PROYECTO FIN DE CARRERA

INTRODUCCIÓN AL ANÁLISIS
DEL ESPECTRO ÓPTICO:
REALIZACIÓN DE UN PATRÓN
DE FRECUENCIAS

Álvaro Vivar Armenteros

Dpto. de Tecnologı́a Electrónica

Escuela Politécnica Superior
Universidad Carlos III de Madrid
Año 2002
 Departamento de Metrologı́a
Instituto de Fı́sica Aplicada
Consejo Superior de Investigaciones Cientı́ficas

INTRODUCCIÓN AL ANÁLISIS
DEL ESPECTRO ÓPTICO:
REALIZACIÓN DE UN PATRÓN
DE FRECUENCIAS

Álvaro Vivar Armenteros

Director: Dr. D. Pedro Corredera Guillén

Tutora: Dra. Da Carmen Vázquez Garcı́a
A mi familia, por su continuo apoyo y comprensión.
A todos mis amigos, por estar ahı́ siempre.
Y a todos por su paciencia y constante disposición.
 Agradecimientos
Quiero aprovechar estas lı́neas para expresar, en primer lugar, mi más sincero agrade-
cimiento al Dr. D. Pedro Corredera Guillén, por introducirme y guiarme en la Investigación
de la fibra óptica, por ofrecerme la posibilidad de realizar este trabajo, por su continua
colaboración y disponibilidad en el mismo, por el inestimable trato recibido y por confiar en
mı́ para continuar trabajando con ellos tras la finalización del presente Proyecto.

También quiero expresar mi agradecimiento a la Dra. Da . Carmen Vázquez Garcı́a,

Profesora Titular del Departamento de Tecnologı́a Electrónica de la Universidad Carlos
III de Madrid, por su labor de tutorı́a y por ponerme en contacto con el Dr. Corredera,
facilitando ası́ mi entrada en el CSIC y por tanto la realización de este proyecto, además de
la supervisión final del mismo.

Al Dr. D. Javier Gutiérrez Monreal, Director del Instituto de Fı́sica Aplicada y al Dr.
D. Antonio Corróns Rodrı́guez, Jefe del Departamento de Metrologı́a, por permitirme la
utilización de los laboratorios ası́ como del resto de áreas de servicio del Instituto.

A todos mis amigos y compañeros, tanto con los que empecé en la Universidad como
los que fui conociendo durante mi estancia en ella, Alberto, Ana, Arancha, Cristina, David,
Kike, Michel, Marcos, Ma José, Marı́a, Mónica, Pablo, Raquel, Sergio, Sira, Susana, y tantos
otros, por su respeto y amistad a lo largo del tiempo y que se ha ido fortaleciendo gracias a
todas las experiencias que he vivido con ellos.

A todos mis compañeros del CSIC, Alejandro, Ángeles, Juan Luis, Marı́a, Marisa, Miguel,
Vanesa, con los que he convivido durante el desarrollo de este trabajo, que me han ayudado
y soportado y con los que he compartido gratos momentos.

Finalmente y de manera muy especial, a mis padres y mi hermano, los cuales me han
apoyado y alentado siempre, ayudándome a superar los malos momentos y disfrutando con-
migo de los buenos. De ellos aprendo cada dı́a.

A todos, gracias.
Índice General

Lista de sı́mbolos, abreviaturas y siglas iii

Introducción 1

1 El análisis de espectro óptico 7

1.1 Tipos de analizadores de espectro óptico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
1.1.1 Diagrama básico de funcionamiento de un OSA . . . . . . . . . . . . 10
1.2 El interferómetro Michelson como medidor de longitud de onda . . . . . . . 11
1.2.1 Medida de la longitud de onda con respecto a una longitud de onda
patrón . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
1.3 El interferómetro Fabry-Perot como medidor de longitud de onda . . . . . . 20
1.4 El analizador de espectros óptico basado en redes de difracción . . . . . . . . 28
1.4.1 Diagrama básico de funcionamiento . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
1.4.2 La rendija de entrada . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
1.4.3 La óptica de colimación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
1.4.4 Elemento dispersivo: red de difracción o prisma óptico . . . . . . . . 31
1.4.5 La óptica de enfoque . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
1.4.6 La rendija de salida . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
1.4.7 El detector . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
1.4.8 Tipos de Monocromadores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
1.4.9 Propiedades de los analizadores de espectro de red de difracción . . . 43

2 Aplicaciones de los analizadores de espectro óptico 61

2.1 Caracterización de fuentes de luz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
2.1.1 Diodos emisores de luz (LED) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
2.1.2 Diodos láser Fabry-Perot . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
2.1.3 Láseres de realimentación distribuida (DFB) . . . . . . . . . . . . . . 69
2.2 Análisis de la Emisión Espontánea Amplificada . . . . . . . . . . . . . . . . 70

i
 2.3 Evaluación de las caracterı́sticas de transmisión de elementos pasivos . . . . 73
2.4 Analisis de señales DWDM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74
2.4.1 Principio básico de los sistemas ópticos de DWDM . . . . . . . . . . 75
2.4.2 La señal DWDM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
2.4.3 Nuevos requisitos del equipo de prueba en DWDM . . . . . . . . . . 78
2.4.4 Análisis de sistemas de DWDM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
2.4.5 Midiendo los parámetros ópticos del sistema de DWDM . . . . . . . . 78

3 Métodos de calibración de OSA 85

3.1 Definiciones . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85
3.2 Calibración de analizadores de espectros ópticos . . . . . . . . . . . . . . . . 89
3.2.1 Requerimientos del test de calibración . . . . . . . . . . . . . . . . . 89
3.2.2 Test de Resolución de Ancho de Banda (Resolución Espectral) . . . . 90
3.2.3 Calibración del nivel de Potencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 93
3.2.4 Calibración del nivel de potencia (DPL) bajo condiciones operativas . 95
3.2.5 Calibración en longitud de onda . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 103
3.2.6 Calibración en longitud de onda bajo condiciones operativas . . . . . 105
3.2.7 La documentación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 108

4 Aplicación de los métodos de calibración a analizadores de espectro ópticos111

4.1 Calibración respecto de lı́neas de emisión de refe-rencia . . . . . . . . . . . . 112
4.1.1 Relación longitud de onda aire-vacı́o. Dispersión del aire . . . . . . . 112
4.1.2 Lı́neas de emisión de láseres de referencia . . . . . . . . . . . . . . . . 115
4.1.3 Lı́neas de emisión de lámparas espectrales . . . . . . . . . . . . . . . 119
4.2 Etalones (Fabry-Perot) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 128
4.3 Lı́neas de absorción de gases . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130
12
4.3.1 Acetileno C2 H2 como referencia de absorción para calibración en
longitud de onda de 1510 a 1540 nm (SRM 2517a) . . . . . . . . . . . 132
4.4 Medidor de referencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 142
4.5 Mezcla de cuatro ondas (FWM) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143

5 Realización de un patrón de frecuencias 149

5.1 Introducción . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 149
5.2 Descripción de la metodologı́a . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 150
5.3 Descripción instrumental . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 154
5.4 Descripción del entorno de programación . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 161
5.5 Descripción Funcional . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 161

ii
 5.5.1 Primera Fase: Inicialización . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 161
5.5.2 Segunda Fase: Barrido Grueso . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 162
5.5.3 Tercera Fase: Barrido Fino . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 166
5.5.4 Cuarta Fase: Estabilidad Temporal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 168
5.6 Resultados y Análisis de datos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 176
5.6.1 Análisis de Barrido Fino . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 176
5.6.2 Análisis de la Estabilidad . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 181
5.7 Patrón de Frecuencias en Incertidumbres . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 183
5.8 Aplicación a la calibración en longitud de onda . . . . . . . . . . . . . . . . . 188

Conclusiones 195

Bibliografı́a 197

ANEXO: CÓDIGO DE PROGRAMA 201

PLANOS 227

PLIEGO DE CONDICIONES 229

PRESUPUESTO 231

iii
Lista de sı́mbolos, abreviaturas y siglas
Sı́mbolo Significado fı́sico Unidades
L Longitud m
I Corriente A
c Velocidad de la luz en el vacı́o m/s
k0 Constante de propagación de la onda en el vacı́o 1/m
k Factor de cobertura
n Índice de refracción
P Potencia óptica mW o dBm
α Coeficiente de atenuación dB/km
∆β Adaptación de fase en FWM 1/m
o
∆φ Diferencia de fase
λ Longitud de onda en el vacı́o nm
λ0 Longitud de onda de dispersión nula nm
νef f Grados de libertad efectivos
f Frecuencia Óptica Hz
B Ancho de banda Hz o m

iv
Abreviaturas y siglas
AM Amplitude Modulation, (modulación en amplitud)
APD Avalanche Photodiode, (fotodiodo de avalancha)
ASE Amplified Spontaneous Emission, (emisión espontánea amplificada)
IEC International Electrotechnical Commission
CSIC Consejo Superior de Investigaciones Cientı́ficas
DFB Distributed Feedback Laser, (láser de realimentación distribuida)
DWDM Dense Wavelength-Division Multiplexing, (multiplexado denso por división en longitud
de onda)
EDFA Erbium-Doped Fiber Amplifier, (amplificador de fibra dopada con erbio)
FC/APC Fiber Connector/Angle Physical Contact, (conector de fibra/contacto fı́sico en angulo)
FC/PC Fiber Connector/Physical Contact, (conector de fibra/contacto fı́sico)
FM Frequency Modulation, (modulación en frecuencia)
FP Fabry-Perot
FWHM Full Width at Half Maximum, (anchura a media altura)
FWM Four-Wave Mixing, (mezcla de cuatro ondas)
GP-IB General Purpose Interface Bus, (interfaz de comunicaciones de propósito general)
IEEE Institute of Electrical and Electronics Engineering
IFA Instituto de Fı́sica Aplicada
IR Infrared Region, (región infrarroja)
LED Ligth-Emitting Diode, (diodo emisor de luz)
NIST National Institute of Standards and Technology
OSNR Optical Sigal-to-Noise-Ratio, (relación óptica señal/ruido)
PMD Polarization-Mode Dispersion, (dispersión del modo por polarización)
PS Phase-Shift,(desplazamiento de fase)
RF Radio-Frequency, (radio-frecuencia)
RMS Root-Mean-Square, raı́z cuadrática media
SNR Signal-to-Noise Ratio, (relación señal/ruido)
STD Standard Deviation, (desviación estándar)

v
TE Transversal Electric, (transversal eléctrico)
TEM Transversal Electromagnetic, (transversal electromagnético)
TM Transversal Magnetic, (transversal magnético)
WDM Wavelength-Division Multiplexing, (multiplexado por división en longitud de onda)

vi
Índice de tablas

2.1 Relación entre parámetros para distintos criterios en el análisis rms . . . . . 68

2.2 Frecuencias recomendadas ITU-G.692 para WDM y su equivalencia en λ . . 76

3.1 Fuentes de luz recomendadas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 92

4.1 Cambio de longitud de onda debido al ı́ndice de refracción entre vacı́o y aire 113
4.2 Lı́neas láser de referencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 115
4.3 Calibración de un OSA usando la lı́nea 633 del He-Ne . . . . . . . . . . . . . 118
4.4 Incertidumbres en la calibración de OSA MS9030A respecto a la lı́nea 633 del
He-Ne . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 118
4.5 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Hg 122
4.6 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Ar 123
4.7 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Kr 124
4.8 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Ne 125
4.9 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Hg 126
4.10 Calibración en longitud de onda de un monocromador SPEX-1400 con una
lámpara de Kriptón . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 127
4.11 Cálculo de incertidumbres en la calibración en longitud de onda de un monocro-
mador SPEX-1400 con una lámpara de Kriptón . . . . . . . . . . . . . . . . 128
4.12 Longitudes de onda certificadas para la SRM 2517a . . . . . . . . . . . . . . 136
4.13 Calibración de un OSA(Q8384) con una fuente de banda ancha . . . . . . . . 138
4.14 Cálculo de incertidumbres en la calibración de un OSA(Q8384) con una fuente
de banda ancha . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139
13
4.15 Longitudes de onda de absorción de la banda ν2 + ν3 del C2 H2 . . . . . . . 140
13
4.16 Longitudes de onda de absorción de la banda 2 × ν3 del H 14 CN . . . . . . 141
4.17 Calibración de un analizador de canales usando un medidor de longitud de onda143
4.18 Cálculo de incertidumbres en la calibración de un analizador de canales usando
un medidor de longitud de onda . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143

vii
4.19 Combinaciones de longitudes de onda, λi y λj , ancladas en lı́neas de absorción
del acetileno que originarán un producto de FWM dentro del rango de 40 GHz
de una lı́nea de absorción del CO. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 147

5.1 Especificaciones del láser sintonizable empleado . . . . . . . . . . . . . . . . 155

5.2 Especificaciones del DFB empleado . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 157
5.3 Especificaciones del Amplificador utilizado . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 158
5.4 Caracterı́sticas de entrada . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 158
5.5 Precisión de medida . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159
5.6 Coeficiente de temperatura . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159
5.7 Relaciones de lectura máximas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 160
5.8 Desplazamiento (∆) en pm que implica una variación de 1 dB de potencia . 180
5.9 Desplazamiento (∆) en pm que implica una variación de 0.2 dB de potencia 183
5.10 Incertidumbres del Patrón de Frecuencias de la Rama R del acetileno . . . . 184
5.11 Incertidumbres del Patrón de Frecuencias de la Rama P del acetileno . . . . 185
5.12 Cálculo de la incertidumbre de la Lı́nea estabilizada R19 en longitud de onda 188
5.13 Cálculo de la incertidumbre de la Lı́nea estabilizada R19 en frecuencia . . . . 188
5.14 Especificaciones del medidor HP86120C . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 189
5.15 Especificaciones del medidor MF9630A . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 190
5.16 Calibración del medidor de longitud HP86120C de onda usando nuestro patrón
de frecuencias . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 192
5.17 Incertidumbre en la calibración del HP86120C para la lı́nea P3 . . . . . . . . 192
5.18 Calibración del medidor de longitud de onda MF9630A . . . . . . . . . . . . 193
5.19 Incertidumbre en la calibración del MF9630A para la lı́nea R7 . . . . . . . . 193

viii
Índice de Figuras

1.1 Emisión espectral de un láser de cavidad Fabry-Perot . . . . . . . . . . . . . 8

1.2 Diagrama Básico de un OSA . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
1.3 Esquema de un interferómetro Michelson . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
1.4 Interferograma para un láser monocromático a 1550 nm. . . . . . . . . . . . 14
1.5 Transformada de Fourier del interferograma de un láser monocromático a 1550
nm. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
1.6 Interferograma de un LED centrado a 1550 nm. . . . . . . . . . . . . . . . . 15
1.7 Transformada de Fourier del interferograma de un LED a 1550 nm. . . . . . 15
1.8 Michelson como medidor de longitud de onda. . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
1.9 Interferogramas de una señal desconocida y un láser He-Ne a 633 nm. . . . . 17
1.10 Interferograma de la mezcla de tres señales monocromáticas desconocidas. . . 18
1.11 Transformada de Fourier del interferograma de tres señales desconocidas. . . 19
1.12 Transformada de Fourier del interferograma de tres señales desconocidas y
una de referencia. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
1.13 Interferómetro de Fabry-Perot. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
1.14 Transmitancia de una cavidad FP para diferentes reflectancias . . . . . . . . 24
1.15 Transmitancia de una cavidad FP para cambios del ı́ndice de refracción . . . 25
1.16 Transmitancia de una cavidad FP para cambios de la longitud L del medio . 26
1.17 Transmitancia de una cavidad FP para cambios del ángulo de incidencia de
la luz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
1.18 Función de transferencia de un FP . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
1.19 Diagrama de Bloque de un OSA basado en red de difracción . . . . . . . . . 29
1.20 Funcionamiento de un Prisma como elemento dispersivo . . . . . . . . . . . . 31
1.21 Red de difracción como elemento dispersivo . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
1.22 Esquema de funcionamiento de una red de difracción . . . . . . . . . . . . . 33
1.23 Funcionamiento esquemático de un analizador de red de difracción . . . . . . 34
1.24 Mejora del error de barrido mediante control directo . . . . . . . . . . . . . . 35
1.25 Forma del filtro para dos rendijas rectangulares iguales . . . . . . . . . . . . 36

ix
1.26 Forma del filtro para dos rendijas rectangulares de diferente anchura . . . . . 36
1.27 Forma del filtro para un OSA que usa una fibra óptica como rendija de entrada 37
1.28 Curvas caracterı́sticas del fotodiodo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 38
1.29 Corte transversal de un fotodiodo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
1.30 Responsividades relativas de fotodiodos de Si, Ge e InGaAs . . . . . . . . . . 39
1.31 Monocromador Simple . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
1.32 Monocromador Doble con etapas de filtrado en serie . . . . . . . . . . . . . . 41
1.33 Monocromador Doble con etapas de filtrado en paralelo . . . . . . . . . . . . 41
1.34 Monocromador de paso Doble . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
1.35 Monocromador de paso Cuádruple . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
1.36 Parámetros a considerar en la medida con un OSA . . . . . . . . . . . . . . 44
1.37 Cuatro componentes espectrales de un láser Fabry-Perot medidas cada una
con diferente resolución de rendija . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
1.38 Medida del rechazo al modo lateral de un láser DFB . . . . . . . . . . . . . . 47
1.39 Lı́mites tı́picos del rango dinámico para diferentes configuraciones de monocro-
madores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
1.40 Atenuación espectral de la fibra y bandas de amplificación . . . . . . . . . . 49
1.41 ORR . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
1.42 Importancia del ORR para la correcta identificación de señales . . . . . . . . 51
1.43 Señal con una amplitud igual al nivel de sensibilidad . . . . . . . . . . . . . 52
1.44 Diseño de un OSA de red de difracción insensible a la polarización . . . . . . 55
1.45 Diagrama representativo del procesado de señal en un OSA . . . . . . . . . . 57

2.1 Medida automática de un LED . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63

2.2 Parámetros que definen la emisión de un LED . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
2.3 Mecanismos de generación de luz en diodos láser . . . . . . . . . . . . . . . . 66
2.4 Medida automática de un láser Fabry-Perot . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
2.5 Parámetros que definen la emisión de un laser Fabry-Perot . . . . . . . . . . 68
2.6 Medida automática de un láser DFB . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
2.7 Parámetros que definen la emisión de un laser DFB . . . . . . . . . . . . . . 71
2.8 ASE de los amplificadores de Er de banda C y L . . . . . . . . . . . . . . . . 72
2.9 Medida automática del ASE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
2.10 Sistema de medida de elementos pasivos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74
2.11 Medida de un filtro de longitud de onda con un OSA . . . . . . . . . . . . . 75
2.12 Arquitectura de un sistema de WDM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76
2.13 Medida automática de una señal de WDM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77

x
2.14 Degradación de la señal de WDM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
2.15 Definición de planitud y deriva en un sistema de WDM . . . . . . . . . . . . 81
2.16 Obtención de OSNR en señales de WDM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
2.17 Factores que influyen en la incertidumbre de medida de la OSNR . . . . . . 83

3.1 Medida de la resolución de ancho de banda con un láser de referencia . . . . 90

3.2 Test de resolución de ancho de banda usando una fuente de banda ancha y
un filtro de transmisión . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 91
3.3 Test de resolución de ancho de banda usando un medidor de referencia . . . 91
3.4 Montaje para la calibración del nivel de potencia bajo condiciones de referen-
cia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94
3.5 Montaje para determinar la dependencia con la longitud de onda en la cali-
bración del nivel de potencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 96
3.6 Montaje para determinar la dependencia con la polarización en la calibración
del nivel de potencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97
3.7 Montaje para determinar la linealidad de la incertidumbre del nivel de potencia100
3.8 Montaje para determinar la dependencia de la temperatura del nivel de potencia101

4.1 Variación del ı́ndice del aire estándar con la longitud de onda . . . . . . . . . 113
4.2 Variación de la longitud de onda por cambio de temperatura en aire . . . . . 114
4.3 Variación de la longitud de onda por cambio de presión en aire . . . . . . . . 114
4.4 Espectro de emisión de una lámpara de Mercurio (Hg) entre 700 y 1700 nm . 120
4.5 Espectro de emisión de una lámpara de Argón (Ar) entre 700 y 1700 nm . . 120
4.6 Espectro de emisión de una lámpara de Kripton (Kr) entre 700 y 1700 nm . 121
4.7 Espectro de emisión de una lámpara de Neón (Ne) entre 700 y 1700 nm . . . 121
4.8 Espectro de emisión de una lámpara de Xenón (Xe) entre 700 y 1700 nm . . 122
4.9 Ajuste lineal de la desviación en longitud de onda . . . . . . . . . . . . . . . 128
4.10 Cavidad Fabry-Perot con diferentes multicapas . . . . . . . . . . . . . . . . . 129
4.11 Transmitancias para 100µm y 500µm de longitud de cavidad FP con diferentes
espesores de multicapa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130
12
4.12 Lı́nea de absorción P4 (1527.441 nm) del acetileno C2 H2 para diferentes
presiones . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 133
12
4.13 Espectro de absorción del acetileno C2 H2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 135

xi
4.14 (a) Configuración cuando se usa el SRM con una fuente de banda ancha para
calibrar un analizador de espectros óptico. (b) Configuración cuando se usa el
SRM para calibrar una fuente sintonizable. Se puede calibrar un medidor de
longitud de onda usando un láser sitonizable con la configuración de la figura
(b) y midiendo las longitudes de onda con el medidor . . . . . . . . . . . . . 137
4.15 Montaje para la calibración de un OSA empleando un medidor de referencia 142
4.16 Mezcla de cuatro ondas no degenerada . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 146

5.1 Sintonı́a del láser sintonizable en barrido grueso . . . . . . . . . . . . . . . . 152

5.2 Estabilidad de potencia del láser sintonizable durante 40 minutos . . . . . . 153
5.3 Montaje empleado en la realización de un patrón de frecuencias . . . . . . . 154
5.4 Amplificador corriente-tensión . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 157
5.5 Diagrama de flujo de la fase de Inicialización . . . . . . . . . . . . . . . . . . 163
5.6 Interfaz gráfica de la fase de Inicialización . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 164
5.7 Diagrama de flujo de la fase de Barrido Grueso . . . . . . . . . . . . . . . . 166
5.8 Diagrama de flujo de la rutina de Barrido Grueso . . . . . . . . . . . . . . . 167
5.9 Interfaz gráfica de la fase de Barrido Grueso . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167
5.10 Diagrama de flujo de la fase de Barrido Fino . . . . . . . . . . . . . . . . . . 169
5.11 Diagrama de flujo del Barrido 1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 170
5.12 Diagrama de flujo del Barrido 2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 171
5.13 Diagrama de flujo del Barrido 3 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 172
5.14 Interfaz gráfica de la fase de Barrido Grueso . . . . . . . . . . . . . . . . . . 173
5.15 Diagrama de flujo de la fase de Estabilidad . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 174
5.16 Pantalla de visualización de la fase de Estabilidad . . . . . . . . . . . . . . . 175
5.17 Ajuste Lorentziano para la lı́nea R9 completa . . . . . . . . . . . . . . . . . 177
5.18 Barrido Fino y ajuste Lorentziano para la lı́nea P9 . . . . . . . . . . . . . . 178
5.19 Barrido Fino y ajuste Lorentziano para la lı́nea P4 . . . . . . . . . . . . . . 178
5.20 Barrido Fino y ajuste Lorentziano para la lı́nea R11 . . . . . . . . . . . . . . 179
5.21 Ajuste Lorentziano para la lı́nea R11 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 179
5.22 Ajuste de un polinomio de 2o grado . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 180
5.23 Medida de la estabilidad del láser sintonizable en la lı́nea P9 durante 45 minutos181
5.24 Medida de la estabilidad del láser sintonizable en la lı́nea P6 durante 10 minutos182
5.25 Montaje implementado en la realización del patrón de frecuencias . . . . . . 227

xii
 Introducción

La transmisión rápida y efectiva de la información de un lugar a otro es uno de los

motores necesarios para acelerar el proceso de globalización de la Sociedad. En la ”Edad
de la Información”, las comunicaciones ópticas se constituyen como una de las herramientas
más importantes para incentivar el progreso, desarrollo y modernización de los paı́ses.

El aumento constante en la demanda de la capacidad de enviar información ha provocado

el desarrollo de cinco diferentes generaciones de sistemas de comunicaciones por fibra óptica,
desde sus inicios mediados los años setenta. Desde la liberalización de las telecomunicaciones
en España, nos encontramos, desde nuestro punto de vista, en transición entre una tercera
generación de sistemas de fibra óptica (transmisión a 1550 nm con repetidores electroópticos)
-la primera generación serı́a las comunicaciones multimodo a 850 nm/1300 nm y la segunda
las comunicaciones con fibra monomodo a 1300 nm y velocidades superiores a 1Gb- y una
cuarta generación de sistemas usando amplificadores ópticos y que aumenta la capacidad de
enviar información mediante multiplexado por división de longitud de onda (WDM). Una
quinta generación debe basarse en transmisión de solitones y manipulación de las dispersiones
en la fibra óptica.

El multiplexado por división de longitud de onda (WDM) ha experimentado un extraor-

dinario crecimiento dentro de los sistemas de comunicaciones. Los iniciales sistemas WDM
que usaban dos canales a 1.3 y 1.5 µm han dejado paso a los nuevos sistemas con 96 canales
dentro de los 35 nm de la banda C de los amplificadores de fibra dopada con erbio, o a
futuros sistemas aprovechando la banda L de amplificación del erbio, que incorporarı́an 220
canales en los 80 nm disponibles para la amplificación.

La implantación de los sistemas de WDM conlleva nuevas necesidades de medida y, en

consecuencia, nuevos patrones para la calibración de la instrumentación y los dispositivos
utilizados en los nuevos sistemas de comunicaciones. Los requerimientos de caracterización
de los nuevos sistemas se han incrementado de forma considerable. Los sistemas diseñados

1
para DWDM (multipexado denso por división de longitud de onda), incorporan dispositivos
activos, como láseres, filtros sintonizables, amplificadores, sistemas de ’add and drop’, detec-
tores, o dispositivos pasivos, como aisladores, multiplexadores y demultiplexadores, redes de
Bragg, que deben ser caracterizados en condiciones estáticas y dinámicas. En este contexto
el conocimiento exacto y preciso del espectro de emisión y la potencia de las fuentes láser
utilizadas es una medida clave en la caracterización de estos sistemas, y los analizadores de
espectro ópticos, los láseres sintonizables o los medidores de longitud de onda son instru-
mentos de vital importancia para la caracterización y mantenimiento de las redes de WDM
y DWDM.

Con el fin primordial de dar la más alta calidad en las comunicaciones, con el mı́nimo
coste, los sistemas de WDM aprovechan la banda completa de los amplificadores ópticos,
introduciendo el óptimo número de longitudes de onda que es posible transmitir por la
misma fibra. Sin embargo, estas longitudes de onda no deben interferir unas con otras,
deben espaciarse suficientemente de forma tal que se asegure que posibles ’driff’ o ’chirp’
que los láseres puedan sufrir, no produzcan interferencias con los canales vecinos. Para ello
es necesario que los niveles de potencia de los canales y su longitud de onda permanezcan
constantes y fijos, y es necesario optimizar las relaciones señal/ruido de las señales enviadas.

Como consecuencia, en el diseño, instalación y monitorización de los sistemas de WDM

es necesario introducir ciertos cambios en las rutinas de medida de estos sistemas:

· En un sistema con una única longitud de onda, la longitud de onda absoluta de la fuente
y de los componentes asociados no son crı́ticos, sin embargo, en sistemas de WDM la
longitud de onda de emisión de los láseres debe ser medida con precisión de 0.01 nm,
y los estudios de su envejecimiento e inestabilidades deben realizarse con resoluciones
de 0.001 nm (¡1 pm!).

· Las pérdidas dependientes de la longitud de onda de los componentes adquieren ahora más
importancia. Los multiplexores de longitud de onda y los receptores deben rechazar las
señales de los canales adyacentes. Esto requiere exactitud y rango dinámico suficiente
en las medidas. ’Cross talk’ entre canales puede ser introducido por la generación de no
linealidades de la fibra, provocando, estos efectos no lineales, el transvase de potencia
de un canal a otro. Es necesario pues, el control de la potencia total enviada por la
fibra.

2
· La monitorización de la longitud de onda, potencia transmitida en cada canal, y relación
señal/ruido en la red de WDM es imprescindible para el mantenimiento de las mismas.
La localización de fallos en la red de WDM no puede hacerse ahora mediante una
simple monitorización de potencia entre puntos, sino que se debe tener conocimiento
de la longitud de onda que genera el problema.

En este contexto, los analizadores de espectros ópticos (OSA) y los modernos medidores
de múltiples longitudes de onda (MWM) o analizadores de canales (OCA) de WDM, como
instrumentos que asignan potencias ópticas a cada una de las longitudes de onda transmi-
tidas, toman un valor esencial en el diseño, instalación y mantenimiento de los modernos
sistemas de transmisión de información por fibra óptica. La medida de la longitud de onda
con analizadores ópticos, hasta el momento se realizaba con resoluciones de 0.1 nm y la
incertidumbre absoluta de los sistemas no era menor de 1 nm, tolerándose no linealidades
de 0.2 nm a lo largo de su escala de longitudes de onda. Los actuales sistemas de medida
espectral consiguen resoluciones de 0.01 nm o mejores y requieren reducir la incertidumbre
de su calibración a valores similares o superiores. Además de la medida de la longitud de
onda, los OSA y MWM se utilizan frecuentemente para la medida de la potencia óptica de
forma relativa o absoluta, por lo que la calibración de la escala de potencia y especialmente
la medida de su linealidad es otra importante demanda de mejora en las incertidumbres en
la calibración de estos equipos. La medida de la potencia y longitud de onda con el grado
de exactitud requerido, sólo puede realizarse con calibraciones sistemáticas y frecuentes de
los sistemas de medida, debido a que los OSA y MWM, comprenden partes mecánicas sus-
ceptibles de desajustes y de cambios por condiciones ambientales. Además, son necesarios
sistemas compactos y de sencilla aplicación para la calibración de la potencia y de la longitud
de onda en los entornos diversos de utilización de estos instrumentos.

De acuerdo con estas ideas, nos hemos planteado realizar el presente proyecto con los
objetivos siguientes:

1) Realizar un patrón de frecuencias o longitudes de onda con incertidumbre

inferior a 0.01 nm, apropiado para la calibración de los OSAs y MWMs
usados en WDM.

2) Realizar técnicas de calibración que puedan aplicarse de forma relativamente

fácil en laboratorios metrológicos.

3
 La presente memoria, que recoge la labor realizada en este sentido, se ha estructurado
de la siguiente forma:

En el primer capı́tulo: ’El análisis de espectro óptico’ se describen los diferentes tipos
de analizadores de espectros ópticos (OSA) más comúnmente usados, como son los basados
en interferómetros tipo Michelson y tipo Fabry-Perot, y analizadores ópticos basados en
redes de difracción. En particular y de forma más extensa nos centraremos en la descripción
de las propiedades y funcionamiento de un OSA basado en red de difracción ya que éstos
son los de uso más extendido.

En el capı́tulo 2, ’Aplicaciones de los analizadores de espectro óptico’, se describen

algunas de las aplicaciones más comunes de los analizadores de espectros ópticos. Para ello
nos fijaremos fundamentalmente en los parámetros que se deben obtener del analizador en
cada una de las aplicaciones descritas y que de forma general los modernos OSA ya incorporan
implementadas en el software interno del equipo.

En el tercer capı́tulo, ’Métodos de calibración de OSA’, se transcribe casi de forma

literal la norma IEC-97 para calibración de analizadores de espectros ópticos. El propósito
de este capı́tulo es presentar la metodologı́a propuesta por IEC para la calibración total del
OSA (en potencia y longitud de onda), que de forma particular aplicamos en casos prácticos
en el capı́tulo cuarto, para la calibración de la escala de longitudes de onda de los OSA.

En el cuarto capı́tulo, ’Aplicación de los métodos de calibración a analizadores

de espectros ópticos’, se describen diferentes métodos de calibración de analizadores de
espectros ópticos y que han sido implementados o simulados en nuestro laboratorio. En
él se indica, en cada uno de los casos: el patrón de referencia usado, con los valores de
referencia por nosotros conocidos, el instrumental y el montaje experimental que se requiere
para poder usarlos. De los métodos descritos, el Fabry-Perot de referencia y la mezcla de
cuatro ondas, han sido solamente simulados pero no aplicados a analizadores de espectros
reales. Los demás métodos descritos, se han implementado en el laboratorio y se ilustran
con un ejemplo de calibración realizado sobre un equipo comercial, consiguiéndose con ello
dos resultados: por un lado, con la implementación de estos métodos hemos analizado sus
ventajas e inconvenientes y sus posibilidades de aplicación en el objetivo general del proyecto,
por otro lado, las rutinas implementadas se pueden transferir a otros laboratorios para su
uso en la calibración de estos instrumentos.

4
 En el capı́tulo 5, ’Realización de un patrón de frecuencias’, se describe de forma
detallada la realización de un patrón de frecuencias para la calibración de analizadores de
espectros ópticos mediante la sintonı́a de un láser sobre un conjunto de lı́neas de absorción
conocidas del acetileno. En este capı́tulo se describe también el software implementado para
el ’anclaje’ del láser en las lı́neas de absorción, que se puede utilizar con otras células de
absorción. Estudiamos también la incertidumbre obtenida en la realización del patrón de
frecuencias y lo aplicamos a la calibración de medidores de longitud de onda.

Por último, bajo el epı́grafe ‘Conclusiones’, destacamos las conclusiones del trabajo y
los futuros desarrollos que pueden realizarse como continuidad del mismo.

5
6
Capı́tulo 1

El análisis de espectro óptico

Una de las propiedades fundamentales de la señal usada en comunicaciones por fibra óptica
es su contenido espectral. El contenido espectral de la señal entendido como la relación de
frecuencias ópticas transmitidas y su potencia absoluta o relativa lo obtenemos usando los
analizadores de espectros ópticos.

Los analizadores de espectros ópticos (OSA) consisten en esencia en un filtro paso banda
sintonizable y un medidor de potencia. Mediante el filtro sintonizable se seleccionan las
diferentes frecuencias ópticas (longitudes de onda) y con el medidor se evalúa la potencia de
cada una de ellas. Tı́picamente los OSA usan como filtro sintonizable una red de difracción
que rota sobre su eje para seleccionar la zona del espectro a medir, no obstante en los
actuales OSA otros sistemas diferentes de filtrado de luz, como los interferómetros se están
implementando.

El propósito de este capı́tulo es revisar los diferentes tipos de OSA comúnmente usados
en el análisis espectral óptico: OSA basado en interferómetros tipo Michelson y tipo Fabry-
Perot, y analizadores ópticos basados en redes de difracción. En particular y de forma más
extensa nos centraremos en la descripción de las propiedades y funcionamiento de un OSA
basado en red de difracción ya que éstos son los más comúnmente usados.

1.1 Tipos de analizadores de espectro óptico

El análisis de espectro óptico es la medida de la potencia óptica en función de la longitud
de onda (λ), o de forma más general en función de la frecuencia óptica (ν). En muchas
aplicaciones es importante conocer la emisión de láseres y LEDs, su pureza espectral y la
distribución de potencia sobre el intervalo de longitudes de onda en el que emite, ası́ como las
caracterı́sticas de transmisión espectral de los componentes ópticos usados. El conocimiento

7
del espectro de una fuente de luz es un parámetro importante en sistemas de comunicación
por fibra óptica porque puede limitar las capacidades del propio sistema. Por ejemplo,
la dispersión cromática (CD) que tiene lugar en la fibra, unido al ancho espectral de la
fuente, puede limitar el ancho de banda de modulación del sistema y por consiguiente su
capacidad de transmitir información. El efecto de la dispersión cromática puede verse en el
dominio del tiempo como un pulso que ensancha la forma de onda de la señal digital. Ya
que la CD es función del ancho espectral de la fuente de luz, para sistemas de comunicación
de alta velocidad se requieren fuentes de luz espectralmente estrechas. En estos sistemas,
el conocimiento del espectro de emisión de la fuente es vital en el diseño del sistema de
comunicación.

Figura 1.1 Emisión espectral de un láser de cavidad Fabry-Perot.

La figura 1.1 muestra el espectro medido a un láser de cavidad Fabry-Perot (FP). Un láser
FP no es púramente monocromático (lo veremos con más detalle en el capı́tulo 2) y consiste
en una serie de modos longitudinales (longitudes de onda) uniformemente espaciadas con un
perfil de amplitud determinado por las caracterı́sticas del medio de amplificación del láser,
en este caso la cavidad Fabry-Perot. En el estudio de un diodo laser de cavidad FP se debe
conocer para caracterizarlo el espaciamiento entre modos y su distribución de potencia, la
longitud de onda media de emisión y su ancho espectral, que definirán las propiedades de

8
coherencia del láser.

De forma general los analizadores de espectro óptico pueden dividirse en las siguientes
categorı́as:

. Analizadores de red de difracción

. Analizadores interferométricos:

⇒ Interferómetro tipo Fabry-Perot

⇒ Interferómetro tipo Michelson

Analizadores de red de difracción:

Estos son los OSA más comúnmente usados y emplean como filtro óptico sintonizable
una red de difracción. El conjunto de rendija de entrada, espejo y red de difracción o prisma
óptico que rota, forman un monocromador que actúa como filtro óptico sintonizable. De los
diferentes tipos de monocromadores, los basados en prismas no se suelen utilizar en sistemas
de fibra óptica, ya que su poder dispersivo en el infrarrojo es pequeño y no pueden obtenerse
filtros de alta resolución con ellos. Por ello en fibra óptica se utilizan de forma general redes
de difracción. Los OSA de red de difracción pueden medir el espectro tanto de láseres como
de fuentes LED. Su resolución espectral es variable, siendo valores tı́picos los comprendidos
entre 0.1 y 5 nm, y depende del tamaño fı́sico de la rendija y del poder de difracción de la
red.

Analizadores basados en interferómetros Fabry-Perot:

Un interferómetro Fabry-Perot consiste en dos superficies altamente reflejantes y parale-

las, que actúan como una cavidad resonante que filtra la luz incidente. La resolución de un
OSA que usa un Fabry-Perot depende de los coeficientes de reflexión de los espejos y de la
longitud de la cavidad. La selección de longitud de onda se hace desplazando uno de los
espejos del interferómetro.

Su ventaja reside en la sencillez de construcción, su simplicidad y que potencialmente

resuelve longitudes de onda más estrechas que las de los OSA basados en redes de difracción.
Su resolución está tı́picamente entre 100 MHz y 10 GHz (0.8 pm y 78 pm). Debido a su gran
resolución pueden ser usados para medir “laser chirp”en láseres pulsados, pero normalmente
su rango de medida es mucho más limitado que los OSA basados en red de difracción.

9
 Analizadores basados en interferómetros Michelson:

Estos analizadores de espectro usan un interferómetro Michelson como sistema de filtrado

óptico. En el interferómetro Michelson que incluyen se realiza la autocorrelación de la
señal incidente (interferograma) y el espectro de la fuente medida debe obtenerse como
transformada de Fourier de este interferograma. La resolución del instrumento depende de
la diferencia de camino generada en el interferómetro. Para asignar valores de longitud de
onda, se requiere una fuente láser de referencia. Con este tipo de OSA se reduce de forma
considerable el rango dinámico de potencias que se puede medir en comparación con los OSA
basados en redes de difracción.

1.1.1 Diagrama básico de funcionamiento de un OSA

En la figura 1.2 se muestra el diagrama de bloques simplificado de un analizador de

espectros óptico. La luz entrante pasa a través de un filtro óptico sintonizable en longitud
de onda que separa cada una de las componentes espectrales individuales. Un fotodetector
convierte la señal óptica en una corriente eléctrica proporcional a la potencia óptica incidente.
La corriente del fotodetector es convertida en tensión por un amplificador de transimpedancia
y después es digitalizada. Un generador de rampa determina la localización horizontal de
la traza mientras realiza barridos de izquierda a derecha. Además, el generador de rampa
sintoniza el filtro óptico para que su longitud de onda de resonancia sea proporcional a
la posición horizontal. El resultado es la representación de la potencia óptica frente a la
longitud de onda. El ancho representado de cada modo del láser es función de la resolución
espectral del filtro óptico sintonizable en longitud de onda. .

Cualquier proceso restante, como por ejemplo, la aplicación de factores de corrección, se

realiza de forma digital. Finalmente la señal se presenta en la pantalla del OSA como un
conjunto de datos en los que el eje horizontal representa las frecuencias ópticas (o longitudes
de onda) y en el eje vertical las potencias relativas medidas para cada una de estas frecuencias
ópticas.

En los siguientes apartados vamos a describir brevemente cada uno de estos tipos de
analizadores de espectro óptico, fijándonos en la forma que usan para la medida del espectro
óptico. Nos detendremos con mayor profundidad en la descripción del analizador de espectros
óptico basado en red de difracción por ser el más utilizado.

10
 Figura 1.2 Diagrama Básico de un OSA.

1.2 El interferómetro Michelson como medidor de lon-

gitud de onda
Un interferómetro Michelson representa el espectro calculando la transformada de Fourier
de un patrón de interferencia medido. Se basa en la creación de una interferencia entre la
señal y una versión de ella misma retrasada. La potencia de esta interferencia patrón se
mide para un rango de valores retrasados. La forma de onda resultante es la función de
autocorrelación de la señal de entrada. Para determinar el espectro de potencia de la señal
de entrada, se aplica la transformada de Fourier a la forma de onda de autocorrelación.
Este tipo de analizadores suele tener un menor rango dinámico que los basados en red de
difracción.

La figura 1.3 representa el diagrama de funcionamiento de un interferómetro Michelson.

La luz que emerge de una fibra óptica se colima e incide directamente sobre la entrada del
interferómetro. Cuando se usa un Michelson como medidor de longitud de onda se suele
utilizar fibra óptica monomodo. La señal de entrada se divide en dos por medio de un
divisor de haz (Beamsplitter-BS). Ambos rayos inciden sobre espejos de reflectancia 100% y
posteriormente se recombinan de nuevo sobre el divisor de haz. Estos espejos a menudo se
construyen como retrorreflectores, de forma que reflejan la luz en un ángulo muy próximo al
ángulo con el que incidió la luz sobre el espejo a la entrada. Estos espejos introducen una
diferencia de camino óptico, que retrasan los rayos luminosos uno respecto del otro cuando

11
 Figura 1.3 Esquema de un interferómetro Michelson.

se desplaza el espejo móvil, siendo luego reunidos con el BS para producir la interferencia.
La señal de interferencia es detectada por un fotodiodo y posteriormente la forma de onda
de la señal sintetizada se somete a la transformada de Fourier para obtener el espectro de
potencia. Con este sistema se puede medir de forma muy precisa la longitud de onda gracias
a que se puede obtener una gran resolución haciendo más largo el brazo del interferómetro.

Si los espejos estuviesen situados a la misma distancia del divisor de haz, despreciando
las diferencias debidas al espesor del espejo, los haces se recombinarı́an en fase, y no se
obtendrı́a interferencia. Si se alejan los espejos, las diferencias de camino óptico producirán
franjas de interferencia (interferencias constructivas o destructivas), que dependerán tanto
de la distancia entre los espejos como de la longitud de onda de la radiación utilizada.

A través del análisis del conjunto de franjas obtenido (interferograma), puede obtenerse
la longitud de onda. El interferograma se puede estudiar desde dos puntos de vista, por un
lado, conocida la longitud de onda del láser que produce el sistema de franjas interferenciales,
puede conocerse el retardo entre ambos brazos o la diferencia de longitud fı́sica de ambos
brazos (un Michelson trabajando de esta manera se usa en medidas de longitudes fı́sicas o
por ejemplo en la medida de la dispersión cromática y dispersión del modo por polarización
(PMD) de una fibra). Por otra parte, cuando se desconoce la longitud de onda de la fuente

12
que produce el sistema de franjas de interferencia, el número de franjas producidas por la
diferencia de camino conocida nos determina la longitud de onda de la luz incidente. Ası́
funciona un Michelson como medidor de longitud de onda.

