Sie sind auf Seite 1von 54

I Hochfrequenzmeßtechnik

RF and microwave measurements

H. Dalichau

Allgemeine Literatur : Adam, S. F: Microwave theory and applications. Englewood Cliffs : Prentice Hall 1969. - Bailey,
A . E. (Hrsg): Microwave measurement . London: Peter Peregrinus 1 98 5 . - Bryant, G. H. : Principles of microwave
measurements. London : Peter Peregrinus 1 9 8 8 . - CFEM Digest : Conference on precision electromagnetic measurements.
New York : IEEE 1 978/80/82. - Gerdsen, F.: Hochfrequenzmeßtechnik. Stuttgart : Teubner 1982. - Ginzton, E. L. :
Microwave measurements. New York : McGraw-Hill 1 957. - Groll, H.: Mikrowellenmeßtechnik. Wiesbaden : Vieweg
1 969. - Hock, A . u. a. : Hochfrequenzmeßtechnik, Teil 1 /2. Berlin : Expert 1 982/80. - Kraus, A.: Einführung in die
Hochfrequenzmeßtechnik. München : Pflaum 1 9 80. - Lance, A . L.: Introduction to microwave theory and measurements.
New York : McGraw-Hill 1 964. - Laverghetta, T S. : Handbook of microwave testing. Dedham : Artech 1 9 85. - Laverghet­
ta, T S.: Modern microwave measurements and techniques. Dedham : Artech 1 98 8 . - Mäusl, R. : Hochfre­
quenzmeßtechnik. Heidelberg : Hüthig 1 97 8 . - Schleifer, Augustin, Medenwald: Hochfrequenz- und Mikrowellen­
meßtechnik in der Praxis. Heidelberg: Hüthig 1 9 8 1 . - Schiele, B.: Meßsysteme der HF-Technik. Heidelberg : Hüthig 1 984.

1 Messung von Spannung, Zu l e it u n g Mengerö t


Lei t e rsch le ife .
Strom und Phase
.

I
Measurement of voltage, current
and phase
. . a
1.1 Ube rsicht: S pannungsme ssung
Survey: Voltage-measurement
Z u leit u n g M e n g e rö t
Standardmultimeter und Digitalvoltmeter mes-

r- '"

sen Wechselspannung durch Diodengleichrich­


tu ng bis etwa 1 00 kHz bzw. 1 MHz. Für höhere
Frequenzen werden elektronische HF-Voltmeter
eingesetzt. Man unterscheidet drei Einsatzberei­
che :
Spannungsmessung mit hoch ohmigem Tast­
kopf, parallel zu einer in der Regel nich t genau b
bekannten Schaltungsimpedanz (Bild 1 a) ;
Spannu ngsmessung mit hochohmigem
Tastkopf und 50-Q-Durch gangsmeßkopf HF- Eingong
oe -Ausg o n g Men g e röt
(Bild 1 b) ;
Spannu ngsmessung mit angepaßten, koaxi­ (';
alen 50-Q-Meßköpfen (Bild 1 c).
Hochohmige Messungen nach Bild 1 a werden
mit zuneh mender Frequenz immer problemati­ Bild 1 . Spannungsmessung. a hochohmiger Tastkopf pa­
scher. Oberhalb 1 00 MHz ist die qu antitative rallel zur Quellenimpedanz ZG; b hochohmiger Tastkopf
Auswertung fragwürdig. Die wesentlichen Feh­ als Sonde im abgeschirmten 50-Q-System ; c angepaßter
lerquellen sind : Meßkopf als Abschluß einer 50-Q-Leitung
Durch die Eingangsimpedanz des Tastkopfes •

(z. B. 2,5 pF - j 637 Q bei 1 00 MHz) wird·


die Signalquelle belastet; Resonanzkreise und


Filter werden verstimmt. Zwisch en der Abschirmung der Zuleitung und
In der Leitersch leife, gebildet au s den Meßlei­ der näh eren Umgebung (Masse) breiten sich
tungen und dem Meßwiderstand, werden Stör­ Mantelwellen aus.
spannu ngen indu ziert. In Verbindung mit abgeschirmten, refl exionsar­
Längere Verbindungs leitu ngen wirken trans­ men Du rchgangsmeßköpfen, bei denen ein hoch ­
formierend Vcl l 0 20 cm bei 1 00 MHz und
= ohmiger Tastkopf die Spannung in einer 50-Q­
v = 0,66 co ) . Koaxialleitung (bzw. 75-Q-Leitung) mißt, lassen
sich HF-Voltmeter bis etwa 2 GHz einsetzen.
Spezielle Literatur Seite 1 7 Wird der Durchgangskopf einseitig refl exionsfrei
I2 I Hochfrequenzmeßtechnik

abgeschlossen, ergibt sich ein Pegeldetekt or J

(Meßverfah ren s. 1 2 bis 14). '-Dioden k e n n l i n i e


Durch die Fortschritt e in der koaxialen 50-Q­
Breitbandmeßtechnik h at die h och ohmige Span­ GI e i eh strom­
nungsmessung stark an Bedeutung verloren. Mit o n te i I J0

Netzwerkanalysatoren lassen sich ab 5 Hz durch


-- --t---
Spannungsmessungen nach Betrag und Ph ase
der komplexe Reflexionsfakt or bzw. die Impe­ u / \ \

danz eines Eint ors und der komplexe Transmis­ A u sg 0 n g s w eeh sei s t ro m
I
-

sionsfakt or eines Zweit ors bestimmen (s. 1 4.10) .


I Ein g o n g s s p o n n u n g U1
( s i n u s för mig )
1.2 Überlagerte Gleichspannung
Superimposed DC-voltage
12
Die gleichzeitige Messung von Gleich - und ,... •
G l e i ehsponn u ngs-
HF-Signolquelle v
Wech selspannung ist mit einem Oszilloskop J mellg e röt
U1 o
möglich . Soll nur der Wechselspannungsanteil
gemessen werden (Bild 2), wird dem Meßkopf
� �
ein Koppelkondensator Ck vorgesch altet, mit Bild 3. Messen kleiner Wechselspannungen im quadrati­
1/ (wCk) � ZE' Zur Messung des Gleichspan­ schen Kennnlinienbereich einer Halbleiterdiode
nungsanteils wird ein kapazit ätsarmer Vorwi­
derst and Rv (oder eine Drossel) benutzt, mit
Rv � l/ (wCE) und Rv � RE' Bei gleichzeitigem der Diodenkennlinie : Dort hat die Diodenkenn­
Vorhandensein von Wechselspannungen (ge­ linie einen exponentiellen Verlauf ent sprech end
pulst oder sinusförmig), speziell im MHz ­ I = Isat [exp (UjUth) 1]. Wie in Bild 3 skizziert ,
-

Bereich, ist die Messung von Gleich spannung ent st eht dadurch eine Verzerrung des Wech sel­
bzw. Gleich strom mit elektronischen Mult ime­ spannungssignals in der Form, daß ein Gleich ­
tern bzw. Digit alvoltmetern schwierig, da diese spannungsanteil ent st eht , der proport ional z um
Meßgeräte seh r empfindlich auf überlagert e Quadrat des Effekt ivwert s der Eingangswechsel­
Wechselfelder reagieren und die Meßwert e völlig spannung (true RMS ; Leist ungsmessung) ist.
verfälscht werden. Besondere Umsicht ist not ­ Wenn Signale unt erschiedlicher Frequenz anlie­
wendig bei steilflankigen Impulsen, in Leistungs­ gen, ergibt sich
endstufen und im Bereich starker Strah lungsfel-
UOiode � [U1 cos (w1 t) + U2 cos (w 2 t)F

der bzw. Sendeant ennen. Ob unerwü nschte


Rückwirkungen, auch solch e auf andere NF­ 1 2 2
Meßgeräte bzw. geregelt e Netzgeräte vorh anden = (U1 + U 2 )
2
sind, ist in jedem Fall vor einer Messung zu klä-
+ Wech selsp annungsant eile mit
_

ren.
W1 - w 2 , 2 w 1 , W1 + 0]2 und 20]2 '
1.3 Diodengleichrichter. Diode detector Für größere Eingangswechselspannungen wird
die Diodenkennlinie linear (s. 12.3). Es tritt nor­
Wechselspannungen werden mit Halbleit erdio­ male Halbwellengleichrichtung (Hüllkurvende­
den in Gleichspannungen umgewandelt ; diese modulation) auf und am Ausgang des nachge­
werden ansch ließend verst ärkt und angez eigt . schalt eten Tiefpasses kann eine dem Spitzenwert
Bei Spannungsamplituden im Bereich 3 50 !lV bis proportionale Gleichspannung gemessen wer­
25 mV befindet man sich oberhalb von Rauschst ö­ den. Im Unterschied zum quadrat ischen Bereich'
rungen im sogenannt en " quadratischen Bereich" ist die Ausgangsgleichspannung bei gleichzeiti­
gem Vorh andensein unt erschiedlicher Frequen­
z en abh ängig von den Ph asenbezieh ungen zwi­
sch en den einzelnen Spektralant eilen.
HF­
Voltm eter

1.4 HF-Voltmeter. RF-voltmeter


Neben dem Diodenvoltmeter mit Gleich span­
Si g n o l ­ nungsverstärker ent sprechend Bild 3 sind im un­
que l l e
teren MHz-Bereich noch HF-Volt meter üblich,
Bild 2. Getrennte Messung von Gleich- und Wechselspan­ bei denen der Detekt ordiode ein Breitbandver­
nung stärker vorgesch altet ist. Beide HF -Spannungs-
1 Messung von Spannung, Strom und Phase I3

meßgeräte werden durch Harm onische des zu UB


messenden Signals, sofern diese innerhalb des I
meßbaren Frequenzbereichs liegen, beeinflußt. a � Menobjekt
Dies ist nicht der Fall bei HF-Voltmetern, die G e n e ra tor t
I
als Ü berlagerungsempfänger gebaut sind. Man 50Q 500 p
Döm fungs- I
unterscheidet selektive Voltmeter, die von Hand g l ieder zur
UA 6-1 500
500 E n t kopp l u n g I
(bzw. rechnergesteuert) auf die gewünschte Fre­ \
quenz eingestellt werden (Maximumabgleich bei 't
a 500
anliegendem Signal) und Sampling-Voltmeter, ,

f e h l ongeponte D urch g o n g s m e n kopf


die sich automatisch auf die größte Spektrallinie a Verzweig ung
innerhalb ihres B etriebsfrequenzbereichs einstel-
I rI 1
len. Das Uberlagerungsprinzip ergibt gegenüber
• •
=

der direkten Diodengleichrichtung eine beträcht­ r


liche Empfindlichkeitssteigerung: Es können -

noch Spannungen unter 1 !-L V gemessen werden. 1+r


Der Frequenzbereich dieser Geräte geht bis etwa r

2 GHz ; die Empfängerbandbreiten liegen bei


1 kHz. Um die B elastung der Signalquelle durch
die Kapazität der Verbindungsleitung zum HF­
V oltmeter zu vermeiden (s. 1.7), werden die
Gleichrichterdiode bzw. die Mischerdioden un­
mittelbar hinter den Meßspitzen im Tastkopf un­
b
tergebracht (aktiver Tastkopf).
Bild 4. Reflexionsfaktormessung mit dem Vektorvoltmeter

bei tiefen Frequenzen. a Meßaufbau; b Auswertung der


1.5 Vektorvoltmeter Vector voltmeter
.
Messung im Smith-Diagramm

B ei der Frequenzumsetzung durch Mischung


bleiben bei einem zweikanaligen HF-Voltmeter
die Amplituden- und Phasenbeziehungen der Die Größe 1 +[ kann im Smith-Diagramm
Eingangswechselspannungen im Zwischenfre­ (Bild 4 b) eingetragen werden. Damit ergibt sich
quenzbereich erhalten. Mit einem solchen Vek­ der gesuchte komplexe Reflexionsfaktor r gra­
torvoltmeter lassen sich komplexe Reflexions­ phisch. Für die Zahlenrechnung gilt
und Transmissionsfaktoren messen. In Verbin­
dung mit einem einseitig reflexionsfrei abge­ I' = A 2 + 1 - 2 A cos 9
schlossenen Durchgangsmeßkopf als angepaß­ CPr = arcsin (A sin (9)/1') .
tem Pegeldetektor kommen dafür alle in 1 3 und
1 4 angegebenen Meßverfahren in B etracht. Un­ Vor der Messung wird die Symmetrie des Meß­
ter 1 00 MHz, wo häufig keine Richtkoppler oder aufbaus und die der beiden Kanäle des Vektor­
Widerstandsmeßbrücken zur Verfügung stehen, voltmeters überprüft, z. B . mit einem angepaßten
kann eine Schaltung nach B ild 4 benutzt werden. Abschluß an beiden Enden der Verzweigung
Die Verkopplung zwischen der rechten und der (Meßergebnis : gleiche Amplituden) und die Pha­
linken Seite des Aufbaus wird entweder ausgegli­ senwinkelanzeige wird auf Null gestellt.
chen oder beseitigt:
- B ei jeder Messung wird der Quotient TJB / VA
gebildet, 1.6 Oszilloskop. O scilloscope
- der Generatorpegel wird mit VA geregelt,
- es werden zwei ausreichend große Dämp- Zur Darstellung des zeitlichen Verlaufs einer
fungsglieder rechts und links dazwischenge­ Spannung werden Oszilloskope (alte B ezeich­
schaltet, n ung: Elektronenstrahl oszillo grafen) eingesetzt.
- es wird eine isolierende Verzweigung 3 dB /O°
anstelle der fehlangepaßten Verzweigung be­ AnalogosziUoskop. Das Standardanalogoszillo­
nutzt. skop besteht aus den Komponenten Tastkopf,
Für Frequenzen, bei denen die Phasendrehung Verstärker, Zeitbasis und Elektronenstrahlröhre.
zwischen dem Meßort für VB und dem Meßob­ B ei hochohmigem Verstärkereingang (z. B .
jekt vernachlässigbar klein ist, gilt dann 1 MD/l l pF) werden B andbreiten von 0 bis
250 MHz erreicht (Anstiegszeit bis zu 1 ,4 ns, Am­
VA = V H plitudenaufl ösung 5 mV/Anzeigeeinheit). Mit
VB = VH + UR 50 D Eingangsimpedanz kann man Signale bis
1 GHz darstellen (Anstiegszeit bis zu 3 50 ps,
Amplitudenauflösung 1 0 mV/Einheit, Schreib-
I4 I Hochfrequenzmeßtechnik

geschwindigkeit des Elektronenstrahls bis zu 15 Bit): Ein A/ D-Wan dler mit z. B. 10 Bit und
20 cm/ns). Mögliche Zusatzfunktionen des Oszil­ ein em Meßbereich von ± 5 V setzt die abgetaste­
loskop s sind Addition und Subtraktion zweier ten Meßwerte um in Digitalzahlen mit 1 0 mV
Zeitfunktionen (bis 400 MHz), Multip likation Aufl ösung.
(bis 40 MHz), X-Y-Betrieb (bis 2 50 MHz) sowie System-Rauschabstand: Das auf den Eingang
digitale Zeit- oder Amp litudenmessung zwischen bezogene Eigenrauschen des Oszilloskops ver­
zwei Punkten auf der angezeigten Zeitfunktion ringert unter Umständen (z. B . bei der Messung
( bis 400 MHz). In der Regel entspricht der Aus­ einmaliger Vorgänge) die vertikale Auflösung,
steuerbereich des Verstärkers der Höhe des Bild­ die aufgrund der Auflösung des A/D-Wandlers
schirms. B ei Übersteuerung ist die angezeigte erreichbar wäre.
Kurvenform verfälscht. Speichertiefe (B erei ch: 5 1 2 bis 1 0 240 Punkte):
Ein Oszilloskop mit z. B . 1 00 MHz B andbreite Die Anzahl der gespeicherten Meßwerte ergibt,
stellt Eingangssignale oberhalb von etwa multip liziert mit der Zeitdauer zwischen zwei
50 MHz unabhängig von ihrer wahren Kurven­ Abtastungen, den Gesamtzeitraum, in dem das
form stets als glatte sin -Schwingungen dar. Eingangssignal dargestellt werden kann.
Durch die Tiefpaßwirkung von Verstärker B andbreite für einmalige Signale (real- time
bzw. Bildröhre werden die Harmonischen sampling, B ereich: 0 bis 500 MHz; Auflösung bis
(210' 310 . . ) und damit die Feinstruktur des
. zu 300 p s) : Die nutzbare B andbreite liegt zwi­
Signals unterdrückt. schen 1 /4 der Abtastfrequenz, wenn man z. B .
nur die Kurvenform eines Imp ulses betrachten
will, und 1 / 1 0 der Abtastfrequenz, sofern man
AbtastosziHoskop (Sampling oscilloscope). Signale
z. B . Anstiegszeiten genau messen will.
im GHz-Bereich werden durch Abtasten in eine
B andbreite für p eriodische Signale (rep etitive
niedrigere, darstellbare Frequenz umgesetzt
samp ling, B ereich : 0 bis 50 GHz ; Auflösung bis
(analog zur scheinbaren Drehzahlverringerung,
zu 0,25 p s ; T riggerbandbreite bis 40 GHz): Zeit­
wenn ein sich schnell drehendes Rad mit einem
lich p eriodische Signale können wie beim Ab­
Stroboskop beleuchtet wird). Es können nur pe­
tastoszilloskop bereits bei niedrigen Abtastraten
riodische Zeitfunktionen dargestellt werden. Die
mit ho her zeitlicher Auflösung dargestellt wer­
scheinbare Anstiegszeit eines Abtastverstärkers
den.
entspricht etwa der Halbwertsbreite des Abtast­
Meßwert ausgabe. Durch die digitale Signal­
imp ulses. Für 25 ps entsp richt dies einer oberen
verarbeitung ergibt sich eine Vielfalt von
Grenze des Darstellbereichs von 1 4 GHz.
Möglichkeiten, das gemessene Eingangssignal
auszuwerten. Standardmäßig werden Span­
Digitaloszilloskop. Ein Digitaloszilloskop (Digi­ nungsamp lituden, Zeiten und Frequenzen als
tal samp ling oscilloscope, DSO) [1] besteht (vom Zahlenwert auf dem B ildschirm ausgegeben, und
Signaleingang aus gesehen) aus einem stufig ein­ Rauschstörungen lassen sich durch Mittelwert­
stellbaren Dämpfungsglied, einem analogen Vor- bildung (averaging) reduzieren. Zusätzlich kann
. verstärker und einem Analog-Digital-Wandler die Zeitfunktion umgerechnet und das Spektrum
(A/D-Converter, ADC). Daran angeschlossen nach B etrag und Phase als Funktion der Fre­
sind ein digitaler Sp eicher und ein Rechner zur quenz dargestellt werden. Das Signal kann im
Verarbeitung des digitalisierten Eingangssignals. Frequenzbereich oder im Zeitbereich gefiltert
Neben der herkömmlichen Ausgabe einer Sp an­ werden. B ei Zweikanalmessungen kann die Pha­
nungsamp litude als Funktion der Z eit auf einen senverschiebung zwischen beiden Kanälen als
Bildschirm besteht die Möglichkeit, einen Plotter Funktion der Frequenz dargestellt werden. Ein
oder einen externen Rechner anzuschließen. Im solches mit zusätzlicher Rechenleistung ausge­
Unterschied zum Analogoszilloskop und zum stattetes Digitaloszilloskop (transition analyzer)
Samp lingoszilloskop , die aufwendige Elektro­ kann neben den Funktionen eines Standard­
nenstrahlröhren benötigen, hat das Digitaloszil­ oszilloskops diejenigen eines Zählers, eines Lei­
loskop einen preiswerten Rasterbildschirm bzw. stungsmeßgeräts, eines Sp ektrumanalysators,
Farbbildschirm. eines Modulationsmeßgeräts und (zusammen
Kenngrößen. Abtastrate (B ereich: 1 0 MSamp les/ mit entsp rechenden Signalteilern) eines Netz­
s bis 2 GSamples/s) : B ei z. B . 1 00 MSamp les/s werkanalysators übernehmen.
(Abtastfrequenz 1 00 MHz) wird der Momentan­
wert des Eingangssignals in Abständen von 1 0 ns Kurvenformspeicherung. Zur Speicherung einma­
gemessen. Um eine Abtastrate von 2 GSamples/s liger Vorgänge stehen je nach Geschwindigkeits­
zu erreichen, werden z. B . vier A/D- Wandler mit bereich verschiedene Verfahren zur Verfügung :
je 500 MSamp les/s parallelgeschaltet, und ihre a) Standardoszilloskop + B ildschirmphotogra­
Abtastzeitp unkte werden durch davorgeschalte­ phie (bis 1 GHz) ;
te Verzögerungsleitungen um jeweils 0,5 ns ge­ b) Speicheroszilloskop mit Halbleitermatrix als
geneinander verschoben. Zwischenspeicher: Auflösung z. B . 9 bit entspre­
A ufl ösung des A/D-Wandlers (B ereich: 5 Bit bis chend 5 1 2 x 5 1 2 Bildpunkten (bis 500 MHz);
1 Messung von Spannung, Strom und Phase I 5

c) Speicheroszilloskop m it analogem Spei cher­ 33 MHz ,.1./4. Die transformierende Wirkung der
bi ldschirm : Speicherzeiten zwischen 30 s und Leitung ist dann nicht mehr vernachlässi gbar
mehreren Stunden (bis 400 MHz) ; und macht Absolutmessungen der Ampli tude
d) Digitalspei cheroszilloskop : Direkte Analog­ bei unbekannter Signalquellenimpedanz unmög­
Di gi tal-W andlung des Eingangssignals und an­ lich.
schli eßende Speicherung der di gitalen Daten. Bei Bei niedrigeren Frequenzen ist die Belastung
200 MHz Abtastrate bis zu 20 MHz mit 32 dB durch die Tastkopfimpedanz Hauptfehlerquelle :
Dynamik (etwa 5 bit). Häufi g fehlt bei den Gerä­ Ein 1 0 MO/I 0 pF-Tastkopf bewirkt bei der Mes­
ten nach Verfahren b) oder d) der Bildschirm. sung an 5 kO einen Fehler von 20 % bei
Die gespeicherten Daten werden di rekt von f = 1 MHz. Bei komplexer Signalquellenimpe­
einem Rechner weiterverarbei tet. Di e Geräte danz wird der Meßfehler größer, es sei denn, der
werden dann als Transientenrekorder oder Tastkopf befindet sich berei ts beim Abgleich in
Waveform-Recorder bezeichnet. der Schaltung und seine Kapazität wird in d en
Abgleich einbezogen. Oberhalb von etwa
1 00 MHz machen sich zusätzlich Mantelwellen
1. 7 Tastköpfe . Pro bes störend bemerkbar (Kontrolle durch Berühren
von Tastkopf und Lei tung an verschi edenen Stel­
Durch das Einbringen des Tastkopfes in die zu len).
untersuchende Schaltung wird diese beeinflußt. Durch einen in di e Tastkopfspi tze eingebauten
Der Einfluß dieser Rückwirkung und die Wech­ Vorverstärker (aktiver Tastkopf) wi rd der Emp­
selwi rkungen zwischen der Impedanz der Quelle findli chkei tsverlust des passiven Teilerkopfes
einersei ts, der Eingangsimpedanz des Verstär­ vermi eden und di e Eingangskapazität läßt sich
kers anderersei ts und der dazwischenli egenden weiter verringern. Mit 1 MO/l pF wird der nutz­
(elektrisch langen) Tastkopfleitung sind schwer bare Frequenzbereich etwa um den Faktor 5 grö­
zu überbli cken. ßer gegenüber 1 0 MQ/I 0 pF.
Bild 5 zeigt einen passiven Teilertastkopf mit den Bei Verstärkern mit 500 Eingangsimpedanz er­
Ersatzschaltbildern für die Signalquelle und den gibt sich der größte nutzbare Frequenzbereich.
Verstärkereingang. Für 11 � )e wirkt die Lei tung Die Einflüsse der Verbindungsleitungen entfallen
als konzentrierte Kapazi tät 11 C. Bei Abgleich (für 500 Lei tungswellenwiderstand). Sofern den­
des Spannungsteilers auf gleiche Zeitkonstanten noch hochohmi g gemessen werden soll, können
R C ergibt sich ein frequenzunabhängi ­
.
Wi derstandsteiler in die Tastkopfspitze einge­
ges Teilerverhältnis von 1 0 : 1 . Dieser Abglei ch baut werden (10 : 1 mi t 5000/0,7pF und 1 00 : 1
auf verzerrungsfreie Übertragung, in der Regel mi t 5 kQ/0,7 pF). Oberhalb von etwa 250 MHz
mi t einem Rechtecksignal, wird vor der Messung lassen sich die in der 50-0 -Meßtechnik errei ch­
durchgeführt. Aus der Abglei chbedi ngung wird baren Genauigkei ten mi t hochohmigen Tast­
ersichtlich, daß Tastköpfe ni cht beliebig ausge­ köpfen jedoch ni cht mehr erreichen. Di e sinn­
tauscht werden können : Ein Tei lertastkopf für volle Anwendung bleibt auf Sonderfälle be­
einen 50-0 -Eingang oder für einen 1 MO/ l 0 pF­ schränkt.
Eingang läßt sich meist ni cht für einen Verstär­ Durch Vorschalten eines 50-0 -Durchführungs­
ker mit 1 MO/50 pF benutzen. Weiterhin gilt der abschlusses (feed-through terminati on) läßt sich
Abgleich nur für konstanten Innenwi derstand ein hochohmiger Verstärker behelfsmäßig umrü­
der Signalquelle : Wenn die Anstiegszeit eines sten. Die Parallelkapazität des Verstärkers bleibt
Pulsgenerators mit RG 6000 gemessen wer­
= dadurch unverändert, die Frequenzgrenze, von
den soll, muß auch die Eichquelle zum Tastkopf­ der ab sie sich als störender, ni ederohmiger
abgleich RG 6000 haben. Außerdem muß di e
= Nebenschluß bemerkbar macht, wird jedoch zu
Anstiegszeit der Eichquelle kleiner sein als die höheren Frequenzen hin verschoben. Zur Ver­
des zu messenden Signals. meidung von Mehrfachreflexionen werden
Eine Tastkopfleitung von 1 ,5 m hat bei Durchführungsabschlüsse so ei ngefügt, daß Ver­
1 3, 2 MHz die elektrische Länge Je/l 0 und bei bindungsleitungen bei dseitig angepaßt bzw. nie­
derohmig abgeschlossen sind, d. h. der Durch­
führungsabschluß wird immer unmittelbar an
9MQ die Eingangsbuchse des Oszilloskops ange­
Z5 I1 •
schlossen.
1 Phasenmessungen (s. 1 .9) mit dem Oszi lloskop
• • •

ZL=170Q, C 26 p F /m
120 p F 1M Q sind bei Hochfrequenz in der Regel mit noch grö­
=

Yo I
5pF R'= 24 0 Q! m
I ßeren Fehlern behaftet als Ampli tudenmessun­
I
. .

r
gen. Notwendig ist ni cht nur, daß beide Kanäle
Signol- p o sslver Ver s törker­ und beide Tastköpfe gleich sind (Kontrolle durch
• •

I
quelle I Te'l i e r t o s t k o p f I e ingang gleichzeitiges Anschli eßen an den gleichen Meß­
Passiver 10: 1-Teilertastkopf mit typischen Bauele­
Bild 5. punkt), sondern ebenfalls, daß die Innenwi der­
mentewerten stände ZG an beiden Meßp unkt en gleic h groß
I6 I Hochfrequenzmeßtechnik

sind. (Zahlenbeispiel : Tastkopf 10 MQ/ I 0 pF; oder Stromzangen, in die der Leiter eingelegt
ZGl 600 Q; ZG2 50 Q, f 50 MHz, Meß­
= = = wird (Bild 6 b).
fehler: 53°).
Hall-Effekt. Da die Tangentialkomponente des
Magnetfeldes an einer Leiteroberfläche betrags­
1.8 Strommessung mäßig gleich der Oberflächenstromdichte ist,
Current measurement kann die Messung des Magnetfeldes mit einer
Hall-Sonde zur Strommessung benutzt werden.
Die direkte Messung des Stroms wird bei hohen Hall-Sonden werden ebenfalls eingesetzt im Luft­
Frequenzen selten durchgeführt: spalt eines Stromwandlers bzw. einer Strom­
- Es fehlen brauchbare Verfahren zur Messung zange und erweitern damit deren Einsatzbereich
von Betrag und Phase ; zu tiefen Frequenzen hin bis zur Gleichstrom­
- die ersatzweise Messung der Leistung bzw. der messung. Die obere Frequenzgrenze wird durch
Spannung ist in der Regel ausreichend; den jeweiligen Aufbau hervorgerufen, nicht
- die Stromdichte ist ungleichmäßig verteilt durch den Hall-Effekt selbst.
(Skineffekt, Proximityeffekt) und der Gesamt­
strom als integrale Größe wenig aussagekräf- Induktive Sonden. Zur Messung von Oberflä­
tlg;

chenstromdichten können Induktionsschleifen


- durch Auftrennen von Strombahnen zur' (Bild 7) benutzt werden. Um Meßfehler durch
Strommessung wird (sofern es überhaupt mög­ eine zusätzliche Verkopplung mit dem elektri­
lich ist), die Leitergeometrie häufig zu stark schen Feld zu vermeiden, werden die S onden ge­
gestört bzw. die Impedanz des Stromkreises zu schirmt. Durch eine drehbare Schleife bzw. zwei
stark verändert. senkrecht zueinander angeordnete Koppelschlei­
fen kann die Richtung der Stromdichte ermittelt
Diodengleichrichtung. Die Vielfachinstrumente werden.
und Digitalmultimeter der NF-Technik gestat­
ten die direkte Strommessung durch Dioden­ Sehirm b ü g e l zur A b lei t u n g e l e k trisch er Fe lder
gleichrichtung bis etwa 1 0 bzw. 1 00 kHz. Ind u ktion s s eh leile
H
(29 K K
Spanmmgsmessung. Durch Messen des Span­ •

nungsabfalls an einem kleinen (ohmschen) Meß­


widerstand, der in den Stromkreis eingefügt wird,
Kooxi o l l e i t u n g zl..l m
kann bei bekanntem Widerstands wert der Strom
Sp onn u n g s m e n g erö t
berechnet werden.
Bild 7.Geschirmte induktive Sonde zur Messung der
Thermoumformer. Die Erwärmung eines Heiz­ Oberflächenstromdichte K
leiters durch den hindurchfließenden HF -Strom
und die Messung der Temperaturerhöhung mit
einem nur thermisch, nicht galvanisch, angekop­ Schlitzkopplung. Durch Messung der Intensität
pelten Thermoelement erlaubt die Messung des einer durch einen Schlitz (z. B. in einer Hohllei­
Effektivwerts des Stroms bis zu etwa 1 00 MHz. terwand) hindurch abgestrahlten Welle kann
ebenfalls auf die Oberflächenstromdichte senk­
Stromwandler. Durch induktive Kopplung an recht zum Schlitz geschlossen werden.
den stromführenden Leiter lassen sich nach dem
Stromwandlerprinzip (Übertrager mit sekundär­
seitigern Kurzschluß) Ströme im Bereich 1 Hz bis 1.9 Phasenmessung. Phase measurement
200 MHz bzw. 1 GHz messen. Zur Messung wer­
den Ferritringkerne benutzt, durch die der zu Frequenzumsetzung durch Mischung. Die beiden
messende Leiter hindurchgesteckt wird (Bild 6 a) Signale UA und (j B, deren Phasenverschiebung cp
g�sucht ist, werden mit zwei Mischern und einem
Uberlagerungsoszillator (L.O.) in eine Zwischen­
Ferri t kern mit L uf tspo l t frequenz im kHz-Bereich umgesetzt und dort
RLIO,S Q )
nach Verfahren der NF -Technik gemessen. Bei
\ symmetrischem Aufbau werden das Amplituden­
\ verhältnis UA/UB und der Phasenwinkel cp durch
die Mischung nicht beeinflußt. Dies gilt nicht nur
für sin-förmigen L.O. sondern auch für Oberwel­
lenmischung und Abtastung. Im Unterschied
a Leiter m i t Strom J b Lei t er mi t S tro m J dazu wird durch F requenzvervielfachung bzw.
Stommessung mit Strom wandler.
Bild 6. a Ringkern als -teilung der ursprüngliche Phasenwinkel verviel­
Stromwandler; b Stromwandlerzange facht bzw. geteilt.
2 Leistungsmessung I7

Netzwerkanalysator. Legt man an die Eingänge


eines Netzwerkanalysators nicht die hin- und
rücklaufenden Wellen UH und UR sondern allge­
mein die Signale UA und UB, s o wird statt des
Winkels des Reflexionsfaktors der Winkel cp ge­
messen. Neben den Geräten mit dem oben er­
wähnten Zweikanalmischer lassen sich damit . U_ � uA US COS <PAB
auch die Meßleitung ( 1 4.6) und das S echstorre­ Bild 9. Ringmischer als Phasendetektor
flektometer (I 4.7) zur Phasenmessung einsetzen.

Phasenmeßbrücke. Da zwei gleichgroße gegen­


phasige Spannungen sich zu Null addieren, wird ein Magie -Tee ersetzt. Unter optimierten Bedin ­
in der Phasenmeßbrücke (Bild 8) mit einem der gungen sind Abweichungen von der cos-Form
D ämpfungsglieder die Amplitudengleichheit ein­ kleiner als 1 %0 erreichbar. Da das Ausgangssi­
gestellt und mit dem Phasenschieber die Gegen­ gnal nicht nur vom Phasenwinkel CPAB sondern
phase. Der Nullabgleich wird durch abwechseln­ auch von den Amplituden abhängt, müssen UA
des Verstellen von Amp litude und Phase er­ und UB gleich groß und konstant sein.
reicht. S ofern bei der vorangegangenen Kalibrie­
rung (Nullabgleich mit UA an beiden Eingängen)
Digitale Zähler. Durch Auszählen der Perioden­
der Phasenschieber auf Null gestellt war, kann
dauer und des Zeitintervalls zwischen zwei be­
bei der Messung der Winkel cp an ihm abgelesen nachbarten, gleichsinnigen Nulldurchgängen
werden. Notwendig ist, daß beim Verstellen des von UA(t) und UB(t) läßt sich der Phasenwinkel
Dämpfungsgliedes keine zusätzliche Phasendre­ cP ermitteln (s. 1 6.2).
hung auftritt.

Oszilloskop. Mit einem Zweikanaloszilloskop


läßt sich die Phasenverschiebung aus der gleich­
Dämpfungs- Kalibrierter zeitigen Darstellung der Nulldurchgänge von
g lied Phasenschieber
UA(t) und UB(t) auf dem Bildschirm ermitteln
(s. 1 .7). Mit einem Einkanaloszilloskop im x-y ­
!JB a Cf' Betrieb wird UA(t) an den Vertikal verstärker und
UB (t) an den Horizontalverstärker angelegt. Auf
'-
Summe ;' -f;t . ! dem Bildschirm ergibt sich eine Ellipse
Nu 1 1 - (Lissajous-Figur), aus deren Abmessungen und
a indikator Lage der Phasenwinkel cP berechnet werden
kann. S ofern die Signalquellen A und B durch die
D ä m pf u n g s ­ Parallelkapazität hochohmiger Tastköpfe bei
g l i ed ( n u r,
hohen Frequenzen nennenswert belastet werden,
wenn UA >UB)
ist der gemessene Winkel cP nur dann richtig,
Bild 8. Phasenmeßbrücke wenn beide Quellenimpedanzen gleich sind.

