kleinste und größte Entfernung eines Objektes,
die die Kamera verarbeiten kann. Nahaufnahmen werden dadurch ermöglicht,

dass man die Linse durch eine andere mit kürzerer Brennweite ersetzt oder eine
Vorsatzlinse verwendet. Die Bildbrennweite des Objektivs (Linsenkombination)
bestimmt bei festgelegtem Filmabstand zum Objektiv und Bildformat des Fil-
mes das Objektfeld (bzw. Feldwinkel = Sehwinkel ), das die Kamera verarbei-
tet. Im Allgemeinen ist der Abbildungsmaßstab proportional zur Brennweite des
Objektivs. Ein Weitwinkelobjektiv hat eine kurze Brennweite und einen großen
Feldwinkel. Ein Teleobjektiv ist ein System großer Brennweite, das einen großen
Abbildungsmaßstab (hohe Vergrößerung) auf Kosten des Feldwinkels ermöglicht.
Beim Teleobjektiv vermeidet man eine entsprechende große Baulänge der Kamera
indem man eine Positivlinse im gewissen Abstand von einer zweiten Negativlinse
anordnet, so dass die Kombination weiterhin eine Sammellinse darstellt. Dabei
ist der Abstand der Frontlinse zur Filmebene geringer als die Brennweite, d.h.
der bildseitige Hauptpunkt H liegt vor der Frontlinse.
Ein weiteres wichtiges Element der Kamera ist die Blende, die den Licht-
strom, der den Film erreicht, bestimmt. In den meisten Kameras ist diese Blende
veränderlich und mit der Belichtungszeit gekoppelt, um insgesamt die Belichtung
des Filmes zu bestimmen. In den nachfolgenden Betrachtungen wird als Objekt
ein isotroper Strahler mit großer Abstrahlfläche vorausgesetzt. Die Bestrahlungs-
stärke (Intensität) in der Bildebene ist proportional zur Fläche der Blende und
umgekehrt proportional zur Fläche des Bildes.
In Abb. 6.17 wird eine kreisförmige Blende angenommen, die den Durchmesser
D eines parallelen Strahlenbündels definiert, das von der Linse verarbeitet wer-
den kann. Das Licht soll homogen über eine entsprechende kreisförmige Fläche
des Durchmessers d in der Bildebene verteilt sein, dann gilt für die Bestrahlungs-
stärke:
Fläche des durchgelassenen Strahlenbündels D2

Ee ∼ = 2 (6.25)
Fläche des Bildes d
Abb. 6.17. Bestrahlungsstärke in der Bildebene. Die Blende (nicht gezeigt) bestimmt
den nutzbaren Durchmesser D der Linse
6.3 Die Kamera 173
Wie in Abb. 6.17 zu sehen, ist die Bildgröße proportional zur Bildbrennweite der
Linse, damit ergibt sich:
2
D
Ee ∼ (6.26)
f
Für optische Systeme mit großer, frei bestimmbarer Objektweite (Fernrohr- und
Fotoobjektive) spezifiziert man die
f
Blendenzahl k≡ (6.27)
DEP
wobei DEP der Durchmesser der Eintrittspupille ist. Die Blendenzahl nimmt also
mit kleiner werdender Eintrittspupille zu. Bei der Kamera verwendet man nach
DIN 4521 die relative Öffnung 1/k, statt z.B. k = 5,6 ergibt sich 1 : 5,6. Die
Bestrahlungsstärke ist:
1
Ee ∼ (6.28)
k2
In vielen Kameras benutzt man Blendenöffnungen, durch die man die Bestrah-
lungsstärke um Faktoren von 2 ändern kann. Die entsprechenden Blendenzahlen √
bilden dann eine Folge, wobei aufeinanderfolgende Glieder im Verhältnis 1 : 2
stehen (s. Tab. 6.2). Größere Blendenzahlen entsprechen kleineren Beleuchtungs-
stärken. Da die Gesamtbelichtung des Filmes durch das Produkt aus Strahlungs-
fluss und Belichtungszeit gegeben ist, kann man bei gegebener Beleuchtung ver-
schiedene Belichtungszeiten und Blenden wählen. Wird eine fotografische Auf-
nahme mit einem bestimmten Film – dessen Empfindlichkeit durch die DIN-
oder die ASA-Zahl beschrieben wird – mit einer Belichtungszeit von 1/50 Sekun-
de und einer Blendenzahl k = 8 gemacht, so kann man statt dessen auch eine
Belichtungszeit von 1/100 Sekunde und eine Blendenzahl von k = 5,6 benutzen,
was dieselbe Gesamtbelichtung ergibt.
Für die Wahl von Belichtungszeit und Blendenzahl sind noch andere Krite-
rien wichtig. Die Belichtungszeit muss kurz genug sein, um eine bewegte Szene
ohne Unschärfe aufnehmen zu können. Die Wahl der Blendenzahl k ändert ei-
ne weitere Eigenschaft des Bildes, die Schärfentiefe. Um diese Größe präzise zu
definieren, benutzen wir Abb. 6.18, die einen axialen Objektpunkt in der Ent-
fernung a0 (Einstellentfernung am Objektiv) von einer Linse zeigt, der in einen
Bildpunkt im Abstand a0 abgebildet wird. Alle Objektpunkte der Objektebene
werden so exakt in die Bildebene abgebildet, wenn man von Linsenfehlern und
Beugung absieht. Objektpunkte, die näher zur Linse oder weiter entfernt liegen,
ergeben Bilder, die entweder weiter entfernt oder näher zur Bildebene abgebildet
werden. Deshalb zeigt ein ebener Film, der sich in der Entfernung a0 von der Lin-
se befindet, nicht nur scharfe Bildpunkte, sondern auch unscharfe Bildscheibchen
(Kreisflächen), abhängig von der Entfernung der Objektpunkte zur Linse. Bei
kleinem Durchmesser der Unschärfekreise ist wegen des begrenzten Auflösungs-
vermögens des Auges das Bild bei Betrachtung noch ausreichend scharf. Geht
man vom Auflösungsvermögen des Auges (s. Kap. 7, ca. 3 Winkelminuten) aus, so
erhält man z.B. für das Bildformat 24 mm × 36 mm bei Betrachtung im Abstand
der Formatdiagonalen einen Durchmesser von u = 0,03 mm für den zulässigen
Unschärfekreis.
Tabelle 6.2. Standardisierte Blendenzahlen
Blendenzahl k k2 relative
Bestrahlungsstärke
Ee ∼ k−2
1 1 1
1,4 2 1/2
2 4 1/4
2,8 8 1/8
4 16 1/16
5,6 32 1/32
8 64 1/64
11 128 1/128
16 256 1/256
22 512 1/512
Zur Berechnung der vorderen und hinteren Grenzabstände av und ah , bei de-
nen die Unschärfe gerade den maximal zulässigen Wert von u erreicht, denken
wir uns in Abb. 6.18 den Unschärfekreis-Durchmesser u als u zurück in die Ob-
jektebene in der Einstellentfernung a0 abgebildet. Mit der Abbildungsgleichung
und dem Strahlensatz (s. Abb. 6.18) ergibt sich
f u
β = = (6.29)
a0 + f u
DEP −av
und aus =
−u av − a0
a0 DEP
av = (6.30)
DEP − u
6.3 Die Kamera 175
Abb. 6.18. Strahlendiagramm zur Verdeutlichung der Schärfentiefe. Objekt- und

Bildraum werden nicht im gleichen Maßstab gezeigt
Verwendet man noch k = f /DEP und ersetzt den Unschärfekreis-Durchmesser

u durch u , so erhält man für die Grenzen des Schärfentiefebereichs:
Schärfentiefebereich:
a0 f 2
vordere Grenze av = (6.31)
f 2 − u k(a0 + f )
hintere Grenze a0 f 2
ah = 2 (6.32)
f + u k(a0 + f )
Für viele Kameraaufnahmen gilt f |a0 | mit a ≈ f und man kann (6.31) und
(6.32) vereinfachen zu
1 1 u k 1 1 u k
= − 2 und = + 2
av a0 f ah a0 f
1 1 2
Dann ergibt sich + = , und für ah = −∞ erhält man av = a0 /2. Dies
av ah a0
bedeutet, dass für einen Schärfetiefebereich, der bis Unendlich reicht, die vordere
Schärfegrenze bei der halben Einstellentfernung liegt (Anwendung im Fixfokus-
objektiv).
Die meisten Kameras sind mit einer Schärfetiefenskala versehen, von der die
entsprechenden Werte von |ah | und |av | abgelesen werden können, wenn man die
Einstellentfernung a0 und die Blendenzahl k gewählt hat. Wie sich aus (6.31)
und (6.32) ergibt, ist der Schärfentiefebereich für kleine Blendenöffnungen (große
k-Zahl), kurze Bildbrennweiten und große Gegenstandsentfernungen groß.
An ein Kameraobjektiv werden hohe Anforderungen gestellt. Das Objektiv
muss einen großen Feldwinkel haben, der in der Größenordnung von 35◦ bis
65◦ für ein Normalobjektiv liegt und bis zu 120◦ für ein Weitwinkelobjektiv
sein kann. Kameraobjektive müssen auch lichtstark sein, d.h. eine große rela-
tive Öffnung aufweisen. Das Bild muss über die ganze Ebene des Filmes frei von
Abbildungs- und Farbfehlern sein. Da eine Korrektur eines Abbildungsfehlers
häufig eine Verschlechterung des Bildes aufgrund eines anderen Fehlers bewirkt,
sind die meisten Objektive Kompromisse in der Linsenauslegung. Der Aufwand
für den Entwurf eines Objektivs, das dem Lastenheft entspricht, ist durch den
Einsatz von Rechnerprogrammen stark verringert worden. Die Forderungen an
ein fotografisches Objektiv können selten durch eine einzelne Linse erfüllt wer-
den. In Abb. 6.19 a sind Objektive unterschiedlicher Qualität dargestellt: von der
Einzelelement-Meniskenlinse mit Vorderblende, die man manchmal noch in einer
sehr einfachen Kamera findet, bis zum vierlinsigen Tessar-Objektiv. Der Einsatz
von symmetrischen Linsensystemen relativ zur Blende ist ein Kennzeichen gu-
ter Objektive. Bei solchen Anordnungen kann eine Linsengruppe die Fehler der
anderen aufheben, so dass die Qualität des Bildes durch die Vermeidung von
sphärischen Abbildungsfehlern, Astigmatismus, Koma, Verzeichnung und Farb-
fehlern erhöht wird. Das viellinsige Objektiv einer 35 mm-Kamera ist in einem
Schnittbild gezeigt (s. Abb. 6.19 b).
6.4 Lupen und Okulare

Die Lupe ist im Wesentlichen eine Positivlinse, die man z.B. verwendet, um Klein-
gedrucktes zu lesen, man nennt sie auch Leseglas. In der Regel benutzt man eine
einfache konvexe Linse, aber es wird auch ein Dublett oder ein Triplett eingesetzt,
was eine wesentlich höhere Bildqualität bei hohen Vergrößerungen oder großen
Durchmessern ergibt.
Abbildung 6.20 zeigt das Arbeitsprinzip einer einfachen Lupe. Ein kleines
Objekt der Größe y befindet sich in Abb. 6.20 a in der Bezugsweite aS = −25
cm. Bei dieser Lage erscheint das Objekt unter dem Sehwinkel wS für das Auge.
Um ein größeres Bild auf der Netzhaut zu erzeugen, benutzt man die Lupe und
das Objekt kann nun in einen kleineren Abstand (s. Abb. 6.20 b) gebracht werden,
wobei es gerade innerhalb der Bildbrennweite der Linse liegt. In dieser Lage sieht
das Auge ein virtuelles Bild unter einem größeren Winkel wS .
Die Winkelvergrößerung Γ eines optischen Instrumentes, das direkt mit dem
Auge zusammenwirkt, definiert man als
tan wS
Winkelvergrößerung Γ = , (6.33)
tan wS
6.4 Lupen und Okulare 177
Abb. 6.19. a) Aufbau von Kameraobjektiven. b) Schnittbild einer 35 mm-Kamera, die

ein viellinsiges Objektiv aufweist
Abb. 6.20. Vergrößerung der Lupe. Sehwinkel a) ohne und b) mit Lupe
wobei wS der Sehwinkel ohne und wS der Sehwinkel mit Instrument ist.
y
Damit erhält man aus Abb. 6.20 mit tan wS = −y
aS und tan wS = eA −aL für die
Vergrößerung einer Lupe
y −aS
Γ = − · (6.34)
y eA − aL
y aL
hieraus folgt mit dem Abbildungsmaßstab β = y = a und der Abbildungsglei-
chung:
f − aL aS
Γ = − · (6.35)
eA − aL f
Betrachtet man das Bild im Unendlichen, so ist aL = −∞
aS −0,25 m 0,25 m
Lupenvergrößerung ΓL = −
=−
= (6.36)
f f f
Im anderen Extrem betrachtet man das virtuelle Bild in der Bezugssehweite

des Auges und damit ist aL − eA = aS und man erhält für das auf Nahsehen
akkommodierte Auge die Vergrößerung
aS + eA eA
ΓL = 1 −
= ΓL + 1 − (6.37)
f f
Beispiel 6.2 Vergrößerung Lupe

Eine Lupe hat die Bildbrennweite f = 20 cm. Wie groß ist die Lupenver-
größerung und die Vergrößerung bei Akkommodation auf die Bezugssehweite
aS für die Augenabstände eA1 = 10 cm und eA2 = 0 cm?
Lösung
Gleichung (6.36) ergibt für die Lupenvergrößerung
aS −0,25 m
ΓL = −
=− = 1,25
f 0,2 m
Bei Nah-Akkommodation erhält man mit (6.37) für eA1 = 10 cm für die
Vergrößerung:
−0,25 m + 0,1 m
Γ = 1 − = 1,75
0,2 m
und für eA2 = 0 cm:
−0,25 m
Γ = 1 − = 2,25
0,2 m
Die tatsächliche Vergrößerung hängt vom jeweiligen Beobachter ab, der die
Lupe solange bewegen wird, bis er das virtuelle Bild bequem sehen kann. Für
kleine Brennweiten unterscheiden sich (6.36) und (6.37) nur unerheblich; man
benutzt zur Angabe der Vergrößerung häufig allein (6.36). Einfache Lupen haben
Vergrößerungen im Bereich von 2× bis 10×, beim Entwurf der Linsen für hohe
Vergrößerungen muss man jedoch die Abbildungs- und Farbfehler korrigieren.
Benutzt man Lupen, um das Auge bei der Betrachtung von Bildern zu unter-
stützen, die durch ein weiteres optisches System erzeugt werden, so nennt man
diese Okulare. Zum Beispiel dient das reelle Bild, das durch die Objektivlinse
eines Mikroskops entworfen wird, als Objekt, das man durch das Okular betrach-
tet, wobei die Vergrößerung des Okulars zur Gesamtvergrößerung des Instruments
beiträgt. Um qualitativ hochwertige Abbildungen zu erhalten, benutzt man Oku-
lare, die korrigiert sind, vor allen Dingen reduziert man den Farbquerfehler (s.
Kap. 5). Hierzu verwendet man meist zwei Linsen. Wir haben bereits früher ge-
zeigt, dass die wirksame Brennweite f (relativ zu den Hauptebenen gemessen)
von zwei dünnen Linsen, die in dem Abstand e voneinander entfernt sind, gegeben
ist durch:
1 1 1 e
= + − (6.38)
fOk f1 f2 f1 f2
wobei f1 und f2 die Bildbrennweiten der einzelnen Linsen sind. Mit der Formel
für die Bildbrennweite dünner Linsen erhält man bei gleicher Glassorte der Linsen
und Luft als Umgebungsmedium

1 1 1
= (n − 1) − ≡ (n − 1) K1 (6.39)
f1 r11 r12
und

1 1 1
= (n − 1) − ≡ (n − 1) K2 (6.40)
f2 r21 r22
Die Ausdrücke in Klammern enthalten die Krümmungsradien der Linsenober-

fläche und sind durch die Konstanten K1 und K2 abgekürzt. Setzt man (6.39)
und (6.40) in (6.38) ein, so erhält man:
1
= (n − 1)K1 + (n − 1)K2 − e(n − 1)2 K1 K2 (6.41)
fOk
Um den Farbquerfehler zu korrigieren, ist es erforderlich, dass die Bildbrennweite
der Linsenkombination unabhängig von der Brechzahl wird oder

d (1/fOk )
=0
dn
Aus (6.41) erhält man:

d (1/fOk )
= K1 + K2 − 2eK1 K2 (n − 1) = 0
dn
Diese Bedingung lässt sich erfüllen, wenn die beiden Linsen im Abstand ec ange-
ordnet sind, wobei:

1 1 1
ec = +
2 K1 (n − 1) K2 (n − 1)
Wegen (6.39) und (6.40) gilt dann:
Bedingung für verschwindenden 1
ec = (f + f2 ) (6.42)
Farbquerfehler 2 1
Diese Bedingung gilt unabhängig von der Linsenform. Durch die Wahl geeignet
gekrümmter Linsenoberflächen kann man noch andere Abbildungsfehler korrigie-
ren1 .
Abb. 6.21. Huygenssches Okular
Abb. 6.22. Ramsden-Okular
Sowohl das Huygenssche als auch das Ramsden-Okular (s. Abb. 6.21 und
6.22) sind entsprechend (6.42) konzipiert. Bei beiden Systemen sind plankonvexe
Linsen im Abstand der Hälfte der Summen der Bildbrennweiten angeordnet. In
Abb. 6.21 beträgt die Bildbrennweite der Feldlinse F L ungefähr das 1,7-fache der
1
Der Farblängsfehler bleibt, weil die Hauptebenen des Systems nicht zusammenfallen.
Siehe Abb. 5.14 und die Diskussion hierzu.
Bildbrennweite der Augenlinse AL. Das primäre Bild, das das Okular verarbeitet,
ist in diesem Fall das virtuelle Objekt (y ) für die Feldlinse. Die Feldlinse entwirft
ein reelles Bild (y ), das man durch die Augenlinse betrachtet. Wenn das reelle
Bild in die Brennebene der Augenlinse fällt, betrachtet man das vergrößerte Bild
im Unendlichen, wobei sich das Auge am Ort der Austrittspupille befindet. Wir
sehen, dass das Huygenssche Okular nicht als gewöhnliche Lupe genutzt werden
kann. Für quantitative Messungen mit dem Okular verwendet man ein Faden-
kreuz oder eine Strichplatte mit einem Maßstab. Damit diese Messvorrichtungen
in die Bildebene des Messobjektes scharf abgebildet werden, muss man das Fa-
denkreuz in der Brennebene der AL anordnen. Dies erreicht man, indem man
das Fadenkreuz an der Aperturblende anbringt (s. Abb. 6.23 a). Das Bild des
Fadenkreuzes hat nicht die gleiche Qualität wie das des Gesamtokulars, da nur
die Augenlinse alleine für die Abbildung verantwortlich ist.
Abb. 6.23. Aufbau a) des Huygensschen und b) des Ramsden-Okulars
Diesen Nachteil vermeidet man im Ramsden-Okular (s. Abb. 6.22), bei dem sich
sowohl das primäre als auch das Zwischenbild vor der Feldlinse befinden. Bei die-
sem Okular haben die Linsen dieselbe Bildbrennweite f und sind entsprechend
(6.42) im Abstand f angeordnet. Im Idealfall treten parallele Strahlen aus dem
Okular aus, was ein vergrößertes virtuelles Bild im Unendlichen ergibt, wenn das
reelle Objekt y sich am Ort der ersten Linse befindet. An diese Stelle bringt
man auch eine Strichplatte. Ein Nachteil dieser Anordnung besteht darin, dass
die Oberfläche der Linse ebenfalls scharf mit dem unter Umständen darauf be-
findlichen Staub oder Schmutz abgebildet wird. Zur Abhilfe wird der Abstand
der Linsen geringfügig größer als f eingestellt, die Strichplatte befindet sich für
eine scharfe Abbildung etwas vor der Feldlinse. Für diese Anordnung ist jedoch
die Bedingung (6.42) nicht mehr exakt erfüllt, es treten Farbquerfehler auf.
Eine Modifikation des Ramsden-Okulars, bei der Farbfehler fast vollständig
eliminiert werden, ist das Kellner-Okular, bei dem die Ramsden-Augenlinse durch
ein achromatisches Dublett ersetzt wird.
Beispiel 6.3 Huygenssches Okular
Bei einem Huygensschen Okular werden zwei Linsen mit den Bildbrennwei-
ten f1 = 6,25 cm und f2 = 2,5 cm eingesetzt. Bestimmen Sie den optimalen

Linsenabstand zur Reduktion des Farbquerfehlers, die Bildbrennweite fOk des
Okulars und die Lupenvergrößerung.
Lösung
Der optimale Linsenabstand ist gegeben durch:
1 1
ec = (f + f2 ) = (6,25 cm + 2,50 cm) = 4,375 cm
2 1 2
Die Bildbrennweite ergibt sich aus:
1 1 1 ec 1 1 4,375 cm
= + − = + −
fOk f1 f2 f1 f2 6,25 cm 2,50 cm 6,25 cm · 2,5 cm

Damit erhält man fOk = 3,57 cm. Die Lupenvergrößerung beträgt
aS 0,25 m
ΓL = − = ≈7
fOk 0,0357 m
Auf dem Okular wird vom Hersteller 7×“ für die Lupenvergrößerung
”
angegeben.
Bei der Konstruktion von Okularen entwirft man möglichst eine Austrittspupille,
die nicht viel größer als die Augenpupille ist, damit man kein Licht verliert. Wir
erinnern uns daran, dass die Austrittspupille das Bild der Eintrittspupille ist, das
durch das Okular entworfen wird, und dass das Verhältnis der Durchmesser von
Eintritts- zu Austrittspupille gleich der Vergrößerung ist. Da die Eintrittspupille
durch die vorangehenden Elemente des optischen Systems bestimmt wird (Durch-
messer der Objektivlinse in einem einfachen Teleskop), begrenzt diese Forderung
die Vergrößerung des Okulars und setzt damit eine untere Grenze für die Brenn-
weite. Die wichtigen Eigenschaften eines Okulars sind in den folgenden Angaben
enthalten:
1. Lupenvergrößerung
Gebräuchliche Werte sind 4× bis 25×, was Bildbrennweiten von 6,25 cm bis
1 cm entspricht.
2. Augenabstandsweite
Dies ist die Entfernung von der Augenlinse zur Austrittspupille. Okulare
haben Augenabstände im Bereich von 5 bis 25 mm.
3. Sehfeldzahl oder Bildfeldwinkel
Die Sehfeldzahl kennzeichnet den Durchmesser 2y des Zwischenbildes, wel-
ches das Okular verarbeiten kann. Die Sehfeldzahl liegt im Bereich von 5 bis
30 mm. Den Bildfeldwinkel 2w ermittelt man aus der Gleichung:
y
tan w =
fOk
6.5 Mikroskope
Die Vergrößerung von kleinen Objekten, die man durch einfache Lupen erreicht,
lässt sich durch ein Mikroskop erheblich steigern. In der einfachsten Form be-
steht dieses Gerät aus zwei Positivlinsen, einer Objektivlinse von kleiner Brenn-
weite, die nahe dem Objekt ist und einer Lupe, die als Okular dient. Das Okular
blickt“ hierbei auf das reelle Zwischenbild, das durch das Objektiv erzeugt wird.
”
In Abb. 6.24 sieht man, dass bei einer Objektlage außerhalb der Brennweite f Ob
des Objektivs ein reelles Bild O innerhalb des Mikroskops entsteht. Nach dem
Zwischenbild erreichen die Lichtstrahlen das Okular. Bei Beobachtung mit dem
Auge richtet man es so ein, dass das Zwischenbild gerade innerhalb der Ob-
jektbrennweite des Okulars entsteht. Befindet sich das Auge nahe dem Okular,
so sieht man ein virtuelles Bild, das umgekehrt und stark vergrößert ist. Die
Objektivlinse dient als Eintrittspupille des optischen Systems. Das Bild der Ob-
jektivöffnung, das durch das Okular erzeugt wird, ist die Austrittspupille. Am
Ort der Austrittspupille ist die Bestrahlungsstärke maximal, dies ist deshalb die
optimale Position für die Eintrittspupille des Auges. Eine spezielle Blende, die
als Feldblende wirkt, befindet sich am Ort des Zwischenbildes. Das Auge sieht
dann beide scharf abgebildet, was dem Bildfeld eine scharf definierte Grenze gibt.
Benutzt man das Mikroskop zusammen mit einer Kamera, so benötigt man ein
reelles Endbild. In diesem Fall liegt das Zwischenbild außerhalb der Okularbrenn-
weite f Ob
Gesamtvergrößerung
Betrachtet man das Endbild mit dem Auge, so kann man die Vergrößerung des
Mikroskops wie im Falle der Lupe definieren. Die Winkelvergrößerung für ein
Bild im Unendlichen (Auge ist auf Unendlich“ akkommodiert) ist mit (6.36)
”
aS 0,25 m
ΓM =− = (6.43)
ft ft
6.5 Mikroskope 185
Abb. 6.24. Abbildungsstrahlengang im Mikroskop
wobei ft für die Gesamtbrennweite beider Linsen steht, die sich im Abstand tme
befinden. Den Abstand von Objektiv und Okular bezeichnet man als mechanische
Tubuslänge tme . Aus (6.38) erhält man:
1 1 1 tme
= + − (6.44)
ft fOb fOk fOb fOk
Setzt man (6.44) in (6.43) ein, so ergibt sich:

aS (fOb + fOk − tme )
ΓM =− (6.45)
fOb fOk
Mit Hilfe der Abbildungsgleichung für die dünne Linse können wir für die Ob-
jektivlinse das Verhältnis von Bild- zu Gegenstandsentfernung angeben
aOb f + fOk

− tme
= Ob (6.46)
aOb fOb
Für dünne Linsen gilt hierbei (nach Abb. 6.24): aOb = tme +f Ok = tme −fOk

. Für
dicke Linsen ist diese Beziehung nicht gültig, da man den Abstand zwischen je-
weiliger Hauptebene und entsprechender Linsenoberfläche berücksichtigen muss.
Mit (6.45) folgt dann aus (6.46)
aOb −aS
ΓM = ·
aOb fOk
und man erhält:
Vergrößerung des Mikroskops
ΓM = βOb ΓOk (6.47)
Die Gesamtvergrößerung ist also gerade das Produkt der Vergrößerungen von

Objektiv βOb und Okular ΓOk , sofern man das Bild im Unendlichen betrachtet.
Mit der Newtonschen Formel (3.35) für den Abbildungsmaßstab des Objektivs
ergibt sich:

zOb t
βOb =− =− (6.48)
fOb fOb

wobei der Abstand t zwischen den Brennpunkten FOb und F Ok als optische
Tubuslänge bezeichnet wird. Die Vergrößerung des Mikroskops lässt sich dann
folgendermaßen schreiben:
t aS
ΓM = (6.49)
fOb fOk
In vielen Mikroskopen benutzt man standardmäßig eine mechanische Tubuslänge

tme = 0,16 m. Die Brennweiten fOb und fOk sind jeweils effektive Brennweiten
von vielelementigen Linsensystemen, die bezüglich der Abbildungsfehler korri-
giert sind.
Beispiel 6.4 Mikroskop

Ein einfaches Mikroskop hat ein Objektiv mit der Brennweite fOb = 1,9 cm

und ein Okular mit fOk = 5 cm. Die mechanische Tubuslänge sei tme =
16,4 cm, beide Linsen sind dünn“, d.h. Linsenflächen und Hauptebenen fallen
”
zusammen. Bestimmen Sie die Vergrößerung des Mikroskops.
Lösung

t = tme − fOb − fOk = 16,4 cm − 1,9 cm − 5 cm = 9,5 cm und
t aS 0,095 m · (−0,25 m)
ΓM = = = −25
fOb fOk 0,019 m · 0,05 m
Numerische Apertur
Für ein lichtstarkes Objektiv, das helle Bilder erzeugt, sollte der Durchmesser der
Objektivlinse so groß wie möglich sein. Mit zunehmender Vergrößerung nehmen
jedoch die Brennweite und damit der Durchmesser der Objektivlinse (s. (3.23))
sowie der Öffnungswinkel für vom Objekt ausgehende Lichtbündel ab.
In Abb. 6.25 ist die Lichtbündelbegrenzung durch die Objektivlinse eines Mikro-
skops dargestellt. Auf der rechten Seite befindet sich Luft zwischen Linse und
Deckglas, im Zwischenraum auf der linken Seite ist Öl. Der Strahl, der vom Ob-
jektpunkt O aus durch das dünne Deckglas und die Luft bis zum Rand des Ob-
jektivs geht, definiert mit der optischen Achse den halben Öffnungswinkel uL des
6.5 Mikroskope 187
Abb. 6.25. Mikroskopobjektiv, Funktionsweise einer Öl-Immersionslinse
Lichtbündels, das von der Linse verarbeitet werden kann. Wegen der Brechung
an der Glas–Luft-Grenzfläche können Strahlen, die einen größeren Einfallswinkel
als uL haben, die Linse nicht erreichen. Zur Abhilfe bringt man eine transparen-
te Flüssigkeit, z.B. Öl, zwischen Deckglas und Objektivlinse (s. linke Seite der
Abb. 6.25), deren Brechzahl so nahe wie möglich an der des Glases liegt. Damit
ist ein größerer Halbwinkel uÖl möglich. Typischerweise erreicht man bei einer
Brechzahl des Deckglases von 1,522 für Öl nÖl = 1,516. Ein großer Öffnungs-
winkel ergibt eine hohe Beleuchtungsstärke in der Bildebene. Kenngröße für die
Bündelbegrenzung ist die
numerische Apertur Mikroskopobjektiv AN = n sin u (6.50)
Aufgrund des Brechungsgesetzes ist die numerische Apertur eine Invariante im

Objektraum. Für Luft mit nL = 1 und ng für die Brechzahl des Deckglases
erhalten wir
AN = ng sin uL = sin uL
und beim Einsatz eines Öl-Immersionsobjektivs:

AN = ng sin uÖl = nÖl sin uÖl
Für Luft ist der Maximalwert der numerischen Apertur 1. Wenn man jedoch den
Objektraum mit einem Öl der Brechzahl nÖl füllt, ist eine maximale numerische
Apertur bis zum Wert von nÖl möglich. In der Praxis ist der Grenzwert ungefähr
1,4. Wie bereits vorher gezeigt, ist die Bildhelligkeit (Beleuchtungsstärke) um-
gekehrt proportional zum Quadrat der Blendenzahl k. Hier ist die Bildhelligkeit
proportional zu A2N . Die numerische Apertur ist ein wichtiger Auslegungspara-
meter, da sie sowohl die Auflösung als auch die Schärfentiefe der Linse festlegt.
Die Auflösung ist proportional zur numerischen Apertur, während die Schärfen-
tiefe umgekehrt proportional zu A2N ist. In Mikroskopen werden meist Objektive
mit numerischen Aperturen im Bereich von 0,08 bis 1,3 eingesetzt.
Biologische Präparate werden normalerweise mit einem Deckglas von 0,17 bis
0,18 mm Dicke versehen. Für Objektive mit numerischer Apertur größer als 0,3
hat das Deckglas – wenn man keine Ölimmersion benutzt – zunehmenden Einfluss
auf die Bildqualität, da es eine größere sphärische Aberration bewirkt. Deshalb
muss ein biologisches Objektiv die Aberration durch das Deckglas kompensie-
ren. Im Gegensatz hierzu wurde ein metallurgisches Objektiv ohne solche Kom-
pensationsmöglichkeit entworfen. Bei niedrigen Vergrößerungen mit Brennweiten
im Bereich von 8 bis 64 mm benutzt man achromatische Objektivlinsen. Diese
Objektivlinsen sind normalerweise für die Fraunhofer-C-(rot) und F -(blau) Wel-
lenlängen chromatisch und darüber hinaus bei der Fraunhofer-Wellenlänge d (gel-
be Heliumlinie) sphärisch korrigiert. Bei höheren Vergrößerungen benutzt man
für Objektivlinsen mit Brennweiten im Bereich von 4 bis 16 mm Fluss-Spatlinsen
(CaF2 ), die zusammen mit Glaselementen eine bessere Korrektur im Bereich des
sichtbaren Spektrums bewirken. Wenn die Korrektur fast ideal ist, nennt man die-
se Objektivlinsen apochromatisch. Da bei hohen Vergrößerungen die Korrektur
besonders wichtig ist, sind Apochromate gewöhnlich Objektive mit Brennweiten
im Bereich vom 1,5 bis 4 mm. Mit Hilfe moderner Techniken und Materialien
kann man Objektivlinsen mit ebenem Bildfeld anfertigen. Diese Linsen nennt
man Anastigmaten, wobei neben der anastigmatischen Ebnung des Bildfeldes
auch die Öffnungs- und Farbfehler korrigiert sind. Bei höheren Vergrößerungen
wird das Objektiv als Immersionsobjektiv ausgelegt. Bei Immersionsmikroskopen
ersetzt man im Ultravioletten gewöhnlich das Öl durch Glyzerin und die opti-
schen Glaselemente durch Fluss-Spat- oder Quarzelemente, da diese bei kürzeren
Wellenlängen eine höhere Transmission aufweisen.
Diese Diskussion sollte zeigen, dass qualitativ hochwertige Mikroskope oft
nur für einen speziellen Einsatz nutzbar sind. Die Auslegung eines Objektivs
oder eines Okulars ist direkt mit der Funktion anderer optischer Elemente im
Instrument verknüpft. Deshalb ist es im Allgemeinen nicht möglich, Objektive
und Okulare zwischen verschiedenen Mikroskopmodellen auszutauschen, ohne
dass die Leistung des Mikroskopes schlechter wird.
Die Abb. 6.26 zeigt die optischen Komponenten in eines Standard-Mikroskops
und den Lichtweg im Instrument. Zur Beleuchtung des Objektes im Mikroskop
ist es bei geringen Vergrößerungen ausreichend, das Umgebungslicht oder das
Licht einer Lampe mit einem Spiegel in den Abbildungsstrahlengang zu brin-
gen. Zunächst muss man Hell- und Dunkelfeldbeleuchtung unterscheiden. Bei der
Hellfeldbeleuchtung ist bei der Betrachtung durch das Okular das objektfreie Feld
hell, bei Dunkelfeldbeleuchtung ist das objektfreie Feld dunkel. Licht, das an der
Objektstruktur gebeugt oder gestreut wird, bewirkt entsprechend eine Verdunke-
lung oder eine Aufhellung in der Bildebene. Für undurchsichtige Objekte benutzt
man die Auf lichtbeleuchtung, für durchsichtige die Durchlichtbeleuchtung.
6.5 Mikroskope 189
Abb. 6.26. Standardmikroskop mit Köhlerscher Beleuchtung
Bei hohen Vergrößerungen muss man spezielle Beleuchtungsysteme einsetzen;

man trennt dann den Abbildungs- und den Beleuchtungsstrahlengang, wie dies
in Abb. 6.26 gezeigt ist. Die Glühwendel der Lampe besitzt meist eine inhomo-
gene Verteilung der Leuchtdichte, dies würde bei einer einfachen Anordnung zu
einer ungleichmäßigen Beleuchtungsstärke in der Ebene des Präparates führen.
Deshalb benutzt man am Mikroskop oft die Köhlersche Beleuchtung mit einem
verflochtenen Abbildungs- und Beleuchtungsstrahlengang. In Abb. 6.28 ist als ers-
tes Element nach der Lampe die Kollektorlinse gezeigt, die die Glühwendel in
die Brennebene der Kondensorlinse abbildet. Die Leuchtfeldblende befindet sich
direkt hinter dem Kollektor und wird vom Kondensor in die Objektebene abge-
Abb. 6.27. Verflochtener Strahlengang im Mikroskop mit Köhlerscher Beleuchtung

6.6 Fernrohre 191
bildet. Die Einstellung dieser Irisblende bestimmt den Durchmesser des ausge-
leuchteten Objektfeldes. In der Kondensorbrennebene liegt eine weitere Irisblende,
die als Aperturblende die Beleuchtungsstärke in der Objektebene festlegt. Der te-
lezentrische Strahlengang auf der Bildseite des Kondensors, bei dem parallele
Strahlen die Kondensorlinse verlassen, sichert für alle Punkte des Objektfeldes
dieselbe Beleuchtungsstärke. Die Lage der Eintrittspupille (EP ) in der Brenn-
ebene der Linse ist typisch für den telezentrischen Beleuchtungsstrahlengang, der
auch häufig in Strichcodelesern eingesetzt wird. Der zusätzliche Vorteil dieses
Prinzips zeigt sich bei Beobachtung des Strichcodes mit derselben Optik (Um-
kehrung des Strahlenganges). Abstandsänderungen des Strichcodes relativ zur
abbildenden Linse ergeben keine Änderungen der Vergrößerung, da sich in der
bildseitigen Brennebene der Linse eine Aperturblende (Austrittspupille) befindet.
6.6 Fernrohre
Die Fernrohre werden in Linsenfernrohre (Refraktoren) und Spiegelteleskope ein-
geteilt, je nachdem, ob Linsen oder Spiegel zur Erzeugung des Bildes eingesetzt
werden. Zusätzlich gibt es sogenannte katadioptrische Systeme, in denen bre-
chende und reflektierende Oberflächen kombiniert sind. Fernrohre (Teleskope)
unterscheidet man auch danach, ob das Bild invertiert ist oder ob man mit dem
Auge oder mit fotografischen Methoden beobachtet.
Linsenfernrohre (Refraktoren)
Die Abbildungen 6.28 und 6.29 zeigen zwei Typen von Linsenfernrohren, die ein
invertiertes bzw. ein aufrechtes Bild erzeugen. Das Kepler-Fernrohr (s. Abb. 6.28)
nennt man auch astronomisches Fernrohr, da die Bildorientierung bei astrono-
mischen Objekten unwichtig ist.
Das Galilei-Fernrohr in Abb. 6.29 erzeugt ein aufrechtes Bild, da im Okular
eine Linse mit negativer Bildbrennweite (Zerstreuungslinse) eingesetzt wird. In
jedem Fall werden nahezu parallele Lichtstrahlen eines weit entfernten Objektes
durch eine Objektivlinse mit positiver Bildbrennweite (Sammellinse) gesammelt,
die ein reelles Bild in ihrer Bildbrennebene erzeugt. Die Objektivlinse ist im
Durchmesser größer als die Augenpupille und damit lichtstärker als das bloße
Auge, so dass auch weit entfernte und damit lichtschwächere Sterne beobachtet
werden können. Die Objektivlinse ist meist eine Dublett-Linse, die bezüglich der
chromatischen Aberration korrigiert ist. Das durch das Objektiv erzeugte reelle
Zwischenbild wird durch das Okular beobachtet, das in den Abbildungen als
Einzellinse gezeichnet ist. Das Zwischenbild, das in oder nahe der Brennebene
des Okulars entsteht, dient als reelles Objekt für das Okular im astronomischen
Fernrohr und als virtuelles Objekt im Falle des Galilei-Fernrohres. Das einfallende
Parallelstrahlbündel von einem weit entfernten Objektpunkt (a = −∞ oder |a|
Abb. 6.28. Astronomisches oder Kepler-Fernrohr
Abb. 6.29. Terrestrisches oder Galilei-Fernrohr

fOb ) verlässt das Fernrohr wieder als Parallelstrahlbündel. Bringt man das Auge
in die Nähe des Okulars, so beobachtet man ein Bild im Unendlichen. Das Objekt
erscheint dem nackten“ Auge unter dem Sehwinkel wS und nach dem Okular
”
unter dem Winkel wS . Aus den beiden rechtwinkligen Dreiecken in der Abbildung
ergibt sich:
Winkelvergrößerung Fernrohr, Objekt im Unendlichen ( afokale“ Einstel-
”
lung)
tan wS f
ΓF ∞ = = − Ob
(6.51)
tan wS fOk

Das negative Vorzeichen bedeutet, dass das Bild für fOk > 0 (s. Abb. 6.28)

invertiert ist. Ein aufrechtes Bild erhält man in Abb. 6.29 mit fOk < 0. In jedem
Fall ist die Länge e dieses Fernrohres für dünne Linsen gegeben durch:
6.6 Fernrohre 193

e = fOb + fOk (6.52)

Ein Galilei-Fernrohr hat wegen fOk < 0 eine kleine Baulänge; diesen Vorteil nutzt
man im Opernglas. Zur Erzeugung eines aufrechten Bildes modifiziert man das
astronomische Fernrohr durch den Einsatz einer dritten Positivlinse, deren Funk-
tion darin besteht, das Zwischenbild zu invertieren. Diese Maßnahme verlängert
aber das Fernrohr um mindestens das Vierfache der Bildbrennweite der Zusatzlin-
se. Eine Bildaufrichtung ohne zusätzliche Baulänge erreicht man in Prismenfern-
rohren mit einem gefalteten Strahlengang durch den Einsatz von Umkehrprismen,
wie bereits vorher beschrieben.
Für jedes Fernrohr ist die Objektivöffnung Aperturblende und gleichzeitig
Eintrittspupille (EP ). Das Bild der Aperturblende hinter dem Okular ist die
Austrittspupille (AP ). Beim astronomischen Fernrohr liegt die Austrittspupille
gerade außerhalb des Okulars und wird so ausgelegt, dass sie der Größe der Pupil-
le des Auges entspricht. Ein Fernrohr sollte die Austrittspupille in genügendem
Abstand vom Okular aufweisen, um einen bequemen Augenabstand einhalten
zu können. Eine bequemere Beobachtung erreicht man auch durch eine Aus-
trittspupille von geringfügig größerem Durchmesser als die Augenpupille, so dass
eine Änderung des Augenabstandes weniger kritisch ist. Wir sehen, dass beim
Galilei-Fernrohr die Austrittspupille innerhalb des Okulars liegt, wo sie dem Auge
nicht zugänglich ist. Dies führt zu einem geringeren Feldwinkel, dem sogenannten
Schlüssellocheffekt“ des Galilei-Fernrohrs. Wir sehen, dass man beim Kepler-
”
Fernrohr am Ort des Zwischenbildes eine Feldblende einsetzen kann, während
dies für das Galilei-Fernrohr nicht möglich ist.
Der Durchmesser der Austrittspupille DAP hängt sehr einfach mit dem Durch-
messer der Objektivlinse DEP über die Vergrößerung zusammen. Aus Abb. 6.28
erhält man mit a = −∞:
DEP DAP
=
fOb f Ok
und damit
DEP
Vergrößerung Fernrohr ΓF ∞ = (6.53)
DAP
Der Index F“ steht für Fernrohr“. Es gilt DAP < 0, wenn die Eintrittspupille
” ”
(= Aperturblende) durch ein Positivokular als reelle Austrittspupille abgebil-
det wird. Damit ist der Durchmesser des Strahlenbündels, das die Objektivlinse
ausfüllt, um den Faktor |ΓF ∞ | größer als der Durchmesser des Strahlenbündels,
das durch die Austrittspupille verläuft. Wir sehen, dass deshalb noch nicht die
Beleuchtungsstärke des Bildes im selben Verhältnis größer wird, da die Bild-
größe um den gleichen Faktor |ΓF ∞ | zunimmt. Die Beleuchtungsstärke des Bildes
kann nicht größer als die spezifische Ausstrahlung (s. Kap. 2) des Objektes sein,
tatsächlich ist das Bild wegen der nicht vermeidbaren Lichtverluste aufgrund der
Reflexion an den Linsenoberflächen weniger hell.
Abb. 6.30. Schnittbild eines binokularen Fernglases, man erkennt das mehrlinsige
Objektiv sowie die Okularlinse und das Prisma zur Bildumkehr
Zweiäugige Fernrohre (binokulare Fernrohre, s. Abb. 6.30) erlauben eine be-

quemere Betrachtung, da beide Augen daran beteiligt sind. Zusätzlich erlaubt der
Einsatz von Porro-Prismen, den Abstand zwischen den Objektivlinsen größer zu
machen als den Abstand zwischen den Augenpupillen, was den stereoskopischen
Effekt durch das zweiäugige Sehen vergrößert. Weiterhin werden durch die Pris-
men aufrechte Bilder erzeugt. Die Bezeichnung 6 × 30“ für Binokulare bedeutet,
”
dass die Vergrößerung 6-fach und der Durchmesser der Objektivlinse (Eintritts-

pupille) 30 mm ist ( ΓF ∞ × DEP“). Aus (6.53) schließen wir, dass die Austritts-
”
pupille für dieses Binokular 5 mm beträgt, was in guter Übereinstimmung mit
dem normalen Pupillendurchmesser ist. Für nächtliche Beobachtungen, wo die
Pupillen etwas größer sind, ist ein binokulares Fernglas mit der Spezifikation
6.6 Fernrohre 195
7 × 50“ vorzuziehen, bei dem die Austrittspupille einen Durchmesser von ca.
”
7 mm aufweist.
Beispiel 6.5 Feldstecher
Bestimmen Sie den Augenabstand, den Bildfeldwinkel und den Sehfelddurch-
messer eines 6 × 30“-Feldstechers. Die Bildbrennweite der Objektivlinse ist
”
fOb = 15 cm und der Okularlinsendurchmesser DOk = 1,5 cm.
Lösung
Die Bildbrennweite des Okulars ergibt sich aus (6.51)

fOb 15 cm
fOk =− =− = 2,5 cm
ΓF ∞ −6
Der Augenabstand ist die Entfernung von der Okularlinse zur
Austrittspupille. Die Austrittspupille ist das Bild der Objektivöffnung, wenn
man durch die Okularlinse sieht. Damit ergibt sich der Augenabstand als
Bildweite a der Austrittspupille:
a f
e fOk
(fOb
+ fOk
) fOk
a = = = + f ) − f
a + f e − fOk (fOb Ok Ok
(15 cm + 2,5 cm) · 2,5 cm
= = 2,92 cm
15 cm
Für eine Objektebene im Abstand von a0 = −1000 m erhält man mit
−DOk −1,5 cm
tan wBf = = = −0,0429
2e 2 · 17,5 cm
den Bildfeldwinkel 2wBf = 4,9◦ ; oder den Sehfelddurchmesser
a0 · (−DOk ) 1000 m · 0,015 m

y = 2a0 tan wBf = = = 85 m
e 0,15 m + 0,025 m
Spiegelteleskope
Objektivlinsen mit großem Durchmesser bewirken eine größere Lichtstärke und

eine größere Auflösung des Fernrohres. Es ist sehr schwierig, große homogene Lin-
sen ohne optische Fehler herzustellen und – wegen des hohen Gewichts – heikel,
diese mechanisch stabil zu befestigen. Diese Probleme sowie die chromatische Ab-
erration lassen sich durch den Einsatz gekrümmter Spiegelflächen, wie z.B. beim
8 m-Spiegelteleskop der ESA in Chile, vermeiden. Große Spiegelteleskope werden
normalerweise zur Untersuchung weit entfernter, lichtschwacher astronomischer
Abb. 6.31. Basistypen von Spiegelteleskopen. a) Newtonsches Teleskop. b) Cassegrain-

Teleskop. c) Gregory-Teleskop
Objekte eingesetzt, deshalb registriert man häufig das Bild durch eine Fotografie
mit großer Belichtungszeit.
Das Prinzip einiger Spiegelteleskope ist in Abb. 6.31 gezeigt. Beim Newton-
schen Spiegelteleskop verwendet man einen parabolisch geformten Spiegel, um
alle parallel einfallenden Strahlen in denselben Brennpunkt Fp zu fokussieren.
Vor dem Brennpunkt setzt man einen ebenen Spiegel in den Strahlengang, um
die konvergierenden Strahlen in einem zweiten Brennpunkt Fs nahe der Wand
des Fernrohres zu fokussieren. Am Rand befindet sich ein Okular zur Betrachtung
des Bildes. Der Einsatz eines parabolischen Spiegels vermeidet sowohl die chro-
matische als auch die sphärische Aberration, aber die Koma ist für außeraxiale
Objektpunkte weiterhin vorhanden, wodurch das nutzbare Bildfeld stark ein-
6.6 Fernrohre 197
geschränkt wird. Das Hale-Teleskop ist so groß, dass der Beobachter auf einer
speziell montierten Plattform direkt hinter dem primären Fokus Fp sitzen kann
(s. Abb. 6.32). Natürlich reduziert jedes Hindernis innerhalb des Teleskops die
Lichtmenge, die zum Bild beiträgt. Beim Cassegrain-Teleskop (s. Abb. 6.31 b)
ist der sekundäre Spiegel von hyperbolisch konvexer Form und reflektiert das
Licht vom primären Spiegel durch eine Öffnung im primären Spiegel in einen
sekundären Fokus, wo man es bequem beobachten und aufzeichnen kann. Die hy-
perbolische Oberfläche bewirkt eine ideale Abbildung zwischen den Punkten des
primären und des sekundären Fokus, da sie die Brennpunkte des Hyperboloids
sind. Eine solch ideale Abbildung ist auch möglich, wenn man den sekundären
Spiegel konkav-ellipsoid macht, wie im Gregory-Teleskop (s. Abb. 6.31 c). Der
primäre (Fp ) und der sekundäre (Fs ) Brennpunkt dieses Teleskops sind nun die
Brennpunkte des Ellipsoids.
Abb. 6.32. Hale-Spiegelteleskop (5 m). Man sieht den Beobachter in einem Käfig in
der Nähe des primären Fokus sowie die reflektierende Oberfläche des 5 m-Spiegels
Das Schmidt-Teleskop
Das beste katadioptrische Teleskop wurde von Bernhardt Schmidt entworfen. Er

vermied die sphärische Aberration des primären sphärischen Spiegels durch den
Abb. 6.33. Schmidt-Teleskop
Einsatz einer dünnen brechenden Korrekturplatte im Teleskop. Um diesen Auf-

bau zu verstehen, betrachten wir Abb. 6.33. Der konkave primäre Reflektor in
a) empfängt schmale Bündel paralleler Strahlen aus verschiedenen Richtungen.
Jedes Strahlenbündel geht durch eine Blende, deren Zentrum im Krümmungs-
mittelpunkt des primären Spiegels liegt. Die Achse jedes Strahlenbündels be-
trachte man als optische Achse, es gibt keine außeraxialen Objektpunkte und
deshalb tritt keine Koma und kein Astigmatismus für dieses System auf. Für
6.6 Fernrohre 199
kleine Strahlenbündel besteht jedes dieser Bündel aus paraxialen Strahlen, die in
gleicher Entfernung vom Spiegel fokussiert werden. Diese Entfernung ist gleich
der Bildbrennweite oder gleich dem halben Krümmungsradius des Spiegels. Die
Bildpunkte liegen auf der Kugeloberfläche, die durch die gestrichelte Linie be-
schrieben ist. Für Strahlenbündel mit großem Querschnitt, wie in b) gezeigt,
tritt sphärische Aberration auf, die eine kleinere Brennweite für Randstrahlen
bewirkt. Schmidt entwarf eine durchsichtige Korrekturplatte, die sich am Ort der
Blende befindet. Diese Platte wirkt am Rand als Negativ- und im Zentrum als
Positivlinse und kompensiert den Öffnungsfehler. Die Brennpunkte aller einfal-
lenden Strahlenbündel liegen dann auf der sphärischen Brennfläche, wie in c)
gezeigt.
Das Schmidt-Teleskop ist deshalb bezüglich Koma, Astigmatismus und sphäri-
scher Aberration korrigiert. Da sich die Korrekturplatte am Ort des Krümmungs-
mittelpunktes des Spiegels befindet, ist die Abbildung paralleler Strahlenbündel
verschiedener Neigung gleich. Die verbleibenden Aberrationen sind durch die Feh-
ler bei der Herstellung der Korrekturplatte verursacht. Ein Nachteil des Schmidt-
Teleskops ist das kugelförmig gewölbte Bildfeld. Damit müssen die fotografischen
Filme oder Platten entsprechend geformt sein, oder man muss das Feld durch
eine Linse vor der Aufnahmefläche ebnen“. Wir sehen weiterhin, dass die Kor-
”
rekturplatte sich am Ort der doppelten Brennweite des Spiegels befindet, da-
mit ist dieses Teleskop doppelt so lang wie die vorher beschriebenen Teleskope
(s. Abb. 6.31).
Übungen
6.1 Ein Objekt hat eine Größe von y = 2 cm, gemessen von der optischen Achse aus.
Das optische System besteht aus einer Blende von 2 cm Durchmesser und einer
dünnen konvexen Linse der Bildbrennweite 5 cm mit 5 cm Durchmesser. Das Ob-
jekt ist 10 cm und die Blende 2 cm vom Scheitel der Linse entfernt. Bestimmen Sie
die Position und Größe von Eintritts- und Austrittspupille und des Bildes. Fertigen
Sie eine Skizze des optischen Systems an und zeichnen Sie von der Spitze des Ob-
jektes den Hauptstrahl und die zwei Randstrahlen durch das optische System zum
konjugierten Bildpunkt.
6.2 Wiederholen Sie Übung 6.1 für ein Objekt von 4 cm Größe mit einer Aperturblen-
de von 2 cm Durchmesser und einer dünnen konvexen Linse der Bildbrennweite
6 cm und 5 cm Durchmesser. Das Objekt ist 14 cm von der Linse entfernt und die
Aperturblende liegt in 2,5 cm Entfernung auf der Bildseite der Linse.
6.3 Wiederholen Sie Übung 6.1 für ein Objekt von 2 cm Größe, einer Blende von 2 cm
Durchmesser und einer dünnen konvexen Linse von 6 cm Bildbrennweite und einem
Durchmesser von 5 cm. Das Objekt befindet sich 14 cm und die Aperturblende 4 cm
vor der Linse.
6.4 Ein optisches System besteht aus folgenden Komponenten (von links nach rechts):
1. Gegenstandsebene,
2. dünne Linse L1 , 40 cm von der Gegenstandsebene entfernt,
3. Aperturblende AB, 20 cm weiter als L1 ,
4. dünne Linse L2 , 10 cm weiter als AB,
5. Bildebene.
Die Linse L1 hat eine Bildbrennweite von 13,3 cm und einen Durchmesser von 2 cm;
die Linse L2 hat eine Bildbrennweite von 6,6 cm und einen Durchmesser von 2 cm;
die Blende B hat eine Öffnung von 0,5 cm Durchmesser. Alle Komponenten sind
auf der optischen Achse zentriert:
a) Skizzieren Sie das System maßstäblich.
Bestimmen Sie:
b) den Ort der Bildebene,
c) die bündelbegrenzende Aperturblende und die Eintrittspupille,
d) die Austrittspupille,
e) die feldbegrenzende Blende, die Eintrittsluke und die Austrittsluke,
f) den Bildfeldwinkel des Systems.
6.5 Zeichnen Sie für ein Prisma mit dem brechenden Winkel α = 60◦ und der Brechzahl
1,52 den resultierenden Ablenkwinkel als Funktion des Eintrittswinkels auf.
6.6 Ein paralleler Strahl weißen Lichts durchläuft ein gleichseitiges Glasprisma bei mi-
nimalem Ablenkwinkel. Wie groß ist der Winkelabstand der roten (nr = 1,525) und
blauen (nb = 1,535) Lichtstrahlen, die das Prisma verlassen?
6.7 a) Ermitteln Sie näherungsweise die Cauchy-Konstanten A0 und A2 für Kron- und
Flintglas, indem Sie die Daten für die C und F Fraunhofer-Linien aus Tab. 6.1
benutzen. Berechnen Sie die Brechzahl der Fraunhofer d-Linie unter Benut-
zung dieser Konstanten und der Cauchy-Reihe (6.17) für zwei Reihenglieder.
Vergleichen Sie Ihre Ergebnisse mit den Werten, die in der Tabelle gegeben
sind.
b) Berechnen Sie die Dispersion in der Umgebung der Fraunhofer d-Linie für beide
Glassorten, indem Sie die Cauchy-Beziehung verwenden.
c) Berechnen Sie das Farbauflösungsvermögen von Kron- und Flintprismen in der
Umgebung der Fraunhofer d-Linie, wenn die Basislänge des Prismas 75 mm
beträgt. Berechnen Sie das minimal auflösbare Wellenlängenintervall in diesem
Gebiet.
6.8 Ein gleichseitiges Prisma aus Flintglas wird für ein Spektroskop eingesetzt. Die
Änderungen der Brechzahl mit der Wellenlänge sind in der folgenden Tabelle gege-
ben:
λ/ nm n
656,3 1,63461
587,6 1,63810
486,1 1,64611
6.6 Fernrohre 201
Bestimmen Sie:
a) den minimalen Ablenkwinkel für Natriumlicht von 589,3 nm,
b) die Abbesche Zahl des Prismenmaterials,
c) die Cauchy-Konstanten A0 und A2 im Gebiet großer Wellenlängen. Berechnen
Sie mit Hilfe der Cauchy-Beziehung die Dispersion des Prismas bei 656,3 nm,
d) die minimale Basislänge eines Prismas, wenn es die Wasserstoff-Dublettlinien
bei 656,2716 nm und 656,2852 nm auflösen soll. Ist dies ein realistisches Bei-
spiel?
6.9 Ein gleichseitiges Prisma liefert bei Messungen in einem Spektrometer folgende mi-
nimale Ablenkwinkel: C-Linie: 38◦ 20’; d-Linie: 38◦ 33’; F -Linie: 39◦ 12’. Bestimmen
Sie die Abbesche Zahl des Prismas.
6.10 Die Brechzahlen für bestimmte Kron- und Flintgläser sind:
Kronglas: nC = 1,527, nd = 1,530, nF = 1,536
Flintglas: nC = 1,630, nd = 1,635, nF = 1,648
Die beiden Glassorten sollen für ein Geradsichtprisma (bestehend aus zwei Prismen)
für die d-Wellenlänge eingesetzt werden. Der brechende Winkel des Flintglaspris-
mas beträgt 5◦ . Bestimmen Sie den brechenden Winkel des Kronglasprismas und
den Unterschied in den Ablenkwinkeln für einen d- und einen F -Strahl. Nehmen
Sie an, dass beide Prismen eine kleine Basislänge aufweisen und symmetrischer
Strahlengang vorliegt.
6.11 Ein achromatisches dünnes Prisma für die C- und F -Fraunhofer-Linien soll aus
Kron- und Flintgläsern, wie in Tabelle 6.1 beschrieben, hergestellt werden. Das
Kronglasprisma hat einen brechenden Winkel von 15◦ . Bestimmen Sie:
a) den brechenden Winkel des Flintglasprismas,
b) die verbleibende mittlere Abweichung für die d-Fraunhofer-Linie.
6.12 Eine Lambertsche Oberfläche hat die Form eines Quadrates der Seitenlänge 5 cm.
Die Fläche strahlt eine Gesamtleistung von 25 W in den vorderen Halbraum (2π sr)
aus. Eine Kamera mit einem Objektiv von 4 cm Brennweite und Blendenzahl k = 8
wird zur Fotografie des Objektes benutzt, wobei dieses 1 m von der Linse entfernt
ist.
a) Bestimmen Sie die spezifische Ausstrahlung, die Strahlstärke und die Strahl-
dichte des Objektes (s. Tab. 2.1).
b) Bestimmen Sie den Strahlungsfluss, der auf den Film in der Kamera trifft.
c) Bestimmen Sie die Bestrahlungsstärke auf dem Film.
6.13 Untersuchen Sie die Eigenschaften von (6.31) und (6.32), die die Abhängigkeit der
Schärfentiefe von der Größe der Blende, der Brennweite und der Gegenstandsweite
angibt. Erstellen Sie eine entsprechende graphische Darstellung mit einem Rechner
oder mit Bleistift und Papier.
6.14 Eine Kamera wird zur Fotografie von drei Reihen von Studenten in einer Entfernung
von 6 m benutzt, wobei auf die mittlere Reihe scharf eingestellt ist. Nehmen Sie an,
dass die Unschärfe aufgrund von Objektpunkten in der ersten und dritten Reihe
kleiner sein soll als die Größe eines typischen Silberkorns der Emulsion, z.B. 1 µm.
Bei welcher kleineren oder größeren Gegenstandsweite als der der mittleren Reihe
erhält man eine zu große Unschärfe, wenn die Kamera eine Brennweite von 50 mm
hat und die Blende auf k = 4 eingestellt ist?
6.15 Ein Teleobjektiv besteht aus der Kombination zweier dünner Linsen, die eine Bild-
brennweite von +20 cm und -8 cm aufweisen. Die Linsen haben einen Abstand von
15 cm voneinander.
a) Bestimmen Sie die Bildbrennweite der Kombination, die Entfernung von der
Negativlinse zur Filmebene und die Bildgröße eines weit entfernten Objektes,
das von der Kamera aus gesehen unter einem Winkel von 2◦ erscheint.
b) Ermitteln Sie die gleichen Größen und die Lage der Hauptebenen, indem Sie
die Matrixmethode aus Kapitel 4 benutzen.
6.16 Ein Kameraobjektiv mit 5 cm Bildbrennweite und einer Blendeneinstellung von k =
4 wird auf ein Objekt in 1,80 m Abstand fokussiert. Bestimmen Sie die Schärfentiefe,
wenn der maximale Durchmesser des Unschärfekreises zu 0,05 mm angenommen
wird.
6.17 Die Sonne erscheint von der Erdoberfläche aus gesehen unter einem Winkel von 0,5◦ ,
wobei bei senkrechtem Auffall eine Beleuchtungsstärke von 105 lx (Lux) typisch ist.
Wie groß ist die Beleuchtungsstärke für ein Bild der Sonne, das durch eine Linse
von 5 cm Durchmesser und der Bildbrennweite 50 cm erzeugt wird?
6.18 a) Für ein Kameraobjektiv wird eine bikonvexe Linse der Bildbrennweite 15 cm
benutzt. Wie groß ist ein Bild einer 1,80 m großen Person in 30 m Abstand, das
auf dem Film erzeugt wird?
b) Die bikonvexe Linse wird durch ein Teleobjektiv, bestehend aus einer bikon-
vexen Linse von 12 cm Bildbrennweite und einer konkaven Linse, ersetzt. Die
konkave Linse befindet sich an der Stelle der zuerst genannten Linse und die
konvexe Linse ist 8 cm davor. Wie groß muss die Bildbrennweite der konkaven
Linse sein, damit weit entfernte Gegenstände scharfe Bilder bei der gleichen
Lage der Filmebene wie zuvor ergeben? Wieviel größer ist das Bild der Person,
wenn man das Teleobjektiv benutzt?
6.19 Das Objektiv einer Kleinbildkamera (Filmformat 24×36 mm) weist die Beschriftung
50 mm, 1:1,8“ auf.
”
a) Wie groß ist der maximale Blendendurchmesser?
b) Bestimmen Sie, beginnend mit der maximalen Blendenöffnung, die nächsten
drei k-Zahlen, die es ermöglichen, die Beleuchtungsstärke jeweils auf 1/3 zu
reduzieren.
c) Welche Blendendurchmesser entsprechen diesen k-Zahlen?
d) Bei maximaler Blendenöffnung und einer Belichtungszeit von 1/100 Sekunde
wird ein Bild aufgenommen. Welche Belichtungszeiten sind für jeden der ande-
ren Blendendurchmesser nötig, damit die gleiche Strahlungsenergie den Film
trifft?
6.20 Die in (6.36) angegebene Vergrößerung gilt auch für das zweilinsige Okular, wenn die
Bildbrennweite der Kombination (s. (6.38)) benutzt wird. Zeigen Sie, dass die Ver-
größerung eines Zweilinsen-Okulars, das der Bedingung für verschwindende chro-
matische Aberration genügt, für ein Bild im Unendlichen durch folgenden Ausdruck
gegeben ist:
6.6 Fernrohre 203
Γ = 12,5 cm(1/f1 + 1/f2 )

6.21 Ein Vergrößerungsglas besteht aus zwei dünnen plankonvexen Linsen von jeweils
3 cm Bildbrennweite, die 2,8 cm voneinander entfernt sind. Finden Sie:
a) die Bildbrennweite des Gesamtsystems,
b) die Vergrößerung für ein Bild, das im Nahpunkt des Auges erzeugt wird.
6.22 Das Objektiv eines Mikroskops hat eine Bildbrennweite von 0,5 cm. Es entwirft das
Zwischenbild 16 cm vom bildseitigen Brennpunkt der Objektivlinse entfernt.
a) Welche Gesamtvergrößerung hat das Mikroskop, wenn ein Okular mit der Be-
schriftung 10× benutzt wird?
b) In welcher Entfernung vom Objektiv befindet sich der beobachtete Objekt-
punkt?
6.23 Ein einfaches Mikroskop besitzt ein Objektiv und ein Okular, beides dünne Linsen
der Bildbrennweiten 1 cm und 3 cm. Ein Objekt befindet sich 1,2 cm vor der Objek-
tivlinse. Das virtuelle Bild, das vom Okular erzeugt wird, ist scheinbar 25 cm vom
Auge entfernt. Berechnen Sie:
a) die Gesamtvergrößerung des Mikroskops,
b) den Abstand der Linsen.
6.24 Zwei dünne bikonvexe Linsen, die 25 cm voneinander entfernt sind, bilden ein Mikro-
skop, dessen Gesamtvergrößerung 20 beträgt. Die Bildbrennweite der Okularlinse
beträgt 4 cm. Bestimmen Sie die Bildbrennweite der anderen Linse.
6.25 Ein Fernrohr enthält eine Strichplatte – dies ist eine Glasplatte, auf der ein Maß-
stab eingeritzt ist – in der gemeinsamen Brennebene von Objektiv und Okular.
Die Strichplatte ist damit ebenso scharf wie durch das Fernrohr betrachtete Ge-
genstände. Das Fernrohr wird auf einen Telefonmast in 30 m Entfernung scharf
eingestellt. Die Bildbrennweite des Objektivs beträgt 20 cm. Wie groß ist das Bild
des Mastes auf der Millimetereinteilung der Strichplatte?
6.26 Ein Fernglas trägt die Markierung 7 × 35“. Die Bildbrennweite des Objektivs
”
beträgt 14 cm und der Durchmesser der Feldlinse des Okulars 1,8 cm. Bestimmen
Sie:
a) die Vergrößerung eines entfernten Gegenstandes,
b) die Bildbrennweite des Okulars,
c) den Durchmesser der Austrittspupille,
d) den Abstand der Austrittspupille von der Augenlinse,
e) den Durchmesser des Objektfeldes in einer Entfernung von 300 m vom Fernglas.
6.27 a) Zeigen Sie, dass bei Betrachtung des Endbildes eines astronomischen Fernrohrs
in endlichem Abstand die Vergrößerung durch folgenden Term gegeben ist:

ΓOk fOb
Γ =
a

wobei ΓOk der Abbildungsmaßstab des Okulars und a die Entfernung vom
Okular zum Endbild ist.
b) Für solch ein Fernrohr benutzt man z.B. zwei Sammellinsen mit Bildbrennwei-
ten von 30 cm und 4 cm. Bestimmen Sie die Vergrößerung, wenn das Bild im
Unendlichen oder in der Bezugssehweite a = aS = −25 cm betrachtet wird.
6.28 Der Mond erscheint bei Beobachtung ohne Fernrohr unter einem Winkel von 0,5◦ .
Die Bildbrennweiten der Objektiv- und Okularlinsen eines terrestrischen Fernrohrs
sind 20 und 5 cm. Bestimmen Sie den Durchmesser des Bildes des Mondes, wenn
man diesen durch das Fernrohr in der Bezugssehweite aS = −25 cm betrachtet.
6.29 Ein Opernglas benutzt ein Objektiv und ein Okular mit Bildbrennweiten von 12 cm
und -4 cm. Bestimmen Sie die Länge (Linsenabstand) des Instrumentes und seine
Vergrößerung für einen Betrachter, dessen Augen auf das Bild
a) im Unendlichen und
b) auf die Bezugssehweite aS = −25 cm akkommodiert sind.
6.30 Ein astronomisches Teleskop wird für die Projektion des Mondes auf einen Schirm
benutzt, wobei dieser 25 cm von einem Okular von 5 cm Bildbrennweite entfernt ist.
Wie weit muss das Okular aus seiner normalen Lage verschoben werden?
6.31 a) Das Ramsden-Okular eines Teleskops besteht aus zwei Positivlinsen der Bild-
brennweiten 2 cm, die sich im Abstand von 2 cm befinden. Berechnen Sie die
Vergrößerung, wenn das Bild im Unendlichen betrachtet wird.
b) Das Objektiv des Fernrohrs ist eine Positivlinse der Bildbrennweite 30 cm mit
dem Durchmesser 4,5 cm. Bestimmen Sie die Gesamtvergrößerung des Fern-
rohrs.
c) Geben Sie Lage und Durchmesser der Austrittspupille an.
d) Der Durchmesser der Feldlinse des Okulars beträgt 2 cm. Bestimmen Sie den
Bildfeldwinkel des Fernrohrs.
6.32 Zeigen Sie, dass die Winkelvergrößerung eines Newtonschen Spiegelteleskops für
das Bild im Unendlichen durch das Verhältnis von Objektiv- zu Okularbrennweite
gegeben ist, so wie dies auch beim Linsenfernrohr der Fall ist.
6.33 Der Primärspiegel eines Cassegrain-Spiegelteleskops hat eine Brennweite von 3,60 m.
Der konvexe Sekundärspiegel ist 3 m vom Primärspiegel entlang der optischen Ach-
se entfernt und entwirft das Bild eines entfernten Gegenstandes im Scheitel des
primären Spiegels. Ein Loch im Spiegel gestattet die Betrachtung des Bildes durch
ein Okular von 10 cm Brennweite, das sich genau hinter dem Spiegel befindet. Be-
rechnen Sie die Brennweite des konvexen Spiegels und die Winkelvergrößerung des
Instrumentes.
7
Optik des Auges
Einleitung
In diesem Kapitel beschäftigen wir uns mit der Optik des Auges. Zuerst un-
tersuchen wir seine Struktur und Funktion. Im Anschluss daran betrachten wir
die optischen Fehler in einem fehlsichtigen Auge und geben die normalerweise
gebräuchlichen Korrekturoptiken (Brillen, Kontaktlinsen) an. Zum Schluss die-
ses Kapitels werden chirurgische Verfahren beschrieben, die mit Laserstrahlung
spezieller Intensität und Wellenlänge durchgeführt werden.
Zusammen mit dem Gehirn stellen die Augen ein bemerkenswertes bioopti-
sches System dar. Das Auge erzeugt Bilder von Gegenständen in Entfernungen
vom Zentimeterbereich bis ins Unendliche. Es verarbeitet Objekte, so ausgedehnt
wie der Himmel über uns oder es fokussiert auf ein Detail, so klein wie ein Steck-
nadelöhr. Es passt sich an einen außergewöhnlichen Bereich von Intensitäten
an, vom flackernden Schein einer Kerze, die Kilometer entfernt in einer dunklen
Nacht zu sehen ist, bis zum Sonnenlicht, das so hell ist, dass das optische Bild
auf der Netzhaut gefährliche Verbrennungen verursachen kann. Es unterscheidet
zwischen subtilen Farbnuancen von tiefem Purpur bis zu tiefem Rot. Am Wich-
tigsten für uns ist, dass das Auge den Raum um uns erfasst. In ihm lokalisiert es
Gegenstände und macht uns die dreidimensionale Welt zugänglich.
206 7 Optik des Auges
7.1 Aufbau des Auges

Anatomisch gesehen ist der Augapfel von fast exakt kugelförmiger Gestalt und
hat einen Durchmesser von ungefähr 22 bis 24 mm. Er liegt eingebettet in
Fettgewebe in der Augenhöhle und ist durch die Knochenwände des Schädels
geschützt. Optisch betrachtet ist das Auge eine Kamera, die das einfallende Licht
eines Objektes als reelles Bild auf die rückwärtige Fläche des Augapfels fokus-
siert. Die grundlegenden Bestandteile des Auges sind in Abb. 7.1 dargestellt.
Zunächst wollen wir die Schlüsselelemente des Auges entlang der optischen Ach-
se untersuchen und zwar in der Reihenfolge, in der sie auch von Lichtstrahlen bei
der Bildentstehung durchlaufen werden.
Licht tritt durch die Hornhaut in das Auge ein. Die Hornhaut ist ein durch-
sichtiges Gewebe ohne Blutgefäße, aber mit vielen Zellen- und Nervenfasern. Sie
hat einen Durchmesser von ungefähr 12 mm und ist im Zentrum ca. 0,6 mm dick
und zum Rand hin etwas stärker. Ihre Brechzahl ist 1,376. Beim Auftreffen auf die
Grenzfläche Luft/Hornhaut, wo die Brechzahl sich von 1 auf 1,376 ändert, wird
das Licht stark gebrochen. Die Hornhautgrenzfläche sorgt für 73% des Brechwer-
tes des Auges. Unmittelbar hinter der Hornhaut befindet sich die Vorderkammer,
ein kleiner Raum, der mit einer wässrigen Flüssigkeit gefüllt ist, die Nährstoffe
für die Hornhaut enthält. Diese Flüssigkeit hat eine Brechzahl von 1,336, ähn-
lich der von Wasser. Weil die Brechzahlen der Hornhaut und der Flüssigkeit in
der Vorderkammer nahezu gleich sind, tritt nur eine geringe Brechung auf, wenn
das Licht von der Hornhaut in die Vorderkammer eintritt. Den Abschluss der
Vorderkammer bildet die Iris, eine Trennwand, die dem Auge seine charakte-
ristische Farbe gibt und die Lichtmenge festlegt, die in das Auge eintritt. Die
Menge und die Verteilung des Pigmentes in der Iris bestimmt, ob das Auge blau,
grün, grau oder braun aussieht. Babies haben blaue Augen, weil noch keine Pig-
mente vorhanden sind. Damit überwiegt die Rayleigh-Streuung. Die einstellbare
Öffnung in der Iris, durch die das Licht hindurchtritt, nennt man Pupille. Die
Iris enthält zwei Sätze von Muskeln, die die Größe der Pupille in Abhängigkeit
vom Außenlicht verändern, so dass der Durchmesser von einem Minimum von
ungefähr 2 mm an einem hellen Sonnentag bis zu einem Maximum von ungefähr
8 mm bei sehr geringer Helligkeit verändert werden kann. Wenn Ärzte das Innere
des Auges untersuchen, benutzen Sie Medikamente, z.B. Atropin, um die Pupille
zu vergrößern.
Nach dem Durchgang durch die Pupille fällt das Licht auf die Augenlinse, ein
transparentes Gebilde, ungefähr von Größe und Form einer essbaren Linse. Die
Augenlinse sorgt für die Feinabstimmung im Abbildungsprozess. Ihre Form wird
so geändert, dass für einen Gegenstand in bestimmter Entfernung ein scharfes
Bild auf der Netzhaut entsteht. Die Form der Linse wird durch einen Ringmuskel
kontrolliert, der durch Fasern mit der Peripherie der Linse verbunden ist. Wenn
der Muskel entspannt ist, nimmt die Linse ihre flachste Form an, die für die ge-
ringste Brechung der einfallenden Lichtstrahlen sorgt. In diesem Zustand ist das
7.1 Aufbau des Auges 207
Abb. 7.1. Vertikaler Schnitt durch das Auge
Auge auf entfernte Objekte eingestellt. Wenn sich der Muskel zusammenzieht,
ändert sich die Linsenform. Die vordere (der Hornhaut nähere) Linsenfläche wird
stärker gekrümmt und sorgt für eine stärkere Brechung des Lichtes, die hintere
Linsenfläche ändert die Krümmung nur wenig. Die Linse wird dabei um 0,5 mm
dicker, der Krümmungsradius der vorderen Fläche verändert sich von 10 mm auf
5,3 mm, was einer Zunahme des Brechwertes um 14 dpt entspricht. Im angespann-
ten Zustand ist das Auge auf Nahobjekte eingestellt.
Die Linse selbst ist ein komplexes, zwiebelähnliches Gebilde, das durch eine
elastische Membran zusammengehalten wird. Wegen der laminatartigen Struktur
der Linse ist die Brechzahl nicht homogen. Nahe dem Zentrum der Linse und auf
der Achse ist die Brechzahl ungefähr 1,41, nahe der Peripherie fällt sie bis auf
1,38 ab (GRIN-Element).
Nach der Brechung an der Linse tritt das Licht in die Hinterkammer und da-
nach in den Glaskörper ein, eine transparente, gelartige Substanz deren Brechzahl
(1,336) wieder nahe der von Wasser ist. Der strukturlose Glaskörper enthält klei-
ne Gewebeteilchen, die als schwebende Teilchen durch das Gesichtsfeld laufen.
Man sieht sie besonders gut, wenn man auf eine strukturlose weiße Wand schaut.
Nach der Durchquerung des Glaskörpers erreichen die Lichtstrahlen schließlich
die innere, hintere Wand des Auges, die Netzhaut. Die Netzhaut (Retina) ist mit
einer Struktur von Photorezeptoren, die man Stäbchen und Zapfen nennt, be-
deckt. Die langen dünnen Stäbchen, deren Zahl mehr als hundert Millionen be-
trägt, sind nahe der Peripherie der Retina dichter angeordnet. Sie sind besonders
für schwaches Licht empfindlich, können allerdings nicht zwischen Farben un-
terscheiden. Die größeren Zapfen, weniger als zehn Millionen in der Zahl, häufen
sich bevorzugt nahe dem Zentrum der Retina in einem Gebiet von ungefähr 3 mm
Durchmesser, das man Macula (gelber Fleck, Macula Lutea) nennt. Im Gegensatz
zu den Eigenschaften der Stäbchen sind die Zapfen für helles Licht und Farben
sehr empfindlich, funktionieren aber nicht so gut bei schwachem Licht. Mit den
Photorezeptoren sind drei verschiedene Typen von Nervenzellen (amakrine, bipo-
lare und multipolare Zellen) verbunden, die die visuellen Impulse vorverarbeiten
und zum Sehnerv übertragen. Der Sehnerv ist die einzige Verbindung, die visuelle
Informationen von der Netzhaut zum Gehirn überträgt.
Zusätzlich zu den optischen Schlüsselkomponenten, auf die das Licht entlang
der Sehachse trifft, enthält das Auge noch andere Komponenten, die wir kennen-
lernen wollen. Wie in Abb. 7.1 zu sehen, ist das Auge mit einer zähen weißen
Schicht umhüllt, der Lederhaut (Sklera), die eine äußere feste Hülle des Augapfels
aus derbem Bindegewebe darstellt. Innerhalb der Lederhaut liegt die Aderhaut,
die ungefähr 4/5 des Auges zur Rückseite hin bedeckt und die die meisten der
Blutgefäße enthält, über die das Auge ernährt wird. Noch weiter zum Inneren
des Auges hin liegt die Netzhaut, auf der wir die Stäbchen und Zapfen finden.
Im Zentrum des gelben Flecks (Macula), schläfenwärts des Sehnervenkopfes, liegt
die Netzhautgrube (Fovea centralis), das Gebiet der größten Sehschärfe.
Wenn es notwendig ist, dass man etwas sehr scharf und detailliert betrachtet
– z.B. wenn man einen kleinen Splitter mit einer Nadel entfernt –, so bewegt
sich das Auge kontinuierlich, so dass das Licht, das von dem abzubildenden Ge-
genstand kommt, präzise auf die Netzhautgrube fällt, ein stäbchenfreies Gebiet
von ungefähr 200 µm Durchmesser. Im Gegensatz hierzu ist ein anderes kleines
Gebiet der Netzhaut, das am Austrittspunkt des Sehnervs liegt, vollkommen un-
empfindlich für Licht. Dieser Fleck, der keinerlei Photorezeptoren aufweist, wird
deshalb blinder Fleck genannt.
7.2 Das Auge als optisches Instrument

Wie wir schon gesehen haben, ist das normale biologische Auge von kugelförmiger
Gestalt, wobei die Entfernung von der Hornhaut zur Netzhaut ca. 22 mm beträgt.
Die optischen Oberflächen, die im Wesentlichen zum Brechwert des Auges
beitragen, sind:
1. die Grenzfläche zwischen Luft und Hornhaut (größter Brechwert),
2. die Grenzfläche zwischen Vorderkammerflüssigkeit und Linse und
3. die Grenzfläche zwischen Linse und Glaskörper.
Zusammengefasst kann man das Auge recht einfach als dünne Positivlinse dar-
stellen, die eine äquivalente Bildbrennweite von 17 mm in Luft im entspannten
Zustand (auf unendlich eingestellt) oder die Bildbrennweite 14 mm in Luft im
7.2 Das Auge als optisches Instrument 209
angespannten Zustand (Nahsehen) aufweist. Im Bemühen, die optischen Eigen-

schaften des Auges klarer darzustellen, hat man optische Augenmodelle entwi-
ckelt.
Ein Augenmodell (nach H. v. Helmholtz und L. Laurance) ist in Abb. 7.2
gezeigt. Das Augenmodell stellt den entspannten Zustand des Auges dar. Für
das angespannte Auge ändert sich der Krümmungsradius der Linsenvorderfläche
von r = 10 mm auf r = 5,3 mm. In Verbindung mit Abb. 7.2 gibt Tabelle 7.1 die
wichtigen optischen Grenzflächen an. Sie weist auf deren Entfernung vom Scheitel
der Hornhaut auf der optischen Achse, Krümmungsradien, Brechzahlen und die
Brechwerte der optischen Oberflächen von Hornhaut und Linse hin. Wir sehen,
dass die Werte der Brechzahlen für unterschiedliche Teile des Auges wie auch die
Krümmungsradien der Oberflächen nicht mit den Werten des biologischen Auges
selbst übereinstimmen.
Abb. 7.2. Darstellung des Augenmodelles nach v. Helmholtz, modifiziert durch Lau-
rance. Die Definition der Symbole ist in Tabelle 7.1 angegeben
Tabelle 7.1. Konstanten des Augenmodelles
Optische Definition Entfernung Krümmungs- Brechzahl Brechwert

Oberfläche oder des Symbols vom Scheitel radius der /dpt
Element der Oberfläche
Hornhaut /mm
/mm
Hornhautscheitel S1 – +8∗ – +41,6
Linse (Einheit) L – – 1,45 +30,5
∗∗
Frontflächen- S2 +3,6 +10 – +12,3
scheitel
Rückwärtiger S3 +7,2 -6 – +20,5
Flächenscheitel
Auge (Einheit) – – – – +66,6
Objektseitiger F -13,04 – – –
Brennpunkt
Bildseitiger F +22,38 – – –
Brennpunkt
Objektseitiger H +1,96 – – –
Hauptpunkt
Bildseitiger H +2,38 – – –
Hauptpunkt
Objektseitiger K +6,96 – – –
Knotenpunkt
Bildseitiger K +7,38 – – –
Knotenpunkt
Vorderkammer VK – – 1,333 –
Glaskörper HK – – 1,333 –
(Hinterkammer)
Eingangspupille EP +3,04 – – –
Austrittspupille AP +3,72 – – –
∗
Die Hornhaut ist unendlich dünn angenommen
∗∗
Wert für das entspannte Auge. Für das vollständig akkomodierte Auge wird der
Krümmungsradius der Frontfläche 5 mm
7.3 Funktion des Auges 211
7.3 Funktion des Auges

Das Auge soll ein Abbild eines Objektes oder einer Szene auf der Retina erzeu-
gen. Dies muss für weit entfernte oder nahe Gegenstände genauso wie in sehr
hellem oder in schwachem Licht möglich sein. Um diesen Anforderungen gerecht
zu werden, muss das Auge spezielle Funktionen aufweisen.
Das Auge akkommodiert, um nahe oder weit entfernte Objekte zu sehen. Das
Auge adaptiert, um Lichtsignale unterschiedlicher Helligkeit zu verarbeiten.
Durch das räumliche Sehen kann die dreidimensionale Orientierung im Raum

erfolgen. Die Sehschärfe des Auges bestimmt, ob es ein getreues, detailliertes
Bild eines externen Objektes erzeugen wird. Im Folgenden diskutieren wir jede
dieser Funktionen ausführlich.
Akkommodation
Das Auge akkommodiert abhängig von der Entfernung eines Gegenstandes vom
Auge, um ein scharfes Bild auf der Netzhaut (Retina) zu erzeugen. Bei einem
entfernten Gegenstand entspannt sich der Ziliarmuskel (Ringmuskel weitet sich),
der um die Linse herum angeordnet ist, und die Linse nimmt eine flache Form
an, wobei der Krümmungsradius der Linsenflächen r1 = 10 mm und r2 = −6 mm
beträgt. Wenn sich der Gegenstand näher zum Auge befindet, so zieht sich der
Ziliarmuskel zusammen und die (jugendliche) Linse strebt (aufgrund ihrer Ei-
genelastizität) zur Kugelform hin. Dies führt zu kleineren Krümmungsradien
(r1 = 5,3 mm und r2 = −5,3 mm) und einer kürzeren Brennweite. Dies erhöht den
Brechwert der Linse und damit können nahe Objekte scharf abgebildet werden.
Beim normalen Auge – bevor der normale Alterungsprozess der Linse ihre Elas-
tizität und die Fähigkeit, sich zu verformen, raubt – sorgt die Akkommodation
für ein getreues Abbild auf der Retina, sowohl für weit entfernte Objekte (im Un-
endlichen) als auch bei nahen Objekten in einem Abstand von ungefähr 25 cm.
Die Grenzeinstellungen der Akkommodationsfähigkeit sind die Fernpunktweite
aR und die Nahpunktweite aP . Tabelle 7.2 zeigt die Verringerung der Akkommo-
dationsfähigkeit (Erhöhung der Nahpunktweite) mit dem Alter (Mittelwerte).
Tabelle 7.2. Verringerung der Akkommodationsfähigkeit mit dem Alter, aR = Fern-

punktweite = −∞, aP = Nahpunktweite, (1/aR − 1/aP ) = Akkommodationsbreite
Alter in Jahren 10 20 30 40 50 60 70 80
aP in cm -7 -9 -12 -21 -60 -120 -120 -120
(1/aR − 1/aP ) in dpt 14,3 11,1 8,3 4,8 1,7 0,8 0,8 0,8
Adaption
Als Adaption bezeichnet man die Fähigkeit des Auges, Lichtsignale zu verar-
beiten, die von sehr schwachem bis zu sehr hellem Licht reichen, einem Bereich
von Strahlungsflüssen, die sich um den erstaunlichen Faktor von ungefähr 109
(10−16 W = ˆ 500 Photonen/s bis 10−7 W) unterscheiden. Der Lichtstrom (Photo-
nenstrom), der in das Auge eintritt, wird zunächst durch die Iris mit ihrer ein-
stellbaren Apertur, der Pupille, geregelt. Der große Bereich von Lichtströmen,
der durch das Auge verarbeitet wird, kann nicht allein durch die Veränderung
des Pupillendurchmessers (von 8 mm bis zu 2 mm; dies entspricht einem Fak-
tor 16 im Lichtstrom) erreicht werden. Vielmehr sind Photorezeptoren in der
Netzhaut, Stäbchen und Zapfen, und ihre spezifische Empfindlichkeit für Licht
für die bemerkenswerte Adaption des Auges verantwortlich. Die Schlüsselkom-
ponenten sind Pigmente, die in den Stäbchen und in den Zapfen enthalten sind.
Die Stäbchen, die für das Dämmerungssehen verantwortlich sind, enthalten ein
Pigment, das Sehpurpur genannt wird. Die Zapfen sind für Lichtsignale hoher
Intensität und für verschiedene Farben empfindlich. Sie enthalten drei verschie-
dene Sorten von Sehpigmenten, die rot-, grün- und blauempfindlich sind. Die
zahlreichen dünnen Stäbchen (Gesamtzahl ca. 1,3 · 108 , Durchmesser ca. 2 µm)
sind zusammengefasst mit einer Nervenfaser verbunden. Dies ermöglicht es, dass
eines von hundert Stäbchen eine einzelne Nervenfaser aktiviert. Die weniger zahl-
reichen und größeren Zapfen (Gesamtzahl ca. 7 · 106 , Durchmesser ca. 4 µm), die
im Gebiet der Macula (gelber Fleck) angeordnet sind, sind einzeln mit einer
Nervenfaser verbunden und wirken deshalb für sich alleine. Die Aktivierung der
Nervenfasern – der zentrale Prozess beim Sehen – hängt von chemischen Verände-
rungen, die im Sehpigment stattfinden, ab. Wenn Licht auf die Photorezeptoren
fällt, wird das Sehpigment ausgebleicht.
Die Änderung im Zustand des Sehpigmentes in den Stäbchen oder Zapfen er-
gibt ein elektrisches Ausgangssignal bzw. eine Nervenpulsrate. Diese elektrischen
Impulse werden über den Sehnerv ins Gehirn übertragen. Wenn der Sehpurpur
vollkommen ausgebleicht ist, werden die Photorezeptoren für weitere Lichtsigna-
le unempfindlich. Dann muss zunächst eine Regeneration des Pigmentes in den
Stäbchen erfolgen, bevor sie wieder empfindlich werden. Das Sehpigment der
Stäbchen ist viel empfindlicher für Licht als eines der drei Pigmente in den Zap-
fen. Die Änderung vom Dämmerungssehen zum Sehen bei intensivem Licht be-
steht in dem Prozess der Adaption, bei dem die Stäbchenpigmente ausbleichen
und damit die Stäbchenrezeptoren unempfindlich werden.
Das helle Licht wird dann von den weniger empfindlichen Zapfen weiter ver-
arbeitet. Im Gegensatz dazu beinhaltet die Adaption von intensivem hellen Licht
zu schwachem Licht die Regeneration des Pigmentes in den Stäbchen und die
Wiederherstellung des Nachtsehens. Das Stäbchensehen ist wirksam bei Inten-
sitäten, die von Sternenlicht einer klaren, mondlosen Nacht bis zu Licht der Inten-
sität des Viertelmondes reichen. Das Zapfensehen (die Stäbchen sind vollständig
ausgebleicht und nicht mehr wirksam) reicht von Lichtintensitäten der Dämme-
rung bis zum hellsten Sonnenlicht. Im Zwischenbereich zwischen Viertelmond
und Dämmerung sind sowohl Stäbchen als auch Zapfen aktiv.
Räumliches Sehen
Die Fähigkeit, die Tiefe oder Position von Gegenständen im dreidimensionalen

Raum abzuschätzen, nennt man stereoskopisches Sehen. Beim Menschen kommen
die beiden Sehnervstränge von den Augen im Gehirn in der Nähe des optischen
Chiasmas zusammen. Vom optischen Chiasma führen die Nervenfasern, die von
der rechten Hälfte jedes Auges kommen, zur rechten Hirnhälfte. Nervenfasern
aus der linken Hälfte jedes Auges enden in der linken Hälfte des Gehirns. Obwohl
also jede Hälfte des Gehirns ein Bild von beiden Augen erhält, formt das Ge-
hirn daraus ein einziges Bild. Die Verschmelzung dieser beiden getrennten Bilder
durch das Gehirn in ein einziges Bild erlaubt das beidäugige Sehen. Die geringen
Unterschiede zwischen den Bildern des linken und des rechten Auges sind die
Basis des räumlichen Sehens beim Menschen. Es sei hier bemerkt, dass sogar das
einäugige Sehen eine gewisse Tiefenwahrnehmung erlaubt. Dies ist über die Bild-
verarbeitung, die im Gehirn stattfindet (plausible Schlussfolgerungen), möglich,
d.h. man erkennt die Parallaxe, Abschattungen und die besondere Perspektive
vertrauter Objekte, die räumliches Sehen ermöglicht.
Beidäugiges Sehen ohne Doppelsehen erreicht man, wenn die Bilder eines Ob-
jektes auf korrespondierende Punkte jeder Netzhaut der beiden Augen fallen.
Betrachtet man einen Gegenstand oder eine Szene, so bewegen sich die Augäpfel
in der Weise, dass die Bilder auf die Netzhautgrube jedes Auges fallen. Die meis-
ten Menschen sind entweder links- oder rechtsäugig, was bedeutet, dass ein Auge
das andere führt. Um zu bestimmen, welches das Führungsauge ist, können wir
den folgenden einfachen Test durchführen: Wir halten bei ausgestrecktem Arm
den Daumen auf Augenhöhe. Wir lassen beide Augen geöffnet und richten den
Daumen als Visierpunkt so aus, dass er vor der senkrechten Kante eines Bil-
des, einer Tür, eines Fensters oder eines anderen Gegenstandes im Raum liegt.
Wir lassen Arm und Daumen in dieser festen Position und schliessen jeweils ein
Auge und halten das andere offen. Das Führungsauge ist das Auge, für das in
geöffnetem Zustand der Daumen auf der Visierlinie zum Referenzgegenstand hin
bleibt.
Sehschärfe
Die Sehschärfe beschreibt die Fähigkeit, Gegenstände exakt (originalgetreu) zu

sehen. Diese Fähigkeit hängt direkt vom Auflösungsvermögen ab. Man definiert
das Auflösungsvermögen des Auges als das Reziproke des minimalen Sehwinkels
wmin , unter dem zwei Linien oder Punkte noch als getrennt erkannt werden.
Das Auflösungsvermögen hängt auch von der Gestalt der Objekte, dem Kon-
trast und der Beleuchtung ab. Im Normalfall werden zwei Punkte, die 75 µm
voneinander entfernt sind, aus einem Abstand von 250 mm noch als getrennt er-
kannt. Dies entspricht ca. 4 Winkelminuten (4 ). In der Ferne sind es 0,5 bis
1 . Bei der Betrachtung von Nonien (Linien), z.B. auf einer Schieblehre, kann
man noch ca. 6 bis 12 µm Unterschied in der Position der beiden Striche aus ei-
nem Abstand von 250 mm erkennen, das entspricht ca. 5 bis 10 Winkelsekunden
(5 − 10 ). Das Auflösungsvermögen hängt von der Form des Objektes ab, weil
hierbei der Aufbau der Netzhaut (Mosaik) und die Bildverarbeitung des Gehirns
mitwirken.
Im Allgemeinen kann man sehr gut Asymmetrien feststellen, z.B. ob zwei
Kreise konzentrisch oder nicht konzentrisch sind. Das Auflösungsvermögen des
Auges oder die Sehschärfe lässt sich auf eine weitere Weise messen. Den kleinsten
Winkel, der durch Blockbuchstaben dargestellt wird, die von einer Tafel gele-
sen werden können, bezeichnet man als minimal lesbar“. Da die meisten von
”
uns sich irgendwann einem Sehtest mit Hilfe von Sehtafeln unterziehen muss-
ten, beschränken wir die Diskussion der Sehschärfe hier auf die Bestimmung des
Auflösungsvermögens aus den minimal lesbaren Prüfzeichen (Optotypen) auf
Sehtafeln.
Die Bestimmung der Sehschärfe wird nach der deutschen Fassung der Inter-
nationalen Normen DIN EN ISO 8596 und 8597 durchgeführt (s. Deutsche Oph-
thalmologische Gesellschaft, www.dog.org/publikationen-sinnesphysiologie
/quasiko kapitel1 102003.pdf). Der Teil 3 der DIN 58220 gilt weiterhin für
die gutachterliche Sehschärfebestimmung bei Fernblick. Das Normsehzeichen ist
ausschließlich der Landolt-Ring in 8 Winkelstellungen. Die Leuchtdichte der Seh-
zeichen, des Prüffeldes, die Schärfe der Zeichen, die Abstände der Zeichen von-
einander und vom Rand des Prüffeldes, die Anzahl der Landoltringe mit geraden
und schrägen Öffnungen und die Prüfentfernungen sind festgelegt. Der Kehr-
wert der schmalsten Öffnung im Landolt-Ring (gemessen in Bogenminuten des
Sehwinkels), welche der Proband noch zweifelsfrei erkennen kann, ergibt den Zah-
lenwert der Sehschärfe (Visus). Menschen mit normalem Sehvermögen können im
Durchschnitt noch Öffnungen, die bei gegebener Sehweite einem Sehwinkel von
1 entsprechen, erkennen. Dies entspricht der Beobachtung einer Öffnung von
1,46 mm aus 5 m Abstand und wird als ein Visus von 1 oder 100% definiert. Eine
Person, die die Öffnung nur unter einem Sehwinkel von 2 (1,46 mm aus 2,5 m
Abstand) erkennen kann, hat einen Visus von 0,5 oder 50%. Abbildung 7.3 zeigt
den normierten Landolt-Ring (Strichstärke d, Öffnung d und Durchmesser 5d).
Die historische Sehtafel wurde von dem holländischen Augenarzt Hermann
Snellen entwickelt. Nach Snellen sind die Buchstaben auf dieser so konstruiert,
dass die Blockgröße eines Buchstabens, gemessen von oben nach unten oder von
Seite zu Seite aus der Testentfernung unter einem Winkel von 5 gesehen wird. Die
Linien innerhalb eines Buchstabens, so z.B. der vertikale Strich in dem Buchsta-
ben T oder der horizontale Strich in dem Buchstaben H, sind alle so konstruiert,
dass die Breite jedes Striches aus der Testentfernung unter einem Winkel von
1 gesehen wird. Diese beiden Winkelwerte entnahm Snellen aus den Daten, die
für die Strichauflösung“ des Auges gelten. Nach Snellen kann das normale“
” ”
Auge gerade noch einen Buchstaben unter einem Sehwinkel von 5 aus einer Ent-
fernung von 6 m auflösen (s. hierzu Abb. 7.4). In diesem Fall wird das Auge
als normal“ bezeichnet, und die Sehschärfe (Visus, Norm-Fernvisus) beträgt
”
VF = 6 m/6 m = 100%.
Abb. 7.3. 3 Landolt-Ring mit Strichstärke d
Auf der Sehtafel werden Snellen-Buchstaben verschiedener Größe benutzt, die

der Messung der Sehschärfe dienen. Ein sehr großer Buchstabe ist für ein normal-
sichtiges Auge unter einem Winkel von 5 bzw. 1 (Buchstabendetail) aus einer
Testentfernung von z.B. 9 m lesbar. Die Größe anderer Buchstaben wird propor-
tional zur Testentfernung gewählt. Sie erscheinen dann unter den Sehwinkeln von
5 bzw. 1 für andere ausgewählte Entfernungen, wie z.B. 60 m, 30 m, 24 m usw.
bis zu 3 m. Wenn die Buchstaben von einer Testperson aus einer Testentfernung
von 6 m (auch 5 m-Sehtafeln sind gebräuchlich) gelesen werden, so misst man
die Sehschärfe in Einheiten der Snellen-Brüche. Der Zähler des Snellen-Bruches
bedeutet die festgelegte Testentfernung und der Nenner die Normentfernung,
bei der der Buchstabe unter einem Winkel von 5 erscheint. Ist z.B. der große
Blockbuchstabe E, der unter einem Winkel von 5 in einer Entfernung von 90 m
erscheint, für eine Testperson in 6 m Entfernung von dem Buchstaben gerade
lesbar, so bezeichnet man die Sehschärfe als 6 m/90 m. Ein Snellen-Bruch von
6 m/90 m bedeutet, dass die Testperson schlecht sieht, da sie nur aus der kleinen
Entfernung von 6 m das lesen kann, was eine normalsichtige Person aus einer
Entfernung von 90 m scharf sieht. Die normale, durchschnittliche Sehschärfe ist
VF =6 m/6 m = 1,0 (100%), aber Sehschärfen von VF = 7,5 m/6 m = 1,25 (125%)
sind möglich.
Abb. 7.4. Konstruktion des Buchstabens H für die Snellensche Sehtafel zur Messung
der Sehschärfe. Der obere Teil der Abbildung zeigt einen Teil einer Sehtafel, die den
Buchstaben H und einige andere Buchstaben enthält
7.4 Augenfehler und ihre Korrektur
Die paraxialen Abbildungsfehler bei der Lichtbrechung durch das Auge

führen zu drei gut bekannten Anomalien beim Sehen: Kurzsichtigkeit (My-
opie), Übersichtigkeit (Hyperopie, Weitsichtigkeit) und Astigmatismus.
Die beiden ersten Defekte sind in der Regel auf einen abnorm geformten Aug-
apfel zurückzuführen, der in der axialen Richtung zu lang oder zu kurz ist. Jede
Abweichung von der normalen Länge bewirkt, dass die kombinierten brechenden
Elemente, Hornhaut und Linse, kein scharfes Bild des Objektes auf der Netzhaut
für weit entfernte oder nahe Gegenstände erzeugen können. Astigmatismus, der
dritte Defekt, rührt von einer größeren ungleichmäßigen oder asymmetrischen
Krümmung von brechenden Flächen des Auges, oftmals der Hornhautoberfläche,
her. Der Astigmatismus ist auch beim normalsichtigen Auge bereits in leichter
Form vorhanden. Dies macht eine gleichzeitige scharfe Abbildung von Lichtstrah-
len, die auf das ganze Auge fallen, unmöglich. Die Augenfehler treten einzeln oder
auch in der Kombination mit Astigmatismus auf, sie sind jedoch durch entspre-
chende äußere optische Elemente (Brille oder Kontaktlinsen) korrigierbar.
7.4 Augenfehler und ihre Korrektur
Abb. 7.5. Vergleich des normalsichtigen und kurzsichtigen Auges und optische Korrektur. In der Abbildung ist die Brechung
durch die Augenlinse nicht gezeigt. Die Abkürzungen haben folgende Bedeutung: N.N.P. = normaler Nahpunkt; M.N.P. = myoper
Nahpunkt; M.F.P. = myoper Fernpunkt
217
Zur Beurteilung der Abweichung einer Fehlsichtigkeit von der Norm beziehen
wir uns auf das normale“ Auge, das im linken Teil der Abb. 7.5 dargestellt ist.
”
Durch die Akkommodation kann das normalsichtige Auge ein scharfes Abbild
von Gegenständen erzeugen, die zwischen der Fernpunktweite aR , normalerweise
aR = −∞ (vgl. Abb. 7.5 a) und der Nahpunktweite aP , normalerweise aP =
−25 cm, für einen jungen Erwachsenen liegen. Wenn das normale Auge auf das
Unendliche fokussiert ist (entfernte Gegenstände), so tritt paralleles Licht in das
entspannte Auge ein und erzeugt ein scharfes Bild (s. Abb. 7.5 a). Wenn das Auge
auf den Nahpunkt fokussiert ist, trifft divergentes Licht auf das angespannte Auge
(vollständig akkommodiert) und erzeugt ein scharfes Bild auf der Netzhaut (s.
Abb. 7.5 b).
Kurzsichtigkeit (Myopie)
Verglichen mit einem normalsichtigen Auge ist ein myopes oder kurzsichtiges
Auge gewöhnlich in axialer Richtung länger, als die normale Länge von 22 mm.
Als Folge hiervon (s. Abb. 7.5 c) erzeugt das kurzsichtige Auge ein scharfes Bild
eines entfernten Objektes, das vor der Netzhaut liegt, und damit natürlich auf
der Netzhaut ein unscharfes Bild. Mit dem nicht akkommodierten kurzsichtigen
Auge werden erst dann scharfe Netzhautbilder erzeugt, wenn das Objekt vom Un-
endlichen aus die myope Fernpunktweite erreicht hat. Dies ist die größte Weite,
für die scharfes Sehen (Abb. 7.5 d) möglich ist. Das myope Auge kann für kleinere
Gegenstandsweiten als die Fernpunktweite durch Akkommodation scharf sehen,
sogar für Punkte, die näher als der normale Nahpunkt (s. Abb. 7.5 e) sind. Da die
Winkelvergrößerung mit der Nähe zum Auge hin zunimmt, hat das myope Auge
den Vorteil überlegener Vergrößerung für Objekte, die nahe an das Auge gehalten
werden. (Es kann daher für einen Uhrmacher von Vorteil sein, wenn er kurzsichtig
ist, zumindest während der Arbeitsstunden.) Eine kurzsichtige Person hat einen
kleineren Akkommodationsbereich (s. Tab.7.2) und im Vergleich mit einer nor-
malsichtigen Person einen näheren Fernpunkt und einen näheren Nahpunkt. Die
veränderte Lage des Nahpunktes ist sicherlich ein Vorteil, der zu nahe liegende
Fernpunkt ist jedoch ein entscheidender Nachteil und muss korrigiert werden.
Die Kurzsichtigkeit wird durch Brillen mit Negativlinsen (Zerstreuungslinsen)
korrigiert, die den myopen Fernpunkt in die normale Position (a = ∞) bringen.
Abbildung 7.5 f zeigt die korrigierte Sicht von weit entfernten Gegenständen.
Wir erkennen, dass, soweit es die Optik des Auges selbst betrifft, das Licht von
entfernten Objekten von dem eigenen myopen Fernpunkt auszugehen scheint.
In ähnlicher Weise illustriert die Abb. 7.5 g die korrigierte Nahsicht für partielle
Akkommodation.
Um einen Eindruck vom Brechwert der Negativlinsen zu bekommen, die man
benötigt, um Kurzsichtigkeit zu korrigieren, betrachten wir das folgende Beispiel:
7.4 Augenfehler und ihre Korrektur 219
Beispiel 7.1 Brille zur Korrektur der Kurzsichtigkeit

Eine kurzsichtige Person (ohne Astigmatismus) hat eine Fernpunktweite von
aR = −100 cm und eine Nahpunktweite von aP = −15 cm.
1. Welche Korrekturlinsen sollte ein Augenarzt verschreiben oder ein Augen-
optiker anpassen, um den myopen Fernpunkt ins Unendliche zu verschie-
ben?
2. Kann die kurzsichtige Person mit dieser Korrektur ein Buch, das am nor-
malen Nahpunkt mit aP = −25 cm gehalten wird, gut lesen?
Lösung
1. Aus der Abb. 7.5 f und der Gleichung für die dünne Linse erhalten wir
mit a → −∞ und a = −100 cm
1 1 1 1 1 1
− = oder − =
a a f −100 cm ∞ f
Dies ergibt f = −100 cm. Die Linsen der Brille sollten deshalb eine
Bildbrennweite von f = −100 cm haben. Der Augenarzt würde eine
Brille mit einer Korrektur von −1,00 Dioptrien verschreiben.
2. Aus der Abb. 7.5 g und der Abbildungsleichung für die dünne Linse mit
f = −100 cm und a = −25 cm erhalten wir die Bildweite a :
1 1 1

− =
a −25 cm −100 cm
Dies ergibt a = −20 cm. Wir sehen, dass das virtuelle Bild eines
Gegenstandes, der bei a = −25 cm gehalten wird, durch die Brille in
einem Abstand von 20 cm vor dem Auge erzeugt wird. Da die
kurzsichtige Person Gegenstände bis zu einer Entfernung von
a = −15 cm vom Auge scharf sehen kann, ist das virtuelle Bild des
Gegenstandes, das durch die Linse bei a = −20 cm Entfernung erzeugt
wird, ohne Schwierigkeiten zu sehen.
Tatsächlich können wir aus der Abbildungsgleichung mit a = −15 cm
(myope Nahpunktweite einer Person) und f = −100 cm die Objektweite
a = −17,6 cm berechnen. Dies bedeutet, dass die kurzsichtige Person mit
Brille selbst Objekte in einer Entfernung von 17,6 cm noch scharf sehen
kann.
Übersichtigkeit (Hyperopie, Weitsichtigkeit)
Das übersichtige oder hyperope Auge ist gewöhnlich kürzer als das normalsich-
tige Auge. Während das myope Auge zu viel Konvergenz in seinem optischen
System hat und deswegen eine Zerstreuungslinse zur Korrektur der zu starken
Brechung benötigt, hat das hyperope Auge eine zu geringe Konvergenz und er-
fordert eine Sammellinse, um die Brechung zu verstärken. Analog zu Abb. 7.5
zeigt Abb. 7.6 die Defekte und die Korrektur, die für das weitsichtige Auge auf-
treten. In Abb. 7.6 a sehen wir das Licht von einem entfernten Objekt, das in
das entspannte Auge eintritt und hinter der Netzhaut fokussiert wird, was ein
verschwommenes Bild auf der Netzhaut ergibt. Abbildung 7.6 b zeigt, dass das
hyperope Auge so akkommodieren kann, dass entfernte Gegenstände scharf ge-
sehen werden. In Abb. 7.6 c erkennt man, dass der hyperope Nahpunkt weiter
entfernt als der normale Nahpunkt entfernt ist. Daraus ergibt sich, dass Ge-
genstände, die näher sind als der hyperope Nahpunkt, sogar bei voller Akkom-
modation nicht mehr scharf auf die Netzhaut abgebildet werden können. Die
Korrekturmaßnahme durch die Brille mit Positivlinsen ist in den Abb. 7.6 d und
7.6 e gezeigt. Das korrigierte Auge sieht jetzt entfernte Objekte ohne Akkommo-
dation deutlicher und am normalen Nahpunkt befindliche Gegenstände sind bei
voller Akkommodation ebenfalls scharf abgebildet.
Wir wollen nun sehen, wie ein Augenarzt die Brechwerte der Brillenlinsen zur
Korrektur der Übersichtigkeit ermitteln könnte.
Beispiel 7.2 Brille zur Korrektur der Übersichtigkeit
Die Nahpunktweite einer übersichtigen Person wird zu aP,H = −150 cm be-
stimmt. Welche Korrekturlinsen werden benötigt, damit diese Person Ge-
genstände in der normalen Nahpunktweite (aP = 25 cm) scharf erkennen
kann?
Lösung
Aus Abb. 7.6 e und der Gleichung der dünnen Linse mit a = −25 cm und
a = −150 cm kann man die Bildbrennweite der Linse bestimmen:
1 1 1
− =
−150 cm −25 cm f
Die Berechnung ergibt f = 30 cm und hieraus den Brechwert
D = 1/f = 3,3 m−1 . Mit einer Brille dieser Stärke kann die weitsichtige
Person nun auch Objekte in -25 cm Abstand vom Auge scharf sehen.
Astigmatismus
Das astigmatische Auge hat in unterschiedlichen Meridianen eine ungleiche

Krümmung der Oberflächen der brechenden Elemente, überwiegend der Horn-
haut. Der Krümmungsradius der Hornhautoberfläche in zwei Ebenen, die die
optische Achse enthalten, ist verschieden. Diese Asymmetrie führt zu verschie-
denen Brechwerten und folglich zur Fokussierung des Lichtes in verschiedenen
Entfernungen von der Netzhaut, dies bedeutet eine verschwommene Abbildung.
7.4 Augenfehler und ihre Korrektur 221
Abb. 7.6. Fehlfunktion des übersichtigen Auges und optische Korrektur. In der Ab-
bildung ist die Brechung durch die Augenlinse nicht gezeigt. Die Abkürzungen haben
folgende Bedeutung: H.N.P. = hyperoper Nahpunkt, N.N.P. = normaler Nahpunkt
Wenn die zwei Ebenen orthogonal zueinander sind, so nennt man diesen
Defekt regulären Astigmatismus, eine Fehlsichtigkeit, die durch geeignete Brillen
korrigiert werden kann. Wenn die beiden Ebenen nicht orthogonal sind, eine sel-
tene Fehlsichtigkeit, die man irregulären Astigmatismus nennt, ist diese Anomalie
nicht einfach zu korrigieren. Der reguläre Astigmatismus wird durch das Anbrin-
gen eines Zylinderschliffs auf der rückseitigen Fläche der entsprechenden Brillen-
linse korrigiert. Nehmen wir z.B. an, dass der Brechwert in der vertikalen Ebene
der Hornhaut um 1 Dioptrie größer ist als der Brechwert in der horizontalen Ebe-
ne. Dies bedeutet, dass die Hornhautoberfläche stärker in der vertikalen Ebene
gekrümmt ist und dass vertikal orientierte Details eines Objektes näher an der
Hornhaut fokussiert werden als horizontal orientierte.
Betrachten wir eine zylindrische Oberfläche mit einem Brechwert von −1 Diop-
trie in der vertikalen“ Ebene. Da ein Zylinder keine Krümmung in Achsenrich-
”
tung hat, weist diese Oberfläche keinen Brechwert in der horizontalen Ebene
auf. Wenn man eine solche Oberfläche bei der Brillenlinse verwendete wird die-
se Linse die Fehlsichtigkeit, die durch die Hornhaut erzeugt wird, kompensieren
und die Brechwerte in beiden Ebenen angleichen. Der korrigierte Astigmatis-
mus erzeugt eine anamorphotische Abbildung 1 . Für die meisten von uns tritt
Sehunschärfe durch Astigmatismus zusammen mit Kurzsichtigkeit oder Übersich-
tigkeit auf. Die Kurzsichtigkeit selbst bewirkt ein unscharfes Bild von entfernten
Objekten. Der Astigmatismus verstärkt das Problem, indem er eine zusätzliche
Unschärfe in einer Ebene hinzufügt. Die Korrektur beider Fehlsichtigkeiten wird
durch sphärisch/zylindrische Linsen bewirkt. Die sphärische Oberfläche dient zur
Korrektur der Kurzsichtigkeit und die zylindrische zur Korrektur des Astigma-
tismus.
Wenn Augenärzte eine Brille zur Korrektur des myopen oder hyperopen Astig-
matismus verschreiben, geben sie in der Regel drei Zahlen an. Für den myopen
Astigmatismus könnten die drei Zahlen wie folgt lauten:
−2,00; −1,00; 180◦ .

Für den hyperopen Astigmatismus könnte die Brillenverschreibung so aussehen:
+2,00; −1,50; 180◦ .
Die erste Zahl bezeichnet den Brechwert der Kugelfläche in den Einheiten dpt
(m−1 ), die zweite Zahl den Brechwert der Zylinderfläche in dpt und die dritte
Zahl die Orientierung der Zylinderachse, wobei spezifiziert wird, ob die Achse des
Zylinders vertikal, horizontal oder dazwischen liegt. In der optometrischen Nota-
tion wird die horizontale Achse als 180◦ -Achse bezeichnet, oder einfach 180◦“
”
und die vertikale Achse als 90◦“.
”
Abbildung 7.7 zeigt die optischen Bedingungen, die zu den Verschreibun-
gen für den myopen und hyperopen Astigmatismus gehören. Für den Fall des
myopen Astigmatismus, Abb. 7.7 a, ist die Hornhautoberfläche offensichtlich we-
niger stark in der horizontalen Ebene (Brechwert = 45,00 dpt) gekrümmt als in
der vertikalen (Brechwert = 46,00 dpt). Die myope Korrektur, die immer in der
Ebene des kleinsten Brechwertes gemessen wird, beträgt in diesem Fall -2,00 dpt
in der horizontalen Ebene. Die astigmatische Korrektur durch einen Zylinder mit
horizontaler Achse (180◦ ) wird zu -1,00 dpt bestimmt.
Abbildung 7.7 b zeigt die entsprechende Verschreibung für den hyperopen
Astigmatismus. Wir sehen, dass eine sphärische Korrektur von 2,00 dpt benötigt
wird, um die Hyperopie zu beseitigen und eine zylindrische Korrektur von
−1,50 dpt entlang der vertikalen Ebene (180◦ ) eingesetzt wird, um die Brechwerte
in den beiden orthogonalen Ebenen anzugleichen.
1
Bei der anamorphotischen Abbildung fallen die bildseitigen Brennweiten zusammen.
Die Brennweiten und damit die Lagen der Hauptebenen, sowie die Abbildungs-
maßstäbe in Meridional- und Sagittalschnitt sind verschieden
7.5 Lasertherapie 223
Abb. 7.7. Beispiel für myopen und hyperopen Astigmatismus und die korrigierenden
Brillenverschreibungen. a) Messung in der 180◦ -Ebene ergibt −2,00 dpt Myopie. Die
Brillenverschreibung ist −2,00; −1,00; 180◦ . b) Messung in der 180◦ -Meridianebene er-
gibt +2,00 dpt Hyperopie. Die Brillenverschreibung ist +2,00 −1,50; 180◦ . Wenn der
entsprechende Zylinderschliff auf der Rückseite des Brillenglases angebracht wird, redu-
ziert die Korrektur von −1,00 dpt den Brechwert in der vertikalen Ebene von 46,00 dpt
auf 45,00 dpt, macht deshalb die Brechwerte in den beiden Ebenen gleich und beseitigt
den Hornhaut-Astigmatismus
7.5 Lasertherapie
Nicht alle Fehlsichtigkeiten können mit den geeigneten Brillengläsern optisch kor-
rigiert werden. Es gibt organische Defekte, die sogar eine Operation erfordern.
Als ausgezeichnetes Hilfsmittel im Operationsraum hat sich der Laser (s. Kap.
21, 23) bewährt und er wird bei der Behandlung von Augendefekten erfolgreich
eingesetzt.
Gepulste und kontinuierliche Laserstrahlen werden zur Zeit verwendet, um
Glaukome (grüner Star), Netzhautblutungen, Degenerationen der Macula (gel-
ber Fleck auf Netzhaut), Netzhautdefekte und trübe intraokulare Membranen zu
behandeln. Der grüne Star, eine Krankheit des Auges, die mit erhöhtem Flüssig-
keitsdruck innerhalb des Auges einhergeht und allmählich zur Blindheit führt,
wird mit dem Argon-Ionenlaser und dem Neodym-Yttrium-Aluminium-Granat-
(Nd:YAG) Laser behandelt. Die Behandlung besteht in der Reparatur der Defekte
im Auge, die den erhöhten Druck verursachen.
Man benutzt den Laser, um verstopfte Öffnungen zu öffnen oder um neue
Kanäle für besseren Flüssigkeitsaustausch im Auge herzustellen. Der Laser wird
auch für die Behandlung der Retinopathia diabetica, einer Ursache für Blindheit,
eingesetzt. Um die organischen Fehler zu beheben, setzt man die thermische Ener-
gie des Laserstrahls ein, um Tausende von kleinen Brandwunden an der Rückseite
der Netzhaut anzubringen. Man verhindert dadurch das gefährliche Wachstum
oder den Riss von neuen nicht benötigten Blutgefäßen (Neovaskularisation). Man
benutzt die thermische Wirkung des Laserstrahls zur Koagulation der Netzhaut
oder im Bereich von Netzhautlöchern, um eine Netzhautablösung zu verhindern.

Diese Methode war die erste erfolgreiche Anwendung des Lasers in der klinischen
Medizin.
Der Excimer-Laser, der im tiefen Ultraviolett (λ ≈ 200 nm) Strahlung lie-
fert, bietet technische Vorteile, um die Hornhaut in ihrer Form zu verändern,
wie z.B. zur Korrektur der Myopie (radiale Keratotomie). Der Nd:YAG-Laser
wird am häufigsten in der Augentherapie eingesetzt, wobei z.B. interne Mem-
branen zerstört werden. Nach der Operation des grauen Stars – Entfernung der
Katarakt-behafteten Linse und Ersatz durch ein Plastikimplantat – kommt es vor,
dass bestimmte Membranen, die die neue Linse an ihrem Platz halten, undurch-
sichtig werden und damit das Licht entlang der Sehachse blockieren. In einem
Korrekturverfahren wird ein hochenergetischer Laserstrahl auf einen Punkt nahe
der opaken Membran fokussiert. Aufgrund der enormen Leistungsdichten (Inten-
sitäten) im Laserstrahl erfolgt eine Ionisation des optischen Mediums, dem eine
akustische Stoßwelle folgt. Der Überdruck, der hierbei entsteht, zerreißt die Mem-
bran und gestattet den ungehinderten Durchgang des Lichtes, die Sicht ist wieder
hergestellt. Die radiale Keratotomie und die Hinterkammer-Chirurgie werden in
den folgenden Abschnitten ausführlicher behandelt.
Radiale Keratotomie
Bei der radialen Keratotomie führt man radiale Schnitte an der Hornhaut eines
zu großen myopen Augapfels (s. Abb. 7.8) aus. Nachdem die Schnitte verheilt
sind, wird die Hornhaut flacher. Hierdurch lässt sich wieder normale oder fast
normale Sicht des Auges herstellen. Dieses Verfahren, das nur von einem er-
fahrenen Augenarzt durchgeführt werden kann, wurde 1972 in der Sowjetunion
entdeckt. Man erzählt, dass ein ziemlich kurzsichtiger Sowjetbürger namens Boris
Petrow in eine Keilerei auf einem Schulhof in Moskau verwickelt war. Dabei traf
ein kräftiger Faustschlag seine dicken Brillengläser und zerbrach diese in viele
Teile. Einige dieser Glasstücke ritzten tatsächlich die Hornhaut von Boris in ei-
nem regelmäßigem radialen Muster, ohne jedoch die Hornhaut zu durchdringen.
Der sowjetische Augenarzt N. Fjodorow, der den jungen Mann behandelte, hatte
nicht viel Hoffnung, dass das Auge wieder heilen würde, obwohl die Schnitte nur
oberflächlich waren. Erstaunlicherweise heilte jedoch die Hornhautoberfläche mit
allen Schrammen und wurde dabei flacher, was das Verschwinden der Myopie
bedeutete. Der junge Mann sah ohne Brille besser als jemals zuvor. Fjodorow
erkannte die Bedeutung dessen, was er beobachtete und entschied sich, unter
kontrollierten Bedingungen das zu wiederholen, was die Natur und eine Faust so
unkontrolliert vollbracht hatten. Diese radiale Keratotomie wird nun mit einem
speziellen Skalpell durchgeführt. Die kurzfristigen Resultate waren sehr erfreu-
lich. Ob die Operationen jedoch langfristig erfolgreich sind, muss sich im Laufe
der Zeit erweisen. Es kommt vor, dass statt der Myopie nun Astigmatismus in
verstärkter Form auftritt.
Abb. 7.8. Beseitigung der Myopie durch Änderung der Krümmung der Hornhaut mit-
tels radialer Keratotomie. a) Frontansicht mit radialen Schnitten, b) Seitenansicht vor
und nach den Schnitten
Heute wird bei dieser Methode ein Laser eingesetzt. Da die Hornhaut reichlich
Wasser enthält, hat sie eine sehr große Absorptionskonstante für Infrarotstrah-
lung bei 10,6 µm (CO2 -Laser) und ultraviolette Strahlung unterhalb 400 nm. Ab-
bildung 7.9 gibt die relative Absorption von Laserlicht für einige Wellenlängen
beim Durchgang durch eine Schicht von 1 mm Dicke aus Wasser (gestrichelte
Kurve) oder Hämoglobin (durchgezogene Kurve) an. Wir erkennen, dass bei
10,6 µm der Absorptionsgrad fast 100% beträgt, was bedeutet, dass die CO2 -
Laserstrahlung durch die Hornhaut stark absorbiert wird. Wir sehen auch, dass
die Strahlung des Argonionen-Lasers oder des frequenzverdoppelten Nd:YAG-
Lasers bei λ ≈ 500 nm im Hämoglobin stark absorbiert wird, was diese beiden zu
ausgezeichneten Kandidaten für die Photokoagulation macht. Der Hochleistungs-
Laserstrahl wird fast vollständig durch das Hornhautgewebe absorbiert, kerbt die
Hornhaut und erzeugt einen sauberen Schnitt oder eine trogförmige Mulde, die
ungefähr von der Breite des Laserstrahls ist. Das Laserskalpell“, das bei der ra-
”
dialen Keratotomie benutzt wird, hat eine Breite von 50 bis 100 µm. CO2 -Laser
kann man bis auf 50 µm fokussieren und Excimer-Laser sogar auf noch kleinere
Durchmesser. Abbildung 7.10 zeigt einen histologischen Schnitt (100-fache Ver-
größerung) eines Laserschnittes, der mit einem CO2 -Laser in der Hornhaut eines
Kuhauges durchgeführt wurde. Die mittlere Leistung des Laserstrahles betrug
0,5 W, dieser wurde auf einen Brennfleck von 50 µm fokussiert. In 20 Durchgängen
führte der Laser einen Schnitt von ungefähr 60 µm Breite und 400 µm Tiefe aus.
Abb. 7.9. Absorption des Laserlichtes in Augengewebe. Die prozentuale Absorption

ist für eine Schichtdicke von 1 mm Wasser (gestrichelte Kurve) und 1 mm Hämoglobin
(durchgezogene Kurve) angegeben. Wir erkennen, dass die Hornhaut bei 10,6 µm fast
vollständig undurchlässig und bei 1,06 µm gut durchlässig ist
Wenn man die Breite des Laserstrahles geeignet einstellt und die Strahlleis-
tung kontrolliert, sollte es möglich sein, saubere radiale Schnitte der gewünschten
Breite und Tiefe in der Hornhautoberfläche durchzuführen. Ein solcher Vorgang
ist mittels Mikroprozessoren steuerbar und würde genau die Anzahl und Art der
Schnitte produzieren, die notwendig wären, die Myopie zu beseitigen, ohne einen
Astigmatismus zu erzeugen.
Mit dem Excimer-Laser kann man mittels Laserablation bei geringer ther-
mischer Einwirkung die Hornhaut direkt abtragen. Bei der Ablation wird die
chemische Bindung durch die hohe Energie des Photons (λ ≈ 200 nm) direkt auf-
gebrochen. Das Material wird nicht durch Zufuhr von Wärmeenergie verdampft.
Schwachpunkt der Behandlung ist die genaue Vermessung des Brechwertes des
Auges vor der Operation und die daraus folgende Art und Weise der Formände-
Abb. 7.10. 100 fache Vergrößerung eines Laserschnittes in der Hornhaut eines Kuhau-
ges. Die kleinste Skalenteilung beträgt 5 µm
rung, die durchzuführen ist. Insgesamt gesehen ergibt sich jedoch ein Hoffnungs-
schimmer für Personen mit Kurzsichtigkeit. Vielleicht ist in einigen Jahren eine
permanente Korrektur möglich.
Hinterkammer-Chirurgie
In einem anderen Verfahren, das man Hinterkammer-Chirurgie nennt, wird ein

Nd:YAG-Laser benutzt, um undurchsichtige Membranen auf der optischen Achse
des Auges, die nach einer Star-Operation“ und Ersatz der natürlichen Augenlin-
”
se durch ein Kunststoffimplantat verbleiben können, zu zerreissen. Der gepulste
Nd:YAG-Laser emittiert einen Laserstrahl von λ = 1,06 µm, der durch die Horn-
haut, den Glaskörper und die Linse praktisch ohne Absorption hindurchgeht (s.
Abb. 7.9, geringe Absorption bei 1,06 µm). Der intensive Laserstrahl dringt in
den vorderen Teil des Auges ein und wird unmittelbar hinter der Linse scharf fo-
kussiert, ca. 4 mm von der Frontfläche der Hornhaut entfernt (s. Abb. 7.11). An
dieser Stelle befindet sich die trübe (opake) Membran, der hintere Teil der Kap-
sel, die vorher die trübe Linse enthielt und in dem sich nun eine Kunststofflinse
befindet.
Vor Einsatz der Laserchirurgie wurde die opake Membran mit chirurgischen
Instrumenten entfernt. Zusätzlich zu dem Trauma, das mit der Operation ver-
bunden ist, war diese Art der Chirurgie des Augapfels immer mit dem Risiko
des Eindringens von Fremdkörpern und der erhöhten Gefahr von Infektionen
verbunden. Diese Nachteile vermeidet man bei der Nd:YAG-Laser-Chirurgie, die
ambulant am Patienten in einigen Minuten durchgeführt wird. Die nicht invasive
Laseroperation wurde durch D. Aron-Rosa in Paris und durch F. Frankhauser
in Bern begründet. Die Hinterkammer-Chirurgie, wie sie zur Zeit durchgeführt
wird, benutzt einen fokussierten, kurzen Puls der 1,06 µm Laserstrahlung. Der
Abb. 7.11. Seitenansicht eines Nd:YAG-Laserstrahls, der auf die Linsenkapsel fokus-
siert ist
Puls wird von einem gütegeschalteten Nd:YAG-Laser abgegeben und hat eine
Energie von 1 bis 4 mJ und eine Pulslänge von einigen Nanosekunden. Bei ei-
nem modengekoppelten Laser ist die Pulsenergie ungefähr die gleiche, aber die
Pulslänge ist sehr viel kürzer. Sie liegt ungefähr im Bereich von Picosekunden. Bei
solch kurzen Zeiten erreicht die Laserleistung sogar für Pulsenergien von einigen
mJ den Bereich von Megawatt oder höher.
Beispiel 7.3 Bestrahlungsstärken bei Laseroperationen
Bestimmen Sie die Bestrahlungsstärke Ee (Leistungsdichte), die von einem
Nd:YAG-Laser-Puls der Energie 4 mJ und der Pulslänge 1 ns erzeugt wird,
wenn der Puls auf einen kleinen Fleck von 30 µm Durchmesser fokussiert wird.
Lösung
Die Lösung berechnet sich wie folgt:
P 4 · 10−3 J
Ee = mit P = = 4 · 106 W
A 1 · 10−9 s
πD2 3,14 · (30 · 10−6 )2 m2
A= ≈ = 7,065 · 10−10 m2
4 4
4 · 106 W W
Ee = −10
= 5,7 · 1015 2
7,065 · 10 m 2 m
Das Beispiel zeigt, dass hohe Leistungen, die auf kleine Brennflecke von
5 − 50 µm Durchmesser fokussiert werden, Bestrahlungsstärken oder Leistungs-
dichten von 1016 W/m2 erzeugen. Hierbei treten sehr hohe elektrische Feldstärken
auf, die zunächst einen Durchschlag (Ionisation) im optischen Gewebe und die
Bildung eines Plasmas bewirken. Die explosive Ausdehnung des Plasmas erzeugt
Abb. 7.12. Fokussierung des Laserlichtes zur Zerstörung einer Membran bei der
Linsenkapsel-Chirurgie. Je größer der Konvergenzwinkel des Strahles ist (ca. 17◦ , be-
grenzt durch die Pupillenapertur), desto größer ist der Strahldivergenzwinkel und um
so geringer die Auswirkung der Laserstrahlung auf die Netzhaut. Die Außenbegrenzung
des Laserstrahls verändert sich aufgrund der Beugung (s. Kap. 21)
eine starke Stoßwelle, die radial nach außen läuft und mechanisch die naheliegen-
den Membranen zerreißt. Weder die Laserstrahlung, die auf die Netzhaut trifft,
noch die sich ausdehnende Stoßwelle richtet im Auge Schaden an (s. Abb. 7.12).
Der Laserstrahl, der auf die Fokussierungslinse zuläuft, ist durch vorgeschaltete
Optik so aufgeweitet worden, dass die Strahldivergenz sehr klein ist (der Strahl
ist hochkollimiert, s. Kap. 21). Aufgrund dieser experimentellen Anordnung kon-
vergiert der Strahl in einem Punkt nahe der Membran, wobei er die Stoßwelle
erzeugt, die schließlich zur mechanischen Zerstörung der Membran führt.
Übungen
7.1 Aus Tabelle 7.1 lässt sich entnehmen, dass der Krümmungsradius der Hornhaut des
Auges 8 mm beträgt. Nehmen Sie die Hornhaut als eine dünne Grenzfläche (deren
eigene Brechung vernachlässigt werden kann) an, die auf einer Seite von Luft und
auf der anderen Seite von einem Glaskörper begrenzt wird. Bestimmen Sie den
Brechwert der Hornhautgrenzfläche.
7.2 Betrachten Sie die nicht akkommodierte Linse des Auges als eine isolierte Einheit,
die die Krümmungsradien und Brechzahlen des Prinzipauges“ in Tabelle 7.1 hat.
”
a) Berechnen Sie die Bildbrennweite und den Brechwert für eine dünne Linse (=
Augenlinse) in Luft.
b) Berechnen Sie die Bildbrennweite und den Brechwert für die tatsächliche Umge-
bung der Linse, die auf beiden Seiten von einer Flüssigkeit mit einer Brechzahl
von 1,33 umgeben ist. Rechnen Sie in der Näherung der dünnen Linse.
c) Berechnen Sie die Bildbrennweite und den Brechwert für die Augenlinse, in-
dem Sie diese als dicke Linse der Dicke 3,6 mm behandeln. (Benutzen Sie die
Matrixmethode aus Kap. 4.)
7.3 Entnehmen Sie aus Tabelle 7.1 und Abb. 7.2 die Werte für die Brechzahl und die
Abstände der Elemente des nicht akkommodierten Prinzipauges. Bestimmen Sie
die Entfernung des Bildes von der Hornhaut für:
a) einen Gegenstand im Unendlichen,
b) einen Gegenstand in der Entfernung von a = −25 cm vom Auge.
Berechnen Sie die Abbildung durch sphärische Oberflächen in einer dreistufigen
Kette von Brechungen. Nehmen Sie für den Teil b) dieser Übung an, dass das voll
akkommodierte Auge folgende Daten hat: Die Frontfläche der Linse ist stärker ge-
krümmt, Krümmungsradius +6 mm (statt vorher + 10 mm), die rückwärtige Ober-
fläche behält den Krümmungsradius von −6 mm. Dies bewirkt, dass die Scheiteldi-
cke der Linse auf 4 mm anwächst und die Entfernung von der Hornhaut zur Front-
oberfläche der Linse auf 3,2 mm verkürzt wird.
7.4 Verwenden Sie die Matrixmethode, um die Systemmatrix für das nicht akkommo-
dierte Prinzipauge“ aus Tabelle 7.1 und Abb. 7.2 zu finden.
”
a) Bestimmen Sie die Matrixelemente der Systemmatrix, wobei sich das System
von der ersten brechenden Fläche der Hornhaut bis zur letzten Brechung an
der zweiten Linsenfläche erstreckt.
b) Bestimmen Sie aus den Matrixelementen die objektseitigen und bildseitigen
Brennpunkte und die entsprechenden Hauptpunkte, jeweils relativ zur Horn-
hautoberfläche. Vergleichen Sie das Ergebnis mit den Entfernungen, die in
Abb. 7.2 angegeben sind.
7.5 Stellen Sie eine Snellensche Sehtafel für eine Testentfernung von 1,50 m her. Die
Tafel soll Reihen von Buchstaben enthalten, die Sehschärfen von 6/90, 6/30, 6/18,
6/6 und 6/5 testet. Bestimmen Sie die Größe der Blockbuchstaben und die Breite
der Buchstabenstriche (in cm) für jede Reihe der Buchstaben.
7.6 Eine weitsichtige Person hat keinen astigmatischen Defekt am Auge und eine Nah-
punktweite von aP,W = −125 cm. Die Korrektur durch eine Brille erfordert, dass
diese Person Objekte in der normalen Nahpunktweite aP = −25 cm sieht.
a) Wie groß müssen die Brechwerte der Korrekturlinsen der Brille sein?
b) Kann die Person bei Benutzung der Brille ein weit entferntes Objekt auf die
Netzhaut fokussieren?
7.7 Eine Person hat eine Fernpunktweite von aR = −50 cm und eine Nahpunktweite
von aP = −15 cm. Wie groß muss der Brechwert der Linsen einer Brille sein, um die
korrekte Fernpunktweite zu ergeben? Wo liegt der Nahpunktweite, wenn die Brille
benutzt wird?
7.8 Bestimmen Sie aus Abb. 7.9, welche Laser für folgende Operationen geeignet sind:
a) Photokoagulation von blutenden Gefäßen auf der Netzhaut.
b) Thermisches Schneiden von Hornhautschichten.
c) Fokussierung von Licht im Glaskörper ohne Absorption während des Durch-

gangs durch die Hornhaut, die Linse und die zugehörigen Blutgefäße.
7.9 Entnehmen Sie aus den folgenden Brillenverschreibungen, welche Augenfehler vor-
liegen:
a) −1,5, −1,5, Achse 180◦
b) −2,0
c) +2,0
d) +2,0, −1,5, Achse 180◦
7.10 In Abb. 7.10 ist ein CO2 -Laser gezeigt, mit dem Einschnitte in die Hornhaut aus-
geführt werden. Der Laser hat eine mittlere Leistung von 5 W und die Strahldiver-
genz (voller Strahlöffnungswinkel) beträgt 2,2 mrad. Nach dem Austritt aus dem
Lasergehäuse wird der Strahl durch einen 5×-Strahlaufweiter geschickt und dann
durch eine Germaniumlinse der Bildbrennweite 3,3 cm auf die Hornhaut fokussiert.
a) Warum benutzt man Germanium und nicht Glas als Linsenmaterial?
b) In Kapitel 21.4 wird die Fokussierbarkeit des Lasers diskutiert und gezeigt,
dass die Strahldivergenz des aufgeweiteten Laserstrahles gleich der Divergenz
des einfallenden Laserstrahles dividiert durch den Strahlaufweitungsfaktor ist.
Wie groß ist die Strahldivergenz des CO2 -Laserstrahles nach dem Durchgang
durch den 5×-Strahlaufweiter?
c) Bestimmen Sie den Durchmesser d des Brennpunktes auf der Hornhaut. Be-
nutzen Sie die Näherungsformel d = f 2θ, wobei f die Bildbrennweite und θ
der halbe Strahlöffnungswinkel des aufgeweiteten Strahles ist. (s. Kap. 21.4 zur
Erläuterung der Gleichung d = f 2θ).
d) Wie groß ist die Bestrahlungsstärke des fokussierten CO2 -Laserstrahls auf der
Hornhaut?
7.11 Für eine Vorderkammeroperation, wie sie in diesem Kapitel beschrieben wurde, sind
folgende Daten typisch:
Laser: Nd:YAG
Wellenlänge: 1,06 µm
Pulslänge: 10 ns
Energie pro Puls: 10 mJ
Strahldivergenz am Ort der fokussierenden Linse: 0,1 mrad
Brechwert der fokussierenden Linse: 20 dpt.
a) Wie groß ist die mittlere Leistung pro Puls?
b) Wie groß ist der Durchmesser des fokussierten Nd:YAG-Laserstrahls auf der
Membran im Inneren des Auges? (s. Übung 7.10).
c) Das einfallende Licht trifft ohne Verluste auf die Membran, wie groß ist die
Bestrahlungsstärke auf dieser?
7.12 Wenn man mit dem Laser arbeitet, wird man ermahnt, nie in den Strahl zu
”
blicken“. Bei der Arbeit mit einem Helium-Neon-Laser (Milliwatt-Leistung) ist man
versucht, diese Vorsichtsmaßnahme zu vernachlässigen. Sogar wenn die Leistung im
Laserstrahl gering ist, kann die Abbildung durch das Auge doch den Strahl so auf
die Oberfläche der Netzhaut fokussieren, dass eine hohe Bestrahlungsstärke auftritt.
Um sich diesen Effekt klar zu machen, betrachten wir einen 4 mW He-Ne-Laser,
der einen kollimierten Strahl von 7 mm Durchmesser bei 632,8 nm abgibt, wobei
die Strahldivergenz 1,5 mrad beträgt.
a) Bestimmen Sie die Bestrahlungsstärke unmittelbar nach dem Austritt aus dem
Lasergehäuse.
b) Nehmen Sie an, dass der Strahl vollständig ein dunkel“ adaptiertes Auge trifft
”
(Pupillendurchmesser 7 mm), das in den Strahl blickt und auf Unendlich ak-
kommodiert ist. Nähern Sie das Auge als eine einfache dünne Linse von 17 mm
Bildbrennweite (in Luft) und bestimmen Sie die Bestrahlungsstärke im Brenn-
fleck auf der Netzhautoberfläche. (Benutzen Sie Übung 7.10 c, um die Größe
des Brennflecks zu berechnen.)
c) Um welchen Faktor erhöht die Fokussierung durch das Auge die Bestrahlungs-
stärke? Wie denken Sie über die Ernsthaftigkeit der Ermahnung, nicht in den
Strahl zu blicken?
8
Wellengleichungen
Einleitung
In diesem Kapitel wird zunächst die mathematische Beschreibung der allgemei-
nen Wellenausbreitung formuliert und dann auf den wichtigen Spezialfall der
harmonischen Welle eingegangen. Daran anschließend werden harmonische elek-
tromagnetische (Licht-)Wellen und ihr Energietransport untersucht.
8.1 Eindimensionale Wellengleichung

Die allgemeinste mathematische Beschreibung einer dispersionsfreien laufenden
Welle und die ihr zugrunde liegende Differentialgleichung lässt sich auf folgende
Weise bestimmen: Man betrachtet zunächst einen eindimensionalen Wellenpuls
beliebiger Form, der in einem Koordinatensystem O (s , x ) durch die Auslenkung
s = f (x ) (s. Abb. 8.1 a) beschrieben wird. Dieses O -System bewege sich zusam-
men mit dem Puls mit der Geschwindigkeit c relativ zu einem ruhenden System
O entlang der x-Achse nach rechts (s. Abb. 8.1 b). Bei dieser Bewegung soll die
Form des Pulses ungeändert bleiben. Dann kann man einen beliebigen Punkt P
entweder durch Angabe der Koordinate x im System O oder durch Angabe von
234 8 Wellengleichungen
x in O festlegen, wobei x = x − ct. Die s-Koordinaten sind identisch. Damit

kann der Puls vom Standpunkt des ruhenden Systems O durch
s = s = f (x ) = f (x − ct)
beschrieben werden. Bei Bewegung nach links ändert sich das Vorzeichen von c
und wir erhalten (mit der Anfangsbedingung x = x für t = 0) für die
− rechtslaufende Welle: positive x-Richtung

laufende Welle s = f (x ± ct) (8.1)
+ linkslaufende Welle: negative x-Richtung
Die urspüngliche beliebige Form des Pulses wird nicht verändert, sondern in der
Zeit t lediglich um ct entlang der x-Achse verschoben.
Die Wellenfunktion f ist beliebig, so dass z.B.
s = A sin(x − ct), s = A · (x + ct)2 und s = A e(x−ct)

laufende Wellen darstellen. Nur die erste Welle ist jedoch periodisch.
Abb. 8.1. Ausbreitung eines Wellenpulses. a) Der Wellenpuls erscheint im mit-

bewegten O -System stationär. b) Im ruhenden O-System bewegt er sich mit der
Geschwindigkeit c
8.2 Harmonische Wellen 235
Als Nächstes soll die partielle Differentialgleichung aufgestellt werden, der die
durch (8.1) beschriebenen Wellenfunktionen genügen. Wir schreiben
s = f (x ) mit x = x ± ct

so dass bei partieller Differentiation ∂x∂x = 1 und ∂t = ±c. Mit Hilfe der Ket-
∂x
tenregel erhält man hiermit für die 1. Ableitung nach der Zeit t:
∂s ∂f ∂x ∂f
= = ±c
∂t ∂x ∂t ∂x
und für die 2. Ableitung:

∂ 2s ∂ ∂s ∂ ∂s ∂x ∂ ∂f ∂ 2f
2
= =
=
±c
(±c) = c2 2
∂t ∂t ∂t ∂x ∂t ∂t ∂x ∂x ∂x
Bei Ableitung nach dem Ort ist
∂ 2s ∂ 2f
=
∂x2 ∂x 2
∂ 2f
Gleichsetzen der beiden Ergebnisse für ∂x2
führt dann zu der eindimensionalen
Wellengleichung ∂ 2s 1 ∂ 2s
= (8.2)
∂x2 c2 ∂t2
Jede – auch nach ihrer physikalischen Natur – beliebige Welle der Form (8.1) muss
mithin auch die Wellen(differential)gleichung1 (8.2) erfüllen. Zur Beantwortung
der Frage, ob eine vorgegebene Funktion von x und t eine laufende Welle darstellt,
muss man also nur bestätigen, dass sie entweder von der allgemeinen Form (8.1)
ist oder der Wellengleichung (8.2) genügt.
8.2 Harmonische Wellen
Von besonderer Bedeutung sind harmonische Wellen, die durch Sinus- oder Ko-
sinusfunktionen beschrieben werden:
⎧
⎨sin [k(x ± ct)]
s(x, t) = ŝ · (8.3)
⎩
cos [k(x ± ct)]
1
Man bezeichnet mit Wellengleichung häufig sowohl die Wellen-Differentialgleichung
als auch die Gleichung s(x, t), die wir Wellenfunktion nennen.
ŝ, die Amplitude, und k sind Konstanten, bei deren Änderung die harmonische
Welle erhalten bleibt. Solche Wellen sind periodisch und wiederholen sich belie-
big oft; sie werden häufig durch ungedämpft harmonisch schwingende Oszillato-
ren erzeugt. Sinus- und Kosinusfunktionen bilden einen vollständigen Satz von
Eigenfunktionen mit der Konsequenz, dass jede beliebige periodische – z.B. recht-
eckförmige – Wellenform durch eine Linearkombination solcher Funktionen (8.3)
mit Hilfe einer Fourier-Reihe (s. Kap. 12.1) beschrieben werden kann.
Wegen sin x = cos(x − π/2) unterscheiden sich die beiden Funktionen (8.3)
nur durch eine Phasenverschiebung von π/2. Es ist deshalb im Folgenden ausrei-
chend, nur eine der Funktionen zur Beschreibung heranzuziehen. Hier wird die
Sinusschreibweise verwendet.
Abb. 8.2. Räumliche und zeitliche Ausbreitung einer Sinuswelle. a) Sinuswelle zu einem
festen Zeitpunkt (Momentaufnahme, Sinuslinie mit Wellenlänge λ). b) Sinuswelle an
einem festen Ort (Schwingung mit Periodendauer T )
In Abb. 8.2 ist der Ausschnitt einer Sinuswelle ŝ sin(k(x + ct)) dargestellt.
Abb. 8.2 a ist die Darstellung zu einem festen Zeitpunkt, also eine Moment-
aufnahme (Schnappschuss) der Welle, Abb. 8.2 b gilt an einem festen Ort, wo
man eine Schwingung beobachtet. In Abb. 8.2 a ist die Periodizitätslänge, die
Wellenlänge λ, eingezeichnet. Wegen dieser Periodizität führt eine Vergrößerung
beliebiger x um λ zu demselben s-Wert. Da die Sinusfunktion mit 2π periodisch
ist, gilt dementsprechend für einen festen Zeitpunkt t:
sin (k(x + λ) + kct) = sin(kx + kct + 2π)

Der Vergleich der Argumente führt auf kλ = 2π und damit zu der wichtigen
2π
Kreiswellenzahl k= (8.4)
λ
k ist der Betrag des Wellenvektors k (s. Kap. 8.5) und wird auch als Ausbrei-
tungskonstante bezeichnet. Entsprechend tritt an einem festen Ort x eine mit
8.2 Harmonische Wellen 237
der Periodendauer T periodische Schwingung (s. Abb. 8.2 a) auf. Hier führt die
Periodizität zu
sin [kx + kc(t + T )] = sin(kx + kct + 2π)

Mithin wird kcT = 2π und die Geschwindigkeit c = 2π/kT . Hieraus erhalten wir
nach Einführung der
1
Frequenz f= (8.5)
T
mit (8.4) die
Phasengeschwindigkeit c = λf (8.6)
Diese Beziehung ist in der Optik auch deshalb von großer Bedeutung, weil im All-
gemeinen eine direkte Messung der Lichtfrequenz von etwa 500 THz nicht möglich
ist. Sie muss mit Hilfe von (8.6) aus den Messwerten von c und λ berechnet wer-
den.
Zur Beschreibung von Schwingungen verwendet man meist die zu k analoge
2π
Kreisfrequenz ω= = 2πf (8.7)
T
Mit f = c/λ ergibt sich der Zusammenhang mit der Kreiswellenzahl: ω = kc. In
der Spektroskopie ist zusätzlich die Wellenzahl k̃ = k/2π = 1/λ gebräuchlich.
Aufgrund der angegebenen Zusammenhänge zwischen den Wellenparametern
sind für harmonische Wellen mehrere verschiedene Schreibweisen möglich und
üblich2 :
ω
s = ŝ sin [k(ct ± x)] = ŝ sin ωt ± x (8.8)
c
t x
s = ŝ sin 2π ± = ŝ sin 2π f t ± k̃x (8.9)
T λ
Um beliebige Anfangsauslenkungen (bei t = 0 und z.B. x = 0) wiedergeben

zu können, müssen wir in obigen Gleichungen noch einen Nullphasenwinkel 3 ϕ0
2
Ausgehend von (8.3) und sin(−α) = − sin α hätte s bei einer rechtslaufenden Welle
ein negatives Vorzeichen. Dies wird jedoch durch einen entsprechenden Nullphasen-
winkel kompensiert.
3
Diese Bezeichnung entspricht einer DIN-Empfehlung, wir verwenden auch Phasen-
”
verschiebung“.
einführen. Wir kommen dann zu der hier gewählten Ingenieurschreibweise“ der

”
Gleichung einer eindimensionalen
harmonischen Welle s = ŝ sin(ωt ± kx + ϕ0 ) (8.10)
wobei wieder –“ eine Welle in positiver x-Richtung beschreibt. Das Argument

”
des Sinus bezeichnet man als Phase ϕ:
ϕ = ωt ± kx + ϕ0 (8.11)
die bei einer Welle zeit- und ortsabhängig ist, da eine harmonische Welle ein
räumlich und zeitlich periodischer Vorgang ist, der sich mit der Wellengeschwin-
digkeit ausbreitet.
Betrachtet man bei einer Welle einen Punkt konstanter Auslenkung s =
ŝ sin ϕ, wie er von einem mitbewegten Beobachter in O registriert wird, so muss
die Phase konstant sein und mit (8.11) gelten:
dϕ = ωdt ± kdx = 0
Damit hat man eine weitere Möglichkeit zur Bestimmung der
dx ω
Phasengeschwindigkeit c= = ∓ = ∓λf (8.12)
dt k
Dies bestätigt noch einmal, dass c > 0, wenn ϕ = ωt − kx, also eine Welle in
positiver x-Richtung vorliegt.
Zur Bestimmung des Nullphasenwinkels ϕ0 müssen die Anfangsbedingungen
für Auslenkung (s(t = 0) = s0 ) und Schnelle (v0 = ds
dt t=0 ) z.B. bei x = 0
bekannt sein. Dann folgt aus (8.10): s0 = s(0,0) = ŝ sin ϕ0 und wir erhalten für
den Nullphasenwinkel4
s
0
ϕ0 = arcsin bei v0 > 0
ŝ
Häufig ist die genaue Kenntnis von ϕ0 nicht erforderlich und wir können (8.10)
mit ϕ0 = 0 vereinfachen.
4
Diese Formel wird erst durch die zusätzliche Angabe v0 > 0 eindeutig, da bei gleichem
s0 die Steigung der s(t)-Kurve positiv (v0 > 0) oder negativ sein kann. Bei v0 < 0
ist ϕ0− = π − ϕ0+ .
8.3 Komplexe Zahlen 239
Beispiel 8.1 Seilwelle

Die Auslenkung einer laufenden Seilwelle ist gegeben durch:

t x π
s(x, t) = 3,5 cm sin 10π − 3π + (∗)
s m 4
Bestimmen Sie Wellenlänge, Frequenz, Phasengeschwindigkeit und Nullpha-
senwinkel. Berechnen Sie außerdem die Auslenkung bei x = 10 cm für t = 0
und t = 1,5 s.
Lösung
Durch Vergleich mit (8.10) findet man direkt: k = 3π rad/m, ω = 10π rad/s
und ϕ0 = π/4. Damit wird dann λ = 2π/k = 2/3 m und f = ω/2π = 5 Hz.
Die Phasengeschwindigkeit ergibt sich zu c = λf = 3,33 m/s mit positivem
Vorzeichen, d.h. man hat eine Welle in positiver x-Richtung. Man kann auch
in (∗) ϕ = konst. setzen und bilden:
dϕ = 0 = 10π · dt − 3π · dx
dann wird ebenfalls c = dx/dt = 10π/3π = 3,33 m/s. Die Auslenkungen sind:
s(x = 0,1 m; t = 0) = 3,5 cm · sin(−0,3π + π/4) = −0,55 cm und
s(0,1 m; 1,5 s) = 3,5 cm · sin(15π − 0,3π + π/4) = 0,55 cm.
(Vergessen Sie nicht, Ihren Rechner in den rad-Modus“ umzuschalten!)
”
8.3 Komplexe Zahlen

Die Beschreibung von harmonischen Schwingungen und Wellen wird durch die
Verwendung der komplexen Darstellung wesentlich vereinfacht. Wir fassen des-
halb das Wichtigste zu den komplexen Zahlen noch einmal zusammen:
Eine komplexe Zahl5 z wird durch die Summe ihrer Real- (Re) und Ima-
ginärteile (Im) festgelegt:
komplexe Zahl z = Re(z) + j Im(z) = x + j y (8.13)
√
x und y sind reelle Zahlen und j = −1, die imaginäre Einheit 6 . Nach Abb. 8.3
ist z ein Punkt in der Gaußschen Zahlenebene, der auch durch die Polarkoor-
dinaten (z, ϕ) festgelegt werden kann. Hiermit definiert man einen Vektor, der
vom Ursprung zu dem Punkt z weist und den man meist als komplexen Zeiger z
bezeichnet. Sein Betrag ist nach Pythagoras z = |z| = x2 + y 2 .
5
Komplexe Größen, wie z.B. z, E, . . . werden durch Unterstreichen gekennzeichnet.
6
Wir wählen die in der Technik übliche Schreibweise mit j statt i.
Abb. 8.3. Grafische Darstellung einer komplexen Zahl in der Gaußschen Zahlenebene
mit reeller (Re) und imaginärer (Im) Achse
Mit x = z cos ϕ und y = z sin ϕ wird dann (8.13):
z = z(cos ϕ + j sin ϕ)
Mit Hilfe der
Eulerschen Formel ejϕ = cos ϕ + j sin ϕ (8.14)
erhalten wir daraus die wichtige Darstellung in
Polarkoordinaten z = z ejϕ (8.15)
mit Betrag und Argument:

Betrag z = |z| = x2 + y 2
y Im(z) (8.16)
Argument ϕ = arg z = arctan = arctan
x Re(z)
Die zu z konjugiert komplexe Zahl z ∗ erhält man einfach durch Ersetzen von j
durch −j:
z ∗ = x − j y = z e−jϕ (8.17)
Hiermit kann der Betrag einer komplexen Zahl einfach berechnet werden, denn
es gilt das
8.3 Komplexe Zahlen 241
Betragsquadrat z · z ∗ = (z ejϕ )(z e−jϕ ) = |z|2 (8.18)
Einige wichtige Rechenregeln:

Addition/Subtraktion z = z 1 ± z 2 = (x1 ± x2 ) + j (y1 ± y2 ) (8.19)
z = z 1 · z 2 = z1 z2 ej(ϕ1 +ϕ2 )
Multiplikation (8.20)
= (x1 x2 − y1 y2 ) + j (x1 y2 + x2 y1 )
Die Multiplikation kann man also durch eine Drehstreckung 7 veranschaulichen.

Aus (8.3) folgt die wichtige Beziehung:
Re(z 1 ± z 2 ) = Re(z 1 ) ± Re(z 2 ) (8.21)

Bei der Multiplikation ist hingegen:
Re(z 1 · z 2 ) = Re(z 1 ) · Re(z 2 ) (8.22)

Dies ist bei der komplexen Beschreibung von Wellen von großer Bedeutung.
ejϕ ist ein Zeiger der Länge 1 (Einheitskreis), der – entgegen dem Uhrzeiger-
sinn – um ϕ von der x-Achse gedreht wurde. Damit kann ejϕ für einige spezielle
j-Werte leicht angegeben werden (s. Abb. 8.4).
Abb. 8.4. Wichtige Werte von ejϕ
7
Der neue Zeiger z ejϕ ist in seiner Länge gestreckt oder gestaucht (z = z1 · z2 ) und
im Winkel gedreht (ϕ = ϕ1 + ϕ2 ).
8.4 Harmonische Wellen in komplexer Darstellung

Ausgehend von z = z ejϕ und (8.10) erhält man für die komplexe Darstellung
einer eindimensionalen
harmonischen Welle s = ŝ ej(ωt±kx+ϕ0 ) = ŝ ej(ωt±kx) (8.23)
Hierbei ist es vorteilhaft, die
komplexe Amplitude ŝ = ŝ ejϕ0 (8.24)
einzuführen, die dann den Nullphasenwinkel enthält.

Nach der Eulerschen Formel beschreiben dann sowohl der Realteil von (8.23)
Re(s) = ŝ cos(ωt ± kx + ϕ0 ) (8.25)

als auch der Imaginärteil
ebene Welle Im(s) = ŝ sin(ωt ± kx + ϕ0 ) (8.26)
harmonische Wellen. Die komplexe Beschreibung umfasst mithin sowohl die Be-
schreibung mit Hilfe des Sinus als auch des Kosinus. Wir treffen die Vereinbarung,
dass die – physikalisch natürlich nur im Reellen existierende – Welle in der Regel
durch die Sinusdarstellung beschrieben wird, dass also bei Angabe von s nach
(8.23) der Imaginärteil (8.26) gemeint ist. Die komplexe Beschreibung ist ma-
thematisch einfacher, da sich die Anwendung von Additionstheoremen erübrigt
und mit Exponentialfunktionen leichter als mit trigonometrischen Funktionen zu
rechnen ist. Dies wird am Beispiel der Differentiation und Integration von (8.23)
besonders deutlich:
∂s ∂
= ŝe−jkx ejωt = j ωŝ ej(ωt−kx) = jωs (8.27)
∂t ∂t

−jkx 1 1
s dt = ŝ e ejωt dt = ŝ ej(ωt−kx) = s (8.28)
jω jω
Differentiation ist hiernach gleichbedeutend mit einer Multiplikation mit jω, In-
tegration mit einer Division durch jω. Die Ausgangszeiger werden in ihrer Länge
verändert und um ±π/2 gedreht.
Sie sollten unbedingt beachten:
Da entsprechend (8.22) Im(z 1 · z 2 ) = Im(z 1 ) · Im(z 2 ) ist, darf die komplexe
Schreibweise bei Auftreten von Produkten und Potenzen – also insbesondere
auch in der nichtlinearen Optik (s. Kap. 26) – nicht angewendet werden!
8.5 Ebene Wellen 243
Sie müssen hier mit der Sinusdarstellung oder
ejx − e−jx
sin x =
2j
rechnen.
8.5 Ebene Wellen

Die Gleichung einer harmonischen Welle soll auf eine beliebige Ausbreitungsrich-
tung im Raum verallgemeinert werden. Für eine Welle in positiver x-Richtung
folgt aus (8.10) für eine Momentaufnahme der Auslenkung zum Zeitpunkt t = 0
(und ϕ0 = π):
s = ŝ sin kx (8.29)
Abb. 8.5. Ebene Wellen, die sich entlang der x-Achse ausbreiten. y-z-Ebenen (bei
x = konst.) sind Ebenen konstanter Phase
Für konstantes x ist die Phase ϕ = kx = konst. Punkte gleicher Phase (und
Auslenkung) liegen dann bei einer räumlichen Welle auf Flächen, die man als
Wellenfronten bezeichnet und die hier y-z-Ebenen darstellen (s. Abb. 8.5). Des-
halb spricht man hier von ebenen Wellen. Die Phase eines beliebigen Raumpunk-
tes, der durch einen Vektor r festgelegt ist, stimmt dann mit der des Punktes
x = r cos θ überein (s. Abb 8.6 a) und aus (8.29) folgt s = ŝ sin(kr · cos θ). Dieses
Ergebnis lässt sich einfacher interpretieren, wenn man k = 2π/λ einem Wel-
lenvektor k zuordnet, dessen Richtung mit der Ausbreitungsrichtung der Welle
übereinstimmt und damit senkrecht auf der Wellenfront steht. Hiermit kann die
Ebene konstanter Phase bei beliebiger Ausbreitungsrichtung (s. Abb. 8.6 b) fest-
gelegt werden durch:
k · r = kr cos θ = kx x + ky y + kz z (8.30)
und wir erhalten für eine in k-Richtung fortschreitende

ebene Welle s = ŝ ej(ωt−k·r) (8.31)
Abb. 8.6. Ausbreitung ebener Wellen in unterschiedlichen Richtungen, die durch den
Wellenvektor k festgelegt sind. a) k zeigt in Richtung der x-Achse, b) k in beliebiger
Richtung. Die Ebenen konstanter Phase sind durch k · r = konst. festgelegt
Es lässt sich leicht bestätigen8 , dass die Gleichung der dreidimensionalen Welle
(8.31) der partiellen Differentialgleichung (Wellengleichung)
∂ 2s ∂ 2s ∂ 2s 1 ∂ 2s
+ + = (8.32)
∂x2 ∂y 2 ∂z 2 c2 ∂t2
genügt. Betrachtet man die räumlichen Ableitungen als Operatoren, so kann man
hierfür auch schreiben:
∂s ∂ 2s ∂s ∂ 2s
8
Mit Hilfe von = jωs; 2 = −ω 2 s; = −jkx s; = −kx2 s.
∂t ∂t ∂x ∂x2
8.7 Elektromagnetische Wellen 245

∂2 ∂2 ∂2 1 ∂ 2s
+ + s=
∂x2 ∂y 2 ∂z 2 c2 ∂t2
und erhält mit Hilfe des Laplace Operators9 :
∂2 ∂2 ∂2
Laplace-Operator = 2
+ 2+ 2 (8.33)
∂x ∂y ∂z
einen einfachen Ausdruck für die dreidimensionale

1 ∂ 2s
Wellengleichung s = (8.34)
c2 ∂t2
8.6 Kugelwellen
Von einem Punkt ausgehende harmonische Wellen breiten sich in einem isotro-
pen Medium in allen Raumrichtungen gleich schnell aus. Dann sind die Flächen
gleicher Phase, die Wellenfronten, Kugelflächen mit dem Ort der Quelle als Zen-
trum. Diese Kugelwellen können durch eine ähnliche Gleichung wie die ebenen
Wellen beschrieben werden. Die Amplitude nimmt jedoch mit wachsendem Ab-
stand proportional mit 1/r ab, da die Energie der Welle auf eine immer größere
Kugelfläche verteilt wird. Damit gilt für die
ŝ1 j(ωt−k·r)
Kugelwelle s= e (8.35)
r
Die Intensität I (= Leistung pro Fläche) der Welle ist abhängig vom Amplituden-
quadrat und nimmt dann mit 1/r2 ab. Damit bleibt die durch eine Kugelfläche
(A = 4πr2 ) transportierte Gesamtleistung I · A konstant. Die Bedeutung von ŝ1
muss jeweils genau festgelegt werden. Es kann nicht die Amplitude bei r = 0
sein, da diese für r → 0 divergiert. ŝ1 muss vielmehr für einen passend gewählten
Referenzabstand (r = r1 ) als ŝ1 = ŝ(r1 ) · r1 definiert werden.
8.7 Elektromagnetische Wellen

8.7.1 Feldstärke und Geschwindigkeit
Die bisher diskutierten Gleichungen für harmonische Wellen beschreiben ganz

allgemein jede wellenartige Störung, die sich sinusförmig ändert, also z.B. Wellen
9 = ex ∂ + ey ∂ + ez ∂ .
Es gilt = ∇2 mit dem Nablaoperator ∇
∂x ∂y ∂z
auf einer Saite, Wasser- oder Schallwellen. Bei einer speziellen Welle hat s die
Bedeutung einer bestimmten physikalischen Größe und ist z.B. der Wechseldruck
in einer Schallwelle. Für elektromagnetische Wellen, zu denen auch das Licht
gehört, steht s entweder für das veränderliche elektrische Feld der elektrischen
oder für das magnetische Feld der magnetischen Induktion B.
Feldstärke E Diese
Felder sind in der Welle untrennbar gekoppelt.
mag-
Abb. 8.7. a) Ebene elektromagnetische Welle in x-Richtung. Elektrisches Feld E,

netische Induktion B und Wellenvektor k bzw. Geschwindigkeit c stehen jeweils senk-
=B
recht aufeinander. b) Dreibein der Vektoren mit E × c (8.39)
Abbildung 8.7 veranschaulicht eine ebene elektromagnetische Welle. Die

Lösung der Maxwellschen Gleichungen, die die Wellenausbreitung beschreiben,
und B-Feld
ergibt, dass E- zueinander und zur Ausbreitungsrichtung und damit

zum Wellenvektor k senkrecht stehen. Wir schreiben
ˆ j(ωt−k·r)
=E
E e (8.36)
elektromagnetische Welle
=Bˆ j(ωt−k·r)
B e (8.37)
wobei Ê und B̂ die Amplituden der Felder E und B darstellen. Man sieht, dass

E und B identische Wellenvektoren und Frequenzen haben und sich somit mit
derselben Geschwindigkeit und Wellenlänge ausbreiten. Im so genannten Fernfeld
sind sie (in verlustfreien Medien) außerdem in Phase. Darüber hinaus sind die
beiden Felder streng proportional zueinander:
E = cB (8.38)
und bilden ein Dreibein (s. Abb. 8.7 b) entsprechend der
Verknüpfung =B
E × c (8.39)
mit der zu k parallelen

1
Ausbreitungsgeschwindigkeit c= √ (8.40)
εµ
Hierbei ist ε = εr ε0 die Dielektrizitätskonstante mit der Dielektrizitätszahl εr und

der elektrischen Feldkonstante ε0 = 8,8542 · 10−12 Vm As
sowie µ = µr µ0 mit der
Permeabilitätszahl µr und der magnetischen Feldkonstante µ0 = 4π · 10−7 Am Vs
.
Im Vakuum (mit εr = µr = 1) breitet sich die Welle dann nach (8.40) frequenz-
unabhängig mit der
1 m
Vakuumlichtgeschwindigkeit c0 = √ = 2,998 · 108 (8.41)
ε0 µ0 s
aus. Für den Zusammenhang zwischen c, der Geschwindigkeit in einem Medium,

und c0 folgt aus (8.40) und (8.41):
c0 c0
Lichtgeschwindigkeit c= √ ≡ mit Brechzahl n (8.42)
εr µr n
Die in der Optik gebräuchliche Brechzahl n ist hiernach über die

√ √
Maxwell-Relation n= εr µr ≈ εr (8.43)
mit den in der Elektrodynamik verwendeten Größen verknüpft.

Bei den hohen Frequenzen der Optik ist bei fast allen Stoffen µr ≈ 1; εr
und damit n sind frequenzabhängig, was man als Dispersion bezeichnet. So hat
z.B. Wasser bei Gleichfeldern und kleinen Frequenzen εr = 81, woraus mit (8.42)
folgt, dass die Ausbreitungsgeschwindigkeit c ≈ c0 /9. Bei Lichtfrequenzen gilt
hingegen εr = 1,8 und nach (8.43) ist n ≈ 4/3, also c ≈ 34 c0 .
8.7.2 Maxwellsche Gleichungen

Um die oben gemachten Aussagen zu veranschaulichen, stellen wir uns in ei-
nem Dielektrikum einen elektromagnetischen Wellenpuls konstanter Höhe mit
den Feldstärken E und B vor, der in x-Richtung mit der Geschwindigieit c fort-
schreitet und bei x = ct abrupt auf null geht. Mit der Welle bewegt sich ein Be-
obachter 1, der über eine Glimmlampe zur Messung der elektrischen Feldstärke
und eine kleine Hallsonde zur B-Messung verfügt. Befindet er sich links vom Puls-
ende, so registriert er konstante Werte der Feldstärken. Ein Beobachter 2 auf der
x-Achse (bei x) ist mit den gleichen Instrumenten ausgestattet. Er beobachtet
die Feldstärken E und B ab dem Moment, wo ihn die Welle passiert. Zur Prüfung
seiner Messergebnisse verknüpft er die Feldgrößen über die Maxwellgleichungen.
Nach dem Induktionsgesetz (2. Maxwellgleichung) hat ein zeitlich veränderlicher
magnetischer Fluss Φ ein elektrisches Feld zur Folge:
!
2. Maxwell-Gleichung E · ds = −Φ̇ = − B · dA (8.44)
dt
Der ruhende Beobachter 2 wählt bei der Anwendung von (8.44) das Integrations-
gebiet so, dass der linke Rand noch die Glimmlampe am Ort x enthält und der
rechte Rand bei x + ∆x noch nicht von der Welle erreicht wurde. Wir erhalten
dann nach Abb. 8.8 a mit B = ∆yc dt · ez :
= Bez und dA
!
· ds = E(x + ∆x) ∆y − E(x) ∆y = −E(x) ∆y = −B · dA = −Bc ∆y
E
dt
und damit die Bestätigung von (8.38):
E = cB (8.38)
Außerdem haben wir gezeigt, dass E und B tatsächlich senkrecht aufeinander
stehen (s. (8.39)). Eine weitere Verknüpfung der Feldstärken erfolgt über das
Durchflutungsgesetz (1. Maxwell-Gleichung), wonach ein sich zeitlich verändern-
der elektrischer Fluss Φ̇e (Verschiebungstrom) ein magnetisches Feld hervorruft:
!
1. Maxwell Gleichung · ds = Φ̇e = D
H · d A = εE · dA (8.45)
dt dt
Abb. 8.8. In x-Richtung fortschreitender elektromagnetischer Wellenpuls der Höhe

E und B, der bis x = ct gelangt ist, und von einem mitbewegten (1) und ruhenden
Beobachter (2) untersucht wird. Integrationswege des am Ort x ruhenden Beobachters:
a) zum Induktionsgesetz (B-Puls) und b) zum Durchflutungsgesetz (E-Puls)
= εE
Hierbei ist D die elektrische Erregung oder Verschiebungsdichte; da wir
uns in einem Dielektrikum befinden, kann kein Leitungsstrom auftreten. Aus
Abb. 8.8 b folgt dann mit H(x + ∆x) = 0:
!
H · ds = 0 · ∆z + H · ∆z = εE dA = εEc ∆z
dt
und somit
H = εEc (8.46)
Nach (8.38) ist andererseits

B E
H= = (8.47)
µ µc
Gleichsetzen von (8.46) und (8.47) liefert dann c = √1 , also die Bestätigung von
εµ
(8.40).
8.7.3 Intensität
Eine elektromagnetische Welle überträgt elektrische und magnetische Feldener-

gie. Die Energiedichte (Energie/Volumen) we des elektrischen Feldes ist – wie
beim geladenen Kondensator – gegeben durch
1
we = ε · E2 (8.48)
2
Beweis: Wir bestimmen die Energiedichte des elektrostatischen Feldes eines gelade-
nen Plattenkondensators: Bekanntlich ist die im Feld gespeicherte potentielle Energie:
Wpot = 12 CU 2 mit der Kapazität C = ε A
d
, wobei A = Fläche und d = Plattenabstand.
Für die Spannung gilt U = Ed. Damit wird Wpot = 12 εA d
· E 2 d2 = 12 εE 2 Ad. Mit dem
Volumen V = Ad erhält man hieraus für die Energiedichte w = Wpot /V gerade (8.48).
In Analogie zur magnetischen Feldenergie einer Spule gilt für den magnetischen
Anteil
1 1 B2
wm = µH 2 = (8.49)
2 2 µ
mit der magnetischen Feldstärke H:
B
H=
µ
Ersetzt man in (8.48) E 2 nach (8.38) durch c2 B 2 = B 2 /εµ, so sieht man, dass
elektrisches und magnetisches Feld gleich viel Energie transportieren. Die gesamte
Energiedichte w = 2we = 2wm wird dann:
EH
w = εE 2 = µH 2 = εc EB = (8.50)
c
Bei der Herleitung wurde im 2. Term εE (mit (8.38) und (8.40)) durch εBc = H/c
ersetzt.
Abb. 8.9. Energiefluss in einer Welle. In der Zeit ∆t tritt durch die Fläche A gerade
die in dem Quader des Volumens Ac∆t enthaltene Energie ∆W
Als Nächstes soll die von der elektromagnetischen Welle transportierte Leis-
tung untersucht werden (s. Abb. 8.9). In der Zeit ∆t wird durch eine Referenz-
fläche A gerade die Energie ∆W = w∆V transportiert, die in einem Quader vom
Volumen ∆V und der Kantenlänge c∆t enthalten ist. Damit wird die transpor-
tierte Leistung P :
∆W w∆V w(Ac∆t)
P = = = = wcA (8.51)
∆t ∆t ∆t
Die zeitabhängige Intensität S = P/A – also Leistung pro Fläche (in W/m2 ) –
ist somit
S = wc (8.52)
Wie zu erwarten, hängt damit die Stärke (Intensität) einer Welle nicht nur von
der in einem Volumenelement befindlichen Energie – der Energiedichte w – ab,
sondern auch von der Geschwindigkeit, mit der diese Energie zur bestrahlten
Fläche transportiert wird. Mit (8.50) wird dies für die elektromagnetische Welle:
S = EH = εcE 2 (8.53)
× B)
Intensität – als in Ausbreitungsrichtung (= Richtung von E fließende Ener-
giestromdichte – wird als
Poynting-Vektor =E
S ×H ×B
= εc2 E (8.54)
bezeichnet.
Die elektrischen und magnetischen Felder des sichtbaren Lichtes schwingen
mit etwa 500 THz so extrem schnell, dass es keinen Detektor gibt, der diesen
Schwingungen folgen kann. Alle optischen Detektoren registrieren deshalb die
über viele Perioden gemittelte mittlere Intensität I, diese bezeichnen wir im Fol-
genden als Intensität, obwohl Energiestromdichte oder Bestrahlungsstärke exak-
tere Bezeichungen wären. Mit (8.53) und (8.11) ist dann an einem festen Ort
I = S = εcÊ 2 sin2 (ωt + ϕ0 ) (8.55)

Zeitmittelung des sin2 über eine oder mehrere Perioden ergibt 1 10
2 und mit (8.50)
die
1 1 1 1 B̂ 2
Intensität I= Ê Ĥ = εcÊ 2 = µcĤ 2 = c (8.56)
2 2 2 2 µ
Die Intensität – die Leistung pro Fläche – hängt quadratisch von den Feldgrößen
ab, deshalb spricht man bei den o.g. trägen Sensoren der Optik auch von quadra-
tischen Detektoren. Beachten Sie, dass elektrischer und magnetischer Energiean-
teil immer gleich groß sind. Bei Wechsel des Mediums bleibt mithin das Produkt
E · H bei gleicher Intensität ungeändert; die Feldstärken ändern sich aufgrund
der Materialkonstanten εr und µr , die in die Energiedichte und die Geschwindig-
keit eingehen. Wie aus (8.56) ersichtlich ist, wird Ê in Materie (bei µr = 1 und
εr > 1) kleiner und B̂ größer als im Vakuum.
Bei Verwendung der komplexen Schreibweise ist die Intensität gegeben durch:
1 ∗ 1 ∗
I= Ê · Ĥ = εc Ê · Ê (8.57)
2 2
Beispiel 8.2 Laserstrahl

Ein Laserstrahl mit 2 mm Durchmesser transportiert eine Lichtleistung von
6 kW. Bestimmen Sie die Intensität und die Amplituden von elektrischer
Feldstärke und magnetischer Induktion (im Vakuum).
T
10
Es gilt sin2 ωt = 1
2 − 1
2 cos 2ωt und damit sin2 ωt = 1
T 0
sin2 ωt dt = 12 .
8.8 Doppler-Effekt 253
Lösung
Die Intensität ist I = PA = πr
P GW
2 = 1,9 m2 . Damit wird
√
Ê = ε2I 0 c0
= 2µ0 c0 I = 1,2 MV Ê
m und B̂ = c0 = 4 mT. Die elektrische
Feldstärke erreicht damit fast die Durchschlagsfeldstärke der Luft bei
Normaldruck von etwa 3 MV m .
8.8 Doppler-Effekt
Der durch die Beobachtung bei Schallwellen vertraute Doppler-Effekt findet seine
Entsprechung bei Lichtwellen – mit einem wichtigen Unterschied: Bei Schallwel-
len unterscheidet man zwischen der Frequenzänderung bei bewegtem Sender, die
auf einer Wellenlängenänderung beruht, und der Frequenzänderung bei beweg-
tem Beobachter aufgrund geänderter Schallgeschwindigkeit. Die beiden Effekte
sind physikalisch verschieden und führen zu unterschiedlichen Gleichungen für
die Berechnung der Frequenzänderung. Dies steht im Gegensatz zum Doppler-
Effekt bei elektromagnetischen Wellen. Schallwellen breiten sich nur in einem
Medium aus, während Licht auch im Vakuum fortschreitet. Wenn das Ausbrei-
tungsmedium wegfällt, entfällt auch der Unterschied zwischen bewegtem Sender
und Empfänger; es gibt nur noch noch eine relative Bewegung zwischen beiden,
die dann auch die Frequenzänderung des Lichtes bestimmt. Die spezielle Re-
lativitätstheorie beschreibt die dopplerverschobene Wellenlänge λ im Vakuum
durch:
"
#
# 1− v
λ # c0 f
= $ = (8.58)
λ v
1 + c0 f
v ist die Relativgeschwindigkeit zwischen Sender und Beobachter, wobei gilt:

v > 0 bei Annäherung und v < 0 bei Entfernung der beiden. Für v c erhält
man aus obiger Gleichung dasselbe Ergebnis wie bei bewegtem Schallempfänger:
λ v

=1− (8.59)
λ c

Erweitern von (8.58) mit 1+ v
c0 ergibt die verschobene Frequenz f :

1 + vc
f =f 2 (8.60)
Doppler-Effekt
1 − cv0
Der Nenner ist eine Folge der relativistischen Zeitdehnung ( bewegte Uhren gehen
”
langsamer“), er führt dazu, dass auch bei Bewegung quer zur Verbindungslinie
ein – in der klassischen Physik nicht bekannter – transversaler Doppler-Effekt
zu erwarten ist. Für v c wird der Nenner gleich 1 und es verbleibt eine Fre-
quenzänderung wie bei bewegtem Schallempfänger. Die Gleichung (8.60) gilt mit
c = cn0 auch für die Doppler-Verschiebung in einem Medium der Brechzahl n.
Der Doppler-Effekt hat eine Reihe von wichtigen Anwendungen. In der Astro-
nomie wird er zur Bestimmung der Geschwindigkeit von Sternen und Quasaren
herangezogen. Man beobachtet immer eine Rotverschiebung, also eine Zunahme
der Wellenlänge aufgrund einer Bewegung von uns weg. Der amerikanische Astro-
nom E. Hubble stellte fest, dass die Rotverschiebung mit der Entfernung d der
Objekte zunimmt und die Fluchtgeschwindigkeit gegeben ist durch:
Hubble-Effekt v = Hd (8.61)
H bezeichnet man als Hubble-Konstante.

Eine Doppler-Verbreiterung von Spektrallinien tritt wegen der statistischen
(Wärme-)Bewegung der lichtemittierenden Gasatome auf. Sie kann zur Tempera-
turmessung in heißen Gasen und Plasmen herangezogen werden. In der Spektro-
skopie ist sie ein unerwünschter Effekt, da sie zu einer Frequenzunschärfe führt.
In der Messtechnik wird der Doppler-Effekt zur berührungslosen Geschwindig-
keitsmessung (z.B. bei Walzstraßen) herangezogen. Beachten Sie, dass hier häufig
in Reflexion gearbeitet wird. Hierbei bewegt sich das Spiegelbild mit der doppel-
ten Geschwindigkeit und in (8.60) tritt bei v c die doppelte Frequenzänderung
auf:
v
Doppler-Effekt bei Reflexion ∆f = 2 f (8.62)
c
Beispiel 8.3 Doppler-Effekt

Licht von einer weit entfernten Galaxie zeigt eine Verschiebung der grünen
Spektrallinie des Sauerstoffs von 513 nm auf 525 nm. Wie groß ist die Ge-
schwindigkeit der Galaxie relativ zur Erde und in welcher Entfernung befindet
sie sich? (H ≈ 2 · 10−18 s−1 ).
Lösung
Wir nehmen zunächst an, dass v c und verwenden (8.59). Sollte ein Wert
für v auftreten, der der getroffenen Annahme nicht genügt, so müsste die
Rechnung mit der komplizierteren – aber relativistisch exakten – Gleichung

(8.60) wiederholt Mit λ = 513 nm und λ = 525 nm erhält man aus
werden.