Profundicemos en la descripción del Michelson como medidor de longitud de onda.

Usándose una luz monocromática como fuente, cuando la distancia desde el separador de
haz a cada uno de los espejos es igual, se obtiene una interferencia constructiva y la señal
que llega al detector es máxima. Al moverse el espejo móvil, los dos haces que convergen en
el separador de haz estarán fuera de fase y la señal que llega al detector decrece; cuando el
espejo se ha movido hasta 1/4 λ los haces convergentes tienen un desfase de 180o , entonces la
interferencia es destructiva y la señal que llega al detector es cero. El movimiento posterior
del espejo dará máximos en los pasos ópticos de l/2 λ y ceros en los múltiplos impares de
l/4 λ. La distancia recorrida por el espejo móvil, D, se llama diferencia de camino óptico, o
retraso. Si el movimiento del espejo ocurre a una velocidad constante se produce una onda
cosenoidal. El punto en el que las distancia entre el BS y el espejo fijo es igual a la distancia
entre el BS y el espejo móvil se llama “diferencia de trayecto cero”(ZPD).

La luz reflejada por los dos espejos que interfiere se combina sobre el detector. Para
que se produzca interferencia, la luz que proviene de ambos brazos debe superponerse en el
espacio y tener la misma polarización. La forma de la corriente en el fotodetector será:

2π∆L
I(∆L) = 1 + cos( )+φ (1.1)
λ
donde:
I es la corriente del detector.
∆L es la diferencia en longitud entre los brazos del interferómetro.
λ es la longitud de onda de la luz monocromática incidente.
φ es la diferencia de fase residual del interferómetro en ZPD.

Como se puede apreciar en la figura 1.3, ∆L es dos veces el movimiento de los espejos.
Si la diferencia de longitud (∆L), es un múltiplo entero de la longitud de onda de la luz en
el medio del interferómetro, la interferencia es constructiva.

La figura 1.4 muestra un fragmento de la simulación del interferograma para un láser

a 1550 nm. En ella se muestran posiciones alternativas de luz y oscuridad. La figura 1.5
muestra su transformada de Fourier centrada en una longitud de onda cualquiera.

En el caso de un LED a 1550 nm, la simulación del interferograma y la correspondiente

transformada de Fourier tendrán una forma parecida a las de las figuras 1.6 y 1.7.

13
 Figura 1.4 Interferograma para un láser monocromático a 1550 nm

Figura 1.5 Transformada de Fourier del interferograma de un láser monocromático a 1550 nm

14
 Figura 1.6 Interferograma de un LED centrado a 1550 nm

Figura 1.7 Transformada de Fourier del interferograma de un LED a 1550 nm

15
 Para el caso de un LED, la corriente que recoge el fotodetector tiene la forma funcional:
π 4∆L∆λ 2 2π∆L
I(∆L) = 1 + exp[− √ ( 2 2
) ] cos( ) (1.2)
4 2 λ − ∆λ λ
para un LED de forma gaussiana siendo ∆λ el ancho del LED a mitad de altura.

Estas figuras demuestran que un interferómetro de Michelson puede distinguir entre una
fuente de espectro estrecho y otra de espectro ancho.

1.2.1 Medida de la longitud de onda con respecto a una longitud

de onda patrón
En un interferómetro Michelson operando como medidor de longitud de onda, se comparan
unas longitudes de onda con respecto a otra conocida. Cuando el espejo se mueve una
longitud, las franjas de interferencia pueden contarse para ambas λ, entonces la longitud de
onda desconocida puede obtenerse usando la expresión:
N r nµ
λµ = λr (1.3)
N µ nr

siendo:
λr la longitud de onda de referencia.
Nr el número de franjas de interferencia para la λr .
Nµ un número de franjas de interferencia para la λ desconocida.
nr el ı́ndice de refracción de la λr .
nµ el ı́ndice de refracción de la λ desconocida.

Para usar esta expresión se necesita una medida del ı́ndice de refracción del medio del
interferómetro.

Habitualmente, en un Michelson como medidor de longitud de onda, se utiliza un láser

de He-Ne (632.991 nm) como longitud de onda de referencia.

Cuando se utiliza un Michelson con un láser de referencia como medidor de longitud de

onda, la precisión del sistema está limitada por las siguientes condiciones:

- Ambos láseres deben recorrer el mismo camino pero en direcciones opuestas. Es decir el
alineamiento es crı́tico.

- La incertidumbre está limitada por el conocimiento de la frecuencia del láser de referencia.

Su estabilidad y coherencia son pues muy importantes.

16
 Figura 1.8 Michelson como medidor de longitud de onda

Figura 1.9 Interferogramas de una señal desconocida y un láser He-Ne a 633 nm

17
- La relación de ı́ndices de refracción entre las longitudes de onda del láser de referencia y
del que se mide debe conocerse muy bien. No es necesario el conocimiento del ı́ndice
de refracción absoluto pero sı́ su relación, en este caso el conocimiento de la dispersión
del medio es crı́tico.

La figura 1.8 muestra la configuración de un Michelson, usando una longitud de onda

como referencia y la figura1.9 la simulación del interferograma comparativo obtenido entre
ambas longitudes de onda.

Cuando a un interferómetro Michelson le introducimos varias longitudes de onda, el

interferograma registrado tendrá la forma de la figura 1.10.

Figura 1.10 Interferograma de la mezcla de tres señales monocromáticas desconocidas.

Este interferograma, simulado, no muestra periodos regulares y parte del mismo puede
tener potencias bajas. En este caso los contadores de franjas pueden tener problemas para
calcular la λ de forma precisa, si bien se puede obtener el espectro de la fuente mediante la
transformada de Fourier como se muestra en la figura 1.11.

A partir de la transformada de Fourier y conociendo la situación exacta de la señal de

referencia ya que se conoce la longitud de onda (frecuencia) de la misma, se puede calcular la
diferencia en frecuencia de las señales desconocidas respecto de la de referencia, y podremos
obtener las frecuencias de las señales desconocidas. Un ejemplo de esta situación se muestra

18
 Figura 1.11 Transformada de Fourier del interferograma de tres señales desconocidas.

en la figura 1.12, donde las señales desconocidas de la figura 1.11 se representan ahora
relacionadas con la señal de referencia del He-Ne.

Para resolver la transformada de Fourier el muestreo del interferograma debe realizarse a

intervalos regulares. La distancia entre las muestras del interferograma controla la máxima
frecuencia espacial que se puede obtener. Usando el teorema de Nyquist, la máxima frecuen-
cia espacial que se puede medir sin solapamiento es:

1
σmax = (m) (1.4)
2σi,i+1

donde σi,i+1 es la separación entre muestras.

La frecuencia espacial se llama número de onda y su frecuencia temporal se obtiene

multiplicándola por la velocidad de la luz en el medio. Al operar con la transformada
discreta de Fourier, la separación en frecuencia en los datos está dada por:

1
σsep = (1.5)
σtot

donde σtot es la distancia total.

19
Figura 1.12 Transformada de Fourier del interferograma de tres señales desconocidas y una de
referencia.

1.3 El interferómetro Fabry-Perot como medidor de

longitud de onda

Los interferómetros Fabry-Perot se usan normalmente para análisis en banda estrecha y

alta resolución óptica, es decir, siempre que la resolución de los monocromadores de red de
difracción no sea suficiente. Un Fabry-Perot, no es más que un resonador óptico sintonizable,
compuesto por dos espejos paralelos parcialmente transparentes, es decir, está constituido
por una cavidad resonante formada por un medio óptico de una longitud determinada, L,
denominado etalón, colocado entre dos espejos idénticos de reflectividad r. Generalmente
estos espejos son altamente reflectantes (por encima del 99%) con el fin de reducir el ancho
de banda óptico. Como espejos de alta calidad se suelen usar recubrimientos de múltiples
capas dieléctricas depositadas sobre sustratos de cuarzo.

Su principio de funcionamiento es bastante simple y se representa en la figura 1.13: la

luz incidente en el dispositivo es alineada atravesando la cavidad siendo reflejada por la capa
reflectora, esta señal reflejada, a su vez, atraviesa la cavidad en sentido contrario y es reflejada

20
 Figura 1.13 Interferómetro de Fabry-Perot.

por la otra capa reflectora atravesando nuevamente la cavidad, ası́ el rayo luminoso incidente
sufre, al entrar en la cavidad, múltiples reflexiones. Las señales reflejadas interfieren con la
señal incidente, en este caso éstas poseen una longitud de onda que será un múltiplo entero
de la señal sufriendo una interferencia constructiva y siendo transmitida fuera de la cavidad,
en caso contrario la interferencia es destructiva y la señal es atenuada.

La longitud de la cavidad, L, está dada por:

iλ
L= (1.6)
2n
donde:
i es un número entero (i=1,2,3,...).
λ es la longitud de onda de la señal incidente.
n es el ı́ndice de refracción del medio comprendido entre los dos espejos (etalón).

A la salida de este dispositivo, la luz se añade constructiva o destructivamente depen-

diendo de la longitud de la cavidad y la longitud de onda de la luz. Un comportamiento
similar de interferencia ocurre sobre la luz reflejada. De esta ecuación se puede deducir que
además de la longitud de onda deseada, también sus múltiplos son transmitidos. Se observa
también que si se desea seleccionar una nueva longitud de onda que no sea múltiplo de la
primera se debe variar el camino óptico del rayo, esto puede hacerse variando la longitud del
etalón (L), o modificando su ı́ndice de refracción (n).

Vamos a analizar qué ocurre con estas múltiples reflexiones representadas en la figura
1.13. Para simplificar, se asumirá que todos los rayos son perpendiculares a las superficies

21
de los espejos.

El campo eléctrico incidente E0 es parcialmente reflejado en el espejo A con un factor r0

y parcialmente transmitido con un factor ti . Cuando el campo transmitido traspasa el espejo
B, aparece retrasado y multiplicado por to . En consecuencia, el campo eléctrico parcial T1
es:
T1 = ti to E0 exp(−jβL) = tE0 exp(−jβL) (1.7)

siendo:
t = t i to
βL = 2πnL/λvac = 2πnLf/c
exp(-jβL) = cos(βL) - jsin(βL)
λvac la longitud de onda del vacı́o
L la longitud de la cavidad resonadora
n el ı́ndice de refracción de la cavidad resonadora
f la frecuencia óptica
c la velocidad de la luz en el vacı́o (3×108 m/s)

El campo eléctrico parcial T2 resulta de dos reflexiones más (ri2 ) y un retraso de fase
adicional (-2βL) debido a dos veces la longitud del resonador.

T2 = tri2 E0 exp(−j3βL) = trE0 exp(−j3βL) (1.8)

con: r=ri2

Ahora la suma de todos los campos parciales se realiza fácilmente. El campo eléctrico
total transmitido T es:

T = T 1 + T2 + T3 + · · · =
= tE0 exp(−jβL)[(1 + r exp(−j2βL) + r 2 exp(−j4βL) + · · · (1.9)

Tras realizar la suma de la serie :

exp(−jβL)
T = tE0 (1.10)
[1 − r exp(−j2βL)]
Los detectores ópticos responden a la densidad de potencia (irradiancia, W/m 2 ), no
al campo eléctrico. Las irradiancias pueden ser calculadas usando:

EE ∗
H= (1.11)
2Z0

22
 donde:
E es la amplitud de campo eléctrico
E ∗ es el complejo conjugado de E
Z0 es la impedancia caracterı́stica del aire (377 Ω).

El resultado es la irradiancia transmitida o transmitancia Ht . Adicionalmente, la con-

servación de la energı́a nos permite obtener la irradiancia reflejada o reflectancia H r :

(1 − r)2
Ht = H 0 TRANSMISIÓN (1.12)
(1 − r)2 + 4r sin2 (βL)

4r sin 2βL
Hr = H 0 REFLEXIÓN (1.13)
(1 − r)2 + 4r sin2 (βL)
con:
r = (n-1/n+1)2 (reflectividad)
H0 = E0 2 /2Z0 (densidad de potencia incidente)
r = r i 2 = r0 2 (coeficiente de reflexión de potencia).

Cuando los espejos no están completamente perpendiculares a la luz incidente, β se

escribe como 2πn cos θ/λvac , escribiéndose las ecuaciones anteriores como:

(1 − r)2
Ht = H 0 TRANSMISIÓN (1.14)
(1 − r)2 + 4r sin2 ( 2πnL cos ϕ
λvac
)

4r sin( 4πnL cos ϕ

λvac
)
Hr = H 0 REFLEXIÓN (1.15)
(1 − r)2 + 4r sin2 ( 2πnL cos ϕ
λvac
)
En la figura 1.14 se representa la transmitancia de un Fabry-Perot para una longitud de
etalón de 100 µm y diferentes reflectividades: 0.9, 0.95 y 0.99.

De las ecuaciones anteriores se deduce que pueden controlarse las caracterı́sticas del
Fabry-Perot cambiando r, n, L o el ángulo de incidencia de la luz ϕ respecto de la normal
a la superficie del FP, tal y como puede verse en los gráficos de las figuras 1.14, 1.15, 1.16 y
1.17.

Una de las caracterı́sticas más notorias del Fabry-Perot es la banda de repetición que
concuerda con las frecuencias de resonancia. Es obvio el comportamiento resonante, tanto
de la potencia transmitida como de la reflejada. Con independencia de la reflectividad (r)
del espejo utilizado, siempre que se cumpla sin(βL) = 0, la potencia transmitida será del
100% y la reflejada será 0. La comprensión fı́sica de esta situación puede ser clarificante:
en resonancia, el campo eléctrico dentro del resonador es mucho más fuerte que el campo

23
 Figura 1.14 Transmitancia de una cavidad FP para diferentes reflectancias.

incidente. A pesar de la alta reflectividad del espejo A, el campo eléctrico que lo atraviesa
en sentido contrario es suficientemente fuerte y está desfasado lo necesario como para crear
un interferencia destructiva con el campo que directamente se refleja en el espejo A.

La siguiente ecuación establece las frecuencias de resonancia fm del FP:

sin(βL) = 0 =⇒ β L = mπ

mc
fm = (1.16)
2Ln cos θ

m es un no entero.
n es el ı́ndice de refracción de la cavidad resonante.

Más interesante que la frecuencia de resonancia absoluta es el espaciado entre dos fre-
cuencias de resonancia próximas, llamado espaciado modal o rango espectral libre FSR (Free
Spectral Range) que es el rango óptico existente entre una frecuencia dada y su múltiplo.
De la ecuación anterior podemos obtener:

24
 Figura 1.15 Transmitancia de una cavidad FP para cambios del ı́ndice de refracción.

c
F SR(f ) =
2nL cos θ
λ2 cos θ
F SR(λ) = (1.17)
2nL
Dentro del FSR se pueden colocar otras longitudes de onda y consecuentemente otros
canales. El número máximo de canales, sin tener problemas de diafonı́a, en función del rango
espectral libre se puede expresar como:

F SR
N= (1.18)
∆λ
donde N es el número de canales y ∆λ es el ancho espectral de cada canal.

Como ejemplo, para un resonador de longitud L = 100µm, con un ı́ndice de refracción

n = 0.9 y cos θ = 1. El resultado es un rango espectral libre FSR (f) = 1.66 THz o FSR
(λ) = 9.39 nm. La densidad de potencia reflejada es complementaria a las curvas dibujadas.
El ejemplo se ha escogido de manera que el FSR sea idéntico al de los diodos láser de 1300

25
 Figura 1.16 Transmitancia de una cavidad FP para cambios de la longitud L del medio.

nm. El ancho de banda, B, de las curvas de resonancia se define normalmente como el ancho
total a la mitad del máximo (FWHM, Full Witch at Half Maximum), es decir, a 3 dB del
máximo, independientemente del mı́nimo actual. Con esta definición, el ancho de banda es:
1−r c
B(F W HM ) = √ [Hz] (1.19)
r 2πnL
Relacionando el ancho de banda con el rango espectral libre se obtiene la finesse F, que
expresa la agudeza del filtro con relación al periodo de repetición:
√
F SR r
F = =π [adimensional] (1.20)
B 1−r
Considerando que los espejos poseen caras perfectamente paralelas y libre de defectos y
que sus reflectividades son constantes en el etalón para el rango óptico de interés, se tiene
que la función de transferencia de potencia del filtro FP en función de la frecuencia de la
señal está dada por:
2 (f − fc ) −1
Tf p (f ) = [1 + (F )2 sin2 (π )] (1.21)
π F SR
donde fc es la frecuencia a la cual está ajustado el filtro.

26
Figura 1.17 Transmitancia de una cavidad FP para cambios del ángulo de incidencia de la luz.

De la ecuación 1.21 y de la figura 1.18 se puede ver que la función de transferencia del
filtro FP es una función periódica centrada en fc y con periodicidad dada por su FSR.

En la práctica, los resonadores no pueden conseguir ni el 100% de transmisión ni el

ancho de banda/finesse ideal, las razones son pérdidas en el sistema óptico, el espejo no es
completamente plano, espejos no paralelos y rayos no paralelos. Debido a su estrecho ancho
de banda, el FP es capaz de medir el ancho de lı́nea de modos individuales. Para hacer esto,
el FP debe ser sintonizado cambiando la longitud del resonador L. La potencia de salida es
medida para cada L. Por este procedimiento se barre todo el espectro.

Para evitar ambigüedades, el rango de sintonización no debe exceder el rango espectral

libre FSR. Para este tipo de medida se puede utilizar un monocromador para preseleccionar
en el láser un modo individual. Uno de los problemas de este tipo de medidas es la reflexión
que vuelve a la fuente láser ya que los FPI reflejan fuertemente cuando no están en resonancia.

27
 Figura 1.18 Función de transferencia de un FP.

1.4 El analizador de espectros óptico basado en redes

de difracción

1.4.1 Diagrama básico de funcionamiento

La figura 1.19 muestra el diagrama de bloques de un OSA basado en red de difracción.
Un analizador de espectro de red de difracción puede dividirse en tres bloques, dependiendo
de la función que estos realizan:

a) Bloque de medida espectral: cuya función es filtrar y detectar la luz en frecuencias

o longitudes de onda. La eficacia de separación de frecuencia depende de las carac-
terı́sticas del monocromador que estudiaremos posteriormente. En esencia, el bloque
espectral contiene la rendija de entrada, la óptica de colimación, la red de difracción,
la óptica de enfoque o formación de imagen sobre el detector, la rendija de salida y el
detector. Históricamente se ha denominado también monocromador o espectrómetro,
si bien monocromador denota todo el sistema que conduce al filtrado de la señal óptica,

28
 Figura 1.19 Diagrama de Bloque de un OSA basado en red de difracción.

pero sin detectarla, es decir, el sistema óptico de entrada y salida y la red de difrac-
ción, mientras que un espectrómetro incluye un sistema de registro o detector que
registra la composición espectral de la luz. El monocromador, por tanto, actúa como
un filtro sintonizable. En las siguientes secciones describiremos cada una de las partes
que intervienen en el monocromador, que se aplica en un OSA, y describiremos muy
someramente el detector, ya que su estudio exclusivo no es el objeto de este trabajo.

b) Bloque de control: Este bloque controla el ángulo de rotación de la red de difracción,

el ancho de la rendija y el rango de la medida y fundamentalmente realiza la conversión
A/D, además transfiere los datos medidos a la parte de procesado. Un circuito digital
controla el servosistema que mueve la red de difracción. A través del “encoder”rotatorio
se controla con precisión el ángulo de rotación de la red de difracción, permitiendo una
alta velocidad y una alta precisión en el control de posición. Un motor paso a paso se
usa para abrir y cerrar la rendija y otro hace girar un chopper. Un sistema de control
de pulsos cuenta los pulsos correspondientes al ancho de la rendija y otro sistema
mantiene la frecuencia de paso del chopper. El sistema control del rango de medida
incluye un control automático que selecciona el rango óptimo de amplificación de la
señal y un control del tiempo de paso cuando se está por debajo del modo de pulso.

29
 También se controla la temporización de la medición (conversión A/D) a través de una
señal de entrada externa. Además existe una EEPROM que almacena los datos de la
calibración (offset de longitud de onda, nivel de offset, responsividad del detector a
cada longitud de onda, etc) de cada monocromador.

c) Bloque de procesamiento de la señal y representación: Este bloque controla el sis-

tema de medida a través de las condiciones establecidas mediante las teclas del panel
o mediante el GPIB, y realiza diversos procesos de salida (representación en pantalla,
salidas GPIB, impresora o almacenamiento en disco). El intercambio de datos con el
bloque de control se realiza a través del puerto de memoria dual ubicado en este último.
Las condiciones de medida, como son el centro de longitud de onda, el span, la resolu-
ción, el modo de barrido, etc, se envı́an mientras los datos de medida son recibidos. El
offset de sensibilidad en longitud de onda, la escala de representación, etc, se procesan
con los datos de medida y se sacan por pantalla. También se hacen análisis, como por
ejemplo, el procesamiento del cursor, el ancho espectral de operación, la normalización,
ası́ como las operaciones de guardar y cargar en memoria y disco.

1.4.2 La rendija de entrada

La primera parte de un monocromador la constituye la rendija de entrada. Ella define la
cantidad de luz que se introduce en el monocromador y definirá la resolución del sistema.
Rendijas de entrada más estrechas definirán mayor resolución en el monocromador, si bien
el lı́mite de resolución lo impondrá la sensibilidad del detector. Para fibras ópticas se suele
aprovechar, en los modernos analizadores, la propia fibra óptica monomodo como rendija de
entrada, aprovechándose la luz transmitida de forma completa, y consiguiéndose rendijas de
entrada del tamaño del modo transmitido en la fibra monomodo: Amplitud cuasi gaussiana
de 10 µm o menos.

1.4.3 La óptica de colimación

El propósito de la óptica de colimación es corregir la divergencia del haz de luz que desde
la rendija de entrada se propaga hacia la red de difracción, y de esta forma, iluminar la red
de difracción con luz no divergente ocupando la máxima área posible. En monocromadores
de IR se suelen usar espejos cóncavos para conseguirlo. Otros diseños usan lentes cuya
distancia focal se encuentra exactamente en la rendija de entrada. Habitualmente el uso de
lentes provoca aberración cromática y el uso de espejos aumenta las aberraciones de eje. Los
elementos colimadores deben ser:

30
 - de alta reflectividad (si el diseño se basa en espejos) o alta transmitancia (para el
caso de lentes).

- en lo posible la longitud focal debe ser independiente de λ, para prevenir aberraciones

cromáticas.

- se ha de conseguir un tamaño de haz sobre la red de difracción lo mayor posible para

conseguir resolver más en λ.

1.4.4 Elemento dispersivo: red de difracción o prisma óptico

El elemento dispersivo, que separa la luz en sus componentes espectrales, que usan ha-
bitualmente los OSA, son redes de difracción o prismas. En ambos casos la luz incidente
sale descompuesta en sus componentes espectrales, que pueden pueden ser seleccionadas en
diferentes ángulos de salida respecto a la dirección de entrada de la luz. Un esquema de
funcionamiento de un prisma como elemento dispersivo se muestra en la figura 1.20.

Figura 1.20 Funcionamiento de un Prisma como elemento dispersivo.

Para sistemas de fibra óptica y en especial en infrarrojo, se vienen utilizando de forma

generalizada las redes de difracción frente a los prismas, debido a que en estos últimos el
ángulo de difracción depende de la longitud de onda, acumulándose a la dispersión cromática
del prisma que hay que corregir. Por ello, en lo que sigue centraremos nuestro estudio en
redes de difracción como sistemas dispersivos en los monocromadores de infrarrojo.

Una red de difracción refleja la luz en ángulos proporcionales a su longitud de onda.

Cuando se sintoniza adecuadamente el ángulo de la red de difracción en un monocromador,
puede seleccionarse una u otra longitud de onda. En esencia, la red de difracción es un
elemento reflexivo que consiste en un sustrato altamente reflectante y un recubrimiento con

31
perturbaciones periódicas (lı́neas) que forman la red. Cada una de estas lı́neas difracta la
luz en ángulos que dependen de la longitud de onda. Para una longitud de onda dada, cada
una de estas lı́neas enviará la luz en un ángulo tal que todas las ondas tendrán la misma fase
añadiéndose constructivamente en una onda plana. Esta luz sale en un ángulo especı́fico.

La relación entre la luz incidente en la red de difracción y la luz refractada se puede ver
en la figura siguiente 1.21:

Figura 1.21 Red de difracción como elemento dispersivo.

mλ = d(sin β − sin α) (1.22)

donde:
λ es la longitud de onda de la luz.
d es el espaciamiento entre lı́neas (d=1/ρ; ρ: densidad de lı́neas).
α es el ángulo de incidencia.
β es el ángulo de difracción.
m es un entero que define el orden de difracción del espectro.

Gracias a que la dirección de la luz difractada se determina a partir de la relación entre

la longitud de onda y el ángulo de incidencia de la luz, es posible separar una longitud de
onda especı́fica de la luz difractada sin más que rotar la red de difracción un cierto ángulo.

La resolución de la red de difracción puede obtenerse mediante la expresión:

Res = W mr (1.23)

32
 donde:
Res es la resolución en longitud de onda.
W es el ancho de la red de difracción [m]
m es un entero que representa el orden de difracción
r es la densidad lineal de ranuras [/mm].

Cuando un rayo luminoso incide en la red de difracción, la luz se refleja en un número

de direcciones. Para entender este proceso fijémonos en la figura 1.22. La primera reflexión
se llamada ”rayo de orden cero”(m=0) y su dirección es la misma que si la red de difracción
se sustituyese por un espejo plano. Este rayo no se separa en distintas longitudes de onda y
no es usado por el analizador.

El ”rayo de primer orden”(m=1) se origina a partir de las interferencias constructivas de

las reflexiones de cada lı́nea de la red de difracción. Para que tenga lugar una interferen-
cia constructiva, la diferencia entre las longitudes de camino de las reflexiones entre lı́neas
adyacentes debe ser igual a una longitud de onda. Si la luz de entrada contiene más de una
componente de longitud de onda, el rayo tendrá alguna dispersión angular, es decir, el ángulo
de reflexión para cada longitud de onda debe ser diferente para ası́ satisfacer el requisito de
que la diferencia de caminos recorridos para rendijas adyacentes sea igual a una longitud de
onda. Por tanto, el analizador de espectros óptico separa diferentes longitudes de onda.

Figura 1.22 Esquema de funcionamiento de una red de difracción.

Para el ”rayo de segundo orden”(m=2), la diferencia entre las longitudes de camino para
lı́neas adyacentes es igual a dos longitudes de onda, para el ”rayo de tercer orden”es igual a
tres longitudes de onda, y ası́ sucesivamente.

33
 Los analizadores de espectro óptico utilizan rayos de múltiples órdenes para cubrir todo
el intervalo de longitudes de onda con una estrecha resolución.

En la figura 1.23 se puede ver cómo opera una analizador basado en red de difracción.
La luz pasa a través de la abertura hacia el fotodetector. Rotando la red de difracción, se va
realizando el barrido en longitud de onda, al permitir el paso de la luz difractada (la longitud
de onda depende de la posición de la red de difracción) a través de la abertura (rendija de
salida).

Figura 1.23 Funcionamiento esquemático de un analizador de red de difracción.

Para obtener una buena precisión en longitud de onda con el monocromador es necesario
controlar con exactitud y sin ningún error el ángulo de rotación de la red de difracción además
de establecer un patrón de longitud de onda estable. La red de difracción se controla con un
motor y un circuito de control angular que hace uso de un encoder. La red de difracción debe
ser controlada con una resolución del orden de la millonésima de rotación. Debido a que el
monocromador convencional tiene un lı́mite en la resolución angular para realizar medidas
con el encoder, se añade al motor un mecanismo reductor de valor 1/300 para obtener la
resolución adecuada. Sin embargo, el mecanismo reductor introduce un error que aparece
como un error en longitud de onda durante el barrido. Para resolver este problema se puede
adoptar un sistema de control directo que elimina el mecanismo de reducción, utilizando un
encoder con alta resolución para obtener una gran precisión en el control, y multiplicando
la señal 1024 veces. Este método rota directamente la red de difracción con una precisión
de una vuelta dividida por 8.4 millones aproximadamente. El error del encoder puede ser

34
mejorado usando técnicas de corrección por software que permiten una excelente linealidad
en longitud de onda (± 10 pm en el rango de los 1530 a 1570 nm). Este proceso de mejora
de resolución y linealidad de los modernos analizadores de espectro se muestra en la figura
1.24.

Figura 1.24 Mejora del error de barrido mediante control directo.

Para el monocromador convencional, el reductor y el lazo de realimentación afectan

negativamente a la reproducibilidad de la medidas en longitud de onda porque la actuación
del servo no es efectiva para eliminar el juego mecánico. En esta nueva instrumentación,
gracias a que el servo afecta directamente al ángulo de la red de difracción, se obtiene una
gran reproducibilidad (± 3 pm). Este montaje, tiene además la ventaja de poder barrer a
mayores velocidades ya que no usa mecanismo de reducción.

1.4.5 La óptica de enfoque

El propósito de la óptica de enfoque es recoger la luz difractada desde la red de difracción

y llevarla sobre la rendija de salida del sistema. En la mayorı́a de los monocromadores la
óptica de salida es la misma que la de colimación dispuesta en sentido contrario.

35
1.4.6 La rendija de salida

La resolución de un monocromador está definida por las rendijas de entrada y de salida y

por el poder dispersivo de la red de difracción o del prisma usado. El propósito de la rendija
de salida es filtrar espacialmente la luz difractada por el elemento dispersivo. Normalmente
se realiza mediante rendijas ajustables que controlan la resolución del monocromador. El
monocromador como filtro de luz a una λ tendrá una forma que dependerá fundamentalmente
de la forma de las rendijas de entrada y salida y se deteriorará con su desalineamiento.

Para el caso de un monocromador con rendijas de entrada y de salida rectangulares e

iguales, la forma del filtro óptico (convolución de ambas rendijas) es la que se muestra en la
figura 1.25.

Figura 1.25 Forma del filtro para dos rendijas rectangulares iguales.

Cuando las rendijas se desalinean o son de diferente anchura, la forma del filtro óptico
se puede ver en la figura 1.26. Los desalineamientos de las ópticas, provocan que las rampas

Figura 1.26 Forma del filtro para dos rendijas rectangulares de diferente anchura.

de subida y bajada del filtro compuesto por el monocromador sean diferentes.

En el caso del OSA de fibra óptica, la rendija de entrada es puntual de ancho 10 µm,
mientras que la de salida es un rectángulo con ancho mayor, en este caso la forma del filtro
óptico será como la que se muestra en la figura 1.27.

1.4.7 El detector

El propósito del detector es convertir la señal luminosa filtrada por el monocromador

en una señal eléctrica que pueda ser procesada y representada. En los OSA se pueden

36
 Figura 1.27 Forma del filtro para un OSA que usa una fibra óptica como rendija de entrada.

usar diferentes tipos de fotodetectores, desde fotomultiplicadores para longitudes de onda

inferiores a 1 µm y sistemas de gran sensibilidad, fotoconductores y fotodiodos.

En el caso del analizador de fibra óptica, el fotodetector que se utiliza es un fotodiodo. Los
fotodiodos son diodos de unión PN cuyas caracterı́sticas eléctricas dependen de la cantidad
de luz que incide sobre la unión.

El efecto fundamental bajo el cual opera un fotodiodo es la generación de pares electrón-

hueco debido al número de fotones incidentes. Este hecho es lo que le diferencia del diodo
rectificador de silicio, en el que solamente existe generación térmica de portadores de carga.
La generación luminosa tiene una mayor incidencia en los portadores minoritarios, que son
los responsables de que el diodo conduzca ligeramente en inversa. El comportamiento del
fotodiodo en inversa se ve claramente influenciado por la incidencia de luz. Conviene recordar
que el diodo real presenta unas pequeñas corrientes de fuga de valor IS . Las corrientes de
fuga son debidas a los portadores minoritarios, electrones en la zona P y huecos en la zona
N. La generación de portadores debido a la luz provoca un aumento sustancial de portadores
minoritarios, lo que se traduce en un aumento de la corriente de fuga en inversa tal y como
se ve en la figura 1.28.

El comportamiento del fotodiodo en directa apenas se ve alterado por la generación lumi-

nosa de portadores. Esto es debido a que los portadores provenientes del dopado (portadores
mayoritarios) son mucho más numerosos que los portadores de generación luminosa.

Para caracterizar el funcionamiento del fotodiodo se definen los siguientes parámetros:

* Se denomina corriente de oscuridad (dark current), a la corriente en inversa del fotodiodo

cuando no existe luz incidente.

* Se define la responsividad o sensibilidad del fotodiodo al cociente entre la señal producida

por el mismo y la potencia óptica incidente. Se expresa en A/W o V/W.

S = dI/dW = K

37
 Figura 1.28 Curvas caracterı́sticas del fotodiodo.

Esta relación es constante para un amplio intervalo de potencias ópticas si el fotodiodo

es lineal .

El modelo del fotodiodo en inversa está formado por un generador de intensidad cuyo
valor depende de la cantidad de luz. En directa, el fotodiodo se comporta como un diodo
normal. Si está fabricado en silicio, la tensión que cae en el dispositivo será aproximadamente
0,7 V. Este comportamiento se ilustra en la figura 1.28

Los fotodiodos son más rápidos que otros fotodetectores, es decir, tienen un tiempo de
respuesta menor, sin embargo, sólo pueden conducir en una polarización directa corrientes
relativamente pequeñas.

Un fotodiodo presenta una construcción análoga a la de un diodo LED, en el sentido que

necesita una ventana transparente a la luz por la que se introduzcan los rayos luminosos para
incidir en la unión PN. En la figura 1.29, se muestra una geometrı́a tı́pica. Por supuesto, el
encapsulado es transparente a la luz, usándose normalmente ventanas de SiO2 .

Para la detección de la señal en los instrumentos de fibra óptica se utilizan de forma

general detectores de silicio (Si), Germanio (Ge) y Arseniuro de Indio Galio (InGaAs). La
selección del tipo de detector depende fundamentalmente del intervalo de longitudes de onda
que se pretende detectar, recomendándose Si para fibras multimodo y primera ventana de
transmisión (850 nm), Ge para la segunda ventana de transmisión (1310 nm) y InGaAs para
la tercera y cuarta ventanas (1550 y 1620 nm). La figura 1.30 representa las responsividades
relativas de los tres tipos de fotodiodos más utilizados en fibras ópticas.

38
 Figura 1.29 Corte transversal de un fotodiodo.

Figura 1.30 Responsividades relativas de fotodiodos de Si, Ge e InGaAs.

1.4.8 Tipos de Monocromadores

En un analizador en general y, por tanto también, en los basados en redes de difracción,

son muy importantes las propiedades de rango dinámico, resolución y selección de longitud de
onda, llegando a un compromiso entre estas propiedades y el tamaño deseable del analizador,
se pueden obtener diferentes monocromadores, todos ellos basados en la misma teorı́a pues
no hay que olvidar que un monocromador puede entenderse como un filtro paso banda, por

39
lo que dependiendo del número de veces que se haga pasar la señal óptica por un filtro,
mejores serán las propiedades a costa de un mayor tamaño.

1.4.8.1 Monocromador Simple

En este caso se usa una única red de difracción para separar las diferentes longitudes de
onda de la luz. En la figura 1.31 se puede ver el esquema de este tipo de monocromador.

Figura 1.31 Monocromador Simple.

El segundo espejo cóncavo se encarga de centrar la longitud de onda deseada en la

abertura de salida previa al fotodetector. El ancho de la abertura es variable y se usa
para determinar la resolución en longitud de onda del aparato. Un monocromador simple
tiene una configuración con una única etapa, por lo que puede entenderse como un filtro
monoetapa. Generalmente, estos monocromadores tienen un rango dinámico de 40 dB.

1.4.8.2 Monocromador Doble

Si al monocromador simple, se le añade en serie otra etapa de filtrado, se obtiene una

configuración en dos etapas que se denomina monocromador doble, que no es más que la
unión de forma consecutiva de dos monocromadores simples.

Con esta configuración se aumenta la selectividad y el rango dinámico, ası́ como el ORR
(Optical Rejection Ratio, que se describirá en el apartado 1.4.9.7 con un valor de alrededor
de 10 dB, sin embargo el tamaño es mayor y también el coste. A causa de su tamaño se hace
difı́cil su transporte y, por tanto, su utilización en campo. Además, debido a las limitaciones

40
 Figura 1.32 Monocromador Doble con etapas de filtrado en serie.

de sintonizar y alinear conjuntamente ambos monocromadores simples, se producen pérdidas

en los mismos, lo cual origina que se reduzca el span y se degrade la sensibilidad.

Con objeto de reducir la longitud del monocromador doble pero manteniendo las carac-
terı́sticas ópticas del mismo, se puede optar por una configuración en paralelo en la que las
etapas de filtrado se colocan una sobre la otra, tal y como se puede ver en la figura 1.33.

Figura 1.33 Monocromador Doble con etapas de filtrado en paralelo.

41
1.4.8.3 Monocromador de paso Doble

En esta configuración, se parte de un monocromador simple (un único filtro) por el cual se
hace pasar la señal óptica que después atraviesa una ranura intermedia retornando al filtro
anterior para una segunda etapa de filtrado. Se mantiene, por tanto, un único filtro pero se
realizan dos etapas de filtrado.

Figura 1.34 Monocromador de paso Doble.

Este monocromador tiene la ventaja del rango dinámico y del ORR del monocromador
doble y la sensibilidad del monocromador simple, además se mejora la selectividad y se
aumenta la resolución. El primer paso a través del monocromador de paso doble es similar
al del monocromador simple. En la figura 1.34 se muestra un diseño de este tipo en el que
el rayo (1) es colimado y después dispersado mediante la red de difracción. El resultado es
una distribución espacial de la luz, basada en la longitud de onda. La red de difracción se
posiciona de manera que la longitud de onda deseada (2) pase a través de la rendija. El ancho
de la rendija determina el ancho de banda de longitudes de onda cuyo paso se permitirá hacia
el detector. Las rendijas que pueden usarse proporcionan anchos de banda de resolución de
0.08 nm y 0.1 nm a 10 nm respectivamente. En un instrumento con un monocromador simple,
la señal filtrada será detectada con un gran fotodetector situado detrás de la abertura. Sin
embargo, en un monocromador de paso doble como el mostrado en la figura, la luz filtrada
(3) se envı́a por segunda vez al colimador y a la red de difracción. Durante este segundo
paso por el monocromador, el proceso de dispersión se invierte, se crea una réplica exacta
de la señal de entrada, filtrada por la abertura. La pequeña imagen resultante (4) permite

42
que la luz sea concentrada dentro de una fibra que la transportará al detector. Esta fibra
actúa como una segunda rendija en el sistema. La implementación de este segundo paso
da como resultado la alta sensibilidad del monocromador simple, el alto rango dinámico del
monocromador doble, el doble de resolución del monocromador simple. Si se utiliza una
lámina de media onda además, el sistema será independiente de la polarización de la luz
incidente.

1.4.8.4 Monocromador de cuádruple paso

Basado en el monocromador de paso doble, el monocromador de cuatro pasos repite una

vez más el proceso descrito anteriormente, obteniéndose una resolución de hasta 10 pm, es
decir, cuatro veces superior a la del monocromador simple, y lográndose rangos dinámicos de
60 dB. Con este método, la luz incidente es difractada cuatro veces por la red de difracción,
de manera que este monocromador es de igual tamaño que el monocromador simple. Un
esquema de este diseño se muestra en la figura 1.35.

Figura 1.35 Monocromador de paso Cuádruple.

1.4.9 Propiedades de los analizadores de espectro de red de difrac-

ción

En esta figura 1.36 se muestran algunos de los parámetros más importantes que se deben
considerar en la medida con un analizador de espectros óptico. A continuación se pasa a
analizar cada uno de ellos.

43
 Figura 1.36 Parámetros a considerar en la medida con un OSA.

1.4.9.1 Sintonización

La sintonización de una longitud de onda en un analizador de espectros óptico se realiza

mediante la rotación de la red de difracción. Cada ángulo de la red de difracción da lugar
a que la correspondiente longitud de onda de la luz sea concentrada sobre el detector. Con
el fin de barrer en un determinado intervalo de longitudes de onda, la red de difracción
puede ser girada, estando determinadas las longitudes de onda inicial y final del rango, por
los ángulos inicial y final de la rotación. Para proporcionar una sintonización precisa, el
ángulo de la red de difracción debe ser controlado con exactitud y con gran repetibilidad en
el tiempo.

1.4.9.2 Repetibilidad en longitud de onda

Es la exactitud con la que un analizador de espectro óptico puede ser resintonizado a una
longitud de onda dada después de un cambio de sintonización.

1.4.9.3 Reproducibilidad en longitud de onda

Determina la deriva de sintonización en longitud de onda en un periodo de un minuto.

Ésta es especificada con el analizador de espectros óptico en modo de barrido continuo y sin
hacer ningún cambio de sintonización.

44
 La repetibilidad y reproducibilidad en longitud de onda son controlados y medidos me-
diante la calibración del analizador en longitud de onda.

1.4.9.4 Resolución

La capacidad de un analizador de espectros óptico para representar dos señales muy

próximas en longitud de onda como dos respuestas distintas es la resolución en longitud de
onda del mismo. La resolución en longitud de onda, por tanto, está determinada por el ancho
de banda del filtro óptico, cuyos componentes clave son la abertura del monocromador, la
fibra fotodetectora, el tamaño de la señal de entrada y la calidad de los componentes ópticos.
La resolución en longitud de onda se especifica como el ancho de banda del filtro al nivel
medio de potencia referido al ancho total a la mitad del máximo (FWHM). Éste es un buen
indicador de la capacidad del analizador de espectro óptico para resolver señales de igual
amplitud.

Figura 1.37 Cuatro componentes espectrales de un láser Fabry-Perot medidas cada una con
diferente resolución de rendija.

La figura 1.37 muestra cuatro componentes espectrales de un láser Fabry-Perot medidas

45
con cuatro resoluciones diferentes. En cada caso el ancho espectral real es mucho menor que
la resolución de ancho de banda. Como resultado, cada respuesta muestra la forma del filtro
de resolución del analizador. El principal componente del filtro es la rendija. El ancho fı́sico
del haz de luz en la abertura es función del tamaño de la señal de entrada. Si el ancho fı́sico
del haz de luz en la abertura es estrecho comparado con la abertura misma, la respuesta
tendrá una parte superior plana. Esto ocurre mientras el rayo de luz es barrido a través de la
rendija. Los filtros de resolución de ancho de banda más estrechos dan como resultado una
respuesta con una parte superior más redondeada porque el tamaño de la señal en la rendija
es similar al tamaño de la propia rendija. Cada respuesta en la pantalla es la convolución
de la rendija con la señal óptica.

El analizador con mejor resolución en ancho de banda es aquel que tenga el filtro óptico
más estrecho, en muchos casos se adopta una configuración en doble paso, o más, con una
red de difracción de alta calidad para conseguir mejores resoluciones. Una resolución de
alrededor de 0.05 nm garantizará un buen ORR y mejorará los resultados del OSA cuando
mida el OSNR (Optical Signal to Noise Ratio) entre canales cercanos. El OSA será capaz de
analizar sistemas DWDM con un espaciado entre canales de 50 GHz (0.4 nm) o menos. La
forma del filtro óptico ideal tendrá unos cambios de pendiente laterales muy pronunciados,
casi cuadrados. La forma del filtro es importante cuando se mide la relación de rechazo al
modo lateral (side-mode suppression ratio, SMSR) en láseres DFB o el OSNR entre canales
de alta potencia poco espaciados. El mejor filtro será aquel que tenga la forma más cuadrada.

1.4.9.5 Rango dinámico

Para varios tipos de medidas, las diversas componentes espectrales a medir no son de
igual amplitud. Un ejemplo es la medida del rechazo al modo lateral (SMSR) de un láser
DFB, como se muestra en la figura 1.38.

