Magallanes, 25.-Madrid-15.

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© ERNESTO ORELLANA, Madrid, 1972

© PARANINFO, Madrid (Espana)
Reservados Ias derechos de edición,
reproducción o adaptación para todos
Ias países.
lMPRESO EN ESPANA
PRINTED IN SPAIN
ISBN: 84-283-1153-6

Depósito Legal: M-35I84-1981

~ARANINF~ .SA. Magallanes, 25 - MADRID (15) (2-3053)

ALCO, artes gráficas. Jaspe, 34 - Madrid-26
A Ia memoria de mi maestro,
el físico JULIO PALA CIOS.
i.
,
" PROLOGO

a Ia primera edición

El origen de la obra presente son las explicaciones dadas en mis- ela-

ses de Prospección Geofísica, de la especialidad de Física de la Tierra en
la Facultad de Ciencias de Madrid (Universidad Complutense).
EDITORIAL PARANINFO, por su especialización técnica y univ~rsitaria,
ha recibido frecuentemente peticiones de bibliografía sobre el tema. Su
insistencia sobre mí por esta causa, me ha animado a transformar mis
experiencias en un libro.
Una vez tomada esta decisión, y al considerar las características de
la futura obra, se hizo evidente la necesidad de un texto o manual prác-
tico capaz de servir de orientación a los profesionales de la Prospección
Geoeléctrica, por lo que he procurado atender también a este aspecto.
La finalidad de este libra es, pues, múltiple, y no sólo se contienen en
él las temas exigibles en un curso de introducción,· sino otros más espe-
cíficos, que pudiéramos llamar de ampliación, así como cuestiones inte-
resantes en la práctica profesional. Por esta causa, y siguiendo el prece-
dente establecido por obréls como la de Grant y West y la de Keller y
Frischknecht, el nivel a que son tratados los diferentes temas es varia-
ble. Ios puntos teóricos más básicos e importantes son considerados de
modo más elemental y detallado que otros menos fundamentales. Al
redactar los temas prácticos referentes al trabajo de campo, he procu-
rado que sean asequibles a los operadores. Otras cuestiones se han tra-
tado a nivel más elevado, pues no pueden dominarse sin los conocimien-
tos de Física y Matemáticas Aplicadéls que se suponen poseídos por los
alumnos de los últimos cursos de Ciencias Físicas.
Ias desarrollos teóricos se han expuesto con el debido rigor, pero sin
olvidar que la finalidad de los mismos es aclarar los procesos físicos que
tienen lugar en la exploración geofísica del subsuelo, y poder someterlos
a cálculo. He procurado mostrar la íntima relación que debe existir entre
la teoría físico-matemática y la P!áctica de campo e interpretativa, y he
7
PROLOGO

prescindido, tanto de teorías carentes de realismo, como de técnicas Sln

base teórica.
En los últimos anos, la Prospección Geoeléctrica ha experimentado
gran desarrollo, por 10 que el número de técnicas y problemas diferentes
es muy grande. Por otra parte, la teoría de unos y otros suele ser rela-
tivamente complicada. Esta exige dar a la presente obra una extensión re-
lativamente grande, por 10 que he considerado conveniente dividirla en dos
volúmenes, el primero de los cuales, que es el que el lector tiene en sus
manos, se dedica a los métodos de campo constante, esta es, de corriente
continua, y el segundo, ahora en preparación, donde se tratarán los mé-
todos de campo variable, actualmente en fase de rápido crecimiento.
Aun así, ha sido necesario efectuar una selección de métodos y téc-
nicas, prescindiendo de procedimientos prospectivos anticuados o pocp
eficaces. Algunos temas teóricos que hubiesen requerido gran número de
páginas para su exposición detallada, se han expuesto sólo en sus rasgos
esenciales. En todo caso, se tratan con extensión suficiente todas las
teorías importantes por su aplicación práctica, y se introduce al lector
en los problemas cuyo estudio completo es propio de monografías es-
peciales.
Obras como la presente han de basarse, nêcesariamente, en publica-
ciones anteriores. Sus fuentes principales son, por una parte, mi experi?n~
cia personal de algo más de veinte anos en la Prospección Geofísica, casi
siempre geoeléctrica, reflejada en diversas publicaciones anteriores, y por
otra, la literatura de la especialidad, tanto occidental como soviética. En
10 que respecta a esta última, he recurrido, siempre que me ha sido po-
sible, a la consulta directa de los originales rusos. Ello me ha permitido
la inclusión de ideas y técnicas tan interesantes como poco conocidas en
Occidente, y cuya eficacia práctica he podido comprobar personalmente
en la mayoría de los casos.
En 10 que respecta a magnitudes y unidades, se utiliza exclusivamente
el sistema Giorgi racionaliz'ado o MKSA, de acuerdo con el moderno SI
(Sistema Internacional). Al proceder así, he tenido en cuenta que, en
Electromagnetismo, el citado sistema implica un conjunto de conceptos
mucho más adecuado a la realidad física que el viejo sistema "de Gauss",
como han demostrado sobradamente Palacios y otros investigadores.
Una vez expuestas estas consideraciones generales parece conveniente
hacer algunos comentarios breves sobre la finalidad, contenido y fuentes
de cada capítulo de esta obra.
El capítulo primero tiene .carácter introductorio, y expone la natu-
raleza, utilidad y desarrollo histórico de los métodos geoeléctricos de
prospección, así como sus relaciones con las ciencias básicas. Lamento
haberme visto obligado, tanto en este capítulo como en alguno de los
restantes, a emitir juicios poco favorables sobre cierta escuela geoeléc-
8
 .p R O L O G O

trica, muy extendida en tiempos en los países de habla inglesa, y todavía

no extinguida por. completo, pero creo obligación mía evitar que el leco
tor, mal informado, siga un camino que, aunque de .facilidad tentadora,
no le conduciría a ninguna parte, y le incapacitaría pmoa comprender y
aplicar eficazmente los métodos de prospecciórt geoelé.ctrica.
EI capítulo II se ocupa de Ias propiedades electromagnéticas de mi-
nerales y rocas y tiene por (uente principal el libro de Parkhomenko,
así como trabajos de Keller, Parasnis y otros autores, junto con los datos
recogidos por mí sobre Ia rica variedad de Ias rocas espanolaso Junto
con Ia resistividad, se consideran Ia constante dieléctrica y Ia permeabi-
lidad· magnética, que habrán de tenerse en cuenta en los métodos de
campo variable. He intentado que el lector obtenga una idea clara de
tales propiedades y de Ias variables físicas que sobre ellas influyen, pero
dada Ia complejidad de los fenómenos y 10 incompleto de los estudios
realizados hasta ahora, Ia visión que puede conseguirse de algunos as-
pectos deI tema no podrá ser tan simple y nítida como querría un car-
tesiano.
Ios conceptos fundam~ntales, tanto físicos como operativos de Ia
Prospección Geoeléctrica en corriente ·continua, constituyen el contenido
deI capítulo tercero. Dada Ia importancia de tales conceptos para Ia recta
comprensión deI resto de la obra, Ia exposición es detallada y relativa-
mente elemental.
Ios capítulos IV y V, que se dedican respectivamente a Ia teoría y
práetica deI SEV, son, por así decirlo, los más "personales". E.n el pri-
mero de ellos se desarrollan Ias ideas de Maillet junto con mis aportacio-
nes aI tema, siguiendo en gran parte, aunque en forma más concisa, mi
tesis doctoral. Ia complejidad matemática de algunas teorías hace que
sólo hayan podido exponerse a grandes rasgos, por Ias razones de espa-
cio ya apuntadas. EI contenido de este capítulo IV se refiere exclusiva-
mente aI problema directo, ya que el inverso, o interpretación, se trata
en el V, junto con el planteamiento y ejecución de Ias mediciones de
campo. Al considerar los dos últimos temas mencionados, he tenido en
cuenta Ia experiencia de Ias companías de prospección espanolas más
competentes, y la técnica de campo que se describe es el resultado de una
larga evolución en Ia que los sucesivos perfeccionamientos han ido siendo
contrastados por Ia práctica. En Ia que se refiere a Ia interpretación, he
insistido sobre ciertas ideas básicas, a veces olvidadas.
Ios sondeos dipolares, que constituyen el tema deI capítulo VI, se
describen partiendo deI SE V, por 10 que, en general, basta mostrar Ias
diferencias entre ambos, 10 que hace relativamente breve el texto corres-
pondiente. Su fuente principal son Ias publicaciones de Alpin y sus cola-
boradores.
EI contenido deI capítulo VII, dedicado alas calicatas eléctricas, pa-
9
 PROLOGO

recerá muy nuevo y original a muchos lectores. En realidad nohay tal,

ya que gran parte de dicho capítulo no es sino un resumen de Ias ideas
y técnicas expuestas· por 1. M. Blokh en uno de sus libros, que elevan
dicho método prospectivo, muy poco desarrollado en Occidente, a nivel ..
comparable aI de los más perfeccionados.
EI método de Ias líneas equipotenciales se estudia en el capítulo VIII.
Puede sorprender Ia inclusión de un método' tenido por muchos como
anticuado. Pero ello no quiere decir que sea ineficaz, y a veces los mé-
todos más sencillos dan resultados semejantes y aun superiores, y con
menor coste, que otros mucho más sofisticados. Incluso en ciertas con-
diciones, el estudio por equipotenciales puede resolver problemas de difí-
cil solución por otros procedimientos. Por otra parte, este método posee
una modalidad muy útil y usada, la del cuerpo cargado o "mise a Ia
masse".
La descripción de otro método prospectivo, úmcillo y antiguo, aunque
no viejo, el del potencial espontáneo, es el tema tratado en el capítu- r.""l·
lo IX, final de este primer tomo.
Como es justo y obligado, debo terminar este prólogo mostrando mi
agradecimiento a Ias personas o entidades que han colaborado en Ia pre-
paración y edición de esta obra.

,,
Entre éstas figuran Ia Editorial Paraninfo; ia empresa Philips, que ha
decidido Ia inclusión de esta obra en su Biblioteca Técnica y ha sumi-
nistrado varias fotografías; D. Angel Río, que ha leído y revisado todo
el original, sugiriendo múltiples mejoras; D. Cecilio Olivier, D. Fernando
Villalón y D. José Luis Gonzalo, que ha hecho 10 propio con partes de Ia
obra; Ias empresas prospectoras Tecnhydros, S. R: L. y Recursos Natura-
les S. A., que han facilitado diversos ejemplos prácticos, debiéndose ade-
más a Ia primera de ellas, Ia labor de dibujo de Ia mayoría de Ias ilustracio-
nes; Geotrón, S. A., que ha proporcionado fotografías de instrumentos; mi
herrrJ-anaMaría Mercedes, que ha mecanografiado el original manuscrito,
de difícil caligrafía, y finalmente, Ia European Association of Exploration ....,r'
Geophysicists por haber autorizado Ia reproducción de algunas figuras.

10
 PROLOGO
a Ia segunda edición

Los progresos de la Prospección Geoeléctrica por corriente continuu

en los últimos anos hacían inviable una reimpresión de esta obra, ya an-
ticuada en algunos aspectos, y obligaban a su actualizaGÍón.
En esta segunda edición se han anadido apartados sobre nuevos mé-
todos prospecth'os, como el de medición magnetométrica de resistividades
(MMR) y la cartografia bipolar.
El capítulo IV, sohre teorza del SEV, ha sido reordenado; los concep-
tos de Maillet (Dar Zarrouk) se introducen de manera que considero más
efectiva que la utilizada en la edición anterior, en relación con la ambi-
güedad de las soluciones; se establece el nuevo concepto de equivalencia
y se estudia la equivalencia de Zohdy. Además, se han anadido varios
apartados sobre nuevos métodos de cálculo para cortes geoeléctricos com-
plejos.
El capítulo V ha sido actualizado en el aspecto instrumental, y se ha
ampliado notablemente la parte dedicada a la interpretación, en la que
se han incluida los abundantes métodos numéricos modernos.
En muchos lugares de la obra se han insertado o modificado párra-
fos para dar cuenta de aportaciones o trabajos recientes e interesantes.
El nlÍmero de publicaciones sobre temas geoeléctricos en los últimos ocho
o die-::. G/10S es bastante grande, hasta el' punto de que [as referencias
bibliográficas en esta edición duplican prácticamente las de la primera.
.' .•.•...
Naturalmente, he tenido que efectuar una selección entre dichas apor-
taciones o nuevas ideas, para incluir aquz sólo aquellas que parezcan
prometedoras o de mayor futuro. Esta selección implica, naturalmente,
1m facto r subjetivo, con el consiguiente riesgo de error. Espero haver
acertado en ello, al menos en la mayoria de los casos.
En parte para conservar aproximadamente la extensión de la obra, y
en parte para 110 desvirtuar la actualización efectuada. he suprimido pá-
11
PROLOGO

rrafos o apartados referentes a técnicas o puntos de vista ya anticuados,

manteniendo no obstante algunos que son útíles para aclarar conceptos.
Además se han corregido todas las erratas advertidas y se han mo-
.•
dificado o ampliado ciertos párrafos tocantes a plmtos que la experien-
cia me ha demostrado que son propensos a malos entendidos o a la
formación de conceptos falsos.
Agradezco a Paraninfo su esfuerzo para conseguir una presentación
esmerada de la obra, así como a Geotrón, S. A., Scintrex, Ltd., CSIR (Pre-
toria) e lbergesa su ayuda para la ílustración de la misma.

.~

12
 INDICE DE MATERIAS

Prólogo ... ... ... ... ... ... ... ... ... 7
Prólogo a Ia segunda edición . .:. . .. 11

Principales símbolos utilizados ... . 23

Siglas empleadas ... ... ... ... . .. 24

Capítulo L INTRODUCCION.
1.1. Prospección Geofísica ... ... ... ... . 25
1.2. Prospección y Geofísica Aplicada . 26
1.3. La Prospección Geofísica, Ia Física y Ia Geofísica Pura . 26
IA. Prospección Geofísica y Geología 0 •••
27
1.5. Métodos mayores de Ia Prospección Geofísica . .. 28
1.6. Métodos geoeléctricos y su desarrollo histórico . 28
1. Epoca primitiva . 29
2. Epoca c1ásica . 29
3. Epoca contemporánea . 34
1.7. Clasificación de los métodos geoeléctricos . o. • •• 35
1.8. Aplicaciones de 10s métodos geoeléctricos de prospección 36

Capítulo lI. PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS

ROCAS.

lU. Introducción . 38
11.2. La Resistividad . 39
11.3. Clases de conductividad en minerales y agua . .. 40
lIA. Metales . 40
lI.5. Semiconductores . 42
11.6. Minerales semiconductores. Resistividad de Ias menas 44

_________ 13_1
INDICE DE MATERIAS

IV.8. Cortes equivalentes _ . 184

l. Definición. .. . 184
2. La equivalencia clásica _ . 184
3. La equivalencia de Zohdy "0 ••••••••••••••••••••••••
187
4. Cambios en el número de capas ... 187
IV.9. La función característica '" ... . .. 188
l. In troducción ... ... _.. _.. ... 188
2. La función característica de Slichter .. _ ... 189
3. La función característica de King ... ... . .. 190
4. La función característca de Vanyan 192
IV.ID. Propiedades de Ia función característica . o. . •. 194
IV.Il. La curva de resistividad aparente ... .. o ••• • ••
201
IV.12. Las cuatro funciones fundamen tales . 206
IV.13. Las ecuaciones de Maillet ... . .. 210
l. Tntrod ucción ... ... ... .. . 210
2. Primera forma de Ia ecuación de Ia prospección ... 212
3. Segunda forma de Ia ecuación de Ia prospección 213
IV.14. Sondeos eléctricos en el mar .. . 218
IV.15. Cortes con capas de transición . 219
IV.16. Contactos inclinados ... ... ... '" 222
IV.17. Contactos verticales y horizontales .. . 226
IV.18. Heterogeneidad general . 229
l. Introducción . 229
2. EI procedimiento de Alfano .. , . 229
3. Diferencias finitas ... . .. 233
4. Elementos finitos .. o ••• • •• 236
5. iLos medios "alfa armónicos" de Stefanescu . o. o.. . .. 239

Capítulo V. PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VER-

TICAL.
V.l. Introducción............................................. 243
V.2. Planteamiento deI problema y recopilación de datos previos. 244
V.3. Elección deI método prospectivo y de su modalidad con-
creta de empleo 246
V.4. Programación deI trabajo de campo 247
V.5. Trabajo de campo 251
O. Introducción... 251
. l. Circuito de emisión 251
1. Resistencias de con tacto .. . .. . .. . . .. . .. .. . 253
2. Fugas ~.................... 253
3. Electrodos de "infinito" ... ... ... ... ... ... ... 257
4. Instrumentos y accesorios en el circuito de emi·
sión 258

16
 INDICE DE MATERIAS

2. Circuito de recepclOn o de potencial . o. ••• ••• ••• 265

1. Polarización de electrodos ... ... ... ... 269
2. Corrien tes perturbadoras . .. .. . .. . .. . 271
3. Instrumentos para Ia medición de IIV ... ... 272
3. Independencia entre 10s dos circuitos .. o o. o o.. • o o 277
V.6. Proceso de Ia medición de campo o.. 277
V.7. Hojas de campo o ••••• o ••• ••• ••• ••• 283
V.8. Calidad de Ias curvas de campo o'' ••• ••• ••• ••• ••• ••• 285
V.9. Mediciones en corriente alterna o conmutada ... ... ... ... 286
V.IO. Schlumberger contra Wenner. Saltos de empalme 287
V.II. La interpretación ... 291
1. Introducción... 291
2. Catálogos de curvas patrón 292
3. Interpretación cualitativa ... 295
1. Definición... ... ... 295
2. Mapas de tipos de curvas ... ... 295
3. Mapas de conductancia longitudinal S 297
4. Mapas de resistencia transversal 299
5. Mapas de resistividad aparente 299
6. Representación en cortes .. o ••• ••• ••• 300
V.12. Interpretación cuantitativa ... ... ... ... ... ... 301
1. Generalidades y clasificación de métodos 301
2. Métodos gráficos de interpretación ... ... 301
1. Métodos interpretativos de Ia primera época 301
2. Métodos de superposición ... 302
3. EI método deI punto auxiliar 304
4. Construcción deI autor para curvas de 10s tipos
H y A o ••• ••• ••• ••• ••• ••• 306
5. J uicio sobre el método deI punto auxiliar '" 308
6. EI método "francés" ... ... o o. 309
V.l3. Métodos numéricos de interpretación 310
1. Características generales ... ... ... 310
2. Métodos de aproximaciones sucesivas 311
3. Métodos de inversión ... 314
4. Los métodos de Koefoed 317
5. Métodos en los que se obtiene Ia CDZ o.. 318
V.14. Comentarios sobre Ias métodos descritos 321
V.15. La interpretación automática controlada 322
V.16. Orientaciones para Ia interpretación 325
V.17. Curvas para capas inclinadas ... ... ... 329
V.18. Curvas para contactos verticales y horizontales 332
V.19. EI SEV en Ia investigación petrolera ... '" ... 337
V.20. EI SEV en Ias investigaciones hidrogeológicas 339
V.2I. EI SEV en Ia geotecnia ... ... ... ... ... ... ... ... 346
17
INDICE DE MATERIAS

V.22. EI SEV en Ia minerÍa , 348

V.23. EI SEV en Ia investigación geotérmica 349
V.24. SEV de gran profundidad '" 350
V.25. Ejecución de SEV acuáticos '" o.. 353

Capítulo VI. SONDEOS DIPOLARES.

VI.1. Definición y características principales .. o .. o .. o 355

VI.2. Tipos de sondeo dipolar 0 •• 0 356
VI.3. Distancia representativa o .. o .. o .. o o .. o... 359
VIA. Clases de resistividad aparente en los sondeos dipolares .. o 360
VI.5. Dispositivos dipolares recíprocos ... ... ... .. o o" 367
VI.6. Resistividades aparentes para dispositivos finitos 368
VI.7. Trabajo de campo o .. o .. o .. o .. o 372
VI.8. Características prácticas de los diferentes dispositivos 373
1. Dispositivo radial o .. o .. o o 373
2. Disp03itivo azimutal o .. o . o 374
3. Dispositivo paralelo o 374
4. Dispositivo perpendicular .. o 375
VI. 9. Cálculo de curvas teóricas . .. .. o 376
VI.l O. Transformación de curvas .. o .. o .. o .. o o.. 380
VI.l1. Interpretación cualitativa .. o .. o . o .. o ... ... 380
VI.l2. Interpretación cuantitativa ... .. o" .. o .. o .. o .. o 384
VI.13. Sondeos dipolares en el mar o .. o o 386
VI.l4. Aplicaciones de los sondeos dipolares .. o o 388
VI.l5. Cartografía bipolar .. , o o o.' 390
1. Aspectos teóricos . .. .. o .. . .. o .. . .. o .. o .. o .. o . .. 390
2. Aspectos prácticos ... ... ... ... ... .. o . .. .. o .. . .. . 392

CAPITULO VII. CALICAT AS ELECTRICASo

VII.l. Definición y generalidades o .. o .. o 395

VII.2. Clasificación de Ias calicatas eléctricas .. o ... .. o 396
VII.3. Algunas consideraciones teóricas ... . o' o.. . oo o.o o.. .. o 397
VIlA. Reso!ución de problemas directos .. o o'o o.o . oo o" . oo . o. 403
1. Generalidades........... o .. o '" ... 403
2. Capa vertical , o o o... 405
3. Método de Logn , o .. o 407
4. Heterogeneidad en forma de cilindro .. o 410
5. Heterogeneidad esférica o .. o o 413
6. Comentarios... o.. .. o .. o .. o .. o 415
7. Efectos topográficos ... ... .. o ... 416
8. Ensayos sobre modelos reducidos o..
"0 o..
0.0 o.. o.. 417

18
 INDICE DE MATERIAS

VII.5: Disposición y mOVlmlento de los electrodos en diversos

tipos de 'calicatas 419
VII.6. Representación gráfica de Ias resistividades aparentes. No-
taCÍón y nomenclatura '" '... 425
VIL7. Puntos característicos 426
VII.8. Valoración de Ias anomalías 428
VII.9. Catálogos de curvas patrón '" 429
VIU O. Elección deI tipo de calicata más adecuado 431
VII.!1. Programación deI trabajo ... ... 435
VIU2. Instrumental y trabajo de campo 439
VIU3. Anomalías típicas... ... ... ... ... 440
1. Contacto entre dos medios 440
2. Capas anchas 442
3. Ca pas delgadas 445
4. Heterogeneidades de tamaÍÍo finito 448
5. Anomalías producidas por el relieve deI terreno 449
6. Anomalías en Ias mediciones simultáneas sobre perfiles
paralelos ... ... ... ... ... ... ... ... ... ... 450
7. Anomalía en los dispositivos de gradientes 451
8. Influjo deI rumbo deI perfil 452
VII.14. Interpretación cualitativa 452
VII.15. Interpretación cuantitativa 455
VII.16. Método de bloques ... ... :.. 459
VIU7. Calicatas con dispositivos compuestos y de cero 464
VII.18. Calicatas circulares ... 469
VII.19. Otros tipos de calicatas " 472
VII.20. Calicatas marinas ... ... .., 473
VI1.21. Calicateo por medición magnética de resistividades
(M.M.R.) " 474
1. Principios deI método 474
2. Dn caso práctico 475
3. Teoría... ... ... ... ... ... 476

Capítulo VIII. EL METODO DE LAS LINEAS EQDIPOTEN-

CIALES.
VIII.1. Introducción... ... 479
VIII.2. Trabajo de campo 481
1. Modalidades deI trabajo .., 481
2. Circuito de exploración '" 481
3. Circuito de emisión .. . .. . .. . 484
4. Fases de trabajo ... ... ... . 485
VIIU. TeorÍa e interpretacián 488
VIII.4. EI método deI cuerpo cargado ... ... ... 493
1 Q'
INDICE DE MATERIAS

VIII.5. Trabajo de campo 494

1. Trazado de líneas equipotenciales 495
2. Método de gradientes ,. 495
VIII.6. Teoría e interpretación ... 497
1. Mapa de equipotenciales 497
2. Interpretación de los gradientes .. . .. . ... .. . .. . 499
VIII.7. ObservaCiones en sondeos ... ... ... ... ... ... ... 504
VIII. 8. Aplicación aI movimiento de aguas subterráneas 508

Capítulo IX. EL METODO DEL POTENCIAL ESPONTANEO.

Ix'1. Introducción '" 511
IX.2. Causas de potenCial espontáneo 512
IX.3. Dtros fenómenos de polarización eléctrica en el terreno... 517
1. Potenciales de difusión 517
2. Potenciales de filtración 518
3. Polarización variable en el tiempo . o. • o o •• o o.. ••• ••• 520
IX.4. Instrumental... 520
IX.5. Trabajo de campo 521
1. Método de potenCiales 521
2. Método de gradientes 525
IX.6. Interpretación cualitativa ." 528
IX.7. Interpretación cuantitativa .., 529
1. Introducción ... ... ... ... 529
2. Cuerpo polarizado asimilable a un dipolo 530
3. Dipolo inclinado o •••••••••••••••• o •••••••••••••• o... 532
4. Cuerpo de dimensiones finitas ... ... 533
5. Estimadores de Petrowsky .. o ••• 536
6. Efecto deI recubrimiento 538
IX.8. Estudios por electrofiltración. Geotermia 538
IX.9. Empleo en el mar o ••• ••• ••• •••••• 539

Apéndice 1. Potencial eléctrico en un medio estratificado de n

capas .. o • •• ••• • • • •• • • • • • •• • • • • • • o • • •• • • •• ••• ••• • •• ••• ••• 540
Apéndice 2. Demostración de Ia ley de recurrencia para Ia fun-
ción característica de King .. , .. , .., .. ó ••• 543
Bibliografía ... ... ... ... ... 547
Indice alfabético de autores ... ~..... 565
Indice alfabético de materias ... ... ... 569

20
 PRINCIPALES SIMBOLOS UTILIZADOS *

A Anisotropía
a Longitud deI dipolo dE: recepción MN
A, B, C, Electrodo de emlSlOn o corriente
b Longitud deI dipolo de emisión AB
C Cruce (en curvas de calicata)
c Concentración en equ. gramo/m3
E Campo eléctrico
Ej Espesor de Ia capa de índice i en un corte geoeléctrico
estra tificado
F Factor de formación
h Anchura horizontal de una capa vertical o inclinada
I Intensidad de corriente
J Densidad de corri ente
K Factor de reflexión en Ia teoría de Ias imágenes; coeficiente
de dispositivo
M,N Electrodos de potencial o de recepción
Nn Función característica de Slichter
N'n Función característica de Stefanesco
O Centro deI dipolo MN
p Porosidad
P Punta (en Ias curvas de calicata)
P(J. ) Transformada de resistividad = f'JN(í.)
Q Centro deI dipolo AB
R Resistencia eléctrica, distancia entre centros de dipolos
r Radio, distancia aI origen o electrodo
S Sima (en curvas de calicata); conductancia longitudinal
unitaria
T Resistencia transversal unitaria
U Potencial eléctrico
u Profundidad aparente
z Profundidad

* No se incluyen en esta relación Ias símbolos usuales en Matemáticas.

21
 PRINCIPALES SIMBOLOS UTILIZADOS

a. Angulo
ó. V Diíerencia de potencial
e Azimut en dispositivos dipolares
P Resistividad, en general
Pa Resistividad aparente
Pm Resistividad media
(F Conductividad eléctrica

22
 SIGLAS EMPLEADAS

CDZ Curva de Dar Zarrouk

CE Calicata eléctrica, en general
CEC Calicata elécJrica circular
CED Calicata eléctrica dipolar (axiI)
CES Calicata eléctrica simétrica
CETC Calicata eléctrica trielectródica combinada
CRA Curva de resistividades aparentes.
CRV Curva de resistividades verdaderas
DZ Dar Zarrouk
EAEG European Association of Exploration Geophysicists
FC Función característica en Ia teoría de medio~ estratificados
(también llamada núcleo)
HVC Corte geoel~ctrico con contactos verticales y horizontales
MMR Medición magnética de resistividades
PE Polarización espontánea (o potencial espontáneo)
SD Sondeo dipolar, en general
SDA Sondeo dipohr azimutal
SDE Sondeo dipolar ecuatorial
SDO Sondeo dipolar axil
SDP Sondeo dipolar perpendicular
SEG Society of Exploration Geophysicists
SEV Sondeo eléctrico vertical

23
 Capítulo I
INTRODUCCION

1.1 PROSPECCION GEOFISICA

La Prospección Geofísica es, a primera vista, un conjunto de técnicas

físicas y matemáticas, aplicadas a Ia exploración deI subsuelo ·para Ia
búsqueda y estudio de yacimientos de sustancias útiles (petróleo, aguas
subterráneas, minerales, carbón,. etc.), por medio de observaciones efec-
tuadas en Ia superficie de Ia Tierra.
Ahora bien, estos métodos se utilizan asimismo en el estudio de cues-
tiones referentes a zonas profundas de Ia Tierra sólida, planteadas por
Ia Geofísica Pura; también se realizan prospecciones para ayuda de Ia
Ingeniería civil, como el estudio de Ias condiciones de cimentación de
presas o edificios o de los materiales que habrán de extraerse para Ia
construcción de una nueva carretera. Además, Ia Prospección Geofísica
tiene otras aplicaciones, como Ia orientación de excavaciones arqueoló-
gicas, detección de galerías subterráneas, etc. Como hecho curioso, indi-
caremos que en el curso de una expedición científica a Groenlandia, se uti-
lizó el método magnético para volver a encontrar un depósito de bido-
nes y otros objetos destinados aI uso de los exploradores y que había
sido recubierto por intensas nevadas.
En todas estas investigaciones,. 10s cuerpos o estructuras buscadas
pueden detectarse si discrepan de 10s que 10s rodean en alguna propiedad
física; por 10 que como resumen de 10 dicho podríamos dar, con ca-
rácter tentativo, Ia siguiente definición: La Prospección Geofísica es una
rama de Ia Física Aplicada que se ocupa deI estudio de Ias estructuras
ocultas deI interior de Ia Tierra y de Ia 10calización en este de cuerpos
delimitados por el contraste de alguna de sus propiedades físicas con
Ias deI medio circundante, por medio de observaciones realizadas en Ia
25
INTRODUCCION

superficie de Ia Tierra. Se ha de hacer notar, no obstante, que a veces

se rea1izan observaciones en e1 interior de minas, y que una rama lateral
de Ia Prospección Geofísica se ocupa de efectuar mediciones en e1 inte-
rior de sondeos mecánicos.

1.2 PROSPECCION Y GEOFlSICA APLICADA

Muchas veces se consideran sinónimos 10s dos términos que encabe-

zan este párrafo. Así, Parasnis, Grant y West, y casi todos 10s autores
a1emanes. A nuestro juicio, se trata de términos de diferentes significa-
ción, aunque coincidentes en gran parte. Hay cuestiones, como e1 estudio
de 10s terremotos con objeto de estab1ecer normas para Ia edificación
antisísmica que, sin duda corresponden a Ia Geofísica Aplicada, pero no a
Ia Prospección. Inversamente, los métodos prospectivos se utilizan a ve-
ces en Ia Geofísica Pura, como ocurre en Ias investigaciones de Ewing y
de su escuela por medio de Ia sísmica marina, o en el estudio magnético
de Ias grandes fallas rumbo-deslizantes deI Pacífico Oriental. En casos
semejantes se trata de Prospección, pero no de Geofísica Aplicada.

1.3 LA PROSPECCION GEOFISICA, LA F1SICA

Y LA GEOFlSICA PURA

La Prospección Geofísica está íntimamente relacionada con Ia Física

y con Ia Geología, por 10 que a veces surgen dudas y confusiones sobre
Ia relación entre ellas. Esto puede aclararse si se tiene en cuenta que Ia
Prospección resuelve, gracias a Ia Física, problemas planteados en tér-
minos geológicos. Los métodos de prospección utilizan, en efecto, Ias le-
yes de casi todas Ias ramas de Ia Física, y 10s instmmentos que el pros-
pector geofísico emplea para realizar Ias observaciones de campo son
aparatos de Física, en los que a veces se aplican Ias técnicas más mo-
dernas y sofisticadas.
Las relaciones de las Prospección Geofísica con Ia Geofísica Pura S011
íntimas y complejas. Si se considera a Ia segunda como el estudio de 10s
campos físicos ligados a Ia Tierra, resulta evidente que Ia Prospección
habrá de apoyarse en Ia Geofísica Pur·a, que le suministrará Ia informa-
ción que sobre tales campos necesita. Por ejemplo, no podrían emplearse
métodos magnéticos para Ia localización de minerales o petróleo, si no se
dispusiera de Ia rica colección de datos y leyes recopiladas por los culti-
vadores deI Geomagnetismo. En muchos casos, Ia frontera entre Geofí-
sica Pura y Prospección es imprecisa, como sucede cuando se aplican 10s
métodos de Ia última a problemas de Ia primera. AIos ejemp10s de este
26
 PROSPECCION GEOFISICA Y GEOLOGIA

tipo de relación indicados en el apartado 1.2 pueden aiiadirse, entre otros,

los estudios sobre Ia conductividad eléctrica de Ia corteza y el manto
superior efectuadas por medio de sondeos eléctricos y magneto-telúricos.

1.4 PROSPECCION GEOFISICA V GEOLOGIA

Tanto el prospector geofísico como el geólogo se ocupan de Ia parte

sólida de Ia Tierra, por 10 que frecuentemente atacan el mismo proble-
ma, pero sus métodos e instrumentos son muy dispares. El geólogo uti-
liza mínimo instrumental y basa sus razonamientos en leyes preferente-
mente cualitativas, mientras que el geofísico emplea aparatos costosos y
complicados y maneja leyes físicas de expresión matemática nada sen-
cilla.
Esta coincidencia de fines con disparidad de métodos entrana noto-
rias ventajas, pero ha dado lugar a algunos malentendidos y confusiones.
No es posible, porque sería ineficaz y económicamente prohibitivo,
empezar el estudio de una zona aplicando sin más ni más tal o cual
método geofísico. En los estudios de prospección es el geólogo el que
tiene Ia pa\.abra en primer lugar, pues debe ser él el que escoja Ias zonas
más prometedoras para el fin buscado y plantee los problemas concretos
cuya solución se exige de Ia Geofísica. Además debe recopilar Ia infor-
mación geológica que exista sobre Ias zonas que van a investigarse y
preparar además los mapas y cortes geológicos pertinentes. Es entonces
cuando entra en acción el geofísico, el cual, teniendo a Ia vista Ia mencio-
n-ada información, juntamente con Ia cartografía topográfica, fotografías
aéreas, etc., debe determinar cuál es el método geofísico más apropiado
y sus modalidades de aplicación, y fijar detalladamente Ia situación de per-
files, estacioneS, líneas de medición y demás características deI trabajo
de campo. Terminando éste, y después de elaborados convenientemente
los datos recogidos, viene Ia difícil tarea interpretativa, difícil no sólo
por Ia complejidad de Ias relaciones matemáticas que intervienen, sino
porque general mente no es única Ia soIución deI problema planteado. ia
elección de Ia solución más probable queda aI juicio deI interpretado r,
quien debe basarse en su propia experiencia, y en la información geo-
lógica disponible. En Ia fase final de Ia interpretación, cuando hay que
dar significación geológica a Ia distribución subterránea de Ia magnitud
física estudiada, es fundamental el trabajo conjunto deI geóIogo y deI
geofísico.
ia colaboración entre geóIogo y geofísico es, pues, necesaria, en los
trabajos prospectivos, y de Ia calidad de esta coIaboración depende gran-
demente Ia exactitud y confiabilidad de los resultados. Para esto, es ne-
cesario que cada uno de estos científicos tenga algún conocimiento deI
27
INTRODUCCION

campo cultivado por el otro, y sobre todo, que pueda comprender su len-
guaje técnico.
La diversa mentalidad deI geólogo y deI geofÍsico representa, en últi-
mo término, una ventaja, pues los resultados asÍ obtenidos incorporan
una visión más amplia deI problema. Lo que ya no puede hacerse es
tratar de reunir en una sola persona Ias dos especialidades, dada Ia in-
gente cantidad de conocimientos y técnicas incluidas en Ia GeologÍa y
en Ia GeofÍsica, y Ia disparidad de sus métodos. Por 10 tanto, es errónea
Ia idea de que un geólogo pueda transformarse en geofÍsico tras unos
breves estúdios o a Ia inversa. Esto quizá fuese posible hace treinta o
cuarenta anos, cuando Ia Prospección GeofÍsica se encontraba en Ias
primeras fases de su desenvolvimiento, pero no es factible ahora. Como
no existen técnicos omniscientes, se hace imprescindible el trabajo en
equipo.

1.5 METODOS MA VORES DE LA PROSPECCION GEOFISICA

Dentro de Ia diversidad de técnicas prospectivas destacan cuatro gru-

pos principales, que suelen denominarse "métodos mayores" y son el gra-
vimétrico, el magnético, el eléctrico y el sísmico. Los dos primeros son
métodos de campo natural, y los dos restantes de campo artificial (con
Ia excepción de algunas modalidades). Es decir, que en los métodos gra-
vimétrico y magnético, se estudian Ias perturbaciones que determinadas
estructuras o cuerpos producen sobre campos preexistentes, que son el
de Ia gravedad terrestre y el geomagnético, mientras que en el eléctrico
y en el sísmico es el propio prospector el que crea el campo físico que
va a estudiar, 10 que presenta Ia gran ventaja de que puede darle Ias
características más adecuadas para el fin propuesto. Esto no quiere decir
que. puedan establecerse relaciones de superioridad entre unos y otros
métodos de prospección, pues Ia eficacia de éstos depende de cuál sea
el problema propuesto.

1.6 METO DOS GEOELECTRICOS V SU OESARROLLO HISTORICO

Los métodos eléctricos de prospección, tarnbién denominados geoeléc-

tricos estudian, por medio de mediciones efectuadas en Ia superficie, Ia dis-
tribución en profundidad de alguna magnitud electromagnética. Existen tres
magnitudes electromagnéticas principales o constantes materiales que en
principio podrían utilizarse para identificar los cuerpos situados en el sub-
suelo. Estas magnitudes son Ia permeabilidad magnética ,u, Ia constante
dieléctrica o permitividad e y Ia resistividad p. Entre ellas, y hasta ahora, es
28
 METODOS GEOELECTRJCOS Y SU DESARROLLO HISTORICO

casi exclusivamente Ia resistividad Ia magnitud cuya distribución en el

subsuelo se estudia.

1.6.1 Epoca primitiva

Aunque el desarrollo de los métodos geoeléctricos es relativamente
reciente, sus orígenes se remontan aI siglo XVIII con los trabajos de Gray
y Wheeler (1720) sobre Ia resistividad de Ias rocas y el descubrimiento,
realizado en 1746 por Watson, de que el suelo es conductor.
El inglés Robert Fox descubrió en 1815 el-féfiÓrriêno de Ia polariza-
ción espontánea, que consiste en que los yacimientos de ciertos minera-
les producen débiles corrientes eléctricas apreciables desde Ia superficie.
Fox sugirió el uso de este fenómeno para Ia prospección de yacimientos,
por 10 que se le ha considerado (KUNETZ, 1966) como "el abuelo. de los
geofísicos". En 1882, el Doctor Carl Barus aplica esta idea aI estudio deI
Comstock Loàe (Nevada). Entre 1880 y 1914, Barnes, Brown y Wells,
miembros deI "Geological Survey" de Estados Unidos utilizan sucesiva-
mente este método en Ias minas deI mismo estado de Nevada, y constru-
yen los primeros electrodos impolarizables. Sin embargo, el primer éxito
corresponde aI ingeniero de minas alsaciano Conrad Schlumberger, "pa-
dre de Ia Prospección Eléctrica" y sin discusión, Ia figura más importante
de Ia misma. Este investigador descubrió en 1913 el yacimiento de sul-
furos de Bor (Servia) por medio de Ia polarización espontánea, primer
hallazgo geofísico de mineral no magnético.
Otros investigadores dirigieron su atención a campos eléctricos pro-
ducidos artificialmente y entre ellos fue el primero Brown, quien patentó,
en 1883, un sistema de prospección eléctrica con dos electrodos. Unos
veinte anos más tarde, Daft y Williams obtuvieron otra patente (1902)
basada en el empleo de corri entes de baja frecuencia. Un ano después,
el ruso E. S. Ragozin publica su monografía "Aplicación de Ia electrici-
dad a Ia búsqueda de yacimientos mineros" donde anticipa muchas de
Ias ideas que habrían de aplicarse más tarde. En 1913 Schilowsky reali-
zó ensayos de un método electromagnético.
Los métodos eléctricos de campo artificial entran en su mayoría de
edad con el estudio tectónico de Ia cuenca silúrica de Calvados (Francia)
realizados en 1913 por el ya mencionado Conrad Schlumberguer, quien en
el mismo ano había obtenido el primer êxito de los métodos eléctricos de
campo natural. Alrededor de 1915, C. Schlumberguer, y el americano
Frank Wenner, independientemente, idean el dispositivo tetraelectródico
que será base deI progreso ulterior.

1.6.2 Epoca clásica

La época clásica de los métodos geoeléctricos se extiende, a nuestro
juicio, aproximadamente desde el fin de Ia Guerra Europea 1914-1918
29
INTRODUCCION

hasta. 1960. Para mayor claridad, dividiremos en tres este párrafo, aten-
diendo a Ias diferentes escueIas de pensamiento que impuIsaron Ia evo-
lución de estos mét0dos.

a) Escuela Franco-Soviética.
Los esfuerzos de Conrad Schlumberger para aplicar sus métodos eléc-
tricos a Ia Iocalización de estructuras petrolíferas * consiguieron notable
recompensa en Ia detección y cartografía de Ia cúpula de Aricesti (Ru-
manía) en 1923.
Uno de los mayores méritos deI investigador francés, fue el darse
cuenta de que sus métodos no podían progresar si no se establecía una
base teórica rigurosa en que apoyar Ia aplicación de los métodos geo-
eléctricos. Junto con su hermano MareeI, el matemático rumano Sabba
S: Stefanescu * * y el físico francés Raymond Maillet, atacó los difíciles pro~
blemas matemáticos de Ia propagación de corri entes eléctricas constan-
tes en medios estratificados, isótropos o anisótropos, cuya resolución era
necesaria para Ia correcta aplicación e interpretación deI método de son-
deos eléctricos, en uso desde 1925. Desgraciadamente, Ios importantes re-
sultados a que llegaron estos investigadores, que permitían calcular Ia
profundidad de los estratos, no fueron dados a conocer sino en :forma in-
completa y retrasada, a veces 20 afios después de haber sido obtenidos,
mientras que otros permanecen inéditos. Incluso en Ia obra de G. KUNETZ
(1966) encontramos correcciones misteriosas cuyo cálculo no se indica,
fórmulas llovidas deI cielo, etc. Esta política de secreto, de origen comer-
cial, causó gran dafio a Ia prospección geoeléctrica, pues hizo que Ias
posibilidades de ésta quedasen oscurecidas e ignoradas.
No obstante, son de importancia fundamental, entre los resultados
publicados, Ia solución dada por STEFANESCO (1932) a Ia distribución deI
potencial en un semiespacio estratificado, el trabajo de DOLL y MAILLET
(1932) sobre anisotropía, y el de este último sobre Ias ecuaciones funda-
mentales de Ia prospección eléctrica.

* Aprovechamos Ia ocaSlOn para hacer notar que Ia palabra "petrolífera" se

emplea mal en Espafía, aunque no en Hispanoamérica. Según Ia etimología y el
Diccionario de Ia Academia, "petrolero" es 10 que se refiere aI petróleo y "petro-
lífero" 10 que contiene dicha sustancia. Por 10 tanto debe decirse "industria pe-
trolera", "investigación petrolera", etc., y "yacimiento o estructura petrolífera".
Pero en Espafía, se usa casi siempre con ambos sentidos Ia palabra "petrolífero",
10 que como vemos, es incorrecto.
** En esta edición se utiliza Ia grafía "Stefanescu", que es Ia auténtica, frente
a Ia afrancesada "Stefanesco". EI profesor Stefanescu, parte de cuyos trabaios son
poco conocidos por haber sido publicados en revistas rumanas de escasa difusión,
vive e investiga aún. Debo estas informaciones a su discípulo y colaborador Misac
N. Nabighian.
30
 METODOS GEOELECTRICOS Y SUDESARROLLO HISTORICO

La escuela francesa tiene una continuación muy importanteen Ia

Unión Soviética., Si bien en este país se aplicaron en un principio los
métodos electromagnéticos de Ia escuela sueca, bajo Ia dirección de Pe-
trowsky, a partir de 1928, por iniciativa de D. V. Golubonikov, fueron
contratados los servicios de Ia companía Schlumberger, incluyendo los
de su fundador, para Ia prospección petrolera rusa: Aunque se obtuvie=
ron notabies éxitos en Ia región de Grozny, el resultado más importante
de estos trabajós no fue este o aquel halIazgo de petróleo, sino Ia asimi-
lación, por parte de los geofísicos rosos, de Ias técnicas e ideas de los
investigadores franceses. De este modo los geofísicos soviéticos pudieron
recorrer independientemente el camino abierto por Schlumberger; en un
principio, siguiendo exactamente los procedimientos de éste, pero luego
avanzando más alIá. En 1938, dos anos después de Ia muerte de Schlum-
berger, efectuaron los primeros sondeos e1éctricos profundos (más de un
kilómetro de penetración). Desde entonces aplicaron· este método en Ia
investigación petrolera de Ia Plataforma Rusa, Ucrania, Ural-Volga, Asia
Central, Siberia, etc. Este método tuvo parte destacada en el descubri-
miento de los yacimientos petrolíferos o de gas de Buguruslán, Saratov,
Bashkiria, Stalingrado (ahora Volgogrado), etc. Desde entonces, el mé-
todo eléctrico fue adoptado en Ia URSS como el de empleo más general
en Ia prospección petrolera.
El método de sondeos dipolares fue sugerido, según Maillet, por el
físico francés Geneslay, en época en que Ias dificultades instrumentales
10 hacían impracticable. Independientemente, según parecé, el soviético
Alpin tuvo Ia misma idea en 1938, y en 1939 se realizaron los ensayos
de C3mpo en Tartaria. Los primeros sondeos dipolares profundos fueron
realizados en 1945 por Yarishev, en Ia región de Groznr., y desde enton-
ces este método se utiliza normalmente en Ia prospección petrolera so-
viética. Alpin efectuó los desarrolIos teóricos necesarios y publicó un
libro sobre el tema. Este nuevo método fue utilizado por Kraev y Se-
menov, para realizar estudios puramente científicos en Ia región de Le-
ningrado, alcanzando ·profundidades de más de 10 km. 1. M. Blokh, que
efectuó sus prácticas de campo en los ensayos de 1939, aplicá. el dispo-
sitivo dipolar a Ias calicatas eléctricas, con grandes resultados, que fue-
ron expuestos en varias publicaciones. Otra aportación rusa a Ia técnica
geoeléctrica es Ia ejecución de mediciones en el mar, en Ia que destacan
los trabajos de 1. V. Nazarenko.
Una de Ias mayores dificultades que hubieron de vencerse en Ia eje-
cución de sondeos eléctricos profundos fueron Ias perturbaciones produ-
cidas por Ias corri entes naturales denominadas telúricas, Ias cuales fal-
seaban los potenciales producidos en el terreno por el circuito emisor.
En el decenio 1930-1940, Conrad Schlumberger y sus colaboradores en-
sayaron un nuevo método de campo natural, el "método telúrico", basado
31
INTRODUCCION

.en el registro de los potenciales ligados a dichas corrientes. De este modo'

se suprimía el circuito emisor, y 10 que antes era perturbación o "ruido"
pasaba a ser considerado como senal. Terminada Ia segunda guerra mun-
dial, este método, ya muy perfeccionado, fue aplicado en muchas partes
deI mundo por Ia francesa Compagnie General de Geophysique (C.G.G.),
"heredera de Ia tradición schlumbergeriana, en investigaciones tectónicas
para petróleo, obteniendo aI mismo tiempo interesantes resultados sobre
Ias propiedades de Ias corrientes teIúricas.
Este nuevo método fue introducido en Ia URSS en 1954 y cinco anos
después trabajaban en dichopaís 24 equipas de prospección teIúrica que
expIoraban cada ano una superficie de 120.000 km2• EI soviético Berdi-
chevskiy publicó, en 1960, eI primer tratado sobre eI método teIúrico de
prospección, que fue traducido aI inglés en 1965.
EI método telúrico adoIece de aIgunos inconvenientes, que trató de
superar eI físico francés L. Cagniard en 1953, por medio deI registro si-
multáneo del campo telúrico y de Ias micropuIsaciones deI campo geo-
magnético. Este nuevo método, denominado "magneto-teIúrico", es atri-
buido por Ios autores soviéticos a su compatriota Tikhonov. De todos
modos, eI método magneto-teIúrico era impracticabIe en aqueI tiempo,
por carecerse de instrumentos suficientemente sensibIes.
En Ias perforaciones profundas se encontraban frecuentemente difi-
cultades para averiguar Ia naturaIeza de Ias formaciones atravesadas y Ia
profundidad exacta a que se encontraban. Para eliminar este inconveniente,
Ios Schlumberger, ensayaron, en 1928, Ia testificación eléctrica de Ias
perforaciones, para 10 cuaI hacían descender en eI interior de éstas, por
medio de un cabIe, un instrumento que registraba la resistividad de Ios
materiaIes atravesados. Este método se reveIó utilísimo, y pronto fue
considerado indispensabIe e'n todos Ios sondeos para petróleo y cada vez
se utiliza más en Ias perforaciones para búsqueda de aguas subterráneas
y de mineraIes.
ActuaImente, además de Ia resistividad, se miden otras magnitudes,
como eI potencial espontáneo, y propiedades mecânicas, nucleares, et-
cétera, por 10 que se trata, más general mente, de "testificación geofísica",
Ia cuaI constituye una rama aparte de I\'s métodos prospectivos, en Ia
que Ios procedimientos más perfeccionados son Ios de Ia companía
SchIumberger.

b) Escuela Wenner o de Gish-Rooney.

Un día después de aqueI (15-IX-1925) en que Ios SchIumberger soIici-
taron patente para su sistema de sondeo eIéctrico, Gish y Rooney publi-
caban sus investigaciones independientes sobre un método similar. Des-
graciadamente, mientras Ia escueIa francesa edificó sus propias y sólidas
bases físico-matemáticas, con Ios magníficos resultados que hemos visto,
32
 METODOS GEOELECTRICOS Y ~T) DESARROLLO HISTORICO

en Estados Unidos, Canadá, Inglaterra y otros países se derivó hacia un tos-

co empirismo, en el que Ias datos de observación eran interpretados me-
diante erróneas ideas intuitivas, e inexactas regIas "de dedo". Como dispo-
sitivo electródico se empleaba exclusivamente el de Wenner, a pesar de
su inferioridad práctica frente aI de Schlumberger, el cual era ignorado.
Un corto número de teóricos como Roman, Muskat, Slichter y Mooney
trataron de luchar contra esta situación, pero no fueron oídos. Los re-
sultados de Ia escuela francesa no fueron asimilados, en gran parte, por
causa de Ia política de reserva de esta última. Tampoco se prest6 aten-
ción a Ias publicaciones rusas sobre el tema, muy abundantes, ni aIos
progresos de Ia Geoelectricidad en Ia Unión Soviética, ni llegó a pen-
sarse que métodos como el de sondeos eléctricos pudiesen aplicarse en
Ia investigación petrolera.
Todos estos hechos, de difícil y compleja explicación, justifican que
los métodos geoeléctricos mantuvieran, en los países que seguían esta
escuela, una vida lánguida y raquítica y que los textos de Prospección
Geofísica escritos en Estados Unidos e Inglaterra diesen de tales métodos
una idea poco exacta y anticuada. Así, un libra publicado en 1960, dice
que los métodos geoeléctricos no alcanzan profundidades superiores a
unos 300 m por 10 que no se emplean en Ia prospección petrolera, cuando
en Ia Unión Soviética se realizaban investigaciones de este tipo hasta
varios kilómetros de profundidad desde muchos anos antes. Podrían ci-
tarse ejemplos análogos en. obras más recientes, excelentes en otros as-
pectos.
Este anómalo aislamiento científico, inexplicable en Ia época actual, no
ha desaparecido aún, como podremos ver más abajo.

c) Escuela Sueca.
. Las propiedades eléctricas de Ias minerales y sus rocas encajantes en
Ia Península Escandinava son muy favorables para el empleo de méto-
dos electromagnéticos (inductivos). Por esta causa, cuando entre 1919 y
1932 Lundberg y Sundberg desarrollaron el método "de Ias dos antenas"
en que se estudiaba el campo electromagnético producido por un induc-
tor fijo, muchas mineralizaciones fueron descubiertas en Suecia por este
media.
Siguiendo este ejemplo, fueron ideados y utilizados en Norteamérica
nuevos métodos electromagnéticos de finalidad minera como el "Radio-
re", el de Bieler-Watson y el de Mason-Slichter, todos elIos ya caídos en
desuso.
Pocos anos más tarde (1931) Karl Sundberg ideó el método "deI com-
pensador" en el que Ias componentes real e imaginaria deI campo indu-
cido eran medidas con gran exactitud. La aplicación de este método a
problemas tectónicos planteaba difíciles cuestiones matemáticas que fue-
33
INTRODUCCION

ron resueltas gracias a investigaciones efectuadas por el italiano Tulio

Levi-Civita a principios de siglo.
En 1937, Helmer Hedstrom, sueco como Lundberg y Sundberg, in-
ventó el método "Turam" en· el que el campo electromagnético produ-
cido por un cable tendido en el suelo, es estudiado detalladamente por
Ia comparación en intensidad y fase entre pares de puntos próximos.
En el decenio 1940-1950, los mismos geofísicos y sus sucesores des-
arrollan nuevos métodos, como el "Slingram", en los que tanto el ele-
mento receptor como el emisor se desplazan conjuntamente. El paso si-
guiente es el de Ia prospección electromagnética aérea, esto es, realizada
desde aviones o helicópteros. Son muchas Ias variantes de estos métodos,
apareci das en Suecia, Finlandia y Canadá, y de uso actual en todo el
mundo; entre ellas mencioIiaremosel método ABEM de campo rotato-
rio, que utiliza dos aviones, uno emisor y otro receptor.

1.6.3 Epoca contemporánea

Incluimos en este párrafo los progresos de Ia prospección geoeléctrica

realizados en los últimos quince o veinte anos. Como carecemos de pers-
pectiva histórica para juzgar tales progresos, nos limitaremos a dar una re-
lación de los hechos más importantes.
a) La construcción de magnetómetros de gran sensibilidad, bien del
tipo de bobina, bien deI tipo atómico, ha permitido Ia puesta en práctica,
con buenos resultados, deI método magneto-telúrico, incluso para estu-
dios a grandes profundidades.
b) Ha surgido una nueva y prometedora clase de sondeos eléctricos
de campo artificial, 10s sondeos electromagnéticos, bien por frecuencia
variable, bien por medio de transitorios, gracias aIos trabajos de varios
geofísicos soviéticos, especialmente de Vanyan. Esto ha servido además,
para establecer una teoría general unitaria de los sondeos eléctricos so-
bre medios estratificados, tanto para campo constante como para campo
variable.
c) Se han desarrollado otros nuevos métodos de prospección geo-
eléctrica, como el AFMAG, de campo natural, y de origen canadiense;
el de polarización inducida, ya vislumbrado por Schlumberger, pero tam-
bién desarrollado en Canadá, y el "Radiokip", que emplea ondas bertzia-
J'as y es de origen soviético.
ti) Los ordenadores electrónicos ban puesto al alcance deI geofísico,
cálculos inabordables antes. Estos aparatos se han aplicado a diversos
tipos de problemas, como el cálculo de colecciones de curvas maestras,
y cada vez se usan más para Ia elaboración de datos de campo y en
ciertas fases de Ia interpretación.
34
 CLASIFICACION DE LOS METODOS GEOELECTRICOS

En los últimos afios, se ha incrementado notablemente el número re-

lativo de trabajos publicados sobre métodos geoeléctricos. Parte de estos
artículos da cuenta de importantes avances en dichos métodos, tanto
en su teoría como en sus aplicaciones. Otros, desgraciadamente, se refie-
ren a métodos ya superados en otros países, o despliegan grandes esfuer-
zos matemáticos, bien para Ia resolución de problemas sin interés práctico,
bien para el estudio detallado de métodos cuyas posibilidades de aplica-
ción en el campo son más que dudosas.

1.7 CLASIFICACION DE LOS METODOS GEOELECTRICOS

De ·10 dicho en el anterior bosquejo histórico se deduce que existen

muchísimas modalidades en los métodos de exploración eléctrica deI sub-
suelo, cada una de ellas con su propio campo de aplicación, sus ventajas
y sus defectos. Como Ias características de cada procedimiento son múl-
tiples, no es fácil establecer una clasificación de ellos.

Dn criterio muy importante es el que clasifica los métodos según que

el campo electromagnético que en ellos se estudia sea de origen natural,
o se cree artificialmente para Ia prospección.

Otro criterio es el que considera si Ia információn recogida se refiere

a Ia vertical de un punto o se distribuye a 10 largo de un perfil, dentro
de un margen de profundidades aproximadamente constante. Por analo-
gÍa con Ias labores mecánicas mineras los métodos se llaman de Sondeo
en el primer caso, y de Calieata en el segundo.

En Ia mayoría de los casos, 10 que se obtiene es Ia distribución de Ias

resistividades en el subsuelo. Cuando tal distribución se representa grá-
ficamente en forma de corte vertical, esta representación recibe' el nombre
de corte geoeléctrico.
También es interesante conocer si eu un método determinado el cam-
po electromagnético es constante (corriente continua) o varÍa en el trans-
curso deI tiempo (métodos de campo variable). Es costumbre muy exten-
dida, aunque incorrecta, llamar "métodos eléctricos" aIos primeros y
"electromagnéticos" a los segundos. En rigor, todos son electromagné-
ticos.

Teniendo en cuenta 10 anterior damos a continuación un bosquejo

de clasificación de los métodos geoeléctricos que, si bien no es completo,
contiene los más importantes y difundidos.
35
INTRODUCCION

METODOS GEOELECTRICOS DE PROSPECCION

A. METODOS DE CAMPO NATURAL.

A-l. Método deI potencial espontáneo.

A-2. Método de corrientes telúricas.
A-3. Método magneto-telúrico (sondeos y calicatas).
A-4. Método AFMAG.

B. METODOS DE CAMPO ARTIFICIAL.

B-l. Métodos de campo constante (corriente continua).

B-I-l. Método de Ias líneas equipotenciales y deI cuerpo caro
gado (mise-a-Ia masse).
B-I-2. Sondeos eléctricos (simétricos, dipolares, etc.).
B-I-3. Calicatas eléctricas (muchas modalidades).
B-IA. Medición magnética de resistividades.
B-2. Métodos de campo variable.
B-2-l. Sondeos de frecuencia.
B-2-2. Sondeos por establecimiento de campo (transitarias).
B-2-3. Calicatas electromagnéticas (métodos de inclinación de
campo, Turam, Slingram, etc.).
B-2-4. Método "Radio-Kip".
B-2-5. Método de radiografía hertziana.
B-3. Método de polarización inducida.

Los métodos B-2-4 y B-2-5 suelen considerarse como "hertzianos" y

emplean por 10 general frecuencias mucho más elevadas que Ias demás
deI mismo grupo.
Estas procedimientos prospectivos suelen aplicarse por media de ob-
servaciones efectuadas en Ia superficie deI terreno, pero algunos de ellos
son susceptibles de ser empleados desde vehículos aéreos, o en Ia super-
ficie deI mar o de lagos, o en el interior de Ias minas.
En general, Ia calidad y seguridad de Ia información recogida aumen-
tan grandemente si se combinan dos o más métodos, por ejemplo, Ias
calicatas electromagnéticas, con el método magnético o Ia gravimetría
de detalle.

1.8 APLICACIONES DE LOS METODOS GEOELECTRICOS DE .PROSPECCION

La información que Ias métodos geoeléctricos nos dan sobre el sub-

suelo puede utilizarse con fines muy variados. Como estas aplicaciones
36
 APLICACIONES DE LOS METODOS GEOELECTRICOS DE PROSPECCION

se enumerarán aI tratar de cada método, nos limitaremos ahora a men-

cionadas de modo general. Las más importantes y difundidas son Ias si-
guientes:
a) Investig·aciones tectónicas para Ia búsqueda de petróleo.
b) Estudios para Ia localización de aguas subterráneas.
c) Estudios complementarios para cartogratía geológica bajo recubri-
miento.
d) Estudios de cuencas carboníferas.
e) Localización de yacimientos de otros minerales útiles, especial-
mente menas metálicas.
f) Investigaciones de firmes, cimentaciones y desprendimientos de
tierras para Ingeniería civil.
g) Localización y cubicación aproximada de materiales de construc-
ción.
h) Investigaciones a profundidad muy reducida para Ia localizacién
de objetos y edificaciones enterradas, como guía y ayuda para Ias
investigaciones arqueológicas.
i) Estudios de zonas muy profundas de Ia corteza terrestre.
j) Estudios geotérmicos;
Para el futuro, puede preverse Ia exploración geoeléctrica de Ia Luna
y de otros astros. *

* En contra de 10 que suele creerse, no habrÍa dificultad etimológica en el

empleo para estos casos de palabras con Ia raÍz geo, 10 que además resulta obli-
gado por razones prácticas. De 10 contrario, habrÍa que hablar respectivamente
de métodos selenoeléctricos, areo-eléctricos, ganimedoeléctricos, etc., según qué
astro se estudiase.

37
Capítulo 11
PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS
DE LAS ROCAS

11.1 INTRODUCCION

Como es obvio, Ia aplicación de los métodos geoeléctricos exige el

conocimiento de Ias propiedades electromagnéticas de Ias rocas y de los
minerales que Ias constituyen. Estas propiedades se expresan fundamen-
talmente por medio de tres magnitudes físicas, que son Ia resistividad
eléctrica p (o su inversa Ia conductividad a-), Ia constante dieléctrica E

y Ia permeabilidad magnética p..

El comportamiento físico de Ias rocas depende de Ias propiedades y
modo de agregación de sus minerales y de Ia forma, volumen y relleno
(generalmenteagua o aire) de los poros. Además de estas relaciones
conviene estudiar el efecto que sobre dichas propiedades ejercen Ia pre-
sión y Ia temperatura, efecto que puede ser muy importante a grandes
profundidades.
Las propiedades que interesan aI prospector son Ias de Ias rocas y
minerales reales, tal como se encuentran en Ia naturaleza, con sus impu-
rezas, fisuras, diaclasas, humedad, etc. Los datos que aparecen en algunas
tablas de constantes, obtenidos de muestras cuidadosamente escogidas y
desecadas, carecen de interés para Ia Prospección *.

* EI estudio de Ias propiedades electromagnéticas de Ias rocas es campo ex-

tenso y complejo deI que sólo se consideran aquí Ios aspectos de mayor inter-és
para Ia práctica de Ios métodos geoeléctricos.
Información más amplia puede encontrarse en Ia obraclásica de PARKHOMENKO
(1967) y en el número especial de Geophysics (febrero 1973) dedicado a este tema.
38
 LA RESISTIVIDAD

11.2 LA RESISTlVIDAD

Se sabe por Física elemental que Ia resistencia R .de un conductor alar-

gado y homogéneo de forma cilíndrica o prismática, vale

R = p_l_
s (li, 1)

donde Z es Ia arista o generatriz deI conductor y s su seCClOn.La mag-

nitud p es un coeficiente que depende de Ia naturaleza y estado físico
deI cuerpo considerado y que recibe el nombre de resistividad. Sus di-
mensiones, según se deduce de Ia fórmula anterior, serán

(1I,2)
[P] -Z-. s ] = [R]· L = VMT-3[-Z
= [R.
ya que
[R] = LZMT-3[-Z
Como Ia última expresión de Ia (1I,2) es algo complicada, es preferible
utilizar Ia anterior; esto es, considerar dimensionalmente Ia resistividad
como el producto de una resistencia eléctrica por una longitud. Según
esto, Ia unidad de resistividad en el sistema S[ será el ohmio X metro
(O X m). En Ia práctica, suele escribirse Q - m o bien ohmio-metro,
reemplazando el aspa por un guión, 10 que a veces ha causado alguna
confusión. En libros un poco antiguos se emplea como unidad de resisti-
vidad el Q-cm, que vale Ia centésima parte deI Q-m. Por 10 tanto, para
expresar en esta última unidad los valores de resistividad dados en
ohm-cm hay que dividirlos por 100.
AIgunos autores expresan Ias resistividades en ohmios por cm3 o por
m3, 10 que es erróneo, puesto que como dice PARASNIS(1971) "Ia resis-
tencia que experimenta una corri ente eléctrica es proporcional aI camino
que ha de recorrer y no aI volumen deI cuerpo cuya resistividad se mide".
Basta darse cuenta de que con un cm3 de cobre, por ejemplo, pueden
obtenerse resistencias muy diferentes según Ia forma que se le dé. Tam-
bién es erróneo escribir, como se vé a veces, ohm/m, ya que Ia longitud
debe aparecer como factor y no como divisor.
EI tamano deI Q-m es muy adecuado para Ia práctica geoeléctrica; no
obstante, en ciertos casos, puede resultar conveniente el empleo deI kilo-
ohmioxmetro (kQ-m) o deI miliohmio-metro (mQ-m).
La resistividad es una medida de Ia dificultad que Ia corri ente eléc-
trica encuentra a su paso en un material determinado; pero igualmente
podía haberse considerado Ia facilidad de paso. Resulta así el concepto
de conductividad, que expresado numérica mente será el inverso de Ia
39
 PROPIED~DES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

resistividad. La conductividad se expresa por Ia letra rr de modo que se

tiene

rr=--1 (II,3)
p

La unidad de conductividad en el Sistema Internacional es el siemens/m.

Es frecuente que Ia conductividad de Ias aguas subterrán~as, medida en
laboratorio, se exprese en ,umho/cm (micro-mho/cm), costumbre que de-
bería abandonarse, ya que esta unidad no pertenece ai ·SI. Para pasar ta-
les resultados a mhos/m hay que dividir por 1O~.Unidad muy adecuada
para este sería eI milimho/m, diez veces mayor que el ,umho/cm.
La resistividad es una de Ias magnitudes físicas de mayor amplitud
de variación, como 10 prueba el hecho de que Ia resistividad dei polies-
tireno supera a Ia dei cobre en 23 órdenes de magnitud. Esto ocurre por-
que Ia conductividad puede deberse a diferentes mecanismos, que depen-
den de Ia estructura deI cuerpo considerado. Tales mecanismos se ex-
ponen en eI apartado siguiente en 10 que respecta a sólidos y líquidos, ya
que los gases 1].0 tienen interés en Ia Prospección Eléctrica.

11.3 CLASES DE CONDUCTIVIDAD EN MINERALES V AGUA

Los cuerpos eléctricamente conductores 10 son porque permiten el

paso ·a su través de portadores de cargas eléctricas. Estos portadores
pueden ser electrones o iones, por 10 que pueden distinguirse dos tipos
'I
de conductividad: electrónica e iónica. Los dei segundo tipo que no son
gaseosos se llaman electrolitos. Los cuerpos con conductividad electró-
nica se clasifican a su vez en dos grupos: el de los conductores propia-
mente dichos o metales, y el de los semiconductores. Mayor claridad se
obtiene con el siguiente cuadro:

electrónica
( semiconduCtores
~ metales
Conductividad
electrólitos sólidos
iónica (dieléctricos)
~
1 electrólitos líquidos

11.4 METALES

El mecanismo de Ia conductividad de los metales puede imaginarse

como debido a que los eIectrones de valencia de sus átomos pueden mo-
40
 METALES

verse libremente entre Ia red cristalina que éstos forman, sin vincula-
ci6n a ninguno determinado. Según esto, los Illetales están constituidos
por una red regular de iones positivos, entre los cuales se mueve una
especie de gas electrónico, que actúa como cemento deI conjunto. La
facilidad de movimiento de los electrones y el gran número de éstos (deI
orden de lQ22 por cm3) redundan en una conductividad muy elevada; es
más, según Ia mecánica cuántica, si Ia red .i6nica fuese perfectamente
regular, y sus átomos inmóviles, Ia resistencia eléctrica deI metal serÍa
nula. Dicha resisteIlcia aumenta, pues, con Ia temperatura, con el conte ..
nido de impurezas, y con Ia presencia de defectos y dislocaciones en Ia red.
La resistividad de los metales a temperatura normal, oscila entre 10-8
y 10-7 ohm-m.
En los metales, los niveles energéticos de los átomos individuales se
funden, debido a su proximidad, en bandas continuas. La de mayor ener-
gía, o banda de conducción, está llena parcialmente hasta un valor má-
ximo lIamado nível de Fermi. La presencia de un campo exterior puede
aumentar Ia energía de aIgunos eIectrones por encima de dicho niveI,
pero dentro de Ia misma banda, dando lugar a Ia conducci6n (fig. lI-I).

··5
'O'õ()
Nivel de 0::1
Fermi -+ '0"0

i Cc
00
lD()

Zona prohibido

Bando Ileno

FIG. II-1. Bandas energéticas en Ias metales.

Son POCoSy muy escasos los componentes de Ia corteza terrestre que

posean conductividad metálica. Entre ellos se cuentan los metaIes na-
tivos (oro, pIata, cobre, estaiío) y quizá algún mineral poco abundante,
como Ia ullmanita (NiSbS). La resistividad de estos mineraIes está com-
prendida dentro de los límites indicados más arriba, pero puede ser algo
41
 PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

mayor en Ta práctica a causa de Ias Ímpurezas. Dado que los 'minerales

indicàdos aparecen con poca frecuencia, y siempre en cantidades muy
pequenas, 'los conductores metálicos tienen poco interés directo en Ia
Prospección Geoeléctrica. .
AIgunos autores inc1uyen en este grupo aI grafito, más interesante
para el prospector, porque aparece con frecuencia en forma de impregna-
ción de ciertas rocas, cuyas propiedades eléctricas modifica notabIemente.
La resistividad deI grafitQ, paralelamente a Ia exfoliación, es deI orden de
10-6 ohm-m, 10 que 10 hace comparabIe aIos metales, pero en 'sentido
perpendicular es de 10-2, es decir, diez mil veces mayor. Esta anisotro-
pía tan intensa sólo se manifiesta en los monocristales. El grafito poli-
cristalino presenta resistividades (deI orden de 5 X 10-4) que dependen
deI tamano y orientación de los cristales, y en gran medida, de Ia den-
sidad deI conjunto, disminuyendo Ia resistividad con el aumento de Ia
densidad. Además, el grafito policristalino no tiene, como er·a de esperar,
tan grande anisotropía, sino que Ia relación entre Ia resistividad máxima
y Ia mínima es algo inferior a 2. Estas propiedades, junto con otros he-
chos, indican que a pesar de su elevada conductividad el grafito debe
considerarse como' semiconductor.

11.5 SEMICONDUCTORES

En Ios semiconductores, Ias dos bandas energéticas superiores, na-

madas respectivamente banda de valencia y banda áe conducción, están
separadas por un interv,aIo o zona prohibida (fig. II-2). En el cero abso-

c I Electrôn
'õ
CD
•..
IJJ
1>1
ilill, 42
lil
o
111
1,11
I
r ': "
:t:':'
:. ':':':" .,.,::
: ' ',' .. '
Banda de conducción

E
oo oooooo/N".,e,
o Zona
deimpu,e,.,
prohibida

Banda de valencia

FIG. 11-2, Bandas energéticas en 10s semiconductores.

 SEMICONDUCTORES
/
luto, todos 10s niveles energéticos de Ia banda de valencia están ocupa-
dos por electrones, por 10 que ninguno de ellos puede cambiar de ener-
gía, por causa deI principio de exclusión de PauU, y no existe conduc-
tividad; el cuerpo es aislante. EI movimiento libre serÍa posible si pa-
saran electrones a Ia banda de conducción, pero ningúncampo exterior
de intensidad normal puede darle energía suficiente para saltar Ia zona
prohibida, puesto que Ia anchura E de esta es deI orden del electrón-
voltio. Sin embargo, esto puede conseguirse, bien por Ia absorción de
fotones, bien por medio de Ia temperatura. La probabilidad de que un
electrón de valencia salte fi Ia banda de conducción espequefia, pero
crece COll Ia temperatura, de modo que el número nT de electrones que
ocupan Ia banda de conducción a Ia temperatura .absoluta T cumple Ia
proporcionalidad .
nT oc l!-E/3kT (II,4)

donde E es Ia. energía de activación, y k, como de costumbre, Ia cons-

tante de Boltzmann. Los semiconductores, pues, presentan conductividad
creciente con Ia temperatur·a; esta conductividad se llama intrínseca. Se
da otro tipo de conducción, extrínseca, debida a Ia presencia de impu-
rezas, esto es, cuando en Ia red cristalina, algunos átomos se sustitu-
yen por otros de valencià diferente, con 10 que. se produce Ia falta o
sobra de algún electrón. Los niveles energéticos de éstos pueden quedar,
puesto que el átomo es diferente, dentro de Ia zona prohibida, y muy
cerca deI límite inferior de Ia banda de conducción, o del superior de Ia
banda de valencia (fig. 1I-3). Entonces un campo exterior puede hacer
pasar fácilmente un electrón desde dichonivel a Ia banda de conducción,

b
O>
o
...J

1fT ~

F~G. 11-3. Variación de Ia conductividad de un semiconductor en función

de Ia 'temperatura. (Curva esquemática.)

4)
 PROPIEDADES
ELECTROMAGNETICAS
DE LASROCAS

en el primer caso, o bien aI nuevo nivel desde Ia de valencia en el se-

gundo, con 10 que se tiene respectivamente conducción por electrones o
conducción por agujeros. Esta última consiste en que el electrón que falta
puede ser sustituido por el de un átomo vecino, el cual queda con un
electrón de menos, y así sucesivamente, con 10 que Ia ,ausencia de un
electrón va propagándose en sentido contrario aI de Ias sustituciones,
como si fuera un electrón positivo. En los semiconductores; Ia conduc-
ción extrínseca es Ia que predomina a temperaturas bajas, mientras que
a temperaturas altas, una vez ionizados todos los átomos de impureza,
Ia conducción intrínseca es Ia que prepondera. Esto se representa de
modo un tanto esquemático en Ia figura II-3, donde se indica Ia variación
deI logaritmo de Ia conductividad en función deI recíproco de Ia tem-
peratura absoluta. La rama derecha de menor pendiente corresponde aI
predominio de Ias conductividad por impurezas y el tramo recto más
inclinado aI de Ia intrínseca.

I'

".6 MINERALES SEMICONDUCTORES. RESISTIVIDAD DE LAS MENAS

,11

Son muchos, y de gran importancia prácticaalgunos de ellos, los mi-

ti
nerales que pertenecen aI grupo de los semiconductores. Ahora bien,
según se ha visto, Ia resistividad de los semiconductores depende de su
contenido en impurezas, a veces en grado extremo. Así, el germanio puro
:11

aumenta su conductividad en un millar de veces con sólo adicionarle

I~
arsénico en Ia proporción de una milmillonésima parte. Se deduce de
ello, que no cabe esperar que Ia resistividad de una especie mineralógica
determinada pueda representarse por un dato único, sino que puede va-
riar dentro de límites amplios, en especial si Ias muestras provienen de
localidades diferentes. Los datos que, en forma de tablas, se encuentran
a este respecto en los libros de Geofísica no deben tomarse, literalmente,
sobre todo cuando en vez de un margen de variación se da una cantidad
única. Además, Ias mediciones efectuadas en laboratorio sobre muestras
están sujetas a errores experimentales y pueden verse afectadas por Ia
presencia de fisuras microscópicas. En una amplia serie de cuidadosas
mediciones efectuadas por Parasnis sobre menas suecas, este autor (PA-
RASNIS,1956), encontró que sobre una sola muestra había variaciones
locales de ± 30 % por 10 general, pero que a veces alcanzaban valores
I de 1()3 a 10' % y que de una muestra a otra 10s valores obtenidos varia-
sen de 100 a 10' veces. A Ias causas arriba indicadas, Parasnis anade
II otros factores que pueden modificar Ia resistividad de Ia muestra, como
'I
son Ia presencia de estructura porosa, el modo de distribuirse los gra-
I nos, etc. En tales condiciones, el dar una tabla de valores resulta inútil
y desorientador. Por ello es preferi~le dar una lista de Ios minerales
44
j
 MINERALES SEMICONDUCTORES. RESISTIVIDAD DE LAS MENAS

semiconductores, O cuya resistividad es análoga a Ia de estos cuerpos,

clasificándolos por su resistividad más frecuente dentro de una serie de
márgenes de variación, cada uno de los cuales abarca tres órdenes deci-
males. A esta relación seguirán algunos comentarios. Los mirierales que
pertenecen a más de un grupo van seiialados por un asterisco.

a) Minerales cuya resistividad está com prendida entre 10-6 y 10-3 Q-m.

Altaíta, PbTe
Arsenopirita (mispíquel), FeAsS
Bornita, CusFeS~ *
Calaverita, AuTe
Calcopirita, CuFe~ *
Calcosina, Cu2S
Covellina, CuS
Discrasita, AgaSb
Esmaltina, CoAs2
Gersdorfita, NiAsS
Glaucodota (Co, Fe) AsS
Hauchecornita, Nig(Bi, Sb)2SS
Hessita, Ag2Te
Lollingita, FeAsa
Magnetita, FeaO. *
Metacinabrio, 4 HgS
Millerita, NiS
Nagiagita, PbGAu (STe)H
Niquelina (Nicolina), NiAs
Pirita, FeS2 *
Pirrotita, Fe7SS
Silvanita, AgAuTe.
Skutterndita, COJ\sa

b) Minerales cuya resistividad está comprendida entre 10-a y lQ-m.

Berthierita, FeSb2S.
Bornita, CusPes.\ *
Braunita, Mn20a
Calcopirita, CuFeS2 *
Casiterita, Sn02
Cobaltina, CoAsS
Galena, PbS
Hollandita (Ba, Na, K) MnS016
I1menita, TiFe03
J amesonita, Pb.FeSb6S14
Magnetita, Fe~O~ *
45
 PROPIEDADES
ELECTROMAGNETICAS
DE LASROCAS

Manganita, MnO (OR)

Marcasita, FeS2
III
Molibdenita, MoS2 *
Oligisto especular, Fe20a
!il
Pirita, Fe~ *
I Pirolusita, Mn02 *
Psil.omelana, KMn20a

c) Minerales cuya resistividad. está comprendida entre 1 y HP Q-m.

Al(l)emontita, SbAsa
Bismutina, Bi2Sa.
Cromíta, FeaCr20,
. Cupríta, Cu20
Franckeíta, PbsSnaSb2SU
1[1 Raveríta; MnS2
Molibdeníta, MoS2 *
Pirolusíta, Mn02 *
Rutilo, Ti02
Siderita, FeCOa
Tenorita, CuO
Tetraedrita, CuaSbSa
Uranita, U02
Wolframita, MnFeWO"
Wurtzita, ZnS

La lista precedente se ha establecido sobre datos de diferentes auto-

res, en especial PARKHOMENKO (1967), PARASNIS(1956), KELLER (1966),
HEILAND(1940) Y JAKOSKY(1950). No faltan contradicciones entre ellos.
Así, Parasnis da como aislantes Ia braunita y Ia manganita, que en Ia lista
se d·an, basándose en otros autores, como de conductividad relativamente
buena. Debe suponerse que Ia conductividad de estos dos minerales es
muy variable.
La molibdenita presenta también variaciones muy amplias y muy
fuerte anisotropía. La pirita es otro mineral de resistividad muy variable,
que abarca unos cinco órdenes decimales, pero en general es buen con-
ductor. La pirrotita y Ia calcopirita 10 son también, con margen de va-
riación mucho más estrecho. La magnetita suele serlo también, pero su
resistividad aumenta considerablemente en ejemplares policristalinos. Un
hístograma de resistividad de Ia magnetita y otros minerales, realizado
por Semenov y reproducido por Parkhomenko, presenta tres máximos de
frecuencia correspondientes aIo-a, 10-1 y 10 Q·m. La galena es muy buen'
conductor en cristales pequenos, pero en cristales grandes su conducti-
46
 DIELECTRICOS

vidad disminuye en grado notable, dada Ia tendencia de este mineral a

fisurarse según los planos de exfoliación.
Desde el punto de vista de Ia composición química, se observa en Ia
relación anterior que los telururos son conductores muy buenos, y que
casi 10 mismo ocurre con los arseniuros, probablemente porque, como in-
dica Keller, estos minerales no sean semiconductores, sino aleacion~s me-
tálicas. Los sulfuros suelen entrar también entre los conductores buenos,
con excepciones como Ia blenda y el cinabrio. Los óxidos, y los compues-
tos de antimonio suelen ser maIos conductores, con Ia excepción de Ia
magnetita.
Ahora bien, estos minerales no suelen aparecer en Ia naturaleza de
forma individual, sino en asociaciones, y junto con una ganga frecuente-
mente aislante (cuarzo, ca1cita, etc.), por 10 que Ia resistividad conjunta
deI filón puede variar mucho de unos casos a otros. En ello influye en
gran medida Ia disposición de los elementos conductores. Si éstos apa-
recen en granos rodeados de material aislante, Ia resistividad conjunta
de Ia metalización será elevada, mientras que ocurrirá 10 contrario cuan-
do los minerales conductores tienen disposición dendrítica, de modo que
sus ramificaciones formen una red conductora. En todo caso, Ia resisti-
vidad de Ias menas suele ser más alta que Ia presentada por muestras
escogidas de cada mineral.
Por regIa general, Ias metalizaciones que contiene'n pirrotita en canti-
dad apreciable suelen ser muy conductoras, y 10 mismo ocurre, aunque
en grado algo menor, con Ia calcopirita. Las metalizaciones dondé·· abun-
dan Ia galena o Ia pirita. presentan resistividades muy variables de unos
casos a otros. Según Parkhomenko, Ias menas constituidas por sulfuros
de cobre y níquel suelen presentar resistividades muy bajas, no superio-
res a 10-4 ohm-m.
Se deduce de 10 dicho, que es muy aventurado hacer afirmaciones
a priori sobre Ia resistividad de un yacimiento metálico, aunque de 10
expuesto pueden extraerse algunas orientaciones. Por 10 tanto, antes de
decidir Ia aplicación de algún método eléctrico para Ia búsqueda o ex-
ploración de yacimientos de este tipo, es muy conveniente realizar medi-
ciones de ensayo en algún lugar conocido de Ia zona que va a estudiarse
y cuyas características se estimen representativas.

11.7 DIELECTRICOS

En los cuerpos dieléctricos o aisladores, los electrones están fuerte-

mente ligados a Ias átomos. Esta puede deberse a que existan enlaces
47
PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

covalentes, en los que dos átomos comparten dos electrones, o enlaces

iónicos, en los que un átomo cede aI otro su electrón o electrones de
valencia, que dando ambos con sus capas completas y como iones de
signo opuesto. En este último caso Ia red cristalina forma un electrólito
sólido. La mayoría de los minerales pertenecen a este grupo.
La fuerte vinculación entre eIectrones y átomos exige mucha ener-
gía para separarlos o, dicho de otro modo, Ia diferencia entre los niveles
energéticos de Ia banda de valencia y Ia banda de conducción es muy
grande. Si se intentase aumentar Ia temperatura en grado suficiente para
que pasen a Ia segunda electrones en número apreciable, se llegaría aI
punto de fusión. En Ios electrólitos sólidos no sueIe existir, pues, con-
ducción por electrones, pero sí puede haber débil conductividad iónica
originada por irregularidades o impurezas en Ia red iónica. Además de
estos defectos intrínsecos o de Schottky pueden producirse otros de ori-
gen térmico. Estos últimos, denominados detectos de Frenkel, se produ-
cen porque Ia agitación térmica de los iones puede hacer que algunos
de estos se alejen tanto de su posición de equilibrio que queden separa-
dos de ella definitivamente, y puedan moverse a través de Ia red hasta
ocupar un lugar vacante. Incluso puede ocurrir que un ion pase de una
posición intersticial a otra también intersticial. Todos estos movimientos
se hacen tanto en una dirección como en otra, pero si existe un campo
eIéctrico exterior, predominarán los movimientos en Ia dirección deI
campo, y se tendrá una corriente eléctrica.
El número de iones disponibles para Ia conducción intrínseca crece
lógicamente con Ia temperatura, según una ley de proporcionalidad que,
según se prueba en Física Estadística, es

nT oc no e-E" fT,T (II,5)

donde no es el número total de iones por unidad de voIumen, nT el nú'

mero de éstos disponible para Ia conducción a Ia temperªtura absoluta
T, E" Ia energía de activación o disociación y k Ia constante de Boltz-
mann.
A temperaturas bajas predomina Ia conductividad extrínseca, en Ia
que interviene un número de iones que cumple una condición análoga
a Ia (II,5) con E" sustituida por E', que es Ia energía de activación co-
rrespondiente.
Puede demostrarse que Ia conductividad O"T de un electrolito sólido
viene dada por Ia fórmula

O"T = 0"1 e-E'/I'T + 0"2 e-E"fT'T (II,6)

48
 DIELECTRICOS

a Ia que habtía que anadir otros términos semejantes si existiesen otros

mecanismos de conducción.
En general, Ia curva de variación de Ia conductividad con Ia tempera-
tura, en el caso de Ios electrólitos sólidos, es semejante a Ia represen-
tada en Ia figura 11-3, correspondiente aIos semiconductores, con Ia dife-
rencia de que en eI caso presente Ias conductividades son mucho más
pequenas.
En todo caso, y a Ias temperaturas normales, Ios electrólitos sólidos
presentan resistividades muy altas, generalmente superiores a 107 ohm-m.
,
Los minerales que se comportan como dieléctricos son muchos, entre
ellos Ios más abundantes en Ia naturaleza. Entre otros, figura"n en este
grupo Ios siguientes:

Anhidrita
Azufre
Blenda
Calcita
Cinabrio
Cuarzo
Estibina
Feldespatos
Feldespatoides
Fluorita
Hematites
Hornablenda
Limonita
Micas
Olivino
Petróleo
Piroxeno
Sal gema
Silvina
Otras sales
Otros silicatos

En esta relación aparecen varios minerales de gran interés minero,

como Ia blenda y el cinabrio; figuran también en ella los más impor-
tantes constituyentes de Ias rocas, Ias cuales, por 10 general, se compor-
49
PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

tarÍan como aisladoras si no fuera por Ia presencia de electrolitos en sus

poros, cuestión de que se tratará más adelante.

11.8 ELECTROLlTOS L1QUIDOS

Como es sabido, Ios portadores de Ia corri ente e1éctrica en Ias diso-

Iuciones acuosas son los cationes y aniones. AI aplicar un campo eléc-
trico, unos y otros se ponen en marcha segÚn su signo. hacia los re~pec-
tivos electrodos. La velocidad de los iones es proporcional a Ia inten-
sidad deI campo e1éctrico aplicado, y depende también de Ia tempera-
tura, Ia concentración y deI tamafio deI ion. Se llama movilidad de un
ion a Ia velocidad constante que adquiere en un campo eléctrico unidad.
Si se mide Ia ve10cidad en m/s y el campo en Vim, Ias movilidades se
expresarán en m2/V.s (metros cuadrados/Voltios X segundo).
La resistividad de un electrolito será Ia resistencia e1éctrica presen-
tada por un volumen de electrolito de forma cúbica y un metro de lado,
cuando se establece una diferencia de potencial unidad entre dos caras
opuestas. Si esta d.d.p. fuese un voltio, Ia intensidad obtenida será, nu-
méricamente, Ia inversa de Ia resistividad. Como Ia Iongitud deI conduc-
tor es de un metro, cada segundo llegará a uno de Ios electrodos un
número de iones igual aI total de éstos multiplicado por su velocidad,
que en este caso será igual a Ia movilidad, pues eI campo aplicado es
igual a un V/m. EI número de iones presente se haIlará multiplicando Ia
concentración en equivalentes-gramo por m3 (con 10 cuaI tendremos en
cuenta eI número de cargas o valencia deI ion) por el factor de disocia-
ción pues no todas Ias moléculas estarán disociadas. La carga de cada
Cj.

equivalente gramo es F = 96.487 culombios (Faraday), de modo que,

finalmente, Ia intensidad de Ia corri ente medida en amperios será:

I=FCj.cm *

donde m es Ia movilidad deI ion considerado a Ia temperatura deI expe-

rimento. Hasta aquí se ha considerado un sólo tipo de ion; como habrán
de existir "arios, (aI menos un catión y un anión) Ia intensidad debida
a todos e1Ios será

• Tal como está escrita. esta fórmula aparece como dimensionalmente inco-
rrecta. Ello se explica porque Ia I deI primer miembro se ha definido como corres-
pondiente aI campo unidad y a Ia secCÍón .unidad. Es, pues, Ia densidad de corrien-
te para el campo unidad, por 10 que es realmente Ia conductividad deI electrolito,
10 que justifica el paso a Ia fórmula (11,7).
50
 ELECTROLITOS LIQUIDOS

1= F ~ a.;Cjmj
y Ia resistividad, en virtud de Ia dicho aI comienzo deI párrafo vendrá
dada por-
1
(II,7)
p = F~<Xicimi

en ohm-m.
Para Ia aplicación de Ia fórmula (II,7), puede suponerse que a.; = 1
siempre que se trate de electrolitos fuertes, como suele ocurrir. Las con-
céntraciones han de expresarse en equivalente gramo por mS, por Ia que
si Ias datas se dan, como sucede frecuentemente, en giZ, habrán de multi-
plicarse por 1000 y dividirse por el equivalente químico deI 10n corres-
pondiente. En Ia tabla adjunta se indican Ias equivalentes químicos de
Ias iones más corrientes.

