CARACTERIZACION ESTRUCTURAL POR MICROSCOPIA

Los microscopios ópticos se usan generalmente para observar micro materiales con alta
resolución pero se ven limitados debido a su rango de trabajo de longitud de onda.
Las técnicas se basan en principios diferentes pero tienen en común la generación de
imágenes de alta definición de la superficie analizada
SPM (Scanning Probe Microscopy – Microscopio de barrido por sonda)
Se forman imágenes de superficie utilizando una sonda física que escanea la muestra. Se fundó
en 1981 con la invención del microscopio de efecto túnel, un instrumento para imágenes de
superficies a nivel atómico.
La resolución varía de técnica en técnica debido a que los actuadores piezoeléctricos pueden
ejecutar movimientos con precisión a nivel atómico.
AFM (Atomic Force Microscopy – Microscopio de fuerza atómica)
Es una técnica no destructiva y tiene una resolución espacial tridimensional muy alta.
Consiste en la utilización de una punta afilada de 10 nm que escanea la superficie usando
escáneres piezoeléctricos, permitiendo visualizar su nano-estructura. Se monitorean cambios
durante la interacción mediante detectores ópticos.
Esta técnica tiene tres capacidades principales:
1. Mediciones por fuerza atómica: puede emplearse
para medir la fuerza del sustrato y el cantilever, como
función de su distancia de separación.
2. Construcción de imágenes: se logra mediante
mapeo espacial de las fuerzas resultantes de la interacción
entre el sustrato y la aguja.
3. Manipulación atómica: se puede emplear para
controlar propiedades de una superficie.

Existen también tres tipos de escaneo:

 1. Modo contacto: la punta de la sonda se encuentra en contacto con la muestra por lo
que la fuerza entre punta y muestra es constante. El principal problema es que las
muestras blandas pueden dañarse por lo que solo funciona con muestras solidas
fuertemente adheridas a la superficie.

Los siguientes modos se consideran modos dinámicos, donde se hace vibrar la micro
palanca a su frecuencia de resonancia valiéndose para ello su actuador piezoeléctrico.
La interacción punta-superficie modifica la amplitud, frecuencia y fase de resonancia
mientras el lazo de retroalimentación mantiene constante una de esas propiedades.

2. Modo no-contacto: se mantiene constante la frecuencia de resonancia. Su principal

aplicación es caracterizar muestras con superficies duras a escala atómica operando en
UHV.
3. Modo tapping: se mantiene constante la amplitud. Se una principalmente en medios
líquidos para obtener imágenes de muestras biológicas que solo son estables en
soluciones acuosas.
APLICACIONES
Estudio de cambios en propiedades físicas como consecuencia de cambios en distribuciones o
manipulaciones atomicas.
Intentar diferenciar entre células normales y cancerosas basado en la dureza de ellas.

Falta cuadro comparativo de ventajas

STM (Scanning Tunneling Microscopy – Microscopio de efecto túnel)

Es un instrumento para producir imágenes con resolución lateral a escala atómica basada en la
diferencia de potencial.
Se escanean superficies conductoras con la ayuda de un cristal piezoeléctrico.
Su desarrollo en 1981 hizo ganar a sus inventores Gerd Binning y Heinrich Rohrer el premio
nobel de física en 1986.
Para un STM se considera buena resolución de 0,1 nm lateral y 0,01 nm profundidad.
El STM puede ser usado en UHV, aire, agua y varios líquidos o gases del ambiente.
Esta técnica está basada en el efecto túnel. Cuando la punta conductora es colocada muy
cerca de la superficie de la muestra, una corriente de polarización (diferencia de voltaje)
aplicada entre las dos puede permitir a los electrones pasar al otro lado mediante el efecto
túnel a través del vacío entre ellas. La información es adquirida monitoreando la corriente
conforme la posición de la punta escanea a través de la superficie. Esta técnica es complicada
ya que requiere superficies extremadamente limpias y estables, puntas afiladas, excelente
control de vibraciones y electrónica sofisticada.

