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Calibração de Sistema de
Medição
Fundamentos da Metrologia
Científica e Industrial
Motivação
definição do procedimento
mensurando de medição
resultado da
medição
sistema de
padrão indicação
medição
X
valor
verdadeiro
condições estabelecidas
100,000 100,00
± 0,002 g
comparação
102,40 g 102,40
Comparação
Zerando BP a BP de
calibrar referência
0,00000-
-0,00025
1,23760
padrão VVC
comparação
sistema de
medição a ISMC
calibrar
gerador da grandeza
sistema de sistema de
medição a medição
calibrar padrão
PPPP ± 0,000005 mm
1/10
PPP ± 0,00005 mm
1/10
PP ± 0,0005 mm
1/10
P ± 0,005 mm
1/10
SM ± 0,05 mm
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 5 - (slide 19/40)
Rastreabilidade
É a propriedade do resultado de uma
medição, ou do valor de um padrão, estar
relacionado a referências estabelecidas,
geralmente padrões nacionais ou
internacionais, através de uma cadeia
contínua de comparações, todas tendo
incertezas estabelecidas.
padrões internacionais
padrões nacionais
padrões de referência de
laboratórios de calibração
padrões de referência de
laboratórios de ensaios
padrões de trabalho
de laboratórios de
chão de fábrica
SINMETRO
intercomparações
do BIPM
intercomparações
intercomparações regionais II
regionais I
Blocos-padrão 12 meses
Paquímetros 6 meses
Micrômetros 3 a 6 meses
Trenas 6 meses
Massas padrão 24 meses
Balanças 12 a 36 meses
Barômetros 6 a 12 meses
Transdutores de força 12 a 24 meses
1. Contratante:
Photonita Ltda 8. Resultados
Av. do Surf s/Nº - Florianópolis, SC
TABELA DE RESULTADOS
Comprimento Média das Correção Incerteza da Repetitividade
2. Contratado: nominal do indicações do correção
Laboratório CORRETA padrão paquímetro
Rua da Praia s/Nº - Florianópolis, SC [mm] [mm] [mm] ± [mm] ± [mm]
0,000 0,157 -0,157 0,016 0,034
2,500 2,661 -0,161 0,020 0,041
3. Sistema de medição calibrado: 5,000 5,169 -0,169 0,018 0,037
10,000 10,182 -0,182 0,019 0,039
Paquímetro para dimensões externas
30,000 30,192 -0,192 0,020 0,041
Fabricante: CorreTech
50,000 50,196 -0,196 0,019 0,039
Modelo: PQ-A2
70,000 70,190 -0,190 0,021 0,043
Nº Série: 7075242
90,000 90,185 -0,185 0,021 0,043
Faixa de medição: 0 a 150 mm
110,000 110,183 -0,183 0,023 0,045
Resolução: 0,02 mm
130,000 130,178 -0,178 0,022 0,044
150,000 150,174 -0,174 0,023 0,045
(a) Síntese desta calibração:
Conforme procedimento interno de calibração Correta-PQ-DE, o erro máximo encontrado pelo paquímetro foi Observações: o valor da correção deve sempre ser somado à indicação.
de ± 0,26 mm. Ao ser aplicada a respectiva correção, o erro máximo é reduzido para ± 0,07 mm.
Erro máximo do paquímetro nas condições de calibração:
5. Padrão utilizado: (a) aplicando a correção: ± 0,07 mm (0,047% do VFE)
(b) não aplicando a correção: ± 0,26 mm (0,18% do VFE)
Conjunto de blocos padrão classe 0
Nº Registro (Correta): RC 0673
Incerteza: ± (0,07 + L/2000) µm, L em mm
Rastreabilidade: Certificado de calibração Correta 23201, de 02/10/2002, válido até 01/05/2003.
1. Contratante:
Photonita Ltda
Av. do Surf s/Nº - Florianópolis, SC
2. Contratado:
Laboratório CORRETA
Rua da Praia s/Nº - Florianópolis, SC
8. Resultados
TABELA DE RESULTADOS
Comprimento Média das Correção Incerteza da Repetitividade
nominal do indicações do correção
padrão paquímetro
[mm] [mm] [mm] ± [mm] ± [mm]
0,000 0,157 -0,157 0,016 0,034
2,500 2,661 -0,161 0,020 0,041
5,000 5,169 -0,169 0,018 0,037
10,000 10,182 -0,182 0,019 0,039
30,000 30,192 -0,192 0,020 0,041
50,000 50,196 -0,196 0,019 0,039
70,000 70,190 -0,190 0,021 0,043
90,000 90,185 -0,185 0,021 0,043
110,000 110,183 -0,183 0,023 0,045
130,000 130,178 -0,178 0,022 0,044
150,000 150,174 -0,174 0,023 0,045
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 5 - (slide 40/40)