Spezielle Literatur : [ 1 ] Hewlett-Packard Druckschrift:


Ringmischer. Bei Beschaltung eines symmetri­ Das Digital-Oszilloskop : ein vielseitiges und leistungs­
schen Mischers entsprechend Bild 9 (UA und UB fähiges Meßgerät. Bad Homburg 1 987.
an die Eingänge für HF(R) und L.O.(L), Aus­
gangsgleichspannung am ZF-Ausgang (I oder X)
ergibt sich eine Ausgangsgleichspannung mit
cos-förmigem Verlauf als Funktion von cp. S chal­ 2 Leistungsmessung
tungen dieser Art, die auch mit nur zwei Dioden
und Ausgangstiefpaß realisiert werden können, Power measuren1ent
heißen phasengesteuerter Gleichrichter, Syn­
chrondetektor oder kohärenter Demodulator. Allgemeine Literatur : Herseher. B. A. : A three-port
Die Funktion wird verständlich, wenn man sich method for microwave power sensor calibration. Micro­
die Dioden als Schalter vorstellt, die von UA(t) wave Journal, März 1 989, S . 1 17·- 1 24. -- Fantom, A. E.:
betätigt werden. Aus dem gezeichneten Kurven­ Radio fi-equency and microwave power measurements.
verlauf erkennt man, daß die Ausgangsspannung Stevenage : Peter Peregrinus 1 990.
für cp 90° und cp 270° zu Null wird.
= =

Symmetrische Mischer existieren im gesamten


koaxial nutzbaren Frequenzbereich. In Hohllei­
tertechnik werden die beiden Übertrager durch Spezielle Literatur Seite I 10
I8 I Hüchfrequenzmeßtechnik

Referenzquelle. Bei Lei stungsmeßköpfen mI t


2.1 Leistungsme ssung mit Bolometer


Thermoelementen lassen sich brei tbandig sehr
Power measurement with bolometer kleine Reflexionsfaktoren reali sieren.
Unter dem Oberbegriff Bolometer werden Bau­
ele mente mit temperaturabhäng igem Gleich­
stromwi derstand, die man zur HF-Lei­
stungsmessung benutzt, zusammengefaßt. Ther­ 2.3 Lei stungmessung
mistor: Halbleiter mit negativem Temperatur­ mit Halbleiterdioden
Koeffi zi enten ( TK) des Widerstands ; Barretter: Power measurement with
dünner Metalldraht mi t positivem TK (wenig
überlastbar, daher heute nur noch selten einge­ semiconductor diodes
setzt). Der Thermistor wird i n einem geeigneten
Gehäuse als angepaßter HF -Abschlußwider­ Im quadratischen Bereich (square-Iaw regi on)
stand ausgeführt. Entsprechend der aufgenom­ ihrer I-U-Kennlinie (s. 1 1 .3) können Halbleiter­
menen HF-Leistung erwärmt er sich und somi t dioden zur Absolutmessung von Leistungen ein­
sinkt sein Gleichstromwiderstand. Dami t den­ gesetzt werden. Aus Gründen der Reproduzier­
noch di e HF-Anpassung erhalten blei bt und da­ barkeit und der mechanischen Stabilität werden
mi t die stark nichtlineare Kennlinie unberück­ nur spezielle S chottky-Di oden benutzt. Der
sich ti gt bleiben kann, wird DC - (bzw. NF)­ Spannungsabfall an einem angepaßten HF-Ab­
Substituti on durchgeführt : Der Thermistor ist schlußwiderstand wird von der Di ode verzerrt
Element einer Gleichstrom ( DC )-Widerstands­ ( gleichgerichtet). Der Gleichanteil des Di oden­
meßbrücke. Bei Widerstandsänderung durch ausgangssi gnals wird gemessen und als Maß für
aufgenommene HF-Leistung wird der Gleich­ die HF-Leistung angezei gt (Bild I 1 . 3). Meßbe­
strom durch den Thermistor so wei t verringert, reich etwa von - 20 dBm bis - 75 dBm; Fre­
bi s die Brücke erneut abgeglichen i st. Die Ab­ quenzbereich koaxial 0 bis 60 GHz. Zei tkon­
nahme der Gleichstroml ei stung wird gemessen stante der HF-DC -Wandlung : durch die äußere
und als Maß für die . HF-Leistung angezeigt. Beschaltung vorgebbar (s. 2. 5). Sofern kleine Lei­
Thermi sche Zei tkonstante : 30 ms bis 1 s. Meß­ stungen gemessen werden sollen, kommt nur der
fehler enstehen durch Temperaturdrift, wenn Kennlinienteil um den Nullpunkt in Betracht, da
nach der DC- Kali brierung (Anzeige 0) die Ther­ ein Di odenvorstrom Temperaturdrift und Rau­
mistorfassung, z. B. durch die Hand des Bedie­ schen vergrößert. Kalibrieren vor der Messung
nenden, erwärmt wird. Abhilfe durch thermische durch eine HF-Referenzquelle. Mit geeigneten
Entkopplung des Meßthermistors und/ oder Dioden lassen sich die höchsten Umwandlungs­
durch Verwendung eines zweiten Thermi stors wirk ungsgrade HF-DC erzielen. Bei - 70 dBm
zur Driftkompensati on. Meßbereich etwa beträgt die Ausgangsgleichspannung etwa 50 nV.
+ 1 0 dBm bis 30 dBm. Diodenmeßköpfe bieten, relativ gesehen, den
größten Dynamikbereich. Auch in bezug auf den
-

maximal, ohne Zerstörung des Elements, zulässi­


gen Pegel sind sie den anderen Lei stungsmeß­
2.2 Leistungsme ssung köpfen überlegen.
Bild 1 zeigt die Kennlinie einer typischen Detek­
mit Thermoelement tordi ode. Der "quadratische Berei ch" der Kenn­
Power measurement with thermocouple linie, in dem ein linearer Zusammenhang
zwischen Eingangspegel und Ausgangsgleich­
Die Erwärmung eines angepaßten Lastwider­ spannung besteht, läßt sich durch einen geeigne­
stands wird als Gleichspannung eines thermisch ten DC -Lastwiderstand gegenüber dem Leer­
dami t verbundenen Thermoelements gemessen. lauffall vergrößern. Die Empfindlichkeitsgrenze
Da die Thermospannung ein Maß für die Tem­ ist für Breitbandmessungen physikalisch vorge­
peraturdifferenz zwischen den Verbindungs­ geben. - 70 dBm entspricht nach GI. ( I 7.1) der
punkten zweier Drähte aus unterschiedlichen thermischen Rauschleistung, die ein ohmscher
Metallen ist (heißer Punkt am Lastwiderstand, Widerstand bei Zimmertemperatur im Fre­
kalter Punkt am Gehäuse), ist die Kompensation quenzbereich 0 bis 25 GHz abgi bt. Bei niedrigen
von Schwankungen der Umgebungstemperatur Pegeln entstehen Meßfehler durch Thermospan­
berei ts im Sensor enthalten und damit besser als nungen am HF-Eingang. Bei Verwendung einer
beim Thermistor. Thermische Zeitkonstante : Spannungsverdopplerschaltung entsprechend
z. B. 1 20 J.l s. Meßbereich etwa + 20 dBm bis Bild 2 wirken sich diese nicht auf di e Ausgangs­
- 30 dBm. Bei niedrigen HF-Lei stungen liegen spannung aus. Zugleich wird die Empfindlichkeit
die auszuwertenden Thermospannungen unter um 3 dB verbessert.
1 J.lV. Daraus ergeben sich Anzei gezei tkonstan­ Der Temperaturgang von Detektordi oden ist
te n bis zu 2 s i m niedri gsten Meßbereich. nichtlinear und abhängig vom Lastwiderstand
Kalibrieren vor der Messul1l! durch eine HF-


und vom HF-Pegel.
3 Netzwerkanalyse : Transmissionsfaktor I9
10 771 schaltet bzw. andere empfindliche, nicht­
dBm
/L
kalibrierte Empfänger ei ngesetzt, die über
o
,

/ vorgeschaltete Dämpfungsgli eder mit dem Lei ­


-10 stungsmeßgerät kalibriert werden. In allen Fäl­
0>
len sinkt die Genauigkeit der Lei stungsmessung.
ce Lo s t w i d erst o n d
=> -20
2 kQ
Während der Meßfehler durch das Instrument,
.- RL
-

U) =

G> di e Anzei ge, das Referenzsignal oder die Nullstel­


u; -30
0>
co
lung bei handelsüblichen Geräten unter ± 2 %
o

g'-40 ,
liegt und der Meßfehler durch di e Unbestimmt­
Leerlouf hei t des Kalibri erfaktors unter + 3 % , können
-50 durch di e Fehlanpassung zwischen Quelle und
Meßkopf wesentlich größere Fehler auftreten.
-60
Gemessen werden soll di e Leistung Pa, die ei ne
-70 Quelle mi t dem Innenwi derstand ZG an einen
1 ]
10-4 10-] 10-2 10-1 1 10 10 m V 10 Normwiderstand Ra (z. B. 50 Q i n Koaxi alsyste­
A u sgong sg I ei eh s p o n n u n g
men) abgibt. Gemessen wird mit einem Meßkopf
Kennlinie einer typischen Halbleiterdetektordiode.
Bild 1 . mi t der Impedanz ZE ( Bild 3). Da diese drei Im­
HF-Eingangsimpedanz 50 Q, NF (DC)-Innenwiderstand pedanzen i n der Regel nicht miteinander über­
2 kQ einstimmen, ergibt sich ein Meßfehler durch
Fehlanpassung. S ofern r G und rE nach Betrag
und Phase bekannt sind, läßt sich der gesuchte
H F - Ei n g on g o-B----r--,----t: ----<t- ==}-
Wert aus dem Meßwert berechnen :
50Q 1 r� RE Zs + Ra 2
= Pa 1 1 =
-

G I eich spo n n u ng s­
ousgong
P.:emessen _ r rG 12
-E- Pa Ra Zs + ZE
(1)
(rG, rE = Reflexionsfaktor der Quelle bzw. des
Bild 2. Leistungsmeßkopf mit zwei Dioden Meßkopfes, bezogen auf Ra).
Sind nur die Beträge bekannt, kann man
den maximalen Meßfehler ermi tteln. Für
rG = rE = 0, 1 liegt der Fehler zwi schen + 1 %
Di e Empfi ndlichkeit einer Detektordi ode (etwa
-

und 3 %, für rG = r E = 0,3 zwischen + 1 0 %


-

500 !lV/!lW im Leerlauf) läßt si ch um ein Viel­ und 23 % . Die Schwankungsbrei te ergibt sich
-

faches ( Faktor 20) steigern, wenn statt der daraus, daß der Zähler 1 1 rErG 2 abhängig von -

brei tbandigen Widerstandsanpassung eine den Phasenwi nkeln von rE und rG Werte zwischen
schmalbandi ge Blindabstimmung ( Resonanz­ ( 1 - r ErG)2 und ( 1 + rErG)2 annehmen kann.
transformati on) am HF-Eingang benutzt wird Sofern der Fehleranteil 1 r� berei ts im Kali­ -

(tuned detector). brierfaktor berücksichtigt i st, verbleibt als Meß­


unsicherheit nur noch 1/( 1 ± rErGf. Für rE und
rG kleiner 0,22 ergibt si ch ein Berei ch unter
± 10%.
2.4 Ablauf der Me ssung , Meß fehler Durch das Einfügen von Anpaßelementen zwi­
M easurement procedure, errors schen Quelle und Leistungsmeßkopf mit an­
schließendem Abgleich auf maximale Anzei ge
Vor der Messung wird die Anzeige ohne HF-Si ­ treten folgende Probleme auf:
gnal auf Null gestellt. Dann wird di e Anzeige mit - Der Kalibrierfaktor des Meßkopfes gilt ni cht
einer Referenzquelle niedriger Frequenz ( 1 0 bis mehr.
1 00 MHz) kalibri ert ( Glei chstrom bei Thermi ­ - Die Zusatzverluste im Anpaßnetzwerk müssen
storkopf). Der bei höheren Frequenzen mei st ab­ bekannt sein.
nehmende Wi rkungsgrad des Lei stungssensors
und di e Verri ngerung des Meßwerts durch den
Reflexi onsfaktor des Meßkopfes müssen durch Leitu n g en m i t Lei t u n g sw e ll e n w i d e r s t o n d ZL
I
,
einen ( an Meßgeräten vor-ei nstellbaren) fre­
quenzabhängigen Kalibrierfaktor zwi schen 0,9
und 1 ,0 berücksichtigt werden.
Übersteigt die zu messende Leistung den Meß­
berei ch des zur Verfügung stehenden Meßkopfes,
'�--v�-- --- --V-- _
werden Dämpfungsglieder bzw. Richtkoppler ---- /

Sig nol q u e l l e Le i s t u n g s m e n k o pf
vorgeschaltet. Ist die zu messende Leistung zu
klei n , werden schmalbandi ge Verstärker vorge- Bild 3. Impedanzen bei der Leistungsmessung
I 10 I Hochfrequenzmeßtechnik

- Gemessen wird nicht Pa, sond ern die Leistung, 2.6 Kalorimetrische Leistungsmessung
die die Quelle maximal abgeben kann (an eine Calorimetric power measurement
Last Z
-E =
-0).
Z*
Eine Möglichkeit zur Kontrolle der fehlanpas- Die HF-Leistung wird berechnet aus der gemes­
sungsbedingten Meßfehler liegt in der Auswer­ senen Erwärmung eines angepaßten Lastwid er­
2
tung der durch d en Faktor 1 - rEro l hervorge­ stands [1] . Es besteht somit kein prinzipieller Un­
rufenen Welligkeit d es Meßwerts, entweder terschied zur Leistungsmessung mit Thermoele­
durch Zwischenschalten einer längenveränd erli­ ment. Die Bezeichnung kalorimetrische Messung
chen Leitung (Phasenschieber) od er durch eine ist jed och gebräuchlich
Leitung fester Länge und Frequenzmod ulation - bei d er Herstellung von Eichnormalen
d er Quelle (Wobbelmessung). (z. B. Mikrowellen-Micro-Kalorimeter)
Durch die Breitbandigkeit der meisten Meß­ - bei d er Messung großer Leistungen.
köpfe (z. B. 0,01 bis 18 GHz) ents tehen Meßfehler Im zweiten Fall wird die Temperatur eines Last­
beim Vorhand ensein zusätzlic her, unerwünsch­ wid erstands gemessen bzw. die Temperaturerhö­
ter S pektrallinien (z. B. durch Harmonische oder hung d es Kühlmittels beim Durchlaufen d es
durch Kippschwingungen der Quelle). Eine Har­ Lastwiderstands. Für Wasser als Kühlmittel er­
monische, deren Pegel 20 d B unter dem des Trä­ gibt sich die Leistung zu
gers liegt ( - 20 dBc = - 20 d B' below carrier)
vergrößert den Meßwert um 1%, da der Meß­ Pj W = 4,186 (Vj cm3) (Ll TtC )j (Lltjs)
kopf die Summenleistung anzeigt.
Verglichen mit den relativ kleinen Meßfehlern, wenn d as Wasservolumen V in der Zeit Llt um die
die bei der Messung von z. B. Zeit, Frequenz oder Temperatur Ll T erwärmt wird .
S-Parametern mit handelsüblichen Meßgeräten
erreichbar sind, treten bei der Bestimmung der Spezielle Literatur : [1] Lane, J. A.: Microwave power mea­
absoluten Leistung wesentlich größere Fehl er surement. London : Peregrinus 1 970.
auf. Die Ermittlung der Meßgenauigkeit eines
speziellen Meßaufbaus ist schwierig. Der bei Lei­
stungsmeßgeräten in d en technischen Daten an­
gegebene Meßfehler (z. B. + 1% ) enthält nicht
den Fehler des Leistungsmeßkopfs (z. B. + 5%).
Mit einem hochwertigen Meßaufbau und rech­ 3 Netzwerkanalyse: Transmissions­
nergesteuerter Fehlerkorrektur l assen sich im faktor
Mikrowellenbereich Meßfehler errreichen, die
bei mittleren Pegeln etwa ± 3% und bei sehr Network analysis: transmission
großen bzw. bei sehr kleinen Leistungspegeln measuremen t
etwa ± 1 0% betragen.

3.1 Meßgrößen der Netzwerkanalyse


2.5 Pulsleistungsmessung Basic parameters of network analysis
Pulse power measurement
Grund größen bei der Analyse eines Netzwerks
Mit d en bisher beschriebenen C W-Meßverfah­ sind der Reflexionsfaktor r und d er Transmis­
ren wird bei nichtsinusförmigem Signal der zeitli­ sionsfaktor t, jeweils mit Betrag und Phase. Sie
che Mittelwert gemessen. Der zeitliche Verlauf ergeben sich elementar aus d en zu messenden
d er Leistung bzw. die Spitzenleistung lassen sich Wellenamplituden all b1 und b2 (Bild 1).
d araus berechnen, sofern die Zeitfunktion des Si­ Es werd en lineare Netzwerke untersucht, d as
gnals oder dessen Spektrum bekannt sind. Zur Eingangssignal ist sin-förmig und die Meßgrö­
direkten Messung von Pulsleistungen, Spitzen­ ßen werden als Funktion der Frequenz d arge­
leistungen bzw. Leistungs-Zeit-Profilen eignen stellt. Bei nicht-sinusfönnigem Ausgangssignal
sich aufgrund ihrer geringen Trägheit Diod en. d es Netzwerks (z. B. übersteuerter Mischer oder
Bei entsprechend kapazitäts armer Beschaltung Verstärker) müssen die einzelnen S pektral anteile
entspricht das Ausgangssignal des Diodenkopfes getrennt voneinand er gemessen werd en, z. B. mit
der Hüllkurve des HF - Eingangssignals. Es kann einem S pektrumanalysator als Empfänger.
z. B. mit einer Abtast-HaI teschaltung abgefragt Die gemessenen Wellenamplitud en, eh, Q 1 und Q2
und der Abtastwert kann als Momentanwert der bzw. die Grund größen!:. und t werden häufig in
Leistung angezeigt werd en. Die Breite d es Meß­ andere Größen umgerechnet.
fensters liegt in hand elsüblichen Geräten bei
1 5 ns. Bei automatischer Triggerung des Abtast­
vorgangs durch d as Signal kann bei getasteten
Signal en die Pulsleistung gemessen werden. Spezielle Literatur Seite 1 1 7
3 Netzwerkanalyse : Transmissionsfaktor I 11

Em pftinger / E m p fönger /
Detek tor f/l D e te k tor Ql
e i n f o l l e n de d u r chgehende
Welle - 01 W e l l e b)
I
,

d Em pfönge r /
/ "- II1 ) I

.J
MerJobjekt D e t e k tor b)
Sig n o l - Sig n o l -
trennung trenn ung 7 I I I rel lexionsfrei )
Signol- � )
g e n erotor ref l ektierte BeZUgSeben e n Bild 1 . Grundgrößen der Netzwerkana-
lyse: Reflexionsfaktor t = b1 /al' Trans­
�.

W e l l e bl m'lt g l eichem Wel l ent y p und


g l e ichem W e l l e n w i dersto n d missionsfaktor 1 = bz/a 1

Reflexionsfaktor Unter der V oraussetzung, daß die Bezugswider­


.
stände ZL an Tor 1 und Tor 2 des Meßobjekts
Sii r Streuparameter eines Mehrtors (Tor i
gleich groß gewähl t werden, sind die Meßergeb­
=

al s Eingang, all e Tore refl exionsfrei ab­


nisse unabhängig davon, ob zur Ermittl ung der
geschl ossen),
Well engrößen a und b die Spannung, der Strom,
CPr = Phasenwinkel des Reflexionsfaktors,
die transversale elektrische Fel dstärke oder die
Z/ZL = (1 + r)/(1 r) Impedanz, normiert auf
-
transversal e magnetische Fel dstärke der Welle
ZL '
nach Betrag und Phase gemessen werden; zur
ar - 20 19r = - r/dB Rückfl ußdämpfung
Ermittl ung der Beträge a bzw, b ist die Messung
=

(return l oss),
der Leistung P oder der Strahlungsdichte S aus­
s = SWR = VSWR = (1 + 1')/(1 - r) Steh­
reichend, Mit den Indizes H für die hinl aufende
well en verhältnis,
und R für die rückl aufende Well e gil t :
m = 1 /s Anpassungsfaktor (matching fac-
-
tor) . al �
VHl' IHl,E Hl,RHl al �
PHl' S Hl
-

l}ansmissionsfaktor bl �
VRl' IR1, ER 1 , RR 1 b1 �
PR1, S R1
-

Sij t Zweitor-Streuparameter (Tor j als Ein­


=
b2 � UH2,IHz,EHz,RH2 b7 -

PH2, S HZ
gang, all e Tore reflexionsfrei abgeschlos­
Da r und t Quotienten sind, besteht weder in der
. sen),
Theorie noch in der Praxis der Meßtechnik eine
at = - 20 19 t = - t/dB Durchgangsdämp-
Notwendigkeit, die Größen der Proportionali­
fung bzw. Verstärkung, . tätsfaktoren zu definieren.
CPt = Phasenwinkel des Transmissionsfaktors,
lP, = el ektrische Länge (s. I 3 . 1 0),
Tg = - dcpJ dw Gruppenl aufzeit,
3.2 Direkte Leistungsmessung
T � = d T idf Gruppenlaufzeitverzerrung.
Direct power measurement
In der Hochfrequenztechnik l assen sich die
transformierenden Eigenschaften der Verbin­ Bei einer festen Frequenz wird zunächst der Aus­
dungsl eitungen zwischen Detektor und Meßob­ gangspegel des Generators gemessen, dann wird
jekt, bzw. zwischen Generator und Meßobjekt, das Meßobjekt dazwischengeschaltet und erneut
.
mcht mehr vernachl ässigen. Um reproduzierbare der Pegel gemessen (Bil d 2). Die Pegel differenz
und aussagekräftige Meßergebnisse zu erhal ten, entspricht der Dämpfung bzw. Verstärkung des
werden deshalb Verbindungsleitungen mit defi­ Meßobjekts. Da es sich nicht um ei ne Absolut­
niertem Leitungswellenwiderstand ZL eingesetzt messung der Leistungen handelt, wird beim Kali­
und Steckverbindungen bzw. Fl anschverbindun­ brieren (mit überbrücktem Meßobjekt) ein Meß­
gen, die an diesen Leitungswellenwiderstand an­ gerät mit linearer Anzeige auf 1 gestellt und ein
gepaßt sind. Bei Koaxialleitungen ist ZL = 50 Q Meßgerät mit logarithmischer Anzeige auf 0 dB.
(unterhal b 2 GHz auch 75 bzw. 60 Q). Bei Hohl ­
leitern sind die Querschnittsabmessungen ge­
gOI
normt. All e anderen Leitungstypen erhalten zum •
--t:+
Messen Präzisionsadapter mit mögl ichst kl ei­ Det ektor
nem Reflexionsfaktor und geringer Dämpfung. a

Die Kenntnis des normierten Werts Z/ZL ist zur


Beschreibung der Eingangsimpedanz eines Netz­
werks ausreichend. Der Wert der Impedanz Z in °1 bz
+

• •

M e rJobJe k t
Q wird kaum benötigt. Zur graphischen Darstel­

Dete k tor
l ung von Ortskurven und für die Umrechnung b

zwischen Z/ZL und r wird üblicherweise das Bild 2. Messung der Durchgangsdämpfung mit reflexions­
Smith-Diagramm benutzt. freiem Detektor. a Messung von CI 1·: b Messuna
� b
von b2
I 12 I Hochfrequenzmeßtechnik

Nach Einfügen des zu untersuchenden Zweitors Pegelreg e l u ng

wird der Transmissionsfaktor t direkt abgelesen.


Für Wobbelmessungen kann man die Kalibrier­ ALe ---f;;t
C;.A

werte punktweise in einem digitalen Speicher �


� a1 1
Generator =

(storage normalizer) aufbewahren. Bei der Mes­


sung wird jeweils die Differenz in dB zwischen A 'Y'
/ 50 Q
aktuellem Meßwert und gespeichertem Kali­ JO ZL
I Q = 50 Q Men- Detektor
brierwert ausgegeben. ob j e k t Oz
6dB/D'
a

3.3 Me ssung mit Richtko ppler


oder Leistung steiler 16 zhQ
Measurement with directional coupler A
or power splitter c
b
Bei gleichzeitiger Messung von a 1 und b2 und Bild 4. Einsatz eines Leistungsteilers zur Signaltrennung.
Quotientenbildung (linear) bzw. Differenzbil­ a Leistungsteiler mit zwei Widerständen (6 dB/Oo; power
dung (logarithmisch) entfallen störende Beein­ splitter) : sehr gut geeignet. Meßaufbau dargestellt mit Pe­
flussungen durch Pegelschwankungen des Gene­ gelregelung anstelle der Quotientenmessung ; b Leistungs­
rators. Weiterhin läßt sich so auch die Phase des teiler mit drei Widerständen (6 dB/Oo; power divider) : un­
Transmissionsfaktors messen. Zur Auskopplung geeignet. c einfache Verzweigung (Tee) : ungeeignet
der einfallenden Welle a 1 wird entweder ein
Richtkoppler (Bild 3 a) oder ein allseitig ange­
paßter, entkoppelter 3-dB-Leistungsteiler (iso­ lende Welle a 1 bei allen Frequenzen gleich groß
lated power divider, Bild 3 b) oder ein (ausgangs­ und die bei einer Frequenz durchgeführte Ei­
seitig fehlangepaßter) 6-dB-Leistungsteiler mit chung der Anzeige auf 0 dB bei überbrücktem
zwei Widerständen (power splitter, Bild 4 a) be­ Meßobjekt gilt für alle Frequenzen. Sofern das
nutzt. Meßobjekt ohne Adapter und Verbindungskabel
Bei skalaren Messungen kann die ausgekoppelte direkt an den Generator angeschlossen werden
Welle a 1 auch zur Pegelregelung des Generators kann, erfüllt eine generatorinterne Pegelregelung
benutzt werden. Im Idealfall ist damit die einfal­ den gleichen Zweck.
lende Welle a 1 bei allen Frequenzen gleich groß In der Schaltung nach Bild 3 a erzeugt die Regel­
und die bei einer Frequenz durchgeführte Kali­ schleife einen konstanten Pegel im Verzwei­
brierung der Anzeige auf 0 dB bei überbrücktem gungspunkt A, unabhängig von der Belastung
Meßobjekt gilt für alle Frequenzen. Sofern das durch das Meßobj ekt. Damit erhält der Genera­
Meßobjekt ohne Adapter und Verbindungskabel tor den Innenwiderstand O Q und der 50-Q­
direkt an den Generator angeschlossen werden Widerstand im Leistungsteiler bewirkt, daß das
kann, erfüllt eine generatorinterne Pegelregelung Meßobjekt generatorseitig einen angepaßten In­
den gleichen Zweck. nenwiderstand sieh t. Wird dagegen ein allseitig
Bei skalaren Messungen kann die ausgekoppelte angepaßter 6-dB-Teiler entsprechend Bild 4 b für
Welle a 1 auch zur Pegelregelung des Generators Verhältnismessungen oder zur Pegelregelung be­
benutzt werden. Im Idealfall ist damit die einfal- nutzt, so erhält auch hier der Verzweigungspunkt
A den Innenwiderstand 0 Q und damit sieht das
angeschlossene Meßobjekt einen Quellwider­

Referenz stand von 1 6 2/3 Q. Diese Fehlanpassung des
0,1 a Meßobjekts führt zu Meßfehlern. Ebenfalls un­
O z l ai geeignet für die hier beschriebenen Anwendun­
20 d B
099Sg
",\ X • D ev i c e u n d e r gen sind einfache T-Stücke entsprechend Bild 4 c.
)
-( Test
t e s t ( D . U .T. ) I
-a

a
3.4 Empfänger. Receiver

I Referenz
-a ! 2 Das in den Bildern 1 bis 4 mit Detektor bezeich­
./

"\ oz l Q 1 nete Gerät zur Messung und Anzeige der Wellen­
-a

-a ! 2 amplitude kann je nach Anwendungsfall eine De­



Menobj ekt
D.U.T.
Te s t tektordiode mit Gleichspannungsmeßgerät bzw.
3 d B/D'
b NF-Spannungsmeßgerät, ein angepaßter Ab­
Bild 3. Messung von Betrag und Phase des Transmissions­ schlußwiderstand mit angeschlossenem hochoh­
faktors. a mit Richtkoppler ; b mit entkoppeltem Leistungs­ migem Spannungsmeßgerät, ein Überlagerungs­
teiler empfänger, ein Leistungsmeßgerät oder ein
3 Netzwerkanalyse : Transmissionsfaktor I 13
p a ra I I e I e F req u en z -
a b s ti m m u n g
Linearitätsabweichungen des Empfängers ent­
Mitlauf- s e l e k t iver E m pfönger,
gen erator z,8, Sp e k t r u m o n a lysator
stehen, werden für genaue Messungen Substitu­
tionsverfahren ben II t 7 1 .
Meßprinzip : Zunächst wird das Meßobjekt ge­
messen und die Empfängeranzeige registriert
M e rl o b j e k t (Kalibrierung). Dann wird es ersetzt durch ein
0,
kalibriertes Dämpfungsglied und/oder einen ka­
librierten Phasenschieber, die so lange verstellt
werden, bis die Empfängeranzeige mit Meß­
objekt reproduziert ist (Messung). Damit sind die
f f Meßfehler im Empfänger einschließlich des
Anzeigefehlers eliminiert. Der Meßwert wird am
Bild 5. Messung des Transmissionsfaktors mit selektivem
Empfänger und Mitlaufgenerator (tracking generator)
Dämpfungsglied bzw. am Phasenschieber abge­
lesen.
Das einfachste Verfahren ist die HF-Suhstit�{tion
Spektrumanalysator sein. Je nach Art des Emp­ entsprechend Bild 6 :
fängers ändern sich Lage und Größe des Pegel­ Stellung des Dämpfungsgliedes mit Meßobj ekt :
bereichs, innerhalb dessen die gemessenen Si­ x dB ; Stellung des Dämpfungsgliedes ohne Meß­
gnale ausgewertet werden können. Der Einsatz­ objekt bei gleichem Pegel am Empfänger : y dB
bereich von Detektordioden liegt etwa zwischen
+ 1 5 und - 6 0 dBm und der von Grundwellen­ Dämpfung des Meßobjekts : (y - x) dB.
mischern zwischen 1 0 und- 1 1 0 dBm. Durch-
Bei gewobbelten Messungen werden Kalibrier­
Dämpfungsglieder oder Verstärker zwischen Ge­ linien für jeweils definierte Stellungen des
nerator und Meßobjekt sollte für jede Messung Dämpfungsgliedes mit einem X-Y-Schreiber auf­
der Pegelbereich eingestellt werden, in dem der gezeichnet. Anschließend wird das Dämpfungs­
jeweils benutzte Empfänger die größte Meßge­ glied durch das Meßobjekt ersetzt und der Fre­
nauigkeit hat. quenzgang des Meßobjekts in die Schar der
Kalibrierlinien eingezeichnet.
Amplitudenmeßplatz mit selektivem Empfänger Bei der NF-Suhstitution (Bild 7) ist das anfangs
(z. B. Spektrumanalysator). Stimmt man die erwähnte Grundprinzip der Substitution nicht
Frequenz eines Generators parallel zu der des
Überlagerungsoszillators so ab, daß die Gene­
ratorfrequenz stets im Empfangsbereich des Kolibrierung
Empfängers liegt, so hat man einen Amplituden­ I
meßplatz entsprechend Bild 5. Der Transmis­ �
k a l i b riertes ,
e 'l n s t e li b a r e s 1 M e rl - HF-

TI objekt Em p f ä n g e r
sionsfaktor kann direkt gemessen werden (Kali­ H F - D ö m p f u n g s g l ied I
I
brierung für 0 dB Durchgangsdämpfung durch
Überbrücken des Meßobjekts). Für die Refle­ a
�>--
'I � M e s s u----
ng �-<
xionsfaktormessung wird zusätzlich ein Richt­
koppler benötigt (Kalibrierung für 0 dB mit I
Kolibrierung t
dB
Kurzschluß/Leerlauf am Ausgang des Richt­ I I
kalibriertes , --f::t �
kopplers). Vorteil dieser Anordnung ist der große e i n s t e l l b a r es 7' -\-

I De t e ktor
Dynamikbereich, gegeben durch die Differenz ---/.
I
,

zwischen Ausgangspegel des Generators und I I ,

Rauschpegel des Empfängers. Wegen der be­


,

M e rl o bjekt X - V - Schrei ber


grenzten Richtwirkung von Richtkopplern ist T .

b Messung
dieser Vorteil meist nur bei Transmissionsmes­
sungen nutzbar. Nebenwellen des Generators Bild 6. HF-Substitution, a punktweise Messung; b Wob­
sind bei linearen Meßobjekten unkritisch, ebenso belmessung
das Intermodulationsverhalten des Mischers im
Empfänger. Mit abnehmender Empfängerband­
breite (um einen niedrigen Rauschpegel zu erhal­ H F m i t NF -
M o d u l a tion K a I I' b r l' e r u n g
ten) steigen die Anforderungen an die Frequenz­
[>I
I I
k a l i b r iertes ,
stabilität und den Gleichlauf. HF NF
>-- Merlobj ekt H ü l l k u rven - e i n s t e l l b a res
I r d e m o d u lator N F- Dömpfu ngsg lied
I
3.5 Substitution sverfahren
�I *I
'1L �\
Messung sc h m a l b a n d 'l ger
Substitution methods NF- E m p f ö n g e r
1 kHz
Da neben der Fehlanpassung von Generator
und Detektor die grö ßten Meßfehler durch die

Bild 7. NF-Substitution
I 14 r Hochfrequenzmeßtechnik

K a l i b rier u n g M i scher
I
1
kalibriertes ,
ZF-

Menobjekt e i n s t e l lb o r e s
1I I ZF - D ö m pfun g s g l i e d
Empfönger

9 Hessung ?
L.O. U b e r l o g e r u n g s o s z i I l ator
••

---, R efere n z k o n o l
I-- � I> 1-----
ZF­
HF ZF
Quotien ten -
L . O. Bild 8. ZF-Substitution. a
Seriensubsti­
e m pfä n g e r
tution für Betragsmessungen ; b Parallel­
--ü--l Henob j e k t o
substitution zur Messung von Betrag
und Phase
b Menkonol

vollständig erfüllt, da sich der Pegel am HF-De­ da der Phasenwinkel zwischen zwei Signalen bei
tektor zwischen Messung und Kalibrierung än­ der Frequenzumsetzung mit Mischern erhalten
dert. Aber auch hier wird bei überbrücktem bleibt.
Meßobjekt das Dämpfungsglied so lange ver­ Bild 9 zeigt die Parallelsubstitution ohne Mi­
stellt, bis die vorherige Anzeige reproduziert ist. scher. Wesentlich für die Meßgenauigkeit ist die
Damit entfällt der Anzeigefehler. Der wesentliche gleichmäßige Aufteilung des Eingangssignals
Vorteil dieser Schaltung ist jedoch, daß ein NF­ bzw. generell die Symmetrie der Brücke und
Dämpfungsglied benutzt werden kann. Diese las­ die Entkopplung beider Brückenzweige vonein­
sen sich wesentlich einfacher mit großer Genau­ ander. An Eingang und Ausgang der Brücke
igkeit realisieren. können auch synchron betätigte Umschalter ein­
Die ZF-Substitu tion (Bild 8 a) vereinigt alle bis­ gesetzt werden.
her angeführten Vorteile :
- Das Meßergebnis wird am Dämpfungsglied
abgelesen ; 3.6 Meßfehler durch Fehlanpa ssung
die Anzeige des Meßinstruments dient nur zur •

Reproduktion des Kalibrierwerts; Mismatch error

- am HF-Empfänger (Mischer) liegen bei Kali­


brierung und Messung die gleichen Amplitu­ In der Schaltung nach Bild 1 0 ist der vom Emp­
den ', fänger angezeigte, gemessene Transmissions­
- die Frequenz am Dämpfungsglied ist kon­ faktor
stant, unabhängig von der HF -Signalfre­ S
- 21
S- 2 1 M =
quenz; 1 rG S 1 1 - rE S2 2 + rG rE d et (S) ' (1)
-

die Lage dieser Frequenz kann so gewählt wer­


den, daß sich Dämpfungsglieder höchster Prä­ während S2 1 der gesuchte Transmissionsfaktor
zision realisieren lassen. ist. Die Abweichung zwischen Meßwert S 2 1 M und
Das Verfahren läßt sich auch für Wobbelmessun- Sollwert S2 1 wird um so geringer, j e kleiner die
gen einsetzen (dann wird der Uberlagerungsos-
• •

Reflexionsfaktoren vom Meßobjekt aus in Rich­


zillator parallel zum HF-Generator abgestimmt, tung zum Generator (&y) und in Richtung zum
so daß die Frequenzdifferenz konstant bleibt) Empfänger hin (rE) sind. Für skalare Messungen
und auf Phasenmessungen erweitern (Bild 8 b), ergibt sich aus GI. ( 1 ) zur Abschätzung der Meß-

Refer e n z k a n o l

A 0
...J L
- -

rp (S)
Summe 0 Em pfönger
Signol ve r- H e nobjekt
I I
-

oder
(I

zwe l g u n g

511

Differenz 522
Menobjekt l <Xo- o u ot l e n t e n -
Nu 11- Pege 1 -

___ - 1.... -

Henkonol ind ikator reg e l u n g oder em pfönger

Bild 9. HF-Parallel-Substitution zur Messung von Betrag Bild 10.Reflexionsfaktoren, die bei der Messung des
und Phase des Transmissionsfaktors (Meßbrücke) Transmissionsfaktors zu berücksichtigen sind
3 Netzwerkanalyse : Transmissionsfaktor I 15
ungenauigkeit 1 0 dB erg:eben und der Frequenzgang emes

� .