TABLA

Movilidad y equivalente químico de, algunos iones

en
4,55NaCl
Movilidad
0,50
1,27
30,00
1,00
20,04
35,46
48,03
39,1
12,15
0,27
23,0
61,02
0,95
enX,
X 10-8a 18°C
Equivalente
6,65
4,62
químico;>
6,95
2,00
4,47
3,95
6,07
Equivalente
XXm2/V.s
10-8 6,55 X 10-8

Otras veces, Ias concentraciones se expresan en e.p.m. o sea en equi-

valentes por millón, y en este caso tales datas pueden introducirse di-
rectamente en Ia fórmula (II,7), ya que son prácticamente iguales aI nú-
mero de equivalentes gramo por mS.
Los iones más abundantes en Ias aguas naturales son el Cl- y el Na+.
En Ia figura II-4 se representa, en gráfico Iogarítmico; Ia resist,ividad de
Ias soluciones de CINa en función de Ia concentración en g/l, a 18° de
temperatura. Frecuentemente se calcula Ia resistividad de Ias aguas, re~
duciendo Ias concentraciones de Ias diversos iones a Ias cantidades equi-
51
 PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

valentes de CINa. En Ia tabla se indican también los factores de equi-

valencia eorrespondientes.
Según se desprende de Ia mencionada tabla, Ias movilidades de los
iones suelen estar próximas ai valor 5 X 10-8• Si se toma a = I Y se tiene
en euenta que ai menos habrá un eatión y un anión, ambos eon igual con-
centraeión, y que además F = 96.487 ~ IOS, el denominador de Ia (11,7)
será aproximadamente igual a 10-2 Cj para una sola sal, y por 10 tanto,
100
p~--Ci
Y si hay varias sales, será

-
100 100
p~--=-- t
.~ Cj
(II,8)

•
AI aplicar esta fórmula aproximada, muy' útil por su seneillez, debe
I

-- -= -
- Mm2000
I

- - =-
1000
== IIII ==
I ::::

100 ~

.!l-m

10

0,1

0,001 0,01 0,1 10 100

9/1
FIG. II-4. Resistividad de Ias disoluciones de CINa en función de su
concentración en g/l, a .180 C. (Según Dakhnov.)

52
 ELECTROLITOS LIQUIDOS

tenerse en cuenta que Ias concentraciones que' en ella aparecen corres-

ponden a cada pareja catión-anión, y que por 10 tanto, t, que suele de-
nominarse. suma iónica es Ia mitad de Ia suma de los equivalentes gramo
de todos los iones presentes en 1 m3' de agu.a, o 10 que es igual a ~a mitad
de Ia suma de los equivalentes por millón (e1Jllll~ *. La movilidad de los
iones es función de Ia temperatura, por 10 que ocurrirá 10 mismo con Ia
conductividad. Si, como es costumbre en Prospecci6n Geoeléctrica, ex-
presamos ésta por su inversa Ia resistividad, se tiene que
Po

Pr = 1 + ar (T - To)
(II,9)

donde Pr es Ia resistividad a Ia temperatura T, Po Ia resistividad a Ia tem-

peratura origen o de referencia To que suele ser de 18°C, aunque algunos
autores toman 20°C 625°C, y a es un coeficiente cuyo valor aproximado
es de 0,022. Esta f6rmula, aunque no rigurosamente exacta, es válida
dentro de Ias temperaturas normales, e indica que Ia resistividad de 10s
eleetrolitos disminuye con Ia temperatura.
Hasta aquí se ha consideradq Ia cuesti6n de determinar Ia resistivi-
dad de un electrolito de composición conocida. En Ia práctica se presenta
muchas veces el problema de medir dicha magnitud directamente sin
análisis químico previo. Esto puede realizarse por medio de un puente
de conductividades o conductit,ímetro, que consiste en un puente de co-
rriente alterna (puente de Kohlraush) cuya resistenda incógnita" es Ia
presentada por el e1ectrolito situado entre dos electrodos fijos. Estos
suelen estar montados en el interior de una vasija o célula de material
químicamente inerte, aunque en otros casos los electrodos están monta-
dos en unsoporte, y pueden introducirse en cualquier recipiente. La
medici6n consiste en equilibrar el pu ente para determinar Ia resistencia
deI electrolito, de Ia cual se deduce su resistividad mediante multiplica-
ción por Ia constante de calibrado de Ia célula (o electrodos). Esta cons-
tante se determina previamente efectuando una medici6n con un electro-
lito de resistividad conoc'ida, por ejemplo una disolución décimo-normal
(0,1 N) de KCl. Es necesario medir Ia temperatura deI líquido en el mo-
mento de Ia medición. El empleo de corriente alterna tiene por objete

* Cuando en el eleetrolito predomina Ia sal eomún, su resistividad puede es-

timarse (XMELEVSKOY, 1975) mediante Ia fórmula empíriea
8,4
(1I,8a)
P=M
donde M es eI eontenido de saIes en gr/1.
53
PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

eIimin;lr Ia poIarización de Ios eIectrodos, Ia cuaI faIsearía ias medi-

ciones.
Existe-n en ef comercio conductiv-ímetros de -Iectura a-irecta,. graduados
generaImente en microsiemens/cm* (o en micromhos/cm, que es eI.nombre
antiguo de Ia misma unidad), construidos por PhiÍips, Geotrón y otras
casas.

FIG. 11-5 Condlictivímetro (para electroliros) de precisión Philips

modelo PW 9501/01

11.9 RESISTIVIDAD DE LAS AGlJAS NATURALES

EI aguapura es muy poco conductora, a causa de su muy reducida

disociación, de modo que Ia resistividad deI agua tridestiIada es de unos
1()5 ohmios-m por 10 que puede considerarse como aislante.

* Es costumbre expresar Ia conductividad de Ias aguas en Ia indicada unidad

híbrida, aunque sería deseable el empleo de alguna unidad Sol. como el mili-mho/
metroo En algunos campos e investigadores parece existir Ia idea subconsciente
de que el cm es unidad más refinadà que el metroo Así, PARKHOMENKO (1967, pá-
gina 87), dice textualmente que: "En testificación eléctrica, Ias resistividades sue-
len expresarse en ohm-m, mientras que en los estudios teóricos y de laboratorio
se expresan en ohm-cmo" EI autor no cree que el metro se vuelva más científico
después de dividido en 100 partes.

54
 RESISTIVIDAD DE LAS ROCAS

Las aguas que se encuentran en Ia naturaleza presentan, sin embargo,

conductividad apreciable, pues siempre tienen disuelta alguna sal, gene-
ralmente NaCI. La cantidad y clase de estas sales depende de Ia natura-
leza de Ias rocas con que Ias aguas hayan entrado en contacto en su
marcha por Ia superficie dei terreno o subterránea. La cantidad de sales
de Ias aguas suele oscilar entre 0,1 giZ y 35 giZ, cifra esta última que
cürresponde a Ias aguas marinas, y que es superada por álgunas aguas
de mina y por lagos salados, notablemente por el Mar Muerto, con
unos 250 giZ.
A título orientativo se da a continuación una lista de los márgenes
de variación de Ia resistividad de Ias aguas naturales, basada en datos de
diferentes autores.
Agua de lagos y arroyos de alta montaÍÍa lQ3 a 3.103 D-m
Aguas du1ces superficiales 10 a 101 D-m
Aguas salobres superficiales 2 a 10 D-m
Aguas subterráneas 1 a 20 D-m
Agua de lagos salados 0,1 a 1 D-m
Aguas marinas ,....,0,2 D-m
Aguas de impregnación de rocas 0,03 a 10 D-m

Los datos anteriores se refieren aios márgenes de variación usuales.

Excepcionalmente se encuentran resistividades que exceden de los lími-
tes indicados. Así Ia resistividad de Ias aguas dei Mar Muerto es de
unos 0,05 ohmios-metro,' y Ias aguas saladas de los yacimientos petrolí-
feros pueden llegar hasta valores análogos.

11.10 RESISTIVIDAD DE LAS ROCAS

11.10.1 Introducción

Si Ia resistividad de Ias rocas dependiese únicamente de los minera-

les constituyentes, habrían de considerarse como aislantes en Ia inmensa
mayoría de los casos, puesto que el cuarzo, los silicatos, Ia ca1cita, Ias
sales, etc., 10 son prácticamente. Sólo en el caso de que Ia roca contu-
viese minerales semiconductores en cantidad apreciable, podría conside-
rarse como conductora, es decir, sólo 10 sedan Ias menas metálicas.
Afortunadamente, todas Ias rocas tienen poros en proporción mayor
o menor, los cuales suelen estar ocupados total o parcialmente por elec-
trolitos, de 10 que resulta que en conjunto, Ias rocas se comportan como
conductores iónicos, de resistividad muy variable según los casos. Por
55
PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

consiguiente, será necesario estudiar Ia resistividad de medios heterogé-

neos, los cuales en su caso más sencillo se compondrán de dos mate ria-
Ies, uno de los cuales, de resistividad Pz, sirve de matriz o medio enca-
jante a otro de resistividad Pl que está disperso en el interior deI pri-
mero.

11.10.2 Resistividad de medios heterogéneos

EI problema que se acaba de plantear fue estudiado, quizá por primera

vez, por J. C. MAXWELL (1891) quien para el caso de que el medio de
resistividad Pl adoptase Ia forma de esferas pequenas distribuidas alea-
toriamente en el interior deI medio' de resistividad Pz demostró Ia fór-
mula
2 P1 + pz + P (Pl - Pz)
P1Z = -------------Pz
2 Pl + pz - 2 P (Pl - Pz)
(11,10)

donde P es Ia fracción deI volumen total ocupado por Ias esferas (que
si éstas son poros sería l-a porosidad) Y Pl2 Ia resistividad deI medio hete-
rogérieo. Se supone que el radio de Ias esferas es pequeno comparado con
Ia distancia que Ias separa (fig. 11-6).

I
I
I
I
1
I

®!®I®
)-----
/ ---
// P.:.

// 2

FIG. 11-6. Medio homogéneo con inclusiones esféricas. (Fórmula de Maxwell.)

Si se representa por p' Ia relación de resistividades de ambas sustan-

cias Plj Pz Ia fórmula toma Ia forma más expresiva,

2 p' + 1 + P (p' - 1)
(11,11)
P1Z = 2 p' + 1 ~ 2 P (p' _ 1) Pz

56
 RESISTIVIDADDE LAS ROCAS

Vale Ia pena detenerse en algunos ejemplos numéricos deducidos de

Ia fórmula anterior. En Ia suposición de que Ia resistividad P2 de Ia ma-
triz vale 1 y Ias inc1usiones tienen resi~tividad Pl = 0,1 Ó Pl = 10, con
porosidad de 0,2, P12 vale 0,65 ó 1,31 respectivamente, 10 que seiíala eI
mayor efecto relativo de Ias inc1usiones conductoras respecto de Ias re-
sistivas. En Ios casos límites en que Ias inc1usiones sean perfectamente
conductoras o completamente aislantes, P12 vale 0,44 ó 1,64 respectiva-
mente, 10 que aparte de confirmar 10 dicho, indica el papel predomi-
nante de Ia resistividad de Ia matriz. Si esta fuese aislante, 10 mismo
ocurriría con el medio conjunto, y si fuese perfectamente conductora, 10
sería también' dicho medio. * En el caso de una matriz de resistividad
finita P2 con inc1usiones de resistividad nula Ia fórmula anterior se re-
duce a

l---,'p
- 1---P2
Pl2 - + 2p
(lI, 12)

Diversos autores (SEMENOV, 1959;· OVECHENNIKOVy KILUKOVA, 1955,

MANDEL et alia, 1957; Me EUEN et alia, 1959; MADDEN, 1976, etc., ver
también PARKHOMENKO,1967) han estudiado tanto teórica como experi-
mentalmente Ia resistividad de medios heterogéneos o agregados, constru-
yéndolos experimentalmente en algunos casos, con inc1usiones esféricas,- õ
en forma de eIipsoides de revoIución o triaxiles. En eI caso de que Ias in-
c1usiones sean alargadas y con orientación uniforme, el agregado ma-
nifiesta anisotropía. ios resultados de estos estudios ac1aran eI compor-
tamiento de Ias rocas con minerales conductores diseminados; en 10
concerniente a su resistividad.
ia resistividad de un medio heterogéneo con inc1usiones conductoras
disminuye notabIemente si éstas están en contacto entre sí. Este fenó:
meno es de gran importancia en Ias rocas con conductos formados por
poros rellenos de electrolito, -por -10 que conviene considerarIo de modo
detallado y cuantitativo.

+------l ------+
FIG. 11-7. Conducción a través de poros.

* Algún autor ha efectuado cálculos para Ia porosidad de 0,5 por medio de

ia fórmula de Maxwell, 10 que no es correcto, pues con tan gran porosidad, los
radios de Ias esferas ya no son despreciables frente a su distancia mutua.
57
 PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

Según 10 dicho, Ias rocas pueden considerarse como medios de ma-

triz aislante, en los que existe una .red de conductos irregulares y tor-
tuosos llenos de electrolito, aIos cuales se debe por completo Ia conduc-
tividad deI conjunto. Si se toma un trozo de roca 10 suficientemente
grande para que sea repr~sentativo (fig. II-7), de forma cilíndrica. o pris-
mática, con Iongitud 1 y sección s, su resistencia vaIdrá

I
R = p,.-s (II,13)

J
donde Pr es Ia resistividad media de Ia roca, matriz y poros incluidos.
Como Ia conducción sólo se efectúa a través de Ios poros, llenos de
agua con saIes, de resistividad Pa. se tendrá por otra parte
li

le
(lI, 14)
r
,I
R = Pa--s;-

donde le es Ia Iongitud efectiva media de Ios conductos, y Se Ia sección

I[ total 'de Ios mismos que es el área efectiva desde eI punto de vist~ de Ia
conducción.
I
I, Combinando Ias dos expresiones anteriores, resulta
I'

I1

(lI,15)
PT = Pa_Ie I __ s_
Se = Pa (~~)2~!-
I s. le

La relación lell entre Ia longitud media de Ios conductos de poros y Ia

Iongitud deI trozo de roca se llama tortuosidad, y se representa por T.
Este parámetro fue introducido por PIRSON (1958). La reIación seis ha
sido denominada coeficiente de disminución por FRASER y W ARD. En Ia
fórmula anterior, eI producto s . I VT es eI volumen =real deI trozo de
roca considerado, mientras que Se' le = V. es eI volumen ocupado por
los poros. SueIe definirse como porosidad P Ia relación entre eI voIumen
total de Ios poro.s y eI de Ia roca:

P=~~ (II,16)
sI

con 10 que Ia porosidad se expresa en fracciones de Ia unidad, pero es

muy frecuente darIa en tanto por ciento deI volumen total. La fórmula
(lI,5) puede escribirse
p
Pr = -p Pa =F P~
(11,17)

58
 RESISTIVIDAD DE LAS ROCAS

donde el coeficiente F recibe el nombre (ARCHIE, 1942) de faetor de for-

maeión. Esta es, pues, Ia relación entre Ia resistividad global de Ia roca
y Ia deI electrolito que llena sus poros.
Todo 10 dicho respecto de roca y electrolito es aplicable a Ias in-
clusiones conductoras que formen filamentos continuos.

11.10.3 Medición de Ia, tesistividad de Ias tocas

Hasta aquí se ha considerado Ia resistividad de Ias rocas desde un

punto de vista teórico. La resistividad de una porción determinada de
roca puede medirse directamente por diversos métodos, Ios cuales pue·
den emplearse también para evaluar eI grado de exactitud de Ias fórmu-
las teóricas.
Tales determinaciones experimentales pueden efectuarse de tres mo-
dos diferentes ..
a) Por medio de mediciones geoeléctricas realizadas en Ia superficie
deI terreno, tales como sondeos eléctricos verticales, sondeos magneto~
telúricos, y otros métodos que se describen eu esta obra. Estas sistemas
de medición presentan Ia ventaja de que Ia roca se estudia en su estado
natural y que Ia medición afecta a un volumen grande de roca, por 10
que Ios resultados no se ven interferidos por circunstancias Iocales, pero
tienen en su contra Ias ambigüedades de que frecuentemente adolece Ia
interpretación.
b) Por mediciones efectuadas en eI interior de sondeos mecánicos,
siguiendo Ios métodos (Testifieaeión eléetriea) que se expondrán sucin-
tamente en eI volumen 11 de esta obra. Este sistema da resultados más
detallados y locales, y Ia roca se encuentra en su estado natural, salvo en
10 que respecta aI efecto de Ias lodos deI sondeo, pero este puede corre-
girse.
c) Por medio de determinaciones de Iaboratorio, sobre muestras de
roca extraídas de afloramientos o de labores mineras, o bien sobre tes-
tigos de sondeo. Estas' mediciones tienen eI inconveniente deI pequeno
tatnano deI trozo de roca que se utiliza, eI cuaI puede no ser representa-
tivo, y eI más importante aún de que eI grado de humedad que Ia roca
poseía "in situ" se altera en Ias operaciones de corte y transporte aI Ia-
boratorio.No obstante, este sistema de medición proporciona resultados
interesantes, y es insustituible para el estudio de los factores que pueden
influir en Ia resistividad de Ias rocas tales como grado de humedad, pre-
si?n, temperatura, etc.
Dos son los métodos principales utilizados en laboratorio para Ia me-
dición de Ia resistividad de muestras de rocas o minerales. Estos métodos
se denominan respectivamente de dos eleetrodos y de cuatro eleetrodos.
59
 PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS .

El primero de ellos se basa fundamentalmente en medir Ia resisten-

cia óhmica R de muestras de roca de forma cilíndrica o prismática, de
donde se deduce Ia resistividad p por medio de Ia conocida fórmula

p=R. _s (II,18)
1

donde 1 es Ia longitud de Ia muestra, y S su sección, que han de expre-

sarse respectivamente en m y m2, y Ia resistencia en ohmios, si los re-
sultados se desean en ohmios-metro. ..
La muestra debe ser notablemente mayor' que su tamano de grano,
y puede cort.arse por medio de sierras especiales de dureza adecuada.
il',
li Las superficies terminales, esto es, Ias que van a entrar en contacto con
los electrodos, deben pulirse cuidadosamente.
Una cuestión muy importante es Ia que se refiere aI contacto entre
Ia muestra y los electrodos. Se han utilizado diversos procedimientos con
este fino Uno de Ios más antiguos consiste en sujetar Ia muestra en un
I; marco rígido, aprisionándola con un vástago roscado, que se aprieta todo
10 posible, de modo que hagan buen contacto con Ia muestra hojas· de
i

I,
papel' de estano o aluminio colocadas en sus extremos. También puede
emplearse mercurio, por ejemplo deI modo indicado en Ia figura lI-8,
inspirada en Heiland, y que el autor ha empleado con resultados acep-
tables. Este tipo de contacto es muy adecuado para testigos de sondeo,
aunque, como es natural, puede emplearse también para muestras pris-
máticas.
li

Popel

ii!

Plástico

FIG. lI-S. EmpIeo de mercurib para estabJecer eI contacto con Ias

muestras ~n Ia medición de resistividades.

60
 RESISTIVIDAD DE LAS ROCAS

Otro procedimiento consiste en cubrir dos caras opuestas de Ia mues-

tra con una capa de grafito, Ia cual puede obtenerse incluso frotando
Ia superficie con un lápiz blando. -Sobre esta capa se colocan hojas de
papel metálico conectadas aI circuito de medición. Parkhomenko indica
que este procedimiento no puede utilizarse para medidas a temperaturas
altas (más de 300°) ya que el grafito se quemaría, y recornienda elec-
trodos de oro o platino depositados en el vacío sobre Ia muestra, o bien
panes de estos metales apretados contra ella a presiones del orden de
100 kg/cm2, siempre que Ia superficie de Ia muestra pueda considerarse
como ópticamente plana.
Una causa de erro r en Ias mediciones es Ia conducción superficial
en Ia muestr.a, causada porque Ias paredes de ésta hayan adsorbido hu-
medad. Tal circunstancia puede evitarse mediante el empleo de anillos
de guarda, que rodean a uno de los electrodos, y estén separados de él,
según Parkhomenko, no más de 2 mm. EI anillo de guarda se conecta
deI modo indicado en Ia figura I1-9.

FIG. II-9. Esquema de un montaje .con anillo de guarda, para Ia

medición de resistividades de muestras.

Preparada Ia muestra con sus contactos, basta medir Ia resistencia

óhmica de aquélla y aplicar Ia fórmula (I1,18) para obtener Ia resistivi-
dado La medida de dicha resistencia puecfe efectuarse con un puente de
Wheasthone o un ohmímetro de características adecuadas aI valor que va
a medirse, el cual puede oscilar en margen amplísimo, desde el caso de
un mineral semiconductor a una roca dieléctrica y seca. También puede
utilizar se una combinación de voltímetro y amperímetro, como Ia indicada
en Ia figura 9. Cuando Ia resistencia de Ia muestra es relativamente pe-
quena puede ser preferible conectar en serie el amperímetro con el cir-
cuito formado por Ia muestra y el voltímetro en paralelo. En realidad
el .amperímetro habrá de ser, según los casos, un mili o microamperí-
metro e incluso un pico-amperímetro.
61
 PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

Si Ia resistencia de Ia muestra fuese excesivamente grande, hay que

recurrir a técnicas especiales, como Ias indicadas por Parkhomenko. Una
de ellas consiste en carga r nn condensador, dur,ante unos cinco minutos,
con Ia corri ente que fluye a través de Ia muestra, y medir Iuego Ia carga
con un galvanómetro balístico. Si Ia resistencia de Ia muestra fuese ele-
vadísima (más de llY' ter,a-ohmios) Ia citada autora recomienda Ia medi-
I' ción de Ia capacidad total deI circuito, y sustituir aI amperímetro por
un electrómetro cuya Iectura se toma después de transcurrido un tiempo
determinado desde su conexión.

", Placa metálica Muestra

I'
Placa metálica
(o mercurio) (o mercurio)

Bando de Bando de
plata plata

FIG. lI-IO. Artificios de Iaboratorio para Ia medici6n de Ia resistividad, de muestras

prismáticas (A), y de un testigo de sondeo (B). (Según Parasnis.)

62
 RESlSTIVIDAD
DE LASROCAS

La medición de resistividades de muestras por eI método de Ios cua-

tro electrodos adopta diversas modalidades.' En I todas ellas se utilizan
dos electrodos A y R por donde penetra Ia corriente, cuya intensidad I
se mide, y otros dos M y N, entre Ios cuaIes se mide Ia d.d.p. /1V. Los
eIectrodos consisten en puntas metálicas apretadas contra Ia superficie
de Ia muestra.

En Ia modaIidad indicada en Ia figura 10 a, cuya claridad exime de ex-

plicaciones, se empIea Ia misma fórmula (II,8) dando aleI valor de Ia
distancia entre Ios electrodos M y N y no eI de Ia longitud de Ia
muestra.
Para medidas de exactitud no muy grandes pueden aplicarse cuatro
eIectrodos puntuales alineados y a iI).tervalos iguales sobre Ia superficie
de Ia muestra (fig. lI-H). Si es a Ia distancia entre cada dos electrodos
contiguos, Ia resistividad vendrá dada por

p = 2n,a /1V
I (11,19)

fórmula cuya justificaciónpara un semiespacio se da en el apartado II!.?

Como el ta mano de Ia muestra es finito, Ia expresión anterior es solo
aproximada, pero según Ios experimentos de PARASNlS(1956) el error
cometido es menor que el 10 % si Ia distancia AR no sobrepasa Ia mitad
de Ia longitud de Ia muestra ni es menor que Ia anchura de ésta.

A M N B

~ 1 1 i

FIG, lI-lI. Medición de resistividades por el método de cuatro electrodos.

EI propio Parasnis ha descrito una variante deI método de cuatro

eIectrodos, apIicabIe a testigos de sondeo, aun cuando sus extremos no
estén pulidos ni cortados. Se introduce eI testigo en un tubo de plástico
63
PROPIEDADES
ELECTROMAGNETICAS
DE LASROCAS

que ,ajuste estrechamente (fig. II-lO) el cual lleva sujetas dos bandas me-
tálicas ml1Ydelgadas a 10 largo de dos generatrices opuestas. En el ccua-
dor dei tubo se hacen dos perforaciones, por Ias que se intrQducen los
electrodos M Y N. L,as bandas metálicas sirven de electrodos A y B. La
resistividad viene dada por

(II,20)
p = 1r 1 + cos 'i'
(ln l-cos'i' I
) _ b !J. V

donde b es Ia longitud de Ias bandas y 'i' el ángulo indicado en Ia figura.

Para más detalles, véase Ia Geofísica Minera de PARASNISen Ia página
168 de su edición espanola (Paraninfo, 1971).

Es importante que en Ias mediciones de resistividades por el método

dé los cuatro electrodos, Ia distancia MN sea varias veces superior ai
ta mano de grano de Ia roca.
Tanto en uno como en otro método, Ias mediciones no requieren gran
exactitud, que no tiene objeto dada Ia gran variación de resistividad
entre unas y otras muestras de Ia misma roca.
Según Parkhomenko, el método de los dos electrodos da resistivida-
des más altas que el de cuatro, por causa dei efecto .de los contactos.
También pueden efectuarse mediciones en corri ente alterna, que elimina
Ia posible polarización de los electrodos, pel'O puede dar resultados que
varíen con Ia frecuencia empleada, por causa, entre' otros fenómenos, de
Ia polarización inducida, que será ,estudiada en el volumen II de esta
obra.

11.10.4 Rocas con inclusiones de minerales conductores

La resistividad de algunas rocas puede verse disminuida considerable-

mente si contienen elementos conductores diseminados. Esta cuestión es
de gran importancia práctica, pues está relacionada, no sólo con Ia posi-
bilidad de detectar menas por prospección geoeléctrica, sino con Ia de
determinar Ia riqueza dei yacimiento detectado.
Desgraciadamente, no existe correlación entre Ia resistividad de una
roca y su contenido en minerales conductores, y mucho menos entre aque ..
lla y Ia proporción de minerales útiles. Esto se debe a que el hábito dei
mineral influye tanto como su proporción relativa. Si el mineral es de
hábito dendrítico, y su concentración supera un cierto valor mínimo, Ias
ramificaciones de cada cristal hacen contacto con Ias de otros próximos,
y se forma una red conductora que baja grandemente Ia resistividad de
Ia roca. En cambio, si el mismo mineral se encuentra en cantidad mucho
64
 RESISTIVIDAD
DE LASROCAS

mayor, pero en forma de cristales rodeados por una matriz o ganga ais-
lante, su efecto sobre Ia resistividad de Ia roca será muy pequena e in-
cluso inapreciable.
Faltan estudios sistemáticos y generales sobre esta cuestión, pero Ias
de carácter local realizados hasta ahora, parecen indicar que, a partir
de cierto valor umbral de Ia concentración de mineral conductor, Ia
resistividad de Ia roca disminuye rápidamente con el aumento de Ia
proporción de mineral, hasta quedar estabilizado en un valor gene-
ralmente muy pequeno, que ya no decrece por aumentos sucesivos de Ia
cantidad de mineral. Esto se debe a que siendo muy grande Ia proporción
de mineral conductor, Ia roca se comporta como si su matriz fuese con-
ductora y en ella ejercerán poco efecto Ias inclusiones resistivas, según
se vio en el apartado II.10.2.

Como ejemplo de 10 dicho, senalaremos que Ia resistividad de Ias

gabros de Maine no se ve afectada por Ia presencia de pirrotita en cano.
tidades inferiores aI 5 % (en volumen) siendo próxima a 2000 ohmios-m
para un 10 % de pirrotita, y a unos 0,6' para el 15 % (ANDERSON,1962).
EI valor umbral depende deI hábito deI mineral y de otras circunstancias,
y en casos desfavorables puede ser deI 25 % y hasta deI 60 %, valor este
último deducido de Ias observaciones de Murashov y sus colaboradores,
citados por Parkhomenko. En cuanto aI efecto de saturación o dintel
aludido más arriba, queda ilustrado por el hecho de que menas ricas en
calcopirita, estudiadas por el mismo Murashov, no experimentan cambio
sensible en su resistividad cuando el contenido de dicho mineral "sobre-
pasa el 70 %.

Todo 10 anterior confirma 10 dicho de que no existe. correlación sim-

pIe entre Ia cantidad de minerales conductores y Ia resistividad de Ia
roca que los contiene, si bien, en algunos casos pueden establecerse re-
gularidades aproximadamente válidas para una región y tipo de yaci-
miento determinados. Además puede ocurrir que los minerares que con-
tribuyen a Ia conductividad de Ia roca de modo más decisivo sean de valor
económico nulo, dada su diseminación, como suele ocurrir con Ia pirita y el
grafito. Las pizarras que contienen diseminaciones de estos minerales sue-
len ser muy conductoras, y pueden dar indicaciones eléctricas atribuibles
erróneamente a yacimiento~ de minerales explotables. Esto es especialmente
cierto para Ias pizarras carbonosas o grafitosas, Ias cuales constituyen una
ealamidad para Ia prospección geoeléctrica cuando abundan en zonas mi-
neras, como ocurre en Río Tinto (Espana), en algunas regiones de Sue-
cia, y en otras partes. Para mayor desgracia, Ias pizarras grafitosas pro-
ducen fenómenos de polarización (espontánea o inducida) análogos aios
originados por menas metálicas, por 10 que Ia diferenciación entre unas
y otras no es fácil.
65
 PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

11.10.5 Efectos de Ia humedad

Las rocas cuya conductividad se debe a Ia presenCia de inc1usiones

de mineraIes conductores ocupan un voIumen relativamente muy pe-
queno de Ias capas superiores de Ia corteza terrestre; La conductividad
de Ia mayor parte de Ias rocas se debe a otra causa, que es Ia existencia
I
~I'
de poros y fisuras rellenos total o parcialmente de eIectrolitos. Además
de Ios poros propiamente dichos o poros intergranulares, existe otra poro-
sidad debida a Ias fisuras y diac1asas, que no sueIe exceder deI 2 % deI
voIumen total. En Ias rocas sedimentarias y en Ias cineritas predomina
eI primer tipo de porosidad, mientras que Ia segunda es Ia más impor-
tante en Ias rocas ígneas. KELLER y FRISCHKNECHT (1966) definen un tercer
tipo de porosidad, Ia vugular, constitui da por cavidades grandes e irregu-
lares, como Ias de disoIución en calizas, o Ias que existen en Ias vulcanitas,
debidas a burbujas de gas. EI citado autor divide Ios poros en dos c1ases,
poros de almacenamiento, que son Ios de mayor tamano, y Ios poros de
conexión, más 'pequenos y que comunican entre sí Ios primeros.
Como Ia porosidad vuguIar no sueIe influir en medida importante
sobre Ia porosidad total, y Ia debida a fisuras y diac1asas no excede deI
2 % .deI voIumen total, bastará una tabIa de Ios límites de variación de
Ia porosidad intergranuIar.

Conocida Ia porosidad de una roca, y Ia resistividad de Ias solucio-

nes acuosas que rellenan sus poros, podría calcuIarse Ia resistividad de

TABLA II

Porosidad intergranular de diversas rocas

Arcillas ... . .. .. . .. . . .. . .. 20-50 %
Arenas gruesas ... . .. .. . .. . ... 25-60 %
" finas. . . . .. . .. . .. 30:-60 %
" de médanos .. . . 40%
de pIaya ... .. . .. . 80-85 %
Arenisca . .. ... 20-35 %
Caliza . .. 1,5-20 %
Cienos .., . .. 80-85 %
DoIomías 3-20 %
Grava . .. 20-40 %
Lavas . 20-80 %
Margas '" . 4-60 %
Rocas ígneas . .. 0,3~5 %
Vulcanitas elásticas ... ... ... ... ... 5-60 %
66
 RESISTIVIDAD DE LAS ROCAS

Ia roca por medio de Ia fórmula (II,17) pero ésta exige, además, el

conocimiento de un tercer dato, ]a tortllosidad T, de medición difícil,
aunque según parece, no suele variar mucho, de 1,3 a 2 en Ia mayoría de
10s casos. Por este motivo, se ha trabajado mucho en Ia determinación
empírica deI factor de formación F en función de Ia porosidad de Ia roca
considerada, cuestión de gran interés en Ia industria petrolera, por estar
relacionada eon Ia evaluaeión de Ias reservas de un yacimiento ..
ia porosidad de una misma dase de roca disminuye con Ia edad y el
grado de metamorfismo.
ias primeras representaciones grá.ficas de Sundberg y de Jakosky y
Hopper, fueron expresadas matemáticamente por ARCHIE (1942) en Ia
fórmula, conocida por el nombre de Ley de Archie,

pr = p_m fia (lI, 20)

donde se utiliza Ia misma notación deI apartado II.I0.2 y el exponente

m recibe el nombre de parámetro de cementación. Esta ecuación ha sido
modificada por Ia introducción de un coeficiente a:

[Ir = a p __
m Pa (II,21)

quees Ia ecuación de Willsauer, Ia cual, teniendo en cuenta 10 dicho

en el apartado ét que se acaba de aludir equivale a

F = ap-m (II,22)

EI valor deI coeficiente a parece depender de Ia textura de Ia roca,

y suele oscilar entre 0,5 y 1,5, aunque Keller cita rocas volcánicas muy
porosas con a = 3,5. Como valores típicos pueden considerarse 0,6 para
rocas sedimentarias bien cementadas; 0,9 para rocas no cementadas deI
mismo tipo; de 1,0 a 2,0 para calizas y dolomías, y 1,4 para rocas ígneas
compactas, pero estos datos tienen valor puramente orientativo.
El exponente m suele variar entre 1,3 y 2,3. He aquí algunos ejem-
pIos:
m = 1,3 Rocas detríticas débilmente cementadas; a veces Ias cali-
zas oolíticas.
m = 1,4 Areniscas poco cementadas, lavas y otras vulcanitas muy
porosas.
m = 1,6 Rocas poco porosas « 5 %) ígneas y sedimentarias.
m = 1,7 Rocas sedimentarias relativamente bien cementadas, inclu-
yendo areniscas y calizas.
67
 PROPIEDADES
ELECTROMAGNETICAS
DE LAS ROCAS

m = 2,0 Calizas y dolomías, areniscas cementadas y poco porosas.

m=2,3 Calizas y dolomías de grano muy fino.

JACKSONet aI. (1978) han estudiado experimentalmente el factor de

formación de arenas naturales y artificiales, confirmando Ia vali dez de Ia
Iey de Archie. EI exponente m depende de Ia forma de los granos, y
aumenta conforme éstos se separan de Ia forma esférica.
;'1
La figura I1-12 representa gráficamente Ia variación deI factor de for-
mación F en función de Ia porosidad, para diversos valores de Ios pará-
I metros a y m. Tales parámetros sólo pueden conocerse con seguridad
II mediante una serie numerosa de determinaciones de Iaboratorio sobre
muestras de Ia roca en cuestión. A falta de estas mediciones, y en primera
aproximación, pueden tomarse los valores a = 1 y m = 2, según acon-
seja Keller, 10 que no produce grave error para porosidades comprendi-
das entre 10 y 30 % que son Ias más corri entes en Ias rocas sedimen-
tarias.

Como puede deducirse de 10 anterior, Ia resistividad de Ias rocas

puede variar en margen amplísimo en función dei contenido en agua, de
Ia sálinidad de ésta, y dei modo de distribución de los poros. Keller, en
su suplemento a Ia edición americana de Ia obra de PARKHOMENKO (1967)
seiíala los márgenes extremos de variación de estos factores: 1 a 103,
1 a 500, y 1 a 20, respectivamente. Como el contenido en agua de~nde
de Ia porosidad y ésta aparece elevada ai cuadrado (aproximadamente)
en Ias fórmulas de Archie y Winsauer, resulta que el margen total de
variación en Ia resistividad de Ias rocas por causa de su contenido en
agua, es de 1010, bien entendido que esta cifra se refiere no a una clase
de rocas en particular, sino a todos los tipos conocidos, comparados den-
tro de eIlos mismos y unos con otros.
La salinidad de Ias aguas contenidas e'n Ias rocas depende en cierta
medida dei origen de éstas y de su grado de metamorfismo, sicndo mayor
en Ias rocas sedimentarias marinas que en Ias continentales. En cuanto
ai efecto dei metamorfismo, consiste en Ia disminución dei voIumen de
poros con pérdida de agua, y en el aumento de salinidad por disolución
de granos de mineral. Por esta causa, Ias rocas más antiguas suelen con-
tener menos agua que Ias modernas, pero con mayor salinidad.

Se ha supuesto en 10 anterior que los poros de Ia roca estaban llenas

por completo de agua, y en tal estado de saturación el contenido en agua
de Ia roca dependía enteramente de Ia pôrosidad. Ahora bien, los poros
no estãn siempre saturados de agua, puesto que en eIlos puede existir
aire (en Ias rocas más próximas a Ia superficie dei terreno), gas natural,
o petróleo (en Ias regiones petrolíferas). Por ello se ha hecho necesario
68
 RESISTIVlDAD DE LAS ROCAS

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9
8
7
6
5
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10
9
8
7
6
5
4
3

P%

FIG. I1·12, Variación. deI factor de formación F en función de Ia porosidad

para diferentes valores de a y de m.
69
PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

introducir el índice de resistividad, que es Ia relación entre Ia resistivi-

dad de Ia roca con eI grado de saturación considerado y con sus poros
totalmente llenos de agua. Se entiende por grado de saturación S Ia
fracción ocupada por eI agua respecto deI volumen total de poros. En-
tonces, Ia resistividad de Ia roca vendrá dada por

Pr = IF Pa (11,23)

donde I es eI índice de resistividad.

Según Archie y Guyod, eI índice de resistividad puede expresarse en
Ia forma
I = S-n (11,24)

donde n = 2 (Archie) o n = 1,98 (Guyod). Dakhnov, por 5U parte, pro-

pone Ia fórmula
1= b S-n (I1,25)

donde b = 0,6 y 11 = 2,25 para areniscas y pizarras arciIlosas de poro-

sidad inferior aI 40 %; b = 0,4 Y n = 2,1 para rocas carbonatadas de
porosidad inferior aI 25 %. EI lector observará que Ias dos ecuaciones
anteriores son formalmente análogas a Ias (II,20) y (11,21). La expresión
(11,23) puede e5cribirse, teniendo en cuenta Ias (II,22) y (11,25) en Ia for-
ma más expHcita •

Pr = (a b p_m s-n) Pa (II,26)

de donde resulta que Ia resistividad de una roca cuya conductividad se

debe únicamente a 5U contenido en agua, depende de siete parámetros.

Keller seiíala que Ias expresiones ·anteriores para el índice de resisti-

vidad sólo son válidas a partir de un contenido mínimo o crítico de agua,
suficiente para que ésta forme una película conductora que recubra in-
teriormente Ias poros. Por debajo de este valor mínimo, Ia resistividad
es mucho mayor que 10 que se deduciría de Ias valores indicados para
Ios parámetros b y n, pues eI primero puede descender hasta 0,05 y el
segundo crecer hasta 4 ó 5. Según el autor citado, Ia saturaci6n crítica
sería deI 25 % para areniscas y rocas similares y ascendería hasta el 70
u 80 % para Ias rocas ígneas. En este fenómeno influye mucho Ia natu-
raleza hidrófila o hidr6fuga de Ios granas de mineral, esto es, eI hecho
de que puedan ser o no "mojados" por el agua.
70
 RESISTIVIDAD DE LAS ROCAS

Las relaciones expu estas a 10 largo .de este apartado tienen diversas
e importantes aplicaciones prácticas. Por una parte, se utilizan, según se
sugirió más arriba, para Ia evaluación de yacimientos petrolíferos, par-
tiendo entre otros datos de Ias resistividades obtenidas por testificación
eléctrica; por otra parte, se aplican aIos estudios hidrológicos. En este
último campo puede mencionarse Ia determinación de Ia potabilidad (en
cuanto a su contenido total en sales) de Ias aguas subterráneas; para 10
que basta conocer el factor de formación F de Ia roca acuífera y su resis-
tividad, Ia cual puede obtenerse por métodos geofísicos de superficie
(sonde os eIéctricos verticales, por ejemplo). De estos datos, puede de-
ducirse, por medio de Ia ecuación (11,17) Ia resistividad dei agua, y de
ésta su contenido equivalente en NaCI.
Los fenómenos expuestos son muy complejos, por 10 que hay que
tener precaución en deducir consecuencias. Así, KeIler senala que si una
roca se deseca por evaporación dei agua de sus poros, Ia disminución de
ésta va acompanada por un aumento de salinidad, con 10 que puede ocu-
rrir que Ia resistividad global de Ias rocas se altere muy poco por Ia pér-
dida de humedad. En algunos tipos de rocas Ia geometría de sus poros
influye notablemente en su resistividad, de modo que Ia correlación en-
tre esta magnitud y Ia permeabilidad de Ia roca es más clara que con
respecto a Ia porosidad, hecho este de gran valor práctico en Ia investi-
gación geoeIéctrica de aguas subterráneas. Otro fenómeno curioso, Ila-
mado paradoja de los suelos, será comentado más abajo (apartado
II.lO.7).

11.10.6 Interacción entre el agua y Ia roca

Se ha supuesto implícitamente, en 10 dicho hasta aquí, que Ia matriz

aislante de Ia roca no reacciona en modo aIguno con eI agua que Ilena
los poros. Esto no es cierto en general, y cuando Ia roca contiene ele-
mentos arciIlosos los fenómenos producidos pueden influir notablemen-
te en Ia resistividad global. La interacción entre la matriz de Ia roca, y
eI agua contenida en sus poros adopta dos formas fundam entales : Ia
conducción superficial y Ia ionización de los minerales de la arcilla, fe-
nómenos ambos muy complejos y necesitados de ulteriores investiga-
ciones.
La conducción superficial tiene su origen en que Ia capa superficial de
los minerales que forman Ia pared interior de los poros está, en muchos ca-
sos, carga da eIéctricamente. Esto se debe a que los átomos más próxi-
mos a Ia superficie límite o pared dei poro, sueIen ser, por Ia estructura
cristalina dei mineral, iones dei mismo signo, general mente negativo (oxí-
geno) en los silicatos. Esta carga atrae cationes dei electrolito contenido
71
PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

en 10s poros, e incluso moléculas de agua, dado el carácter polar de éstas.

Se forma así una capa de agua, con espesor de una o varias moléculas,
cuya resistividad es menor que Ia deI agua no absorbida. Este fenómeno
disminuye, pues, Ia resistividad, cuando el contenido en agua es escaso,
pues ayuda a Ia fbrmación de una capa conductora en Ia superficie de los
poros. Cuando el contenido en agua es mayor, el aumento de conducti~
vidad debido a Ia adsorción es pequeno en relación con Ia conductividad
total, y si Ia salinidad excede de cierto valor, este aumento es contra-
rrestado y superado por Ia pérdida de movilidad de los iones adsorbidos.
En resumen, el efecto de Ia conducción superficial es el de disminuir Ia
resistividad de los electrolitos poco conductores por su escasez o débil
concentración, y aumentar Ia resistividad de los más conductores.
Los fenómenos debidos a Ia presencia en Ia roca de granos de arcilla
son más complejos. Casi todos los minerales, incluso el cuarzo, tienen Ia
propiedad de adsorber cationes, los cuales pueden ceder luego 'si el mi-
neral se pone en contacto con agua (iones cambiables), pero donde este
fenómeno alcanza verdadera importancia es en los minerales de Ia arcilla,
especialmente en algunos (montmorillonita, vermiculita, halloysita, etc.).
Cada. grupo o partícula de estes minerales adsorbe cationes, los cuales,
en nizón de su tamano, no forman una capa simpIe y uniforme, sino que
105 cationes más próximos a Ia partícula de arcilla quedan retenidos en
una capa fija, y los demás forman una capa difusa cuya densidad decrece
exponencialmente con Ia distancia a Ia partícula, y pueden moverse en
el seno dei electrolito, originando una conductividad apreciable. Los io-
nes más frecuentementeadsorbidos son, por este orden, Ca, Mg, H, Na
y NH3• La cantidad de iones cambiables se expresa en miliequivalentes
por cantidad en peso de arcilla.

La primera consecuencia de estos fenômenos es que el agua contenida

en Ios poros de Ias rocas experimenta un aumento en su conductividad,
por 10 que Ia resistividad de estas aguas no suele ser superior a 10 oh-
mios-m y menor aún si Ias rocas contienen arcillas, aun en escasa pro-
porción. Sin embargo, si se extrae eI agua contenida en Ia roca, y se mide
su conductividad, eI valor obtenido es el inicial deI agua no modificada
por Ia interacción, ya que Ios iones cambiables quedan retenidos en Ia
roca. Por 10 tanto, no se puede conocer Ia conductividad efectiva deI
agua de los poros si no se ha determinado independientemente Ia capa-
cidad de cambio iónico de Ia roca. EI efecto de este es de poca impor-
tancia relativa si elagua de Ios poros tiene de por sí bastante salinidad,
pero es notable si esta salinidad es pequena.
La segunda consecuencia es que en Ias rocas que contienen alguna
proporción de arcilla, el factor de formación F no puede considerarse
constante. Entonces, aI disminuir Ia salinidad deI agua, el factor F dis-
72
 RESISTIVIDAD DE LAS ROCAS

minuye también, y este efecto es tanto más marcado cuanto mayor sea
el contenido arciIloso de Ia roca.
Por otra parte, Ia resistividad de Ias· rocas que contienen agua dulce
aumenta con el tamano de grano, mientras que si elé;lg.Qae~.~.alada; ocu-
rre 10 'contrario. Esto se explica, según Dakhnov, porque cuando el elec-
trolito es muy salino, parte de Ios iones son retenidos por Ias partículas
de arcilla, con pérdida de su movilidad y aumento de Ia resistividad. Si
el tamano de grano disminuye, crece Ia superficie de contacto, y con ella,
el número de iones retenidos, por 10 que Ia resistividad será mayor en
Ias rocas de grano fino. Cuando se trata de electrolitos dilui dos (agua
dulce) predomina Ia conductividad adicional debida a Ia hidrólisis par-
cial de Ios minerales de Ia arcilIa, descrita más arriba, conductividad que
será tanto mayor cuanto menor sea eI grana, en razón deI aumento co-
rrelativo de superficie. De este modo se explica eI conocido hecho de
que, en sedimentos que contienen agua dulce, Ia resistividad crezca en el
orden arcilla-limos-arenas-gravas, mientras que si eI agua es salada, el
orden de resistividades sea eI opuesto.

11.10.7 Resistividad de Ias rocas más trecuentes

Como puede deducirse de 10 expuesto en Ios apartados anteriores, Ia

resistividad de Ias rocas depende de demasiados factores para que, pueda
atribuirse un solo valor, ni siquiera un margen moderadamente estrecho
de variabilidad, a Ia de cada tipo de roca. Por el contrario, a cada uno
de eIlos suele corresponder un campo de variación de uno"s tres órdenes
decimales, ya que, aunque Ia naturaleza de Ia roca sea Ia misma, influ-
yen Ias condiciones Iocales de contenido en agua, conductividad de ésta,
tamano de grano, porosidad, metamorfismo, efectos tectónicos, etc. Por
otra parte, dado un valor de resistividad, tampoco puede identificarse
como correspondiente a un solo tipo determinado de roca.
Sin embargo, Ia situación no es tan desesperada como podría parecer
en virtud de 10 dicho, porque dentro de Ia extensi6n de terreno abarcada
por una determinada campana geoeléctrica, eI margen de variación és
mucho más reducido, y en general pueden identificar se Ias rocas por su
resistividad, aunque a veces puedan existir ambigüedades, y en algún
caso, originar se sorpresas. Para esta. identificación es necesario disponer
de datas previos suficientes (sondeos eléctricos paramétricos, esto es,
efectuados junto a perforaciones o en afloramientos; testificaciones eléc-
tricas, cartografía geológica, etc.). Las medidas sobre muestras tienen,
en general, poco valor desde este punto de vista, por Ias razones expues··
tas en eI apartado II.IO.3 c).
73
PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

Aun así, y dentro de zonas relativamente pequenas, Ia resistividad de

una misma roca puede variar, como dice .acertadamente FAV~E(1956) "deI
simple aI doble, y más". Es frecuente, sobre todo en cuencas sedimen"
tarias, que Ia resistividad de una capa o de un estrato, o de todas Ias
de una serie estratigráfica, varíé sistemáticamente, creciendo o disminu-'
yendo a 10 largo de distancias que pueden alcanzar incluso eI centenar
de Km. KUNETZ(1966) cita un ejemplo de 10 contrario, eI de ciertas pi-
zarras arciIlosas de Ia costa deI Golfo de Méjico "que mantienen prác-
ticamente Ia misma resistividad sobre centenares de kilómetros", pero
según Ia experiencia deI àutor estos casos 80n poco frecUentes.
Los márgenes de val'iación más usuales para Ia resistividad de Ias 1'0-
cas más importantes se expresan en Ia figura II-13 juntamente con Ia de
aIgunos minerales. Debe entenderse que, en ciertos casos, Ia resistividad
de aIgunas rocas puede exceder, por arriba o por abajo, Ios límites indi-
cados en Ia figura.
Las rocas ígneas y metamórficas suelen presentar resistividades com-
prendidas entre l()2 y IOSohmios-m. En Ias segundas, Ia resistividad suele
aumentar con eI grado de metamorfismo. Las pizarras paleozoicas, cuando
son algo arciIlosas, pueden presentar resistividades algo menores, deI orden
de 80 ohmios-m y aun menos. La presencia de grafito en forma disemi-
nada rebaja notablemente Ia resistividad, a veces hasta 0,1 ohm-m. Lo
mismo ocurre cuando están presentes otros minerales cOl1ductores, según
se ha dicho más arriba. Por el contrario, Ias pizarras bituminosas son
muy resistivas.
En Ias focas sedimentarias, es mayor Ia diversidad de resistividades.
Los valores más altos corresponden a Ias evaporitas, en especial Ia anhi-
drita y Ia sal gema cuya resistividad oscila entre l()4 y l()6 ohmios-m. Más
conductores suelen. ser Ias calizas, que presentan resistividades compren-
didas generalmente entre l()2 y 5 . loa ohmios-m. Valores semejantes pre-
sentan Ias areniscas y dolomías. Mayor conductividad aún presentah' Ias
margas, con resistividades que suelen variar entre 1 y 1Q2ohmios-m. La
resistividad de Ias rocas detríticas y clásticas crece con eI tamano de
grano, sieIÍdo para Ias arcillas de 1 a 50 ohmios-m, de 10 a l()2 para Ios
limos, de 1Q2a 10a para Ias arenas, y de 10~ a 1()4para Ias gravas; todo
esto suponiendo que contengan agua dulce. La resistividad de Ias arenas
impregnadas de agua saladaes muy inferior a Ia indica da y puede des-
cender hasta 0,1 ohmios-m.
La resistividad de Ios yesos es muy variable, siendo de pocos oh-
mios-m cuando están asociados con margas, como suele ocurrir en eI
Keuper, pero en otros casos, cuando aparecen en forma más pura y
compacta, su resistividad puede superar el millar de ohmios-m (quizá
por transformación parcial en anhidrita) 10 que sucede a veces en Es-
pana en algunos tramos deI Keuper.
74
 RESISTIVIDAD EN OHMIOS-METRO

10-· 10-· 10-' 10-2 10' 10' 10· 10· 10'2 10" 10"
••• I I Io.or
I' ,.•••••••••••••••••••••••••••••••
Metoles Colcopirito I I
I I
Margos Anhidrito Cinobrio ( (
J::·:>::·;·1 1<:··'·,··:····.:::.::·:::.··::-:":'.1
I&~ Sol Gemo CZJ \ \ Feldespotos
Pirrotito Goleno ~;t \ \I::.:.:-..:.:}.]
: .. :,:->:.:,'.:.,.
\
\
,,
I: ',::.':', ··:·:'····:·::·'·::1 1"-.:.< ·····,:,·:-::··:··:.::1
Colizos y 8!endo
Arcillos Areniscos 1:'.'.':-) }) Azufre
Grofito
~ ~~ I,/? k;'::::· ..'::..... :.. >,':2
:....::.....

1= .. ::.:'.'::: ::: '.. ::.' ..... ,::,.:,,]

Limos /'\ \
,
/I

<-

\ \ Cuor~o
~Arenos ,\ 1':. >::::,:.:::-:;:2]
~ \\\ \
t :.~:iritgx.~9~~~tg~:: I \ \
\ \
\ \ Micos
Pizorros ~~
~~ I1 1:;:·::::1
Grofitosos 11
11

~ I I
Rocos hipogénicos I!

•
I I
~ I I ~
I I ~
VJ

Aquo
I I VJ
démor
AguQ dulce ::l
<:
8
~
FIG. II-13. Gráfico de Ias márgenes de variación más comunes en algunas rocas y mine- g
rales. La fisuración, impregnaçión de agua salada, etc., pueden extender estas límites.
!:
VJ

-...:J
V1
~
VJ
 PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

La resistividad de Ios carbones varía entre límites aún más amplios,

pues, según Dakhnov, Ia antracita puede tener menos de 10-2 ohmios-m
mientras que ciertos tipos de hulla ycarbones grasos llegan a alcanzar
105 ohmios-m, correspondiendo valores intermedios a otras clases de car-
bones. La resistividad de estos parece depender de Ia proporción de sus
componentes minera!ógicos, y deI grado de humedad y de' metamorfis-
mo, pero eI iriflujo de estos factores no está suficientemente aclarado y
no existe concordancia entre Ios datos referentes a regiones diversas, ni
entre Ios varios autores que se han ocupado deI tema.
En Ios afloramientos, Ia capa superficial meteorizada sueI e presentar
menor resistividad que Ia roca sana, por causa de su mayor porosidad.
Esto no ocurre siempre, sino que se observa a veces Ia llamada paradoja
de los suelos, según Ia cuaI, Ios suelos de regiones de clima seco o de-
'1:1
sértico pueden tener menor resistividad que Ios de zonas de clima muy
húmedo, en contra de 10 que cabría esperar de Ia disminución de Ia re-
sistividad con eI contenido en agua. Así, en Ia mayor parte de Espana,
Ia zona de alteración de Ias rocas paleozoicas y graníticas presenta ma-
yor conductividad que Ias mismas rocas en estado sano, pel'O en Galicia,
de clima muy húmedo, ocurre 10 contrario, teniendo Ia roca alterada
resistividad varias veces superior a Ia sana, siempre que el terreno no
esté abonado. La razón de este fenómeno es Ia siguiente: en zonas de
clima muy seco, es frecuente Ia ascensi6n de agua hacia Ia superficie, a
través de poros y capilares, con ulterior evaporación y consiguiente au-
mento deI contenido iónico. de Ias capas superficiales. En Ias regiones
li
\,
húmedas, por eI contrario, Ia intensa circulación de agua en Ias capas
superficiales disueIve y arrastra Ios iones, con 10 que tales capas quedan
m.uy empobreci das en ellos. De ahí Ia mucho menor conductividad en eI
segundo caso respecto deI primero en relación con Ia roca sana.
II

:\1
11.10.8 La anisotropía de Ias rocas
La resistividad de muchos minerales, y como consecuencia, Ia de Ias
rocas que éstos constituyen, varían con Ia direcciónconsiderada, es decir,
que estos cuerpos son anisótropos. Entonces, Ia resistividad no puede
expresarse por un escalar, sino por un tensor simétrico pii' 10 que exige
eI conocimiento de seis componentes. La cosa se simplifica si se toman
como ejes de coordenadas 105 principales del tensor, pues entonces Ia
resistividad queda determinada por solo tres datos, p",x> Pvv Y P.. que,
para mayor sencillez, denotaremos por p"" p", Y p.. .
En eI caso de monocristales de mineral, se tomarán como ejes de
coordenadas Ios cristaIográficos, que suelen coincidir con Ias direccio-
nes principaIes deI tensor resistivid.ad. AIgunos mineraIes tienen aniso-
76
 RESISTIVIDAD DE LAS ROCAS

tropía muy fuerte, como ocurre con eI grafito, ya mencionado a este

respecto, o con eI cuarzo, donde Ia relación entre Ias resistividades me-
didas en dos direcciones perpendiculares, es de 200 veces, según datos
citados por Parkhomenko.
ia anisotropía de Ias rocas, sin embargo, suele ser débil, siempre que·
Ias minerales que Ias constituyen no muestren orientación sistemática,
pues eI media resultante es más o menos isótropo aI compensarse Ios
efectos de Ias diferentes orientaciones de Ios cristaIes. Cuando predo-
mina aIguna dirección en Ia posición de Ios minerales, como suele ocu-
rrir en Ias rocas metamórficas, eI conjunto se comporta como qnisótro-
po. ia presencia de direcciones preferentes de fisuración o diaclasamiento
es otra causa de .anisotropía en Ias rocas.
En todos estas casos, si se eligen convenientemente Ias ejes de coor-
denadas, ocurre que p", = Pu ~ pz; por 10 que el tensor resistividad puede
expresarse por sólo dos cantidades. Llamaremos a este tipo de anisotro-
pía, anisotropía transversal, y eje de anisotropía, aI eje z. Se utilizará Ia
notación pu = p", = Pv Y P 1. = pz, denominando a Ia primera resistividad
longitudinal, y a Ia segunda resistividad transversal. De estos paráme-
tros se deducen otros dos, eI coeficiente de anisotropía (o simplemente,
anisotropía)

(11,27)
A=l/~V Pu
y Ia resistividad media
Pm = ..;P1. Pu (11,28)

Siempre ocurre que P 1. > Pu por 10 que en todos Ios casos A > 1.
De Ias dos ecuaciones anteriores se deducen otras dos:
Pu = Pm/A (11,29)
P1. = Apm
ia anisotropía de Ia mayoría de Ias rocas no suele exceder de
A = 1,1 pero aIgunas de dIas, por razón de su textura, alcanzan valores
notablemente más altos, según se indica en Ios ejemplos siguientes
(KELLER, 1966, PARKHOMENKO, 1967):
Hulla - 1,7
Esquistos - 1,40·2,30
Antracita - 2,0-2,6
Pizarras grafitosas - 2-2,8
ia anisotropía aquí considerada tiene su origen en Ia textura de la
roca, y recibe, en Prospección Geoeléctrica, eI nombre de microanisotro-
77
 PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

pía, con objeto de distinguirla de otra propiedad, Ia macroanisotropía.

Se produce ésta en ciertas formaciones sedimentarias, donde alternan re-
petidamente estratos delgados de diferente resistividad, como ocurre en
el Flysch. Entonces, aunque cada estrato individual sea isótropo, el con-
junto se comporta como anisótropo.
Si se supone que en cada unidad de espesor deI paquete de capas hay
una fracción m de resistividad P1 y el resto, de espesor (1 - m) tiene
\\1 resistividad P2 resulta que
11

li Pl. = P1 m -I- P2(1-m) = (P1-P2)m + P2

1-m = -------
- 1 = - m + -- (P2-P1)m+p1
(II,30)
Pu P1 P2 P1 P2
II

expresiones que se deducen fácilmente si se tiene en cuenta que para el

ti
cálculo de Ia resistividad transversal Ias capas han de considerarse como
agrupadas en serie, y para Ia longitudinal como si estuviesen en paralelo.
Partiendo de estas fórmula puede calcularse Ia macro-anisotropía, que
será

II
A = (1- P1 P2
(P1-pz)2(m2-m) )1/2
(1I,31)
I

de cuya expresión se desprende que Ia macroanisotropía será tanto ma-

il yor cuanto más grande sea Ia relación entre P1 y P2. Suponiendo cons-
tantes estas resistividades, y variable m, puede probarse, por derivación
de Ia (II,31) que el coeficiente A es máximo cuando m = 0,5, es decir,
cuando Ios espesores de ambos componentes son iguales.
Para el caso de más de dos componentes o clases de estratos pueden
obtenerse expresiones semejantes a Ias anteriores.
Los valores deI coeficiente de anisotropía, pueden ser mayores en el
caso de rocas macro-anisótropas que en el de microanisotropía; Keller
cita el caso de una alternancia de arcillas y anhidrita en el NE de Co-
'lorado, con valores de A entre 4 y 7,5.

11.10.9 Resistividad y temperatura

EI estudio de Ia variación de la resistividad de Ias rocas en función
de Ia temperatura debe su interés a dos cuestiones; por una parte, el
posible efecto de Ias temperaturas bajas propias de países de latitud muy
elevada, con zonas de congelación permanente, y por otra, Ias altas tem-
peraturas que reinan en Ias zonas inferiores de Ia corteza y parte su-
perior deI manto, aI alcance de sondeos eléctric6s ultraprofundos.
78
 RESISTIVIDAD DE LAS ROCAS

Los estudios realizados sobre muestras de diversas rocas indican que

cuando Ia conductividad se debe aI agua contenida en los poros, el des-
censo de temperatura produce un aumento rápido de Ia resistividad en
Ias proximídades de ooe, seguido por un crecimiento más suave a tem-
peratur·as aun más bajas, según se indica de modo esquemático en Ia
figura 1I-l4. EI aumento producido a Ia temperatura aproximada deI
punto de congelación es más fuerte cuando Ia roca es de grano grueso
(curva a) que cuando es fino (curva b). En general, Ia resistividad de Ias
rocas con agua aumenta de 10 a 1000 veces aI pasar de + 200e a - 20°C.

----
-500 C. 00 50Cl

FIG. II-I4. Curvas esquemáticas de Ia resistividad de Ias rocas en funci611 de Ia tempe-

ratura, en Ias proximidadeS dei punto de congelaci6n deI agua: a) roca de grano grueso,
b) roca de grano fino.

Los hechos resenados se explican dei modo siguiente. EI hielo es ais-

lante, pues su resistividad es de 107 ohmios-m, por 10 que se produce un
aumento de resistividad cuandó Ia temperatura desciende por debajo deI
punto de congelaci6n, que será algo inferior a 0° en raz6n deI contenido
en sales deI agua. Pero no toda el agua se congela, pues Ia parte que 10
hace, aumenta de volumen, incrementando Ia presión y Ia salinidad deI
agua sin congelar, cuyo punto de congelación desciende por estas causas
y este efecto se intensifica conforme van solidificándose nuevas porciones
de agua. EI resultado de todo esto es que Ia congelación deI agua de los
poros va haciéndose gradualmente, 10 que explica que el aumento de re-
sistividad se reparta, sobre un intervalo de temperaturas relativamente
79
 PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

amplio. Parece que aún a ~ 60°C queda agua sin congelar. La propor-
ción de agua adsorbida también influye, pues estando ésta a mayor pre-
sión, su punto de congelación es inferior aI normal y este efecto será más
intenso en Ias rocas de grano fino, o que tienen más agua adsorbida.
La congelación deI agua en Ios poros puede producir im ·aumento no-
table en eI valor deI coeficiente de anisotropía de aIgunos típos de rocas,
a causa de Iaodentación sistemática de Ios primeros cristales de hielo
formados. Parkhomenko cita este fenómeno en arciUas Iaminadas y en
arcillas con intercalaciones finas de arenas, cuyo coeficiente A crece· con-
siderablemente dentro de un intervalo de pocos grados bajo cero, voI-
viendo a su valor normal fuera de él.
Cuando Ia conductivid·ad de Ias rocas se debe a Ia presencia de in-
clusiones semiconductoras, no se producen cambias notables en su resis-
tividad por debajo de O°C, ya que Ia conductividad de 10s semiconduc-
tores varía poco dentro de dicho intervalo de temperaturas.
Para Ias temperaturas cerrtígradas positivas, Ia resistividad de Ias ro-
cas decrece con eI aumento de temperatura. Cuando Ia conductividad de
Ia roca se debe a su contenido en agua, esta disminución de Ia resisti vi-
dad tiene su origen en eI aumento de Ia movilidqd de Ios iones con Ia
temperatura. Por encima de cierto valor de ésta puede suponerse que eI
agua ha desaparecido por· evaporación, a menos que Ia roca esté sometida
a presiones muy elevadas, pero estos fenómenos, es decir, eI comporta-
miento eléctrico de Ias rocas impregnadas de agua por entima de tem-
peraturas de, digamos, 200°C no parece haber sido estudiado. Hasta unos
I
150°C Ia variación de Ia resistividad viene dada por Ia fórmula (II,9)
,
siempre que Ia conductividad eIectrolítica sea Ia predominante.
,I
EI aumento de conductividad de Ias rocas secas por crecimiento de Ia
temperatura, se debe aI de Ios minerales dieléctricos que Ias componen,
eI cuaI viene dado por Ia fórmula (II,6) que suele representarse gráfica-
mente en Ia forma Iog = f (T-l) como en Ia figura 1I-3. Los diversos tra-
<T

mos rectilíneos deI gráfico representan eI predominio dé otros tantos

mecanismos de conducción. La pendiente de estos tramos permite cal-
cular Ia energía de activación correspondiente a cada uno, pero no está
aclarada Ia naturaleza de los portadores. Parece que a temperaturas re-
lativamente bajas predomina Ia conducción por impurezas, hasta unos
700°C y por encima de esta temperatura Ia conducción es de tipo semi-
I
conductor o iónico. Según Noritomi, para eI olivino Ia conducción seda
iónica por encima de llOO°C. Zakirova supone, basándose en estudios
experimentales sobre una numerosa serie de muestras de diferentes rocas
y mineraIes, que entre 700° y 1150°, temperaturas que corresponden a
un tramo rectilíneo en Ias curvas de Iog = f (T-l) Ios portadores se-
<T

rían iones de Na o K.
Ii
80
 RESISTIVIDAD DE LAS ROCAS

Estos problemas, como puede verse, requieren investigación más am-

plia, dado su interés. En Ios trabajos realizados hasta ahora se da prefe-
rencia a Ias rocas básicas y ultrabásicas, por ser Ias que se encuentran
a grandes profundidades y a temperaturas elevadas ..
A temperaturas superiores a Ias indicadas se produce Ia fusión de Ia
roca. No existen trabajos sobre Ia resistividad de Ias rocas fundidas, sal-
vo Ias interesantes observaciones realiz·adas por Keller, Frischknecht y
sus colaboradores sobre lava basáltica fundida en Ia caldera deI Kilauea
(Hawaii). Los valores medidos (0,2 a 0,3 ohmios-m) eran 10 a 20 veces
menores que Ios que presenta Ia misma roca a temperaturas inferiores
a Ia de fusión en algunas decenas de grados. *

11.10.10 Resistividad y presión

El estudio de Ia variaci6n de Ia resistividad de Ias rocas en funci6n
de Ia presión tiene doble interés, tanto para Ia adecuada interpretación
de Ias testificaciones eléctricas de Io's sondeos realizados en zonas petro-
líferas como para eI entendimiento de Ias propiedades eléctricas de Ias
rocas a grandes profundidades.
En eI primer caso intervienen rocas sedimentarias y presiones hasta
1000 kg/cm2• Se ha observado que dichas rocas se vuelven más resisti-
vas con eI aumento de presi6n, y que el crecimiento de Ia resistividad es
rápido aI principio, esto es, con presiones pequenas, y más lento después
(fig. 11-15). EI aumento de resistividad con Ia presi6n depende de Ia can-
tidad y naturaI.eza deI cemento, y deI volumen relativo y forma geomé-
trica de Ios poros más pequenos o de conexi6n, ya que éstos, que serán
Ios primeros en cerrarse por efecto de Ia presi6n, influyen grandemente
en Ia conducci6n, por enlazar Ios poros más grandes. También se han
obse~vado fenómenos de histéresis, debidos sin duda a Ia aparici6n de
deformaciones permanentes en Ia matriz de Ia roca.
En carnbio, Ia resistividad de Ias rocas sedimentarias densas con es-
caso contenido en agua, así como de Ias ígi:leas decrece por aplicación de
presiones monoaxiles, con Ia variaci6n más rápida a presiones de
200-400 kg/cm2•
En eI segundo caso interesa eI comportamiento de Ias rocas ígneas
hasta presiones de 40.000 kg/cm2 o más. Esta presi6n es Ia que se atri-
buye a Ias rocas situadas a profundidades deI orden de 150 km. El ini-
ciador de Ios estudios sobre Ias propiedades de Ios materiales sometidos

* Este fen6meno podría aplicarse aI estudio de erupciones volcán~cas, de-

tectando en profundidad Ia presencia de materiaIes fundidos por medio de un
dispositivo eIéctrico fijo.
81
 PROPIEDADES
ELECTROMAGNETICAS
DE LASROCAS
II
II1I
I'

p o
~

o
Presión
II
I
1'1
FIG. II-l5. Forma general de Ia variación de Ia res'istividad de Ias rocas con Ia presión:
a) rocas porosas y húmedas, b) rocas secas de porosidad pequena.

a presiones muy ·altas fue eI físico norteamericano Percy W. Bridgman.

Este investigador estudió, en 1952, Ia resistividad de 52 elementos a pre-
siones de hasta 100.000 Kg/cm2•
La variación de Ia resistividad de Ias rocas a presiones superiores a
I'
1000 Kg/cm2 ha sido estudiado por Hugues, Parkhomenko, Bodarenko y
otros investigadores. La descripción de Ios artifícios utilizados en Ias me-
li'
diciones pueden encontrarse en PARKHOMENKO (1967) junto con 'Ia biblio-
grafía pertinente. También son interesantes Ios artículos de GRIGGS
(1954) Y WYLLIE (1966), y eI más reciente de DVORAK(1973). Se ha obser-
vado Ia existencia de dos tipos de comportamiento, pues Ia resistividad de
aIQ'unas rocas decrece monótona y lentamente hasta 40.000 Kg/cm2, mien-
tras Que Ia de otras decrece hasta una cierta presión, más alIá deI cuaI
aumenta'" paulatinamente. En todo caso, eI efecto de Ia presión sobre Ia
resistividad es mucho menor que eI de Ia temperatura, pues Ia variación
mavor observada por Parkhomenko, para presiones hasta 40.000 Kg/cm2,
no excede deI 70 %, mientras que. eIefecto de Ia temperatura podía Ilegar
a ser de varios órdenes decimales, según se vio en el apartado anterior.
Cuando Ia medición deI efecto de Ias presiones elevadas se ha efec-
tuado a temperaturas altas, Ia curva resistividad-presión sufre un des-
plazamiento, sin variación importante en su forma y pendiente.
82
 LA CONSTANTE DIELECTRICA. DEFINICION Y UNIDADES

11.10.11 Relaciones entre Ia resistividad y otras propiedades de Ias rocas

Sería muy interesante poder determinar ciertas características de Ias
rocas (velocidad sísmica, densidad, resistencia mecánica, etc.), en función
de su resistividad, ya que ésta puede determinarse por mediciones geo-
eléctricas de superficie, o por medio de Ia testificación eléctrica de per-
foraciones. Según parece, Ia resistividad crece con la-tésistencia mecá-
nica, y en rocas arenoso-arcillosas Ia correlación entre porosidad y den-
sidad implica otra entre Ia resistividad y Ia densidad, a través deI facto r
de formación. Sin embargo, estas relaciones no han sido estudiadas a fon-
do ni, que el autor sepa, aplicadas en Ia práctica, pero constituyen un
interesante tema de investigación.
El sismólogo americano FAUST (1953) encontró empíricamente Ia fór-
mula
v= C V/6 ZI/6

donde V es Ia velocidad, L un "factor lito16gico" igual numéricamente

a Ia resistividad, y z, Ia profundidad.
Poco antes, GASSMANN (1951) había Uegado te6ricamente a una f6r-
mula análoga para Ias rocas compuestas por granos esféricos.
HUTT y BERG (1968) han estudiado te6rica y experimentalmente Ia
relación entre Ia conductividad eléctrica y térmica de areniscas y sedi-
mentos marinos, probando que Ia conductividad térmica de dichas rocas
puede deducirse de Ia eléctrica, eu ando se conoce Ia conductividad tér-
mica de los constituyentes s6lidos.

11.11 LA CONSTANTE DlELECTRICA. DEFINICION Y UNIDADES

Una carga eléctrica Q produce dos efectos; atrae a Ias c,argas. pr6-
ximas, y causa Ia electrización por influencia de Ios cuerpos cercanos~
El primer fen6meno, puede describirse matemáticamente por medio de
un campo vectorial E que expresa Ia fuerza con que es atraída en cada
punto una carga eléctrica unidad. El segundo fen6meno, también Uamado
inducción electrostática, puede expresarse matemáticamente por otro
campo vectorial D que debería, llamarse "inducción", pero que, por ra-
zones históricas, se denomina desplazamiento. Colocando una lámina
conductora pequena en un punto P y haciéndola girar hasta que Ia carga
inducida se,a máxima, Ia normal a dicha posici6n representa Ia dirección
deI vector D (con sentido desde Ia cara negativa a Ia positiva) y Ia den-
sidad de carga inducida representa -su m6dulo.
Los vectores D y E están ligados por un operador !ineal e con matriz
de nueve componentes que, según puede demostrarse, tiene carácter ten-
83
PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

sorial, con matriz simétrica, por 10 que el número de componentes inde-

pendientes es de seis como máximo. La relaci6n entre D y E puede es-
cribirse, pues,
Di = eiiEi (I1,32)
con
Eij = €ji

En 10s cuerpos cristalizados en el sistema tric1ínico, Ias seis com-

ponentes deI tensor son lndependientes entre sí, pel'O éstas se reducen
a cuatro en el sistema monoc1ínico:

o
E22 O .
( ~ll
e11
O e33
e31 )

En los demás sistemas cristalinos, el tenso r se reduce a su diagonal prin-

cipal. En los sistemas mono-áxicos (trigbnal, tetragonal, hexagonal) dos
de los. componentes son iguales entre sí. En el sistema cúbico (cuerpos
is6tropos) Ias tres componentes son iguales, por 10 que el tenso r se re-
duce a un escalar.
Las dimensiones de D y E, son, respectivamente,

[D] = L-2 T [
[E] = L 1\.1T-3 [-i
por 10 que se tendrá (I1,32)
L-2M 11'472
[e] = L-3M-1T'P = __ L-__ L'

donde Ias dimensiones deI numerador son Ias de una capacidad. Por esta
causa Ia unidad de e en el sistema MKSA recibe el nombre de Fara-
dio/metro. En cuanto a Ia magnitud e recibe los nombres de permiti vi-
dad y de constante dieléct1'Íca.
En eI vacío, Ia permitividad vale
eo = (36 7r X 109)-1 Fanid/m = 8,854 pF/m

Para todos Ias cuerpos conocidos hasta ahora, su permitividad es su-

perior a Ia deI vacío. En muchas obras Ia constante dieléctrica se expresa
por medio del facto r adimensionaI K, tal que K = e/eo. K representa, pues,
Ia permitividad deI cuerpo comparada con Ia deI vacío, por 10 que se
llama permitividad relativa.
84
 POLARIZACION Y POLARIBILIDAD

La medición experimental de Ia constante dieléctrica consiste funda-

mentalmente en determinar Ia capacidad Ch de un condensador cuyo die-
léctrico es el material considerado, y compararlo con la capacidad Co
deI mismo condensador con el aire como dieléctrico (en rigor debería
ser el vacÍo). Entonces Ia constante dieléctrica El deI material problema
se deduce por medio de Ia proporcionalidad
~=~
EO eo

No entraremos en Ia descripción de los circuitos empleados en tales

mediciones ni en sus detalles prácticos. A este respecto pueden consul-
tarse los trabajos de COLLET y KATSUBE (1973), KATSUBE Y COLLET (1973),
Y KHALAFALLA y MAEGLEY (1973), así como otros artículos, incluidos,
como los anteriores, en el número de Geophysicsde febrero de 1973.

11.12 POlARIZACIOI\L V POlARIZABllIDAD

EI desplazamiento D es independiente de Ia naturaleza deI medio: no

asÍ el campo E que resulta menor en los medios materiales que en el
vacÍo. En los primeros es
D = EoE +P (11,33)
donde P es Ia polarización deI medio, equivalente aI momento eléctrico
correspondiente .a Ia unidad de volumen, y homogénea con D. La unidad
P será, pues, el culombio/m2•
Se tiene, por 10 tanto,
D = E E = EoE +P (11,34)
donde E es Ia permitividad deI medio considerado. Entonces

(11,35)
P = (E -- to) E = EO ( ~ - 1) E
Se llama susceptibilidad eléctrica a

Xc =---1 E

EO
(11,36)

que, como se ve, carece de dimensiones.

Se deduce de Ias expresiones anteriores que
P = EO XC E
85
PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

La susceptibilidad Xc es un tensor de características análogas ai E y que,

con él, se reduce a nn escalar en los cuerpos isótropos.
La aplicación de un campo exterior E sobre un cuerpo origina eu
éste uno o varios tipos de polarización: inte1'facial, producida por Ia
acumulación de cargas en Ias superficies Hinites o de separación entre
materias diferentes; electrónica, debida aI desplazamiento de Ias elec-
trones de cada átomo con respecto a su núcleo; iónica, originada por
desplazamiento de los iones respecto de su posición de equilibrio en Ia
red cristalina; dipolar, producida por Ia orientación de Ias moléculas,
cuando éstas poseen momento eléctrico permanente, y pueden conside-
rarse como dipolos (cuerpos paraeléctricos).
Se llama polarizabilidad de un átomo o molécula el momento eléc-
trico y inducido por un campo unidad, de modo que en general
Me = yEI (1I,3?)

donde Me es e] momento inducido en e] átomo o molécula por el campo

E. Se incluye el superíndice r para indicar que el campo que debe te-
nerse en cuenta es el que reina localmente en Ia partícula. La unidad de
polariZabilidad en el SI será, pues, el culombio X m2jvoltio. Algunos auto-
res miden Ia polarizabilidad en cm3, unidad que parece impropia, pero
es Ia que corresponde aI sistema cegesimal e1ectrostático.
La polarización de nn cuerpo vale
Me = ~NiYiE/ (1I,38)

i
donde Ni es el número de átomos deI tipo por unidad de volumen, ri su
polarizabilidad y E/ el campo local correspondiente.
Existen diversas fórmulas (Clausius-Mosotti, Burniston Brown, Lo-
rentz-Lorenz, Debye, etc.), para el cálculo de Ia constante dieléctrica de
los cuerpos para diversos tipos de polarización, y que no es el caso de-
tallar aquí. Cuando Ia polarización es puramente electrónica se cumple
Ia ley de Maxwell
E = EO n2 (II,39)

donde EO es Ia constante dieléctrica dei vacío, Ia dei cuerpo considerado,

E

y n su Índice de refracción óptica. El grado de exactitud con que se cum-

pIe esta fórmula para cada sustancia es una medida dei predominio en
ella de Ia polarización electrónica.
La polarización de Ias átomos o moléculas no es instantánea, sino
que requiere un tiempo finito, aunque muy breve (10-13 a 10-12 segs para
Ia polarización iónica). Si el campo aplicado es alterno y de frecuencia
86
 CONSTANTE DIEL'ECTRICA DE LOS MINERALES

muy alta, puede ocurrir que Ia polarización se retrase respectode Ia va-

riación deI campo, e incluso que no llegue a producirse. El resultado de
esto es que Ia polarizabiIidad, y con ella Ia constante dieIéctrica, dismi-
nuyen cuando crece Ia frecuencia, según se indica esquemáticamente en
Ia figura lI-I 6, donde se sefiala el orden en que aI aumentar Ia frecuencia
van desapareciendo los diferentes tipos de polarización.

-------r I Interfociol

-------1-
I Dipolor

o« ----+
o I •
Ilonico
J
m
«N + I
a:: I
<{
oJ I Electránico
a.

FRECUENCIA •
~_..~I-
FIG. 11-16. Variación de Ia polarizabilidad con Ia frecuencia y tipos de poIarización.

11.13 CONSTANTE DIELECTRICA DE LOS MINERALES

La constante dieléctrica de los minerales varía dentro de un margen

mucho más reducido que el de Ia resistividad, pues su amplitud no llega
a dos 6rdenes decimales. Los valores medidos hasta ahora están com-
prendidos entre 25 y 1.500 pF/m correspondiendo aI rutilo el último
valor.
En general, Ia constante dieléctrica de los minerales depende de Ia
polarizabilidad individual de sus átomos, o sea de su composición quí-
mica, y también de su densidad y estructura cristalográfica. El efecto de
Ia densidad se explica porque aI aumentar ésta, crece el número de áto-
mos por unidad de volumen, que aparece en Ia ecuación (lI,38).
En los minerales formados por un solo elemento, se cumple casi ex-
clusivamente Ia ley de Maxwell, de donde se deduce que su polarización
87
PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

es exclusivamente electrónica. La constante dieléctrica de estos minerales

aumenta con Ia densidad.
Los sulfuros, según Parkhomenko, pueden dividirse en dos grupos,
según que el valor de su permitividad sea igualo mayor que 180 pF/m o
esté comprendido entre los límites (aproximados) de 50 y 70 pF/m. En
los segundos predomina Ia polarización electrónica. Figuran en este gru-
po, entre otros, el cinabrio, Ia blenda, y el rejalgar. En los primeros se
incluyen sulfuros conductores, como Ia pirita, Ia galena y Ia pirrotita.
Los compuestos de cobre, plata y plomo tienen permitividad muy
grande; sus sulfuros tienen e> 700 pF/m. AIgunos compuestos de hie-
rro, como Ia magnetita, Ia ilmenita y Ia pirita presentan permitividades
comprendidas entre 300 y 700 pF/m.
Los compuestos que contienen oxígeno suelen tener también constan-
te dieléctrica alta, superior a 200 pF/m. Los valores más elevados corres-
ponden aIos compuestos de manganeso y titanio, siendo máximos para
el rutilo y Ia perovskita (CaTiOa).
Los carbonatos, sulfatos, fosfatos y wolframatos tienen permitivida-
des comprendidas entre 50 y 70 pF/m. En ellas influyen otros mecanis-
mos que Ia polarización electrónica, dada Ia discrepancia con el valor
deducido del índice de refracción.
Las constantes dieléctrkas de los silicatos varían entre los mismos
límites de 50 y 70 pF/m con excepción de algunos compuestos de Fe y
Mg. La polarización de estos minerales es electrónica e iónica, y quizá
de otros tipos.
Los datos disponibles hasta ahora sobre Ias constantes dieléctricas de
los minerales son escasos e incompletos. Los valores observados están
influidos por la presencia de impurezas, y en mayor grado por Ia hume-
dado La anisotropía no parece ser grande, ya que entre los valores reco-
pilados por Parkhomenko, Ia mayor diferencia entre los valores de e
para ejes cristalográficos diversos, no supera el 30 % (barita).

11.14 CONSTANTE DIELECTRICA DE LAS ROCAS

La constante dieléctrica de Ias rocas es función de Ia de sus compo-

nentes, de Ia proporción de éstos, y de su modo de agruparse. Si alguno
de sus componentes presenta conductividad apreciable, en 10s límites de
sus granos aparecen polarizaciones interfaciales. La presencia de agua,
por Ia elevada permitividad de ésta (721 pF/m) influye también notable-
mente. Hasta ahora no se ha encontrado ninguna' fórmula que permita
calcular e en función de Ias variables mencionadas. Cuando Ias compo-
88
 EFECTO DE LA HUMEDAD

nentes son dos, de permitividades respectivas lil y li2, Y ocupan respecti-

vamente Ias fracciones V y (1-,. V) deI volumen total, Ia li deI conjunto
viene dada aproximadamente por
log li = Vl log lil + (1 - Vl) Icg li2
siempre que no exista conductividad apreciable.
La falta de fórmulas teóricas presta mayor interés a Ias determinacio-
nes experimentales de Ia pennitividad de Ias rocas. La siguiente lista in-
cluye una selección de valores representativos, para frecuencias bajas,
que deben tomarse como ejemplos orientativos, y no como valores fijos.

Arenisca: 50 pF 1m
. Caliza, mármol: 75-90 pF/m
Arcillas: 100 pF/m
Dolomías: 100 pF/m
Granito: 15 pF/m
Diabasa, gabro, basalto: 100-130 pF/m
Talco-esquisto: 280 pF/m

La menor permitividad de Ias rocas sedimentarias silíceas frente a

Ias carbonatadas se debe aI menor valor de Ia deI cuarzo respecto de Ia
calcita y de Ia dolomita. En cuanto ·a Ias rocas ígneas, Ia li es más grande
en Ias rocas básicas que en Ias ácidas, debido a Ia mayor permitividad
de Ias elementos oscuros. Cuando existe orientacián preferente en Ias.
granos se observa anisotropía.

11.15 EFECTO DE LA HUMEDAD

La constante dieléctrica de Ias rocas húmedas es mayor, e incluso

notablemente mayor, que cuando están secas, por causa de Ia elevada e
deI agua (721 pF/m). Cuando el contenido en agua es muy pequeno, Ia
relación entre éste y Ia e de Ia roca es lineal y para mayores contenidos,
Ia constante dieléctrica tiende a un valor límite, obteniéndose en con-
junto una curva de forma parabólica. Sin embargo, Tarkhov ha encon-
trado para rocas sedimentarias muy porosas, y contenidos en agua in-
feriores aI 1 %, Ia relación
e' = e wn
donde e' es Ia constante dieléctrica para un contenido en agua w, e eI
valor correspondiente a Ia roca seca, y n un exponente próximo a 0,3.
89
 PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

Si el agua, como suele ocurrir, tiene salinidad apreciable" el efecto

será mayor, puesto que Ia permitividad de un' electrolito binario viene
dada por Ia fórmula de Falkenhagen

li = 721 + 33,5 VC pFfm

,donde li es Ia constante dieléctrica deI electrolito, y c Ia concentración
de éste en moles por litro.
AIgunos autores afirman que Ia permitividad relativa de Ias rocas no
pasa de 15 unidades, 10 que equivale a 133 pF/m. Otros, por el contrario,
como Parkhomenko o FuIler, encuentran para Ias rocas húmedas valores
de K de 100 y hasta de 10.000. KATSUBE Y COLLET (1973) sugieren que
estos valores se deben a Ia técnica experimental, y demuestran que apli-
cando Ias debidas correcciones (por el micro-huelgo entre muestra y
electrodo, por falta de paralelismo entre Ias caras de Ia muestra, etc.) se
obtienen valores concordantes con Ias cifras dadas aI principio de este
párrafo.

11.16 INFLUJO DE DIVERSAS VARIABLES

EI valor de Ia constante dieléctrica de Ias rocas y minerales puede

depender de Ia presión y temperatura a que se haga Ia' medición, así
como de Ia frecuencia de Ia cor'riente empleada.
En general, a mayor presión corresponde mayor permitividad, puesto
que aI aumentar Ia presión crece eI número N de átomos por unidad
de voIumen que aparece en Ia fórmula (II,38). Las mediciones realizadas
sobre diversas rocas indic-an que li crece rápidamente con Ia aplicación
de presiones pequenas, pero, aI seguir aumentando Ia presión, 'Ios in-
crementos de li son cada vez más reducidos, de modo que Ia curva tiene
lil aspecto parabólico. EI valor a presiones altas no suele exceder deI do-
ble deI valor observado a presión normal. Los resultados son análogos
tanto para presión monoaxiI como triaxil.
, Podría ocurrir que aIgunos, si no todos los aumentos de Ia constante
il-
dieléctrica observados para presiones pequenas no fuesen reales, sino de-
bidos a Ia mejor-a deI contacto de los electrodos con Ia muestra por efec-
to de Ia presión.
I
La temperatura influye poco en Ia constante dieléctrica. EI efecto
IlIj principal se debe a Ia disminución deI número de átomos o moléculas
I
por unidad de volumen producida por el aumento de temperatura. Esta,
sin embargo, puede disminuir el tiempo de relajación, con 10 que aumen-
ta Ia constante dieléctrica, salvo a temperaturas muy altas. Otra causa
que puede producir aumento de Ia constante dieléctrica es el incremento
90
:1'
 ANGULO DE PERDIDAS

en Ia conductividad debido a Ia elevaci6n de temperatura. Las mediciones

efectuadas sobre algunos minerales demuestran que sus constantes die-
léctricas no varían apreciablemente con Ia temperatura, dentro de un
margen de varios centenares de grados. La 6 deI cuarzo, sin embargo,
comienza a crecer rápidamente a partir de una cierta temperatura, tanto
más alta cuanto mayor sea Ia frecuencia de Ia corriente empleada en Ia
medici6n. Este fenómeno se debe a Ia presenCia de impurezas, 10 que ha
podido demostrarse probando que el aumento de 6 desaparece después
de un "lavado" eléctrico de Ia muestra, sometiéndola a un intenso cam-
po eléctrico para extraer los iones. Análogos aumentos se han obser-
vado en otros minerales, probablemente debidos también a Ia presencia
de impurezas.
EI carbón y Ia pirolusita se comportan anómalamente, con un maXl-
mo en Ia 6 para una cierta temperatura, que es de 100°C para el primero
y de 40°C para Ia segunda.
En cuanto a Ias rocas, los resultados obtenidos son semejantes aIos
indicados para leis minerales. El comportamiento de Ia serpentinita es anor-
mal, pues su constante die1éctrica aumenta extraordinariamente por ca-
lentamiento a 7000 y no vuelve a su valor inicial aI ser enfriada hasta Ia
temperatura ambiente.
EI tercer parámetro que hay que tener en cuenta es Ia frecuencia de
Ia corriente. La variación de 6 con Ia frecuencia, o dispersión, es muy
pequena para Ias rocas secas. En cambio, cuando Ias rocas contienen
agua, los valores obtenidos para 8 disminuyen paulatinamente çon el
aumento de Ia frecuencia. A los valores de 8 dados en el apartado II,14
para fl'ecuencias bajas y diferentes rocas corresponden, según Kel1er, para
10 MHz, otros valores comprendidos entre 40 y 75 pF/m, es decir, que
también resulta menor e1 margen de variación entre rocas distintas.
SATNT-AMANT y STRANGWAY (1970) han estudiado Ia variación de Ia
permitividad en funci6n de Ia temperatura en diversas rocas en muestra
y en polvo,. con resultados análogos aIos dichos.