(8.59): v = c0 1 − λλ = −0,0234 c0 = −7 020 km/s. Die Zunahme von λ
und das negative Vorzeichen von v zeigen, dass sich die Galaxie von der
Erde wegbewegt. Ihr Abstand (s. Übung 8.21) ist
d = v/H = 3,5 · 1021 km = 3,7 · 108 Lichtjahre.
Übungen
8.1 Auf einem Seil breitet sich in negativer x-Richtung ein Puls aus, der bei t = 0
2
die Gaußform s = a e−bx aufweist. Skizzieren Sie den Puls mit a = 10 cm, b =
−2
0,05 cm für den Zeitpunkt t = 0 und geben Sie die Wellenfunktion für eine
Geschwindigkeit vom Betrag 3 m/s an.
8.2 In der Mitte einer gespannten Saite wird bei t = 0 die folgende Auslenkung beo-
bachtet:
4 mm
s(x, 0) =
(0,5x/cm)2 + 1
a) Formulieren Sie die Wellenfunktion für eine mit 25 m/s in die negative x-Richtung
laufende Welle.
b) Skizzieren Sie die Wellenpulse für t = 0; 2 und 5 s.
(Beachten Sie, dass sich die Welle in die positive und negative x-Richtung
ausbreitet.)
8.3 Untersuchen Sie die folgenden mathematischen Ausdrücke und klären Sie,
a) ob es sich um laufende Wellen handelt
b) falls a) zutrifft, wie groß Betrag und Richtung der Geschwindigkeit ist:
1. s(z, t) = A sin2 [4π(2t/s + 2z/m)]
2. s(x, t) = A(5x/m − 5t/s)2
3. s(x, t) = BxA2 −t
8.4 Falls der folgende Ausdruck eine laufende Welle darstellt, so geben Sie Größe und
Richtung der Geschwindigkeit an (Einheiten: x in m, t in s):
2 2
0,1 m · ex −20xt+100t
s=
x − 10t
8.5 Eine harmonische Welle breitet sich in der negativen z-Richtung aus, hat eine
Auslenkungs-Amplitude von 2 (willkürliche Einheiten), eine Wellenlänge von 1 m
und eine Periodendauer von 3 s. Am Ursprung ist zum Zeitpunkt t = 0 die Auslen-
kung null und die Schnelle ṡ > 0.
Wie lauten die Wellenfunktionen, die explizit
a) Wellenlänge λ und Periodendauer T ,

b) Kreiswellenzahl k und Phasengeschwindigkeit c,
c) Kreiswellenzahl k und Kreisfrequenz ω enthalten?
d) Wie lautet die Welle in komplexer Schreibweise?
8.6 a) Geben Sie für t = 0 die Gleichung einer harmonischen Welle an, die sich in
negativer x-Richtung ausbreitet, eine Amplitude von 5 m, eine Wellenlänge von
50 m und ϕ0 = 0 aufweist.
b) Durch welchen Zusammenhang wird die Auslenkung der obigen Welle bei t = 4 s
beschrieben, wenn sie sich mit 2 m/s ausbreitet?
8.7 Eine harmonische Welle hat die Auslenkung s = 10 cm · sin(628x/cm − 6,28t/s).
Bestimmen Sie Amplitude, Wellenlänge, Frequenz, Periodendauer, Kreisfrequenz,
Kreiswellenzahl und Geschwindigkeit der Welle.
8.8 Ermitteln Sie mit Hilfe der Methode der konstanten Phase die Phasengeschwindig-
keiten der folgenden Wellen in Abhängigkeit von den Konstanten A, B, C und D.
Führen Sie außerdem eine Dimensionsbetrachtung für diese Größen durch:
a) f (y, t) = A · (y/m − t/s)2
b) f (x, t) = A · (Bx + Ct + D)2
2 2 2
c) f (z, t) = A · eBz +BC t −2BCzt
8.9 Eine in +x-Richtung laufende harmonische Welle hat für t = 0 bei x = 0 die Auslen-
kung 13 Einheiten und -7,5 Einheiten bei x = 3λ/4. Formulieren Sie die Gleichung
der Welle für t = 0. (Angabe in reeller und komplexer Form, Angabe der komplexen
Amplitude).
8.10 a) Beweisen Sie: Falls bei einer linkslaufenden Sinuswelle bei t = 0 die maximale
positive Auslenkung bei x0 auftritt, so ist der Nullphasenwinkel:
π x0
ϕ0 = − 2π
2 λ
b) Bestimmen Sie ϕ0 für λ = 10 cm und x0 = 0; 5/6; 2,5; 5 und −0,5 cm.
c) Welche Phasenwinkel würden mit den Werten von b) auftreten, wenn man eine
Kosinuswelle zugrunde legt?
8.11 Finden Sie für eine dreidimensionale ebene Welle die für k·r zutreffenden Ausdrücke,
wenn die Ausbreitungsrichtung
a) die positive z-Achse ist,
b) entlang der Linie x = y, z = 0 liegt und
c) senkrecht zur Ebene x + y + z = konst. steht.
8.12 Beweisen Sie für eine komplexe Zahl z:
z + z∗
a) Re(z) =
2
z − z∗
b) Im(z) =
2j
ejϕ + e−jϕ
c) cos ϕ =
2
ejϕ − e−jϕ
d) sin ϕ =
2j
8.13 Wird eine komplexe Wellenfunktion mit j, 1/j oder −1 multipliziert, so ist dies
gleichbedeutend mit einer Phasenverschiebung um π/2, −π/2 bzw. π. Beweisen sie
dies.
8.14 Die gegenläufigen Wellen s1 = ŝ ej(ωt+kx) und s2 = ŝ ej(ωt−kx+π) werden überlagert.
Zeigen Sie, dass für die resultierende Welle gilt:
s = Im(s1 + s2 ) = 2ŝ sin kx · cos ωt

Es handelt sich um eine stehende Welle (s. Kap. 9).
8.15 Die Intensität des Sonnenlichts beträgt an der Erdoberfläche etwa 1 kW/m2 (So-
larkonstante).
a) Finden Sie die zu diesem Wert gehörigen Amplituden des E- und B-Feldes.
b) Berechnen Sie die hiermit gekoppelte Photonenflussdichte (s. Kap. 1), also die
Zahl der Photonen pro m2 und s unter der Annahme, dass die mittlere Wel-
lenlänge an der Erdoberfläche 700 nm beträgt.
8.16 Für eine Lichtwelle in Glas der Brechzahl 1,5 findet man eine Amplitude des E-
Feldes von 100 V/m . Wie groß sind die Amplituden des B- und H-Feldes und die
Intensität?
8.17 a) Das Licht einer 100 W-Lampe mit einer Strahlungsausbeute von 10% breitet
sich gleichmäßig in alle Raumrichtungen aus. Ermitteln Sie Bestrahlungsstärke
sowie Ê und B̂ in 10 m Entfernung.
b) Vergleichen Sie die Werte mit denen eines 2- kW-Laserstrahles, der auf einen
Fleck von etwa 100 µm2 fokussiert wird.
√
8.18 Warum muss bei einer Zylinderwelle die Amplitude mit 1/ r und ihre Intensität
mit 1/r abnehmen?
8.19 Beim Doppler-Effekt ist die verschobene Wellenlänge λ durch (8.58) gegeben. Lei-
ten Sie hieraus (8.59) für v c her.
8.20 Wie schnell müssen Sie sich einer auf rot (λ bei 640 nm) stehenden Verkehrsampel
nähern, damit sie Ihnen grün (540 nm) erscheint? Rechnen Sie mit der für v c
geltenden Näherung und relativistisch exakt.
8.21 Ein Quasar am Rande des noch beobachtbaren Universums zeigt eine so starke
Rotverschiebung, dass die ultraviolette Lyman-α-Linie (λ = 121,6 nm) des Was-
serstoffs auf den 4,8-fachen Wert ins Sichtbare verschoben wird. Wie groß ist die
Fluchtgeschwindigkeit, wenn die Verschiebung durch den Doppler-Effekt hervorge-
rufen wird? Wie weit ist der Quasar von uns entfernt, wenn die Hubble-Konstante
H ≈ 2 · 10−18 s−1 ? (Angabe auch in Lichtjahren.)
8.22 Schätzen Sie die Doppler-Verbreiterung der roten Heliumlinie (λ = 706,52 nm) bei
T = 1 000 K ab. Der Effektivwert der thermischen Geschwindigkeit ist gegeben
durch:

3RT
veff =
M
R ist die allgemeine Gaskonstante R = 8,314 · 103 kmol·K
Nm
und M (= 4 kmolkg
) die
(Kilo-)Molmasse.
9
Interferenz von Wellen
Einleitung
In Kapitel 8 wurden die Eigenschaften einer (harmonischen) Welle diskutiert.
Häufig werden sich jedoch zwei oder mehrere Wellen in einem Beobachtungspunkt
überlagern oder entlang derselben Richtung ausbreiten. Wir werden zunächst die
Überlagerung gleichfrequenter und gleichgerichteter harmonischer Wellen unter-
schiedlicher Amplitude und Phase untersuchen und feststellen, dass wieder eine
harmonische Welle gleicher Frequenz entsteht. Bei der Berechnung der resultie-
renden Intensität von kohärenten und inkohärenten Teilwellen ergeben sich wich-
tige Unterschiede. Daran anschließend werden stehende Wellen behandelt, die bei
der Superposition gegenläufiger Wellen auftreten. Es folgt die Untersuchung der
Interferenz von ebenen Wellen, die sich unter beliebigen Winkeln kreuzen. Zum
Schluss wird auf die Gruppengeschwindigkeit – die Ausbreitungsgeschwindigkeit
der Einhüllenden einer Gruppe von harmonischen Wellen unterschiedlicher Fre-
quenz – und deren Zusammenhang mit der so genannten Wellendispersion ein-
gegangen.
260 9 Interferenz von Wellen
9.1 Superpositionsprinzip
Bei der Überlagerung von Wellen interessiert die momentane Gesamtauslenkung
s = s(r, t) in einem Punkt, wenn dort gleichzeitig zwei Wellen mit den Einzelaus-
lenkungen s1 und s2 eintreffen. In linearen Medien gilt hierbei das Superposi-
tionsprinzip, das besagt, dass die gesamte Auslenkung einfach gleich der Summe
der Einzelauslenkungen ist, dass sich die Wellen also gegenseitig nicht stören:
Superpositionsprinzip s = s1 + s2 (9.1)
Bei der experimentellen Überprüfung der aus diesem Prinzip gefolgerten Ergeb-
nisse stellt man fest, dass dieses für elektromagnetische Wellen im Vakuum exakt
gilt, in Medien jedoch nur bei kleinen Lichtintensitäten in der sogenannten linea-
ren Optik.
Das Prinzip (9.1) lässt sich auch mathematisch formaler formulieren: Falls s1
und s2 unabhängige Lösungen der Wellengleichung (8.34)
1 ∂ 2s
s = ·
c2 ∂t2
sind, so ist auch die Linearkombination
s = as1 + bs2 (9.2)

eine Lösung der Differentialgleichung. a und b sind hierbei willkürliche Konstan-
ten1 .
Die Überlagerung von elektromagnetischen Wellen kann durch die Vektor-
addition der elektrischen oder magnetischen Felder ausgedrückt werden:
=E
E 2
1 + E =B
und B 1 + B
2
Hierbei ist die Richtung der Einzelvektoren zu beachten. Vektoren, die senkrecht
oder parallel zueinander stehen, führen zu unterschiedlichen Ergebnissen; dies
werden wir bei der Überlagerung von polarisiertem Licht bestätigen. Hier be-
trachten wir zunächst die elektromagnetischen Felder als Skalare. Diese skalare
Näherung ist nur für parallele E-Vektoren streng gültig; sie wird jedoch auch
häufig bei annähernd parallelen Feldern sowie bei unpolarisiertem Licht ange-

wendet, bei dem das E-Feld durch zwei orthogonale, inkohärente Komponenten
beschrieben werden kann.
In Medien treten bei der Wechselwirkung mit Licht sehr hoher Intensität
nichtlineare Effekte auf und das Superpositionsprinzip ist nicht mehr exakt gültig.
1
In der Systemtheorie bezeichnet man ein System, dessen Antwortgröße s dieses Ver-
halten zeigt, als lineares System.
9.2 Überlagerung gleichlaufender, gleichfrequenter Wellen 261
(9.2) enthält dann auch Produktterme (∼ s1 · s2 , ∼ s21 . . .), die u.a. zu Frequenz-
mischung und Frequenzverdopplung führen. Diese nichtlineare Optik (s. Kap. 26)
hat sich seit der Erfindung des Lasers zu einem wichtigen Zweig der modernen
Optik entwickelt.
9.2 Überlagerung gleichlaufender, gleichfrequenter Wellen

In Kapitel 8 wurde gezeigt (s. (8.23) und (8.36)), dass eine ebene harmonische
Welle, die in positiver x-Richtung fortschreitet, beschrieben wird durch:
harmonische ebene Welle E 1 = Ê1 ej(ωt−kx+ϕ01 ) ≡ Ê 1 ej(ωt−kx) (9.3)
Hierbei ist ω = 2πf die Kreisfrequenz, k = ω/c = 2π/λ die Kreiswellenzahl und
Ê 1 die
komplexe Amplitude Ê 1 = Ê1 ejϕ01 (9.4)
die den Nullphasenwinkel ϕ01 enthält. Die Überlagerung von zwei gleichfrequen-
ten ebenen Wellen gleicher Ausbreitungsrichtung und unterschiedlicher Amplitu-
den Ê1 und Ê2 ergibt den Feldstärkeverlauf
E = E 1 + E 2 = Ê1 ej(ωt−kx+ϕ01 ) + Ê2 ej(ωt−kx+ϕ02 ) (9.5)

Bei dieser Beschreibung ist die Ortskoordinate x des Beobachtungspunktes in
einem Koordinatensystem festgelegt, dessen Ursprung beliebig wählbar ist. Die
– im Allgemeinen unterschiedlichen – Wege von den Sendern zum Nullpunkt,
die zu Phasenverschiebungen der beteiligten Wellen führen, werden durch die
Nullphasenwinkel ϕ01 und ϕ02 berücksichtigt. In Kapitel 10 wird eine andere
Beschreibung verwendet, bei der die ortsabhängigen Phasen der Wellen durch die
Abstände x1 und x2 von den Sendern zum Beobachtungspunkt festgelegt wird.
Da Sender und Koordinatensystem in der Regel ortsfest sind, unterscheiden sich
die beiden Darstellungen nur um einen konstanten Phasenwinkel. Mit Hilfe der
komplexen Amplituden können wir (9.5) folgendermaßen umschreiben:

E = Ê 1 ej(ωt−kx) + Ê 2 ej(ωt−kx) = Ê 1 + Ê 2 ej(ωt−kx)
(9.6)
≡ Ê ej(ωt−kx) = Ê ej(ωt−kx+ϕ0 )
oder in reeller Schreibweise:
ebene Gesamtwelle E = Im(E) = Ê sin(ωt − kx + ϕ0 ) (9.7)

Der Vergleich von (9.6) mit (9.3) zeigt uns, dass nach der Überlagerung eine
Welle derselben Frequenz und Kreiswellenzahl vorliegt. Ihre komplexe Amplitude
– also Amplitude und Nullphasenwinkel – ist jedoch geändert:
Ê = Ê ejϕ0 = Ê 1 + Ê 2 = Ê1 ejϕ01 + Ê2 ejϕ02 (9.8)

Um Amplitude Ê und ϕ0 aus den entsprechenden Werten der Einzelwellen be-
rechnen zu können, verwenden wir das Zeigerdiagramm (s. Abb. 9.1) der kom-
plexen Amplituden und erhalten für den resultierenden Nullphasenwinkel:
Im(Ê) Im(Ê 1 ) + Im(Ê 2 ) Ê1 sin ϕ01 + Ê2 sin ϕ02

tan ϕ0 = = = (9.9)
Re(Ê) Re(Ê 1 ) + Re(Ê 2 ) Ê1 cos ϕ01 + Ê2 cos ϕ02
Abb. 9.1. Zeigerdiagramm für die Überlagerung von 2 harmonischen Wellen mit den
komplexen Amplituden Ê 1 und Ê 2 . a) Zeigeraddition. b) Komponentenzerlegung
Der Betrag von Ê kann (s. Abb. 9.1 b) aus Ê 2 = Re(Ê)2 + Im(Ê)2 oder mit Hilfe
des Kosinussatzes berechnet werden. Formal folgt aus (9.8):
∗

Ê 2 = Ê Ê = Ê1 ejϕ01 + Ê2 ejϕ02 Ê1 e−jϕ01 + Ê2 e−jϕ02
(9.10)
= Ê12 + Ê22 + 2Ê1 Ê2 cos(ϕ02 − ϕ01 )
Mit der
Phasendifferenz der Teilwellen δ = ϕ02 − ϕ01 (9.11)
und der Intensität I = 12 εcÊ 2 (nach (8.52)) ergibt sich hieraus die Gesamtinten-
sität bei Interferenz von zwei Wellen der Einzelintensitäten I1 und I2 :

Gesamtintensität I = I1 + I2 + 2 I1 I2 cos δ (9.12)
Die Intensität ist also nicht einfach die Summe der Einzelintensitäten, sondern
weist zusätzlich einen Interferenzterm auf, der von der Phasenbeziehung zwischen
den Teilwellen bestimmt wird. Für den wichtigen Spezialfall gleicher Amplituden
und Intensitäten (I1 = I2 ) folgt dann:
δ
I = 2I1 (1 + cos δ) = 4I1 cos2 (9.13)
2
Bei der Interferenz von Wellen sind zwei Grenzfälle besonders interessant:
a) Konstruktive Interferenz
Hier sind die beiden Wellen in Phase, ihre Wellenberge fallen zusammen (s.
Abb. 9.2 a). Dann muss die Phasendifferenz ein ganzzahliges Vielfaches von 2π
sein:
konstruktive Interferenz δ = m 2π mit m = 0, ±1, ±2, . . . (9.14)
Die Nullphasenwinkel von Gesamtwelle und Teilwellen stimmen überein und Am-
plitude (9.8) sowie Intensität erreichen ihre Maximalwerte:
Êmax = Ê1 + Ê2 (9.15)

Imax = I1 + I2 + 2 I1 I2 (9.16)
Bei gleichen Amplituden und Intensitäten der Teilwellen beobachtet man eine
Verdopplung der Amplitude, aber die vierfache(!) Intensität. Die konstruktive In-
terferenz ist in Abb. 9.2 a anhand einer Momentaufnahme veranschaulicht. Nach
(9.7) gilt bei t = 0 und ϕ0 = π für den räumlichen Verlauf der Gesamtwelle:

2π
E = Êmax sin x (9.17)
λ
b) destruktive Interferenz
Hier sind beide Teilwellen gegenphasig, d.h. Wellenberg trifft auf Wellental (s.
Abb. 9.2 b). Dies ist der Fall, wenn die Phasendifferenz:
destruktive Interferenz δ = (2m + 1)π mit m = 0, ±1, ±2, . . . (9.18)
Dann wird cos δ = −1 und wir beobachten (s. Abb. 9.2 b) die Minimalwerte:
Êmin = Ê1 − Ê2
und
Abb. 9.2. Überlagerung von zwei gleichfrequenten in positiver x-Richtung laufen-

den ebenen Wellen unterschiedlicher Phasendifferenz δ mit dem Amplitudenverhältnis
Ê2 /Ê1 = 0,8 und Nullphasenwinkel ϕ01 = π, d.h. E1 = −Ê1 sin(ωt − kx). Momentauf-
nahmen bei t = 0. a) konstruktive Interferenz, δ = m2π, Êmax = 1,8 Ê1 ; b) destruktive
Interferenz δ = (2m+ 1)π, Êmin = 0,2 Ê1 ; c) δ = π/3 + m2π, Ê = 1,56 Ê1 , ϕ0 = 0,46 rad

Imin = I1 + I2 − 2 I1 I2 (9.19)
Bei gleichen Amplituden tritt völlige Auslöschung auf.

Die obigen Ergebnisse lassen sich leicht auf die Überlagerung von N Wellen (s.
Abb. 9.3) erweitern. Wir schreiben
Ê = Ê ejϕ0 = Ê1 ejϕ01 + Ê2 ejϕ02 + Ê3 ejϕ03 + . . . (9.20)

und trennen Realteil

N
Re(Ê) = Ê cos ϕ0 = Êi cos ϕ0i
i=1
und Imaginärteil

N
Im(Ê) = Ê sin ϕ0 = Êi sin ϕ0i
i=1
Abb. 9.3. Zeigerdiagramm für die Überlagerung von 4 gleichfrequenten Wellen
Hieraus folgt für den Nullphasenwinkel:

%N
Im(Ê) i=1 Êi sin ϕ0i
Nullphasenwinkel tan ϕ0 = = %N (9.21)
Re(Ê) i=1 Êi cos ϕ0i
Für den Betrag der Gesamtamplitude gilt:

Ê 2 = Im(Ê)2 + Re(Ê)2

N 2
N 2
Amplitude
= Êi sin ϕ0i + Êi cos ϕ0i (9.22)
i=1 i=1
∗
Um die zu (9.10) analoge Form zu erhalten, müssen wir mit (9.20) Ê Ê berechnen
und erhalten:

N
N
N
Gesamtamplitude 2
Ê = Êi2 + 2Êi Êj cos(ϕ0j − ϕ0i ) (9.23)
i=1 j>i i=1
Die Notation j > i stellt sicher, dass Terme mit i = j, die bereits in der ersten
Summe berücksichtigt wurden, und solche mit i < j, die vom Faktor 2 erfasst
werden, unberücksichtigt bleiben.
Die Summe von N harmonischen gleichfrequenten und gleichlaufenden Wel-
len ergibt wieder eine harmonische Welle (9.7) derselben Frequenz aber
geänderter Phase (9.21) und Amplitude (9.22) und (9.23).
∗
Beweis von (9.23): Multiplikation
von (9.20) mit Ê = Ê1 e−jϕ01 + Ê2 e−jϕ02 +. . . führt
zu: Ê 2 = Ê12 + Ê22 + Ê1 Ê2 ej(ϕ02 −ϕ01 ) + e−j(ϕ02 −ϕ01 ) +. . . = Ê12 + Ê22 +2Ê1 Ê2 cos(ϕ02 −
ϕ01 ) + . . . und damit zu den ersten Gliedern von (9.23), die restlichen Terme ergeben
sich analog.
Beispiel 9.1 Interferenz von 3 ebenen Wellen

Am Ort x = 0 interferieren drei rechtslaufende Wellen mit dem Feldstärke-
verlauf: E1 = 7 sin(ωt + π/3), E2 = 12 cos(ωt + π/4) und E3 = 20 sin(ωt +
π/5). Bestimmen Sie die resultierende Amplitude sowie den Phasenwinkel ϕ0
und geben Sie die Wellenfunktion an. (Angabe der Feldstärkeamplituden in
kV/m.)
Lösung
Um eine konsistente Beschreibung der Nullphasenwinkel zu erreichen, muss
zunächst mit cos ϕ = sin(ϕ + π/2) die Kosinus- in eine Sinuswelle
umgewandelt werden: E2 = 12 sin(ωt + 3π/4). Dann wird mit (9.22):
π
π 2
2 3π
Ê = 7 sin + 12 sin + 20 sin
3 4 5
π π 2
3π
+ 7 cos + 12 cos + 20 cos
3 4 5
= 26,32 + 11,22 = 817
9.3 Kohärente und inkohärente Sender 267
und Ê = 28,6 kV/m.

Dasselbe Ergebnis muss natürlich aus (9.23) folgen:
π
3π π π
Ê 2 = 72 + 122 + 202 + 2 7 · 12 · cos − + 7 · 20 · cos − +
4 3 5 3

π 3π
+ 12 · 20 · cos − = 817
5 4
Nach (9.21) ist ϕ0 = arctan(26,3/11,2) = 1,17 rad = 0,37π. Die resultieren-

de harmonische Welle wird dann durch 28,6 kV/m · sin(ωt − kx + 1,17 rad)
beschrieben.
9.3 Kohärente und inkohärente Sender

Bei der Herleitung von (9.12) waren wir von harmonischen Wellenzügen aus-
gegangen. Diese verlaufen über beliebig lange Zeiten ohne Phasensprünge, sie
sind damit ideal kohärent und exakt monofrequent2. Folglich haben zwei oder
mehr Teilwellen immer eine feste Phasenbeziehung zueinander und in (9.12) tritt
bei der Ermittlung der mittleren Intensität ein zeitunabhängiger Mittelwert auf:
cos δ = cos δ = konst. Bei konstruktiver Interferenz war cos δ = 1 und bei gleich-
starken Wellen Ê = 2Ê1 . Entsprechend interferieren N gleichphasige kohärente
Wellen gleicher Amplitude, bei denen alle Zeiger parallel stehen, zur Gesamt-
amplitude
Ê = N Ê1 (9.24)
und zur Gesamtintensität
I = N 2 I1 (9.25)
Bei konstruktiver Interferenz der Strahlung N identischer kohärenter Sender

addieren sich die Amplituden der Wellen und die resultierende Intensität ist
das N 2 -fache der Einzelintensität.
Hat man eine große Zahl von Teilwellen gleicher Amplitude, aber unterschiedli-
cher Phase, so muss man zwei Fälle unterscheiden:
2
Nach der Unschärferelation (12.31) ist das Produkt aus Frequenz- und Zeitunschärfe
∆f · ∆t ≈ 1. Bei einem unendlich ausgedehnten Wellenzug gilt dann ∆f = 0.
1. Die Einzelwellen, die z.B. von vielen Radioantennen emittiert werden, ver-
laufen harmonisch, ihre Phase ϕ0i ist mithin zeitlich konstant, in Bezug auf
die anderen Sender aber statistisch verteilt. In diesem kohärenten Fall gibt es
– bei hinreichend großem N – im statistischen Mittel zu jedem Zeiger i einen
Zeiger j entgegengesetzter Richtung und die resultierende Welle verschwin-
det.
2. Die Phase der Einzelsender schwankt zeitlich statistisch. Dies ist bei der
Lichtemission der Fall. Licht emittierende Atome senden nur kurz zusam-
menhängende – und folglich nur annähernd harmonische – Wellenzüge aus,
deren Dauer selbst bei monochromatischen“ Spektrallampen nur ca. 1 ns be-
”
trägt. Der Zeitpunkt der Emission schwankt statistisch. Wellen von 2 Atomen
– und damit erst recht von 2 Lampen – sind also inkohärent, sie haben keine
feste Phasenbeziehung. In (9.12) wird cos δ = 0, da der Kosinus im zeitlichen
Mittel alle Werte zwischen +1 und −1 mit gleicher Wahrscheinlichkeit an-
nimmt, der Interferenzterm verschwindet und die Intensitäten sind additiv:
I = 2I1 . Bei einer großen Zahl von N inkohärenten Teilwellen können wir uns
vorstellen, dass sich die Interferenzterme von jeweils 2 Teilwellen herausmit-
teln. Für N Sender wird daraufhin Ê 2 = N · Eˆ12 und die Gesamtintensität:
I = N I1 (9.26)
Dieses Ergebnis wird auch aus (9.23) verständlich, wo die Kosinusterme unter
der Doppelsumme wieder mit gleicher Wahrscheinlichkeit positive und % nega-
tive Werte annehmen, im Zeitmittel verschwinden und somit Ê 2 = Êi2 =
N Ê12 verbleibt.
Bei der Überlagerung inkohärenter Wellen ist die Gesamtintensität die Sum-
me der Einzelintensitäten.
Konstruktive Interferenz kann zu sehr hohen Intensitäten führen, so ist z.B.

die Intensität von 100 gleichstarken kohärenten Sendern das Hundertfache von
100 gleichstarken inkohärenten Sendern.
9.4 Interferenz ebener Wellen beliebiger Frequenz und

Richtung
In den folgenden Abschnitten wird die Interferenz von ebenen Wellen untersucht,
die sich in Frequenz und Ausbreitungsrichtung unterscheiden können. Die Er-
gebnisse sollen – zur Verminderung des Rechenaufwandes – als Spezialfälle eines
allgemeinen Ansatzes hergeleitet werden.
9.4 Interferenz ebener Wellen beliebiger Frequenz und Richtung 269
Zwei ebene harmonische Wellen unterschiedlicher Frequenz (f1 = f2 ), Rich-

tung (k1 = k2 ) und Amplitude ergeben in einem Punkt P , der durch einen
Ortsvektor r festgelegt ist, zum Zeitpunkt t die elektrische Feldstärke:
E = E 1 +E 2 = Ê1 ej(ω1 t−k1 ·r+ϕ01 ) +Ê2 ej(ω2 t−k2 ·r+ϕ02 ) ≡ Ê1 ejα1 +Ê2 ejα2 (9.27)

Die Phase der Teilwelle i (mit i = 1, 2) ist somit
Phase der Welle i αi (r, t) = ωi t − ki · r + ϕ0i (9.28)
und die Wellen weisen eine zeit- und ortsabhängige Phasendifferenz δ auf:
δ(r, t) = α2 − α1 = (ω2 − ω1 )t − (k2 − k1 ) · r + ϕ02 − ϕ01 (9.29)

Aufgrund dieser Zeitabhängigkeit kann sich dann keine stationäre Interferenz
ausbilden.
Für die weitere Untersuchung soll (9.27) umgeformt werden: Wir setzen Ê2 =
Ê1 + ∆Ê und klammern ej(α1 +α2 )/2 aus:

E = Ê1 ej(α1 +α2 )/2 ej(α2 −α1 )/2 + e−j(α2 −α1 )/2 + ∆Ê ejα2

α2 − α1
= 2Ê1 cos ej(α1 +α2 )/2 + ∆Ê ejα2 (9.30)
2
Bei Übergang zur reellen Schreibweise (E = Im(E)) wird dies

α2 − α1 α1 + α2
E = 2Ê1 cos sin + ∆Ê sin α2
2 2

α1 + α2
= Ê(r, t) sin + ∆Ê sin α2 (9.31)
2
mit der Interpretation:
Bei Überlagerung von zwei laufenden Wellen unterschiedlicher Frequenz und
Richtung entsteht eine Welle, deren Phase gleich dem Mittelwert der Phasen
der Einzelwellen ( α1 +α
2
2
) ist, mit einer von der Differenz der Einzelphasen be-
stimmten zeit- und ortsabhängigen Amplitude Ê(r, t):

α2 − α1 δ(r, t)
Gesamtamplitude Ê(r, t) = 2Ê1 cos = 2Ê1 cos (9.32)
2 2
Bei ungleichen Teilamplituden (Ê2 = Ê1 + ∆Ê) verbleibt eine durch die In-
terferenz völlig unbeeinflusste laufende Welle der Phase α2 und Amplitude ∆Ê
(letzter Summand in (9.31)).
9.5 Stehende Wellen

Stehende Wellen treten bei der Interferenz gegenläufiger Wellen auf, die meist
durch Reflexion laufender Wellen realisiert werden. Wir setzen gleichfrequente
Wellen (ω1 = ω2 = ω) gleicher Amplitude voraus und fordern, dass sich Welle 1 in
+x- und Welle 2 in −x-Richtung ausbreitet, dass also: k1 ·r = kx und k2 ·r = −kx.
Dann folgt aus (9.29) und (9.31) für die Beschreibung der stehenden Welle:
E = 2Ê cos(kx + ϕ0x ) · sin(ωt + ϕ0t ) ≡ Ê(x) sin(ωt + ϕ0t ) (9.33)

(ϕ0x und ϕ0t sind Nullphasenwinkel, die die Rand- und Anfangsbedingungen
berücksichtigen). Das Ergebnis zeigt, dass es sich bei der stehenden Welle nicht
um eine Welle (bei der die Phase, das Argument des Sinus, zeit- und ortsabhängig
ist), sondern um eine Schwingung (nur zeitabhängige Phase) mit ortsabhängiger
Amplitude Ê(x) handelt. Mit k = 2π/λ und ϕ0x = −π/2, sowie ϕ0t = π/2 folgt
aus (9.33) für die in Abb. 9.4 dargestellte

2π
stehende Welle E(x, t) = 2Ê sin x · cos ωt (9.34)
λ
mit der ortsabhängigen Amplitude:

2π
Ê(x) = 2Ê sin x (9.35)
λ
Eine stehende Welle weist als Knoten bezeichnete Punkte auf, an denen Ampli-
tude Ê(x) und damit Feldstärke E immer null sind. Solche Knoten treten nach
(9.35) für 2πx/λ = mπ auf, also bei den Koordinaten:
Knotenlage bei ϕ0x = − π2 : λ

x=m mit m = 0, 1, 2, . . . (9.36)
2
Knoten liegen somit immer im Abstand einer halben Wellenlänge. Die Extrema
der Amplitude bezeichnet man als Bäuche, ihr Abstand beträgt ebenfalls λ/2,
während Knoten und Bauch nur um λ/4 voneinander entfernt sind.
Extrema der Auslenkung beobachtet man zu den Zeitpunkten:
T
t=m mit m = 0, 1, 2, . . . (9.37)
2
Dies ist Ihnen vom schwingenden Pendel bekannt, bei dem in einer Periode zwei
Extrema und zwei Nulldurchgänge auftreten.
Ein wesentliches Kennzeichen einer Welle, der Energietransport, geht in der
stehenden Welle verloren. Die Energie ist zwischen den Knoten gespeichert und
9.6 Interferenz schräger“ Wellen 271
”
Abb. 9.4. Stehende Wellen. a) Typischer Fall für das Entstehen einer stehenden Welle
bei Überlagerung einer rechtslaufenden und durch Reflexion gebildeten linkslaufenden
Welle. b) Feldstärkeverlauf einer stehenden Welle zu verschiedenen Zeitpunkten. Die
durchgezogenen Kurven zeigen die Extremalwerte mit den Bäuchen. In den Knoten
(K) ist E immer Null
hält die Schwingung aufrecht. Erzeugung der stehenden Welle durch Mehrfach-
reflexion, z.B. in einem Laserresonator, führt zu Reflexionsverlusten an den End-
spiegeln; zusätzliche Absorptionsverluste in dem Medium bewirken unterschiedli-
che, ortsabhängige Amplituden der hin- und rücklaufenden Wellen. Dann kann in
den Knoten keine vollständige destruktive Interferenz auftreten und die Bäuche
haben unterschiedliche Höhe. In diesem Fall lässt sich die entstehende Welle als
Überlagerung einer stehenden und einer laufenden Welle beschreiben, die die
Energie zum Auskoppelspiegel transportiert.
9.6 Interferenz schräger“ Wellen

”
Von besonderem Interesse (z.B. bei der Herstellung von Sinusgittern mit Hilfe von
Zweistrahlinterferenz) ist die Superposition von Wellen gleicher Frequenz (glei-
cher Amplitude), aber unterschiedlicher Ausbreitungsrichtung, deren Wellenvek-
toren k1 und k2 den – häufig kleinen – Winkel 2θ einschließen (s. Vektordiagramm
Abb. 9.5 a). In einem rechtwinkligen Koordinatensystem, bei dem die x-Achse in
Richtung der Winkelhalbierenden der Einfallsrichtungen zeigt, erhält man unter
Verwendung von (9.31) (mit α1 = −k1 ·r = −kx x+ky y, α2 = −k2 ·r = −kx x−ky y
und ∆Ê = 0 sowie Abb. 9.5 b) für die resultierende Welle
2 schräglaufende Wellen E = 2Ê1 cos(k⊥ y) · sin(ωt − k x) (9.38)
k1 +
k2 −

wobei k = 2
k2
mit k = kx = k cos θ = 2π
λ sowie k⊥ = 2
k1
mit
2π
k⊥ = ky = k sin θ = λ⊥
.
Abb. 9.5. Schräglaufende ebene Wellen. a) Zwei Teilstrahlen mit den zugehörigen Wel-
lenfronten und Wellenvektoren, die unter dem Winkel 2θ in Punkt P zusammentreffen.
b) Diagramm der k-Vektoren. Die Summe der Einzelvektoren beschreibt die laufende
Welle in x-Richtung (die parallel zur Winkelhalbierenden liegt) und ihre Differenz die
stehende Welle in y-Richtung
9.6 Interferenz schräger“ Wellen 273
”
Das Ergebnis der Überlagerung von 2 schräglaufenden Wellen ist mithin eine in
Richtung der Winkelhalbierenden (k - bzw. x-Richtung) laufende Welle mit dem
Wellenvektor k und der Wellenlänge
λ
λ = (9.39)
cos θ
und eine hierzu senkrechte stehende Welle mit dem Wellenvektor k⊥ und der
λ
Wellenlänge der stehenden Welle λ⊥ = (9.40)
sin θ
Abbildung 9.5 b verdeutlicht das Entstehen der stehenden Welle aufgrund der
antiparallelen y-Komponenten der Wellenvektoren. In Abb. 9.6 a ist der Ver-
Abb. 9.6. a) Momentaufnahme des Amplitudenquadrats der elektrischen Feldstärke

bei der Interferenz schräglaufender Wellen. b) Moiré-Muster (Verdrehungs-Moiré) bei
unterschiedlichen Verdrehungswinkeln 2θ der Liniengitter
lauf der Amplitudenquadrate Ê 2 bei einer Momentaufnahme der Teil- und Ge-
samtwellen dargestellt. Die entstehenden Strukturen lassen sich mit Liniengit-
tern nachbilden, man bekommt die in Abb. 9.6 b dargestellten Moiré-Muster . In
Abb. 9.6 b ist auch der Einfluss des Verkippungswinkels 2θ auf die Wellenlängen
der fortschreitenden und stehenden Welle zu erkennen. Die Registrierung eines
solchen Interferenzfeldes mit einem Film oder fotorefraktiven3 Kristall ergibt
ein Intensitäts- oder Phasengitter mit Sinusverlauf, bei dem der Gitterabstand g
gleich dem Abstand λ⊥ /2 der Bäuche einer stehenden Welle ist, also:
λ
g= (9.41)
2 sin θ
Die Gitterkonstante steigt bei Verringerung des Kippwinkels. Solche Gitter haben
bei der Erklärung der Holografie und als HOE4 große Bedeutung (s. Kap. 17.8).
Beispiel 9.2 Holografisches Gitter
Der aufgeweitete Strahl eines He-Ne-Lasers (λ = 632,8 nm) passiert einen
Strahlteiler. Die entstehenden Teilstrahlen schließen in Luft einen Winkel von
8◦ ein und interferieren in einer Fotoschicht der Brechzahl n , die senkrecht
zur Winkelhalbierenden der Strahlen steht. Wie groß ist der Abstand der
Interferenzstreifen in Luft und in der Schicht?
Lösung
Nach (9.41) gilt in Luft (mit 2θ = 8◦ ): g = 2 sin
λ0
θ ≈ sin 2θ = 4,5 µm und in
λ0
dem Fotomedium g = n 2λsin

0
θ . Da nach dem Brechungsgesetz

sin θ = n sin θ , wird der Einfluss der kleineren Wellenlänge des Mediums
gerade durch die Brechung zum Lot hin kompensiert und die
Gitterkonstanten stimmen überein.
9.7 Phasen- und Gruppengeschwindigkeit

In der Optik ist die Superposition von Wellen gleicher oder vergleichbarer Ampli-
tude aber (wenig) unterschiedlicher Frequenz von großer Bedeutung. Aufgrund
der Dispersion breiten sich solche Wellen (in Medien) mit unterschiedlicher Ge-
schwindigkeit aus. Die Überlagerung von Wellen, deren Wellenfronten mit un-
terschiedlicher Phasengeschwindigkeit fortschreiten, führt zu einer periodischen
Änderung der Gesamtamplitude. Ein Punkt maximaler Gesamtamplitude breitet
sich dann auch mit einer anderen Geschwindigkeit, der Gruppengeschwindigkeit,
3
Medium (z.B. Lithium-Niobat), das bei Belichtung seine Brechzahl ändert.
4
HOE = H olografisch-Optische-E lemente.
9.7 Phasen- und Gruppengeschwindigkeit 275
aus, während die Maxima der Teilwellen mit der Phasengeschwindigkeit fort-
schreiten. Die wesentlichen Ergebnisse können schon an der Überlagerung von 2
Wellen demonstriert werden.
Wir setzen bei Anwendung von (9.31) zwei in x-Richtung fortschreitende Wel-
len (mit den Phasen αi = ωi t − ki x + ϕ0i ) gleicher Amplitude (∆Ê = 0) voraus
und wählen die Nullphasenwinkel so, dass aus (9.31) ein Kosinusprodukt folgt:
E = 2Ê cos (ωg t − kg x) · cos (ωp t − kp x) = Ê(x, t) cos (ωp t − kp x) (9.42)
mit ωg = ω2 −ω2
1
, kg = k2 −k
2
1
und ωp = ω1 +ω
2
2
, kp = k1 +k
2
2
.
Gleichung (9.42) beschreibt eine Welle, bei der die Amplitude Ê(x, t) =
2Ê · cos (ωg t − kg x) nunmehr zeit- und ortsabhängig ist, allerdings mit – ge-
genüber den Einzelwellen – stark vergrößerten zeitlichen und örtlichen Peri-
odenlängen, da häufig gilt: f1 ≈ f2 und damit ωp ωg und somit auch kp kg .
In Abb. 9.7 sind für einen festen Ort der Verlauf von niederfrequenter Amplitude
Ê(x, t) und hochfrequentem Schwingungsterm (cos(ωp t − kp x)) sowie der durch
Produktbildung entstehende Gesamtverlauf (9.42) einer amplitudenmodulierten
Schwingung wiedergegeben. Man beobachtet das von der Bewegung zweier gekop-
pelter Pendel oder von zwei leicht verstimmten Stimmgabeln bekannte Phänomen
der Schwebung. Aus Abb. 9.7 b ist ersichtlich, dass die Gesamtschwingung mit
der doppelten Frequenz der Einhüllenden oszilliert, man erhält damit die
Schwebungsfrequenz fs = 2fg = f2 − f1 (9.43)
Wie erwähnt, breiten sich in einem Medium Lichtwellen unterschiedlicher Wel-

lenlänge im Allgemeinen mit unterschiedlicher Geschwindigkeit aus. Selbst das als
monochromatisch bezeichnete Laserlicht besteht aus einem – wenn auch schma-
len – Wellenlängenband um die mittlere Wellenlänge. Für zwei beliebige Wel-
lenlängen dieses Bandes lässt sich die oben behandelte Überlagerung der Teilwel-
len vornehmen und die Geschwindigkeit c = ωk berechnen. Man erhält dann für
die Phasengeschwindigkeit des hochfrequenten (ωp ) Anteils von (9.42)
ωp ω1 + ω2 ω
Phasengeschwindigkeit cp = = ≈ = λf (9.44)
kp k1 + k2 k
wobei benachbarte Frequenzen vorausgesetzt wurden, so dass ω1 ≈ ω2 = ω und

entsprechend k1 ≈ k2 = k. Die Einhüllende, der niederfrequente Anteil von (9.42),
schreitet mit der
ωg ω2 − ω1 dω
Gruppengeschwindigkeit cg = = ≈ (9.45)
kg k2 − k1 dk
Abb. 9.7. a) Verlauf der Kosinusterme Amplitude“ (cos(ωg t − kg x)) und Schwin-
” ”
gung“ (cos(ωp t − kp x)) (s. (9.42)) als Funktion der Zeit für fp = 10 · fg und die Orte
x = x0 = 0, λg , . . . sowie ebenso als Funktion des Ortes für die Zeiten t = 0, T, . . .
b) Amplitudenmodulierte Gesamtwelle (9.42). c) Schwebung bei Liniengittern (Verlaufs-
Moiré).
fort. Die differentielle Änderung setzt wieder kleine Unterschiede der entsprechen-
den Größen voraus. Gruppen- und Phasengeschwindigkeit müssen nicht gleich
groß sein. Für cp > cg laufen die hochfrequenten Wellen nach rechts unter der
”
Einhüllenden hindurch“, nur für cp = cg würde eine solche Relativbewegung ver-
schwinden. Dies lässt sich auch mit einem Oszilloskop demonstrieren, bei dem
die Frequenz fa der horizontalen Ablenkspannung nicht mit der Frequenz f1 ei-
nes Eingangssignals übereinstimmt. Ist f1 etwas kleiner als fa , so sieht man den
Wellenzug langsam nach rechts laufen, seine Geschwindigkeit steigt mit der Fre-
quenzdifferenz fa − f1 an. Mit einem zusätzlichen zweiten Signal mit f2 f1
beobachtet man eine sich langsam (∼ fa − (f1 − f2 )) nach rechts bewegende
Schwebungsfigur, die von einer im linken Knoten entstehenden hochfrequenten

Welle überholt wird, deren Geschwindigkeit proportional zu fa − 12 (f1 + f2 ) ist.
Mit ω = cp k lässt sich ein Zusammenhang zwischen Gruppen- und Phasen-
geschwindigkeit herstellen:

Gruppen- und Phasen- k dn λ dn
cg = cp 1 − · = cp 1 + · (9.46)
geschwindigkeit n dk n dλ
d(kc )
Beweis: Nach
(9.45)
ist cg = dω
dk
= dkp , bei Anwendung der Produktregel wird dies
dc dc c c
cg = cp + k dkp (∗). Wegen cp = cn0 ist dkp = − nc02 · dn
dk
= − np · dn
dk
= np · dn · λ . Der
dλ k
letzte Schritt folgt aus k = 2π
λ
wegen dk
k
= − dλ
λ
. Einsetzen in (∗) ergibt (9.46).
Im Vakuum verschwindet die Dispersion, dann ist dn dλ

= 0, Phasen- und Grup-
pengeschwindigkeit werden unabhängig von der Wellenlänge und sind immer
gleich groß. In Medien mit normaler Dispersion ist dndλ < 0 und mithin cg < cp .
Wie bereits erwähnt, können diese Ergebnisse auch auf ein Kontinuum von
Teilwellen aus einem schmalen Frequenzband übertragen werden. Auch hier gibt
es die Phasengeschwindigkeit, mit der die Teilwelle der Mittenfrequenz fortschrei-
tet und die Gruppengeschwindigkeit des gesamten Wellenpulses. Letztere be-
stimmt die Geschwindigkeit, mit der die Energie der Welle transportiert wird, und
ist die mit einem Detektor direkt messbare Größe. Bei einer amplitudenmodulier-
ten Radiowelle würde man die Gruppengeschwindigkeit als Signalgeschwindigkeit
bezeichnen. Lichtpulse in Lichtwellenleitern werden aufgrund der unterschiedli-
chen Phasengeschwindigkeiten der beteiligten Teilwellen verbreitert; damit wird
die Übertragungskapazität für Informationen begrenzt. Die Wellenmechanik be-
schreibt ein lokalisiertes Elektron durch ein schmales Wellenpaket, das sich in
harmonische Materiewellen aufspalten lässt. Die Geschwindigkeit des Elektrons
ist durch die Gruppengeschwindigkeit der beteiligten Wellen gegeben.
Ein interessantes Beispiel für den Unterschied zwischen Gruppen- und Pha-
sengeschwindigkeit liegt bei schräglaufenden Wellen vor. Die Phasengeschwindig-
keit folgt aus (9.38) oder cp = λ f und (9.39) zu:
c
cp = (9.47)
cos θ
Die Gruppengeschwindigkeit ist die Geschwindigkeit, mit der sich der Einzelstrahl
in x-Richtung fortpflanzt, also die x-Komponente von c:
cg = c cos θ (9.48)
Das Produkt der beiden Geschwindigkeiten ist winkelunabhängig:
cp cg = c2 (9.49)
Übungen
9.1 Zwei ebene Wellen sind gegeben durch:
5Ê −5Ê
E1 = 2 und E2 = 2
x
3m − 4 st +2 x
3m + 4 st − 6 +2
a) Beschreiben Sie die Bewegung dieser Wellen.

b) Zu welchem Zeitpunkt ist die Überlagerung der Wellen überall null?
c) An welchem Punkt x0 löschen sich die Wellen immer aus?
9.2 a) Zeichnen Sie das Zeigerdiagramm der folgenden in +x-Richtung laufenden har-
monischen Mikrowellen der Frequenz f = 1 GHz und ihrer Resultierenden:
V V π
Ê1 = 2 , ϕ01 = 0 Ê2 = 7 , ϕ02 =
m m 4
b) Beschreiben Sie die resultierende Welle (im Vakuum) in komplexer und Sinus-
form.
9.3 Finden Sie die Resultierende von 2 Einzelseilwellen mit den Amplituden 3 und 4 mm
und den Nullphasenwinkeln 30◦ und 90◦ , wenn ihre Geschwindigkeit 2 m/s und die
Frequenz 2 Hz beträgt.
9.4 Zwei entlang der x-Achse laufende Wellen haben am Ort x = 0 den zeitlichen
Verlauf: s1 = 5 mm · sin(ωt + π/2) und s2 = 7 mm · sin(ωt + π/3), ihre Phasen-
geschwindigkeit ist c. Geben Sie die Gleichung der durch Überlagerung erzeugten
Welle an.
9.5 An einem festen Ort (in Luft) beobachtet man für drei in negativer x-Richtung
laufende Wellen den folgenden zeitlichen Verlauf des E-Feldes: E1 = 1V/m·sin(ωt−
10◦ ), E2 = 3 V/m·cos(ωt+100◦ ) und E3 = 2 V/m·sin(ωt−30◦ ). Die Periodendauer
beträgt 10 ns. Wie lautet die Beschreibung des E-Feldes der resultierenden Welle,
wenn die einzelnen E-Vektoren parallel liegen? (Beachten Sie die Umrechnung von
Grad in rad.)
9.6 100 Antennen emittieren identische Wellen mit dem zeitlichen Verlauf E = 0,02 V/m·
sin(ωt + ϕ0 ). Die Wellen interferieren an einem festen Ort. Welche Amplitude hat
die resultierende Welle, wenn am Empfänger:
a) alle Wellen in Phase sind (kohärente Sender),
b) die Phasenbeziehungen zufällig verteilt sind?
9.7 Zwei gleichfrequente ebene Wasserwellen schwingen in z-Richtung. Ihre Auslenkung
ist gegeben durch:

t x
s(x, t) = 5 mm · sin 150 + 6 +π
s cm

t y π
s(y, t) = 2 mm · sin 150 + 6 +
s cm 2
Berechnen Sie die Auslenkung am Punkt x = 5 cm und y = 2 cm.

9.8 Zwischen Gruppen- und Phasengeschwindigkeit besteht der Zusammenhang:
dcp
cg = cp − λ ·
dλ
a) Beweisen Sie diese Beziehung und geben Sie cg auch als Funktion von n und ω
an.
b) Stellen Sie
fest, ob die Gruppengeschwindigkeit in Medien mit normaler Dis-
persion dndλ < 0 größer oder kleiner als die Phasengeschwindigkeit ist.
9.9 Die Abbesche Zahl ist definiert als νd = (nd − 1)/(nF − nC ), wobei sich C, d und F
auf die Fraunhofer-Wellenlängen λC = 656,3 nm, λd = 587,6 nm und λF = 486,1 nm
beziehen. Schätzen Sie die Gruppengeschwindigkeit für ein Glas mit der Abbezahl
30 und nd = 1,50 ab.
9.10 Die Brechzahl von Glas kann näherungsweise durch die empirische Cauchy-Beziehung
n = A + λB2 beschrieben werden. Berechnen Sie hiermit Phasen- und Gruppenge-
schwindigkeit bei λ = 500 nm für ein Glas mit A = 1,40 und B = 2,5 · 104 nm2 .
9.11 Zwischen Dielektrizitätszahl εr und Brechzahl n besteht die Relation: εr = n2 .
a) Beweisen Sie, dass dann die Gruppengeschwindigkeit

c0 ω dεr
cg = √ 1− ·
εr 2εr dω
b) Bei Gasen findet man die empirische Beziehung:
A
εr = 1 +
ω02 − ω 2
Hierbei sind A und ω0 für das Gas charakteristische Konstanten. Falls der
zweite Term klein ist, kann man für die Gruppengeschwindigkeit schreiben:

Aω 2
cg ≈ c0 1 − 2
(ω0 − ω 2 )2
Wieso ?
9.12 a) Beweisen Sie die folgende Beziehung für die Gruppengeschwindigkeit:
dcp
cg = cp − λ ·
dλ
b) Berechnen Sie hiermit cg für ein Medium, in dem cp = A + Bλ. Erklären Sie
das Ergebnis.
9.13 Bei Wasserwellen können zwei Grenzfälle unterschieden werden: Bei großer Was-
sertiefe und Wellenlänge – also auf dem hohen Meer – wird die Rückstellkraft
der schwingenden Teilchen durch die Schwerkraft hervorgerufen.
Man spricht von
Schwerewellen mit der Phasengeschwindigkeit cp = gλ 2π
(mit g = 9,81 m/s2 ). Wel-
len kleiner Wellenlänge – die Oberflächenwellen
– werden aufgrund der Oberflächen-
2πσ
spannung σ vorwärtsgetrieben, hier ist cp = λ
mit = Dichte des Wassers.

cp 3
Zeigen Sie, dass für Schwerewellen cg = 2
und für Oberflächenwellen cg = c
2 p
gilt.
9.14 Monochromatisches Laserlicht trifft senkrecht auf einen ebenen Spiegel, der sich
mit der Geschwindigkeit v entfernt. Welche Schwebungsfrequenz beobachtet man
bei Überlagerung von emittiertem und reflektiertem Strahl?

9.15 Auf einer Saite breiten sich die gegenläufigen Wellen s1,2 = 7 mm·sin 200π ts ∓ 2 m
x
aus. Untersuchen und skizzieren Sie die resultierende Welle und geben Sie deren
Amplitude, Wellenlänge, Frequenz und Geschwindigkeit an.
9.16 In einem Kundtschen Rohr bildet sich eine stehende Schallwelle aus, deren Auslen-
kung durch

πx t
s = 3 µm · sin · cos 560π
0,6 m s
gegeben ist.
a) Bestimmen Sie Amplitude, Frequenz, Wellengeschwindigkeit und Wellenfunk-
tion der erzeugenden laufenden Wellen.
b) Wie groß ist der Knotenabstand?
c) Berechnen Sie Auslenkung, Schnelle und Beschleunigung eines Teilchens bei
x = 2 cm für t = 0,22 s.
9.17 Schreiben Sie zwei gegenläufige gleichfrequente Wellen in komplexer Notation auf
und zeigen Sie, dass deren Überlagerung eine stehende Welle ergibt.
10
Lichtinterferenz
Einleitung
In diesem Kapitel werden wir Experimente zur Interferenz von zwei oder meh-
reren Lichtwellen behandeln und die Voraussetzungen diskutieren, unter denen
sich Interferenz beobachten lässt. Von besonderem Interesse sind die Grenzfälle
der Verstärkung oder konstruktiven Interferenz und der Abschwächung oder
destruktiven Interferenz der überlagerten Wellen. Ändern sich die Interferenz-
bedingungen räumlich, so treten Interferenzmuster auf. Bekanntestes Beispiel
sind die Interferenzstreifen des Youngschen Doppelspaltversuchs, mit dem die
Wellennatur des Lichtes bewiesen wurde. An dünnen Seifenhäuten oder Ölfilmen
beobachtet man Interferenzfarben, da für ein Wellenlängenintervall des weißen
Lichtes Verstärkung und ein anderes Abschwächung auftritt. Alle diese Inter-
ferenzphänomene lassen sich mit dem Wellenmodell des Lichtes erklären.
282 10 Lichtinterferenz
10.1 Zweistrahlinterferenz
In Kap. 9 wurde die Interferenz skalarer Wellen in komplexer Schreibweise be-
handelt. Wir untersuchen nun die Überlagerung von zwei Wellen unter Berück-
sichtigung des Vektorcharakters des elektrischen Feldes und verwenden die reelle
Beschreibung. Im Raumpunkt P , der durch den Ortsvektor r festgelegt ist, sollen
die von zwei Quellen ausgehenden gleichfrequenten ebenen Wellen
ˆ
1 sin(ωt − k1 · r + ϕ01 )
1 = E
E
ˆ (10.1)
2 sin(ωt − k2 · r + ϕ02 )
2 = E
E
interferieren. Nach dem Überlagerungsprinzip wird die resultierende Feldstärke
im Punkt P :
E 1 + E
P = E 2
Wir hatten gesehen, dass die quadratischen“ Detektoren der Optik nur das zeit-
”
gemittelte Quadrat der Feldstärken und damit die Intensität I = εcE 2 (8.53)
nachweisen können. Wir erhalten deshalb

I = εc E 1 + E
2 = εc(E 2 )2 = εc E2 + E
2 + 2E 2
1 · E (10.2)
P 1 2
und schreiben für die Intensität

I = I1 + I2 + I12 (10.3)
I1 und I2 sind die Intensitäten der Einzelwellen und I12 ist der wichtige Inter-
ferenzterm
I12 = 2εcE 2
1 · E (10.4)
der zeigt, dass bei der Interferenz nicht einfach die Intensitäten addiert werden.
Der Interferenzterm hängt von der Phasenbeziehung und Polarisation der Teil-
wellen ab. Bei linear polarisiertem Licht verschwindet I12 für E 1 ⊥ E 2 , d.h.
wenn die Schwingungsebenen senkrecht aufeinander stehen, und wird maximal,
wenn E 2 ist. Kohärentes unpolarisiertes Licht ist interferenzfähig, da es in
1 E
zwei orthogonale Komponenten zerlegt werden kann, die bei den interferieren-
den Teilwellen jeweils parallel stehen. Damit reduziert sich der Interferenzterm
für unpolarisertes Licht und polarisiertes Licht mit E 1 E 2 auf das Resultat
der skalaren Theorie (s. Kap. 9), falls nicht die Wellenfronten zusätzlich verkippt
sind, d.h. es muss gelten: k1 k2 . Zur Berechnung von (10.4) bestimmen wir
zunächst mit (10.1)1 :
1
und dem Additionstheorem 2 sin α sin β = cos(α − β) − cos(α + β).
10.1 Zweistrahlinterferenz 283
&
1 · E ˆ ˆ
2 = εc E
2E 1 · E 2 cos k 2 ·
r − k 1 ·
r + ϕ01 − ϕ02 +
'
− cos 2ωt − (k1 + k2 ) · r + ϕ01 + ϕ02
Bei Zeitmittelung verschwindet der zeitabhängige Term. Wir führen die Phasen-
differenz δ der Teilwellen ein:
δ = k2 · r − k1 · r + ϕ01 − ϕ02 (10.5)

und erhalten den Interferenzterm:
ˆ ˆ
I12 = εcE 1 · E 2 cos δ

Für parallele E-Vektoren folgt hieraus das bereits bekannte Ergebnis (9.12) für
die Intensität der Zweistrahlinterferenz

Intensität der Zweistrahlinterferenz I = I1 + I2 + 2 I1 I2 cos δ (10.6)
Abb. 10.1. Zweistrahlinterferenz im Beobachtungspunkt P , der durch einen Ortsvektor

r festgelegt ist. Die ortsabhängigen Phasen, mit denen die Teilwellen in P eintreffen,
werden – bei Welle 1 – durch k1 · r1 = k1 r1 bestimmt. Bei Welle 2 gilt k2 r2 mit
r2 = r2 + r2 sowie einer evtl. zusätzlichen Phasenverschiebung bei der Reflexion
Zur Ermittlung der Phasendifferenz (10.5) ist es vorteilhaft, die ortsabhängige

Phase der Wellen nicht durch den Ortsvektor r, sondern durch die Abstände r1,2
des Aufpunktes P von den Quellen Q1,2 auszudrücken (s. Abb. 10.1). (Wegen
k1 · r = k1 · r1 + k1 · ∆r1 unterscheiden sich dann die Phasen k1 · r und k1 · r1
nur um einen konstanten Betrag k1 · ∆r1 ). Für Kugelwellen ist k1,2 r1,2 und
wir erhalten aus (10.5):
δ = k2 r2 − k1 r1 + ∆ϕ (10.7)
mit den Kreiswellenzahlen k1,2 = cω0 n1,2 = k0 n1,2 . Für synchron schwingende
Sender ist nun ∆ϕ = 0, falls nicht zusätzliche Phasenverschiebungen – z.B. durch
Reflexion – auftreten. Anschaulicher als die Phasendifferenz ist der Gangunter-
schied ∆ der interferierenden Teilstrahlen. Hierunter versteht man die Wegstrecke
im Vakuum, die der Phasendifferenz δ entspricht, d.h.
2π
Phasendifferenz ↔ Gangunterschied δ = k0 ∆ = ∆ (10.8)
λ0
Hiermit folgt dann aus (10.7) (nach Division durch k0 ) für den Gangunterschied
Gangunterschied ∆ = n 2 r 2 − n 1 r 1 + ∆ (10.9)
Hierbei ist der

optische Weg dopt = n · r (10.10)
gleich dem Produkt von geometrischem Weg und Brechzahl. Der optische Weg
berücksichtigt den Einfluss unterschiedlicher Ausbreitungsgeschwindigkeiten (c =
c0 /n) auf die Phasenverschiebung. Damit kommen wir zu der Formulierung von
(10.9):
Der Gangunterschied ∆ von zwei Teilwellen ist gleich der Differenz der opti-
schen Wege plus einem konstanten Beitrag ∆ durch evtl. Phasensprünge bei
Reflexion und unterschiedliche Phasenlage der Sender.
Die Beziehung für den Gangunterschied folgt auch direkt aus der Laufzeitdifferenz
∆t der Teilstrahlen:
r2 r1
∆ = c0 ∆t = c0 (t2 − t1 ) = c0 − c0 = n 2 r 2 − n 1 r 1
c2 c1
dabei ist t1 die Laufzeit auf Weg 1 und c0 ∆t die der Laufzeitdifferenz entspre-
chende Wegstrecke im Vakuum.
Wir hatten bereits in Kap. 9 die wichtigen Grenzfälle der Interferenz disku-
tiert:
a) konstruktive Interferenz
tritt auf, wenn die interferierenden Teilwellen in Phase sind, wenn also
10.1 Zweistrahlinterferenz 285
Phasendifferenz
und δ = m · 2π
mit m = 0, ±1, ±2, . . . (10.11)
Gangunterschied ∆ = mλ
Wegen cos δ = 1 tritt dann nach (10.6) die maximale Intensität auf:

Imax = I1 + I2 + 2 I1 I2 (10.12)
b) destruktive Interferenz
Hier schwingen die Teilwellen gegenphasig; folglich gilt
Phasendifferenz
und δ = (2m + 1)π
mit m = 0, ±1, ±2, . . . (10.13)
Gangunterschied ∆ = (2m + 1) λ2
und man beobachtet die minimale Intensität:

Imin = I1 + I2 − 2 I1 I2 (10.14)
Sind die interferierenden Wellen gleich stark (I1 = I2 = I0 ), so hat man nach
(10.6) den Intensitätsverlauf
δ
Intensitätsverlauf für gleiche Teilintensitäten I = 4I0 cos2 (10.15)
2
Bei konstruktiver Interferenz tritt die vierfache Intensität (Imax = 4I0 ) der Ein-
zelwelle auf, während bei destruktiver Interferenz völlige Auslöschung (Imin = 0)
zu beobachten ist (s. Abb. 10.2). Mittelt man über wenigstens eine räumliche Pe-
riode, so wird die mittlere Intensität I = 2I0 . Dieses Ergebnis ist repräsentativ für
Interferenz- und Beugungsphänomene: Liegt die Energiedichte an einigen Stellen
unterhalb des Durchschnittswertes, dann ist sie an anderen Punkten darüber und
das gesamte Interferenzmuster erfüllt den Erhaltungssatz der Energie.
Zur Beschreibung des Kontrasts der Interferenzstreifen führt man den Strei-
−Imin
fenkontrast oder die Modulation M = IImax max +Imin
ein. Nach Einsetzen erhält man
den
√
Imax − Imin 4 I1 I2
Streifenkontrast M= = (10.16)
Imax + Imin 2(I1 + I2 )

I1
mit den Spezialfällen M = 1 für I1 = I2 (s. Abb. 10.2 b) und M = 2 I2
für
I2 I1 .
Abb. 10.2. Zweistrahlinterferenz. Intensität der Interferenzstreifen als Funktion der

Phasendifferenz δ und des Gangunterschieds ∆. a) ungleiche Intensitäten der Teilwellen
(I1
= I2 ). b) gleiche Intensitäten (I1 = I2 = I0 ). In b) ist der Streifenkontrast erhöht,
da die Untergrundhelligkeit Imin verschwindet.
10.2 Der Youngsche Doppelspalt-Versuch

Das für die Wellentheorie des Lichtes entscheidende Interferenzexperiment wurde
1802 von Thomas Young durchgeführt und ist in Abb. 10.3 schematisch wieder-
gegeben. Monochromatisches Licht passiert zunächst eine kleine Kreisblende Q,
um eine annähernd punktförmige und damit räumlich kohärente Lichtquelle zu
realisieren. Auf die Verwendung dieser Blende kann heute verzichtet werden, da
man in der Regel räumlich und zeitlich kohärentes Laserlicht einsetzt. Das Licht
fällt anschließend auf zwei nah benachbarte Löcher Q1 und Q2 , zwei kohärente
punktförmige Lichtquellen, von denen Kugelwellen ausgehen, deren Interferenz
auf einem Schirm im Abstand s beobachtet werden kann. Diese Quellen werden im
Experiment meist durch schmale, parallele Längsspalte (senkrecht zur Zeichen-
ebene) ersetzt, um ein lichtstärkeres Beugungsbild zu erhalten. Man hat dann
entlang der Längsrichtung der Spalte eine sehr große Zahl von Punktquellen, die
nicht kohärent sein müssen. In der y-z-Ebene gelten die Interferenzbedingungen
der Punktquellen, während in x-Richtung fast keine Beugungsverbreiterung auf-
10.2 Der Youngsche Doppelspalt-Versuch 287
Abb. 10.3. Schema des Youngschen Doppelspaltexperiments. Q ist die punktförmige

Lichtquelle, die Aperturen Q1 und Q2 sind in der Regel Spalte, die senkrecht auf der
Papierebene stehen. Damit beobachtet man die Interferenz von Zylinderwellen
tritt (siehe Kap. 16.3). Der Beobachtungspunkt P ist um r1 = Q1 P und r2 = Q2 P

von den Spalten entfernt. Aus (10.9) folgt dann für den Gangunterschied
∆ = r2 − r1 (10.17)
Damit sich die von Q1 und Q2 ausgehenden Wellen überlappen und der Abstand
der Interferenzstreifen groß wird, soll der Spaltabstand g sehr klein gegen den
Schirmabstand s sein (wir untersuchen damit Fraunhoferbeugung, s. Kap 16). In
diesem Fall ergibt sich für ∆ ein einfacher Ausdruck: Schlägt man um P einen
Kreis mit dem Radius Q1 P , so schneidet dieser die Gerade Q2 P bei N ; folglich
wird ∆ = Q2 N . Nähert man Q1 N durch eine Gerade an, so erhält man ein
rechtwinkliges Dreieck mit
∆ = r2 − r1 ≈ g sin α (10.18)
wobei – wegen OP ⊥ Q1 N – α durch den Winkel zwischen optischer Achse und
Gerade OP , den Beugungswinkel α, ersetzt werden kann. Mit der Bedingung
∆ = mλ für konstruktive Interferenz hat man für die Beugungsmaxima
λ
Beugungsmaxima sin αmax = m mit m = 0, ±1, ±2, . . . (10.19)
g
und bei destruktiver Interferenz (mit ∆ = (2m + 1)λ/2) für die Beugungsminima
λ
Beugungsminima sin αmin = (2m + 1) mit m = 0, ±1, ±2, . . . (10.20)
2g
Wenn die beiden Spalte gleich groß sind, haben die ausgehenden Wellen gleiche
Amplitude und die Intensität der interferierenden Wellen ist im Beobachtungs-
punkt P durch (10.15) gegeben. Wir hatten vorausgesetzt, dass nur kleine Beu-
gungswinkel auftreten und die Beobachtungspunkte P nahe an der optischen Ach-
se liegen, dann wird sin α ≈ tan α = y/s. Mit δ = 2π∆/λ und ∆ = g sin α = gy/s
kann man dann die Intensität (10.15) in Abhängigkeit von y angeben:
δ πgy
I = 4I0 cos2 = 4I0 cos2 (10.21)
2 λs
Damit liegen die Interferenzmaxima entsprechend (10.19) bei
λs
ymax = m mit m = 0, ±1, ±2, . . . (10.22)
g
und haben die konstanten Abstände
λs
∆y = (10.23)
g
Die Minima weisen dieselben Abstände auf und liegen zwischen den Maxima.
Abbildung 10.4 zeigt die auf dem Beobachtungsschirm gemessene Intensitätsver-
teilung.
Das Ergebnis (10.23) ist für alle Beugungsexperimente repräsentativ: Der Ab-
stand der Interferenzstreifen steigt mit der Wellenlänge und dem Abstand von
den beugenden Öffnungen an, wird aber mit zunehmendem Spaltabstand klei-
ner. Die Messung von ∆y kann somit zur Bestimmung von Wellenlängen und
Spaltabständen herangezogen werden.
Der Doppelspalt-Versuch lässt sich bei großen Schirmabständen auch als In-
terferenz schräglaufender ebener Wellen (s. Abb. 9.5) interpretieren: Ein Beob-
achter bei y = 0 sieht um den Winkel 2θ = g/s verkippte Wellenfronten auf
sich zukommen und registriert in y-Richtung Maxima, deren Abstand ∆y gleich
dem Abstand λy /2 = λ/2θ (s. (9.41)) der Wellenbäuche der stehenden Welle sein
muss. Nach Einseten von 2θ = g/s erhält man dann die georderte Übereinstim-
mung mit (10.23).
Beispiel 10.1 Doppelspalt
Kohärentes Licht trifft auf zwei identische und parallele Spalte im Abstand
g = 0,2 mm. Auf einem 1 m entfernten Schirm werden Interferenzstreifen mit
einem Abstand von 3,29 mm beobachtet. Beschreiben Sie die Bestrahlungs-
stärke in der Schirmebene, wenn der Beitrag eines Spaltes gleich I0 ist. Wie
groß ist die Wellenlänge des Lichtes? Welcher Streifenkontrast liegt vor? Ge-
ben Sie weiterhin die Ergebnisse für den Fall an, dass einer der Spalte doppelt
so breit ist wie der andere.
10.2 Der Youngsche Doppelspalt-Versuch 289
Abb. 10.4. Intensität der Doppelspaltinterferenz als Funktion des normierten Abstan-
g
des y λs von der optischen Achse. Beugungsmaxima treten bei ganzzahligen Abstands-
werten auf, die mit der Beugungsordnung m übereinstimmen
Abb. 10.5. Interferenz des Lichtes aus zwei kohärenten Punktquellen. Man beobachtet
abwechselnd helle und dunkle Interferenzstreifen. Helligkeit entsteht in Richtungen, in
denen Wellenberg (durchgezogene Kreise) auf Wellenberg trifft. Treffen Berge auf Täler
(gestrichelt), so entsteht destruktive Interferenz und damit Dunkelheit
Lösung
2·10−4 m·3,29·10−3 m
Wir erhalten aus (10.23): λ = g∆ys = 1m = 658 nm. Mit
y
(10.21) ergibt sich I = 4I0 cos2 955 mm . Bei gleichen Intensitäten der
Einzelspalte ist der Streifenkontrast M = 1. Wird die Breite des Spaltes 2
verdoppelt, so wird die von diesem durchgelassene Amplitude Ê2 = 2Ê1 mit
der Intensität I2 = 4I1 . Der Abstand der Streifen bleibt derselbe, da der
Spaltabstand g = konst. Wir erhalten aus (10.12) und (10.14): Imax = 9I1
und Imin = I1 . Der Kontrast wird M = 0,8.Der Intensitätsverlauf
( ist)nach
y
(10.6): I = 5I1 + 4I1 cos δ = I1 1 + 8 cos2 2δ = I1 1 + 8 cos2 955 mm .
Abb. 10.6. Bildung heller Interferenzstreifen bei Überlagerung des Lichtes aus zwei
kohärenten Punktquellen. Die Abstände von den Quellen Q1 und Q2 zu einem Punkt P
benachbarter Streifen unterscheiden sich um ganzzahlige Vielfache der Wellenlänge. Im
Dreidimensionalen entstehen Hyperboloide, die um die y-Achse rotationssymmetrisch
sind
10.3 Doppelspaltinterferenz mit virtuellen Quellen 291
Eine andere Möglichkeit zum Verständnis der Bildung heller und dunkler Inter-
ferenzstreifen durch konstruktive bzw. destruktive Interferenz wird durch Abb. 10.5
erklärt: Wellenberge und -täler der von Q1 und Q2 ausgehenden Kugelwellen
laufen auf den oben befindlichen Schirm zu. Entlang der mit H (Helligkeit) be-
zeichneten Linien sind die Teilwellen in Phase (Berge fallen auf Berge und Täler
auf Täler) und führen zu konstruktiver Interferenz. D-Linien (Dunkelheit) ent-
sprechen destruktiver Interferenz, bei der Berge auf Täler treffen. Ginge hierbei
von den Quellen (Einzelspalten) nur jeweils eine Elementarwelle aus (dies ist
bei Spaltbreiten der Fall, die kleiner als eine Wellenlänge sind, s. Kap. 16.1), so
würden im ganzen umgebenden Raum (sehr lichtschwache) Interferenzlinien auf-
treten. Bei zunehmender Spaltbreite wird die Beugung am Einzelspalt reduziert
und man beobachtet verstärkte Helligkeit in Vorwärtsrichtung. Die Interferenz-
bedingung für helle Ringe ist wieder (s. Abb. 10.6):
r2 − r1 = mλ (10.24)
Sie legt im Raum Hyperbelflächen fest, da die Bedingung r2 − r1 = konst. Hy-
perbeln beschreibt.
In der in Abb. 10.6 wiedergegebenen Anordnung ist das Interferenzfeld rota-
tionssymmetrisch um die y-Achse. Stellt man dann einen Beobachtungsschirm
(bei y = 0) senkrecht zur y-Achse, so beobachtet man konzentrische Interferenz-
ringe, während in Ebenen, die senkrecht zur z-Achse stehen, Interferenzstreifen
auftreten, die für x2 + y 2 z 2 äquidistant und gerade verlaufen. Da sich die
Interferenzen über den ganzen Raum erstrecken, spricht man hier von nichtloka-
lisierten Interferenzstreifen.
10.3 Doppelspaltinterferenz mit virtuellen Quellen

Interferenzeffekte können bisweilen auch für eine einzige Lichtquelle beobachtet
werden. Hier werden durch Reflexion oder Brechung virtuelle kohärente Quel-
len erzeugt, die zusammen oder mit der Originalquelle ein Interferenzmuster er-
zeugen. Die Abbildungen 10.7 bis 10.9 erläutern dies an drei Beispielen. Diese
sind nicht nur von historischer Bedeutung, sondern sollen uns die Vielfalt an –
bisweilen unerwarteten – Interferenzeffekten vor Augen führen. In Abb. 10.7 in-
terferieren auf dem Schirm die von der Quelle Q direkt ausgehenden Teilwellen
mit denen aus der virtuellen Quelle Q , die durch Reflexion an der Spiegelebene
SS erzeugt wird. Man bezeichnet dies als den Lloydschen Spiegelversuch. Mit
g = 2h (h = Höhe der Quelle über dem Spiegel) wird dann das Ergebnis durch
(10.21) und Abb. 10.4 beschrieben. Wenn der Schirm den Spiegel bei S berührt,
beobachtet man dort einen dunklen Fleck. Dies ist darauf zurückzuführen, dass
die Welle bei Reflexion einen Phasensprung von π erfährt. Wir müssen dann al-
so bei der genauen Analyse in (10.17) ∆ = r2 − r1 + λ2 schreiben, um diesen
Phasensprung zu berücksichtigen.
Abb. 10.7. Interferenz beim Lloydschen Spiegelversuch. Kohärente Quellen sind die
Punktquelle Q und ihr Spiegelbild Q im Abstand g = 2h
Abb. 10.8. Interferenz beim Fresnelschen Spiegelversuch. Kohärente Quellen Q1 und

Q2 sind die virtuellen Bilder der Punktquelle Q, die von den beiden ebenen – um die
Achse O leicht verkippten – Spiegeln S1 und S2 gebildet werden. Der Beobachtungs-
schirm darf nicht von direktem Licht getroffen werden.
Eine ähnliche Anordnung ist beim Fresnelschen Spiegelversuch gegeben. Zwei

leicht gekippte Spiegel S1 und S2 erzeugen aus der Punktquelle Q die beiden
virtuellen Quellen Q1 und Q2 durch Reflexion. Phasensprünge heben sich hier
auf. Der Abstand der Quellen g kann aus Abb. 10.8 entnommen werden, die Lage
der Interferenzstreifen ist durch (10.22) gegeben.
Beim Fresnelschen Biprisma erzeugt man die beiden virtuellen Quellen Q1
und Q2 durch Brechung (s. Abb. 10.9). Der Prismenwinkel ist hier sehr klein und
liegt im Bereich von etwa 1◦ . Zur Berechnung des Abstandes g wird ein Strahl
10.4 Interferenz an dielektrischen Schichten 293
Abb. 10.9. Interferenz mit dem Fresnelschen Biprisma. Die kohärenten Quellen Q1
und Q2 entstehen bei der Lichtbrechung in den beiden Hälften des Prismas als virtuelle
Bilder der Quelle Q
betrachtet, der das Prisma symmetrisch (d.h. Einfallswinkel = Ausfallswinkel)

durchsetzt. In diesem Fall ist erhält man den minimalen Ablenkwinkel βm =
(n − 1)α (s. (6.16)) und aus Abb. 10.9 den virtuellen
Spaltabstand beim Biprisma g ≈ 2 d βm = 2 d α(n − 1) (10.25)
Die Lage der Interferenzringe wird dann wieder durch (10.22) festgelegt.
10.4 Interferenz an dielektrischen Schichten

Die bekannten Farberscheinungen von dünnen Ölfilmen auf Wasser und bei Sei-
fenblasen sowie die brillanten Farben von Perlen (Perlmutt), Pfauenfedern und
Schmetterlingsflügeln werden durch Lichtinterferenz an einzelnen oder mehre-
ren dünnen (meist transparenten) Schichten hervorgerufen. Die Entstehung und
Beobachtung der Farben wird durch zahlreiche Parameter, wie Größe und Spek-
tralbreite der Lichtquelle sowie Form und Reflexions- und Absorptionsvermögen
der Schichten, beeinflusst.
Zunächst untersuchen wir die Interferenz an einer dünnen transparenten und
planparallelen Schicht der Brechzahl ns , die z.B. durch einen Ölfilm auf Wasser,
Abb. 10.10. Zweistrahlinterferenz an einer dünnen Schicht. Strahlen, die an der Ober-
und Unterseite der ebenen Schicht reflektiert werden, werden mit Hilfe einer Linse L in
P zur Interferenz gebracht
eine Oxidschicht auf Metallen (→ Anlauffarben) oder eine Aufdampfschicht auf

Glas (→ Entspiegelung) gebildet wird (Abb. 10.10). Ein bei A auf die Oberfläche
treffender Strahl wird in einen reflektierten und gebrochenen Teilstrahl aufge-
spalten. Diese der Interferenz (an dünnen Schichten) vorausgehende Strahlteilung
bezeichnet man auch als Amplitudenteilung. Bei Experimenten wie dem Doppel-
spaltversuch werden hingegen verschiedene Bereiche einer Wellenfront überla-
gert, man spricht dann von Wellenfrontteilung. Der gebrochene Strahl wird (ganz
oder teilweise) an der Unterseite bei B reflektiert und verlässt bei C die Schicht
(nach erneuter Brechung) in der Richtung des bei A reflektierten Strahles. Der
bei C reflektierte Anteil erfährt in der Schicht Mehrfachreflexionen, die zu vie-
len parallel austretenden Strahlen und damit zur Vielstrahlinterferenz führen (s.
Kap. 11.5). Hier wird zunächst schwache Reflexion vorausgesetzt; dann genügt
es, nur die Interferenz von zwei Teilwellen zu betrachten. Die bei A und C aus-
tretenden Parallelstrahlen werden durch eine Sammellinse (häufig das Auge) in
P zur Interferenz gebracht. Da die Wellen unterschiedliche Wege zurücklegen,
weisen sie in P einen Gangunterschied ∆ auf. Bei senkrechtem Lichteinfall, wo
Strahl 2 die Dicke d zweimal zusätzlich durchlaufen muss, gilt nach (10.9) für
den Gangunterschied bei:
Reflexion an einer Schicht ∆ = 2ns d + ∆r (10.26)
Hierbei ist d die Schichtdicke, ns ihre Brechzahl und ∆r der durch die Reflexionen
eventuell zusätzlich erzeugte Gangunterschied. Treten beide Reflexionen nur am
optisch dichteren (n1 < ns < n2 ) oder nur am optisch dünneren Medium (n1 >
ns > n2 ) auf, so ist ∆r = 0. Ist hingegen eine Reflexion am dichteren und die
andere am dünneren Medium, so wird ∆r = λ2 . Dies führt z.B. dazu, dass bei
zwei Schichten trotz gleicher optischer Dicke bei der einen konstruktive und bei
der anderen destruktive Interferenz vorliegen kann
Eine wichtige Anwendung der Interferenz ist die Entspiegelung optischer
Flächen (Brillengläser, Linsen) durch reflexmindernde Schichten. Hier ist meist
n1 = 1 (Luft) und ns < n2 , so dass keine Phasensprünge auftreten. Um die
störende Reflexion durch Interferenz zu unterdrücken, müssen zwei Bedingungen
erfüllt sein:
1. Phasenbedingung: Die Teilwellen müssen für destruktive Interferenz gegen-
phasig verlaufen und damit den Gangunterschied ∆ = 2ns d = λ/2 (oder
ungerade Vielfache hiervon) aufweisen. Dann muss die Dicke mindestens den
Wert
λ0 λs
λ/4-Schicht d= = (10.27)
4ns 4
haben. Man spricht von einer λ/4- Schicht“.

”
2. Amplitudenbedingung: Die Teilwellen müssen für vollständige Auslöschung
zusätzlich gleiche Amplituden aufweisen. In Kap. 19 wird gezeigt, dass an
der Grenzfläche zwischen zwei Medien 1 und 2 der Reflexionsfaktor r, das
Verhältnis von reflektierter zu einfallender Amplitude, gegeben ist durch
n1 − n2
r12 = (10.28)
n1 + n2
Zur Erfüllung der Amplitudenbedingung muss an den Grenzflächen 1 → s
und s → 2 gelten: r1s = rs2 . Hieraus folgt nn1s = nn2s und damit
√
Brechzahl einer λ/4-Schicht ns = n1 n2 (10.29)
√
Für n1 = 1 (Luft) ist dann ein Material mit der Brechzahl ns = n2 zu
wählen. Da im Allgemeinen noch zusätzliche Faktoren wie Härte (Kratzfestig-
keit), annähernd gleiche thermische Ausdehnungskoeffizienten von Schicht und
Träger sowie Alterungsbeständigkeit zu berücksichtigen sind, steht meist kein
Stoff zur Verfügung, der die Amplitudenbedingung exakt erfüllt. Um die Refle-
xion von weißem Licht mit nur einer Schicht zu mindern, muss man die Dicke
d so wählen, dass die Reflexminderung für die Mitte des sichtbaren√Spektrums
(550 nm) auftritt. Für eine Glaslinse mit n2 = 1,5 ist dann ns = 1,5 ≈ 1,22
und die Schichdicke d = λ0 /(4ns ) = 112 nm. Einen guten Kompromiss stellt
Magnesiumfluorid (MgF2 ) mit ns = 1,38 dar. Da die Reflexminderung bei einer
einzigen Schicht für den blauen und roten Grenzbereich des Spektrums schlech-
ter als in der Mitte ist, erscheint die entspiegelte Linse im reflektierten Licht
Abb. 10.11. Dielektrischer Spiegel aus Schichten abwechselnd hoher (h) und niedriger
(n) Brechzahl. Jede Schicht hat eine optische Dicke von λ0 /4 und eine geometrische
Dicke von λ0 /4nh,n
farbig. In der Praxis erhält man durch Dreifachschichten unterschiedlicher Dicke

und Brechzahl eine befriedigende, über das ganze sichtbare Spektrum reichende
Reflexminderung (s. Kap. 19).
Neben der Entspiegelung können Schichten auch zur dielektrischen Verspiege-
lung durch Vielfachschichten mit abwechselnd hoher und niedriger Brechzahl ver-
wendet werden (Abb. 10.11). Haben die Schichten alle die gleiche optische Dicke
λ0 /4, so interfererieren wegen des zusätzlichen Phasensprungs alle reflektierten
Wellen der entsprechenden Wellenlänge konstruktiv und man erhält einen schmal-
bandigen Spiegel mit einem – von der Anzahl der Schichten abhängigen – unter
Umständen sehr hohen Reflexionsgrad. Durch Variation der Schichtparameter
lassen sich mit Vielfachschichten schmal- und breitbandige Ent- und Verspiege-
lungen erzielen (s. Kap. 19).
Die Interferenz an Einfachschichten soll nun für einen beliebigen Einfallswinkel
ε analysiert werden (Abb. 10.12). Um die Wegdifferenz zwischen den Strahlen 1
und 2 zu berechnen, wird auf Strahl 1 (im Punkt D) eine Senkrechte durch den
Austrittspunkt C von Strahl 2 gezeichnet. Ab den Punkten C und D verlaufen
die Strahlen in demselben Medium parallel, sie erfahren also keine zusätzlichen
Gangunterschiede. Dann ist der Gangunterschied (ohne Phasensprung) gleich der
Differenz der optischen Wege zwischen ABC = AB + BC und AD, also
Abb. 10.12. Interferenz an einer Einzelschicht der Brechzahl ns mit Licht, das unter
einem beliebigen Einfallswinkel ε einfällt, an Ober- und Unterseite teilweise reflektiert
wird und damit Amplitudenteilung erfährt. Mehrfachreflexion wird vernachlässigt
∆w = ns ABC − n1 AD
Hieraus folgt für einen unter dem Winkel ε einfallenden Strahl der
Gangunterschied ∆w = 2ns d cos ε (10.30)
Hierbei ist d die Schichtdicke und ε der Brechungswinkel, den wir direkt mit
Hilfe des Brechungsgesetzes berechnenkönnen. Häufig nutzt man auch die etwas
umständlichere Beziehung ns cos ε = n2s − n21 sin2 ε.
Beweis von (10.30): Nach Abb. 10.12 ist AB = d/ cos ε und damit ns ABC =
2dns / cos ε . Weiterhin ist AC = 2d tan ε und AD = AC sin ε = 2d tan ε sin ε =
2dns sin2 ε /(n1 cos ε ) da tan ε = sin ε / cos ε und sin ε = ns sin ε /n1 . Hiermit wird
∆w = ns ABC − n1 AD = 2dns (1 − sin2 ε )/ cos ε = 2dns cos ε .
Für senkrechten Lichteinfall (ε = ε = 0) wird wieder ∆w = 2ns d (s. (10.26)).

Berücksichtigen wir in (10.30) mit ∆r den Gangunterschied durch Phasen-
sprünge, so erhalten wir die bekannte Bedingung für konstruktive und destruktive
Interferenz:
⎧
⎨mλ
∆w + ∆r = mit m = 0, 1, 2, . . . (10.31)
⎩
(2m + 1) λ2
Falls für einen unter ε einfallenden Strahl z.B. die Bedingung für konstruktive
Interferenz erfüllt ist, gilt diese Bedingung für alle unter diesem Winkel einfal-
lenden Strahlen, die von einer ausgedehnten Lichtquelle ausgehen. Diese besteht
aus unabhängigen und damit inkohärenten Punktquellen Q1 − Q3 , die alle zur
Intensität im Punkt P beitragen. Wegen der Inkohärenz verschiedener Quellen
sind Interferenzen nur zwischen Strahlpaaren (z.B. (a), (b) in Abb. 10.13)) aus
derselben Quelle Qi möglich. Die Interferenz verschwindet, wenn die Apertur der
Linse, die die Strahlen in P vereinigt, zu klein ist, um beide Teilwellen (a) (b)
durchzulassen. Dies kann z.B. auch bei großer Filmdicke und damit großem Ab-
stand zwischen (a) und (b) aufgrund des begrenzten Pupillendurchmessers des
beobachtenden Auges auftreten. Ohne fokussierende Linse sind diese virtuellen
Interferenzstreifen nicht beobachtbar. Man bezeichnet sie auch als lokalisierte
Streifen, da sie im Unendlichen (oder im Brennpunkt einer Linse) lokalisiert
sind, im Gegensatz zu den nichtlokalisierten Streifen (Abb. 10.6), die überall im
Raum beobachtbar sind. Die in Abb. 10.13 gezeigte Anordnung führt zu den so-
genannten Haidinger-Ringen. Man spricht meist von Interferenzkurven gleicher
Neigung, da zur Interferenz alle unter den gleichen Winkeln ein- und austreten-
den Wellen beitragen. Änderung des Einfallswinkels führt wegen (10.30) zu einer
Verschiebung der Interferenzmuster.
Abb. 10.13. Interferenz an einer dielektrischen Schicht unter Verwendung einer ausge-
dehnten Lichtquelle. Die Interferenzstreifen gleicher Neigung“ entstehen in der Brenn-
”
ebene einer Linse
Streifen gleicher Neigung können nicht mit einer Punkt- oder wenig ausge-
dehnten Lichtquelle beobachtet werden, da die Teilstrahlen unter unterschiedli-
chen Winkeln auf die Schicht fallen (s. Abb. 10.14). Man sieht hier Interferenz-
streifen anderer Art. Da die von den beiden Oberflächen zum Beobachtungspunkt
10.5 Interferenzen gleicher Dicke 299
Abb. 10.14. Interferenz an einer dielektrischen Schicht der Dicke d mit Hilfe einer
Punktquelle. Die Interferenzen entsprechen denen von zwei Punktquellen (s. Abb. 10.6).
Brechung wurde vernachlässigt. Bei Berücksichtigung der Brechzahl ist der Abstand g
der beiden virtuellen Lichtquellen Q1 und Q2 gleich 2ns d + λ0 /2 (s. Üb. 10.22)
P reflektierten Teilwellen nach den Spiegelgesetzen aus zwei virtuellen Quellen

Q1 und Q2 (s. Abb. 10.14) zu kommen scheinen, kann die Interferenz als solche
von zwei Punktquellen (s. Abb. 10.6) verstanden werden. Dann lassen sich auf ei-
nem Schirm, z.B. mit Quecksilber- oder divergentem Laserlicht, nichtlokalisierte
Interferenzstreifen in beliebigem Abstand oberhalb der Schicht nachweisen. Der
Vergleich der Abb. 10.14 und 10.6 zeigt, dass im vorliegenden Fall Interferenzringe
entstehen.
10.5 Interferenzen gleicher Dicke

Bei einer Schicht variabler Dicke d variiert der Gangunterschied ∆ = 2ns d cos ε
auch bei konstantem Einfallswinkel. Bei senkrechtem Einfall sind dann in der
Schichtebene helle und dunkle Streifen zu sehen, die man als Fizeau-Streifen
oder Interferenzkurven gleicher Dicke bezeichnet, da zur Interferenz im Punkt P
alle Teilwellen beitragen, die von Bereichen gleicher Dicke ausgehen. Abb. 10.15 a
zeigt eine Beobachtungsmöglichkeit, bei der ein zusätzlicher Strahlenteiler die Be-
obachtung bei senkrechter Inzidenz ermöglicht. Hier ist wieder ∆ = 2ns d + ∆r
mit ∆r = 0 oder λ/2. Experimentell kann die Interferenz gleicher Dicke ein-
fach mit monochromatischem Licht und zwei Mikroskopdeckgläsern beobachtet
werden, zwischen die am Rand z.B. ein Haar geklemmt ist (Abb. 10.15 b). Die
Fizeau-Streifen entstehen an der dünnen Luftschicht, wobei bei der unteren Re-
flexion zusätzlich ein Phasensprung von λ/2 auftritt. Da die Dicke d linear mit x
variiert, sieht man im reflektierten Licht abwechselnd virtuelle helle und dunkle,
äquidistante lokalisierte Streifen, die sich nicht auf einen Schirm projizieren las-
sen.
Bei Beobachtungen in der Natur trifft meist weißes Tageslicht auf Schichten
(z.B. Ölfilme auf Wasser, Seifenhäute) variabler Dicke (s. Abb. 10.16). Hierbei
Abb. 10.15. Interferenzen gleicher Dicke an einer keilförmigen Schicht. a) Versuchsauf-

bau mit Hilfe eines Strahlenteilers. b) Luftkeil, der von zwei Mikroskopdeckgläsern ge-
bildet wird. Der Abstand der Interferenzstreifen beträgt ∆x = λ2 Dl
tritt – aufgrund von Einfallswinkel und Dicke – konstruktive Interferenz nur für
einen – meist kleinen – Bereich des Films und ein begrenztes Band von Wel-
lenlängen auf. Wird z.B. rotes Licht in m-ter Ordnung verstärkt und liegen die
längeren und kürzeren Wellenlängen, für die Verstärkungen in der Ordnung m−1
und m + 1 auftreten, außerhalb des sichtbaren Bereichs, so erscheint das reflek-
tierte Licht rot. Dies kann bei niedrigen Ordnungen – also bei dünnen Filmen –
auftreten. Man beobachtet die Farben dünner Blättchen“.
”
Abb. 10.16. Interferenz an einer Schicht variabler Dicke, die durch eine ausgedehnte
Lichtquelle beleuchtet wird. Änderung von Filmdicke und Einfallswinkel bestimmen den
Wellenlängenbereich, der durch Interferenz verstärkt wird
10.6 Newton-Ringe 301
10.6 Newton-Ringe
Fizeau-Streifen eignen sich – als Kurven gleicher Dicke – gut zum Nachweis klei-
ner Dickenvariationen. Abb. 10.17 a zeigt eine praktische Anwendung bei der
Prüfung der Qualität der sphärischen Fläche einer Linse mittels der entstehen-
den Newton-Ringe. Der Luftspalt zwischen der Linsenfläche und einer optisch
planen Fläche wird mit dem senkrecht einfallenden monochromatischen Licht ei-
ner Natrium- oder Quecksilberlampe (mit Filter) beleuchtet. Für eine perfekte
Kugelfläche ergeben sich konzentrische Interferenzkreise um den Berührpunkt P
mit einem dunklen Ring in der Mitte, da für d → 0 Auslöschung aufgrund des
Phasensprungs auftritt. Abweichungen von der Kreisform weisen auf Fehler der
Kugelfläche hin. Die Anordnung eignet sich auch zur Messung von Krümmungs-
radius und Brennweite der Linse mit Hilfe des Radius der Interferenzringe. Nach
Abb. 10.17 b und dem Satz von Pythagoras erhält man für den Zusammen-
hang zwischen Krümmungsradius r und dem Radius m der Interferenzringe
r2 = 2m + (r − dm )2 . Ausmultiplikation und Berücksichtigung, dass dm ,
ergibt:
2m + d2m 2
r= ≈ m (10.32)
2dm 2dm
Wertet man dunkle Ringe aus, so muss bei Berücksichtigung des Phasensprunges
gelten: 2dm + λ/2 = (2m + 1)λ/2, also dm = mλm /2. Mit (10.32) erhält man für
den Krümmungsradius der Linse
Abb. 10.17. a) Versuchsaufbau zur Beobachtung von Newton-Ringen. Interferenzen

gleicher Dicke entstehen an dem Luftspalt zwischen Linse und Basisplatte. b) Geometrie
zur Berechnung des Radius der Newton-Ringe
2m
r= (10.33)
mλ
Beispiel 10.2 Radien der Newton-Ringe
Eine plankonvexe Linse (n = 1,523) mit einem Brechwert von 0,125 Dioptrien
wird mit der konvexen Seite auf eine optisch plane Platte gelegt. Mit ei-
nem Messmikroskop vermisst man die Interferenzringe für Na-Licht (λ =
589,3 nm). Welchen Radius misst man für den 1. und 10. dunklen Ring?
Lösung
Der Brechwert einer Linse ist durch f1 = (n − 1) r11 − r12 gegeben. Mit
f = 8 m, n = 1,523 und r2 → ∞ wird r1 = 4,184 m. Aus (10.33) folgt:
2m = mrλ und damit 1 = 1,57 mm und 10 = 4,94 mm.
Wegen des Energieerhaltungssatzes müssen dunklen Interferenzringen in Re-

flexion helle Ringe in Transmission entsprechen, die Ringsysteme sind somit kom-
plementär mit einem hellen zentralen Fleck bei der Transmission (Abb. 10.18).
Weiterhin ergibt sich im durchgehenden Licht ein wesentlich schlechterer Kon-
trast: An einer Fläche werden etwa 20% der Amplitude reflektiert und damit
bei konstruktiver Interferenz in Reflexion nahezu 40% der einfallenden Amplitu-
de entsprechend 16% der Intensität austreten. Der Reflexionsgrad variiert damit
Abb. 10.18. Fotografien von Newton-Ringen. Ringe in a) reflektiertem und b) trans-

mittiertem Licht sind komplementär. In Reflexion tritt ein wesentlich besserer Kontrast
auf
10.7 Dickenmessung mittels Interferenz 303
zwischen zwischen 0 und 16%, der Transmissionsgrad nur zwischen 84% und
100%.
Ironischerweise sind die beschriebenen Ringe, deren Verständnis die Wellen-
natur des Lichtes voraussetzt, nach dem bekanntesten Verfechter der Korpuskel-
theorie des Lichtes, Isaac Newton, benannt. Wahrscheinlich bestimmte Newton
mit ihrer Hilfe zum ersten Mal die Lichtwellenlänge, interpretierte sie jedoch als
Abstand zwischen den easy fits of reflection“ der Lichtteilchen.
”
10.7 Dickenmessung mittels Interferenz

Interferenzen gleicher Dicke werden als empfindliche optische Messmethode zur
Dickenmessung genutzt. Abbildung 10.19 zeigt eine Messanordnung, mit der die
Dicke d einer Schicht F gemessen wird, die auf einem Träger T aufgedampft
wurde. Über einen Lichtleiter L wird monochromatisches Licht aus der Lichtquel-
le LQ auf einen Teilerwürfel ST geführt, der einen Teilstrahl zu einem ebenen
Spiegel S und den anderen zum Messobjekt lenkt. Nach Reflexion werden beide
Teilstrahlen im Mikroskop M S überlagert. Zum einfacheren Verständnis kann
man den am Spiegel S reflektierten Strahl auch von dem virtuellen Spiegelbild
S ausgehen lassen. Man sieht dann deutlich, dass das Interferenzmuster durch
Abb. 10.19. Anordnung zur Messung der Schichtdicke d mit Hilfe von Interferenzstrei-
fen, die durch Wellen entstehen, die an der Oberseite de Schicht F und dem Substrat
T reflektiert werden
die Interferenz an der Luftschicht zwischen S und F (bzw. T ) erzeugt wird. S

lässt sich verschieben, um die optischen Wege etwa gleich zu machen, und au-
ßerdem kippen, so dass S annähernd parallel zur Schichtoberfläche wird. Bei
leichter Verkippung beobachtet man Interferenzstreifen gleicher Dicke an dem
Luftkeil zwischen S und F , auf den das Mikroskop fokussiert wird. Beim prak-
tischen Einsatz des Gerätes bilden Spiegel und Prismen ein Modul, das in ein
Mikroskop gesetzt wird. Schicht und Substrat erzeugen zwei gegeneinander ver-
schobene Streifensysteme, wie sie in Abb. 10.20 a wiedergegeben sind. Aus deren
Abb. 10.20. a) Fotografie der Interferenzstreifen, die mit einer Messanordnung nach
Abb. 10.19 erzeugt wurden. Die trogartige Vertiefung entstand beim Aufdampfen der
Schicht als Schatten“ eines dünnen, geraden Drahtes. b) Skizze der linken Seite des
”
Fotos. Das Streifenmuster ist an der Kante des Troges um den Betrag ∆x (s. (10.34))
verschoben
Abstand x und Verschiebung ∆x kann die Dicke d bestimmt werden. Die La-
ge der Maxima ist durch ∆ = 2d + ∆r = mλ festgelegt; hiernach entspricht
dem Übergang von der Ordnung m nach der Ordnung m + 1 immer eine Di-
ckenänderung ∆d = λ/2, da bei der Differenzbildung eventuelle Phasensprünge

herausfallen. Der Streifenverschiebung ∆x ist dann – entsprechend ∆x d
x = λ/2 –
folgende Probendicke d zugeordnet:
∆x λ
d= (10.34)
x 2
x, der Abstand der Beugungsmaxima, und ∆x, die Streifenverschiebung der Ma-
xima, können direkt mit dem Okularmikrometer eines Messmikroskops oder einer
CCD-Kamera gemessen werden; aus (10.34) folgt dann die Probendicke d.
Verwendung monochromatischen Lichtes liefert keine eindeutigen Ergebnisse,
da z.B. für ∆x = 0,5x und ∆x = 1,5x dasselbe Interferenzbild auftritt. Man hat
zwei Möglichkeiten, dies zu umgehen: Die erste Methode verwendet zusätzlich
weißes Licht, bei dem nur bei m = 0 weiße und sonst farbige Streifen auftre-
ten. Damit hat man einen eindeutigen Bezugspunkt, auf den man dann die mit
monochromatischem Licht gemessenen x-Werte beziehen kann. Bei der zweiten
Methode verwendet man Schichten mit abgeflachten Kanten, bei denen der Über-
gang von dem Streifensystem des Substrats zu dem der Schicht allmählich erfolgt
und damit, wie in Abb. 10.20 a, genau verfolgt werden kann: Dieser allmähliche
Übergang kann bei einer stufenförmigen Kante durch Aufdampfen einer Metall-
schicht (z.B. aus Silber oder Aluminium) erzielt werden, die Stufenhöhe bleibt
hierbei meist dieselbe. Die Beschichtung hat den zusätzlichen Vorteil, dass unter-
schiedliche Reflexionsgrade von Schicht und Substrat beseitigt und an das Refle-
xionsvermögen des Spiegels S angepasst werden. Das Verfahren ist damit auch
bei transparenten und schlecht reflektierenden Proben anwendbar. Die Metalli-
sierung bewirkt außerdem Vielfachreflexion, was zu schärferen Interferenzstreifen
führt (Tolansky-Methode).
Übungen
10.1 Zwei ebene Lichtwellen gleicher Polarisationsrichtung werden beschrieben durch
π
E1 = Ê1 sin ωt − k1 · r +
5
π
E1 = Ê2 sin ωt − k2 · r +
6
mit Ê1 = 3 kV/m und Ê2 = 4 kV/m. Die Strahlen interferieren in einem Punkt, zu
dem Strahl 1 einen der Phasenverschiebung π/3 entsprechenden längeren optischen
Weg zurücklegt als Strahl 2. Berechnen Sie:
a) die Intensitäten der Einzelstrahlen,
b) den Beitrag des Interferenzterms I12 ,
c) die Gesamtintensität und
d) den Streifenkontrast.
10.2 Zwei harmonische Lichtwellen der Amplituden Ê1 = 1,6 kV/m und Ê2 = 2,8 kV/m
interferieren auf einem Schirm. Wie groß ist der Streifenkontrast, wenn die Vektoren
der elektrischen Feldstärke a) parallel und b) senkrecht zueinander stehen?
10.3 Zwei interferierende Strahlen weisen ein Amplitudenverhältnis von 2:1 auf. Welcher
Streifenkontrast wird beobachtet? Wie groß muss das Amplitudenverhältnis bei
Kontrast M = 0,5 sein?
10.4 a) Beweisen Sie, dass bei Zweistrahlinterferenz mit dem Intensitätsverhältnis der
Teilstrahlen von N : 1 der Streifenkontrast gegeben ist durch:
√
2 N
M=
N +1
b) Welche Intensitätsverhältnisse entsprechen M = 0,96; 0,9; 0,8 und 0,5?
10.5 Licht der grünen Hg-Linie bei λ = 546,1 nm passiert einen engen horizontalen Spalt,
der sich 1 mm über einem ebenen, waagerechten Spiegel befindet (Lloydscher Spie-
gelversuch). Beschreiben sie qualitativ und quantitativ, was auf einem 1 m entfern-
ten Schirm zu beobachten ist.
10.6 Ein Doppelspalt wird von Licht der bekannten Wellenlänge λ1 = 436 nm und der
unbekannten Wellenlänge λ2 beleuchtet. Man beobachtet, dass das 4. Beugungs-
minimum von λ1 mit dem Maximum 3. Ordnung der Wellenlänge λ2 zusammenfällt.
Wie groß ist λ2 ?
10.7 Bei einem Youngschen Doppelspaltversuch beträgt der Abstand der engen Spalte
0,2 mm. Auf einem 1,5 m entfernten Beobachtungsschirm registriert man bei Ein-
strahlung von monochromatischem Licht 34,73 mm Abstand zwischen den Beu-
gungsminima +5. und −5. Ordnung. Bestimmen Sie die Lichtwellenlänge.
10.8 Die Beugung am Doppelspalt liefert ein Beugungsmuster mit 5,6 mm Abstand zwi-
schen aufeinander folgenden Minima. Der Abstand Doppelspalt–Beobachtungsebene
beträgt 10 m, der Abstand der Spalte 1 mm. Skizzieren Sie den experimentellen Auf-
bau. Welche Wellenlänge liegt vor?
10.9 Licht der Wellenlänge λ = 600 nm wird an einem Doppelspalt mit dem Spaltabstand
g = 0,5 mm gebeugt.
a) Welchen Schirmabstand muss man wählen, um einen Abstand von 1 mm zwi-
schen den Beugungsminima zu erhalten?
b) Einer der Spalte wird mit einer dünnen Glasplatte (Dicke d = 15 µm, n = 1,5)
abgedeckt. Warum und um welchen Betrag verschiebt sich hierbei das Beu-
gungsbild in lateraler Richtung? Welchen Gangunterschied muss die Glasplatte
erzeugen, damit die Beugungsmaxima gerade an die Stellen der halben Maxi-
malintensität geschoben werden?
10.10 Weißes Licht (400–780 nm) beleuchtet einen Doppelspalt mit 1,25 mm Spaltab-
stand. Das Beugungsbild wird auf einem 1,5 m entfernten Schirm registriert. 3 mm
von der nullten Ordnung trifft das gebeugte Licht – durch ein kleines Loch in dem
Schirm – auf den Eintrittsspalt eines Spektrometers. Warum und bei welchen Wel-
lenlängen beobachtet man in dem registrierten Spektrum dunkle Linien?
10.11 Licht einer Na-Spektrallampe (mit λ = 589,3 nm) wird mit einer Kondensorlinse
auf einen Kollimatorspalt abgebildet und trifft dann auf ein Fresnelsches Biprisma
aus Glas (n = 1,50). Das Interferenzmuster wird auf einem Schirm, der vom Prisma
doppelt so weit wie der Spalt entfernt ist, beobachtet. Der Streifenabstand beträgt
0,3 mm. Bestimmen Sie den Prismenwinkel.
10.12 Die Berührungslinie von zwei ebenen Spiegeln ist die Drehachse für eine kleine
Verkippung der Spiegel. Um diesen Drehwinkel in einem Experiment nach Art des
Fresnelschen Spiegelversuchs zu bestimmen, lässt man Na-Licht (589,3 nm) aus ei-
nem Spalt, der parallel zur Berührungslinie in 50 cm Entfernung angeordnet ist, auf
die Spiegel fallen. In 1 m Abstand registriert man auf einem Schirm, dessen Normale
parallel zur Richtung des reflektierten Strahls liegt, das Interferenzbild mit 0,5 mm
Abstand der hellen Streifen. Wie groß ist der Verkippungswinkel?
10.13 Der Prismenwinkel eines sehr dünnen Prismas (n = 1,5) wird mit der Methode
des Fresnelschen Biprismas durch Interferenz bestimmt. Hierbei ist das Verhältnis
der Abstände Spalt – Prisma und Prisma – Beobachtungsschirm gleich 1:4. Mit
grünem Hg-Licht (λ = 546,1 nm) registriert man 20 dunkle Interferenzlinien auf
5 mm Länge. Welcher Prismenwinkel liegt vor?
10.14 Weißes Licht trifft senkrecht auf einen dünnen Ölfilm (n = 1,3) auf einer Glas-
platte. Reflexionsminima werden im Sichtbaren bei 525 nm und 675 nm registriert.
Bestimmen Sie die Dicke des Ölfilms und die Interferenzordnungen.
10.15 Eine Entspiegelungsschicht aus MgF2 (n = 1,38) auf Glas weist bei λ = 580 nm und
senkrechter Lichtinzidenz minimale Reflexion auf. Für welche Wellenlänge wird bei
einem Einfallswinkel von 45◦ destruktive Interferenz beobachtet?
10.16 Auf eine Linse der Brechzahl 1,78 soll eine Antireflexschicht für die Wellenlänge
550 nm aufgebracht werden. Ermitteln Sie Brechzahl und Dicke der Schicht.
10.17 Der Reflexionsgrad ist das Verhältnis von reflektierter zu einfallender Leistung,
wobei die Leistung proportional dem Quadrat der Feldstärkeamplituden ist.
a) Berechnen Sie den Reflexionsgrad bei senkrechtem Einfall für eine Oberfläche
der Brechzahl 1,4 in Luft und eine Wellenlänge von 500 nm.
b) Welche Dicke muss eine reflexmindernde Schicht dieses Materials auf Glas der
Brechzahl 1,6 haben?
c) Wie groß ist dann der Reflexionsgrad?
10.18 In einem senkrechten Rechteckrahmen befindet sich eine Seifenhaut (n = 1,33),
die mit Laserlicht (λ = 632,8 nm) senkrecht beleuchtet wird. Man beobachtet 15
waagrechte Interferenzstreifen pro cm. Begründen Sie, warum die Haut keilförmig
verläuft und geben Sie den Keilwinkel an.
10.19 Ein Parallelstrahl weißen Lichts (400–780 nm) trifft unter 45◦ auf zwei parallele
Glasplatten, die durch einen Luftspalt von 10 µm getrennt sind. Das reflektierte
Licht wird mit einem Prismenspektroskop untersucht. Wie viele dunkle Linien sieht
man in dem Spektrum?
10.20 Zwischen zwei aufeinander liegende Mikroskopdeckgläser wird an einem Rand eine
dünne Folie geschoben, so dass sich ein Luftkeil bildet. Lässt man Na-Licht (λ =
589 nm) senkrecht auffallen, so beobachtet man genau 40 dunkle Linien zwischen
den Kanten, die sich berühren, bis zur Kante der Folie. Welche Dicke hat die Folie?
Warum sieht man an der Glaskante einen dunklen Streifen?
10.21 Zwei aufeinander liegende ebene Glasplatten berühren sich entlang einer Seite. Pa-
rallel zu dieser Seite ist in 20 cm Abstand ein Draht von 50 µm Durchmesser ge-
schoben, so dass ein Luftkeil gebildet wird. Bei senkrechtem Einfall von grünem
Quecksilberlicht (λ = 546,1 nm) beobachtet man Interferenzen gleicher Dicke. Wel-
chen Abstand haben die dunklen Streifen? Wie viele Streifen liegen zwischen Kante
und Draht?
10.22 Trifft Licht aus einer Punktquelle auf eine dünne Schicht (Brechzahl n, Dicke d),
so kann die Interferenz durch Einführung von zwei virtuellen Quellen im Abstand
g erklärt werden. Zeigen Sie, dass bei nahezu senkrechtem Einfall g = 2nd + λ/2.
10.23 Zur Bestimmung des Krümmungsradius einer sphärischen Linse wird die Mess-
methode der Newton-Ringe verwendet und die sphärische Fläche auf eine ebene
Platte gelegt. Wie groß ist deren Krümmungsradius, wenn (bei Hg-Licht mit λ =
546,1 nm) der Durchmesser des 10. hellen Ringes 7,85 mm beträgt?
10.24 Newton-Ringe werden einmal ohne und einmal mit einem Öl der Brechzahl n zwi-
schen Linse und Basisplatte betrachtet. Zeigen Sie, dass für das Radienverhältnis
von Ringen gleicher Ordnung näherungsweise gilt:
Luft √
= n
Öl
10.25 Eine Anordnung zur Beobachtung von Newton-Ringen wird mit Licht beleuchtet,
das aus zwei benachbarten Spektrallinien (mit λ1 = 546 nm und λ2 ) besteht. Wel-
chen Wert hat λ2 , wenn der 11. helle Ring zur Wellenlänge λ1 mit dem 10. von λ2
zusammenfällt? Geben Sie den Ringradius und die Dicke der Luftschicht an dieser
Stelle an, wenn der Krümmungsradius der sphärischen Fläche 1 m beträgt.
10.26 Auf der Fotografie des mit einem Interferenzmikroskop (bei λ = 546,1 nm) gewonne-
nen Streifenmusters registriert man einen Streifenabstand von 1 mm. Diese Streifen
werden an einer Objektkante um 3,4 mm lateral verschoben. Welche Höhe hat diese
Kante, bei der es sich z.B. um eine Aufdampfschicht handelt?
11
Optische Interferometrie
Einleitung
Optische Interferometer sind Instrumente, die durch optische Weglängenunter-

schiede bedingte Lichtinterferenzen vielfältig nutzen. Diese allgemeine Definition,
die man noch auf akustische und andere nichtoptische Wellen erweitern kann,
berücksichtigt die Vielfalt in Bauart und Anwendung dieser Geräte. In diesem
Kapitel werden vornehmlich Michelson- und Fabry-Perot-Interferometer und ei-
nige der zahlreichen Anwendungen diskutiert. In Interferometern werden aus ei-
nem Primärstrahl durch Strahlteilung zwei oder mehrere kohärente Teilstrahlen
erzeugt, die nach Durchlaufen unerschiedlicher optischer Wege überlagert werden
und ein Interferenzmuster erzeugen. Zur Klassifizierung von Interferometern kann
man die Methode der Strahlteilung heranziehen: Interferometer mit Wellenfront-
teilung verwenden Teile derselben Wellenfront, Beispiele sind der Doppelspaltver-
such von Young und dessen Abwandlungen wie der Lloydsche Spiegelversuch und
das Fresnelsche Biprisma (s. Kap. 10). Interferometer mit Amplitudenteilung ver-
wenden Strahlenteiler, die den Ursprungsstrahl in zwei Teile aufspalten. Dies ist
im Michelson-Interferometer der Fall, wo die Teilung meist durch einen teilreflek-
tierenden dielektrischen oder Metallspiegel erfolgt; weitere Möglichkeiten sind die
reduzierte Totalreflexion in Teilerwürfeln sowie Doppelbrechung und Beugung.
Eine andere Klassifikation unterscheidet zwischen Zweistrahl-Interferometern,
310 11 Optische Interferometrie
wie dem von Michelson, und Vielstrahl-Interferometern vom Typ des Fabry-
Perot.
11.1 Das Michelson-Interferometer

1881 setzte Albert Michelson (1852–1931) zum ersten Mal ein Interferometer
ein, das die Entwicklung der modernen Physik entscheidend mitbestimmte. Die-
ses einfache und vielseitige Instrument wurde z.B. als experimenteller Test der
Gültigkeit der speziellen Relativitätstheorie verwendet, mit ihm wurde die Hy-
perfeinstruktur von Spektrallinien entdeckt, die Gezeitenwirkung des Mondes
untersucht und die Festlegung der Längeneinheit Meter ermöglicht. Michelson
selbst leistete auf zahlreichen Anwendungsgebieten Pionierarbeit.
Abbildung 11.1 a gibt das Schema eines Michelson-Interferometers wieder. Der
von einer ausgedehnten Lichtquelle L ausgehende Strahl 1 wird durch einen an
der Oberseite halbverspiegelten Strahlenteiler ST (z.B. dielektrischer Spiegel auf
Glas) geteilt, wir haben also ein Interferometer vom Typ Amplitudenteilung“.
”
Reflektierter Strahl 2 und durchgehender Strahl 3, die möglichst gleiche Ampli-
tude aufweisen sollten, werden dann von gut reflektierenden Spiegeln S1 und S2
zurückgeworfen und treffen nochmals auf den Strahlenteiler. Der durchgelassene
Anteil von 2 und der reflektierte Anteil von 3 verlassen das Interferometer als
Welle 4, die nunmehr aus Teilwellen besteht, die im Allgemeinen unterschiedliche
optische Wege zurückgelegt haben und damit gegeneinander phasenverschoben
sind. An mindestens einem der Spiegel sind mechanische oder piezoelektrische
Justierungen angebracht, so dass die Oberflächen von S1 und S2 senkrecht zu-
einander ausgerichtet werden können. Einer der Spiegel kann außerdem – auf
Bruchteile einer Wellenlänge genau – entlang der Strahlachse verschoben wer-
den. Auf diese Weise lässt sich der Gangunterschied zwischen den Teilstrahlen 2
und 3 kontinuierlich verändern. Machen Sie sich klar, dass Strahl 3 den Strah-
lenteiler dreimal, 2 ihn jedoch nur einmal durchsetzt, so dass deren optische
Wege – bei gleicher geometrischer Weglänge – verschieden werden. Dies kann bei
Interferenz mit weißem Licht zu Gangunterschieden führen, die größer als die
Kohärenzlänge sind. Eine Kompensation ließe sich durch Verschiebung von S2
erreichen, wegen der Dispersion allerdings nur für eine Wellenlänge. Um die Ver-
schiebung Wellenlängen unabhängig zu kompensieren, wird zusätzlich in Strahl 2
eine zum Strahlenteiler parallele Kompensationsplatte K eingeschoben, die mit
diesem in Material und Dicke identisch ist. Kleine Verkippungen dieses Kom-
pensators bewirken optische Weglängenänderungen, die eventuell verbleibende
Gangunterschiede ausgleichen.
Das Michelson-Interferometer hat zwei zueinander senkrechte Strahlenachsen.
Leichter verständlich ist ein äquivalentes optisches System mit nur einer Achse,
das die virtuellen Bilder L der Lichtquelle und S1 des Spiegels S1 verwendet, die
bei Spiegelung an dem Strahlenteiler ST entstehen. Diese Spiegelbilder ergeben
11.1 Das Michelson-Interferometer 311
Abb. 11.1. Michelson-Interferometer. a) Aufbau aus ausgedehnter Lichtquelle L, Strah-

lenteiler ST , feststehendem (S1 ) und verschiebbarem Spiegel (S2 ) sowie Kompensati-
onsplatte K. b) äquivalenter optischer Aufbau nach Spiegelung von L und S1 an ST .
∆w = 2d cos ε ist der Wegunterschied der Teilstrahlen
sich einfach durch eine +90◦ -Drehung (entgegen dem Uhrzeigersinn) der waag-
rechten Achse L − S1 um den Durchstoßpunkt D. Das Bild L wird anschließend
erneut an den den Spiegeln S1 und S2 gespiegelt, man erhält damit die beiden
virtuellen Lichtquellen L1 und L2 (s. Abb. 11.1 b). Ist d der Abstand von S1 und
S2 , so wird der Abstand der Bilder L1 und L2 gleich 2d. Das Licht aus einem
Punkt Q der Lichtquelle L wird an den Spiegeln S1 und S2 , die im Abstand
d parallel zueinander stehen, reflektiert und scheint von den virtuellen Punkt-
quellen Q1 und Q2 mit dem Abstand 2d zu kommen. Der Gangunterschied der
austretenden Strahlen ist dann (s. Abb. 11.1 b)
Gangunterschied ∆ = ∆w + ∆r = 2d cos ε + ∆r (11.1)
wobei ε der Winkel des Einfallsstrahls relativ zur optischen Achse ist und ∆r
eventuelle Gangunterschiede durch Reflexion erfasst. Verläuft der Einfallsstrahl
senkrecht zu den Spiegeln, so ist ε = 0 und der Gangunterschied der Wege
wird ∆w = 2d, da der Abstand d, um den ein Spiegel gegenüber dem anderen
verschoben ist, vom Licht zweimal – vor und nach der Reflexion – durchlaufen
wird. Konstruktive Interferenz mit ∆ = mλ tritt dann (ebenso wie destruktive
Interferenz) für jede zusätzliche Verschiebung um ∆d = λ/2 auf.
Das optische System von Abb. 11.1 b entspricht einer Luftschicht zwischen
planparallelen Platten, die von einer ausgedehnten Lichtquelle beleuchtet wird.
Es handelt sich hier um Interferenzen gleicher Neigung (s. Kap. 10.4), die bei
Betrachtung mit dem Auge oder einem auf ∞ fokussierten Teleskop als Ringsys-
tem beobachtbar sind. Bei Interferenz von Teilwellen gleicher Amplitude ist die
Gesamtintensität (10.15)

δ
I = 4I0 cos2 (11.2)
2
wobei entsprechend (10.8) zwischen Phasendifferenz δ und Gangunterschied ∆
der Zusammenhang besteht:
∆
δ = k∆ = 2π (11.3)
λ
Aufgrund der Reflexion entsteht zwischen Strahl 2 und 3 ein zusätzlicher Gang-
unterschied von ∆r = λ/2, da Strahl 2 zwei Reflexionen (an S2 und ST ) mit
Phasensprung erleidet und Strahl 3 nur einmal (an S1 ) mit Phasensprung re-
flektiert wird1 . Dann gilt mit (11.1) und (10.13) für dunkle Streifen (destruktive
Interferenz): ∆ = 2 d cos ε + λ/2 = (2m + 1)λ/2 oder:
2d
dunkle Ringe 2d cos ε = mλ mit m ≈ mmax = (11.4)
λ
mit der Ordnungszahl m. Ist d gerade so gewählt, dass im Zentrum des Ringsys-
tems (d.h. bei ε = 0) Auslöschung vorliegt, so ist die zugehörige Ordnungszahl
2d
mmax = (11.5)
λ
und wird im Allgemeinen sehr große Werte annehmen (mmax = 105 bei d =
3 mm und λ = 600 nm). Wegen m ∼ cos ε nimmt die Ordnung der Inter-
ferenzringe mit zunehmender Entfernung vom Zentrum ab! Mit der Ringzahl
p = mmax − m erhält man dann eine Indizierung, die von innen nach außen
zunimmt. Mit (11.4) und (11.5) ergibt sich hiermit für dunkle Ringe:
dunkle Ringe 2d(1 − cos ε) = pλ mit Ringzahl p = 0, 1, 2, . . . (11.6)
1
Dieses Ergebnis geht von einer dielektrischen Verspiegelung von ST aus, die optisch
dünner als Glas ist. Ist diese Annahme nicht erfüllt, so behalten die wesentlichen Glei-
chungen – wie (11.8) – ihre Gültigkeit, da bei der Messung nur Streifenverschiebungen
registriert werden.
11.1 Das Michelson-Interferometer 313
Abb. 11.2. Verschiedene Indizierungen der Interferenzringe. m = Interferenzordnung,

p = mmax − m = Ringzahl (vom Zentrum aus gezählt)
mit p = 0 im Zentrum. Abbildung 11.2 erläutert die Verhältnisse für den Fall
m = 100. Nach Abb. 11.1 b ist einem Punkt (oder Kreis) im Ringsystem ein
fester Einfallswinkel ε zugeordnet. Entsprechend (11.4) muss dann bei Zunah-
me des Abstands d – wegen cos ε = konst. – auch die Ordnung m zunehmen.
Ein dunkler (oder heller) Ring der Ordnung m geht folglich für eine Verschie-
bung von ∆d = λ/2 in einen der Ordnung m + 1 über. Man beobachtet bei
kontinuierlich wachsendem Spiegelabstand, wie immer neue Ringe aus dem Zen-
trum herausquellen und nach außen wandern und den umgekehrten Effekt mit
schrumpfenden Ringen bei Abstandsabnahme. Diese Beobachtung ist also nicht
vom Betrag des Abstandes abhängig, so dass bei Bewegung des Spiegels S2 nach
unten die Ringe zunächst nach innen wandern und sich der Effekt nach Erreichen
von d = 0 umkehrt. Der Winkelabstand ∆ε von zwei Ringen, die sich um ∆m
Ordnungen unterscheiden, ist nach (11.4) (wegen d(cos ε) = − sin ε dε):
λ
∆ε = − ∆m (11.7)
2d sin ε
Dies bedeutet, dass für vorgegebenes ∆m die Ringe um so weiter auseinander
liegen, je kleiner der Wegunterschied 2d wird. Für den Grenzfall d = λ/2 wird
(s. (11.4)) m = cos ε, die Ordnungszahl also immer ≤ 1; das gesamte Blickfeld
enthält somit nur einen Ring. Registriert man die Interferenzringe an einem festen
Ort nahe oder in dem Zentrum des Ringsystems, so folgt aus (11.4) nach Bildung
des totalen Differentials (für ∆ε = 0 und cos ε = 1):
2∆d
Streifenzählung ∆m = (11.8)
λ
Durch Abzählung der den Beobachtungspunkt durchlaufenden Ringe kann man

dann entweder die Wellenlänge (bei bekanntem ∆d) oder (bei bekanntem λ) die
Verschiebung ∆d, z.B. die Länge eines Endmaßes, ermitteln.
Beispiel 11.1 Michelson-Interferometer
In einem Michelson-Interferometer werden mit monochromatischem Licht
Ringe beobachtet. Wenn der bewegliche Spiegel um 0,73 mm verschoben wird,
registriert man, dass 300 Ringe im Zentrum verschwinden. Wie groß ist die
Wellenlänge des Lichtes? Um wie viel verschieben sich die Ringe, wenn ein
Glasplättchen mit der Dicke dg = 5 µm und Brechzahl ng = 1,51 in
einen Interferometerarm gebracht wird? (Der Lichtstrahl soll senkrecht auf
die Glasfläche treffen).
Lösung
∆d
Aus (11.8) folgt λ = 2 ∆m = 2·0,73
300 mm = 487 nm. Da die Ringe im Zentrum
verschwinden, liegt eine Verringerung des Spiegelabstandes vor. Durch die
Glasplatte wird der optische Weg in einem Arm vergrößert und man erhält
den Gangunterschied ∆ = 2(ng − 1) dg . Mit ∆ = ∆m λ erhält man
∆m = 10,5 Ringe.
11.2 Anwendungen des Michelson-Interferometers

Die in Abb. 10.19 wiedergegebene Methode der Dickenmessung dünner Schichten
beruht auf dem Michelson-Interferometer. Das Interferometer lässt sich auch zur
Messung der Brechzahl von Gasen verwenden. Hierzu bringt man in Strahl 3 (s.
Abb. 11.1 a) eine evakuierbare Messzelle mit planparallelen Fenstern, die das zu
vermessende Gas bei bekanntem Druck und vorgegebener Temperatur enthält.
Nach Auspumpen der Zelle auf einen vernachlässigbaren Druck werde die Ring-
verschiebung ∆m registriert. Ist l die Länge der Zelle, so ändert sich wegen des
Übergangs der Brechzahl von n nach 1 (Vakuum) der optische Weg um
∆d = nl − l = l(n − 1) (11.9)
Mit (11.8) folgt für die Brechzahl:
λ
Brechzahlmessung n=1+ ∆m (11.10)
2l
Eine weitere interessante Anwendung des Michelson-Interferometers ist die Be-

stimmung der kleinen Wellenlängendifferenzen benachbarter Spektrallinien (der
Wellenlängen λ und λ = λ − ∆λ). Jede Wellenlänge hat ihr eigenes Ringsys-
tem, deren Überlagerung zu Intensitäts-Schwebungen führt. Unterscheiden sich
11.2 Anwendungen des Michelson-Interferometers 315
Interferenzordnungen m und m der beiden Ringsysteme um eine ganze Zahl N ,

so entsteht ein kontrastreiches scharfes Interferenzmuster, während das Muster
für m − m = N + 1/2 verwaschen wird. Bei Koinzidenz (m = m + N )
gilt nach (11.4) für einen Spiegelabstand d1 und ε → 0 (d.h. Beobachtung in der
Nähe des Ringzentrums):
2d1 = m1 λ = m1 λ = (m1 + N )(λ − ∆λ) ≈ m1 λ + N λ − m1 ∆λ (11.11)

wobei N ∆λ wegen N m vernachlässigt wurde. Hieraus folgt für die Koinzi-
denzbedingung bei Spiegelabstand d1 :
∆λ
N λ = m1 ∆λ = 2d1 (11.12)
λ
Vergrößert man den Abstand auf d2 , so tritt an dem gleichen Beobachtungspunkt
(und damit Winkel ε) dann Koinzidenz auf, wenn die Differenz N um 1 vergrößert
wurde, wenn also in (11.11) gilt m2 λ = (m2 + N + 1)λ . Wir erhalten dann
anstelle von (11.12):
∆λ
(N + 1)λ = m2 ∆λ = 2d2 (11.13)
λ
Differenzbildung von (11.13) und (11.12) führt dann mit der Spiegelverschiebung
∆d = d2 − d1 auf die
Wellenlängendifferenz λ2
∆λ = (11.14)
2∆d
Mit dieser Methode wird in Physikpraktika häufig der Abstand der gelben
Na-D-Linien (λ = 589,59 nm, λ = 589,00 nm) ermittelt.
Die bisherige Diskussion des Michelson-Interferometers ging von Interferen-
zen gleicher Neigung aus. Dies setzte voraus, dass in Abb. 11.1 a S1 und S2 exakt
senkrecht und somit S1 und S2 in Abb. 11.1 b exakt parallel zueinander ange-
ordnet sind. Wird der Spiegel S1 leicht gegen S2 verkippt, so dass in Abb. 11.1 b
zwischen S1 und S2 ein Luftkeil entsteht, so sieht man auf dem Spiegel S1 loka-
lisierte gerade Interferenzstreifen gleicher Dicke, die parallel zur Kippachse von
S1 und S2 verlaufen. Bei großen Keilwinkeln beobachtet man als Interferenz-
kurven Hyperbelbögen. Wie in Kapitel 10 erläutert, treten bei einer annähernd
punktförmigen Lichtquelle reelle, nichtlokalisierte Streifen auf, die von zwei vir-
tuellen Bildern Q1 und Q2 der Quelle stammen. Diese Streifen lassen sich leicht
mit Laserlicht demonstrieren, das mit einer kurzbrennweitigen Linse vor dem
Strahlenteiler fokussiert wird. Abb. 11.3 ist die Fotografie von Kurven gleicher
Dicke, die durch eine Kerzenflamme in einem Interferometerarm verzerrt werden,
da aufgrund der Temperaturunterschiede die Brechzahl von Luft und damit die
optische Weglänge verändert wird.
Abb. 11.3. Deformation der Interferenzstreifen gleicher Dicke aufgrund von Brech-
zahländerungen in der Umgebung einer Kerzenflamme
11.3 Modifikationen des Michelson-Interferometers

Obwohl es zahlreiche Möglichkeiten gibt, einen Lichtstrahl aufzuspalten und nach
dem Durchlaufen verschiedener Lichtwege wieder zu überlagern, betrachten wir
nur zwei Methoden, die als Modifikationen des Michelson-Interferometers ange-
sehen werden können. Das Twyman-Green-Interferometer (s. Abb. 11.4 a) ver-
wendet eine punktförmige Lichtquelle Q im Brennpunkt einer Kollimatorlinse
L1 , so dass alle Strahlen parallel zur optischen Achse (cos ε = 1) einfallen und
beim Austritt durch die Linse L2 in einem Punkt P , an dem sich z.B. das Auge
befindet, fokussiert werden. Statt der Interferenzstreifen gleicher Neigung treten
nun – bei leicht verkippten Spiegeln – Streifen gleicher Dicke auf. Im Grenz-
fall exakt paralleler Spiegel und ebener Wellenfronten würde sich bei P nur ein
Punkt ergeben. Bringt man in ein solch hochwertiges Interferometer Prüflinge,
wie z.B. das Prisma in Abb. 11.4 b, so kann man deren Qualität prüfen. Spiegel
S1 wird um den Ablenkwinkel gekippt, so dass wieder die Interferenzen von Abb.
11.4 a auftreten. Oberflächenfehler oder Brechzahlvariationen des Prismas bewir-
ken eine Verformung der Wellenfronten und eine entsprechende Veränderung des
Interferenzbildes. Bei der Prüfung sphärischer Linsen, z.B. auf Linsenfehler wie
11.3 Modifikationen des Michelson-Interferometers 317
die sphärische Aberration, verfährt man entsprechend, man ersetzt jedoch Spie-
gel S1 durch einen Konvexspiegel K, damit die in der Linse gebrochenen Strahlen
wieder in ihrer Einfallsrichtung reflektiert werden (s. Abb. 11.4 c).
Abb. 11.4. Twyman-Green-Interferometer. a) Aufbau mit punktförmiger Lichtquelle

Q und Kollimatorlinse L1 . Die Spiegel S1 bzw. S2 sind leicht gekippt, so dass Inter-
ferenzen gleicher Dicke auftreten. b) Qualitätsprüfung eines Prismas P r, S1 ist um den
Ablenkwinkel gekippt. c) Prüfung einer Linse L unter Verwendung eines Konvexspiegels
Abb. 11.5. Mach-Zehnder-Interferometer mit Strahlenteiler ST und den Umlenkspie-

geln S1 und S2 . Die bei dem teildurchlässigen Spiegel S3 nach oben austretenden Strah-
len sind nicht gezeichnet
Beim Mach-Zehnder-Interferometer (s. Abb. 11.5) wird der einfallende Strahl

ebenfalls durch einen Strahlenteiler ST geteilt. Die Teilstrahlen werden dann aber
durch die Spiegel S1 und S2 lediglich um 90◦ umgelenkt und mit Hilfe des halb-
durchlässigen Spiegels S3 überlagert. Hier stimmen die optischen Wege von 1
und 2 bei gleicher geometrischer Weglänge und gleichen Teilerspiegeln überein,
eine Kompensationsplatte erübrigt sich somit. Dieses Interferometer kann z.B.
bei Strömungsuntersuchungen im Windkanal eingesetzt werden, wo Variationen
des statischen Drucks zu Brechzahländerungen und entsprechenden Streifenver-
schiebungen führen. Das Mach-Zehnder-Interferometer hat den Vorteil, dass man
durch kleine Drehungen der Spiegel (z.B. S3 ) erreichen kann, dass die dann leicht
divergent austretenden Teilstrahlen scheinbar von einem Punkt des Objekts kom-
men. Bei Verwendung einer Abbildungslinse können dann Testobjekt und die
Interferenzstreifen auf dem Objekt gleichzeitig scharf abgebildet werden. Beim
Michelson-Interferometer waren hingegen die Interferenzstreifen auf dem Spiegel
lokalisiert. Die bislang diskutierten Interferometer basierten auf Zweistrahlin-
terferenz mit Amplitudenteilung. Um die Vielstrahlinterferenz des Fabry-Perot-
Interferometers zu verstehen, wollen wir zunächst die Vielfachreflexionen an einer
transparenten, planparallelen Platte untersuchen.
11.4 Stokes-Beziehungen
Sir George Stokes (1819–1903) stellte Beziehungen zwischen den an einer ebe-
nen, brechenden Grenzfläche reflektierten und durchgelassenen Teilwellen und
der einfallenden (ebenen) Welle auf. Wir definieren für eine einfallende Welle der
komplexen elektrischen Feldstärke E e und Amplitude Ê den
Er Ê
Reflexionsfaktor r= = r (11.15)
Ee Ê e
und entsprechend den

Et Ê
Transmissionsfaktor t= = t (11.16)
Ee Ê e
Die einfallende Amplitude Ê e wird dementsprechend in den reflektierten Anteil

Ê r = rÊ e und die durchgelassene Amplitude Ê t = tÊ e aufgespalten. Für einen
aus Medium 2 kommenden Strahl verwenden wir die gestrichenen Größen r und
t . Als Reflexionsgrad bezeichnet man das Verhältnis von reflektierter zu ein-
fallender Leistung P , also
Pr
Reflexionsgrad = = r2 (11.17)
Pe
11.4 Stokes-Beziehungen 319
Abb. 11.6. Einfallende (Index e), reflektierte (r) und transmittierte (t) Teilstrahlen an
einer Grenzfläche zur Herleitung der Stokes-Beziehungen
Dann gilt für den Transmissionsgrad2

Pt
Transmissionsgrad τ= (11.18)
Pe
Ausgehend von Abb. 11.6 a muss nach dem Prinzip der Umkehrbarkeit des Licht-
weges (Invarianz gegen Zeitumkehr) auch der in Abb. 11.6 b wiedergegebene Fall
mit zwei einfallenden Strahlen gültig sein. Er führt jedoch wegen der zusätzli-
chen Reflexion und Transmission der einfallenden Wellen zu der in Abb. 11.6 c
wiedergegebenen Realisierung. Gleichsetzen der Amplituden der Abb. 11.6 b und
Abb. 11.6 c ergibt für
Medium 1: Ê e = (r2 + t t)Ê e

Medium 2: 0 = (r t + tr)Ê e
Hieraus folgen dann die Stokes-Beziehungen zwischen den Transmissions- und
Reflexionsfaktoren
tt = 1 − r2 (11.19)
Stokes-Beziehungen
r = −r (11.20)
Beachten Sie, dass die Größen r und t winkelabhängig sind (s. Kap. 20.4) und
deshalb die obigen Gleichungen zu verstehen sind als t(ε) t (ε ) = 1 − r2 (ε) und
r(ε) = −r (ε ). Die Winkel ε und ε sind über das Brechungsgesetz verknüpft.
2
Im Allgemeinen gilt nicht τ = t2 (s. Kap. 20). Entsprechend der Definition sind
r und t komplexe Größen. In Kap. 20 wird gezeigt, dass sie für eine dielektrische
Grenzfläche reell sind, ein evtl. Phasensprung bei Reflexion kann durch ein negatives
Vorzeichen von r erfasst werden.
Nach (11.20) ist r = −r = r ejπ , dies bedeutet, dass der Betrag der reflek-
tierten Amplituden – und damit die Intensitäten – gleich sind, die Phasen aber
um π gegeneinander verschoben sind. Dies ist Ausdruck der Tatsache, dass beim
Übergang vom optisch dünneren ins dichtere Medium – in Analogie zur Reflexion
einer Seilwelle am festen Ende – ein Phasensprung auftritt, beim umgekehrten
Vorgang aber nicht (s. Fresnel-Gleichungen in Kap. 20.4).
11.5 Vielstrahlinterferenz an einer Planplatte

In Kapitel 10.4 wurde die Reflexion an einer Planplatte in der Zweistrahlnähe-
rung untersucht, jetzt wollen wir Mehrfachreflexionen berücksichtigen. Wir be-
trachten eine planparallele Platte der Dicke d, auf die unter einem Winkel ε ein
schmales Lichtbündel der Amplitude Ê e trifft (s. Abb. 11.7). r und t sind die
Reflexions- und Transmissionsfaktoren für eine äußere und r und t die für eine
innere Fläche. Für jeden Abschnitt des Strahls kann die neue Amplitude durch
Multiplikation der vorherigen mit den jeweiligen Reflexions- und Transmissions-
faktoren berechnet werden. An der Ober- und Unterseite der Platte treten zahl-
reiche Parallelstrahlen aus, die in der Brennebene einer Sammellinse interferieren.
Bei großer Kohärenzlänge des Lichtes und/oder kleiner Plattendicke sind hierbei
die Teilstrahlen, die aus demselben Einfallsstrahl hervorgehen, kohärent.
Wir untersuchen die Überlagerung der an der Oberseite der Platte reflektier-
ten Strahlen. Die Phasendifferenz 3 δ zwischen benachbarten Strahlen wurde bei
der Zweistrahlinterferenz berechnet (10.30):
Phasendifferenz δ = k∆ mit ∆ = 2ns d cos ε (11.21)
Für die komplexen Amplituden der Teilwellen erhalten wir aus Abb. 11.7:
Ê 1 = rÊ e
Ê 2 = tt r Ê e e−jδ (11.22)
Ê 3 = tt r3 Ê e e−j2δ . . .
Für die n-te (mit n > 1) reflektierte Welle gilt dann:
Ê n = tt r(2n−3) Ê e e−j(n−1)δ

Nimmt man eine beliebig große Platte (mit unendlich vielen Teilwellen) an, so
wird die resultierende Amplitude Ê r :
3
Eventuelle Phasensprünge sind hier in den Vorzeichen von r und r enthalten.
11.5 Vielstrahlinterferenz an einer Planplatte 321
Abb. 11.7. Reflektierte und transmittierte Strahlen bei Vielfachreflexion an einer plan-
parallelen Platte der Dicke d und Brechzahl ns
∞
∞

Ê r = Ê n = rÊ e + tt Ê e r(2n−3) e−j(n−1)δ
n=1 n=2

∞

= Ê e r + r tt e
−jδ (2n−4) −j(n−2)δ
r e (11.23)
n=2
Der letzte Summenterm ist von der Form einer geometrischen Reihe
∞

xn−2 = 1 + x + x2 + . . .
n=2
2 −jδ
wobei x = r e . Wegen |x| < 1 konvergiert die Reihe gegen den Wert
1/(1 − x). Damit wird die resultierende Amplitude:

tt r e−jδ
Ê r = Ê e r +
1 − r2 e−jδ
Bei Anwendung der Stokes-Beziehungen (11.19) und (11.20) erhält man dann

(1 − r2 )r e−jδ
Ê r = Ê e r−
1 − r2 e−jδ
und nach Vereinfachung:
r(1 − e−jδ )
Ê r = Ê e (11.24)
1 − r2 e−jδ
Zur Berechnung der reflektierten Leistung ermitteln wir – wegen Pr ∼ Êr2 – das
Betragsquadrat

∗ 1 − e−jδ 1 − ejδ
Êr2 = Ê r Ê r = Êe2 r2
1 − r2 e−jδ 1 − r2 ejδ
Nach Ausmultiplikation und Verwendung der Beziehung 2 cos δ = ejδ + e−jδ
sowie des Reflexionsgrades = r2 einer Seite der Planplatte wird die
2(1 − cos δ)
reflektierte Leistung Planplatte Pr = Pe (11.25)
1 + 2 − 2 cos δ
wobei Pe die einfallende Leistung ist. Nach analoger Rechnung erhalten wir für
die
(1 − )2
transmittierte Leistung Planplatte Pt = Pe (11.26)
1 + 2 − 2 cos δ
Die Gleı́chung (11.26) hätte man auch direkt mit der aus dem Energieerhaltungs-
satz folgenden Beziehung
Pr + Pt = Pe (11.27)
und (11.25) herleiten können.
Aus (11.25) folgt, dass die Reflexion für cos δ = 1 verschwindet und somit
in Übereinstimmung mit (11.26) und (11.27) die gesamte einfallende Leistung
durchgelassen wird. Wir erhalten demnach:
Reflexionsminima bzw. Transmissionsmaxima
⎧
⎨δ = m2π bzw.
Pr = 0 bzw. Pt = Pe bei (11.28)
⎩
∆ = 2ns d cos ε = mλ
Diese Bedingung ist uns von der Zweistrahlinterferenz bekannt (s. (10.30) u.
(10.31) mit ∆r = λ/2). Aus Abb. 11.7 und (11.22) folgt, dass für ein Reflexi-
onsminimum alle Strahlen mit n ≥ 2 in Phase sind und – wegen r = −r – zum
11.6 Fabry-Perot-Interferometer 323
ersten Strahl gegenphasig schwingen. Da die Gesamtreflexion verschwindet, löscht

sich demnach der erste Strahl mit der Summe aller anderen aus. Bei der Zwei-
strahlinterferenz hatten wir vorausgesetzt, dass sich schon der erste und zweite
Strahl auslöschen, dann müssten aber deren Amplituden annähernd gleich groß
sein. Nach (11.22) ist ihr Amplitudenverhältnis
Ê 2 tt r Ê e
= = −(1 − r2 ) (11.29)
Ê 1 rÊ e
was für kleine r2 tatsächlich gegen −1 geht. Das negative Vorzeichen zeigt, dass
die Teilwellen gegenphasig schwingen: Bei einer Glasplatte (ns = 1,5) in Luft ist
der Reflexionsgrad bei senkrechtem Lichteinfall: = r2 = 0,04. Damit löscht
der zweite Strahl bereits 96% des ersten Strahls aus und die Zweistrahlnäherung
ist gerechtfertigt.
Für cos δ = −1 oder
λ
δ = (2m + 1)π und ∆ = 2ns d cos ε = (2m + 1) (11.30)
2
ergeben sich (s. (11.25)):
4
Reflexionsmaxima Pr = Pe (11.31)
(1 + )2
Der Nenner von (11.26) hat in diesem Fall seinen größten Wert, so dass (wie auch
aufgrund von (11.27) zu erwarten)
2
1−
Transmissionsminima Pt = Pe (11.32)
1+
auftreten.
11.6 Fabry-Perot-Interferometer
Das Fabry-Perot-Interferometer nutzt die Vielstrahlinterferenz an Planplatten

im durchgehenden Licht. Dieses Instrument ist wohl das Interferometer mit dem
größten Anwendungsbereich. Es wird zur hochgenauen Wellenlängenmessung, zur
Analyse der Hyperfeinstruktur von Spektrallinien, zur Bestimmung der Brech-
zahl von Gasen sowie als Laserresonator verwendet; optische Schaltelemente für
optische Rechner könnten mit nichtlinearen Fabry-Perots“ realisiert werden.
”
Abbildung 11.8 zeigt eine typische Anordnung: Zwei dicke Glas- oder Quarz-
platten schließen eine planparallele Luftplatte“ ein, an der die Vielfachreflexion
”
Abb. 11.8. Fabry-Perot-Interferometer mit ausgedehnter Lichtquelle LQ. In der Brenn-

ebene der Linse L beobachtet man Interferenzen gleicher Neigung der von den Punkten
Qi ausgehenden Teilwellen
erfolgt. Demzufolge sind die inneren Oberflächen der Glasplatten von entschei-
dender Bedeutung. Sie sind bis zu einer Planheit besser λ/50 poliert und durch
dielektrische oder auch Silber- und Aluminiumschichten zu etwa 95% hochre-
flektierend. Silberschichten mit einer Dicke von etwa 50 nm eignen sich für Wel-
lenlängen größer 400 nm. Im Ultraviolett verwendet man Aluminiumschichten.
Die äußeren Glasflächen sind gegen die zueinander parallelen inneren Flächen
leicht (um Winkelminuten) verkippt, um störende Interferenzen an den Außen-
flächen zu vermeiden. Die Dicke d der Luftschicht bestimmt – wie unten gezeigt
– entscheidend die Leistungsfähigkeit des Interferometers. Bei festem Plattenab-
stand spricht man auch von einem Etalon.
Wir verfolgen zunächst einen von einem Punkt Q der ausgedehnten Licht-
quelle ausgehenden Strahl, der unter ε, dem Winkel zur optischen Achse, einfällt
(s. Abb. 11.8); er erzeugt im Punkt P der Brennebene einer Sammellinse L Viel-
strahlinterferenz. Hierbei unterscheiden sich benachbarte Teilstrahlen durch zwei
zusätzliche Reflexionen, so dass sich die Phasensprünge aufheben. Der geometri-
sche Wegunterschied ist für alle Nachbarstrahlen gleich – und stimmt mit dem
von zwei reflektierten Strahlen (11.21) überein. Folglich haben wir in Transmis-
sion konstruktive Interferenz oder helle Ringe für:
helle Ringe ∆ = 2d cos ε = mλ (11.33)
In Übereinstimmung mit (11.28) ist dies auch die Bedingung für ein Reflexi-
onsminimum. Für festes d wird die Interferenzbedingung (11.33) nur für bestimm-
te Einfallswinkel ε – aber Strahlen aus beliebigen Punkten Qi (s. Abb. 11.8) der
ausgedehnten Lichtquelle – erfüllt und man beobachtet die bekannten konzentri-
schen Interferenzringe gleicher Neigung. Wird zusätzlich bei ausgedehnter Licht-
quelle eine Kollimatorlinse am Eingang verwendet (s. Abb. 11.9 a), so wird jeder
Punkt der Lichtquelle gerade in einen zugeordneten Bildpunkt auf dem Schirm
11.6 Fabry-Perot-Interferometer 325
Abb. 11.9. a) Fabry-Perot-Interferometer mit einer ausgedehnten Lichtquelle und

Kollimatorlinse L1 bei festem Plattenabstand. Auf dem Beobachtungsschirm wird ein
kreisförmiges Interferenzmuster registriert, das auf dem Foto wiedergegeben ist. Punkte
Q der Lichtquelle werden in Punkte P überführt. b) Fabry-Perot“ mit einer Punkt-
”
lichtquelle Q und variablem Plattenabstand. Im Brennpunkt der zweiten Linse ist ein
Detektor D platziert, dessen Ausgangssignal bei Variation des Plattenabstandes um ∆x
schematisch wiedergegeben ist
(z.B. Fotoplatte) abgebildet. Abb. 11.9 b zeigt eine Anordnung mit punktförmiger
Lichtquelle. Hier treffen alle Strahlen unter demselben Winkel (hier ε = 0) auf
das Interferometer und werden auf den Detektor fokussiert. Bei kontinuierlicher
Variation des Plattenabstandes d registriert der Detektor das Interferenzmus-
ter als Funktion der Zeit in Form eines Interferogramms. Sendet die Lichtquelle
zwei benachbarte Wellenlängen aus, so liefert die Anordnung der Abb. 11.9 a
ein doppeltes Ringsystem, während man mit der Variante der Abb. 11.9 b bei
Abstandsänderung zwei Intensitätsmaxima registriert.
11.7 Streifenprofil: Airy-Funktion

Den Verlauf der am Empfänger gemessenen Bestrahlungsstärke als Funktion der
Phasendifferenz bezeichnet man als Streifenprofil. Die Schärfe der Linien be-
stimmt natürlich letztlich das Auflösungsvermögen des Instruments. Ausgehend
von (11.26) erhält man unter Verwendung der Beziehung

δ
cos δ = 1 − 2 sin2
2
für den Intensitäts-Transmissionsgrad 4 des Fabry-Perot, die so genannte
It 1
Airy-Funktion T = = (11.34)
Ie 4
1 + (1−) sin2 2δ
2
wobei der Reflexionsgrad einer Spiegelfläche ist und die Phasendifferenz (s. (11.21)
und (11.33)) bei einer Luftplatte“ durch
”
4πd cos ε
δ=
λ
gegeben ist. Mit Hilfe des von Fabry definierten Finesse-Koeffizienten K (s.
Abb. 11.10)
2
2r 4
K= = (11.35)
1 − r2 (1 − )2
kann die Airy-Funktion kompakter geschrieben werden:
1
T = (11.36)
1 + K sin2 δ2
Bei konstruktiver Interferenz (mit cos δ = 1 und sin(δ/2) = 0) ist maxima-
le Transmission zu erwarten. Aus (11.36) folgt dementsprechend5 Tmax = 1.
Destruktive Interferenz (bei cos δ = 0 und sin(δ/2) = ±1) ergibt die minimale
Transmission:
1
Tmin =
1+K
4
In (11.26) ist das Leistungsverhältnis Pt /Pe bei beliebigem Einfallswinkel eines Paral-
lelstrahls angegeben. Beim Fabry-Perot hat man annähernd senkrechten Lichteinfall,
so dass die Querschnittsflächen von ein- und austretendem Strahl – trotz Mehrfach-
reflexion – übereinstimmen. Gleichung (11.26) gilt dann auch für die entsprechenden
Intensitäten.
5
Es war ein verlustfreies Medium vorausgesetzt.
11.7 Streifenprofil: Airy-Funktion 327
π
√
Abb. 11.10. Verlauf des Ringkontrastes K und der Finesse F = 2 K als Funktion
des Reflexionsgrades
Die Größe K wurde zunächst als Abkürzung eingeführt. Man prüft leicht nach,
dass K die Gleichung erfüllt
Itmax − Itmin
K= (11.37)
Itmin
und damit (anders als üblich, s. (10.16)) den Kontrast der Ringe beschreibt.
Der Koeffizient K hängt empfindlich vom Reflexionsgrad ab, denn wenn
von 0 bis 1 variiert, ändert sich K von 0 bis ∞ (s. Abb. 11.10). Dies wirkt
sich auf den Verlauf der Airy-Funktion T aus, die in Abb. 11.11 als Funktion der
Phasendifferenz mit Reflexionsgrad und Kontrast K als Parameter dargestellt
ist. Bei allen Kurven ist Tmax = 1 für δ = m 2π und Tmin = 1/(1 + K)
bei δ = (m + 1/2) π. Während Tmax = 1 für beliebige Reflexionsgrade zu
beobachten ist, ist Tmin nie exakt null, sondern nähert sich diesem Wert erst
für → 1. Steigendes führt zu immer schärferen Linien und einem immer
breiteren, nahezu unbestrahlten Bereich zwischen den Linien. Für einen üblichen
Wert von = 0,95 nimmt K den Wert 1520 an und die Halbwertsbreite der
Ringe beträgt weniger als ein Viertel des Wertes bei = 0,80. Zum Vergleich ist
auch (gestrichelt) der normierte Streifenverlauf (I/Imax = cos2 δ/2, s. (11.2))
bei der Zweistrahlinterferenz eines Michelson-Interferometers gezeigt.
Abb. 11.11. Streifenprofil des Fabry-Perot. Durchlässigkeit oder Airy-Funktion T als

Funktion der Phasendifferenz δ mit den Kurvenparametern: Reflexionskoeffizient r, Re-
flexionsgrad = r 2 , Ringkontrast K und Finesse F (s. (11.41)) Kurve 1: r = 0,2;
= 0,04; K = 0,17; F = 0,65. Kurve 2: 0,5; 0,25; 1,8; 2,1. Kurve 3: 0,9; 0,81; 90;
14,9. δ1/2 gibt die Halbwertsbreite der Kurve 3 an. Die gestrichelte Kurve 4 entspricht
dem Michelson-Interferometer (Zweistrahlinterferenz) mit δ1/2 = π
11.8 Auf lösungsvermögen
Fällt auf ein Fabry-Perot Licht mit zwei benachbarten Wellenlängen, dann tritt
ein doppeltes Ringsystem auf, eines für jede Wellenlänge. Für eine Interferenz-
ordnung m registriert man somit in radialer Richtung zwei mehr oder weniger
deutlich getrennte Maxima (s. Abb. 11.12 für den Fall gleicher Intensität der
Teilwellen). In Abb. 11.12 a ist der Verlauf der Maxima für die Wellenlängen λ
und λ + ∆λ einzeln gezeichnet, die Messung liefert die (gestrichelte) Summenkur-
ve. Man erkennt, dass unterhalb eines minimalen Wellenlängenabstandes ∆λmin
die beiden Maxima nicht mehr aufgelöst werden können. Es gibt verschiedene
Auflösungskriterien zur Erkennbarkeit der Maxima und Ermittlung von ∆λmin .
Das Rayleigh-Kriterium fordert eine Einsattelung von mindestens 20% (genauer
Tmin = 8/π 2 · Tmax ) zwischen den Maxima. Das ebenfalls nach Rayleigh be-
11.8 Auflösungsvermögen 329
Abb. 11.12. a) Verlauf der Bestrahlungsstärke in den Fabry-Perot Ringen bei zwei
Wellenlängenkomponenten etwa gleicher Eingangsintensität. Beobachtet wird die Ge-
samtintensität (gestrichelt), die an der Rayleigh-Grenze eine Einsattelung von 20%
aufweisen muss. b) Ermittlung der Ringbreite: Halbwertsbreite δ1/2 des Peaks und
zugehörige Differenz δc . Es gilt δc = δ+ − m 2π und δ1/2 = 2δc
nannte und bekanntere Kriterium zur Auflösung bei Spalt- und Gitterbeugung
(s. Kap. 16 u. 17) ist hier nicht anwendbar. Wir fordern vereinfachend, dass in
dem Ringsystem der Mindestabstand von zwei Maxima gleicher Ordnung gleich
dem Abstand sein muss, der der Halbwertbreite δ1/2 = 2δc der Einzelmaxima
entspricht (s. Abb. 11.12). Wir ermitteln zunächst δc : Am m-ten Maximum muss
für δ+ = m2π + δc gelten: T (δ+ ) = 1/2; dann hat der Nenner√von T (11.36)
den Wert 2, woraus folgt: K sin2 (δ+ /2) = 1 und sin(δ+ /2) = 1/√ K. Da in der
Umgebung√ der Maxima | sin δ+ | 1 gilt, wird δ+ = m2π + 2/ K und damit
δc = 2/ K. Die Halbwertsbreite der Interferenzmaxima ist folglich gleich:
4
Halbwertsbreite δ1/2 = 2δc = √ (11.38)
K
Um die zugehörige Wellenlängendifferenz ∆λmin zu bekommen, berechnen wir

zuerst die Differenz6 ∆λn , die erforderlich ist, um in Abb. 11.11 eine Verschiebung
um eine ganze Beugungsordnung – entsprechend ∆δ = 2π – zu erzielen, für die
also:
m(λ + ∆λn ) = (m + 1)λ

6
Nutzbarer Spektralbereich, s. Kap. 11.9.
λ
Dies ist offensichtlich für ∆λn = m der Fall. Ausgehend hiervon können wir
∆λmin aus der Proportion
∆λmin δ1/2
=
∆λn 2π
gewinnen und erhalten mit (11.38) und ∆λn = λ/m:
λ 2π π√
=m =m K (11.39)
∆λmin δ1/2 2
Unter dem spektralen Auflösungsvermögen A eines Spektrometers versteht man
allgemein:
λ
A= (11.40)
∆λmin
Durch Einführung der
√
π√ r
Finesse F = K=π =π (11.41)
2 1 − r2 1−
kann man das Auf lösungsvermögen des Fabry-Perot-Interferometers mit (11.39)

bis (11.41) in eine einfache Form bringen:
λ
Auf lösungsvermögen A= = mF (11.42)
∆λmin
Ein hohes Auflösungsvermögen erreicht man demnach für eine hohe Finesse F
und für große Ordnungszahlen m, also im Zentrum des Ringsystems, und großen
Plattenabstand, da nach (11.33):
2d
mmax = (11.43)
λ
Die Güte eines Perot-Fabry hängt entscheidend von dem Reflexionsgrad der Plat-
ten und der Finesse ab, die ihrerseits die Linienbreite bestimmt. Der Vergleich
von (11.39) und (11.41) führt zur gebräuchlichsten Definition der Finesse: Fi-
nesse F = 2π/δ1/2 ist das Verhältnis von Phasenwinkelabstand 2π benachbarter
Maxima zu Halbwertsbreite δ1/2 eines Ringes. Damit gilt dann auch:
Finesse ist das Verhältnis von Linienabstand benachbarter Linien zur Halb-
wertsbreite einer Linie.
Wir fassen zusammen:

11.9 Nutzbarer Spektralbereich 331
2π Linienabstand
F = =
δ1/2 Linienbreite
Finesse
π√ r A
= K=π = (11.44)
2 1−r 2 m
Beispiel 11.2 Fabry-Perot

Gegeben sei ein Fabry-Perot-Interferometer mit dem Plattenabstand 1 cm und
dem Reflexionsgrad = 0,90. Man bestimme für eine Wellenlänge von 500 nm
die maximale Beugungsordnung, den Kontrast, die Finesse sowie das minimal
auflösbare Wellenlängenintervall, das Auflösungsvermögen und den nutzba-
ren Spektralbereich (s. (11.45)).
Lösung
√
Wir erhalten: mmax = 2d = 40 000 ≈ m; Reflexionsfaktor r = = 0,95;
4
λ
π
√
Kontrast K = (1−)2 = 380; Finesse F = 2 K = 30,6; Auflösungsvermögen
λ
A = ∆λ = mF = 1,2 · 106 ; ∆λmin = A
λ
= 0,42 pm und nutzbarer
λ
Spektralbereich ∆λn = m = 12,5 nm.
Gute Fabry-Perot-Interferometer weisen Auflösungsvermögen von etwa 106 bis

2 · 107 auf. Damit erreicht man Werte, die die Leistungen von Beugungsgittern
und Prismen um ein bis zwei Größenordnungen übertreffen. Abbildung 11.13 gibt
das Ringsystem der grünen Quecksilberlinie wieder und zeigt deren Feinstruktur.
11.9 Nutzbarer Spektralbereich

Da sich die Ringsysteme verschiedener Wellenlängen überlagern, können an einem
Punkt Ringe unterschiedlicher Wellenlänge und Ordnung auftreten und damit die
Messung der Wellenlängen erschweren oder verhindern. Dies lässt sich durch Ein-
schränkung des untersuchten Spektralbereiches verhindern. Wir betrachten zwei
Wellenlängen λ1 und λ2 = λ1 + ∆λ. Für kleine ∆λ sind die beiden aufgelösten
(es gilt also ∆λ > ∆λmin ) Ringsysteme in jeder Ordnung dicht beisammen und
eindeutig unterscheidbar. Bei Steigerung von ∆λ steigt auch der Abstand der
Ringe gleicher Ordnung; wenn er gleich dem Abstand zwischen aufeinanderfol-
genden Ordnungen einer Wellenlänge wird, ist keine Eindeutigkeit mehr gegeben.
Wir berechnen den Wellenlängenunterschied ∆λn für den Grenzfall, dass die Li-
nie m-ter Ordnung der Wellenlänge λ2 auf die Ordnung m + 1 von λ1 fällt. Da
in (11.33) d und cos ε übereinstimmen, muss gelten
mλ2 = (m + 1)λ1
Abb. 11.13. Fabry-Perot-Ringe bei der grünen Quecksilberlinie (λ = 546,1 nm), die
die Feinstruktur der Spektrallinie wiedergeben
Mit λ2 = λ1 + ∆λn gilt dann:

λ1
nutzbarer Spektralbereich ∆λn = (11.45)
m
∆λn bezeichnet man als nutzbaren oder freien Spektralbereich, es ist der Betrag,
um den die Wellenlänge geändert werden muss, damit die m-te Ordnung der
Wellenlänge λ1 +∆λn mit der Ordnung m+1 für λ1 zusammenfällt. Da m ≈ 2d/λ,
gilt auch
λ2
∆λn = (11.46)
2d
Machen Sie sich unbedingt klar: ∆λmin ist der kleinste Abstand, den zwei Wel-
lenlängen haben dürfen, damit sie noch getrennt oder aufgelöst werden können.
Er wird klein (und damit das Auflösungsvermögen A groß), wenn in hoher Ord-
nung mit guter Finesse gearbeitet wird (s. (11.42)). Ist ∆λ > ∆λmin , sind also
zwei Linien deutlich erkennbar, so kann der Nachweis erschwert werden, wenn
sie zu weit – und zwar um mehr als ∆λn – voneinander entfernt sind. Man er-
kennt, dass eine hohe Beugungsordnung m zwar die Auflösung steigert, jedoch
den Spektralbereich einengt. Im Bsp. 11.2 war ∆λn nur 12,5 pm! Ein gutes Spek-
trometer sollte ein möglichst großes Verhältnis ∆λn /λmin aufweisen! Mit (11.42)
und (11.45) erhält man für das Verhältnis von nutzbarem Spektralbereich zu
minimal nachweisbarem Wellenlängenbereich gerade die Finesse:
Abb. 11.14. a)Verwendung eines Fabry-Perot-Etalons in Verbindung mit einem

Prismen-Spektrografen. Das Fabry-Perot hat ein hohes Auflösungsvermögen, das Pris-
ma einen großen nutzbaren Spektralbereich. b) Feinstruktur von Spektrallinien, die mit
einer Anordnung nach a) aufgelöst wurde
∆λn
=F (11.47)
∆λmin
Die Finesse ist damit als Gütezahl des Fabry-Perot geeignet. Der Nachteil des un-
ter Umständen extrem kleinen nutzbaren Spektralbereiches kann durch Kombina-
tion mit einem weiteren Spektrometer umgangen werden. So kann man z.B. zwei
Etalons – das eine mit großem freiem Spektralbereich ∆λn und das andere mit
großem Auflösungsvermögen A – hintereinander schalten. Eine andere Möglich-
keit ist die Kombination mit einem (Prismen-) Spektrografen (s. Abb. 11.14 a).
Falls das einfallende Licht aus einzelnen spektralen Komponenten mit einer Fein-
struktur besteht, ergibt sich eine unübersichtliche Überlagerung der Ringsyste-
me der einzelnen Komponenten. Nach Trennung der einzelnen Komponenten mit
einem Prisma (mit relativ weit geöffnetem Eintrittsspalt) erscheint jedes Wel-
lenlängenintervall der Quelle als breites Bild des Spaltes mit den der Feinstruktur
der jeweiligen Farbe entsprechenden Interferenzlinien (s. Abb. 11.4 b).
Übungen
11.1 Wird der Spiegel eines Michelson-Interferometers um 114 µm verschoben, so regis-
triert eine Fotodiode 523 Interferenzmaxima. Welche Wellenlänge hat das verwen-
dete Licht?
11.2 Ein Michelson-Interferometer wird mit grünem Hg-Licht (λ = 546,1 nm) beleuchtet.
Auf einem Schirm treten gerade Interferenzstreifen auf. Man misst 11 helle Strei-
fen pro cm. Wie erklären Sie dies? Welche Größe lässt sich aus den angegebenen
Messwerten ermitteln?
11.3 Ein dünnes Blättchen aus Flussspat (CaF2 , n = 1,434) wird so in einen Arm eines
Michelson-Interferometers geschoben, dass es senkrecht auf dem Lichtstrahl steht.
Für Licht der Wellenlänge 632,8 nm beobachtet man eine Verschiebung des Inter-
ferenzmusters um 35 Streifen. Welche Dicke hat das Blättchen?
11.4 Bei einem Michelson-Interferometer sieht man einen zentralen dunklen Fleck, der
von konzentrischen hellen und dunklen Ringen umgeben ist. Ein Arm des Interfero-
meters ist 2 cm länger als der andere, das verwendete Licht hat 500 nm Wellenlänge.
Ermitteln Sie die Interferenzordnungen
a) des zentralen Flecks und
b) des 6. dunklen Ringes (vom Zentrum aus gezählt).
11.5 Die Brechzahl eines Gases soll mit Hilfe eines Michelson-Interferometers bestimmt
werden. Hierzu befindet sich in einem Arm des Interferometers eine evakuierte Zelle
der Länge l, in die vorsichtig das zu messende Gas eingelassen wird.
a) Stellen Sie eine Gleichung zur Berechnung der Brechzahl n (bei Atmosphären-
druck) auf. Parameter: l, λ sowie N = Zahl der an einer Fotodiode vorbeilau-
fenden Interferenzmaxima.
b) Wie viele Interferenzstreifen werden bei Kohlendioxid (n = 1,00045 bei p =
1013 mbar) registriert, wenn λ = 632,8 nm und l = 10 cm?
11.6 Ein Michelson-Interferometer arbeitet mit dem Licht eines He-Ne-Lasers (λ =
632,8 nm) und ist für einen maximalen Gangunterschied von 20 µm justiert. Wel-
chen Winkel schließt a) der erste beobachtbare Ring und b) der zehnte Ring mit
der optischen Achse ein? (Zählung vom Zentrum aus.)
11.7 Um die Güte einer polierten Oberfläche zu prüfen, setzt man sie an die Stelle eines
der Spiegel im Michelson-Interferometer. Mit He-Ne-Licht wird ein Interferenzmus-
ter registriert, das über die gesamte Oberfläche eine Streifenverzerrung von weniger
als ein Viertel des Streifenabstandes aufweist. Wie groß ist die maximale Tiefe von
Polierfehlern?
11.8 Der Laserstrahl eines He-Ne-Lasers (λ = 632,8 nm, Leistung P = 1 mW, Strahl-
durchmesser = 1 mm) trifft unter 45◦ auf eine dünne Schicht der Brechzahl 1,414
und wird mit einem Reflexionsfaktor |r| = 0,280 (mehrfach) reflektiert. Berechnen
Sie:
a) die Amplitude des E-Vektors der einfallenden Welle,
b) den Austrittswinkel des gebrochenen Strahls,
c) die Größe von r und tt mit Hilfe der Stokes-Beziehungen,
d) die Amplituden der E-Vektoren der ersten drei reflektierten Strahlen sowie den
zugehörigen Reflexionsgrad,
e) analog zu d) die Amplituden und den Transmissionsgrad der ersten zwei durch-
gehenden Strahlen,
f) die minimale Dicke der Schicht, bei der sich die reflektierten Strahlen auslöschen,
wenn sie mit einer Linse in einem Punkt fokussiert werden.
11.9 Licht trifft nahezu senkrecht auf eine Glasplatte (n = 1,52).
a) Zeigen Sie mit Hilfe von (10.28), dass die Reflexions- und Transmissionsfaktoren
der jeweils ersten drei reflektierten und durchgehenden Wellen gegeben sind
durch
1. 2. 3.
r 0,206 0,198 0,0084
t 0,957 0,041 0,0017
b) Zeigen Sie weiterhin, dass der Streifenkontrast (s. auch Aufg. 10.4) der beiden
ersten reflektierten Strahlen bei 0,999, der der durchgehenden hingegen nur bei
0,085 liegt.
11.10 Die Platten eines Perot-Fabry-Interferometers haben einen Reflexionsfaktor von
r = 0,91. Es soll zur Trennung des Hα -Dubletts (λ = 656,3 nm, ∆λ = 136 pm) des
Wasserstoffspektrums verwendet werden. Wie groß müssen Auflösungsvermögen
und Plattenabstand mindestens sein?
11.11 Die Modenstruktur eines He-Ne-Lasers (λ = 632,8 nm) soll mit einem Fabry-Perot
aufgelöst werden. Der Frequenzabstand der Moden beträgt 150 MHz. Die Platten
haben einen Reflexionsgrad von 0,999 und sind durch einen Luftspalt getrennt.
a) Welche Finesse muss das Instrument haben?
b) Welches Auflösungsvermögen ist erforderlich?
c) Wie wählen Sie den Plattenabstand?
d) Wie groß sind dann nutzbarer Spektralbereich und minimal auflösbares Wel-
lenlängenintervall?
11.12 Ein Fabry-Perot-Etalon besteht aus einer Planplatte hochbrechenden Materials
(n = 4,5) mit 2 cm Dicke. Die verspiegelten Oberflächen haben einen Reflexionsgrad
von 0,9. Bestimmen Sie für einen Wellenlängenbereich um 545 nm:
a) die höchste Interferenzordnung, die in dem Interferenzmuster auftritt,
b) das Verhältnis Tmax /Tmin , also von maximalem zu minimalem Transmissionsgrad,
c) das Auflösungsvermögen.
11.13 Ein Wellenlängendublett bei λ = 490 nm ist um ∆λ = 5,5 pm getrennt und wird
mit einem Fabry-Perot untersucht, dessen Plattenabstand variiert werden kann. Bei
welchem Abstand fällt die m-te Ordnung der einen Komponente mit der m + 1-ten
Ordnung der anderen zusammen?
11.14 Der Reflexionsgrad eines Fabry-Perot beträgt 60%. Ermitteln Sie das Verhältnis
von maximal zu minimal durchgelassener Intensität.
11.15 Weißes Licht passiert ein Fabry-Perot-Interferometer der in Abb. 11.9 b gegebenen
Bauart und wird mit einem Spektrometer nachgewiesen. Man beobachtet eine Reihe
von hellen Spektralbanden. Wird zur Kalibrierung gleichzeitig das Licht einer Hg-
Lampe in das Spektrometer eingestrahlt, so registriert man zwischen der violetten
(435,8 nm) und grünen (546,1 nm) Linie des Quecksilbers 150 helle Banden. Welchen
Plattenabstand hat das Etalon?
11.16 Wenden Sie die Überlegungen, die zur Berechnung der Finesse eines Fabry-Perot
geführt haben, auf ein Michelson-Interferometer an. Ermitteln Sie mithin die Fi-
nesse als Verhältnis von Phasenwinkel-Abstand benachbarter Interenzmaxima zu
Halbwertsbreite.
11.17 Betrachten Sie ein Mach-Zehnder-Interferometer (s. Abb. 11.5), dessen Strahlen-
teiler und Spiegel S3 einen Transmissionsgrad von 80% aufweisen und 20% des
Lichtes reflektieren. Vergleichen Sie den Streifenkontrast der beiden (eingezeichne-
ten) waagrecht austretenden Strahlen (1 + 2) mit dem von zwei Strahlen, die aus
dem Spiegel S3 nach oben – also parallel zu dem einfallenden Strahl 2 – austreten.
12
Kohärenz
Einleitung
Kohärenz beschreibt die zeitliche und räumliche Korrelation der Phasen von Wel-
len. Teilwellen mit zufällig schwankenden Phasenbeziehungen sind inkohärent,
solche mit zeitunabhängigen Phasendifferenzen kohärent. Kohärenz als Vorausset-
zung für visuell beobachtbare stationäre Interferenzmuster wurde bei der Licht-
interferenz in Kap. 10 diskutiert. In Kapitel 9 wurde der Einfluss der Kohärenz
auf die Intensität interferierender Wellen behandelt. Wir sahen, dass sich bei kon-
struktiver Interferenz kohärenter Wellen die Amplituden addieren, bei inkohären-
ten Wellen hingegen die Intensitäten. In diesem Kapitel wird die Kohärenz ge-
nauer untersucht und unterschieden zwischen der zeitlichen oder longitudinalen
Kohärenz, die die Spektralverteilung der Lichtquelle beschreibt, sowie der räum-
lichen oder lateralen Kohärenz, die mit der Größe der Quelle zusammenhängt.
Außerdem wird mit dem Korrelationsgrad ein quantitatives Maß für die in opti-
schen Interferenzexperimenten immer gegebene Teilkohärenz gefunden. Wir be-
ginnen mit einer kurzen Behandlung der Fourier-Methoden, die in diesem Kapitel
benötigt werden.
12.1 Fourier-Reihen
In Kapitel 9 wurde gezeigt, dass die Addition von beliebig vielen harmonischen
Wellen gleicher Frequenz aber unterschiedlicher Amplituden und Nullphasenwin-
kel wieder eine harmonische Welle derselben Frequenz ergibt. Unterscheiden sich
338 12 Kohärenz
die Wellen außerdem in der Frequenz, so entsteht (bei rationalen Frequenzverhält-

nissen) eine periodische aber anharmonische Welle beliebiger Form f (t), wie z.B.
die in Abb. 12.1 dargestellte.
Die Fourier-Synthese harmonischer Wellen erzeugt eine beliebige Vielfalt von
periodischen Wellenformen. Der umgekehrte Prozess der Fourier-Analyse zer-
legt einen periodischen Vorgang in seine harmonischen Komponenten.
Abb. 12.1. Anharmonische periodische Funktion mit der Periodendauer T
Die Zerlegung einer periodischen anharmonischen Welle in eine Reihe von har-
monischen Wellen setzt die Erfüllung der Dirichletschen Bedingung voraus:
Ist f (t) eine periodische Funktion der Periodendauer T , die in ihrem Periodenintervall
stückweise monoton und beschränkt ist, so konvergiert ihre Fourier-Reihe
∞
a0
fr (t) = + (an cos nωt + bn sin nωt) (12.1)
2 n=1
Fourier-Reihe ∞
a0
fr (t) = + cn sin(nωt + ϕn ) (12.2)
2 n=1
für jedes reelle t gegen f (t+0)+f

2
(t−0)
. Die Konvergenz erfolgt im quadratischen Mittel,
d.h. der mittlere quadratische Fehler wird minimiert und für N → ∞ gilt:
T
|f (t) − fN (t)|2 dt → 0 (12.3)
0
a0 %N
wobei man fN = 2
+ n=1 cn sin(nωt + ϕn ) als N -te Partialsumme der Fourier-Reihe
bezeichnet.
Die Funktion f (t) hat die Periodendauer T und damit die Kreisfrequenz ω =
2π/T , (12.1) beschreibt das Auftreten von Teilwellen der Kreisfrequenzen ωn =
nω mit den Amplituden an bzw. bn . Eine gleichwertige Beschreibung (12.2) ist
12.1 Fourier-Reihen 339
die Verwendung jeweils einer – dann aber phasenverschobenen – Teilwelle mit ωn

und der Amplitude cn . Die Verknüpfung der beiden Darstellungen erfolgt über
(s. (12.12)):
an
cn = a2n + b2n und tan ϕn = (12.4)
bn
Die Fourier-Koeffizienten an lassen sich aus (12.1) nach Multiplikation mit cos
und Integration über eine Periodendauer T berechnen. Wir geben zunächst nur
das Ergebnis an und werden es später über die komplexen Fourier-Koeffizienten
beweisen:
T
2
an = f (t) cos nωt dt (12.5)
T 0
mit dem Spezialfall

T
2
a0 = f (t) dt (12.6)
T 0
und entsprechend für die bn

T
2
bn = f (t) sin nωt dt (12.7)
T 0
Einfacher und übersichtlicher kann die Fourier-Reihe in komplexer Notation –

unter Verwendung von (12.1) und der Eulerschen Formel – angegeben werden.
Wir schreiben für die komplexe Fourier-Reihe
∞

komplexe Fourier-Reihe f (t) = F n ejnωt (12.8)
n=−∞
und beachten, dass für die komplexen Fourierkoeffizienten gelten muss: F −n =

F ∗+n , damit f (t) reell ist. Zur Bestimmung der F n verwenden wir die Orthogo-
nalitätsrelation
T
ej(m−n)ωt = δmn T (12.9)
0
mit dem Kronecker-Symbol

⎧
⎨0 für m = n
δmn = (12.10)
⎩
1 für m = n
340 12 Kohärenz
Im Zeigerdiagramm ist die Orthogonalitätsbeziehung (12.9) unmittelbar anschau-

lich, für m = n rotiert der ej(m−n)ωt zugeordnete Zeiger der Länge 1 in einer
Periode gerade (m − n)-mal, der Mittelwert verschwindet. Für m = n steht der
Zeiger bei dem Wert 1 still und die Integration über eine Periode ergibt T .
Multiplikation von (12.8) mit e−jmωt und Integration über eine Periode führt
auf
T T
f (t) e−jmωt dt = F n ej(n−m)ωt dt = F n T δnm
0 0
und mit (12.10) auf die
T ∞

1
komplexen F n = An + j Bn = f (t) e−jnωt dt
Fourier-Koeffizienten T 0 n=−∞
(12.11)
Für die Umrechnung zwischen den Koeffizienten der komplexen und reellen Dar-
stellung der Fourier-Reihen gelten die Beziehungen:
reelle und komplexe Fourier-Koeffizienten
an = 2An
bn = −2Bn

cn = 2Fn = 2 A2n + Bn2 = a2n + b2n (12.12)
an An
tan ϕ = =−
bn Bn
Beweis: Der Vergleich von (12.1) und (12.8) liefert für die Reihenglieder mit Index
n (bzw. ±n) unter Verwendung von F n = An + jBn , F −n = F ∗n = An − jBn sowie
j = −1/j:
an cos nωt + bn sin nωt = (An + jBn ) ejnωt + (An − jBn ) e−jnωt
= 2An cos nωt − 2Bn sin nωt
und damit an = 2An und bn = −2Bn . Weiterhin folgt aus (12.2) und (12.8) für t = 0
mit F n = An + jBn = Fn ejϕ̃n :

cn sin ϕn = F n + F −n = Fn ejϕ̃n + e−jϕ̃n
= 2Fn cos ϕ̃n = 2Fn sin (ϕ̃n + π/2) ,
12.1 Fourier-Reihen 341
Abb. 12.2. Zeigerdiagramm der komplexen und reellen Fourierkoeffizienten. Da in