Filters ändert sich meist beträchtlich, wenn


Quellwiderstand und Lastwiderstand nicht den
Sollwerten entsprechen.

Betriebsdämpfung (transducer gain) :


aB = 1 0 19 (PG • maxi PE)

(2) PG• max ist unabhängig vom Zweitor, gemessen bei


Leistungsanpassung des Generators (ZL = Z�).
Beispiel: Für die Messung eines 1 0-dB-Dämp­
fungsgliedes mit beidseitig 1 0 % Reflexionsfaktor Leistungsverstärkung (power gain) :
ergibt sich daraus mit rG 0, 33 und rE 0,20 ein
= =

Ungenauigkeitsfaktor F zwischen 1 , 1 3 und 0,8 8


bzw. ein Meßfehler von etwa ± 1 , 1 dB. � ist die vom Zweitor aufgenommene, FE die ab­
Zur Vermeidung derartiger Meßfehler werden gegebene Leistung.
gut angepaßte Empfänger und gut angepaßte
Leistungsteiler oder Richtkoppler eingesetzt. Zur Verfügbare Leistungsverstärkung (available gain) :
weiteren Verbesserung können jeweils vor und
hinter dem Meßobjekt gmax = 1 0 19 (PE. max/� . max)
- reflexions arme Dämpfungsglieder (pads),
- reflexionsarme Richtungsleitungen (isolator), Gemessen mit rG = S11 und rE = S il o
- Anpaßelemente (stub tuner, slide-screw-tuner,
E-H-tuner)
eingeschaltet werden. Diese Komponenten blei­ 3.7 Meßfehler durch Harmoni sche und
ben bei der Kalibrierung im Meßaufbau. Bei parasitäre Schwingungen de s Generato rs
Messungen an Zweitoren mit Durchgangsdämp­ Signal generator harmonics and spurious
fungen unter 1 dB sind Fehlanpassungen beson­
ders störend. Auch bei der Messung der 3-dB­ Breitbandige Detektoren als Empfänger messen
Frequenzen von Filtern (die j a im Sperrbereich neben dem Soll signal (der Grundschwingung des
fehlangepaßt sind), sollten die Einflüsse von rE Generators), auch noch alle anderen Spektralli­
und l'G berücksichtigt werden. nien, die in ihrem Empfangsbereich liegen, so
Z. B. Harmonische und parasitäre Schwingungen

Dämpfungsdefinitionen. Für die Dämpfung a des Generators, von außen eingestreute Funk­
bzw. die Verstärkung g eines Zweitors existiert störungen oder parasitäre Schwingungen des
eine Vielfalt von Definitionen. Für den Fall, daß Meßobjekts (bei Messungen an Verstärkern). Die
S1 1= S n rG rE 0 ist und die Eingangsim­
= = =
dadurch entstehenden Meßfehler sind selten so
pedanzen des Zweitors gleich dem reellen Be­ eindeutig wie in Bild 1 1 : Bei Einstellung des Ge­
zugswiderstand Ro sind, ergeben alle Definitio­ nerators auf fo /3 wird diese Frequenz durch das
nen den gleichen Zahlenwert. zu messende Bandfilter Z. B. um 60 dB gedämpft.
Der Transmissionsfaktor (Wellendämpfung) ist Wenn der Generator jedoch zusätzlich die drei­
unabhängig von rG und rE eine Eigenschaft des fache Frequenz Uo) abgibt, fällt diese in den
Zweitors und ändert sich mit dem gewählten Be­
zugswiderstand. Fehlanpassungen führen zu den
oben angeführten Meßfehlern. Im Unterschied
20 19 f
dazu ist die Einfügungsdämpfung (insertion loss)
abhängig von den Streuparametern Sij sowie von I
rG und rE . Sie kann trotz Fehlanpassung in einer Abstond der
Messung entsprechend Bild 2 fehlerfrei ermittelt 1 . H o r m o ni sch en
v o n d e r G r u n d-
werden. A bstond der
. schWing ung
2 . H o r moni schen I
b e i fo /3
Einfiigungsdämpfung =1 0 1 9 (Empfängerein­
gangsleistung FE bei direktem Anschluß an den Empfö n g er ­
Generator/FE bei eingefügtem Zweitor). r o u sch en
/
Die gemessenen Werte der Einfügungsdämpfung � wohrer V e r l o u f
sind somit nur zusammen mit den Werten für rE // d e r Fi l t e r k u r v e � '-.

und l'G des Meßaufbaus interpretierbar und nicht


"

I0
,
f
allgemeingültig. So wird Z . B. ein 1 0-dB-Dämp­
fungsglied mit Z L 75 Q in einem 50-Q-Meß­
=
Bild 1 1 . Meßfehler durch Harmonische des Signalgenera- � �.

aufbau eine größere Einfügungsdämpfung als tors bei breitbandigem Detector


I 16 I Hochfrequenzmeßtechnik

Durchlaßbereich des Bandfilters und wird vom Durchgangsdäm pfung emen Fehler bis zu

Breitbanddetektor am Ausgang gemessen und ± 0,27 dB.


angezeigt. Das gleiche passiert bei allen zusätz­
lich zur Grundschwingung vorhandenen Spek­
trallinien (Nebenwellen) des Generators. Ein Si­ 3.10 Gru ppenlau fzeit. Group delay
gnalgenerator mit z. B. 25 dB Abstand zwischen
der Grundschwingung und der größten zusätzli­ Bild 1 2 zeigt den grundsätzlichen Verlauf der
chen Spektrallinie (25 dB Nebenwellenabstand) Phase (Pt des Transmissionsfaktors. Die Pha­
erlaubt also nur Messungen mit einem Dynamik­ senlaufzeit Tp - ((Jt/w ist stets positiv. Die
=

bereich von 25 dB. Bei schmalbandigen Messun­ Gruppenlaufzeit Tg ist die Steigung der Phasen­
gen helfen vorgeschaltete Filter. kurve : Tg - d ((Jt/dw
= - (1/(2 rc)) d ((Jt/dj Da
=

Zur Kontrolle, ob Fremdstörer bzw. parasitäre der Transmissionsfaktor einer verlustlosen Lei­
Schwingungen vorhanden sind (die beide fre­ tung (Länge I) exp (((Jt) exp ( - ß I) ist und da
=

quenzunabhängig den Rauschpegel anheben), die Nachrichtentechnik dementsprechend die


sollte der Signalgenerator ein- und ausgeschaltet Übertragungsfunktion eines Vierpols mit
werden bzw. der Empfänger ohne Meßobjekt be­ R(f) exp ( - j q) (f)) definiert, ergibt sich mit dem
trieben werden, bei gleichzeitiger Beobachtung Phasenrnaß ß und dem Phasengang q) (f) für die
des angezeigten Rauschpegels. Phasenlaufzeit Tp ß l/w q)/w und für die
= =

Gruppenlaufzeit T e dß/dm d q)/d(I).


= =

Bei einem idealen Vierpol zur verzerrungsfreien


3.8 Meßfehler durch Rauschen Nachrichtenübertragung nimmt die Phase linear
mit der Frequenz ab und die Gruppenlaufzeit ist
und Frequenzinstabilität eine Konstante. Die Gruppenlaufzeit dient dazu,
N oise and frequency instability die Abweichungen eines realen Vierpols vom ide­
alen Verhalten beschreiben zu können. Sie ist nur
Ableseungenauigkeiten durch Empfängerrau­ bei solchen Vierpolen sinnvoll, die grundsätzlich
schen können durch Tiefpaßfilterung des Aus­ phasenlinear sein sollen bzw. nur in den Fre­
gangssignals (Videofilter) verringert werden. Die quenzbereichen, in denen der Phasengang nur
Meßzeit steigt dadurch an. Bei Messungen an wenig von dem eines linearen Vierpols abweicht.
Objekten mit starker Frequenzabhängigkeit der
Amplitude oder der Phase (z. B. Resonatoren ho­ Statische Messung. (phase-slope-method). Es
her Güte oder elektrisch lange Leitungen) müs­ wird die Anderung 1'l ((J der Phase des Transmis-
• •

sen stabile Generatoren mit geringer Stör-FM sionsfaktors bei Erhöhung der Frequenz um I'lf
bzw. mit wenig Phasenrauschen eingesetzt wer­ gemessen (Bild 1 2). Der Differenzenquotient
den. Die Wobbelfrequenz muß niedrig genug ge­ - 1'l ((J/(2 rc l'lf) geht mit abnehmendem I'lf gegen
wählt werden, damit der gemessene Frequenz­ die Gruppenlaufzeit. Bei endlichem I'lf ergibt
gang das stationäre Verhalten des Meßobjekts sich eine Art Mittelwert im betrachteten Fre­
wiedergibt. Bei genauen Messungen mit großem quenzbereich. Die Feinstruktur der Gruppen­
Dynamik bereich ( > 100 dB) werden der Uberla­ laufzeit innerhalb des Intervalls I'lf bleibt unbe­
gerungsoszillator des Empfängers und der Signal­ rücksichtigt. Bei Netzwerkanalysatoren mit
generator phasenstarr gekoppelt. Eine weitere Rechneranschluß wird Ta meist durch numeri- o

Steigerung der Meßempfindlichkeit läßt sich sche Differentiation der gemessenen Phasen-
dann noch durch die Benutzung eines kohären­ kurve ((Jt (f) ermittel t.
ten Detektors anstelle der sonst üblichen linea­
ren bzw. quadratischen Detektoren erreichen.

Cf!t
f- f
3.9 Meßfehler
-

o
durch äußere Verko pplungen
-2 Jt
- ­

Isolation errors "


-4 rr
Die Möglichkeit der direkten Verkopplung
zwischen Signalgenerator und Detektor bzw. - 6 Jt
"
" I d e a l l i n earer
. .

zwischen Meßzweig und Referenzzweig ist be­ M <" Vierpol


"
sonders bei genauer Messung großer Dämpfun­ IJ. Cf! "
8 Jt "
gen zu kontrollieren. Flexible Koaxialleitungen "
-

"
und Standard-Steckverbindungen haben in der "
"
-1 0 Jt '-
Regel Schirmdämpfungen unter 60 dB. Ein realer V i e r p o l

Lecksignal am Detektor, 60 dB unter dem Gene­ Bild 12. Grundsätzlicher Verlauf der Phase des Transmis­
ratorpegel, bewirkt bei der Messung von 30 dB sionsfaktors t als Funktion der Fre quenz
4 Netzwerkanalyse : Reflexionsfaktor I 17

AM-Verfahren (Nyquist-Methode). Das Ein­ quenz fl ersetzt werden kann, ohne daß sich die
gangssignal des Vierpols wird mit der Frequenz Gruppenlaufzeit T g ändert.
fNF amplitudenmoduliert. Gemessen wird die
Phasenverschiebung der Hüllkurve des AM­ le I = T
g
Uref bzw. l eI = n )er ef
Signals : Die Phase /':" rp zwischen dem modulie­ (n = beI. pos. Zahl, z. B. 2,35)
renden N F-Signal und dem demodulierten Aus­
gangssignal des Vierpols wird mit einem Messung :
NF-Phasenmeßgerät ermittelt und die Gruppen- a) Mit dem Impulsreflektometer (s. 1. 8.2) bei
1}�tUfzeit daraus berechnet : T g = /':" rpj(2 TCfNF)' phasenlinearen Vierpolen,
Anderungen von T g im Frequenzbereich 2j,"JF b) durch Messung der Gruppenlaufzeit,
bleiben unberücksichtigt. c) durch Messung der Phase des Reflexionsfak­
tors bei Kurzschluß am Ausgang und Vergleich
FM-Verfahren. Analog zum AM-Verfahren der Meßwerte bei mindestens zwei Frequenzen,
kann bei kleinem Modulationsindex auch ein mit denen der Referenzleitung (nur bei rezipro­
FM -Testsignal benutzt werden. Gemessen wird ken Vierpolen).
ebenfalls die Phasenverschiebung zwischen dem
Spezielle Literatur : [1] Schuol1, E. ; Wolf, H. : Nachrichten­
demodulierten Eingangssignal und dem demo­
Meßtechnik. Berlin : Springer 1987.
dulierten Ausgangssignal. Einsetzbar für begren­
zende Verstärker.

Vergleichsverfahren. Zunächst wird ein Vierpol 4 Netzwerkanalyse: Reflexionsfaktor


mit bekannter Gruppenlaufzeit T g • r ef gemessen,
Ergebnis /':" rp reb dann der unbekannte Vierpol, Network-analysis :
Ergebnis /':" rp. Die Gruppenlaufzeit ergibt sich zu Reflection measurement
Tg = T g, r ef /':" rpj/':"rp re f ' Im Unterschied zu den vor­
angegangenen Verfahren muß hier das Fre­ Allgemeine Literatur : S011110, P. /. ; Hunter, J D. : Micro­
quenzintervall /':"f nur konstant gehalten werden, wave impedance measurements. London : Peter Peregrinus
ohne daß seine gen aue Größe benötigt wird . 1 9 85.

.
Wobbelverfahren. Als Testsignal wird eine linear
4.1 Richtkoppler. Directional coupler
ansteigende Frequenz benutzt. Die Differenz
zwischen der Rampe, die das Eingangssignal mo­ Im Meßaufbau nach Bild 1 a sind zwei Richt­
duliert, und dem demodulierten Ausgangssignal koppler zur Signaltrennung in die Verbindungs­
ist eine Gleichspannung, die proportional zur leitung zwischen Signalquelle und Meßobjekt
Gruppenlaufzeit des Vierpols bei der jeweiligen eingefügt. Am Nebenarm des einen wird die Am­
Frequenz ist. plitude der hinlaufenden Welle a gemessen, am
Sofern nur der Vierpolausgang zugänglich ist Nebenarm des anderen die Amplitude der rück­
(Streckenmessung) können weder Tp noch Tg , laufenden Welle b (Grundgrößen der Netzwerk­
sondern nur die Gruppenlaufzeitverzerrung, d. h. analyse in 1 3 . 1 ). Vor der Messung wird zur Kali­
die Änderung der Gruppenlaufzeit bezogen auf brierung ein Kurzschluß (oder Leerlauf) anstelle
eine Referenzfrequenz, gemessen werden [1] . des Meßobjekts angeschlossen. Damit wird die
reflektierte Welle gleich der einfallenden Welle.
Meßfehler. Zur Kalibrierung des Meßaufbaus ist Der Quotient r = b/a ist - 1 ( + 1 bei Leerlauf).
vor der Messung, ohne Vierpol, T g ° einzustel­
= Anstelle der zwei Richtkoppler, bei denen jeweils
len. Störabstand und Phasenrauschen des Test­ ein Ausgang des Nebenarms reflexionsfrei abge­
signals (HF und NF) beeinträchtigen die Meß­ schlossen ist und der andere zum Messen benutzt
genauigkeit ; Abhilfe durch Mittelwertbildung wird, kann auch nur ein Richtkoppler verwendet
(Videofilter). Aus der Bestimmungsgleichung werden, mit je einem Detektor an jedem Ausgang
Tg = - /':"rp/(2 TC /':"f) läßt sich die Auflösung der des Nebenarms. Bei nicht reflexionsfreien De­
Meßgröße berechnen, wenn das Frequenzinter­ tektoren kommt es dann jedoch zu direkten
vall /':"f und die Aufl ösung des Phasenmeßgeräts Verkopplungen zwischen den Ausgängen des
/':"rp bekannt sind. Mit /':"rp = 0, 1 0 und /':"f = Nebenarms und damit zu Meßfehlern. Die Meß­
278 kHz kann man T g auf 1 ns auflösen. genauigkeit steigt daher wesentlich durch die Be­
nutzung von zwei Richtkopplern. Sie läßt sich
Elektrische Länge. Die elektrische Länge eines noch weiter erhöhen, wenn beide Richtkopp­
Vierpols ist entweder die Angabe der Gesamt­ ler den gleichen Frequenzgang haben. Entspre­
phasendreh ung n 2 TC + er zwischen zwei Bezugs­ chend bMjaM = b(l + b)j [a (1 + 6 ) ] = b/a kom-
ebenen an Ein- und Ausgang oder die Angabe,
durch welche homogene Referenzleitung der
elektrischen Länge ' d)' l der Vierpol bei der Fre- Spezielle Literatur Seite I 24
I 18 I Hochfrequenzmeßtechnik

Detektor 0 Detektor b Wert r führen. Einige (systematische) Fehler kön­


nen nachträglich durch Umrechnen des Meß­
-

wertes mit Hilfe von Ergebnissen aus zusätzli­


20 dB 20d8
b chen Kalibriermessungen eliminiert werden :
X X
-

H e n o b j ekt
,

--c

o

a Richtwirkullg der verwendetell Koppter. Aufgrund


nichtidealer Richtwirkung mißt Detektor Cl noch
Amplitudenteile von b und umgekehrt. Diese

K u r z s ch l u n
X -

unerwünschte Kopplung wird noch weiter ver­


20dB
schlechtert durch Reflexionen an den Steck­
�\
/ verbindungen der Richtkoppler und externe
Detektor 0
<
v
Verkopplungen (leakage). Für Präzisionsmes­
-t H e n o b je k t sungen sind hochwertige Stecker zu benutzen
X und Adapter unzulässig.
20d8 �
I

b
Detektor b Frequellzgallgfehler. Durch die Abweichung der
Koppeldämpfung vom Nennwert und durch
-

Empfindlichkeitsschwankungen der Detektoren


Detektor 0
treten Meßfehler proportional zum aktuellen
Wert von Cl- bzw. b auf.
-

-
i=- bi o-
-

b
.

� D e t e ktor Fehlanpassungsfehler. Dadurch, daß vom Meß-


objekt aus in die Meßanordnung hineingesehen
20dB
keine ideale Anpassung vorliegt, treten Mehr­
'"
A

X
Henob j e k t
fachreflexionen auf.
c I
Die Fehler lassen sich gedanklich in einem Feh­
lerzweitor zusammenfassen (Bild 2). Die wahren
+8- D e t e k tor
Größen Cl- und b werden durch dieses Zweitor in
-

Phase und Amplitude verändert und dann von


ALC

0 ( f ) =1 t t i=b einem idealen, fehlerfreien Reflektometer gemes­
20 d B 20 d B

sen. Bezeichnet man die Streuparameter des Feh­
Signol- X X Henob je k t lerzweitors mit F ij , so wird der Meßwert zu
g e n erotor

d rM = Fl l + r F� d( l - r Fn). (1)
Bild 1 . Reflexionsfaktormessung mit Richtkopplern. a Re­
flektometer mit zwei Richtkopplern ; b Kompensation des Man kann den Term F1 1 der mangelnden Richt­
Frequenzgangs bei gleichen Richtkopplern ; c Reflektome­ wirkung, f2 1 dem Frequenzgang und f22 der
ter mit Richtkoppler und Leistungsteiler ' d Reflektometer � ,
Quellenfehlanpassung zuordnen. Nachdem die
mit Pegelregelung (nur Betragsmessung) Streuparameter des Fehlerzweitors durch Kali­
briermessungen bestimmt sind, läßt sich der ge­
suchte, korrigierte Meßwert ausrechnen :
pensieren sich die Schwankungen der Koppel­
dämpfung, was speziell bei Wobbelmessungen r = (rM -
Fl l)/(F n (rM - Fl l) - F L). (2)
vorteilhaft ist. Optimale Kompensation erreicht
man mit einer Anordnung entsprechend Zu den (nichtsystematischen) Fehlern, die sich
Bild 1 b. auf diese Weise nicht erfassen lassen, gehören :
Anstelle des Richtkopplers für die hinlaufende zeitliche Drift (z. B. thermisch bedingt) der Emp­
Welle kann auch (analog zu I 3.3) ein Leistungs­ fängerempfindlichkeit ; Frequenzdrift und FM
teiler mit zwei Widerständen benutzt werden des Generators ; nichtreproduzierbare Verände­
(Bild l c). Sofern nur der Betrag des Reflexions­ rungen durch Verbiegen von Anschlußkabeln
faktors gemessen werden soll, kann die Quotien­
tenbildung b/ a (ebenfalls analog zu 1 3.3) ersetzt
werden durch Pegelregelung des Signalgene­
ra tors (Bild 1 d). [M = b M /oM
aMt I-
t bM
I l (= blo
-,

4.2 Fehle rko rrektur bei der Me ssung I ) \ b - - -

X X Feh l e r -
� "-0 M e n o b j ekt
von Betrag und Pha se Zwei t o r
0
I

i d e a l e s R e f l ektome ter
-

Vector error correction L! ea les R ef l e k t o m e t e r _ _ __ ...J

Im realen Reflektometer entstehen Fehler, die zu Bild 2. Konzept der rechnerischen Fehlerkorrektur bei der
einer Abweichung des Meßwerts rM vom wahren Messung von Betrag und Phase
4 Netzwerkanaly se : Ref1exionsfaktor I 19
und beim Anschließen der Steckverbindungen. 1m r
Störungen durch Rauschen des Generators und
des Empfängers lassen sich durch Tiefpaßfiltern
(Mittelwertbildung) des Meßwerts vermindern.
R e f l e x i o n s f o k t o r d e s ver­
sch i e b b oren Wide rsto n d s elem ents
ideo l e r i d e o l er
4.3 Kalibri e rung. Calibration Kurzschluß Le e r l o u f
1 co Re r
Zur Ermittlung der drei Streuparameter des Feh­ Ref l e x i o n sfoktor d u r c h Stecker
lerzweitors können z. B. drei Kalibriermessungen und end l i c h e R i c htwirkung ( FI 1 ) reo ler
Leer I 0 uf
mit drei bekannten, voneinander verschiedenen
Reflexionsfaktoren durchgeführt werden. In
Koaxialtechnik nimmt man die Werte + 1 , - 1
und 0 (d. h. Leerlauf, Kurzschluß und Anpas­
sung), da sich diese mit recht guter Genauigkeit Bild 3. Reale Lage der Kalibriernormale Anpassung und
herstellen lassen. Fehler der Kalibriernormale Leerlauf im Smith-Diagramm, bezogen auf die durch den
Kurzschluß vorgegebene Bezugsebene
gehen direkt in das Meßergebnis ein. Weitere
Kalibrierverfahren in [9 - 1 4].

Kurzschluß. In Koaxialtechnik sind ortsfeste


Kurzschlüsse diejenigen Kalibriernormale, die Kalibrierung ist damit zurückgeführt auf den
mit höchster Genauigkeit realisiert werden kön­ Leitungswellenwiderstand ZL bzw. die mecha­
nen. Längsverschiebliehe Kurzschlüsse erreichen nischen Abmessungen der Leitung, in der das
diesen Standard nicht. Widerstandselement verschoben wird. Die Rück­
führung des Kalibriernormals "angepaßter Ab­
Leerlauf. Der Reflexionsfaktor + 1 muß in der schlußwiderstand" auf das Kalibriernormal
Ebene erzeugt werden, in der vorher der Kurz­ "Leitungswellenwiderstand" ermöglicht nach
schluß auftrat. Damit ist die Bezugsebene der dem Stand heutiger Technologie eine höhere
Messung festgelegt. Am offenen Ende einer Lei­ Meßgenauigkeit.
tung existiert ein inhomogenes Feld. Die elektri­ Sofern kleine Reflexionsfaktoren gemessen wer­
schen Feldlinien treten aus der Stirnfläche der den sollen, ist die komplexe Korrektur r =
Leitung aus. Dieses Streufeld wirkt wie eine Zu­ rM F1 1 unumgänglich (s. GI. (2)).
-

satzkapazität. Das physische Ende der Leitung


ist nicht mehr identisch mit der Leerlaufebene ; es
tritt eine scheinbare Verlängerung der Leitung 4.4 Reflexionsfakto rb rücke
auf. Weiterhin entstehen mit der Frequenz an­ VSWR-bridge
steigende Abstrahlungsverluste. Das Offenlassen
des Anschlußsteckers ist nur bei ausreichend Analog zur Wheatstone-Brücke der Gleichspan­
niedrigen Frequenzen oder geeigneten Steckver­ nungsmeßtechnik lassen sich auch in der Hoch­
bindungen mit definierter Leerlauf/Kurzschluß­ frequenztechnik Messungen des Reflexions­
ebene (z. B. pe 7) zulässig. Für gen aue Messun­ faktors mit einer Brücke entsprechend Bild 4
gen werden spezielle, geschirmte Leerlaufnor­ durchführen. Detektor Q im Nullzweig der
male, stets gepaart mit einem dazugehörigen Brücke liefert eine Spannung proportional zur
Kurzschlußnormal, eingesetzt. rücklaufenden Welle b. Der Einsatz einer Meß­
brücke entspricht der Benutzung eines Reflekto­
Anpassung. Ein ortsfester angepaßter Abschluß­ meters mit Richtkopplern bzw. mit Richtkoppler
widerstand ergibt Abweichungen vom Refle­ und Leistungsteiler. Auch hier läßt sich eine (end­
xionsfaktor 0 durch Restreflexionen des Wider­ liehe) Richtwirkung definieren und messen. Vor­
standselements und durch Reflexionen an der teil der Brücke ist, daß (in Koaxialtechnik) mit
Steckverbindung. Ein weiterer Meßfehler ent­ geringerem Aufwand als bei Richtkopplern
steht durch die endliche Richtwirkung des Richt­ große Bandbreiten erzielbar sind (besonders zu
kopplers. Durch einen längsverschieblichen Ab­ niedrigen Frequenzen hin). Bei nicht ausreichen­
schlußwiderstand lassen sich die Störungen der Leistung des Signalgenerators kann die grö­
voneinander trennen und damit meßtechnisch ßere Durchgangsdämpfung ( > 6 dB) der Brücke
eliminieren : Bei Verschieben des Widerstands­ nachteilig sein, da dies die Dynamik unmittelbar
elements um eine halbe Wellenlänge dreht sich verringert. Anstelle von Detektor a kann auch
der zu ihm gehörige Reflexionsfaktor um 360°. eine Impedanz mit bekanntem Reflexionsfaktor
Im Smith-Diagramm erscheint daher ein Kreis angeschlossen werden (Vergleichsmessung). De­
(Bild 3). Sein Mittelpunkt ergibt den Fehler f 1 1 tektor b zeigt dann die Abweichungen des Meß­
durch den Stecker und die Richtwirkung. Die objekts von dieser Referenz an.
I 20 I Hochfrequenzmeßtechnik

i -- -- -- ---- -- -- -- - l
Damit wird der maximale Gesamtfehler zu
r',
I
n
50 Q 50Q I 1'1r = d + dr + rG r2 + rG r3. (3)
50Q I Detektor Hierbei sind Fehler durch die Nichtlinearität des
J b
-
I Detektors, durch das Anzeigeinstrument und
Sig n o l -
genemtor I I durch Effekte höherer Ordnung nicht berück­
I
Detektor Men o b j e k t sichtigt. Der relative Fehler wird zu :
a
I
-

eS = = d (1 + 1 /r) + rG (r + 1'2). (4)


I
1'11'/1'
L _ - '- J Besonders ungenau ist also die Messung sehr
kleiner und sehr großer Reflexionsfaktoren
(Bild 5).
U1 Z Z
UD Zx - Z Aufgrund unterschiedlicher elektrischer Längen
U1 Zx Z
-
-

von ihrem Entstehungsort bis zum Detektor b


U
+

!jo

-

U1 Zx UD = r f ü r Z=ZL (Bild 6) drehen sich die Anteile des Zeigers 1'1r


-Z
U1 -
und der wahre Meßwert I' unterschiedlich schnell

Bild 4. Widerstandsbrücke zur Reflexionsfaktormessung


50
%

40
4.5 Fehlerkorrektur '-

� 7
bei Betragsmessungen <l
'- 3 0

\�
CD

Scalar error correction


:::

20
(L \
Meßaufbauten mit Richtkopplern und solche
l ��,

r
x

mit Widerstandsbrücken lassen sich bezüglich E


o
d(l+ I' ,I
der auftretenden Meßfehler und ihrer Korrektur 10 rG ( r, +r2
gleich behandeln. Zunächst bewirkt die endliche �.
Richtwirkung des Richtkopplers bzw. die nicht­ �� 'f--::' .

ideale Symmetrie der Brücke ein konstantes, � 2d


o 0.2 0,4 0,6 0,8 1 ,0
vom Meßwert unabhängiges Signal am Detektor Ref l ex i o n s f o k t o r r
b. Nach der Quotientenbildung entspricht dies
einem Meßfehler 1'1r gleich der Richtwirkung d Bild 5 . Maximaler relativer Meßfehler I1rjr als Funktion
(directivity). Ein Richtkoppler mit 20 dB Richt­ des Reflexionsfaktors, Getrennte Darstellung des Anteils,
wirkung (d = 0,1 ) erzeugt einen maximalen der durch die Richtwirkung d entsteht und des Anteils,
der durch die Quellenanpassung I'G entsteht. 1 : I'G =
Meßfehler 1'1r = + 0, 1 . Ohne fehlerkorrigierende
0,1 (20 dB), d = 26 dB 2 : rG = 0,07 (23 dB), d = 40 dB
Maßnahmen lassen sich mit einem Reflektome­
ter also keine Reflexionsfaktoren bestimmen, die
kleiner sind als die Richtwirkung d.
rM = 1 b +!'1 Q l/a
1'11'1 = + d.
Detektor a D et e k t o r b
Weiterhin entsteht ein Meßfehler durch den Re­
flexionsfaktor der Quelle rG, der vom Meßobjekt 4 b Le e r l o u f
aus in die Meßanordnung hineingesehen auftritt 1'10 t! ---
-
-'\ (r=+l )
x
,-
X
(test port match). Dies ergibt vereinfacht einen .L � _

a
_ _ _ _ _
_ _ _ _ •

maximalen Meßfehler Kurzsch l u n


(,[ = - 1 )
1'11' = + rG r2 , r
2 -

M itte lwert '--- ( /j, a


da die vom Meßobjekt reflektierte Welle (I') am '--- '--- I \ r=1
\
�/J
'---

\ / \ / '---l::.
I .L-
Eingang der Meßanordnung reflektiert wird
____

b
(r rG), wieder ins Meßobjekt zurückläuft, dort er­ Leer l o u f
neut reflektiert wird (r rG r) und sich anschließend rM ( t )

dem Meßwert I' überlagert. Da beide Fehler auch


bei der Kalibrierung des Systems auf den Wert
f
r = 1 auftreten, ergibt sich ein weiterer Fehler­
anteil proportional r : Bild 6. Fehlerkorrektur bei Wobbelmessungen
� durch Leer-
lauf-Kurzschlußkalibrierung und anschließender Mittel-
1'11'.1 = ( 6, 1'1 + 6,1'0 ) 1'. wertbildung
4 Netzwerkanalyse : Reflexionsfaktor 1 21

als Funktion der Frequenz. Dadurch wird beim


Meßergebnis r (f) eine Welligkeit erzeugt. Der
Effekt läßt sich zur Fehlerkorrektur nutzen. Eine Detektor l-- B e z u g s e b e n e
Möglichkeit ist, daß zwei Kalibriermessungen f = co n s t I
durchgeführt werden, eine mit einem Leerlauf, 'V
Menobjekt
eine weitere mit einem Kurzschluß. Da sich von ,
E(z)
der einen zur anderen Kalibriermessung der
(ER'" [
/" ""'

Emox
Phasenwinkel von b um 1 800 ändert, der Phasen­ lL \

/
,

winkel von ,6.a (in Bild 6 hervorgerufen durch Emin \


'-- ./
endliche Richtwirkung) jedoch unverändert EH "' 1
bleibt, ergibt sich im Idealfall eine gegenphasige
Welligkeit, deren Mittelwert als Kalibrierwert • 7 , U4 z m ·l n

l' = 1 benutzt wird. Die in Bild 6 veranschaulich­


Smi !h ­
ten Zusammenhänge gelten in gleicher Weise für Diogramm r =cons!
> - - """,
(j)
den zweiten Anteil von 111', der durch den Refle­ / "-
xionsfaktor der Quelle r G hervorgerufen wird. Emin Emox
>-1--
Sofern einer der beiden Fehleranteile besonders o =

groß ist, wird er durch die Mittelwertbildung


merklich verringert. (Vollständig eliminieren
kann man ihn nur mit Verfahren (s. 4.2), die Be­
trag und Phase berücksichtigen.) Die Anzahl der Bild 7.Messung des Reflexionsfaktors mit der Schlitz­
Maxima und Minima läßt sich bei gleichem Meßleitung. Querschnitt einer koaxialen Meßleitung und
Wobbelbereich durch eine zwischen Reflekto­ einer Hohlleiter-Meßleitung
meter und Meßobj ekt eingeschaltete (Präzi­
sions-)Leitung vergrößern. Andere Meßfehler,
verursacht durch z. B. Frequenzgang der Kom­ zwei Feldstärkeamplituden) und Umrechnung
ponenten, Nebenwellen des Generators und Feh­ mittels Leitungstheorie bzw. graphische Lösung
ler der Kalibriernormale werden dadurch nicht im Smith-Diagramm, wird so der komplexe Zah­
beeinflußt. lenwert von r bzw. Z/Z L bestimmt.
Für hohe Meßgenauigkeit sind u. a. folgende
Punkte zu beachten : Linearität des Empfängers
4.6 Meßleitung. Slotted line
(Detektor + Meßinstrument), Meßsignal ohne
Harmonische und ohne FM, geringe Eintauch­
Beim ältesten Verfahren zur Messung komplexer tiefe der Sonde (Entkopplung möglichst > 30 dB),
Impedanzen wird mit einer längsverschieblichen konstante Eintauchtiefe der Sonde entlang des
Sonde die Ortsabhängigkeit der Amplitude der Verschiebewegs, konstanter Leitungswellenwi­
elektrischen Feldstärke entlang einer speziellen derstand entlang des Verschiebebereichs ein­
Leitung gemessen (Bild 7). Eine kleine Staban­ schließlich des Schlitzendes, geringe Reflexionen
tenne taucht in das Feld der Leitung ein, und am meßobjektseitigen Anschlußstecker bzw.
zwar nur so wenig, daß ihre Rückwirkung auf das -flansch. Die Meßleitung kann auch heute noch
Feld vernachlässigbar klein ist. Die Messung von vorteilhaft eingesetzt werden als kostengünstiges
Em ax und Emin ergibt das Steh wellenverhältnis Verfahren zur Messung sehr kleiner Reflexions­
s = Emax/ Emin bzw. den Betrag des Reflexionsfak­ faktoren und zur anschaulichen Demonstration
tors I' = (Emax - Emin) /(Emax + Em in)· der Feldverhältnisse auf Leitungen. Wird der
Mißt man weiterhin den Abstand Zmin zwischen Ausgang reflexionsfrei abgeschlossen und der
dem ersten Minimum und der Bezugsebene, so Sondenanschluß (ohne Detektor) als Ausgang
kann man eine Gerade (Zmin /)C) und einen Kreis benutzt, kann die Meßleitung als kontinuierlich
(I' = const) in das Smith-Diagramm eintragen. einstellbarer Phasenschieber verwendet werden.
Der Schnittpunkt beider Linien liefert Betrag
und Phase des Reflexionsfaktors bzw. die kom­
plexe Impedanz des Meßobjekts in der gewähl­ 4.7 Sechstor-Reflektometer
ten Bezugsebene. Bei Längenmessungen werden Six-port reflectometer
grundsätzlich die Feldstärkeminima ausgewer­
tet, da sie schärfer sind als die Maxima und sich Mit dem Oberbegriff Sechstor-Verfahren werden
deshalb genauer ermitteln lassen. Sofern die Fre­ Meßanordnungen zusammengefaßt, bei denen
quenz des Generators nicht bekannt ist, wird die Betrag und Phase des Reflexionsfaktors r aus
Wellenlänge, z. B. durch Messen des Abstands mehreren Amplitudenmessungen an einem passi­
),/2 zweier Feldstärkeminima, bestimmt. (Dabei ven, linearen Netzwerk mit minimal fünf Toren
wird das Meßobj ekt zweckmäßigerweise durch berechnet werden [1 - 3, 1 5 - 1 7, 26 - 28]. An Tor 1
einen Kurzschluß ersetzt.) Durch Messen von (Bild 8) ist der Signalgenerator angeschlossen, an
vier skalaren Größen (zwei En tfernungen und

Tor 2 das Meßobjekt. Die restlichen Tore sind
I 22 [ Hochfrequenzmeßtechnik

Tisch- Ausgabe PJ Ps P6 P4

I
rech n e r r = bio
rr -4 ..0- -'"l::..
iI
- - -

PJ fi Ps f§ 1 1
I X

lineare Leistungs-
1
u

!