11.17 ANGULO DE PERDIDAS

Cuando se aplica a un dieléctrico un campo de frecuencia alta, Ia

reorientación de Ias moléculas polares o Ia relajación de Ias cargas des-
plazadas no puede seguir en fase Ia variación deI campo, y se produce
un retraso entre .este y Ia polarizaci6n. Este desfase es causa de una
absorción de energía por parte deI dieléctrico.
Para dar cuenta de estas fenómenos se utiliza Ia constante dieléctrica
compleja
8 = 81 --,- i 82 (II,40)
91
PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

así como el llamado ángulo de pérdidas (j siendo

tg(j=~ (II,41)
Ej

y cuyo nombre alude a que dicha tangente es proporcional a Ia absor-

ción de energía por eI dieléctrico.
Parkhomenko da gran importancia a Ia medición de tg (j en Ias rocas
y minerales, pero Ios datos que ha podido recopilar son insuficientes para
el establecimiento de leyes generales.
Los minerales estudiados (mica, talco, yeso, caolín, plagioclasas, orto-
clasas y otros silicatos de aluminio) presentan uno o dos máximos en su
tg (j, tanto en función de Ia temperatura como de Ia frecuencia. Por 10
general, Ia frecuenciaa que se produce eI máximo crece aI aumentar Ia
temperatura. Parece que en estos máximos influyen el agua de cristali-
zación, Ia humedad, y Ia presencia de impurezas y defectos estructurales.
En el caolín, una vez eliminado eI agua, desaparece el máximo. En Ia
moscovita exenta de impurezas, tg (j crece gradualmente con Ia tempe-
r,atura. Fuera de Ios máximos, eI valor de tg (j varía desde 2 X 10-' para
eI yeso, hasta 0,13 para eI albita.
Los datos existentes sobre eI ángulo de pérdidas en Ias rocas son tam-
bién poco abundantes. Para Ias rocas sedimentarias, Parkhomenko cita
Ios trabajos de Chelidze, sobre areniscas, calizas, pizarras, arenas y ar-
cillas en Ios que se tomaron precauciones especiales para' atenuar el efec-
to de los electrodos. La tg (j de Ia mayoría de Ias rocas así estudiadas
presentaba un máximo para frecuencias de 10 a 100 kHz mientras que
otras, en número menor, 10 tenÍan para frecuencias inferiores a 1 kHz.
Otras determinaciones indican que tg (j suele aumentar con Ia tempera-
tura eu Ias rocas sedimentarias, 10 que puede explicarse, aI menos en
gran parte, por eI aumento de Ia conductividad.
Este aumento con Ia temperatura se observa también en Ias rocas íg-
neas y metamórficas. En Ias rocas de esta clase, originarias de Ia penín-
sula de Kola y estudiadas por. Bodarenkü, se observó un decrecimiento
general de tg (j con Ia frecuencia, así como un aumento con Ia tempera-
tura. AIgunas rocas básicas y ultrabásicas mostraron valores práctica-
mente constantes de dicha magnitud para frecuencias desde 100 kHz hasta
10 MHz y probablemente más altas. Los valores de tg (j para frecuen-
cias bajas son relativamente elevados, deI orden de 0,1 y más.
EI comportamiento de Ia tg (j deI carbón en función de Ia temperatura
es anómalo, pues presenta un máximo y un mínimo, respectivamente a
1000 y 3000 más o menos.
92
 PERMEABILIDADY SUSCEPTIBILIDADMAGNETICAS

SAINT AMANT y STRANGWAY(1970) confirman el crecimiento deI ám:ru-

10 de pérdidas con Ia temperatura para diversas rocas, âsí como Ia ten-
dencia a un valor asintótico aI aumentar Ia frecuencia.

11.18 PERMEABILlDAD V SUSCEPTIBILlDAD MAGNETICAS

Si se hace actuar un campo magnético de poder imanador H sobre

un cuerpo cualquiera, éste se imana, en general débil mente. EI cuerpo
por 10 tanto, adquiere un momento magnético m, y si el volumen deI
cuerpo es V y el momento está distribuido uniformemente, a cada unidad
de volumen corresponderá un momento M tal que

M=-~ (11,42)
V
La magnitud ,M recibe el nombre de imanación y es proporcional aI
poder imanador H, por 10 que puede escribirse

M=XH (11,43)

La magnitud X que depende de Ia naturaleza deI cuerpo considerado

se denomina susceptibilidad magnética. En los medioS isótropos es un
escalar, y en los anisótropos, un tensor simétrico, por 10 que se tiene
IVfi = Xij Hj (11,44)

En general, X es constante para cada cuerpo, pero en los ferromag-

néticos es función de H.
En el Sistema Internacional de unidades (S.I.) se emplean en electro-
magnetismo Ias mismas que en el sistema MKSA o Giorgi (racionaliza-
do); por consiguiente, el poder imanador H se mide en A/m (amperioj
metro) y 10 mismo .ocurrirá con Ia imanación M, Por 10 tanto, Ia suscep-
tibilidad es un número puro, o sea, carente de dimensiones. (Véase el
apartado siguiente.)
La imanación M se suma aI poder imanador H de modo que si en el
vaCÍo se cumple que
B = 1'0 H (11,45)

en el interior deI cuerpo considerado será

B= IIo (H + M) = 1'0 (H + X H) = 1'0 (1 + X) H = I' H
o sea que
I' = 1'0 (1 + X) (11,46)

93
PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

ecuación que expresa Ia permeabilidad magnética p. de un cuerpo en fun-

ción de su susceptibilid.ad y de Ia permeabilidad magnética deI vacío que,
como es sabido, vale 41l' X 10-7 H/m (Henrio/rnetro).
Todos los cuerpos pueden clasificarse en 10 que respecta a su com-
portamiento magnético, como diamagnéticos (x < O) paramagnéticos
(x> O, pero pequeno) y ferromagnéticos (x> O y grande). Dentro de es-
tos últimos existen dos subdivisiones muy importantes, que correspon-
den a Ias cuerpos anti-ferromagnéticos, y a .Ios ferrimagnéticos, aunque
también pueden considerarse estos como pertenecientes a tipos indepen-
dientes de magnetismo.

11.19 DIGRESION SOBRE UNIDADES

Se ha dicho en eI apartado anterior que Ia susceptibilidad magnética

carece de dimensiones, afirmación que puede encontrarse en cualquier
tratado de Electromagnetismo. De esta carencia de dimensiones se de-
duce que eI valor de Ia susceptibilidad magnética es independiente deI
sistema de unidades que se emplee, sea este el cegesimal, el Giorgi o
cualquier otro, si bien puede verse afectado por los criterios de "facio-
nalización" en un factor 41l'.
Sin embargo, si el lector consulta alguna publicación donde se men-
cionen susceptibilidades de rocas o minerales, o que tengan relación con
el Paleomagnetismo, encontrará casi siempre que Ios valores correspon-
dientes se dan en "unidades electromagnéticas por centímetro cúbico"
(que en inglés suele escribirse abreviadamente "e.m,u';cc,")· o bien en
"unidades cegesimales" ("c.g.s. unit."), equivalentes a Ias anteriores. Esto
produce notable perplejidad, pues está en aparente contradicción con Ias
dimensiones nulas de Ia susceptibilidad, y lleva además a preguntarse
cuál será Ia unidad e.m. a que se alude de modo tan impreciso. Cuestión
secundaria es el porquê se escribe "c,c." en vez de cm3 según Ia cos-
tumbre en Física.
EI autordesconocecon exactitud Ias causas históricas que hayan po-
dido llevar aI empleo de tales denominaciones, carentes de justificación
científica, a menos que se opine, con R. GREEN(1968), que "ciertos in-
vestigadores, inseguros acerca de Ia magnitud física concreta que están
considerando, ocultan su confusión expresando sus datos como «tantas
unidades c.g.s,)", opinión que parece muy fuerte. No obstante, puede
probarse que Ia misteriosa "Unidad electromagnética" no es otra que el
centímetro cúbico, por extrano que pueda parecer Ia atribución de ca-
rácter electromagnético aI volumen, o que se den datos en cm3/cm3•
(ORELLANA, 1969.)
94
 DIGRESION SOBRE UNIDADES

Para Ilegar a dic.ho resultado bastaría tener en cuenta que, careciendo

de dimensiones Ia susceptibilidad, habrán de ser iguales el numerador y
el denominador de Ia expresión simbólica "e.m.u.fc.c."; pero conviene
considerar más detalladamente el proceso por el que parece haberse lle-
gado a tan extrafio modo de expresarse.
Es lícito considerar, en un cuerpo imanado, el momento magnético
que corresponde a cada unidad de volumen o a cada unidad de masa;
si se pretende expresar deI mismo modo Ia susceptibilidad, resultarán Ias
expresiones
m/H . = m/H
x. = -V-' Xm
m

que son denominadas por algunos autores "susceptibilidad de volumen"

y "susceptibilidad de masa" respectivamente. Téngase en cuenta que en
Ia segunda de ellas m es Ia masa deI cuerpo y no el módulo deI momento
m. Ahora bien, Ia presunta "susceptibilidad de volumen" no es otra que
Ia susceptibilidad definida por Ia (1I,43), ya que utilizando Ia (II,42) re-
sulta

x=-=--=--
M
H
m/V
H
m/H
V (11,47)

Por consiguiente Ia magnitud m/H es Ia que se mide en Ia anônima

"unidad electromagnética" de 10s autores cegesimales. No es difícil de-
terminar sus dimensiones, para 10 que se procederá desde Ias ecuaciones
básicas, y según Ia ideología "cegesimal"
La fuerza F entre dos. polos magnéticos Ph P2 viene dada por

F=
'Tr
U PIP2 (11,48)

que corresponde a Ia forma no racionalizada, usual eu el llamado "siste-

ma de unidades electromagnético cegesimal". En éste se toma fJ. 1, 10 =
que es permisible, y además se supone que fJ. carece de dimensiones (cosa
inadmisible y que equivale en realidad a tomar fJ. como cuarta magnitud
fundamental) por 10 que resulta
[pl] = [F] [V]
y en consecuencia
[p] = V/2 Mlf2 T-l
Y por 10 tanto, Ias dimensiones deI momento magnético m en el citado
sistema serán

[m] = [p • L] = Vf2 Ml/2 T-l

95
 I

III1I PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

Para determinar Ias dimensiones de H, basta considerar que

1'1

F=pH
ya que en el sistema electromagnético H y B se tomân como dimensio-
nalmente equivalentes, y por 10 tanto,
LMT-2
[H] = = L-112 Mljll T-I
V/2 Mlj2 T-l

de donde resulta que

H
[ m] = L-I/a T-l
MI/2 T-I
D/2 Ml/2 =V
10 que prueba el resultado anunciado más arriba de que Ia anónima uni-
dad electromagnética que se trata de identificar no es otra que el cm3•
Queda, pues, probado que cuando se habla de "u.e.m./c.c." se habla en
realidad de cm3/cm3 *.
Inconvenientes como éste se derivan dei empleo deI confuso e hí-
brido sistema de unidades denominado "electromagnético cegesimal o
"sist'ema de Gauss". Ya en 1941 se escribía (STRATTON, 1941) que "the
sooner the old favorite is discarded,thesooner will an end be made to
a wholly unneccesary source of confusion". Veintitrés anos después in-
dicaba Julio· Palacios que "Ia desdichada adopción dei sistema de Gauss
ha tenido fatales consecuencias para Ia Física teórica" (PALACIOS, 1964).
Hora es, pues, de relegar definitivamente aI olvido sistema tan defec-
tuoso.**
Pero Ia cuestión de Ia susceptibilidad magnética no termina aquí, pues
su valor numérico, si bien no depende de Ias unida.des fundamentales
deI sistema empleado, varía según se adopte o no el criterio de raciona-
lización de Heaviside. En el primer caso se tiene que
}J.=}J.o(l+x)

mientras que en el segundo se define

}J. = }J.o (1 + 4rr x')

* ActuaImente, Ia revista "GeophysicaI Prospecting" rechaza Ia referida uni-

dad: "The expression e.mou.fem3 thou~h common in the literature is considered to
be unaceptabIe, because it is illogicaI" [HELBIG (1974), Geoph. Prosp., 22, PI'o 203-
2100]

** ia EAEG (European Association of Exploration Geôphysicists) recomien-

da el empleo dei Sistema Internacional. (Véase KOEFOED, 1967).)
96
 CUERPOSDIAMAGNETICOS

donde se escribe x' para distinguir Ia susceptibilidad no racionalizada.

Como Ia relaciórt es' uncociente
1411-0 de magnitudes homogéneas _y es
por eso independiente de Ias unidades empleadas, se deduce de Ias
dos igualdades anteriores que '
x = 471" x' (lI ,49)

Este hecho es importante, y para, evitar confusiones sería necesario

que ai dar valores numéricos de susceptibilidades magnéticas se indicase
si éstos están o no racionalizados, en vez de hacer alusión a "unidades
electromagnéticas" que no son tales. Ordinariamente Ios seguidores dei
sistema electromagnético cegesimaI no racionalizan, por 10 que Ias indi-
caciones "e.m.u.jc.c.", o "unidades cegesimales" pueden interpretarse
como si significaran "valores sin racionalizar", aunque esta conclusión
no es totalmente segura, porque también en el sistema de Gauss cabe Ia
racionalizacián, y en algunos casos se ha aplicado.
En Ia presente obra se utilizan exclusiv~mente valores racionalizados,
los cuales se deducen, simplemente, multiplicando por los no racio-
471"

nalizados.

11.20 CUERPOS DlAMAGNETlCOS

La polarizabilidad magnética de Ios cuerpos dia magnéticos tiene su

origen en los electrones de Ia corteza de los átomos que los constituyen.
Eu efecto, cada uno de estos electrones, aI recorrer su órbita alrededor
deI núcleo d, ,cribe una espira diminuta que, aI estar sometida a Ia
acción de un campo magnético exterior, se comporta como un giróscopo
(precesión de Larmor).
Esta precesión produce un campo magnético adicional, de sentido
opuesto aI dei campo exterior, o sea que se induce en el cuerpo un mo-
mento magnético negativo. La susceptibilidad de los cuerpos diamagné-
ticos es, pues, negativa, y según puede demostrarse, vale
1 Né"_
X = - -6- 11-0 m~ r,2 (11,50)

donde 11-0es Ia permeabilidad dei vacío, N el número de átomos por uni-

dad de volumen, e y m Ia carga y Ia masa deI electrón y ri el radio medio
de Ia órbita de cada electrón cortica1.
EI fenómeno aludido se produce en todos los cuerpos, aunque sólo
aIgunas sustancias se manifiestan como diamagnéticas, ya que en Ios
restantes intervienen otras causas productoras de momentos magnéticos
que se oponen y superan aIos debidos aI diamagnetisino, dando lugar a
susceptibilidades positivas.
97
 PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

Entre Ias sustancias diamagnéticas figuran algunos minerales y rocas,

como el cuarzo, Ia ca1cita y el grafito, el mármol, Ia fluo rita, Ia sal gema
y Ia silvinita. La mayor susceptibilidad negativa corresponde aI grafito
(- 100X 10-6) y para los demás minerales y rocas diamagnéticas suele
estar comprendida entre - 9 X 10-6 Y - 25 X 10-'. En virtud de Ia ecua-
ción (II,46) Ia permeabilidad magnética de estas sustancias diferirá muy
poco, todo 10 más una cienmilésima, de Ia correspondiente aI vacío, por
10 que puede atribuírselas este último valor sin error apreciable.

11.21 CUERPOS PARAMAGNETICOS

Son paramagnéticas aquellas sustancias cuyos átomos o moléculas

poseen, por sí mismos, momento magnético, aun en ausencia de campo exte-
rior, pel'o en los que Ia interacción magnética entre los momentos de
átomos contiguos es débil. Tales momentos magnéticos se deben a que
los espines de ciertos electrones 110 están compensados, bien por estar
éstos en número impar, bien por su pertenencia a ciertas capas incom-
pletas de Ia corteza atómica. En presencia de un campo exterior, estos
momentos, normalmente orientados aI azar, toman Ia dirección de dicho
campo.
I' La susceptibilidad magnética de los cuerpos paramagnéticos es pe-
quena y positiva; a causa de Ia agitación térmica, varía en razón inversa
de Ia temperatura absoluta (Ley de Curie-Weiss).
Entre los minerales paramagnéticos figuran el olivino, Ia augita, Ia
biotita, Ia serpentina, Ia flogopita, el anfibol, y el piroxeno, con suscep-
tibilidades comprendidas generalmente entre 2,5 X 10"':5 Y 3,5 X 10-1 (va-
lores racionalizados).
Sin embargo, parece que no hay rocas que, en conjunto, puedan con-
siderarse como para magnéticas, porque aunque algunas presentan sus-
ceptibilidad débil y positiva, se cree que ello es ,debido a Ia presencia
de pequenas cantidades de minerales ferrimagnéticos o antiferromagné-
ticos.

11.22 FERROMAGNETISMO

Los cuerpos ferromagnéticos se diferencian de los para magnéticos en

que Ia interacción magnética entre átomos próximos es intensa, 10 que
I
hace que en el interior de estos cuerpos se formen dominios microscó-
picos (deI orden de una décima de micra) dentro de cada uno de los
cuales, todos los momentos magnéticos apuntan en Ia misma dirección.
La existencia de tales dominios se explica porque reduce aI mínimo hi
energía libre deI cuerpo. Si se aplica un campo magnético exterior, Ios
98
 ANTIFERROMAGNETISMO

dominios cuyas imanaciones coinciden con Ia dirección de aquél, se

agrandan, por desplazamiento de sus paredes, a costa de los demás.
La susceptibilidad magnética de los cuerpos ferro magnéticos es ele-
vadísima, y puede alcanzar el valor 10.000. Los cuerpos ferromagnéticos,
como es sabido, presentan importantes fenómenos de saturación y de
histéresis. El ferromagnetismo desaparece por encima de una cierta tem-
peratura, diferente para cada sustancia, denominada [Junto de Curie,
comportándose entonces Ia sustancia como paramagnética.
Los típicos cuerpos ferromagnéticos son deI hierro, el níquel, y el
cobalto, amén de algunas aleaciones especiales, pero salvo el hierro na-
tivo, muy poco abundante, no existen minerales, ni por 10 tanto, rocas,
que puedan considerarse como ferromagnéticas en sentido estricto.

11.23 ANTIFERROMAGNETISMO

El antiferromagnetismo es un caso particular deI ferromagnetismo,

en el que Ias iones de Ia red cristalina forman dos subredes, cada una
de Ias cuales, conside,rada por separado, se comportada ferromagnética-
mente, pero (n conjunto se anulan, porque sus momentos magnéticos son
iguales y opuestos (fig. lI-I?). La realidad de este estado de cosas fue
comprobada por Shull y sus colaboradores, empleando Ia difracción de
nelltrones.

Ferromagnetismo
1 1 111 111

Antiferromagnetismo
111111I 1

Ferrimagnetismo
IddJ11
FIG. lI-I7,. Espines de Ios clIerpos ferromagnéticos, antiferromagnéticos
y ferrimagnéticos, a temperaturas inferiores ai punto de Curie.

99
PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

La susceptibilidad de estos cuerpos es positiva, y ·aumenta con Ia

temperatura, hasta que ésta toma cierto valor, denominado punto de
Neel (y también de Curie y punto À) a partir de Ia cual decrece según
Ia ley
c
(H,51)
x= T+O

donde C Y O son constantes para cada sustancia. El punto de Neel Te-

presenta Ia temperatura a Ia que Ia agitación térmica destruye el orden
antiferromagnético; por encima de ella, el cuerpo se comporta c.omo
paramagnético, de acuerdo con Ia fórmula anterior. Por debajo de aqué-
lla, existe una imanación máxima o de saturación, como en Ias ferromag-
néticos propiamente dichos.
Los minerales antiferromagnéticos más importantes son Ia ilmenita
y Ia hematites a, cuyas propiedades magnéticas serán consideradas más
abajo (apartado H,25).

11.24' CUERPOS FERRIMAGNETICOS O FERRITAS

Los cuerpos ferrimagnéticos o ferritas son análogos aIos antiferro-

magnéticos, con Ia diferencia de que en los primeros Ias momentos mag-
néticos, o espines de átomos contiguos, aunque opuestos, no son iguales
(fig. H-I?) por 10 que su comportamiento es muy semejante aI de Ias sus-
tancias ferromagnéticas, con susceptibilidad positiva y elevada, pero que
varía con Ia temperatura de modo más compIejo que en Ias casos an-
teriores.
Los minerales que por su comportamiento suelen denominar se "mag-
néticos", como Ia magnetita y Ia pirrotita, son en realidad ferritas.

11.25 MINERALES DE SUSCEPTIBILlDAD GRANDE

Existe un pequefio número de minerales que, por su elevada suscep-

tibilidad, determinan el comportamiento magnético de Ias rocas que Ias
contienen. Tales minerales pertenecen a dos grupos.
El primer grupo es el constituido por óxidos de hierro pertenecientes
aI sistema FeO-Fe20a-Ti02, cuyas relaciones mutuas se expresan en el
diagrama (fig. H-I8). Además de los minerales cuyas composiciones co-
rresponden a puntos situados en los vértices o lados deI triángulo, existen
otros constitui dos .por soluciones sólidas de los primeros.
100
 MINERALES DE SUSCEPTIBILIDAD GRANDE

Rutilo
Ti Oz Brookita

Hematites ai
Hematites I[
Fe O Fe"s 04 Fez Os
Maonetita

FIG. H-IS .• Diagrama deI sistema FeO-Fe203--Ti02'

La ilmenita (FeTi03) es romboédrica y antiferromagnética, con un

ligero desequilibrio en Ia compensaci6n de espines. Su punto de Neel es
de - 218°C según algunos autores, o de 100-150°C según otras. Su ima-
naci6n de saturaci6n vale Ma = 9 X 103 A/m.
La hematites (Fe2Ü:l) es también romboédrica
rJ. y antiferromagnética,
con S11 punto de Neel a 675°C. X =
1,3 X ]0-3. M. =9 X ]0:1 A/m.
Aunque tanto Ia ilmenita como Ia hematites sean débilmente mag-
rJ.

néticas, Ias soluciones s61idas entre ambos componentes, que se encuen-

tran en el diagrama en el segmento que une los puntos representativos
de dichos minerales, se comportan para ciertas composiciones, como in-
tensamente ferromagnéticas, aunque no son posibles todas Ias compo-
siciones intermedias.
Otra serie tiene por extremos Ia magnetita y Ia ulvoespinela.
La magnetita (Fe30.) posee estructura de. espinela inversa, y es una
ferrtta con su punto de Curie a 585°C. Su susceptibilidad os<;ila entre
5 y 35. Ma =
4,7 X 105 A/m.
Estas valores, como se ve, son muy superiores a Ias de cuaIquiet otro
mineral.
La ulvo-espinela o ulvita (FeoTiOI), semejante por su estructura a Ia
magnetita, y que no siempre es reconocida como mineral independiente, es
débilmente ferrimagnética, y forma con Ia magnetita el extremo de una
101
PROPIEDADES ELECTROMAGNETICAS DE LAS ROCAS

serie continua de soluciones sólidas con propiedades magnéticas inter-

medias, tanto más intensas cuanto mayor sea Ia proporción de mag-
netita.
Una tercera serie de soluciones sólidas tiene por términos extremos
Ia magnetita, ya mencionada, y Ia hematites y (lado inferior deI dia-
grama).
La hematites y o maghemita, (FezOa) difiere de Ia a en que Ia primera
tiene Ia misma estructura de espine1a inversa que Ia magnetita, con Ia
vacante exigida por Ia diferencia de composición. Este mineral es inesta-
ble por encima de los 275°C, transformándose en hematites a pero, según
parece, Ia presencia de impurezas 10 estabiliza, y entonces su punto de
Curie es de 675°C aproximadamente. Es ferrimagnética, y su imanación
de saturación es algo inferior a Ia de Ia magnetita. Las soluciones sóli-
das magnetita-maghemita pueden tener cualquier composición.
EI segundo grupo de minerales ferromagnéticos es el de los sulfuros
de hierro, cuya fórmula general es FeSJ+x. Cuando x = 0, se trata deI
mineral troilita (FeS) deI sistema hexagonal, antiferromagnético, con
punto de Curie a unos 600°C. Los minerales con O < x < 1,0 son Ias pi-
rrotitas, que se caracterizan por presentar vacantes en los lugares donde
debería haber átomos de Fe; cuando x < 0,08 el mineral es antiferro-
magnético, pero si 0,08 < x < 0,94 es ferrimagnético, con punto de Curie
entre 300 y 325°C y susceptibilidad deI orden de 0,3 e imanación de
saturación deI tipo de 3 X 105 A/m pero los valores de estas magnitudes
dependen de Ia composición exacta deI mineral. Para x = 1, el mineral
es Ia pirita (FeSz), paramagnético y de estructura cúbica.

11.26 SUSCEPTlBILlDAD V PERMEABlliDAD MAGNETlCAS DE LAS ROCAS

Resulta de 10 dicho en los apartados anteriores, que siendo casi siem-

pre muy pequena Ia susceptibilidad de los minerales, 10 será también Ia
de Ias rocas, a menos que éstas contengan alguna cantidad de minerales
ferrimaglléticos, en especial magnetita. En ausencia de .estos minerales,
Ia susceptibilidad de Ias rocas puede considerarse que varía entre los lí-
mites de -10-4 y -I- 7 X 10-4• Por consiguiente, su permeabilidad mag-
nética fi- no discrepa deI valor fi-o = 4rr X 10-7 R/m correspondiente aI
vacío, sino a partir de Ia cuarta cifra significativa.
Se ha intentado establecer una fórmula para determinar Ia suscep-
tibilidad de Ias rocas en función de su contenido en magnetita. Así,
WERNER (1945) obtuvo empíricamente Ia fórmula
4rrX
Xv = l+Nx0- V1/6)
(Il,52)

102
 OTRAS CUESTIONES

donde X es Ia susceptibilidad de Ia magnetita o mineral "magnético", V

Ia fracción de volumen que éste ocupa en Ia roca, N el factor de desi-
manación de los granos de mineral (que depende de Ia forma de és tos) y
Xv Ia susceptibilidad de Ia roca. La fórmula anterior aparece modificada
para operar con susceptibilidades racionalizadas.
Otros investigadores, también empiricamente, han establecido fórmu-
las dei tipo
X = a X 1O-z VG

donde para rocas precámbricas de Minnesota (MOONEY y BLEIFUSS, 1953)

a = 3,63 y b = 1,01; para una serie de rocas de Adirondack (BASLEY y
BUDDINGTON, 1958), a = 3,27 Y b = 1,33; Y para menas de hierro de
Minnesota (BATH, 1962), a = 1,46 Y b = 1,39. Los coeficientes originales
se han adaptado aquí a Ias susceptibilidades racionalizadas.
Las fórmulas anteriores tienen el inconveniente de que su validez es
puramente local, por 10 que no pueqen aplicarse sin riesgo a otras rocas
o regiones.
De los trabajos de los investigadores citados y de otros, resulta que
Ia susceptibilidad de Ias rocas básicas, que son Ias más ricas en elemen-
tos ferrimagnéticos no suele exceder de 5 X 1O-z• En' resumen, puede
afirmarse que Ia permeabilidad de Ias rocas puede tomarse, sin grave
error, como igual a Ia fJ-o dei vacío, salvo en Ias casos en que Ias rocas
contengan apreciable cantidad 'de magnetita, caso en el cual su permea-
bilidad puede ser notablemente superior a fJ-o (en el caso de magnetita
pura unas seis veces y aún más).

11.27 OTRAS CUESTIONES

EI magnetismo de Ias rocas es cuestión muy complicada, y abarca

problemas como Ia remanencia, paleomagnetismo, Ias imanaciones vis-
cosa, termoremanente, etc., que, aun siendo enorme interés, exceden
dei marco dei presente libra, dada que (hasta ahora) no tienen relación
directa con Ia Prospección Geoeléctrica. Tampoco se describen aquí los
instrumentos y artificios empleados para Ia medici6n de Ia susceptibili-
dad de Ias rocas. Sobre estas cuestiones, remitimos aios trabajos citados
más arriba, así como a Ia clásica obra de NAGATA(1961) y a Ias varias
artículos sobre el tema inclui dos en el segundo volumen de Ia obra
MINING GEOPHYSICS (1967) editada por Ia S.E.G.

103
Capítulo 111
CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS
FUNDAMENTALES EN LA PROSPECCION
ELECTRICA POR CORRIENTE CONTI.NUA

11I.1 INTRODUCCION

ias corrientes eléctricas que interesan en Ia prospección no recorren

conductores lineales (hilos y cables) como en Ias instalaciones y apara-
tos eléctricos usuales, sino que se mueven en medio tridimensional, por
10 que hay que estudiar Ias leyes físicas a que obedecen estas corrier..tes.
Para hacer eI problema más fácilmente abordable desde eI punto de
vista matemático, habremos de estilizar Ias condiciones reales, supo-
niendo que el subsuelo se compone de varias zonas, dentro de cada una
de Ias cuales Ia resistividad es constante, separadas entre sí por superfi-
cies límite perfectamente planas. A pesar de esta simplificación, eI pro-
blema es màtemáticamente muy difícil, y sólo ha sido resuelto en casos
relativamente sencillos.
Comenzaremos por estudiar el caso más simpIe, en el que el sub-
suelo se supone constituido por un semiespacio homogéneo.

11I.2 ECUACIONES GENERAlES

Consideremos un subsuelo compuesto por un semiespacio de resis-

tividad p (fig. III-l). EI otro semiespacio, de resistividad infinita, repre-
sentará Ia atmósfera. Para establecer un campo eléctrico, será preciso
disponer de un generador de corriente, por ejemplo una batería de pilas,
y conectarla, por medio de cables, a dos electrodos A y B, que pueden
104
 ECUACIONES GENERALES

materializarse mediante sendas barrenas metálicas parcialmente clavadas

en el suelo. Como el tamano de éstas es pequeno relativamente, podre-
mos considerar que los electrodos se reducen a puntos situados en el
suelo. La corriente, de intensidad IA penetrará por A en el subsuelo, y
después de recorrerlo, saldrá por B con intensidad In volviendo a Ia pila
para cerrar el circuito. Es evidente que
IA + In = O
si el régimen es estacionario.

111-

fIe
B

""'.....------
~~----
\', ------//
-------/ //// /
.•.•.....•..... -.. ---- .-// p
FIG. 111:1. Aplicación de corriente eléctrica aI terreno.

Parél establecer Ias leyes deI fenómeno considerado, partiremos

de Ias ecuaciones de Maxwell

v X E = _ aB
at
(I1I,1)
V X H =J+ aD
at
donde, por tratarse de un eampo estaciona rio, babrán de anularse Ias
derivadas temporales, y tendremos
vxE=O (I1I,2)
VXH=J (I1I,3)

Dejemos por abora Ia ecuación (111,3)de Ia que nos ocuparemos más

adelante, y consideremos Ia (111,2).Esta nos dice que el campo eléctrico
E es conservativo o irrotacional, por 10 que deriva de un potencial es-
calar U. Es decir que.
E=-VU (I1I,4)
105
CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAMENTALES

donde se incluye eI signo menos de acuerdo con Ia convención común-

mente aceptada.

Por otra parte, habrá de cumplirse Ia ley de Ohm, en su forma dife-

rencial para medios isótr9pos

J=<TE (I1I,5)

Ia cuaI nos dice que Ia den!;idad de corri ente J en un punto, tiene Ia

misma dirección y sentido que el campo E en el mismo punto" y es
proporcional a él. EI factor de proporcionalidad es Ia conductividad <T

iiwersa de Ia resistividad p. *

En todos Ios puntos se c1.!mpliráIa ecuación de continuidad

ap
at
+ V • J = O

que se reduce a
V· J = O (I1I,6)

en todos los puntos, excepto en Ios electrodos.

Combinando esta ecuación con Ias anteriores, tendremos que

V . J = V . (<TE)= O (III,7)

* La ecuaci6n (lII,5) se deduce fácilmente de Ia conocida f6rmula aplicable

a un conductor cilíndrico homogéneo de resistencia R, longitud 1 y sección s,
R = p l/s
Por otra parte,
V El El
R=--=--=--
I I sJ
y.entonces
EI 1
---=p--
sJ s
de donde
E
J=--=a-E
p

Todo ello suponiendo que el conductor es 10 suficientemente pequeno para que

.J y E se puedan suponer constantes dentro de él.
106
 ECUACIONES GENERALES

Esta ecuación es Ia más general de Ia prospección eléctrica. Desarro-

llándola,

v . (crE) = ,r V . E + E . V cr=
=-crV· VU+E· V'T=-crV2U+E·\7cr=O

Dentro de cada zona de conductividad uniforme será V,r = 0, y por

10 tanto,
'12 U = O (I1I,8)

que es Ia ecuación de Laplace, Ia cual será válida en todo el semiespacio

conductor, pel'O no en los electrodos, ni en Ias superficies de disconti-
nuidad de Ia resistividad, que aparecen en otros casos.
Si trazamos alrededor deI electrodo A y dentro deI semiespacio in-
ferior una superficie semiesférica, en cualquier punto de ella, por razón
de simetría, Ia densidad d~ corriente J tendrá el mismo valor, y estará
dirigida radialmente (fig. I1I-2). La integral de J sobre Ia superficie se-
miesférica será igual a I por 10 que si el radio es r se tendrá

2rr 1.2 I=I

y por 10 tanto,
I
I= (T E = 2rr r2

de donde
lEI =----=- r
(T
I
2rr 1.2 2rr
Ip
(JIl.9)

o sea que el campo E de un electrodo puntual es inversamente propor-

cional aI cuadrado de Ia distancia r.

J
J
J

FIG. llI-2. Vectores densidad de corriente en semiespacio homogéneo, con electrodo

puntual en Ia superficie Iímite.
107
I

CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAMENTALES

II

I:
La diferencia de potencial entre dos puntos cualesquiera M y N ven-
drá dada, según se deduce de Ia (I1I,4), por

UM =- E. dI (I1I,IO)
.N JMN

donde el camino de integración es indiferente, pues como hemos visto,

el campo es conservativo. Entohces, si son ri Y rz Ias distancias respec-
tivas de los puntos M y N aI eIectrodo A, tendremos

UMN - h lp J-!~
ri dr7 -b (I\_ lp ----r;- --;:;- I)
(I1I,11)

Si en vez de considerar diferencias de potencial, queremos considerar

potenciales absolutos, habrá que atribuir a un punto determinado el po-
tencial cero. Por convenio universal se toma como origen de potenciaIes
un punto situado a distancia infinita deI manantial, por 10 que haIlaremos
eI potencial absoluto en el punto M calculando el límite de Ia (111,11)
para rz -+ 00 que es

II lp~ I (I1I,12)
I' UM=--z;;:- ri

donde ]a primera fracción recibe e] nombre de emisividad. Como elpo-

tencial es magnitud aditiva, si son varias ]os manantia]es, habrá que
sumar algebraicamente los potenciales respectivos, de modo que

U=-~- liri
P

211'
(1II,13)

donde ri es Ia distancia deI manantiaI de índice aI punto considerado, i

e li Ia intensidad de corriente que entra o sale por él, con su signo co·
rrespondiente.

11I.3 CONDICIONES DE CONTORNO

Hasta ahora sólo hemos considerado un semiespacio homogéneo e

isótropo. Si el subsue]o se divide en diferentes zonas o medios homogé-
neas e isótropas, pero de diferente resistividad, no podemos utilizar Ia
sencilla fórmula (111,13), sino que habrá que buscar una integral de Ia
ecuación de Laplace que satisfaga Ias condiciones de contorno. Veamos
cómo se plantean éstas.
108
 CONDICIONES DE CONTORNO

En primer lugar, el potencial es continuo, es decir, no experimenta

ningún cambio brusco aI pasar de un medio a otro. En efecto, Ia diferen-
cia de potencial entre dos puntos M y N situados a un lado y otro de
Ia superficie de separación de dos medios de diferente resistividad vendrá
dada por Ia (11I,1O) en Ia que aI tender Ia distancia MN a cero, U~
también tenderá a cero, ya que E habrá de estar acatada.
Sin embargo, Ias líneas equipotenciales y Ias de corriente sufren re-
fracción aI pasar de un media a otro.
Consideremos en Ia superficie límite un cilindro corto, con sus bases
paralelas a dicha superficie, y situadas una en cada medio (fig. IH-3).
Si el área de cada base es pequena y Ia altura tiende a cero, como el
flujo total de corri ente a través deI cilindro habrá de anularse, ocurrirá
que

J~=J: (III,14)

es decir, que habrá continuidad en Ias componentes normales de Ia den-

sidad de corriente. Teniendo en cuenta Ia (HI,5) resulta

0'1 E~ = (T2 E: (III,14 bis)

o sea que hay discontinuidad en Ias componentes normales deI campo.

? Jl

~
E:,_
( 3
~ E"~
"
f{
FIG. IH·3. Determinación de Ias FIG. HI·4. Determinación de Ias condi·
condiciones de contorno para Ia ciones de contorno para el campo
densidad de corri ente. en Ia in- eléctrico.
terfaz de dos medias de resisti-
vidad diferente.

Para ver 10 que ocurre con Ias componentes tangenciales, bastará

considerar un rectángulo de altura muy pequena, y cuyas bases sean
paralelas a Ia superficie de separación, a uno y otro lado de Ia misma
(fig. IlI-4). La integral

f E· dI
109
 CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAMENTALES

a 10 largo de este rectángulo habrá de ser nula, en virtud de Ia (I11,2) y

deI teorema de Stokes. Si Ia altura tiende a cero, sólo contribuirán
a Ia integral Ias bases, por 10 que

E~I= E~~ (III,15)

expreslOn que indica que Ias componentes tangenciales deI campo son
continuas. Aplicando Ia (111,5) resulta
1'. J"
rf

(III,16)
(rI (T:!

que indica que Ias componentes tangenciales de Ia densidad de corri ente

son discontinuas.
Junto aI suelo no existe componente normal de Ia corriente, dada Ia
continuidad de esta componente y que Ia atmósfera no es conductora.
Sól0 existirán componentes tangenciales de Ia corriente y deI campo, y
Ias equipotenciales llegarân perpendiculares al sl.lelo dado que eI campo
II es el gradiente deI potencial.
Tanto Ias líneas de corriente como Ias equipotenciales sufren refrac-
ción aI pasar de un medio a otro.

E~

E"11

FIG. 111-5. Refracción de Ias líneas de corriente en una interfaz.

De Ia figura I11·5 se deduce que

E' E"
tg"'l=--
. El. tg '(2 = E s..-
llO
 RESISTIVIDAD APARENTE

y por 10 tanto
tg :'1 E'li E:{ E"~- <TI ('2

----' = --- --- = --- = --- = ---

tg 9'2 E "1I E'.-L E'.-L <T2 PI

según Ias (I1I,IS) y (I1I,S).

La ley de refracción de Ias líneas de campo y de corriente, en me-
dios isótropos será, pues,
PI tg 'fI = P2 tg 9'2 (I1I,I?)

En cuanto a Ias líneas equipotenciales, por ser ortogonales a Ias de

campo cumplirán Ia ley de refracción
PI ctg 1'1 = P2 ctg 'i'2 (III,18)

11I.4 RESISTIVIDAD APARENTE

Vamos a definir ahora un concepto de importancia fundamental en

Ia prospección eléctrica, que es el de resistividad aparente. Considere-
mos en primer lugar un subsuelo homogéneo de resistividad P en cuya
superficie colocaremos un dispositivo electródico AMN (fig. III-6). El
A M N

+----- r----*-o- .•
FIG. I1I-6. Para Ia dcfinición de resistividad aparente.

electrodo A está conectado a un generador y el campo eléctrico que pro-

duce se estudia por medio de los electrodos M y N que están conectados
a un voltímetro que mide Ia diferencia de potencial que aparece entre
ellos. Los tres electrodos están alineados. El electrodo B, que cierra el
circuito de A se supone 10 suficientemente alejado de los demás para que
no influya en Ias observaciones (electrodo en el "infinito"). Entonces si,
AM = r y MN = a, según Ia (III,l1) tendremos

!'" V = UMN = pI (1--r-

2:;; - 1)
-r-+-a- = a
--27f~-r~(r-+-a-)
pI (III,19)
111
CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAMENTALES

Despejando Ia p resulta

p = 2;rL(r a+ a) ôV
.[-
(I1I,20)

Esta fórmula puede utilizarse para calcular Ia resistividad p de un sub-

suelo homogéneo, si se miden Ias magnitudes que aparecen en el segundo
miembro.
Llegados a este punto, cabe preguntarse qué ocurrirá si el subsuelo
no es homogéneo, sino por ejemplo, como el representado en Ia figura
I11-7. Si efectuamos Ias mediciones pertinentes y llevamos los da tos ob-
tenidos a Ia fórmula (III,20) resultará una resistividad ficticia p" que en
general no será igual a Ia Pl que corresponde a Ia zona dei electrodo A,
ni a Ia P~ que se haIla bajo los M y N, sino que dependerá de P1I P2, P3
Y de Ias distancias r y a. Esta resistividad tampoco puede considerarse
como promedio ni como media ponderada de Ias tres resistividades pre-
sentes, pues puede ocurrir que sea mayor o menor que todas ellas. Esta
resistividad ficticia p" que se obtiene aplicando a los datas obtenidos
sobre un media heterogéneo Ia expresión correspondiente a media ho-
mogéneo, es Ia resistividad aparente. Esta es Ia variable experimental
que 'expresa Ias resultados de Ias mediciones en Ia mayoría de los mé-
todos geoeléctricos y Ia que se toma como base para Ia interpretación.
Las dimensiones de Ia resistividad aparente, en virtud de su definición,
son Ias mismas que para Ia resistividad, y su unidad será también el
ohmio-metro (O-m).
A M N

FIG. 111-7. Ejemplo de subsuelo heterogéneo.

11I.5 LA RESISTIVIDAD APARENTE CONSIDERADA COMO ANOMALIA

En muchos métodos de prospección (magnético, gravimétrico, etc~),

el campo observado se compara con el campo teórico o "normal" corres-
112
 LA RESISTIVIDAD APARENTE CONSIDERADA COMO ANOMALIA

pondiente a medio homogéneo, yIa interpretación se basa en eI estudio

de Ias discrepancias entre uno y otro, a Ias que se da eI nombre de ano-
malías. Cabe preguntarse si no podría hacerse 10 mismo con Ia distri-
bución de potenciales y campos eIéctricos y si Ia anomalía así obtenida
no sería más expresiva de Ias características deI subsueIo que Ia resisti-
vidad aparente. EI modo más simpIe para expresar esta anomalía sería
obtener Ia relación entre eI 6. V observado sobre el medio heterogéneo
en cuestión para determinada posición de Ios electrodos, y eI 6. V' que se
observaría en Ias mismas condiciones sobre medio homogéneo de resis"
tividad unidad. De Ia (1II,19) se deduce, poniendo Pa en vez de P en eI
caso de medio heterogéneo,

6.V = PaI __ a
211" (r + a) r

6.V' = _1 a
211" (r + a) r
y como tanto Ias distancias entre electrodos como Ia intensidad han de
ser iguales, se obtiene para Ia anomalía A,

A _ 6.V
- ~V' = Pa
interesante resultado que indica que Ia anomalía es iguala Ia resistividad
aparente. Esta puede considerarse, pues, tanto como resistividad de un
medio homogéneo que, en iguaIdad de Ias demás condiciones, produ-
ciría entre Ios eIectrodosM y N una diferencia de potencial igual a Ia
observada, como perturbaci6n producida en eI potencial normal por ·causa
de Ia heterogeneidad deI subsueIo.
Si eI subsueIo es un medio estratificado, esto es, compuesto de ca-
pas homogéneas paralelas a Ia superficie, podríamos tomar como poten-
cial de referencia eI correspondiente a un medio homogéneo, cuya resis-
tividad en vez de ser Ia unidad, fuese igual a Ia resistividad de Ia primera
o más superficial de Ias capas. Entonces, Ia medida de Ia perturbaci6n
deI potencial producida por Ia inhomogeneidad deI subsueIo diferirá de
Ia resistividad aparente en un factor constante. Esta magnitud

p'=~
Pl

ha sido denominada "resistividad aparente reducida" por Ios geofísicos

de Ia escueIa SchIumberger, y se utiliza mucho, aunque sin darle nombre
especial, en el cálCulo de curvas te6ricas o maestras.
113
CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAMENTALES

11I.6 DISPOSITIVOS ELECTRODICOS. RECIPROCIDAD

Vn conjunto de electrodos como el representado en Ias figuras 1II-6

y III-7 o similar, recibe el nombre de dispositivo electródico. En general,
consta de cuatro electrodos; dos de eIlos A y B (en Ias figuras mencio-
nadas el electrodo B se supone situado a gran distancia) por los que Ia
c.orriente entra y sale, y los otros dos M y N entre los cuales se mide
Ia diferencia de potencial creada por los A y B. Estos han de ir unidos,
por medio de cables aislados, a un generador eléctrico provisto de un
amperímetro. Los M y N, análogamente, van unidos a un instrumento
(milivoltímetro, potenciómetro, etc.) capaz de medir Ia diferencia de po-
tencial entre eIlos. Tenemos así dos circuitos independientes. EI primero
recibe los nombres de circuito de corriente (autores anglo-sajones), de
emisión (autores franceses) o de alimentación (autores soviéticos). EI
segundo, respectivamente, 10s de circuito de potencial, de recepción y
de medición.
EI conjunto de los cuatro electrodos se denomina a veces cuadripolo
o tetrapolo. En principio, los cuatro electrodos pueden adoptar cualquier
disposición geométrica sobre el plano que representa Ia superficie dei
terreno. Estas disposiciones geométricas se denominan dispositivos o con-
figuraciones, y muchas de eIlas reciben nombres especiales, según ire-
mos viendo en el curso de esta obra. En eIla se usará preferentemente
el término dispositivo.
En cualquier dispositivo, si conocemos Ias distancias mutuasentre
los electrodos y medimos Ia intensidad I que pasa por los electrodos
A y B y Ia diferencia de potencial ô V que, como consecuencia, aparece
entre M y N, podremos calcular Ia resistividad aparente Pa mediante una
fórmula dei tipo

Pa = K ôV
I (III,21)

donde K es un coeficiente que depende únicamente de Ia geometría dei

dispositivo electródico, y cuyas dimensiones, según se deduce fácilmente,
son Ias de una longitud.
Si el medio es homogéneo, Ia fórmula (III,21) nos dará su resistivi-
dad verdadera.
En el caso más general, en que los cuatro electrodos están dispues-
tos de modo cualq~iera sobre una superficie plana, se tendrá, según
Ia (III,13)

AV=b pI (1kM- BM-

1 1
AN + BN
1)
114
 DISPOSITIVOS ELECTRODICOS LINEALES

y, por 10 tanto

(I1I,22)
pn = 21i ( AM1 1 -
- RM 1
AN + RN1) -1 --[-
L\V

donde hemos puesto Pa en vez de p en virtud de Ia definición de resis-

tividad aparente.
En este caso el coeficiente de dispositivo es

K = 21i ( AM
---
1
- --
RM 1
-- -AN
1
+ -RN
1)-1
(III '23)

En los circuitos eléctricos usuales, compuestos por redes, se cumple

el l1amado Principio de Reciprocidad, que dice que en cualquier red
compu esta por elementos lineales (es decir, de impedancias independien-
tes de Ia intensidad que Ias atraviesa) si Ia apIicación de una d.d.p. L\ V
entre dos terminales determinados produce una corri ente [ en cierta rama
deI circuito, entonces Ia aplicación de Ia misma L\ V en los extremos de
esta rama hace circular Ia misma intensidad [ entre los dos primeros ter-
minales.
En Ias medios continuos, que son Ios que intervienen en Prospección,
también se cumple el Principio de Reciprocidad *. Así, si en Ia expresión
(III,22) se truecan entre sí Ias electrodos A y M, por una parte, y los
R Y N por otra, vuelve a obtenerse Ia misma ecuación, según es fácj.J
comprobar. Quiere esto decir, que si los electrodos de corriente inter-
cambian sus posiciones con los de potencial, todo permanece igua:l y eI
co~ficiente de dispositivo permanece invariable.
No obstante, aunque eJ Principio de Reciprocidad es útil para consi-
deraciones teóricas, por ejemplo para comparar dispositivos diferentes,
etc" no es factible en Ia práctica eI colocar Ias electrodos M y N tan
separados como suelen estar los A y R, pues aI ser grande Ia distancia
entre Ias primeros, junto con el potencial estudiado, penetrarían Ias co-
rrientes telúricas, parásitos industriaIes, etc., cuyo efecto aumenta pro-
porcionalmente con Ia distancia entre M y N.

11I.7 DISPOSITIVOS ELECTRODICOS L1NEALES

Son muy empIeados Ios dispositivos en que los cuatro electrodos

A M N R se encuentran, por este orden, sobre ,una misma recta. Si ade-
más, los cuatro electrodos se disponen simétrica mente respecto de un
centro 0, tendremos un dispositivo simétrico (fig. IlI-·8).

* Sobre Ia comprobación experimental de este principio en Ias mediciones geo-

eléctricas, véase HABBERJA.M (1967).
115
CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAMENTALES

+-0-'
•...
---L----+
FIG. lII-8. Dispositivo elec.tródico lineal y simétrico.

EI coeficiente de dispositivo correspondiente puede calcularse por

medio de Ia (IJI,23) pero quizá sea más senciUo deducirla de Ia (I1I,20)
teniendo en cuenta que Ia adición deI electrodo B duplica eI potencial,
dada Ia posición simétrica de este respecto de A y su signo opuesto. Por
10 tanto, el coeficiente de dispositivo habrá de ser Ia mitad que en Ia
(IJI,20), puesto que p no ha variado. Tendremos, pues,

r (r + a) liV
p=íí---- a --I (I1I,24)

Si Ias distancias entre electrodos contiguos son iguales, AM = MN

= NB o sea r = a resulta eI dispositivo llamado de Wenner, muy usado
en los países anglosajones. Sustituyendo en Ia (JlI,24) se obtiene

Pa = 2rr a liVI (IIT,25)

EI coeficiente deI dispositivo Wenner es, pues, K = 2rr a.

Si llamamos L a Ia distancia OA = DB Ia expresión (I1I,24) tomará
Ia forma

(III,26)
Pa=rr(V--r~)~~
que es Ia fórmula general para dispositivos lineales simétricos
EI más eficaz y usado de estos dispositivos es eI de Schlumberger.
Se trata en realidad de un dispositivo límite que, aunque irrealizable
prácticamente de modo riguroso, presenta grandes ventajas teóricas, y
puede llevarse a Ia práctica con suficiente aproximación. ia idea de
Schlumberger es hacer que Ia distancia a que separa los electrodos M
y N tienda a cero. EI segundo miembro de Ia ecuación (111,26) no tiende
116
 DISPOSITIVOS ELECTRODICOS LINEALES

sin embargo, a infinito, pues t-, V decrece ai mismo tiempo que a. Ten-
dremos, pues,

Pa = 1m 'Ir L - --
4cr)
-- = 'Ir -- 1m -- = 'Ir - 1 , 7
I·.-)0 (2 aI
t-,V L2 I1 I'
.a--;O a
AV L2 EI (112)

ya que el límite de V/a cuando a tiende a cero, es el gradiente dei po-

t-,

tencial, o sea el campo.

La idea de Schlumberger consiste, pues, en utilizar una distancia
MN = a muy corta, de tal modo que pueda tomarse como válida Ia ecua-
ción (111,27). Los desarrollos teóricos se establecen suponiendo que 10
que medimos realmente es el campo E, el cual en Ia práctica, se toma
igual a V/a. Es decir que, si bien en Ia teorfa matemática se emplea Ia
t-,

fórmula (111,27) en Ias observaciones de campo Ia que se puede utilizar

realmente, aparte de Ia (111,26)es

pa = 'Ir
L2
Ia
t-,V
(I1I,28)

por 10 que el error que se comete ai emplear esta expresión es sólo el que
proviene de desprecjar el término cr/4 en eI paréntesis de Ia (111,26).Este
erro r. es muy pequeno. En Ias mediciones de campo suele tomarse Ia
norma de que MN ~ AB(5. Como MN = a y '2 L = AB, eI error relativo
será

[2- ([2_-.!!~)
1) ~ TO 4 = (a)2 li = 4%
para MN = AB(5.
Normalmente, MN es mucho más pequeno respecto de AB, y el error
será muy reducido. Por otra parte, Ia precisión de Ias mediciones geo-
eléctricas de campo está muy' limitada por heteFogeneidades irreIevantes
deI terreno (rllido geológico) por 10 que no puede exigírseles gran exac-
titud.
En resumen, podemos decir que el dispositivo SchIumberger es un
dispositivo lineaI simétrico en el que Ia distancia MN es muy pequena
(todo Ia más una quinta parte de Ia distancia AB).
En ciertos casos, el electrodo B se lleva a gran distancia de Ios de-
más de modo que no influya sobre el valor V observado. Se tiene en- t-,

tonces el dispositivo denominado Schlumberger asimétrico, o media

Schlllmberger cuyo coeficiente de dispositivo será, Iógicamente, dobIe deI
usual, esto es.
Pa = 2'1r[2~~Ia (I1I,29)

117
CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAMENTALES

Estas dispositivos se llaman también trielectródicos.

11I.8 DISPOSITIVOS DIPOLARES

Los dispositivos dipolares constituyen una família muy importante,

caracterizada porque en ellos ]os eIectrodos de corriente A y B están 10
suficientemente próximos entre sí respecto de Ia distancia a que se mi-
den sus efectos para que puedan considerarse como un dipolo. Tendremos,
pues, en estos dispositivos dos dipo]os, eI AB de emisión y e] MN de re-
cepción, cuya posición mutua puede ser en principio cualquiera. No obstan-
te, existen ciertas configuraciones que, por sus propiedades, merecen aten-
ción especial y son Ias más empleadas en ]a práctica. Para ta]es disposi-
tivos existe una nomenclatura especial, de origen soviético, que expone-
mos a continuación.
M N
M N

A B A B A B

l
a b c
M

M N

A B M N
X X • •

A B A B

d e f
FIG. III·9. Dispositivos electródicos dipolares.

a) Dispositivo paralelo.
En él, como indica su nombre, los dos dipolos son paralelos (figura
I1I-9a).
118
 ESTUDIO DEL CAMPO DIPOLAR

b) Dispositivo perpendicular.
Los dos dipolos forman ángulo recto (fig. I1I-9b).
c) Dispositivo radial.
El dipolo MN se encuentra situado sobre Ia recta que une los cen-
tros de ambos dipolos (fig. I1I-9c).

d) Dispositivo azimutal.
EI dipolo MN es perpendicular a Ia recta que une los centros de am-
bos dipolos (fig. I1I-9d).
Existen además dos casos particulares de los anteriores, muy impor-
tantes en Ia práctica, que son:

e) Dispositivo ecuatorial.
Es a un tiempo paralelo y azimutal, de modo que ambos dipolos son
paralelos entre sí, y perpendiculares aI eje que pasa por sus centros (figu-
ra 1II-ge). EI nombre de este dispositivo, que puede parecer extrano,
alude a que el centro deI dipolo MN se encuentra en el plano ecuatorial
de los dos polos A y B.

f) Dispositivo axil.
Los cuatro electrodos están en Ia misma recta. Este dispositivo es,
pues, simultáneamente, paralelo y radial. En América deI Norte, este
dispositivo se denomina a veces "dispositivo Eltran" o "dipolo"dipolo".
Esta ültima expre,si6n es totalmente ambigua, pues es aplicable a cual-
quier dispositivo dipolar. Por este motivo y por razones de uniformidad,
se emoleará aquí Ia denominaci6n "dispositivo axil", o "dipolar axil" (figu-
ra I1I-9f).

11I.9 ESTUDIO DEL CAMPO DIPOLAR

En Física Méitemática suelen considerarse Ios dipolos como de lon-

gitud que tiende' a cero, 10 que simplifica considerablemente los cálculos
y hace más claros los resultados de éstos .. Aquí procederemos de .este
modo, y en otra parte (cap. VI), estudiaremos Ias f6rmulas que de-
ben àplicarse en Ia práctica para el caso en que Ia distancia deI punto donde .
se mide el campo ,aI centro deI dipolo, no sea suficientemente grande
respecto de Ia longitud deI dipolo.
Sean dos electrodos de corriente A y B, que forman parte deI mismo
circuito de emisi6n. Tomemos como origen de coordenadas cartesianas
el punto O, centro deI segmento AB, y como eje x Ia recta determinada
119
CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAMENTALES

v! p
I. / /11
I \

R /
V I/ \\
/
2/ I' I \ RI
/ . IR \
/ I // \\
//
X
B
L--*_._X
'/

o
\ \

A ._-

FIG. nI-lO. Cálculo deI potencial dipolar.

por dicho segmento. Entonces el potencial en un punto cualquiera P que

diste RI y R2 respectivamente de A y B (fig. I1I-10) será, en virtud de Ia
ecuación (1lI,1l)

U = 2~
lp (1-R;--R~-
1)
donde I es Ia intensidad de corriente que circula por el terreno a través
de A y B Y p Ia resistividad deI subsuelo, supuesto homogéneo. Si son x
e y Ias coordenadas deI punto P y b = AB, Y R = PQ

RI = [ (x -- 2-)
b 2 + if ] 1/2 = ( x2 + y2 - bx + -4-
b2 ) 1/2 ~
~ (x2 + y2 - bX)Ij2 = (R2 - bX)I/:! = R ( 1- R:
b) 1/2

donde se ha despreciado el término b2j4 suponielldo que b es muy pe-

quena frente a Ias demás longitudes consideradas. Análogamente,

R2 = [ ( X + -2b) - 2 + y2 ] 1/:! = R ( 1 + R:!

bx ) 1/2

y por 10 tanto,

U 2rr R [( 1 _~)R2
=!.E- -1/:!_ ( 1 + ~)R2 -1/2] =

=2rrRlp [ 1+-2-liF+···-1+-2-If2+···
1 bx 1 bx ] ~
M
~
Ip
2rrR
bx
R2 = 2rrR2
Ipb
R= x
R2 cos () (I1I,30)

120
 ESTUDIO DEL CAMPO DIPOLAR

donde se ha puesto

M = plb
2rr
-LAB
- 2rr
(1II,31)

Llamaremos a M momento deI dipolo. En realidad se trata de una mag-

nitud vectoriaI M, cuyo módulo es eI valor dado por Ia (111,31)y que está
dirilddo deI electrodo negativo aI positivo, pero aquí se Ie considerará

Y t Ee ~---E,I/,E'
i
, / // P Ex
I, //
,
I
//
/e
t /

i
)( k"\ l( ------
B Q A X

FIG. IU-ll. Componentes dei campo dipolar.

como escalar. Si bien Ia expresi6n (111,30) permite eI cálculo de U en

cualquier punto deI plano, es preferible en muchos casos el estudio deI
campo E, que puede medirse con un dipolo Schlumberger, esta es, muy
corto. El campo puede expresarse por 5US componentes cartesianas Ex, Eu
o polares En Ee, todas Ias cuales se representan en Ia figura 11I-11 para
eI caso de que eI electrodo positivo sea eI A. De Ia (111,4) se deduce

(I1I,32)
ER =- iJR
i!...-u = __ aR
a_ (~R2 cos O) = R3
2l\t~ cos fi

(1II,33)
Ee = - ~R ao = __ R1
au iJO
a_( ~R2 cos 0)\ .= ~R3 sen (j

2 x2_ y2

Ex =- & (M + if
a x2 (x2 +x)if)1/2 =M (x~ + if)'/2 (1II,34)

3 xy
(11,35) .
Eu =- ----ay
a (Mx2 + if (x2 +x)if)1f2 =M (x~ + if)'/2
donde se han utilizado Ias ecuaciones de transformaci6n entre coordena-
121
CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAMENTALES

das cartesianas y polares

y
sene =T (I1I,36)
x
cos8=T
R2 = x2 + y2
Se deduce, además, de éstas y de Ias anteriores que
2Mx
ER-----
- (x2 + if)2
(III,37)
My

y que
Eo = (x2 + if)2

Ex = ~ 2(3 cos2 e-I)

(IlI,38)
3M
Ey = -jiJ sen ecos fi

EI módul0 de E valdrá

(I1I,39)
lEI = (ER2 + E02)1/2 = ;: (1 + 3 cos2 e)
o bien
lEI = (Ex2 + Ey 2)1/2 = M(x~
(4X~+-1I~l)l/2
+ y2)5;;;:- (IlI,40)

EI ánguIo (:1 entre eI vector E y eI radio vector QP, vendrá determinado,

según se deduce de Ia figura, por

13 - Eo _ Msene/R3 _ 1 e (IlI,41)
tg - ER - 2M cos e/R3 - -2- tg
mientras que el ángul0 13 +e entre E y eI eje x será tal que

tg (e + (3) = 1- + tg e tg 13
tg fi tg 13
_

-
3 tg e =_~
2 __ tg2 e 2 x2 __ y2
(IlI,42)

Estas ecuaciones nos permiten hacernos una idea clara de Ia estruc-

tura deI campo dipolar. Como eI eje x 10 es de simetría y el y de anti-
simetría, bastará estudiar 10 que ocurre en eI primer cuadrante. Entre
otras, se deducen fácil mente Ias siguientes conclusiones:
122
 LA RESISTIVIDAD APARENTE EN LOS DISPOSITIVOS DIPOLARES

a) Sobre un mismo radio vector (ángulo 8 constante) el potencial

U decrece con el cuadrado de Ia distancia R aI centro Q del dipolo AB.
(Ec. m,30.)
b) Si Ia distancia R permanece constante el potencial es máximo
sobre el eje x y nulo sobre el y. (Ec. m,30).
c) Sobre un mismo radio vector, el campo eléctrico E decrece con
el cubo de Ia distancia R. Esto tiene gran importancia en Ia práctica,
pues obliga aI empleo de grandes intensidades 1, a fin de que Ia dife-
rencia de potencial Ventre M y N pueda ser leída con comodidad.
I'!.

(Ec. III,39.)
d) EI ángulo fJ entre el vector campo E y el radio vector PQ es
constante para cada radio vector. (Ec. lIIA1) (fig. III-12.)
e) En el eje x el campo E tiene componente Ey = O. Cuando el án-
guIo es tal que tg 8 = Y'2 o bien que y = v2 x, el campo E es perpendi-
cular a Ia línea AB o eje x. (Ec. III,43.) Sobre el eje y el campo es para-
lelo aI eje x, su módulo es Ia mitad deI correspondiente a Ia misma dis-
tancia sobre el eje x, y su sentido opuesto (Ecs. lII,32 y m,33.)
f) De Ias' cuatro componentes Er, Eo, Ex, Ey sólo Ia Ex cambia de
signo en el primer cuadrante. Esto ocurre cuando se cumple Ia condi-
ción ya indicada de y=Y'2x 10 que corresponde a un ángulo 8=50°44'8"
o sea = 0,95530 radianes.
/ 1
i
-I
/
-.;
____.1
N,,#~_~
~/\M /
1

~~/ 1
--...~ 13 / 1
------<:J
/
1 /

b
1 e 6e )(
B
>< Q A
Q~ A

FIG. III-12. Constancia deI ánguIo 13 FIG. III-13. Definición deI ánguIo y.
entre el campo de un dipolo y el
radio vector.

11I.10 LA RESISTIVIDAD APARENTE EN LOS DISPOSITIVOS DIPOLARES

Consideremos un dispositivo dipolar, en el que el dipolo de medi-·

ción MN forme un ángulo cualquiera y con el radio vector R (fig. IlI-13).
123
I CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAl\1ENTALES
i
Entonces, en Ia direcdón MN sólo actuará Ia componente Ey deI campo,
I que valdrá
Ey = ER COS Y + Eo sen y
I1
sustituyendo ER y Eo por sus valores dados por (III,32) y (I11,33) ten-
dremos
M
Ey = """"Rã (2 cos l' COS 8 + sen y sen 8)
y aplicando Ia (III,31) será
[pAB
Ey = ---211"R3
(2 cos y cos 8 + sen y sen 8)
de donde despejando Ia p resulta
211"R3 ó.V
Pa = -=--=--~=-(2 cos y cos 8 + sen y sen 8)-1 -- (III,43)
ABMN I
en Ia que hemos sustituido Ey por su valor prác~ico VfMN Y hemos t:,.

puesto Pa en vez de P para incluir el caso general de medio heterogéneo.

Obsérvese que esta fórmula sólo es válida rigurosamente para dipo-
los de longitudes despreciables frente a Ia distancia R. Por otra parte, Ia
presencia en ella deI ángulo y indica, que haciendo girar el dipo!o MN
alrededor de su centro O, obtendremos diversas resistividades aparentes,
entre ellas Ia resistividad radial PR, Ia tangencial p", y Ia perpendicular
Pu. Estas cuestiones serán consideradas más detalladamente en el capí-
tulo VI.
Dando a y y a 8 105 valores correspondientes a los diversos dispositi-
vos resefiados en el párrafo IIl.8, obtendremos sus coeficientes respecti-
vos, que son los siguientes:
a) Dispositivo paralelo (I' = 211" ~ 8)
211" R3
K = AB·MN
_._ __ (2 cos2 8 - sen2 8)-1 (I11,44)

b) Dispositivo perpendicular ( ')' = +- 4

8)

K=-------- 1I"R3
(III,45)
. AB . MN 3 sen'2 8
c) Dispositivo radial (y = O)
K=
1I"R3
,
1
(III,46)
AB·MN cos 8
124
 DISPOSITIVOS COMPUllSTOS

d) Dispositivo
azimutal ( y = -+- )
2/T R3 1
K=~--,-=_ sen (I1I,47)
AB·MN O

e) Dispositivo
ecuatorial (Y = O = -+- )
K=---- R3 2rr
(I1I,48)
AB·MN
f) Dispositivo qxil (O = y = O)
K = rr R3 (I1I,49)
AB·MN
En ciertos casos, puede ser interesante transformar Ia ecuación gene-
ral (I1I,43) mediante Ias (III,36) en Ia
2rr R~ ô.V
Pa = AB·MN
_._ __ (2 x cos y +Y sen y)-l --
I
(I1I,50)

11I.11 DISPOSITIVOS COMPUESTOS

Existe una cIase especial de dispositivos, denominados "compuestos",

que derivan de los dispositivos ordinarios por Ia adición de aIgún elec-
trodo, bien de corri ente, bien de potencial. Siguiendo a BLOKH (1962)
denominaremos dispositivos de agrupación a aquellos que tengan más
de doselectrodos de potencial, dispositivos apantallados a los que po-
seen algún electrodo de corri ente adicional, y por último, dispositivos
apantallados de agrupación a los que reunan Ias dos características.
Pueden idearse gran número de dispositivos diferentes de esta clase;
el geofÍsico polaco KVUSZEWSKI (1957) ha descrito muchos de ellos. En-
tre los dispositivos compuestos tienen importancia Ios .llamados de cero,
en los cuales Ia diferencia de potencial ô. V es nula si Ia medici6n se
efectúa sobre medio homogéneo. Se pueden efectuar asÍ calicatas de ano~
malía pura en Ias que Ias lecturas indican directamente eI grado de he-
terogeneidad deI subsuelo.
Los dispositivos compuestos han alcanzado hasta ahora escasa difu-
sión, y su utilidad parece restringi da a Ias investigaciones horizontales
(calicatas eléctricas) pel'O es conveniente prestarles aIguna atenci6n, pués
poseen propiedades interesantes.
125
CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAMENTALES

11I.11.1 Dispositivos de agrupación

El electrodo adicional de recepción P suele colocarse, en estos dispo-

sitivos, entre los dos normales M y N, y alineado con ellos (fig. IU-14)
de tal modo que Ias dos diferencias de potencial entre MP y PN sean
iguales,
~V~ = ~V~ (IlI,Sl)

siempre que el dispositivo se encuentre sobre medio homogéneo.

Si el dispositivo es tetraelectródico simétrico, esta misma simetrÍa
hace que el eIectrodo P haya de coIocarse en eI punto medio deI seg-
mento MN, a fin de que se cumpla Ia condición anterior. Cuando eI
dispositivo de que se parte es un Wenner, se obtiene eI llamado dispo-
sitivo de Lee, que es por consiguiente, nn dispositivo de Wenner con
un quinto eIeetrodo P de potencial en el centro deI sistema. La idea bá-
sica de este dispositivo es Ia de comprobar Ia homogeneidad lateral deI
terreno a un lado y otro de. dicho centro, por medio de Ia condición
(IlI,S I).

A M P N

:%

FIG. IlI-l4. Ejemplo de dispositivo de agrupación.

Si el dispositivo simple de partida es trielectródico (asimétrico) el

electrodo adicional P ya no puede colocarse en eI centro de MN, sino
que habrá de ser

MP= _MN_'AM (I1I,S2)

AM+AN

Ecuación que se obtiene aplicando Ia (I1I,l9) a los dispositivos AMP

y APN e iguaIandó Ias respectivas d.d.p. Resulta entonees Ia eondición

---
MP
PN
AM
AN

de Ia que se deduee fáeiImente Ia (UI,S2). De modo semejante puede en-

eon trarse Ia posieión deI eleetrodo P para otros dispositivos.
126
 DISPOSITIVOS COMPu'ESTOS

11I.11.2 Dispositivos apantallados

En estos dispositivos, según se dijo más arriba, el electrodo adicio-

nal Q es de corriente, y su polaridad habrá de coincidir, forzosamente,
con Ia de uno de los electrodos A o B. Si se lleva eI electrodo Q aI
"infinito" mientras que A y B se conectan aI. mismo polo deI generador
tendremos un dispositivo homopolar (GUPTA (1953) 10 llama unipolar)
como el representado en Ia figura 111-15. Las resistencias que en ella apa-
recen tienen por objeto compensar Ia diferencia que pueda existir en Ias
resistencias de contacto de los electrodos A y B de modo que por am-
bos penetre Ia misma intensidad. En estas condiciones, es evidente que
en medio homogéneo Ia d.d.p. 11V será nula, por 10 que se trata de un
dispositivo de cero o de anomalía pura. EI resultado sería el mismo si
el electrodo Q se colocase en el centro O deI segmento MN. Tendríamos
así un dispositivo deI tipo que Blokh llama diferencial.

~~

M N

FIG. IlI-15. Dispositivo homopolar o unipolar.

Otros tipos de dispositivos apantallados, quizá más interesantes, son

aquellos en Ios que por el electrodo adicional Q no circula Ia corri ente
total I, sino una fracción n I (n < 1). Por ejemplo, Ia figura I1I-16 repre-
senta un dispositivo tetrae1ectródico apantallado. Los electrodos Q y B
son, por su conexión, deI mismo signo, y Ias resistencias representadas
tienen por objeto conseguir que Ia intensidad que pasa por el electrodo
Q tenga el valor deseado n I. Por aplicación de Ia (I1I.13) se obtiene Ia
d.d.p. 11Ventre M y N, que es

I1V=-- pl 211'
----.
(1AM - n
1BM
-----+--+-
QM
n AN 1 1BN
- n QN
n)
(I1I53)
'

Para cada dispositivo, esto es, para cada combinación de distancias

entre electrodos, hay un valor de n que anula a 11V Y se tiene entonces
un dispositivo de cero. Si no se cumple esta condición, se puede calcular
Ia resistividad aparente a partir de Ia (111,53) por el método usual.
127
CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAMENTALES'

FIG. III-16. Dispositivo apantallado.

Por otra parte, dada Ia posición de los electrodos de corriente, en

medio homogéneo existe un punto en Ia recta determinada por aquellos
en el que eI campo eIéctrico es nulo, y eI potencial, máximo. Esto se ve
con claridad en eI caso más sencillo posible de dispositivo compuesto,
que se obtiene llevando el electrodo B aI infinito. Se tienen entonces sólo
dos electrodos activos, el A Y el Q. Si es a Ia distancia AQ, I Ia inten-
sidad que penetra a través deI electrodo A y - 111 (siendo n < 1) Ia que
10 hace por el electrodo Q y x Ia distancia de un punto M, situado en Ia
recta AQ, a este último electrodo (fig. III-17) el potencial eu M será

Vs = --pI
211'
--. -
(1a + x
- - xn )
(IlI,54)

A Q M

~~ / j/;
+---Q---K---X--->
FIG. III-17. Determinación deI punto de componente nula deI campo
en un dispositivo apantallado.

Las condiciones para que el potencial sea máximo y para que eI cam-
po sea nulo son una misma, a saber

âVs
Bx
= O

que aplicada a Ia (I1I,54) da

âx
âVs = L
211' âx
_â_ (_1
a +__
x ~)
x = ~~ ( :2 --- (a : x)2 ) = O

128
 MEDIOS ANISOTROPOS

Esta expresión se anulará cuando sea

O = n (a + X)2 - x2 = (n - 1) x2 + 2 a n x + n a2
Una de cuyas soluciones es
a -
Xl = -1--
-n (n + vn) (I1I,55)

En el punto S de abscisa Xh Ia derivada segunda deI potencial res-

pecto de x es negativa, según puede comprobarse, 10 que indica que en
dicho punto el potencial es máximo. La otra solución de Ia ecuación de
segundo grado no cumple tal condición.
Tal circunstancia parece en contradicción COll un teorema de Ia teo-
ría deI potencial que dice que no pueden existir máximos ni mínimos deI
potencial fuera de los manantiales, en este caso los electrodos, ya que en
el punto S no existe ninguno. La explicación de esta dificultad es que el
potencial deI punto S sólo es máximo respecto de un entorno en Ia recta
AQ. Si se considera el resto de Ia superficie deI terreno y se estudia Ia
variación deI potencial a 10 largo de una recta YY' normal a AQ por el
punto S y situada en dicha superficie, puede comprobarse que Ia derivada
segunda deI potencial respecto de Ia coordenada y es positiva en e1
punto S, 10 que corresponde a un mínimo. En otras palabras, en el punto
S no existe un máximo relativo deI potencial sino un punto de silla.
Terminaremos esta breve resena de los dispositivos compuestos con
Ia indicación de que éstos pueden considerarse como superposición de
dos o más dispositivos simples. El estudio de 10s dispositivos compues-
tos puede hacerse calculando separadamente los potenciales y campos
correspondientes a cada uno de los dispositivos simples que los consti-
tuyen, y sumándolos luego.
Cuando el potencial o el campo de un dispositivo compuesto sean
muy pequenos respecto de 10s valores correspondientes de 10s disposi-
tivos simp~es componentes, se hace necesario calcular estos últimos con
mucha precisión.

11I.12 MEDIOS ANISOTROPOS

11I.12.1 Ecuaciones generales

Si Ia corriente se propaga por un medio anisótropo, Ia densidad de

corriente J ya no coincide en dirección con el campo E por 10 que Ia
conductividad (T que expresa la relación entre uno y otro vector, no
será un escalar, sino un tensor:
J, = (Ti', E" (I1I,56)
129
CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAMENTALES

En Geoelectricidad, como hemos visto (apartado II 10.8), puede con-

siderarse que Ia anisotropía es deI tipo transversal, por 10 que. el elip-
soide tensorial es de revolución, y el tensor conductividad, referido a
sus valores propios, queda determinado por dos componentes <T.L Y <Til,
Se tendrá pues:
Jx = <Til Ex
lu = <Til Ey (I1I,57)
/z=<T.L Ez

Entonces Ia (IlI,6), expresada en sus términos cartesianos, tomará Ia

forma

\l . J = ax
aJx + ay
aly + -iJz
alz = <Tu ( iJx
DEx + iJy
aEy) + <T.L -7i~
aEz = O

y aplicando Ia (I1I,4) resultará

(I1I,58)
<Tu iJx2
( (j2U + iJy2
(PU) + <T.L (JZ2
{PU =O
ecuaclOn que sustituye, para el caso de media anisótropo, a Ia ecuación
de Laplace (lII,8). Para haBar el potencial U en dicho caso, bastará in-
tegrar Ia (IlI,58) 10 que puede hacerse por medio deI cambio de varia-
ble siguiente:
x = V<Tu ~

y = V<Tu1J (I1I,59)
Z = V<T.L r;,

La ecuación (III,58) queda entonces transformada en

iJ2U iJ2U iJ2U
ae + a1J2 + ar;,2 = O

que es nuevamente Ia ecuación de Laplace. Como sabemos, esta tiene Ia

solución

U = _l!:_ = K _ (I1I,60)
R (ç2 + ,? + r;,2)l/2
en Ia que no es preciso incluir una constante aditiva, ya que el poten-
cial ha de anularse en el infinito. EI potencial producido por un elec-
trodo puntual colocado en Ia superficie de un medio homogéneo trans-
130
 MEDIOS ANISOTROPOS

versalmente anisótropo, será el dado por Ia ecua.ción (111,60) que, des-

haciendo el cambio de variables, se transformará en

u= K _

[_1_
<Tn (X3 + if) + _1_
<T.l z3] lfi

expreslOn que, por sustitución de Ias conductividades, y teniendo en

cuenta Ia definición de anisotropía (apartado, 11, 10.8) toma Ia forma

u=------·-
+ + VPn (x3
K
if A3 Z2Y/3
(III,61)

de donde se deduce que Ias superficies equipotenciales debidas a un

electrodo puntual colocado en Ia superficie de un semiespacio homogé-
neo con anisotropía transversal, cumplen Ia ecuación

x2 + y2 + A 2 Z2 = cte. (IlI,62)

que indica que tales superficies equipotenciales son semielipsoides de

revolución de eje z. Eu cuanto a Ias líneas equipotenciales, son semi-
elípticas en cualquier plano vertical que pase. por el electrodo. Eu el
plano horizontal z = O (y 10 mismo en cualquier otro paralelo a él) Ias
líneas equipotenciales son circunferencias, de donde se deduce que Ia
presencia de anisotropía transversal de eje vertical no puede ser .descu-
bierta por medio de observaciones efectuadas en Ia superficie deI te-
rreno.
Cuando el eje z no es perpendicular a Ia superficie deI terreno, 10 que
ocurre, por ejemplo, en una formación monoclinal de pizarras, Ias ecua-
ciones anteriores deben modificarse. Para ello, tomaremos dos sistemas
de ejes (fig. 111-18), con origen O y ejes x y x' comunes, y coincidentes
O
y

FlG. III.18. Ejes coordenados para el estudio de un medio anis6tropo oblicuo

respecto de Ia superficie deI terreno.
131
CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAMENTALES

con eI rumbo de Ia estratificación (o de Ia esquistosidad). EI sistema

x y z tiene eI plano x y coincidente con Ia superficie deI terreno, mientras
que eI x' y' tiene Ia misma orientación que Ios planos de estratificación
(fig. IlI-19). Si es a eI buzamiento, igual aIos ángulos y y' y z z', pasa-
remos de un sistema a otro mediante Ia transformación
x' =x
y' = y cos a + z sen a (I1I,63)
z' =- y sen a + Z cos a
La ecuación (I1I,61) se escribirá ahora
K
u=
VPll (X'2 + y'2 + A2 Z'2)l/2

y se convertirá con Ia transformación anterior en

U = K [r + cos2 a + A2 sen 2 a) y2 +
VPn

+ (sen2 a + A2 COS2 a) Z2 + 2Y z (1- A2) sen a COS a]1/2 (I1I,64)

de Ia' que se deduce que Ia ecuación de Ias superficies equipotenciales

tiene Ia forma
x2 + Ly2 + MZ2 + 2 N yz = cte.
con
L= cos2 a +A 2 sen2 a
M = sen2 a + A2 COS2 a

N = (1 - A 2) seu a COS a

Estas superficies siguien siendo, pues, elipsoides de revolución, cuyas in-

tersecciones con Ia superficie deI terreno (líneas equipotenciales) tienen
Ia ecuación (con z = O)
x2 + y2 + (A2 -1) sen2 a.' y2 = cte. (11I,65)

por 10 que dichas equipotenciales serán elipses, cuya relación de semiejes

a y b vendrá dada por
a
--b = [1+ (N -1) sen2 aJl/2 (I1I,66)

Como a y b corresponden respectivamente aI rumbo y buzamiento

de Ia estratificación o de Ia esquistosidad, resulta que el eje menor in-
132
 MEDIOS ANISOTROPOS

dica Ia dirección de máxima pendiente. Cuando a = O los dos semiejes

son iguales, y Ia elipse es una circunferencia, según habíamos visto.
Hasta ahora no hemos determinado el valor de Ia constante K. Para
hacerlo es necesario efectuar algunas consideraciones previas.
En primer lugar,K tiene el mismo valor, tanto si el eje de anisotro-
pía z' coincide o no con Ia normal a Ia superficie deI terreno, por 10 que
consideraremos el primer caso, más sencillo.
En segundo lugar, calcularemos Ias componentes de Ia densidad de
corriente, que, en virtud de Ias (III,4), (III,S) y (III,61) serán
K x
Ix = Pn----a-;2 ---------

K Y
(III,67)
lu = n
-p3/2"

K z
'z = -p n3/2

En Ia tercera de Ias cuales ha desaparecido Pl. por estar también con-

tenido en A. Por 10 tanto, el módulo de J será

K (x2 + y2 + Z2)1j2
(III,68)
IJI = P n3/2 {",.2..L ,,2..L A 2 ~2\3i2

Si trazamos una semiesferaalrededor deI electrodo, el flujo de a I

través de ella será igual a Ia intensidad total 1; por otra parte, según se
deduce de Ias (III,67) Ia dirección deI vector J pasa siempre por el elec-
trodo, por 10 que dicho vector es siempre normal a Ia superficie semi-
esférica en cada punto; por consiguiente, podremos escribir:

1= J s J ds = J2~ J~/2 IJI R2 sen O dO drp

o o

donde R,O Y son Ias coordenadas esféricas de un punto cualquiera de

rp

Ia superficie, y R2 sen O dO drp el elemento de superficie esférica en dichas

coordenadas. Sustituyendo 1/1 por su valor
K R
IJI = Pn3j2 [R2 sen2 O + A2 R2 cos2 0]3t2
133
CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAMENTALES

que se deduce de Ia (III,68) por cambio de coordenadas, resulta

1, = _K
PU3/2 J2<
o J~/2
o R R2 sen e de drp
--;[:-;R:;;;2;-s-e-n72~e-+-A-'---2-R-2-c-o-s-2-(j-P-/2- =
-~ . ded-
- K
PU3/2 J2~
o f~i2
o [1 -1)e cos2 ep/2
+ (A2 sen rp -

= 2rr Kf~/2
PU3/2 o [1 + (A2sen,,-':'1)
e decos2 ep/2

que mediante el cambio cos e = u se transforma en

du 2rr K
1= 2rrKJI
P U3/2 _I [1 + (N= 1) U2]3/2 A PU3/2

de donde

K =A PU3/21
2rr
_ Pm pUl/21
2r.

Con
Pm = (Pu P J'y/2
(resistividad media).
Sustituyendo el valor de K en Ias ecuaciones (III,61), (III,64) y (III,67)
se obtiene respectivamente

U=_1_ Pm (III,69)
2rr (x2 + if + A2 Z2)1/2

(para el caso de que el eje de anisotropía sea vertical)

Ipm
U = -_[x2
2rr
+ (cos2" + A2sen2,,)?t +
+ (sen2" + A2 cos2 ,,) Z2 + 2 Y Z (1 - A2) sen " cos ,,]-1/2 (III,70)
(para el caso general)

I'" =~~2'rr Pu (x2 + y2 + A2

x
Z2)3/2

1 Pm Y
(III,71)
'v = '-2-rr- -P-u- -(X-,2-+-y-2 -+ A2 Z2)3/2

Iz
=_1_~
2rr pu (x2 + y2
z
+ A2 Z2?/2

134
 MEDrOS ANISOTROPOS

I/I = _1__
2rr
Pm
__
Pu
(_x2_+_if_+_Z_~1~f2 (11I,72)

(válidas cuando el eje de anisotropía es vertical).

11I.12.2 Consecuencias prácticas. Paradoja de Ia anisotropía

Si se efectúan mediciones geoeléctricas en Ia superficie· de un terreno

homogéneo con anisotropía transversal deeje vertical, Ias líneas equi-
.potenciales son circunferencias, 10 mismoque en el caso de medio isó-
tropo, según definimos másarrTha. Por consiguiente, el estudio de estas
líneas en Ia superficie deI terreno no puede revelar Ia anisotropía deI
medio.
Por otra parte, Ia distribución de potenciales en Ia superficie se ob-
tiene haciendo z = O en Ia (111,69)con 10 que resulta

u _ 1Pm 1. _ 1Pm 1 (III,73)

- 2;- (x2+ if?f2 - ~ -r-
que es Ia misma fórmula (111,12)para medio homogéneo isótropo, con Ia
resistividad 'de éste sustituida por Ia resistividad media deI subsuelo
anisótropo.
Puede concluirse, por 10 tanto, que un medio anisótropo transversal,
con eje de anisotropía vertical, es indistinguible, por mediciones de su-
perficie, de otro isótropo cuya resistividad sea Ia media Pm deI silbsuelo
anisótropo.
En cambio, cuando el eje de anisotropía no es vertical, Ia forma elíp-
tica de Ias líneas equipotenciales en superfície permite reconocer Ia ani-
sotropía deI medio. Si se conoce el· buzamiento a y Ia relaci6n a/b (que
puede obtenerse determinando en el terreno una línea equipotencial) es
posible calcular A despejándola en Ia fórmula (III,65).
. El potencial en superfície vendrá dado por Ia (111,70)con z = O, o sea

u = ~~{ x2 + [(N -1) sen2 a + 1]if} -1/2

(11I,74)

Como U depende de Ia anisotropía, será posible determinar el .valor

de ésta efectuando mediciones en Ia superficie deI terreno. Para ello
puede utilizarse un dispositivo Schlumberger que, para mayor sencillez,
supondremos asimétrico (trielectródico). Como su orientación puede ser
cualquiera será· conveni,ente pasar a coordenadas polares, llamando aI rp

azimut deI dispositivo respecto deI eje X. Entonces x = r cos rp; y = r sen rp,
y Ia (111,74)tomará Ia forma
135
CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAMENTALES

I Pm
U 2rrr~ [1+ (A2 -1)
= -. sen2 a sen2 9']-1/2 (III,75)

por 10 que el campo radial sería

au
2rr r [1 + (A2 -1) sen2 a sen2 9']
I Pm ..
E = - --ar = :--- -1/2 (III,76)

Entonces, .según Ia (III,29) con L = r y E = ~V/a) Ia resistividad apa-

rente observada será
Pa = Pm [1+ (A2 -1) sen2 a sen2 9']-1/2 (III,77)

y por consiguiente, depende en general deI azímut deI dispositivo. Si éste

tiene Ia dirección dei eje x, es decir, está orientado según el rumbo de Ia
estratificación *, rr = O y entonces Pu = Pm sea cual sea el buzamiento. Por
el contrario, si el dispositivo está orientado según el buzamiento (eje y)
será 'P = rr/2 y
Pa = pm [1+ (A2 -1) sen2 a]-1/2 (I1I,78)

que es función dei buzamiento a. Conocido éste es posible determinar A

mediante Ias dos mediciones indicadas.
Muy curioso es el caso en que Ia estratificación es vertical (a = rr/2).
La intuicíón nos dice que ai orientar el dispositivo paralelamente a Ia
estratificacíón obtendremos como resistividad aparente Pu Y con orien-
tacíón perpendicular a ésta, Pl.' Sin embargo, Ia intuicíón, como otras
muchas veces, engana en este caso, puesto que haciendo a = rr/2 en Ia
(III,7?) se tiene
Pa = Pm

Pa = Pm (para dispositivo según Ia estratificación)

Pa = :; = Pu (para dispositivo normal a Ia estratificación)

resultados muy diferentes de 10 esperado.

Incluso cuando el buzamiento no es vertical, se da Ia círcunstancia
de que Ia resistividad medida a 10 largo de Ia estratificación (Pm) es ma-
yor que" Ia observada en sentido perpendicular, según se deduce de Ia
(III,78) y en contra de 10 que parecía a primera vista. Estos fenómenos
reciben eI nombre de "paradoja de Ia anisotropía".

* En 10 que sigue, y por brevedad, se habIará de estratificaci6n para referirse

a Ias planos de máxima conductividad.
136
 MEDIOS ANISOTROPOS

11I.12.3 Condiciones de contorno

Las condiciones de contorno para medios anisótropos no son en ge-

neral Ias mismas para medios isótropos ya consideradas en el apar-
tado III.3 de este mismo capítulo.
Antes de establecer tales condiciones, hay que expresar matemática-
mente el hecho de que en los medios anisótropos, Ias líneas de .corriente
no son ortogonales a Ias equipotenciales. Para demostrar1o, y obtener Ia
ley de refracción correspondiente aI caso de anisotropía transversal, único
que consideraremos, utilizaremos Ia figura III-19. En ella, los ejes z y x
corresponden respectivamente a Ia dirección principal o eje de anisotro-
pía y a una normal cualquiera a ésta, o sea paralela a Ia estratificación.
En Ia figura se indican además una línea de corriente " dos equipoten-
ciales mu)' próximas U y U + t,U y los ángulos a y (3 que Ia equipoten-
cial U determina con J y con U. Entonces puede escribirse
õU õU
, sen (3 ='x = (T",-- = (Tx--
/';.x PQ
õU õU
, cos (3 ='z = (Tz-- = (Tz--
õz PR

de donde se deduce que

(Tx PR pz PR A2
tg(3 = - -- = - - =-
(T z PQ px PQ tg a

o sea,
tga·tg(3=N (III,79)

/x
//
//
//
//
J

U+âU
FIG. III-19. Angulo entre Ia densidad de corriente y Ias equipotenciales,
en medios con anisotropía transversal.

