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Lista de siglas
SM: sistema de medição; Re: repetibilidade;
RM: resultado da medição; u: incerteza padrão;
RB: resultado base da medição; VVC: valor verdadeiro convencional;
IM: incerteza da medição; t: coeficiente de Student;
I: indicação; td: tendência
I:̅ média das indicações c: correção;
IC: indicação corrigida; Emax: erro máximo.
Processo de calibração
Um dos objetivos da calibração é determinar a tendência (estimativa do erro
sistemático) e a correção para um SM. A tendência (e, consequentemente, a correção)
como é uma estimativa do erro sistemático, obtida de um processo de medição de um
mensurando conhecido, também possuirá uma incerteza.
O resultado base da tendência é calculada a partir de uma amostra de n indicações,
obtidas de medições repetidas do mensurando.
𝑇𝑑 = 𝐼 ̅ − 𝑉𝑉𝐶
O resultado base da correção é calculado a partir da tendência:
𝑐 = −𝑇𝑑
A incerteza padrão da correção é o desvio padrão da amostra de indicações obtidas do
mensurando cujo VVC é conhecido.
∑𝑛𝑖=1(𝐼 − 𝐼 )̅ 2
𝑢=√
𝑛−1
A repetibilidade, que define a faixa onde se espera que esteja o valor verdadeiro da
tendência (ou da correção) do sistema de medição é calculada multiplicando-se a
incerteza padrão pelo coeficiente de Student, para 95,45% de probabilidade e para
(𝑛 − 1) graus de liberdade. O coeficiente t é obtido de tabelas.
𝑅𝑒 = 𝑢 ∙ 𝑡
A correção e a repetibilidade devem ser calculadas para diversos valores ao longo da
faixa de indicação do SM de maneira possibilitar a elaboração da curva de erros e a
determinação do erro máximo (Emax)
Outras fontes de erro também possuem valor para a correção, como por exemplo os
erros devido à variação da temperatura (tabela com o cálculo da correção disponível nos
slides ou no livro) e o tempo de uso desde a última calibração (informação que pode ser
obtidas dos documentos de cada sistema de medição). A maneira de usar essas
informações será vista posteriormente.
∑𝑚 ̅2
𝑖=1(𝐼 − 𝐼 )
𝑢=√
𝑚−1