(12.2) die Sinusschreibweise verwendet wurde, stimmen die Phasenwinkel von cn und
F n nicht überein; es gilt ϕn = ϕñ + π/2

t
Abb. 12.3. Die Rechteckfunktion rect τ0
, ein Rechteckpuls der Dauer τ0
342 12 Kohärenz
also ϕn = ϕ̃n + π/2 und cn = 2Fn . Das Zeigerdiagramm (Abb. 12.2) veranschaulicht
die Ergebnisse und zeigt die Berechnung die Phasenwinkels.
Als Beispiel betrachten wir die Fourier-Analyse einer Rechteckwelle (s. Abb. 12.4).
Zur vereinfachten Beschreibung führen wir zunächst mit Abb. 12.3) die
⎧
⎪0
⎪ ⎪
⎨ für |t| > τ0 /2
Rechteckfunktion t
rect = 1 für |t| < τ0 /2 (12.13)
Pulsdauer τ0 τ0 ⎪
⎪
⎪
⎩
1/2 für |t| = τ0 /2
ein und schreiben damit die Rechteckwelle mit der Periodendauer T = 2τ0 (und
der Amplitude 1) in der Form:
∞

t − nT
f (t) = rect (12.14)
n=−∞
T /2
Abb. 12.4. Rechteckwelle der Periodendauer T , Pulsbreite τ0 = T /2 und Amplitude fˆ
Da f (t) eine gerade Funktion ist, erwarten wir, dass in (12.1) die bn -Terme ver-
schwinden. Wir berechnen – zur Übung – die komplexen Fourier-Koeffizienten
F n , (obwohl bei dieser einfachen Funktion die reellen an einfacher direkt zu be-
rechnen wären). Aus (12.11) folgt (bei Verschiebung der Integrationsgrenzen):

1 T /2
−jnωt 1 T /4
1 −jnωT /4
Fn = f (t) e dt = e−jnωt dt = − e − ejnωT /4
T −T /2 T −T /4 jnωt
π
2 T 1
= sin nω = sin n = An
nωT 4 nπ 2
12.2 Fourier-Integrale 343
Hieraus erhalten wir mit (12.12) die reellen Fourierkoeffizienten
2 π 2 21
an = sin n mit a0 = 1, a1 = , a2 = 0, a3 = − ,··· (12.15)
nπ 2 π π3
Damit gilt für die Fourier-Entwicklung der
Rechteckwelle der Amplitude fˆ

ˆ 1 2 1 1 1
f (t) = f + cos ωt − cos 3ωt + cos 5ωt − cos 7ωt + . . .
2 π 3 5 7
(12.16)
Die Reihe konvergiert aufgrund der Koeffizienten langsam, was die Abb. 12.5
bestätigt. Abbildung 12.5 zeigt das Auftreten von Überschwingern“, der soge-
”
nannten Gibbsschen Türmchen, die typischerweise an Sprungstellen einer Funk-
tion auftreten und auch für N → ∞ nicht verschwinden.
12.2 Fourier-Integrale
Bei der Untersuchung nichtperiodischer Funktionen, die wir als periodische Funk-
tion mit Periodendauer T → ∞ betrachten können, lässt sich die Fourier-Reihe
(12.8) zu einem Fourier-Integral verallgemeinern:
∞
1
f (t) = F (ω) ejωt dω (12.17)
2π −∞
Diese Gleichung besagt, dass ein zeitlich beliebig verlaufender nichtperiodischer
(oder transienter) Vorgang durch Überlagerung harmonischer Schwingungen be-
schrieben werden kann, wobei deren komplexe Amplituden F (ω) – also Betrag
und Phase – ein kontinuierliches Frequenzspektrum aufweisen. Im Gegensatz
hierzu tritt bei periodischen Vorgängen ein diskretes Frequenzspektrum auf (s.
Abb. 12.6). F (ω) muss für T → ∞ aus (12.11) für die diskreten F n folgen; wir
erhalten:
T /2
1
F n = lim f (t) ejn2π·t/T dt
T →∞ T −T /2
und beachten, dass dω = 2π/T ein sehr kleines Frequenzintervall darstellt und
ω = ndω zu setzen ist. Dann berechnen wir aber mit obigem Integral nur den
Amplitudenbeitrag dF des Intervalls dω, d.h.

dω ∞
dF = f (t) e−jωt dt
2π −∞
344 12 Kohärenz
Abb. 12.5. Fourier-Synthese der Rechteckwelle mit Partialsummen fN (t) der Fourier-
Reihe für a) N = 3, b) N = 11 und c) N = 41
12.2 Fourier-Integrale 345
Abb. 12.6. Frequenzspektren. Die Fourier-Analyse einer periodischen Funktion ergibt

Fourier-Koeffizienten cn bei den diskreten Frequenzen fn , während bei der Fourier-
Transformation einer nicht periodischen Funktion ein kontinuierliches Frequenzspek-
trum F (ω) auftritt
Mit
dF
F (ω) = 2π (12.18)
dω
bezeichnen wir die Fourier-Transformierte von f (t), sie ist mithin als Amplitu-
dendichte zu verstehen. Bei den Fourierreihen hatten wir mit F n die Amplituden
selbst berechnet. Originalfunktion f (t) (12.17) und Bildfunktion F (ω) bilden ein
Paar von Fourier-Transformierten, was man häufig durch einen Operator F sym-
bolisiert:
∞
Fourier-
F (ω) = f (t) e−jωt dt = F (f (t)) (12.19)
Transformation −∞
inverse ∞
1
Fourier-Transformation f (t) = F (ω) ejωt dω = F −1 (F (ω)) (12.20)
2π −∞
Die obige Fourier-Transformation überführt eine zeitabhängige Funktion in eine

frequenzabhängige, wir transformieren also vom Zeitbereich in den Frequenzbe-
reich. Analog kann man im Ortsbereich – z.B. bei der Untersuchung der optischen
Abbildung – für eine ortsabhängige Funktion f (x, y, z) eine räumliche Periode
Lx (Ly , Lz ) einführen, der dann bei der Fourier-Transformierten F (κ) die Orts-
kreisfrequenz κx = 2π/Lx (κy , κz ) entspricht. Man schreibt also (s. Kap. 25):
F (κ) = F (f (x, y, z))

(12.21)
f (x, y, z) = F −1 (F (κ))
346 12 Kohärenz
12.3 Fourier-Analyse endlicher Wellenzüge

Die Spektralzerlegung einer unendlich langen Sinuswelle ist extrem einfach: Man
erhält einen einzigen Term der reellen Fourier-Reihe, dessen Frequenz mit dem
der Welle übereinstimmt. Terme höherer Harmonischer verschwinden. Solche un-
begrenzten Sinuswellen sind jedoch eine mathematische Idealisierung, in der Pra-
xis treten immer unperiodische Wellenzüge endlicher Dauer – wie in Abb. 12.9
– auf. Offensichtlich kann diese Welle nicht durch eine einzige Sinuswelle wie-
dergegeben werden, vielmehr sind zur Wiedergabe zahlreiche harmonische Wel-
len unterschiedlicher Frequenz erforderlich, die sich im Bereich des Wellenzuges
überwiegend konstruktiv überlagern und außerhalb des Intervalls destruktiv in-
terferieren. Offenbar führt das Ein- und Ausschalten der Welle zu zahlreichen
zusätzlichen spektralen Komponenten, die aufgrund der Fourier-Transformation
kontinuierlich verteilt sind. Diese Überlegungen gelten für jeden endlichen Wel-
lenzug beliebiger Form.
In Kapitel 12.1 hatten wir die Fourier-Zerlegung einer Rechteckwelle, einer
periodischen Folge von Rechteckpulsen, analysiert. Nun wollen wir das Frequenz-
spektrum eines einzelnen Rechteckpulses der Dauer τ0 (s. Abb. 12.3) berechnen
und erhalten aus (12.19) – unter Verwendung der rect-Funktion (12.13):
∞ τ0 /2
t
F (ω) = F (rect(t/τ0 )) = rect e−jωt dt = e−jωt dt
−∞ τ0 −τ0 /2
e−jωτ0 /2 − ejωτ0 /2 2 ωτ
0
=− = sin (12.22)
jω ω 2
Zur übersichtlichen Beschreibung führen wir die in der Optik (z.B. bei der Spalt-
beugung, s. Kap. 16) häufig benötigte sinc-Funktion (s. Abb. 16.2) ein:
sin x
sinc-Funktion sinc x = (12.23)
x
Hiermit wird die Fouriertransformierte des Rechteckpulses der Dauer τ0 :

ωτ
t 0
F (rect ) = τ0 sinc (12.24)
τ0 2
Dieses Frequenzspektrum ist in Abb. 12.7 für zwei verschiedene Pulsdauern darge-
stellt. Man erkennt, dass sich die Breite des zentralen Maximums des Spektrums
und die Pulsdauer τ0 reziprok zueinander verhalten. Hierbei ist die Fläche unter
der F (ω)-Kurve – bei konstanter Pulshöhe – unabhängig von der Pulsdauer. Um
dies zu zeigen, entnehmen wir einer Integraltabelle das Integral
∞
sin ax π
dx = für (a > 0) (12.25)
0 x 2
12.3 Fourier-Analyse endlicher Wellenzüge 347
Abb. 12.7. Fourier-Transformierte von Rechteckpulsen (s.(12.24)), der Zeitdauern τ01

und τ02 mit τ02 /τ01 = 5. Bei ω = 0 ist F (0) = τ0 , der erste Nulldurchgang liegt bei
ω1 = 2π/τ0 . Für τ0 → ∞ gilt: F (ω) → ∞ bei ω = 0 und F (ω) → 0 bei ω
= 0, die
Funktion zeigt das Verhalten der δ-Funktion
348 12 Kohärenz
und kommen für (12.24) zu dem Ergebnis

∞ ωτ
0
τ0 sinc dω = 2π (12.26)
−∞ 2

Für einen sehr langen Puls mit τ0 → ∞ wird f (t) = rect τt0 = 1 und F (ω) wird
extrem schmal, es verschwindet bei ω = 0 und geht bei ω = 0 – wegen sinc (0) =
1 – mit τ0 gegen ∞. In einem reinen Gleichsignal kann natürlich nur die Frequenz
ω = 0 auftreten! Damit muss die Amplitudendichte F (0) unendlich groß werden.
Zur Beschreibung dieses Ergebnisses verwendet man die Deltafunktion δ(ω). Es
handelt sich hier um keine Funktion im klassischen Sinne, sondern eine Distribu-
tion, die sich als Grenzwert verschiedener klassischer Funktionen darstellen lässt.
Ausgehend von (12.22) und (12.24) kommen wir mit τ0 → ∞ zu dem Ergebnis
(s. Abb. 12.8):
∞
1
δ(ω) = e−jωt dt
2π −∞
⎧
Deltafunktion2 ⎨0 für ω = 0
τ0 ωτ0
= lim sinc = (12.27)
τ0 →∞ 2π 2 ⎩
∞ für ω = 0
Durch den Vorfaktor haben wir mit Hilfe von (12.26) die Normierung der δ-
Funktion erreicht:
∞
Normierung Deltafunktion δ(ω) dω = 1 (12.28)
−∞
Mit Hilfe der δ-Funktion können wir jetzt die Fourier-Transformation der Kon-
stante f (t) = 1, eines Rechteckpulses unendlicher Dauer, einfach ausdrücken:
F (1) = 2πδ(ω) (12.29)

Die δ-Funktion lässt sich als Grenzwert vieler anderer Funktionen darstellen;
man verifiziert leicht, dass für einen Rechteckpuls der Dauer τ0 und Höhe 1/τ0
im Zeitbereich gilt:

1 t
δ(t) = lim rect (12.30)
τ0 →0 τ0 τ0
denn für τ0 → 0 geht die Höhe des Pulses gegen ∞, während seine Breite gegen
null geht, so dass die Fläche als Höhe·Breite konstant gleich 1 bleibt.
2
Es gilt
∞ δ(ω) = δ(−ω), so dass man meist den positiven Exponenten verwendet: δ(ω) =
1 jωt
2π −∞ e dt.
Abb. 12.8. Symbolische

∞ Darstellung der δ-Funktion δ(ω −ω). (1) steht für die Stärke“
”
der δ-Funktion, d.h. −∞ δ(ω − ω) dω = 1

Nach dieser Untersuchung des extrem langen Pulses gehen wir nunmehr
näher auf die Fourier-Transformierte (12.24) von Pulsen endlicher Dauer ein.
In Abb. 16.2 sind die sinc (β)-Funktion und sinc2 (β), das normierte Amplituden-
und Leistungsspektrum eines Rechteckpulses, dargestellt. Man sieht (vergl. auch
Abb. 12.7 u. 12.10), dass das Leistungsspektrum im Wesentlichen durch Frequen-
zen um das Hauptmaximum bei ω = 0 bestimmt wird, obwohl durchaus auch
höhere Frequenzen einen Beitrag liefern. Die Breite des Hauptmaximums kann
als Abstand ∆β = 2π der ihm benachbarten Nulldurchgänge definiert werden;
die entsprechende Frequenzbreite ist dann ∆ω = 4π/τ0 . Meist verwendet man
jedoch zur Kennzeichnung der Frequenzbreite die Halbwertsbreite ∆ω1/2 ≈ 2π/τ0
bzw. ∆f = ∆ω1/2 /2π, die (Frequenz-)Bandbreite, bei der das Leistungsspektrum
auf die Hälfte des Maximalwertes absinkt3 . Dann gilt:
Breite ∆ω1/2 und Dauer τ0 eines Wellenzuges sind reziprok; je kürzer ein
Wellenzug ist, desto größer ist die zu seiner Darstellung erforderliche Fre-
quenzbreite.
Dies ist die Grundlage der Unschärferelation der Signaltheorie

Unschärferelation ∆ω1/2 · τ0 ≈ 2π oder ∆f · τ0 ≈ 1 (12.31)
Das Produkt aus Frequenzbandbreite und Zeitdauer eines Signals beträgt

etwa 1.
Multiplikation mit der Planckschen Konstante h ergibt mit ∆t = τ0 und ∆W =

h∆f die bekannte Heisenbergsche
√
3
Die Amplitude hat dann auf 1/ 2 ≈ 0,7=
ˆ − 3 dB abgenommen.
350 12 Kohärenz
Energie-Zeit-Unschärferelation ∆W · ∆t ≈ h (12.32)
Das Produkt aus Energie- und Zeitunschärfe ist etwa gleich dem Planckschen
Wirkungsquantum.
Abb. 12.9. Harmonischer Wellenzug endlicher Dauer τ0 = 7 T /2 mit der Periodendauer

T = 2π/ω0 . Die räumliche Ausdehnung des Pulses ist die Kohärenzlänge lt = c τ0
Ein weiteres wichtiges Beispiel zur Unschärferelation und Lichtinterferenz ist das
Verhalten eines Kosinuswellenzuges (s. Abb. 12.9) der Dauer τ0 und der Peri-
odendauer T (mit ω0 = 2π/T ). Mit Hilfe der Rechteckfunktion können wir den
Wellenzug einfach beschreiben:

t
f (t) = cos ω0 t · rect (12.33)
τ0

Einsetzen in (12.19) ergibt (mit cos ω0 t = 12 ejω0 t + e−jω0 t zunächst für den
Term mit dem positiven Exponenten
∞ τ0 /2
−jωt 1
F + (ω) = f+ (t) e dt = ej(ω0 −ω)t dt
−∞ 2 −τ0 /2

ej(ω0 −ω)τ0 /2 − e−j(ω0 −ω)τ0 /2 τ0 ω − ω0
= = sinc τ0
2j(ω0 − ω) 2 2
Für den negativen Exponenten erhält man analog F − mit positivem Vorzei-
chen im Argument der sinc-Funktion und damit insgesamt für die Fourier-
Transformierte des endlichen Kosinuszuges:

τ0 ω − ω0 ω + ω0
F (ω) = F + + F − = sinc τ0 + sinc τ0 (12.34)
2 2 2
In Abb. 12.10 a ist das Amplitudenspektrum F (ω) für einen extrem kurzen Puls
der Dauer einer halben Periode (τ0 = T /2) dargestellt, in Abb. 12.10 b findet
man F (ω) und das der Intensität proportionale Leistungsspektrum |F (ω)|2 des
Wellenzuges der Abb. 12.9 mit τ0 = 7 T /2. Bei monochromatischem“ Licht eines
”
einfachen Dauerstrich-Lasers wäre τ0 /T 105 . Für extrem kurze Laserpulse
von weniger als 10 fs Dauer, die man durch mode locking“ erzeugen kann, gilt
”
hingegen τ0 /T ≈ 5. Wir sehen in Abb. 12.10 a, dass bei sehr kurzen Pulsen
die Beiträge der beiden Summanden von (12.34), der nach ±ω0 verschobenen
sinc-Funktionen, stark überlappen und zu einer sehr breiten Spektralverteilung
führen, die der des Rechteckpulses ähnelt. Der Abstand der Nulldurchgänge des
zentralen Maximums beträgt hier ∆ω0 = 6π/τ0 = 6ω0 . Die große Bandbreite,
die man mit sehr kurzen Pulsen (z.B. 5 fs beim Titan-Saphir-Laser) erreichen
kann, führt dann zu weißen Lichtblitzen“. Für lange Wellenzüge (mit τ0 T
”
bzw. ω0 τ0 1) verschwindet die Überlappung, so dass das Spektrum auf der
positiven ω-Achse allein durch den ersten Summanden und auf der negativen
Achse durch den zweiten Term bestimmt wird. Dann erhält man bei ω = ±ω0 –
wegen sinc(0) = 1 – den Maximalwert τ0 /2; Nulldurchgänge treten (für ω > 0)
bei ω−ω2 τ0 = nπ auf, also für:
0
2π
ω = ω0 ± n
τ0
Wir erhalten im Wesentlichen das vom Einzelpuls bekannte Verhalten, mit dem
Unterschied, dass die Mittenfrequenz nach ±ω0 verschoben ist und das Haupt-
maximum bei gleicher Pulslänge nur halb so hoch ist, da die integrale Amplitude
auf zwei Maxima aufgeteilt ist. Die Bandbreite von F+ und F− stimmt mit F (ω)
(12.24) des Einzelpulses überein, so dass wir die Unschärferelation bestätigt fin-
den.
Für τ0 → ∞ – also einen Kosinus-Wellenzug unendlicher Dauer – wird ∆f =
0, eine einzige Frequenz oder Wellenlänge ist für die Darstellung ausreichend.
Wir erhalten dann aus (12.34) und (12.27):
F (cos ω0 t) = π [δ(ω − ω0 ) + δ(ω + ω0 )] (12.35)

Exakt monochromatische Wellen sind somit nur bei unendlicher Zeitdauer mög-
lich. Im anderen Grenzfall τ0 → 0, einem δ-Puls, wird die Frequenzbreite ∆f nach
(12.31) sehr groß (∆f = 1/τ0 → ∞!). Je schärfer und schmäler mithin ein Puls
im Zeitbereich ist, desto breiter wird sein Frequenzspektrum (Unschärferelation).
352 12 Kohärenz
Abb. 12.10. Fourier-Transformation von Kosinus-Wellenzügen der Dauer τ0 . a) Ampli-

tudenspektrum F (ω) für einen Kosinuspuls“ der Dauer τ0 = T /2 mit den Einzelbei-
”
trägen der sinc-Verteilungen bei ±ω0 . b) Überhöhtes Amplitudenspektrum 3 · F (ω) und
Leistungsspektrum |F (ω)|2 des Wellenzuges der Abb. 12.9 mit τ0 = 7 T /2 (ω0 τ0 = 7π)
12.4 Zeitliche Kohärenz und natürliche spektrale Linienbreite 353
12.4 Zeitliche Kohärenz und natürliche spektrale

Linienbreite
Bei Licht gibt es keine exakt monochromatischen Lichtquellen. Monochroma-

”
tisches“ Laserlicht kann (s. Abb. 12.11) als eine Folge von harmonischen Wel-
lenzügen endlicher Länge, die voneinander durch diskontinuierliche Phasenände-
rungen getrennt sind, beschrieben werden. Diese Phasenänderungen sind eine
Folge der zufällig schwankenden Zeitpunkte der Emission von Lichtwellen durch
angeregte Atome. Kennzeichnend für eine Lichtwelle ist dann die mittlere Zeit-
dauer der Wellenzuges, die Kohärenzzeit τ0 . Aus der Unschärferelation folgt,
dass die natürliche Frequenzbreite einer Spektrallinie umgekehrt proportional
zur Kohärenzzeit der Lichtquelle ist. Je größer die Kohärenzzeit, desto mono-
chromatischer die Quelle. Die Länge eines kohärenten Pulses bezeichnet man als
Kohärenzlänge lt , wobei
lt = c τ0 (12.36)
Abb. 12.11. Folge von harmonischen Wellenzügen unterschiedlicher Länge oder Le-
bensdauer τ . Der gesamte Wellenzug kann durch eine durchschnittliche Lebensdauer
τ0 , die Kohärenzzeit, gekennzeichnet werden
Wegen der Unschärferelation (12.31) und ∆f = −c/λ2 ∆λ (da f = c/λ) gilt dann:
λ2
Kohärenzlänge lt ≈ (12.37)
∆λ
und damit für die spektrale Linienbreite
λ2 λ2
∆λ ≈ = (12.38)
lt cτ0
Wir haben hierdurch die Linienbreite ∆λ als Folge der Frequenz-Zeit-Unschärfe-
relation erklärt. Sie lässt sich jedoch auch mit Hilfe der Heisenbergschen
354 12 Kohärenz
Orts-Impuls-Unschärferelation ∆x · ∆px ≈ h (12.39)
begründen. Repräsentiert der Wellenzug ein Photon, so ist es mit der Orts-
unschärfe ∆x ≈ lt lokalisiert, dem Photonenimpuls px = h/λ = hf /c ist eine
Unschärfe ∆px = λh2 ∆λ zuzuordnen. Mit (12.39) ergibt sich hieraus (12.38).
Mit Hilfe der Messung der spektralen Linienbreite lassen sich somit mittlere
Kohärenzzeit und Kohärenzlänge abschätzen. Weißes Licht mit einem Spektral-
bereich von ca. 400 bis 700 nm hat eine Spektralbreite von ∆λ ≈ 300 nm. Mit
einer mittleren Wellenlänge von λ = 550 nm folgt dann aus (12.37)
λ2 5502 nm2
lt ≈ = ≈ 1 µm ≈ 2λ
∆λ 300 nm
Die Kohärenzlänge beträgt mithin nur etwa 2 Wellenlängen des grünen Lichtes
von 550 nm. Hiermit wird verständlich, dass bei weißem Licht Interferenzstrei-
fen schwierig zu beobachten sind, da die Gangunterschiede der interferierenden
Wellen nicht größer als die (extrem kleine) Kohärenzlänge sein dürfen. Gasent-
ladungslampen (z.B. Na- oder Hg-Lampen) sind wesentlich monochromatischer
und somit kohärenter. So hat z.B. die grüne Hg-Linie bei 546 nm (bei niedrigen
Gasdrücken) eine Linienbreite von 25 pm, woraus eine Kohärenzlänge von 1,2 cm
folgt. Das früher für die Meterdefinition verwendete orange Licht (λ = 606 nm)
des Isotops Krypton-86 hat lediglich eine Linienbreite von ∆λ = 0,47 pm und da-
mit eine Kohärenzlänge von etwa 80 cm. Laserstrahlung übertrifft diese Werte bei
weitem, so weisen z.B. Standard-CO2 -Laser bei der infraroten Wellenlänge von
10,6 µm Linienbreiten von 10 fm und dementsprechend Kohärenzlängen von über
10 km auf! Stabilisierte He-Ne-Laser erreichen Hunderte von Kilometern! Lei-
der treten bei einfachen He-Ne-Lasern, wie sie z.B. in Vorlesungen und Praktika
eingesetzt werden, meist nur Kohärenzlängen auf, die etwa gleich der Länge des
Resonators sind, da die Länge aufgrund von Temperaturänderungen und Schwin-
gungen der Endspiegel schwankt, so dass Frequenzänderungen die Kohärenzlänge
begrenzen. Deshalb muss bei Verwendung dieser Laser – z.B. in der Holografie
– auf annähernd gleiche optische Wege der interferierenden Teilstrahlen geachtet
werden.
12.5 Teilkohärenz
Man bezeichnet, wie bereits erwähnt, zwei Teilwellen als kohärent, wenn sie eine
zeitlich konstante Phasendifferenz aufweisen. In der Praxis kann diese Bedingung
nur näherungsweise erfüllt werden, wir sprechen dann von Teilkohärenz, die im
Folgenden genauer definiert wird. Im Beobachtungspunkt P der Abb. 12.12 wol-
len wir die Interferenz von zwei ebenen Teilwellen beobachten, die aus derselben
12.5 Teilkohärenz 355
Quelle Q (z.B. Laser) stammen, aber unterschiedliche optische Wege zurückgelegt

haben. Die beiden Wellen können durch

E 1 (r, t) = Ê1 ej(ωt−k1 ·r+ϕ1 )
(12.40)
E 2 (r, t) = Ê2 ej(ωt−k2 ·r+ϕ2 )

beschrieben werden. Legt die untere Welle 2 einen kürzeren Weg zurück, so eilt sie
der oberen Welle um einen der Laufzeit τ entsprechenden Phasenwinkel δ = ωτ
vor und wir erhalten für den – an einem festen Ort interessierenden – zeitabhängi-
gen Anteil der Feldstärken:
E 1 = Ê1 ejωt
E 2 = Ê2 ejω(t+τ )
Abb. 12.12. Interferenz im Punkt P von zwei Wellen aus einer Quelle Q, die un-
terschiedliche optische Wege zurücklegen. Die Wellen werden bei Q1 und Q2 durch
verschiedene Weisen umgelenkt, z.B. durch Reflexion, Brechung oder Beugung
Damit wird die Feldstärke im Punkt P : E P = E 1 +E 2 und die mittlere Intensität

IP :
1 1
IP = εc E P E ∗P = εc (E 1 + E 2 ) (E ∗1 + E ∗2 )
2 2
1
= εc (|E 1 |2 + |E 2 |2 + E 1 E ∗2 + E ∗1 E 2 ) (12.41)
2
Wegen
E 1 E ∗2 + E ∗1 E 2 = 2Re(E 1 E ∗2 )
gilt dann:

IP = I1 + I2 + εc Re E 1 E ∗2 (12.42)
356 12 Kohärenz
Hierbei stehen I1 , I2 für die Intensitäten der Einzelstrahlen, der dritte Term be-
schreibt die Interferenz. Außerdem haben wir gleiche Polarisation vorausgesetzt
und in (12.41) mit skalaren Feldern gerechnet. Wir führen nunmehr die Korrela-
tionsfunktion Γ ein:

T /2
Korrelations- 1
5 Γ 12 (τ ) = E 1 (t) E ∗2 (t + τ ) = E 1 (t) E ∗2 (t + τ ) dt (12.43)
funktion T
−T /2
Bei Normierung auf die Effektivwerte der Felder erhalten wir für die normierte
Korrelationsfunktion oder den
Γ 12 (τ ) Γ 12 (τ )
Korrelationsgrad γ 12 (τ ) = = εc √ (12.44)
Γ11 (0) Γ22 (0) 2 I1 I2
Damit lässt sich die Intensität6 im Punkt P (12.42) durch den Kohärenzgrad
ausdrücken
Intensität
IP = I1 + I2 + 2 I1 I2 Re γ 12 (τ ) (12.45)
Zweistrahlinterferenz
Die normierte Korrelationsfunktion γ12 (t), der wesentliche Teil des Interferenz-
terms, ist abhängig von der Laufzeitdifferenz τ und damit der Lage des Punk-
tes P . Wir wissen, dass diese Laufzeitunterschiede zur Erzielung einer hohen
Kohärenz klein gegen die mittlere Kohärenzzeit τ0 sein müssen. Für E 1 = E 2
und τ = 0 ist γ = 1 und die beiden Teilwellen sind – unabhängig von der Größe
von τ0 – in Phase. Man hat also immer konstruktive Interferenz.
Wir wollen nun – für den Spezialfall endlicher harmonischer Wellenzüge – den
Zusammenhang zwischen Kohärenzgrad γ12 und der als konstant angenommenen
Kohärenzzeit τ0 herleiten. Hierzu betrachten wir in Abb. 12.13 a einen Wellenzug
konstanter Amplitude, der sich nach der Zeit τ0 jeweils sprungartig ändert und
hierbei statistisch schwankende Nullphasenwinkel aufweist (Abb. 12.13 b). Er in-
terferiert mit einem um τ (< τ0 ) voreilenden durch Strahlteilung entstandenen
Wellenzug, der dementsprechend in Abb. 12.13 a nach links verschoben wurde.
Wir berechnen zunächst den Integrand von (12.43):
∗
E 1 (t) E ∗2 (t + τ ) = Ê 1 ejωt Ê 2 e−jω(t+τ ) = Ê1 ejϕ(t) Ê2 e−jϕ(t+τ ) e−jωτ
= Ê1 Ê2 e−jωτ ejδ mit δ = ϕ(t) − ϕ(t + τ )
5
T ist die Mittelungszeit, für die häufig T = ∞ gewählt wird, so dass man für die
∞
Korrelationsfunktion c = −∞ E 1 (t)E ∗2 (t + τ ) dt findet.
6
Vgl. auch (10.6). Gleichung (12.45) ist weitergehend, da sie durch Verwendung der
Laufzeit τ anstelle der Phasendifferenz δ auch nichtharmonische Wellen einschließt.
Abb. 12.13. Zum Kohärenzgrad von zwei um τ verschobenen Wellenzügen. a) Verlauf

der Feldstärke. b) Verlauf der Nullphasenwinkel der Bezugswelle und der um τ vorei-
lenden Welle (gestrichelt). c) Phasendifferenz δ der beiden Wellen. In den Intervallen
mit δ = 0 der Breite τ0 − τ verlaufen die Wellenzüge gleichphasig
358 12 Kohärenz
Die Nullphasenwinkel ϕ und die Phasendifferenz δ sind nun zeitabhängig. Zur

Berechnung der Korrelationsfunktion Γ 12 (12.43) ist lediglich über ejδ zu mit-
teln, da e−jωτ = konst. Da die trägen optischen Detektoren über Zeiten Tm τ0
– beim menschlichen Auge ist Tm /τ0 ≈ 108 – mitteln, können wir ohne Fehler
Tm = N τ0 wählen und damit voraussetzen, dass in (12.43) über eine ganze Zahl
N von Wellenzügen integriert wird. Abb. 12.13 c zeigt, dass im gesamten Inte-
grationsbereich N Intervalle der Breite τ0 − τ existieren, in denen die Teilwellen
– trotz unterschiedlicher Nullphasenwinkel – gleichphasig sind und damit ejδ = 1
gilt. In den verbleibenden Intervallen der Breite τ schwankt die Phasendifferenz
statistisch, so dass die Mittelung ejδ = 0 ergibt. Im Zeigerdiagramm entspräche
dies der Feststellung, dass alle Richtungen gleich häufig vorkommen, so dass die
Zeigersumme verschwindet. Wir erhalten damit den Gesamt-Mittelwert
τ0 −τ
1 N τ0
jδ N τ0 − τ
ejδ = e dt = 1 dt =
N τ0 0 N τ0 0 τ0
und die Korrelationsfunktion:
τ0 − τ
Γ 12 (τ ) = Ê1 Ê2 e−jωτ ·
τ0
Mit Γ11 (0)Γ22 (0) = Ê12 Ê22 folgt dann der normierte komplexe Kohärenzgrad

Γ (τ ) τ
γ 12 (τ ) = 12 = 1− e−jωτ (12.46)
Ê1 Ê2 τ0
mit dem Realteil, dem reellen Kohärenzgrad

|τ |

Re γ 12 (τ ) = 1 − cos ωt wobei 0 ≤ |τ | ≤ τ0 (12.47)
τ0
Hierbei ist τ die Laufzeit und ωτ = δ die Phasendifferenz der Teilwellen. Der
Kohärenzgrad (s. Abb. 12.14 a) erreicht den Maximalwert 1 bei τ = 0 (gleiche
optische Wege) und verschwindet für |τ | > τ0 . Das bisher Gesagte gilt in gleicher
Weise bei einer um τ nacheilenden Welle (d.h. τ < 0), dies wird in (12.47) durch
Betragszeichen berücksichtigt. Die Amplitude des Kosinusterms in (12.47), also
der Betrag des Kohärenzgrades
|τ |

t
γ12 (τ ) = γ 12 (τ ) = 1 − · rect (12.48)
τ0 2τ0
ist in Abb. 12.14 b wiedergegeben, er legt die Extrema des Interferenzterms in
(12.45) fest und bestimmt damit den Kontrast der Interferenzstreifen als Funktion
der Verschiebung τ .
Es lässt sich leicht zeigen, dass der Kohärenzgrad |γ12 | für gleiche Intensitäten
mit der in Kap 10 eingeführten Sichtbarkeit oder Kontrastfunktion M überein-
stimmt, denn es gilt (s. Üb. 12.15):
Abb. 12.14. a) Reeller Kohärenzgrad Re(γ 12 ) von zwei Wellen der Kohärenzzeit τ0 als
Funktion der Laufzeitdifferenz. b) Verlauf des Betrages des Kohärenzgrades oder – für
gleiche Intensitäten – der Kontrastfunktion
√
Imax − Imin I1 I2
M= =2 γ12 (τ ) (12.49)
Imax + Imin I1 + I2
Damit ergeben sich bei der Interferenz für Intensität (12.45) und Kontrast fol-
gende Spezialfälle:
Diese Ergebnisse bestätigen noch einmal (12.49), wonach bei gleicher In-
tensität Betrag des Kohärenzgrades und Kontrast identische Maßzahlen für die
Kohärenz darstellen. Den Fällen 2. und 3. entsprechende Interferenzen wurden
in den Abb. 10.2 a und 10.2 b dargestellt.
360 12 Kohärenz
1. Inkohärenz: τ > τ0 und γ12 = 0 für gleiche Intensitäten:

Ip = I1 + I2 (Addition der Intensitäten) Ip = 2I0
M = 0, da Imax = Imin = Ip
2. Kohärenz: τ0 → ∞ bzw. τ τ0 und γ12 = 1

√
Ip = I1 + I2 + 2 I1 I2 cos ωτ
√
Imax = I1 + I2 + 2 I1 I2 Imax = 4I0
√
Imin = I1 + I2 − 2 I1 I2 Imin = 0
4I0
M= 4I0 =1
3. Teilkohärenz: 0 < τ < τ0 , 0 < γ12 < 1

√
Ip = I1 + I2 + 2 I1 I2 Re(γ 12 ) Ip = 2I0 (1 + Re(γ 12 ))
Imax = 2I0 (1 + γ12 )
Imin = 2I0 (1 − γ12 )
4I0 γ12
M= 4I0
= γ12
Beispiel 12.1 Kohärenzgrad

In einem Interferenzexperiment wird ein Lichtstrahl in zwei Teilwellen gleicher
Amplitude aufgespalten. Diese Wellen werden nach Durchlaufen unterschied-
licher Wege wieder überlagert. Das Licht hat die Wellenlänge 541 nm mit einer
Linienbreite von ∆λ = 0,1 nm, die Wegdifferenz ist 1,5 mm. Bestimmen Sie:
Kohärenzlänge, reellen Kohärenzgrad und Kontrast der Interferenzstreifen.
Wie wird der Kontrast verändert, wenn der Wegunterschied verdoppelt wird?
Lösung
λ2
Die Kohärenzlänge ist gegeben durch lt = ∆λ = 2,93 mm. Weiterhin ist der
Kontrast M = γ12 = 1 − τ0 = 1 − lt = 0,49, wobei das Verhältnis von
τ ∆
Verzögerungszeit zu Kohärenzzeit durch das entsprechende Verhältnis von

Gangunterschied ∆ = c τ zu Kohärenzlänge lt ersetzt wurde. Der reelle
Kohärenzgrad ist
∆
Re(γ 12 ) = γ12 cos ωτ = γ12 cos δ mit = 17,42 · 103 rad,
δ = 2π
λ
also Re(γ 12 ) = −0,30. Bei Verdopplung des Gangunterschiedes wird ∆ > lt
und τ > τ0 , die Strahlen sind dann inkohärent und damit wird M = 0.
12.6 Räumliche Kohärenz 361
12.6 Räumliche Kohärenz

Bei der zeitlichen Kohärenz haben wir die Korrelation der Phasen der Teilwellen
bei unterschiedlichen Laufzeiten – entsprechend Verschiebungen entlang der Aus-
breitungsrichtung der Wellen – untersucht; man spricht hier auch von longitudina-
ler Kohärenz . Der Kohärenzgrad ließ sich mittels des Streifenkontrastes in einem
Interferometer mit Amplitudenteilung, wie z.B. dem Michelson-Interferometer,
ermitteln. Zeitliche Kohärenz ist ein Maß für die durchschnittliche Länge der teil-
kohärenten Wellenzüge, deren Eigenschaften durch den Mechanismus der Lichter-
zeugung in der Quelle (Glühlicht, Laser) bestimmt werden. Im Gegensatz hierzu
betrachten wir bei der räumlichen oder lateralen Kohärenz die Phasenkorrelation
zwischen räumlich getrennten Punkten des Strahlenfeldes. Räumliche Kohärenz
ist damit bei Interferometern mit Wellenfrontteilung von Bedeutung, wie z.B. bei
der Beugung am Doppelspalt, wo die Sichtbarkeit des Interferenzmusters von dem
Kohärenzgrad des einfallenden Wellenfeldes am Ort der beiden Spalte abhängt.
Abb. 12.15. Wellenfront- und Amplitudenteilung der Strahlung aus einer Quelle Q
und Anordnungen zur Messung der räumlichen und zeitlichen Kohärenz
Zum Verständnis der Kohärenzeigenschaften eines Wellenfeldes betrachten

wir in Abb. 12.15 eine Lichtquelle Q, deren Licht einerseits einen Doppelspalt
durchsetzt und andererseits in einem Michelson-Interferometer untersucht wird.
Räumliche Kohärenz von Wellen aus den Punkten A und B liegt immer dann
vor, wenn Q eine Punktquelle ist und A und B gleichen Abstand von der Quelle
haben, so dass sie auf derselben Wellenfront liegen. Wird man dann auf einem
362 12 Kohärenz
Schirm bei P1 deutliche Interferenz erkennen? Dies hängt natürlich davon ab,
ob das von Q entlang der Pfade QAP1 und QBP1 laufende Licht sowohl räum-
lich als auch zeitlich kohärent ist. Die Güte der zeitlichen Kohärenz folgt aus
dem Vergleich von Kohärenzlänge und Gangunterschied ∆ = QAP1 − QBP1
der Teilwellen. Wir erhalten das gleiche Ergebnis, wenn wir statt dessen in ei-
ner beliebigen radialen Richtung das Licht von zwei Wellenfronten im Abstand
∆ mit einem Michelson-Interferometer untersuchen. Für Gangunterschiede, die
sehr klein gegen die Kohärenzlänge (∆ lt ) sind, treten deutliche und kon-
trastreiche Interferenzstreifen bei P1 auf. Bei wachsendem ∆ werden sie immer
kontrastärmer und verschwinden für ∆ > lt .
In der Praxis wird Q immer eine ausgedehnte Lichtquelle sein, so dass A und
B von Licht aus zahlreichen Quellpunkten bestrahlt wird, die bei gewöhnlichen
Lichtquellen (keine Laser) voneinander unabhängige, inkohärente Wellenzüge
emittieren. Es soll nun gezeigt werden, dass zwei im Abstand d befindliche un-
abhängige – also zeitlich inkohärente – Punktquellen Q1 und Q2 (s. Abb. 12.16)
dennoch räumlich kohärent sind, wenn man in einem um r entfernten Gebiet
innerhalb der räumlichen Kohärenzlänge
λ
lr < (12.50)
α
beobachtet. Hierbei ist α der Winkel, den die Teilstrahlen in P einschließen. Falls
diese Beziehung gilt, muss es in jedem beliebigen Strahlungsfeld einen Raumbe-
reich geben, in dem das Licht kohärent ist, er hat die Querausdehnung lr auf-
grund der räumlichen und die Längsdimension lt durch die zeitliche Kohärenz,
also ein Volumen von etwa lr2 lt um den Punkt P . Jedes beliebige Interferometer
kann somit nur dann Interferenzen registrieren, wenn es Strahlung aus diesem
Raumbereich verwendet.
Abb. 12.16. Lateraler Kohärenzbereich von der Größe der räumlichen Kohärenzlänge
lr für zwei unabhängige (inkohärente) Punktquellen
12.7 Räumlicher Kohärenzbereich 363
12.7 Räumlicher Kohärenzbereich

Eine ausgedehnte, nahezu monochromatische Lichtquelle soll nun durch zwei an
ihrem Rande befindliche, inkohärent emittierende Punktquellen A und B ersetzt
werden (s. Abb. 12.17), deren räumliche Kohärenz in den Punkten P1 und P2
interessiert. Hierzu können wir diese beiden Punkte als zwei schmale Spalte an-
sehen, deren Licht im Punkt P eines Beobachtungsschirmes interferiert. Jede der
Punktquellen A oder B allein erzeugt dann auf dem Schirm das bekannte Inter-
ferenzmuster des Doppelspaltes, beide Quellen zusammen führen zu überlappen-
den Interferenzbildern. Fallen hierbei Maxima und Minima aufeinander, so wird
das Interferenzbild heller und besser sichtbar, die Strahlung der inkohärenten
Quellen erscheint wie bei kohärenter Beleuchtung verstärkt, obwohl hier Additi-
on der Intensitäten auftritt. Sind hingegen die Beugungsbilder derart verschoben,
dass Maxima auf Minima fallen, so verschwindet die Interferenzstruktur und die
Strahlung wird als inkohärent angesehen. Für d → 0 fallen die Beugungsmus-
ter immer zusammen, man beobachtet Interferenz, obwohl die einzelnen Emitter
(z.B. angeregte Atome) der Quelle nicht kohärent strahlen. Wird B nach unten
bewegt, also eine ausgedehntere Lichtquelle verwendet, so werden in P bei einem
kritischen Abstand d, bei dem
λ
∆ = BP2 − BP1 =
2
die durch B bedingten Interferenzmaxima durch Minima ersetzt, und die Streifen
verschwinden. Aus Abb. 12.17 folgt ∆ ≈ lα und α ≈ dr und damit
Abb. 12.17. Licht aus den beiden Punktquellen A und B, die sich am Rand einer
ausgedehnten Lichtquelle befinden, trifft die Punkte P1 und P2 mit Abstand l und
interferiert danach im Punkt P des Schirmes. In der Regel gilt d l
dl λ rλ
∆= = oder d =
r 2 2l
364 12 Kohärenz
Bei einer ausgedehnten Lichtquelle sind die Punktquellen kontinuierlich verteilt,

und der Kontrast verschwindet erst bei dem doppelten Durchmesser 2d. Für d <
rλ
l sind dann die einzelnen Streifensysteme aufgelöst. Hiermit ist der maximale
Spaltabstand l für einen vorgegebenen Durchmesser d der Quelle festgelegt, und
wir können für die räumliche Kohärenzlänge lr (= l) schreiben:
rλ λ
räumliche Kohärenzlänge lr < ≈ (12.51)
d α
Hierbei ist α der am Beobachtungspunkt gemessene Winkelabstand der Rand-

punkte der Lichtquelle. In zentralen Bereichen, die kleiner als lr sind, wird der
Streifenkontrast natürlich verbessert.
Entsprechend obiger Argumentation müsste bei weiterer Verschiebung von B
(nach unten) wieder eine Koinzidenz der Streifensysteme auftreten, so dass der
Kohärenzgrad der Teilwellen von P1 und P2 periodisch oszilliert. Die exakte ma-
thematische Behandlung nähert die ausgedehnte Quelle statt durch zwei Punkt-
quellen durch eine kontinuierliche Verteilung von Flächenstrahlern an und liefert
das Ergebnis, dass außerhalb des durch (12.51) gegebenen Kohärenzbereiches
nur sehr kontrastarme Streifen erkennbar sind. Nach dem van Cittert-Zernike-
Theorem hat der Kohärenzgrad als Funktion der Lage von P oder des Abstandes
l zwischen den Punkten P1 und P2 denselben Verlauf wie die Beugungsamplitude
einer Apertur von der Größe und Form der ausgedehnten Quelle.
Abb. 12.18. Aufbau zum Youngschen Doppelspaltversuch. Der Abstand g der Dop-
pelspalte S1 und S2 muss kleiner als die räumliche Kohärenzlänge lr des beleuchtenden
Einzelspaltes S sein. Der Kondensor K bildet die ausgedehnte Lichtquelle LQ auf den
Spalt S ab
Die Bedeutung der Kohärenzbedingung (12.51) wird am Beispiel des Young-

schen Doppelspaltversuches klar (s. Abb. 12.18), wo eine ausgedehnte Lichtquelle
über einen Kondensor einen Einzelspalt S beleuchtet, der das verwendete Licht
hinreichend räumlich kohärent macht. Mit Hilfe von (12.51) kann der maximale
Durchmesser d des Einzelspaltes bestimmt werden, für den Kohärenz und damit
Sichtbarkeit der Interferenzen gegeben ist. Offenbar müssen die beiden Spalte S1
und S2 innerhalb der durch den Einzelspalt festgelegten Kohärenzbreite lr liegen.
Beispiel 12.2 Räumliche Kohärenz
In Abb. 12.18 betrage der Abstand zwischen Beleuchtungs- und Doppelspalt
20 cm. Der Doppelspaltabstand g ist 0,1 mm und die Wellenlänge 546 nm.
Welchen Durchmesser darf der Primär- oder Einzelspalt S haben, damit Inter-
ferenz beobachtbar ist?
Lösung
rλ
Aus (12.51) folgt mit lr = g: d < lr = 1,1 mm .
Abb. 12.19. a) Michelson-Sterninterferometer mit den verschiebbaren Spiegeln Sp1

und Sp2 und dem Doppelspalt S1 S2 . b) Anwendung zur Bestimmung des Durchmessers
d eines Sternes
366 12 Kohärenz
Ist – wie im obigen Beispiel – der Einzelspaltdurchmesser 1,1 mm und der Ab-
stand g variabel, so beobachtet man für g lr gut aufgelöste Interferenzstreifen.
Für wachsendes g nimmt der Kohärenzgrad ab, wird bei g = lr = 0,1 mm null, so
dass die Interferenzringe verschwinden. Offenbar lässt sich aus diesem Abstand
der Durchmesser einer ausgedehnten Lichtquelle (hier des Einzelspalts) ermitteln.
Diese Technik wurde von Michelson zur Messung des Winkeldurchmessers von
Sternen herangezogen. Sterne sind so weit entfernt, dass sich ihr Durchmesser
nicht durch optische Abbildung ermitteln lässt. Ein Stern kann als ausgedehnte
inkohärente Quelle mit dem Winkeldurchmesser w = dr (s. Abb. 12.19 b) angese-
hen werden. Mit α = w und (12.51) gilt für die Kohärenzbreite
λ
Kohärenzbreite lr < 1,22 (12.52)
w
wobei der Faktor 1,22 aus der Kreisgeometrie (s. Kap. 16, Fraunhofer-Beugung
an der Kreisblende) folgt. Da der Winkeldurchmesser eines Sternes sehr klein
ist, wird lr entsprechend groß. Michelson ordnete deshalb die verschiebbaren
Doppelspalte“ entsprechend Abb. 12.19 a an, wo Spiegel weit entfernte Teile der
”
einfallenden Wellenfront in ein Doppelspalt-Teleskop lenken. Der Abstand der
Interferenzstreifen hängt vom Doppelspaltabstand g, die Sichtbarkeit hingegen
λ
von lr ab; sie verschwindet für lr = 1,22 w .
Beispiel 12.3 Sterndurchmesser
Michelson verwendete die von ihm entwickelte Technik für den Stern Betei-
geuze (Schulter, α Orionis) im Sternbild des Orion. Er fand das erste Streifen-
minimum bei lr = 308 cm. Bestimmen sie den Winkeldurchmesser des Sternes
für eine mittlere Wellenlänge von 570 nm.
Lösung
Mit (12.52) wird w = 1,22 lλr = 2,26 · 10−7 rad. Da Beteigeuze etwa
4,0 · 1015 km – entsprechend 420 Lichtjahre – entfernt ist, wird
d = rw = 9,04 · 108 km oder etwa 650 Sonnendurchmesser.
Übungen
12.1 Beschreiben Sie mit Hilfe der Rechteck- (rect-)funktion eine Rechteckwelle der Pe-
riodenlänge L, die durch periodische Fortsetzung von
⎧
⎪
⎨−1 für − L < x < 0
2
f (x) =
⎪
⎩+1 für 0 < x < L
2
entsteht und ermitteln Sie die zugehörige Fourier-Reihe.

12.2 Durch Halbwellengleichrichtung sollen die negativen Halbwellen von E = Ê cos ωt

entfernt werden. Wie sieht die zugehörige Fourier-Reihe aus?
12.3 Zeigen Sie, dass die Fourier-Transformierte einer Gaußfunktion (der Höhe“ a und
”
Breite“ σt )
”
2
/2σt2
f (t) = a e−t
wieder eine Gaußfunktion ist. Verwenden Sie bei der Berechnung das bestimmte
Integral
∞
2 √
e−x dx = π
−∞
und im Exponenten die Methode der quadratischen Ergänzung. 2σt ist die Breite
der Gaußkurve (Abnahme auf e−1/2 = 0,61) im Zeitbereich. Ermitteln Sie die ent-
sprechende Größe 2σf , die Breite im Frequenzbereich, und berechnen Sie 2σf · 2σt .
Vergleichen Sie mit dem Produkt ∆f · ∆t der Unschärferelation. Man kann zeigen,
dass bei Gaußpulsen das minimale Unschärfeprodukt auftritt.
12.4 Berechnen Sie mit Hilfe der Fourier-Transformation das Leistungsspektrum (Be-
tragsquadrat der Amplitude) eines Rechteckpulses der Höhe A und Breite T . Skiz-
zieren Sie das Ergebnis. Wo liegen die Nullstellen? Bestätigen Sie die Unschärfere-
lation.
12.5 Vergleichen Sie zwei Farbfilter für gelbes Licht von etwa 590 nm. Die Bandbrei-
ten betragen 100 nm für das breitbandige und 10 nm für das schmalbandige Fil-
ter. Welches Filter ist für Interferenzexperimente geeigneter? Vergleichen Sie die
Kohärenzlängen des durchgelassenen Lichtes.
12.6 Ein kontinuierlicher He-Ne-Strahl (λ = 632,8 nm) wird durch einen Modulator in
Pulse von 100 ps Dauer zerhackt“. Ermitteln Sie: Kohärenzlänge sowie die Linien-
”
breiten im Wellenlängen- und Frequenzbereich.
12.7 Der Winkeldurchmesser der Sonne beträgt – von der Erde aus – etwa 0,5◦ . Ermitteln
Sie die räumliche Kohärenzlänge für gute“ Kohärenz, indem Sie – etwas willkürlich
”
– nur 10% der maximal möglichen Kohärenzfläche lr2 verwenden.
12.8 Michelson stellte fest, dass die rote Cd-Linie (643,8 nm) zu den besten monochro-
matischen Lichtquellen gehört, indem er (z.B. im Michelson-Interferometer) noch
bei einem Gangunterschied von 30 cm Interferenz nachweisen konnte. Wie groß sind
Spektralbreite und Kohärenzzeit der Cadmium-Linie?
12.9 Weißes Licht fällt auf ein schmalbandiges Interferenzfilter für λ = 500 nm mit einer
Spektralbreite von ∆λ = 0,5 nm. Welche Kohärenzlänge hat das durchgehende
Licht?
12.10 Wir betrachten ein einfaches Prismenspektrometer, bei dem ein mit Eintrittsspalt
und Kollimatorlinse erzeugter Parallelstrahl durch das Prisma abgelenkt und durch
eine zweite Linse auf einen Schirm abgebildet wird. Dort registriert man eine lineare
Dispersion von 2 nm/mm. Durch einen Austrittsspalt von 0,2 mm Breite erhält man
annähernd monochromatisches Licht. Skizzieren Sie den Aufbau. Welche Forderung
muss man an den Eintrittsspalt stellen? Welche Kohärenzzeit und -länge tritt bei
einer mittleren Wellenlänge von 500 nm auf?
368 12 Kohärenz
12.11 Vor einer Natium-Lampe (λ = 589 nm) ist eine kleine Lochblende von 0,5 mm
Durchmesser angebracht, die als Lichtquelle für ein Youngsches Interferenzexperi-
ment dient. Der Doppelspalt ist 1 m von der Blende entfernt. Wie groß darf der
Abstand der Spalte höchstens sein, um noch Interferenzstreifen sehen zu können,
also räumliche Kohärenz zu haben?
12.12 Ermitteln Sie die Spektralbreite von Wellenlänge und Frequenz für einen frequenz-
stabilisierten He-Ne-Laser (λ = 632,8 nm) mit einer Kohärenzlänge von 10 km.
12.13 a) Ein Monochromator mit Wolframlampe dient zu Erzeugung von nahezu mono-
chromatischem Licht. Die lineare Dispersion des Gerätes liegt bei 20 nm/mm,
die Breite des Ausgangsspaltes ist 0,2 mm. Welche Kohärenzzeit und Kohärenz-
länge hat austretendes Licht der Wellenlänge 500 nm?
b) Dieses Licht wird in einem Interferenzexperiment mit Amplitudenteilung ver-
wendet, bei dem der Gangunterschied der zur Interferenz gebrachten Teilwellen
0,4 mm beträgt. Berechnen Sie für dieses Experiment die normierte Korrela-
tionsfunktion und den Streifenkontrast.
−Imin
c) Geben sie die relative Intensitätsdifferenz Imax
Imax
an.
12.14 Bestimmen Sie Höhe und Grundfläche des Zylinders, innerhalb dessen Sonnen-
licht als kohärent zu betrachten ist. Wir wollen annehmen, dass gute“ räumliche
”
Kohärenz für einen Durchmesser auftritt, der 25% des Wertes beträgt, den man
aus Gleichung (12.52) ermittelt. Der Winkeldurchmesser der Sonne liegt bei 0,5 ◦ .
Die mittlere Wellenlänge des Sonnenspektrums kann mit 550 nm angesetzt werden.
Geben Sie Höhe und Durchmesser des Zylinders auch als Vielfache der Wellenlänge
an.
12.15 a) Beweisen Sie folgenden Zusammenhang zwischen Streifenkontrast und Korre-
lationsfunktion:
√
I1 I2 |γ 12 |
M =2
I1 + I2
b) Durch welches Intensitätsverhältnis der interferierenden Teilstrahlen wird der
Streifenkontrast um 10% gegenüber dem für gleichstarke Strahlen reduziert?
12.16 Bei einem Doppelspaltexperiment (mit Spaltdurchmesser -abstand) wird Licht
der Wellenlänge λ und Spektralbreite ∆λ verwendet. Zeigen Sie, dass dann für den
Streifenkontrast in der m-ten Ordnung gilt:
∆λ
M = 1−m
λ
12.17 Welchen Streifenkontrast beobachtet man bei der Doppelspaltbeugung in der 20.
Beugungsordnung, wenn man grünes Hg-Licht (λ = 546,1 nm, Spektralbreite ∆λ =
50 pm) verwendet, der Spaltabstand 0,1 mm beträgt und der Beobachtungsschirm
1 m entfernt ist? (s. Aufg. 12.16). Wie ändert sich der Kontrast, wenn man weißes
Licht mit einem Farbfilter für λ = 546 nm mit 10 nm Bandbreite verwendet?
12.18 In einem Michelson-Interferometer wird rotes Cadmium-Licht (λ = 643,847 nm,
Spektralbreite ∆λ = 1,3 pm) verwendet. Welcher Streifenkontrast tritt auf, wenn
einer der Spiegel zunächst um 1 cm und dann um insgesamt 5 cm aus der Position für
Gangunterschied null verschoben wird? Bei welcher Verschiebung geht der Kontrast
gegen null?
12.19 Lösen Sie Aufgabe 12.18 für grünes Hg-Licht (546,1 nm) mit 25 pm Linienbreite.
Bei welcher Verschiebung liegt der Streifenkontrast noch bei 85%?
13
Holografie
Einleitung
Die Holografie verdankt ihren Erfolg dem Laser. Das holografische Prinzip wurde
zwar bereits im Jahr 1948, bevor es einen funktionierenden Laser gab, von dem
Wissenschaftler Dennis Gabor (1900-1979) erfunden, die vielfältigen Anwendun-
gen der Holografie sind jedoch erst durch den Einsatz des Lasers möglich gewor-
den. E. Leith und J. Upatnieks verwendeten an der Universität von Michigan
1962 zum ersten Mal Laserlicht für die Holografie und setzten dabei gleichzeitig
die off-axis“ Beleuchtungstechnik ein, die wir später erklären werden.
”
Die dreidimensionale“ Fotografie, die durch Holografie möglich wurde, hat
”
auch großes Interesse im nichtwissenschaftlichen Bereich geweckt. Heute findet
man Anwendungen der Holografie in der Kunst, in der Werbung oder auch bei der
Herstellung von fälschungssicheren Gegenständen wie Scheckkarten, Ausweisen
usw.
13.1 Konventionelle und holografische Fotografie

Wir wissen, dass die konventionelle Fotografie ein zweidimensionales Abbild eines
dreidimensionalen Objektes liefert, wobei die Teile des Gegenstandes scharf abge-
bildet werden, die in den Schärfentiefebereich der Abbildung fallen. Dies bedeu-
tet, dass eine Fotografie nicht den Eindruck von räumlicher Tiefe oder Parallaxe
liefert, den wir bei der Betrachtung des realen Objektes haben. Das holografische
Aufnahmeverfahren ergibt ein Bild“, das diese Eigenschaften aufweist. Das Ho-
”
logramm speichert die Wellenfront, die vom Objekt ausgeht und die vollständige
optische Information über den Gegenstand enthält. Bei der Betrachtung eines
372 13 Holografie
Hologramms wird diese Wellenfront wieder rekonstruiert und wir können den
Gegenstand durch das Fenster“ des Hologramms originalgetreu räumlich sehen.
”
Die wieder hergestellte Wellenfront liefert uns Tiefenwahrnehmung und Paralla-
xe, so dass wir auch durch Änderung des Blickwinkels hinter ein Objekt sehen
können. Die rekonstruierte Wellenfront kann wie die ursprüngliche Wellenfront
durch eine Linse verändert werden. Das Hologramm enthält, was der Name auch
vom griechischen Ursprung (holos = ganz) her bedeutet, eine vollständige Auf-
zeichnung des Gegenstandes.
Die erstaunlichen Eigenschaften des Bildes, das durch ein Hologramm erzeugt
wird, werden durch die Aufzeichnung von Phase und Amplitude der Wellenfront
ermöglicht. Optische Detektoren (quadratische Detektoren, s. Kap. 18) und da-
mit auch fotografischer Film sind nur für die Strahlungsenergie, die auf sie trifft,
empfindlich. Bei einer entwickelten Fotografie ist z.B. die Schwärzung in jedem
Punkt der Emulsion eine Funktion der erhaltenen Strahlungsenergie. Registriert
man alleine die Strahlungsenergie, so geht Richtung und Form der Wellenfront,
die von einem Gegenstand im Raum ausgeht, und damit der räumliche Eindruck
des Objekts verloren. Die Interferenz von Lichtwellen ermöglicht die Aufzeich-
nung der Form der Wellenfront. Wir erinnern uns, dass Wellen, die bei der Über-
lagerung eine maximale Amplitude ergeben, in Phase (konstruktive Interferenz)
und bei einer minimalen Amplitude (destruktive Interferenz) gegenphasig sind.
Überlagert man die Lichtwelle, die von einem Objekt ausgeht, mit einer Refe-
renzwelle, dann enthält das entstehende Interferenzmuster Informationen über
die Phasenbeziehung jedes Teils der Wellenfront relativ zur Referenzwelle. Man
kann die Referenzwelle auch als Trägerwelle ansehen, die durch die Signalwelle,
die vom Objekt ausgeht, moduliert wird. Die eben angewandten Begriffe benutzt
man auch bei der Informations-Übertragung durch Radiowellen.
Bei der konventionellen Fotografie verwendet man ein Objektiv, um ein Abbild
des Gegenstandes auf dem Film zu erhalten. Das Licht, das von einem einzigen
Punkt des Gegenstandes ausgeht und auf die Linse trifft, wird auf einen einzelnen
konjugierten Bildpunkt fokussiert. Die Bildpunkte sind den Objektpunkten ein-
deutig zugeordnet (konjugiert). Im Gegensatz hierzu wird ein Hologramm ohne
Einsatz von Linsen oder anderen fokussierenden Elementen hergestellt. Das Holo-
gramm ist ein mikroskopisch kleines kompliziertes Interferenzmuster und damit
kein Abbild des Gegenstandes. Jeder Punkt des Hologrammes empfängt Licht
von jedem Punkt des Gegenstandes, oder, in anderer Weise beschrieben, jeder
Gegenstandspunkt beleuchtet das gesamte Hologramm. Es gibt keine eindeutige
Beziehung zwischen den Objektpunkten und Punkten auf dem Hologramm. Wie
erwähnt, ist das Hologramm die Aufzeichnung der vollständigen Signalwelle.
13.2 Hologramm einer Punktquelle 373
13.2 Hologramm einer Punktquelle

Wir beginnen zunächst mit einem einfachen Beispiel, dem Hologramm einer
Punktquelle. In Abb. 13.1 a wird gezeigt, wie ebene Wellenfronten einer kohären-
ten monochromatischen Referenzwelle eine fotografische Platte beleuchten. Zu-
sätzlich treffen von einem Objektpunkt O ausgehende Kugelwellen auf die Plat-
te. Nach der Umkehrentwicklung zeigt die fotografische Platte eine Reihe von
konzentrischen hellen und dunklen Interferenzringen mit dem Punkt X als Zen-
trum. Wenn die optische Wegdifferenz ∆ = OP − OX eine ganze Anzahl von
Wellenlängen beträgt, fällt der Punkt P auf solch einen Ring. Hierbei trifft die
Front der ebenen Referenzwelle in P gleichphasig mit dem Objektlicht auf. Die
entwickelte Platte nennt man Gaborsche Zonenplatte – oder Zonenlinse – mit
kreisförmigen Zonen unterschiedlicher Lichtdurchlässigkeit, deren Transmissions-
grad vom Radius abhängt. Die Gaborsche Zonenplatte ist eine Sinuszonenplatte,
da die Schwärzung sich mit cos2 (Cr2 ) – also abhängig vom Radius r der Zonen
– ändert1 . Die Sinuszonenplatte ist das Hologramm des Punktes O. Das Holo-
gramm selbst besteht aus Interferenzringen, die kein normales Bild des Objektes
ergeben. Das Objekt lässt sich jedoch rekonstruieren (s. Abb. 13.1 b), wenn man
das Hologramm in die Referenzwelle bringt, ohne dass sich das Objekt O an
der vorigen Position befindet. Gerade so wie das Licht, das zunächst vom Punkt
O ausging, mit der Referenzwelle interferierte und die Zonenringe ergab, wird
nun die Referenzwelle durch die Beugung an der Zonenplatte so verändert, dass
scheinbar vom Punkt O Kugelwellen ausgehen. Der Punkt O ist damit ein vir-
tuelles Bild des ursprünglichen Gegenstandspunktes O, den man bei der Rekon-
struktion sieht, wenn man in das Hologramm hineinschaut. Die Bedingungen zur
Wiederherstellung der Signalwelle werden auch durch einen zweiten Punkt auf
der Ausgangsseite des Hologramms erfüllt. Dieser Punkt O liegt symmetrisch
zur Filmebene. Die Entfernung von O zu den Zonen auf der Platte erfüllt die
gleichen geometrischen Beziehungen wie die entsprechende Entfernung von O zu
den Zonen. Damit konvergiert das gebeugte Licht zum Punkt O , einem reellen
Bild des Objektpunktes O. Wenn man bei der Herstellung des Hologramms den
Objektpunkt weiter von der Platte entfernt anordnet, so vergrößern sich die Zo-
nenradien. Für einen Objektpunkt außerhalb der optischen Achse, der sich im
Unendlichen befindet, sind die Zonen parallele Interferenzstreifen. Dieses Holo-
gramm ist ein holografisches Gitter, das man auch durch die Aufzeichnung der
Überlagerung von zwei ebenen Wellen, die aus verschiedenen Richtungen auf die
Platte einlaufen, erhält. Das holografische Gitter wird ausführlich in Kap. 17
diskutiert.
Die Beispiele von kreisförmigen und geraden Beugungsstreifen, die wir bis-
her diskutiert haben, sind Spezialfälle der Interferenz bei zwei Punktquellen, von
1
Genauer gilt, dass die Transmission durch die Funktion A + B cos2 (Cr2 ) gegeben ist,
wobei A, B und C Konstanten sind (s. Übung 13.1).
374 13 Holografie
denen eine im Unendlichen liegt. Wenn der Objektpunkt O durch einen ausge-
dehnten Gegenstand ersetzt wird, dann erzeugt jeder Punkt des Gegenstandes
sein eigenes Gaborsches Zonenmuster auf dem Film. Das Hologramm ist ein kom-
pliziertes Interferenzmuster, in dem Amplitude und Phase der vom Gegenstand
ausgehenden Wellenfront codiert sind. Bei der Rekonstruktion (Wiederherstel-
lung) erzeugt jeder Satz von Zonen seine eigenen reellen und virtuellen Bilder und
damit wird das Originalobjekt wieder hergestellt. Gewöhnlich betrachtet man
das virtuelle Bild, indem man in das Hologramm hineinschaut. Abbildung 13.1 b
zeigt, dass bei der Betrachtung des virtuellen Bildes auf diese Weise auch un-
erwünschtes Licht von der Rekonstruktion des reellen Bildes und vor allem auch
intensives, ungebeugtes Licht empfangen wird. Leith und Upatnieks beseitigten
diese Störung durch Einsatz einer Technik, bei der man die Referenzwelle unter
einem anderen Einfallswinkel auf den Film einfallen lässt, so dass die Richtun-
gen der rekonstruierten Wellenfronten für das reelle oder virtuelle Bild und der
ungebeugten Wellen verschieden sind.
Die zwei Grundtypen von Hologrammen, die wir bisher diskutiert haben, sind
die Gaborsche Zonenplatte und das holografische Gitter. Wenn die Zonenplatte
oder das Gitter eine rechteckförmige ( binäre“, s. Kap. 18) Transmissionsfunk-
”
tion aufweisen, die zwischen Minima und Maxima wechselt, dann erhält man
mehrfache Beugungsbilder. Das bekannte Beugungsgitter dieses Typs produ-
ziert i.A. Beugungsordnungen mit m = 0, ±1, ±2, . . . bis zum maximal mögli-
chen Beugungswinkel. Eine Zonenplatte mit dieser Art Transmissionscharakte-
ristik nennt man Fresnelsche Zonenplatte, sie weist schwarze“ undurchlässi-
”
ge Ringe auf und erzeugt mehrere Brennpunkte entlang der optischen Ach-
se. Wenn das Gitter bzw. die Kreiszonen eine Sinuscharakteristik“ aufwei-
”
sen, das bedeutet, wenn das Transmissionsprofil einer cos2 (Kx) (Gitter) oder
cos2 (Cr2 )(Sinuszonenplatte)Funktion folgen, können bei der Rekonstruktion ne-
ben der 0. Ordnung nur Bilder ±1. Ordnung auftreten. Bei der Sinuszonenplatte
sind die zwei Bilder erster Ordnung das vorher diskutierte reelle und virtuelle
Bild.
Bei der Erzeugung von Hologrammen (s. Abb. 13.1 a) wird die Bestrahlungs-
stärke auf dem Film für Punkte destruktiver Interferenz äußerst geringe Werte
aufweisen, wenn Signal- und Referenzwelle gleiche Amplitude haben. Die Filme-
mulsion reagiert nicht linear auf die Bestrahlungsstärke, so dass der entwickelte
Film eine verzerrte cos2 (Cr2 )-Transmission aufweist wird und damit höhere Beu-
gungsordnungen auftreten können. Zur Abhilfe steigert man die Intensität der
Referenzwelle so weit, bis die Bestrahlungsstärke auf der Emulsion so hoch ist,
dass der Film eine lineare Nachweischarakteristik aufweist. Man erzeugt folgende
Transmission
t = t0 + t̂ cos2 (Cr2 )
und Bilder höherer Ordnung werden eliminiert.
13.2 Hologramm einer Punktquelle 375
Abb. 13.1. Das Hologramm einer Punktquelle O wird durch die Überlagerung mit einer
Referenzwelle in a) erzeugt und in b) benutzt, um die Wellenfront zu rekonstruieren. Bei
der Rekonstruktion erhält man zwei Bilder O (virtuell) und O (reell) sowie ungebeugtes
Licht
Wie wir gerade erklärt haben, ist es sinvoll, die Amplitude der Referenzwelle
etwas größer als die mittlere Amplitude der Signalwelle, die vom Objekt ausgeht,
zu wählen, so dass die Referenzwelle durch das Signal – auf dem Film nachweisbar
– moduliert wird. Änderungen in der Signalstärke bewirken dann Änderungen
im Kontrast der Beugungsstreifen, wogegen Änderungen in der Phase verursacht
durch eine Verformung der Wellenfront der Signalwelle, Änderungen im Abstand
der Streifen verursachen.
376 13 Holografie
Auf dem Hologramm ist im Kontrast die Amplitude und im Abstand der In-
terferenzstreifen die Phase und damit die Richtung und Form der Signalwelle,
die vom Objekt ausgeht und den räumlichen Eindruck ergibt, codiert.
13.3 Hologramm eines ausgedehnten Gegenstandes

Die holografische Technik mit einer off-axis“ Referenzwelle ist in Abb. 13.2 a
”
gezeigt. Der Laserstrahl hat in der Regel keine homogene Intensitätsverteilung.
Zur Verbesserung der Strahlqualität benutzt man ein Raumfilter, bei dem sich
im Brennpunkt einer Sammellinse des Strahlaufweitungssystems (s. Kap. 21,
Abb. 21.20) eine Blende mit sehr kleiner Öffnung (Durchmesser ≈ µm) befin-
det. Der aufgeweitete Strahl wird durch einen Strahlteiler ST aufgespalten und
man erhält zwei zeitlich kohärente Wellenzüge. Die Referenzwelle ER wird durch
zwei ebene Spiegel S1 und S2 , wie in der Abbildung gezeigt, auf die fotografische
Platte umgelenkt. Die Beleuchtungswelle wird als Signalwelle ES diffus vom Ob-
jekt reflektiert. Die Signalwelle weist aufgrund der Struktur der Objektoberfläche
verformte Wellenfronten auf. Sie trifft auf den Film, wo sie mit der Referenzwelle
interferiert und das Hologramm erzeugt.
In der Filmebene gilt für die Referenzwelle:
E R = ÊR ej(ωt+ϕ) (13.1)

Die Amplitude ÊR (x, y) der Referenzwelle sei über die ebene Wellenfront kon-
stant. Der Phasenwinkel ϕ(x, y) ist vom Winkel α zwischen der Filmebene und
der Front der Referenzwelle (s. Abb. 13.2 b) abhängig. Wenn der obere Rand der
Referenzwelle den Film bei x = 0 trifft, dann ist ϕ eine lineare Funktion von x
über die Filmebene mit

2π 2π
ϕ= ∆=− x sin α (13.2)
λ λ
Im Folgenden wird nur die komplexe Wellenamplitude Ê ohne die Zeitabhängig-
keit der Welle betrachtet.
Ê R = ÊR ejϕ (13.3)

Wenn die Referenzwelle abgeschaltet ist, würde der Film nur durch die vom
Objekt ausgehende Signalwelle belichtet werden:
Ê S = ÊS ejθ (13.4)

13.3 Hologramm eines ausgedehnten Gegenstandes 377
Abb. 13.2. a) Holografische off-axis“ Aufzeichnung b) Orientierung des Films relativ

”
zur Referenzwelle (Ausschnitt)
wobei ÊS (x, y) die Amplitude des reflektierten Lichtes in den Punkten x, y des
Filmes bedeutet und θ = θ(x, y) eine komplizierte Funktion ist, die die Orts-
abhängigkeit der Phase des Lichtes, das den Film von verschiedenen Teilen des
Objektes aus erreicht, beschreibt. Wäre die Signalwelle alleine vorhanden, dann
würde der Film nur aufgrund der Intensität (= spezifische Ausstrahlung) IS
der vom Objekt ausgehenden Signalwelle geschwärzt. Damit ergibt sich, wobei
der Einfachheit halber die Konstanten für die Umrechnung von Quadraten der
Feldamplitude in Intensitäten weggelassen sind:
2 2
∗
IS ∼ Ê S = Ê S Ê S = ÊS (x, y) (13.5)
378 13 Holografie
Die Intensität IS enthält also keine Information über die Phase der Signalwelle.
Ändert man die Anordnung und ist die Referenzwelle ebenfalls vorhanden, dann
ist – in skalarer Näherung – die resultierende Amplitude Ê F in jedem Punkt des
Filmes gegeben durch
Ê F = Ê R + Ê S
so dass
2 ∗
∗
IF ∼ Ê F = Ê R + Ê S Ê R + Ê S
Man erhält:
∗ ∗ ∗ ∗ ∗ ∗
IF ∼ Ê R Ê R + Ê S Ê S + Ê R Ê S + Ê S Ê R = ÊR
2
+ ÊS2 + Ê R Ê S + Ê S Ê R (13.6)
Die rechte Seite von (13.6) ist eine Funktion von x und y und variiert deshalb
von Punkt zu Punkt in der Filmebene. Die letzten beiden Terme enthalten nun
die wichtige Phaseninformation der Funktion θ(x, y). Explizit erhalten wir
IF ∼ ÊR
2
+ ÊS2 + ÊR ÊS e−j(θ−ϕ) + ÊR ÊS ej(θ−ϕ) (13.7)
Durch geeignete Aufnahmebedingungen kann man erreichen, dass die Amplitu-
dentransmission des entwickelten Filmes proportional zu IF ist.
Um das Bild der aufgenommenen Objektszene zu rekonstruieren, bringt man
das Hologramm wieder in die Referenzwelle, genau so wie bei der Aufnahme des
Hologramms (s. Abb. 13.2 a). Natürlich ist jetzt der Gegenstand entfernt. Be-
leuchtet man nun das Hologramm mit der Referenzwelle, so wird aufgrund der
zu IF proportionalen Transmission des Hologramms sowohl die Amplitude als
auch die Phase der einlaufenden Welle moduliert. Wie zuvor gilt für die einfal-
lende Referenzwelle vor dem Hologramm:
Ê R = ÊR ejϕ (13.3)

Bis auf Konstanten kann man nun die austretende modulierte Welle durch die
komplexe Wellenamplitude hinter dem Hologramm Ê H beschreiben

Ê H ∼ IF Ê R = ÊR
2
+ ÊS2 Ê R + ÊR
2
ÊS ejθ + ÊR
2 j(2ϕ)
e ÊS e−jθ (13.8)
wobei wir (13.7) und (13.3) miteinander multipliziert haben. Wir interpretieren
nun die drei Terme in (13.8) als Rekonstruktion von drei verschiedenen Wellen-
feldern durch das Hologramm. Jede Welle ist auch in Abb. 13.3 gezeigt. Der erste
Term
Rekonstruktion Referenzwelle, 0. Beugungsordnung

Ê H1 ∼ ÊR
2
+ ÊS2 Ê R = ÊR2
+ ÊS2 ÊR ejϕ (13.9)
13.3 Hologramm eines ausgedehnten Gegenstandes 379
beschreibt die Referenzwelle, die lediglich in der Amplitude, aber nicht in der
Phase verändert ist. Diese Welle geht ohne Ablenkung durch das Hologramm
hindurch. In Analogie zum holografischen Gitter entspricht diese Welle der Beu-
gung 0. Ordnung. Der zweite Term ist
Rekonstruktion Signalwelle, virtuelles Bild, 1. Beugungsordnung
Ê H2 ∼ ÊR
2
ÊS ejθ (13.10)
2
und beschreibt bis auf den unwesentlichen Faktor ÊR die Signalwelle. Diese Welle
stellt die rekonstruierte Wellenfront des Objektes dar, die unter dem Winkel α
relativ zur Referenzwelle ausläuft. Die Welle scheint vom Objekt zu kommen. Sie
divergiert“ so, als würde sie von einem virtuellen Bild hinter dem Hologramm
”
ausgehen. Dieses virtuelle Bild sehen wir normalerweise bei der Betrachtung eines
Hologramms.
Der dritte Term ist gegeben durch
Rekonstruktion konjugierte Signalwelle, reelles Bild, -1. Beugungsordnung
Ê H3 ∼ ÊR
2 j(2ϕ)
e ÊS e−jθ (13.11)
und stellt die konjugierte Signalwelle dar, die zusätzlich in der Phase verändert
ist. Diese Welle rekonstruiert die Signalwelle von (13.4) unter Phasenumkehrung.
Aufgrund der Phasenumkehr (θ → −θ) werden nun vorher divergierende Wel-
len konvergent und man erhält ein reelles Bild auf der Betrachtungsseite des
Hologramms. Das Bild wird pseudoskopisch genannt, d.h. Erhöhungen und Ver-
tiefungen des Gegenstandes erscheinen vertauscht. Der Phasenterm ej(2ϕ) ergibt
im Vergleich zu (13.3) eine Winkelverschiebung der Bildrichtung um 2α relativ
zur Normalen der Filmebene. Die off-axis Anordnung (s. Abb. 13.2 a) erzeugt ein
Hologramm, bei dem die beiden rekonstruierten Signalwellen erster Ordnung und
die Welle 0. Ordnung verschiedene Ausbreitungsrichtungen haben. Das virtuelle
Bild kann damit ohne Störung durch andere Wellen beobachtet werden.
Das Hologramm, das von einem ausgedehnten Objekt hergestellt wird, zeigt
die gleichen wesentlichen Merkmale wie das Hologramm eines punktförmigen
Objektes. Wir erinnern uns daran, dass bei der Aufzeichnung des Hologramms –
außer bei der Strahlaufweitung – keine Linse benutzt wird und der Einsatz der
Referenzwelle die wesentliche Voraussetzung darstellt. Das bei der Herstellung
des Hologramms benutzte Licht muss ausreichende zeitliche Kohärenz haben, so
dass der Gangunterschied zwischen Signal- und Referenzwelle die Kohärenzlänge
nicht überschreitet. Das Licht muss ebenfalls ausreichende räumliche Kohärenz
aufweisen, so dass das Strahlenbündel über das gesamte Objekt kohärent ist.
Natürlich muss das holografische Aufnahmesystem extrem vibrationsarm aufge-
baut sein, d.h. mechanisch stabil bis auf Bruchteile der Wellenlänge des Lichtes.
380 13 Holografie
Abb. 13.3. Rekonstruktion des Hologramms, das mit der Anordnung in Abb. 13.2 a
aufgenommen wurde
Die letzte Voraussetzung kann man einfacher erfüllen, wenn man hochenergeti-
sche Laserpulse von sehr kurzer Dauer wie ein Blitzlicht benutzt, um unerwünsch-
te Bewegungen einzufrieren“.
”
Eine dreidimensionale Betrachtung des Objektes wird ermöglicht, wenn man
den holografischen Film in zylindrischer Form um das Objekt anordnet, wie in
Abb. 13.4 gezeigt.
Abb. 13.4. Aufzeichnung eines 360◦ -Hologramms durch einen zylindrischen Film
Der Film wird durch die Referenzwelle und durch Streulicht vom Objekt be-
leuchtet. Betrachtet man das Hologramm ohne Objekt unter den gleichen Be-
leuchtungsbedingungen, so kann man in diesem Beispiel einen Fisch von allen
Seiten beobachten.
13.5 Weißlicht-Hologramme 381
13.4 Eigenschaften des Hologramms

Wie schon vorher beschrieben, erhält das vollständige Hologramm Licht von je-
dem Objektpunkt. Infolgedessen enthält jeder Teil des Hologramms Informati-
on des gesamten beleuchteten Objekts. Schneidet man das Hologramm in klei-
ne Teile, so ist jeder Teil Hologramm des ganzen Objektes, wobei jedoch die
Verkleinerung des Hologramms die Auflösung des Bildes und das Gesichtsfeld
einschränkt. Dieses Verfahren entspricht im Wesentlichen dem Blick durch eine
kleine Blende, die sich vor einem Fenster befindet. Man betrachtet die gleiche
Objektszene, jedoch mit variierender Perspektive, wenn man die Blende in ver-
schiedene Abschnitte des Fensters bewegt. Jede Ansicht ist vollständig, sie zeigt
sowohl Tiefe als auch Parallaxe. Eine weitere interessante Eigenschaft eines Holo-
gramms besteht darin, dass ein Kontaktabzug, der die optisch durchlässigen und
undurchlässigen Bereiche vertauscht, die gleichen Eigenschaften wie das Origi-
nalhologramm aufweist. Das Negativ“ eines Hologramms verändert weder den
”
Streifenkontrast noch den Abstand und modifiziert deshalb nicht die gespeicherte
Information. Weiterhin kann ein Hologramm mehrere unterschiedliche Aufnah-
men enthalten, wobei jede unter einem anderen Winkel des Films relativ zur
Referenzwelle und eventuell mit verschiedenen Lichtwellenlängen aufgenommen
wird. Bei der Rekonstruktion erscheint jede Objektszene im eigenen Licht, wenn
man sie entlang der Aufnahmerichtung der Originalszene betrachtet, ohne dass
Störungen durch die anderen Bilder auftreten.
13.5 Weißlicht-Hologramme
Betrachtet man das Hologramm von Abb. 13.3 mit einer Referenzwelle ande-
rer Farbe als derjenigen, die man bei der Herstellung benutzt hat, so sieht man
das Bild des Fisches unter einem anderen Winkel. Wie das holografische Git-
ter wirkt das Hologramm als dispersives Element. Benutzt man weißes Licht für
die Rekonstrultionswelle, so überlappen die kontinuierlich verschobenen Bilder
für die verschiedenen spektralen Gebiete des Lichtes und erzeugen ein farbi-
ges verschwommenes Bild. In einem zweistufigen Verfahren kann man ein Ho-
logramm herstellen, das die möglichen Ansichten des Objektes auf einen Blick
durch einen horizontalen Spalt beschränkt, hierdurch wird die störende Über-
lagerung der Bilder vermindert. Bei der Rekonstruktion in weißem Licht erhält
man ein Regenbogen-Hologramm, das virtuelle Bild erscheint nun in verschiede-
nen Farben. Die jeweils sichtbare Farbe hängt von der Beobachtungsrichtung
des Hologramms ab. Bei Drehung des Hologramms um 180◦ erkennt man bei
intensiver Betrachtung das pseudoskopische Bild, bei dem Vertiefungen und Er-
hebungen des Objektes vertauscht erscheinen. Dreht man das Hologramm um
90◦ gegenüber der Lage, in der man den Regenbogeneffekt erhält, so beobachtet
man bei leichtem Kippen des Hologramms ein Bild, das nicht mehr räumlich ist.
382 13 Holografie
Man betrachtet das Hologramm meist in reflektiertem Licht, da die Rückseite

des Hologramms mit einer dünnen Aluminiumschicht versehen ist, die als Spiegel
zur Reflexion des weißen Lichtes zurück durch das Hologramm dient.
Ist die Dicke der Filmemulsion groß gegenüber dem Streifenabstand, so erhält
man ein Volumenhologramm. Die Interferenzstreifen sind nun Interferenzflächen
innerhalb der Emulsion, die sich wie die Netzebenen eines Kristalls bei der
Beugung von Röntgenstrahlen verhalten, d.h. wie ein dreidimensionales Gitter.
Im Gegensatz zu zweidimensionalen Hologrammen zeigen Volumenhologramme,
wenn man sie mit weißem Licht beleuchtet, Bilder in der Farbe der Aufnah-
mewellenlänge. Das Hologramm wirkt also als schmalbandiges Farbfilter. Hierzu
betrachten wir die Bildung von eng benachbarten Interferenzflächen innerhalb ei-
ner dicken Emulsion, indem wir kohärente Objekt- und Referenzwellen unter dem
größtmöglichen relativen Winkel von 180◦ benutzen, wie in Abb. 13.5 gezeigt.
Abb. 13.5. Bildung einer stehenden Welle in einem Volumenhologramm, in dem zwei
ebene Wellen – Referenz- und Signalwelle – einander entgegenlaufen
Für ebene Wellen entsteht eine stehende Welle, deren Ebenen maximaler Inten-
sität im Abstand von λ/2 senkrecht zu den Strahlrichtungen stehen (s. Abb. 13.5).
In den Bäuchen erhält man nach der Filmentwicklung Bereiche, die fast aus-
schließlich freies Silber aufweisen und als partiell reflektierende Ebenen wirken.
Natürlich muss die Emulsion – wie immer in der Holografie – hochauflösend
sein, um detailgetreu aufzuzeichnen. Beleuchtet man nun aus der Richtung der
Referenzwelle mit weißem Licht, so reflektiert das entwickelte Hologramm von
jeder Silberebene partiell Licht; aber nur das Licht der Wellenlänge, das bei der
Erzeugung des Hologramms benutzt wurde, wird durch konstruktive Interferenz
verstärkt. Die Physik dieses Prozesses ist die gleiche wie bei der Röntgenstrahl-
beugung an Kristallebenen, die durch die Bragg-Gleichung beschrieben wird (s.
Abb. 13.6):
13.6 Weitere Anwendungen der Holografie 383
Bragg-Gleichung 2d sin θB = nλ (13.12)
Hierbei ist d der Ebenenabstand und θB der Braggwinkel. Beleuchtet man ein
Volumenhologramm unter einem Winkel θB , so wird nur die Wellenlänge, die die
Bragg-Gleichung lokal erfüllt, verstärkt und erscheint als reflektierter Strahl. Für
d = λ/2 erhält man den Spezialfall gegenläufiger Wellen (θ = 90◦ ). Je dicker
die Emulsion und je größer die Anzahl der beitragenden reflektierenden Ebenen
ist, um so selektiver wird das Hologramm für eine Wellenlänge sein. Stellt man
ein Volumenhologramm durch Mehrfachbelichtung einer Objektszene in jeder der
drei Grundfarben her, so kann der Rekonstruktionsprozess mit Weißlichtbeleuch-
tung ein dreidimensionales Bild in den Originalfarben erzeugen.
Abb. 13.6. Konstruktive Interferenz von Wellen, die an Ebenen des Abstandes d re-
flektiert werden und der Bragg-Gleichung nλ = 2d sin θB genügen
13.6 Weitere Anwendungen der Holografie
Die Holografie bietet eine große Vielfalt von faszinierenden Anwendungen, von
denen wir nur einige wenige kurz beschreiben. Wir nehmen an, dass das Holo-
gramm des Fischmodelles in Abb. 13.3 und das Fischmodell selbst exakt in die
Originalposition wie bei der Aufnahme gebracht werden und außerdem die glei-
che Referenzwelle das Objekt beleuchtet. Bei Betrachtung durch das Hologramm
wird das virtuelle Bild dem Gegenstand selbst überlagert und beide werden unter
derselben kohärenten Beleuchtung betrachtet. Wenn kein Unterschied zur Auf-
nahme des Hologramms besteht, so scheint in der Ansicht nur das Objekt oder
das Hologramm vorhanden zu sein. Nehmen wir nun an, dass das Modell des
Fisches (Fischfigur) einige kleine Änderungen in der Form aufweist, z.B. durch
384 13 Holografie
Wärmeausdehnung; dann sind die Oberfläche des Objektes und das holografische
Bild geringfügig gegeneinander verschoben und das Licht, das von beiden Bildern
kommt, interferiert, wobei Interferenzstreifen entstehen, die die Formänderung an
bestimmten Stellen des Objektes verdeutlichen. Diese Technik – die holografische
Interferometrie – wendet man z.B. an, um Punkte maximaler mechanischer Deh-
nung sichtbar zu machen, so z.B. im Falle der Druckerhöhung in einem Automo-
bilreifen. Die hohe Empfindlichkeit dieser Technik wurde auch in holografischen
Aufzeichnungen von Konvektionsströmen um heiße Glühfäden, Kompressionswel-
len um eine Gewehrkugel oder um den Flügel einer sich bewegenden Fruchtfliege
gezeigt.
Eine andere Anwendung der Holografie findet man in der Mikroskopie. Be-
trachtet man Zellproben oder andere mikroskopisch kleine Objekte unter kon-
ventioneller hoher Vergrößerung, so ist die Schärfentiefe sehr klein. Diese Ein-
schränkung kann man umgehen, wenn man statt einer konventionellen Fotografie
ein Hologramm erzeugt, das in einer Aufnahme alle gewöhnlichen Fotografien
enthält, wenn man sukzessive über die Tiefe der lebenden Probe hinweg abbil-
det. In dem Bild, das man durch das Hologramm erhält, kann man nach Belieben
auf jede Tiefe innerhalb eines gleichbleibenden Blickfeldes akkommodieren. Wenn
man ein Hologramm mit einem Mikroskop herstellt, so beleuchtet man die Probe
mit Laserlicht, von dem die Referenzwelle außerhalb des Mikroskops abgespalten
und direkt auf die fotografische Platte geleitet wird, wo es der Signalwelle, die
durch das Mikroskopobjektiv erzeugt wird, überlagert wird. Bei Rekonstruktion
mit Licht der Wellenlänge λR > λA , wobei die Wellenlänge λA bei der Aufnahme
des Hologramms verwandt wurde, erfolgt eine Vergrößerung mit dem Abbildungs-
maßstab
a λR
Abbildungsmaßstab Hologramm β= (13.13)
a λA
wobei a der Gegenstandsabstand (Gegenstand zum Film) und a der entspre-

chende Bildabstand (Bild vom Hologramm) ist. Hierbei sind Gegenstands- und
Bildabstand im Betrag gleich, wenn die Referenz- und Rekonstruktionswellen
eben sind. Gleichung (13.13) impliziert z.B., dass bei der Herstellung eines Holo-
gramms mit Laser-Röntgenstrahlung und der Betrachtung unter sichtbarem Licht
prinzipiell Vergrößerungen bis zu 106 erreicht werden können. Diese Möglich-
keit hat viel zum Interesse an der Entwicklung von Röntgenlasern beigetra-
gen. Röntgenstrahl-Hologramme könnten sehr detaillierte dreidimensionale Bil-
der von mikroskopischen Objekten, wie kleinen Viren oder DNA-Molekülen zei-
gen. Die Möglichkeit, ein Hologramm unter einer anderen Wellenlänge zu betrach-
ten als bei der Herstellung verwandt, bietet noch andere interessante Möglich-
keiten. Man könnte Ultraschallwellen-Hologramme als Ersatz für medizinische
Röntgenaufnahmen benutzen oder ein Radarhologramm mit sichtbarem Licht
betrachten. Tatsächlich hat Gabor in seiner Originalarbeit vorgeschlagen, ein
Elektronenwellen-Hologramm mit sichtbarem Licht zu rekonstruieren und auf

diese Weise Atome sichtbar zu machen.
Der Hinweis auf Ultraschall-Hologramme impliziert, dass die Wellen, die ein
Hologramm erzeugen, nicht unbedingt elektromagnetischer Natur sein müssen.
Da Ultraschallwellen Objekte durchdringen können, die für sichtbares Licht un-
durchsichtig sind, können Hologramme, die durch Ultraschallwellen erzeugt wer-
den, zusätzliche Informationen liefern. Solche Hologramme könnte man z.B. vom
menschlichen Körper und bei archäologischen Untersuchungen von Gräbern her-
stellen. Abbildung 13.7 zeigt eine andere Anwendung der Ultraschallholografie,
bei der Objekte unterhalb der Ozeanoberfläche erkannt werden. G1 und G2 stel-
len zwei phasengekoppelte Generatoren dar, die kohärente Ultraschallwellen aus-
strahlen. Die Wellenfront, die von G2 ausgeht, wird durch ein Unterwasserobjekt
deformiert und interferiert mit der ungestörten Referenzwelle von G1 . Die Defor-
mationen der Wasseroberfläche stellen ein akustisches Hologramm dar. Beleuch-
tet man dieses Gebiet mit monochromatischem Licht, so kann man das Licht,
das von den Deformationen gestreut wird, fotografieren. Die Betrachtung des so
aufgenommenen Hologramms liefert ein Bild des Unterwasserobjektes.
Abb. 13.7. Veränderungen der Wasseroberfläche aufgrund von zwei kohärenten Ultra-
schallwellen, von denen eine – die Signalwelle – durch ein Unterwasserobjekt deformiert
wird
Holographische Datenspeicher bieten interessante Möglichkeiten. Da das Spei-

chervolumen von Daten durch die holografische Technik auf Dimensionen in
der Größe von Lichtwellenlängen reduziert wird, kann man Volumenhologramme
benutzen, um riesige Informationsmengen aufzuzeichnen. Dreht man das Holo-
gramm, so kann man weitere Aufnahmen ausführen. Anstelle dicker Fotoemulsio-
nen kann man fotorefraktive Kristalle wie Lithiumniobat einsetzen. Theoretisch
ist es möglich, Bücher einer sehr großen Bibliothek in einem Kristall der Größe
eines Zuckerwürfels zu speichern. Die Daten können natürlich auch in digitaler
Form aufgezeichnet und von einem Rechner gelesen werden, so dass der holografi-
sche Speicher auch als Massenspeicher eingesetzt werden könnte. In Verbindung
mit der Datenübertragung durch optische Fasern könnte dann die Informati-
386 13 Holografie
onsverarbeitung, Speicherung und der Abruf von Daten durch Licht erfolgen.
Ein faszinierender Vorteil des holografischen Datenspeichers liegt in seiner Zu-
verlässigkeit. Da jede Dateneinheit durch das ganze Volumen des Hologramms
aufgezeichnet wird, kann die Beschädigung eines Teiles des Hologramms nur das
Signal-/Rauschverhältnis des wiederhergestellten Bildes verringern. Die Informa-
tion geht nie vollständig verloren, wie das bei anderen Speichermethoden der Fall
ist, wo jedes Bit der Information seine eigenen Speicherkoordinaten aufweist.
Umgekehrt kann man mit Rechnern synthetische Hologramme erzeugen, die
dreidimensionale Objekte originalgetreu darstellen. Der Gegenstand wird ma-
thematisch durch die Angabe seiner Koordinaten und der Intensität in allen
Oberflächenpunkten beschrieben. Der Computer berechnet die komplexe Ampli-
tude, die bei Überlagerung von Objekt- und Referenzwelle entsteht und damit
das Hologramm, das auf einem höchstauflösenden Fotodrucker ausgegeben wird
und gegebenenfalls fotografisch auf den geeigneten Abstand der Beugungsstreifen
verkleinert werden kann. So läßt sich z.B. eine ideale asphärische Wellenfront syn-
thetisch erzeugen und damit die Kontur eines asphärischen Spiegels überprüfen.
Hologramme kann man auch zur Mustererkennung verwenden. Man möchte
z.B. wissen, ob ein bestimmter Text ein vorgegebenes Wort oder einen Buchsta-
ben enthält. Die Signalwelle der Vorlage, die untersucht wird, leitet man durch
ein Hologramm des Buchstabens oder des Wortes, das erkannt werden soll. Der
identifizierte Buchstabe oder das Wort wird durch einen hellen Fleck am Ort
des Buchstabens/Wortes im Text angezeigt. Das Hologramm wirkt hier als ein
spezielles Filter, das nur das räumliche Spektrum durchlässt, das bei der Auf-
zeichnung vorlag. Diese Technik kann man z.B. für das holografische Lesen von
Mikrofilmen anwenden. Man hat auch vorgeschlagen, robotisches Sehen in dieser
Weise nachzubilden.
Hologramme, die Licht umlenken, kann man als preiswerte optische Elemente
anstelle von Linsen oder Spiegeln (HOE = holografisch optische Elemente) ein-
setzen. Eine verbreitete Anwendung sind die sogenannten Scanner, mit denen der
Strichcode auf Waren gelesen wird. Hierbei benutzt man eine rotierende Scheibe,
die verschiedene holografische Linsen“ aufweist. Durch dieses Verfahren sorgt
”
man beim Laserscannen für eine Vielzahl von Strahlwinkeln, so dass man den
Produktcode auch bei ungezieltem Vorbeiführen am Scanner lesen kann.
Übungen
13.1 Benutzen Sie (10.6) für die Überlagerung von zwei Wellen verschiedener Intensität
und zeigen Sie, dass das Bestrahlungsmuster einer Gaborschen Zonenplatte (das
Hologramm einer Punktquelle) näherungsweise durch
I = A + B cos2 (Cr2 ) (13.14)
√ √
gegeben ist, wobei A = I1 + I2 − 2 I1 I2 , B = 4 I1 I2 und C = π/(2|a|λ). Hierbei
sind I1 und I2 die Intensitäten der Referenz- und des Signalwelle, a der Abstand des
Objektpunktes vom Film, r der Zonenradius und λ ist die Wellenlänge des Lichtes.
Nehmen Sie näherungsweise an, dass die Wegdifferenz zwischen den zwei Wellen
viel kleiner als a ist, so dass wir nur auf die inneren Zonen des Hologramms blicken.
√
13.2 a) Zeigen Sie, dass der Kontrast der Interferenzstreifen durch 2 N /(N + 1) ge-
geben ist, wenn das Verhältnis der Intensitäten von Referenz- zu Signalwelle
durch den Faktor N gegeben ist.
b) Wie groß ist der Streifenkontrast in einem Bereich, in dem die Intensität der
Referenzwelle dreimal größer ist als die der Signalwelle?
13.3 Man möchte ein Hologramm eines sich bewegenden Objektes mit Hilfe eines 1 ns-
Laserpulses der Wellenlänge 633 nm herstellen. Was ist die höchste zulässige Ge-
schwindigkeit der Bewegung, damit sich das Objekt während der Aufnahme nicht
mehr als λ/10 bewegt?
13.4 Bei der Aufzeichnung eines Hologramms benutzt man einen Strahlenteiler, der ein
Amplitudenverhältnis von 8:1 für Referenzwelle und Signalwelle auf der Emulsion
einstellt. Wie groß ist das Verhältnis von maximaler zu minimaler Intensität auf
der Emulsion?
13.5 Wir nehmen an, dass die theoretische Grenze für die Speicherung eines Bit an
Information im Hologramm ein Volumen von λ3 erfordert. Bestimmen Sie die Spei-
cherkapazität von 1 mm3 Hologrammvolumen für λ = 492 nm und die Brechzahl
n = 1,3.
13.6 Man benutzt einander entgegenglaufende monochromatische Strahlen von kollimier-
tem kohärentem Laserlicht von 500 nm Wellenlänge zur Herstellung eines Volumen-
hologramms (s. Abb. 13.5).
a) Bestimmen Sie den Abstand der Silberebenen innerhalb der entwickelten Emul-
sion (n ≈ 1).
b) Welche Wellenlänge des weißen Lichtes wird verstärkt, wenn dieses senkrecht
auf das Hologramm einfällt?
c) Wiederholen Sie den Teil b) der Aufgabe, wenn der Einfallswinkel (relativ zur
Normale) 30◦ beträgt.
13.7 Zwei Strahlen mit ebenen Wellenfronten und der Wellenlänge 633 nm schneiden sich
unter einem Winkel von 120◦ und treffen auf eine fotografische Emulsion (n = 1).
a) Skizzieren Sie diese Anordnung und zeigen Sie die Orientierung der Ebenen
konstruktiver Interferenz innerhalb der Emulsion.
b) Bestimmen Sie den Ebenenabstand im entwickelten Volumenhologramm.
c) Bei welchem Einfallswinkel relativ zu den Silberebenen wird eine Wellenlänge
von 450 nm in Reflexion verstärkt?
13.8 Man verwendet Licht von 430 nm Wellenlänge als blaue Komponente eines Weiß-
lichthologramms (s. Abb. 13.5). Wenn die Schrumpfung der Emulsion während des
Entwicklungsprozesses 15% beträgt, welche Wellenlänge wird dann bei der Rekon-
struktion durch die Interferenzstreifen des blauen Lichtes verstärkt? Wie verändert
dies das holografische Bild bei Betrachtung mit weißem Licht?
13.9 Ein Hologramm wird mit ultraviolettem Licht der Wellenlänge 337 nm hergestellt
und mit rotem Licht der Wellenlänge 633 nm betrachtet.
388 13 Holografie
a) Die ursprüngliche Referenzwelle und die Rekonstruktionswelle sind beide eben,

wie hoch ist die Vergrößerung des holografischen Bildes verglichen mit dem
Originalobjekt?
b) Welche Vergrößerung würde man erhalten, wenn man zur Herstellung des Holo-
gramms kohärente Röntgenstrahlung von 0,1 nm Wellenlänge benutzen würde?
13.10 a) Zeigen Sie, dass die rekonstruierte Wellenfront des Hologramms einer Punkt-
quelle sowohl das reelle als auch das virtuelle Bild erzeugt, wie dies in Abb. 13.1 b
gezeigt ist. Bestimmen Sie zunächst die Bestrahlungsstärke auf dem Film auf-
grund der Überlagerung einer ebenen und einer Kugelwelle. Finden Sie dann
die Amplitude des Lichtes, das von dem entwickelten Film durchgelassen wird,
wenn dieser mit der Referenzwelle beleuchtet wird. Interpretieren Sie die Terme
wie bei der Diskussion des Hologramms eines dreidimensionalen Objektes.
b) Zeigen Sie, dass auf einem Film die Phasenverzögerung einer auslaufenden (=
divergierenden) Signalkugelwelle im Abstand y von der optischen Achse durch
πy 2 /λd gegeben ist, wobei d der Abstand der Punktquelle vom Film ist. Dieses
Ergebnis erhält man für y d. Zeigen Sie, dass die Vorzeichenumkehr des
Phasenwinkels einer einlaufenden (= konvergierenden) Kugelwelle entspricht,
die ein reelles Bild bei der Rekonstruktion ergibt.
14
Matrixbeschreibung der Polarisation
Einleitung
Licht breitet sich als Transversalwelle aus, d.h. E- und B-Feldvektor

schwin-
gen senkrecht zur Ausbreitungsrichtung. Eine Transversalwelle ist polarisierbar,

d.h. die Schwingungsrichtung des E-Vektors und damit der Polarisationszustand
ist ein weiterer Parameter zur Charakterisierung von Licht. Gewöhnliches Licht
wird durch eine Anzahl von unabhängigen Quellen erzeugt, deren Strahlung nicht
synchronisiert ist. Betrachten wir ein Lichtbündel so wie es von einem Glühfaden

ausgeht. Der E-Feldvektor weist eine Gleichverteilung über alle Schwingungs-
richtungen senkrecht zur Ausbreitungsrichtung der Welle auf. Dieses Licht nennt

man unpolarisiert. Schwingt der E-Vektor nur in einer festgelegten Raumrich-
tung, so nennt man eine solche Lichtwelle linear polarisiert. Bei zirkular polari-

siertem Licht läuft die Spitze des E-Vektors am festen Ort auf einem Kreis um,
bei der Ausbreitung im Raum beschreibt sie eine Schraubenlinie. Für elliptisch

polarisiertes Licht läuft die Spitze des E-Vektors auf einer Ellipse um. Natürlich
390 14 Matrixbeschreibung der Polarisation
kann ein Lichtbündel auch aus einer Mischung von polarisiertem und unpolari-
siertem Licht bestehen, in diesem Fall bezeichnet man es als teilweise (partiell)
polarisiert.
Bei der einfachen mathematischen Beschreibung der Polarisation verwenden
wir die Matrixtechnik, wie sie von R. Indiana Jones entwickelt wurde. Zuerst wer-
den wir den zweielementigen Jones-Vektor angeben, der Polarisationszustände
durch die Amplituden der elektrischen Feldstärke in x- und y-Richtung be-
schreibt. Dann werden wir die optischen Komponenten, die polarisiertes Licht
erzeugen und verändern, untersuchen. Diesen Bauteilen entsprechen mathema-
tische Operatoren, in diesem Fall 2 × 2 Matrizen, die auf die Jones-Vektoren
wirken.
Die Stokes-Vektoren und die zugehörigen Müller-Matrizen für die polarisa-
tionsändernden Elemente werden ebenfalls angegeben. Die Komponenten der
Stokes-Vektoren (Stokes-Parameter ) hängen auf etwas kompliziertere Weise mit
den x- und y-Komponenten der elektrischen Feldstärke zusammen, dafür kann
man mit dieser Darstellung auch teilweise polarisiertes Licht beschreiben. Für
vollständig polarisiertes Licht ist der Jones-Formalismus ausreichend und bedeu-
tend einfacher.
In Kapitel 15 untersuchen wir im Detail die Geräte und die physikalischen
Prozesse, mit deren Hilfe man polarisiertes Licht erzeugen kann.
14.1 Beschreibung von polarisiertem Licht mit

Jones-Vektoren
Wir betrachten einen Lichtstrahl, der senkrecht auf der Papierebene steht und der

sich im Ursprung des Koordinatensystems der Abb. 14.1 befindet. Das E-Feld des
Lichtes kann man durch einen zeit- und ortsabhängigen Vektor beschreiben, der
in Abb. 14.1 für einen bestimmten Zeitpunkt dargestellt ist. Die Komponenten
von E entlang der x- und y-Achse sind Ex und Ey , so dass:
= Exex + Ey ey
E (14.1)
Wir setzen ebene Wellen voraus und erhalten für die Komponenten nach (8.23)
E x = Êx ej(ωt−kz+ϕx ) (14.2)

j(ωt−kz+ϕy )
E y = Êy e (14.3)
Diese Wellen breiten sich also in der positiven z-Richtung mit den Amplituden
ˆ
x und Eˆ
y aus und haben die Nullphasenwinkel ϕx und ϕy . Unter Benutzung
E
von (14.1) gilt dann:
14.1 Beschreibung von polarisiertem Licht mit Jones-Vektoren 391

Abb. 14.1. Momentaufnahme des E-Vektors eines Lichtstrahles, der in Richtung der

positiven z-Achse verläuft. Schwingungen des E-Vektors bedeuten, dass die zwei ortho-
gonalen Komponenten Ex und Ey ebenfalls schwingen
= Êx ej(ωt−kz+ϕx )ex + Êy ej(ωt−kz+ϕy )ey

E

= Êx ejϕx ex + Êy ejϕy ey ej(ωt−kz) = Ê ej(ωt−kz) (14.4)
Die Größe in Klammern, die in x- und y-Komponenten separiert ist, betrachten

ˆ
die die Phasenwinkel ϕx und ϕy für die
wir nun als die komplexe Amplitude E,
polarisierte Welle enthält. Der Polarisationszustand des Lichtes wird durch die
komplexe Amplitude vollständig bestimmt, wir geben sie als Spaltenvektor an:

Ê jϕx
ˆ
= x Ê x e
E = (14.5)
Ê y Êy ejϕy
Aus der komplexen Amplitude lässt sich auch die Intensität des Lichtes berech-
nen. Für die Untersuchung der Polarisation ist es vorteilhaft, normierte Ampli-
tudenvektoren zu benutzen. Mit

Ê = Êx2 + Êy2 (14.6)
erhält man :

Jx 1 Êx ejϕx
normierter Jones-Vektor J = ≡ (14.7)
Jy Ê Êy ejϕy
Dieser ist nun dimensionslos. Er beschreibt vorrangig den Polarisationszustand

des E-Feldes und enthält die Phasenbeziehung zwischen den x- und y-Komponen-

ten des Feldes. Mit Hilfe der J-Vektoren
kann die resultierende relative E-Ampli-
tude bei der Überlagerung von Licht verschiedener Polarisationsarten berechnet
werden. Wir werden im Weiteren nur normierte Jones-Vektoren angeben
und bei der Angabe eines Jones-Vektors auf den Zusatz normiert“ verzichten.
”

Abb. 14.2. Darstellung der E-Vektoren von linear polarisiertem Licht mit verschiede-
nen Orientierungen. Das Licht breitet sich entlang der z-Achse aus. a) vertikal polari-
siert; b) horizontal polarisiert: c) unter dem Winkel ϑ polarisiert
Wir wollen nun die speziellen Jones-Vektoren bestimmen, die linear, zirkular
oder elliptisch polarisiertes Licht beschreiben. In Abb. 14.2 a breitet sich vertikal

polarisiertes Licht in Richtung der z-Achse aus, wobei der E-Vektor entlang der

y-Achse schwingt. Da sich E bei der Lichtausbreitung zeitlich und räumlich si-
nusartig verändert, sind nur die Extremwerte des elektrischen Feldes symbolisch
in die positive und negative y-Richtung gezeichnet. Für vertikalpolarisiertes Licht
ist die Horizontalkomponente Êx = 0. Wenn die Ex -Komponente fehlt, können
wir zur Vereinfachung die Phase ϕy = 0 setzen. Dann folgt aus (14.7):

0
Jones-Vektor für vertikal linear polarisiertes Licht Jv = (14.8)
1
In gleicher Weise stellt Abb. 14.2 b horizontal polarisiertes Licht mit Êy = 0,
ϕx = 0 dar:

1
Jones-Vektor für horizontal linear polarisiertes LichtJh = (14.9)
0
In Abb. 14.2 c ist linear polarisiertes Licht dargestellt, dessen Schwingungsrich-

tung in einer Ebene verläuft, die die x-Achse unter dem Winkel ϑ schneidet. In
diesem Fall sind sowohl die x- als auch y-Komponente von Ê ungleich 0. Dies ist
offensichtlich der allgemeine Fall, der sich auf den vertikal polarisierten Zustand
mit ϑ = 90◦ und den horizontal polarisierten Zustand mit ϑ = 0◦ reduzieren
lässt.
Wir erkennen, dass die zwei zueinander senkrechten Schwingungen E x und
E y in Phase sein müssen, um diese resultierende Schwingung zu erzeugen. Dies
bedeutet, dass die Komponenten gleichzeitig durch den Ursprung gehen müssen,
simultan entlang der entsprechenden positiven Achsen größer werden, das Maxi-
mum zusammen erreichen und dann ihre Schwingungsrichtungen gemeinsam um-
Abb. 14.3. a) Zueinander senkrechte gleichphasige Schwingungen erzeugen linear po-

larisiertes Licht, wobei der E-Vektor im ersten oder dritten Quadranten liegt. b) Zu-
einander senkrechte Schwingungen, die um 180◦ außer Phase sind, erzeugen linear po-

larisiertes Licht, dessen E-Vektor im zweiten oder vierten Quadranten liegt
kehren, um diesen Zyklus fortzusetzen. Abbildung 14.3 a zeigt diesen Ablauf. Ent-
sprechend können wir die Phasendifferenz null setzen und wählen ϕx = ϕy = 0.
Für eine resultierende Schwingung mit der Amplitude Ê ergeben sich die senk-
rechten Komponentenamplituden Êx = Ê cos ϑ und Êy = Ê sin ϑ. Die Feldstärke
ist damit

ˆ Êx ejϕx Ê cos ϑ cos ϑ
E= = = Ê (14.10)
Êy ejϕy Ê sin ϑ sin ϑ
und der Jones-Vektor
Jones-Vektor für unter dem Winkel

ϑ linear
polarisiertes Licht
cos ϑ
Jϑ = (14.11)
sin ϑ
Dann gilt z.B. für ϑ = 60◦ :

◦ 1
cos 60 1/2 1
Jϑ = = √ = √
sin 60◦ 3/2 2 3

Jx
Umgekehrt können wir schließen, dass der Jones-Vektor mit Jx und
Jy
Jy als reellen Zahlen (oder beide imaginär, s.u. zu Vorfaktoren und Eindeutig-
keit der Jones-Vektoren) linear polarisiertes Lichtes unter dem Neigungswinkel ϑ
darstellt. Für den Neigungswinkel gilt:
Jy
Neigungswinkel linear polarisierten Lichts ϑ = arctan (14.12)
Jx
Wir betrachten nun ein Beispiel, bei dem ϑ < 0 ist (s. Abb. 14.3 b). In diesem Fall
ist die Jy -Komponente eine negative Zahl, da der Sinus in (14.11) eine ungerade
Funktion ist, während die Jx -Komponente positiv bleibt. Das negative Vorzeichen
stellt sicher, dass die zwei Schwingungen um 180◦ außer Phase sind; dies ist nötig,

um linear polarisiertes Licht zu erzeugen, bei dem die E-Vektoren im zweiten und
vierten Quadranten liegen.
Die aus zwei zueinander senkrechten Komponenten resultierende Schwingung
ergibt bekanntlich die Lissajous-Figuren. Wenn Êx = Êy und die Phasendiffe-
renz zwischen den Schwingungen ungleich 0◦ und 180◦ ist, läuft die Spitze des

E-Vektors zeitabhängig auf einer Ellipse um. Natürlich können wir die lineare
Schwingung als Spezialfall einer elliptischen oder einer kreisförmigen Schwingung
ansehen. Abbildung 14.4 zeigt eine Folge von Lissajous-Figuren als Funktion der
Phasendifferenz δ = ϕy − ϕx für den allgemeinen Fall Êx = Êy . Beachten Sie

den Umlaufsinn der Spitze des E-Vektors auf der Ellipse, so wie es in Abb. 14.4
gezeigt ist. Dies unterscheidet den Fall δ = 45◦ von dem Fall δ = 315◦ . Wenn
Êx = Êy ist, dann werden die Ellipsen mit δ = 90◦ oder δ = 270◦ (entgegenge-
setzter Umlaufsinn) zu Kreisen.
Wir nehmen jetzt Êx = Êy = Ê an und lassen Ey um 90◦ gegenüber Ex in
der Phase nacheilen, wählen ϕx = 0 und erhalten damit δ = ϕy − ϕx = ϕy =
−π/2. Wenn z.B. Ex die maximale Auslenkung Ê hat, dann ist Ey = 0. Eine
Viertelperiode (90◦ ) später ist Ex = 0 und Ey = Ê usw. Abbildung 14.5 zeigt
einige Beispiele für die resultierende Schwingung. Aus (14.4) folgt dann an einem
festen Ort (z = 0):
Abb. 14.4. Lissajous-Figuren als Funktion der Phasendifferenz δ für zueinander senk-
rechte Schwingungen von ungleicher Amplitude. Für alle Abbildungen gilt δ = ϕy − ϕx .
Der Umlaufsinn hängt von der Definition des E- Feldes in (14.2) und (14.3) ab. Das
hier gewählte positive Vorzeichen von ωt in (14.2) ergibt den gezeigten Umlaufsinn für
die entsprechenden Werte von δ. Negatives Vorzeichen von ωt führt zum umgekehrten
Umlaufsinn
E x = Êx ejωt
E y = Êy ejωt−π/2
Beim Übergang zum Realteil gilt dann:

Ex = Ê cos ωt
π
EY = Ê cos ωt − = Ê sin ωt
2
Wir erinnern uns, dass ω = 2πf = 2π/T ist und können damit jeden der Fälle in
Abb. 14.5 darstellen. Da außerdem Êx2 + Êy2 = Ê 2 (cos2 ωt + sin2 ωt) = Ê 2 gilt,
läuft die Spitze des resultierenden Vektors auf einem Kreis mit dem Radius Ê
um.
Wir ermitteln nun den normierten
√ Jones-Vektor für den oben beschriebenen
Fall und setzen Êx = Êy = Ê/ 2, ϕx = 0 und ϕy = −π/2. Dann ist:

Abb. 14.5. Resultierende E-Schwingung aus zwei orthogonalen Einzelschwingungen
gleicher Amplitude und der Phasendifferenz 90◦ . Die Punkte P zeigen die Position der
resultierenden Schwingung. In Abb. 14.5 c) ist der kreisförmige Weg, den die Spitze von
zurücklegt, dargestellt. Wir erkennen, dass der E-Vektor
E im Gegen-Uhrzeigersinn
umläuft

ˆ Êx ejϕx Ê 1 Ê 1
=
E =√ =√ (14.13)
Êy ejϕy 2 e−jπ/2 2 −j
J folgt jetzt direkt aus (14.7):

läuft hierbei entgegenge-
Jones-Vektor für linkszirkular polarisiertes Licht, E
setzt dem Uhrzeigersinn um, wenn man
dem Licht entgegenschaut
1 1
Jlz = √ (14.14)
2 −j
Wenn Ey gegenüber Ex um π/2 voreilt, erhalten wir wiederum zirkular po-

larisiertes Licht, das nun aber rechtszirkular polarisiert ist. Setzen wir in (14.7)
ϕx = 0, δ = ϕy − ϕx = ϕy = π/2, dann erhalten wir den zugehörigen Jones-
Vektor:
Jones-Vektor für rechtszirkular polarisiertes

Licht

1 1
Jrz = √ (14.15)
2 j
Wir sehen, dass für zirkular polarisiertes Licht immer eine der Komponenten des
Jones-Vektors rein imaginär ist und dass die Beträge der Komponenten gleich
sind. Aus der mathematischen Form von zweikomponentigen Polarisationsvekto-
ren lässt sich nicht

immer
sofort der Polarisationszustand des Lichtes erkennen.
1 j
Der Vektor √ stellt z.B. rechtszirkular polarisiertes Licht dar, denn
2 −1

1 j 1 1
√ = j√
2 −1 2 j
Der Vorfaktor des Vektors beeinflusst die Amplitude und damit die Intensität
(Bestrahlungsstärke) des Lichtes, aber nicht den Polarisationszustand. So lan-
ge kein Interesse an der Intensität des Lichtes besteht, können Vorfaktoren un-
berücksichtigt bleiben.
Abb. 14.6. Elliptisch polarisiertes Licht mit der Phasendifferenz δ = 90◦
Als Nächstes nehmen wir an, dass die Phasendifferenz zwischen den zuein-
ander senkrechten Einzelschwingungen weiterhin 90◦ beträgt, die Schwingungen
Amplituden haben. Wenn Êx = Êy ist, dann erhalten wir aus
aber verschiedene
(14.7) mit Ê = Êx2 + Êy2 :
Jones-Vektor, elliptische Polarisation, Ellipsenachsen entlang x-, y-Achse,

Drehung im Uhzeigersinn (rechtselliptisch)

1 Ê
Jre = x
(14.16)
Ê j Êy
Jones-Vektor, Drehung gegen Uhzeigersinn (linkselliptisch)

1 Ê
Jle = x
(14.17)
Ê −j Êy
Diese Fälle der elliptischen Polarisation sind in Abb. 14.4 für δ = 90◦ und
δ = 270◦ dargestellt. Wir erkennen, dass δ = −90◦ gleichwertig zu δ = +270◦
ist. Die Hauptachse der Ellipse ist entlang der x- oder y-Achse orientiert (s.
Abb. 14.6), wobei ihre Richtung von dem Verhältnis von Êx /Êy abhängt. E
kann die Ellipse im Uhrzeigersinn durchlaufen (Ey eilt Ex voraus) oder im Ge-
genuhrzeigersinn rotieren (Ex eilt Ey voraus). Gestützt auf diese Beobachtungen
können wir schließen, dass ein Jones-Vektor mit verschiedenen Komponenten
(eine reell und die andere rein imaginär) elliptisch polarisiertes Licht darstellt,
dessen Hauptachse entlang der x- oder y-Achse ausgerichtet ist.
Abb. 14.7. Elliptisch polarisiertes Licht. Die Hauptachse der Polarisationsellipse ist
unter dem Winkel α relativ zur x-Achse geneigt; ε ist der Elliptizitätswinkel
Man kann auch elliptisch polarisiertes Licht herstellen, dessen Hauptach-

se relativ zur x-Achse geneigt ist, wie in Abb. 14.7 dargestellt. Dieser Fall
tritt auf, wenn die Phasendifferenz zwischen den Schwingungskomponenten von
δ = mπ (lineare Polarisation) oder δ = (2m + 1)π/2 (zirkulare oder elliptische
Polarisation (entlang der x- oder y-Achse orientiert)) verschieden ist. Hierbei
ist m = 0, ±1, ±2, . . .. Für diesen allgemeinen Fall erhält man mit ϕx = 0,
δ = ϕy − ϕx = ϕy , Êx = Êy aus (14.5):

jϕx
ˆ
= Ê x e Ê x
E = (14.18)
Êy ejϕy Êy ejδ
Unter Benutzung der Eulerschen Formel erhalten wir:
Êy ejδ = Êy (cos δ + j sin δ) = Êyr + j Êyi

Für diesen allgemeinen Fall erhält man für die Feldamplitude

ˆ Êx
E =
Êyr + j Êyi

und mit Ê = Êx2 + Êy2 für den Jones-Vektor aus (14.7)
Jones-Vektor für

elliptische Polarisation, 1 Êx
J = (14.19)
Ellipsenlage beliebig Ê Êyr + j Êyi
wobei eines der Elemente nun eine komplexe Zahl ist, die Real- und Imaginärteil
aufweist. Dies ist die allgemeinste Form des Jones-Vektors, die alle vorher dis-
kutierten Fälle enthält. Die Polarisationsellipse“ verläuft innerhalb eines Recht-
”
eckes mit den Seiten 2Êx und 2Êy . Aus (14.19) ergibt sich:

2 + Ê 2 Ê yi
Êy = Êyr yi und δ = arctan (14.20)
Êyr
Man kann zeigen, dass die Hauptachse a der Polarisationsellipse, deren Jones-
Vektor durch (14.19) gegeben ist, relativ zur x-Achse um den Winkel α geneigt
ist, wie das in Abb. 14.7 gezeigt wird. Den Neigungswinkel α erhält man aus:
Ê
2Êx Êy cos δ 2 Êy
2 cos δ
x
tan 2α = = (14.21)
Êx2 − Êy2 1 − Ê
Êy
x
Die Elliptizität der Polarisationsellipse kann man entweder durch das Verhältnis
der Halbachsen b/a oder über tan ε = b/a durch den Winkel ε, der der kleinen
Halbachse b gegenüberliegt, beschreiben (s. Abb. 14.7). Der Elliptizitätswinkel ε
ergibt sich aus:
Ê
2Êx Êy sin δ 2 Êy
2 sin δ
x
sin 2ε = = (14.22)
Êx2 + Êy2 1 + Ê
Êy
x
Beispiel 14.1 Jones-Vektor für elliptisch polarisiertes Licht,

Polarisationsellipse
Zeigen Sie, dass der Jones-Vektor

1 3
√
14 2+j
elliptisch polarisiertes Licht darstellt.
Lösung
Die Phasendifferenz der Einzelschwingungen ist √
δ = ϕy −√ϕx = arctan(
√
Êyi /Êyr ) = 26,6◦ . Da Êx /Ê = 3/ 14 und
2 +12
Êy /Ê = 2√14 5
= √14 ist, erhält man den Neigungswinkel zu
Ê √
1 2 Êy 1 2 35 cos 26,6◦ ◦
2 cos δ = arctan √ 2 = 35,8
x
α = arctan
2 Êy 2
1 − Ê 1− 3 5
x
Mit diesen Werten kann man die Ellipse, wie in Abb. 14.7 gezeigt,
skizzieren. Genauere Werte liefert die Gleichung der Ellipse:
2
2

Ex Ey Ex Ey
+ −2 cos δ = sin2 δ (14.23)
Êx Êy Êx Êy
Für dieses Beispiel erhält man als Gleichung der Ellipse
2 2
Ex Ey Ex Ey
1,55 + 2,8 − 3,74 = 0,2
Ê Ê Ê 2
Tabelle 14.1 gibt einen Überblick über die Jones-Vektoren in normierter Form.
Wenn man in der Literatur andere, nicht normierte oder dimensionsbehaftetete
Jones-Vektoren vorfindet,

kann
man den Polarisationszustand trotzdem ermit-
2 1
teln. Ein Vektor =2
stellt linear polarisiertes Licht dar, das unter
2 1
einem Winkel von 45◦ zur x-Achse geneigt ist. Multiplikation des Jones-Vektors
mit einer Konstanten ändert die Amplitude des E-Feldes, aber nicht den Pola-
risationszustand. Die Multiplikation mit einem Faktor ejΦ verschiebt die Phase
jedes Elementes um Φ, so dass ϕx → ϕx + Φ und ϕy → ϕy + Φ gilt. Da die
Phasendifferenz δ bei diesem Verfahren nicht verändert wird, stellen die neuen
Vektoren den gleichen Polarisationszustand wie vorher dar. Deshalb ergibt z.B.
die Multiplikation des Vektors, der linkszirkular polarisiertes Licht darstellt (s.
Tab. 14.1), mit dem Faktor ejπ/2 = j:

1 1 1 j
j√ =√
2 −j 2 1
eine weitere Form dieses Vektors.
Die Jones-Vektoren werden hier für positives Vorzeichen von ωt in (14.2) und
(14.3) angegeben. Ein negatives Vorzeichen von ωt in der Phase kz − ωt + ϕ, wie
z.T. in anderen Büchern gewählt, bedeutet die Vertauschung des Umlaufsinnes
für elliptisch oder zirkular polarisiertes Licht bei gleichen Jones-Vektoren.
In Tabelle 14.1 sind außerdem die normierten Stokes-Vektoren für ausgewählte

Fälle angegeben.
Die Stokes-Vektoren sind komplizierter zu handhaben, haben aber den Vorteil,
dass man auch teilweise (partiell) polarisiertes Licht beschreiben, und den Pola-
risationsgrad von Licht angeben kann. Die Tabelle 14.2 beschreibt die normierten
Stokes-Parameter S0 , S1 , S2 und S3 , die die Komponenten des normierten Stokes-
Vektors sind. Aus den Stokes-Parametern lässt sich der Polarisationszustand des
Lichtes nicht immer einfach ablesen. Die Tabelle 14.2 zeigt, dass die elektrischen
Feldamplituden Êx und Êy nie isoliert, wie bei den Jones-Vektoren, sondern
immer nur gemeinsam – z.T. auch mit Winkelfunktionen in den Parametern –
auftreten.
SN ist der auf S0 normierte Stokes-Vektor, d.h. die Komponenten sind durch
den zur Intensität proportionalen Stokes-Parameter S0 dividiert.
⎛ ⎞
S0
⎜ ⎟
1 ⎜
⎜ S1 ⎟⎟
normierter Stokes-Vektor SN = (14.24)
S0 ⎜
⎝ S2 ⎠
⎟
S3
Im Folgenden werden wir ausschließlich normierte Stokes-Vektoren benutzen und

deshalb den Zusatz normiert“ bzw. den Index N“ weglassen.
” ”
Für den Polarisationsgrad Π von teilpolarisiertem Licht gilt mit Ipola und
Iunpola für die Intensitäten des polarisierten bzw. unpolarisierten Lichtanteils:
Ipola
Π= (14.25)
Ipola + Iunpola
Aus dem gemessenen Stokes-Vektor lässt sich der Polarisationsgrad wie folgt
berechnen:

1
Polarisationsgrad Π= S12 + S22 + S32 (14.26)
S0
Π = 1 bedeutet, dass das Licht vollständig polarisiert ist, Π < 1 zeigt an, dass
teilweise (partielle) Polarisation vorliegt.
und Stokes(S)-Vektoren
Tabelle 14.1. Jones(J)- für ausgewählte Polarisa-
tionszustände
I. lineare Polarisation
⎛ ⎞
⎜ cos ϑ ⎟
allgemein: J = ⎜
⎝
⎟
⎠
sin ϑ
⎛ ⎞
⎛ ⎞ ⎜ 1 ⎟
⎜ ⎟
⎜ ⎟
⎜ 0 ⎟ ⎜ ⎟
⎜ −1 ⎟
vertikal: Jv = ⎜
⎝
⎟
⎠
v = ⎜
S ⎟
⎜ ⎟
⎜ 0 ⎟
1 ⎜ ⎟
⎝ ⎠
0
⎛ ⎞
⎛ ⎞ ⎜ 1 ⎟
⎜ ⎟
⎜ ⎟
⎜ 1 ⎟ ⎜ ⎟
⎜ 1 ⎟
horizontal: Jh = ⎜
⎝
⎟
⎠
h = ⎜
S ⎟
⎜ ⎟
⎜ 0 ⎟
0 ⎜ ⎟
⎝ ⎠
0
⎛ ⎞
⎛ ⎞ ⎜ 1 ⎟
⎜ ⎟
⎜ ⎟
⎜ 1 ⎟ ⎜ ⎟
⎜ ⎟ ⎜ 0 ⎟
bei +45◦ : J45◦ = √1
⎝ ⎠
45◦
S =⎜ ⎟
2 ⎜ ⎟
⎜ 1 ⎟
1 ⎜ ⎟
⎝ ⎠
0
⎛ ⎞
⎛ ⎞ ⎜ 1 ⎟
⎜ ⎟
⎜ ⎟
⎜ 1 ⎟ ⎜ ⎟
⎜ ⎟ S ⎜ 0 ⎟
bei −45◦ : J−45◦ = 1
√
⎝ ⎠
−45◦ =⎜ ⎟
2 ⎜ ⎟
−1 ⎜ −1 ⎟
⎜ ⎟
⎝ ⎠
0
II. Zirkulare Polarisation

⎛ ⎞
⎛ ⎞ ⎜ 1 ⎟
⎜ ⎟
⎜ ⎟
⎜ 1 ⎟ ⎜ ⎟
⎜ ⎟ ⎜ 0 ⎟
links δ = − π2 : Jlz = 1
√
⎝ ⎠
lz
S =⎜ ⎟
2 ⎜ ⎟
−j ⎜ 0 ⎟
⎜ ⎟
⎝ ⎠
−1
⎛ ⎞
⎛ ⎞ ⎜ 1 ⎟
⎜ ⎟
⎜ ⎟
⎜ 1 ⎟ ⎜ ⎟
⎜ ⎟ ⎜ 0 ⎟
rechts δ = + π2 : Jrz = 1
√
⎝ ⎠
rz
S =⎜ ⎟
2 ⎜ ⎟
⎜ 0 ⎟
j ⎜ ⎟
⎝ ⎠
1
III. Elliptische Polarisation

⎛ ⎞
⎜ Êx ⎟
links δ = − π2 : Jle = 1 ⎜ ⎟
2 +Ê 2
Êx y
⎝ ⎠
−jÊy
⎛ ⎞
⎜ Êx ⎟
rechts δ = π
: Jre = 1 ⎜ ⎟
2 2 +Ê 2
Êx y
⎝ ⎠
jÊy
⎛ ⎞
⎜ Êx ⎟
links Êyi < 0 : Je = 1 ⎜ ⎟
2 +Ê 2 +Ê 2
Êx yi yr
⎝ ⎠
Êyr + jÊyi

rechts Êyi > 0 :
Tabelle 14.2. Normierte Stokes-Parameter
Normierte Stokes Beziehung zur Berechnung aus Bedeutung (Messung)

Parameter Polarisationsellipse elektrischen
(vollständig Feldamplituden
polarisierte
Strahlung)
S0 Êx2 + Êy2
=1 = S0 ist proportional
S0 Êx2 + Êy2 zur Intensität
S1 Êx2 − Êy2
= cos 2ε · cos 2α = normierte Differenz
S0 Êx2 + Êy2 der Strahlungsflüsse,
die von einem
linearen Polarisator
in horizontaler bzw.
vertikaler Stellung
durchgelassen werden
S2 2Êx Êy cos δ
= cos 2ε · sin 2α = normierte Differenz
die von einem
linearen Polarisator
in der Stellung +45◦
bzw. -45◦
S3 2Êx Êy sin δ
= sin 2ε = normierte Differenz
die von einem rechts-
oder links-zirkularen
Polarisator
Beispiel 14.2 Stokes-Vektoren für verschiedene Polarisationen

⎛ ⎞
1
⎜ ⎟
⎜ 1 ⎟
h = ⎜ ⎟
S horizontal vollständig linear polarisiertes Licht
⎜ ⎟
⎝ 0 ⎠
0
⎛ ⎞
1
⎜ ⎟
⎜ ⎟
v,teilpola = ⎜ −0,9 ⎟
S vertikal teilweise linear polarisiertes Licht
⎜ ⎟
⎝ 0 ⎠
0
⎛ ⎞
1
⎜ ⎟
⎜ 0,8 ⎟
e = ⎜
S ⎟ rechtselliptisch vollständig polarisiertes Licht
⎜ ⎟
⎝ 0 ⎠
0,6
⎛ ⎞
1
⎜ ⎟
⎜ 0 ⎟
Sunpola = ⎜

⎜ ⎟
⎟ unpolarisiertes Licht
⎝ 0 ⎠
0
Weitere Beispiele für Stokes-Vektoren sind in Tab. 14.1 gegeben.
Zur Beschreibung des Polarisationszustandes kann man auch die Poincaré-

Kugel benutzen. Hierbei werden die Stokes-Parameter S1 , S2 , S3 als kartesische
Koordinaten eines Punktes auf einer Kugel mit dem Radius S0 betrachtet. Den
Winkel 2α benutzt man wie eine geographische Länge“, den Winkel 2ε wie eine
”
geographische Breite“. Rechtselliptisch polarisiertes Licht (S3 > 0) wird durch
”
Punkte auf der oberen Halbkugel dargestellt, rechtszirkular polarisiertes Licht
(S3 = 1) ist durch den Nordpol“ der Kugel gegeben. Linear polarisiertes Licht
”
(S3 = 0) wird durch Punkte in der Äquatorebene dargestellt. Für die untere
Halbkugel ergeben sich die entsprechenden linkselliptischen oder linkszirkularen
Zustände.
Als Nächstes wollen wir die Überlagerung von mehreren Polarisationszustän-
den berechnen. Die Addition von links- und rechtszirkular polarisiertem Licht
gibt z.B.:

1 1 1 1 1 1+1 2 1
√ +√ =√ =√
2 −j 2 j 2 −j + j 2 0
Dies ist linear polarisiertes Licht der doppelten Amplitude.

Wir schließen daraus, dass linear polarisiertes Licht als eine Superposition von
gleichen Anteilen links- und rechtszirkular polarisierten Lichtes betrachtet werden
kann. In einem weiteren Beispiel betrachten wir die Überlagerung von vertikal
und horizontal polarisiertem Licht, das in Phase ist:

0 1 √ 1 1
+ = 2√
1 0 2 1
√
Als Ergebnis erhalten wir linear polarisiertes Licht der 2-fachen Amplitude mit
einem Neigungswinkel von 45◦ relativ zur x-Achse. Wir sehen, dass die Addition
von orthogonalen Komponenten linear polarisierten Lichtes kein unpolarisiertes
Licht ergibt. Unpolarisiertes Licht erhält man, wenn bei Überlagerung der Êx -
und Êy -Amplituden Êx = Êy gilt und die Nullphasen ϕx und ϕy zeitlich sta-
tistisch schwanken. Die Wellen sind dann inkohärent. Mit Jones-Vektoren kann
man kein unpolarisiertes oder partiell polarisiertes Licht darstellen.
14.2 Matrizendarstellung von Polarisatoren

Optische Elemente, die Licht transmittieren und dabei den Polarisationszustand
ändern, nennt man Polarisatoren. Die physikalischen Grundlagen der Polarisato-
ren werden im nächsten Kapitel diskutiert. Hier werden nur die drei grundsätz-
lichen Typen von Polarisatoren vorgestellt.
Abb. 14.8. Wirkung eines Linearpolarisators auf unpolarisiertes Licht

14.2 Matrizendarstellung von Polarisatoren 407
Linearpolarisator

Dieses linear polarisierende Element unterdrückt im Idealfall alle E-Schwin-
gungen in einer gegebenen Richtung und lässt Schwingungen in der dazu senk-
rechten Richtung durch. Meistens ist die Selektivität nicht vollständig (<100%),
so dass das transmittierte Licht partiell polarisiert ist. Abbildung 14.8 zeigt den
prinzipiellen Vorgang für den idealen Polarisator. Unpolarisiertes Licht, das sich
in +z-Richtung ausbreitet, durchläuft einen ebenen Polarisator, dessen Transmis-
sionsachse (TA) senkrecht steht. Unpolarisiertes Licht wird durch zwei zueinander
senkrechte x- und y-Schwingungen dargestellt, da jede Schwingungsrichtung in
Komponenten entlang den Achsen zerlegt werden kann. Das durchgelassene Licht
enthält nur Komponenten entlang der TA-Richtung und ist deshalb vertikal in
y-Richtung polarisiert. Die horizontalen Komponenten des Ursprungslichtes sind
herausgefiltert worden. In Abb. 14.8 soll dieser Prozess zu 100% wirksam sein.
Phasenverzögerer (Verzögerungsplatte)
Der Phasenverzögerer unterdrückt weder die E y -Welle. Er bewirkt

x - noch die E
eine Phasendifferenz zwischen ihnen. Licht, das eine Verzögerungsplatte mit ver-
schiedener Geschwindigkeit für die senkrecht zueinander polarisierten Komponen-
ten durchläuft, hat deshalb nach dem Durchgang eine Phasendifferenz δ zwischen
beiden Wellen. Abbildung 14.9 zeigt die prinzipielle Auswirkung einer Verzöge-
rungsplatte auf vertikal oder horizontal polarisiertes Licht, wobei die horizontale
Komponente die Platte langsamer durchläuft als die vertikale Komponente, da
die langsame“ Achse (Schwingungsrichtung mit kleinerer Phasengeschwindig-
”
keit) horizontal steht. Beträgt die Phasendifferenz δ = 90◦ , so nennt man diese
Verzögerungsplatte eine Viertelwellenplatte (λ/4-Platte), wenn die Phasendiffe-
renz δ = 180◦ beträgt, bezeichnet man sie als Halbwellenplatte(λ/2-Platte).
Polarisationsdreher
Ein Polarisationsdreher dreht die Schwingungsrichtung linear polarisierten Lich-
tes um einen definierten Winkel, ohne hierbei die Intensität abhängig vom Dreh-
winkel zu ändern. Linearpolarisatoren drehen ebenfalls die Schwingungsebene des
Lichtes, allerdings ändert sich die durchgelassene Intensität mit dem Drehwinkel
(s. Kap. 15). In Abb. 14.10 ist vertikal linear polarisiertes Licht gezeigt, das auf
den Polarisationsdreher einfällt. Dieser dreht die Schwingungsrichtung in diesem
Fall um den Winkel β.
Jones-Matrizen der Polarisatoren

Wir leiten nun den Satz von Matrizen ab, der die drei vorher genannten Typen
von Polarisatoren darstellt. Genauso wie ein optisches Element den Polarisations-
zustand eines Lichtstrahles ändert, wird die entsprechende Matrix so auf einen
Abb. 14.9. a) Wirkung einer Verzögerungsplatte. LA zeigt die Richtung der lang-
”
samen“ Achse (kleinere Phasengeschwindigkeit = kleinere Wellenlänge im Material)
und SA die Richtung der schnellen“ Achse (größere Phasengeschwindigkeit = größere
”
Wellenlänge im Material) im anisotropen Material der Platte. b) Aufsicht der Verzöge-
rungsplatte, Momentaufnahme der Wellenfronten. Für eine übersichtlichere Darstellung
sind die langsame“ und die schnelle“ Komponente in der Platte je zur Hälfte gezeich-
” ”
net. Für die Phasendifferenz gilt: δ = 2π∆/λ0
Abb. 14.10. Polarisationsdreher

Jones-Vektor wirken, dass wir mathematisch das gleiche Resultat wie im Ex-
periment erhalten. Wir betrachten zunächst einen linearen Polarisator, dessen
Durchlassachse vertikal ist (s. Abb. 14.8). Der Polarisator ist durch eine 2 × 2
Matrix dargestellt, die hier auf vertikal (y-Richtung) polarisiertes Licht wirkt.
Die Elemente der Matrix bezeichnen wir mit den Buchstaben a, b, c und d. Das
durchgelassene resultierende Licht ist für diesen Fall wieder vertikal linear pola-
risiert. Symbolisch:

a b 0 0
=
c d 1 1
Diese Matrixgleichung entspricht den folgenden algebraischen Gleichungen

a·0+b·1= 0
c·0+d·1= 1
aus denen wir b = 0 und d = 1 erhalten.

Um die Elemente a und c zu bestimmen, lassen wir den gleichen Polarisator
auf horizontal polarisiertes Licht wirken. In diesem Fall wird kein Licht durchge-
lassen oder:

a b 1 0
=
c d 0 0
Die entsprechenden algebraischen Gleichungen lauten jetzt

a·1+b·0= 0
c·1+d·0= 0
Aus ihnen erhalten wir a = 0 und c = 0. Wir schließen hieraus, dass die entspre-
chende Matrix einen linearen Polarisator beschreibt:
linearer Polarisator, vertikale Transmissionsachse ( 90◦ relativ zur x-Achse)

0 0
M= (14.27)
0 1
Die Matrix für einen Linearpolarisator, dessen Durchgangsachse horizontal in

x-Richtung steht, kann auf ähnliche Weise erhalten werden. In Tabelle 14.3 am
Ende dieses Kapitels ist diese Matrix ebenfalls angegeben. Als Nächstes nehmen
wir an, dass die Transmissionsachse des Linearpolarisators unter einem Winkel
von 45◦ zur x-Achse geneigt ist. Um die weitere Betrachtung zu vereinfachen,
lassen wir linear polarisiertes Licht mit der Schwingungsrichtung in Richtung
oder senkrecht zur Transmissionsachse auf den Polarisator einfallen. Aus dem
Vorhergehenden ergibt sich

a b 1 1 a b 1 0
= und =
c d 1 1 c d −1 0
oder a + b = 1 , c + d = 1 , a − b = 0 , c − d = 0 woraus a = b = c = d = 1/2
folgt. Damit ergibt sich die entsprechende Matrix:
Linearpolarisator, Transmissionsachse unter dem Winkel +45◦ relativ zur
x-Achse

1 1 1
M= (14.28)
2 1 1
In gleicher Weise erhält man eine allgemeine Matrix, die einen Linearpolarisator
mit einer Durchlassachse unter dem Winkel θ relativ zur x-Achse darstellt. Die
Ableitung kann man als Übung selbst durchführen. Das Ergebnis ist
Linearpolarisator, Transmissionsachse unter dem Winkel θ relativ zur
x-Achse

cos2 θ sin θ cos θ
M= (14.29)
sin θ cos θ sin2 θ
was (14.27) und (14.28) als Spezialfälle mit θ = 90◦ und θ = 45◦ enthält.
Wir wenden uns jetzt den Phasenverzögerern zu und suchen eine Matrix, die
die Elemente
Êx ejϕx in Êx ej(ϕx +Φx )
und
Êy ejϕy in Êy ej(ϕy +Φy )
überführt.
Die benötigte Matrixgleichung lautet dann:

ejΦx 0 Êx ejϕx Êx ej(ϕx +Φx )
=
0 ejΦy Êy ejϕy Êy ej(ϕy +Φy )
Daraus ergibt sich die allgemeine Form eines Phasenverzögerers:

ejΦx 0
Phasenverzögerer M= (14.30)
0 ejΦy
wobei Φx und Φy die Voreilung der Phase der E x - und E y -Komponenten des
einfallenden Lichtes nach Durchgang durch den Phasenverzögerer darstellen.
Natürlich können Φx und Φy negative Größen sein. Als Spezialfall betrachten
wir die Viertelwellenplatte (VWP), für die δ = ϕy − ϕx + Φy − Φx = ±π/2 ist.
Wir unterscheiden die Fälle, für die δ = +π/2 (SA vertikal) und δ = −π/2 (SA
horizontal).
Wir setzen im 1. Fall Φx = 0 und Φy = +π/2 und ϕy = ϕy = 0, so dass
δ = +π/2. Es ist offensichtlich, dass es noch andere äquivalente Formen der Jones-
Matrizen geben kann, genauso wie bei den Jones-Vektoren. Diese spezielle Wahl
liefert jedoch eine verbreitete Form der Matrix, die sich symmetrisch darstellt:

Viertelwellenplatte, e0 0 1 0
schnelle Achse vertikal M= = (14.31)
0 ejπ/2 0 j
In ähnlicher Weise erhalten wir für den 2. Fall mit δ = −π/2

Viertelwellenplatte, 1 0
schnelle Achse horizontal M= (14.32)
0 −j
Die entsprechenden Matrizen für Halbwellenplatten (HWP), bei denen δ = ±π

ist, sind
Halbwellenplatten:

e0 0 1 0
schnelle Achse vertikal M= = (14.33)
0 e jπ
0 −1

e0 0 1 0
schnelle Achse horizontal M= = (14.34)
0 e−jπ 0 −1
Die Elemente der Matrizen sind in beiden Fällen gleich, da die Voreilung (δ = +π)
der Phase physikalisch äquivalent zur Nacheilung (δ = −π) ist. Der Unterschied
besteht nur in den Vorfaktoren, die die Phasen aller Elemente des Jones-Vektors
in der gleichen Weise ändern und deshalb keinen Einfluss auf den Polarisations-
zustand des Ergebnisses haben.

Ein Polarisationsdreher um den Winkel β muss einen E-Vektor, der linear
unter einem Winkel ϑ schwingt, in einen Vektor transformieren, der unter dem
Winkel (ϑ+β) schwingt. Deshalb müssen die Matrixelemente folgender Gleichung
genügen:

a b cos ϑ cos(ϑ + β)
=
c d sin ϑ sin(ϑ + β)
oder
a cos ϑ + b sin ϑ = cos(ϑ + β) und c cos ϑ + d sin ϑ = sin(ϑ + β)

Die trigonometrischen Gleichungen für die Summe zweier Winkel lauten
cos(ϑ + β) = cos ϑ cos β − sin ϑ sin β

sin(ϑ + β) = sin ϑ cos β + cos ϑ sin β
so dass
a = cos β, c = sin β, b = − sin β, d = cos β

und man folgende Matrix erhält:

Polarisationsdreher, cos β − sin β
Rotation um Winkel β M= (14.35)
sin β cos β
Die in diesem Kapitel abgeleiteten Jones-Matrizen sowie die Müller-Matrizen sind

in den Tabellen 14.3 und 14.4 zusammengefasst. Die Müller-Matrizen beschreiben
die Polarisatoren für die Anwendung auf den Stokes-Vektor.
Als wichtige Anwendung werden wir die Erzeugung zirkular polarisierten
Lichtes mit der Kombination eines Linearpolarisators und einer Viertelwellen-
verzögerungsplatte (VWP) diskutieren, wie in Abb. 14.11 dargestellt. Der Linear-
polarisator (LP) erzeugt Licht, das unter einem Winkel von 45◦ schwingt und auf
eine VWP fällt. Bei dieser Anordnung wird das Licht, das auf die VWP einfällt,
mit gleicher Amplitude auf die schnelle und langsame Achse aufgeteilt. Nach dem
Durchgang bewirkt die erzeugte Phasendifferenz von 90◦ die Erzeugung von zir-
kular polarisiertem Licht. Im Rahmen des Jones-Formalismus ist die Wirkung
der VWP-Matrix auf einen Jones-Vektor für linear polarisiertes Licht:
Tabelle 14.3. Jones-Matrizen
I. Linearpolarisatoren
⎛ ⎞ ⎛ ⎞
⎜ 1 0 ⎟ ⎜ 0 0 ⎟
horizontale TA: ⎜
⎝
⎟
⎠ vertikale TA: ⎜
⎝
⎟
⎠
0 0 ⎛ ⎞ 0 1 ⎛ ⎞
⎜ 1 1 ⎟ ⎜ 1 −1 ⎟
TA 45◦ zur Horizontalen: 1 ⎜ ⎟ TA −45◦ zur Horizontalen: 1 ⎜ ⎟
2 ⎝ ⎠ 2 ⎝ ⎠
1 1 −1 1
II. Phasenverzögerer ⎛ ⎞
⎜ ejΦx 0 ⎟
allgemein: ⎜
⎝
⎟
⎠
0 ejΦy
⎛ ⎞Viertelwellenplatte ⎛ ⎞
⎜ 1 0 ⎟ ⎜ 1 0 ⎟
schnelle Achse vertikal: ⎜
⎝
⎟
⎠ schnelle Achse horizontal: ⎜
⎝
⎟
⎠
0 j 0 −j
⎛ Halbwellenplatte
⎞ ⎛ ⎞
⎜ 1 0 ⎟ ⎜ 1 0 ⎟
schnelle Achse vertikal: ⎜
⎝
⎟
⎠ schnelle Achse horizontal: ⎜
⎝
⎟
⎠
0 −1 0 −1
III. Polarisationsdreher ⎛ ⎞
⎜ cos β − sin β ⎟
Polarisationsdreher (ϑ → ϑ + β): ⎜
⎝
⎟
⎠
sin β cos β

1 0 1 1 1 1
√ =√
0 j 2 1 2 j
Man erhält also rechtszirkulares Licht. Vertauscht man schnelle und langsame
Achse der VWP, so ergibt eine gleichartige Berechnung, dass man linkszirkular
polarisiertes Licht erhält.
Tabelle 14.4. Müller-Matrizen
I. Linearpolarisatoren
⎛ ⎞ ⎛ ⎞
1 1 0 0 1 −1 0 0
⎜ ⎟ ⎜ ⎟
⎜ ⎟ ⎜ ⎟
1⎜ 1 1 0 0 ⎟ 1 ⎜ −1 1 0 0 ⎟
horizontale TA: ⎜ ⎟ vertikale TA: ⎜ ⎟
2⎜ 0 0 0 0 ⎟ 2⎜ 0 0 0 0 ⎟
⎝ ⎠ ⎝ ⎠
0 0 0 0 ⎛ ⎞ 0 0 0 0
1 0 1 0
⎜ ⎟
⎜ ⎟
1⎜ 0 0 0 0 ⎟
TA 45◦ relativ zur Horizontalen: ⎜ ⎟
2⎜ 1 0 1 0 ⎟
⎝ ⎠
⎛ 0 0 0 0 ⎞
1 0 −1 0
⎜ ⎟
⎜ ⎟
◦ 1⎜ 0 0 0 0 ⎟
TA −45 relativ zur Horizontalen: ⎜ ⎟
2 ⎜ −1 0 1 0 ⎟
⎝ ⎠
0 0 0 0
II. Phasenverzögerer ⎛ ⎞
1 0 0 0
⎜ ⎟
⎜ ⎟
⎜ 0 1 0 0 ⎟
Viertelwellenplatte, schnelle Achse vertikal: ⎜ ⎟
⎜ 0 0 0 −1 ⎟
⎝ ⎠
⎛ 0 0 1 0 ⎞
1 0 0 0
⎜ ⎟
⎜ ⎟
⎜ 0 1 0 0 ⎟
Viertelwellenplatte, schnelle Achse horizontal: ⎜ ⎟
⎜ 0 0 0 1 ⎟
⎝ ⎠
⎛ 0 0 −1 0 ⎞
1 0 0 0
⎜ ⎟
⎜ ⎟
⎜ 0 1 0 0 ⎟
Halbwellenplatte, schnelle Achse vertikal oder horizontal: ⎜ ⎟
⎜ 0 0 −1 0 ⎟
⎝ ⎠
0 0 0 −1
Abb. 14.11. Erzeugung von rechtszirkular polarisiertem Licht: Zirkularpolarisator

(VWP = Viertelwellenplatte, LP = Linearpolarisator, LA = langsame Achse, SA =
schnelle Achse, TA = Transmissionsachse)
Beispiel 14.3 Linkszirkular polarisiertes Licht durchläuft Achtel-

wellenplatte
Untersuchen Sie den Polarisationszustand linkszirkular polarisierten Lichtes
nach Durchgang durch eine Achtelwellenplatte!
Lösung
Zunächst benötigen wir eine Matrix, die die Achtelwellenplatte darstellt.
Dies ist ein Phasenverzögerer, der eine Phasendifferenz von δ = 2π/8 = π/4
oder 45◦ erzeugt. Wir setzen Φx = 0 und Φy = +π/4 und erhalten aus
(14.30):

ejΦx 0 1 0
M= =
0 ejΦy 0 ejπ/4
Diese Matrix lassen wir nun auf einen Jones-Vektor für linkszirkular polari-
siertes Licht wirken:

1 0 1 1 1 1 1 1
√ =√ =√
0 ejπ/4 2 −j 2 −j ejπ/4 2 e−jπ/4
Der resultierende Jones-Vektor zeigt, dass das Licht elliptisch polarisiert ist,
wobei die Komponenten eine Phasendifferenz von δ = −45◦ aufweisen.
Benutzen wir die Eulersche Formel, entwickeln e−jπ/4 :
1 1 −1
√ e−jπ/4 = √ + j √
2 4 4
und erhalten:
⎛ ⎞
√1
⎝ 2 ⎠
√1 −1
4
+ j√ 4
Durch Vergleich mit dem Jones-Vektor (14.19) für elliptisch polarisiertes Licht

1 Êx Êx 1 Êyr 1 Êyi 1
Je = folgt =√ , =√ , = −√
Ê Êyr + j Êyi Ê 2 Ê 4 Ê 4
und:
"
#
2
2
Êy 1 #$ Êyr Êyi 1
=√ + =√
Ê 4 Ê Ê 2
Aus (14.20) und (14.21) bestimmen wir α = 45◦ .

Wenn Licht, das durch den Jones-Vektor J dargestellt wird, der Reihe nach die Po-
larisatoren dargestellt durch die Matrizen M1 , M2 , M3 , . . ., Mm , durchläuft, erhält
man (Mm . . . M3 M2 M1 )J = MS J mit der Systemmatrix MS = Mm . . . M3 M2 M1 .
Entsprechendes gilt für den Stokes-Vektor und die Müller-Systemmatrix.
Übungen
14.1 Gegeben ist ein linearer Polarisator, dessen Transmissionsachse unter einem belie-
bigen Winkel θ zur Horizontalen steht. Bestimmen Sie die zugehörige Jones-Matrix.
14.2 Bestimmen Sie die normierten Jones-Vektoren für jede der folgenden Wellen und
ermitteln Sie den Polarisationszustand jeder Welle.
= Êxex cos(ωt − kz) + Êy ey cos(ωt − kz)
a) E ( ) ( )
= Êxex sin 2π f t − z + Êy ey sin 2π f t − z
b) E λ λ

c) = Êxex sin(ωt − kz) + Êy ey sin ωt − kz − π
E
4
d) = Êxex cos(ωt − kz) + Êy ey cos ωt − kz + π
E 2
14.3 Beschreiben Sie so vollständig wie möglich den Polarisationszustand jeder der fol-
genden Wellen und ermitteln Sie Amplitude und Richtung der Wellenausbreitung.
= 2Ê ej(ωt−kz)ex
a) E
= Ê ej(ωt−kz) (3ex + 4ey )
b) E
= Ê ej(ωt+kz) (ex − j ey )
c) E
14.4 Zwei linear polarisierte Wellen sind durch die folgenden
√ Formeln gegeben:

E1 = Ê1 (ex − ey ) cos(ωt − kz) und E2 = Ê2 3ex + ey cos(ωt − kz)
Bestimmen Sie den Winkel zwischen den Polarisationsebenen der Wellen:

a) aus den Jones-Vektoren und der Schwingungsrichtung und
b) aus dem Skalarprodukt der vektoriellen Feldamplituden.
14.5 Linear polarisiertes Licht wird nacheinander auf verschiedene polarisierende Ele-
mente geschickt. Bestimmen Sie den Polarisationszustand des Lichtes nach Durch-
gang durch:
a) eine Halbwellenplatte mit der langsamen Achse unter 45◦ ,
b) einen Linearpolarisator mit der Transmissionsachse unter 45◦ ,
c) eine Viertelwellenplatte mit horizontaler langsamer Achse.
Benutzen Sie die Matrixmethode und analysieren Sie den Jones-Vektor nach Durch-
gang durch alle Komponenten, um das erzeugte Licht zu charakterisieren.
Hinweis: Bestimmen Sie zunächst die Wirkung der (HWP) Halbwellenplatte auf
das einfallende Licht.
14.6 Schreiben Sie die Gleichungen für die elektrischen Felder folgender Wellen in Ex-
ponentialform:
a) Eine linear polarisierte Welle, die sich in x-Richtung ausbreitet. Der E-Vektor
steht unter einem Winkel von 30◦ relativ zur y-Achse.
b) Eine rechts-elliptisch polarisierte Welle breitet sich in y-Richtung aus. Die
Hauptachse der Ellipse ist in z-Richtung und doppelt so lang wie die Neben-
achse.
c) Eine linear polarisierte Welle breitet sich in der x-y-Ebene unter einem Winkel
von 45◦ relativ zur x-Achse aus. Die Polarisationsrichtung ist in z-Richtung.
14.7 Bestimmen Sie die Form der Komponenten des allgemeinen Jones-Vektors (14.19)
für folgende Spezialfälle:
a) linear polarisiertes Licht,
b) elliptisch polarisiertes Licht mit der Hauptachse entlang einer Koordinaten-
achse,
c) zirkular polarisiertes Licht.
Leiten Sie für jeden der Fälle aus Êx /Ê, Êyr /Ê und Êyi /Ê die Phasendifferenz
zwischen den Schwingungskomponenten ab.
14.8 Zeichnen Sie mit Hilfe von (14.23) die Ellipse für den im Beispiel 14.1 gegebenen
Jones-Vektor: ⎛ ⎞
1 3 ⎠
√ ⎝
14 2+j
14.9 Bestimmen Sie den Polarisationszustand für jeden der folgenden Polarisations-
⎛ ⎞
Vektoren: ⎛ ⎞ ⎛ ⎞ ⎛ ⎞ ⎛ ⎞ ⎛ ⎞ ⎛ ⎞
3j j 4j 5 2 2 2
a) ⎝ ⎠ b) ⎝ ⎠ c) ⎝ ⎠ d) ⎝ ⎠ e) ⎝ ⎠ f) ⎝ ⎠ g) ⎝ ⎠
j 1 5 0 2j 3 6 + 8j

14.10 Linear polarisiertes Licht, dessen E-Vektor unter +30◦ relativ zur x-Achse steht,
geht durch eine Viertelwellenplatte mit horizontaler langsamer Achse. Bestimmen
Sie den Polarisationszustand des Lichtes nach dem Durchgang durch die Platte.
14.11 Zeigen Sie mit Hilfe der Jones-Vektoren und -Matrizen, dass die Wirkung einer
Halbwellenplatte auf linear polarisiertes Licht unter dem Neigungswinkel ϑ darin
besteht, die Polarisationsebene um den Winkel 2ϑ zu drehen. Die HWP kann auf
diese Weise als Polarisationsdreher benutzt werden, um z.B. die Polarisationsrich-
tung eines Laserstrahles ohne Drehung des Lasers um seine Achse zu verändern.
14.12 Eine wichtige Anwendung der Viertelwellenplatte besteht in ihrem Einsatz als op-
”
tischer Isolator“ bzw. optische Diode“. Um z.B. die Rückkopplung von Reflexionen
”
von Interferometerflächen in den Laser zu verhindern, schickt man den Laserstrahl
zunächst durch eine Kombination von linearem Polarisator und VWP (Viertelwel-
lenplatte), wobei die optische Achse der VWP unter 45◦ zur Transmissionsachse
des Polarisators steht. Überlegen Sie, was mit Licht geschieht, das von einer ebenen
Fläche reflektiert wird und wieder zurück durch diese optische Anordnung läuft.
14.13 Horizontal polarisiertes Licht wird durch einen Linearpolarisator mit der Transmis-
sionsachse unter 45◦ geschickt und geht dann durch eine VWP mit horizontaler
langsamer Achse (LA). Benutzen Sie die Matrixmethode, um das so produzierte
Licht zu beschreiben.
14.14 Ein Lichtstrahl geht hintereinander durch
a) einen Linearpolarisator mit der Transmissionsachse unter 45◦ im Uhrzeigersinn
von der vertikalen aus,
b) eine VWP mit LA vertikal,
c) einen Linearpolarisator mit horizontaler Transmissionsachse,
d) eine HWP mit schneller Achse (SA) horizontal,
e) einen Linearpolarisator mit vertikaler Transmissionsachse.
Welchen Polarisationszustand hat das Licht nach dem vollständigen Durchgang?
14.15 Unpolarisiertes Licht geht durch einen Linearpolarisator, dessen Transmissionsach-
se unter 60◦ gegenüber der Vertikalen steht. Dann verläuft es durch eine VWP mit
LA horizontal und schließlich durch einen anderen Linearpolarisator mit vertikaler
Transmissionsachse. Bestimmen Sie mit Hilfe der Jones-Matrizen den Polarisati-
onszustand des Lichtes nach dem Durchgang durch:
a) die VWP und
b) den letzten Linearpolarisator.
14.16 Bestimmen Sie den Polarisationszustand von zirkular polarisiertem Licht, wenn es
senkrecht durch:
a) eine VWP;
b) eine Achtelwellenlängenplatte verläuft.
Berechnen Sie das Ergebnis mit der Matrixmethode.
⎛ ⎞
1 −j ⎠
14.17 Zeigen Sie, dass die Matrix 12 ⎝ einen rechtszirkularen Polarisator dar-
j 1
stellt, der jedes beliebig polarisierte Licht in rechtszirkular polarisiertes Licht um-
wandelt. Welche Form hat die Matrix, die einen linkszirkularen Polarisator dar-
stellt?
14.18 Zeigen Sie, dass elliptische Polarisation als Überlagerung von zirkularer und linearer
Polarisation betrachtet werden kann.
14.19 Leiten Sie die Gleichung der Ellipse für polarisiertes Licht ab, wie sie in (14.23)
gegeben ist. (Hinweis: Kombinieren Sie die Ex - und Ey -Gleichungen für den all-
gemeinen Fall der elliptischen Polarisation und eliminieren Sie die zeitliche und
räumliche Abhängigkeit zwischen den Gleichungen.)
14.20 a) Bestimmen sie den Polarisationszustand, der zu folgendem Polarisations-Vektor
gehört ⎛ ⎞
⎝ 2 ⎠
jπ/3
3e
und beschreiben Sie den Zustand in der Standardform (normiert) der Tabelle
14.1.
b) Das unter a) beschriebene Licht geht durch ein weiteres Element, das linear
polarisiertes Licht um 30◦ in seiner Schwingungsebene dreht. Bestimmen Sie
die neue normierte Form und erklären das Ergebnis.
14.21 Bestimmen Sie den Polarisationszustand aus Gleichung (14.23) wenn:
a) δ = π/2
b) Êx /Ê = Êy /Ê = 1
c) sowohl a) als auch b) sind gültig
d) δ = 0.
14.22 Eine Viertelwellenplatte wird zwischen gekreuzten Polarisator und Analysator ge-
stellt, wobei θ der Winkel zwischen der Transmissionsachse des Polarisators und der
schnellen Achse der VWP ist. Wie ändert sich das so erzeugte Licht als Funktion
von θ?
15
Erzeugung von polarisiertem Licht
Einleitung
Polarisiertes Licht entsteht bei jeder Wechselwirkung mit Materialien, die senk-
recht zur Ausbreitungsrichtung des Lichtes anisotrope optische Eigenschaften
aufweisen. Hieraus folgt, dass Licht eine Transversalwelle sein muss. In diesem
Kapitel werden die wichtigsten Methoden zur Erzeugung von polarisiertem Licht
behandelt: Dichroismus, Reflexion, Streuung und Doppelbrechung. Außerdem
werden die optische Aktivität von Substanzen sowie die Flüssigkristalle und ihre
Anwendungen bei der Lichtmodulation diskutiert.
15.1 Dichroismus: Polarisation durch selektive Absorption

Ein dichroitischer Polarisator schwächt Licht, dessen E-Vektor parallel zu einer
ausgezeichneten Richtung – der Transmissionsachse (TA) – schwingt, minimal
und Licht mit dazu senkrechter Schwingungsrichtung maximal. Im Idealfall wäre
dann Licht nach Durchgang durch den Polarisator zu 100% in Richtung der TA
polarisiert. Der Polarisationszustand des Lichtes kann am einfachsten durch einen
zweiten dichroitischen Polarisator, der dann als Analysator arbeitet, untersucht
422 15 Erzeugung von polarisiertem Licht
Abb. 15.1. Polarisator-Analysator-Paar aus gekreuzten dichroitischen Polarisatoren.

Der Analysator lässt kein Licht passieren (TA = Transmissionsachse)
werden (s. Abb. 15.1). Sind die TA gekreuzt, also um 90◦ gegeneinander ver-
dreht, so beobachtet man Dunkelheit. Bei Drehung des Analysators registriert
man einen Anstieg der durchgelassenen Intensität mit einem Maximum I0 bei
parallelen TA. Den Zusammenhang zwischen durchgelassener Intensität I und
Winkel θ zwischen den TA gibt das
Malussche Gesetz I = I0 cos2 θ (15.1)
Aus Abb. 15.2 folgt die Begründung des Gesetzes: Die austretende Amplitude ist
durch Ê = Ê0 cos θ gegeben, wegen I ∼ Ê 2 gilt dann (15.1).
Das interessante Verhalten dichroitischer Substanzen kann man wohl am bes-
ten mit Hilfe eines Standardversuchs mit Mikrowellen (s. Abb. 15.3) verstehen.
Hier liegen die Wellenlängen im Bereich von etwa 1 mm bis 10 cm, und die Sen-
der senden bereits polarisierte Wellen aus. Bringt man in den Strahlengang ein
vertikales Drahtgitter, dessen Gitterabstand deutlich kleiner als die Wellenlänge
ist, so beobachtet man, dass vertikal polarisierte Wellen nicht durchgelassen wer-
den, nach Drehung des Gitters um 90◦ wird die Durchlässigkeit hingegen sehr
hoch. Zum Verständnis dieser Beobachtung muss man die Wechselwirkung der
elektromagnetischen Wellen mit den Drähten, die als dichroitische Polarisatoren

arbeiten, analysieren. Stimmt die Richtung des E-Vektors mit der der Drähte
überein, so regt das elektrische Feld der einfallenden Welle in den Drähten un-
gehindert Wechselströme an, die zur Ausbildung von oszillierenden elektrischen
Dipolen und damit Antennen führen. Man kann zeigen, dass einfallende und von
der Antenne abgestrahlte Welle um 180◦ gegeneinander phasenverschoben sind.
Damit tritt in Vorwärtsrichtung Auslöschung auf, während in Rückwärtsrichtung
15.1 Dichroismus: Polarisation durch selektive Absorption 423
Abb. 15.2. Erläuterung des Malusschen Gesetzes. Der Analysator lässt nur die
Feldstärkekomponente Ê0 cos θ durch
Abb. 15.3. Einfluss eines Netzes aus vertikalen Drähten auf eine unpolarisierte Mi-
krowelle. Für Drahtabstände g λ wird die vertikale Komponente des E-Vektors
unterdrückt
eine stehende Welle entsteht. Bei Drehung des Gitters um 90◦ können sich die
Leitungsströme nicht mehr ausbilden und das Gitter wird durchlässig.
Für optische Wellenlängen müssen die leitfähigen Drähte“ wesentlich dichter
”
beieinander liegen, dennoch sind auch für den sichtbaren Spektralbereich Draht-
gitter erhältlich, bei denen dünne Metalldrähte zwischen Glasplatten geklemmt
sind. Gebräuchlicher sind metallbeschichtete Platten mit geeigneten Substraten
(z.B. ZnSe), auf denen die Gitterstruktur fotolithografisch erzeugt wird. Mit Git-
terabständen von ca. 0,3 µm sind diese Polarisatoren für das nahe und mittlere
Infrarot geeignet. Ähnlich arbeiten Polarcor und colorPol-Polarisatoren aus di-

chroitischem Glas. Hier sind in das Glas längliche, parallel orientierte Silberkol-
loide eingelagert, deren Plasmaresonanzen (s. Kap. 27) bei sehr unterschiedlichen
Wellenlängen liegen, so dass extremer Dichroismus auftritt. Bei colorPol wurden
im Labor Durchlässigkeitsverhältnisse1 τmax /τmin von 109 gemesssen. Wesentlich
gebräuchlicher sind dichroitische Polaroid -Folien, die 1928 von dem Studenten
Edwin H. Land erfunden und 1938 (H-Folie) von ihm verbessert wurden. Foli-
en aus durchsichtigem Poly-Vinylalkohol werden erwärmt und gestreckt, so dass
sich die länglichen Kohlenwasserstoffmoleküle in Zugrichtung ausrichten. Das ge-
streckte Material wird anschließend aus einer Farblösung mit Jod dotiert, das
sich an die linearen Moleküle anlagert, Elektronen abgibt und die elektrische
Leitfähigkeit erhöht, so dass die Analogie zum Drahtgitter hergestellt ist. Auch
einige natürlich vorkommende Kristalle, wie Turmalin, sind dichroitisch. Wesent-
liche Voraussetzung ist immer, dass freie Elektronen (→ Leitungsstrom) oder
gebundene Elektronen (→ Verschiebungsstrom) auf eine einfallende Lichtwelle
richtungsabhängig antworten.
In den Kapiteln 20 und 27 wird gezeigt, dass Reflexions- und Absorptions-
vermögen eines Stoffes korreliert sind. Bei sehr stark absorbierenden Materialien
– wie den Metallen (Drahtgitter in vertikaler Richtung) – kann eine Welle kaum
in das Material eindringen; nahezu die gesamte einfallende Energie wird reflek-
tiert. Bei weniger stark absorbierenden Stoffen – wie den Polaroidfolien – wird
die Energie der eindringenden Welle allmählich in Wärme umgewandelt, so dass
Durchlässigkeit und Polarisationsgrad der Polarisatoren dickenabhängig werden.
Der Dichroismus kann dann mit Hilfe des Extinktionsgesetzes (s. Kap. 20) be-
schrieben werden, hiernach ist die von einer Folie der Dicke d durchgelassene
Intensität I:
I = I0 e−Kd (15.2)
I0 ist die einfallende Intensität und K die nunmehr richtungsabhängige Extink-
tionskonstante, für die K K⊥ gelten muss, wobei K die Absorption bei E-
Vektor parallel zur TA beschreibt. Bei einem praxistauglichen Polarisator muss
K möglichst klein und wellenlängenunabhängig sein, damit er transparent er-
scheint und – ohne Farberscheinungen – über einen breiten Spektralbereich ar-
beitet. Für Polymer-Folien trifft dies im blauen (und infraroten) Spektralbereich
weniger gut zu, so dass bei gekreuzten Polarisatoren ein tiefer Blauton verbleibt.
1
häufig Kontrastverhältnis genannt.
15.2 Polarisation bei Reflexion an dielektrischen Oberflächen 425
15.2 Polarisation bei Reflexion an dielektrischen

Oberflächen
An einer Oberfläche spiegelnd reflektiertes Licht ist – außer bei senkrechtem Ein-
fall – zumindest teilweise polarisiert. Dies lässt sich am einfachsten beim Blick
durch ein Polarisationsfilter beobachten, dessen Transmissionsachse man um die
Ausbreitungsrichtung des reflektierten Lichtes dreht. Hierbei stellt man ein Hel-
ligkeitsminimum fest, wenn die TA-Achse in der Ausfallsebene des Lichtes liegt.
Dies wird bei polarisierenden Sonnenbrillen ausgenutzt. Mit ihrer Hilfe soll das
vom Untergrund reflektierte und vornehmlich horizontal polarisierte Licht unter-
drückt werden, folglich müssen die TA der Brillengläser vertikal stehen.
Abb. 15.4. Spiegelnde Lichtreflexion an einer dielektrischen Grenzfläche. a) TE-Mode.

b) TM-Mode. c) Einfall von unpolarisiertem Licht unter dem Brewster-Winkel εp mit
der Reflexion von TE-polarisiertem Licht
Zum physikalischen Verständnis des Vorgangs ist in Abb. 15.4 eine ebe-
ne dielektrische Oberfläche gezeigt, auf die ein Lichtstrahl unter beliebigem
Winkel einfällt. Die einfallende unpolarisierte Welle lässt sich in zwei zueinan-

der senkrecht polarisierte Anteile zerlegen, deren E-Vektoren senkrecht (Es , s.
Abb. 15.4 a) und parallel (Ep , s. Abb. 15.4 b) zu der durch die Einfalls- und
Normalenrichtung festgelegten Einfallsebene stehen. Man spricht hier von s- und
p-Polarisation oder TE- (transversal elektrisch) und TM-Wellen (transversal ma-
und B
gnetisch). (E stehen senkrecht, so dass E
in der Ebene liegt, wenn B dazu
senkrecht orientiert ist.)
Die Komponente Es , die TE-Welle (s. Abb. 15.4 a), regt die Elektronen an der
Oberfläche des Dielektrikums zu erzwungenen Schwingungen parallel zur Grenz-
fläche an. Sie strahlen dann als Dipolschwinger Elementarwellen ab, die lediglich
in zwei Richtungen – die des reflektierten und die des gebrochenen Strahles –
konstruktiv interferieren und weiterhin TE-polarisiert sind. Ein- und Ausfalls-
ebene liegen hierbei immer senkrecht zur Schwingungsrichtung der influenzier-
ten Dipole und damit in einer Richtung, in die ein Hertzscher Dipol maximal
strahlt (s. Abb. 15.7). Im Gegensatz hierzu tritt bei der TM-Welle (Kompo-
nente Ep , s. Abb. 15.4 b) ein mit dem Einfallswinkel ε veränderlicher Winkel
αd = 90◦ − (ε + ε ) zwischen den Schwingungsrichtungen der Hertzschen Dipo-
le des gebrochenen Strahls und der Ausbreitungsrichtung der reflektierten Welle
auf. Da die Strahlintensität eines Dipols mit diesem Winkel variiert (I ∼ sin2 αd ,
s. (15.6)), werden TE- und TM-Wellen mit unterschiedlicher Intensität abge-
strahlt, und das reflektierte Licht ist teilpolarisiert. Für den Grenzfall, dass αd
Null wird, dass also Dipolachse und Richtung der reflektierten Welle überein-
stimmen und damit reflektierter und gebrochener Strahl senkrecht aufeinander
stehen (ε+ε = 90◦ ), tritt überhaupt keine Abstrahlung der Dipole in Reflexions-
richtung auf (s. Abb. 15.4 c). Es verbleibt nur die TE-Welle und das reflektierte
Licht ist vollständig polarisiert. Der Einfallswinkel εp , unter dem das reflektierte
Licht zu 100% TE-polarisiert ist, wird als Brewster - oder Polarisations-Winkel
bezeichnet. Nach dem Brechungsgesetz ist:
n sin εp = n sin ε (15.3)

Da der reflektierte Strahl senkrecht auf dem gebrochenen steht, muss gelten:
ε = 90◦ − εp . Damit erhalten wir aus (15.3) (unter Verwendung von
sin(90◦ − εp ) = cos ε) für den

n
Brewster-Winkel ε p = arctan (15.4)
n
Brewster-Winkel treten sowohl beim Übergang von optisch dünn nach dicht (n <
n ) als auch im umgekehrten Fall auf und sind für diese beiden Fälle verschieden.
Beim Übergang Luft→Glas (n ≈ 1,5) ist z.B. εp1 = 56,3◦ , für die umgekehrte
Richtung gilt hingegen εp2 = 33,7◦ . Wegen (15.4) und der allgemeinen Beziehung
tan α = 1/ tan(90◦ − α) sind εp1 und εp2 komplementär, d.h. εp1 + εp2 = 90◦ .
Die Erzeugung polarisierten Lichtes durch Reflexion ist ziemlich ineffizient, da
z.B. bei einem Luft-Glas-Übergang nur 15% der Intensität der TE-Komponente
(also 7,5% des einfallenden Lichtes) reflektiert werden (s. Fresnelsche Formeln,
Kap. 20). Dem kann durch Stapelung einzelner Platten (Glasplattensatz ) be-
gegnet werden (s. Abb. 15.5). Solche Polarisatoren sind im sichtbaren Spek-
tralbereich bedeutungslos, werden aber bisweilen im Ultraviolett und Infrarot
eingesetzt. Statt einzelner Platten lassen sich – auch im Sichtbaren – vorteil-
haft dielektrische Vielfachschichten (s. Kap. 19) verwenden, die als polarisations-
empfindliche Reflektoren, Strahlenteiler (polarizing beam splitter) und Durch-
lassfilter Anwendung finden.
Eine andere interessante Anwendung ist das Brewster-Fenster , das in gleicher
Weise wie eine Einzelplatte eines Plattensatzes arbeitet (s. Abb. 15.6). Linear
TM-polarisiertes Licht fällt unter dem Brewster-Winkel εp1 auf die obere Fläche
und wird vollständig durchgelassen, da es aber auch auf die untere Fläche unter
15.2 Polarisation bei Reflexion an dielektrischen Oberflächen 427
Abb. 15.5. Plattenstapel als Polarisator
dem Brewster-Winkel εp2 trifft, arbeitet die Platte als perfektes Fenster mit 100%
Durchlässigkeit.
Abb. 15.6. Brewster-Fenster. Die Reflexion der TM-Welle wird an beiden Grenzflächen
aufgrund des Lichteinfalls unter den Brewsterwinkeln εp1 und εp2 unterdrückt
Das aktive Medium eines Lasers befindet sich häufig zwischen zwei Brewster-
Fenstern, die Spiegel des Resonators liegen außerhalb. Da bei jedem der zahlrei-
chen Durchgänge des Lichtes durch die Brewster-Fenster TM-Wellen zu 100%,
TE-Wellen aber nur teilweise durchgelassen werden, wird die TE-Welle so stark
unterdrückt, dass das austretende Laserlicht TM-polarisiert ist.
15.3 Polarisation durch Streuung

Wir gehen zunächst allgemein auf den Prozess der Lichtstreuung ein. In einem
streuenden Medium werden Teile des einfallenden Lichtes in verschiedene Rich-
tungen gestreut, so dass eine Energieabnahme dieser Welle auftritt. Hierbei wir-
ken die an die Kerne gebundenen (Leucht-)Elektronen als elementare Streuzen-
tren, deren Durchmesser d sehr klein gegen die Lichtwellenlänge ist. Wir be-
trachten die gebundenen Elektronen als harmonische Oszillatoren, die durch das
elektrische Feld der einfallenden Welle zu erzwungenen Schwingungen angeregt
werden und daraufhin als kleine Dipolantennen (Hertzsche Dipole) Licht kohärent
abstrahlen bzw. streuen. Die gesamte Streuwelle entsteht dann durch Überlage-
rung dieser kohärenten Einzelwellen. Entsprechend der Bohrschen Quantenbe-
dingung ist die Eigenfrequenz f0 des Dipoloszillators durch f0 = ∆W/h gegeben,
wobei ∆W die Energiedifferenz zwischen zwei Atomniveaus ist. Bei durchsich-
tigen Materialien liegt f0 im UV-Bereich, so dass für sichtbares Licht der Er-
regerfrequenz f gilt: f f0 . Bekanntlich kann ein harmonischer Oszillator bei
kleinen Erregerfrequenzen der Anregung nahezu trägheitslos folgen, so dass seine
Auslenkungs- und Dipolamplitude frequenzunabhängig werden. Diese Streuung
an sehr kleinen Teilchen (mit d λ) bei niedrigen Frequenzen (f f0 ) wird als
Rayleigh-Streuung bezeichnet.
Die Streuung des Sonnenlichts an den Stickstoff- und Sauerstoffmolekülen der
Erdatmosphäre ist Rayleigh-Streuung, während bei der Streuung an den Was-
sertröpfchen des Nebels und der Wolken die Teilchengröße mit der Wellenlänge
vergleichbar wird, man spricht hier von Mie-Streuung 2 .
Um die Stärke der Rayleigh-Streuung qualitativ herzuleiten, machen wir da-
von Gebrauch, dass für die von einem Hertzschen Dipol abgestrahlte Intensität
gilt
Hertzscher Dipol I ∼ a2 sin2 α (15.5)
Hierbei ist α der Winkel zwischen Dipolachse und Beobachtungsrichtung (s.