137
CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAMENTALES

EI ángulo + (3 entre Ia equipotencial y Ia densidad de corriente po-

rx

drá calcuIarse por

tg + tg (3
rx N+ tg2 rx
(I1I,80)
tg (rx + (3) = I _ tg rxtg (3 = (l - A 2) tg rx

Cuando A = 1, esto es, cl,lando el medio es isótropo, se obtiene Ia

éondición de ortogonalidad entre equipotenciales y líneas de corriente
(rx + (3) = 11"/2]. Cuando = 11"/2, o (3 == 'Ir/2, entonces (3 = O o = O res-
rx rx

pectivamente. Es decir, que Ia condición de' ortogonalidad sólo se cum-

pIe en los medios anisótropos cuando Ia equipotencial (o Ia línea de co-
rriente) considerada es paralela a uno de los ejes x o z.
Ahora pueden establecerse Ias condiciones de contorno para el límite
plano entre dos medios conductores transversalmente anis6tropos; cuyos
ejes de anisotropía z son perpendiculares a dicho límite,
Este es el caso más frecuente e importante en Ia práctica.
a) EI potencial es continuo, es deci.r, V' = V" en el plano de se-
paración. Esto se prueba deI mismo modo que en el caso de medios
isótropos.
b) También es continua Ia componente normal de Ia densidad de
corriente
Iz' = 1/' (III,al)
Vale Ia misma argumentación que en el caso de isotropía.
c) Existe discontinuidad en Ia componente transversal deI campo,
ya que de Ia anterior expresión se deduce
E' z (T./ = E/' (T/' (I1I,82)
d) La componente longitudinal deI campo es continua. Aquí también
es válido el razonamiento aplicado en el apartado III.3 para medios is6-
tropos. Entonces
Ex' = Ex" (1II,83)

e) La superficie límite es de discontinuidad para Ia componente tan-

gencial r. de Ia densidad de corriente; en efecto, de Ia igualdad ante-
rior se deduce

-.li..-
(Tu
, = (TuI " x"
(I1I,84)

f) La ley de refracción de Ias líneas de corri ente puede establecerse

mediante Ia figura III-20. De ella se deduce que
138
 ANALOGIA ELECTROSTATlCA

tg(3' = E.
I/ '
tg (3" = I,,"
1/'
de donde, teniendo en cuenta Ias (111,77) y (111,80) resulta Ia ley de refrac-
ción buscada que será
Pu' tg (3' = Pu" tg (3" (1II,85)

g) En cuanto a Ias equipotenciales, como sus ángulos de incidencia

cumplen Ia condición (111,79) en cada uno de 10s medios
tg ,/ . tg (3' = A'2
tg a" • tg (3" = A"2
•
se tendrá, utilizando Ia definición de A,
P'.l ctg a' = p" .l ctg a" (1II,86)

J~

J~

FIG. IlI-20. Refracción de líneas de corriente en medios

transversalmente anisótropos.

11I.13 ANALOGIA ELECTROSTATICA

La difusión de corrientes eléctricas de intensidad constante a través

de medios tridimensionales es análoga, matemáticamente, a los campos
electrostáticos producidos por cargas eléctricas.
En efecto, en el caso electrostático, se cumple en todo punto donde
no haya cargas que
V·D=O
139
 CONCEPTOS Y DISPOSITIVOS FUNDAMENTALES

siendo D el vector inducción O desplazamiento. En el caso electrociné-

tico tenemos que
'V·J=O (I1I,6)
I[

II Una carga eléctrica puntual Q en medio homogéneo de constante dieléc-

I
trica E crea un potencial electrostático P

p=!L..
4rr
1
--r- e

mientras que el potencial electrocinético U debido a un manantial pun-

tual de intensidad I es

U=-·-=--
Ip 1
r4rr
I
4rro-
1
r

que es Ia fórmula (IlI,12) para espacio homogéneo en vez de semiespacio,

por 10 que el 2rr debe sustituirse por 4rr.
El campo electrostático E' puede definirse por
E'=-'VP
mientras que el eIectrocinético E viene dado por
E=-'VU
Además a Ia ecuación electrostática

D = eE
corresponde Ia electrocinética
J=o-E
Se deduce de Ias ecuaciones anteriores que entre unas y otras magni-
tudes puede estabIecerse Ia correspondencia siguiente:
Q~I
P~U
E'~ E
D -+-+- J
e~o-

Esta correspondencia no se extiende a Ios campos magnéticos, ya que

Ias ecuaciones electrostáticas
H=O B=O
140
 ANALOGIA ELECTROSTATICA

no son homólogas de Ias

\7xH=J \J ·B=O
que corresponden aI caso electrocinético de corriente constante.
Para Ia resolución de cualquier problema de distribución de corrientes
continuas en medios tridimensionales, puede pasarse aI caso homólogo
electrostático utilizando Ia correspondencia anterior. EI nuevoproblema
puede estar ya resuelto en algún tratado clásico de Electricidad. AIgunos
ejemplos pueden verse en ORELLANA (1959). Véase también el aparta-
do IV.16.

141
Capítulo IV
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO
VER l1CAL

IV.1 DEFINICION V GENERALIDADES

Se llama sondeo eléctrico a una serie de determinaciones de resisti-

vidad aparente, efectuadas con el mismo tipo de dispositivo y separación
creciente entre los electrodos de emisión y recepción. Cuando el dispo-
sitivo empleado es simétrico, o asimétrico con un e1ectrodo en el "infi-
nito", y durante Ia medición permanecen fijos el azimut deI dispositivo
y el centro deI segmento MN, suele denominarse Sondeo Eléctrico Ver-
tical.
Dicho nombre será representado en e1 presente Iibro por Ia sigla SEV,
a Ia que corresponden en inglés VES (Vertical Electrical Sounding) y en
ruso VEZ (Vertikal'noe elektricheskoe zondirovanie). *
Los datos de resistividad aparente obtenidos en cada SEV se repre-
sentan por medio de una curva, en función de Ias distancias entre elec-
trodos. Para que ello sea posible, es necesario que estas distancias pue-
dan expresarse por una sola variable, pues de 10 contrario habrÍa que
recurrir a una superficie y no à una curva. Esta condición puede cum-
plirse de dos modos: bien por el empleo de un dispositivo en el que Ia
configuración de electrodos permanezca siempre geométricamente seme-

* EI autor opina que el nombre y Ia sigla indicados son los más convenien-
tes y específicos, y preferibles a los de "sondeo eléctrico" (SE) utilizado por Ia
escuela francesa, "Sondeo de Resistividad" ("Resistivity Sounding") y "Ensayo de
profundidad" ("Depth Probe") usadas por algunos autores anglosajones, Ia últi-
ma ya en desuso.

142
 PENETRACION

jante a sí misma, que es el caso deI dispositivo Wenner, bien por Ia uti-
lización de dispositivos en los que sólo influya una distancia. Esto último
es 10 que ocurre con el dispositivo Schlumberger, en el que Ia distancia
MN se considera nula frente a Ia AB.
Cuando se utiliza este dispositivo, Ias resistividades aparentes Pa se lle-
van en ordenadas, y en abscisas Ias distancias OA=AB/2. Para el dispositivo
Wenner, se llevan en abscisas los valores sucesivos de Ia distancia a. Las
escalas sobre ambos ejes han de ser logarítmicas, por razones teóricas y
prácticas que se expondrán más abajo. La curva así obtenida, se denomi-
na curva de SlfV, curva de campo o curva de resistividad aparente.
En este capítulo, mientras no se advierta 10 contrario, nos ocuparemos,
exclusivamente deI dispositivo Schlumberger, dado su mayor valor prác-
tico respecto deI de Wenner.
La finalidad deI SEV es .averiguar Ia distribución vertical de resisti-
vidades baja el punto sondeado. La mayor eficacia deI método corres-
ponde aI caso ep. que los SEV se efectúan sobre un terreno compuesto
por capas lateralmente homogéneas en 10 que respecta a Ia resistividad,
y limitadas por planos paralelos a Ia superficie deI terreno (media estrati-
ficado). La experiencia demuestra que los resultados teóricos obtenidos
para medias de esta clase, son tolerablemente válidos para estratos incli-
nados hasta unos 30°.

EI problema
deducir con quevertical
Ia distribución se enfrenta el geofísico inter:pretador,
de resistividades es el de
en el punto sOIJ.deado,
partiendo de Ia curva de resistividades aparentes suministrada por el
SEV. La resolución de este problema, que podemos llamar inverso, exige
Ia previa solución y estudio deI problema directo, esto es, el de deter-
minar Ia curva de resistividades aparentes que se obtendrá con un dis-
positivo determinado, sobre un subsuelo cuya distribución de resisti-
vidades se conoce.

iV.2 PENETRACION

AI considerar 10 dicho anteriormente, se presenta de inmediato Ia

cuestión de cómo se delimita Ia zona explorada por cada SEV consi-
derado individualmente, o dicho de otro modo, cuál será Ia parte de te-
rreno que influye en Ia información suministrada por cada SEV.
En tratados antiguos sobre prospección era costumbre incluir· una
fi~ura, acompafiada por el correspondiente texto, según Ia cual, el bloque
de terreno afectado por Ias corrientes de Ull circuito de emisión AB, era
un paralelepípedo de dimensiones perfectamente determinadas en rela-
143
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

ción con Ia distancia AB. La' realidad no es tan sencilla, ni mucho me-
nos, según se verá a continuación.
Nos ocuparemos en primer lugar de si puede determinarse, de modo
claro y unívoco, Ia profundidad máxima sobre Ia que un SEV propor-
ciona información.
Supongamos que los electrodos A. y B están situados en Ia superficie
plana de un subsuelo homogéneo de resistividad p. Vamos a calcular
cómo varía Ia densidad de corriente, en función de Ia profundidad z, a
10 largo de Ia línea recta,' perpendicular a Ia superficie, que pasa por el
centro O dei segmento AB (fig. IV-I)
Sea 1 = ABJ2.

{
"
"a
?
I E ./ /'
J-
"- I "-
"'" "-
P /'E
/'
"-"-,,- ~IZ 8/'"/'
~

FIG. IV-l. Determinaci6n de Ia densidad de corrieute en un semiespacio homogéneo.

EI módulo dei campo eléctrico E debido aI eleetrodo A, valdrá en el

punto P de profundidad z
1 1
EA=--Ip
21T
-=-
r2
Ip
21T
---
(lJ + Z2)

Análogamente,

EB = z;-
Ip
([J
1
+ Z2)
= EA
Por inspección de la figura es fácil probar, en razón de simetría, que
Ias dos componentes verticales dei campo son iguales y opuestas, mien-
tras que Ias horizontales son iguales y deI mismo sentido, por ser· A y
B de distinta polaridad. Por 10 tanto, el campo total E será
cos
E = 2 EA COS (J. = --Ip --,----
+
1T (12
(J.

Z2)

144
 PENETRACION

y de aquí, por ser cos a = (P: 2;2)1/2 ,Ia densidad de corriente a Ia pro-
fundidad z, es
1
I. = _E_ = _1 1__ = _1_ (IV,l)
p 1f' (12 + Z2)3/2 1f'
P(1+ ;2)3/2
que nos dice que en un medio homogéneo, Ia densidad de corriente dis-
minuye gradualmente con Ia profundidad, según Ia ley indicada, en el
eje vertical deI dispositivo de dos electrodos.
Supongamos ahora que el punto P se desplaza una distancia y per-
pendicularmente aI plano deI dibujo. Entonces valdrán las fórmulas y
razonamientos anteriores, sin más que sustituir Z2 por Z2 + if. Tendre-
mos, pues,
I 1

Iz,u = -;- P ( 1+ ZZ ; !I f/2

Se puede ahora calcular Ia fracción F de Ia corriente total que cir-
cula por encima de una profundidad cualquiera zo, para 10 cual habrá
que efectuar una doble integración:

F = +f~fOO o _00 Iz,u dy dz = 11'1[2

• f~fOO
_00 + ~~ i)
o.
( 1 ZZ ; 3/2

Para mayor comodidad, tomemos 1 como unidad de longitud ponien-

do z' = z/l; y' = y/l. Entonces '

F = -1f'-
1 fZ'o o foo_00 (1 + dy' + y'ZY/2
Z'2 dz' = -;-2 f"oo + 2;'2)
-(1 dz' =
= --1f'2 tg-1 z'o
2
= --1f' tg-1_- 1
Zo
(IV,2)

De Ia fórmula se deduce que Ia mitad de Ia corriente I circula por

encima de Ia profundidad z = 1 y el 70,6 % de I pasa por encima de Ia
profundidad z = 2 1 = AB.
Naturalmente, Ias zonas más profundas influirán menos en el poten-
cial observado en superficie, aI ser menor en ellas Ia densidad de co-
rriente. No obstante, no es posible fijar una profundidad límite por de-
bajo de Ia cual el subsuelo no inflUye en el SEV, ya que Ia densidad de
145
TEORIADEL SONDEOELECTRICOVERTICAL

corri ente disminuye de modo suave y gradual, sin anularse nunca, según
nos indica Ia ecuación (IV,I).
AI aumentar Ia separación AB aumenta en Ia misma proporción Ia
profundidad a que corresponde una determinada densidad de corriente,
por 10 que podría pensarse que Ia "penetración" es proporcional a AB.
Esto sin embargo, no es cierto en general, puesto que Ias. fórmulas ante-
riores sólo son válidas para subsuelo homogéneo. En un medio estratifi-
cado, o simplemente heterogéneo, Ia densidad de corriente variará según
una ley diferente en cada caso, por 10 que Ia penetración dependerá de
Ia distribución de resistividades en eI subsuelo. Por otra parte, en Ia
práctica, no se conoce de ante<mano Ia distribución de resistividades
(pues de conocerse, no sería preciso efectuar SEV aIguno) por 10 que no
es posible conocer "a priori" qué penetración se logrará.
Hemos supuesto hasta aquí que el efecto de una capa en Ias poten-
ciales o campos observados en superficie depende únicamente de Ia den-
sidad de corriente que Ia atraviesa. Pero esta suposición es falsa, porque
también influyen otros factores, como Ia profundidad de Ia capa. Este
hecho, olvidado frecuentemente, ha sido puesto en evidencia en un re-
ciente. trabajo de los geofísicos indios Roy y ApPARAO (1971). Estos au-
tores indican que Ia repartición y penetración de Ia corriente, para un
subsuelo de características dadas, depende exclusivamente de Ia posición
de los electrodos de corriente, mientras que eI efecto observado en su-
perficie depende también de Ia colocación de Ias electrodos de potencial
respecto de Ias primeros. Esto queda muy claro mediante un ejemplo de
Ios mismos autores: Si se cambian entre sí Ias posiciones de Ias electro-
dos de potencial con Ias de corriente, Ia distribución de Ias líneas de
corriente cambia por completo, y sin embargo, en virtud deI principio de
reciprocidad (apartado 111,6) Ia resistividad aparente observada será Ia
misma, y por 10 tanto, Ia penetración no se habrá modificado.
Los citados autores, así como Roy (1972), han estudiado Ia "penetra-
ción" de diversos dispositivos, tomando Ia citada magnitud como "Ia pro-
fundidad a Ia que una capa delgada de terreno contribuve con partici-
pación máxima a Ia senal total medida en Ia superficie deI terreno·', de
acuerdo con Ia definición de EVJEN (1938). Los resultados de estos auto-
res se refieren a medios homogéneos, por 10 que no son aplicables aIos
medias reales con que eI geofísico prospector se tiene que enfrentar.
En resumen, el concepto de penetración de un SEV, tan claro a pri-
mera vista, depende de muchos factores, y no puede establecerse fácil-
mente, y mucho menos "a priori". Por consiguiente Ias antiguas regIas
"empíricas" que atribuían Ios valores observados en superficie a una de-
terminada profundidad, igual a una fracción fija de Ia distancia entre Ios
eleCtrodos de corriente, carecen por completo de base, y en muchos casos
no se acercan ni remotamente a Ia realidad.
146
 EFECTOS LATERALES. PUNTO DE ATRIBUCION

Puede ocurrir, incluso, que Ia penetración de un SEV no crezca con

Ia distancia AR, desde un cierto valor de ésta. Esto sucederá siempre
que a una cierta profundidad Zo exista una capa perfectamente aislante
o perfectamente conductora, pues eri tal caso, Ia corriente no podrá pa-
sar por debajo de dicha capa, por 10 que Ia penetración de un SEV efec-
tuado en estas condiciones, no podrá ser nunca superior a Zo por mucho
que se aumente Ia distancia AR. Eu.Ia práctica se dan casos de este tipo
en formaciones donde existen capas muy resistivas, generalmente de
anhidrita.
Volveremos a ocuparnos de esta cuestión, desde un punto de vista
práctico, en eI capítulo V.

IV.3 EFECTOS LATERALES. PUNTO DE ATRIBUCION

No debe creerse que Ias resistividades aparentes medidas por un SEV

dependan únicameute de Ias resistividades verdaderas presentadas por
aquellas zonas deI subsuelo que se encuentran bajo eI segmento AB. Por
ejemplo, consideremos el caso (fig. IV-2), de un subsuelo compuesto por

A X

M •
<E----
N •

B X FIG. IV-2. Dispositivo electródico próximo

a un contacto vertical (en planta).

f. f2

dos partes de diferente resistividad Pl y P2' cuya frontera es un plano

vertical. Si efectua~nos un SEV sobre el primeI' medio, con dispositivo
147
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

orientado paralelamente aI plano de separación, Ias líneas de corri ente

que unen A yB sufrirán refracción aI pasar deI medio 1 aI 2, y 10 mismo
ocurrirá a Ias equipotenciales, por ser ortogonales a Ias primeras. Por
10 tanto, Ia diferencia de potencial ti. Ventre M y N se verá afectada por
Ia presencia deI medio 2 y este efecto se hará tanto más marcado cuanto
mayor sea Ia distancia A B re~pecto de Ia deI centro O aI plano de sepa-
ración. Esto constituye un caso de efecto lateral, el cual sería mucho
más marcado si no existiese paralelismo entre el dispositivo y el plano
de separación, y el electrodo A o el B penetrasen en el segundo medio.
Se deduce de esto que Ias resistividades aparentes determinadas por
un SEV están influidas por Ia distribución de resistividades en un cierto
volumen de terreno, el cual resulta de difícil evaluación, no sólo porque
Ia atenuación con Ia distancia de Ia densidad de corri ente es gradual, sino
porque Ia perturbación producida por una determinada heterogeneidad
varía con el contraste de resistividad que presenta respecto deI medio
que le rodea y puede hacerse notar a distancias mayorês si aumenta di-
cho contraste.
En estas condiciones, no resulta claro cuál es el punto de atribución
de un SEV, esto es, el punto deI terreno a cuya vertical deben atribuirse
tos resultados obtenidos por el SEV. Por evidentes razones de simetría,
se 'toma como punto de atribución de cada SEV el centro O deI dipolo
MN, pero no debe olvidarse que Ia medición está influi da por un voIu-
men de terreno más o menos grande. *
Sin embargo, en el SEV es predominante el efeCto de Ias formacio-
nes situadas bajo el centro O.

IV.4 MEDIOS ESTRATIFICADOS. CORTES GEOELECTRICOS.

NOTACION Y NOMENCLATURA

Consideremos un medio estratificado general, compuesto por dos se-

miespacios. EI primero de ellos, de conductividad nula, representa Ia at-
mósfera; el segundo, que representa el terreno, es un medio heterogêneo
compuesto de medios parciales homogêneos e isótropos, de extensión la-

* Esta ap3.rente inferioridad dei SEV frente aI sondeo mec;ánico. se convierte

a veces en ventaja, pues Ia información dada por eI SEV resulta menos afectada
por condiciones puramente Iocales. EI autor recuerda casos en Ios que aI tratar
de determinar Ia profundidad deI firme granítico en 105 estudios previos para una
presa, Ias mediciones eléctricas indicaban profundidades, mucho mayores que al-
gunos sonde os mecánicos de orientación. Posteriormente pudo comprobarse que
Ios últimos no habían cortado el granito firme, sino bolos sueitos, 10s cuales,
por su reducido tamaiío, no influyeron en Ias mediciones eléctricas.

148
 MEDIOS ESTRATrFICADOS. CORTES GEOELECTRICOS

teral indefinida y cuyas superficies de separación son paralelas entre sÍ

y aI plano aire-terreno (fig. IV-3).
Para caracterizar cada medio estratificado, bastará dar el espesor Ei
y Ia resistividad Pi de cada medio parcial isótropo de Índice i, numerando
éstos de arriba abajo, esto es, comenzando por el medio contiguo aI
semiespacio que representa Ia atmósfera. Cada uno de estos medios par-
ciales será denominado capa geoeléctrica. Las distancias de Ia superficie

----zo=O

I! lÇ
~----Z2=EI+E2 Z,.E,

íJ
1-"-1 JEn-,
.~_____ Z =E+
n-4 1 + En-l
!?
FIG. IV-3. Corte geoe1éetrico estratificado y su notación.

límite aire-tierra a cada una de Ias demás, o sea Ias profundidades de los
"contactos" respectivos se representarán por ZI, z~, Z:b etc.
La especificación de espesores y resistividades de cada medio estrati-
ficado deI tipo descrito, recibe el nombre de corte geoeléctrico. Un corte
geoeléctrico compuesto por n capas requiere para su especificación el
conocirniento de n resistividades y n - 1 espesores o n -- 1 profundi-
dades (puesto que Ia última capa, denominada sustrato, tiene siempre
espesor infinito) o sea en total 2 n ~ 1 parámetros.
Los cortes geoeléctricos pueden c1asifiearse atendiendo aI número de
capas que 10s componen. Los cortes deI mismo número de capas pueden
subdividirse según el orden en que aparezcan, en los sucesivos contac-
tos, resistividades mayores o menores que cn Ia capa suprayacente.
Para el uso más cómodo de esta c1asificación, es muy conveniente es-
tablecer algún sistema de notaCión. Emplearemos aquí Ia seguida por los
autores soviéticos. cuyo origen exacto desconocemos y que ha sido in-
troducida hace pocos anos en Occidente (ORELLANA, 1965; ORELLANA Y
MOONEY, 1966; KELLER Y FRISCHKNECHT, 1966; BHATTACHARYA y PATRA,
1968, y otros).
Los símbolos de esta notación son 10s siguientcs:
149
TEORIADEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

Los cortes de dos capas, de Ios cuales existen dos tipos (P1 < Pa
a)
Y P1 > Pa)
no llevan símbolo especial.
b) Las letras latinas * I-l, K, Q, A, representan respectivamente Ios
cuatro tipos posibles para cortes geoeléctricos de tres capas que son:
Tipo I-l:
1. P1> Pa < Pa

2. Tipo K: P1 < Pa> Pa

3. Tipo Q: P1 > Pa> Pa

4. Tipo A: P1 < Pa < Pa

c) Los cortes de cuatro capas se distribuyel1 en 8 grupos, que se

designan como combinación de Ios anteriores; para ello se consideran Ias
tres primeras capas y se Ies asigna Ia letra correspondiente de Ia lista
anterior; Iuego se hace 10 propio con Ias tres últimas capas. Así, eI tipo
<
AA corresponde a Ia combinación de resistividades P1 P2 < Pa P4 Y eI <
I-lK a P1 > Pa < Pa > P4' Sólo son posibles los tipos siguientes:

I-lK,I-lA,KI-l,KQ
QQ, QI-l,AK,AA

Los tipos KK, I-lI-l,I-lQ, etc., carecen de sentido, pues implican condi-
ciones contradictorias.
d) Los cortes de cinco o más capas se simbolizan siguiendo eI mis-
mo método. Se consideran en prime r lugar Ias tres primeras capas y se
Ies asigna Ia letra correspondiente indicada en eI párrafo b); luego se
hace 10 mismo con Ias capas segunda, tercera y cuarta, después con Ias
tercera, cuarta y quinta, etc.
Dado un tipo de corte geoeléctrico de n - 1 capas, pueden deducirse
de éI dos tipos diferentes de cortes de n capas, según que Ia que se afiada
(por debajo de Ia última, dando a ésta previamente espesor finito) sea
más conductora o más resistiva que Ia anterior. Para eI caso de dos
capas existen dos tipos: Iuego, en general, existirán 2"-1 tipos de n
capas.
En Ia figura IV-4, se dan aIgunos ejempIos de distribuciones de resis-
tividad con indicación deI tipo de corte a que pertenece, según Ia notación
expuesta. Las profundidades se representan en abscisas, y Ias resistivi-
dades en ordenadas.
Si aI representar gráficamente Ia distribución de resistividades en nn
corte geoeIéctrico empleamos escalas Iogarítmicas en ambos ejes, se ob-

* EI desconocimiento de que se trata de letras latinas hizo que algunos tra-

ductores deI Geophysical Abstracts, trasliterasen Ia H en N, tomando a Ia pri-
mera por letra cirilica, cuando en realidad se trata de Ia inicial deI apellido deI
geofísico alemán J. N. Hummel.
150
 MEDIOS ESTRATIFICADOS. CORTES GEOELECTRICOS

tendrá una gráfica escaIonada deI mismo tipo que Ias representadas en
Ia figura IV-4 aunque que dará modificado eI tamano de Ios escalones.
Llamaremos a estos gráficos Iogarítmicos curvas de resistividades verda-
deras (abreviada mente CRV).
Si, dado un corte geoeIéctrico, cambiamos Ias resistividades Ph P2, P3,
etc., por sus valores respectivos Pl-t, P2 -t, P3 -t, etc., y conservamos fijos
Ios espesores Eh E2, etc., eI nuevo corte se llama recíproco deI anterior.
Teniendo en cuenta Ias propiedades de Ia representación Iogarítmica re-

CORTES DE DOS CAPAS

P,>f? f?<f?

CORTES DE CUATRO CAPAS

I; <!?<f,<;?
p
PI ~ ~--
p~--z z

CORTES DE TRES CAPAS

LíJZ
ZZ
lI!
I(>p'</J" I, Z Tipo K
TipoZ AA
IP' z

r
P,<t;>~ p'>;?<p'>P.
o Q
~--
P,>fJ,> IJ,
I
po HK

p~
p~--

FIG. IV-4. Curvas de resistividad verdadera (CRV) para diversos cortes geoeléctricos.
Nomenclatura de 10s tipos de cortes.

sulta que, si dos cortes son recíprocos entre sí, sus respectivas CRV
serán mutuamente simétricas respecto deI eje de abscisas (p = 1). Esta
simetría de Ias cortes recíprocos será utilizada más adelante.
151
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

IV.S RESOLUCION DEL PROBLEMA DIRECTO PARA

MEDIOS ESTRATIFICADOS

E1 problema directo de Ia Prospección Geoeléctrica sobre medios estra-

tificados es el de Ia determinación deI potencial producido en Ia superficie
límite aire-tierra de un medio de este tipo por una fuente puntual de co-
rriente situada en dicha superficie. Resuelto este problema, Ia solución
hallada puede extenderse, por superposición, aI caso de varias fuentes
puntuales (electrodos de emisión), y en general a cualquier dispositivo
electródico, salvo que éste fuese deI tipo Schlumberger. En este caso
se requiere el conocimiento deI campo eléctrico en Ia superficie deI te-
rreno, por 10 que se hace preciso el cálculo, por derivacián, deI gradiente
deI potencial hallado.
Dos son los métodos principales que se han utilizado para abordar
el problema propuesto, los cuales son equivalentes' en último término.
El primero de ellos, cronológica mente, es el método de Ias imágenes,
empleado ya para medios estratificados por J. C. Maxwell en Ias páginas
443 y siguientes deI volumen I de su célebre Tratado (MAXWELL, 1891)
y aplicado a Ia Prospección Geoeléctrica por el geofísico alemán J. N.
HUMMEL (1929). El segundo método es Ia integración de Ia ecuación de
Laplace aplicada aI caso de medios estratificados.

IV.S.1 Método de Ias iniágenes

No es necesario describir aquí el método de Ias imágenes, amplia-
mente usado en Ia teoría de Ia Electricidad. En este caso, el problema se
complica, pues surge una serie infinita de imágenes, como puede verse
tomando como ejemplo el caso más sencillo de medio estratificado que
es el corte geoeléctrico de dos capas.
Sean rI> r~ Ias resistividades de Ias dos capas, E el espesor de Ia pri-
mera, y r Ia distancia deI punto de observación M aI electrodo de emi-
sión A situado en Ia superficie deI terreno y considerado como fuente
puntual de corriente (fig. IV -10). En ausencia de Ia segunda capa, el po-
tencial UM observado en el punto M seda

UM = lpl
2rr
_1_
r -_ -r-
e (III,12)

donde se ha representado por e (emisividad) a Ia fracción que multiplica

a Ia inversa de r.

El efecto de Ia segunda capa se suele calcular en el método de Ias

imágenes mediante Ia· inclusión de una fuente ficticia o imagen AI>de
152
 RESOLUCION DEL PROBLEMA DIRECTO PARA MEDIOS ESTRATIFICADOS

X A2

f
Ar---;---jM
I I
IE 12E I_
V i I
I I
A.* '4E
I
I
I
I
+
A3 X

FIG. IV-5. Cálculo deI potencial en Ia superficie de un corte de dos capas,

por el método de Ias imágenes.

ubicación simétrica de Ia de A respecto deI contacto entre Ias dos capas,

y de emisividad Ke donde K es el llamado factor d'e reflexión

K = P2-Pl (IV,3)
P2+Pl
pero, por existir dos superficies límites, AI se reflejará en Ia deI terreno,
produciendo una fuente fictícia A2 simétrica, respecto de dicha superfí-
cie, Ia cual se reflejará a su vez en el contacto entre Ias dos capas y asÍ
sucesivamente, obteniendo Ia serie ínfinita de imágenes enunciada.
Las distancias de estas imágenes aI punto M pueden calcularse me-
diante Ia expresión general

f" = [r2 + (2 nE)2r/2 (IV,4)

donde rn es Ia distancia A"M, pues Ias distancias verticales aI suelo se

incrementan a cada reflexión en el valor 2 E.
Por otra parte, Ias emisividadesde Ias fuentes imagen A" se obtie-
nen multiplicando por el mismo f.actor K cuando el reflector es el con-
tacto entre Ias dos capas y por Ia unidad cuando se trate de Ia superfi-
cie tierra-aire, por ser infinita Ia rcsistividad deI aire. Por 10 tanto, Ias
emisividades de Ias sucesivas fuentes imagen serán respectivamente:
153
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

A e
A1 Ke
A2 Ke
Aa K2e
A~ KYe

Obsérvese que Ia distancia y emisividad de Ias fuentes A2n_1 y A2n son

iguales. EI potencial en M será Ia suma deI debido a Ia fuente real y a
todas Ias imágenes, Ias cuales pueden agruparse por pares, en virtud de
10 anterior. De modo que se escribirá finalmente:

(IV,5)
UM = 2;-
pi (1-r- + 2 ll~00 (r + 4n2P)1/2
Kn )

serie de lenta convergencia, que resuelve el problema propuesto. Cuando

bay más de dos capas, Ia cuestión se complica notablementc, por 10' que
es preferible obtener Ia solución por otro método, como el que se expone
a continuación.

IV.5.2 La integral de Stefanescu

Intentaremos resolver el mismo problema de dos capas, planteado en

forma de ecuación diferencial. Utilizaremos ,un sistema de coordenadas
cilíndricas r, z, con su origen en el electrodo
rp A. En todos los puntos
deI espacio, excepto el origen, el potencial habrá de cumplir Ia ecuación
de Laplace
':j2U=O (III,S)

según se vio en el capítulo lU. En este caso, Ia citada ecuación, en coor-

denadas cilíndricas, se escribirá simplemente

1 au
-~+~-+-=O
{PU
ar r ar
a2u
az2 (IV,6)

ya que que el término en se anula por Ia simetría deI problema. Como

rp

Ia laplaciana deI potencial no se anula en el origen, se trata de un pro-

blema no bomogéneo, cuya solución será Ia suma de Ia solución general
deI problema homogéneo con una integral particular deI no homogéneo.
154
 RESOLUCION DEL PROBLEMA DIRECTO PARA MEDIOS ESTRATIFICADOS

Comenzaremos por- buscar Ia soIución general deI problema homo-

géneo, por el método de separación de variables, poniendo
U = R(r) . Z(z) (IV,7)
Sustituyendo esta expresión de U en Ia (IV,30) se llega a

(IV,8)
R(r) dr2 + --r-
1 (dJR dR) + Z(z)
1 Ci;:- 1 CPZ
dz2= O

donde Ias derivadas parciales se han convertido en totales, por ser, tanto
R como Z, funciones de una sola variable.
Para que se verifique Ia última ecuación, cuyos dos términos son in-
dependientes entre sí, por ser función de variables distintas, ambos tér-
minos habrári de ser iguales a un mismo parámetro, pero con signos
opuestos. Sea este parámetro. Entonces
),,2

----=)"
1 cPZ 2

Z(z) dz2
(IV,9)

R(r) dr2 + -r-1

1 (dJR dr
dR) =_),,2

cuyas soluciones respectivas son

Z(z) = e±),z
(IV,IO)
R(r) = Jo~À r)
donde JoC)" r) es, como. de costumbre, Ia funci6n de BesseI de primera es-
pecie y orden cero. Cualquier combinación lineaI

(A' e-),z + B' éZ) lo()"r)

de Ias dos súluciones será soIuci6n de Ia ecuación homogénea (IV,8);

Ia combinación más general se obtendrá haciendo que los coeficientes
arbitrarios A' y 13' sean funciones deI parámetro )..,e integrando respecto
de esta variable desde cero hasta infinito: '

u = J~[A'(),,) e-),z + B'(),,) éZ] lo()"r) d)"

(IV ,lI)

Para obtener Ia solución general deI problema no homogéneo, suma-

remos a Ia solución general (IV,lI) deI homogéneo una solución parti"
cular deI prhnero. Entre éstas, Ia más sencilla es Ia correspondiente a- un
semiespacio uniforme de resistividad Pl ya estudiada (apartado lU, 2) Y
que es
155
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

V= Ipl __ 1 (IV,12)
211" (r2 + Z2)1!2
o sea Ia (IlI,9) en el sistema de coordenadas ahora utilizado. A fin de
poder expresar Ia suma de Ias dos soluciones en forma más compacta,
puede utilizarse Ia conocida integral d~ Weber-Lipschitz

(IV,13)
(r +1Z2)l!? = JOOe-=-).lzl/u(Àr)
o dI..

Resulta entonces

VI
I JOO [r).z + A(Ã)
= ----J:-
211" o
e-)..: + B(Ã) é:] lo(i.r) dI.. (IV,14)
Siendo

A'(),) = A(Á) IPl_

211"

B'(À) = B(À) ~211"

EI subíndice de V en Ia fórmula anterior alude a que esta es válida
en Ia primera capa. Para Ia segunda, el potencial será análogamente

V2 = -~
I211"Joo [Co.) e-).: + DO.) éZ]
o
lu (I..) d}. (IV,15)

donde no se incluye Ia sblución particular, dado que en esta capa no hay

fuentes, y por 10 tanto, el problema es homogéneo. Convieneaclarar que
Ia presencia en esta fórmula de Ia resistividad Pl de Ia primera capa, y
no de Ia P2 como quizás esperara el lector, obedece a razones de conve-
niencia, para Ia más fácil aplicación de Ias condiciones de contorno. La
validez de este cambio resulta de que aún no han sido determinadas Ias
funciones C(Á) y D(Á) por 10 que puede introducirse en Ia fórmula cual-
quier factor arbitrario, en este caso Pl/ P2.
Las soluciones generales (IV,14) y ((IV,15) resolverán el problema pro-
puesto, una vez que se determinen Ias funciones A(J.), B(À), C(J.) Y D(A).
Debe advertirse que desde el punto de vista práctico, sólo interesa' el
potencial en Ia superficie deI terreno, único observable en general, y si
se calcula el potencial en el interior de Ia segunda capa, es sólo por ser
ello necesario para Ia resoludón deI problema propuesto.
Para Ia determinación de dichas funciones, se aplicarán Ias condicio-
nes de contorno:
156
 RESOLUCION DEL PROBLEMA DIRECTO PARA MEDIOS ESTRATlFICADOS

a) U2 habrá de anularse en el infinito, por tratarse de un potencial,

luego
DO.) =O
b) EI campo eléctrico no puede tener componente normal a Ia su-
perficie z = O, ya que el semiespacio superior es aislante, hrego habrá
de ser .

(\ auI)
az %=0 = O

Como esta condición ya Ia cumple Ia solución particular (apartado

III,3), bastará con imponérsela ahora a Ia general de Ia homogénea.
Será

au
()z 1 =:=
IDOo [- À A(À) e-l-z + .À B(i.) éZ] fo(Àr) dJ.
que habrá de anularse para z = O,Y como es fo(i.r) -:1= O en general, habrá
de ser
-ÀA(À) + ÀB(i.) = O
o sea
A(À) = B(À)

Las expresiones de los potenciales U1 y U2 quedarán ahora" en Ia

forma

U1 = -Y.2-
I IDO [e-l-z + A(À)
211' o
(e-l-z + éZ)] fo(Àr) d').,

(IV,16)
U2 = -.!2..
I IDO C(À)
211' o
e-l-z fo(Àr)dÀ

c) En el contacto entre ambas capas (z =. E) habrá de ser U1 = U2

(continuidad del potencial, apartado lII,3), luego se tendrá

e-l-E + A(Â) (e-l-E -+- éE) = C(À) e-l-E (IV,17)

d) La continuidad de Ias componentes normales deI vector J para

z =E exige que sea

+( ~~1 )Z=E = -};- ( ~~2 )Z=E

157
TEORIA DEi- SONPEO ELECTRICO VERTICAL

que aplicada a Ias (IV,40) da

P2 [e-ÃE + A(.l.) (rÃE ~ éE)] = P1 C(.l.) e·-ÃE (IV,18)

Eliminando C(.l.) entre Ias (IV,40) y (IV,41) resulta

A(.l.) = B(.l.) = (P2 ~ P1) e-ÃE __ ~ ._

. P1 (e-ÃE + éE).+ P2 (éE ~ e-ÃE)

(P2 - P1) e-ÃE _ Ke-ÃE

(IV,19)
- (P2 + P1) éE - (P2- P1) e-E). - éE~Ke-ÃE

donde se ha puesto

K = P2-P1
(IV,3)
PZ+P1

que es el mismo factor de reflexión utilizado en eI método de Ias imá-

genes.
Su"stituyendo Ia expresión (IV,19) en Ia primera de Ias (IV,16) y ha-
ciendo z = O resulta finalmente

U1 = 2:
lp J 00 ( 1 + 2o éE K e-ÃE
_ e-ÃE
K ) fo(Àr)di.. (IV,20)

que puede escribirse también

U1 =2lT~ ,1 + K lo(Àr) dx (IV,21)

lp Joo o· T/" __ .,,'
e-2ÃE

que es Ia Soluclón buscada para el potencial en Ia superficie límite tierra-

aire.
La identidad de este resultado con el (IV,5) obtenido por eI método
de Ias imágenes se prueba fáciImente. DesarroUandoen serie el inte-
grando se tiene

1+K e-2ÃE
1_ K e-2ÃE = [1 + 2 (K e-2ÃE + K2 r4ÃE +
'o(Ár)

... + Kn e-2nÃE + ...] Jo(J.r) = fo(},r) + 2 [K e-2ÃE fo(.l.r) + ...

... + Kn e-2nÃE Jo(}..r) ... ]

expreslón que puede integrarse término a término, por medio de Ia fór-

mula de Weber-Lipschitz,
158
 RESOLUCION
DELPROBLEMA
DIRECTOPARAMEDIOSESTRATIFICADOS

(IV,22)
foOO e-2nÀE liJ..r) = 1
volviéndose a encontrar así Ia ecuación (lV,29) 10 que demuestra Ia
equivaIencia de ambos métodos.

IV.5.3 Caso de n capas

El procedimiento de cálculo que se acaba de exponer fue aplicado por
primera vez aI problema de los medias estratificados por el rumano Sab-
ba Stefanescu, en un trabajo realizado en colaboración con los Schlum-
berger (STEFANESCO et al, 1930) si bien Ia idea deI método se encuentra
ya en una nota de J. J. Thomson, aõadida por éste aI Tratado de Max-
well (1, p. 444), donde se sugiere Ia aplicación de Ia integral de Weber-
Lipschitz a Ias expresiones obtenidas por el genial físico escocés por el
método de Ias imágenes.
En el artículo de Stefanescu, se dan explícitamente Ias soluciones
para los casos de tres y de cuatro capas, que se obtienen deI mismo modo
que para dos, considerando los potenciales U~, U1 en el interior de Ias
nuevas capas y aplicándoles Ias mismas condiciones de contorno c) y d)
con Ios índices de capa correspondientes, y resolviendo el sistema de
ecuaciones que resulta para Ias funciones A(J,), B(J..), etc. Como es obvio,
Ia condición de contorno a) se aplica a Ia última capa. Este procedimiento
puede extenderse sin dificultad para el caso general de n capas.
EI autor ha preferido exponer el caso de dos capas, que por su ma-
yor sencillez es más apto para que el lector comprenda con claridad el
principio y los detalles deI método, tratando el caso general en un apén-
dice.
En resumen, el potencial en Ia superficie de un medio estratificado
puede expresarse en Ia forma

= - 2rr
U
lpl f o00
N,,(J..) lo(Ár)
•
d;., (IV,23)

donde Nn es una función de los espesores y resistividades de Ias capas

deI corte, así como deI parámetro de integración ;.,y cuya expresión, para
el caso de dos capas, aparece explícitamente en Ia (lV,21). Más abajo se
indicará cómo puede obtenerse su expresión general.

IV.5.4 Resistividad aparente

Conocido e1 potencial en Ia superficie deI terreno, puede deducirse

de él Ia solución deI problema directo en Ia forma más interesante para
el prospector: dado un corte geoeléctrico estratificado, determinar Ia
159
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

curva de resistividades aparentes que se obtendría sobre éI con un dis-

positivo eIectródico determinado.
EI dispositivo más interesante en Ia práctica es eI tetraeIectródico de
SchIumberger, para eI que Ia resistividad aparente viene dada por
E
Pa = rrr T- (IV,24)

que es Ia misma (III,27) con un ligero cambio de notación. Ahora bien,

E _au
- - ar = _!!:!_
2rr -!.-
ar J oco Nn(J.) ToU ..r) dA =
(IV,25)

= 22-foo Nn(A)
2rr o Tpr) A d;..

pues como es sabido

a To (Ar)
---'-Dr =- A !I(;"r) (IV,26)

donde T\(Ar) es Ia función de Bessel de primera especie y orden uno.

Sustituyendo en Ia (IV,24) resulta'

Pa = Pl r f~ Nn(;") !I(;"r);" dA
(IV,27)

donde ha desaparecido el divisar 2, porque el campo está producido por

dos electrodos de idéntica ernisivid~d.
Para el dispositivo Wenner, Ia fórmula de Ia resistividad aparente es
LfV
Pa = 2rrr-/-
ecuaClOn idéntica a Ia (III,25) salvo Ia notación. En este caso ó- V es Ia
diferencia de potencial entre puntos situados a Ias distancias r y 2r de
Ias dos electrodos de emisión, por 10 que se tendrá

ó-V = -/Pl
rr J o00
N,.(;") Io(;"r) d;.. --
/Pl
rr J oc:o
Nn(J·) 10(2 ;"r) d;..
(IV,28)
y por Ia tanto

(IV,29)
Pa = 2 Pl r J oN n(A) Io(Ar) dA ~ 2 Pl rJ o'
(X) Nn(A) 10(2 ;"r) dJ,

160
 RESOLUCIONDEL PROBLEMADIRECTOPARA MEDIOS ESTRATIFICADOS

Lo que sigue de este capítulo se refiere exclusivamente aI dispositivo

Schlumbergel', salvo advertencia en contrario.
En Ia expresión (IV,27)Ia función Nn viene a representar, en forma
condensada, Ias condiciones de contorno, o si se prefiere, Ia distribución
vertical de Ias resistividades del corte. La citada expresión puede con-
siderarse como una transformación de Hankel, en Ia que 'l(Âr) es el nú-
cleo. Sin embargo, los diversos autores que se han ocupado deI tema
(entre ellos el de este libro) lla.man núcleo (Kernel) a Ia funciôn Nn, en
contra deI uso común en Ia Matemática. Por esta razón es preferible
designar a Nn con el nombre de función característica, propuesta por
KING (1933), y que es el que se utilizará en esta obra.
Puede decirse, pues, que Ia resistividad aparente medida con un dis-
positivo SchlUrriberger en Ia superficie límite de un medio estratificado
es una transformada de Hankel de Ia función característica de dicho
medio.
Las propiedades de Ia funCÍóri' característica se estudian en el apar-
tado IV.I0.

IV.5.5 Cálculo numérico de Ias curvas de resistividad aparente

Las expresiones (IV-27) y (IV.29) permiten calcular Ia curva de' resis-

tividades aparentes que corresponde a un corte dado, una vez determi-
nada Ia funci6n característica deI corte. (Véase el apartado IV.9.) Dicho
cálculo nq es nada senci1lo, puesto que Ias integrales que aparecen en Ias
expresiones mencionadas no han podido reducirse a fórmulas donde sólo
figuren un número finito de funciones conpcidas y tabuladas:
Son diversos los procedimientos ideados para vencer esta dificultado
HUMMEL (1929), ROMAN (1959) y (1963) y otr05 han empleado el método de
Ias imágenes, muy complicado cuando el corte' tiene más de dos capas.
FLATHE (1955) Y VANYAN et al (1962) propusieron métodos aproximados.
Otros autores rMOONEY y WETZEL (1956), BARANOVY TASSENCOURT]recu-
rrieron a cuadraturas aproximadas. En Ia segunda mitad deI decenio de
los afios sesenta el método más empleado fue el de Mooney, basado
en el desarrollo en serie de Ia funci6n característica; se usá también otro
método muy semejante, el de V AN DAM (1965). Ambos fueron utilizados
para cálculo de colecciones de -curvas maestras. Más detalles sobre éstos
y otros métodos pueden verse en ORELLANA(1965) y en el trabajo citado
a continuaci6n.

EI método de Mooney (MOONEY et al, 1965) exige que todos los es-
pesores deI corte sean múltiplos entel'OS de una longitud arbitraria Eo'
La FC de Stefanesco se descompone en Ia serie
161
TEORIADEL SONDEOELECTRICO
VERTICAL
00
N'O.) = ~ Q(m) Um; U = e-2, (IV,30)
m:=:l

que permite realizar Ia integración, término a término, de Ia (IV,27), te-

niendo en cuenta Ia (IV,64). y que

Joo
o
 e-a, I
1
(Â) d =. -_. -
(et +1r'lY/2
(IV,3l)

Esto se refiere ai dispositivo Schlumberger y sus derivados, esto es,

los que miden el campo eléctrico. Cuando 10 que se mide es eI poten-
cial, como ocurre en el dispositivo Wenner, se calculan dei misrrto modo
Ias dos integrales de Ia (IV,29), utilizando Ia expresión

(IV,31 bis)
Jooo  e-a, '0 (i.r) d = (a' +1r'l)1/2
Esta y Ia anterior se encuentran, con su justificación, en eI clásico
tratado de WATSON(1966) sobre funciones de Bessel.
P,ara el caso deI dispositivo Schlumberger, después de realizada Ia
integración resulta

ro 4 m2 -'2
Pa = Pl [ 1 + 2 m~~ Q(m) (1 + ~ ) 3] (IV',32)

donde es r = AB/2. La convergencia de esta serie es muy lenta, por 10

que cuando r es grande, se hace preciso sumar miles de términos. Es pre-
ciso, pues, disponer de un ordenador electrónico de gran capacidad,
que puede. programarse de modo que determine por sí mismo los coefi-
cientes Q(m) correspondientes aI corte dado, y con ellos calcule Ia serie
(IV,32) hasta un término dado, cuyo índice puede determinar el propio
ordenador aplicando algún criterio de error. De este modo, el cálculo de
una CRA, con unos treinta puntos, puede efectuarse en muy pocos mi-
nutos.
El método de Mooney adolece de aIgunos inconvenientes. Entre ell0!i
figuran Ia exigencia de que todos Ios espesorés deI corte hayan de tener
un divisor común, 10 que impide eI uso deI método para cortes cuales-
quiera. Por otra parte eI tiempo de ordenado r reauerido no es corto,
por 10 que el método resulta caro, e incluso prohibitivo si hay muchas
capas (ZOHDY,1975a).
Por estas causas, eI método ahora en boga es el de convolución. Este
método tiene su origen en una idea de KUNETZ(1966). Este autor trans-
forma Ia integral (IV.27) mediante un cambio de variabIes que aquí se
162
 RESOLUCIONDEL PROBLEMADIRECTOPARA MEDIOS ESTRATIFICADOS

expondrá con alguna modificación:

Si se lefinen dos nuevas variables x e y por medio de Ias ecuaciones
e-X = Â; eY =r (IV,33)

y se sustituyen éstas en Ia (IV,27) se obtiene

(IV,H)
Pa(Y) = J~fI(x)My-x)dx
siendo

fb) = p1N,,(e-X) (IV,35)

My - x) = 11 (eY-X) e2(Y-XJ (IV,36)
La (IV,34) es, evidentemente, una integral de convolución, que puede
aproximarse mediante un operador lineal o filtro. Así,
~
(Pa)", = 1=-0.
~ b;/1(m - j) (IV,37)

con m =0,1,2,3, ...

El cálculo de curvas teóricas de SEV por este procedimiento comen-
zó a extenderse cuando GHOSH (197lb) publicó los datos de un ope-
rador de 9 coeficientes, que había de convolverse con un muestreo de
Ia función característica de tres puntos por década. Como ta información
asÍ obtenida es pobre, el operador vuelve a aplicarse a otró muestreo de
Ia función característica deI mismo espaciado, -intercalâ-do en el anterior'.
La aproximación asÍ conseguida es aceptable, salvo cuando existen en
el corte capas de resistividad relativa muy baja.
Mucho más preciso es el filtro calculado por JOHANSEN (1975), con
139 coeficientes, con los que se obtienen diez puntos por década de Ia
curva de resistividades aparentes. NYMAN y LANDISMAN(1977) son auto-
res de otros filtros. SEARA(1979) ha descrito un programa para Ia obten-
ción de los coeficientes de un filtro para un número cualquiera de coefi-
cientes y puntos de muestreo.
Con Ias fórmulas de convolución, el tiempo de cálculo de una curva
de resistividades aparentes se reduce a una fracción de segundo.
Se han haIlado también filtros inversos que transforman Ia curva de
campo en Ia función característica. El primero parece ser el de los so-
viéticos Strakhov y Karelina, de 1969, citado por Zohdy. En Occidente
se usan los de Ghosh y de otros autores.
Para el cálculo de curvas de resistividad aparente por medio de dife-
rencias finitas, véase el apartado IV.18.3.
163
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

IV.6 LA AMBIGÜEDAD DEL PROBLEMA INVERSO

V LAS CURVAS DE DARZARROUK

IV.6.1 Morfología de Ias curvas de SEV

Tan pronto como se pu do disponer de curvas de resistividad aparente

calculadas, se estudió Ia correlación que puçliera existir entre ellas y Ias
c.R.V. de Ias cortes a que correspondían.
Se averiguó de este modo que cada curva de resistividad aparente
reproducía Ia forma general de Ia c.R.V. de su corte, pero de modo
notablemente suavizado y sin saltos. Así, el bloque elevado interme-
dio de Ia C.R.V. de un corte K (fig. IV-4) se traduce en un máximo de
Ia resistividad aparente, y Ia zona hundida que existe en Ia c.R.V. de
un corte H (misma figura) se refleja en un mínimo.

------
Pz ~-- -----

~t

I? AB/2 ~

FIG. IV~6. Los dos tipos de curvas de SEV de dos capas.

Las figuras (IV -6) a (IV -9) muestran Ias curvas de resistividad apa-
rente. que corresponden a diversos tipos de cortes de dos a cuatro ca-
pas. En ellas puede verse cómo Ias capas más resistivas que sus vecinas
se traducen por máximos, y Ias más conductoras por mínimos, aunque
esto no ocurre siempre.· En 10s cortes A y Q (figs. IV-7 y IV-8) Ia pre-
sencia deI escalón intermedio en Ia resistividad se rnanifiesta por una
inflexión, que pasa inadvertida cuando Ia capa intermedia no es sufi-
cientemente gruesa.
Hubo una época en que se pensaba que el estudio de Ias coordena-
das de 10s máximos, mínimos oinflexiones en Ias curvas de resistivida-
des aparentes era de importancia fundamental, pues de ellas podrían
deducirse 10s espesores y resistividades de Ias capas geoeléctricas deI
164
 LA AMBIGÜEDAD DEL PROBLEMA INVERSO Y LAS CURVAS DE DARZARROUK

terreno sobre eI que se hubiere obtenido Ia curva. Una obra c1ásica que
sigue este enfoque es Ia de KALENOV (1957). Sin embargo, un conoci-
miento más amplio deI tema ha hecho abandonar este punto de vista.

R
fi·

~
~

t; ~

FIG. IV-7. Curvas de SEV tipo Q con y FIG. IV-8. Curvas de SEV tipo A con y
Sill infiexióll visibie. sin inf!exión visibie.

1~

" r-.-
4 5 6 7 97
B

I'-- 6~
\"- \ ---\/./ --/ "'---
"V --- f-- \
:3 "'-
4.••....•I'.....
I'---~.Q\
Hi\
i\ 10' -
10·6"-...'"
5.•......•.246 78910
5 1\ 2 '"
/~
~
"-

fo4
.5
V
3

10·
9
B
7
6
5
4
:3

FIG. IV-9. Varios ejeÍnpios de curvas teóricas de cuatro capas, tomadas

de Ia colección de Orellana-Mooney.

165
TEORIADEL SONDEOELECTRICOVERTICAL

En efecto, cuando pudo realizarse con rigor el cálculo de curvas de

resistividad aparente se observó que Ia solución deI problema inverso
deI SEV no era en general única, pues cortes en apariencia muy dis-
tintos podían dar lugar a curvas que diferÍan entre sí en menos deI
error experimental de Ias mediciones de campo, por 10 que habían de
considerarse como indistinguibles en Ia práctica.

Por 10 tanto, Ias posiciones de ciertos puntos característicos de una

curva de eR.A. no pueden servir para determinar valores únicos de
espesores y resistividades.

IV.6.2 Ambigüedad dei problema inverso

Es usual que un mismo conjunto de observaciones geofísicas de cam-

po admita soluciones diversas, o más exactamente, todo un dominio
de soluciones válidas. En Ia interpretación gravimétrica, por ejemplo,
existe un teoremade ambigüedad, puesto que dada Ia anomalía gravi-
métrica producida por una distribución de masas en el subsuelo, puede
hallarse otra diferente que produzca Ia misma anomalÍa. La situación
en los métodos eléctricos parece, a primera vista, mucho más satisfac-
toria. En efecto, SUCHTER (1933), LANGER (1933 y 1936) y STEVENSON
(1934) han de mostrado que en Ios métodos geoeléctricos Ia soIución es
única, y que cortes diferentes producen curvas de SEV diferentes, de
donde se sigue que cada una de éstas posee una solución distinta. Des-
graci~damente, estos resultados no son aplícables a Ias curvas de campo
de SEV, pues éstas vienen dadas por tan sólo unos cuantos puntos, afec-
tados de inevitables errores de medida, de modo que en vez de una
curva geométrica perfectamente determinada, se tiene una serie de cor-
tos sel!mentos por Ios que pueden pasar infinitas curvas teóricas (fiçu-
ra IV -1 O). No es de extraiíar, pues, que, como hemos dicho, Ia unicidad
teórica no se cumpla para Ias curvas de campo.

Vn ejemplo deI grado de ambigüedad que puede darse en Ia práctica

es eI ilustrado en Ia figura IV-lI. En ella se representan Ias C.R.V. de
tres cortes geoeléctricos de cuatro, cinco y nueve capas, respectivamen-
te, Que difieren notablemente, aunQue tienen ciertos raSlWS comunes. Sin
embarl!o, Ias curvas de resistividades aparentes que corresponden a estos
tres cortes difieren entre sÍ en menos deI 5 %, Que es eI margen de error
Que se admite usualmente en el trabaio de campo, por 10 que son indis-
tinguibles en Ia práctica (ORELLANAy HERNÁNDEZ, 1979).

Resulta, pues, que Ia interpretación de una misma curva de campo pue-

de llevar a cortes geoeléctricos dispares entre sí, incluso, en eI nlÍmero de
166
 -sI~
-c; OOS I I
001
I 01
-
I - IojI
-z os
I I
--z II OOZ I OZ

I II II
1
01
I

-
-

Of DJ

~Ol
TEORIA DEL SONDEOELECTRICO VERTICAL

capas. Esta ambi!!üedad podda llevar a conclusiones desfavorables para

el método SEV. Sin embargo, Ia multiplicidad de soluciones se transfor-
ma en cierta imprecisión de los resultados si Ia función resistivida'd-pro-.
fundidad se expresa en n)levas coordenadas, denominadas pseudo-profun-
didad y resistividad media, que se definirán en el apartado siguiente.
Estas nuevascoordenadas, que reciben el nombre común de funcio-
nes de Dar Zarrouk, son Ias que se han utilizado (fig. IV-I2) para repre-
sentar los tres cortes geoeléctricos de Ia fi!!.ura IV-1l. Como puede verse,
Ias nuevas C)lrvas (curvas de Dar Zarrouk) discrepan muy poco entre sí.

r-----l
I I: i
n
I:
I jj ~+ !!

..li
II
II
II
I
I
. I
_ .....• .j-_J
................... .J

--CASO!

.•...... CASO 3

PROFUNDIDAD

FIG. IV-H. CRV de diversas soluciones de ia curva de

campo de Ia figura IV-IO.

En consecuencia, hay base para afirmar que a cada curva de campo

de SEVcohesponde, con algún margen de imprecisión, una sola curva de
Dar Zarrouk. La ambigüedad importante aparece aI· pasar de Ia curva
de Dar Zarrouk a espesores y resistividades, pues errores pequenos en
Ia primera pueden originar alteraciones relativamente grandes en los se-
gundos.
168
 PARAMETROS Y FUNCIONES DE DAR ZARROUK

.
10

c
~
.
w

c
c
>
~
'"
'"
~ 1

- CASO 1
2.
3

! I "I
10 I I ! I III I
PSEUDOPROFUNDIDAD 100 I ~ '

FIG. IV -12. Curvas de Dar Zarrouk de Ias tres cortes representados

en Ia figura IV-H.

IV.7 PARAMETROS V FUNCIONES DE DAR ZARROUK

IV.7.1 Introducción

ia ambigüedad deI problema inverso deI SEV fue descubierta por Ia

escuela francesa en uno de los casos más sencillos: dadas ciertas condi-
ciones, en un corte <:Ietres capas deI tipo K podía sustituirse Ia capa
intermedia por otra de espesor n veces menor y resistividad n veces ma-
yor, sin que Ia curva de resistividades aparentes sufriera más que una
alteración muy pequena, inferior almargen de error experimental. Este
fenómeno fue denominado equivalencia.
EI estudio de este fenómeno y de otros análogos llevó aI geofísico
francés Raimond Maillet aI descubrimiento de ciertos parámetros y fun-
ciones de importancia fundamental para Ia teoría de Ios métodos geo-
eléctricos, y que fueron dados a conocer en un trabajo de valor decisivo
para' dicha teoría (MAILLET, 1947). Este autor propuso para los nuevos
parámetros Ia denominación de parámetros de Dar Zarrouk, aludiendo
con ello a recuerdos personales relacionados con su descubrimiento, efec-
tuado durante una estancia en Túnez.
169
TEORIADELSONDEOEL'ECTRICO
VERTICAL

Desgraciadamente, Ia importancia de Ias ideas de MailIet no ha sido

debidamente apreciada fuera de Ia escuela francesa, 10 que pudo expli-
carse en un principio por el carácter abstracto y de gran generalidad
matemática con que MailIet presentó su publicación. Aunque algunos
geofísicos han aplicado Ias ideas de MailIet a determinados problemas,
tan sólo el autor (ORELLANA,1963 Y 1965), SZARANIEC (1972) y ZOHDY
(1965 Y 1974) han efectuado aportaciones en este campo.
A continuaci6n se expondrán Ia definición y propiedades de los pará-
metros de D.Z. en Ia forma restringida que corresponde a medios estra-
tificados deI tipo descrito más arriba, siguiendo Ias publicaciones men-
cionadas deI autor y luego se considerará Ia forma más general dada
originalmente por MailIet.

IV.7.2 Resistencia transversal unitaria

Consideremos un medio estratificado deI tipo definido más arriba

(IV.4) y delimitemos en él un prisma recto de sección cuadrada, con eje
perpendicular a Ia orientación de Ias capas y de lado igual a Ia unidad
de longitud (fig.IV-13). Si suponemos que el prisma es atravesado por
una corriente eléctrica que fIuye perpendicularmente a Ia estratificación,
Ias diferentes capas se comportarán como conductores en serie, por 10

r:

I?
I
~ //
r----
~Li
/ ~ E

~
f-----l m. -I""

FIG. IV-l3. Para Ia definición de 105 parámetr05 de Dar Zarrouk.

170
 PARAMETROS Y FUNCIONES DE DAR ZARROUK

que sus resistencias se sumarán. La resistencia deI tronco de prisma per-

teneciente a Ia capa i, será evidentemente,
1 E-
R/ = PiS= P/IX'I = PiEi
Este producto se llama resistencia transversal unitaria, y aunque
Maillet y sus colegas franceses 10 presentan por R •. esgeneraI ahora el
uso de Ia letra T, asÍ que . .
Ti= EiPi (IV,38)
AI conjunto de Ias n capas primeras, corresponderá Ia resistencia
total
T = ~EiPi
i
(IV,39)

Las dimensiones de T sou Ias de una resistividad por una longitud,

y su unidad en el SI será el ohmio X m2• *

IV.7.3 Conductancia longitudinal unitaria

Si en el prisma considerado en el apartado anterior, se supone que

Ia corriente fluye paralelamente a Ia estratificación, la resistencia deI
tronco de prisma que corresponde a Ia capa i será ahora,
,
Ri = Pi--s 1 I =...,.--
=Pi--- Pó

X I E/
Ej

Estas resistencias asÍ definidas no pueden sumarse, por estar en pa-

ralelo, por 10 que conviene pasar a sus inversas Ias conductancias, ya
que éstas sÍ poseen Ia propiedad aditiva. Llamando Si a Ia conductancia
de Ia capa i, será
Si=~ (IV,40)
(li

Este cociente se llama conductancia longitudinal unitaria. Maillet

y otros autores franceses representan esta magnitud por Ia letra C.
EI conjunto de Ias n primeras capas deI .corte presentará una con~
ductancia total .

S=~~ (IV,41)
i Pi

* AI establecer Ias dimensiones de esta magnitud, debe tenerse en cuenta

que Ia sección transversal no influye, ya que por definición, es igual a Ia unidad
de superficie en cualquier sistema de unidades.
171
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

Las dimensiones de S son, evidentemente, Ias de una conductancia;

por 10 tanto, habrá de medirse en siemens.
Los parámetros T y S vienen a ser, en cierto modo, como Ias com-
ponentes vertical y horizontal de Ia resistencüi. Como en general, Ia
dirección de Ia corri ente en el subsuelo es oblicua, habrá que tener en
cuenta ambas magnitudes,

IV.7.4 Pseudo-anisotropía

Consideremos Ias n primeras capas de un corte geoeléctriço cual-

quiera. Sea E el espesor total deI conjunto, y T y S respectivamente, su
resistencia transversal y conductancia longitudinal unitarias. Tratemos
'de determinar un medio homogéneo con Ias mismas características. Para
ell0, calcularemos que resistividad media habrá de tener una sola capa
deI mismo espesor E que todo el conjunto, de modo que Ia T sea Ia
misma. Como en Ia definición de T sólo intervienen corrientes transver-
sales a Ia estratificación, llamaremos P.l a dicha resistividad transversal
media o equivalente. Evidentemente,
T=Epl (IV,42)

Análogamente, podemos definir una resistividad longitudinal media

Pu tal que

S=~ (IV,43)
pu

Si P.l Y pu resultasen .iguales, habría un medio homogéneo e isótropo

con el mismo espesor E y con Ias mismas T y S que el paquete de ca-
pas dado. Si tal fuere cierto, habría de cumplirse que TS = P, 10 que
en' general no ocurre. Por 10 tanto, el. medio equivalente buscado es ho-
mogéneo, peco no isótropo.
Ejemplo: Sea un conjunto de dos capas con
Ei = 10 m Pi = 20 Q-m
E2 = 20 m P2 = 50 Q-m

Entonces:

Ti = 200 Q. m2
T = 1200 Q·m2
T2 = 1000 Q • m2

y por consiguiente:

T
P.l=E=~ 1200 = 40 Q-m

172
 PARAMETROS Y FUNCIONES DE DAR ZARROUK

Análogamente:
SI = 0,5 mhos
S = 0,9 mhos
S2 = 0,4 mhos
de donde

R _~= 33,3
PlI=T- 0,9

10 que prueba que un paquete de capas homogéneas e isótropas se com-

porta, en cierto modo, como media anisótropo. Este fenómeno fue deno-
minado por Maillet pseudo-anisotropia. Los geofísicos alemanes y so-
viéticos suelen hablar simplemente de "anisotropía", pero es preferible
el empleo de Ia primera denominación para evitar confusiones con Ias
formas usuales de anisotropía. La pseudo-anisotropía puede expresarse
numérica mente deI modo acostumbrado, esto es

(IV,44)
A=V~ ('11

También puede definirse una resistividad media Pn, tal que

I'", = VP-; p~ (IV,45)
y entonces
f'l=Af'",
(IV,46)
(lu = f'"JA

Ahora bien, si multiplicamos por E Ias dos expresiones (IV,46) y te-

nemos en cuenta Ias (IV,42) y Ia (IV,43) tendremos
T =A R Pm
(IV,47)
S= AE
('m

10 que demuestra que un medio compuesto por una sola capa de espe-
sor AE y resistividad f',n presenta Ias mismas T y S que el paquete de
capas original. En resumen, para pasar a un medio homogéneo e isótropo
eon Ias mismas T y S de· un determinado paquete de capas, hay que al-
terar el espesor en Ia proporción A; si se quieren conservar T, S y R,
el medio equivalente presenta Ia anisotropía A. EI producto AE se de-
nomina "pseudo-espesor" por Maillet.
Estas relaciones pueden expresarse gráfica mente por medio deI trián-
gula de anisotropía, el cual resulta de nevar, sobre un sistema de coor-
173
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

denadas cartesianas logarítmicas, los valores de A y AE en abscisas, y

los de Plb Pi Y P", en ordenadas. Queda así determinado un triángulo
rectángulo isósceIes 1HZ (figo IV -14), Ias coordenadas de cuyos vértices
son:
I: (E, Pi)
H: (E, Pli)
Z: (AE, p",)

fS.

r;,

~
T
E AE

FIG. IV-l4. Triângulo de anisotropía.

El vértice H se Ilama punto de Hummel, y eI Z, punto de Dar Zarrouk,

Teniendo en cuenta Ias propiedades de Ia representación logarítrnica,
y Ias expresiones (IV,44) a (IV,46), se deduce fácilmente que
IC = CH = CZ = Iog A

10 que prueba que eI triánguI0 es isósceles y rectángulo, según se había

dicho más arriba.
Por otra parte, si los lados IZ Y ZH se prolongan hasta cruzar el eje
de abscisas l' = I, Ias abscisas Ioga rítmicas de los puntos de intersección
respectivos son T y S, según se desprende de Ias (lV,47) y de que el
triángul0 rectángulo ZIS es isósceles. Los triángulos fI E Y HSE son
semejantes al anterior, de 10 que pueden deducirse Ias (lV,42) y (lV,4 3).
En resumen, en eI diagrama de Ia figura IV -6, quedan representadas
gráficamente Ias seis expresiones (IV,42) a. (IV,47). EI triánguI0 de ani-
174
 PARAMETROS Y FUNCIONES DE DAR ZARROUK

sotropía fue descrito por primera vez por Maillet, si bien en forma in-
completa.

IV.7.S Funciones de Dar Zarrouk

En 10 anterior, se ha considerado cada capa como unidad indivisible

en 10 que respecta ai cálculo de T y de S, pero estas dos magnitudes pue-
den determinarse también para profundidades intermedias. Si el espesor
de Ias n primeras capas es Zi y sus resistencia transversal y conductancia
longitudinal son Ti y Si, dentro de los límites de profundidad de Ia capa
i + 1 se cumplirá que
T = Ti + (z.- Zi) pi+l
(IV,48)
S =Si + Z-Zi
f'i+!

para cualquier valor de i. De este modo, los parámetros T y S que' se

han considerado sólo para un número entero de capas, se transforman
en funciones de Z definidas para cualquier v·alor z> O. Estas funciones
T = T (z) Y S = S (z) pueden considerarse como Ias ecuaciones para-
métricas de' una curva S = S (T).
De Ias expresiones (IV,47) se deduce que
Az = (TS)1/2
(IV,49)

pm-_ ( -sT ) 1/2

donde sustituimos E por z ya que aquí el espesor E es igual a Ia pro-

fundidad considerada.
Entonces, dado un corte geoeIéctrico, podemos calcular los valores
de T y S que corresponden a cada profundidad z, y a partir de éstos, por
medio de Ias (lV,49), Ia pseudo profundidad Az y Ia resistividad media
f'm correspondientes a cada z. Es decir, que a cada parte deI terreno
com prendida entre Ia superficie y cuaIquier profundidad z le correspon-
derá un pseudo-espesor Az (z) y una Pm (z). Estas funciones pueden con-
siderarse como Ias ecuacionesparamétricas de una curva Pm = Pm (Az),
a Ia que si bien podríamos llamar curva de resistividades medias, Ia
denominaremos sin embargo, curva de Dar Zarrouk, por su dependencia
respecto de Ias funciones T (z) y S (z) y porque ambas admiten repre-
sentación gráfica común. .
Para comprobar eS,to último, representemos Ia función Pm= Pm (Az)
en coordenadas cartesianas logarítmicas. Tomemos un nuevo sistema de
coordenadas, también logarítmico y con eI mismo origen, pero girado
175
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

.Pm

/ Y(-T)
/
/
/.
/
/ ....

I····· ... ir(,·· ..·· .:'>: p

k/
I / ....
.'; : Az
" "."
"
" ~
""<,,, ,,~
"
FIG. IV-I5. Transformación de coordenadas S, T, en Ias Pm' Az.

1r/4 (fig. IV-7). Llamemos a estos nuevos ejes x e y. Entonces teniendo

en cuenta propiedades geométricas sencillas, que Ia escala es 10garítmica
y que
1_
-
1r
1r

sen-4~ = cos4 V2
puede escribirse que
1 1
Iog Y = -;jf' (log Az + Iog Pm) = .V2 10g(Az • Pm) =
(IV,50)
1 , 1
= -log(TS.
V2
T/S)1/2= -log
V2.
T

donde se han utilizado Ias (IV,14).

Análogamen te,
1 1
Iog X = --- (log Az -Iog Pm) = -'- Iog S (IV,51)
V2 V2
Por 10 tanto, Ias coordenadas de 10s puntos de Ia curva Pm = Pm (Az)
en 10s nuevos ejes son Ios 10garitmos de Ios valores correspondientes de
176
 PARAMETROS Y FUNCIONES DE DAR ZARROUK

T Y S con módulo 1/";"2 deI que se haya utilizado en Ios ejes iniciaIes.
Esta es Ia representación conjunta a que habíamos aludido, y que jus-
tifica el nombre de curvas de Dar Zarrouk dado a Ia de resistividades
medias. La curva de Dar Zarrouk (en abreviatura CDZ) es de gran im-
portancia en Ia teoría y práctica de los sondeos eléctricos.
Los valores de T y S pueden determinarse sin cambio de escala y en
el mismo gráfico, siguiendo eI procedimiento indicado en relación con el
triángulo de anisotropia.

IV.7.6 Triple especificación de los cortes geoeléctricos

Se deduce de 10 anterior que Ia distribución vertical de resistividades

en un corte geoeléctrico estratificado cualquiera puede especificarse de
tres modos diferentes:
a) Dando directamente Ia resistividad que corresponde a cada pro-
fundidad, es decir, Ia función p = p (z).
b) Dando Ia función de Dar Zarrouk S = S (T).
c) Dando Ia curva de resistividades medias !'''' = [''''(Az).
De Ia especificación a) puede pasarse a Ia b) por medio de Ias (lV,48)
Ias cuaIes pueden escribirse de modo más general,

T(z) = f: p(z) dz
(IV,52)

S(z) = fz o dz
p(z)

De Ia especificación b) puede pasarse a Ia c) por medio de Ias (lV,49).

Recíprocamente, cuando se. conoce Ia función p", = Pm (Az) puede pa-
sarse a Ia T (S) mediante Ias expresiones

T = pm' Az
(IV,53)
S= Az
Pm

que se deduce directamente de Ias (IV,49) y que dan en forma paramé-

trica Ia función buscada.

Si se parte de Ia función S(T) puede obtenerse Ia p(z) utilizando Ias

igualdades
177
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

p(z) = 1/V dT
dS 1
= ';S'(T)
(IV ,54)

z = fT o dT)_
p(z == IT ';S'(T)
o dT
Ias cuales se establecen fácilmente basándose en que
dz
dS = ~- dT = p(z)dz (IV,55)
p(z)
cuando cada capa es isótropa.

IV.7.7 Ecuación general de Ias curvas de Dar Zarrouk

Consideremos en un medio estratificado cualquiera una profundidad
arbitrária z, que corresponde ai interior de una capa de resistividad p.
Sean T y S los valores de Ias funciones de Dar Zarrouk para z. Si son
x e y Ias coordenadas deI punto correspondiente en el gráfico logarít-
mico, se tendrá, según se deduce de Ias (IV,49) que *
1
x = lu (Az) = -2-- (ln T + ln S)
1 (IV,56)
y = ln pm = -2- (ln T - ln S)

Teuiendo en cuenta Ias (IV,13) y derivando respecto de z resulta

~
_d_x_ = _~
2 T + _1_)
(_1'_ ~ = _1__ T~
2 S~p~_+_T_
(IV,57)

a;---2-
dy _ 1 (p~T--pS
1) --2
_ 1 Sp2-T
de donde se deduce que
T
_dy = S['2-T ['2- -S _ 1'2 - ['2m _ ['2 _ e2y
(IV,58)
dx S['2 + T T - {;2 + (,2m - -r,2f- éU
['2 + -S

que representa Ia ecuación diferencial deI arco de Ia CDZ correspon-

diente a una capa de resistividad p.

* Para mayor comodidad dei cálculo suponemos que 105 logaritmos utilizados
son neperianos. ElIo no implica pérdida de generalidad, pues un cambio en Ia
base de los logaritmos sólo representa modificación en Ia escala dei gráfico.
178
 PARAMETROS Y FUNCIONES DE DAR ZARROUK

La integración de dicha ecuación es muy fácil, pues Ias variables x,

y son separables directamente

dx = pZ + eZu
p2_ eZu dy
y por 10 tanto

x + K, =2
fp2+eZY
p -e ,Ou dy

Haciendo eI cambio de variable eU =w resulta

x+K=
f -~---+
pZ_wz
p2 w2 w
dw
que una vez calculada Ia integral de Ia derecha da
w
x +K= In WZ_p2

o sea

Ce'" = --z -
wZ_p
w _
e 2U_pZ
eu
(IV,59)

que es Ia ecuación general buscada para Ias CDZ, expresada en función

de Ias distancias lineales x e y medidas sobre el gráfico Iogarítmico.
Pasando a antilogaritmos resulta

C(Az)=~ (IV,60)
PZm- P

De Ias' ecuaciones anteriores se derivan fácilmente (MAILLET, 1947;

ORELLANA, 1963 y 1965; ZOHDY, 1974) algunas propiedades interesantes
de Ias CDZ (siempre en representación Iogarítrilica):
a)En Ios puntos de nIa CDZ que corresponden aI contacto entre
dos capas continuas (z = '=1
~ Ei) Ia pendi ente tiene dos valores distin~os
-'
(uno por Ia izquierda para P = Pi Y otro por Ia derecha para p = Pi+l)'
Esta propiedad se deduce directamente de Ia (IV,58) y equivale a decir
que Ia CDZ se compóne de tantos arcos como capas tenga eI corte geo-
eléctrico, Ios cuales se unen en puntos angulosos.
b) Si Ia capa considerada es Ia última deI corte, aI tender (Az) a
infinito, Pm ~ p. Si Ia capa no fuese Ia última, eI arco correspondiente
coincide con el del caso anterior hasta llegar a Ia z deI contacto con Ia
capa siguiente. Todo ello resulta de Ia ecuación (IV,60).
179
TEORIA .DEL. SONOEO ELECTRICO VERTICAL

c) Cu'ando e1 corte geoeléctrico se reduce a una sola capa de resis-

tividad uniforme p, Ia CDZ correspondiente se reduce a una recta para-
lela aI eje de abcisas, de ordenada Pm = p.
d) Si, como se acostumbra a hacer, se normaliza eI corte, tomando
E1 = 1, PI = 1, el arco correspondiente para esta primera capa es Ia se-
mirrecta· Pm = 1, limitada por Ia derecha por eI punto (Az) = l.
e) Cuando aIguna capa es perfectamente aislante (Pi -+' 00) eI arco
correspondiente de Ia CDZ es una semirrecta de pendiente + 1, que
corta aI eje Pm = 1 en un punto de ab'cisa igual a 5, suma de Ias conduc-
tancias de todas Ias capas anteriores.
Es fácil ver que esto es asÍ considerando que para esta capa, T -+' 00,
5 = O y por 10 tanto, Ie corresponde eI eje de abscisas deI sistema 5, T
(fig. IV-?).
f) Cuando en eI corte existe alguna capa perfectamente conductora
(r{= O) Ie corresponde en Ia CDZ una semirrecta de pendiente -1, que
pasa por el punto de abcisa T deI eje Pm = 1 siendo T Ia suma de Ias
resistencias transversales de Ias capas anteriores.
La deniostración de esta propiedad es análoga a Ia de Ia e).
Una consecuencia de esta y Ia anterior propiedad es que Ias capas
dei corte infrayacentes a otra de conductividad nula o infinita, no se re-
flejan en la CDZ.
g) Si (Az) crece indefinidamente, eI denominador de Ia (IV,60) debe
tender a cero, o sea que Pm -+' p. Quiere esto decir que Ia ordenada deI
arco de Ia CDZ que corresponde a una capa determinada, tiende asintó-
ticamente a Ia resistividad de dicha capa. Si ésta tuviese un espesor
finito, el arco es eI mismo que en eI caso' de espesor infinito, pero se
interrumpe en eI punto anguloso correspondiente aI contacto entre Ia
capa considerada y Ia inmediatamente inferior, ya que cada punto de
una CDZ no depende de Ia parte deI corte geoeléctrico inferior a Ia pro-
fundidad z a que corresponde el punto, según Ia (IV,56).
h) DeI hecho de que cada arco de CDZ tiene una asÍntota hori-
zontal por Ia derecha, se deduce que Ios arcos ascendentes tienen conca-
vidad hacia abajo y Ios descendentes hacia arriba.
i) La constante C es función, para eI arco i, de Ias coordenadas (AZ)i
y deI punto anguloso en que se inicia eI arco, y de Ia resistividad
Pmi
Pi+l de Ia capa correspondiente a éste. De Ia (IV,60) se deduce que Ia
constante Ci viene dada por

C/= 2 Pm' . - 1 (IV,61)

P mi - ~i+l (AZ)i

180
 PARAMETROSY FUNCIONESDE DAR ZARROUK

EI signo de Ci es positivo si el arco es descendente, y negativo en

caso contrario. De Ia (IV,61) .se deduce que

1 ± VI + p2i+l(2AzCl
(IV, 62)
Pmi+, = 2AzC

que es Ia ecuación deI arco i, válida hasta el siguiente punto anguloso.

EI signo ha de tomarse de modo que Pmi+l sea positiva.

IV.7.S Curvas de Dar Zarrouk básicas

Las CDZ poseen una propiedad muy interesante: todos sus arcos son
segmentos de una de dos curvas fundamentales. (ORELLANA, 1963.)
En efecto, cada arco de DZ depende de dos parámetros: Ia resistivi-
dad P de Ia capa considerada y Ia constante C, que es función deI con-
junto de capas anteriores a ella. Entonces todos los arcos para los que el
parámetro C tiene el mismo signo pueden obtenerse a partir de un arco
dado multiplicando C o p, o ambos a Ia vez, por factores positivos ade-
cuados.
Ahora bien, si multiplicamos C por un factor cualquiera a> O el arco
de DZ se desplazará en el gráfico logarítmico en dirección paralela aI
eje =
Az, ya que si es u ln a resulta
eU
(lV,63)
(Ca) e"'-U = e2" _ p2

Por otra parte, cualquier valor de p podrá obtenerse siempre a partir

de un valor inicial de esta magnitud, multiplicándolo por un facto r con-
veniente b. Si se lIama W aI logaritmo de b, podrá escribirse
e'H'W
Ce'''-w = ------- (IV,63a)
e2(II+WI -- (p bY

ecuaClOn que corresponde a Ia misma curva inicial desplazada Ia distan-

cia W en Ia dirección deI eje de ordenadas y- W en Ia deI eje de absci-
sas. Ocurre, pues, que Ia variación de Ias parámetros, sin cambio de
signo, no cambia Ia forma de Ia curva, sino que Ia desplaza. Por 10 tanto,
hay sólo dos tipos de arcos en Ia CDZ, que corresponden, respectiva-
mente aI caso de C positiva y aI de C negativa. Los casos en que algún
arco es rectilíneo .corresponden a Ias asíntotas' de Ia curva general.·

* SZARANIEC (1972) ha generalizado el concepto y Ia expresJOn matemática de

Ias CDZ, extendiéndolas a los tipos de sondeo con más de dos electrodos de co-
rriente. En estos casos existen también pares de curvas básicas, de Ias cuales Ias
aquí descritas constituyen un caso particular.
181
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

IV.7.9 Construcción gráfica de Ia COZ

ia CDZ correspondiente a un corte geoeléctrico determinado puede

trazarse calculando flm Y Az para una serie de valores de z, pero es más
cómodo y rápido el empleo de un método (ORELLANA, I963) basado en
Ia propiedad demostrada en eI apartado anterior. Para Ia aplicación de
dicho método es necesario disponer de un ábaco(fig. IV-8) en el que
figuren Ias dos curvas básicas de DZ ascendente y descendente, así como
dos rectas S y T de pendientes respectivas + 1 y - 1. Dichas curvas se
calculan por medio de Ia ecuación (IV,62) dando a C y fi valores fijos
arbitrarios. EI principio deI método es que cada arco de DZ queda de-
terminado si se conoce un punto de éI, que puede ser eI inicial, y Ia resis-
tividad f'i de Ia capa correspondiente.

I i

..~-t

FIG. 1V-16. Abaco de curvas básicas para el trazado de curvas de Dar Zarrouk.
(Según ORELLANA, 1965.)

Se utiliza papel transparente (fig. IV-I?) .Si se han normalizado los

espesores y resistividades dividiéndolos respectivamente por el espesor
y resistividad de Ia primera capa, eI primer arco de Ia CDZ será Ia se-
mirrecta (>m =
1 con su origen en eI punto de abcisa Az I. Este será=
el comienzo deI segundo arco, el cual se obtendrá calcando una de Ias
curvas básicas deI ábaco (Ia ascendente, si es (>2>(>1 o Ia descendente si
182
 PARA METROS Y FUNCIONES DE DAR ZARROUK

P2 < PI), de modo que su asíntota horizontal coincida con P2' Pata deter-
minar el extremo deI arco, se calculan SI + S2 o bien TI + T2; y se ll~va
el valor correspondiente .aI eje Az y se hace pasar por el punto hallado
Ia línea S o Ia T deI ábaco, respectivamente, manteniendo paralelos Ios
ejes deI papel transparente y deI ábaco. La Íntersección de Ia recta con
eI arco trazado es eI extremo deI segundo arco de Ia CDZ y comienzo
deI tercero. Se procede así con todas Ias capas excepto Ia última, cuyo
arco se extiende indefinidamente hacia Ia derecha.
Más detalles sobre este método, ejemplos y aplicaciones, pueden ha-
llarse en ORELLANA (1963 Y 1965). En ZOHDY (1974) se encuentra un mé-
todo alternativo para el trazado de Ias CDZ.

o
f?
"
~
----
C><

'"
""
"
R "'"

L/ '"
"
~
T'"
//
FIG. IV-I? Empleo dei ábaco dei autor para el trazado de curvas de Dar ZarrouK.

IV.7.10 Curvas de Dar Zarrouk de cortes recíprocos

Las curvas de DZ de dos cortes recíprocos entre sí (definidos en el
apartado IV.4 d), son simétricas respecto deI eje de abcisas Az. En efec-
to, para transformar en su recíproco un corte geoeléctrico cualquiera,
basta sustituir el valor de cada resistividad por su inverso, con 10 que
Ios valores Ti y Si de cada capa, se truecan entre sí. Esto equivale a
cambiar eI eje T con el S, y dada Ia posición simétrica de éstos respecto
deI eje Az (fig. IV-I5), Ia curva se transforma en su simétrica con relación
a este eje.
~ 183
TEORIA D~L SONDEO ELECTRICO VERTICAL

IV.8 CORTES EaUlVAlENTES

IV.8.1 Definición

En el apartado IV.6.2 se dio cuenta deI hecho de que a cqrtes geo-

eléctricos distintos pueden corresponder curvas de SEV casi idénticas, 10
que lIeva a Ia siguiente definición: "Se llaman cortes equi'Oalentes a aque-
110s que, aunque difieran en los parámetros de sus capas e incluso en el
número de éstas, tienen curvas de campo que difieren entre sÍ en menos
deI límite de error experimental" (ORELLANA y HERNÁNDEZ, 1979).
Según se indicó en el referido apartado, Ia disparidad entre los cor-
tes correspondientes a una misma curva de campo desaparece casi por
completo si Ias cortes no se representan por sus CRV, sino por sus CDZ.
Se sigue de ell0 que, dado un corte geoeIéctrico, todos los cortes
equivalentes a éI podrán hallarse mediante modificaciones en Ia curva
de DZ de éste, Ias cuaIes habrán de ser suficientemente, pequenas para
que Ias curvas de campo correspondientes difieran de Ia deI corte inicial
en menos deI error admitido para Ias mediciones de campo. Las CDZ
de los cortes equivalentes aI dado se hallarán en una banda cuya línea
central es Ia CDZ deI corte inicial. La anchura de esta banda depende
deI límite de error mencionado.

IV.8.2 La equivalencia clásica

Aunque, como se ha visto, el fenómeno de equivalencia tiene un sen-

tido ~uy amplio, Ia escuela francesa sólo consideró inicialmente dos
casos particulares de él, que fueron denominados, respectivamente, "prin-
cipio de equivalencia" y "principio de' supresión" (MAILLET, 1947).
EI principio de equivalencia c1ásico se refiere a Ias modificaciones
que pueden efectuarse en una sola capa deI corte sin alterar Ia profun-
didad deI techo de Ia capa y variando sólo en escasa medida Ia CDZ deI
corte. Ell0 puede hacerse en dos casos, a los que se dieron los nombres
de "equivalencia en T" y "equivalencia en S".
a) Equivalencia en T.
Sean E, y Pi respectivamente el espesor y resistividad de Ia capa de
i
Índice de un corte geoeléctrico y Ti-I, Si-l los valores de Ias funciones
de DZ en el techo de Ia capa. En su muro dichas funciones valdrán
Ti = Ti-l + EiPi
. .
S' = S'-l
E,
+-- Pi

184
 CORTES EQUIVALENTES

Si pasamos a otro corte distinto sustituyendo Ei, Pi respectivamente por

EJa y a pi siendo a un número arbitrario > 1 se tendrá

Ti' = 1'1-1 + --ap,

Ei
a
= T'·
S'i = S',-1 + --
EJa = S'. + -.-
Si
a Pi a"

donde se ve que Ia sustitución efectuada deja invariable a Ti mientras

que Si disminuye algo, no mucho, si es pequeno inicialmente el valor de
E;/ Pi = Si comparado con Si-I.
Por ejemplo, si fuesen Si-l = Ti-l = 1 Y Ei = 1 Y Pi = 20, tendríamos
Ti = 21
Si = 1,05
Si se toma a = 5, serán
Ti' =.21
Si' =. 1,002

EI resultado de ello es que el arco de Ia CDZ correspondiente a Ia

capa i apenas se modifica, y 10 mismo ocurre en particular a' Ias coor·
denadas de su extremo, por 10 que Ia CDZ, en su totalidad,' permanece
práçticamente invariable (fig. IV -18).
b) Equivalencia en S.
Algo parecido ocurre cuando es Ti =. Ei Pi ~ Ti-l Y pasamos a otro
corte, sustituyendo Ei y Pi, respectivamente, por EJb y p;jb siendo b> 1
un número cualquiera. Entonces serán

Ti' =. Ti-.l + !!!.-

b
.-f-!.-
b
=1'i-l + ~~

Si' = Si-l + E;jb = Si

p./b

o sea que Ia sustitución deja inva'riable a SI mientras que TI disminuye

un tanto, poco en. comparación con su valor inicial por Ia pequenez re-
lativa de TI'
Así, si fuesen
SI-1 == 1'1-1 =1 Y Ei = 1, Pi = 0.1
se tendría
TI = 1,1
SI =.11
185
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

y si efectuamos el cambio con b =4 serán entonces

Ti' =.1,062
Si' =.11

de donde se deducen consecuencias análogas a Ias deI ejemplo anterior.

Pueden establecerse, pues, Ias dos conclusiones siguientes:

a) Cuando Ia conductancia longitudinal Si de una capa es mucho

menor que Ia total Si-l de Ias capas suprayacentes, puede dividirse su
espesor y multiplicarse su resistividad por un mismo número > 1, sin
que Ia CDZ deI corte se modifique apreciablemente (equivalencia en T).