J r, J -6r, J �11
m e n g eröte
r r J
-J - ( -5
:s, 1
-

X

1 X %1 1
c

[J) [4) [5) [6)


=
u u

b

�11
M

� [1) I
-

[2) -<:
l 'l n e a r e s , pa s sives •

Menob j e k t
I I
,

l 0
c � 1
N etzwerk ( Se c h s to r )
I

I u X
-

= 0<' 1 1
Kali b r i e r -

u

f
M

Ln .�
=

normale
«----j Kalibrier- I 50 0 ,j !Q , !b , !c ..{d
1
L,
3:
normale
�I
JdB 0
Bild 8. Sechstor-Reflektometer x
-
I
� •

MenobJekt
Sech s t o r.J
a
L

mit Amplitudendetektoren (Leistungsmeßgerä­


ten) abgeschlossen, mit denen die dort bei der
2
Messung auftretenden Signale � = 1 6 i g + ßi Q 1
gemessen werden. Sofern die komplexen Kon­ r;.
-Q
stanten A und B voneinander verschieden und
bekannt sind, läßt sich der Quotient Q.!q = r aus
- 1 - l

!Q lb / !c
drei Werten I: berechnen. Minimal drei Werte I: / \�
zur Bestimmung der zwei Unbekannten r und ({Jr \ --
\
sind deshalb notwendig, weil die Zuordnung
über Betragsgleichungen gegeben ist. Werden \
mehr als drei Leistungen � gemessen (Sechstor, o

Siebentor etc.) kann der größte auftretende Meß­ b K r e i s d i a g r amm f ü r � -0


fehler durch Mittelwertbildung über alle Dreier­
Bild 9. a
Schaltungsbeispiel für ein Sechstor mit Richt­
kombinationen verringert und seine Größe kopplern ; b zugehöriges Smith-Diagramm mit Kalibrier­
durch Berechnung der mittleren Abweichung ab­ punkten M3 , 1115 , M6 , Kalibriernormalen ra bis rd und
geschätzt werden. Die komplexen Konstanten A i graphischer Bestimmung des gesuchten Ret1exionsfaktors r
und Bi werden durch Kalibriermessungen be­
stimmt.
Mathematisch sind die elektrischen Eigenschaf­ Richtkopplern können schmalbandig auch Lei­
ten eines Meßaufbaus mit Sechstor vollständig tungen mit ortsfesten Sonden und Kombinatio­
und eindeutig beschrieben durch die 2 1 komple­ nen beider Anordnungen benutzt werden.
xen Parameter der zur Hauptdiagonalen sym­ Eine anschauliche Beschreibung des Verfahrens
metrischen Streumatrix des Sechstors und durch ist möglich, wenn man vereinfachend davon aus­
die sechs Reflexionsfaktoren der angeschlosse­ geht, da.ß am Meßtor 2 Quellenanpassung
nen Komponenten. Mit Hilfe der Netzwerk­ vorliegt, und daß � nur eine Funktion der hin­
theorie läßt sich die Berechnung des Reflexions­ laufenden Welle a ist. Die bezogenen Meßwerte
faktors am Meßausgang reduzieren auf die ß/P4, PS/P4 und P6/� sind dann Kreisra­
Messung von vier Amplituden Pi bei Kenntnis dien in der komplexen Reflexionsfaktorebene um
von 3 x 4 = 1 2 reellen Kalibrierkonstanten Ci' Si die Kalibriermittelpunkte M herum. Der im
und lXi : Idealfall gemeinsame Schnittpunkt aller drei
( 5) Kreise ergibt den gesuchten Reflexionsfaktor !:.
Bei der Kalibrierung des Sechstors durch Messen
Dividiert man Zähler und Nenner durch eine der dreier bekannter Reflexionsfaktoren !:a bis rc und
Konstanten, verbleiben 1 1 reelle Konstanten, die der Hilfsgröße rd werden mit den bezogenen
für jede Frequenz durch Kalibriermessungen zu Meßwerten Kreise um !:a bis rd geschlagen. Die
ermitteln sind. Kalibrierpunkte M ergeben sich als Schnitt­
Bild 9 zeigt eine mögliche Realisierung des punkte dieser Kreise. Aus dem Kreisdiagramm
Sechstor-Netzwerks. Aufgrund der frequenzun­ erkennt man, daß für 1 r 1 < 1 die Meßwerte I: nie
abhängigen Phasenverschiebung zwischen den zu Null werden. Ihr Dynamikbereich läßt sich
Ausgangssignalen der Richtkoppler werden die durch entsprechende Dimensionierung des
Wellen a und b so miteinander verknüpft, daß Sechs tors vorgeben.
innerhalb des nutzbaren Frequenzbereichs vier Die zur Herleitung des Kreisdiagramms gemach­
voneinander linear unabhängige Meßgrößen ß ten Voraussetzungen sind für das allgemeine
bis Pr, erzeugt werden. Neben Schaltungen mit Sechstor-Verfahren nicht notwendig. Anforde-
5 Spektrumanalyse I 23
rungen an die HF-Komponenten sin d : Linearität sen die Größen Ql/(;h S l 1 + SlZ aZ/al und Qz/az
=

der Leistungsmeßgeräte, Linearität des Sechs­ = S22 + S2 1 fh/az · Bei reziproken Zweitoren mit
tors, reproduzierbare Frequenzeinstellung der S1 2 = S2 1 sind dann drei Messungen bei drei ver­
Signalquelle bei Kalibrierung und Messung so­ schiedenen Amplitudenverhältnissen aZ/a l aus­
wie die Qualität der Kalibriernormale. reichend, um die drei Streuparameter berechnen
Vorteile des Sechstor-Prinzips sind : zu können. Die Werte von aZ/a l müssen nicht
- Verringerung des Aufwands für die HF-Kom­ bekannt sein. Sie werden mit den Dämpfungs­
ponenten (kein Mischer, keine Phasenmes­ gliedern und dem Phasenschieber so eingestellt,
sung, keine idealen Bauelemente) ; daß keine numerischen Probleme bei der Rech­
- Nutzbarmachung redundanter Meßwerte zur nerauswertung auftreten.
Verringerung und Abschätzung des Meßfeh­ Ein weiterer Vorteil dieses Verfahrens ist, daß die
lers ; Anzahl der zum Kalibrieren benötigten Kali­
- Erhöhung der Meßgenauigkeit durch Ampli­ briernormale geringer ist als beim einzelnen Re­
tudenmessung mit eingeschränkter Dynamik. flektometer. Es gibt verschiedene Methoden zur
Kalibrierung [5, 1 1 , 1 8, 1 9, 27], eine davon mit
Nachteile sind :
folgenden drei Kalibriermessungen : beide Re­
- Erheblicher numerischer Aufwand für das
flektometer mit einem Kurzschluß abgeschlos­
Rechnerpro gramm ;
sen, beide Reflektometer direkt miteinander
- Meßfehler durch Harmonische der Si­
verbunden und beide Reflektometer über eine
gnalquelle ;
- Erhöhter Leistungsbedarf der Signalquelle (bei Leitung miteinander verbunden.
Als Reflektometer können sowohl Sechstor­
mm-Wellen), da Leistungsmeßgeräte unemp­ Schaltungen, mit angschlossenem Digitalrech­
findler sind als Überlagerungsempfänger.
ner, als auch Viertor-Schaltungen (Richtkoppler,
Im Vergleich mit anderen Meßverfahren lassen Brücken), mit angeschlossenem Mischer und
sich mit dem Sechstor-Reflektometer die höch­ analoger ZF-Amplituden- und Phasenmessung
sten Genauigkeiten erzielen. eingesetzt werden [6] .

4.8 Netzwerkanalyse mit zwei 4.9 Umrechnung vorn Frequenzbereich


Reflektometern in den Zeitbereich
Dual reflectometer network analyzer Conversion from frequency domain to
time domain
Ein lineares Zweitor wird durch vier komplexe
Streuparameter beschrieben. Um diese zu mes­ Der Frequenzgang eines passiven, linearen Zwei­
sen, sind, sofern ein zweikanaliger Empfänger tors ist die Fourier-Transformierte der Impuls­
und ein Reflektometer benutzt werden, vier Mes­ antwort. Der als Funktion der Frequenz gemes­
sungen notwendig: zwei Reflexionsfaktormes­ sene komplexe Transmissionsfaktor kann mit der
sungen und zwei Transmissionsfaktormessun­ inversen Fourier-Transformation in die Impuls­
gen. Nach j eder Messung wird das Meßobjekt antwort (bzw. in die Sprungantwort) umgerech­
umgedreht oder die Signalwege werden mit HF­ net werden. Die erreichbare Zeitauflösung und
Schaltern umgeschaltet. Die dadurch hervorge­ die Fehler in der Amplitude der Zeitfunktion
rufenen Meßfehler lassen sich vermeiden, wenn hängen ab von der höchsten Meßfrequenz und
zwei Reflektometer (Bild 1 0) eingesetzt werden der Anzahl der Meßwerte. Analog zur Impuls­
[4, 1 8, 26]. Bei der Messung wird das Meßobjekt transmission läßt sich auch die Impulsreflexion
gleichzeitig von beiden Seiten gespeist, mit a l an aus dem als Funktion der Frequenz gemessenen
Tor 1 und a ? an Tor 2. Die Reflektometer mes-
- -
komplexen Reflexionsfaktor berechnen [7, 8,
20 - 23].
Gegenüber dem Impulsreflektometer (s. I 8.2),
� mit dem diese Zeitfunktionen direkt gemessen
0 0 Cf' werden, ergeben sich zwei Vorteile :
/ / a) Bei Zweitoren mit Hochpaß- bzw. Bandpaß­
verhalten (z. B. Hohlleiter) läßt sich die Impuls­
Ti schrechner
antwort aus dem Frequenzgang im Durchlaßbe­
reich ermitteln (Frequenzfenster).
01 O2 b) Durch erneute Rücktransformation eines Teils
MerJobjekt
� -

11) 12)
Retlektometer 1 ·11 .� R e f l ektometer 2
der Zeitfunktion (Zeitfenster [24, 25]) lassen sich
b
-2
l .Ql -----
I Reflexionsfaktor und Transmissionsfaktor von
T Koli briernormole Bereichen innerhalb des Zweitors darstellen, die
nicht der direkten Messung zugänglich sind. Im
Bild 10. Netzwerkanalysator mit zwei Reflektometern Falle der Reflexionsmessung läßt sich so z. B. die
I 24 I Hoehfrequenzmeßteehnik

Bezugsebene in das Bauelement hineinlegen (z. B. measurements) [26]. Für Messungen an diskreten
hinter den Stecker) und im Falle der Trans­ Halbleitern gibt es spezielle Testfassungen.
missionsmessung können Signalwege mit unter­ Durch die Rechnersteuerung werden zusätzliche
schiedlicher Laufzeit im Zweitor (z. B. Mehr­ Betriebsarten möglich, z. B. das Verschieben der
fachreflexionen bei Richtkopplern) getrennt Referenzebenen über störende Adapter hinweg
voneinander analysiert werden. in das Innere eines Bauelements (deembedding)
bzw. allgemein die Verarbeitungsmethoden, die
durch Umrechnen vom Frequenzbereich in den
Zeitbereich (s. 4.9) möglich werden [20 - 25].
4.10 Netzwe rkanalysato ren Für Komponenten, die nur mit gepulsten HF-Si­
Network analyzers gnalen betrieben werden können, gibt es SNAs
und VNAs, die im Pulsbetrieb arbeiten. Weiter­
Amplitudenmeßplatz (Scalar network analyzer, hin besteht noch die Möglichkeit, neben den
SNA). Für die überwiegende Mehrzahl aller Kenngrößen der Netzwerkanalyse absolute Lei­
Meßaufgaben in der Netzwerkanalyse ist die stungen und Frequenzen zu messen und Störstel­
Kenntnis der Beträge der S-Parameter als Funk­ lenortung auf Leitungen durchzuführen [20 - 22].
tion der Frequenz ausreichend. Dazu benötigt
man einen Amplitudenmeßplatz, einen Signal­
generator und die entsprechenden Signalteiler
und Kalibriernormale. Zur Messung der Wellen­ Spezielle Literatur : [1] Engen, G. F ; Weidmann, M. P.;
amplituden (Bild 1 3 . 1 ) werden in der Regel gut Cronson, H. M.; Susman, L.: Six-port automatie network­
angepaßte Diodenmeßköpfe eingesetzt. Bei der analyzer. IEEE-MTT 25 (1977) 1075 - 1 09 1 . - [2] Stumper,
U.: Sechstorschaltungen zur Bestimmung von Streukoeffi­
AC-Detektion wird der Signalgenerator mit
zienten. Mikrowellen-Mag. 9 (1 983) 669 - 677. - [3] Spe­
einer Frequenz im kHz-Bereich pulsmoduliert,
dale, R. A.: Analysis of six-port measurement systems.
damit das Diodenausgangssignal rauscharm und IEEE-MTT-Symp. ( 1 979) 63 - 68 . - [4] Hoer, C. A.: A net­
driftfrei mit schmalbandigen Wechselspannungs­ work analyzer incorporating two six-port reflectometers.
verstärkern weiterverarbeitet werden kann. Nur IEEE-Trans. MTT-25 ( 1 977) 1 070 - 1 074. - [5] Cronson,
in wenigen Sonderfällen, wie z. B. bei der Mes­ H. M. ; Susman, L.: A dual six-port automatic network
sung von Resonatoren ho her Güte und beim analyzer. IEEE Trans. MTT-29 ( 1 9 8 1 ) 372 - 377. - [6] Olt­
Messen des Sättigungsverhaltens von Verstär­ man, H G.; Leach, H A . : A dual four-port for automatic
kern oder Mischern, muß DC-Detektion mit network analysis. IEEE-MTT-S Int. Microwave Symp.
( 1 9 8 1 ) 69 - 72. - [7] Stinehel(er, H E.: Time-domain analy­
Gleichspannungsverstärkern und unmodulier­
sis stops design guesswork. Microwaves NO. 9 ( 1 9 8 1 )
tem Generatorsignal eingesetzt werden. Auf­ 7 9 - 8 3 . - [8] Hines, M. E.; Stinehel(er, H E.: Time-domain
grund der fehlenden Phaseninformation sind die oscillographic microwave network analysis using fre­
Möglichkeiten zur Erhöhung der Meßgenauig­ quency domain data. IEEE Trans. MTT-22 ( 1 9 74)
keit, auch bei Rechnereinsatz zur Fehlerkorrek­ 276 - 282. - [9] Eul, H -J. ; Schiek, B. : A generalized theory
tur, stark eingeschränkt. and new calibration procedures for network analyzer self­
calibration. IEEE-MTT 39 ( 1 9 9 1 ) 724 - 73 1 . - [ 1 0] Eul,
Automatischer Netzwerkanalysator (ANA, vec­ H-J. ; Schiek, B. : Breitbandige Selbstkalibrierverfahren

tor network analyzer VNA) zur Messung von Be­ für Netzwerkanalysatoren. Frequenz 44 (1 990) 149 - 1 5 1 . -
[ 1 1 ] Engen, G. F. ; Hoer, C. A. : Thru-Reflect-Line : An im­
trag und Phase. Im Gegensatz zu der im Engli­
proved technique for calibrating the dual six-port automat­
schen irreführenden Namensgebung werden ic network analyzer. IEEE-MTT 27 ( 1 979) 9 8 3 - 987. - [ 1 2]
keine Vektoren gemessen, sondern Betrag und Williams, J. : Accuracy enhancement fundamentals for
Phase komplexer Zahlen. Unabhängig davon, ob vector network analyzers. Microwave 1., MaI. (1 989) 99-
die Meßergebnisse mit Viertor- oder mit Sechs­ 1 1 4. - [13] Williams, D. ; Marks, R. ; Phillips, K. R. :
tormeßverfahren ermittelt wurden, lassen sich Translate LRL and LRM calibrations. Microwaves & RF,
unterschiedliche, der j eweiligen Meßaufgabe an­ Febr. ( 1 991) 78 - 84. - [14] Rytting, D. : Effects of uncor­
gepaßte Kalibriermethoden einsetzen [9, 1 0, 1 3]. rected RF performance in a vector network analyzer. Mi­
crowave 1. , Apr. ( 1 9 9 1 ) 1 06 - 1 1 7 . - [ 1 5] Dalichau, H : Ein
Mittels eingebauter Mikroprozessoren oder ex­
breitbandiger Sechstor-Meßplatz zur kostengünstigen
terner Rechner werden durch Fehlerkorrektur­ Messung komplexer Reflexionsfaktoren. ntz Archiv 9
verfahren beträchtliche Genauigkeiten ermög­ (1 987) 1 0 7 - 1 1 4. - [16] Woods, G. S. ; Bialkowski, M. E. :
licht [ 1 2, 1 4]. Für höchste Meßgenauigkeit muß Integrated design of an automated six-port network ana­
als Signalgenerator ein stabiler, reproduzierbar lyser. IEE Proc., 1 3 7 ( 1 990) 67-74. - [ 1 7] Martius, S. :
einstellbarer Synthesizer benutzt werden. Rechnergestützte Reflexionsfaktormessung - Theorie und
In Koaxialtechnik überdecken handelsübliche Anwendung. Frequenz 42 ( 1 988) 1 2 1 - 1 24. - [1 8] Hoer,
Geräte den Bereich von 5 Hz bis 60 GHz. Son­ C. A . ; Engen, G. F. : On-hne accuracy assessment for the
dual six-port ANA : Extensions to nonmating connectors.
derausführungen in Hohlleitertechnik erreichen
IEEE-IM 36 (1 987) 524 - 529. - [19] Neumeyer, B. : A new
350 GHz ( 1 000 GHz). Mit koplanaren Tastköp­ analytical calibration method for complete six-port reflec­
fen und speziellen Kalibrierverfahren sind direk­ tometer calibration. IEEE-IM 3 9 (1 990) 376. - [20] Van­
te Messungen auf Substraten mit integrierten hamme, H. : High resolution frequency-domain reflec­
Schaltkreisen bis 60 GHz möglich (on-wafer tometry. IEEE-IM 39 (1 990) 369. - [21] Veijola, T v. ;
5 Spektrumanalyse I 25

Vctltonen, M. E. : Identification of cascaded microwave cir­


d u rehs timm barer A m p l i t u den -
cuits with moderate reflections using reflection and trans­ Signal Anzeige
Bandpaß detektor
mission measurements. I EEE-MTT 36 ( 1 988) H.2. -
a
[22] MacRae , R. ; Hjipieris, G. : Use scalar data to locate
faults in the time domain. Microwaves & RF, Jan. (1 989)
1 05 - 1 1 0. - [23] Thornton, D. ; Beers, R. : Performing time­
2'
domain measurements with a vector network analyzer. Mi­ Band - A m p l i t uden -
S i g nll l A n zei g e
crowave System News, Febr. (1 989) 32- 35. - [24] Harris, pan detektor
F. J : On the use of windows for harmonie analysis with the
discrete fourier transform. Proc. o f the IEEE 66 (1 978)
durehsti
. m m borer
51 - 83 . - [25] Blinchikoff/Zverev : Filtering in the time and .

U berlagerungs -
frequency domains. New York : Wiley 1 97 6 . - [26] Bellan­
osz'l i l a t o r
toni, J v. ; Comp ton, R. c. : Millimeter-wave applications b
of a vector network analyzer in coplanar probe tips. Mi­ Grundschaltungen zur Analyse eines Frequenz­
Bild 1 .
crowave J. , Mar. ( 1 9 9 1 ) 1 1 3 - 1 2 3 . - [27] Bialkowski, spektrums. a durchstimmbares Bandfilter ; b durchstimm-
M. E. ; Woods, G. S. : Calibration of the six-port reflec- ..
• •

barer Uberlagerungsempfänger
tometer using a minimum number o f known loads. AEU
39 (1 985) 3 3 2 - 3 3 8 . - [28] Berman, M. ; Somlo, P. 1. ; Buck­
ley, J M. : A comparative statistical study of some pro­
posed six-port junction designs. IEEE-MTT 35 (1 987)
5.2 Automati scher S pektrumanalysator
971 - 977. (ASA)
Automatie speetrum analyzer
5 Spektrumanalyse In der Hochfrequenzmeßtechnik werden meist
Spectrum analysis Spektrumanalysatoren entsprechend Bild 2 ein­
gesetzt, die automatisch den interessierenden
Allgemeine Literatur : Enge/son, M. : M odern spectrum Frequenzbereich durchfahren und auf einem
analyzer measurements. Dedham M A : Artech House 1 99 1 . Bildschirm die Signalamplitude über der Fre­
- Engelson, M. : M odern spectrum analyzer theory and quenz als stehendes Bild anzeigen. Gemeinsam
applications. Dedham MA : Artech House 1 984. Schnor­ -

mit den Netzwerkanalysatoren bilden die Spek­


renberg, W : Theorie und Praxis der Spektrumanalyse. trumanalysatoren das Fundament der Hochfre­
Würzburg : Vogel 1990. - Hewlett-Packard Application quenzmeßtechnik. In den folgenden Abschnitten
Note 243 : The fundamentals o f signal analysis. Palo AHo,
sind die wesentlichen Punkte zusammengestellt,
CA 1 98 5 .
die berücksichtigt werden sollten, damit Meßfeh­
ler durch äußere Einflüsse, durch Fehlbedienung
5 .1 Grundschaltungen. B asie methods des Geräts und durch falsche Interpretation der
Anzeige vermieden werden.
Zur Messung der spektralen Anteile eines zeitlich
periodischen Signals kommen zwei Grundschal­
Signal
tungen zur Anwendung. Entsprechend Bild 1 a M I sch er
wird die Mittenfrequenz eines schmalen Bandfil­ I seh a l t bores
Ti e f p a ß
/\
Z F - Fi l t er
ters kontinuierlich innerhalb des interessieren­ D öm pfungsglied
den Bereichs verändert. Solange eine Spektralli-
d u rchsti mm barer

nie des Eingangssignals in den Filterdurch- o sz i I I a tor


Sägezahn - /L.O.'
, ""/ ZF- Ver-
laßbereich fällt, wird ihre Amplitude gemessen g e n era tor
und angezeigt. stär ker y
Bei der zweiten Grundschaltung (Bild 1 b) ist die 1. Video -
Verstärker
Bi I d seh irm-
Mittenfrequenz des Filters fest und die Fre­ anzeige

Videofi lter A m p li t u d e n -
quenzlage des Eingangssignals wird mit einem < ( Tief p a ß ) detektor
durchstimmbaren Ü berlagerungsoszillator und
einem Mischer kontinuierlich umgesetzt. So­
Bild 2. Automatischer Spektrumanalysator (Grundschal-
lange eine Spektrallinie des Signals mit der Oszil­ tung)

latorfrequenz ein Mischprodukt im Durchlaßbe­


reich des Filters ergibt, wird dessen Amplitude
gemessen und angezeigt.
Weitere Möglichkeiten sind die Echtzeit-Spek­ 5.3 Formfaktor des Z F-Filters
tralanalyse durch die Parallelschaltung vieler Formfaetor of I F-filter
festabgestimmter Empfänger mit sich überlap­
penden Durchlaßbereichen und die rechnerische Bei einer sin-Schwingung als Eingangssignal er­
Spektralanalyse durch Berechnung der Fourier­ scheint am Bildschirm die Durchlaßkurve des
Transformierten des Signals im Digitalrechner (s. ZF -Filters. Sollen zwei dicht benachbarte Spek­
I 1 . 6) sowie Kombinationen der genannten Ver­ trallinien gleicher Größe noch unterscheidbar
fahren. sein, so muß die 3-dB-Bandbreite des ZF-Filters
I 26 I Hochfrequenzmeßtechnik

=
LJ
=
LJ
o d8 gangssignal alle Störungen des L.O., wie z. B. des­
- 3 d8
. . fi\= sen Phasenrauschen, enthalten. Es ist also nicht
C C
- -

Co CD
LJ
::J
LJ
::J
n i cht erken n bor. möglich, das Phasenrauschen von Quellen zu
. -

messen, die weniger rauschen als der L.O.


-
- . -

so longe g rones
E
CL
E
-

CL

<[ <[ \;Si g no I vorhon (s. 1 8. 6). Unangenehm bemerkbar macht sich
'
den I s t
häufig die Frequenzdrift des L.O., die bewirkt,
I daß die gesuchte Spektrallinie langsam aus dem
I -60dB
I \

1/ 11
\ \ dargestellten Frequenzbereich hinausläuft. Zur
a Freq u e n z b Freq u e n z
Abhilfe wird der erste L.O. phasenstarr mit ei­
Bild 3. Formfaktor des ZF-Filters (z. B. 1 1 : 1).
Eingangs­ a nem stabileren Referenzoszillator synchronisiert.
signal: eine diskrete Spektrallinie ; b Anzeige am Bild­
schirm : ZF-Durchlaßkurve
5.6 Eigenrauschen. Receiver noise
kleiner als der Abstand dieser Spektrallinien ge­
wählt werden. Soll weiterhin eine kleine Spek­ Bei reflexionsfrei abgeschlossenem Eingang wird
das Eigenrauschen des Spektrumanalysators an­
trallinie dicht neben einer großen gemessen wer­
gezeigt. Daraus läßt sich seine Rauschzahl be­
den, so muß ein ZF-Filter mit großer Flanken­
rechnen (s. GI. 1 (7 . 1 1 ) ). Typische Werte liegen
steilheit gewählt werden (Bild 3). Ein Maß dafür
zwischen 20 und 35 dB. Zur Darstellung kleiner
ist der Formfaktor des Filters, das Verhältnis der
Signale muß das Dämpfungsglied am Analysa­
Bandbreite bei 60 dB Durchgangsdämpfung zu
toreingang auf Null gestellt und eine möglichst
der bei 3 dB. Entsprechend der Darstellung in
Bild 3 werden kleinere Spektrallinien, die unter­ kleine ZF-Bandbreite gewählt werden. Mit dem
Videofilter (Tiefpaß hinter dem Detektor) wird
halb der Durchlaßkurve liegen, die das größere
Nachbarsignal erzeugt, von dieser verdeckt und durch Mittelwertbildung über das Rauschen die
sind auf der Bildschirmanzeige nicht sichtbar. Ablesung erleichtert. Zur weiteren Steigerung
der Empfindlichkeit kann ein rauscharmer Ver­
stärker vorgeschaltet werden. Dadurch sinkt
5.4 Einschwingzeit des Z F-Filters der nutzbare Dynamikbereich. Entsprechend
GI. I (7.9) ist der Empfindlichkeitsgewinn (Ver­
Settling time of I F filter -

minderung der Gesamtrauschzahl des Systems)


durch den Rauschbeitrag der zweiten Stufe im­
Filter mit sehr großem Formfaktor, d. h. mit stei­
mer kleiner als die Verstärkung des Vorverstär­
len Flanken, verbessern zwar die Frequenzauflö­
kers.
sung, sie erhöhen jedoch gleichzeitig die Meßzeit,
da das Eingangssignal an einem schmalen Filter
längere Zeit anliegen muß, bevor die Ausgangs­
amplitude ihren Endwert erreicht. Wenn der 5.7 Lineare Verze rrungen
Empfänger in der Zeit .6. t um den Frequenzbe­ Linear distortions
reich .6.fdurchgestimmt wird, so ist die Wobbe1-
geschwindigkeit .6.f/ .6. t und der Empfänger ver­ Wegen des Frequenzgangs der Mischerverluste
weilt die Zeitdauer t1 B/(.6.f/ .6. t) im Durch­
=
und der Verstärkung im Analysator und durch
laßbereich B des Bandfilters. Zusamm en mit der die zum Teil beträchtliche Fehlanpassung am
Näherung t E � l /B für die Einschwingzeit (s. Eingang sind Absolutmessungen des Pegels
1 . 8.5) und der Bedingung, daß die Verweilzeit t l meist mit Fehlern von einigen dB behaftet. Rela­
.
em Mehrfaches der Einschwingzeit t E betragen tivm.essungen lassen sich genauer durchführen,
muß, ergibt sich für die Ablenkzeit des Empfän­ spezIell nach dem Verfahren der ZF-Substitution
2
gers .6.t > .6.f/B . (s. 1 3. 5). Signale, die zu nahe am Rauschpege1
Hohe Frequenzauflösung bedingt damit, daß der sind, werden dadurch vergrößert dargestellt. Bei
Frequenzbereich langsam durchfahren werden 6 dB Störabstand beträgt der Fehler 1 dB. Zur
muß. Zur Anzeige eines stehenden Bildes sind exakten Messung von Störabständen (unter
dann Signalspeicher, Speicherbildschirme bzw. 1 0 dB) kann ein Spektrumanalysator nicht be­
Schirme mit langer Nachleuchtdauer erforder­ nutzt werden, da er Amplituden als Funktion der
lich. Frequenz anzeigt. Zur Bestimmung des Störab­
stands müssen Leistungen gemessen werden.

5 . 5 Stabilität
• •

des Uberlagerungso szillators 5.8 Nichtlinea re Verzerrungen


L . O . stability Nonlinear distortions

.
Durc� die Frequenzumsetzung des Signals mit Bei Ubersteuerung des Mischers durch zu große
.

dem Uberlagerungsoszillator (L.O.) sind im Aus- Eingangsleistung (Zerstörungsgefahr! ) werden


6 Frequenz- und Zeitmessung I 27

alle Spektrallinien des Signals zu klein angezeigt c) Während lineare Spannungsanzeigen, wie z. B.
(Kompression) und zusätzlich erscheinen sehr bei einem Oszilloskop, der Vorstellungswelt des
viele weitere Spektrallinien (Mischprodukte). Betrachters unmittelbar angepaßt sind, ist eine
Wegen der Breitbandigkeit des Mischereingangs logarithmische Anzeige mit großer Dynamik ge­
ist das Fehlen eines großen Signals innerhalb des wöhnungsbedürftig. Häufig stellt sich erst nach
angezeigten Frequenzausschnitts keine Gewähr mühsamen Untersuchungen heraus (wenn über­
für das Vermeiden der Mischerkompression. Ab­ haupt), daß die vielen Nebenlinien, die man dem
hilfe schafft das Ausblenden der großen Signale Meßobjekt zuschreibt, in Wirklichkeit von
durch ein vorgeschaltetes Filter. Rundfunksendern oder aus dem Nachbarlabor
Auch bei Eingangspegeln unterhalb der Kom­ stammen.
pression erzeugt die nichtideale Kennlinie des
Mischers zusätzliche Spektrallinien, die den Dy­
namikbereich des Geräts begrenzen. Bild 4 zeigt
den qualitativen Verlauf der Begrenzungslinien.
Bei großen Eingangssignalen am Mischer domi­ 5.9 Harmonischenmischung
nieren die Intermodulationsprodukte 3. Ord­ Harmonie mixing
nung. Diese sinken mit 3 dB pro 1 dB Ände­
rung des Grundwellenpegels. Im Bereich um Um den Frequenzbereich eines Spektrumanaly­
- 30 dBm sind sie daher klein gegen die Misch­ sators zu höheren Frequenzen hin ohne großen
produkte 2. Ordnung, die nur mit 2 dB pro dB Mehraufwand zu erweitern, werden im Mischer
zurückgehen. Bei noch kleineren Eingangspegeln nicht nur die Grundschwingung, sondern auch
wird die Dynamik nur noch durch das Eigenrau­ noch Harmonische des Überlagerungsoszillators
schen des Spektrumanalysators begrenzt. mit dem Eingangssignal gemischt. Entsprechend
Intermodulationsprodukte lassen sich von ech­ der Gleichung
ten Signalen dadurch unterscheiden, daß ihre
Amplitude bei Erhöhung der Dämpfung vor dem fZF = I j�i gnal -
n ko.
Mischer stärker zurückgeht als es der zugeschal­
teten Dämpfung entspricht. erscheinen eine Vielzahl von Spektrallinien un­
D as Diagramm in Bild 4 ist in mehrfacher Hin­ terschiedlichster Amplitude auf dem Bildschirm
sicht sehr wesentlich für den Benutzer eines und der Betrachter hat die Aufgabe, diejenigen
Spektrumanalysators : herauszufinden, die in dem ihn interessierenden
a) Ein großer Dynamikbereich ist nur bei relativ Frequenzbereich wirklich vorhanden sind.
kleinen Signalen am Mischereingang gegeben. Eine Möglichkeit, dieses Problem zu lösen, be­
Der richtige Pegel für die maximale Dynamik steht darin, den L.O. um einen kleinen Betrag ,61
muß gezielt eingestellt werden. in der Frequenz zu versetzen. Dadurch wird das
b) Ein durch den Bildschirm möglicher Anzeige­ Mischprodukt " Oberes Seitenband, n-te Harmo­
bereich von z. B. 1 00 dB und das Vorhandensein nische" um den Betrag n ,6f versetzt und somit
-

von Spektrallinien mit großen Pegelunterschie­ in der Anzeige unterscheidbar von den Spektral­
den sind kein Nachweis des wahren Dynamik­ linien mit anderem n und anderem Vorzeichen.
umfangs bzw. dafür, daß die angezeigten Signale Eine weitere Möglichkeit ist ein vorgeschaltetes
wahr sind. Mitlauffilter (Preselector), d. h. ein schmaler
Bandpaß, der parallel zum L. O. abgestimmt
wird, und zwar so, daß seine Mittenfrequenz stets
mit der gerade auf dem Bildschirm angezeigten
Frequenz übereinstimmt. Durch das Mit­
40 lauffilter wird der Spektrumanalysatoreingang
-00.'
schmalbandig. Damit entfallen die Übersteue­

""

"'0 � rungsprobleme durch starke Signale außerhalb


50 ""
G5J',;;:
o� . "<'! /
0- / des Darstellungsbereichs. Beachtet werden sollte
:§ �
"

0(0 , / die extreme Fehlanpassung des Preselector-Ein­


;g; .:::,
.r:
u
/ 80
/& BB / ",0
,-
cu 60

ru
"/ '"t Ci GO gangs außerhalb seines Durchlaßbereichs. Um
"> ' / <:§
=
.Y 1',-y
'" / '\. Rückwirkungen auf empfindliche Meßobjekte zu
E
,-

70 vermeiden, sollte ein ausreichend großes Dämp­


°0
Cl


C
>-
=
fungsglied vorgeschaltet werden. Das Mitlauffil­
8 0 f---�+-�--+--' ,.--;> ----7____ --t--- ter bringt durch seine Durchgangsdämpfung zu­
dBc /
/
sätzliche Fehlerquellen für die Pegelmessung.
Selbst wenn die Durchgangsdämpfung bei der
/
90 '--�:-':-� _ _� _ --' � ---' �-.L�--'

