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Dispositivos Electrónicos
Presentado por:
Ing. Arturo Fajardo Jaimes. Ph.D.
AGENDA Semana 1.
• Hora No. 1 y 2. Introducción al curso y a la
metodología.
• Hora No. 3. Fundamentos de la teoría de
semiconductores.
• Hora No. 4. Dispositivo semiconductor básico de
dos terminales: el Diodo.
Hora No. 1 y 2
Introducción al curso y a la
metodología.
AGENDA
• SKILLS
– Hardware: Power, RF and microelectronic instrumentation.
– Spectrum Digital: eZdsp™ F2812 for TMS320F2812 DSP, LF2407 for
TMS320LF2407A.
– Software: Cadence Virtuoso Analog Design Environment, Advanced Design
System (ADS), Ansoft designer, Matlab / Simulink, Code Composer Studio, Code
Warrior, PCB Design in Orcad Layout, C y C++.
– Certifications: Cisco Certified Network Associate (CCNA), Cisco ID :
CSCO11175958.
Real
Gerated
Real
Introducción y Problemática
Este curso introduce al estudiante de Ingeniería Electrónica los
conocimientos básicos de dispositivos semiconductores y sus aplicaciones.
Para permitir que el estudiante entienda y diseñe circuitos electrónicos.
• Dispositivos semiconductores?
• Circuitos electrónicos?
Elaborado por: AF & CP No. 10
Facultad de Ingeniería - Departamento de Electrónica
dq
Ia Ib Ib
dt
Abstracción: V=IR
Medidas “Reales” (mucho mas simple)
Voltaje (V) Corriente (A)
2 0.51 → 0.5
4 0.99 → 1.0
8 2.03 → 2.0
10 2.50 → 2.5
hv
Dispositivo
Fenómeno Físico Físico Símbolo
Modelo
Aplicación (esquemático) Equivalente
Circuito Equivalente
Descripción de la Problemática
Electric Semiconductor
devices devices
Descripción de la Problemática
Electrónica Analógica
Amplificador
Amplificador Operacional
Descripción de la Problemática
Intel Pentium 4
Proceso 0.13um
55 millones de transistores
Reloj: 2.54 GHz
Área: 145 mm²
Electronica
Amplificador
Digital
A
A+
B
B
Lógica Combinatoria
Elaborado por: AF & CP No. 18
Facultad de Ingeniería - Departamento de Electrónica
Ingenieria
Electronica
Función de Transferencia
I R=1kOhm
R=?
V=IR R=2kOhm
Función de Transferencia
Entrada
ho
ho = - K(hi) hi
¿ Qué es 0,0 ?
Relación lineal
Función de Transferencia
Limite
hi
Cambia la entrada,
pero no la salida
Relación Nolineal
Elaborado por: AF & CP No. 22
Facultad de Ingeniería - Departamento de Electrónica
Función de Transferencia
Ganancia=Vo/Vin
Modelo de
pequeña señal
MOSFET
23
Elaborado por: AF & CP No. 23
Facultad de Ingeniería - Departamento de Electrónica
Programa Resumido
Capítulo 1. Dispositivos básico de dos terminales
(Diodos).
Capítulo 2. MOSFET: descripción cualitativa,
polarización, análisis DC y conmutación.
Capítulo 3. MOSFET: análisis AC y manejo de
señal.
Capítulo 4. Amplificadores diferenciales con
tecnología CMOS
Capítulo 5. Otros dispositivos semiconductores de
tres terminales (BJT, JFET, etc).
Metal
Oxide
Semiconductor
Field
Effect
Transistor
INTERES
EXPERIENCIA
APRENDIZAJE
(EVALUCION)
ACTIVIDAD
La Asistencia a Clase
NO ES OBLIGATORIA
La Asistencia a los Parciales
ES OBLIGATORIA
Correo: fajardoa@javeriana.edu.co
arfaja1979@gmail.com
Bibliografía
1. SEDRA & SMITH “Microelectronic Circuits”, Ed. Oxford. 6ª. Ed. 2011.
2. NEAMEN “Microelectronics: Circuit analysis and design” Ed. McGraw-
Hill 4th edition, 2010.
3. Gray, Paul R. “Analysis and design of analog integrated circuits”, John
Wiley 4th edition, 2001.