Pm

p'

/.
/ // ,'',
I
'-...J
I, I
/"'P

I I I
" I, I Az

FIG. IV-IS. Equivalencia en T según MAILLET (1947).

b) Cuando Ia resistencia transversal Ti de una capa es mucho menor

que Ia total Ti-1 deI conjunto de capas suprayacentes, pueden dividirse
su espesor y resistividad por un mismo número> 1, sin que Ia CDZ
deI corte se altere de modo apreciabIe (equivalencia en S).

Las expresiones "equivalencia en T" o "equivalencia en S" aluden a

Ia circunstancia de que en el primer caso permanece constante Ia T de
Ia capa, y en el segundo Ia S. EI primer caso suele presentarse cuando
una capa es mucho más resistiva que Ias adyacentes y su es:pesor no es
muy grande, pues entonces su S es pequena, y el segundo en circunstan-
cias análogas para capas más conductoras que Ias que tiene por encima
y por debajo.
186
 CORTES EQUIVALENTES

AI ser casi iguales Ias CDZ, también serán muy semejantes entre sí
Ias curvas de SEV correspondientes. ZOHDY (1974) ha dado abundantes
ejemplos de esta similitud.

IV.8.3 La equivalencia de Zohdy

Ha hecho notar ZOHDY (1974) que existe otro modo de alterar un
corte geoeléctrico sin cambiar el número de capas, y que se ilustra en
Ia figura IV-19.

Pm

a' ,
/~~
"

.... 't- Az

FIG. IV-19. Equivalenciaien T según ZOHDY (974).

Según se ve en ella, el nuevo arco de DZ cruza aI arco inicial, por

10 que su punto de partida ha de retrasarse, 10 que implica un estrecha-
miento de Ia capa suprayacente. En este caso, se modifican tanto Ia T
como Ia S de Ia capa alterada. Este tipo de equivalencia es más general
que el clásico y muy útil en Ia interpretación de SEV.

IV.8.4 Cambies en el número de capas

Para Ia sustitución de una capa deI corte por varias o viceversa, en

condiciones de equivalencia, basta que Ias arcos de DZ de Ias nuevas
capas crucen eI arco inicial, de modo que Ios nuevos puntos angulosos
se sitúen alternativamente a uno y otro lado de aquél (fig. IV-20);
La escuela francesa (MAILLET, 1947) consider6 inicialmente el caso de
Ia sustituci6n de dos 'capas por una sola, llamando a este fen6meno
"principio de supresión", dado que una de Ias capas podía pasar inad-
vertida en Ia interpretaci6n.
187
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

fm

Az

FIG. IV-20. Descomposición en varios de un arco de Dar Zarrouk.

IV.9 LA FUNCION CARACTERISTlCA

IV.9.1 Introducción

La importancia de Ia función característica Nn(J ..) estriba en que su

conocimiento es necesario para el cálculo de Ia curva de resistividades
aparentes correspondiente a cada medio estratificado.
Aunque dados los espesores y resistividades que definen el medio,
queda determinada unÍvocamente Ia función característica, hay varios
modos de expresarla algebraicamente. ROMAN (1963) ha efectuado un aná-
lisis comparativo de algunos de eIlos. La mayoría de los autores, siguien-
do a Stefanesco, consideran separadamente Ia solución fundamental para
medio homogêneo, y sólo utilizan Ia parte de Ia función característica
(que en 10 sucesivo será aludida por Ia sigla FC) que corresponde aI po-
tencial perturbador debido a Ia presencia de más de una capa. ASÍ, en Ia
fórmula (IV,44) aparece Ia expresión

+ 1 2----=
K r)..s
e+)"E - K e-)"E
+ 1 2----
K e-2)"E
1- K e-2)"E
En Ia que Ia fracción que sigue aI coeficiente 2 es Ia FC utilizada por
Stefanesco, que corresponde a dicho potencial perturbador, y que deno-
188
 LA FUNCION CARACTERISTICA

taremos por N'n' En el caso general de n capas figura en Ia cantidad sub-

integral una expresión de Ia misma forma

1+ 2Nn' = Nn (IV, 64)

donde Nn es Ia FC "completa", esto es, que incluye Ia solución funda-
mental, tal como aparece en Ias ecuaciones (IV,21) y siguientes, a Ia que
lIamaremos FC de Slichter, por haber sido empleada por dicho autor.
Aunque Ia diferencia entre Ia función de Stefanesco N' n y Ia de Slichter
Nn parece trivial, no es así, ya que Ia representación Iogarítmica de Nn
es una curva con propiedades semejantes a Ia CDZ y a Ia curva de resis-
tividades aparentes, según demostró y estudió sistemática mente el autor
(ORELLANA, 1965).
La FC de Slichter admite dos expresiones algebraicas equivalentes a
ella, que llamaremos respectivamente, de King y de Vanyan.

IV.9.2 La función característica de Slichter

Como hemos dicho, esta FC incluye Ia solución fundamental y se

expresa en función de los factores de reflexión K y de exponenciales de
los espesores. Ya hemos visto su expresión para dos capas (IV,45); para
cortes de tres o más capas puede calcularse por medio de un algoritmo
debido a SUNDE(1949) en el que se parte deI factor de reflexión Kn_!
correspondiente a Ias dos últimas capas, y se van calculando sl\cesiva-
mente expresiones LlI Mil ..., Lil Mil hasta lIegar a Mn_1 = N n' Las fór-
mulas son Ias siguientes:
Lt= Pn- pn-l
Pn + Pn~ = KIl_1

M! = 1 + LI e-2"E"-1
1- LI e-2"E"-1

Li = Pn_I+IMI_l - Pn-I
Pn_"+IM;_l + P,,-i
(IV, 65)
Mi = ~1- L; e-Z"E"-I
Li e-Z"E"-I

L n-l -- -...,-----'----.:.-..:
P2Mn_z - P!
P~M"_2 + PI
Mn_1 = -.! + Ln-1 e-2"E1
1~ Ln_1 e-2"E,

189
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

Los pasos Li, Mi pueden combinarse en uno solo, que podemos sim-
bolizar por R i,

Ri = Ri+1Pi+l +
piThEi (IV,65 bis)
Pi+ Ri+1Pi+1ThEiÂ

expres10n semejante a, Ia dada por KOEFOED (1979). Si es n eI número

de capas, se comienza por R .•= 1 y se continúa rebajando eI índice hasta
R1=N .•.
Siguiendo estos procedimientos puede calcularse, por ejemplo,

N __ 1 + K1 e-2l-E, + Kz e-2l-(E,+Eú + K1.Kz e-2l-E, (IV,66)

3 - 1 _ K1 e-2l-E, - K2 e-2l-(E,+E,) + K1 K2 e-2l-E,
Las expresiones así obtenidas para N" en Ia forma de Slichter cum-
plen Ias condiciones siguientes:
a) N.• tiene Ia forma de cociente entre dos sumas de términos dei
tipo
± Ki Kj ,., e-2l-iEr+E".+.,.)
donde
Kj = P/h.-!!!- (IV,67)
Pi+l + Pi'
b) EI número de términos deI numerador, igual aI deI denominador,
es 2"-1 siendo n el número de capas deI corte.
c) Los términos deI numerador están siempre afectados por signo
positivo.
d) Los términos deI denominador son Ios mismos deI numerador,
pero Ia mitad de ellos tiene signo negativo, siendo positivos 105 restantes.
Los términos negativos son Ios que contienen un número impar de Ki•
La demostración de estas propiedades resulta de Ia Iey de formación
dada por eI· algoritmo de Sunde.

IV.9.3 La función característica de f<ing

La FC de SIichter puede transformarse agrupando Ias exponenciales
en forma de funciones hiperbólicas, con 10 que Ias resistividades aparecen
explícitamente, y no en forma de factores de reflexión. De este modo,
eI autor pudo demostrar, en su tesis doctoraI (ORELLANA, 1965), nuevas
190
 LA FUNCION CARACTERISTICA

propiedades de Ia FC, en especial Ia similitud de su comportam lento con

Ia CDZ y Ia curva de resistividades aparentes. Este modo de expresar
Ia FC fue utilizada por KING (1934), para el caso de dos capas, por 10 que
Ia denominaremos función característica de King. Debe entenderse que
Ias FC de Slichter y de King son idénticas en sus valores numéricos y
sólo difieren en su expresión algebraica.
El paso de Ia FC de Slichter a Ia de King se efectúa por medio de Ia
conocida fórmula

_2x _1- Th x
e -1 + Thx (IV,68)

Aplicando esta igualdad a N2 según ésta aparece en Ia (IV,45) se

tiene

1 +P2-Pl l-ThEÂ
1+ K e--2)'E '
N2(Â) =1 K ~
=- P2 + PI 1 + 1h EJ.. -
- e-"' l-~ l-ThEÂ -
[>2 + PI 1 + Th HÁ
_ [>2 + Pl Th EÂ (IV,69)
P1 + Th EÂ
P2

que es Ia FC de King para cortes de dos capas.

Para Ia obtención de Ia FC de King correspondiente a un corte de n
capas puede procederse por recurrencia. (ORELLANA, 1965).'" EI resultado
es siempre una fracción cuyos términos son sumas de productos de una o
varias resistividades de Ias capas deI corte, multiplicadas por un número
variable, incluso nulo, de tangenteshiperbólicas de los espesores de dichas
capas, siempre multiplicadas por el parámetro ).. Clasificaremos los tér-
minos en pares e. impares según el número de tangentes hiperbólicas que
contengan.
Entonces para pasar de Ia FC' de King para n capas a Ia de n + 1
capas se procede deI modo siguiente. Cada término deI numerador de Ia
expresión para n capas da lugar a dos deI numerador para n + 1 capas.
Si el término de partida es par, los nuevos términos se forman, r~spec-
tivamente, anadiendo aI primero los factores P"+l Y p" Th EÂ. Si el tér~
mino de partida fuese impar, Ios factores que se anaden son p" y
P,,+l Th E"Â.

.•• Véase el apéndice 2.

191
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

Análogamente, cada término dei denominador produce dos nuevos

por inclusión de nuevos factores, que son (l" Y (l,,+l Th E"Â cuando el
término inicial es par, Y (l"+l Y fi" Th E,, en caso contrario.
Como ejemplo, veamos el paso de Ia FC de King para dos capas a Ia
de tres capas. AI término deI numerador fi, corresponderán, según 10 di·
cho, fi, P:j Y fll Th E2À, Y en conjunto los nuevos términos resuItan dei
siguiente esquema:

Numerador

/' P2 P3

PI Th E1Â
/' PI (l2 Th E1Â

P2 " ~
.~ P2 2 Th E2Â (lI P3 Th E1Â • Th E~

Denominador

/' PI (l2
Â/'
P2 P3 Th E1Â

PI ". ~ PI P3 Th EÂ2 P2 Th E1 ~ P2 2 Th E IÂ • Th E2Â

de modo que Ia FC de King para tres capas será

P2 P3 + P22 Th E2Â + PI Th ElÀ + PI Pa Th
(>2 E1Â • Th E2Â
N3(Â) = , (IV,70)
PI P2 + P3 Th E2Â + P2 P3 Th EIÂ + P22 Th
pJ E1Â • Th E2Â

La expresión de King para Ia FC de n capas cumple Ias siguientes con-

diciones: .
a) Nn tiene Ia forma de un cociente entre dos sumas de términos dei
tipo
PiPj ... ThE!Â' ThEm ...

b) EI número de términos en eI numerador, igual ai dei denomi-

nador, es 2"-1.
c) Todos los términos, tanto dei numerador como deI denominador,
son positivos.

IV.9.4 La función característica de Vanyan

La expresión de Ia FC de King para dos capas.

N2 = + P2 PI Th EJÂ (IV,69)
PI + P2 Th EIÂ
192
 LA FUNCION ÇARACTERISTICA

.puede transformarse si se hace

----f!3....= Thx (IV,71)
PI

donde x es un número tal que

x = Th-l~ * (IV,n)
PI
Entonces

~PI + ThEIÀ
Na= _ Thx + ThEIÀ _
1 + ~ThEIÀ - 1 + Th x . Th EIÀ -
PI

(IV,73)
= Th (x + EIÀ) = Th ( ElA + Th-l :: )

De modo análogo puede expresarse Ia FC para tres capas

(IV,74)
Na(À) = Th {EIÂ + Th-l [-;: Th ( ÀEa+ Th-! ;;-)]!
y en general para n capas·

Nn(A) = Th ~EIÃ + Th-l [ :: Th ( ÃEa+ 0'0 + Th-l ~~l )] l (IV,75)

Este modo de expresar Ia función característica se debe a VANY AN

et aI (1962) y es el único que permite escribir directamente Ia ,fórmula
general para n capas. De Ia FC de Vanyan se pasa inmediatamente a Ia
de King sin más que aplicar Ias fórm~las de adición de Ias funciones hi-
perbólicas.
Existe sin embargo un inconveniente, y es qu..: Ia relaci"ón (IV,n) y
sus análogas sólo tienen sentido si PaíPI < 1. De no ser así, habría que
tomar Cth-! x en vez de Th-1 x y en Ia fórmula general (IV,74) habría
que sustituir además por Cth Ia función Th que antecede inmediatamente
a Ia Th-! reempIazada. Por 10 tanto, Ia expresión de Vanyan para Ia FC,
sóIo puede escribirse exactamente cuando se conocen los valores de Ias
resistividades deI corte.

* Representamos por Th-l Ia función inversa de Ia tangente hiperbóIica,

área Th, dada Ia mayor sencillez de dicha notación.
193
 TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

IV.10 PROPIEDADES DE LA FUNCION CARACTERISTICA

La FC de Slichter, así como sus derivadas de. King y de Vanyan, po-

seen propiedades muy interesantes que Ia asemejan a Ia Pm(Az) o curva
DZ, Ias cuaIes no aparecen en Ia FC de Stefanesco. Para que esta seme-
janza resalte es necesario tomar como variabIe independiente de Ia re-
presentación gráfica, no Â, sino su inversa  -I que tiene Ias dimensiones
de una Iongitud. Estas propiedades son Ias siguientes:

a) Asíntotas.

Si en Ia expresión de Ia FC de King para dos capas, considerada

como función de Â

Nz(Â) = P2
PI
+
+ PIP2 Th EÂ
Th EÂ
(IV,69)

se hace que  '4" O queda

lim Nz(Á) = ~Pl (IV,76)

). ..•0

mientras que para  ~ 00

lim
)....•00
Nz(Â) =1 (IV,?7)

ya que lim Th x ==
).-'0
)....•00
)....•0
lim(IV,78)
Nn(Á)
N3(Â) =1~~PIPI
(IV,79)
(IV,80)
0) que lim Thx = O
lim =1
N3(Á) = 1
lim Nn(Â)

Expresiones Ias últimas que pueden demostrarse por inducción completa

(ORELLANA, 1965), y de Ias que se deduce que si se normalizan los cortes
haciendo PI = 1 (o si se incluye el coeficiente PI de Ia (N,Z3) en Ia FC),
Ia representación logarítmica de ésta, en función de }.-1 tiene asíntotas
194
 PROPIEDADES DE LA FUNCION CARACTERISTICA

horizontales por Ia izquierda y por Ia derecha, de ordenadas respectiva-

mente iguales a Ia primera y última resistividades deI corte, 10 que ocu-
rre también a Ia CDZ. *
En Ia figura IV-21 se representa Ia función NZ(}.-I) para PI = 1 Y di-
versos valores de Pz en escalas logarítmicas. En Ia figura IV-22; se super-
ponen Ia CDZ y Ia FC para un corte de' dos capas. Como puede verse
en ella, Ias dos funciones son muy semejantes, si bien Nz(}. -1) carece deI
punto anguloso, por ser continua su derivada.
Esta aproximaciónentre Ia CDZ y Ia Nn(J._l) de un mismo corte,
queda .patente también en Ia figura IV-23 COn dos ejemplos para cortes
de tres capas. En uno de ellos (P3'= O) Ias dos curvas coinciden prácti-'
camente para abcisas grandes.
'Conviene considerar con aIgún detenimiento este caso en que Ia re-
sistividad de Ia última capa sea nula, y su correlativo de resistividad in-
finita. Si se normalizall Ias resistividades deI corte dividiendo todas ellas
por Ia de Ia primera capa de modo que pueda considerarse PI = 1 Y po-
niendo Pn = O se tiene, para valores grandes de À-I (o sea pequenos de À)
TI
NZ(À-I) = Th D ~ EÀ = -'-1-'
A- ' (IV,8I)

ya que TI = EpI = E, y por otra parte

h_I 2
T x-x~-3-x+15x- z
... (IV,,82)

Tomando Iogaritmos en Ia (IV,71) resulta

19Nz(À -1) = Ig TI .---,Ig (À-I) (N,83)
P2 = O

que es Ia ecuación de una recta de pendiente -1, que corta el eje de

abcisas en eI punto  -1 = T-
Esta recta es una aproximación de Nz(À -1) que difiere de eUa tanto
menos cuanto mayor sea À -\ diferencia que tiende a cera para À -1 ~ 00
Se trata, pues, de una asÍntota de Na(À-I) Ia cual coincide, con el arco de
Ia CDZ correspondiente a 1a segunda capa (apartado IV.~] f).

• Si no se normaliúm Ios cortes, pero se incluye en Ia funci6n característica Ia

(lIque aparece fuera de Ia integral en Ia (IV.27), se obtiene una nueva forma de
aquella P(À) = PlN(À) que tiene Ias mismas asíntotas que Ias CRV. CRA y CDZ
sin necesidad de norm.alizar. Muchos autores, entre ellos KOEFOED, Haman a P(À)
transformada de resistivida.d. Véase eI apartado V.13.
195
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

••

NzU.-1)

10'
8
6

'r-<>- ~ f~ = 2.5

P2 = 0,4

P2 = 0.2
2 .~

!O-I
8
Pz =0.05
~

Pz =0.025

10-2

FIG. IV ·21. Funciones características de Slichter, en función de À-I, para diferentes

cortes de dos capas, Con Pl = L

196
 PROPIEDADES DE LA FUNCION· CARACTERISTICA

///'
- /'\--37-- / / ,; .- -
10
1= --'- --f--
/
/'
.•......
6
5
4

"'5

10"
$
8
7
6
,5
:3 4567890° 2 34567890 2 3 4 5 6 78 90l 2 3

FIG. IV-22. Superposici6n en el Ihismo gráfico logarítmico de Ia CDZ y Ia FC de un

corte de dos capas, E1 = 1; PI = 1; P'!. = 5. Abscisas: Az, À-I; Ordenadas: Pm, N2•

~, , 19·
8
7
6
,":".1:-,-'", j
544 1-7--
3o6..•..597lbl
r--...
'~
o~
",.•••••••
689\
8•27289
6.789
___
F
2.
o
-- -
Y--.-- 2
II "-
1·-

5
4 ,,,.
3

1~
8
7
6
5
4
3

\5

10

FIG. IV-23. Superposici6n, en el mismo gráfico logarítmico, de Ias CDZ y FC de

dos cortes de tres capas. Corte a; E1 = 1; E2 = 5; Pl = 1; pz = 0,2; P3 = 0,05;
Corte b: igual. salvo P3 = O. 'Abscisas: Az. À-I; Ordenadas: Pm. N3•

197
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

Análogamente, para N3()·-I) con P3 = Oy P1 = 1, se tiene

N3(Â -1) = PaPa+Th PaaTh

EI + PaaTh Ez . ~
EIÂ • Th EzÂ
__
1
E_IÂ_+_P_2_E_a
+ P2 • EIÂ • E2Â

(TI + Ta) Â

- 1 + P2 TI Ta Â2

lim
).->0
N3(Â -1) = TI Â-l+ Ta
donde tomando logaritmos resulta
19 N3(Â -1) = 19 (TI + T2) -lg Â-l
Â--?O

P3 =O
que representa una asÍntota rectilínea de Ia FC, de pendiente -1, que
corta el eje de abcisas en el punto  -1 = TI + T2 y coincide con el arco
final de Ia CDZ.
Puede demostrarse que esta propiedad es válida para Nn<Â -1) (ORE-
LLANA, 1965).
19 N n( --1) = 19 T '- 19(. -1)
Â--+O

Pn = O

siendo
T=ZT1•
I
En el caso de que Pa --+ 00 con resistividades normalizadas Pl = 1, se
tiene
1 1 _ Â-l _~
lim Na(.Â-l)
P2~00
= Th E ~ E· - -e: - SI
(IV,84)
Pl

y en el caso de tres capas con Pl = 1, P3 --? 00

lim N3()..-I) = Pa + ThEIÂ. ThEa P2+ EIÂ' E2Â

ThEa + p2ThEI ~ Ea. + P2 El  -

1+~~Âa
Â-1
Pl P2 r---J

~Â+~Â-
SI + Sa - (IV,85)
P2 Pl

198
 PROPIEDADES DE LA FUNCION CARACTERISTICA

para  pequena. AI tomar Iogaritmos resulta, respectivamente,

19Na(Â-l) = 19(Â-l)-lgSI (IV,86)

Â~O
Pa~oo
19Na(Â -1) = 19(Â-1) -lg (SI + Sa) (IV,87)
y en general
-1
S
Â

lim Nn(Â-l) = (IV,88)

19Nn(Â -1) = 19(Â-1) -lg S (IV,89)

Â~O
Pn~OO

10 que quiere decir que Ias FC de cortes geoeléctricos con pn ~ 00, Pl = 1

tienen, en su representación 10garÍtInica, una asÍntota rectilínea de pen-
diente + 1, que corta el eje de abcisas en el punto Â-1 = S siendo S Ia
conductancia longitudinal de todas Ias capas deI corte excepto Ia última.
Esta asÍntota coincide con el último arco de Ia correspondiente CDZ.
b) Principio de equivalencia.
También en Ia función característica se cumple el principio de equi-
valencia, es decir, que cortes geoeléctricos desemejantes puede~. tener
funciones características muy próximas entre sí. Esto ocurre, como en Ias
CDZ, cuando una capa del corte tiene pequenas su S o su T. Entonces
pueden modificarse su espesor y resistividad, de modo que no varíen,
respectivamente, Ia T o Ia S sin que Ia función característica experimente
cambio apreciable. EUo se ilustra con el ejemplo de Ia figura IV-24 en Ia
que se representan Ias FC correspondientes a dos cortes equivalentes en
T y cuya diferencia, inferior aI 1 %, es inapreciable en el gráfico.
Para aclarar el origen de esta propiedad puede considerarse el caso
de tres capas, con equivalencia en T para Ia segunda. Se hace tender a
cero el espesor Ea de esta capa conservándose constante el producto
Ta = Ea Pa, O sea Ea~ O, Pa~ 00. Entonces, teniendo en cuenta Ia (IV,82),
será

lim N3(Â) -
Th E1 Â + Pa + (P2 E2) Â

1 + (P2 E2) J. • Th E1 + Pa Th E1
 J.

Ea~O = ThE1J. + Pa + T2Â

P2~00. 1+ T2 Â • Th E1 + Pa Th E1
 J.
E2Pa = Ta
(IV,90)

199
TEORIADELSONDEOELECTRICO
VERTICAL

límite que no depende de P2 y E2 separadamente, sino de su producto T2•

Ocurre, pues, que cuando se cumplen Ias condiciones de equivalencia (T
constante, S pequena) eI valor de NlÀ) diferirá poco deI límite dado por Ia
(IV,79).
De modo análogo puede probarse que existe equivalencia en S y tam-
bién para cortes de más de tres capas. (ORELLANA, 1965). La equivalencia
no puede presentarse en Ias capas primera o última, ya que Ias resistivi-
dades de éstas determinan Ias asíntotas de Ia FC independientemente de
Ios espesores.
Funciones características de cortes recíprocos.
(c)
La función característica, como Ia CRV (apartado IV,4) y Ia CDZ, cum-
pIe Ia Iey de simetría de cortes recíprocos. En efecto, según Ia dicho en
el apartado 7.2 de este capítulo, Ia FC de SIichter para un corte de n
capas puede escribirse en Ia forma

Nn(À) = H-P
H +P (IV,91)

dori'de Ias símbolos H y P representan sumas de términos deI tipo

Ki Kj "0 e-2)"R

siendo impar eI número de factores K en Ias términos de P y par en Ias

de H. Para pasar a Ia FC deI corte recíproco deI dado, habrá que sustituir
cada resistividad por su inversa, con Ia que cambian de signo Ias K en
virtud de su definición (IV,57), mientras que Ias exponenciales no sufren
variación, pues sólo dependen de Ias espesores. Por Ia tanto, si llamamos
N'(À) a Ia FC deI corte recíproco deI dado, se tendrá
H-P
N'(À) = --o
H+P- = N-1(À)
Las funciones N(À) y N'(À) son por 10 tanto recípro~as y en su represen-
tación gráfica en escala Iogarítmica en función de À -1 originarán curvas
simétricas entre sí respecto deI eje de abscisas y = 1 (fig. IV-21).

d) Continuidad.
Si aIgUila resistividad deI corte es infinita, Ia FC crece indefinidamente
para O según se ha visto, y Ias capas siguientes no se reflejarán en Ias
À ~

valores de Ia función. Fuera de este caso, Ia FC es cOntinua y acatada,

pues eI denominador no puede anularse nunca, por ser positivos todos sus
términos y uno de ellos constante, mientras que Ias deI numerador están
acatados, por ser constantes Ias resistividades, y Ias tangentes hiperbóli-
cas menores o iguales que Ia unidad.
200
 LA CURVA DE RESISTIVIDAD APARENTE;

Razonamiento análogo puede apIicarse a Ia primera derivada de Nn(Á)

con eI mismo resultado. Por 10 tanto, Ia representaci6n Iogarítmica de
N nO..-1) es una curva suave, sin Ios puntos angu~osos característicos de
Ia CDZ.

4
3
-,-- I
•.. 0_
•...
-..
.......,
..•...... -..
•. 0
.....

N.(
z

1~·
8
7
6
S
4
3 4 S 6 78910· Z 3 4 5 67891(' Z 3 4 5 6 78910' ? 3

FIG. IV-24. Principio de equivalencia en Ia FC de Slichter. E1 = Pl = 1; P3 = 1;

Corte .a) Ea = 1; pa = 20; Corte b) Ea = 0,5; pa = 40. Ta = 20. Las curvas se
superponen prácticamenteo

IV.11 LA CURVA DE RESISTIVIDAD APARENTE

Las funciones hasta ahora consideradas, y sus curvas representativas

(CRV, CDZ, FC), expresan propiedades intrínsecas deI corte geoeIéctrico
considerado. Por eI contrario, Ia curva de resistividades aparentes
Pa = Pa (Pio Pz, 00" E1, Ez, .... , r) (IV,92)

no s6Io depende de Ias datas que especifican el corte considerado, sino

de1 tipo de dispositivo e1éctrico con eI que se hayan efectuado Ias medi-
ciones.
Dicha curva representa gráfica mente, en escala Iogarítmica; Ia soIuci6ri
deI problema directo, esta es, 'dado un corte geoeléctrico, expresa Ia serie
de valores de Ia resistividad aparente que se obtendrán con un dispositivo
electr6dico determinado de Iongitud creciente, situado sobre eI corte. En
10 que sigue nos referiremos a Ias curvas de SEV (apartado IV.!) obte-
nidas por medio de dispositivos Schlumberger o semi-Schlumberger. .
La variable independiente de tales curvas es eI parámetro AB/2 = OA
que representa Ia distancia deI centro deI par MN aI electrodo A, y que
se designa por r en Ia ecuación
201
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

(IV,27)
Pa(r) ::::= p,r2 J ~ N n()") UÁr) Â dÂ

Para eI estudio de Ias propiedades de esta función es conveniente efec-

tuar un cambio de variabIe. Si se hace Âr = w, por ser r constante durante
Ia integración se tiene

Â=~' dÂ=~~
r ' r (IV,93)

Entonces,

Pa(r) = PI r Joo o Nn(w, r) ~- r r

!I(w) !!w =

=PI J~Nn(w, r) w !I(w) dw

(IV,94)

La FC de King quedará ahora constituida por términos de Ia forma

PI PI '" Th EK w Th E1 w
r r

y teniendo en cuenta 10 visto en eI apartado anterior, será

Nn(w, O) =1 (IV,95)

lim Nn(w, r) = ~
T->oo PI

Con esta base, pueden demostrarse algunas propiedades de Ias CRA

(curvas de resistividad aparente) para los SEV tipo SchIumberger.
a) Continuidad.
Siempre que Ias resistividades deI corte sean finitas, Ia función Pa(r)
es continua. En efecto, entales condiciones Ia FC está acotada (apartado
IV.8 d) y puede elegirsearbitrariamente una cantidad A no superada
por Nn en ningún punto deI- intervalo (O, (0); entonces

N(w, r) w !I(w) < Aw ,,(w)

yademás .

f~ Aw !I(w) dw <A
202
 LA CURVA DE RESISTIVIDAD APARENTE

ya que

f~ xHx)dx =1
por 10 que se cumpIen Ias condiciones de La Vallée-Poussin para Ia con-
vergencia uniforme respecto de r. (WHITTAKER-WATSON, 1963). De este
hecho y de Ia continuidad del integrando, producto de funciones conti-
nuas, resulta Ia anunciada continuidad de Ia función pir). (Op; cit., p. 73.)
Carece de base, por 10 tanto, Ia opinión, muy extendida hasta época
reciente, de que Ias CRA presentan saltos o discontinuidades para cier-
tas distancias r ligadas por relaciones sencilIas con Ias profundidades de
Ias capas.
Asíntotas horizontales.
b)
La función pir) tiende respectivamente para r ~ O y r --l- 00 aIos mis-
mos límites ,01 y pa que Ia CDZ y Ia FC.
AI hacer r = O se tiene Nn(w, O) = 1, según Ia (IV,95) y entonces

Pa(O) = ,01 J~ W li (w) dw =,01

(ÍV,96)

cuando r ~ 00, en virtud de Ia segunda de Ias (IV ,95)

00
(IV,97)
lim
r~CXl Pa(r) = J ~
,01 o ,01 w ft(w) dw = Pn
•

Por 10 tanto, Ia CRA tiene dos asíntotas horizontaIes ordenadas ,01

y Pn respectivamente para r --l- O Y r ~ 00 en Ia representación Iogarít-
mka. .

c) Fallo de la ley de simetría de cortes recíprocos.

Habíamos visto que Ias CRV, CDZ y FC, en su representación Ioga-
rítmka, se transformaban en sus simétrkas- respecto deI eje de abscisas
y = 1 cuando se trocaban Ias resistividades por sus valores recíprocos.
En Ias curvas de resistividad aparente, deja de cumplirse este prin-
cipio * ya que Ia sustituciónde Nn por el valor recíproco en Ia (IV,27)
no produce eI mismo efecto en eI valor deI primer miembro. .

* En 105 sonde os electromagnéticos no siempre sucede así.

203
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

Por esta causa, Ias CRA para dos capas, por ejemplo para Pz = 5 Y
P2 = 0,2no son simétricas respecto deI eje Pa = I; Ia primera asciende
gradualmente, sin cambio brusco de curvatura, mientras que Ia segunda
desciende rápidamente, y pasando por un codo, toma una tendencia. casi
horizontal.
Este hecho tienegran importancia en Ia teoría e interpretación de
sondeos eléctricos.

d) Asíntotas oblicuas.
En el caso límite pn -+ 00 Ia CRA, en su representación Iogarítmica,
posee una asíntota rectilínea, de pendiente + 1, que corta aI eje Pa = 1
en el punto de abscisa S, siendo esta magnitud Ia suma de Ias conductan-
cias longitudinales de todas Ias capas excepto Ia última. Obsérvese que
esta asíntota es Ia misma de Ia CDZ y FC deI mismo corte.
Para demostrarlo, hay que considerar que según Ia (IV,88)

1 r
limNn = '-5= wS (IV,98)
Pn -+ 00

donde se ha efectuado eI cambio de variable (IV,93) expresión que, lle-

vada a Ia (IV,94) da

Pa '" J=o
-S
wr w !l(w) dw = -.!-
S
(IV,99)

donde se ha puesto PI = 1 de acuerdo con eI criterio de normalización

empIeado en Ia (IV,75), 10 que no influye en eI resultado. Tomando 10-
garitmos en Ia expresión anterior, se obtiene Ia ecuación de Ia asíntota
buscada.

En cambio, no existe asíntota descendente para eI caso Pll = O, como

consecuencia deI fallo de Ia Iey de simetría.
En eI caso de Pn = 00, Ia asíntota oblicua corta aI eje Pa = 1 en eI
punto de abscisa S, según se deduce de Ia (IV,99) deI mismo modo que
para Ia FC (apartado IV.lO ,a). Esta propiedad es importante, puesto que
permite Ia determinación directa deI valor de Ia S total de Ias primeras
n -1 capas, si Pn= O() cuando se conoce Ia CRA deI corte. Para ello
basta tra:z;ar Ia referida asíntota, y medir Ia abscisa de su intersección
con dicho eje.
Esta propiedad puede' generalizarse para Ias CRA con rama derecha
ascendente, pues todas ~llas se acercan deI mismo modo aI ValQLJímite
204
 LAS CUATRO FUNCIONES FUNDAMENTALES.

Pn' Por ejemplo, si se toman Ias curvas logarítmicas de dos cortes dife-
rentes de dos capas deI tipo P2> Pl Y se desplaza uno de los gráficos
respecto dei otro, de modo que su origen se mueva sobre Ia bisectriz de
los ejes deI segundo, hasta que coincidan Ias ordenadas de Ias dos re-
sistividades finales, puede observarse que entonces Ias dos curvas coin-
ciden prácticamente en su parte derecha. Esto se ilustra en Ia figura

/
(IV,25) donde se han superpuesto, por el procedimiento indicado, tres

/
'Z
I -
3
1 -/V .,,~=40
- r /~

VV
~-
,,"2
li/I?
A

io'
8
7
6
5
4
3

1<f..

8
7
6
5
4

2 I I I , , I , ,
, 4 5 6 789100 2 ·3 4 5.6789101 .2 3 4'5 6 78.91OZ 2 3

FIG. IV-25. Comoortamiento asint6tico común de tres curvas de resistividad

apãrente para cortes de dos capas con P2/ Pl > "I.

curvas de dos capas, con P2/Pl = 2,5; 7 Y 40 respectivamente, Ias cuales

se unen en una sola a 'partir, aproximadamente, de Ia abscisa 15.
Lo mismo ocur!'e para cualquier número de capas; puede demo.s-
trarse (ORELLANA, 1966) que el comportamiento asintótico de una curva
de n capas de parte derecha ascendente sólo depende de Ia resistividad
final Pn Y de ia conductancia longitudinal S deI conjunto de Ias prime-
ras n - I capas; No se dará aquí Ia demostración, perO sí Ia fórmula
205
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

de Ia curva general a Ia que se aproximan asintóticamente Ias ramas de-

rechas de todas Ias CRA ascendentes. Dicha fórmula es

Pa ~ + ;:n [ H -1 ( p:S ) + Y1 ( P:S )]

(IV,100)

donde H -1 es Ia función de Struve de orden - 1 e Y1 es Ia función de

Bessel de segunda especie y orden 1 (función de Neumann).
Estas propiedades asintóticas tienen aplicaciones importantes en Ia
interpretación.
Todo 10 anterior se refiere a Ias CRA correspondientes a dispositivos
Schlumberger (o semi-). Para Ias CRA obtenidas por medio deI dispositivo
Wenner valen Ias propiedades anteriores con algunos cambios; en par-
ticular, hay que tener en cuenta el factor 2ln 2 = 1,3863. * La asÍntota de
pendiente + 1 para el caso de pn = COno corta aI eje Pa = 1 en el punto
de 'llbscisa S sino el de abscisa 1,3863 S. Por esta causa, Ia asÍntota de Ia
curva Wenner no coincide con Ia de Ia CDZ.

IV.12 LAS CUATRO FUNCIONES FUNDAMENTALES

Conviene recapitular 10 dicho en los apartados anteriores, para siste-

matiz~r Ias semejanzas de Ias cuatro funciones estudiadas y de sus re-
presentaciones 10garÍtmicas ..
Estas funciones se refiereq. a medios estratificados (aunque podrÍan
generalizarse) y son Ias siguientes: CRV (curva de resistividades ver-
daderas), Ia CDZ (curva de Dar Zarrouk), Ia FC (función característica
de Slichter y sus equivalentes de King y Vanyan: no Ia de Stefanesco) .
. La semejanza entre estas funciones resulta en su representación logarít-
mica (figura IV-16), en Ia que supondremos que Ias resistividades se han
normalizado dividiéndolas por Ia de Ia primera capa y tom~ndo esta por
unidad, P1 = 1, pero esta restricción, aunque cómoda, no es necesaria.

Las principales propiedades de estas funciones y sus representaciones

logarítmicas son Ias siguientes:

* Dicho factor se obtiene como en eI caso dei dispositivo SchIumberger,

pero utilizando Ia (IV,29) en vez de Ia (lV,27).

206
 LAS CUATRO FUNCIONES FUNDAMENTALES

/'./
.' \ /F\ \
3, ,,,,", ~",:,
-" ,, -I~"
43 "
567894456789D62 "7891::>2
5I"~Ibo . ,,
\\
"-
\ ..L::::: 2
"" ..
\ 2
CRV

10
9
8
7
6
/' ~
5
4

10°
9
8
7
6
5
4
3

10
2

FIG. IV-26. Representación logarítmica conjunta de Ias curvas: de resistividades

'verdadcras (CRV). de Dar Zarrouk (CDZ), función característica de Slichter (FC)
y de resistividades aparentes Schlumberger (CRA). para 'un corte de tres capas
E1 = P1= 1; E2 = 1; ('2= 20; pa = O. En otros tipos de cortes, especialmente
Ios A. AA, etc .• Ia proximidad de Ias tres últimas curvas es mayor, Abscisas:
z, Az, ,\-1, AB/2; Ordenadas: Pio Pm. Na. Pa.

a) Curva de resistividades verdaderas.

Expresa directamente Ia resistividad y espesor de cada .capa. Su grá-
fico logarítmico tiene forma escalonada; Ia función p(z) y su primera
derivadason discontlnuas en Ias valores de z correspondientes aIos con-
tactos. A los valores Pi = O Y Pi = 00 corresponden semirrectas parale-
las aI eje de ordenadas. Cumple Ia ley de simetrÍa.
207
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

b) Curva de Dar Zarrouk.

Representa Ia variación de Ia resistividad media Pm en funciónde Ia

función de Ia pseudo-profundidad Az. Su gráfico Iogarítmico se compone
de una serie de arcos cuyos puntos de unión son angulosos; Ia función
es continua, pero no su derivada. A Ios valores pó = O y pó = 00 corres-
ponden semirrectas de pendientes respectivas - 1 Y + 1 cuyas intersec-
ciones con eI eje Pm = 1 son Ios valores ToS deI conjunto de capas
anteriores. Las capas siguientes a Ia que posee uno de dichos valores
límites no se reflejan en Ia curva. Cada arco tiende asintóticamente a
Ia resistividad de Ia capa correspondiente. La posición en eI gráfico deI
punto que corresponde a Ia profundidad z no depende de Ia parte deI
corte inferior a dicha profundidad."Se aplican eI principio de equivalen-
cia y Ia Iey de simetría.
c) Función característica.

Expresa Ias condiciones de contorno deI problema directo. Su gráfica

en función de ).-1 es continua; así como su derivada; en Ias casos de
pó = O Y Pi = 00 tiene por asíntotas Ias semirrectas de DZ indica das más
arriba. Las capas siguientes no se reflejan en Ia curva. Excepto en este
caso, Ia posición de cada punto depende de toda Ia distribución de re-
sistividades en eI corte, aurique algunas pueden infhJir más que otras.
Son válidos el principio de equivalencia y Ia ley de simetría.

d) Curva de resistividadesaparentes. (Parael dispositivo Schlum-

berger.)

Representa los resultados de. un SEV efectuado sobre el corte dado.

Su gráfica pir) es continua, así como su derivada. Cuando Pi = 00 Ia
curva tiene por asíntota Ia misma de Ia FC deI corte. Las capas siguientes
a una de resistividad nula o infinita no influyen en Ia curva. Fuera de
esta circunstancia todas Ias resistividades influyen más o menos en cada
punto. Cuando Ia rama final es ascendente, tiene siempre el mismo com-
portamiento asintótico. Se aplica el principio de equivalencia, pero no
Ia ley de simetría.
Las referencias sobre continuidad no ~e aplican aI punto deI infinito
deI eje de abscisas, ya que en él Ias curvas mencionadas son disconti-
nuas cuando alguna resistividad es nula o infinita. Las propiedades in-
dicadas se resumenen Ia tablaadjunta.
La suavidad o lisura creciente de 111scuatro funciones hace que una capa
delgada se marque cada vez menos en Ias sucesivas representaciones grá-
ficas, de modo que Ias que no posean una ToS sufieientemente grande,
no destacan de Ia CDZ. son poco conspicuas en Ia FC y pasan inadvertidas
208
 TABLA IH. - FUNCIONES FUNDAM ENTALES DE CORTES ESTRATIFICAPOS

Dar de
deSóloNo
No
Símbolo
--
para
Schlumber-
resistivi- -
Continuidad
horizontales
simetría
matemático
Principio
pm=pm(Az)
Discontinua
deSíContinua
Ia
Asíntotas
Continua
Sí Sí
caracterís-
derivada
oblicuas
Discontinua
Discontinua
Continuidad
Continua
Continua
Sí
ydeSí SíSíde pu=
su
NlI(À-l)
función
Asíntotas
Ley
equivalencia pu(r) de Ia de pn=OO
Son arcos
curva
dades verdaderas p=p(z)
Curva de
(Función Abreviatura
resistividad

CDZ
pu(r)

t'"'
>
til

8
~
"r1

c::

~
~
t!l
til
"r1

~
tl>
3:
t!l
Z
..,
o
to.>

\O
F:
t!l
til
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

en Ia CRA. EI trazado de Ia CDZ correspondiente aI corte considerado,

puede orientar sobre Ia detectabilidad de sus diferentes capas.
La morfología de Ias CRA y su relación con los cortes que Ias pro-
ducen será estudiada más extensamente en el capítulo V.
La mayor lisura de Ia CRA respecto de Ia CDZ deja de cumplirse
(ZOHDY,1974) cuando en el corte existen capas muy conductoras y grue-
sas que originan en Ia CDZ un tramo largo (de longitud horizontal próxi-
ma o superior a un ciclo logarítmico) con pendiente cercana a - 45 o.
Entonc~s una variación pequeõa en el tramo descendente de Ia CDZ
puede producir un cambio igual o mayor en Ia CRA.

IV.13· !-AS ECUACIONES DE MAILLET

IV.13.1 Inlroducción

Raymond Maillet, en su fundamental trabajo de 1947, en el que dio

a conocer los parámetros y funciones de Dar Zarrouk, no se ocupó de
medios estratificados deI tipo definido en el apartàdo IV.4, sino de un
medio mucho más general, suponiendo que tanto Ia resistlvidad como
Ia microanisotropía son funciones de Ia profundidad z (exclusivamente).
Se tiene entonces
p = fl(Z)
(IV,lOI)
A = fz(z)
Se trata, pues, de un medio estratificado de capas anisótropas y de es-
pesor tan pequeõo como se quiera, aunque nada impide que p sea cons-
tante por tramos, y A = I, con 10 que se llega como caso particular aIos
medios considerados en Ia mayor parte de este capítulo.
En Ias expresiones anteriores, p es Ia resistividad media (apartado
11.10.8) puesto que existe anisotropía deI tipo "transversal", es decir,
que para cada profundidad z, existirán dos valores de Ia resistividad

p(z)
P.l(z) = A(z) . p(z)
Pu(z) = A(i) (IV.I02)
'!
Las funciones DZ habrán de definirse así:

(IV,I03)
T(z) = J: P.l(z) dz = J: A(z) p(z) dz

210
 LAS ECUACIONES DE MAILLET

S(z) = fZ o ----!!!-
Pn(Z) = fZ. o A(z)
p(Z) dz (IV, 1 04)

.
Si se conocen Ias funciones (IV,lOl) pueden calcularse Ias funciones
de DZ (IV,103) Y (IV,104) Y también Ia CDZ .
S= fa(T) (IV,105)
En cambio, aI intentar el paso inverso, resulta,
1
(IV, 105)
S' - dt
dS. = t'ilT) = p2(z)
1
(IV,106)
p(z) = ";S'

pero no puede despejarse z, que queda asociada con Ia anisotropía A(z),

de modo que 10 único que puede calcularse es una profundidad aparente
u, definida

(IV,107)
u = J: A(z)dz = foT dT
p(z) = fT o ";S' dT

resultado de gran importancia en Ia resolución deI problema inverso, pues

indica que Ia anisotropía transversal no puede detectarse por media de
mediciones efectuadas en Ia superficie. "
Llegados a este punto, Maillet introduce los que él denomina pseudo-
parámetros, y que resultan de tomar valores medias en Ias (IV,103) y
(IV,104) '.
T(z) = A'(z) p(z)z
(IV,108).
. A'(z)
S(z)=--.z
p(z)

donde A'(z) es Ia pseudo-anisotropía y P(z) Ia pseudo-resistividad. De

estas definiciones se deduce que
A'(z) z = YT5.
(IV, 110)
p(z) =V ~
10 que demuestra que Ias pseudo-parámetros de Maillet A'(z) y P(z) son
Ia pseudo-anisotropía A y Ia resistividad media Pm definidos en el apar-
tado IV.7.4
211
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

IV.13.2 Primera forma de Ia ecuación de Ia prospección

En un medio anisótropo como eI definido por Mé;üllet, Ia ecuación de

continuidad de Ia densidad de corriente, expresada en coordenadas ci-
líndricas, es

'V . J = _.l-Ir + ~/r + _1_

r ~ r
!.!~+ f!l.:- =
~ ~
O (IV,lll)

donde Ias componentes de Ia densidad de corriente, tienen Ios valores

1= __ 1_ ()U
r pu ()r
1 ()U (IV,112)
Ji= - --Pi --------.
()Z

I~= O
Ios cuales, llevados a Ia (IV,l11), dan

~1 ()r
(()2U + T1 ar
()U) + P;-()Z2
1 ()2U + --az-
()U --az-
() ( 1 )
"----P;- =O
que teniendo en cuenta Ias (IV,10I), se transforma en

()r
()2U + _1_
r ~f!.
()r + _1__ A2 ()2U
()Z2 + _P_
A oU
OZ _~_
oZ (-!_)
Ap =O
que se convierte fácilmente en

()2U
ar2
+ _1_
r
()U
ar
+ _1_
A2
()2U __
()Z2 A2
1_ oU
OZ
dln (Ap)
dz
=O (IV,l13)

que es Ia que Maillet llama "primera forma de Ia ecuación de Ia Pros-

pección".
Para eliminar Ia micro-anisotropía A, puede utilizarse Ia profundidad
aparente u, y siendo
du = A(z). dz (IV,114)
Ia ecuación anterior queda transformada en

(j2U
()r
+ _1_
r
~~
ar
+ ()2U _~~
()u2 oU
~~
du
= O (IV, 11 5)

para llegar a Ia cual debe tenerse en cuenta que

-=--A
(j2U
()Z2
iJ2U
iJu2
2
+-.-. ()U
()u
dA
dz
(IV,116)

212
 LAS ECUACIONES DE MAILLET

Se deduce de Ia expresión (IV,lI5) que eI potencial puede expresarse

en función de Ia dependencia entre Ia resistividad y Ia profundidad apa-
rente u. Pero puede llegarse más adelante, y utilizar como variable inde-
pcndiente Ia resistencia transversal T. Para ello se parte de Ia ecuación
(IV,lI5), y se efectúa eI cambio de variable mediante Ias relaciones
-----
dT A
dz ";'S'
dT 1
--=~=p
du ";5'
-.------
au
au aT
au
1
10,/5'

a2u a2u 1 au d2T (IV,117)

au2 = ap S' + aT -du2

~ln~
du = ";5' !!T
du2

que se deducen de Ias (IV,I02) a (IV,107), llegándose así a Ia ecuación

~U 1 au 1 ~u
ar + -r- -ar + s'- ap = o (IV, II 8)
que expresa que el potencial en superficie queda determinado unÍvoca-
mente una vez conocidas Ias funciones de DZ deI medio considerado,
siempre que Ia resistividad y Ia anisotropía dependan únicamente de Ia
profundidad.
En el caso de medias estratificados considerado en Ios párrafos an-
teriores, Ia resistividad es constante dentro de cada capa, y A = 1, por
10 que se anula el último término de cada una de Ias ecuaciones (lV,113)
(IV,114) que quedan reducidas a Ia de Laplace.

IV.13.3 Segunda forma de Ia ecuación de Ia prospección

En todo 10 considerado hasta ahora en Ia presente obra, no se ha
prestado atención aI hecho de que toda corriente eléctrica va acompaõa-
da de un campo magnético. Cabe preguntarse si Ia medida deI campo
magnético constante que acompaõa a Ia circulación a través deI terreno
de Ias corri entes continuas utilizadas en prospección podría suministrar
información supIementaria sobre Ia estructura deI subsuelo. Ello es po-
sible, en principio, cuando no existe homogeneidad lateral. Entonces Ia
corri ente es más intensa en Ias zonas más conductoras, como por ejemplo
en faIlas de reIleno menos resistivo que Ia roca, y éstas podrían loca-
213
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICOVERTICAL

lizarse por medio de un magnetómetro. Dn método de esta c1ase, con

corri ente alterna, pero basado en el mismo principio, ha sido descrito
por ENSLIN (1955). En cambio, cuando existe homogeneidad lateral, como
ocurre en los medios estratificados, Ia distribución de Ia densidad de co-
rriente es simétrica respecto deI eje perpendicular a Ia superficie deI te-
rreno que pasa por el electrodo de emisión, y Ia medida dei campo mag-
nético constante que se produce no suministra ninguna información sobre
ei subsuelo, según se muestra a continuación * siguiendo a Maillet en 10

--f
fundamental.

I
I
I

:z

FIG. IV-27. Campo magnético producido por un electrodo puntual, situado en Ia

superficie de un medio lateralmente homogéneo.

Si se considera (fig. IV-27) un círculo de radio arbitrario paralelo a

Ia superficie y cuyo centro, situado a Ia profundidad z, se haBa en Ia ver-
tical dei electrodo A, dada Ia simetría debida a Ia hôrnogeneidad la-
teral deI medio, el poder imanador H tendrá el mismo módulo en todos
los puntos de Ia circunferencia. En cualquier punto deI círculo se cum-
plirá Ia ecuación de MaxweB
\7xH=J (III,3)

y aplicando el teorema de Stokes, resulta

2rr rH = I' (IV,1l9)

donde I' es Ia intensidad total de corriente que atraviesa el círculo, de

donde se deduce
I'
H = 2rr r (IV,120)

* No ocurre 10 mismo cuando se emplean corri entes alternas de diferentes

frecuencias, según se hace en los Sondeos electromagnéticos.
214
 LAS ECUACIONES DE MAILLET

Si ahora se desplaza el círculo paralelamente a Ia superficie hasta llegar

a ella, conservando su centro en Ia vertical de A, l' irá creciendo hasta
tomar el valor 1, que representa Ia intensidad total que penetra por el
electrodo. Entonces
I
(IV,121)
H = 2rrr

que es Ia expresión que corresponde a un cable vertical que pasa por A,

y no depende por 10 tanto de Ia distribución de resistividad en el sub-
suelo.
Ahora bien, si Ia medición dei campo magnético no suministra infor~
mación útil, su consideración sirve para establecer una nueva forma de
Ia ecuación diferencial a que obedece Ia circulación de corrientes eléc-
tricas en medios cuyas propiedades sólo varían en función de Ia coorde-
nada z, como los estudiados en el apartado anterior.
Para establecer dicha ecuación se parte de Ia (lU,2) que acaba de uti-
lizarse, y que escrita en coordenadas cilíndricas, y separando sus compo-
nentes será
1 aH. aHep
(\7 X H)r urp - -:J-
= ---r ----;- uZ = Ir
(\7xH) ep
=---=1
aHr
az
aH.
ar ep
=0 (lV,122)

(\7 X H). = r-1 ( ar(rH'P)-a;p

a aHr ) = /.

Las mismas razones de simetría que hacen que I'P = O, llevan a Ia

conc1usión de que Ia única componente no nula dei poder imanador -es
Ia tangencial, con 10 que Ias expresiones anteriores se convierten en Ias

Ir =_ aH
az

I'P = O (lV,123)

l.=~+r ar
aR

donde se ha suprimido el subíndice en Ias H por ser innecesario.

rp

Por otra parte, Ia ecuación (lU,3) escrita en coordenadas cilíndricas

es

-. -. ----- Ir + ---- I +
( r1 arp
vEz az )..
OE'P az
(aEr. vil' ) •
aE. ep .

215
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

+-1 r
-.-(rE ) -- iJEr].
[iJ qr q> orp
Iz=O
(IV, 124)

que, por ser

Er = Pu'r = pAIr
Eq>=O (IV,125)
Ez = Pl-'Z = Ap'.
y dada Ia simetría deI problema, se reduce a

_P_
A
iJ'r _
oz
Ap o'z
or
+'r o(p/A)
OZ
= O (IV,126)

Sustituyendo en ésta Ias (IV,123) y efectuando operaciones sencillas re-

sulta

iJW + ~_ iJH _ ~ + _1_ iJ2H + ~_ ~_ oH d(p/A) =O

iJr r iJr r A2 iJz2 A2 p/A OZ dz

a cuyo último término puede darse forma Iogarítmica. Efectuando esta

operación y eI cambio de variable W = r H, se obtiene

iJ2W __ 1_ OW + ~_ iJ2W _ ~_ ~W d In(p/A) = O (IV,127)

iJr r iJr A2 iJz2 A2 OZ dz

que es Ia ecuación de Ia prospección en su segunda forma, según Ia no-

menclatura de Maillet. * Del mismo modo que en Ia primera, Ia anisotro-
pía puede eliminarse recurriendo a Ia profundidad aparente V, y proce-
diendo como en eI apartado anterior, resulta

iJ2W __ 1_' iJW + iJ2W + ~~ d (lnPL = O (IV,128)

iJr r ur iJu2 oU du

análoga a Ia (IV,115).
Si ahara se toma S como variable en vez de u y z, como
1
--=--=--
dS 1
du v'T' p

--=--
iJW iJW.l--
iJu as v'T'

"' Dicho autor utiliza diferente notación, que no se sigue aquí por prestar se
.a confusiones.
216
 LAS ECUACIONES DE MAILLET

a2w
au2 = aS2
a2w
• r 1
+ as'
aw
du2
lPS (IV,129)

dlnp
du
= _ dln(l/p)
dudu2
=_ lES ";T'

que, llevadas a Ia (IV,128) dan

a2w
ar --r- ar
1aw
+ T' 7fS2-_ 1 a2W O (IV;130)

ecuaclon diferencial análoga a Ia (IV,1l8) y que como eUa, s6lo depende

de Ias funciones de Dar Zarrouk.Sustituyendo en ella W por rH resulta

ar + _1_
a2H
r
aH
ar
_.-!!.- + _1_
r T'
a2H
êJ52
=O (IV,131)

La integraci6n de ésta y Ias anteriores ecuaciones diferenciales deter-

mina Ia distribuci6n espacial de H y, en particular, su valor en Ia su-
perficie deI terreno. Ya seha dicho que el conocimiento de esta magnitud
no ilustra directamente sobre el corte geoeléctrico del subsuelo, pero en
cambio, su' derivada vertical determina E, ya que
aH
Er = P'r = -Paz (IV,132)

según Ia primera de Ias (IV,123), y una vez conocida Er pueden determi-

narse las resistividades aparentes por media de Ias f6rmulas usuales. Se
tiene asÍ una nueva vÍa para el planteamiento y resoluci6n de los proble-
mas te6ricos de Ia Prospecci6n Geoeléctrica sobre medios que cumplan Ias
condiciones de Maillet, entre los cuales figuran los cortes estratificados.
AsÍ como Ia soluci6n de Stefanesco se expresa por medio deexponenciales
(o tangentes hiperb6licas) y funciones de Bessel de primer género, aquÍ
Ias funciones propias son deI tipo

sen ÀZ • Kn(Àr)

donde Kn es Ia funci6n de Bessel modificada de segundo género y orden

n, que presenta sobre Ia '.(Àr) Ia ventaja de anularse exponencialmente
cuando' el argumento tiende a infinito.
Esta segunda forma de Ia ecuaci6n de Ia prospecci6n fue estudiada por
primera vez por KING (1933). Posteriormente, KUNETZ y ROCROI (1970)
aluden a ella y mencionan, sin justificarIos, algunos resultados intere-
santes. En Ia teoría que se estabIece a partir de ella, Ia resistividad apa-
2]7
TEORIADEL SONDEOELECTRICO
VERTICAL

rente para un dispositivo Schlumberger sobre un medio cuyas propie-

dades s610 son funci6n de Ia profundidad z es

paCr) = -- 2 7T
r Jooo
<I> (J" p(z)] A K1(),r) d}, (IV,133)

donde representa una función característica o núcleo, análogo a Ia Nn,

<J>

pero en cuja expresión á.lgebraica sólo intervienen funciones trigonomé-

tricas, y que es periódica en el caso de medios estratificados. EI papel que
representa Ia integral de Weber-Lipschitz en Ia teoría de Stefanesco co-
rresponde aquí a Ia igualdad

--
2
7T Joo
o
Ko(Ar) cos AZ dA = 1 (IV,134)

y el "puente" (como dice Maillet), 'entre ambas teorías es Ia iI}tegral de

Mehler

Ko(fl-r) = JOO lo(Àr) -2------z-'

o + A A fi-
dA (IV,135)

El citado autor francés prometió en su artículo Ia publicación de un

segundo, donde se desarrollarían estas cuestiones, 10 que no se ha cum-
plido.

IV.14 SONDEOS ELECTRICOS EN EL MAR

La superficie de un mar o lago tranquilos presenta condiciones ideales

de homogeneidad para Ia ejecución de mediciones eléctricas. Si los elec~
trodos se colocan sobre flotadores en Ia superfície, puede aplicarse direc-
tamente Ia teoría usual, pero en muchos casos es preferibIe situar Ios eIec-
trodos en el fondo deI mar o próximos a él. Entonces no son aplicabIes
Ias teorías de Stefanesco yanálogas, que consideran eIectrodos de emisión
situadosen Ia superficie límÍte aire-primeracapa y se hace necesario el
desarrollo de una teoría más general. Las posibiIidades petroIeras de los
mares Caspio, AraI, etc., han impuIsado a varios geofísicos soviéticos aI es-
tudio de esta cuestión como VANYAN(1956) Y TEREICHIN (1958) aunque Ios
primeros trabajos se remontan a 1934. Dei trabajo de Terekhin existe una
traducción inglesa, en RAST (1962).
Terekhin sigue un proceso totalmente análogo aI de Stefanesco, y llega
así a una expresión para eI potencial, que con Ia misma notación deI apar-
tado IV.lI es

Uo _-~. Ipo [ -;:--1 + (r + I4 Z02)1j2 + 2 m~l~ (r. +Q(m)

4 zo2)li2 (IV,136)
218
 SONDEOSELECTRICOSEN EL MAR

+ rI Q(m) ( (r + 4 (m ~o - Zon/2 + (r + 4 (m ~o- + ZO)2]1/2 )]

donde Zo es Ia profundidad deI dispositivo, medida desde Ia superficie deI

agua.
Derivando Ia expresión anterior para obtener eI campo eléctrico y
multiplicando por Ios factores correspondientes, resulta para Ia resistividad
aparente para el dispositivo Schlumberger

Pa = -2-
Po [ 1 + T1-~-(}rZof
1 rfi + 2 DO
1I~1 -f+ ( 2Q(m)
~;lEo r Ti2- +
(IV,137)

+,,~ [1 + 4(~~~;-,~ir
+ r]
[1 + 4 (~_1~2"r I
En 1956, el organismo soviético VNII Geofisika publicó, para su em-
pleo en Ia prospección marina, un catálogo de 68 láminas, con 420 curvas
de dos y tres capas para sondeos eléctricos con dispositivos Schlumberger
o dipolar axil, calculadas de acuerdo con Ias condiciones y teoría a que
se acaban de aludir. Tales curvas discrepan de Ias usuales sólo en su parte
izquierda.
Otro sería el caso si uno de los electrodos de corriente se encontrase
en el fondo deI mar y los demás electrodos estuvieran en Ia superficie.
EI problema homólogo en tierra, con un electrodo de corriente enterra-
do a cierta profundidad por medio de una perforación, ha sido estudiado
por Merkel y sus colaboradores (MERKEL, 1971; MERKEL y ALEXANDER,
1971; SNYDER y MERKEL, 1973) y aplicada a Ia localización de cuerpos
y capas conductoras con mayor precisión y alcance que el método usuàl.

IV.15 CORTES CON CAPAS DE TRANSICION

EI modelo universalmente utilizado de corte geoeléctrico, y que es

el que hasta aquí hemos considerado, se compone de un número variable
de zonas, cada una de resistividad uniforme, 10 que no sól0 es sencillo,
sino que se cOlTesponde aceptablemente con Ia realidad.
Hay casos, sin embargo, en los cuales existe alguna capa cuya resis-
tividad crece (o decrece) deI techo aI muro. Esto ocurre, por ejempl0,
cuando una roca presenta una capa de alteración, que generalmente no
219
TEORIADEI. SONDEOELECTRICOVERTICAL

es homogénea, sino que representa un paso gradual a Ia roca sana, con.

variación correlativa de Ia resistividad. MALLICK y Roy (1968) hicieron
notar que éste es un caso muy frecuente e importante en Ia India, y
estudiaron Ias curvas de resistividad aparente que se obtienen sobre di-
chos cortes. PATELLA (1978) indica, por su parte, que dicha variación
gradual de Ia resistividad se encuentra también en Ia transición deI agua
dulce aI agua salada en Ias zonas costeras con invasión marina, aparte
de otros ejemplos.
Desde eI trabajo de Mallick y Roy, han aparecido otros (JAIN, 1972;
ROSLER Y SCHALLAR,1977; PATELLA, 1977 y 1978; MALLICK y JAIN, 1979;
KOEFOED, 1979) sobre eI mismo problema, que se denomina "de Ia capa
de transición". En todos e1los se supone que Ia variación deI parámetro
eléctrico con Ia profundidad es Iineal, pero se da eI caso curioso, sena-
lado por Koefoed, de que en varios de los artículos citados se habla de
capas cuya resistividad varía linealmente con Ia profundidad, o sea
P. = po + a(z - zo)

peTo luego desarrollan Ia teoría sobre Ia hipótesis de variación lineaI de

Ia conductividad:

CTz = CTz + b(z - zo)

que, evidentemente, es muy distinta. El primer caso es, con mucho, e1

más frecuente en Ia Naturaleza (fig. IV-28). .
La soIución deI problema teórico puede hacerse siguiendo Ios mismos
pasos que Stefanescu, esto es Ia separación. de variables, integración de
Ias dos ecuaciones diferenciales ordinarias que resultan y aplicación de Ias
condiciones de contorno.

f
J'3

/{

z
FIG.IV-28. C.R.V. de un corte cuya segunda capa es de transici6n (crecimiento
lineal de p con Ia profundidad).

220
 CORTES
'CON CAPASDE TRANSICION

Con referencia aI cálculo efectuado en el apartado IV.5.2., Ia ecuación

de Laplace ha de ser sustituida en este caso por Ia

\ru-~~ au =0 (IV,l38)
p az az
según se deduce de Ias expresiones que anteceden a Ia (111,8),de modo
que en vez de Ia (IV,6) se tiene

au = O
~a2U + --;:
1 au +
a;:- a2U
az2 Po + a(z -
a
Zi_l)
.
az
(IV,l39)

'si Ia capa de transición es Ia i-ésima deI corte. Para Ias demás capas no
transicionales son válidas Ias ecuaciones dadas en el apartado IV.5.2. En
Ia capa de transición, aI efectuar Ia separación de variables, Ia función
R(r) es, como antes, Ia función de Bessel loO.r), mientras que Z(z) no
tiene soluciones exponenciales, sino Ias

Z = p(z) MÂp/a)
Z = p(z)K[(Âp/a) . (IV,140)

donde 1[ Y K1 son, como de costumbre, funciones de Bessel modificadas.

La aplicación de Ias condiciones de contorno lleva a una expresión deI
tipo

(IV,14I)
Pa = Plr f~Hn(Â, p) !I(Âp)Â dÂ

que se ve es en todo análoga a Ia (IV,27)) correspondiente a capas homo-

géneas. La diferencia está en que Ia función característica está sustituida
por Ia Hn, donde, además de exponenciales, existen funciones de Bessel
modificadas. Esta F.C. generalizada posee propiedades asintóticas idén-
ticas a Ias que presenta Ia F.C. deI corte de capas homogéneas, según
ha demostrado PATELLA(1978): EI caso de variación lineal de Ia conduc-
tividad se resuelve en todo de modo análogo aI indicado. Para Ia resis-
tividad lineal, KOEFOED(1979) ha estudiado Ias leyes de. recurrencia en
Ia formación de Ia función Hn, incluyendo cortes con varias capas de
transición.
La curva de resistividad aparente de un corte con capa de transición
se modifica muy poco si se sustituye dicha capa por dos ó más de resis-
tividad creciente (decreciente). Por ello, en Ia interpretación sólo dehe
tomarse en cuenta Ia solución transicional cuando hay información com-
plementaria que asegura su existencia.
221
TEORIADEL SONDEOELECTRICO
VERTICAL

IV.16 CONTACTOS INCLINADOS

Por grande que sea Ia importancia prâctica de los cortes estratificados-

nO es posible prescindir deI estudio de cortes de otro tipo'y deI influjo que
ejercen sobre Ias curvas de SEV.
ASÍ, por ejemplo, MUNDRYy HOMILIUS(1972) han calculado Ias cur-
vas teóricas correspondientes a SEV efectuados sobre nn valle de sección
elíptica.
Entre los cortes no estratificados, el más sencillo es el constituido por
un solo contacto inclinado, formando un ângulo con Ia superficie hori-
(J.

zoqtal deI terreno, y que separa dos medios de resistividades respectivas

PI y P2 (fig. IV-18).

~------r ---------
M

li

FIG. IV-29. Corte geoeiéctrico de dos capas, con contacto inclinado. ,,= ánguio
de inclinación, rp = coordenada.

Aunque el problema parece sencillo, no 10 es en realidad. En los pri-

meros ensayos de resolución se utilizó el método de Ias imágenes, con re-
sultados no siempre corr~ctos. Ello se debe a que tal método no es apli-
cable en general aI problema presente, pues según hizo ver J. B. Keller, el
cumplimiento de Ias condiciones de contorno por parte de Ias imágenes
implica, en ciertos casos, Ia aparición de singularidades en puntos donde
no deberÍa haberlas. En concreto, este método es válido para el caso
P2 = 00 cuando = rrfn y para P2 = O si es = rrf2n (n, entero).
(J. (J.

Las primeras soluciones rigurosas de este problema se deben aIos

soviéticos Markov y Tikhonov, y Ia solución completa fue dada por SKAL-
KAYA(1948), de Ia misma nacionalidad. Independientemente, el japonés
MAEDA(1955), publicó una solución rigurosa, que aplicó a un dispositivo
Wenner paralelo a Ia traza deI coritacto, calculando algunas curvas. En
222
 CONTACTOSINCLINADOS

Ias comentarias de VAN NOSTRANDY COOK (1955) aI citado trabajo, se en-

cuentra información interesante y bibliografía.
Se considera un sistema de coordenadas cilíndricas cuyo eje z coin-
cide con Ia intersección deI contacto con Ia superficie, y Ios ángulos tie-
nen por origen esta superficie (fig. IV·29). Las distancias respectivas deI
electrodo de emisión A y deI punto M donde se mide eI potencial aI eje
z se represcntan por ro y r. R es Ia distancia AM, pero Ias coordenadas z
, de ambos puntos no tienen que ser iguales por 10 que en general r - ro ,p. R.
Para A, z = O, EI plano de separación entre Ios dos medios o contacto,
tiene por ecuación 'f = rI.. Planteada Ia ecuación de Laplace y resuelta por
separación de variables, ocurre que sólo puede ser satisfecha, junto con
Ias condiciones para distancias aI electrodo A muy grandes o rriuy pe-
quenas, por funciones deI tipo

cos À.Z • Ch fi- 'f • Kf1(Àr)

donde Kf1 son fl}nciones de BesseI modificadas de segundo género y

orden imaginario. Tomando como soIución general una superposición de
estas funciones sumadas a Ia solución fundamental pi/R y aplicando Ias
condiciones de contorno a Ia superficie deI terreno y aI contacto, o sea
'f = O, cp == 1r, 'f = rI., Maeda obtiene Ias siguientes expresiones par"a Ios
potenciales .01 y U2 en Ias medios de resistividad Pl y. P2 respectivamen-
te, en un punto M de coordenadas Gr, 'f, z) siendo (ro O, O) Ias deI ma-
nantiaI puntuaI

U1 lp
2: I 1 + ~4
l-iC foofoo
o o A(À, fI-) . cos ÀZ • Ch fi- 'f • Kif1(Àr) d,l1 dÀ
(IV,142)

U2 = lp
21r1 I~
I 1 + ~4 fooo fooo B(À, fI-) . cos ÀZ • Ch fi- 'f • Kif1(Àr) dfl- dÀ .
donde son

K Sh 2 fI-(1r - KiÀro)
A(À, fI-) = ",. ,T? M_ r"\
rI.~
1r)
(IV,143)
B(À, fI-) = -~
K {Sh fl-1r,T?
- Sh
Mo fI-(2
r"\ ri. -1r~} Kf1(Àro)

En Ias que no debe confundirse K, factor de reflexión definido deI

modo acostumbrado (IV,3), con Ias funciones de Bessel. Calculando Ias
integraIes anteriores por medio de desatrollos en serie en Ios que apa-
recen funciones de Legendre de segundo género, Maeda obtuvo diversas
curvas de resistividad aparente para eI dispositivoWenner.
223
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

Mucho más sencilla es Ia aplicación deI método de Ias imágenes,

cuando ello es válido. Ello ocurre, como se dijo más arriba, siempre que
el sustrato presente resistividad nula o infinita, y = rrJn donde n es un (J.

número entero, par en el primer caso. Al'pin resolvió este problema en

1935, y calculó una colección de curvas patrón que se publicá en 1940.
La solución de Al'pin para el potencial en el primer medio es *

VI =--Ipl2rr "-1
m~O
Z
L(x - XmY + (Y -
Km
YmJ' + (z - Zm
(IV, 144)

En esta expresión K =1 si el sustrato es aislante, y K = - 1 si es

perfectamente conductor. La figura IV-19 muestra, en corte y planta, Ia

A 5- --- " A4

A /
//
o..... 'O"
"-
,\
/ \

o 1/ ~3

I
/
tZ
I? P.=OCO
z 1/
Az/
-- ...••0
/ X

/
/
I / IL
: / A
0(' )(----d
f-J',
,U
I
""y"
I ""
1------0 -----
p,,; rV·30. Corte geoeléctrico de dos capas, con contacto de inclinación (J. == 300.
Solución por el método de Ias imágenes.

* Tomamos esta información, en su parte básica, deI trabajo de Berdichevkiy

y Zagarmistr, incluido en Ia traducción de AL'PIN et ai (1960). En esta no figura
Ia restricción de ser n par .cuando el sustrato es perfectamente conductor, clara-
mente indicada en el original ruso. No es esta Ia única inexactitud observada en
dicha traducción.
224
 CONTACTOS INCLINADOS

geometría deI problema. La fuente puntual A dista d deI afloramiento

L deI contacto. El origen de coordenadas O está situado a Ia distancia D
de L, con los ejes x, y situados de modo que el segundo forme el án-
guIo l' con Ia paralela a L por O. Las coordenadas deI punto donde se
mide el potencial son (x, y, O) y Ias, de Ias imágenes (x"" Ym, zm)" corres-
pondiendo el subíndice cera aI punto A. Las coordenadas de Ias imágenes
son
Xm = + 2 d cos
Xo y nm
sen 2 ---
n

Ym = + Yo 2 d sen y sen2 nm
n

Zm = d sen2 nm (IV,145)
n

Como aparece en Ia parte superior de 1a figura, y se deduce de Ias

fórmulas anteriores, Ias imágenes son en número finito (= n) y se dis-
pOllen sobre una circunferencia con centro en el afloramiento L deI con-
tacto, situada en el plano perpendicular a L que pasa por A. Estas imá-
genes son Ias mismas que se observarían en un espejo angular de ángulo
(J. según Ias leyes de Ia Optica Geométrica. El número de imágenes es
de dos para contacto vertical, y crece indefinidamente cuando a tiende
a cero. Las expresiones (IV,142) se deducen, por sencillas consideraciones
trigonométricas, para Ia indicada ubicación de Ias imágenes.
Como ejemplo de aplicación de Ias fórmulas anteriores se cons,iderará
uno de los casos más sencillos, que es el de undispositivo Schlumberger
paralelo a un contacto vertical. Entonces; = n/2, n =2. Se tomará como
(J.

origen de coordenadas el propio punto A, o sea que D = d, y el eje Y

.perpendicular a Ia traza L por 10 que y = n/2. Las coordenadas de A,
(xo, Yo, O) serán (O, 0, O) Y sólo habrá una imagen, de coordenadas
Xl = O
YI = 2d
Zl =O
Por 10 tanto, a Ia distancia x = r respecto de A, con Y = O, el po-
tencial en superficie vale

(IV,146)
UI = 2n
IpI_ (_1r__ ± _1 __ )

donde los signos más y menos corresponden respectivamente aI silsti:ato

aislante y aI conductor, de donde se deduce que el campo E en el mismo
punto es

E __.-7fX
aVI -
_ ~
IpI ( ~1 ± (,-2 + r)4d2Y/2 (IV, 147)

225
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

a partir deI cuaI se calcula Ia resistividad aparente Ilevando este valor a

Ia fórmula (III,27) e introduciendo un factor 2 para tener eri cuenta eI
efecto del electrodo B, situado a Ia misma distancia d de L con 10 que
se tiene

Pa = 2rr r += Pl ( 1 ± (~ + ~ cfl)3(2 )
(IV,148)

de esta igualdad se deduce que el valor asintótico para r ~ 00 es 2 Pl

cuando el sustrato es aislante, y cero cuando es conductor. Este caso de
contacto vertical es resoluble por el método de Ias imágenes para cuaI-
quier valor de Pz Y entonces el valor asintótico es Pl (1 + K). A esta
conclusión puede Ilegarse, bien partiendo de Ia (IV,141), -bien más rigu-
rosamente, utilizando Ias resultados deI apartado (IV,18) y aplicándolos
a un dispositivo paralelo aI contacto.
Las curvas para contactos inclinados se comentan brevemente en el
apartado V.15.

IV.~7 CONTACTOS VERTI CALES Y HORIZONTALES

La suposición de que elsubs1:lelo está compuesto por capas homogé-

neas paralelas a Ia superficie no se cumple siempre, sobre todo cuando
Ias profundidades que interesa alcanzar exigen líneas AB de gran Ion-
gitud, ya que entonces es menos probable que Ias condiciones de homo-
geneidadlateraI se extiendan a 10 largo de Ia zona de influencia deI SEV.
Un corte no estratificado relativamente sencillo es el que resulta
de afiadir, sobre un sustrato horizontal, una discontinuidad lateral cons-
tituida por un contacto vertical que divide a Ia primera capa en dos partes
de resistividades respectivas Pl y, pz.
EI cálculo de Ias curvas teóricas de resistividad aparente para cortes
de dicho tipo es relativamente fácil, en especial cuando Ia resistividad deI
sustrato es nula o infinita, y puede efectuarse entonces por el método de Ias
imágenes. A Ia serie infinita de imágenes (apartado (IV.5.1) que repre-
senta el potencial de un electrodo puntuaI, situado en Ia superficie deI
primer medio hay que anadir otra producida por Ia reflexión de Ia fuente
real en el contacto vertical, y Ias reflexiones de esta imagen en eI techo
deI sustrato, siempre
.. que eI punto M se haIle en eI mismo media que A .
En ausencia deI contacto vertical, el potencial en un punto M que
dista r deI electrodo A viene dada por

(IV,5)
UM = {;1
1(1 -r- + 2 m~
00 (r + 4m2
K'" P)l/2 )

226
 CONTACTOS VERTICALES Y HORIZONTALES

y si es infinita Ia resistividad deI sustrato, K =1 Y si además se pone,

pasando a cartesianas, . r= x2 + y2 se tendrá

(IV, 149)
UM = ~Ipl (1(x2 + ify!2 + 2 m~l
00 (x2 + if+ 1 4 m2 W)l/2 )

Si ahora se introduce Ia discontinuidad vertical, situada perpendicu-

larmente aI eje y, a Ia distancia d de A, aparece Ia segunda serie de
imágenes (fig. IV-31) situada simétricamente de Ia primera respecto deI
contacto vertical, y con Ias mismas intensidades relativas de emisión,

A4 A'4
X X

A2 A'2
X X

A A'

_ }d- l__
',q ~ ~
X
X
AI
A'
X A13
X
~=oo
A3 FIG. [V-3l. Corte geoeléctrico
con un contacto vertical y sus-
trato horizontal perfectamente
aislante. Solución por el método
de Ias imágenes.

A'j A'5
X X

pero siendo Ia de Ia primera de cilas (esto es, Ia situada en Ia superficie

deI terreno) igual a Ia de Ia fuente real en A, multiplicada por Kb siendo
éste el coeficiente de reflexión para los dos medios, de resistividades
(lI Y P2 separados por Ia discontinuidad vertical. La justificación de este
factor K1 se encuent,ra en el apartado VIl.3. EI potencial debido a esta
segunda serie de imágenes, será, en el mismo punto M y habida cuenta
de Ias distancias respectivas.
227
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

U'M = ~Ip1K] [1
(x _ 2 dY ~ -r(x -
+ ifJl/2 + 2 m~l 1
2 d)2+if+4 m2 P]l/2 ]
donde se toma el eje x perpendicular aI contacto vertical. El potenCial
total será, pues,

UM = ~lpl (1(x2 -+- y2)'/2 + (x _ K1) + ifJl/'&

2 d)2 +

+ -rr-
lpl m~l
00 (1(x2 +-y2 + 4 m2 P)lt), + (x -- 2 d)2 + K1)
?! + 4 m2 Pll/2
(IV,150)

EI campo eléctrico E", en dirección perpendicular aI plano vertical de

discontinuidad será

E '" = __ auiJx M = 2rr

lpl (x2
( __ +x y2Y/2 + .._ -- +
l(x -k12(x d)2 2d)ifr/2 ) +

+ -;.-
IPl 00
"~I (X(x2 + y~ -+- 4 m2 P)3/2 + [(x2 ~ Kdx+ --
2 d)2 if +
2 d)4 m2 Pl3/2 )

(IV,151)

En cuanto aI campo eléctrico paralelo a dicho plano valdrá

Eu =- oy M = ~IpI (Y-(x2 + y2)'i72 + l(x - 2K1

au d)2-~~-irr/2
Y - ) +

+ lpl
rr "tl
~. ( (x2 + if +!L_
4 m2 P)3j2
. + +
[(x2 --- 2 d)2 K1yy2 + 4 m2 Pl3/2
__ )

(IV,153)

De Ias Citadas expresiones se deduce Ia resistividad aparente para

dispositivosSchlumberger perpendiculares o paralelos, respectivamente, aI
contacto vertical, por aplicaCión de Ia (I1I,27), 10 que sólo exige multi-
plicarIas por rrrll.

De este modo han podido calcularse curva8 patrón para el corte con-
siderado, e incluso para otros semejantes con dos discontinuidades ver-
ticales. Sobre esta cuestión puede verse KUNETZ (1955) y sobre todo los
trabajos de Berdichesky y otros autores incluidos en AL'PIN et alia (1966)
donde también se reproduce, en tamano menor, una colección soviética
228
 HETEROGENEIDAD GENERAL

de curvas patrón para cortes con una y dos discontinuidades verti cales. *
Las propiedades de tales curvas se tratan someramente en el aparta-
do V.l6.

IV.18 HETEROGENEIDAD GENERAL

IV.18.1 lntroducción

Parece conveniente extender el cálculo de curvas teóricas de SEV a

distribuciones de resistividad más complejas que Ias consideradas hasta
aquÍ. Una posible generalización' sería Ia de resistividades que variasen
de modo continuo en sentido vertical, según una ley matemática defi-
nida, parabólica o exponencial, por ejemplo. Problemas de este tipo han
sido resueltos por SUCHTER (1933), KING (1933), Berdichevkiy y Zagar-
mistr (en ALP'lN et al, 1966), pero su utilidad práctica no es grande.
Mucho más interesantes, por su mayor realismo y carácter más gene-
ral, son Ias distribuciones en Ia que Ia resistividad cambia no sólo en
sentido vertical (problemas monodimensionales) sino también lateral·
mente (problemas bidimensionales) e incluso según una tercera dirección
ortogonal a bs anteriores (problemas tridimensionales).
La resolución de estos casos generalizados requiere, como era de es-
perar, el empleo de teorÍas matemáticas muy complejas. En este apartado
se pretende Ia descripción de Ias conceptos básicos de algunos de los
métodos propuestos.

IV.18.2 El procedimiento de Alfano

EI geofísico italiano ALFANO (1959) es autor de una teorÍa para el

cálculo de potenciales y curvas de resistividad aparente sobre medios
discontinuos. En su forma sencilla, dicha teorÍa se ocupa de estructuras
bidimensionales o "cilíndricas", con superficies de discontinuidad ex-
clusivamentehorizontales o verticales. Entonces Ia resistividad sólo de-
'pende de x y de z y no de y. Un terreno de este tipo queda determinado
por su corte según un plano perpendicular aI eje y, corte que estará cons-

* En Ia citada recopilación, debida aI Prof. Keller, se utilizan notaciones

distintas para Ias mismas familias de curvas. Las notaciones empleadas en Ias
láminas son IC (Contacto inclinado), I-IVC (un contacto vertical sobre sustrato
horizontal) y HVC·2, (10 mismo, pero con dos contactos verticales). En cambio,
en el texto, Ias mismas familias 50n denominadas respectivamente NK, GVK y
GVK·2, siglas que resultan de Ia transliteración de Ias rusas correspondientes.
En dichatraducción se ha transliterado también el indicativo de Ias curvas fran·
cesas CH (couche horizontal), que son referidas erróneamente como SN.
229
TEORIA DEL· SONDEO ELECTRICO VERTICAL

tituido por una serie de rectas verticales y otra de horizontales, Ias cua-
Ies definen una red de rectánguIos de resistividad constante. Si numera-
mos estos por filas y columnas, empezando por el rectángulo superficial
situado más a Ia izquierda, Ia resistividad de ellos se expresará por cons-
i
tantes de Ia forma Pi,i siendo y j, respectivamente, Ia fila y columna deI
rectángulo considerado.
Alfano (que utiliza otra notación) estudia Ias propiedades deI punto
común a cuatro rectángulos contiguos cualesquiera de los que corn-
ponen el corte (fig. IV-21). Este punto es singular, pues Ia primera deri-
vada deI potencial U no está definida en éI, müintras 'que tanto U como
E son finitas, según demuestra dicho autor, por 10 que los problemas de
esta clase no son resolubles en general por el método de Ias imágenes,

Pi, j P·I, . + 1
J

Pi+l,i pi+l,j+l

FrG IV· 32. Intersección de cuatro recintos en Ia teoría de Alfano.

donde no pueden existir puntos singulares de tales características. Alfano

prueba que dicho método sóIo es apIicable si se cumple Ia condición

pi,; • pi+1. ;+1 = Pi+1. ; • Pio i+1 (IV,154)

De ellos se deduce que los cortes considerados en el apartado IV.15

sólo son resolubles por imágenes cuando el sustrato es perfectamente
conductor, o para ciertos contrastes de resistividad. Los cortes estratifi-
cados cumplen también Ia condición anterior, si se les afiade contactos
verticales ficticios que tendrán Ias mismas resistividades a ambos lados.
Dadas Ias condiciones deI problema, Ia ecuación de Laplace para él
puede integrarse por separación de variables cartesianas, llegándose a Ia
solución general
230
 HETEROGENEIDAD GENERAL

(IV,155)
U(x, y, z) = J 00 dÀ J"
O -" G(Á, p.) eÀ.(±i" seu J.'±iy aos J.'±z) dfl

donde G(À,fl) es una función característica que como en el caso de me-

dias estratificados ha de determinarse por Ias condiciones de contorno
deI rectángulo donde se calcula el potencial. Para el recinto rectangular
de índices i, j se puede poner siempre que

G,.i(À, fl) = J J J é(±ir; seu J.'±'1) aos J.'±~) (Ti ,i (ç, 1], e) dç d1] de (IV,156)

Llevando ésta a Ia (IV,151) y utilizando Ia igualdad

J 00
O J"
-" eW(.r;±,,) seu J.'+iy aos J.'±(,h±z)] dfl = [(TÇ ± X)2 + if + (Eh ± Z)2)-1/2
(IV,157)
Alfano llega a Ia expresión

Joo Joo . (TI.! . de

u.., ~ J ~;;, _;;, -00 I(x - ,f + (y - ,f + (z m'" (lV,158)
Si se pone

r'(x, y, Z, ç, 1], C) = [(x - W + (y - 1])2 + (z - 02]-1/2 (IV,159)

Y se incluye el potencial "primario" Uo(x, y, z) o sea el que produciría Ia

fuente en terreno homogéneo, resulta

Ui,i(X, y, z) = J (Ti,i(Ç, 1], C) r'(x, y, z, ç, 1], C) • dç • d1] . de + Uo(x, y, z)

(IV,160)
Esta expresión puede interpretarse diciendo que el potencial en cada
punto (;t, y, z) deI recinto i,j es Ia suma deI potencial primario con un
potencial perturbador o secunda rio producido por una distribución de
cargas ficticias de densidad (Ti,i' La solución así obtenida no es única, por
10 que puede imponerse Ia condici6n adicional de que Ias diferentes fun-
ciones (Ti.! se reduzcan a una sola (Ta, 1], C) válida para todo el subsuelo.
Además, Ias condiciones de regularidad deI potencial exigen que dicha
función sea nula fuera de los planos de discontinuidad, por 10 que Ia in-
tegral de volumen anterior se reduce a una de superficie.
El problema electrocinético propuesto queda reducido de este modo
a un problema electrostático, en eloque Ia distribución de cargas super-
ficiales que crea el potencial secundaria, está a su vez determinada por
231
TEORIADELSONDEOELECTRICO
VERTICAL

el pote.ncial total, por 10 que Ia relación entre ambos viene dada por una
ecuación integral que, según prueba Alfano es

(IV,161)
271"a-{P) = J r'(p, P') a-{P') ds + No(P)
En esta ecuación, P representa Ias coordeonadas de un punto P(x y z)
de Ia superficie de discontinuidad considerada y o-(P) y K(P) son, res-
pectivamente, Ia densidad de carga y el factor de reflexión en dicho
punto. P representa Ias coordenadas (ç, 7), O de un punto que, en Ia in-
tegración, se desplaza sobre Ia superficie S de todos los planos de dis-
continuidad, excepto aquel donde se encuentra P. En cuanto a Ia fun-
ción (P, P') viene definida por

(IV,162)
r( x, y, z". P')
. =I a r'i.j(X,azy, z" P') _1_ I'"'" -- z~
z;/

para planos horizontales de discontinuidad de profundidad z, y por

(IV,163)
I'(Xj, Y z, P') = I a r'i.j(x;,()xy, z, P') IXj-
I Xi - ç
ç!

para planos verticales de abscisaxj, siendo r'

Ia función definida por Ia
(IV,155). En cuanto aI término No(P) representa aI campo primario.
Alfano resuelve Ia ecuación integral (IV,157) por medio de aproxima-
ciones sucesivas, dividiendo los planos de discontinuidad en zonas ôSm
de densidad de carga (T m constante, y obtiene así un sistema de infinitas
.ecuaciones lineales
271" (T' 00
(IV,164)
K(P!) = ~1 r'!m (Tm ôSm + N'ol

que se reduce a un número finito de ecuaciones en virtud de ciertas hi-

pótesis simplificatorias.
EI mencionado geofísico italiano aplica el procedimiento que hemos
expuesto a grandes rasgos, a cortes estratificados, donde obtiene los re-
sultados ya conocidos por otros métodos, y a casos más comple-
jos. En trabajos posteriores (ALFANO,1960 Y 1961) se ha aplicado este
método, el más poderoso conocido hasta ahora para Ia resolución deI
problema directo' en corriente continua, aI estudio de Ias perturbaciones
producida~s en Ias curvas SEV por heterogeneidades próximas a Ia super-
ficie, y se ha extendido a cuerpos tridimensionales, considerando tam-
bién planos de discontinuidad perpendiculares aI eje y. De este modo
pueden calcularse aproximadamente Ias perturbaciones causadas en el
campo eléctrico por cUerpos subterráneos de forma irregular, descom-
poniéndolos por medio de planos paralelos aI sistema de coordenadas.
232
 HETEROGENEIDAD
GENERAL

KELLER(1966) ha llegado a Ias mismos resultados que Alfano,par-

tiendo de otras consideraciones; si se expresa Ia divergencia de J en
función deI campo E y éste a su vez, en función de U resulta

V.J=V· ( -E
p1 )
=-V
p1
·E+E.V-p1
E=-VU
1 1
V . J = -- p
V . (VU)- VU· \7- p (IV,165)
de donde se obtiene,
1
V2U=-p V 'J-P VU. V--p
pero esta es una ecuación de Poisson, por 10 que el potencial valdrá

(IV,166)
U=--I-fPV'J
2rr -r-I·· - dV -- fpVU.V_l_-
• r2 p dV

La primera integral representa el potencial primaria en media hOfiO-

géneo de resistividad Pl producido por Ias fuentessituadas a Ia distancia ri
deI punto M donde se calcula el potencial, ya que aquellos s® Ias únicos
puntos donde no se anula V . J. La segunda integral representa una dis-
tribución de cargas, a Ias distancias r2 de M, de densidad P V U . ''v _1_
, P
que es nula fuera de Ias superficies de discontinuidad de Ia resistividad.
De este modo se puede llegar nuevamente a los resultados de Alfano.