-70 - 60 - 50 -40 - 30 -20 dBm -10 Mittenfrequenz bekannt ist, können Fehler
M isch e r - E i n g o n g s p e g e l ( S u m m e o l ler S i g n o l e )
durch Schwankungen des ParalleIlaufs entste­
Bild 4.Dynamikbereich eines Spektrumanalysators als hen. Abhilfe durch Nachstimmen des Filters auf
Funktion des Mischer-Eingangspegels (typische Werte) maximale Anzeige vor jeder Pegelmessung.
I 28 I Hochfrequenzmeßtechnik

zu Anzeigen, die sorgfältig interpretiert werden


5.10 Festabgestimmter AM-Empfänger
müssen, um Meßfehler zu vermeiden.
Tuned AM-receiver Einem zeitlich periodisch auftretenden HF­
Signal ist mathematisch über die Fourier­
Zur Untersuchung der Amplitudenmodulation Analyse ein eindeutiges, zeitlich invariantes Li­
von AM-Signalen kann der Spektrumanalysator nienspektrum (Bild 6) zugeordnet. Um dieses
mit festeingestelltem L.O. als AM-Empfänger be­ Spektrum auch bei langsamen Pulswiederholfre­
nutzt werden. Das Videosignal ist dann die de­ quenzen messen zu können, muß die Empfänger­
modulierte Hüllkurve des HF-Trägers. Zur wei­ bandbreite B im Grenzfall gegen Null gehen; da­
teren Untersuchung mit besserer Auflösung als mit gehen die Einschwingzeit des Filters und die
es der HF-Analysator zuläßt, kann das Videosi­ Meßzeit gegen unendlich.
gnal mit einem NF -Spektrumanalysator weiter­ Bedingung für das Auftreten eines Linienspek­
verarbeitet oder, z. B. bei Sprechfunksignalen, trums ist : Bandbreite B < 0,3 . Pulswiederhol­
mit einem Kopfhörer abgehört werden. FM­ frequenz. Wird diese Bedingung erfüllt, so ist der
Sender lassen sich behelfsweise demodulieren, in­ Linienabstand unabhängig von der Ablenkzeit
dem eine Flanke des ZF-Filters zur Umwand­ t1 , die Linienamplitude unabhängig von B und
lung FM in AM benutzt wird. die Anzeige zeitlich konstant. Wenn nicht, dann
ist die Einschwingzeit der Filter kleiner als der
zeitliche Abstand der Pulse, der Spektrumanaly­
5 . 1 1 Modulierte Eingang ssignale sator arbeitet quasi im Zeitbereich, wie ein Oszil­
Modulated signals loskop, und die Bildschirmanzeige heißt Puls­
spektrum.
Ein Spektrum, das mit einem Analysator gemes­ Kennzeichnend für diesen Betriebszustand ist die
sen wurde, der nur Amplituden und keine Pha­ zu große Empfängerbandbreite. Der Empfänger
sen anzeigt, enthält häufig nicht genug Informa­ summiert die Leistungen aller Spektrallinien in­
tion, um Art und Stärke der Modulation ein­ nerhalb seiner Bandbreite. In der Anzeige er­
deutig zu messen (Bild 5). Ein unsymmetrisches • •
scheint eine Summenlinie, und zwar immer nur
Spektrum ist typisch für die Uberlagerung von dann, wenn das Signal am Empfängereingang
AM und FM. Zur Messung der Trägerleistung anliegt. Treten innerhalb der Ablenkzeit t 1 Z. B.
bei AM wird ein Videofilter zum Ausblenden der drei Pulse auf, so erscheinen drei äquidistante
Modulation benutzt, dessen Grenzfrequenz un­ Summenlinien auf dem Bildschirm. Synchroni­
ter der niedrigsten Modulationsfrequenz liegt. siert man die Ablenkfrequenz mit der Pulswie­
Der FM-Modulationsindex kann bei sin-förmi­ derholfrequenz, so ergibt sich wie beim Oszillo­
ger Modulation aus den Seitenbandamplituden skop ein stehendes Bild (Bild 7). Aus dem Linien­
berechnet werden. abstand und der Ablenkzeit t 1 kann die Pulswie­
derholfrequenz berechnet werden. Bei Verringe­
rung der Ablenkzeit erscheinen entsprechend
AM FM AM + FM mehr Linien in der Anzeige.
Die Linienamplitude kann praktisch nicht aus­
gewertet werden. Sie ist abhängig von der Emp­
fängerbandbreite B. Werden gleich große Linien
addiert, steigt die angezeigte Summenlinie pro­
f . I
l PhQsenwinkel 1 80' portional B, während der Rauschpegel nur pro-
w'lrd n i c h t Qnge zeigt portional B zunimmt. Die Hüllkurve des Puls­
Bild 5. Moduliertes Signal mit geringem Modulations­ spektrums ist unabhängig von B und entspricht
grad; spektrale Darstellung mit einem Amplitudenempfän­ der des Linienspektrums.
ger

I--- T---j

5.12 Gepul ste Hochfrequenz signale


a I
Pulsed RF Em pfä nger bQn d bre i t e E m pföngerb Q n d brei te

für Li n ie n s p e k t r u m für P u lsspek trum
Bei einem automatischen Spektrumanalysator I
wird ein Empfänger der Bandbreite B in der Ab­
lenkzeit t 1 von der Frequenzf1 bis zur Frequenz /

f2 durchgestimmt. Die während der Zeit t1 nach­ \ /


einander empfangenen Signale werden gespei­ 1 fT
b f
chert und dann gleichzeitig dargestellt. Dieses
Zeitverhalten des Empfängers führt dann, wenn Bild 6.Gepulstes HochfrequenzsignaL a Zeitfunktion;
das Empfangssignal sich ebenfalls zeitlich ändert, b Linienspektrum im Frequenzbereich
7 Rauschmessung I 29
I---��- A b l e n k zei t 11 ----1
Si g n o l o u f bere i t u n g : T

Ein g o n g s ­ Fi I ter, Verstä rker, JlJ1..h..tl "


I I sig n 0 I D ä m pf u n g sg l i e d ,
a I
S ehmi tt - Tri gg er,
- Tor Zäh ler
11 11 1\ , r-
./
rVV V -,-
B e g renzer '- --

I Vortei ler f ü r d ig i to i e
I f > 600 M H z Anzeige
I n = INTllo/T)
h och s tobi le J� TD BL
b '0L ,--_ Zei t b o s i s "-'
Tei l e r 1 : n
I Q u o rz ­
Bild 7. Pulsspektrum bei zu großer Empfängerbandbreite. oszdl otorJ
a Verlauf der Zeitfunktion während der Empfängerablenk­
zeit t 1 ; b zeitsynchrone Anzeige auf dem Bildschirm Bild 1 .Direkte Frequenzmessung durch Zählen der gleich­
sinnigen Nulldurchgänge des Eingangssignals innerhalb ei­
ner bekannten Torzeit To

Ist die Empfängerbandbreite so groß, daß sie alle Mit steigender Meßgenauigkeit (mit steigen­
Spektrallinien in der Umgebung der Trägerfre­ der Anzahl der angezeigten Stellen) nimmt die
quenz erfaßt, wird die Linienamplitude wieder Torzeit linear zu.
unabhängig von B. Der Spektrumanalysator - Die Genauigkeit des Meßwerts hängt ab vom
zeigt die Pulsamplitude an. Zu beachten ist, daß Absolutwert der Frequenz der Zeitbasis.
für die Übersteuerung bzw. Zerstörung des Emp­ D a handelsübliche Quarzoszillatoren (in der Re­
fängereingangs die Pulsspitzenleistung maßge­ gel 1 0 MHz) eine Alterungsrate unter 1 O - 8/Mo­
bend ist. Für Rechteckimpulse gilt: nat erreichen, ist die Frequenz diejenige Meß­
größe der Hochfrequenztechnik, die mit der
Pulsspitzenleistung größten absoluten Genauigkeit bestimmt werden
Leistungssumme aller Spektrallinien kann.
Die Meßeingänge der Zähler nach dem direkten
Tastverhältnis
Abzählverfahren sind in der Regel breitbandig
(z. B. 0 bis 1 0 MHz mit einer Eingangsimpedanz
von 1 MQ/35 pF oder 0 bis 1,5 GHz mit 50 Q
6 Frequenz- und Zeitmessung . Eingangsimpedanz). Damit ist dem sinusförmi­
Frequency and time measurement gen Eingangssignal stets breitbandiges Rauschen
überlagert. Um dadurch bedingte Fehlmessun­
Allgemeine Literatur : Wechsler, M. : Characterization of gen zu vermeiden, muß die Hysterese des
time varying frequency b ehavior using continous measure­ Schmitt-Triggers im Zähler wesentlich größer
ment technology. Hewlett-Packard Journal, Febr. ( 1 989) sein als die doppelte Amplitude der mittleren
6 - 1 2 . - Stecher, R. : Messung von Zeit und Frequenz. Rauschspannung (Bild 2). Unvermeidliche Trig­
Berli n : Technik 1 990. gerfehler einzelner Flanken werden durch die
Vielzahl der gezählten Flanken herausgemittelt.
6.1 Digitale Frequenzmessung Aus diesem Grund liegen die Eingangsempfind­
Digital frequency measurement lichkeiten breitbandiger Zähler bei 25 bis 50 mV
für 1 0 MHz/1 MQ und 1 0 bis 25 mV für
Das einfachste Verfahren zur digitalen Fre­ 1 , 5 GHz/50 Q. Sollen Signale mit kleinerer Am­
quenzmessung ist das Abzählen der Schwingun­ plitude gemessen werden, muß ein schmalbandi­
gen des S�gnals während einer bekannten Torzeit ger Verstärker vorgeschaltet werden.
(Bild 1 ). Offnet man das Tor z. B. für eine Se­
kunde und zählt während dieser Zeit alle Null­
durchgänge mit positiver Steigung, so entspricht "
der Zählerstand nach dieser Sekunde der Fre­ t
quenz des Eingangssignals in Hz. Damit werden �
die wesentlichen Eigenschaften dieses Zählertyps a H y st e resefen s ter I rVLx E m pf i n d l ich kei t J
verständlich:
- Angezeigt wird der Mittelwert J der Signal­
frequenz innerhalb der Torzeit Ta :
Ta \ t
f = Ta / T(t) d t.
b

- Die Inkohärenz zwischen Zeitbasis und Signal Bild 2. Zur Zählweise des Frequenzzählers. Jeder Punkt
bewirkt eine Meßunsicherheit von + 1 in der '
- entspricht einer Erhöhung des Zählerstandes um 1 . 11 sin-
letzten Stelle des Zählerstands. •
förmiges Eingangssignal; b gestörtes Eingangssignal.
I 30 I Hochfrequenzmeßtechnik

Reziproke Zähler. Nachteilig beim direkten bei nichtsinusförmigen Signalen), kann es passie­
Zählverfahren sind die sich ergebenden langen ren, daß der . Zähler in unerwünschten Frequenz­
Torzeiten, wenn niedrige Frequenzen mit großer bereichen einrastet. Zur Vermeidung dieses Pro­
Auflösung gemessen werden sollen. Der Abgleich blems und um die Meßzeit zu verkürzen, ist bei
eines Oszillators wird zeitraubend, wenn die Tor­ einigen Zählern der Frequenzbereich, in dem der
zeit eine Sekunde oder mehr beträgt und nach Suchvorgang abläuft, voreinstellbar.
jeder Verstellung ein vollständiger Meßzyklus
abgewartet werden muß. Dieser Nachteil entfällt
bei Frequenzzählern, die die Periodendauer des Transfer-OsziHator-Verfahren. Während das
Signals messen und die daraus berechnete mo­ Kernstück des oben beschriebenen Heterodyne­
mentane Frequenz anzeigen (reziproke Zähler). Converters das schaltbare Filter ist, mit dem die
Zudem ist der Quantisierungsfehler bei diesem Harmonischen des festen L. O. ausgesucht wer­
Verfahren konstant, was bei niedrigen Frequen­ den, wird beim Transfer-Oszillator-Verfahren ein
zen (unterhalb der Frequenz der Zeitbasis), eine spannungs gesteuerter Oszillator (VCO) mit vie­
bedeutende Genauigkeitssteigerung bewirkt. len harmonischen Spektrallinien als L. O . einge­
Die Ermittlung der Momentanfrequenz aus der setzt, dessen Frequenz so lange kontinuierlich
Periodendauer ermöglicht die Messung von Fre­ verändert wird, bis das Eingangssignal durch die
quenzprofilen, d. h. die Darstellung der momen­ Grundschwingung bzw. eine Harmonische da­
tanen Frequenz über der Zeit, z. B. das Ein­ von auf eine feste Zwischenfrequenz umgesetzt
schwingen eines Oszillators beim Einschalten ist. Nach Abschluß dieses Suchlaufs rastet der
bzw. beim Pulsbetrieb oder die Frequenzlineari- VCO ein (phase lock) und die Grundschwingung
. tät eines Wobbelgenerators. Zur analogen An­ des VCO wird gemessen und entsprechend der
zeige der Frequenzänderung wird bei solchen Harmonischenzahl n und der festen ZF umge­
Messungen ein schneller Digital-Analog-Wand­ rechnet und angezeigt.
ler benötigt. Häufig ist es ausreichend (z. B. für
die langsame automatische Frequenznachrege­
lung), nur wenige Stellen der Frequenzanzeige zu Harmonischenmischung. Ein drittes Verfahren ist
wandeln. der Harmonic-Heterodyne-Converter, bei dem
die Frequenz des L.O. stufig verändert wird (Syn­
thesizer), bis ein Signal im ZF -Bereich erscheint.
Überlagerungsverfahren. Die Obergrenze des di­ Die Frequenz dieses Signals wird dann konven­
rekten Zählverfahrens ist gegeben durch die tionell gemessen und entsprechend der Stellung
höchste Schaltfrequenz der benutzten digitalen des Synthesizers und der Harmonischenzahl n
Schaltkreise. Signale mit höherer Frequenz wer­ umgerechnet.
den in eine niedrigere Frequenz umgesetzt und Typische Werte für Zähler nach dem oben be­
dann gemessen. Beim Ü berlagerungs verfahren schrie benen Verfahren sind :
wird das Eingangssignal mit einem Ü berlage­ Frequenzbereich : 0 bis 1 1 0 GHz.
rungsoszillator (L.O.) bekannter Frequenz her­ Eingangsempfindlichkeit : 20 bis 3 5 dBm.
-
-

abgemischt, gefiltert und dann konventionell Zulässige AM des Signals : 50 % bis 95 % , wo


mit einem Zähler gemessen (Bild 3). Automati­ bei die Eingangs empfindlichkeit jedoch
sche Mikrowellenzähler nach diesem Prinzip er­ nicht unterschritten werden darf.
zeugen die Frequenz des Ü berlagerungsoszilla­ Zulässige FM des Signals : 1 bis 50 MHz.
tors durch Vervielfachung der Frequenz der Maximalpegel eines Störsignals : - 2 bis
Zeitbasis. Die Messung beginnt mit einem Such­ - 30 dBc (dBc bedeutet : auf den Pegel des
vorgang : Die Frequenz des L.O. (z. B. 500 MHz) Trägers bezogen).
11.
wird so lange vervielfacht, bis bei n . 500 MHz Auflösung in der Anzeige : bis zu 1 0 -
ein Signal im ZF-Bereich detektiert wird. Dann Absolute Meßgenauigkeit : Je nach Art und Al­
rastet der L. O . in dieser Stellung ein und die ter des Quarzes in der Zeitbasis bis zu 1 0 - 8
Frequenz des ZF -Signals wird kontinuierlich ge­
messen, umgerechnet und angezeigt. Sind mehre­
re Spektrallinien am Eingang vorhanden (z. B. Frequenzmessung mit dem Spektrum-Analysator.
(s. I 5.2) Die Frequenzmessung mit einem (digita­
len) Automatischen Spektrumanalysator ist u. U.
etwas ungenauer als die mit einem Mikrowellen­
M i sc h er
fo + f,
zähler, sie bietet jedoch folgende Vorteile : Die
Tiefpan
ZF- Zäh l e r f ü r
x Empfindlichkeit ist sehr viel größer, d. h. es kön­
y Verstö r k e r Fre q u e nz e n f < fo
nen wesentlich kleinere Signale noch gemessen
fo
werden, und man erkennt deutlich, zu welcher
Spektrallinie die gemessene Frequenz gehört,
.

U b er l o g erungso szi 1 1 0 tor


• •

und man kann jede dieser Linien getrennt von­


Bild 3. Frequenzzähler nach dem Ü berlagerungsverfahren einander messen.
7 Rauschmessung I 31
S t a r ti m p u l s
Kanal A �requenz-Spanmmgs-Wandler. a) Wegen 1 =
JWC U er �ibt ein Signal mit konstanter Span­
/ Stop imp u l s
Kanal B nung
. U emen Kondensatorstrom I , dessen Am- -

phtude proportional zur Frequenz ansteigt.


1/\

Zeitbasis ..J ..I b) W�nn jeder (gleichsinnige) Nulldurchgang


\
Y
,
des Emgangssignals einen kurzen, stets gleichge­
Z ö h l e r o n zei 9 e : 7
formten Impuls auslöst, ergibt sich eine Puls­
Bild 4.Zeitintervallmessung durch Zählen der Impulse folge, deren Gleichspannungsanteil proportional
eines Zeitbasisgenerators
zur Frequenz ansteigt.

6.2 Digitale Zeitmessung In�er�erenzv �rfahren. Das Eingangssignal wird


mIt �mem SIg�al bekannter Frequenz (z. B . Syn­
Digital time measurement th.esIzer) ve�ghchen und der Vergleichs generator
Zur Messung eines Zeitintervalls werden die Im­ wIrd . auf dIe gleiche Frequenz nachgestimmt;
pulse eines stabilen Zeitbasis-Oszillators , die in z. J? m der Form, daß beide Signale auf einen
den Bereich dieses Intervalls fallen, gezählt. Da­ MIscher gegeben werden und am Mischeraus­
mit ergibt sich als Grundauflösung (Zähler­ gang die Differenzfrequenz ausgewertet wird. Bei
stand = 1 ) 1 00 ns für eine 1 0-MHz-Zeitbasis und Fr� quenzgleichheit ist das Ausgangssignal des
1 0 ns für eine 1 00-MHz-Zeitbasis. Es kann ein­ MIschers eine Gleichspannung (Kontrolle mit
kanalig gemessen werden : z. B. vom ersten Über­ dem Oszilloskop; beat note) bzw. in der Nähe der
schreiten der Triggerschwelle in Kanal A bis zum Freq.uenzgleic�heit ergibt sich ein niederfrequen­
da�auffolgenden Unterschreiten der eingestellten tes SIgnal (PfeIfton bei Kontrolle mit dem Kopf­
Tng�erschwelle durch das zu messende Signal hörer).
(Pe �lOden?auer-Messung bei sin-Signalen) oder
z:w.eIkanahg : das Zeitintervall von der ersten po­ Resonanzverfahren. Frequenzmessung durch
s!tIven Flanke an Kanal A bis zur nächsten posi­ Messen der Wellenlänge a) mit Leitungsresona­
toren s. 1 8. 5 ; b) mit einer Schlitzmeßleitung
tIven Flanke an Kanal B (Bild 4) (Messung der
s. 1 4.6. Zur Umrechnung Wellenlänge J, in Fre­
Phasenverschiebung bei sin-Signalen der glei­
quenz f = Vp/A muß die Phasengeschwindigkeit
chen Frequenz).
vp der benutzten Leitung bekannt sein.
Meßfehler entstehen durch die digitale Zählweise
( + Gr�nda�flösung), durch die Ungenauigkeit
Durch lose Kopplung des Eingangssignals an ei­
nen Resonator hoher Güte, dessen Resonanzfre­
der ZeltbasIs, durch die Triggerschwelle (Rau­
quenz kontinuierlich (mechanisch oder elek­
schen oder yerzerrungen auf dem Signal) und
trisch) verändert werden kann, läßt sich die
durch UngleIchheit der Kanäle (Reflexionsfaktor
oder Si �nallaufzeit unterschiedlich). Bei periodi­ Frequenz messen, wenn vorher der Einstellbe­
reich des Resonators in Frequenzen geeicht
s �hen SIgnalen kann der Fehler aufgrund der di­
wurde (Wellenmesser, wave-meter). Es werden
gItalen Zählweise ( ± 1 bit) verringert werden
Resonanzkreise mit diskreten Elementen , Lei-
durch Messung über n Zeitintervalle. Sofern n
tungsresonatoren und Hohlraumresonatoren be- .
Messungen durchgeführt werden und ihr Mittel­
n�tzt, meist in einer Schaltung entsprechend
wert angezeigt wird, verbessert sich die Auflö-
BIld I 8. 1 0, lose angekoppelt an eine durchge­
s ::ng nur entsprechend 1 / n, also z. B. auf 1 ps hende Leitung (dip-meter, Absorptionsfrequenz­
fur 1 0 ns Grundauflösung und n = 1 08. Die Mit­ messer), s. 1 8.5. Auf diese Art können auch Fre­
telwertbildung verringert außerdem Fehler quenzmarken bei Wobbelmessungen erzeugt
durch Rauschen oder litter. werden.
Bei Einzelmessungen kann die Grundauflösung
verbessert werden auf z. B. 20 ps durch Messen Instantaneous Frequency Measurement (IFM).
der Ze�tdiff�renz zwischen dem letzten Impuls Nach einer Amplitudenbegrenzung wird das Si­
der ZeItbasIs und dem Ende des MeßintervaIls gnal in zwei Teilsignale zerlegt, von denen eines
(Voraussetzung : synchroner Start der Zeitbasis
mit dem Meßintervall) : Analoges Verfahren
durch Kondensatoraufladung ; digitales Verfah­ Ringmi scher als
ren analog zum Nonius an einer Schublehre mit Phasendetektor
zwei in der Frequenz versetzten Zeitbasissigna­
G leich-
len.
l'
Signa l , Begrenzer/ spa n n u n g s-
'<
....
Frequenz fx Verstärker
meßgeröt
.
La u f z e i t f---1
6.3 Analoge F requenzmessung r

Analog frequency measurement


Bild 5.IFM-Empfänger (zur Frequenzmessung an Einzel­
Frequenzmessung mit dem Oszilloskop s. 1 1 .6. impulsen geeignet)
I 32 I Hochfrequenzmeßtechnik

um eine bekannte, frequenzunabhängige Lauf­ I nnen -


widerstand
zeit T verzögert wird (Bild 5). Mit einem Mischer, RG
der als Phasendetektor betrieben wird (s. 1 1 .9) A b sc h l u ri -
ergibt sich damit eine Ausgangsgleichspannung I(EI M e n o b.j e k t
( Al l
'-1::::___ ( Verstorker ) ---v� w i d e r s t a n d
proportional zum Kosinus der Phasenverschie­ Rl
I
I

bung cp zwischen beiden Teilsignalen bzw. mit Signo lquelle I


I
cp = Wx T proportional zum Kosinus der Si-
,

gnalfrequenz !x . I \
0 dBm
P Ver s t ä r k u ng g/ d B
SE O dB m
Signol­
dBm pegel
PsA / d B m
7 Rauschmessung
P l
RE . F!d B
R a u sch ­
dBm L I
Noise measurement f •
pegel
f • PR A /d B m

Veranschaulichung der Rauschzahl F als Differenz


Bild 1 .
7.1 Rauschzahl, Rauschtempe ratur, der Störabstände in dB. (Störabstand in dB Signalpegel =

Rauschbandbreite in dBm Rauschpegel in dBm)


N oise figure, noise temperature,


noise bandwidth erfolgt über

Bei der Temperatur T in Kelvin gibt ein realer g = Psignal Ausgang/Psignal Eingang und
ohmscher Widerstand im Frequenzintervall der P R Eingang = k TO B .
Breite B an einen idealen, nicht selbstrauschen­
den, gleich großen Widerstand die näherungs­ GI. (1) kann auch rein formal auf Vierpole ange­
weise konstante Rauschleistung � ab (Fehler wendet werden, um deren Rauscheigenschaften
< 1 % für ! < 1 20 GHz) : durch die Angabe einer fiktiven Rauschtempera­
tur TR zu beschreiben :
� = k TB mit
k = 1 3,8 · 1 0 � 2 3 Ws/K (1) (4)
(Boltzmann-Konstante). Die Rauschzahl kann entweder breitbandig ge­
messen werden, dies führt zu einer einzigen Zahl,
Die Rauschzahl F gibt an, um welchen Fak­ die den Vierpol charakterisiert, oder sie kann zur
tor ein Vierpol bei der · Referenztemperatur genaueren Beschreibung des Vierpols schmal­
To = 290 K 1 6,8 oe das thermische Rauschen
..:::0..
bandig gemessen und als Funktion der Frequenz
k To B des Innenwiderstands der Signalquelle dargestellt werden. Bei der direkten Messung der
durch sein Eigenrauschen vergrößert. Rauschzahl nach GI. (2) muß der Frequenzgang
Definition I : der Verstärkung des Vierpols g ( f) berücksichtigt
werden. Da B als Frequenzintervall im weißen
F = PR Ausgang/ (k To B g) mit (2) Rauschen eingeführt wurde, wird die Rausch­
bandbreite B R eines Vierpols definiert aus dem
g = Leistungsverstärkung des Vierpols.
der Fläche unter der Kurve g ( f) gleichgroßen
Damit ergibt sich z. B. für eine verlustlose Lei­ Rechteck der Höhe gmax und der Breite BR . Da­
tung der Minimalwert F = 1 bzw. 0 dB (F/dB mit ist die Rauschbandbreite ungleich der
= 1 0 19 F). 3-dB-Bandbreite (s. GI. ( 1 1)).
Eine zweite Definition benutzt den Störabstand
an Eingang und Ausgang (Bild 1).
7.2 Meßprinzip
Definition II :
M easurement procedure
F = (Psignat!PR) Eingang/( Psignal/ PR) Ausgang . (3)
Um die Probleme bei der Bestimmung der
Damit ergibt sich z. B. für ein 3-dB-Dämpfungs­ Rauschbandbreite und der Verstärkung zu um­
glied die Rauschzahl F = 3 dB. Beide Definitio­ gehen, wird die Rauschleistung am Ausgang für
nen gehen davon aus, daß Eingang und Ausgang zwei unterschiedlich große, bekannte Eingangs­
des Vierpols angepaßt sind und gleiche Tempera­ rauschleistungen gemessen (wobei die Linearität
tur haben. Die Umrechnung von GI. (2) in Gl. (3) des Vierpols vorausgesetzt wird) [1, 4, 5]. Bild 2
zeigt das Prinzip, Bild 3 den Meßaufbau.
Quellwiderstand mit To :
Spezielle Literatur Seite I 35 Po = k To B g + PMeßobjekt,
8 Spezielle Gebiete der Hochfrequenzmeßtechnik I 33

- Vakuumdioden (veraltet, ungenau, bis UHF­


Bereich).
pz 7' - Gasentladungsröhren (1 bis 40 GHz).
� PMenObjekt
- Halbleiterrauschquellen (Zener-Dioden in
k TBg
speziellen Fassungen, die ohne Vorstrom als
Abschlußwiderstand mit Umgebungstempera­
kTB
/
tur Tl und bei eingeschaltetem Gleichstrom als
Rauschquelle großer Leistung wirken).

Kenngrößen der Rauschgeneratoren sind ihr Re­
Tz T flexionsfaktor im ausgeschalteten Zustand (Mes­
sung von Po bei To bzw. Pl bei Tl) und im ein­
PMe80bjekt
geschalteten Zustand (Messung von ß), die
k o n s t o n tes E i g e n ro u schen des V i e r p o l s
k TBg R o u s c h l e i s t u n g v o n RG o m V. P. - A u s g o n g
k TB R o usc h l e i s t u ng d e s G u e l l w ·l d ers t o n d s RG
Größe und Konstanz der Rauschleistung, der
nutzbare Frequenzbereich und eventuell vorhan­
Rauschleistung am Vierpolausgang als Funktion
Bild 2 . dene Schaltspitzen beim Umschalten von To auf
der Temperatur des Quellwiderstands bzw. als Funktion T2 . Angegeben wird meist die Erhöhung der
der Eingangsrauschleistung
Rauschleistung (ENR in dB) bezogen auf die
Rauschleistung im ausgeschalteten Zustand. So­
fern die Umgebungstemperatur extrem von To
abweicht, muß sie gemessen werden (Tl) und T2
,

Lei s t u n g s - muß berechnet werden.


Menobjekt
m e n g eröt
I I I (8)
RG I T = Tz )
ENR ist dabei in dB einzusetzen.
Bild 3. Prinzipschaltung zur Messung der Rauschzahl
Ein typischer Wert für Halbleiterrauschgenera­
toren ist ENR = 1 5,5 ± 0,5 dB. Dies entspricht
einem Temperatursprung von b. T = 1 0.290 K.
Quellwiderstand mit T2 : Der Bereich erstreckt sich von 5 bis 1 00 dB bei
Frequenzen zwischen 1 0 kHz und 40 GHz. Hohe
ß = k T2 B g + PMeßobj e k t· ENR-Werte werden z. B. für Systemanwendun­
Mit GI. (2) und der Geometrie von Bild 2 ergibt gen gebraucht, wenn ein Empfänger während des
sich : Bertriebs gemessen und dazu die Rauschleistung
über einen Richtkoppler in den Signalweg einge­
F = ( T2 / To - l ) /(ß/Po - 1 ), koppelt wird.
(5 )
F/dB = 1 0 Ig (b. T/To) - 1 0 19 (ß/Po - 1).
Anstelle der Temperaturänderung b. T wird bei 7.4 Meßfehler. Measurement errors
Rauschgeneratoren meist die Rauschleistungser­
höhung ENR (Excess Noise Ratio) angegeben. Da die Rauschzahl aus zwei Leistungsmeßwer­
Um diesen Faktor steigt die Rauschleistung beim ten berechnet wird, existieren zunächst die in
Einschalten des Rauschgenerators. 1 2.4 behandelten Fehler der Leistungsmessung.
F/dB = ENR/dB - 1 0 Ig ( Y - 1 ). (6) Besonderes Gewicht haben dabei die Fehlanpas­
sungen zwischen den einzelnen Komponenten
Gemessen werden die beiden Leistungen ß und von der Rauschquelle bis zum Leistungsmeß­
Po. Ihr Quotient ist der Y-Faktor. Daraus wird kopf. Den größten Beitrag zum Meßfehler liefert
die Rauschzahl berechnet. Umrechnung auf die in der Regel die Ungenauigkeit des ENR-Werts.
Bezugstemperatur To , wenn Y bei Tl und T2 ge­ Ein typischer Wert für eine Diodenquelle (0,01
messen wurde : bis 1 8 GHz) wäre ± 0,2 bis ± 0,6 dB je nach Fre­
quenz. Zur Vermeidung ungünstiger Anzeigebe­
F = 1 + (T2/To - y . Td To) / ( Y - 1 ). (7) reiche bei Zeigerinstrumenten kann der ENR­
Wert des Rauschgenerators durch ein vorge­
schaltetes Dämpfungsglied verringert werden.
7.3 Rauschgeneratoren Bei zu geringer Verstärkung des zu untersuchen­
Noise generators den Vierpols muß dem Leistungsmesser ein
Verstärker vorgeschaltet werden, um die sehr
Zur Erzeugung von Rauschleistung mit zwei ver­ kleinen Rauschleistungen von - 1 74 dBm
schiedenen Pegeln werden benutzt : + 1 0 Ig (B/Hz) messen zu können. Eventuell ist
- Paare von ohmsehen Widerständen mit gere­ auch ein Mischer notwendig, um den Frequenz­
gelter, bekannter Temperatur Tl und T2 (hot­ bereich des Vierpols auf den des Leistungsmes­
cold-standards) (als Kalibrierquellen). sers umzusetzen (z. B. Spektrumanalysator als
I 34 I Hochfrequenzmeßtechnik

--
M e rlobjekt ( E m pf a n g e r )
I T
von Po o u f P1
I I I
umsch o l t b orer M e rl o bje k t Z F - Ver- ZF- Le i s t u n g s -
Mischer
I I
Rousch- ( Verstärk e r ) s tärker Fi I t e r m e rlgerä t

I I
g e n era t o r
I I
II I
Bild 4.Allgemeiner Meßaufbau zur Er­
I
••

U b e r l agerung s -
I
mittlung der Rauschzahl eines Vierpols
I. o s z i I l o tor
I
L .-l
bzw. eines Empfängers mit Frequenz­
.I
-=::-
_ _ _ _ _ _ _ _ _ ___ _ __ J umsetzung

Leistungsmesser). Bild 4 zeigt den Meßaufbau. In tors ergibt sich aus dem angezeigten Rauschpegel
diesem Fall müssen zusätzlich zur Messung des PR bei eingestellter Meßbandbreite B zu
Y-Faktors der Gesamtanordnung die Verstär­
kung 9 des Vierpols und die Rauschzahl F2 des F/dB = PR/dBm + 1 74
nachgeschalteten Systems (Verstärker, Mischer) - 1 0 19 (BR/Hz) (1 1 )
bestimmt werden. Die gesuchte Rauschzahl F1
des Vierpols ergibt sich dann aus der gemessenen mit BR = ex B3dB und ex = 1 ,2 für Gauß-Filter.
Rauschzahl F1 2 der Gesamtanordnung zu GI. ( 1 1 ) entspricht GI. (2) und kann mit PR
= PR Aus gang/g bei Vierpolen mit großer Rausch­
(9) zahl zur direkten Messung von F eingesetzt wer­
den. Für F > ENR + 9 dB werden die Unter­
Die Bandbreite der Vierpole sollte vom Rausch­
schiede zwischen Po und P2 in GI. (5) sehr gering
generator zum Leistungsmeßkopfhin abnehmen.
( Y < 0,5 dB) und damit die Auswirkungen von
Die Leistungsverstärkung 9 des Vierpols kann
Fehlern bei der Leistungsmessung so groß, daß
aus den Messungen mit und ohne Meßobjekt be­
die Y-Methode nicht mehr anwendbar ist.
rechnet werden (vgl. Bild 2) :
(Pz - P1) mit Meßobjekt
= ( 1 0) 7.5 Tangentiale Empfindlichkeit
9 (P2 - P1 ) ohne Meßobjekt · •

Tangential signal sensitivity (TSS)


Bei kleinen Rauschzahlen wird der relative Feh­
ler bei der Bestimmung von F besonders groß, da Die tangentiale Empfindlichkeit [2, 3] ist ein we­
sich ENR-Ungenauigkeit, Leistungsmeßfehler niger anspruchsvolles Maß als die Rauschzahl
und Anpassungsfehler zu beträchtlichen Ge­ zur Beschreibung der Empfindlichkeit von z. B.
samtfehlern überlagern können. (Video-)Verstärkern, Detektorköpfeuii oder Di­
Bei sehr großen Rauschzahlen sollte der Lei­ oden. Bild 5 zeigt die Meßanordnung. Die Lei­
stungsmesser durch einen Spektrumanalysator stung eines getasteten Signalgenerators wird so
ersetzt werden, um zu kontrollieren, ob weißes eingestellt, daß die mittlere Rauschamplitude in­
Rauschen vorliegt oder ob Netzbrumm, Ein­ nerhalb der betrachteten Bandbreite gleich der
streuungen oder gefärbtes Rauschen die Vierpol­ Signalamplitude ist. Als Kriterium dafür wird die
beschreibung durch eine einzige Rauschzahl ver­ Darstellung auf dem Bildschirm eines Oszillo­
fälschen. Die zur Fehlerkorrektur, GI. (9), not­ skops ausgewertet. Der Signalgeneratorpegel,
wendige Rauschzahl F2 des Spektrumanalysa- der das angezeigte Rauschspannungsband ge-

Lei s t u n g s -
m e rl ge r ö t
S i g n o l q u e lle
I(
1\
Merl o b j e k t
CD
50Q
Detektor -
Tiefp orl Verstärker O s z i l l o s ko p
50Q d i o de
I J- I
a
I 2

Signol + R o u s chen CD
S i g n o l o u s g e s ch o l t e t CD
elnsome

Tan g e n t e Bild 5. Messung der tangentialen Emp­


findlichkeit TSS. a Meßaufbau ; b Bild­
Zei t schirmanzeige, wenn Generatorpegel
b = TSS
8 Spezielle Gebiete der Hochfrequenzmeßtechnik I 35

rade um seine eigene Amplitude versetzt, wird als aufweist. In diesem Kapitel werden Verfahren zur
Tangential Signal Sensitivity (TSS) bezeichnet. Impedanzmessung unterhalb 30 bzw. 1 00 MHz
Der Meßwert ist leicht zu interpretieren (z. B. die beschrieben. Bei höheren Frequenzen wird der
Angabe TSS = - 52 dBm bei f = 2 GHz und Reflexionsfaktor gemessen und in die Impedanz
E = 1 MHz für eine Detektordiode) und die umgerechnet (s. I 4.).
Messung ist einfach und in jedem Labor durch­
führbar. Dies macht den Nachteil der schlechten Brückenschaltungen. Die unbekannte Impedanz
Reproduzierbarkeit wieder wett. Der Zahlenwert Zx wird bestimmt durch Vergleich mit bekannten
hängt ab von der Einstellung des Oszilloskops, Bauelementen, die stetig oder stufig veränderlich
dem Frequenzgang der Anordnung und der sub­ sind. Bild 1 a zeigt die allgemeine Wechselstrom­
j ektiven Entscheidung des Betrachters. Für eine brücke. Strom durch 25 :
Verfeinerung des Verfahrens besteht jedoch kein
Bedarf, da stets auf eine Rauschzahlmessung zu­ 1 = 7j (Z l Zx - Z2 Z3 )/
rückgegriffen werden kann. Bei einem Signal­ ((Z2 + Z x) (Z5 (Z l + Z3 ) + Z l Z3 )
pegel entsprechend dem TSS-Wert beträgt das + Z2 Zx (Z l + 23 ))
Signal/Rausch-Verhältnis am Ausgang etwa
8 dB. Sofern anstelle des Oszilloskops ein Lei­ und ihre Abgleichbedingungen, Bild 1 b bis e die
stungsmeßgerät benutzt wird, ist der TSS-Pegel gebräuchlichsten Ausführungsformen und die
über diese 8-dB-Änderung definiert. Eine Um­ bei Anzeige 0 am Instrument gültigen Bestim­
rechnung TSS in F erfordert die Kenntnis der mungsgleichungen. Ob man bei der Berechnung
Rauschbandbreite ER ' von Zx die Elemente des Parallel- (1 b) oder
Die Problematik der TSS-Messung liegt darin, Serien-Ersatzschaltbildes (1 c) benutzt, ist für den
daß die beiden Größen, die miteinander vergli­
chen werden (einmal Rauschen, zum anderen
Signal + Rauschen), ungleich sind.

