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Tipo I
El adsorbato cubre al adsorbente, el cual tiene una superficie uniforme, hasta que se forma una mono capa
y entonces el proceso se detiene. La gran mayoría de los procesos de quimisorción muestran este tipo de
isoterma.
Este tipo de isoterma se ajusta a la isoterma descrita por Langmuir, enunciada en la siguiente ecuación:
Donde la adsorción procede con una constante de velocidad ka y la desorción procede con una constante de
velocidad kd.
La isoterma de Langmuir se usa mucho en casos de quimisorción o de adsorción de gases en sólidos no
porosos. Esto no significa que haga un buen trabajo en los casos de quimisorción. En un gran número de
casos es necesario utilizar isotermas "de Langmuir" modificadas, tales como las propuestas por Freundlich o
por Temkin.
Para determinar las isotermas de adsorción el sólido se degasifica al vacío a 200°C durante una hora; luego
se coloca una muestra pesada (0,020—0,030 g para muestras con área mayor de 500m2g-1'; 0,030— 0,10 g
para muestras con área comprendida entre 100 y 500 m2 g-1 y 0,100—0,400g para muestras con área
comprendida entre 1 y 100 m2 g-1 M en la cámara de adsorción y se somete de nuevo a degasificación al vacío
calentado con un baño de agua en ebullición durante una hora. Este tratamiento es suficiente para sólidos
ordinarios que no contengan grandes cantidades de agua quimiadsorbida.
En las medidas de adsorción se repite el procedimiento seguido en la calibración y los volúmenes así
obtenidos se reducen a condiciones normales. Para hallar la cantidad de gas adsorbido a una presión
determinada es necesario corregir el volumen total para eliminar el efecto del volumen muerto del equipo a
la misma presión. Si se denota por Va el volumen de gas adsorbido a una presión relativa determinada; por
V el volumen total de gas medido en presencia de la muestra a la misma presión relativa y por V" el "volumen
muerto" correspondiente, se tiene:
𝑉´ − 𝑉"
𝑉𝑎 =
𝑚
donde m es la masa del sólido.
3. Difracción de rayos X
La difracción de rayos X (XRD) se usa comúnmente para determinar la estructura y la composición a granel
de catalizadores heterogéneos con estructuras cristalinas. Porque la mayoría de los catalizadores están en la
forma de polvos policristalinos, el análisis XRD se limita típicamente a la identificación de planos específicos
de celosía que producen picos en sus correspondientes posiciones angulares 2ɸ, determinadas por la ley de
Bragg, 2d sin ɸ= nλ. A pesar de esta limitación, los patrones característicos asociados con los sólidos
individuales hacen XRD bastante útil para la identificación de los componentes cristalinos a granel de sólidos
catalizadores. Esto se ilustra con el ejemplo de la Figura 1.1, que muestra los patrones de XRD obtenidos ex
situ para una serie de catalizadores de óxido de manganeso antes y después de la reducción.
La difracción de rayos X también se puede usar para estimar el tamaño medio de cristalito o de grano de los
catalizadores. Los picos de XRD son intensos y nítidos solo si la muestra tiene un orden de largo alcance
suficiente, y se vuelven más anchos para tamaños de cristalita por debajo de aproximadamente 100 nm.
A pesar del gran éxito de XRD en el análisis estructural de rutina de sólidos, esta técnica presenta algunas
limitaciones cuando se aplica a la catálisis. Primero, solo puede detectar fases cristalinas, y no proporciona
información útil sobre las fases sólidas amorfas o altamente dispersas tan comunes en catalizadores. En
segundo lugar, debido a su baja sensibilidad, la concentración de la fase cristalina en la muestra debe ser
razonablemente alto para ser detectado. En tercer lugar, las pruebas XRD fases masivas,
Figura 3.1. Patterns for different manganese oxides before and after pretreatment in H2 at 420°C.
y no es capaz de identificar selectivamente las estructuras superficiales donde tienen lugar las reacciones
catalíticas.
Finalmente, XRD no es útil para la detección de intermedios de reacción en superficies catalíticas.
Figura 3.2. Equipo para Difracción de rayos X
Cañón de electrones, que emite los electrones que chocan o atraviesan el espécimen (dependiendo que
tipo de microscopio electrónico es), creando una imagen aumentada.
Lentes magnéticas para crear campos que dirigen y enfocan el haz de electrones, ya que las lentes
convencionales utilizadas en los microscopios ópticos no funcionan con los electrones.