IV.18.3 Diferencias finitas

Los problemas directos de Ia Prospección Geoeléctrica implican Ia in-

tegración de una ecuación diferencial con condiciones de contorno dadas.
Un ejemplo de ello es Ia fórmula de Stefanescu (IV, 23) a Ia que se llegó
por procedimientos analíticos clásicos. La aplicación de estas procedi-
mientos a estructuras más complejas que los medias estratificados pre-
senta grandes dificultades, por 10 que varias autores han recurrido a
métodos aproximados para Ia integración de ecuaciones diferenciales, en-
tre ellas el llamado de diferencias tinitas, que ha sido aplicado a proble-
mas monodimensionales (MUFTI, 1980),bidimensionales (MUFTI, 1976,
1978; DEY Y MORRISON,1979a) y tridimensionales (DEY y MORRISON,
1976b).
233
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

Uno de los rasgos fundamentales de este método es Ia discretización

deI semiespacio que representa el terreno. Así, para problemas mono o
bidimensiortales, Ia sección vertical deI medio se descompone en reetán-
gulas por medio de sendas series de líneas verticales y horizontales,
formando una red que se sobrepone a Ias líneas que separan zonas de
diferente resistividad. La forma de éstas no está sujeta a ninguna iimi-
tación. Esta generalidad está compensada por Ia renuncia aI cálculo de
Ia función incógnita (generalmente el potencial) en todos Ias puntos que
no sean vértices de Ia red mencionada.

1.1 2 4 j- N-2 N
2

______________________ L~ _
I

M-I
M :II tm
FIG. IV-33. EjempJo de red para eJ método de diferencias finitas.

Las separaciones entre Ias líneas que forman Ia red pueden ser cuales-
qui era (fig. IV-33). Los vértices o nodos se designan por Ios números de
orden de Ias Iíneas que Ias determinan, que se toman como subíndices
deI nodo: pi.;. Así, el punto P de Ia figura viene determinado por i = 3,
j = 4, por Ia que se designará por p3 Estas índices varían desde I hasta
.••

un máximo M para i y otro N para j.

Para expresãr Ia relación de cada nodo con Ias contiguos, Mufti de-
signa a éstos con Ias letras correspondientes aIos puntos cardinaIes, si-
tuados como en un mapa, según se indica en Ia figura IV-34.
En cuaIquier punto deI media, incluso en Ias fuentes o eIectrodos, ha-
brá de cumpIirse Ia iguaIdad

\I . [(1" 'V U] = ôp
at
(IV,167)

234
 HETEROGENEIDAD GENERAL

hN
w hw p E
hE

hs
s
FIG. IV·34. Relación de cada no do con los contiguos, en el método
de diferencias finitas. (Según MuftL) ,

que se deduce de Ia (111,7)y de Ia ecuación de continuidad.

Mufti demuestra, partiendo de Ia ecuación anterior y de Ia fórmula
de Ia diferencia central, Ia siguiente expresión aproximada, válida para
modelos bidimensionales y coordenadas cartesianas.

__ . '.1 -" / O"i,i - hW/2

hE +2 hw [ 0"" hE'E 2 (Ui.i+hE-Ui.i)- hw (Ui,i-Ui,i-hW) 1+

]+
(IV,168)

"En esta fórmula, qi.i se refiere a Ia fuente que puede existir en P, con
intensidad I, y vale
41
qii
,
= ---------
(hE- hw)(hN - hs)
(IV, I 69)

Ecuaciones análogas han sido dadas por los autores citados para
coordenadas cilíndricas con Ias fuentes en el eje r = O, o para casos tri-
dimensionales. En los nodos que corresponden a Ia superficie deI terre-
no o a Ias líneas extremas, de Índice M o N, Ia ecuaci6n (IV,168) ha de
ser modificada para satisfacer Ias condiciones de contorno.
Si se escriben Ias ecuaciones correspondientes a todos los nodos se
obtiene un sistema de ecuaciones' lineales cuya resoIución lleva aI cono-
cimiento deI potenéiaI en cada üno de ellos, y en particular en los que
se hallan en Ia superficie deI terreno, 10 que permite calcular Ias resis-
tividades aparentes. .
235
TEORIADEL SONDEOELECTRICO
VERTICAL

Ahora bien, si se desea un conocimiento muy detallado de ia distri-

-bución deI potencial, o se desea tener en cuenta el efecto de capas muy
delgadas, Ia red de nodos ha de ser muy densa y, en consecuencia, el
número de ecuaciones puede· ser excesivamente gránde. Para obviar este
inconveniente, Mufti utiliza una red de espaciado logarítmico, 10 que per"
mite el cálculo de todas Ias estaciones de un SEV, con notable disminu-
ción deI número de nodos, y expresa Ia ecuación de cada uno de éstos en
función de los parámetros de DZ, con 10 que se hacen compatibles Ias
capas delgadas y Ia red poco densa.
Cuando el dispositivo es deI tipo Schlumberger, surge alguna dificuI-
tad, puesto que se· hace necesario el conocimiento deI gradiente deI po-
tencial en vez de este mismo. EUo puede obviarse, bien considerando
lineal Ia variacíón deI potencial, entre cada dos nodos (MUFTI, 1980), bien
tomando dos fuentes muy próximas entre sÍ y aplicando eI Principio de
Reciprocidad (MUFTI, ] 976).

Conviene indicar que DEY y MORRISON(1979) suponen el potencial

desarroUado en serie de Fourier, cuyos primeros coeficientes son los que
se c,alculan por diferencias finitas.
Respecto a Ia resolución deI sistema de ecuaciones, a veces se ha
efectuado por métodos de relajación, pero parece más ventajoso el em-
pleo de procedimientos adecuados para Ia inversión de matrices casi
vacÍas (diseminadas).
En Ios trabajos citados se encuentran ejemplos de los resultados ob-
tenidos con eI método de diferencias finitas. En particular, MUFTI (1980)
10 ha aplicado aI modelo usual de media estratificado, con disminución
deI tiempode cálculo frente a Ios métodos analíticos cuando eI corte
es muy complejo.

IV.18.4 Elementos finitos

Este método de cálculo (ZIENKIEWICZ,1971; COGGON,1971; WARD

et ai, 1973; BIBBY,1978) presenta claras analogÍas con eI de diferencias
finitas, aunque su fundamento es muy diverso.
Todo sistema físico se comporta de tal modo que puede ser descrito
por un funcional que toma un valor mínimo (aIgunas veces máximo).
-Este funcional suele ser una integral, a Ia que hay que anadir Ias condi-
ciones de -contorno de cada problema particular. Engeneral, si es f Ia
magnitud desconocida (potencial, campo, temperatura, etc.), el funcional
tiene Ia forma
236
 HETEROGENEIDAD GENERAL

W(f) =f ...J L
n
[t, a~. ' P1] dp!> dp2, ... dpn
(IV,170)

donde Ias. P, son Ias derivadas de t respecto de los pará metros de inte-
gración pi'
Para que Ia integral anterior sea mínima, o dicho másexactamente,
estacionaria, habrá de anularse su variación: <5W = O, 10 que exige el
cumplimiento de una ecuación de Euler-Lagrange:

(IV,171)
aw -
---ar E
n lapi)· J
a [ a(afaw
apl =o
En ·la Prospección Geoeléctrica en corriente continua, Ia función que
ha de tomar un valor estaciona rio (mínimo) es Ia energía disipada en
Ia unidad de tiempo:

(IV,l72)
Wc = Iv a-Wd"

a Ia que hay que afiadir Ia energía de Ia fuente.

EI método de elementos finitos consiste fundamentalmente~ en un
cálculo numérico aproximado de Ia distribución deI campo (o potencial)
que hace mínima Ia energía total, mediante una adecuada discretización
deI problema. "
Dicha discretización se efectúa haciendo finita Ia región de integra-
ción, y dividiéndola en N partes o elementos. Las características físicas
deI medio se suponen constantes dentro de cada elemento. Los proble-
mas abordado.s por Coggon y Bibby sólo requieren el uso de dos coorde-
nadas, porque el primero estudia estructuras bidimensionales (aunque
Ias frecuentes son tridimensionales) y el segundo se ocupa de estructuras
con simetría axil. Esto hace que los elementos se definan en sólo dos
dimensiones; su forma puede ser cualquiera, pero suele preferirse Ia
triangular. EI tamano de estos triángulos es variable, por 10 que se to-
man más pequenos en Ias regiones donde Ia variación de Ia magnitud
estudiada es más rápida, o donde se desea mayor detalle, deI modo que
se indicaesquemáticamente en Ia figura IV-35.
Se supone que Ia variable estudiada S varía linealmente dentro de
cada elemento, y que está representada por valores Si (desconocidos)
correspondientes a un numero finito de no dos que, por 10 general, coin-
ciden con los vértices de los elementos. EI hecho de que Ia variación sea
lineal permite expresar el valor de W para cada elemento. Sumando para
todos e1los, se obtiene una expresión aproximada para Ia integral W:
237
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

FIG. IV-35. Ejemplo esquemático de una red para el cálculo mediante elementos
finitos. (Inspirado en Coggon.)

Dicha expresión será funCÍón de Ias valores de S, y por 10 tanto ten-

drá Ia forma

W = C(S], S2! ... , SM) (IV,I73)

donde S], SM son Ias valores de Ia magnitud S en Ias M nados. La con-
dición de mínimo se expresa por Ias M ecuaciones

--=0
ac
as;
(i = 1, 2, ... , M) (IV,I74)

Los valores buscados S; se determinan por resoIución deI sistema de

cuaciones (VI,I74). Ahora bien, tanto Coggon como Bibby no procedeu
directamente así. Coggon aplica Ia transformación de Fourier de modo
que quede eliminada Ia variabIe y, y Ia integral de voIumen se transforma
en integral de superficie. Bibby, por su parte, desarroIla W en serie de
Fourier, y 10 que determina por eI método de elementos finitos son Ios
coeficientes de dicho desarroIlo.
Además, dichos autores utiIizan un artificio, sugerido por Nabighian,
que consiste en descomponer eI campo en dos partes: primaria (corres-
pon9iente a medio homogéneo o estratificado) de cálculo sencilIo, y se-
cundaria, que representa Ia diferencia entre eI campo deI modelo que
se estudia y eI campo primaria. * De este modo, eI cálculo es más rá-
pido y preciso.

* De este modo procedió Stefanescu en su famoso trabajo de 1930.

238
 HETEROGENErDADGENERAL

EI pr0blema queda reducido pues, aI cálculo deI campo secunda rio.

Para un modelo dado, el sistema (IV,174) puede escribirse en forma
matricial
1',' S,=F (IV,175)
donde el subíndice t indica magnitudes totales (primarias más secunda-
rias) y F se refiere a Ias fuentes. Para el modelo simpIe deI campo pri-
mario, se tiene, anáIogamente

Tp' Sp = F (IV,176)
Las matrices deI campo secunda rio serán
1', = T,-Tp
(IV,I77)
S, = S,-Sp
La combinación de todas estas ecuaciones da

1',' S"= (1',,-1',). S (IV.I78)

que representa el sistema de ecuaciones que ha de resolverse.
Las matrices l'
son casi vacías, simétricas, y (no siempre) diagonal-
mente dominantes, por 10 que se prestan muy bien para Ios métodos de
Cholesky.
En Ios trabajos citados de Bibby y Coggon se encuentran ejemplos
de Ia aplicación deI método. La teoría general de éste se estudia en
ZIENKIEWrCZ (1971).

IV.18.5 Los medios «alfa armónicos» de Stefanescu

EI método que se describe en este apartado tiene poco en común con

10s anteriores, ya que no es un método general aplicable a estructuras
muy diversas. Se trata de un tipo de modelos con heterogeneidades con-
ductoras cuyo cálculo es relativamente fácil.
La idea de los medios "alta armónicos" fue dada a conocer (STEFA-
NESCU, 1950, y algunos trabajos posteriores) en una revista rumana de
escasa difusión, por 10 que permaneció prácticarriente desconocida hasta
Ia aparición de otros artículos (STEFANESCU, 1970; STEFANESCUy STEFA-
NESCU, 1974); DorcIN, 1976, y EDWARD et aI, 1978) debidos aI propio
Stefanescu o a sus discípulos en publicaciones internacionales.
Es característico de 10s citados medios el que Ias zonas conductoras
no están limitadas por fronteras perfectame~lte definidas, sino que Ia va-
riación es gradual.
239
TEORIA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

En un media isótropo se cumple Ia ecuación

v (T' V U + (T '12 U = O (IV,179)

según se dedujo en el apartado 111.2.Si se introduce una variable auxiliar
a tal que a = y' (T, se tiene
V (T = V ,i = 2(1 \7 a (IV,180)
y
(J" \72 U +2 \7 a . \7 U = O (IV,181)
Si ahora se introduce otra nueva variable "I', a Ia que Stefanescu llama
parapotencial, definida por Ia ecuación
'I' =aU= U V(T (IV,182)
se tiene
\72 tfJ = a \72 U + 2 \7 a' V U + U '12 O- (IV,183)
que, junto con Ia (IV,181) y Ia (IV,182) dan
'12 a '121jJ
(IV, 184)
a 'I'

Por Ia tanto, si a es función armánica, Ia será también el parapo-

tencial '/', de donde se se deduce fácilmente U mediante Ia (IV, 182). Esta
quiere decir que para distribuciones de resistividad que sean funciones
armónicas (medios alta armónicos) el potencial en cada punto puede
calcularse con relativa sencillez.
Como función armónica adecuada para a puede tomarse una que
tenga Ia forma de un potencial newtoniano, producido por fuentes pun-
tuales o centros de conductividad Si, en número finito. En un punto cual-
quiera P se tiene entonces

ap = B + i=1i:, ~
Ri
(IV,185)

siendo Ri = SiP, A esta función a corresponde, evidentemente, una dis-

tribuciónde resistividades en el terreno, dada por

p(P) = ( B + iÊ ~: r (IV,186)

en Ia que hay un míÍümo de resistividad en cada uno de Ias centros S, y

Ia resistividad tiende a B-2 en el infinito. Como ejernplo, Ia figura IV-36
da idea de Ia repartición espacial de Ia resistividad en un media alfa armó-
nico con dos centros de conductividad.
240
 HETEROGENEIDAD GENERAL

r
I I
I
/-
J ,-r-,
•.•.•\ \ I
I I /1' \\ \ I
\ I Ii .SI I J I \ I
\ \ '~~_\1''l \ \ ,
\, __'Il', \ J

", ", \ J

"" " \ íp'/-,,\

-rr--, \I I
" I I I 520 I)) I I

"
,"
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,
,' _-_.-~
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--~
'':::'::_~fj /
~
(lI, I /

/
/
/I
//
•.•..

", .•...•.•.•.....•• --- ----- --...;,./

/~

FIG, IV-36, - Ejemplo de isolíneas de resistividad -verdadera en un medio

alfa armóniço,

Si en un medio alfa armónico existe una fuente puntuaI F, -por Ia que

penetra una intensidad de corriente I, y está. situada en un centro S, en
Ia inmediata proximidad de Ia fuente será

U=--=-=-
1
4rrr
I
4rra2
p A
r
(IV,187)

donde A = 1/4rraF y aF se refiere aI valor de a en F, Por semejanza con

Ia ecuación (IV,185) puede tomarse como soIución para U
A
U=-+
r
L:--
Di
n
bl Ri
(IV,188)

donde no se conocen Ias constantes Di' Los valores de éstas pueden de-
terminarse mediante Ias ecuaciones

BDi + kE' 1,=;

GkDi - GóDk
R-,tt
= AGI
ri
(IV,189)

estabIecidas en 1950 por Stefanescu mediante Ia condición de conserva-

ción de Ia corriente en Ios centros Si' En elIas i:l= k Y 'ri = SiF;
Una vez conocidas Ias Di puede obtenerse eI potencial:

U=-= a
'P
--+L:-
(I4 rr o.p r ni=1 Di)
Ri (
B+L:--
bl n Ci)
Ri -1
(IV,190)

Hasta ahora hemos considerado un media ilimitado, sin tener en cuen-

ta Ia separación tierra-aire. EI efecto de ésta se determina por eI clásico
241
TEORIADEL SONDEOELECTRICO
VERTICAL

método de Ias imágenes anadiendo por cada S o F otro igual y simétrico

respecto deI plano z = O. '
Los medios alta armónicos' han sido utilizados por Stefanesco y sus
discípulos para estudiar eI efecto de zonas conductoras sobre Ia resisti-
vidad aparente.
Un inconveniente deI método es que en éI Ia resistividad varÍa con
excesiva lentitud en funci6n de Ia distancia, 10 que no suele suceder en
Ia práctica, aI menos en Ias estructuras interesantes. Para un mayor acer-
camiento à Ios casos reales, STEFANESCU y STEFANESCU(1974) han ge-
neralizado el método mediante Ia hip6tesis
\12a , \12'1'
-=--=f(P)
a 'I'
(IV,191)

que, para el caso particular f(P) = k2, lleva a Ias ecuaciones

\12a-k2a= O
(IV,192)
\12 '1'- k21jJ =O
que tienen Ias conocidas soluciones
e±kR

R
que llevan a una funci6n
n e-kR, n ekR,
a(P) = L:
'=1
C,-Ri'- + b1
L: C'i-
Ri
(IV,193)

La presencia de Ias exponenciales hace que Ia variaci6n de Ia resisti-

vividad con Ia distancia sea más rápida. EI cálculo deI potencial es aná-
logo aI descrito, pero Ia determinación de Ias constantes Di es más com-
plícado en este caso.

242
 Capítulo V
PRACTICA DEL SONDEO
ELECTRICO VERTICAL

V.1 INTRODUCCION

Los resultados de una campafía de SEV, o de cuaIquier otro método

geofísico, han de vaIorarse, desde eIpunto de vista técnico, por Ia segu-
ridad y precisión de Ios resultados obtenidos. Por consiguiente, eu todas
Ias etapas deI trabajo han de tomarse Ias precaucione.s necesarias para
conseguir Ia máxima caIidad en Ios resultados finaIes. Independiente-
mente de esto, debe procurarse, por motivos económicos, reducir aI mí-
nimo Ia duración y gastos de Ia campafía.
Aunque nos referimos aquí aI mét040 SEV, mucho de 10 que se ex-·
pone a continuación es al'IicabIe también, no sóIo a otros métodos geo-
eléctricos, sino a Ia prospección geofísica en general.
En todos Ios trabajos geofísicos de campo existen, además de Ios
aspectos puramente científicos, cuestiones prácticas de organización, 10-
gística (alojamientos, medios de transporte, suministros, etc.), y adminis-
tración (contratación deI personaI obrero, anotación de gastos, etc.), de
Ias .que no se ocupa, salvo incidentalmente, Ia presente obra, tanto por-
que exceden deI marco científico, como porque dependen en gran me-
dida de Ias circunstancias peculiares de cada trabajo.
Las etapas principales de que se compone una campafía geofísica son
Ias siguientes:
O.PIanteamiento deI problema y recopilación de datos geológicos
y de otra índole sobre Ia zona de trabajo.
243
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

1. EIección deI método y modalidad prospectivos en función deI ob-

jetivo y sus circunstancias.
2. Programación detallada deI trabajo de campo.
3. Ejecución deI trabajo de campo.
4. RecopiIación y elaboración' de Ios datos obtenidos.
5. Interpretación física de Ios resultados anteriores y traducción geo-
lógica de Ia misma, seguida de Ias conclusiones y recomendaciones per-
tinentes.
Cada una de estas etapas se apoya en Ia anterior, por 10 que Ia cali-
dad final deI trabajo no puede superar a Ia de Ia etapa de peor califica-
ción. Por ejemplo, de nada servirá el que Ias mediciones de campo se
realicen con todo esmero y competencia si el problema no está bien
plantcado o Ia programación es incorrecta. Es necesario, por consiguien-
te, que todas Ias etapas deI trabajo se efectúen adecuadamente. Entre
e1las adquiere importancia fundamental el trabajo de campo, pues su re-
petición parcial o total sería económicamente prohibitiva, o, aI menos,
muy costosa.

V.2 PLANTEAMIENTO DEL PROBLEMA V RECOPILAGION

DE DATOS PREVIOS

El problema cuya resolución se encomienda a Ia geofísica debe estar

claramente planteado en términos geológicos o geotécnicos. No tiene sen-
tido proponer el estudio diciendo que se busca agua o petróleo, sino que
debe especificarse cuáles son los problemas concretos que desean inves-
tigarse. En una campafia programada con finalidad hidrológica; por ejem-
pIo, el problema propuesto puede ser el de localizar intercalaciones are-
nosas en una gruesa formación de arcillas, el de seguir Ia marcha sub-
terránea deI techo de determinados materiales calcáreos, o el de buscar un
sustrato imperrneable bajo rocas permeabIes.
En todos 105 casos, no pueden aplicarse los métodos geofísicos de
prospección si no existe contraste de propiedades físicas entre Ia forma-
ción que desea estudiarse y Ias que le rodean. Concretamente en el caso
de los métodos geoeléctricos, habrá de existir contraste de resistivida-
des entre una y otras. De no ser así, los métodos no son aplicables.
Ot1'a condición de gran importancia es. el relieve topográfico. Si éste
es muy acentuado, Ia aplicación de 10s métodos geoeléctricos se hace
difícil, y en muchos casos imposible, ya que en general, no pueden apli-
carse correcciones por relieve. En estas condiciones, es preferible no rea-
lizar Ia investigación que obtener datos dudosos de interpretación in-
244
 PLANTEAMIENTO DEL PROBLEMA Y RECOPILACION DE DATOS PREVIOS

segura. Sín embargo, a veces pueden obtenerse resultados útiles mediante

programJcíón y ejecución muy cuidadosas.
De 10 anterior se deduce Ia necesidad de disponer de informaciÓn
sobre Ia Zona y problemas que se pretenden estudiar, a fin de decídir si
es conveniente aplicar algún método geofísico, y en caso afirmativo, ele-
gir éste. Esta necesidad de información sube de punto cuando quieran
decidirse, de modo más concreto y detallado, Ias modalidades de aplica-
ción dei rpétodo. En general, es preciso obtener Ia siguiente documenta-
cíón sobre Ia zona de trabajo:
a) Cartografía topográfica.
b) Fotografía aérea, eu pares estereoscópicos.
c) Mapas y cortes geológicos.
d) Información sobre el subsuelo: obtenida mediante perforaciones,
pozos, labores mineras, etc .. (si existe).
e) Informe escrito sobre Ia geología de Ia zona, donde se estudien
todos los aspectos relacionados con Ia investigación propuesta.
f) Datos y resultados de los trabajos geofísicos que hayan podido
efectuarse anteriormente en Ia zona en cuestión y en sus proximidades.
g) Otros datos de interés práctico, tales como vías de comunicación
y clima de Ia zona; presencia de corrientes perturbadoras debidas a fe-
rrocarriles eléctricos, insta.lacíones industriales, etc.; existencia de edi-
ficaciones, bosques, ríos y otros obstáculos que dificulten el tendido de
cables, etc.

La escala de los documentos indicados en a), b) y c) debe ser ade-

cuada ai grado de detalle o escala que se pretenda eri el trabajo geofí-
sico; en investigacíones de gran envergadura, puede ser conveniente el
empleo de dos escalas, una de trabajo, y otra para los resultados de
conjunto.
P;lta Ia información geológica, si bien pueden utilizarse los mapas y
memorias existentes sobre Ia zona, será raro el caso en que no sea ne-
cesario obtener datos geológicos complementarios, pertinentes a Ia in-
vestigación que va a realizarse, por medio de nuevas observacíones de
campo.
Son muy útiles y a veces de importancia decisiva, Ias datos a que
hace referenda el párrafo anterior d). En 10 que respecta· a perforacio-
nes (sondeos mecánicos) es necesario que su ejecución haya sido vigilada,
a pie de obra, por un geólogo, y a ser posible, que se haya aplicado tes-
tificación geofísica. Los datas suministrados directamente por el sondista
son, a veces, inútiles; otras veces, perjudicíales por erróneos, y en todos
Ias casos deben someterse a juicio crítico.
245
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

EI autor dispone de amplia experiencia en este punto, que atestigua

10 dicho.

V.3 ELECCION DEL METODO PROSPECTIVO Y DE SU

MODALlDAD CONCRETA DE EMPLEO

ia elección deI método (o métodos) de prospección que debe aplicarse

a cada caso determinado, se hace teniendo en cuenta los datos recogidos
previamente (según se expone en el apartado anterior) dando preferencia
aI procedimiento que sea capaz de localizar con Ia máxima seguridad y
precisión el cuerp0 o estructura buscado, aI que denominaremos objetivo.
Entre los factores que han de ser sopesados figuran el tamano, profun-
didad y forma que se esperan para el objetivo; el contraste de propie-
dades físicas de este respecto deI medio circundante; el poder resolutivo,
coste y rapidez de aplicación de cada método, así corno Ia sensibilidad
de estos aIos accidentes topográficos y otrascausas de perturbación.
ia aplicación de método.s eléctricos exige, corno es obvio, Ia existen-
cia qe diferenciación suficiente entre Ias resistividades' deI objetivo y deI
medio encajante. Dentro de los métodos eléctricos, el SEV es aplicable
cuando el objetivo tiene posición más o menos horizontal, y su extensión
en dicho sentido no es pequena respecto de su profundidad. Además,
es necesario que Ia topografía deI terreno sea relativamente suave, en
especial para trabajos a no mucha profundidad. Una cortada de 100' ó
20'0 metros de desnivel no puede ser franqueada en un SEV corto, ya qu~
el efecto topográfico impediría una interpretación correcta, pero no re-
presenta grave inconveniente para un SEV largo cuyo centro se haBa
a 8 ó 10' km deI accidente. También es necesario que Ias formaciones
geológicas sobre Ias que· se efectúa el SEV presenten una razonable ho-
mogeneidad lateral.
EI método SEV no es, pues, recomendable para Ia investigación de
filones metálicos, diques, capas de carbón, fracturas o faBas, cuando éstos,
como suele ocurrir, adoptan posiciones verticales o muy inclinadas. Tam-
poco es útil el SEV para Ia localización de cuerpos de reducida extensión
lateral, como metalizaciones pequenas en forma de bolsada. Por estos
motivos, el método SEV tiene aplicación reducida en minería, limitán-
dose su papel a Ia ejecución de estudios auxiliares, tal corrio d estable-
cimiento de los límites de alguna formación determinada, salvo cuando
se trata de yacimientos sedimentarios.
ias aplicaciones más difundidas deI método SEV son Ias siguientes:
a) Investigaciones deI relieve deI iócalo y otros estudios tectónicos
para Ia prospección petrolera. Esta aplicación, poco difundida en Occi-
dente, está muy extendida en Ia Unión Soviética.
246
 ELECCION DEL METODO PROSPECTIVO

b) Estudios hidrogeológicos, mediante Ia determinación deI espesor

y profundidad de los materiales permeables o impenneables; también
se aplica este método para estudio .del Karst poco profundo y para deli-
mitación de Ia zona litoral de invasión marina.
c) Estudio y delimitación de cuencas carboníferas.
d) Estudios para Ingeniería civil, que incluyen: determinacióIl de Ia
profundidad deI firme, y espesores de Ia zona de recubrimiento y altera-
ción (para cimentaciones, presas, etc.), estudio de Ia naturaleza y estruc-
tura deI subsuelo en el trazado de futuras carreteras, canales o túneles;
búsqueda y cubicación de materiales de construcci6n; estudios en zonas
de deslizamientos.
e) Estudios a profundidad mliy pequena par~ Ia detecci6n de ob-
jetos y edificaciones enter'radas, para Arqueología, como complemento
de calicatas eléctricas.

f) Investigaciones geotérmicas.
Además, el métodoSEV se ha utilizado para estudios de Geofísica
Pura a grandes profundidades (decenas y aun centenares de km).

V.4 PROGRAMACION DEL TRABAJO DE CAMPO

La programación de una campana de SEV inc1uye, aparte de Ias cues-

tiones de organización,logística, etc., Ia elección de Ia densidad de Ias
mediciones (o sea, en este caso, Ia distancia entre el centro de cada SEV
y el siguiente), de Ia situación concreta de estos centros y de Ia orienta-
ción de Ias alas (línea AB) correspondientes, cuestiones que deben deci-
dirse con gran cuidado en vista de su influjo en Ia calidad final deI tra-
bajo. Otra cuestión importante es Ia determinación de Ia longitud AB
final· de los SEV.
a) La densidad de Ias mediciones, es decir, Ia distancia entre centros
de SEV contiguos, depende, por una parte, deI carácter y fase de Ia in-
vestigación, y por otra,· de Ia estructura geológica de Ia zona.
EI término fase hace referencia a que en Ias investigaciones impor-
tantes suele comenzarse por una fase de reconocimiento, con SEV muy
esparcidos, a Ia que sigue Ia fase de producción con Ia densidad normal
prevista, y una fase final de detalle con mayor densidad de SEV en Ias
zonas más interesantes. En general, los centros de 105 SEV deben formar
una red de malla cuadrada o rectangular, cuyo lado menor no debe ser
superior aI doble de Ia profundidad a que se espera encontrar los objeti-
vos, pues de 10 contrario, Ia .correlaci6n de 10s resultados de cada SEV
co,n sus vecinos puede resultar hipotética, y Ia marcha en profundidad de
247
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

Ias formaciones guía no quedara. precisada adecuadamente. Cuando Ia

tectónica y variaciones laterales sean suaves, pueàe disminuirse Ia (fen-
sidad, y debe aumentarse en caso contrario. Si Ias formaciones geológi-
cas presentan arrumbamiento definido y más o menos constante, los
SEV pueden colocarse sobre perfiles perpendiculares' a dicho rumbo, y
entonces Ia distancia entre ellos a 10 largo deI perfil puede 'ser Ia mitad
o Ia cuarta parte de Ia distancia entre perfiles. Cuando el rumbo de Ias
formaciones .cambia, no es conveniente conservar el paralelismo entre los
perfiles, sino establecerlos de modo que cada uno d~ ellos corte transver-
salmente los contactos y accidentes geológicas. ia distancia entre perfi-
les puede disminuirse en Ias zonas de geología más complicada, y au-
mentarse donde ésta sea más sencilla.
Naturalmente, Ia presencia de accidentestopográficos o de otra ín-
dole puede llevar a desviaciones respecto de Ia regularidad de Ia retícula,
el espaciado de los SEV sobre cadá perfil, o Ia rectilineidad de- éstos, ya
que tales condiciones son secundarias frente a Ia adecuada ubicación de
los SEV.
b) ia elección de los centros de los SEV y de Ias orientaciones o
azimutes de Ias alas deben efectuarse con cuidado y minuciosidad, espe-
cialmênte cuando se trata de zonas de geología complicada.
Esta elección debe hacerse por medio de fotografías aéreas estereos-
cópicas con el auxilio de mapas topográficos y geológicos de escala ade-
cuada, buscando para cada SEV Ia mejor aproximación a condiciones de
homogeneidad lateral que hagan aplicable Ia teoría deI medio estrati-
ficado. EJ azimut de Ia línea AB de'be establecerse sobre una curva, de
nivel, o aI menos, de modo que el terreno presente mínimo relieve en Ia
dirección escogida. Por otra parte, los electrodos A y B no deben pasar
por encima de falIas o contactos aflorantes. A veces estas cOlldiciones son
contradictorias, y se hace necesario buscar un compromiso entre ambas.
En ciertos casos es preciso desplazar el centro deI SEV, o efectuar éste
con dispositivo semi-Schlumberger sobre el ala que presenta mejores con-
diciones. '

Si los SEV se realizaran para estudio de un sustrato afectado por

una tectónica de bloques, tanto los SEV paralelos a Ias fallas como los
ortogonales a Ias mismas presentan ventajas e inconvenientes, según se
deduce deI apartado IV.I7, por 10 que siempre que sea posible debe efec-
tuarfse en cada punto un SEV en cruz, esto es, dos SEV ortogonales,
uno de ellos paralelo a Ias estructuras.
En casos difíciles por Ia to'pografía deI terreno, el uso de Ia fotografía
aérea permite frecuentemente encontrar centros y direcciones de alas
adecuadas para Ia obtención de buenas curvas de SEV que, aunque en
corto número, pueden ser suficientes para Ia resolución deI problema pro-
248
 PROGRAMACION DEL TRABAJO DE CAMPO.

puesto. En estos casos es muy útil el uso de dispositivos semi-Schlum-

berger, según se indica más arriba.

Una cuestión de interés práctico es Ia desigll3ción de Ias SEV. AI-

gunos geofísicos emplean numeración ind.ependiente para cada perfil,
pel'o tal costumore no es aconsejable, pues pueden producirse de -y
hecho se producen-- confusiones entre dos SEV deI mismo número y
diferente perfil, y se complica innecesariamente aI sistema de referencia
obligando a dar dos datos cuando basta uno solo. Además, cuando lo~
SEV cubren un área, el interpretador puede agrupar los SEV de diferen-
te~ modos, buscando Ia mayor representatividad en los cortes geoeléc-
tncos, por 10 que no puede atribuirse cada SEV a un solo perfil.

Lo más práctico es designar cada SEV por un número de orden, pre-

feriblemente el de ejecución. Cuando trabajan varias equipos, y para
evitar repeticiones, el primero de eIlos numera su.s SEV deI 1 en adelante,
el segundo, deI 500 en adclante, y así sucesivamente, a menos de que el
primeI' equipo haya de realizar más de 500 SEV, y en tal caso el segundo
comenzaría, por ejemplo, por el número 1000. Si el trabajo está dividido
en cuadrículas, por ejemplo, hojas deI mapa topográfico, puede utilizarse
una numeración independiente para cada una de eHas.

c) La determinación de Ia longitud AB final hasta Ia que debe Ilegal'

cada SEV no es cuestión sencilla. Interviene en ella el concepto de pe-
netración práctica o profundidad interpretable, puesto que se trata de
responder a Ia pregunta: L Qué longitud final hay que dar a Ia línea AB
para alcanzar Ia profundidad deseada7 La respuesta no puede basarse en
Ias viejas regIas "empíricas" que suponían que Ia máxima profundidad
interpretable en Ia curva de un SEVera en todos los casos, igual a una
fracción fija de Ia longitud AB final (solía tomarse 1}4) puesto que Ia
relación entre arnbas magnitudes depende deI corte ·geoeléctrico, o más
concretamente, de Ia pseudoanisotropía de éste. Por ejemplo, en el caso
de una capa homogénea apoyada en un sustrato muy resistivo, puede
obtenerse,si el AB final es relativamente pequeno, una curva de resis-
tividades aparentes prácticamente horizontal (10 que en Ia jerga profe-
sional se Ilama un "paIo"). En estas condiciones puede afirmarse que el
sustrato se haIla a profundidad superior a AB/2. Esta penetración no
suele alcanzarse en Ia inmensa mayoría de 10s casos, en particular cuan-
do en el corte geoeléctrico alternan capas muy resistivas con otras muy
conductoras. La presencia de una capa gruesa y muy resistiva respecto
de "Ias capas supra y subyacentes produce en Ia curva de resistividades
aparentes una rama ascendente seguida de otra descendente. Para obtener
un trozo de esta última que permita su interpretación, Ia distancia AB
hahrá de superar a Ia profundidad deI muro de Ia capa, en un número de
veces que puede ser 10 o mayor.

249
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

Teniendo todo esto en cuenta se com prenderá que no es posible dar

regIas sencillas para determinar "a priori" Ias longitudes finales de Ias
líneas AB. En Ia práctica, pueden seguirse alguno de estas procedi-
mientos.
1) Si se conocen Ias resistividades de los materiales deI subsuelo y
sus espesores probables, pueden trazarse Ias curvas de resistividades apa-
rentes, o 10 que es más fácil, Ias de Dar Zarrouk, preferiblemente para
varios casos posibles, y basarse en estos resultados para determinar Ia
distancia AB final de los SEV que van a ejecutarse.
2) Basarseen los resultados obtenidos por el método SEV en Ia
misma zona, o en otras análogas o contiguas, si es que se dispone de
tales datos.
3) Efectuar algunos SEV de ensayo en puntos estratégicos de Ia
zona que va a estudiarse.
4) Tomar un valor mínimo razonable de AB y dar instrucciones con-
cretas aI operador de campo, deI tipo de: "proseguir el SEV hasta ob-
tener cinco puntos en subida".
5)' Utilizar Ia regIa de base estadística que consiste en tomar Ia dis-
tancia AB cinco veces mayor que Ia profundidad que se desea alcanzar,
si elrecubrimiento es más resistivo que Ias rocas subyacentes y diez
veces en caso contrario. Este criterio suele fallar muchas veces.

Aun siguiendo uno de estos procedimientos no será raro que Ias lí-
neas AB hayan de prolongarse respecto de 10 previsto inicialmente. EI
autor, en su experiencia profesional, ha encontrado con frecuencia curvas
de SEV cuyo AB final era insuficiente para el fin propuesto, pero no re-
cuerda casi ningún caso de curvas excesivamente "largas". Debe tenerse
en cuenta además que no basta, para Ia interpretación, con un trocito
final ascendente o descendente en Ia curva, pues Ia determinación de Ia
resistividad y profundidad de Ia última capa exige un trozo de tamano
apreciable (cuatro o cinco estaciones) del arco final de Ia curva, aparte
deI peligro inherente a toda extrapolación, pues pudiera ocurrir que en Ia
estación siguiente Ia curva cambiase de tendencia.
d) En el programa de trabajo deben incluirse mediciones de apoyo
o calibrado, tales como sondeos paramétricos, y tomas de resistividad.
Los primeros son SEV con su centro a pocos metros de alguna perfo-
ración cuyos resultados se conozcan. Deben hacerse con el ,mayor cui-
dado, y a ser posible "en cruz" esto es, efectuando dos SEV con el mis-
mo centro y con azimutes aproximadamente perpendiculares. En cuanto
a Ias tomas de resi~tividad, consisten en SEV cortos realizados sobre
afloramlentos, o donde se sepa que Ia roca en cuestión se halla a poca
profundidad, cuidando de evitar Ia influencia lateral de otras forma-
250
 TRABAJO DE CAMPO

ciones. Debe tenerse en cuenta, sin embargo, que Iascondiciones eléc-

tricas de una roca profunda difieren, a veces, grandemente, de Ias presen-
tadas por Ia misma roca en afloramiento.

V.S TRABAJO DE CAMPO

V.S.O Introducción

Antes de describir eI conjunto de operaciones que constituyen Ia me-

dición de un SEV es necesario exponer algunas consideraciones genera-
Ies, válidas para todos Ios trabajos prospectivos.
Las mediciones que se efectúan en Prospección geofísica son compa-
rables a Ias mediciones de Iaboratorio que se realizan en el curso de una
investigación científica y no requieren menos rigor experimental que éstas.
Sin embargo, esta semejanza falla en .dos puntos: por una parte, Ias
observaciones· geofísicas se realizan eu medios ambientales más "hosti-
les" que eI Iaboratorio; por otra parte, en tales observaciones existe un
condicionamiento económico, que obliga a efectuarlas en tiempo mínimo
y con· personaI reducido. Esto lleva a Ia normalización de Ias opera cio-
nes de campo, pel'O esta normalización no debe ser excesivamente rígida,
sino adaptable a Ios diferentes problemas y condiciones que pueden pre-
sentarse.
Los instrumentos prospectivos no son aparatos de Iaboratorio,·· puesto
que además de poseer Ia exactitud y sensibilidad convenientes han de ser
muy robustos * protegidos de Ia humedad y cambios de temperatura, y
10 más sencillos que sea posible, puesto que, a menos elementos, menos
averías.
Antes de entrar en Ia técnica de campo deI SEV es necesario el es-
tudio separado de Ios circuitos que intervienen, que son eI de emisión y
el de recepción. Es importante que estos circuitos sean independientes.

V.S.1 Circuito de emisión

Su finalidad es Ia de hacer circular por eI terreno, introduciéndola

a través de dos electrodos A y B una corriente eléctrica de intensidad
constante I. Este circuito estará compuesto, pues, de una fuente de ali-
mentación F, de dos eleetrodos o tomas de ti erra A y B, de un amperí-

* Mi primer jefe en Ia Pros'Jecci6n decía: "Los instrumentos geofísicos de-

ben ser capaces de resistir patadas", AIgunos aparatos modernos cumplen esta
condición, 10 que no obsta para que hayan de ser tratados con cuidado extremo.
251
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

metro O miliamperímetro para Ia medición de I, y de los cables y elemen-

tos de conexión necesarios.
De Ia fórmula utilizada para el cálculo de' Ia resistividad aparente

Pa = KÔV 1 (I1I,21)

se deduce que si no se modifica Ia posición de Ios electrodos, Ô V será

proporcional a 1. Ahora bien, salvo para distancias AR muy cortas, o
sobre terrenos de gran resistividad, V suele ser pequeno, por loque es
tJ,.

conveniente que I sea 10 mayor posible, a fin de hacer más fácil Ia me-
dición y aumentar Ia reJación senal/ruido. EI circuito de emisión se re-
presenta esquemáticamente en Ia figura V-I, a, mientras que Ia V-I, b

Il~
a

b
FIG. V-l. Circuito de emisión; a, esquema práctico; b, circuito equivalente.

corresponde aI circuito equivalente. En éste, RF es Ia resistencia de Ia

fuente de corriente continua, que incluye Ia deI amperímetro, y Rc, RA Y
RB son respectivamente Ias resistencias óhmicas deI cable, y Ias de con-
252
 TRABAJO DE CAMPO

tacto de Ios eIectrodos A y B. La intensidad' de corriente I vendrá dada,

pues, por

1=------- U
RF + Rc + RA + RB (V,I)

donde U es Ia f.e.m. deI generador. En Ia práctica, RF es muy pequena

y 10 mismo ocurre con Rc cuando Ia línea es corta, de modo que I de-
pende fundamentalmente de los valores de RA y RB• El valor de U está
limitado por razones prácticas, tanto por el peligro de accidentes a per-
sonas y animales, como porque Ias posibilidades de fugas de cOl'riente
aumentan con Ia tensión. El autor es partidario de no utilizar fuentes de
alimentación de más de 500 V, por Ias razones antedichas, pel'o a veces
se emplean tensiones mayores.
Cuando el cable es largo, Ímpone un límite a Ia intensidad I. Asi, si se
emplease cable de 15 º/km en una línea AB de 10 km, su resistencia
total sefÍa de 150 Q; suponiendo nulas Ias demás resistencias deI cir-
cuito, y Ia f.e.m. deI generador de 500 V, Ia intensidad sería de
500: 150 = 3,33 amperios, pel'O como en realidad Ias ()tras resistencias
no son nulas, este valor representa Ia Íntensidad máxima posible. Por
ello, en líneas largas ha de emplearse cable de poca resistericia óhmica
por km, si bien ello implica mayor peso y coste.

V.5.1.1 Resistencias de conta&to

En general, de Ias cuatro resistencias que apareceu en el denomina-

dor de Ia (V,I) Ias que por su mayor valor Ínfluyen más en el de Ia in-
tensidad son Ias resistencias "de contacto" RA y RB• Conviene aclarar el
significado físico de estas resistencias con 10 que aI mismo tiempo res-
ponderemos a una pregunta que quizá se haya hecho el lector: LPor qué
no aparece en Ia fórmula (V,l) Ia resistencia deI terreno?

FIG. V-2. Para el cálculo de Ia resis.tencia de contacto de un electrodo puntual.

253
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

Consideremos un electrodo puntual en Ia superfície de un ,terreno

homogéneo de resistividad p (figo Vo2). EI potencial Vi a Ia distancia ri
deI eIectrodo será según Ia (III,12)

Vi=~ 1 (V,2)
211' ---r;-
A otra distancia r2 > ri el potencial vaIdrá análoga mente

V2=~
211'
1
-r'-2 o

La resistividad de Ia capa semiesférica comprendida entre ambos ra-

dios será, pues,

R= Vi-V2
I =-- ----- =---- (V,3)
2rr
p (1 ri r2 1) 2rr ri
p r2 - r2 ri
Si r2 y ri difieren entre sÍ una cantidad pequena dr se tendrá

R~-P-
2rr -rdr (V,4)

La corri ente I va atravesando sucesivarnente capas sem i-esféricas cu-

yas resistencias respectivas decrecen con el cuadrado de Ia distancia.
Por 10 tanto, Ias capas de mayor radio influirán muy poco en Ia resisten-
cia total, que dependerá esencialmente de Ias más próximas aI electrodo.
Si suponemos que éste tiene forma semiesférica, de radio ro y resistividad
Po, Ia resistencia Ro deI electrodo será, según Ia (V,2)

V Po _1_ (V,5)
Ro = -I = -z;;:- ro

Si el radio deI electrodo fuese de 10 cm, y el material acero

ro
(Po = 10-~ Q-m) su resistencia seda aproximadamente de 1,6 X 10-8 Q
valor totalmente despreciable. En cambio si Ia resistividad deI subsuelo
fuese de 100 Q-m, Ia resistencia de Ia capa comprendida entre el elec-
trodo y Ia semiesfera de 20 cm de radio seda, según là (V,3) de 80 Q Y
Ia capa contigua de radios 20 y 30 cm presentará Ia resistencia de 26,5 Q.
Si se calcula Ia resistencia de Ia capa limitada por ro y un radio cualquiera
ri Y hacemos tender este último a infinito obtendremos Ia resistencia
límite deI terreno que será
p -.!-
R'=b ro
(V,6)

254
 TRABAJO DE CAMPO

donde, sustituyendo los valores correspondientes ai ejemplo supuesto ob-

tendremos Re = 160 Q.
Este ejemplo aclara hasta qué punto Ia resistencia opuesta por el te-
rreno se concentra, por así decirlo, en Ia inmediata proximidad dei elec-
trodo, y ya a poca distancia de éste, Ia sección dei conductor es tan gran-
de que su resistencia es pequefiísima. Para ilustrar esta información in-
dicaremos que en un medio homogéneo de 10.000 Q de resistividad, Ia
resistencia de Ia capa semiesférica de radios 10 y 11 m es sólo de 14.5 Q
según puede calcular se mediante Ia ecuación (V,3).
Por 10 tanto, Ia resistencia dei 'terreno no influye prácticamente en
Ia intensidad dei circuito de emisión, salvo en Ia parte más próxima ai
electrodo; por esta causa se habla de resistencia de contacto.
En Ia práctica geoeIéctrica suelen usar se como electrodos, barrenas
de acero puntiagudas. En este caso, dada Ia simetría axil dei problema,
el potencial que interviene es el logarítmico. Si es I Ia longitud de Ia
parte dei electrodo introducida en el terreno, r el radio dei cilindro y
p Ia resistividad dei terreno, Ia resistencia R deI e]ectrodo puede calcu-
larse (YAI<UBOSKIY y LIAKHOV, 1964) mediante Ia fórmula
p 21
R = -21r 1
In -- r (V.7)

Por ejemplo, si p = 100 Q-m, 1 = 0,5 m yr = 1,5 cm será R = 134 Q.

Si en Ias mismas condiciones, aumentamos Ia longitud de electrodo cla-
vada en el terreno hasta 1m será R = 78 Q.
La resistencia de contacto de los electrodos es el factor que limita en
Ia práctica el valor de ]a intensidad I. El medio más conveniente para
aUmentar ésta no es elevar Ia tensión dei generador, sino disminuir Ias
resistencias de contacto de Ios electrodos A y B. Para esto, puede em-
plearse alguno de estos procedimientos e incluso, si fuese necesario, to-
dos ellos simultáneamente:
a) Clavar más profundamente los eIectrodos (no en Ias- primeras es-
taciones).
b) Disminuir Ia resistencia deI terreno en contacto COl1 los electro-
dos regándolo con agua salada.
c) Sustituir cada uno de Ios electrodos A y B por un "tomatierras"
compuesto por varias barrenas metálicas conectadas entre sí. Debe tenerse
en cuenta que estas barrenas no están propiamente en paralelo, por estar
unidas eléctricamente entre Sí a través dei terreno. Por esta causa, Ia
resistencia de un tomatierras compuesto por dos electrodos es superior
a Ia mitad de Ia resistencia de un solo electrodo, a menos que estos estén
muy distantes entre sí. En Ia práctica se aconseja que Ia distancia mutua
255
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

entre Ios electrodos de un tomatierra sea aI menos 3 ó 4 veces Ia Iongitud

en que éstos están introducidos en eI terreno.

V.5.1.2 Fugas
Una de Ias causas de error más frecuentes. y graves en Ias mediciones
geoeléctricas es Ia existencia de fugas de corri ente en eI circuito de emi-
sión. Una fuga consiste en Ia derivacióri aI terreno de una parte de Ia
corriente I en un punto deI circuito diferente de Ioselectrodos A y B
por defecto de aislamiento en el cable o accesorios. Para determinar eI
efecto de una fuga supongamos (fig. V-3) que ésta se produce a Ia dis-
tancia x deI centro O de un dispositivo Schlumberger con ABf2 = L Y

1-.---111111-
I

1'1 li"I M N
A I

%
.--x--~
~-----L----i

FIG. V-3. Dispositivo Schlumberger con una fuga de intensiclad

de emisión, a Ia distancia x deI centro O.
i en el circuito

que su intensidad es i. En ausencia de Ia fuga se tendrá, según Ia ecua-

ción (I1I,28)
~v = pIrrV a
donde a es Ia distancia MN, y sustituimos Pa por P por suponer para
mayor sencillez, que el medio es homogéneo. ia presencia de Ia fuga equi-
vale a Ia de un electrodo adicional, que produce entre Ios electrodos MN
una diferencia de potencial suplementaria.

~V' = -E.!:.!!.-
2tr x2

donde se intrôduce eI factor 2 por tratarse de un sólo electrodo de co-

rricnte. En estas condiciones, Ia lectiua de ~V adoIecerá de un error re·
lativo
256
 TRABAJO DE CAMPO

~V' i V ,
~v -21X2 (V,8)

Para aclarar ideas, aplicaremos esta fórmula a un caso práctico. Su-

i
pongamos que L = 1 km, x = 100 m, I = I, A e = 5 mA. A pesar de
que Ia corriente de fuga es sólo media centésima de Ia corriente prin-
cipal, el error en Ia d.d.p. (que se transmitirá íntegro a lâ resistividad
aparente) será nada menos que deI 25 %.
EI cálculo anterior es aproximado, pues hemos supuesto implícita-
i
mente que I ê:::! I + y que el medio era homogéneo, pero es suficiente
para probar que el error causado por una fuga pequena puede ser muy
grande. Si eI medio no fuera homogéneo y a distancias pequenas corres-
pon,diesen a resistividades aparentes mayores que a distancias grandes, el
erro r sería mayor que eI dado por Ia fórmula (V,8).
De 10 anterior se deduce que es necesario tomar toda clase de pre-
cauciones en evitación de fugas, y comprobar frecuentemente su au-
sencia. EI modo de hacerlo se expone más abajo.

V.5.1.3 Electrodos de "infinito»

. Cuando se emplea un dispositivo trieléctrico AMN, es preciso des-

plazareI cuarto electrodo -B de modo que no influya en Ia diferencia de
potencial entre M y N. Esto puede conseguirse de dos modos. Si B se
se coloca sobre Ia línea AMN, aI lado opuesto de A respecto deI centro
O de MN (fig. V-4), entonces Ia .distancia OB debe ser varias vec~s ma-

B'
X

A B
X ••• X
M 0N

FIG. V-4. Ubieaci6n deI eIeetrodo de "infinito".

yor que Ia OA. Si eI medio fuera homogéneo, para que el error produci-
do aI despreciar Ia presencia deI electrodo B fuese menor deI 5 % .bastaría
>
que OB V2õ OA según puede probarse fácilmente teniendo en cuenta
257
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

que el campo eléctrico varía en proporción inversa aI cuadrado de .Ia

distancia aI electrodo. Si el medio no es homogéneo, Ia relación mínima
OR/OA deberá modificarseen general, pues depende deI tipo de hete-
rogeneidad. Si los SEV se efectuasen sobre un corte de dos capas con
sustrato conductor bastará que OR > 3 OA, pero si el sustrato fuese ais-
lante, tendría que .ser OR> 25 OA (según Vedriritsev, en TARKHOV,
1963).
Por eso es preferible el segundo procedimiento, que consiste en co-
locar el electrodo R en un punto tal como el R' (fig. V-4) en el que los
potenciales producidos en M y N seari iguales, y por 10 tanto nula Ia
diferencia de potenciales entre ellos': Para conseguirlo, si eI medio es
homogéneo, bastaría c{)Iocar R en cualquier punto de Ia mediatriz deI seg-
mento MN, incluso muy próximo a éste. En Ia práctica, y para tener ~
--
cuenta eI efecto de Ia heterogeneidad deI subsuelo, se .hace --
OR> 1,3 OA
con desviación respecto de Ia perpendicularidad entre OA y OR no mayor
de 3 o. Más común es tomar OR> 3 OA, con menor exigencia en eI án-
guIo.
En todo 10 anterior, Ia distancia OA es Ia máxima o final deI sondeo.
EI tomatierras R permanece fijo durante todas Ias mediciones deI 1/2
SEV.

V.5.1.4 Instrumentos y accesorios en el circuito de emisión

Este circuito consta esencialmente, como hemos visto, de un genera-

dor, un miliamperímetro, cables y electrodos. Las características más im-
portantes de estos elementos se describen a continuación:
a) Generador.
EI más sencillo es una batería de pilas secas conectadas en serie, de
modo que eu total se obtengan de 300 a 500 voltios. En Espana se usan
preferentemente baterias TXIMIST modelo ~S-llOO, de 100 V cada una,
en número de tres a seis. Estas pilas pueden dar hasta 1 amperio durante
breves períodos de tiempo. Es fundamental que Ia batería de pilas secas
esté perfectamente aislada deI suelo por medio de soportes adecuados
en evitación de fugas, que en este caso serían muy graves dada Ia proxi-
midad que 'suele existir entre el generador y los electrodos M y N. Es
muy conveniente que Ia batería vaya alojada en una caja es.tanca Y. ro-
busta, para su. protección respecto de Ia humedad. Tomando más o me-
nos elementos de Ia batería pueden conseguirse diferentes tensiones, 10
que puede lograrse mediante un conmutador, con saltos de 50 en 50 V
(fig. V-5, a).
258
 TRABAJO DE CAMPO

FIG. V-5a. Caja de pilas para mediciones geoeléctricas.

(Cortesía de Geotr6n, S. A.)

Tales fuentes pueden usarse para líneas AB hasta de 2 ó 3 km. Para

distancias mayores suelen usarse dínamos movidas por motores de ex-
plosión. La potencia eléctrica de estas dínamos suele oscilar entre 1 y
2,5 KW, pero los geofísicos soviéticos emplean para SEV largos, esta-
ciones geoeléctricas montadas sobre camiones pesados y que van provis-
tas, por ejemplo, de un generador de 16,5 kW o de dos de 11,5 kW.
La tensión de salida de estos generadores es de 460 V. También se usan,
desde hace algún tiempo, alterna dores provistos de un dispositivo rectifi-
cador, y baterías de acumuladores. (Véase además el apartado V.5.2.3 c).
Estos generadores van provistos de los instrumentos de medida y con-
trol necesarios y en algunos modelos es posible dar a Ia intensidad un
valor prefijado (i siempre que 10 permitan Ias resistencias de contacto!)
259
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

Las baterías de pilas de gran capacidad pueden sustituir, para SEV

de A B largo, a Ias grupos motor-Qenerador, con Ia ventaja de estar exen-
tos de Ias complicacio"nes y posibles averías de aquéIlos, pero exip"en se-
guridad en el suministro de pilas de recambio, 10 que puede causar difi-
cultades en regiones apartadas o mal comunica das.

El lector debe tener en cuenta que 10 que importa en el circuito de

emisión son los amperios y no los kilowatios. Si por ejemplo el generador
produce 460 V Y Ia resistencia total deI circuito es de 230 Q Ia intensidad
I valdrá 2 A, y Ia potencia consumida será de 920 watios, independiente-
mente de que el generador sea nominalmente, de 1 kW o de 16 kW. Por
10 tanto, no tiene objeto aumentar Ia potencia deI generador más alIá
de. 10 que permite Ia resistencia deI circuito (fundamentalmente Ias de
contacto). Se trata, en último término, de uná cuestión de acoplo de im-
pedancias.

b) Miliamperímetro.

Debe estar conectado en serie con el circuito AB, y no presenta exi-

gencias especiales, salvo su buena calidad, si bien es conveniente que su
escala sea grande y visible y que esté tropicalizado. Es también recomen-
dable que vaya provisto de un conmutador acoplado a Ias correspondien-
tes "shunts" de modo que pueda disponerse de varias sensibilidades, por
ejemplo, 10, 30, 100, 1000 y 3000 mA a fondo de escala.

c) Cable.

Por una parte, debe presentar reducidas resistencia óhmica, gran

aislamiento y elevada resistencia a Ia tracción, y por otra, peso redu-
cido. Como quiera que estas condiciones son contradictorias, es preciso
haIlar un compromiso entre ellas. También influye en Ias características
deI cable el modo en que éste se emplea, en 10 que respecta a Ias carretes
que Ias contienen. Pueden aplicarse dos sistemas diferentes, que han sido
llamados (OR'ELLANA, 1967) de carrete fijo yde carrete móvil. El primero,
usado por los geofísicos franceses (C. G. G.) y soviéticos, consiste en el
empleo de carretes grandes de material aislante, que se colocan junto aI
centro deI SEV. El cable, reforzado con hilos de acero que van junto a
los de cobre, se extiende tirando de él hasta que se desenroIle Ia longitud
de cable necesaria para Ia estación que va a medirse. La longitud de ca-
ble contenida en cada carrete es de unos 500 m. Como es lógico, se usa
un carrete para cada ala, y si el valor AB final fuese superior a 1 Km se
coloca un nuevo carrete en el extremo de cada cable, conectando ade-
cuadamente con éste, y así sucesivamente.
260
 TRABAJO DE CAMPO

EI autor prefiere eI sistema de carrete móvil. En este se empIea cabIe

corriente sin hiIos de aceró (por 10 -que resulta más Iiviano y flexibIe)
bobinado sobre carretes metálicos pequenos de base aisIante provistos de
un asa, Ios cuaIes son llevados por uh obrero hasta cada posición de Ios
eIeetrodos A o B soltando cabIe aI mismo tiempo, de modo que quede
depositado sobre eI terreno. tas ventajas de este sistema son Ias siguien-
tes: como eI cabIe no es arrastrado sobre eI terreno, no sufre roces con
piedras, matorraIes, etc., y su aisIamiento no se desgasta,. y puede ser más
sencillo y Iiviano; eI cabIe tampoco suíre tirones, por 10 que su resis-
tencia a Ia tracción puede ser más pequena, y aI tener de cobre todos Ios
hiIos, su resistencia óhmica es menor; por ·úItimo,. como eI carrete queda
junto aI eIectrodo, eI peIigro de fugas a traves deI carrete se hace prác-
ticamente inexistente, 10 que permite su construcción metálica. No obs-
tante, Ios carretes móviIes deben llevar una base aislante, a ser posibIe
unida aI carrete a través de aisIadores, para el caso de que haya que em-
pIear varios carretes en' serie.
Para SEV con líneas AB de hasta 2 Ó 3 kms sueIe empIearse eu Es-
pana cabIe de Ias características siguientes: está formado por 21 hilos de
cobre con 1 mm2 de sección total y su diámetro exterior es de 2,35 mm.
Cada km de cabIe pesa 13,5 kg y ofrece una resistencia de 20 Q.
Cada carrete móviI puede contener de 500 a 650 m de este cabIe. En
Ia figura V-5b se reproduce Ia fotografÍa de un carrete de este tipo. Una
cuestión no trivial es Ia deI coIor deI cabIe. AIgunos animaIes (incluso
caballos) sé sienten atraídos por 10s cabIes de colores llamativos y Ios
muerden, quedando eIecttocutados en eI momento de pasar Ia corriente.
EIautor tiene experiencia personaI de ello. Estos accidentes no se pro-
ducen cuando se empIea cabIe de colo r negro.
d) Electrodos.
Son simples barrenas de acero común o inoxidabIe, de Iongitud deI
orden de un metro, y de 1 a 3 cm de diámetro. Cuando son de acero
común es necesario lijarlos de vez en cuando, a fin de eliminar Ia herrum-
bre. La conexión aI cabIe debe hacerse deI modo más sencillo posibIe, y
aunque puede usarse una mordaza ("clip") de Ias empIeadas en Ias ba-
terías de acumuladores, el autor prefiere un sistema más tosco y sencillo.
AIrededor deI electrodo y cerca de su extre~o superior, se enrollan
fuertemente varias vueltas de cable de cobre desnudo, cuyos extremos se
retuercen, dejando libre un trozo de un decÍmetro aproximadamente. Las
vueltas deI cable se sujetêln con cinta adhesiva, y en el extremo libre se
coloca un terminal macho eI cual se enchufa en el cable de línea.

Este tipo de electrodos puede empIearse para tomatierras múltipIes.

Cuando en eI lugar donde debe clavarse eI eIeetrodo existe a1gún material
261
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

FIG. V-5b. Carrete deI tipo "m6vil" para eIcircuito de emisi6n.

(Cortesía de Geotr6n, S. A:)
262
 TRABAJO DE CAMPO

diro, por ejemplo, roca compacta, pueden emplearse electrodos "blandos"

compuestos por un material esponjoso impregnado con agua salada, en con-
tacto con el suelo, y una armadura algo pesada que asegura el contacto
y Ia fijeza. También pueden utilizarse hojas metálicas (papel de estaiío
o aluminio, por ejemplo), sujetos aI terreno con unos puiíados de barro.

e) Medios de comunicación.
EI operador debe estar en comunicación constante con los obreros
situados en Ias alas, bien para darles instrucciones, bien para recibir los
mensajes de éstos indicando que los electrodos están clavados, Ia--aparÍ- ..
cióón de obstáculos o dificultades, etc. EI sistema clásico de comunicación
era el empleo deI cable AB como línea telefónica, con retornos por . tie-
rra. El empleo de sistemas telefónicas a través deI cable- presenta in~-
convenientes notorios, pues además de complicar Ia instalación, no fun-
ciona sino cuando los electrodos están clava dos, y falla cuando serÍa
más necesario; en el caso de rotura deI cable. Por ello, en Ia actualidad
se usan exclusivamente radio-teléfonos, ya que éstos constituyen un me-
dio de comunicación totalmente independiente, y de ftincionamiento
continuo.

FIG. V-Se. Reeogida de eable desde un vehíeulo. en un SEV eon AB de 40 km en

Sudáfriea. (Cortesía dei CSIR. Pretoria.)
263
'. .fCINTREX OANGER
TSQ·3 SQUARE WAlE TRANSMITTER HIGH VOLTAGE

••

FIG, V-6. Generador de 3 kV A. (Cortesía de Scintrex.)

 TRABAJO DE CAMPO

V.5.2 Circuito de recepción o de potencial

Este circuito se representa de modo esquemático en Ia figura V-7a,
y su esquema equivalente en Ia V77b. En ésta, RI es Ia resistencia. deI

M N

R •• R,..

b
FIG. V-7. Circuito de recepción o de potencial; a, esquema práctico;
b, cirçuito equivalente.

instrumento, y RM Y RN· son Ias de contacto de· 105 réspectivos electro~

dos; Ia pila simboliza Ia presencia en el circuito de Ia d.d.p. ô. V debida
aI campo creado por t;l circuito de emisión. A esta ô. V se suman en Ia
práctica "ruidos" o "parásitos" que pueden falsear más o menos Ia lec-
tura, como polarización de electrodos, corri entes telúricas o de origen
industrial, etc .. Si bien hemos representado el instrumento como ·mili-
-voltímetro, también pueden emplearse potenciómetros, registradores, -et--
cétera.

Las resistencias RM Y RN producen una caída de tensi6n entre ellas

de modo que el instrumento sefiala un valor ô. V' < ô. V. Más concreta-
mente, Ia lectura deI instrumento será
265
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

FIG. 'v-8a. Modelo de milivoltímetro de estado sólido, de micromódulos, para medicione.s

geoeIectricas en corriente continua, provisto de circuito de compensación .
.Modelo comercial de Ia casa Geotrón. (Cortesía de Geotrón, S. A.).
266
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FIG. V-8b. MiJivoltímetro digital con apilamiento de seiíales para atenuación deI ruido. ~
N (Cortesía de Scintrex.) . ~
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 PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

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FIG. V-Se. Fragmento de un registro de 6.V en un SEV largo.

268
 , TRABAJO DE CAMPO

FIG. V-9. Electrodos impolarizables, cerrado y abierto. (Cortesia de Geotrón, S, A.)

/'"V'= ---~--/'"V (V,9)

RI + RM + RN

y eI error absoluto cometido yaldrá

e = /'"V-'/'"V' = RM + RN /'"V (V,lO)

RI + RM + RN
Ahora bien, como Ias. resistencias de contacto no pueden rebajarse más
alIá de un cierto límite, es mejor hacer que RI sea mucho mayor que
éstas, es decir, que se debe emplear un instrumento de impedancia de
entrada muy grande.
Hay otro motivo que lIeva a Ia misma conclusión, y es que, con objeto
'de perturbar en Ia menor medida eI campo creado por Ios electrodos
A y B, es necesario que Ia intensidad que se toma de Ios electrodos M
y N sea Ia menor posible.

V.5.2.1 Polarización de electrodos

Este fenómeno constituye una de Ias causas de error más importantes

en Ia medición de /'"V. Su origen es que si lbS electrodos M y N son me-
269
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

tálicos, aI estar en contacto con Ios electrolitos deI suelo, se comportan

como sem i-elementos de una pila eléctrica. Si Ia concentración y natu-
raleza de los electrolitos fuesen iguales alrededor de ambos electrodos,
Ias f.e.m. respectivas también serían iguales y seanularían, pero por
causa de Ia heterogeneida:d del terreno esto no sucede casi nunca.

La polarización de los electrodos de cobre es menor que Ia observada

en electrodos de acero, por 10 que los primeros son recomendados por
algunos autores, pero es mucho mejor el empleo de electrodos impola-
rizables. Estos, en su modelo más sencillo y usual, constan de un vaso
poroso lleno parcialmente, por una solución acuosa de sulfato de cobre y
sumergido en éste una varilla de cobre electroIítico, conectada exterior-
mente a Ia línea de medición (fig. V-9). De este modo se consigue que
Ias f.e.m. de ambos electrodos sean iguales y se anulen, aI menos teóri-
camente. Es preciso que Ias concentraciones de sulfato sean iguales en
ambos electrodos, para 10 cual Ia disolución debe ser sobresaturada, con
aIgunos cristales sin disolver de S04CU.
Los electrodos impolarizables deben ser tratados con éuidado, en es-
pecial' en 10 que respecta a limpieza. Para Ia comprobación de cada par,
deben colocarse en agua destilada y leerse Ia f.e.m. producida, Ia cual,
en caso de funcionamiento correcto, debe ser estable e inferior a 1 m V.
En el terreno cada uno de estos electrodos se instala en un hoyito pre-
viamente excavado y regado. Se debe mejorar el contacto de Ia base deI
electrodo en eI fondo deI hoyo por presión y rotación simultáneas del
electrodo. '

En Ia literatura soviética se encuentran descripciones de electrodos

'impolarizables en forma de bastón grueso, en los que Ia cerámica porosa
está sustituida por lona, así como modelos especiales para trabajos en
ríos o en mar.

En Occidente se han empleado a veces electrodos, impolarizables de

doble vaso, estando lleno el exterior, de agua destilada, pero sus posibles
ventajas, discutibles en Ia práctica, no compensan los inconvenientes de
su manejo.

Indicaremos finalmente que no es preciso que Ia sal disuelta y Ia

varilla sean de cobre, sino que basta que ambos sean deI mismo metal,
aunque Ia práctica universal es el empleo de cobre y su sulfato. La'
f.e.m. de los electrodos impolarizables depende de Ia temperatura, por
10 tanto debe cuidarse de que ambos tengan Ia misma durante el trabajo,
evitando, por ejemplo, que un electrodü esté aI sol y el otro a Ia sombra.
En el apartado (lX.5) se encuentra más información sobre Ia medida
de Ia f.e.m. residual de un par de electrodos impolarizables.
270
 , TRABAJO DE CAMPO

V.5.2.2 Corrientes perturbadoras

A través de los electrodos M y N no llega solamente Ia d.d.p. V t!,.

debida aI campo deI circuito de emisión, que es Ia "senal" que se desea

medir, sino también algunas tensiones indeseadas o "ruidos", de Ias que
hemos visto un ejemplo en Ia polarización de los electrodos. Ademâs en
el terreno suelen existir tensiones perturbadoras, bien de origen natural
(polarización espontânea, corrientes telúricas) bien artificial. (ferrocarriles
eléctricos, instalaciones industriales o mineras, etc.).
De estas perturbaciones o parâsitos, Ias debidas a Ia polarización es-
pontânea (cap. IX) y a actividades industriales tienen carácter local, por
10 que sólo se presentan en ciertas zonas, mientras que Ias corrientes
telúricas se hallan presentes en toda Ia Tierra. Sobre esta cuestión véanse
FROLICH (1971) y HOOGERVORST (1975). .
EI modo de eliminar estos parásitos depende de que seàn de tensión
alterna o constante. En el primer caso, si su frecuencia es aI menos de
algunas decenas de Hertzios debe colocarse a Ia entrada deI instrumento
de medida un filtro pasa-bajos que reduzca Ia amplitud deI parásito a,
valores despreciables frente a V. t!,.

Para Ia supresión de los parâsitos de valor constante o casi constan-

te, incluyendo en ellos Ia polarización de los electrodos (incluso con
electrodos impolarizables queda un valor residual), el método universal-
mente empleado es el dispositivo de compensación, que en esencia con-
siste en una pila y un divisor de tensión, deI cual se toma Ia neçesaria
para equilibrar el parásito (fig. V-10). A fin de efectuar este ajuste con Ia
necesaria precisión es necesario que el divisor de tensión tenga dos re-
gulaciones, "Gruesa" y "Fina".

FIG. V-IO. Inserción deI compensador en eI circuito de potencial.

271
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

Aun así no pueden anularse Ias cornentes telúricas de baja frecuen-,

da-, sobre todo con distancias MN superiores a 100 m. EI método clásico
de eliminar estos fenómenos es el empleo de uri instrumento registrador,'
que será descrito más abajo.
Desde hace varios anos 'puede emplearse un nuevo sistema de elimi-
nación de ruidos, que consiste esencialmente en el muestreo periódico
de Ia d.d.p. que existe entre los electrodos M y N. En el momento de
aplicarse Ia corriente, dei circuito de emisión, una tensión igual a Ia dei
ruido última mente muestreado se opone a éste, con 10 que queda anula-
do. Todo ello se efectúa, naturalmente, por medio de circuitos electró-
nicos.

Este procedimiento es muy eficaz, pero tiene dos limitaciones impor-

tantes: por una parte, es insuficiente frente a ruidos de variación amplia
y rápida, como los producidos por ferrocarriles eléctricos, talleres de
soldadura eléctrica, etc. La otra limitación se refiere ai tiempo finito re-
querido para el establecimiento dei campo eléctrico deI circuito de emi-
sión (véase eI final deI apartado V.6) que exige esperar algúri tiempo
después de Ia iniciación de Ia corriente para efectuar Ia lectura, de V.
Durante este tiempo, que crece eon Ia ,distancia AB y Ia conductividad
deI terreno, el ruido puede haberse modificado, pero no Ia tensión que se
Ie oponía, por 10 que 'no queda anulado.
Más efectivo parece ser eI sistema descrito en eI apartado V.5.2.3 c).

V.5.2.3 Instrumentos para Ia medición de JV

De 10 dicho anteriormente, yde Ia experiencia obtenida en el trabajo

de campo, se deduce que el instrumento acoplado aIos electrodos M y
N para Ia medición de ôV, debe' ser robusto y I1gero, de gran impedancia
de entrada (mínimo 1 MQ), capaz de medir tensiones comprendidas en-
tre poco más de un voltio y fr,acciones de mV, y provisto de un circuito
para Ia compensación de Ias tensiones que aparecen entre Ios electrodos
de potencial en ausencia de Ia corriente de emisión.
Los tres tipos principales de ip.strumentos empleados para Ia medi-
ción de ô V son el potenciómetro, el milivoltímetro electrónico y el regis-
trador.

a) EI potencíómetro es elmás aritiguo y sencillode los tres. EI principio

en que se basa se ilustra en la ~igura V-lI. Abierto el interruptor R, se
cierra eI L, ajustando eI compensaelor C, hasta que el ga1vanómetro no
se. desvía. Compensada de este modo Ia tensión pará sita entre los electro-
272
 TRABAJO DE CAMPO

8
I ,
R

MI N
/'?
/'/-

FIG. V-lI. Medición de 6. V por medio de un potenciómetro. B, pila; p. potenciómetro;

R, interruptor; C, compensado r ; G, galvanómetro; L. interruptor deI gaIvanómetro.

dos M y N, se aplica corriente en eI circuito de emisión y se cierra el

interruptor R, con 10 que volverá a desviarse eI galvanómetro. Se mueve
entonces eI cursor deI potenciómetro P hasta conseguir que G vuelva
nuevamente a cero. La posición de equilibrio deI curso r permite deter-
minar ó. V en función de Ia f.e.m. de Ia pila patrón B. En condiciones de
equiIibrio, no circula corri ente por elcireuito inferior; por 10 que Ia im-
pedancia de entrada deI instrumento es infinita. Esta tircunstancia es un
tanto engaõosa; no obstante, porque si Ia resistencia de contacto" de Ios
eleetrodos M y N es grande, circula poca intensidad por eI circuito, Ias
indicaciones deI galvanómetro son pequeõas, y Ia posición' deI equilibrio
se vuelve imprecisa.
La figura V-12 reproduce eI esquema deI potenciómetro soviético EP-1
que, según todas Ias apariencias es idéntico, o casi idéntico, aI modelo
francés Schlumberger. La unidad I es Ia propiamente potenciométrica, y
Ia Ir Ia de compensación previa. La unidad IIr tiene por objeto compensar
Ios efectos de inducción de Ia apertura y cierre deI circuito de emisión
sobre eI de potencial. La intensidad I
se mide con eI propio aparato, deter-
minando Ia caída de potencial que se produce en una de Ias resistencias
calibrad·:ls de 0,1 y 0,01 Q de Ia unidad IV. Esto exige que Ia línea de
emisión tenga que pasar a través deI aparato, 10 que a juicio deI autor
representa un grave inconveniente, que impide el uso de este aparato en
condiciones razonables de comodidad para sondeos y calicatas dipolares,
métodos de gradiente, etc. EI aparato es muy robusto, aunque bastante
voIuminoso y pesado (unos 12 kgs) y no se presta para eI trabajo en zonas
de contactos maIos. La medición de ó. V e I no puede hacerse simultánea-
mente. Las operaciones de compensación y equilibrio representan mayor
273
 PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

complicación que en el caso de aparatos de lectura directa; no obstante,

los operadores expertos Ias hacen en tiempo muy corto. Este apar.ato y
sus semejantes deben considerarse como totalmente anticuados, pero su
valor histórico es muy grande, pues con ellos se han llevado a cabo sa~
. tisfactoriamente centenares de campafias de prospección, por 10 que su
contribución aI desarrollo de los métodos geoeléctricos no puede despre-
ciarse. El BRGM de Francia y eI prof. Cagniard idearon y construyeron
otros potenciómetros para prospección.

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FIG. V-12. Potenciómetro geofísico tipo SchlumbeFger (modelo soviético EP-I,

según Yakuboskiy y Liakhov).

b)Milivoltímetro electrónico.
Los primeros instrumentos de esta clase utilizados en los SEV, eran
deI tipo "cl1t>pper", esto es, transformaban por medio de un interruptor
mecánico Ia tensión continua de los electrodos de potencial en otra va-
riable, que era amplificada y medida. Algunos de estos modelos no tenían
indicación de polaridad, 10 que si bien no es inconveniente en el SEV,
10 es y grande, en otros métodos geoeléctricos (l'olarización espontánea,
cuerpo cargado, sondeos dipolares, etc.).
274
 TRABAJO DE CAMPO

En Ia actualidad se construyen milivoltÍmetros de estado sólido des-

tinados especialmente a Ia prospección geoeléctrica, por Ia que van provis-
tos en su entrada de un dispositivo de compensación. EI valor de ô V
se lee directamente en Ia escala de un instrumento de aguja, por Ia que
Ia lectura es muy rápida. La impedancia de entrada varía de unos mode-
los a otros, pero es siempre superior a 20 MQ. Su volumen es muy re-
ducido, y pueden trabajar a temperaturas comprendidas dentro de am-
plios márgenes. EI margen de lectura más sensible suele ser de 1 mV
a fondo de escala; aunque se podría aumentar fácilmente Ia sensibilidad,
ello no tiene obJeto, pues Ias corrientes telúricas y otros parásitos impe-
dirÍan el uso eficaz de escalas más sensibles. AIgún modelo lleva lectura
digital, en vez de aguja y escala. * A Ias buenas características indica das .
hay que afiadir Ia gran robustez y seguridad de funcionamiento, por 10
que estas instrumentos son, con mucho, y eu el estado actual de Ia
técnica, Ias más· adecuados para Ia ejecución de SEV con líneas AR fin!l-
les de hasta 2 ó 3 km, así como para otros tipos de prospección eléCtrica
en corriente continuil.

c) Equipos de polarización inducida.

Pueden efectuarse SEV por media de equipos construidos para el mé-
todo de P.I. (véase el tomo 11 de esta obra), Ias cuales constan de un
transmisor que produce corriente de onda cuadrada con intervalos de
interrupción, y de un receptor con compensación automática dei rui do
en c.c. que, a estas efectos. trabaja 'como milivoltímetro. EI sistema sólo
funciona cuando Ias condiciones dei terreno yla longitud de Ia línea AR
hacen que el campo eléctrico se establezca co'n rapidez; en caso con-
trario se obtienen valores que no son admisibles, porque no corresponden
ai campo estacionaria. .

d) Medici6n automática con conmutación y apilamiento.

La empresa Bodensee Geosystem, de Uberlingen (Alemania Federal),
ha lanzado recientemente un equipo geoeléctrico (modelo GGA 30) que
utiliza nuevas técnicas de medición ,capaces de eliminar los ruidos, salvo
los muy intensos. La sefial que proviene de Ias electrodos M y N se inte-
gra durante un par de segundos, con Ia que se elimina el ruido en e.A.
salvo una semionda. Los ruidos en e.e. incluyendo efectos de deriva,
son anulados por medio de conmutaciones cíc1icas adecuadas.Finalmen-
te, el ruido residual que aún pueda quedar es eliminado mediante apila-
miento ("stacking") de Ias sefiales recogidas en ciclos sucesivos.

* Las ventajas de Ia lectura digital son discutibles, aI menos para los que
están acosíumbrados a los instrumentos analógicos.
275
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

EI equipo consiste en una unidad emisora y otra receptora, conecta-

das por un cable. ia elevada sensibilidad deI sistema permite el empleo
de potencias muy reducidas en el circuito de emisión. Este método de
medición parece el más exacto entre los conocidos hasta ahora, siempre
que el proceso se aplique cuando Ia corriente de emisión ha alcanzado
el estado estacionario.
e) Registrador.

A partir de cierto valor de Ia distancia MN Ia aguja de los milivol-

tímetros oscila irregularmente por efecto de Ias corrientes telúricas y
ruidos industriales, 10 que dificulta y aun impide Ia medición correcta
&A~ .

EI remedio clásico de estas dificultades consiste en el empleo de ins-

trumentos registradores. Inicialmente se emplearon galvanómetros de es-
pejo que presentaban el doble inconveniente de su reducida impedancia
y de Ia necesidad de revelar los registros, que eran fotográficos. En Ia
actualidad se encuentran en el comercio diferentes modelos de milivoltí-
metros o potenciómetros autocompensadores de escritura directa que
pueden utilizarse para el fin propuesto.

ia ventaja deI registro gráfico es que permite separar visualmente Ia

sefii:LItlV de los diferentes ruidospresentes. ia corriente se aplica aI cir-
cuito AB en forma de una serie de impulsos de duración suficiente para
que el campo alcance su estado estaciona rio, a ser posible con inversión
de polaridad entre cada dos impulsos (pues ello duplica Ia sefial). El
registro aparece en forma de onda cuadrada, con crestas más o menos
irregulares por el efecto de los parásitos de frecuencia más aJt.a y quizá
una envolvente curva que afecta a varios ciclos que puede deberse a va-
riación lenta en los electrodos, impolarizables (por cambio de tempera-
tura u otra causa), (j a componentes de baja frecuen.cia en el campo
telrúrico. Ambos efectos se observan en Ia figura V-8c), que reproduce un
.trozo de un registro real. EI valor de tl V se mide con una regIa gradua-
da, conocida Ia equivalencia en mV de un em, determinando Ia distancia
entre Ias crestas planas de cada ,onda para una serie de ellas y tomando
el promedio de los resultados. EI tiempo de registro en. cada estación
depende de Ia intensidad de Ias perturbaciones y puede llegar a ser de
varias horas en condiciones muy desfavorables. En tales casos conviene
operar en Ias horas en que Ias perturbaciones son menores, 10 que suele
ocurrir por Ia noche.
ia inversión de polaridad en el circuito AB, puede efectuarse ma-
nualmente a intervalos prefijados, o por medio de un dispositivo auto-
mático. En ambos casos es preciso el empleo de inversores o contactores
adecuadíls a Ias intensidades de corriente que se manejan.
276
 PROCESO DE MEDICION DE CAMPO

V.5.3 Independencia entre los dos circuitos

En Ios primeros tiempos de Ia Prospección Geoeléctrica se utilizaron
aparatos que, como eI potenciómetro Schlumberger, servían tanto para
Ia medida de ô V como para Ia I; e incluso otros, como eI Megger, que
daban directamente eI cociente entre ambas magnitudes.
Recientemente han aparecido instrumentos de estas mismas propie-
dades, que se presentan como nuevas y ventajosas. Evidentemente no son
nuevas, y eI autor opina que tampoco son ventajosas,. tanto en eI caso en
que milivoltímetro y amperímetro son aparatos diferentes montados en Ia
misma caja, como cuando un mismo instrumento ejerce Ias dos funciones.
Aun sin sacar a colación eI antiguo principio aristotélico de que "Ios
instrumentos son más perfectos cuando sirven, no para muchos usos,
sino para uno solo"' (Política, capo I) eI empleo de Ios, referidos equipos
tiene Ios inconvenientes que siguen:
1) Una de Ias causas más importantes de error en Ias mediciones
geoeléctricas es eI acoplo electromagnético entre Ios circuitos de emisión
y recepci6n. Por ello debe evitarse que ambos circuitos tengan partes
comunes o ~stén muy próximos entre sí, condiciones indeseables que se
dan en Ios equipos aquí criticados. Este reparo es válido también cuando
sus constructores (sin base suficiente) aseguran Ia independencia entre
Ios circuitos.
2) Las mediciones de I y .1'. V no pueden efectuarse simultáneamente.
3) Existen métodos geoeléctricos que requieren eI distanciamiento
entre uno y otro circuito (calicatas y sondeos dipolares, método deI cuer-
po cargado, etc.) y en Ios que, por consiguiente, no pueden emplearse
estos equipos.
4) Los dispositivos de Iectura directa deI cociente ô V fI o de P. com-
plican innecesariamente Ios circuitos, ocultan Ios valores individuales de
I y ô V, que eI interpretador necesita conocer además deI cociente men-
cionado, y en ciertos modelos obligan aI empleo de valores prefijados
de Ia intensidad I poco convenientes desde eI punto de vista de Ia exac-
titud de Ia medición.
En consecuencia, Ios SEV deben efectuarse por medio de equipos cu-
yos instrumentos para Ia medida de I y ôV sean independientes y sepa-
ra,dos.

V.6 PROCESO DE MEDICION DE CAMPO

EI proceso de ejecución de un SEV depende en parte de Ia distancia

final AB a que se pretende llegar. Desde este punto de vista, Ios SEV
pueden clasificarse en cuatro grupos:
277
PRACTICA DEL SONDEO ELECTluco VERTICAL

a) SEV cortas, con AB final de hasta 200 m.

b) SEV normales con AB final >200 m y no superior a '2 ó 3 km.
c) SEV largos con AB final comprendido entre 2 ó 3 km y 30 ó
40 km.
d) SEV muy largos o ultraprofundos en los que se ha alcanzado
(hasta ahora) para AB el valor máximo de 1.200 km. (Van ZITL.)
Esta clasificación se basa .en Ias longitudes AB y no en Ias profundi-
dades alcanzadas, ya que éstas dependen deI corte geoeléctrico.
Los SEV cortos se utilizan principalmente en Ingeniería civil y Ar-
queología; los normales, en investigaciones hidrogeológicas; los largos
en prospección petrolera, y los muy largos para estudios de Geofísica
Pura.
A continuación se describe Ia técnica más conveniente -para Ia ejecu-
ción de SEV con empleo de un milivoltímetro de estado sólido con com-
pensación manual. No es difícil adaptar el método a otro instrumento, si el
lector,atiende, más que a Ia receta, aIos principios subyacentes en ella.
Tomaremos como base Ia descripción de Ia técnica utilizada para los
SEV normales, mostrando luego Ias modificaciones correspondientes a
otras longitudes de ·SEV. En Ia ejecución de SEV normales cabe emplear
diversas técnicas, que difieren entre sí en detalles accesorios, y que de-
penden de los instrumentos empleados. La técnica que se describe a
continuación es Ia empleada en Espana por Ias companías más importan-
tes, y representa el estudio final de una evolución en Ia que se han tenido
en cuenta el modo de trabajar en otros países y Ias aportaciones de
diversos operadores ygeofísicos, entre ellos el autor.
Se comienza por fijar en el terreno el punto elegido para centro deI
SEV, en eI que se coloca una estaca con el número de orden correspon-
diente. Se senala por medio de jalones el rumbo deI dispositivo, de acuer-
do con 10 previsto en el programa de trabajo. Se tienden dos cuerdas,
de 100 m de longitud cada una, con senales numeradas que indican
Ias sucesivas posiciones de los electrodos A y B. EI origen de estas cuer-
das, en forma de lazo, se coloca alrededor de Ia estaca central. Se colo-
can en sus posiciones iniciales los electrodos impolarizables (MN = 1) Y
los de corriente A y B (AB = 4 m). A pocos metros deI oiígen O se ins-
talan Ia caja de pilas, Ia unidad amperimétrica y el milivoltímetro, estos
últimos sobre sendas sillas plegables. EI operador se sienta sobre una
tercera y se conectan los electrodos M y N a Ia entrada deI milivoltí-
metro, los A, B aIos carretes y éstos a Ia unidad amperimétrica, y ésta
a Ia caja de pilas.
278
 PROCESO DE MEDICION DE CAMPO

Terminada Ia preparación, eI operador, después de anotar Ios datos

generales de SEV en Ia hoja de campo correspondiente, compensa Ia
tensión parásita presente en Ios electródos de potencial, y tan pronto
como Ia ha efectuado, cierra eI circuito de emision, apretando eI puI-
sador de Ia unidad amperimétrica y Iee rápidamente Ios valores de liV
e I correspondientes a Ia primera estación.

Seguidamente, Ios obreros desplazan Ios electrodos A y B, junto con

sus carretes, a Ias posiciones correspondientes a Ia segunda estación. Para
evitar que Ios cables se desconecten de Ia unidad amperimétrica o tiren de
el1a, es conveniente atar Ios cables de Ias líneas A y B a Ia estaca central,
sustituyendo ésta, si es necesario para conseguir mayor solidez, por una
barrena -de acero.

Se prosigueasí en todas Ias estaciones hasta Ia distancia AO = OB =

= 100 m; Ias distancias siguientes pueden medirse con una cuerda de
30 m por cada ala, o por medio de senales en los cables, hechas con cinta
adhesiva de diferentes colores.

En cada' estación debe compensarse cuidadosamente Ia tensión entre

Ios electrodos M y N inmediatamente antes de cerrar eI circuito de emi-
sión. La Iectura de liV e I debe efectuarse rápidamente, soltando en se-
guida el puIsador y observando si Ia aguja deI milivoltímetro vuelve a
cero. Si no ocurriese así, es que Ia polarización o Ias tensiones .parási-
tas se han modificado durante Ia Iectura, por 10 que deberá repetirse
ésta.

Los valores de liV disminuyen rápida mente de estación a estación.