4. Razavi, Behzad. “Design of analog CMOS integrated circuits”, McGraw-
Hill, 2001.
5. Howe, Roger Thomas. “Microelectronics an integrated approach”,
Prentice Hall, 1997.
6. Millman, Jacob. “Electrónica integrada circuitos y sistemas analógicos y
digitales”, Editorial Hispano Europea 9ª ed. 1991
7. Baker, Russel Jacob. “CMOS mixed-signal circuit design”, IEEE Press,
2nd ed. 2009.
8. Kang, Sung-Mo. “CMOS digital integrated circuits analysis and design”,
McGraw-Hill, 2003
9. Schilling, Donald Lawrence. “Electronic circuits discrete and integrated”,
McGraw-Hill 3rd ed., 1989.
Hora No. 3
Fundamentos de la teoría de
semiconductores.
Agenda
1. Estructura atómica
2. El silicio y su estructura atómica
3. Bandas de Energía
4. Semiconductores Intrínsecos
5. Mecanismos de conducción en semiconductores
6. Semiconductores Extrínsecos
Estructura atómica
Capas internas
Electrones
• El número atómico me
- dice el número de
- electrones y protones que
contiene un átomo.
-
- -
Protones
+ +
+ + + • Cuando se aplica una
- - + + + + - - cantidad de fuerza al
+ + + átomo (energía térmica),
+ + superior a la fuerza que
está generando el núcleo
- - - sobre la última capa, se
- genera un electrón libre el
-
Capa externa cual deja un hueco en la
capa de valencia.
Núcleo
Estructura atómica
III - IV - V
- - - -
-
-
Núcleo
Capa externa
Estructura atómica del Si Modelo simplificado
Bandas de energia
BC BC BC
Energía
Eg>4eV Eg_Si=1.12eV
BV BV
BV
- +4 -
-
- - -
- +4 - - +4 - - +4 -
- - -
-
- +4 -
Obleas
Millimeter
(mm) 10-3 m
micrometer
(µm)* 10-6 m
Nanometer
(nm) 10-9 m
angstrom
(Å) 10-10 m
a = 5.43Å
Semiconductores Intrínsecos
Par Electrón-hueco
- +4 -
-
-
- - -
- +4 - - +4 - +4 -
- - -
-
- +4 -
-
Elaborado por: AF & CP No. 42
Facultad de Ingeniería - Departamento de Electrónica
Semiconductores Intrínsecos
Semiconductores Intrínsecos
Semiconductores Intrínsecos
"n" la concentración de electrones ; "p" la concentración de huecos
La movilidad electrónica caracteriza la rapidez con que un portador de carga se
mueve en el material en presencia de un campo externo.
-
La conductividad
Electrón del semiconductor:
- +4 -
libre 𝜎 = 𝑞 𝑛𝜇𝑛 + 𝑝𝜇𝑝
-
Bajo equilibrio térmico:
- -
-
- BC 2
𝑛𝑝 = 𝑛𝑖
- - - -
ley de acción de
- +4 - - +4 - +4 - Eg_Si=1.12eV
masas
+ + + +
- - - BV
-
Para un semiconductor
intrínseco:
- +4 -
𝑛 = 𝑝 = 𝑛𝑖
Hueco
𝜎𝑖 = 𝑞𝑛𝑖 𝜇𝑛 + 𝜇𝑝
-
Semiconductores Intrínsecos
Semiconductores Intrínsecos
ni es la concentración intrínseca (portadores/cm3) del semiconductor,
función exclusiva de la temperatura y del elemento en cuestión.
Material EG [eV] A0 [1/cm3xK3/2]
Silicio 1,12 5,23x1015
Germanio 0,66 1,66x1015
1 𝐸𝐺
𝑛𝑖 = 𝐴 0 𝑇 3/2 𝑒𝑥𝑝 −
𝑘𝑇 2
Donde:
T es la temperatura absoluta [°K]
k es la constante de Boltzman ~8,62×10-5 [eV/°K]
A0 es una constante del material independiente de T
[portadores/°K3/2cm3]
EG es la energía de brecha [eV]
Difusion
Arrastre
Conducción en Semiconductores
Mayor Menor
Concentración Concentración
de huecos de huecos
dp Densidad de Densidad de
J p qDp dn Corriente de
dx Corriente de J n qDn
huecos dx electrones
Figure A bar of intrinsic silicon (a) in which the hole concentration profile shown in (b) has been created along the x-
axis by some unspecified mechanism.