En este caso, el ancho del filtro no es lo único importante. La forma del filtro (desde
el punto de vista del rango dinámico) también es importante. La ventaja de los monocro-
madores dobles sobre los simples es que, en los primeros, las ramas laterales del filtro son
mucho más abruptas y permiten un mayor rango dinámico para la medida de una pequeña
componente espectral localizada muy próxima a una componente espectral más grande. El
monocromador de doble paso tiene las mismas ventajas desde el punto de vista del rango
dinámico que el monocromador doble. El rango dinámico se suele especificar con un offset
de 0.5 nm y 1.0 nm respecto de la respuesta fundamental. El especificar el rango dinámico
para estos offsets se deriva del espaciado entre modos de los lasers DFB tı́picos. Una es-

46
 Figura 1.38 Medida del rechazo al modo lateral de un láser DFB.

pecificación en rango dinámico de -60 dB a 1.0 nm indica que la respuesta del analizador de
espectros óptico ante una señal puramente monocromática será -60 dB para offsets de 1.0
nm y mayores. Además, respecto del factor de forma del filtro, esta especificación es una
indicación del nivel de luz perdido y del nivel de respuestas espúreas dentro del analizador.

En la figura 1.39 se muestran los lı́mites tı́picos del rango dinámico de monocromadores
simples, dobles y de doble paso. Estos lı́mites están superpuestos sobre la representación del
espectro de un láser medido con un monocromador de doble paso.

Gracias a su mayor rango dinámico, los monocromadores dobles y de doble paso pueden
ser usados para medir relaciones de rechazo al modo lateral mucho mayores que las medidas
por los monocromadores simples.

El rango dinámico representa la capacidad del detector óptico de un OSA de medir

de manera efectiva todos los diferentes niveles de potencia requeridos para las aplicaciones
WDM. Un instrumento con un amplio rango dinámico puede medir de forma precisa altos
valores de potencia y pequeños valores de ruido de fondo en la misma adquisición, dando
como resultado una representación más clara del espectro.

47
Figura 1.39 Lı́mites tı́picos del rango dinámico para diferentes configuraciones de monocro-
madores.

Ası́ como los enlaces punto a punto de DWDM cada vez se hacen más largos, para que la
señal llegue a distancias más lejanas se emplean potencias más altas en los puntos de emisión.
Por otro lado, debido a las sucesivas pérdidas a lo largo de la lı́nea en los trayectos largos, el
pico de potencia de la señal al final del enlace es muy débil. Debido a esto se hace necesario,
dependiendo de dónde se evalúe el sistema DWDM, poder medir tanto potencias fuertes
como débiles. También es necesario medir pequeñas potencias cuando se intenta localizar
posibles fallos de funcionamiento en los componentes del sistema. Durante el proceso, el
punto de análisis debe extraer sólo una pequeña parte de la potencia total.

La capacidad necesaria para medir las pérdidas de inserción de los acopladores, filtros,
multiplexores/demultiplexores, etc exige una sensibilidad de baja potencia. Un OSA con un
amplio rango dinámico añade versatilidad, ya que puede ser usado para el análisis, tanto
en el sistema como en los componentes. Mientras la tecnologı́a WDM se extiende por redes
subterráneas y llegan nuevas redes ópticas, el número de componentes ópticos instalados
está en aumento. Esto se traduce en un aumento de la necesidad de evaluaciones detalladas
de componentes fuera de la planta de fabricación y de los laboratorios de investigación.

48
1.4.9.6 Intervalo de longitudes de onda

El intervalo de longitudes de onda de un OSA determina su capacidad para analizar

señales sobre una región determinada del espectro. Puede expresarse en nm (ej: 400 nm),
o indicando la longitud de onda inicial y final de la región (ej: de 1250 nm a 1650 nm).
Los primeros OSAs fueron destinados a la banda-C (Conventional). Esta región espectral
va de los 1530 a los 1565 nm, de acuerdo con la especificación ITU-T Rec. G.692. Muchos
sistemas WDM están diseñados para transmitir sus múltiples canales en la banda-C, ya que
ésta es la región adecuada para el uso efectivo de los amplificadores de fibra dopada con erbio
(EDFA). Debido a que la banda-C se está quedando muy pequeña para soportar los sistemas
multi-canales, la banda-L (Long) para longitudes de onda por encima de los 1565 nm está
permitiendo aumentar el número de canales en los sistemas a más de 160. El aporte adicional
de canales en la banda-S (Short), por debajo de los 1490 nm, permitirá incrementar el número
de canales a más de 200 y está abriendo las puertas para la implantación de sistemas WDM
metropolitanos de bajo coste alrededor de la región de los 1310 nm. La figura 1.40 muestra las
respectivas bandas sobre el perfil espectral de atenuación de una fibra estándar monomodo,
y las diferentes bandas de amplificación donde pueden implementarse sistemas de WDM
actualmente.

Figura 1.40 Atenuación espectral de la fibra y bandas de amplificación.

Un analizador que pueda realizar análisis en estas tres bandas será un instrumento muy
versátil constituyendo una herramienta de futuro, porque será capaz de realizar evaluaciones

49
bajo todos los posibles escenarios de funcionamiento del sistema. Incluso si el usuario decide
extender su sistema WDM a regiones de transporte subterráneo, un OSA con un rango
comprendido entre 1250 y 1650 nm estará listo para ello. Más aún, todas las longitudes de
onda de supervisión (OSC) situadas a las longitudes de onda de 1510 nm, 1625 nm y 1490
nm pueden ser también evaluadas.

1.4.9.7 Relación de rechazo óptico, ORR

La relación de rechazo óptico (ORR) es una de las especificaciones más importantes de

un OSA en aplicaciones de WDM. La ORR es la máxima relación óptica señal-ruido que
puede medir un OSA a una determinada distancia del pico de la señal portadora. Debido
a que el espectro no es perfecto, cada longitud de onda individual se superpone un poco a
las longitudes de onda adyacentes, por tanto, una señal muy fuerte puede superponerse a
sus débiles vecinas y ocultarlas. El ORR describe cuan fuertes deben ser la señales vecinas
para poder ser distinguidas de la señal principal, cuanto más larga es la distancia, más débil
puede ser la señal.

El ORR, por tanto, es una especificación crucial cuando se analizan sistemas DWDM.
Cuando los canales estén muy próximos, el ORR determinará cuan fácilmente puede el OSA
distinguir cada canal y medir el ruido entre canales. Un nı́tido ruido entre canales asegura
una medición precisa del OSNR.

En figura 1.41 se comparan dos trazas OSA mientras se mide la misma señal. La traza
superior pertenece a un OSA con un pobre ORR, mientras que la traza inferior corresponde
a un OSA con un ORR mejor. Cuando numerosos canales están muy poco espaciados (por
ejemplo: 50 GHz), la importancia de un buen ORR se hace más obvia.

En la figura 1.42, se muestra que la limitación del ORR de la traza superior está ocul-
tando la mayor parte de los detalles espectrales del perfil de la señal DWDM. La principal
preocupación para el usuario de un OSA es tener una representación clara del perfil espectral
real. Si el ORR del aparato no es mayor que la relación óptica señal-ruido (OSNR), lo que
obtendrá el usuario será una traza mostrando la limitación de su unidad en vez del verdadero
comportamiento óptico de la señal.

Está claro que el aumento en el número de canales y una menor separación entre los
mismos son claves importantes para un mejor ORR y para unas mejores especificaciones en
la medida de potencia, pero además, otro factor importante es la velocidad de multiplexado
en el tiempo para cada uno de los canales del sistema.

50
 Figura 1.41 ORR.

Figura 1.42 Importancia del ORR para la correcta identificación de señales.

Las actuales recomendaciones para el diseño de sistemas DWDM se basaron en sistemas

STM-16/OC-48 (2.5 Gbps), pero la rápida tendencia hacia los sistemas STM-64/OC-192
(10 Gbps) nos llevará a la necesidad de medir valores de OSNR más grandes. De manera
general, se espera que este aumento de la velocidad requiera entre 4 ó 5 dB más de capacidad

51
de medida de OSNR.

Los fabricantes de sistemas tienen la responsabilidad de desarrollar sistemas que satisfa-

gan las necesidades actuales y que además estén preparados para futuras actualizaciones.
Debido a esta responsabilidad, se usan estándares más estrictos para el rango dinámico y
para el ORR, que deben ser evaluados durante la instalación y comprobación de los sistemas
DWDM. En media, los desarrolladores de sistemas necesitan evaluar los niveles de OSNR
desde 21 dB hasta más allá de los 35 dB en diferentes situaciones. Un OSA de alta gama
garantizará un ORR de al menos 50 dB a 0.4 nm del pico.

1.4.9.8 Sensibilidad

La sensibilidad se define como el valor más pequeño de señal que el analizador es capaz
de detectar, o más especı́ficamente, 6 veces el nivel de ruido “rms”del instrumento. La
sensibilidad no se especifica como la media del nivel de ruido, tal y como se hace para
analizadores espectrales de microondas y de radiofrecuencia, ya que el nivel medio de ruido
para un analizador de espectros óptico es de 0 watios (o −∞ dBm). La figura 1.43 muestra
una señal que tiene una amplitud igual a la sensibilidad establecida en el analizador.

Figura 1.43 Señal con una amplitud igual al nivel de sensibilidad.

52
 El nivel de sensibilidad de un analizador deberá tener un valor:

Sensibilidad(dBm)= Nivel del canal de menor valor(dBm)-OSNR(dB)

Ası́, por ejemplo, si el nivel de potencia del canal de menor valor es de -10 dBm y el
OSNR que se desea medir es -35 dB, entonces la sensibilidad del analizador de espectros
óptico deberá ser de -10-35=-45 dBm.

Normalmente, los monocromadores simples tienen una sensibilidad de unos 10 a 15 dB

mejor que la de los monocromadores dobles debido a las pérdidas adicionales en la segunda
red de difracción del monocromador doble. El monocromador de doble paso tiene la misma
elevada sensibilidad que el monocromador simple aun cuando la luz entra en contacto dos
veces con la red de difracción. La alta sensibilidad es posible gracias a la lámina de media
onda y al uso de un pequeño fotodetector que tiene una menor potencia de ruido equivalente
(NEP). La mejora de la sensibilidad por parte del disco de media onda se discutirá en el
apartado dedicado a la ”Insensibilidad a la Polarización”.

En algunos analizadores de espectro óptico, se puede establecer directamente la sensibili-

dad, ajustándose después y de manera automática el barrido temporal mientras se mantiene
la sensibilidad deseada.

1.4.9.9 Luz esparcida

Las caracterı́sticas del monocromador como filtro de luz están limitadas por la luz espar-
cida. La luz esparcida está provocada por el ”scatering”de la luz en los componentes ópticos
que constituyen el monocromador. Una posible mejora de las caracterı́sticas del OSA con-
siste en que el detector distinga entre la luz esparcida y la luz deseada en el plano focal
de medida. Una forma de realizarlo es restar la medida sin la luz deseada, comunmente se
realiza choppeando la señal a una frecuencia dada y detectando de forma sı́ncrona, por lo
que la luz esparcida se eliminará al no estar modulada dentro del filtro de frecuencia del
detector sı́ncrono.

1.4.9.10 Velocidad de sintonización, Lı́mites en el tiempo de barrido

Para barridos rápidos, el tiempo de barrido está limitado por el valor máximo de la razón
de sintonización del monocromador. Los sistemas de guiado directo del motor permiten
barridos más rápidos comparados con los analizadores de espectro óptico que usan sistemas
de guiado con reductor para rotar la red de difracción.

53
 Para barridos de alta sensibilidad que tienden a ser lentos, un fotodetector pequeño y
anchos de banda de video variables continuamente, permiten tiempos de barrido más cortos.
Un fotodetector pequeño reduce el tiempo de barrido porque tiene un menor NEP que los
fotodetectores más grandes. El tener un reducido NEP significa que para un nivel dado de
sensibilidad, se puede usar un ancho de banda de video más amplio, lo que da lugar a un
barrido más rápido (el tiempo de barrido es inversamente proporcional al ancho de banda
de video, para una resolución de ancho de banda y un ”span”dados).

Los anchos de banda de video de variación continua incrementan de dos formas distintas
el tiempo de barrido para barridos de alta sensibilidad. Primeramente, la implementación
del filtrado de video digital que es más rápido que el tiempo de respuesta requerido por los
filtros analógicos durante el establecimiento automático del rango. En segundo lugar, desde
que el ancho de banda de video puede ser seleccionado con gran resolución, se puede emplear
sólo el filtrado de video suficiente, siendo innecesario una penalización del tiempo de barrido
por haber usado un ancho de banda de video más estrecho del necesario.

1.4.9.11 Insensibilidad a la polarización

De acuerdo con la teorı́a electromagnética, los vectores de campo eléctrico y magnético

deben estar en el plano perpendicular a la dirección de propagación de la onda en el espacio.
Dentro de este plano, los vectores de campo pueden estar distribuidos en cualquier dirección
y producir luz no polarizada. Una superficie emisora tipo LED proporciona una buena
ilustración de este fenómeno. El campo eléctrico, de todas maneras, puede ser orientado
en una sola dirección, como en un láser. Esto es lo que se conoce como polarización lineal.
Alternativamente, el campo eléctrico puede rotar 360 grados dentro de una longitud de onda,
tal y como el vector suma de dos ondas polarizadas linealmente. La polarización circular es
el término que describe dos ondas ortogonales que tienen igual amplitud.

Las propiedades de reflexión de la luz polarizada sobre una superficie dependen funda-
mentalmente del ángulo de incidencia. Este es un problema importante en los OSA, ya que la
luz incidente es normalmente polarizada y al realizar el análisis espectral la red de difracción
está continuamente cambiando de ángulo con respecto a la luz colimada incidente. Mientras
el ángulo de polarización de la luz varı́a, la pérdida en el monocromador varı́a igualmente. La
luz polarizada puede dividirse en dos componentes. La componente paralela a la dirección de
las lı́neas de la red de difracción se denomina polarización P y la componente perpendicular
polarización S. La pérdida en la red de difracción difiere de una polarización a otra y cada
pérdida depende de la longitud de onda. Para cada longitud de onda, la pérdida de la luz

54
polarizada P y de la luz polarizada S representan las pérdidas mı́nimas y máximas posibles
de la luz polarizada linealmente. Para algunas longitudes de onda, la pérdida experimenta-
da por la luz polarizada P es mayor que la experimentada por la luz polarizada S, mientras
que para otras longitudes de onda ocurre lo contrario. Esta sensibilidad a la polarización
da como resultado una incertidumbre en la amplitud para medidas de luz polarizada y se
especifica como dependencia de la polarización. Además, ocurre que normalmente el ruido
no estará polarizado, mientras que la señal puede proceder de una fuente fuertemente polari-
zada, teniendo dentro del OSA un estado de polarización desconocido, por lo que cualquier
dependencia del OSA respecto a la polarización afectará directamente a la precisión en la
medida del OSNR.

Para reducir la sensibilidad a la polarización, se coloca una lámina de media onda en el

camino de la señal óptica entre en el primer y segundo paso en el monocromador de doble
paso, tal y como se ve en la figura 1.44. Esta lámina de media onda rota 90 grados las
componentes de polarización. El resultado es que la componente de polarización que recibió
la máxima atenuación en el primer paso recibirá la mı́nima atenuación en el segundo paso y
viceversa.

Figura 1.44 Diseño de un OSA de red de difracción insensible a la polarización.

Se reduce ası́ la sensibilidad a la polarización , mientras la pérdida total es el producto

de las pérdidas mı́nima y máxima, sin tener en cuenta la polarización. Además, debido a
que el monocromador es insensible a la polarización, la salida del mismo es insensible a la
polarización. La salida del monocromador permite a éste ser usado como filtro preselector

55
de otras aplicaciones de procesamiento de señal.

Otro beneficio de la lámina de media onda es la mejora de la sensibilidad a la amplitud

sobre los monocromadores dobles. Esta mejora de la sensibilidad se debe a que la polarización
de la señal nunca puede alcanzar dos veces el ángulo de máxima pérdida, cosa que sı́ puede
ocurrir con un monocromador doble. Esto, junto con el reducido NEP del fotodetector da
al analizador la alta sensibilidad de la configuración con monocromador simple, pese a que
el analizador sea de más de un paso y manteniendo además el elevado rango dinámico de los
monocromadores dobles.

1.4.9.12 Procesado de señal

Si la luz de entrada al OSA cambia con el tiempo la señal a medir se describe como una
función de la longitud de onda y del tiempo. Sin embargo, la operación del instrumento
también depende del tiempo. Si la modulación de la señal incidente es mucho más alta
que la velocidad de barrido del OSA la medida del instrumento como media temporal es
correcta. Si la modulación es comparable o menor a la velocidad de barrido del OSA, para
medir su contenido espectral se deben utilizar ciertos modos especiales de disparo para medir
las señales de frecuencias de repetición bajas (<250kHz).

Para entender los modos de disparo del OSA es interesante estudiar el procedimiento de
adquisición que el instrumento de forma general utiliza. La figura 1.45 ilustra el modo de
operación del OSA. Recordando al figura 1.2 el instrumento inicia un barrido de la red de
difracción. La señal del detector se amplifica y se aplica a un convertidor analógico digital
para la adquisición de muestras. La conversión analógico-digital ocurre a frecuencias fijas
(37.5 µs por ejemplo). En el mejor de los casos, el convertidor para tomar una traza total
(501 puntos por ejemplo) emplea un tiempo para escanear el intervalo de longitudes de onda
seleccionado (30 ms/traza). Después el ACD y el procesador de señal digital (DSP) procesan
la señal. Sobre el procesador digital se suele implementar la señal de video. Finalmente los
datos son enviados a la pantalla. Cuando el barrido se completa la red de difracción se mueve
en dirección contraria a la posición de inicio comenzando nuevamente el ciclo.

Si la potencia del espectro de entrada es constante en el tiempo, sólo el movimiento de la

red y los filtros digitales del DSP han de ser sincronizados para presentar una traza precisa
en la pantalla.

Si la señal es modulada a una frecuencia suficientemente alta el OSA puede medir el

espectro sin sincronización externa. La banda de video en este caso debe ser mas baja que

56
 Figura 1.45 Diagrama representativo del procesado de señal en un OSA.

las frecuencias de los componentes particulares de la señal, para que el espectro no se vea
distorsionado.

Cuando no se produce este caso, los OSA ofrecen unos sistemas de disparo para sistemas
donde las frecuencias de modulación de la señal son del orden de 10 Hz a 250 kHz. Estos
métodos se describen en los apartados siguientes.

¦ Modo de span zero (Zero-Span Mode). Cuando el span es cero (λinicial = λf inal ),
la red de difracción mantiene la misma posición angular, por lo que el filtro está fijo
en longitud de onda. La medida registra la potencia a un tiempo dado y seleccionado
por el disparo. Si el tiempo de respuesta se almacena a diferentes longitudes de onda
el espectro temporal del pulso se puede registrar.

Para frecuencias menores de 10 Hz este modo tiene un mayor beneficio como medidor de
la potencia de la señal a una determinada longitud de onda, registrando sucesivamente
y promediando puede funcionar como medidor de potencia a esa longitud de onda.

¦ Modo de barrido por disparo. En este modo la red de difracción espera a iniciar cada
barrido hasta que un pulso externo se recibe. Cada barrido se almacena y se procesa
con los sistemas de promediado implementados en el OSA.

¦ Modo de disparo ADC. En este modo las muestras se toman cuando la rampa de subida
o bajada de un señal de disparo se detecta. La red de difracción está continuamente
moviéndose, y lo que se sincroniza es el muestreo.

57
¦ Modo de disparo ADC-AC. En este modo es muy similar al anterior, si bien mientras
en el anterior el disparo solo se activa para rampas positivas o negativas, en este caso
el disparo se realiza en ambos casos, rampas positivas y negativas alternativamente.
Además el DSP procesa los datos de forma diferente calculando la diferencia entre los
barridos activados con la rampa positiva y los barridos activados con la negativa. El
resultado representa solo el espectro de la señal modulada ya que la continua se cancela.
Este modo se usa en aplicaciones de baja frecuencia en sistemas que incorporan EDFA
para suprimir la señal espontánea.

¦ Modo de barrido de puerta (Gated -Sweep Mode). Este modo hace que el DSP
retenga o ignore los datos que le envia el ADC. En este caso la red y el ADC están
trabajando sin sincronización con señales externas. Si la señal de disparo está en alta
el DSP toma como válidos los datos que en ese momento se encuentran en el ADC.

1.4.9.13 Robustez y Portabilidad

El rápido aumento en la demanda de ancho de banda está empujando a la tecnologı́a

WDM fuera de los laboratorios a un ritmo acelerado. Esto se traduce en la necesidad de
instrumentos destinados a realizar medidas de alta calidad fuera del ambiente de la planta
o del laboratorio. El OSA es el principal aparato en el desarrollo y mantenimiento de las
redes DWDM; se usa en un gran número de situaciones, en diferentes puntos de la red y en
ambientes extremos, lo cual es una realidad muy diferente a la del laboratorio.

La mayorı́a de los OSAs para aplicaciones de alto nivel son unidades diseñadas para
instalaciones de investigación. Son aparatos delicados destinados a entornos controlados y a
usuarios experimentados. Por otro lado, la mayor parte de los OSAs destinados a aplicaciones
en campo abierto reducirán sus capacidades para ofrecer soluciones analı́ticas más prácticas
y fáciles de utilizar.

En el interior de un OSA conviven tanto elementos ópticos voluminosos como mecanis-

mos de precisión micrométrica, cualquier desviación en el alineamiento mecánico entre estos
componentes afectará directamente a la degradación de la especificaciones ópticas del apara-
to. Un OSA transportable ofrece la posibilidad de funcionar con baterı́as, lo cual permite
realizar un rápido y adecuado análisis en muy diversas situaciones.

58
1.4.9.14 Puntos de la traza de barrido

El mı́nimo número de puntos de barrido debe ser mayor que dos veces el span de longitud
de onda dividido por el ancho de banda de ruido equivalente.

1.4.9.15 Modularidad

La búsqueda de posibles fallos de funcionamiento y sus causas en los sistemas DWDM

es algo más que una simple evaluación con un OSA. De la fibra óptica deben evaluarse sus
pérdidas, el OSNR, la dispersión del modo de polarización, etc. Un medidor de múltiples
longitudes de onda puede combinarse con un OSA para situaciones en las que se requiera
una alta precisión en longitud de onda. Un OSA, idealmente, debe ser parte de una serie de
diferentes módulos gestionados por una plataforma universal común.

1.4.9.16 Software para trabajo de campo

Tradicionalmente, los OSAs tienen un software complicado heredado de los laboratorios.

Un OSA adaptado para realizar análisis en campo abierto deberá ofrecer un interfaz de
usuario simple incluyendo, análisis automáticos y simplificados procedimientos de evalu-
ación paso a paso. Esto permitirá a cualquier operador obtener la información necesaria
independientemente de que sea un usuario experto en DWDM o no.

59
60
Capı́tulo 2

Aplicaciones de los analizadores de

espectro óptico

En este capı́tulo se describen algunas de las aplicaciones de los analizadores de espectro

óptico más comunes. Para ello nos fijaremos fundamentalmente en los parámetros que se
deben obtener del analizador en cada una de las aplicaciones descritas y que de forma general
los modernos OSA ya incorporan implementadas en el software interno del equipo.

Un analizador de espectros óptico (OSA) es una herramienta muy versátil que posee
numerosas aplicaciones dentro de las cuales se pueden destacar:

a) Caracterización de fuentes de luz :

a1) Diodos emisores de luz (LED)

a2) Diodos láser tipo Fabry-Perot

a3) Diodos láser tipo DFB

b) Análisis de la Emisión Espontánea Amplificada (ASE)

c) Evaluación de las caracterı́sticas de transmisión de elementos pasivos

d) Análisis DWDM (Multiplexado Denso en Longitud de Onda):

d1) Análisis de la relación Señal-Ruido (SMSR)

61
2.1 Caracterización de fuentes de luz

2.1.1 Diodos emisores de luz (LED)

Un LED es una unión p-n fuertemente polarizada en directo que emite radiación espontánea
en la zona visible o infrarrojo del espectro. La emisión se produce porque la polarización
directa de la unión hace que exista una fuerte inyección de portadores minoritarios a uno y
otro lado de la unión, estos portadores minoritarios en exceso se recombinan con los porta-
dores mayoritarios, emitiéndose fotones de energı́a aproximadamente igual a la del gap del
material semiconductor sobre el que se ha construido la unión.

Los LED adquieren importancia para las comunicaciones en cortas distancias y en apli-
caciones con fibra multimodo (850 y 1300 nm). Su bajo costo los hace muy adecuados en
muchas aplicaciones.

Hay dos tipos de LED que se utilizan en comunicaciones por fibra óptica:

◦ LED de superficie emisora (SLED): la dirección de emisión de luz es perpendicular al

plano que contiene a la unión. Su emisión es bastante divergente, por lo que se acopla
relativamente bien a fibras multimodo salto de ı́ndice (GI). Su ancho espectral es de
unos 80 nm, consiguiéndose potencias a la salida de la fibra multimodo de poco más
de 0.1 mW. El ancho de banda de modulación está limitado por la vida media de los
portadores en la región activa consiguiéndose modularse hasta 625 Mb/s.

◦ LED de borde emisor (EELED): la dirección de emisión está contenida en el plano

de la unión. Un EELED está compuesto de dos partes, una polarizada en directa
que funciona como amplificador y produce una ganancia, y la otra en inversa que
se comporta como un absorbente óptico. Es parecido a los láseres FP (que luego
describiremos) aunque sin espejos. La forma espectral de estos LED es muy parecida a
la ganancia de un amplificador óptico, consiguiéndose anchuras espectrales de 60 nm.
Por ser direccional la salida se pueden acoplar a fibra monomodo, consiguiéndose 0.1
mW a la salida de la misma. Pueden alcanzarse frecuencias de modulación, también
limitada por la vida media de los portadores, de 155 Mb/s.

62
 Un analizador de espectros óptico permite la caracterización de este tipo de fuentes. Para
fuentes LED los analizadores comerciales presentan rutinas implementadas que miden de
forma automática cada uno de los parámetros de interés. Un ejemplo de este tipo de medidas
se muestra en la figura 2.1. De forma general los parámetros que definen y caracterizan una
fuente LED son: la potencia total, la longitud de onda media, la anchura espectral rms, la
anchura espectral FWHM, la longitud de onda media a mitad de altura, la longitud de onda
de pico. La definición de cada uno de estos parámetros es como sigue:

Figura 2.1 Medida automática de un LED.

• Potencia total. Es la suma de las potencias de cada punto de la traza, normalizada

por la relación del espaciamiento de cada punto de la traza con la resolución de rendija
usada en la medida. Esta normalización es necesaria por ser la potencia del LED
continua en longitud de onda frente a las otras fuentes usadas como láseres de diodo
que no lo son. Según esta expresión la potencia total de la fuente se calcula como:
N
X Espaciado
PT otal = (Pi × ) (2.1)
i=1 Resolucion

• Longitud de onda media (FWHM). Es la longitud de onda que representa el centro

de masas de los puntos medidos del LED. Se calcula como:
N
X λi P i Espaciado
λM edia = ( × ) (2.2)
i=1 PT otal Resolucion

63
 • Anchura rms. Representa la anchura del LED considerado este como una distribución
gaussiana, esta es en realidad la desviación estándar de la distribución de potencia del
LED. La anchura rms se calcula como:
N
Pi Espaciado
[(λi − λM edia )2 ×
X
σ= × ] (2.3)
i=1 PT otal Resolucion

• Anchura FWHM. Describe la anchura espectral del LED para puntos a mitad de
altura del pico del mismo, asumiendo que la emisión del LED es continua y gaussiana.
Su valor se obtiene del valor medio rms como:

F W HM = 2.355 × σ (2.4)

• Longitud de onda de pico. Es la longitud de onda a la que el LED emite la mayor

potencia. Su valor se asocia al de la potencia medida a esa longitud de onda y es muy
útil para el estudio de las caracterı́sticas del LED.

• Anchura a 3 dB. Describe la anchura del LED considerada como la distancia en

nm entre las longitudes de onda cuyas potencias son la mitad de la potencia de pico
del LED. La anchura a 3 dB se determina buscando la longitud de onda de pico y su
potencia y buscando las longitudes de onda de potencias 3 dB por debajo de la de pico.
Si λA y λB son las longitudes de onda en las que se produce la caı́da a 3 dB respecto
del pico de potencia, entonces:

∆λ(3dB) = λB − λA (2.5)

• Longitud de onda media a 3 dB. Es el valor medio de la longitud de onda con-

siderada entre los puntos para los que la potencia su potencia es 3 dB inferior a la
potencia de pico. Se calcula como:
(λA + λB )
λM edia (3dB) = (2.6)
2
Idéntico análisis al realizado a 3 dB puede ser realizado a cualquier otro valor de caı́da
respecto del pico de potencia (n dB).

• Densidad (1 nm). Es la densidad de potencia espectral del LED normalizada para

un ancho de rendija de 1 nm, a la longitud de onda de pico de emisión. su valor se
calcula como:
N
X Espaciado
DensidadP ico (1nm) = Pi × (2.7)
i=1 Resolucion

En la figura 2.2 se muestran gráficamente cada uno de los parámetros definidos.

64
 Figura 2.2 Parámetros que definen la emisión de un LED.

2.1.2 Diodos láser Fabry-Perot

El término ’láser’ denota ’amplificación de luz por emisión estimulada de radiación’. Dos
mecanismos determinan la generación de luz en un diodo láser: La Emisión Espontánea que
es el resultado de la recombinación de electrones excitados de la banda de conducción y de
huecos de la banda de valencia. Este es el proceso principal en un LED (ver figura 2.3).
En un diodo láser (LD), el proceso predominante de generación de fotones es la Emisión
Estimulada, esto es que los fotones activan la generación de fotones adicionales mediante la
estimulación de recombinaciones adicionales. Los fotones estimulados son coherentes con los
fotones generadores, es decir, ambos tipos de fotones tienen la misma longitud de onda y
fase.

Para que se produzca el fenómeno de Emisión Espontánea, los diodos láser deben verificar
tres condiciones, que son las tres caracterı́sticas de los láseres:

¦ Creación de una inversión de población entre niveles de energı́a. En una unión p-n al
aplicarle una fuerte polarización directa, hay una zona cercana a la unión donde se han
inyectado electrones de la zona n. Si la polarización es suficientemente alta, tendremos
una muy alta inyección de electrones en la zona de transición, próxima a la unión, al
igual que huecos inyectados desde la región p, se tendrá, por tanto, que en la zona de

65
 Figura 2.3 Mecanismos de generación de luz en diodos láser.

transición hay una alta población de electrones en la banda de conducción y de huecos

en la banda de valencia, con lo que se verifica esta condición.

¦ Existencia de un medio que puede excitarse de manera que se cree una amplificación de
la emisión -medio con ganancia-. Cuando la corriente de excitación del diodo supera
el denominado “umbral láser”, el diodo será transparente a la radiación incidente y se
convertirá en un amplificador láser.

¦ Debe ser posible la construcción de una cavidad resonante de forma que se realimente
una sola frecuencia y que los estados de vibración de la emisión estén en fase, tal que
la emisión resultante sea coherente. Si en lugar de realizar una homounión p-n, se
establece una doble heterounión p-p-n, se obtendrá un confinamiento de portadores
en el pozo formado en la propia heterounión y, por tanto, un confinamiento óptico,
teniendo ası́ una cavidad óptica.

Los diodos láser tiene ventajas tales como alta potencia óptica de salida, la posibili-
dad de modulación rápida, buena eficiencia en el acoplamiento óptico con la fibra, etc, sin
embargo tiene problemas con la estabilidad de la emisión de luz, pero desde que se están
resolviendo estos problemas, los diodos láser están siendo usados con más frecuencia para
largas distancias y comunicaciones rápidas.

Los analizadores comerciales al igual que para los LED suelen disponer de unas rutinas
automáticas de medida de los láseres FP con resultados similares a los mostrados en la figura
2.4. Para este tipo de fuentes los siguientes parámetros son los de interés:

• Potencia total. Es la suma de las potencias de cada uno de los modos o componentes
espectrales que satisfacen un criterio de exclusion de picos. La potencia total de los

66
 Figura 2.4 Medida automática de un láser Fabry-Perot.

láseres FP se calcula como:

N
X
PT otal = Pi (2.8)
i=1

• Longitud de onda media. Es la longitud de onda que representa el centro de masas

de las componentes espectrales medidas. Se calcula como:
N
X λi P i
λM edia = (2.9)
i=1 PT otal

• Anchura rms. Representa la anchura del láser considerado éste como una distribución
gaussiana. La anchura rms se calcula como:
v
N
1
u
u X
σ=t Pi (λi − λM edia )2 (2.10)
PT otal i=1

• Anchura FWHM. Describe la anchura espectral del láser FP para puntos a mitad de
altura del pico del mismo, asumiendo que la emisión del láser es continua y gaussiana.
Su valor se obtiene del valor medio rms como:

F W HM = 2.355 × σ (2.11)

• Espaciamiento entre modos. Es el valor medio del espaciamiento entre modos

longitudinales en el láser FP. Este espaciamiento se expresa en nm o GHz.

67
• Potencia de pico y longitud de onda de pico. Son los valores de la potencia y la
longitud de onda a las que la emisión del laser son máximas.

• Tipo de distribución. En los análisis de láseres FP normalmente se asume una

distribución de potencia gaussiana. En este caso los análisis rms proporcionan infor-
mación de la emisión del laser suponiendo este gausiano continuo. La tabla 2.1 muestra
la relación entre varios parámetros para diferentes criterios de análisis rms.

Tabla 2.1 Relación entre parámetros para distintos criterios en el análisis rms.

∆Λ σ 2σ 2.355σ 3σ
λA (izquierda) λM edia − 0.5σ λM edia − σ λM edia − 1.117σ λM edia − 1.5σ
λB (izquierda) λM edia − 0.5σ λM edia − σ λM edia − 1.117σ λM edia − 1.5σ
Nivel Máximo Potencia de máximo
Nivel mı́nimo Potencia mı́nimo

En la figura 2.5 se muestran gráficamente cada uno de los parámetros definidos.

Figura 2.5 Parámetros que definen la emisión de un laser Fabry-Perot.

68
2.1.3 Láseres de realimentación distribuida (DFB)

Un láser DFB es en esencia un láser FP al que se le ha agregado una estructura reflectora

de Bragg, cerca de la región activa de emisión de luz. El reflector de red de Bragg proporciona
una estructura periódica de cambio de ı́ndice de refracción, de forma que se consigue una
máxima eficiencia de luz reflejada a una única longitud de onda. Tecnológicamente este tipo
de láseres son más complejos de fabricar, incrementándose en igual medida su costo. Estos
láseres se acoplan adecuadamente a fibras monomodo, alcanzándose a la salida de la misma
potencias de 2 a 20 mW y pueden ser modulados hasta 10 Gb/s.

El análisis de la emisión de un laser de realimentación distribuida (DFB) es muy similar

al análisis de los láseres FP, excepto que toda su potencia se reduce a una única componente
espectral como se muestra en la figura 2.6. Ya que el espectro de emisión de estos láseres
sólo tiene un modo de emisión (esto también se aplica a los láseres sintonizables por cavidad
externa), la anchura espectral de estos láseres es muy inferior a los láseres Fabry-Perot. Esta
propiedad reduce de forma radical los efectos de dispersión cromática en los sistemas de fibra
óptica, aumentando de forma considerable el ancho de banda de transmisión.

Figura 2.6 Medida automática de un láser DFB.

La mayorı́a de los OSA tienen una rutina automática de medida para láseres DFB.
Como resultado de ello se obtienen los parámetros que se representan en la figura 2.6. Los
parámetros más a menudo utilizados en la caracterización de estos láseres son:

69
 • Longitud de onda de pico y potencia de pico. Es la longitud de onda a la que
emite la principal componente espectral del DFB, y su valor de potencia respectiva-
mente.

• Relación de supresión de modos laterales (SMSR). Es la diferencia en potencia

entre la principal componente espectral y la segunda más intensa.

• Offset de modo. Es la diferencia en nm entre el modo principal y el modo que define

la SMSR.

• Banda de paro (Stopband). Es la diferencia en longitud de onda entre dos modos

adyacentes al modo principal uno inferior a éste y otro superior a él.

• Offset de centrado. Indica lo centrado que se encuentra el modo principal en la

banda de paro. El valor del offset de centrado es igual a la longitud de onda del modo
principal menos el valor medio de las longitudes de onda que definen la banda de paro.

• Ancho de banda. Mide el ancho de lı́nea del modo fundamental del DFB. Debido a
la anchura tan fina de los DFB esta medida depende de forma muy significativa de la
anchura de rendija usada en el analizador de espectros.

En la figura 2.7 se muestran gráficamente cada uno de los parámetros definidos.

2.2 Análisis de la Emisión Espontánea Amplificada

En los sistemas de comunicación por fibra óptica, se producen pérdidas de energı́a en el
proceso de conducción de la radiación a través de la fibra. Para compensar estas pérdidas
se colocan diversos amplificadores ópticos a lo largo de la fibra, el número de estos amplifi-
cadores depende de la longitud del trayecto a recorrer.

Un tipo de amplificadores muy usado son los de fibra dopada con Erbio (EDFA) que tienen
un perfil de ganancia dependiente de la longitud de onda y determinado por el espectro de
emisión del ión de erbio. Cuando se usan múltiples amplificadores secuencialmente en un
tramo de transmisión largo, la curva de ganancia de los amplificadores individuales conduce a
grandes variaciones de ganancia a lo largo del tramo. Al incorporar filtros de fibra reticulados,
con perfiles de transmisión cuidadosamente diseñados que compensan la curva de ganancia
de los EDFA con base de sı́lice, se han alcanzado anchos de banda de ganancia plana de 40
nm con una variación de ganancia (rizado) de ± 1 dB, usando amplificadores de bajo ruido.

70
 Figura 2.7 Parámetros que definen la emisión de un laser DFB.

Recientemente, se ha mostrado un nuevo diseño de amplificador que tiene un ancho de

banda de 80 nm y que es capaz de soportar 100 canales de longitud de onda con un espa-
ciamiento de 100 GHz. Este amplificador está basado en EDFA de sı́lice con dos secciones:
una optimizada para canales de longitud de onda, larga mayores que 1565 nm (banda L) y
la otra para canales convencionales de 1525-1565 nm (banda C). Los espectros de emisión
espontánea amplificada (ASE) de estos dos tipos de amplificadores, se muestran en la figura
2.8 y son ellos los que definen la banda de amplificación útil de cada amplificador.

El problema de estos amplificadores es que además de amplificar la señal óptica, también

generan emisiones espontáneas de fotones en un amplio rango de longitudes de onda que
se conoce como Emisión Espontánea Amplificada (ASE). Por tanto, a la salida del sistema
de comunicación por fibra óptica, un espectro de ruido del ASE se superpone a la señal de
transmisión.

Es importante, entonces, el poder identificar y caracterizar esta emisión espontánea, para

poder separarla de la señal óptica transmitida. Los analizadores de espectro ópticos comer-
ciales actuales tienen igualmente, una aplicación que permite evaluar amplificadores ópticos,
dentro de la cual se analiza el ruido ASE. Un ejemplo de la pantalla que nos proporcionan
estos analizadores al ejecutar esta aplicación es el mostrado en la figura 2.9.

71
Figura 2.8 ASE de los amplificadores de Er de banda C y L.

Figura 2.9 Medida automática del ASE.

72
 El estudio completo de las rutinas y procedimientos de evaluación de los parámetros de
los amplificadores ópticos dopados con Er serı́an objeto de un proyecto en sı́, por lo que en
esta sección vamos a describir someramente los parámetros que nos indican los analizadores.

Para la caracterización de los EDFA es necesario la ayuda de un láser DFB o de forma

más general un láser sintonizable. Con el láser se consigue saturar la ganancia del ampli-
ficador cuando éste opera en un punto determinado. El OSA caracteriza el espectro de la
señal y del ruido antes y después de la amplificación. Con estas medidas y sintonizando el
láser a diferentes longitudes de onda se pueden obtener las figuras de ganancia y ruido del
amplificador óptico.

La medida de la potencia de la señal a la entrada y salida del amplificador con el OSA

es directa, mientras que la medida del ruido es más complicada. Primeramente, la señal
debe estar por encima del nivel de ruido a la longitud de onda de test. En segundo lugar,
el ruido presente en la señal puede ser amplificado y añadido al ruido del amplificador. Los
analizadores utilizan técnicas de interpolación para estudiar los niveles de ruido a la derecha
e izquierda de la señal de test.

2.3 Evaluación de las caracterı́sticas de transmisión de

elementos pasivos
Los analizadores de espectro óptico también permiten analizar las caracterı́sticas de trans-
misión de los elementos pasivos usados en comunicaciones por fibra óptica, tales como ais-
ladores, acopladores, circuladores, redes de Bragg, etc. Para analizar estos elementos pasivos
se usa una fuente de luz de rango espectral ancho junto con la función ”resta”y dos registros
de memoria. Primero, se registra la transmisión sin el elemento bajo análisis y los datos se
almacenan en uno de los registros, posteriormente, se registra la transmisión con el elemento
bajo test (DUT), guardándose los datos en el otro registro, finalmente se procede a la resta
de ambos datos.

En la figura 2.10 se representa el sistema tı́pico de medida. Se introduce la luz procedente

de la fuente directamente en el analizador, se obtiene el espectro y los datos se almacenan
en un registro de memoria. A continuación, la luz procedente de la fuente se introduce en el
elemento bajo análisis y la salida se lleva al analizador, se vuelve a obtener el espectro y se
almacenan los datos en otro registro de memoria. Representando la función resta de ambos
datos se pueden visualizar las caracterı́sticas de transmisión sin incluir las caracterı́sticas del
sistema de medida.

73
 Figura 2.10 Sistema de medida de elementos pasivos.

Si hay alguna diferencia entre las pérdidas de la fibra óptica cuando el DUT está conectado
y cuando no, la medida no será precisa. Hay que tener cuidado para evitar que haya grandes
diferencias en la longitud de la fibra entre ambas situaciones.

Un ejemplo de este tipo de medida se muestra en la figura 2.11 para un filtro de longitud
de onda. En el análisis de los componentes pasivos los OSA son una de las herramientas más
versátiles de la que podemos disponer en un laboratorio de fibras ópticas. Los modernos
OSA pueden sincronizarse con láseres sintonizables para constituir un sistema de medida de
componentes muy potente. Sin embargo, el uso de los OSA con diferentes fines y en distintas
configuraciones hace más necesario la calibración de este instrumento con más precisión, y
se requiere un mejor conocimiento del mismo para poder eliminar los errores sistemáticos en
las medidas.

2.4 Analisis de señales DWDM

Las telecomunicaciones actuales se caracterizan por un continuo aumento en la demanda
de ancho de banda. La transmisión de múltiples canales es la base del Multiplexado Denso
en Longitud de Onda (Dense Wavelength División Multiplexing, DWDM), es una solución
económica al problema de cómo hacer el mejor uso de las actuales infraestructuras de fibra
óptica. Con la introducción de DWDM, que multiplexa múltiples frecuencias en el rango
de los 200 THz, ciertos efectos bien conocidos en la transmisión analógica pero no vistos
en el mundo digital empiezan ahora a manifestarse. Todo esta lleva a exigir nuevos tests
para asegurar que se alcanzan las grandes promesas realizadas en cuanto a ancho de banda,
capacidad y calidad.

74
 Figura 2.11 Medida de un filtro de longitud de onda con un OSA.

2.4.1 Principio básico de los sistemas ópticos de DWDM

La figura 2.12 representa la arquitectura tı́pica de un sistema de WDM donde cuatro

señales de 2.5 Gbit/s se introducen en 4 transmisores ópticos, las señales ópticas de salida
son convertidas, a longitudes definidas en la ventana de los 1550 nm. Esto significa que se
pueden usar los módulos de transmisión estándar para rangos de longitud de onda de 1310
nm a 1550 nm. Luego se usa un multiplexor óptico en longitud de onda para combinar
las cuatro señales, que posteriormente se llevan a un amplificador de fibra óptica (EDFA).
Dependiendo de la longitud del trayecto serán necesarios varios amplificadores ópticos para
compensar las pérdidas en la fibra.