Sistema de vacío es una parte muy importante del microscopio electrónico. Debido a que los electrones
pueden ser desviados por las moléculas del aire, se debe hacer un vacío casi total en el interior de un
microscopio de estas características.
Placa fotográfica o pantalla fluorescente que se coloca detrás del objeto a visualizar para registrar la
imagen aumentada.
Sistema de registro que muestra la imagen que producen los electrones, que suele ser un ordenador.
El microscopio electrónico de transmisión emite un haz de electrones dirigido hacia el objeto que se desea
aumentar. Una parte de los electrones rebotan o son absorbidos por el objeto y otros lo atraviesan formando
una imagen aumentada de la muestra
Para utilizar un microscopio electrónico de transmisión debe cortarse la muestra en capas finas, no mayores
de un par de miles de ángstroms. Los microscopios electrónicos de transmisión pueden aumentar un objeto
hasta un millón de veces.
La principal función del microscopio electrónico de transmisión es estudio de los metales y minerales y el
estudio de las células a nivel molecular. Siendo así un papel muy importante en la industria de la metalurgia.
A su vez se utiliza en la microbiología, para observar la estructura de los virus. También es usado en la
anatomía patológica, para diagnosticar partiendo de la ultra estructura celular
Figura 4.1. Microscopio electrónico de Transmisión y funcionamiento.
Figura 5.2.-1Equipo BELCAT B que se utiliza para diversas pruebas como TPD, TPR y
determinación del área superficial por el método BET.
5.3. Sulfuración a Temperatura Programada. (TPS)
El contenido de azufre en los productos derivados del petróleo debe controlarse a un nivel muy bajo
(fracción de masa de aproximadamente 10 × 10-6) para la protección del medio ambiente y el proceso
de seguimiento (como el proceso de reforma). En la industria del petróleo, para cumplir este requisito,
el proceso de hidrodesulfuración (HDS) se adopta principalmente con Mo [Mo-Co (Ni)] / Al2O3
como catalizador. El catalizador debe sulfurarse para obtener actividad para HDS. La naturaleza de
la fase activa del catalizador HDS ha sido un tema candente de investigación. Los métodos del
complejo aparato, como EXAFS, XPS y FTIR a los convencionales XRD, TPR y TPS79 han sido
adoptados de manera efectiva. Es muy importante estudiar el proceso de sulfuración para el
catalizador HDS. Las tecnologías TPS son uno de los métodos más efectivos. El cambio de
concentración de H2S registrado durante la sulfuración usa H2S-H2 como gas de sulfuración y con
tasa de calentamiento a temperatura constante para obtener la curva TPS (el cambio de la
concentración de H2S con la temperatura). Los resultados de la investigación muestran que el MoO3
sulfurado a bajas temperaturas (Ts = 400-500K) es la fase activa principal del catalizador HDS y el
MoO3 sulfurado a altas temperaturas (Ts = 500-600K) es la fase masiva, y su actividad es muy baja.
Las reacciones químicas que ocurren en la superficie del sólido en el proceso de calentamiento, tales
como la reacción de descomposición, las reacciones entre la superficie y las especies absorbidas y
entre las especies absorbidas (por ejemplo, deshidrogenación, hidrogenolisis, aromatización, etc.) son
los objetos de investigación de TPSR. La naturaleza del sitio activo y el mecanismo de reacción de
superficie pueden ser revelados.
El método TPSR se puede utilizar para estudiar la cinética y el mecanismo de la reacción superficial.
La preadsorción de los reactivos sobre la superficie tiene lugar durante el proceso de calentamiento,
y la ubicación y la forma máxima del pico de TPSR (Tr) pueden determinarse mediante los
parámetros cinéticos.
La reacción en la superficie es mucho más compleja que el proceso de desorción. La ecuación cinética
de TPSR se puede obtener como la misma ecuación dinámica de TPD si se asume una superficie
uniforme y una reacción simple con un orden.
Cambiar Tr puede obtener los diferentes valores. El trazado (2 lg T r-lg β) vs. 1 / Tr, la energía de
activación Er y el factor de frecuencia k0r se pueden obtener a partir de la pendiente y la intersección
de la línea recta.
Cuando se usó TPSR para estudiar el mecanismo de reacción de deshidrogenación de n-hexano sobre
el catalizador de Pt / Al2O3, los resultados mostraron que la reacción para la deshidrogenación del
n-hexano que cicla el benceno de la formación puede tener diferentes cursos.