-,
Z Z1
Spezielle Literatur : [1J Hewlett-Packard Application Note ,

Z5
57- 1 : Fundamentals of RF and microwave noise figure I
- -1
measurements (1983). - [2J Renz, E. : Pin und Schottky U
""
Uo =O
'"

Dioden. Heidelberg : Hüthig 1976. - [3J Green, H. E. : A Z] Z


-x [x 6,
theoretical examination of tangential signal to noise ratio. ,.

IEEE-MTT 39 ( 1 9 9 1 ) 566 - 567. - [4J Pastori, W E. :


Bandwidth effects in noise figure measurements. MSN &
CT, Apr. (1988) 77- 86. - [5J Tong, P. R. ; Moorehead, a Zx =11 Z] IZ1
J. M . Noise measurements at mm-wave frequencies. Mi­

für -1=0
crowave J , Jul. (1 988) 69- 86.

8 Spezielle Gebiete [1 R1 R2

der Hochfrequenzmeßtechnik '" -('"


Uo =O [x Uo = O Lx
Miscellaneous topics I /
VR]
Rx Rx
in RF -measurements

C [x = [1 Rl I R] \on öx = W [l Rl d
8.1 Me ssu.ngen an diskreten Bau.elementen Rx = R3 [1 / [2
Measurement of discrete components
I
Der auf diskreten Bauelementen aufgedruckte U1 Zrel
Wert für den ohmschen Widerstand R, die Kapa­
zität C bzw. die Induktivität L ist nur für niedrige
Frequenzen gültig. Bei hohen Frequenzen hat
U', Ix
jedes Bauelement eine komplexe Impedanz Z
mit einer bei zunehmender Frequenz immer
ausgeprägter werdenden Frequenzabhängigkeit f 1 + !Jo 11)1
e Z =- rel
z
Z = Z U), die Parallel- und Serienresonanzen
-x
1 -_U0 /�U. ,

Brückenschaltungen zur Impeda nzmessung. a allge­


Bild 1 .
meine Meßbrücke ; b Wien-Brücke; c Schering-Brücke;
d Maxwell-Wien-Brücke ; e Differential- Übertraaer-Brük- b

Spezielle Literatur Seite 1 44 ke ; f Vergleichs brücke


I 36 I Hochfrequenzmeßtechnik

Meßaufbau unerheblich. Für bestimmte Werte­ Sampling - Sichtgeröt


bereiche von Zx ist es jedoch zweckmäßig, die O szi l l o s k o p oder X - Y -
Abgleichelemente in Bild 1 b bis e in Serie statt Schreiber
Trigger
parallel zu schalten, um ungünstige Bauelemen­ TOR TOT
tegrößen zu vermeiden. Damit Streukapazitä­ ?
ten und Störspannungen keine nennenswerten Puls - O u rchgangs- tvl e n - tvl e n -
Meßfehler hervorgerufen, sind die Erdung eines gen erator men kopf objekt f-o- k opf
50Q
Brückenpunkts und die Schirmung der Bauele­
I
-- --
mente Problembereiche, die von Fall zu Fall • I r

sorgfältig durchdacht werden müssen. Meßaufbau für Reflexionsmessungen (TDR) und


Bild 2.
Bei der Vergleichsbrücke in Bild 1 f wird kein Transmissionsmessungen (TDT) im Zeitbereich
Nullabgleich durchgeführt, sondern Tl 0 hochoh­
mig gemessen. Die Schaltung wird auch zur Re­
flexionsfaktormessung eingesetzt (s. I 4.4). Zum Verteilung längs einer TEM-Wellenleitung ge­
Einsatz von Doppel-T-Gliedern anstelle der messen werden. Entsprechend Bild 2 wird von
Brückenschaltungen siehe [1] . einem Pulsgenerator eine Gleichspannung (z. B.
200 mV) eingeschaltet. Die sehr s teile Einschalt­
Resonanzverfahren. a) Der zu messende Kon­ flanke läuft durch den Meßkopf zum Meßobjekt.
densator (Cx' tan 6 x) wird mit einer Induktivität An allen Reflexionsstellen im Meßobjekt wird
bekannter Größe (Lo, tan 60) zu einem Parallel­ ein Teil der Einschaltflanke reflektiert, läuft zu­
schwingkreis (Serienschwingkreis) zusammenge­ rück zum Meßkopf und wird gemessen. Der Vor­
schaltet. Resonanzfrequenz und Güte des Kreises gang wird zeitlich periodisch wiederholt. Da­
werden gemessen und Cx und tan 6 x daraus be­ durch kann die Kurvenform der reflektierten
rechnet. Bei der Induktivitätsmessung wird in Wellen mit einem Abtastoszillosk <? p dargestellt
'
analoger Weise vorgegangen. werden. Der zeitliche Verlauf der Uberlagerung
b) Eine zu messende hochohmige Impedanz wird von hinlaufender und reflektierter Welle am
einem bekannten Parallelresonanzkreis parallel­ Meßkopf wird vom Oszilloskop (bzw. X-Y­
geschaltet, eine niederohmige Impedanz einem Schreiber) als stehendes Bild wiedergegeben. Bei
Serienresonanzkreis in Serie geschaltet. Die ge­ bekannter Ausbreitungsgeschwindigkeit auf dem
suchten Größen werden entweder aus der Ände­ jeweiligen Leitungsabschnitt kann aus der Lauf­
rung von Resonanzfrequenz und Güte, oder aus zeit '[ der reflektierten Welle die Entfernung der
der für gleiche Resonanzfrequenz notwendigen Störstelle II = v '[ /2 berechnet werden. Der Ent­
Verstellung eines Kalibrierkondensators berech­ fernungsbereich, in dem mit handelsüblichen Ge­
net. Zur Gütemessung bei a) und b) kann entwe­ räten Störstellen auf Leitungen lokalisiert wer­
der die 3-dB-Bandbreite des Kreises gemessen den können, liegt zwischen 1 0 mm und 1 0 km.
werden (s. 8.5) oder die Bestimmung erfolgt über Zwei benachbarte Störstellen im Abstand Li l
die Resonanzüberhöhung von Strom bzw. Span­ können in der Anzeige voneinander unterschie­
nung bei Speisung mit konstantem Strom (Paral­ den werden, wenn die Anstiegszeit T des Meß­
lelkreis) bzw. mit konstanter Spannung (Serien­ impulses kleiner ist als die doppelte Laufzeit
kreis). zwischen ihnen: Li lmin > v T/2 . Bei einem Meß­
impuls mit 30 ps Anstiegszeit kann also eine
Strom-Spannungs-Messung. Entweder der Strom Ortsauflösung von 4,5 mm (auf einer Luftleitung
I durch das Bauelement oder die Spannung U mit v = co ) nicht unterschritten werden.
am Bauelement werden konstant gehalten. Die Wegen des z. B. in Bild 3 am Ort des Wellenwi­
jeweils andere Größe wird nach Betrag und derstandsprungs (Punkt A) gültigen Zusammen­
Phase ermittelt. Die gesuchte Impedanz ergibt hangs U1 (t) = UH (t) + UR (t) = (1 + r) UH (t)
sich aus Z = U/I. Zur Vermeidung von Meßfeh­ und r = (ZL2 - ZL l)/(ZL2 + ZLl) kann man aus
lern durch die Induktivität der Anschlußdrähte dem gemessenen Verlauf von U 1 (t) die jeweilige
kann, wie bei der Messung von ohmschen Wider­ Größe des Leitungswellenwiderstands ZL und
ständen in der Gleichstromtechnik, vierpolig ge­ die Größe von reellen Abschlußwiderständen Z 2
messen werden. direkt entnehmen. Zu beachten ist, daß nur die
erste Störstelle exakte Ergebnisse liefert. Am Ort
der zweiten Störstelle ist die einfallende Wellen­
8.2 Messungen im Zeitbereich front bereits um die erste Reflexion vermindert
und das von hier zurücklaufende Echo wird
Time domain reflection (TDR) beim Durchlaufen der ersten Störstelle erneut
Time domain transmission (TDT) gedämpft. Die vertikale Achse kann entweder
zwischen + 1 und - 1 linear geteilt den Refle­
Das Impulsreflektometer (TDR) ist ein leitungs­ xionsfaktor r (z) anzeigen oder sie wird in Q
gebundenes Pulsradar, mit dem Art und Größe skaliert (von 0 bis CIJ) zur Ablesung des Wellenwi­
von R eflexionsstellen sowie deren örtliche derstands ZL (Z). Zur Kalibrierung auf r = 0 bzw.
8 Spezielle Gebiete der Hochfrequenzmeßtechnik I 37

ö p,- z

K a li b rie r n o r m a l
1----- /, ----I
r • •

U b er g a n g A Leer l a u f

UI ( t )
0
Bild 3. Schematisierte Anzeige eines
E i n sch a l t f l a n k e
Impulsreflektometers für einen Koax­
Flöche A m l i t u de Microstrip- Ü bergang und eine Micro­
-1 stripleitung mit Wellenwiderstands­
t
2 /, / v sprung

ZL =
Zref wird entsprechend Bild 3 dem Meß­ Impedanzprofil der Leitung. Wenn nur die Ent­
objekt eine Präzisions-(Luft)-Leitung mit be­ fernung von Störstellen gemessen werden soll,
kanntem Wellenwiderstand vorgeschaltet. sind kurze Pulse als Testsignal besser geeignet.
Bei Störstellen mit kapazitivem bzw. induktivem Bei der Anwendung des TDR-Prinzips auf Lei­
Verhalten ergeben sich zeitlich ausgedehnte Ein­ tungen mit Hochpaß- bzw. Bandpaßcharakter
schwingvorgänge, die die Orts auflösung ver­ (z. B. Hohlleiter, Lichtwellenleiter) müssen puls­
schlechtern und weniger einfach zu interpretieren modulierte Testsignale benutzt werden. Die Be­
sind. Die Sprungantworten und Diskontinuitä­ stimmung der Art der Störstelle aus der Form
ten, die sich durch diskrete Bauelemente (Serien­ des Echos wird schwieriger als bei Tiefpaßsyste­
L, Parallel-C, . . . ) beschreiben lassen, können men.
mit der Laplace-Transformation berechnet Für Messungen an symmetrischen Zweidrahtlei­
werden. Ein Vergleich der gemessenen Kurven­ tungen wird das Gegentakt-Impulsreflektometer
formen mit solchen berechneten Einschwing­ (differential TDR) eingesetzt. Hierbei werden
vorgängen gestattet eine anschauliche Inter­ zwei zeitgleiche, bezüglich Masse gegenphasige
pretation der Störstellen [2 - 4] . An die Stelle der Einschaltflanken erzeugt und in die symmetri­
Amplitude tritt hier die Fläche als Maß für die sche Leitung eingekoppelt. Die Reflexionen wer­
Größe der Störung (Bild 3). den mit einem Gegentakt-Samplingkopf gemes­
Da ein Sprung mit z. B. 25 ps Anstiegszeit alle sen.
Frequenzen von 0 bis zu etwa 1 5 GHz enthält, Mit den Komponenten in Bild 2 kann bei Zwei­
sind die damit gemessenen Reflexionsfaktoren toren die Sprungantwort am Ausgang des Meß­
bzw. Wellenwiderstände Mittelwerte über diesen objekts gemessen werden (Time Domain Trans­
Frequenzbereich. Obwohl man mit dem TDR mission (TDT) bzw. Time Delay Distortion, s.
kleine Reflexionsfaktoren und Wellenwider­ 1 9.3). Damit lassen sich auch Signale mit unter­
standsabweichungen im Bereich 0,001 messen schiedlicher Laufzeit innerhalb des Zweitors ge­
kann, setzt diese Mittelwertbildung der nume­ trennt voneinander darstellen.
rischen Auswertung der Meßergebnisse Gren­
zen. Dämpfung und Dispersion entlang der zu
untersuchenden Leitung verringern die Am­ 8.3 Feldstärkemessung
plitudenauflösung und die Ortsauflösung mit Fieldstrength measurement
zunehmender Entfernung der Störstelle. Zur Ab­
hilfe kann ein Dämpfungsausgleich durch zeit­ Zur Feldstärkemessung [14- 1 8] werden eine
lich ansteigende Verstärkung erfolgen oder eine Empfangsantenne und ein Empfänger benötigt
Rechnerkorrektur der Meßwerte. Mit dem Rech­ (Bild 4). Es ist zu unterscheiden zwischen
ner läßt sich auch aus der mit einem realen Im­ - breitbandiger Messung der Strahlungsdichte
puls (mit Überschwingern etc.) gewonnenen (z. B. zum Zweck der Emissionskontrolle),
Meßkurve die ideale Sprungantwort berechnen.
Weitere Rechneranwendungen auf Zeitfunktio­ - - -
- v Empfang s a n t e n n e
nen in 1 4.9.
- - - - - - ..- - - - - - -

Bei mehreren Störstellen auf einer Leitung treten -A z �


Mehrfachreflexionen auf. Mit zunehmender Ent­ / A nten nen I ei t u n g
fernung werden die Amplitudenverläufe dadurch Sender Empfänger
nicht mehr direkt interpretierbar, und es werden zL

nicht vorhandene Störstellen vorgetäuscht. Je Strah l u n g s ­


q u elle
kleiner die Reflexionsfaktoren, desto genauer
entspricht das gemessene Echodiagramm dem Bild 4. Anordnung zur Feldstärkemessung
I 38 I Hochfrequenzmeßtechnik

- schmalbandiger Messung der Strahlungs dich­ rechnen läßt. Besonders breitbandig sind kleine
te (z. B. Messung im Fernfeld einer Sendean­ Schleifenantennen, da der Kurzschlußstrom fre­
tenne), quenzunabhängig ist und kleine Dipolantennen
- schmalbandiger Messung der elektrischen ( l < 0,1 Je), da die effektive Höhe gleich der Länge
oder magnetischen Feldstärke (z. B. im Bereich eines Stabes ist und somit die Leerlaufspannung
einer leitungs geführten Welle). frequenzunabhängig wird. Bei kleinen Schleifen
Die Problematik der Feldstärkemessung liegt in und Stäben (Feldsonden) sind die obigen Glei­
der Umrechnung des vom Empfänger angezeig­ chungen nicht direkt anwendbar, weil sich die
ten Meßwerts in den Wert der Feldstärke am Anpassung zwischen Antenne, Zuleitung und
Meßort vor Einbringen der Meßantenne. Für Empfänger nicht erfüllen läßt (ZA induktiv bzw.
eine Antenne mit der effektiven Höhe heff gilt kapazitiv).
Da bei Messungen im Freien Fehler durch an­
Leerlaufspannung U = E heff .
0
dere Strahlungsquellen (z. B. Rundfunksender)
Sofern die Antennenimpedanz an das Kabel und und Mehrwegeausbreitung (z. B. Bodenreflexio­
das Kabel an den Empfängereingang angepaßt nen) auftreten können, wird häufig in geschirm­
sind, zeigt der Empfänger die Spannung ten Räumen gemessen, die innen allseitig mit ab­
U = U 0/2 an und es gilt sorbierenden Schichten (für den benötigten
Frequenzbereich) ausgekleidet sind (anechoic
E = 2 U/heff · chamber).
Durch die Antennenzuleitung können bei Fern­
Meist wird bei Meßantennen nicht die effektive feldmessungen Feldverzerrungen hervorgerufen
Höhe sondern der Antennenfaktor k in dB als werden (Rückstreufehler) und die Meßantennen­
Funktion der Frequenz angegeben. charakteristik kann beeinflußt werden. Bei
1
k = E/ U bzw. k/dB = 20 19 (k/m - ) . Nahfeldmessungen besteht zusätzlich die Mög­
lichkeit der direkten Rüclewirkung allf dle St[<ih­
Der Zusammenhang mit dem Antennengewinn lungsquelle, sowohl durch die Zuleitung, als auch
G ist gegeben durch : durch die Meßantenne.
Abhilfe:
- Antennenzuleitung senkrecht zu den elektri­
schen Feldlinien verlegen.
mit ZA reelle Eingangsimpedanz der An­
= - Mantelwellen unterdrücken durch Sperrtöpfe,
tenne. Dämpfungsperlen etc.
Für den Logarithmus des Zahlenwerts von k in - Hochohmiges Leitermaterial (falls zulässig)
i /rn gilt bei Luft und ZA = 50 Q : benutzen.
- Symetrieebenen des elektrischen Feldes aus­
k/dB 20 19 U/MHz) - G/dB - 29,78 dB,
=
nutzen und durch leitende Wände ersetzen.
G/dB = 1 0 19 G. Messung mit Sonden durch Löcher in diesen
Wänden hindurch.
Bei Verwendung eines angepaßten Empfängers, - Umsetzung des elektrischen Ausgangssignals
der die Spannung an ZA anzeigt, ergibt sich die der Meßantenne in ein Lichtsignal (Schallsi­
Feldstärke zu gnal) und Weiterleitung per Freiraumausbrei­
flV tung (z. B. Infrarot) oder Lichtwellenleiter.
20 19 (E/ ) = U E/dBfl V + k/dB - aL/dB
A A

m Stab- und Schleifenantennen messen jeweils nur


eine Polarisationsrichtung des elektrischen bzw.
(aL = Dämpfung der Antennenleitung (positiver magnetischen Feldes. Sofern ein Feld unbekann­
Zahlenwert)) ter Polarisation ausgemessen werden soll (field
mapping), sind Messungen in fünf Raumrichtun­
U/dBflV 20 Ig (U/flV) .
. gen erforderlich. Falls nicht die Richtung son­
=

Sofern die Empfängeranzeige in dBm erfolgt, dern nur die Intensität der Strahlung von Inter­
muß umgerechnet werden von Leistung auf esse ist, werden drei zueinander orthogonale
Spannung mit 0 = J2PZA- Antennen benutzt und die Ausgangssignale ent-
sprechend E = E; + E; + E; kombiniert.
U/dBflV P/dBm + 1 1 0 (ZA = 50 Q).
= Zur Messung von Oberflächenstromdichten
bzw. Magnetfeldern an leitenden Flächen s. I 1.8.
Falls mit Effektivwerten gerechnet wird, gilt:
U/dBflV P/dBm + 107. Als Meßantenne eig­
=

nen sich bei Fernfeldmessungen alle Antennen, 8.4 Messungen an Antennen


deren Antennenfaktor bekannt oder berechen­ Antenna measurements
bar ist. Im Mikrowellenbereich werden bevor­
zugt Standard-Gain-Hornstrahler benutzt, deren Im Fernfeld einer An­
Strahlungscharakteristik.
Gewinn sich recht genau aus der Geometrie be- tenne sind die Phasenfronten der abgestrahlten
8 Spezielle Gebiete der Hochfrequenzmeßtechnik I 39
Welle konzentrische Kugelschalen mit dem Pha­ c .
senzentrum der Antenne als Mittelpunkt. Die , M e fl obJ ekt
Strahlungscharakteristik ist die Feldstärke nach 1 ' { > {min S + {mi n E > 2 l -�::r..
Betrag, Phase und Polarisation auf einer solchen
Fernkugelf1äche, die sich im Sendefall bei einer A tJso r b e r
festen Frequenz einstellt. Zur graphischen Dar­
/
stellung im Strahlungsdiagramm muß man sich Meta 1I / H i lf s ­
/.
auf eine Größe und eine festzulegende Quer­ Lei stungs­ /
/' B oden- anten ne
schnittsfläche beschränken. meflg erät / ref l exion
Nähert man sich der Antenne, so bleibt das
Strahlungsdiagramm bis r = rmin unverändert. Bild 5. Messung des Strahlungsdiagramms
Für r < rmin wird das Diagramm entfernungsab­
hängig, und die Richtung der Strahlungsdichte
zeigt Abweichungen von der rein radialen Rich­ delnde Hilfsantenne benutzt. Die Fernfeldbedin­
tung, d. h. die Phasenfronten sind keine Kugelflä­ gung Gi. (1) muß für beide Antennen erfüllt sein.
chen mehr. In der Regel schätzt man ab Obwohl die umgekehrte Übertragungsrichtung
(die zu messende Antenne als Sendeantenne) im
(1 ) Idealfall zu gleichen Ergebnissen führt, sollte die
wobei D die maximale Linearabmessung (z. B. Hilfsantenne senden, damit störende äußere Re­
der Durchmesser des Parabols oder die Länge flexionen unabhängig von der Drehbewegung
des Stielstrahlers) der untersuchten Antenne ist bleiben. Innerhalb des Strahlungsfeldes der Hilfs­
[5J . Der Bereich r < rmin wird als Nahfeld be­
antenne liegende Reflektoren müssen entweder
zeichnet. Nähert man sich der Antenne noch wei­ mit absorbierendem Material verkleidet werden,
ter, so erreicht man ein Gebiet, in dem nicht mehr oder die reflektierten Wellen müssen durch Me­
vernachlässigbare Radialkomponenten von E tallschirme (Beugungskanten verkleidet) ausge­
bzw. H auftreten und in dem die Ortsabhängig­ blendet werden (Bild 5). Umgebungseinflüsse las­
keit der Feldstärken nicht mehr proportional ljr sen sich weiterhin eliminieren durch Auswerten
verläuft. Dieses " innere" Nahfeld beginnt etwa in der Laufzeit bei Pulsmessungen oder der Wellig­
einer Entfernung von 4 } . . . /l vor den Grenz­ keit bei mehreren CW- Messungen in einem
,

schichten, die das Strahlungsfeld formen und er­ größeren Frequenzbereich (s. I 4.9). Wenn
zeugen. Fremdeinstrahlungen stören, wird schmalbandig
Bei einfachen, symmetrischen Antennen be­ empfangen oder der Sender wird moduliert.
schränkt man die Ermittlung der Strahlungscha­ Kleine Antennen können in einem reflexions ar­
rakteristik auf eine Polarisationsart und auf die men Raum gemessen werden (anechoic cham­
Amplitude der Strahlungsdichte entlang zweier, ber), der gegen Fremdfelder geschirmt ist und
zueinander senkrechter Umfangslinien einer dessen Innenwände allseitig mit absorbierendem
Fernfeldkugelfläche. Als Schnittpunkt beider Li­ Material verkleidet sind. Bei größeren Meßent­
nien wird die Hauptstrahlrichtung der Antenne fernungen wird im Freien, zwischen zwei Tür­
gewählt. Damit läßt sich die auf den Maximal­ men, gemessen. Bei noch größeren Antennen
wert bezogene Strahlungsdichte als Funktion des (z. B. Radioastronomie) benutzt man Radio­
Winkels in zwei Diagrammen darstellen. Bei sterne als Hilfsantenne [1 3J .
überwiegend linearer Polarisation spricht man NahfeIdmessung [23 25]. Großflächige Mikro­
-

vom Strahlungsdiagramm in der E-Ebene, wenn wellenantennen können auch im Nahfeld mit
die Linie, entlang der gemessen wurde, in der r < rmin vermessen werden. Dabei wird die Feld­
Hauptstrahlrichtung parallel zur elektrischen stärkeverteilung in einer Ebene (bzw. Zylinder-,
Feldstärke verläuft; die dazu senkrechte Linie er­ Kugelfläche) einige Wellenlängen vor der Anten­
gibt das Strahlungsdiagramm in der H-Ebene. ne mit einer reflexions armen Feldsonde nach Be­
(Beispiel : Bei einem },/2-Dipol liegt der Anten­ trag und Phase gemessen. Damit ist die Belegung
nenstab in der E- Ebene, d. h. dort ergibt sich eine einer fiktiven strahlenden Fläche ermittelt und
Doppel-Acht-Charakteristik und in der H­ aus dieser kann das Fernfelddiagramm berech­
Ebene ergibt sich ein Kreisdiagramm.) net werden [6]. Anstelle der Sonde kann auch ein
kleiner Reflektor benutzt werden. An die Anten­
Femfeldmessung [ 1 9 22J . Entsprechend Bild 5
- ne wird über eine Sende-Empfangs-Weiche so­
wird die zu messende Antenne um ihr Phasen­ wohl ein Sender als auch ein sehr empfindlicher
zentrum herum gedreht. Sie wird dabei von einer Empfänger angeschlossen. Ohne Reflektor ist
einzigen ebenen Welle beleuchtet und die emp­ das Empfängersignal 0, mit Reflektor ist es pro­
fangene Leistung PE wird als Funktion des Dreh­ portional dem Quadrat derjenigen Feldkom­
winkels registriert. Um dem Idealfall einer einzi­ ponente am Ort des Reflektors, die von diesem
gen ebenen Welle (keine Umgebungsreflexionen) reflektiert wurde. Zur Steigerung der Empfind­
möglichst nahe zu kommen, wird eine gut bün- lichkeit wird ein modulierter Reflektor benutzt
I 40 I Hochfrequenzmeßtechnik

(z. B. mechanisch rotierender Dipol oder starrer bung (z. B. Oberflächenform des Flugzeugs,
Dipol mit pin-Diode bzw. Photodiode als schalt­ benachbarte Metallteile etc.) auf das Strahlungs­
barer Last) [7, 8]. diagramm und die Eingangsimpedanz zu be­
rücksichtigen. Messungen an verkleinerten
ModeHmessungen. Die Eigenschaften großer An­ Modellen und Messungen unter idealisierten Be­
tennen können an maßstäblich verkleinerten dingungen sind in der Regel nicht ausreichend.
Modellen bei entsprechend erhöhter Frequenz Hinzu kommen sollten Übertragungsmessungen
untersucht werden. Allgemein müssen im Modell2 2
unter Betriebsbedingungen, die mit statistischen
und im Original die Konstanten K flr 8r [ f 1 = Methoden ausgewertet werden.
und K2 flr K F f jeweils gleich groß sein, wobei
=

[ die jeweiligen Lienearabmessung darstellt und


8p flp K die Materialeigenschaften von Antenne 8.5 Messungen an Resonatoren
und Umgebung. Im einfachsten Fall ist K näher­ Resonator measurements
ungsweise bzw. 0, damit entfällt K 2 und die
00

Abbildungsbeziehung lautet [ 1/ fbei unverän­



Grundlagen. Im Unterschied zu Resonanzkreisen
dertem und [ir'
8r mit diskreten Bauelementen ist bei Leitungsreso­
natoren, Hohlraumresonatoren und dielektri­
Gewinn. Der Gewinn G kann über die Beziehung schen Resonatoren eine getrennte Behandlung
für die Ausbreitungsdämpfung zwischen zwei von Parallelresonanz und Serienresonanz un­
Antennen im freien Raum ermittelt werden. zweckmäßig. Die Ortskurve der Eingangsimpe­
danz eines Resonators ist eine
(2) Kreisschleife im Smith-Diagramm (Bild 6). Ihre geschlossene
PE ist die Empfangsleistung einer Antenne mit Lage richtet sich nach der Länge der Ankoppel­
dem Gewinn GE' wenn Hauptstrahlrichtung und leitung und der Art der Ankopplung. Für die
Polarisation übereinstimmen mit einer Sendean­ Güte des Resonators gilt
tenne im Abstand r > S+ E, die den Ge­
rmin , r min ,
Q . EnergieinhaIt/L: Verlustleistungen.
winn Gs hat und die Sendeleistung Ps aufnimmt = W
(beide Antennen angepaßt an den jeweiligen Gemessen wird in der Regel die 3-dB-Bandbreite
Quell- bzw. Lastwiderstand, keine störenden B (Bild 7). Daraus ergibt sich Q Ires/B. Die =

Reflexionen im Bereich des Strahlungsfeldes). Resonanzfrequenz Ir es ist dadurch gegeben, daß


a) Zwei gleiche Antennen : Wegen GE Gs G im Abstand einer halben Periodendauer
= =

genügt eine Dämpfungsmessung: T;es = 1/ Ires jeweils die gesamte elektrische Feld­
G 4n rt/}", mit t JpE/PS'
energie im Resonator in gleichviel magnetische
= =

Feldenergie umgewandelt wird und umgekehrt.


Da die Resonanzfrequenz
Zur Empfängerkalibrierung auf Transmissions­ Mittel der beiden 3-dB-Frequenzen ist (Bild 7) das geometrische
faktor t = 1 werden Sender und Empfänger ohne
Antennen direkt miteinander verbunden. Ires Jfl f2 ' liegt sie etwas unterhalb des
=

b) Eine zu messende Antenne mit Gx und eine Mittelwerts (fl + f2 )/2 = f s 1 + 1/(4 Q ). Für 2 re

Referenzantenne mit bekanntem Gewinn Gr ef : Es Q > 1 1 ist die Abweichung kleiner 1 %0'
sind zwei Dämpfungsmessungen bei gleichem Bei den Verlustleistungen im Resonator sind zu
Abstand r durchzuführen. Messung 1 ergibt den berücksichtigen: Stromwärmeverluste in den
Transmissionsfaktor trer in dB zwischen einer Leitero berflächen, dielektrische Verl uste, Ab-
Hilfsantenne (Bild 5) und der Referenzantenne.
Messung 2 ergibt tx in dB zwischen dem Meßob­
jekt und der Hilfsantenne. o l l g e m eine Reson o n z
durchsti mm borer

Gx/dB = 0,5 (tx/dB - trerldB) + G rldB


G e n erotor
re ,

G/dB = 1 0 Ig G . Ref lektometer

c) Drei Antennen mit unbekanntem Gewinn Gi'


G2 , G 3 : Es werden für jede Zweierkombination =

'- -
(also insgesamt drei) Dämpfungsmessungen I
durchgeführt (Meßentfernung konstant) : r
koax i a l er i n d u k t iv e

Gi 4nr t l 2 t1 3/(t23 }",). Typ I "'-...y.-----TT p [ Reson ator Ankopp l ung


=
( Parolle l - ( S eri e n - ( Typ I)
resonanz ) reso n o n z )
Antennen unter 100 MHz, Mobilfunkantennen. a b

Bei Antennen auf Fahrzeugen, an tragbaren Ge­ Bild 6. aBeispiele für den Verlauf der Ortskurve der Ein­
räten und bei Antennen für große Wellenlängen gangsimpedanz Ze eines Resonators im Smith-Diagramm;
(f < 1 00 MHz) ist die Rückwirkung der Umge- b Schaltungs beispiel zur Orts kurve Typ I
8 Spezielle Gebiete der Hochfrequenzmeßtechnik I 41
x
obstim m - / ,/, R e o k t o n z Xe
Dtimpfu n g s g l i ed Re sona- A m p li t u den-
barer
oder I solator tor ct detektor d e s R e sonotors
"
G e n erator

a Reso n o n z freq u en z fres


des Reson otors
20 Ig I I

3dB f
gemessene
B
Reson o n 7 - I n d u ktivität wL
f re q u enz fres M der A n ko p p l u n g
( n e g o t i v g e zei Chnet )

\
I
b I fres \ f
Bild 8.Imaginärteil der Eingangsimpedanz eines p A/2-
Bild 7 . a
Transmissionsmessung mit getrennter Ein- und Leitungsresonators mit TEM-Welle c.!ces bei Xe 0) und
Auskopplung ; b Betrag des Transmissionsfaktors in der
=

Einfluß der Induktivität der Ankopplung auf die Reso­


Umgebung der Resonanzfrequenz nanzfrequenz ( Ires. M bei (Xe + (j) LK) 0) =

strahlungsverluste und Ankopplungsverluste; quenz kapazitiv sind, kehren sich die Verhält-
bei der Ermittlung des Energieinhalts : Feldener­ msse um.

gie des Resonators, Feldenergie in der Einkopp­ Die gemessene Güte QM ist aufgrund der An­
lung und Auskopplung, magnetische Feldenergie kopplungsverluste immer kleiner als die unbela­
in den Leiteroberflächen. In Resonatoren hoher stete Güte Qo . Bei einer Lage der Resonanz­
Güte können durch die, verglichen mit der Ein­ schleife im Smith-Diagramm entsprechend der
speisung um den Faktor Q vergrößert auftreten­ Parallelresonanz in Bild 6, läßt sich ein Koppel­
den Ströme, Spannungen und Feldstärken örtli­ faktor k Re /ZL definieren, der im Fall einer
=

che Erwärmungen oder Glimmentladungen Transmissionsmessung mit Ein- und Auskopp­


auftreten. Weiterhin sind Störungen durch Tem­ lung in k = k 1 + k2 zerlegt werden kann. Die
peraturdehnung und Mikrophonie zu berück­ Leerlaufgüte Qo ergibt sich damit zu
sichtigen, Zusatzverluste durch Oberflächenrau­
higkeit sowie Einflüsse durch Kondenswasser Qo = QM (1 + k 1 + k2) = QM (l + k).
bzw. vom Dielektrikum aufgenommene Feuch­ Für den Sonderfall k = 1 ist der Resonator bei
tigkeit. Benachbarte Resonanzen sollten ausrei­ Resonanz an die ankoppelnde Leitung angepaßt
chend weit entfernt sein. Als Kriterium dafür (kritische Kopplung). Die Kopplung k läßt sich
kann benutzt werden, daß die betrachtete Kurve z. B. einstellen durch Ankoppelelemente, deren
unterhalb und oberhalb der Resonanzfrequenz Eintauchtiefe in den Resonanzraum variiert wer­
(z. B. über einen Bereich von 20 dB) symmetrisch den kann, und durch verdrehbare Koppelschlei­
verläuft. fen (s. Bild I 1.7). In der Regel mißt man bei loser
Bei Messungen an Resonatoren hoher Güte Kopplung, so daß die gemessenen Werte für j�es
müssen hochstabile, spektral reine Generator­ und Q näherungsweise gleich denen des unbela­
signale benutzt werden, ohne Harmonische, da steten Resonators sind.
im Resonator bei Vielfachen der Meßfrequenz in
der Regel ebenfalls Resonanzen auftreten , und
ohne Modulation (Diodenmeßkopf mit DC-De­ Meßverfahren. Am gebräuchlichsten ist die
tektion), sofern die Resonatorbandbreite kleiner n'ansmissionsmessung mit getrennter Ein- und
ist als die doppelte Modulationsfrequenz. Das Auskopplung (Bild 7). Der Koppelfaktor ergibt
Spektrum des Generatorsignals muß immer we­ sich aus dem Transmissionsfaktor t bei Resonanz
sentlich schmaler als die Resonanzkurve des zu
Meßobjekts sein. k = k 1 + k2 = t/[2 (1 - t)] .
Belastuug durch die Ankopph:mg. Durch die zur Die unbelastete Güte ist Qo = QM/(l - t). Der
Messung notwendige Ankopplung an den Reso­ relative Fehler der Gütemessung ist 6(Q) = - t,
nator werden Resonanzfrequenz und Güte so daß bei einer Durchgangsdämpfung von
verändert. Bild 8 zeigt am Beispiel der Eingangs­ 40 dB die gemessene Güte um 1 % unter der
impedanz eines p A/2-Leitungsresonators mit Leerlaufgüte liegt. Anstelle des Betrags von t, der
TEM-Welle, daß die Resonanzfrequenz durch bei f = j�es ein Maximum hat und damit die Stei­
induktive Ankopplung erhöht wird. Entspre­ gung 0, kann u. U. zur genaueren Bestimmung
chend verringert sie sich bei kapazitiver Ankopp­ von fres der Phasengang CPt (t) herangezogen wer­
lung (Korrektur z. B. durch Mittelwertbildung den, der bei f = fres seine größte Steigung hat.
der Ergebnisse beider Ankopplungsarten). Bei Zwischen Generator und Resonator ist in der
Resonatoren, die unterhalb der Resonanzfre- Regel eine Entkopplung notwendig (Bild 7), um
1 42 I Hochfrequenzmeßtechnik

I m Ze aus Q = n/( Az). Dabei sind die Zusatzverluste in


a
(j) den Enden des Resonators und durch die An­
kopplung nicht berücksichtigt. Die Güte eines
1" 5 ' , Resonators der Länge p }c/2 ist unabhängig von p.
res
o =
'---?-:-::
45:::- ' --
/
Sofern die gemessene Güte Q ausschließlich auf
ReZe
'
Stromwärmeverluste in den Leiteroberflächen
fres + B/ Z R =X
fres + BIZ
zurückzuführen ist und die Wandstärke groß ge­
gen das Eindringmaß ist, ergibt sich die Verände­
a b rung der Resonanzfrequenz aufgrund der induk­
Bild 9.Bestimmung von Güte und Resonanzfrequenz aus
tiven Oberflächenimpedanz (Skineffekt) der
der Ortskurve der Eingangsimpedanz. a Reflexionsfaktor­ Wände zu 111 = lres/(2 Q - 1).
ebene (Smith-Diagramm) ; b Impedanzebene Messung von Materialeigenschaften ( yJ mit
sn

Resonatoren in [26 30] .