En el lado de recepción, la señal óptica DWM es devuelta a sus componentes individuales

en longitud de onda usando filtros ópticos. Estas señales son convertidas luego en señales
eléctricas mediante apropiados módulos receptores. Una construcción idéntica se usa para
la transmisión de señales en sentido contrario.

Los modernos sistemas de DWDM utilizan una red de longitudes de onda según especifica
la Recomendación ITU-T G.692. Ésta utiliza un espacio entre canales de 100 GHz/0.8 nm
o múltiplos. Las longitudes de onda recomendadas por ITU para separación de 100 GHz
centradas en la frecuencia de 195.1 THz se muestran en la tabla 2.2. Si el espacio entre
canales es de 100 GHz, hasta 40 canales se pueden acomodar dentro del rango de 1530 a

75
 Figura 2.12 Arquitectura de un sistema de WDM.

1565 nm, que pueden ser utilizados con los amplificadores ópticos disponibles normalmente.
Los sistemas DWDM que se han instalado hasta ahora normalmente llevan 4, 8, 16 o 32
canales.

Tabla 2.2 Frecuencias recomendadas ITU-G.692 para WDM y su equivalencia en λ.

Frecuencia λ Frecuencia λ Frecuencia λ

(THz) (nm) (THz) (nm) (THz) (nm)
195.9 1530.33 194.4 1542.14 193.0 1553.33
195.8 1531.12 194.3 1542.94 192.9 1554.13
195.7 1531.90 194.2 1543.73 192.8 1554.94
195.6 1532.68 194.1 1544.53 192.7 1555.75
195.5 1533.47 194.0 1545.32 192.6 1556.55
195.4 1534.25 193.9 1546.12 192.5 1557.36
195.3 1535.04 193.8 1546.92 192.4 1558.17
195.2 1535.82 193.7 1547.72 192.3 1558.98
195.1 1536.61 193.6 1548.51 192.2 1559.79
195.0 1537.40 193.5 1549.32 192.1 1560.61
194.9 1538.19 193.4 1550.12 192.0 1561.42
194.8 1538.98 193.3 1550.92 191.9 1562.23
194.7 1539.77 193.2 1551.72 191.8 1563.05
194.6 1540.56 193.1 1552.52 191.7 1563.86
194.5 1541.35

76
 Hay una tendencia observable hacia un mayor número de canales con un espaciado entre
ellos de 50 GHz/0.4 nm o incluso menos, que permitirı́a anchos de banda de transmisión de
más de 100 Gbit/s por cada canal, para una fibra de vidrio de 9µm de núcleo.

2.4.2 La señal DWDM

La figura 2.13 muestra una tı́pica señal DWDM que contiene cuatro canales de informa-
ción. Los amplificadores ópticos que están disponibles actualmente pueden producir ganan-
cias de entre 20 o 30 dB en señales de información en el rango de 1530 a 1565 nm, lo cual es
suficiente para compensar las pérdidas en la fibra para un trayecto de unos 100 km.

Figura 2.13 Medida automática de una señal de WDM.

La relación óptica Señal-Ruido (OSNR o S/N) es un factor importante que gobierna las
interferencias de las transmisiones. Depende del número y de la separación de las señales
portadoras ası́ como de la longitud del trayecto y del número de amplificadores ópticos
utilizados. Normalmente está entre 20 y 30 dB.

77
2.4.3 Nuevos requisitos del equipo de prueba en DWDM
Los sistemas de comunicaciones DWDM tienen unas necesidades de medida completa-
mente diferentes, desde el punto de vista óptico, a los sistemas de un único canal utilizados
hasta entonces, donde la longitud de onda exacta no era tan importante y sólo el nivel de
potencia de la señal necesitaba ser medida con un único medidor de nivel de banda ancha.

En la figura 2.14 se muestra la degradación de la señal de WDM en las diferentes etapas

del sistema debido a la acción de la atenuación de la fibra, la amplificación de la señal, la
dispersión cromática y el ruido del sistema.

La determinación de los niveles de potencia de la señal para las longitudes de onda de

las portadoras individuales requiere, por tanto, un selectivo nivel de medida. La principal
consideración aquı́ es para que la selectividad sea la más alta posible. El “Monocromador
de rendija”ha demostrado ser útil en este requisito.

2.4.4 Análisis de sistemas de DWDM

Los requerimientos puestos en los equipos de test de DWDM son altos. Por un lado,
los parámetros de la señal óptica tienen que ser analizados y por otro, el criterio de error
que finalmente refleja la calidad de la transmisión necesita ser establecido para cada señal
SDH/SONET que es transmitida. La ITU-T Rec. G.692 ( ”Interfaces ópticas para sistemas
de múltiples canales con amplificadores ópticos”) realiza una provisión para puntos de test
de referencia en la señal portadora y en los niveles multiplexados de señal de los sistemas
DWDM.

2.4.5 Midiendo los parámetros ópticos del sistema de DWDM

La meta global de un sistema de la transmisión óptico es proporcionar la más alta calidad
(mayor número de datos libres de error) con el mı́nimo costo. Los sistemas de WDM lo con-
siguen aprovechando el ancho de banda de la fibra y el rango operativo de los amplificadores
ópticos, introduciendo varios canales o longitudes de onda en estas regiones. Sin embargo
para conseguir que los láseres no interfieran el uno con el otro, se deben espaciar suficien-
temente y asegurar que uno no entre en el canal del transmisor vecino. Para conseguirlo
los sistemas de WDM se diseñan, instalan, verifican, y supervisan, midiendo las siguientes
propiedades:

78
Figura 2.14 Degradación de la señal de WDM.

79
A) Longitud de onda y potencia de la portadora.

B) Espaciado entre canales.

C) Planitud de los canales.

D) ’Drif’ o deriva de los canales.

E) Relación señal ruido óptica.

A) Longitud de onda y potencia de la portadora. En cualquier sistema de trans-

misión óptico, la longitud de onda y la potencia de la portadora láser son parámetros
importantes. Sin embargo, en los sistemas de WDM son particularmente importantes
ya que ha que transmitir a longitudes de onda exactas para evitar la interferencia con
los canales adyacentes y el nivel de potencia debe conocerse con exactitud en unión de
las pérdidas y la ganancia de amplificación para poder verificar que la potencia está
igualmente distribuida por todo el ancho de banda de los amplificadores de fibra óptica.
Evaluando el nivel de la señal para cada canal podemos detectar inmediatamente los
canales perdı́dos

B) Espacio entre canales. En un sistema de WDM es crı́tico que la separación entre

canales sea la establecida para el sistema. De esta manera se asegura que los filtros
y los transmisores operan en los canales diseñados. La diferencia entre cualquiera
de dos canales adyacentes se llama espaciado de canales y está especificado en la
recomendación ITU-T G.692.

C) Planitud. La diferencia entre las potencia relativas de los diferentes canales de WDM
se conoce como planitud . Para un sistema de WDM estas diferencias se explican
por las variaciones en la ganancia de los amplificadores para distintas longitudes de
onda. La figura 2.15 muestra la medida de planitud de un sistema de WDM, como
la diferencia en dB entre la longitud de onda transmitida de máxima potencia y la de
mı́nima.

D) ’Drift’ o deriva de los canales. La desviación de longitud de onda de los canales en

un sistema de WDM es uno de los parámetros más importantes ya que un aumento del
drift del canal puede hacerle interferir con el canal adyacente. La figura 2.15 muestra
la medida del drift. Hay que tener en cuenta que en los sistemas de WDM y debido a la
alta potencia que a la salida del amplificador puede producirse, los diferentes canales

80
 Figura 2.15 Definición de planitud y deriva en un sistema de WDM.

son modulados en longitud de onda para ensanchar el espectro de emisión del láser
y eliminar el efecto no lineal Brillouin. Esta modulación de longitud de onda puede
provocar el drift de los canales transmitidos.

E) Relación Señal-Ruido Óptica(OSNR).Al igual que para otros sistemas de trans-

misión, la relación señal-ruido óptica (OSNR) es útil para medir la calidad de la trans-
misión en los sistemas DWDM. Sin embargo, las portadoras individuales no pueden
desactivarse para medir los niveles de potencia del ruido ya que esto provocarı́a una
distorsión en el balance del sistema que se espera durante la operación. Por tanto, la
medida del OSNR, debe realizarse con el sistema activo.

Para medir la OSNR debemos medir el nivel absoluto de la señal y el nivel absoluto
del ruido a la longitud de onda de la portadora, y debe especificarse el ancho de banda
de medida. Ası́ la OSNR se define como:
Pi Bm
OSN R = 10Log( ) + 10Log( ) (2.12)
Ni Br

donde Pi es la potencia en Watios del canal, Ni es potencia en Watios del ruido del
mismo canal, Bm es el ancho de banda efectivo de medida y Br es el ancho de banda
de referencia.

81
La normalización a un ancho de banda de medida es importante para poder comparar
los datos medidos con los medidos por otro equipo diferente y en otras condiciones
(nótese que 20 dB con un ancho de banda de 1 nm son 30 dB con un ancho de banda
de 0.1 nm y 23 dB con un ancho de banda de 0.5 nm). La figura 2.16 muestra la
medida gráfica de la OSNR en un sistema de WDM con separación entre canales de
100 GHz. Para la medida, como se aprecia en esta figura, se interpolan los valores de
ruido medidos a la mitad de la distancia del espaciamiento ITU, a ambos lados del
canal bajo test. De forma general, cuando la distancia entre canales en mayor de 200
GHz, la interpolación se realizará midiendo los valores de ruido longitudes de onda
separadas 100 GHz del canal bajo test.

Figura 2.16 Obtención de OSNR en señales de WDM.

En la medida de OSNR crece la importancia de la calibración del analizador de espec-

tros óptico usado, y para poder diferencias OSNR con suficiente precisión es necesario
mejorar las caracteristicas y prestaciones de los OSA. Como ejemplo y sin querer me-
terse en profundidad en la calibración de la OSNR medida por un OSA, en la figura
2.17 se muestran los factores prácticos que determinan la incertidumbre en la medida
de OSNR con un OSA. En ella se muestra que el rango dinámico del OSA puede deter-
minar la incertidumbre en la medida del OSNR, ya que la incertidumbre esta lı́mitada
por el rango dinámico de exceso del OSA en la posición de medida (definido como la
diferencia entre el ruido del sistema y el ruido del OSA en esas condiciones), y este
rango dinámico depende de la forma de la rendija del OSA y de su nivel de ruido. La
incertidumbre en la OSNR se expresa como:

82
 D
U (OSN R) = 10Log(1 + 10(− 10 ) )(dB) (2.13)

Para un caso práctico de un sistema con 30 dB de OSNR, medido con un OSA de 40

dB de rango dinámico, la incertidumbre de la medida es de 0.42 dB.

Figura 2.17 Factores que influyen en la incertidumbre de medida de la OSNR.

83
84
Capı́tulo 3

Métodos de calibración de OSA

En este capı́tulo se transcribe la norma IEC-97 que se aplica a la calibración de ana-

lizadores de espectros ópticos. La calibración completa de este instrumento conlleva la
calibración de la escala de potencia (escala vertical del OSA) y la calibración de la escala de
longitud de onda (escala horizontal del OSA). Los métodos y procedimientos que se van a
describir se aplican a OSAs que disponen, como entrada, de un conector de fibra óptica y
deben tener como mı́nimo las siguientes caracterı́sticas:

- La capacidad de representar un espectro óptico respecto de la longitud de onda

absoluta.

- Un cursor o marcador que indique la potencia óptica y la longitud de onda de un

punto del espectro representado.

3.1 Definiciones
En esta sección se van a definir los términos que se utilizarán en la descripción de los
procedimientos objeto de este capı́tulo.

Calibración: es el conjunto de operaciones que establecen, bajo unas condiciones definidas,

la relación entre los valores indicados por el instrumento de medida y los correspondientes
valores conocidos de esa magnitud, objeto de calibración.

Calibración con condiciones de referencia: es una calibración que incluye la eva-

luación de la incertidumbre del instrumento bajo condiciones de referencia.

Calibración con condiciones operativas: es una calibración que incluye la evaluación

de la incertidumbre en las condiciones de operación del instrumento.

85
 Longitud de onda central, λcentral : longitud de onda en vacı́o de una fuente de luz
obtenida como el valor medio de su espectro de potencia. Se expresa en nanometros. Para
un espectro continuo, la longitud de onda central se obtiene mediante la expresión:
Z
ρ(λ)λdλ
λcentral = (3.1)
Ptotal
Para un espectro consistente en lı́neas discretas, la longitud de onda central se obtiene
usando la siguiente expresión:
P i λi
P
λcentral = P (3.2)
Pi
donde:

ρ(λ) es la densidad de potencia espectral de una fuente. Se expresa, por ejemplo, en

watios/nm.

λi es la i-ésima longitud de onda discreta de una distribución espectral. Se expresa en

nm.

Pi es la potencia para la longitud de onda i-ésima. Se expresa en watios.

Ptotal = Pi es la potencia total. Se expresa en watios.

P

Las integrales y sumas anteriores se extienden a todo el espectro medible de la fuente de

luz.

Nivel de confianza o Probabilidad de cobertura: fracción, generalmente expresada

en %, de la distribución de valores que, como resultado de una medición, puede atribuirse al
mensurando.

Factor de cobertura, k: factor numérico utilizado como multiplicador de la incer-

tidumbre tı́pica de medida para obtener una incertidumbre expandida (U) de medición. En
las calibraciones, el factor de cobertura que debe utilizarse es k=2. Con este factor de cober-
tura la incertidumbre expandida asociada corresponde a una probabilidad de cobertura del
95.5%.

Nivel de potencia representado, DPL: es la potencia indicada por el analizador de

espectros óptico para una resolución en longitud de onda determinada.

Desviación del nivel de potencia, ∆P : diferencia entre el nivel de potencia repre-

sentado medido por el analizador, POSA , y la correspondiente referencia de potencia, Pref ,
dividida por la referencia de potencia.
POSA − Pref POSA
∆P = = (3.3)
Pref Pref − 1

86
 Incertidumbre del nivel de potencia representado, u(∆P ): es la incertidumbre
estándar de la desviación del nivel de potencia.
POSA
u(∆P ) = u( ) (3.4)
Pref − 1

u :incertidumbre estándar.

Intervalo de longitudes de onda: intervalo completo de longitudes de onda mostrado

en el analizador de espectros óptico.

Incertidumbre expandida, U: también llamado intervalo de confianza, es el rango de

valores dentro del cual se espera que esté el parámetro medido, para el nivel de confianza
elegido, y se obtiene a través del factor de cobertura y la incertidumbre estándar:

U = kσ (3.5)

NOTA: Cuando la distribución de incertidumbres se asume como Normal y se han

realizado un gran número de medidas, los niveles de confianza del 68.3, 95.5 y 99.7%
corresponden a valores de k de 1, 2 y 3 respectivamente.

La incertidumbre de medida de un analizador de espectros óptico debe ser especificada

en forma de incertidumbre expandida, U y para k=2.

Estado del instrumento: completa descripción de las condiciones de medida y estado

del analizador durante el proceso de calibración. Parámetros tı́picos del estado del instru-
mento son el rango de longitudes de onda usado, el ancho de banda de resolución (resolución
espectral), el modo de representación, escala lineal o logarı́tmica (watios o dBm), tiempo de
calentamiento, etc.

Intervalo de longitudes de onda de medida: es el rango de longitudes de onda de

la luz de entrada sobre la que se especifica la actuación del analizador.

Condiciones operativas: son todas las condiciones de medida y de influencia, además

de otros requerimientos importantes para los que se intenta alcanzar la incertidumbre ex-
pandida del analizador de espectros óptico.

Condiciones de referencia: es un conjunto apropiado de parámetros de influencia,

sus valores nominales y sus bandas de tolerancia, respecto a los cuales se especifica la incer-
tidumbre con condiciones de referencia. Cada banda de tolerancia incluye tanto la posible
incertidumbre de la condición como la incertidumbre en la medida de la condición. Las condi-
ciones de referencia normalmente incluyen los siguientes parámetros y, si es necesario, sus

87
bandas de tolerancia: fecha de referencia, temperatura de referencia, humedad de referencia,
fuente de luz de referencia, nivel de potencia representado de referencia, fibra de referen-
cia, combinación conector-adaptador de referencia, longitud de onda de referencia, ancho de
banda espectral de referencia y resolución de ancho de banda (resolución espectral).

Resolución de ancho de banda o Resolución espectral, R: es el ancho total a la

mitad del máximo (FWHM) del espectro representado obtenido por el analizador cuando se
usa una fuente con un ancho de banda espectral suficientemente estrecho, mucho menor que
la resolución de ancho de banda que se está midiendo.

Relación de rechazo al modo lateral, SMSR: es la relación entre los picos de po-
tencia del modo principal y del modo lateral más grande del espectro de un diodo láser
monomodo, como por ejemplo, un DFB. Se expresa en dB.

Ancho de banda espectral, B: es el ancho total a la mitad del máximo (FWHM) del
ancho espectral de la fuente de luz.

Si la fuente posee un espectro continuo, el ancho de banda espectral, B, será el FWHM

del espectro. Si la fuente es un diodo láser con un espectro con múltiples modos, entonces B
deberá ser el RMS del ancho espectral multiplicado por 2.35 (asumiendo que la fuente tiene
una envolvente Gaussiana):
pi λ2i
P
B = 2.35[ − λ2central ]1/2 (3.6)
Ptotal
donde:

λcentral es la longitud de onda central del diodo láser, expresada en nm.

Ptotal = pi es la potencia total, expresada en watios.

P

pi es la potencia del modo i-ésimo de longitud de onda, expresada en watios.

λi es la longitud de onda del modo i-ésimo, expresada en nm.

Incertidumbre tı́pica, u: es la incertidumbre de medida expresada como desviación

tı́pica.

Método de evaluación de incertidumbres tipo A: es el método de evaluación de la

incertidumbre de medida, que se obtiene a partir de un análisis estadı́stico de una serie de
observaciones, tal y como ocurre cuando se evalúan ciertos efectos aleatorios en una medida.

Método de evaluación de incertidumbres tipo B: es el método de evaluación de la

incertidumbre de medida que se obtiene por otro medio distinto al análisis estadı́stico de una

88
serie de observaciones, como por ejemplo la estimación de fuentes probables de incertidumbre,
como cuando se evalúan efectos sistemáticos en la medida.

NOTA: Otros medios incluye, datos medidos previamente, experiencia o conocimiento

general del comportamiento y propiedades de materiales relevantes, instrumentos, es-
pecificaciones del fabricante, datos proporcionados en calibraciones y otros certificados
e incertidumbres asociadas a datos de referencia tomados de manuales.

Desviación en longitud de onda, ∆λ: es la diferencia entre la longitud de onda central

medida por el analizador de espectros óptico, λOSA , y la longitud de onda de referencia,
expresada λref , en nm o µm.
∆λ = λOSA − λref (3.7)

Incertidumbre en longitud de onda, u(∆λ): es la incertidumbre estándar de la

desviación en longitud de onda, en nm o µm.

3.2 Calibración de analizadores de espectros ópticos

3.2.1 Requerimientos del test de calibración

3.2.1.1 Preparación

Las condiciones ambientales se deben corresponder con el grado de incertidumbre que se

requiere para la calibración:
- el ambiente debe ser limpio.
- supervisar y controlar la temperatura.
- supervisar y controlar la humedad.
- las fuentes láser deben utilizarse bajo condiciones de seguridad.

Los tests se deben realizar en un ambiente con una temperatura de 23 ± 3 o C y con

una humedad relativa de 50 ± 20% salvo que se especifiquen otras condiciones. Hay que
conceder al equipo un mı́nimo de dos horas antes de iniciar la calibración para que se alcance
el equilibrio ambiental y se debe permitir al analizador de espectros óptico un periodo de
precalentamiento según las instrucciones del fabricante, de forma general media hora.

3.2.1.2 Condiciones de referencia

Incluyen los siguientes parámetros y si es necesario, sus bandas de tolerancia: fecha, tem-
peratura, humedad relativa, nivel de potencia, longitud de onda, fuente de luz, combinación

89
conector-adaptador, ancho de banda espectral, y resolución de ancho de banda (resolución
espectral). Salvo que se especifique otra cosa, debe usarse una fibra óptica monomodo tal y
como se prescribe en la IEC 793-1, teniendo una longitud mı́nima de 2 m.

Utilizar el analizador óptico de acuerdo con las especificaciones del fabricante y los pro-
cedimientos operativos. En casos prácticos, seleccionar un rango para los parámetros y
condiciones del test para emular las actuales condiciones operativas del analizador a evaluar.
Elegir estos parámetros de manera que se optimice la precisión del analizador y su resolución,
tal y como describe el fabricante.

NOTA: Los resultados de la calibración son sólo aplicables al conjunto de las condiciones
usadas en ella. Debido a la posible peligrosidad de la radiación, se debe asegurar el
establecimiento y mantenimiento de las condiciones de seguridad al usar el láser.

3.2.1.3 Trazabilidad

Asegurarse de que el equipo que tenga una influencia significativa en los resultados de
la calibración sea calibrado en un orden estricto según el patrón nacional apropiado o una
constante fı́sica natural. Especificar el equipo de test y su cadena de calibración. El periodo
de recalibración debe ser definido y documentado.

3.2.2 Test de Resolución de Ancho de Banda (Resolución Espec-

tral)
La resolución espectral debe ser evaluada antes que el nivel de potencia y que las cali-
braciones de longitud de onda porque la resolución espectral influye en estas calibraciones.
Este test se realiza bajo condiciones de referencia.

3.2.2.1 Test de Resolución de Ancho de Banda (Resolución Espectral)

Los posibles montajes experimentales para la realización de este test se muestran en las
figuras 3.1, 3.2 y 3.3:

Figura 3.1 Medida de la resolución de ancho de banda con un láser de referencia.

90
Figura 3.2 Test de resolución de ancho de banda usando una fuente de banda ancha y un filtro
de transmisión.

Figura 3.3 Test de resolución de ancho de banda usando un medidor de referencia.

Estos tres montajes pueden utilizarse para realizar:

- test de resolución de ancho de banda.

- calibración de longitud de onda bajo condiciones de referencia.

- evaluar la influencia de la longitud de onda en la determinación de su incertidumbre.

3.2.2.2 Equipo para el test de Resolución de Ancho de Banda (resolución es-

pectral)

a) Fuente de Luz: usar la fuente de luz prescrita para el test de calibración del analizador.
Si no se prescribe ninguna, usar una con un ancho de banda espectral y una estabilidad
en longitud de onda suficientes para la mı́nima resolución de ancho de banda descrita
para el analizador. Las fuentes de luz recomendadas son láseres como los descritos en la
tabla 3.1, un diodo láser o un láser (que deberá ser sintonizable) que tenga un espectro
monomodo. Además, una fuente de banda ancha se puede usar conjuntamente con un
aparato de transmisión con longitudes de onda de transmisión máxima conocidas. El
aparato de transmisión puede ser una serie de filtros de banda estrecha fija, lı́neas de
absorción en medio gaseoso o interferómetros Fabry-Perot.

b) Medidor de Longitud de onda: instrumento para medir la longitud de onda de una

fuente luz. Su precisión debe ser suficientemente mejor que la precisión requerida en

91
 Tabla 3.1 Fuentes de luz recomendadas
Fuente de Luz Longitud de onda en vacı́o (nm)
Láser de Ar 488.1
Láser de Ar 514.7
Láser de He-Ne 633.0
Láser de He-Ne 1152.6
Láser de He-Ne 1523.5

el test de longitud de onda. Este instrumento se usa con un diodo láser con longitud
de onda desconocida como fuente de luz.

c) Fibra Óptica: fibra óptica monomodo tal y como se describe en el documento IEC
793-1.

3.2.2.3 Pasos para el test de Resolución de ancho de banda (resolución espec-

tral)

Usando las configuraciones mostradas en las figuras 3.1, 3.2 y 3.3 establecer el rango de
medida de longitud de onda para el test del analizador de manera que incluya la longitud de
onda de la fuente de luz.

(a) Establecer la resolución de ancho de banda del analizador a su valor especificado. De-
nominaremos a este valor ”Rset ”.

(b) Medir la resolución del ancho de banda espectral mostrado, es decir, el intervalo de
longitud de onda 3 dB por debajo del valor del pico, que llamaremos ”ROSAi ”. Repetir
esta medida al menos diez veces y calcular la resolución media.
X ROSAi
ROSA = (3.8)
m

siendo m el número de medidas.

(c) Calcular el cociente diferencial del valor del analizador a partir de la resolución de ancho
de banda establecida, usando la ecuación:

ROSA
∆Rdif f = (3.9)
Rset − 1

(d) Si es necesario, repetir este proceso estableciendo diferentes resoluciones de ancho de

banda.

92
3.2.3 Calibración del nivel de Potencia
Los factores que afectan a la incertidumbre para establecer el nivel de potencia de un
analizador consisten en:

1) Incertidumbre intrı́nseca del analizador tal y como se puede ver en el test realizado bajo
condiciones de referencia.

2) Incertidumbres parciales debidas a la dependencia con la longitud de onda, con la po-

larización, linealidad y temperatura, tal y como se encuentran en los tests realizados
bajo condiciones de operación.

Si el analizador es usado más allá de las condiciones de referencia, será necesario obtener
las incertidumbres parciales y se deberán seguir los procedimientos de calibración que
se describirán más adelante.

NOTAS:

* Será necesario un medidor de potencia para evaluar la fuente de luz cada vez que se use
una nueva fuente de longitud de onda.

* Como la unidad usada normalmente para valores medidos, dBm, no es apropiada para la
incertidumbre acumulada, se usan unidades lineales (mW, µW).

* Los resultados de tales acumulaciones pueden ser reconvertidos a dB para expresar la

incertidumbre global.

* El estado de polarización no se deberá cambiar durante la calibración.

3.2.3.1 Calibración del nivel de potencia (DPL) con condiciones de referencia

La figura 3.4 muestra la configuración necesaria para determinar la incertidumbre in-

trı́nseca en el DPL. Este test se realiza bajo condiciones de referencia:

3.2.3.2 Equipo necesario para la calibración del nivel de potencia bajo condi-
ciones de referencia

a) Fuente de luz: usar una fuente de luz que pueda emitir una luz estable en fibra óptica
con una salida comprendida entre 0.1 mW (-10 dBm) a 1 mW (0 dBm), y que tenga
un ancho de banda espectral suficientemente estrecho para la resolución prescrita para
el analizador. Se recomiendan las fuentes de luz mostradas en la tabla 3.1.

93
 Figura 3.4 Montaje para la calibración del nivel de potencia bajo condiciones de referencia.

b) Atenuador Variable: usar un atenuador variable que pueda ser ajustado por encima
del rango de potencia óptica usada en el test.

c) Medidor de potencia óptica de referencia: cualquiera de los siguientes operando ba-

jo condiciones de referencia:

1) Medidor de potencia óptica calibrado por una institución oficial que realice servi-
cios de calibración con una incertidumbre definida.

2) Medidor de potencia óptica calibrado en base a los patrones de una institución

oficial con una incertidumbre definida.

La incertidumbre del medidor de potencia de referencia, uP P M , es conocida y está

descrita en su certificado.

3.2.3.3 Pasos para realizar la calibración del nivel de potencia bajo condiciones
de referencia

Usando la configuración de la figura 3.4, establecer la resolución del analizador tan alta
como el ancho de banda espectral de la fuente de luz. Ajustar el atenuador variable para
que el nivel de potencia de la luz de salida hacia el analizador esté optimizada. La secuencia
de medidas es la siguiente:

(a) Medir el valor de salida de la fibra óptica, PREF i , usando el medidor de potencia óptica
de referencia.

(b) Conectar la salida de la fibra óptica al analizador y anotar el valor del pico de nivel de
potencia medido por el analizador, POSAi , usar una escala lineal ( mW o dBm) para
leer este valor.

94
(c) Calcular el cociente diferencial del OSA a partir del nivel de potencia medido usando la
ecuación:
POSAi
∆Pdif f,i = (3.10)
Pref,i − 1

(d) Repetir esta medida al menos diez veces.

3.2.3.4 Cálculo de la incertidumbre del nivel de potencia (DPL) bajo condi-

ciones de referencia

Calcular la media y la desviación estándar del cociente diferencial usando las siguientes
ecuaciones:
X ∆Pdif f,i
∆Pdif f = (3.11)
m
X (∆Pdif f,i − ∆Pdif f )2
σ∆P dif f =[ ]1/2 (3.12)
m−1
donde m es el número de medidas realizadas.

La incertidumbre u∆P ref con respecto al nivel de potencia (DPL) para el analizador bajo
condiciones de referencia viene dada por:

u∆P ref = (u2P P M + u2∆P dif f )1/2 (3.13)

uP P M : Incertidumbre del medidor de potencia óptico de referencia dada en su certifi-

cación.
u∆P dif f : Desviación estándar de los valores medidos durante el test.

La desviación para el nivel de potencia ∆Pref es igual que el valor medio del cociente
diferencial: ∆Pref = ∆Pdif f

3.2.4 Calibración del nivel de potencia (DPL) bajo condiciones

operativas
Las calibraciones descritas en este capı́tulo no son obligatorias. Se debe realizar la cali-
bración cuando el analizador sea usado más allá de las condiciones de referencia.
Los factores individuales que influyen en la incertidumbre del nivel de potencia bajo
condiciones operativas son:

1) Dependencia en longitud de onda.

2) Dependencia de la polarización.

95
3) Linealidad.

4) Dependencia de la temperatura.

3.2.4.1 Dependencia de la longitud de onda

La figura 3.5 muestra la configuración para determinar la dependencia con la longitud de

onda. Este test se realiza bajo condiciones de referencia salvo para la longitud de onda.

Figura 3.5 Montaje para determinar la dependencia con la longitud de onda en la calibración
del nivel de potencia.

3.2.4.2 Equipo para determinar la dependencia en longitud de onda

a) Fuente de Luz: se debe usar una fuente de luz variable en longitud de onda, por ejemplo
un láser sintonizable. Esta fuente debe proporcionar de manera estable la cantidad
necesaria de potencia luminosa dentro del rango de longitudes de onda establecido
para el analizador, además su ancho espectral debe ser bastante más estrecho que la
resolución del analizador.

b) Medidor de longitud de onda: usado para medir la longitud de onda de la fuente de

luz variable. No es necesario si la fuente de luz ha sido calibrada.

c) Medidor de potencia óptica: que sea independiente de la longitud de onda o cuya

dependencia haya sido calibrada.

3.2.4.3 Pasos para determinar la dependencia en longitud de onda

A partir de la configuración de la figura 3.5:

(a) Después de que la temperatura ambiente esté completamente estabilizada, medir la luz
procedente de la fuente con el medidor de de longitud de onda. La lectura del medidor
se denomina λj .

96
(b) Con el medidor de potencia óptica, medir la potencia de la fuente de luz. La lectura del
medidor se denomina PREF,j .

(c) Introducir la luz de la fuente en el analizador de espectro óptico. La resolución espec-

tral del analizador debe establecerse para que tenga una anchura mayor que el ancho
espectral de la fuente de luz. El nivel de potencia máxima medido por el analizador
se definirá como POSAj . El error de desviación para la longitud de onda λj , ∆P (λj ),
viene dado por la ecuación:
POSAji − PREF,j
∆P (λj ) = (3.14)
PREF,j

(d) Repetir este proceso para diferentes longitudes de onda, cambiar λj .

(e) ∆Pλ,M AX será el máximo valor de los ∆P (λj ) obtenidos, y ∆Pλ,M IN será el mı́nimo.

3.2.4.4 Cálculo de la incertidumbre del DPL debida a la dependencia en longi-

tud de onda

La incertidumbre estándar debida a la dependencia en longitud de onda, u∆Pλ , se obtiene

a partir de la ecuación:
∆Pλ,M AX − ∆Pλ,M IN
u∆Pλ = √ (3.15)
2 3
Aquı́, ∆Pλ es la desviación de los valores medidos dependiendo de la longitud de onda,
y viene dada por la ecuación:
∆Pλ,M AX + ∆Pλ,M IN
∆Pλ = (3.16)
2

3.2.4.5 Dependencia con la Polarización

La figura 3.6 muestra la configuración necesaria para determinar la dependencia con la

polarización. Este test se realiza bajo condiciones de referencia excepto para la polarización.
Como la polarización difiere dependiendo de la longitud de onda a la que se trabaje, este
test debe realizarse para distintas longitudes de onda.

Figura 3.6 Montaje para determinar la dependencia con la polarización en la calibración del
nivel de potencia.

97
 NOTA: Se asume que la relación de extinción del Controlador de Polarización del sis-
tema de medida es de 20 dB a la salida del conector de fibra. La relación de extinción,
especı́ficamente, afecta a la precisión de los resultados del test para la dependencia de la
polarización, deteriora la precisión de la medida alrededor del 2% a 20 dB.

3.2.4.6 Equipo para determinar la dependencia con la Polarización

a) Fuente de Luz: usar una fuente de luz que pueda emitir una luz estable en fibra óptica
con una salida de 0.1 mW (-10 dBm) a 1 mW (0 dBm) y que tenga un ancho de banda
espectral suficientemente más estrecho que la resolución prescrita para el analizador. Se
recomiendan las fuentes de luz mostradas en la Tabla 3.1 o un láser de diodo DFB-LD.

b) Controlador de Polarización: controla el estado de polarización de la luz incidente

para obtener una salida en la fibra óptica con una relación de extinción de 20 dB
como mı́nimo. El nivel de variación cuando cambia el estado de polarización debe ser
mucho más pequeño que la dependencia de la polarización del analizador de espectros
óptico. Algunos controladores de polarización son combinaciones de un polarizador,
una lámina de media onda y una lámina de 1/4 de onda, otros están formados por
bucles de fibra óptica.

c) Fibra Óptica: fibra óptica monomodo como se prescribe en el documento IEC 793-1 y
con una longitud de 1-2 m. Será preferible una fibra que mantenga la polarización a
la fibra de entrada de algunos controladores de polarización.

3.2.4.7 Pasos para determinar la dependencia con la polarización del DPL

Establecer la resolución de ancho de banda del analizador tan alta como el ancho de
banda espectral de la fuente de luz. Ajustar correctamente las fibras ópticas para evitar que
se muevan, porque el estado de polarización de la fibra puede variar debido al movimiento
de la fibra.

(a) Introducir la salida de la fuente de luz dentro del controlador de polarización a través
de la fibra óptica 1 e introducir la salida del controlador dentro del analizador a través
de la fibra óptica 2.

(b) Ajustar el controlador de polarización para que se produzca un gran número de estados
de polarización que cubran la totalidad de la esfera de Poincare. Observar el cambio
pico-pico en el nivel de potencia representado debido a la variación en el estado de
polarización. Grabar las anotaciones máxima y mı́nima como PM AX (λj) Y PM IN (λj).

98
 (c) Las variaciones en el nivel de potencia debido a la polarización con longitud de
onda λj, ∆PU L (λj) Y ∆PLL (λj), vienen dadas por:

PM AX (λj) − PAV E (λj)

∆PU L (λj) = (3.17)
PAV E (λj)
PM IN (λj) − PAV E (λj)
∆PLL (λj) = (3.18)
PAV E (λj)

PAV E (λj): Variación media del nivel de potencia debida a la polarización con longitud
de onda λj, y su valor viene dado por:

PM AX (λj) + PM IN (λj)
PAV E (λj) = (3.19)
2

(d) Repetir este proceso estableciendo diferentes longitudes de onda (cambiar λj).

(e) ∆PP OL,M AX será el máximo valor de ∆PU L (λj) y ∆PP OL,M IN será el mı́nimo valor de
∆PLL (λj).

3.2.4.8 Cálculo de la incertidumbre debido a la dependencia de la polarización

La desviación de los valores medidos debida a la polarización y a la longitud de onda,

∆PP OL , viene dada por:
∆PP OL,M AX + ∆PP OL,M IN
∆PP OL = (3.20)
2

La incertidumbre de las variaciones del nivel de potencia debida a la polarización,σ∆P P OL ,

viene dada por:
∆PP OL,M AX − ∆PP OL,M IN
u∆PP OL = √ (3.21)
2 3

3.2.4.9 Linealidad

La figura 3.7 muestra la configuración para el test de linealidad. Este test se realiza bajo
condiciones de referencia salvo para el nivel de potencia.

3.2.4.10 Equipo para determinar el error de linealidad en el DPL

a) Fuente de luz: usar una fuente de luz que pueda emitir una luz estable en fibra óptica
con una salida de 0.1 mW (-10 dBm) a 1 mW (0 dBm), y que tenga un ancho de banda
espectral suficientemente estrecho para la resolución prescrita para el analizador. Se
recomiendan las fuentes de luz mostradas en la tabla 3.1.

99
 Figura 3.7 Montaje para determinar la linealidad de la incertidumbre del nivel de potencia.

b) Atenuador Variable: usar un atenuador variable que pueda ser ajustado por encima
del rango de potencia óptica usada en el test.

c) Medidor de potencia óptica de referencia: usar un medidor de potencia óptica que

pueda cubrir con precisión los rangos de potencia, longitud de onda y temperatura
medidos en el test.

3.2.4.11 Pasos para determinar el error de linealidad en el DPL

(a) A partir del esquema mostrado anteriormente, establecer la resolución de ancho de

banda del analizador de manera que sea más grande que el ancho de banda espectral
de la fuente de luz usada para la medida. Ajustar el atenuador variable par que
el nivel de potencia de la luz enviada al analizador sea la misma que la usada en
la calibración del nivel de potencia bajo condiciones de referencia. Las lecturas del
analizador y del medidor de potencia óptica en ese instante se definirán como POSA y
PREF respectivamente, y el cociente de las dos será PLIN,ref .

POSA
PLIN,ref = (3.22)
PREF

(b) Cambiar el nivel de potencia enviado al analizador, usando el atenuador variable. El

nivel de potencia se define como Pj . Las lecturas del analizador y del medidor de
potencia se definirán como POSAj y PREF,j respectivamente, y el cociente de las dos
será PLIN j :
POSAj
PLIN,j = (3.23)
PREF,j

El error de linealidad para el nivel de potencia Pj viene dado por:

PLIN j − PLIN,ref
∆PLIN,j (Pj ) = (3.24)
PLIN,ref

100
(c) Repetir este proceso con diferentes niveles de potencia luminosa (cambiar Pj ) para al
menos cinco puntos situados dentro del nivel de potencia de entrada especificada para
el analizador.

(d) Dejar que ∆PLIN,M AX sea el máximo valor de los ∆PLIN (P j) obtenidos y que ∆PLIN,M IN
sea el mı́nimo.

3.2.4.12 Cálculo de la incertidumbre del error de linealidad del DPL

La desviación de los valores medidos dependiendo de los niveles de potencia luminosa,

∆PLIN , viene dada por:

∆PLIN,M AX + ∆PLIN,M IN
∆PLIN = (3.25)
2

La incertidumbre de linealidad, σ∆PLIN , viene dada por:

∆PLIN,M AX + ∆PLIN,M IN
u∆PLIN = √ (3.26)
2 3

3.2.4.13 Dependencia de la Temperatura

La figura 3.8 muestra la configuración para realizar este análisis :

Figura 3.8 Montaje para determinar la dependencia de la temperatura del nivel de potencia.

3.2.4.14 Equipo para determinar la dependencia del DPL con la temperatura

a) Fuente de luz: usar una fuente de luz que pueda emitir una luz estable en fibra óptica
con una salida de 0.1 mW (-10 dBm) a 1 mW (0 dBm), y que tenga un ancho de banda
espectral suficientemente estrecho para la resolución prescrita para el analizador. Se
recomiendan las fuentes de luz mostradas en la tabla 3.1.

b) Atenuador Variable: usar un atenuador variable que pueda ser ajustado por encima
del rango de potencia óptica usada en el test.

101
3.2.4.15 Pasos para determinar la dependencia del DPL con la temperatura

(a) A partir del esquema de la figura 3.8, establecer la resolución de ancho de banda del
analizador de manera que sea más grande que el ancho de banda espectral de la fuente
de luz. Después de que la temperatura del analizador se estabilice bajo condiciones
de referencia, ajustar el atenuador para que el nivel de potencia de la luz enviada al
analizador sea la misma que la usada para la calibración bajo condiciones de referencia.
La lectura proporcionada por el analizador en ese momento se denominará POSA,T ref .

(b) Luego, cambiar la temperatura de la cámara . Se debe dejar un tiempo suficiente

(por ejemplo 2 horas) para que el OSA alcance el equilibrio térmico para la nueva
temperatura. Para la nueva temperatura, Tj , la lectura del analizador se denominará
POSAj . El error de sensibilidad para la temperatura Tj , ∆P (Tj ) será :
POSAj − POSA,T ref
∆P (Tj ) = (3.27)
POSA,T ref

(d) Repetir este procedimiento para diferentes temperaturas, cambiar Tj .

(e) ∆PT M P,M AX será el máximo valor de los ∆P (Tj ) obtenidos y ∆PT M P,M IN el mı́nimo.

3.2.4.16 Cálculo de la incertidumbre debida a la dependencia del DPL con la

temperatura

La desviación los valores medidos dependiendo de la temperatura, ∆PT M P , viene dada

por:
∆PT M P,M AX + ∆PT M P,M IN
∆PT M P = (3.28)
2
La incertidumbre debida a la temperatura, u∆PT M P , viene dada por:
∆PT M P,M AX − ∆PT M P,M IN
u∆PT M P = √ (3.29)
2 3

3.2.4.17 Cálculo de la incertidumbre expandida en el nivel de Potencia (DPL)

Para el caso en que el analizador se utiliza bajo condiciones de referencia, la incertidumbre

expandida, Uλref , puede calcularse, con un factor de cobertura k, a través de la ecuación
siguiente:
UDP L = +/ − k × uDP L (3.30)

La incertidumbre total en el nivel de potencia se calcula usando la incertidumbre bajo

condiciones de referencia y la incertidumbre bajo condiciones operativas, que son determi-
nadas a través de tests individuales de incertidumbre de la dependencia con la longitud de

102
onda, con la polarización, con la linealidad y con la temperatura, cuando el analizador es
usado más allá de las condiciones de referencia.

La incertidumbre en el nivel de potencia, uDP L , se calcula usando la ecuación 3.31 con

dispersiones acumuladas a partir de los resultados de las ecuaciones 3.15, 3.21, 3.26 y 3.29 :

uDP L = (u2∆Pλ + u2∆PP OL + u∆PLIN + u∆PT M P )1/2 (3.31)

3.2.5 Calibración en longitud de onda

Los factores que afectan a la incertidumbre en longitud de onda del analizador consisten
en:

1) La Incertidumbre intrı́nseca como la encontrada en el test realizado bajo condiciones de

referencia.

2) Incertidumbres parciales debidas a la dependencia con la longitud de onda y con la

temperatura, tal y como se encuentran en los tests realizados bajo condiciones de
operación.

La calibración con condiciones de referencia descrita en el siguiente apartado es obligato-

ria para obtener la incertidumbre intrı́nseca, sin embargo las calibraciones bajo condiciones
de operación descritas en apartados posteriores, no son obligatorias. Si el analizador es usa-
do más allá de las condiciones de referencia, deberá ser calibrado dentro del rango de las
condiciones operativas.

3.2.5.1 Calibración en longitud de onda bajo condiciones de referencia

Las posibles configuraciones de calibración son las mostradas en las figuras 3.1, 3.2 y 3.3.