6. Espectroscopia de Infrarrojos
Conceptos generales La región del infrarrojo del espectro abarca la radiación con números de onda
comprendidos entre 12800 y 10 cm-1 , que corresponden a longitudes de onda de 0,78 a 1000 µm.
según las técnicas experimentales y las aplicaciones, la región infrarroja total puede subdividirse en
tres regiones denominadas infrarrojo cercano, medio y lejano; en la tabla se muestran los límites
aproximados de cada una de ellas.
El principio de funcionamiento de ésta espectroscopía se basa en la excitación de los modos de
vibración y rotación de los enlaces entre los átomos al ser irradiados con un haz de luz infrarroja.
Cada molécula, según las características de sus enlaces absorberá radiación de una o varias
longitudes de onda específicas por lo que podrá ser identificada. Los espectros de absorción,
emisión y reflexión en el infrarrojo, de especies moleculares, se pueden explicar asumiendo que
todos son el resultado de los distintos cambios energéticos producidos en las transiciones de las
moléculas de unos estados de energía vibracionales y rotacionales a otros
Figura 5.1.-1 Espectrofotómetro de infrrarojo y funcionamiento.
7. Espectroscopia de Fotoelectrones Inducidos por rayos X
Espectroscopia de Fotoelectrones emitidos por Rayos X (XPS) es una espectroscopia semi-cuantitativa y de
baja resolución espacial que habitualmente se utiliza para estimar la estequiometría (con un error del 10%
aproximadamente), estado químico y la estructura electrónica de los elementos que existen en un material.
Los espectros XPS son obtenidos cuando una muestra es irradiada por rayos X (habitualmente el ánodo puede
ser de Al o Mg) al tiempo que se mide la energía cinética y el número de electrones que escapan de la
superficie del material analizado. Para una medición de XPS se requieren condiciones de ultra-alto
vacío debido a que a presiones mayores la tasa de adsorción de contaminación sobre la muestra puede ser
del orden de varias monocapas atómicas por segundo, impidiendo la medición de la superficie que realmente
se quiere analizar.
La técnica de espectroscopía fotoelectrónica de rayos-X consiste básicamente en la excitación mediante un
haz de rayos-X de los niveles más internos de los átomos, provocando la emisión de fotoelectrones que nos
proporcionan información sobre la energía de cada nivel y, por tanto, sobre la naturaleza de cada átomo
emisor.
Puesto que la energía del haz es hv, si el fotoelectrón sale con una energía cinética EK, la diferencia entre
ambas nos da la energía de ligadura (EL) del átomo en particular, característica de cada elemento. Todo se
resume a medir la velocidad de los electrones emitidos mediante el espectrómetro:
EL = hv - EK
Para ello es necesario trabajar en condiciones de Ultra Alto Vacío UHV (ultra high vacuum). Esto se consigue
mediante el uso de bombas turbo-moleculares y bombas iónicas apoyadas con vacíos previos obtenidos por
bombas rotatorias de aceite.
La técnica XPS se usa en investigación, desarrollo de nuevos materiales y en controles de calidad en
fabricación. Esta técnica es capaz de obtener la composición química de varias superficies materiales hasta
1-2 nm de profundidad. Es posible saber la composición superficial de un material e incluso el estado de
oxidación y si contiene un determinado elemento. Se pueden detectar todos los elementos, exceptuando el
hidrógeno. La sensibilidad depende de cada elemento en particular. El objetivo principal de esta técnica
consiste en dar la composición porcentual de una determinada capa así como el estado de oxidación de los
elementos que la forman.
Figura 7.1.-1 Espectrofotómetro Fotoelectrones Inducidos por rayos X
Pueden obtenerse muchos tipos de información mediante un espectro RMN. Al igual que se utiliza
la espectrometría de infrarrojos para identificar grupos funcionales, el análisis de un espectro RMN
unidimensional proporciona información sobre el número y tipo de entidades químicas en una molécula.
La RMN en disolución es complementaria de la cristalografía de rayos X ya que la primera permite estudiar
la estructura tridimensional de las moléculas en fase líquida o disuelta en un cristal líquido, mientras que la
cristalografía de rayos-X, como su nombre indica, estudia las moléculas en fase sólida.
La RMN puede utilizarse también para el estudio de muestras en estado sólido. Si bien en su estado actual
queda lejos de poder proporcionar con buen detalle la estructura tridimensional de una biomolécula.
10. BIBLIOGRAFÍA