Abb. 15.7) und a die Beschleunigung der mit dem Ausschlag s = ŝ ejωt schwingen-
den Elektronen. Hieraus folgt a = s̈ = −ω 2 ŝ ejωt , wobei nach dem oben Gesagten
die Amplitude ŝ frequenzunabhängig ist. Damit wird also die vom Einzeldipol
gestreute Intensität (mit ŝ ∼ Êein und Iein ∼ Êein
2
)
Rayleigh-Streuung Istreu ∼ ω 4 sin2 α Iein (15.6)
2
Die Miesche Streutheorie berücksichtigt Größe, Form, Brechzahl und Absorptions-
konstante der Streuteilchen und geht für Durchmesser d λ in die Rayleigh-
Streuung über.
15.3 Polarisation durch Streuung 429
Abb. 15.7. Strahlungscharakteristik eines Hertzschen Dipols, der aus Elektron und
Kern gebildet wird. Es gilt: Feldstärke E ∼ a sin α, Intensität I ∼ a2 sin2 α, wobei a die
Beschleunigung ist
oder Istreu ∼ λ−4 . Kurzwellige Strahlung wird also wesentlich stärker gestreut
als langwellige, violettes Licht mit 400 nm fast 10-mal mehr als rotes Licht von
700 nm!
Wir hatten erwähnt, dass die Gesamtstreuung durch kohärente Überlagerung
der elementaren Streuwellen entsteht, sie hängt damit außer von der Streustärke
des Einzeldipols auch von Anzahl und Anordnung der Streuzentren ab. Wir unter-
suchen zunächst ein völlig homogenes Medium oder einen Idealkristall, bei dem
die Atomabstände sehr klein gegen die Wellenlänge sind. Hier greifen wir eine
Netzebene senkrecht zur Einfallsrichtung des Lichtes heraus und bekommen – ein-
dimensional – eine Reihe von Atomen, entsprechend einer Perlenkette der Länge
l. Die von diesen Atomen ausgehenden Streuwellen können wir wie die bei der
Beugung an einem Spalt der Breite l (s. Kap. 16) verwendeten Huygensschen Ele-
mentarwellen behandeln. In Vorwärtsrichtung (Einfallsrichtung) überlagern sich
alle Teilwellen konstruktiv, bei weit geöffnetem Spalt l → ∞ interferieren hinge-
gen alle seitlich auslaufenden Wellen destruktiv. Demensprechend muss sich Licht
in einem homogenen transparenten Medium völlig ohne Streuverluste ausbreiten.
Denken wir uns ein Atom der langen Perlenkette durch ein Störatom ersetzt, das
das Licht stärker als die übrigen streut, so erhalten wir einen Zusatzbeitrag mit
der Streucharakteristik des Rayleighstrahlers, also auch Licht in seitlicher und
Rückwärtsrichtung. Für mehrere statistisch angeordnete Fremdatome weisen die
Zusatzbeiträge – analog zu den strahlenden Atomen einer Gasentladung – sta-

tistisch schwankende Phasendifferenzen auf. Wir kommen zu dem Ergebnis, dass
sich die Beiträge der Zusatzwellen zur gesamten Streuwelle – trotz kohärenter
Erregung der Streuzentren – inkohärent (Addition der Intensitäten) überlagern,
wobei die Streuintensität durch (15.6) gegeben ist. Streuung an Dichteschwan-
kungen wirkt sich wie die an Fremdatomen aus und erfolgt ebenfalls inkohärent.
Diese Art der Streuung überwiegt in reinen Lichtwellenleitern und Gasen (Luft).
In idealen Gasen sind die√ Schwankungen ∆N der Teilchenzahl nach der Poisson-
Verteilung durch ∆N = N gegeben. Damit wird der Streubeitrag ∆Istreu der
Dichteschwankungen: ∆Istreu ∼ ∆Estreu 2
∼ ∆N 2 ∼ N , die Streuintensität wird
also proportional zur mittleren Anzahl N der Streuer, wie dies für inkohärente
Sender charakteristisch ist.
Rayleigh-Streuung in Luft erklärt das Blau des Himmels bei reiner Atmo-
sphäre, da ja das blaue Licht der Sonne stärker gestreut wird als der rote Anteil.
Blicken wir andererseits bei Sonnenaufgang oder -untergang in die Sonne, so
ist das verbleibende Licht gelb oder rot, da vornehmlich der blaue Anteil he-
rausgestreut wurde. Neben der Wellenlängen- ist auch die Winkel-Abhängigkeit
der Streuung interessant: Entsprechend (15.5) und (15.6) strahlt ein elektrischer
Dipol linear polarisierte Wellen ab, deren Intensität senkrecht zur Dipolachse
maximal wird; in Richtung seiner Achse strahlt ein Dipol überhaupt nicht.
Abb. 15.8. Polarisation durch Lichtstreuung. Unpolarisiertes Licht trifft von links auf
ein Teilchen im Koordinatenursprung, an dem es gestreut wird. In y- und z-Richtung
beobachtet man vollständig linear polarisiertes Licht
In diesem Kapitel interessiert diese Polarisation der Streustrahlung besonders.

Sie soll am Beispiel von Wasser mit einigen Tropfen einer alkoholischen Mas-
tixlösung (Teilchendurchmesser d λ) verdeutlicht werden. Bei reinem Was-
ser fehlen Streuteilchen, es tritt nur eine meist vernachlässigbare Streuung an
15.3 Polarisation durch Streuung 431
Dichteschwankungen auf und ein durchgehender Lichtstrahl breitet sich nur in

Vorwärtsrichtung aus. Die kleinen Mastixteilchen streuen auch in andere Rich-
tungen Licht, das außerdem (teil-)polarisiert ist (s. Abb. 15.8). Zur Erklärung
denkt man sich das einfallende unpolarisierte Licht wieder in zwei zueinander
senkrechte E-Komponenten zerlegt, die die atomaren Dipole in entsprechende
erzwungene Schwingungen versetzen und zu einer Lichtemission in alle Raum-
richtungen führen, wobei die Polarisationsrichtungen (y- und z-Achse) mit denen
der einfallenden Welle übereinstimmen. Wird das gestreute Licht aus der nega-

tiven y-Richtung beobachtet, so enthält es nur E-Vektoren parallel zur z-Achse,
denn in y-Richtung könnten nur longitudinale Schwingungen auftreten und in
x-Richtung ist kein erregendes Feld vorhanden. Entsprechend sieht man aus der
z-Richtung in y-Richtung polarisiertes Licht. Für Blickrichtungen außerhalb der
Achsen ist das Licht teilpolarisiert. In Vorwärtsrichtung ist das Licht – wie der
einfallende Strahl – unpolarisiert.
Dementsprechend registriert man bei Betrachtung des klaren Himmels durch
ein Polarisationsfilter teilpolarisiertes Streulicht. Blickt man genau senkrecht zu
den Sonnenstrahlen, dann sollte das Licht entsprechend Abb. 15.8 vollkommen
polarisiert sein; Vielfachstreuung und Verunreinigung durch Aerosole führen zu
maximalen Polarisationsgraden von etwa 70%. Zur Erzeugung von polarisier-
tem Licht ist die Methode der Streuung wegen der kleinen Streuintensität nicht
geeignet. In der nichtlinearen Optik ist aber die stimulierte Raman-, Rayleigh-
und Brillouin-Streuung von aktueller Bedeutung, da mit ihrer Hilfe unter ande-
rem elektronische und molekulare Eigenfrequenzen (Resonanzen) des Mediums
erfasst werden können.
Denken wir uns in der Perlenkette nicht einzelne Teilchen sondern größere
Bereiche durch andere Streuer ersetzt, so beobachten wir Streuung an Teilchen,
deren Größe vergleichbar mit der Lichtwellenlänge sein kann (Mie-Streuung). In
den Streuteilchen sind die atomaren Streuzentren mehr oder weniger regelmäßig
angeordnet und streuen kohärent, so dass aufgrund der Interferenz dieser gestreu-
ten Teilwellen eine komplizierte Winkel- und Wellenlängenabhängkeit der Streu-
strahlung auftritt. Mit wachsender Teilchengröße werden Wellen, die sich nicht
in die vom Reflexions- und Brechungsgesetz geforderten Richtungen bewegen,
durch destruktive Interferenz vernichtet. Aus der Fresnelschen Zonenkonstrukti-
on (s. Kap. 18) folgt, dass in einem ausgedehnten Medium die Zahl der Streuer
proportional λ2 ist, die abgestrahlte Leistung ist dann ∼ λ4 und hebt sich gerade
mit der λ−4 -Abhängigkeit des Einzelstreuers auf. Medien mit großen Streuteil-
chen (Nebel, Bierschaum, Wolken, Puderzucker) erscheinen deshalb weiß. Wasser
ist durchsichtig, Wassertröpfchen in Luft brechen und reflektieren das einfallende
Licht mehrfach in alle Raumrichtungen: Nebel ist deshalb weiß und schwächt das
durchgehende Licht.
15.4 Anisotropie der Brechzahl

Trifft ein Lichtstrahl auf ein Ablenkprisma aus Kalkspat, so beachtet man zwei
austretende Strahlen aufgrund von zwei verschiedenen Brechzahlen. Man bezeich-
net dies als Doppelbrechung. In diesem Kapitel gehen wir nicht auf die eigentliche
Brechung, sondern auf das Entstehen unterschiedlicher Brechzahlen und die da-
mit verbundenen Gangunterschiede ein.
Wir haben bereits diskutiert, dass eine Anisotropie der Bindungskräfte zu
unterschiedlichen Eigenfrequenzen und Absorptionskonstanten – also zu Dichro-
ismus – führt. Häufig liegen Absorptionsbanden im UV-Bereich und der Dichro-
ismus ist im sichtbaren Spektralbereich ohne Bedeutung, dennoch führen die
unterschiedlichen Bindungskräfte in x- und y-Richtung zu verschiedenen Disper-
sionskurven für die Brechzahlen nx (der Ex -Welle) und ny (der Ey -Welle), (s.
Abb. 15.9), der Kristall ist doppelbrechend.
Abb. 15.9. Verlauf der Brechzahlen nx und ny und Extinktionskonstanten Kx und Ky

als Funktion der Wellenlänge bei einem dichroitischen und damit auch doppelbrechen-
den Stoff. Im Bereich mit dn/dλ > 0 liegt anomale Dispersion vor
Die optischen Eigenschaften von Materialien lassen durch eine komplexe

Brechzahl beschreiben (s. Kap. 20 u. 27):
n = n − jκ (15.7)
15.4 Anisotropie der Brechzahl 433
Hierbei ist der Extinktionskoeffizient κ der Extinktionskonstante K (s. (15.2))

proportional (K = 4πκ/λ). Bei einem dichroitischen Material ist κx = κy und
die Brechzahl nx ≈ ny , bei einem doppelbrechenden Stoff ist hingegen nx =
ny und κx ≈ κy ≈ 0. Diese Eigenschaften sind frequenzabhängig, Kalkspat ist
beispielsweise im sichtbaren Bereich doppelbrechend und in einigen Bereichen des
Infrarot stark dichroitisch. Doppelbrechend sind auch Quarz, Eis, Glimmer und
gestreckte Kunststoffe, wie Zellophan.
Der Zusammenhang zwischen Kristallsymmetrie und Lichtgeschwindigkeit
soll am Beispiel des Kalkspats näher erläutert werden. Die Grundstruktur be-
steht aus schiefen CaCO3 -Pyramiden (s. Abb. 15.10), deren Basis die Sauerstoff-
atome mit einem Kohlenstoff in der Mitte des gleichseitigen Dreiecks bilden.
Das Kalziumatom befindet sich an der Pyramidenspitze. Die Achse senkrecht
zu den CO3 -Dreiecken weist die höchste Symmetrie auf, sie wird als optische
Achse bezeichnet. Für parallel zur optischen Achse einfallendes unpolarisiertes

Licht stehen beide E-Komponenten (s. Abb. 15.10 a) senkrecht zur optischen
Achse und bewirken wegen des Kristallaufbaus gleiche elektrische Polarisation
und damit gleiche Brechzahlen. Kalkspat verhält sich hier wie ein optisch iso-
tropes Material. Man spricht von einem ordentlichen Strahl mit der Brechzahl
no . Bei senkrecht zur optischen Achse einfallendem Licht erzeugen hingegen die
Komponenten E und E⊥ wegen ungleicher Bindungskräfte unterschiedliche Ver-
schiebungen der Elektronen. Hiermit verbunden sind Unterschiede der elektri-
schen Polarisation und folglich der Brechzahl und Ausbreitungsgeschwindigkeit.
Da die Elektronen in der CO3 -Ebene leichter verschieblich sind, bewirkt E⊥ die
größere Polarisation, so dass no > nao und co < cao . nao ist die Hauptbrech-
zahl des außerordentlichen Strahls. Bei Lichteinfall unter beliebigem Winkel zur
optischen Achse behält die E⊥ -Komponente ihre Größe und Richtung bei, die
zugehörige Brechzahl ist weiterhin no . Durch die in der Einfallsebene liegende
E-Komponente wird eine winkelabhängige Polarisation und Brechzahl nao (θ) er-
zeugt, mit den Grenzfällen nao = no und nao = nao für Lichteinfall parallel und
senkrecht zur optischen Achse. Kalkspat weist eine optische Achse auf (optisch
einachsig) und man misst bei λ = 589,3 nm: no = 1,658 und nao = 1,486. Tabel-
le 15.1 ist zu entnehmen, dass die Brechzahlen durch die Kristallsymmetrie be-
stimmt werden. Nichtkristalline Stoffe, wie z.B. Glas, kubische Einkristalle (z.B.
NaCl) sowie Polykristalle sind optisch isotrop – haben also nur eine Brechzahl
–, trigonale (Kalkspat), tetragonale und hexagonale Strukturen haben eine opti-
sche Achse (optisch einachsig) und können positiv (nao − no > 0, z.B. Quarz) und
negativ doppelbrechend (nao −no < 0, z.B. Kalkspat) sein. Kristalle mit noch nied-
rigerer Symmetrie (mono- und triklin, orthorhombisch) sind optisch zweiachsig.
Ein wichtiges Beispiel ist der monokline Glimmer, bei dem die beiden optischen
Achsen einen Winkel von 45◦ einschließen.
Kalkspate, die auch natürlich in ausreichender Größe vorkommen, lassen sich
aufgrund ihrer trigonalen Gitterstruktur leicht zu Rhomboedern spalten. Ein sol-
ches Rhomboeder hat zwei Ecken, an denen die drei Stirnflächen unter dem glei-
Abb. 15.10. a) Aufbau eines Kalkspatkristalls CaCO3 . Drei Sauerstoffatome bilden

die Basis eines Tetraeders. Die optische Achse ist parallel zu der Linie, die die C- und
Ca-Atome verbindet. b) Verlauf der optischen Achse in einem Kalkspat-Rhomboeder.
Die Flächen schließen mit der optischen Achse einen Winkel von jeweils 102◦ ein
15.4 Anisotropie der Brechzahl 435
chen Winkel von 102◦ zusammenstoßen (s. Abb. 15.10 b). Durch diese Ecken
verläuft die optische Achse derart, dass sie mit jeder Oberfläche und Kante je-
weils gleiche Winkel einschließt.
Tabelle 15.1. Brechzahlen wichtiger Materialien bei λ = 589,3 nm (Na-D-Linie)
isotrop Natriumchlorid 1,544

(NaCl)
(kubisch) Diamant (C) 2,417
Fluorit (CaF2 ) 1,392
einachsig positiv: nao no

(trigonal, Eis 1,313 1,309
tetragonal, Quarz (SiO2 ) 1,5534 1,5443
hexagonal) Zirkon (ZrSiO4) 1,968 1,923
Rutil (TiO2 ) 2,903 2,616
negativ:
Kalkspat 1,4864 1,6584
(CaCO3)
Turmalin 1,638 1,669
Natriumnitrat 1,3369 1,5854
(NaNO3 )
Beryll 1,590 1,598
(Be3 Al2 (SiO3 )6 )
zweiachsig n1 n2 n3
(triklin, Gips 1,520 1,523 1,530
(CaSO4 ·2H2 O)
monoklin, Feldspat 1,522 1,526 1,530
ortorhombisch) Glimmer 1,552 1,582 1,588
Topas 1,619 1,620 1,627
Ein doppelbrechender Kristall kann so geschnitten und poliert werden, dass

die optische Achse unter beliebigen Winkeln zu der Oberfläche steht, auf die
das Licht fällt. Abbildung 15.11 zeigt drei Spezialfälle; bei a stehen die beiden

E-Komponenten von unpolarisiertem Licht senkrecht auf der optischen Achse,
breiten sich also gleich schnell aus und das austretende Licht ist wieder unpola-
risiert. Bei b und c ist die optische Achse jedoch jeweils parallel und senkrecht
zu einer der Komponenten, die sich damit unterschiedlich schnell ausbreiten und
einen Kristall der Dicke d mit dem durch die Doppelbrechung bedingten
Gangunterschied ∆ = |nao − no | d (15.8)
und entsprechender Phasendifferenz δ = 2π∆/λ0 verlassen. Bei ∆ = λ/4

(δ = π/2) erhält man eine Viertelwellen- oder λ/4-Platte, bei ∆ = λ/2 eine
Halbwellen- oder λ/2-Platte usw. Man bezeichnet sie als Verzögerungs-Platten
erster Ordnung.
Abb. 15.11. Licht trifft auf eine doppelbrechende Platte mit unterschiedlichen Rich-
tungen der optischen Achse (OA). a) Lichtausbreitung entlang der OA. b) und c) Licht-
ausbreitung senkrecht zur optischen Achse
Beispiel 15.1 λ/4-Platten

Berechnen Sie die Dicken von λ/4-Platten 1. Ordnung aus Quarz und Kalk-
spat für eine Wellenlänge von 589,3 nm.
Lösung
Mit ∆ = λ/4 folgt aus (15.8) und Tab. 15.1 für Quarz:
µm
4·0,0009 = 16,4 µm und für Kalkspat d = 857 nm.
d = 4|naoλ−no | = 0,5893
Die Dicken von Platten 1. Ordnung sind demnach unter Umständen sehr ge-
ring. Zur mechanischen Stabilisierung kann man diese Plättchen zwischen Glas-
platten klemmen oder dickere Platten m-ter Ordnung verwenden, bei denen der
Gangunterschied ∆m = ∆1 + (m − 1)λ ist. Eine λ/4-Platte m-ter Ordnung hat
dann mit ∆1 = λ/4 und (15.8) die Dicke
15.5 Doppelbrechung 437
λ0
λ/4-Platte dm = (4m − 3) mit m = 1, 2, . . .
m-ter Ordnung 4(|nao − no |)
(15.9)
Durch Variation der Dicke lassen sich (Phasen-)Verzögerungsplatten mit belie-

biger Phasenverzögerung δ herstellen, man bezeichnet sie als Kompensatoren. In
Abb. 15.12 ist das Funktionsprinzip des bekannten Soleil-Babinet-Kompensators
(meist aus kristallinem Quarz) erläutert: Eine feste Grundplatte, die aus einer
Planplatte und einem Keil mit um 90◦ gedrehter optischer Achse besteht, ist
mit einer fein verschiebbaren Keilplatte kombiniert. In Position a durchsetzt das
Licht gleiche Quarzdicken mit gekreuzten optischen Achsen, die Phasenverzöge-
rungen heben sich auf; bei Position b ist die größtmögliche Phasenverzögerung –
von beispielsweise 4π – erreicht.
Abb. 15.12. Soleil-Babinet-Kompensator. Die optischen Achsen der (Quarz-)Kristalle

sind durch Punkte und Linien dargestellt. Die Pfeilrichtung gibt die Ausbreitungsrich-
tung des Lichtes an. a) Minimale Verzögerung. b) Maximale Verzögerung
15.5 Doppelbrechung
In den bisher diskutierten Fällen (s. Abb. 15.11 b und 15.11 c) konnte zwar ei-
ne Phasenverschiebung zwischen E-Komponenten auftreten, die senkrecht und
parallel zur optischen Achse stehen, der Lichtstrahl wurde aber nicht durch Bre-
chung aufgespalten. Dies ist dann der Fall, wenn unpolarisiertes Licht unter belie-
bigen Winkeln zur optischen Achse einfällt (s. Abb. 15.13). Man beobachtet Dop-
pelbrechung, also zwei austretende Strahlen, einen ordentlichen Strahl und einen
außerordentlichen, der nicht das Brechungsgesetz befolgt (in Abb. 15.13 tritt z.B.
trotz senkrechtem Einfall Brechung auf). Beim Blick durch einen Kalkspatkris-
tall auf ein Objekt (z.B. den Buchstaben K) sieht man dann zwei gegeneinan-
Abb. 15.13. Doppelbrechung bei Einfall von unpolarisiertem Licht unter beliebigem
Winkel zur optischen Achse (OA)
der verschobene Bilder, von denen sich das außerordentliche bei der Drehung
des Kristalls kreisförmig ohne Eigenrotation mitdreht. Außerdem sind die bei-
den Teilwellen – zueinander senkrecht – linear polarisiert. Der ordentliche Strahl
schwingt senkrecht zur optischen Achse und hat die Brechzahl no , während der
außerordentliche Strahl (mit Brechzahl nao ) parallel zur Achse polarisiert ist.
Dieses Verhalten wurde schon von Huygens mit Hilfe seiner Elementarwellen
erklärt. Abbildung 15.14 zeigt eine dem außerordentlichen Strahl zugeordnete
Abb. 15.14. a) Huygenssches Prinzip mit elliptischen Elementarwellen des außeror-

dentlichen Strahls. Der Kristall ist – wie Kalkspat – negativ einachsig doppelbrechend,
d.h. nao < no und cao > co . b) Strahlrichtung – beschrieben durch den Poynting-Vektor
– und Wellenvektor k bzw. Phasengeschwindigkeit cao des außerordentlichen Strahls
S
sind nicht parallel! (WF = Wellenfront)
Elementarwelle, die von der einfallenden Welle an dem Oberflächenpunkt P er-

zeugt wird. Der in der Papierebene liegende Vektor E p der einfallenden Welle
wird in zwei Komponenten parallel (E bzw. aa) und senkrecht (E⊥ bzw. bb) zur
optischen Achse aufgespalten. Die mit E gekoppelte Welle pflanzt sich mit der
Geschwindigkeit cao (= cvac /nao mit3 der Hauptbrechzahl nao ) senkrecht zur op-
tischen Achse fort, die andere (E⊥ ) läuft mit der Geschwindigkeit co (= cvac /no )
in Achsenrichtung. Da (bei Kalkspat) für die Geschwindigkeiten cao > co gilt,
wird die Elementarwelle nicht – wie bei isotropen Stoffen – sphärisch, sondern
elliptisch. In Abb. 15.14 b sind mehrere Huygenssche Elementarwellen sowie – als
Tangente – die entstehende neue Wellenfront (WF) wiedergegeben. Wir müssen
nun verschiedene Geschwindigkeiten unterscheiden, die bei isotropen Stoffen zu-
sammenfallen. Punkte gleicher Phase liegen auf der gestrichelten Wellenfront, die
in Richtung des auf ihr senkrecht stehenden Wellenvektors k fortschreitet. Die zu-
gehörige Geschwindigkeit ist die richtungsabhängige Phasengeschwindigkeit cao
der außerordentlichen Welle mit der zugehörigen Brechzahl nao , wobei:
cvac
cao =
nao
Wir sehen, dass hier k – wie wir dies von isotropen Stoffen bei senkrechtem
Einfall kennen – die Richtung des einfallenden Strahles hat. Bei beliebigen Ein-
fallswinkeln folgt die Richtung der austretenden Wellenfront ebenfalls aus dem
Brechungsgesetz: n sin ε = nao sin εao . Einfach beobachtbar ist jedoch nur der
austretende Strahl, der von P zum Berührpunkt T der Wellenfront weist und die
Richtung des Energieflusses und damit des Poynting-Vektors S ∼E ×B hat. Für
diesen Strahl ist (außer bei Lichteinfall parallel und senkrecht zur optischen Ach-

se) das Brechungsgesetz nicht gültig. Der E-Vektor steht zwar weiterhin senkrecht

zur Ausbreitungsrichtung, es gilt aber nicht k ⊥ E. Strahl und Energie breiten
sich mit der Strahlgeschwindigkeit cs aus, sie entspricht der Gruppengeschwin-
digkeit und ist nach Abb. 15.14 b:
cao
cs =
cos ∆ϑ
wobei ∆ϑ der Winkel zwischen den Geschwindigkeiten cs und cao ist. Mit dem
Winkel ϑs (s. Abb. 15.14 b) zwischen Strahl und optischer Achse gilt für die
richtungsabhängige
1 cos2 ϑs sin2 ϑs
Strahlgeschwindigkeit = + (15.10)
c2s c2o c2ao
Dieser Zusammenhang wird durch das Rotationsellipsoid der Strahlgeschwindig-

keit veranschaulicht (s. Abb. 15.15 a): Für den außerordentlichen Strahl variiert
3
cvac ist die Vakuumlichtgeschwindigkeit, die wir sonst mit c0 bezeichnen.
die Geschwindigkeit zwischen den Extremwerten co und cao , während die des
ordentlichen Strahls konstant bleibt.
Beweis von (15.10): Die Gleichung einer Ellipse mit den Halbachsen a und b ist durch
2
x2
a2
+ yb2 = 1 gegeben. Einführung von Polarkoordinaten mit x = r cos ϕ und y = r sin ϕ
2 2 2 2
ergibt dann die Gleichung r cos
a2
ϕ
+ r sin
b2
ϕ
= 1. Wenn die x-Achse mit der optischen
Achse OA in Abb. 15.14 b übereinstimmt, gilt (mit ∆t = 1“): r = cs , a = co , b = cao
”
und ϕ = ϑs . Hiermit folgt dann sofort (15.10).
Abb. 15.15. a) Ellipsoid und Kreis der Strahlgeschwindigkeiten des außerordentlichen

und ordentlichen Strahles. b) Index-Ellipsoid bzw. -Kreis der außerordentlichen (nao )
und ordentlichen Brechzahl (no ). Bei optisch einachsigen Kristallen sind die Kurven
rotationsymmetrisch um die optische Achse (OA). Im vorliegenden Beispiel liegt ein
extrem positiv doppelbrechender Stoff mit nao = 1,4 no vor
Häufig wird zur Beschreibung der Doppelbrechung auch das Indexellipsoid der
Brechzahlen verwendet. Hier gilt mit ϑp , dem Winkel zwischen optischer Achse
und Wellenvektor (s. Abb. 15.14 b und 15.15 b), die Gleichung des Indexellipsoids4
1 cos2 ϑp sin2 ϑp
Indexellipsoid = + (15.11)
n2
ao n2o n2ao
Während Geschwindigkeit und Brechzahl der außerordentlichen Welle letztlich

vom Einfallswinkel abhängen, verhält sich die zur optischen Achse senkrechte
4
Für die Geschwindigkeit würde dann gelten: c2 2 2 2 2
ao = co cos ϑp + cao sin ϑp , dies ist ein
Rotations-Ovaloid.

E-Komponente ordentlich“, d.h. wie in einem isotropen Material mit k ⊥ E
”
und co k. Dementsprechend ist in Abb. 15.15 b no winkelunabhängig, während
die Brechzahl nao des außerordentlichen Strahls zwischen den Kurven für die
Hauptbrechzahlen no und nao (s. auch Abb. 15.16) liegt.
Abb. 15.16. Brechzahlen von kristallinem Quarz als Funktion der Wellenlänge (bei
18◦ C). Bei vorgegebener Wellenlänge hat der ordentliche Strahl einen festen Wert no der
Brechzahl, während die Brechzahl nao des außerordentlichen Strahles richtungsabhängig
ist und zwischen den beiden Kurven liegt
Mit Hilfe der Doppelbrechung kann man dann linear polarisiertes Licht erzeu-
gen, wenn es gelingt, die zueinander senkrecht polarisierten, gebrochenen Strah-
len zu trennen. Eine häufig verwendete Anordnung ist das Glan-Taylor-Prisma
(s. Abb. 15.17). Zwei rechtwinklige (aber nicht gleichschenklige) Kalkspatpris-
men mit parallelen optischen Achsen und Spitzenwinkel α sind durch einen Luft-
spalt getrennt. Beim Auftreffen auf die Hypotenuse ist der Einfallswinkel gleich
α, die Grenzwinkel für Totalreflexion sind εo = arcsin(1/no ) = 37,10◦ (wobei
no = 1,6584) für den ordentlichen und εao = arcsin(1/nao ) = 42,30◦ für den
außerordentlichen Strahl. Dementsprechend wird für Spitzenwinkel, die zwischen
diesen Werten liegen, der ordentliche Strahl totalreflektiert und der außerordent-
liche Strahl durchgelassen. Das zweite Prisma soll die Brechung des außeror-
dentlichen Strahls bei Austritt in den Luftspalt aufheben, damit Eingangs- und
Ausgangsstrahl dieselbe Richtung haben. Die gesamte Anordnung stellt einen Po-
larisator für linear polarisiertes Licht dar, mit dem sehr hohe Polarisationsgrade
(>99,999%) erreicht werden . Wenn der Raum zwischen den Prismen mit einem
Abb. 15.17. Glan-Taylor-Prisma aus negativ doppelbrechendem Material (Kalkspat);

der ordentliche Strahl wird totalreflektiert. (Die Brechung des ao-Strahles bei Durch-
gang durch den Luftspalt ist nicht gezeichnet)
anderen durchlässigen Material, wie z.B. Glyzerin, gefüllt wird, muss man den
Spitzenwinkel α entsprechend verändern. In Abb. 15.18 sind weitere polarisieren-
de Prismenanordnungen aus positiv einachsigen Stoffen (Quarz) wiedergegeben.
Beachten Sie, dass in diesen Fällen ordentlicher und außerordentlicher Strahl ohne
Verwendung der Totalreflexion getrennt werden. In allen Fällen stehen die opti-
schen Achsen der beiden Prismen senkrecht aufeinander, so dass z.B. aus der E⊥ -
Komponente des ersten Prismas im zweiten Prisma eine E -Komponente wird –
mit entsprechend geänderter Brechzahl. Unterschiedliche Brechzahlen für die bei-

den E-Komponenten führen zu verschiedenen Brechungswinkeln und damit zur
Trennung in zwei polarisierte Strahlen. Zusammenfassend können wir feststellen,
dass doppelbrechende Stoffe zur Herstellung von Polarisatoren, polarisierenden
Strahlenteilern und Phasenverzögerungsplatten, wie z.B. der Viertelwellenplatte,
verwendet werden können.
Abb. 15.18. Prismenpolarisatoren, die als polarisierende Strahlenteiler verwendbar

sind: a) Wollaston-Prisma. b) Rochon-Prisma. c) Sénarmont-Prisma
15.6 Optische Aktivität

Bestimmte Materialien weisen optische Aktivität auf. Wenn linear polarisiertes
Licht auf einen optisch aktiven Stoff fällt, tritt es wieder als linear polarisiertes
Licht aus, seine Schwingungsrichtung ist jedoch gegenüber der ursprünglichen
15.6 Optische Aktivität 443
Richtung gedreht. Blickt man entgegen der Ausbreitungsrichtung des Strahles,

so beobachtet man für einige Stoffe eine Drehung des E-Vektors im Uhrzeiger-
5
sinn (rechtsdrehend, Drehwinkel β > 0 ), während bei anderen Linksdrehung
beobachtet wird. Optisch aktiv können Festkörper (z.B. Quarz und Zucker),
Flüssigkeiten (Terpentin und Zuckerlösung) und Gase sein. Einige Stoffe, wie z.B.
kristalliner Quarz, erzeugen Rotation in beiden Richtungen, dementsprechend
existieren zwei Kristallstrukturen, die zueinander spiegelbildlich (enantiomorph)
sind. Optisch aktive Stoffe verändern den Polarisationszustand eines polarisier-
ten Lichtstrahles und können mathematisch durch die Jones-Rotationsmatrix (s.
Tab. 14.3) beschrieben werden. Beachten Sie, dass bei der optischen Aktivität der
Mechanismus der Rotation ein anderer ist als beispielsweise bei einer Halbwel-
lenplatte, die trotzdem dasselbe Ergebnis liefern kann. Optische Aktivität kann
leicht mit Hilfe von zwei gekreuzten Linear-Polarisatoren beobachtet werden.
Wenn optisch aktives Material bestimmter Dicke zwischen Analysator und Pola-
risator gebracht wird, ist die Bedingung für Auslöschung nicht länger gegeben,

da der E-Vektor des Lichtes durch das optisch aktive Medium verdreht wird.
Diese Rotation kann am einfachsten durch Drehung des Analysators bis zur er-
neuten Auslöschung gemessen werden. Der auf diese Weise gemessene Drehwinkel
β hängt sowohl von der Lichtwellenlänge als auch der Dicke d des Mediums ab:
Drehwinkel β = d (15.12)
Der auf die Schichtdicke des optisch aktiven Materials bezogene Drehwinkel wird
als spezifische Rotation bezeichnet. Tabelle 15.2 gibt die spezifische Rota-
tion von Quarz für den UV- und sichtbaren Wellenlängenbereich wieder. Die
Rotation einer optisch aktiven Flüssigkeit ist im Vergleich sehr viel kleiner.
Für 10 cm Terpentin erfährt Natriumlicht eine Drehung von −37◦ , entsprechend
= −0,37 ◦ /mm, also etwa 1/100 des Wertes von Quarz. Das Minuszeichen zeigt
an, dass Terpentin linksdrehend ist. Die optische Aktivität wird häufig zur Kon-
zentrationsbestimmung von Lösungen, z.B. zur Zuckerbestimmung, eingesetzt.
Man erhält für die spezifische Rotation
= ˜ C (15.13)
3
mit der Konzentration C (z.B. in g/cm ) und der Stoffgröße ˜, den auf Proben-
dicke und Konzentration bezogenen Drehwinkel.
Die Wellenlängenabhängigkeit der spezifischen Rotation – die Rotationsdispersion

– bewirkt, dass bei Verwendung von weißem Licht jede Wellenlänge etwas un-
terschiedlich gedreht wird, so dass beim Blick durch Polarisatoren, die für eine
Wellenlänge (z.B. grün) gekreuzt sind (s. Abb. 15.19), immer farbiges Licht (hier
rot) registriert wird.
5
In Ausbreitungsrichtung gesehen links drehend, also mathematisch postiv.
Tabelle 15.2. Spezifische Rotation von Quarz
λ/ nm /(Grad/mm)
226,503 201,9
404,656 48,945
435,834 41,548
546,072 25,535
589,290 21,724
670,786 16,535
Abb. 15.19. Messung der optischen Aktivität. Die Probe wird zwischen gekreuzte
Polarisatoren gebracht. Zur Ermittlung des Drehwinkels β wird der Analysator so lange
verdreht, bis wieder Dunkelheit herrscht. Hier ist β > 0, da das Medium rechtsdrehend
ist
Fresnel hat eine phänomenologische Beschreibung der optischen Aktivität ge-

geben, die – unter Verzicht auf eine physikalische Erklärung – die spezifische
Rotation mit bestimmten physikalischen Parametern verknüpft. Diese Beschrei-
bung beruht erstens auf der Zerlegung einer linear polarisierten Welle in zwei
zirkular polarisierte Anteile und zweitens auf der Annahme, dass sich die links-
und rechtszirkulare Komponente mit unterschiedlichen Geschwindigkeiten cl und
cr ausbreiten und somit unterschiedliche Brechzahlen nl und nr aufweisen.
Wir betrachten zunächst ein optisch inaktives Medium, bei dem also die Ge-
schwindigkeiten cl und cr (und damit auch nl und nr ) übereinstimmen. Das ein-
fallende Licht sei (wie in Abb. 15.17) in x-Richtung linear polarisiert und werde
15.6 Optische Aktivität 445
Abb. 15.20. Überlagerung von links- und rechtspolarisiertem Licht zu verschiedenen

Zeitpunkten. Das Licht tritt aus der Zeichenebene aus. Die Feldstärken Er und El
rotieren gegensinnig, ihre Summe ergibt linear polarisiertes Licht (E)
in links- und rechtszirkular polarisiertes Licht aufgespalten. Abb. 15.20 zeigt die
Vektoraddition der El - und Er -Komponente zu drei verschiedenen Zeitpunkten
am Ort z = 0. An einem beliebigen Ort z = d kommen die Wellen um die Laufzeit
tL = d/c verzögert an, die Beträge beider Drehwinkel sind um denselben Winkel
kd vermindert, so dass die Welle in x-Richtung polarisiert bleibt. Ist hingegen
cl = cr und damit auch nl = nr , so gilt in Abb. 15.21 für die Drehung im Uhrzei-
gersinn ϕr = ωt − kr d und für die Linksdrehung ϕl = −(ωt − kl d). Da die Zeiger
El und Er die gleiche Länge haben, liegt die resultierende Feldstärke E immer
auf der Winkelhalbierenden, die nach Abb. 15.21 um den Winkel β gegenüber
der x-Achse gedreht ist. Unter Verwendung der Beziehung k = ω/c = 2πn/λ0
erhalten wir für den Drehwinkel β (Winkelhalbierende):
1 1 πd
β= (ϕr + ϕl ) = [ωt − kr d − (ωt − kl d)] = (nl − nr ) ≡ d (15.14)
2 2 λ0
Wie zu erwarten, ist der Rotationswinkel proportional zur Brechzahldifferenz und

zur Dicke d des durchstrahlten Mediums.
Es sei noch einmal darauf hingewiesen, dass die für die optische Aktivität
verantwortlichen Brechzahlen die zirkulare Doppelbrechung charakterisieren. nl
und nr unterscheiden sich deutlich weniger als die Brechzahlen no und nao der
normalen Doppelbrechung (vgl. Tabelle 15.3).
Beispiel 15.2 Optische Rotation von Quarz

Bestimmen Sie unter Verwendung von Tabelle 15.3 die Rotation, die durch
eine 1 mm dicke Quarzplatte bei einer Wellenlänge von 396,8 nm erzeugt wird.
Abb. 15.21. Drehung der Polarisationsebene durch links- und rechtspolarisiertes Licht
unterschiedlicher Phasengeschwindigkeiten cr und cl . a) Linksdrehend mit nl < nr . b)
Rechtsdrehend mit nr < nl . (β, ϕ > 0 bei Drehung im Uhrzeigersinn und Blick entgegen
der Ausbreitungsrichtung, d.h. mathematisch positiv in +z-Richtung)
Tabelle 15.3. Brechzahlen von Quarz
λ/nm nao no nr nl
396,8 1,56771 1,55815 1,55810 1,55821
762,0 1,54811 1,53917 1,53914 1,53920
Lösung
Aus Tabelle 15.3 erhält man bei λ = 396,8 nm: nl − nr = 1,1 · 10−4 . Mit
(15.14) erhält man den Drehwinkel β = 0,871 rad = 49,9◦ . Hieraus folgt die
spezifische Rotation = 49,9 ◦ /mm in Übereinstimmung mit Tab. 15.2.
Die obige Beschreibung erklärt nicht die unterschiedlichen Geschwindigkeiten

für links- und rechtszirkular polarisierte Wellen. Hier sei lediglich darauf hinge-
wiesen, dass optisch aktive Moleküle oder Kristalle Wendel-(Helix-)Strukturen
unterschiedlichen Drehsinns aufweisen, erinnert sei an die rechtsdrehende Dop-
pelhelix der DNS.
15.7 Spannungsoptik 447
15.7 Spannungsoptik
Durchstrahlt man gekreuzte Polarisatoren mit weißem Licht, so beobachtet man
bekanntlich Dunkelheit. Schiebt man jedoch doppelbrechende Stoffe zwischen
die Filter, so treten meist brillante Interferenzfarben auf. Abbildung 15.22 dient
zur Erklärung des Effektes, hier sind Polarisator und Analysator (unter ±45◦
zur x-Achse) gekreuzt. Ist das doppelbrechende Material gerade von der Dicke
einer Halbwellenplatte mit der schnellen Achse in y- und der langsamen in x-
Richtung, so wird unter +45◦ einfallendes linear polarisiertes Licht die Platte
unter −45◦ verlassen und damit vom Analysator vollständig durchgelassen. Dies
lässt sich auch mit Hilfe der Jones-Matrizen (s. Kap. 14) bestätigen. Erzeugt
die Verzögerungsplatte eine Phasenverschiebung ungleich π, so tritt das Licht
elliptisch polarisiert aus und wird teilweise von dem Analysator durchgelassen.
Im Grenzfall einer Drehung um Vielfache von 2π wird das Licht wieder blockiert.
Abb. 15.22. Lichtausbreitung durch gekreuzte Polarisatoren, zwischen die eine Halb-
wellenplatte gebracht wurde. Hierdurch erfolgt ein Übergang von Sperrung auf Durch-
lass. (SA, LA = schnelle und langsame Achsen)
Nach (15.8) ist die von einer Verzögerungsplatte der Dicke d erzeugte Pha-
sendifferenz
2πd (nao − no )
δ=
λ0
und damit bei Vernachlässigung der Dispersion umgekehrt proportional zur Wel-
lenlänge. Falls also die Platte (in Abb. 15.22) für rotes Licht als Halbwellenplatte
wirkt und damit rotes Licht durchgelassen wird, werden kürzere Wellenlängen
teilweise unterdrückt und das transmittierte Licht ist rötlich. Nach Drehung des
Analysators um 90◦ tritt eine Vertauschung von durchgelassenem und gesperrtem

Anteil auf, und man registriert die Komplementärfarbe.
Abb. 15.23. Beobachtung der Spannungsdoppelbrechung an einem Balken, der un-

ten an zwei Punkten gelagert ist und von oben in der Mitte belastet wird. a) geringe
Belastung. b) hohe Belastung
Zur Vorführung eignen sich doppelbrechende Kristalle wie Quarz, Kalkspat

und Glimmer, aber auch Gebrauchsmaterialien zeigen Doppelbrechung, sei es
mit oder ohne äußere mechanische Spannung (s. Abb. 15.23). Verknäultes Zel-
lophan zeigt zwischen gekreuzten Polarisatoren eine überraschende Vielzahl von
Farben, da δ auch aufgrund von Dickenunterschieden variiert. Auch durchsich-
tiges Klebeband, das man überlappend um ein Mikroskopdeckglas wickelt, zeigt
Farbeffekte. Die Phasenänderung δ kann auch bei konstanter Dicke aufgrund
einer ortsabhängigen Brechzahldifferenz variieren. Solche Variationen treten oft
durch innere mechanische Spannung, z.B. in Plastikmaterialien (Zeichenlineal)
auf. Die durch äußere Belastungen hervorgerufene Doppelbrechung isotroper Stof-
fe, wie Plastik oder Glas, wird zur Spannungsanalyse mit Hilfe der so genannten
Spannungsoptik herangezogen. Um komplizierte Spannungsverteilungen in einer
– meist undurchsichtigen – Struktur zu ermitteln, fertigt man hiervon ein im All-
gemeinen verkleinertes Modell aus durchsichtigem Kunststoff an und bringt es
15.8 Polarisation durch Flüssigkristalle 449
zwischen gekreuzte Polarisatoren, wo es unterschiedlichen Belastungen ausgesetzt

wird. Hierbei beobachtet man Aufhellung und dunkle Streifen (s. Abb. 15.23).
Ein ebener Spannungszustand kann in zwei zueinander senkrechte Haupt-
spannungen σ1 und σ2 – reine Normalspannungen ohne Scherspannungen – mit
den zugehörigen Brechzahlen n1 und n2 zerlegt werden. Ist an einem Punkt
p des aus dem Polarisator einfallenden linear polarisierten
der Feldstärkevektor E
Lichtes parallel zu einer der Hauptspannungen, so wird der Polarisationzustand
des durchgehenden Lichtes nicht geändert und die Welle kann den gekreuzten
Analysator nicht passieren. Dunkle Streifen, die Isoklinen, verbinden alle diese
Punkte gleicher Spannungs-Richtung. Die Streifen wandern, wenn die gekreuz-
ten Polarisatoren gemeinsam gedreht werden. Für andere Orientierungen von E p
erfolgt – wie von der Doppelbrechung bekannt – eine Aufspaltung in zwei Kom-
ponenten mit E1 und E2 , die parallel zu den entsprechenden Hauptspannungen
liegen. Die zugehörigen Teilwellen haben dann beim Austritt den Gangunter-
schied ∆ = (n1 −n2 )d, der im Allgemeinen zu elliptisch polarisiertem Licht führt,
das den Analysator passieren kann. Dunkelheit ist dann zu beobachten, wenn die
Hauptspannungsdifferenz σ1 − σ2 gerade so groß ist, dass ∆ = 0, λ, . . . (= ˆ einer
Vollwellenplatte). Die Auswertung der zugehörigen Streifen, der Isochromaten,
ergibt die Größe der mechanischen Spannung. Bei Verwendung von weißem Licht
erhält man dunkle Isoklinen und farbige Isochromaten.
15.8 Polarisation durch Flüssigkristalle

Die weit verbreiteten Digitalanzeigen z.B. bei Armbanduhren und Taschenrech-
nern sowie neuere Rechner- und TV-Bildschirme sind häufig Flüssigkristallanzei-
gen (LCD = Liquid Crystal Display), die die anisotropen optischen Eigenschaften
dieser Medien ausnutzen. Zahlreiche weitere Anwendungen dieser Flüssigkristalle
stehen vor der Markteinführung.
Flüssige Kristalle wurden bereits 1888 von Reinitzer entdeckt und beschrie-
ben, ein darauf basierendes Anzeigeelement schon 1918 entwickelt. Erst 1968
erfolgte die Wiederentdeckung“ der Anwendungsmöglichkeiten dieser Substan-
”
zen.
Bausteine der flüssigkristallinen Substanzen sind gestreckte organische Mo-
leküle; diese sind so häufig, dass etwa 5% aller organischen Substanzen die flüssig-
kristalline Phase aufweisen. Zahlreiche für die Anwendungen wichtige Moleküle
bestehen aus zwei oder mehreren – evtl. über Brücken – linear verketteten Ben-
zolringen, an die weitgehend gestreckte Molekülgruppen angelagert sind, so dass
typisch Moleküle von etwa 2 nm Länge und 0,5 nm Durchmesser entstehen. An die
Stelle des ebenen Benzolrings kann beispielsweise auch das nicht ebene ringförmi-
ge Cyclohexan treten; eine wichtige Substanzgruppe sind die Phenylcyclohexane.
Die Folge des molekularen Aufbaus ist eine starke Anisotropie der mikrosko-
pischen physikalischen Eigenschaften, die sich bei regelmäßiger Anordnung der
Moleküle auch makroskopisch auswirken. Dies gilt insbesondere für die Tensoren
elektrisches Dipolmoment und Polarisierbarkeit und damit die Dielektrizitäts-
konstante und Brechzahl, desgleichen für die elektrische Leitfähgkeit und die
mechanischen Eigenschaften. Folge des Aufbaus ist ein zusätzlicher Ordnungs-
parameter – die durch den Direktor charakterisierte Molekülrichtung – der zu
einer zusätzlichen Phase, der flüssig-kristallinen oder Mesophase führt.
Normalerweise sind uns von einer Substanz wie Silizium oder Wasser folgende
Phasen und Phasenübergänge bekannt:
fest, kristallin Schmelzpunkt TS Siedepunkt TSi gasförmig

(anisotrop) −−−−−−−−−−→
← flüssig (isotrop) −−−−−−−−− → (isotrop)
Gehen wir von einem Siliziumeinkristall aus, so sind hier die Atome dreidimen-
sional regelmäßig (periodisch) angeordnet. Bei Erwärmung geht der Kristall am
Schmelzpunkt in den isotropen flüssigen Zustand über, der Ordnungsparameter
Periodizität geht verloren, die Atome sind unregelmäßig im Abstand von etwa
einem Atomdurchmesser angeordnet.
Flüssige Kristalle zeigen ein anderes Verhalten:
Mesophase
(anisotrop)
fest, kristallin Schmelzpunkt TS smektisch, Klärpunkt TK flüssig Siedepunkt T gasförmig
−
←−−−−−−−−−−−→ −
−−−−−−−−−
← → −−−−−−−−−Si
− −
→
(anisotrop) nematisch, (isotrop) (isotrop)
choleste-
risch
Sie schmelzen zwar bei Erreichung der Schmelztemperatur TS und zeigen das
für die Flüssigkeit charakteristische Fließverhalten, die Flüssigkeit erscheint je-
doch trüb (lichtstreuend wie Milch) und geht erst oberhalb des Klärpunktes in
eine klare, isotrope normale“ Flüssigkeit über. Im Temperaturbereich TS − TK
”
liegt die flüssigkristalline oder Mesophase vor. Hier unterscheidet man die Pha-
sen smektisch, nematisch und cholester(in)isch, wobei bei Temperaturerhöhung
häufig mehrere smektische Phasen mit anschließender nematischer Phase auftre-
ten. Wie erwähnt, tritt nun der zusätzliche Ordnungsparameter Molekülrichtung
auf. In der smektischen Phase (s. Abb. 15.24 a) stimmen die Richtungen der Mo-
leküle überein, in der nematischen (s. Abb. 15.24 b) ist dies (annähernd) der Fall.
In der smektischen Phase liegt zusätzlich eine Schichtstruktur vor, bei der die
Molekülschwerpunkte in äquidistanten Ebenen angeordnet sind, die gegeneinan-
der verschiebbar sind (hochviskose Flüssigkeit), so dass wir hier von zweidimen-
sionaler Ordnung sprechen können. Nematische Kristalle“ haben dann also die
”
für Flüssigkeiten charakteristische unregelmäßige Anordnung der Molekülschwer-
punkte, die Direktoren sind jedoch vornehmlich parallel orientiert (eindimen-
sionale Ordnung). Die cholesterinische Phase (s. Abb. 15.24 c) entsteht durch
schraubenförmige Verdrehung nematischer Schichten, die Ganghöhe dieser Helix
variiert zwischen ca. 0,1 und 20 µm.
Abb. 15.24. Die flüssigkristallinen Mesophasen: a) smektisch: Schwerpunkte eindi-

mensional (z-Richtung) sowie Molekülrichtung geordnet. b) Nematisch: Schwerpunkte
ungeordnet, Richtung regelmäßig. c) Cholesterinisch = nematisch in Schraubenform mit
Ganghöhe g
Flüssigkristalle liegen in der Regel als doppelbrechende Polykristalle vor, de-

ren Kristallitgröße typisch 0,1 mm beträgt. Wegen der großen Anisotropie der
Brechzahl – |nao −no | 0,1 – tritt an den Grenzflächen wiederholt Brechung und
Reflexion und damit Streuung auf, die Substanz erscheint trüb. Diese Trübung
verschwindet jedoch beim geordneten Einkristall“. Oberhalb des Klärpunkts
”
(T > TK ) liegt eine isotrope Flüssigkeit mit unregelmäßiger Molekülrichtung
vor, die nur noch Rayleighstreuung aufweist und klar erscheint.
Abbildung 15.24 c macht verständlich, dass in der cholesterinischen Phase
eine hohe optische Aktivität vorliegt. Sind die Helixachsen senkrecht zur Schich-
toberfläche ausgerichtet, so wird außerdem Licht, dessen mittlere Wellenlänge
λ0
(no +nao )/2 mit der Ganghöhe g der Schraube übereinstimmt, aufgrund konstruk-
tiver Interferenz stark reflektiert. Bei Einstrahlung von weißem Licht und absor-
bierender Unterlage entstehen dann Interferenzfarben, die mit der Ganghöhe –
beispielsweise bei Temperaturänderung – variieren. Dies kann zur Messung von
Temperaturverteilungen herangezogen werden.
Wichtigste Anwendung ist die Flüssigkristallanzeige mit Hilfe der nematischen
Drehzelle (TN-Zelle, Twisted Nematic“, Schadt-Helfrich-Effekt). Der Aufbau
”
der Zelle ist in Abb. 15.25 wiedergegeben. Die etwa 5−10 µm dicke Flüssigkristall-
Schicht befindet sich zwischen 2 dünnen Glasplatten, auf die an den Außenseiten
– im vorliegenden Fall gekreuzte – Polarisationsfolien aufgebracht sind. Auf den
Innenseiten befinden sich durchsichtige Elektroden meist aus Indium-Zinnoxid
(ITO, s. Kap. 27). Durch unidirektionales Reiben bzw. Polieren einer Oberfläche
entstehen feine parallele Rillen, zu denen sich die länglichen Moleküle paral-
lel anordnen. In Abb. 15.25 wird dies durch dünne Kunststoff-Folien erreicht,
deren Vorzugsrichtung parallel zu den Transmissionachsen der gekreuzten Pola-
risatoren liegt. Ohne Signalspannung bewirkt die Wechselwirkung zwischen den
einzelnen Molekülen eine kontiniuerliche Verdrehung der Molekülachsen um den
durch die Polarisatoren vorgegebenen Gesamtwinkel von 90◦ . Eine von oben ein-
fallende polarisierte Lichtwelle wird dann ebenfalls um 90◦ gedreht und kann den
unteren Polfilter passieren. Bei angelegter Signalspannung (Wechselspannung, s.
Abb. 15.25 b) werden die Moleküle (außer an der Plattenoberfläche) parallel zu
den Feldlinien ausgerichtet, die Polarisationsebene wird nicht mehr gedreht und
die Anordnung sperrt das Licht. Auf diese Weise hat man einen Lichtschalter
(-Modulator) realisiert, dessen Schaltzeit im ms-Bereich liegt und der vornehm-
lich in Anzeigeelementen eingesetzt wird. Letztere arbeiten meist in Reflexion,
wobei (in Abb. 15.25) unter dem unteren Polarisator ein Spiegel angebracht ist.
Eine andere interessante Variante ist die Deformation aufgerichteter Pha-
sen (DAP-Effekt). Aufgrund der starken Wechselwirkung zwischen Träger und
Flüssigkristall stehen hier die Molekülachsen senkrecht auf den Platten, ohne
äußeres Feld sind dann alle Moleküle der nematischen Phase in dieser Richtung
geordnet (s. Abb. 15.26). Die Moleküle weisen häufig ein senkrecht zu ihrer Achse
gerichtetes permanentes Dipolmoment auf, so dass für die Dielektrizitätskonstan-
ten senkrecht und und parallel zur Achse ε⊥ > ε gilt. Infolgedessen orientieren
Abb. 15.25. Aufbau der Drehzelle aus Flüssigkristall FK und Glasplatten mit Linear-
polarisatoren, durchsichtigen Elektroden und Orientierungsschichten. a) Durchlassrich-
tung (U = 0): Verdrillung der Moleküle um 90◦ . b) Sperr-Richtung (U > US ): Ausrich-
tung der Moleküle
sich Einzelmoleküle in einem elektrischen Feld quer zu den Feldlinien. Unterhalb

einer Schwellspannung bleiben aufgrund der zusätzlichen molekularen Wechsel-
wirkung zunächst alle Moleküle aufgerichtet und die Zelle zeigt bei Lichteinfall
parallel zu den Achsen keine Doppelbrechung. Mit steigender Spannung werden
zunächst die Moleküle in der Zellenmitte in die waagrechte Lage gedreht. Die
Dicke dieser nun doppelbrechenden Schicht wächst mit steigender Spannnung
weiter, bis sie die Platten erreicht. Wir bekommen also im Arbeitsbereich der Zel-
le eine mit der äußeren Spannung U steuerbare Doppelbrechung mit einer über
die Länge der Zelle gemittelten außerordentlichen Brechzahl nao (U ). Zwischen
gekreuzten Polarisatoren beobachten wir dann in weißem Licht, wie die Zelle
Abb. 15.26. Durch eine elektrische Spannung induzierte Doppelbrechung beim DAP-
Effekt. a) U < US : Alle Moleküle sind ausgerichtet, die Brechzahlen stimmen über-
ein: nao = no . b) U > US : In einer zentralen Schicht tritt waagrechte Ausrichtung
und Doppelbrechung auf und bewirkt den spannungsabhängigen Gangunterschied ∆ =
(nao (U ) − no )d
oberhalb der Schwellspannung durchlässig wird und wie mit steigender Spannung
Interferenzfarben auftreten (vergl. Spannungsdoppelbrechung). Bei einfarbigem
Licht arbeitet die Anordnung als spannungsgesteuerte Verzögerungsplatte (z.B.
bei entsprechender Spannung als λ/2-Platte).
Zellen, bei denen die Moleküle aus der zunächst liegenden“ in die aufge-
”
richtete Stellung gedreht werden (Deformation liegender Phasen), sind ebenfalls
erhältlich und haben die gleichen Einsatzmöglichkeiten wie der DAP-Effekt. Zahl-
reiche weitere Anwendungen der Flüssigkristalle sind denkbar und gebräuchlich.
Man kann sie z.B. als Matrix für gestreckte Farbstoffmoleküle verwenden und auf
diese Weise einen dichroitischen Polarisator herstellen.
Übungen
15.1 Anfänglich unpolarisiertes Licht der Leistung Pein durchsetzt nacheinander drei
Linearpolarisatoren, deren Transmissionsachsen (TA) um jeweils 0◦ , 30◦ und 60◦
gegenüber der Horizontalen gedreht sind. Wie groß ist der resultierende Transmis-
sionsgrad (τ = Paus /Pein ) für unpolarisiert einfallendes Licht?
15.2 Bei welchen Einfallswinkeln ist Licht, das an der Grenzfläche Luft–Diamant (n =
2,42) bzw. Diamant-Luft reflektiert wird, vollständig linear polarisiert?
15.3 Dichroitische Polarisationsfolien sind keine idealen Polarisatoren, da der Transmis-
sionsgrad τmax für Licht mit der Polarisationsrichtung parallel zur TA nicht den
Wert 1 erreicht und der senkrechte Anteil nicht vollständig absorbiert wird, also
τmin
= 0.
a) Erweitern Sie das Malussche Gesetz unter Verwendung von τmax und τmin da-
hingehend, dass der Transmissionsgrad τ von zwei solchen Folien, deren TA um
θ gegeneinander verdreht sind, berechnet werden kann. Zeigen Sie, dass sich für
ideale Polarisatoren das Malussche Gesetz ergibt.
b) Wählen Sie τmax = 0,95 und τmin = 0,05 und vergleichen Sie die von zwei
Folien bei den Winkeln θ = 0◦ , 30◦ , 45◦ und 90◦ durchgelassenen Intensitäten
mit denen eines idealen Polarisators.
15.4 Welche Dicke muss eine Halbwellenplatte aus Glimmer für Licht des He-Ne-Lasers
(λ = 632,8 nm) haben? Die bei dem zweiachsig doppelbrechenden Glimmer maß-
gebenden Brechzahlen betragen n1 = 1,599 und n2 = 1,594.
15.5 Unpolarisiertes Licht trifft auf einen doppelbrechenden Stoff mit den angegebenen
Orientierungen der optischen Achse (OA).
Untersuchen Sie für die Fälle 1) bis 4):
a) Strahlaufspaltung durch Doppelbrechung?
b) Phasenverschiebung?
c) Polarisation von Teilstrahlen?
d) Welche Orientierung(en) sollte man für eine Viertelwellenplatte wählen?
15.6 Untersuchen Sie einen Soleil-Babinet-Kompensator (s. Abb. 15.12) aus Quarz
(no = 1,555, nao = 1,546 bei λ = 546,1 nm (grünes Hg-Licht)), der eine maximale
Phasenverzögerung entsprechend zwei Wellenlängen erzeugt.
a) Vergleichen Sie für die Position der maximalen Verzögerung die gesamte Dicke
d2 der Keilplatten mit d1 der Basisplatte (Angabe von d2 − d1 ).
b) Bei welcher Stellung (Dickendifferenz) erhält man zirkular polarisiertes Licht?
15.7 Ihnen stehen mehrere ideale dichroitische Polarisatoren zur Verfügung, die jeweils
50% der Intensität I0 des einfallenden unpolarisierten Lichtes durchlassen.
a) Zeigen Sie mit Hilfe einer Skizze, dass von einem Paar dieser Polarisatoren,
deren TA um θ gegeneinander verdreht sind, Licht der Intensität
I0
I= cos2 θ
2
durchgelassen wird.
b) Diskutieren Sie die Grenzfälle θ = 0◦ und 90◦ .
c) Zwischen zwei gekreuzte Polarisatoren werden fünf zusätzliche Polarisatoren

gebracht, deren Achsen um jeweils 15◦ gegenüber dem vorhergehenden gedreht
sind. Insgesamt sind also sieben Polarisatoren mit den Winkeln der TA von
θ = 0, 15, 30, . . . 90◦ in Reihe geschaltet. Welcher Bruchteil des einfallenden
Lichtes wird durchgelassen?
15.8 Welche Minimaldicke muss eine Viertelwellenplatte aus Quarz für die Vakuumwel-
lenlänge 589,3 nm haben?
15.9 Gegeben sei ein Wollaston-Prisma aus Kalkspat mit einem Keilwinkel von 45◦ (s.
Abb. 15.18). Wie groß ist der Winkel zwischen den beiden austretenden Strahlen,
wenn man Natrium-Licht (λ = 589 nm) verwendet?
15.10 Linear polarisiertes Licht durchsetzt eine 30 µm dicke Kristallplatte und ist an-
schließend zirkular polarisiert. Skizzieren Sie den Aufbau mit Angabe der optischen
Achse des Kristalls und erklären Sie den Vorgang. Berechnen Sie die entsprechende
Brechzahldifferenz für λ = 600 nm unter der Annahme, dass die minimal mögliche
Dicke vorliegt.
15.11 Das von einer Wasseroberfläche spiegelnd reflektierte Licht ist vollständig polari-
siert.
a) Welcher Einfallswinkel liegt vor?
b) Der gebrochene Strahl wird teilweise an einer unter der Wasseroberfläche be-
findlichen Glasplatte (n = 1,50) reflektiert. Um welchen Winkel muss diese
Platte relativ zur Oberfläche verkippt sein, damit das reflektierte Licht eben-
falls vollständig polarisiert ist?
15.12 Einfallendes Licht unbekannter Polarisation wird mit idealen Polarisatoren analy-
siert. Geben Sie jeweils Polarisationsart und -grad an.
a) Bei Verwendung eines Linearpolarisators beobachtet man bei Drehung keine
Veränderung der Intensität des durchgehenden Lichtes. Bringt man jedoch vor
den Polarisator eine Viertelwellenplatte, so variiert die Intensität mit dem Dreh-
winkel des Polarisators. Sie wird jedoch niemals Null.
b) Bei Drehung des Polarisators beobachtet man eine Variation der Lichtinten-
sität, die nirgends verschwindet. Der Polarisator wird in die Stellung maxima-
ler durchgelassener Intensität gebracht. Davor kommt eine Viertelwellenplatte,
deren optische Achse parallel zur TA des Polarisators steht. Drehung des Po-
larisators führt nunmehr zu Intensität null.
15.13 Licht aus einer Quelle, die sich in einem Immersionsöl der Brechzahl 1,62 befindet,
trifft auf eine ebenfalls im Öl liegende Planfläche aus Diamant (n = 2,42). Bei
welchem Einfallswinkel tritt maximale Polarisation auf? Welcher Brechungswinkel
liegt vor?
15.14 Für Glukose (Traubenzucker) findet man eine auf Länge (in cm) und Volumen-
konzentration (in g/cm3 ) bezogene spezifische Rotation von 20,5◦ · cm2 /g. Welche
Konzentration hat eine Lösung, die sich in einem Röhrchen von 12 cm Länge befin-
det und die Achse von linear polarisiertem Licht um 1,23◦ dreht?
15.15 a) Linear polarisiertes rotes Licht (λ = 700 nm) erfährt bei Durchgang durch eine
1 mm dicke Quarzplatte eine Drehung der Polarisationsebene um 5◦ . Welche
Drehung ist für violettes Licht (λ = 400 nm) zu erwarten, wenn die spezifische
Rotation ∼ λ−2 ?
b) Wie groß ist die spezifische Rotation von Quarz bei der Wellenlänge λ =
396,8 nm, wenn die Brechzahlen für links- und rechtszirkular polarisiertes Licht
nl = 1,55821 und nr = 1,55810 betragen?
c) Welche Dicke muss dann eine Platte haben, damit sie um 10◦ dreht?
15.16 a) Bei einer dünnen Kalkspatplatte liegt die optische Achse parallel zur Ober-
fläche. Welche Minimaldicke muss eine Viertelwellenplatte für Na-Licht (589 nm)
haben?
b) Welche Farbe wird von einem 18,2 µm dicken Zirkon-Plättchen (ZrSiO4) durch-
gelassen, wenn es sich in der 45◦ -Position zwischen gekreuzten Polarisatoren
befindet?
15.17 a) Zeigen Sie, dass die Brewster-Winkel zweier Medien für Reflexion am dichteren
und am dünneren Medium komplementär sind.
b) Wird bei einer Planplatte die einfallende TM-Welle unter dem Brewster-Winkel
vollständig durchgelassen, so gilt dies auch auf der anderen Seite für den aus-
tretenden Strahl. Warum?
15.18 Die Brechzahlen entlang der schnellen und langsamen Achsen von Quarz betragen
(für Licht der Wellenlänge 546 nm) 1,5462 und 1,5553.
a) Wie groß ist der relative (auf die Wellenlänge bezogene) Gangunterschied ∆/λ
der außerordentlichen und ordentlichen Teilstrahlen?
b) Welche Dicke hat eine Viertelwellenplatte nullter Ordnung?
c) Geben Sie die Ordnung einer Quarzplatte von 735 µm Dicke an.
d) Zwei Quarzplatten sind so verkittet, dass sie entgegengesetzte Gangunterschie-
de erzeugen. Welche Dickendifferenz müssen sie aufweisen, damit sie wie eine
Viertelwellenplatte arbeiten?
15.19 Ein Lineal aus Plastik mit 1,5 mm Dicke wird bei λ = 500 nm zwischen gekreuzten
Polarisatoren betrachtet. Bedingt durch innere Spannung sieht man eine Reihe von
hellen und dunklen Streifen. Schätzen Sie die Brechzahldifferenz n1 − n2 zwischen
benachbarten Streifen ab, indem Sie mit der Halbwellenplatte vergleichen.
15.20 Auf eine Planplatte aus Beryll – mit der optischen Achse parallel zur Oberfläche
– fällt linear polarisiertes Licht so ein, dass der E-Vektor um 45◦ zur optischen
Achse gedreht ist. Bestimmen Sie die minimalen Dicken (mit d
= 0), bei denen das
austretende Licht a) linear polarisiert und b) zirkular polarisiert ist.
15.21 Die Drehung der Polarisationsebene durch eine 1,15 mm dicke linksdrehende Quarz-
platte soll durch eine Halbwellenplatte kompensiert werden. Welcher Drehwinkel
muss für die Halbwellenplatte bei λ = 546 nm gewählt werden?
15.22 Nach 20.23 ist der Reflexionsgrad einer TE-Welle:
2
2 Pr sin(ε − ε )
TE = rTE = =
Pe sin(ε + ε )
a) Wie groß ist dieser Reflexionsgrad für die Grenzfläche Luft–Glas (n = 1,5) am
Brewster-Winkel? Welchen Wert hat TM ?
b) Der unter a) berechnete Wert von TE gilt auch für die Grenzfläche Glas–Luft.
Bestimmen Sie den Transmissionsgrad τTE eines Stapels von 10 Platten bei
Vernachlässigung von Vielfachreflexionen und Absorption.
c) Berechnen Sie außerdem den Polarisationsgrad
PTM − PTE
Π=
PTM + PTE
des durchgehenden Strahls.
15.23 Zwischen einem gekreuzten Polarisator-Analysator-Paar befindet sich eine Halb-
wellenplatte, deren schnelle Achse mit der TA-Achse des Polarisators den Winkel
θ einschließt. Wie verhält sich das austretende Licht bei Variation von θ?
15.24 a) Um welchen Winkel wird linear polarisiertes Licht der Wellenlänge 762 nm von
einer 3 mm dicken Quarzplatte gedreht?
b) Welche Drehung würde bei derselben Wellenlänge mit einer Halbwellenplatte
(erste Ordnung) aus Quarz auftreten?
16
Fraunhofer-Beugung
Einleitung
In den vorangegangenen Kapiteln wurde eine Reihe von Phänomenen, die wir
zusammenfassend als Interferenzeffekte“ bezeichnen können, durch den Wel-
”
lencharakter des Lichtes erklärt. In allen Fällen interferierten zwei oder mehr
kohärente Lichtwellen aus einer einzigen Lichtquelle, die durch Amplituden- oder
Wellenfront-Teilung erzeugt wurden. Die Beugung des Lichtes basiert auf der
Interferenz zahlreicher Elementarwellen und lässt sich als Abweichung von der
geometrischen Optik beschreiben, die aus einer Einschnürung der Wellenfront
resultiert. Diese Einengung kann z.B. durch eine Lochblende erfolgen. Der dann
auf einem Schirm hinter der Blende zu beobachtende Lichtfleck weist – abhängig
vom Schirmabstand – eine unter Umständen komplizierte und nach der geo-
metrischen Optik unerwartete Struktur auf. Die Lochblende charakterisiert den
Einfluss der Beugung bei vielen optischen Instrumente, da diese in der Regel nur
einen Ausschnitt der einfallenden Wellenfront verarbeiten.
Beugungseffekte sind auch dann zu beobachten, wenn das beugende Hinder-
nis neben einer eventuellen Amplitudenänderung eine Phasenverschiebung der
Lichtwelle bewirkt. Hierdurch entstehen z.B. im Laserlicht unerwünschte Beu-
460 16 Fraunhofer-Beugung
gungsbilder an Linsen, die durch kleine Gasblasen und andere Dichteänderun-

gen erzeugt werden. Da die Beugung bei einer optischen Abbildung zu einer
Verschmierung von Kanten führt, bewirkt sie eine prinzipielle Begrenzung des
Auflösungsvermögens optischer Instrumente. Die Realisierung von überwiegend
beugungsbegrenzten Optiken ist aufwändig, da sie die Korrektur der – in der Regel
überwiegenden – geometrisch-optischen Bildfehler voraussetzt.
Der in Kap. 10 untersuchte Doppelspalt lässt eine einfallende Wellenfront
nur an zwei Öffnungen passieren. Dabei wurde das resultierende Beugungsbild
unter der idealisierenden Annahme analysiert, dass von jeder Öffnung nur eine
Elementarwelle ausgeht, dass es sich also um Punkt- oder Linienquellen handelt.
Hier soll nun die Beugung an Spalten endlicher Breite analysiert werden, mit
dem Ergebnis, dass das Interferenzmuster eine zusätzliche Struktur aufweist, die
durch die Spaltbreite bestimmt wird.
Wir werden sehen, dass die Untersuchung von Beugungsproblemen mit Hil-
fe des Huygens-Fresnelschen Prinzips gute Übereinstimmung zwischen Theorie
und Experiment ergibt. Bekanntlich forderte Huygens, dass jeder Punkt einer
Wellenfront als Ausgangspunkt von Elementarwellen (sekundäre Kugelwellen)
angesehen werden kann; die neue Wellenfront ist dann die Einhüllende dieser
Elementarwellen. Fresnel nahm zusätzlich an, dass sich das resultierende Feld
in einem Punkt außerhalb dieser herausgegriffenen Wellenfront als Superposition
(phasen- und amplitudenrichtige Addition) aller von ihr ausgehenden Elementar-
wellen ergibt. Beugung ist somit – außer bei einer Elementarwelle – immer mit
Interferenz gekoppelt. Trotzdem werden häufig Beugung und Interferenz (im en-
geren Sinne) durch folgende Definition unterschieden: Bei Beugungsphänomenen
entstammen die interferierenden Teilwellen kontinuierlich verteilten, bei Interfe-
renz diskreten Quellen.
Eine Klassifizierung der Beugungseffekte erfolgt nach den experimentellen
Beobachtungsbedingungen bzw. den bei der Berechnung verwendeten mathema-
tischen Näherungen. Sind die Abstände Lichtquelle–Beugungsobjekt und Objekt–
Beobachtungsebene so groß, dass einfallende und gebeugte Wellenfront als eben
angesehen werden können, so spricht man von Fraunhofer-Beugung oder Fern-
feldnäherung. Bei der Fresnel- oder Nahfeldbeugung (s. Kap. 18) muss man hin-
gegen die Krümmung der Wellenfronten berücksichtigen. Im Fernfeld ändert das
Beugungsbild bei Verschiebung des Beobachtungsschirms lediglich seine Größe
und nicht die Struktur, während sich im Nahfeld sowohl Größe als auch Form
verändern. Verschiebt man den Beobachtungsschirm vom beugenden Objekt weg,
dann lässt sich verfolgen, wie nacheinander die von der geometrischen Optik sowie
der Nah- und Fernfeldnäherung beschriebenen Bilder sichtbar werden.
Man beachte, dass das Fresnel-Huygens-Prinzip an sich schon eine Näherung
darstellt, da es – z.B. in einer Öffnung – als generierende Wellenfront nur die der
direkt einfallenden Welle verwendet und die von den begrenzenden Rändern aus-
gehenden Wellen unberücksichtigt lässt. Diese Randeffekte sind in unmittelbarer
16.1 Beugung am Einzelspalt 461
Nähe der Apertur wichtig. Darüber hinaus bleiben Polarisationseffekte unberück-

sichtigt.
16.1 Beugung am Einzelspalt

Wir untersuchen zunächst die Fraunhofer-Beugung an einem Einzelspalt, einem
Rechteckspalt, dessen Höhe wesentlich größer als seine Breite b ist. Fraunhofer-
Beugung setzt ebene Wellenfronten voraus, so dass Quelle und Beobachtungsebe-
ne hinreichend weit von dem Spalt entfernt sein müssen; dies lässt sich am ein-
fachsten dadurch erreichen, dass man eine Punktquelle in den Brennpunkt einer
Sammellinse bringt oder paralleles Laserlicht verwendet und das Beugungsbild in
der Brennebene einer zweiten Sammellinse (s. Abb. 16.1) registriert. Dann werden
im Beobachtungspunkt P Parallelstrahlen fokussiert, die von allen Punkten der
Wellenfront des Spaltes (in Abb. 16.1 gestrichelt) ausgehen. Nach dem Huygens-
Fresnelschen Prinzip sind diese Strahlen Teile der von jedem Punkt des Spaltes
ausgehenden Elementarwellen, die in P entsprechend dem Superpositionsprinzip
interferieren (phasenrichtig überlagert werden). Wir entnehmen Abb. 16.1, dass
die Teilwellen in P phasenverschoben eintreffen, beispielsweise hat ein Strahl aus
der Mitte des Spaltes einen um ∆ geringeren optischen Weg zurückgelegt, als der
vom Punkt O oberhalb der optischen Achse.
Die Quellen der Huygens-Wellen sind auf der Wellenfront des Spaltes kontinu-
ierlich verteilt. Wir betrachten einen bei O gelegenen Ausschnitt der Wellenfront,
dessen Breite dx so klein ist, dass von ihm nur eine Elementarwelle mit fester
Phase ausgeht. Sie liefert im Punkt P zur Feldstärke E P den Beitrag
dE P ∼ dÊ O ej(ωt−kr) (16.1)

Hierbei ist dÊ O die Amplitude der von O ausgehenden Welle, die proportional
zu der auf den Spalt treffenden Amplitude Ê S und zur Breite dx ist:
dÊ O ∼ Ê S dx (16.2)
Weiterhin ist der optische Weg r des Strahles von O nach P um den Gang-
unterschied
∆ = x sin α (16.3)
größer ist als der Weg r0 zwischen O und P , es gilt also r = r0 + ∆. Aus (16.1)
folgt für den allein interessierenden ortsabhängigen Anteil, die Beugungsamplitu-
de:
dÊ P ∼ Ê S e−jk(r0 +∆) dx (16.4)

Abb. 16.1. Fraunhofer-Beugung am Einzelspalt der Breite b. Der Spalt wird von einer
ebenen Welle bestrahlt. ∆ = x sin α ist der Gangunterschied von Strahlen, die von O
und O ausgehen. Die Beobachtung von Beugungsamplitude und -intensität erfolgt in
der Brennebene einer Linse L (x: Aperturebene, X: Beobachtungsebene)
Die gesamte Beugungsamplitude im Punkt P ergibt sich dann durch Integration

von (16.4) über alle Teilwellen des Spaltes der Breite b:
b/2
−jk∆
Ê P = C Ê S e dx = C Ê S e−jkx sin α dx (16.5)
−b/2
Die komplexe Konstante C wird später genauer diskutiert, sie ist u.a. propor-
tional zur Spalthöhe und enthält auch den konstanten Beitrag e−jkr0 aus (16.4).
Die Ausführung der Integration führt mit u = k sin α, der x-Komponente des
Wellenvektors, auf
b/2
e−jux ejub/2 − e−jub/2
Ê P = C Ê S = 2C Ê
−ju −b/2 S
2ju

b sin(ub/2) ub
= 2C Ê S ≡ C Ê S b sinc (16.6)
2 (ub/2) 2
somit ist
bk sin α
Ê P = C Ê S b sinc (16.7)
2
In (16.7) haben wir die in Signaltheorie und Optik (s. Kap. 12) wichtige
sin β
sinc-Funktion sinc β = (16.8)
β
eingeführt. Sie hat den Grenzwert

sin β β
lim sincβ = lim ≈ lim = 1 (16.9)
β→0 β→0 β β→0 β
den wir durch Reihenentwicklung der sin-Funktion erhalten.

Aus (16.3) und ∆ϕ = k∆ folgt, dass das Argument
ub bk sin α πb
β= = = sin α (16.10)
2 2 λ
gerade gleich dem Phasenunterschied zwischen zwei von der Mitte und dem obe-
ren (oder unteren) Randpunkt des Spaltes ausgehenden Teilwellen ist. Beim Beu-
gungswinkel α = 0 wird auch β = 0 und wegen sinc(0) = 1 (s. (16.9)) ist
dann nach (16.7): Ê P (0) ≡ Ê 0 = C Ê S b. Mit der Beugungsintensität I ∼ ÊP2
gilt dann im Punkt P für die
Beugungsamplitude Ê P = Ê 0 sinc β (16.11)
und die
Beugungsintensität I = I0 sinc2 β (16.12)
Hierbei sind – wie erwähnt – Ê 0 und I0 die bei Beugungswinkel α = 0 ge-

messene Amplitude und Intensität; 2β ist die Phasendifferenz der Randstrahlen.
(s. (16.10)).
Die grafische Darstellung von Amplitude und Intensität (s. Abb. 16.2) zeigt
dementsprechend bei α = 0 das zentrale Beugungsmaximum. Beugungsminima
werden bei den Nullstellen der sinc-Funktion beobachtet, die bei β = πb
λ
sin αmin =
nπ auftreten. Damit gilt bei der Spaltbeugung (b ist die Spaltbreite) für die:
λ
Beugungsminima sin αmin = n mit n = ±1, ±2, . . . (16.13)
b
Hieraus folgt für kleine Beugungswinkel (sin α ≈ α ≈ tan α = X

f , s. Abb. 16.1)
für die Lage der Minima auf dem Schirm:
λf
Xmin = n (16.14)
b
Das Hauptmaximum liegt bei
Abb. 16.2. Verlauf der sinc-Funktion (durchgezogene Kurve), die gleich der normierten
Beugungsamplitude Ê/Ê0 für Fraunhofer-Beugung am Einzelspalt ist, als Funktion von
β = πb
λ
sin α. Die normierte Beugungsintensität (gestrichelte Kurve) erhält man durch
Quadrieren: I/I0 = sinc2 β
Hauptmaximum αmax = 0 (16.15)
und damit genau im Zentrum zweier Minima gleicher Ordnung (±n). Nebenmaxi-
ma sind nicht exakt in der Mitte zwischen benachbarten Minima. Ihre Lage folgt
d
aus der Bedingung (s. (16.11)) dβ (sincβ) = β cos β−sin
β2
β
, also der transzendenten
Gleichung
β = tan β (16.16)
Die in Abb. 16.3 wiedergegebene grafische Lösung dieser Gleichung zeigt,
dass mit zunehmendem β die Nebenmaxima genau in die Mitte zwischen den
angrenzenden Minima rücken. Die numerische Lösung ergibt beim ersten Neben-
maximum β1 = 1,43π (statt 1,5π für die Mitte), beim zweiten 2,46π (statt 2,5π),
dann 3,47π (statt 3,5π) usw., also jeweils eine leichte Verschiebung. Mithin gilt
für die
2|n| + 1 λ
Nebenmaxima sin αNebenmax ≈ ± · (16.17)
2 b
mit einem Winkelfehler kleiner 4,6%.

Beispiel 16.1 Spaltbeugung
Wie groß ist bei der Beugung am Einzelspalt das Verhältnis der Beugungsam-
plituden und Bestrahlungsstärken von erstem Nebenmaximum zu zentralem
Maximum?
Abb. 16.3. Grafische Lösung der transzendenten Gleichung β = tan β als Schnitt-
punkte der Kurven y = β und y = tan β. Die Lösungen βi entsprechen Maxima
der sinc-Funktion und legen damit die Beugungswinkel der Beugungsmaxima fest. Bei
β = 0 liegt das Hauptmaximum
Lösung
Das Amplitudenverhältnis ergibt sich als:
Êβ=1,43π sinc(1,43π) Iβ=1,43π

= = −0,217 und = 0,2172 = 0,047
Êβ=0 sinc(0) Iβ=0
Das erste Nebenmaximum hat somit knapp 5% der Intensität des

Hauptmaximums. Genau in der Mitte zwischen den Minima gilt hingegen:
Êβ=1,5π sinc(1,5π) 2 Iβ=1,5π

= =− = −0,212 und = 0,2122 = 0,045.
Êβ=0 sinc(0) 3π Iβ=0
Der Intensitätsfehler ist mit 4,8% etwa gleich dem oben erwähnten
Winkelfehler.
Wird in Abb. 16.1 der Abstand |a| zwischen Spalt und Linse sehr groß, so
liegt das geometrisch optische Abbild des Spaltes ebenfalls in der Brennebene der
Linse (Bildweite a → f für a → −∞). Aufgrund der Wellennatur des Lichtes
sehen wir dann aber statt des scharfen Bildes des Spaltes ein Beugungsbild,
dessen Ränder unscharf sind und dessen Breite durch die des Hauptmaximums
bestimmt wird. Solche typischen Beugungsverbreiterungen werden später noch
an weiteren Beispielen untersucht. Als Maß für die Beugungsverbreiterung wird
die Winkelbreite des Hauptmaximums herangezogen, die als Winkelabstand ∆α
zwischen +1. und −1. Minimum definiert wird. Aus (16.13) folgt für kleine Winkel
(sin α ≈ α) und n = ±1 für die Winkelbreite des Hauptmaximums 1:
2λ
∆α ≈ (16.18)
b
Gleichung (16.18) drückt die reziproke Wirkung der Beugung aus: Je enger der
Spalt wird, desto breiter wird das Hauptmaximum; außerdem wächst die Breite
des Beugungsbildes mit der Wellenlänge. Da die Höhe des Spaltes – gemäß Vor-
aussetzung – wesentlich größer als seine Breite sein sollte, kann – nach (16.18) –
die Beugungsverbreiterung in senkrechter Richtung vernachlässigt werden.
16.2 Beugungsbedingte Strahldivergenz

Nach (16.18) ist die Winkelbreite ∆α des Hauptmaximums (im Fernfeld) un-
abhängig vom Abstand zwischen Spalt und Schirm. Die Breite B des Hauptma-
ximums 1 nimmt hingegen mit dem Abstand l zu (s. Abb. 16.4):
2lλ
Beugungsverbreiterung B ≈ l∆α = (16.19)
b
Für l = f ergibt sich hieraus der in der Brennebene einer Linse (s. Abb. 16.1)
gemessene Durchmesser. Gleichung (16.19) lässt sich so interpretieren, dass je-
de Einschnürung einer Welle auf eine Breite b – unabhängig von der Art der
Realisierung – zu einer Verbreiterung der Ausgangswelle führt. Dies gilt auch,
wenn man in Abb. 16.4 den Spalt weglässt und direkt einen Strahl der Breite b
verwendet. Ein Parallelstrahl“ der geometrischen Optik wird mithin nach Kolli-
”
mation so divergieren, als ob er aus einer endlich breiten Apertur stammt. Diese
Beugungsdivergenz begrenzt damit auch die Kollimation von Laserstrahlen und
ist eine unvermeidbare Konsequenz der Wellennatur des Lichtes.
Beispiel 16.2 Beugungsverbreiterung
Im Labor breitet sich ein Parallelstrahl der Wellenlänge 546 nm und der Breite
b = 0,5 mm über eine Entfernung von 10 m aus. Welchen Durchmesser hat
der Strahl am Ende, wenn man nur Beugungsverbreiterung zugrunde legt?
1
bei großen Winkeln gilt: ∆α = 2 arcsin(λ/b) und B = 2l tan(∆α/2).
16.2 Beugungsbedingte Strahldivergenz 467
Abb. 16.4. Beugungsverbreiterung des Hauptmaximums der Einzelspaltbeugung auf

die Winkelbreite ∆α und die Breite B (im Fernfeld)
Lösung
Nach (16.19) ist B = 2lλ
b
≈ 22 mm.
Die Strahlverbreiterung nach (16.18) und (16.19) gilt für lineare und Rechteck-
Aperturen. Bei Kreisblenden vom Durchmesser D = b muss in (16.19) mit dem
Faktor 1,22 multipliziert werden (s. Kap. 16.3). Außerdem wurde eine ebene
Wellenfront mit konstanter Strahldichte vorausgesetzt2 . Bei der Anwendung von
(16.19) ist außerdem zu beachten, dass die Fraunhofer- oder Fernfeldnäherung zu-
grunde gelegt wurde, d.h. der Abstand l muss hinreichend groß sein. Bei Nichtbe-
achtung dieser Voraussetzung würde sonst die Breite B des Strahles bei kleinen
l kleiner als die Breite b der Öffnung. Offenbar muss ein Minimalabstand lmin
existieren, bei dem für die Strahlbreite gilt: B = b. Nach (16.19) ist dann
b2
lmin =
2λ
Die Fernfeldbedingung ist für Abstände l lmin erfüllt, d.h.
b2
Fernfeldbedingung l lmin = (16.20)
λ
Verallgemeinerung führt zu dem Kriterium für Fraunhofer-Beugung

2
Ein Laserstrahl weist in seiner Grundmode ein Gaußsches Strahlprofil auf, dann tritt
in (16.19) der Faktor 1,27 statt 2 auf (s. Kap. 21).
Fläche der Apertur

Abstand l (16.21)
λ
16.3 Rechteck- und Kreisblenden

Im vorigen Kapitel wurde die Beugung an einem schmalen Einzelspalt, dessen
Breite b wesentlich kleiner als seine Höhe war, diskutiert (s. Abb. 16.5 a). Bei
einem kleinen Rechteckspalt mit etwa gleichen Seitenlängen tritt eine Beugungs-
verbreiterung mit den Beugungswinkeln α1 und α2 in beiden Raumrichtungen
auf. Durch Verallgemeinerung von (16.5) erhält man für die Beugungsamplitude
im Punkt P :
b2 /2 b1 /2
Ê P (α1 , α2 ) = C Ê S e−jk(x sin α1 +y sin α2 ) dx dy (16.22)
−b2 /2 −b1 /2
Nach Ausführung der Integration und Quadrierung ergibt sich für die Intensität
der Beugung an einer

2 u1 b1 2 u2 b2
Rechteckblende I(α1 , α2 ) = I0 sinc sinc (16.23)
2 2
mit u1 = k sin α1 ≈ kX
f und u2 = k sin α2 ≈ f (s. Abb. 16.5 b) und I0 = I(0,0),
kY
der Intensität des Hauptmaximums.

Dementsprechend beobachtet man Beugungsminima bei
λ
sin α1min = n1 in X−Richtung
b1 mit n1 , n2 = ±1, ±2, . . .
λ
sin α2min = n2 in Y −Richtung
b2
(16.24)
Die Abbildungen 16.5 c und 16.5 d zeigen experimentelle Ergebnisse.

Bei der Beugung an einer Kreisblende vom Radius R muss die Beugungsfi-
gur aus Symmetriegründen rotationssymmetrisch sein. Es genügt deshalb, den
Feldstärkeverlauf auf dem Schirm in einer Richtung (hier X−Achse mit X =
l sin α) zu berechnen. Auf dieser Achse laufen alle von einem schmalen – zur
y-Achse parallelen – Rechteckstreifen der Fläche dA = 2y dx (s. Abb. 16.6 a)
ausgehenden Zylinderwellen zusammen, für einen festen x-Wert ist also die Phase
y-unabhängig. Dann wird die gebeugte Amplitude (s. (16.22)):

Ê P = C Ê S e−jkx sin α 2y dx
16.3 Rechteck- und Kreisblenden 469
Abb. 16.5. Beugung am Rechteckspalt der Breiten b1 und b2 . a) Schmaler Einzel-

spalt der Breite b1 < b2 . Die Beugung erfolgt vornehmlich in Richtung der x-Achse,
der Richtung minimaler Ausdehnung. b) Zweidimensionale Beugung am Rechteckspalt
mit b1 ≈ b2 . c) Bild der Beugungsintensität für einen Linienspalt entsprechend Fall a.
Beachten Sie das Reziprokverhalten der Beugung: Große Spaltbreite ergibt kleinen Ab-
stand der Beugungsminima. d) Beugungsbild für einen quadratischen Spalt entspre-
chend Fall b
Nach Abb. 16.6 a ist

y= R2 − x2
wobei R der Blendenradius ist. Einsetzen ergibt
R
Ê P = 2C Ê S e−jkx sin α R2 − x2 dx
−R
und hieraus (mit ξ = x/R und γ = kR sin α):

1 J1 (γ)
Ê P = 2C Ê S R 2
e−jγξ 1 − ξ 2 dξ = C Ê S πR2 · 2 (16.25)
−1 γ
Dabei wurde das Integral durch die Besselfunktion erster Ordnung J1 (γ) entspre-
chend der Beziehung
1 J1 (γ)
e±jγξ 1 − ξ 2 dξ = π (16.26)
−1 γ
ersetzt. Die Besselfunktion J1 (γ) (s. Abb. 16.6) lässt sich durch eine unendliche
Reihe ausdrücken:
γ (γ/2)3 (γ/2)5
J1 (γ) = − + −··· (16.27)
2 1! · 2! 2! · 3!
16.3 Rechteck- und Kreisblenden 471
Abb. 16.6. Beugung an einer Kreisblende. a) Bestimmung der Beugungsamplitude

durch Integration über die Kreisapertur. b) Bessel-Funktion J1 (γ) sowie Vergleich von
jinc“-Funktion 2 J1 (γ)/γ und sinc-Funktion sin γ/γ. Nulldurchgänge entsprechen Beu-
”
gungsminima. Die erste Nullstelle der sinc- Funktion liegt bei γ = π, die von J1 (γ)
bei γ = 3,832
Hieraus folgt, dass 2 J1γ(γ) für γ → 0 gegen den Grenzwert 1 geht. Entsprechend
(16.25) tritt bei der Beugung an einer Kreisblende an die Stelle der Sinusfunkti-
on der Spaltbeugung die Besselfunktion und an die Stelle der sinc-Funktion die
Sombrero-Funktion“ 3 2 J1 (γ)/γ. Die beiden Funktionen werden in Abb. 16.6 b
”
verglichen; auffallend sind die nicht äquidistanten Nulldurchgänge und die ra-
scher abnehmende Amplitude von J1 (γ). Aus (16.25) folgt für die
3
Auch jinc-Funktion“ genannt (jincγ = 2J1 (γ)/γ).
”
2
2J1 (γ)
Beugungsintensität der Kreisblende I(γ) = I0 (16.28)
γ
mit dem Beugungsparameter γ:

1
γ= kD sin α (16.29)
2
und D = 2R, dem Blendendurchmesser. Der Intensitätsverlauf ist in Abb. 16.7
wiedergegeben, die Fotografie bestätigt die Rotationssymmetrie. Das Hauptma-
ximum der Intensität I0 liegt wieder bei α = 0, das 1. Minimum wird bei der
ersten Nullstelle der J1 (γ)-Funktion, die bei γ1 = 3,832 liegt, beobachtet. Dann
folgt aus (16.29):
λ
1. Beugungsminimum sin α1. Min = 1,22 (16.30)
D
mit dem Blendendurchmesser D.

Wie bereits erwähnt, ist das Minimum gegenüber einem Einzelspalt der Breite D
(s. (16.13)) nach größeren Winkeln verschoben. Weitere Minima können analog
aus den weiteren Nullstellen (bei γ2 = 7,016, γ3 = 10,173, γ4 = 13,324) be-
rechnet werden. Die Nebenmaxima sind deutlich lichtschwächer als beim Einzel-
spalt (beim 1. Nebenmaximum gilt I1 /I0 = 1,2% gegenüber 4,7%, s. Bsp. 16.1).
Der zentrale Fleck beinhaltet demnach fast die gesamte Beugungsintensität. Der
Winkeldurchmesser ∆α dieses sogenannten Airy-Scheibchens (vgl. (16.18)) ist
gegeben durch
1,22λ 1,22λ
Airy-Scheibchen ∆α = 2 arcsin ≈2· (16.31)
D D
16.4 Auf lösungsvermögen

Bei der Fraunhofer-Beugung am Einzelspalt (s. Abb. 16.1) ist das Beugungs-
bild – bei hinreichend großem Linsendurchmesser – unabhängig vom Abstand a
zwischen Spalt und Linse. Bei Abstand null fallen beugende Apertur und Linse
zusammen, und wir können die Anordnung durch eine Linse mit dem Durch-
messer der Apertur ersetzen. Dies ist außer bei einer Einzellinse auch bei dem
Objektiv eines Teleskops der Fall, wo somit das erzeugte Bild durch die Beu-
gung an einer Kreisblende beeinflusst wird. Die Schärfe des Bildes eines weit
entfernten Objektes, z.B. eines Sterns, ist folglich – bei vernachlässigbar klei-
nen geometrisch-optischen Bildfehlern – durch die Beugung begrenzt. Statt ei-
nes Bildpunktes erhält man eine (evtl. stark verschmierte) Beugungsfigur mit
Abb. 16.7. a) Intensitätsverteilung im Beugungsbild der Kreisblende. Die Lichtenergie

geht fast vollständig in das Hauptmaximum. b) Beugungsbild der Kreisblende. Der
zentrale Kreis entspricht der nullten Beugungsordnung und wird als Airy-Scheibchen
bezeichnet
Abb. 16.8. a) Einfluss der Beugung auf die Abbildung von zwei Punktobjekten durch
eine Linse. Die Beugungs- oder Airy-Scheibchen sind hier klar getrennt. b) Bilder von
zwei inkohärenten Punktquellen. In diesem Beugungsbild sind die beiden Bilder gut
aufgelöst. c) Abbildung von zwei inkohärenten Punktquellen an der Auflösungsgrenze
dem hellen Airy-Scheibchen in der Mitte (s. Abb. 16.7). Die Betrachtung des
vom Objektiv erzeugten Zwischenbildes mit einer Lupe führt lediglich zu einer
weiteren Vergrößerung und liefert keine neuen Details, die Auflösungsgrenze ist
allein durch das Primärbild festgelegt. Diese unvermeidliche Beugungsverbreite-
rung begrenzt das Auflösungsvermögen eines optischen Instrumentes, also seine
Fähigkeit, einzelne Objektpunkte zu unterscheiden, sei es, dass diese räumlich
nah benachbart (wie im Mikroskop) oder – wie beim Teleskop – durch einen klei-
nen Winkel getrennt sind. Abbildung 16.8 zeigt den Einfluss der Beugung auf die
Abbildung von zwei Punktobjekten mit dem Winkelabstand w, der auch zwischen
den Airy-Scheibchen auftritt. Ist dieser Winkel hinreichend groß, so lassen sich
deutlich zwei Bilder erkennen (s. Abb. 16.8 b). Bringt man die Objekte Q1 und
Q2 immer näher zusammen, beginnen die Beugungsbilder zu überlappen und ih-
re Unterscheidung – die Auflösung der Objektpunkte – wird immer schwieriger.
Abb. 16.8 c zeigt eine Aufnahme an der Grenze der Auflösung. Das Rayleigh-
Kriterium definiert als Auflösungsgrenze den Winkelabstand wMin zwischen den
Beugungsscheibchen, der gleich dem Beugungswinkel α1. min des 1. Beugungs-
minimums ist (s. Abb. 16.9). Damit fällt das Maximum des einen Scheibchens
mit dem 1. Minimum des zweiten zusammen. Nach (16.30) ist dann der minimal
auflösbare Winkelabstand an der
λ
sin wmin = sin α1.Min = 1,22 oder
Auflösungsgrenze D
λ
wmin ≈ 1,22 (16.32)
D
D ist der Durchmesser des Objektivs oder – genauer – der Aperturblende. Die
Auflösungsbedingung ist durch die Forderung w ≥ wmin gegeben. Vergrößerung
des Linsendurchmessers und abnehmende Wellenlänge reduzieren den minimalen
Sehwinkel und verbessern mithin die Auflösung.
Abb. 16.9. Rayleigh-Kriterium zur Bestimmung des beugungsbegrenzten Auflö-

sungsvermögens: Das Beugungsmaximum des Punktobjekts 1 fällt auf das 1. Minimum
von Objekt 2. Die gestrichelte Kurve ist die Summe der Beugungsintensitäten der beiden
Einzelpunkte
Beispiel 16.3 Auf lösungsvermögen

Ein Fernglas trägt den Aufdruck 8 × 30 und sei beugungsbegrenzt. Welchen
Winkelabstand müssen dann zwei Sterne mindestens haben, um auflösbar zu
sein? Vergleichen Sie mit einem Radioteleskop mit λ = 1 cm und Durchmesser
D = 100 m.
Lösung
Aus den Angaben entnimmt man, dass dieses Fernglas 8-fache
Winkelvergrößerung und einen Durchmesser der Eintrittspupille von
D = 30 mm hat. Wir wählen λ = 550 nm und erhalten
λ
wmin ≈ 1,22 = 2,24 · 10−5 rad =
ˆ 4,6 (Winkelsekunden)
D
Befinden sich die beiden Sterne im Zentrum unserer Galaxie, so ist der
Abstand von uns etwa l = 3 · 104 Lichtjahre; damit ist der Abstand der
Sterne voneinander: s = l wmin = 0,67 Lichtjahre. Zum Vergleich: Der
Planet Pluto am Rande unseres Sonnensystems ist nur etwa
5,5 Lichtstunden entfernt.
Beim Radioteleskop erhält man wmin = 2,6 mrad. Trotz des großen
Teleskopdurchmessers ist hier die Auflösung – aufgrund der großen
Wellenlänge – wesentlich schlechter.
Wir betrachten nun einige Beispiele und Anwendungen:

Zur Berechnung des minimalen Abstandes ymin , den ein Mikroskop auflösen kann,
müssen wir ein selbstleuchtendes (z.B. fluoreszierendes) Objekt betrachten, um
die Voraussetzung inkohärenter Wellen zu erfüllen. Wegen der kleinen Gegen-
standsweite a ≈ f fallen keine ebenen Wellen auf das Mikroskop, und das Bild
liegt weit außerhalb der Brennebene. Aufgrund der Umkehrbarkeit von Strah-
lengängen ist die Auflösungsbedingung wieder durch (16.32) gegeben. Für kleine
Winkel (sin α ≈ tan α) erhalten wir dann (nach Abb. 16.10) für die Auf lösungs-
grenze des Mikroskops (bei zwei selbstleuchtenden Objektpunkten):
λ λ0
Mikroskop ymin ≈ wmin f = f · 1,22 = 0,61 (16.33)
D AN
λ0
Hierbei ist λ = die Wellenlänge im Objektraum, die durch ein Immersionsöl
n
(der Brechzahl n) reduziert werden kann, und AN die numerische Apertur, die
mit dem Öffnungswinkel 2u bekanntlich folgendermaßen verknüpft ist:
D/2
numerische Apertur AN = n sin u ≈ n (16.34)
f
Abb. 16.10. Minimale Winkelauflösung wmin und minimal auflösbarer Punktabstand

ymin des Mikroskops. 2u ist der Öffnungswinkel des Strahlenbündels, das von einem
Objektpunkt ausgeht
Meist werden in der Mikroskopie nicht selbstleuchtende Amplituden- oder Pha-

senobjekte verwendet, bei denen von nah benachbarten Objektpunkten kohären-
te Wellen ausgehen. Die Abbesche Theorie des Mikroskops verwendet deshalb
als Objekt ein mit kohärentem Licht beleuchtetes Amplitudengitter, an dem
λ0
Lichtbeugung auftritt. Für parallel einfallendes Licht ist dann ymin ≈ . Das
AN
Auflösungsvermögen ist außerdem von der Phasenstruktur und der Form der
Objekte abhängig.
Zusammenfassend lässt sich feststellen:
Ein abbildendes Mikroskop kann Strukturen im Größenbereich einer Wel-
lenlänge auflösen; hohe Auflösungen können folglich durch Verwendung von
UV-, Röntgen- oder Elektronenmikroskopen4 erzielt werden.
Die Beschränkung des Auflösungsvermögens auf die oben angegebenen Wer-

te gilt nur für abbildende Systeme, die im Fraunhoferschen Fernfeld arbeiten.
In den letzten Jahren wurden Nahfeldmikroskope entwickelt, bei denen das aus
dem Objekt austretende Wellenfeld direkt dahinter abgetastet wird. Hier ist die
Auflösung nur durch den Durchmesser der Abtastsonde, der wesentlich kleiner
als eine Wellenlänge sein kann, bestimmt.
4 h
Hier wäre in (16.33) die de Broglie-Wellenlänge λ = mv
zu verwenden.
Abb. 16.11. Beugung an der Augenpupille begrenzt die Auflösung von zwei Objekten
A und B auf den Winkelabstand wmin
Das menschliche Auge hat als wesentliche Elemente die Augenlinse, die Retina
und die Pupille als Beugungsapertur (s. Abb. 16.11), deren Durchmesser zwischen
2 mm (helles Tageslicht) und 8 mm (Dämmerung) variiert. Nach (16.32) müsste
dann das Auflösungsvermögen bei weit geöffneter Pupille am besten sein. Dies ist
jedoch nicht der Fall, da neben der Beugungsbegrenzung der Abstand der Seh-
zellen auf der Retina begrenzend wirkt und geometrisch-optische Bildfehler auf-
treten, die mit dem Pupillendurchmesser (∼ D3 ) zunehmen und bei D 4 mm
dominieren. Das Auge ist dementsprechend nur für D 3 mm überwiegend beu-
gungsbegrenzt; bei D ≈ 4 mm liegt die größte Sehschärfe vor. Für λ = 600 nm
und D = 3 mm erhalten wir aus (16.32) wmin = 2·10−4 rad. Experimentell findet
man etwa den 1,5-fachen Wert, also 3·10−4 rad (entsprechend 1 = 1 Winkelmin.),
was 3 mm Abstand der Objektpunkte bei 1 m Entfernung entspricht.
Je nach Helligkeit und Objektform kann das menschliche Auge noch
Punktabstände von etwa einer Winkelminute (1 ) auflösen (R. Hooke 1676).
16.5 Beugung am Doppelspalt

Die Beugung am Doppelspalt (zwei Einzelspalte bei x = ±g/2 mit Breite b
und Abstand g) kann durch phasenrichtige Addition der von den Einzelspal-
ten ausgehenden Elementarwellen berechnet werden. Abb. 16.12 zeigt, dass beim
Beugungswinkel α alle Elementarwellen a , b , . . ., die von dem bei x = g/2
gelegenen oberen Spalt ausgehen, einen um ∆1 = −g/2 sin α geringeren opti-
schen Weg gegenüber den entsprechenden Wellen a, b, . . . eines fiktiven Spaltes
bei x = 0 zurücklegen. Damit wird die gesamte von einem Einzelspalt ausgehende
Beugungsamplitude ÊP (s. (16.11)) um den Phasenwinkel
1 πg sin α
ϕ = −k∆1 = gk sin α = (16.35)
2 λ
16.5 Beugung am Doppelspalt 479
Abb. 16.12. Geometrie und Gangunterschied bei Beugung am Doppelspalt mit Spalt-
breite b und Spaltabstand g. Alle vom oberen Spalt 1 ausgehenden Elementarwellen
a , b , . . . eilen um ∆1 = g/2 · sin α gegenüber den entsprechenden Wellen eines fiktiven
Spaltes bei x = 0 vor (→Verschiebungstheorem)
verschoben, und man erhält für die vom oberen Spalt 1 ausgehende voreilende
Wellenamplitude Ê 1 :
Ê 1 = Ê P e−jk∆1 = Ê P ejk sin α g/2

Die obigen Überlegungen gelten auch für die Verschiebung einer beliebig geform-
ten Beugungsapertur und ergeben den Verschiebungssatz (der Fourier-Transfor-
mation):
Verschiebung der Beugungsapertur um x0 von x nach x + x0 führt zu
einer Multiplikation der zum Ort x gehörigen Beugungsamplitude mit dem
Phasenfaktor ejkx x0 = ejkx0 sin α .
Damit erhalten wir für den Doppelspalt (aus den Spalten 1 und 2)
Ê = Ê 1 + Ê 2 = Ê P ejϕ + Ê P e−jϕ = 2Ê P cos ϕ

wobei Ê P = Ê 0 sincβ die Amplitude des Einzelspalts (s. (16.11)) sowie nach
(16.10): β = π sin α/λ. Damit gilt beim Doppelspalt für die
Beugungsamplitude Ê = 2Ê 0 sincβ cos ϕ ≡ Ê 0 · F · G (16.36)
und die
Beugungsintensität I = 4I0 sinc2 β cos2 ϕ ≡ I0 · F 2 · G2 (16.37)
mit
π π
Phasenwinkel ϕ= g sin α und β = b sin α (16.38)
λ λ
E0 und I0 sind die beim Beugungswinkel α = 0 gemessenen Werte für den

Einzelspalt, Formfaktor F = sincβ und Strukturfaktor G werden im Folgenden
erklärt. Im Hauptmaximum (α = 0) überlagern sich die Wellen der beiden Einzel-
spalte ohne Phasenverschiebung und wir erhalten demgemäß doppelte Amplitude
und vierfache Intensität 4I0 .
Die Gleichungen (16.36) und (16.37) lassen sich anschaulich verstehen. Wir
schreiben zunächst in (16.37) den Faktor 4 I0 cos2 ϕ ausführlich:

2 πg sin α
2
ID = 4I0 cos ϕ = 4I0 cos ≡ I 0 · G2 (16.39)
λ
Der Vergleich mit (10.15) zeigt, dass dies gerade die Intensitätsverteilung beim
Youngschen Doppelspaltversuch ist, bei dem ja von den Einzelspalten nur jeweils
eine Elementarwelle ausgehen sollte, also b < λ gefordert war. Der Faktor G2
(und damit ID ) wird nur durch den Abstand g – und nicht die Breite – der
Spalte bestimmt. G wird als Struktur-, Anordnungs- oder Interferenzfaktor be-
zeichnet, G2 ist die Strukturfunktion. Beim realen Doppelspalt endlicher Breite
b treten auch Interferenzen zwischen den Elementarwellen desselben Spaltes auf,
die von dem Form-, Spalt- oder Beugungsfaktor F = sincβ (16.36), der normier-
ten Beugungsamplitude des Spaltes (16.11), erfasst werden. Die gesamte relative
Beugungsamplitude Ê/Ê0 (16.36) ist dann gleich dem Produkt von Form- und
Strukturfaktor und die Beugungsintensität I/I0 (16.37) ist das Produkt von Spalt-
und Strukturfunktion. In Abb. 16.13 a sind diese Funktionen für g = 6 b einzeln
und in 16.13 b als Produkt dargestellt. Man erkennt, dass die Strukturfunktion
des Doppelspalts mit der Einzelspaltfunktion als Einhüllender moduliert wird.
Für ϕ = mπ, entsprechend ∆ = 2ϕ/k = mλ treten die bekannten Maxima des
Youngschen Doppelspalts auf, mit (16.38) folgt hierfür:
λ
Doppelspaltmaxima sin αmax = m mit m = 0, ±1, ±2, . . . (16.40)
g
Für β = nπ weist der Einzelspalt Minima auf:

λ
Einzelspaltminima sin αmin = n mit n = ±1, ±2, . . . (16.41)
b
Fallen die Winkel eines Minimums und eines Maximums zusammen, so wird das
entsprechende Maximum unterdrückt (s. Abb. 16.13 b und 16.13 d). Gleichsetzen
von (16.40) und (16.41) führt zur Bedingung für fehlende Beugungsmaxima
16.5 Beugung am Doppelspalt 481
m g
= (16.42)
n b
Da m und n ganzzahlig sind, kann somit vollkommene Auslöschung nur für ratio-
nale Verhältnisse von Gitterbreite b zu Spaltabstand g auftreten. Ist z.B. g = 2b,
so werden alle geraden Ordnungen (m = 2n = ±2, ±4, . . .) verschwinden. In
Abb. 16.13 a und 16.13 b ist g = 6b, damit fehlen die Ordnungen m = ±6, ±12
usw. Die Abbildungen 16.13 c und 16.13 d zeigen experimentelle Ergebnisse für
Einzel- und Doppelspalte gleicher Spaltbreite. (Bestimmen Sie aus diesen Bildern
das Verhältnis g/b.) Offensichtlich liegt für b g die erste fehlende Ordnung
Abb. 16.13. a) Formfunktion F 2 = sinc2 β und (auf 1 normierte) Strukturfunktion

G2 /4 = cos2 ϕ für Fraunhofer-Beugung an einem Doppelspalt, bei dem der Spaltab-
stand g gleich der sechsfachen Breite b ist: g = 6 b. b) Intensität I der Doppelspaltbeu-
gung nach a als Produkt von Spalt- und Gitterfunktion: I = I0 F 2 G2 mit Imax = 4 I0 .
c) Beugungsbild für Einzelspaltbeugung. d) Beugungsbild für Doppelspaltbeugung. Die
Spaltbreite stimmt in c und d überein
sehr weit vom Zentrum und man nähert sich dem Youngschen Interferenzmuster,
das allerdings sehr lichtschwach ist. Für g = b ist nach (16.42) m = n, d.h. alle
Gittermaxima (mit Ausnahme von m = 0) müssen verschwinden. Dies ist leicht
verständlich, denn für g = b sind die Einzelspalte zu einem Spalt der Breite
b = 2g vereinigt, so dass nur das Beugungsbild eines Einzelspalts verbleibt.
16.6 Gitterbeugung
Bei der Beugung an einer Apertur aus N Einzelspalten (Gitter) mit dem Git-
terabstand g verwenden wir (wie beim Doppelspalt) den Verschiebungssatz. Ent-
sprechend (16.35) und Abb. 16.14 ist 2ϕ = k ∆ = k g sin α die Phasendifferenz
von Wellen aus benachbarten Gitterspalten. Wir erhalten dann für die Amplitude
von N Spalten:
16.6 Gitterbeugung 483
Abb. 16.14. Elementarwellen bei der Gitterbeugung. Wellen aus benachbarten Spalten
haben den Gangunterschied ∆ = g sin α und die Phasenverschiebung 2ϕ = k∆, für
den i-ten Spalt ist ∆i = (i − 1)∆

N
Ê = Ê i = Ê P 1 + e−j2ϕ + e−j2·2ϕ + . . . + e−j(N −1)2ϕ (16.43)
i=1
wobei Ê P die Amplitude des Einzelspaltes (16.11) ist. Dies ist eine geometrische
Reihe mit dem Quotienten q = e−j2ϕ und der Summe
1 − qN 1 − ej2N ϕ e−jN ϕ ejN ϕ − e−jN ϕ

Ê = Ê P = Ê P = Ê · jϕ
1−q 1 − e−j2ϕ P
e−jϕ e − e−jϕ
sin N ϕ
= Ê P e−j(N −1)ϕ ≡ Ê P · G (16.44)
sin ϕ
Hierbei ist G der komplexe Gitterfaktor, von dem im Folgenden nur der Betrag
betrachtet werden soll. Aus (16.44) folgt für den Betrag der Beugungsamplitude
sin N ϕ
Ê = ÊP ≡ ÊP · G (16.45)
sin ϕ
Mit der Beugungsamplitude des Einzelspalts Ê P = Ê 0 sincβ wird dann die
sin2 N ϕ
Intensität der Gitterbeugung I = I0 sinc2 β ≡ I 0 · F 2 · G2 (16.46)
sin2 ϕ
mit
π π
ϕ= g sin α und β = b sin α (16.47)
λ λ
sowie dem Gitterabstand g. Auch hier erhält man wieder ein Produkt der Qua-
drate von Form- oder Spaltfunktion F 2 = sinc2 β und Struktur- oder
sin2 N ϕ
Gitterfunktion G2 = (16.48)
sin2 ϕ
Für die Grenzfälle N = 1 wird G = 1 und für N = 2 gilt G = 2 cos ϕ, und

man erhält – wie zu erwarten – aus (16.46) die Beugungsintensitäten des Einzel-
und Doppelspaltes. Wir untersuchen den Gitterfaktor G, der die Interferenz der
Wellen aus unterschiedlichen Einzelspalten beschreibt, nunmehr genauer und be-
trachten zunächst den Fall der konstruktiven Interferenz mit der Phasendifferenz
2ϕ = 2mπ für benachbarte Spalte. Hier sind alle Teilwellen in Phase und man
erhält (s. (16.43)) die N -fache Amplitude des Einzelspalts, also für G = Ê/ÊP
den Maximalwert5 G = N . Die Intensität wächst somit mit N 2 , dem Quadrat der
Strichzahl, an. Mit ϕ = πg sin α/λ folgt für die Hauptmaxima der Gitterbeugung:
λ
Gittergleichung sin αmax = m mit m = 0, ±1, ±2, . . . (16.49)
g
In Abb. 16.15 a und 16.15 b sind Spalt- und Gitterfunktion sowie die Gesamt-
intensität für N = 8 und eine Gitterkonstante g = 3b dargestellt. Bei den Haupt-
maxima sind wegen ϕ = 2mπ Zähler und Nenner von G null. Da der Zähler
von G als Funktion von ϕ hochfrequenter variiert als der Nenner, treten zwischen
den Hauptmaxima N − 2 Nebenmaxima und N − 1 Minima auf. Die Lage der
Minima zwischen den Hauptmaxima m und m + 1 folgt aus den Nullstellen des
Zählers von G, also aus:
sin N ϕ = 0 mit mπ < ϕ < (m + 1)π

Hieraus ergibt sich:
N ϕ = (mN + n)π und ϕ = (m + n/N )π mit n = 1, 2, . . . N − 1

Einsetzen von ϕ (16.47) führt (für α > 0) zu
5
Dieser folgt auch formal aus (16.45) mit der Regel von L’Hôpital.
Abb. 16.15. a) Spaltfunktion F 2 = sinc2 β und normierte Gitterfunktion (G/N )2

für ein Gitter aus N = 8 Spalten und g = 3b. b) Intensitätsverteilung I = I0 F 2 G2
für das Gitter nach a; die Funktion I0 F 2 N 2 – die N 2 -fache Beugungsintensität des
Einzelspaltes – ist die Einhüllende. N − 2 = 6 Nebenmaxima und N − 1 = 7 Minima
sind erkennbar
Abb. 16.16. Ausschnitt aus einem Beugungsgitter. Die Einzelspalte werden mit kolli-
miertem und monochromatischem Licht beleuchtet. Die Elementarwellen benachbarter
Spalte haben den Gangunterschied ∆ = g sin α = λ und ergeben das Beugungs-
maximum 1. Ordnung
nλ m = 0, 1, 2, . . .
Gitterminima sin αmin = m + mit (16.50)
N g n = 1, 2, . . . N − 1
Analoge Überlegungen ergeben für die Nebenmaxima:

2n + 1 λ m = 0, 1, 2, . . .
sin αNmax = m+ mit (16.51)
2N g n = 1, 2, . . . N − 1
Beugungsgitter werden meist bei der Spektralzerlegung von Licht angewandt.
Bei Verwendung großer Strichzahlen treten helle (Imax ∼ N 2 !), scharfe und
damit gut getrennte Maxima bei den durch (16.49) gegebenen Winkeln auf.
Die Breite der Linien folgt aus der Lage des ersten Beugungsminimums (mit
1 λ
sin α1.Min = m + N g ), das mit wachsender Strichzahl immer näher an das
Hauptmaximum rückt. Damit steigt das Auflösungsvermögen (s. Kap. 17) un-
terschiedlicher Wellenlängen.
Die wichtige Gitterbeugungsgleichung (16.49) kann anhand von Abb. 16.16
veranschaulicht werden. Der Gangunterschied zwischen Wellen von benachbarten
Spalten ist gegeben durch:
Abb. 16.17. Beugungsbilder für Gitter aus 2, 3, 4 und 5 Einzelspalten

∆ = g sin α (16.52)
Für ∆ = mλ interferieren die Teilwellen aller Spalte konstruktiv, und wir
erhalten wieder die Gittergleichung (16.49) sowie die N -fache Amplitude des
Einzelspaltes. Im Zeigerdiagramm haben dann alle N Pfeile dieselbe Richtung.
Bei den Minima schließt sich das Zeigerdiagramm. Bei ungeraden N tritt in der
Mitte zwischen den Hauptmaxima ein Nebenmaximum auf, für das gerade die
Zeiger von N − 1 Spalten antiparallel stehen und nur die Amplitude eines Spaltes
verbleibt. Die Fotografien Abb. 16.17 bestätigen im Wesentlichen die Ergebnisse
für 2 bis 5 Spalte, in Abb. 16.17 d mit N = 5 sind die N −2 = 3 Nebenmaxima gut
zu erkennen. Das Beugungsgitter (mit großer Strichzahl) und seine Bedeutung
für die Spektroskopie wird im nächsten Kapitel genauer behandelt.
Übungen
Hinweis: Bei allen Aufgaben trifft das Licht senkrecht auf die beugende Öffnung!
16.1 Der kollimierte Strahl einer Quecksilber-Spektrallampe, aus dem mit einem Grünfil-
ter die grüne Hg-Linie bei 546,1 nm ausgefiltert wurde, trifft auf einen Einzelspalt
von 15 µm Breite. Das Beugungsbild wird in der Brennebene einer Linse von 60 cm
Brennweite registriert. Bestimmen Sie den Abstand
a) zwischen Hauptmaximum und erstem Minimum und
b) zwischen 1. und 2. Beugungsminimum.
16.2 Bei Fraunhofer-Beugung am Einzelspalt ist I0 die Intensität im Hauptmaximum.
Wie groß ist die relative Intensität I/I0 in einem Punkt, der von der einen Kante
des Spaltes um 3/4 λ weiter entfernt ist, als von der anderen?
16.3 Die Breite eines Rechteckspaltes wird mittels Beugung von Laserlicht (λ = 632,8 nm)
bestimmt. Auf einem l = 2 m entfernten Schirm ergibt sich – als Mittelwert mehre-
rer Messungen – ein Abstand von 5,625 cm zwischen dem +3. und −3. Minimum,
also zwischen den symmetrisch zum Hauptmaximum liegenden Minima 3. Ordnung.
a) Wie groß ist die Spaltbreite, wenn Sie Fraunhofer-Beugung voraussetzen?
b) Wie groß ist der Mindestabstand lmin (s. (16.20))? Ist die Fernfeldbedingung
mit l/lmin > 100 erfüllt?
16.4 Ein Einzelspalt wird mit dem Licht einer Spektrallampe beleuchtet. Im Fraun-
hofer-Beugungsbild sieht man, dass das 5. Beugungsminimum des Lichtes einer
Spektrallinie mit dem 4. Minimum einer anderen Linie bei 620 nm zusammenfällt.
Welchen Wert hat die unbekannte Wellenlänge?
16.5 Berechnen Sie die Breiten der Einzelspalte, deren Beugungsmaxima nullter Ord-
nung bei Einstrahlung von Licht der Wellenlänge 550 nm die Winkelbreiten 2α = 30,
45, 90 und 180◦ aufweisen.
16.6 Untersuchen Sie das Beugungsbild für Fraunhofer-Beugung an einem Einzelspalt
der Breite 2,125 µm, der mit parallelem Licht von 550 nm Wellenlänge bestrahlt
wird.
a) Unter welchem Winkel beobachtet man das 1. Minimum?

b) Berechnen Sie die Intensitätsverhältnisse I/I0 bei den Beugungswinkeln α =
5, 10, 15 und 22,5◦ .
16.7 Im Hubble-Teleskop wird ein Spiegel mit 2,4 m Durchmesser und f = 57,6 m Brenn-
weite verwendet. Berechnen Sie die Radien der Ringe der beiden ersten Nebenma-
xima, die bei einer Wellenlänge von 540 nm und Beugungsbegrenzung des Teleskops
auftreten würden. (Zur Erzielung der Beugungsbegrenzung hätte man die hyperbo-
lische Form des Primär- und Sekundärspiegels dieses Teleskops auf λ/50 ≈ 10 nm
einhalten müssen.)
16.8 Licht der mittleren Wellenlänge 550 nm trifft von einem weit entfernten Stern als
Parallelbündel auf ein Teleskop. Das Objektiv hat 12 cm Durchmesser, 1,5 m Brenn-
weite und ist beugungsbegrenzt. Welchen Radius hat das von dem Stern entworfene
Airy-Scheibchen?
16.9 Ein CO2 -Laser emittiert einen beugungsbegrenzten Strahl von 10,6 µm Wellenlänge
mit 2 kW Leistung und 1 mm Durchmesser, der – aufgrund der Beteiligung meh-
rerer Moden – eine konstante Intensitätsverteilung über den Querschnitt aufweist.
Schätzen Sie den Durchmesser des Laserflecks auf dem Mond ab (Abstand Erde–
Mond = 376 000 km). Vernachlässigen Sie Streueffekte in der Atmosphäre. Wie groß
ist die Bestrahlungsstärke auf dem Mond?
16.10 Nach welcher Entfernung hat sich der Durchmesser eines Helium-Neon-Laserstrahls
(λ = 632,8 nm, Durchmesser = 2 mm) verdoppelt? Es wird ein konstantes Strahlpro-
fil vorausgesetzt und nur die Strahlverbreiterung aufgrund der Beugung betrachtet.
16.11 Die Frontscheinwerfer eines Pkw sind 1,1 m voneinander entfernt. Bis zu welcher
Entfernung kann sie das menschliche Auge bei Beugungsbegrenzung auflösen, wenn
man mit einem Pupillendurchmesser von 4 mm und einer mittleren Wellenlänge von
550 nm rechnet?
16.12 Der Pupillendurchmesser eines menschlichen Auges soll bei der Adaption zwischen 2
und 4 mm variieren. Wie groß ist der zugehörige Entfernungsbereich, über den man
bei Beugungsbegrenzung zwei 5 cm voneinander entfernte Gegenstände auflösen
kann?
16.13 Licht der grünen Hg-Linie (λ = 546,1 nm) wird an einem Doppelspalt gebeugt. Die
Breite der Einzelspalte ist 0,1 mm. Im Beugungsbild fehlen die Interferenzmaxima
4. Ordnung (des Doppelspalts).
a) Wie groß ist der Spaltabstand?
b) Welche relativen Intensitäten I/Imax haben die Maxima der 1., 2. und 3. Beu-
gungsordnung? (Imax = 4I0 ist die Intensität der nullten Ordnung.)
c) Welche Beugungsordnungen sind zusätzlich unterdrückt?
16.14 a) Zeigen Sie, dass bei Fraunhofer-Beugung am Doppelspalt innerhalb des Haupt-
maximums der Einzelspalte 2V − 1 helle Streifen beobachtet werden. Hierbei
ist V = g/b das Verhältnis von Spaltabstand zu Spaltbreite.
b) Welcher Spaltabstand liegt vor, wenn bei einer Spaltbreite von 0,3 mm 13 helle
Streifen gezählt werden?
16.15 a) Beweisen Sie, dass im Beugungsbild des Doppelspalts das Verhältnis von Brei-
te des (Spalt-) Hauptmaximums zu Breite des zentralen (Doppelspalt-) Maxi-
mums durch 2g/b gegeben und unabhängig von der Wellenlänge ist.
b) Skizzieren Sie den Fall g = 10 b.
16.16 Berechnen Sie die Beugungsintensität eines Dreifachspaltes mit g = 3 b mit Hilfe
des Beugungsintegrals oder des Verschiebungssatzes der Fourier-Transformation.
(g = Spaltabstand, b = Spaltbreite.) Skizzieren Sie das Ergebnis und zeigen Sie,
dass Ihre Rechnung mit dem allgemeinen Ergebnis für N Spalte (16.46) konsistent
ist.
16.17 Skizzieren Sie das Beugungsmuster für ein Gitter aus 7 Spalten mit einem Verhält-
nis Gitterkonstante zu Spaltbreite von g/b = 4. Welche Gitterordnungen werden
ausgelöscht?
16.18 An einer Apertur aus 10 Spalten mit Gitterkonstante g = 5 b und Spaltbreite
b = 0,1 mm wird Licht mit 435,8 nm Wellenlänge gebeugt. Geben Sie die relati-
ven Beugungsintensitäten I/Imax für die 1. bis 5. Beugungsordnung an.
16.19 Ein Rechteckspalt mit 0,1 mm Breite und 0,2 mm Höhe wird mit kohärentem Licht
(λ = 546 nm) beleuchtet. Das Beugungsbild wird in der Brennebene einer Linse mit
1 m Brennweite registriert.
a) Skizzieren Sie die relative Beugungsintensität in der Beugungsebene.
b) Bei welchen Werten X und Y liegen jeweils die ersten Minima?
c) Wie groß ist die relative Beugungsintensität I/Imax in den Punkten (X = 1
mm, Y = 0) und (0, 1 mm)?
d) Welcher Wert ergibt sich für den Punkt (3 mm, 4 mm)?
16.20 Welchen Aperturwinkel (=Winkelabstand zwischen Hauptmaximum und 1. Mini-
mum) hat das Beugungsbild des Einzelspaltes bei den Spaltbreiten b = λ, 5λ und
10 λ?
16.21 Die Bessel-Funktion J1 (x) lässt sich für große x in geschlossener Form angeben:
sin x − cos x
J1 (x) = √
πx
Hierbei ist der Fehler für x > 30 kleiner 1%. Leiten Sie hiermit den Winkelabstand
der Beugungsminima her, der bei der Beugung an einer Kreisblende bei großen
Beugungswinkeln auftritt. Ab welcher Beugungsordnung gilt die Näherung?
16.22 In Kapitel 16 wurde gezeigt, dass bei der Beugung am Einzelspalt die Beugungs-
winkel der Nebenmaxima nur näherungsweise in der Mitte zwischen den Beugungs-
minima liegen. Setzen Sie den Mittelwert voraus.
a) Zeigen Sie, dass dann die relative Intensität des n-ten Nebenmaximums nähe-
rungsweise gegeben ist durch:
I0
In ≈ ( 1
)2
n+ 2
π
(I0 ist die Intensität des Hauptmaximums.)
b) Berechnen Sie den relativen Fehler, der mit dieser Näherung für die drei ersten
Nebenmaxima auftritt.
16.23 Drei auf einer waagrechten Geraden im Abstand von 2/3 λ angeordnete Anten-
nen senden gleichphasig und isotrop elektromagnetische Wellen von λ = 1 km
Wellenlänge aus. Ermitteln Sie (am besten mit Hilfe von Zeigerdiagrammen) die
Strahlungscharakteristik (= Feldstärke als Funktion des Winkels) dieser Antennen-
anordnung und geben Sie die Winkel maximaler und minimaler Strahlungsampli-
tude an. Welche Winkelbreite (Abstand der Minima!) hat das Hauptmaximum?
16.24 Ein kollimierter kohärenter Lichtstrahl fällt senkrecht auf drei sehr schmale identi-
sche Spalte mit den Abständen g. Im Beugungsbild registriert man die maximale
Beugungsintensität Imax , wenn der Beobachtungspunkt P auf der optischen Achse
liegt.
a) Wie groß ist die Phasendifferenz zwischen Licht aus benachbarten Spalten,
wenn IP = 0?
b) Falls die Phasendifferenz π beträgt, welchen Wert hat dann IP ?
c) Wie groß ist IP /Imax beim 1. Nebenmaximum?
d) Die mittlere Bestrahlungsstärke auf dem Beobachtungsschirm ist I. Wie groß
ist dann das Verhältnis Imax /I am Hauptmaximum?
16.25 Gegeben sei eine Apertur aus vier äquidistanten schmalen Einzelspalten. Zeichnen
Sie die Zeigerdiagramme für das Hauptmaximum und die beiden ersten Nebenma-
xima sowie Minima der Beugung. Geben Sie I/I0 für die Maxima an, wenn I0 die
Maximalintensität des Einzelspalts ist.
17
Das Beugungsgitter
Einleitung
Optische Gitter sind mit periodischen Strukturen versehen, die ähnlich groß wie
die Wellenlänge des einfallenden Lichtes sind. Amplitude oder Phase des durchge-
henden Lichtes werden verändert, was zur Beugung führt. In bestimmten Raum-
richtungen findet man hohe Intensitätsmaxima der gebeugten Wellen, in anderen
Richtungen Intensitätsminima. In diesem Kapitel wird die Gleichung des Beu-
gungsgitters zunächst verallgemeinert, um den Einfall von Lichtbündeln unter
einem beliebigen Winkel zu beschreiben. Die praktisch interessierenden Para-
meter des Gitters werden bei der Diskussion des Spektralbereichs, der Disper-
sion, des Auf lösungsvermögens und der Blaze-Technik vorgestellt. Es folgt eine
kurze Diskussion der Gittertypen: Transmissions-, Reflexions-, Amplituden- und
Phasengitter sowie der Ausführungsformen von Gitterspektrografen, die man zur
Spektralanalyse, d.h. zur Bestimmung der Anteile verschiedener Wellenlängen in
mehrfarbigem“ Licht einsetzt.
”
494 17 Das Beugungsgitter
17.1 Die Gittergleichung

Die Intensitäts- und Winkelverteilung des Beugungsmusters hängen vom Gitter-
aufbau und von der Wellenlänge des einfallenden Lichtes ab. Der in Kapitel 16
entwickelte Gangunterschied (16.52) wird nun für den Fall eines beliebigen Ein-
fallswinkels einer ebenen Wellenfront auf ein lichtdurchlässiges Gitter, das Trans-
missionsgitter, verallgemeinert (s. Abb. 17.1). Der Gangunterschied für Wellen
von aufeinanderfolgenden Gitteröffnungen ist dann
∆ = ∆1 + ∆2 = −g sin αe + g sin αm (17.1)
Abb. 17.1. Benachbarte Gitterspalte werden durch ein paralleles Lichtbündel beleuch-
tet, das unter dem Winkel αe zur Gitternormalen einfällt. g ist die Gitterkonstante. Für
das in Richtung αm gebeugte Licht aus benachbarten Spalten beträgt der Gangunter-
schied ∆1 + ∆2
Abhängig von der Richtung αm des gebeugten Lichtes können sich die beiden Si-
nusterme in der Weglängendifferenz addieren oder subtrahieren. Um dies in (17.1)
zu berücksichtigen, benötigen wir eine Vorzeichenkonvention für die Winkel. Wir
benutzen dieselbe Vorzeichenkonvention für Winkel wie in Kapitel 3. Der Ein-
fallswinkel αe und der Beugungswinkel αm werden relativ zur Gitternormalen
als Bezugsschenkel gemessen. Bringt man den Bezugsschenkel durch Linksdre-
hung zur Deckung mit dem anderen Schenkel des Winkels, so hat der Winkel ein
positives Vorzeichen. Eine Rechtsdrehung ergibt ein negatives Vorzeichen.
Für ∆ = mλ sind die gebeugten Wellen in Phase und man erhält die Gitter-
gleichung:
17.2 Nutzbarer Spektralbereich eines Gitters 495
Beugungsmaxima eines Transmissionsgitters, beliebige Einfallswinkel αe

mλ
− sin αe + sin αm = mit m = 0, ±1, ±2, . . . (17.2)
g
Für jeden Wert von αm wird monochromatische Strahlung der Wellenlänge λ

durch konstruktive Interferenz verstärkt. Aus (17.2) ergibt sich, dass die nullte
Ordnung (m = 0) für alle λ bei αm = αe auftritt, also in der Richtung des einfal-
lenden Lichtes. Man findet deshalb in der zentralen oder nullten Ordnung Licht
aller Wellenlängen. Höhere Ordnungen – seien sie positiv oder negativ – erzeu-
gen Intensitätsmaxima, die auf beiden Seiten der nullten Ordnung liegen. Für
eine gegebene Einfallsrichtung αe hängt die Richtung αm jedes Hauptmaximums
für m = 0 von der Wellenlänge und der Gitterkonstante ab. Deshalb trennt das
Gitter unterschiedliche Wellenlängen des Lichtes, die im einfallenden Strahl vor-
handen sind. Diese Eigenschaft ist Grundlage der Wellenlängenmessung und der
spektralen Analyse von Strahlung. Hierbei ist das Gitter als dispersives Element
dem Prisma in vielerlei Hinsicht überlegen.
Abbildung 17.2 a zeigt die Beugungsmaxima für monochromatisches Licht der
Wellenlänge λ. Die Maxima können entweder bei sehr großen Entfernungen oder
– wie hier gezeigt – in der Brennebene einer Linse beobachtet werden. Abb. 17.2 b
veranschaulicht die Winkelverteilung des kontinuierlichen Spektrums des sicht-
baren Lichtes für ein Transmissionsgitter mit der Gitterkonstante g = 2,5 µm. Im
Gegensatz zum Prisma ist die Ablenkung für größere Wellenlängen stärker als für
kleinere. Wir sehen weiterhin, dass die zweite und dritte Ordnung in diesem Fall
teilweise überlappen. Bevor man die Wellenlängen des Lichtes in diesem Gebiet
eindeutig festlegen kann, muss man die Ordnung der Linie bestimmen, um den
entsprechenden Wert von m in (17.2) einsetzen zu können. Bei der Spekralana-
lyse mit einem Prisma ist die erreichbare Trennung verschiedener Wellenlängen
geringer, aber es treten keine Überlappungen auf.
Falls man kein schmalbandiges (kleiner Wellenlängenbereich) Eingangsspek-
trum hat, kann man die Mehrdeutigkeit des Spektrums experimentell dadurch
beheben, dass man ein Filter einsetzt, das kürzere Wellenlängen des einfallenden
Lichtes abschneidet, oder einen Detektor, der wellenlängenselektiv arbeitet. Auf
diese Weise engt man den Spektralbereich des Lichtes so ein, dass keine Überlap-
pung mehr auftritt und jede Lichtwellenlänge einfacher bestimmt werden kann.
Die Beobachtung eines Gitterspektrums von einfallendem Licht mit dem Auge
ist hierfür ein Beispiel.
17.2 Nutzbarer Spektralbereich eines Gitters

Der nicht überlappende Wellenlängenbereich einer bestimmten Ordnung m wird
nutzbarer oder freier Spektralbereich ∆λn genannt. Die Überlappung tritt auf,
Abb. 17.2. a) Strahlengang bei der Beugung an einem Gitter. Qλ ist eine einfarbige
(= monochromatische) Lichtquelle der Wellenlänge λ, L1 die Kondensorlinse, L2 die
Kollimatorlinse, L3 eine Linse der Bildbrennweite f3 , Sp der Kollimatorspalt, G das
Transmissionsgitter und Sc ein Beobachtungsschirm. Es werden nur die Beugungsma-
xima m = 0, ±1 des monochromatischen Lichts, das senkrecht auf das Gitter einfällt,
gezeigt. Auf dem Schirm erhält man an der Position der Maxima das Bild des Kollima-
torspaltes. b) Winkelverteilung der ersten drei Ordnungen des sichtbaren Spektrums für
ein Beugungsgitter mit 400 Linien pro mm. Zur übersichtlicheren Betrachtung werden
die Ordnungen in verschiedenen Entfernungen zur Linse gezeigt. In jeder Ordnung wird
der rote (langwellige) Teil des Spektrums am stärksten abgelenkt. Das Licht fällt von
unten senkrecht auf das Gitter ein
17.3 Dispersion des Gitters 497
weil in der Gittergleichung das Produkt g sin αm gleich verschiedenen Kombina-

tionen von m und λ des einfallenden Lichtes sein kann. Dies bedeutet, dass wir an
der Position, die λ in der 1. Ordnung entspricht, eine Spektrallinie in 2. Ordnung
finden können, deren Wellenlänge λ/2 beträgt oder λ/3 in der 3. Ordnung usw.
Der nutzbare Spektralbereich in der Ordnung m kann durch folgende Überlegun-
gen ermittelt werden. Wenn λ1 die kürzeste detektierte Wellenlänge im einfallen-
den Licht darstellt, dann stimmt die größte nicht überlappende Wellenlänge λ2 in
der Ordnung m mit dem Anfang des Spektrums in der nächsthöheren Ordnung
überein oder:
mλ2 = (m + 1)λ1
Damit erhält man
λ
nutzbarer Spektralbereich für Ordnung m ∆λn = λ2 − λ1 = (17.3)
m
Wir sehen, dass der nicht überlappende Spektralbereich für höhere Ordnungen
kleiner wird.
Beispiel 17.1 Nutzbarer Spektralbereich eines Gitters
Die kürzeste Wellenlänge einer gegebenen Lichtquelle sei 400 nm. Bestimmen
Sie den nutzbaren Spektralbereich in den ersten drei Ordnungen eines Beu-
gungsgitters.
Lösung
λ1
Es gilt: ∆λn = m. Somit ist
400 nm
∆λn,m=1 = = 400 nm (400 bis 800 nm in 1. Ordnung)
1
200 nm
2
400 nm
3
17.3 Dispersion des Gitters

Aus Abb. 17.2 b entnimmt man, dass Wellenlängen besser voneinander getrennt
werden, wenn die Ordnung höher ist. Diese Eigenschaft wird durch die Winkel-
dispersion
dαm
DW ≡ (17.4)
dλ
beschrieben, die den Winkelabstand pro Wellenlängeneinheit angibt. Die Ände-

rung von αm mit λ ergibt sich aus der Gittergleichung (17.2), damit erhält man:
m
Winkeldispersion eines Gitters DW = (17.5)
g cos αm
Zur Registrierung des Spektrums kann man eine fotografische Platte oder eine
Diodenzeile bzw. ein CCD als Detektor in der Brennebene einer Linse benutzen.
Dann ist es vorteilhaft, die Aufspreizung der Wellenlängen auf der Platte durch
dy
die lineare Dispersion dλ zu beschreiben, wobei y entlang der Platte gemessen
wird. Da für kleine α (s. Abb 17.2 a) dy = f dα ist, erhält man:
dy dαm
lineare Dispersion eines Gitters DL = = f = f DW (17.6)
dλ dλ
Für senkrechten Lichteinfall können wir die Gittergleichung in die Formel für die
Winkeldispersion einsetzen und erhalten:

m g sin α 1
DW = = oder
g cos α λ g cos α
tan α
DW = (17.7)
λ
Die Dispersion ist also für einen gegebenen Beugungswinkel unabhängig von der
Gitterkonstanten und wird mit α rasch größer. Bei gegebenem Beugungswinkel
erhält man jedoch bei einer Erhöhung der Gitterkonstanten eine Zunahme der
Ordnung an dieser Stelle und damit einen kleineren nutzbaren Wellenlängenbe-
reich und eine reduzierte Beugungsintensität.
Beispiel 17.2 lineare Dispersion und Winkeldispersion
Licht der Wellenlänge 500 nm fällt senkrecht auf ein Gitter mit 5 000 Linien
pro cm. Bestimmen Sie die Winkeldispersion und die lineare Dispersion in der
1. Ordnung bei Benutzung einer Linse mit einer Bildbrennweite f = 0,5 m.
Lösung
Die Gitterkonstante g beträgt:
1
g= = 2 · 10−6 m = 2 µm
5000 cm−1
In der 0. Ordnung gibt es keine Dispersion. In der 1. Ordnung benötigt man
für die weitere Berechnung in (17.5) den Beugungswinkel α1 , den man aus
der Gittergleichung (17.2) mit m = 1 erhält:
17.4 Auflösungsvermögen des Gitters 499
1·λ 500 · 10−9 m

sin α1 = = = 0,25
g 2 · 10−6 m
Damit ist α1 = 14,5◦ und cos α1 = 0,968. Man kann nun die Winkeldispersion
in der Nähe von 500 nm berechnen:
m 1 rad
DW = = −6
rad = 5,164 · 105
g cos αm 2 · 10 m · 0,9682 m
= 0,0296◦ /nm
Die lineare Dispersion berechnet man dann zu:

DL = f DW = 500 mm · 5,164 · 10−4 rad/nm = 0,258 mm/nm
17.4 Auf lösungsvermögen des Gitters

Eine Erhöhung der Dispersion, z.B. durch Verwendung eines Gitters mit kleinem
g, sorgt nicht notwendigerweise dafür, dass eng benachbarte Wellenlängen deut-
licher voneinander getrennt werden. Die Eigenschaft, klar voneinander getrennte
Beugungsmaxima für eng benachbarte Wellenlängen zu erzeugen, wird durch das
Auflösungsvermögen des Gitters gekennzeichnet, das allgemein definiert ist durch
(s. (11.40))
λ
A≡ (17.8)
∆λmin
wobei ∆λmin hier das minimale Wellenlängenintervall zweier spektraler Kom-
ponenten ist, die gerade noch aufgrund des Rayleigh-Kriteriums (s. Abb. 16.9)
getrennt sind. Für senkrecht einfallendes Licht der Wellenlänge λ + ∆λmin erhal-
ten wir bei der Beugungsordnung m aus der Gittergleichung (17.2):
g sin α = m(λ + ∆λmin ) (17.9)

Um dem Rayleigh-Kriterium zu genügen, muss diese Beugungslinie mit dem ers-
ten Minimum der benachbarten Wellenlänge der gleichen Ordnung zusammen-
fallen, d.h. die Winkel müssen übereinstimmen. Nach (16.50) und Abb. 16.15 a
gilt für das 1. Minimum:

1
g sin αmin = m + λ (17.10)
N
Aus (17.9) und (17.10) erhält man λ/∆λmin = mN und damit aus (17.8) für das
Auflösungsvermögen des Gitters:
λ
Auflösungsvermögen Gitter A= = mN (17.11)
∆λmin
Das Auflösungsvermögen steigt demnach mit zunehmender Beugungsordnung m

und Linienzahl N an. Bei gegebener Breite B des Gitters müssen die Linien
des Gitters bei einer Erhöhung von N enger zusammenrücken. Um das maxi-
mal mögliche Auflösungsvermögen zu erreichen, muss das einfallende Licht aber
immer das ganze Gitter ausleuchten. Für das Gitter des Beispiels 2 mit 5 000
Linien pro cm und einer Breite von 8 cm erhält man N = 40 000. Damit wird das
Auflösungsvermögen in der ersten Ordnung 40 000. Aus (17.11) folgt, dass im
Gebiet um λ = 500 nm spektrale Komponenten mit dem Wellenlängenabstand
0,0125 nm aufgelöst werden können. In der zweiten Ordnung verbessert sich die-
ser Wert auf 0,00625 nm usw. Die maximalen Werte für das Auflösungsvermögen
von Gittern liegen im Bereich von 105 bis 106 Ein Gitter mit 10 000 Linien pro cm
und 20 cm Breite liefert in der fünften Ordnung ein Auflösungsvermögen von 106 .
Für senkrecht auftreffendes Licht ist dann nach (17.2) die maximal nachweisbare
Wellenlänge 200 nm für αm = 90◦ . Wenn das Licht nicht senkrecht auf das Gitter
trifft, kann man die maximal nachweisbare Wellenlänge erhöhen, für αe = 90◦
erhält man den doppelten Wert, d.h. 400 nm. Die Nutzung von höheren Ordnun-
gen des Gitterspektrums ist dadurch begrenzt, dass die Intensität abnimmt. Man
muss deshalb eine Möglichkeit finden, Intensität aus dem zentralen Maximum in
die gewünschte Ordnung zu verschieben. Diese Verschiebung erreicht man durch
die sogenannte Blaze-Technik, die wir später diskutieren.
Wir sehen in (17.11), dass das Auflösungsvermögen für einen gegebenen Beu-
gungswinkel unabhängig vom Abstand der Gitterlinien ist. Für ein Gitter der
Breite B gilt N = B/g. Nutzen wir die Gittergleichung für senkrechten Einfall,
so erhalten wir statt (17.11):

λ g sin αm B
A= = mN = oder
∆λmin λ g
B B sin αm
A=m = (17.12)
g λ
Hiernach hängt das Auflösungsvermögen eines Gitters für einen gegebenen Beu-
gungswinkel αm von der Breite des Gitters und nicht von der Anzahl der Git-
terlinien ab. Benutzen wir jedoch ein Gitter mit weniger Gitterlinien und einer
größeren Gitterkonstanten, so müssen wir bei einer höheren Ordnung m arbei-
ten, so dass der nutzbare Spektralbereich reduziert und die Interpretation des
Spektrums erschwert wird.
Solche Mehrdeutigkeiten in höheren Ordnungen kann man durch ein zusätzli-
ches Instrument umgehen, das eine Vorzerlegung des Spektrums vornimmt (s.u.).
17.5 Gittertypen 501
17.5 Gittertypen
Bisher haben wir uns ein Beugungsgitter als eine undurchsichtige Struktur vorge-
stellt, in der sich viele durchlässige, eng benachbarte Spalte befinden. Die Gitter,
die Fraunhofer in seinen Experimenten benutzte, waren tatsächlich so einfach auf-
gebaut. Sie bestanden z.B. aus dünnem Draht, der um die Gewindezüge zweier
paralleler Schrauben gewickelt wurde oder aus parallelen Linien, die auf gerußtem
Glas angebracht wurden. Später wurden geritzte Metallfilme auf Glassubstraten
verwendet. Heute stellt man zur Produktion von Gittern typischerweise ein Ori-
ginal (Master) her. Hierzu werden mit Hilfe von Diamanten Furchen in ein Glas-
substrat niedriger thermischer Ausdehnung oder in einen Film aus Aluminium
oder Gold auf Glas geritzt. Das Substrat muss vorher fein bearbeitet und poliert
werden, so dass die Rauigkeit der Oberfläche für grünes Licht kleiner als λ/10 ist.
Die Entwicklung von Vorrichtungen (Gitter-Teilmaschine), die bis zu 3600 Rillen
pro mm über eine Breite von mehr als 25 cm mit definierter Tiefe, Form und Ab-
stand ritzen können, ist eine imponierende technologische Leistung. Hierbei setzt
man interferometrische Methoden und elektronisch geregelte Servomotoren ein,
um die Präzision der modernen Teilmaschinen weiter zu erhöhen. Originale von
Beugungsgittern (Master) können heute bis zu einer Breite von 50 cm hergestellt
werden.
Ein Gitter kann man entweder als Transmissionsgitter oder als Reflexionsgit-
ter ausführen (s. Abb. 17.3). In einem Transmissionsgitter wird das Licht durch
periodisch transparente Bereiche eines Substrates durchgelassen. Die Rillen sind
entweder undurchlässig bzw. streuen stark, oder das Licht wird aufgrund der an-
deren optischen Dicke im Bereich der Rillen periodisch in der Phase verzögert.
Im ersten Fall spricht man von einem Amplitudengitter , das wie eine mit Spalten
versehene sonst undurchsichtige Blende arbeitet; im zweiten Fall bezeichnet man
das Gitter als Phasengitter . Bei einem Reflexions-Phasengitter ist die gesamte
Oberfläche hoch reflektierend. Die periodische Reflexion des einfallenden Lichtes
wirkt wie die periodische Transmission der Wellen bei einem Transmissionsgit-
ter. In Abb. 17.3 ändern sich Reflexionsgrad, Transmissionsgrad oder die opti-
sche Dicke rechteckförmig über die Gitterbreite, man spricht vom Rechteckgitter .
Beim Sinusgitter , z.B. in der Ausführung als Amplitudengitter, ändert sich der
Transmissionsgrad mit einer cos2 -Funktion. Qualitativ hochwertige Gitter sind
im Allgemeinen vom Reflexionstyp.
Ein Querschnitt eines Reflexionsgitter, bei dem Licht durch eine periodische
Struktur reflektiert wird, ist in Abb. 17.4 gezeigt. Der optische Gangunterschied
von reflektierten Strahlen aus benachbarten Rillen ist die Differenz
∆ = ∆1 − ∆2 = −g sin αe − g sin αm
wobei angenommen wird, dass beide Strahlen unter dem Winkel αm gebeugt
werden. Man erhält für die Beugungsmaxima mit ∆ = mλ die Gittergleichung:
Abb. 17.3. Beugungsgittertypen mit rechteckförmigem Transmissions- oder Reflexi-

onsgrad. Dicke Balken kennzeichnen die Rillen bei denen einfallendes Licht absorbiert
oder so stark gestreut wird, dass es nicht mehr zum Beugungsbild beiträgt. Leicht
schraffierte Bereiche und Doppelpfeile für das reflektierte Licht markieren Gebiete mit
hohem Reflexionsgrad
Beugungsmaxima eines Reflexionsgitters für beliebige Einfallswinkel αe

mλ
− sin αe − sin αm = mit m = 0, ±1, ±2, . . . (17.13)
g
Wir benutzen für die Winkel αm und αe die gleiche Vorzeichenkonvention wie zu
Anfang diese Kapitels. Die 0. Ordnung der Beugung tritt für m = 0 und damit
αm = −αe auf. Sie liegt in Richtung der spiegelnden Reflexion am Gitter; es
wirkt somit hier für alle Wellenlängen wie ein Spiegel. Die Metallbeschichtung
des Reflexionsgitters sollte möglichst hoch reflektierend sein. Im ultravioletten
Wellenlängenbereich von 110 bis 160 nm benutzt man Beschichtungen mit Mag-
nesiumfluorid oder Lithiumfluorid über einer Aluminiumschicht, um den Refle-
17.5 Gittertypen 503
Abb. 17.4. Benachbarte Rillen eines Reflexionsgitters werden durch ein Lichtbündel
unter dem Einfallswinkel αe beleuchtet. g ist die Gitterkonstante. Für das in Richtung
αm gebeugte Licht aus benachbarten Spalten beträgt der Gangunterschied ∆1 + ∆2
xionsgrad zu erhöhen, während man unter 100 nm häufig Gold- und Platinbe-
schichtung einsetzt.
Im infraroten Wellenlängenbereich sind sowohl Silber- als auch Goldbeschich-
tungen hochreflektierend. Das Licht, das von einem ebenen Gitter gebeugt wird,
muss durch eine Linse oder einen konkaven Spiegel abgebildet werden. Falls die
Absorption der Strahlung durch die abbildenden Elemente hoch ist, wie z.B. im
Vakuum-Ultraviolett (zwischen 1 bis 200 nm), benutzt man zur Abbildung und
Beugung ein konkaves Reflexionsgitter, wobei man einen konkaven Spiegel auf
der reflektierenden Oberfläche mit Rillen versieht.
Beispiel 17.3 Beugung am Transmissions- und Reflexionsgitter
für αe = 0
Licht der Wellenlänge 600 nm fällt unter einem Winkel von αe = 10◦ auf ein
a) Transmissionsgitter
b) Reflexionsgitter
mit jeweils 1200 Linien/mm. Berechnen Sie die Beugungswinkel für die Ord-
nungen m = 0, ±1.
Lösung
g = 11200
mm
= 0,833 µm.
a) Aus der Gittergleichung (17.2) für das Transmissionsgitter folgt:

mλ
αm = arcsin sin αe + und damit
g

◦ 1 · 600 nm
αm=+1 = arcsin sin 10 + = 63,33◦
0,833 nm
αm=0 = 10◦ , αm=−1 = −33,12◦
b) Aus der Gittergleichung (17.13) für das Reflexionsgitter folgt:

mλ
αm=+1 = arcsin − sin αe − und damit
g
αm=+1 = −63,33◦ , αm=0 = −10◦ , αm=−1 = 33,12◦
17.6 Blaze-Technik für Gitter

Als Wirkungsgrad eines Gitters in einem gegebenen Wellenlängenbereich und bei
gegebener Ordnung kann man das Verhältnis des gebeugten zum einfallenden
Strahlungsfluss definieren. Beim Sinusgitter geht das einfallende Licht nur in die
Beugungsordnungen m = 0 und m = ±1. Dies ist eine günstige Verteilung, die
aber nur für ein äußerst exakt gefertigtes Sinusgitter erreicht wird. Durch den
Einsatz eines Reflexionsgitters in der Form eines Phasengitters kann man den
Wirkungsgrad eines Rechteckgitters erhöhen, weil das gesamte einfallende Licht
reflektiert wird. Im Beugungsmaximum 0. Ordnung, für das keine Dispersion
auftritt, wird allerdings immer noch Strahlungsfluss vergeudet und damit die Ef-
fizienz des Gitters vermindert. Wie wir uns erinnern, enthält beim Rechteckgitter
die 0. Ordnung das intensivste Interferenzmaximum, da es mit dem Maximum
der Spaltfunktion der Einzelspaltbeugung zusammenfällt. Durch geeignete Wahl
des Verhältnisses von Spaltbreite zu Gitterkonstante kann man die Verteilung
des Strahlungsflusses über die Beugungsordnungen verändern. In Abb. 17.3 sind
die Rillen und die ungeritzten Anteile des Gitters gleich breit. Damit geht Licht
nur in m = 0 und in die ungeraden Beugungsordnungen m = ±1, ±3, ±5 usw.
Verändert man die Form der einzelnen Rillen so, dass die Spaltfunktion vom
Gittermaximum nullter Ordnung in ein Maximum höherer Ordnung verschoben
wird, so nennt man dies Blaze-Technik.
Um das Prinzip der Blaze-Technik zu verstehen, untersuchen wir dieses Ver-
fahren mit Hilfe Abb. 17.5 für ein Transmisssionsgitter und Abb. 17.6 für ein
17.6 Blaze-Technik für Gitter 505
Abb. 17.5. a) Für ein Transmissionsgitter ohne Blaze-Technik fällt das Maximum
der Spaltfunktion bei β = 0 mit dem Maximum 0. Ordnung des Gitters bei m = 0
zusammen. b) Im Gitter mit Blaze-Technik sind beide getrennt
Reflexionsgitter. In Abb. 17.5 b und Abb. 17.6 b sehen wir jeweils ein sogenann-
tes Echelettegitter mit keilförmigen Stufen. Der Einfachheit halber ist nur Licht
gezeigt, das von einer einzelnen Rille reflektiert oder transmittiert wird, obwohl
die Beugung das Zusammenwirken von vielen Rillen verlangt. In jeder Abbildung
zeigt a die Beugung für ein Gitter ohne Blaze-Technik und b die Wirkung einer
Veränderung der Rillenform (Blaze-Technik), um das Maximum der Spaltfunkti-
on des Einzelspaltes bei β = 0 (s. (16.10)) von der nullten Ordnung des Gitters
(bei m = 0) zu verschieben. Erinnern wir uns daran, dass das Maximum der
Spaltfunktion für β = 0 auftritt, wo der Gangunterschied der Lichtstrahlen vom
Zentrum und vom Rand jeder Rille null beträgt. Ein verschwindender Gangun-
terschied für diese Strahlen ergibt ein Verhalten wie in der geometrischen Optik:
Für durchgelassenes Licht, wie in Abb. 17.5, liegt das Beugungsmaximum in der
Richtung des einfallenden Strahles; für reflektiertes Licht, wie in Abb. 17.6, fin-
det man das Beugungsmaximum in der Richtung des reflektierten Strahls. Ritzt
man nun prismatische Rillen, wie in Abb. 17.5 b, oder geneigte Spiegelflächen,
wie in Abb. 17.6 b, so erhält man den Gangunterschied null in der Richtung des
gebrochenen bzw. des reflektierten Strahles, der dem Fall β = 0 entspricht.
Abb. 17.6. a) Für ein Reflexionsgitter ohne Blaze-Technik fällt das Maximum der
Spaltfunktion bei β = 0 mit dem Maximum 0. Ordnung bei m = 0 zusammen. b) Im
Gitter mit Blaze-Technik sind beide getrennt
Man kann also das Maximum der Spaltfunktion durch die Veränderung der
Form der einzelnen Rillen verschieben, dabei bleiben die Maxima der Gitter-
beugung an der gleichen Stelle. Deren Position wird durch die Gittergleichung
bestimmt, wobei der Beugungswinkel relativ zur Normalen des Gitters gemes-
sen wird. Weder die Richtung der Gitternormalen noch der Abstand der Rillen
ändert sich, wenn wir in Abb. 17.5 oder 17.6 von a zu b gehen. Als Ergebnis
dieses Verfahrens liegt nun das Maximum der Beugung in einer Ordnung m = 0,
und das Gitter beugt damit den Großteil des Strahlungsflusses in eine Ordnung,
in der Dispersion auftritt, d.h. verschiedene Wellenlängen getrennt werden.
Wir wollen nun den geeigneten Blaze-Winkel für ein Gitter bestimmen. Be-
trachten wir zunächst das Reflexionsgitter der Abb. 17.7, wo ein Strahl auf eine
Rillenoberfläche unter dem Winkel αe einfällt und unter dem beliebigen Winkel
α gebeugt wird, wobei beide relativ zur Gitternormalen gemessen werden. Die
Normale auf der Stufenoberfläche steht unter einem Winkel αB relativ zur Git-
ternormalen. Der Winkel αB ist der Blaze-Winkel des Gitters. Wir fordern nun,
dass der gebeugte Strahl die Bedingung für die spiegelnde Reflexion an der Git-
terstufe erfüllt und gleichzeitig in der Richtung eines Gittermaximums der m-ten
Ordnung (α = αm ) verläuft. Für die Reflexion an der Gitterstufe gilt:
17.6 Blaze-Technik für Gitter 507
αe − αB = αB − αm oder
αe + αm
αB = (17.14)
2
Als zweite Bedingung muss der Winkel αm die Gittergleichung (17.13) für Refle-
xion erfüllen:
mB λB = −g (sin αe + sin αm ) (17.15)

Gleichung (17.14) zeigt, dass der Blaze-Winkel vom Einfallswinkel abhängt, da-
mit sind Geometrien mit unterschiedlichen Blaze-Winkeln möglich.
Man findet die Gleichung, die der Blaze-Winkel erfüllen muss, durch Kombi-
nation der Gleichungen (17.14) und (17.15). Damit erhalten wir die
Blaze-Winkel-Bedingung mB λB = −g [sin αe + sin (2αB − αe )] (17.16)
Wir betrachten nun zwei Spezialfälle der Gleichung (17.16):

Bei der Littrow-Anordnung fällt das Licht entlang oder nahe der Normalen der
Rillenoberfläche (= Stufennormale) ein, so dass αB = αe und αm = αe , wie es
sich aus Abb. 17.7 und (17.14) ergibt. Für diesen Spezialfall liefert dann (17.16):
Abb. 17.7. Zusammenhang des Blaze-Winkels αB mit den Richtungen des einfallenden
und des gebeugten Strahles für ein Stufengitter (Echelette-Gitter), das als Phasengitter
wirkt
mB λB = −2g sin αB
oder

mB λB
Littrow-Blaze-Winkel αB = − arcsin (17.17)
2g
Da g sin |αB | der Stufenhöhe entspricht (s. Abb. 17.7), sehen wir, dass für ein
Gitter, das für die Wellenlänge λB und die Ordnung mB einen Blaze-Winkel
nach der Littrow-Bedingung erhalten hat, die Rillenstufe ein ganzzahliges Vielfa-
ches mB von Halbwellenlängen betragen muss. Gitter werden gewöhnlich durch
ihren Blaze-Winkel und die entsprechende Littrow-Wellenlänge erster Ordnung
spezifiziert. Setzt man das Gitter für andere Wellenlängen λ = λB ein, so ist die
gebeugte Intensität bei mB geringer. Der Einsatzbereich ist ungefähr 0,7 λB bis
2 λb .
Bei einer anderen Anordnung fällt das Licht entlang der Gitternormalen ein.
Dann ist αe = 0 und αB = αm /2. Gleichung (17.15) liefert nun:
Blaze-Winkel für Lichteinfall entlang der Gitternormalen

1 mB λB
αB = − arcsin (17.18)
2 g
Beispiel 17.4 Gitter mit Blaze-Winkel

a) Wir untersuchen ein Gitter mit 1 200 Linien (Rillen)/mm, das in erster
Ordnung mit einem Blaze-Winkel für 600 nm versehen ist. Bestimmen Sie
die Größe des Blaze-Winkels.
b) Für bestimmte Anwendungen benutzt man ein Gitter mit großer Gitter-
konstante, das man zur Erreichung eines hohen Auflösungsvermögens in
hoher Ordnung einsetzt. Wir untersuchen die Funktionsweise des Gitters
in der Ordnung m = 30 für ein Gitter von 79 Linien/mm, das einen
Blaze-Winkel von 63◦ 26’ hat und über einen Bereich von 406 × 610 mm
mit Linien versehen ist. Bestimmen Sie das Auflösungsvermögen, wenn es
unter der Littrow-Bedingung betrieben wird.
17.7 Gitterkopien 509
Lösung
a) Bei der Littrow-Anordnung erhält man aus (17.17) den Blaze-Winkel:

1 · 600 · 10−9 m · 1200 · 103
αB = − arcsin = −21,1◦
2m
Lässt man Licht entlang der Gitternormalen einfallen, dann erhält man
aus (17.18):
1
αB = − arcsin 1 · 600 · 10−9 · 1200 · 103 = −23,02◦
2
b) Bei der Littrow-Bedingung reflektiert das Gitter in Richtung des
einfallenden Strahls Licht der Wellenlänge
−2g sin αB −2 · (1/79 · 103 m) sin(63,43◦ )

λB = = = 755 nm
mB 30
Die Gesamtzahl der Linien des Gitters ist N = 79 · 610 = 48 190 und
damit beträgt das Auflösungsvermögen A = mN = 30 · 48 190 = 1,45 · 106
bei der Blaze-Wellenlänge von 755 nm. Das minimal auflösbare
Wellenlängenintervall in diesem Gebiet ist dann ∆λmin = λ/A = 0,5 pm.
Die tatsächlich erreichten Auflösungen können etwas geringer als die
theoretisch errechnete sein, da das Gitter Ungenauigkeiten aufweist. Das
hohe Auflösungsvermögen erreicht man auf Kosten eines beschränkten
nutzbaren Spektralbereiches von nur λ/m = 755 nm/30 = 25 nm.
17.7 Gitterkopien
Die hohen Kosten und die Schwierigkeiten bei der Herstellung von Gittern ver-
bieten den Einsatz der Gitteroriginale in spektroskopischen Instrumenten. Bevor
die Technik zur Herstellung preiswerter Kopien des Originals entwickelt wurde,
konnten sich nur wenige Wissenschaftler ein gutes Gitter leisten. Bei der Her-
stellung einer Kopie des Gitters wird das Original zunächst mit einer Schicht
nicht haftenden Materials beschichtet, die später wieder vom Original getrennt
werden kann. Diesem Schritt folgt eine Bedampfung z.B. mit Aluminium. Über
diese Schichtkombination folgt nun eine Lackschicht, auf die man im noch nicht
ausgehärteten Zustand die zukünftige Kopie legt. Wenn der Kunstharzlack aus-
gehärtet ist, kann man die Kopie vom Original trennen. Die erste Kopie, die
meist eine hohe Qualität aufweist, dient nun als weiteres Original für die Mas-
senherstellung von weiteren Kopien. Dünne Kopien, die man mit diesem neuen
Original“ herstellt, werden auf Glas oder Quarzsubstrat montiert und mit einem
”
hochreflektierenden Aluminiumfilm beschichtet. Dies ist ein Herstellungsverfah-

ren, das preiswerte Gitter in großen Stückzahlen liefert. Man kann Gitterkopien
kaufen, die genauso gut oder besser als das Original sind, sowohl was die opti-
schen Eigenschaften als auch die Lebensdauer betrifft. Die Qualität einer Kopie
mit tiefen Rillen kann besser als die des Originals sein, da der Produktionspro-
zess die Rauhigkeit der Oberflächen der Gitterstufen vermindert, wodurch die
optische Qualität des Gitters verbessert wird.
17.8 Interferenzgitter (holografische Gitter)

Da der Laser heute kohärente Lichtwellen hoher Intensität liefert, kann man einen
weiteren Gittertyp herstellen, der nicht mehr auf die hochpräzisen Teilmaschinen
angewiesen ist. Schon im Jahr 1927 schlug Michelson vor, gerade Interferenzstrei-
fen zu fotografieren, wie sie z.B. die Anordnung der Abb. 17.8 a liefert:
Zwei kohärente monochromatische Strahlen werden zur Interferenz gebracht
und bilden stehende Wellen im Bereich zwischen der kollimierenden Linse und
einem ebenen Spiegel. Die so erzeugten geraden, streifenförmigen Interferenz-
maxima treffen auf einen lichtempfindlichen Film, der unter einem bestimmten
Winkel geneigt ist. Nach der Entwicklung erhält man gerade Interferenzstreifen.
Die Interferenzgitter, die man mit Hilfe solcher optischen Techniken herstellt,
nennt man auch holografische Gitter, da man ein Gitter mit parallelen, äqui-
distanten Interferenzstreifen als das Hologramm einer ebenen Welle – mit ebe-
ner Referenzwelle – betrachten kann. Das interferometrische System, wie es in
Abb. 17.8 b gezeigt ist, gleicht somit dem, das man zur Herstellung von Holo-
grammen benutzt. Man zeichnet die interferierenden Wellenfronten der UV-
Strahlung eines Krypton-Ionen-Lasers mit einer kornlosen Fotolackschicht auf,
deren Löslichkeit für ein Ätzmittel proportional zur Belichtung bei der Aufnahme
ist. Der Fotolack wird in einer Dicke von ca. 1 µm gleichmäßig über die Oberfläche
eines Glassubstrates verteilt, indem man das Glassubstrat mit hoher Drehzahl
rotieren lässt. Beim Ätzprozess wird das Interferenzmuster in der Form eines Ril-
lenprofils aufgezeichnet, das sich über die Rille proportional zu cos2 ändert. Man
beschichtet das Gitter anschließend durch Bedampfung mit einem Metall im Va-
kuum und erhält damit ein Reflexionsgitter. In Abb. 17.8 c wird gezeigt, dass der
Beugungsstreifenabstand d durch die Wellenlängen des Lichtes und durch den
Winkel 2α zwischen den zwei interferierenden Strahlen bestimmt ist, wie es auch
aus der Beziehung g = λ/(2 sin α) folgt (s. (9.41) u. Abb. 9.6).
Neben der Vermeidung der teuren und arbeitsintensiven Prozesse beim Ritzen
der Gitterlinien mit einer Maschine besteht der überragende Vorteil des Inter-
ferenzgitters darin, dass periodische oder zufällige Fehler in der Rillenposition,
die Störbilder (Gittergeister ) verursachen, nicht auftreten. Interferenzgitter be-
sitzen deshalb eine beeindruckende spektrale Reinheit und sorgen für ein hohes
17.8 Interferenzgitter (holografische Gitter) 511
Abb. 17.8. a) Michelson-Anordnung für die Herstellung von Interferenzgittern, die aus
einem Kollimator K, einem Spiegel Sp und einer fotografischen Platte P besteht. b)
Holografische Anordnung zur Erzeugung von Interferenzstreifen, die aus dem Kollimator
K, dem Strahlenteiler St, den Spiegeln Sp und der fotografischen Platte P besteht.
c) Herstellung von Interferenzstreifen im Überlagerungsbereich von zwei kollimierten
kohärenten Strahlen (Laserstrahlen), die sich unter dem Winkel 2α schneiden
Verhältnis von Signal zu Untergrund. Auf der anderen Seite ist es schwierig, ein
bestimmtes Rillenprofil herzustellen, wie man es für die Blaze-Technik benötigt.
Das Rillenprofil von Interferenzgittern hat eine Form proportional zu cos2 ,
deshalb hat man gewöhnlich symmetrische und nicht sägezahnartig geformte Pro-
file, wie man sie für Gitter mit Blaze-Technik benötigt. Bei senkrechtem Einfall
ergibt ein symmetrisches Rillenprofil eine symmetrische Verteilung der Strah-
lung auf die positiven und negativen Beugungsordnungen. Bei schiefem Einfall
der Strahlung auf das Gitter kann man Strahlung in eine Beugungsordnung mit
m = 0 bündeln. Für diesen Fall lässt sich zeigen, dass die Verteilung der Strah-
lung nur wenig von der Rillenform abhängt. Die Effizienz dieser Gitter kann
mit der von geblazten Gittern vergleichbar werden. Darüber hinaus versucht
man, auch bei holografischen Gittern Rillenprofile zu erzeugen, wie man sie für
herkömmliche Gitter mit Blaze-Technik verwendet, indem man den Fotolack mit
zwei Wellenlängen belichtet, deren Fourier-Synthese mehr einem Sägezahnpro-
fil ähnelt oder durch nachfolgende Modifikation der symmetrischen Rillen durch
Argon-Ionen-Ätzen.
17.9 Gitterinstrumente
In einem Spektroskop kann man an Stelle eines Prismas ein preiswertes Trans-
missionsgitter einsetzen. Das auf das Gitter einfallende Licht wird durch einen
primären Spalt und eine Kollimatorlinse parallel gemacht. Man betrachtet das
Spektrum durch ein Fernrohr, das auf Unendlich eingestellt ist, eine präzise Mes-
sung der Wellenlänge erfolgt nicht. In qualitativ hochwertigen Geräten, Spek-
trografen, benutzt man zur genauen Wellenlängenmessungen ein Reflexionsgitter
und zeichnet ein Teilspektrum mit einer fotografischen Platte, einer Photodioden-
zeile oder einem Bildwandler auf. In Spektrometern gelangt ein enger Bereich des
Spektrums durch den Ausgangsspalt auf einen Photomultiplier oder einen ande-
ren Strahlungsdetektor. Im letzteren Fall registriert man das Spektrum, indem
man das Gitter dreht.
Es gibt eine Vielzahl von Gerätekonzeptionen; wir beschreiben hier kurz nur
einige gebräuchliche. Abbildung 17.9 zeigt eine Littrow-Anordnung, bei der ein
einzelnes abbildendes Element zur Kollimation des Lichtes genutzt wird. Das
Licht fällt auf das ebene Gitter ein und wird in Rückwärtsrichtung durch die
gleiche Linse auf eine fotografische Platte nahe dem Eintrittsspalt abgebildet.
Die fotografische Platte und der Eingangsspalt sind hintereinander angeord-
net. Wir erinnern uns daran, dass bei der Littrow-Anordnung das Licht entlang
der Normalen auf die Rillenoberflächen einfällt.
Die Abb. 17.10 zeigt eine Czerny-Turner-Anordnung in einem Gitterspek-
trometer. Licht des Eintrittsspaltes wird durch einen ebenen Spiegel auf einen
ersten konkaven Spiegel gelenkt, der das Licht für den Einfall auf das Gitter
parallel macht. Das gebeugte Licht fällt auf einen zweiten konkaven Spiegel, der
17.9 Gitterinstrumente 513
Abb. 17.9. Ebenes Gitter in Littrow-Anordnung
dann das Spektrum auf den Austrittsspalt abbildet. Wenn man das Gitter dreht,
bewegt man das Spektrum über den Ausgangsspalt. Der Z-förmige Strahlengang
bewirkt, dass sich die Abbildungsfehler (hier die Koma) beider Spiegel kompen-
sieren. Benutzt man dieses Gerät, um einzelne Wellenlängen einer Quelle mit
diskreten Spektrallinien oder um einen engen Wellenlängenbereich eines kontinu-
ierlichen Spektrums herauszufiltern, so nennt man es Monochromator .
Abb. 17.10. Czerny-Turner-Spektrometer
In besonders kostengünstigen Geräten verzichtet man auf sekundäre abbil-

dende Linsen oder Spiegel und verwendet konkave Gitter, sowohl um abzubilden
als auch um das Licht spektral zu zerlegen. Die Rillen, die man auf einem kon-
kaven Gitter anbringt, sind äquidistant in Bezug auf die ebene Projektion der
Oberfläche und nicht auf die konkave Oberfläche selbst. Auf diese Art kann man
die sphärische Aberration und die Koma eliminieren. Geräte mit konkaven Git-
tern benutzt man im Wellenbereich der weichen Röntgenstrahlung (1 bis 25 nm)
und im Ultravioletten bis zum Sichtbaren. Die Paschen-Runge-Anordnung (s.
Abb. 17.11) benutzt den sogenannten Rowland-Kreis. Bei diesem Gerät ist die
Gitteroberfläche im Zentrum Tangente an einen Kreis, der einen Durchmesser
von der Größe des Krümmungsradius r des konkaven Gitters aufweist. Es lässt
sich zeigen, dass eine spaltförmige Quelle, die man irgendwo auf den Kreis setzt,
als Spaltbild an einer anderen Stelle des Kreises exakt abgebildet wird. Für einen
Abb. 17.11. Paschen-Runge-Anordnung für ein konkaves Gitter mit

Krümmungsradius R
einfachen Demonstrationsaufbau kann man die Lichtquelle, den Spalt, das Gitter
und die fotografische Platte in einen dunklen Raum an drei stabile Positionen,
die durch den Rowland-Kreis und die Gittergleichung gegeben sind, bringen. Die
typischen Krümmungsradien für das Gitter liegen in der Größenordnung von 6 m,
deshalb ist der Platz, den man für diesen Spektrografentyp benötigt, sehr groß.
Man benutzt in der Regel die ersten drei Beugungsordnungen. Typische Ein-
fallswinkel liegen im Bereich von 30◦ bis 45◦ , und die Beugungswinkel können
zwischen −25◦ und 85◦ liegen. Ein großer Teil des Rowland-Kreises ist für die
Aufzeichnung des Spektrums nutzbar.
Abb. 17.12. Wadsworth-Anordnung für ein konkaves Gitter