R e so n Q to r
8 . 6 Messungen an SignalqueUen
Qbstimmb Qrer lr Qngep Q n ter Source measurernents
Genero tor Empfä n g e r
Linien konstanter Ausgangsleistung. Zur Mes­
Bild 10. Transmissionsmessung mit einer Ankopplung sung der Ausgangsleistung eines Generators
oder eines Verstärkers als Funktion der Lastim­
pedanz kann eine Schaltung nach Bild 1 1 be­
Mitzieheffekte beim Abstimmen des Generators nutzt werden [3 1]. Der Netzwerkanalysator zeigt
zu vermeiden. Bei Wobbelmessungen muß die die als jeweilige Belastung eingestellte Impedanz
Wobbelgeschwindigkeit langsam genug gewählt an. Die von der Signalquelle abgegebene Lei­
werden, um den Resonator vollständig ein­ stung ist PHin - PRück ' Die Kurven konstanter
schwingen zu lassen (vgl. 1 5.4). Ausgangsleistung (load-pull-diagram; Rieke­
Aus der Ortskurve der Eingangsimpedanz ergibt Diagramm) werden punktweise aufgenommen.
sich Ires aus der Symmetrieebene der Kreis­ Zusätzlich' sollte die Frequenz der Signalquelle
schleife und die Bandbreite B aus der Bedingung überwacht werden bzw. das Spektrum des Aus­
Re {Ze} = Im {Ze} bzw. <p (Ze) = 45° (Bild 9). gangssignals, um unerwünschte Betriebszustän­
Bei der losen Ankopplung eines Resonators an de eindeutig identifizieren zu können.
eine durchgehende Leitung (Bild 1 0) tritt bei Re­
sonanz ein Minimum des Transmissionsfaktors Innenwiderstand der SignalqueHe. Zur Messung
auf; Formeln in [9] . Der Einfluß der Verbindung der Quellenimpedanz Zo kann die Bedingung
zwischen Durchgangsleitung und Resonator benutzt werden, daß bei Abschluß mit Z = Z�
muß u. U. berücksichtigt werden. maximale Leistungsabgabe erfolgt. Dies ent­
spricht der Anzeige PHin - PRück Max. im Meß­
=

Modulationsverfahren. Im Meßaufbau nach aufbau nach Bild 1 1 . Sofern nur Zo gesucht ist,
Bild 7 kann die Bandbreite auch dadurch be­ wird nach dem Maximumabgleich der gesamte
stimmt werden, daß der Generator fest auf Ire s Meßaufbau von der Signalquelle getrennt und
abgestimmt ist und die Modulationsfrequenz seine Eingangsimpedanz Z� mit einem Netz­
(AM oder FM mit kleinem Modulationsindex) werkanalysator gemessen.
verändert wird. In den 3-dB-Punkten haben die
demodulierten Signale vor und hinter dem Reso­ Wobbelmessnng der Qnellemmpassnng. Für gut
nator jeweils 45° Phasenverschiebung. angepaßte Quellen, die mit einem Kurzschluß
Bei sehr großen Güten kann die Messung im vermessen werden können, ist der Meßaufbau
Zeitbereich durchgeführt werden. Der Generator nach Bild 1 2 einsetzbar. Wenn am Richtkoppler­
wird auf 1 = h es eingestellt und pulsmoduliert. ausgang eine Last mit rL angeschlossen ist, wird
Der Rechteckimpuls als Hüllkurve der Pulsmo­ die rücklaufende Welle an der Signalquelle
dulation wird beim Durchlaufen des Resonators reflektiert (rL ro) und am Nebenarm des Richt­
verzerrt. Die Zeitkonstante T = Q/(nhes) = kopplers erscheint 1 + rL ro. Wenn das Dämp­
1/(n B ) beim Einschwingen bzw. Abklingen der fungsglied die Dämpfung hat, wird die vom
ao

Hüllkurve des Ausgangssignals kann z. B. mit Detektor gemessene Leistung proportional zu


einem Oszilloskop gemessen werden. 20 19 1 1 + rd :o -ao . Zum Zeichnen von Kali­
brierlinien auf dem X-Y -Schreiber wird ein refle­
Leitungsresonatoren. Eine Leitung mit dem xionsfreier Abschluß angeschlossen (rL = 0). Die
Dämpfungsmaß und der Energiegeschwindig­
a Linie, die idealer Quellenanpassung entspricht,
keit VBhat als Leitungsresonator die Güte ergibt sich mit dem Dämpfungsglied in Stellung
Q = nf�es/( ) Für TEM -Wellenleiter wird dar-
CI. V B ' ao .Dann wird das Dämpfungsglied um jeweils
8 Spezielle Gebiete der Hochfrequenzmeßtechnik I 43

Leis t u n g s - Ne tzwer kana lys 0 t o r Lei s t u n g s -


m e ß geröt � ück Test Re!. m e ß g e röt � in

3 d B / 0' 3 dB/0'

Bezugsebene
(
zu u n ter-
I
suchende 2 0 dB 20 d B
I k o n ti n u i er l i ch
Signalquelle X X variob l e I m p e -
I d o n z ( Tu n e r )
� I
l o der I- "CI! 11'
-,

a a
I ,

u n z u l ä s s i g e r I m p e d o n z bereich l oder ,-_

\ -3 d B a
Y -l
dB
�� O d B

o =

Messung der Ortskurven kon­


Bild 1 1 .
-10 d B stanter Ausgangsleistung. a Meßaufbau;
b b Meßergebnis

ao --B+ X - Y - Schrei b e r
Pegel a-10 19 B
zu u n ter- K o li b rierung
such e n d e 20 d B ) I
S i g n o lq u e l l e X A n p ossung
iL 0 a
I
=


I
I �

versch l e b borel-

9--i K u rzsch l u ß M

Messung a f b

Bild 1 2 . Wobbelmessung der Quellenanpassung Erläuterung des Phasenrauschens eines Oszillators


Bild 13.
am Beispiel der Messung des Rauschspektrums mit dem
HF-Spektrumanalysator. a Anzeige am Spektrumanalysa­
tor (Meßbandbreite B) ; b Phasenrauschen in dBc in 1 Hz
als Funktion des Abstands i",f vom Träger
1 dB verkleinert bzw. vergrößert und die zuge­
hörigen Kalibrierlinien werden gezeichnet. Zur
Messung wird ein verschiebbarer Kurzschluß
angeschlossen (Dämpfungsglied in Stellung ) ao Sekunden und darunter werden als Frequenz­
und während eines Wobbelhubs möglichst häufig bzw. Phasenmodulation durch ein Rauschsignal
um mehr als ),/4 hin- und hergeschoben. MiJ interpretiert (Rausch-FM) und Phasenrauschen
YL = - 1 entsprechen die Maxima und Minima genannt [32, 33].
der Meßkurve einer Abweichung von der idealen
Quellenanpassung entsprechend 20 Ig (1 + YG) Messung mit dem HF-Spektmmanalysator. So­
- ao · fern das Amplitudenrauschen des Oszillators
(Rausch-AM) vernachlässigbar ist und das Pha­
Phasenrauschen. senrauschen des Meßobjekts größer ist als das
Bei der Beschreibung der Frequenzstabilität ei­ des ersten Überlagerungs oszillators im Spek­
nes Oszillators unterscheidet man zwischen trumanalysator, kann entsprechend Bild 1 3 der
Langzeitstabilität und Kurzzeitstabilität. Die Betrag des FM -Spektrums gemessen und darge­
Langzeitstabilität wird als relative Frequenz­ stellt werden. Die Seitenbandamplitude im Ab­
abweichung innerhalb eines festen Zeitraums stand I1f vom Träger wird relativ zum Träger
(1 Stunde bis 1 Jahr) angegeben, z. B. in der Form abgelesen (z. B. - 30 dBc in 1 0 kHz Abstand)
± 1 6 ppm/Tag = ± 1 6 · 1 0 - 6/Tag. Zur Mes­ und mit der Empfängerbandbreite B auf 1 Hz
sung wird der Momentanwert der Frequenz als Meßbandbreite umgerechnet (Ablesewert
Funktion der Zeit registriert, z. B. mit einem - 1 0 lg (B/Hz)). Dieser Zahlenwert mit der Ein­
Frequenzmesser mit Analogausgang und ange­ heit dBc in 1 Hz (häufig auch dBc/Hz), beschreibt
schlossenem x-t-Schreiber oder mit einem Spek­ das Phasenrauschen des Oszillators im Abstand
trumanalysator mit Speicherbildschirm. Fre­ I1f vom · Träger. Zur exakten Auswertung muß
quenzschwankungen in Zeiträumen von wenigen die Leistungsdichte auf die Gesamtleistung des
1 44 I Hochfrequenzmeßtechnik

Oszillators bezogen werden: M e f lo b j ekt


r-------1 sy m m . M isch e r a ls
� 90' - Ph asen d e t e k t o r
p,
Phasenrauschen in dBc in 1 Hz = 1 0 Ig ; ,
I Phase nschieber I
'- � rausch-
!i
Ref erenzqu elle @ Tief p a fl
I
armer N F-
Verstär ker
Pl = Einseitenbandleistungsdichte in 1 Hz in W, � r;


1 Phase n"1 -I 1
P = Gesamtleistung in W. �
L _ _ _ _
... -j r e g e l - r �I N F-S p e k t ru m -
I kreis I a n a lysator
Messung mit NF-FrequenzzähJer. Das zu unter­ L_ J

suchende Oszillatorsignal wird mit einem Mi­ Bild 15.


Messung des Phasenrauschens mit Referenzquelle
scher und einem stabileren Referenzoszillator in und Phasendetektor
eine niedrigere Frequenz fNF umgesetzt. Aus der
zeitlichen Anderung von fNF und aus der Meß­
zeit des Zählers wird das Phasenrauschen am Mischerausgang nur das Phasenrauschen
berechnet. Das Verfahren eignet sich für Mes­ (Bild 1 5). Mit diesem Verfahren werden die größ­
sungen in unmittelbarer Nähe des Trägers ten Empfindlichkeiten erreicht (z. B: 126 dBc -

(l'1f < 100 Hz . . . 1 0 kHz). in 1 Hz bei I'1f = 1 kHz) [12] .


Messung mit FM-Demodulator. Bild 14 zeigt Externe Güte eines Oszillators.
mögliche Meßaufbauten. Die Rauschgrenze Die nach außen wirksame Güte Qe xt eines HF­
steigt zum Träger hin mit 1 /l'1f 2 , so daß Quellen Oszillators (Frequenz I, Leistung P) kann ermit­
mit sehr kleinem Phasenrauschen nicht mehr telt werden durch Messen des Frequenzbereichs
gemessen werden können (Grenzwert z. B. 1'11, in dem seine Frequenz von einem durch­
- 1 00 dBc in 1 Hz bei I'1f = 1 kHz). Als FM-De­ stimmbaren Referenzoszillator mitgezogen wird
modulator werden Diskriminatorbrücken, Reso­ (frequency pull ; injection phase-lock). Bei Über­
natoren ho her Güte oder Verzögerungsleitungen kopplung einer Leistung .z::, ef gilt Qext =
mit Mischer als Phasendetektor benutzt. Inner­ 2 fJ.z::,edP/l'1f (B il d 1 6)_
halb des Betriebsbereichs des Demodulators hat
eine Frequenzdrift des Oszillators keinen Ein­
fluß. Die Kalibrierung erfolgt z. B. mit einem Spezielle Literatur : [1] Kraus, A . : Einführung in die Hoch­
FM -modulierten Testsignal mit bekannter Sei­ frequenzmeßtechnik. München : Pflaum 1 9 80. - [2] Groll,
tenbandamplitude « 20 dBc). Der FM-Demo­ H : Mikrowellenmeßtechnik. Wiesbaden : Vieweg 1 969. -
[3] Adam, S. F. : Microwave theory and applications. Eng­
dulator mit Verzögerungs leitung ist wenig emp­ lewood Cliffs : Prentice Hall 1 969. - [4] Schuon, E.; Wolf,
findlich gegen AM-Rauschen. (Zur Messung des H : Nachrichten-Meßtechnik. Berlin : Springer 1 987. - [5]
AM-Rauschens wird der Phasenschieber auf 0° Rubin, R. In : Jasik, H : Antenna engineering handbook.
gestellt.) Die Größe der Verzögerungszeit er­ New York : McGraw-Hill 1 96 1 . - [6] Grimm, K. R.: An­
gibt sich aus < 0,07/I'1f für Meßfehler < 1%
r tenna analysis by near-field measurements. Microwave J.
[10, 1 1]. NO. 4 (1 976) 43 -45, 52. - [7] King, R. J.: Microwave ho­
modyne systems. Stevenage : Peregrinus 1 9 7 8 . - [8] Colli­
Messung mit Referenzquelle. Das zu untersu­ gnon, G. et al : Quick microwave field mapping for large
antennas. Microwave J. No. 1 2 (1 982) 1 29 - 1 32. - [9] Ti­
chende Signal wird mit einem Referenzsignal scher, F. J. : Mikrowellen-Meßtechnik. Berlin : Springer
gleicher Frequenz und größerer Stabilität auf die 1958. - [10] Schiebold, c. : Theory and design of the delay
Zwischenfrequenz ° umgesetzt. Bei 90° Phasen­ line discriminator for phase noise measurements. Micro­
verschiebung zwischen beiden Signalen erscheint wave J. No. 1 2 (1983) 1 03 - 1 1 2. - [ 1 1 ] Labaar, F. : New
discriminator boosts phase-noise testing. Microwaves
NO. 3 (1 982) 6 5 -- 69 . - [1 2] Hewlett-Packard Product Note
i i 729 B-i : Phase noise characterization of microwave os­
Meflobj ekt cillators (1983). - [ 1 3] Kuz 'min, A . D.; Salomonovich, A . E.:
FM - rau sch armer Radioastronomical methods of antenna measurements.
I- ---. ..1 T i e f p a fl
--l Demodu lator --1 NF-Verstärker New York : Academic Press 1 966. - [14] Landstorfer, F. ;
'---"
-
;
/ Schäffel, P. : Eine Sonde zur Vermessung räumlicher elek­
/ � tromagnetischer Felder nach Betrag und Phase. Frequenz
NF- S p e k t r u m -
I--l FM -Demodula tor analy sator
/ \
/ \
; 9 0 ' - Ph a s e n ­ \ � a
frei + M/Z
/ sch i e b er \ Prel
'\
/

Referen z q u e l i e f + M/Z Fre q u e n z -


Verzöger u n g s ­ sy m m etrischer M i scher
[' zö h l er
l e i t u n g 't a l s Phasen detektor
� p /
M e flobjekt
f
Bild 1 4 . Messung des Phasenrauschens mit FM-Demodu­
lator Bild 16. Injektionsphasensynchronisierung CP' ef «: P)
9 Hochfrequenzmeßtechnik in speziellen Technologiebereichen I 45
38 ( 1 984) 224 -230. - [1 5] Zimmer, G. ; Wunder, H. G. : zu Koaxialleitungen bzw. Hohlleitern angewie­
Drahtlose H-Feldsonde für VHF und UHF mit Laser als sen. Mit dem Impulsreflektometer lassen sich
optischem Sender. Frequenz 39 (1 985) 272 - 277. -
[1 6] Bassen, H. 1. ; Smith, G. S. : Electric field probes - A .
Übersichtsmessungen durchführen und uner­
review. IEEE-AP 3 1 (1 983) 7 1 0 - 71 8 . - [17] Cuny, R. D. :
wünschte Störstellen orten. Die gemessenen Re­
H-Feld-Meßsonde. Frequenz 3 8 (1 984) 7 2 - 7 3 . - [1 8] Hoff, flexionsfaktoren sind Mittelwerte über den ge­
D. ; Türkner, R. H. : Feldstärkemeßsonde zur Beurteilung samten Frequenzbereich. Meßleitungsverfahren
der Personengefährdung im Nahfeld von leistungsstarken mit längsverschieblichen Sonden, die das Feld
Funksendern. Rundfunktechn. Mitteilungen 27 (1983) über der Microstripleitung ausmessen, sind pro­
1 7 1 - 1 7 8 . - [1 9] Stirner, E. : Antennen, Bd. 3 : Meßtech­ blematisch. Da z. B. für Gr :2: 10 über 95 % der
nik. Heidelberg : Hüthig 1 9 8 5 . - [20] Hollis, 1. S. ; Lyon, Energie im Dielektrikum geführt wird, ist das
T 1. ; Clayton, L. (Hrsg.) : Microwave antenna measure­
ments. Atlanta, GA : Scientific Atlanta 1 970. - [21] Rudge/
Außenfeld der Leitungswelle schwach. Die
Milne/Olver/Knigh t (Hrsg.) : The bandbook of antenna de­
Längskomponenten des Magnetfeldes und die
sign. 2 . Aufl. London : Peter Peregrinus 1986. - [22] Evans, von Inhomogenitäten abgestrahlten Felder er­
G. E. : Antenna measurement techniques. Dedham, MA : schweren die Messung. Die direkte Ermittlung
Artech House 1 990. - [23] Hansen, 1. E. (Hrsg.) : Spherical des Dämpfungsmaßes durch Messen des Trans­
CI.

near-field antenna measurements. London : Peter Peregri­ missionsfaktors t ist nur zweckmäßig, wenn der
nus 1 9 8 8 . - [24] Joy, E. B. : Near-field testing of radar Meßwert wesentlich größer ist als die Meßfehler
antennas. Microwave J. , Jan. ( 1 990) 1 1 9 - 1 30. - [25] Special durch (Mehrfach-)Reflexionen und Abstrahlung.
issue on nearfield measurements : IEEE-AP, Jun. 1 9 8 8 . -
[26] Deutsch, 1. ; Lange, K. : Bestimmung der dielek-
Die konstanten Adapterverluste lassen sich von
trischen Eigenschaften von Substraten für Mikrowellen­
den längenproportionalen Leitungsverlusten
Streifenleitungen mittels zylindrischer Hohlraumre­ trennen durch die Messung zweier ungleich
sonatoren. Frequenz 3 5 ( 1 9 8 1 ) 220 - 22 3 . - [27] Traut, langer Leitungen. Für die Meßwerte t1 und t2 in
R. G. : Modify test fixtures to determine PTFE dielectric dB bei Längen II und l 2 in cm ergibt sich
constant. Microwaves & RF, Febr. (1988) 1 1 5 - 1 24. -
[28] Kent, G. : Dielectric resonances for measuring dielec­ in dB/cm = (t 2 - t1 )/(l 2 - ll ) '
CI.
tric properties. Microwave J. , Oct. (1 988) 99 - 1 14. -
[29] Woolaver, G. 1. : Accurately measure dielectric con­ Zur genaueren Bestimmung der Wellenlänge )e
stant of soft substrates. Microwaves & RF, Aug. (1 990) und des Dämpfungsmaßes der Quasi-TEM­CI.
1 53 - 1 5 8 . - [30] Mayercik, M. E. : Resonant microstrip Grundwelle werden Resonatormessungen (s.
rings aid dielectric material testing. Microwaves & RF, 1 8. 5) ausgewertet [1 - 4] .
Apr. ( 1 9 9 1 ) 9 5 - 1 02 . - [3 1] Pollard/Pierpoint/ Maury/Simp­
son : Programmable tuner system characterizes gain and
noise. Microwaves & RF, May (1 987) 265 -269. - [32]
Linearer Resonator. Durch das Streufeld an den
Merigold, C. M. in Feher, K. (Hrsg.) : Telecommunications beiden leerlaufenden Enden des Resonators tre­
- measurements, analysis and instrumentation. New York : ten Meßfehler auf. Durch die Messung zweier
Prentice-Hall 1 987. - [33] Faulkner, T R. : Residual phase verschieden langer Resonatoren (Bild 1 a) läßt
noise measurement. Microwave J. (1 989) State of the art sich dieser eliminieren [5] .
reference, 1 3 5 - 1 43 .
Kreisringresonator. Durch Verwendung eines
Kreisringresonators (Bild 1 b) entfällt das Streu­
feldproblem [6, 1 7]. Der Einfluß der Krümmung
9 Hochfrequenzmeßtechnik kann entweder durch Berechnung des Wellen­
in speziellen T echnologiebereichen feides [1] berücksichtigt werden, oder er entfällt
dadurch, daß man kleine Krümmungsradien ver­
RF-measurements in specific meidet und D � wählt.
w

technologies In [7] ist ein Verfahren beschrieben, bei dem mit


einem Netzwerkanalysator in Koaxialtechnik
vier gleichartige, leerlaufende Leitungen unter-
9.1 Micro st ri pmeßtechnik
Measurements in microstrip
In Microstriptechnik lassen sich die für die Netz­
werkanalyse benötigten Eichnormale Leerlauf,
11
Kurzschluß und verschieblicher Abschluß nicht I I
bzw. nicht so präzise wie in der Koaxialtechnik D 12
w

herstellen [ 1 4, 1 6]. Da zudem Steckverbindungen I [3 - r----'


bzw. lösbare Flanschverbindungen zwischen Mi­
crostripleitungen fehlen, ist man auf Übergänge
a b c

Bild 1 .Resonatormessungen bei Microstripleitungen. a


zwei lineare Resonatoren (Länge nX/2) ; b Ringresonator
Spezielle Literatur Seite 1 4 9 (Umfang nA) ; C vier leerlaufende Leitungen
I 46 I Hochfrequenzmeßtechnik

T i ef -

)-1 p a rJ
• ,
X
0
X
, ID'--
-B+ [>1kHz
3 dB 3dB
AH
+- -!
,

0
SL 1 kHz
k a l i b r i e rte s D ö m p f u n g s g l i e d

JdB
X
HerJobjek t
k a l i b r i e r ter P h a s e n s c h i e b e r I Bild 2. Hohlleiterbrücke zur Messung
I
� K a l i b r i e ren von Betrag und Phase des Ref1exions­
faktors r

schiedlicher Länge gemessen werden (Bild 1 c). durch Tiefpaßfilter beseitigt, NF -Störungen und
Aus den vier Reflexionsfaktoren wird das Netzbrumm durch isolierende Folien zwischen
Phasenmaß ß berechnet, wo bei der Einfluß des zwei Planflanschen. Ein Leerlauf ist nicht reali­
nichtidealen Leerlaufs und des Adapters durch sierbar ; als Kalibriernormal mit r zwischen ° und
die Bildung des Doppelverhältnisses der vier 1 (VSWR-Standard) dienen Hohlleiter mit Quer­
komplexen Zahlen entfällt. schnittsprung, deren Eigenschaften mit den aus
Bei allen Messungen an Schaltungen in Micro­ den geometrischen Abmessungen berechneten
striptechnik sollten folgende Problembereiche gut übereinstimmen. Bei Meßaufbauten führt die
beachtet werden : definierte Umgebungsbedin­ starre Leitergeometrie häufig zu Passungs­
gungen (Gehäusedeckel), Abstrahlung von über­ problemen. Zu beachten sind Einflüsse durch
breiten Leiterstreifen, saubere Kontaktierung Wärmedehnung der Leitungen sowie Reflexions­
ohne transformierende Umwege zwischen Sub­ störungen durch unsauber montierte Flansch­
stratmasse und Gehäuse- bzw. Komponenten­ verbindungen. Für genaue Messungen werden
masse, Hohlraumresonanzen im Gehäuse, Planflansche benutzt.
Feuchtigkeitsaufnahme bei weichen Substraten
bzw. Kondenswasserbildung und thermisch, me­ Netzwerkanalyse. Für Betragsmessungen wer­
chanisch hervorgerufene Unterbrechungen. den Richtkoppler eingesetzt, in Schaltungen ent­
sprechend Bild 1 4. 1 . Für Messungen von r und t
nach Betrag und Phase lassen sich wegen der
9.2 HohUeiterrneßtechnik geringen Bandbreiten und der frequenzunabhän­
Waveguide measurements gigen, wiederverwendbaren Rechnerprogramme
besonders günstig Sechstor-Meßverfahren an­
Standard-Rechteckhohlleiter umfassen den Fre­ wenden [8 - 10], außerdem Brückenschaltungen
quenzbereich von 1 GHz bis 220 GHz bei Quer­ (Bild 1 3.9) und Netzwerkanalysatoren mit
schnittsabmessungen von 1 6 cm 8 cm bis x
Zweikanalmischern (Bild 1 3. 8 b). Bild 2 zeigt
1,3 mm 0,65 mm (Doppelsteghohlleiter von 1
x
eine Brücke zur punktweisen Messung von Be­
bis 40 GHz). Am häufigsten eingesetzt wird der trag und Phase des Reflexionsfaktors. Die Ka­
Hohlleiter R 100, mit dem Betriebsfrequenz­ librierung erfolgt mit einem Kurzschluß. Zur
bereich 8,2 bis 1 2,4 GHz (X-Band). Dement­ Steigerung der Empfindlichkeit wird NF-Substi­
sprechend steht hier die größte Auswahl an Prä­ tution benutzt. Bild 3 zeigt eine Brücke für Wob­
zisionskomponenten für die Meßtechnik zur belmessungen mit ZF-Substitution [1 1]. Um
Verfügung. Kennzeichnend für Messungen in einen handelsüblichen, koaxialen Netzwerkana-
Hohlleitertechnik ist, daß bei Wechsel des Hohl­
leiterfrequenzbandes fast alle Komponenten der
Meßaufbauten ausgetauscht werden müssen, da r/ Ein s t e l l e n der Bezu g s e b ene
,

sie jeweils nur für einen Hohlleiterquerschnitt ge­ L X


ZOdB
{x) Re!.
ko a x i a l e r
eignet sind. Wegen der geringen relativen Band­ • N e tzwerk-
breite von 40 % bei Rechteckhohlleitern (80 bis
,

a n a lysa tor
94 % bei Doppelsteghohlleitern) lassen sich viele ,
,
x?
:>
Te s t
Komponenten mit höherer Präzision realisieren JdB 10 dB

als bei anderen Leitungsformen (z. B. Richtkopp­ >-H - .....H---,X'-'-----"i--.c..X::'--l---I H e n 0 b j e k t


ler mit 50 dB Richtwirkung, Abschlußwiderstän­ '-"
I
I
de mit r < 0,5 % , Dämpfungsglieder und Pha­ � Kalib rieren
senschieber mit r < 2,5 %), was besonders im
Bereich von 8 bis 26 GHz zu höherer Meßgenau­ Bild 3. Messung von Betrag und Phase des Ref1exionsfak­
igkeit ohne zusätzlichen Aufwand führt. tors r im Millimeterwellenbereich mit zusätzlicher Fre-
-

Harmonische der Signalgeneratoren werden quenzumsetzung


9 Hochfrequenzmeßtechnik in speziellen Technologiebereichen I 47
M a g i e Tee
,
••

Uberla gerungs- ><



--B+ 1
Messung von
1DdB
o s z i l lator / Betrog u n d
\
. -
M i scher
/ '
� � � •
Phase i m Bild 4. Messung von Betrag und Phase
/ 10 dB \ ZF- Bereich des Transmissionsfaktors t im Millime­
oe-Block X terwellenbereich mit zusätzlicher Fre-
, --B+ 7i
,

.JL
M e n o b j ekt , • •

quenzumsetzung

• ,/ Ein s t e l l e n d e r B e zug sebene ( i )

X x
....1 D d B t 10 dB Re!.
• 5dB /
koax'l a l e r
..;-__
� r-t_""X Netzwerk -
X
5dB �
r
analysator
10 dB 10 dB Te s t
Menobjekt f ü r - X Lei t u n g f ü r
x
-
r Messung
I L- M e s s u n g
I Rich t k o p p l e r z u r D ä m pf u n g
I I
der vom M i schereingong
I
:
Ka l i b r i e ren (I ) I
Bild 5. Meßbrücke für r mit angeschlos­
Menobjekt für
+-1 r e f l ektierten W e l l e n senem koaxialen Netzwerkanalysator
I 1.. - M e s s u n g
I (bis 60 GHz)

lysator (mit Zweikanalmischer) einsetzen zu kön­ Wobbelmessungen stehen abstimmbare Farb­


nen, wird für höhere Frequenzen eine weitere stofflaser oder Weißlichtquellen (Halogen-, Xe­
Frequenzumsetzung vorgeschaltet (Bild 4). Die nonlampen) mit vorgeschaltetem, abstimmba­
Hohlleiterbrücke in Bild 5 ist für Wobbelmessun­ rem Bandpaß (Monochromator, spektrale Breite
gen des Reflexionsfaktors r geeignet. Zur Mes­ 2 bis 8 nm) zur Verfügung. Wobbelgeneratoren
sung des Transmissionsfaktors t wird der gesam­ mit Laserdioden für die Netzwerkanalyse haben
te linke Schaltungsteil ersetzt durch einen Durchstimmbereiche bis zu 100 GHz.
Generator mit angeschlossener angepaßter, ent­ Über Lichtwellenleiter werden praktisch aus­
koppelter E-H-Verzweigung (Magic Tee), wie in schließlich digitale Signale übertragen. Die Si­
Bild 4. Damit wird die für diese Messung not­ gnalquellen werden zu diesem Zweck intensi­
wendige Quellenanpassung erreicht. ' tätsmoduliert (ein- und ausgeschaltet). Die
Bei bei den Meßaufbauten lassen sich systemati­ maximal erreichten Pulsfolgefrequenzen liegen
sche Fehler des Meßaufbaus (z. B. durch Über­ bei 25 GHz mit InGaAsP-Lasern.
gänge auf Koaxialleitung) mit rechnerischer Feh­
lerkorrektur beseitigen (s. 1 4.2). Lichternpfänger, Leistungsmessung. Zur Um­
wandlung von Lichtsignalen in elektrischen
Strom dienen Photo-Pin-Dioden und Photo-La­
9.3 Lichtwellenleiter-Meßtechnik winen-Dioden (APD) aus Si, Ge, PbS oder GaAs.
Optical fiber measurement techniques Pin-Dioden aus Ge und Si zeigen einen nä­
herungsweise linearen Zusammenhang zwischen
Im interessierenden Wellenlängen bereich der Strom und einfallender Lichtleistung (Dynamik­
Optoelektronik von 600 nm (200 nm) bis bereich etwa 60 dB, Meßbereich bis - 80 dBm)
1 .800 nm werden Monomodefasern, Gradienten­ und Grenzfrequenzen bis 100 bzw. 300 MHz.
fasern und Stufenindexfasern unterschiedlichster Mit InGaAs-Pin-Dioden werden 36 GHz er­
Abmessungen benutzt. Am häufigsten eingesetzt reicht. Lawinendioden zeigen geringere Lineari­
wird die Gradientenfaser G 50/125 mit 50 11m tät, weniger Rauschen und Verstärkungs-Band­
Kern- und 125 11m Manteldurchmesser. Bei den breite-Produkte bis 200 GHz.
Wellenlängenbereichen sind 850 nm am ge­
bräuchlichsten, gefolgt von 1.300 nm und Dämpfungsmessung.
1 .550 nm. Insofern sind viele Komponenten und Bild 6 zeigt den Aufbau eines Senders für Mes­
Meßgeräte nur für einen Fasertyp und/oder nur sungen an Gradientenfasern. Die Lichtquelle
für eine Wellenlänge einsetzbar [12, 1 3, 15]. wird moduliert, um das Empfangssignal mit ein­
fachen Mitteln selektiv verstärken zu können
Lichtquellen. Als nicht in der Frequenz veränder­ (NF -Substitution). Zur Erzeugung definierter
bare Quellen werden lichtemittierende Dioden Einkoppelbedingungen in der Bezugsebene der
(LED, Lumineszenzdiode) mit einer spektralen Messung wird eine Vorlauffaser (vom gleichen
Breite von 20 bis 1 50 nm, Laserdioden (Halblei­ Typ wie das Meßobjekt) benutzt. Damit soll sich
terlaser) mit etwa 1 bis 2 nm, sowie kohärente, am Senderausgang eine gleichmäßige Aufteilung
monochromatische Gaslaser eingesetzt. Für �
der Lichtleistung auf die faserspezifischen Wel-
I 48 I Hochfrequenzmeßtechnik

LW L -
Stecker

Te m p e r o t u r- I
M o n t e l m o den - I
l
'D I
reg e l u n g � o b s trei f er
Modenmischer
I
ä m pf u s I
Sende - Einkopp e l - g l ied I G ro u ­
fi I t er ) z u r
! z.B. 1 0 0 0 m z.B. Fo s e r -
sch l ei fe in Im-
I
di ode op t i k

I .Ji Vo r i o u ff 0 sero I

I
••

t koPplun mersio n s - O l
Am p li t u d en -
ou fgewick e l t
oder schworzer I
I
regelung Ring
I
Puls - 1

Signalquelle für Messungen an


mod ulotor m echJu s tier­ Bild 6.
m ög l i c h k e i t Gradientenfasern

lentypen einstellen (Modengleichgewicht), die co


<::J

. '0:
V
E i n k o p p l u ng
notwendig ist, um längenproportionale Dämp­ =

fungswerte messen zu können. c:::


:::J

Einfügungsdämpfung. Nach der Verbindung von . '='


=
/
Splein � S teck-
I verbin d u n g
Sender und Empfänger über ein sehr kurzes Fa­ �

I
y Foser­

serstück (Eichung ° dB) wird das Meßobjekt ein­ ende


CD

:::J
CD

gefügt und die Durchgangsdämpfung gemessen. �


� I-'� E i n k o p p l u n g
Abschneideverfahren (cut-back-method).
u

Nach­ :2 u n terdrückt
dem die Leistung P1 am Ausgang des Meßobjekts Fos er m i t 2 d B / km

der zumeist großen Länge II gemessen wurde, 1

wird die Faser etwa lo = 1 m . . . 20 m vom Sen­ o l km 2 km O rt

der entfernt abgeschnitten. Am Ausgang dieser Bild 7. Rückstreudiagramm mit typischen Werten
sehr kurzen Referenzlänge lo wird die Leistung Po
gemessen.
Reflexionsfaktor von r = ( er - 1 )/( er + 1 )
= 0,2 erzeugt, sind die auftretenden Echoampli­
Durch das Zurückschneiden der Faser von II auf tuden relativ klein. Zur Ortung von Faserbrü­
lo bleibt die Einkoppelstelle unverändert. Das chen und zur Kontrolle von Spleißverbindungen
erneute Justieren des Empfängers (auf max. An­ werden das optische TDR und das empfindli­
zeige) ist bei großflächiger Empfangsdiode unkri­ chere Rückstreuverfahren eingesetzt (Bild 7).
tisch. Optische Impulsreflektometer für 850, 1 .300 und
1 . 550 nm haben bei einer Ortsauflösung von 1 m
Impulsreflektometer (OTDR). Messung mit Entfernungsmeßbereiche bis zu 200 km (Dyna­
Sampling-Oszilloskop entsprechend I 8.2. Zur mikbereich etwa 28 dB) und bei einer Ortsauflö­
Auskopplung der reflektierten Welle werden sung von 1 0 cm Entfernungsmeßbereiche bis zu
Strahlteiler bzw. LWL-Richtkoppler benutzt. 1 5 km. Durch Umrechnen von Meßwerten, die
Die Pulslängen sind B. 3 oder 1 5 ns, was bei
Z.
mit einem optischen Netzwerkanalysator [19J im
einem er . LWL = 2,07 . . . 2,25 einer Ausdehnung Frequenzbereich gewonnen wurden, in den Zeit­
von 0,6 bzw. 3 m entspricht. Ausgewertet wird bereich (s. I 4.9) können ebenfalls Ort und Am­
die längenabhängige Abnahme der Amplitude plitude von Reflexionsstellen in optischen Kom­
des Echos einer definierten Reflexionsstelle [1 8J. ponenten und in Lichtwellenleitern gemessen
werden (Auflösung 2 mm, Bereich 40 km).
Rückstreuverfahren. Das Dämpfungsmaß der
Faser + KRj),4 enthält neben einem kon­
Ci � Ci o
Dispersion, Übertragungsflmktion. Zur Messung
stanten Anteil Cio einen Anteil ", 1 /),4 durch dif­ der Dispersion einer Faser wird die Verbreite­
fuse Lichtstreuung im Glas (Rayleigh-Streuung). rung eines Impulses der (z. B. Halbwerts�)Breite
Erhöht man die Empfängerempfindlichkeit des To ( < 1 ns) nach Durchlaufen der Faserlänge l1
Impulsreflektometers durch Korrelationsverfah­ (Breite Tl) bzw. l 2 (Breite T2) gemessen. Die
ren (Boxcar-Integrator), so kann man die Ampli­ Impulsverbreiterung/Längeneinheit ergibt sich
tude des rückgestreuten Lichts als Funktion der dann zu T' = Tl - T/!(l2 - l1)' Aus der Im­
Zeit auswerten und erhält die Faserdämpfung als puls verbreiterung (pulse spreading) definiert
Funktion des Orts (Bild 7). man die B.<;tndbreite B einer Faser der Länge l
bzw. die Ubertragungskapazität für Digitalsi­
Fehlerortung. Da ein senkrecht zur
Faser verlau­ gnale zu B < 1 /(2 T' l). Wegen der großen Band­
fender Bruch mit Übergang zur Luft nur einen breiten sind Meßverfahren im Frequenzbereich
1 0 Rechnergesteuertes Messen I 49
mit sinusförmig moduliertem Sender seltener. Impedanzmessung bei Millimeterwellen mit einer einfa­
Zur Ermittlung der Übertragungsfunktion R (w) chen Sechstor-Schaltung. NTZ-Arch. 2 (19 80) 9 5 - 99 . - [9]
werden die Zeitfunktionen f1 (t) und f2 (t) der Riblet, G. P.: A compact waveguide "resolver" for the ac­
curate measurement of complex reflection and transmis­
Impulsantworten einer Faserlänge 1 1 bzw. 12 ge­ sion coefficients using the six-port measurement concept.
messen (Sampling-Oszilloskop + Speicher). Die
Ubertragungsfunktion R (w ) ergibt sich nach
• • IEEE Trans. MTT-29 ( 1 9 8 1 ) 1 5 5 - 1 62. - [10] Martin, E.;
Margineda, J.; Zamarro, J. M.: An automatic network
Betrag und Phase als Quotient der Fourier­ analyzer using a slotted line reflectometer. IEEE Trans.
Transformierten 0\ (w)/(72 (w), wobei G (w) die MTT-30 (1 982) 667- 670. - [ 1 1 ] Kohl, W ; Olbrich, G.:
Fourier-Transformierte von f(t) ist. Breitbandiges Impedanzmeßverfahren im Frequenzbereich
25,5 -40 GHz (Ka -Band) durch Erweiterung eines Netz­
Abstrahlcharakteristik, numerische Apertur. werkanalysators. NTZ-Arch. 2 ( 1 980) 1 27 - 1 30. - [12]
Marcuse, D.: Principles of optical fiber measurements.
Analog zur Messung des Strahlungsdiagramms New York : Academic Press 1 9 8 1 . - [13] NTG-Fachber.
einer Antenne (s. 1 8.4) wird das Fernfeld eines Bd. 75 : Meßtechnik in der optischen Nachrichtentechnik.
offenen Faserendes mit einer kleinen Empfangs­ Berlin : VDE-Verlag 1980. - [14] KindleI', K. : Abschätzung
diode ausgemessen. Der Sinus des Winkels 9, der Fehler bei der Streuparameter-Messung von Streifen­
bei dem die Lichtintensität auf z. B. 1 0 %, 35 % leitungs-Komponenten mit Hilfe automatischer Netzwerk­
oder 50 % abgesunken ist, wird als numerische Analysatoren. Frequenz 41 (1987) 1 6 8 - 1 72 (Messung),
Apertur NA bezeichnet. Bei Nahfeldmessungen 1 9 7 - 200 (Kalibrierung). - [1 5] Bludau, w. ; Gündner,
H. M. ; Kaiser, M. : Systemgrundlagen und Meßtechnik in
(z. B. zur Bestimmung des Brechzahlprofils, der der optischen Übertragungstechnik. Stuttgart : Teubner
Modenverteilung oder des effektiven Kerndurch­ 1 9 8 5 . - [ 1 6] Curran, J : Applying TRL calibration for non­
messers) wird das offene Ende mit einem Mikro­ co axial measurements. Stuttgart : Teubner 1 9 8 5 . - [17]
skop vergrößert abgebildet und dann ausgemes­ Mayercik, M. E. : Resonant microstrip rings aid dielectric
sen. material testing. Microwaves & RF, Apr. (1991) 9 5 - 102.
- [18] Fleischer-Reumann, M. ; Sischka, F. : A high-speed
Spektralanalyse. Mit empfindlichen Monochro­ optical time-domain reflectometer with improved dynamic
matoren läßt sich die Leistung als Funktion der range. Hewlett-Packard 1. , Dec. (1 988) 6 - 21 . - [19] Wong/
Hernday/Hart/Conrad : High-speed lightwave component
Wellenlänge mit Auflösungen weit unter 1 nm analysis . Hewlett-Packard 1. , Jun. (1 989) 3 5 - 5 1 .
messen. Elektrisch abstimmbare Fabry-Perot­
Resonatoren ermöglichen Auflösungen von
1 0 MHz bei Abstimmbereichen von 2 GHz. 1 0 Rec.hnergesteuertes Messen
Breitbandige optische Spektrumanalysatoren
haben Auflösungen bis herab zu 1 00 MHz Automated test
(0,8 pm), Darstellbereiche bis zu 500 nm und Pe­
gelbereiche zwischen + 1 0 dBm und - 70 dBm.
Mit schmalbandigen Analysegeräten werden bei 1 0.1 Übersicht
1 . 300 nm und bei 1 . 550 nm Auflösungen bis zu Survey
20 kHz erreicht.
Zur Messung der Intensitätsmodulation eines Die einfachste Form eines Meßsystems ergibt
optischen Signals werden Mikrowellen-Spek­ sich, wenn beispielsweise ein Plotter an ein Digi­
trumanalysatoren mit einem vorgeschalteten taloszilloskop angeschlossen wird, um den Bild­
breitbandigen, kalibrierten Demodulator (OIE schirminhalt auf ein Blatt Papier zu übertragen.
converter) benutzt. Der Demodulator setzt das Schließt man an einen solchen Meßplatz noch
optische Signal in ein amplitudenmoduliertes einen Digitalrechner an, so kann man sowohl die
elektrisches Signal um, und der Spektrumanaly­ Meßwertverarbeitung als auch die Meßwerter­
sator ermöglicht die kalibrierte Messung der fassung und Meßwertausgabe (Dokumentation
Rauschpegel und der Spektrallinien der Modula­ und Speicherung) rechnergesteuert durchf��ren.
tion. Komplizierte Meßaufgaben, wie etwa das Uber­
wachen von Kommunikationskanälen (Satelli­
tenverbindung, Funksystem etc.), die Qualitäts­
Spezielle Literatur : [1] Wolf!, 1 .: Einführung in die
kontrolle von HF-Geräten am Ende der
Mikrostrip-Leitungstechnik. Aachen : Wolff 1 9 7 8 . - [2] Produktion, die regelmäßige Überprüfung kom­
Gupta; Garg ; Bahl: Microstrip lines and slotlines. Ded­ plexer Systeme während des Betriebs (built in test
harn: Artech 1 979. - [3] Hoffinann, R. K. : Integrierte BIT), EMV-Serientests oder die Funktionskon­
Mikrowellen-Schaltungen. Berlin : Springer 1 9 8 3 . - [4] trolle der kompletten Avionik eines Flugzeugs,
Frey, J.: Microwave integrated circuits. Dedham : Artech machen den Einsatz von rechnergesteuerten
1 9 7 5 . - [5] Deutsch, J.; Jung, H. J.: Messung der effektiven Meßplätzen (automated test equipment ATE)
Dielektrizitätszahl von Mikrostrip-Leitungen im Fre­
q uenzbereich von 2 - 1 2 GHz. NTZ 23 (1 970) 620 - 624. -
unabdingbar. Ein weiterer Grund, der dazu bei­
[6] Troughtol1, P.: Measurement techniques in microstrip.
getragen hat, daß die Rechnersteuerung sehr
Electron. Lett. 5 (1969) 2 5 - 26. - [7] Bianco, B.; Parodi, M. : schnell und unproblematisch in die Meßtechnik
Measurement of the effective relative permittivities of mi­
crostrip. Electron. Lett. 1 1 (1 975) 71 - 72. - [8] Kohl, W: Spezielle Literatur Seite 1 54
I 50 I Hochfrequenzmeßtechnik

Eingang gefunden hat, ist die Zunahme der digi­ Testsystem zusammenzustellen. Neben diesen
talen Signalverarbeitung innerhalb moderner beiden Systemen, die im folgenden kurz vorge­
Meßgeräte. Infolgedessen ist kein nennenswerter stellt werden, existieren noch weitere Systeme zur
zusätzlicher Aufwand notwendig, um ein Digital­ Meßgerätesteuerung, die jedoch entweder nur
oszilloskop, einen Sythesizer oder einen intern von einer Herstellerfirma angeboten werden oder
mikroprozessorgesteuerten Spektrumanalysator eine weitaus geringere Verbreitung bisher gefun­
mit einer Rechnerschnittstelle auszurüsten [6 -8, den haben. VXlbus und MMS sind verwandte
1 3 - 1 9]. Architekturen. Sie können miteinander kombi­
Die Entwicklung der Rechnersteuerung in der niert werden, beispielsweise in einem übergeord­
Meßtechnik wurde auch wesentlich dadurch er­ neten IEC-Bus-System.
leichtert, daß die notwendige Rechnerkapazität, Für die Zukunft sind virtuelle Meßgeräte ge­
verglichen mit den Kosten der HF- und Mikro­ plant, wie sie im Elektronikbereich auch zum Teil
wellenmeßgeräte, stets sehr preiswert war. So schon realisiert wurden : Eine Teilgruppe eines
entstand zunächst der IEC-Bus, ein Verbin­ Systems universell einsetzbarer Meßgeräte- und
dungssystem zwischen systemfähigen, eigenstän­ Steuerungsmodule wird zunächst entsprechend
digen Meßgeräten, Rechnern und Rechnerperi­ einer bestimmten Meßaufgabe (zum Beispiel
pheriegeräten. Messen der Rauschzahl eines Empfängers) rech­
Die konsequente Weiterentwicklung der Auto­ nergesteuert miteinander verbunden. Anschlie­
matisierung führte dann zu Meßgeräten, die nur ßend erfolgt der eigentliche Meßvorgang, eben­
noch rechnergesteuert benutzbar waren, ohne falls rechnergesteuert. Für spätere, andersartige
Netzteil und ohne Frontplatte. Bedienteil und Meßaufgaben (zum Beispiel Messen des Ein­
Anzeigeteil wurden in den Rechner verlagert. So schwing- und Übersteuerungsverhaltens des glei­
entstanden zum einen preiswerte Meßgeräte, die chen Empfängers) werden die Module einer an­
als Zusatzkarte in einen PC eingesetzt werden, deren Teilgruppe des gleichen Meßsystems vom
und zum anderen Meßgeräte in Modulbauweise Rechner neu konfiguriert.
(modular automated test equipment MATE) wie
beim VXlbus-System und beim modularen
Meßsystem (MMS), die in einem speziellen 10.2 RS232-Schnittstelle
Grundgerät zu einem automatischen Meßplatz
zusammengestellt werden können. RS232 iriterface
Meßgeräten als Erweiterungskarte für den PC
sind enge Grenzen gesetzt : Die elektromagne­ Die RS232-Schnittstelle (andere Bezeichnung:
tische Verträglichkeit mit den Nachbarkarten EIA RS-232-C, CCITT V.24, V 24, V.28) ist die
schafft Probleme, und das Netzteil des Rechners übliche serielle Schnittstelle eines Rechners [1, 4,
muß ausreichend dimensioniert sein. Außerdem 9 - 1 1]. Normalerweise ist jeder Rechner serien­
existieren vielfältige Rechnertypen und ein be­ mäßig mit einer oder zwei solcher Schnittstellen
ständiger Modellwechsel, was den universellen ausgerüstet. Sie dient primär dem Anschluß eines
Einsatz solcher Karten erschwert. Peripheriegeräts, der Verbindung mit einem an­
Der VXlbus ist eine Erweiterung des VMEbus deren Rechner oder zur Datenübertragung mit­
für Meßgeräte. DerVMEbus (VERSA module tels Modem, z. B. über eine Fernsprechleitung.
europe) ist ein Rechnerbus, der auf dem um 1979 Sie eignet sich ebenfalls zum Anschluß eines
von der Firma Motorola, USA, entwickelten Meßgeräts. Die Datenübertragung erfolgt asyn­
VERSAbus basiert. Er wird für industrielle Rege­ chron, in beiden Richtungen abwechselnd, bit-se­
lung und Steuerung eingesetzt. VXIbus-Geräte riell und byte-seriell. Die Logikpegel sind + 3 V
sind Eurokassetten ohne Frontplatte und Netz­ bis + 1 5 V für logisch 0 und - 3 V bis - 1 5 V für
teil, die in ein 1 9-Zoll-Grundgerät eingebaut wer­ logisch 1.
den. Im Unterschied zu den IEC-Bus-Meßgerä­ Die Schnittstellenparameter, unter anderem
ten sind VXlbus-Geräte, obwohl sie nennenswert die Übertragungsgeschwindigkeit (75 Baud bis
weniger Raum einnehmen, auf einem deutlich 38.400 Baud) und die Zeichenlänge, auf die das
höheren Preisniveau. Dies liegt einmal daran, angeschlossene Gerät eingestellt ist, werden dem
daß der VXlbus wesentlich leistungsfähiger, Rechner vor der Datenübertragung in Form ei­
schneller und flexibler als der IEC-Bus ist, und ner Programmzeile mitgeteilt. Eine solche Zeile
zum anderen daran, daß diese Geräte primär für lautet z. B. in GW-Basic:
umfangreiche Testsysteme und zunächst mit dem "
OPEN ''COMl : 1 200, N, 8, 1 AS # 1 .
Schwerpunkt bei militärischen Anwendungen
entstanden. Pro Schnittstelle kann jeweils ein Gerät an­
Der VXlbus und das speziell für den Mikro­ geschlossen werden. Es sind verschiedene Stek­
wellenbereich gedachte MMS sind offene Sy­ kertypen in Gebrauch. Üblich ist ein 25-poliger
stemarchitekturen. Sie bieten die Möglichkeit, (9-poliger) Steckverbinder. Für eine Datenver­
Meßgeräte verschiedener Hersteller in einem ge­ bindung wird minimal eine Zweidrahtleitung be­
meinsamen Grundgerät zu einem individuellen nötigt. Das Standardkabel enthält 5 Adern : zwei
1 0 Rechnergesteuertes Messen I 51
Datenleitungen zum Senden und Empfangen, besteuerung (Handshake-Leitungen) und 5 Lei­
zwei Handshake-Leitungen und die gemeinsame tungen für die Schnittstellensteuerung.
Masse. Die maximal zulässige Länge des Verbin­ Zum Aufbau eines automatischen Meßplatzes
dungskabels (z. B. 1 0 m) ist abhängig von den an eignet sich praktisch jeder Rechner (1 6-Bit-PC
beiden Enden angeschlossenen Leitungstreibern oder 32-Bit-Arbeitsplatzrechner), der durch eine
und -empfängern, von der Baudrate und vom einfache IEC-Bus-Karte erweitert wird. Spezielle
Störpegel, dem die Verbindung ausgesetzt ist. IEC-Bus-Karten mit zusätzlichen Mikroprozes­
soren und spezielle IEC-Bus-Steuerrechner sind
nur in Sonderfällen notwendig. Die anzuschlie­
1 0.3 lEe-Bus ßenden Geräte müssen ebenfalls für den rechner­
gesteuerten Betrieb geeignet sein und über einen
Der IEC-Bus (andere Bezeichnung : Hewlett­ IEC-Bus-Anschluß verfügen. Dabei gibt es fol­
Packard Interface Bus HP-IB, General Purpose gende Möglichkeiten :
Interface Bus GPIB, IEC-625, IEEE-488) wurde a) Das Meßgerät empfängt nur Daten (Listener)
1972 von der Firma Hewlett-Packard, USA, für bzw. es wird nur vom Rechner eingestellt (z. B.
die Steuerung von Meßgeräten mit einem Digi­ Wobbelgenerator, HF -Schalter);
talrechner eingeführt [2 -4, 9, 1 0, 1 2]. Die digitale b) das Meßgerät sendet nur Daten, sobald es
Schnittstelle für programmierbare Geräte wurde vom Rechner abgefragt wird (Talker) (z. B.
später zur Norm erhoben entsprechend IEEE Zähler, Leistungsmeßgerät);
488.1 , IEC 625-1 , DIN IEC 625 und ANSI-MC c) das Meßgerät sendet und empfängt (Listener/
1 . 1 . Der IEC-Bus verbindet Rechner mit Meß­ Talker) (z. B. Multimeter, Spektrumanaly­
geräten und Peripheriegeräten (Bild 1 ). Über ge­ sator) ;
normte 24-polige Steckverbinder werden bis zu d) der angeschlossene Meßplatz (z. B. Netzwerk­
1 5 Geräte mit 24-adrigen Verbindungs kabeln Ue­ analysator) besteht aus mehreren, über einen
weils maximal 4 m lang) parallelgeschaltet. Die internen Systembus verbundenen Geräten
größte zulässige Entfernung ist 20 m. Für mehr und kann sowohl senden als auch empfangen
anzuschließende Geräte und größere Entfernun­ und gegebenenfalls bei inaktivem externen
gen (z. B. Übertragung über Fernsprechleitungen Rechner auch steuern (Listener/Talker/Con­
oder Lichtwellenleiter) werden Zusatzgeräte be­ troller).
nötigt.
Die Datenübertragung erfolgt asynchron mit Die Datenübertragungsgeschwindigkeit beträgt
TTL-Pegel. Es darf jeweils nur ein Gerät senden. maximal 1 MByte/s. Sie ist jedoch sehr stark von
Mögliche Geräteverbindungen sind: den verwendeten Meßgeräten abhängig. Das
a) Meßgerät(e) + Datenendgerät(e) (z. B. Druk­ langsamste Gerät bestimmt die Übertragungs­
kerl, geschwindigkeit. Die Dauer einer Abfrage liegt
b) 1 Rechner + Peripheriegerät(e) (z. B. Plotter), typischerweise im Bereich von Millisekunden.
c) 1 Rechner + Meßgerät(e) + Peripheriegerä- Jedes Gerät wird über seine Adresse gezielt ange­
t(e). sprochen. Die Adresse, in der Regel eine Zahl
zwischen ° und 30, wird an jedem Gerät von
Falls mehrere Rechner an den Bus angeschlossen Hand eingestellt. Am gleichen Bus dürfen nicht
werden, darf nur jeweils einer aktiv sein. Die zwei Geräte mit der gleichen Adresse angeschlos-
Meßdaten werden über 8 Datenleitungen bit-pa­ sen sem.

rallel und byte-seriell entweder vom Rechner zu Der IEC-Bus stellt nur die Verbindung zwischen
einem Meßgerät oder von einem Meßgerät zum Rechner und Meßgeräten zur Verfügung. Die
Rechner übertragen. Das Verbindungskabel ent­ Programmiersprache ist vom Nutzer frei wähl­
hält außerdem noch 3 Leitungen für die Überga- bar. Es wird überwiegend Basic benutzt. Die
Programmierbefehle sind unterschiedlich, ab­
hängig vom Meßgerätehersteller und von der
verwendeten IEC-Bus-Karte im Rechner. Da­
I B - Kabel�
durch ergeben sich häufig zeitraubende Start­
Disketten-
Plotter
schwierigkeiten beim Aufbau eines automati­
La u f w e r k schen Meßplatzes, speziell wenn man Meßgeräte
;:r-
unterschiedlicher Hersteller mit einem artfrem­
-{ '\ den Steuerrechner kombiniert. Als Beispiel für
Steuer-
G leich s p a n n u n g s - typische IEC-Bus-Steuerbefehle die Abfrage des
Rechner
N etzgeröt aktuellen Meßwerts bei einem Digitalvoltmeter
"-
'- ..2= ;J
Input # 24 : U5
B i ld s c h i r m Signol- m Menobjek t : f-V-I S p e k t r u m -
Gen erator Verst örker Anolysotor
To s t o t u r
und die Einstellung eines Synthesizers :
Bild 1 . Beispiel für ein IEC-Bus-System Print # 19 : "IP"; "CW" ; 10; "GZ" .
I 52 I Hochfrequenzmeßtechnik

Da der IEC-Bus in der Regel eigenständige Ge­ Größe C : 23 cm hoch, 34 cm tief, 3 cm breit
räte miteinander verbindet, hat man sowohl die (Standardgröße),
Möglichkeit, alle Geräteeinstellungen und Da­ Größe D : 37 cm hoch, 34 cm tief, 3 cm breit.
tenabfragen rechnergesteuert durchzuführen als Die Kartengrößen A und B sind VMEbus­
auch die Möglichkeit, den Meßaufbau von Hand No �m. I? einen Stec.kplatz können mittels Adap­
zu kalibrieren und einzustellen und anschließend ter JeweIls auch klemere Karten eingesetzt wer­
mit wenigen Befehlen nur die Messungen auto­ den, also beispielsweise die Kartengröße A und B
matisch ablaufen zu lassen. Der Netzschalter der in einen Steckplatz der Größe C. Größere Meß­
Meßgeräte ist nicht rechnergesteuert zu betäti­
gen. Wenn ein Gerät innerhalb eines Bus-Sy­ geräte können mehrere Steckplätze belegen. Ein
stems versehentlich nicht eingeschaltet wurde, UNIX-Steuerrechner hat z. B. die Breite von
wird dieser Fehler vom Rechner nicht notwendi­ 4 Steckplätzen der Größe C und ein Mikrowel­
gerweise erkannt, und Fehlmessungen sind die lenzähler die von 3 Steckplätzen der Größe C.
Folge. Kabel, Meßgeräte und Rechner am IEC­ I?ie Einze.�geräte hab.en an der Rückseite (Bild 2)
Bus erzeugen elektromagnetische Störfelder. Bei eII�en (Große �), zwe� (Größe B, C) oder drei (nur
empfindlichen Meßaufbauten sollten deshalb ab­ bel Kartengroße DJ 96-polige Europakarten­
geschirmte Buskabel und ausgesuchte IEC-Bus­ stecker. Die schmale Frontplatte enthält je nach
Geräte mit geringer Störstrahlung eingesetzt Gerätetyp Anschlüsse für Meßköpfe, Signalein­
werden. gänge und -ausgänge oder Steckverbinder für
Rechnerschnittstellen. An den Seiten sieht man
IEEE 488.2. In der IEEE-Empfehlung 488.1 von nich.� immer auf die of�ene Leiterplatte, da einige
1 975/78 wurde der äußere Rahmen für einen Gerate elektromagnetIsch geschirmt sind.
Meßgeräte bus festgelegt. Die Sprache und die Das Grundgerät enthält das Netzteil ( + 5 V,
Datenstruktur auf diesem Bus konnte jeder Meß­ ± 12 V, + 24 V, - 2 V, - 5,2 V), die Lüfter zur
gerätehersteller individuell gestalten. Mit der K �hlung der YXI-Geräte und die rückwärtige
IEEE-Empfehlung 488.2 von 1987 werden die LeIterplatte mIt den Verbindungsleitungen zwi­
Syntax, die Datenstrukturen und die Universal­ schen den Steckplätzen. In den Steckplatz 0
steuerbefehle vereinheitlicht. Die Ansteuerbefeh­ kommt eine spezielle Karte zur internen System­
le orientieren sich an den zugehörigen englischen betreuung . (resource manager), die auch den
Wörtern im Klartext. Das System ist vom Rech­ Taktgeber und eine Rechnerschnittstelle nach
ner aus konfigurierbar, das heißt, der Rechner auß�n enth �lt. Der VXIbus ist, abhängig vom
kann feststellen, welche Geräte angeschlossen speZIellen Emsatzfall und von der jeweiligen Aus­
sind, und er kann ihnen eine Adresse zuteilen. baustufe, sehr vielseitig einsetzbar: Der Daten­
bus (maximal 40 MByte/s) kann 8 Bit, aber auch
32 BIt haben, der Takt ist wahlweise 1 0 MHz
oder 100 MHz (ECL), es gibt TTL- und ECL­
1 0.4 VXIbus TriggerIeitungen. Ein VXIbus-System besteht
aus maximal 256 Geräten oder Subsystemen
Der VXlbus (VMEbus extensions for ins trumen­ (Adressen : 0 bis 255). Ein Subsystem besteht aus
t �tion) ist eine Industrienorm für Meßgeräte auf
emer Karte bzw. auf einer Leiterplatte [20]. Ein
VXlbus-Meßsystem besteht aus mehreren der­
artigen Geräten in einem gemeinsamen Grund­
gerät. Die Einzelgeräte kommunizieren über den Netztei l , L ü f te r
VXlbus miteinander. Sie sind nicht von Hand ._____
,�, rüc kwörtige Leiterp lotte
bedi�nbar oder ablesbar. Das Grundgerät hat als
Verbmdung nach außen meist einen IEC-Bus­
Anschluß oder eine RS232-Schnittstelle.
Die VXlbus-Entwicklung begann 1 987. Aus­
gangspunkt waren vorhandene Meßgerätenor­
men wie IEEE 488.1 und 488.2, der VMEbus, die
genormte Europakarte und die 1 9-Zo11-Bauwei­
se (DIN 41 494) [5]. Inzwischen bieten sehr viele
l\1eßgerätehersteller VXI-Geräte an, und prak­
tisch alle modernen Meßgerätetypen sind als
kompakte VXI -Version erhältlich (Signalquellen
Oszilloskope, HF -Schalter, Steuerrechner, Da � S lat 0 ,
tenspeicher etc.). Es gibt vier Kartenformate mit -
l E e B u s An s c h l u n
(in Zoll) festgelegten Abmessungen : Einschub

Größe A: 1 0 cm hoch, 16 cm tief, 2 cm breit


Größe B : 23 cm hoch, 1 6 cm tief, 2 cm breit, Bild 2. VXI-Grundgerät mit Einschüben
1 0 Rechnergesteuertes Messen I 53

einem Steckplatz 0 und bis zu 12 Geräten. Es 1 0.6 Programme zur Meßgeräte­


paßt somit genau in ein 1 9-Zo11-Gestell.
steuerung
Die VXlbus-Architektur läßt mehrere Steuer­
rechner im gleichen System zu. Das System ist Software for programmable instruments
hierarchisch gegliedert. Es gibt mehrere Priori­
tätsebenen. Die Befehlsübertragung zu den Ge­ sePT. In Erweiterung der Empfehlung IEEE
räten kann entweder schnell und unmittelbar im 488.2 wurde 1 990 eine genormte Programmier­
Binärformat erfolgen (register-based device, z. B. sprache zur Ansteuerung von Meßgeräten
HF-Schalter) oder, ähnlich wie beim IEC-Bus, (standard commands for programmable instru­
asynchron, bit-parallel, byte-seriell mit ASCII­ ments SCPI) eingeführt. Sie benutzt A�CII­
Zeichensatz (message-based device). Zusätzlich Zeichen und allgemeinverständliche enghsche
können mehrere Geräte über einen lokalen Bus Programmierbefehle im Klartext, beispiels­
verbunden sein. Herstellerspezifisch lassen sich weise in der Form "MEASURE : VOLTAGE ?"
damit bis zu 200 MByte/s übertragen. Der lokale zum Messen einer Spannung oder "TRIG­
Bus arbeitet unabhängig vom Datenbus des Ge­ GER : IMMEDIATE" zum Auslösen eines Vor­
samtsystems. gangs. Die Sprache ist für alle Meß� erätetypen
und alle Meßgerätehersteller gleIchermaßen
gedacht und wird schrittweise sowohl für
1 0 . 5 Modulares Meßsystem (MMS) IEC-Bus-Geräte als auch für den VXlbus und
das modulare Meßsystem eingeführt. Zur Zeit ist
Modular measurement system SCPI noch ein einfacher Satz von Program­
mierbefehlen. Für die Zukunft ist die Fortent­
Das modulare Meßsystem M M S wurde von der wicklung als offene Norm zu einer universellen
Firma Hewlett-Packard, USA, 1 9 8 8 eingeführt. Programmiersprache zur Steuerung von Meßge­
Seither haben sich weitere Meßgerätehersteller räten geplant. Dabei sollen die Bedürfnisse von
angeschlossen und bieten systemkompatible steckbaren Leiterplatten, Modulen, autonomen
Module an. Das M M S wurde speziell für den Meßgeräten und komplexen Testsystemen be­
Mikrowellenbereich konzipiert. Die Anwendun­ rücksichtigt werden.
gen erstrecken sich inzwischen b.is zum HF- � e­ Während es in einem kleinen Entwicklungslabor
reich und bis in die LichtwellenleItermeßtechmk. meist am schnellsten zum Ziel führt, wenn man
Ein System besteht aus bis zu 2 �.6 JY.1 0dul�n. im Meßgerätehandbuch die Befehle nachliest
Mehrere M odule bilden ein Meßgerat. BIS zu VIer und dann sein eigenes Anwenderprogramm zur
Meßgeräte können von einem Bildschirm mit Meßgerätes teuerung in der Programmiersprache
Tastatur gesteuert und überwacht werden. Basic schreibt, gibt es sehr viele Bereiche, in de­
Das Grundgerät enthält die zentrale Stro �ver­ nen dies nicht möglich oder zweckmäßig ist. Für
sorgung, die Lüfter und die Verbindungsleltun­ diese Fälle gibt es fertige, innerhalb eines gewis­
gen für den speziellen Schnittstelle�?us, über den sen Rahmens universell einsetzbare Programm­
die Module miteinander kommunlZleren (modu­ pakete. Derzeit sind im Handel Rechnerpro­
lar system interface bus MSIB : asynchron, 9 Bit gramme sowohl von Meßgeräteherstellern als
parallel, maximal 3 M Byte/s, zyklische Busver­ auch von Software-Häusern für folgende Anwen­
gabe, minimale Zugriffszeit 1 0 IlS). Von außen dungsbereiche erhältlich :
werden das Meßsystem bzw. die aus einzelnen - Speichern von Meßdaten, Dateive �waltung,
M odulen zusammengestellten Meßgeräte über - Verarbeiten von Meßwerten, grafIsche Dar-
den IEC-B us angesprochen. Die Einschübe (Mo­ stellung, Datenausgabe auf Bildschirmen und
dule) sind einheitlich 48 cm tief und 1 3 cm � och. Plottern,
Die Breite der Frontplatte beträgt wahlweIse 5, - Erstellen von Programmen zum automati­
1 0, 1 5 oder 20 cm. schen Testen,
Aufgrund des modularen Aufbaus lassen sich mit - Ansteuerung bestimmter Meßgeräte, beispiels­
dem MMS eine Vielfalt von automatischen Meß­ weise Netzwerkanalysatoren, einschließlich
plätzen aufbauen, die der jewe��igen Meßa.t!fgabe Kalibrieren des Meßplatzes und Herstellen der
individuell angepaßt werden konnen. Das au�ere Verbindung zu Programmen für den rechner­
Erscheinungsbild ist dabei entweder das em� s unterstützten Entwurf,
herkömmlichen Meßgeräts in Einschubtechmk - Programmrahmen zum Erstellen individueller
mit Frontplatte und Bildschirm oder das eines Testprogramme für komplexe Testsysteme,
über den I EC-Bus von einem externen Rechner - Auswahl und Ausführung automatischer Test-
gesteuerten Meßplatzes ohne Bedien- und Anzei­ programme.
geelemente. D as modulare Meßsyste.m ist f�r �u­
tomatische Testsysteme gedacht, dIe bezughch Üblicherweise sind für die Anwendung derartiger
Genauigkeit, Bandbreite und Leistungsfähigk�it Programme keine Programmierkenntnisse erfor­
im Bereich besonders hoher Anforderungen he­ derlich. Sie haben in der Regel interaktive Me­
gen. nüführung oder grafische Benutzeroberflächen,
I 54 I Hochfrequenzmeßtechnik

Fenstertechnik und Maussteuerung und enthal­ Bussysteme. 2. Aufl. München : Oldenbourg 1987, -
ten Kataloge von Meßgeräten, Rechnern und [5] Hesse, D. (Hrsg.) : Handbuch des Neunzehn-Zoll-Auf­
bausystems. Haar: Markt & Technik 1 9 8 6 . - [6] Link,
Peripheriegeräten mit den dazugehörigen spezifi­
W : Messen, steuern und regeln mit PCs. 2. Aufl.
schen Ansteuerbefehlen. Teilweise werden die München : FraJ1Zis 1 990. - [7] Lobjinski, M. : Meßtechnik
Originalfrontplatten herkömmlicher Meßgeräte mit Mikrocomputern. 2. Aufl. München : Oldenbourg
auf dem Bildschirm dargestellt und können per 1990. - [8] Schummy, H. (Hrsg.) : Personal Computer in
Maus bedient werden. Es existieren Programme Labor, Versuchs- und Prüffeld. 2. Aufl. Berlin : Springer
für alle gängigen Schnittstellen, einschließlich 1 990. - [9] Preuß, L. ; Musa, H. : Computerschnittstellen.
RS232, IEe-Bus, VXlbus und MSIB. Der Nutzer München : Hanser 198 9 . - [10] Elsing, J. ; Wiencek, A . :
kann, sofern seine Anwendung, seine Geräte und Schnittstellen-Handbuch. 2. Aufl. Vaterstetten : IWT 1987.
das Programm hundertprozentig zueinan­ - [1 1] Seyer, M. D. : RS-232 made easy. Englewood Cliffs,
NJ : Prentice-Hall 19 84. - [12] Dosch/Gall/Geltinger/ He 1-
derpassen, sein individuelles Testprogramm er­ bing/]onas : Selbstbau von IEC-Bus-Meßplätzen. Berlin :
stellen und rechnergesteuert ablaufen lassen. Das VDE 1986. - [13] Carr, J. J. : Designing microprocessor­
Einschalten der Meßgeräte sowie das Anschlie­ based instrumentation. Reston, VI : Reston Publishing
ßen der Verbindungsleitungen des Meßaufbaus 1982. - [14] Radnai, R. ; Kingham, E. G. : Automatie in­
muß in der Mehrzahl aller Anwendungsfälle struments and measuring systems. Londo n : Butterworth
nach wie vor von Hand durchgeführt werden. 1986. - [15] Barney, G. c. : Intelligent instrumentation -
Hinzu kommt in jedem Fall die Kontrolle, ob die microprocessor applications in measurement and contro!.
Englewood Cliffs, N J : Prentice-HaIl 1 9 8 5 . - [ 1 6] Frühauf
Rechnersteuerung wie gewünscht funktioniert,
U. : Automatische Meß- und Prüftechnik. Berlin : Technik
und falls nicht, die Suche und das Beheben der 1987. - [17] VDJ/ VDE-GMR Tagung Fellbach : Automa­
Software- und/oder Hardware-Fehler. tisierte Meßsysteme. Düsseldorf: VDI 1985. - [18]
Schwarze, H. ; Hamann, R. : Computereinsatz in der
Spezielle Literatur : [1] Kainka, B. : Messen, Steuern und Meßtechnik. Stuttgart : Metzler 1 98 8 . - [19] Maier, H.
Regeln über die RS 232-Schnittstelle. München : Fral1Zis (Hrsg.) : Messen, Steuern, Regeln mit IBM-kompatiblen
1 9 8 9 . - [2] Piotrowski, A . : IEC-Bus. 3 . Aufl. München : PCs . Kissing : Interest 1 990. - [20] Jessen, K. : VXlbus : A
Franzis 1 9 87. - [3] Böhm, D. : Computergesteuerte Meß­ new interconnection standard for modular instruments.
technik. Stuttgart : Frech 1 9 8 3 . - [4] Färber, G. (Hrsg.) : Hewlett-Packard 1. , Apr. (1 989) 9 1 - 97.