3.2.5.2 Equipo para la calibración en Longitud de onda bajo condiciones de

referencia

a) Fuente de Luz: usar la fuente de luz prescrita para el test de calibración del analizador,
si no se prescribe ninguna, usar una con un ancho de banda espectral y una estabilidad
en longitud de onda suficientes para la mı́nima resolución de ancho de banda descrita
para el analizador. Las fuentes de luz recomendadas son lasers como los descritos en la
Tabla 3.1, un diodo láser o un láser (que deberá ser sintonizable) que tenga un espectro
monomodo. Además, una fuente de banda ancha puede ser usada conjuntamente con
un aparato de transmisión con longitudes de onda de pico de transmisión conocidas.

103
 El aparato de transmisión puede ser una serie de filtros de banda estrecha fija, lı́neas
de absorción en medio gaseoso o interferómetros de Fabry-Perot.

b) Medidor de Longitud de onda: instrumento para medir la longitud de onda de una

fuente luz. Su precisión debe ser suficientemente mejor que la precisión requerida en
el test de longitud de onda. Este instrumento se usa con un diodo láser con longitud
de onda desconocida como fuente de luz.

3.2.5.3 Pasos necesarios para la calibración en longitud de onda bajo condi-

ciones de referencia

(a) Usando las configuraciones de las Figuras 3.1, 3.2 y 3.3, establecer el rango de longitud
de onda del analizador de manera que incluya la longitud de onda de la fuente de luz
alrededor del centro de la representación. Establecer, además, la resolución en longitud
de onda del analizador, de manera que satisfaga la siguiente ecuación:
S
Rset > 10 (3.32)
N

Rset : resolución de ancho de banda (resolución espectral) del OSA.

S: rango de longitud de onda representado.
N: número de puntos representados.
Cuando se usen las configuraciones de las figuras 3.1 y 3.2, el valor de la longitud de
onda conocida de la fuente de luz o del aparato de transmisión se denominará λREF , y
cuando se use la configuración de la figura 3.3, λREF determinará la longitud de onda
de la fuente de luz tal y como indica el medidor de longitud de onda. Con respecto a
λREF de la fuente de luz, la longitud de onda central medida por el analizador (OSA)
será λOSAi .

(b) Repetir esta medida al menos 10 veces y calcular la longitud de onda media.
X λOSAi
λOSAAV = (3.33)
m

m : número de medidas usadas

3.2.5.4 Cálculo de la incertidumbre en longitud de onda bajo condiciones de

referencia

A partir del valor medido, calcular la desviación, ∆λref :

∆λref = λOSAAV − λREF (3.34)

104
 Calcular la incertidumbre estándar, σλOSA , de los valores medidos λOSAi usando:
X (λOSAi − λOSA )2
uλOSA = [ AV
]1/2 (3.35)
m−1
La incertidumbre uλref del analizador respecto a la longitud de onda bajo condiciones de
referencia, viene dada por:
u∆λref = (u2λREF + u2λOSA )1/2 (3.36)

uλREF : incertidumbre en longitud de onda de la fuente de luz.

uλOSA : incertidumbre estándar de los valores medidos durante es test.

NOTA: uλREF puede ignorarse si se usa un láser o un aparato de transmisión con longitud
de onda estable como fuente de luz y su funcionamiento es mejor que la incertidumbre en
longitud de onda del analizador. Cuando se usa un LD como fuente de luz, medir varias veces
la longitud de onda con el medidor de longitud de onda siendo entonces la incertidumbre de
la fuente de luz su desviación estándar, uλREF .

3.2.6 Calibración en longitud de onda bajo condiciones operativas

Las calibraciones descritas en este apartado no son obligatorias. Hay que realizarlas
cuando el analizador se use por encima de las condiciones de referencia.

Los factores individuales que afectan a la incertidumbre en longitud de onda bajo condi-
ciones operativas son los siguientes:

1) Dependencia en longitud de onda.

2) Dependencia de la temperatura.

3.2.6.1 Dependencia en Longitud de onda

Las figuras 3.1, 3.2 y 3.3 muestran las configuraciones necesarias para determinar esta
dependencia. Son la mismas que las configuraciones usadas para la calibración bajo condi-
ciones de referencia. Este test se realiza bajo condiciones de referencia a excepción de la
fuente de longitudes de onda.

3.2.6.2 Equipo para determinar la dependencia en longitud de onda

a) Fuente de Luz: Usar una fuente de luz con un ancho de banda espectral lo suficien-
temente estrecho como la resolución de ancho de banda (resolución espectral) del
analizador y con una estabilidad en potencia y en longitud de onda suficiente para

105
 la incertidumbre en longitud de onda prescrita para el analizador. Las fuentes de luz
recomendadas son lasers como los descritos en la tabla 3.1, un diodo láser o un láser
(que deberá ser sintonizable) que tenga un espectro monomodo. Además, una fuente
de banda ancha puede ser usada conjuntamente con un aparato de transmisión con
longitudes de onda de pico de transmisión conocidas. El aparato de transmisión puede
ser una serie de filtros de banda estrecha fija, lı́neas de absorción en medio gaseoso o
interferómetros de Fabry-Perot.

b) Medidor de Longitud de onda: instrumento para medir la longitud de onda de una

fuente luz. Su precisión debe ser suficientemente mejor que la precisión requerida en
el test de longitud de onda. Este instrumento se usa con un diodo láser con longitud
de onda desconocida como fuente de luz.

3.2.6.3 Pasos para determinar la dependencia en longitud de onda

Cuando se usen las configuraciones mostradas en las figuras 3.1 y 3.2, el valor de la
longitud de onda conocida de la fuente de luz o del aparato de transmisión se denominará
λREF,j , y para la configuración de la figura 3.3, λREF,j será la longitud de onda de la fuente
de luz medida por el medidor de longitud de onda.

(a) Introducir la luz procedente de la fuente de luz en el analizador, el valor indicado por
éste será λOSAj . Determinar la desviación en longitud de onda,∆λλj , con respecto a
λREF,j , usando la ecuación:

∆λλj = λOSAj − λREF,j (3.37)

(b) Cambiar la fuente de longitud de onda y realizar el mismo test, usando de nuevo la
ecuación 3.37.

(c) ∆λλ,M AX será el máximo de los valores de desviación obtenidos, y ∆λλ,M IN será el
mı́nimo.

3.2.6.4 Cálculo de la incertidumbre en longitud de onda debida a la dependencia

en longitud de onda

Mediante el uso de la desviación de los valores medidos para numerosas longitudes de

onda, determinar la desviación, ∆λλ , y la incertidumbre, u∆λλ , debidas a la dependencia en
longitud de onda a partir de la ecuaciones:
∆λλ,M AX − ∆λλ,M IN
∆λλ = (3.38)
2

106
 ∆λλ,M AX − ∆λλ,M IN
u∆λλ = √ (3.39)
2 3

3.2.6.5 Dependencia de la Temperatura

La figura 3.8 muestra la configuración necesaria para determinar la dependencia de la

temperatura de la incertidumbre en longitud de onda. Este test se realiza bajo condiciones
de referencia a excepción de la temperatura.

3.2.6.6 Equipo para determinar la dependencia de la Temperatura

a) Fuente de Luz: usar la fuente de luz prescrita para el test de calibración del analizador,
si no se prescribe ninguna, usar una con un ancho de banda espectral y una estabilidad
en longitud de onda suficientes para la mı́nima resolución de ancho de banda descrita
para el analizador. Las fuentes de luz recomendadas son lasers como los descritos en
la tabla 3.1, un diodo láser o un láser que tenga un espectro monomodo. Además, una
fuente de banda ancha puede ser usada conjuntamente con un aparato de transmisión.

3.2.6.7 Pasos para determinar la dependencia de la temperatura

Bajo condiciones de referencia y dentro del rango de temperaturas prescrito para el anali-
zador, medir la longitud de onda de la luz procedente de la fuente para, al menos, cinco
puntos (Tj ).

(a) Llamando λREF a la longitud de onda de la luz entrante y λOSAj al valor indicado por
el analizador, determinar la desviación en longitud de onda mediante la ecuación:

∆λTj = λOSAj − λREF (3.40)

(b) Cambiar la temperatura y repetir el cálculo de la desviación. Se debe dejar al anali-

zador un tiempo suficiente (2 horas) para que alcance el equilibrio térmico para cada
temperatura.

(c) ∆λT,M AX será el máximo de los ∆λTj obtenidos y ∆λT,M IN será el mı́nimo.

3.2.6.8 Cálculo de la incertidumbre en longitud de onda debida a la dependencia

de la Temperatura

Usando los valores medidos de desviación para varias temperaturas, determinar la desviación,
∆λT , y la incertidumbre, σ∆λT , debidas a la dependencia de la temperatura, a partir de las

107
ecuaciones:
∆λT,M AX − ∆λT,M IN
∆λT = (3.41)
2
∆λT,M AX − ∆λT,M IN
u∆λT = √ (3.42)
2 3

3.2.6.9 Cálculo de la incertidumbre expandida en longitud de onda

Cuando el analizador es usado sólo bajo condiciones de referencia, la incertidumbre ex-

pandida, Uλref , puede calcularse a través de la ecuación siguiente, con un factor de cobertura
k:
Uλref = +/ − k × u∆λref (3.43)
La incertidumbre total en longitud de onda se calcula usando la incertidumbre bajo condi-
ciones de referencia y la incertidumbre bajo condiciones operativas, que son determinadas a
través de tests individuales de incertidumbre de la dependencia con la longitud de onda y de
la dependencia con la temperatura, cuando el analizador es usado más allá de las condiciones
de referencia.
La desviación acumulada en longitud de onda, ∆λcu , se calcula usando la ecuación 3.44
y a partir de los resultados de las ecuaciones 3.34, 3.38 y 3.41 :

∆λcu = ∆λref + ∆λλ + ∆λT (3.44)

La incertidumbre en longitud de onda, u∆λcu , se calcula usando la ecuación 3.45 con
dispersiones acumuladas a partir de los resultados de las ecuaciones 3.36, 3.38 y 3.41 :

u∆λcu = (u2∆λref + u2∆λλ + u2∆λT )1/2 (3.45)

3.2.7 La documentación
3.2.7.1 Datos medidos e incertidumbre

Los certificados de calibración deberán incluir los siguientes datos y sus incertidumbres.
Las incertidumbres deberán presentarse en forma de intervalos estimados de confianza me-
diante la multiplicación de la desviación estándar por ± k:

(1) Resolución de ancho de banda (resolución espectral) resultado del test, si se ha medido.

(2) Desviación del nivel de potencia (DPL), ∆Pcu , y su incertidumbre, ±ku∆Pcu , en mW o

en dB.

(3) Desviación en longitud de onda, ∆λcu , y su incertidumbre, ±ku∆λcu , en nm.

108
3.2.7.2 Condiciones de medida

Cada especificación debe ir acompañada por una descripción del estado del instrumento
y de las condiciones de medida que se han aplicado. Los parámetros más importantes
son: fecha de la calibración, nivel de potencia (DPL), resolución horizontal y vertical de la
pantalla, temperatura, humedad y rango de longitudes de onda representado.

109
110
Capı́tulo 4

Aplicación de los métodos de

calibración a analizadores de espectro
ópticos

En este capı́tulo se van a mostrar de forma práctica los procedimientos de calibración

de analizadores de espectro ópticos (OSA) que se han recomendado en el capı́tulo anterior
de forma general. Para ello indicaremos en cada uno de los casos: el patrón de referencia
usado, con los valores de referencia por nosotros conocidos, el instrumental y el montaje
experimental que se requiere para poder usarlos, y las ventajas e inconvenientes de cada uno
de ellos. Cada uno de los métodos que en el laboratorio se han implementado se ilustrará
con un ejemplo de calibración realizada sobre un equipo comercial y se analizarán las incer-
tidumbres obtenidas. Pretendemos que este capı́tulo sea una guı́a útil para los laboratorios
de calibración y para los usuarios de OSA con inquietudes en los métodos de calibración de
sus equipos.

En todo este capı́tulo suponemos que un analizador de espectro óptico dispone como
entrada de un conector de fibra óptica monomodo y, como en la norma general IEC, debe
como mı́nimo tener estas otras caracterı́sticas:

- La capacidad de representar un espectro óptico respecto de la longitud de onda

absoluta o frecuencia.

- Un cursor o marcador que indique la potencia óptica y la longitud de onda o frecuen-

cia de un punto del espectro representado.

111
4.1 Calibración respecto de lı́neas de emisión de refe-
rencia
Las lı́neas de emisión que pueden utilizarse como referencia para la calibración de los
analizadores de espectro óptico de telecomunicaciones pueden ser lı́neas de emisión de láseres
de referencia o lı́neas de emisión de lámparas espectrales de átomos de elementos quı́micos
estables. Dos tipos de lı́neas de referencia pueden utilizarse: las lı́neas de emisión de láseres
estabilizados en frecuencia, que pueden emitir a altas potencias, y lı́neas de emisión de
lámparas de gases a baja presión.

4.1.1 Relación longitud de onda aire-vacı́o. Dispersión del aire

La longitud de onda de una señal en aire puede ser apreciablemente diferente por el ı́ndice
refracción del aire en el que se propaga. la relación entre la longitud de onda en el vacı́o y
en el aire es:

λvacio = naire λaire (4.1)

El ı́ndice de refracción en el aire ha sido estudiado en la bibliografı́a exhaustivamente y

se han desarrollado modelos precisos que lo relacionan con la longitud de onda. De forma
general el ı́ndice de refracción del aire depende de la temperatura, la presión y su composición
en gases. Utilizando los resultados de Edlen, la dependencia del ı́ndice de refracción del aire
con la longitud de onda es:
à !
−8 2406030 15997
ns = 1 + 10 8342.13 + 2
+
130 − 1/λ 38.9 − 1/λ2
donde λ está expresada en µm. Se considera aire estándar a temperatura de 15o C presión
de 1 atmósfera (760 Torr) y humedad relativa de 0% (aire seco).

Los valores de ı́ndice de refracción a 633, 1300 y 1550 nm y la corrección a la longitud

de onda se presentan en la tabla 4.1 y en la figura 4.1, la variación del ı́ndice de refracción
con la longitud de onda.

La corrección al ı́ndice de refracción estándar para cualquier condición de temperatu-

ra, presión y humedad relativa se realizan siguiendo la referencia del mismo autor con las
expresiones:
(ns − 1)(0.00138823)P
n(T, P ) = 1 + (4.2)
1 + (0.003671)T
0.0457
µ ¶
n(T, P, h) = n(T, P ) + h 5.772 − 10−8 (4.3)
λ2

112
 Tabla 4.1 Cambio de longitud de onda debido al ı́ndice de refracción entre vacı́o y aire.
Longitud de onda Índice de refraccı́ón Longitud de onda Diferencia
en vacı́o (nm) en aire estándar (nm) (nm)
633.000 1.000276517 632.825 0.175
1300.000 1.000273523 1299.645 0.355
1550.000 1.000273478 1549.577 0.423

Figura 4.1 Variación del ı́ndice del aire estándar con la longitud de onda.

o
donde P se expresa en Torr, T en C, y h es la presión de vapor en Torr. La presión de
vapor para 30% de humedad relativa a 25o C es de 6.7 Torr.

Estas correcciones se representan en las figuras 4.2 y 4.3 para la longitud de onda de 1550
nm. Como vemos en las figuras, la aplicación de estas correcciones son significativas para las
necesidades de los sistemas de WDM, en que la resolución de los sistemas es de 0.001nm. Por
ello en las secciones sucesivas, convertiremos las longitudes de onda a longitudes de onda en
vacı́o, (excepto cuando la resolución del instrumento no lo precise), y nos referiremos siempre
a longitudes de onda de vacı́o, que son invariantes para el medio de transmisión.

113
Figura 4.2 Variación de la longitud de onda por cambio de temperatura es aire.

Figura 4.3 Variación de la longitud de onda por cambio de presión en aire.

114
4.1.2 Lı́neas de emisión de láseres de referencia
La tabla 4.2 muestra una lista de lı́neas de emisión láser que pueden ser utilizadas co-
mo referencia para la calibración de los OSA de fibra óptica. El número entre paréntesis
representa la incertidumbre tı́pica de los valores mostrados. El diseño real de cada uno de
los láseres particular puede reducir esta incertidumbre tı́pica, por lo que se deben calibrar
respecto a un Laboratorio Dimensional Nacional de referencia. Para la conversión de la
frecuencia en longitud de onda la velocidad de la luz en el vacı́o usada es 2.99792458(1)×108
m/s.

El más común de los láseres de referencia es el He-Ne a la longitud de onda de 633 nm.
Un tubo de He-Ne usándose en onda continua tienen una vida media de 30.000 horas. El
filamento interno del tubo deposita, con el tiempo de funcionamiento, metal en los espejos de
salida produciendo una caı́da en la transmitancia de los mismos, causando inestabilidades,
y, finalmente, impidiendo la emisión láser. Láseres sintonizables y DFB pueden ser usados
también como referencia, fundamentalmente por su flexibilidad. La estabilidad de los láseres
sintonizables y DFB tienen que ser caracterizada con precisión, si bien estos láseres para uti-
lizarlos como referencia de forma precisa deben ser fijados en longitud de onda usando otros
patrones de frecuencia como son las células de absorción de gases, tal y como describiremos
en el capı́tulo 5.

Tabla 4.2 Lı́neas láser de referencia.

Tipo de láser Longitud de onda Frecuencia Número de onda
en vacı́o (nm) (THz) (cm−1 )
Láser He-Ne 632.99076(2) 473.612692(12) 15798.0189(4)
Láser He-Ne 730.6805(11) 410.289572(60) 13685.7870(20)
Láser He-Ne 1152.59050(13) 260.103184(30) 8676.1083(10)
Láser He-Ne 1523.48761(19) 196.780372(25) 6563.8867(8)
DBF y TLaser 800-1650 181.8-1600 6060-12500

La precisión de los láseres de referencia dependen de su construcción y del conocimiento

de los niveles de energı́a de los mismos. En el caso del láser de He-Ne existe un nivel láser
a la longitud de onda de 632.99076 nm. El ensanchamiento Doppler para una cavidad láser
de He-Ne tiene una anchura espectral tı́pica de 1.5 GHz.

Sin embargo, los requerimientos de calibración exigen que tanto los analizadores de es-
pectro óptico como los medidores de longitud de onda se calibren para una amplia región
espectral y no sólo para una longitud de onda, por lo que en estos casos se emplean láseres

115
sintonizables convenientemente calibrados en toda la región espectral de funcionamiento.

Hemos aplicado este método a un analizador de espectros óptico ANRITSU MS9030A.

Este analizador de espectros presenta la longitud de onda en aire, y no la convierte interna-
mente a valores en vacı́o, por ello convertimos los valores de referencia en vacı́o a aire a través
de las expresiones de la sección 4.1.1, (en este caso, dada la baja resolución del analizador
puede realizarse este cambio). Se ha calibrado el analizador con una resolución de 0.1 nm.
La forma de rendija de este analizador es rectangular, es decir, usa de rendija de entrada la
propia fibra óptica. En el calibrado del analizador se ha utilizado el span de pantalla que
da mayor resolución: 2 nm, usando 501 puntos de medida, esto significa que la resolución
de muestreo es de 2 nm/501 = 0.004 nm. Para realizar la calibración se procedido a la
medida de la longitud de onda 10 veces para tener una suficiente estadı́stica. Los resultados
obtenidos se muestran en la tabla 4.3. Consideramos la corrección a la longitud de onda
medida por el analizador como:

∆λ = λOSA − λref (4.4)

La incertidumbre de la calibración del sistema está afectada por los siguientes factores:

• La longitud de onda de referencia (laser He-Ne), se encuentra afectada por:

- La incertidumbre en el conocimiento de la longitud de onda del He-Ne. Que proviene

del certificado de calibración del mismo, y que es de 1e−5 . Este valor por provenir de
un certificado de calibración está evaluado en valores de k=2.

u(λref ) = UCertif icado /2 (4.5)

- inestabilidad o ”driff”entre calibraciones. En este caso desconocemos el historial del

láser, por lo que consideramos la incertidumbre por ”driff”del mismo igual a la incer-
tidumbre del certificado.

• La longitud de onda leı́da en el OSA está afectada por las siguientes fuentes de incer-
tidumbre:

- Incertidumbre aleatoria por la medida del láser de referencia: Esta incertidumbre es

de tipo A (estadı́stica, con probabilidad de distribución normal), que se evalúa como
la desviación tı́pica de la media de las medias tomadas, en este caso 10.
σλ
u(λOSA ) = √OSA (4.6)
10

116
 - Incertidumbre por la resolución de muestreo. El muestreo de la señal del láser de
referencia se ha realizado cada 0.004 nm. Esta incertidumbre se evalúa considerándola
una distribución rectangular y su valor está dado por:
λi − λi−1
u(λres ) = √ (4.7)
2 3

- Incertidumbre por la resolución de rendija. La rendija del analizador es rectangular de

valor 0.01 nm. Su contribución a la incertidumbre la consideramos como una distribu-
ción rectangular en la forma:
0.01nm
u(λres ) = √ (4.8)
2 3

La función modelo que resume estas contribuciones a la incertidumbre, se expresa matemá-

ticamente como:

∆λ = λOSA + δλres + δλrend − λref − δλref (4.9)

Con la ayuda de esta función modelo podemos elaborar la tabla de cálculo de incer-
tidumbres 4.4, donde G se refiere al número de grados de libertad que afectan al factor
de incertidumbre considerado, y C el coeficiente de sensibilidad obtenido como la derivada
parcial de la función modelo respecto al factor de incertidumbre considerado, νef se refiere
al número de grados de libertad efectivos de la magnitud de salida, obtenidos mediante la
expresión de Welch-Satterthwaite:

u4 (y)
νef = P u4 (y) (4.10)
N i
i νi

El factor de cobertura (k) se obtiene basándose en una distribución de T de Student

evaluada para una probabilidad de cobertura del 95, 45 %. La incertidumbre total es el
producto de la suma de incertidumbres parciales, multiplicado por el factor de cobertura
obtenido. En el caso del ejemplo de calibración propuesto la corrección a la longitud de
onda es de ∆λ = −0.776 nm y la incertidumbre ±0.109 nm.

117
 Tabla 4.3 Calibración de un OSA usando la lı́nea 633 del He-Ne.
número λOSA σOSA He-Ne (en aire) Diferencia
de medida (nm) (nm) (nm) (nm)

1 632.100 0.004 632.816 -0.716

2 632.200 0.004 632.816 -0.616
3 632.000 0.004 632.816 -0.816
4 632.000 0.004 632.816 -0.816
5 632.100 0.004 632.816 -0.716
6 632.200 0.004 632.816 -0.616
7 632.000 0.004 632.816 -0.816
8 631.900 0.004 632.816 -0.916
9 632.000 0.004 632.816 -0.816
10 631.900 0.004 632.816 -0.916

Valor medio 632.040 632.816 -0.776

Desviación estándar 0.107 0.107

Tabla 4.4 Incertidumbres en la calibración de OSA MS9030A respecto a la lı́nea 633 del He-Ne.
Magnitud Simbolo Valor Incertidumbre Evaluación G C Contribución
X(nm) x u(x) n c U(x)

longitud de onda de referencia λref 632.816 1 × 10−5 B ∞ -1 0.00001

Inestabilidad λref δλref 0 1 × 10−5 B ∞ -1 0.00001
Longitud de onda medida λOSA 632.040 0.034 A 9 1 0.034
Resolución de muestreo δλres 0 0.0023 B ∞ 1 0.0023
Resolución de rendija δλrend 0 0.0408 B ∞ 1 0.0408

Factor de corrección ∆λ -0.776 Σ U(x) 0.0532

Grados de libertad efectivos νef 54
Factor de cobertura k 2.048
Resultado -0.776 0.109

118
4.1.3 Lı́neas de emisión de lámparas espectrales
Los espectros de emisión atómicos de numerosos elementos quı́micos estables son conoci-
dos con gran precisión de la Espectroscopı́a Atómica, siendo muy útiles como sistemas de
calibración de monocromadores y espectrógrafos. Estos elementos se introducen en bulbos
de cuarzo y se enrarecen hasta que emiten a las longitudes de onda que son permitidas
por los niveles electrónicos propios del elemento en cuestión. Para que la emisión de estos
elementos sea estrecha espectralmente deben producirse a bajas presiones. Los elementos
tı́picos usados para la calibración de espectrógrafos son Mercurio (Hg), Argón (Ar), Kriptón
(Kr), Neón (Ne) y Xenón (Xe).

En el IR la emisión de este tipo de elementos en lámparas de baja presión son más

inestables que sus emisiones en visible y, fundamentalmente, la potencia de emisión es en al-
gunos casos muy pequeña para poder ser usada en la calibración de los modernos analizadores
de espectro óptico con rendijas inferiores a 0.1 nm.

En el caso de la calibración de monocromadores y espectrógrafos basados en redes de

difracción, suele ser muy útil utilizar órdenes superiores de difracción de las lı́neas de emisión
de las lámparas espectrales, si no se utiliza un filtro de bloqueo y usando un detector de Si
puede detectarse la emisión de una lámpara de Hg a longitud de onda de 546.07 nm a la
longitud de onda de 2 × 546.07 = 1092.14 nm. De igual manera, si utilizamos la lı́nea de
Hg de ultravioleta centrada en 253.63 nm (ésta es una lı́nea muy intensa) puede aparecernos
un orden superior a 1521.78 nm correspondiente a 6 × 253.63 nm. Sin embargo, en los
analizadores de espectro óptico comerciales, esto no suele ser posible ya que en muchos de
los casos no incorporan un detector de Si, u otro sensible a las longitudes de onda de visible,
y porque de forma automática introducen un filtro de bloqueo que elimina el paso de estas
longitudes de onda.

En las tablas 4.5, 4.6, 4.7, 4.8 y 4.9 y en las figuras 4.4, 4.5, 4.6, 4.7 y 4.8, se muestran
las lı́neas de emisión de los elementos Hg, Ar, Kr, Ne y Xe útiles para la calibración de
analizadores de espectro óptico en el IR próximo.

119
Figura 4.4 Espectro de emisión de una lámpara de Mercurio (Hg) entre 700 y 1700 nm.

Figura 4.5 Espectro de emisión de una lámpara de Argón (Ar) entre 700 y 1700 nm.

120
Figura 4.6 Espectro de emisión de una lámpara de Kripton (Kr) entre 700 y 1700 nm.

Figura 4.7 Espectro de emisión de una lámpara de Neón (Ne) entre 700 y 1700 nm.

121
 Figura 4.8 Espectro de emisión de una lámpara de Xenón (Xe) entre 700 y 1700 nm.

Tabla 4.5 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Hg.

Longitud de onda Longitud de onda

en aire (nm) en vacı́o (nm)
1013.979 1114.257
1128.741 1129.050
1207.160 1207.491
1357.057 1357.428
1367.340 1367.713
1529.598 1530.016
1692.066 1692.528
1694.247 1694.710
1707.312 1707.778
1710.989 1711.457

122
 Tabla 4.6 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Ar.

Longitud de onda Longitud de onda Longitud de onda Longitud de onda

en aire (nm) en vacı́o (nm) en aire (nm) en vacı́o (nm)
750.387 750.593 1166.871 1167.190
751.465 751.672 1211.232 1211.564
763.511 763.721 1213.974 1214.306
772.376 772.589 1234.339 1234.677
772.421 772.633 1240.283 1240.622
794.818 795.036 1243.932 1244.272
800.616 800.836 1245.611 1245.952
801.479 801.699 1248.766 1249.108
805.331 805.552 1270.228 1270.575
810.369 810.592 1273.341 1273.690
811.531 811.754 1280.274 1280.624
826.452 826.679 1295.666 1296.020
840.821 841.052 1300.826 1301.182
842.465 842.696 1321.399 1321.760
852.144 852.378 1322.810 1323.172
866.794 867.032 1327.263 1327.626
912.297 912.547 1331.321 1331.685
922.450 922.703 1336.711 1337.076
965.778 966.043 1340.659 1341.025
978.450 978.718 1350.419 1350.788
1047.005 1047.292 1362.265 1362.638
1047.803 1048.090 1371.858 1372.233
1067.357 1067.649 1409.364 1409.749
1068.177 1068.470 1504.650 1505.062
1144.183 1144.496 1530.188 1530.606
1148.811 1149.125 1694.058 1694.521

123
Tabla 4.7 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Kr.

Longitud de onda Longitud de onda Longitud de onda Longitud de onda

en aire (nm) en vacı́o (nm) en aire (nm) en vacı́o (nm)
758.741 758.950 1317.742 1318.102
769.454 769.666 1363.422 1363.794
785.482 785.698 1377.740 1378.117
805.950 806.172 1442.679 1443.073
810.436 810.659 1473.444 1473.847
811.290 811.513 1476.267 1476.671
819.005 819.231 1523.961 1524.377
826.324 826.551 1533.497 1533.916
829.811 830.039 1537.205 1537.625
850.887 851.121 1678.513 1678.971
877.675 877.916 1685.349 1685.809
892.869 893.114 1689.044 1689.506
975.176 975.443 1693.580 1694.043
1181.937 1182.261

124
Tabla 4.8 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Ne.

Longitud de onda Longitud de onda Longitud de onda Longitud de onda

en aire (nm) en vacı́o (nm) en aire (nm) en vacı́o (nm)
753.577 753.785 878.375 878.617
753.577 753.785 878.375 878.617
794.318 794.537 883.091 883.333
808.246 808.468 885.387 885.630
811.855 812.078 886.531 886.774
812.891 813.114 886.576 886.819
813.641 813.864 891.950 892.195
824.868 825.095 948.668 948.928
825.938 826.165 953.416 953.678
826.608 826.835 966.542 966.808
826.712 826.939 1056.241 1056.530
830.032 830.261 1062.070 1062.361
836.575 836.805 1079.806 1080.102
837.761 837.991 1084.449 1084.746
841.716 841.947 1114.302 1114.607
841.843 842.074 1117.753 1118.059
846.336 846.568 1139.044 1139.356
848.444 848.677 1152.502 1152.817
849.536 849.769 1153.635 1153.950
854.470 854.704 1168.801 1169.121
857.135 857.371 1178.904 1179.227
859.126 859.362 1178.990 1179.312
863.465 863.702 1198.491 1198.819
864.704 864.942 1206.634 1206.964
865.438 865.676 1245.939 1246.280
865.552 865.790 1259.500 1259.845
867.949 868.187 1268.920 1269.267
868.192 868.431 1276.953 1277.303
870.411 870.650 1291.202 1291.556
877.166 877.407 1321.925 1322.287
878.062 878.303 1523.072 1523.488

125
Tabla 4.9 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Hg.

Longitud de onda Longitud de onda Longitud de onda Longitud de onda

en aire (nm) en vacı́o (nm) en aire (nm) en vacı́o (nm)
711.960 712.156 886.232 886.475
728.530 728.731 890.873 891.118
731.627 731.829 895.225 895.471
732.145 732.347 898.757 899.004
738.600 738.804 904.545 904.793
739.379 739.583 916.265 916.517
758.468 758.677 937.476 937.733
764.203 764.413 951.338 951.599
780.265 780.480 979.970 980.238
788.132 788.349 992.380 992.652
788.739 788.956 1070.678 1070.971
796.734 796.953 1075.886 1076.181
805.726 805.947 1083.834 1084.131
806.134 806.356 1089.532 1089.830
820.634 820.859 1108.525 1108.829
823.634 823.860 1112.720 1113.025
828.012 828.239 1262.336 1262.681
834.682 834.912 1365.722 1366.095
840.919 841.150 1424.123 1424.512
864.854 865.092 1473.288 1473.691
873.937 874.177 1541.812 1542.233
881.941 882.183 1732.579 1733.052

126
 Como muestra de la utilidad de las lı́neas lámparas espectrales de baja presión, se ha
procedido a la calibración de un monocromador SPEX-1400 en longitud de onda con una
lámpara de Kriptón.

El monocromador sujeto de calibración es un SPEX-1400 adaptado a su uso al IR cercano

(750-1850 nm), de 1 metro de longitud focal, lo que le permite tener una resolución de 0.02
nm. Pese a que este monocromador puede ser usado en aplicaciones de moderada resolu-
ción, la calibración se va ha realizar para una aplicación concreta: medida de la atenuación
espectral de fibras ópticas.

En esta aplicación se necesita introducir la máxima potencia posible en el la fibra óptica,

por lo que las rendijas de entrada y salida se mantienen abiertas al máximo, 3 mm de
anchura, que supone un ancho de banda de 3.5 nm. Para la calibración de este sistema
hemos optado por usar las lı́neas de emisión del Kr en la región de 1100 a 1700 nm, pero no
se han usado lı́neas espectrales muy próximas para eliminar posibles superposiciones dado el
gran ancho de banda de medida del sistema. La tabla 4.10 muestra los resultados obtenidos.
La desviación de longitud de onda obtenida se puede ajustar como una función lineal tal y
como se muestra en la figura 4.9. Las incertidumbres obtenidas, incluidas las del ajuste por
mı́nimos cuadrados, se muestran en la tabla 4.11. En este caso, la incertidumbre de medida
de la longitud de onda con este sistema es de 1.472 nm.

Tabla 4.10 Calibración en longitud de onda de un monocromador SPEX-1400 con una lámpara
de Kriptón.
número λMONO σMONO λKr Diferencia
de medida (nm) (nm) (nm) (nm)

1 1181.13 0.07 1181.94 -0.810

2 1317.36 0.07 1317.74 -0.380
3 1442.65 0.07 1442.68 -0.030
4 1473.59 0.07 1473.44 0.150
5 1524.25 0.07 1523.96 0.290
6 1533.78 0.07 1533.50 0.280
7 1679.38 0.07 1678.51 0.870

Valor medio 0.0529

Desviación estándar 0.5360

127
 Figura 4.9 Ajuste lineal de la desviación en longitud de onda.

Tabla 4.11 Cálculo de incertidumbres en la calibración en longitud de onda de un monocromador

SPEX-1400 con una lámpara de Kriptón.
Magnitud Sı́mbolo Valor Std Evaluación G C Contribución
X(nm) x u(x) n c U(x)

Longitud de onda de referencia λref 1442.68 0.0005 B ∞ 0.003 1.65889 × 10−6

Longitud de onda medida λM ON O 1442.65 0.000 A 9 0.997 0
Resolución de muestreo δλres 0 0.072168784 B ∞ 0.997 0.071929343
Resolución de rendija δλrend 0 0.7144 B ∞ 0.997 0.712064169
a -4.758943475 0.1693 A 5 -1 -0.169256466
b 0.003317784 0.0001 A 5 0.03 3.48276 × 10−6

Lambda corregida ∆λ -0.03 Σ U(x) 0.735429781

Factor de cobertura k 2.0014068
Resultado -0.03 1.4719

4.2 Etalones (Fabry-Perot)

Un etalón Fabry-Perot puede ser realizado con una oblea de silicio con ambos lados cuida-
dosamente pulidos. Luz entrante es semireflejada en las superficies espejadas, produciéndose

128
una interferencia de múltiples rayos. Como resultado, se transmitirán un conjunto de longi-
tudes de onda resonantes regularmente espaciadas. La luz transmitida tiene unos máximos
a las longitudes de onda que verifican la relación:
2 × n × Lc × cos θ
λm = (4.11)
m
donde n es el ı́ndice de refracción del etalón, Lc es su longitud del etalón, θ es el ángulo
de incidencia y m es un numero entero. Ajustando la longitud de camino óptico n × Lc
entre los espejos está posible controlar la longitud de onda de los picos de transmisión. La
finesse de las interferencias y el contraste de las mismas dependen de la reflectividad de las
caras del etalón. Por ejemplo, para un etalón de silicio en aire, la interface silicio-aire tiene
una reflectividad r=0.305 (el ı́ndice de refracción del Si a 1550 nm es 3.48) que da lugar a
una finesse F de aproximadamente 2,5 y a un contraste óptico de alrededor de 5,5 dB. El
espaciado en frecuencia entre dos picos adyacentes de transmisión, o intervalo espectral libre
FSR, es inversamente proporcional a la longitud de la cavidad Lc .

El ancho espectral del pico a 3 dB está dado por δf = F SR/F . En particular para un
etalón de 100 µm de anchura de silicio en aire, como se muestra en el caso de la figura 4.10
el FSR es de 411 GHz, equivalente a 3,2 nm y el resultante de ancho de banda a 3 dB es 1,4
nm pero el contraste de las franjas es inadecuado para alcanzar las resoluciones necesarias
en las aplicaciones de WDM. La manera más fácil aumentar la finura del etalón es realizar
una apropiada superficie reflejante en las interfaces silicio-aire.

Figura 4.10 Cavidad Fabry-Perot con diferentes multicapas.

Una posibilidad es depositar capas finas de materiales de ı́ndice de refracción adecuado

para incrementar por la multicapa formada la reflectancia del sistema silicio-aire. Buscando
materiales compatibles con la tecnologı́a del silicio, en especial analizamos la conducta de
la multicapa de oxido de SiO y silicio amorfo cuyos ı́ndices de refracción a la longitud de
onda de 1.55 µm son 1,44 y 3.48 respectivamente, el coeficiente de reflexión de una cara de
silicio cubierto con estos materiales se aumenta a 0.89 y 0,97 respectivamente. Los valores

129
de finesse correspondientes teóricos son 15,9 y 93,0 respectivamente, que son valores más
satisfactorios para las aplicaciones de WDM.

Figura 4.11 Transmitancias para 100µm y 500µm de longitud de cavidad FP con diferentes
espesores de multicapa.

La figura 4.11 muestra las transmitancias teóricas obtenidas para 100µm y 500µm de
longitud de cavidad Fabry-Perot de silicio, con los espesores de multicapa señalados en ella.

Para utilizar este sistema como referencia, una vez conocida la multicapa debe calibrarse
usando un láser de referencia y un medidor de longitud de onda. La multicapa debe diponerse
en un receptáculo controlado en temperatura ya que esto influirı́a sobre las longitudes de
onda calibradas.

La ventaja de este método estriba en que una vez calibrado, el sistema es útil en todo el
intervalo de frecuencias en el que se disponga de fuente de luz.

4.3 Lı́neas de absorción de gases

Las referencias en longitud de onda son importantes en la región de los 1550 nm para poder
evaluar los sistemas de comunicación de fibra óptica basados en multiplexado en longitud de
onda (WDM). En un sistema WDM, muchos canales de longitud de onda son enviados por

130
la misma fibra, aumentando en consecuencia, el ancho de banda del sistema. Si una longitud
de onda del canal cambiase, podrı́a haber diafonı́a (crosstalk) entre ella y un canal vecino.
Las referencias de longitud de onda son necesarias para calibrar instrumentos usados en
caracterización de componentes y monitorización de las longitudes de onda de los diferentes
canales. Las lı́neas fundamentales de absorción atómica o molecular proveen referencias en
longitud de onda que tienen un comportamiento bien conocido y además son muy estables
ante cambios medioambientales, tales como variaciones de presión y temperatura o presencia
de campos electromagnéticos. Existe un gran número de buenas transiciones moleculares
12
en la región de 1500 nm. La banda vibracional-rotacional ν1 + ν3 del Acetileno C 2 H2 ,
mostrada en la figura 4.13, contiene alrededor de 50 lı́neas útiles entre 1510 y 1540 nm. La
13
banda correspondiente del C2 H2 se extiende desde 1520 a 1550 nm. El Cianuro también
tiene un buen espectro, con lı́neas desde 1530 a 1565 nm para el H 13 C 14 N . Otras moléculas
con un fuerte espectro de absorción localizado entre 1300 y 1600 nm incluyen Hidrógeno y
Deuterio (Haluros) y otras moléculas biatómicas como el Monóxido de Carbono. Numerosos
Hidrocarburos y otros compuestos tienen un espectro de absorción en la región deseada
pero este espectro es débil. Las absorciones atómicas están limitadas a las transiciones de
estados excitados, que requieren descargas eléctricas o excitación mediante láser como se ha
explicado en la sección 4.1.2.

Además, el Multiplexado en Longitud de Onda (WDM) se está expandiendo hacia la

región espectral que va de los 1565 a los 1625 nm (es la llamada banda L) debido a la
necesidad de más ancho de banda y a la llegada de los amplificadores de Erbio de banda
larga. Esto ha introducido la necesidad de instrumentación en la banda L ası́ como de una
metodologı́a para calibrar los instrumentos. Esta expansión del WDM a regiones espectrales
cada vez mayores sigue la previsión de que el WDM finalmente cubrirá toda la banda útil
de transmisión en fibra óptica desde los 1280 a los 1630 nm y traerá consigo la necesidad de
instrumentación y calibración para esta región.

Se están desarrollando patrones de transferencia que pueden ser usados para calibrar
la escala de longitudes de onda y evaluar la linealidad de los instrumentos en la banda L
(región de los 1565 a los 1630 nm). Los dos estándares de transferencia para esta región
están basados en las transiciones rotatorio-vibratorias de un material estándar de referencia
(SRM) como es el Monóxido de Carbono, creándose células de absorción de este compuesto
con un espectro de absorción en esta región espectral. La SRM 2516 cubre la región entre
12
1565 y 1595 nm, está basada en la transición armónica 3ν del C 16 O. La SRM 2515 cubre
13
la región entre 1595 y 1630 nm, está basada en la transición armónica 3ν del C 16 O. Estos
dos espectros (falta figura) son casi idénticos salvo el cambio para la longitud de onda más

131
 13
lejana de los 35 nm en el espectro del C 16 O. Cada espectro contiene aproximadamente 30
lı́neas suficiéntemente fuertes como para ser usadas como referencias de calibración.

El National Institute of Standards and Technology (NIST) ha desarrollado materiales de

referencia (SRM) para la calibración en longitud de onda de analizadores de espectro óptico
basados en células de absorción en acetileno gas (SRM 2517) y en cianuro gas (SRM 2519).
Se ha desarrollado un nuevo estándar de calibración, SRM 2517a. La principal diferencia
entre éste y su predecesor, SRM 2517, es el uso de una menor presión en la célula de acetileno
para producir lı́neas de absorción más estrechas. Por tanto, la SRM 2517a puede ser usada
en aplicaciones de mayor resolución y mayor precisión.

Estas SRMs están diseñadas para calibración en longitud de onda de instrumentos de

medida tales como analizadores ópticos espectrales (OSA), diodos láseres sintonizables, y
medidores de longitud de onda. La unidad consiste en una célula de absorción de gas
herméticamente sellada acoplada con una fibra óptica monomodo. El espectro puede obser-
varse en un analizador OSA haciendo pasar luz procedente de una fuente de banda ancha
(como por ejemplo un diodo emisor de luz o una fuente de emisión espontánea) a través de
la unidad SRM y finalmente al OSA. Igualmente, el espectro puede ser probado con un láser
sintonizable y un detector. Se pueden realizar calibraciones en longitud de onda usando una
sola lı́nea y medidas para análisis de la linealidad usando múltiples lı́neas. Las lı́neas más
fuertes en el espectro del CO de la SRM tienen una profundidad de tan sólo el 10%, com-
paradas con el 50% de las de la SRM 2519 del NIST basada en el HCN. De cualquier modo,
con una adecuada relación Señal-Ruido, esta absorción debe ser suficientemente fuerte para
proporcionar una calibración adecuada.

12
4.3.1 Acetileno C2 H2 como referencia de absorción para cali-
bración en longitud de onda de 1510 a 1540 nm (SRM 2517a)

La SRM 2517a está pensada para calibración en longitud de onda en la región espectral
de los 1510 a 1540 nm. Es una célula de absorción para fibra óptica monomodo que contiene
12
gas acetileno C2 H2 a una presión de 6.7 kPa (50 Torr). Esta presión ha sido reducida
respecto a su predecesora, SRM2517 que tenı́a 67 kPa (500 Torr), lo cual permite obtener
lı́neas de absorción más estrechas, tal y como se puede ver en la figura 4.12, pudiéndose
emplear en aplicaciones de mayor precisión.