Cuando eI operador prevea que Ia Iectura siguiente va a ser difícil por Ia
pequenez de liV, debe proceder a Ia operación l1amada empalme, esto es,
eI paso a un valor mayor de MN, generalmente de 10 m para Ia primera
ampliación.Para el10 es conveniente tener situado un segundo par de
electrodos impolarizables sobre eI azimut deI dispositivo, cada uno a
5 m deI origen 0, y conectados a cables cuyos extremos estén aI alcance
deI operador. Después de efectuada Ia lectura de liV con MN = 1 m, se
repite, sin mover Ios electrbdos A y B, con MN = 10 fi Y se pasa a Ia'
posición siguiente de éstos, para Ia cuaI vuelven a efectuarse dos Iecturas
de liV con ambos valores de MN. Las estaciones siguientes se hacen ya
con MN = 10 m solam ente, y así hasta que sea preciso un nuevo em-
palme, que puede prepararse llevando eI primer par de electrodos impo-
Iarizables a Ia tercera posición de éstos. Siempre habrá de ser
MN~AB/5.
279
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

El operador debe ir comprobando Ia calidad de los resultados que

va obteniendo, por 10 que debe calcular y dibujar Ia curva de resistivida-
des aparentes que los expresa. En Ia primera edición de esta obra se des-
cribÍa un ábaco, original deI autor, para el trazado rápido en el campo
de Ia referida curva. ia amplia difusión de los calculadores electrónicos
de bolsillo hace innecesario este ábaco. Pero no debe olvidarse Ia obliga-
toriedad de pintar Ia curva antes de levantar el dispositivo de cada SEV,
y Ia de repetir y comprobar los puntos que en dicha curva resulten sos-
pechosos.

ia comprobación de fugas debe hacerse periódicamente; en tiempo

húmedo y terreno cubierto de barro, se efectúa varias veces en cada SEV.
Para ello se desconecta el cable de uno de los electrodos de corri ente,
manteniendo su extremo aislado deI suelo (puede tenerIo agarrado un
obrero, con guantes de goma), se aprieta el 'pulsador, y se leen eI ampe-
rÍmetro y el milivoltÍmetro. Si Ias Iecturas no son nulas existe una fuga
en eI ala desclavada. Debe prestarse Ia mayor atención a Ia lectura deI
milivoltímetro, ya que una fuga de muy pequena intensidad puede origi-
nar t~nsión apreciable entre M y N, si está suficientemente cerca de
ellos. Después de comprobada un ala se hace 10 propio con Ia otra.

ia intensidad I puede aumentarse regando los electrodos A y B con

agua salada, y también aumentando el número de barrenas que consti-
tuyen éstos. Estas barrenas deben clavarse eiJ. el terreno formando una
alineación perpendicular a Ia dirección AB, situada simétricamente res-
pecto de esta línea, y teniendo en cuenta 10 dicho en eI apartado 5.1.1.
ia distancia entre Ias barrenas extremas debe ser muy pequena respecto
de Ia de éstas aI centro deI dispositivo; por esta causa, en Ias primeras
estaciones sólo puede emplearse una barrena, y el número de éstas puede
irse aumentando conforme crece Ia distancia AB. Además, en dichas es-
taciones, los electrodos deben clavarse poco, para aproximarse a Ias con-
diciones de electrodo puntual.

No deben descuidarse Ias medidas de seguridad. Una vez clavados·

y conectados los electrodos de corriente, los obreros, que deberán ma-
nejar éstos con guantes de goma, se apartarán de eIlos varios metros,
antes de comunicar por eI radioteléfono que eI tomatierra está dispuesto.
EI operador, por' su parte, no oprimirá el pulsado r hasta estar seguro de
que no hay personas o animales en Ia inmediata proximidad de los elec-
trodos. Tampoco debe consentirse que durante Ias Iecturas haya personas
estacionadas o que pasen junto aIos electrodos de potencial; pero esta
norma tiene por objeto proteger Ia exactitud de Ia medición y no a Ias per-
sonas. Debe advertirse a Ios habitantes de Ia zona deI peligro que repre-
senta el cable para ellos y sus animales. Cuando eI cable cruza sobreun
280
 PROCESO DE MEDICION DE CAMPO

camino O carretera, debe sujetársele fuertemente a los lados, para evitar

su arrastre por vehículos, ciclistas o peatones, muy peligroso.

Los intervalos entre distancias AR sucesivas deben elegirse de modo

que resulten aproximadamente constantes en el gráfico logarítmico, o
sea, en progresión geométrica. Los geofísicos franceses toman ...n como
razón de dicha serie, y los soviéticos 1,5. Los valores exactos de Ia pro-
gresión se redond~an para que resulten números sencílIos. EI autor pre-
fiere mayor densidad de estaciones, por Ia mayor seguridad de Ias curvas
obtenidas, con razón de Ia progresión geométrica deI orden de 1,25, 10
que equivale a tomar 10 puntos por ciclo logarítmico. Esta mayor den-
sidad de estaciones aumenta Ia duraCÍón y coste de cada SEV, pero Ia
mejora conseguida compensa estas desventajas. Además, el muestreado
de Ia: curva a intervalo fijo y corto es una exigencia para ciertos procesos
de elaboraci6n electrónica de datos.

Los sondeos de longitud normal pueden hacerse con el operador y

4 6 5 peones. Aparatos y personal pueden transportarse en un vehículo
todo terreno, como el Land Rover largo.

Los sondeos cortos se efectúan deI mismo modo que los de longitud
normal, pero con Ia consiguiente simplificación de técnica y medios. No
son necesarios los radioteléfonos, y el número de obreros puede redu-
cirse a dos o tres. Si Ias circunstancias son favorables, pueden reempla-
zarse los electrodos impolarizables por barrenas de acero, e incluso puede
emplearse corri ente alterna de baja frecuencia, que evita Ia compensaciôn
previa. Estas dos simplificaciones de Ia técnica s610 pueden emplearse
en zonas de resistividad elevada .

.La técnica de los sondeos largos, como es obvio, es más compleja.

El cable, de gran aislamiento y poca resistencia óhmica es pesado y
voluminoso y ha de tenderse por medio de coches todo terreno o ca-
mionetas especialmente adaptadas. La fuente de alimentación de Ia línea
AR puede ser un grupo generador movido por motor de explosi6n, y
conectado a una caja de control provista de dispositivo inversor, o
bien una batería de pilas secas de gran capacidad. La medida de V !'J.

debe hacerse por medio de registrador. Este, con sus circuitos .auxiliares,
irá montado de modo permanente en una furgoneta, mientras que el ge-
nerador puede instalarse en el sue10, a cierta distancia de aquélla, o ir
montado en otro vehículo. Las distancias AR y MN se fijan de acuerdo
con Ias condiciones locales e1éctricas y topográficas. Los sucesivos pun-
tos de implantación de -Ios· tomatierras A y R pueden determinarse pre-
viamente en un mapa de suficiente detalle, 10 que simplifica Ias· medi-
ciones de distancias.
281
PRACTICA DEL SONDE O ELECTRICO VERTICAL

Se reduce notablemente el tiempo de ejecución en los SEV largos

mediante el empleo simultáneo de un equipo normal, con el que se mi-
den Ias estaciones deI SEV con AB ~ '2 km durante los intervalos de
cambio de electrodos en el equipo pesado, el cual se utiliza sólo para Ias
estaciones de AB superior a 2 km.

Es importante darse cuenta de que Ia corriente utilizada en los SEV

sólo es continua nominalmente, ya que varÍa durante los períodos de
apertura y cierre deI circuito de emisión. Esto da lugar a dos fenómenos
de cuyos efectos no conviene olvidarse: Ia inducción de Ia línea AB so-
bre Ia MN, y el transcurso de un tiempo finito antes de que Ia corriente
alcance el estado estaciona rio y pueda considerarse como continua.
Para evitar Ia inducción de Ia línea AB sobre Ia MN en los momen-
tos de apertura y cierre deI circuito de emisión, ambas líneas deben estar
separadas por una distancia no menor de AB/IOO.

Con distancias AB grandes, el campo eléctrico tarda en establecerse

un tiempo apreciable, y Ias lectUras no deben hacerse hasta que haya
transcurrido el tiempo de espera te. Cuando 10 que se investiga es Ia
profundidad de un sustrato resistivo, y es S Ia conductancia total de Ias
capas eu él apoyadas, el tiempo de espera puede determinar se mediante·
Ia fórmula

t. = 1,98 S ~B milisegundos (AB _en km) (V,U)

o sea, aproximadamente,

t. = S . AB milisegundos (V,12)

Cuando no se conoce el valor de S puede. aplicarse esta otra fór-

mula,

AB2
te = 0,63 -- segundos (AB en km) (V, 13)
Pa

donde Pa es Ia resistividad aparente medida. Estas fórmulas se basan en

los trabajos de TIKHONOV (1946).
282
 HOJAS DE CAMPO

V.7 HOJAS DE CAMPO

La correcta anotación de Ias observaciones de campo es uno de los

factores que más influyen en Ia calidad de los resultados finales. Como
es obvio, Ias lecturas de los instrumentos deben ser registradas fielmente,
pero ello es sólo uno de los aspectos de Ia. cuestión. Tan importantes como
Ias indicaciones instrumentales son otros datos que, a primera vista,
pueden parecer secunda rios, pero que tienen gran importancia para el
interpretador, especialmente cuando éste, según Ia tendencia actual, tra-
baja en una oficina central alejada de Ia zona de trabajo.

Aunque parece una advertencia inútil por 10 obvia, debe cuidar se

de que cada hoja lleve referencia clara deI trabajo y SEV a que corres-
ponde. EI autor ha encontrado a veces hojas de campo perfectamente
redactadas, salvo Ia falta de estas datos fundamentales.

Uno de los puntos que mejor sirven para juzgar sobre Ia competen-
cia de un operador, es Ia abundancia y pertinencia de Ias observaciones
que incluye en Ia hoja de campo, Ias cuales, por otra parte, no deben
ser excesivas, como ocurre con algunos principiantes que llenan Ia co-
lumna de observaciones con verdaderas "novelas" y pocos datos de in-
terés para el interpreta dor.

Es muy conveniente utilizar para Ias hojas de campo estadillos im-

presos con casillas y columnas para todos los datos, y encuadernados en
bloques de hojas arrancables. EI operador debe sacar una copia de cada
hoja mediante papel carbón,. Ia cual guardará en su poder, enviando el
original a Ia oficina de interpretación. De este modo se evitan los efectos
deI extravío de los originaIes.

Las hojas de campo nunca deben pasarse "a limpio", sino que deben
utilizarse exclusivamente Ias tomadas en eI campo, aunque estén man-
chadas de barro, o estropeadas de algún. modo, siempre que sean clqra-
mente legibles.

La figura V-13 reproduce una hoja de campo "real".

Es posible que, en un futuro próximo, Ias lecturas de los instrumen-

tos no se anoten, sino que se registren en una memoria eIectrónica .. Aun
así, será necesario anotar de algún modo Ia vitál información no numé-
rica mencionada más arriba.
283
 PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

IS.E.V IBERGESA I
TRABAJO:
I I
""'" i~3.",,,
1250
30m,,1
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GEOFISICA

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19
28
29
30
27 22
1.

FIG, V-l3.

284
 CALIDAD
DE LASCURVAS
DE CAMPO

V.S CALlDAD DE LAS CURVAS DE CAMPO

Debe ponerse máximo interés en conseguir Ia mejor calidad posible

en Ias curvas de campo, es decir, que debe conseguirse Ia mayor precisión
en Ias mediciones y Ia adecuada eliminación de Ias causas perturbadoras.
Si Ias curvas de campo son deficientes, Ias resultados de Ia interpretación
10 serán también. Desgraciadamente, no siempre se presta a este punto
Ia debida atención, y no es raro ver en algunaspublicaciones, curvas de
SEV de apariencia dudosa. En más de una ocasión; el autor ha sido re-
querido, con Ia mayor naturalidad, para Ia interpretación de curvas ver-
daderamente inadmisibles,. de Ias que era imposible sacar ninguna in-
formación útil.

Es necesarioponer gran cuidado, no sólo en Ia elección deI centro

y azimut de cada SEV, sino en todas Ias circunstanCias que puedan in-
fluir en Ia medición, tales como estado de los cables, accesorios e ins-
trumentos, ubicación de loselectrodos, medida correcta de !.as distan-
cias, etc. Es fundamental el trazado de Ia curva en el campo, por medio
deI ábaco aludido más arriba, antes de dar por terminado el SEV, repi-
tiendo Ias mediciones que parezcan dudosas y eliminando Ias causas deI
error.

Independientemente de este contraI intrínseco, es conveniente, en

trabajos de alguna .envergadura, repetir algunos de los SEV efec-
tuados, preferentemente Ios que parezcan anómalos, a ser posibIe con
otro operador y equipo. Aunque esto encarece en apariencia el trabajo,
compensa sóbradamente eI esfuerzo a ello d,edicado, por Ia mejora en
seguridad y caIidad de los resultados. En Ia enciclopedia de TARKHOV
(1963) se exponen Ias normas soviéticas para el control de calidad de
Ias mediciones geoeléctricas, así como Ia oblig.ación que existe en dicho
país de repetir aI menos el 5 % de los· SEV u otras mediciones. Esta
costumbre merece ser seguida.

También es conveniente comprobar si Ias curvas de SEV dibujadas

por los operadores concuerdan con los datos de campo, repitiendo el
trazado para una cierta fraccióIi deI volumen total deI trabajo.

En Ias curvas deben sefíalarse claramente con puntos, circulitos o

cruces los valores observados, uniéndolos luego con segmentos o arcos.
No es aconsejable Ia representación en forma de curva continua, en Ia
que no se sabe cuáles son los valores medidos y cuáles Ios interpolados.
285
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

V.9 MEDICIONES EN CORRIENTES ALTERNA O CONMUTADA

En los primeros tiempos de Ia prospección eléctrica se utilizaron mu-

cho ciertos equipos que trabajaban con corriente alterna sinusoidal o
conmutada (onda cuadrada) para evitar los efectos de la polarización de
los electrodos de potencial.

AIgunos de estos aparatos empleaban un generador de corriente con-

tinua, cuya salida era transformada en onda cuadrada, por un inversor
rotatorio movido a mano. La tensión entre los electrodos de potencial
era vuelta a rectificar por un segundo inversor, solidario y coaxil con eI
primero, de modo que Ias mediciones en los instrumentos se efectuaban
en corriente continua, mientras que por el terreno circulaba corriente de
onda cuadrada.

Ciertos aparatos, como el de Gish-Rooney, llevaban instrumentos di-

ferentes para Ia medición de ô V y de I mientras que otros, como el Meg-
ger, daban directamente el cociente entre estas magnitudes. La poca sen-
sibilidad de estos equipos los hada adecuados para eI dispositivo Wenner,
pero "no para el Schlumberger; por otra parte, Ia impedancia de entrada
de algunos modelos era excesivamente baja.

Hace algunos anos estuvo muy extendido en Espana el empleo de

equipos denominados "de batidora" en los que la corri ente de una ba-
tería de pilas secas pasaba por un inversor rotatorio, 'movido a mano,
que Ia transformaba en conmutada de unos 20 Hz. EI valor de ô V se
medÍa con un voltÍmetro de válvula de c.,a. con respuesta uniforme en
bajas frecuencias, de modo que Ia lectura no fuese influida por los cam-
bios en Ia velocidad de rotación dei inversor o batidora. EI inconve-
niente principal de este equipo era su sensibilidad frente aIos parásitos
industriales. .

Los métodos expuestos tienen un defecto básico, el de que aun cuan-

do utilizan corri ente alterna o conmutada, Ia interpretació}l se efectúa
en el supuesto de que Ia corriente es continua. Àhora bieri, Ias corrientes
variables se amortiguan con Ia profundidad más rápidamente que Ias de
intensidad constante (efecto superficial o skin) y Ia diferencia es tanto
más marcada cuanto mayor sea Ia frecuencia y menor Ia resistividad deI
terreno. Esto hace que en formaciones homogéneas de baja resistividad
(arcillas, margas) Ia curva ascienda a partir de un valor de AB relativa-
mente pequeno, indicando Ia presencia de un sustrato resistivo que no
existe realmente a esa profundidad. Otro inconveniente de estos prócedi-
mientos es el peligro de inducción deI circuito de corriente sobre el de
potencial.
286
 SCHLUMBERGER CONTRA WENNER

Por estas y otras causas, los equipos de sondeo eléctricos en corriente

alterna o conmutada, de frecuencia fija, sólo presentan interés histórico,
aI menos en gran parte. No obstante, en zonas de rocasresistivas y para
trabajos de poca profundidad, podrÍan emplearse equipos de esta clase,
especialmente si su frecuenci.a es de unos pocos Hz, y están protegidos
adecuadamente frente aIos parásitos de origen industrial y a Ias induc-
ciones mutuas entre ambos circuitos.

V.10 SCHLUMBERGER CONTRA WENNER. SALTOS DE EMPALME

EI método SEV se ha aplicado principalmente por medio de los dis-

positivos Wenner y Schlumberger, el primero en Estados Unidos, In-
glaterra, y otros países, y el segundo en Ia mayorfa de Ias naciones euro-
peas, Francia y URSS en primer lugar. En Ia actualidad, el dispositivo
Schlumberger se utiliza cada vez más en todo el mundo.

Conviene comparar ambas configuraciones para decidir si sono equi-

valente,s o si uno de ellos es claramente preferible aI otro. EI hecho de
que los usuarios del dispositivo Wenner se inclinasen hacia principios
fálsamente empÍricos o mal fundamentados, mientras que los deI Sçhlum-
berger se apoyasen en sólidas bases físico-matemáticas no debe afectár
a Ia comparación entre los dispositivos.

Se ha alegado que Ias curvas teóricas correspondientes aI dispositivo

Schlumberger sbn más expresivas y sensibles a Ias características deI
corte g~oeléctrico sobre el que se efectúan que Ias obtenidas con el Wen-
ner. EUo es cierto, pero Ias dIferencias entre unas y ôtras curvas son
muy pequenas, como es fácil de comprobar, 10 que, en opinión deI autor,
no justifica preferencia decidida a favor deI dispositivo Schlumberger. AI
efectuar esta comparación, debe tenerse en cuenta que a una longitud
AR de dispositivo Schlumberger corresponde una deWenher mayor en
un 8 %, según se deduce deI apartado IV.ll d:

En cambio, en calidad de Ias curvas de campo, el dispositivo Schlum-

berger se muestra superior aI de Wenner. La razón de ello es que en el
primero permanecen fijos los electrodos de potencial, de modo que eI
efecto de Ia zona superficial donde están enclavados permanece el mismo
en toda Ia curva hasta el próximo empalme. AI aumentar Ia distancia
MN puede ocurrir que eI nuevo trozo de curva no coincida bien con Ia
287
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

primera en Ios puntos de AB común. Ahora bien, en eI dispositivo Wen-

ner, como Ios electrodos M y N se desplazan en cada Iectura, puede de-
cirse que todas Ias estaciones son de empalme, y Ios saltos debidos a
éstos aparecen en toda Ia curva, sin posibilidad de conocerlos, 10 que no
ocurre en eI Schlumberger. Esto se aclara con un ejemplo dado por
KUNETZ (1966) (fig. V-l4). En Ia segundaposición de Ios electrodos M

Po

FIG. V-H. Ejemplo de efecto superficial en una curva de SEV. a) Dispositivo

Schlumberger, con empalme. b) Dispositivo Wenner.

288
 SCHLUMBERGER CONTRA WENNER

y N estos se encuentran sobre terreno superficialmente anômalo, por 10

que eI segundo trozo de Ia curva Schlumberger no coincide con eI pri-
mero y eI tercero, efecto claramente observable y de fácil correcciôn por
desplazamiento hacia abajo deI segundo trozo. En cambio, un sondeo
Wenner efectuado en eI mismo lugar produciría un máximo ficticio, sin
indicaciones que permitiesen su eliminaciôn, y que sería atribuido errô-
neamente a ]a presencia en eI subsuelo de una capa resistiva. He aquí un
primer argumento para dar Ia preferencia <;LIdispositivo Schlumberger,
sin que esta quiera decir que, en circimstancias favorables, no puedan
obtenerse curvas Wenner de calidad excelente.

La aparente ventaja deI dispositivo Wenner, .de requerir instrumentos

menos sensibles que eI Schlumberger, carece de importancia en Ios mo-
mentos actuaIes en que se dispone de instrumentos electránicos de gran
caIidad.

Dn grave inconveniente práctico deI dispositivo Wenner es Ia nece-

sidad de mover cuatro electrodos en vez de dos y a distancias mayores
que en el Schlumberger. EIlo exige más tiempo y mayor número de hom-
bres que en este último, 10 que implica menor productividad y mayor
coste, y aumenta Ia probabiIidad de equivocaciones en Ia maniobra.

En resumen, Ia mejor calidad de Ias curvas de campo, Ia mayor sen-

cillez de Ias operaciones y sus ventajas econômicas hacen preferi,bIe aI
dispositivo Schlumberger, sobre el Wenner, en Ia mayoría de Ios casos.

Lo anterior no quiere decir que en ciertas condiciones no resulte acon-

sejable el empleo deI dispositivo Wenner. Cuando Ias distancias entre
electrodos son muy pequenas, como ocurre en Ias mediciones de resis-
tividad en afloramiento y en investigaciones para Arqueología,' debe re-
currirse aI Wenner. En tales circunstancias, Ia distancia MN tiene que
ser, a veces, de pocos decímetros, y aun menos, por 10 que puede influir
mucho cualquier heterogeneidad local, por ejemplo Ia presencia de aI-
gunos guijarros en Ia proximidad de Ia superficie. En eI dispositivo Wen-
ner, este efecto resultará atenuado por Ia mayor distancia entre Ios elec-
trodos.

La afirmaciôn hecha por algunos autores de que Ias curvas Wenner

no pueden interpretarse por eI método deI punto auxiliar o análogos,
carece de fundamento.

Como se ha visto más arriba, en el dispositivo Schlumberger se pro-

ducen "saltos de empalme", que han de ser corregidos a fin de conseguir
289
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

una curva continua. Esta corrección consiste simplementeen el desplaza-

miento vertical de los trozos correspondientes a diversos MN hasta que
coincidan (fig. V-l4). Surge Ia pregunta de qué trozo debe conservarse
fijo. A juicio deI autor, y de ZOHDY (1975) Y VAN ZIJL (1980), este trozo
debe ser el de mayor MN, porque aI estar más distantes dichos elec-
trodos Ia zona superficial situada entre ellos es más extensa y represen-
tativa, y porque el efecto de una heterogeneidad próxima a uno de los
electrodos de potencial es tanto más pequeno cuanto más separados estén
estos p.lectrodos.

1'0

~2

A B/2
FIG. V-14a. Corrección de un salto de empalme.

Hay otro fenómeno que puede dar lugar a discrepancias entre los tro-
zos de curva de diferente MN. AI efectuar un empalme, Ia distancia deI
electrodo A aI M y Ia deI B aI N disminuyen, 10 que representa Ia vuelta
a un punto de Ia curva de campo más próximo aI origen (pérdida de
penetración) y por eIlo, Ios dos valores de resistividad aparente para Ia
máxima distancia AR y diferente MN no coinciden. Este efecto es prác-
ticamente despreciable cuando Ia relación MN{AB se mantiene menor
que 0,2 y no se efectúa eI empaIme mientras sea posible realizar lecturas
confiabIes.
290
 LA INTERPRETACION

La costumbre de aIgunos geofísicos de corregir Ios saltos de empaIme

mediante trazado de una curva que pasa gradualmente desde cada trozo
aI que Ie sigue, en vez de despIazar éstos, es incorrecta.

V.11 tA INTERPRETACION

V.11.1 Introducción

La finaIidad de Ias campafias de SEV -y de Ia mayoría de Ios méto-

dos geoeIéctricos- es Ia determinación de Ia estructura del subsuelo
en Ia zona estudiada. Para Ilegar a eIlo es necesario superar dos etapas:
en Ia primera de ella se intenta obtener Ia distribución de Ia resistividad
en el subsueIo, y en Ia segunda, se busca el significado geológico de tales
resistividades, con 10 que se pasa deI corte geoeléctrico a un corte geo-
lógico. Ambas etapas no son de fácil ejecución; Ia primera se basa en
Ieyes físico-matemáticas, mientras que Ia segunda depende fundamentai-
mente de éorreIacionesentre datos físicos y datos geológicos.
Las dificultades de Ia primera etapa tienen doble origen, por una parte
por Ia compIejidad de Ias relaciones matemáticas que intervienen, y por
otra porque Ia solución de Ias problemas planteados nunca es única en
Ia práctica.
Sobre estos dos puntos se han expresado a veces opiniones ertóneas,
que han alcanzado difusión en ciertas épocas y países.
La primera de estas falsas nociones era Ia de que Ias curvas de resis-
tividad aparente, se interpretaban fácil mente por medio de senci1las re-
gIas "de dedo". Esta idea, tan equivocada como atrayente, paralizó el
desarrollo de Ios métodos geoeléctricos en Ios medios y naciones donde
arraigó, y cosa curiosa, solía ir acompafíada por el empleo deI dispositivo
Wenner. La falta de base científica de tales métodos, y 10 erróneo de sus
resultados han sido puestos de manifiesto en varias pubIicaciones, en es-
pecial MOONEY (1954) Y ORELLANA (1961).
La realidad es que Ia distribución de Ia corriente eléctrica en medios
heterogéneos, como eI subsueIo, se rige por leyes matemáticas que no
son sencillas ni elementales, como ha podido compro bar eI Iector en eI
capítulo IV de esta obrà. Sería más cómodo, naturalmente, que no fuera
así, y que Ia interpretación de Ias SEV y otros métodos geoeléctricos
fuese fácil e inmediata, pero, por desgracia, no es esto 10 que ocurre.
La otra idea errónea, no menos extendida en tiempos entre Ios pros-
pectores, se refiere a Ia unicidad de Ia soIución. En eI apartado IV.6.2
se ha expuesto eI hecho de que a cortes diferentes entre sí pueden corres-
291
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

ponder curvas de campo cuya discrepancia mutua es menor que eI límite

experimental de error. Dicho de otro modo, a cada curva de campo
corresponde una CDZ que, por ser conocida con alguna imprecisión,
corresponde a su vez a diferentes combinaciones de espesores y resisti vi-
dades. Por 10 tanto, no tiene sentido hablar de "Ia interpretación" de
determinada curva de campo. Todo 10 más que puede decirse es que Ia
curva en cuestión es compatible con tal o cual corte geoeléctrico, pel'O
nunca que éste se deduzca necesariamente de Ia primera.
Se deduce de 10 dicho que Ia interpretación de 10s SEV (y en general
de todos 10s métodos de prospección geofísica) no puede reducirse nunca
a labor puramente mecánica, realizable por aplicación automática de
ciertas recetas o fórmulas matemáticas, sino que requiere Ia aportación
de un ser inteligente. Siguese de aquí, que Ia labor interpretativa no
puede confiarse a un ordenador electrónico, ya que Ia inteligencia de éstos
no es superior .a Ia de Ias barrenas de acero usadas como electrodos.
A este respecto conviene citar Ia opinión de un geofísico americano, Allan
Spector, expresada en un trabajo sobre prospección aeromagnética pre-
sentada en Ia reunión de Edimburgo (fiayo 1970) de Ia EAEG: '~La in-
terpretación geofísica no puede nunca automatizarse o mecanizarse. Las
técnicas matemáticas de cálculo electróuico son sólo herramientas, que
cuando son hábilmente empleadas por elgeofísico --conocedor de Ias
aplicaciones y limitaciones de estas técnicas-- llevan a Ia utilización óp-
tima de 10s <;latos." Dos geofísicos franceses, KUNETZ y ROCROI (1970), en
un trabajo sobre Ia aplicación de ordenadores a Ia interpretación de SEV
dicen textualmente: "Por 10 tanto, nos hemos guardado' muy bien de
querer inv,adir con nuestras máquinas, el dominio reservado a Ia inter-
pretación propiamente dichiJ.." * Estos autores, en el mismo párrafo, alu-
den a Ia opinión de uno de sus compatriotas *,~ de que Ia interpretación
geofísica no es una ciencia, sino un arte, a 10 que habría que anadir que
este arte no puede cultivarse sin un sólido conocimiento de ciertos fenó-
menos físicos y de Ias leyes matemáticas a que obedecen.

V.11.2 Catálogos de curvas patrõn

EI futuro interpretador debe comenzar por familiarizarse con Ia mo 1'-

fología de Ias curvas de SEV y Ia relación que guardan sus rasgos con
los cortes geoeléctricos que representan. Entre estos rasgos figuran sus
asÍntotas, máximos, mínimos y puntos de infIexión.

* JOHANSEN 0975, pág. 690) expresa un pensamiento análogo.

** El profesor Cagniard.
292
 LA INTERPRETACION

Tanto para el conocimiento de Ia morfología de Ias curvas de SEV

como para referencia, es muy útil disponer de una colecci6n de curvas
calculadas mediante ordenador para un conjunto de cortes geoeléctricos
bien elegido. Naturalmente que cada uno puede construirse su propia
colecci6n, pero es más c6modo adquirir alguna de Ias publicadas.
Las principales colecciones de curvas te6ricas de SEV (también de-
nominadas curvas maestras y curvas patrón) para cortes estratificados
publicadas hasta Ia fecha son Ias enumeradas seguidamente. No se inclu-
yen Ias colecciones cuyo uso está limitado en exclusiva a una compafiía
u org.anismo. Para abreviar, se dirá curvas de tres capas para referirse
a una curva te6rica correspondiente a un corte geoeléctrico de tres capas,
y 10 análogo para otros números de capas.
A) Dispositivo de Schlurnberger.
a) La colecci6n calculada en 1933-36 por Ia Cie. General de Geo-
physique, que contiene 480 curvas· de tres capas, no publicada hasta
1955 por Ia EAEG (segunda edici6n, 1963) y agotada en Ia actualidad.
Los valores de .Ias resistividades corresponden a décimas enteras de los
coeficientes K. Esta circunstancia, motivada aparentemente por Ias difi-
cultades deI cálculo (no existían entonces ordenadores electr6nicos) hace
que los contrastes de resistividad resulten números poco sencillos, como
7/13 6 19.
b) La colecci6n G.P. editada en 1941 por el Instituto (soviético) de
Investigación de Ia Industria deI Petróleo, comprende 720 curvas ele tres
capas divididas en 72 familias, y parece basarse, aI menos en parte, en una
colección francesa inédita. La selección de casos se apoyaba, más que en
Ia utilidad práctica, en Ia facilidad de cálculo. Por ello los contrastes
de res~stividad
5, 43, vienen
o 242, aparte rep~es~ntados
de los p,orarnba.
mdlcados mas n~meros ;alg? extranos
EI mdlce como
de esta colec-
ción puede consultarse en Ia obra de KALENOV (1957).
c) La colección de A. M. Pylaev, publicada por el organismo SOVle-
tico VSGI. Se caracteriza por Ia colocación especial de Ias' cu~vas de
cada familia en Ias láminas y Ia indusi6n en éstas de líneas auxiliares
para Ia determinación de Ias parátnetros de DZ de Ias capas interpre-
tadas. EI manejo de esta colección se expone en Ia obra de YAKUBOSKY Y
LIAKHOV(1964). Los valores de espesores y resistividades son los mis-
mos que en Ia colección francesa, a juzgar por Ios ejemplos inclui dos .en
Ia obra citada .
. d) Las tres colecciones editadas en 1963 por el organismo soviético
VNII Geofizika. La primera de ellas. parece ser una reimpresión de Ia
colección a). La segunda se refiere a cortes de cuatro capas, con 122 fa-
milias de curvas. La colección restante corresponde a cortes eon contac-
tos inclinados, verticales, o verticales y horizo:ntales, y contiene curvas
293
PRACTICA
DELSONDEOELECTRICO
VERTICAL

tanto para SEV como para sondeos dipolares. Parte de estas curvas han
sido reproducidas en Ia traducción inglesa de AL'PIN et al (1966). Desgra-
ciadamente, no se lia conservado el módulo logarítmico original de 62,5
mm usada universaimente, sino que los gráficos han sido reducidos, se-
gún se dice en el texto, aI módulo de 1 7/8 de pulgada, aunque por Ia
inestabilidad deI papel resulta algo mayor (unos 49 mm), aI menos en el
ejemplar utilizado por el autor.
e) La colección de ORELLANA y MOONEY(1966) que contiene 25 cur-
vas de dos capas, 912 de tres y 480 de cuatro, agrupadas respectivamente
en una, 76 y 30 f.amilias. Se incluyen ábacos auxiliares e instrucciones de
empleo detalladas. Esta colección es Ia única para el dispositivo Schlum-
berger que contiene tablas de los valores numéricos utilizados para el
trazado de Ias curvas. Los valores de resistividad de Ias capas son nú-
meros sencillos; los cortes geoeléctricos correspondientes no resultan de
Ia aplicación mecánica de ninguna fórmula, sino que se han elegido libre-
mente los casos que, según Ia experiencia de Ias autores, son más fre-
cuentes y útiles en Ia práctica, 10 que aumenta Ia eficacia de Ia colección
dentro de Uu número de curvas relativamente reducido.
f)" La colección holandesa deI Rijwaterstaat, preparada por Van Dam
y Meulempkamp, y editada por Ia EAEG (1969) que comprende exclu-
sivamente curvas de tres capas, en número de 2268. Los valores de Ias
resistividades son números sencillos, elegidos de modo que los cortes
representados no coincidan con los incluidos en Ias colecciones a) y e) de
modo que Ias tres resulten complementarias entre sí. No obstante hay
excepciones, pues algunas curvas cOlTesponden a casos incluidos en Ia
colección de Orellana y Mooney, ·10 que sirve de satisfactoria compro-
bación. No contiene curvas de dos capas, ábacos auxiliares ni instruc-
Clones.

g) Dn juego de 72 curvas de cinco capas (FLATHE,1963) referente

a un problema especial de hidrogeología. Aunque poco numerosa, esta
colección es muy interesante.
Todas Ias curvas de Ias colecciones enumeradas están presentadas en
escala lógarítmica de 62,5 (=250./4) mm de módulo, usada en todos los
países para el dispositivo Schlumberger.
B) Dispositivo de Wenner.
a) La colección de MOONEYy WETZEL (1956) que comprende 2300
curvas de tres y cuatro capas, para contrastes de resistividad de 3, 10,
100 Y sus inversos. Contiene tablas de potenciales e instrucciones deta-
lladas de manejo. El módulo Iogarítmico de Ias curvas es de 5 pulgadas.
b) La colección de ORELLANA y MOONEY,cuyas tablas de resistivi-
dades aparentes están calculadas simultáneamente para los dispostivos
294
 INTERPRETACION CUALITATIVA

Schlumberger y Wel1Jler. La publicación inicial sólo incluía Ias curvas

Schlumberger, pero acaban de aparecer Ias Wenner, dibujadas en
escala Iogarítmica de 31/3 de puIgada. La elección de este valor no mé-
trico se debe a que este dispositivo se usa preferentemente en países que
utilizan Ias unidades inglesas.

V.11.3 INTERPRETACION CUALlTATIVA

V.11.3.1 Definición

La iriterpretación cualitativa tiene por objeto conseguir una primera

idea o aproximación a Ia estructura deI .subsuelo estudiado. En ella no se
detyrminan espesores ni resistividades en valor absoluto, sino relaciones
de desigualdad, tales como zonas de profundidad máxima o mínima de
aIgún horizonte gUÍa, delimitación de áreas de diferentes condiciones geo-
lógicas, etc.
La interpretación cualitativa se efectúa por medio deI trazado de
mapas y cortes que representan Ia distribución en eI espacio de alguna
características o parámetro de Ias curvas de SEV obtenidas en Ia campaíül
en cuestión.
En muchos 'casos es conveniente desarrollar Ia interpretación cualita-
tiva aI mismo tiempo que el trabaío de campo, 10 que permite, en caso
necesario, y a Ia vista de 10s resultados obtenidos, modificar el programa
inicial.
A continuación, se exponen los procedimientos más intere~antes de
interpretación cualitativa,

V.11.3.2 Mapas de tipos de curvas

Se comienza por clasificar Ias curvas de SEV atendiendo, no sólo aI

número de capas y tipo (H, K, KH, etc.), sino también a Ia posición de
sus extremos, valores absolutos de .la resistividad aparente, etc. Luego
se escribe aI lado deI cent1"Ode cada SEV, en el mapa de situación de
éstos, un símbolo representativo deI grupo que Ie corresponde en Ia ela-
sificación, y se delimitan Ias zonas de SEV de características semejantes,
Ias cuales serán zonas de condiciones geológicas aproximadamente ho-
mogéneas.
ASÍ, por ejemplo, una zona cuyas curvascomienzan por un tipo K
puede indicar Ia presencia de un grueso recubrimiento aluviaI, otra zona
donde Ias curvas ascienden rápidamente hacia resistividades elevadas
295
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

puede corresponder a Ia presencia de calizas a poca profundidad, etcé-

tera. La existencia de una falla o discontinuidad tectónica se manifestará
por una línea a cuyos lados Ias curvas de SEV serán de tipos o caracte-
rísticas diferentes. En el establecimiento deI significado de los distintos
tipos de curvas ha de tenerse muy en cuenta, como es natQ,ral, Ia .infor-
mación geológica disponible sobre Ia región investigada.

o o -5
o o

"! ô ô - '2,5
r-- 2
c=J5
~3
~4

FIG. V-15.Ejemplo de mapas de líneas de igual S tomado de Yakuboskiy-Liakhov. La zona de

menor S corresponde a un levantamiento deI sustrato resistivo, de edad devónica. 1. Centro
de SEV; 2. Línea de S constante; 3. Zona con S <
2,5; 4. Zona con 2,5 S < < 5;'
5. Zona con S > 5.

296
 INTERPRETACION CUALITATIVA

V.11.3.3 Mapas de Ia conductancia longitudinaiS

Muchas veces, Ia finalidad de Ias campaiías de SEV es el estudio de

Ia marcha subterránea de un sustrato resistivo que, en Ias investigaciones
petroleras, suele ser el zócalo cristalino, y en Ias hidrológicas, bien uná
formación permeable en conjunto (caliza, basalto, etc.), bien impermea-
ble (granito). '

Si elconjunto de capas comprendidas entre Ia superficie y el sustrato,

es lateralmente homogêneo, o conserva Ia misma resistividad longitudinal
media pz, su conductancia 10ngituQinal S es proporcional a Ia profundi-
dad Z deI techo deI sustrato, ya que según Ia ecuación (IV,40) es
Z = S . pz. EI parámetro S puede utilizarse, por consiguiente, como Ín-
dice de Ia profundidad del sustrato, si bien muchas veces no existirá
proporcionalidad entre ambas magnitudes, por no ser constante PI' Aun'
aSÍ, un mapa de valores iguales de S permite discernir Ias zonas donde
Ia profundidad del sustrato es máxima o mínima, Ia presencia de fallas
o cambios Iaterales de facies, que corresponderán a zõnas estrechas de
cambio rápido de S, etc.

La ventaja deI parámetro S es que su valor puede determinarse de

modo sencillo, que no requiere el conocimiento previo de Ias resistivi-
dades. y no está afectado por ambigüedades debidas a efectos de equiva-
lenda. Cuando Kalenov escribió su importante trabajo sobre curvas de
SEV, el valor de S sólo podÍa determinarse cuando Ia resistividad deI
sustrato era prácticamente infinita comparada con Ias de Ias capas supra-
yacentes, caso en eI que Ia rama derecha de Ia curva tiene una asíntota
rectilínea con 45° de inclinación. Cuando no ocurrÍa asÍ, Kalenov utili-
zat>a el ángulo de Ia rama ascendente de Ia curva, a modo de sucedáneo
rJ.

de S, pero este ángulo es una magnitud de significado teórico poco claro

y sus resultados prácticos, dudosos.

Afortunadamente, I:a restricción Pn = 00 ha sido eliminada. por el

autor (ORELLANA, 1966) con 10 que el caso de resistividad infinita deI sus-
trato ha perdido toda Ia importancia que Ie daba Kalenov. EI método
dado a conocer en Ia citada publicación (y también en ORELLANA y Mo-
ONEY, 1966) es gráfico y muy sencillo, de solución única, y sólo exige
que Ia rama derecha de Ia curva de SEV sea ascendente. EI módo de
proceder es eI siguiente:

La curva de SEV, dibujada en papel transparente en escala logarít-

mica deI mismo módulo que Ia colección de curvas patrón, se superpone
a Ia Iámina de esta correspondiente a Ias curvas de dos capas y se des-
plaza sobre éste, conservando paralelos Ios ejes, hasta que Ia rama as-
297
 PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

ceridente de Ia curva de campo coincida con alguna de Ias curvas patrón

de P2> PI' Entonces se calca en el papel transparente Ia asíntota rectilí-
nea de Ia curva patrón de P2 = 00 Y se prolonga hasta cortar Ia línea hori-
zontal Pa = 1 deI papel transparente. La abcisa de Ia intersección da eI
valor de S. En vez de Ia línea horizontal indicada puede tomarse otra
cualquiera (preferiblemente Pa = 10, Pa = 100, etc.), y dividir Ia abcisa
de Ia intersección por Ia ordenada Pa de Ia línea hOrizontal utilizada. Si
en el gráfico de campo Ias distancias AB/2 vienen expresadas en me-
tros y Ias resistividades en ohmios-metro, eI valor obtenido para S co-
rresponde a mhos. Este método s6Io resulta algo impreciso cuando Ia
rama ascendente de Ia curva de campo es corta o cuando su pendiente es
pequena.

EI procedimiento descrito se justifica porque éI, comportamiento asin-

tático de Ia rama ascendente sólo depende deI valor de S (apartado
IV,9) eI cuaI será por tanto eI mismo para Ia curva de campo que coin-
cide con ella, y Ia de ésta a su vez, igual a Ia de Ia curva de P2 = 00 deI
ábaco de dos capas, ya que todas Ias curvas de ·éste poseen igual S.

La 'figura V-16 representa un ejemplo de Ia determinacián gráfica

de S, y Ia V-15 un mapa de líneas de igual S.

//
,.,

It
c::
0.2
O.,~ 0.2
E o."
0.1
E,= I /, = I
/2 0.65
E2=
E,= 10
I
!,
!.
=

= 0.2

= I
... S =52.5

. ,. 10
13

r'=
16 20

AB/2---
25 32 40 50 ~IIIII,
65 80
100
130 'fia 190 250 110170
.

FIG. V-16. Determinación gráfica dei valor de S, en una curva de SEV

de final ascendente, por el método dei autor.

298
 INTERPRETACION
CUALITATIVA

V.11.3.4 Mapas de Ia resistencia transversal T

Cuando existe un sustrato conductor puede determinarse para cada

SEV Ia resistencia transversal T desde Ia superficie deI terreno hasta di-
cho sustrato. 10s valores de T pueden representarse en un mapa análogo
aI ya descrito de Ia S. EI método para Ia determinación de T ha sido
dado a conocer recientemente (SEARA,1980). De Ia curva de campo se
deduce Ia función característica de su corte, por medio deI filtro de Ghosh
u otro análogo (apartado IV.5.5). Sustituyendo cada valor de Ia función
característica por su recíproco se obtiene Ia f.c. deI corte recíproco corres-
pondiente (apartado IV.10c) que tendrá por Ia derecha una asíntota
oblicua, Ia cual determinará un valor de S, igual a Ia T deI corte origi-
nario.

V.11.3.5 Mapas de resistividad aparente

Estos mapas, llamados cartas de resistividad por 105 geofísicos fran-

ceses, y mapas de línea iso-óhmicas por los soviéticos, se obtienen unien-
do entre sí 105 puntos que dan igual resistividad aparente para un valor
determinado, fijo para cada mapa, de Ia distancia AR.
Como es obvio, para trazar un mapa de esta c1ase, se anota en el
plano, junto a cada SEV, el valor de Ia resistividad aparente que le co-
rresponde, y con esta base se trazan Ias líneas iso-resistivas o iso-óhmicas,
para valores redondos de Ia resistividad, deI mismo modo que se hace
para Ias curvas de nivel topográficas.
Es costumbre que los intervalos entre estas líneas sean uniformes,
por ejemplo, cada 10 ó 20 ohmios-metro. Sin embargo, hay que tener en
cuenta que 10 que importa no son Ias diferencias entre resistividades,
sino los contrastes o relaciones entre éstas. El paso de 10 a 20 ohmios-
metro, por ejemplo, puede ser interesante y significativo, inientras que Ia
diferencia entre 1000 y 1010 ohmios-metro carece por completo de signi-
ficación, puesto que siendo igual aI uno por ciento es inferior aI errar de
Ias mediciones. Por esta razón, deben preferirse intervalos en pi'ogresión
geométrica, siguiendo Ias recomendaciones y práctica de los geofísicos
soviéticos. Una serie muy conveniente para Ias valores de Ias isolíneas es
Ia siguiente: 1, 2, 5, 10, 20, 50, 100, 200, 500, 1000, etc., que si bien no
guarda una razón fija, tiene Ia ventaja de estar constituida por valores
sencillos y redondos. * Eventualmente puede intercalarse alguna línea de
valor intermedio. .

* Esta recomendación' es igualmente aplicable a 10s mapas magnéticos, gravi-

métdcos, etc.

299
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

Una vez trazado el mapa, puede procederse a su interpretación, en

Ia que debe tenerse en cuenta por una parte, que los resultados que se
obtienen son puramente cualitativos, y por otra, que Ias resistividades
expresadas por Ias isolíneas no corresponden a ninguna profundidad de·
terminada, sino a cierta distancia AB entre electrodos. Para elegir el
valor más adecuado de esta distancia, debe buscarse en Ias curvas de
càmpo aquéI en que sea más intensa Ia influencia de Ia capa que inte-
resa. También pueden trazarse varios mapas, cada uno para un valor de
AB distinto, aI menos doble que eI anterior.
Cuando 10 que se estudia es Ia marcha de un sustrato resistivo, Ias
zonas de mayor resistividad aparente serán Ias de menor profundidad de
aquéI, siempre que Ias resistividades correspondan a un valor de AB su-
ficientemente grande para no estar influido por los cambios en Ias capas
superficiales, pero no tanto que sólo refleje Ia resistividad deI sustrato.
Los mapas de líneas iso-resistivas son también muy útiles para deter-
minar eI límite de Ia zona litoral de infiltración marina, delimitación de
zonas carstificadas, etc.
La . figura V-28 representa un ejemplo de mapa ~e resistividades.

Debe advertirse que, ante Ios progresos. de Ia interpretación cuanti-

tativa, Ios mapas de resistividad aparente -se usan cada vez menos.

V.11.3.6 Representación en cortes

Los datos y magnitudes cuya representación en mapas se acaba de

describir, pueden también representarse ep cortes que expresan su va-
riación a 10 largo de un perfil determinado.
Cuando Ia magnitud representada es Ia S, es conveniente llevar sus va-
lores sobre un eje de ordenadas dirigido hacia abajo; de este modo Ia
curva de variación de S en función de Ia distancia sobre eI perfil pre-
sentará una marcha toscamente paralela a Ia deI sustrato resistivo, pues
Ios valores mayores de S corresponderán a mínimos eu Ia curva.

Los cortes de resistividad aparente se construyen trazando curvas de

Ias valores ABf2 que corresponden a un sólo valor de pu, utilizando como
en el caso anterior, un eje de ordenadas dirigido hacia abajo. Estos cor-
tes han de interpretarse con cuidado, porque un aumento deI valor ABf2
para una misma resistividad aparente, puede deberse tanto a un incre-
mento en Ia profundidad, como a una disminución en Ia resistividad ver-
dadera de Ias capas superiores.
300
 INTERPRETACION CUANTITATIVA

V.12 INTERPRETACION CUANTITATIVA

V.12.1 Generalidades y clasificación de métodos

Aunque Ia interpretación cualitativa puede dar a veces resultados muy
útiles, Ia verdaderamente importante es Ia cuantitativa.
Como ya se. ha dicho, Ia finalidad de Ia interpretación cuantitativa
es determinar Ia distribución espacial de Ias resistividades en eI subsuelo,
partiendo de Ias datas de resistividad aparente o de potencial observados
en Ia superficie deI terreno. Puede definirse también como Ia resolución
deI problema inverso aI tratado en eI capítulo IV.
No debe oIvidarse que el problema de Ia interpretación de SEV es
ambiguo (apartado IV.6.2). Por e110, el interpretador no puede conten-
tarse con ha11ar una distribución vertical de resistividades que satisfaga
Ia curva pe campo que se trata de interpretar, sino que debe buscar entre
Ias soluciones válidas aque11a que armonice más con Ias SEV contiguos
y con Ias datas geológicos disponibles. Por 10 tanto, Ia interpretación
cuantitativa requiere el empIeo de juicios y criterios personales y no
puede confiarse por completo a procesos automáticos.
Son muchos Ios métodos de interpretación c\.!antitativa que se han
producido a 10 largo deI tiempo, los cuales pueden clasificarse atendien-
do a diversos criterios. Uno de ellos podría ser Ia diferenciación entre
métodos gráficos, numéricos y mixtos. Otro criterio, muy importante
tanto desde el punto de vista teórico como desde el práctico, separa los
métodos según que éstos obtengan o no una solución básica (CDZ) de Ia
que puedan deducirse todas Ias demás.
Los métodos de Ia primera época, por 10 general de bases muy discu-
tibles, se considerarán en párrafo aparte. En Ia actualidad se investiga
mucho en Ia interpretación numérica automática por mecHo de ordena-
dor, por 10 que cabe esperar Ia aparición de nuevos métodos y Ia modi-
ficación y perfeccionamiento de Ias métodos de este tipo que ya existen.

V.12.2 Métodos gráficos de interpretación

V.12.2.1 Métodos interpretativos de Ia primera época

En Ias primeros tiempos deI método SEV, a partir de los trabajos de

GrsH y ROONEY (1925) se creÍa que Ias curvas de SEV podían interpre-
tarse por media de regIas sencillísimas, basadas en el erróneo principio
de que Ia resistividad aparente medida para cada distancia AB sólo estaba
influida por Ia resistividad verdadera existente a una sola profundidad,
301
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

ligada por una relación muy simple con dicha distancia. En particular,
se tenÍa por demostrado que en el dispositivo Wenner "Ia penetración
es igual a Ia separación entre electrodos" por 10 que en Ia curva de SEV
Ia escala de distancia entre electrodos se tomaba como escala de profun-
didades. Según esto, el dispositivo Wenner daba directamente el gráfico
de testificación eléctrico, sin necesidad· de efectuar perforación.
EI principio citado servÍa de base a otras técnicas, tales como Ia de
sumar Ias resistividades de Ias diversas estaciones, Ia de utilizar como
base para Ia interpretación los puntos de inflexión de Ias curvas, o Ia que
determinaba Ia profimdidad de los contactos suponiéndola igual a Ias
separaciones electródicas en Ias que se producían discontinuidades en
Ias curvas. Con este último sistema sóio se utilizaban en Ia interpretación
Ias lecturas erróneas o perturbadas por efectos laterales o superficiales.
Los seguidores de esta escuela utilizaban invariablemente el dispositivo
·Wenner con corriente conmutada o alterna, representaban Ias curvas en
escala lineal y llamaban aIos sondeos eléctricos "depth probes".
No faltaron en los Estados Unidos, cuna de estas tendencias, exce-
lentes teóricos que demostraron Ia falta de base de tales métodos, pero
a pesar de ello, Ia "escuela Wenner" triunfó en muchos países, donde,
como· consecuencia, quedó estancado el progreso de Ia Prospección Geo-
eléctrica y pasaron inadvertidas Ias posibilidades de ésta. En Ia actuali-
dad, tal escuela está en vÍas de desaparición. EI autor lamenta tener que
hacer estos desfavorables comentarios, pero se ve obligado a ello en be-
neficio deI lector. TodavÍa en 1967 se publicó en Geophysics un artículo
donde se exponía una nueva variante de los viejos métodos, el cual fue
acertadamente comentado por Kellér en Ia misma revista.
En este ambiente de falso empirismo resalta doblemente el método
ideado por el norteamericano TAGG (1940), por su base científica irre-
prochable. Este método carece de interés en Ia actualidad, pues sólo es
válido para cortes de dos capas, y sus resultados no son mejores que los
obtenidos por superposición, pero merece ser citado por Ia razón ante-
dicha. Digamos de paso que para su aplicación no se requieren gráficos
especiales, ya que puede utilizarse Ia lámina de curvas de dos capas in-
cluida en muchas colecciones. Los gráficos originales de Tagg son, en
esencia, curvas de dos capas.
La crítica de Ias métodos interpreta ti vos "empÍricos" puede verse en
Ias' publicaciones citadas en el apartado V.1I.

V.12.2.2 Métodos de superposición

Parece que los primeros que emplearon este método fueron los geofí-.
sicos franceses de Ia escuela Schlumberger, pero Ia prioridad correspon-
302
 INTERPRETACION CUANTITATIVA

de aI estado-unidense Irwin ROMAN (1931) autor de Ia primera publica-

ción sobre eI tema.

La idea básica de este método es Ia comparación de Ia curva de campo

que se desea interpretar con Ias curvas teóricas de un catálogo, hasta
encontrar una de estas que coincida con Ia primera. Una característica
esenciaI deI procedimiento es Ia representación de Ias curvas en escala
log.arítmica, con 10 que se consigue una enorme reducción en el numero
de curvas teóricas necesarias. En efecto, dadas Ias propiedades de los
gráficos logarítmicos, Ia multiplicación de todos Ios espesores o de todas
Ias resistividades por una constante, no produce en Ia curva sino un des-
plazamiento sin cambio de forma ni de tamaõo. Si Ia curva de campo
fuese de dos capas, una vez dibujada en papel transparente se Ia coloca
sobre Ia familia de curvas teóricas de dos capas, y se hace resbalar sobre
ella, conservando el paralelismo de Ios ejes, hasta que Ia primera coin-
cida coJ]. alguna de Ias teóricas. Este desplazamiento equivale a modifi-
car E1, Pl Y P?. Los valores de E1 Y Pl son Ias coordenadas respectivas
deI punto 1,1) deI gráfico patrón en el papel transparente.· Este punto
recibe el nombre de cruz. La resistividad de Ia segunda capa se obtiene
multiplic.ando eI valor Pl haIlado por Ia relación P2/ Pl de Ia curva patrón.

Este método es rigurosamente científico, y aunque su precisión es li-

mitada por ser gráfico, Ias inexactitudes que resultan de ello son infe-
riores a Ias debidas a Ias errores experimentales. Por otra parte, se uti-
liza toda Ia curva, con 10 que Ias perturbaciones debidas a efectos latera-
les o a que el subsuelo no cumple Ias condiciones teóricas de Ios medios
estratificados son advertidas inmediatamente.

Cuando Ias curvas son de tres o más capas se procede deI modo des-
crito más arriba; una vez determinados E1 Y Pl se obtienen los demás
parámetros multiplicando estos valores por Ias relaciones E2/Eh P2/Ph et-
cétera, de Ia curva patrón.

Detalles Y ejemplos sobre Ia práctica de este método, así como el

uso de Ias "marcas de resistividad" se encuentran en ORELLANA y Mo-
ONEY (1966).

Sin embargo el método de superposición .adolece de grave inconve-

niente, y es que aunque eI empleo de escalas logarítmicas reduce en dos
el numero de parámetros deI corte, Ia cantidad de casos posibles es tan
grande que es prácticamente imposible preparar y manejar una colección
de curvas teóricas que Ios abarque todos. Para obviar este inconveniente,
se han ideado los método'!>de reducción, cuya modalidad más importan-
te y unica en uso esel método deZ punto auxiliar.
303
PRACTICA
DELSONDEOELECTRICO
VERTICAL

V.12.2.3 EI método dei punto auxiliar

EI origen deI método se remonta a HUMMEL(1929) quien demostró

que en casos de tres capas con P3 = 00 Ias dos primeras capas podrían
sustituirse por una sola cuyo espesor fuera Ia suma de Ias espesores de
ambas y cuya conductancia longitudinal S fuese Ia suma de Ias conduc-
tancias de dichas capas, sin que Ia parte derecha de Ia curva se alterase
apreciablemente. La citada sustitución equivale a suponer que ambas ca-
pas se comportan como si estuviesen conectadas en paralelo.
La experiencia demostró que esta reducción de Ias dos primeras capas
a una' sola era aceptable sólo para curvas de tres capas con Pl > Pz < P3
a Ias que se llamó H, inicial del geofísicoalemán aludido, pero fracasaba
en los otros tipos de curvas de tres capas ..
En 1943, el también alemán A. EBERTpublicó un artículo donde daba
cuenta de una generalización deI método de Hummel. En ella se distin-
guían cuatro casos distintos que correspondían respectivamente aIos
tipos de corte H, A, K y Q. Para cada uno de ellos, Ia capa sustituyente
de Ias dos primeras se obtenía por 'una fórmula o curva auxiliardistin-
ta. Como Ia ,aplicación práctica deI método consistía fundamentalmente
en hallar un punto de coordenadas (E', l) que pudiera tomar se como
"cruz" de una curva de dos capas que coincidiera con Ia rama derecha
de Ia curva de campo, se llama a este procedimiento interpretativo "mé-
todo deI punto auxiliar".
EI trabajo .de Ebert era incompleto, pues no incluía ni Ia justificación
teórica de Ias construcciones propu estas ni Ias valores numéricos de cier-
tos coeficientes necesarios para Ia construcción de Ias curvas auxiliares;
era anticipo de un libro en colaboración con Mitoff, que no llegó a pu-
blicarse por causa de Ia guerra. Por otra parte, no está claro si Ia pater-
nidad deI método corresponde a Ebert, pues ZOHDY (1965) menciona
trabajos anteriores sobre Ia misma cuestión, debidos a Marten y a Kale-
nov, que no pudo consultar. Los coeficientes aludidos fueron dados' a
conocer por SOROKIN(1953) y en forma más completa por KAL'ENOV
(1957).

En esta versión deI método deI punto auxiliar que llamaremos de

Ebert-Kalenov, para el caso H se utiliza Ia regIa de Hummel; para el A,
puntos auxiliares que seencuentran en un arco de DZ, 'de tal modo que
Ia capa que 5ustituye a Ias dos primeras tiene sus parámetros T y S
iguales a Ias sumas de' 10s valores respectivos de dichas capas. Para los
casos K y Q Ia cuestión es menos clara. En el caso Q se utiliza el punto
H, desplazado oblicuamente en una longitud determinada empíricamente.
En el caso K se procede de modo análogo, desplazando horizontalmente
el punto correspondiente aI caso A, una longitud que depende de Ia pseu-
doanisotropía de Ias dos primeras capas, consideradas conjuntamente.
304
 INTERPRETACION
CUANTITATIVA

Varios autores han propuesto otras posiciones para los puntos auxilia-
res. Así, Pylaev utiliza un punto K diferente deI de Kalenov; CAGNIARD
(1952) propugna curvas auxiliares de origen abiertamente empírico y
Ono defiende otros puntos auxiliares que difieren de los anteriores. Pa-
rece ser que el geofísico polaco Kostitzin, colaborador de Ias Schlum-
berger, halIó una fórmula para el caso K, Ia cual, según parece, perma"
nece inédita (ZOHDY,1965). Algo parecido ocurre con Ias soluciones ha-
lIadas por MaiUet, mencionadas muy incompletamente por KUNETZ(1966)
quien Ias refiere a otro trabajo inédito.
Como puede verse, Ia situaci6n distaba mucho de ser satisfactoria.
No obstante, el autor pu do demostrar (ORELLANA,1966), que Ia mayoría
de los puntos auxiliares propuestos para dos casos H y A eálll válidos,
puesto que por razón de Ia propiedad asint6tica expu esta en el apartado
IV.9 d, en tales casos pueden sustituirse Ias dos primeras capas por una
sola; con Ia única condición de que su conductancia S cumpla Ia condi-
ción S = SI + S2 siendo estas últimas los valores respectivos para Ias· dos
capas sustituidas. Los puntos auxiliares propuestos se encuentran siempre
en Ia línea S, es decir, en Ia recta de pendi ente unidad que pasa por el
punto de abscisa S deI eje (ia = 1. ElIo permite simplificar Ia construcción
gráfica, suprimiendo el uso de curvas auxiliares para los tipos H y A.
Para los tipos K y Q no se ha encontrado justificación aIos puntos
auxiliares propuestos. No obstante, Ia práctica demuestra que los 'mejores
resultados se obtienen mediante Ias curvas auxiliares de Kalenov. Estas
cUrvas, así como instrucciones detalIadas para su manejo se encuentran
en ORELLANAy MOONEY(1966) por 10 que no se describirán aquí. Más
información sobre Ia historia deI método y sus diferentes versiones se
encuentra en ZOHDY (1965) y ORELLANA (1966). El autor recomienda el
uso de Ias curvas auxiliares de Kalenov para Ias curvas o partes de
curvas de los tipos Q Y K, mientras que para los casos H y A debe pre-
ferirse Ia ·construcción gráfica aludida más arriba y que se expone eu el
apartado siguiente. De este modo, el ajuste de Ias curvas se hace s610
con Ias curvas patr6n y dos diagramas auxiliares.
Más abajo se indica un procedimlento ideado por Seara para Ia ex-
tensión a otros casos deI referido método deI autor.
El método deI punto auxiliar es el de más amplio uso en Ia actualidad
para el ajuste de curvas de SEV. Es rápido y en general suficientemente
exacto, excepto cuando el corte se compone de más de seis o siete capas,
o existen en él capas delgadas. Por ejemplo, Ias curvas de cinco capas
publica das por FLATHE(1963) son de difícil interpretacíón por este mé-
todo. En todo caso, dada su rapidez y Ias excelentes resultados que suele
dar cuando r:s aplicado por interpretadores expertos, el autor no cree que
este medio caiga en desuso, pues en el peor de los casos, siempre podrá
305
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

utilizarse para obtener una primera solución, mejorable por procedi-

mientos más refinados.
Es conveniente que el papel transparente donde se dibuja Ia curva
de campo no contenga una red logarítmica completa, sino tan sólo Ias
correspondientes a órdenes decimales enteros, con 10 que se consigue
mucho mejor visibilidad de Ias curvas patrón colocadas debajo. Las coor-
denadas de Ias cruces y marcas de resistividad se leen superponiendo el
papel transparente a una hoja de papel Iogarítmico deI mismo módulo.
EUo tiene además Ia ventaja de que el par de hojas de papel puede uti-
lizarse como regIa de cálculo, 10 que permite determinar gráficamente
todos los espesores, eliminando el cálculo numérico.

V.12.2.4 Construcción deI autor para curvas de los tipos H y A

Aunque para Ia técnica de aplicación del método deI punto auxiliar

hemos remitido aI lector a otra publicación donde encontrará todos los
elementos necesarios, el autor cree conveniente insertar aquí una breve
expliçación sobre el ajuste de curvas de los tipos H o A sin diagrama
auxiliar, por ser menos conocido este método.
Una vez determinada Ia posición de Ia "cruz" EI1 PI por superposición
de Ia curva de campo sobre Ia familia de curvas de tres capas más apro-
ximada, y decidido el valor que va a tomarse para P2, se traza en el papel
transparente que contiene Ia curva de campo una línea recta horizontal
de ordenada P2 (fig. V-I?). En cuanto aI valor de P2, si bien ]a curva de
tres capas da una solución aproximada para él, es muy probable que
exista equivalencia, por 10 que a veces se tomará un valor diferente, su-
gerido por Ia interpretación geológica de los resultados de los SEV con-
tiguos.
Luego se superpone el papel transparente sobre una familia de cur-
vas patrón de dos o tres capas, de comienzo ascendente, y cuya forma
sea parecida a Ia parte derecha de Ia curva de campo, aI menos en Ia
parte que corresponde a Ias dos capas siguientes a Ia que produce el
mínimo. La superposición debe hacerse de modo que Ia línea horizontal
caiga sobre Ia cruz de Ias curvas patrón, y que los dos sistemas de ejes
queden paralelos. Se desplaza Ia curva de campo, manteniendo el para-
lelismo de los ejes, hasta que coincida con âlguna de Ias curvas patróil,
o quede en posición intermedia entre dos de éstas; se calca en el papel
transparente Ia posición de Ia cruz de Ias curvas patrón. Llamaremos a
ésta "segunda cruz".
Se coloca a continuación el papel transparente sobre una hoja de papel
logarítmico deI mismo módulo, de "modo que Ia prjmera cruz coincida
con el origen (punto de coordenadas 1,1) deI papel Iogarítmico. Se leen
306
 INTERPRETACION CUANTITATIVA

60
50

<o

"
JO

20

15

t. '~
E •
, 7

S 6
E, = 2 f, 20
,
=
-X-·4.---·_· E,= 4 f, = 4

,.
Líneo OU~!~ f, = 20
X = 2.2

Y = 0.2
1.5

-+- 1I I I I I I í I I I I
4 5 6 8 10 13 16 20 2S 32 40 50 65 80 100 130 160190 250 310

r=AB/2--
FIG. V-I? Ajuste de curvas de tipo ascenaente por el método dei autor.

luego en éste Ias coordenadas X e Y de Ia segunda cruz, Ias cuales pue-

den ser mayores o menores que Ia unidad.
Entonces E2 = (X - Y) EI• Este cálculo puede hacerse gráficamente.
Con Ia hoja transparente aún s4perpuesta aI papel logarítmico, se hace
mentalmente Ia resta y se traza en el gráfico transpare·nte un punto cuya
abcisa sea el resultado de dicha resta. La abcisa de este punto en Ia escala
dei papel transparente es igual a E2• Cuando Ias dos cruces están muy
separadas (en el tipo H), Ia resta es innecesaria por Ia pequenez relativa
de Y.

Este método, mucho más rápido de aplicar que de explicar, evita,

como hemos dicho, eI empleo de los diagramas auxiliares H y A, así
como Ia necesidad de interpolar entre Ias curvas de éste, con el consi-
guiente aumento de exactitud.
Si se desea conocer el espesor correspondiente a otro valor p{ basta
haBar Ia. intersección de Ia Iínea horizontal de ordenada .p{ con Ia línea
obIic.ua de pendiente unidad quepasa por Ia cruz haUada. Dicha inter-
sección es Ia· nue·va. cruz.
307
PRACTICADELSONDEO ELECTRICOVERTICAL

La justificación dei procedimientoes como sigue: Por Ia coincidencia

de Ias ramas derechas de Ia curva patrón y Ia de campo, ambas tendrán
Ia misma S, a Ia que corresponderá una línea de pendiente unidad que
corta ai eje Pa = 1 en el punto cuya abcisa es precisamente S, !ínea en
Ia que se encuentra Ia segunda cruz. Por 10 tanto, Ias coordenadas de
ésta, tomando como origen Ia primera sedu
S
X = ---P2 Y _ P2 (V,27)
E1 Pl

y por 10 tanto,

E2. = S2 P2 = (S - SI) P2 = E; - ----;;:-

(SPl P2) = (X -
E1 Y) E1 (V,28)
que es Ia fórmula utilizada en Ia construcción gráfica.
ZOHDY (1968) ha ideado un método interpretativo, también para cur-
vas H o A, que utiliza una sola curva auxiliar.
Muy recientemente, SEARA y CONAWAY(1980) han dado a conocer Ia
posibilidad de interpretar curvas de tipo K o Q como si fuesen, respec-
tivamente, de! tipo H o A. Para ello se calcula, mediante convolución
con un filtro adecuado (apartado IV.5.5) Ia función característica corres-
pondiente a Ia curva problema; se determina eI recíproco de dicha fun-
ci6n y Ia curva de campo que Ie corresponde. Esta será de tipo diferente
aI inicial (H en vez de K, y A en vez de Q) por 10 que puede interpre-
tarse por eI método deI autor, obteniendo profundidades verdaderas,-
mientras que Ias resistividades obtenidas serán Ias recíprocas de Ias
auténticas. Análogamente, un corte KQ se transforma en otro HA, tam-
bién interpretable por el mismo método. Como se ve, eI procedimiento
de Seara constituye una aplicación deI concepto de corte recíproco (ORE-
LLANA, 1965) definido en IV.4).

V.12.2.S Juicio sobre el método deI punto auxiliar

EI método dei punto auxiliar tiene Ia ventaja de ser de aplicación
sencilla y rápida. Por otra parte, de acuerdo con Ia ambigüedad deI pro-
blema inverso, permite Ia obtención de diversas soluciones válidas de
una misma curva de campo, Ias cuales no se corresponden entre sÍ con
Ia equivalencia de Maillet, sino con Ia más exacta de Zohdy. ASÍ,. en Ia
interpretación de un corte con una sección K, si se desea obtener una
segunda soIución con mayor resistividad en Ia capa resistiva, no sólo
disminuye el espesol' de ésta, sino que aumenta eI de Ia capa anterior,
de acuerdo con loque indica Ia figura IV-I7. Esta ventaja no ha sido
seiíalada hasta ahora en Ia literatura, que yo sepa.
308
 INTERPRETACION CUANTITATIVA

Sin embargo, el método deI punto auxiliar no es el ideal, pues ado-

lece de dos limitaciones intrínsecas que le impiden extraer toda Ia infor-
mación contenida en Ia curva de campo. Estas limitaciones son Ia difi-
cultad de obtener cortes de más de 6 ó 7 capas, y Ia imposibilidad de
interpretar capas delgadas, que a veces el geofísico experimentado ve en
Ias curvas de campo, pel'o no puede ajustar por este método.

V.12.2.6 El método "francés»

Denomino así este método por haber sido muy usado por alguna
compafiía francesa y por geofísicos de Ia misma naciona1idad. No ha sido
objeto, que el autor sepa, de ninguna publicación. Por esta causa, 10 que
aquí se dice puede no ser completo.

Supóngdse un corte del tipo HKHKH ... o bien KHKHK ... Las curvas
de campo correspondientes estarán formadas por una sucesión de crestas
y valles, de Ias que cada una de Ias primeras pertenece a una capa más
resistiva que Ias adyacentes, y cada. una de Ias segundas aI caso inverso.
Entonces por superposición sobre una curva patrón adecuada se deter-
mina Ia T de cada una de Ias capas resistivas, productoras de máximos,
y de modo análogo, Ia S de cada una de Ias capas conductoras, origina-
doras de valles. Parece que para esta operación no basta una c01ección
de curvas patrón de tres capas y han de utilizarse de cuatro.

Una vez así determinados 10s referidos valores de T o de S, se atri-

buve a cada capa una resistividad, apoyándose en Ia geología de Ia zona
("hipótesis geológica"), 10 que permite el cálculo deI espesor correspon-
diente mediante Ias ecuaciones (IV.38) y (lVAO). De este modo se tienen
10s espesores y resistividades de Ias capas.

Naturalmente, este método, muy usado en tiempos, es aproximado y

no exento de inconvenientes:

a) Las capas quedan definidas de modo incompleto, pues sól0 se de-

termina uno de sus dos parámetros de DZ.
b) No están claramente establecidos los límites de variación permi-
tidos a cada capa.

c) EI procedimiento no funciona adecuadamente cuando en cl corte

existen secciones de tipo A o Q. ni permite intercalarIas como solución
alternativa, aI contrario de Ia que ocurre en el método deI punto auxiliar.
La virtud principal de1 método resefiado es que obliga aI interpreta-
dor a darse cuenta de Ia ambigüedad de Ia solución.
309
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

V.13 METODOS NUMERICOS DE INTERPRETACION

V.13.1 Características generales

El rápido perfeccionamiento y gran difusión de Ias máquinas de cálcu-

lo, desde Ios grandes ordenadores hasta Ios calculadores programables de
bolsillo, ha llevado a Ia' irtvención de nuevos métodos de trabajo, que
han causado una revolución en eI proceso interpretativo de Ios SEV.
He Ilamado numéricos a, estos nuevos métodos, porque en todos ellos
hav aI menos una" fase de cálculo automático, pero muchos tienen tam-
bién una parte gráfica. Aunque se haIlan en pleno desarrollo y en cuaI-
quier momento puede surgir un procedimiento nuevo, parece necesario
establecer una clasificación.
Un criterio importante para ello es el dominio en que se efectúan
Ias operaciones o Ia comparación entre Ios datos observados y los resul-
tados de los datos calculados. En los métodos ya descritos se trabaja
sobre Ia curva de campo, por 10 que puede decirse que trabajan en eI
dominio de Ias resistividades aparentes. Otros métodos comienzan por
Ia transformación de Ia curva de campo en Ia funciôn característica y
sobre eIla se efectúa Ia interpretación. Se trata, pues, de interpretación
en eI dominio de Ia función característica. Una tercera posibilidad, que
es Ia preferible a juicio deI autor, es Ia interpretación en eI dominio de
Dar Zarrouk.
Por otra parte, los métodos interpretativos numéricos pueden clasifi-
carse en dos grupos: aI primero pertenecen aqueIlos que llegan a un
corte geoeléctrico soIución desde Ia curva de campo sin volver atrás
para recalcular ésta. Son Ios métodos directos. En eI segundo grupo se
incluyen Ios métodos de tanteo o aproximaciones sucesivas. En ellos se
parte de una solución aproximada cuya curva de campo se calcula; Ias
diferencias entre és ta y Ia inicial se van reduciendo sucesivamente por
medio de retoques a Ia soIución inicial. Cuando este proceso se efectúa
por medio deI cálculo matricial, eI método se denomina "de inversión".,
Es de suma importancia no olvidar 10 dicho más arriba sobre Ias Iimi-
taciones deI cálculo automático, y sobre Ia ambif!üedad de Ia soIución.
,Además debe tenerse en cuenta Ia conveniencia de comprobar Ias solu-
ciones haIladas mediante eI cálculo de Ia curva de campo correspondiente
,y comparación con Ia de partida; aIgunos métodos incorporan en sus
\pr<;>gramas esta comprobación, como Ios de Zohdv y Kunetz-Rocroi, mien-
trai> que otros se basan en ellas, como el de aproximaciones sucesivas.

\'f,n todos los métodos numéricos, Ias curvas de ,campo ha~ de ser. 50-
metidas previamente a interpolación y extrapolac16n. La pnmera tlene
por objeto, Ia obtencióri de Ias valores Pa correspondientes a Ias AB{2
310
 METODOS NUMERICOS DE INTERPRETACION

exigidos por el método que se utilice, y que general mente están separa-
dos por intervalos iguales en Ia escala logarítmica. Convieneeliminar
esta operación midiendo en el campo precisamente con dicli:6s' AB/2. La
extrapolación se efectúa prolongando los extremos izquierdo y derecho
de. Ia curva de campo por medio de sendas curvas de dos capas, hasta
que éstas se aproximen suficientemente a su valor asintótico.
Por último, he de decir que cada método numérico presenta abundan-
,tes particularidades y detalles en los que no cabe entrar aquí por razo-
nes de espacio, remitiendo aI lector interesado en ellos aIos trabajos
,originales, aunque a veces éstos no son suficientemente explícitos.'

V.13.2 Métodos de aproximaciones sucesivas

a) Método de JOHANSEN (1975).

Comenzamos por este método por ser el más sencillo. Su autor calcu-
ló previamente un filtro más preciso que el de Ghosh para el paso de
Ia transformada PO,) a Ia curva de campo. Este filtro, de 140 coeficientes,
corresponde a una frecuencia de muestreo de 10 puntos por ciclo deci-
mal, esto es, que si dos de los valores de AB/2 son 100 y 1.000 m, entre
ellos deben existir nueve valores intermedios, equidistantes en elpapel
Iogarítmico.
En prime r lugar, el ínterpretador obtiene una soluciçSn aproximada
por estimación, punto auxiliar uotro procedimiento. Los espesores\ y
resistividades de esta solución se introducen en el ordenador, que calcula.
Ia transformada de resistividad correspondiente, a Ia que se aplica el filtro
mencionado para obtener Ia curva de campo. Esta aparece en Ia pantalla
deI ordenador, junto con Ia curva inicial y el margen de error de los pun-
tos medidos de ésta, en forma de segmentos verticaIes. Si Ia curva calcu-
lada no cae por completo dentro deI área definida por los segmentos,el
interpretador retoca Ios espesores y resistividades de Ia primera so]ución
v vuelve a prohar de nuevo" hasta conseguir una solución satisfactoria.
El número de repeticiones necesario depende de 10 acertado de Ia solu-
ción inicial y de Ia experiencia deI interpreta dor. Por razones evidentes,
este método no se presta para cortes de muchas capas.
Posteriormente, el mismo autor ha dado a' conocer un método dife'"
rente que cae dentro de Ias técnicas de inversión, descritas más abajo. "

b) Método de Marsden. /
Este método (MARSDEN, 1973) es totalmente automático, si b!en stI
autor modifica, en caso necesario, Ia solución obtenida utilizando Ia CJ!>Z
. , /
de ésta. /
Este método fue el primero que utilizó el filtro de Ghosh, y trabaja
en el dominio de Ia transformada de resistividades. Una de sus carac-
311
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

terÍsticas más importantes es que eI espesor de cada capa se toma igual

a Ia suma de Ios espesores suprayacentes, de modo que Iosespesores
sucesivos son Elo Ev 2 E2, 4 Elo ... , etc. La ambigüedad de Ia soIución
hace que sea posible encontrar cortes que a pesar de esta restricción,
satisfagan a Ia curva de campo.
En primeI' lugar se calcula P(J,) por medio deI filtro de Ghosh. Luego
se determina eI espesor de Ia primera capa, por un procedimiento que se
basa en el cálculo de Ia transformada P(À) previa supresión de Ia primera
capa. Para ello, como no se conoce Ell el ordenador toma para éste el
mayor valor entre los que hacen positiva Ia transformada reducida, esto
es, con supresión de Ia primera capa. Una vez asÍ determinado E1 (que
puede ser algo inferior aI espesor real, 10 que no constituye inconvenien-
te) quedan automáticamente determinados los demás espesores, en virtud
de 10 dicho más arriba, por 10 que sólo resta eI cálculo de Ias resistivi-
dades, que se efectúa capa a capa.
La estimación inicial de Ias resistividades se basa en reducciones su-
cesivas de Ia transformada P(À). Cada reducción consiste en calcular de
nuevo Ia transformada, previa supresión de Ia capa más próxima a Ia
superficie. En Ia primera reducción se suprime Ia primera capa, de pará-
metrós Elo PI conocido este último por eI valor asintótico por Ia izquier-
da de P(J.). La resistividad P2 se toma igual aI valor de Ia transformada
reducida para l/À = 2 ElP Y análogamente Ias demás. Estas resistividades
iniciales son ajustadas iterativamente. En cada iteración se' busca Ia
mayor discrepancia entre Ia P(À) de Ia curva de campo y Ia transformada
de Ia soIución que trata de mejorarse. Se busca entonces Ia capa de mayor
influencia en dicha discrepancia, y se ajusta su resistividad por minimi-
zación de aquélla. Se procede Iuego deI mismo modo con Ia siguiente
mayor discrepancia. Ajustadas todas Ias resistividades se calcula Ia P(À)
de Ia nueva soluci6n y se comienza una nueva iteración hasta que 105
errores queden por debajo de un valor prefijado. Todas Ias operaciones
mencionadas son efectuadas automáticamente por el ordena dor.
c) Métodos de Vozoft y de Bichara-Lakshmanan.
VaZOl'F (1958) fue eI primero en interpretar curvas de SEV por un
método iterativo que trabaja en el dominio de Ia FC de Slichter. Como
entonces no se conoda eI uso de filtros para el paso de Ia curva de cam-
po a su FC, Vozoff utilizaba Ia expresión

(V.29)
N(À) =IOOo ...!!..'::.--
P1r /l(Àr) dr

que se basa en una conocida propiedad de Ias transformadas de HankeI,

y que Vozoff calculaba por integración numérica.
312
 METODOSNUMERICOS
DE INTERPRETACION

Obtenida asÍ Ia FC, se toma una primera solución aproximada obte-

nida por cualquier procedimiento, y se calcula su FC mediante el algo-
ritmo de Sunde. Se determina entonces el error de esta FC respecto de
Ia obtenida de Ia curva de campo, el cual se mide por Ia fórmula

/I.(FC) = 2::; {NnlÀ;) - Nnm(À;)]2 (V.30)

donde son Nn,; Ia FC de Ia curva de campo y Nnm Ia deI modelo. Las ).;
representan Ias valores deI argumento para Ias que se ha calculado Ia FC.
EI problema es ahora Ia modificación de Ias parámetros deI modelo
hasta que .6.(PC) sea mínima. EI procedimiento que Vozoff sigue para
ello es el deI gradiente máximo ("steepest descent"), deI que daremos una
somera idea para aquellos lectores que no 10 conozcan.
Si es n el número de capas deI modelo, habrán de especificarse por
media de 2n - 1 pará metros. Como (FC) es fUllción de todos ellos, po-
fi..

drá representársela como una hipersuperficie en un espacio de 2n dimen-

siones, en Ia que el punta de errar mínimo es el más bajo de una de-
presión o embudo de dicha hipersuperficie, dada Ia continuidad de Ia FC.
Con Ia solución aproximada inicial no se estará, en general, en dicho
punto más bajo, sino en otro de mayor error. En el método deI gradien-
te máximo se intenta negar aI punto de errar mínimo siguiendo latra-
yectoria de mayor gradiente, es decir, siguiendo Ia líhea de máxima
pelldiente de Ia hipersuperficie.
Ello se consigne incrementando simultáneamente todos Ias paráme-
tros, cada uno proporcionalmente, a su componente respectiva en el
gradiente, esta es

/I. Pi =_ C 0/1.
Df';
(FC) (V.31)

donde Pi es cada parámetro y C una constante. EI proceso se repite hasta

que A (FC) sea menor que Ia cota escogida. EI valor' de C debe eIegirse
con cuidado en cada iteración, pues si es demasiado pequeno, serán
necesarias muchas de éstas, y en caso contrario puede producir un aleja-
miento deI mínimo.
BrcHARAy LAKSHMANAN (1976) dieron a conocer vn método semejan-
te aI de Vozoff. Las principales diferencias respecto de éste son el cálculo
de Ia FC de Ia curva de campo por media de un filtro, y que A (FC) se
toma como errar relativo en función de Ias errares relativos de Ias pará-
metros, 10 que es mucho más acertado que utilizar, como Vozoff, errares
absolutos. Otra característica de este método es Ia posibi1idad de incluir
cotas que Ias padmetros no deben sobrepasar, 10 que es un modo de
introducir restricciones geológicas.
313
PRACTICA
DEL SONDEOELECTRICO
VERTICAL

En Ia obra de KOEFOED(1979) se analizan crítica y detalladamente

varios aspectos de ambos métodos.
Los procesos llamados de inversión son también de aproximaciones
sucesivas, pero dado el auge de que gozan en Ia actualidad, se les dedi-
ca un apartado exclusivo, que es el siguiente.

V.13.3 Métodos de inversión

EI método de inversión, deI cual existen múltiples variantes (de ahí

el plural en el encabezamiento) no es exclusivo deI SEV, sino un proce-
dimiento general aplicable a problemas muy diversos. Su origen está en
los trabajos de BACKUSy GILBERT(1967, 1968, 1970). EI lector interesado
en conocer este método con mayor detalle puede consultar dichos tra-
bajos, asÍ como los de Jupp y VOZOFF (1975), INMAN(1975), GLENN y
WARD (1976)., OLDENBURG (1978), y otros que se mencionan más abajo.
La esencia deI método puede describirse como sigue. Las variables
que intervienen en todo problema geofísiéo se c1asifican en tres grupos:
a), Datos de observación, gl> g2' ... , g", que pueden considerarse como
componentes de un vector 'G. En el caso deI SEV, estos datos son Ias
resistividades aparentes observadas. *
b) Parámetros conocidos, Xl> X", que, deI mismo modo, consti-
X3, 00"

tuven un vector x. En el SEV, estos parámetros son Ias distancias ABj2

utilizadas.
c) Los parámetros desconocidos y que se trata de calcular, Pl, P2, .00'
p", que forman un tercer vector P que, en el SEV, son los espesores y re-
sistividades de Ias diversas capas.
Si se conoce una solución aproximada P 0, se puede estimar 'su grado·
de validez mediante el cálculo deI vector 'GA que le corresponde (proble-
ma directo) y Ia determinación de Ia diferencia G entre el vector obser-
f'o"

vado G y G,l' En general, G no será nulo, ya que po es sólo una so-

f'o"

lución aproximada. Obsérvese que el método de inversión exige que se

disponga de un algoritmo para Ia resolución de problemas directos, y
que el número de capas deI corte ha de ser conocido o elegido previa-
mente.
Como Ia solución po no es exacta, habrá de modificarse en uÍl vector
f'o"P tal que haga nulo f'o"G. Si el problema fuese lineal, se tendrá
f'o"·G=Af'o,,P+e (V.32)

* Se utiliza aquí Ia notación de uso más frecuente.

314
 METODOS NUMERICOS DE INTERPRETACION

donde f es un vector de errores que debe minimizarse,y A es Ia ma-

triz de derivadas

(V,33)
Ai = :~: I po
cuyo orden es m X n. Si po es suficientemepte aproximado, y es m L. n,
el vector ô P puede obtenerse mediante Ia fórmula matricial
/';.P = (AT A)-l AT /';.G (V, 34)

Ahora bien, como en eI caso deI SEV Ia relación entre 'G y P no es

lineal, Ia soIución /';.P de Ia fórmula anterior no será exacta, pOI' 10 que
el proceso habrá de repetir se varias veces, obteniéndose en cada itera-
ción una ô Pi1 .hasta que Ia suma de todos ellos con po constituya una
solución aceptable, esto es, tal que f sea menor que un valor dado de
antemano.
En eI cálculo de /';.P hay que tener en cuenta que no todos Ios datos
Xi tienen Ia misma influencia en 'G; para el estudio de esta cuestióil se
utiliza Ia matriz de "densidad de información" S definida por
S=HA (V,35)
con H = (AT A)-lAT. Esta matriz, casi diagonaI, tiene los mayores valo-
res en Ias posiciones que corresponden aIos datos que más influyen en
Ia determinación deI modelo (INMAN et ai, 1973).
Si todos Ios datos de observación g; no tienen Ia misma exactitud,
puede asignarse a cada uno un peso, e introducir en Ios cálculos una
matriz de pesos W. Si Ios errores de Ios datos son independientes entre
sÍ, dieha matriz será diagonal, cuyos elementos pueden tomarse iguales
a Ias inversas de Ias desviaciones tipo de Ios datos .
EI cálculo iterativo de ôP puede efectuarse por varios caminos:
a) EI procedimiento clásico de Gauss-Newton, basado en el desarro-
llo de Taylor de Ias derivadas y el cálculo de un ôT que haga mínima
Ia suma de los cuadrados de los errores. Este método, empleado por
MEINARDUS (1970) y por INMAN et ai (1975), llega a Ia solución final en
pocas iteraciones, pel'o va mal si Ia solución de partida difiere en mu-
cho de Ia real, eu ando Ia hipersuperficie que representa el erro r tiene
muy alarga das sus líneas de nivel, o si el vector ô P apunta a una región
de dicha hipersuperficie donde ésta no queda bien representada por una
aproximación lineal.
b) El método deI gradiente máximo, mencionado con el apartado an-
terior, que tiene Ia desventaja de que requiere, a· veces, muchas itera-
ciones.
315
PRACTICADEL SONDEOELECTRICOVERTICAL

C) EI método de "ridge regression" atribuido a Marquard, y que pue-

de considerarse intermedio entre eI a) y eI b). En evitación de los casos
en que Ia matriz AT A tiene valores propios muy pequenos y es por eIlo
casi singular, 10 que ocurre cuando hay parámetros muy mal determina-
dos, se sustituye Ia ecuación (V,34) por Ia

ôP = (AT A + aI)-lATôG (V,36)

donde I es Ia matriz unidad, y a un número que ha de determinarse cui-

dadosamente en cada iteración, pues si es grande, Ia convergencia es se-
gura, pel'o lenta, y si es demasiado pequeno, Ia convergencia es rápida,
pel'o con peligro de transformarse en divergencia. CECCHI et al (1977)
proponen un decrecimiento de a en cada iteración, de modo que Ias últi-
mas, cuando ya Ia solución es bastante aproximada, corresponde prác-
ticamente aI método de Gauss-Newton, de rápida convergencia en estas
condiciones.
Entre los autores que han empleado Ia "ridge regression", con diver-
sas modalidades, figuran INMAN (1975), PETRICK et aI (1977), RIJo et al
(1977) y JOHANSEN (1977).
Hay dos puntos en Ias métodos de inversión que merecen comenta-
rio aparte. Uno de ellos afecta a Ia medida deI error,. que debe definirse
como suma de los cuadrados de Ias diferencias entre Ias Ioga ritmos de
Ias resistividades aparentes observadas y Ias correspondientes deI mo-
delo, 10 que equivale a considerar errores relativos que son Ias que verda-
deramente importan y no 105 absolutos. Esta acertada práctica es seguida
por Rijo y Johansen; no así todos.
EI segundo comentaria afecta a Ia unicidad deI resultado. EI corte
geoeléctrico haIlado por inversión no es sino una de Ias soluciones de Ia
curva de campo de partida, con Ia condición suplementaria de tener un
número de capas dado, fijado por Ia estimación deI interpretador. Sin
embargo, se puede tener una idea de Ia ambigüedad de Ia solución si se
determina Ia desviación tipo con que se obtiene cada dato; "Ias capas
"equivalentes" Ia tienen mucho mayor que Ias demás. Sobre esta cues-
tión pueden consuItarse GLENN y WARD (1976) Y PETRICK et al (1977).
Terminaremos este apartado con Ia indicación de que nada se opone
a que el vector G esté constitui do por datos suministrados por métodos
eléctricos diferentes, por ejemplo de SEV y de sondeos magnetotelúricos.
Esta tiene una ventaja: por ser distintos los márgenes de ambigüedad
de ambos métodos, Ia solución obtenida es menos ambigua que Ia que
se obtendría con un solo método. Ejemplos de esta inversión conjunta
pueden verse en el artículo de Petrick citado en el párrafo anterior y en
TRIPP et al (1978).
316
 METODOS NUMERICOS DE INTERPRETACION

V.13.4 Los métodos de Koefoed

Desde 1968, eI profesor Koefoed, de Delft, viene publicando trabajos,

e incluso Iibros, sobre Ia interpretación de SEV, en Ios que ha descrito
diversos métodos y sucesivos perfeccionamientos de Ios mismos. Todos
ellos tienen como característica ccmún Ia conversión de Ia curva de cam-
poen Ia FC de SIichter o en alguna modificacíón de ella, y Ia operaci6n
en este dominio. EI antecedente de estos métodos se remonta a PEKERIS
(1940), que dio eI prime r procedimiento de interpretación directa deI
~V. .
Siendo muchos Ios métodos y variantes debidos aI profesor Koefoed,
sól0 se describirá aquí su última versi6n (KOEFOED, 1979).
EI método de Koefoed tiene una etapa previa que consiste en Ia con-
versión de Ia curva de campo que se trata de interpretar en Ia transfor-
mada de resistividad PU)' 10 que se hace mediante convolución con un
filtro adecuado. Luego se aplican, sucesiva y alternativamente, dos pro-
cesos. El primero de ellos es Ia determinación de Ios parámetros E1 y P2
(Pl se conoce por el comportamiento asintótico de Ia curva de campo o
de Ia transformada). EI segundo proceso, o de reducción, consiste en el
cálculo de Ia transformada P,.(J.) deI mismo corte pero con supresi6n de
Ia primera capa, con 10 que su papel es ahora representado por Ia que
antes era segunda. A ésta se Ie aplica eI primer proceso, con 10 que se
determinan E2 y p" y así sucesivamente. Ambos procesos se describen
a continuacíón.
a) Proceso de reducción.
La fórmula para Ia supresión de Ia primera capa en Ia PC puede obte-
nerse de Ia (IV,65 bis), ya que despejando de ella R+l que es Ia FC deI
corte sin dicha capa, se tiene .