Los componentes de un STM son:

- Punta de exploración.
- Un piezoeléctrico.
- Escáner x-y.
- Control muestra a punta.
- Sistema de aislamiento de vibraciones.
- Computadora.

APLICACIONES
Gran caracterización y modificación de gran variedad de materiales.

SEM (Scanning Electron Microscopy – Microscopio electrónico de barrido)

Es una técnica de microscopia electrónica capaz de producir imágenes de alta resolución de la
superficie de una muestra utilizando las interacciones electrón-materia. Utiliza un haz de
electrones de alta energía en vez de luz para formar una imagen.
Se emite una señal en forma de electrones secundarios, retro, dispersados y rayos X
característicos que generan información sobre la superficie del material.
Se necesita una muestra conductora para que permita el paso del haz de electrones a través
de la superficie. Algunos materiales no conductores son recubiertos con la leve capa de
material conductor que opera con voltajes mas pequeños.
Los equipos SEM solo pueden utilizar dos señales diferentes de electrones:
- Electrones secundarios: dan información acerca de la topografía de la muestra siendo la
técnica óptima para medir el tamaño de partículas y la morfología. Estos electrones son de
baja energía y se producen por la colisión de electrones de alta energía del haz incidente con
los electrones de los átomos de la muestra.
- Electrones retro-dispersados: dan información adicional acerca de la heterogeneidad en la
composición de la muestra cuando la imagen resultante es comparada con la obtenida por los
electrones secundarios. Estos electrones son electrones del haz incidente que han colisionado
con el núcleo de los átomos de la muestra y rebotan fuera de la muestra como electrones
reflejados. Estos electrones son de alta energía y sirven para construir imágenes en las que se
pueden ver las diferencias de densidad entre distintas zonas de la muestra.

De cada señal emitida por la interacción se obtiene

una información diferente. La señal de electrones
se utiliza para fabricar la imagen mientras los rayos
X característicos son usados para obtener la
composición química elemental
TEM (Transmission Electron Microscopy – Microscopio electrónico de transmisión)
Es un microscopio que utiliza un haz de electrones para visualizar un objeto, debido a que la
potencia amplificadora de un microscopio está limitada por la longitud de onda de la luz
visible. Lo característico de este microscopio es el uso de una muestra ultra-fina y que la
imagen se obtenga de los electrones que atraviesan la muestra. El espesor de la muestra es
crítico ya que una muestra muy gruesa no permitirá el paso de los electrones.
La preparación de la muestra es más complicada y requiere el uso de instrumentos muy
especializados.

ESTRUCTURA
Debido a que los electrones tienen una
longitud de onda mucho menor que la
de la luz visible, pueden mostrar
estructuras mucho más pequeñas. Sus
partes principales son:
- Cañón de electrones: emite electrones.
- Lentes magnéticas: para crear campos
que dirigen y enfocan el haz de
electrones.
- Sistema de vacío: debido a que los
electrones pueden ser desviados por las
moléculas del aire, se debe hacer un
vacío casi total en el interior del microscopio.
- Pantalla fluorescente: que se coloca detrás del objeto a visualizar para registrar la imagen
aumentada.
- Sistema de registro: que muestra la imagen que producen los electrones.

FUNCIONAMIENTO
1. Se produce un haz de electrones mediante un filamento de tungsteno calentado.
2. Se usan serpentines electromagnéticos para condensar el haz de electrones, que luego
se hace pasar a través de la muestra delgada colocada en el soporte, algunos de
absorben y otros se dispersan.
 3. Después de que el haz de electrones se hace pasar a través de la muestra, se enfoca el
serpentín del objetivo (lente magnética) y luego se magnifica y proyecta sobre una
pantalla fluorescente.
4. Puede formarse una imagen ya sea reuniendo a los electrones directos o a los dispersos.
Esto se hace insertando una abertura.
5. La abertura se manipula para que pasen los electrones directos o dispersos. Si se
selecciona el haz directo, la imagen resultante se denomina imagen de campo brillante y
si se seleccionan los electrones dispersos se produce una imagen de campo oscuro.
APLICACIONES
Estudios de ultra-estructura de tejidos vegetales, animales y humanos.
Estudio de fases y zonas cristalinas en polímeros.
Cambios estructurales de materiales sometidos a diferentes tratamientos.
VENTAJAS
Proporciona resultados muy precisos.
DESVENTAJAS
La preparación de la muestra es complicada.
Los equipos son muy costosos.

EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy – Fluorescencia de rayos X por energía dispersiva)
Es una técnica de muestreo versátil, rápida y no destructiva que reconoce un gran número de
elementos químicos (NO compuestos químicos) y presenta los resultados en tiempo real.
La radiación X incidente expulsa electrones de capas interiores del átomo. Entonces, los
electrones de capas más externas ocupan los lugares vacantes y el exceso energético
resultante de esta transición se disipa en forma de fotones: la llamada radiación X fluorescente
o secundaria. Esta radiación de florescencia es característica para cada elemento químico, por
lo tanto, es posible identificar un elemento dentro de la muestra si se conoce la longitud de
onda. La concentración de cada elemento se detecta midiendo la intensidad de la anergia
asociada a casa transición de electrones. Es decir, la salida de este tipo de análisis es un
espectro que muestra la intensidad de radiación en función de la energía.
¿QUÉ HACE?
- Análisis cualitativo: determina los constituyentes químicos de la muestra.
- Análisis cuantitativo: determina las cantidades y proporciones de los constituyentes
químicos.
- Mapeo de R-X por elementos.
- Comparación de espectros.

ESTRUCTURA
1. Detector de semiconductores.
2. Un amplificador principal que proporciona una función de control de pulso rápido para
reducir los eventos pile-up
3. Un ordenador y analizador de rayos X.

XRD (X-ray Difraction – Difracción de rayos X)

La técnica permite determinar e identificar fases cristalinas presentes en sólidos.
Cuando el haz de rayos X incide sobre un cristal, los átomos que conforman a este dispersan la
onda incidente tal que cada uno de ellos produce un fenómeno de interferencia que para
determinadas direcciones de incidencia será destructivo y para otras constructivo surgiendo
así el fenómeno de difracción.
El haz de rayos X emergente tras esta interacción contiene información sobre la posición y tipo
de átomos encontrados en su camino. Los cristales gracias a su estructura periódica, dispersan
elásticamente los haces de rayos X en ciertas direcciones y los amplifican por interferencia
constructiva originando un patrón de difracción.
La geometría de las direcciones de difracción ofrece información sobre el sistema cristalino.
La intensidad de los rayos difractados está íntimamente relacionado con la naturaleza de los
átomos y las posiciones que ocupan en la red.
Existen varios tipos de detectores para observar y medir la intensidad y posición de los rayos X
difractados, su análisis permite obtener una representación a escala atómica de los átomos y
moléculas del material estudiado.
Ley de Bragg.
Cuando las ondas están desfasadas se anula, cuando están en
fase se amplifican. Cuando la diferencia de fase es 180º las
ondas se anulan. La condición para que estén en fase es que su
diferencia sea cero o un múltiplo entero n de la longitud de
onda.
nʎ=2sen(β)

APLICACIONES
Identificación de fases, pureza de las muestras, análisis
cuantitativo y determinación de estructuras cristalinas.

VENTAJAS
Es una de las técnicas que tiene mayor prestigio en la comunidad científica para dilucidar
estructuras cristalinas debido a su precisión.
DESVENTAJAS
Técnica de elevado costo en su instrumentación.

XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy-Espectroscopia de fotoelectrones emitidos por rayos X)

Consiste básicamente en la excitación mediante un haz de rayos X de los niveles más internos
de los átomos provocando la emisión de fotoelectrones que proporcionan información sobre
la energía de cada nivel y por lo tanto la naturaleza de cada átomo.
Es una espectroscopia semi-cuantitativa y de baja resolución espacial que habitualmente se
utiliza para estimar la estequiometria, estado químico y la estructura electrónica de los
elementos existentes en el material. Los espectros XPS se obtienen cuando una muestra es
irradiada por rayos X al tiempo que se mide la energía cinética y el número de electrones que
escapan de la superficie del material analizado.
Para esta técnica se quieren condiciones de ultra vacío debido a que a presiones mayores la
tasa de adsorción de contaminación sobre la muestra puede impedir la medición de la
superficie que realmente se quiere analizar.
¿QUÉ HACE?
- Identificación de todos los elementos presentes (menos H y He) en concentraciones mayores
a 0,1%. (Las interacciones débiles entre átomos, como fuerzas de cristalización o enlace de hidrógeno, no alteran
suficientemente la distribución electrónica como para que se pueda observar un cambio en la energía de enlace
medible)
- Determinación semi-cuantitativa de la composición elemental de la superficie.
- Información acerca del entorno molecular: estado de oxidación, orbitales moleculares, etc.
- Información sobre estructuras aromáticas o insaturadas.
- Información de grupos orgánicos usando reacciones de derivatización.
INTERACCIONES DE LOS RAYOS X CON LA MATERIA
Cuando un fotón se encuentra en con un átomo puede ocurrir:
- que pueda atravesarlo sin interacción alguna.
- que sea dispersado por un electrón de orbital atómico ocurriendo una pérdida de energía.
- que el fotón interaccione con el electrón de un orbital atómico con una transferencia total de
energía del fotón hacia el electrón.

APLICACIONES
Caracterización de catalizadores.
PL (Photoluminescence - Fotoluminiscencia)
La luminiscencia es un fenómeno de emisión de radiación electromagnética por un elemento o
compuesto, como consecuencia de la relajación desde un estado excitado; dicho estado
excitado se alcanza por absorción de radiación.
La espectroscopia de fotoluminiscencia es un método de no-contacto, no destructivo que
permite sondear la estructura electrónica de los materiales. En esencia la luz se dirige sobre la
muestra, donde se absorbe y puede ocurrir un proceso llamado foto excitación. La foto
excitación hace que los átomos del material pasen por un estado electrónico superior y
entonces liberar energía (fotones), al relajarse vuelve a tener un nivel de energía más bajo.
ESTRUCTURA
- Láser.
- Soporte de la muestra.
- Sección óptica.
- Monocromador con un detector.
- Una esfera para la medición de la eficiencia cuántica.
La fotoluminiscencia también se puede medir usando flourómetros o espectrómetros de
fluorescencia.
APLICACIONES
Especialmente para el análisis de nanoestructuras y superconductores.
FTIR (Fourier Transform Infrared Spectrosmetry – Espectrofotómetro de Transformada de
Fourier)
Con los espectrómetros de rayos infrarrojos (IP) convencionales era acceder a ciertas regiones,
por eso los primeros espectrofotómetros de transformada de Fourier (FT) se diseñaron para
esas regiones.
Este instrumento está basado en el principio de interferómetro de Michelson (un
interferómetro que permite medir distancias con una precisión muy alta).
El objetivo de esta técnica es medir que tan bien absorbe la luz una muestra en cada longitud
de onda. La forma más directa de hacer esto es con la técnica de espectroscopia dispersiva
haciendo brillar un haz de luz monocromático en una muestra, medir cuanta luz absorbe y
repetir para cada longitud de onda diferente. La FTIR en vez de usar un haz de luz
monocromático, utiliza un rayo que contiene muchas frecuencias de luz a la vez y mide la
cantidad de ese rayo que absorbe la muestra.
A continuación el haz se modifica para que contenga una combinación diferente de
frecuencias, dando un segundo punto de datos. El proceso se repite varias veces. Finalmente
una computadora toma los datos y trata de inferir cual es la absorción en cada longitud de
onda. El análisis de resultados se hace mediante el método computacional llamado
transformada de Fourier.
¿QUÉ HACE?
- Puede ayudar a identificar materiales
desconocidos.
- Se puede determinar la calidad o la consistencia
de una muestra.
- Se puede determinar la cantidad de componentes
de una mezcla.
VENTAJAS
- Es una técnica no destructiva.
- Proporciona un método de medición preciso que no requiere de calibración externa.
- Es mecánicamente simple.
- Se puede aumentar la sensibilidad y velocidad.
Raman Spectroscopy – Espectroscopia Raman.
Chandrasekhara Venkata Raman
La Espectroscopía Raman es una técnica fotónica de alta resolución que proporciona en pocos
segundos información química y estructural de casi cualquier material o compuesto orgánico
y/o inorgánico permitiendo así su identificación. El análisis mediante espectroscopía Raman se
basa en el examen de luz dispersada por un material al indicir sobre él un haz de luz
monocromático. Una pequeña porción de la luz es dispersada inelásticamente
experimentando ligeros cambios de frecuencia que son característicos del material analizado e
independiente de la frecuencia de la luz incidente. Se trata de una técnica de análisis que se
realiza directamente sobre el material a analizar sin necesitar éste ningún tipo de preparación
especial y que no conlleva ninguna alteración de la superficie sobre la que se realiza el análisis,
es decir, es no-destructiva.
- No es necesaria la preparación de la
muestra.
- Esta basado en el análisis de la luz.
- Es una técnica no destructiva.
Stock: estado resonante.
Anti-stock: estado no resonante.