La longitud del camino de absorción es de 5 cm y las lı́neas de absorción son aproxi-

madamente de 7 pm de ancho. La célula está protegida dentro de una pequeña caja (aproxi-

132
 Lı́nea de absorción P4 (1527.441 nm) del acetileno 12 C para diferentes pre-
Figura 4.12 2 H2

siones.

madamente de 24 cm de largo, 12.5 cm de ancho y 9 cm de alto) con dos conectores de

fibra FC/PC para la entrada y la salida de una fuente de luz. El acetileno tiene más de 50
lı́neas de absorción medidas con precisión en la región de los 1500 nm. Esta SRM puede ser
usada para aplicaciones de mayor resolución, tales como calibrado de un láser sintonizable
de banda estrecha, o para aplicaciones de menor resolución, como por ejemplo el calibrado
de una analizador óptico espectral. Las longitudes de onda en vacı́o de las lı́neas ν1 + ν3
del acetileno han sido medidas a muy baja presión (de 1 a 4 Pa, o equivalentemente de 10
a 30 mTorr) con una incertidumbre de alrededor de 10−6 nm. Para su uso como referencia
en longitud de onda, la estabilidad de cada lı́nea de absorción es una caracterı́stica crı́tica.
Los isótopos simétricos del acetileno son particularmente insensibles a perturbaciones ex-
ternas porque no tienen momento dipolar permanente. La fuente más grande de deriva de
lı́nea es la variación del nivel de energı́a provocada por las interacciones entre moléculas en
las colisiones elásticas. Se suele denominar “deriva de presión”y depende linealmente de la
frecuencia de colisión.

133
 Para la calibración en longitud de onda de algunos instrumentos, a veces serı́a deseable
usar una célula de media o alta presión con objeto de aumentar la profundidad de absorción.
Esto da como resultado un ensanchamiento de la lı́nea de absorción y una leve variación del
centro de la lı́nea.

La longitudes de onda centrales de 56 lı́neas de la banda rotatorio-vibratoria ν1 + ν3 del

12
acetileno C2 H2 están certificadas por esta SRM. Quince lı́neas están certificadas con una
incertidumbre de 0.1 pm, dos lı́neas están certificadas con una incertidumbre de 0.6 pm y el
resto de lı́neas están certificadas con una incertidumbre de 0.3 pm.

Valores Certificados de Longitud de Onda: Las longitudes de onda del vacı́o de las
lı́neas de absorción para las ramas R y P del 12 C2 H2 han sido medidas con alta precisión.
Los valores para las longitudes de onda en el vacı́o fueron ajustados para el cambio
de presión debido a las colisiones entre las moléculas del acetileno a 6.7 kPa (50 Torr)
en el interior de la célula SRM , para obtener valores certificados de longitud de onda
para esta SRM. El espectro de la banda de absorción se muestra en la figura 4.13 y
los valores certificados de longitud de onda se dan en la tabla 4.12. Los centros de
longitud de onda de 15 lı́neas mostrados en la tabla 4.12 están certificados con una
incertidumbre de 0.1 pm, 39 lı́neas están certificadas con una incertidumbre de 0.3 pm,
y 2 lı́neas están certificadas con una incertidumbre de 0.6 pm. Estas incertidumbres
son las incertidumbres expandidas usando un factor de cobertura k=2 (es decir la
incertidumbre es ±2σ).

Validez de la Certificación: La certificación de esta SRM tiene una validez indefinida

dentro de las incertidumbres de medida especificadas, y siempre que la SRM sea ma-
nipulada, almacenada y usada de acuerdo con las instrucciones dadas. El gas está
dentro de una celda de cristal con todo el cristal sellado a la ventana.

Almacenaje y Mantenimiento: Los tapones protectores proporcionados para los conec-

tores FC/PC deben ser colocados nuevamente cuando la SRM no se use. Está previsto
que la SRM se use en un laboratorio con una condiciones medioambientales próximas
a la temperatura ambiente de la habitación (22 ± 5 o C). El usuario debe evitar la
exposición de la unidad a grandes variaciones de temperatura, a ciclos de temperatu-
ra o a golpes mecánicos, ya que éstos ocasionarán una degradación del alineamiento
óptico. Esta falta de alineamiento óptico afecta a la eficiencia en la salida de potencia
del SRM pero no cambiará los centros de las lı́neas de absorción. Un problema más
serio pero menos probable es la rotura de la célula o la existencia de fugas. La unidad

134
 Espectro de absorción del acetileno 12 C
Figura 4.13 2 H2 .

debe cambiarse si los anchos de lı́nea o las profundidades difieren significativamente de

las mostradas en la tabla 4.12 cuando se mide con una resolución comparable.

Condiciones de Medida y Procedimiento: La estabilidad a largo plazo del acetileno

y el uso de lı́neas de absorción molecular fundamentales proporciona a la SRM una
insensibilidad ante cambios de las condiciones medioambientales. El propósito del
procedimiento de certificación es verificar que la unidad contiene la presión correcta de
12
gas C2 H2 y que no contiene contaminantes que puedan generar lı́neas de absorción
adicionales.

INSTRUCCIONES DE USO

Consideraciones Generales: La SRM puede ser usada para calibrar un láser o un instru-
mento de medida de longitud de onda en la región de los 1510 nm a los 1540 nm.
Los valores de la tabla 4.12 son longitudes de onda en vacı́o, si el usuario necesita las
longitudes de onda en el aire, se debe aplicar la corrección apropiada para el ı́ndice de
refracción del aire (no tengo esta corrección). Dependiendo del tipo de instrumento que
está siendo calibrado, se puede utilizar una fuente de banda ancha o un láser sintoni-
zable de banda estrecha. En la figura 4.14 se muestran conexiones ópticas tı́picas. La
célula es bidireccional (no tiene puerto de entrada/salida preferente), las conexiones con

135
 Tabla 4.12 Longitudes de onda certificadas para la SRM 2517a
Rama R Longitud de onda (nm) Rama P Longitud de onda (nm)

29 1511.7304(3) 1 1525.7599(6)
28 1512.0884(3) 2 1526.3140(3)
27 1512.45273(12) 3 1526.87435(10)
26 1512.8232(3) 4 1527.44114(10)
25 1513.2000(3) 5 1528.01432(10)
24 1513.5832(3) 6 1528.59390(10)
23 1513.9726(3) 7 1529.1799(3)
22 1514.3683(3) 8 1529.7723(3)
21 1514.7703(3) 9 1330.3711(3)
20 1515.1786(3) 10 1520.97627(10)
19 1515.5932(3) 11 1531.5879(3)
18 1516.0141(3) 12 1532.2060(3)
17 1516.44130(11) 13 1532.83045(10)
16 1516.8747(3) 14 1533.46136(10)
15 1517.3145(3) 15 1534.0987(3)
14 1517.7606(3) 16 1534.7425(3)
13 1518.2131(3) 17 1535.3928(3)
12 1518.6718(3) 18 1536.0495(6)
11 1519.13686(10) 19 1536.7126(3)
10 1519.6083(3) 20 1537.3822(3)
9 1520.0860(3) 21 1538.0583(3)
8 1520.5700(3) 22 1538.7409(3)
7 1521.06040(10) 23 1539.42992(10)
6 1521.5572(3) 24 1540.12544(11)
5 1522.0603(3) 25 1540.82744(11)
4 1522.5697(3) 26 1541.5359(3)
3 1523.0855(3) 27 1542.2508(3)
2 1523.6077(3)
1 1524.13609(10)

la unidad deben realizarse utilizando fibras ópticas monomodo con conectores FC/PC
en los extremos.

Uso con una Fuente de Banda Ancha: Una fuente de banda ancha en la región de los
1500 nm (como un diodo emisor de luz, luz blanca o una fuente de emisión espontánea
amplificada) es útil cuando se calibra un instrumento como un analizador óptico de
espectro basado en red de difracción. El esquema para este tipo de calibración se
muestra en la figura 4.14 (a). La luz procedente de una fuente de banda ancha es
introducida dentro de la SRM y la salida (transmisión a través de la SRM) se conecta al
instrumento que está siendo calibrado. Las lı́neas de absorción del acetileno aparecen
como valles en el espectro de la fuente de luz. En general, los valles no serán tan

136
Figura 4.14 (a) Configuración cuando se usa el SRM con una fuente de banda ancha para cali-
brar un analizador de espectros óptico. (b) Configuración cuando se usa el SRM para calibrar una
fuente sintonizable. Se puede calibrar un medidor de longitud de onda usando un láser sitonizable
con la configuración de la figura (b) y midiendo las longitudes de onda con el medidor.

profundos como los mostrados en la figura 4.13. La mayor parte de los instrumentos
de este tipo tendrán una resolución de ancho de banda significativamente mayor que
los anchos de las lı́neas de absorción del SRM.

Este procedimiento se ha aplicado a un OSA -ADVANTEST Q8384 usando como

referencia la propia célula de absorción de acetileno que lleva incorporada en su interior.
Este OSA se ha calibrado con este método en la longitud de onda comprendida entre
1510 y 1540 nm. Para ello se ha utilizado la resolución de rendija de 10 pm y se han
12
usado las lı́neas impares, tanto en la Rama R como en la P del C2 H2 , por ser las
más intensas. El span de rendija usado es de 0.2 nm con una resolución de muestreo
de 1001 puntos. Los resultados obtenidos pueden verse en las tablas 4.13 y 4.14.

Uso con una Fuente Sintonizable: La SRM puede usarse para calibrar la escala de lon-
gitudes de onda de una fuente sintonizable en esta región (como un diodo láser, una
fibra láser o una fuente filtrada mediante un filtro sintonizable). El esquema para este
tipo de calibración se muestra en la figura 4.14 (b). El láser se sintoniza sobre una o
más lı́neas de absorción del acetileno. La transmisión a través de la SRM es captada
por un detector, la potencia transmitida pasa por un mı́nimo en el centro de la lı́nea
de absorción. Además, un láser sintonizable y la SRM pueden usarse para evaluar la
calibración de un medidor de longitud de onda midiendo la longitud de onda del láser
(usando el medidor) mientras el láser es sintonizado sobre la lı́nea de absorción. Este
método se aplica en el capı́tulo 5 para la realización de un patrón de frecuencias.

137
 Tabla 4.13 Calibración de un OSA(Q8384)con una fuente de banda ancha.
número λOSA σOSA λref σref Diferencia
de medida (nm) (nm) (nm) (nm) (nm)

1 1513.200 0.001 1513.20000 0.0003 0.000

2 1513.971 0.001 1513.97260 0.0003 -0.002
3 1514.772 0.001 1514.77030 0.0003 0.002
4 1515.591 0.001 1515.59320 0.0003 -0.002
5 1516.441 0.001 1516.44130 0.0001 0.000
6 1517.316 0.001 1517.31450 0.0003 0.002
7 1518.213 0.001 1518.21310 0.0003 0.000
8 1519.137 0.001 1519.13686 0.0001 0.000
9 1520.086 0.001 1520.08600 0.0003 0.000
10 1521.061 0.001 1521.06040 0.0001 0.001
11 1522.060 0.001 1522.06030 0.0003 0.000
12 1523.087 0.001 1523.08550 0.0003 0.002
13 1524.138 0.001 1524.13609 0.0001 0.002
14 1525.757 0.001 1525.75990 0.0006 -0.003
15 1526.878 0.001 1526.87435 0.0001 0.004
16 1528.018 0.001 1528.01143 0.0001 0.007
17 1529.186 0.001 1529.17990 0.0003 0.006
18 1530.374 0.001 1530.37110 0.0003 0.003
19 1531.591 0.001 1531.58790 0.0003 0.003
20 1532.837 0.001 1532.83045 0.0001 0.007
21 1534.100 0.001 1534.09870 0.0003 0.005
22 1535.390 0.001 1535.39280 0.0003 0.001
23 1536.720 0.001 1536.71260 0.0003 0.002
24 1538.060 0.001 1538.05830 0.0003 0.002
25 1539.430 0.001 1539.42942 0.0001 0.005
26 1540.830 0.001 1540.82744 0.0001 0.005

Valor medio 0.002

Desviación estándar 0.002

Procedimiento Aconsejado para Requerimientos de Baja Precisión: Incertidumbre

de Calibración > 30 pm. Si se calibra un instrumento usando una fuente de banda
ancha, se debe usar una resolución para el instrumento ≤0.1 nm. Si se usa una fuente
sintonizable, se debe usar una densidad de puntos de al menos un punto cada 0.005
nm (5 pm). Después de identificar una lı́nea de absorción en concreto comparando
con el espectro de la figura 1, buscar el centro o el punto mı́nimo de la lı́nea. Cali-
brar el instrumento para la longitud de onda central de esta lı́nea (a partir de la tabla
4.12) usando el procedimiento de calibración especificado por el fabricante. La lineali-
dad del instrumento puede ser evaluada repitiendo el procedimiento para una lı́nea de

138
Tabla 4.14 Cálculo de incertidumbres en la calibración de un OSA(Q8384) con una fuente de
banda ancha.
Magnitud Sı́mbolo Valor Std Evaluación G C Contribución
X (nm) x u(x) n c U(x)

Longitud de onda de referencia λref 1513.200 0.0002 B ∞ -1 −1.500 × 10−4

Longitud de onda medida λOSA 1513.200 0.0000 A 9 1 0
Resolución de muestreo δλres 0 0.0001 B ∞ 1 5.768 × 10−5
Resolución de rendija δλrend 0 0.0041 B ∞ 1 4.082 × 10−3

Factor de corrección ∆λ 0.00 Σ U(x) 0.00408564

Factor de cobertura k 2.00000613
Resultado 0.000 0.0082

absorción diferente y comparándolo con el valor mostrado en la tabla 4.12.

Procedimiento Aconsejado para Requerimientos de Media Precisión: Incertidumbre

de Calibración en el Rango Aproximado de 3 a 30 pm. Si la fuente de potencia
varı́a significativamente con la longitud de onda, dividir el espectro de transmisión de
la SRM mediante el espectro de la fuente para obtener una traza normalizada. Des-
pués de identificar una lı́nea de absorción en concreto comparando con el espectro de
la figura 4.14, realizar un barrido con alta resolución de la lı́nea. Si se calibra un
instrumento con una fuente de banda ancha, usar una resolución para el instrumento
≤0.05 nm. Si se usa una fuente sintonizable, usar una densidad de puntos de al menos
un punto cada 0.002 nm (2 pm). Encontrar las lecturas de longitud de onda a ambos
lados de la lı́nea donde la absorción sea el 50% del máximo; el centro de lı́nea está a
medio camino entre estas dos lecturas. Para resultados con mayor precisión, repetir
este procedimiento cinco veces y tomar la media de las medidas. Además, el centro
de lı́nea puede ser determinado ajustando la porción central mediante un polinomio
de 4o grado. Calibrar el instrumento a la longitud de onda central de esta lı́nea (de la
tabla 4.12) usando el procedimiento de calibración especificado por el fabricante. La
linealidad del instrumento puede ser evaluada repitiendo el procedimiento para una
lı́nea de absorción diferente y comparándolo con el valor mostrado en la tabla 4.12.

Procedimiento Aconsejado para Requerimientos de Alta Precisión: Incertidumbre

de Calibración <3pm. Conectar una fuente de luz de banda estrecha (ancho de
banda de la fuente ≤1 pm) a uno de los conectores de la unidad SRM. Después de
identificar una lı́nea de absorción en concreto comparando con el espectro de la figura

139
 1, realizar un barrido con alta resolución de la lı́nea. Usar una densidad de puntos de
al menos un punto cada 1 pm y dividir el espectro de transmisión de la SRM mediante
el espectro de la fuente para obtener una traza normalizada. Usando una técnica de
ajuste como por ejemplo mı́nimos cuadrados, ajustar el dato de absorción a una forma
de lı́nea tipo Lorentziana o tipo Voight.

13
Otros gases útiles para la calibración a longitudes de onda propias del WDM son C 2 H2 ,
CNH, CO2 o CO. Las tablas 4.15 y 4.16 muestran las longitudes de onda de absorciones de
acetileno con C 13 y ácido cianhı́drico.

Longitudes de onda de absorción de la banda ν2 + ν3 del 13 C

Tabla 4.15 2 H2
Rama R Longitud de onda (nm) Rama P Longitud de onda (nm)

0 1532.7701 30 1551.5601
1 1532.2541 29 1550.8662
2 1531.7436 28 1550.1776
3 1531.2385 27 1549.4955
4 1530.7389 26 1548.8193
5 1530.2449 25 1548.1491
6 1529.7566 24 1547.4849
7 1529.2740 23 1546.8266
8 1528.7972 22 1546.1742
9 1528.3259 21 1545.5278
10 1527.8604 20 1544.8872
11 1527.4007 19 1544.2525
12 1526.9467 18 1543.6237
13 1526.4984 17 1543.0008
14 1526.0558 16 1542.3837
15 1525.6190 15 1541.7724
16 1525.1880 14 1541.1670
17 1524.7626 13 1540.5674
18 1524.3431 12 1539.9735
19 1523.9293 11 1539.3855
20 1523.5213 10 1538.8032
21 1523.1191 9 1538.2267
22 1522.7226 8 1537.6559
23 1522.3320 7 1537.0909
6 1536.5316
5 1535.9779
4 1535.4298
3 1534.8872
2 1534.3499
1 1533.8180

140
 Tabla 4.16 Longitudes de onda de absorción de la banda 2 × ν3 del 13 H 14 CN .

Rama R Longitud de onda (nm) Rama P Longitud de onda (nm)

25 1528.054 1 1543.1148(6)
24 1528.4862(6) 2 1543.809
23 1528.9271(6) 3 1544.515
22 1529.376 4 1545.2314(6)
21 1529.8376(6) 5 1545.9563(6)
20 1530.306 6 1546.690
19 1530.780 7 1547.435
18 1531.2764(6) 8 1548.190
17 1531.774 9 1548.9554(6)
16 1532.283 10 1549.7302(6)
15 1532.8024(6) 11 1550.5149(6)
14 1533.329 12 1551.311
13 1533.867 13 1552.116
12 1534.4159(6) 14 1552.931
11 1534.972 15 1553.756
10 1535.5401(6) 16 1554.5892(6)
9 1536.1170(6) 17 1555.4346(6)
8 1536.7034(6) 18 1556.292
7 1537.2997(6) 19 1557.157
6 1537.903 20 1558.033
5 1538.5204(6) 21 1558.919
4 1539.149 22 1559.814
3 1539.786 23 1560.7185(6)
2 1540.431 24 1561.6344(6)
1 1541.087 25 1562.563
0 1541.753

141
4.4 Medidor de referencia
Otra posibilidad para la calibración de los analizadores de espectros ópticos es usar un
medidor de longitud de onda de referencia. Para poder realizarse este sistema deberemos
de disponer de un laser sintonizable en las longitudes de onda de interés, cuya emisión sea
espectralmente pura. El medidor de longitud de onda debe estar calibrado con respecto a
un láser de referencia, o una célula de absorción de referencia. La conexión entre el láser
sintonizable y el medidor de referencia y el analizador de espectros óptico a calibrar puede
realizarse a través de un acoplador de fibra óptica, como se representa en la figura 4.15.

Figura 4.15 Montaje para la calibración de un OSA empleando un medidor de referencia.

Un ejemplo de este sistema de calibración se ha realizado en nuestro laboratorio usando

un láser sintonizable de la casa GN Nettest, modelo TUNICS-Plus, sintonizable entre 1500
a 1640 nm. Como medidor de longitud de onda se ha utilizado un medidor HEWLETT
PACKARD, modelo 86120C, que se ha calibrado en longitud de onda siguiendo el método
que describimos en el capı́tulo 5.

El medidor de longitudes de onda que se ha calibrado es un analizador de canales GN

Nettest PK 7500, que mide la longitud de onda de canales de WDM en las longitudes de
onda de 1520 − 1570 nm, usando como sistema de análisis un Fabry-Perot. Los resultados de
la calibración realizada se muestra en las tablas 4.17 y 4.18. Se ha empleado una resolución
de muestreo de 1 pm y una resolución de rendija (finesse del FP) de 35 pm.

Este sistema tiene por ventaja frente a todos los anteriores, que puede utilizarse en todo
el intervalo de longitudes de onda para el que se dispone de láser sintonizable y para el que
el medidor de longitud de onda puede estar calibrado.

Este sistema con el medidor de referencia HEWLETT PACKARD, modelo 86120C, cali-
brado según el capı́tulo 5, se ha implementado en dos laboratorios de Telefónica S.A: Labora-

142
torio de Metrologı́a y Calibración y el Laboratorio de Calibración y Medidas Electroópticas.

Tabla 4.17 Calibración de un analizador de canales usando un medidor de longitud de onda.

número λOSA σOSA λref σref Diferencia
de medida (nm) (nm) (nm) (nm) (nm)

1 1519.907 0.001 1519.920 0.001 -0.016

2 1524.960 0.001 1524.968 0.001 -0.011
3 1529.954 0.001 1529.965 0.001 -0.014
4 1534.969 0.001 1534.978 0.001 -0.011
5 1539.975 0.001 1539.975 0.001 -0.003
6 1544.973 0.001 1544.978 0.001 -0.008
7 1549.974 0.001 1549.983 0.001 -0.012
8 1554.992 0.001 1554.998 0.001 -0.009
9 1560.000 0.001 1560.001 0.001 -0.004
10 1565.004 0.001 1565.006 0.001 -0.005
1 1570.007 0.001 1570.006 0.001 -0.002

Valor medio -0.009

Desviación estándar 0.005

Tabla 4.18 Cálculo de incertidumbres en la calibración de un analizador de canales usando un

medidor de longitud de onda.
Magnitud Sı́mbolo Valor Std Evaluación G C Contribución
X (nm) x u(x) n c U(x)

Incertidumbre medidor de referencia δλref 0.003 0.0005 B ∞ -1 −5.200 × 10−4

Longitud de onda de referencia λref 1519.9196 0.000316228 A 9 -1 −3.162 × 10−4
Resolución del medidor de referencia δλref 0 0.0003 B ∞ -1 2.887 × 10−4
Longitud de onda medida λOSA 1519.907 0.000316228 A 9 1 3.162 × 10−4
Resolución de muestreo δλres 0 0.0006 B ∞ -1 5.774 × 10−4
Resolución de rendija δλrend 0 0.0143 B ∞ 1 1.429 × 10−2

Factor de corrección ∆λ -0.0156 Σ U(x) 0.0143197

Factor de cobertura k 2.0000061
Resultado -0.0156 0.0286

4.5 Mezcla de cuatro ondas (FWM)

Para los métodos de calibración desarrollados hasta el momento es necesario disponer de
láseres de emisión conocida, o células de absorción de gases en la región de interés a fin

143
de poder calibrar los medidores de longitud de onda o los Fabry-Perot. Sin embargo las
bandas de emisión de láseres de referencia o las lı́neas de absorción de gases bien definidas,
no siempre cubren completamente las bandas de interés de los sistemas de comunicaciones
por fibra óptica. Para extender las calibraciones a otras longitudes de onda puede utilizarse
la mezcla de cuatro ondas.

La mezcla de cuatro ondas es un fenómeno no lineal que se produce en la fibra óptica

cuando se propagan señales a altas potencias, por el cual cuando se propagan varias ondas
a frecuencias f1 , f2 ,...., fn , la dependencia del ı́ndice de refracción con la intensidad del
campo óptico aplicado no sólo induce desplazamientos de fase de cada canal sino también
la aparición de nuevas ondas a frecuencias fi ± fj ± fk , es decir, en las interacciones FWM
a partir de tres señales con tres longitudes de onda diferentes se generan nueve señales cada
una con longitud de onda distinta. Entre estas señales, cuando las longitudes de onda que
interaccionan se encuentran próximas a la longitud de onda de dispersión nula se cumple la
relación f = fi + fj − fk , con i, j 6= k, puede producirse a potencias relativamente bajas ya
que cumplen la relación de adaptación de fase.

La eficiencia de de esta interacción no lineal depende en gran medida de la adpatación de

fase entre las distintas componentes frecuenciales involucradas, siendo esta eficiencia máxima
cuando la diferencia de fase es nula. La dispersión cromática es un parámetro clave que
determina la adaptación de fase en una fibra óptica. Tanto experimental como teóricamente
se ha demostrado que la eficiencia de la FWM es máxima cuando se está en la región de
dispersión nula de la fibra disminuyendo rápidamente conforme nos alejamos de esta longitud
de onda. Como esto es una interacción entre la materia y los campos eléctricos de varias
ondas viajantes, éstas deben tener polarizaciones iguales para maximizar la interacción.

Este fenómeno se considera perjudicial para un sistema de telecomunicaciones porque

contribuye a la degradación del sistema en las transmisiones de canales múltiples, sin embargo
puede ser usado para sintetizar frecuencias ópticas que estén convenientemente localizadas,
ya sea obteniendo las frecuencias ITU o bien próximas a un estándar de referencia que no
esté tan bien conocido, permitiendo medidas directas de frecuencia. Pueden usarse también
para la generación de frecuencias conocidas en la calibración de medidores de longitud de
onda de referencia.

La mezcla de cuatro ondas (FWM) en fibras ópticas permite aumentar el rango de lon-
gitudes de onda para estándares basados en células de gas. Las referencias ópticas de fre-
cuencia basadas en láseres fijados en las transiciones del Acetileno y del HCN se usan en la
región espectral de los 1500 nm para proporcionar referencias absolutas de frecuencia con

144
alta precisión en las bandas de telecomunicaciones de fibra óptica. Sin embargo, el rango de
longitudes de onda válido está restringido y las transiciones no van a estar localizadas en
las frecuencias ópticas más convenientes mientras que los canales de los sistemas de teleco-
municaciones operan en una región fija de frecuencias con un espaciado de 50 o 100 GHz,
centrados en 193.1 THz (región ITU). Mediante la adecuada selección de las transiciones es
posible sintetizar lı́neas que estén muy cercanas o coincidan con las frecuencias ITU.

Para una fibra con longitud de onda de dispersión nula uniforme, la falta de concordancia
de fase en la región de dispersión nula viene definida por la ecuación 4.12:

πλ4 dDc
∆β = − [(fi − f0 ) + (fj − f0 )](fi − fk )(fj − fk ) (4.12)
c2 dλ

con:
λ: longitud de onda.
Dc : dispersión cromática de la fibra.
fi , fj y fk : frecuencias de las señales de entrada.
f0 : frecuencia de dispersión nula.
c: velocidad de la luz en el vacı́o.

Se puede ver que la condición de adapatación de fase (∆β = 0) siempre se satisface cuando
la longitud de onda (frecuencia) de dispersión nula está situada en el medio, entre las dos
señales de frecuencias fi y fj , es decir, fi − f0 = −(fj − f0 ). A partir de esta condición y
siendo la frecuencia de la señal producto de la FWM: fF = fi + fj − fk = 2f0 − fk , entonces
fk − f0 = −(fF − f0 ). Por tanto, la señal producto de la FWM es generada a la misma
distancia frecuencial pero al lado opuesto de la longitud de onda de frecuencia fk respecto
de f0 , esto es lo que se conoce como caso no degenerado de FWM y podemos verlo en la
figura 4.16.

La mezcla de cuatro ondas degenerada se da cuando dos de las tres señales ópticas tiene
la misma frecuencia, fi = fj , en este caso la condición de concordancia de fase siempre
se cumple cuando fi coincide con la frecuencia de la longitud de onda de dispersión nula,
fi = f0 , y la frecuencia de la señal producto de la mezcla de cuatro ondas será fF = 2fi − fk .

Sı́ntesis de los puntos de la red ITU

Seleccionando las transiciones en el gas de referencia, los productos de la FWM pueden

ser generados de manera que coincidan con las frecuencias ITU. Además usando C213 H2 , por
ejemplo, las lı́neas pueden ser generadas en un amplio rango, extendiéndose dentro de las
bandas L y S. La magnitud hasta la que puede comprender este rango ampliado dependerá

145
 Figura 4.16 Mezcla de cuatro ondas no degenerada.

de la selección de una fibra óptica con las caracterı́sticas de dispersión apropiadas. Será
posible combinar fibras ópticas con diferentes caracterı́sticas de dispersión en las longitudes
adecuadas obtener las longitudes de onda nuevas en las regiones apropiadas.

146
Tabla 4.19 Combinaciones de longitudes de onda, λi y λj , ancladas en lı́neas de absorción del
acetileno que originarán un producto de FWM dentro del rango de 40 GHz de una lı́nea de absorción
del CO.
λi C13
2 H2 λj C13
2 H2 λFWM CO ∆ν(GHz)
1532.864 P(5) 1552.968 P(32) 1573.767 R(0) 19.504
1533.411 P(6) 1552.968 P(32) 1572.868 R(1) -19.706
1538.563 P(15) 1552.968 P(32) 1567.324 R(8) -39.19
1534.521 P(8) 1552.968 P(32) 1571.995 R(2) 15.9
1535.083 P(9) 1552.968 P(32) 1571.149 R(3) -15.222
1536.222 P(11) 1552.968 P(32) 1570.331 R(4) 30.081
1536.799 P(12) 1552.968 P(32) 1569.539 R(5) 7.035
1537.382 P(13) 1552.968 P(32) 1568.774 R(6) -12.127
1537.969 P(14) 1552.968 P(32) 1568.036 R(7) -27.66
1539.161 P(16) 1552.968 P(32) 1567.324 R(8) 36.52
1539.766 P(17) 1552.968 P(32) 1566.639 R(9) 29.458
1540.376 P(18) 1552.968 P(32) 1565.982 R(10) 26.158
1540.993 P(19) 1552.968 P(32) 1565.35 R(11) 26.885
1541.615 P(20) 1552.968 P(32) 1564.746 R(12) 31.372
1541.615 P(20) 1552.968 P(32) 1564.168 R(13) -39.425
1542.244 P(21) 1552.968 P(32) 1564.168 R(13) 39.885
1542.244 P(21) 1552.968 P(32) 1563.616 R(14) -27.703
1542.789 P(22) 1552.968 P(32) 1563.091 R(15) -12.066
1543.524 P(23) 1552.968 P(32) 1562.593 R(16) 7.969
1544.169 P(24) 1552.968 P(32) 1562.121 R(17) 31.166
1544.169 P(24) 1552.968 P(32) 1561.676 R(18) -23.539
1544.825 P(25) 1552.968 P(32) 1561.258 R(19) 7.428
1545.415 P(26) 1552.968 P(32) 1560.866 R(20) 33.28
1545.415 P(26) 1552.968 P(32) 1560.5 R(21) -11.717
1546.176 P(22) 1552.968 P(32) 1559.848 R(23) 3.507
1546.176 P(22) 1552.968 P(32) 159.562 R(24) -31.743
1547.487 P(24) 1552.968 P(32) 1558.684 R(28) 24.138
1547.487 P(24) 1552.968 P(32) 1558.53 R(29) 5.22
1547.487 P(24) 1552.968 P(32) 1558.404 R(30) -10.418
1547.487 P(24) 1552.968 P(32) 1558.303 R(31) -22.772
1547.487 P(24) 1552.968 P(32) 1558.23 R(32) -31.839

147
148
Capı́tulo 5

Realización de un patrón de
frecuencias

5.1 Introducción

En este capı́tulo se va a proceder a la descripción detallada del procedimiento empleado,

del montaje utilizado, ası́ como del programa desarrollado para la realización del patrón de
frecuencias.

El objetivo surge de la necesidad de disponer de patrones de longitud de onda (frecuencia)

estables y bien definidos a partir de fuentes de luz láser, lo cual permitirı́a su utilización
para la calibración tanto de analizadores de espectros ópticos como analizadores de canales
o medidores de longitud de onda. Además es necesario que este patrón funcione de ma-
nera automática de forma que se asegure la máxima precisión y que tenga una estabilidad
suficiente dentro de unos márgenes de incertidumbre adecuados.

Hay que hacer notar que los estudios y los datos obtenidos se han realizado en la región
del infrarrojo, en la ventana de los 1500 nm, más concretamente entre 1510 nm y 1540 nm. La
elección de esta ventana se debe a su gran importancia en el campo de las telecomunicaciones
a través de fibra óptica ya que es en esta ventana donde se ha conseguido minimizar la
atenuación de potencia a través de la reducción de los fenómenos de absorción y dispersión
en las fibras.

149
5.2 Descripción de la metodologı́a
El método pensado para la realización del patrón de frecuencia es fijar una emisión de
una fuente en las absorciones de compuestos conocidos, usados como referencia. Entre las
numerosas fuentes de luz disponibles en el Departamento de Metrologı́a del Instituto de
Fı́sica Aplicada del CSIC, lámparas espectrales, láseres sintonizables, láseres FP y DFBs y
diodos emisores de luz LEDs, se han elegido los láseres sintonizables y DFBs como fuentes
más idóneas para la presente aplicación por ser de espectro estrecho pudiendo ası́ ser fijados
en las longitudes de onda de las absorciones.

En principio, las absorciones atómicas o moleculares pueden proporcionar referencias de

longitud de onda estables ante condiciones medioambientales cambiantes tales como tem-
peratura y presión o la presencia de campos electromagnéticos. En la región de interés para
las comunicaciones ópticas existen lı́neas de absorción atómicas del Kriptón por ejemplo,
pero éstas están muy aisladas para poder realizar una escala regular de longitudes de on-
da de referencia. Sin embargo, como hemos indicado en el capı́tulo anterior son varias las
transiciones moleculares en la región de 1500 nm. La banda rotacional-vibracional ν 1 +ν3 del
acetileno 12 C2 H2 contiene 50 lı́neas de absorción entre 1510 y 1540 nm. La banda rotacional-
13
vibracional del acetileno C2 H2 se extiende desde 1520 a 1550 nm. Otro compuesto útil en
esta banda del espectro es el cianuro del hidrógeno H 13 C 14 N con lı́neas de absorción entre
1530 y 1565 nm. De igual manera otros compuestos como CO2 , CO, CH4 , etc, poseen lı́neas
de absorción entre 1240 y 1640 nm, como para poder realizar patrones de frecuencia en todas
las longitudes de onda actualmente utilizadas en comunicaciones por fibra óptica y las que
pueden utilizarse en un futuro próximo.

Con estas perspectivas, y usando DFBs y láseres sintonizables con los cuales se consigue
cubrir una amplia región espectral comprendida entre 1220 nm y 1640 nm de manera con-
tinua, podemos pensar en la posibilidad de realizar patrones de frecuencias en esta ventana,
seleccionando adecuadamente los gases de referencia y realizando un sistema automático de
fijación del laser a cada una de las frecuencias de referencia.

Para la realización de este procedimiento de fijación de frecuencias, todo el método que

vamos a describir en este capı́tulo se centrará en el uso de un DFB o un láser sintonizable con
12
una célula de absorción de acetileno C2 H2 , procurando que el sistema pueda ser aplicado
a cualquier otra célula de absorción disponible.

De aquı́ en adelante, se hará referencia como fuente de luz, a un láser sintonizable ya que
es con el que se ha obtenido una mayor precisión y mejores resultados, además está el hecho

150
de que el intervalo de longitudes de onda del DFB empleado es muy pequeño (1529.500
a 1531.202 nm) comparado con el de los láseres sintonizables, existiendo tan sólo en ese
12
intervalo tres lı́neas de absorción del acetileno C2 H2 , la lı́nea P8 en 1529.1799 nm, la lı́nea
P9 en 1529.3711 nm y la lı́nea P10 en 1530.97627 nm.

Para fijar el láser en una longitud de onda (frecuencia) se hace uso de una célula de
absorción de acetileno calibrada por el NIST, y que ya fue descrita en profundidad en el
capı́tulo 3 apartado 4.3. El funcionamiento es el siguiente, cuando el haz de luz procedente
del láser sintonizable se introduce mediante fibra óptica en la célula, el gas acetileno contenido
a cierta presión (6.7 kPa o 50 Torr) dentro de esta célula absorberá parte de la potencia
incidente, la cantidad de potencia absorbida dependerá de la longitud del camino recorrido
por el haz incidente dentro de la célula, de lo próxima que esté la longitud de onda del haz
incidente de algún centro de lı́nea de absorción del acetileno y de lo fuerte que sea esa lı́nea
de absorción.

Estas lı́neas tienen distinta absorción, es decir, habrá unas lı́neas más fuertes que otras,
de todas maneras son fijas y están bien definidas, tal y como se pudo ver en la figura 4.13
del capı́tulo 4.

Por tanto, a la salida de la célula, la potencia del haz habrá disminuido tanto más cuanto
más cerca del centro de lı́nea se encuentre la longitud de onda del haz de luz, de manera que
realizando barridos en longitud de onda (frecuencia) con el láser sintonizable y obteniendo
la potencia a la salida de la célula podremos centrar el láser sintonizable en alguno de los
centros de lı́nea de absorción de la célula de acetileno.

Para cada uno de los puntos de barrido y a través de un detector y un multı́metro

operando como medidor de tensión se obtiene la tensión, con la cual y mediante software se
calcula la potencia relativa del haz de luz a la salida de la célula de absorción en dB.

Todas las fases se desarrollan automáticamente una detrás de otra sin que el usuario
tenga que preocuparse de nada, tan sólo debe introducir los datos iniciales en la fase de
barrido grueso. La interfaz gráfica de usuario está, por tanto, diseñada para que pueda ser
utilizada por cualquier persona sin necesidad de que posea grandes conocimientos sobre la
materia.

Pese a que tanto el barrido grueso como el barrido fino se controlan mediante software
a través del ordenador, hay importantes diferencias en cómo el láser sintoniza las distintas
frecuencias en cada barrido.

151
 En el barrido grueso, la sintonı́a se logra rotando mecánicamente la red de difracción
interna del mismo, siguiendo el esquema de la figura 5.1.

Figura 5.1 Sintonı́a del láser sintonizable en barrido grueso.

El doble paso que realiza el haz de luz por la red de difracción favorece una mayor
dispersión contribuyendo a una mejor pureza espectral de la longitud de onda elegida. El
recubrimiento antireflejante de la superficie del diodo favorece también la pureza espectral
protegiendo la cavidad láser frente a cualquier tipo de interferencia.

En el barrido fino, la sintonı́a se consigue modificando la corriente de excitación, mediante

una tensión continua.

Respecto a la estabilidad temporal de la fuente de luz, se han analizado dos factores que
podrı́an afectar negativamente a los procesos de calibración:

¦ Por un lado, la estabilidad de la potencia de salida de la fuente, ésta permanece invariable

con el paso del tiempo, esto puede verse en la figura 5.2 donde la variabilidad de la
potencia del láser sintonizable es inferior a 0.005 dB, por lo que se ha descartado como
posible causa de errores en el proceso de calibración. En esta figura, la potencia que se
calcula es relativa, empleando para ello la ecuación 5.1, siendo la tensión de referencia
(V0 ) la tensión en el instante inicial y Vi la tensión en el instante i-ésimo.

P otencia(dB) = 10 log(Vi /V0 ) (5.1)

¦ Por otro lado, la eventual inestabilidad de longitud de onda de la fuente con el paso del
tiempo, que es cuantificable observando la potencia transmitida a través de la célula
de acetileno para una frecuencia fija y centrada a lo largo del tiempo .

152
 Figura 5.2 Estabilidad de potencia del láser sintonizable durante 40 minutos.

En esta situación, cualquier variación en la potencia nos indicará que la fuente ha

perdido su alineamiento inicial, es decir, ha variado levemente su frecuencia de emisión
respecto de la inicial. Además, estudiando cómo es esa variación de potencia se podrá
determinar cuál es el periodo de realineamiento del láser. Ası́ es como se ha llevado a
cabo el análisis de estabilidad en este procedimiento.

153
5.3 Descripción instrumental
El montaje utilizado se muestra en la figura 5.3, si bien el medidor de longitud de onda
no es necesario para la realización del patrón pero se ha aprovechado el montaje para la
calibración del mismo.

Figura 5.3 Montaje empleado en la realización de un patrón de frecuencias.

Las principales caracterı́sticas de cada uno de los elementos utilizados se describen a

continuación:

⊕ Fuente de luz: Fundamentalmente se ha utilizado un diodo láser GN Nettest TUNICS-

Plus de cavidad externa. Este láser dispone de una salida para fibra óptica monomodo
con una divergencia de salida de 0.18 rad, y conectores FC/APC para evitar inter-
reflexiones que provocarı́an inestabilidades. El intervalo de longitudes de onda a la
que el láser emite es de 1410 nm a 1550 nm. También se han empleado otros láseres
del mismo tipo con diferente intervalo de longitudes de onda pero siempre abarcando
la ventana de los 1510 a 1540 nm y asegurándonos de que el láser no tiene “mode
hopping”en nuestra región espectral de trabajo. Probando con las otras fuentes láser,
nos aseguramos la posibilidad de usar el programa con otras células de absorción.
La tabla 5.1 muestra las especificaciones del fabricante más interesantes de la fuente
láser.

154
 Tabla 5.1 Especificaciones del láser sintonizable empleado

Caracterı́sticas de sintonización
Precisión absoluta en longitud de onda ±0.04 nm
Repetibilidad de sintonización ±0.005 nm
Resolución por defecto 0.001 nm
Frecuencia óptica de sintonizado fino ±2 GHz
Velocidad de sintonı́a 1 s (100 nm)
Caracterı́sticas de salida
Potencia Estándar 10 mW
Estabilidad de potencia ±0.01 dB
Ancho de lı́nea (control de coherencia OFF) 150 kHz (tı́pico)
Ancho de lı́nea (control de coherencia ON) >100 MHz
Relación de rechazo al modo lateral (SMSR) >45 dB
Interfaz
Interfaz Óptico conector FC-APC
Aislamiento de salida 35 dB
Pérdidas de retorno -60 dB
Modulación en baja frecuencia
modo APC 30 kHz a 8 MHz
modo corriente directa DC a 8 MHz
Modulación en alta frecuencia 30 kHz a 1 GHz
Caracterı́sticas ambientales
Rango operativo de temperatura +15 a +30 o C

155
 Adicionalmente a las fuentes tipo diodo láser también se utilizó una fuente tipo DFB
con un intervalo de longitudes de onda comprendido entre 1529.461 nm y 1531.163 nm,
salida óptica monomodo y divergencia de salida de 0.09 rad. También con un conector
FC/APC. Las especificaciones del DFB se muestran en la tabla 5.2.

⊕ Célula de absorción de Acetileno: En el capı́tulo 3 se realizó una descripción detalla-

da de la célula de absorción de acetileno 12 C2 H2 (SRM 2517a), por lo que nos remitimos
a ese capı́tulo para este apartado, simplemente recordar que el rango espectral de la
célula es de 1510 a 1540 nm, la longitud del camino de absorción es de 5 cm, las lı́neas
de absorción son aproximadamente de 7 pm de ancho y la presión del acetileno dentro
de la célula es de 6.7 kPa (50 Torr). Esta célula está calibrada en el NIST, por lo
que nuestras medidas se trazarán de acuerdo a los patrones de frecuencia del NIST.
Este punto es muy importante, ya que el Departamento de Metrologı́a del CSIC no es
laboratorio primario en frecuencia o longitud de onda en España. El Centro Español
de Metrologı́a y el ROA (Real Observatorio de la Armada, asociado al CEM), labora-
torios depositarios de los patrones de longitud y frecuencia en España no disponen de
patrones en este intervalo espectral. Futuros desarrollos que se realicen en el Departa-
mento de Metrologı́a para realizar patrones de frecuencia o células de absorción deben
derivarse del patrón realizado en este proyecto.

⊕ Detector: Existen dos tipos de detectores sensibles para esta región espectral de 1500
nm, los detectores de InGaAs y los detectores de Germanio. Básicamente la diferencia
entre uno y otro es la situación de la longitud de onda de corte, a partir de la cual
la responsividad del detector decae muy rápidamente y hasta la cual la responsividad
crece de forma más o menos lineal, tal y como puede verse en la figura 1.30 del capı́tulo
1. En los detectores de Germanio, la longitud de corte está situada aproximadamente
en 1500 nm y para los detectores de InGaAs ésta se sitúa en 1600 nm, además, en la
región espectral de 1510 a 1540 nm, la responsividad de los detectores de InGaAs es
bastante horizontal no habiendo diferencias significativas para las distintas longitudes
de onda de esta región. Es por esto que se ha hecho uso de un detector de InGaAs
para determinar la potencia a la salida de la célula de acetileno.