Für ein Gitter von 1200 Linien pro mm und αe = 30◦ erhält man das Spek-
trum erster Ordnung für Wellenlängen zwischen 200 und 1200 nm bei Winkeln
zwischen −22◦ und 56◦ . In Abb. 17.11 ist das Spektrum erster Ordnung (200 bis
1200 nm) auf dem Rowland-Kreis für αe = 38◦ und ein Gitter von 1200 Linien
pro mm gezeigt.
Der Wadsworth-Spektrograf (s. Abb. 17.12) eliminiert den Astigmatismus
durch Hinzufügen eines primären Spiegels, der das Licht, das auf das Gitter
einfällt, kollimiert. Die Spektren werden in einem kleinen Winkelbereich zwischen
etwa −10◦ und +10◦ relativ zur Gitternormalen nachgewiesen. Um verschiede-
ne Bereiche eines Spektrums aufzuzeichnen, dreht man das Gitter und verwen-
det auch höhere Ordnungen. Dieser Typ eines Gitterspektrografen ist wesentlich
kompakter als die Paschen-Runge-Anordnung.
Übungen
17.1 Wie groß ist die Winkeldifferenz in der zweiten Ordnung zwischen Licht der Wel-
lenlängen 400 nm und 600 nm bei der Beugung an einem Gitter von 5000 Linien pro
cm?
17.2 a) Ermitteln Sie die Dispersion im roten Wellenlängenbereich bei 650 nm (in Grad
pro nm und in nm pro mm) für ein Transmissionsgitter von 6 cm Breite, das
3500 Linien pro cm aufweist, wenn das Spektrum dritter Ordnung durch eine
Linse der Bildbrennweite f = 150 cm auf einen Schirm abgebildet wird.
b) Bestimmen Sie das Auflösungsvermögen dieses Gitters.
17.3 a) Wie groß ist die Winkeldifferenz zwischen dem Beugungsmaximum zweiter Ord-
nung und den benachbarten Minima auf beiden Seiten für das Fraunhofer-
Beugungsmuster eines Gitters mit 24 Linien, das einen Linienabstand von
1/10 mm aufweist und auf das Licht der Wellenlänge 600 nm einfällt?
b) Welche geringfügig größere (oder geringfügig kleinere) Wellenlänge hätte ihr
Maximum zweiter Ordnung am Ort des Minimums, das zum Maximum zweiter
Ordnung des Lichtes bei 600 nm benachbart ist?
c) Berechnen Sie aus den Ergebnissen der Teile a und b das Auflösungsvermögen
in zweiter Ordnung. Vergleichen Sie das Ergebnis mit dem Resultat von (17.11).
17.4 Wie viele Linien muss man auf ein Transmissionsgitter ritzen, damit es gerade
das Natriumdublett (589,592 nm und 588,995 nm) im Spektrum der 1. oder der
2. Ordnung auflöst?
17.5 a) Ein Gitterspektrograf soll in 1. Ordnung benutzt werden. Zur Fokussierung des
Lichtes auf den Eingangsspalt werden Kronglasoptiken benutzt. Wie groß ist
die erste Wellenlänge im Spektrum, die Linien 2. Ordnung enthalten kann? Wie
ändern sich die Verhältnisse, wenn man Quarzoptik benutzt? Nehmen Sie an,
dass die Absorption für λ < 350 nm bei Kronglas und für λ < 180 nm bei Quarz
sehr groß ist.
b) Für welchen Beugungswinkel überlappen die Spektren bei einem Gitter mit
1200 Linien/mm?
c) Wie groß ist für die beiden vorher beschriebenen Fälle der freie Spektralbereich
in der 1. und 2. Ordnung?
17.6 Ein Transmissionsgitter hat 16 000 Linien pro 2,5 cm und ist 6,25 cm breit. Wie
groß ist das Auflösungsvermögen in 3. Ordnung, wenn man es für grünes Licht mit
λ = 550 nm einsetzt? Berechnen Sie die minimal auflösbare Wellenlängendifferenz
in der 2. Ordnung.
17.7 Die zwei Natrium-D-Linien haben eine Mittenwellenlänge von 589,3 nm und einen
Wellenlängenabstand von 0,6 nm. Es steht nur ein Gitter mit 400 Linien zur
Verfügung:
a) Welches ist die niedrigste Ordnung, für die die D-Linien aufgelöst werden,
b) wie breit muss das Gitter sein?
17.8 Eine Blende mit Vielfachspalten hat jeweils N = 2, 10 und 15 000 Spalte. Die Blende
wird direkt vor eine Linse der Bildbrennweite f = 2 m gesetzt. Der Abstand zwi-
schen den Spalten beträgt 5 µm und die Spaltbreite ist 1 µm. Die einfallende ebene
Welle hat eine Wellenlänge von 546 nm. Bestimmen Sie für die oben angegebenen
Spaltanzahlen N
a) den Abstand der Maxima nullter und erster Ordnung auf dem Schirm,
b) die Anzahl der Maxima (helle Beugungsstreifen), die unter dem zentralen Ma-
ximum der Spaltfunktion liegen,
c) die Breite des zentralen Beugungsstreifens auf dem Schirm.
17.9 Es wird ein Reflexionsgitter benötigt, das in der zweiten Ordnung im Spektralbe-
reich um 350 nm Wellenlängendifferenzen von 2 pm auflöst. Das 10 cm breite Gitter
soll in einem Gerät eingesetzt werden, bei dem das Licht vom Eingangsspalt senk-
recht auf das Gitter fällt. Bestimmen Sie
a) die minimale Anzahl von Linien pro cm, die nötig ist;
b) den optimalen Blaze-Winkel;
c) den Beugungswinkel, für den die Bestrahlungsstärke maximal ist (skizzieren
Sie den Blaze-Winkel und den Beugungswinkel in einer Zeichnung);
d) die Winkeldispersion in Grad pro nm.
17.10 Ein Transmissionsgitter soll in erster Ordnung eine Auflösung von 0,1 nm über den
gesamten sichtbaren Spektralbereich (ca. 400 bis 700 nm) liefern. Das Gitter ist auf
einer Breite von 2 cm mit Linien versehen.
a) Bestimmen Sie die minimale Anzahl von Gitterlinien, die benötigt wird.
b) Das Beugungsmuster wird durch eine Linse der Bildbrennweite 50 cm abge-
bildet. Wie groß ist in der Bildebene der Linse die Breite eines 0,1 nm Wel-
lenlängenintervalls in der Umgebung von 500 nm?
17.11 Ein konkaves Reflexionsgitter mit 2 m Krümmungsradius wird mit 1000 Linien/
mm versehen. Das Licht fällt unter einem Winkel von 30◦ relativ zur zentralen
Gitternormalen ein. Bestimmen Sie für die 1. Ordnung:
a) die Winkelverteilung um die Gitternormale für einfallendes Licht im Wel-
lenlängenbereich von 400 bis 700 nm,
b) das Auflösungsvermögen, wenn das Gitter über eine Breite von 10 cm mit Li-
nien versehen ist,
c) die lineare Dispersion in der Umgebung von 550 nm,
d) den Radius des Rowland-Kreises für die Paschen-Runge-Anordnung des Git-

ters.
17.12 Wie viele Linien pro mm benötigt man für ein konkaves Gitter von 2 m Krümmungs-
radius, das eine lineare Dispersion von ungefähr 0,5 mm/nm in der ersten Ordnung
aufweisen soll?
17.13 Ein ebenes Reflexionsgitter mit 300 Linien/mm hat einen Blaze-Winkel von 10◦ .
a) Das Licht fällt senkrecht auf die Rillenoberflächen. Welche Wellenlänge liefert
in erster Ordnung die maximale Bestrahlungsstärke?
b) Wie groß ist die lineare Dispersion in der ersten Ordnung, wenn man das Gitter
in der Czerny-Turner-Anordnung benutzt und der Spiegel einen Krümmungs-
radius von 3,4 m aufweist?
17.14 Ein Reflexionsgitter, das über eine Breite von 15 cm mit Linien versehen ist, erhält
den Blaze-Winkel für 200 nm (Vakuum-Ultraviolett). Das Auflösungsvermögen soll
in erster Ordnung 3 · 105 betragen. Bestimmen Sie den jeweiligen Blaze-Winkel
a) für die Littrow-Anordnung und
b) für senkrechten Einfall auf die Gitterebene.
17.15 Zeigen Sie, dass bei der Herstellung eines holografischen Gitters (s. Abb. 17.7 c) der
Abstand d von Interferenzstreifen durch λ/(2 sin α) gegeben ist. Hierbei ist 2α der
Winkel zwischen den kohärenten, einfallenden Strahlen. Wie viele Rillen pro mm
werden in einer ebenen Emulsion mit n = 1, die senkrecht zu den Interferenzstreifen
angeordnet ist, erzeugt, wenn zwei Argonionenlaser mit der Wellenlänge 488 nm
und dem Schnittwinkel von 120◦ zwischen den Strahlen benutzt werden? Welchen
Einfluss auf die Gitterkonstante hat eine Emulsion mit einer größeren Brechzahl?
17.16 Es wird ein Gitter benötigt, das in erster Ordnung das rote Dublett auflöst, das
in der elektrischen Gasentladung einer Mischung von Wasserstoff und Deuterium
auftritt (∆λ = 0,18 nm für eine mittlere Wellenlänge von 656,3 nm). Das Gitter
soll für eine Standard-Blaze-Wellenlänge von 630 nm in der Littrow-Anordnung
produziert werden. Bestimmen Sie:
a) die Gesamtanzahl der benötigten Rillen,
b) die Anzahl der Linien pro mm für ein Gitter mit einem Blaze-Winkel von 22◦
12’,
c) die minimale Breite des Gitters.
17.17 Ein Gitter ist über eine Breite von 12 cm mit 8 Rillen pro mm versehen und hat
einen Blaze-Winkel von 63◦ . Bestimmen Sie für die Littrow-Anordnung:
a) den Bereich der Ordnungen, für den das sichtbare Spektrum (400 nm bis
700 nm) auftritt,
b) die Gesamtanzahl der Rillen,
c) das Auflösungsvermögen und die minimal auflösbare Wellenlängendifferenz bei
550 nm,
d) die Dispersion bei 550 nm,
e) den nutzbaren Spektralbereich unter der Annahme, dass die kürzeste Wel-
lenlänge 350 nm beträgt.
18
Fresnel-Beugung
Einleitung
In den beiden vorangegangenen Kapiteln wurde die Fraunhofer-Beugung behan-
delt, bei der die einfallenden und gebeugten Wellenfronten in guter Näherung
als eben angesehen werden konnten. Hier werden nun Fälle diskutiert, in denen
diese Näherung versagt. Dies ist der Fall, wenn entweder Quelle oder Beobach-
tungsschirm – oder beide – so nahe an der beugenden Öffnung liegen, dass die
Krümmung der Wellenfront berücksichtigt werden muss. Zur Beobachtung dieser
Nahfeld - oder Fresnel-Beugung sind keine Kollimatorlinsen erforderlich, sie ist
also experimentell einfacher zu realisieren. Die mathematische Behandlung ist
hingegen so kompliziert, dass man fast ausschließlich auf numerische Verfahren
angewiesen ist.
Die Fresnel-Beugungsbilder schließen die Lücke zwischen den Schattenbildern
einer Beugungsöffnung und ihrer Fraunhofer-Beugungsfigur. In der geometrischen
Optik, bei der die Ausbreitung von Licht im Modell mathematischer Strahlen be-
handelt wird, erwarten wir (bei entsprechender Abbildung oder Beleuchtung) ein
520 18 Fresnel-Beugung
scharfes Bild der Apertur; dies wird auch bei sehr kleinen Abständen der Beob-
achtungsebene beobachtet. Bei der Fraunhofer-Beugung, wo der Schirmabstand
tatsächlich oder – durch Verwendung einer Linse – effektiv groß ist, weist man ein
Beugungsbild mit Interferenzstruktur nach, das wenig Ähnlichkeit mit dem Beu-
gungsobjekt aufweist, man erinnere sich an das Beugungsbild des Doppelspalts.
Im Zwischengebiet der Fresnel-Beugung sieht man im Wesentlichen ein Bild der
Apertur, das durch Interferenz strukturiert ist und dessen Kanten ausgefranst
sind.
18.1 Fresnel-Kirchhoffsches Beugungsintegral
Eine typische experimentelle Anordnung zur Beobachtung der Fresnelbeugung ist

in Abb. 18.1 wiedergegeben. Eine Punktquelle Q sendet Kugelwellen aus, die auf
eine so nahe liegende Apertur treffen, dass sie dort noch als sphärisch zu behan-
deln sind. Im nahe liegenden Beobachtungspunkt P werden dann Beugungseffekte
im Nahbereich – also Fresnel-Beugung – beobachtet. Ein herausgegriffener Punkt
O der Aperturwellenfront ist um den Abstand r von der Punktquelle und um
r von der Beobachtungsebene entfernt. Verglichen mit der Fraunhofer-Beugung
treten einige Änderungen auf: Da die einfallenden und gebeugten Wellen nicht
eben sind, wird die Beugung abhängig von den Abständen r und r, die ihrer-
seits (auch bei fixierter Quelle) mit der Lage von Aufpunkt P und Aperturpunkt
O variieren. Die stark unterschiedlichen Richtungen der austretenden Strahlen
führen zu einer zusätzlichen Winkelabhängigkeit, die durch einen Richtungsfaktor
beschrieben wird.
Abb. 18.1. Fresnel-Beugung einer von Q ausgehenden Kugelwelle an einer Apertur. Im

Beobachtungspunkt P wird die von dem Flächenelement dA emittierte Elementarwelle
registriert
18.1 Fresnel-Kirchhoffsches Beugungsintegral 521
Von einem Flächenelement dA um den Punkt O der Apertur geht (vgl. Kap.
16) eine Elementarwelle – eine Kugelwelle der Amplitude dÊ O ∼ E S dA – aus,
die im Aufpunkt P mit folgender Amplitude eintrifft:
Ê S dA −jkr
dÊ P ≈ e (18.1)
r
Die Apertur-Amplitude Ê S ist nunmehr von r und der Stärke Ê Q der Quelle
abhängig:
Ê Q −jkr
Ê S ∼e
r
Dann erhält man im Punkt P für die von O ausgehende Elementarwelle
Ê Q −jk(r+r )
dÊ P ∼ e dA (18.2)
rr
und nach Integration über die beugende Öffnung die Gesamtamplitude im Auf-
punkt P :

e−jk(r+r )
Ê P ∼ Ê Q dA (18.3)
Apertur rr
Die genaue Rechnung, die auf Kirchhoff zurückgeht, liefert uns das Fresnel-
Kirchhoffsche

Ê Q e−jk(r+r )
Beugungsintegral Ê P =j F (ϑ) dA (18.4)
λ Apertur rr
Hierbei ist F (ϑ) der

1 + cos ϑ
Richtungsfaktor F (ϑ) = (18.5)
2
der von dem Winkel ϑ zwischen einfallendem und gebeugtem Strahl abhängt und
die – nach dem einfachen Huygensschen Ansatz erlaubten – Elementarwellen in
Rückwärtsrichtung (ϑ = 180◦ ) eliminiert. Er beschreibt mithin die Richtungs-
abhängigkeit der Amplitude Ê(ϑ) der Elementarwelle, die von einem Punkt O in
der Apertur ausgeht. In dem Polardiagramm der Abb. 18.2 wird die Richtcharak-
teristik der Fresnel-Kirchhoff-Quelle mit der einer isotrop strahlenden Huygens-
Quelle, bei der FH (ϑ) = 1 gilt (s. (18.3)), verglichen.
Die Beugungsformel wurde von Fresnel angegeben und von Kirchhoff mathe-
matisch exakt abgeleitet. Er konnte die Ad-hoc-Annahmen Fresnels durch Lösung
der skalaren Wellengleichung begründen. Die Lösung (18.4) stellt aber immer
Abb. 18.2. Vergleich der Richtungsfaktoren der Quellen von Elementarwellen nach
Huygens (FH (ϑ ) = 1) und Fresnel-Kirchhoff (F (ϑ) = (1 + cos ϑ)/2))
noch lediglich eine Näherung dar. Sie setzt nämlich voraus, dass die Abstände
von Quelle und Schirm groß gegen die Wellenlänge und die Abmessung der Aper-
tur sind und die Amplitude Ê S in der beugenden Öffnung die gleiche ist, die bei
Abwesenheit der Apertur beobachtet würde; von den Rändern sollen also keine
zusätzlichen Wellen ausgehen. Kirchhoff verwendete somit die Randbedingung,
dass die Wellenfunktion Ê O (und ihr Gradient) in den die Apertur umgebenden
undurchsichtigen Bereichen verschwindet.
Diese Annahmen, die das einigermaßen einfache Ergebnis (18.4) ermöglichen,
sind nicht ganz zutreffend. Außerdem behandelt die Fresnel-Kirchhoff-Theorie
die Lichtwelle als skalares Feld; dies ist in unmittelbarer Nähe der Öffnung, wo
auch Polarisationseffekte auftreten, nicht gerechtfertigt. Für die meisten prak-
tisch wichtigen Beugungsprobleme liefert aber die Kirchhoff-Theorie hinreichend
genaue Ergebnisse.
Während die Herleitung des Beugungsintegrals mit Hilfe der Potentialtheorie
ziemlich kompliziert und unanschaulich ist, führt eine Erweiterung des Fresnel-
Prinzips zu einer anschaulicheren Lösung: Die einfallende Welle erzeugt in der
beugenden Öffnung zeitlich veränderliche E- und B-Verteilungen, die aus fiktiven
lokalen Strömen ableitbar sind. Die Ströme führen zu elektrischen und magneti-
18.1 Fresnel-Kirchhoffsches Beugungsintegral 523
schen Hertzschen Dipolen, die in der beugenden Öffnung kontinuierlich verteilt

sind und Elementarwellen anisotrop (s. Abb. 15.7) emittieren. Die gebeugte Wel-
le, das Beugungsintegral, entsteht wieder durch Überlagerung der Teilwellen. Der
Richtungsfaktor folgt aus der Überlagerung der elektrischen und magnetischen
Dipolstrahlung, die in Rückwärtsrichtung gegenphasig verläuft und damit de-
struktiv interferiert (s. Abb. 18.3).
Abb. 18.3. Erklärung des Richtungsfaktors durch Überlagerung der Strahlung fiktiver
elektrischer und magnetischer Dipole. Es sind nur die Wellen unter ϑ = 0 und ϑ =
180◦ gezeigt. a) Elektrischer Dipol, das E-Feld ist rotationssymetrisch um die E-Achse,
der Dipol strahlt nicht in vertikaler Richtung, b) magnetischer Dipol (Leiterschleife),
mit Rotationssymmetrie von B um die B-Achse. In Rückwärtsrichtung (ϑ = 180◦ ,
bzw. negative x-Richtung) strahlen die Dipole gegenphasig, die Rückwärtswelle wird
unterdrückt. Unter ϑ = 90◦ verbleibt nur der Beitrag des magnetischen Dipols und
damit F (90◦ ) = 1/2 (s. Abb. 18.2)
Bei Fraunhofer-Beugung kann (18.4) vereinfacht werden, der Richtungsfak-

tor wird praktisch konstant, da nur ein kleiner Öffnungswinkel der ausgehenden
Strahlung untersucht wird. Die Veränderung von r und r im Nenner ist bei vorge-
benem großem Abstand von Quelle und Beobachtungsschirm klein im Vergleich
zur Änderung der Exponentialfunktion, so dass man bei Einfall einer ebenen
Welle in Übereinstimmung mit (16.5) erhält:

Ê P = C Ê S e−jkr dA (16.5)
Wenn die Fraunhofer-Näherung nicht erfüllt ist, muss man das vollständige Beu-
gungsintegral (18.4) auswerten, was im Allgemeinen schwierig ist. Fresnel gab
bereits befriedigende Näherungsmethoden zur Lösung dieser Aufgabe an.
18.2 Kriterium für Fresnel-Beugung

Bevor wir auf die Fresnel-Beugung eingehen, wollen wir ein Kriterium angeben,
das die Bereiche Fresnel- und Fraunhofer-Beugung unterscheidet. Zur Vereinfa-
chung sollen Quell- (Q) und Aufpunkt (P ) auf der optischen Achse liegen (s.
Abb. 18.4). Der Abstand s1 ist für ebene Wellen Null. Da Fraunhofer-Beugung
annähernd ebene Wellen voraussetzt, muss für diesen Fall s1 klein gegen die
Lichtwellenlänge sein. Nach Abb. 18.4 ist:
1/2
2 h2 1 h2
s1 = r − r − h = r − r 1 − 2
2 ≈ (18.6)
r 2 r

Hierbei wurde die binomische Reihe (1 − x) ≈ 1− x2 +. . . verwendet. Wir haben
damit die sphärische Wellenfront durch ein Paraboloid angenähert. Wegen p ≈ r
folgt dann aus der Nahfeld- oder Fresnel-Bedingung s1 λ:
h2
s1 = λ
2p
Entsprechend gilt bei der gebeugten Welle (s. Abb. 18.4 b):
h2
s2 = λ (18.7)
2q
Damit gilt für die Fresnel-Beugung:

1 1 1
s1 + s2 = + h2 λ
2 p q
18.2 Kriterium für Fresnel-Beugung 525
Abb. 18.4. Schnitt in Abb. 18.1 entlang der optischen Achse. Die Krümmung von a)
einfallender und b) gebeugter Wellenfront ist für kleine Abstände s1 und s2 gering. Für
s1,2 λ liegt Fresnelbeugung vor
Diese Bedingung trifft natürlich auch auf die zu h senkrechte Ausdehnung der
Apertur zu, deshalb ist unter h die maximale Ausdehnung der Apertur zu ver-
stehen1 . Näherungsweise gilt dann für Fresnel-Beugung die
A
Nahfeldbedingung d (18.8)
λ
mit A = Fläche der Apertur und d = Sender- oder Empfängerabstand. Ausgehend

hiervon definieren wir die
A
Fresnel-Zahl NF = (18.9)
λd
Zusammen mit (18.8) folgt dann für den Fresnel-Bereich NF 1. Für s1 λ

ist NF 1, wir beobachten Fraunhofer-Beugung. Bei großen Fresnel-Zahlen
ist die aus (18.6) folgende Fresnel-Näherung, die nach (18.7) auf parabolische
Wellenfronten führt, nicht mehr gültig, da wir für h ≈ r in (18.6) auch höhere
Glieder
√ der Reihenentwicklung berücksichtigen
√ müssen. Für h = r ≈ d und
h ≈ A erhalten wir dann NF ≈ A/λ. Für eine Apertur mit A = 1 mm2 wird
somit NF ≈ 100. Damit gilt als Richtschnur:
Für 10−2 NF 102 liegt Fresnel-Beugung vor, die für NF < 10−2 in die
Fraunhofer-Beugung und für NF > 100 in die geometrische Optik übergeht.
1
Dies gilt nur, wenn die Apertur in allen Raumrichtungen etwa die gleiche Ausdehnung
hat. Für einen Linienspalt der Breite b, bei dem h → ∞ geht, ist in den folgenden
Gleichungen A = b2 zu setzen.
18.3 Fresnel-Beugung an Kreisblenden

In Abb. 18.1 liege eine kreisförmige Apertur vor. Für diesen Fall hat Fresnel eine
trickreiche Lösungsmethode angegeben, die die explizite Integration von (18.4)
umgeht. Er berücksichtigte die Beiträge der einzelnen Elemente der Wellenfront
durch Aufteilung der Apertur in so genannte Fresnel-Zonen, die rotationssymme-
trisch um die Achse QOP angeordnet sind. Diese Zonen sind auf der von Q aus-
gehenden Wellenfront (Kugelwelle in Abb. 18.5 a) durch Kreise begrenzt, deren
Radien so gewählt ist, dass jede Zone im Mittel um λ/2 weiter von dem Aufpunkt
P entfernt ist als die vorhergehende. Die Zonenränder haben mithin von P fol-
gende Abstände (s. Abb. 18.5 a): r1 = r0 + λ/2, r2 = r0 + λ, . . . rN = r0 + N λ/2.
Damit treffen die Elementarwellen aufeinander folgender Zonen in P gegenphasig
ein. Natürlich könnte jede dieser Fresnel-Zonen in kleinere Abschnitte unterteilt
werden, die Phase variiert aber immer von einem zum anderen Ende um π und
der Gesamtbeitrag aufeinanderfolgender Zonen behält den Phasenunterschied π.
Dies wird in dem Zeigerdiagramm Abb. 18.5 b klar, wo jede Halbwellenzone in
15 Unterzonen aufgeteilt ist, deren Beitrag den kleinen Zeigern entspricht. Nach
Durchlaufen der ersten Zone ist der 15. Zeiger antiparallel zum ersten Zeiger. Die
Amplitude a1 (gestrichelt) ist die Resultierende dieser Zonen. Beachten Sie die
Drehung um 90◦ , der Gesamtbeitrag der ersten Fresnelzone eilt also der direkten
Welle um π/2 nach. Für eine große Zahl von Subzonen geht dieses Zeigerdia-
gramm in einen Kreis mit dem Durchmesser a1 über. Der Richtungsfaktor ist in
Abb. 18.5 b durch leichte Verkürzung aufeinanderfolgender Zeiger berücksichtigt,
dies führt zu Spiralen. Summation aller von N Halbwellenzonen ausgehenden
Wellen ergibt in P die Gesamtamplitude:

N
AN = a1 + a2 ejπ + a3 e2jπ + . . . = a1 − a2 + a3 − a4 . . . = (−1)n−1 an (18.10)
n=1
Die Amplituden an werden bei wachsender Zonenzahl N durch drei Faktoren

beeinflusst:
1. eine geringe allmähliche Zunahme aufgrund wachsender Zonenfläche,
2. eine Abnahme wegen der 1/r2 -Abhängigkeit der Intensität und
3. die Abnahme aufgrund des Richtungsfaktors.
Aus Abb. 18.5 a folgt für die Fläche Fn der n-ten Zone:
2
r0 r02 λ λ
Fn = π + (2n − 1) (18.11)
r0 + r0 r0 2r0
Wegen λ/r0 1 wird Fn nahezu unabhängig von n:

18.3 Fresnel-Beugung an Kreisblenden 527
Abb. 18.5. a) Auf den Punkt P bezogene Halbwellen-Fresnel-Zonen, die auf einer von Q
ausgehenden Kugelwelle liegen. b) Zeigerdiagramm der Amplituden der Wellen, die von
den kreisförmigen Fresnel-Zonen ausgehen und in P registriert werden. Jede Halbzone
ist in 15 Unterzonen – mit zugehörigem Zeiger – aufgeteilt. Die Länge der Zeiger nimmt
pro Fresnel-Zone um jeweils 5% ab, um den Richtungsfaktor zu simulieren. a1 ist der
zur ersten Halbzone gehörige Zeiger (leicht verdreht gezeichnet), A ist allen (ca. 5 21 )
berücksichtigten Zonen zugeordnet. (Das Diagramm ist an der waagrechten Achse zu
spiegeln, da die Wellen nacheilen.)
r0 r0
Fn ≈ π (18.12)
r0 + r0
Die langsame Zunahme von Fn mit n (s. (18.11)) wird gerade durch das 1/r2 -
Gesetz kompensiert, so dass die Amplitudenabnahme nur durch den Richtungs-
faktor bedingt ist. Abb. 18.6 a zeigt das zu (18.10) gehörige (jeweils vertikal
verschobene) Zeigerdiagramm der gegenphasig beitragenden Einzelzonen mit der
diskutierten Amplitudenabnahme und Abb. 18.6 b die resultierende Amplitude
AN als Funktion von N . Beachten Sie die starke Variation von AN für kleine N
und bei großen N die Annäherung an den Grenzwert A∞ = a1 /2, also nurmehr
die Hälfte der Amplitude der ersten Zone. Weiterhin ist die Amplitude AN für
ungerade N größer a1 /2 und für gerade N kleiner als a1 /2. Für die Gesamtam-
plituden gilt:
Abb. 18.6. Zeigerdiagramm für Fresnelsche Halbwellenzonen. a) Einzelzeiger an jeder

Halbwellenzone. b) Einzelzeiger der nach jeder Teilsummation resultierenden Amplitu-
den AN
a1 aN
AN ≈ − für N gerade (18.13)
2 2
und
a1 aN
AN ≈ + für N ungerade (18.14)
2 2
Hiermit (oder aus Abb. 18.6 b) folgt dann:
– für kleine N mit aN ≈ a1 :
AN ≈ a1 bei N ungerade
und
AN → 0 bei N gerade
– für große N gilt aN → 0 und damit:

AN ≈ a1 /2 für N gerade und ungerade.
Dies führt zu überraschenden Ergebnissen, die sich experimentell verifizieren las-

sen. Als Beispiel betrachten wir eine Apertur, deren Durchmesser zunächst mit
18.4 Fresnelsche Zonenplatte 529
dem der ersten Fresnelzone zusammenfällt, dann beobachtet man in P die Amp-
litude A1 = a1 . Wird der Durchmesser so weit vergrößert, dass auch die zweite
Zone durchgelassen wird, so sinkt A2 annähernd auf null. Entfernt man die Blen-
de ganz, so dass alle Zonen beitragen, erhält man A∞ = a1 /2 und damit nur 1/4
der Intensität der ersten Zone.
Beweis von (18.13) und (18.14): Wir betrachten die Zone n mit den Nachbarzonen
n − 1 und n + 1 mit den zugehörigen Richtungsfaktoren F (ϑ) und schreiben für die
Amplitude: an = b(1 + cos ϑn ) mit b = konst. Dann gilt mit ϑn±1 = ϑn ± ∆ϑ und
∆ϑ 1: 12 (an+1 + an−1 ) = 2b (1 + cos(ϑ + ∆ϑ) + 1 + cos(ϑ − ∆ϑ)) ≈ b(1 + cos ϑ) = an ,
da cos(ϑ ± ∆ϑ) ≈ cos ϑ ∓ ∆ϑ sin ϑ. Mit Hilfe dieser Beziehung für an ersetzen wir
in (18.10) alle Glieder mit geradem Index durch die entsprechenden Mittelwerte und

erhalten beispielsweise für N = 5: A5 = a1 − a21 + a23 + a3 − a23 + a25 + a5 . Wir
sehen, dass sich die Reihenglieder weitgehend kompensieren und A5 = a21 + a25 , also
(18.14), verbleibt. Bei geradem N (= 4) ist A4 = a21 − a25 ≈ a21 − a24 , wodurch (18.13)
bestätigt wird.
Ein weiteres – auch historisch – interessantes Ergebnis ergibt sich, wenn man
die erste Fresnelzone durch eine kleine undurchsichtige Scheibe abdeckt. In diesem
Fall tragen zur Gesamtamplitude AN alle Zonen mit Ausnahme der ersten Zone
bei, damit tritt die zweite Zone an die Stelle der bisherigen ersten, und man misst
A∞ ≈ a2 /2, d.h. die Intensität im Zentrum des geometrisch optischen Schattens
ist etwa die gleiche wie ohne Hindernis. Als Fresnel der Französischen Akademie
seine Arbeit über die Beugung vorgelegt hatte, folgerte Poisson diese – nach
seiner Ansicht absurde – Voraussage und wollte damit die Fresnelsche Theorie
widerlegen. Fresnel und Arago konnten jedoch den Fleck, der ironischerweise als
Poissonscher Fleck bezeichnet wird, experimentell nachweisen (s. Abb. 18.7).
In Abb. 18.6 ist der erste Zeiger a1 als Bezugspfeil horizontal gezeichnet,
nach Abb. 18.5 hinkt er jedoch – wie erwähnt – um π/2 gegenüber der direkten
Welle nach. Da die Zeiger AN von N Wellen parallel zu a1 sind, müsste die
gesamte Beugungswelle – und damit für N → ∞ auch die ursprüngliche Welle
– um π/2 verzögert sein, also mit dem Phasenfaktor e−jπ/2 = −j multipliziert
werden. Diese physikalisch unsinnige Phasenverschiebung wird gerade durch den
(zunächst rätselhaften) Faktor j der Kirchhoff-Formel (18.4) kompensiert.
18.4 Fresnelsche Zonenplatte

Nach (18.10) und Abb. 18.6 könnte man große Amplituden AN und damit In-
tensitäten erhalten, wenn es gelänge, alle negativen (Index n gerade) oder posi-
tiven (n ungerade) Terme zu eliminieren oder deren Vorzeichen umzukehren.
Dies geschieht mit Fresnelschen Zonenplatten. Platten variabler Durchlässig-
keit (Amplituden-Zonenplatten) blenden Teilwellen aus. Phasen-Zonenplatten,
Abb. 18.7. Beugungsbild der Fresnel-Beugung an einer undurchsichtigen Kreisscheibe.

Das Beugungsbild weist im Zentrum den Poissonschen Fleck auf
die z.B. durch eine Variation der Plattenddicke realisiert werden, bewirken bei ei-
ner Phasenverschiebung um π die geforderte Vorzeichenumkehr. Abbildung 18.8
zeigt eine Zeichnung mit N = 16 abwechselnd durchlässigen und undurchlässigen
Fresnelzonen. Wird hiervon eine verkleinerte Kopie (Negativ oder Positiv) ange-
fertigt, so erhält man eine Zonenplatte mit binärer Amplitudenstruktur. Der Zo-
nenradius Rn der n-ten Zone kann für eine ebene einfallende Welle nach Abb. 18.9
berechnet werden:
2 2
λ λ n2 λ
2
Rn = r0 + n − r0 = r0 n +
2 2
2 r0 4 r0
Hierbei kann der zweite Term der rechten Formel wegen der Annahme λ/r0 1
(λ/r0 = 2 · 10−6 für r0 = 30 cm und λ = 600 nm) vernachlässigt werden und wir
erhalten für die
√
Zonenradien Rn ≈ nλr0 = nR1 mit n = 1, 2, . . . N (18.15)
√
und mit R1 = λr0 , dem Radius der ersten Zone. Dieser legt auch den Abstand
r0 des Punktes P fest, für den die Anordnung als Zonenplatte (Sammellinse)
arbeitet.
18.4 Fresnelsche Zonenplatte 531
Abb. 18.8. Fresnelsche Zonenplatte
Abb. 18.9. Geometrie zur Berechnung der Radi-

en Rn der Zonenplatte für eine ebene einfallende
Welle und einen Aufpunkt im Abstand r0
Abb. 18.10. Kombination von
Linse und Phasen-Zonenplatte
zur Beseitigung des Farbfehlers
In Abb. 18.8 sind die erste, dritte, fünfte . . . Zone transparent und wir erhalten
durch konstruktive Interferenz von 8 Zonen: A16 = a1 + a3 + . . . + a15 ≈ 8a1 .
Hierbei wurde der Richtungsfaktor gleich 1 gesetzt. Wir erhalten also – bei nur
16 Zonen – gegenüber einer sich frei ausbreitenden Welle (mit A∞ ≈ a1 /2) die
16-fache Amplitude und 256-fache (= 162 ) Intensität. Ist, wie in Beispiel 1, der
Aufpunkt P im Abstand 30 cm, so hat die Zonenplatte bei λ = 632,8 nm den
Radius R16 = 1,74 mm. Die Zonenplatte arbeitet somit als Linse mit dem Brenn-
punkt P und der Brennweite f1 = r0 , für die aus (18.15) folgt:
R12 R2
f1 = = N (18.16)
λ Nλ
Im Gegensatz zu einer gewöhnlichen Linse treten bei der binären Zonenplatte
weitere Brennpunkte auf. Rückt nämlich der Aufpunkt P (s. Abb. 18.9) näher
an die Zonenplatte heran, so nimmt der Gangunterschied ∆ = rn − r0 für festen
Zonenradius Rn zu, da die Teilstrahlen stärker geneigt verlaufen. Dies folgt auch
aus (18.15), wonach bei konstantem Rn die Zonenzahl n und damit der jeweilige
Gangunterschied zunimmt, wenn r0 reduziert wird. Für den Abstand r0 = f1 /2
wird die Zonenzahl verdoppelt, und jede der ursprünglichen Zonen zerfällt nun
in 2 Zonen mit jeweils λ/2 Gangunterschied, so dass die Beiträge aller Zonen de-
struktiv interferieren. Bei r0 = f1 /3 ergibt sich dann die dreifache Zonenzahl, die
ursprünglichen Zonen zerfallen in drei Unterzonen, wovon nur jeweils 2 destruk-
tiv interferieren, so dass bei f1 /3 ein weiterer Brennpunkt auftritt. Entsprechend
hat man bei r0 = f1 /5 fünf Unterzonen, von denen wieder nur eine Zone beiträgt.
Eine binäre Zonenplatte mit dem Radius RN hat demnach die

2
RN f1
Brennweiten fm = = mit m = 1, 2, 3 . . . (18.17)
(2m − 1)N λ 2m − 1
und mit f1 nach (18.16). Die Platte weist zusätzlich Bildbrennpunkte bei −fm
auf, sie wirkt zusätzlich als Zerstreuungslinse. Außerdem tritt noch das unge-

beugte Licht entsprechend f1/2 = ∞ auf. Gegenüber der normalen“ Linse der
”
refraktiven Optik hat die binäre Amplituden-Zonenplatte der diffraktiven Optik
den Vorteil, dass sie auch dann verwendbar ist, wenn – wie z.B. im Röntgen-
gebiet – kaum Brechung auftritt und keine refraktiven Bauelemente verfügbar

sind. Sie hat den Nachteil, dass sie einen großen Farbfehler (fm ∼ 1/λ) und
mehrere Brennpunkte aufweist. Hierdurch tritt ein zusätzlicher Strahlungsun-
tergrund auf. Bekanntlich werden bei normaler Dispersion lange Wellen weniger
stark gebrochen als kurze, während bei der Beugung die umgekehrte Abhängig-
keit auftritt. Durch die Verbindung von refraktiver und diffraktiver Optik kann
man mithin den Farbfehler einer Linse beseitigen (s. Abb. 18.10).
Die klassische“ Zonenplatte moduliert die transmittierte Amplitude nach Art
”
eines Rechteckgitters und verzettelt“ die Lichtenergie auf viele Brennpunkte. Bei
”
Sinusmodulation treten nur noch 2 Bildbrennpunkte (bei ±f1 ) auf. Wesentlich
18.5 Fresnel-Beugung an Rechteckaperturen 533
vorteilhafter sind Phasenplatten, da in ihnen kein Lichtverlust durch Extinktion

auftritt. Man kann zeigen, dass – wie bei einer konventionellen Sammellinse –
nur noch ein Brennpunkt auftritt, falls in den einzelnen Zonen – z.B. durch
Dickenvariation – die Phasenverschiebung vom inneren zum äußeren Zonenrand
quadratisch von 2π auf 0 abnimmt.
Beispiel 18.1 Zonenplatte
Für paralleles Licht der Wellenlänge λ = 632,8 nm soll eine Zonenplatte mit
f1 = 30 cm Brennweite entworfen werden. Berechnen Sie die Radien der 3
ersten Fresnel-Zonen und die Zahl der Zonen in einer Apertur mit dem Radius
100 · R1 . Wo liegen weitere Brennpunkte?
Lösung √
Es gilt√f1 = r0 und damit nach (18.15): R1 = λr0 = 436 µm; da
Rn = nR1 , ist dann R2 = 616 µm und R3 = 755 µm. Weiterhin ist
N ∼ RN 2
, so dass für RN = 100 · R1 = 4,36 cm insgesamt N = 104
Fresnel-Zonen auftreten. Weitere Brennpunkte liegen bei f2 = f1 /3 = 10 cm,
f3 = 6 cm usw.
18.5 Fresnel-Beugung an Rechteckaperturen
Die Beugung an geraden Kanten, Rechteckspalten und Drähten lässt sich durch
eine andere Näherung der Kirchhoff-Gleichung (18.4) behandeln. Um der Symme-
trie des Objektes angepasste Wellen zu bekommen, verwenden wir in Abb. 18.1
als Lichtquelle einen√schmalen Spalt S, von dem Zylinderwellen ausgehen, deren
Amplituden mit 1/ r abnehmen. Fresnel hat eine quantitative Lösung dieses
Beugungsproblems erarbeitet. Für die qualitative Untersuchung wird man hier
Fresnelzonen verwenden, die aus Rechteckstreifen entlang der zylindrischen Wel-
lenfront bestehen (s. Abb. 18.11). Wir wollen nun zeigen, dass die Summe der
Amplitudenzeiger, die diesen Zonen zugeordnet sind, auf einer Kurve liegt, die
man als Cornu-Spirale bezeichnet. Die mittlere Phasendifferenz aufeinanderfol-
gender Zonen ist auch hier gleich π. In Abb. 18.11 b sind die Zonenstreifen ober-
und unterhalb der z-Achse gezeigt. Ihre Fläche nimmt – im Gegensatz zu den
Zonenringen – mit wachsendem N deutlich ab, so dass die Länge der Einzel-
zeiger entsprechend kürzer wird. Wir teilen die Zonen wieder in Subzonen auf
(in Abb. 18.12 sind es 8), dann ist der Zeiger 8 am oberen Ende der ersten Zo-
ne gegenüber dem der einfallenden Welle um π gedreht und endet bei T . Man
sieht, dass der Zeiger A1 = a1 , der der ersten Zone zugeordnet ist, aufgrund der
Abnahme der Zeigerlänge weniger stark als bei der Kreisbeugung gedreht wird
(dort ergab sich eine Drehung um π/2, s. Abb. 18.5 b). Nach Summation über
Abb. 18.11. Fresnelsche Halbwellen-Zonenstreifen auf der zylindrischen Wellenfront

einer von dem Spalt S ausgehenden Welle. a) in Seitenansicht und b) von P aus be-
trachtet. (Der Spalt steht senkrecht auf der Zeichenebene.)
Abb. 18.12. Zeigerdiagramm für die beiden ersten Halbwellen-Zonenstreifen, die in

jeweils 8 kleinere Unterzonen gleicher Phasenschrittweite unterteilt sind
18.6 Die Cornu-Spirale 535
die 2. Zone hat sich die Phase des Zeigers 16 um 2π geändert und man erreicht
den Punkt B mit dem Zeiger A2 = a1 + a2 . Bei Fortsetzung des Prozesses und
feinerer Unterteilung der Zonen erhält man eine glatte Kurve, die in E, dem En-
de oder Auge“ der Spirale, endet. Der Zeiger AE von O nach E berücksichtigt
”
dann den Beitrag aller oberhalb der z-Achse gelegenen Zonen. Die Beiträge der
Zonen unterhalb der Achse lassen sich durch eine an O punktgespiegelte Spi-
rale berücksichtigen; hierdurch erhält man die vollständige Cornu-Spirale. Falls
die Koordinaten aller Punkte der Kurve bekannt sind (s. Kap. 18.6), kann man
hieraus die Beugungsamplituden ablesen, die aus dem Beitrag einer beliebigen
Zahl von Zonen resultieren, und die relativen Beugungsintensitäten ermitteln.
18.6 Die Cornu-Spirale

Wir untersuchen die Beugung einer Zylinderwelle an einer Rechteckapertur (s.
Abb. 18.13) nunmehr quantitativ mit Hilfe des Beugungsintegrals (18.4). Wir ver-
nachlässigen den Einfluss des Richtungsfaktors und des Produktes rr im Nenner
und erhalten damit für die Beugungsamplitude:

Ê P = C e−jk(r+r ) dA (18.18)
Ap
Entsprechend unserer Herleitung des Beugungsintegrals ist hierbei die Inte-

gration über eine – von dem Quellpunkt Q ausgehende – gekrümmte Wellenfront
in der Apertur zu erstrecken. In der Fresnel-Näherung führt aber die Integra-
tion über die ebene Apertur (in der x-y-Ebene) zu demselben Ergebnis. Wir
setzen voraus, dass die Aperturbreite b2 in y-Richtung groß gegen die Breite b in
x-Richtung ist, so dass Beugungseffekte in y-Richtung zu vernachlässigen sind.
Damit wird das Beugungsbild, das auf dem im Abstand z = q in der X-Y -Ebene
befindlichen Schirm registriert wird, von Y unabhängig. Wir beschränken deshalb
die Auswertung auf die durch die x- bzw. X-Richtung und die optische z-Achse
festgelegte Ebene (s. Abb. 18.13 b). Wir erhalten hiernach für die Abstände
r2 = x2 + p2 und r2 = (X − x)2 + q 2

√ 1 z2
da x p gelten soll, folgt hieraus bei Verwendung von a2 + z 2 ≈ a + 2 a und
D = p + q:
x2 (x − X)2 x2 (x − X)2
r + r ≈ p + q + + =D+ + (18.19)
2p 2q 2p 2q
Wir betrachten zunächst den Spezialfall X = 0, berechnen also die Beugungs-
amplitude auf der optischen Achse. Dann wird (18.19)
Abb. 18.13. a) Beugung von Zylinderwellen, die von einem Punkt Q des Spaltes S aus-
gehen, an einer Rechteckapertur Ap mit Spalt“breite b in x-Richtung. b) Seitenansicht
”
(x-z-Ebene) von Abb. a
x2
r + r = D + (18.20)
2d
mit den Abständen (s. Abb. 18.13 b):
1 1 1
Abstände D =p+q und ≡ + (18.21)
d p q
18.6 Die Cornu-Spirale 537
Einsetzen von (18.20) in (18.18) ergibt dann mit dem (in Abb. 18.13 a gestrichel-
ten) Flächenelement dA = b2 dx:
xmax
−jkD −jkx2 /2d −jkD 2
Ê P = C e e dA = C b2 e e−jkx /2d dx (18.22)
Ap xmin
2 2
Im Exponent führen wir über die Beziehung k x2d = π λd
x
≡ π2 v2 eine dimensions-
lose Aperturkoordinate v ein:

2
v=x (18.23)
λd

Hieraus folgt dx = λd2 dv und damit die Beugungsamplitude:
vmax
Ê 2
Ê P = √u e−jπv /2
dv (18.24)
2 vmin
Dabei wurden alle Konstanten zur Amplitude Ê u zusammengefasst, die – wie un-
ten gezeigt – gleich der ungestörten Amplitude ist, die am Ort P ohne beugendes
Hindernis registriert würde.
Das in (18.24) auftretende Integral ist offenbar in der Fresnelschen Beugungs-
theorie von zentraler Bedeutung, es lässt sich nicht geschlossen berechnen, jedoch
durch spezielle Funktionen ausdrücken. Man kann es auf das komplexe Gaußsche
Fehlerintegral erf(z) zurückführen
v

−jπv 2 /2 1−j jπ 1−j √ 1+j
e dv = erf v = erf π v (18.25)
0 2 2 2 2
mit
z
2
e−z dz
2
erf(z) = √
π 0
In der Optik verwendet man stattdessen meist die Beschreibung mit Hilfe der
Fresnel-Integrale: Nach Anwendung der Eulerschen Formel auf (18.24) wird
v v π v π
−jπv 2 /2
e dv = cos v 2
dv − j sin v2 dv ≡ C(v) − j S(v) (18.26)
0 0 2 0 2
wobei C(v) und S(v) als

v
C(v) = cos π v2 dv = −C(−v)
Fresnel-Integrale 0v π2 2 (18.27)
S(v) = 0
sin 2 v dv = −S(−v)
bezeichnet werden. Mit Hilfe dieser Integrale und (18.24) können wir die Beu-
gungsamplitude (auf der optischen Achse) berechnen:
vmax
Ê
e−jπv
2
Ê P = √u /2
dv
2 vmin
Ê
= √u {C(vmax ) − jS(vmax ) − [C(vmin ) − jS(vmin )]} (18.28)
2
Zur Veranschaulichung der Fresnel-Integrale verwendet man einen Graph in der
komplexen Ebene, die Cornu-Spirale (Abb. 18.14); die Fresnel-Integrale C(v) und
−S(v) sind die reellen und imaginären Koordinaten, die Aperturkoordinate v der
Kurvenparameter. Wegen (18.23) (v ∼ x) und (18.26) ist dann im oberen Bereich
der Spirale die Länge des Zeigers Z o vom Punkt v = 0 nach vmax proportional zu
dem Beitrag zur Beugungsamplitude im Punkt P , der von allen zwischen x = 0
und xmax = b/2 vom Spalt ausgehenden Elementarwellen herrührt. Entsprechend
beschreibt der untere Zeiger Z u den Beitrag der Punkte bei xmin < x < 0. Die
Endpunkte oder Augen der Spirale entsprechen xmax = ∞ und xmin = −∞, also
einer sich frei – ohne beugende Apertur – ausbreitenden Welle.
Die Beugungsamplitude Ê P ist nach (18.28) und Abb. 18.14 proportional zur
Länge der Verbindungslinie der zwei Punkte auf der Cornu-Spirale, die den
auf den Beobachtungsort bezogenen Randpunkten der Apertur zugeordnet
sind.
Das Längenelement dl einer beliebigen Kurve ist gegeben durch dl2 = dx2 +
dy 2 . Anwendung auf die Cornu-Spirale (18.26) ergibt
π π
dl2 = (dC)2 + (dS)2 = cos2 v2 + sin2 v2 dv2 = dv2
2 2
also
dl = dv (18.29)
d.h. die Bogenlänge l der Spirale ist gleich der Aperturkoordinate v.
18.7 Anwendungen der Cornu-Spirale

Mit Hilfe der Cornu-Spirale können wir grafisch Näherungswerte des Kirchhoff-
Fresnel-Integrals ermitteln. Genaue Werte erhält man aus Tabelle 1 oder durch
numerische Berechnung mittels entsprechender Software. Wir untersuchen einige
spezielle Anwendungen:
18.7 Anwendungen der Cornu-Spirale 539
Tabelle 18.1. Fresnel-Integrale C(v) und S(v)
v C(v) S(v) v C(v) S(v)

0,00 0,0000 0,0000 4,50 0,5261 0,4342
0,10 0,1000 0,0005 4,60 0,5673 0,5162
0,20 0,1999 0,0042 4,70 0,4914 0,5672
0,30 0,2994 0,0141 4,80 0,4338 0,4968
0,40 0,3975 0,0334 4,90 0,5002 0,4350
0,50 0,4923 0,0647 5,00 0,5637 0,4992
0,60 0,5811 0,1105 5,05 0,5450 0,5442
0,70 0,6597 0,1721 5,10 0,4998 0,5624
0,80 0,7230 0,2493 5,15 0,4553 0,5427
0,90 0,7648 0,3398 5,20 0,4389 0,4969
1,00 0,7799 0,4383 5,25 0,4610 0,4536
1,10 0,7638 0,5365 5,30 0,5078 0,4405
1,20 0,7154 0,6234 5,35 0,5490 0,4662
1,30 0,6386 0,6863 5,40 0,5573 0,5140
1,40 0,5431 0,7135 5,45 0,5269 0,5519
1,50 0,4453 0,6975 5,50 0,4784 0,5537
1,60 0,3655 0,6389 5,55 0,4456 0,5181
1,70 0,3238 0,5492 5,60 0,4517 0,4700
1,80 0,3336 0,4508 5,65 0,4926 0,4441
1,90 0,3944 0,3734 5,70 0,5385 0,4595
2,00 0,4882 0,3434 5,75 0,5551 0,5049
2,10 0,5815 0,3743 5,80 0,5298 0,5461
2,20 0,6363 0,4557 5,85 0,4819 0,5513
2,30 0,6266 0,5531 5,90 0,4486 0,5163
2,40 0,5550 0,6197 5,95 0,4566 0,4688
2,50 0,4574 0,6192 6,00 0,4995 0,4470
2,60 0,3890 0,5500 6,05 0,5424 0,4689
2,70 0,3925 0,4529 6,10 0,5495 0,5165
2,80 0,4675 0,3915 6,15 0,5146 0,5496
2,90 0,5624 0,4101 6,20 0,4676 0,5398
3,00 0,6058 0,4963 6,25 0,4493 0,4954
3,10 0,5616 0,5818 6,30 0,4760 0,4555
3,20 0,4664 0,5933 6,35 0,5240 0,4560
3,30 0,4058 0,5192 6,40 0,5496 0,4965
3,40 0,4385 0,4296 6,45 0,5292 0,5398
3,50 0,5326 0,4152 6,50 0,4816 0,5454
3,60 0,5880 0,4923 6,55 0,4520 0,5078
3,70 0,5420 0,5750 6,60 0,4690 0,4631
3,80 0,4481 0,5656 6,65 0,5161 0,4549
3,90 0,4223 0,4752 6,70 0,5467 0,4915
4,00 0,4984 0,4204 6,75 0,5302 0,5362
4,10 0,5738 0,4758 6,80 0,4831 0,5436
4,20 0,5418 0,5633 6,85 0,4539 0,5060
4,30 0,4494 0,5540 6,90 0,4732 0,4624
4,40 0,4383 0,4622 6,95 0,5207 0,4591
Abb. 18.14. Cornu-Spirale. Die vom Nullpunkt aus gemessene Bogenlänge ist gleich
der reduzierten Aperturkoordinate v (s. (18.23))
Ungestörte Wellenfront
Hier reicht die Apertur von −∞ bis +∞2 und die Amplitude Ê P ist gleich der
Amplitude Ê u der ungestörten Welle. Ihr Betrag ist proportional zur Länge des
Verbindungszeigers der Endpunkte E und E (s. Abb. 18.15). Deren Koordinaten
liegen wegen3
∞ π ∞
2 π 2 1
cos v dv = sin v dv = (18.30)
0 2 0 2 2
bei (−0,5, −0,5) und (0,5,
√ 0,5). Die Länge der Verbindungsgeraden zwischen die-
sen Punkten ist gleich 2 und gleich dem Betrag des { }-Ausdrucks von (18.28).
2
Damit wird die Fresnel-Näherung xmax d verletzt, die Rechnung ist trotzdem
gerechtfertigt, da der Beitrag der sehr weit außen liegenden Fresnel-Zonen mit wach-
sendem x stark abnimmt.
3 ∞
Es gilt: 0 cos x2 dx = 12 π2 .
Abb. √18.15. Zeigerdiagramm der ungestörten Welle: der Amplitudenzeiger hat die
Länge 2
Wir erhalten also aus (18.28): ÊP = Êu und haben damit die in (18.24) vorge-
nommene Wahl der Konstanten bestätigt.
Beugung an der Kante
Zur genaueren Diskussion der Beugung müssen wir auch Aufpunkte P außerhalb
der optischen Achse – also in (18.19) den Fall X = 0 – untersuchen. Um den
Exponenten des Beugungsintegrals auf die quadratische Form (18.22) zu bringen,
schreiben wir (18.19) um:
x2 (x − X)2 (x − x0 )2 q x20
r + r = D + + =D+ + (18.31)
2p 2q 2d p 2d
Die Abstände sind durch Abb. 18.13 b und (18.21) definiert; zusätzlich wurde
über die Beziehung
p
Zonenzentrum bei x0 = X (18.32)
p+q
die Schirmkoordinate X des Beobachtungspunktes mit der Aperturkoordinate x0

des Durchstoßpunktes DP (s. Abb. 18.13 b) verknüpft.
Abb. 18.16. a) Geometrie zur Beugung an einer Kante. b) Verwendung der Cornu-
Spirale zur Analyse der Beugung an einer Kante. c) Intensitätsverlauf bei der Beugung.
d) Beugungsbild
Durch Einsetzen verifiziert man leicht die Gültigkeit von (18.31). Beachtet man
x2
weiterhin, dass die x-unabhängigen Terme D und 2d0 pq von (18.31) lediglich zu
einem für die Intensität IP bedeutungslosen Phasenfaktor führen, so erhält man
aus (18.18) anstelle von (18.22)
xmax
Ê P = C
2
e−jk(x−x0 ) /2d dx
xmin
und hieraus mit der verallgemeinerten Aperturkoordinate

2
v= (x − x0 )
λd
die Beugungsamplitude
vmax
Ê
e−jπv
2
Ê P = √u /2
dv = Ê P {C(vmax ) − C(vmin ) − j [S(vmax ) − S(vmin )]}
2 vmin
(18.33)
∗
und über IP ∼ Ê P Ê P die
Beugungsintensität
Iu & '
2 2
IP = [C(vmax ) − C(vmin )] + [S(vmax ) − S(vmin )] (18.34)
2
mit der ungestörten Intensität Iu und den Integrationsgrenzen

2
vmax/min = (xmax/min − x0 ) (18.35)
λd
Hierbei legt xmax,min die obere und untere Berandung der Apertur fest, d ist durch
die Aperturabstände der Lichtquelle und des Beobachtungsschirms bestimmt (s.
(18.21)) und x0 ist durch (18.32) definiert. Die obige etwas umständliche Berech-
nung wollen wir nun anschaulich interpretieren. Zunächst untersuchen wir die
Bedeutung von x0 : Nach Abb. 18.13 b und dem Strahlensatz ist x0 gerade der
Durchstoßpunkt DP der Verbindungsgeraden von Q und P durch die Beugungs-
apertur. Durch die Einführung dieses Punktes haben wir erreicht, dass die aus
(18.31) ersichtliche Koordinate X des Aufpunktes P nicht mehr im Integranden
des Beugungsintegrals auftritt, sondern statt dessen durch x0 ausgedrückt und
in die Integrationsgrenzen (18.35) transformiert wird und damit durch Punkte
auf der Cornu-Spirale beschrieben werden kann. Da das Zentrum (N = 0) der
Zonenstreifen immer im Durchstoßpunkt bei x0 liegt, verschieben sich mit dem
Aufpunkt bei X nicht nur der Durchstoßpunkt, sondern auch das Zonenmuster
auf der x-Achse und der Punkt v0 auf der Cornu-Spirale, von dem aus die Zeiger
Z o und Z u (s. Abb. 18.14 für v0 = 0) gezählt werden
Wir wenden nun diese Ergebnisse auf die Beugung an der Kante an. Liegt der
Beobachtungspunkt P (s. Abb. 18.16 a) auf der optischen Achse, so ist x0 = 0
sowie vmin = xmin = 0 und vmax = xmax = ∞, d.h. es trägt der obere Bereich der
Cornu-Spirale ensprechend aller oberhalb der z-Achse gelegenen Fresnel-Zonen
zum Beugungsintegral
√ bei. Der resultierende Zeiger 0E (Abb. 18.16 b) hat die
Länge 1/ 2, die Amplitude wird nach (18.33) gleich Ê u /2 und die Beugungs-
intensität
1
IP (X = 0) =Iu (18.36)
4
Diese Intensität ist in Abb. 18.16 c mit P bezeichnet. Für einen Punkt P
unterhalb der optischen Achse liegt der Durchstoßpunkt
bei O , d.h. es gilt
x0 = OO < 0; dann wird (s. (18.35)) vmin = +x0 λd 2
, also positiv und ist
somit auf der Cornu-Spirale nach oben (nach B) verschoben. Der Zeiger BE ist
verkürzt, die Intensität nimmt ab. Anschaulich bedeutet dies, dass die am Durch-
stoßpunkt gelegenen Zonen niedriger Ordnung, die am stärksten zur Intensität
beitragen, ausgeblendet sind. Nur die Zonen oberhalb vmin mit der Zeigerlänge
BE tragen noch zur Intensität bei. Rückt P weiter nach negativen X-Werten,
so rutscht B auf der Cornu-Spirale näher an E heran und die Intensität nimmt
monoton ab. Im umgekehrten Fall ist x0 > 0 und damit vmin < 0, der Punkt D
rutscht nach unten und der Zeiger weist vom Punkt D auf der unteren Cornu-
Spirale nach E. Hierbei oszilliert die Zeigerlänge und man beobachtet Beugungs-
maxima und -minima. Im Punkt P (=G) ˆ würde die erste Zone, die in P nur zur
Hälfte beiträgt, vollständig erfasst, während der untere Teil der folgenden Zone
unterdrückt ist, wir beobachten ein deutliches Maximum.
Beispiel 18.2 Beugung an der Kante
Berechnen Sie die Beugungsintensität am 1. Maximum P (s. Abb. 18.16 c)
oberhalb der geometrischen Schattengrenze.
Lösung
Am 1. Maximum liegt der Beginn des Zeigers am Extrempunkt G, der von
E am weitesten entfernt ist. Aus Abb. 18.16 b lesen wir an dieser Stelle den
Wert v ≈ 1,2 ab. Dann folgt aus Tabelle 18.1: C(−1,2) = −0,715 und
S(−1,2) = −0,623, während bei E gilt: C(∞) = S(∞) = 0,5. Die Länge des
Zeigers GE ist dann
√
(−0,715 − 0,5)2 + (−0,623 − 0,5)2 = 1,65 = 2ÊP /Êu , und die Intensität
wird IP = (1,65)2 · Iu /2 = 1,37 Iu . Die Intensität am 1. Maximum ist also
das 1,37-fache der ungestörten Welle.
Analog findet man am 1. Minimum die Zeigerlänge HE entsprechend IP =

0,78Iu . Für v → ∞ nähert sich IP der Intensität Iu , dem Wert für die ungestörte
Wellenfront.
Einzelspalt
xmax −xmin = b
Ist die beugende Apertur ein Einzelspalt wie in Abb. 18.17 a, so ist
und die Breite des Integrationsintervalls: ∆v = vmax − vmin = 2
λd
b. Der Wert
von Ê P ist nach (18.33) und (18.35) außer von der Breite ∆v des Intervalls – und
somit der Spaltbreite – auch noch von der Koordinate x0 des Durchstoßpunktes
und damit von der X-Koordinate des Beobachtungspunktes abhängig. x0 ist über
v0 ein Punkt der Cornu-Spirale zugeordnet. v spielt die Rolle einer universellen
dimensionslosen Variablen, so dass eine einzige Cornu-Spirale für verschiedene
Kombinationen von p, q und λ verwendet werden kann. Ist p = q = 20 cm und
λ = 500 nm, so gilt bei einer Spaltbreite von b = 100 mm: ∆v = 0,632. Um die
Amplitude ÊP in verschiedenen Punkten P der Beobachtungsebene berechnen zu
können, müssen wir außerdem den zu P gehörigen Kurvenparameter v0 ermitteln.
Um v0 als Zentrum wird dann auf der Spirale ein Kurvenstück der Länge ∆v
Abb. 18.17. Fresnel-Beugung a) am Einzelspalt und b) Berechnung der Beugungsamp-

litude mit Hilfe der Cornu-Spirale
abgetragen, die Länge AB des Verbindungszeigers zwischen den Endpunkten

dieses Kurvenstücks ist proportional zu Ê P . Für v0 = 0 verläuft die Cornu-Spirale
annähernd waagrecht und gerade, so dass der Abstand F G und Kurvenlänge ∆v
annähernd übereinstimmen und damit Ê P ∼ ∆v gilt. Wie bei der Kante erklärt,
entspricht ein nach oben rutschender Punkt P bzw. O einer Bewegung von v0
auf der unteren Spirale und umgekehrt, so dass eine symmetrische Beugungsfigur
auftritt mit einer oszillierenden aber (außer für |X| → ∞) nie verschwindenden
Intensität.
Beispiel 18.3 Spaltbeugung
Die Beugung an einem Spalt der Breite b = 1 mm wird mit Licht der Wel-
lenlänge λ = 500 nm untersucht. Die Linienquelle liegt 20 cm, der Beobach-
tungsschirm 30 cm vom Spalt entfernt. Welche Beugungsintensität wird auf
dem Schirm 1 mm oberhalb der optischen Achse beobachtet?
Lösung
Mit X = 1 mm, p = 20 und q = 30 cm wird die Länge d
= pq/(p + q) = 12 cm
2
und x0 = pX/(p + q) = 0,4 mm. Dem entspricht v0 = λd x0 = 2,31. Mit

xmax = b/2 = 0,5 mm wird dann vmax = λd 2
xmax − v0 = 0,577, wegen
xmin = −0,5 mm ist dann vmin
= −5,197. Das reduzierte
Integrationsintervall ist ∆v = λd2
b = vmax − vmin = 5,774. Um Ê P mit
Hilfe von (18.33) zu berechnen, könnten wir Tabelle 18.1 verwenden und
interpolieren. Die genaue Berechnung ergibt für vmax = 0,577:
C(0,577) = 0,561; S(0,577) = 0,099 und für vmin = −5,197:
= −0,439; S(−5,197) = −0,50. Hieraus folgt
C(−5,197)
ÊP ∼ (Cmax − Cmin )2 + (Smax − Smin )2 = 1,166 und die Intenstät
IP = 1,1662 · Iu /2 = 0,68 Iu .
Draht
Ersetzt man in Abb. 18.17 a den Spalt der Breite b durch ein dünnes licht-
undurchlässiges Hindernis, wie z.B. einen Draht, vom gleichen Durchmesser b,
so erhält man eine genaue Umkehrung der jeweils durchgelassenen und ausge-
blendeten Zonen der Wellenfront. Dann müssen alle Bereiche der Cornu-Spirale
mit Ausnahme eines Bereiches der Breite ∆v zur Beugung beitragen, und man
erhält für den Punkt P auf der optischen Achse die Summe von zwei Amplitu-
den GE und E F (s. Abb. 18.18 b). Jetzt verschiebt sich mit dem Aufpunkt P
das ausgeblendete Intervall ∆v entlang der Spirale. Abbildung 18.19 zeigt das
experimentelle Ergebnis für einen dünnen Draht und Abb. 18.20 das für ein kom-
plizierteres Objekt, eine Schraube.
18.8 Babinetsches Prinzip

Aperturen, bei denen durchlässige und undurchlässige Bereiche vertauscht sind,
bezeichnet man als komplementär. Nach dem Überlagerungsprinzip muss an ei-
18.8 Babinetsches Prinzip 547
Abb. 18.18. Fresnel-Beugung a) an einem Draht und b) Berechnung der Amplitude

mit der Cornu-Spirale
Abb. 18.19. Beugungsbild bei Beugung an einem dünnen Draht

Abb. 18.20. Fresnel-Schatten“ bei Beugung an einer Schraube

”
nem beliebigen Punkt die Summe der von einer Apertur A und der komple-
mentären Öffnung B registrierten Amplituden gleich der der ungestörten Wel-
lenfront sein, also:
Ê A + Ê B = Ê u (18.37)
Dann würde z.B. für die Zeiger in Abb. 18.18 b gelten: E F + F G + GE = EE .
Hierbei ist E F +GE die Amplitude aufgrund der Beugung am Draht, F G diejeni-
ge durch Beugung am Spalt und EE die ungestörte Amplitude. Ein interessanter
Spezialfall ergibt sich für Êu = 0, dann ist nach (18.37) Ê A = −Ê B und mithin
hat man gleiche Intensitäten IA = IB . Der Fall Êu = 0 tritt im Allgemeinen
nicht bei der Fresnel-Beugung auf, wohl aber bei der Fraunhofer-Beugung, wenn
man außerhalb des Airy-Scheibchens der Fourier-Linse beobachtet. Dann findet
man also für komplementäre Beugungsobjekte außerhalb des zentralen Bildes
wirklich identische Beugungsbilder; dies erinnert auch an die Beobachtung, dass
Hologramm-Negative und -Positive dasselbe Hologrammbild liefern.
Babinetsches Prinzip: Bei Fraunhofer-Beugung ergeben komplementäre
Objekte dasselbe Beugungsbild.
Übungen
18.1 Eine 1 mm Lochblende wird mit ebenen Wellen der Wellenlänge 540 nm beleuchtet.
Prüfen Sie, ob Nah- oder Fernfeldbeugung vorliegt, wenn der Detektor 50 cm, 1 m
und 5 m von der Apertur entfernt ist.
18.2 Eine kreisrunde Lochblende wird senkrecht von einer ebenen Welle der Wellenlänge
550 nm bestrahlt. Entlang der optischen Achse wird ein kleiner Fotodetektor auf
die Lochblende zubewegt. Geben Sie die Lage der drei ersten Beugungsmaxima und
-minima an.
18.3 Eine weit entfernte Natriumlichtquelle (λ = 589,3 nm) beleuchtet eine kreisförmige
Lochblende. Bei Vergrößerung des Blendendurchmessers beobachtet man in einem
Punkt auf der optischen Achse, der 1,5 m von der Apertur entfernt ist, nacheinander
Maxima und Minima. Bei welchen Blendendurchmessern treten die ersten zwei
Maxima bzw. Minima auf?
18.4 Ebene monochromatische Lichtwellen (λ = 600 nm) treffen auf verschiedene Aper-
turen. Der Detektor befindet sich auf der optischen Achse in 20 cm Entfernung von
der Aperturebene.
a) Wie groß ist R1 , der Radius der ersten – auf den Detektor bezogenen – Fres-
nelschen Zone?
b) Wieviele Fresnel-Zonen enthält eine Lochblende von 1 cm Radius, deren Zen-
trum auf der optischen Achse liegt?
c) Die Apertur sei eine Zonenplatte mit dem in Aufgabe a) berechneten Radius
R1 der 1. Zone, bei der jede zweite Zone abgeblendet ist. Bestimmen Sie die
Brennweiten f1 bis f5 der Zonenplatte.
18.5 Die durch (18.15) gegebenen Radien der Zonenplatte wurden unter der Voraus-
setzung hergeleitet, dass ebene Wellen einfallen. Zeigen Sie, dass bei Einfall von
Kugelwellen, die von einer Punktquelle im Abstand p von der Apertur ausgehen,
für die Zonenradien gilt
√
Rn = nλd
wobei 1/d = 1/p + 1/q (s. (18.21)) und q der Abstand der Apertur vom Beobach-
tungspunkt ist.
18.6 Lösen Sie die Teilaufgaben a) und b) der Übung 18.4, wenn das Licht aus einer
Punktquelle in 10 cm Abstand von der Apertur kommt. Berücksichtigen Sie die
Ergebnisse von Übung 18.5.
18.7 Eine monochromatische Punktlichtquelle (λ = 500 nm) ist 50 cm von der beugenden
Öffnung entfernt. Die Detektorebene liegt ebenfalls in 50 cm Abstand.
a) Der durchlässige Teil der Aperturebene ist ein Kreisring mit dem inneren Ra-
dius 0,5 mm und dem äußeren Radius 0,935 mm. Wie groß ist die auf die un-
gestörte Welle normierte Intensität am Detektor? Verwenden Sie die Ergebnisse
aus Übung 18.5.
b) Beantworten Sie dieselbe Frage für den Fall, dass der äußere Radius 1 mm
beträgt.
c) Wie viele Halbwellenzonen sind jeweils in dem Kreisring enthalten?
18.8 Um welchen Prozentsatz unterscheiden sich die Flächen der ersten und 25. Fresnel-
Zone, wenn Quelle und Detektor jeweils 50 cm von der Beugungsebene entfernt sind
und die Wellenlänge 500 nm beträgt?
18.9 Für He-Ne-Laserlicht (λ = 632,8 nm) soll eine Zonenplatte mit der Brennweite 2 m
hergestellt werden. Hierzu wird eine Zeichnung mit 20 abwechselnd durchlässigen
und undurchlässigen Zonen angefertigt und anschließend fotografisch verkleinert.
a) Welcher Verkleinerungsfaktor muss gewählt werden, wenn auf der Zeichnung

der Radius der ersten Zone 11,25 cm beträgt?
b) Wie groß ist der Radius der letzten Zone auf der Zeichnung?
18.10 Bei einer Zonenplatte ist die innerste Zone lichtundurchlässig. Bestimmen Sie die
Durchmesser der drei ersten durchlässigen Zonen so, dass die Platte paralleles Licht
der Wellenlänge 550 nm bei 25 cm Brennweite fokussiert.
18.11 Zeigen Sie, dass bei Einfall einer ebenen Wellenfront die Flächen der Fresnelschen
Halbwellenzonen bezogen auf einen Beobachtungspunkt im Abstand x annähernd
konstant und gleich πλx sind. Beachten Sie, dass λ/x 1.
18.12 Licht der Wellenlänge 485 nm trifft senkrecht auf einen Schirm. Wie groß muss ein
kreisförmiges Loch in diesem Schirm sein, damit es – bezogen auf einen Punkt in
2 m Entfernung – 4 Fresnelzonen durchlässt? Welche Bestrahlungsstärke ergibt sich
näherungsweise in diesem Punkt?
18.13 Ein Einzelspalt mit 0,5 mm Breite wird von einem kollimierten Lichtstrahl der Wel-
lenlänge 540 nm getroffen. Wie groß ist die Entfernung eines Beobachtungspunktes
auf der Achse, wenn dort ∆v = 2,5 gelten soll?
18.14 Auf einer optischen Bank trifft das von einem Kollimatorspalt ausgehende violet-
te Quecksilberlicht (λ = 435,8 nm) auf einen Spalt von 0,5 mm Breite, der 30 cm
entfernt ist. Das gebeugte Licht wird in 15 cm Abstand vom Schirm registriert. Be-
stimmen Sie die Bestrahlungsstärke (bezogen auf die ungestörte Welle), wenn sich
der Detektor
a) auf der Achse und
b) an einem Ende des geometrischen Schattens des Beugungsspaltes befindet.
18.15 Ein mit Natriumlicht beleuchteter Kollimatorspalt befindet sich 60 cm links von
einer geraden Kante; das Beugungsmuster wird mit Hilfe eines Fotodetektors re-
gistriert, der 120 cm rechts von der Kante vertikal verschiebbar angeordnet ist.
Bestimmen Sie die Bestrahlungsstärke
a) 2 mm innerhalb und
b) 1 mm außerhalb der geometrischen Schattengrenze.
18.16 An einem dünnen Stab von 1,5 mm Dicke wird grünes Quecksilberlicht (λ =
564,1 nm) gebeugt, das aus einem dazu parallelen Spalt in 30 cm Entfernung kommt.
Das Beugungsmuster wird in einer 60 cm entfernten Ebene untersucht. Berechnen
Sie die Bestrahlungsstärke des Beugungsmusters:
a) im Zentrum des geometrischen Schattens und
b) an dessen Rand.
18.17 Berechnen Sie für die Nahfeldbeugung an einer Kante die Bestrahlungsstärke im
2. Maximum und 2. Minimum, indem Sie die Cornu-Spirale und die Tabelle der
Fresnel-Integrale benutzen.
18.18 An einem 0,37 mm dicken Draht, der 2 m von der Lichtquelle und 3 m vom Beobach-
tungsschirm entfernt ist, wird Fresnel-Beugung beobachtet. Bestimmen Sie unter
Verwendung der Cornu-Spirale die auf die ungestörte Welle bezogene Bestrahlungs-
stärke auf der optischen Achse.
18.19 Ermitteln Sie die relative Bestrahlungsstärke auf der optischen Achse für einen Dop-
pelspalt, der 10 cm sowohl von der monochromatischen Punktquelle (λ = 544 nm)
als auch vom Beobachtungsschirm entfernt ist. Die Spalte haben 0,04 mm Breite
und ihre Zentren sind 0,25 mm voneinander entfernt.
18.20 An einem Einzelspalt der Breite 0,75 mm wird Licht der Wellenlänge 435,8 nm ge-
beugt. Quelle und Detektor befinden sich jeweils in 25 cm Entfernung auf der opti-
schen Achse.
a) Bestätigen Sie, dass die Fernfeldbedingung hier nicht erfüllt ist.
b) Berechnen Sie trotzdem die Lage des Punktes oberhalb der optischen Achse,
wo das erste Beugungsminimum der Fraunhofer-Beugung auftreten sollte.
c) Berechnen Sie dann für diesen Punkt die Bestrahlungsstärke unter Verwendung
der Fresnel-Näherung und der Cornu-Spirale.
18.21 Eine Glasplatte wird mit undurchsichtigen Teilchen konstanten Durchmessers be-
sprüht. Falls man einen weit entfernten Quellpunkt durch diese Platte beobachtet,
sieht man ein diffuses Beugungsscheibchen (Halo), dessen Winkelbreite etwa 2◦ be-
trägt. Schätzen Sie die Größe der Partikel ab. (Lösungshinweis: Verwenden Sie das
Babinetsche Prinzip.)
18.22 In Beispiel 3 wurde die Beugungsintensität für einen Punkt auf dem Schirm berech-
net. Da in modernen Mathematik-Programmen (z.B. Maple) die Fresnel-Integrale
direkt aufrufbar sind, ist die Berechnung der Fresnel-Beugung für beliebige X-Werte
einfach: Berechnen Sie mit Hilfe eines geeigneten Programms und (18.34) die Beu-
gungsintensität für einen Spalt der Breite b = 1 mm, der mit Licht der Wellenlänge
λ = 500 nm bestrahlt wird. Die Linienquelle liegt 20 cm, der Beobachtungsschirm
30 cm vom Spalt entfernt (Werte des Bsp. 3). Vergleichen Sie mit dem Schattenbild
der geometrischen Optik und bestätigen Sie die Ergebnisse der Abb. 18.21. Zeigen
Sie weiterhin, dass man mit Hilfe der Option numerische Integration“ auf einfa-
”
che Weise das vollständige Beugungsintegral (18.4) berechnen könnte; verwenden
Sie zunächst die auch dem Fresnel-Integral zugrundeliegende Näherung (18.18):
b/2
Ê P = C −b/2 e−jk(r+r ) dx, setzen Sie C = 1 und (s. Abb. 18.13) r 2 = x2 + p2
sowie r 2 = (X − x)2 + q 2 und berechnen Sie den Betrag von Ê P und hieraus IP .
Abb. 18.21. Normierte Beugungsintensität (B) für einen Spalt der Breite b = 1 mm
(s. Übung 18.22), verglichen mit dem Schattenwurf“ (S) der geometrischen Optik
”
Um direkt mit (18.34) vergleichen zu können, muss das Ergebnis der numerischen
Integration wegen der Substitution (18.23) durch 2/λd dividiert werden. Nach un-
seren Erfahrungen (mit Maple) kommt man mit kürzerer Rechenzeit zu denselben
Ergebnissen, so dass sich aus heutiger Sicht der Aufwand der Fresnel-Integrale nicht
mehr lohnt.
19
Interferenz an Mehrfachschichten
Einleitung
Die Interferenz an dielektrischen Einzelschichten wurde bereits in Kapitel 10 be-
handelt. Zahlreiche wichtige und interessante Anwendungen basieren jedoch auf
Vielfachschichten, die z.B. durch Aufdampfen hergestellt werden; hierbei können
sowohl Brechzahl (Materialzusammensetzung) als auch Dicke der Einzelschichten
sehr genau kontrolliert und reproduziert werden. Man ist dadurch in der Lage,
Schichten herzustellen, die über einen breiten Spektralbereich nahezu jede gefor-
derte Reflexions- oder Transmissionscharakteristik aufweisen. Anwendung finden
diese Schichten bei der Entspiegelung optischer Instrumente und Bildschirme so-
wie bei schmal- und breitbandigen Filtern vom Ultraviolett- bis in den Infrarot-
bereich. Weiterhin bei Reflektoren für Wärmestrahlung und bei Kaltlichtspiegeln
für Projektoren und Lichttechnik sowie bei beschichteten Prismen-Strahlteilern,
die in Fernsehkameras zur Farbzerlegung weißen Lichtes in den R(ot)-, G(rün)-,
B(lau)-Anteil dienen. Hochreflektierende dielektrische Spiegel finden in Lasern
und Fabry-Perot-Interferometern Verwendung.
554 19 Interferenz an Mehrfachschichten
Durch die Entwicklung geeigneter Software konnten die komplizierten und

aufwendigen Berechnungen zur Modellierung von Vielfachschichten immer wei-
ter verbessert werden. In diesem Kapitel wird im Unterschied zu Kapitel 11,
wo die Vielfachreflexionen an einem Film durch phasenrichtige Summation der
einzelnen Teilwellen behandelt wurden, der Formalismus der Transfer-Matrizen
verwendet. Hierbei werden die elektrischen und magnetischen Feldstärken der
auf beiden Seiten einer Grenzfläche ein- und austretenden Strahlen zu Gesamtfel-
dern zusammengefasst, die den allgemeinen Stetigkeitsbedingungen der Maxwell-
Gleichungen genügen müssen.
19.1 Transfer-Matrix
Die zur Analyse der optischen Eigenschaften von Mehrfachschichten erforderli-

chen Größen werden zunächst für eine Einzelschicht 1 der Brechzahl n1 mit den
ebenen Grenzflächen (a) und (b) (s. Abb. 19.1) diskutiert. Der elektrische Feld-
vektor E der einfallenden Welle ist senkrecht zur Einfallsebene – auf den Leser
zu – gerichtet, wir bezeichnen dies als eine TE-Welle (transversal elektrisch)1 .
Der einfallende Strahl erfährt eine teilweise Reflexion an der ebenen Grenzfläche
(a) zwischen dem äußeren Medium der Brechzahl n0 und der nichtmagnetischen
(µr = 1) Schicht 1. Der durchtretende Teilstrahl wird an der Grenzfläche (b) zur
Unterlage (Substrat) der Brechzahl ns teilweise reflektiert und teilweise durchge-

lassen. Das magnetische B-Feld und B
ist so gerichtet, dass E ein Rechtssystem in
Ausbreitungsrichtung bilden. Man erkennt, dass dann B y bei Reflexion die Rich-
tung ändern muss. Die an den Grenzflächen angegebenen Feldstärken sind die
durch Überlagerung gebildeten Gesamtgrößen, die auch Mehrfachreflexionen er-
fassen. So entsteht z.B. Er1 durch Summation aller an (a) nach links reflektierten
und aus 1 durchtretenden Teilwellen, während Ee1 die Summe aller aus Schicht
1 auf (a) einfallenden sowie dort nach rechts reflektierten Teilwellen erfasst. Die
Schicht sei homogen und isotrop, ihre Dicke liege in der Größenordnung der Wel-
lenlänge, so dass Gangunterschiede klein gegen die Kohärenzlänge des Lichtes
sind und wir mit kohärenten Wellen rechnen können. Weiterhin soll die Breite
des einfallenden Strahles so groß sein, dass die durch die (Mehrfach-)Reflexion
bewirkte seitliche Strahlversetzung vernachlässigt werden kann.
Aus der Elektrodynamik sind die Randbedingungen an den Grenzflächen be-
kannt: Die Tangentialkomponenten von E und H und die Normalkomponenten
von D und B verlaufen für statische und zeitabhängige Felder stetig, sind also auf
beiden Seiten einer Grenzfläche gleich groß. Unter der hier gemachten Vorausset-
zung µr = 1 ist dann auch Btang stetig. In Abb. 19.1 ist E immer tangential zu
1
Beachten Sie, dass bei senkrechtem Einfall E⊥ und E gleichwertig sind, da dann
keine bestimmte Einfallsebene definiert ist.
19.1 Transfer-Matrix 555

den Flächen (a) und (b), während bei den B-Komponenten By tangential und
Bx normal gerichtet ist.
Abb. 19.1. Strahlreflexion an einer Einzelschicht der Brechzahl n1 . Die Abbildung de-
finiert die Größen, die zur Formulierung der Stetigkeitsbedingungen in (19.1) bis (19.6)
benötigt werden. Beachten Sie, dass ein schwarzer Punkt E-Vektoren senkrecht zur

Zeichenebene repräsentiert. Der gestrichelte Anteil Ee2 tritt nur bei Vielfachschichten
auf. (Indizes: e“: einfallend, r“: reflektiert, t“: transmittiert, Indizes 0“, 1“, 2“
” ” ” ” ” ”
bzw. s“: Medium 0, 1, 2 bzw. Substrat)
”
Man erhält dann an der Grenzfläche (a) für die elektrischen Feldstärken Ea0
und Ea1 der Außen- und Innenseite der Schicht 1
(a): Ea0 = E0 + Er1 = Ea1 = Et1 + Ee1 (19.1)

und entsprechend für Grenzfläche (b)
(b): Eb1 = Ee2 + Er2 = Eb2 = Et2 (19.2)

Für die Tangentialkomponenten der magnetischen Induktion B gilt dann bei
(a):Ba0 = B0y + Br1y = B0 cos ε0 − Br1 cos ε0 = Ba1 = Bt1 cos ε1 − Be1 cos ε1
(19.3)
Beachtet man, dass B = E/c = nE/c0 (s. (8.38)) und führt für die zunächst
betrachtete TE-Welle die
ni
γ-Parameter γi = γiT E = cos εi (19.4)
c0
(mit den Schicht-Indizes i = 0, 1, s) ein, so wird (19.3)
(a): Ba0 = γ0 (E0 −Er1 ) = Ba1 = γ1 (Et1 −Ee1 ) (19.5)
Aus (19.5) folgt entsprechend
(b): Bb1 = γ1 (Ee2 − Er2 ) = Bb2 = γs Et2 (19.6)
Wir gehen nun zu dem Spezialfall einer unter dem Winkel ε0 einfallenden ebenen
Welle über; dann gelten die obigen Gleichungen auch für die komplexen Amplitu-
den an den Grenzflächen. Bei vernachlässigbarer Absorption unterscheiden sich
die Amplituden Ê e2 und Ê t1 lediglich um einen Phasenfaktor, also
Ê e2 = Ê t1 e−jΦ (19.7)
und entsprechend
Ê e1 = Ê r2 e−jΦ
wobei die Phasenverschiebung Φ nach (10.30)2 gegeben ist durch:
2π
Phasenverschiebung Φ= n1 d cos ε1 (19.8)
λ0
Daraus folgt für (19.2) und (19.6):
Ê b1 = Ê t1 e−jΦ + Ê e1 ejΦ (19.9)

B̂ b1 = γ1 Ê t1 e−jΦ − Ê e1 ejΦ (19.10)
Mit (19.1) und (19.5) erhält man für die Verknüpfung der Feldstärken an den
beiden Grenzflächen (a) und (b) der Schicht 1 :

Ê a1 cos Φ j sin
γ1
Φ
Ê b1
=
B̂ a1 jγ1 sin Φ cos Φ B̂ b1

m11 m12 Ê b1 Ê b1
≡ ≡ M1 (19.11)
m21 m22 B̂ b1 B̂ b1
2
Dort ist der doppelte Wert angegeben, da die Phasendifferenz zwischen den an Ober-
und Unterseite reflektierten Strahlen berechnet wurde.
19.1 Transfer-Matrix 557
mit der

m11 m12 cos Φ j sin Φ
Transfer-Matrix M1 = = γ1 (19.12)
m21 m22 jγ1 sin Φ cos Φ
die man auch als Übertragungs- oder Übergangsmatrix bezeichnet.

Beweis
von (19.11):
Aus (19.9) und (19.10) folgt bei Summation: Ê
t1 =
1
2
Ê b1 + B̂ b1 /γ1 e und bei Subtraktion Ê e1 = 2 Ê b1 − B̂ b1 /γ1 e−jΦ . Mit (19.1)
jΦ 1
jΦ −jΦ jΦ −jΦ
e −e
B̂
ist dann Ê a1 = Ê t1 + Ê e1 = Ê b1 e +e
2
+j γb1
1 2j
= Ê b1 cos Φ+j B̂ b1 sin
γ1
Φ
. Dieses
Ergebnis stimmt mit dem der Matrizen-Multiplikation von 1. Zeile und Spalte in (19.11)
überein.
Während die Verknüpfung der Feldstärken mit Hilfe der Transfer-Matrix

zu übersichtlichen Ergebnissen führt, sind die primär interessierenden Größen,
nämlich reflektierter und durchgelassener Anteil des Lichtes, schwieriger darzu-
stellen.
Mit Hilfe der komplexen Reflexionsfaktoren r und Transmissionsfaktoren t
E r1 Ê E t2 Ê
r= = r1 und t = = t2 (19.13)
E0 Ê 0 E0 Ê 0
folgt aus (19.1)
Ê a1 = Ê a0 = Ê 0 + Ê r1 = Ê 0 (1 + r) (19.14)
und aus (19.6)
B̂ b1 = γs Ê t2 = tγs E0 (19.15)
Mit (19.14) und (19.15) sowie den Beziehungen B̂ a1 = B̂ a0 und Ê b1 = Ê t2 erhält
man dann aus (19.11) nach Einsetzen und Division durch Ê 0 :

1+r t m11 m12 t
= M1 = (19.16)
γ0 (1 − r) γs t m21 m22 γs t
mit der Lösung:
Ê t2 2γ0
Transmissionsfaktor t= = (19.17)
Ê 0 γ0 m11 + γ0 γs m12 + m21 + γs m22
Ê r1 γ0 m11 + γ0 γs m12 − m21 − γs m22

Reflexionsfaktor r= = (19.18)
Ê 0 γ0 m11 + γ0 γs m12 + m21 + γs m22
Diese Beziehungen gelten für Einzel- und Vielfachschichten (s.u.). Für eine Einzel-
schicht sind hierbei die Matrixelemente mij durch (19.12), für die Vielfachschicht
durch die der Gesamtmatrix (19.19) gegeben.
Geht man zu Vielfachschichten über und denkt sich zunächst eine Schicht
2 unter Schicht 1, so hat man eine weitere Grenzfläche (c) zwischen Schicht 2
und dem Substrat. Dann wird bei der Berechnung des Feldes Eb2 (19.2) noch ein

durch Reflexion an (c) bedingter Term Ee2 (in Abb. 19.1 gestrichelt) auftreten,
der jedoch die Transfermatrix M1 nicht beeinflusst, da diese lediglich Feldgrößen
an der Schichtinnenseite verknüpft. Damit ergibt sich auch für eine beliebige
Schicht i eine zu M1 analoge Übergangsmatrix Mi , und wir erhalten für die Ge-
samttransfermatrix von N Schichten:
Gesamttransfermatrix MT = M1 M2 . . . Mi . . . MN (19.19)
mit der

j sin Φ
cos Φ
Matrix der i-ten Schicht Mi = γi (19.20)
jγi sin Φ cos Φ
Die Definition von r und t ist unabhängig von der Schichtzahl, so dass auch
bei beliebig vielen Schichten der Transmissionsfaktor t durch (19.17) und der
Reflexionsfaktor r durch (19.18) gegeben ist. Die Matrixelemente mij sind hierbei
jedoch die der Gesamtmatrix MT (19.19).
Damit lassen sich also die Reflexions- und Durchlasseigenschaften von Viel-
fachschichten folgendermaßen berechnen: Man ermittelt zunächst die Einzelma-
trizen Mi von jeder der N Einzelschichten, berechnet deren Produkt und gewinnt
so die Gesamtmatrix MT mit ihren Elementen m11 . . . m22 , so dass anschließend
Reflexionsfaktor r und Transmissionsfaktor t aus (19.18) und (19.17) bestimmt
werden können. Für die Meßgrössen Reflexionsgrad , das Verhältnis von reflek-
tierter zu einfallender Leistung, und Transmissionsgrad τ = Pt /Pe gilt dann
wieder (s. Kap. 11 u. Kap. 20):
Pr
Reflexionsgrad = = rr∗ = |r|2
Pe (19.21)
Transmissionsgrad Pt
τ = =1−
Pe
Da bereits die Reflexion an einer Einzelfläche von der Polarisation des Lichtes
abhängt, gilt dies auch für die Faktoren r und t von vielen Schichten. Für den
Grenzfall, dass die Polarisationsrichtung gegenüber dem bisher diskutierten Fall
um 90◦ gedreht ist, also der E-Vektor
senkrecht auf der Einfallsebene steht (TM-
Welle), gelten die oben entwickelten Formeln, falls man bei dem Parameter γi
19.2 Reflexion bei senkrechtem Einfall des Lichtes 559
(19.4) den Kosinusfaktor in den Nenner schreibt (s. Kap. 20), somit gelten die
γ-Parameter :
ni ⊥ zur Einfallsebene (TE-Welle)
γiT E = cos εi bei E (19.4)
c0
ni zur Einfallsebene (TM-Welle)
γiT M = bei E (19.22)
c0 cos εi
Bei senkrechtem Einfall sind E und E⊥ nicht unterscheidbar, wegen cos εi = 1

stimmen dann die entsprechenden Reflexions- und Transmissionsfaktoren – wie
zu erwarten – überein.
Für unpolarisiertes Licht ist der Reflexionsgrad
1
Reflexionsgrad unpolarisiertes Licht = (T E + T M ) (19.23)
2
19.2 Reflexion bei senkrechtem Einfall des Lichtes

Wir diskutieren nun den Spezialfall senkrechter Inzidenz, der in der Praxis meist
– zumindest jedoch annähernd – realisiert ist. Dann werden die Kosinusfaktoren
in (19.4) bzw. (19.22) gleich eins, d.h. γi = ni /c0 . Bei einer Schicht der Dicke
d ergibt sich der optische Weg für einen Schichtdurchgang zu n1 d und – in
Übereinstimmung mit (19.8) – die Phasenverschiebung Φ = 2π n1 d/λ0 . Damit
können wir für die Übertragungsmatrix (19.20) schreiben:
⎛ ⎞
c0 sin Φ
cos Φ j n1 ⎠
M1 = ⎝ (19.24)
n1 sin Φ
j c0 cos Φ
Aus (19.18) folgt dann für den Reflexionsfaktor (die c0 kürzen sich heraus):
n1 (n0 − ns ) cos Φ + j(n0 ns − n21 ) sin Φ

r= (19.25)
n1 (n0 + ns ) cos Φ + j(n0 ns + n21 ) sin Φ
und der Reflexionsgrad einer Schicht wird
n21 (n0 − ns )2 cos2 Φ + (n0 ns − n21 )2 sin2 Φ

= r r∗ = (19.26)
n21 (n0 + ns )2 cos2 Φ + (n0 ns + n21 )2 sin2 Φ
z1 z1 z1∗ |z1 |2
denn für einen komplexen Bruch z = gilt: zz ∗ = = .
z2 z2 z2∗ |z2 |2
Beispiel 19.1 Beschichtung von Glas

Glas (ns = 1,50) ist mit einer 40 nm dicken Zirkoniumdioxid-Schicht (ZrO2 ,
n1 = 2,1) beschichtet. Bestimmen Sie den Reflexionsgrad für gelbes Na-Licht
(λ = 589,3 nm) bei senkrechtem Einfall.
Lösung
Es gilt Φ = 2π n1 d/λ = 0,896 rad und cos Φ = 0,625 sowie
sin Φ = 0,781. Einsetzen in (19.26) ergibt mit n0 = 1 (Luft):
= 0,174 = 17,4%.
Abb. 19.2. Reflexionsgrad einer Einzelschicht der Brechzahl n1 auf Glas als Funk-
tion der Wellenlängen bezogenen optischen Dicke (n1 d/λ0 = d/λ1 ) der Schicht. Die
gestrichelte Linie steht für unbeschichtetes Glas der Brechzahl ns = 1,52
Als Beispiel zur Veränderung der Reflexion durch Beschichtung zeigt Abb. 19.2
den Reflexionsgrad einer Glasplatte, die mit Schichten unterschiedlicher Brech-
zahl und Dicke beschichtet ist. Die Brechzahl n1 der Aufdampfschicht bestimmt
offenbar, ob die Reflexion gegenüber unbeschichtetem Glas erhöht ist (dies gilt
bei n1 > ns ) oder erniedrigt wird (bei n1 < ns ). Bei Schichtdicken von
λ/4 (oder ungeraden Vielfachen hiervon) treten entweder größte Verstärkung der
Reflexion (Verspiegelung bei n1 > ns ) oder maximale Reduktion derselben auf
(Reflexminderung bei n1 < ns ). Die Wellenlängen, bei denen diese Extrema von
19.3 Reflexminderung durch zwei Schichten 561
auftreten, können durch Variation der Schichtdicke abgestimmt werden. Bemer-

kenswert ist außerdem, dass bei Dicken von λ/2 (oder geradzahligen Vielfachen
von λ/4) der Reflexionsgrad des unbeschichteten Glases auftritt. Weiterhin ist
zu erkennen, dass eine reflexmindernde Schicht mit n1 < ns bei beliebigen Wel-
lenlängen nie mehr als das unbeschichtete Glas selbst reflektiert. Die periodische
Variation des Reflexionsgrades mit der Dicke wird bei der Dickenkontrolle beim
Beschichtungsvorgang ausgenutzt. Für den wichtigen Fall der
λ1 λ0
λ/4-Dicke d= = (19.27)
4 4n1
ist die Phasenverschiebung Φ = π/2 (und cos Φ = 0, sin Φ = 1). Damit

wird der Reflexionsgrad dieser Viertelwellenschicht nach (19.26) (bei senkrechtem
Einfall):
2
n0 ns − n21
Reflexionsgrad λ/4-Schicht = (19.28)
n0 ns + n21
Perfekte Entspiegelung ( = 0) kann demnach durch eine λ/4-Schicht mit der

√
Schichtbrechzahl n1 = n0 ns (19.29)
erzielt werden. In Kapitel 10 wurden die gleichen Beziehungen hergeleitet und

zwar für die Dicke aus der Phasenbedingung und für die Brechzahl aus der Ampli-
tudenbedingung. Für eine Luft–Glas-Grenzfläche (n0 = 1, ns = 1,52) wäre somit
n1 = 1,23. Häufig wählt man Magnesiumfluorid (MgF2 ), ein Material, das güns-
tige mechanische und Alterungseigenschaften aufweist; hier ist n1 = 1,38 und
= 1,3% (s. (19.28)) gegenüber 4,3% bei unbeschichtetem Glas. Dieser Unter-
schied macht sich besonders in Linsensystemen bemerkbar. Hat man z.B. sechs
Grenzflächen (Linsenoberflächen gegenüber Luft), so ist der Gesamttransmissi-
onsgrad τges = τ 6 und beträgt bei der Beschichtung mit MgF2 (0,987)6 = 93%
gegenüber (0,957)6 = 77% ohne Reflexminderung.
19.3 Reflexminderung durch zwei Schichten

Im Allgemeinen stehen keine praktisch verwendbaren Materialien zur Verfügung,
√
die genau die Amplitudenbedingung n1 = n0 ns erfüllen und damit den Reflexi-
onsgrad = 0 ermöglichen. Dies lässt sich aber mit zwei λ/4-Schichten erreichen.
Bei senkrechtem Einfall ist die Transfermatrix einer λ/4-Schicht mit Φ = π/2
nach (19.20):

j
0
M1 = γ1
jγ1 0
Bei zwei Schichten ist dann mit γ1 /γ2 = n1 /n2 :

⎛ ⎞
0 j
0 j
− n2 0
MT = M1 M2 = γ1 γ2 = ⎝ n1 ⎠ (19.30)
jγ1 0 jγ2 0 0 − nn21
mit den Matrixelementen m11 = −n2 /n1 = 1/m22 und m12 = m21 = 0.
Einsetzen in (19.18) ergibt als Reflexionsfaktor für zwei λ/4-Schichten (bei senk-
rechtem Einfall)
n22 n0 − ns n21
r= (19.31)
n22 n0 + ns n21
und den zugehörigen Reflexionsgrad
2
n22 n0 − ns n21
λ/4–λ/4-Doppelschicht = (19.32)
n22 n0 + ns n21
Abb. 19.3. Reflexmindernde λ/4 − λ/4-Doppelschicht auf Glas bestehend aus einer
Deckschicht aus CeF3 mit n1 = 1,65 und einer zweiten Schicht aus ZrO2 mit der
höheren Brechzahl n2 = 2,1. Die geometrischen Schichtdicken sind d1,2 = 4nλ1,2
0
Die Amplitudenbedingung für verschwindende Reflexion ist nun erfüllt für:

n2 ns
Amplitudenbedingung = (19.33)
n1 n0
Für eine Grenzfläche Luft–Glas (ns = 1,52) ist das optimale Verhältnis der
Schichtbrechzahlen n2 /n1 = 1,23, dies ist bei Zirkoniumdioxid (n2 = 2,1) und
19.3 Reflexminderung durch zwei Schichten 563
Certrifluorid (CeF3 , n1 = 1,65) mit n2 /n1 = 1,27 recht gut erfüllt. Die Rest-
reflexion beträgt nach (19.32) dann nur 0,1%. Der Schichtaufbau ist in Abb. 19.3,
der entsprechende Reflexionsgrad in Abb. 19.4 (Kurve (a)) gezeigt; man sieht,
dass die Kurve unter- und oberhalb der Wellenlänge 550 nm, bei der die optische
Schichtdicke λ0 /4 beträgt, relativ steil ansteigt, so dass die Entspiegelung nur in
einem begrenzten Wellenlängenbereich wirksam ist.
Abb. 19.4. Reflexionsgrad einer Doppelschicht auf Glas als Funktion der Wellenlänge.
In allen Fällen ist n0 = 1 (Luft) und ns = 1,52 (Glas). Die nachfolgend angegebenen
optischen Dicken (λ1 /4 bzw. λ2 /2) beziehen sich auf eine Wellenlänge von λ0 = 550 nm:
(a) λ/4 − λ/4 : n1 = 1,65, n2 = 2,1. (b) λ/4 − λ/2 : n1 = 1,38, n2 = 1,6. (c) λ/4 − λ/2 :
n1 = 1,38, n2 = 1,85
Größere Spektralbreiten lassen sich durch zwei λ/4-Schichten erzeugen, für die
neben n1 < n2 zusätzlich n2 < ns gilt, so dass eine Brechzahl- Treppe“
”
mit n1 < n2 < ns entsteht (nicht in Abb. 19.4 gezeigt). Diese Bedingung
lässt sich im Infrarot – wo ns unter Umständen große Werte annimmt – z.B. bei
Abb. 19.5. Reflexmindernde λ/4–λ/2-Doppelschicht. Der zugehörige Reflexionsgrad

ist in Abb. 19.4 wiedergegeben
der Entspiegelung von Germanium (ns = 4) gut erfüllen (s. Brechzahlen in

Tab. 19.1).
Tabelle 19.1. Brechzahlen wichtiger Beschichtungsmaterialien
Material sichtbar (λ ≈ 550 nm) nahes Infrarot (λ ≈ 2 µm)

Kryolith 1,30–1,33 –
MgF2 1,38 1,35
SiO2 1,46 1,44
SiO 1,55–2,0 1,5–1,85
Al2 O3 1,60 1,55
CeF3 1,65 1,59
ThO2 1,8 1,75
Nd2 O3 2,0 1,95
ZrO2 2,1 2,0
CeO2 2,35 2,2
ZnS 2,35 2,2
TiO2 2,4 –
Si – 3,3
Ge – 4,0
Breitbandige Entspiegelung kann man auch erreichen, wenn man zwei Schich-
ten unterschiedlicher Dicke verwendet (s. Abb. 19.5 und Abb. 19.4, Kurven
19.4 Reflexminderung durch drei Schichten 565
(b) und (c)). Die Dicken sind so gewählt, dass bei λ = 550 nm eine Doppelschicht
der optischen Dicken λ0 /4 und λ0 /2 vorliegt. Damit ist bei dieser Wellenlänge
die λ/2-Schicht wirkungslos, die Reflexminderung ist die einer λ/4-Einzelschicht.
Bei anderen Wellenlängen bewirkt jedoch die λ/2-Schicht eine Reduktion bis zu
den beiden Minima, die bei der Brechzahlkombination der Kurve (c) fast = 0
erreichen. In einem Spektralbereich von 420 bis 800 nm bleibt die Reflexion der
λ/4 − λ/2-Stapel (b) und (c) unter dem Wert bei 550 nm. Kurve (b) weist einen
flachen Reflexionsverlauf auf, bleibt also im gesamten sichtbaren Spektralbe-
reich nahezu konstant und Farbreflexe werden vermieden. Schichtdicken, die keine
Vielfachen von λ/4 sind, führen zu einer Vielzahl von Lösungen, die teilweise für
die Praxis interessant sind.
Alle Kurven der Abb. 19.4 wurden mit Hilfe der Transfermatrix berechnet.
Dabei wurden zunächst die Schichtdicken aus der λ/4- bzw. λ/2-Bedingung für
die vorgegebene Wellenlänge ermittelt. Anschließend erfolgte für jede Teilschicht
die Berechnung der Phasenverschiebung Φ und der Matrixelemente der Einzel-
matrizen, hieraus folgen dann die Elemente der Gesamtmatrix und der Reflexi-
onsgrad nach (19.18) und (19.21).
19.4 Reflexminderung durch drei Schichten
Die Verwendung von drei Schichten ermöglicht eine breitbandige und hochwirk-
same Entspiegelung. Drei λ/4-Schichten der Brechzahlen n1 –n3 ergeben minimale
Reflexion bei Erfüllung der Brechzahlbedingung:
Abb. 19.6. Reflexmindernde Dreifachschichten. a) Schichten gleicher optischer Dicke

(λ/4). b) Schichten mit Dickenverlauf λ/4–λ/2–λ/4. Die entsprechenden Reflexionsgra-
de sind in Abb. 19.7 wiedergegeben
n1 n3 √
λ/4-Dreifachschicht = n0 ns (19.34)
n2
Der Schichtaufbau ist in Abb. 19.6, der Reflexionsgrad in Abb. 19.7 wiedergege-
ben und mit dem eines λ/4–λ/2–λ/2-Schichtstapels verglichen.
Abb. 19.7. Reflexionsgrad von Dreifachschichten (s. Abb. 19.6) als Funktion der Wel-
lenlänge. In allen Fällen gilt n0 = 1 (Luft) und ns = 1,52 (Glas). a) λ/4-Dreifachschicht,
b) λ/4-λ/2-λ/4-Stapel. Die optischen Dicken beziehen sich auf λ0 = 550 nm (vgl.
Abb. 19.4)
19.5 Hochreflektierende Schichten

Wenn die Reihenfolge der Schichten einer optimierten Entspiegelung vertauscht
wird, so dass dann eine Hoch–Niedrig–(h n)-Schichtfolge“ (mit n0 < n1 >
”
n2 < ns , also Luft–hohe Brechzahl–niedrige Brechzahl–Substrat mit hoher
19.5 Hochreflektierende Schichten 567
Brechzahl) vorliegt, sind die drei reflektierten Teilwellen wegen der Phasen-
sprünge in Phase und die Reflexion wird verstärkt anstatt abgeschwächt. Mehrere
solcher Doppelschichten vergrößern den Reflexionsgrad weiter und bilden einen
dielektrischen Spiegel.
Formal folgen die unterschiedlichen Ergebnisse bei Vertauschung der Schicht-
reihenfolge aus der Tatsache, dass die Multiplikation der Einzelmatrizen nicht
kommutativ ist, wie man leicht durch Berechnung von M1 M2 und M2 M1 (z.B. an-
hand von (19.30)) bestätigt. Vertauschbar sind quadratische Diagonalmatrizen,
wie sie bei einem Stapel von zwei λ/4-Schichten (s. (19.30)) oder einer λ/2-
Schicht (sin Φ = 0) auftreten. Damit sind die optischen Eigenschaften von
Vielfachschichten nicht von der Reihenfolge von λ/4-Doppelschichten und λ/2-
Schichten – wohl aber von λ/4-Einzelschichten – abhängig.
Abb. 19.8. Hochreflektierender Stapel aus Doppelschichten mit abwechselnd hoher

und niedriger Brechzahl. Zugehörige Reflexionsgrade sind in Abb. 19.9 wiedergegeben
Wir leiten nun eine Bedingung für den Reflexionsgrad eines Schichtstapels aus
N gleichen hn-Doppelschichten (s. Abb. 19.8) her. Die Übergangsmatrix Mhn
einer λ/4 − λ/4-Schicht ist – wie bei der Reflexminderung – das Produkt der
Matrizen der Einzelschichten. Bei senkrechtem Einfall gilt (s. (19.30)):
⎛ ⎞
− nn
0 ⎠
Mhn = Mh Mn = ⎝ nh (19.35)
0 − nnnh
mit der Gesamtmatrix für N λ/4-Doppelschichten:

⎛ N ⎞
⎜ − nh
nn
N
0 ⎟
MT = (Mhn ) = ⎝ N ⎠ (19.36)
0 − nn
nh
Einsetzen der Matrixelemente m11 und m22 in (19.20) ergibt den Reflexionsfaktor
n0 (−nn /nh )N − ns (−nh /nn )N

r= (19.37)
n0 (−nn /nh )N + ns (−nh /nn )N
und nach Erweitern mit (−nn nh )N und Quadrieren den Reflexionsgrad für
2
n − ns nh
n0 n2N 2N
N λ/4-Doppelstapel = (19.38)
n0 n2N 2N
n + ns nh
Vergleicht man dies mit dem Ergebnis für eine Doppelschicht (19.32), so erkennt
man leicht das Bildungsgesetz zur Berechnung von .
Beispiel 19.2 Dielektrischer Spiegel
Ein dielektrischer Spiegel (s. Abb. 19.8) besteht aus sechs λ/4–λ/4-Doppel-
schichten aus Quarzglas (SiO2 , nn = 1,46) und Zinksulfid (ZnS, nh = 2,35)
auf Glas (ns = 1,48). Berechnen Sie die Schichtdicken und den Reflexionsgrad
für eine Wellenlänge von 550 nm und senkrechten Einfall.
Lösung
Wir erhalten die Dicken dn = λ0 /(4 nn ) = 94 nm und dh = 59 nm und
aus (19.38) (mit N = 6) den Reflexionsgrad = 0,991 = 99,1%.
Vollkommene Reflexion ( = 1) tritt nach (19.38) (wegen nn < nh ) für sehr

viele Schichtstapel (N → ∞) oder große Brechzahlunterschiede (nn nh )
auf, dies wird durch die Ergebnisse der Tabelle 19.2 unterstrichen. Man sieht,
dass schon relativ wenige Schichten eine hohe Reflexion ergeben. Kleine nn /nh -
Verhältnisse erreicht man mit Stapeln aus Magnesiumfluorid MgF2 (nn = 1,38)
und ZnS (nh = 2,35) oder Titandioxid (TiO2 , nh = 2,4).
Der durch (19.38) gegebene Reflexionsgrad ist der Maximalwert, der bei der
Wellenlänge λ0 und einer optischen Dicke von λ0 /4 erzielt wird. Für andere
Wellenlängen muss man die Transfermatrix in ihrer allgemeinen Form mit Wel-
lenlängen abhängigen Phasendifferenzen verwenden und numerisch bestimmen.
Abb. 19.9 gibt das Ergebnis für N = 2 und N = 6 Doppelschichten wieder.
Kurve (c) zeigt, dass weiter erhöht werden kann, wenn man eine zusätzliche
hochbrechende Schicht zwischen die unterste Schicht und das Substrat bringt.
Die spektrale Breite des Bereichs hoher Reflexion ist nahezu unabhängig von der
Zahl der Doppelschichten; sie steigt mit wachsendem nh /nn -Verhältnis, das in
Abb. 19.9 bei 1,7 liegt. Man kann einen solchen Spiegel auch als Sperrfilter be-
trachten, dessen Durchlässigkeit allerdings außerhalb des Sperrbandes oszilliert.
Die Bandmitte kann durch Veränderung der Schichtdicken eingestellt werden.
Tabelle 19.2. Reflexionsgrad von λ/4 − λ/4-Schichtstapeln auf Glas (ns = 1,52)
− N -Abhängigkeit
für N = 3 h-n-Schichten für Schichtstapel aus
als Funktion von nn /nh MgF2 und ZnS mit
nn /nh = 0,587
nn /nh /% N /%
1,0 4,26 1 39,71
0,91 21,01 2 73,08
0,83 40,82 3 89,77
0,77 57,77 4 96,35
0,71 70,44 5 98,72
0,67 79,35 6 99,56
0,625 85,48 7 99,85
0,59 89,67 8 99,95
0,56 92,55
0,53 94,56
0,50 95,97
Der Transmissionsgrad τ ist bei vernachlässigbaren Extinktionsverlusten durch

τ = 1 − gegeben. Damit können solche Schichtstrukturen auch als Bandfil-
ter verwendet werden, deren Durchlässigkeit an Stellen geringer Reflexion hoch
ist. Schmalbandige Bandfilter können nach Art eines Fabry-Perot-Etalons durch
zwei dielektrische Vielschichtspiegel, die durch eine Abstandsschicht – z.B. aus
MgF2 – getrennt sind, realisiert werden. Ein zusätzliches konventionelles Farb-
filter schränkt das einfallende Licht auf den nutzbaren Spektralbereich des Fil-
ters (s. Kap. 17) ein, so dass sich z.B. Bandfilter mit 1,5 nm Spektralbreite und
40% Durchlässigkeit herstellen lassen. Eine leichte Drehung eines solchen Fil-
ters verschiebt die Durchlasswellenlänge zu kleineren Werten, da die optischen
Gangunterschiede verringert werden.
Abb. 19.9. Reflexionsgrad als Funktion der Wellenlänge für Stapel aus λ/4-λ/4- Hoch-
”
Niedrig“-Schichten für a) N = 2 und b) N = 6 Doppelschichten. Kurve (c) zeigt einen
Stapel mit N = 2 und einer zusätzlichen Schicht hoher Brechzahl auf dem Substrat.
Die Schichten haben bei λ0 = 550 nm die optische Dicke λ0 /4. In allen Fällen gilt:
n0 = 1, nh = 2,35, nn = 1,38 und ns = 1,52
Übungen
Hinweis: Bei allen Übungsaufgaben ist senkrechter Lichteinfall vorausgesetzt.
parallel zur Einfalls-
19.1 Beweisen Sie, dass der Parameter γiTM für eine TM-Welle (E
ebene) durch (19.22) gegeben ist.
19.2 Auf Glas (n = 1,5) wird eine transparente Antireflexschicht gebracht.
a) Ermitteln Sie die Schichtdicke und (hypothetische) Brechzahl der Schicht, die
bei λ = 500 nm vollkommene Entspiegelung bewirkt.
b) Wie groß ist der Reflexionsgrad dieser Schicht bei λ = 550 nm?
19.3 Zeigen Sie mit (19.26), dass der Reflexionsgrad eines Substrats, das mit einer Schicht
der Dicke λ1 /2 bedeckt ist, genau so groß wie bei unbeschichtetem Material ist (s.
Abb. 19.2), dass also
2
n0 − ns
=
n0 + ns
19.4 Eine Einzelschicht aus SiO2 (n = 1,46) der Dicke 137 nm wurde auf Glas der Brech-
zahl 1,52 aufgebracht. Bestimmen Sie den Reflexionsgrad für die Wellenlängen a)
800 nm, b) 600 nm und c) 400 nm. Bestätigen Sie Ihre Ergebnisse durch Vergleich
mit Abb. 19.2.
19.5 Glas (n = 1,52) wird mit einer 59,6 nm dicken Schicht aus ZnS (n = 2,35)
beschichtet. Berechnen Sie den Reflexionsgrad für Licht der Wellenlänge 560 nm.
19.6 Bestimmen Sie Brechzahl und Dicke einer Antireflexschicht auf Ge (n = 4,0) für
die Wellenlänge 2 µm. Welches Material ließe sich verwenden?
19.7 Zwei λ/4-Schichten aus Al2 O3 (n = 1,60) und Kryolith (Na3 AlF6 , n = 1,30) werden
auf Glas (n = 1,52) aufgebracht.
a) Welche Schichtreihenfolge ist für eine Entspiegelung zu wählen und welche Di-
cke haben die Schichten bei λ = 550 nm?
b) Welcher Reflexionsgrad tritt bei Umkehrung der Schichtfolge auf?
19.8 λ/4-Schichten aus ZnS (n = 2,2) und MgF2 (n = 1,35) auf Silizium (n = 3,3) sollen
bei einer Wellenlänge von 2 µm minimale Reflexion bewirken.
a) Ermitteln Sie die geometrische Dicke der Schichten.
b) Um welchen Prozentsatz unterscheiden sich tatsächliches und ideales Brech-
zahlverhältnis der Schichten?
c) Geben Sie den Reflexionsgrad an.
19.9 Zeigen Sie mit Hilfe der Transfermatrix, dass eine λ/4 − λ/2-Doppelschicht (wie
in Abb. 19.5) bei der Wellenlänge λx denselben Reflexionsgrad aufweist wie eine
einzelne λ/4-Schicht. Wie groß ist λx ?
19.10 Zeichnen Sie Graphen des Reflexionsgrades einer Doppelschicht als Funktion der
Wellenlänge bei Variation der Eingangsparameter: Schichtdicke und Brechzahl der
Schichten sowie des Substrats. Bestätigen Sie Abb. 19.4.
19.11 Beweisen Sie die Bedingung (19.34) für verschwindende Reflexion bei drei λ/4-
Schichten. Ermitteln Sie hierzu die gesamte Transfermatrix der drei Schichten und
den Reflexionsfaktor aus (19.18).
19.12 Entwerfen Sie – unter Verwendung der Brechzahlen aus Tabelle 19.1 – optimale
Reflexminderung für Germanium mit drei λ/4-Schichten bei 2 µm Wellenlänge.
19.13 Berechnen Sie für die Mitte des sichtbaren Spektralbereichs (λ = 550 nm) den maxi-
malen Reflexionsgrad von Schichtstapeln aus λ/4-Doppelschichten hoher (nh = 2,6)
und niedriger (nn = 1,38) Brechzahl und ein Substrat mit ns = 1,52. Das senkrecht
einfallende Licht trifft jeweils zuerst auf die Schicht mit der großen Brechzahl nh
(s. Abb. 19.8). Berechnung für a) zwei, b) vier und c) acht Doppelschichten.
19.14 Ein hochreflektierender Schichtstapel aus nh -nn -Doppelschichten ist für die Wel-
lenlänge 2 µm ausgelegt. Er besteht aus vier Doppelschichten aus Germanium
(n = 4,0) und MgF2 (n = 1,35) mit jeweils 0,5 µm optischer Dicke. Das Substrat
hat die Brechzahl 1,5. Welcher Reflexionsgrad liegt vor?
19.15 Ein Substrat mit Brechzahl 1,52 soll mit zwei λ/4-Doppelschichten eine dielektri-
sche Verspiegelung mit mindestens 90% Reflexionsgrad erhalten. Welches Brech-
zahlverhältnis nh /nn müssen die Schichten mindestens haben?
19.16 Beweisen Sie, dass für den Reflexionsgrad (19.38) von N Stapeln aus λ/4 − λ/4-
Schichten gilt: → 1 für Zahl der Doppelschichten N → ∞ oder Brechzahlverhält-
nis nn /nh → 0.
20
Fresnelsche Gleichungen
Einleitung
Die grundlegenden Gesetze zur Reflexion und Brechung wurden im Kapitel 3:
Geometrische Optik“ unter Verwendung der Prinzipien von Huygens bzw. Fer-
”
mat hergeleitet. In diesem Kapitel wird zur Beschreibung der Brechungs- und
Reflexionsphänomene die Elektrodynamik herangezogen, also Licht als elektro-
magnetische Welle betrachtet und das bekannte Verhalten der elektromagneti-
schen Größen an Grenzflächen zugrunde gelegt. Diese Methode führt zu den Fres-
nelschen Gleichungen, die angeben, welcher Bruchteil der einfallenden Lichtener-
gie an der Grenzfläche zwischen zwei Medien durchgelassen oder reflektiert wird.
Reflexions- und Transmissionsgrad hängen vom Einfallswinkel, den Änderungen
der Brechzahlen an der Grenzfläche sowie der Polarisation des einfallenden Lich-
tes ab. Weiterhin werden die Totalreflexion und die evaneszenten Wellen sowie
die optischen Eigenschaften von Metallen untersucht.
20.1 Die Fresnelschen Formeln

In Abb. 20.1 trifft im Punkt P ein Strahl einer einfallenden (Index e) ebenen
Welle
574 20 Fresnelsche Gleichungen

Abb. 20.1. Einfall einer linear polarisierten Lichtwelle, deren E-Vektor senkrecht zur
Einfallsebene steht (TE-Welle), auf eine Grenzfläche (in der y-z-Ebene) zwischen zwei
Medien der Brechzahlen n und n . Die einfallende Welle (Index e“, Einfallswinkel ε)
”
wird teilweise reflektiert (Index r“) und zum Teil durchgelassen (Index t“, Brechungs-
” ”
winkel ε ). Beachten Sie: Die Vektoren E, B und k bilden ein Dreibein, bei dem k in
Ausbreitungsrichtung der Welle zeigt. Bei der reflektierten Welle muss dann B einen
ohne Phasensprung reflektiert wird
Phasensprung erleiden, falls, wie gezeichnet, E
=Eˆ
ej(ωe t−ke ·r)
E e e (20.1)
auf eine ebene Grenzfläche (y-z-Ebene) und wird dort in einen r eflektierten Anteil
mit
=Eˆ j(ωr t−kr ·r)
E r re (20.2)
und eine durchgehende (transmittierte) Welle) mit
=Eˆ
ej(ωt t−kt ·r)
E t t (20.3)
e der linear polarisierten einfallenden Welle
aufgeteilt. Der Feldstärkevektor E
weist in +y-Richtung, steht also senkrecht auf der durch den Wellenvektor ke
und die Flächennormale festgelegten Einfallsebene (x-z-Ebene). Wir bezeichnen
20.1 Die Fresnelschen Formeln 575

Abb. 20.2. Einfall einer Lichtwelle, deren B-Vektor senkrecht zur Einfallsebene steht
(TM-Welle), auf eine Grenzfläche zwischen zwei Medien der Brechzahlen n und n
dies als transversal-elektrische (TE-) Welle. Dann muss B, der Vektor der mag-
netischen Induktion, in der Einfallsebene liegen. Seine Richtung wird durch die
Forderung festgelegt, dass E ×B parallel zum Wellenvektor k ist. Ist hingegen

B senkrecht zur Einfallsebene, so liegt eine transversal-magnetische (TM-) Welle
vor (s. Abb. 20.2).
In der Grenzfläche überlagern sich die Felder der einfallenden (20.1), reflek-
tierten (20.2) und durchgehenden (20.3) Welle, wobei sie über die Stetigkeits-
bedingungen der Elektrodynamik verknüpft sind. Diese Verknüpfung kann nicht
von der zufälligen Wahl eines Ortsvektors oder Zeitpunktes t abhängen; diese
Forderung ist nur dann erfüllt, wenn die zeit- und ortsabhängigen Anteile der
Phasen der Einzelwellen gleich sind1 , also:
ke · r − ωe t = kr · r − ωr t = kt · r − ωt t (20.4)

Wählt man den Bezugspunkt r = 0, so führt (20.4) zu der
1
Diese Beziehung lässt noch einen in der komplexen Amplitude enthaltenen zeit- und
ortsunabhängigen Phasenanteil Φ zu, also z.B. den Phasensprung bei Reflexion am
optisch dichteren Medium.
Frequenzbedingung ωe = ωr = ωt (20.5)
Die Frequenzen der Einzelwellen müssen übereinstimmen. Dies ist auch im Huy-
gensschen Prinzip berücksichtigt, denn die von der einfallenden Welle erzeugten
Sender von Elementarwellen müssen natürlich zwangsläufig mit deren Frequenz
schwingen und somit auch Wellen dieser Frequenz emittieren.
Bei gleichen Frequenzen folgt dann aus (20.4) die
Ausbreitungsbedingung ke · r = kr · r = kt · r (20.6)
Aus (20.6) lassen sich einige wichtige Folgerungen ziehen. Durch Subtraktion
erhält man:

ke − kr · r = ke − kt · r = kr − kt · r (20.7)
Die Differenzvektoren dürfen mithin keine zu r senkrechte Komponente aufwei-

sen, mit der Konsequenz, dass alle drei Wellenvektoren koplanar in der x-z-Ebene
sind und gebrochener und reflektierter Strahl ebenfalls in der Einfallsebene liegen.
Für einfallende und reflektierte Welle folgt aus (20.6) und Abb. 20.1 (mit
k · r = kr sin ε):
ke r sin ε = kr r sin εr
Da sich beide Wellen in demselben Medium ausbreiten, ist ke = kr . Damit ergibt
sich das
Reflexionsgesetz εr = ε (20.8)
wonach εein = εaus (Einfallswinkel = Ausfallswinkel). Für einfallende und gebro-

chene Welle ergibt (20.6):
ke r sin ε = kt r sin ε (20.9)

Mit ke = ω n/c0 und kt = ωn /c0 erhält man dann das
Brechungsgesetz n sin ε = n sin ε (20.10)
Aus den Maxwell-Gleichungen folgt, dass an einer Grenzfläche die Tangential-

und magnetischer Feldstärke H
komponenten elektrischer Feldstärke E stetig
20.1 Die Fresnelschen Formeln 577
sein müssen. Hiermit lassen sich Beziehungen zwischen den Feldern der Teilwel-

len herleiten. Da bei der TE-Welle die E-Vektoren bereits tangential zur Grenz-

fläche liegen, gilt für die Tangentialkomponenten der E-Felder (s. Abb. 20.1) die
Stetigkeitsbedingung:
Ee + Er = Et (20.11)
Auf der Einfallsseite sind einfallende und reflektierte Welle zu berücksichtigen,
t . Für die Tangentialkom-
auf der Austrittsseite nur der durchgelassene Anteil E

ponenten (die z-Komponenten) von H = B/µ ergibt sich nach Abb. 20.1:
Be Br Bt
cos ε − cos ε = cos ε (20.12)
µ µ µ
r antiparallel
Das Minuszeichen erklärt sich daraus, dass die z-Komponente von B
zur z-Achse gerichtet ist. Für nichtmagnetische Medien mit µr = 1 ist µ = µ ,
und (20.12) kann dann direkt für die magnetische Induktion formuliert werden.
Wir setzen solche Medien im Folgenden voraus. Die Gleichungen (20.11) und
(20.12) gelten für eine TE-Welle, bei TM-Wellen (s. Abb. 20.2) ist dann (mit
µr = 1):
Be + Br = Bt (20.13)
−Ee cos ε + Er cos ε = −Et cos ε (20.14)

und B
In einer elektromagnetischen Welle sind E über
B
E = cB = c0 (20.15)
n
fest miteinander verknüpft (s. (8.38)). Hieraus folgt B = nE/c0 und (20.11) bis
(20.14) lassen sich schreiben als
TE-Welle Ee + Er = Et (20.16)
nEe cos ε − nEr cos ε = n Et (20.17)
TM-Welle nEe + nEr = n Et (20.18)
−Ee cos ε + Er cos ε = −Et cos ε (20.19)
Diese Beziehungen gelten für die orts- und zeitabhängigen reellen oder komplexen
Feldgrößen der Wellen ebenso wie für deren komplexe Amplituden. Wir werden
sehen, dass bei der Reflexion eine Phasenverschiebung der reflektierten Welle
auftreten kann. Dies berücksichtigen wir durch die Definition eines komplexen
Reflexionsfaktors r, des Verhältnisses von einfallender zu reflektierter Amplitude:
Er Ê
r= = r (20.20)
Ee Ê e
Eliminieren wir aus (20.16) und (20.17) die Feldstärke Et , so erhalten wir den
Reflexionsfaktor der TE-Welle
n cos ε − n cos ε
rT E = (20.21)
n cos ε + n cos ε
und nach entsprechender Rechnung für die TM-Welle:

cos ε/n − cos ε /n n cos ε − n cos ε
rT M = = (20.22)
cos ε/n + cos ε /n n cos ε + n cos ε
Durch Erweitern und Umformen folgt hieraus (s. Übung 20.5) der
sin(ε − ε )
Reflexionsfaktor TE-Welle rT E = − (20.23)
sin(ε + ε )
und der
tan(ε − ε )
Reflexionsfaktor TM-Welle rT M = (20.24)
tan(ε + ε )
wobei ε aus dem Brechungsgesetz (20.10) berechnet wird:
ε = arcsin(n sin ε/n) (20.25)

Um vom Austrittswinkel ε unabhängige Beziehungen für r zu bekommen, müssen
wir in (20.21) und (20.22) ε mit Hilfe des Brechungsgesetzes eliminieren:

n cos ε = ±n 1 − sin2 ε = ± n2 − n2 sin2 ε (20.26)
Bei Wahl des positiven Vorzeichens (damit r ≤ 1 wird) erhalten wir für die
Reflexionsfaktoren unter Verwendung des Brechzahlverhältnisses ñ = n /n:

n cos ε − n2 − n2 sin2 ε cos ε − ñ2 − sin2 ε
rT E = = (20.27)
n cos ε + n2 − n2 sin2 ε cos ε + ñ2 − sin2 ε

n2 cos ε − n n2 − n2 sin2 ε ñ2 cos ε − ñ2 − sin2 ε
rT M = = (20.28)
n2 cos ε + n n2 − n2 sin2 ε ñ2 cos ε + ñ2 − sin2 ε
Der Transmissionsfaktor t ist das Verhältnis von transmittierter zu einfallender

Amplitude:
20.2 Reflexion an optisch dichteren und dünneren Medien 579
Et Ê
t= = t (20.29)
Ee Ê e
Er lässt sich aus (20.16) bis (20.19) durch Elimination von Er berechnen. Schnel-
ler kommt man jedoch zum Ziel, wenn man zunächst aus (20.16) und (20.18)
(nach Division durch Ee ) folgert:
tT E = r T E + 1 (20.30)
r-t-Verknüpfung
n tT M = n(rT M + 1) (20.31)
und dann die Transmissionsfaktoren aus r berechnet (s. auch Übung 20.13):
2n cos ε 2 cos ε
tT E = = (20.32)
n cos ε + n cos ε cos ε + ñ2 − sin2 ε
2n cos ε 2ñ cos ε
tT M =
= (20.33)
n cos ε + n cos ε ñ2 cos ε + ñ2 − sin2 ε
Die obigen Gleichungen für r und t heißen nach ihrem Entdecker die Fresnelschen
Gleichungen. Sie beschreiben die Reflexion und Transmission einer Welle an ide-
al ebenen und reinen Flächen bei Variation des Einfallswinkels. In der Praxis
treten außerdem meist noch Streuverluste an Oberflächenrauigkeiten auf; Ver-
unreinigungen und Oxidschichten verändern die Oberflächen zusätzlich, so dass
reproduzierbare Messungen schwierig sind.
Mnemotechnisch sind die Schreibweisen (20.27) und (20.28) sowie (20.32) und
(20.33) äußerst ungeeignet, die fehlende Symmetrie kommt aus dem Bestreben,
den aus dem Brechungsgesetz leicht zu bestimmenden Austrittswinkel ε zu eli-
minieren. Will man sich die Fresnel-Formeln merken, so geht dies am besten,
wenn man für die Reflexionsfaktoren rTE und rTM die sin- und tan-Beziehungen
(20.23) und (20.24) verwendet und die Transmissionsfaktoren t aus (20.30) und
(20.31) berechnet.
20.2 Reflexion an optisch dichteren und dünneren Medien

Bei der Interpretation der Fresnel-Formeln muss man zwei physikalisch unter-
schiedliche Fälle unterscheiden2:
1. Reflexion am optisch dichteren Medium mit n < n ,
2. Reflexion am optisch dünneren Medium mit n > n
2
Im engl. Sprachraum: external reflection bei n < n und internal reflection bei n > n .
Abb. 20.3. Reflexions-(r) und Transmissionsfaktoren (t) bei Reflexion am optisch dich-
teren Medium (n < n ) mit n /n = 1,5
20.2.1 Reflexion und Transmission bei n < n

In Abb. 20.3 sind die Faktoren r und t als Funktion des Einfallswinkels für den
Fall n < n dargestellt. Beachten Sie, dass für TM- und TE-Wellen bei senkrech-
tem und streifendem Einfall (also ε = 0◦ bzw. 90◦ ) jeweils gleiche Beträge für
rTE und rTM sowie die beiden t auftreten. Negatives Vorzeichen des Reflexions-
faktors bedeutet einen Phasensprung der elektrischen Feldstärke, der bekanntlich
am optisch dichteren Medium auftritt. Bei der Transmission tritt kein Phasen-
sprung auf. Betrachtet man statt der Wellenamplituden die Leistungen P , die
proportional dem Amplitudenquadrat sind, so definiert man den (s. Kap. 20.4)

2
Pr Êr
Reflexionsgrad = = = r2 (20.34)
Pe Êe
und den
Pt n cos ε 2
Transmissionsgrad τ= = t (20.35)
Pe n cos ε
20.2 Reflexion an optisch dichteren und dünneren Medien 581
mit dem Zusammenhang + τ = 1 (s. (20.47)). Der Verlauf des Reflexionsgrades

ist in Abb. 20.5 wiedergegeben.
Beispiel 20.1 Luft-Glas-Grenzfläche
Berechnen Sie die Reflexions- und Transmissionsgrößen für die TE- und TM-
Wellen von Licht, das auf eine Glasfläche (Brechzahl n = 1,50) in Luft unter
den Winkeln 0◦ und 30◦ sowohl von der Luft- als auch Glasseite aus einfällt.
Lösung
Bei senkrechtem Einfall gilt nach (20.21) für den Übergang Luft → Glas mit

n = 1 und n = 1,5: rTE = −rTM = n−n n+n = −0,2; der Reflexionsgrad ist
= r2 = 0,04 = 4% und der Transmissionsgrad τ = 1 − = 96%. Für
Glas → Luft ist n = 1,5 und n = 1 und damit rTE = −rTM = 0,2 mit
= 4%. An einer Luft-Glas und Glas-Luft-Fläche werden demnach bei
◦
senkrechter Inzidenz 4% des einfallenden Lichtes reflektiert.
30 ist
Bei nach
(20.25) für den Übergang Luft → Glas: ε = arcsin n sin n = 19,5◦ .
ε

Damit wird rTE = − sin(ε−ε )
sin(ε+ε ) = −0,24, entsprechend TE = 5,8% und

τ TE = 94,2%. Für die TM-Welle wird rTM = tan(ε−ε )
tan(ε+ε ) = 0,16 mit
TM = 2,5% und τTM = 97,5%. Beim Übergang Glas → Luft werden
lediglich die Vorzeichen der Phasensprünge vertauscht, d.h. rTE = +0,24
und rTM = −0,16 (s. Abb. 20.3 und 20.4).
Abbildung 20.3 zeigt, dass TM-Wellen bei einem Einfallswinkel von etwa 55◦
(genau εp = 56,31◦ bei n /n = 1,5) nicht reflektiert werden. Man bezeichnet
diesen ausgezeichneten Winkel als Brewster - oder Polarisationswinkel εp . Er kann
aus (20.24) und der Forderung rTM = 0 ermittelt werden:
n
Brewster-Winkel tan εP = (20.36)
n
Beweis: Aus (20.24) folgt, dass rTM = 0 falls tan(ε + ε ) = ∞, also wenn ε + ε
= 90◦ , bzw. ε = 90◦ − ε. Aus dem Brechungsgesetz (20.10) ergibt sich dann – mit
sin ε = sin(90◦ − ε) = cos ε – direkt (20.36).
Am Brewster-Winkel stehen somit (wegen ε + ε = εr + ε = 90◦ ) der gebro-

chene und der (unterdrückte) reflektierte Strahl senkrecht aufeinander, so dass

der reflektierte Strahl parallel zur Schwingungsrichtung des E-Vektors der ge-
brochenen Welle verlaufen würde. Die durch Et influenzierten Hertzschen Dipole
strahlen jedoch nicht in Dipol- bzw. Schwingungsrichtung, und die Reflexion wird
unterdrückt. Die Reflexion der TE-Welle verschwindet am Brewster-Winkel nicht
Abb. 20.4. Reflexionsfaktoren bei Reflexion am optisch dünneren Medium (n > n )

für n /n = 1/1,5
(TE = 15%), so dass das reflektierte Licht in TE-Richtung linear polarisiert

ist.
Bei senkrechtem Lichteinfall (ε = 0) wird der Reflexionsgrad = r2 für
alle Polarisationsrichtungen gleich und nur abhängig von |n − n | (s. (20.21) u.
(20.22)):
2
n − n
Reflexionsgrad bei ε = 0 = (20.37)
n + n
Bei einem Luft → Glas- (n = 1, n = 1,5) bzw. Glas → Luft-Übergang wer-

den dann 4 % des einfallenden Lichtes reflektiert (s. Bsp. 20.1), wobei noch zu
beachten ist, dass n wellenlängenabhängig ist. Aus Abb. 20.5 ist weiterhin ersicht-
lich, dass bei streifendem Lichteinfall (ε → 90◦ ) TE und TM gegen 1 gehen. TM
bleibt zunächst klein und steigt erst nach Überschreiten des Brewster-Winkels auf
große Werte.
20.3 Phasenänderung bei Reflexion 583
20.2.2 Reflexion und Transmission bei n > n
Bei Reflexion am optisch dünneren Medium (n > n , s. Abb. 20.4 und 20.5
mit n = 1,5 n ) beobachtet man ebenfalls Polarisation bei Lichteinfall unter
dem Brewster-Winkel. Am auffälligsten ist jedoch die vollständige Reflexion nach
Erreichen des Grenzwinkels der Totalreflexion εg (εg = 41,8◦ bei Glas-Luft-Über-
gang) mit
n
Grenzwinkel der Totalreflexion sin εg = (20.38)
n
Am Grenzwinkel wird der Austrittswinkel des gebrochenen Strahls gerade εg =

90◦ und mithin sin ε = 1, damit folgt die Grenzwinkelbedingung (20.38) direkt
aus dem Brechungsgesetz (20.10). Weiterhin ist dann cos ε = 1, und der Refle-
xionsfaktor wird nach (20.21) und (20.22) r = 1. Für ε > εg wird cos ε nach
(20.26) rein imaginär und damit (s. (20.27) u. (20.28)) r komplex, wobei Zähler
und Nenner konjugiert komplex sind und somit gleiche Beträge haben. Damit
wird |r|2 = = 1, wir erhalten Totalreflexion.
Für Einfallswinkel ε, die größer als der Grenzwinkel εg der Totalreflexion sind,
tritt für Wellen, die vom optisch dichteren Medium kommen, Totalreflexion
auf.
20.3 Phasenänderung bei Reflexion

Negative Werte des Reflexionsfaktors (s. Abb. 20.3 und 20.4) bedeuten eine Rich-

tungsumkehr des E-Vektors und damit eine Phasenänderung um π bei der Re-
flexion. Dies wird bei Betrachtung der komplexen Amplitude deutlich:
Ê r = r Ê e = −rÊ e = rÊ e ejπ (20.39)

Bei Reflexion am optisch dichteren Medium (n < n ) erfährt die TE-Welle den
π-Phasensprung nach (20.21) bei allen Einfallswinkeln, die TM-Welle (20.22) nur
oberhalb des Brewster-Winkels εp . Bei Reflexion am optisch dünneren Medium
(n > n ) muss man drei Bereiche (s. Abb. 20.4) unterscheiden:
1. ε < εp : nur die TM-Welle erfährt Phasensprung,
2. εp < ε < εg : beide Wellen werden in Phase reflektiert.
3. ε > εg : Hier wird der Radikand in (20.26) wegen n sin ε > n negativ, und
aus (20.27) und (20.28) ergeben sich komplexe Reflexionsfaktoren:
Abb. 20.5. Reflexionsgrade = r 2 bei Reflexion am optisch dichteren (n /n = 1,5)

und dünneren Medium (n /n = 1/1,5); die zugehörigen Reflexionsfaktoren sind in
Abb. 20.3 und 20.4 dargestellt. Der Transmissionsgrad ergibt sich aus τ = 1 −

n cos ε + j n2 sin2 ε − n2
rT E = (20.40)
n cos ε − j n2 sin2 ε − n2

n2 cos ε + jn n2 sin2 ε − n2
rT M = (20.41)
n2 cos ε − jn n2 sin2 ε − n2
mit n > n und ε > εg
In Kapitel 20.5 (Fußnote 3) wird begründet, warum hierbei in (20.26) beim Ra-
dizieren das negative Vorzeichen (−j) zu wählen ist. Zähler und Nenner der r
sind jeweils konjugiert komplex zueinander und haben damit denselben Betrag,
dann wird |r| = 1, und wir erhalten – wie bereits erwähnt – Totalreflexion. Zur
Ermittlung des Phasenwinkels Φ schreiben wir r in Polarkoordinaten (mit r = 1):
ejΦ/2 cos(Φ/2) + j sin(Φ/2)

r = r ejΦ = =
ejΦ/2 cos(Φ/2) − j sin(Φ/2)
Durch Vergleich mit (20.40) und (20.41) folgen hieraus für die Phasenverschie-
bungen zwischen reflektierter und einfallender Welle (bei Totalreflexion):

ΦT E n2 sin2 ε − n2
tan = (20.42)
2 n cos ε
ΦT M n n2 sin2 ε − n2
tan = (20.43)
2 n2 cos ε
Wir sehen, dass diese Phasenverschiebungen positive Vorzeichen haben – die re-
flektierte Welle eilt somit voraus – und bei Variation des Einfallswinkels beliebige
Werte zwischen 0 und π annehmen können (s. Abb. 20.6). In Abb. 20.6 ist auch
die Phasendifferenz ΦTM − ΦTE (für n/n = 1,5) dargestellt. Man erkennt, dass
diese für einen Einfallswinkel ε von etwa 50◦ bei Φ = 45◦ liegt. Zwei derarti-
ge Reflexionen erzeugen dann eine Phasendifferenz von 90◦ (bzw. π/2) zwischen
den zueinander senkrecht polarisierten TM- und TE-Wellen, und das austretende
Licht wird zirkular polarisiert. Diese Eigenschaft wird bei dem Fresnel-Rhomboid
(s. Abb. 20.7) angewandt, das über einen größeren Wellenlängenbereich als eine
λ/4-Platte verwendbar ist.
Zusammenfassend kann man also für die Phasenverschiebungen bei Reflexion
am optisch dünneren Medium der Brechzahl n (mit n < n) schreiben:
⎧
⎨0 ε < εg
ΦT E = √ (20.44)
⎩ 2 2
n sin ε−n 2
2 arctan n cos ε
ε > εg
⎧
⎪
⎪
⎪
⎨π ε < εp
ΦT M = 0 ε p < ε < εg (20.45)
⎪
⎪ √
⎪
⎩ n n2 sin2 ε−n2
2 arctan n2 cos ε ε > εg
mit den zugehörigen Graphen in Abb. 20.8.

Die Transmissionsfaktoren sind nach (20.32) und (20.33) bei reellen Brechzah-
len (dies entspricht verlustfreien Medien (s. Kap. 20.6)) außerhalb des Bereichs
der Totalreflexion immer reell und positiv, so dass gilt:
In Transmission tritt in nichtabsorbierenden Medien kein Phasensprung auf.
Beispiel 20.2 Phasenverschiebung bei Reflexion

Welche Phasenverschiebungen erfahren die TM- und TE-Welle bei der in Bei-
spiel 1 behandelten Reflexion sowohl beim Übergang vom optisch dichteren
zum optisch dünneren Medium als auch umgekehrt?
Lösung
Abb. 20.6. Phasenverschiebungen der E-Felder der Lichtwelle bei Reflexion am optisch
dünneren Medium (mit n /n = 1/1,5; vgl. Abb. 20.4)
Abb. 20.7. Das Fresnel-Rhomboid. Bei Einfall von Licht, das unter 45◦ zur Einfall-
sebene linear polarisiert ist, erzeugen zwei Reflexionen am optisch dünneren Medium
zwei TE- und TM-polarisierte Teilwellen gleicher Amplitude mit insgesamt 90◦ Phasen-
differenz, die beim Austritt eine zirkular polarisierte Welle bilden. Für ein Rhomboid
aus Glas in Luft beträgt der Winkel α ca. 53◦ (s. Abb. 20.6). Die Anordnung ist über
einen weiten Wellenlängenbereich verwendbar
Nach Abb. 20.8 treten abrupte Phasenänderung auf bei

εg = arcsin(n/n ) = 41,8◦ und
εp1 = arctan(n /n) = arctan(1/1,5) = 33,7◦ sowie
εp2 = arctan(n /n) = arctan(1,5) = 56,3◦ . Da für die Einfallswinkel 0◦ und
30◦ gilt: ε < εp1 stimmen die Phasenänderungen bei beiden Winkeln
überein. Für die Reflexion am optisch dichteren Medium ist ΦTE = π und
ΦTM = 0, während sich bei Reflexion am dünneren Medium gerade eine
Vertauschung der Werte ergibt, d.h. ΦTE = 0 und ΦTM = π.
Aus Abb. 20.8 ergeben sich wichtige Konsequenzen für die Interferenz von
Wellen. Bei kleinen Einfallswinkeln (ε < εp ) erfahren TE- und TM-Wellen
immer entgegengesetzte Phasensprünge. Diese sind außerdem für die Übergänge
optisch dünn → dicht und optisch dicht → dünn vertauscht, d.h. bei n < n ist
ΦTE = π und ΦTM = 0, während bei n > n gilt: ΦTE = 0 und ΦTM = π.
Hieraus folgt dann, dass für einen Strahl, der auf eine Glasplatte in Luft fällt
und teilweise an Ober- und Unterseite reflektiert wird, sowohl für eine TE- als
auch für eine TM-Welle insgesamt die Phasenverschiebung π auftritt, und nur die
Reihenfolge der einzelnen Phasensprünge vertauscht ist. Für ε > εp stimmen die
Phasenwinkel für TE- und TM-Wellen sowohl bei Reflexion am optisch dichteren
als auch am dünneren Medium überein.
Dasselbe gilt auch bei Betrachtung der Phasensprünge von B, man erkennt

aus Abb. 20.1 und 20.2, dass der Phasensprung des B-Vektors gegenüber dem
Abb. 20.8. Phasendifferenz Φ zwischen einfallenden und reflektierten Strah-

len als Funktion des Einfallswinkels für Reflexion am optisch dichteren Medium
(n < n , n/n = 1/1,5) und a) TE-Polarisation sowie c) TM-Polarisation. Desgl. für
Reflexion am dünneren Medium (n > n , n/n = 1,5): b) TE-Welle, d) TM-Welle. Uns-
tetigkeiten treten auf am Grenzwinkel der Totalreflexion εg = arcsin(1/1,5) = 41,8◦ und
bei den Brewster-Winkeln εp1 = arctan(1/1,5) = 33,7◦ und εp2 = arctan(1,5) = 56,3◦
(s. Abb. 20.6)

des E-Vektors vertauscht ist. Die Gesamtdifferenz der Phasenwinkel bleibt auch
hier ungeändert.
20.4 Energieerhaltung 589
20.4 Energieerhaltung
Da wir zunächst transparente Medien ohne Absorptionsverluste untersuchen,
muss aufgrund des Erhaltungssatzes der Energie für die Leistungsbilanz von ein-
fallender, durchgehender und reflektierter Leistung gelten:
Pe = Pr + Pt (20.46)
Mit dem Reflexionsgrad = Pr /Pe und dem Transmissionsgrad τ = Pt /Pe
folgt hieraus:
-τ -Beziehung +τ =1 (20.47)
Verwenden wir in (20.46) die Intensität I = P/A, so gilt:
I e Ae = I r Ar + I t At (20.48)
Abb. 20.9. Änderung des Strahlquerschnitts bei Transmission. Es gilt Ae =

Ar = A cos ε und At = A cos ε = Ae cos ε / cos ε
Der Bündelquerschnitt der Strahlen (s. Abb. 20.9) ändert sich bei Transmission
derart, dass Ae = Ar = A cos ε und At = A cos ε . Setzen wir diese Flächen
und die Intensität (s. (8.56))
Ê 2 ε 0 c0 2
I = εc =n Ê (20.49)
2 2
in (20.48) ein, so erhalten wir
nÊe2 cos ε = nÊr2 cos ε + n Êt2 cos ε (20.50)

und nach Division durch die linke Seite:
n cos ε 2
r2 + t =1 (20.51)
n cos ε
Der Vergleich mit (20.47) ergibt für beliebige Einfallswinkel den

2
Pr Êr Ir
Reflexionsgrad = = r2 = = (20.34)
Pe Êe Ie
und den
Pt n cos ε 2
Transmissionsgrad τ= = t (20.35)
Pe n cos ε
Der Transmissionsgrad τ ist also nicht einfach gleich dem Betragsquadrat t2

des Transmissionsfaktors, da einerseits die geänderte Ausbreitungsgeschwindig-
keit das Fortschreiten der Energie beeinflusst und andererseits die Brechung den
Strahlquerschnitt und damit die Energiedichte verändert. Bei senkrechtem Einfall
wird dann
n 2 n
senkrechter Einfall r2 + t = 1 und τ = t2 (20.52)
n n
Zur grafischen Darstellung des Transmissionsgrades τ (ε) kann man Abb. 20.5 mit
τ = 1 − verwenden.
20.5 Evaneszente Wellen

Wir hatten gesehen, dass an einer Grenzfläche mit n > n für Einfallswinkel
ε > εg Totalreflexion auftritt. Die Grenzfläche verhält sich wie ein perfekter Spie-
gel, auf den wir die Spiegelgesetze der geometrischen Optik anwenden können.
20.5 Evaneszente Wellen 591
Bei genauerer Untersuchung stellt man fest, dass hierbei die einfallende Welle als
evaneszente Welle in das für sie verbotene Gebiet der Brechzahl n eindringt.
Wir werden sehen, dass z.B. bei einem Lichtwellenleiter (s. Kap. 24) aufgrund
dieser behinderten Totalreflexion ein Teil der Energie im Fasermantel transpor-
tiert wird. Dies lässt sich nur im Wellenbild verstehen. Hierzu untersuchen wir
die an einer Grenzfläche durchgelassene Welle (s. Abb. 20.1 und (20.3))
=Eˆ
ej(ωt t−kt ·r)
E t t (20.3)
mit
kt · r = n k0 (x cos ε + z sin ε ) (20.53)

Nach (20.26) ist

n cos ε = ±n 1 − sin2 ε = ± n2 − n2 sin2 ε (20.26)
Dieser Ausdruck wird bei Totalreflexion wegen n sinε > n imaginär und somit
gleich:

n cos ε = −j n2 sin2 ε − n2 (20.54)
Hiermit wird dann die ortsabhängige Phase (20.53) der Welle (unter Verwendung
des Brechungsgesetzes):

kt · r = k0 zn sin ε − jxk0 n2 sin2 ε − n2
Setzt man im Imaginärteil

α = k0 n2 sin2 ε − n2 (20.55)
so wird die durchgehende Welle (20.3):
evaneszente Welle E = Ê e−αx ej(ωt−k0 n sin εz) (20.56)
Dies ist eine in z-Richtung mit der Phasengeschwindigkeit
ω ω c c
cz = = = =
kz k0 n sin ε sin ε sin ε
fortschreitende Welle, deren Amplitude in x-Richtung – also quer zur Fort-
schreitungsrichtung – exponentiell gedämpft ist3 . Man hat eine quergedämpfte,
sogenannte evaneszente Welle. Die Amplituden-Eindringtiefe dA dieser Welle,
3
Um in (20.56) eine gedämpfte Welle mit negativem Exponenten (∼ e−αx ) zu erhalten,
mussten wir in (20.54) das negative Vorzeichen wählen.
bei der die Amplitude auf den Bruchteil 1/e abgeklungen ist, ergibt sich nach
(20.55) und (20.56) zu:
1 λ0
Eindringtiefe dA = = (20.57)
α 2π n2 sin2 ε − n2
Mit der Welle ist kein Energietransport in x-Richtung verbunden. Falls jedoch
die Dicke d einer totalreflektierenden“ Schicht hinreichend dünn (d.h. d dA )
”
wird und auf der anderen Seite ein Medium mit n > n sin ε liegt, in dem
also die Welle ausbreitungsfähig ist, so beobachtet man behinderte Totalreflexi-
on 4 (optischer Tunneleffekt) und die Welle breitet sich in diesem Medium mit
verminderter Amplitude weiter aus. Dies wird in dem Strahlenteilerwürfel (s.
Abb. 20.10 a) zur Strahlenteilung und -abschwächung ausgenutzt; durch Ände-
rung des Abstands ∆x zwischen den Prismen kann das Teilerverhältnis vari-
iert werden. Abbildung 20.10 b zeigt das Prinzip der ATR-Spektroskopie (At-
tenuated Total Reflection): Ein einfallender Lichtstrahl wird an der Grenzfläche
Eintauchsonde–Flüssigkeit mehrfach total“ reflektiert. Hierbei wird der evanes-
”
zenten Welle durch das absorbierende Medium Energie entzogen und damit auch
die reflektierte Welle geschwächt.
Abb. 20.10. a) Strahlenteiler, der auf der behinderten Totalreflexion beruht. Die eva-
neszente Welle kann das Gebiet der Breite d zwischen den Prismen teilweise durchtun-
”
neln“. Die Strahlbreite soll die Intensität symbolisieren. b) ATR-Spektroskopie: Eine
Eintauchsonde E ist über einen Lichtleiter L mit dem Spektrometer verbunden. Die
evaneszenten Wellen werden in der Flüssigkeit F selektiv absorbiert
4
FTIR = F rustrated T otal I nternal Reflection.
20.6 Komplexe Brechzahl 593
Beispiel 20.3 Evaneszente Welle

Berechnen Sie die Eindringtiefe einer evaneszenten Welle, die Totalreflexi-
on an einer Glas–(n = 1,5)–Luft-Grenzfläche erfährt, wenn die Vakuum-
Lichtwellenlänge 500 nm beträgt und der Einfallswinkel bei 60◦ liegt.
Lösung
Der Grenzwinkel der Totalreflexion beträgt εg = arcsin 1,5 1
= 41,8◦ , so
◦
dass bei 60 tatsächlich Totalreflexion auftritt. Die Eindringtiefe ist nach
(20.57) dA = √ 500 nm
◦
= 96 nm, also nur etwa λ0 /5 bzw. 0,3 λGlas .
2π 1,5 sin 60 −1
2 2
20.6 Komplexe Brechzahl

Ist die reflektierende Oberfläche metallisch, also absorbierend, so bleiben – wie
nun gezeigt werden soll – die Fresnel-Formeln gültig, wenn man die Absorpti-
on durch eine komplexe Brechzahl berücksichtigt (s. Kap. 27). Wir wollen das
Verhalten der Welle in einem absorbierenden Medium durch Vergleich mit ei-
nem verlustbehafteten Plattenkondensator (Platten-Abstand d, -fläche A) in ei-
nem elektrischen Wechselfeld diskutieren. Die Verluste können formal durch ein
elektrisch leitfähiges Dielektrikum“ bzw. einen zum Kondensator parallel ge-
”
schalteten ohmschen Widerstand R berücksichtigt werden. Bekanntlich ist die
elektrische Scheinleistung P = U 2 /Z, wobei der Scheinwiderstand Z aus der
Parallelschaltung von Wirkwiderstand R und Blindwiderstand Xc = 1/(jωC )
berechnet werden kann:
1 1
= + jωC ≡ jωC = jω(C − jC ) = jωC + ωC (20.58)
Z R
Wir haben hierbei eine komplexe Kapazität
C = C − jC
definiert, mit der sich offenbar der Gesamtwiderstand einfacher angeben lässt.
Aus ihrem Imaginärteil folgt: ω C = 1/R und hiermit die Verlust- (Wirk-)
leistung U 2 /R = ωC U 2 . Die komplexe Kapazität des Kondensators C = ε A/d
hat eine komplexe Dielektrizitätskonstante ε und Dielektrizitätszahl εr zur Folge:
komplexe Dielektrizitätskonstante ε = ε0 εr = ε − jε = ε0 (εr − jεr ) (20.59)
Für den elektrischen Leitwert gilt: 1/R = σA/d, mit der elektrischen Leitfähig-
keit σ. Setzen wir dies in (20.58) ein, so erhalten wir nach Division durch jω:
A A 1 A σA
C=ε = (ε − j ε ) = C + = ε − j
d d jωR d ωd
Hieraus ergibt sich die wichtige Beziehung zwischen Imaginärteil der Dielektri-
zitätszahl und elektrischer Leitfähigkeit:
σ
Verluste εr = (20.60)
ε0 ω
Die in einem absorbierenden Medium auftretenden Verluste können entweder

durch den Imaginärteil εr der komplexen Dielektrizitätszahl, entsprechend
einem dissipativen Verschiebungsstrom, oder die elektrische Leitfähigkeit σ,
entsprechend einem Leitungsstrom, beschrieben werden.
In den gut leitenden Metallen erzeugt eine einfallende Lichtwelle große Lei-
tungsströme und damit starke Lichtabsorption. Wegen der Maxwell-Beziehung
(s. (8.43))
εr = n2 (20.61)
lassen sich die optischen Eigenschaften eines absorbierenden Medium auch durch
eine
komplexe Brechzahl n = n − jκ (20.62)
charakterisieren. n ist die bekannte reelle Brechzahl, die die Phasengeschwindig-

keit c0 /n der Welle bestimmt; κ, der Extinktionskoeffizient, erfasst ihre Dämp-
fung. Aufgrund der komplexen Brechzahl n wird auch die Kreiswellenzahl kom-
plex
ω ω
k= n = (n − jκ) (20.63)
c0 c0
und eine eindimensionale harmonische Welle, die bei x = 0 mit der Amplitude
Ê0 senkrecht auf ein absorbierendes Medium trifft, genügt damit der Gleichung
E = Ê 0 ej(ωt−kx) = Ê 0 e−ωκx/c0 ej(ωt−kx) ≡ Ê ej()ωt−kx

mit k = nω/c0 . Die Welle weist dieselbe Phase – und damit Phasengeschwindig-
keit c0 /n – wie eine ungedämpfte Welle auf, ihre Amplitude Ê(x) nimmt jedoch
entsprechend
Ê(x) = Ê 0 e−ωκx/c0 ≡ Ê 0 e−Kx/2 (20.64)

∗
in x-Richtung ab. Für die durchgehende Lichtleistung P gilt wegen P ∼ Ê Ê :
20.7 Metallreflexion 595
Extinktionsgesetz P (x) = P0 e−Kx (20.65)
also das Lambert-Beersche Extinktionsgesetz , nach dem die Lichtleistung in ei-

nem absorbierenden Medium exponentiell mit der Schichtdicke x abnimmt. K
bezeichnet man als Extinktions- oder Absorptionskonstante, die mit dem Extink-
tionskoeffizient κ nach (20.64) über die folgende Beziehung zusammenhängt:
ω 4π
Extinktionskonstante K=2 κ= κ (20.66)
c0 λ0
Der Kehrwert von K ist die (Energie-)

1
Eindringtiefe dE = (20.67)
K
bei der die Lichtleistung auf P0 /e, also 37% des Anfangswertes, abgesunken ist5 .
Beispiel 20.4 Energie-Eindringtiefe
Wie groß ist die Energie-Eindringtiefe roten Lichts in Kupfer, wenn bei
λ = 640 nm der Extinktionskoeffizient κ = 4 beträgt?
Lösung
1
Es gilt dE = K λ0
= 4πκ λ0
= 16π ≈ 50,3
λ0
≈ 12,7 nm. Bei den stark absorbierenden
Metallen kann demnach das Licht nur einige hundertstel Wellenlängen
eindringen.
20.7 Metallreflexion
Wir hatten gesehen, dass die Wellenausbreitung in absorbierenden Materialien
mit der komplexen Brechzahl zu beschreiben ist. Dies führt dazu, dass wir in
allen Fresnel-Gleichungen die Brechzahl n durch n zu ersetzen haben. Mit die-
ser Erkenntnis können wir dann auch den Reflexionsfaktor von absorbierenden
metallischen Materialien aus (20.21) bis (20.28) bestimmen. Wir erhalten dann
anstelle von (20.27) und (20.28):
5
Die Eindringtiefe wird nicht einheitlich definiert. Bei der Behandlung der Licht-
absorption verwendet man meist die Energie-Eindringtiefe dE . In der Faseroptik
benutzt man zur Kennzeichnung der Reichweite der evaneszenten Welle meist die
Amplituden-Eindringtiefe dA (20.57). Aus (20.64) und (20.65) folgt dA = 2dE .

n cos ε − n2 − n2 sin2 ε
rT E = (20.68)
n cos ε + n2 − n2 sin2 ε

n2 cos ε − n n2 − n2 sin2 ε
rT M = (20.69)
n2 cos ε + n n2 − n2 sin2 ε
Für den wichtigen Spezialfall senkrechter Inzidenz wird dies (s. auch (20.37)):
n − n
rT E = −rT M = (20.70)
n + n
Hieraus folgt für den Reflexionsgrad eines Metallspiegels (n = n − j κ) in Luft
(n = 1):
1 − (n − jκ) 1 − (n + jκ)
= r r∗ = ·
1 + n − jκ 1 + n + jκ
Metallreflexion (bei ε = 0)
(n − 1)2 + κ2
= (20.71)
(n + 1)2 + κ2
Da moderne Rechner mit komplexen Zahlen und damit Brechzahlen rechnen

können, ist im Allgemeinen die direkte Auswertung der Fresnel-Formeln pro-
blemlos möglich. Es ist also zu empfehlen, auch hier mit den einfachen Formeln
(20.23) bis (20.25) zu rechnen (s. Bsp. 20.5). Andernfalls muss man in den Glei-
chungen Real- und Imaginärteil getrennt ermitteln. Hierbei ist z.B. in (20.68) die
Wurzel einer komplexen Zahl z = A + j B zu berechnen. Dabei verwendet man
die Zeigerdarstellung z = z ejφ und erhält

1/2 2 2 1/4 jϕ/2 B
z = (A + B ) e mit ϕ = arctan
A
In Abb. 20.11 ist das Ergebnis der numerischen Berechnung des Reflexionsgra-
des für festes Natrium und einkristallines Gallium in Luft gezeigt. Bei Natrium
(mit n = 0,04 − j 2,4) ist die Brechzahl n sehr klein. In einem solchen Fall
werden in (20.68) die Radikanden wegen n2 ≈ −κ2 nahezu reell und negativ.
Der Wurzelterm wird fast rein imaginär und man erhält – wie bereits bei der
Totalreflexion diskutiert – ein r, bei dem Zähler und Nenner annähernd gleiche
Realteile und Imaginärteile unterschiedlichen Vorzeichens aufweisen. Damit stim-
men deren Beträge annähernd überein und mithin wird r ≈ 1. Dies findet man in
Abb. 20.11 bestätigt, wo der Reflexionsgrad – unabhängig vom Einfallswinkel
– für beide Polarisationen nahe bei 100% liegt.
Bei Gallium (n = 3,7 − 5,4 j) sind n und κ etwa gleich groß, mit der
Konsequenz, dass der Reflexionsgrad stärker winkel- und polarisationsabhängig
wird und die TM-Welle bei etwa 80◦ , dem sogenannten Haupteinfallswinkel, ein
Minimum aufweist. Bei Metallen existiert jedoch kein Brewster-Winkel, für den
Abb. 20.11. Mit Hilfe der Fresnelschen Gleichungen berechneter Reflexionsgrad

metallischer Oberflächen aus Natrium und Gallium in Luft. Die angegebenen Werte der
komplexen Brechzahlen n = n − j κ beziehen sich auf Natrium-Licht der Wellenlänge
λ = 589,3 nm. εH ist der Haupteinfallswinkel
TM = 0, so dass unpolarisiert einfallendes Licht nach der Reflexion mehr oder
weniger elliptisch – aber nie vollständig linear – polarisiert ist.
Beispiel 20.5 Reflexion von Gallium
Ermitteln Sie Reflexionsfaktor und -grad einer Gallium-Oberfläche mit
n = 3,7 und κ = 5,4 (s. Abb. 20.11), auf die Licht von 589 nm senk-
recht und unter 60◦ einfällt.
Lösung
−2,7+5,4 j
Bei 0◦ ist nach (20.70) rTE = 1−(n−κ j)
1+(n−κ j) = 4,7−5,4 j = −0,817 + 0,211 j
= 0,843 · ej2,89 . Damit wird der Reflexionsgrad = (0,843)2 = 0,71 = 71%
und die Phasenverschiebung Φ = 2,89 rad = 166◦ . Bei 60◦ verwenden wir
(20.23) bis (20.25) und erhalten
ε = arcsin(sin ε/n) = arcsin(sin 60◦ /(3,7 − 5,4 j)) = 0,074 + 0,11 j.
sin(ε−ε )
Hiermit wird rTE = − sin(ε+ε ) = −0,911 + 0,115 j = 0,92 · e
j3,02
, d.h.
rTE = 0,92, ΦTE = 3,02 rad und rTE = 0,844.