Conducción en Semiconductores
El campo eléctrico E(V/cm) acelera los huecos y los electrones
Flujo de corriente
Flujo de corriente en un semiconductor
• Densidad de corriente de conducción (o deriva): Es la
densidad de corriente debida a un campo eléctrico:
𝐽𝑆 = 𝐽𝐷𝑟𝑖𝑓𝑡 = 𝜎𝑛 𝐸 + 𝜎𝑝 𝐸
Semiconductores Intrínsecos
A temperatura ambiente solo se ioniza algo
22 3
El silicio tiene 5 x10 . Atomos / cm menos de 1 por cada 1000´000.000 de
átomos
1 2 3 4 5 6
El silicio intrínseco no resulta muy útil en la conducción. Las corrientes inducidas son
muy pequeñas para aplicaciones practicas (por lo general menos de 1nA). Solución:
implantar impurezas especificas en el cristal (semiconductores extrínsecos)
Electrón
libre
- +4 -
-
- - - BC Portadores mayoritarios
- --------- Nivel de energía
- +4 - - +5 - - +4 - donador
+ + + +
- - - BV
-
- +4 -
Hueco
- +4 -
-
- - - BC
- - - -
Nivel de energía
- +4 - - +3 - +4 -
aceptador
++++++
- - - BV
-
Portadores mayoritarios
- +4 -
2
2 𝑛𝑖
𝑝𝑛 𝑛𝑛 = 𝑝𝑝 𝑛𝑝 = 𝑛𝑖 𝑝𝑛 = 𝑛𝑛 ≫ 𝑝𝑛
𝑁𝐷
ley de acción de masas
𝑛𝑛 = 𝑁𝐷
Semiconductores extrínsecos
2
𝑝𝑛 𝑛𝑛 = 𝑝𝑝 𝑛𝑝 = 𝑛𝑖 𝜎 = 𝑞 𝑛𝜇𝑛 + 𝑝𝜇𝑝
ley de acción de masas La conductividad del semiconductor
Hora No. 3
El diodo
Agenda
I
V
+ -
Ánodo Cátodo
I diodo ideal V
Juntura pn
p n
-+ -+ -+ -+ +- +- +- +-
-+ -+ -+ -+ +- +- +- +-
-+ -+ -+ -+ +- +- +- +-
Juntura pn
p n
-+ -+ -+ - + +- +- +-
- + - + - +Zona
- de deplexión
+ +- +- +-
-+ -+ -+ - + +- +- +-
Juntura pn
𝑁𝐴 𝑁𝐷 𝐷𝑛 𝐷𝑝 𝑘𝑇
𝑉0 = 𝑉𝐹 = 𝑉𝐷 = 𝑉𝑇 𝑙𝑛 , donde 𝑉𝑇 = = =
𝑛𝑖 2 𝜇𝑛 𝜇𝑝 𝑞
p Xp Xn n
-+ -+ -+ - + +- +- +-
- + - + - +Zona
- de deplexión
+ +- +- +-
-+ -+ -+ - + +- +- +-
Juntura pn
Distribución de cargas – Polarización inversa
p n
-+ -+ -+ - + +- +- +-
-+ -+ -+ - + +- +- +-
-+ -+ -+ - + +- +- +-
Juntura pn
Distribución de cargas – Polarización inversa
p n
-+ -+ - - + + +- +-
-+ -+ - - + + +- +-
-+ -+ - - + + +- +-
Varactor
Capacitancia de Depleción o
de Agotamiento (disminuye
con el voltaje inverso)