⊕ Amplificador corriente-tensión: Este amplificador está compuesto por un amplifi-

cador operacional BURR-BROWN-OPA-128 dispuesto como inversor, con cuatro re-
sistencias de carga seleccionables de 10 kΩ, 100 kΩ, 1 MΩ y 10 MΩ que posibilitan la
selección de ganancia en los niveles de 104 a 107 (V/A) como se muestra en la figura
5.4. Las especificaciones del fabricante se muestran en la tabla 5.3

156
 Tabla 5.2 Especificaciones del DFB empleado

Caracterı́sticas de sintonización
Rango de sintonización
Precisión en longitud de onda
Estabilidad en longitud de onda
Caracterı́sticas de salida
Potencia máxima
Estabilidad de potencia
Ancho espectral(FWHM)
Error de linealidad de potencia
Relación de rechazo al modo lateral (SMSR)
1.6 nm (1.8 nm valor tı́pico)
±0.03 nm
0.005 nm/h, con calentamiento inicial
±0.005 nm/24 h (tı́pico), Ta constante
+10 dBm
0.01 dB/h, con calentamiento inicial
±0.01 dB/24 h (tı́pico), Ta constante
<30 MHz
±2% de la máxima potencia de salida
>40 dB

Figura 5.4 Amplificador corriente-tensión.

157
 Tabla 5.3 Especificaciones del Amplificador utilizado.

Máxima tensión offset

A 25o C (± mV) 0.5
Deriva de temperatura (±µV /o C) 5
Corriente Ibias
Valor máximo, 25o C (pA) ± 0.075
Ganancia a circuito abierto
Valor mı́nimo (dB) 110
Respuesta frecuencial
Ganancia unitaria (MHz) 1
Pendiente de caida (V/µs) 3
Mı́nima relación de salida
(±V) 10
(±mA) 5
Rango de temperatura 0 C a 70o C
o

⊕ Voltı́metro: Para medir la tensión (en continua) procedente del detector, se ha utilizado
un multı́metro digital HEWLETT-PACKARD modelo 3478A. Las especificaciones de
este multı́metro en tensión continua se pueden ver a continuación, para el modo de 5
1/2 dı́gitos que es el que usamos.

Caracterı́sticas de entrada

Tabla 5.4 Caracterı́sticas de entrada.

Rango Lectura Máxima Resolución

30 mV ±30.3099 mV 100 nV
300 mV ±303.099 mV 1µV
3V ±3.03099 V 10µV
30 V ±30.3099 V 100µV
300 V ±303.099 V 1 mV

158
Resistencia de entrada
Intervalo de 30 mV, 300 mV, 3 V: >100 GΩ
Intervalo de 30 V, 300 V: 10 M Ω ± 1%
Tensión máxima de entrada
303 V rms o 450 V de pico
a tierra: ±500 V de pico
Precisión de medida
±(% de la lectura + número de cuentas)
Auto-zero ON

Tabla 5.5 Precisión de medida.

Cal Temp Cal Temp

Rango ±1o C 24 horas ±5o C 90 dı́as
30 mV 0.025 + 40 0.0275 + 40
300 mV 0.004 + 4 0.007 + 5
3V 0.003 + 2 0.004 + 2
30 V 0.004 + 3 0.005 + 4
300 V 0.004 + 2 0.005 + 2

Coeficiente de temperatura
de 0o C a 55o C
Auto-zero ON
±(% de la lectura + número de cuentas)/o C

Tabla 5.6 Coeficiente de temperatura.

Rango Coef de temperatura

30 mV 0.0028 + 5.0
300 mV 0.0005 + 0.5
3V 0.0004 + 0.05
30 V 0.0006 + 0.5
300 V 0.0004 + 0.05

159
 Relaciones de lectura máximas (lecturas/sg)

Tabla 5.7 Relaciones de lectura máximas.

Frecuencia Auto Zero Resolución

Off 4.4
60 Hz On 2.3
Off 3.7
50 Hz On 1.9

⊕ Bus de comunicación: Para establecer la comunicación entre el PC y los diferentes

instrumentos se ha utilizado un bus IEEE-48 o GPIB.

La configuración fı́sica del bus GPIB y el protocolo de comunicaciones están definidos

por la norma IEEE-488.

Se trata básicamente de un bus paralelo al que pueden conectarse varios equipos.

Solamente un equipo puede transmitir en cada instante, siendo el controlador del bus
el responsable de determinar a ese equipo transmisor. No obstante, pueden ser varios
los receptores de mensajes procedentes del controlador.

El bus consta de ocho lı́neas, denominadas lı́neas de datos, las cuales pueden ser usadas
para el envı́o de comandos multilı́nea desde el controlador y para transferir mensajes
entre instrumentos presentes en el bus. Además existen otras cinco lı́neas de órdenes:
ATN, REN, IFC, SRQ y EOI. Estas lı́neas sirven, respectivamente, para indicar que
la información que circula por el bus es un comando, para poner los instrumentos en
estado de retorno, para limpiar los interfaces de los instrumentos, para indicar una
petición de atención al controlador y para indicar el fin del mensaje.

Finalmente, existen tres lı́neas de protocolo: DAV, DAC y RFD, para indicar la validez
o no del dato que circula por el bus, que el dato ha sido aceptado y que el instrumento
está listo para recibir.

La transmisión de señales por estas lı́neas se hace empleando una tarjeta hardware
y un software regulado por la norma IEEE-488, que permite, mediante la llamada a
funciones, activar lı́neas y transmitir mensajes.

160
5.4 Descripción del entorno de programación
El sistema de programación que se ha utilizado para el manejo y control de los instru-
mentos anteriormente descritos es LabWindows/CVI, comercializado National Instruments
Corporation.

LabWindows/CVI es una potente herramienta de programación orientada a objetos con

numerosas librerı́as que facilitan el desarrollo de programas de manera visual para apli-
caciones de medida, análisis y adquisición de datos. LabWindows/CVI es un sistema de
desarrollo de software bajo entorno C que contiene un entorno interactivo para el desa-
rrollo de programas y que dispone librerı́as de funciones ya desarrolladas para el control de
instrumentos.

Este entorno ofrece un marco de trabajo muy útil para un laboratorio, puesto que permite
comunicarse con instrumentos a través de interfaces GPIB y RS-232, proporciona funciones
propias para análisis matemático de datos, funciones propias para representaciones gráficas
y funciones de control de diversas tarjetas de adquisición de datos (Analógicas y Digitales).

LabWindows proporciona diversos tipos de facilidades, tales como la de editar y compilar

programas en lenguaje C, uso de librerı́as, facilidad de creación y edición de paneles y la
facilidad de poder ejecutar en forma interactiva cualquier módulo de instrumento creado, o
función de librerı́a propia o programa, pudiendo incluso ejecutar trozos de programa.

5.5 Descripción Funcional

El programa está estructurado en cuatro fases interrelacionadas. Estas fases son:

·Inicialización
·Barrido Grueso
·Barrido Fino
·Estabilidad

5.5.1 Primera Fase: Inicialización

En esta fase de inicialización, el usuario podrá seleccionar el tipo de fuente de luz que va
a usar, DFB o láser sintonizable, deberá cargar en el programa las longitudes de onda de las
12
lı́neas de absorción del acetileno C2 H2 , que han sido certificadas por el NIST, y que están
almacenadas en un archivo.

161
 Esto proporciona una gran versatilidad ya que permite la posibilidad de utilizar otras
células de absorción con distinta presión, distinta longitud de camino óptico o con otro gas
12
diferente del acetileno C2 H2 , para ası́ poder realizar calibraciones con diferente precisión
y en otras regiones espectrales. Basta con tener almacenadas las lı́neas de absorción de esa
nueva célula en un fichero de texto. Las lı́neas de absorción útiles para este propósito deben
ser lı́neas de referencia evaluadas por estudios de espectroscopı́a molecular, por ejemplo los
registrados por la International Union of Pure and Applied Chemistry (IUPAC).

Cuando el usuario cargue las lı́neas de absorción, éstas aparecerán en una tabla tanto
en unidades de longitud de onda (nm) como su correspondencia en unidades de frecuencia
(GHz). El usuario deberá finalmente elegir las lı́neas (en frecuencia) para las que desea
realizar la fijación y estabilización de la fuente de luz.

Hay que resaltar que pese a que se puede seleccionar como fuente de luz un DFB o un láser
sintonizable, sólo en el caso del láser sintonizable se puede realizar la fase tres de Barrido Fino
ya que el DFB no ofrece esta posibilidad al carecer internamente de la mecánica adecuada y
de las correspondientes órdenes de programación, que sı́ dispone el láser sintonizable.

En las figuras 5.5 y 5.6 se puede ver, respectivamente, el diagrama de flujo de esta primera
fase y la interfaz gráfica de usuario.

5.5.2 Segunda Fase: Barrido Grueso

En esta segunda fase, una vez seleccionado el centro de lı́nea de absorción, se realiza un
barrido con el que se centrará el láser sintonizable en la absorción. Este barrido se lleva a
cabo con una precisión de 0.1 GHz (0.8 pm para esta ventana espectral), es decir, el láser
se va desplazando en frecuencia con un paso de 0.1 GHz, almacenándose en cada paso los
datos de frecuencia del láser (GHz) y de potencia relativa (dB) del haz de luz a la salida
de la célula de acetileno, medida con el detector de InGaAs, y que se van representando
gráficamente.

En esta fase, el usuario debe introducir inicialmente el ancho espectral sobre el que desea
realizar el barrido grueso junto con la potencia (en mW) de salida del láser sintonizable, este
último dato carece de importancia relevante en el resto del proceso. A continuación pasará a
introducir dos datos que serán posteriormente utilizados en la Fase de Estabilidad Temporal,
como son el tiempo (en minutos) de duración del proceso y el número de datos a tomar en
ese tiempo.

162
 Figura 5.5 Diagrama de flujo de la fase de Inicialización.

Acto seguido se deberá presionar el botón “COMENZAR” para iniciar el proceso. El

proceso comenzará notificando al usuario el modelo y marca de la fuente de luz empleada
para posteriormente pasar al barrido grueso en sı́. Si no aparece el modelo de la fuente de
luz, una llamada de error avisará de que la conexión IEEE con el láser no ha funcionado
adecuadamente.

A partir del dato de ancho espectral introducido por el usuario y del centro de lı́nea
de absorción seleccionado en la fase anterior, el programa sitúa el láser en una frecuencia
inferior a la del centro de lı́nea y a una distancia de la mitad del ancho espectral elegido,
éste será el punto de comienzo del barrido grueso.

163
Figura 5.6 Interfaz gráfica de la fase de Inicialización.

164
 El programa almacena el dato de tensión, proporcionado por el multı́metro digital, para
esta frecuencia de inicio, que será utilizado como tensión de referencia (V0 ) con la que cal-
cular la potencia relativa, en dB, transmitida a través de la célula para el resto de puntos
frecuenciales del barrido. En el cálculo de la potencia relativa se emplea la expresión 5.2.

P otencia(dB) = 10 log(Vi /V0 ) (5.2)

con:
Vi : tensión del punto frecuencial i-ésimo del barrido.
V0 : tensión en el punto de frecuencia inicial.

Con el fin de reducir el efecto de la leve inestabilidad observada en el último dı́gito del
multı́metro digital, de cada punto frecuencial se toman 10 medidas de tensión y se calcula
la media, siendo con este valor medio con el que se calcula la potencia relativa en dB.

Una vez que se ha finalizado el barrido sobre el rango espectral elegido y almacenados los
datos de frecuencia y potencia relativa, el programa calcula y muestra la mı́nima potencia y
la frecuencia correspondiente, que también se puede visualizar en el gráfico representado.

Esta frecuencia de mı́nima potencia transmitida será la primera aproximación al centro

de la lı́nea de absorción, ya que significará que para esta frecuencia la absorción de potencia
dentro de la célula es máxima.

En esta fase también se establecen tres umbrales necesarios para la etapa siguiente de
barrido fino, el valor de estos umbrales dependerá de si la lı́nea de absorción es intensa o
no. Se han considerado como lı́neas de absorción intensa aquellas es las que, a partir de los
datos de potencia obtenidos en el barrido grueso, la diferencia entre el centro de lı́nea y el
punto inicial o final de barrido supera los 4 dB.

Esta clasificación es necesaria porque experimentalmente se pudo comprobar que cuando

se realizaba el barrido fino sobre una lı́nea de absorción poco intensa, la zona próxima al
centro de lı́nea era mucho más plana, menos abrupta que para el caso de una lı́nea de
absorción intensa, es decir, la variación de potencia entre un punto y otro del barrido fino
era muy pequeña, haciéndose necesarios unos umbrales de potencia inferiores con el fin de
no llegar al lı́mite del ancho de barrido y hacer el proceso más rápido.

El programa calcula además el ancho espectral (en GHz) de la lı́nea de absorción a 3 dB

por encima del punto mı́nimo (FWHM).

165
 En la figura 5.7 se muestra el diagrama de flujo de esta segunda fase, la figura 5.8 nos
enseña el diagrama de flujo de la rutina de Barrido Grueso y en la figura 5.9 se puede ver la
pantalla de visualización para el usuario.

Figura 5.7 Diagrama de flujo de la fase de Barrido Grueso.

5.5.3 Tercera Fase: Barrido Fino

En esta fase se va a realizar un barrido con un paso diez veces más pequeño que en el
barrido grueso, es decir, ahora el desplazamiento en frecuencia de la fuente de luz (sólo para
el láser sintonizable) será de 0.01 GHz (0.08 pm en esta ventana espectral).

Es aquı́ donde se va a localizar el centro de la lı́nea de absorción con mucha mayor

precisión fijando el láser en esa frecuencia.

Para eludir posibles errores sistemáticos a la hora de realizar el barrido fino provenientes
de moverse en frecuencia siempre en un mismo sentido, normalmente ascendente, se ha
optado por realizar un barrido oscilante, en el cual se comenzará incrementando la frecuencia
hasta que se supere una valor umbral de potencia, después se decrementará hasta sobrepasar
otro umbral y finalmente volverá a incrementarse la frecuencia acabando cuando, de nuevo,
se supere otro valor umbral.

166
Figura 5.8 Diagrama de flujo de la rutina de Barrido Grueso.

Figura 5.9 Interfaz gráfica de la fase de Barrido Grueso.

167
 El programa comenzará centrando el láser sintonizable en la frecuencia de máxima ab-
sorción de potencia localizada en el barrido grueso, acto seguido empezará a incrementarse
la frecuencia del láser con un paso de 0.02 GHz (Barrido 1), almacenándose para cada punto
frecuencial los datos de potencia relativa y frecuencia, que también son representados en un
gráfico. Ası́ seguirá hasta que la diferencia entre la potencia medida en la frecuencia actual
y la mı́nima potencia de entre las calculadas hasta ahora sobrepase un valor lı́mite (umbral
1). En este primer barrido ascendente se ha optado por un paso de 0.02 GHz con el fin de
reducir el tiempo de proceso y comprobando, de forma experimental, que el paso en esta
primera etapa no influye en absoluto en la localización del centro de lı́nea.

A continuación, la frecuencia del láser irá decrementándose con un paso de 0.01 GHz
(Barrido 2), almacenando y representando igualmente los datos de frecuencia y potencia
relativa. Este barrido descendente continuará hasta que la diferencia entre la potencia medida
en la frecuencia actual y la mı́nima potencia de entre las calculadas hasta ahora supere un
valor lı́mite (umbral 2). El programa guarda la potencia mı́nima obtenida en este barrido
descendente y la frecuencia correspondiente.

Finalmente, la frecuencia del láser vuelve a incrementarse con un paso de 0.01 GHz
hasta que como en los casos anteriores se vuelve a superar un tercer valor lı́mite (umbral 3).
También se almacena la frecuencia para la que se obtiene la menor potencia relativa en este
último barrido ascendente.

De esta manera concluye el barrido fino, el programa entonces muestra al usuario las
frecuencias de máxima absorción (menor potencia relativa) tanto del barrido 2 como del
barrido 3, ası́ como la mı́nima potencia relativa del barrido 2.

Por último, se centra el láser en la frecuencia de máxima absorción del barrido 2 (barrido
descendente), con esto el sistema queda preparado para empezar la cuarta y última fase de
estabilidad temporal.

Las figuras 5.10, 5.11, 5.12, 5.13 y 5.14 representan, respectivamente, el diagrama de flujo
de esta fase de barrido fino, los diagramas de flujo de los Barridos 1, 2 y 3 que componen el
barrido fino y la pantalla de interfaz gráfica del usuario.

5.5.4 Cuarta Fase: Estabilidad Temporal

Dos de las caracterı́sticas de los láseres son su capacidad para emitir grandes potencias y
de operar durante periodos largos de tiempo, por otro lado y pese a que se están logrando
importantes avances, un inconveniente es su pérdida de estabilidad con el tiempo. Esto

168
 Figura 5.10 Diagrama de flujo de la fase de Barrido Fino.

puede afectar a las medidas y calibraciones realizadas con el mismo láser durante periodos
de tiempo relativamente largos.

Cuando se calibra un cierto número de equipos, haciendo uso de la misma fuente de luz,
se puede emplear un tiempo considerable en ello por lo que se hace necesario conocer cuándo
el láser puede haberse desestabilizado perdiendo las condiciones de funcionamiento originales
y saliéndose del valor de incertidumbre certificado inicialmente.

Es por esto que en esta última fase, se analiza la pérdida de estabilidad del láser sintoni-
zable empleado. Para ello, teniendo el láser centrado en la frecuencia de máxima absorción
y a partir de los datos introducidos por el usuario en la pantalla de Barrido Grueso (segunda
fase) correspondientes al tiempo total del análisis de estabilidad y al número de muestras
que se quieren tomar, el programa calcula el intervalo de tiempo entre cada muestra sin más
que dividir el tiempo total entre el número de muestras.

A partir de entonces, el programa va tomando datos de potencia relativa espaciados por

el intervalo de tiempo antes calculado.

169
 Figura 5.11 Diagrama de flujo del Barrido 1.

La potencia es relativa a la primera muestra, que corresponde al instante de tiempo inicial

y cuyo valor de tensión obtenido del multı́metro se toma como valor de referencia (V 0 ).

El programa continúa tomando medidas hasta que la potencia transmitida a través de

la célula (potencia relativa) supera el valor de 0.2 dB, a partir de entonces el proceso de
análisis de estabilidad se detiene y se vuelve al proceso de barrido fino para alinear de nuevo
el láser. Una vez que se ha alineado el láser se continuará con el análisis de estabilidad, ası́
hasta que se acabe el tiempo de estudio.

La razón de la elección de 0.2 dB como valor lı́mite para el realineamiento del láser se
explicará en el apartado de “Resultados y Análisis de datos”, aunque se puede anticipar que
este valor determina el instante en el que el láser se ha desalineado 1 pm respecto del centro
de la lı́nea de absorción.

170
 Figura 5.12 Diagrama de flujo del Barrido 2.

En las figuras 5.15 y 5.16 se muestran, respectivamente el diagrama de flujo y la pantalla

gráfica de la fase de estabilidad.

171
Figura 5.13 Diagrama de flujo del Barrido 3.

172
Figura 5.14 Interfaz gráfica de la fase de Barrido Fino.

173
Figura 5.15 Diagrama de flujo de la fase de Estabilidad.

174
Figura 5.16 Pantalla de visualización de la fase de Estabilidad.

175
5.6 Resultados y Análisis de datos

5.6.1 Análisis de Barrido Fino

Mediante el barrido fino se han estudiado diferentes lı́neas de absorción de mayor o menor
intensidad. Los datos de potencia y frecuencia almacenados durante el proceso han permitido
iniciar la búsqueda de un modelo que defina las lı́neas de absorción. Para ello, los datos de
cada lı́nea de absorción han sido ajustados mediante una función Lorentziana cuya expresión
es la siguiente:

2A W
Y = Y0 + ( )( ) (5.3)
π 4(X − Xc )2 + W 2
siendo:
Y0 : constante que determina la ordenada inicial de la Lorentziana.
A, W: constantes que determinan de manera correlacionada la amplitud y el ancho de
la Lorentziana.
Xc : abscisa central de la Lorentziana.

La forma de las lı́neas de absorción, estrictamente, responde a una función tipo Voigt, que
es la convolución de una Lorentziana y una Gaussiana, sin embargo, emplear una función
Lorentziana simplifica la modelización y agiliza el proceso. El resultado de emplear una
función Lorentziana para realizar el ajuste, de manera completa, sobre una lı́nea de absorción
particular se puede ver en la figura 5.17, comprobándose que el modelo Lorentziano es
ciertamente aproximado a la realidad, siendo los errores mı́nimos.

El ajuste de la función Lorentziana para algunas lı́neas de absorción puede verse en las
figuras 5.18, 5.19 y 5.20.

Este ajuste ha sido necesario debido a que como muestra en estas figuras, el tramo de
mı́nima potencia relativa es bastante plano, y por razones de pequeñas inestabilidades bien
en el láser, bien en el multı́metro, o por temperatura, se puede obtener como mı́nimo (centro
de lı́nea de absorción) un punto que no es consecuente con la tendencia del resto de puntos.
El ajuste Lorentziano permite salvar este problema con el fin de localizar adecuadamente el
punto de mı́nima potencia y, como se señalará a continuación, poder calcular variaciones de
potencia y de longitud de onda respecto de este punto mı́nimo.

176
 Figura 5.17 Ajuste Lorentziano para la lı́nea R9 completa.

Con los datos del ajuste de la función Lorentziana para ciertas lı́neas, se ha estudiado
cuál es el desplazamiento en longitud de onda (pm) que implica una variación de potencia
de 1 dB respecto del centro de la lı́nea, tal y como se puede ver en la figura 5.21. Para ello
se ha utilizado la expresión 5.4, derivada de la ecuación 5.3.

v
AW W2
u
u
X = Xc + t − (5.4)
2π(Y − Y0 ) 4

El procedimiento ha sido el siguiente, a partir de los datos de mı́nima potencia (Ymin ) en

dB y frecuencia o longitud de onda (Xc ) correspondiente, del ajuste de la función Lorentziana,
se añade 1 dB a la potencia mı́nima y se calcula la longitud de onda empleando la ecuación
5.4, después bastará con restar ambas longitudes de onda para obtener la variación en pm
que implica una deriva de 1 dB de potencia.

177
Figura 5.18 Barrido Fino y ajuste Lorentziano para la lı́nea P9.

Figura 5.19 Barrido Fino y ajuste Lorentziano para la lı́nea P4.

178
Figura 5.20 Barrido Fino y ajuste Lorentziano para la lı́nea R11.

Figura 5.21 Ajuste Lorentziano para la lı́nea R11.

179
 Los resultados obtenidos en relación con la transmitancia normalizada de la lı́nea corres-
pondiente se muestran en la tabla 5.8.

Tabla 5.8 Desplazamiento (∆) en pm que implica una variación de 1 dB de potencia.

Lı́nea Transmitancia Normalizada ∆ (pm)

R17 0.34 1.774
R11 0.09 1.351
R1 0.42 2.951
P4 0.6 4.640
P6 0.48 3.299
P9 0.09 1.323
P3 0.31 2.313
P5 0.15 1.554

Estos datos han sido ajustados usando una función polinómica de 2o grado y el resultado
puede verse en la figura 5.22.

Figura 5.22 Ajuste de un polinomio de 2o grado.

Este resultado nos permite estimar el desplazamiento en longitud de onda (pm) que
produce una variación de potencia de 1 dB para otras lı́neas de absorción sin más que conocer
la transmitancia normalizada de la lı́nea, siendo éste un dato obtenido del certificado de la
célula de absorción.

180
5.6.2 Análisis de la Estabilidad
El estudio de la estabilidad nos permite conocer el periodo de tiempo en el que el láser
permanece alineado en el centro de la lı́nea de absorción con un error adecuado, en nuestro
caso queremos que cuando el láser se desplace, aproximadamente, 1 pm respecto del centro
de lı́nea en el que estaba anclado se vuelva a alinear. Esto nos permitirá asegurar que el
láser permanecerá alineado en una longitud de onda con un error de 1 pm.

Como ejemplo, la figura 5.23 muestra la estabilidad del láser sintonizable durante 45
minutos después de haber sido alineado en el centro de la lı́nea P9 (1530.3711 nm o 195895.3
GHz)

Figura 5.23 Medida de la estabilidad del láser sintonizable en la lı́nea P9 durante 45 minutos.

Como se puede comprobar en ella, el láser permanece muy estable durante los primeros
20 minutos, después la potencia empieza a subir de manera más abrupta, lo cual nos indica
que el láser sintonizable se ha desalineado, ya no se encuentra sintonizado en el centro de la
lı́nea de absorción sino que se ha desplazado levemente a uno u otro lado, la potencia que se
absorbe, entonces, en la célula es menor y por tanto la potencia transmitida crece.

181
Figura 5.24 Medida de la estabilidad del láser sintonizable en la lı́nea P6 durante 10 minutos.

En la figura 5.24 se puede ver el mismo de fenómeno crecimiento de potencia transmitida,

esta vez para la lı́nea P6 (1528.5939 nm o 196123.05 GHz) y durante 10 minutos.

En esta fase se ha elegido el valor de 0.2 dB como lı́mite de potencia transmitida, a partir
del cual se debe volver a alinear el láser con el barrido fino. La elección de este valor se debe
a que cuando se supera éste, el láser se ha desplazado en longitud de onda por encima de 1
pm respecto del centro de la lı́nea de absorción en el cual estaba fijado, para el caso de una
lı́nea de absorción media, como son P6 y P4. Para lı́neas de absorción más intensas, esta
variación puede verse en la tabla 5.9.

De esta manera podemos asegurar que para las lı́neas de absorción intensas o relativa-
mente intensas, ejemplos de las cuales son las lı́neas P9 y la P6 respectivamente, el láser
puede permanecer anclado en el centro de las mismas durante 20 o 30 minutos, sin necesidad
de volver a realinear el láser, con un error de 1 pm. Este tipo de lı́neas serán las que se
utilicen para calibración ya que las lı́neas de absorción débiles son más inestables.

182
 Tabla 5.9 Desplazamiento (∆) en pm que implica una variación de 0.2 dB de potencia.

Lı́nea ∆ (pm)
R17 0.585
R11 0.583
R1 1.068
P4 1.454
P6 1.146
P9 0.570
P3 0.856
P5 0.633

5.7 Patrón de Frecuencias en Incertidumbres

Con el procedimiento desarrollado de estabilización de lı́neas láser en absorciones del

acetileno tenemos un patrón de frecuencias aplicable a la calibración indistintamente de
medidores de longitud de onda y analizadores de espectros o canales. Como ventaja respecto
de otros sistemas de calibración, como los descritos en el capı́tulo 4, este láser de referencia
tiene un conjunto de lı́neas de emisión centradas en las absorciones del acetileno y de potencia
de salida de aproximadamente -7 dBm. El conjunto de estas lı́neas y la incertidumbre, en
GHz y en nm, se muestra en las tablas 5.10 y 5.11.

Este conjunto de lı́neas constituye el patrón de frecuencias para la calibración de los

medidores de longitud de onda de referencia que se utilizan en el capı́tulo anterior.

Estimación de incertidumbres del patrón de frecuencias

Las fuentes de incertidumbre asociadas a la realización del patrón de frecuencias son:

a) Incertidumbre en la asignación de valores de las lı́neas de absorción por el NIST, fref .

b) Incertidumbre por la resolución de muestreo en el láser sintonizable, δfres .

c) Incertidumbre por inestabilidad del sistema construido, ∆f.

d) Incertidumbre debida a la influencia de la presión y la temperatura sobre la célula de

calibración, δfP,T .

183
 Tabla 5.10 Incertidumbres del Patrón de Frecuencias de la Rama R del acetileno.
Lı́nea Frecuencia Incertidumbre Longitud de onda Incertidumbre
de referencia (GHz) (GHz) (nm) (nm)

R29 198310.82 0.11 1511.7304 0.0009

R28 198263.87 0.11 1512.0884 0.0008
R27 198216.11 0.10 1512.4527 0.0008
R26 198167.57 0.11 1512.8232 0.0008
R25 198118.23 0.11 1513.2000 0.0008
R24 198068.07 0.11 1513.5832 0.0008
R23 198017.12 0.11 1513.9726 0.0008
R22 197965.38 0.11 1514.3683 0.0008
R21 197912.85 0.11 1514.7703 0.0008
R20 197859.51 0.11 1515.1786 0.0008
R19 197805.39 0.07 1515.5932 0.0006
R18 197750.47 0.10 1516.0141 0.0008
R17 197694.76 0.06 1516.4413 0.0005
R16 197638.28 0.10 1516.8747 0.0008
R15 197580.99 0.07 1517.3145 0.0005
R14 197522.92 0.10 1517.7606 0.0008
R13 197464.05 0.07 1518.2131 0.0005
R12 197404.40 0.10 1518.6718 0.0008
R11 197343.97 0.05 1519.1369 0.0004
R10 197282.75 0.06 1519.6083 0.0005
R9 197220.75 0.06 1520.0860 0.0005
R8 197157.97 0.06 1520.5700 0.0005
R7 197094.41 0.05 1521.0604 0.0004
R6 197030.06 0.10 1521.5572 0.0008
R5 196964.93 0.06 1522.0603 0.0005
R4 196899.03 0.10 1522.5697 0.0007
R3 196832.35 0.06 1523.0855 0.0005
R2 196764.89 0.10 1523.6077 0.0007
R1 196696.67 0.05 1524.1361 0.0004

184
 Tabla 5.11 Incertidumbres del Patrón de Frecuencias de la Rama P del acetileno.
Lı́nea Frecuencia Incertidumbre Longitud de onda Incertidumbre
de referencia (GHz) (GHz) (nm) (nm)

P1 196487.34 0.12 1525.7599 0.0009

P2 196416.01 0.10 1526.3140 0.0008
P3 196343.92 0.05 1526.8744 0.0004
P4 196271.07 0.09 1527.4411 0.0007
P5 196197.44 0.05 1528.0143 0.0004
P6 196123.05 0.09 1528.5939 0.0007
P7 196047.89 0.06 1529.1799 0.0005
P8 195971.98 0.10 1529.7723 0.0008
P9 195895.30 0.06 1530.3711 0.0005
P10 195817.86 0.05 1530.9763 0.0004
P11 195739.66 0.06 1531.5879 0.0005
P12 195660.70 0.10 1532.2060 0.0008
P13 195580.99 0.05 1532.8305 0.0004
P14 195500.52 0.09 1533.4614 0.0007
P15 195419.30 0.06 1534.0987 0.0005
P16 195337.33 0.10 1534.7425 0.0008
P17 195254.60 0.06 1535.3928 0.0005
P18 195171.12 0.10 1536.0495 0.0008
P19 195086.90 0.06 1536.7126 0.0005
P20 195001.93 0.10 1537.3822 0.0008
P21 194916.21 0.06 1538.0583 0.0005
P22 194829.75 0.09 1538.7409 0.0007
P23 194742.54 0.09 1539.4299 0.0007
P24 194654.60 0.09 1540.1254 0.0007
P25 194565.91 0.10 1540.8274 0.0008
P26 194476.50 0.10 1541.5359 0.0008
P27 194386.35 0.10 1542.2508 0.0008

185
 Para el estudio de la propagación de errores proponemos la siguiente función modelo:

f = fref + δfref + ∆f + δfP,T (5.5)

Las correcciones y la contribución a la incertidumbre para cada una de estas fuentes de

incertidumbre se calculan como:

a) Frecuencia de referencia fref

El valor de la frecuencia de referencia está asignado por el certificado de calibración

del NIST, SRM 2517a. La incertidumbre asignada por el NIST es la incertidumbre
que nosotros utilizamos convertida en k=1. Es una incertidumbre tipo B, con número
de grados de libertad infinito y se calcula mediante la expresión:
ucertif icado
u(fref ) = (5.6)
2

b) Incertidumbre por resolución de muestreo en la frecuencia del laser δf res

Esta incertidumbre es debida al error de selección de la frecuencia de emisión del láser.

La resolución del laser no introduce un error en el sistema construido, pero contribuye
como una incertidumbre. La resolución del láser en frecuencia es 0.01 GHz, y su
incertidumbre se estima como:

0.01
u(δfref ) = √ (5.7)
2× 3

c) Incertidumbre debida a la inestabilidad del sistema realizado.

Esta incertidumbre se ha estudiado en los experimentos de estabilidad. Consideramos

que en el tiempo de medida o de uso del patrón de frecuencias no contribuye con un
factor de corrección apreciable (no tenemos deriva apreciable), si bien incrementa la
incertidumbre del sistema. La incertidumbre del sistema se calcula con las gráficas
obtenidas en la sección de estabilidad y la tabla 5.9, siendo distinta para las lı́neas de
más absorción o de menos. Expresando este resultado en GHz, dividimos las lı́neas
como lı́neas de transmitancia inferior al 0.4% con ∆0.4 =0.075 GHz y lı́neas de trans-
mitancia mayor de 0.4% con ∆0.4 =0.150 GHz.

∆
u(∆f) = √ (5.8)
2× 3

186
d) Incertidumbre debida a la influencia de la presión y la temperatura

La célula de calibración suministrada por el NIST está cerrada y sellada con una presión
de gas de 6.7 kPa. El volumen de la célula y su presión deben ser constantes, si bien
la temperatura del laboratorio puede oscilar un máximo de ±3o C. Las variaciones de
temperatura del laboratorio se traducen en este caso como variaciones de presión a
volumen constante siguiendo la ley de los “gases perfectos”. Las variaciones de presión
en la célula generan un desplazamiento de las lı́neas de absorción que está tabulado
por el NIST, y tienen distinto comportamiento según sean absorciones de la rama R o
de la rama P.

Para la rama R se ajustan a una parábola de expresión:

Desplazamiento(pm) = 0.04 + 0.0113n − 7.8 × 10−5 n2 (5.9)

Para la rama P se ajustan a un polinomio de tercer grado como:

Desplazamiento(pm) = 0.10 + 0.0044n − 5.41 × 10−4 n2 + 1.93 × 10−5 n3 (5.10)

donde n es el número de lı́nea. Estas expresiones se aplican en las proximidades de

6.7 kPa. Aplicando la corrección de variación de presión debida a la temperatura,
obtenemos el desplazamiento de la lı́nea.

Como las variaciones de temperatura dentro de los lı́mites puestos serán aleatorias,
consideramos que esta fuente de incertidumbre no genera una corrección al valor de
la frecuencia de referencia, si bien incrementa la incertidumbre como una distribución
rectangular según:
Desplazamiento
u(δfP,T ) = √ (5.11)
2 3

En las tablas 5.12 y 5.13 se muestran estas contribuciones en longitud de onda y frecuencia
para la lı́nea R19.

187
 Tabla 5.12 Cálculo de la incertidumbre de la Lı́nea estabilizada R19 en longitud de onda.
Magnitud Sı́mbolo Valor Std Evaluación G C Contribución
X (nm) x u(x) n c U(x)

Longitud de onda de referencia λref 1515.5932 0.0002 B ∞ 1 1.500 × 10−4

Resolución del muestreo δλres 0.000 0.0000 B ∞ 1 2.309 × 10−5
Inestabilidad ∆λ 0 0.0029 B ∞ 1 2.887 × 10−4
Presión/Temperatura δλP,T 0 0.0029 B ∞ 1 2.887 × 10−4

Longitud de onda λ 1515.5932 Σ U(x) 0.00032614

Factor de cobertura k 2.0000061
Resultado 1515.5932 0.00065

Tabla 5.13 Calculo de la incertidumbre de la Lı́nea estabilizada R19 en frecuencia.

Magnitud Sı́mbolo Valor Std Evaluación G C Contribución
X (GHz) x u(x) n c U(x)

Frecuencia de referencia fref 197805.3874 0.0196 B ∞ 1 1.958 × 10−2

Resolución del muestreo δfres 0 0.0029 B ∞ 1 2.887 × 10−3
Inestabilidad ∆f 0 0.0217 B ∞ 1 2.165 × 10−2
Presión/Temperatura δfP,T 0 0.0221 B ∞ 1 2.206 × 10−2

Frecuencia f 197805.3874 Σ U(x) 0.03670418

Factor de cobertura k 2.0000061
Resultado 197805.3874 0.07341

5.8 Aplicación a la calibración en longitud de onda

El patrón de frecuencias desarrollado se ha utilizado para la calibración de dos medidores

de longitud de onda, uno fabricado por HEWLLETT-PACKARD, modelo 86120C y el otro
comercializado por ANRITSU, modelo MF9639A. Los resultados pueden verse en las tablas
5.16, 5.17, 5.18 y 5.19. Para ello se ha hecho uso del montaje mostrado en la figura 5.3, en la
que el medidor de longitud de onda es totalmente controlado mediante software, al igual que
el resto de los componentes programables del esquema, siendo en la fase de Estabilización
de la fuente donde se almacena el valor de frecuencia proporcionado por el medidor.

El medidor de múltiples longitudes de onda HP86120C, cuyas especificaciones pueden

verse en la tabla 5.14, es un medidor basado en un interferómetro Michelson que mide
longitud de onda y potencia óptica en la región espectral de 1270 a 1650 nm. Permite
la medida simultánea de varias lı́neas láser tales como señales DWDM y lı́neas de láseres
Fabry-Perot. Se supone que cada lı́nea láser tiene un ancho espectral inferior a 5 GHz.

188
 Tabla 5.14 Especificaciones del medidor HP86120C.

Intervalo
Longitud de onda 1270 a 1650 nm (236 a 428 THz)
Precisión absoluta lı́neas separadas ≥15 GHz, ±2 ppm
±0.003 nm (para 1550 y 1310 nm)
Precisión diferencial ±1 ppm
Mı́nima separación resoluble 10 GHz
0.08 nm a 1550 nm
0.06 nm a 1300 nm
Resolución 1 s (0.001 nm)
Potencia
Precisión de calibración ±0.5 dB (a ±30 nm de 1310 y 1550 nm)
Rizado 30 nm de cualquier longitud de onda
1270 a 1600 nm ±0.2 dB
1270 a 1650 nm ±0.5 dB
Linealidad ±0.3 dB
Dependencia con la polarización 1270 a 1600 nm ±0.5 dB
1600 a 1650 nm ±1.0 dB
Resolución 0.01 dB

Sensibilidad
1270 a 1600 nm (una lı́nea de entrada) -40 dB
1600 a 1650 nm (una lı́nea de entrada) -30 dB
1270 a 1650 nm (varias entradas) 30 dB por debajo de la P OTtotal entrante

y no inferior a la sensibilidad para una entrada

Selectividad
2 lı́neas de entrada separadas 50 GHz 25 dB
2 lı́neas de entrada separadas 10 GHz 10 dB
Potencia Entrante
Nivel máximo representado (suma de todas las lı́neas) +10 dB
Nivel máximo de seguridad (suma de todas las lı́neas) +18 dB

189
 Tabla 5.15 Especificaciones del medidor MF9630A.

Intervalo
Longitud de onda 600 a 1600 nm
Frecuencia 500 a 187 THz
Potencia óptica de entrada 0-25 dBm (CW)
Precisión ± 0.5 ppm
Resolución < 0.1 pm (depende del FWHM de la fuente)
Intervalo de medida < 1.5 s
Tipo de conector FC
Señal de modulación Am, > 5 MHz
Representación < 1.5 s
Longitud de onda 10 dı́gitos (LSD 1 fm)
Frecuencia 9 dı́gitos (LSD 1 MHz)
Temperatura ambiente
Intervalo de uso 0 a 40o C
Especı́ficamente 25o ± 5o C

Estimación de incertidumbres en la calibración de medidores de longitud de

onda con nuestro patrón de frecuencias

Las fuentes de incertidumbre asociadas a la calibración de estos medidores de longitud

de onda son:

a) Incertidumbre en la toma de medidas por parte del medidor, λmed .

b) Incertidumbre por la resolución de muestreo del medidor, δλres .

c) Incertidumbre en la asignación de valores de la lı́neas láser de referencia, λref .

El valor de calibración del instrumento es la corrección a la longitud de onda medida por

el instrumento considerada como:

∆λ = λmed − λreal (5.12)

Para el estudio de la propagación de errores proponemos la siguiente función modelo:

∆λ = λmed + δλres − λref (5.13)

190
 Las correcciones y la contribución a la incertidumbre para cada una de estas fuentes de
incertidumbre se calculan como:

a) Incertidumbre en la medida de λ con el medidor, λmed

Esta incertidumbre está relacionada con la estadı́stica de obtención de datos del ana-
lizador de espectros. Habitualmente se tomarán 10 medidas calculando su valor medio
y desviación estándar. Es una incertidumbre tipo A, con función de densidad de
probabilidad gaussiana donde el número de grados de libertad es 10 y se calcula como:

σ(λmed )
u(λmed ) = √ (5.14)
10
b) Incertidumbre por resolución de muestreo en el medidor, δλmed

Esta incertidumbre es debida a la resolución de muestreo en longitud de onda del

medidor. En el caso del HP86120C es de 1 pm y en caso del Anritsu MF9630A es de
0.1 pm. Esta fuente de incertidumbre no genera un factor de corrección en la ecuación
modelo pero contribuye como una incertidumbre rectangular, según:

1
u(δλmed ) = √ HP 86120C (5.15)
2× 3
0.1
u(δλmed ) = √ M F 9630A (5.16)
2× 3

c) Frecuencia de referencia, λref

Son los valores contenidos en las tablas 5.10 y 5.11. Deben tener en cuenta que los val-
ores de incertidumbre obtenidos en estas tablas son para k=2 por lo que su contribución
a la incertidumbre es:

utabla
u(λref ) = (5.17)
2

191
Tabla 5.16 Calibración de un medidor de longitud de onda HP86120C usando nuestro patrón de
frecuencias.
Lı́nea λHP86120C λref Incertidumbre ∆λ
de referencia (nm) (nm) (nm) (nm)

R25 1513.203 1513.200 0.0008 0.0030

R19 1515.596 1515.593 0.0006 0.0028
R15 1517.317 1517.315 0.0005 0.0025
R9 1520.089 1520.086 0.0005 0.0030
R5 1522.063 1522.060 0.0005 0.0027
R1 1524.140 1524.136 0.0004 0.0039
P3 1526.877 1526.874 0.0004 0.0026
P9 1530.373 1530.371 0.0005 0.0019
P13 1532.833 1532.830 0.0004 0.0026
P17 1535.396 1535.393 0.0005 0.0032
P21 1538.061 1538.058 0.0005 0.0027
P25 1540.831 1540.827 0.0008 0.0036

Valor medio (∆λ) 0.0029

Desviación estándar 0.0005

Tabla 5.17 Incertidumbre en la calibración del HP86120C para la lı́nea P3.

Magnitud Sı́mbolo Valor Std Evaluación G C Contribución
X (nm) x u(x) n c U(x)

Longitud de onda medida λHP 86120C 1526.877 0.000 A 10 1 9.129 × 10−5

Resolución del medidor δλHP 86120C 0.000 0.0009 B ∞ 1 8.660 × 10−4
Longitud de onda de referencia λref 1526.87435 0.00005 B ∞ -1 −2.000 × 10−4

Factor de corrección ∆λ 0.0026 Σ U(x) 0.0008935

Factor de cobertura k 2.0000289
Resultado 0.0026 0.00179

192
 Tabla 5.18 Calibración del medidor de longitud de onda MF9630A.
Lı́nea λMF9630A λref Incertidumbre ∆λ
de referencia (nm) (nm) (nm) (nm)

R17 1516.441 1516.441 0.0005 0.0001

R11 1519.136 1519.137 0.0004 -0.0006
R9 1520.085 1520.086 0.0005 -0.0010
R7 1521.059 1521.060 0.0004 -0.0016
R1 1524.135 1524.136 0.0004 -0.0010
P3 1526.873 1526.874 0.0004 -0.0011
P5 1528.014 1528.014 0.0004 -0.0002
P6 1528.593 1528.594 0.0007 -0.0008

Valor medio (∆λ) -0.0008

Desviación estándar 0.0005

Tabla 5.19 Incertidumbre en la calibración del MF9630A para la lı́nea R7.