−j0,51
Weiterhin wird rTM = tan(ε−ε )
tan(ε+ε ) = 0,627 − 0,348 j = 0,717 · e und
TM = 0,515 (vgl. Abb. 20.11).
Übungen
20.1 Zeigen Sie, dass das Brewster-Gesetz auch aus (20.28) und der Bedingung rTM = 0
folgt.
20.2 Für ein bestimmtes Öl findet man einen Grenzwinkel der Totalreflexion von 33◦
gegenüber Luft. Welche Brewster-Winkel treten beim Übergang Luft–Öl und Öl–
Luft auf?
20.3 Bestimmen Sie die Grenzwinkel der Totalreflexion und die Brewster-Winkel für die
Reflexion an der Grenzfläche Luft–Flintglas (n = 1,84) und Flintglas–Luft.
20.4 Welche Brechzahl muss ein an Luft grenzendes Medium haben, damit der Grenzwin-
kel der Totalreflexion und der Brewster-Winkel für den Übergang Luft–Medium
übereinstimmen?
20.5 Formen Sie die Fresnel-Gleichungen ((20.21), (20.22)) und ((20.32), (20.33)) durch
geschickte Erweiterung von Zähler und Nenner so um, dass die folgenden Ausdrücke
(s. (20.23) und (20.24) gelten:
sin(ε − ε ) 2 cos ε sin ε

r TE = − , tTE =
sin(ε + ε ) sin(ε + ε )
tan(ε − ε ) 2 cos ε sin ε
r TM =− , tTM =
tan(ε + ε ) sin(ε + ε ) cos(ε − ε )
Leiten Sie aus rTM = 0 das Brewster-Gesetz her.
20.6 Bestätigen Sie – unter Verwendung eines selbst geschriebenen Programms oder
sonstiger Software – die in den Abbildungen 20.3 und 20.4 wiedergegebenen Gra-
phen. Welche Schreibweise der Fresnel-Gleichung bietet nach Ihrer Ansicht den
geringsten Programmieraufwand? Verwenden Sie diese. Untersuchen Sie außerdem
die Grenzfläche Luft–Diamant (n = 2,42).
20.7 Zeichnen Sie (mit Hilfe eines Rechners) die Graphen für Reflexions- und Transmis-
sionsgrad einer Grenzfläche mit dem Brechzahlverhältnis ñ = n /n = 1,5, also
z.B. Luft–Glas (nGlas = 1,5, s. Abb. 20.5).
20.8 Bestätigen Sie entsprechend die Graphen der Phasenverschiebungen der Abb. 20.6.
20.9 Eine verlustlose λ/4-Schicht aus Magnesium-Fluorid (n = 1,38) dient zur Ent-
spiegelung von Glas (n = 1,52). Bestimmen Sie für senkrechten Lichteinfall die
Reflexionsgrade der Grenzflächen:
a) Luft–Schicht,
b) Schicht–Glas,
c) Luft–Glas sowie
d) der gesamten λ/4–Antireflexschicht (s. Kap. 19.4).
20.10 Berechnen Sie den Reflexionsgrad von Wasser (n = 1,33) sowohl für a) TE- als auch
b) TM-Polarisation und die Einfallswinkel 0◦ , 10◦ , 45◦ und 90◦ .
20.11 Licht trifft auf eine Grenzfläche Luft–Diamant (n = 2,42). Geben Sie die Grenz-
und Brewster-Winkel für a) den Übergang Luft–Diamant und b) die umgekehrte
Richtung an. Unterscheiden Sie wieder TE- und TM-Polarisation.
20.12 Welcher Reflexions- und Transmissionsgrad tritt für einen Einfallswinkel von 50◦
beim Übergang Luft–Glas (n = 1,6) für a) TE- und b) TM-Licht auf? Vergleichen
Sie mit den Werten bei senkrechter Inzidenz.
20.13 Leiten Sie die Gleichungen für die Transmissionsfaktoren tTE (20.32) und tTM
(20.33) her, indem Sie
a) in (20.16) bis (20.19) jeweils Er eliminieren und nach Et /Ee auflösen und
b) den Zusammenhang zwischen t und r verwenden und die entsprechenden Glei-
chungen für r einsetzen.
20.14 Unpolarisiertes Licht wird an einer Planfläche aus Quarzglas (n = 1,458) reflektiert.
a) Ermitteln Sie die Grenz- und Brewster-Winkel.
b) Berechnen Sie Reflexions- und Transmissionsgrad für die TE-Welle und die
TM-Welle bei 0◦ und 45◦ Einfallswinkel.
c) Welcher Phasenunterschied tritt zwischen der TM- und TE-Welle beim Über-
gang Glas–Luft für die Einfallswinkel 0◦ , 20◦ , 40◦ , 50◦ , 70◦ und 90◦ auf?
20.15 Ein Fresnel-Rhomboid besteht aus Material der Brechzahl 1,65.
a) Welchen Wert muss der spitze Winkel des Rhomboeders (Winkel α in Abb. 20.7)
haben?
b) Wie wirkt sich ein Winkelfehler von ±5% auf die Phasendifferenz aus?
20.16 Wie groß ist der Reflexionsgrad von Stahl (n = 2,485 und κ = 1,381) für Na-Licht
(λ = 589 nm)? Angabe der Werte für: a) TE- und b) TM-Polarisation und die
Einfallswinkel 0◦ , 30◦ , 50◦ , 70◦ und 90◦ .
20.17 Bei einer Wellenlänge von 589,3 nm hat Zinn die komplexe Brechzahl n = 1,5−5,3 j.
Geben Sie die Reflexionsgrade für: a) TE- und b) TM-Licht und die Einfallswinkel
0◦ , 30◦ und 60◦ an.
20.18 a) Welche Absorptionskonstante K hat Zinn mit der komplexen Brechzahl n =
1,5 − 5,3 j bei λ = 589,3 nm?
b) Wie groß ist (bei senkrechtem Lichteinfall) die Eindringtiefe?
c) Bei welcher Schichtdicke wird 99% des einfallenden Lichtes absorbiert?
20.19 a) Gleichung (20.51) folgt aus dem Erhaltungssatz der Energie bzw. Leistung.
Zeigen Sie hiermit, dass der Transmissionsfaktor t beim Übergang vom op-
tisch dünneren ins dichtere Medium immer kleiner 1 sein muss, während er im
umgekehrten Fall auch größer 1 sein kann.
b) Beweisen Sie weiterhin (mit Hilfe der Fresnel-Formeln (20.32) u. (20.33)), dass
bei ε → εg , also für Einfallswinkel nahe am Grenzwinkel der Totalreflexion,
gilt: tTE → 2 und tTM → 2n/n . Wie erklären Sie dieses paradoxe Ergebnis?
c) Zeichnen Sie für den Übergang Glas–Luft (von n = 1,5 zu n = 1) die Graphen:
Transmissionsfaktoren tTE und tTM gegen Einfallswinkel ε.
20.20 Ein Lichtstrahl wird an einem gleichseitig rechtwinkligen Prisma aus Glas (n = 1,6)
an der Hypotenuse (s. Abb. 6.14 a) total reflektiert und um 90◦ abgelenkt.
a) Wie groß ist die (Amplituden-) Eindringtiefe der evaneszenten Welle?
b) Welcher Bruchteil der einfallenden Leistung liegt 1 µm außerhalb der Grenz-
fläche vor?
21
Grundlagen der Laser
Einleitung
Der Laser ist das wichtigste optische Gerät, das in den vergangenen fünfzig Jahren
entwickelt wurde. Um 1960 wurden die ersten Laser außerhalb der Wissenschaft
kaum gewürdigt. Der enorme Fortschritt in diesem Bereich hat dazu geführt,
dass der Laser heute ein Massenprodukt (Diodenlaser) mit einem niedrigen Preis
(<1 e) ist. Dies hat die Optik zu einem der Bereiche gemacht, die sich in Wis-
senschaft und technischer Anwendung rasch weiterentwickeln.
Im Prinzip ist der Laser ein optischer Verstärker. Die Buchstaben des Wortes
LASER stehen für Light Amplification by Stimulated Emission of Radiation.
Die Schlüsselwörter sind Verstärkung (amplification) und stimulierte Emission
(stimulated emission). Der theoretische Hintergrund des Laserprinzips als op-
tischer Verstärker wurde durch Albert Einstein schon 1916 entwickelt. Damals
sagte Einstein voraus, dass es einen neuen Strahlungsprozess geben müsste, den
er stimulierte Emission nannte. Erst 1954 entwickelten C.H. Townes und Mit-
arbeiter den MASER für den Mikrowellenbereich. Kurz danach, 1958, machten
A. Schawlow und C.H. Townes Vorschläge und Berechnungen zur Anwendung des
Maserprinzips auf Licht (Strahlung im sichtbaren Bereich); 1960 baute T.H. Mai-
man den ersten funktionierenden Laser. Maiman benutzte einen Rubinkristall
als Verstärkungsmedium und ein Fabry-Perot als Resonator. Nur wenige Mona-
te nach der Vorstellung von Maimans Rubinlaser , der tiefrotes Licht der Wel-
lenlänge 694,3 nm aussendet, entwickelten A. Javan und Mitarbeiter den ersten
602 21 Grundlagen der Laser
Gaslaser. Dies war der Helium-Neonlaser, der sowohl Licht im Infraroten (z.B.
bei 1,15 µm) als auch im Sichtbaren (bei 632,8 nm) aussendet. Nach dem Bau des
Rubin- und des Helium-Neonlasers folgten in kurzen Abständen Laser mit ande-
ren Lasermedien und anderen Wellenlängen. 1962 bauten R.N. Hall, M.I. Nathan
und T.M. Quist den ersten Halbleiterlaser (GaAs, 840 nm, gepulst). 1965 haben
Kasper und Pimentel den ersten chemischen Laser (HCl, 3,8 µm) konstruiert.
1966 wurde von P.P. Sorokin und F.P. Schäfer die ersten Farbstofflaser ( Dye“-
”
Laser, Rhodamin 6 G, 570–625 nm) entwickelt. In den sechziger Jahren wurde der
Laser aus der Sicht der Industrie als eine wissenschaftliche Kuriosität betrach-
tet. Ende der sechziger Jahre und in den Siebzigern änderte sich diese Ansicht
vollständig. Die bestechenden Vorteile des Lasers als intensive, kohärente Licht-
quelle wurden genutzt. Heute werden fast jede Woche neue Laseranwendungen
entdeckt. Zusammen mit der Faseroptik und optoelektronischen Elementen auf
der Basis von Halbleitern hat der Laser heute die Telekommunikation (Nachrich-
tentechnik, Kommunikationstechnik), die Sensorik oder auch die Unterhaltungs-
elektronik (CD-Geräte) und andere Bereiche der Industrie (Materialbearbeitung,
Messtechnik) revolutioniert.
In diesem Kapitel beschäftigen wir uns mit Einsteins Theorie der stimulierten
Emission und untersuchen die Schlüsselelemente des Lasers. In einer Zusammen-
fassung am Schluss geben wir eine Liste der heutzutage gebräuchlichen Laser
zusammen mit Betriebskenngrößen an.
21.1 Einsteins Quantentheorie der Strahlung

Als Einstein 1916 die Grundlagenprozesse bei der Wechselwirkung von elektro-
magnetischer Strahlung mit Materie untersuchte, kam er zu dem Schluss, dass
thermisches Gleichgewicht zwischen Strahlung und Materie (Atome, Moleküle,
Festkörper) einen bisher unentdeckten Strahlungsprozess voraussetze, den er er-
”
zwungene (stimulierte) Emission“ nannte.
Nach Einstein kann die Wechselwirkung von Strahlung und Materie durch
drei Elementarprozesse beschrieben werden: Absorption, spontane Emission
und stimulierte Emission.
Die drei Prozesse sind in Abb. 21.1 am Beispiel eines Zwei-Niveau-Systems dar-
gestellt.
Absorption tritt auf, wenn die Energie hf der einfallenden Photonen mit der
Differenz der Energien W2 eines angeregten Zustands und W1 des Grundzustands
der Materie übereinstimmt (s. Abb. 21.1 a), wenn also hf = W2 − W1 .
Die spontane Emission (s. Abb. 21.1 b) ist immer dann möglich, wenn Atome
in einem angeregten Zustand sind. Es ist keine externe Strahlung nötig, um diese
Emission anzustoßen. Bei spontaner Emission gibt ein Atom im angeregten Zu-
stand W2 ohne äußere Einwirkung seine Energie ab und geht in den Zustand W1
21.1 Einsteins Quantentheorie der Strahlung 603
Abb. 21.1. Die drei Grundprozesse. a) Absorption. b) Spontane Emission. c) Stimu-

lierte Emission für die Wechselwirkung von Strahlung und Materie. In der Abbildung
gilt für die Photonenenergie hf = W2 − W1
über, wobei ein Photon der Energie hf = W2 − W1 mit beliebiger Richtung und
Polarisation ohne zeitliche Korrelation mit anderen Photonen emittiert wird.
Für den Prozess der stimulierten Emission (s. Abb. 21.1 c) ist externe Strah-
lung nötig. Dabei tritt ein Photon der Resonanzenergie hf = W2 − W1 mit einem
Atom im angeregten Zustand W2 in Wechselwirkung und stimuliert das Atom
zum Übergang vom angeregten in den Grundzustand. Bei diesem Prozess gibt
das Atom ein Photon ab, das die gleiche Energie, Richtung und Polarisation auf-
weist wie das auslösende Photon. Damit erhalten wir zwei gleichartige Photonen
an Stelle eines einzigen und einen Zuwachs an Intensität. Genau dieser Prozess
der stimulierten Emission ermöglicht die Verstärkung von Licht im Laser.
Einsteinsche A- und B-Koeffizienten
Einsteins Beweis für die Existenz der stimulierten Emission entstand aus seinem
Wunsch, die grundlegenden Mechanismen bei der Wechselwirkung von elektro-
magnetischer Strahlung und Materie zu verstehen. Er nahm an, dass Materie
(eine Anzahl von Atomen) im thermischen Gleichgewicht mit dem Strahlungs-

feld eines Hohlraums (schwarzer Körper → schwarzer Strahler, s. Kap. 2) steht.
Ein schwarzer Körper absorbiert auftreffende Strahlung vollständig und emittiert
Wärmestrahlung mit gleicher Wahrscheinlichkeit, wie er diese auch absorbiert.
Abbildung 21.2 zeigt ein vereinfachtes Bild des atomaren Systems mit zwei
Energiezuständen und seine Wechselwirkung mit Strahlung (Photonen). Die Ato-
me befinden sich in einem Hohlraum mit vollständig absorbierenden Wänden, der
die absolute Temperatur T hat. Im thermischen Gleichgewicht bleiben im zeit-
lichen Mittel die Anzahl N2 der Atome im Energiezustand W2 und die Anzahl
N1 der Atome im Energiezustand W1 sowie die Anzahl der Photonen im Strah-
lungsfeld konstant. Statt der Besetzungszahlen Ni kann man in den folgenden
Gleichungen auch Besetzungszahldichten (Anzahl der Atome je Volumeneinheit
im Energiezustand Wi ) benutzen. Die Emissions- und Absorptionsprozesse, die
Photonen aus dem Strahlungsfeld entfernen oder hinzufügen, sind gleich wahr-
scheinlich, so dass die Gesamtzahl der Photonen unverändert bleibt. Zu jedem
Atom im Zustand W2 , das während des Emissionsprozesses in den Zustand W1
übergeht, existiert ein Atom im Zustand W1 , das durch Absorption in den Zu-
stand W2 übergeht, so dass N1 und N2 unverändert bleiben. Diese Gleichge-
wichtsbedingungen sind in Abb. 21.3 dargestellt, wo Atome vom Zustand W1
nach W2 und von W2 nach W1 übergehen.
Abb. 21.2. Ein Hohlraum (Schwarzkörper) der absoluten Temperatur T ist über die
Wärmestrahlung mit den eingeschlossenen Atomen im thermischen Gleichgewicht
Die Absorption und Emission werden durch die Einsteinkoeffizienten B12 , A21
und B21 beschrieben, die damit für die Quantentheorie der Strahlung und die
Funktion des Lasers sehr wichtig sind. Ihre Bedeutung ergibt sich aus Abb. 21.3.
Abb. 21.3. Strahlungsprozesse, die die Anzahl N1 und N2 der Atome in den Ener-
giezuständen W1 und W2 verändern. Die Emissionsprozesse vermindern die Zahl der
Atome im Energiezustand W2 und vergrößern sie im Zustand W1 . Beim Absorptions-
prozess findet ein Übergang von W1 nach W2 statt
Spontane Emission (A21 )
Atome im Energiezustand W2 gehen spontan in den Zustand W1 über, wobei

dem Strahlungsfeld Photonen der Energie hf = W2 − W1 hinzugefügt werden.
Gleichzeitig nimmt die Besetzungszahl N2 des Zustandes W2 ab. Die Rate der
Abnahme ist zu jeder Zeit zur Besetzungszahl proportional, d.h.:

dN2
= −A21 N2 (21.1)
dt spont
Hat man ausschließlich spontane Emission, so ergibt sich als Lösung dieser Glei-
chung:
Besetzungszahl bei
spontaner Emission N2 (t) = N20 e−A21 t = N20 e−t/τ (21.2)
Die Besetzungszahl N2 nimmt mit der Zeitkonstanten τ = 1/A21 und der Rate
N2 /τ = A21 N2 ab und die Besetzungszahl N1 des Zustandes W1 mit der gleichen
Rate zu. Die Konstante τ nennt man Lebensdauer für spontane Emission des Zu-
standes W2 . Die Lebensdauer τ gibt die Zeit an, in der die Anfangsbesetzungszahl
N20 durch spontane Emission auf den Wert N20 /e ≈ 0,37N20 abgesunken ist. Der
Koeffizient A21 ist eine charakteristische Konstante des Atoms. Wir sehen, dass
(dN2 /dt)spont vollkommen unabhängig vom Strahlungsfeld ist.
Stimulierte Emission (B21 )
Bei diesem Prozess ist die Rate, mit der Atome im Zustand W2 durch das Strah-
lungsfeld (Photonen) zum Übergang nach W1 stimuliert werden, sowohl zur Be-
setzungszahl N2 der Atome als auch zur Energiedichte des Strahlungsfeldes der
Planckschen Strahlung proportional, oder

dN2
= −B21 N2 (f ) (21.3)
dt stim
wobei (f ) die spektrale Strahlungsdichte ist, also Strahlungsenergie pro Volumen
und Frequenzintervall:
d2 W
(f ) = (21.4)
dV df
Absorption (B12 )
Die Absorption ist ein Prozess, der ebenfalls von der Stärke des Strahlungsfeldes
abhängt. Die Absorption und die stimulierte Emission sind zueinander inverse
Prozesse. Die Rate, mit der Atome vom Energiezustand W1 nach W2 angehoben
werden, ist gegeben durch:

dN1
= −B12 N1 (f ) (21.5)
dt abs
Der Koeffizient B12 ist ebenfalls eine charakteristische Konstante des Atoms. Man
findet, dass die Koeffizienten B12 und B21 voneinander abhängen; sie sind für
den Fall der Nichtentartung der Quantenzustände, die zu den Energiezuständen
W1 und W2 gehören, gleich. (Bei entarteten Zuständen weisen zwei oder mehr
Zustände die gleiche Energie auf.)
Nachdem wir die drei Grundprozesse der Absorption, der spontanen Emission
und der stimulierten Emission sowie deren Zusammenhang mit den A- und B-
Koeffizienten verstanden haben, nehmen wir Folgendes an:
1. Zwischen dem Strahlungsfeld und den Atomen besteht bei einer beliebigen
Temperatur T thermisches Gleichgewicht.
2. Das Strahlungsfeld hat die spektrale Strahlungsdichte (f ) der Strahlung
eines Schwarzkörpers der Temperatur T .
3. Die atomaren Besetzungszahlen N1 und N2 in den Energiezuständen W1 und
W2 sind gemäß der Boltzmann-Verteilung bei dieser Temperatur verteilt.
4. Die Besetzungszahlen N1 und N2 sind zeitlich konstant.
Wir bilanzieren nun Zuwachs und Abnahme der Besetzungszahlen N2 im oberen
Niveau W2 . Mit den Annahmen 1 und 4 ergibt sich, dass die Änderungsrate von
Atomen im Zustand W2 gegeben ist durch:
dN2
= 0 = −N2 A21 − N2 B21 (f ) + N1 B12 (f ) (21.6)
dt
Hierbei beschreiben die ersten Terme die Abnahme aufgrund spontaner und sti-
mulierter Emission und der letzte Term die Zunahme durch Absorption. Wegen
der Annahmen 2 und 3 erhalten wir für die spektrale Energiedichte (f ) der
Schwarzkörperstrahlung1
8πhf 3 1
(f ) = (21.7)
c 3 e hf /kT −1
und für die Boltzmann-Verteilung der Atome in den beiden Energiezuständen:
N2
= e−(W2 −W1 )/kT = e−hf /kT (21.8)
N1
In (21.7) und (21.8) ist f die Frequenz der Strahlung, T ist die absolute Tem-
peratur des Schwarzkörpers und k die Boltzmann-Konstante. Weiterhin wurde
(21.8) für den Spezialfall nicht entarteter Energiezustände ermittelt. Diese Ein-
schränkung vereinfacht die Rechnung, beeinträchtigt jedoch nur unwesentlich die
Schlussfolgerungen, die wir später ziehen.
Löst man (21.6) nach (f ) auf und substituiert N1 /N2 aus (21.8), so erhält
man:
A21 A21 A21 /B12

(f ) = = = hf /kT (21.9)
B12 (N1 /N2 ) − B21 B12 ehf /kT − B21 e − B21 /B12
Wegen der Annahme 2 können wir dies mit (21.7) gleichsetzen:
A21 /B12 8πhf 3 1

= (21.10)
ehf /kT− B21 /B12 c3 ehf /kT − 1
Gleichung (21.10) muss für beliebige Temperaturen gelten. Damit folgt durch
Koeffizientenvergleich:
Frequenzabhängigkeit des Verhältnisses der Einstein-Koeffizienten für spon-
tane und induzierte Emission
A21 8πhf 3 8πh
= 3
= 3 (21.11)
B12 c λ
und
die Einstein-Koeffizienten für Absorption und induzierte Emission sind gleich
B12 = B21 (21.12)
1
Die spektrale Energiedichte in (21.7) ergibt sich aus (2.15) für Mλ , die spezifische
Ausstrahlung eines Schwarzkörpers. Man ändert zunächst die Variablen in Gleichung
(2.15) von λ nach f und erhält dann Me,f = 2πhf 3 /c2 · (ehf /kT − 1)−1 . Anschließend
multipliziert man Me,f mit 4/c und erhält den oben angegebenen Ausdruck für die
spektrale Energiedichte (f ).
Die Gleichungen (21.11) und (21.12) wurden für thermisches Gleichgewicht abge-
leitet. Die Gleichungen gelten aber allgemein, denn sie enthalten die Temperatur
T nicht als Parameter, (21.11) und (21.12) beschreiben wichtige Zusammenhänge.
Aus ihnen ergibt sich:
1. Die Einstein-Koeffizienten A21 , B21 und B12 sind voneinander abhängig.
Kennt man durch Messung oder Berechnung einen der Koeffizienten, so lassen
sich die anderen berechnen.
2. Der Koeffizient B21 der stimulierten Emission und der Koeffizient B12 der
Absorption sind für nicht entartete Energiezustände gleich. Dies zeigt, dass
die stimulierte Emission und die Absorption inverse Prozesse sind. Wir er-
kennen jedoch, dass sich die Raten dN2 /dt = −N2 B21 (f ) und dN1 /dt =
−N1 B12 (f ) abhängig von den Besetzungszahlen N2 und N1 unterscheiden.
Wenn N2 größer als N1 ist und das einfallende Strahlungsfeld mit den Ato-
men wechselwirkt, wird die stimulierte Emission die Absorption übertreffen.
Es werden Photonen im Strahlungsfeld hinzugefügt und die spektrale Ener-
giedichte erhöht. Wenn jedoch N1 größer als N2 ist, wird die Absorption die
stimulierte Emission übertreffen und aus dem Strahlungsfeld werden Photo-
nen entfernt. Der erste Fall (N2 > N1 ) führt zu einer Zunahme von (f ), also
einer Verstärkung. Der zweite Fall (N1 > N2 ) führt zu einer Abnahme von
(t), einer Abschwächung.
Ein Laser funktioniert nur, wenn die Besetzungszahl N2 im oberen Laser-
niveau W2 größer ist als die Besetzungszahl N1 im unteren Laserniveau W1 .
Dies ist die Bedingung für Besetzungsinversion (Besetzungsumkehr).
3. Da B21 /A21 proportional zur dritten Potenz der Wellenlänge ist, bedeutet
dies, dass für hohe Frequenzen (kleinere Wellenlängen) die spontane Emission
mit der stimulierten Emission (Photonenverstärkung) vergleichbar wird und
als Konkurrenzprozess die Besetzungsinversion abbaut. Darum sind Laser
mit kurzwelliger Strahlung (z.B. Ultraviolett- oder Röntgenlaser) schwieriger
zu realisieren.
4. Obwohl die Beziehungen zwischen den Einstein-Koeffizienten unter der Be-
dingung des thermischen Gleichgewichts abgeleitet wurden, sind sie für an-
dere Bedingungen genauso gültig. Ein funktionierender Laser arbeitet nie im
thermischen Gleichgewicht. Trotzdem sind die Beziehungen für die A- und
B-Koeffizienten sowohl im intensiven Strahlungsfeld eines Laserresonators als
auch in einem heißen Ofen gültig.
Für den erfolgreichen Betrieb eines Lasers ergeben sich aus der einsteinschen
Behandlung der Wechselwirkung von Strahlung und Materie zwei wichtige Er-
kenntnisse: Zum einen ermöglicht der Prozess der stimulierten Emission die Licht-
verstärkung, zum anderen ist die Besetzungsinversion von Atomen in bestimm-
ten Energiezuständen Voraussetzung dafür, dass die stimulierte Emission, die
kohärente Photonen erzeugt, die Absorptionsprozesse und die spontane Emissi-
21.2 Wesentliche Komponenten des Lasers 609
on, die dem Strahlungsfeld kohärente Photonen entziehen bzw. nur inkohärent
beitragen, übertrifft.
21.2 Wesentliche Komponenten des Lasers

Der Laser ist ein optisches Gerät, das ein intensives, hochkollimiertes (nahezu
paralleles) Strahlenbündel kohärenter elektromagnetischer Strahlung abgibt. Der
Laser besteht im Prinzip aus drei Elementen: einer externen Energiequelle, einem
Verstärkungsmedium und einem Resonator (s. Abb. 21.4).
Abb. 21.4. Grundelemente des Lasers. a) Vollständiger Laser. b) Externe Energiezu-

fuhr. Die externe Energiezufuhr ( Pumpe“) erzeugt im Lasermedium die Besetzungsin-
”
version. Die Energie kann optischen, elektrischen oder chemischen Quellen entstammen.
Die im Bild dargestellte Spannungsquelle und die Wendel sind nur symbolisch zu ver-
stehen. c) Optischer Resonator, der durch zwei Spiegel begrenzt ist. d) Lasermedium.
Besetzungsinversion und stimulierte Emission bewirken die Verstärkung des Lichtes
Externe Energiezufuhr
Die externe Energiezufuhr bewirkt im Lasermedium die Besetzungsinversion. Wie
im vorherigen Abschnitt erklärt, kann die Verstärkung einer Lichtwelle bzw. von
Photonen nur in einem Lasermedium geschehen, das eine Besetzungsinversion
zwischen zwei Energiezuständen aufweist. Andernfalls wird die Lichtwelle, die
durch das Lasermedium läuft, geschwächt.
Zum Pumpen (Zufuhr externer Energie) kann man optische, elektrische oder
chemische Verfahren benutzen. Hierbei ist wichtig, dass die zur Verfügung ge-
stellte Energie so in das Lasermedium eingekoppelt wird, dass die Atome angeregt
werden und die benötigte Besetzungsinversion erzeugt wird. Für einen Gaslaser,
wie den Helium-Neonlaser, benutzt man eine elektrische Entladung als Pumpe.
Hierfür benötigt man genaue Kenntnisse über den Wirkungsquerschnitt für elek-
tronische Anregung und die Lebensdauer der verschiedenen Energiezustände. In
einigen Gaslasern stoßen die freien Elektronen, die in der Entladung erzeugt wer-
den, mit den Laseratomen, -ionen oder -molekülen zusammen und regen diese
direkt an. In anderen Lasern geschieht die Anregung der Atome durch inelas-
tische Atom-Atom-(oder Molekül-Molekül-)Stöße. Bei diesem zuletzt genannten
Verfahren verwendet man eine Mischung von zwei Gasen, wobei diese zwei ver-
schiedene Arten von Atomen, z.B. A und B, mit angeregten Zuständen A∗ und B ∗
aufweisen, die in der energetischen Lage übereinstimmen (WA∗ = WB ∗ ). Hierbei
kann mit hoher Wahrscheinlichkeit Energie (resonanter Energietransfer ) von den
angeregten zu den nicht angeregten Teilchen übertragen werden, was symbolisch
durch die Beziehung A∗ + B → A + B ∗ beschrieben wird. Das Atom A erhält zu
Anfang seine Anregungsenergie durch den Stoß mit einem freien Elektron oder
durch einen anderen Anregungsprozess. Beispiel hierfür ist der Helium-Neonlaser,
wo die Laser-aktiven Neon-Atome durch resonanten Energietransfer aus Helium-
Atomen, die sich in einem metastabilen, langlebigen Zustand befinden, erzeugt
werden. Die Helium-Atome werden durch Stöße mit freien Elektronen angeregt.
Obwohl es noch eine Vielzahl weiterer Pump- oder Anregungsprozesse gibt,
wollen wir uns aber hier nur auf einen weiteren Prozess mit historischer Be-
deutung beschränken. Der erste Laser, der 1960 durch T. Maiman im Hughes
Forschungslabor entwickelt wurde, war ein gepulster Rubinlaser, der bei der Wel-
lenlänge 694,3 nm (rot) betrieben wurde. Abbildung 21.5 zeigt den prinzipiellen
Aufbau des Rubinlasers. Um die Cr3+ -Fremdionen im Rubinstab anzuregen, be-
nutzte Maiman eine mit Xenon gefüllte Blitzlampe, deren Kolben in Form einer
Schraubenlinie gebogen war. Diese spezielle Methode der Anregung des Laser-
mediums nennt man optisches Pumpen.
Lasermedium
Viele Laser werden nach der Art des Lasermediums (Verstärkermedium) be-
nannt, z.B. Helium-Neon- (He-Ne-), Kohlendioxid- (CO2 -) und Neodym-Yttrium-
Aluminiumgranat- (Nd:YAG-)Laser.
21.2 Wesentliche Komponenten des Lasers 611
Das gasförmige, flüssige oder feste Lasermedium bestimmt die Wellenlänge

der Laserstrahlung. Aufgrund der großen Auswahl an Lasermedien erstreckt sich
der Bereich der Laserwellenlängen vom Ultravioletten bis zum Infraroten, sogar
Röntgenlaser sind möglich. Laseremission wurde in mehr als der Hälfte der be-
kannten chemischen Elemente beobachtet, wobei es allein in Gasen über tausend
Laserübergänge gibt. Zwei der am häufigsten verwendeten Übergänge in Gasen
sind die sichtbare Strahlung des Neons bei 632,8 nm und die infrarote Strahlung
des CO2 -Moleküls bei 10,6 µm. Andere häufig benutzte Lasersubstanzen und die
entsprechenden Laser-Wellenlängen sind in Tabelle 21.2 am Ende dieses Kapitels
angegeben.
Abb. 21.5. Komponenten des Rubinlasersystems. Der Spiegel reflektiert Licht, das von
der Blitzlampe ausgeht, zurück zum Rubinstab
In einigen Lasern besteht das verstärkende Material aus zwei Komponenten,

der Wirtssubstanz und den Laseratomen. Beim Nd:YAG-Laser benutzt man z.B.
als Wirtskristall Yttrium-Aluminium-Granat (gewöhnlich YAG genannt), in dem
die dreiwertigen Neodymionen die Laserstrahlung abgeben.
Wie schon vorher erläutert, ist ohne Pumpen keine Besetzungsinversion zwi-
schen den zwei Energiezuständen des Lasermediums herstellbar. Im thermischen
Gleichgewicht erhält man aufgrund der Boltzmann-Verteilung das Besetzungs-
verhältnis N2 /N1 = e−∆W/kT , wobei ∆W = W2 − W1 ist. Damit wird der höhere
Energiezustand W2 immer geringer bevölkert sein als der untere Energiezustand
W1 . Zur Erzeugung der Nichtgleichgewichts-Bedingung der Besetzungsinversion
müssen neben dem Pumpen (externe Energiezufuhr) noch weitere günstige Bedin-
gungen im Lasermedium erfüllt sein. In Experimenten stellt man fest, dass nur
bestimmte Paare von Energiezuständen mit großer spontaner Lebensdauer im
Niveau W2 und kleiner Lebensdauer im Niveau W1 invertiert“ werden können,

”
wobei sich ein Laserprozess nur bei Nutzung von 3 oder 4 Niveaus in einem ato-
maren (molekularen) System verwirklichen lässt. Die bisherige Betrachtung eines
2-Niveau Systems diente nur der einfacheren Darstellung.
Resonator
Hat man eine geeignete Pumpe und ein geeignetes Lasermedium gefunden, so
benötigt man noch ein drittes grundlegendes Element, den Resonator, zur opti-
schen Rückkopplung“ , die die elektromagnetische Welle in der laserverstärken-
”
den Substanz hin- und herlaufen lässt.
Der Resonator besteht in der einfachsten Form aus einem Paar genau jus-
tierter ebener oder gekrümmter Spiegel auf der optischen Achse des Lasersys-
tems (s. Abb. 21.4). Einer der Spiegel weist einen Reflexionsgrad von nahezu
100% auf, während der andere etwas weniger reflektiert, damit ein Teil des in-
tern reflektierten Strahles aus dem Laserresonator ausgekoppelt wird und sich in
Anwendungen einsetzen lässt. Die Geometrie der Spiegel und ihr Abstand bestim-
men die Struktur des elektromagnetischen Feldes innerhalb des Laserresonators.
Die Verteilung des elektrischen Feldes über die Wellenfront des ausgekoppelten
Laserstrahles und damit die transversale Strahldichte hängt vom Aufbau des
Resonators, d.h. Abstand und Neigung der Spiegel und der Form der Spiegel-
oberflächen, ab. Im ausgekoppelten Laserstrahl sind Intensitätsmuster quer zur
Strahlrichtung vorhanden, die man TEM-Moden (transversale elektrische und
magnetische Moden) nennt. Wenn man die Verstärkung für die Moden höherer
Ordnung mit höherer elektrischer Feldstärke nahe dem Rand des Strahles ver-
ringert, kann man erreichen, dass der Laser in einer einzigen Grundmode, der
TEM00 -Mode schwingt. Die senkrecht zum Strahl auftretende Intensitätsvertei-
lung dieser Mode hat Gaußsche Form, wobei die höchste Intensität im Zentrum
auftritt und zum Rand hin abnimmt.
Der Vergleich eines Laserresonators mit einem passiven Resonator, der durch
ebene parallele Spiegel begrenzt ist, ist hilfreich. Kommen wir auf Abb. 11.8
zurück, bei der zwei planparallele Spiegel ein Fabry-Perot-Interferometer bilden,
so ist die Bedingung für Resonanz durch 2d cos ε = q λ mit q = 1,2, . . . gegeben.
Betrachten wir einen Laserresonator, der durch zwei parallele ebene Spiegel im
Abstand d = L gebildet wird: Hier wird ε = 0 und man erhält q λ/2 = L als
Bedingung für die Resonanz. Dies bedeutet, dass eine ganze Anzahl von halben
”
Wellenlängen zwischen die beiden Endspiegel passen muss“, eine Forderung, die
uns an die stehenden Wellen auf einer beidseitig eingespannten schwingenden
Saite erinnert.
Der Laserresonator legt Wellenlänge und geometrische Verteilung des Strah-
lungsflusses über den Querschnitt des austretenden Laserstrahles fest.
Es ist nützlich, den Laserresonator mit ebenen Spiegeln als modifiziertes
Fabry-Perot zu betrachten. Laserresonatoren können auch durch gekrümmte
21.3 Laserprinzip 613
Spiegel begrenzt werden. Zusätzlich müssen die optischen Eigenschaften des La-
sermediums im Laserresonator berücksichtigt werden. In Kap. 22 wird der La-
serresonator ausführlicher behandelt.
21.3 Laserprinzip
Wir haben bisher die drei grundlegenden Komponenten des Lasers kurz beschrie-
ben. Wie arbeiten diese Komponenten – Pumpe, Lasermedium und Resonator –
zusammen? Wir wissen, dass Photonen einer bestimmten Energie im Laserreso-
nator erzeugt werden, hierbei mit Atomen wechselwirken und über die stimu-
lierte Emission verstärkt werden. Die Laserfunktion lässt sich qualitativ aus den
Abbildungen 21.6 und 21.7 erkennen. Abbildung 21.6 a zeigt am Beispiel eines
Vier-Niveau-Systems, wie die Erzeugung eines Laserphotons in einem Laserme-
dium in vier Schritten erfolgt. Abbildung 21.6 b zeigt das Energieniveauschema
eines Helium-Neonlasers, wobei die vier Schritte, die in Abb. 21.6 a beschrieben
sind, in dieser Abbildung zusätzlich markiert werden. In Abb. 21.7 wird das Ver-
halten der Atome im Lasermedium und die Photonendichte im Laserresonator
betrachtet. Wir wollen nun diese Abbildungen im Einzelnen diskutieren.
In Schritt 1 der Abb. 21.6 a wird die Energie von einer geeigneten Pumpe in
das Lasermedium eingekoppelt. Die Energie ist groß genug, um eine beträchtliche
Anzahl von Atomen vom Grundzustand W0 in verschiedene angeregte Zustände,
die zusammen durch W3 beschrieben werden, zu versetzen. Aus diesen Zuständen
können die Atome durch spontane Emission über verschiedene Kanäle unter an-
derem auch direkt zurück in den Grundzustand W0 übergehen. Viele Atome be-
ginnen diesen Rückweg über einen sehr schnellen – z.B. strahlungslosen – Über-
gang von den Pumpniveaus W3 zum Zustand W2 . Dieser Prozess ist in Schritt
2 gezeigt. Der Zustand W2 ist als oberes Laserniveau“ gekennzeichnet. Die-
”
ser Zustand besitzt eine große Lebensdauer. Während die meisten angeregten
Zustände eines Atoms in Zeiten der Größenordnung 10−8 s unter Emission von
Strahlung in einen tieferen Zustand übergehen, ist der Zustand W2 langlebig,
wobei die typische Lebensdauer in der Größenordnung von 10−6 s liegt. Dies ist
erheblich länger als die Lebensdauer der anderen Zustände. Die Atome gelangen
also rasch aus dem Pumpzustand W3 in den Zustand W2 und beginnen sich in
diesem langlebigen Niveau anzuhäufen, das damit wie ein Flaschenhals wirkt.
Hierbei wächst die Besetzungsdichte im Zustand W2 stark an. Der Zustand W2
kann durch spontane Emission in den Zustand W1 , unteres Laserniveau“ ge-
”
nannt, zerfallen. Der Zustand W1 ist ein Zustand, aus dem das Atom rasch in
den Grundzustand W0 übergeht, so dass die Besetzungszahl N1 keine großen Wer-
te erreicht. Damit wird erreicht, dass Besetzungsinversion (N2 > N1 ) auftritt, die
für die Lichtverstärkung über stimulierte Emission nötig ist.
Wenn Besetzungsinversion besteht und ein Photon der Resonanzenergie hf =
W2 − W1 in der Nähe eines W2 -Atoms im oberen Laserniveau vorüberfliegt, tritt
Abb. 21.6. Vierstufenzyklus für einen Laserprozess. a) Vier-Niveau-Laser, Prinzip. b)

Energiezustandsdiagramm des Helium-Neonlasers, wobei die Erzeugung der 632,8 nm-
Laserstrahlung als Ergebnis der vier Stufen (eingekreiste Zahlen) aus Abb. a) gezeigt
wird. Zusätzlich ist eine Auswahl der vielen anderen möglichen Laserlinien von 543,3 nm
bis 3,30 µm dargestellt. Die Lebensdauern verschiedener Energieniveaus sind ebenfalls
angegeben
in Schritt 3 stimulierte Emission auf. Damit beginnt die Lichtverstärkung. Wir

erkennen, dass ein Photon der Resonanzenergie W2 − W1 auch den Prozess der
Absorption vom Zustand W1 nach W2 durchlaufen kann und damit für den Laser-
prozess verloren geht. Da jedoch N2 größer als N1 ist und außerdem, wie vorher
gezeigt, B21 = B12 gilt, übertrifft die Rate B21 N2 (f ) für stimulierte Emissi-
on die Rate B12 N1 (f ) für die Absorption. Es tritt Lichtverstärkung auf, wenn
außerdem die spontane Emission gering ist. Die Photonendichte wächst, der La-
ser funktioniert wunschgemäß. Dies ist im Prinzip in Schritt 3 gezeigt, wobei
das einfallende Resonanzphoton, das sich von links nähert, in der Umgebung des
W2 -Atoms verdoppelt wird. In Schritt 4 geht eines der invertierten W2 -Atome,
das beim stimulierten Emissionsprozess in den Zustand W1 wechselte, schnell in
den Grundzustand über. Wenn der Pumpprozess weitergeht, kann dieses Atom
den gleichen Zyklus wieder durchlaufen. Nach einer Anlaufzeit erhält man bei
einer kontinuierlichen (DC-) Anregung konstante Besetzungsinversion und damit
konstante Laserausgangsleistung.
In Abb. 21.6 b wird beispielsweise beim He-Ne-Laser die Pumpenergie (Schritt
1) durch eine elektrische Gasentladung an ein Gasgemisch niedrigen Druckes ab-
gegeben. Hierin werden Atome des Heliums im Grundzustand in höhere Ener-
giezustände, den 21 S-Zustand oder den 23 S-Zustand, angeregt. Durch resonan-
ten Stoß-Energietransfer – der 21 S-Zustand des Heliums ist nahezu energetisch
gleich dem 3s2 -Zustand des Neons (Schritt 2) – geben angeregte Heliumatome
ihre Energie an Neonatome im Grundzustand ab und heben diese in den 3s2 -
Zustand des Neons. Dieser Prozess erzeugt die Besetzungsinversion, die Voraus-
setzung für die Lichtverstärkung über die stimulierte Emission ist. Der Prozess
der stimulierten Emission (Schritt 3) geschieht z.B. zwischen den Neon-Zuständen
3s2 und 2p4 . Dies ist der Prozess mit der höchsten Übergangswahrscheinlichkeit
vom 3s2 -Zustand zu irgendeinem der zehn 2p-Zustände. Der Übergang ergibt
Photonen der Wellenlänge 632,8 nm, die über die stimulierte Emission verstärkt
werden und das bekannte rote Laserlicht des Helium-Neon-Lasers ergeben. In
Schritt 4 gehen schließlich die Neonatome im Energiezustand 2p4 durch spontane
Emission in den 1s-Zustand und weiter über Wandstöße in den Grundzustand
über. Der Durchmesser des Gasentladungsrohres muss klein genug sein, um diese
Wandstöße schnell genug erfolgen zu lassen. Die Verstärkung auf den sichtbaren
Laserlinien nimmt deshalb mit abnehmendem Durchmesser des Entladungsrohres
zu. Wenn die Atome wieder im Grundzustand sind, können sie durch Stöße mit
angeregten Heliumatomen den vorher beschriebenen Zyklus wieder durchlaufen.
In Abb. 21.6 b sind die vier Schritte, bei denen auch die 632,8 nm Laserstrahlung
entsteht, dargestellt. Die Übergänge von den 3s- zu den 3p- und von den 2s-
zu den 2p-Zuständen des Neons ergeben ebenfalls Laseremission. Man erhält die
3,39- µm-, die 1,523- µm- und die 1,152- µm-Laserlinie.
Wir wollen nun Abb. 21.7 diskutieren. Sie zeigt den gleichen Prozess, aber in
diesem Fall ist das Verhalten der Atome in dem Lasermedium und die Photonen-
dichte im Resonator dargestellt. In a) erkennt man, dass das Lasermedium sich
Abb. 21.7. Stufenweise Entwicklung der Laseroszillation in einem Laserresonator. Ato-

me im Grundzustand sind durch schwarze Punkte und Atome in angeregten Zuständen
durch Kreise dargestellt, wobei sich nicht alle angeregten Atome im oberen Laserniveau
befinden. a) Laser ohne Energiezufuhr. b) Pumpen des Lasermediums. c) spontane und
stimulierte Emission. d) Resonante Lichtverstärkung im zweiten Durchlauf des Resona-
tors. e) Fortsetzung der resonanten Lichtverstärkung. f) Laser im stationären Zustand
zwischen den Spiegeln des optischen Resonators befindet. Spiegel 1 hat einen
Reflexionsgrad von 100%, während Spiegel 2 teilweise reflektiert und teilweise
Strahlung durchlässt. Die meisten Atome des Lasermediums sind im Grundzu-
stand, dies ist durch schwarze Punkte angedeutet. In b) wird dem Lasermedium
Energie von außen (Licht einer Blitzlampe oder Energie aus einer elektrischen
Gasentladung) zugeführt, was hier alle Atome in angeregte Zustände (W3 in
Abb. 21.6) versetzt. Die angeregten Zustände sind durch offene Kreise darge-
stellt. Durch den Pumpprozess und nachfolgende Übergänge von W3 in W2 wird
die Besetzungsinversion erzeugt, d.h. das obere Laserniveau W2 ist stärker als
das untere Laserniveau W1 besetzt. Es gehen jedoch nicht alle Atome vom Zu-
stand W3 nach W2 über. Der Lichtverstärkungsprozess beginnt in c), wobei einige
angeregte Atome im Zustand W2 (s. Abb. 21.6) spontan in den Zustand W1 über-
gehen. Dabei werden die Photonen in beliebige Richtungen emittiert. Viele gehen
zur Seite des Laserresonators hinaus und sind damit verloren. Es gibt jedoch ei-
nige Photonen, wir nennen sie Auslösephotonen, die entlang der optischen Achse
des Lasers fliegen. Diese sind in Abb. 21.7 c durch horizontale Pfeile dargestellt,
die senkrecht zu den Spiegeloberflächen verlaufen. Wenn sich die Auslösephoto-
nen auf der beschriebenen Bahn zwischen den Spiegeln ausbreiten und weiterhin
viele Atome im angeregten Zustand W2 sind, kann der Prozess der stimulierten
Emission beginnen. Wenn die Auslösephotonen die angeregten Atome im oberen
Laserniveau passieren, wird die stimulierte Emission identische Photonen in der
gleichen Richtung liefern, wodurch die Dichte von kohärenten Photonen anwach-
sen wird. Dies gilt für den einmaligen Durchlauf (Einwegverstärkung). Wenn die
Photonenzahl in mehrmaligem Umlauf von Photonen erhöht werden soll, muss
die Resonatorlänge auf die Energie (hf = W2 − W1 ) der Photonen, d.h. auf die
Frequenz bzw. Wellenlänge der Photonen abgestimmt sein. Der Prozess (siehe d)
und e)) setzt sich so lange fort, wie Besetzungsinversion vorliegt und resonante
Photonen im Resonator sind. Da der Auskoppelspiegel 2 teilweise durchlässig ist,
wird ein gewisser Anteil der Photonen, die den Spiegel treffen, durch diesen hin-
durchgehen. Diese Photonen bilden den Laserstrahl außerhalb des Resonators,
wie in f) gezeigt. Die Photonen, die den Laser nicht durch den Auskoppelspiegel
verlassen, werden reflektiert und laufen in dem verstärkenden Lasermedium hin
und her.
Der Laserprozess hängt also von folgenden Voraussetzungen ab:
1. Besetzungsinversion zwischen zwei geeigneten Energiezuständen des Laser-
mediums. Dies wird durch den Pumpprozess und den Einsatz eines langlebi-
gen oberen Laserniveaus erreicht.
2. Auslösephotonen“ der geeigneten Energie und Richtung. Diese kommen aus
”
dem immer möglichen spontanen Emissionsprozess zwischen den zwei Laser-
niveaus. Sie initiieren den Prozess der stimulierten Emission.
3. Ein optischer Resonator, in dem eine wachsende Zahl von Photonen reso-
nanter Energie in dem Lasermedium zirkuliert. Hierbei nimmt wegen der
Besetzungsinversion die Anzahl der stimulierten Emissionsprozesse zu und
immer mehr Photonen laufen zwischen den Spiegeln hin und her.
4. Entnahme eines bestimmten Anteils der Laserleistung (Photonendichte im
Laserresonator) aus dem Resonator durch den Auskoppelspiegel, was den
Laserstrahl außerhalb des Resonators erzeugt.
Vergleich von passivem Resonator und Laser
Zum Schluss dieses Abschnitts wollen wir die Funktion des Lasers mit der des
passiven Resonators und der des Einwegverstärkers vergleichen. Abbildung 21.8
zeigt dies in drei Prinzipskizzen. Man sieht, dass der Laser die Eigenschaften des
passiven Resonators und des Einwegverstärkers in sich vereinigt.
Abbildung 21.8 a zeigt einen passiven Resonator (Fabry-Perot) mit der Ein-
gangswellenlänge λ0 , wobei die Resonanzbedingung q λ0 /2 = L mit L als Spiegel-
abstand erfüllt ist. Es gibt kein verstärkendes Lasermedium zwischen den beiden
Spiegeln. Aus der Abbildung ergibt sich, dass bei zwei planparallelen Spiegeln mit
gleichem Reflexionsgrad (z.B. 95%) die Ausgangsleistung gleich der Eingangsleis-

tung ist. Zwischen den Spiegeln des Resonators zirkuliert eine wesentlich höhere
Leistung.
Abbildung 21.8 b zeigt die Einwegverstärkung durch ein Lasermedium, das
aufgrund hoher Besetzungsinversion auch ohne Resonator (keine Spiegel) durch
stimulierte Emission verstärkt. In diesem Beispiel tritt ein Strahl (im Allgemei-
nen ein Laserstrahl der Wellenlänge λ21 ) in die verstärkende Substanz ein, die
eine Besetzungsinversion zwischen zwei Energiezuständen W2 und W1 aufweist,
wobei W2 − W1 = hc/λ21 ist. Der Eingangslaserstrahl wird bei seinem Durchlauf
durch das Lasermedium verstärkt und verlässt das System mit deutlich erhöhter
Strahlungsleistung.
Der letzte Teil (Abb. 21.8 c) zeigt, wie der Laser die Elemente des passiven
Resonators und des Einwegverstärkers vereint.
Nachdem wir nun Details des Laserprozesses kennengelernt haben, wollen wir
uns mit den besonderen Eigenschaften der Laserstrahlung beschäftigen.
21.4 Eigenschaften des Laserlichtes

21.4.1 Einfarbigkeit
Die vom Laser emittierte Strahlung ist monochromatisch, sie weist nahezu nur
eine einzige Frequenz oder Wellenlänge auf. Wir wissen, dass keine Lichtquelle
vollständig monochromatisch mit unendlich scharfer Wellenlänge sein kann, aber
die Laserstrahlung kommt diesem Ideal so nahe wie keine andere Lichtquelle.
Die Bandbreite der Strahlung wird durch die Verstärkung im Lasermedi-
um und durch die Wellenlängenselektivität des Resonators bestimmt. Bei der
Schwarzkörperstrahlung beinhaltet der Emissionsprozess Atome mit zahlreichen
unterschiedlichen Energieniveaus. Die Strahlung erstreckt sich über einen großen
Wellenlängenbereich. Wenn wir in diesem Schwarzkörper einen identischen Satz
von Atomen auswählen könnten und uns auf die Emission eines einzigen Energie-
zustandspaares beschränken würden, so wäre die entstehende Strahlung deutlich
monochromatischer, aber wesentlich schwächer. Wenn Strahlung durch nicht-
thermische Anregung erzeugt wird, so nennt man sie Fluoreszenz (s. Kap.2). Ab-
bildung 21.9 zeigt einen solchen Emissionsprozess. Die Fluoreszenz entsteht durch
den Strahlungsübergang in Atomen mit scharfen Energiezuständen W2 und W1 .
In dieser Abbildung ist der spektrale Verlauf der Fluoreszenz, wie er in einem
Spektralfotometer gemessen wird, gezeigt, wobei die Intensität gegen die Fre-
quenz aufgetragen ist. Wir sehen, dass das emittierte Licht eine Frequenzvertei-
lung ∆f um eine mittlere Frequenz f0 herum hat, wobei f0 = c/λ0 = (W2 −W1 )/h
ist. Während die höchste Intensität bei der Frequenz f0 abgegeben wird, findet
man in Experimenten, dass auch Licht bei Frequenzen unter- und oberhalb f0
21.4 Eigenschaften des Laserlichtes 619
Abb. 21.8. Vergleich des passiven Resonators (z.B. Fabry-Perot), der Einweg-
verstärkung und des Lasers. a) Passiver Resonator mit identischen Spiegeln S1 und
S2 im Abstand L. Die Resonanzwellenlänge des Resonators ist λ0 . Die Ausgangsleis-
tung ist gleich der Eingangsleistung. b) Ein Lasermedium (keine Endspiegel) wird durch
eine externe Energiequelle gepumpt. Zwischen den Zuständen W2 und W1 besteht Be-
setzungsinversion, wobei W2 − W1 = hc/λ21 . Ein kohärenter Eingangsstrahl der Wel-
lenlänge λ21 wird beim Durchgang durch das Medium verstärkt. c) Der Laser vereinigt
die Elemente des passiven Resonators und des Einwegverstärkers, wobei ein kohärenter
Laserstrahl erzeugt wird
Abb. 21.9. Spektrale Verteilung der Fluoreszenz für einen Strahlungsprozess zwischen
zwei Energiezuständen eines Atoms. a) Spontane Emission beim Übergang zwischen
zwei Energieniveaus. b) Spektrale Verteilung der Fluoreszenz aus a); Linienform und
Bandbreite ∆f , die Linienbreite bei halber Intensität, werden dargestellt
emittiert wird. Die Emission ist nicht rein monochromatisch, sie besitzt eine Fre-
quenzverteilung, die durch die Linienbreite ∆f gekennzeichnet ist. Misst man die
Linienbreite bei der halben Höhe des Maximums, so nennt man diesen Wert Halb-
wertsbreite (HWB) oder Bandbreite. Die Verbreiterung einer Spektrallinie f0 in
einer Fluoreszenzlampe (Gasentladungslampe) hat unterschiedliche Gründe. Sind
alle Atome ursächlich in gleicher Weise betroffen, dann nennt man dies homogene
Verbreiterung. Gibt es unterschiedliche Klassen von Atomen, die jeweils eine eige-
ne Wellenlänge fi = f0 abstrahlen, so nennt man dies inhomogene Verbreiterung.
Homogene Linienverbreiterungen
Zu den homogenen Verbreiterungen gehören die natürliche Linienbreite und die

Stoßverbreiterung. Die natürliche Linienbreite ∆fn beobachtet man bei einem
einzelnen isolierten Atom, das sich in Ruhe befindet und spontan Strahlung der
Frequenz fn emittiert. Es gilt (s. Kap. 12, Unschärferelation):
natürliche Linienbreite ∆fn (Halbwertsbreite) und spontane Lebensdauer τ
1
∆fn = (21.13)
2πτ
Spontane Lebensdauern betragen ca. 4 · 10−4 s (CO2 ) bis 1,4 · 10−9 s (Ar+ )), das
entspricht natürlichen Linienbreiten von etwa 400 Hz bis 110 MHz.
In einem Gas kann ein angeregtes Atom in einem Stoß seine innere Energie an
ein anderes Atom abgeben. Dadurch wird die Lebensdauer des angeregten Ato-
mes vermindert, das entspricht einer Linienverbreiterung. In einem Festkörper
werden angeregte Atome durch Gitterschwingungen gestört. Dies führt eben-

falls zu einer Verkürzung der Lebensdauer. Bei typischen Betriebsbedingungen
eines Lasers beträgt die Stoßverbreiterung bei Gaslasern (He-Ne, Argonionen)
ca. 50 MHz bis 600 MHz. Höherer Gasdruck bedeutet aufgrund der höheren An-
zahl von Stößen pro Zeiteinheit (Stoßrate) eine größere Stoßverbreiterung. Bei
Festkörperlasern (z.B. Nd: YAG, Nd: Glas) erhält man für die homogene Linien-
breite 120–2000 GHz.
Inhomogene Linienverbreiterungen
Die inhomogene Verbreiterung wird häufig durch den Doppler-Effekt verursacht.

In einem Gaslaser haben die Atome (Moleküle) bei normalen Betriebsbedingun-
gen unterschiedliche Geschwindigkeiten mit isotroper Richtungsverteilung. Der
Betrag der Geschwindigkeit ist durch die Maxwellsche Geschwindigkeitsvertei-
lung gegeben. Der Doppler-Effekt führt dazu, dass bei festgelegter Richtung
(Laserstrahl im Resonator) je nach Betrag und Richtung der Geschwindigkeit
unterschiedliche Frequenzen beobachtet werden. Für die Linienbreite gilt:

2 2Rm T ln 2
∆fD = f0 (21.14)
c0 M
wobei f0 die Strahlungsfrequenz des ruhenden Atoms (Moleküls), Rm = 8,314 J/
(mol·K) die allgemeine Gaskonstante, M die Molmasse und c0 die Vakuumlichtge-
schwindigkeit sind. Für Gaslaser beträgt die inhomogene Linienbreite ca. 60 MHz
bis 1,5 GHz (CO2 ; He-Ne-Laser)
Im Laserresonator wird die Linienbreite ∆f , wie in Abb. 21.10 gezeigt, be-
trächtlich vermindert, was zu wesentlich monochromatischerem Licht führt. Die-
se Verringerung der Linienbreite ist qualitativ in Abb. 21.10 gezeigt. Der Ab-
stand der Resonatormoden (stehende Wellen aufgrund der Resonanzbedingung)
beträgt c/(2 L). Die verbleibende Linienbreite ∆fL ist durch die Verluste im
Resonator gegeben, die mechanisch (schlechte Justierung der Spiegel) oder op-
tisch (Beugung, Streuung, Reflexionsgrad der Spiegel < 1) bedingt sind. Ver-
luste (Dämpfung) führen in einem schwingungsfähigen System (z.B. elektrischer
Schwingkreis) zu einer Verbreiterung der Resonanzkurve. Um ein quantitatives
Verständnis der Einfarbigkeit des Laserlichtes zu erhalten, betrachten wir die
Werte in Tabelle 21.1, wobei die Linienbreite eines hochwertigen Helium-Neon-
Lasers mit der Linienbreite von Spektrallampen verglichen wird. Die Umwand-
lung von ∆λ nach ∆f ist über die Beziehung ∆f = −c∆λ/λ20 gegeben.
Die Werte der Tabelle 21.1 zeigen, dass der frequenzstabilisierte Helium-Neon-
Laser wesentlich – z.B. um den Faktor 107 – monochromatischer als eine Ent-
ladungslampe und die rote Linie (Faktor 105 ) einer Kadmiumgasentladung bei
niedrigem Druck ist. Eine gewöhnliche Lichtquelle kann die Wellenlängenschärfe
Abb. 21.10. Qualitativer Vergleich der Linienbreiten für die Laseremission und die
spontane Emission des gleichen Paares von Energiezuständen in einem Atom. Die brei-
te Linie erhält man bei der spontanen Lichtemission zwischen den Zuständen W2 und
W1 vor dem Einsatz des Laserprozesses. Die scharfe Linie erhält man für Laserlicht
zwischen den Zuständen W2 und W1 im stationären Laserbetrieb. fq−1 , fq und fq+1
bezeichnen die Resonanzfrequenzen des Resonators im Frequenzbereich der spontanen
Emissionslinie bei gegebener Resonatorlänge. Der Frequenzabstand der Resonatormo-
den ist c/(2 L), wobei L die Länge des Resonators und c die Lichtgeschwindigkeit im
Resonator sind. Die verbleibende Linienbreite ∆fL des Lasers ist durch Verluste im Re-
sonator durch mangelnde mechanische Stabilität oder durch optische Effekte (Beugung,
Streuung) bedingt
Tabelle 21.1. Vergleich von Linienbreiten
Lichtquelle Wellenlänge Linienbreite Frequenzbreite Kohärenzlänge

λ/nm ∆λ/nm ∆f /Hz l/m
normale Na- 589,6 ≈ 0,1 8,6 · 1010 3,5 · 10−3
Gasentladungslampe
Kadmium- 643,8 ≈ 1,3 · 10−3 9,4 · 108 0,32
Niederdrucklampe
frequenzstabilisierter 632,8 ≈ 10−8 7,5 · 103 4 · 104
Helium-Neon-Laser
eines typischen Laserstrahles nur bei extremer Filterung der Wellenlängenvertei-

lung erreichen, damit ist auch eine außerordentlich hohe Reduktion der Intensität
verbunden.
21.4.2 Kohärenz
Die optische Eigenschaft des Laserlichtes, die es am deutlichsten von anderen

Lichtquellen unterscheidet, ist die Kohärenz. Der Laser ist die beste hoch“-
”
kohärente Lichtquelle. Andere Lichtquellen wie die Sonne oder Gasentladungs-
lampen sind im besten Falle teilweise“ kohärent.
”
Die Kohärenz kann sehr detailliert mathematisch behandelt werden, wir ha-
ben uns in Kap. 12 damit beschäftigt. An dieser Stelle wollen wir keine genaue
mathematische Analyse durchführen und beschreiben Kohärenz allgemein und
qualitativ. Die Kohärenz ist ein Maß für den Grad der Phasenkorrelation, der in
einem Strahlungsfeld einer Lichtquelle an verschiedenen Stellen und zu verschie-
denen Zeiten vorzufinden ist. Häufig beschreibt man sie mit den Begriffen zeit-
liche Kohärenz, die ein Maß für die Einfarbigkeit des Lichtes ist, und räumliche
Kohärenz, die die zeitliche Konstanz der Phase in einem Raumbereich misst, d.h.
ob sich der Welle eine eindeutige Wellenfront im Raumbereich zuordnen lässt.
Abb. 21.11. Teilabbildung eines perfekt kohärenten Wasserwellenfeldes, das durch

eine regelmäßig periodisch oszillierende Spitze bei Q erzeugt wird. Das Wellenfeld weist
ideale Kreiswellenfronten auf, B (Berge) und T (Täler) für Wasserwellen einer einzigen
Wellenlänge
Für ein qualitatives Verständnis der zeitlichen und räumlichen Kohärenz be-
trachten wir Wasserwellen, die im Zentrum eines Teiches durch eine regelmäßige
periodische Störung verursacht werden. Die Störung kann z.B. durch eine Spit-
ze erzeugt werden, die sich periodisch auf- und abbewegt und hierbei eine re-
gelmäßige Folge von Wellentälern und Wellenbergen erzeugt, die sich in Form
einer Kreiswelle vom Zentrum aus ausbreiten, wie in Abb. 21.11 gezeigt. Für
dieses Wasserwellenfeld können wir perfekte zeitliche und räumliche Kohärenz
feststellen. Die zeitliche Kohärenz ist ideal, da nur eine einzige Frequenz auf-
tritt. So lange sich die Spitze mit gleicher Frequenz auf- und abbewegt, bleibt
die Wellenlänge konstant und man kann mit hoher Genauigkeit den Ort aller
Wellenberge und Wellentäler auf der Oberfläche des Teiches vorhersagen. Die
räumliche Kohärenz des Wellenfeldes ist ebenfalls vollständig, weil die Spitze ei-
ne kleine Quelle darstellt, die ideale Wellen, in diesem Falle exakt kreisförmige
Wellenberge und Wellentäler, erzeugt. Entlang der Wellenfront, eines Kreises, ist
die Bewegung der Wassermoleküle eines Wellenberges oder Wellentales ideal in
Phase. Wir können mit hoher Genauigkeit überall im Teich vorhersagen, wie die
vertikale Auslenkung der Wasseroberfläche ist oder sein wird.
Das Wasserwellenfeld, das wir beschrieben haben, kann zeitlich und räum-
lich inkohärent gemacht werden, indem wir die einzelne Spitze durch 100 Spitzen
ersetzen, wobei jede Spitze eine periodische Schwingung unterschiedlicher Fre-
quenz und sich zeitlich statistisch ändernder Phasenlage durchführt. Man wird
in diesem Fall erkennen, dass das Verhalten der Wasseroberfläche an verschie-
denen Orten nur gering korreliert ist. Die Wellenfronten wären in diesem Fall
beliebige geometrische Kurven, die ihre Form aufgrund der zufälligen unabhängi-
gen Bewegung der Spitzen laufend verändern würden. Dieses Bild können wir
auf eine Anzahl von Atomen, die Licht emittieren, übertragen. Eine unkorrelier-
te Erzeugung von Wasserwellen ergibt ein inkohärentes Wasserwellenfeld, eine
unkorrelierte Erzeugung von Lichtwellen ergibt ein inkohärentes Strahlungsfeld.
Zur Emission von Licht hoher Kohärenz muss die Strahlungsquelle eine ge-
ringe Ausdehnung haben (im Grenzfall ein einzelnes Atom) und außerdem Licht
geringer Bandbreite emittieren (im Grenzfall mit ∆λ = 0). Normale“ Lichtquel-
”
len, mit Ausnahme des Lasers, emittieren Licht durch die unkorrelierte Emission
vieler Atome, wobei viele verschiedene Wellenlängen auftreten. Man erhält als
Ergebnis inkohärentes Licht. Um mit einer normalen Lichtquelle (kein Laser)
höhere Kohärenz zu erreichen, kann man zwei Verbesserungen durchführen. Zum
einen kann man vor eine Lichtquelle ein sehr kleines Loch setzen, das die räum-
liche Ausdehnung der Quelle stark beschränkt. Zum anderen lässt sich durch ein
Wellenlängenfilter die Linienbreite ∆λ des Lichtes verringern. Jede Modifikation
verbessert die Kohärenz des Lichtes, das von der Lichtquelle abgegeben wird,
aber hierbei wird die Intensität drastisch geschwächt.
Im Gegensatz hierzu erzeugt ein Laser aufgrund der Lichtverstärkung über
stimulierte Emission im Resonator schmalbandiges Licht mit hoher Phasenkor-
relation. Wir erinnern uns, dass beim Prozess der stimulierten Emission jedes
über die stimulierte Emission hinzugefügte Photon identische Phase, Polarisa-
tion und Richtung wie das im Laserresonator verstärkte Photon besitzt. Das
erzeugte Laserlicht ist also zeitlich und räumlich hoch kohärent. Man kann des-
halb einen realen Laser als hoch intensive Punktquelle“ beschreiben, die sich in
”
großer Entfernung von der Laseraustrittsöffnung befindet und Licht in einen sehr
Abb. 21.12. Eine Wolframfadenlampe benötigt ein Loch in Stecknadelgröße und ein
Wellenlängenfilter, um partiell kohärentes Licht zu erzeugen. Das Licht eines Lasers ist
von der Erzeugung her gut kohärent. a) Wolframfadenlampe. Diese Lampe stellt eine
ausgedehnte Lichtquelle dar, die viele Wellenlängen emittiert. Die Emission weist kei-
ne zeitliche und räumliche Kohärenz auf. Die Wellenfronten sind irregulär und ändern
zufällig ihre Form. b) Wolframfadenlampe mit Lochblende. Die Blende begrenzt die
Ausdehnung der Lichtquelle und verbessert die räumliche Kohärenz des Lichtes. Das
Licht hat jedoch immer noch keine zeitliche Kohärenz, da weiterhin eine Vielzahl von
Wellenlängen auftritt. Die Intensität des Strahles ist verringert. c) Wolframfadenlampe
mit Lochblende und Filter. Fügt man ein schmalbandiges Wellenlängenfilter hinzu, so
wird die Intensität weiter verringert, aber die zeitliche Kohärenz verbessert. Die verblei-
bende Intensität ist nur ein verschwindender Bruchteil der Eingangslichtintensität der
Lampe. d) Laser. Laserlicht hat einen hohen Grad räumlicher und zeitlicher Kohärenz.
Zusätzlich kann die Ausgangsintensität sehr hoch sein
kleinen Raumwinkel abgibt. Abbildung 21.12 zeigt die grundlegenden Prinzipien

der Kohärenz für den Laser und andere Lichtquellen.
Für einen Laser sind räumliche und zeitliche Kohärenz der Strahlung wesent-
lich besser als bei anderen Quellen. Die räumliche Kohärenz eines Laserstrahles in
der Grundmode (TEM00 -Mode) erstreckt sich über die volle Breite des Strahles,
unabhängig von dessen Durchmesser. Die zeitliche Kohärenz ist um Größenord-
nungen höher als die einer gewöhnlichen Lichtquelle. Die Kohärenzzeit τc eines
Lasers ist ein Maß für das mittlere Zeitintervall, für das man die richtige Pha-
se für den Laserstrahl in einem gegebenen Raumpunkt vorhersagen kann. Die

Kohärenzlänge lc hängt mit der Kohärenzzeit über die Beziehung lc = c τc zu-
sammen, wobei c die Lichtgeschwindigkeit ist. Die Kohärenzlänge ist die mittle-
re Länge eines Wellenzuges, über die die Phase der Welle vorhersagbar ist. Für
den in Tabelle 21.1 angegebenen frequenzstabilisierten Helium-Neon-Laser ist die
Kohärenzzeit von der Größenordnung Millisekunden (zu vergleichen mit ungefähr
10−9 s für das Licht einer Natriumgas-Entladungslampe) und die Kohärenzlänge
für den gleichen Laser beträgt Tausende von Kilometern (zu vergleichen mit Zen-
timetern für die Natriumlampe).
21.4.3 Strahldivergenz
Wenn man den feinen Strahl eines Helium-Neon-Lasers zum ersten Mal sieht, ist
man über die ideale, gradlinige Ausbreitung erstaunt. Keine andere Lichtquelle –
mit oder ohne Einsatz von Linsen oder Spiegeln – liefert einen so exakt definierten
Strahl mit minimaler Strahldivergenz bei vergleichbarer Intensität.
Die geringe Strahldivergenz des Lasers ist durch die Geometrie des Laser-
resonators und die Einfarbigkeit und Kohärenz des Lichtes bedingt.
Abb. 21.13. Laserstrahl außerhalb und innerhalb eines Resonators. Die beugungs-
bedingte Strahldivergenz wird durch den vollen Öffnungswinkel 2θ0 beschrieben. Die
Strahldivergenz wird scheinbar durch eine gedachte Apertur des Durchmessers 2w0 , die
sich am Ort der Strahltaille befindet, erzeugt. Die eingezeichnete Strahlbegrenzung ist
eine Linie auf der die Intensität auf I0 /e2 des Wertes I0 auf der Strahlachse abgefallen
ist
Abbildung 21.13 zeigt eine spezielle Resonatorgeometrie und einen emittierten

Laserstrahl, der den Öffnungswinkel 2θ im Fernfeld – d.h. für große Abstände
zum Laser – aufweist. Die Resonatorspiegel haben konkave Form und erzeugen
im Resonator eine Strahltaille. Der Scheitel des Öffnungswinkels 2θ liegt am Ort
der Strahltaille, θ0 wird von der Strahlachse aus gegen die Asymptote an der
Strahlbegrenzungslinie gemessen.
Die Eigenschaften des Laserstrahls innerhalb und außerhalb des Resonators
können aus den Lösungen der elektromagnetischen Feldgleichungen für einen
Hohlraumresonator bestimmt werden. Die Details dieses Verfahrens gehen über
den Stoff dieses Buches hinaus, deshalb werden wir uns auf die Diskussion einiger
Ergebnisse beschränken (s. auch Kap. 22). Man findet, dass der halbe Strahlöff-
nungswinkel θ0 durch die Beziehung
λ
θ0 = (21.15)
πw0
gegeben ist, wobei λ die Wellenlänge des Laserstrahles und 2w0 der Durchmesser
des Laserstrahles am Ort der Strahltaille ist. Diese Beziehung gilt für einen idea-
len Gaußschen Strahl (TEM00 -Mode), wobei die Brechung beim Strahlaustritt
durch den Auskoppelspiegel unberücksichtigt ist und die Laserspiegel perfekt
justiert sein müssen.
Das Produkt aus Strahlöffnungswinkel und Strahltaille (Strahlparameterpro-
dukt) ist für Laser eine Erhaltungsgröße, die auch nach Durchgang des Strah-
les durch ein beliebiges optisches System unverändert bleibt.
λ
Strahlparameterprodukt θ0 · w0 = (21.16)
π
Gleichung (21.15) ähnelt sehr der Gleichung, die man für die Strahldivergenz des
Lichtes nach der Beugung von ebenen Wellen an einer kreisförmigen Öffnung (s.
Kap. 16) erhält. Dieses Beugungsmuster weist einen zentralen, hellen, kreisförmi-
gen Fleck, die Airy-Scheibe, auf, die von einer Reihe von hellen Ringen umgeben
ist. Diese Beugungserscheinung ist in Abb. 21.14 gezeigt. Beim Laserstrahl fehlen
die hellen Ringe.
Der Beugungswinkel 2θ, der durch die Ausdehnung der Airy-Scheibe definiert
ist, errechnet sich zu (s. (16.31))
2,44λ
2θAiry = (21.17a)
D
Für den Gaußstrahl gilt (21.15):

1,27λ
2θGauß = = 2θ0 (21.17b)
D
wobei λ die Wellenlänge des kollimierten (ebene Wellen) monochromatischen

Lichtes und D der Durchmesser der kreisförmigen Öffnung ist. Gleichung (21.17a)
Abb. 21.14. Fraunhofer-Beugung von ebenen Wellen durch eine kreisförmige Öffnung.
Der Strahlöffnungswinkel 2θ ist durch den Rand der Airy-Scheibe definiert
und (21.17b) hängen von dem Verhältnis Wellenlänge zu Durchmesser ab; sie
unterscheiden sich nur durch einen konstanten Faktor. Es liegt nahe, die Winkel-
divergenz des Laserstrahles in (21.15) als beugungsbedingt zu betrachten. Be-
trachten wir die Strahltaille als eine Kreisblende, die sich innerhalb des La-
serresonators befindet, dann können wir über die Veränderung der Größe der
Strahltaille die Beugung oder die Winkeldivergenz des Laserstrahles festlegen.
In der Praxis ist die Strahltaille durch die Geometrie des Laserresonators fest-
gelegt und hängt vom Krümmungsradius der beiden Spiegel und dem Abstand
zwischen den Spiegeln ab. Man kann deshalb Laser mit definierter Strahltail-
le und gegebener Strahldivergenz im Fernfeld bauen, wobei das Fernfeld in
einem ausreichend großen Abstand l von der beugenden Blende vorliegt, was
l (Fläche der Öffnung der Kreisblende)/λ bedeutet (s. (18.8)).
Im Zusammenhang mit den Abbildungen 21.13 und 21.14 sind weitere Erläute-
rungen nützlich. Durch die kreisförmigen Öffnungen in Abb. 21.14 laufen ebe-
ne Wellen homogener Bestrahlungsstärke; dies bedeutet, dass die elektrische
Feldstärke in allen Punkten der Wellenfront gleich ist. In Abb. 21.13 sind die
Wellenfronten, die durch die effektive Apertur oder Strahltaille verlaufen, eben-
falls ebene Wellen, aber die Bestrahlungsstärke des Laserlichtes ist nicht über
die Blendenöffnung konstant. Für die transversale Mode niedrigster Ordnung,
die TEM00 -Mode (Gaußscher Strahl), nimmt die Bestrahlungsstärke exponentiell
mit dem Abstand von der Strahlachse ab, es gilt I ∼ e−2y /w , wobei der Abstand
2 2
y senkrecht zur Strahlrichtung gemessen wird und 2w den Strahldurchmesser an

einer gegebenen Stelle z des Strahles angibt (s. Abb. 21.15). Die kreisförmige
Blende der Abb. 21.14 ist eine tatsächlich vorhandene Blende; dies gilt nicht für
die Strahltaille in Abb. 21.13. Diese wird als effektive Blendenöffnung verstan-
den, wobei die Strahldivergenz eines Lasers mit der Lichtbeugung durch eine reale
Blende verglichen wird.
Mit Hilfe von (21.15) kann man einen Eindruck von der kleinen Strahldiver-
genz und der hohen Richtwirkung des Laserstrahles gewinnen.
Beispiel 21.1 Strahldivergenz eines Laserstrahles
a) Ein Helium-Neon-Laser (632,8 nm) hat eine interne Strahltaille mit dem
Durchmesser 0,5 mm. Bestimmen Sie den Strahlöffnungswinkel.
b) Die Geometrie des Laserresonators bestimmt den Strahltaillendurchmesser
2w0 , das Lasermedium die Laserwellenlänge. Wie groß ist die Strahldiver-
genz eines Lasers mit einer Strahltaille von 0,5 cm Durchmesser und der
Wellenlänge 200 nm? Um welchen Faktor ist die Strahldivergenz gegenüber
dem ersten Beispiel verbessert?
Lösung
a)
λ 632,8 · 10−9 m
θ0 = = = 8 · 10−4 rad
πw0 π · 2,5 · 10−4 m
Dies ist ein typischer halber Strahlöffnungswinkel für einen
Helium-Neon-Laser, der Strahldurchmesser erhöht sich für jeden Meter
um 1,6 mm.
b)
λ 200 · 10−9 m
θ0 = = = 2,55 · 10−5 rad
πw0 π · 2,5 · 10−3 m
Für den halben Strahlöffnungswinkel erhält man 0,025 mrad, dies
entspricht einer Verminderung um einen Faktor 32 verglichen mit dem
Strahlöffnungswinkel des Helium-Neon-Lasers im Fall a). Für den
Laserstrahl im Fall b) nimmt die Strahlenbreite um 1,6 mm auf 32 m zu
(200 nm ist die typische Wellenlänge eines Excimerlasers). Wir ersehen
hieraus, dass durch die Verringerung der Wellenlänge und die
Vergrößerung der Strahltaille (z.B. kurzwellige Laser wie den UV-Laser
oder den Röntgenlaser) der Öffnungswinkel eines Laserstrahles erheblich
vermindert werden kann.
Die hohe Richtwirkung“ der Laserstrahlung oder einer anderen Lichtquelle,

”
hängt von der Einfarbigkeit und Kohärenz des erzeugten Lichtes ab. Gewöhnliche
Lichtwellen sind weder monochromatisch noch kohärent. Die Laser sind in diesen
beiden Eigenschaften normalen Lichtquellen weit überlegen und erzeugen deshalb
hoch gerichtetes, paralleles Licht.
Abb. 21.15. Gaußscher TEM00 -Strahl. Der Durchmesser des Strahles ist durch die
I0 /e2 Begrenzungen definiert. Diese Kurven verbinden die Orte, bei denen die Bestrah-
lungsstärke des Strahles auf jeder Seite der optischen Achse auf 1/e2 des Wertes im
Strahlzentrum abgesunken ist. Die Veränderung der Intensität für den Gaußschen Strahl
ist an zwei Stellen entlang des Strahles gezeigt, an denen die Strahldurchmesser 2w1
und 2w2 sind. Der Durchmesser 2w2 ist aufgrund der Strahldivergenz größer als 2w1
21.4.4 Laserintensität
Man sagt z.B., dass ein 1-mW-Helium-Neon-Laser 100-mal heller ist als die Sonne.
Um einen Begriff für den drastischen Unterschied zwischen der Intensität des
Laserstrahles und thermischen Lichtquellen zu bekommen, vergleichen wir den
Photonenfluss.
Beispiel 21.2 Vergleich der Photonenflüsse von Laser und ther-
mischer Lichtquelle
a) Kleine Gaslaser haben typischerweise eine Ausgangsleistung P = 1 mW.
Neodym-Glaslaser, wie sie für die Laser induzierte Kernfusion entwickelt
werden, besitzen gepulste Ausgangsleistungen von 1015 W! Wir betrachten
diese beiden extremen Beispiele und nehmen eine mittlere Energie (W =
hf ) von 10−19 J (0,63 eV) pro sichtbarem Photon an.
b) Wir betrachten eine breitbandige thermische Lichtquelle, deren strahlen-
de Fläche A der Strahltaille des vorher genannten 1 mW Helium-Neon-
Lasers entspricht (2w0 = 0,5 mm; A = 2 · 10−3 cm2 ). Die Oberfläche
emittiert Strahlung bei der Wellenlänge 633 nm, wobei die Linienbreite
∆λ = 100 nm und die Temperatur T = 1000 K betragen soll. Bestimmen
Sie den Photonenfluss dieser thermischen Quelle.
Lösung
a) Der Photonenfluss Ṅ ist durch P/hf gegeben. Damit erhält man für die
Laser:
P 10−3 J/s
Ṅ1 = = −19 = 1016 Photonen/s
hf 10 J/Photon
P 1014 J/s
Ṅ2 = = −19 = 1033 Photonen/s
hf 10 J/Photon
b) Den Photonenfluss für die breitbandige Quelle erhält man aus der
folgenden Gleichung2:
1 1
Ṅ = ∆A∆f (21.18)
2
λ e hf /kT −1
Hierbei ist die Frequenz f = c/λ = 4,74 · 1014 Hz. Die
Frequenzbandbreite beträgt ∆f = (c/λ2 )∆λ = 7,5 · 1013 Hz.
Der Exponent ist:
hf (6,63 · 10−34 Js)(4,74 · 1014 s−1 )

= = 22,77
kT (1,38 · 10−23 J/K)(1000 K)
Setzt man diese Werte in (21.18) ein, so erhält man für den
Photonenfluss:
1 1
Ṅ = (2 · 10−7 m2 )(7,5 · 1013 s−1 ) ≈ 5 · 109 Ph/s
−9
(633 · 10 ) m 7,76 · 109
2 2
Wir finden einen Photonenfluss Ṅ von ungefähr 109 Photonen pro

Sekunde. Dieser Wert ist 7 Größenordnungen kleiner als der
Photonenfluss des schwachen 1-mW-Helium-Neon-Lasers und 24
Größenordnungen kleiner als der des starken Neodym-Glaslasers. Der
Vergleich ist in Abb. 21.16 zusammengefasst.
Wir ersehen aus Abb. 21.16 und Bsp. 21.2, dass der Helium-Neon-Laser 1016
Photonen/s in den sehr kleinen Raumwinkel 2 · 10−6 sr emittiert. Der thermische
Strahler ist eine Lambertsche Quelle und strahlt 109 Photonen/s in den vorderen
Halbraum ab (Raumwinkel 2π sr). Die thermische Quelle emittiert 320 Photo-
nen/s in einen zum Laser äquivalenten Raumwinkel:
2
Man erhält (21.18) aus (21.7). Bei der Umrechnung muss man die Geometrie von
einem isotrop strahlenden Volumenelement ∆V (21.7) zu einem strahlenden Ober-
flächenelement ∆A (21.18) ändern.
Abb. 21.16. Vergleich des Photonenflusses für einen schwachen Helium-Neon-Gaslaser

und eine thermische Strahlungsquelle mit der gleichen strahlenden Oberfläche. a) 1-mW-
Helium-Neon-Laser (λ = 633 nm). b) Breitbandige thermische Quelle (Lambertscher
Strahler) mit den Eigenschaften T = 1000 K, ∆A = 2 · 10−3 cm2 , λ0 = 633 nm und
∆λ = 100 nm. Beachten Sie, dass der Laser alle Photonen in einen kleinen Raumwinkel
(≈ 2 · 10−6 sr), die thermische Quelle dagegen in den Raumwinkel 2π sr (Halbraum)
emittiert
2 · 10−6 sr
109 Photonen/s = 320 Photonen/s
6,28 sr
Der Unterschied zwischen den 1016 Photonen/s für die Laserquelle und 320 Photo-
nen/s der thermischen Quelle ist beträchtlich.
Beispiel 21.3 Vergleich der Strahldichte von Laser und thermi-
scher Strahlungsquelle
Wie groß ist die Strahldichte einer hochintensiven konventionellen Lichtquelle
im Vergleich mit der eines schwachen Lasers?
Als konventionelle Lichtquelle wählen wir eine intensive Hochdruck-
Quecksilberlampe, die eine Strahldichte von Le = 250 W/(cm2 sr) aufweist.
Vor dem Auftreten der Laser waren solche Lampen die intensivsten erhält-
lichen Lichtquellen. Als Laserlichtquelle benutzen wir einen 4-mW-Helium-
Neon-Laser mit einem Strahltaillendurchmesser von 2w0 = 0,5 mm und ei-
nem vollen Öffnungswinkel von 2θ0 = 1,6 mrad, der bei einer Wellenlänge von
633 nm emittiert. Die Geometrie ist in Abb. 21.17 gezeigt. Aus der Abbildung
ist ersichtlich, dass die strahlende Oberfläche des Lasers gleich der Fläche der
Strahltaille ist. Die Strahlstärke der Fläche entspricht der des Lasers und die
Oberfläche strahlt nur in den Raumwinkel ab, der durch die Geometrie des
Laserresonators bestimmt ist.
Abb. 21.17. Strahldichte eines schwachen Helium-Neon-Lasers. Die Strahldichte des

Lasers, die der Detektor nachweist, ist ungefähr 106 W/(cm2 sr)
Lösung
Die Strahldichte Le als Funktion des Strahlungsflusses (Laserleistung) Φe ,
der Strahltaillenfläche ∆A1 und des Raumwinkels ∆Ω beträgt (s. Kap. 2):
Φe
Le = (21.19)
∆A∆Ω
Aus Abb. 21.17 ergibt sich für den Raumwinkel ∆Ω = A2 /r2 , wobei gilt:
2
A2 ≈ π (r tan θ0 ) ≈ πr2 θ02 . Setzen wir dies in Gleichung (21.19) ein, so
erhalten wir:
Φe 4 · 10−3 W W
Le = = ≈ 1 · 106
πθ02 ∆A1 π(0,8 · 10−3 )2 · 2 · 10−3 cm2 cm2 sr
Wir sehen, dass Laser die höchsten Strahldichten liefern.
21.4.5 Fokussierbarkeit
Die Abbildung (Fokussierung) von Lichtbündeln auf Bildflecke bis zur Beugungs-
grenze ist eine interessante Aufgabe. In der geometrischen Optik zeigt man
gewöhnlich die Abbildung eines perfekt parallelen Lichtstrahles in einen Punkt (s.
Abb. 21.18 a) durch eine Sammellinse. Wir wissen, dass ein Punktbild eine Ideali-
sierung ist, die sogar im Grenzfall der geometrischen Optik (λ → 0) unmöglich ist,
da ideale Linsen ohne Abbildungsfehler nicht herstellbar sind. Abbildung 21.18 b
zeigt die Schwierigkeiten bei der Abbildung einer gewöhnlichen Lichtquelle auf
einen kleinen Fleck. Zunächst ist die Lichtquelle inkohärent. Weiterhin kann die
physikalische Ausdehnung der Lichtquelle nicht beliebig klein – etwa die eines
Punktes – sein, denn dann würde die Intensität des abgebenden Lichtes entweder
zu gering sein oder die Lichtquelle würde schmelzen. Die Kombination einer nicht
punktförmigen Quelle und inkohärenten Lichtes führt zu endlichen Bildgrößen,
die durch die Abbildungsgleichungen der geometrischen Optik bestimmt werden.
Abb. 21.18. Abbildung von Strahlenbündeln verschiedener Lichtquellen. a) Ein ideal

paralleles Strahlenbündel wird nach der geometrischen Optik auf einen fiktiven Punkt
abgebildet. b) Ein inkohärentes Strahlenbündel einer thermischen Lichtquelle wird auf
ein Bild der Größe y λ abgebildet. c) Ein kohärentes Laserstrahlenbündel wird auf
einen beugungsbegrenzten Kreis des Durchmessers 2w0 ≈ λ abgebildet
Der Laser emittiert intensives kohärentes Licht, das von einer weit entfernten
Punktquelle zu kommen scheint. Durch diese Eigenschaft überwindet der La-
ser die Grenze, die die Fokussierung von thermischer Strahlung auf einen Punkt
unmöglich macht. Abb. 21.18 c zeigt einen Laserstrahl, der durch eine Sammellin-
se auf einen beugungsbegrenzten Kreisfleck kleinen Durchmessers, ungefähr von
der Größe der Laserwellenlänge, fokussiert wird. Man stellt fest, dass ein Laser-
strahl mit dem vollen Öffnungswinkel 2θ0 durch eine Linse der Bildbrennweite f
auf einen beugungsbegrenzten Kreis des Durchmessers 2w0
Durchmesser eines fokus- 2λ

2w0 ≈ f 2θ0 = f (21.20)
sierten Laserstrahles π · w0
abgebildet werden kann, wie in Abb. 21.19 gezeigt.

λ
Der Strahlöffnungswinkel ist θ0 = π·w 0
(s. (21.15)). Bitte beachten Sie, dass
w0 in (21.15) sich auf den Radius der Strahltaille im Laser bezieht, die die Strahl-
divergenz festlegt. 2w0 in (21.20) ergibt den Durchmesser der Strahltaille nach
Fokussierung durch die Sammellinse. Das Bild des Laserstrahles entsteht un-
gefähr in der Brennebene der Linse (a ≈ f ), eine genauere Berechnung zeigt,
dass dies für viele Fälle eine ausreichende Näherung ist (s. Kap. 22).
Abb. 21.19. TEM00 - Laserstrahl mit dem Öffnungswinkel 2θ0
Mit Hilfe von (21.20) können wir einige grobe Berechnungen zum Durch-
messer von fokussierten Laserstrahlen machen. Mit einer Linse der Bildbrenn-
weite f = 0,1 m und einfallendem Laserlicht mit vollem Strahlöffnungswinkel
2θ0 = 10−3 bis 10−4 rad erreicht man im Brennpunkt Durchmesser von 100 µm
bis 10 µm. Wenn wir diese Durchmesser mit der Wellenlänge des Kohlendioxid-
Lasers (λ = 10,6 µm) vergleichen, können wir erkennen, dass CO2 -Laserstrahlung
– und andere Laserstrahlung – auf Flächendurchmesser von der Größenordnung
der Wellenlänge fokussiert werden kann.
Gleichung (21.20) zeigt, dass starke Fokussierung durch Linsen mit kurzer
Brennweite und für Laserstrahlen mit kleinen Öffnungswinkeln erreicht werden
kann. Wenn Linsen ohne Abbildungsfehler verfügbar sind, kann man die Brenn-
weite so kurz wie möglich wählen. Der Strahlöffnungswinkel des Lasers, der durch
die Resonatorgeometrie festgelegt wird, kann zusätzlich durch den Einsatz eines
Strahlaufweiters reduziert werden. In Abb. 21.20 wird ein Laserstrahl mit dem
vollen Öffnungswinkel 2θ0 durch die erste Linse eines Strahlaufweiters (Brenn-
weite f1 ) auf einen Fleck des Durchmessers 2w01
= f1 · 2θ0 fokussiert, wie aus
(21.20) berechnet werden kann. Die zweite Linse, die sich im Abstand f2 von
dem Brennfleck befindet (f2 > f1 ), sammelt das Licht, das von dem Brennfleck
ausgeht und erzeugt einen parallelen Strahl. Der Strahlöffnungswinkel des aufge-
weiteten Strahles ergibt sich zu
Tabelle 21.2. Laserparameter für einige gebräuchliche Laser 636
Typ Wellenlänge Energie mittlere Art des Strahl- voller Strahl- Steckdosen-
Leistung Ausgangssignals durchmesser öffnungswinkel wirkungsgrad∗ η
2θ0
Excimer(ArF) 193 nm <400 mJ pro Puls, gepulst, Pulsdauer 6 × 23-20 × 32 mm2 2-6 mrad <0,5%
(Gaslaser) 30 W >20 ns rechteckig
Stickstoff(Gaslaser) 337,1 nm <10 mJ pro Puls, Pulsdauer 0,5-5 ns 2 × 3-6 × 30 mm2 1 − 3 × 7 mrad <0,1%
500 mW rechteckig
Argonionen 488 nm, <20 W cw = 0,7-2 mm 0,4-1,5 mrad <0,1%
(Gaslaser) 514,5 nm kontinuierlich
Helium- 632,8 nm 0,1-50 mW cw 0,5-2 mm 0,5-1,7 mrad <0,1%
Neon(Gaslaser)
HF Chemischer 2,7-3,3 m <150 W <1 kJ pro cw Pulsdauer 2 mm - 4 cm 1-15 mrad chemisch 10%
21 Grundlagen der Laser
Gaslaser Puls einige s

CO2 (Gaslaser) 10,6 µm <30 kW, <10 kW cw, TEM00 , 3-4 mm 1-2 mrad 5-30%
500 J pro Puls, Multimode gepulst
GW
Rubin(Festkörper- 694,3 nm 0,03-500 J pro Puls Pulsdauer >0,5 ms 1,5 mm-2,5 cm 0,2-10 mrad <0,5%
laser)
Halbleiterdioden- 0,4 µm-30 µm Einzeldiode <2 W cw oder Pulsdauer divergiert zu rasch 200 × 600 mrad <50%
laser GaAlAs 700-900 nm Matrizenanordnung >5 ps oval
InGaAsP 0,65-2 µm <50 W
Nd:YAG(Festkör- 1,064 µm 30 W-4 kW cw, TEM00 - 0,75-6 mm 2-18 mrad 10%
perlaser) 10 J-50 mJ pro Multimode
Blitzlampe als Puls 1000 W Pulsdauer
Pumpe 5 ms-10 ns cw
Diodenlaser als
Pumpe
Nd:Glas(Festkör- 1,06 µm 0,15-100 mJ pro Pulsdauer
perlaser) Puls 5 ps-20 ns
Farbstofflaser 400-950 nm <10 W cw/gepulst 0,4-0,6 mm 1-2 mrad 10-20%
(Flüssigkeit) mit ·ηArgonionenlaser
Argonionenlaser
optisch gepumpt
∗ optische Leistung StrahlungsflussΦe
η= elektrische Leistung
= Pelektrisch
f1
halber Strahlöffnungswinkel eines aufgeweiteten Strahls θ0 = θ0 (21.21)
f2
wobei f2 /f1 das Strahlaufweitungsverhältnis darstellt. Gleichung (21.15) lässt

sich einfach ableiten. Der einfallende Strahl, fokussiert durch die erste Linse, hat

einen Brennfleckdurchmesser von 2w01 = f1 · 2θ0 . Aufgrund der Umkehrbarkeit
des Lichtweges würde eine Fokussierung des aufgeweiteten Strahles nach links

hin den identischen Brennfleck am gleichen Ort ergeben, so dass 2w02 = f2 · 2θ0

ist. Da 2w01 = 2w02 ist, erhält man:
f1
f1 2θ0 = f2 2θ0 und θ0 = θ0
f2
Abb. 21.20. Aufweitung eines Laserstrahls
Für ein Strahlaufweitungsverhältnis von f2 /f1 = 5 erhält man für den Öffnungs-
winkel des aufgeweiteten Laserstrahles ein Fünftel des Öffnungswinkels des einfal-
lenden Strahles. Dabei nimmt der Strahldurchmesser um einen Faktor 5 zu. Was
hat man gewonnen? Nehmen wir an, dass ein Laserstrahl durch einen entspre-
chenden Strahlaufweiter, z.B. um den Faktor 10, aufgeweitet wird. Die Strahldi-
vergenz ist hierdurch um einen Faktor 10 vermindert. Wenn man den aufgewei-
teten Strahl jetzt auf einen winzigen Fleck mit einer Linse der Bildbrennweite
f fokussiert, wird der Durchmesser des Fleckes 1/10 des Durchmessers für den
nicht aufgeweiteten Strahl unter Verwendung der gleichen Linse betragen. Diese
zehnfache Reduktion des Durchmessers ergibt 1/100 der Fläche des Brennfleckes
und damit bei konstanter Laserleistung eine hundertfache Bestrahlungsstärke.
Die Fokussierung des Lasers auf kleinste Durchmesser macht es möglich, mit
dem Laser sehr kleine Löcher in harte Materialien zu bohren. Außerdem lassen
sich winzige Schnitte oder Schweißnähte an empfindlichen Materialien ausführen,

Informationen mit hoher Aufzeichnungsdichte speichern und industrielle oder
medizinische Operationen auf Flächen mit Durchmessern in der Größenordnung
von Wellenlängen durchführen. In der Ophtalmologie benötigt man z.B. beim
Einsatz von Nd:YAG-Lasern Bestrahlungsstärken der Größenordnung 109 bis
1012 Watt/cm2 . Solche Bestrahlungsstärken lassen sich mit Hilfe von Strahl-
aufweitern und geeigneter Fokussierungsoptik herstellen, wie wir das bereits in
Kap. 7 (s. Übung 7.10) diskutiert haben.
21.5 Lasertypen
Bis hierher haben wir die grundlegenden Annahmen untersucht, die Einstein
dazu führten, die Existenz der stimulierten Emission vorherzusagen. Wir haben
die wesentlichen Komponenten des Lasers aufgeführt, die Funktion des Lasers
beschrieben und die Eigenschaften des Laserlichtes untersucht. Wir wollen uns
nun den heutzutage verwendeten Lasern zuwenden.
Laser lassen sich auf viele verschiedene Arten klassifizieren. Manchmal ord-
net man sie nach dem Aggregatzustand des Lasermediums: Gas, Flüssigkeit oder
Festkörper. In anderen Fällen klassifiziert man sie nach der externen Energie-
zufuhr ( Pumpe“): Blitzlampen, elektrische Gasentladung, chemische Reaktion
”
usw. Eine weitere Möglichkeit besteht darin, sie nach der Art der Laserstrah-
lung – gepulst oder kontinuierlich (cw = continous wave) – und dem spektralen
Bereich der Emission (infrarot, sichtbar oder UV) zu ordnen.
Tabelle 21.2 gibt einige heute benutzte Laser an. Für jeden aufgeführten Laser
sind die Emissionswellenlänge, die Ausgangsleistung (in einigen Fällen Energie
pro Puls), die Art der Strahlung (kontinuierlich oder gepulst), die Strahldurch-
messer, die Strahldivergenz und der Wirkungsgrad angegeben.
Übungen
21.1 Gehen Sie von der Formel für spontane Emission von Atomen mit der Besetzungs-
zahl N2 in angeregtem Energiezustand W2 aus

dN2
= −A21 N2
dt spont
und zeigen Sie, dass die Anfangsbesetzungszahl N20 in der Zeit τ = 1/A21 auf einen
Wert N20 /e abfällt.
21.2 Nehmen Sie an, dass ein Atom nur zwei Energiezustände aufweist, deren Energie-
differenz der Wellenlänge 632,8 nm des He-Ne-Lasers entspricht. Ermitteln Sie aus
der Boltzmann-Verteilung, welcher Anteil der Atome sich bei der Raumtemperatur
T = 300 K im oberen Zustand befindet.
21.5 Lasertypen 639
21.3 Zeigen Sie, dass (21.7) für die spektrale Energiedichte eines Schwarzkörpers
8πhf 3 1
(f ) =
c3 ehf /kT − 1
sich aus (2.15) für die spezifische Ausstrahlung des Schwarzkörpers ergibt

2πhc2 1
Me,λ =
λ5 ehc/λkT − 1
indem Sie von der Variablen λ zu f übergehen und dann das Ergebnis mit 4/c
multiplizieren (s. Fußnote 1).
21.4 Betrachten Sie die Sonne als schwarzen Strahler und bestimmen Sie die spektrale
Energiedichte (f ) im sichtbaren Gebiet bei λ = 550 nm. Nehmen Sie die Ober-
flächentemperatur der Sonne mit 6000 K an.
21.5 Warum erwartet man, dass es viel schwieriger ist, einen Laser im Ultravioletten zu
bauen als im Infraroten? Gehen Sie für die Antwort vom Verhältnis A21 /B21 aus.
21.6 Bestimmen Sie das Verhältnis der Raten von stimulierter zu spontaner Emission
für grünes Licht bei 0,5 µm und ein schwarzes“ Plasma der Temperatur 5000 K,
”
bestimmen Sie den Wert des Verhältnisses
(dN/dt)stimuliert −B21 N2 (f ) B21 λ3

= , wobei =
(dN/dt)spontan −A21 N2 A21 8πh
Was impliziert das Ergebnis?
21.7 a) Gehen Sie von den in Tabelle 21.1 gegebenen Zentralwellenlängen λ0 und
Linienbreiten ∆λ für die gewöhnliche Gasentladungslampe, die Kadmium-
Niederdrucklampe und den He-Ne-Laser aus. Prüfen Sie nach, ob die Frequenz-
breiten ∆f die in der Tabelle angegebenen sind.
b) Wieviel schärfer“ ist die He-Ne-Laserlinie als die Natriumlinie einer Natrium-
”
Gasentladungslampe?
21.8 Wir nehmen an, dass die Kohärenzzeit eines Lichtstrahles ungefähr gleich dem
Kehrwert der Frequenzbandbreite ist. Wie groß ist dann die Kohärenzzeit und die
Kohärenzlänge des He-Ne-Lasers in Tabelle 21.1?
21.9 Ein He-Ne-Laser hat einen minimalen Strahldurchmesser von ungefähr 1 mm. Wie
groß ist der Strahlöffnungswinkel im Fernfeld?
21.10 Wir betrachten eine breitbandige thermische Strahlungsquelle, die eine kreisförmi-
ge strahlende Fläche des Durchmessers 0,5 mm aufweist (ungefähr die Größe der
Strahltaille in einem He-Ne-Laser). Die Oberfläche hat eine Temperatur von 1000 K
und emittiert Licht bei 633 nm mit einer Linienbreite (HWB) von 100 nm. Benutzen
Sie Gleichung (21.18) um zu zeigen, dass der thermische Photonenfluss ungefähr
5 · 109 Photonen/s beträgt.
21.11 Betrachten Sie einen 1-mW-He-Ne-Laser, der Laserstrahlung bei 632,8 nm mit ei-
ner Frequenzbreite von ∆f = 104 Hz (HWB) abgibt. Benutzen Sie (21.16) und
Abb. 21.17.
a) Zeigen Sie, dass die spektrale Strahldichte ∆Le /∆f = Φe /(∆A ∆Ω ∆f ) un-
abhängig vom Wert des Durchmessers 2w0 der Strahltaille ist. Hierbei ist Φe
die Laserleistung, ∆A die Fläche der Strahlentaille, ∆Ω der Raumwinkel, in
den der Laser abstrahlt und ∆f die Frequenzbreite (HWB) der Laseremission.
b) Berechnen Sie die spektrale Strahldichte in Watt/(m2 sr Hz) für den oben be-
schriebenen Laser.
21.12 Betrachten sie den Strahlaufweiter der Abb. 21.20 und nehmen Sie an, dass f2 /f1 =
10 ist und der Öffnungswinkel des einfallenden Strahles 1 mrad beträgt.
a) Wie groß ist der Öffnungswinkel des aufgeweiteten Strahles?
b) Der aufgeweitete Strahl wird durch eine nachfolgende Linse von 10 dpt fokus-
siert. Wie groß ist der Strahldurchmesser in der Brennebene?
c) Die Leistung des einfallenden Strahles beträgt 1 mW. Wie groß ist die Bestrah-
lungsstärke in der Brennebene?
21.13 Betrachten Sie Abb. 21.8 a. Nehmen Sie an, dass der Strahlungsfluss Φe = 1 W eines
Lasers bei der Resonanzwellenlänge λ0 in den passiven Resonator eintritt.
a) Wie groß ist die Ausgangsleistung?
b) Wie groß ist die Leistung, die im Resonator zirkuliert?
c) Beschreiben Sie die Anforderungen an den Spiegel S1 , damit die Antworten für
a und b gültig sind.
21.14 In einem Nd:YAG-Laser gibt es vier Pumpniveaus bei 1,53 eV, 1,653 eV, 2,119 eV
und 2,361 eV über dem Energieniveau des Grundzustandes.
a) Welche Wellenlängen gehören zu den Photonen-Energien, die jedes der Pump-
niveaus bevölkern können?
b) Ein Nd:YAG-Laser emittiert Photonen bei einer Wellenlänge von 1,064 µm.
Bestimmen Sie den Wirkungsgrad, der zu jedem der vier Pumpniveaus gehört.
(Ausgangsphotonenenergie/Eingangsphotonenenergie)
21.15 Zum Betrieb eines Nd:YAG-Lasers wird eine Netzanschlussleistung von 2500 W
benötigt, um das Netzgerät zu betreiben, das die Blitzlampen versorgt. Die Blitz-
lampen liefern die Pumpenergie, um die Besetzungsinversion zu erzeugen. Das ge-
samte Lasersystem ist von der Eingangsleistung (Anschlussleistung des Netzgerätes)
bis zur Ausgangsleistung (Laser-Strahlungsfluss) durch die folgenden Komponenten-
Wirkungsgrade gekennzeichnet:
80% - Netzgerät
30% - Blitzlampen für optisches Pumpen
70% - Optische Reflektoren, um das Pumplicht auf den Laserstrahl zu
konzentrieren
15% - spektrale Übereinstimmung des Pumplichtes mit den Nd:YAG-
Pumpniveaus
50% - interne Resonatorverluste
a) Berücksichtigen Sie die o.a. Wirkungsgrade und berechnen Sie, wieviel der Ein-
gangsleistung von 2500 W für den Ausgangslaserstrahl zur Verfügung steht.
b) Wie groß ist der Gesamtwirkungsgrad (Steckdosenwirkungsgrad) dieses Lasers?
22
Eigenschaften von Laserstrahlen
Einleitung
Wir beschäftigen uns in diesem Kapitel mit den besonderen räumlichen Eigen-
schaften des Laserstrahles. In der einfachsten Form – Grundmode – hat der La-
serstrahl eine fast sphärische Wellenfront, wobei die Intensität senkrecht zur Aus-
breitungsrichtung, d.h. in radialer Richtung von der Strahlachse eine Gaußver-
teilung aufweist. Man findet auch kompliziertere transversale Verteilungen, die
von der einfachen Gaußverteilung abweichen und auf einem Beobachtungsschirm
ein geordnetes Muster heller oder dunkler Stellen ergeben. Die Moden höherer
Ordnung werden für Kreissymmetrie durch die Gauß-Hermite-Polynome und für
Rechtecksymmetrie durch die Gauß-Laguerre-Polynome beschrieben. In vielen
Fällen besteht der Laserstrahl aus einer Mischung von Moden: der Grundmode
und mehreren Moden höherer Ordnung.
In diesem Kapitel untersuchen wir, wie die Intensitätsverteilung des Laser-
strahles von der Geometrie des Laserresonators abhängt. Wir werden seine Ei-
genschaften nahe dem Laser – Nahfeld – und weit entfernt vom Laser – Fern-
feld – untersuchen. Wir werden eine allgemeine Methode zur Bestimmung der
Parameter des Laserstrahls angeben – Strahlöffnungswinkel (Divergenzwinkel,
Krümmungsradius der Wellenfront) und transversale Intensitätsverteilung – so-
642 22 Eigenschaften von Laserstrahlen
wie die Änderung dieser Parameter bei der Ausbreitung durch ein beliebiges
optisches System bestimmen. Nach einer genauen Untersuchung der Grundmo-
de, der sogenannten TEM00 Mode, werden wir die transversalen Moden höherer
Ordnung und ihre transversale Intensitätsverteilung betrachten.
22.1 Die dreidimensionale Wellengleichung und

elektromagnetische Wellen
In Kapitel 8 (Wellengleichungen) untersuchten wir die Ausbreitung von elektro-
magnetischen Wellen in einem homogenen Medium. Für die folgenden Betrach-
tungen wollen wir nur die räumlichen Eigenschaften des E-Feldes in der skalaren
Näherung – E wird als Skalar und nicht als Vektor behandelt – für einen belie-
bigen Zeitpunkt untersuchen. Hierzu verwenden wir den Ansatz:
1 d2
E = E(r) ejωt in der Wellengleichung (8.34) ∇2 E = E
c2 dt2
2
2 = −ω E kann man die Zeitabhängigkeit eleminieren und erhält entspre-
d 2
Mit dt
chend aus (8.34) mit k = ωn/c0 die
2
Helmholtz-Gleichung ∇ + k 2 E(r) = 0 (22.1)
Hierbei ist ∇2 der Laplace-Operator, k die Kreiswellenzahl und n die Brechzahl

des Ausbreitungsmediums. Wir verwenden Lösungen der Helmholtz-Gleichung,
wenn wir an den räumlichen und nicht an den zeitlichen Eigenschaften der Wellen
interessiert sind. Als Lösungen von (22.1) gibt es eine Vielzahl von Wellenformen,
die von den Randbedingungen, d.h. den vorgegebenen Werten des elektrischen
Feldes im Raum, abhängen.
Ebene Wellen
Diese Lösung von (22.1) lautet in der komplexen Form:

E(r) = Ê e−j(xkx +yky +zkz ) = Ê e−jk·r (22.2)
Ebene Wellen sind nützliche Basisfunktionen für die Fourier-Analyse von belie-
bigen Wellenformen und beschreiben z.B. das Feld, das einen Detektor erreicht,
der weit von einer Punktquelle entfernt ist. Sie werden ebene Wellen genannt,
weil die Oberflächen konstanter Phase k · r Ebenen senkrecht zum Wellenvektor
k sind (s. Abb. 22.1). Die wesentlichen Ausbreitungseigenschaften von ebenen
Wellen haben wir im Kapitel 8 diskutiert.
22.2 Fresnel-Näherung von Kugelwellen 643
Abb. 22.1. Ebene Wellen. Die Oberfläche konstanter Phase sind Ebenen, die senkrecht
zum Wellenvektor k angeordnet sind und die sich mit der Geschwindigkeit c = cn0 durch
ein homogenes Medium der Brechzahl n bewegen
Kugelwellen
Diese Lösung (s. (8.35)) von (22.1) lautet
Ê1 (ϑ, ϕ) −jkr

E(r) ∼ e (22.3)
r
Die entsprechenden Parameter und weitere Eigenschaften der Kugelwelle sind
in Abb. 22.2 dargestellt. Die Kugelwellenlösung bietet bei der Behandlung der
Beugungstheorie nach Huygens und Fresnel/Kirchhoff Vorteile. Die Kugelwellen
stellen – unter Einschluss des hier weggelassenen Richtungsfaktors (s. (18.5))
– die mathematische Form der Huygensschen sekundären Elementarwellen dar,
die von den Punkten einer beugenden Öffnung ausgehen. Sie beschreiben elek-
tromagnetische Wellen, die von einer Punktquelle ausgehen. Wenn der Abstand
von der Punktquelle sehr groß wird, kann man die Kugelwellen als ebene Wellen
betrachten, wobei (22.3) in (22.3) übergeht.
22.2 Fresnel-Näherung von Kugelwellen

Zum Verständnis der Natur des Laserstrahls ist es sinnvoll, die Phasenabhängig-
keit des elektrischen Feldes E einer Kugelwelle entlang einer Ebene senkrecht
Abb. 22.2. Kugelwellen. Die Oberflächen konstanter Phase sind Kugelflächen mit dem
Krümmungsradius R = z
zur Ausbreitungsrichtung zu bestimmen. In Abb. 22.2 ist diese Ebene als die
x-y-Ebene dargestellt, wobei die Ausbreitung entlang der z-Richtung betrachtet
wird. Für jeden Punkt (x, y) auf der transversalen Ebene im Abstand z = R ist
der räumliche Teil des elektrischen Feldes für achsennahe Punkte1 gegeben durch
Ê1 −jkr
E(x, y)z=R ≈ e (22.4)
R
wobei

x2 + y 2
r = R2 + x2 + y 2 = R 1+ (22.5)
R2
ist und R für den senkrechten Abstand von der Quelle zur transversalen Ebe-
ne steht. Es ergibt sich aus Abb. 22.2, dass R auch der Krümmungsradius der
Kugelwelle ist, die die Ebene im Punkt (0,0, R) berührt.
Wir wollen voraussetzen, dass die Welle auf Bereiche nahe der optischen Achse
konzentriert ist, so dass (x2 +y 2 ) R2 und damit für (22.5) näherungsweise gilt2 :
x2 +y 2
r≈R+ 2R
(22.6)
Damit erhält man aus (22.4) den räumlichen Anteil des elektrischen Feldes E im
Punkt (x, y) auf der transversalen Ebene bei z = R:
1
Hier kann man im Nenner – nicht jedoch im Phasenfaktor – r = R setzen.
2 2 √
2
Setzt man x R+y 2 = u2 und entwickelt 1 + u2 in eine Reihe, für die u2 1, so
ergibt sich (22.6) aus (22.5), wenn Terme höherer Ordnung vernachlässigt werden.
22.3 Der Gaußsche Strahl 645
Fresnel-Näherung Ê1 −jkR −jk(x2 +y2 )/2R

E (x, y)z=R ≈ e e (22.7)
R
Diese Näherung beschreibt die Welle durch Wellenfronten, die Paraboloide dar-
stellen. Man bezeichnet sie als Fresnel-Näherung der Kugelwelle. Wir werden
sehen, dass diese Näherung zur Beschreibung der gering divergenten Laserstrah-
len geeignet ist.
22.3 Der Gaußsche Strahl

Untersuchen wir nun die Eigenschaften des TEM00 -Laserstrahls, so finden wir,
dass seine Wellenfronten Kugelflächen sind, deren Krümmungsradien bei der Aus-
breitung des Strahles zunehmen. Die Bezeichnung TEM00 ist ein Spezialfall der
allgemeinen Notation TEMmn bzw. TEMpl (s. (22.47) bzw. (22.48)), die Gauß-
sche Strahlen höherer Ordnung kennzeichnet. TEM bezeichnet transversale elek-
trische und magnetische Moden. Die Änderung der Wellenfront und der Intensität
eines TEM00 -Lasermodes, der durch eine Sammellinse geht, sind in Abb. 22.3 ge-
zeigt.
Abb. 22.3. Laserstrahl außerhalb des Laserresonators, der durch eine Sammellinse fo-
kussiert wird. Auf den Begrenzungslinien ist die Intensität (Leistungsdichte) des Strah-
les auf 1/e2 abgefallen. Der einfallende Strahl ist hoch kollimiert, so dass seine Wellen-
front nahezu eben ist. Die Sammellinse fokussiert den Strahl – unter Ausbildung einer
Strahltaille – auf der rechten Seite der Linse. Bei der weiteren Ausbreitung divergiert
der Strahl rechts von der Strahltaille
Die durchgezogenen Begrenzungslinien, oberhalb und unterhalb der z-Achse, sind

die Verbindungslinien der Orte, an denen die Intensität des elektrischen Fel-
des in der zur Ausbreitung senkrechten Richtung noch 1/e2 des Wertes auf der
Achse beträgt. Diese Linien benutzt man, um den sich kontinuierlich ändern-
den Strahldurchmesser zu kennzeichnen. Die gestrichelten Bogen senkrecht zur
z-Achse kennzeichnen die Wellenfront des Strahles. Da die Wellenfronten eines
hoch kollimierten Laserstrahles in guter Näherung Ebenen sind, können wir fol-
gende Beschreibung für das elektrische Feld des Laserstrahls verwenden
E(r) = U (x, y, z) e−jkz (22.8)

Der Term U (x, y, z) gibt die Intensitäts- und Phasenänderungen der Welle entlang
der x-, y-, und z-Richtung an3 . Der Exponentialterm in (22.8) ist charakteristisch
für die ebene Welle. Wenn wir die Funktion U (x, y, z) bestimmen, erhalten wir
eine Lösung, die die Amplitude des Laserstrahls beschreibt.
Bestimmung der Amplitude U (x, y, z)
Unsere Näherungslösung (22.8) muss (22.1) erfüllen. Wir setzen sie in (22.1) ein
und erhalten eine Bestimmungsgleichung für U (x, y, z):

∂ 2U ∂ 2U ∂ 2U ∂U −jkz
+ + e−jkz + k 2 U e−jkz − 2jk e − k 2 U e−jkz = 0 (22.9)
∂x2 ∂y 2 ∂z 2 ∂z
∂ 2U
Wir vernachlässigen den Term und erhalten:
∂z 2
∂ 2U ∂ 2U ∂U
paraxiale Helmholtz-Gleichung + − 2jk =0 (22.10)
∂x2 ∂y 2 ∂z
Die Wellengleichung (22.10) und ihre Lösungen beschreiben die Ausbreitung von
paraxialen Feldverteilungen im Raum. Diese Beschreibung ist äquivalent zur Fres-
nelschen Darstellung der Beugung. Wir raten eine sinnvolle Lösung von (22.10),
wobei das elektrische Feld des Laserstrahls Rotationssymmetrie bezüglich der
Strahlachse aufweist4 :
U (x, y, z) = Ê e−j[p(z)+k(x
2
+y 2 )/2q(z)]
(22.11)
wobei p(z) und q(z) zunächst unbestimmte, komplexe Funktionen sind, die
(22.10) erfüllen müssen, für sie folgt mit (22.10) und (22.11) nach längerer Rech-
nung:
3
Gleichung (22.8) gilt unter der Voraussetzung der paraxialen Näherung. Dies bedeu-
tet, dass eine ebene Welle sich im Wesentlichen entlang der z-Richtung ausbreitet,
so dass wir das elektrische Feld E(x, y, z) in der skalaren Form von (22.8) angeben
können.
4
Exakte und detaillierte Ableitungen findet man in der Spezialliteratur über Laser (s.
Literaturverzeichnis: A. Siegman, Kap. 16).
22.3 Der Gaußsche Strahl 647
∂p j ∂q
=− und =1 (22.12)
∂z q ∂z
Komplexer Strahlparameter
Vergleichen wir den zweiten Term im Exponenten von (22.11) mit dem entspre-
chenden Term in (22.7), so erkennen wir, dass q(z) den Krümmungsradius der
Wellenfront enthalten muss, wenn die Wellenfronten des Laserstrahls kugelförmig
sind. Wir machen folgenden Ansatz5
1 1 λ
komplexer Strahlparameter = −j 2 (22.13)
q(z) R(z) πw (z)
wobei R der Krümmungsradius der Wellenfront und w die Ausdehnung des Strah-
les senkrecht zur Ausbreitungsrichtung beschreibt. Im Folgenden werden wir se-
hen, dass w die halbe Strahlbreite (Radius) ist. Der Parameter w wird in einer
Ebene senkrecht zur Strahlausbreitung von der Strahlachse aus bis zu dem Punkt
gemessen, an dem die Intensität auf 1/e2 des Wertes auf der Achse abgefallen ist.
Setzen wir (22.13) in (22.11) ein, so erhalten wir:
2
+y 2 )/2R(z) −(x2 +y 2 )/w 2
U (x, y, z) = Ê e−jp(z) e−jk(x e (22.14)
Damit haben wir einen expliziten Ausdruck für U (x, y, z) und zusammen mit
(22.8) die räumliche Änderung des elektrischen Feldes in einem Laserstrahl be-
stimmt6 .
Gaußscher Laserstrahl
Setzen wir (22.14) in (22.8) ein, so erhalten wir den vollständigen Feldstärkever-
lauf für den
2
+y 2 )/2R(z) −(x2 +y 2 )/w 2 (z) −j[kz+p(z)]
Gaußschen E(x, y, z) = Ê e−jk(x e e
Laserstrahl (22.15)
5
Einige Bücher geben (22.13) mit einem positiven Vorzeichen zwischen den beiden
Termen auf der rechten Seite. Schreibt man (22.8) mit dem Term e−jkz , wie wir das
tun, so ergibt sich daraus (22.13). Schreibt man (22.8) mit dem Term ejkz , so ergibt
sich (22.13) mit einem positiven Vorzeichen. In jedem Fall erhält man die gleichen
Eigenschaften eines Gaußschen Laserstrahles.
6
Dies ist eine der möglichen Lösungen von (22.10). Die Diskussion der anderen Lösun-
gen – transversale Moden höherer Ordnung – erfolgt in Kap. 22.7.
Der erste Exponentialterm in (22.15) ist identisch mit dem zweiten Exponential-
term der Fresnelnäherung (22.7). Daraus lässt sich folgern, dass der Laserstrahl
als paraxiale Kugelwelle beschrieben werden kann. Der zweite Exponentialterm
gibt das elektrische Feld in einer beliebigen transversalen Ebene (für festes z) an.
Der letzte Exponentialterm enthält die Phasenabhängigkeit als Funktion von z.
Damit haben wir die Strahllösung“ der Wellengleichung gefunden. Entlang
”
der Strahlausbreitungsachse (z-Richtung) hat das elektrische Feld harmonische“
”
Eigenschaften, wobei die Wellenlänge näherungsweise durch λ = 2π/k gegeben
ist. In jeder transversalen Ebene (festes z) nimmt das elektrische Feld mit der
Entfernung von der Achse nach einer Gaußfunktion ab. Diese Ergebnisse werden
in Abb. 22.4 dargestellt.
Abb. 22.4. Axiale und transversale Änderung der elektrischen Feldamplitude E(x, y, z)
im Laserstrahl. w ist der Strahlradius bei Ê0 /e
22.4 Strahltaille und Wellenfront des Gaußschen Strahls
Wir nehmen an, dass der Gaußsche Strahl in einer transversalen Ebene bei z = 0
eine ebene Wellenfront aufweist, das bedeutet R(z = 0) → ∞. Dann ergibt sich
aus (22.13) mit q 0 = q(z = 0) und w0 = w(z = 0):
1 −jλ πw02
= bzw. q0 = j ≡ jzR (22.16)
q0 πw02 λ
Wir werden noch zeigen, dass die Ebene z = 0 gerade bei der Strahltaille mit
dem Radius w0 liegt. Der charakteristische Parameter zR ist die Rayleigh-Länge
oder Schärfentiefe“.
”
Rayleigh-Länge πw02
zR = (22.17)
λ
22.4 Strahltaille und Wellenfront des Gaußschen Strahls 649
Die Rayleigh-Länge gibt den Abstand von z = 0 an, bei dem sich der Radius des
Gaußschen
√ Strahles – bezogen auf die 1/e2 -Strahlbegrenzungen der Intensität
– um 2 vergrößert hat. Für jede andere transversale Ebene z = 0 folgt aus
(22.12):
q(z) = q0 + z (22.18)
Abb. 22.5. Gaußscher Strahl, der sich in z-Richtung ausbreitet. Der Strahlradius w(z)
bei der Strahltaille (ebene Wellenfront) ist als w0 definiert. Der Strahlöffnungswinkel
θ0 = λ/(πw0 ) ist über die Asymptoten nur im Fernfeld definiert. Die Änderung der
Intensitätsverteilung senkrecht zur Strahlrichtung bei der Strahlausbreitung ist darge-
stellt
wobei z die axiale Entfernung ist, die von der Strahltaille aus gemessen wird.
Dies ist die Basisgleichung für die Ausbreitung des Laserstrahls. Mit (22.18) und
(22.16) gilt dann:
Strahlausbreitung q(z) = z + jzR (22.19)
Schreiben wir (22.19) in reziproker Darstellung, dann ergibt sich bei reellen Nen-
nern:
1 1 λ
= 2 − j
2 (22.20)
q(z) z
z + zR πw0 1 + zzR
2
Aus den Real- und Imaginärteilen von (22.20) erhalten wir mit (22.13) den
Krümmungsradius der Wellenfront R(z)7 und den Strahlradius w(z) als Funktion
von w0 und zR . z ist die Entfernung der betrachteten transversalen Ebene von
der Strahltaille. Es gilt:
2
Krümmungsradius der Wellenfront zR
R(z) = z + (22.21)
z
+ 2
z
Strahlradius w(z) = w0 1+ (22.22)
zR
Bei Kugelwellen, die konzentrisch um z = 0 sind, wäre R(z) = z.

Gleichung (22.21) zeigt, dass hier das Zentrum der Kugelwellen nicht für alle
Wellenfronten bei z = 0 liegt. Für z zR (Fernfeld8 ) gilt R(z) ≈ z, wir erhalten
näherungsweise Kugelwellen, die von z = 0 ausgehen. In diesem Bereich kann
man den Gaußschen Strahl als Fraunhofer-Beugung an einer Öffnung von der
Größe des Strahldurchmessers bei der Strahltaille betrachten. Damit erhält man
für (22.21) und (22.22) die Fernfeldnäherung:
Krümmungradius der Wellenfront (Fernfeldnäherung z zR )
R(z) = z (22.23)
z λ
Strahlradius (Fernfeldnäherung) w(z) = w0 = z (22.24)
zR πw0
Aus (22.24) ergibt sich, dass im Fernfeld der Strahlradius w(z) linear mit z
wächst. Die Strahldivergenz, gegeben durch den halben Öffnungswinkel θ0 (s.
Abb. 22.5), ist bei den meisten Anwendungen sehr klein (ca. 1 mrad) und des-
halb gilt tan θ0 ≈ θ0 . Damit ergibt sich für die Strahldivergenz:
w0 λ
halber Öffnungswinkel des Gaußschen Strahles θ0 = = (22.25)
zR πw0
7
Bei unserer hier verwendeten Vorzeichenkonvention ist eine divergente Welle durch
positives R gegeben, während eine konvergente durch negatives R gekennzeichnet ist.
8
In der Praxis bedeutet sehr viel größer“, dass z > 20−50zR sein muss. In der Realität
”
gibt es eine Grauzone“ zwischen dem Nahfeld (wo die Fresnelsche Beugungstheorie
”
für die Berechnung der Wellenfronten anzuwenden ist) und dem Fernfeld (wo die
Fraunhofersche Beugungstheorie gilt). Im Zweifelsfall kann man immer die exakten
Fresnel-Berechnungen ausführen und die Ergebnisse mit den näherungsweise gültigen
Fraunhofer-Berechnungen vergleichen.
22.4 Strahltaille und Wellenfront des Gaußschen Strahls 651
Das Produkt aus Taillenradius w0 und Öffnungswinkel θ0 bleibt beim Durchgang

eines Laserstrahles durch beliebige, beugungsbegrenzte lineare optische Systeme
konstant. Dies beschreiben wir durch das
λ
Strahlparameterprodukt θ0 w0 = = θ0 w0 (22.26)
π
Mit (22.23) und (22.24) können wir den Krümmungsradius R(z) und den Strahl-
radius w(z) aus w0 und zR bestimmen. Umgekehrt können wir aus w(z) und R(z),
das auf einer beliebigen transversalen Ebene gegeben ist, den Ort der Strahltaille
und die Strahltaille w0 errechnen. Wir betrachten hierzu Abb. 22.6, wo w1 und
R1 in der transversalen Ebene mit unbekanntem z = z1 gegeben sind.
Abb. 22.6. Ausbreitung des Gaußschen Strahles. Aus w1 , R1 , bei z = z1 , können wir
den Ort z = 0 der Strahltaille, sowie w0 bestimmen. Im umgekehrten Fall lässt sich der
Strahlparameter q für beliebiges z berechnen
Aus (22.21) und (22.22) folgt für den Abstand von der Strahltaille:
R
z1 = 2 (22.27)
λR1
1+
πw12
und den Taillenradius

w1
w0 =
2 2 1/2
(22.28)
πw
1 + λR11
Beispiel 22.1 Gaußscher Strahl / Laserresonator

Im Folgenden betrachten wir einen 4 mW-TEM00 -Helium-Neon-Laser (λ =
632,8 nm) mit der unten angegebenen Resonatorgeometrie. Der linke Spie-
gel9 (1 = 2 m) ist 100% reflektierend. Der rechte Spiegel (2 = ∞) ist ein teil-
reflektierender ebener Spiegel, durch den der Ausgangsstrahl mit 4 mW Leis-
tung austritt. Die Strahltaille liegt innerhalb des Laserresonators der Länge
L = 1 m am Ort des ebenen Spiegels, an dem sich auch der Koordinatenur-
sprung z = 0 befinden soll. Die gestrichelten Profile stellen die Wellenfronten
innerhalb des Laserresonators dar.
Bei stabiler Lasertätigkeit stimmen die Krümmungsradien der Wellen-
fronten mit den Krümmungsradien der Spiegel an den Spiegeloberflächen
überein.
Bestimmen Sie die folgenden Größen:

a) Die Rayleigh-Länge zR und den Radius w0 des Laserstrahles am Ort der
Strahltaille.
b) Den Radius w des Laserstrahles auf dem linken Laserspiegel.
c) Den komplexen Strahlparameter q(z) bei z = −1 m und bei z = 0 .
d) Den Öffnungswinkel θ0 des Gaußschen Strahles ?
Abb. zu Beispiel 22.1 Laserresonator mit Konkav- und Planspiegel

9
Die Krümmungsradien der Spiegel und Linsen sind hier mit 1,2 bezeichnet und
sollten nicht mit dem Reflexionsgrad verwechselt werden.
22.5 Stabile und instabile Laserresonatoren 653
Lösung
a) Verwenden Sie (22.21) und R(z) = −2 m, z = −1 m, λ = 632,8 nm und
lösen Sie nach w0 auf. Dann folgt zR = 1 m und w0 = 0,45 mm.
b) Man setzt w0 = 0,45 mm und z = −1 m in (22.22) ein und bekommt
w(−1 m) = 0,64 mm.
c) Mit (22.19) errechnet sich q(−1 m) = (−1 + j) · 1 m und
q(0) = j zR = +j · 1 m
d) Aus (22.25) erhält man θ0 = 0,45 mrad = 1,5 .
22.5 Stabile und instabile Laserresonatoren
Bei dem Resonator, der in Beispiel 1 gezeigt ist, kann man im Prinzip die Länge
und den Krümmungsradius der Spiegel variieren und feststellen, ob er als Laser-
resonator geeignet ist.
Ein optischer Resonator arbeitet stabil, wenn der Strahlenverlauf im Reso-
nator einen geschlossenen Weg bildet, der Strahl also nach einer beliebigen
Anzahl von Reflexionen und Brechungen immer wieder den Ausgangspunkt
durchläuft.
Aus dieser Forderung kann man dann mit Hilfe der Matrizenmethode der
geometrischen Optik die Stabilitätsbedingung herleiten. Hierbei wird der Strah-
lengang bei der Reflexion aufgefaltet (s. Kap. 3.11 und Kap. 4.5), um die Vor-
zeichenänderung auf Grund der Lichtumkehr bei der Reflexion zu beheben (s.
Abb. 22.7 b). In der Laseroptik ist es üblich, die aufgefalteten Krümmungsradi-
en 1 und 2 der Spiegel zu verwenden. In den Kapiteln 3 und 4 dieses Buches
wurden hingegen die nicht aufgefalteten Krümmungsradien r1 und r2 benutzt, in
Kap. 22 halten wir uns jedoch an die in der Literatur über Laser gebräuchliche
Vorzeichenkonvention. Dabei wird der Strahlöffnungswinkel θ0 von der optischen
Achse (Bezugsschenkel) aus gemessen, also ebenfalls entgegengesetzt zur bisher
benutzten Vorzeichenkonvention, bei der vom Außenstrahl zur optischen Achse
hin gemessen wurde. Hierdurch ergeben sich gegenüber Kap. 4 (Tab. 4.1) folgende
Änderungen der Matrizen:
– Translation: −l durch +l ersetzen,

– Brechung: (n − n) durch (n − n ) ersetzen,
– Reflexion: keine Änderung, wenn der Krümmungsradius der Spiegel
fläche nach der Auffaltung benutzt wird,
– dünne Linse: f durch −f ersetzen.
Abb. 22.7. a) Stabilitätsdiagramm von optischen Resonatoren. L ist die Resona-

torlänge, 1 und 2 sind die Krümmungsradien der beiden Spiegel. ist positiv, wenn
der Krümmungsradius in das Resonatorinnere zeigt
Bei gegebener Geometrie kann man mit den Methoden aus Kapitel 4 die 2 × 2-
Systemmatrix mit den Elementen ABCD für den Resonator berechnen. Mit ei-
nem Gaußschen Strahl als Grundmode erhält man für einen vollständigen Strahl-
umlauf im Resonator die Bedingung |A + D| < 2. Für einen Spiegelresonator der
Länge (Spiegelabstand) L und Krümmungsradien 1 und 2 der Spiegel gilt mit
L L
g-Parameter g1 = 1 − und g2 = 1 −
1 2
die
22.6 Laserstrahlausbreitung durch beliebige optische Systeme 655
Stabilitätsbedingung für den Spiegelresonator 0 < g1 · g2 < 1 (22.29)
In Abb. 22.7 a sind die Grenzfälle der Stabilität mit g1 · g2 = 1 durch Hyper-
beln dargestellt. Das Stabilitätsgebiet ist schraffiert gezeichnet. In Abb. 22.7 b
ist ein stabiler symmetrisch konzentrischer Resonator gezeigt. In einem insta-
bilen Resonator verlässt der Strahl nach wenigen Umläufen den Laser. Instabile
Resonatoren benutzt man für Laser, deren aktives Medium eine hohe Verstärkung
besitzt oder bei denen hohe Leistungen ausgekoppelt werden sollen, bzw. wenn
kein Substrat für teildurchlässige dielektrische Spiegel verfügbar ist.
Abb. 22.7. b) Resonatorgeometrie und Vorzeichenkonvention. Der Strahlengang im

Spiegelresonator mit den Spiegeln 1 und 2 ist aufgefaltet, um die Vorzeichenumkehr bei
der wiederholten Reflexion zu vermeiden
22.6 Laserstrahlausbreitung durch beliebige optische

Systeme
Mit den grundlegenden Gesetzen für die Ausbreitung des Laserstrahls für den
komplexen Strahlparameter q(z) (22.19), den reellen Krümmungsradius R(z)
(22.21) und den Strahlradius w(z) (22.22) können wir die Strahlparameter der
Laserausbreitung in jedem beliebigen homogenen Medium der Brechzahl n ange-
ben. Wir wollen uns nun der Frage zuwenden, wie sich der Strahl ändert, wenn er
durch ein beliebiges optisches System, das Linsen, Spiegel, Prismen usw. enthält,
modifiziert wird.
Wir verwenden die Ähnlichkeit von gewöhnlichen Kugelwellen, die wir aus der
geometrischen Optik kennen, und Gaußschen Kugelwellen, die wir hier eingeführt
haben. In Abb. 22.8 werden für beide Wellentypen die Grundregeln der Ausbrei-
tung und die Wirkung von Linsen auf die sich ausbreitende Wellenfront gezeigt.
Wir ersehen die Korrespondenz zwischen R(z) für gewöhnliche Kugelwellen und
q(z) für die Gaußschen Kugelwellen (Gaußscher Strahl) in den Definitionsglei-
chungen. Das Ausbreitungsgesetz ist z.B. für gewöhnliche Kugelwellen gegeben
durch:
R2 = R1 + (z2 − z1 ) (22.30)
Abb. 22.8. Korrespondenz zwischen gewöhnlichen Kugelwellen und Gaußschen Kugel-

wellen (Gaußscher Strahl). Kennt man ein optisches Gesetz für gewöhnliche Kugelwel-
len, so kann man ein ähnliches Gesetz für Gaußsche Kugelwellen ableiten, indem man
R(z) durch q(z) ersetzt
Dies entspricht dem Grundgesetz (22.19) der Ausbreitung des Laserstrahls:
q 2 = q 1 + (z2 − z1 ) (22.31)
In ähnlicher Weise wenden wir diese Korrespondenz auf andere grundlegende
Gesetze, z.B. die einfache Linsenformel, an. Für Kugelwellen gilt
1 1 1

= − (22.32)
R R f
wobei R und R die Krümmungsradien auf der Ein- und Austrittsseite sind und
f die Bildbrennweite (s. Abb. 22.8) bedeutet. Ersetzt man für den Laserstrahl
R durch q, so ergibt dies:
1 1 1

= − (22.33)
q q f
Diese Beziehung beschreibt die Veränderung eines einlaufenden Laserstrahls auf-
grund der Brechung durch eine einfache dünne Linse.
Allgemeines Gesetz für die Ausbreitung eines Laserstrahls

Mit der bestehenden Korrespondenz zwischen R(z) und q(z) und unter Verwen-
dung der Matrixmethoden, die wir in Kapitel 4 kennengelernt haben, können
wir auf einfache Weise die Strahlausbreitung durch ein beliebiges optisches Sys-
tem berechnen (s. Abb. 22.9). Ein einfallender Strahl mit den Parametern (x, σ)
trifft auf die Eingangsebene eines beliebigen optischen Systems, das durch die
Systemmatrix

A B
C D
gegeben ist. Beim Austritt aus dem System hat der Strahl die Parameter (x , σ )
Der Krümmungsradius der gewöhnlichen Kugelwelle steht zu den Strahlparame-
tern x und σ in folgender einfacher Beziehung
x
R= (22.34)
σ
Abb. 22.9. Ausbreitung von gewöhnlichen Kugelwellen durch ein beliebiges optisches
System im Matrixformalismus
Wir wissen aus der Matrixoptik, dass der Transfer des Strahles 1 in Strahl 2 durch
ein optisches System durch die ABCD-Systemmatrix (s. Kapitel 4) beschrieben
werden kann:

x A B x
= (22.35)
σ C D σ
Dann gilt
x = Ax + Bσ und σ = Cx + Dσ (22.36)
Dividieren wir die erste Gleichung durch die zweite und verwenden (22.34), so
ergibt sich für den Krümmungsradius der Ausgangswelle:
AR + B
R = (22.37)
CR + D
Verallgemeinern wir das grundlegende Resultat in (22.37) für eine Gaußsche Ku-
gelwelle durch Ersetzen von R(z) durch q(z), so ergibt sich:
ABCD-Transformationsgesetz Aq + B
q = (22.38)
für Gaußsche Strahlen Cq + D
Gleichung (22.38) ermöglicht es uns, die Veränderung der Form eines Laserstrahls
durch ein beliebiges optisches System zu bestimmen. Man muss nur den Ein-
gangsstrahlparameter q beim Eintritt in das System und die Transfermatrix des
optischen Systems kennen. Abbildung 22.10 zeigt z.B. ein typisches Lasersystem,
auf das wir das ABCD-Ausbreitungsgesetz anwenden wollen.
Abb. 22.10. Geometrie eines Helium-Neon-Laserresonators. Bei bekannten Parametern

des Resonators kann man das ABCD-Ausbreitungsgesetz benutzen, um Ort und Größe
der Strahltaille w0 außerhalb des Lasers zu bestimmen
Das in Abb. 22.10 dargestellte Problem besteht darin, den Ort der Strahl-
taille und die dazugehörige Strahlbreite 2w0 außerhalb des Lasers zu bestimmen.
Es ist offensichtlich, dass man (22.38) verwenden kann, wenn man den Wert von
q 0 innerhalb des Laserresonators kennt, z.B. an der Oberfläche des linken ebe-
nen Spiegels10 . Zudem benutzt man die ABCD-Matrix für das optische System,
das sich vom linken Spiegel bis zur transversalen Ebene, die die außenliegende
Strahltaille enthält, erstreckt. Der Wert von q 2 , den wir aus (22.38) erhalten,
liefert dann sowohl Lage als auch den Radius w0 der externen Strahltaille. Dies
wird im folgenden Beispiel illustriert.
Beispiel 22.2 Gaußscher Strahl / Laserresonator mit Linse
Verwenden Sie das ABCD-Ausbreitungsgesetz für die Geometrie des Reso-
nators, die in Abb. 22.10 angegeben ist. Bestimmen Sie die Strahlbreite 2w0
der externen Strahltaille und ihre Entfernung von der äußeren Oberfläche
3 der Spiegel-Linsen-Kombination. Ermitteln Sie den komplexen Strahlpa-
rameter q 0 am Ort des ebenen Spiegels im Resonator. Entwickeln Sie dann
die ABCD-Matrix für die Ausbreitung bis zur externen Strahltaille. Ermit-
teln Sie q 0 , den komplexen Strahlparameter für die externe Strahltaille, durch
Anwendung des ABCD-Ausbreitungsgesetzes:
Aq 0 + B
q 0 =
Cq 0 + D
Bestimmen Sie aus q 0 den Strahltaillenradius w0 und den Ort der externen
Strahltaille.
Im Folgenden werden die allgemeinen Schritte zur Berechnung angegeben.
Details werden in den Aufgaben zu diesem Kapitel behandelt.
a) Finden Sie eine Gleichung für q 0 .
b) Bestimmen Sie die ABCD-Matrix für das optische System vom ebenen
Spiegel bis zur externen Strahltaille.
c) Verwenden Sie das ABCD-Ausbreitungsgesetz, um q 0 auf q 0 zu beziehen.
10
Wie bereits in diesem Kapitel beschrieben und im vorigen Beispiel benutzt, kann man
zeigen, dass die Krümmungsradien der Wellenfront des Laserstrahls an den Spiegeln
mit den Krümmungsradien der Spiegeloberfläche übereinstimmen.
Lösung
a) Da für den ebenen Spiegel 1 = ∞ ist, gilt:
1 1 jλ jλ jπw02
= − 2 → − 2 ⇒ q0 =
q0 1 πw0 πw0 λ
Der Krümmungsradius R2 von Wellenfront und Spiegeloberfläche 2
stimmen im Betrag an der Spiegeloberfläche überein. Die Strahltaille am
Ort des ebenen Spiegels sei w0 . Wir verwenden (22.21) mit λ = 633 nm,
2 = 2 m und z = 0,7 m für die Entfernung vom ebenen Spiegel 1 zum
gekrümmten Spiegel 2. Es gilt die Vorzeichenkonvention für aufgefaltete
Spiegeloberflächen, wobei positiv für konkave Spiegel relativ zum
Inneren des Resonators und negativ für konvexe Spiegel ist. Wir lösen
nach w0 auf und erhalten w0 = 4,38 · 10−4 m. Damit ergibt sich
q 0 = jπw02 /λ = j · 0,952 m.
b) Für die Systemmatrix vom ebenen Spiegel bis zur externen Strahltaille
gilt:

A B 1 l 1 0 1 0 1 0,7 m
=
C D 0 1 − 0,64
0,5
m 1,5 0,5
3m
1
1,5 0 1
, -. / , -. / , -. / , -. /
Translation Brechung Brechung Translation
Führt man die Multiplikationen der Matrizen aus, so erhält man:

A B 1 − 0,53
m
l
0,7 m + 0,63 l
=
C D − 0,53
m 0,63
c) Damit sind alle Elemente des ABCD-Gesetzes bekannt und man kann q 0
berechnen. Mit (22.13) und R2 (l) = ∞ hat man mit Real- und
Imaginärteil zwei Gleichungen zur Berechnung von l und w0 (l) mit dem
Ergebnis l = 0,06 m und w0 (l) = 0,54 mm. Die externe Strahltaille hat
demnach einen Radius von 0,54 mm, sie befindet sich 6 cm rechts von der
Oberfläche 3 der Spiegel-LinsenKombination.
Optik für optimale Strahlausbreitung
Gaußsche Strahlen gehen oft durch Aperturen wie Spiegel, Linsen, Strahlaufwei-
ter oder Fernrohre. Wenn solche Aperturen die Laserenergie bei Durchtritt nicht
beschränken sollen, brauchen wir ein Kriterium für die Größe dieser Aperturen,
relativ zur Größe des Laserstrahls.
Um zu bestimmen, welcher Anteil der eintretenden Leistung durch eine
kreisförmige Öffnung (Linse, Raumfilterblende usw.) mit dem Radius rB hin-
durchtritt, kommen wir auf den Gaußschen TEM00 -Strahl zurück, wo für das
elektrische Feld auf einer Ebene senkrecht zum Strahl gilt:
E(x, y, z) = Ê e−jk(x +y 2 )/2R(z) −(x2 +y 2 )/w 2 (z) −j[kz+p(z)]

2
e e (22.15)
Da die Intensität proportional zum Quadrat der elektrischen Feldamplitude ist,
ergibt sich der gesamte Strahlungsfluss Φtot des Laserstrahls durch Auswertung
des Integrals

Ê 2 (z) e−2(x +y )/w (z) dA
2 2 2 2
Φtot ∼ |E(x, y, z)| dA ∼
A A
wobei die Integration über den gesamten Querschnitt des Strahls ausgeführt wird.
Damit erhält man für die gesamte Leistung im Laserstrahl:
2 π [w(z)]2
Φtot ∼ Ê(z)
2
Hierbei ist Ê(z) die elektrische Feldamplitude im Zentrum des Strahls, die hier-
nach gegeben ist durch:
1
Ê(z) ∼ Φtot
w(z)
Benutzt man (22.15) und berechnet die relative Teilleistung Φteil, r = Φ(r =
rB )/Φtot , die durch eine kreisförmige Apertur mit dem Radius rB hindurchtritt,
so führt man folgende Integration aus:

Φ(r = rB ) 1 2
Φteil,r = ∼ |E(x, y, z)| dA
Φtot Φtot Apertur

Ê 2 (z) rB −2r2 /w2
= e (2πr) dr
Φtot 0
und erhält:
2 2
Φteil,r ∼ 1 − e−2rB /w (22.39)
Abbildung 22.11 zeigt die relative Teilleistung Φteil, r = Φ(rB )/Φtot , die durch
eine kreisförmige Apertur des Radius rB hindurchtritt, als Funktion von rB /w,
wobei w der Strahlradius am Ort der Apertur ist. Wenn der Radius der Apertur
gleich dem Strahlradius ist, werden 86% des Strahles durchgelassen (14% werden
blockiert), während ungefähr 99% transmittiert werden, wenn der Aperturradius
auf das 1,5-fache des Strahlradius erhöht wird. Gibt man demnach jedem opti-
schen Element, durch das der Laserstrahl in einem gegebenen optischen System
verläuft, einen Durchmesser, der das Dreifache des Strahlradius (d = 3w) ist, so
werden nahezu 99% des Strahles durchgelassen. Selbst für diesen Fall dürfen wir
Abb. 22.11. Transmission eines Gaußschen Strahles des Strahlradius w durch eine
kreisförmige Apertur mit dem Radius rB
nicht vergessen, dass Beugungseffekte, die durch die scharfen Randbegrenzungen

der kreisförmigen Aperturen hervorgerufen werden, Störungen im Intensitätsmus-
ter im Nahfeld erzeugen und damit auch die Intensität auf der Strahlachse im
Fernfeld um ungefähr 17% vermindern. Um diese Beugungseffekte zu reduzieren,
vergrößert man die Apertur so, dass d ≈ 4,5 w ist. Optische Elemente mit Durch-
messern, die d ≈ 4,5 w erfüllen, lassen nahezu 100% der Strahlleistung durch,
ohne wesentliche Beugungseffekte am Strahl zu erzeugen.
Mit (22.17) für die Rayleigh-Länge und mit dem Kriterium für den Aper-
turdurchmesser, d ≈ 4,5 w (99% Transmission), kann man die Rayleigh-Länge
für typische Laser in Abhängigkeit von d berechnen. In Abbildung 22.12 werden
Ergebnisse für He-Ne-, HF-(Fluor-Wasserstoff) und CO2 -Laser gezeigt. Ist z.B.
der Aperturdurchmesser d = 4,5 w = 1 cm, so erhält man für die kollimierte
Strahllänge (2·Rayleigh-Länge 2zR = 24,5 m bei λ = 632,8 nm (Helium-Neon-
Laser) und 1,46 m für CO2 -Laserstrahlung bei 10,6 µm. Für den Aperturdurch-
messer 4,5 w = 2 cm ergibt sich – wegen zR ∼ w02 – als kollimierte Strahllänge
beim Helium-Neon-Laser 98 m und für den CO2 -Laser 5,8 m.
Abbildung eines Gaußschen Strahles
Wir wollen die Abbildung eines Gaußschen Strahls durch eine Linse der Brenn-
weite f behandeln. Ein Strahl mit der Taille w0 in der Entfernung z trifft von
links auf eine dünne Sammellinse und wird in die Strahltaille w0 in der Entfer-
nung z rechts der Linse abgebildet. Die Geometrie ist in Abb. 22.13 gezeigt.
Hierbei wird – in Übereinstimmung mit der überwiegenden Literatur hierzu – z
vom Ort der Strahltaille w0 aus gemessen, ist also hier positiv im Gegensatz zu
den Vorzeichenkonventionen in Kap. 3 und 4.
Abb. 22.12. Kollimierter Bereich (doppelte Rayleigh-Länge) 2 zR als Funktion des

Aperturdurchmessers d. Der Laser√ist auf die Taille w0 fokussiert, der Aperturdurch-
messer beträgt d = 4,5 w mit w = 2w0 .
Abb. 22.13. Ein Gaußscher Strahl mit Taille w0 und halbem Strahlöffnungswinkel θ0
wird durch eine dünne Sammellinse der Brennweite f in einen Gaußschen Strahl mit
Strahltaille w0 in der Entfernung z abgebildet
Die zugehörige ABCD-Matrix ergibt sich aus dem Produkt:

⎛ ⎞
z zz
A B 1 z 1 0 1 z 1− z + z −
= =⎝ f f ⎠
C D 0 1 − f1 1 0 1 − f1 1− z
f
(22.40)
Damit folgt aus (22.38):

z zz
1− f q + z + z − f
q = (22.41)
− f1 q + 1 − fz
Wegen (22.16) gilt:
πw02 πw2
in z und q (z ) = −j 0 in z
q(z) = j (22.42)
λ λ
Hiermit kann man nach längerer Rechnung (aus (22.41)) berechnen:
Abbildung eines Gaußschen Strahls durch eine dünne Linse
Strahltaillenradius w0 = w0 VGauß

(22.43)
f πw02
Vergrößerung VGauß = 2 + (z − f )2
mit zR =
zR λ
(22.44)
Schärfentiefe, kollimierter 2
2zR = VGauß 2zR (22.45)
Bereich
halber θ0
θ0 = (22.46)
Strahlöffnungswinkel VGauß
Lage der Strahltaille z − f = VGauß

2
(z − f ) (22.47)
Wir sehen aus (22.47), dass für den allgemeinen Fall z = f gilt. Offensichtlich
wird also der Gaußsche Strahl nicht in der Brennebene der Linse fokussiert, die
in der Entfernung f rechts von der Linse liegt.
Wir können jedoch einige praktische Annahmen machen, die die obigen
Gleichungen erheblich vereinfachen. Betrachten wir zunächst (22.44). Wenn die
Schärfentiefe 2zR des einfallenden Strahles sehr viel größer als die Brennweite f
ist und die Strahltaille w0 am Ort der Linse (z = 0) liegt – keine ungewöhnliche

Situation11 – , dann gilt VGauß = zfR sowie w0 = (f /zR )w0 und mit zR = πw02 /λ
ergeben sich:
11
In vielen Fällen werden Laserstrahlen zunächst aufgeweitet, um anschließend zu ei-
nem kleinen Brennfleck fokussiert zu werden, so z.B. beim Laserschweißen. Für diese
22.7 Gaußsche Strahlen höherer Ordnung 665
λ
w0 ≈ f = f θ0 (22.48)
πw0
z ≈ f (22.49)
wobei θ0 = λ/(πw0 ) der linksseitige halbe Strahlöffnungswinkel ist. Der einfal-
lende Gaußsche Strahl wird also in die rechtsseitige Brennebene der Linse fo-
kussiert, wie man es auch für ein paralleles Strahlenbündel erwartet. Für viele
Anwendungen, z.B. bei einem Laserdrucker, einem Laserscanner oder bei der
Kernfusion will man möglichst kleine Strahltaillenradien erzielen. Aus (22.48)
folgt, dass man dies durch kleine Wellenlängen oder Brennweiten der Linse und
große Strahltaillenradien im einfallenden Strahl erreicht.
22.7 Gaußsche Strahlen höherer Ordnung

Die Lösung für den Gaußschen Strahl stellt die niedrigste Ordnung – d.h. die
transversale Grundmode – dar, die in einem Laserresonator mit offenen Seitenbe-
grenzungen auftritt. Es existieren noch andere Moden höherer Ordnung, die für
die Intensitätsverteilung senkrecht zur Strahlrichtung kein reines Gauß-Profil auf-
weisen. Wir kehren daher zu den früheren Berechnungen dieses Kapitels zurück
und verallgemeinern (22.11), die zunächst folgende Form aufwies:
2
+y 2 )/2q(z)]
U (x, y, z) = Ê e−j[p(z)+k(x (22.11)
Es lässt sich eine große Zahl von Feldverteilungen finden, die (22.1) bzw. (22.10)
mit entsprechenden Randbedingungen erfüllen; (22.11) ist nur die einfachste
Form. Die Feldverteilung muss sich für eine stationäre Lösung – d.h. für den
Resonanzfall – bei jedem Strahlumlauf wieder auf den Resonatorspiegeln repro-
duzieren. Welche Verteilung als Intensitätsmuster des Laserstrahles außerhalb des
Resonators beobachtet wird, hängt von der Geometrie der Spiegel ab. Bei rea-
len Resonatoren haben die Spiegel Begrenzungen, die rechteckig oder kreisförmig
sind. Aus den möglichen Lösungen wählt man die aus, die in einer Ebene senk-
recht zur Strahlrichtung Kreis- oder Rechtecksymmetrie aufweisen. Für die Feld-
verteilung auf dem Spiegel 1 oder 2 erhält man12 bei
Fälle kann die Strahltaille w0 von der Größenordnung eines Zentimeters oder mehr
sein, was bedeutet, dass die Ungleichung zR 2
(z − f )2 erfüllt ist (s. z.B. Übung
22.9).
12
Fox u. Li: Resonant Modes in a Maser Interferometer.
Rechtecksymmetrie

√
√
−(x 2 2 2 2x 2y
E 1,2
mn (x, y, z1,2 ) = Ê(z1,2 ) e
+y )/w1,2
Hm Hn (22.50)
w1,2 w1,2
wobei Hm das Hermite-Polynom der Ordnung m ist; m, n sind natürliche Zah-
len; x, y kartesische Koordinaten in einer Ebene senkrecht zur Strahlrichtung
z. Die Hermite-Polynome findet man in mathematischen Handbüchern oder in
PC-gestützten komfortablen Berechnungsprogrammen. Die niedrigen Ordnungen
sind:
H0 (t) = 1
H1 (t) = 2t
H2 (t) = 4t2 − 2
H3 (t) = 8t3 − 12t
Die Eigenfrequenzen der Moden m, n, q sind in diesem Fall gegeben durch:

c m+n+1 √
fmnq = q+ arccos g1 g2
2L π
mit L als Resonatorlänge, c ist die Lichtgeschwindigkeit im Resonatormedium
(aktives Medium) der Brechzahl n und g1 , g2 die in Kap. 22.5 definierten g-
Parameter.
Kreissymmetrie

√ l

2 2 2r 2r2
E 1,2
pl (r, ϕ, z1,2 ) = Ê(z1,2 ) e−r /w1,2
L(l)
p 2 cos lϕ (22.51)
w1,2 w1,2
(l)
wobei Lp das Laguerre-Polynom der Ordnung p, l ist; p, l sind natürliche Zahlen
und r, ϕ Radial-, bzw. Azimutalkoordinate in einer Ebene senkrecht zur Strahl-
richtung. Die Laguerre-Polynome sind in niedrigen Ordnungen:
(l)
L0 (t) = 1
(l)
L1 (t) = l + 1 − t
(l) 1 1
L2 (t) = (l + 1)(l + 2) − (l + 2)t + t2
2 2
Die Eigenfrequenzen der Moden p, l, q sind gegeben durch:

c 2p + l + 1 √
fplq = q+ arccos g1 g2
2L π
Abb. 22.14. Mit (22.47) und (22.48) berechnete Intensitätsmuster (Modenstrukturen)

für transversale Moden verschiedener Ordnung, wie sie im Ausgangsstrahl eines Lasers
beobachtet werden können. Die Radien w1,2 des Gaußschen Strahles sind bei allen
Verteilungen gleich. Die Doppelziffern geben die Ordnungszahlen pl bzw. mn an
Die stationäre Verteilung des elektrischen Feldes im Resonator wird durch die
Angabe der drei Indizes m, n, q bzw. p, l, q beschrieben. Die Bedeutung der In-
dizes ist aus Abb. 22.14 zu entnehmen13. Die ersten Indizes geben die Anzahl
der Knotenlinien in der jeweiligen Raumrichtung an. Betrachtet man die kreis-
symmetrischen Verteilungen, so geben p die radiale und l die azimutale Anzahl
der Knotenlinien an, bei denen die Intensität Null wird. q ist die Ordnungszahl
der axialen Moden, sie gibt an, wie oft die halbe Resonanzwellenlänge in den
Resonator der Länge L passt.
Als Resonatormode bezeichnet man die stationäre Feldverteilung im Laser,
die durch die drei Ordnungszahlen gekennzeichnet ist. Die Moden werden mit
transversale Moden TEMplq oder TEMmnq bezeichnet.
TEM bedeutet, dass sowohl elektrisches als auch magnetisches Feld senkrecht zu-
einander und zur Strahlausbreitungsrichtung (T ranversal-E lektrisch-M agnetisch)
schwingen, was streng genommen nur für große Strahldurchmesser richtig ist.
Übungen
22.1 a) Zeigen Sie, dass aus (22.5) für Punkte r(x, y, z) nahe der Ausbreitungsachse,
wo (x2 + y 2 ) R2 gilt (s. Abb. 22.2), (22.6) folgt.
b) Beweisen Sie hiermit (22.7).
22.2 Zeigen Sie, dass die Substitution von (22.8) in die Wellengleichung (22.1) zu (22.10)
führt.
22.3 Ein TEM00 -Helium-Neon-Laser (λ = 632,8 nm) hat bei z = 0 eine Strahltaille w0
von 0,5 mm und einen Strahlöffnungswinkel (Divergenzwinkel) von θ0 = 0,4 mrad.
Bestimmen Sie:
a) den Wert des komplexen Strahlparameters q 0 bei der Strahltaille;
b) im Abstand z = 50 m von der Strahltaille den Wert des komplexen Krümmungs-
radius q mit den beiden folgenden Formeln:
1 1 λ πw02
= −j und q =z+j
q R πw2 λ
(Hinweis: Gilt bei 50 m Abstand von der Strahltaille die Fernfeldnäherung?
Wenn dem so ist, was bedeutet dies für R und z?)
22.4 a) Verwenden Sie in Übung 22.3 (22.21) und (22.22), um R(z) und w(z) bei z =
50 m zu bestimmen.
b) Gilt im Fernfeld R(z) ≈ z? Kann man tan θ0 ≈ w(z)/z, wobei der Strahlöff-
nungswinkel 2θ0 (Divergenzwinkel) ist, in Näherung zur Bestimmung von w(z)
bei z = 50 m benutzen?
13
aus: Hodgson u. Weber: Optische Resonatoren.
22.5 Ein TEM00 -Helium-Neon-Laser (λ = 632,8 nm) hat eine Resonatorlänge von
0,34 m, einen hochreflektierenden Spiegel mit dem Krümmungsradius 1 = 10 m
(konkav vom Resonatorinneren aus gesehen) und einen Ausgangsspiegel mit dem
Krümmungsradius 2 = 10 m (ebenfalls konkav).
a) Bestimmen Sie aus der Spiegelgeometrie und mit Hilfe der Randbedingung,
dass die Krümmungsradien der Wellenfronten mit denen der Spiegeloberflächen
übereinstimmen, den Ort der Strahltaille im Resonator. Die Bezugsebene liege
bei z = 0 am Ort der Strahltaille.
b) Bestimmen Sie den Radius w0 der Strahltaille.
c) Ermitteln Sie den Radius der Strahltaille am linken und rechten Laserspiegel.
d) Bestimmen Sie die Strahlöffnungswinkel (Divergenzwinkel) für diesen Laser.
e) Wo beginnt für diesen Laser das Fernfeld, wenn Sie das Kriterium zF F ≥
50(πw02 /λ) benutzen?
f) Wenn der Laser einen Strahl der konstanten Leistung 5 mW emittiert, wie groß
ist dann die mittlere Intensität an der Stelle zF F = 50(πw02 /λ)?
22.6 Bestimmen Sie für die Anordnung in Abb. 22.10 die Strahlübergangsmatrix für das
Ausgangselement des Lasers: mit den Daten: Spiegel-Linsen-Kombination der Dicke
d = 4 mm, Krümmungsradius der Spiegelfläche |2 | = 2 m, Krümmungsradius der
Linsenoberfläche |3 | = 0,64 m und Brechzahl des Linsenmaterials n = 1,5.
a) Verwenden Sie die Definitionen für die Brechungs- und Translationsmatrizen
aus Kap. 4 mit den Vorzeichenänderungen, die in Kap. 22 beschrieben werden,
um die ABCD-Matrix für dieses Element aufzustellen:
⎛ ⎞ ⎛ ⎞ ⎛ ⎞ ⎛ ⎞
⎝ A B ⎠ ⎝ 1 0 ⎠ ⎝ 1 d ⎠ ⎝ 1 0 ⎠
=
n−n n n−n n
C D
3 n n 0 1
2 n n
, -. / , -. / , -. /
Brechung T ranslation Brechung
Achten Sie auf die wechselnde Bedeutung von n und n für die zwei Brechungen
und die Vorzeichenkonvention von 2 und 3 bei den Matrixformeln. Bis auf
von Rundungsfehler sollten Sie folgendes Ergebnis erhalten:
⎛ ⎞ ⎛ ⎞
⎝ A B ⎠=⎝ 1,0007 0,0027 m ⎠
C D −0,5318 m−1 0,9979
b) d = 4 mm ist klein verglichen mit |2 | = 2 m oder |3 = 0,64 m. Wiederholen
Sie deshalb die ABCD-Berechnung, indem Sie in der Translationsmatrix d = 0
setzen.
⎛ ⎞ ⎛ ⎞
⎝ 1 d ⎠→⎝ 1 0 ⎠
0 1 0 1
Welches Ergebnis erhalten Sie für die ABCD-Matrix dieser dünnen“ Linse?
”
22.7 a) Da das Ausgangselement, das in Aufgabe 22.6 beschrieben ist, im Wesentlichen

eine dünne Linse darstellt, vergleichen Sie die ABCD-Matrix aus Übung 22.6
b) mit der Matrix für die dünne Linse
⎛ ⎞
⎝ 1 0 ⎠
− f1 1
und leiten Sie die Brennweite des Ausgangselementes ab.
b) Verwenden Sie (3.23) für die Brennweite einer dünnen Linse

1 nL − n1 1 1
= −
f n1 r1 r2
wobei Sie auf die Vorzeichenkonvention für die Krümmungsradien (s. Kap. 4 mit
Änderungen in Kap. 22.5) achten sollten und berechnen Sie die Brennweite des
Ausgangselementes in Form einer dünnen Linse. Vergleichen Sie die Ergebnisse
von a) und b).
22.8 Gehen Sie von der in Abb. 22.10 gezeigten Anordnung aus und stellen Sie:
a) eine Gleichung zur Bestimmung von q 0 am Ort des ebenen Spiegels auf;
b) lösen Sie (22.21) nach w0 auf;
c) berechnen Sie den Wert für q 0 1;
d) multiplizieren Sie q 0 mit der ABCD-Matrix, um q 0 zu erhalten;
e) verwenden Sie (22.13) und q 0 von Teil d) dieser Aufgabe, um l und w0 (l) zu
berechnen.
22.9 a) Verwenden Sie die Angaben aus Beispiel 2 (s. Abb. 22.10), wobei die externe
Strahltaille bei l ≈ 0,06 m auf eine Strahltaille w0 (l) = 0,54 mm fokussiert wird
und verwenden Sie (22.43) und (22.44) zusammen mit Abb. 22.13, um w0 und
z zu berechnen. Vergleichen Sie diese Ergebnisse mit denen für w0 (l) und l aus
Beispiel 1.
b) Erklären Sie, warum man die Näherungen
f λ
w0 ≈ = f θ1 und z = f
πw0
in diesem Fall nicht verwenden darf.
22.10 Gehen Sie von dem extern fokussierten TEM00 -Laserstrahl der Abb. 22.10 aus, wo-
bei die Strahltaille w0 (l) = 0,54 mm beträgt und sich 0,06 m vom Ausgangselement
entfernt befindet.
a) Berechnen Sie den Geltungsbereich der Fernfeldnäherung rechts von der exter-
nen Strahltaille.
b) Ermitteln Sie den Strahlöffnungswinkel (Divergenzwinkel) für den Laserstrahl,
der von der fokussierten Strahltaille ausgeht.
c) Setzen Sie in den Strahlengang einen 10×-Strahlaufweiter bei z = 30 m rechts
der externen Strahltaille ein. Berechnen Sie die Strahltaille w an den Eintritts-
und Austrittsflächen des Strahlaufweiters.
d) Setzen Sie eine dünne Linse der Brennweite f = 10 cm und geeigneten Durch-
messers in einer Entfernung von 20 cm rechts der Ausgangsfläche des Strahlauf-
weiters ein. Berechnen Sie mit Hilfe von Abb. 22.13 sowie (22.43) und (22.44)
z und w0 für den neu fokussierten Strahl. Können Sie in diesem Fall die Nähe-
rungsformel w0 ≈ λf /(πw0 ) und z = f benutzen? Warum? Vergleichen Sie
die Ergebnisse der exakten und der Näherungsformeln?
22.11 Gegeben sei der Ausdruck

Φ(r = rB ) 1
Φteil,r = ∼ |E(x, y, z)|2 dA
Φtot Φtot Apertur
und (22.15) für E(x, y, z). Führen Sie die Integration über eine kreisförmige Apertur
mit dem Radius r = rB aus und zeigen Sie, dass die Teilleistung eines TEM00 -
Laserstrahls, der durch die Apertur verläuft, gegeben ist durch
2 2
Φteil = 1 − e−2rB /w
22.12 Führen Sie die Integration für

2
+y 2 )/w2 (z)
Φ∼ Ê 2 (z) e−2(x dA
Apertur
über den vollständigen Querschnitt eines TEM00 -Strahls aus und zeigen Sie, dass
die Gesamtleistung Φtot im Strahl gegeben ist durch
πw2 (z)
Φtot ∼ Ê 2 (z)
2
22.13 Zeigen Sie, wie man eine verstellbare kreisförmige Apertur (Irisblende) und ein
Leistungsmessgerät zur Bestimmung des Strahlradius w eines TEM00 -Laserstrahls
an jeder Position des Strahles verwenden kann.
22.14 Bestimmen Sie die kollimierte Strahllänge 2zR , wobei zR die Rayleigh-Länge bedeu-
tet, für einen TEM00 -Nd:YAG-Laserstrahl (λ = 1,064 µm), der durch eine Linse mit
den Aperturdurchmessern d = 1 cm, 2 cm, 3 cm √ oder 5 cm fokussiert wird. Nehmen
Sie an, dass der Linsendurchmesser d = 4,5 · 2 w0 (w0 = fokussierte Strahltaille)
ist. Entnehmen Sie die geometrische Anordnung aus Abb. 22.12 und verwenden Sie
ähnliche Berechnungen, wie sie für den Helium-Neon-, HF- und den CO2 -TEM00 -
Laserstrahl durchgeführt wurden.
23
Laseranwendungen
Die Information über aktuelle Anwendungen in einem sich so schnell entwickeln-

den Feld wie dem der Lasertechnologie veraltet fast so schnell, wie sie geschrie-
ben wird. Dies gilt im Besonderen für Lehrbücher. Trotzdem sollen hier einige der
wichtigen Laseranwendungen vorgestellt werden, die wir heute kennen. Diese An-
wendungen zeigen die Vorteile der Laserstrahlung; sie stellen die Meilensteine“
”
der Lasertechnologie in den 80er und 90er Jahren des 20. Jahrhunderts dar.
Einleitung
Seit seiner Erfindung im Jahr 1960 wurden für den Laser vielfältige Anwendun-
gen in Industrie, Luft- und Raumfahrt, Medizin, Landwirtschaft, Bautechnik,
Unterhaltung, Kommunikation und in der Rüstungsindustrie entwickelt. Der La-
ser hat die wissenschaftliche und die technologische Welt bereichert und wirkt
heute als Katalysator für wichtige Neuentwicklungen z.B. bei Lichtleitfasern in
der Nachrichtentechnik.
Grundlage aller Anwendungen sind seine einzigartigen Eigenschaften. Einfar-
bigkeit, Strahlbündelung, Kohärenz und Intensität der Laserstrahlung bestimmen
674 23 Laseranwendungen
die Einsatzmöglichkeiten. In jeder sinnvollen Anwendung des Lasers werden diese

Eigenschaften, die ihn von anderen Lichtquellen unterscheiden, eingesetzt. Man
muss sich allerdings davor hüten, den Laser um jeden Preis einzusetzen. Es gibt
oft genug konventionelle“ Verfahren, die preiswerter und einfacher in der Hand-
”
habung sind.
Die Mehrzahl der Laseranwendungen kann in zwei Hauptgruppen unterteilt
werden:
1. Laserwirkungen und
2. Laser und Information (siehe Tab. 23.1).
In der ersten Gruppe wird die Wechselwirkung von Laserstrahlung mit Mate-
rie beschrieben. Man erzeugt gezielt bleibende oder vorübergehende Veränderun-
gen. Im anderen Fall verwendet man Laserstrahlung, um Information zu über-
tragen, zu detektieren, zu speichern oder weiterzuverarbeiten.
Tabelle 23.1. Einteilung der Laseranwendungen
Laserwirkungen Laser und Information

Materialbearbeitung Kommunikation
Schneiden, Bohren Informationsverarbeitung
Schweißen Optische Abtastung
Wärmebehandlung Optische Speicherung
Ablation Drucker und Kopierer
Medizin Messtechnik
Beschriftung Holografie
Mikrotechnik Ausrichtung (Fluchtung)
Laserspektroskopie Scanner
Energieübertragung mit Laser Unterhaltung und Projektion
Wehrtechnik
23.1 Laserwirkungen
Aufgrund seiner hohen Leistungsdichte, der guten Strahlbündelung, der Einfar-
bigkeit und ausgezeichneter Kohärenz kann man mit Hilfe des Lasers gezielt ver-
schiedenartigste Materialien verändern. Dies macht den Laser für Anwendungen
23.1 Laserwirkungen 675
geeignet, in denen man z.B. Material veredeln will, aber auch für medizinische
Behandlungen oder für die Kernfusion. In den folgenden Abschnitten werden wir
einige dieser Anwendungen beschreiben.
Materialbearbeitung
Bei der industriellen Materialbearbeitung benutzt man Laser zum Schneiden,

Schweißen, Bohren, Ätzen, Perforieren und zur Wärmebehandlung von vielen
Substanzen. Der Laser ist für diese Anwendungen eine ideale Quelle, da er Energie
in einem eng fokussierten Strahl liefert. Der Laserstrahl kann einfach umgelenkt
oder umgeformt werden, so dass man die Laserleistung genau und wiederhol-
bar auf das Objekt oder den Werkstoff richten kann. Man kann einen gepuls-
ten 500 kW-Laser mit 1 mrad Strahldivergenz so fokussieren, dass Bestrahlungs-
stärken (Intensitäten) von 1012 Watt/cm2 auf der Werkstoffoberfläche erreicht
werden. Hierbei wird die thermische Energie genutzt. Andererseits kann man
Laser hoher Photonenenergie (Excimer) benutzen, um nichthermisch durch La-
serablation Löcher in Werkstücke (z.B. ein menschliches Haar) zu stanzen.
Der Kohlendioxid -(CO2 -)Laser, der bei 10,6 µm Laserstrahlung abgibt, der
Nd:YAG Laser, der bei 1,06 µm emittiert und der Dioden-Laser (z.B. bei 0,8 µm)
sind Laser, die zur thermischen Materialbearbeitung verwendet werden. Die
häufigsten Anwendungen sind Schneiden, Schweißen und die Wärmebehandlung
von Metallen oder Kunststoffen. So werden z.B. die Schneiden von Rasierklin-
gen in großen Stückzahlen durch Laser gehärtet. Laser werden auch in steigender
Zahl zur Verarbeitung und Behandlung von Kunststoffen und anderen nichtme-
tallischen Materialien eingesetzt. Die Aluminiumoxid-Substrate, z.B. von Dick-
schichtschaltungen, werden durch Laser perforiert, so dass man die in einer größe-
ren Fläche hergestellten Schaltungen vereinzeln kann. Laser sind im Besonderen
zu automatisierten und computergestützten Herstellungsprozessen kompatibel, da
man ihre Steuerung leicht programmieren kann. Der Laserstrahl kann über die
Oberfläche eines Werkstückes bewegt werden, und man kann so rechnerkontrol-
lierte Schneid- und Schweißoperationen durchführen. Der flexible Einsatz des La-
sers macht ihn besonders für die Herstellung von Prototypen geeignet. Ein Auto-
mobilhersteller kann z.B. einen Prototyp eines Kunststoff-Armaturenbrettes auf
einem Computer entwerfen und später unter Einsatz des Computers einen Laser
steuern, um ein solches Armaturenbrett (aufbauende Kunststoffabscheidung in
Schichten in einer Lösung) herzustellen ( Rapid Prototyping“).
”
Laser werden in der Fabrikation zum Präzisionsschweißen eingesetzt, z.B. für
sehr kleine Komponenten wie hermetisch versiegelte elektronische Bauteile. Man
benutzt sie, um komplizierte Strukturen mit hoher Qualität zu schweißen. Me-
tallplatten werden exakt und preiswert zugeschnitten, z.B. Kolbenringe für Auto-
mobilmotoren (Prototypen). Man benutzt Laser, um präzise schnelle Schnitte in
Kunststoffe, Gummi, Papier, Kleidung und Holz auszuführen.
In der Automobil- und in der Luftfahrtindustrie ist das Bohren von Löchern
mit Hilfe von Lasern ein wichtiger Herstellungsprozess. Mit dem Laser lassen sich
sehr genau und reproduzierbar Löcher zur Kontrolle des Luft- oder des Flüssig-
keitsflusses in hydraulischen und pneumatischen Komponenten ausführen. Eine
genau lokalisierte Wärmebehandlung von Metalloberflächen, die im Gebrauch
hohen Belastungen durch Reibung oder Ermüdung ausgesetzt sind, kann durch
Laserhärtung und Laserbeschichtung ausgeführt werden. Man benutzt Laser zur
Beschriftung von so brüchigen Materialien wie Hochtemperaturkeramiken und Si-
liziumscheiben (wafer). Der präzise Abgleich – Lasertrimmen – von Mikroschalt-
kreisen und Widerstandsnetzwerken lässt sich mit dem Laser bei einer Vielzahl
von elektronischen Bauteilen schnell durchführen. Laser niedriger Leistung be-
nutzt man zur Ausrichtung von Deckenplatten in einem Raum, zur Vermessung
von Werkstücken und zur Führung, z.B. beim Tunnelvortrieb. Der Laser ist ein
praktisches Werkzeug, um Tausende von Teilen zur Identifikation und nachfol-
genden Sortierung zu markieren.
Das Laserschneiden ist ein typischer industrieller Prozess. Die Abb. 23.1 zeigt
ein einfaches Laserschneidsystem, das mit einem zusätzlichen Gasjet arbeitet. Das
Hilfsgas benutzt man, um das Material beim Schneidvorgang wegzublasen“ oder
”
durch Oxidation zu verbrennen.
Abb. 23.1. Prinzip eines Laserschneidsystems, bei Einsatz eines oxidativen Hilfsgases
als Schneidbrenner“
”
Das tatsächliche Lasersystem hat nur geringe Ähnlichkeit mit der Skizze in
Abb. 23.1. Die Größe eines solchen Lasersystems wird wesentlich durch die Hoch-
leistungsnetzgeräte zur Energieversorgung, die Kühlaggregate und die Strahlop-
tik bestimmt.
Abbildung 23.2 zeigt typische Kurven für das Schneidverhalten eines Hochleis-
tungs-Industrielasers. Sie zeigt außerdem die Dicke des noch schneidbaren Metal-
les als Funktion der linearen Vorschubgeschwindigkeit des Lasers beim Schneid-
vorgang. Wir ersehen aus der Abb. 23.2, dass der hier dargestellte Laser einfacher
durch Stahl als durch Aluminium schneiden kann, was für jede beliebige Schneid-
geschwindigkeit gilt. Der dargestellte Laser schneidet z.B. bei einer Schneidge-
schwindigkeit von 50 mm pro Sekunde durch Materialstärken von 4 mm Stahl
oder 2 mm Aluminium.
Abb. 23.2. Typische Gebrauchsdaten für einen Hochleistungs-Industrielaser, der für

das Schneiden von Metallen benutzt wird
Die Integration von Lasern in Roboter ist eine der neueren industriellen An-
wendungen, die zur Zeit weiter vorangetrieben werden. In der Werkzeugmaschi-
nenindustrie werden Hochleistungslaser – entweder CO2 oder Nd:YAG – einge-
setzt. In einem großen Automobilwerk wird z.B. ein kW-CO2 -Laser zusammen
mit einem Roboter verwandt, um überschüssiges Material von Armaturenbret-
tern abzuschneiden.
Medizin
Mit dem Laserstrahl (Diodenlaser) als Lichtskalpell kann man menschliches Ge-
webe schneiden, verdampfen, auftrennen, schweißen, abdichten, kauterisieren, ko-
agulieren und heilen. In Kap. 7 ist detailliert erklärt, wie man den Laser zur
Behandlung von Augenkrankheiten verwenden kann. Man benutzt den Laser als
nicht invasives chirurgisches Instrument, d.h. man erzeugt medizinisch relevante
Veränderungen im menschlichen Körper ohne diesen mit einem Skalpell zu öffnen.
Laser werden in der Medizin als diagnostisches und therapeutisches Instru-
ment benutzt. In Tab. 23.2 werden wichtige medizinische Anwendungen zusam-
men mit den Daten für typische Wellenlängen und Leistungsniveaus angegeben.
Aus der Liste ersehen wir, dass die Lasertypen, die hauptsächlich im medizi-
nischen Bereich benutzt werden, der Excimer-Laser, der Argonionen-Laser, der
Nd:YAG-Laser, der CO2 -Laser, der Diodenlaser und der abstimmbare Farbstoff-
Laser sind. Die Excimer-Laser (Argonfluorid (ArF) und Kryptonfluorid (KrF))
emittieren unsichtbare Strahlung im fernen Ultraviolett. Der Nd:YAG- und der
CO2 -Laser emittieren Strahlung am anderen Ende des optischen Spektrums im
nahen und fernen Infrarot, wiederum unsichtbar. Der Argonionen-Laser emittiert
einen Lichtstrahl (blaugrün), der deshalb einfacher zu justieren und zu handha-
ben ist. Diodenlaser liefern Strahlung vom sichtbaren Bereich bis ins nahe Infra-
rot. Der abstimmbare Farbstoff-Laser hat zwar eine geringere Ausgangsleistung,
liefert jedoch einen Strahl im Wellenlängenbereich vom violetten Ende des sicht-
baren Gebietes (400 nm) bis zum nahen Infrarot (950 nm). Für die unsichtbaren“
”
Laser benutzt man Justierstrahlen – hauptsächlich Helium-Neon-Laser – um die
Handhabung, z.B. das Ausrichten auf ein Objekt, zu vereinfachen.
Der CO2 -Laser, einer der ersten, der intensiv für medizinische Anwendungen
eingesetzt wurde, emittiert Infrarotstrahlung bei 10,6 µm, diese wird in Was-
ser stark absorbiert. Da Körperzellen und Körpergewebe zu 70 bis 90% Was-
ser enthalten, kann man mit einem CO2 -Laser saubere Schnitte ausführen oder
bei höherer Fokussierung und Leistungsdichte bösartiges Gewebe verdampfen.
Da ein Laser beim Schnitt kauterisiert“ und Kapillaren versiegelt, kann man
”
chirurgische Eingriffe ohne Blutung durchführen. Derzeit ist es ein Nachteil des
CO2 -Laserstrahles, dass er noch nicht mit Faseroptik übertragen werden kann;
die Weiterleitung des Strahles vom Laser bis zur Zielfläche wird deshalb durch
Spiegelsysteme, z.B. in Endoskopen, ausgeführt.
Im Gegensatz zum CO2 -Laser können der Nd:YAG-Laserstrahl bei 1,06 µm
und der Argonionen-Laserstrahl bei 488 nm sehr gut durch Lichtleitfasern übert-
ragen werden. Die Laserenergie kann auf diese Weise von der Laserquelle bis
zum Operationstisch ohne bedeutenden Leistungsverlust weitergeleitet werden.
Durch den Einsatz flexibler Systeme, die sich aus der Kombination von Laser-
strahlen und faseroptischen Endoskopen ergeben, können Chirurgen heutzutage
im Bauchraum Operationen durchführen, bei denen nur Schnitte von wenigen
Zentimetern Länge durchgeführt werden müssen.
Der blaugrüne Argonionen-Laser ist insofern einzigartig, als er selektiv durch
rote und braune Substanzen, wie z.B. rote Blutkörperchen oder Hautpigmen-
te, absorbiert wird. Man kann deshalb mit diesem System Netzhautblutungen
durch Photokoagulation unterbinden und abgelöste Netzhautteile wieder anhef-
ten. Muttermale oder Tätowierungen lassen sich entfernen, wobei der obere, nicht
pigmentierte Teil der Haut ohne Verletzung durchdrungen wird.
Den Nd:YAG-Laser benutzt man mit einem faseroptischen Endoskop für
Photokoagulationen, wie z.B. das Veröden von blutenden Magengeschwüren, für
große Tumore oder für Blutgefäße tief innerhalb des Körpers. Den Nd:YAG-Laser
verwendet man außerdem mit Erfolg zur Versiegelung kleiner blutender Gefäße
der Retina, wodurch eine Erblindung vermieden werden kann. Hierzu wird der
Nd:YAG-Laser bis auf einen Fleck von 20 umum Durchmesser fokussiert.
In einer weiteren Anwendung fokussiert man einen Nd:YAG-Laser auf einen
30 µm-Brennfleck innerhalb des Auges. Hierbei erreicht man Bestrahlungsstärken
(Leistungsdichten) von über 1 GW/cm2 und im Glaskörper tritt Ionisation auf.
Die nachfolgenden akustischen Stoßwellen zerreissen undurchsichtig gewordene
Membranen auf der Sichtachse des Auges. Diese Photodisruption ist ein Beispiel
nicht invasiver schmerzfreier Chirurgie und wurde ausführlicher in Kap. 7 behan-
delt. Mit der gleichen Methode zertrümmert man auch bei der Lithropsie Nieren-
und Blasensteine.
Gegenwärtig werden sowohl der Nd:YAG- als auch der Excimer-Laser zur Be-
handlung der Arteriosklerose oder zum Öffnen blockierte Blutgefäße des Herzens
eingesetzt. Mit faseroptischen Endoskopen kleinen Durchmessers kann man in
den Arterien Ablagerungen entfernen (Angioplastie).
In den letzten Jahren ist der Halbleiterlaser zu einem wichtigen Werkzeug in
der Werkstofftechnik geworden. Mit ihm kann man sowohl Stahl wie auch Kunst-
stoff schweißen. Bei Lötverbindungen verschiedener Metalle kann er ebenfalls
eingesetzt werden. Sogar große Werkstücke, wie eine Motorkurbelwelle, können
oberflächengehärtet werden. Für die Entlackung von Flugzeugen verwendet man
ebenfalls Halbleiterlaser, denn nur diese sind bei der erforderlichen Strahlleistung
als Handgerät ausführbar. Für die Industrie sind Halbleiterlaser aus finanziellen
Gründen interessant, da der Anschaffungspreis relativ niedrig ist und die Be-
triebskosten gering sind.
Von den zahlreichen Anwendungen in der Medizin sei hier als Beispiel ein
Verfahren zur Senkung des Augeninnendruckes beim grünen Star (Glaukom, s.
Kap. 7.5) genannt. Dies ist Zyclo-Destruktion, eine Methode, bei welcher der Zi-
liarkörper, in dem das Kammerwasser im Auge produziert wird, durch teilweise
Gewebezerstörung verkleinert wird, womit man eine Reduktion des Augeninnen-
druckes erreicht.
In Tab. 23.3 werden summarisch die hauptsächlichen medizinischen Felder
aufgelistet, in denen Laser gegenwärtig angewandt werden und wo sie für die Zu-
kunft vielversprechend sind. Ein kurzer Blick zeigt, dass viele Teile des menschli-
chen Körpers für dieses Verfahren zugänglich sind und welche Krankheiten damit
behandelt werden.
Tabelle 23.2. Laser in der Medizin
Lasertyp Wellenlänge typische Leistung Anwendung

Excimer: gepulst, Energie 10 mJ Schnitte,
pro Puls Photoablation
(Ophtalmologie,
Kardiologie und
Arthroskopie)
Argonfluorid 193 nm (ultraviolett,
unsichtbar)
Kryptonfluorid 248 nm (ultraviolett;
unsichtbar)
Argonionen 488 nm (blaugrün; kontinuierlich; bis zu Photokoagulation,
sichtbar) 20 W Heften, Verdampfen
(Dermatologie,
Ophthalmologie,
allgemeine Chirurgie)
abstimmbarer 631 nm (rot; sichtbar) kontinuierlich; 3-4 W Photoaktivierung
Farbstofflaser (Behandlung von
Tumoren)
Diodenlaser 0,4 − 10 µm kontinuierlich, bis 2 W med. Haarentfernung,
interstitielle
Thermotherapie von
Lebertumoren,
Ophtalmologie:
Therapie der
Macula-Degeneration,
Glaukom
Nd:YAG 1,06 µm (infrarot; kontinuierlich; Photokoagulation,
unsichtbar) 60-100 W gepulst; Verdampfung,
max. Pulsleistung Perforierung
1 MW (Ophthalmologie,
Gastroenterologie,
Dermatologie,
Urologie und Tumore)
Kohlendioxid (CO2 ) 10,6 µm (infrarot; kontinuierlich; Gewebeverdampfung,
unsichtbar) 30-100 W Einschnitte,
Exzisionen
(Dermatologie,
Gynäkologie,
Gastroenterologie und
Neurochirurgie)
Tabelle 23.3. Gebiete der Medizin für Laseranwendungen
Gegenwärtige Anwendungsfelder
Ophthalmologie Augen
Gynäkologie weibliche Geschlechtsorgane
Dermatologie Haut
Kardiologie Herz und Blutgefäße
Gastroenterologie Magen, Darm
Onkologie Tumore, Zellen
Zukünftige Anwendungsfelder
Neurochirurgie Nerven
Otolaryngologie Hals, Nase, Ohren
Pediatrie Füße
Urologie harnleitende Organe
Zahnheilkunde Zähne
Laserinduzierte Kernfusion
Es ist schon lange das Ziel von Wissenschaftlern, eine nicht erschöpfbare Ener-
giequelle zu finden. In den frühen 50er Jahren wurde das prinzipielle Verständ-
nis für thermonukleare Phänomene und die Fusion erworben, und dieses Ziel
schien der Verwirklichung etwas näher zu kommen. Mit der gut bekannten
D-T-Kernreaktion, bei der zwei Isotope von Wasserstoff – Deuterium und Tri-
tium – verschmelzen und dabei 14 MeV kinetische Energie freisetzen, dachten
Wissenschaftler daran, den Mechanismus der Energieproduktion der Sonne nach-
zuahmen. Die Fusionsreaktion verlangt jedoch außergewöhnlich hohe Drucke und
Temperaturen. Bisher hat man die Haupttechnologien zum Einschluss und zur
Erzeugung eines Plasmas hoher Dichte und Temperatur, ähnlich denen auf der
Oberfläche der Sonne, erarbeitet. Zu diesen Technologien gehört auch die laser-
induzierte Fusion.
Die grundsätzliche Idee ist relativ einfach. Bei der Laserfusion bestrahlt man
ein Kügelchen (Pellet) des Fusionsbrennstoffes, gewöhnlich eine Mischung von
festem Deuterium und Tritium, gleichförmig über seine Oberfläche mit hoch-
energetischen Laserstrahlen, die um das Pellet herum angeordnet sind, wie in
Abb. 23.3 gezeigt. Die schnelle Aufheizung der Oberfläche des Pellets erzeugt
eine Abschmelzung an dessen äußeren Mantel. Die schnelle Verdampfung an der
Oberfläche wird durch eine nach innen gerichtete Stoßwelle (Implosion) begleitet,
die die geforderten Bedingungen für die Fusion, hohe Dichte und hohe Tempera-
tur, herstellt. Im Innern der Pellets erreicht man Dichten, die das 104 -fache des
Wassers betragen und einen Temperaturanstieg bis auf über 1 · 108 K. Diese Be-
dingungen muss man für ungefähr eine Picosekunde aufrecht erhalten, um damit
eine Fusionsreaktion und die Abgabe von enormen Energiemengen zu erreichen.
In den 90er Jahren wurde im Lawrence-Livermore-Laboratorium in Kalifor-
nien das NOVA-Nd:Glas-Lasersystem aufgebaut, um Deuterium-Tritium-Kügel-
chen zu bestrahlen. Es wurde keine Kernfusion erreicht, aber das System erreichte
Petawatt (= 1015 Watt) Leistung, wobei der Laserpuls eine Ernergie von 680 J
hatte und 440 Femtosekunden dauerte. Das NOVA-System wurde 1999 stillgelegt
und in Livermore mit dem Aufbau der NIF (National Ignition Facility) begon-
nen. Hierbei sollen 192 Laserstrahlen in ihrem Kreuzungspunkt die notwendige
Leistung zur Fusion erbringen. 2003 erreichte man mit einem Prototypsystem
(1 Strahl) eine Energie von 10,4 kJ für UV-Laserstrahlung bei 351 nm mit ei-
ner Pulsdauer von 3,5 ns. Dies entspricht einer Leistung von 3 · 1012 Watt. Mit
192 Laserstrahlen würde man 0,6 · 1015 Watt erzielen. Der schwache Ursprungs-
laserpuls wird mit einem Faserlaser (Ytterbium-dotiert) erzeugt, der in zahlrei-
chen Verstärkern auf die hohe Energie gebracht wird. Detailliertere Informationen
findet man unter www.llnl.gov/str/Powell.html. Ein Teil der zur Verfügung
stehenden NOVA-Komponenten wird in Deutschland bei der GSI in Darmstadt
zum Aufbau des Petawatt-Lasers Phelix“ eingesetzt (www.gsi.de/phelix). Der
”
Rekord für den stärksten fokussierten Petawatt-Laser wird z.Zt. (2004) vom Vul-
”
can“ Laser (www.clf.rl.ac.uk/Events/CLF News/vulcan page.htm) in Groß-
britannien mit 1021 Watt/cm2 gehalten.
Die Theorie zeigt, dass Wellenlängen, die kürzer als 1 µm sind, Vorteile für
die Erzeugung der Kompressionswelle aufweisen. Darum führt man gegenwärtige
Fusionsexperimente bei Wellenlängen von 0,53 µm und 0,35 µm durch. In Über-
einstimmung mit den theoretischen Vorhersagen zeigen diese Experimente die
größere Wirksamkeit von kürzeren Wellenlängen bei der Zündung und dem ther-
monuklearen Verbrennungsprozess. Wenn die Laserfusion technisch und ökono-
misch handhabbar wird, hat sich einer der größten Träume, ein unbegrenztes
Energiereservoir, erfüllt.
23.2 Laser und Information

Wir leben im Zeitalter der explosionsartig zunehmenden Informationsmenge.
Rechner sorgen für den unmittelbaren, weltweiten Zugang zu Quellen der In-
formation, einer Vielzahl von Datenbanken. In diesem Bereich spielen Laser ei-
ne führende Rolle. Man benutzt sie in Systemen, die Informationen abtasten,
drucken, übertragen und speichern. Laserdrucker und Scanner (Abtaster) sind
bereits einige Jahre auf dem Markt. Lasergestützte Sensorsysteme werden zur
Entdeckung von Umweltverschmutzungen, Windgeschwindigkeiten und globalen
Wetterfaktoren benutzt. Laser und Lichtwellenleiter ändern die Kommunikati-
onstechnologien. Laser und Hologramme weisen den Weg zu einem effizienten
23.2 Laser und Information 683
Abb. 23.3. Symmetrisch angeordnete Laser (L) bestrahlen ein kleines Deuterium-
Tritium-Kügelchen (Pellet). Die sehr schnelle Aufheizung der Oberfläche verursacht
Ablation (A) und eine Expansion der Oberfläche nach außen hin. Als Reaktion hierauf
tritt eine nach innen gerichtete Stoßwelle (C) auf, die für die hohe Dichte und die hohen
Temperaturen sorgt, die zur Fusionsreaktion nötig sind
Speichersystem und zum Abruf von riesigen Informationsmengen. Wir wenden

uns nun einem kurzen Überblick der Laseranwendungen bei der Informationsver-
arbeitung zu.
Nachrichtenübertragung mit Lasern (s.a. Kap. 24)
Die Übertragungskapazität eines Kommunikationssystems ist zur Breite des

verfügbaren Frequenzbandes proportional. Benutzt man Licht mit Trägerfrequen-
zen in der Größenordnung von im Bereich 500 THz, so kann im Prinzip – vergli-
chen mit Radio und Mikrowellensystemen, die bei wesentlich kleineren Träger-
frequenzen arbeiten – eine vielfache Informationsmenge übertragen werden. Mit
dem Laser wurde in den 60er Jahren eine Strahlungsquelle verfügbar, die viele
Anforderungen an Monochromasie, Kohärenz und Bandbreite erfüllte und die
optische Nachrichtenübertragung ermöglichte. Der entscheidende Fortschritt auf
diesem Gebiet wurde jedoch erst in den 80er Jahren durch die Entwicklung des
Monomode-Halbleiterlasers und der Monomode-Faser bei einer Wellenlänge von