Efecto avalancha
Los diodos admiten unos valores máximos en las tensiones que se
les aplican, existe un límite para la tensión máxima en inversa con
que se puede polarizar un diodo
•Efecto Zener
•Efecto Avalancha
Región
Inversa
Diodos Zener
Diodos Zener
𝑉𝑍 = 𝑉𝑍0 + 𝑟𝑧 𝐼𝑍
Características:
𝑉𝑍𝐾 𝑒𝑠 𝑒𝑙 𝑣𝑜𝑙𝑡𝑎𝑗𝑒 𝑧𝑒𝑛𝑒𝑟 𝑑𝑒 𝑐𝑜𝑟𝑡𝑒
𝐼𝑍𝐾 𝑒𝑠 𝑙𝑎 𝑐𝑜𝑟𝑟𝑖𝑒𝑛𝑡𝑒 𝑧𝑒𝑛𝑒𝑟 𝑑𝑒 𝑐𝑜𝑟𝑡𝑒
𝑉𝑍 𝑒𝑠 𝑒𝑙 𝑣𝑜𝑙𝑡𝑎𝑗𝑒 𝑧𝑒𝑛𝑒𝑟
𝑟𝑍 𝑟𝑒𝑠𝑖𝑠𝑡𝑒𝑛𝑐𝑖𝑎 𝑧𝑒𝑛𝑒𝑟
Juntura pn
p n
-+ -+ -+ - + +- +- +-
-+ -+ -+ - J + +- +- +-
-+ -+ -+ - + +- +- +-
Mayor cantidad de
Región huecos y electrones
Directa pasan la barrera
Baja la barrera
Juntura PN Polarización
Corriente en el diodo k: Cosntante de Boltzman (1.38 10e-23 (Jule/K)
T: Temperatura en K (K = 273+T˚C)
i is ev nVT 1 q: Carga del electrón (magnitud) 1.6 10e-19 Coulomb
n: entre 1 y 2 depende del material y el proceso
kT Si T=20˚C
donde VT VT =25.2mV
q
is: corriente de saturación (del orden de 10e-9 a 10e-15 A)
•Depende de la temperatura se duplica cada 5˚C
•Es “constante” para cada diodo (depende del área)
is
Doble área
Área
2is
is
is
Elaborado por: AF & CP No. 73
Facultad de Ingeniería - Departamento de Electrónica
Corriente
por el diodo
Corriente de saturación
i i e s
v nVT
1
v
i is e nVT
is
Si i is i is i
v
i is e nVT Despejando v
i
v nVT ln Ecuaciones válidas hasta por 7 décadas
is
𝑣ൗ
𝑖𝐷 = 𝐼0 𝑒 𝑛𝑉𝑇 −1
𝐼0 es la corriente de saturación
𝑉𝑇 𝑒𝑠 𝑒𝑙 𝑣𝑜𝑙𝑡𝑎𝑗𝑒 𝑡é𝑟𝑚𝑖𝑐𝑜
𝑛 𝑒𝑠 𝑢𝑛𝑎 𝑐𝑜𝑛𝑠𝑡𝑎𝑛𝑡𝑒 𝑒𝑛𝑡𝑟𝑒 1 𝑦 2
Características:
𝑣𝐷 𝑣𝑜𝑙𝑡𝑎𝑗𝑒 𝑑𝑒 𝑐𝑎𝑖𝑑𝑎 𝑑𝑖𝑟𝑒𝑐𝑡𝑜
𝑣𝐷 𝑆𝑖 = 0.7𝑉 𝑦 𝑉𝐷 𝐺𝑒 = 0.3𝑉
𝑖𝐷 𝑐𝑜𝑟𝑟𝑖𝑒𝑛𝑡𝑒 𝑑𝑒 𝑐𝑎𝑖𝑑𝑎 𝑑𝑖𝑟𝑒𝑐𝑡𝑜
𝑅𝐹 𝑟𝑒𝑠𝑖𝑠𝑡𝑒𝑛𝑐𝑖𝑎 𝑑𝑒 𝑝𝑜𝑙𝑎𝑟𝑖𝑧𝑎𝑐𝑖ó𝑛 𝑑𝑖𝑟𝑒𝑐𝑡𝑎
Diodo ideal Diodo ideal en serie con Diodo ideal en serie con
fuente de V fuente de V y R
I I I
V V V
E E
V V V
+ - + - + R
Ánodo Cátodo Ánodo E Cátodo Ánodo - Cátodo
I I I E
Variación con T
Variación con T
Capacidades paracitas
𝑑𝑄
𝐶𝑇 =
𝑑𝑉
Capacidad de difusión: Cuando el diodo está en polarización
directa, se crea una capacitancia entre los portadores minoritarios
dependiente de la corriente.