APLICACIONES
- Industria petroquímica: control de calidad.
- Industria alimenticia: determinar presencia de macro-componentes.
- Biomédicas: estudio de proteínas.
- Análisis de polímeros: caracterización de la cristalinidad en polímeros.

SNOM (Scanning Near-field Optical Microscopy – Micoscopia optica de barrido de campo

cercano)
E.H Synge
Consiste en aproximar una punta o “sonda” a una superficie que se quiera visualizar y medir la
interacción entre la punta y la superficie. Moviendo la punta sobre la superficie se obtiene un
mapa de esta interacción y por lo tanto una imagen de la muestra en estudio. En función de la
interacción que se utilice tenemos los diversos microscopios que abarcan esta técnica. Así, el
microscopio de efecto túnel STM (Scanning Tunnelling Microscope) mide la corriente eléctrica
que aparece entre punta y muestra cuando aplicamos una diferencia de potencial entre
ambas. El microscopio de fuerzas AFM (Atomic Force Microscope) mide las fuerzas de la
interacción que haya entre punta y muestra cuando se encuentran próximas. El microscopio
de fuerzas magnéticas MFM (Magnetic Force Microscope) es una variante del AFM donde se
mide la interacción magnética. El microscopio óptico de campo cercano SNOM (Scanning
Near-Field Optical Microscope) mide la luz evanescente reflejada o trasmitida por la muestra.
El hecho de que todos estos parámetros de interacción decaigan rápidamente con la distancia,
hace necesario que la distancia entre punta y muestra en estos microscopios sea del orden o
inferior al nanómetro (1 nanómetro = 0.000000001 metros) y es lo que hace que estas
técnicas sean tan delicadas (muy sensibles a pequeñas vibraciones y ruidos), pero por otro
lado, es lo que proporciona la altísima resolución que se obtiene, llegando incluso a hacer
visibles los átomos de las superficies que observemos.
VENTAJAS
- Imagen realmente en 3D.
- Bajo costo.

DESVENTAJAS
- Baja profundidad de campo.
COMPARATIVOS
AFM STM SEM TEM XRD EDS XPS
Proyección 3D Proyección 3D Proyección 2D
No requiere Complicada
preparación preparación
de la muestra de la muestra.
Atm Costoso
tradicional o medio en
en medio vacío.
líquido.
Tiene mayor Alta
resolución que resolución
SEM pero en UHV