1,55 µm erzielt.
Mit nichtoptischen Kommunikationssystemen, bei denen Satelliten, Richt-
funkstrecken, Koaxialkabel und Wellenleiter eingesetzt werden, überträgt man
bereits seit langem Informationen über große Entfernungen. Für diese Systeme
verwendet man elektromagnetische Wellen von größerer Wellenlänge bzw. niedri-
gerer Frequenz als Laserlicht. So ist z.B. die Frequenz in der Mitte des sichtbaren
Spektrums ungefähr 105 mal größer als die Frequenz der cm-Wellen, die man in
Richtfunkstrecken benutzt. Dies bedeutet, dass die theoretische Übertragungs-
kapazität einer Lichtwelle ungefähr 105 mal größer ist als die einer Mikrowelle.
Bevor wir uns den Eigenschaften der heute eingesetzten optischen Übertragungs-
systeme zuwenden, werden im Folgenden einige Begriffe der Nachrichtentechnik
kurz erläutert.
In einem Übertragungssystem wird die Nachricht – Telefongespräche, Fern-
sehübertragungen, usw. – durch Modulation dem Träger auf der Senderseite auf-
geprägt und auf der Empfängerseite durch Demodulation erkannt. Bei der op-

tischen Nachrichtenübertragung kann man die Intensität oder das E-Feld, d.h.
Amplitude, Phase, Frequenz oder Polarisation der elektromagnetischen Welle mo-
dulieren. Zur Übermittlung von mehreren Nachrichten auf demselben Leitungs-
weg – und damit zur Erhöhung der Übertragungskapazität – verwendet man die
Multiplextechnik. Hierbei markiert man jede Nachricht eines bestimmten Kanals
auf der Senderseite durch ein zusätzliches physikalisches Merkmal, das man auf
der Empfängerseite identifiziert und mit dem man die Nachrichten verschiedener
Kanäle unterscheiden kann.
Informationen zur optischen Datenübertragung werden in Kap. 24 und spe-
ziell in Kap. 24.2 (Optische Übertragungssysteme) und Kap. 24.3 (Bandbreite
und Übertragungsrate) vermittelt.
Informationsverarbeitung
Laser haben nicht nur einen starken Einfluss auf die Kommunikationstechnologie,
wozu die Übertragung und der Empfang von Information – unter Wasser, über
Land und durch den Weltraum – gehört, sie treiben auch neue Technologien in
der optischen Datenspeicherung voran. Laser sind für solche Anwendungen ide-
al, da sie hohe Kohärenz und Fokussierbarkeit aufweisen. Durch Laser erzeugte
Hologramme liefern hochwirksame Medien für die optische Speicherung, wie wir
sie in Kap. 13 diskutiert haben. Die Laser, die man bei der Informationsver-
arbeitung einsetzt sind im Wesentlichen der He-Ne-, der Argonionen- und der
Halbleiterlaser.
Die Speicherung großer Informationsmengen wird ein immer drängenderes
Problem. Die NASA empfängt z.B. jedes Jahr 1015 Bits an Daten von Satelliten
und Raumsonden. Diese Daten müssen verarbeitet, interpretiert und gespeichert
werden. Es ist offensichtlich, dass man schnelle zuverlässige Systeme für die In-
formationsverarbeitung benötigt.
Bei den digitalen optischen Datenspeichern kann man verschiedene Arten von
Speichermedien unterscheiden:
1. CD-ROM. Dies ist ein Datenträger, der nur noch gelesen, aber nicht mehr
verändert werden kann. CD steht für compact disc“ und ROM für read
” ”
only memory“. Die Kapazität der CD-ROM beträgt ca. 700 MByte.
2. CD-RW. Dieses Speichermedium kann man mehr als 1000 mal neu beschreiben
und lesen. RW steht für ReWritable“ Die Kapazität ist gleich der der CD-
”
ROM.
3. WORM. Mit dieser Bezeichnung charakterisiert man einen Datenspeicher,
der einmal beschreibbar und beliebig oft lesbar ist. Die Aufzeichnung erfolgt
durch den Anwender und ist sofort lesbar aber nicht mehr änderbar. WORM
steht für write once read many times“.
”
4. Magnetisch-optische Speicherplatte. Die Kapazität beträgt bis zu 2,6 GByte.
5. DVD. Diese Buchstaben sind ein Akronym für Digital Versatile Disc“. Die
”
Kapazität beträgt in der neusten Generation bis zu 25 GByte (blue-ray disc)
und 25 GByte bei der PPD ( Professional Disc for Data“).
”
Bei der Herstellung einer kommerziellen CD-ROM wird die Laserquelle in ge-
eigneter Weise durch das elektronische Signal der digitalen Daten moduliert.
Der Laser schreibt Datenbits auf eine photoreaktive Oberfläche, gewöhnlich auf
Platten von 12 cm Durchmesser. Hierbei verursacht er eine Änderung in den
Eigenschaften der Platte an präzise lokalisierten Stellen in der Größenordnung
von Mikrometern. Durch nachfolgende Abtragung der Oberfläche an dieser Stel-
le durch Ätzverfahren erhält man rillenartige Vertiefungen bestimmter Länge, so
genannte pits, deren Breite ca. 1 µm beträgt. Zum Auslesen wird ein Laserstrahl
niedriger Leistung auf die Oberfläche fokussiert, wobei der Strahldurchmesser
etwas größer als die Breite der pits“ ist. Das reflektierte Licht wird durch das
”
Oberflächenmuster aufgrund der Interferenz zwischen dem an der Oberfläche und
in den Pits reflektierten Licht moduliert. Das modulierte Lichtsignal wird durch
geeignet positionierte Photodioden detektiert und deren Signal in das elektroni-
sche Datenmuster zurück übersetzt. Die Compact-Disc für die Wiedergabe von
Audio- oder Videoinformation ist ebenfalls vom gleichen Typ.
Beim Beschreiben einer CD-RW mit dem Laserstrahl eines Halbleiterla-
sers wird die Kristallstruktur der Aufzeichnungschicht( aktive Schicht“) der CD
”
verändert. Der gepulste Laserstrahl heizt die aktive Schicht über den Schmelz-
punkt (600◦ C) auf, wodurch amorphe Markierungen in der Kristallschicht entste-
hen. Das Reflexionsverhalten der aktive Schicht ist an den amorphen Markierun-
gen verschieden von der Umgebung, was man zum Lesen der auf der CD gespei-
cherten Informationen benutzt. Zum Löschen bringt man die aktive Schicht mit
dem Laser für eine genügend lange Zeit (Kristallationszeit) auf eine Temperatur,
die zwischen der Kristallationstemperatur und der Schmelztemperatur liegt. Da-

mit erhält die aktive Schicht wieder Kristallstruktur. Die Kapazität der CD-RW
beträgt ca. 700 MByte. Die DVD-RW funktioniert nach dem gleichen Prinzip, hat
aber für die höhere Kapazität und die größeren Datenübertragungsraten einen
anderen Aufbau.
Die magneto-optische Speicherplatten ist mit einem Laser frei beschreibbar
und lesbar. Die Magnetschicht des Speichermediums ist vor dem 1. Beschreiben
einheitlich magnetisiert. Die Koerzitivkraft der Schicht ist so hoch, dass ein klei-
ner Magnet im Laufwerk die Magnetisierung nicht verändern kann. Im Brenn-
punkt (Durchmesser 1 µm) eines Infrarotdiodenlasers erwärmt der Laserstrahl
die Magnetschicht des Speichermediums auf Temperaturen um 200◦ C, wobei
die Koerzitivkraft kleiner wird und die Richtung der Magnetisierung an dieser
Stelle durch den Elektromagneten bestimmt wird. Zum Auslesen der Daten nutzt
man den magneto-optischen Kerr-Effekt, wobei die Polarisationsebene des line-
ar polarisierten Laserstrahles bei der Reflexion an der magnetischen Oberfläche
abhängig von der Orientierung der Magnetisierung nach links oder rechts gedreht
wird. Die Drehung der Polarisationsebene wird mit einem speziellen Detektor-
system bestimmt und daraus die binäre Information 0“ oder 1“ ermittelt. Das
” ”
Beschreiben und Lesen erfolgt also mit konventioneller Magnettechnik, der Laser
erhöht nur die Auflösung und damit die Speicherdichte. Gegenwärtig beträgt die
Speicherkapazität einer magneto-optischen Speicherplatte von 5 41 Durchmesser
1,5 Gbyte. Diese Speicherkapazität entspricht dem Inhalt von 120 000 Schreibma-
schinenseiten. Die mittlere Zugriffszeit liegt in der Größenordnung von Millise-
kunden.
Laserdrucker arbeiten schnell und geben ein sauberes Druckbild. Sie stehen in
starker Konkurrenz zu modernen Tintenstrahldruckern. Diese erzeugen ein Bild,
indem Tintentröpfchen auf das Papier gespritzt werden. Ihre Geschwindigkeit
liegt bei einigen Seiten pro Minute. Im Laserdrucker wird das Gesamtbild der zu
druckenden Seite durch einen Laserstrahl erzeugt, der eine fotoleitende Trommel
überstreicht. Hierbei werden der Druckvorlage entsprechend bestimmte Gebiete
auf der Trommel selektiv entladen (s. Abb. 23.4). Toner oder Farbe, die Ladung
umgekehrter Polarität aufweisen, haften auf der fotoleitenden Oberfläche und
werden dann durch Druck auf das Papier übertragen und durch Hitze fixiert. Bei
diesem Prozess erzeugt ein Laserstrahl sehr viel kleinere Druckpunkte (wegen
hoher Kohärenz und Fokussierbarkeit) als beim Tintenstrahldrucker und damit
lässt sich ein Druckbild von sehr viel höherer Qualität erreichen. Die Druckge-
schwindigkeit variiert von einigen Seiten pro Minute bis zu mehreren Seiten pro
Sekunde, abhängig vom Preis des Druckers.
Fernerkundung mit dem Laser
Der gegenwärtige Erfolg von Raumfahrtmissionen aufgrund der Fortschritte in

der Lasertechnologie hat die Fernerkundung mit dem Laser belebt. Diese basiert
Abb. 23.4. Schema des optischen Systems eines Laserdruckers
auf dem Nachweis des gestreuten Laserlichtes, das von weit entfernten Objekten
rückgestreut wird. Das Nachweissystem – bestehend aus Laserquelle und De-
tektor – befindet sich häufig auf Raumstationen oder Satelliten, während die
Zielobjekte weit entfernt sind, z.B. in der Atmosphäre (Ozonnachweis), oder auf
der Erdoberfläche (Vegetation, Bodenstruktur). Auf der Erdoberfläche befind-
liche Systeme benutzt man u.a. zum Nachweis der Umweltverschmutzung oder
globaler Windströmungen.
Diese Technik nennt man auch Laserradar oder LIDAR (li ght d etection and
r anging), wobei man zur Untersuchung des Zielobjektes einen Laser als Quel-
le und empfindliche Detektoren zum Nachweis einsetzt. Für diese Anwendung
muss der Laser geeignete Wellenlänge, Abstimmbarkeit, im Allgemeinen hohe
Ausgangsleistung und Pulswiederholrate sowie Amplituden- und Frequenzsta-
bilität aufweisen. Zusätzlich sollte er einen hohen Wirkungsgrad besitzen, me-
chanisch stabil sein und über einen größeren Zeitraum störungsfrei arbeiten. Ge-
genwärtig genutzte Laserquellen sind z.B. der CO2 -Laser, die gepulsten Nd:YAG-
oder Nd:Glas-Laser, der Alexandrit-Laser, Nd:YAG-gepumpte Farbstoff-Laser,
Excimer-Laser, Dioden-gepumpte Nd:YAG-Laser und eine vollständig neue Klas-
se von kontinuierlich abstimmbaren Festkörperlasern, wie z.B. der Kobalt-Mag-
nesium-Fluorid- (CoMgF) Laser. Diese Laserfamilie sorgt für einen Wellenlängen-
bereich, der von 0,66 µm bis 10,6 µm reicht, was für viele Anwendungen ausrei-
chend ist.
Die Messobjekte, welcher Natur auch immer, müssen mit dem Strahl des Sen-
delasers wechselwirken und eine Änderung verursachen, die man messen kann. Zu
diesen Änderungen, die vom Nachweissystem über die rückgestreute Laserstrah-
lung nachgewiesen werden, gehören die Fluoreszenz, die Raman-Strahlung und
der Doppler-Effekt, die wichtige Informationen über die chemische Zusammen-
setzung, die Konzentration oder die Bewegung des Zielobjektes liefern.
Die Möglichkeiten dieser Verfahren und zukünftige Perspektiven werden an
zwei Anwendungen erläutert, der Messung von Windgeschwindigkeiten und der
Verschiebung der Erdkruste. Die genaue Kenntnis über die Bewegungsrichtung
und Geschwindigkeit von troposphärischen Winden ist von großer Bedeutung
für das Verständnis von globalen Wetterabläufen. Hierzu könnte man ein raum-
gestütztes CO2 -Lasersystem in einer Erdumlaufbahn einsetzen, z.B. auf einem
Satelliten oder im Space-Shuttle, wobei die Entfernung zur Erdoberfläche 250 bis
800 km beträgt. Aus solcher Höhe benötigt man eine große Laserleistung, ande-
renfalls ist die rückgestreute Strahlung zu schwach, um detektiert zu werden. Die
einfallende Laserstrahlung wird durch Staubpartikel rückgestreut, die sich mit
dem Wind mitbewegen. Die Berechnung der Windgeschwindigkeit und -richtung
erfolgt aus der Doppler-Frequenzverschiebung der reflektierten Strahlung. Ein
CO2 -Lasersystem, mit dem man Windgeschwindigkeiten mit einer Genauigkeit
von 1 m/s messen will, erfordert einen Puls pro Sekunde mit etwa 10 J Energie
bei einer Frequenzstabilität von einigen hundert kHz. Zum Betrieb solcher Laser
benötigt man dann eine elektrische Leistung in der Größenordnung von einigen
Kilowatt. Diese Leistungen müssen im Raumfahrzeug zur Verfügung stehen.
Weltraumgestützte LIDAR-Systeme kann man auch zur Detektion von Ver-
schiebungen der Erdkruste in Erdbebengebieten, vulkanischen Zonen oder Land-
absenkungen einsetzen. Das Verfahren beruht auf der Messung der Laufzeit von
sehr kurzen Laserpulsen im Nanosekundenbereich aus dem Raum zu erdgestütz-
ten Retroreflektoren und zurück und einfachen Methoden der Triangulation. Da-
bei kann man den Abstand zu bestimmten Gebieten der Erdkruste mit einer
Genauigkeit von 1 bis 2 cm messen. Wiederholt man diese Messung in geeigne-
ten Zeitintervallen, so kann man Bewegungen der Erdkruste feststellen und be-
obachten. Man benutzt Nd:YAG-Lasersysteme mit einer Pulsbreite von weniger
als 0,5 ns und einer Pulswiederholungsrate in der Größenordnung von 10 Pulsen
pro Sekunde. Das rückgestreute Signal kann im Raumschiff durch ein 15 cm Tele-
skop mit Photomultiplier und geeigneter Nachweiselektronik detektiert werden.
LIDAR-Techniken setzt man zum Nachweis von Umweltverschmutzung, der
Identifizierung von toxischen Substanzen oder zur globalen Messung von be-
stimmten atmosphärischen Gasen und Aerosolen ein. Man detektiert Rauchgas-
emissionen aus Industrieanlagen oder Gaslecks in Rohrleitungen. Atmosphäri-
sche Konzentrationen von Ozon, Wasserdampf und Schwefelsäure können mit
ausreichender Genauigkeit gemessen werden. Wichtig sind Laserabsorptionspek-
23.3 Gegenwärtige Entwicklungen 689
trometer, die auf den Prinzipien der differentiellen Absorption und der Resonanz-
fluoreszenz beruhen. Globale Messungen zur Bestimmung der atmosphärischen
Aerosolkonzentrationen sind von großer Bedeutung und können mit Hilfe von La-
sersystemen durchgeführt werden. Diese Messungen könnten die Rolle der Aero-
sole bei der Erwärmung oder Abkühlung unseres Planeten wie auch die Bildung
und Entwicklung von Dunstschichten in der Troposphäre klären.
Der Erfolg von Raumfahrtmissionen wie Voyager“, Satellitensystem im In-
” ”
frarot“ und einiger Landsat-Satelliten“ zeigt, dass die raumgestützte Untersu-
”
chung der Erdatmosphäre und der Erdkruste eine sich schnell weiterentwickelnde
Technik darstellt.
23.3 Gegenwärtige Entwicklungen

In den frühen 90er Jahren hat die Entwicklung neuer Lasermaterialien Laserstrah-
lung im gesamten Wellenlängenbereich von 0,3 µm bis 1 µm verfügbar gemacht.
Zu den bekannten Lasern kamen neue Laser wie der Titan-Saphir-, der Kobalt-
dotierte Magnesium-Fluorid-Laser, der Alexandrit-Laser, der Nd:YLF- (Neodym-
Ytrium-Lithium-Fluorid) Laser und der NYAB- (Neodym-Yttrium-Aluminium-
Borat) Laser hinzu.
Die Dioden-Laser konkurrieren nun mit den alten“ He-Ne-Lasern und ver-
”
drängen diese in vielen Bereichen, z.B. als Lichtzeiger“ bei der Präsentation von
”
Diapositiven oder als Justierlaser“. Vorteile der Diodenlaser sind die äußerst
”
geringe Größe (Chip von ca. 0,5 mm × 0,5 mm), der hohe Wirkungsgrad (ca. 20-
50%), der nutzbare Spektralbereich (sichtbar bis Infrarot) und anderes mehr. Die
Strahlleistungen reichen von einigen Watt für eine Einzeldiode bis zu 50 Watt für
eine Diodenzeile. Die Dioden-Laser ersetzen für viele Anwendungen die Blitz-
lampen in optisch gepumpten Lasern, wobei die Dioden-Laser als Pumpe“ eine
”
fast ideale Übereinstimmung mit der spektralen Absorption des Lasermediums
aufweisen (z.B. beim Nd-YAG-Laser). Dies bedeutet einen höheren Wirkungs-
grad, eine höhere Zuverlässigkeit. Die Frequenzverdopplung von Lasern ist durch
die Herstellung von hochreinen Kristallen, z.B. von Lithium-Niobat (LiNbO3 ),
bedeutend vereinfacht worden, die Wirkungsgrade der Freqenzverdopplung sind
deshalb erheblich höher.
Medizinische Anwendungen
Das Anwendungsfeld des Lasers hat sich im diagnostischen wie auch chirurgischen
Bereich vergrößert. CO2 - und Nd:YAG-Laser werden bei Operationen an der
Gallenblase eingesetzt. Bei Rückenoperationen untersucht man die Möglichkeit,
Teile von zerstörten Bandscheiben zwischen Wirbelkörpern durch Laserstrahlen
zu entfernen.
In der Ophthalmologie (s. Kap. 7) benutzt man Excimer-Laser (UV-Strahlung)

als Skalpelle zur Korrektur der Kurzsichtigkeit. Zur Zeit verwendet man zwei
Techniken – bei beiden wird die Hornhautoberfläche verändert. Die eine nennt
man radiale Keratotomie (Erzeugung von sorgfältig kontrollierten Einschnitten
in die Hornhautoberfläche), die andere Hornhautablation (Entfernung von Horn-
hautgewebe). In der medizinischen Diagnostik untersucht man z.B. die Entwick-
lung von abstimmbaren Lasern (PbS) für den klinischen Einsatz. Das Ziel dieser
Untersuchung ist der Einsatz stabiler, nicht radioaktiver Isotope als Tracer für
den Nachweis physiologischer Fehlfunktionen. In einer weiteren Anwendung ver-
wendet man hochauflösende Infrarotspektroskopie für die Isotopenanalyse von
ausgeatmeter menschlicher Atemluft. Dieses Verfahren kann ein wichtiges Werk-
zeug für die klinische Diagnose von Diabetes (Zuckerkrankheit) werden. In der
Zahnheilkunde versucht man Laser zum Entfernen der Karies an Zähnen einzu-
setzen.
Laser und die Mikrowelt
Außergewöhnliche Lasersysteme werden nun bis hin zur Grenze der subato-
maren Forschung eingesetzt. Die einzigartigen Eigenschaften des Laserlichtes
befähigen Biologen, einzelne Proteinmoleküle, die auf der inneren Membran ei-
nes roten Blutkörperchens angeordnet sind, zu untersuchen. Physiker können
einzelne Natriumatome in einem evakuierten Behälter in der Schwebe halten.
Femtosekunden-Laser (Pulslängen von 10−15 Sekunden) können Blitzlichtauf-
nahmen der Bewegung von Atomen und Molekülen liefern. Damit kann man
Kurzzeitaufnahmen von chemischen Reaktionen erhalten. In so genannten Laser-
lichtfallen kann man Gruppen von Atomen einfangen und sie nach Belieben
umherbewegen. Man kann Laserstrahlung zur Verlangsamung von Überschall-
Atomstrahlen durch elektromagnetische Kräfte benutzen. Die in dieser Weise in
ihrer Bewegung kontrollierten Atome, entweder im freien Fall oder in Schwin-
gungsbewegung befindlich, erlauben die Messung von Gravitationskräften mit
einer deutlich erhöhten Genauigkeit und die Entwicklung einer neuen Generation
von Atomuhren. Weiterhin können einzelne Laserstrahlen, sogenannte optische
”
Pinzetten“, wie z.B. DNS-Moleküle, mikroskopische Partikel an einer Stelle hal-
ten, wodurch man ihre interne und externe Struktur genau untersuchen kann. La-
ser sind ein wesentlicher Bestandteil des Atomkraftmikroskopes“ (Atomic Force
”
Microscope), eines bemerkenswerten Sensors, mit dem man atomare Details einer
Oberfläche messen kann. Das Atomkraftmikroskop“ kann einzelne Atome nach-
”
weisen. Mikroskope dieser Art erlauben die Bewegungskontrolle bis in den Sub-
nanometerbereich, und den Nachweis von Kräften von nur 10−10 Newton, wobei
Bereiche in der Größenordnung von 100 µm2 untersucht werden. Das Verständ-
nis von Oberflächendetails von isolierenden und leitenden Materialien ist unter
anderem für die Herstellung von zuverlässigen Faseroptiken von entscheidender
Bedeutung.
23.3 Gegenwärtige Entwicklungen 691
In dem Laser-Scanning-Mikroskop, einer Kombination aus Mikroskop und La-

ser, wird das zu untersuchende Objekt mit einem auf die Oberfläche fokussierten
Laserstrahl punktweise abgetastet. Für jeden Punkt wird nur das von einem
Objektpunkt in seinen Bildpunkt gestreute Licht von einem Detektor registriert
und in ein dem empfangenen Lichtstrom proportionales elektrisches Signal um-
gewandelt. Auf dem Bildschirm entsteht ein dreidimensionales Bild, da mit die-
sem Verfahren die räumliche Tiefe mikroskopischer Strukturen aufgelöst werden
kann. Die Auflösung für das Oberflächenprofil liegt im Bereich von 0,1 µm. Das
Verfahren bietet die Möglichkeit, das Objekt in jedem Punkt fotometrisch und
spektroskopisch zu untersuchen. Weiterhin ist wegen des punktweisen Aufbaus
des Bildes der Kontrast (geringerer Einfluss von Streulicht) hoch. Eine automa-
tische Scharfeinstellung des Mikroskops lässt sich einfach integrieren; außerdem
lassen sich zur Bildaufbereitung die Verfahren der Bildverarbeitung einsetzen.
Andere Anwendungen
Laser haben wachsende Bedeutung beim Bau von Gebäuden (Fluchten von De-
ckenkonstruktionen), in der Landwirtschaft als System für das Laser-Einebnen
von Oberflächen oder in der Halbleiterindustrie, wo Laser wie mikroskopische
Werkzeuge für den Abgleich und den Schnitt von elektronischen Bauteilen ein-
gesetzt werden. Zur Unterhaltung setzt man Laser in grellen Farben und in exo-
tischen dynamischen Mustern zur Begleitung von Musik ein ( Lasershow“).
”
Übungen
23.1 Betrachten Sie einen gepulsten Infrarot-Laser, der eine Spitzenleistung von 10 MW
hat und eine Strahldivergenz von 1 mrad aufweist. Der Laser wird durch eine Linse
der Bildbrennweite 20 cm fokussiert. Wie groß ist die Bestrahlungsstärke im Brenn-
punkt?
23.2 Ein Laser wird auf einen bestimmten Strahlfleck fokussiert. Er besitzt dann eine
gewisse Schärfentiefe s im Fokus, über die die Strahltaille nicht merklich zunimmt.
Diese Schärfentiefe ist durch die Beziehung
2
2λ 2f
s= p2 − 1
π D
gegeben, Hierbei ist f die Bildbrennweite der fokussierenden Linse, D der Durch-
messer des einfallenden Laserstrahls bei der Strahltaille, λ die Wellenlänge und p
ein Toleranzfaktor, der festlegt, um wie viel der fokussierte Strahl sich aufweitet
und trotzdem noch als fokussiert anzusehen ist.
a) Untersuchen Sie einen CO2 -Laserstrahl (10,6 µm) mit einem Durchmesser der
Strahltaille von 8 mm, der auf eine Germaniumlinse mit der Bildbrennweite
60 mm einfällt. Bestimmen Sie die Fokustiefe“ (Schärfentiefe des Fokus), wenn
”
der Strahldurchmesser um nicht mehr als 10% vom Minimalwert in der Taille
zunimmt (p = 1,10).
b) Der Durchmesser der Strahltaille D in der Brennebene der Germaniumlinse

ist gegeben durch D = f 2θ, wobei 2θ = 1,27λ/D die Winkeldivergenz (vol-
ler Strahlöffnungswinkel) des einfallenden Laserstrahls ist. Berechnen Sie D
und den Durchmesser im Endpunkt des Schärfentiefebereichs s für den in a)
gegebenen Toleranzfaktor.
23.3 Betrachten Sie die Schneidleistung des Lasers, der in Abb. 23.2 gegeben ist.
Erklären Sie, warum derselbe Laser bei einer Querschneidgeschwindigkeit von
25 mm/Sekunde weniger tief in Aluminium (2,7 g/cm3 ) als in Stahl (7,8 g/cm3 )
eindringt. Beachten Sie bei der Formulierung Ihrer Antwort sowohl die Bedeutung
der Reflexions- und Absorptionskoeffizienten, als auch die der Wärmeleitfähigkeit.
23.4 Ein gepulster Nd:YAG-Laserstrahl emittiert bei einer Augenoperation eine Puls-
energie von ungefähr 1 mJ in 1 ms. Der Laserstrahl wird im Inneren des Auges bis
auf einen Fleck von 30 µm Durchmesser fokussiert. Wie groß ist die Bestrahlungs-
stärke im Brennpunkt?
23.5 Aus der Nachrichtentechnik weiß man, dass die Informationskapazität C eines
Signals der mittleren Leistung S in Gegenwart einer zusätzlichen Störquelle mit
weißem Rauschen der Leistung N in einem Kanal der Bandbreite B durch C =
B ld(1 + S/N ) gegeben ist. Beachten Sie, dass die Kanalkapazität C direkt propor-
tional zur Bandbreite B ist, was das große Interesse am Laser für die Nachrich-
tentechnik erklärt. Nehmen Sie ein Signal-Rauschverhältnis (SNR) von S/N = 9
an und setzen Sie die vorhandene Bandbreite im Laser-Kommunikationssystem mit
ungefähr 4 GHz an (nur 0,001% der Trägerfrequenz, die ungefähr 4 · 1014 Hz ist).
a) Wie groß ist die Informationskapazität C?
b) Wie viele Telefongespräche mit der Bandbreite 4 kHz können mit einem solchen
Lasersystem geführt werden?
23.6 Ein Lasersystem befindet sich auf einem geostationären Satelliten und verwendet
einen Nd:YAG-Laser, der Strahlung bei 1,06 µm in einem hochkollimierten Strahl
mit 5 mrad Strahldivergenz (voller Strahlöffnungswinkel) abgibt.
a) Der Laser befinde sich 36 205 km oberhalb der Erdoberfläche. Wie groß ist der
minimale Durchmesser des Laserstrahls auf der Oberfläche der Erde?
b) Der Laser emittiert Pulse von 200 MW Leistung. Wie groß ist die mittlere
Feldstärke pro Puls im Laserstrahl an der Erdoberfläche (Hinweis: s. (8.52))
24
Faseroptik
Einleitung
Die Lichtleitung durch ein transparentes Medium hatte sich schon bei Laseran-
wendungen als sehr wichtig erwiesen, sie ist in der Telekommunikation und La-
sermedizin fast unerlässlich. In einem nichtabsorbierenden zylindrischen Stab,
beispielsweise in Form einer Glasfaser, dessen Brechzahl größer als die des um-
gebenden Mediums ist, kann das eingekoppelte Licht aufgrund der Totalreflexion
zum anderen Ende weitergeleitet werden. Eine genaue Behandlung der Faseroptik
muss die Wellenausbreitung in einer Faser mit Hilfe der Maxwellgleichungen –
unter Beachtung der Randbedingungen an der Kern-Mantel-Grenzfläche – unter-
suchen. Hier wird ein einfacheres und anschaulicheres Verfahren verwendet, das
die Strahlenoptik benutzt und diese durch Wellenaspekte, wie Phase und Interfe-
renz, ergänzt. Wir diskutieren die Ausbreitungsmoden des Lichtwellenleiters und
geben die Übertragungskapazität von Multi- und Monomodefasern an. Die Ele-
mente der GRIN-Optik und einige Anwendungen werden erläutert. Zum Schluss
wird der Richtkoppler behandelt, ein wichtiges Bauelement zur Strahlenteilung
und Lichtmodulation.
694 24 Faseroptik
24.1 Anwendungen
Die einfachste Anwendung von Lichtfasern – sei es einzeln oder als Faserbündel –
liegt beim Lichtleiter vor. So lässt sich z.B. Licht durch ein flexibles Bündel aus
einer Vakuumkammer nach außen leiten, wo es einfacher analysiert werden kann.
Das Bündel kann auch ohne weiteres in mehrere Einzelbündel aufgeteilt werden,
so dass man auf einfache Weise einen Strahlenteiler erhält. Bei solchen Anwendun-
gen ohne optische Abbildung, können die Einzelfasern willkürlich über den Quer-
schnitt des Lichtkabels verteilt sein. Der lichtführende Faserkern muss jedoch von
einem Fasermantel kleinerer Brechzahl umhüllt sein, um das Licht in der jeweili-
gen Einzelfaser führen zu können. Bei der Bildübertragung müssen natürlich die
Bildkoordinaten am Ein- und Ausgang entsprechend der Abbildungsvorschrift
verknüpft sein, weshalb man die Fasern an den Enden verschweißt. Im Faser-
endoskop, das z.B. in der Medizin bei Magenspiegelungen eingesetzt wird, hat
man zwei konzentrische Faserbündel, das äußere dient zur Beleuchtung, auf das
innere wird das zu untersuchende Objekt mit einem Objektiv abgebildet und am
anderen Ende mit einem Okular betrachtet (Interessanterweise fungieren auch
die Stäbchen und Zapfen des menschlichen Auges als Lichtleiter).
Bei 1:1-Übertragung spricht man von Faserplatten (mit über 106 Fasern),
durch Veränderung des Querschnitts der Einzelfasern zu Faserkegeln (taper) las-
sen sich Bilder vergrößern oder verkleinern. Anwendungen sind die Ankopplung
(z.B an CCDs) und Betrachtung von Szintillations-Bildschirmen (in der Röntgen-
diagnostik) oder der Ausgleich der Bildfeldwölbung von Kathodenstrahlröhren
zur direkten Kontaktbelichtung von Filmen.
Nach dem Abtasttheorem ist der kleinste Objektabstand ∆x, der mit einem
Faserbündel aufgelöst werden kann, gleich dem doppelten Faserdurchmesser 2d.
Damit erhält man dann für das Auflösungsvermögen A(= 1/∆ x = 1/(2d)) eines
Faserbündels die reduzierte Größengleichung:
A 500
Auflösungsvermögen Faserbündel = (24.1)
LP/mm d/µm
Mit Fasern des Durchmessers d = 5 mm lässt sich dann also ein Auflösungs-
vermögen von 100 LP/mm (LP = Linienpaare) erzielen.
Die Faseroptik hat die Nachrichtenübertragung revolutioniert und dort ihre
wichtigste Anwendung gefunden. Die hier verwendeten Fasern bezeichnet man
im Unterschied zu den Lichtleitern der Beleuchtungstechnik als Lichtwellenleiter
(LWL).
24.2 Optische Übertragungssysteme

Die Vorteile der optischen Übertragung von Sprach- und Videosignalen sowie
sonstiger Daten haben wesentlich zu der schnellen Entwicklung der Faseroptik
24.2 Optische Übertragungssysteme 695
beigetragen. Gegenüber den konventionellen Zweidraht-, Koaxial- oder Hohllei-

tersystemen, die zur Übertragung von elektromagnetischen Wellen bis in den Mi-
krowellenbereich einsetzbar sind, lässt sich eine Steigerung der Übertragungsrate
um viele Größenordnungen erzielen. Dies erklärt sich daraus, dass die Übertra-
gungskapazität einer Trägerwelle direkt mit der nutzbaren Frequenzbandbreite
anwächst. Zusätzlich haben LWL gegenüber metallischen Leitungssystemen den
Vorteil des geringeren Gewichts und der kleineren Dämpfung, der Unempfindlich-
keit gegen elektromagnetische Störungen, des Wegfalls der elektrischen Isolierung
und des geringen Übersprechens, was eine sichere Datenübertragung gewährleis-
tet.
Abb. 24.1. Prinzip einer faseroptischen Übertragungsstrecke mit Signaleingang und

-ausgang, Signalwandlern, LWL sowie Sendern (Leuchtdiode LED oder Laserdiode LD)
und Empfängern ((pin-)Fotodiode oder Lawinenfotodiode (APD))
In Abb. 24.1 ist ein Überblick über die wesentlichen Komponenten und Pro-
zesse eines faseroptischen Übertragungssystems wiedergegeben. An der Eingangs-
seite wird das im Allgemeinen elektrische Eingangssignal in ein optisches umge-
formt, das die Faser als optischen Wellenleiter mit möglichst geringer Verzer-
rung und Dämpfung – meist mit einer Verstärkung und Formung der Signalwelle
über Regeneratoren – durchläuft und am Ausgang wieder in elektrische Signale
überführt wird. Die Nachrichtenquelle kann akustische oder visuelle Analogsigna-
le aussenden, die über Mikrofon oder Videokamera in elektrische Analogsignale
transformiert werden, oder – wie bei einem Rechner – direkt digitale Pulse aus-
696 24 Faseroptik
senden. Analog- und Digitaldaten lassen sich immer ineinander umwandeln, so

dass – unabhängig von der Natur des Eingangssignals – reine Analog- oder Digi-
talübertragung möglich ist.
Bei der konventionellen Nachrichtenübertragung mit Radio- und Mikrowellen
wird bekanntlich eine monofrequente Trägerwelle beliebig großer Kohärenzlänge
verwendet, bei der – entsprechend der Nachricht – Amplitude, Phase oder Fre-
quenz der Feldstärke mit Hilfe eines Modulators moduliert wird. Diese sogenann-
ten kohärenten Verfahren lassen sich in der optischen Nachrichtenübertragung
nicht ohne weiteres anwenden, da nur Sender endlicher Kohärenzlänge und träge
quadratische Detektoren (Registrierung der mittleren Intensität) zur Verfügung
stehen, die der Lichtfrequenz von ca. 500 THz nicht folgen können. Trotzdem ist
es gelungen, die Verfahren der Hochfrequenztechnik auch für Lichtwellenleiter zu
realisieren.
Bei Lichtwellenleitern verwendet man meist binäre Modulation der Feldstärke
E (kohärente Verfahren) oder der Intensität I (s. Abb. 24.2), d.h. man va-
riiert z. B. die Frequenz zwischen zwei Werten oder ebenso die Amplitude
(OOK = On/Off-Keying). Bei den kohärenten Verfahren lassen sich die bekann-
ten Nachweisverfahren der elektrischen Nachrichtentechnik (z.B. Homodyn- und
Heterodyn-Detektion) mit verbessertem Signal-Rausch-Abstand verwenden. Die
genaue Analyse zeigt, dass für eine Fehlerrate von 10−9 bei der PSK-Modulation
(s. Abb. 24.2 d) mit 9 Photonen pro Bit die geringste Signalenergie erforderlich
ist. Ein weiterer Fortschritt wurde mit dem Erbium-dotierten Faserverstärker
erzielt, bei dem die Signalwelle mit Hilfe der optisch gepumpten Erbiumionen
direkt optisch verstärkt werden kann. Damit können die elektrischen Regenerato-
ren entfallen, in denen bisher das optische Signal in ein elektrisches umgewandelt,
verstärkt und wieder in ein optisches Signal umgesetzt wurde. Hiermit ließ sich
das Signal-Rausch-Verhältnis – insbesondere auch bei (inkohärenter) Intensitäts-
modulation – so stark verbessern, dass auf die technisch aufwändigen kohärenten
Verfahren verzichtet werden kann.
Wir beschränken uns deshalb auf die Diskussion der binären Intensitätsmo-
dulation (s. Abb. 24.2 b), d.h. wir untersuchen die Ausbreitung von Lichtpulsen
der Dauer T auf Fasern unterschiedlicher Bauart, die Teil eines Übertragungs-
systems (ähnlich Abb. 24.1) sind. Die Binärpulse entstammen dem Sender, der
aus einer Leuchtdiode (LED) (bei niedrigen Übertragungsraten) oder meist aus
einer Laserdiode besteht; beide sind durch ihre mittlere Wellenlänge λ und Spek-
tralbreite ∆λ charakterisiert, wobei die Laserdiode wegen ihrer kleineren Band-
breite vorzuziehen ist. Der Lichtpuls, hier als Rechteckpuls dargestellt, erfährt
bei der Ausbreitung eine Dämpfung und Verzerrung (Verbreiterung). Die Faser
kann eine Monomodefaser (mit kleinem Kerndurchmesser d von 4 bis 8 µm) oder
Multimodefaser (d ≈ 50 µm) sein. Bei sehr großen Distanzen muss ein Regene-
rator (Repeater) eingefügt werden, der das Signal verstärkt und neu formt. Als
Empfänger dient eine Fotodiode (pin-Diode oder Lawinendiode), die die opti-
schen Signale in elektrische umformt. Diese passieren dann einen Signalprozessor
24.2 Optische Übertragungssysteme 697
Abb. 24.2. Modulation einer Trägerwelle durch eine Signalwelle. a) Analoge Frequenz-
modulation, die Frequenz des Trägersignals ist entsprechend der Signalhöhe moduliert.
b) bis d) Binäre Modulation: b) der Intensität (OOK = On/Off-Keying), c) der Fre-
quenz von Feld E und Intensität I (FSK = Frequency Shift-Keying) und d) der Phase
von Feld und Intensität (PSK)
698 24 Faseroptik
(Verstärkung, Filterung, DA-Wandlung . . .) und werden schließlich über einen

Lautsprecher oder ein Videogerät wiedergegeben oder in einem Rechner weiter-
verarbeitet.
24.3 Bandbreite und Übertragungsrate

Je komplizierter das zu übertragende Signal ist, desto größer ist der zur Charak-
terisierung erforderliche Frequenzbereich. Eine Stereoanlage (Frequenzbereich 0
bis ca. 20 kHz) kann ein breitbandiges Tonsignal (Musik) wesentlich originalge-
treuer wiedergeben als ein Telefonsystem mit dem stark eingeschränkten Bereich
von 0,3 bis 3,4 kHz. Im UKW-Bereich ist die obere Grenzfrequenz auf 15 kHz
festgelegt, zu deren Übertragung man (aufgrund der Frequenzmodulation) Ka-
nalbandbreiten bis zu 300 kHz benötigt. Beim Analog-Fernsehen beträgt die Ka-
nalbreite für Bild und Ton 7 MHz (VHF) bzw. 8 MHz (UHF). Im VHF-Band
könnten dann mit einem Träger der Frequenz 210 MHz theoretisch 210/7 = 30
Fernsehkanäle übertragen werden, über eine Lichtwelle von 3·108 MHz (λ ≈ 1 µm)
wären es hingegen 4 · 107 oder 40.000.000! Durch Verwendung von Digitalverfah-
ren (Digital-Radio und -Fernsehen) und Datenkompression lassen sich die o.g.
Kanalbreiten wesentlich reduzieren. Bei der binären Pulsmodulation lässt sich
eine hohe Übertragungs- oder Bitrate durch kleine Impulsbreite und geringen
Impulsabstand realisieren. Um ein Analogsignal zu digitalisieren, muss man es in
bestimmten Zeitabständen ∆t abtasten und anschließend die Abtastwerte quan-
tisieren. Nach dem Abtasttheorem (s. Kap. 25) muss die minimale Abtastrate
fa ≡ 1/∆t = 2fg sein, also gleich dem Doppelten der Maximal- oder Grenzfre-
quenz fg . Soll mit 8 bit – also 28 = 256 Stufen – quantisiert werden, so muss
man zur Übertragung eines Fernsehkanals (der Bandbreite 8 MHz) 128 Mbit/s
(= 2 · 8 MHz · 8 bit) über die Glasfaser schicken. Die maximal erzielbaren Bitraten
sind durch die Arbeitsgeschwindigkeit der Modulatoren und durch Pulsverzer-
rungen in der Faser begrenzt.
24.4 Lichtausbreitung in Fasern

Wir wollen nun untersuchen, wie sich Licht in einem Lichtwellenleiter ausbreitet
und beschränken uns – wie erwähnt – im Wesentlichen auf die geometrische
Optik. Außerdem werden nur meridionale Strahlen betrachtet, die in einer Ebene
durch die Mittelachse der Faser verlaufen1 . Ein Ausschnitt einer geraden Faser
ist in Abb. 24.3 a wiedergegeben. Die eigentliche Faser, der Faserkern, hat die
Kernbrechzahl nK und ist von einem Medium (Fasermantel) geringerer Brechzahl
1
Schräge Strahlen (skew rays) verlaufen auf Schraubenbahnen, die in Stufenindexfa-
sern stückweise gerade und in GRIN-Fasern kreis- oder ellipsenförmig sind.
24.4 Lichtausbreitung in Fasern 699
Abb. 24.3. a) Ausbreitung von Lichtstrahlen in einer optischen Faser. Strahl 2 defi-
niert den maximalen Einfallswinkel (Akzeptanzwinkel) u auf die Stirnfläche der Faser,
bei dem gerade noch Totalreflexion am Rand der Faser auftritt. b) Ausbreitung eines
typischen Lichtstrahls mit ε < u durch die Faser
nM umgeben. Ein- und Austrittsöffnung befinden sich im Allgemeinen in Luft

(n0 ). Strahl 1 wird bei A beim Eintritt in die Faser gebrochen und trifft bei
B auf die Kern-Mantel-Grenzfläche, wo er teilweise (unter Brechung) austritt
bzw. reflektiert wird. Für den reflektierten (inneren Strahl) wiederholt sich der
Vorgang an den Punkten C und D, der Strahl verliert an Intensität und kann vom
Kern nicht geführt werden, da bei B und C der Einfallswinkel ε1 kleiner als der
Grenzwinkel εg der Totalreflexion (s. (20.38)) für die Kern-Mantel-Grenzfläche
ist, also:
nM
ε1 < εg = arcsin (24.2)
nK
Strahl 2 soll unter einem Winkel u gerade so einfallen, dass bei E der Einfalls-
winkel ε2 gleich dem Grenzwinkel εg ist und der austretende Strahl parallel zur
Grenzfläche verläuft. Dann ist für Strahlen, die mit Winkeln ε < u auf die Stirn-
fläche treffen, immer Totalreflexion gegeben und sie können sich ausschließlich
(ohne Reflexionsverluste) im Faserkern ausbreiten, erfahren aber eine Dämpfung
700 24 Faseroptik
durch Absorption und Streuung. Der Winkel u wird als Akzeptanzwinkel bezeich-
net, es ist der halbe Öffnungswinkel des einfallenden Strahlenbündels, das sich in
der Faser ausbreiten kann. Um den Zusammenhang zwischen Öffnungswinkel 2u
und den Brechzahlen herzuleiten, wird der Verlauf von Strahl 2 verfolgt. Beim
Eintritt in die Faser gilt bei A:
n0 sin u = nK sin u (24.3)

und bei E:
nM
sin εg =
nK

Mit u = 90◦ − εg , – also sin u = cos εg – und cos εg = 1 − sin2 εg erhält man
dann für die Faser die (s. (16.34))
AN ≡ n0 sin u = nK cos εg
numerische Apertur 4
= n2K − n2M ≈ nK 2∆n (24.4)
Hierbei wurde n2K − n2M ≈ (nK − nM )2nK gesetzt, u ist der Akzeptanzwinkel und
∆n die zur Kennzeichnung der Faser wichtige
nK − nM
relative Brechzahldifferenz ∆n = (24.5)
nK
zwischen Kern und Mantel. Bei großen numerischen Aperturen und damit
Brechzahldifferenzen ergeben sich große Öffnungswinkel der einfallenden Strahlen
und damit eine Erhöhung des eingekoppelten Lichtanteils. Nach Tabelle 24.1 be-
trägt der Öffnungswinkel bei den gebräuchlichsten Lichtwellenleitern aus Quarz-
glas bei nK = 1,48 und nM = 1,46 trotz der geringen Brechzahldifferenz noch
ca. 30◦ .
Nach Abb. 24.3 b ist für Strahlen, die unter dem Winkel ε auf die Stirnfläche
treffen, der Abstand der Auftreffpunkte la zwischen zwei Reflexionen:
la = d cot ε (24.6)
wobei
√ d der Kerndurchmesser und ε der Brechungswinkel ist. Mit cot ε =

1−sin ε
2
sin ε und nK sin ε = n0 sin ε lässt sich dies auf die Form bringen:
+
2
Auftreffpunkte im Abstand nK
la = d −1 (24.7)
n0 sin ε
4
mit nK + nM ≈ 2 nK .
24.4 Lichtausbreitung in Fasern 701
Tabelle 24.1. Charakteristische Daten optischer Fasern
Kern/Mantel n0 nK nM ∆n εg /Grad u/Grad AN 1/la in

m−1
Glas/Luft 1 1,5 1 0,33 41,8 90,0 1 8940
Polymer/Polymer 1 1,49 1,39 0,067 68,9 32,5 0,54 3870
Glas/Polymer 1 1,46 1,40 0,041 73,5 24,5 0,41 2960
(Quarz)-Glas/ 1 1,48 1,46 0,014 80,6 14,0 0,24 1660
Glas
Hinweis: 1/la , die Zahl der Reflexion pro m, wurde für den Faserdurchmesser
100 µm bei maximalem Einfallswinkel ε = u berechnet, ∆n = nKn−n M
M
,
AN = numerische Apertur.
Für die o.g. Quarzglasfaser (mit nK = 1,48, nM = 1,46) gilt bei 100 µm Durch-
messer la ≈ 600 µm, damit treten pro Meter Faserlänge etwa 1/la = 1650 Refle-
xionen auf (s. Tab. 24.1). Ihre Zahl steigt mit der Brechzahldifferenz weiter an. Bei
so vielen Reflexionen muss dann aber die Bedingung für Totalreflexion entlang
der ganzen Faser exakt eingehalten werden; Kratzer, Rauigkeit und Verunrei-
nigungen der Grenzfläche sowie starke Biegung der Faser erhöhen die Verluste.
Würde bei jeder Reflexion nur 0,1% des Lichtes verloren gehen, so würde dies die
Intensität auf 1 m Faserlänge bereits auf (0,999)1650 ≈ 1/5 (=
ˆ − 7 dB Abnahme)
verringern. Auch deshalb muss die optische Qualität der reflektierenden Grenz-
fläche durch die Umkleidung der Faser mit einem Mantel kleinerer Brechzahl
sichergestellt werden. Da es sich bei der Totalreflexion um einen Wellenvorgang
handelt, tritt in dem optisch dünneren Medium eine quergedämpfte evaneszente
Welle (s. Kap. 20.5) auf, so dass Wellen nicht nur bei direkter Berührung der
Kerne, sondern auch bei nicht ausreichender Manteldicke von einer Faser in die
andere tunneln können. Das Material des Mantels muss dem des Kerns, insbeson-
dere auch in Bezug auf den thermischen Ausdehnungskoeffizienten, gut angepasst
sein. Bei Quarzglas kommt daher nur ein Mantel aus demselben Material in Fra-
ge. Der Unterschied der Brechzahlen wird durch Dotierung des Kerns mit GeO2
(Brechzahlerhöhung) oder (seltener) des Mantels, z.B. mit B2 O3 (Brechzahlab-
nahme), erzeugt.
Die obigen Überlegungen bezogen sich auf Stufenindexfasern, bei denen der
Kern eine ortsunabhängige Brechzahl nK aufweist, die sich nur an der Kern-
Mantel-Grenzfläche stufenartig ändert. Bei Gradientenindexfasern nimmt die
Kernbrechzahl in radialer Richtung kontinuierlich ab.
702 24 Faseroptik
24.5 Erlaubte Moden

Nicht jeder Strahl, der innerhalb des erlaubten Öffnungskegels auf die Faser
trifft, ist auch ausbreitungsfähig; nur bestimmte Strahlungsrichtungen oder Mo-
den sind erlaubt. Zum Verständnis betrachten wir in Abb. 24.4 einen symme-
trischen planaren oder Schicht-Wellenleiter 5 , eine unendlich ausgedehnte dünne
Platte (statt eines Zylinders) der Dicke d, die oben und unten von einem Mantel
gleicher (symmetrisch!) Brechzahl begrenzt wird. Wir vergleichen in Abb. 24.4
eine schräg von unten einfallende ebene Welle mit einer Welle im Leiter. Bei ei-
ner freien Welle stimmen die Phasen aller Punkte der Wellenfront C A überein.
Dementsprechend können sich auch im Leiter nur Wellen ausbreiten, bei denen
Abb. 24.4. Ausschnitt aus einem Schichtwellenleiter. Strahlen werden an der Kern-
Mantel-Grenzfläche mehrfach reflektiert. Erlaubte Moden entstehen bei konstruktiver
Interferenz der Teilstrahlen
die Phasen auf der Wellenfront A C übereinstimmen. Da sich diese Welle aber
aus einfallenden und reflektierten Wellen zusammensetzt, wird diese Bedingung
nur dann erfüllt, wenn sich die Phasen eines Strahles, der bei A einfällt und eines
bei C – nach zweimaliger Reflexion – in die gleiche Richtung laufenden Strahles
um ganzzahlige Vielfache von 2π unterscheiden. Die Untersuchung weiterer Teil-
strahlen zeigt, dass dann alle Punkte der Wellenfront gleichphasig schwingen.
Wir hatten gesehen (s. Kap. 20.3), dass bei der Totalreflexion die reflektierte
Welle um eine vom Einfallswinkel abhängige Phasenverschiebung Φr voreilt. Der
Phasenunterschied der Teilstrahlen in C und A folgt aus der Differenz ∆ der
optischen Wege und 2Φr ; hiermit erhalten wir als Bedingung für konstruktive
Interferenz
5
Auch als Filmwellenleiter bezeichnet.
24.5 Erlaubte Moden 703
2π
∆ − 2Φr = m 2π (24.8)
λ
mit der Modenzahl m = 0, 1, 2 . . . und der Vakuumwellenlänge λ. Mit Hilfe von
Abb. 24.4 und Dreieck A C A folgt für den Gangunterschied
∆ = nK (AB + BC) = nK (A B + BC) = 2nK d cos εK

so dass die erlaubten Einfallswinkel εKm auf die Kern–Mantel-Fläche und zu-
gehörigen Modenzahlen m durch die transzendente
2nK d cos εKm Φr
Eigenwertgleichung =m+ (24.9)
λ π
bestimmt sind. Bei Multimodefasern (mit m 1) ist auf der rechten Seite Φr /π
mit dem Maximalwert 1 gegenüber m vernachlässigbar; damit entsteht eine ein-
fache Zuordnung zwischen Modenzahl m und zugehörigem Einfallswinkel εKm :
2nK d cos εKm
m≈ (24.10)
λ
Gleichung (24.10) hat eine einfache anschauliche Interpretation:
nK cos εK ≡ λy ist die der y-Komponente ky = k cos εK des Wellenvektors (s.
λ
Abb. 24.4) entsprechende Wellenlänge in y-Richtung. Gleichung (24.10) lässt sich

dann in der Form schreiben:
λym
d=m (24.11)
2
Erlaubte Moden erfüllen damit gerade die Bedingung für stehende Wellen in
y-Richtung. In Schichtwellenleitern liegt damit der in Kap. 9.6 diskutierte Fall
der Interferenz schräglaufender Wellen vor. In z-Richtung bilden sich laufende
Wellen aus, in y-Richtung hingegen stehende Wellen, deren Wellenlänge durch
Leiterdicke und Modenzahl bestimmt wird.
Nach (24.10) entsprechen niedrigen Modenzahlen große Einfallswinkel εK →
90◦ , also Strahlen, die sich (annähernd) parallel zur Achse ausbreiten. Die maxi-
male Ordnungszahl mmax tritt unter dem kleinstmöglichen Einfallswinkel, dem
Grenzwinkel der Totalreflexion εg , auf. Sie ist nach (24.10) und (24.4):
2nK d cos εg 2d
mmax ≈ = AN (24.12)
λ λ
Bei Berücksichtigung der niedrigsten Mode mit m = 0 erhält man für die Gesamt-
zahl N1 der Moden

2d 2d
N1 = mmax + 1 ≈ AN + 1 = n2K − n2M + 1 (24.13)
λ λ
704 24 Faseroptik
Da eine Wellenausbreitung unter zwei unabhängigen zueinander senkrechten Po-

larisationen erfolgen kann, ist die Modenzahl nach (24.13) zu verdoppeln. Bei
sehr dünnen Fasern und/oder großen Wellenlängen ist nur eine Mode ausbrei-
tungsfähig, man erhält eine Monomodefaser mit m = 0. Eine Faser ist einmodig,
solange der Einfallswinkel εK1 für die 2. Mode (m = 1) kleiner als der Grenzwin-
kel der Totalreflexion ist. Im Grenzfall gilt εK1 = εg . Da für diesen Fall die Pha-
senverschiebung bei Reflexion gerade verschwindet, d.h. Φr = 0 (s. Abb. 20.6),
gilt nach (24.9) mit (24.4) die

Monomoden-Bedingung 2n K d 2d n2K − n2M
cos εg = <1 (24.14)
λ λ
Ausgehend hiervon führt man zur Kennzeichnung eines Wellenleiters den

n2K − n2M πd
V-Parameter V = πd = AN (24.15)
λ λ
ein. Nach (24.14) kann man also sicher sein, dass für V < π/2 nur die erste Mode
auftreten kann und ein Monomode-Schichtwellenleiter vorliegt. Beim Übergang
zu einer zylindrischen Faser vom Durchmesser d wird der entsprechende V - oder
Faserparameter ebenfalls durch (24.15) definiert. Die Bedingung für die Existenz
der Grundmode ergibt sich hier als erste Nullstelle der Bessel-Funktion 0. Ord-
nung J0 (V ) bei V01 = 2,405. Damit erhält man für den Faserparameter der
Grundmode die

Einwelligkeitsgrenze πd n2K − n2M
V0 = AN = πd < V01 = 2,4 (24.16)
λ λ
Die Erfüllung dieser Bedingung reicht für die praktische Realisierung einer Mo-
nomodefaser nicht aus, da sich die evaneszente Welle bei kleinen V -Werten (also
z.B. sehr dünne Faser) zu weit in den Mantel ausbreitet und die Welle dann nicht
mehr ausreichend vom Kern geführt wird. Man kommt zu der Ausbreitungsbedin-
gung V0 ≥ 1, so dass für eine zylindrische Monomodefaser insgesamt 1 < V0 < 2,4
erfüllt sein muss.
Die Eigenschaften von LWL mit kleinen V -Parametern werden entscheidend
von den evaneszenten Wellen bestimmt, die mit dem hier diskutierten Strah-
lenmodell, das die Welleneigenschaften nur über die Interferenzbedingung (24.8)
erfasst, nicht genau beschrieben werden. Abb. 24.5 a zeigt eine Momentaufnahme
des Verlaufs des Feldstärkequadrats E 2 – im Wesentlichen der zeitabhängigen
Intensität – für die 3. Mode (mit m = 2) eines Schichtwellenleiters mit dem
Parameterwert V = 9; man sieht, dass sich die evaneszenten Wellen bis in den
Mantel hinein erstrecken, also kein abrupter Abfall der Strahlintensität an der
24.6 Dämpfung 705
Grenzfläche auftritt. Dies wird in Abb. 24.5 b besonders deutlich, wo die Ê 2 –

Verteilung für Monomodeleiter mit V = 1 und V = π/2 dargestellt ist. Die
Schicht mit V = 1 transportiert die Lichtenergie überwiegend im Mantel, und
selbst bei dem Grenzwert V = π/2 ist nur etwa 2/3 der Energie im Kern konzen-
triert. Wir können mithin erwarten, dass der Fasermantel die Lichtausbreitung
wesentlich beeinflusst.
Mit dem V -Parameter kann die Modenzahl N der Zylinderfaser angegeben
werden als 6 :
4
Modenzahl der Zylinderfaser N = 2V2 (24.17)
π
Beim Vergleich mit (24.13) sieht man, dass hier im Wesentlichen N = N12 gilt, die
Quadrierung berücksichtigt die Zweidimensionalität, der geänderte Zahlenfaktor
die Zylindersymmetrie.
Beispiel 24.1 Stufenindexfaser
Untersuchen Sie Stufenindexfasern mit der Kernbrechzahl nK = 1,46 und
∆n1 = 0,01 und ∆n2 = ∆n1 /4. Berechnen Sie numerische Apertur, maxi-
malen Akzeptanzwinkel und Brechzahl des Mantels. Ermitteln Sie die zu-
gehörigen Kerndurchmesser von Monomodefasern, die bei λ = 1,3 µm arbei-
ten. Geben Sie weiterhin die Modenzahlen von Multimodefasern mit 100 µm
Kern-Durchmesser an. Welche Modenzahl würde sich für eine 100 µm-Faser
mit dem Mantel“ Luft ergeben?
”
Lösung √ √
Nach (24.4) ist AN 1 = nK 2∆n1 = 1,46 0,02 = 0,206 = 2AN 2 , damit wird
u1 = arcsin AN 1 = 11,9◦ und u2 ≈ u1 /2 = 5,93◦ . Aus ∆n = nKn−nK
M
folgt für
die Mantelbrechzahl nM = nK (1 − ∆n ) und somit nM 1 = 1,445 und
nM 2 = 1,456. Wählen wir einen V -Parameter von V0 = 2, so gilt
2λ0
d1 = πA N
= 4 µm ≈ d22 , also d2 = 8 µm.
Zum Vergleich: Die viel verwendete LEAF-Faser von Corning hat AN =
0,14. Für eine Faser mit 100 µm Durchmesser wird
V1 = π · 100 µm · AN 1 /1,3 µm ≈ 50 ≈ 2V2 und die Modenzahl
N1 = π42 V12 ≈ 1000 sowie N2 ≈ 250. Für Luft ist AN L = 1. Hieraus folgt
VL = 242 und NL = 23 700.
24.6 Dämpfung
Die in der realen Faser geführte Welle wird stets gedämpft; hierbei unterscheidet
man zwischen extrinsischen und intrinsischen Verlusten. Extrinsische Dämpfun-
gen sind bedingt durch Inhomogenitäten der Faser, wie z.B. Schwankung der
6
Saleh und Teich: Fundamentals of Photonics.
706 24 Faseroptik
Abb. 24.5. Verlauf von E 2 , des Quadrats der Feldstärke, in einem Schichtwellenleiter
mit der Dicke d = 10 µm und der Kernbrechzahl nK = 1,45 bei unterschiedlichen V -
Parametern (24.15). V kann über die Wellenlänge oder Mantelbrechzahl variiert werden.
a) E 2 für die 3. Mode (mit m = 2) mit 3 Wellenbäuchen bei V = 9. Im vorliegenden
Fall sind alle Moden mit m ≤ 4 ausbreitungsfähig. b) Amplitudenquadrat Ê 2 von
Monomodefasern mit V1 = π/2 und V2 = 1 (für ∆n = konst. ist dann λ2 = 2λ1 · π/2).
Die transportierte Energie (∼Fläche unter den Kurven) ist in beiden Fällen gleich. Die
Mode mit V2 = 1 breitet sich überwiegend im Fasermantel aus
24.6 Dämpfung 707
Materialzusammensetzung und damit der Brechzahl, Fehler in der Kern-Mantel-

Grenzfläche, weiterhin durch Geometrie-Effekte wie Mikrokrümmungen oder
starke Biegung der Faser, die Leckwellen und Modenkonversion (s. Abb. 24.6)
hervorrufen.7 Weitere extrinsische Verluste treten bei der Ein- und Auskopp-
lung sowie der Verbindung von Fasern auf. Der Einkopplungsgrad wird durch
die numerische Apertur der Faser und die Strahlungscharakteristik der Licht-
quelle (einschl. Kollektivlinse) begrenzt, weiterhin durch teilweise Reflexion an
Grenzflächen, was man als Fresnel-Verluste bezeichnet.
Abb. 24.6. Strahlungsverluste in einer Faser aufgrund a) einer starken Biegung der
Faser und b) von Mikrodefekten an der Oberfläche. Verluste treten auf, wenn die Be-
dingung für Totalreflexion verletzt ist. Der Faserdefekt bei b bewirkt außerdem Mo-
denkopplung bzw. Modenkonversion. Im vorliegenden Fall wird eine Mode niedrigerer
Ordnung in eine solche höherer Ordnung umgewandelt, die hier nicht ausbreitungsfähig
ist
Intrinsische Verluste beruhen auf der Extinktion aufgrund von Absorption und
Streuung. Die Abnahme der Lichtleistung durch Extinktion lässt sich (s. (20.65))
mit dem
Extinktionsgesetz P = P0 e−Kl (24.18)
beschreiben. Hierbei sind P0 und P die bei z = 0 eintretende und bei z = l

austretende Lichtleistung und K die Extinktionskonstante (mit [K] = m−1 , bzw.
neper/m oder km−1 ). In der Faseroptik führt man meist den Verlust- oder

10 P0
Dämpfungskoeffizient α≡ lg (24.19)
l P
ein. Als Einheit wählt man in der Regel [α] = dB/km, bezieht also den Verlust
auf 1 km Faserlänge. Bei einer Faser mit α = 5 dB/km verbleiben dann bei ei-
7
Faustformel: Biegeradien größer 10 cm rufen bei LWL keine zusätzliche Dämpfung
hervor.
708 24 Faseroptik
Abb. 24.7. Dämpfungskoeffizient α einer Ge-dotierten Quarzglasfaser als Funktion der

Wellenlänge mit den Beiträgen: elektronische, Schwingungs- und OH-Absorption sowie
Rayleigh-Streuung
ner Länge l = 1 km nur noch PP0 = 10−α l/10 = 10−0,5 = 0,32, also 32% des
einfallenden Lichtes.
Die Absorption im Kernmaterial wird bei den hohen Lichtfrequenzen des
sichtbaren und UV-Bereichs durch elektronische Absorption bei Anregung der
Elektronenhülle verursacht. Im Infrarot erfolgt molekulare Absorption durch
Molekülschwingungen. Beide Absorptionsmechanismen liefern im sichtbaren und
nahen Infrarot-Bereich nur geringe Beiträge, hier überwiegt Absorption durch
Verunreinigungen (3d-Elektronen der Übergangsmetalle, z.B. Fe, Cr, V), vor
allem jedoch aufgrund von Hydroxyl-Ionen, deren Grundschwingung bei einer
Wellenlänge von 2,73 µm und erste und zweite Oberschwingung bei 1,395 und
0,95 µm liegen. Während die Absorption durch Verunreinigungen bei hochrei-
nen Fasern praktisch vollständig eliminiert ist, ist die Rayleigh-Streuung mit ih-
rer 1/λ4 -Abhängigkeit (s. Kap. 15.3) bei Gläsern unvermeidbar. Gläser stellen
unterkühlte Flüssigkeiten dar und weisen damit deren charakteristische Dichte-
und damit Brechzahlschwankungen auf, die bei Quarzglas zu einer intrinsischen
Streuung mit einer Extinktionskonstante von
αR 0,63
Rayleigh-Streuung = 4 (24.20)
dB/km (λ/µm)
24.6 Dämpfung 709
Abb. 24.8. Wellenlängenabhängigkeit des Dämpfungskoeffizienten α von a) Quarzglas-

fasern und b) Polymerfasern
führen. Bei λ = 0,89 µm (1. Übertragungsfenster der faseroptischen Informati-

onsübertragung) würde sich dann für eine hochreine Faser αR ≈ 1 dB/km erge-
ben. Bei 1,3 µm verschwindet die Materialdispersion (s. unten) von Quarzglas,
außerdem liegt diese Wellenlänge links von der des OH-Absorptionsmaximums
bei 1,4 µm. Deshalb wurde und wird dieses sogenannte 2. Fenster für die LWL-
Übertragung genutzt. Hier ist nach (24.20) αR = 0,22 dB/km, erreicht werden
α-Werte von etwa 0,3 dB/km. Das absolute Minimum der Faserdämpfung tritt bei
λ = 1,55 µm, dem 3. Fenster, auf. Dort liegt der Rayleigh-Beitrag bei 0,11 dB/km,
die Infrarot-Absorption des Glases erhöht den Wert auf etwa 0,16 dB/km, ein
Wert der in der Praxis nahezu erzielt wird. Damit ist heute in der Fasertechnik
710 24 Faseroptik
ein Punkt erreicht, wo bei Verwendung von Quarzglas keine weitere Reduzierung
der Dämpfung möglich ist.
Polymere Lichtwellenleiter werden als Multimode- und Stufenindexfaser meist
aus Plexiglas“ (PMMA = Polymethylmethacrylat) mit etwa 1 mm Durchmesser
”
angefertigt, sie weisen mit etwa 20–100 dB/km (s. Abb. 24.8) wesentlich höhere
Dämpfungen als Glasfasern auf, sind aber billig herzustellen. Sie werden in lokalen
Netzwerken (LAN) und in der Lichttechnik eingesetzt.
Beispiel 24.2 Dämpfung
Berechnen Sie die Längen einer Quarzglasfaser mit 0,2 dB/km, einer Poly-
merfaser mit 100 dB/km und die Dicke einer Scheibe aus Fensterglas (α ≈
5 · 104 dB/km), über die die Eingangsleistung auf 1% abnimmt.
Lösung
Wegen (24.18) und (24.19) gilt l = 10
α
lg PP0 = 20αdB , hieraus folgt
K = 0,23α und somit KQ = 0,046 km−1 , lQ = 100 km, KP = 23 km−1 ,
lP = 0,2 km und KF = 11,5 km−1 , lF = 4 · 10−4 km = 40 cm.
24.7 Signalverzerrung
Moduliertes Licht verliert beim Durchgang durch eine Faser nicht nur Energie,
sondern auch Information aufgrund der Pulsverbreiterung von Lichtpulsen durch
verschiedene Mechanismen, die im Folgenden diskutiert werden. Es sind dies:
Moden-, Material - und Wellenleiter-Dispersion.
24.7.1 Modendispersion der Stufenindexfaser
Abbildung 24.9 zeigt schematisch die Einkopplung eines Rechteckpulses (eines

digitalen Signals) in eine Faser. Der Ausgangspuls wird im Allgemeinen verzerrt
(verbreitert) sein und einen Energieverlust durch Dämpfung erfahren. Pulsver-
breiterung durch Modendispersion wird dadurch verursacht, dass sich die ein-
zelnen Moden unter verschiedenen Richtungen ausbreiten, somit unterschiedli-
che Wege durchlaufen und deshalb zu verschiedenen Zeitpunkten am Ausgang
ankommen. Dort überlagern sich die den einzelnen Moden zugeordneten Teil-
impulse zu einem verbreiterten Gesamtimpuls. Den kürzesten Weg l von A nach
B legt der Axialstrahl zurück, den längsten Weg l der unter dem Grenzwinkel
εg auffallende Grenzstrahl der Totalreflexion. Entsprechend Abb. 24.9 ist:
nM d l
sin εg = = =
nK d l
24.7 Signalverzerrung 711
Abb. 24.9. Entstehung der Modendispersion. Ein Rechteckpuls weist aufgrund der un-
terschiedlichen Lichtwege verschiedene Laufzeiten auf. In der Abb. sind die Extremfälle
wiedergegeben: ein Strahl in Richtung der optischen Achse und ein zweiter Strahl, der
sich gerade am Grenzwinkel der Totalreflexion ausbreitet. Pulse mit der Laufzeitdiffe-
renz ∆t sind um den Abstand cK ∆t voneinander entfernt
Die Laufzeitdifferenz ∆t zwischen diesen beiden Strahlen ergibt die Pulsverbrei-

terung; sie ist bei vernachlässigbarer Eingangspulsbreite gleich der Breite des
Ausgangspulses:

l l l nK
∆t = tmax − tmin = − = −1
cK cK cK n M
Mit ∆n = nKn−n
K
M
≈ nKn−n
M
M
und cK = c0 /nK erhält man dann für die längen-
bezogene Laufzeitdifferenz, die Modendispersion einer Stufenindexfaser :
∆t ∆n nK − nM
Modendispersion = = (24.21)
l cK c0
Die Pulsbreite bestimmt den minimalen Pulsabstand, bei dem Einzelpulse noch
unterschieden werden können und damit die Übertragungs- oder Bitrate B einer
Faser. Wir fordern, dass der zeitliche Abstand ∆tp , in dem die Pulse aufeinander
folgen, mindestens gleich der doppelten Pulsbreite ∆t sein soll; andernfalls könnte
eine 0 “ als fehlender Puls nicht erkannt werden. Da in der Zeit ∆tp gerade ein
”
Puls, entsprechend ein Bit, übertragen wird, ist somit die Bitrate
1 1
B= =
∆tp 2∆t
und das wichtige
l
Bitraten-Längenprodukt Bl = (24.22)
2∆t
712 24 Faseroptik
Für eine Stufenindexfaser wird dies mit (24.21):

cK
Stufenindexfaser Bl = (24.23)
2∆n
Die Modendispersion kann demnach durch eine kleine Brechzahldifferenz redu-

ziert werden, hierbei wird aber auch die numerische Apertur verkleinert. Bei der
Monomodefaser tritt keine Modendispersion auf, (24.23) gilt also nicht. Niedrige
Dispersion kann man auch mit mehrmodigen Gradientenindexfasern erzielen.
Beispiel 24.3 Modendispersion
Berechnen Sie Modendispersion und Bitraten-Längenprodukt einer Stufen-
indexfaser mit der Kernbrechzahl nK = 1,46 und nM = 1,45. Geben Sie
weiterhin die maximalen Bitraten für die Faserlängen l = 1 km und 100 km
an.
Lösung
l = 33 km und B l = 2(∆t/l) = 67 ns = 15 s ·km. Die

Mit (24.21) ist ∆t ns 1 1 km Mbit 8
Angabe des Produktes B l hat den Vorteil einer universellen Größe. Bei
einer Faserlänge von l = 1 km ließe sich demnach eine Übertragungsrate von
B = 15 Mbit/s erzielen, bei l = 100 km hingegen nur 150 kbit/s.
Multimodefasern weisen in der Regel nur bei kleinen Übertragungslängen
eine ausreichende Übertragungskapazität auf.9
24.7.2 Gradientenindexfaser und deren Modendispersion
Eine Gradientenindex - oder GRIN-Faser ( GRadientenINdex“) weist einen Kern

”
mit kontinuierlich nach außen abnehmender Brechzahl auf. Abbildung 24.10
zeigt ein solches Brechzahlprofil und zum Vergleich das Profil einer Stufenindex-
faser. In Medien mit Brechzahlgradient laufen die Lichtstrahlen gekrümmt (s.
Abb. 24.10 c), so dass beispielsweise die auf- und untergehende Sonne um ca. 0,5◦
8
Bei der Übertragung analoger Signale wird statt des Bitraten-Längenprodukts das
Bandbreiten-Längenprodukt ∆f l (mit der Einheit Hz·km) angegeben. In unserer
Näherung ergeben sich dieselben Zahlenwerte, es ist also lediglich die Einheit bit/s
durch Hz zu ersetzen.
9
In der Regel sind die Pulsverbreiterungen oberhalb einer charakteristischen Länge
lc geringer als nach (24.21), da Modenkopplung auftritt. Über kleine Störungen
der Kern-Mantel-Fläche und Brechzahlschwankungen tauschen benachbarte Moden
Energie aus, sie werden dadurch verkoppelt und laufen weniger stark auseinander.
Weiterhin werden die höheren Moden stärker gedämpft
√ als die niedrigen. Dies führt
für l > lc zu einer Abhängigkeit der Form ∆t ∼ l.
zu hoch erscheint. An jedem Punkt des Lichtweges gilt lokal das Brechungsgesetz
und die Strahlen werden laufend in Richtung der größeren Brechzahl abgelenkt.
Dies – und nicht die Totalreflexion am Mantel – bewirkt die Strahlführung in
einer GRIN-Faser. Der maximale Akzeptanzwinkel – und damit die numerische
Apertur – ist für einen im Zentrum des Kerns auftreffenden Strahl wieder durch
(24.4) gegeben. Weiter außen einfallende Strahlen weisen kleinere numerische
Aperturen auf.
Der genaue Verlauf der gekrümmten Strahlen wird durch das Brechzahlprofil
n(r) bestimmt, das als Potenzprofil vorliegen soll:
r g r g
Brechzahlprofil n(r) = nK 1 − 2 ∆n ≈ n K 1 − ∆n (24.24)
a a
mit 0 ≤ r ≤ a. Hierbei ist nK = n(0) die Brechzahl auf der Faserachse und
– wie in der Literatur über Lichtwellenleiter üblich – a der Kernradius. Der
Profilexponent g beschreibt bei g = 1 ein Dreiecks-, bei g = 2 ein Parabel-
und für g → ∞ ein Stufenprofil. Besonders wichtig ist das Parabelprofil, da
hier – wie in Abb. 24.10 c gezeigt – für alle Moden (Ausbreitungsrichtungen)
dieselbe Periodizitätslänge Lp (Pitch-Länge) und Ausbreitungsgeschwindigkeit
auftritt und die Modendispersion verschwindet. Die Strahlen der höheren Moden
legen zwar einen größeren Weg zurück, tun dies aber in Bereichen geringerer
Brechzahl und damit größerer Geschwindigkeit, so dass sich die Einflüsse von
Weglänge und Geschwindigkeit ausgleichen. Dies ist analog dem Verhalten einer
harmonischen Schwingung, bei der ja die Schwingungsdauer T (=L ˆ p ) unabhängig
von der Schwingungsamplitude ist. Die genauere Analyse (die in (24.24) das dritte
Glied der Reihenentwicklung berücksichtigt) liefert für die Modendispersion der
GRIN-Faser mit quadratischem Brechzahlprofil:

∆t ∆2 ∆n ∆t
= n = · (24.25)
l 2cK 2 l Stufenf.
und entsprechend das Bitraten-Längenprodukt der
l cK
GRIN-Faser Bl = = 2 (24.26)
2∆t ∆n
Gegenüber der Stufenindexfaser tritt eine Verringerung der Dispersion um den

Faktor ∆n /2(= 1/292 mit den Zahlenwerten aus Beispiel 3) auf und somit eine
entsprechende Verbesserung der Übertragungsrate um das 2/∆n - ≈ 300-fache.
24.7.3 Materialdispersion
Auch bei Fehlen von Modendispersion – also in Monomodefasern – tritt eine
Pulsverbreiterung auf, da (s. Abb. 24.11) Brechzahl und Geschwindigkeit wel-
lenlängenabhängig sind. Jeder Lichtpuls weist ein Frequenzspektrum auf, das
714 24 Faseroptik
Abb. 24.10. a) Brechzahlprofil einer Gradientenindexfaser mit parabolischem Brech-

zahlverlauf im Kern. b) Profil einer Stufenindexfaser, in der die Brechzahl des Kernes
konstant und etwas größer als die des Mantels ist. c) Einige Lichtwege in einer GRIN-
Faser, die die Führung der Lichtwellen aufgrund der kontinuierlichen Brechung zeigen.
Die Periodizitätslänge ist unabhängig vom Winkel σ0
Abb. 24.11. Brechzahlverlauf von Quarzglas
von der spektralen Breite der Lichtquelle und seiner Dauer (Unschärferelation,
s. Kap. 12.3) bestimmt wird. Jede spektrale Komponente breitet sich mit etwas
unterschiedlicher Geschwindigkeit aus und führt am Ausgang zu verschmierten
Pulsen. Abb. 24.12 erklärt die Materialdispersion vereinfachend für zwei anfäng-
lich zusammenfallende Rechteckpulse der zentralen Wellenlängen λ1 und λ2 mit
den zugehörigen Gruppengeschwindigkeiten cg1 und cg2 . Die beiden Wellenlängen
sind aus dem kontinuierlichen Spektrum der Halbwertsbreite ∆λ herausgegriffen.
In Kapitel 9.5 wurde erklärt, dass die Geschwindigkeit einer Wellengruppe
bzw. eines Pulses durch die im Allgemeinen frequenzabhängige Gruppengeschwin-
digkeit cg (ω) (s. (9.45)) beschrieben wird, hiermit wird die Laufzeit t(ω) einer
spektralen Komponente:
l dω
t(ω) = mit cg (ω) = (24.27)
cg (ω) dk
Ein Signal der spektralen Halbwertsbreite ∆λ weist dann eine Laufzeitdifferenz
von

∆t d 1
= · ∆λ (24.28)
l dλ cg (ω)
716 24 Faseroptik
Abb. 24.12. Erläuterung der Materialdispersion: Von der Lichtquelle emittierte Recht-
eckpulse kommen zu verschiedenen Zeiten am Ende der Faser an, da ihre Gruppenge-
schwindigkeit von der Wellenlänge abhängt. Die Lichtquelle ist gekennzeichnet durch
eine zentrale Wellenlänge λ und eine spektrale Halbwertsbreite ∆λ
2π ω ω
auf. Zur Berechnung verwenden wir den Zusammenhang k = = =n ,
λ c c0
wobei n ebenfalls eine Funktion von ω ist. Wir berechnen zunächst den Kehrwert
der Gruppengeschwindigkeit (s. (24.27)) und verwenden dω/ω = −dλ/λ:
1 dk n ω dn n λ dn
= = + = −
cg dω c0 c0 dω c0 c0 dλ
Einsetzen in (24.28) ergibt dann nach der Differentiation die
∆t λ d2 n
Materialdispersion =− ∆λ ≡ −M · ∆λ (24.29)
l c0 dλ2
M , der Materialdispersions-Koeffizient 10 , ist eine wellenlängenabhängige Ei-

genschaft des Kernmaterials (s. Abb. 24.13), er beschreibt die Laufzeitdiffe-
renz bezogen auf Faserlänge und Spektralbreite (mit der gebräuchlichen Einheit
ps/(km·nm)).
Beispiel 24.4 Bitrate
Berechnen Sie unter Verwendung von Abb. 24.13 die durch Materialdispersion
begrenzte Laufzeitdifferenz und Bitrate bei λ = 0,88 µm und 1,55 µm sowohl
für eine Leuchtdiode (mit ∆λ = 20 nm) als auch für eine Laserdiode (∆λ =
1 nm).
10
Häufig einfach als Materialdispersion bezeichnet, in (24.29) ist auch die Definition
mit +M ∆λ gebräuchlich.
Lösung
Nach Abb. 24.13 gilt bei λ ≈ 0,88 µm (1,55 µm) M = 75
(≈ −20) ps/(nm·km). M > 0 bedeutet, dass cg normale Dispersion aufweist
und längere Wellen eine kürzere Laufzeit haben. Wir erhalten für die
Beträge:
– Für die LED:
∆t/l = |M | · λ = 75 ps/(nm · km) · 20 nm = 1,5 ns/km (0,4 ns/km),
entsprechend B l = l/(2∆t) = 330 Mbit/s km (1,25 Gbit/s km).
– Für die Laserdiode:
∆t/l = 75 (20) ps/(nm·km) und B l = 6,7 (25) Gbit/s km.
Bei λ = 1,55 µm und einer Faserlänge von 100 km erreicht man dann mit der
Laserdiode die Bitrate B = 250 Mbit/s, was sich durch Einsatz einer
Laserdiode kleinerer Bandbreite und geringere chromatische Dispersion (s.
Kap. 24.7.4) wesentlich verbessern lässt. Man erkennt deutlich den Gewinn,
den die wesentlich monochromatischere Laserdiode bringt.
Beachten Sie, dass die Pulsverbreiterung aufgrund der Materialdispersion wesent-

lich kleiner ist als bei Modendispersion (s. Bsp. 24.3), so dass sie nur in hochwer-
tigen GRIN- und Monomodefasern überwiegt. Dementsprechend geht der Vorteil
der kleinen Spektralbandbreite der Laserdiode in Multimode-Stufenindexfasern
mit ihrer großen Modendispersion verloren. Da Laufzeitdifferenz und Dämpfung
längenabhängig sind, kann bei kurzen Übertragungsstrecken sogar mit polyme-
ren Lichtwellenleitern und Leuchtdioden als Lichtquelle eine hohe Bitrate erzielt
werden. Informationsübertragung über große, z.B. transozeanische Strecken ist
hingegen nur mit Monomodefasern und Laserdioden möglich. Aus Abb. 24.13
ist ersichtlich, dass M bei λ = 1,27 µm verschwindet, so dass hier die mini-
mal mögliche Pulsverbreiterung auftritt. Dies und die Tatsache, dass man bei
λ = 1,3 µm in einem Extinktionsminimum links von der OH-Absorption liegt,
führte zur Verwendung von faseroptischen Übertragungssystemen, die im so ge-
nannten 2. Übertragungsfenster bei 1,3 µm arbeiten. Moderne Fasersysteme ver-
wenden das 3. optische Fenster bei 1,55 µm, wo für Quarzglas das absolute Mini-
mum der Extinktion liegt. Dann geht jedoch der Vorteil verschwindender Materi-
aldispersion zunächst verloren. Durch Modellierung des Brechzahlverlaufes einer
Faser kann auch im Bereich des 3. Fensters minimale chromatische Dispersion
Mchr , die Summe von Material - und Wellenleiterdispersion, erzielt werden.
24.7.4 Wellenleiterdispersion und maximale Bitraten
Die Pulsverbreiterung durch Wellenleiterdispersion wird durch das Brechzahlpro-

fil und die Geometrie des Wellenleiters bestimmt und tritt auch bei verschwin-
dender Materialdispersion auf. Dieser Effekt ist klein und deshalb nur in Mono-
718 24 Faseroptik
Abb. 24.13. Materialdispersion in reinem Quarzglas. Dargestellt ist der Dispersions-

koeffizient M – die Laufzeitverbreiterung ∆t der Pulse bezogen auf Wellenlängeninter-
vall ∆λ und Faserlänge l – als Funktion der Wellenlänge. Die Pulsverbreiterung auf-
grund der Materialeigenschaften verschwindet (annähernd) bei λ = 1,27 µm und wird
für größere Wellenlängen negativ, d.h. die Pulse größerer Wellenlänge laufen langsamer
modefasern im Bereich sehr kleiner Materialdispersion von Bedeutung. In LWL

wird diese Dispersion wesentlich durch das Verhalten der mitgeführten evanes-
zenten Welle bestimmt. Mit zunehmender Wellenlänge dringt diese Welle immer
weiter in den Mantel ein (s. Abb. 24.5 b) und die Gruppengeschwindigkeit wächst
aufgrund der kleineren Brechzahl des Mantels; die Welle mit der größeren Wel-
lenlänge hat damit die kleinere Laufzeit. Definiert man in Analogie zu (24.29)
die
∆t
Wellenleiterdispersion = −MWL · ∆λ (24.30)
l
mit dem Wellenleiterdispersions-Koeffizienten MWL , so ist deshalb bei dem ein-

fachen Stufenprofil MWL > 0, während die Materialdispersion oberhalb 1,27 µm
entgegengesetztes Vorzeichen hat, so dass sich die Einflüsse eventuell kompensie-
ren. Bei einer für 1,3 µm ausgelegten Monomodefaser mit Stufenprofil ist jedoch
MWL so klein, dass der Nulldurchgang der Materialdispersion M bei 1,27 µm (s.
Abb. 24.13) für die chromatische Dispersion M + MWL lediglich nach 1,3 µm ver-
24.8 GRIN-Optik 719
schoben wird. Will man den Nulldurchgang stärker verschieben, z.B. auf 1,55 µm
( dispersionsverschobene (shifted) Fasern, DSF“), so muss man die Wellenleiter-
”
dispersion vergrößern. Dies kann z.B. durch eine Änderung des Brechzahlverlaufs
im Kern erreicht werden. Denken wir uns in Abb. 24.5 b ein Dreiecksprofil für
den Brechzahlverlauf im Kern eingezeichnet, so sehen wir, dass die Welle mit der
kleineren Wellenlänge λ1 , die stärker im Kern mit der kleineren Ausbreitungs-
geschwindigkeit konzentriert ist, gegenüber der sich mehr im Mantel ausbreiten-
den Welle mit λ2 stärker als beim Rechteckprofil verzögert wird; die Differenz
der Gruppengeschwindigkeiten – und damit |MW L | – wird vergrößert. Weiterhin
kann durch Variation des Kern-Mantel-Brechzahlprofils (z.B. W-Profil) MWL so
modelliert werden, dass die chromatische Dispersion zwei Nullstellen (z.B. bei
1,5 und 1,65 µm, NZDSF) aufweist und dazwischen auf kleine Werte von etwa
1 ps/(nm km) beschränkt bleibt (dispersionsflache Fasern).
Aktuell ergibt sich folgendes Bild der Datenübertragung mit LWL über große
Distanzen: Zur Erhöhung der Übertragungskapazität werden bei der Grundwel-
lenlänge 1,55 µm des 3. Fensters zahlreiche Kanäle unterschiedlicher Wellenlängen
verwendet (Wellenlängen-Mutltiplex, DWDM – Dense Wavelength Division Mul-
tiplexing), außerdem werden viele Fasern in einem Kabel zusammengefasst. Beim
Test der DWDM-Technik stellte man fest, dass bei DSF-Fasern aufgrund der
Nichtlinearität 3. Ordnung (s. Kap. 26) starke Vier-Wellenmischung (FWM) auf-
tritt, die die Wellen aus 3 Kanälen zu einer vierten mischen. Dieser Effekt wird
bei dispersionsflachen Fasern mit geringer chromatischer Dispersion (Non Zero
Dispersion Shifted Fiber, NZDSF) unterdrückt.
Kurz vor der Einführung (2004) stehen Fasern geringer Dämpfung (0,2 dB/km)
mit 125 Kanälen à 40 Gbit/s und Abständen der optischen Er-dotierten Raman-
Verstärker von 100 km, mit denen also 5 Tbit/s und Faser übertragen werden
können. Die Transatlantikstrecke Apollo“ erreicht seit 2003 auf 4 Faserpaaren
”
und 80 Kanälen bereits 3,2 TBit/s.
Zusammenfassend können wir feststellen, dass es drei Methoden zur Reduzie-
rung der Pulsverbreiterung und damit zur Steigerung der Übertragungskapazität
gibt:
1. Verwendung einer Monomodefaser, um die Modendispersion auszuschalten,
2. Verwendung einer schmalbandigen Lichtquelle, um den Einfluss der chroma-
tischen Dispersion zu verringern und
3. Verwendung eines Spektralbereichs, in dem chromatische Dispersion und
Dämpfung minimal sind.
24.8 GRIN-Optik
Wegen der großen Bedeutung, die GRIN-Strukturen in der modernen Optik er-
langt haben, wollen wir den Verlauf der gekrümmten Lichtstrahlen (s. Abb. 24.10)
720 24 Faseroptik
in einem zylindersymmetrischen Medium, dessen Brechzahl in radialer Richtung

gemäß einer Funktion n(r) variiert, näher untersuchen und die Strahlengleichung
aufstellen. Hierzu betrachten wir (in Abb. 24.14) wieder den Meridionalschnitt
durch eine Faser und zwei zunächst achsenparallele Strahlen 1 und 2 im Abstand
r und r + dr von der optischen Achse. Da Licht in gleichen Zeiten gleiche optische
Wege zurücklegt, muss gelten:
n(r) · s = n(r + dr) · (s + ds) (24.31)
Abb. 24.14. Verlauf von zwei Strahlen in einem Medium mit Brechzahlgradient. Strahl
(2) läuft in einem Bereich geringerer Brechzahl und deshalb schneller als Strahl (1).
Hierdurch wird die Wellenfront WF um den Winkel dα verkippt
24.8 GRIN-Optik 721
Mit der Taylor-Entwicklung n(r+dr) = n(r)+ dn dr ·dr erhält man hieraus (bei Ver-
nachlässigung quadratischer Terme): n(r)ds + s dn = 0 und damit nach Division
durch dr:
1 ds 1 dn
=− (24.32)
s dr n dr
Aus dem Wegunterschied ds (24.31) folgt eine Verkippung der Wellenfront und
damit eine Richtungsänderung des Strahls um den Winkel dα = s/; ist der
Krümmungsradius. Aus der Ähnlichkeit der Dreiecke in Abb. 24.14 folgt: dα =
d2 r
ds
s/ = dr , weiterhin gilt für die Krümmung: 1 ≈ dz 2 . Einsetzen in (24.32) ergibt
dann die
d2 r 1 dn
paraxiale Strahlengleichung 2
=− (24.33)
dz n(r) dr
der GRIN-Optik für Meridionalstrahlen für den Spezialfall, dass n unabhängig

von z ist (also dn/dz = 0). Für das Parabelprofil ist nach (24.24):
dn r
≈ −2nK ∆n · 2
dr a
wobei nK = nK (0) und ∆n = (nK − nK (a))/nK . Einsetzen in (24.33) und Ver-
wendung der Näherung 1/n(r) ≈ 1/nK führt zur bekannten Differentialgleichung
eines harmonischen Vorgangs:
d2 r 2∆n
− κ2 r = 0 mit κ2 = 2 (24.34)
dz 2 a
Mit den Randbedingungen r(0) = r0 und r (0) ≈ σ0 /nK , d.h. unter der Annahme
eines einfallenden Strahls, der im Abstand r0 von der Achse unter dem Winkel σ0
auf die GRIN-Fläche auftrifft und zu σ0 /nK gebrochen wird, erhält man hieraus
für den
σ0
Strahlverlauf r = r0 cos κz + sin κz (24.35)
nK κ
mit der
2π 2πa
Periodenlänge Lp = =√ (24.36)
κ 2 ∆n
die häufig als Pitchlänge“ bezeichnet wird. Der entsprechende Strahlenverlauf ist
”
in Abb. 24.10 c für r0 = 0 und unterschiedliche Einfallswinkel σ0 wiedergegeben.
GRIN-Optik gewinnt in der modernen Optik immer größere Bedeutung. So
werden z.B. in Fotokopierern GRIN-Linsenarrays angewendet, die direkt die
722 24 Faseroptik
Abb. 24.15. Lp /4- ( Viertelwellen“-) GRIN-Stab als Kollimatorlinse für Licht aus
”
einer Punktquelle P . Die Brennweite beträgt Lp /2π
Abb. 24.16. Faserkopplung über zwei GRIN-Linsen

24.9 Richtkoppler 723
Vorlage auf die Kopiertrommel abbilden. Abb. 24.15 zeigt einen Lp /4-Stab als
Kollimatorlinse mit Angabe der Hauptebene H. In Abb. 24.16 werden zwei
Viertelwellen-Stäbe zur Faserkopplung verwendet. Versieht man eine herkömm-
liche sphärische Linse mit einem axialen Brechzahlgradienten, so lässt sich hier-
durch die sphärische Aberration – unter Vermeidung einer nichtsphärischen
Fläche – beseitigen.
Beispiel 24.5 GRIN-Stab
In einem Prospekt findet man für einen GRIN-Stab von 3 mm Durchmesser für
λ = 633 nm die Angabe nK = 1,643 und die Periodizitätslänge Lp = 82,7 mm.
Wie groß sind ∆n sowie Öffnungswinkel 2u und numerische Apertur AN des
Stabes?
Lösung
Aus (24.36) folgt κ = 76 m−1 und ∆n = 6,5 · 10−3 . Damit alle (bei r0 = 0)
unter unterschiedlichen Winkeln σ0 einfallenden Strahlen dasselbe Lp haben,
muss die Amplitude σ0 /nK κ (s. (24.35)) kleiner als der Radius a sein, also
im Grenzfall mit σ0 = u gelten: nσK0κ = nKu κ = a. Hieraus folgt 2u = 21,5◦
und AN = 0,19.
24.9 Richtkoppler
Stellvertretend für die zahlreichen Anwendungen der Faseroptik sollen der Richt-
koppler und seine Anwendung zur Strahlteilung in Interferometern und bei der
Lichtmodulation diskutiert werden.
In der Sprache der Übertragungstechnik handelt es sich hierbei um ein Vier-
tor (s. Abb. 24.17) mit zwei Paaren (1/2 und 3/4), bei dem Lichtübertragung
nur zwischen diesen Paaren möglich ist. So kann z.B. bei 1 eingespeistes Licht bei
3 oder/und 4, nicht aber bei 2 austreten. Richtkoppler beruhen auf der Kopp-
lung der Einzelfasern über evaneszente Wellen des Mantels, also auf dem sonst
unerwünschten Effekt des Übersprechens. Da die Eindringtiefe dieser Wellen nur
einige Wellenlängen beträgt, müssen die Wellenleiter im Koppler kleine Abstände
haben. Technisch kann man dies dadurch erreichen, dass man zwei Fasern mit-
einander verdrillt und unter Zugspannung verjüngt und verschmilzt (bikonische
Koppler ). Insbesondere bei der Lichtmodulation verwendet man Koppler in der
Technik der integrierten Optik , bei der vergrabene Streifenleiter erhöhter Brech-
zahl eingesetzt werden. Passiv arbeitende, integriert optische Bauelemente lassen
sich mit Glasschichten realisieren, bei denen die Wellenleiter erhöhter Brechzahl
durch Ionenaustausch erzeugt werden. Aktive Bauelemente fertigt man häufig aus
Lithium-Niobat (LiNbO3 ). Dieses Material weist einen großen elektro-optischen
Effekt auf und wird u.a. in Modulatoren eingesetzt; der Lichtwellenleiter wird
724 24 Faseroptik
Abb. 24.17. Richtkoppler in Streifenleitertechnik. In einem Substrat der Brechzahl nS

sind Streifen erhöhter Brechzahl nK vergraben“. Die Leiter sind über eine Koppellänge
”
lK über die evaneszenten Wellen verkoppelt. Die Stärke der Kopplung kann über eine
Spannung U variiert werden
durch Eindiffusion von Titan erzeugt. In der integrierten Optoelektronik, bei der
auf einem Chip Laser, Modulator, Koppler usw. integriert sein sollen, arbeitet
man mit III-V-Halbleitern (In(Al)GaAsP) unterschiedlicher Dotierung und Zu-
sammensetzung.
Um die Arbeitsweise eines Richtkopplers zu verstehen, betrachten wir die in
Abb. 24.17 wiedergegebene Anordnung. In Eingang 1 werde eine Welle eingekop-
pelt, die sich in z-Richtung ausbreitet und hierbei über die evaneszente Welle
einen Teil ihrer Energie in den anderen Wellenleiter transferiert. Wir denken uns
bei 3 und 4 Detektoren und registrieren die Leistungen P3 und P4 bei Variation
der Koppellänge lK . Für lK → 0 ist P3 = P1 und P4 = 0, mit wachsendem lK
nimmt P3 ab und P4 so lange zu, bis P3 verschwindet (P3 = 0, P4 = P1 ). Inter-
essanterweise wiederholt sich dieser Vorgang mit wachsender Länge periodisch.
Wir beobachten einen Verlauf wie bei einer Schwebung, die vom Verhalten ge-
koppelter Schwinger bekannt ist. Die Wellenleiter verhalten sich demnach wie
Oszillatoren, die über die evaneszente Welle gekoppelt sind.
Erinnern wir uns an die gekoppelten Pendel (s. Abb. 24.18). Hier sehen wir
zwei gleiche Federpendel der Masse m mit Zug-Druck-Federn der Federkonstante
D sowie einer zusätzlichen schwachen Kopplungsfeder der Federkonstante DK .
Bekanntlich gibt es bei der Schwingung dieser Pendel zwei Grenzfälle, die soge-
nannten Normal- oder Fundamentalschwingungen, bei denen die Pendel mit zeit-
unabhängiger Amplitude schwingen: die symmetrische mit der Frequenz fsym ,
bei der beide Pendel in dieselbe Richtung gleich weit ausgelenkt werden, und die
antisymmetrische mit fa und entgegengesetzter Auslenkung. Ist f0 die Frequenz
Abb. 24.18. Gekoppelte Federpendel mit Zug-Druck-Federn der Federkonstante D und

einer schwächeren Kopplungsfeder K. Nach Auslenkung des Pendels 1 wird die Energie
nach der Transferzeit Tt vollständig auf Pendel 2 übertragen
mit der ein Pendel – also bei festgehaltenem zweiten Pendel – schwingt, so ist
fsym gegenüber f0 erniedrigt, da bei der symmetrischen Schwingung die mittlere
Feder K nicht zur Rückstellkraft beiträgt, und fa erhöht, da diese Feder dann
doppelt so stark gedehnt wird. Wir erhalten die Kreisfrequenzen
ωa = ω0 + K und ωsym = ω0 − K (24.37)

mit K ≈ DK /2mω0 , der Kreisfrequenzänderung aufgrund der Kopplung. Lenkt
man zu Beginn nur ein Pendel aus, so entsteht die bekannte Schwebung mit der
Schwebungsfrequenz :
K
fs = fa − fsym = (24.38)
π
1
Nach der Transferzeit Tt = Ts /2 = 2fs , also
π
Tt = (24.39)
2K
726 24 Faseroptik
wird – bei gleichen Pendeln – die Energie vollkommen von Pendel 1 auf 2 über-
tragen.
Diese aus der Schwingungslehre bekannten Ergebnisse lassen sich quantitativ
auf den Richtkoppler übertragen. Der Schwingung mit s = ŝ ej ω t der Kreis-
frequenz ω entspricht eine in z-Richtung fortschreitende Welle der Amplitude
Ê ej k z mit der Kreiswellenzahl k = ω/c; k0 gilt dann für den isolierten Einzellei-
ter. Der symmetrischen Normalschwingung entspricht die Einkopplung von zwei
gleichphasigen Wellen gleicher Amplitude in Eingang 1 und 2. Hierdurch wird die
Amplitude der evaneszenten Wellen zwischen den Leitern, dem Gebiet kleinerer
Brechzahl, vergrößert, damit die Geschwindigkeit erhöht und ksym = ω/csym –
analog zu ωsym – erniedrigt. Bei gegenphasiger Einkopplung schwächen sich die
evaneszenten Wellen im Kopplungsgebiet durch destruktive Interferenz, die Ge-
schwindigkeit ca wird reduziert und ka = ω/ca erhöht. In Analogie zu (24.38)
und (24.39) wird dann die Kreiswellenzahl ks der Schwebung
ks = ka − ksym = 2K (24.40)
und die
π
Transferlänge Lt = (24.41)
2K
Abb. 24.19. Verlauf der Ausgangsleistung an den Toren 3 und 4 des Richtkopplers als
Funktion der Koppellänge lK bei konstanter Eingangsleistung P1 (Lt = Transferlänge)
Für lK = Lt wird die Energie vollständig von einem Leiter auf den anderen
übertragen. Der Zeit t entspricht die Koppellänge lK (Abb. 24.17). Koppeln wir
bei Tor 1 die Lichtleistung P1 ein, so erhalten wir bei Variation von lK bei 3 und
4 die Leistungen (s. Abb. 24.19):
π
Richtkoppler P3 = P1 cos2 ( lK )
2Lt (24.42)
Ausgangsleistungen π
P4 = P1 sin2 ( lK )
2Lt
Die Transferlänge hängt von dem Verhältnis Eindringtiefe dein der evaneszen-
ten Welle (s. Kap. 20.5) zu Abstand d der Einzelleiter ab (Lt ∼ e(bd/dein ) mit
b = konst.) Bei vorgegebener Kopplung kann man durch Wahl der Koppellänge
lK entsprechend Abb. 24.19 jedes beliebige Teilerverhältnis einstellen. Da die
Eindringtiefe der evaneszenten Welle mit der Wellenlänge zunimmt, ist die Trans-
ferlänge wellenlängenabhängig; damit kann man z.B. erreichen, dass für ein aus
zwei Wellenlängen bestehendes Eingangssignal an den beiden Ausgängen jeweils
nur das Signal einer Wellenlänge ansteht (Demultiplexer).
Zur Lichtmodulation ist der elektro-optisch steuerbare Lichtmodulator (s.
Abb. 24.17) geeignet. Bei Anlegen einer Spannung ändern sich die Brechzahlen
von Kern und Mantel und damit die Eindringtiefe und die Kopplungskonstan-
te. Mit LiNbO3 lassen sich hiermit Modulationsfrequenzen größer 10 GHz bei
Spannungsamplituden von etwa 10 V erreichen.
Übungen
24.1 Das in Europa standardisierte PCM-30-System (PCM = Puls-Code-Modulation)
hat eine Bitrate von 2,048 Mbit/s. Zeigen Sie, dass man mit diesem System 30
Fernsprechkanäle (+ 2 Steuerkanäle) übertragen kann, wenn für einen Telefonkanal
die Bandbreite 4 kHz beträgt und 256 Quantisierungsstufen verwendet werden.
24.2 Bestimmen Sie die theoretische Maximalzahl der Fernsehkanäle, die über eine Mo-
nomodefaser bei der Wellenlänge 1,55 µm übertragen werden können, wenn (im
UHF-Band) eine Bandbreite von 8 MHz pro Kanal benötigt wird.
24.3 Zeigen Sie, dass für einen Lichtstrahl, der unter dem Grenzwinkel der Totalreflexion
auf die Kern-Mantel-Grenzfläche einer Faser trifft, der Abstand la zweier benach-
barter Auftreffpunkte durch
nM d
la =
n2K − n2M
gegeben ist. Wie viele Reflexionen (pro m Faserlänge) erfährt solch ein Strahl in
einer Stufenindexfaser mit nK = 1,460, nM = 1,457 und d = 50 µm?
24.4 Bei einer Stufenindexfaser beträgt die Kernbrechzahl 1,52 und die des Mantels 1,41.
Bestimmen Sie:
a) den Grenzwinkel der Totalreflexion,
b) die numerische Apertur und
c) den Akzeptanzwinkel u.
728 24 Faseroptik
24.5 Eine Stufenindexfaser hat 60 µm Kerndurchmesser und eine Kernbrechzahl von

1,53, die des Mantels beträgt 1,39. Bestimmen Sie:
a) die numerische Apertur,
b) den Akzeptanzwinkel und
c) die Zahl der Reflexionen, die auf 1 m Faserlänge für einen Strahl mit dem ma-
ximalen Eintrittswinkel und für einen mit der Hälfte dieses Winkels auftreten.
24.6 Die Stirnfläche einer Faser in Luft (Durchmesser d, Länge l) wird von Licht unter
dem Winkel ε getroffen. Zeigen Sie, dass
a) der tatsächliche Weg se zwischen zwei Reflexionen am Mantel gegeben ist durch:
nK d
se =
sin ε
b) der gesamte zurückgelegte Weg sg gleich ist:
nK l
sg =
− sin2 ε
n2K
c) Führen Sie die Berechnung von se und sg für l = 10 m, d = 50 µm, nK = 1,5
und ε = 10◦ durch.
24.7 Wie viele Moden können sich in einer Stufenindexfaser bei λ = 850 nm ausbreiten,
wenn nK = 1,461, nM = 1,456 und der Kernradius a = 50 µm ist?
24.8 Bestimmen Sie den maximalen und zu V = 1 gehörigen Kernradius einer Monomode-
(Stufenindex-)Faser mit nK = 1,46 und nM = 1,457 bei 1,25 µm Wellenlänge.
24.9 Untersuchen Sie einen Schichtwellenleiter aus AlGaAs mit nK = 3,6 und nM = 3,55.
Wie viele Moden sind bei den Dicken d = 5λ und d = 50λ ausbreitungsfähig?
24.10 Die Dämpfungsmessung an Fasern wird dadurch erschwert, dass die Messung der
eingekoppelten Leistung nur schwer möglich ist. Man vergleicht deshalb die Leis-
tung P1 , die aus einem Faserstück kurzer Länge (nur Einkoppelverluste, keine Ex-
tinktion) austritt, mit P2 , der Ausgangsleistung einer Faser der Länge l (gleiche
Einkoppelverluste plus Extinktion). Berechnen Sie den Dämpfungskoeffizienten ei-
ner Faser, bei der P1 = 5 µW und P2 = 1 µW für eine Länge von l = 100 m gemessen
wird.
24.11 Wie groß darf der Abstand der Regeneratorstationen bei einer Faser der Dämpfung
0,2 dB/km höchstens sein, damit die Leistung zwischen den Stationen höchstens
auf 1/100 abfällt?
24.12 Ein LWL-Kabel von 3 km Länge besteht aus drei Teilstücken à 1 km, die unterein-
ander verspleißt sind. Die Spleißverluste betragen 1 dB, jedes Teilstück hat Verluste
von 5 dB. Berechnen Sie den Gesamtverlust (in dB) und die Ausgangsleistung für
eine Eingangsleistung von 4 mW.
24.13 In einem Koaxialkabel beträgt die Dämpfung bei 50 MHz etwa 12 dB/km. Wie lang
darf das Kabel bei 10 mW Eingangs- und 1 µW Ausgangsleistung sein? Vergleichen
Sie dies mit den Werten aus Aufgabe 24.11.
24.14 Eine Ge-dotierte Quarzfaser hat bei 0,9 µm Rayleigh-Verluste von 1,2 dB/km. Wel-
cher Wert würde bei 1,55 µm auftreten, wenn nur Rayleigh-Streuung zugrunde ge-
legt wird? Vergleichen Sie mit (24.20). Wie ist der Unterschied zu erklären?
24.15 Bei einer Faser sei p die relative Leistungsabnahme auf 1 km Faserlänge (also p =
∆P
P ·1 km
). Bestätigen Sie, dass der Verlustkoeffizient (in dB/km) formelmäßig lautet:
10 · lg(1 − p · km)
αdB =
km
und berechnen Sie die Zahlenwerte für p = 25, 75, 90 und 99%/km.
24.16 Ermitteln Sie minimale und maximale Werte von Weglänge und Laufzeit der Licht-
strahlen für eine Stufenindexfaser von 1 km Länge sowie nK = 1,46 und nM = 1,45.
24.17 Modendispersion:
a) Welche Laufzeitdifferenz tritt in einer 1 km langen Stufenindexfaser mit nK =
1,446 auf, wenn der maximale Öffnungswinkel 2u = 70◦ beträgt? Welche ma-
ximale Übertragungsrate ergibt sich hieraus?
b) Wiederholen Sie die Rechnung für u = 15◦ und nK = 1,48.
24.18 Eine Multimoden-Stufenindexfaser mit d = 100 µm hat bei λ = 0,9 µm die Brech-
zahl nK = 1,46 und die relative Brechzahldifferenz ∆n = 0,003. Wieviele Moden
sind ausbreitungsfähig? Welches Bitraten-Längenprodukt tritt auf? Wie groß ist
die Bitrate bei 1 km Faserlänge?
24.19 Welchen maximalen Durchmesser darf der Kern einer Monomodefaser mit nK =
1,46 und ∆n = 0,003 bei λ = 0,9 und 1,55 µm haben?
24.20 Zeichnen Sie das Indexprofil für eine GRIN-Faser mit 50 µm Radius, nK = 1,5,
∆n = 0,02 und die Profilexponenten g = 2 und 10.
24.21 Geben Sie die Übertragungsrate für eine 1 km lange GRIN-Faser mit Profilexponent
g = 2, maximaler Kernbrechzahl nK = 1,46 und nM = 1,44 an und vergleichen Sie
mit einer Stufenindexfaser gleicher Brechzahlwerte.
24.22 Für eine Stufenindexfaser misst man (bei Entfernungen l < lc , s. Fußnote 9) eine
Laufzeitverbreiterung von 20 ns/km. Wie groß ist die Bitrate bei 1 km Länge?
24.23 Bestimmen Sie unter Verwendung von Abb. 24.13 die Materialdispersion ∆t/l einer
Quarzglasfaser, wenn die Lichtquelle
a) eine Leuchtdiode mit λ = 830 nm und Spektralbreite ∆λ = 40 nm und
b) eine Laserdiode gleicher Wellenlänge mit ∆λ = 4 nm ist (1. Generation der
LWL-Übertragung).
Vergleichen Sie mit heute gebräuchlichen Werten von DFB-Lasern mit ∆λ =
0,25 nm bei 1,3 und 1,55 µm. Welche Übertragungsraten sind hiermit bei einer Länge
von l = 10 km erreichbar?
24.24 Bei Vorliegen von Moden- und Materialdispersion muss die Laufzeitverbreiterung
∆t nach
∆t2 = ∆t2mod + ∆t2mat

berechnet werden. Bestimmen Sie mit Hilfe von Abb. 24.13 für eine Stufenindexfaser
von 1 km Länge ∆t sowie die Bitrate, wenn nK = 1,46, ∆n = 1%, λ = 820 nm und
∆λ = 40 nm.
730 24 Faseroptik
24.25 Für die Wellenleiterdispersion einer Quarzfaser wird für eine Spektralbreite von
2 nm folgender Zusammenhang gefunden:
Wellenlänge λ/nm Wellenleiterdispersion ∆t/l in

ps/km
0,7 1,88
0,9 5,02
1,1 7,08
1,4 8,40
1,7 8,80
a) Zeichnen Sie den Graph Wellenleiterkoeffizient MWL als Funktion der Wel-
lenlänge im Bereich 0,7 bis 1,7 µm.
b) Ermitteln Sie die Wellenleiterdispersion ∆t/l bei λ = 1,27 und 1,55 µm für
∆λ = 1 nm.
24.26 Vergleichen Sie bei λ = 1 µm die Pulsverbreiterung einer Stufenindexfaser aufgrund
der drei diskutierten Mechanismen: Moden-, Material- und Wellenleiterdispersion.
Die Kernbrechzahl beträgt nK = 1,47 und die des Mantels nM = 1,455. Als Sig-
nalquelle dient eine LED mit ∆λ = 25 nm und eine Laserdiode mit 1 nm. Es gelte
M = 43 ps/(nm km) und MWL = 3 ps/(nm·km).
a) Ermitteln Sie die Einzelbeiträge für eine Faserlänge von 1 km.
b) Berechnen Sie weiterhin die gesamte Laufzeitverbreiterung ∆t mit
∆t2 = ∆t2mod + ∆t2chr

und ∆tchr = −Mchr ∆λ, wobei Mchr = M + MWL die chromatische Dispersion
bezeichnet. Geben Sie außerdem die Übertragungsrate an.
25
Fourier-Optik
Einleitung
In diesem Kapitel werden – kurz gefasst – zwei umfangreiche Gebiete behandelt,
in denen die Fourier-Transformation von zentraler Bedeutung ist und die man
deshalb unter Fourier-Optik zusammenfasst. Das erste umfasst die optische Ab-
bildung und Signalverarbeitung und das zweite die Fourier-Spektroskopie. Hierbei
sind die mathematischen Operationen der Fourier-Transformation, Faltung und
Korrelation von zentraler Bedeutung.
Optische Signalverarbeitung nutzt die Tatsache, dass eine einfache Linse be-
reits einen Fourier-Transformator“ darstellt, der ein zweidimensionales Muster
”
mit hoher Auflösung und Lichtgeschwindigkeit transformiert. Wir werden sehen,
dass das Beugungsmuster eines Gegenstands, das in der Brennebene einer Linse
entsteht, die zweidimensionale Fourier-Transformierte oder das Ortsfrequenzspek-
trum dieses Objekts darstellt. Dieses Spektrum kann durch Filter – man spricht
von räumlicher Filterung – oder Masken variiert werden, so dass sich auch das
Bild verändert, das nach der Rücktransformation durch eine zweite Linse ent-
steht. Anwendungsgebiete sind z.B. die Kontrastverstärkung und die Bildverar-
beitung. Werden Bilder miteinander verglichen, so kann dies mit Hilfe eines opti-
schen Korrelators geschehen, der vornehmlich in der Mustererkennung eingesetzt
wird. Diese analogen optischen Verfahren stellen in der Sprache der Datenverar-
beitung eine Parallelverarbeitung dar, die in Echtzeit (mit Lichtgeschwindigkeit)
732 25 Fourier-Optik
abläuft und keine zeitraubende serielle Abtastung des Objekts erfordert. Opti-
sche Datenverarbeitung ist eine vorteilhafte Synthese von Optik, Informatik und
Holografie und wurde – wie viele andere Anwendungen – erst durch die Erfindung
des kohärenten Lasers praktisch realisierbar.
Mit Hilfe der Fourier-Spektroskopie kann aus der Orts- oder Zeitabhängig-
keit des Interferogramms polychromatischer Strahlung deren Frequenzspektrum
berechnet werden.
25.1 Optische Abbildung und Signalverarbeitung

25.1.1 Fraunhofer-Beugung und Fourier-Transformation
Wir wollen zunächst zeigen, dass das Fraunhofersche Beugungsmuster eines Ob-
jekts – mit gewissen Näherungen – die Fourier-Transformierte der Amplituden-
verteilung des E-Feldes in der Objektebene darstellt. Hierzu gehen wir von der in
Kapitel 12 eingeführten eindimensionalen Fourier-Transformation zwischen Zeit-
und Frequenzbereich aus und übertragen sie auf den Orts- und Ortsfrequenzbe-
reich. Wir erhalten dann aus (12.19) bis (12.21), wenn wir die Zeit t durch den
Ort x ersetzen:
∞
1
f (x) = F (κ) ejκx dκ (25.1)
2π
−∞
∞
F (κ) = f (x) e−jκx dx (25.2)
−∞
Nach (25.1) kann also eine beliebige Ortsfunktion f (x) – z.B. ein Wellenpuls –
durch Summation über kontinuierlich verteilte ebene Wellen synthetisiert werden,
wobei deren Amplitudenverteilung F (κ) durch (25.2) gegeben ist. Hierbei ist κ die
(weiter unten erklärte) Ortskreisfrequenz (mit [κ] = rad/m); f (x) und F (κ) stel-
len ein Fourier-Transformationspaar dar, das über eine Fourier-Transformation
verknüpft ist. Man schreibt symbolisch mit Hilfe des Fourier-Operators F :
F (κ) = F (f (x)) (25.3)
und
f (x) = F −1 (F (κ)) (25.4)
F −1 bezeichnet man auch als Rück- oder inverse Transformation. Rücktransfor-

mation der Fourier-Transformierten ergibt wieder die ursprüngliche Funktion:
25.1 Optische Abbildung und Signalverarbeitung 733
F −1 (F (κ)) = F −1 F (f (x)) = f (x) (25.5)

Bei einem zweidimensionalen Objekt gilt entsprechend
Fourier-Transformation
∞
F (κx , κy ) = f (x, y) ej(κx x+κy y) dx dy = F (f (x, y)) (25.6)
−∞
inverse Fourier-Transformation
∞
1
f (x, y) = F (κx , κy ) ej(κx x+κy y) dκx dκy = F −1 (F (κx , κy )) (25.7)
(2π)2
−∞
mit der zweidimensionalen Ortsfunktion f (x, y) und der zugehörigen Amplitu-

denverteilung F (κx , κy ) der ebenen Wellen.
Konzept der Ortsfrequenz:
Vor der Behandlung der Beugung soll zunächst die anschauliche Bedeutung des
Ortskreisfrequenzvektors κ diskutiert werden. Während bei einem zeitabhängi-
gen Signal die Bedeutung der analogen Größe Kreisfrequenz ω = 2π T und der
Periodendauer T eindeutig und aus der Schwingungslehre bekannt ist, wird das
Verständnis der Ortsfrequenz R dadurch erschwert, dass sie sowohl zur Kenn-
zeichnung von Vorgängen (Wellen) als auch von Strukturen (Objekt, Bild) dient.
Betrachten wir zunächst eine sich parallel zur z-Achse ausbreitende Welle mit
dem Wellenvektor k = (0, 0, kz = k) (s. Abb. 25.2 b), so ergibt eine Moment-
aufnahme die bekannte Sinuslinie mit der Wellenlänge λz = λ. Die Ortsfrequenz
wird Rz = 1/λ (analog f = 1/T ) und die Ortskreisfrequenz κz = 2π/λ stimmt
mit der Kreiswellenzahl k überein. Für eine mit αx = 0 unter dem Winkel
αy zur z-Achse verlaufende ebene Welle erhalten wir mit κ = k = (0, ky , kz ):
κy = ky = 2π/λy = k sin αy und κz = kz = k cos αy und die Ortsfrequenzen
Ry = 1/λy = sin αy /λ bzw. Rz = cos αy /λ. Die Orts(kreis)frequenzen κ kenn-
zeichnen hier als Vektoren Wellenlänge und Ausbreitungsrichtung der Welle.
Bei Fraunhofer-Beugungsexperimenten befindet sich die Beobachtungsebene
in großer Entfernung oder in der Brennebene einer Linse (s. Abb. 25.2 a), in der
die unter dem Winkel αy auslaufende ebene Welle im Abstand Y = f tan αy ≈
f sin αy = f λRY fokussiert wird. Punkten der Beugungs- oder Fourier-Ebene
sind dann Ortsfrequenzen – also Richtungen der gebeugten ebenen Welle – zu-
geordnet, die – wie noch gezeigt wird – mit den Ortsfrequenzen des beugenden
Objekts übereinstimmen. Große Beugungswinkel entsprechen hohen Ortsfrequen-
zen des Beugungsobjektes.
In (25.6) und (25.7) können wir unter f (x, y) eine Feldstärkeverteilung und
unter F (κ) eine Amplitudenverteilung verstehen. Gleichung (25.7) besagt dann,
dass eine beliebige, auch nichtperiodische Verteilung in der xy-Ebene aus har-
monischen ebenen Wellen unterschiedlicher Ortsfrequenzen synthetisiert werden
kann. Nach (25.6) erhält man die Amplitude F einer sich mit dem Wellenvektor
κ ausbreitenden Welle durch phasenrichtige Summation aller von den Punkten
x, y ausgehenden – in großer Entfernung – ebenen Wellen.
Bei der optischen Abbildung werden Objektstrukturen (Intensitätsverteilun-
gen) in Bildstrukturen abgebildet, die unter Umständen beide eine deutlich sicht-
bare Periodizität aufweisen (z.B. Lattenzaun, Backsteinwand). Für ein Gitter mit
sinusförmig verlaufendem Transmissionsgrad gilt dann ein der Abb. 25.3 entspre-
chender Verlauf. Hier ist offenbar die Ortsfrequenz Ry = 1/g, also gleich dem
Kehrwert der Gitterkonstante. Eine Drehung des Gitters ändert die Komponen-
ten von R, während der Betrag konstant bleibt. Bei Strukturen wird die Ortsfre-
quenz meist in Linienpaaren pro Länge (z.B. LP/mm) angegeben. In diesem Fall
besagt (25.7), dass sich eine beliebige Struktur (Objekt) als Überlagerung von Si-
nusgittern unterschiedlicher Ortsfrequenz (und damit Gitterkonstante) darstellen
lässt.
Abb. 25.1. Fraunhofer-Beugung an einer Apertur in der xy-Ebene und ihre Beobach-
tung in der Fourier-Ebene (XY -Ebene)
Wir betrachten nun die Fraunhofer-Beugung von ebenen Wellen an einer be-
liebigen in der xy- oder Aperturebene gelegenen Struktur (s. Abb. 25.1). Die
Beugung wird in einer um Z verschobenen XY -Ebene, der Fourier-Ebene, beob-
achtet. Nach dem Fresnel-Huygensschen Prinzip geht von jedem Flächenelement
dA um den Punkt O der Objektebene eine Elementarwelle aus, die zur Beugungs-
amplitude im Beobachtungspunkt P den Beitrag liefert (s. (18.1) und (16.4)):
e−jkr
dÊ P ∼ Ê S dA (25.8)
r
Hierbei ist r der Abstand zwischen O und P , der die Phase und Amplitude
(Kugelwelle!) der gebeugten Welle beeinflusst. Der Einfluss des Richtungsfaktors
(s. Kap. 16.1) wurde wegen kleiner Beugungswinkel vernachlässigt. Die Apertur-
funktion Ê S = Ê S (x, y) ist die unmittelbar hinter der beugenden Apertur ge-
messene Feldstärkeamplitude, die bei inhomogener Beleuchtung oder variabler
Durchlässigkeit (umfasst Betrag und Phasenverschiebung) ortsabhängig wird.
Nach Division durch die einfallende Amplitude Ê 0 erhält man hieraus die ampli-
tudenbezogene
Ê S
Transmissionsfunktion2 t(x, y) = (25.9)
Ê 0
mit der Aperturfunktion Ê S .

Aus Abb. 25.1 kann eine Beziehung zwischen dem Abstand r und dem Abstand
r0 vom Koordinatenursprung hergeleitet werden:
r02 = X 2 + Y 2 + Z 2 und r2 = (X − x)2 + (Y − y)2 + Z 2

Hieraus folgt:
r2 = r02 − 2xX − 2yY + x2 + y 2

In der Fernfeld - oder Fraunhofer-Näherung gilt x2 , y 2 r02 und wir erhalten mit
der Reihenentwicklung (1 + x)1/2 ≈ 1 + x2 (für x 1):
1/2
xX + yY xX + yY
r = r0 1 − 2 ≈ r0 1 − (25.10)
r02 r02
Einsetzen in (25.8) ergibt nach Integration (mit der Näherung ES /r ≈ ES /Z und
Z = konst.) die Beugungsamplitude

Ê P = C Ê S (x, y) ejk(xX+yY )/r0 dx dy (25.11)
Apertur
wobei die Integration über die beugende Apertur (Ap) erfolgt und alle konstanten
Terme in der (komplexen) Konstante C zusammengefasst wurden. Der Vergleich
mit (25.6) liefert die
2
Bei der Beugung untersucht man Feldstärken (Transmissionfunktion), bei der Abbil-
dung Intensitäten (Transmissionsgrad).
X Y
Ortskreisfrequenzen κx = −k und κy = −k (25.12)
r0 r0
die mithin Punkten X, Y in der Fourier-Ebene entsprechen. Da Punkte außerhalb

der Apertur keinen Beitrag liefern, können wir die Integration bis ±∞ erstrecken
und erhalten die
∞
Ê P = C Ê S (x, y) e−j(κx x+κy y) dx dy
−∞
Beugungsamplitude
∞
= C Ê 0 t(x, y) e−j(κx x+κy y) dx dy (25.13)
−∞
mit der durch (25.7) gegebenen Rücktransformation. In der Fraunhofer-Näherung

gilt also (s. (25.6)):
Die Beugungsamplitude Ê P (κx , κy ) in Fraunhofer-Näherung ist (abgesehen

von Konstanten) die zweidimensionale Fourier-Transformierte der Apertur-
funktion Ê S (x, y) bzw. der Transmissionsfunktion t(x, y).
Entsprechend (25.13) ergibt sich die Feldstärkeverteilung des zweidimensionalen

Beugungsbildes durch phasenrichtige Summation von gebeugten ebenen Wellen
unterschiedlicher Amplitude, wobei die Phase die Beugungsrichtung beschreibt.
25.1.2 Ortsfrequenzanalyse
Die Fernfeldbedingung der Fraunhofer-Beugung lässt sich am einfachsten mit

Hilfe einer Sammellinse L2 erfüllen, da deren Brennebene einer unendlich weit
entfernten Fourier-Ebene entspricht (s. Abb. 25.2 a). Bei einem Beugungsexperi-
ment wird Licht einer – zeitlich und räumlich kohärenten – monochromatischen
Punktquelle meist durch eine Linse L1 zu einer ebenen Welle kollimiert, die ih-
rerseits das Objekt in der Eingangs- oder Aperturebene beleuchtet. Die Linse L2
erzeugt als Fourier-Linse das Beugungsbild in der Ausgangsebene, der Fourier-
Ebene. L2 soll keine geometrisch-optischen Bildfehler aufweisen und muss einen
so großen Durchmesser haben, dass alle vom Objekt gebeugten Strahlen erfasst
werden; dann führen keine zusätzlichen Beugungseffekte zu Veränderungen der
Details des Beugungsspektrums. Die Linse L2 bestimmt über ihre Brennweite die
Größe des Beugungsbildes und hat einen von X und Y abhängigen zusätzlichen
Phasenfaktor zur Folge, der bei Wahl des Abstandes L1 − Apertur = Brennweite
(s. auch Abb. 25.5) gerade kompensiert wird.
Abb. 25.2. a) Fraunhofer-Beugung an einem Strichgitter. Die Registrierung des Beu-

gungsbildes erfolgt in der Brennebene (= Fourier-Ebene) einer Linse. (Die Kombi-
nation Lichtquelle-Kollimatorlinse L1 wird in der Regel durch einen Laser ersetzt).
b) Ungebeugte und unter dem Winkel αy gebeugte, ebene Welle mit Ortsfrequenz
sin α
Ry = λ1y = λ y
Abb. 25.3. Kosinusgitter: a) Reiner Kosinusverlauf der Transmissionsfunktion mit

negativen Werten. b) Kosinusverlauf mit zusätzlichem Gleichanteil
Wir betrachten zunächst die Beugung an einem Sinusgitter, einem Gitter

mit sinusförmigem Verlauf der Transmissionsfunktion. Für das ideale, unendlich
ausgedehnte Kosinusgitter (s. Abb. 25.3) gilt mit tmax = 1 und tmin = 0:

1 1 1 1 jκg y
t(y) = + cos κg y = 1+ e + e−jκg y (25.14)
2 2 2 2
hierbei sind κg = 2π/g die Ortskreisfrequenz des Gitters und g die Gitterkon-
stante. Einsetzen in (25.13) ergibt
∞
−jκy y 1 j(κg −κy )y −j(κg −κy )y
Ê P ∼ e + e +e dy
−∞ 2
damit wird die Beugungsamplitude für das
1 1
Kosinusgitter Ê P ∼ δ(κy ) + δ(κg − κy ) + δ(κg + κy ) (25.15)
2 2
Hierbei ist δ die mit (12.27) eingeführte Diracsche

⎧
⎨0 für κ = κ0
Deltafunktion δ(κ − κ0 ) = (25.16)
⎩
∞ für κ = κ0
mit der der Lösung (25.15) zugrundeliegenden Realisierung (12.27):

∞
1
δ(κ) = δ(−κ) = ejκx dx (25.17)
2π −∞
Entsprechend (25.15) treten bei Kosinusgittern nur drei (unendlich scharfe und
hohe) Beugungslinien bei κy = 0 und ±κg auf. Wir sehen:
Die Ortsfrequenzen des Beugungsbildes stimmen mit denen des beugenden
Objekts überein (Fourier-Analyse).
Führen Sie die entsprechende Rechnung für ein Sinusgitter durch, hier unterschei-
den sich die Ê P -Peaks bei ±κg im Vorzeichen, die Intensitäten stimmen aber für
beide Gitter überein. Dies entspricht der Beobachtung, dass eine Verschiebung
des Gitters in der Aperturebene das Beugungsbild nicht verändert.
Mit (25.12) kann man nach Einführung des Beugungswinkels αy schreiben:
kY 2π
−κy = = k sin αy = 0, ±κg = 0, ±
r0 g
Hieraus folgt die
λ
Sinusgittergleichung sin αy = m mit m = 0, ±1 (25.18)
g
also die bekannte Beziehung für die Beugung am Gitter. Die genauere Theorie
unter Verwendung der Fourier-Transformation hat aber zusätzlich ergeben, dass
bei einem (Ko-) Sinusgitter außer der 0. nur die ±1. Ordnung auftritt.
Denkt man sich die 0. Ordnung ausgeblendet, so ergibt eine erneute Fourier-
Transformation einen kosinusförmigen Verlauf der Beugungsamplitude (ohne
Gleichanteil), wie er im Youngschen Doppelspaltversuch bei der Beugung an zwei
sehr schmalen Doppelspalten beobachtet wurde (s. Kap. 10.2).
Abb. 25.4. Transmissionsfunktion t(y) eines Strichgitters der Gitterkonstante g, bei

dem die Breiten der durchlässigen und undurchlässigen Bereiche gleich groß sind, d.h.
Spaltbreite b = g/2
Bei einem Rechteckgitter weist die Transmissionsfunktion einen Rechteckver-

lauf auf (s. Abb. 25.4), den wir in eine Fourier-Reihe (s. (12.16)) entwickeln:

1 2 1
t(y) = + cos κg y − cos 3κg y + . . . (25.19)
2 π 3
Eine analoge Rechnung wie beim Kosinusgitter liefert dann die Beugungs-
amplitude

2 1 1
Ê P ∼ δ(κy ) + δ(κy ± κg ) − δ(κy ± 3κg ) + δ(κy ± κg ) − . . . (25.20)
π 3 5
mit den Beugungswinkeln

λ
Rechteckgittergleichung sin αy = m mit m = 0, ±1, ±3, ±5, . . . (25.21)
g
Bei dem vorliegenden Rechteckgitter, dessen Spaltbreite b gerade die Hälfte

der Gitterkonstante beträgt, treten demnach neben der 0. Ordnung nur unge-
rade Beugungsordnungen (Harmonische) auf. Dies folgt auch aus der in Kapi-
tel 16.6 verwendeten Beschreibung, wonach die Beugungsamplitude das Produkt
aus Spalt- und Gitterfaktor ist. Gittermaxima gerader Ordnung fallen mit Mini-
ma des Spaltes zusammen, da für einen Spalt mit Breite b = g/2 und n = ±1, . . .
gerade gilt: sin αmin = nλ/b = 2nλ/g. Wie beim Sinusgitter stimmen die Orts-
frequenzen κy in der Fourier-Ebene wieder mit denen des Objekts überein.
25.1.3 Optische Filterung
Wird die Fourier-Ebene der Linse L2, in der die Fourier-Transformierte der Aper-
tur entsteht, neue Aperturebene für eine Linse L3 (s. Abb. 25.5), die wiederum
um die Brennweite f entfernt ist, so führt L3 eine erneute Fourier-Transformation
durch und transformiert das Spektrum – da optisch keine inverse FT existiert – in
die invertierte ursprüngliche Aperturfunktion. Die Linsenkombination L2/L3 ent-
wirft demnach in dieser sogenannten 4f-Anordnung ein Bild (umgekehrt, gleich-
groß und reell) der Apertur. Dies folgt auch einfach aus der Abbildungskonstruk-
tion der geometrischen Optik (s. Abb. 25.5).
Jeder Beugungspunkt (X, Y ) der Fourier-Ebene entspricht Ortsfrequenzen Rx , Ry
der Aperturfunktion und trägt nun zur Bildung des Bildes der Apertur bei. Ein-
griffe in die Fourier-Ebene (z.B. Ausblendung einiger solcher Beugungspunkte)
müssen dann auch das Bild verändern. Bei der Gitterbeugung hatten wir gesehen,
dass bei der Fourier-Transformation hohe Ortsfrequenzen feinen Details im Orts-
bereich entsprechen – werden sie unterdrückt (Tiefpassfilterung), so müssen die
feinen Strukturen des Bildes verschwinden. Schränkt man, z.B. durch eine Iris-
blende auf der optischen Achse, den Ortsfrequenzbereich in der Fourier-Ebene
immer weiter ein, so wird im Grenzfall Rx , Ry → 0 jegliche Struktur des Bildes
Abb. 25.5. 4f -Anordnung zur optischen Filterung, mit Apertur-, Fourier- und Bild-
ebene
verschwinden und nur eine gleichmäßig helle Bildebene verbleiben. Mathematisch

wird dies durch die Fourier-Transformation der δ-Funktion (s. Kap. (12.3))
F (δ(κy )) = 1 (25.22)
also eine Konstante, beschrieben. Langsames Öffnen der Blende lässt uns nach
und nach ein unscharfes Bild erkennen, das allmählich immer originalgetreuer
wird, da höhere Ortsfrequenzen durchgelassen werden. Dem Öffnen der Blende
entspricht mathematisch die Addition höherfrequenter Terme der Fourier-Reihe.
Optische Filterung verändert gezielt Bereiche des Ortsfrequenzspektrums und
damit das Bild in gewünschter Weise. Ist z.B. die Aperturfunktion ein Rechteck-
gitter der Gitterkonstante g, so erhält man wegen (25.20) bei Ausblendung aller
Ortsfrequenzen mit κ > 0 ein gleichmäßig helles Bildfeld und bei Ausblenden der
Ordnungen mit |m| > 1 ein Kosinusgitter fester Gitterkonstante. Werden nur die
Ordnungen m = 0 und ±2 selektiert, dann entsteht als Bild ein Kosinusgitter
mit der halben Gitterkonstante (und zusätzlichem Gleichlichtanteil).
Als weiteres Beispiel werde als Objekt ein Fernsehbild untersucht, auf dem
bekanntlich horizontale Linien auftreten. Die Fourier-Transformierte dieses Bil-
des wird im Allgemeinen sehr kompliziert und zeitlich schnell veränderlich sein,
die Rasterlinien erzeugen jedoch, wie ein Strichgitter, eine Reihe von Beugungs-
punkten in vertikaler Richtung. Blendet man diese durch einen schmalen lichtun-
durchlässigen Streifen in Y -Richtung aus, so verschwinden die Linien im rekon-
struierten Bild. Abbildung 25.6 zeigt dies für eine Diatomee.
Nach den bisherigen Ausführungen dürfte verständlich sein, dass eine Blen-
de in der Fourier-Ebene, die nur die Bereiche nahe der optischen Achse, also
die niedrigen Ortsfrequenzen durchlässt, als Tiefpass wirkt und damit die feinen
Strukturen des Bildes und hochfrequentes Rauschen herausmittelt. Eine Blen-
de, die die niedrigen Frequenzen unterdrückt, wirkt als Hochpass und verstärkt
Abb. 25.6. Optische Filterung eines Videobildes. a) (Um 90◦ gedrehtes) Videobild
einer Diatomee, das vertikale Rasterlinien aufweist. b) Dasselbe Bild nach räumlicher
Filterung; die Rasterlinien sind entfernt
den Bildkontrast durch Ausblendung des Untergrundes; sie hat differenzierende

Eigenschaften. Eine ringförmige Öffnung arbeitet als Bandpass. Kompliziertere
Filter wurden z.B. bei der Bearbeitung von Bildern des Mondes verwendet. In der
Praxis werden zur optischen Filterung jedoch heute meist Verfahren der digitalen
Bildverarbeitung eingesetzt.
25.1.4 Optische Korrelation
Statt Manipulationen in der Fourier-Ebene sollen nunmehr solche in der Bild-

ebene untersucht werden. Bringt man in die Bildebene eines Objekts 1 ein zwei-
tes Objekt, z.B. in Form eines Dias, so erhält man die gleiche Aperturfunktion,
die sich ergeben würde, wenn man das (um 180◦ gedrehte) Dia in der Objekt-
ebene direkt hinter Objekt 1 bringt. Die Lichtamplitude, die hinter dem Dia
zu beobachten ist, hängt hierbei multiplikativ von den Transmissionsfunktionen
beider Objekte ab. Erneute Transformation des durchgehenden Lichts durch ei-
ne Fourier-Linse L4 führt zu einem einfachen Messverfahren der Korrelation der
Transmissionsfunktionen beider Objekte. Ein Detektor im Brennpunkt von L4
registriert größte Helligkeit oder maximale Korrelation, wenn beide Objekte iden-
tisch sind und genau zur Deckung gebracht wurden. Bei Verschiebung eines der
Objekte werden Korrelation und Helligkeit reduziert. Anwendung finden diese
Verfahren bei der Erkennung und Zählung kleiner Partikel, z.B. Blutkörperchen,
und bei der Auswertung von Luft- und Röntgenaufnahmen sowie von Fingerab-
drücken. Dies soll nun näher erläutert werden.
Abb. 25.7. Optischer Korrelator mit den Komponenten optisches Filter und Spektrum-
analysator
Wir denken uns als Objekt 1 der Aperturebene den Buchstaben P. Bringen
wir in die Bildebene ein Dia (Objekt 2) mit dem Buchstaben P in gleicher Orien-
tierung wie das Objekt, so wird – wegen der Bildumkehr – in der Bildebene die
Buchstaben P und d verglichen. Wenn die Nullpunkte (Mittelpunkte der senk-
rechten Striche) zusammenfallen, liegt in der Bildebene folgendes Gebilde vor: dP.
Die Gesamtamplitude des die Bildebene passierenden Lichts erhält man als Inte-
gral über tB (x , y )·t2 (x , y ), also über das Produkt der Transmissionsfunktionen
des Bildes d (tB (x , y )) und des Bildfilters P (t2 (x , y )). Hierbei bezeichnen x
und y Koordinaten der Bildebene. Wegen der Bildumkehr bei der Abbildung gilt
hierbei tB (x , y ) = t1 (−x , −y ), wobei t1 die Transmissionsfunktion des Objek-
tes 1 in der Aperturebene ist. Die hinter der Bildebene registrierte Amplitude
wird mithin proportional zu
∞
f1,2 (0, 0) = t1 (−x , −y )t2 (x , y ) dx dy (25.23)
−∞
Im Allgemeinen werden Objekt 1 bzw. Bild und Objekt 2 um x und y gegenein-

ander verschoben sein, so dass t1 (−x , −y ) → t1 (x − x , y − y ). In diesem Fall
erhält man die Amplitude als
Faltungsintegral
∞
f1,2 (x, y) = t1 ∗ t2 = t1 (x − x , y − y ) t2 (x , y ) dx dy (25.24)
−∞
über die Bildebene3 . Wir wollen die Operation der Faltung durch das Symbol ∗
charakterisieren. In dem vorliegenden Fall ist die Faltung ein Maß für die Ähnlich-
keit des Aperturbildes (von Objekt 1) und des Objektes 2, d.h. von verschobenem
d und P.
Bei der Operation der Korrelation stellt man die Ähnlichkeit von zwei Sig-
nalen oder Objekten fest. Im vorliegenden Fall würden in der Bildebene die Buch-
staben P und P verglichen. Dann gilt also tB (x , y ) = t1 (x , y ) =
ˆ P und man
erhält aus (25.24) die
Kreuz-Korrelationsfunktion
∞
c12 (x, y) = t1 ⊗ t2 = t1 (x + x , y + y ) t2 (x , y ) dx dy (25.25)
−∞
Im Falle exakt gleicher Buchstaben – wie im vorliegenden Fall der verschobenen

P – ist t1 = t2 und (25.25) geht in die Autokorrelationsfunktion über:
∞
c11 (x, y) = t1 ⊗ t1 = t1 (x + x , y + y ) t1 (x , y ) dx dy (25.26)
−∞
Bei einem Objekt mit Inversionssymmetrie, z.B. bei dem Buchstaben H, gilt
t(−x , −y ) = t(x , y ) und Korrelations- und Faltungsintegral stimmen überein.
Faltung und Korrelation lassen sich am einfachsten in der Fourier-Ebene der
Linse L4 – der Ausgangsebene und Fourier-Ebene der Bildebene – auswerten.
Hierzu untersuchen wir die Fourier-Transformation der Bildamplitude t1 · t2 :
∞

F (t1 (x + x , y + y ) t2 (x , y )) = t1 (x + x , y + y ) t2 (x , y ) e−j(κx x +κy y ) dx dy
−∞
(25.27)
Beschränken wir uns bei der Auswertung dieser im Allgemeinen komplizierten
Verteilung auf den Nullpunkt der Ortsfrequenz (κx = κy → 0), so registrieren
wir dort gerade die Korrelationsfunktion, denn es gilt mit (25.27) und (25.25)
3
Man wählt beim Faltungsintegral die Integrationsgrenzen von −∞ bis ∞.
lim F (t1 (x + x , y + y )) t2 (x , y ) =

κx ,κy →0
∞ (25.28)
t1 (x + x , y + y ) t2 (x , y ) dx dy = c12 (x, y)
−∞
und ein entsprechendes Ergebnis für die Faltung. Nach (25.28) ist die Korrelati-
on durch die Amplitude im Ursprung der Ausgangsebene gegeben, ein im Brenn-
punkt von L4 platzierter Detektor misst also direkt die Korrelationsamplitude
oder – da nur quadratische Detektoren existieren – deren Quadrat, die Intensität.
Bei Verschiebung eines der Objekte der Bild- oder Aperturebene um x ändert sich
die auf der optischen Achse registrierte Intensität und liefert die Kreuzkorrelation
c212 (x). Für gleiche Objekte ergibt sich die Autokorrelation c211 (x), die bei x = 0
– wenn die Objekte zur Deckung gebracht sind – ihren Maximalwert annimmt.
Auch gleichzeitige Korrelation mehrerer Objekte ist möglich: Will man z.B. fest-
stellen, ob in 5 nebeneinander liegenden Dias ein bestimmtes Motiv enthalten ist,
so muss man in der Bildebene eine Maske mit 5 Kopien dieses Motivs hinter die
Dias bringen und als Korrelationslinse eine Zylinderlinse verwenden. Diese misst
die eindimensionale Korrelation. An den Stellen, wo Objekt- und Suchfunktion
übereinstimmen, beobachtet man dann helle Striche in der Ausgangsebene.
Statt der Untersuchung der Korrelation in der Bildebene, die im Prinzip tech-
nisch einfach zu realisieren ist, kann man auch Verfahren in der Fourier-Ebene
anwenden. Man verwendet hier die Methode des Korrelations- oder angepass-
ten (matched) Filters. Ist die Fourier-Transformierte der Gegenstandsverteilung
durch
F (g(x, y)) = G(κx , κy ) = G(κx , κy ) ejϕ(κx ,κy )

(mit reellem G) gegeben, so muss man ein Filter mit konjugierter Phase (jϕ →
−jϕ), also mit der Transmissionsfunktion
f (κx , κy ) = f (κx , κy ) e−jϕ(κx ,κy )

in die Filterebene, die Fourier-Ebene, bringen. Hier ergibt sich G · f als Amplitu-
de der gefilterten Welle, für die bei angepasster Suchfunktion gilt: G · f = G · f ,
also eine Funktion ohne Phasenfaktor. Dies bedeutet, dass eine zur optischen
Achse parallele Welle vorliegt, die von der Linse L3 (s. Abb. 25.5) in einem
Punkt vereinigt wird, so dass bei Phasenanpassung in der Bildebene ein hel-
ler Punkt auftritt. Diese Methode erscheint sehr einfach und attraktiv. Da aber
in der Optik nur phasenunempfindliche quadratisch registrierende Detektoren
und Speichermedien verfügbar sind, kann man ein Filter mit der oben geforder-
ten Transmissionsfunktion f nicht ohne Weiteres (z.B. fotografisch) realisieren,
denkbar sind digitale Methoden z.B. über einen rechnergesteuerten Lichtmodu-
lator (spatial light modulator, SLM). Vander Lugt verwendete ein holografisch
hergestelltes matched filter , das er aus der transformierten Objektwelle und einer
unter dem Winkel α (zur optischen Achse, s. Abb. 25.2) auf die Fourier-Ebene
einfallenden ebenen Referenzwelle
R = R̂ e−jky y mit ky = k sin α

ermittelte. Man erhält für die Intensität der aus Referenzwelle R und transfor-
mierter Ojektwelle F (g(x, y)) = G gebildeten Überlagerungswelle, das Fourier-
Hologramm:
|G + R|2 = (G + R)(G∗ + R∗ ) = G2 + R2 + G R∗ + G∗ R (25.29)

∗ −j(ϕ+ky y)
Der letzte Term G R = ĜR̂ e (mit ϕ = ϕ(κx , κy )) stellt den für das
matched filter gesuchten Term mit konjugierter Phase dar. Die zusätzliche Mul-
tiplikation mit e−jky y bedeutet, dass die Korrelation nicht auf der optischen Ach-
se, sondern unter einem Winkel α (ky = k sin α), dem Einfallswinkel des Refe-
renzstrahles, beobachtet wird. Die Verwendung der Träger- oder Referenzwelle
verschiebt mithin die Ortsfrequenzen um ky . Die unter Winkel −α auftretende
Welle (vorletzter Summand in (25.29) enthält die Faltung von Objekt- und Fil-
terfunktion (s. Faltungstheorem (25.38)). Bringt man das Vander-Lugt-Filter in
die Fourier-Ebene und verwendet in der Objektebene verschiedene Testobjekte
g1 , g2 , . . ., so tritt bei Korrelation ein Peak in dem Punkt der Bildebene auf, in
dem eine unter dem Winkel α einfallende ebene Welle fokussiert würde.
Weitere optische Korrelationsverfahren, die ein Objekt unabhängig von Form
und Größe erkennen können, wurden entwickelt. Inkohärente Verfahren mit bes-
serem Signal-Rausch-Verhältnis sind bekannt. Wegen zahlreicher technischer Pro-
bleme (vor allem bei der Justierung) werden jedoch analog-optische Verfahren,
trotz der hohen Verarbeitungskapazität und Geschwindigkeit, kaum zur Muster-
erkennung verwendet. Man greift statt dessen auf Verfahren der digitalen Bild-
verarbeitung zurück.
25.1.5 Optische Abbildung als Faltung
Bisher wurden die Bild-Analyse und -Synthese mit kohärent optischen Fourier-
Methoden untersucht. Jetzt soll die optische Abbildung mit inkohärentem Licht
mit Hilfe der Systemtheorie beschrieben werden. Wir betrachten einen zweidi-
mensionalen Gegenstand (xy-Ebene) und sein Bild (XY -Ebene), das durch ein
beliebiges optisches Abbildungssystem erzeugt wird (Achsensysteme s. Abb. 25.1).
Bei einer idealen4 optischen Abbildung werden Gegenstandspunkte wieder exakt
in Bildpunkte überführt. Folglich ist auch (bei Abbildungsmaßstab β = −1) in
jedem Punkt des Bildes die ideale Bestrahlungsstärke Iid (X, Y ) = IO (x, y), al-
so gleich der Strahldichte eines entsprechenden Objektpunktes. Bei einer realen
4
Wir unterscheiden: Ideale Abbildung = Abbildung ohne Bildfehler und ohne Beu-
gung. Perfekte Abbildung = Abbildung ohne Bildfehler aber mit Beugung.
Abbildung wird das von einem Objektpunkt ausgehende Licht aufgrund von Bild-
fehlern und Beugung im Bildraum zu Bildscheibchen verschmiert. Das gesamte
Bild resultiert aus der Überlagerung dieser Bildflecke. In einem linearen System
überlagern sich diese Antworten“ der Objektpunkte im Bildbereich ungestört,
”
also linear. Die reale Bestrahlungsstärke im Bildbereich sei dann IB (X, Y ). Das
Ergebnis der Transformation der Objektintensität IO (x, y) in die Bildintensität
IB (X, Y ) hängt vom optischen System ab und werde allgemein durch einen Ab-
bildungsoperator A beschrieben, so dass
optische Abbildung IB (X, Y ) = AIO (x, y) (25.30)
In linearen Systemen gilt das Linearitätsgesetz: Setzt sich die Objektverteilung

IO (x, y) entsprechend
IO = k1 IO1 + k2 IO2 (25.31)

aus zwei Verteilungen (Objekten) variierender Helligkeit (= ˆ beliebigen Konstan-
ten k1,2 ) zusammen, so gilt für die resultierende Bildfunktion
IB = AIO = k1 AIO1 + k2 AIO2 = k1 IB1 + k2 IB2 (25.32)

Teilbilder überlagern sich hiernach ebenso wie Teilobjekte ungestört, d.h. un-
abhängig voneinander und eine Erhöhung der Eingangsintensität auf das k-fache
erhöht die Ausgangsgröße um denselben Faktor, da A(kIO ) = kAIO = kIB .
Nichtlinearität tritt bei den Linsen von Objektiven erst bei sehr hohen Inten-
sitäten (s. Kap. 26, nichtlineare Optik) und bei fotografischen Filmen bei niedri-
gen und hohen Intensitätswerten auf.
Der Abbildungsoperator wird meist mit Hilfe der Punktbildfunktion (PSF =
point spread function) h(x, y; X, Y ), das Bild eines Objekt-(Delta-) Punktes, der
im Objektraum bei xO = x und yO
= y gelegen ist, beschrieben:
PSF bei Ortsvarianz h(x, y; X, Y ) = A δ(xO − x, yO

− y) (25.33)
Hierbei ist die PSF vierdimensional und abhängig von Objektlage (x, y) und
Bildpunktlage (X, Y ). Eine wesentliche Vereinfachung lässt sich bei Ortsinvarianz
erzielen. Dann ist
Ortsinvarianz h(x, y; X, Y ) = h(X − x, Y − y) (25.34)
also nur noch eine Funktion von zwei Veränderlichen5 . Bei Ortsinvarianz genügt
es dann, die Antwort des Systems auf einen Objektpunkt auf der optischen Achse
5
Die Form der PSF ist demnach bei vorgegebenem Abstand X − x von Bild- und
Objektpunkt unabhängig von deren Lage x und X in Objekt- und Bildraum. Diese
zu untersuchen. Wir erhalten in diesem Fall anstatt (25.33) für die Punktbild-
funktion eines ortsinvarianten optischen Systems:
PSF bei Ortsinvarianz h(X, Y ) = A δ(0, 0) (25.35)
Die Punktbildfunktion (PSF, point spread function“) eines optischen Sys-

”
tems ist das Bild eines Objektpunktes (Deltapunkt); bei Ortsinvarianz ist
ihre Form unabhängig von dessen Lage in der Objektebene.
Wegen der Linearität des Systems ist dann die gesamte Bildintensität IB im
Punkt X, Y die Überlagerung der Punktbildfunktionen aller Objektpunkte, die
noch mit deren Intensität IO (x, y) zu wichten ist:

Bildintensität IB (X, Y ) = h(X − x, Y − y)IO (x, y) dx dy (25.36)
Der Vergleich mit (25.24) zeigt:

Die optische Abbildung wird durch die Faltung von Objekt- und Punktbild-
funktion beschrieben.
Wir können dies auch durch die symbolische Schreibweise ausdrücken:
IB = h ∗ IO = IO ∗ h (25.37)
Dabei ist das Faltungsintegral kommutativ. Seine Fourier-Transformation erfüllt
(s. Üb. 25.5) das wichtige
Faltungstheorem F (IB ) = F (h ∗ IO ) = F (h)F (IO ). (25.38)
Einer Faltung im Ortsraum entspricht somit eine Multiplikation im Fourier-

Raum. Ähnlich wie bei der Beugung ergibt die Fourier-Transformation der Ob-
jektintensität das Ortsfrequenzspektrum der Intensitätsverteilung des Objektes
an (bei der Beugung erhielten wir das Spektrum der feldstärkebezogenen Trans-
missionsfunktion). Dann besagt (25.38):
Das Ortsfrequenzspektrum der Bildintensität ist das Produkt der Frequenz-
spektren (Fourier-Transformierten) von Objekt- und Punktbildfunktion.
Voraussetzung ist bei Bildfehlern (man denke z.B. an die Koma) nicht erfüllt. Opti-
sche Systeme weisen nur lokale Ortsinvarianz in der Umgebung eines Bildpunktes –
im sog. Isoplanasie-Gebiet – auf.
Die Fourier-Transformierte der Punktbildfunktion, also F (h(X, Y )), bezeich-

net man als optische Übertragungsfunktion, sie ist im Allgemeinen komplex (s.
Kap. 25.1.6). Damit gibt es zwei gleichwertige Beschreibungen eines optischen
Systems:
a) mit Hilfe der Punktbildfunktion und
b) mit der Fourier-Transformierten der PSF, der optischen Übertragungs-
funktion.
Beispiel 25.1 Faltung von Rechteckfunktionen

Berechnen Sie die ein- und zweidimensionale Faltung von zwei gleichen Recht-
eckfunktionen der Höhe 1 und Breite 1, also – im eindimensionalen Fall – von
f (x) = g(x) = rect(x)
x sowie von 2 ungleichen Funktionen f (x) = 3 rect(x)
1
und g(x) = 3 rect 3 , wobei g ein Rechteck der Höhe 1/3 und Breite 3 ist (s.
rect-Funktion (12.13)).
Lösung
Die Faltung
∞ (s. (25.36)) erfordert die Berechnung von
I(X) = −∞ f (X − x) · g(x) dx. Wir haben demnach für ein festes X die
Fläche unter der Produktfunktion f (X − x) · g(x) zu ermitteln. Die
entsprechenden Flächen sind in Abb. 25.8 schraffiert. Dort ist auch der
Verlauf des Faltungsprodukts angegeben. Wir sehen außerdem, wie man für
gleiche Rechtecke die Fläche für eine beliebige Verschiebung X berechnet.
Für |X| < 1 wird die Fläche 1 − |X| und damit gilt hier
I(X) = rect(x) ∗ rect(x) = 1 − |X|, ein Dreiecksverlauf. Bei der
zweidimensionalen Faltung würde sich im ersten Fall eine quadratische
Pyramide und im anderen Fall ein Pyramidenstumpf ergeben.
Anknüpfend an Beispiel 25.1 wollen wir das Faltungsintegral (25.36) interpre-

tieren. Wir nehmen an, dass die PSF des optischen Abbildungssystems durch
h(X, Y ) = rect(X) · rect(Y ) (= ˆ der Funktion
yf des Beispiels) gegeben ist und
wir ein Quadrat mit IO = g = rect 3 · rect 3 abbilden wollen. Dann besagt
x
(25.36), dass zur Bildintensität IB im Punkt X, Y nicht nur – wie bei idealer 1:1-
Abbildung (und Vernachlässigung der Bildumkehr) – der bei x = X und y = Y
gelegene Objektpunkt beiträgt, sondern aufgrund der verbreiterten PSF auch be-
nachbarte Punkte zu berücksichtigen sind. Wir wollen zunächst den Bildpunkt
auf der optischen Achse (X = 0, Y = 0) untersuchen, dann gilt

IB (0, 0) = h(−x, −y) · IO (x, y) dx dy
d.h. alle Objektpunkte innerhalb des Rechtecks (der Breite 1) der PSF tragen
mit der Stärke 1 bei, da die Begrenzung der Objektfunktion (Breite 3) außerhalb
der Grenze der PSF liegt (s. Abb. 25.8). Dies trifft z.B. für einen Bildpunkt bei
X = −1,5, Y = 0 nicht mehr zu. Hier liegt die Hälfte der Objektpunkte außerhalb
der Berandung der PSF und die Bildhelligkeit sinkt auf den halben Wert. Wir
bekommen dann insgesamt als Bild des Objekts die in Abb. 25.8 dargestellte
Trapezverteilung.
Abb. 25.8. Faltung von Rechteckfunktion: Die Faltung von zwei gleichen Rechteck-
funktionen ergibt die Dreiecksfunktion
(gestrichelt) und die der ungleichen Funktionen
3 rect(x) und 13 rect x3 die Trapezfunktion (s. Beispiel 25.1)
Als Beispiel zur Anwendung des Faltungstheorems wählen wir die Beugung
am Gitter: Wir hatten in Kapitel 16 gesehen, dass die Beugungsamplitude durch
das Produkt von Gitter- und Spaltfaktor gegeben ist, den Fourier-Transformierten
der zugehörigen Aperturfunktionen. Gemäß dem Faltungstheorem entspricht die-
sem Produkt im Fourier-Raum (Beugungsebene) im Ortsraum eine Gitteraper-
tur, die sich aus der Faltung der Aperturfunktionen des Einzelspalts und eines
Gitters aus δ-Spalten ergeben muss. Letzteres wird anhand von Abb. 25.9 ver-
deutlicht. Die mathematische Bestätigung gelingt mit Hilfe der Deltafunktion.
Faltung einer Funktion f (x) mit der Deltafunktion ergibt wieder die ursprüngli-
che Funktion f (x)
∞
f (x) = f (x )δ(x − x ) dx = f (x) ∗ δ(x) (25.39)
−∞
denn Faltung entspricht dem Schieben“ der Funktion δ(x − x ) entlang der ge-
”
samten Funktion f (x ). Hierbei wird an jedem Punkt x = x0 aufgrund der
∞
Ausblendeigenschaft f (x0 ) = f (x)δ(x − x0 ) dx (25.40)
−∞
der entsprechende Funktionswert ausgeblendet und schließlich die ursprüngliche

Funktion reproduziert.
Das δ-Gitter der Gitterkonstante g mit N Strichen kann als Summe von δ-
Funktionen6 dargestellt werden:

N/2
tδ (x) = δ(x − ng) (25.41)
n=−N/2
Abb. 25.9. Entstehung der Aperturfunktion eines Gitters durch Faltung der Apertur-
funktionen von δ-Gitter (Kammgitter) und Einzelspalt
Die Faltung der Transmissionsfunktionen des δ-Gitters und des Spaltes der Spalt-
breite b (= rect-Funktion s. (12.13)) ergibt – wie verlangt – die Aperturfunktion
t(x) des Rechteckgitters (12.14):
x x
N/2

N/2
x − ng
t(x) = rect ∗ tδ (x) = rect ∗ δ(x − ng) = rect
b b b
n=−N/2 n=−N/2
(25.42)
Wir fassen zusammen:
Die Aperturfunktion des Gitters entsteht durch Faltung der Transmissions-
funktionen von Spalt und δ-Gitter, während sich die Beugungsamplitude als
das Produkt der Beugungsamplituden von Spalt und δ-Gitter ergibt.
Die Bedeutung des Faltungstheorems liegt unter anderem darin, dass eine
Multiplikation einfacher als die Faltungsoperation auszuführen ist. Man umgeht
deshalb häufig die Faltung dadurch, dass man die Einzelfunktionen fouriertrans-
formiert, dann multipliziert und das Ergebnis anschließend wieder rücktransfor-
miert.
6
Für N → ∞ wird diese Funktion als Kammfunktion (comb-function) bezeichnet.
25.1.6 Systembeschreibung mit Hilfe der Übertragungsfunktion
Die Angabe des Auflösungsvermögens (s. Kap. 16.4) reicht in der Regel nicht
zur Kennzeichnung eines optischen Systems aus. Man beschreibt das System
meist durch richtungs- und ortsabhängige (komplexe) optische Übertragungs-
die sich aus der Fourier-
funktionen (Optische Transfer-Funktion, OTF) D(R),
Transformation der zugehörigen Punktbildfunktionen ergeben
= T (R)
ejΘ(R) = F (h(X, Y )) (25.43)
optische Übertragungsfunktion D(R)
Die optische Übertragungsfunktion (OTF) D(R) ist die Fourier-Trans-

= D(R)
formierte der Punktbildfunktion h(X, Y ), ihr Betrag T (R) ist
die Modulationsübertragungsfunktion (MTF) und ihr Argument Θ(R) =
die Phasenübertragungsfunktion (PTF)
arg(D(R))
Diese Übertragungsfunktionen werden in der Regel als Funktion der Ortsfrequenz

= (Rx , Ry ) angegeben (man verwendet die Frequenz in Linienpaaren pro
R
Länge, also LP/mm, nicht die Ortskreisfrequenz κ = 2πR in rad/m). Ein gu-
tes optisches System, das eine Abbildung ohne Informationsverlust leisten soll,
muss dann einen möglichst breiten Ortsfrequenzbereich (insbesondere auch hohe
Frequenzen entsprechend feinen Details) wiedergeben. Die Phasenübertragungs-
funktion beschreibt eine Verschiebung des Bildes gegenüber dem Objekt. Bei der
Abbildung eines Rechteckgitters würde z.B. für Θ = π im Bild eine Vertauschung
von durchlässigen und undurchlässigen Bereichen auftreten (Kontrastumkehr).
Wir wollen nun Messverfahren zur Bestimmung der optischen Übertragungs-
funktion kennen lernen. Wie im vorigen Abschnitt ausgeführt, ist die OTF gleich
der Fourier-Transformierten der Punktbildfunktion h(X, Y ). Diese Definition legt
eines der Messverfahren fest: Man misst die Punktbildfunktion (wegen der Orts-
varianz mehrere, auch außerhalb der optischen Achse) und bestimmt rechnerisch
die Fourier-Transformierte und damit die zweidimensionale Übertragungsfunkti-
on D(Rx , Ry ). Punktbildfunktionen und damit optische Übertragungsfunktionen
sind richtungsabhängig, es wird also im Allgemeinen keine rotationssymmetrische
Punktbildfunktion entstehen. Dies erhöht den Mess- und Rechenaufwand erheb-
lich, man bestimmt deshalb häufig die eindimensionale Linienbildfunktion (LSF,
line spread function) – das Bild eines (theoretisch unendlich schmalen) Linien-
spaltes – in sagittaler (radialer) und meridionaler (tangentialer) Richtung und
hieraus durch schnelle Fourier-Transformation (s. Kap. 25.2) die eindimensiona-
len OTF in den dazu senkrechten Richtungen der Ortsfrequenzebene.
Eine andere Möglichkeit zur Ermittlung der OTF beruht auf der Definition
der Übertragungsfunktion (25.43) und dem Faltungstheorem (25.38)
F (IB )
B(R)
= F (h(x, y)) =
D(R) = (25.44)
F (IO )
O(R)
Man bestimmt also für ein beliebiges Objekt und das zugehörige Bild mit den
und B(R)
Intenstätsverteilungen IO und IB die Fourier-Transformierten O(R)

und errechnet die Übertragungsfunktion D(R) als Quotient. Dieses Verfahren
wird zur Kennzeichnung des Übertragungsverhaltens von fotografischen Filmen
herangezogen. Problematisch sind große Fehler und Schwankungen bei kleinen
Werten oder Nullstellen von O(R) (s. (25.44)).
Abb. 25.10. a) Verlauf von Objektintensität IO und Bildintensität IB bei einem Si-
nusgitter mit der Ortsfrequenz R = 1/g und 1:1-Abbildung. b) Modulationsübertra-
gungsfunktion als Funktion der Ortsfrequenz für drei verschiedene optische Systeme
Eine dritte Methode verwendet das von der Bestimmung des Frequenzganges
(z.B. eines elektrischen Verstärkers) bekannte Verfahren des harmonischen Ein-
gangssignals, d.h. man untersucht die Abbildung von Sinusgittern7 (s. Abb. 25.10)
durch das optische System. Das Sinusgitter gibt als Eingangssignal
f (x) = f0 + fˆ ejκx (25.45)

Bei einem linearen System entsteht hieraus ein sinusförmiges Ausgangssignal
g(X), d.h. wieder ein (evtl. phasenverschobenes) Sinusgitter mit geänderter Amp-
litude. Bei 1 : 1-Abbildung ist X = x, und wir können schreiben:
g(x) = g0 + ĝ ejκx (25.46)

7
Meist rotierende Rechteckgitter, bei denen die höheren Harmonischen elektronisch
unterdrückt werden.
Die Bildintensität g(x) entsteht andererseits durch Faltung von (25.45) mit der
PSF h(x)

g(x) = h(x) ∗ f (x) = h(x )f0 dx + h(x )fˆ ejκ(x−x ) dx
g(x) = f0 D(0) + fˆ ejκx D(R) (25.47)

da D(R) = h(x ) e−jκx dx (s. (25.43)) und κ = 2πR.
Im Falle eines harmonischen Eingangssignals geht – entsprechend (25.47) – die
Faltung in eine Multiplikation über. Wir können dann nach (25.45) bis (25.47)
die Übertragungsfunktion folgendermaßen ermitteln:
ĝ ĝ
Übertragungsfunktion D(R) = = ejΘ(R) (25.48)
fˆ fˆ
Die komplexe Übertragungsfunktion D(R) ergibt sich damit als Verhältnis der
komplexen Amplitude des Sinusgitters der Ortsfrequenz R im Bildraum zu der
des Gitters im Objektraum.
Für einen Abbildungsmaßstab = 1 ist D mit f0 /g0 zu multiplizieren. Hiermit
erhält man für den Betrag von D, die
ĝ/g0 MB
Modulations-Übertragungsfunktion (MTF) T (R) = ≡ (25.49)
ˆ
f /f0 M O
und für die PTF
Θ(R) = arg(ĝ/fˆ)
Hierbei ist MB,O die Modulation (oder der Kontrast) von Bild bzw. Objekt (s.
Kap. 10.1), die definiert ist als
Imax − Imin
Modulation M= (25.50)
Imax + Imin
Der Kontrast erreicht für Imin = 0 den Maximalwert M = 1. Durch Einsetzen

von IB = g(x) (25.46) und IO = f (x) in (25.50) bestätigt man leicht (25.49):
Die Modulationsübertragungsfunktion MTF ist das Verhältnis von Bildmo-
dulation zu Objektmodulation (s. Abb. 25.10), die PTF Θ(R) beschreibt die
gegenseitige Verschiebung von Objekt- und Bildgitter.
25.1.7 Modulationsübertragungsfunktion der perfekten Abbildung
Die perfekte oder maximal beugungsbegrenzte Abbildung liegt bei einem System
ohne optische Abbildungsfehler vor. Aufgrund der Wellennatur des Lichtes ist
die Beugung unvermeidlich, so dass die entsprechende beugungsbegrenzte Über-
tragungsfunktion die bestmögliche darstellt und damit von besonderer Bedeutung
ist; allerdings ist ihre Berechnung für eine kreisförmige Apertur (Linsensystem)
etwas schwierig. Wir betrachten deshalb den eindimensionalen Fall einer Zylin-
derlinse der Breite b und berechnen die PSF für einen weit von der Linse ent-
fernten Objektpunkt δ(x, y) – oder eine δ-Linie δ(y). In diesem Fall trifft eine
ebene Welle auf die Linse, die wir als beugenden Spalt in x−Richtung der Breite
b plus ideale Zylinderlinse großen Durchmessers ansehen. Die PSF h(Y ) in der
Brennebene stimmt dann mit dem Beugungsbild des Spaltes, der Spaltfunktion
überein, die wir aus Kapitel 16 (s. (16.12) und Abb. 16.2) übernehmen:
PSF der Zylinderlinse h(Y ) ∼ sinc2 β ≡ sinc2 (πRm Y ) (25.51)
mit β = 2y = k2 b sin α ≈ π λfb Y = πRm Y . Hierbei haben wir die Größe

k b
Rm = λfb eingeführt, die vom System maximal übertragbare Ortsfrequenz, wie

wir noch sehen werden. Mit der Blendenzahl K = f /b des Objektivs wird
1
Rm = Kλ . Die Intensitätsverteilung der Spaltbeugung muss nun hinsichtlich
ihres Ortsfrequenzspektrums untersucht werden, d.h. wir suchen die Fourier-
Transformierte:
D(R) ∼ F (sinc2 (πRm Y )) (25.52)

Wir hatten in Kapitel 12 (s. (12.24)) gezeigt, dass die Transformation der Recht-
eckfunktion die sinc-Funktion ergibt. Aus (25.5) folgt dann die Umkehrung

R
F (sinc(πRm Y )) ∼ rect (25.53)
Rm
Um hiermit (25.52) berechnen zu können, wenden wir den reziproken Faltungs-
satz (s. (25.38) u. Üb. 25.5) an:
F (f · g) ∼ F (f ) ∗ F (g) (25.54)
Damit wird:

R R
D(R) ∼ F (sinc (πRm Y )) ∼ rect
2
∗ rect (25.55)
Rm Rm
Die Faltung von zwei Rechteckfunktionen wurde bereits in Bsp. 25.1 diskutiert;
man erhält damit für
⎧
⎨1 − |R|
für |R| ≤ Rm
D(R) = Rm (25.56)
Übertragungsfunktion ⎩
der Zylinderlinse 0 für |R| > Rm
1 f
mit Rm = und K = (Blendenzahl)
Kλ b
Eine Bildübertragung ist demnach bis zu maximalen Ortsfrequenzen von Rm =

1
Kλ
möglich. Eine Verkleinerung der Blende reduziert die maximal übertragbare
Ortsfrequenz. Anknüpfend an (16.23) ist klar, dass obiges Ergebnis auch für die
perfekte Abbildung einer Linse mit quadratischer Apertur gilt.
Bei einer Lochblende wären in (25.54) zwei Kreisfunktionen“- rotationssymme-
”
trische Rechteckfunktionen – zu falten. Man erhält nach längerer Rechnung für
die Linse mit kreisförmiger Apertur
Übertragungsfunktion
2
D(R̃) = arccos R̃ − R̃ 1 − R̃2 für |R̃| ≤ 1 (25.57)
π
mit der reduzierten Ortsfrequenz R̃ = RRm sowie und dem Linsen- bzw. Blenden-
durchmesser d.
In Abb. 25.11 ist der Verlauf der perfekten Übertragungsfunktionen von Lin-
sen mit kreisförmiger ( Linse“) und Spalt bzw. quadratischer Apertur ( Zylinder-
” ”
linse“) verglichen, beide zeigen Tiefpassverhalten. Der Verlauf realer MTF liegt
bei vorgegebener Blende immer unterhalb der beugungsbegrenzten. Bereits kleine
Bildfehler verschlechtern das Übertragungsverhalten erheblich, in Abb. 25.11 ist
die diffraktive Transferfunktion mit sphärischer Aberration bei einer Abweichung
von λ/4 von der idealen Wellenfront gezeigt. Als Maß für die Beugungsbegrenzung
verwendet man das Strehlverhältnis (genauer: Strehlsche Definitionshelligkeit):
Imax,r
Strehlverhältnis S= (25.58)
Imax,i
Hierbei ist Imax die Maximalintensität der PSF eines r(ealen) bzw. i(dealen)
Systems. Für S > 0,8 spricht man von beugungsbegrenzt. S = 1 gilt für ein
perfektes System, wir nennen es auch maximal beugungsbegrenzt.
Wie erwähnt (s. (25.56)) sinkt die maximale Ortsfrequenz bei kleinerer Blende
und größerer Blendenzahl K. Dies steht scheinbar im Widerspruch zu der Er-
fahrung des Fotografen, wonach Blende zu“ gerade bei einfachen Objektiven
”
bessere“ Bilder ergibt – und dies nicht allein aufgrund des erweiterten Schärfen-
”
tiefebereichs. Zur Erläuterung müssen wir beachten, dass bei einer fotografischen
Aufnahme das Kameraobjektiv immer Teil einer Abbildungskette Objektiv –
Abb. 25.11. Modulationsübertragungsfunktion von perfekten Linsen mit Spalt- und

Quadrat-Apertur Zylinderlinse“ und einer Kreisapertur Linse“ als Funktion der re-
” ”
duzierten Ortsfrequenz. (OTF und MTF stimmen hier überein)
Filmnegativ – Vergrößerer – Positivfilm – Auge ist. Die gesamte MTF ist das
Produkt der einzelnen Übertragungsfunktionen:
Dges = D1 D2 D3 . . . (25.59)
In der Praxis lassen sich für Aufnahmen üblicher Größe Ortsfrequenzen von et-
wa 40 bis 60 LP/mm erreichen. Bei Betrachtung der ersten Glieder der Kette
verhindern bei einem guten Objektiv mit weit geöffneter Blende Bildfehler und
Filmkörnung die Registrierung von Ortsfrequenzen R 100 LP/mm. Schließt
man die Blende des Objektivs, so werden die geometrisch optischen Bildfehler
reduziert, das Objektiv wird besser“; erst bei Blendenzahlen K 16 dominiert
”
die Beugungsverbreiterung, das Objektiv ist dann beugungsbegrenzt.
25.2 Fourier-Spektroskopie
Fourier-Spektroskopie stellt eine elegante Alternative zur herkömmlichen Spek-
tralanalyse dar. Ihr wesentlich besseres Signal-Rauschverhältnis (Signal to Noise
Ratio, SNR) hat zu verbreiteter Anwendung in Industrie und Forschung geführt.
Da der auf einen Detektor treffende Photonenstrom statistisch schwankt, erzeu-
gen Photonen ein Eigenrauschen (Schrotrauschen), dessen SNR proportional zur
(Signalleistung)1/2 und damit proportional zur (Intensität)1/2 ist. Überwiegt die-
ser Rauschanteil, so steigt offenbar das SNR mit der auf den Detektor treffenden
Leistung an. Beim Fourier-Spektrometer hat die gegenüber dem konventionellen
Spektrometer erhöhte verfügbare Signalleistung zwei Ursachen:
1. Die große Eingangsapertur und der fehlende Austrittsspalt bedingen eine
große Signalleistung an Ein- und Ausgang, was man als Jacquinot-Vorteil
bezeichnet.
2. Während am Ausgang eines klassischen Spektrometers nur die in einem
von insgesamt N Wellenlängenintervallen enthaltene Lichtleistung registriert
wird, analysiert hier der Detektor jederzeit die Leistung des gesamten √ un-
tersuchten Spektralbereichs, was das SNR zusätzlich um den Faktor N
verbessert; dies ist der Fellgett- oder Multiplex-Vorteil.
Fourier-Spektroskopie wird also nicht – wie beim Prismen- oder Gitterspektro-
meter – durch Spalte begrenzt, die zu einem bestimmten Zeitpunkt Wellenlängen-
intervall (und damit Auflösung) und Strahlungsenergie bestimmen.
Ein Fourier-Spektrometer kann mit Hilfe eines Michelson-Interferometers,
das eine große Apertur aufweist, realisiert werden. Wir werden zeigen, dass die
Fourier-Transformierte des bei Bewegung eines Spiegels registrierten Interfero-
gramms der beiden Teilstrahlen gerade gleich dem Spektrogramm oder Leis-
tungsspektrum des Eingangssignals ist. Abbildung 25.12 zeigt schematisch ein
Michelson-Interferometer mit Strahlenteiler ST und Lichtquelle L sowie festem
(S2 ) und beweglichem Spiegel S1 . Das Interferogramm wird von dem Detektor
D registriert. Wir betrachten zunächst die Überlagerung von zwei ebenen Wellen
gleicher Amplitude mit:
E 1 = Ê ej(ωt−kx1 ) und E 2 = Ê ej(ωt−kx2 ) (25.60)

Diese Wellen weisen aufgrund des Wegunterschiedes einen Gangunterschied ∆ ≡
x = x2 − x1 auf, der gleich der doppelten Spiegelverschiebung ∆x ist. Die regis-
trierte Intensität I ∼ (E1 + E2 )2 wird dann (s. Zweistrahlinterferenz, Kap. 10):
Ik = 2I0 (k) (1 + cos kx) (25.61)

Gleichung (25.60) gilt für monofrequente Wellen, die bei einem breitbandigen
Spektrum nur in Intervallen der Breite dk vorliegen. Dann sind in (25.61) Ik und
25.2 Fourier-Spektroskopie 759
Abb. 25.12. Bauelemente eines Michelson-Interferometers, das zur Fourier-

Spektroskopie verwendet wird. Der bewegliche Spiegel S1 kann maximal um ∆xm ver-
schoben werden
I0 (k) als dI/dk also auf das Intervall dk bezogene Intensitäten zu verstehen. Die
integrale Intensität des Spektrums ist gegeben durch:
∞ ∞ ∞
I= Ik dk = 2I0 (k) dk + 2I0 (k) cos kx dk (25.62)
0 0 0
Der erste x-unabhängige Term ist die Gesamtintensität aller spektralen Kompo-
nenten. Der zweite Term beschreibt die Änderung der Intensität aufgrund von
Interferenz, die zu positiven und negativen Abweichungen von dem konstanten
Term führt. Wir schreiben für diesen x-abhängigen Term, das Interferogramm:
∞
I(x) = I0 (k) cos kx dk (25.63)
0
mit der Fourier-Transformierten, dem

∞
2
Spektrogramm I0 (k) = I(x) cos kx dx (25.64)
π 0
Die Fourier-Transformation des Interferogramms liefert somit das gesuchte Fre-

quenzspektrum I0 (k) bzw. I0 (f ) (mit f = ω/2π = ck/2π) des Eingangssignals.
Zur Ermittlung des genauen Spektralverlaufs (mit beliebig großer Frequenz-
auflösung) muss nach (25.64) über ein unendlich großes x-Intervall integriert
werden, im praktischen Experiment wird aber die Verschiebung nur über ein Fens-
ter der Breite xm (= 2 × maximale Spiegelverschiebung ∆xm ) erfolgen und des-
halb nur eine endliche Auflösung erreicht. Diese folgt aus der Unschärferelation
(12.31), wonach ∆f · ∆t ≈ 1; die Zeitunsicherheit beträgt ∆t = xm /c und somit
wird ∆f = c/xm . Mit df /f = −dλ/λ folgt dann für das minimal detektierbare
Wellenlängenintervall
λ2
∆λ = (25.65)
xm
und für das (wie beim klassischen Spektrometer definierte)
λ xm
Auflösungsvermögen A= = (25.66)
∆λ λ
mit xm = 2∆xm und der maximalen Spiegelverschiebung ∆xm . Man sieht,

dass große (wellenlängenbezogene) Spiegelverschiebungen eine hohe Auflösung
zur Folge haben. Verschiebung eines Spiegels um 0,5 cm bewirkt xm = 1 cm,
hiermit erreicht man bei λ = 500 nm ein Auflösungsvermögen von 2 · 104 und
eine Wellenlängenauflösung von ∆λ = 0,025 nm. Spektrometer mit Verschie-
bungen im m-Bereich und Auflösungen größer 105 wurden realisiert. Beispiele
einfacher Interferogramme sind in Abb. 25.13 wiedergegeben. Bei b wird durch
die drei violetten Hg-Linien (400 bis 440 nm) eine Schwebung entsprechend drei
unterschiedlichen Frequenzen erzeugt und bei c beobachtet man das Ergebnis
der Überlagerung von sieben Hg-Linien (bei 400 bis 580 nm) unterschiedlicher
Amplitude.
Abb. 25.13. Interferogramme eines Michelson-Interferometers für verschiedene Licht-

quellen: a) Helium-Neon-Laser. b) Quecksilberquelle mit Violettfilter. c) Quecksilber-
quelle ungefiltert
Bei der Fourier-Transformation (25.64) des Spektrogramms müssen einige

Punkte beachtet werden. Die Beschränkung des Integrationsintervalls auf 0 − xm
führt – auch bei einem monofrequenten Eingangssignal – zu einem Kosinuswellen-
zug endlicher Länge xm bzw. Dauer τ0 = xm /c, dessen Frequenzspektrum nach
(12.34) durch eine sinc-Funktion um die Zentralfrequenz f0 beschrieben wird.
Diese weist Seitenbanden auf (s. Abb. 12.10), die im idealen monofrequenten
Frequenzspektrum (δ-Funktion) nicht vorkommen. Um diese Artefakte zu unter-
drücken, verwendet man das Verfahren der Apodisation ( Fensterln“), d.h. man
”
vermeidet den abrupten Übergang an den Enden des x-Fensters durch Multipli-
kation mit einer Fensterfunktion (z.B. mit cos2 ( x−x
xm
m /2
) = Hanning-Fenster ), die
problemangepasst sein muss. Hierdurch werden Seitenbanden unterdrückt oder
abgeschwächt.
Die Fourier-Transformation wird mit einem Digitalrechner als diskrete Fourier-
Transformation (DFT ) durchgeführt, also statt eines Integrals als Summe über
diskrete Abtastwerte der Intensität Ii an den Punkten xi mit zugehörigen diskre-
ten Frequenzspektren, die sich periodisch wiederholen. Um bei der DFT Fehler
zu vermeiden, muss das Abtastintervall ∆x zwischen zwei Abtastwerten entspre-
chend dem Nyquist-Kriterium des Abtasttheorems gewählt werden:
λmin
Abtasttheorem ∆x ≤ (25.67)
2
Hierbei ist λmin die kleinste im Messintervall vorkommende Wellenlänge. Bekann-

ter ist das Nyquist-Theorem im Zusammenhang mit Zeitsignalen, wo die Abtast-
frequenz fa > 2fg (mit fg = Grenzfrequenz) sein muss. So wird z.B. bei der CD
(compact disc) fa = 44 kHz verwendet, um die maximale Hörfrequenz von etwa
20 kHz wiedergeben zu können. Nichtbeachtung des Abtasttheorems führt zur
Überlappung der periodischen Spektren und damit zum Auftreten verfälschter
sogenannter Aliasfrequenzen. Für einen bei λ = 300 nm beginnenden Spektralbe-
reich (obere Grenze zunächst beliebig) darf dann das Abtastintervall nach (25.67)
höchstens ∆x = 150 nm betragen. Ist, wie im obigen Beispiel, xm = 1 cm, so wird
die Zahl der erforderlichen Abtastpunkte:
xm 10−2 m
N= = ≈ 67 000
∆x 1,5 · 10−7 m
Eine Steigerung der Zahl der Abtastwerte würde keinen Gewinn für das Auf-
lösungsvermögen A bringen, denn eine Erhöhung von A ist nur durch die Ver-
größerung der gesamten Abtastlänge xm (s. (25.66)) möglich.
Durch (25.66) ist auch die prinzipielle obere Grenze λmax des Wellenlängen-
intervalls festgelegt, ist ein Auflösungsvermögen von 1 ausreichend, wäre bei
dem o.g. Beispiel λmax = xmax = 1 cm. Bei der praktischen Realisierung wird
λmax durch andere Faktoren, z.B. den Empfindlichkeitsbereich des Detektors,
beschränkt.
Bei der Fourier-Transformation sind, wie oben erwähnt, etwa 104 − 105 Mess-
werte zu verarbeiten, dann würden bei der DFT bei N Summen à N Summan-
den insgesamt N 2 ≈ 1010 zeitraubende Multiplikationen und Additionen auftre-
ten. Der damit verbundene Rechenaufwand kann für N = 2n (ursprünglich nur
mit n = ganze Zahl) durch das Verfahren der schnellen Fourier-Transformation
(FFT = Fast Fourier Transform) – z.B. nach dem Cooley-Tukey-Algorithmus
– wesentlich reduziert werden, da dann nur noch etwa N · ldN (ld = Zweier-
Logarithmus) Operationen erforderlich sind, mithin statt N 2 = 1010 nur noch
105 ld(105 ) ≈ 1,5 · 106 .
Übungen
25.1 Die Beugung an einem symmetrischen (g = 2 b) Rechteckgitter mit 50 µm Gitterab-
stand wird mit einem Helium-Neon-Laser (λ = 632,8 nm) in der Brennebene einer
50 cm-Linse untersucht (s. Abb. 25.2).
a) Berechnen Sie den Abstand der drei ersten hellen Punkte von der optischen
Achse. (Beachten Sie evtl. fehlende Ordnungen.)
b) Welche (Wellen-)Länge λy (= Y -Abstand der gebeugten Wellenfronten) ent-
spricht der fundamentalen Ortsfrequenz?
c) Bestimmen Sie die drei niedrigsten (ausschließlich der Gleichkomponente) Orts-
kreisfrequenzen κy der Aperturfunktion des Rechteckgitters und geben Sie die
entsprechenden Glieder der Fourier-Reihe an.
d) Welche (auf die 1. Ordnung bezogenen) Intensitätsverhältnisse weisen die drei
ersten hellen Punkte auf?
25.2 a) Wie lässt sich die Transmissionsfunktion von zwei aufeinanderliegenden Vorla-
gen (z.B. Dias) durch diejenige der Einzelobjekte ausdrücken? Welche Konse-
quenzen hat dies in der Fourier-Ebene? (s. Faltungssatz, Üb. 25.5).
b) Welche Aperturfunktion haben zwei senkrecht gekreuzte Rechteckgitter gleicher
Gitterkonstante? Was beobachtet man in der Fourier-Ebene?
c) Welches Ergebnis erhält man für parallele Sinusgitter der Gitterkonstanten g1
und g2 ?
25.3 Bei der Untersuchung der Extinktion – z.B. von fotografischem Film oder Farbstof-
fen – führt man die optische Dichte D = lg(O) ein. Hierbei ist O die Opazität, die
gleich dem Kehrwert des Transmissionsgrades τ ist, also O = 1/τ mit τ = Paus /P0 .
In der Faseroptik verwendet man das Pegelmaß DdB = 10 lg(P/P0).
a) Zeigen Sie, dass die optische Dichte D = − lg τ .
b) Begründen Sie, dass die optische Dichte mehrerer aufeinander liegender Filme
gleich der Summe der Einzeldichten ist.
c) Gegeben seien fünf gleiche Filmschichten mit jeweils D = 1,25. Wie groß ist
die gesamte optische Dichte und der zugehörige Transmissionsgrad?
25.4 Der Sinusanteil der Transmissionsfunktion eines Gitters ist durch A sin(ay) gegeben.
a) Welchen Wert muss A und der Gleichanteil t0 der Transmissionsfunktion ha-
ben, um ein Gitter mit minimaler Durchlässigkeit 0 und dem Maximalwert 1
darstellen zu können?
b) Skizzieren Sie die Transmissionsfunktion mit und ohne Gleichanteil für ein Git-
ter mit 500 Strichen/cm.
c) Geben Sie den Transmissionsgrad des Gitters an, also den Verlauf der Trans-
missionsfunktion It /I0 der Intensität.
25.5 a) Beweisen Sie das Faltungstheorem, d.h. falls
h(x) = f (x) ∗ g(x)

so gilt für die Fourier-Transformierte
F (h(x)) = F (f (x)) · F (g(x))

Beweisen Sie weiterhin den umgekehrten Fall
1
F (f (x) · g(x)) = F (f (x)) ∗ F (g(x))
2π
b) Warum gilt aber
F (f (x) · g(y)) = F (f (x)) · F (g(y))?