Magnitud Sı́mbolo Valor Std Evaluación G C Contribución
X (nm) x u(x) n c U(x)

Longitud de onda medida λM F 9630A 1521.059 0.00001 A 10 1 9.129 × 10−6

Resolución del medidor δλM F 9630A 0.000 0.00009 B ∞ 1 8.660 × 10−5
Longitud de onda de referencia λref 1521.0604 0.00020 B ∞ -1 −2.000 × 10−4

Factor de corrección ∆λ -0.0016 Σ U(x) 0.00021814

Factor de cobertura k 2.0000061
Resultado -0.0016 0.00044

193
 El medidor HP86120C se ha calibrado como patrón de referencia por el Laboratorio de
Metrologı́a y medidas electroópticas de Telefónica S.A, donde se utiliza como medidor de
referencia siguiendo la técnica descrita en el capı́tulo 4, sección 4.4 (Medidor de referencia).

El medidor Anritsu MF9630A, se ha calibrado como patrón de referencia para su uso en

el Departamento de Metrologı́a del Instituto Nacional de Técnica Aeroespacial (INTA).

194
 Conclusiones

1.- Se han descrito los diferentes tipos de analizadores de espectros ópticos (OSA).

2.- Se han descrito las propiedades y funcionamiento de los OSA basados en redes de difrac-
ción, detallando las funciones más notables que este tipo de equipo realiza.

3.- Se han descrito algunas de las aplicaciones más comunes de los analizadores de espec-
tros ópticos: análisis de fuentes LED y LÁSER, análisis de EDFA, caracterización de
componentes y análisis de señales de DWDM.

4.- Se han descrito los métodos de calibración de los analizadores de espectros ópticos y se
han aplicado a la calibración de varios analizadores y medidores de longitud de onda.

5.- Se ha realizado un procedimiento de estabilización de un láser en frecuencias de absorción

de gases.

6.- Se ha realizado un patrón de frecuencias para la calibración de analizadores de espectros

ópticos y medidores de longitud de onda mediante la estabilización de un láser sobre un
conjunto de lı́neas de absorción conocidas del acetileno. La incertidumbre del patrón
de frecuencias obtenido se encuentra entre 0.36 y 0.92 pm, dependiendo de la frecuencia
de estabilización seleccionada.

195
Futuros desarrollos

La realización del presente trabajo sugiere la continuación en las siguientes direcciones:

• Aplicación del procedimiento de estabilización de láseres a otros compuestos gaseosos

con absorciones en la región de 1500 a 1640 nm. Los compuestos candidatos para la
13
continuación de este trabajo son: C2 H2 en la región entre 1520 y 1550 nm. H 13 C 14 N
en la región de 1530 a 1560 nm, CO2 para la region de 1560 a 1590 nm, CO en la
region de 1600 nm, y CH4 entre 1640 nm y 1340 nm.

• Estudio de las lı́neas de absorción de los compuestos destacados en el punto anterior y

otros posibles , directamente trazables a la célula de acetileno usada como referencia
en el presente trabajo, usando mezcla de cuatro ondas tal y como se ha descrito en el
capı́tulo 4.

• Realización de células de calibración con los compuestos estudiados que puedan ser
utilizados por la industria de las telecomunicaciones.

• Desarrollo de dispositivos de calibración de longitud de onda con etalones Fabry-Perot,

estabilizados y trazados con el patrón de frecuencias desarrollado en este proyecto.

196
 Bibliografı́a

1.- Jeunhomme L. B. Single-Mode Fiber Optics: Principles and Aplications. Marcel Dekker,
Parı́s, 1983.

2.- Forghieri F., Tkach R. W., and Chraplyvy A. R. Optical Fiber Telecomunicatons, volume
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3.- Unión Internacional de Telecomunicaciones. Caracterı́sticas de los cables de Fibra óptica

monomodo. Technical Report (UIT), Ginebra (Suiza), 1997.

4.- Unión Internacional de Telecomunicaciones. Caracterı́sticas de los cables de Fibra óptica

monomodo con dispersión desplazada. Technical Report, (UIT) Ginebra (Suiza), 1996.

5.- Unión Internacional de Telecomunicaciones. Caracterı́sticas de los cables de Fibra óptica

monomodo con corte desplazado. Technical Report, (UIT) Ginebra (Suiza), 1996.

6.- Unión Internacional de Telecomunicaciones. Caracterı́sticas de los cables de Fibra óptica

monomodo con dispersión desplazada no nula. Technical Report (UIT), Ginebra
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7.- Agilent Thecnologies. Optical Spectrum Analysis. Application Note 1550-4.

8.- Agilent Thecnologies. External Multi-Point Wavelength Calibration for the 8614XB
series of Optical Spectrum Analyzers. Product Note 86140-2.

9.- Agilent Thecnologies. WDM System Test with the HP 86120A Multi-Wavelength Meter.
Product Note 86120-1.

10.- Wandel & Goltermann. Modern Test Solutions Make Your DWDM System Crystal
Clear. Application Note 70.

11.- Shigeki Nishina. Advantest. Shigeki Nishina Technical report Technology for DWDM
Analysis based on Advantest Q8384 Optical Spectrum Analyzer.

197
12.- S. L. Gilbert, T. J. Drapela, and D. L. Franzen, “Moderate accuracy wavelength stan-
dards for optical communications”, in Technical Digest-Symposium on Optical Fiber
Measurements, NIST Spec. Publ. 839 (National Institute of Standards and Technolo-
gy, Boulder, Colo., 1992), pp. 191-194.

12
13.- S. L. Gilbert and W. C. Swann, “Acetylene C2 H2 absorption reference for 1510-1540
nm wavelength calibration-SRM 2517”, NIST Spec. Publ. 260-133 (National Institute
of Standards and Technology, Gaithersburg, Md., 1998).

14.- S. L. Gilbert, W. C. Swann, and C. M. Wang, “Hydrogen Cyanide H 13 C 14 N absorption

reference for 1530 to 1560 nm wavelength calibration-SRM 2519”, NIST Spec. Publ.
260-137 (National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Md., 1998).

15.- K. Nakagawa, M. de Labachelerie, Y. Awaji, and M. Kourogi, “Accurate optical fre-

quency atlas of the 1.5 mm bands of acetylene”, J. Opt. Soc. Am. B 13, 270-2714
(1996).

16.- Che-Chung Chou, Tyson Lin, and Jow-Tsong Shy. Wavenumber Measurements of CO 2
Transitions in 1.5 mm Atmospheric Window Using an External-Cavity Diode Laser.
Journal of Molecular Spectroscopy 205, 122-127 (2001).

17.- Shang-I Chou, Douglas S. Baer, and Ronald K. Hanson. Diode laser absorption mea-
surements of CH3 Cl and CH4 near 1.65 mm. APPLIED OPTICS, Vol. 36, No. 15
3288-3293. 1997.

18.- Justiniano Casas. Óptica. Publicaciones de la Cátedra de Óptica de la Facultad de

Ciencias de la Universidad de Zaragoza. 1978.

19.- Amon Yariv. Optical Electronics, third edition. California Institute of Technology.
1985.

20.- Fiber Optics Handbook, “An Introduction and Reference Guide to Fiber Optic Tech-
nology and Measurement Techniques”, third edition. Hewlett Packard. 1989.

21.- Francis A. Jenkins, Harvey E. White. Fundamentals of Optics, fourth edition. 1981.

22.- John M. Senior. Optical Fiber Communications, Principles and Practices. Dept. of
Electrical and Electronic Engineering. Manchester Polytechnic. 1985.

23.- Edward L. Safford. The Fiber Optics & Laser Handbook. 1988.

198
24.- William C. Swam and Sarah L. Gilbert. “Wavelength Calibration Standards for the
WDM L-band”. National Institute of Standards and Technology.

25.- William C. Swam and Sarah L. Gilbert. “Pressure-induced shift and broadening of
1510-1540 nm acetylene wavelenght calibration lines”. National Institute of Standards
and Technology. Vol. 17, no 7/July 2000/J. Opt. Soc. Am. B.

26.- David A. Humphreys. Synthesis of optical reference frequencies by four-wave mixing

in optical fibre. National Physical Laboratory. Teddington, United Kingdom.

27.- Kyo Inoue. Four-Wave Mixing in an Optical Fibre in the Zero-Dispersion Wavelength
Region. Journal of Lightwave Technology, vol. 10, no 11. 1992.

28.- International Electrotechnical Commission (IEC). Calibration of Optical Spectrum An-

alyzers, draft version 6. 1997

29.- EXFO. How to Chose the Right DWDM Instrument. Application Note 016.

30.- EXFO. Understanding your OSA. Application Note 038.

31.- G. Bönsch and E. Potulski. Measurement of the refractive index of air and coparison
with modified Edlen´s formulae. Metrologı́a, 1998, 35, 133-139.

32.- Sociedad Española de Óptica. Comité de Optoelectrónica y Óptica Integrada. “Fibras

Ópticas y sus Aplicaciones”. Instituto de Óptica “Daza de Valdés”. Consejo Superior
de Investigaciones Cientı́ficas. 1987.

199
200
ANEXO:

CÓDIGO DE PROGRAMA

//**************************************************************
//
// DESARROLLO DE UN PATRÓN DE FRECUENCIAS
// Autor: ÁLVARO VIVAR ARMENTEROS
// Centro: Dpto. de Metrologı́a del Instituto de Fı́sica Aplicada
// del Consejo Superior de Investigaciones Cientı́ficas.
// Proyecto Fin de Carrera
// Fecha de comienzo: Noviembre de 2001
//
//**************************************************************

/* Includes */
]include <cviauto.h>
]include <gpib.h>
]include <utility.h>
]include <ansi c.h>
]include <userint.h>
]include “hp3478a.h”
]include “toolbox.h”
]include <formatio.h>
]include <ansi c.h>
]include <cvirte.h>
]include <analysis.h>
]include <math.h>
]include <cvirte.h>
]include “Origen.h”

201
]include “Ajuste.h”
]include “Estab Pot Laser.h”
]include “Ajuste fino.h”
//——————– Definiciones —————–
]define ON 1
]define OFF 0
]define SELECCION LINEA\
“Elija una Linea de la LISTA y presione el botón ALMACENAR LINEA”
]define LINEAS ALMACENADAS\
“Ya se han almacenado todas la Lineas, vaya a ejecutar el programa”
]define ELECCION FUENTE\
“Seleccione el tipo de Fuente de luz a estudiar, LASER SINTONIZABLE o DFB y
elija el número de lı́neas que desea analizar”
]define LASER SELECCIONADO\
“Ha seleccionado el LASER SINTONIZABLE, coloque adecuadamente la GP-IB”
]define DFB SELECCIONADO\
“Ha seleccionado el DFB, coloque adecuadamente la GP-IB”

//———- Prototipos ——————-

static double MediaHP(void);

//———- Variables de Almacenamiento de lineas ——————

static int num-lineas;
static double linea[60], linea NM[60];

//———– Variables de AJUSTE GRUESO ——————-

static char texto1[6], texto2[6], texto3[6];
static int origen, ajuste, ajuste f, estabilpot, Fuente, n, i, i max, imin as, j;
static int fwhm l, fwhm r;
static int FUENTE O, FUENTE C, FUENTE err, GRAF err, hp err;
static char FUENTE respuesta[40], FUENTE pregunta[40];
static double anchobarrido, pot Fuente, frec[300], frec ini, frec fin;
static double power as[200], pot min[30], linea min[60], medida[60], voltimetro ref;

//———– Variables de AJUSTE FINO ————————–

static int h, l, i maxf;
static double anchobarrido fino, dfrec[300], difpower as, frec min2[60], frec min3[60];
static double umbral1, umbral2, umbral3, frecF[200], frec f[500], frec f2[300], frec f3[200];

202
static double pot min f1[30], pot min f2[30], pot min f3[30];
static double power f[500], power f2[300], power f3[200];

//———– Variables de ESTABILIDAD DE POTENCIA ————

static double num muestras, tiempo, tyme[1000], sec, voltimetroE ref;
static double HP resp, voltimetro[1000], k, medidatemp[1000];
static double pot min f1E[30], pot min f2E[30], pot min f3E[30];
static double power fE[500], power f2E[300], power f3E[200];
static double frec E[500], frec f2E[300], frec f3E[200], frec min2E[60], frec min3E[60];
static int e;

//———— Variables de Archivo ——————-

int IdentificadorArchivo;
static char nombre archivo[MAX PATHNAME LEN], result c[100], rama archivo[5];
static double linea archivo NM[100], linea archivo GHz[100];
static Point tablaXY;

//—————————————————–

int main (int argc, char *argv[])

{
if (InitCVIRTE (0, argv, 0) == 0)
return -1; /* out of memory */
origen=LoadPanel(0,“Origen.uir”,ORIGEN); /*carga la pantalla inicial*/
ajuste=LoadPanel(origen,“Ajuste.uir”,AJUSTE G);
estabilpot=LoadPanel(origen,“Estab Pot Laser.uir”,ESTAB POT);
ajuste f=LoadPanel(origen,“Ajuste Fino.uir”,AJUSTE F);
DisplayPanel(origen); /*despliega la pantalla inicial*/
MessagePopup(”Eleccion Fuente”,ELECCION FUENTE);
RunUserInterface();
return 0;
}

int CVICALLBACK Panel Ajuste (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{
switch (event)
{

203
 case EVENT COMMIT:
j=0;
DisplayPanel(ajuste);
break;
}
return 0;
}

int CVICALLBACK Salir Origen (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para salir del programa desde la pantalla Inicial*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
QuitUserInterface(0);
break;
}
return 0;
}

int CVICALLBACK Salir Ajuste (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para salir del programa desde la pantalla de Ajuste Grueso*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
QuitUserInterface(0);
break;
}
return 0;
}

int CVICALLBACK Salir Estabil (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para salir del programa desde la pantalla de Estabilidad*/
switch (event)
{

204
 case EVENT COMMIT:
QuitUserInterface(0);
break;
}
return 0;
}

int CVICALLBACK Atras Ajuste (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para volver a la pantalla Inicial desde la pantalla de Ajuste Grueso*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
HidePanel(ajuste);
DisplayPanel(origen);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN TABLE, ATTR DIMMED, 1);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN ALMAC LINEA, ATTR DIMMED, 1);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN NUMERO LINEAS, ATTR DIMMED, 0);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN NUM LINEAS, ATTR DIMMED, 0);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN AJUSTE, ATTR DIMMED, 1);
break;
}
return 0;
}

int CVICALLBACK Atras Ajuste f (int panel, int control, int event,void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para volver al Ajuste Grueso desde la pantalla de Ajuste Fino*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
HidePanel(Ajuste f);
DisplayPanel(ajuste);
break;
}
return 0;
}

205
int CVICALLBACK Avanza Ajuste f (int panel, int control, int event, void *callback
Data, int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para avanzar a la pantalla de Estabilidad desde la de Ajuste Fino*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
HidePanel(ajuste f);
DisplayPanel(estabilpot);
break;
}
return 0;
}

int CVICALLBACK Atras Estabil (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para volver a la pantalla de Ajuste Fino desde la de Estabilidad*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
HidePanel(estabilpot);
DisplayPanel(ajuste f);
break;
}
return 0;
}

int CVICALLBACK Avanza Ajuste (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para avanzar a la pantalla de Ajuste Fino desde la de Ajuste Grueso*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
HidePanel(ajuste);
DisplayPanel(ajuste f);
break;
}
return 0;

206
}

int CVICALLBACK Imprimir Estabil (int panel, int control, int event, void *callback
Data, int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para imprimir datos desde la pantalla de Estabilidad*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
PrintPanel (estabilpot, “”, 1, VAL FULL PANEL, 1);
break;
}
return 0;
}

int CVICALLBACK Iniciar Ajuste (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
FUENTE O = OpenDev (“DEV10”, “”);
hp3478a init (23);
hp3478a config (1, 1, 1);
SetCtrlVal (ajuste, AJUSTE G LED1, ON);
/*———- ’Guardar los datos introducidos por el usuario’———-*/
GetCtrlVal (ajuste,AJUSTE G POT LASER,&pot Fuente);
GetCtrlVal (ajuste,AJUSTE G ANCHOBARRIDO,&anchobarrido);
GetCtrlVal (ajuste,AJUSTE G ANCHOBARRIDO F,&anchobarrido fino);
GetCtrlVal (ajuste,AJUSTE G NUM MUESTRAS1,&num muestras);
GetCtrlVal (ajuste,AJUSTE G TIEMPO1,&tiempo);
/*———- ’Identificar la fuente de luz ———-*/
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“*IDN?”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
ibrd (FUENTE O, FUENTE respuesta,40);
SetCtrlVal (ajuste,AJUSTE G LASER IDENTIF, FUENTE respuesta);
/*—————————————————————–*/

207
Fmt (FUENTE pregunta,“%s<%s”,“GHZ”);/*unidades de la fuente de luz:GHz*/
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
for (j=0; j<num lineas;j++)
{
SetCtrlAttribute(ajuste,AJUSTE G LAMBDA CENT,ATTR DIMMED, 0);
SetCtrlVal (ajuste,AJUSTE G LAMBDA CENT ,linea[j]);
DeleteGraphPlot (ajuste, AJUSTE G GRAFICO1, -1, VAL IMMEDIATE DRAW);
SetCtrlVal (ajuste, AJUSTE G LAMBDA MIN POT, 0.0);
SetCtrlVal (ajuste,AJUSTE G POT MIN ,0.0);
i max=(anchobarrido*10)+1;
for (i=0; i<i max; i++)
{
frec[i]=linea[j]-(anchobarrido/2)+(0.1*i);
}
frec ini=frec[0]; /*Frecuencia inicial de barrido*/
frec fin=frec[i max-1]; /*Frecuencia final de barrido*/
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”, texto2, pot Fuente);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Delay(0.5);
/* BARRIDO GRUESO */
DeleteGraphPlot (ajuste, AJUSTE G GRAFICO1, -1, VAL IMMEDIATE DRAW);
GRAF err= SetAxisScalingMode (ajuste,AJUSTE G GRAFICO1, VAL XAXIS,
VAL MANUAL, frec ini, frec fin);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”, texto1, frec[0]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Delay(10.0);
HP resp=MediaHP();
voltimetro ref=HP resp;
power as[0]=10.*log10 (HP resp/voltimetro ref);
for (i=1; i<i max; i++)
{
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”, texto1, frec[i]);

208
 n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
HP resp=MediaHP();
power as[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
PlotXY (ajuste, AJUSTE G GRAFICO1, frec, power as, i+1, VAL DOUBLE,
VAL DOUBLE, VAL SCATTER, VAL SOLID SQUARE,
VAL SOLID, 1, VAL BLUE);
}
Delay(1.0);
pot min[j]=power as[0];
/*—— Cálculo de la potencia mı́nima ——*/
for (i=0; i<i max; i++)
{
if (pot min[j]>power as[i+1])
{
pot min[j]=power as[i+1];
imin as=i+1;
}
}
linea min[j]=frec[imin as];
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”, texto1, linea min[j]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O,FUENTE pregunta,n);
if ((power as[i max-1]-pot min[j])>4 k (power as[0]-pot min[j])>4)
{
umbral1=0.5;
umbral2=0.7;
umbral3=0.9;
}
else
{
umbral1=0.2;

209
 umbral2=0.3;
umbral3=0.4;
}
/*—— Cálculo del FWHM ——*/
if ((power as[i max-1]-pot min[j])>3 & (power as[0]-pot min[j])>3)
{
i=imin as;
while(power as[i]<pot min[j]+3)
{
fwhm l=i;
i–;
}
i=imin as;
while(power as[i]<pot min[j]+3)
{
fwhm r=i;
i++;
}
SetCtrlVal (ajuste, AJUSTE G FWHM, frec[fwhm r]-frec[fwhm l]);
}
/*—— Mostrar resultados ——*/
SetCtrlVal (ajuste, AJUSTE G POT MIN, pot min[j]);
SetCtrlVal (ajuste, AJUSTE G LAMBDA MIN POT, linea min[j]);
SetCtrlVal (ajuste, AJUSTE G LED1, OFF);
Delay(5.0);
/*FIN BARRIDO GRUESO*/
HidePanel(ajuste); /*Oculta la pantalla de Ajuste Grueso*/
DisplayPanel(ajuste f); /*Despliega la pantalla de Ajuste Fino*/
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F LED3, ON);
SetCtrlVal (ajuste f,AJUSTE F LAMBDA CENT ,linea min[j]);
SetCtrlVal (ajuste f,AJUSTE F ANCHOBARRIDO F,anchobarrido fino);
DeleteGraphPlot (ajuste f, AJUSTE F GRAFICO3, -1, VAL IMMEDIATE DRAW);
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F FREC MIN POT2, 0.00);
SetCtrlVal (ajuste f,AJUSTE F POT MIN ,0.0);
i maxf=(anchobarrido fino*100)+1;

210
for (i=0; i<i maxf; i++)
{
dfrec[i]=-(anchobarrido fino/2)+(0.01*i);
frecF[i]=linea min[j]+dfrec[i];
}
frec ini=linea min[j]+dfrec[0];
frec fin=linea min[j]+dfrec[i maxf-1];
/* BARRIDO FINO */
GRAF err= SetAxisScalingMode (ajuste f,AJUSTE F GRAFICO3, VAL XAXIS,
VAL MANUAL, frec ini, frec fin);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s¡%s%f”,texto1,linea min[j]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Delay(5.0);
difpower as=0.0;
i=0;
h=0;
l=0;
/*—— Primer barrido ascendente ——*/
while ((difpower as<umbral1 & h<i maxf) k l<2)
{
h=l+(i maxf-1)/2;
frec f[i]=frecF[h];
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,dfrec[h]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
HP resp=MediaHP();
if (i>0)
{
power f[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
difpower as=power f[i]-pot min f1[j];
}

211
 else /*para calcular “power f[0]”*/
{
power f[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
pot min f1[j]=power f[i];
}
if (power f[i]<pot min f1[j])
{
pot min f1[j]=power f[i];
}
PlotXY (ajuste f, AJUSTE F GRAFICO3, frec f, power f, i+1,
VAL DOUBLE, VAL DOUBLE, VAL SCATTER, VAL SOLID SQUARE,
VAL SOLID, 1, VAL BLUE);
i++;
l=l+2;
}
pot min f2[j]=pot min f1[j];
difpower as=0.0;
i=i-1;
l=0;
/*—— Segundo barrido, descendente ——*/
while (difpower as<umbral2 & h>-1 k l<4)
{
frec f2[l]=frecF[h];
frec f[i]=frecF[h];
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,dfrec[h]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
HP resp=MediaHP();
power f[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
power f2[l]=power f[i];
if (power f[i]<pot min f2[j])
{

212
 pot min f2[j]=power f[i];
frec min2[j]=frec f2[l];
}
difpower as=power f[i]-pot min f2[j];
PlotXY (ajuste f, AJUSTE F GRAFICO3, frec f2, power f2, i+1, VAL DOUBLE,
VAL DOUBLE, VAL SCATTER, VAL SOLID SQUARE,
VAL SOLID, 1, VAL DK GREEN);
h=h-1;
i++;
l++;
}
difpower as=0.0;
i=i-1;
h=h+1;
l=0;
/*——Tercer y último barrido, ascendente ——*/
while (difpower as<umbral3 & h<i maxf k l<4)
{
frec f3[l]=frecF[h];
frec f[i]=frecF[h];
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,dfrec[h]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
HP resp=MediaHP();
power f[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
power f3[l]=power f[i];
if (l==0)
{
pot min f3[j]=power f3[l];
}
if (power f[i]<pot min f3[j])
{

213
 pot min f3[j]=power f[i];
frec min3[j]=frec f3[l];
}
difpower as=power f[i]-pot min f3[j];
PlotXY (ajuste f, AJUSTE F GRAFICO3, frec f3, power f3, i+1, VAL DOUBLE,
VAL DOUBLE, VAL SCATTER, VAL SOLID SQUARE,
VAL SOLID, 1, VAL MAGENTA);
h=h+1;
i++;
l++;
}
l=0;
i maxf=i;
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto1,linea min[j]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O,FUENTE pregunta,n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,frec min2[j]-linea min[j]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O,FUENTE pregunta,n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
/*—— Mostrar resultados ——*/
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F POT MIN, pot min f2[j]);
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F FREC MIN POT2, frec min2[j]);
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F FREC MIN POT3, frec min3[j]);
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F LED3, OFF);
Delay(4.0);
/* FIN BARRIDO FINO */
HidePanel(ajuste f);
DisplayPanel(estabilpot);
SetCtrlVal ( estabilpot,ESTAB POT LAMBDA ESTABIL,frec min2[j]);
SetCtrlVal ( estabilpot,ESTAB POT NUM MUESTRAS2,num muestras);
SetCtrlVal ( estabilpot,ESTAB POT TIEMPO2,tiempo);
SetCtrlVal ( estabilpot, ESTAB POT LED2, ON);

214
Delay(1.0);
sec=(tiempo/num muestras)*60;
k=0;
DeleteGraphPlot (estabilpot, ESTAB POT GRAF ESTABIL, -1,
VAL IMMEDIATE DRAW);
/* ESTABILIDAD */
for (e=0; e<num muestras+1; e++)
{
HP resp=MediaHP();
if (e==0)
{
voltimetroE ref=HP resp;
}
voltimetro[e]=10*log10 (HP resp/voltimetroE ref);
if (fabs(voltimetro[e])>0.2) /*Inicio de realineamiento del láser*/
{
HidePanel(estabilpot);
DisplayPanel(ajuste f);
SetCtrlAttribute (ajuste f,AJUSTE F LAMBDA CENT,ATTR DIMMED,0);
SetCtrlVal (ajuste,AJUSTE F LAMBDA CENT,frec min2[j]);
SetCtrlVal (ajuste,AJUSTE F POT MIN,0.0);
SetCtrlVal (ajuste,AJUSTE F FREC MIN POT2,0.00);
SetCtrlVal (ajuste,AJUSTE F FREC MIN POT3,0.00);
for (i=0; i<i maxf; i++)
{
dfrec[i]=-(anchobarrido fino/2)+(0.01*i);
frecF[i]=frec min2[j]+dfrec[i];
}
frec ini=frec min2[j]+dfrec[0];
frec fin=frec min2[j]+dfrec[i maxf-1];
GRAF err= SetAxisScalingMode (ajuste f,AJUSTE F GRAFICO3, VAL XAXIS,
VAL MANUAL, frec ini, frec fin);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto1,linea min[j]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);

215
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,frec min2[j]-linea min[j]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O,FUENTE pregunta,n);
Fmt (FUENTE pregunta, ”
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Delay(5.0);
difpower as=0.0;
i=0;
h=frec min2[j]-linea min[j];
while ((difpower as<umbral1 & h<i maxf) k h<2)
{
frec E[i]=frecF[h];
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,dfrec[h]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
HP resp=MediaHP();
if (i>0)
{
power fE[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
difpower as=power fE[i]-pot min f1E[j];
}
else
{
power fE[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
pot min f1E[j]=power fE[i];
}
if (power fE[i]<pot min f1E[j])
{
pot min f1E[j]=power fE[i];
}

216
 PlotXY (ajuste f, AJUSTE F GRAFICO3, frec E, power fE, i+1,
VAL DOUBLE, VAL DOUBLE, VAL SCATTER, VAL SOLID SQUARE,
VAL SOLID, 1, VAL BLUE);
i++;
h++;
}
pot min f2E[j]=pot min f1E[j];
difpower as=0.0;
i=i-1;
l=0;
while (difpower as<umbral2 & h>-1 k l<4)
{
frec f2E[l]=frecF[h];
frec E[i]=frecF[h];
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,dfrec[h]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Fmt (FUENTE pregunta,“%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
HP resp=MediaHP();
power fE[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
power f2E[l]=power fE[i];
if (power fE[i]<pot min f2E[j])
{
pot min f2E[j]=power fE[i];
frec min2E[j]=frec f2E[l];
}
difpower as=power fE[i]-pot min f2E[j];
PlotXY (ajuste f, AJUSTE F GRAFICO3, frec f2E, power f2E, i+1,
VAL DOUBLE, VAL DOUBLE, VAL SCATTER, VAL SOLID SQUARE,
VAL SOLID, 1, VAL DK GREEN);
h=h-1;
i++;
l++;

217
 }
difpower as=0.0;
i=i-1;
h=h+1;
l=0;
while (difpower as<umbral3 & h<i maxf k l<4)
{
frec f3E[l]=frecF[h];
frec E[i]=frecF[h];
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,dfrec[h]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Fmt (FUENTE pregunta,“%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
HP resp=MediaHP();
power fE[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
power f3E[l]=power fE[i];
if (l==0)
{
pot min f3E[j]=power f3E[l];
}
if (power fE[i]<pot min f3E[j])
{
pot min f3E[j]=power fE[i];
frec min3E[j]=frec f3E[l];
}
difpower as=power fE[i] pot min f3E[j];
PlotXY (ajuste f, AJUSTE F GRAFICO3, frec f3E, power f3E, i+1,
VAL DOUBLE, VAL DOUBLE, VAL SCATTER, VAL SOLID SQUARE,
VAL SOLID, 1, VAL MAGENTA);
h=h+1;
i++;
l++;
}

218
 l=0;
i maxf=i;
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto1,frec min2[j]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O,FUENTE pregunta,n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,frec min2E[j] frec min2[j]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O,FUENTE pregunta,n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F POT MIN, pot min f2E[j]);
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F FREC MIN POT2, frec min2E[j]);
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F FREC MIN POT3, frec min3E[j]);
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F LED3, OFF);
Delay(4.0);
HidePanel(ajuste f);
DisplayPanel(estabilpot);
voltimetro[e]=10*log10 (HP resp/voltimetroE ref);
/*FIN DE BARRIDO FINO EN PROCESO DE ESTABILIDAD*/
}
tyme[e]=(sec/60.0)*k;
SetCtrlVal (estabilpot, ESTAB POT TEMPO, tyme[e]);
k=k+1;
PlotXY (estabilpot, ESTAB POT GRAF ESTABIL, tyme, voltimetro,
e+1, VAL DOUBLE, VAL DOUBLE, VAL SCATTER, VAL SOLID SQUARE,
VAL SOLID, 1, VAL BLUE);
Delay(sec);
}
SetCtrlVal ( estabilpot, ESTAB POT LED2, OFF);
Delay(0.5);
HidePanel(estabilpot);
DisplayPanel(ajuste);

219
 if (Fuente==0)
{
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“RECALL A”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
}
FUENTE C = CloseDev (FUENTE O);
}
break;
}
return 0;
}
/*—— FIN DE PROCESO ——*/

int CVICALLBACK Guardar Ajuste (int panel, int control, int event, void *callback-
Data, int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para guardar los datos del Ajuste Grueso*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
if (FileSelectPopup (“”, “*.txt”, “*.txt”, “Nombre del fichero”, VAL OK BUTTON,
0, 1, 1, 0, nombre archivo)>0)
IdentificadorArchivo = OpenFile (nombre archivo, VAL WRITE ONLY,
VAL OPEN AS IS, VAL ASCII);
Fmt (result c, “%s<%s”,“BARRIDO GRUESO ”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 20);
Fmt (result c, “%s<%s%s%s%s”,“LINEA CERTIF(nm)”,“FREC CERTIF(GHz)”,
“FREC OBTEN(GHz) ”,“MEDIDOR(nm)”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 70);
Fmt (result c,“%s<%s”,“ ”);
for (j=0; j<num lineas; j++)
{
Fmt (result c, “%s<%f[w9]%s%f[w10]%s%f[w10]%s%f[w9]”,linea NM[j],“ ”,
linea[j],“ ”,linea min[j],“ ”,medida[j]);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 70);

220
 Fmt (result c,“%s<%s”,“ ”);
Fmt (result c, “%s<%s”,“ DATOS ”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 20);
Fmt (result c,“%s<%s%s”,“FREC(GHz) ”,“POT.REL(dBm) ”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 30);
Fmt (result c,“%s<%s”,“ ”);
for (i=0; i<i max; i++)
{
Fmt (result c, “%s<%f[w10]%s%f[w8]”,frec[i],“ ”,power as[i]);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 50);
}
}
CloseFile (IdentificadorArchivo);
break;
}
return 0;
}

int CVICALLBACK Guardar Ajuste Fino (int panel, int control, int event, void *call-
backData, int eventData1, int eventData2)
{/*rutina para guardar los datos del Ajuste Fino*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
if (FileSelectPopup (“”, “*.txt”, “*.txt”,“Nombre del fichero”, VAL OK BUTTON,
0, 1, 1, 0, nombre archivo)>0)
IdentificadorArchivo = OpenFile (nombre archivo, VAL WRITE ONLY,
VAL OPEN AS IS, VAL ASCII);
Fmt (result c, “%s<%s”,“BARRIDO FINO ”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 20);
Fmt (result c, “%s<%s%s%s”,“LINEA CERTIF(nm)”,“FREC CERTIF(GHz)”,
“FREC OBTEN(GHz) ”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 70);
Fmt (result c,“%s<%s”,“ ”);
for (j=0; j<num lineas; j++)

221
 {
Fmt (result c, “%s<%f[w9]%s%f[w10]%s%f[w10]”,linea NM[j],“ ”,
linea[j],“ ”,frec min2[j]);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 70);
Fmt (result c,“%s<%s”,“ ”);
Fmt (result c, “%s<%s”,“ DATOS ”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 20);
Fmt (result c,“%s<%s%s”,”FREC(GHz) ”,“POT.REL(dBm) ”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 30);
Fmt (result c,“%s<%s”,“ ”);
for (i=0; i<i maxf; i++)
{
Fmt (result c, “%s<%f[w10]%s%f[w8]”,frec f[i],“ ”,power f[i]);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 50);
}
}
CloseFile (IdentificadorArchivo);
break;
}
return 0;
}

int CVICALLBACK Guardar Estabil (int panel, int control, int event, void *callback-
Data, int eventData1, int eventData2)
{/*rutina para guardar los datos de Estabilidad*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
if (FileSelectPopup (, ”*.txt”, ”*.txt”, ”Nombre del fichero”, VAL OK BUTTON,
0, 1, 1, 0, nombre archivo)>0)
IdentificadorArchivo = OpenFile (nombre archivo, VAL WRITE ONLY,
VAL OPEN AS IS, VAL ASCII);
Fmt (result c, “%s<%f%s”, frec min2[j],“ GHz ”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 40);
Fmt (result c, “%s<%s%s”,“TIEMPO(min) ”,“ VOLTIMETRO(dBm) ”);

222
 WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 40);
Fmt (result c, “%s<%s”, “ ”);
for (i=0; i<num muestras+1; i++)
{
Fmt (result c, “%s<%f[w7]%s%f[w9]”,tyme[i],“ ”,voltimetro[i]);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 40);
Fmt (result c, “%s<%s”, ” ”);
}
CloseFile (IdentificadorArchivo);
break;
}
return 0;
}

int CVICALLBACK Numero Lineas (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{/*rutina de selección del tipo de fuente y del número de lı́neas a estudiar */
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
GetCtrlVal(origen,ORIGEN SWITCHFUENTE,&Fuente);
GetCtrlVal (origen,ORIGEN NUM LINEAS,&num lineas);
if (Fuente==1) /*Fuente elegida: láser sintonizable*/
{
Fmt (texto1, “%s<%s”,“F=”);
Fmt (texto2, “%s<%s”,“P=”);
Fmt (texto3,“%s<%s”,“FSCF=”);
MessagePopup(“Laser Seleccionado”,LASER SELECCIONADO);

if (Fuente==0) /*Fuente elegida: DFB*/

{
Fmt (texto1, “%s<%s”,“ch1:F=”);
Fmt (texto2, “%s<%s”,“ch1:P=”);
MessagePopup(“Dfb Seleccionado”,DFB SELECCIONADO);
}

223
 j=0;
MessagePopup(“Selección de Lı́nea”,SELECCION LINEA);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN TABLE, ATTR DIMMED,0);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN ALMAC LINEA, ATTR DIMMED,0);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN NUMERO LINEAS, ATTR DIMMED,1);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN NUM LINEAS, ATTR DIMMED,1);
break;
}
return 0;
}

int CVICALLBACK Almac Linea (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{/*rutina para guardar la frecuencia de la lı́nea elegida por el usuario*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
if (j<num lineas)
{
GetActiveTableCell (origen, ORIGEN TABLE, &tablaXY);
GetTableCellVal (origen, ORIGEN TABLE, tablaXY, &linea[j]);
linea NM[j]=2.997925/(linea[j]*1E-8);
if (j==num lineas-1)
{
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN AJUSTE, ATTR DIMMED, 0);
MessagePopup(“Lineas Almacenadas”,LINEAS ALMACENADAS);
}
else
{
MessagePopup(“Selección de Lı́nea”,SELECCION LINEA);
}
j++;
}
else

224
 {
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN AJUSTE, ATTR DIMMED, 0);
MessagePopup(“Lineas Almacenadas”,LINEAS ALMACENADAS);
}
Delay(0.5);
break;
}
return 0;
}

static double MediaHP(void)

{/*rutina para tomar medidas de tensión del multı́metro digital HP8478A*/
static double sum, voltimedia, volti[10];
static int h;
for (h=0; h<10; h++) /*toma 10 medidas*/
{
hp3478a measure (&volti[h]);
}
Mean (volti, 10, &voltimedia); /*calcula la media de las 10 medidas*/
return(voltimedia);
}

int CVICALLBACK cargar lineas (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{/*rutina para cargas los datos de frecuencia y longitud de onda de las lı́neas en la tabla
de la pantalla de Inicialización */
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
if (FileSelectPopup (“”, “*.txt”, “*.txt”, “Nombre del fichero”, VAL OK BUTTON,
0, 1, 1, 0, nombre archivo)>0)
IdentificadorArchivo = OpenFile (nombre archivo, VAL READ ONLY,
VAL OPEN AS IS, VAL ASCII);

225
 for (j=0; j<60; j++)
{
ReadLine(IdentificadorArchivo, result c,20);
Scan (result c, “%s>%s[w4]%f[w10]”,rama archivo,&linea archivo NM[j]);
SetTableCellVal (origen, ORIGEN TABLE , MakePoint (1, j+1), rama archivo);
SetTableCellVal (origen, ORIGEN TABLE , MakePoint (2, j+1), linea archivo NM[j]);
linea archivo GHz[j]=2.997925/(linea archivo NM[j]*1E-8);
SetTableCellVal (origen, ORIGEN TABLE , MakePoint (3, j+1), linea archivo GHz[j]);
if (linea archivo NM[j]==0.0)
{
j=60;
}
}
break;
}
return 0;
}

/*————- FIN ————-*/

226
 PLANOS

El montaje diseñado e implementado en el laboratorio para la realización del patrón

de frecuencias y posterior calibración de medidores de longitud de onda, se muestra en la
figura 5.25.

Figura 5.25 Montaje implementado en la realización del patrón de frecuencias.

227
228
 PLIEGO DE CONDICIONES

El proyecto ”Introducción al Análisis del Espectro Óptico: Realización de un Patrón

de Frecuencias” ha sido encargado por el Departamento de Metrologı́a del Instituto de
Fı́sica Aplicada Leonardo Torres Quevedo del Consejo Superior de Investigaciones Cientı́ficas,
gracias al acuerdo existente con el Departamento de Tecnologı́a Electrónica de la Escuela
Politécnica Superior de la Universidad Carlos III de Madrid.

El objetivo principal del proyecto ha sido el diseño y realización de un patrón de fre-

cuencias para la calibración de medidores de longitud de onda y de analizadores de espec-
tros ópticos, cuyo proceso estuviera automatizado mediante el control de una aplicación
informática.

El director y responsable del Proyecto ha sido el Dr. D. Pedro Corredera Guillén,

Cientı́fico Titular del Departamento de Metrologı́a del Instituto de Fı́sica Aplicada del CSIC,
si bien, la supervisión final del Proyecto ha sido realizada por la Dra. Dña. Carmen Vázquez
Garcı́a, Profesora Titular del Departamento de Tecnologı́a Electrónica de la Universidad
Carlos III de Madrid.

Esta lı́nea de investigación , ası́ como el dispositivo realizado , están amparados en el

siguiente Pliego de Condiciones:

1.- La propiedad intelectual de los estudios realizados en el presente proyecto, pertenecen

por entero a la Universidad, representada por el Ingeniero Ponente del Proyecto.

2.- La Universidad se reserva el derecho de la utilización total o parcial del presente Proyecto,
bien para su publicación o para su uso en trabajos o proyectos posteriores.

3.- Cualquier tipo de reproducción, ya sea para su uso particular de la Universidad o para
cualquier otra aplicación, deberá contar con la autorización expresa y por escrito del
Ingeniero Ponente del Proyecto, que actuará en representación de la Universidad.

229
4.- En la autorización se debe hacer constar la aplicación a la que se destinan las reproduc-
ciones.

5.- En todas las reproducciones, se indicará la procedencia, mostrando de manera explı́cita

el nombre del Proyecto, el del Ingeniero Ponente y el de la Universidad.

6.- Si el proceso pasa la etapa de desarrollo, cualquier modificación que se realice en él
deberá ser notificada al Ingeniero Ponente del Proyecto y, según el criterio de éste, la
Universidad decidirá o no la modificación propuesta.

7.- En el caso de no aceptar dicha modificación, la Universidad declina toda responsabilidad

derivada de la aplicación de la misma.

8.- La Universidad tendrá prioridad respecto a otros solicitantes en la elaboración de ‘proyec-

tos auxiliares que fuesen necesarios para la posible aplicación industrial que pudiera
derivarse del presente Proyecto, siempre y cuando no renuncie de manera explı́cita a
este derecho. En este caso, deberá autorizar expresamente los proyectos presentados
por otros.

230
 PRESUPUESTO

La realización de este Proyecto ha sido llevada a cabo por un Ingeniero Industrial. El

coste se ha dividido en dos apartados: el coste de personal, que viene determinado por los
honorarios del Ingeniero y la horas trabajadas, y el coste de material, es decir el dinero
gastado en los instrumentos fı́sicos y sistemas de tratamiento de la información.

Todas la cantidades están en euros.

GASTOS DE PERSONAL

Seguidamente se describe el gasto de personal que el presente proyecto ha implicado.

Salarios:

Ingeniero: 27 euros/hora

a) Presupuesto por documentación, estructuración de la información y diseño del montaje.

Trabajo realizado por un Ingeniero Industrial durante 10 semanas a razón de 35 horas
semanales.
Coste: 10×35×27 = 9450 euros

b) Presupuesto por realización y depuración de programas. Trabajo realizado por un Inge-

niero Industrial durante 16 semanas a razón de 35 horas semanales.
Coste: 16×35×27 = 15.120 euros

c) Presupuesto por escritura del documento. Trabajo desempeñado por un Ingeniero Indus-
trial durante 4 semanas a razón de 35 horas a la semana.
Coste: 4×35×27 = 3780 euros

TOTAL SALARIOS: 28350 euros

231
 Cargos Sociales:

Vacaciones anuales retribuidas 8.7%

Indemnización por despido 1.8%
Seguro de accidentes 7.2%
Subsidio familiar 5.2%
Gratificaciones extraordinarias 8.0%
Otros conceptos 10%
TOTAL: 40.9%

TOTAL GASTOS DE PERSONAL: 28350×1.409 = 39945.15 euros

GASTOS DE MATERIAL

A continuación se detallan y contabilizan los gatos correspondientes al material que

ha sido necesario para la realización del presente proyecto, tanto los referentes al software y
programación como los de hardware e instrumentos del montaje planteado.

Láser sintonizable 35039 euros

Mainframe 5494 euros
DFB 7927 euros
Célula de Acetileno 2834 euros
Acoplador, fibra óptica y conectores 180 euros
Detector de InGaAs 360 euros
Multı́metro Digital HP3478A 2404euros
LabWindows/CVI 1442 euros
Ordenador 800 euros
Software ofimático y de cálculo 900 euros

TOTAL GASTOS DE MATERIAL: 57380 euros

TOTAL GASTOS: 97325.15 euros

16% IVA: 15572.02 euros

TOTAL: 112897.17 euros

232