25.6 Berechnen und zeichnen Sie das Ergebnis der eindimensionalen Faltung von zwei
identischen Rechteckpulsen der Höhe 1 und Breite 6.
25.7 Wie sieht die eindimensionale Autokorrelationsfunktion c11 der Sinusfunktion E =
Ê sin(ωt + ϕ0 ) aus? Integrieren Sie über eine Periode.
25.8 Das Ausgangssignal eines (Michelson-)Fourier-Spektrometers wird mit einem Foto-
detektor registriert. Eingangsgröße ist monochromatisches Licht der grünen Queck-
silberlinie bei 546,1 nm.
a) Welche Modulationsfrequenz weist der Fotostrom auf, wenn ein Spiegel mit
5 mm/s bewegt wird? Lösung: 1) durch Überlagerung der Teilwellen, 2) unter
Erklärung des Vorgangs als Dopplereffekt.
b) Bei Verwendung der zwei Wellenlängen der Na-D-Linie (588,995 und 589,592nm)
registriert der Detektor eine Schwebung im Intensitätssignal. Wie groß ist die
Schwebungsfrequenz bei einer konstanten Verschiebungsgeschwindigkeit von
v = 5 mm/s). (Lösungshinweis: s. (11.14)).
25.9 Die maximale Spiegelverschiebung eines Michelson-Interferometers beträgt 5 cm.
Wie groß ist das minimal auflösbare Wellenlängenintervall ∆λ und das Auflösungs-
vermögen A = λ/∆λ
a) bei 632,8 nm und
b) bei 1 µm?
25.10 Licht einer Hg-Lampe trifft auf den Strahlenteiler eines einfachen Michelson-
Interferometers, bei dem Wellenlängen kleiner 360 nm herausgefiltert werden. Der
bewegliche Spiegel wird mit 71,5 nm/s bewegt und das Spektrogramm mit der Ab-
tastrate 1,28 s−1 abgetastet. Insgesamt werden 256 Messpunkte registriert und im
Rechner mit der FFT ausgewertet. Bestimmen Sie:
a) die Fensterbreite xm ,
b) das minimal auflösbare Wellenlängenintervall ∆λmin bei 400 nm,
c) die minimale Wellenlänge, bei der noch keine Aliasing-Effekte auftreten,
d) die vom Abtasttheorem geforderte minimale Abtastrate.

25.11 Ein IR-Fourier-Spektrometer arbeitet im Wellenzahlenbereich 400–4400 cm−1 . (Wel-
lenzahl k̃ = 1/λ). Die maximale Wegdifferenz beträgt 2,78 mm.
a) Welche Auflösung lässt sich in Bezug auf die Wellenzahl und Wellenlänge er-
zielen?
b) Wie viele Datenpunkte muss man aufnehmen, um das Abtasttheorem zu
erfüllen und Aliasing-Effekte zu vermeiden?
c) Wie groß muss die Verschiebungsgeschwindigkeit des Spiegels sein, wenn ein
Durchlauf in 30 Sekunden erfolgt?
26
Nichtlineare Optik und Lichtmodulation
Einleitung
Die zurückliegenden Kapitel befassten sich mit der linearen Optik. Dort nahm
man an, dass sich die in einem optischen Medium ausbreitende Welle durch ei-
ne lineare Wellendifferentialgleichung beschreiben lässt. Dann erfüllen mehrere
Wellen das Überlagerungsprinzip und harmonische Wellen breiten sich verzer-
rungsfrei aus – unbeeinflusst von Medium und Intensität. In nichtabsorbierenden
Medien ist dann das Verhalten einer harmonischen Lichtwelle im Wesentlichen
durch ihre Wellenlänge und Geschwindigkeit bestimmt.
Wir wissen heute, dass die lineare Optik bei sehr hohen Lichtintensitäten
nicht zur Beschreibung der beobachteten Phänomene ausreicht. Durch den Laser
steht sehr intensives kohärentes Licht zur Verfügung, das bewirkt, dass die opti-
schen Eigenschaften der Materie, wie z.B. die Brechzahl, von der Intensität des
Lichtes abhängig werden. Wenn zwei oder mehr Lichtwellen interferieren ist hier
das Überlagerungsprinzip verletzt und die Lichtwellen treten miteinander über
das Ausbreitungsmedium in Wechselwirkung. Diese nichtlinearen Phänomene er-
fordern eine Erweiterung der linearen Theorie derart, dass auch die nichtlineare
Antwort der Materie auf die elektromagnetische Strahlung beschrieben werden
kann.
766 26 Nichtlineare Optik und Lichtmodulation
In diesem Kapitel werden das Gebiet der nichtlinearen Optik genauer defi-
niert, einige der neuen Phänomene beschrieben und wichtige praktische Anwen-
dungen – u.a. bei der Lichtmodulation – diskutiert.
26.1 Nichtlineare Medien

Nichtlineare Phänomene resultieren letztlich aus der Tatsache, dass die atoma-
ren elektrischen Dipole der Materie nicht mehr linear auf die hohen elektri-
schen Wechselfelder der Lichtwelle antworten können. Die ein Medium durch-
querende hochfrequente Lichtwelle führt zu Ladungsverschiebungen und damit
zu influenzierten elektrischen Dipolen und einer elektrischen Polarisation des
Mediums. Diese wird – im Bereich der hohen Frequenzen des sichtbaren Lichts
(f ≈ 500 THz) – fast ausschließlich von den Elektronen der äußeren Atomhülle
hervorgerufen, da die schweren Kerne und die fest gebundenen inneren Elektronen
kaum verschoben werden. Bei kleinen Schwingungsamplituden der Elektronen ist
die Polarisation proportional zum E-Feld der Welle (s. Kap. 27.1). Diese strenge
Proportionalität wird bei größeren Intensitäten verletzt, analog zum Verhalten
einer einfachen Feder, deren Anharmonizität mit steigender Auslenkung wächst.
Nichtlineare Anregung kann auch schon bei relativ kleinen Intensitäten mit Hil-
fe der Methode der Resonanzüberhöhung erzielt werden, wo die optische Anre-
gungsfrequenz in der Nähe der Resonanzfrequenz der Oszillatoren liegt. Dieses
Verfahren wird in der nichtlinearen Spektroskopie verwendet.
In einem linearen Medium besteht zwischen der Polarisation P – dem elektri-
schen Dipolmoment pro Volumeneinheit – und dem polarisierenden elektrischen
Feld E der Zusammenhang (s. Kap. 27):
P
= ε0 χE (26.1)
hierbei ist χ die feldstärkeunabhängige (elektrische) Suszeptibilität und ε0 die
elektrische Feldkonstante des Vakuums. Nichtlinearität kann man durch eine
feldabhängige Suszeptibilität χ(E) beschreiben, die wir für kleine Störungen in
eine Potenzreihe entwickeln:
Suszeptibilität χ(E) = χ1 + χ2 E + χ3 E 2 . . . (26.2)
Einsetzen in (26.1) ergibt für die

Polarisation P = ε0 χ1 E + χ2 E 2 + χ3 E 3 + . . . (26.3)
oder:
26.2 Frequenzverdopplung 767
P = P1 + P2 + P3 + . . . (26.4)
,-./ , -. /
linear kleine, nichtlineare Terme
Die linearen (χ1 ) und nichtlinearen (χ2 , χ3 , . . .) Suszeptibilitätskoeffizienten1 cha-

rakterisieren die optischen Eigenschaften des Mediums; P ist die nichtlineare
Antwort des Systems auf das erregende Feld E.
Der erste Term P1 in (26.3) und (26.4) umfasst die lineare Optik, in der die
Polarisation einfach proportional zum E-Feld ist. Höhere Terme beeinflussen die
Polarisation nur bei sehr starken E-Feldern merklich und wurden meist erst seit
der Erfindung des Lasers experimentell zugänglich. Das kohärente Laserlicht kann
auf Volumina der Größenordnung einer Wellenlänge2 fokussiert werden, hierbei
entstehen elektrische Feldstärken größer 1010 V/m, die vergleichbar sind mit den
Feldern, mit denen die Elektronen an die Kerne gebunden sind.
Peter Franken und seine Mitarbeiter führten 1961 an der Universität von Mi-
chigan das erste Experiment zur nichtlinearen kohärenten Optik aus. Das Team
fokussierte das kohärente Licht eines gepulsten Rubinlasers von 694,3 nm Wel-
lenlänge auf einen Quarzkristall und wies Frequenzverdopplung nach, indem es
eine schwache ultraviolette Ausgangsstrahlung von 347,15 nm – also mit doppel-
ter Frequenz bzw. halber Wellenlänge – registrierte.
26.2 Frequenzverdopplung
Frequenzverdopplung (Erzeugung der zweiten Harmonischen, Second Harmonic
Generation, SHG)) resultiert aus dem Term 2. Ordnung in (26.3):
quadratische Nichtlinearität P2 = ε0 χ2 E22 (26.5)
bei dem die Polarisation quadratisch von der Feldstärke abhängt. Abb. 26.1 zeigt
die Kennlinie der Polarisation als Funktion der Feldstärke: Die Gesamtpolarisa-
tion P1 + P2 stimmt bei kleinen Feldstärken mit der linearen Polarisation überein
und unterscheidet sich bei großen Feldstärken aufgrund des quadratischen Terms
P2 .
Man macht sich leicht klar, dass χ2 in isotropen Materialien oder Kristal-
len mit Punktsymmetrie verschwindet, also kein Term 2. Ordnung auftritt. Die
Elementarzelle solcher Kristalle weist ein Inversionszentrum auf, das die Atom-
anordnung bei Punktspiegelung (r → −r) ungeändert lässt. Dann kann sich bei
Richtungsumkehr des erregenden Feldes nur das Vorzeichen, nicht aber der Be-
trag der Antwortgröße Polarisation ändern. Damit müsste sowohl
1
Es handelt sich um Tensoren.
2
Siehe Kap. 21.4, wo die Fokussierung von Laserlicht diskutiert wird.
Abb. 26.1. Lineare (P1 ), quadratische (P2 ) und typische nichtlineare Antwort der
Polarisation P auf ein elektrisches Feld. Im nichtlinearen Fall rufen Felder gleicher
Größe, aber verschiedenen Vorzeichens unterschiedliche Antworten (Kurve P) hervor.
Für den gezeichneten Fall quadratischer Nichtlinearität (mit P = P1 + P2 und χ2 < 0)
bewirken negative Felder eine stärkere Polarisation als positive Felder gleicher Größe
P2 = ε0 χ2 (+E 2 ) als auch − P2 = ε0 χ2 (−E 2 )

gelten. Da das E-Feld quadratisch auftritt (d.h. (+E)2 = (−E)2 ), muss P2 = −P2
und damit P2 = χ2 = 0 sein. Quarzkristalle haben kein Inversionszentrum und
zeigen deshalb nichtlineare Effekte 2. Ordnung.
Mathematisch kann die Erzeugung der 2. Harmonischen leicht erklärt werden.
Das einwirkende E-Feld – oder eine seiner Fourier-Komponenten – sei3
ejωt − e−jωt
E = Ê cos ωt = Ê
2
Einsetzen in (26.5) gibt (mit cos2 α = 12 (1 + cos 2α)) für den quadratischen Term
der Polarisation:
1 1
P2 = ε0 χ2 Ê 2 cos2 ωt = ε0 χ2 Ê 2 + ε0 χ2 Ê 2 cos 2ωt (26.6)
2 2
3
In der nichtlinearen Optik darf man nicht die komplexe Schreibweise mit E =
Re(E ejωt ) (s. Kap. 8) verwenden!
Man erhält also einen zeitunabhängigen Term, der die optische Gleichrichtung
beschreibt, und einen Term, der die doppelte Anregungsfrequenz enthält. Dement-
sprechend erzeugen die von der Primärwelle angeregten Dipole elektromagneti-
sche Strahlung der Frequenz 2f , die dann in der austretenden Strahlung zusam-
men mit der im Allgemeinen wesentlich stärkeren Strahlung aus der linearen
Wechselwirkung (mit der Grundfrequenz f ) enthalten ist (s. Abb. 26.2).
Abb. 26.2. Anregendes harmonisches E-Feld (1) und nichtsymmetrische Polarisation in

einem quadratisch nichtlinearen Medium mit χ2 < 0 (s. Abb. 26.1): nichtsymmetrische
Polarisation (2) und deren Fourier-Komponenten Pω (3), P2ω (4) und Gleichterm P− (5)
Verfolgen wir in einem nichtlinearen Medium eine Wellenfront der Primär-

welle von der Oberfläche bis zu einem Punkt im Abstand l, so überlagern sich
dort alle von der Wellenfront entlang dieses Weges erzeugten Teilwellen der Fre-
quenz 2f . Konstruktive Interferenz – also gleichphasige Überlagerung – ist nur
dann gegeben, wenn sich die Oberwelle genauso schnell wie die sie erzeugende
Grundwelle ausbreitet, wenn also für die Phasengeschwindigkeiten c2ω = cω gilt.
Aufgrund der Dispersion wird dies jedoch im Allgemeinen nicht der Fall sein;
es kommt zu Phasenunterschieden der 2f -Teilwellen und unter Umständen zur
Auslöschung. Um dies zu verstehen, wählen wir den Abstand mit l = 2lK ge-
rade so, dass die bei l = 0 entstandene und die bei 2lK gebildete 2f -Welle den
Gangunterschied ∆min = λ2ω = λω /2 haben; dann sind die Gangunterschiede
der auf der Länge 2lK entstandenen Wellen kontinuierlich zwischen 0 und ∆min
verteilt, so dass sich die Wellen auslöschen. (Dies ist uns von der Spaltbeugung (s.
Kap. 16) bekannt, wo das 1. Beugungsminimum gerade dann auftritt, wenn der
Gangunterschied der Randstrahlen λ beträgt). Maximale Intensität muss dann
bei ∆max = λ2ω /2 = λω /4 – entsprechend l = lK – auftreten. Der Gangunter-
schied ist gleich der Differenz der optischen Wege und wir erhalten mit λω = λ0 :
λ0
∆max = = (n2ω − nω )lK
4
Hieraus folgt mit ∆n = |n2ω − nω | die
λ0
Kristallkohärenzlänge lK = (26.7)
4∆n
Wir hatten gesehen, dass bei der Kristalldicke lK die maximale Intensität der
2. Harmonischen auftritt. Der Vorgang der Verstärkung und Auslöschung wie-
derholt sich mit zunehmender Länge l periodisch, so dass für die zur Polarisation
P2 proportionale Feldstärke der Oberwelle gilt:

π
Ê2ω ∼ P2 ∼ χ2 Êω2 lK sin l
2lK
Damit wird die nach der Kristall-Länge bzw. -Dicke l registrierte Intensität
2
I2ω (∼ Ê2ω ) der 2. Harmonischen

π π
2f -Intensität I2ω ∼ χ22 Iω2 lK
2
sin2 l ∼ χ22 Iω2 l2 sinc2 l (26.8)
2lK 2lK
Die Intensität oszilliert (bei vorgegebener Brechzahldifferenz ∆n = konst.) mit

der Kristalldicke l entsprechend einer sin2 -Funktion (s. Abb. 26.3). Will man
die Intensität I2ω (bei fester Kristalldicke l) als Funktion der Brechzahldifferenz
∆n beschreiben, so zieht man den letzten Term in (26.8) heran: Man erhält
einen Verlauf entsprechend der von der Spaltbeugung bekannten sinc2 -Funktion
(s. Abb. 16.2). Für den Fall der Phasenanpassung wird ∆n = 0; wir erhalten
lK → ∞ und damit sinc(0) = 1. Die Intensität würde nun proportional l2 über
alle Grenzen wachsen. Die genauere Theorie, die auch die Intensitätsabnahme
der Grundwelle aufgrund der Wechselwirkung erfasst, liefert eine Sättigung ent-
sprechend einem tanh2 -Verlauf.
Abb. 26.3. Verlauf der Intensität I2ω der 2. Harmonischen als Funktion der Kristall-
dicke l. Maximalwert und Periodizitätslänge werden von der Kristallkohärenzlänge lK
bestimmt
Beispiel 26.1 Frequenzverdopplung

Für eine Erregerwelle der Wellenlänge λ0 = 800 nm und den nichtlinea-
ren Kristall KDP (Kalium-Dihydrogen-Phosphat) mit n2ω = 1,4802 und
nω = 1,5019 soll die für Frequenzverdopplung gültige Kristallkohärenzlänge
berechnet werden.
Lösung
0,8 µm
λ0
Einsetzen in (26.7) ergibt direkt lK = 4∆n = 4·(1,5019−1,4802) = 9,2 µm. Man
sieht, dass hier lK und damit die Kristalldicke typischerweise nur etwa 10
Wellenlängen beträgt. Da nach (26.8) I2ω ∼ lK
2
, wären zur Erzeugung von
größeren Intensitäten der 2. Harmonischen extreme Primärintensitäten
erforderlich.
Der Nachteil der kleinen Kristallkohärenzlänge kann mit Hilfe der Doppelbre-
chung der Kristalle umgangen werden. Wie in Kapitel 15.5 beschrieben wurde,
hängen die Brechzahl und Geschwindigkeit des außerordentlichen Strahls von sei-
ner Richtung relativ zur optischen Achse des Kristalls ab. Wählt man nun eine
Richtung, in der z.B. cωo , die Geschwindigkeit des ordentlichen Strahls der Grund-
welle, mit c2ω
ao , der Geschwindigkeit des außerordentlichen Strahls der Oberwelle,
übereinstimmt, so bleiben Grund- und Oberwelle in Phase und der Kristall kann
mit Dicken der Größenordnung cm für die Frequenzverdopplung genutzt wer-
den. Diese Technik wird als Brechzahl- oder Phasenanpassung (index oder phase
matching) bezeichnet und ist in Abb. 26.4 erklärt, wo sich die Geschwindigkeits-
flächen für ordentliche und außerordentliche Strahlen in den Kristallrichtungen
der Phasenanpassung schneiden.
Der Grad der Phasenanpassung kann durch Drehung des Kristalls oder Tem-
peraturänderung optimiert werden. Nach (26.8) wächst die Ausgangsintensität
I2ω mit dem Quadrat der Intensität Iω = P/A der Grundwelle an; hohe Um-
wandlungsgrade I2ω /Iω lassen sich dann durch Fokussierung und Pulsen des La-
serstrahles erzeugen. Mit KTP (Kalium-Titanyl-Phosphat KTiOPO4 ) kann z.B.
die gepulste infrarote (λ = 1064 nm) Laserstrahlung eines Nd:YAG-Lasers bei ei-
ner Intensität von 4 GW/m2 zu etwa 80% in grünes Licht mit 532 nm Wellenlänge
umgewandelt werden.
Bei der zweidimensionalen optischen Informationsspeicherung (CD- und DVD-
Technik) wächst die Speicherdichte ∼ λ−2 an, so dass man bei Übergang von
600 nm auf 400 nm mehr als die doppelte Speicherdichte erzielt. Man ist deshalb
bestrebt, kurzwelliges Licht zu verwenden. Blaue Laserdioden (aus InGaN) ste-
hen erst seit Kurzem zur Verfügung und sind sehr teuer, deshalb versucht man die
Frequenzverdopplung von (infra)roten Laserdioden auszunutzen. Um mit Dauer-
strichleistungen im mW-Bereich arbeiten zu können, wird die Intensität der er-
zeugenden Welle durch Resonanzüberhöhung in Stehwellen- und Ringresonatoren
(s. Kap. 21) angehoben.
Abb. 26.4. Geschwindigkeitsflächen für zueinander senkrecht polarisierte Lichtstrah-

len in einem doppelbrechenden Medium. Die Schnittpunkte der Kugelflächen der or-
dentlichen (o) Strahlen und der Ovaloide der außerordentlichen (ao) Strahlen legen
die Richtungen fest, in denen die Geschwindigkeiten cω 2ω
o und cao der beiden Strahlen
übereinstimmen (Phasenanpassung)
26.3 Frequenzmischung und Brechzahlmodulation 773
Tabelle 26.1. Lineare und nichtlineare Effekte
Linear Nichtlinear Nichtlinear

Effekt: 1. Ordnung 2. Ordnung 3.Ordnung
2
P1 = ε 0 χ 1 E P2 = ε 0 χ 2 E P3 = ε 0 χ 3 E 3
Klassische Optik: Medien ohne
Inversionssymmetrie:
Interferenz Frequenzverdopplung Erzeugung der
Reflexion Frequenzmischung 3. Harmonischen,
Brechung optische Gleichrichtung Frequenzmischung
Doppelbrechung parametrische Verstärkung Kerr-Effekt
Absorption Pockels-Effekt optische Phasenkonjugation
Außer der Frequenzverdopplung gibt es noch andere nichtlineare Phänomene,

die auf der quadratischen Abhängigkeit der Polarisation beruhen. Tabelle 26.1
führt weitere quadratische Effekte an und gibt auch einige Effekte an, die aus
dem kubischen Term P3 = ε0 χ3 E 3 resultieren. So kann z.B. auch die Erzeugung
der 3. Harmonischen (Frequenz-Verdreifachung) auftreten. Noch höhere Harmo-
nische wurden beobachtet und haben interessante Anwendungen gefunden.
26.3 Frequenzmischung und Brechzahlmodulation

Falls sich zwei oder mehr Strahlen unterschiedlicher Frequenzen in einem nicht-
linearen Kristall überlagern, kann Frequenzmischung auftreten. Wir betrachten
an einem festen Ort zwei einfallende Wellen der Frequenzen f1 und f2 mit dem
Feldstärkeverlauf
E = Ê1 cos ω1 t + Ê2 cos ω2 t

und berücksichtigen die Nichtlinearität in 2. Ordnung. Die Polarisation P2 =
ε0 χ2 E 2 enthält dann (nach Quadrieren von E, s. auch (26.6)) Ausgangswellen mit
den Frequenzen 2f1 , 2f2 , |f1 − f2 | und f1 + f2 . Da hier aus zwei Wellen eine drit-
te entsteht, spricht man auch von Drei-Wellen-Mischung. Entsprechend erhält
man dann bei Nichtlinearität 3. Ordnung eine Vier-Wellen-Mischung mit allen
möglichen Kombinationen von zwei oder drei einfallenden Wellen. Die additive
Frequenzmischung lässt sich für Infrarot-Bildwandler verwenden, bei denen IR-
Strahlung mit einem Laser ins Sichtbare konvertiert wird. Die Differenzfrequenz
von durchstimmbaren (Farbstoff-)Lasern ergibt IR-Strahlung variabler Frequenz.
Ein Spezialfall der Frequenzmischung ist der Prozess der parametrischen
Verstärkung. Statt der additiven Frequenzmischung f1 + f2 → f3 wird hier
der Prozess der Frequenzteilung ausgenutzt: f3 → f1 + f2 . Die Energie einer
starken Pumpwelle mit fp wird konvertiert in eine Signalwelle mit fs und ei-
ne Idlerwelle ( Faulenzerwelle“) der Frequenz fi (gegenüber der Frequenzmi-
”
schung ist hier also der Energiefluss umgekehrt). Der Verstärkungsprozess ar-
beitet wie folgt: Eine schwache Signalwelle und eine starke Pumpwelle werden
in einem nichtlinearen Kristall überlagert und erzeugen eine Idlerwelle der Fre-
quenz fi = fp − fs ; diese Idlerwelle mischt wiederum mit der starken Pumpwelle
und führt zu einer Welle mit der Differenzfrequenz gleich der der Signalwelle
(∆f = fp − fi = fi − (fp − fs ) = fs ), die damit verstärkt wurde. Beim parame-
trischen Verstärker (OPA = Optical Parametric Amplifier) werden also sowohl
Idler- als auch Signalwelle verstärkt. Bringt man den nichtlinearen Kristall in
einen Resonator (z.B. Fabry-Perot), so kann der Verstärker durch Rückkopplung
von Signalwelle (und Idlerwelle) in einen parametrischen Oszillator (OPO = OP
Oscillator) überführt werden (s. Abb. 26.5). Die Abstimmung des Resonators
auf unterschiedliche Signalfrequenzen geschieht durch Variation der Brechzah-
len durch Erwärmung oder über den elektrooptischen Effekt. Man hat damit
eine wichtige Quelle für kohärente Strahlung variabler Wellenlänge realisiert. Ein
wichtiges Beispiel ist wieder das System Nd:YAG-Laser + KTP-Kristall.
Die in Tabelle 26.1 aufgeführten nichtlinearen Effekte werden z.T. in den fol-
genden Abschnitten behandelt. Vor allem werden die Anwendungen zur Lichtmo-
dulation besprochen. Modulation von Licht kann durch Variation von Amplitude
(AM), Frequenz (FM), Phase, Polarisation und Richtung erfolgen. Erst die Mo-
dulation ermöglicht eine Informationsübertragung über die Lichtwelle; dies wird
vor allem bei Lichtwellenleitern (s. Kap. 24) ausgenutzt.
Eine Intensitätsmodulation lässt sich schon durch einfache mechanische Zer-
hacker (chopper) und Verschlüsse erreichen, sehr hochfrequente Modulation er-
zielt man durch direkte Modulation des Pumpstroms von Laserdioden. Hier soll
vornehmlich auf die Modulation eingegangen werden, die mittels Variation der
Brechzahl durch elektrische, magnetische und akustische Felder hervorgerufen
wird.
Die Variation der Brechzahl n(E) durch ein elektrisches Feld, das damit
Doppelbrechung bewirkt, kann durch folgende Gleichung (s. auch Indexellipsoid
(15.11)) charakterisiert werden:
1 1
Brechzahlmodulation 2
= 2 + rE + RE 2 (26.9)
n n0
r und R sind die lineare und quadratische elektrooptische Konstante 4 , n0 die

Brechzahl ohne äußeres Feld. Da in (26.9) nur kleine Brechzahländerungen auf-
treten, gilt die Taylor-Entwicklung:
4
Die Begriffe Ordnung“ sowie linear“ und quadratisch“ unterscheiden sich je nach
” ” ”
Zusammenhang (s. Polarisation (26.3) sowie 1/n2 (26.9)), in dem sie verwendet wer-
den. So ist der Pockels-Effekt von 2. Ordnung in der Polarisation (∼ χ2 E 2 ) und von
1. Ordnung (∆n ∼ rE) in Bezug auf die Brechzahl.
26.3 Frequenzmischung und Brechzahlmodulation 775
Abb. 26.5. Bauprinzip a) des optischen parametrischen Verstärkers (OPA) und b) des
optischen parametrischen Oszillators (OPO) mit Rückkopplung der Signalwelle (einfach
resonant) oder zusätzlich der Idlerwelle (zweifach resonant) und der Pumpwelle (dreifach
resonant)
1 1 2
= 2 − 3 dn
n2 n0 n0
Gleichsetzen mit (26.9) führt auf die feldstärkebedingte
n30 n3
Brechzahländerung |∆n| = r E + R 0 E2 (26.10)
2 2
Im Allgemeinen sind die elektrooptischen Konstanten r und R ebenso wie χ

und n Tensoren, die durch die Kristallsymmetrie bestimmt sind, so dass einige
Komponenten verschwinden oder übereinstimmen5 .
26.4 Der Pockels-Effekt
Der Pockels-Effekt resultiert aus dem linearen Term in (26.10), die Doppelbre-
chung wird hier durch ein elektrisches Gleichfeld E hervorgerufen. Der Effekt
kann als Spezialfall der Zweifach-Frequenzmischung angesehen werden, wobei ei-
nes der beteiligten Felder das der einfallenden Welle ist und das andere die Fre-
quenz null (Gleichfeld) aufweist. Das optische E-Feld kann hierbei schwach sein,
da das Gleichfeld so stark gewählt werden kann, dass es nichtlineares Verhalten
bewirkt. Der Effekt ist deshalb schon 1893 – also lange vor der Erfindung des
Lasers – entdeckt worden. Das starke Gleichfeld verschiebt die Kristallelektro-
nen so, dass entweder in einem sonst isotropen Kristall Doppelbrechung auftritt
(→Kerr-Effekt mit ∆n ∼ E 2 ) oder dass in einem bereits doppelbrechenden Kris-
tall neue optische Achsen entstehen (→Pockels-Effekt). Der Pockels-Effekt6 tritt
als Effekt 2. Ordnung nur in Materialien ohne Inversionssymmetrie auf, solche
Stoffe sind dann auch piezoelektrisch: Eine mechanische Spannung bewirkt eine
elektrische Ladungstrennung (elektrische Spannung) und Doppelbrechung.
Bei einer Ausführungsform der longitudinalen Pockels-Zelle wird die natürli-
che optische Achse des Kristalls parallel zum angelegten longitudinalen Feld E
ausgerichtet (s. Abb. 26.6). Daraufhin enstehen in der zu E senkrechten Ebene
schnelle und langsame Achsen (SA bzw. LA) mit erhöhter bzw. erniedrigter Pha-
sengeschwindigkeit. Fällt eine linear polarisierte Welle ein, deren Schwingungs-
ebene um 45◦ zu diesen ausgezeichneten Achsen gedreht ist, so wird sie in zwei
zueinander senkrecht polarisierte Teilwellen gleicher Amplitude aufgespalten. Da
5
%
Der lineare elektrooptische Tensor pij ist definiert durch ∆ n12 i = j pij Ej mit i =
1, 2, . . . , 6 und j = x, y, z. Bei Kristallen mit trikliner Symmetrie treten alle 18 mögli-
chen Tensorkomponenten auf; in der Zinkblende-Struktur (z.B. GaAs) braucht man
nur ein Element. Bei Inversionssymmetrie verschwinden alle Komponenten.
6
Man unterscheidet insgesamt 32 Kristallklassen, hiervon weisen 20 den Pockels-Effekt
auf.
26.4 Der Pockels-Effekt 777
Abb. 26.6. Schema einer Pockels-Zelle. Bei Anlegen einer elektrischen Spannung wird
das Medium doppelbrechend und die einfallende linear polarisierte Welle in zwei Kom-
ponenten in Richtung der schnellen (SA) und langsamen Achse (LA) aufgespalten (OA
= optische Achse)
für diese Teilstrahlen unterschiedliche Brechzahlen und Geschwindigkeiten gelten,

treten sie mit einer Phasenverschiebung δ aus dem Kristall aus:
U
Phasenverschiebung δ = 2πrn30 (26.11)
λ0
Hierbei ist U die angelegte Spannung und r die lineare elektrooptische Konstante
(s. (26.9)).
Beweis von (26.11): In Richtung der langsamen Achse nimmt n0 um ∆n zu, in der
anderen Richtung um ∆n ab. Dann ist δ = ∆kl = 2 λ2π0 ∆nl, wobei l die Kristalldicke
n3
ist. Mit ∆n = r 20 E aus (26.10) und Spannung U = El folgt dann (26.11). Beachten
Sie, dass δ unabhängig von l ist, da δ ∼ El und E = U/l.
Häufig gibt man die Halbwellenspannung UHW an, für die sich die Zelle wie
eine Halbwellenplatte verhält und einen Gangunterschied von λ/2 und damit
δ = π bewirkt. Aus (26.11) folgt dann die
λ0
Halbwellenspannung UHW = (26.12)
2rn30
Beispiel 26.2 Pockels-Zelle

Gegeben ist eine Pockels-Zelle aus KD*P (s. Tab. 26.2) mit 1 cm Dicke. Welche
Halbwellenspannung ist bei der Wellenlänge 633 nm erforderlich?
Lösung
Nach Tabelle 26.2 ist hier die lineare elektrooptische Konstante
r = 24,1 · 10−12 m
V und die Brechzahl n0 = 1,51. Einsetzen in (26.12) ergibt
6,33·10−7 m
UHW = 2·(24,1·10−12 m
= 3,81 kV. Man sieht, dass bei Pockels-Zellen
V )(1,51)
3
hohe Spannungen im kV-Bereich erforderlich sind.
Tabelle 26.2. Lineare elektrooptische Konstanten r † einiger wichtiger Materialien
Material (Wellenlänge falls r/pm/V Brechzahl n0

ungleich 633 nm)
KH2 PO4 (KDP) 11 1,51
KD2 PO4 (KD*P) 24,1 1,51
(NH4 )H2 PO4 (ADP) 8,56 1,48
(λ = 546 nm)
LiNbO3 (Lithiumniobat) 30,9 2,29
LiTaO3 (Lithiumtantalat) 30,5 2,18
GaAs (Galliumarsenid) 1,51 3,3
(λ = 10,6 µm)
ZnS (Zinksulfid) 2,1 2,36
(λ = 600 nm)
Quarz 1,4 1,54
†
r ist ein Tensor, dessen Symmetrie von der des Kristalls bestimmt wird. Hier
wurde nur die in den Pockelszellen verwendete Komponente angegeben.
Bei der Diskussion der Doppelbrechung (s. Abb. 15.22) wurde erklärt, dass
die Halbwellenplatte die Polarisationsebene um 90◦ dreht, falls sie die hier vor-
liegende 45◦ -Orientierung zur schnellen und langsamen Achse aufweist. Bringt
man die Pockels-Zelle zwischen gekreuzte Polarisatoren (s. Abb. 26.7), so sperrt
die Anordnung bei U = 0 und erreicht maximale Transmission für U = UHW .
Für beliebige Spannungen ist das austretende Licht elliptisch polarisiert und wird
dann teilweise vom Analysator durchgelassen. Im Endeffekt transformiert dieser
elektrooptische Pockels-Modulator somit eine Phasen- in eine Amplitudenmodu-
lation, wodurch eine veränderliche Signalspannung in Änderungen der Lichtin-
tensität umgewandelt wird.
Abb. 26.7. Pockels-Zelle zwischen gekreuzten Polarisatoren mit anliegender Halbwel-

lenspannung: Die einfallende vertikal polarisierte Welle verlässt die Pockels-Zelle hori-
zontal polarisiert und wird vom Analysator durchgelassen. Für Spannungen 0 < U <
UHW trifft ein elliptisch polarisierter Strahl auf den Analysator und kann ihn nur teil-
weise passieren
Die von einer Pockels-Zelle durchgelassene Intensität wird beschrieben durch

2 π U
Intensitätsmodulation I = Imax sin (26.13)
2 UHW
und ist in Abb. 26.8 wiedergegeben. Bei der Anwendung als Modulator muss
man versuchen, den Arbeitspunkt P in den linearen Teil der Kennlinie zu legen,
um ein System mit linearem Antwortverhalten zu bekommen. Dies lässt sich mit
einer konstanten Vorspannung UVW (Viertelwellenspannung) oder – einfacher –
mit einer zusätzlichen λ/4-Platte zwischen Modulator und Polarisator erreichen.

Die Modulationsfrequenz kann hierbei größer 10 GHz sein.
Abb. 26.8. Modulation des Transmissionsgrades τ einer Pockels-Zelle nach Abb. 26.7.
Bei U = 0 ist die Anordnung lichtundurchlässig (τ = 0). Mit einer Vorspannung UVW
oder einer Viertelwellenplatte zwischen Polarisator und Modulator verschiebt man den
Arbeitspunkt P in den linearen Teil der τ -U -Kurve bei τ = 0,5 (→Linearisierung der
Kennlinie)
Beweis von (26.13): Nach Abb. 26.6 sind die Amplituden in SA- und LA-Richtung
√
gleich Ê0 / 2, wobei Ê0 die einfallende Amplitude ist. Der Analysator lässt nur die
√
bei Eintritt in den Kristall antiparallelen x-Komponenten von Ê0 / 2 passieren. Beim
Durchgang entsteht die Phasenverschiebung δ und wir erhalten für die austretende

Amplitude: Ê x = √Ê0 √
1
2 2
(1 − e−jδ ) = Ê20 e−jδ/2 (ejδ/2 − e−jδ/2 ) = jÊ0 e−jδ/2 sin δ2 , wobei
δ= U
UHW
π. Mit I ∼ Êx2 und Imax = I0 folgt dann (26.13).
Neben der beschriebenen Pockels-Zelle, bei der mittels ringförmiger oder

transparenter Elektroden das Feld in Strahlrichtung anliegt, werden auch Zel-
len mit transversalem Feld verwendet, hier lassen sich die Elektroden leichter
anbringen; die Zellen haben jedoch eine größere Kapazität und damit längere
Schaltzeiten.
Abb. 26.9. Pockels-Zelle als Güteschalter. Der Laser verstärkt nur horizontal polari-
sierte Wellen, die im Fall a) (mit U = 0) ausgekoppelt werden und nicht zum Resona-
torspiegel gelangen. Bei Konfiguration b) wird bei U = UHW eine hohe Durchlässigkeit
erzeugt. Wiederholter Durchgang des reflektierten Laserstrahls durch das Lasermedium
führt zur Verstärkung durch stimulierte Emission und erzeugt einen Laserpuls hoher
Leistung. (Bei b) wurden zur besseren Übersicht einfallender und reflektierter Strahl
getrennt gezeichnet)
Zwei weitere verwandte Anwendungen der Pockels-Zelle sind in den Abb. 26.9
und 26.10 illustriert. In Abb. 26.9 arbeitet die Zelle als Güteschalter (Q-Switch),
der ein plötzliches (pulsartiges) Auskoppeln der im Lasermedium gespeicherten
Energie ermöglicht. Ohne äußere Spannung lässt der Pockels-Kristall die hori-
zontal polarisierten Strahlen eines gepumpten Laserstabes ohne Änderung ihres
Polarisationszustandes passieren und ein für vertikale Polarisation durchlässiges
Glan-Laserprisma koppelt das einfallende Licht aus. Bei Anlegen der Halbwel-
lenspannung wird das Laserlicht von der Zelle um 90◦ gedreht, kann daraufhin
das Prisma passieren und wird an den rechts und links befindlichen Endspiegeln
mehrfach reflektiert. Durch diese plötzliche Erhöhung der Güte wird die im La-
serstab gespeicherte Energie in kurzer Zeit durch stimulierte Emission abgerufen
und ein kurzer Lichtpuls hoher Leistung emittiert. Im Gegensatz hierzu ist der
Laserresonator in der fast identischen Anordnung von Abb. 26.10 bei ausgeschal-
teter Zelle in Resonanz und weist eine hohe Güte auf. Bei Einschalten der Zelle
wird die Polarisationsebene um 90◦ gedreht und die im Resonator befindliche
Lichtenergie über den polarisierenden Strahlenteiler ausgekoppelt (cavity dump-
ing).
Abb. 26.10. Energieauskopplung bei einem Laserresonator (cavity dumping). Bei aus-
geschalteter Pockels-Zelle liegt ein Resonator hoher Güte vor, in dem eine hohe Energie
gespeichert ist. Bei Anlegen der Halbwellenspannung wird die Polarisationsebene ge-
dreht und die Energie über das Glan-Prisma ausgekoppelt. (Die Güte wird hier redu-
ziert, während sie in Abb. 26.9 erhöht wurde)
Eine wichtige Konsequenz des Pockels-Effekts ist die Fotorefraktion, die Ent-
stehung einer evtl. stationären Brechzahländerung bei Belichtung. Wichtigstes
Material ist hier mit Eisen dotiertes Lithiumniobat (LiNbO3 :Fe2+ ,Fe3+ ). Bei
Belichtung werden aus den Fe2+ -Ionen Elektronen ins Leitungsband gebracht,
diese diffundieren in unbelichtete Bereiche und werden von den als Fallen (traps)
wirkenden Fe3+ -Ionen eingefangen. Durch diese Umladung (Fe2+ → Fe3+ bei
Belichtung, Fe3+ → Fe2+ bei Elektroneneinfang) entsteht ein inneres elektrisches
Feld, das aufgrund des Pockels-Effekts zu einer Brechzähländerung führt, deren
Lebensdauer von Temperatur und Bindungsenergie der Elektronen in den Fallen
abhängt. Der fotorefraktive Effekt wird u. a. zur Herstellung von Phasengittern
und zur Registrierung von Phasenhologrammen eingesetzt.
26.5 Der Kerr-Effekt 783
26.5 Der Kerr-Effekt
Abb. 26.11. Kerr-Zelle. Die Modulationsspannung erzeugt ein Feld, dessen Richtung
senkrecht zur Einfallsrichtung des Lichtes steht. Die feldinduzierte Doppelbrechung er-
zeugt eine Phasenmodulation, die durch das Polarisator-Analysator-Paar in eine Am-
plitudenmodulation umgewandelt wird
In isotropen Medien, wie Gläsern und Flüssigkeiten, treten keine Effekte 2. Ord-
nung und damit kein Pockels-Effekt auf. Die Polarisation (26.3) wird hier durch
einen Term 3. Ordnung (P3 ∼ χ3 E 3 ) modifiziert. Dies führt u.a. zum Kerr-
Effekt, der bereits 1875 von J. Kerr an Glas (wo der Effekt sehr klein ist, s. Tab.
26.3) entdeckt wurde. Kerr-Zellen (s. Abb. 26.11) arbeiten häufig mit Nitrobenzol
oder Schwefelkohlenstoff. Ein elektrisches Feld senkrecht zur Ausbreitungsrich-
tung des Lichtes führt zu einer teilweisen Ausrichtung der gestreckten Moleküle
und ruft damit eine Doppelbrechung mit der optischen Achse in Feldrichtung
hervor. Die unter 45◦ zur Feldrichtung linear polarisierte einfallende Welle wird
in die zueinander senkrecht polarisierten ordentlichen (Brechzahl no ) und au-
ßerordentlichen (nao ) Strahlen gleicher Amplitude aufgespalten, die dann beim
Austritt eine Phasenverschiebung δ aufweisen. Man schreibt:
Kerr-Effekt ∆n = nao − no = KE 2 λ (26.14)
Hierbei ist K die Kerr-Konstante. Der Vergleich mit (26.10) zeigt, dass K ∼ R/λ.
Die Phasenverschiebung δ = ∆kl = 2π λ ∆nl folgt aus (26.14) mit dem Plattenab-
stand d und E = U/d zu
Phasenverschiebung 2πKU 2 l
δ= (26.15)
d2
Für δ = π erhält man wieder eine Halbwellenplatte mit der Halbwellenspannung

d
UHW = √ (26.16)
2Kl
Beispiel 26.3 Kerr-Zelle

Berechnen Sie die Halbwellenspannung für eine Kerr-Zelle mit Nitrobenzol
(s. Tab. 26.3), wenn gilt d = 1 cm, l = 3 cm und Licht der Na-D-Linie (λ =
589 nm) verwendet wird.
Lösung
Mit K = 2,4 · 10−12 Vm2 erhält man aus (26.16):
10−2 m
UHW = √ −12
= 26,4 kV, also erheblich größere Spannungen
2·2,4·10 m/V ·0,03 m
2
als bei Pockelszellen.
Tabelle 26.3. Kerr-Konstante K ausgewählter Materialien
Material (λ = 589 nm, 20◦ C) K in pm/V2

Stickstoff (N2 ) bei 4 · 10−6
Normalbed.
Glas (typisch) 10−3
Schwefelkohlenstoff (CS2 ) 0,036
Wasser (H2 O) 0,052
Nitrotoluol (C7 H7 NO2 ) 1,4
Nitrobenzol (C6 H5 NO2 ) 2,4
Kerr-Zellen können in gleicher Weise wie Pockels-Zellen als Lichtmodulatoren

verwendet werden. Wegen der höheren erforderlichen Spannungen und Materi-
alproblemen (Nitrobenzol ist flüssig, giftig und explosiv!) werden heute über-
wiegend Pockels-Zellen eingesetzt. Kerr-Zellen lassen sich bis zu Grenzfrequen-
zen von etwa 10 GHz modulieren und können als sehr schnelle Lichtschalter und
-modulatoren eingesetzt werden. Für Grenzfrequenzen im 100 kHz-Bereich lassen
sich ferroelektrische Keramiken (PLZT-Elemente aus Blei/Lanthan-Zirkonat/Ti-
tanat) mit großen Kerr-Konstanten (K > 100 pm/V2) verwenden.
26.6 Faraday-Effekt 785
Die auf der Nichtlinearität 3. Ordnung beruhende in E quadratische Brech-

zahländerung (26.10) ist nicht auf statische oder niederfrequente Felder be-
schränkt, sondern tritt auch bei optischen Frequenzen auf. Wegen I ∼ E 2 er-
halten wir dann aus (26.10) für die intensitätsabhängige Brechzahländerung, ge-
nannt
optischer Kerr-Effekt n(I) = n + n2 · I (26.17)
mit n2 ∼ R ∼ χ2 . Durch diesen Effekt kann eine Kerr-Linse entstehen: Ein

Laserstrahl mit Gauß- oder Paraboloid-Verlauf der Intensität erzeugt eine GRIN-
Linse (s. Kap 24.8), die evtl. zur Selbstfokussierung und so hohen Intensitäten
führt, dass ein teures Bauelement zerstört wird.
26.6 Faraday-Effekt
Im Gegensatz zum elektrooptischen Kerreffekt gilt beim magnetooptischen Fa-

radayeffekt auch in isotropen Materialien ein linearer Zusammenhang zwischen
Brechzahländerung und magnetischer Induktion7 (∆n ∼ B). Experimentell be-
obachtet man, dass die Polarisationsebene linear polarisierten Lichtes bei Durch-
gang durch einen in einem Magnetfeld befindlichen Stoff gedreht wird. Hierbei
tritt die maximale Drehung bei Ausbreitung parallel zum B-Feld auf und das
Licht bleibt linear polarisiert. Der Drehwinkel β hängt von der Probendicke l
und der magnetischen Induktion B ab:
Faraday-Drehung β = V Bl (26.18)
V ist die Verdetsche Konstante (mit [V ] = rad/(T · m) oder Grad/(T · m), häufig
noch Winkelmin./(Gauß · cm)), die – wie die elektrooptischen Konstanten – von
Wellenlänge und Temperatur abhängt.
Ein interessanter Aspekt der Faraday-Drehung ist die Tatsache, dass für einen
vorgegebenen Stoff der Drehsinn um die Magnetfeldachse nicht von der Ausbrei-
tungsrichtung des Lichtes relativ zum Magnetfeld abhängt. Damit addieren sich
die Drehungen bei wiederholtem Durchgang in Hin- und Rückrichtung. Dies ist
bei dem verwandten Effekt der optischen Aktivität (s. Kap. 15.6) nicht der Fall.
Optische Rotation ist Folge der zirkularen Doppelbrechung (s. Kap. 15.6),
dem Auftreten unterschiedlicher Brechzahlen für links- und rechtszirkular polari-
siertes Licht, die zu unterschiedlichen Ausbreitungsgeschwindigkeiten führen. Da
7
Die magnetischen Analogien zum Kerr-Effekt, also ∆n ∼ B 2 sind der Voigt-Effekt
(in Gasen) und der Cotton-Mouton-Effekt (in Flüssigkeiten). Auch hier steht das
Magnetfeld senkrecht zur Lichtrichtung.
linear polarisiertes Licht als Überlagerung von zwei zirkular polarisierten Wellen
beschrieben werden kann, führt dann deren gegenseitige Phasenverschiebung zu
einer Drehung der Polarisationsebene.
Aus der klassischen Theorie der optischen Konstanten erhält man für die
Verdetsche Konstante8
e dn
Verdetsche Konstante V = λ (26.19)
2mc0 dλ
e
Hierbei ist m = 1,759 · 1011 As dn
kg die spezifische Ladung des Elektrons und dλ die
Dispersion (ohne Magnetfeld). Es ist interessant, dass der Einfluss des Magnet-
feldes im Wesentlichen durch diese feldunabhängige Dispersion beschreibbar ist.
Tabelle 26.4. Verdet-Konstante V ausgewählter Materialien
Material V in Grad/(T·m)
bei λ = 589 nm
Wasser 218
Kronglas 268
Flintglas 528
CS2 705
CCl4 267
NaCl 598
KCl 476
Quarz 277
ZnS 3750
Der Faraday-Effekt wird, ähnlich wie die Pockels-Zelle, zur Lichtmodulation ver-
wendet, wobei jedoch ein magnetisches Feld bei sehr hohen Frequenzen schwie-
riger modulierbar ist. Bei der in Abb. 26.12 gezeigten Anordnung könnte der
Faraday-Rotator zwischen gekreuzten Polarisatoren als Schalter verwendet wer-
den.
Eine wichtige Anwendung des Faraday-Effekts ist der Bau von optischen Iso-
latoren (Lichtfallen, optische Diode), die u.a. zur Unterdrückung unerwünsch-
ter – (und z.B. für Halbleiterlaser und andere optische Komponenten gefährli-
cher) – Rückreflexionen (Retropulse) dienen. Bei der Realisierung (s. Abb. 26.13)
8
Pedrotti und Bandettini: Faraday Rotation. . .
26.6 Faraday-Effekt 787
Abb. 26.12. a) Schematischer Aufbau eines Faraday-Rotators. Der angegebenen Dre-

hung (im Uhrzeigersinn bei Blick entgegen der Licht- und B-Richtung) entspricht eine
positive Verdet-Konstante. b) Drehung der Polarisationsebene um 90◦
wird die oben genannte Additivität der Teildrehungen ausgenutzt: Ein Faraday-
Rotator, der um 45◦ dreht, befindet sich zwischen Polarisatoren, die um 45◦
gegeneinander verdreht sind. Die von links einfallende Welle wird dann vom Ana-
lysator durchgelassen, rechts vom Rotator reflektiertes (Streu-)Licht wird hinge-
gen von diesem nochmals um 45◦ in derselben Richtung gedreht und daraufhin
vom Polarisator gesperrt. Die Güte der optischen Isolation wird u.a. durch die
Wellenlängenabhängigkeit der Verdet-Konstante begrenzt. So erreicht man z.B.
mit YIG-Kristallen (YIG=Yttrium-Eisen-Granat) breitbandig Dämpfungen von
30 dB und schmalbandig von 60 dB. Durch Kaskadierung sind sogar über 90 dB
erreichbar.
Beispiel 26.4 Faraday-Rotator
Gesucht ist die Länge eines 45◦ -Rotators aus SF 58-Flintglas mit der Verdet-
Konstante V = 32,6 rad/(T·m), der für ein Feld von 0,9 T in einem optischen
Isolator verwendet werden soll.
Lösung
β
Aus l = VB
folgt mit β = 0,785 rad: l = 2,68 cm.
Abb. 26.13. Um 45◦ drehender Faraday-Rotator als optischer Isolator (Lichtfalle).

Einfallendes Licht wird vom Analysator durchgelassen, reflektiertes Licht nochmals um
45◦ gedreht und vom Polarisator gesperrt
26.7 Akustooptische Effekte

Unter Photoelastizität (s. Kap. 15.7) versteht man die Änderung der Brechzahl
durch eine mechanische Spannung. Auf diesem Effekt beruht der akustooptische
Effekt, die Wechselwirkung von optischen und akustischen Wellen. Longitudi-
nale (Ultra-) Schallwellen, die im Allgemeinen von einem piezoelektrischen Ul-
traschallwandler emittiert werden, erzeugen in einem Medium (Kristall, Flüssig-
keit) periodische Verdichtungen und Verdünnungen, die zu (sehr kleinen) Brech-
zahländerungen führen, an denen die Lichtwellen gestreut werden. Dies bezeich-
net man als Brillouin-Streuung 9 .
Bei dieser akustooptischen Wechselwirkung durchsetzt die Lichtwelle das
streuende Medium mit einer Geschwindigkeit, die etwa der 105 fachen Schall-
geschwindigkeit cs entspricht, deshalb können die Brechzahlmodulationen (außer
beim Doppler-Effekt) als stationär angesehen werden.
Je nach Dicke des streuenden Mediums und der Stärke der Wechselwir-
kung unterscheidet man bei der theoretischen Behandlung zwei Grenzfälle: den
Raman-Nath-Bereich bei kleiner und den Bragg-Fall bei großer Probendicke. Im
Raman-Nath-Fall führen die Brechzahländerungen lediglich zu einer Änderung
der Phasengeschwindigkeit, das Medium verhält sich dann wie ein Transmissions-
Phasengitter (s. Kap. 17.5), dessen Gitterkonstante g gleich der Schallwellenlänge
λs ist. Senkrecht zur Richtung der Schallwelle einfallendes Licht wird an dem Ul-
traschallgitter gebeugt und das Fraunhofer-Beugungsbild in der Brennebene einer
9
Diese Bezeichnung unterscheidet – wie Brillouin – nicht zwischen der Streuung an
kohärenten und inkohärenten Ultraschallwellen. In der Regel bezeichnet man heute
mit Brillouin-Streuung die Wechselwirkung von Licht mit thermischen Gitterschwin-
gungen, den akustischen Phononen.
26.7 Akustooptische Effekte 789
Linse registriert (s. Abb. 26.16). Entsprechend der Gittergleichung (16.49) gilt
dann für die Winkel der
λ
Beugungsmaxima sin αmax = m mit m = 0, ±1, ±2, . . . (26.20)
λs
Hierbei wurde die Gitterkonstante entsprechend g = λs = cs /fs durch die Größen

des Schallfeldes ersetzt.
Bei großer Dicke können die Bereiche erhöhter Brechzahl als – zur Ausbrei-
tungsrichtung des Schalls senkrechte – Ebenen angesehen werden, an denen die
Lichtwellen teilweise reflektiert werden (s. Abb. 26.14). Dies ist ähnlich der Bragg-
Reflexion von Röntgen- oder Materiewellen an den Netzebenen eines Kristalls.
Eine gebeugte Welle tritt in den Richtungen auf, in denen für eine einzelne Ebene
das Reflexionsgesetz erfüllt ist und die Teilwellen von aufeinander folgenden Ebe-
nen konstruktiv interferieren, also der Gangunterschied ∆ = mλ beträgt. Nach
Abb. 26.14 ist ∆ = 2λs sin θ; θ bezeichnet man als Bragg-Winkel. Mit m = 1
erhalten wir die
λ fs
Braggsche Gleichung sin θ = =λ (26.21)
2λs 2cs
Für die Akustooptik wurde diese Gleichung zuerst von Brillouin 1921 angegeben,
sie ist identisch mit der Bragg-Gleichung bei der Röntgenbeugung10(für m = 1).
Gemäß der Herleitung sind in (26.20) und (26.21) für Wellenlänge λ und Winkel
θ die in dem Medium gemessenen Größen einzusetzen. Wegen der Lichtbrechung
beim Ein- und Austritt gelten dieselben Gleichungen aber auch für die außerhalb
(i. Allg. Luft) gemessenen Größen, falls die Ultraschall-Zelle von planparallelen
Flächen begrenzt ist (s. Üb. 26.14).
Die Bragg-Gleichung lässt sich auch als Folge der Phasenanpassung (phase
matching) der Licht- und Schallwelle verstehen. Einfallende und reflektierte Licht-
welle interferieren als schräge“ Wellen (s. Kap. 9.6) und bilden in y-Richtung,
”
der Ausbreitungsrichtung des Schalls, eine stehende Welle mit dem Abstand g
λ
der Bäuche von: g = 2 sin θ (s. (9.41)). Phasenanpassung ist gegeben, wenn g =
Schallwellenlänge λs . Damit erhalten wir dann wieder (26.21).
Die Bragg-Bedingung lässt sich darüber hinaus auch im Teilchenbild herleiten:
Die einfallende Lichtwelle mit dem Wellenvektor k kann als Strom von Photonen
betrachtet werden. Jedes Photon (s. Kap. 1) hat die Energie ω und den Impuls
p = k ( = h/(2π) mit h = Plancksches Wirkungsquantum). In gleicher Weise
10
Bei der Röntgenbeugung schreibt man die Bragg-Gleichung meist in der Form
2d sin θ = mλ (mit m = 1, 2, . . . und d = Netzebenenabstand). Lichtbeugung im
Bragg-Bereich tritt nur für m = 1 auf, da die Lichtstreuung – statt an diskreten
Netzebenen – kontinuierlich an einem Gitter großer Dicke mit sinusförmigem Brech-
zahlverlauf erfolgt.
Abb. 26.14. Brechzahländerungen eines Mediums beim Durchgang einer harmonischen

Schallwelle (links) und Streuung einer einfallenden optischen Welle an den induzierten
Ebenen“ mit dem Gangunterschied ∆ zwischen 2 Teilwellen (rechts). Vektordiagramm:
”
Wellenvektor- und Impulserhaltung bei der Streuung. (k, k , ks sind die Wellenvektoren
der einfallenden und reflektierten Lichtwelle sowie der nach oben laufenden Schallwelle;
Impuls einer Welle: p = k)
kann die Schallwelle als Strom von Quasiteilchen, den Phononen, mit Energie ωs
und Impuls ks beschrieben werden. Phononen beschreiben die unregelmäßigen
thermischen Schwingungen eines Kristallgitters. Ein beliebiger Schwingungszu-
stand des Kristalls lässt sich als Überlagerung von harmonischen Eigen- oder
Normalschwingungen darstellen, deren Quantisierung zu den Phononen führt.
Die akustooptische Wechselwirkung ist dann als Stoß zwischen Photonen und
Phononen zu verstehen, für den Energie- und Impulssatz erfüllt sein müssen. Der
Impulssatz führt auf
pvor = pphot + pphon = k + ks = pnach = pphot = k

und damit zu k + ks = k (s. Vektordiagramm Abb. 26.14 und 26.15) mit der
Interpretation, dass ein Photon und ein Phonon zusammentreffen, das gestreute
Photon (mit k ) weiterfliegt und das Phonon vernichtet (absorbiert) wird. Ent-
sprechend wäre die Gleichung k = k + ks so zu verstehen, dass ein Lichtquant
unter Emission eines Phonons gestreut wird. Wir können das Resultat des Im-
pulssatzes zusammenfassen zu :
k-Erhaltung k = k ± ks (26.22)

26.7 Akustooptische Effekte 791
Abb. 26.15. Vektordreieck der Wellenvektoren in der Näherung k = k (elastische

Streuung), was zur Bragg-Beugung führt. θ ist der Bragg-Winkel
Der Energiesatz fordert bei Phononenabsorption
Wvor = ω + ωs = Wnach = ω

bei Emission des Phonons wird die Energie des Lichtquants erniedrigt. Wir er-
halten hieraus für die Frequenz f der gestreuten Lichtwelle
Doppler-Effekt f = f ± fs (26.23)
Das austretende Photon erfährt demnach eine – evtl. sehr kleine – Frequenzände-
rung der Größe fs . Wir haben damit den Doppler-Effekt im Teilchenbild herge-
leitet. Bei Annäherung der Schallwelle (Phononenabsorption) nimmt die Licht-
frequenz zu, bei Entfernung ab. Es ist interessant, dass hier – im Gegensatz zum
Doppler-Effekt bei bewegtem Sender – die Frequenzänderung nicht vom Winkel
zwischen Bewegungs- und Beobachtungsrichtung abhängt (s. Üb. 26.11).
Zusammenfassend können wir feststellen, dass durch (26.22) und (26.23) die
Erzeugung und Vernichtung von Phononen durch einfallende Photonen beschrie-
ben wird, die Photonen erfahren hierbei Brillouin-Streuung.
Bei der Herleitung der Bragg-Gleichung aus diesen Gleichungen berücksichti-
gen wir, dass die Frequenz der Lichtwellen (≈ 500 THz) wesentlich größer ist als
die der Schallwellen ( GHz) bzw. akustischen Gitterschwingungen ( 1012 Hz)
und damit eine praktisch elastische Streuung mit
ω ≈ ω und k ≈ k
auftritt. In dem daraufhin gleichschenkligen Vektordreieck (s. Abb. 26.15) ist
dann ks = 2k sin θ; mit k = 2π/λ gilt dann für die Wellenlängen: λ = 2λs sin θ,
also die Bragg-Gleichung (26.21) der Akustooptik.
Beispiel 26.5 Bragg-Winkel

Um einen Eindruck von der Größe der Beugung zu bekommen, soll der
Bragg-Winkel für einen typischen Fall mit einfallendem Licht der Wellenlänge
λ = 550 nm, Schallfrequenz fs = 200 MHz und Schallgeschwindigkeit cs =
3000 m/s berechnet werden.
Lösung
Die Schallwellenlänge
λs = cs /fs = 15 µm. Nach (26.21) ist dann
θ = arcsin 2λs = 1,05◦ und der Ablenkwinkel 2θ = 2,1◦ .
λ
Abb. 26.16. Modulation von Licht durch ein Ultraschallgitter im Raman-Nath-Bereich.

Das den Ultraschall(US)-Wandler modulierende HF-Signal bewirkt Amplitudenmodu-
lation des Ausgangsstrahls in 0. Ordnung (nur 0. und ±1. Ordnung gezeichnet)
Anwendung findet der akustooptische Effekt meist im Bragg-Fall bei der Modula-
tion von Licht in Bezug auf Amplitude, Frequenz und Richtung. Abb. 26.16 zeigt
eine Möglichkeit der Amplitudenmodulation im Raman-Nath-Fall. Der Spalt
lässt nur die 0. Ordnung durch, deren Intensität durch das modulierende Signal
verändert wird, da der Anteil des in höhere Ordnungen umgeleiteten Lichtes
variiert. Zahlreiche Anwendungen machen von der Möglichkeit der Strahlablen-
kung Gebrauch. Da im Bragg-Fall nur die 0. und 1. Ordnung auftritt, ist hiermit
auch ein einfacher Lichtschalter zu realisieren, der z.B. in Laserdruckern ein-
gesetzt wird. Nach (26.21) ist der Bragg-Winkel abhängig von Lichtwellenlänge
26.8 Nichtlineare optische Phasenkonjugation 793
und Schallfrequenz. Verwendet man am Ausgang einen Linien-(CCD-) Detek-

tor, so erhält man bei fester Lichtwellenlänge einen Spektrumanalysator , der das
– in eine Schallwelle mit gleichem Frequenzspektrum transformierte – modulie-
rende HF-Signal analysiert. Lässt man die Schallfrequenz konstant und arbeitet
mit variabler Lichtfrequenz, so hat man ein einfaches akustooptisches Gitter“-
”
Spektrometer 11 realisiert, bei dem sin θ ∼ λ. Die Frequenzverschiebung durch den
Doppler-Effekt (26.22) findet Anwendung bei der Heterodyn-Detektion und der
Geschwindigkeitsmessung nach dem Doppler-Prinzip.
Abb. 26.17. Energieauskopplung mit Hilfe eines akustooptischen Deflektors, der im

eingeschalteten Zustand (2) das Licht aus dem Resonator lenkt und die Güte herabsetzt
Abbildung 26.17 zeigt die Anwendung des akustooptischen Deflektors zur

Energieauskopplung (cavity dumping) aus einem Laserresonator (vgl. auch Abb.
26.10). Bei ausgeschalteter Bragg-Zelle wird Strahl (1) laufend an den Spiegeln
des Resonators reflektiert und baut durch stimulierte Emission eine stehende
Welle hoher Energie auf. Bei Einschalten der Schallwelle entsteht der abgelenkte
Strahl (2), der die Energie nach außen trägt.
26.8 Nichtlineare optische Phasenkonjugation

Die Optische Phasenkonjugation beruht auf einem nichtlinearen Prozess 3. Ord-
nung und bietet einige faszinierende Anwendungen. Erst Anfang der siebziger
Jahre erschienen hierzu in der Sowjetunion erste Veröffentlichungen. Der Name
rührt daher, dass eine Lichtwelle erzeugt werden soll, deren ortsabhängiger Anteil
zur einfallenden Welle – mathematisch gesprochen – konjugiert komplex ist. Dies
bedeutet, dass eine neue Welle entsteht, die exakt Richtung und Phasenfaktor der
einfallenden Welle umkehrt; dadurch wird die konjugierte Welle das genaue Ab-
bild der Originalwelle und reproduziert an jedem Punkt exakt die ursprüngliche
Wellenfront.
11
bei linearem Zusammenhang zwischen Beugungs- und Schallintensität.
Wir betrachten den Prozess zunächst als eine besondere Art der Reflexion,
die von einem phasenkonjugierenden Spiegel hervorgerufen wird. Um die Ein-
zigartigkeit des Spiegels zu verstehen, betrachten wir in Abb. 26.18 Reflexionen
an gewöhnlichen Spiegeln. In a) wird eine ebene Welle mit E 1 = Ê ej(ωt−kz) an
einem idealen Planspiegel reflektiert. Die reflektierte Welle ist dann wieder eine
ebene Welle, jedoch mit entgegengesetzter Ausbreitungsrichtung. Mathematisch
muss zur Beschreibung dieser Richtungsumkehr das Vorzeichen des komplexen
Exponenten jkz geändert werden. Man sieht, dass – bis auf das Vorzeichen des ωt-
Terms – die reflektierte Welle zur Originalwelle konjugiert komplex ist und die
obengenannten Eigenschaften der phasenkonjugierten Welle aufweist. b) zeigt
denselben Prozess für eine einfallende Kugelwelle. Um nach der Reflexion die
genaue Kopie der ursprünglichen Welle zu bekommen, muss hier ein Konkavspie-
gel gewählt werden, dessen Krümmung mit dem der einfallenden Welle überein-
stimmt. Für eine Wellenfront beliebiger Form (s. Abb. 26.18 c ist die Amplitude
Ψ (r) komplex und enthält Amplitude und Phasenfaktor, die ihre Abweichung
von einer ebenen Welle beschreiben. Wir können uns eine solche Welle als ebene
Welle vorstellen, die beim Durchgang durch ein Medium – durch Beugung oder
Brechung – verzerrt wurde. Phasenkonjugation bedeutet nun, dass wir sowohl bei
Ψ (r) als auch jkz – also beim ortsabhängigen Anteil der Wellenfunktion – zum
konjugiert Komplexen übergehen müssen. Um dies mit gewöhnlichen Spiegeln zu
erreichen, müssten Spiegel zur Verfügung stehen, die zu jedem beliebigen Zeit-
punkt jede Form der einfallenden Wellenfront nachbilden können. Ideale phasen-
konjugierende Spiegel müssen mithin momentan und kontinuierlich zu beliebigen
einfallenden Wellen die konjugierte Welle erzeugen.
Die in Abb. 26.18 wiedergegebenen Gleichungen der konjugierten Wellen las-
sen erkennen, dass man hierzu physikalisch äquivalente Wellen erhält, wenn man
den räumlichen Anteil ungeändert lässt und das Vorzeichen der Zeit umkehrt.
Man bezeichnet deshalb die phasenkonjugierte Welle auch als zeitgespiegeltes
”
Abbild“ der einfallenden Welle. Würde man eine Videoaufnahme der einfallen-
den Welle rückwärts ablaufen lassen, so sähe man die konjugierte Welle.
Abbildung 26.19 a bringt eine weitere Gegenüberstellung von herkömmlichem
und konjugierendem Spiegel. Bei ersterem würde eine divergente Wellenfront
nach der Reflexion weiter divergieren, während sie im anderen Fall konvergie-
ren und zu ihrem Ausgangspunkt zurücklaufen würde. Dieser Unterschied wird
in Abb. 26.19 b verdeutlicht, wo eine Person in die beiden unterschiedlichen Spie-
gel blickt. Beim gewöhnlichen Spiegel sieht man bekanntlich sein Spiegelbild,
beispielsweise wird das von der Nasenspitze divergent ausgehende Licht nach der
Spiegelung vom Auge empfangen. Beim Phasenspiegel würden diese Lichtbündel
wieder auf der Nasenspitze zusammenlaufen, das Auge könnte nur das von sei-
ner Pupille gestreute Licht sehen und dies als gleichmäßig beleuchteten Spiegel
empfinden.
Optische Phasenkonjugation lässt sich auch als Echtzeit-Holografie verstehen.
Abb. 26.20 zeigt Aufnahme und Wiedergabe eines konventionellen Hologramms
Abb. 26.18. Drei Beispiele für die Erzeugung der Phasenumkehr der einfallenden Welle
durch einen gewöhnlichen Spiegel, bei dem die einfallenden Strahlen überall senkrecht
auftreffen müssen. Ein phasenkonjugierender Spiegel erzeugt in jedem Moment Phasen-
umkehr für beliebige einfallende Wellen
(s. Kap. 13.3): In (1) wird der Film gleichzeitig mit Referenz- und Objektwelle
bestrahlt, die interferieren und ein komplexes Interferenzmuster in der Filmemul-
sion erzeugen. Bei (2) wurde der Film entwickelt und das Hologramm fixiert.(3)
zeigt die übliche Art der Rekonstruktion des Hologramms, bei der es mit der
Referenzwelle beleuchtet wird und das reelle Bild gespiegelt auftritt. Dreht man
die Richtung der Referenzwelle um (4), so erscheint das reelle Bild exakt an
der Stelle des ursprünglichen Objekts; wir haben die phasenkonjugierte Welle
erzeugt. Bei der Phasenkonjugation treten die Prozesse (1), (2) und (4) gleich-
zeitig oder in Echtzeit auf. Abb. 26.21 zeigt den phasenkonjugierenden Spiegel,
Abb. 26.19. Unterschiede in der Funktionsweise eines gewöhnlichen und eines pha-
senkonjugierenden Spiegels a) bei der Reflexion einer divergenten Welle und b) bei der
Bilderzeugung
Abb. 26.20. Konventionelle Holografie mit den Schritten: (1) Aufnahme des Holo-
gramms, (2) Entwicklung, (3) und (4) Rekonstruktion nach zwei verschiedenen Metho-
den
der von gegenläufigen Lichtbündeln (1) und (2), die an die Stelle der Referenz-
strahlen in Abb. 26.20 treten, bestrahlt wird. Entsprechend übernehmen (3) und
(4) die Rolle von Objekt- und Bildstrahl. (1) und (3) interferieren unter Bildung
eines Echtzeithologramms (z.B. Phasenhologramm), an dem der Pumpstrahl (2)
Bragg-Reflexion erfährt und die Ausgangswelle (4) als konjugiert komplexe Ein-
gangswelle erzeugt. Hierbei ist die Rolle von (1) und (2) vertauschbar, d.h. (2)
und (3) erzeugen das Hologramm, an dem (1) gestreut wird.
Abb. 26.21. Echtzeitholografie oder Phasenkonjugation. Die Vier-Wellen-Mischung,

die die Ausgangswelle (4) erzeugt, erfolgt simultan. (4) entspricht dem reellen Bild bei
der konventionellen Holografie
Abb. 26.22. Standardgeometrie für Phasenkonjugation durch Vier-Wellen-Mischung.

Die Pumpwellen 1 und 2 laufen antiparallel und sind wesentlich stärker als die Signal-
welle 3. 4 ist die phasenkonjugierte Ausgangswelle
Die geschilderte Technik zur Erzeugung der Phasenkonjugation wird als Vier-
Wellen-Mischung bezeichnet, da sie 4 wechselwirkende Wellen in einem nichtli-
nearen Medium umfasst (s. Abb. 26.22). Zwei der Strahlen sind Pump- oder Re-
ferenzstrahlen, die aus entgegengesetzten Richtungen einfallen. In der Regel sind
sie ebene Wellen und haben dieselbe Wellenlänge wie die Objekt- oder Signal-
welle, deren Phasenkonjugierte gesucht ist. Die Einfallsrichtung der Signalwelle
ist beliebig, sie legt dann die Richtung der Ausgangswelle fest. Die Amplituden
A1 und A2 der Pumpwellen sind wesentlich größer als die der beiden anderen, so
dass sie als konstant angesehen werden können. Die Amplitude der Ausgangswelle
wird dann:
A4 ∼ A1 A2 A∗3 (26.24)
Sind die beiden Pumpwellen gegenläufige ebene Wellen gleicher Amplitude Ê, so
wird A2 = A∗1 und A4 = Ê 2 A∗3 , also – bis auf eine unwesentliche Konstante – die
phasenkonjugierte Welle. Räumliche oder zeitliche Modulation einer oder beider
Pumpwellen moduliert dann auch die Ausgangswelle.
Vergleich von (26.24) und (26.2) zeigt, dass für diese Wechselwirkung Nichtli-
nearität 3. Ordnung (Kerr-Effekt) geeignet ist. Da die Kerr-Konstante sehr klein
ist, verwendet man statt dessen den fotorefraktiven Effekt, also einen Effekt 2.
Ordnung. Wir können uns vorstellen, dass Signal- und eine der Pumpwellen ein
Phasengitter erzeugen, an dem die andere Pumpwelle gebeugt wird und so die
phasenkonjugierte Welle generiert.
Einige Eigenschaften des konjugierten Strahles führen zu interessanten An-
wendungen, wie z.B. bei der Korrektur von Aberrationen sowie der Zielfindung
und Zielverfolgung. Zunächst werde ein transparentes aber verzerrendes Medium,
wie Milchglas, untersucht, das von der Signalwelle auf dem Weg zum konjugie-
renden Spiegel durchsetzt wird. Obwohl die Welle beim Durchgang durch das
Glas erheblich gestreut und verzerrt wurde, wird sie von diesem Spiegel so re-
flektiert, dass sie nach erneutem Durchgang durch den Glaskörper wieder als die
ursprüngliche Welle austritt, die Verzerrung also geheilt“ wird. Strahlen, die
”
ein System mit starken Abbildungsfehlern durchlaufen haben, laufen nach Refle-
xion an einem konjugierenden Spiegel durch dasselbe System und haben wieder
die Ausgangsform. Dies gilt insbesondere auch für Lichtstrahlen, die von einer –
evtl. auch bewegten – Punktquelle ausgehen, und trotz Streuung, Beugung und
Bewegung im Ausgangspunkt zusammenlaufen und damit die bereits erwähnte
Eigenschaft der Zielfindung und Zielverfolgung aufweisen.
Abbildung 26.23 illustriert das Prinzip der selbstgesteuerten Zielfindung am
Beispiel der Fokussierung eines hochenergetischen Laserstrahls, z.B. zur Kern-
fusion von Wasserstoff. Ein Laserverstärker erzeugt bei hohen Energien immer
Strahlen mit verzerrten Wellenfronten, die nicht exakt fokussierbar sind. Ein
zusätzlich verwendeter schwacher Führungslaser lässt sich jedoch gut auf das
Objekt fokussieren; das gestreute Licht durchsetzt einen oder mehrere Laser-
verstärker, wird verstärkt (und verzerrt), dann an einem phasenkonjugierenden
Spiegel reflektiert und nach erneuter Verstärkung wieder im Zielpunkt vereinigt.
Hierbei ist vorausgesetzt, dass sich die Eigenschaften des Verstärkers während
der Durchlaufzeit des Lichtes nicht verändern.
Abb. 26.23. Zielfindung mittels eines Führungslasers und eines phasenkonjugierenden

Spiegels
Eine etwas andere Betrachtungsweise führt auf eine ganze Reihe von Anwen-
dungen dieses Schemas. Der Führungslaser sei an Bord eines Satelliten und der
phasenkonjugierende Laserverstärker in der Bodenstation. Der Satellit kann dann
eine phasenkonjugierte Rückwelle von der Bodenstation anregen, die von den Ver-
zerrungen durch atmosphärische Turbulenz und den Laserverstärker befreit ist.
Dies ermöglicht nicht nur die Satellitenverfolgung, sondern auch die Kommuni-
kation mit der Bodenstation. Moduliert man einen der Pumpstrahlen, so wird
nach (26.24) auch der phasenkonjugierte Rückwärtsstrahl entsprechend der zu
übertragenden Information moduliert.
Ein anderes interessantes Anwendungsbeispiel der optischen Phasenkonjuga-
tion findet man im Gebiet der faseroptischen Informationsübertragung. Licht-
signale werden beim Durchgang durch Fasern durch Moden- und Materialdisper-
Abb. 26.24. Bildverbesserung eines über Faser 1 übertragenen verzerrten Bildes mit-
tels Phasenkonjugation. Das ankommende Licht wird an einem phasenkonjugierenden
Spiegel reflektiert und durchsetzt dann eine mit 1 identische Faser 2, an deren Ausgang
das korrigierte Bild auftritt
sion verzerrt, Lichtpulse verbreitert (s. Kap. 24.7). Abbildung 26.24 zeigt ein Fa-
serstück (Faser 1), durch das ein am Eingang befindliches Bild (Pfeil) übertragen
werden soll. Versucht man am Ausgang das durch den Strahlenteiler reflektierte
Licht zu einem Bild zu fokussieren, so wird dies mehr oder weniger verzerrt sein.
Um die Abbildungsfehler zu korrigieren, schickt man das durch den Strahlteiler
tretende Licht durch einen Phasenspiegel und anschließend durch eine mit Faser
1 identische Faser 2, die Fehler der ersten Faser werden dann kompensiert und
man erhält am Ausgang (auch bei Übertragung über große Entfernung) ein Bild
hoher Qualität.
Übungen
26.1 Formen Sie für ein nichtlineares Medium die Polarisationsterme 3. Ordnung mit
Hilfe der Additionstheoreme so um, dass Sie die in den erzeugten Wellen enthaltenen
Frequenzen angeben können. Untersuchen Sie folgende Fälle:
a) eine einfallende ebene Welle der Amplitude Ê und Frequenz f ;
b) zwei Wellen der Amplituden Ê1 und Ê2 und Frequenzen f1 und f2 .
26.2 Untersuchen Sie – analog zu Übung 1 – die Wellen, die bei der Wechselwirkung von
3 ebenen Wellen der Frequenzen f1 bis f3 bei Nichtlinearität 2. Ordnung auftreten.
26.3 Wie kann man anschaulich erklären, dass bei Nichtlinearitäten ungerader Ordnung
keine Gleichrichtung auftreten kann?
26.4 Erklären Sie – ausgehend von (26.9) –, dass ein linearer elektrooptischer Effekt nur
in Kristallen ohne Inversionszentrum auftreten kann.
26.5 a) Bestimmen Sie die Kristallkohärenzlänge für Frequenzverdopplung in KDP, das
mit Lichtpulsen des Rubinlasers (λ = 694 nm) bestrahlt wird. (Brechzahlen:
nω = 1,505 bei λ = 694 nm und n2ω = 1,534 bei 347 nm.
b) Für Bariumtitanat wurde bei λ = 1,06 µm eine Kristallkohärenzlänge von
5,8 µm gemessen. Welche Brechzahländerung tritt bei 530 nm auf?
26.6 Berechnen Sie für eine Wellenlänge von 546 nm die Halbwellenspannung und Länge
einer longitudinalen Pockels-Zelle aus ADP (Ammonium-Dihydrogen-Phosphat).
26.7 Eine longitudinale Pockels-Zelle aus Lithiumniobat (Länge 1 cm) wird von Licht
des He-Ne-Lasers (λ = 632,8 nm) durchstrahlt. Wie groß sind Brechzahländerung
und Phasendifferenz bei Anlegen einer Spannung von 426 V?
26.8 Zeigen Sie, dass man die Gleichung (26.13), die die Durchlässigkeit einer Pockels-
Zelle beschreibt, auch schreiben kann als I = Imax · sin2 2δ .
a) Bei welchen Werten von U und δ (> 0) ist die Zelle undurchlässig?
b) Wie groß ist ihre Durchlässigkeit bei U = 0 und U = UHW , wenn vor die Zelle
eine Halbwellenplatte gebracht wird?
26.9 Welche Voraussetzungen muss ein Medium erfüllen, in dem sowohl Pockels- als
auch Kerr-Effekt auftreten? Um die Größe der beiden Effekte abzuschätzen, soll
für eine Spannung von etwa 10 kV das Verhältnis der Brechzahländerung durch die
beiden Effekte angegeben werden. Numerische Auswertung mit typischen“ Werten:
”
r = 10 pm/V, K = 1 pm/V2 , l = 2 cm, d = 1 cm und n0 = 2; setzen Sie λ = 550 nm.
26.10 Eine mit Schwefel-Kohlenstoff (CS2 ) gefüllte Kerr-Zelle soll mit einer Spannung
von 30 kV betrieben werden, der Elektrodenabstand beträgt 1,5 cm. Wie groß ist
die Länge der Zelle bei Halbwellenbetrieb? Welche Konsequenzen ziehen Sie aus
dem Ergebnis?
26.11 Zeigen Sie, dass (26.23) auch als Doppler-Effekt interpretiert werden kann. Benut-
zen Sie die Tatsache, dass bei Reflexion an einem mit v bewegten Objekt eine
Verdopplung der Frequenzänderung auftritt, dass also ∆f = 2f vp /c gilt. vp ist
die Geschwindigkeitskomponente in Ausbreitungsrichtung des Lichtes. Verwenden
Sie die in Abb. 26.14 definierte Geometrie und die Bragg-Bedingung, um die Win-
kelabhängigkeit zu eliminieren.
26.12 Die Schallgeschwindigkeit in Glas (n = 1,5) ist rund 3 km/s. Berechnen Sie die
Strecke, die eine Ultraschallwelle der Breite 1 cm zurücklegt, während sie von einer
Lichtwelle durchquert wird. Was folgt aus diesem Ergebnis für die Wechselwirkung
zwischen Licht und Schall?
26.13 Zeigen Sie, dass bei der Bragg-Reflexion an Ultraschall
a) eine kleine durch Frequenzmodulation (mit der Modulationsbreite ∆fs ) der
Schallwelle erzeugte Winkelverbreiterung ∆θ des Beugungswinkels θ durch
∆θ = ∆ks /k = λ∆fs /cs ausgedrückt werden kann (Index s = Schall, λ =
λ0 /n).
b) Der Faktor N , um den ∆θ die Strahldivergenz ∆θd überschreitet, wird als Zahl
”
der auflösbaren Punkte“ bezeichnet. Dies ist eine Gütezahl, die angibt wie viele
Positionen ein Strahldeflektor adressieren kann. Zur Berechnung von N soll

angenommen werden, dass die Strahlverbreiterung beugungsbedingt ist: ∆θd =
λ/d (d = Durchmesser des einfallenden Lichtstrahles). Bestätigen Sie, dass
N = ∆θ/∆θd = τ ∆fs , wobei τ die Zeit ist, die der Schall zur Durchquerung
des Lichtstrahls benötigt.
c) Untersuchen Sie als numerisches Beispiel die Beugung an Quarz für die Daten:
Frequenzbereich 80–120 MHz, cs = 5,95 km/s, Strahldurchmesser d = 1 cm.
26.14 In der Bragg-Gleichung (26.21) sind für Wellenlänge und Winkel die in dem Me-
dium gemessenen Größen einzusetzen. Zeigen Sie, dass die Gleichung auch für die
außerhalb (meist Luft) geltenden Größen zutrifft, falls das Medium isotrop ist und
seine Seitenflächen parallel zur Richtung der ebenen Schallwelle verlaufen.
26.15 Welche Frequenz muss eine ebene akustische Welle haben, um den Strahl eines He-
Ne-Lasers (λ = 632,8 nm) bei Bragg-Reflexion um 1◦ abzulenken? Der Deflektor
besteht aus Tellur-Dioxid TeO2 (n = 2,25, cs = 4,2 km/s).
26.16 Bestimmen Sie die Differenz der Ablenk winkel für einen He-Ne-Strahl bei Bragg-
Reflexion an Saphir (cs = 1,1 · 104 m/s, n = 1,76), wenn die Schallfrequenzen 50
und 80 MHz betragen.
26.17 Entwerfen Sie einen magneto-optischen Isolator aus ZnS. Zur Erzeugung des magne-
tischen Feldes soll die lange Spule mit der Windungszahldichte von 6000 Wind./m
direkt auf den zylindrischen Kristall gewickelt werden.
26.18 Eine planparallele, polierte Platte der Dicke 2,73 cm aus SF 57-Flintglas wird zwi-
schen die in Längsrichtung durchbohrten Polschuhe eines Elektromagneten gebracht
und von linear polarisiertem Laserlicht durchstrahlt. Welche Verdet-Konstanten hat
das Glas für rotes (632,8 nm) und grünes (543,5 nm) Licht des He-Ne-Lasers, wenn
die Polarisationsebene um 15◦ bzw. 22,2◦ gedreht wird und die magnetische In-
duktion 0,51 T beträgt? Geben Sie V in den Einheiten rad/(T·m) und Grad/(T·m)
an.
26.19 Welche Faraday-Rotation misst man für linear polarisiertes Na-Licht (589 nm) bei
einer 5 cm langen mit Schwefel-Kohlenstoff gefüllten Zelle, wenn die magnetische In-
duktion 0,4 T beträgt? Wie groß ist die Dispersion von CS2 bei dieser Wellenlänge?
26.20 Skizzieren Sie die Form eines nicht symmetrischen Lichtpulses vor und nach Re-
flexion an einem gewöhnlichen und an einem phasenkonjugierenden Spiegel, der
jeweils (über die Pumpwellen) dann aktiviert wird, wenn der Puls vollständig in
das Medium des Spiegels eingetreten ist. Wie kann mit einem solchen Spiegel die
Pulsverbreiterung in einem Lichtwellenleiter korrigiert werden?
26.21 Entwerfen Sie eine Anordnung, die mit Hilfe eines phasenkonjugierenden Spiegels
ohne Linsen ein helles und scharfes Bild einer Maske auf der Fotoresist-Schicht ei-
nes Chips entwirft. Dieses Verfahren führt zu einem Fotolithografie-Verfahren ohne
direkten Kontakt zwischen Maske und Chip!
27
Optische Konstanten
Einleitung
Elektromagnetische Wellen, die auf ein Medium treffen, treten mit den gelade-
nen Teilchen dieses Stoffes in komplizierte Wechselwirkung. Die Ladungen wer-
den zu erzwungenen Schwingungen angeregt und senden ihrerseits Streuwellen
aus, die sich mit der einfallenden Welle zu einem – von der Mikrostruktur des
Mediums abhängigen – komplexen Feld überlagern. Trotzdem lassen sich viele
Eigenschaften des Materials, wie Brechung und Absorption, durch die Angabe
makroskopischer Materialparameter, der optischen Konstanten, beschreiben. In
diesem Kapitel werden diese Konstanten, ausgehend von dem Verhalten eines
Dielektrikums im Kondensator, definiert und durch eine mikroskopische Theorie
erklärt, die die Antwort der Elektronen und Ionen eines Stoffes auf das elektri-
sche Feld der Lichtwelle auf die erzwungenen Schwingungen von harmonischen
Oszillatoren zurückführt. Die genaue makroskopische Theorie basiert auf den
Maxwell-Gleichungen, hier soll jedoch eine anschauliche Methode angewendet
werden.
804 27 Optische Konstanten
27.1 Definition der optischen Konstanten

Bringt man in einen Plattenkondensator mit der Ausgangsladung Q0 bei konstan-
ter äußerer Spannung U und elektrischer Feldstärke E = U/d ein Dielektrikum,
so beobachtet man einen Anstieg der Ladung auf den Kondensatorplatten auf
Qm , da das Medium polarisiert wird und an der Oberfläche zusätzlich die Pola-
risationsladung Qp trägt. Dann ist (s. Abb. 27.1) :
Qm = Q0 + Qp ≡ Cm U (27.1)
Abb. 27.1. Plattenkondensator mit Dielektrikum der Dielektrizitätszahl εr = 2 bei

konstanter äußerer Spannung U . Q0 = Ladung ohne und Qm = εr Q0 = 2Q0 = Ladung
mit Dielektrikum, Qp = Qm − Q0 = (εr − 1)Q0 = Q0 = Polarisationsladung, die
p
aus mikroskopischen elektrischen Dipolen resultiert. Diese Ladungen rufen ein Feld E

hervor, das antiparallel zum äußeren Feld E ist
Hierbei stehen die Indizes 0“ und m“ für ohne“ und mit“ Materie. Cm =
” ” ” ”
Qm /U ist die elektrische Kapazität des Plattenkondensators
A
Cm = ε (27.2)
d
wobei A = Fläche einer der Kondensatorplatten, d deren Abstand und
ε = ε0 εr (27.3)
27.1 Definition der optischen Konstanten 805
als Dielektrizitätskonstante bezeichnet wird. ε0 = 8,854 · 10−12 As/(V·m) ist die

elektrische Feldkonstante des Vakuums und εr die Dielektrizitätszahl. Üblicher-
weise führt man die Ladungs- bzw. Verschiebungsdichte D ein. Für ein homogenes
Feld ist Q = D ·A und (27.1) ergibt
D 0 +P
m = D (27.4)
P ist die elektrische Polarisation, ihr Betrag Qp /A ist die Dichte der Polarisati-
onsladung. Mit U = Ed folgt aus (27.1) bis (27.4) für die Verschiebungsdichte
D = εr D
m = εE 0 (27.5)
und für die
Polarisation P = D 0 = (εr − 1)ε0 E
m −D
≡ ε0 χE (27.6)
χ, die elektrische Suszeptibilität, charakterisiert die makroskopische Polarisierbar-

keit des Mediums. E ist das elektrische Feld vor Einbringen des Dielektrikums.
Die in einem Kondensator gespeicherte elektrische Energie W ist bekanntlich
W = 12 Cm U 2 = 12 εE 2 V . Hierbei wurde im letzten Term das Volumen V = Ad
eingeführt und U = Ed sowie (27.2) verwendet. Damit wird dann die volumen-
bezogene
W 1 1
elektrische Energiedichte w= = εE 2 = DE (27.7)
V 2 2
Legt man an den (verlustfreien) Kondensator ein elektrisches Wechselfeld mit
E = Ê ejωt
so ist die mittlere Energiedichte mit w = 14 εÊ 2 zeitunabhängig und die mittlere
absorbierte Leistung verschwindet. Bei einem verlustfreien Medium ist die Pola-
risation P – und damit auch die Verschiebungsdichte D – mit der elektrischen
Feldstärke E in Phase, folglich ist ε = D/E eine reelle Größe. In hochfrequenten
elektrischen Feldern kann die Polarisation dem erregenden Feld nicht trägheits-
los folgen, und D und E weisen eine Phasenverschiebung auf (s. Abb. 27.2). Wir
schreiben dann statt (27.5):
Dm = ε E (27.8)
und haben damit eine
komplexe Dielektrizitätskonstante bzw. komplexe Dielektrizitätszahl
ε = ε0 εr = ε − j ε
(27.9)
εr = εr − j εr
eingeführt.
Abb. 27.2. Zeigerdiagramm für ein verlustbehaftetes Dielektrikum. Verschiebungs-

dichte D und elektrische Feldstärke E sind phasenverschoben, was durch die komplexe
Dielektrizitätskonstante ε berücksichtigt wird
Mit (27.7) und Ė = jωE wird dann die mittlere absorbierte Leistungsdichte1
Ê 2
ẇ = ε E Ė = ε(jωE)E = (ε − j ε )(jωE)E = ε ω ∼ Im(ε) (27.10)
2
Die absorbierte Leistung ist also proportional zum Imaginärteil ε der komplexen
Dielektrizitätskonstante.
In einem Ersatzschaltbild lassen sich die Verluste durch einen zum verlustfrei-
en Kondensator (mit ε = ε ) parallel geschalteten Widerstand R (gleicher geo-
metrischer Abmessungen) oder ein leitfähiges Dielektrikum berücksichtigen. In
dem Widerstand entsteht die Verlustleistung Ẇ = ẇV = 12 û2 /R. Mit û = Êd,
1/R = σA/d und V = Ad erhalten wir dann die zugehörige Leistungsdichte
Ê 2
ẇ = σ (27.11)
2
Vergleich mit (27.10) liefert den Zusammenhang:
σ
Verlustgröße εr = (27.12)
ε0 ω
1
Nach Kap. 8 ist die komplexe Schreibweise bei der Multiplikation nicht erlaubt, wir
müssen der Ausführung zur reellen Schreibweise übergehen, d.h. E 2 = Im(E 2 ) ∼
sin2 ωt = 12 und (jωE)E ∼ cos ωt · sin ωt = 0.
27.1 Definition der optischen Konstanten 807
Verluste können dementsprechend – formal gleichwertig – durch eine elektrische

Leitfähigkeit σ (ohmsche Verluste) oder den Imaginärteil ε der Dielektrizitäts-
konstante (Verluste des Verschiebungsstroms) beschrieben werden. Entsprechend
den physikalischen Gegebenheiten wird man die Beschreibung über die Leitfähig-
keit bei Metallen und die Methode der Dielektrizitätszahl bei Dielektrika heran-
ziehen.
Ausgehend von der Maxwell-Beziehung (8.42)
c0 c0 √
c= =√ bzw. n = εr (27.13)
n εr
erhält man wegen der komplexen Dielektrizitätskonstante auch eine komplexe
Brechzahl n mit
n 2 = εr (27.14)
Man schreibt für die
komplexe Brechzahl n = n−jκ (27.15)
κ bezeichnet man als Extinktionskoeffizienten, der die Lichtschwächung aufgrund

von Absorption und Streuung beschreibt. n ist die Brechzahl, die die Phasen-
geschwindigkeit und Dispersion der Welle kennzeichnet. Wegen der komplexen
Brechzahl wird auch die Kreiswellenzahl komplex:
ω
k= n = kr − j ki (27.16)
c0
Die Amplitudenabnahme einer gedämpften ebenen Welle lässt sich durch den
Imaginärteil κ der Brechzahl beschreiben, denn wir erhalten für die ortsabhängige
komplexe Amplitude (mit k → k aus (27.16)):
Ê(x) = Ê 0 e−jkx = Ê 0 e−jkr x e−ki x ≡ Ê 0 (x) e−Kx/2 (27.17)

mit Ê(x) = E 0 e−jkr x und ki = K/2. Für die Schwächung der Lichtleistung
P ∼ Ê 2 folgt dann (s. Kap. 20):
Lambert-Beersches Extinktionsgesetz P = P0 e−Kx (27.18)
mit der Extinktionskonstante K. Aus (27.15) bis (27.17) folgt der Zusammenhang
mit dem Extinktionskoeffizient κ
ω 4π
Extinktionskonstante K = 2ki = 2 κ= κ (27.19)
c0 λ0
Die bisher diskutierte Beschreibung ließ den magnetischen Anteil der elektromag-
netischen Welle unberücksichtigt. Wir hatten aber in Kapitel 8 gezeigt, dass
aufgrund der Maxwell-Gleichungen elektrisches und magnetisches Feld über die
Beziehung (8.38)
c0
E = cB = B (27.20)
n
fest verknüpft sind. Wir sehen, dass bei komplexer Brechzahl – also in absorbie-
renden Medien – E- und B-Vektor nicht mehr in Phase sind. Deshalb treten, wie
beim Kondensator, Verluste auf.
Verlustbehaftete Medien lassen sich gleichwertig durch eine komplexe Dielek-
trizitätszahl εr = εr − j εr (27.9) oder eine komplexe Brechzahl n = n − j κ
(27.15) beschreiben. Die Feldgrößen E und D sowie E
und B sind gegen-
einander phasenverschoben.
Wegen εr = n2 = (n − j κ)2 erhält man – nach Trennung von Real- und

Imaginärteil – zwischen den optischen Konstanten den Zusammenhang :
εr = n2 − κ2 (27.21)
optische Konstanten
εr = 2nκ (27.22)
Für die Beschreibung der optischen Eigenschaften eines Stoffes stellen Brechzahl
n und Extinktionskonstante K (bzw. κ) anschaulichere Größen dar, sie sind auch
der Messung einfacher zugänglich. Die theoretische Beschreibung liefert zunächst
in übersichtlicher Weise εr und εr , während die daraus resultierenden Beziehun-
gen für n und κ (s. Üb. 27.1) schwieriger zu interpretieren sind.
27.2 Mikroskopische Theorie der optischen Konstanten

Bei der Formulierung einer mikroskopischen Theorie der optischen Konstanten
gehen wir von (27.6) aus, erklären die makroskopische Polarisation P als Summe
der Felder elementarer Dipole und bekommen damit einen Zusammenhang mit
εr . Hierbei ist zu beachten, dass die Dipole durch ein vom makroskopischen Feld
E abweichendes lokales Feld beeinflusst werden.
Nach den Abb. 27.1 und 27.3 wird die Polarisation durch kleine Dipole mit
dem Dipolmoment
p = −qr (27.23)
bewirkt. Hierbei ist q der Betrag der Ladung, r soll von der positiven zur negati-
ven Ladung weisen, der Dipolvektor p ist folglich von der negativen zur positiven
27.2 Mikroskopische Theorie der optischen Konstanten 809
Abb. 27.3. Elementarer elektrischer Dipol. a) Definition des elektrischen Dipolmo-

ments p = −|q|r. b) Kräfte auf die negative Ladung (Elektron) des Dipols in einem
F
äußeren elektrischen Feld E: = −eE ist die erregende Kraft, F
r ist die Rückstell-
kraft aufgrund der Bindungskräfte und Fd die Dämpfungskraft, die zu Verlusten führt.
Bei elektronischer Polarisation kann die Verschiebung der schweren positiven Ladung
(Atomrumpf) vernachlässigt werden
Ladung gerichtet. Dipolmomente und Polarisation entstehen durch zwei Mecha-

nismen:
a) Orientierungspolarisation
Vorhandene permanente elektrische Dipole, z.B. des Wassermoleküls, werden
durch das äußere Feld teilweise ausgerichtet. Dieser Mechanismus ist im opti-
schen Spektralbereich ohne Bedeutung, da die Dipole nicht dem hochfrequen-
ten Feld einer Lichtwelle folgen können.
b) Verschiebungspolarisation
Ladungsverschiebung und Trennung der Ladungsschwerpunkte positiver und
negativer Ladungen (s. Abb. 27.3). Dies kann auf zwei Arten geschehen:
1. Elektronische Polarisation durch
– in den Atomen gebundene Elektronen. Diese ist bei allen Frequenzen
bis in das Röntgengebiet nachweisbar.
– freie Leitungselektronen, die die optischen Eigenschaften der Metalle
von extrem langen Wellenlängen bis in das UV sowie von dotierten
Halbleitern bestimmen.
2. Ionische Polarisation, die durch Verschiebung der Ionen eines Materials
bewirkt wird und für die Eigenschaften von polaren Molekülen, Ionenkris-
tallen und Gläsern im Infrarot verantwortlich ist.
Nach Abb. 27.1 folgt das makroskopische Dipolmoment pm des Dielektrikums
aus der Polarisationsladung Qp = P A zu
pm = Qp d = P Ad
mit der Polarisation:
pm
P = (27.24)
V
Polarisation ist demnach als Dipolmoment pro Volumen zu verstehen. Mit N , der
Anzahl der Dipole, und Nv = N/V , der Anzahl- oder Teilchendichte, ist offenbar
das makroskopische Dipolmoment pm = N p, und wir können die makroskopische
Polarisation durch mikroskopische Größen ausdrücken:
Polarisation P = Nv p = −Nv qr (27.25)
(wobei p = −qr das Dipolmoment des Einzeldipols und Nv die Teilchendichte

ist).
In der mikroskopischen Theorie wird die Ladungsverschiebung r des Dipols
gleich der Auslenkung eines gedämpften harmonischen Oszillators gesetzt, der
durch die einfallende Lichtwelle zu erzwungenen Schwingungen erregt wird. Bei
der elektronischen Polarisation infolge gebundener Teilchen werden Elektronen
(vornehmlich der äußeren Hülle) durch das Feld der Lichtwelle gegen die Bin-
dungskräfte, die durch eine Federkonstante“ Dr erfasst werden, verschoben; der
”
Beitrag der schweren Atomrümpfe kann unberücksichtigt bleiben. Die Dämp-
fungskraft Fd der Oszillatoren sei geschwindigkeitsproportional:
Fd = −mγv = −mγr˙ (27.26)

γ bezeichnen wir als Dämpfungskonstante. Die mit der Dämpfung verbundene
Verlustleistung ist die Ursache für die Abnahme der Lichtenergie durch Extink-
tion. Mit Fe = −eE, der erregenden Kraft der einfallenden Lichtwelle, und der

Rückstellkraft Fr = −Drr können wir für die Bewegungsgleichung des Oszillators
schreiben (s. Abb. 27.3 b):

m¨r = Fi = −mγr˙ − Drr − eE

i
Nach Division durch m erhalten wir hieraus (mit ω02 = Dr /m, der Kreisfrequenz
der ungedämpften Schwingung) die Differentialgleichung der Dipolschwingung:
e
¨r + γr˙ + ω02r = − E (27.27)
m
=Eˆ
ejωt und r = ˆr ejωt sowie r˙ = jωr und ¨r = −ω 2r ergibt
Mit dem Ansatz E
(27.27) die Auslenkung des Dipoloszillators

eE/m
r = − (27.28)
ω02 − ω 2 + jγω
Damit (und q = |e|) wird dann die Polarisation (27.25):
Nv e2 /m ε0 ωp2
=
P = ε0 (εr − 1)E =
E
E (27.29)
ω02 − ω 2 + jγω ω02 − ω 2 + jγω
Hierbei haben wir (zunächst rein formal) die
+
Plasma(kreis)frequenz Nv e2
ωp = (27.30)
ε0 m
eingeführt. Gleichung (27.29) zeigt das vom harmonischen Oszillator bekann-

te Verhalten: Für kleine Frequenzen (ω ω0 ) schwingen Erreger und System
gleichphasig mit nahezu frequenzunabhängiger Amplitude, so dass P gleich der
statischen Polarisation
N0 e2
Pstat = E
mω02
mit der Federkonstante“ Dr = mω02 wird. Im Bereich der Resonanz (ω ≈ ω0 )
”
beobachtet man Resonanzüberhöhung bis auf den Maximalwert:
P̂ res ω0
= −j
P̂ stat γ
Im Resonanzfall hinkt die Polarisation dem Lichtfeld um π/2 nach. Der Re-
sonator entzieht der Lichtwelle Energie, wir haben starke Absorption und εr
hat einen großen imaginären Anteil. Im Photonenbild entspricht dies Elektro-
nenübergängen zwischen Atomniveaus oder Energiebändern unter Absorption
von Photonen. Bei hohen Frequenzen wird P̂ ∼ −Ê/ω 2 , System und Erreger
schwingen gegenphasig, εr wird reell mit εr < 1.
Da wir bei der Herleitung von (27.29) einzelne Dipole betrachteten, ist
= E
E lok das am Ort eines Dipols herrschende lokale Feld, das sich aufgrund
des Einflusses der anderen Dipole vom äußeren Feld E unterscheidet. Bei iso-
tropen Materialien und kubischen Kristallen kann dieses Zusatzfeld durch das
sogenannte Lorentz-Feld 2 E L = P /3ε0 angenähert werden. Dann ist in (27.29)
anstelle von E zu schreiben:

E +E
lok = E + P
L = E (27.31)
3ε0
also:

ε0 ωp2
P = 2 + P
E
ω0 − ω 2 + jγω 3ε0
2
Paus: Physik in Experimenten und Beispielen.
Setzt man P = ε0 (εr − 1) E,

so kann man die Gleichung umformen in:
P ε −1 n2 − 1 ωp2
= r = 2 =
Clausius-Mossotti 3ε0 E lok εr + 2 n +2 3 (ω02 − ω 2 + jγω)
(27.32)
In dieser Gleichung (nach Clausius-Mossotti und Lorentz-Lorenz ) ist ω0 die

Eigenfrequenz eines isolierten Einzelteilchens, die nicht von der Teilchendichte
abhängt. Dementsprechend sollte das durch (27.32) definierte Brechzahlverhält-
nis für nichtpolare Gase und Flüssigkeiten, die aus den gleichen Molekülen beste-
hen, nur von der (Teilchen-)Dichte (Nv ∼ ωp2 ) abhängen. Multipliziert man mit
dem Verhältnis Dichte/Molmasse (∼ Nv−1 ), so erhält man die sogenannte Mol-
refraktion, die mithin unabhängig vom Aggregatzustand sein muss. Dies wird
experimentell nahezu bestätigt. Mit Hilfe von (27.32) lässt sich mit P = Nv p das
Dipolmoment p und die elektrische Polarisierbarkeit des Einzeldipols α = p/Elok
bestimmen, eine für das Verständnis des Molekülbaus wichtige Größe.
Gleichung (27.32) kann man folgendermaßen umschreiben:
Dielektrizitätszahl ωp2
εr = 1 + (27.33)
1 Oszillator ω02 − ω 2 + jγω
Hier gilt dann aber für die Eigenfrequenz
ωp2
ω02 = ω02 − (27.34)
3
die jetzt mit zunehmender Teilchendichte abnimmt. Es ist also die effektive Re-
sonanzfrequenz, die sich durch die Einwirkung der anderen Dipole einstellt. De-
ren Zusatzfeld verstärkt das äußere Feld, so dass eine vorgegebene Ladungsver-
schiebung schon bei kleinerem äußeren Feld erreicht wird. Federkonstante“ und
”
Eigenfrequenz scheinen reduziert. Da bei der Beschreibung der optischen Kon-
stanten ω0 ohnehin meist als Anpassparameter benutzt wird, ist (27.33) für die
Anwendung wichtiger und übersichtlicher als (27.32).
Bisher wurde der Einfluss von identischen Oszillatoren der Teilchendichte
Nv diskutiert. Tatsächlich werden aber sehr viele unterschiedliche elektronische
und ionische Oszillatoren mit den Eigenfrequenzen ω0i (vom Röntgen- bis ins
Infrarotgebiet) und Dichten Nvi zu den optischen Konstanten beitragen. Den
entsprechenden Teilchenanteil
2
Nvi ωpi
fi = = 2 (27.35)
Nv ωp
bezeichnet man als Oszillatorstärke. Quantenmechanisch ist fi proportional zur
Übergangswahrscheinlichkeit zwischen den verschiedenen Quantenzuständen ei-
nes Atoms. Wir erhalten die gesamte aus den elektronischen und ionischen Os-
zillatoren resultierende Dielektrizitätskonstante, wenn wir in (27.33) über die
Beiträge der Einzeloszillatoren summieren3 :
P n
fi
εr = 1 + = 1 + ωp2 2 − ω 2 + jγ ω
Elektronen- und Ionenbeitrag ε0 E ω i
i=1 0i
(27.36)
Trennung in Real- und Imaginärteil führt auf:
2
fi (ω0i − ω2)
εr = n2 − κ2 = 1 + ωp2 (27.37)
i
2
(ω0i− ω )2 + γi2 ω 2
2
fi γi ω
εr = 2nκ = ωp2 2 − ω 2 )2 + γ 2 ω 2 (27.38)
(ω0i i
i
In der Praxis – z.B. bei der Beschreibung der Brechzahl von Gläsern – kommt
man häufig mit 2–3 Resonatoren im Ultraviolett- und Infrarotbereich aus. Der
Einfluss stark gebundener Oszillatoren mit ω0i ω wird bisweilen durch einen
frequenzunabhängigen (nahezu reellen) Beitrag ε∞ (anstelle von 1“) beschrie-
”
ben.
In den Abb. 27.4 a und 27.4 b ist der Verlauf der optischen Konstanten ε
und ε für einen elektronischen Oszillator, dessen Resonanzfrequenz fel im UV
(λel = 116 nm) liegt, und einen ionischen Oszillator (λion = 10 µm) als Funkti-
on von Frequenz bzw. Energie dargestellt. Abbildung 27.7 zeigt den Verlauf von
Brechzahl n und Extinktionskoeffizient κ im Bereich eines ionischen Oszillators.
Wir können den Abbildungen u.a. entnehmen, dass κ außerhalb der Resonanz
rasch absinkt, so dass εr = n2 − κ2 den Wert des verlustfreien Mediums εr = n2
annimmt. n zeigt außerhalb der Resonanz normale Dispersion (mit dn/dλ < 0)
und nimmt bei Annäherung an die Resonanzfrequenz große Werte an. Im Bereich
der Resonanz beobachtet man stark anomale Dispersion (dn/dλ > 0) und n sinkt
auf sehr kleine Werte. Gibt es nur eine ionische und eine elektronische Resonanz,
so gilt für f fion : εr → εr,stat ; man erhält die Dielektrizitätszahl des statischen
elektrischen Feldes. Für f fel können auch die Elektronen nicht mehr dem
äußeren Feld folgen und man nähert sich dem Wert des Vakuums εr = n2 = 1.
Zwischen den Resonanzen – im Bereich der Frequenzen des sichtbaren Lichts – hat
man nur den elektronischen Beitrag, den man mit εopt bezeichnet. Abbildung 27.5
zeigt den berechneten Verlauf (s. Bsp. 27.1) der Brechzahl des Kronglases BK 7
als Funktion der Wellenlänge für zwei unterschiedliche Dämpfungen, man sieht
3
Bei der Summation sind elektronische und ionische Oszillatoren zu unterscheiden,
deren Plasmafrequenzen aufgrund der Teilchenmassen (und -dichten) verschieden
sind.
Abb. 27.4. Real- und Imaginärteil der Dielektrizitätszahl εr als Funktion der Frequenz
bzw. Photonenenergie, die auf den ionischen Oszillator normiert sind. Zugrunde gelegt
sind die Werte für jeweils einen fiktiven ionischen und elektronischen Oszillator für das
Glas BK 7, wie sie aus dem Brechzahlverlauf n(λ) folgen. Es gilt λion = 10,1 µm und
λel = 116 nm. Die Dämpfungskonstante ist jeweils γ/ω0 = 0,01. a) Halblogarithmische
Darstellung von εr = n2 − κ2 . Man beachte die negativen Werte oberhalb der Resonanz.
Zwischen den Resonanzen kann εr ≈ n2 durch eine Sellmeier-Formel angenähert werden.
b) log-log-Darstellung von εr = 2nκ
27.3 Optische Konstanten der Dielektrika 815
dass n nur wenig von der Dämpfungskonstante γ (27.26) beeinflusst wird. Man
verwendet deshalb zur Beschreibung der experimentellen Werte der Brechzahl
die Dispersionsgleichungen für den ungedämpften Fall. Der kleine Beitrag der
Dämpfung ist dann in den empirischen Werten der Plasma- und Eigenfrequenzen
enthalten.
Abb. 27.5. Verlauf der Brechzahl des Glases BK 7 im Sellmeier-Bereich“ für 2 UV-
”
Resonanzen und einen Resonator im IR (s. Bsp. 27.1 und Abb. 27.4) und die Dämp-
fungskonstanten γi = 0 (Kurve (a)) und γi /ωi = 0,01 (b). Kurve (a) gibt in dem
angegebenen Wellenlängenbereich die Brechzahl mit einer Genauigkeit für ∆n/n von
besser 10−5 wieder
27.3 Optische Konstanten der Dielektrika
27.3.1 Dispersion von Gläsern
Ausgehend von Abb. 27.5 beschreibt man die Dispersion von Gläsern bei schwa-
cher Absorption, also im sichtbaren und nahen UV- und IR-Bereich, indem man
in (27.37) γ = 0 und κ = 0 setzt:
fi
εr = n2 = 1 + ωp2 2 − ω2
i
ω0i
Wegen ω ∼ 1/λ erhält man hieraus nach einfacher Umrechnung die in den Glas-
katalogen verwendete

N
Si λ2
Sellmeier-Gleichung n2 = 1 + (27.39)
λ2− λ20i
i=1
wobei man bei der Beschreibung meist mit 1 bis 2 elektronischen Termen (UV)
und einem ionischen Term (IR) – also 6 Materialkonstanten S1 −S3 und λ01 −λ03
– auskommt.
In der älteren Literatur wird außerdem die Schott-
A2 A3 A4 A5
Dispersionsformel n2 = A0 + A1 λ2 + 2
+ 4 + 6 + 8 (27.40)
λ λ λ λ
verwendet. Da im Gültigkeitsbereich der obigen Näherung die wellenlängenabhängi-

gen Summanden klein gegen A0 sind, kann man diese Gleichung – wegen
√
1 + x ≈ 1 + 12 x – auch in der Form schreiben:
A2 A
n ≈ A0 + A1 λ2 +
2
+ 43 + . . . (27.41)
λ λ
Diese Beschreibung der Dispersion (mit A1 = 0) geht bereits auf Cauchy zurück
(s. Kap. 6).
Beweis der Äquivalenz von (27.39) und (27.40): Aus (27.39) folgt für i = 1 bis 3
und λ01 < λ02 λ (UV-Resonanzen) und λ03 λ (IR) nach Entwicklung in eine
geometrische Reihe:
S1 λ2 S2 λ2 S3 λ2
n2 = 1 + + −
λ2 − λ01
2
λ2 − λ022
λ03 − λ2
2
S1 S2 S3 (λ/λ03 )2
=1+ + −
1 − (λ01 /λ) 2 1 − (λ02 /λ) 2 1 − (λ/λ03 )2
2 2 2
λ20k λ80k λ λ
≈1+ Sk 1 + 2 + . . . + 8 − S3 1+ + . . . (27.42)
λ λ λ03 λ03
k=1
(27.43)
Koeffizientenvergleich mit (27.40) ergibt dann:
S3
A0 = 1 + S1 + S2 , A1 = − 2i−2
Ai>1 = S1 λ01 2i−2
+ S2 λ02 , (27.44)
λ203
also z.B.: A2 = S1 λ201 + S2 λ202
Damit ist gezeigt, dass die beiden gebräuchlichen Näherungen für den Brechzahl-
verlauf übereinstimmen. Dies soll im nachfolgenden Beispiel bestätigt werden.
Beispiel 27.1 Dispersion des Kronglases BK 7
Wir untersuchen die Dispersion des Kronglases (N)BK 7 unter Verwendung
des unter www.schott.com/optics devices/german/download zu findenden
Glaskatalogs. Gleichung (27.39) schreibt man dort in der Form

3
Bi λ2
n2 = (27.39a)
i=1
λ2 − Ci
mit den Werten

B1 B2 B3 C1 /µm2 C2 /µm2 C3 /µm2
1,03961212 0,231792344 1,01046945 6,00069867·10−3 2,00179144·10−2 1,03560653·102
Im alten Glaskatalog 3111 der Fa. Schott finden wir die Angaben:
A0 A1 /(µm)−2 A2 /(µm2 ) A3 /(µm4 ) A4 /(µm6 ) A5 /(µm8 )
2,2718929 -1,0108077·10−2 1,0592509·10−2 2,0816965·10−4 -7,6472538·10−6 4,9240991·10−7
Bestimmen Sie die Eigen-Wellenlängen, die Plasmawellenlängen sowie Teil-

chendichten von BK 7 und zeigen Sie die Übereinstimmung der beiden Be-
schreibungen.
Lösung
Zunächst einige numerische Berechnungen: Für die Wellenlänge 632,8 nm
des He-Ne-Lasers erhält man nach (27.39 a): 1,5150892 und 1,5150894 nach
(27.40), dem Glaskatalog entnehmen wir die Angabe 1,51509.
Bei λ = 312,6 nm sind die entsprechenden Werte 1,5486069, 1,5486472 und
1,54862 und bei λ = 1,9701 µm: 1,4949483, 1,4951265 und 1,49495. Generell
gibt der Hersteller im Bereich 404 − 1094 nm für beide Formeln eine
Genauigkeit besser 6 · 10−6 an. Es ist bekannt, dass die Sellmeier-Formel am
Rand und außerhalb des untersuchten Wellenlängen-Intervalls die genaueren
Werte liefert.
√
Für die Resonanzen bekommen wir: λ01 = C1 = 77,5 nm, λ02 = 141,5 nm
und λ03 = 10,2 µm. Aus (27.44) folgt A0 = 1 + S1 + S2 = 1 + B1 + B2 =
−2
2,2714 statt 2,2719 und A1 = − λS23 = − B C3 = −0,9757 · 10
3
(µm)−2
03
statt −1,01 · 10−2 (µm)−2 ; das negative Vorzeichen wird bestätigt. Schließ-
lich gilt A2 = S1 λ201 + S2 λ202 = B1 C1 + B2 C2 = 1,088 · 10−2 (µm)2 , A3 =
1,303 · 10−4 (µm)4 und A4 = 2,083 · 10−6 (µm)6 . Wir erkennen beim Vergleich
mit den Werten der obigen Tabelle, dass die Übereinstimmung schlechter wird
und bei A4 nicht einmal die Vorzeichen gleich sind. Dies darf aber nicht ver-
wundern, da die bei der Herleitung vorausgesetzten Bedingungen nicht genau
erfüllt sind und eine Kurvenanpassung über einen begrenzten Wellenlängen-
bereich mit unterschiedlichen Parameterkombinationen erfolgen kann. Es sei
darauf hingewiesen, dass die Eigenfrequenzen stellvertretend für sehr viele Os-
zillatoren in Glas stehen, man bezeichnet sie als effektive Resonanzfrequen-
zen. Aus (27.37)
√ und (27.39) folgt mit fi = 1 für die Plasmawellenlängen:
λpi = λ0i / Si und somit λ√ pl = 76 nm, λp2 = 294 nm und λp3 = 10,1 µm. Da
entsprechend (27.30) λ ∼ m und das Verhältnis Ionen-/Elektronenmasse
104 ist, muss λp3 /λp1 > 100 sein, hier ergibt sich ein Wert von 135. Mit
4π 2 mε0 c20
(27.30) erhält man für die Teilchendichte Nv = λ2p e2
und hieraus mit
−3
der Elektronenmasse m für λp2 : Nv = 1,3 · 10 28
m . Zum Vergleich: Reines
Silizium hat Nv = 5 · 1028 Atome/m3 .
27.3.2 Optische Konstanten der Ionenkristalle
Das klassische Oszillatormodell beschreibt die optischen Eigenschaften von Gasen

(und vielen Flüssigkeiten) auch im Bereich der Eigenfrequenzen – also bei starker
Absorption – gut, bei Festkörpern mit ihrer komplizierten Energiebandstruktur
versagt es in diesem Bereich vollkommen. Wir hatten gesehen, dass es jedoch den
Brechzahlverlauf außerhalb des Gebietes der Absorption recht gut wiedergibt.
Abb. 27.6. a) Transversal akustische (TA) und b) transversal optische (TO) Schwin-
gung eines eindimensionalen Ionengitters
Das Oszillatormodell ist sehr gut zur Beschreibung der optischen Konstanten
von polar gebundenen Kristallen im infraroten Wellenlängenbereich geeignet. Bei
den Schwingungen des Ionengitters unterscheidet man transversal und longitudi-
nal akustische (TA, LA) Schwingungen sowie transversal und longitudinal opti-
sche (TO, LO) Moden. Nur bei den letzteren tritt ein elektrisches Dipolmoment
auf, mit dem ein elektrisches Feld wechselwirken kann. Da Licht eine Transversal-
welle ist, kann es nur TO-Schwingungen der Eigenfrequenz ωt anregen. Abbildung
27.6 stellt eine TA-Schwingung ohne Dipolmoment der TO-Mode gegenüber. Die
Lichtwellenlänge ist etwa tausendfach größer als der Ionenabstand, so dass nur
langwellige Gitterschwingungen optisch aktiv sind. Eine Lorentz-Korrektur ist
nicht sinnvoll, da ein freier Einzeloszillator nicht existiert und ωt immer die Ei-
genfrequenz unter Einschluss des lokalen Feldes darstellt.
Die Oszillatorenstärke ist hier 1, so dass nach (27.33) für die Dielektrizitäts-
zahl aufgrund der TO- Schwingung gilt:
ωp2
εr = n2 = εopt + (27.45)
ωt2 − ω 2 + jγω
wobei ωt die Eigenfrequenz der TO-Schwingung ist. Die Ersetzung des ersten
Summanden 1“ durch εopt berücksichtigt den Einfluss der bei hohen ( opti-
” ”
schen“) Frequenzen verbleibenden elektronischen Polarisation. Die Plasmafre-
quenz hat im vorliegenden Fall eine anschauliche Bedeutung. Es ist die Frequenz,
mit der ein Plasma aus verschmierten“ positiven und negativen Ladungen – al-
”
so ohne Rückstellkräfte aus dem kristallinen Aufbau – schwingen würde. Nach
(27.30) ist die Plasmakreisfrequenz dieses Ionenplasmas
+
Nv e2
ωp = (27.30)
ε0 m
hierbei ist Nv die Anzahldichte der Ionen und m die reduzierte Masse der Ionen,
die definiert ist durch
1 1 1
= + (27.46)
m m+ m−
mit m± = Masse der positiven und negativen Ionen. Sie berücksichtigt, dass hier
beide Ionensorten mitschwingen.
In Kapitel 27.4 wird begründet, dass nur bei der LO-Schwingung elektrische
Felder auftreten, die in einem freien Plasma die Plasmaschwingung antreiben.
Damit tritt bei den LO-Schwingungen zusätzlich zu den Rückstellkräften, die
auch bei den TO-Schwingungen wirksam sind, die Kraft des Plasmafeldes auf.
Damit addieren sich auch die entsprechenden Federkonstanten“ Dr . Da bei ei-
”
ner harmonischen Schwingung die Richtgröße Dr ∼ ω 2 ist, gilt dann für die
Eigenfrequenz ωl der LO-Mode:
ωl2 = ωt2 + ωp2 (27.47)

In Abb. 27.74 ist der mit (27.45) und (27.48) berechnete Verlauf der optischen
Konstanten n und κ sowie des Reflexionsgrades für AlSb als Funktion der
Frequenz dargestellt. Die verwendeten Parameter entstammen einem fit“ des
”
experimentell leicht zugänglichen Reflexionsgrades bei senkrechter Inzidenz (s.
(20.71)):

n − 1 2 (n − 1)2 + κ2
Reflexionsgrad = = (27.48)
n + 1 (n + 1)2 + κ2
Abb. 27.7. Berechneter Verlauf von Brechzahl (n/2), Extinktionskonstante

√ κ und
Reflexionsgrad (10 ) eines Ionenkristalls mit εopt = 12, ωp /ωt = 3 und γ/ωt = 0,01 4
der in Abb. 27.8 als Funktion der Wellenlänge dargestellt ist. Auffallend ist der
– für ionisch gebundene Kristalle charakteristische – hohe Reflexionsgrad im Be-
reich der Eigenfrequenz ωt . Diese Reststrahlbanden“ finden u.a. beim Bau von
”
IR-Spiegeln Anwendung. Bei ωl , der Eigenfrequenz der LO-Schwingung, tritt ein
deutliches Reflexionsminimum auf, da die longitudinalen Plasmaschwingungen
nicht von der transversalen Lichtwelle angeregt werden können.
4
aus: Seeger: Semiconductor Physics.
27.4 Optische Eigenschaften der Metalle 821
Abb. 27.8. Berechneter und gemessener Reflexionsgrad von AlSb als Funktion der
Wellenlänge (λl = 29,4 µm, λt = 31,4 µm)4 . Den Bereich hoher Reflexion bezeichnet
man als Reststrahlbande
27.4 Optische Eigenschaften der Metalle

Die optischen Eigenschaften von Metallen werden vom Sichtbaren über das IR
bis hin zu den Frequenzen des Wechselstroms fast ausschließlich durch die freien
Leitungselektronen bestimmt. Die Elektronen dieses Elektronengases sind frei
beweglich, es wirkt keine Rückstellkraft und mithin wird die Eigenfrequenz ω0 =
0; dann erhält man aus (27.33) ein sehr einfaches Ergebnis für die komplexe
Dielektrizitätszahl:
ωp2
Dielektrizitätszahl Metall εr = n 2 = 1 − (27.49)
ω 2 − jγω
Die Plasmafrequenz (27.30) ist die eines freien Elektronengases, also abhängig
von dessen Teilchendichte. Dämpfung erfolgt aufgrund von Elektronenstößen, die
auch für den elektrischen Widerstand verantwortlich sind. Die Dämpfungskon-
stante ist hier γ = 1/τ , wobei τ die mittlere freie Flugzeit zwischen zwei Stößen
ist, die auch die elektrische Leitfähigkeit σ bestimmt:
e2
σ = Nv τ = eNv µ (27.50)
m
mit der Beweglichkeit
e e
µ= τ=
m mγ
Hieraus folgt dann für die Dämpfungskonstante
1 e Nv e2 ε0 ωp2
γ= = = = (27.51)
τ mµ mσ σ
die mithin von der Beweglichkeit der Elektronen bestimmt wird.
In Abb. 27.9 ist für Kupfer der aus (27.49) folgende theoretische Verlauf der
optischen Konstanten n und κ sowie des Reflexionsgrades im sichtbaren und IR-
Spektralbereich dargestellt. Klar erkennbar ist das für Metalle charakteristische
hohe Reflexionsvermögen. Der starke Abfall der Reflexion liegt (in Übereinstim-
mung mit (27.49)) bei der Plasmafrequenz ωp , man bezeichnet dieses Verhalten
als Plasmakante.
Abb. 27.9. Elektronengas von Kupfer: berechneter Verlauf der Brechzahl n, des Ex-
tinktionskoeffizienten (κ/10) und des Reflexionsgrades als Funktion der Frequenz,
die auf die Plasmafrequenz normiert ist. Für Cu wurde gewählt: λp = 168 nm und
γ/ωp = 0,0025
Physikalisch beruht das große Extinktions- und Reflexionsvermögen der Me-

talle auf der Anregung von Leitungsströmen, die – als Antenne wirkend – das
Licht reflektieren. Der Einfluss von Verschiebungsströmen ist in den gut leiten-
den Metallen bei Frequenzen unterhalb der Plasmakante gering.
Vernachlässigt man in (27.49) die Dämpfung, so wird εr reell:
27.4 Optische Eigenschaften der Metalle 823
ωp2
εr = 1 − (27.52)
ω2
Wir wollen für diesen Fall die Frequenzabhängigkeit untersuchen: Für große Fre-
quenzen (UV- und evtl. blauer Spektralbereich) gilt ω > ωp und somit εr > 0,
√
damit wird n = εr reell, das Metall mithin transparent 5 , für ω < ωp wird εr < 0
√
und folglich n = n−j κ = εr rein imaginär. Die Brechzahl verschwindet (n = 0),

der Extinktionskoeffizient wird κ = |εr | und nimmt so große Werte an, dass
die Welle nur um weniger als λ/10 (s. Bsp. 27.4) in das Metall eindringen kann.
In (27.49) ist der Einfluss der Dämpfung nur für hohe Frequenzen mit ω γ
vernachlässigbar, im umgekehrten Fall kleiner Frequenzen (ω γ) erhalten wir
(mit 1/j = −j und ωp2 γω):
ωp2
εr = n2 ≈ −j (27.53)
γω
Damit wird: +
ωp2
n = n − jκ ≡ −j
γω
Mit der Beziehung
1−j
−j = e−jπ/2 = e−jπ/4 = √
2
führt dies mit (27.51) auf:
+
ωp2 σ
Skineffekt bei ω γ κ=n= = (27.54)
2γω 2ε0 ω
Extinktionskonstante κ und Brechzahl n werden gleich groß und nehmen mit

steigender Frequenz ab. Die Amplitudenabnahme der Welle wird nach (27.17)
beschrieben durch
Ê(x) = Ê0 e−Kx/2 ≡ Ê0 e−x/ds

hierbei ist K/2 = 2πκ/λ = 1/ds . Mit (27.54) und 1/ε0 = µ0 · c20 folgt für die
Amplituden-Eindringtiefe oder

2
Skintiefe ds = (27.55)
µ0 σω
5
Dies gilt aufgrund der freien Elektronen. Im Allgemeinen wird in diesem Bereich
schon eine starke Absorption durch Band-Band-Übergänge der gebundenen Elektro-
nen einsetzen.
Aufgrund des Skineffekts, der Anregung von Wirbelströmen durch die elektro-
magnetische Welle, hat nach dieser Eindringtiefe ds die Wellenamplitude auf e−1 ,
also 37%, abgenommen. Für die Skintiefe in Kupfer gilt (mit σ = 5,76 · 107 Ωm
1
)
6,63 cm
ds =
f /Hz
sie beträgt damit bei 1000 Hz etwa 2 mm. Der Skineffekt bestimmt den Verlauf
von elektromagnetischen Feldern in Metallen im gesamten Frequenzbereich von
Wechselstrom bis ins ferne Infrarot mit Wellenlängen von etwa 50 µm.
Eine wichtige Anwendung der optischen Erscheinungen im Bereich der Plas-
makante ist die Herstellung durchsichtiger elektrischer Kontakte (z.B. für Flüssig-
kristallanzeigen) mit Hilfe hochdotierter Halbleiter (aus Zinn-Dioxid, SnO2 , oder
zusätzlich mit Indium-Oxid: ITO-Schichten (I ndium-T in-Oxide)). Hier stellt
man die Dotierung so ein, dass die Plasmakante im Infrarot liegt. Der Bandab-
stand dieser Stoffe ist so groß, dass elektronische Absorption erst im Ultraviolett
auftritt, damit sind die Kontakte im Sichtbaren transparent.
r = −eE
Abb. 27.10. Plasmaschwingungen: Rückstellkraft F p auf ein Elektron nach
Auslenkung aller Elektronen um s
27.5 Plasmafrequenz
Wir hatten gesehen, dass die optischen Eigenschaften entscheidend von den Plas-
maschwingungen bestimmt werden. Wir untersuchen deshalb das Plasma des
Elektronengases genauer. Hierzu betrachten wir einen Quader (s. Abb. 27.10)
27.5 Plasmafrequenz 825
mit dem Plasma aus Metallionen und Leitungselektronen. Im Gleichgewicht

herrscht Ladungsneutralität, die bei Auslenkung der Elektronen um s nur an
den Oberflächen aufgehoben wird. Wir haben auf den Platten“ die Ladung
”
Q = N e = Nv As und nach Abb. 27.1 ein elektrisches Plasmafeld:
Q eNv
Ep = = s
ε0 A ε0
Hieraus folgt die Rückstellkraft Fr = −eE p mit der Richtgröße Dr = eEp /s =
2
e Nv /ε0 . Bekanntlich gilt für die Eigenkreisfrequenz des freien harmonischen
Schwingers der Masse m: ωe2 = Dr /m. Nach Einsetzen von Dr erhält man dann
ωe = ωp (27.30). Bringt man den Quader in ein äußeres Wechselfeld der Frequenz
f , so wird das Plasma zu erzwungenen Schwingungen angeregt und wir beob-
achten bei f = fp Resonanz. Eine senkrecht einfallende transversale Lichtwelle
bewirkt kein Plasmafeld, da alle Elektronen um denselben Betrag verschoben
werden und evtl. Oberflächenladungen wegen der großen Breite der Probe keine
Rolle spielen6 . Damit entfällt die Rückstellkraft durch das Plasmafeld, wir haben
nur noch Elektronenschwingungen mit der Eigenfrequenz ω0 = 0, so dass die
Erregerfrequenz immer oberhalb der Eigenfrequenz liegt. Dann schwingen aber
erregende Kraft und Auslenkung sowie Polarisation und Feld immer gegenphasig.
Wir erhalten – für den ungedämpften Fall – aus (27.29) die Polarisation
ωp2
P = (εr − 1)ε0 E
=−
ε0 E (27.56)
ω2
und dementsprechend (vgl. (27.52)):
ωp2
εr − 1 = −
ω2
Welche Konsequenzen hat dies für den Kondensator mit Dielektrikum (s. Abb.
und dement-
27.1)? Wir entnehmen (27.56), dass jetzt P immer antiparallel zu E
sprechend εr < 1 ist, so dass die Polarisationsladungen das entgegengesetzte
Vorzeichen wie in der Elektrostatik aufweisen. Für ω < ωp gilt sogar εr < 0.
Hieraus folgt nach (27.7) eine negative Energiedichte, der Kondensator müsste
unter Verletzung des Energiesatzes Energie abgeben. Dies kann nur bedeuten,
dass in diesem Fall Wellen nicht ausbreitungsfähig sind, wir haben die hohe me-
tallische Reflexion unterhalb der Plasmakante. Für ω = ωp wird zwar keine Plas-
maresonanz angeregt, die Elektronen schwingen aber gerade so, dass εr = 0 und
für jede Ladung, die aus der Spannungsquelle auf den Kondensator fließen will,
gerade eine Polarisationsladung entsteht, die dies verhindert; der Kondensator
nimmt keine Ladung Qm auf, seine Kapazität wird null.
6
Plasmaresonanzen lassen sich deshalb im Allgemeinen nicht von Lichtwellen anregen.
In dünnen Schichten ist eine Anregung durch evaneszente Wellen möglich.
Übungen
27.1 Zwischen komplexer Dielektrizitätszahl εr = εr − j ε und der komplexen Brechzahl
n = n − j κ besteht der Zusammenhang:
ε r = n2
Zeigen Sie, dass hieraus folgt
+ √ 2
εr + εr + ε2
r
n=
2
und
+ √ 2
−εr + εr + ε2
r
κ=
2
27.2 Zeigen Sie, dass in Leitern bei niedrigen Frequenzen (ω γ) für den Zusammen-
hang zwischen Extinktionskonstante K und elektrischer Leitfähigkeit σ gilt:
Z0 σ σ
K= = 377 Ω
n n
Hierbei ist Z0 der Wellenwiderstand des Vakuums:

µ0
Z0 = ≈ 120 πΩ = 377 Ω
ε0
27.3 Bestätigen Sie die in Abb. 27.4 dargestellten Graphen für εr und εr eines Dielek-
trikums und stellen Sie auch n und κ dar. Wählen Sie logarithmische und lineare
Achsenteilung und variieren Sie den Parameter γ, also die Stärke der Dämpfung,
sowie die Teilchendichte Nv bzw. die Plasmafrequenz.
27.4 Setzen Sie für Aluminium ein freies Elektron pro Atom an. Die statische elektrische
Leitfähigkeit ist hier σ = 3,54 · 107 Ωm
1
. Berechnen Sie:
a) die Dämpfungskonstante γ,
b) die Plasmafrequenz ωp und
c) die komplexe Dielektrizitätszahl εr und Brechzahl n bei 550 nm.
27.5 Gleichung (27.55) für die Skintiefe gilt nur bei großen Wellenlängen, wenn ω γ
und ω σ/ε0 . Bestätigen Sie dies.
27.6 Prüfen Sie, ob die in Übung 27.5 angegebene Bedingung in Kupfer (σ = 5,76·107 Ωm
1
)
a) bei der Frequenz 50 Hz und
b) bei 3 m Wellenlänge erfüllt ist. Bestätigen Sie die im Text für die Skintiefe
angegebene reduzierte Größengleichung und geben Sie die Eindringtiefe für die
Fälle a und b an.
27.7 Vergleichen Sie für Radiowellen (f = 60 kHz) die Eindringtiefe in Aluminium (σ =
3,54 · 107 Ωm
1 1
) mit der in Meerwasser (σ = 4,3 Ωm ).
27.5 Plasmafrequenz 827
27.8 Berechnen Sie die Skintiefe eines massiven Silberhohlleiters (σ = 3 · 107 Ωm

1
) für
Mikrowellen mit 10 cm Wellenlänge. Erklären Sie, warum man ebenso gut einen
versilberten Wellenleiter aus Messing verwenden kann.
27.9 Die Intensität von rotem Licht mit 660 nm Wellenlänge wird in Seewasser nach
3,42 m auf 1/4 des Ausgangswertes geschwächt.
a) Wie groß ist die Extinktionskonstante von Wasser bei dieser Wellenlänge?
b) In welcher Tiefe hat der Strahlungsfluss auf 1% des Ausgangswertes abgenom-
men?
27.10 Bestätigen Sie den in Abb. 27.9 dargestellten Verlauf der optischen Konstanten von
Kupfer. Berechnen Sie außerdem den Reflexionsgrad bei senkrechtem Lichteinfall.
Zoomen“ Sie verschiedene Frequenzbereiche.
”
27.11 Drücken Sie die Konstanten Ai der Cauchy-Dispersionsgleichung (27.41) durch mi-
kroskopische Größen aus.
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5.11(b)(c)(d); 10.18; 11.3; 11.9(a); 11.13; 15.23(a)(b); 16.5(c)(d); 16.7(b); 16.8(b)(c);
16.13(c)(d); 16.17(a)-(d); 18.7; 18.16(d); 18.19; 18.20
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Melles Griot, Optics Guide , Abb. 15.16
Olympus Corp., Woodbury, N.Y., Abb. 6.19(b)
Carl Zeiss Inc., Thornwood, N.Y., Abb. 6.26(a); 6.30
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Slack Inc., Abb. 7.11
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Laser News 6, no. 6, 1984, Abb. 23.2
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G. W. Ellis, University of Pennsylvania, Abb. 25.6(a)(b)
Index
A21 , Einstein-Koeffizient, spontane Airy-(Beugungs-)Scheibchen, 486

Emission, 619 Winkeldurchmesser, 486
Abbesche Sinusbedingung, 146 Airy-Funktion, Fabry-Perot, 342
Abbesche Theorie des Mikroskops, 491 Akustooptik, 802
Abbesche Zahl, 155 Bragg-Reflexion, 802
Abbildung Bragg-Zelle, 807
ebene Spiegel, 91 Braggsche Gleichung, 803
optische, 67, 69, 70 Doppler-Effekt, 805
Abbildungsfehler Raman-Nath-Bereich, 802
Querabweichung, 132 Aliasing, Aliasfrequenzen, 775
Seidelsche, 132, 140 Amplitude, 252
Abbildungsgleichung Amplitudenbedingung, 311
dünne Linse, 80 Amplitudengitter, 515, 516
Newtonsche, 87, 88 Amplitudenteilung, s. Interferometer, 310
Abbildungskette, 771 Analysator, 435
Abbildungsmaßstab, 83, 88 anamorphotische Abbildung, 238
Flächenfolge, 76 Anlauffarben, 310
Hologramm, 400 Aperturblende, 164, 172
Abbildungsstrahlengang, 81, 82 Aperturebene, 748
ABCD-Transformationsgesetz, Gauß- Aperturfunktion, 749
scher Strahl, 672 Apodisation, 775
Aberration asphärische Flächen, Linsen, 72
longitudinale, 132 Astigmatismus, 147
Absorption, Licht-, 616 astronomisches Fernrohr, s. Kepler-
Absorptionskonstante, 609 Fernrohr, 207
Abtasttheorem, 708, 712, 775 außerordentlicher Strahl, 447, 451
Achromat, 156 Auffaltung, Reflexion, 92
achromatisches Dublett, 154 Auflösungsgrenze
Achromatisierung, 153 menschliches Auge, 493
getrenntes zweilinsiges System, 158 Mikroskop, 491
Achtelwellenplatte, Polarisator, 430 optischer Instrumente, 489
836 Index
Rayleigh-Kriterium, 489 B12 , Einstein-Koeffizient, Absorption,

Auflösungsvermögen 620
Fabry-Perot, 346 Babinetsches Prinzip, 560
Faserbündel, 708 Bandbreite, Frequenz-, 365, 712
Fourier-Spektrometer, 774 Bandfilter, 583
Gitter, 513 B21 , Einstein Koeffizient, stimulierte
Auge Emission, 619
absolute spektrale Empfindlichkeit, 31, behinderte Totalreflexion, FTIR, 606
33 Beleuchtungsstärke, 26, 33
Absorption Laserstrahlung, 241 Besetzungsinversion, Laser, 623
Adaption, 228 Besselfunktion, 484
Akkomodation (Tab.), 227 Bestrahlungsstärke
anatomischer Aufbau, 222 solare, 37, 38
Astigmatismus, 236 Beugung
Auflösungsvermögen, 229, 493 am Doppelspalt, Beugungsamplitude,
Augenfehler, 232 494
Augenfehler, Laserablation, 242 am Doppelspalt, Beugungsmaxima, 496
Augenmodell nach v. Helmholtz, 225 am Einzelspalt, 475
blinder Fleck, 224 am Einzelspalt, Amplitude, 477
gelber Fleck (Macula), 224 am Einzelspalt, Beugungsminima, 477
Hellempfindlichkeitsgrad, 31
am Einzelspalt, Intensität, 477
Hinterkammer-Chirurgie, 243
am Gitter, s. Gitterbeugung, 497
Kurzsichtigkeit (Myopie), 234
an Kreisblende, 482
Lasertherapie f. Augenfehler, 239
an Kreisblende, 1. Minimum, 486
Linse, 222
an Rechteckblende, 482
Nachtsehen, 32, 33
an Ultraschall, s. Akustooptik, 802
Netzhaut, 223
Beugungsamplitude als Fourier-Transf.,
optischer Aufbau, 222
750
Pupille, 222, 228
beugungsbegrenzte Abbildung, 769
räumliches Sehen, 229
radiale Keratomie, 240 Beugungsgitter, s. Gitter, 507
Sehschärfe, 229 Beugungsverbreiterung, 480
Sehtafeln, Landolt-Ringe, 230 Bild
Sehtafeln, Snellensche, 230 reelles, 84
Stäbchen, 223, 228 virtuelles, 84
Tagessehen, 32 Bildbrennweite
Weitsichtigkeit, (Übersichtigkeit, dünne Linse, 80, 88
Hyperopie), 235 dicke Linse, 104
Zapfen, 223, 228 Bildfeldwölbung, 147
Ausgangsebene Bildhelligkeit, Blenden, Pupillen, 164, 172
Systemmatrix, 121 Bildschnittweite Planfläche, 66
Ausstrahlung Bildverarbeitung, digitale, 756
spezifische, 26 Bildversatz Planfläche, 66
spezifische spektrale, 34 Bitraten-Längenprodukt, 725
Austrittsluke, 171, 172 Blaze-Technik, Gitter, 518, 521
Austrittspupille, 166, 172 Blende, Kamera, 188, 189
Autokorrelationsfunktion, 758 Blitzlampe, 43
Index 837
Bohr, Niels, 18 photoleitender, 48

Bohrsche Frequenzbedingung, 18 photovoltaischer, 48
Bolometer, 46 pyroelektrischer, 46
Bragg-Reflexion, 802 thermischer, 45
Bragg-Zelle, 807 Deuterium-Bogenlampe, 41
Modulator, 807 Dichroismus, 435
Spektrumanalysator, 807 dicke Linse, 101
Braggsche-Gleichung, 398, 803 Bildbrennweite, 104
Brechung an ebener Grenzfläche, 65 Hauptpunkte, 102
Brechung an Kugelfläche Kardinalpunkte, 102
Seidelsche Näherung, 134 Knotenpunkte, 103
Brechungsgesetz, 60, 61, 64, 590 Strahlmatrix, 112
paraxiales, 74 Dickenmessung mittels Interferenz, 319
Brechungsmatrix dielektrische Schichten, 567
Kugelfläche, 108, 109 dielektrische Verspiegelung, 312
Brechzahl, Bestimmung mit Prisma, 176 Dielektrizitätskonstante, s. komplexe
Brechzahlmessung bei Gasen, 330 Dielektrizitätskonstante, 607
Brechzahlmodulation durch E-Feld, 788 diffraktive Optik, 546
Brechzahltabellen, 157, 449, 578 DIN 1335, s. Vorzeichenkonvention, 72
Brewster-Fenster, 440 DIN 4521, s. Kamera, relative Öffnung,
Brewster-Winkel, 440, 595 189
Brillouin-Streuung, 802, 805 DIN 5031, s. Licht, Wellenlängenbereich,
Broglie, Louis de, 18 24
Dipolmoment, elektrisches, 825
Candela, s. Lichtstärke, 26, 33 Dipoloszillator, 827
Cassegrain-Teleskop, 213 Dispersion
CCD-Sensor, 50 Prisma, 177
cholester(in)ischer Flüssigkristall, 464 von Gläsern, 831
chromatische Aberration, s. Farbfehler, Dispersionsformel, 832
151 Doppelanastigmat, 193
Clausius-Mossotti-Gleichung, 828 Doppelbrechung, 446, 451
Coddington-Formfaktor, 143 optisch einachsig, 447
Cookesches Triplett, 193 optisch zweiachsig, 447
Cornu-Spirale, 547, 549 zirkulare, 459
Czerny-Turner-Spektrometer, 526 Doppelspalt-Interferenz
Maxima, 303
Dämpfung, Faser, 719 Minima, 304
dünne Linse, 80 Doppelspaltbeugung, s. Beugung am . . . ,
Strahlmatrix, 113, 114 493
DAP-Effekt (LCD), 466 Doppelspaltinterferenz
de-Broglie-Wellenlänge, 18 Maxima, 496
Deltafunktion, 364, 752 Doppler-Effekt, 270, 805
Detektivität, 51 bei Reflexion, 271
Detektor, 45 im Teilchenbild, 805
Empfindlichkeit, 51 Rotverschiebung, 271
Golay, 46 Doppler-Verbreiterung, 271
photoemissiver, 47 Dove-Prisma, 185
838 Index
Drehzelle (TN-Zelle), 466 Fabry-Perot-Interferometer, 339

Drei-Wellen-Mischung, 787 Airy-Funktion, 342
Dunkelfeldbeleuchtung, Mikroskop, 204 Auflösungsvermögen, 346
Finesse, 346
ebene Welle, 261, 751 Finesse-Koeffizient, 342
Echelette-Gitter, 521 nutzbarer Spektralbereich, 347
Echtzeit-Holografie, Phasenkonjugation, Streifenprofil, 342
809 Faltung
Eindringtiefe Bildintensität, 762
Energie-, 609 Faltungsintegral, 758
Totalreflexion, 606 Faltungstheorem, 762
Eingangsebene optische Abbildung als, 760
Systemmatrix, 121 Faraday-Effekt, 799
Einstein, Albert, 17, 615 Drehwinkel, 799
Einstein-Koeffizienten, 617, 621 Verdet-Konstante, 800
Eintrittsluke, 171, 172 Farbauflösung, Prisma, 180, 182
Eintrittspupille, 166, 172
Farben dünner Blättchen, 316
elektrische Leitfähigkeit, 838
Farbfehler, s. chromatische Aberration,
elektrische Polarisation, s. Polarisation,
151
406
Farblängsfehler, 153, 157
elektrische Polarisierbarkeit, 828
Farbquerfehler, Okular (s. auch Farbver-
elektromagnetische Wellen, 262
größerungsfehler), 196
elektromagnetisches Spektrum, 24
Farbtemperatur, 36
Elektronengas, 837
Farbvergrößerungsfehler, 153, 157
elektrooptische Konstanten (Tab.), 793
Faserendoskop, 708
Ellipsoid der Strahlgeschwindigkeit, 453
Faserkern, 712
elliptische Elementarwellen, 452
Fasermantel, 712
Emission
spontane, 616 Fasermoden, 716, 717
stimulierte, 616 Faseroptik, 707
enantiomorphe Kristallstrukturen, 457 Akzeptanzwinkel, 714
Energiedichte der e.m. Welle, 267 binäre Modulation, 710
Energiestromdichte, 268 chromatische Dispersion, 732
Entspiegelung Dämpfungskoeffizient, 721
λ/4-Schicht, 311 Einwelligkeitsgrenze, 718
Amplitudenbedingung, 311 erlaubte Moden, 716
dielektrische, 311 evaneszente Wellen, 718, 720
Phasenbedingung, 311 Faserdaten (Tab.), 715
Entspiegelung, s. auch Reflexminderung, Materialdispersion, 727
574 Modendispersion, 724
Etalon, 340 Modenzahl, 719
Eulersche Formel, 256 Monomodefaser, 710
evaneszente Welle, 604, 718, 737 Multimodefaser, 710, 719
Extinktionsgesetz, Lambert-Beersches, Rayleigh-Streuung, 722
609 V-Parameter, 718
Extinktionskoeffizient, 608, 824 Faserplatte, 708
Extinktionskonstante, 609, 824 Faserverstärker, Erbium-dotierter, 710
Index 839
Feldblende, 169, 172 Fourier-Transformationspaar, 746

Feldstecher, 211 Fourier-Transformierte des Rechteckpul-
Feldwinkel, s. Gesichtsfeld, 169, 172 ses, 362
Fensterfunktion, 775 Fraunhofer-Beugung, 473
Fermatsches Prinzip, 61, 64 als Fourier-Transf., 750
Fernfeldbedingung, 481 Fernfeldbedingung, 481
Fernpunktweite, 227 Fraunhofer-Linien, 178
Fernrohr, 207 freier Spektralbereich, s. nutzbarer
Vergrößerung, afokale Einstellung, 208 Spektralbereich, 347
Film Frequenz, 253
fotografischer, 50 Frequenzmischung, 787
Filterung Frequenzmodulation, 710, 711
4f -Anordnung, 755 Frequenzverdopplung, 781
angepasstes (matched) Filter, 759 Intensität, 784
Hochpass, 755 Kristallkohärenzlänge, 784
Tiefpass, 755 Phasenapassung, 785
Vander-Lugt-Filter, 759 Fresnel, Augustin, 17
Filterung, optische, 754 Fresnel-Beugung, 533
Finesse, 347 am Einzelspalt, 558
Fixfokusobjektiv, Kamera, 191 an Kante, 555
Fizeau-Streifen, 315 an Kreisblende, 540
Flüssigkristallanzeigen (LCD), 463 an Rechteckaperturen, 547
Flüssigkristalle, 463 Kriterium für, 538
Flintglas SF 12, s. Brechzahltab., 157 Nahfeldbedingung, 539
Formfaktor, 494 Fresnel-Integrale, 551, 553
Fotometrie, s. Lichttechnische Größen, 31 Fresnel-Kirchhoffsches Beugungsintegral,
Fotorefraktion, 290, 794 534
Fourier-Analyse, 354 Fresnel-Näherung, Kugelwellen, 657
Fourier-Ebene, 748 Fresnel-Rhomboid, 601
Fourier-Integrale, 359 Fresnel-Verluste (Faser), 721
Fourier-Optik, 745 Fresnel-Zahl, 539
Fourier-Reihe, 353 Fresnel-Zonen, 540
der Rechteckwelle, 359 Fresnelsche Gleichungen, 587
Fourier-Koeffizienten, 356 Fresnelsche Zonenplatte, s. Zonenplatte,
komplexe, 355 543
Fourier-Spektroskopie, 772 Fresnelscher Spiegelversuch, 308
Auflösungsvermögen, 774 Fresnelsches Biprisma, 308
Interferogramm, 772
Multiplex-Vorteil, 772 g-Parameter, Laserresonator, 668
Signal-Rauschverhältnis, 772 Gabor, Dennis, 387
Spektrogramm, 773 Galilei-Fernrohr, s. terrestrisches
Fourier-Synthese, 354 Fernrohr, 207
Fourier-Transformation, 361, 746 Gangunterschied, 300
diskrete (DFT), 775 Gasentladungslampe, 42
schnelle (FFT), 776 Gaußsche Kugelwellen, Laser, 670
Verschiebungssatz, 494 Gaußsche Optik, 132
zweidimensionale, 747 Gaußscher Strahl, 659, 661
840 Index
Öffnungswinkel, 664 Halbwertsbreite, 365

Abbildung mit dünner Linse, 678 Hale-Spiegelteleskop, 213
ABCD-Transformationsgesetz, 672 Hanning-Fenster, 775
Strahlparameterprodukt, 665 harmonische Welle
Geradsichtprisma, 183 (komplex), 258
Gesamtvergrößerung, Mikroskop, 201 harmonische Wellen, 251, 254
Gesichtsfeld, s. Feldwinkel, 169, 172 Hauptbrechzahl, 155, 447
Gibbssche Türmchen, 359 Hauptdispersion, 155
Gitter Hauptpunkte
Amplitudengitter, 515, 516 Huygenssches Okular, 124
Auflösungsvermögen, 513 optisches System, 119
Blaze-Technik, 518, 521 Hauptstrahl, 167, 172
Dispersion, 512 Heisenberg, Werner, 21
nutzbarer Spektralbereich, 509 Heisenbergsche Unschärferelation, s.
Phasengitter, 515, 516 Unschärferelation, 21
Reflexionsgitter, 515 Helium-Neon-Laser, Energiezustandsdia-
Transmissionsgitter, 515 gramm, 628
Gitterbeugung, 497 Hellfeldbeleuchtung, Mikroskop, 204
Maxima, 501 Helmholtz-Wellengleichung, 656
Minima, 501 paraxiale, 660
Gitterfunktion, 498 Herosches Prinzip, 62
Gittergeister, 524
Hertzscher Dipol, 442
Gittergleichung, 498, 508, 515
Himmelsblau, 444
Rechteckgitter, 754
Hintereinanderschaltung dünner Linsen,
Sinusgitter, 753
87, 88
Transmissionsgitter, 508
Hohlspiegel
Gitterkopien, 523
aufgefalteter Strahlengang, 93
Gitterschwingungen, s. Phononen, 804
Holografie, 387
Gitterspektrometer, 526
holografisch optische Elemente, 402
Glan-Taylor-Prisma, 456
holografische Interferometrie, 400
Globarstrahler, 38
Golay-Detektor, 46 Hologramm
Gradientenindexfaser (s. auch GRIN- Abbildungsmaßstab, 400
Optik), 726 Anwendungen, 399
Grauer Strahler, 36 Aufzeichnung, 393
Gregory-Teleskop, 213 Braggsche Gleichung, 399
GRIN-Optik Eigenschaften, 397
Bitraten-Längenprodukt, 727 Punktquelle, 389
Brechzahlprofil, 727 Referenzwelle, 388
Linse, 733, 736 Rekonstruktion, 396
paraxiale Strahlgleichung, 735 Signalwelle, 388
Periodizitäts-Länge (Pitch-Länge), 727, Hubble-Effekt, 271
735 Huygens, Christiaan, 16, 57
Gruppengeschwindigkeit, 290, 291 Huygens-Fresnelsches Prinzip, 474
Huygenssches Okular, Hauptpunkte, 124,
Haidinger-Ringe, 314 197
Halbwellenplatte, Polarisation, 426, 450 Huygenssches Prinzip, 57
Index 841
Idlerwelle, 788 zirkulare Polarisation, 412

Indexellipsoid, 454
Infrarot-Strahlungsquellen, 39 Köhlersche Beleuchtung, Mikroskop, 206
integrierte Optik, 737 Kalkspat, 447
Intensität, 267 Kamera, 186
Intensitäts-Modulation, 710 Blende, 188
Interferenz, 275 Blendenzahl, 189
an dielektrischen Schichten, 309, 567 Fixfokusobjektiv, 191
bei beliebiger Frequenz und Richtung, Teleobjektiv, 188
284 Weitwinkelobjektiv, 188
destruktive, 279, 301 Kardinalpunkte dicke Linse, 102, 103,
gegenläufiger Wellen, 286 122
gleichfrequenter, gleichgerichteter kartesisches Ovaloid, 69, 71
Wellen, 277 Kellner-Okular, 199
inkohärente Sender, 283 Kepler-Fernrohr, s. astronomisches
kohärente Sender, 283 Fernrohr, 207
konstruktive, 279, 300 Kerr-Effekt, 796
mit virtuellen Quellen, 307 Kerr-Konstanten (Tab.), 799
schräglaufender Wellen, 287 Kerr-Linse, 799
von N Wellen, 282 Kerr-Zelle, 797
Interferenz-Hyperboloide, 306 kissenförmige Verzeichnung, 150
Interferenzfarben, 309 Knotenpunkte dicke Linse, 103
Interferenzfilter, 583 kohärente Übertragungsverfahren, 710
Interferenzgitter, holografisches Gitter, Kohärenz, 353, 637
524 laterale, 377
Interferenzkurven longitudinale, 377
gleicher Dicke, 315 räumliche, 377
gleicher Neigung, 314 zeitliche, 369
Interferenzterm, 279, 299 Kohärenzbreite, 379
Interferometer, 325 Kohärenzgrad, 372
Amplitudenteilung, 325 Kohärenzlänge, 369, 380, 640
Fabry-Perot, 339 Kohärenzzeit, 369, 639
Mach-Zehnder, 334 Kohle-Lichtbogenlampe, 40
Michelson, 326 Koma, 144
Michelson Stern-, 381, 382 Kompensationsplatte, 326
Twyman-Green, 332 Kompensatoren, Phasen-, 451
Wellenfrontteilung, 325 komplexe Amplitude, 259
Interferometrie komplexe Brechzahl, 607, 608, 823
Brechzahlmessung, 330 komplexe Dielektrizitätskonstante, 607,
optische, 325 822
ITO-Schicht, 840 komplexe Dielektrizitätszahl, 607, 822,
829
Jones-Vektor komplexe Zahl, 256
(Tab.), 418 konjugierte Punkte, 68
elliptische Polarisation, 413 Konstruktionsstrahlen
lineare Polarisation, 408 optische Abbildung, 82
normierter, 407 Kontrastfunktion, 374
842 Index
Korrekturplatte, Teleskop, 215 Laser-Scanning-Mikroskop, 705

Korrelation, optische, 756 Laserdrucker, 701
Korrelationsfunktion, 372, 758 LIDAR, 701
Krümmungsradius, Wellenfront, 664 Materialbearbeitung, 689, 691
Kreisfrequenz, 253 Medizin (Tab.), 694
Kreiswellenzahl, 252 Nachrichtenübertragung, 697, 708
Kronglas BK 7, s. Brechzahltab., 157 Speicherplatten, 699
Kugeloberfläche, Reflexion, 91, 111 Lasermedium, 624
Kugelstrahler, 29, 31 Lasermoden (Abb.), 682
Kugelwelle, 262 Laserparameter (Tab.), 652
Fresnel-Näherung, 657 Laserprozess, 631, 633
Kurzbogenlichtquelle, 41 Laserresonator, 626
g-Parameter, 668
λ/4-Platte (s. Verzögerungsplatte), 311, Helium-Neon-Laser, 672
575 Stabilitätsbedingung, 669
Längsabweichung, s. longitudinale Stabilitätsdiagramm, 668
Aberration, 132 Vorzeichenkonvention, 667
Lambertstrahler Laserschneidsystem, 690
Abstrahlungscharakteristik, 28, 31 Laserstrahl, optimale Optik, 674
Laplace-Operator, 261 Lasertrimmen, 690
Laser, 615 Lawinendiode (Avalanche-Diode), 50
Besetzungsinversion, 622 LCD (Liquid Crystal Display), 463
externe Energiezufuhr, 624 Lebensdauer, spontane, 634
Fokussierbarkeit, 647, 649 Leistungsspektrum, 367
Gaußscher TEM-Strahl, 644 Leuchtdichte, 26, 33
Grundelemente, 623 Leuchtstofflampe, 44
Helium-Neon-, 628 Licht
Kohärenz, 637 Wellenlängenbereich, 25
Linienverbreiterungen, 635 Lichtinterferenz, 297
optisches Pumpen, 624 Lichtleiter, 708
Photonenfluss, 645 Lichtmodulation, 741, 779
Rayleigh-Länge, 662 Kerr-Zelle, 797
Resonator, 626, 631 Pockels-Zelle, 791
Strahlaufweitung, 650 Lichtquanten, s. Photon, 18
Strahlausbreitung, 663 Lichtquellen
Strahldichte, 646 natürliche, 36
Strahldivergenz, 640, 643 Lichtstärke, 26, 33
Strahleigenschaften, 655 Lichtstreuung, 442
Strahlparameterprodukt, 641, 665 Lichtstrom, 26, 33
Strahltaille, 640 Lichtwellenleiter, 708
transversale Modenstrukturen, lineare Optik, 276
Kreissymmetrie, 680 lineare und nichtlineare Effekte (Tab.),
transversale Modenstrukturen, 786
Rechtecksymmetrie, 680 lineares Medium, 276
Vier-Niveau-System, 627 Linienbildfunktion (LSF), 766
Laseranwendungen, 687, 688 Linienbreiten, 634, 636
Kernfusion, 695 Linse
Index 843
Brechwert, 85 Monochromator, 527

dicke, 101 Monomodefaser, 710
Linsenfernrohre, 207 Multimodefaser, 710, 719
Lissajous-Figuren, 410
Lithium-Niobat, 737 Nahfeldbedingung, 539
Littrow-Anordnung, Gitter, 521 Nahfeldmikroskop, 492
Lloydscher Spiegelversuch, 307 Nahpunktweite, 227
Lochkamera, 186 nematischer Flüssigkristall, 464
lokalisierte Interferenzstreifen, 314 Nernstquelle, 38
Lumen, s. Lichtstrom, 26, 33 Newton, Isaac, 16
Lumineszensstrahler, 37 Newton-Ringe, 316
Lupe, 192 Newtonsche Abbildungsgleichung, 87, 88
Lupenvergrößerung, 194 Newtonsches Teleskop, 212
Lux, s. Beleuchtungsstärke, 26, 33 nichtlineare Medien, 780
nichtlineare Optik, 779
Mach-Zehnder-Interferometer, 334 nichtlokalisierte Interferenzstreifen, 307,
Maiman, T.H., 615 314
Malussches Gesetz, 436 Nullphasenwinkel, 253
matched filter, 759 numerische Apertur, 491, 714
Materialdispersion, 727 numerische Apertur, Mikroskopobjektiv,
Materiewellenlänge, 18 203
Maxwell, James Clerk, 17 nutzbarer Spektralbereich, 347
Maxwell-Beziehung, -Relation, 264, 823 Nyquist-Kriterium, 775
Maxwell-Gleichungen, 264
Mehrfachschichten, 567 Öffnungsfehler, 140
meridionales Strahlbündel, s. tangentiales Öffnungsfehler, s. sphärische Aberration,
Strahlbündel, 148 137
Mesophase, 464 Öffnungswinkel, abbildendes Strah-
Metallreflexion, 609, 839 lenbündel, 163, 172
Michelson, Albert, 326 Okular, 192
Michelson-Interferometer, 326 Eigenschaften, 199
Anwendungen, 330 Huygenssches, 197
Streifenzählung, 329 Kellner, 199
Mie-Streuung, 442 Ramsden, 197
Mikroskop, 200 opt. Phasenkonjugation, 814
Abbildungsstrahlengang, 201 optisch dichteres/dünneres Medium, 593
Auflösungsgrenze+, 491 optisch einachsig, 447
Gesamtvergrößerung, 201 optisch zweiachsig, 447
Köhlersche Beleuchtung, 206 optische Übertragungsfunktion (OTF),
numerische Apertur, 203, 491 766
Objektive, 204 optische Übertragungssysteme, 708
Tubuslängen, 201 optische Abbildung, 67, 69
Modendispersion, 724 Abbildungsmaßstab, 75, 76
Modulation (Kontrast), 301, 768 Konstruktionsstrahlen, 82
Modulationsübertragungsfunktion optische Achse, 447
(MTF), 766 optische Aktivität, 456
Moiré-Muster, 290 optische Filterung, s. auch Filterung, 754
844 Index
optische Gleichrichtung, 783 Phasenverzögerer, Polarisator, 426

optische Instrumente, 163 Phononen
optische Konstanten, 819 akustische (TA, LA), 804, 835
Definition, 824 optische (TO-, LO-), 835
Gläser, 832 Photodiode, 49
Ionenkristalle, 834 Photoeffekt
Metalle, 837 äußerer, 17, 47
Theorie, 824, 829 innerer, 48
optische Korrelation, 756 Photoelement, 48
optische Phasenkonjugation, Bildverbes- photoemissiver Detektor, 47
serung, 807 photoleitender Detektor, 48
optische Resonatoren, Stabilitätsdia- Photomultiplier, 47
gramm, 668 Photon, 18
optische Strahlung, 24 Bestrahlungsstärke, 21
optische Strahlungsquellen, 36 Photon-Phonon-Wechselwirkung, 804
optischer Isolator, 801 Photonen- und Wellenmodell, 16
optischer Weg, 69 Photonenenergie, 17
optisches System Photonenstatistik, 20
Hauptpunkte, 119 photovoltaischer Detektor, 48
ordentlicher Strahl, 447, 451 Photowiderstände, 48, 49
Orientierungspolarisation, 825 pin-Photodiode, 49
Ortsfrequenz, 747 Pitch-Länge, s. GRIN-Optik, 727
Ortsfrequenzanalyse, 750 Planck, Max, 17
Oszillatorstärke, 829 Plancksches Strahlungsgesetz, 34
Planfläche
parametrischer Oszillator (OPO), 788, Bildschnittweite, 66
789 Bildversatz, 66
parametrischer Verstärker (OPA), 788, Planplatte, Interferenz an, 336
789 Plasma(kreis)frequenz, 827, 841
paraxiale Näherung, 65, 74 Plasmakante, 838
paraxiales Brechungsgesetz, 74 Plasmaschwingungen, 840
Pellin-Broca-Prisma, 183 Pockels-Effekt, 790
Penta-Prisma, 185 Pockels-Modulator, 792
Petzval-Fläche, 149 Halbwellenspannung, 792
Petzval-Summe, 149 Pockels-Zelle, 791
Phasenänderung bei Reflexion, 597 als Güteschalter, 793
Phasenübertragungsfunktion (PTF), 766 Poincaré-Kugel, Polarisation, 420
Phasenanpassung phase matching, 786 Poissonscher Fleck, 543
Phasenbedingung, 311 Polarisation
Phasendifferenz, 299 Dichroismus, 435
Phasengeschwindigkeit, 253, 254, 290, durch Reflexion, 439
291 durch Streuung, 442
Phasengitter, 515, 516 linear, 408
Phasenkonjugation, nichtlineare optische, Malussches Gesetz, 436
807 Matrixbeschreibung, 405
phasenkonjugierender Spiegel, 808 optische, 405, 435
Phasensprung bei Reflexion, 300, 602 Poincaré-Kugel, 420
Index 845
Verzögerungsplatte, 422, 423 reelles Bild, 84

Polarisation, s. auch Jones-Vektor, 406 Referenzwelle, Hologramm, 388
elektrische, 780, 821 Reflexion
Polarisationsdreher, 422, 427 ebene Spiegel, 89
Polarisationsellipse, 415 Reflexionsfaktor (TE- u. TM-Welle), 334,
Polarisationsgrad, Stokes-Parameter, 417 592, 610
Polarisator Vielfachschicht, 571
Halbwellenplatte, 426 Reflexionsgesetz, 56, 60, 590
linearer, 421 Reflexionsgitter, Gittergleichung, 515
Systemmatrix, 431 Reflexionsgrad, 334, 572, 594, 596, 604,
Viertelwellenplatte, 426 836
Polarisator-Analysator-Paar, 436 (senkr. Einfall), 596, 610, 836
x Müller-Matrizen, 421 dielektrischer Spiegel, 582, 583
Polarisatoren, Jones- und Müller- Metallspiegel, 610
Matrizen, 428 Reflexionsmatrix mit/ohne Auffaltung,
Polaroidfolien, 438 110
Polymerfasern, 724 Reflexminderung, 574
Poynting-Vektor, 268 Einfachschicht, 574
Prisma, 172 Mehrfachschichten, 575, 579
Farbauflösungsvermögen, 182 refraktive Optik, 546
minimale Gesamtablenkung, 175 relative Öffnung, Kamera, s. DIN 4521,
Prismenpolarisatoren, 456 189
Prismenspektrometer, 179 Relativitätstheorie, spezielle, 19
Pumpwelle, 788 Reststrahlbanden, 837
Punktbildfunktion (PSF), 761 Richtkoppler, 737
pyroelektrischer Detektor, 46 Transferlänge, 740
Richtungsfaktor, 535
quadratischer Detektor, 269, 298 Rotationsdispersion, 457
Quantendetektoren, 47 Rotverschiebung, 271
Quantenelektrodynamik, 21 Rowland-Kreis, 527
Quantenzustand, 20 Rubinlaser, 615
Quarzhalogenlampe, 39
Quecksilber-Xenon-Bogenlampe, 41 Sagittalebene, 147
Quecksilberbogenlampe, 41 sagittales Strahlenbündel
Astigmatismus, 147
Radiometrie, s. strahlungsphysikal. Schärfentiefebereich, Kamera, 191
Größen, 26 Schawlow, Arthur, 615
Raman-Streuung, 445 Scheitelpunkte dicke Linse, 104
Ramsden-Okular, 197 Schicht-Wellenleiter, 716
Rayleigh-Kriterium, 489 Schichtmatrix, 572
Rayleigh-Länge, Laserstrahl, 662 Schmidt-Teleskop, 215
Rayleigh-Streuung, 442 Schnittweitengleichung
Rayleigh-Streuung (Faser), 722 brechende Kugelfläche, 75, 88
Raytracing, 125 Schwarzer Strahler, 34
Rechteckfunktion rect(x), 358 Schwarzkörperstrahlung, 34
Rechteckgitter, 515 Schwebung, 291
Rechteckwelle, 358 Schwebungsfrequenz, 291
846 Index
Seidelsche Abbildungsfehler, 132 Stokes-Parameter (Tab.), 420

Seidelsche Näherung, 134 Stokes-Vektor, normierter (Tab.), 418,
Sellmeier-Gleichung, 831 419
Sender Strahlaberration, 132
inkohärente, 283, 284 Strahlablenkung, Prisma, 174
kohärente, 283, 284 Strahldichte, 27
Signalgeschwindigkeit, 293 Strahldivergenz, beugungsbedingte, 480
Signalverzerrung, 724 Laser, 640
Signalwelle, 788 Strahlenteiler, 326
Signalwelle, Hologramm, 388 Strahlenteilerwürfel, 606
sinc-Funktion sinc(x), 362, 477 Strahler
Sinus-, Kosinus-Gitter, 752 schwarzer, 37
Sinusdarstellung der Welle, 259 Strahler, thermischer
Sinusgitter, 515 grauer, 36
Skineffekt, 839 schwarzer, 34
Skintiefe, 840 Strahlmatrix dünne Linse, 113, 114
smektischer Flüssigkristall, 464 Strahlmatrix dicke Linse, 112
solare Bestrahlungsstärke, 38 Strahlparameter, komplexer, 661
Solarkonstante, 37 Strahlstärke, 27
Soleil-Babinet-Kompensator, 451 Strahltaille, Laser, 640
Spaltbeugung, s. Beugung am . . . , 475 Strahlteilung, 310
Spaltfunktion, 495 Strahlung
Spannungsoptik, 461 optische, 24
spektrale Linienbreite, 369 Quantentheorie (A. Einstein), 616
spektraler Strahlungsfluss, 34 spektrale Verteilung der Fluoreszenz,
Spektrograf, Wadsworth, 529 632
Spektrometer, 526 Strahlungsdetektoren, 45
Czerny-Turner, 526 Strahlungsdichte, spektrale, 620
Paschen-Runge, 527 Strahlungsenergie, 26
Spektroskop, 526 Strahlungsfluss, 26, 34
Spektrum strahlungsphysikal. Größen, s. Radiome-
elektromagnetisches, 24 trie, 26
Sperrfilter, 583 Strahlungsquellen
spezifische Ausstrahlung, 26, 34 optische, 36
sphärische Aberration, s. Öffnungsfehler, Strehlverhältnis, 770
137, 140 Streifenkontrast, 301
Spiegel, dielektrische, 581 Strukturfaktor, 495
Spiegelteleskope, 211 Strukturfunktion, 495
spontane Emission, 616 Stufenindexfaser, 715
Stefan-Boltzmann-Gesetz, 36 Superpositionsprinzip, 276
stehende Welle, 286 Suszeptibilität, elektrische, 780, 821
Bäuche, 286 synthetische Hologramme, 402
Knoten, 286 Systemmatrix, 113
Sterninterferometer, 381, 382 Bedeutung der Elemente, 116
stimulierte Emission, 616 Systemtheorie, s. auch Faltung, 758
Stoßverbreiterung, 634 der Abbildung, 760
Stokes-Beziehungen, 334 Linearitätsgesetz, 761
Index 847
Ortsinvarianz, 761 Übertragungsfenster, LWL, 723

Ultraschall-Hologramme, 401
Tagessehen, 33 Unbestimmtheitsrelationen, s. auch
Tangentialebene, 147 Unschärferelation, 21
tangentiales Strahlenbündel Unschärferelation der Signaltheorie, 365
Astigmatismus, 147 Energie-Zeit-, 366
TE- (transversal elektrische)Welle, 589 Orts-Impuls-, 370
Teilkohärenz, 370
Teleobjektiv, Kamera, 188 4f -Anordnung, 755
TEM-Moden, 682 Vakuumlichtgeschwindigkeit, 264
Temperaturstrahler, s. Strahler, thermi- Vander-Lugt-Filter, 759
scher, 37 van Cittert-Zernike-Theorem, 380
terrestrisches Fernrohr, s. Galilei- Verdet-Konstante, 800
Fernrohr, 207 (Tab.), 800
Tessar-Objektiv, 193 Vergrößerung Fernrohr, afokale Einstel-
thermische Detektoren, 45 lung, 208, 209
Thermosäule (thermopile), 46 Verschiebungspolarisation, 825
TM- (transversal magnetische) Welle, 589 Verschiebungssatz der Fourier-
Tolansky-Methode, 321 Transformation, 494
tonnenförmige Verzeichnung, 150 Verspiegelung, 581
Totalreflexion, 66, 67 Verzögerungsplatte (Phasenverzögerer),
ATR-Spektroskopie, 606 422, 423, 427, 450
evaneszente Welle, 604 Verzeichnung, 150
Grenzwinkel, 597 Vielstrahlinterferenz, 326, 336
Townes, Charles H., 615 Vier-Wellen-Mischung, 787, 811
Transfer-Matrix, 568, 571 Viertelwellenplatte, Polarisator, 426, 450
Translationsmatrix, 107, 114 Viertelwellenschicht, 575
Transmissionsachse, 435 Vignettierung, 171
Transmissionsfaktor , TE- u. TM-Welle virtuelle kohärente Quellen, 307
(Vielfachschicht), 571 virtuelles Bild, 84
Transmissionsfaktor, TE- u. TM-Welle, Volumenhologramm, 398
334, 593
Transmissionsfunktion, 749 Weglänge
Transmissionsgitter, Gittergleichung, optische, 69
beliebiger Einfallswinkel, 508 Weißlicht-Hologramm, 397
Transmissionsgrad, 335, 572, 595, 604 Weitwinkelobjektiv, Kamera, 188
Tripelspiegel, 90 Welle-Teilchen Dualismus, 18
Tubuslängen, Mikroskop, 201 Wellen, 249
Twyman-Green-Interferometer, 332 ebene, 261, 751
elektromagnetische, 262
Überlagerung, s. Interferenz, 275 harmonische, 251, 254
Überlagerungsprinzip, s. Superpositions- laufende, 250
prinzip, 276 Sinunsdarstellung, 259
Übertragungsfunktion, s. auch optische, Wellenaberration, 132
766 Wellenfrontteilung, 310
der Kreis-Linse, 770 Wellenfunktion, 250
Übertragungsrate, 712 Wellengleichung, 249
848 Index
dreidimensionale, 262 Young, Thomas, 16

eindimensionale, 251 Youngscher Doppelspalt-Versuch, 302,
Helmholtz-, 656 380
Wellenlänge, 252
Wellenleiterdispersion, 731 Zielfindung, selbstgesteuerte, 813
Wellenmechanik, 19 Zirkonbogenlampe, 39
Wellenpaket, 293 zirkulare Doppelbrechung, 459
Wellenvektor, 252, 260 Zonenplatte
Wellenzahl, 253 Amplituden-, 543
Wiensches Verschiebungsgesetz, 35 Brennweiten, 546
Fresnelsche, 543
Winkelvergrößerung, 192
Gaborsche, 389
Wolframbogenlampe, 40
Phasen-, 543
Wollaston-Prisma, 456
Zonenradien, 544
Zweistrahlinterferenz, 298
Xenon-Kurzbogenlampe, 41, 42 Intensität, 299

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Pedrotti · Pedrotti · Bausch · Schmidt

Optik für Ingenieure

Optik für Ingenieure

3., bearbeitete und aktualisierte Auflage

Mit 407 Abbildungen und 28 Tabellen

Titel der amerikanischen Originalausgabe:

ISBN-10 3-540-22813-6 Springer Berlin Heidelberg New York

1 Was ist Licht? . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1

2 Erzeugung und Messung von Licht . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9

4 Matrixmethoden der paraxialen Optik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85

4.6 Die Matrizen für dicke und dünne Linsen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95

6 Optische Instrumente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 147

7 Optik des Auges . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 205

8.7.2 Maxwellsche Gleichungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 248

9 Interferenz von Wellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 259

11 Optische Interferometrie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 309

14 Matrixbeschreibung der Polarisation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 389

15 Erzeugung von polarisiertem Licht . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 421

17 Das Beugungsgitter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 493

19 Interferenz an Mehrfachschichten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 553

20 Fresnelsche Gleichungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 573

21 Grundlagen der Laser . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 601

22 Eigenschaften von Laserstrahlen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 641

26 Nichtlineare Optik und Lichtmodulation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 765

27 Optische Konstanten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 803

Darmstadt, im Sommer 1996 Werner Bausch

Darmstadt, im Herbst 2004 Werner Bausch

a, a Objekt- und Bildweite C Kapazität

E, Ee Beleuchtungs- und h Plancksches Wirkungs-

λ, λ0 Wellenlänge, Vakuumwel- q longitudinale Modenzahl

Im 17. Jahrhundert war der prominenteste Vertreter der Teilchentheorie des

Kurze Geschichte der Optik – Photonen- und Wellenmodell

Christiaan Huygens (1629-1695), holländischer Physiker und Mathematiker und

1821 veröﬀentlichte Augustin Fresnel (1788-1827) die Ergebnisse seiner Ex-

Bohrsche Frequenzbedingung hfmn = Wm − Wn (1.3)

zu beobachten waren; in anderen Fällen – beispielsweise bei der Doppelspaltbeu-

Hierbei ist c die Vakuumlichtgeschwindigkeit, mc2 die Ruhenergie W0 und Wkin

von γ. Die relativistische Masse ergibt sich zu mrel = γm.

Aus (1.5) folgt für den Impuls

Die Materiewellenlänge ist dann

und die Geschwindigkeit v = 2,95 · 108 m/s bzw. v/c = 0,985.

exakt gleiche physikalische Eigenschaften aufweisen dürfen. In der Bose-Statistik

2.1 Elektromagnetisches Spektrum

Strahlung. Das Adjektiv spektral beinhaltet die Wellenlängenabhängigkeit. Ver-

2.2 Strahlungsphysikalische Größen (Radiometrie)

Abb. 2.1. Elektromagnetisches Spektrum als Funktion der Wellenlänge im Vakuum

keiner weiteren Erklärung. Die Strahlungsﬂussdichte auf einer Empfänger-Fläche

Tabelle 2.1. Radiometrische und fotometrische Größen

Strahlungsphysikalische Größen Lichttechnische Größen

Die Strahlungsﬂussdichte einer Quelle, die den Strahlungsﬂuss dΦe,H vom

Abb. 2.2. Die Strahlstärke Ie = dΦ

Die Strahldichte Le gibt die Strahlstärke der projizierten Quellenﬂäche (eﬀek-

(2.4) gegeben durch:

Ie (ε) Ie0 cos ε Ie0

Ist die Strahldichte einer strahlenden Oberﬂäche unabhängig vom Beobach-

Für sogenannte Kugelstrahler gilt demgegenüber I(ε) = konst. Die Glühwen-

In einem nicht absorbierendem Medium bleibt die Leistung im Strahlenbündel

element dA1 der Quellenﬂäche A1 erreicht. Die Verbindungslinie der Flächenele-

Lambertscher Strahler Φe = πIe0 Ω0

mit Ω0 = 1 sr als Einheits“-Raumwinkel.

2.3 Lichttechnische Größen (Fotometrie)

Abb. 2.7. Standardisierter spektraler Hellempﬁndlichkeitsgrad des menschlichen Auges

fotometrische Größe = K(λ) · radiometrische Größe (2.13)

wobei K(λ) die absolute spektrale Empﬁndlichkeit für monochromatische Strah-

Tagessehen K(λ) = Km · V (λ) mit Km = 683 lm

wobei Km der Maximalwert des fotometrischen Strahlungsäquivalentes für das

Bei polychromatischer Strahlung sind die radiometrischen und fotometrischen