R.1+1---
_ Ri-Th(KÀ) •
Pi
P,+l 1- R Th (Ei·J.)
(V,37)

pasando a Ia transformada P(À), por ser ésta (apartado IV.9.3)

P;{À) = PiR(À) (V,38)

aI sustituir en Ia expresión anterior, resulta

Pi(À) - Pi Th (E,À)
P;+l = ------ (V,39)
P; - Pi(À) Th (E,À)

b) Cálculo de los parámetros de la primera capa o de la que hace sus

veces.
317
PRACTICADEL SONDEOELECTRICOVERTICAL

Para este fin, Koefoed define una función G(Â), que llama "función
característica modificada", tal que .
P;().)-Pi
(V,40)
G;(Â) = P,(Â) + Pi
y para el caso de dos capas será

C. = N2().);-1 = K e-Z>.. E, . (V,41)

2 Nl).)+ 1 1

donde Ia última igualdad se obtiene sustituyendo N?(J.) por su expreslOn

que aparece en Ia (IV,21). Si se representa gráfica mente Ia (VAI) en papel
10Q,arítmico se obtiene una recta, que en Ia práctica habrá que ajustar
por rel!resión lineal; su ordenada en el origen es el valor de K" mien-
tras aue Ia pendiente es - 2E,. Como P, se conoce por el comportamien-
to asintótico de PU), (>2 puede despej'arse de K\.
EI último perfeccionamiento deI método es Ia utilización de Ia (V,4l)
para dos valores de J., con 10 aue se tienen dos ecuaciones y dos incóe:ni-
tas, K, y E" que pueden calcularse mediante aQuéllas. Naturalmente,
ambos valores de  deben pertenecer a Ia parte inicial de P(Â), donde ésta
se confunde con una P(J.) de dos capas.
Como los parámetros de cada capa se obtienen en función' de los pa-
rámetros ya calculados, se produce' un arrastre y propagación de errores
que ob]iga a ]os usuarios de este método a cuidadosas estimaciones de
márl1,enes de confianza, pesos de Ias mediciones, etc.
Patella y Szaraniec han ideado métodos interpretativos semejantes aI
de Koefoed. La. originalidad de] de PATELLA (975) es Que P(Â) se calcula
por intel!ración numérica de Ia expresión (V,29), operación aue se efectúa
con auxilio de Ias funciones de BesseI modificadas J,;, estudiadas y tabu-
ladas por Chistova. En cuarito aI método de SZARANJEK(979), opera en
el dominio de Ia PC de Slichter, a Ia aue también some te a un proceso
de reducción, y calcula Ias resistividades y espesores por el sistema
de Ias dos ecuaciones descrito más arribq y empIeado por Koefoed, quien
tomó esta idea de Szaraniek.

V.13.5 Métodos en los que se obtiene Ia COZ

a) Método de Kunetz-Rocroi.
Sus autores (KUNETZ y ROCROI, 1970) conscientes de Ia ambigüedad
ioherente aI problema, buscan una solución "bruta", de Ia cual pueden
deducirse soluciones particulares adecuadas a Ias circunstancias geoló-
gicas.
318
 METODOSNUMERICOS
DE INTERPRETACION

A grandes rasgos, eI método es como sigue. Se comienza por el cálculo

de Ia FC correspondiente a Ia curva de resistividades aparentes que ~e
desea interpretar, pero se utiliza Ia "segunda forma de Ia ecuación de Ia
prospección", según Ia terminología de Maillet, esto es,

Pa(r) = -2 7r
r'
Jooo
'P [.l" p(z)] )..K1()..r) d).. (V,42)

Se considera el subsuelo constituido por un gran número de capas

homogéneas, horizontales y de igual espesor Eo y se normalizan Ias dis-
tancias, resistividades, y el parámetro )..:
r
t= Pa'=~ ()= 2Eo).. (V,43)
2Eo Pl

Se demuestra que entonces

(V,44)
Pa(t) = -'Il'-
2t2 J" o 'f«()K~~
K=OO' () + 2 K'Il' I Klt I () + 2 K'Il' 1) do

y que p«() es Ia transformada de Fourier de Ia serie de imágenes eléc-

tricas en los sucesivos contactos. De este modo, hallada p«(), su trans-
formada inversa de Fourier da dicha sucesión d~ imágenes, de donde
se obtiene Ia resistividad correspondiente a cada capa unitaria. Esto es Ia
soIución bruta, cuya CDZ se traza. El análisis de esta curva permite su-
gerrr otras soluciones, por aplicación deI principio de equivalencia e igua~
lando Ias resistividades de capas contiguas unitarias, de modo que re-
sulte un corte geoeléctrico cuya CDZ sea prácticamente igual a Ia obte-
nida anteriormente, deI número de capas deseado, y concordante con 105
datos geológicos deI problema.
En Ia aplicación comercial de este método, efectuada por Ia c.G.G., eI
corte se obtiene con varios çentenares de capas, que se reducen automá-
ticamente a un número cercano a veinte. Para cada una de estas últimas
capas, se imprimen Ios datos: valores acumulados y normaliza dos de R
y C, valores de R y C para cada capa, sin normalizar, espesor y resisti-
vidad de Ia misma, y coordenadas logarítmicas (en mm para m6dulo de
62,5) de los puntos angulosos correspondientes de Ia funci6n Pm(Az). El
propio ordenador realiza Iuego dos sucesivas simplificaciones de Ia curva
DZ anterior, para menor número de capas, suministrando Ia misma clase
de datos que antes. También se dan gráficos de todo ello incluyendo Ia
curva de campo original y Ias que corresponden a Ias diversas versiones
deI modelo (DUPRAT.et al, 1973).
Entre los datos de entrada, hay que incluir Ia resistividad estimada
para el sustrato.
319
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

b) El métO'dO'de Zohdy.
Este procedimiento interpretativo (ZOHDY, 1975) es muy diferente de
Ias expuestos hasta ahora. Sus características más destacadas son Ia
importancia que en él se da a Ias CDZ (en 10 que el autor de este libro
se manifiesta de completo acuerdo) y Ia rapidez de cálculo, a pesar de
que utiliza un programa bastante complejo. Se trata de un método de apro-
ximaciones sucesivas, en el que Ia comprobación de los resultados se
efectúa eu el dominio de Ias resistividades aparentes, y que parte de una
solución inicial que él mismo calcula.
Este método se basa en Ia semejanza que, en general, existe entre Ia
curva de campo y Ia CDZ de un mismo corte; 10 que, en principio per-
mitiría considerar a Ia segunda como aproximación de Ia primera. En el
supuesto de que ello se cumpla, el método es el siguiente: Los puntos
dela curva de campo de partida se consideran como de una CDZ, con
tantas capas (puntos angulosos) como puntos se conocen de aquélla. Se
calculan entonces los espesores y resistividades de dichas capas y Ia PC
correspondiente. Esta se convuelve con elfiltro de Ghosh (u otro más
exacto) para obtener Ia curva de resistividades aparentes deI corte, Ia
cual' se compara con Ia de partida. Las diferencias entre una y otra sirven
para obtener Ia segunda aproximación que se determina así: si un punto
de Ia curva deI modelo queda debajo deI homólogo de Ia curva de campo
se Ie sustituye por otro situado por encima. La nueva curva así estimada,
considerada como Ia DZ, sirve de punto de partida para una nueva itera-
ción. Eu este proceso puede utilizarse también Ia hipótesis de que para cada
punto, Ia resistividad aparente es proporcional a Ia p$ deI punto homó-
logo de Ia CDZ.
Ahora bien, Ia semejanza entre Ia curva de resistividades aparentes y
su CDZ cesa cuando Ia primera posee un arco desceIJ.dente largo y muy
inclinado. En tal caso, eI arco correspondiente de Ia CDZ se sustituye
por otro de Ia "curva de DZ modificada deI tipo L" (MDZ-L). Tales
arcos descendentes se definen por ias ecuaciones

PmH = PH (~)X
PH
(V,45)

LmH =L ( ~z )x

con L = l: Ei Y O:S;; X :s;; 1. Aquí LmH Y PmH son Ias coordenadas de Ios
puntos de Ia MDZ-L. Cuando X = 0, esta curva coincide con Ia de Hum-
mel, utilizada para Ia interpretación de éurvas deI tipo H en Ia primera
versión deI método deI punto auxiliar, y definida por
320
 METODOS NUMERICOS DE INTERPRETACION

~Ej L
PH=--=--
~Si };.Si
(V,46)

Si X = 1, resulta Ia CDZ. En cada caso, el ordenador determina el

valor más adecuado de X por tanteo (regula falsi).
Los arcos ascendentes de Ia curva de campo pueden considerarse como
aproximaciones de arcos de DZ, salvo si su pendiente es igual o superior
a Ia unidad, pues entonces se obtienen resistividades infinitas o imagi-
narias. Para incluir estos casos, Zohdy utiliza otra modificación de Ia
CDZ, Ia MDZ-T, cuyas ecuaciones son

PmT = PT (~)X
Pl'

O:::;;;X:::;;; 1 (V,47)

LmT= L (~Z r
~T/
con Pl = -"L'
La variable L tiene aquí el mismo significado que en el caso anterior.
Cuando X = 1, Ia MDZ - T es Ia CDZ.
Este método, como los descritos más arriba, incluye muchos detalles
de cálculo que no cabe tratar aquí por razones de espacio. Vale Ia pena
indicar, no obstante, una útil posibilidad deI procedimiento que descri-
bimos, y es Ia opci6n de suavizado automático de Ias curvas de SEV
distorsionadas, con posterior interpretaci6n de Ia curva suavizada.
En resumen, dada una curva de campo por n resistividades aparentes
observadas, er método de Zohdy proporciona un corte soluci6n de n ca-
pas, junto con su CDZ. Esta solución tiene Ia ventaja de que su validez'
respecto de Ia CRA está comprobada dentro deI margen de error pre-
establecido.
Como el de Kunetz-Rocroi, el programa incluye Ia opción de simpli-
ficar Ia CDZ, reduciendo el número de capas. a un valor previamente
elegido. Estas simplificaciones automáticas tienen el inconveniente de
que Ias nuevas capas que se obtienen no son siempre aquellas que el
interpretador deseaba calcular.

V.14 COMENTARIOS SOBRE LOS MElODOS DESCRITOS

1. Los métodos de reducci6n, en los que se obtienen los parámetros

de cada capa en funci6n de los hallados para Ias capas ant~riores, tienen
321
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

el grave inconveniente de originar una propagación de los inevitables

errores. Estos se van acumulando, de modo que los resultados de Ias
capas sucesivas son cada vez más inexactas. EUo obliga a cuidadosa va-
loración de dichos errores, y hace ineludible Ia comprobación deI resul-
tado final, mediante el cálculo de Ia curva de campo que cor responde
a Ia solución hallada, curva que ha de cotejarse con Ia original.
2. El uso como dominio de trabajo de Ia PC o alguna de sus modi-
ficaciones, base de los métodos de Koefoed y su escuela, tiene el incon-
veniente básico de que Ia ambigüedad de Ias soluciones de Ia PC es ma-
yor que Ia de Ia CRA, por 10 que Ia solución obtenida en el dominio
de Ia primera pueden no corresponder a Ia curva de campo inicial. EUo
obliga nuevamente a Ia comprobación deI corte solución por el método
indicado más arriba.
3. Los métodos de aproximaciones sucesivas empleados hasta ahora
sólo suministran una de Ias soluCiones posibles, con un número de capas
prefiiado y bastante pequeno. Esta soIución carece, pues, de Ia genera-
lidad y detaUe que tiene los métodos de Zohdy y de Kunetz-Rocroi. En
los procedimientos de inversión, Ia desviación tipo de cada parámetro
da idea, aunque insuficiente, de Ia ambigüeàad de Ia solución hallada,
dentro de Ia limitación indicada de un número de capas fijo y pequeno.
4. EI problema de Ia interpretación de un SEV no está resuelto cuan-
do se ha hallado un corte solución, sino que es necesario el conocimiento
de todos ios cortes compatibles con Ia curva de campo dada o, aI menos,
Ia obtención de una solución base de Ia que puedan deducirse las demás.
En opinión deI autor, dicha solución básica sólo puede ser una CDZ,
según 10 dicho en el apartado IV.6.2. Por ello deben preferirse los proce-
dimientos de interpretación que, como los de Zohdy y de Kunetz-Rocroi,
obtienen una solución bastante detalli1da en forma de CDZ.

V.15 LA INTERPRETACION AUTOMATICA CONTROLADA

Teniendo en cuenta 10 anterior, parece evidente que, a Ia luz de los

conocimientos actuales, el proceso de interrupción de un SEV debe
constar de dos etapas:
a) Obtención de una solución base (que Kunetz y Rocroi denomi-
nan "bruta", es decir, no elaborada) en forma de CDZ, suficientemente
detaUada, es decir, con adecuada densidad de puntos por década.
b) Transformación de Ia CDZ haUada en una solución espesores-re-
sistividades compatible con ella, con Ia información geológica de que se
disponga, y con los resultados de los SEV próximos, es decir, elección
322
 LA INTERPRETACION AUTOMATICA CONTROLADA

entre Ias soluciones posibles de aquélla que parezca más ajustada a Ias
condiciones reales deI terreno.
La etapa a) ha de realizarse de modo puramente automático, por el
método de Zohdy, el de Kunetz-Rocroi u otrosimilar que pueda existir.
La etapa b), por el contrario, requiere una elección consciente, con
una inevitable componente subjetiva, por 10 que no puede confiarse a
un ordenador, ya que "estas máquinas no tienen sentido común y no
han aprendido todavía a "pensar", como ha dicho una autoridad tan des-
tacada en el arte de programar ordenadores como Donald E. Knuth. Por
êste motivo, esta etapa debe ser efectuada por un interpretador humano,
dotado de los conocimientos pertinentes, que trace una serie de arcos
de CDZ que pasen por los puntos conocidos de Ia CDZ solución, o disten
de ellos menos deI error admisible, y que, aI mismo tiempo representen
un corte compatible con Ia información "externa" mencionada.
Estos arcos de DZ se cortarán en un cierto número de puntos angu-
losos, correspondientes a otras tantas capas, de cuyas coordenadas ...
(AZ)l' Pmh (Azh P"'2, ... se deducen los espesores y resistividades de di-
chas capas mediante Ias fórmulas

E,
• ,p/--_
= (!J.SI ÔT.)l(lJ. ôTi
( !J.S, ) 1/2
(V,48)

t!.S, = Si+1 - Si ; !J.T, = Ti+1 - t!.Ti (V,49)

TI = (AZ)iPI Si =(AZ)I
p,
. (V,50)

que resultan directamente de Ias (IV-H), (IV-40) y (IV-53)

De acuerdo con estas ideas, el autor, en colaboración con M. C. Rer-
nández, ha desarrollado una técnica interpretativa que puede calificarse
de "automática controlada". Este trabajo se ha efectuado en Ia Cátedra
de Geofísica de Ia Universiclad Complutense, con Ia cooperación de Ia
compaiíía Ibergesa.
Aunque dicha técnica puede aplicarse a cualquier curVa de SEV, es
preferible Ia utilización de aquellas que han sido obtenidas con una serie
de distancias AB(2 de 10 puntos por década. Esta densidad es más ele-
vada que Ia empleada habitualmente, por 10 que implica un aumento en
el coste de Ios SEV, pero a mi juicio, esto se compensa por Ia mayor
seguridad de Ia información obtenida, ya que cualquier punto anómalo
de Ia curva puede ser detectado fácilmente y reempIazado por otro que
siga Ia marcha general de Ia curva. COl'regidos dichos puntos, si Ios
hubiese, y extrapolados Ios extremos mediante curvas de dos capas, Ias
resistividades aparentes definitivas son sometidas aI primer proceso de
cálculo.
323
 PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL
10'

...
I-
Z
...

-
a:
~
.• 10·
,
'"",-.-. -.'"'-._...---- --"~ ••..
_.- •..•.

10
IIJJI~_.L
10 100
AB/2

10'

.•
õ...
~
'-'-1i
10'

10
I"
10
I ""'r--L
100 1000
PSrUDOP~OFUNOIOAO

"

10'

FIG. V-I8. a) Curva de

campo de un SEV. b)
CDZ de Ia curva ante-
o' terior c) Corte geoeléc-
trico (espesores-resistivi-
dades), deducido deI
gráfico ante.rior por el
~
PROFUNOIOAO
,~ I
100
.L -t-+ método automático con-
trolado.

324
 ORIENTACIONES PARA LA INTERPRETACION

Dicho proceso, realizado por un ordenador, se basa en el programa

de Zohdy, modificado para el intervalo de muestreo indicado, y adap-
tado para que Ia informaei6n de salida conste simplemente de los puntos
de Ia CDZ soIuei6n, que el trazador ("plotter") dibuja en Ia habitual esca-
la logarítmica de 62,5 mm de m6dulo.
Este gráfico pasa aI interpretador, quien' etectúa Ia que más arriba
hemos llamado etapa b). Resta s610 Ia aplicaei6n de Ias fórmulas (V,48)
a (V,50). Por motivos de rapidez y, sobre todo, en evitaei6n de probables
equivocaciones, este cálculo debe ser automático. Para elIo basta un
calculador de bolsillo programable. A título de ejemplo, puede meneio-
narse que el autor utiliza un programa de 54 caracteres ("bytes") para
el HP 41C, programa que es adaptable incluso a modelos tan sencilIos
como el HP 33.
Eu Ia figura V-20 se da un ejemplo de Ia aplicaeión de este método,
en Ia que se obtiene una soluei6n de 12 capas, susccptibles de simplifi-
caei6n.
Naturalmente, este método puede mejorarse. Sería deseabIe un aIgo-
ritmo más rápido y directo para pasar de Ia curva de campo a Ia CDZ.
Por otra parte, es necesario un conoeimiento más completo de los már-
genes de variaei6n admisibIes en Ia CDZ de una CRA dada.

V.16 ORIENTACIONES PARA LA INTERPRHP.CION

Como se ha dicho más arriba, Ia interpretaci6n no puede limitarse a

una sucesión de técnicas mecánicas, sino que Ia labor deI interpretador,
si bien basada. en sólido conocimiento dela teoría (Ia e1ectromagnética
en este caso) requiere ciertas dotes de imaginaci6n y creatividad. * Por
ello, Ia labor interpretativa es un arte de largo aprendizaje, y aI prac-
ticarIo, siempre van encontrándose cosas nuevas. EI autor, con unos
20 anos de experiencia en Ia interpretaeión, sigue aprendiendo aún. No
obstante, parece oportuno dar aJgunas recomendacionesgenerales que
sirvan de orientaeión.

* A este respecto, no estará de más intercalar un divertido cuento, que pro~

viene de los geofísicos indios Roy y Apparao. Había una vez un hombre quê
hacía estudios geofísicos, y carente de conocimientos teóricos, efectuaba sus in-
terpretaciones de modo empírico e intuitivo, a pesar de 10 cual conseguía nota-
bles éxitos. Dándose cuenta de sus limitaciones, envió a su hijo, qJe estudiaba
Ingeniería, a especializarse en métodos interpretativos más científic,)s. "Noticias
no confirmadas" dicen que cuando el hijo se hizo cargo de Ia interpretación,
cesaron los aciertos. EI comentario que el autor hace a este relato es qu~ es po-
sible que así fuera, si el hijo interpretaba de modo mecánico.
325
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

La dificultad de Ia labor interpretativa tiene doble origen. Por una

parte, si bien el problema directo es estable, el inverso, que es eI que com-
pete aI interpretador, ha de considerarse como inestable desde un punto
de vista práctico. Por otra parte, tampoco existe solución única en Ia
identificación li1:oIógica de Ias resistividades. La primera ambigüedad pue-
de resumirse diciendo que.1o que Ia curva de SEV refleja es Ia CDZ .
.0tra consecuencia de ello es Ia referencia a Ia anisotropía. Si en un corte
estratigráfico existe una capa con anisotropía transversal A y espesor E
se comporta exactamente, en 10 que respecta a Ia distribución de poten-
ciales en superficie como una capa isótropa de espesor E' = AE. Por 10
tanto, Ia presencia de capas anisótropas exagera Ias profundidades inter-
pretadas en Ia hipótesis de isotropía.
Muchas de estas ambigüedades pueden resolverse por medi o de Ia co-
rrelación entre SEV contiguos o mediante Ias SEV para métricos. Por
ejemplo, si se sigue una capa a 10 largo de varias SEV, es posible que no
aparezca como equivalente en todos ellos. Entonces Ia resistividad obte-
nida para dicha capa en Ias SEV en que no es equivalente se utiliza en
Ias demás. Los sondeos paramétricos son SEV efectuados junto a per-
foraciones y por su importancia para Ia interpretación deben efectuarse
con ,el mayor cuidado y, a ser posible en cruz, es decir, dos SEV de azi·
mutes perpendiculares. Es muy conveniente que se haya efectuado Ia
testificación eléctrica de Ia perforación. La interpretación deI SEV para-
métrico se compara con Ia columna de Ia perforación, con 10 que pueden
identificarse litológicamente Ias capas geoeléctricas, y en caso de equiva-
lencia, determinar Ia resistividad verdadera de cada una de éstas, que
será aquélla que corresponda aI espesor real. En algunos casos, una
misma formación geológica aparecerá dividida en dos o más geoeléctri-
cas, y en otros ocurrirá 10 contrario. Cuando no puedan utilizarse estos
procedimientos para averiguar Ia resistividad de alguna capa equivalente,
debe atribuírsele el valor más probable en razón de su naturaleza lito-
lógica supuesta, y calcular el espesor correspondiente. Este se represen-
tará en eI corte, pero dibujando de trazos el límite inferior de Ia capa,
y anotando Ia resistividad máxima o mínima que le corresponde junto
con su valor de T o de S respectivamente.
Un aspecto muy importante es Ia relación con Ia Geología. Nunca
puede prescindirse de Ia orientación suministrada por ésta, pero el
geofísico debe utilizar su espíritu crítico, no sólo sobre sus propios mé-
todos, sino sobre Ia información geológica, distinguiendo en ésta 10 que
es resultado de observaciones inobjetables, de 10 que no pasa de ser
hipótesis, todo 10 plausible que se qui era, pero que puede no reflejar Ia
realidad. No debe nunca forzar su interpretación para ponerla de acuerdo
con aIguna hipótesis geológica, suprimiendo como defectuosas Ias curvas
o datas geofísicos que no estén de acuerdo con ella. Si el geofísico no
puede encontrar una interpretación. que se ajuste a Ia deI geólogo, debe
manifestarlo así, y hacer ver Ia discrepancia en eI informe. Proceder de
326
 ORIENTACIONES PARA LA INTERPRETACION

otro modo suele lIevar aI fracaso, y el autor tiene experiencia personal

de ello.
Por otra parte, en los mapas geológicos de superficie, puede haber
errores originados por observaciones incompletas. El autor recuerda un
caso en el que en el mapa geológico de Ia región estudiada mediante
SEV, apareCÍan afloramientos de calizas de dos edades distintas. Los
SEV efectuados sobre uno de los afloramientos de Ias calizas datadas
como más antiguas, dab:m sin embargo 'curvas muy análogas a Ias obte-
nidas sobre Ia formación ca1cárea más moderna. Una revisión geológica
de campo demostró que eran los SEV los que tenían razón frente aI
màpa geológico, pues Ia datación deI referido afloramiento era errónea.
Es conveniente, en razón de 10 dicho, que el geofísico haga su primera
interpretación libremente,' sin estudiar detalladamente Ia geología de Ia
zona, comenzando por el ajuste de Ias curvas más claras. Una vez ajus-
tadas todas, pasará los resultados' a cortes geoeléctricos, corrigiendo
Ia interpretación de cada SEV con Ia ayuda de los SEV contiguos. En
caso de discontinuidad entre SEV próximos, es fácil salir deI paso colo-
cando entre ellos una falla; esto no debe hacerse sin seria reflexión, pues
el adelgazamiento de una capa o un, cambio en el recubrimiento puede
hacer que dos curvas de aspecto desemejante correspondan a cortes geo-
eléctricos entre los cuales puede existir continuidad.
Una vez terminada esta primera interpretación, el geofísico debe dis-
cutirla con el geólogo. Si tanto el estudio geológico como Ia interpreta-
ción geofísica son correctas, Ia correlación entre ambas se hará sin difi-
cultad, sin más modificaciones que algunos cambios de detalle. Esta dis-
cusión, si ha de ser fructífera, exige que geólogo y geofísico entiendan
cada uno el lenguaje deI otro, y posean conocimientos generales de los
principios y, métodos que emplea su intelocutor. Una solución ideal seda
un geólogo-físico, pero dada Ia' extensión actual de Ias conocimientos
necesarios en ambas ciencias, tal cosa es imposible, dejando aparte Ia
dificultad de que una misma persona tenga dos mentalidades diferentes,
ambas muy n,ecesarias para Ia solución de los problemas planteados.
La identificación litológica de, Ias capas geoeléctricas no es siempre
labor sencilla, y debe basarse en Ia información previa existente sobre Ia
zona, especialmente si en ella o en sus proximidades se han efectuado
otras campafias de SEV. Nunca es problema, por ejemplo, diferenciar por
sus resistividades arcilla de granito, para poner un caso extremo, pero
otras veces pueden aparecer en los cortes capas cuyas resistividades pue-
den corresponder a litologías diversas, por 10 que su diferenciación defi-
nitiva sólo puede resolver se mediante una perforación. Incluso en casos
que parecen sencillos puedensurgir sorpresas.
EI autor, hace afios, interpretó una zona de resistividad alta como
debida a Ia presencia de un meandro fósil de los que se conbCÍan varios
327
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

en Ias proximidades. Cuando se efectuó una perforación para captar sus

aguas sllbterráneas, el supuesto meandro resultó ser una galería antigua,
cuya existencia se desconoda. En otro caso más reciente, también de
iÍlvestigación hidrológica, se buscaba una formación calcárea bajo un
mioceno arcilloso. Vn cierto número de 10s SEV realizados mostró Ia
existencia de una zona resistiva a varias decenas de metros de profun-
didad y fue atribuidaa Ias calizas. Sin embargo, Ia perforación no Ias
encontró a Ia profundidad prevista, sino unconglomerado mioceno, que
por no aflorar en parte aIguna, no figuraba en eI estudio geológico. Afor-
tunadamente, el conglomerado era un buen acuífero.
EI interpretador debe tener en cuenta que Ias curvas de SEV pueden
estar alteradas por causa de los efectos laterales O superficiales y debe
cuidar de no atribuir tales anomalías a causas profundas. Los efectos la-
terales pueden detectarse por correlación entre SEV próximos y com-
paración con Ias curvas teóricas para contactos verticales y análogos.
EI efecto superficial más frecuente es Ia influencia de Ia resistividad deI
material en que están colocados los eleCtrodos de potencial. Por causa de
esta influencia, Ia curva de SEV puede desplazarse verticalmente en uno
u otro sentido. Este efecto puede no producirse para Ia siguiente distan-
cia MN, dando lugar a un salto de empalme (véase el apartado V.10).
Estos suelen ser pequenos en los trabajos bien ejecutados, pera no siem-
pre sucede así, por 10 que Ias curvas han de corregirse, desplazando
verticalmente los distintos tramos hasta que coincidan, manteniendo fijo
preferiblemente el correspondiente aI mayor MN, que puede suponerse
representa condiciones más promediadas. No obstante, puede no ocurrir
esta, por 10 que deben tenerse en cuenta los SEV próximos.
Los errores aislados de medi~ión o Ios efectos superficiales pueden
corregirse mediante suavización de Ias curvas, pel'o esto sólo es aceptable
cuando Ias perturbaciones son pequenas. En caso contrario Ia suavización
habría de ser fuerte y puede efectuarse con distintos criterios, igual-
mente válidos por su falta de base y carácter hipotéticos; con 10 que
se obtiene una curva "inventada" cuya interpretación no es confiable.
En estas condiciones es mejor contentarse con una interpretación pura-
mente cualitativa.
La precisión de Ias profundidades determinadas mediante SEV no es
nunca mejor que un 10 ó 15 %. Accidentalmente, Ias causas de erro r
pueden compensarse, y obtener resultados más exactos en puntos aisla-
dos. AIgunos geofísicos principiantes se muestran grai:demente satisfe-
chos porCIJ-leen algún caso una perforación ha encontrado Ia formación
buscada con error en profundidad respecto de Ia prevista deI 1 % o aún
menor. EUo no implica especial habilidad por parte de operadores e in-
terpretador. Es simplemente suerte.
Finalmente, no debe oIvidarse que eI método SEV da resultados con-
fiables siempre que todas Ias etapas deI trabajo se efectúen teniendo en
328
 CURVAS PARA CAPAS INCLINADAS

cuenta los principios teóricos en que éste se basa, y mediante el uso

correcto de las técnicas adecuadas. Por desgracia, no es raro encontrar
prospecciones en Ias que Ias mediciones de campo no han sido debida-
mente programadas, o efectuadas incorrectamente, y Ia interpretación no
ha sido realizada por personas suficientemente expertas. El resultado de
ello es que Ias predicciones no corresponden a Ia realidad y en tales casos
es frecuente que en vez de culpar a Ias personas o entidades que hayan
intervenido en ello, se atribuya el fracaso aI método SEV, e incluso, y
10 que es más grave, a los métodos geoeléctricos, y hasta a Ia Prospección
Geofísica en general. Para evitar hechos semejantes se hace necesaria 1a
divulgación de los principios teóricos y de Ias aspectos prácticos de éste
y de otros métodos. La presente obra constituye un esfuerzo en este
sentido.

V.17 CURVAS PARA CAPAS INCLINADAS

Los apartados anteriores se refieren a medios estratificados, esto es,

de contact0s paralelos a Ia superficie, que constituyen Ia aplicación clá-
sica deI SEV pero no carecen de interés práctico estructuras de otro tipo.
La más sencil1a de éstas es Ia que corresponde aI contacto inclinado en-
tre dos medios homogéneos, cuyo planteamiento teórico se consideró en
el apartado IV.
El SEV es poco sensible a Ia inclinación de los contactos, 10 que si
bien constituye un inconveniente, representa una ventaja en 10 que ata-
fie a Ia interpretación, que puede efectuarse por medio de curvas teó-
ricas para capas horizontales, aunque el contacto real esté inclinado,
dentro de ciertos límites. Keller y Frischknecht consideran que los
resultados obtenidos con dichas curvas son válidos hasta inclinaciones
de 45 0, pero este límite parece excesivo, y resulta más prudente tomar
como límite de aplicabilidad de Ias curvas para contacto horizontal Ias
inclinaciones de 30°. En este caso, el error en Ia profundidad no excede
deI 20 %. El error debido a la inclinación es siempre en el sentido de
disminuir Ia profundidad y Ia resistividad de Ia segunda capa o sustrato,
y crece con lainclinación y con Ia relación PZ/Pl'
No se han calculado curvas teóricas para dos o más contactos incli-
nados, pero el límite indicado se supone válido para estos casos.
Cuando se interpretan curvas de campo correspondientes a un sus-
trato inclinado por medio de Ias curvas usuales de contacto horizontal,
el error cometido en Ia profundidad es menor si se considera que ésta
no está medida verticalmente, sino en sentido oblicuo, perpendicular-
mente aI techo deI sustrato. Esta propiedad puede aprovecharse en Ia
práctica trazando un corte sin realce, y llevando Ias profundidades obte-
nidas desde el centro de cada SEV con un compás, dibujando un arco
329
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

para cada una de ellas. La tangente común a estos arcos será el techo
del sustrato si este es plano.
Al'pin publicó en 1940 una colección de 16 familias de curvas de
SEV Schlumberger para un contacto inclinado, con ángulos de 0°, 22,50,
30°, 45 0, 60° y 90°, y diferentes contrastes de resistividad (P2> Pl)' Eu
algunas de estas íamilias, se toma como unidad de longitud Ia profundi-
dad vertical E, en otras Ia E' normal a Ia superficie del sustrato, y en
un tercer grupo Ia distancia R deI centro deI SEV aI afloramiento o
traza deI contacto, supuesto siempre paralelo aI azimut del dispositivo. EI
efecto de Ia inclinación se manifiesta en estas curvas (fig. V-19) en que
el valor final de resistividad a que tiende é!-sintóticamente no es P2, como
en el caso de capas horizontales, sino otro p' tanto más diferente de
P2 y próximo a Pl cuanto mayor sea Ia inclinación.

AO I AAfl_h
. ~ I
tE
202- Lámina
t- M L 1f

1 Ro---J
MN -----+-0 I 10
E d.=22430'
1 I 8
I
A Rn 'P 5

3
2

1
1 2 3 5 7 10 20 30
AB_X
2h - li
FIG. V-19. Una família de curvas teóricas para contacto inclinado, de Ia
colección de Alpin. (Según Kalenov.)

En el caso de contacto inclinado Ia interpretación debe dár cuatro

valores: Ph P2, E Y Ia inclinación a. EI primero se determina directamente
por Ias valores iniciales de Ia curva. En cuanto a Ias otros tres se obtienen
por superposición de Ias curvas de campo sobre Ias teóricas, deI mismo
modo que en el caso de capas horizontales, pero ello exige el conoci-
miento previa, bien de P2/Ph bien de a. Cuando se desconocen en principio
ambos valores, puede procederse del modo recomendado por KALENOV
330
 CURVAS PARA CAPAS INCLINADAS

(1957). Se parte de un valor inicial de a estimado en vista de Ia informa-

ción geológica disponible y se efectúa Ia interpretación mediante Ias fa-
milias de curvas que dan Ia profundidad E', definida más arriba. Los va-
lores obtenidos se llevan a un corte sin realce, por medio de un compás,
deI modo indicado anteriormente. Una vez completado el dibujo, se mide
el nuevo valor obtenido para a, y se toma éste como base de una segunda
interpretación más aproximada.
Otra colección de curvas de SEV para contacto inclinado, más recien-
te y completa, es Ia de Berdichevsky y Krolenko, reproducida en tamano
menor en AL'PIN et al (1966) * y que incluye curvas para dispqsitivos
semi-Schlumberger paralelos a Ia traza deI contacto, asÍ como semi-Schlum-
berger y Schlumberger perpendiculares a ella. Las inclinaciones son de 5 0,
10°, 20°, 30°, 45°, 90° y Ios ángulos suplementarios correspondientes.
Los contrastes de resistividad son seis para P2 > Pl Y otros seis para
Pl < P2. En estas curvas se toma como unidad Ia distancia horizontal aI
contacto.
En Ias curvas correspondientes a dispositivos perpendiculares a Ia
traza deI contacto, se observa Ia presencia de una discontinuidad en
forma de máximo o mínimo puntiagudos, Ia éuaI tiene su origen en el
paso de uno de Ios electrodos de corriente por el contacto. Esta discon-
tinuidad sueIe resultaramortiguada en Ia práctica por Ia presencia de re-
cubrimiento.

Si el dispositivo perpendicular a Ia traza deI contacto es deI tipo semi-

Schlumberger, Ia forma de Ia curva es muy diferente según que eI elec-
trodo móviI avance hacia Ia traza, cruzándola, o se aleje de ella (figura
V-20). En el primer caso, designado por el signo (+), aparece en Ia curva
una discontinuidad, deI tipo indicado, 10 que no ocurre en el segundo,
senalado por eI signo (-). En este último, para ciertas inclinaciones y
contrastes de resistividad, Ia curva toma aspecto semejante a Ios de
cortes de tres capas horizontales. EI promedio de Ias curvas (+) y (-) es
Ia curva correspondiente aI dispositivo Schlumberger con los mismos cen-
tro y azimut, sobre eI mismo corte. La curva de un medio-Schlumberger
paralelo aI contacto es idéntica a Ia deI dispositivo completo. Cuando
el ángulo es obtuso, y el azimut deI SEV es paralelo a Ia traza, no existe
contacto bajo el centro deI SEV, y 10 rnismo ocurre para el semi-Schlum-
berger de designación (-). En estas circunstancias, no hay profundidad
que determinar, sino Ia distancia horizontal aI contacto. Se trata en rea-
lidad de curvas de influencia lateral.

* En Ia citada obra están trocados los títulos de Ias láminas 40 y 42 (pá-

ginas 226 y 228).
331
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

(+ )

( -)

OA

A(-) MN A(+)

_l~-J,.
FIG. V-20. EjempIo de curvas teóricas para dispositivos scmi-Schlumberger
perpendiculares a Ia traza de un contacto inclinado (Pll = 19 Pl).

V.18 CURVAS PARA CONTACTOS VERTICALES V HORIZONTAlES

EI caso más sencillo de estructura con contactos verticales, es el de

uno sóIo que separe dos medios de resistividad Pl Y P2 que puede consi-
derarse como estilización de una falIa. Si 10 que se trata de estudiar es
Ia situación de ésta, el método prospectivo más adecuado no es el SEV,
sino Ia calicata eléctriea. No obstante, esta estructura es interesante en el
método SEV como caso de influencia lateral. EI caso de contacto ver-
tical es un caso particular de contacto inclinado, y como tal, está incluido
en el apartado anterior. Cuando el dispositivo es paralelo ai contacto, Ia
curva de SEV se aproxima asintóticamente ai valor Pl (1 + K) donde K
tiene el significado usual. Quiere esta decir que si P2 = 00, el efecto la-
teral dei segundo medio hace que Ia resistividad aparente crezca ten-
332
 CURVAS PARA CONTACTOS VERTICALES Y HORIZONTALES

diendo aI valor 2 Ph mientras que si P1 = OIa resistividad aparente decrece

indefinidamente con el aumento de AB.
Más interesante es el caso en que existen simultáneamente un con-
tacto vertical y otro horizontal. Para esta estructura existe una colección
soviética de curvas, reproducida a menor tamafio en Ia obra de AL'PIN
et al (1966) y un par de trabajos de Vedrintsev, incluido en el mismo
volumen. Las curvas, designadas en su reproducción inglesa por Ias letras
HVC * se refieren tanto aI SEV como aI dispositivo ecuatorial (véase el
capítulo siguiente), y Ia estn.l,ctura considerada es un contacto vertical
entre dos medios limitados inferiormente por un sustrato aislante, caso
muy interesante en Ia prospección de petróleo (fig. V-21).
En este tipo de corte hay que considerar dos valores para S, uno SI
correspondiente aI medio de resistividad Pl y otro S2 que pertenece aI
medio cuya resistividad es P2' La forma de Ia curva depende deI azimut
deI dispositivo, de' Ia relación de resistividades P2!Pl y de Ia distancia d
deI centro deI dispositivo aI contacto (fig. V-.2I,a), pel'o salvo cuando
P2 = O, Ia curva termina siempre en una rama ascendente eon asíntota
de pendiente unidad. Si se utiliza esta asíntota para determinar S por
el procedimiento usual, se obtiene una valor S' que, según ha demos-
trado Vedrintsev (en AL'PIN et aI, 1966), es

S' = S1 + S2
(V,5I)
S2
1 + cos2 Y + -- sen2 y
SI
donde y es el azimut deI dispositivo, con el contacto vertical como
origen.
Se deducen de esta expresión los casos particulares

S'lI = _~l +
2
S2

S'450 = '2 S1 (S1 + S2) (V,52)

3 S1 + S2
S'1. = SI
que corresponden respectivamente a Ia orientaci6n deI dispositivo deI
SEV paralela, oblicua con 45° de ángulo, y perpendicular, aI plano deI
contacto vertical. Se supone que el centro deI dispositivo se encuentra en
el medio de índice uno.

* En Ia citada obra se utilizan para estas y otras curvas dos notaciones dife-
rentes, según se dijo en eI capo IV.
333
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

o
_d __

.~~~-
~
~ =co
o
o_d~

.~'""."""'~""~
~~
f{ = et:::J

b
FIG. V-2LCortes g~oeléctricos con uno (a) o dos (b) contactos verticales
sobre sustrato aislante.

Los anteriores resultados han sido extendidos por el citado autor a

cortes de dos capas con sustratos aislantes en forma de escalón (figura
V-21 b). Entonces Ia profundidad E'·dada por los métodos usuales de
interpretación viene determinada por una expresión idéntica a Ia (V,51)
o sea

E'= ---+
Ej Ez
(V,53)
Ez
1 + cosZy + TsenZy
de Ias que se deducen, para los casos particulares, fórmulas análogas a
Ias (V,52) sin más que cambiar Ias S por Ias E deI mismo índice. Obsér-
vese que, en contra' de 10 que podría pensarse a primera vista, los re-
sultados de Ia interpretación corresponden directamente aI medio en el
que se halla situado el centro deI SEV, cuando el azimut de éste es
perpendicular a Ia estructura, y no cuando es paralela.
También existen curvas patrón y estudios por los mismos autores
(inclui dos en AL'PIN et ai (1966) para cortes con sustrato aislante hori-
zontal y dos contactos verti cales (fig. V-21 b) cuyos resultados sou tam-
bién aplicables a estructuras en forma de fosa, pilar, o escalón con rampa
(fig. V-34, b c d). Tales curvas se denominan HVC-2. En estos casos, Ia
334
 CURVAS PARA CONTACTOS VERTI CALES Y HORIZONTALES

curva, después de aproximarse a una asíntota aparente de pendiente uni-

dad, desciende, o pierde inc1inación y se aproxima Iuego a Ia asíntota
verdadera deI mismo tipo, con 10 que Ia curva toma aspecto de KB o
de A. Los resultados son diferentes según que el centro O deI dispositivo
se encuentre sobre los medias IateraIes o sobre el central. Si se utiliza Ia
asíntota para Ia determinación de S y el centro deI dispositivo está en
uno de los medios laterales, siguen siendo aplicables Ias relaciones (V,51)
y (V,52) sin más que sustituir S2 por S3' El efecto deI medio central es

f E, If~ I If
1
E,
,
II r-
I
E:z
I ~ ~z
I ~3
I I

fz = co P2= 00
a b

iTT TTT
I E1
I~I i E3
I
I I
I

%
Pz = co c

FIG. V -22. Cortes geoeléctricos asimilabIes aproximadamente a Ios de Ia figura anterior.

sólo el de retrasar Ia aproximación de Ia curva a su asíntota; efecto de

pantaIla que es tanto más intenso cuanto más próximo esté O a uno de
los contactos lateraIes, y cuanto más conductor sea dicho medio. La con-
ductancia S2 de éste sólo influye cuando O se haIla sobre él y Ia orienta-
ción deI SEV es perpendicular a Ia estructura; en este caso el válor S'
haIlado coincide con S~. En Ias mismas condiciones pero con el disposi-
tivo paralelo aIos contactos, S' es igual aI promedio, entre SI y S3'
Dn caso particular es el de Pl = P3 = 00 con dispositivo. paralelo a Ia
estructura y situado en el medio central. Entonces, Ia pendiente de Ia
asÍntota es 2 (63,5 o de inc1inación).
335
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

Eu el escalón en rampa, cuando el centro °

está situado sobre ésta, Ia
profundidad y el valor S' obtenidos por Ia interpretación, son Ias corres-
pondientes a Ia vertical de 0, tanto para SEV paralelos, como perpendi-
culares a Ia estructura.
En el pilar o horst, el SEV paralelo a Ia estructura da el promedio
(para profundidad y para S') de los valores a un lado y a otro de elIa,
y el perpendicular, los valores correspondientes 3. Ia parte más profunda,
dentro de ciertos límites de Ia relación Bz/BJ•
Para Ias fosas, los resultados
el centro de Ia estructura.
son análogos cuando °
se halIa sobre

Se ha estudiado también el caso en que el sustrato aislante horizontal

presente un levantamiento en forma de loma sem i-cilíndrica. Eu estas
circunstancias, cuando ° se encuentra sobre Ia loma, se obtienen Ia pro-
fundidad y S deI sustrato horizontal si el SEV es paralelo a Ia estructura,
y los valores correspondientes a Ia vertical de °
si es perpendicular.
Estos resultados, así como otros análogos, han sido confirmados por
ensayos sobre modelos reducidos.
En los resultados anteriores destaca Ia influencia que ejerce en el
SEV Ia zona situada bajo su centro 0, 10 que viene a justificar su apela-
tivo' de "vertical".
TOPFER (1972) ha efectuado ensayos en cuba sobre un sustrato con-
ductor o aislante de superficie ondulada regularmente. Dicho sustrato se
simulaba mediante chapa ondulada, pintada con barniz aislante cuando
éste era eI caso. Sus principales conclusiones son Ias que siguen:
Si se llama Pc a Ia profundidad de Ias crestas y Pr a Ia de los valles,
Ias curvas obtenidas podían interpretarse sin grave erro r mediante curvas
maestras para capas horizontales siempre que
Pc/(Pc - Pr) >5
Los SEV efectuados sobre sustrato aislante, ortogonalmente à Ia di-
rección de valles y crestas, o sobre sustrato conductor paralelamente a
dicha dirección, no àan Ias profundidades verdaderas aI ser interpretadas
mediante Ias curvas maestras citadas, pel'o Ias profundidades obtenidas
son siempre ma)'ores sobre Ios valIes que sobre Ias crestas.
Por último, aI efectuar SEV con AB = 12,7 Pc y diversos azimutes,
resulta que en Ios sondeos efectuados sobre cresta, Ia resistividad apa-
rente Pu medida en Ia dirección de crestas y vallt~s, era menor que Ia P L
obtenida en dirección ortogonaI a Ia indicada. En cambio, Ios SEV efec-
tuados sobre valIes daban resultado opuesto, mientras que los SEV cen-
trados entre cresta y valle daban Pu = Pl.. Estas relaciones valen tanto
para sustrato conductor como aislante.
Todo 10 dicho se refiere aI dispositivo Schlumberger.
336
 EL SEVEN LAINVESTIGACION
PETROLERA
V.19 EL S E V EN LA INVESTIGACION PETROLERA

La aplicación de métodos eléctricos a Ia prospección de petróleo data

de Ias primeros tiempos de Ia ProspecciéuJ. Geoeléctrica. Sin embargo,
después de Ios primeros éxitos de Ios geofísicos franceses en este campo,
tales métodos, y concretamente eI SEV, se han utilizado poco en Occi-
dente para Ia investigación petrolera. EUo se debe, por una parte, aIos
buenos resultados obtenidos por Ia sísmica, y por otra, a Ias falsas ideas
sobre Ias posibilidades de los métodos eléctricos aceptadas y difundidas
por Ia escuela de ~/enner, uno de cuyos dogmas era Ia escasa penetra-
ción de estos métodos que, según ellos, sería muy inferior a Ia exigida
por Ia prospección deI petróleo. También influyó en eUo eI fracaso de
ciertos métodos eIectromagnéticos, que defraudaron Ias esperanzas pues-
tas en eUos. No ocurrió 10 mismo en Ia Unión Soviética, donde en Ios afios
treinta trabajaron Schlumberger y sus colaboradores en esta clase de in-
vestigaciones, abriendo un camino que fue seguido por los geofísicos so-
viéticos, quienes pronto estuvieron en condiciones de efectuar SEV pro-
fundos que se aplicaron a estudios tectónicos para Ia búsqueda deestruc-
turas petrolíferas.
Según parece, en 1961, cuando en Occidente no existían equipos
eléctricos dedicados a Ia prospección petrolera, salvo unos cuantos fran-
ceses de telúrica, en Ia Unión .Soviética se dedicaban a eUo unos 200, de
los cuales alrededor de 130 aplicaban métodos eléctricos de corriente
continua.
KOMAROV et aI (1963) afirman que, a diferencia de 10 que ocurre en
Occidente "Ia Prospección Eléctrica es en Ia Unión Soviética Ia parte
importante de Ia prospeçción geofísica de petróleo y gas" y afiaden que
Ia combinación de Ias mediciones geoeléctricas, más baratas y fáciles,
con cantidades relativamente pequefias de trabajo sísmico, hace que se
puedall estudiar estructuras regionales, y parcialmente Ias locales, en
menos tiempo y eon menor cQste que si s610 se aplicara Ia sísmica, con
Ia ventaja de Ia informaeión adicional sobre litología y sobre caracterís-
ticas de Ias aguas subterráneas proporcionadas por Ios datos de resis-
tividad.· .
Son muchas Ias zonas de Ia Unión Soviética que han sido estudiadas
por medio de SEV con fines de prospeeción petrolera. Aparte de Ios
estudios iniciales en Ia región de Grozny realizados por Schlumberger,
puede mencionarse el descubrimiento de más de cien estrueturas en
cúpula deI Pérmico Superior de Kuibishev, en eI TrasvoIga, y Ias inves-
tigaciones realizadas en zonas deI UraI-Volga, en Ucrania, Asia Cen-
tral, Sajalin, etc., trabajos citados por KALENOV(1957).
Más ejemplos pueden encontrar se en eI artículo deI mismo autor
incluído en Ia obra de TARKHOV(1963). De ellos reproducimos un corte
muy expresivo, que demuestra Ias posibilidades deI método (fig. V-23).
337
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

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·H,KH

FIG. V-23. Ejemplo de aplicación deI SEV a Ia investigación petrolera. Corte

geoeléctrico de un perfil estudiado en Ia depresión de Fergana (Asia Central).
Según Kalenov, en Tarkhov. Las letras cirílicas aluden a Ias ciudades de Osh
y Andiján y aIos puntos cardinales.

Corresponde a un perfil de SEV realizado en Ia depresión de Fergana,

entre Osh y Andijan. (Asia Central). El basamento paleozoico, de resis-
tividad prácticamente infinita, se sigue desde su afloramiento hasta
7,5 km de profundidad. Las resistividades de Ias capas geoeléctricas prin-
cipales son Ias siguientes:
Capa 1 (Cuaternario), de 100 a 600 ohm.m.
Capa 2 (Cuat. y Neógeno Sup.), de 40 a 70 ohm.m.
Capa 3 (Neógeno) de 15 a 25 ohm.m.
Capa 4 (Paleógeno y Cretácico), de 2,5 a 25 ohm.m.
En estos casos en que se sigue Ia marcha de un sustrato resistivo,
Ia profundidad z de su techo'suele obtenerse mediante Ia fórmula z=S PL
donde Ia S se deduce de Ia curva de SEV y Ia resistividad longitudinal
Pl de esta misma curva y de p~rforaciones de calibrado.
En otras regiones (Sajalin, Saratov) el método SEV se ha utilizado
para Ia determinación de estructuras sedimentarias.
La aplicación deI SEV a Ias investigaciones de petróleo no carece de
dificultades. Las dos principales son, por una parte, Ia necesidad de ten-
der líneas AB excesivamente largas, y por otra, Ia presencia en algunas
regiones, de capas de altísima resistividad que actúan como pantallas
(véase el apartado IV.12.d) e impiden averiguar nada sobre Ias capas in-
frayacentes. En el estudio de Ia plataforma rusa se efectuaron SEV con
40 y hasta 60 km de AB que no pudieron atravesar tales capas-pantalla,
constituidas por anhidrita. Estos inconvenientes han llevado por una
parte, a Ia "'aplicación de los sondeos e1éctricos dipolares (SD) y por otra,
a Ia de los sondeos eleCtromagnéticos (SEM) que se describen en otros
capítulos de esta obra. *

* Los· últimos, en Ia segunda parte.

338
 EL SEVEN LASINVESTIGACIONES
HIDROGEOLOGICAS.

En Occidente, como se ha dicho, apenas se ha empleado el SEV en Ia

prospección petrolera, excepto algunos trabajos en Fraucia, Espana, Ga-
bón, y otros países, los cuales fueron realizados por geofÍsicos franceses.
YUNGUL(1962), publicó en Geophysics un interesante y bien razonado
artículo con Ia finalidad de interesar aIos petroleros americanos en los
métodos eléctricos, anadiendo a Ias ventajas expuestas más arriba Ia po-
sibilidad de su empleo en zonas sin reflexiones sísmicas pero, según pa-
rece, sus palabras cayeron en el vacío. El autor, por su parte, efectuó
gestiones personales en el mismo sentido, con análogos resultados. HEN-
DERSONY EMERSON(1969) efectuaron en una concesión de petróleo, si-
tuada en Ia cuenca de Coonamble (Nueva Gales deI SUl', Australia) una
campafia de SEV y SD relativamente cortos, que permitieron determi-
nar el espesor de los sedimentos no metamorfoseados con precisión muy
superior a Ia obtenida en los mismos lugares por Ia prospección aero-
magnética y Ia sísmica de reflexión. 10s citados autores concluyen en su
artículo Ia utilidad de los sondeos eléctricos en Ia investigación petrolera.
No obstante, dada Ia exactitud y precisión que obtiene el método sís-
mico de reflexión en Ia mayorÍa de los casos (aunque con coste eleva-
dÍsimo) no es pensable Ia sustitución de este método por el SEV, pero
cabe en 10 posible que se generalice el empleo de algúll procedimiento
eléctrico, como el magnetotelúrico, en Ias etapas preliminares de Ias cam-
pafias petroleras.

V.20 EL S E V EN LAS INVESTlGACIONES HIDROGEOLOGICAS

Las investigaciolles hidrogeológicas constituyen el campo de aplica-

ción donde Ia superioridad deI SEV sobre otros procedimientos es in-
discutible, aunque en ciertos tipos de problemas pueden ser útiles otros
métodos eléctricos (calicatas, método deI cuerpo cargado, etc.), asÍ como
Ia sísmica de refracción y Ia gravimetría. Según ASTIER (1968), el 80 %
de Ias prospecciones geofÍsicas para hidrogeologÍa se hace por métodos
eléctricos. Dentro de. ellos, el mayor volumen de trabajo corresponde
aI SEV.
El hecho de que el agua contenida en Ias rocas sea facto r decisivo
en su resistividad puede llevar a Ia idea equivocada de que el método
SEV detecta directamente el agua. No es asÍ en general, sino que 10 que
suele buscarse con este procedimiento son estructuras y capas acuÍferas,
y Ia diferenciaciónentre materiales permeables e impermeables.
En cada prospección con fines hidrogeológicos, se requiere que los
objetivos sean claramente fijados en términos de resistividades. No tiene
sentido efectuar sin más una campafia de SEV "para buscaragua" si no
se ha efectuado antes un estudio hidrogeológico que haya fijado los
materiales o estructuras que deben buscarse.
339
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

Uno de los resultados más importantes de estas prospecciones es de-

cidir Ia conveniencia de efectuar o no pozos o perforaciones y en caso
afirmativo, Ia ubicación y profundidad más favorable para estas capta-
ciones. El coste de un SEV oscila entre el 1,2 y el '2 % deI precio de
una perforación de Ia misma profundidad.
Los tipos de problemas y condiciones hidrogeológicas más importan-
tes entre Ias susceptibles de estudio por medio deI SEV son Ias que se
exponen a continuación.
a) Formaciones de sedimentos incoherentes.
Estas formaciones están constitui das por una serie de materiales cuyo
tamaÍÍo de grano crece desde Ias arcillas a Ias gravas, aumentando en
el mismo sentido Ia permeabilidad y Ia resistividad. EI problema hidro-
geológico correspondiente, que es el de buscar materiales permeables
(arenas y gravas) con suficiente continuidad lateral, se traduce en térmi-
nos geofísicos en Ia búsqueda de zonas resistivas.
Problemas de este tipo se dan en muchas zonas de Espana, cn parti-
cular en Ia cuenca terciaria de Castilla Ia Vieja, región donde Ia aplica ..
ción Cj.elmétodo SEV se ha mostrado de gran eficacia. La formación ge-
neral es arciIlosa e impermeable, y en eIla existen lentejones de arenas
y gravas que actúan como acuíferos, los cuales, por el aspecto de su
representación en los cortes geoeléctricos, reciben de los geofísicos el
nombre de "peces". Las arcillas suelen tener resistividades comprendidas
entre 5 y 25 ohmios-metro y Ias arenas y gravas desde 50 a varios cen-
tenares de ohmios-metro, aunque estos límites varían algo de una zoua
a otra, y existen valores intermedios correspondientes a arcillas arenosas.
Los "peces" aparecen en Ias curvas de SEV en forma de máximos y
suelen comportarse como capas equivalentes. Esto no representa incon-
veniente grave por 10 general, ya que siempre es posible determinar Ia
resistencia transversal T, que puede tomarse como estimación relativa
de Ia transmisibilidad deI acuífero. En efecto, esta última magnitud es
el producto de Ia permeabilidad por el espesor deI acuífero, mientras
que Ia resistencia transversal T es el producto deI mismo espesor por Ia
resistividad, Ia cual crece con Ia permeabilidad en este tipo de forma-
ciones. Por esta causa son muy útiles los gráficos que expresan Ia va-
riación de Ia resistividad transversal T de un acuífero, bien a 10 largo
de un perfil, bien sobre una superficie (mapa). En igualdad de Ias demás
concliciones, son más favorables, para Ia ubicación de captaciones, los
puntos de mayor T.
La figura V·24 representa un corte geoeléctrico típico correspondien-
te a Ias condiciones expuestas. Obsérvese que, por Ia equivalencia de una
de Ias capas resistivas, ~u muro se dibuja de trazos, y de Ia resistividad
sólo se indica el valor mínimo.
340
 EL SEV EN LAS INVESTJGACIONES HIDHOGEOLOGICAS

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2011m.
650 /311m. 100m. O 100 ZOO 300 400 Soom.
I A .J ! ! , , 1
20Llm.
ESCALA HORIZONTAL

FIG. V-24. Fragmento de un corte geoe)éctrico obtenido en el Mioceno arcilloso de

Castilla Ia Vieja, mediante SEV. Los lentejones arenosos destacan por Sll mayor resisti-
vidad. Uno de ellos aparece caracterizado por los valores de T pues presenta equivalencia.
(Cortesía de Recursos Naturales, S. A.)

HENRJET (1976) ha estudiado Ia aplicación directa de Ia conductancia

longitudinal 5 como medida de Ia protección arciIlosa de un acuífero
frente a Ia contaminación.

b) Aluviones.
Otro problema hidrogeológico resolllble por medio deI SEV es eI de
Ia determinación deI espesor de aluviones permeables, siempre que éstos
presenten suficiente contraste de resistividad con Ia formación subya-
cente, como OCUlTe cuando esta es arciIlosa. Además pueden detectarse
cambios en Ia naturaleza de los aluviones, lentejone..<; arciIlosos intercalados
en éstos, etc.
Estos problemas se abordan por medio de SEV cortos y relativamen-
te próximos entre sí. Las curvas obtenidas suelen corresponder aI tipo
K, y a veces aIos HK, AK y KQ.
c) Rocas compactas.
En Ias rocas compactas, Ias aguas subterráneas sólo pueden encon-
trarse en Ias zonas de grietas y diaclasas, o en Ia zona de alteración su-
perficial. En el primer caso, Ia investigación debe efectuarse por medio
de calicatas eléctricas, mientras que Ia determinación de Ia profundidad
aI techo de Ia roca sana corresponde aI SEV. Las curvas obtenidas sue-
341
PRACTICA
DEL SONDEOELECTRICO
VERTICAL

len pertenecer aI tipo H o aI A, salvo cuando hay un recubrimiento con

alguna capa resistiva, pues entonces pueden aparecer curvas KH. Cuando
el paso de Ia roca alterada a Ia roca sana es gradual, Ia profundidad dada
por los SEV puede diferir de Ia real; entonces pueden establecerse coefi-
cientes de corrección por comparación con los datos de Ias perforaciones.
Un ejemplo de investigación hidrogeológica en terrenos rocosos puede
verse en SATPATHY y KANUNGO(1976).
d) Rocas calcáreas.
La investigación por medio deI SEV de zonas abundantes en calizas,
tan interesantes desde el punto de vista hidrogeológico, resuelve proble-
mas muy variados, tales como Ia determinación de Ia profundidad deI
techo de Ias calizas, Ia distinción entre éstas y formaciones impermea-
bles (margas, arcillas, flysch, etc.), fijando el espesor y posición de unas
y otras, y Ia localización de zonas carstificadas poco profundas (algunas
decenas de metros).
La resistividad de Ias calizas depende en gran medida de su estado
de fisuración y deI reHeno de sus grietas y cavidades. Los valores ma-
yores corresponden a roca muy compacta con fracturas vacías, los inter-
mediús a calizas con fisuras Henas de agua du1ce,· y 10s menores a roca$
muy rotas o con agua salada. EI margen de variación puede Hegar, en el
orden descendente indicado, desde 30.000 a algunas decenas de ohmios-
metro.
Los resultados de los· SEV efectuados en tales investigaciones pueden
expresarse tanto en Ia forma de cortes geoeléctricos, más frecuente, como
en Ia de mapas de resistividad. Estos últimos son especialmente útiles
en Ia localización de zonas carstificadas, Ias cuales se muestran como
áreas de resistividad baja, salvo cuando Ia abundancia de cavidades secas
Ias hace aparecer. como máximos de resistiviclad.
La conductancia longitudinal S ha sido utilizada por HENRIET(1976)
para Ia estiInación de Ia capacidad de almacenamiento hídrico de calizas
fisuradas. .

La figura V-26 reproduce un fragmento de uno de los cortes geo-

eléctricos obtenidos en una investigación realizada en Ia provincia de
Valencia. EneHa se trataba de determinar Ia profundidad de calizas me-
sozoicas, que se suponía pequena. Sin embargo, en Ia parte de perfil que
se ilustra apareció, inesperadamente, una zona conductorq. de 20 a 60 oh-
mios metro, que fue atribuida a una formación arciHosa, de cuya pre-
sencia no existían indícios en Ia superficie, y que a1canzaba unos 100 me-
tros de espesor medio. Una perforación efectuada en el SEV 13 confirmó,
cualitativa y cuantitativamente, Ia interpretación realizada. En Ia figura
V-39 pueden verse dos de Ias curvas más características deI perfil.
342
 EL SEV EN LAS INVESTIGACIONES HIDROGEOLOGICAS

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FIG. V-25. Parte de un corte geoeléctrico obtenido por mediG dei SEV en Ia provincia
de Alicante. Además de Ias resistividades se indica Ia atribución litológica de cada capa.
(Cortesía de Tecnhydros, S. R. L.)

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25
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50m. ••• Om.
..., E SCALA I .
'm I
100m. > 200.11 m.
FIG. V-26. Corte geoeléctrico en una, zona calcárea que revela un paquete arcilloso.
cuya presencia no podía preverse partiendo de Ia geología de ~;:;perficie. (Cortesía
de Recursos Naturales, S. A.)
343
PRACTICA
DEL SONDEOELECTRICO
VERTICAL

Otro ejemplo de investigación de calizas mediante SEV se da en Ia

figura V-25, que representa parte de un corte obtenido en una amplia
campaiía geoeléctrica llevada a cabo en Ia provincia de Alicante, con
SEV de AB final de 2 km en Ia mayoría de los casos. Como se ve en
dicho corte, no sólo se ha podido seguir Ia marcha en profundidad de
Ias calizas mesozoicas, y Ias variaciones de su espesor, sino que se detec-
tan varias subdivisiones en Ias formaciones que Ias recubren.
La literatura sobre el estudio geoeléctrico de regiones con rocas cal-
cáreas es relativamente amplia, en especial Ia referente a zonas cársticas.
Dentro de esta última debe mencionarse un libro de OGIL'VI (1957) y
varias publicaciones deI yugoeslavo KruIc, entre ellas KRULC(1966).

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DISTANCIA ENTRE ELECTRODOS AB/2 (en metros)

FIG. V-27. Dos de Ias curvas de SEV cuya interpretaci6n permitió ~stablecer el corte
de Ia figura anterior. (Cortesía de Recursos Naturales, S. A.)

Rocas efusivas.
. e)
En zonas voIcánicas es frecuente encontrar rocas efusivas de bastan-
te permeabilidad y que constituyen excelentes acuíferos, como algunos
basaltos. En muchos casos tales formaciones pueden detectarse y deli-
mitarse mediante SEV. A veces, el problema es sencillo, pues basta in-
344
 EL SEV EN LAS INVESTIGACIONES HIDROGEOLOGICAS

vestigar el espesor de Ias rocas efusivas permeables apoyadas sobre un

sustrato impermeable, arcilloso por ejemplo, 10 que no presenta ninguna
dificultad, dado el gran contraste de resistividades. En otras zonas, se
superponen coladas de diversas épocas, unas permeables y otras imper-
meables,distinguibles entre sí por Ia menor resistividad de Ias primeras
y, eventualmente, por Ia presencia de una capa conductora que Ias se-
para, debida a Ia meteorización de Ia capa superficial de cada colada,
producida en el lapso entre cada dos erupciones sucesivas. Cuando Ia
circulación deI agua está determinada por Ia presencia de diques imper-
meables subverticales, el problema debe estridiarse por medio de cali-
catas eléctricas.
En islas volcánicas surge además el problema de la determinación
de Ia profundidad a que se encuentre el límite de separación entre el
agua dulce y el agua salada deI mar, que también puede resolverse por
media deI SEV, según se indica más abajo.
Un ejemplo de investigación geoeléctrica en zona volcánica se en-
cuentra en ZOHDY y JACKSON (1969).
f) Diferenciación entre aguas dulces y saladas.
La mayor conductividad de Ias aguas saladas respecto de Ias dulces
permite diferenciar unas de otras por métodos geoeléctricos, eu especial
el SEV. ,Los problemas presentados suelen corresponder a tres tipos prin-
cipales: a) Distinción entre acuíferos de agua dulce y de agua salada;
b) determinación, en planta, deI límite de Ia zona de contaminación
marina, en regiones costeras, y c) establecimiento de 13 marcha en pro-
fundidad deI contacto agua dulce-agua salada, en islas volcánicas.
En el caso a) el problema puede resolverse con bastante precisión si
se conoce el factor de formación F de Ias diferentes rocas de Ia región
estudiada. Una vez determinada mediante SEY Ia resistividad p de cada
roca en cada punto, se obtiene directamente Ia resistividad pw del agua
que contiene mediante Ia fórmula pw = p/F. De Pw se deduce Ia salini-
dad equivalente en ClNa por alguno de Ias medias indicados en el ca-
pítulo 11, y aunque Ia exactitud final no es grande, es suficiente para
poder desechar Ias acuíferos no explotables por exceso de sales. *
Para el caso b) Ias resultados de los SEV se representan en mapas
de líneas isorresistivas para diferentes valores de AR Si Ia litología de
Ia zona es relativamente uniforme, puede darse como invadida por Ia
salinidad marina toda Ia zona cuya resistividad sea inferior a urt valor
predeterminado, por ejemplo 15 ohmios-metro. Cuando en Ia región exis-
ten rocas de porosidades diferentes, es más exacto tomar un valor dife-

* Un interesante ejemplo de detección de lentes de agua dulce sobrepu estas

a aguas saladas se estudia en BONINI (1980).
345
PRACTICA
DEL SONDEOELECTRICO
VERTICAL

rente para cada una de ellas. Esto es 10 que ocurre en eI ejemplo de Ia

figura V-28 que corresponde a una investigación realizada en eI SE de Es-
pana. La lÍnea de límite de Ia contaminación marina, no es, por dicha
causa, exactamente paralela a Ias líneas iso-óhmicas, trazadas con Ios
datos de varios centenares de SEV cortos.
Por último, en eI caso c) eI agua salada aparece en Ias curvas de SEV
como un sustrato conductor.
Como ejempIo de investigaciones hidrogeológicas con SEV, pueden
citarse KRULCy MLADENOVIC (1968), ZOHDYY JACKSON(1969), VOLKERY
DIJKSTRA(955) y WORTHINGTON (1977). Trabajos mâs generales sobre Ia
investigación de aguas subterrâneas por medio de SEV son Ios siguien-
tes: BREUSSE(1963), SERRES(1969), HOMILIUS(1969), FLATHE(1955 b),
VAN DAM Y MEULENKAMP (1967) Y ASTIER (1971).
En Espana, donde Ia búsqueda de aguas subterrâneas tiene importan-
cia vital, se han efectuado con este fin gran número de campanas geo-
eléctricas, pero casi ninguna- ha sido reflejada en publicaciones técnicas.

V.21 .. EL S E V EN LA GEOTECNIA

Es grande Ia utilidad deI SEV en Ios estudios deI subsuelo para Geo-
tecnia. Generalmente Ias profundidades que interesan en estos estudios
no exceden de aIgunas pocas decenas de metros, por 10 que Ias distan-
cias AB finales necesarias no suelen sobrepasar 200 m, para eI dispositivo
Schlumberger.
EI problema mâs frecuente en estas investigaciones es Ia determina-
ción de Ia profundidad de Ia roca firme o sana bajo Ias capas de recu-
brimiento y Ia de alteración, determinando Ia naturaleza de Ias primeras.
También es muy corriente el problema de determinar 10s espesores y na-
turaIeza de Ias capas superficiaIes deI terreno en zonas 'de sedimentos
recientes. Estas cuestiones se presentan en Ios estudios previos de cimen-
tación de edificios y otras estructuras, asÍ como en Ios de carreteras de
nuevo trazado.
EI método clâsico de abordar estas investigaciones era eI sondeo me-
cânico, pero éste presenta Ios inconvenientes de su coste mucho ma-
yor con reIación aI SEV y el de que Ia información recogida co-
rresponde a un voIumen muy pequeno de terreno. Los mejores resultados
se obtienen combinando un número relativamente reducido de sondeos
mecânicos con otro mucho mayor de SEV. De este modo se limitan Ias
ambigüedades deI último, en especial en 10 que se refiere a Ia identifi-
cación de Ias diversas capas geoeIéctricas, y se reduce eI costo total de Ia
exploración a menos de Ia mitad.
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LIMITE DE INTRUSION MARINA

FIG. V -28. Plano de líneas iso-reS"istivas (iso-óhmicas) en Ia desembocadura deI

w río Andarax (Almería), trazado para determinar Ia zona de invasión marina.
-1>0 Datos basados en Ias resistividades aparentes para AB = 400 m.
'-l (Cortesía de Tecnhydros, S. R. L.)
PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

La profundidad de máximo interés en 10s trabajos geotécnicossuele

ser inferior a 10 m, de donde se sigue que Ia distancia entre SEV no
.debe superar Ios 20 ó 25 m. A veces, por un falso sentido de Ia economÍa
se trabaja con separaciones de 50 e incluso 100 m, con eI resultado de
que Ia información obtenida es incompleta, y poco confiables Ios resul-
tados interpoIados para Ios puntos intermedios.
En muchos casos, eI SEV se combina con extendimientos de sísmica
refractiva (por percusi6n), a fin de determinar Ia escarificabilidad ("rippa-
biliti') de Ios materiaIes.
Otra apIicación del SEV a Ia Ingeniería civil es Ia búsqueda de mate-
riales de construcción y Ia cubicación aproximada de los mismos, 10 que
puede hacerse siempre que eI material investigado se diferencie eléctri-
CéJ.mentede Ios que Ie circundan.
La figura V-29 representaun corte geoeIéctrico obtenido en eI estudio
previa realizado sobre el futuro trazado de una carretera eri Galicia.

V.22, El S E V EN lA MiNERIA

EI puesto del SEV en Ia geofísica minera es relativamente secundario.

El10 se debe a que Ia mayorÍa de Ios yacimientos mineras son objetivos de
redudda. extensión lateral, por 10 que no es apIicable este método para
su detecci6n o estudio. No obstante, eI SEV puede utilizarse para estu-
dios estructuraIes que delimiten Ias zonas más adecuadas para Ia apli-
cación de otros procedimientos prospectivos.
Entre Ias apIicaciones deI SEV a estas problemas estructuraIes de mi-
nería figuran Ia Iocalización de depresiones y zonas carstificadas en el
techo de rocas carbonatadas recubiertas, para investigaciones de bauxita,
Ia detección de valIes enterrados para Ia búsqueda de pIaceres aurÍferos,
etcétera.
Las condiciones son mucho más favorables para Ia apIicación deI SEV
en Ios yacimientos sedimentarios, como ciertas capas ferríferas y Ias are-
niscas cupríferas de Kazakhstán, y sobre todo, en Ias cuencas carbonÍ-
feras y yacimientos de saIes.
Las saIes (sal gema, silvinita, anhidrita, etc.), pueden distinguirse de
Ias formaciones que Ias recubren por su elevadÍsima resistividad. EI
método SEV puede utilizarse, tanto para Ia 'búsqueda de yacimientos
salinos, como para Ia delimitación lateral de éstos y para el estudio de
Ias variaciones de Ia profundidad de 8U techo. Dado el comportamiento
como pantalIa de Ias capas salinas, su presencia se revela en Ias curvas
de SEV por una rama ascendente de 45° de pendiente (apartado V.l1 ..d).
348
 EL SEV EN LA INVESTIGACION GEOTERMICA

N.NO. S.SE.
rn.s.n.m.

275
R-2-5
78
79 80
81

270

265

--=--===-450
260 ____ ~
- ---
800 -- 900::

CUATERNARIO B Gravas y areiUas

PALEOZOICO {
~ ~
I»>] .Pizarrcs
Pizarras
alteradas
aanas

FIG. V-29. Ejemplo de aplicación deI método SEV a problemas de Ingeniería Civil.
Corto perfil transversal sobre el futuro trazado de una carretera, en Galicia. (Cortesía
de Tecnhydros, S. R. L.)

En cuanto aIos yacimientos carboníferos, el método SEV permite

establecer Ia marcha subterránea de Ia formación de muro, descubriendo
sus depresiones, y delimitando Ias áreas de mayor desarrollo de Ias rocas
carboníferas. En algunas zonas pueden aplícarse el método gravimétrico
o el sísmico, conjuntamente con el SEV. En casos favol'ables pueden de-
derminarse el espesor y Ia posición de Ias paquetes productivos, e incluso
Ias propias capas de carbón, si su profundidad y buzamiento no son gran-
des. Cuando están muy inclinadas, es más adecuado el empleo dz calí-
catas eléctricas.

V.23 EL S E V EN LA INVESTIGACION GEOTERMICA

El auge actual de Ia búsqueda de nuevas fuentes energéticas ha imo

pulsado el estudio de muchas zonas donde existe, o se cree que pueda
349
PRACTICA
DEL SONDEOELECTRICO
VERTICAL

existir, energía geotérmica utilizable. Aunque tales trabajos son abun-

dantes, aún no se ha llegado a conc1usiones definitivas sobre cuáles sean
los métodos geofísicos más efectivos para Ia geotermia, ni cuáles sean Ias
modalidades de aplicación más adecuadas.
En estas investigaciones, realizadas hasta ahora con carácter más que
nada experimental, se han empleado profusamente diversos métodos geo-
eléctricos, entre ellos el SEV. La utilidad dei SEV para estos problemas es
doble: por una parte, puede suministrar útil informaci6n estructural;
por otra, puede detectar directamente zonas geotérmicas de circulación
de aguas subterráneas, a causa de Ia baja resistividad asociada con Ia
elevada salinidad de Ias aguas termales. Es frecuente que el SEV se
aplique en combinación con otros métodos geoeléctricos, como sondeos
dipolares o electromagnéticos, magneto-telúrico, etc., y en ciertos casos
Ia interpretación se efectúa en forma conjunta por inversión. Ejemplos
de Ia utilización deI SEV en este nuevo campo pueden verse, entre otros,
en ZOHDY (1973), TRIPP et al (1978) y en Ia revista especializada Geo·
thermics.

V.24·' S E V DE GRAN PROFUNDIDAD

Estuvo muy difundida Ia equivocada idea de que el método SEV en par-

ticular, y los geoeléctricos en general, eran de penetración limitada, y no
podían suministrar información por debajo de los 500 m de profundidad.
No es raro encontrar en libros de texto afirmaciones de acuerdo con esta
creencia.
Salvo en los casos ya mencionados, de existencia de capas pantalla,
no existe limitélción teórica respecto de Ia profundidad de investigación
deI SEV, si bien, como es natural, ,a medida que aumenta Ia profundidad,
los requisitos para que una misma capa sea detectable son cada vez más
exigentes.
EI modo más eficaz para demostrar Ias posibilidades deI SEV en es-
tu dios profundos (más de 10 km). es resenar Ias investigaciones realizadas
con este método sobre Ias propiedades eléctricas de Ias capas inferiores
de Ia corteza terrestre.
En el origen de estas investigaciones encontramos, como en tantas
otras cuestiones de Prospecci6n Geoeléctrica, Ia gran figura de Conrad
Schhimberger, quien en 1932 realizó el primer intento de SEV profundo,
con AB = 50 kms utilizando un tendido telegráfico como líneas AB
(SCHLUMBERGER, 1932).
En 1948, los geofísicos de Ia Universidad de Leningrado realizaron un
nuevo intento, que queda fuera dei alcance de este capítulo por haberse
empleado el dispositivo dipolar (KRAEV,1952).
350
 SEVDE GRANPROFUNDIDAD

La Cie. General de Geophysique efectuó, en 1960, un SEV profundo

con AB final de 70 km en eI macizo granítico de Mortagne, en Ia Vendée
(Francia), utilizando técnicas clásicas y realizando rigurosas pruebas de
fug3.s. A pesar de Ia gran Iongitud de Ia línea, sóIo se necesitó una inten-
I
sidad de 1 amperio, con 800 V de tensión de aIimentación. Los valores
de ambas magnitudes se medían sobre registros (MIGAUXet al, 1960).
Entre 1961 y 1963, eI GeoIogicaI Survey, de Estados Unidos, llevó a
cabo una serie de estudios y mediciones de Ia resistividad eIéctrica de
Ias capas profund3.s de Ia corteza terrestre, con objeto de decidir Ia facti-
bilidad de un método propuesto para Ia detección de expIosiones nu-
cleares subterráneas. Los sondeos efectuados, dipoIares y magneto-teIú-
ricos, se encuentran resefiados en seis artículos de Keller y otros autores,
que aparecen en eI número de diciembre de 1966 de Geophysics.

En Ia reuni6n de SaIzburgo de Ia EAEG (junio de 1968), B10hm y

Fhthe dieron cuenta de Ia reaIizaci6n de un SEV SchIumberger con 150
km de AB, en Ia fosa tectónica deI Rhin. Las mediciones fueron efectua-
das en 1967, por medio de líneas de alta tensi6n aún no puestas en ser-
vicio, y se apIicaron corri entes de emisión del orden deI centenar de am-
perios.

Pudo parecer entonces que tal Iongitud de AB no podía ser sobrepa-

sada, por razones prácticas, pel'O eI afio siguiente, VAN ZIJL (1969) dio
cuenta de un SEV SchIumberger con AB final de 270 km efectuado por
éI en Pofadder, sobre eI complejo granoneisítico de Namaqualand (Africa
deI Sur). Es curioso que, gracias a Ias elevadas resistividades presentes,
Ia' medición pudiera reaIiz3.rse con una fuente de energía de tan s6Io
1,5 Kw en eI circuito de emisión, con Ia que se obtenían intensidades
deI orden de 1 A. Hasta AB = 16 km se utilizaron eabIes deI modo
usual, y luego una línea telefónica. La distancia MN para Ias últimas
est3.ciones fue de 4,5 km. Se eIegía cuidadosamente Ia ubicaci6n de cada
tomatierras de emisión; con este fin, un geóIogo asesor figuraba en cada
patrulla encargada de esta tarea.

EI mismo Van ZijI ha podido efectuÇlr un SEV aún más largo, con
AB final de 600 km en Dealesville (Africa del Sur). En este caso se
utilizó un gerierador de 15 Kw y Ia mayor distancia MN fue de 2 km
menos de Ia mitad que en el casO anterior. Como línea AB se utiliz6
una de alta tensión, aún no puesta en funcionamiento. Una de Ias difi-
cultades encontradas fue que en aIgunos .tramos, otras líneas 'próximas de
alta tensión induCÍan sobre Ia utilizada en eI SEV, 10 que no sóIo per-
turbá Ias mediciones, sino que, desgraciadamente, causó Ia muerte por
eIectrocución deI geofísico Jean-Hervé de Bellocq, colaborador de Van
Zijl (VANZIJL et al, 1970).
351
 PRACTICA DEL SONDEO ELECTRICO VERTICAL

La figura V-30 representa. Ias curvas de estos dos SEV.

Posteriormente (VANZIJL Y J OUBERT, 1975) se han efectuado aI menos
otros tres SEV profundos con distancias AB de 350 y 400 km, sobre otras
zonas deI Precámbrico de Africa deI Sur. * Las técnicas utilizadas en
ellos son análogas a Ias ya descritas, con mayor atención aIos fenóme-
nos transitorios. En estos nuevos SEV puede apreciarse, no sólo Ia dis-
minución de Ia resistividad aparente más allá deI máximo de Ia curva,
sino un tramo prácticamente horizontal.
Las consecuencias que de estas mediciones deducen sus autores es
que en Africa deI SUl' Ia resistividad de Ia corteza no pasa de 105 ohm-m
a profundidad menor de 10 km. Esta capa de resistividad alta presenta
un parámetro T que varía de 5 a 11 X 108 ohm-mz• Más abajo, Ia resisti-
vidad desciende hasta valores de 700 a 1.300 ohm-m a profundidades de
16 a 20 km, y permanece estable hasta por 10 menos 200 km de profun-
didad. Es muy importante eI hecho de que esta 'zona conductora coin-
cida con Ia capa de baja velocidad sísmica existente en Ia regi6n.

o -o 10,000
'DO

-
Q.. 200
E 20
J::
fi
.0
5000

~-1
.00
fOOO
'O
2000

·----,--··-T-- ·-r-·-'·----....,-·---,-.....,- ~~~----- - ~~-

Sondeo de Pofadder

\i
17,COO ol':m m

SOOm 111m 211m 5km 'Ollm 20kln I SOllm IOOkm 200km ~'j('lk",

Formación Karroo . --- ~ Parte re,i,tiva

Ohrnm--~Oo de Ia corleza--j
ohm m, I u= J
AB/2

FIG. V-30. Curvas de SEV SchIumberger uItraprofundos realizados en África deI Sur,
Ios de mayor Iongitud AB realizados hasta Ia fecha. Según Van ZijI. (Cortesia de Ia EAEG.)

* La máxima distancia AB aIc:anzada por Van ZijI es en Ia actualidad de

1.200 Km (n.
352
 EJECUCIONDE SEV ACUATICOS
V.25 EJECUCION DE 5 E V ACUATICOS

La ejecuci6n en zonas cubiertas por agua adopta dos modalidades

básicas según que Ios electrodos se sitúen en Ia superficie deI agua o en
eI fondo de ésta. En Ia pr-imera modalídad, Ia interpretaci6n se efectúa
por medio de Ias curvas patrón usuaIes, mientras que en Ia segunda son
necesarias curvas especiaIes como Ias mencionadas en eI apartado IV.H.
En ambos casos eI artificio esenciaI empIeado es eI haz, que es un
conjunto de conductores aisIados de diferente Iongitud (fig. V -31), con
un extremo coincidente. EI otro extremo de cada conductor va conectado
a un electrodo, que puede ser de tipo análogo aIos empIeados en tierra.
Un sistema de conmutaci6n permite conectar cada conductor y su elec-
trodo a uno de los poIos deI generador o deI instrumento de medida.
Según Ia modaIidad empIeada, eI haz se mantiene en Ia superficie por
medio de flotadores (y sujeto a Ias orilIas si Ias mediciones se hacen en
un río no demasiado ancho) o se deposita en el fondo.

o AI
•.. o o 81
Q)

; o
.g o 82 8
010
o.0.
;X o o. 08 n. B
FIG. V-31. Esquema de Ios haces ele. conductores empIeados en prospecci6n geóeIéctrica
marina. En Ia realidad Ios conductores van atados, formando un mazo, pero se han
dibujado separados para mayor cIaridad.

Las mediciones se hacen deI modo usual, sustituyendo el despIaza-

miento a nuevas distancias de los eIectrodos de corriente por Ia conexión
a un cabIe más largo de Ias que constituyen el haz.
Este sistema ha sido utilizado, con el dispositivo Wenner y en Ia
modalidad de fondo, por VOLKER y DIJKSTRA (1955). En este trabajo se
realizaron unos 140 SEV acuáticos (hasta 4 por día) en el Zuiderzee, cofl
Ia finaIidad, alcanzada satisfactoriamente, de determinar Ia salinidad de
Ias aguas subterráneas existentes en Ias formaciones arenosas que se en-
cuentran por debajo deI lago artificial (antes mar) citado.
La distancia AB máxima utilizada en dichas mediciones fue de 1188 m
(a = 396 m). Para distancias mayores suele ser preferible el empleo deI
dispositivo dipoIar axil, según se describe en el apartado VI.13.
La experiencia deI autor en el empleo deI haz en extendimientos cor-
tos comprueba que los SEV acuáticos se efectúan mucho más rápida y
cómodamente que los normales terrestres. AI mismo tiempo, Ia calidad
353
PRACTICA DEL SONDEo. ELECTRICO VERTICAL

de Ias curvas es mejo.r que en tierra, po.r causa de Ia ho.rizo.ntalidad y

ho.mo.geneidad de Ia capa superficial, en este caso. agua.
Las magníficas (esto. es, muy bajas) resistencias de co.ntacto. hacen
que puedan emplearse fuentes de alimentación de sólo. unas po.cas dece-
nas de vo.ltio.s, Ia que po.r o.tra parte es o.bligado. en evitación de acciden-
tes aI perso.naI, muy peligro.so.s por Ia gran co.nductividad deI medio..
En este tipo. de trabajo.s, cuando. Io.s eIectro.do.s se hallan en Ia supero.
ficie es necesario. medir Ia pro.fundidad deI fo.ndo. bajo. eI centro. deI SEV
en eI mo.menta de Ia medición (pues varía co.n Ia marea o. can variacio.nes
en eI caudal deI río.), ya que este data es necesario. para Ia interpreta-
ción.
F. K. BOULOS (1972) reaIizó SEV en Ias aguas deI Nila, par media de
técnicas semejantes a Ias arriba descritas. Entre Ias útiles ideas que se
encuentran en dicho. artículo., figuran el engrasado. de Io.s cabIes para
evitar fugas, muyfáciles en eI agua, y Ia necesidad de que Ias embarca-
cianes empIeadas sean de madera (a plástica). Las de casco. metálico.
deben mantenerse aIejadas de Io.s eIectrado.s durante Ia medición, por
Ias perturbacio.nes que pro.ducirían en casa co.ntrario..

354
 Capítulo VI
SONDEOS D/POLARES

VI.1 DEFINICION V CARACTERISTlCAS PRINCIPALES

Se llama sondeo dipolar (SD) a una serie de detérminaciones de Ia

resistividad aparente deI subsuelo efectuadas por medio de algunode los
dispositivos electródicos dipolares descritos en el apartado I1I.8, con se-
paración" creciente entre los centros de los dipolos y conservación deI
tipo der dispositivo. Los sondeos dipolares se clasifican de acuerdo con
est~ tipo, siguiendo -Ia nomenclatura expuesta en el párrafo mencionado;
y así, existen SD axiles, paralelos, etc.
Los SD surgieron corno consecuencia de Ias dificultades que. presen-
taba Ia ejecución de SEV profundos, por causa de Ia gran longitud de Ias
líneas AB exigidas. El tendido de éstas resulta molesto y lento, y por
otra parte, Ia posibilidad de fugas de corri ente y los efectos de induc-,
ción sobre el circuito MN aumentan con Ia distancia AB. Estos incon-
venientes quedan eliminados en los SD, porque en ellos basta una línea
corta para cada uno de los dipolos sin que éstos tengan que estar unidos
por ningún cable. AI propio tiempo, los SD poseen otrasventajas, corno
son Ia posibilidad de su empleo en modalidad bilateral (descrita más
abajo) y el mayor poder resolutivo que presentan algunos tipos de SD si
se comparan con el SEV *, en especial en 10 que respecta a inclinación
de Ias capas.
Corno contrapartida, los sondeos dipolares no están exentos -de· in-
convenientes; uno de los más destacados es Ia necesidad de emplear
generadores muy potentes en el circuito de emisión. Esto se debe a que

* Aunque algunos autores incluyen los sondeos dipolares en Ia denomina-

ción SEV, aquí emplearemos ésta. para referimos ai dispositivo Schlumberger. '
355
SONDEOS DIPOLARES

el campo dipolar decrece con el cubo de Ia distancia, por 10 que Ia d.d.p.

medida en el dipolo MN sería demasiado pequena si el generador de
emisión tuviese poca potencia. Además Ias SD exigen gran cuidado en
su ejecución, y requieren trabajo topográfico más complejo, son más
sensibles que e1 SEV aIos efectos topográficos y se ven muy influidos
por Ias heterogeneidades locales y cambias laterales de resistividad. Lo
último hasta tal extremo, que KELLER (1975) ha podido, decir que "Ias
sondeos dipolares son normalmente más sensibles aIos cambios laterales
de Ia resistividad que existen bajo Ia zona que se estudia que aIos cambios
verticales". Este defecto ha impedido el uso general de los SD, peru ha
originado un nuevo método, el de Ia cartografía dipolar de resistividades,
que se expone más adelante.

VI.2 TIPOS DE SONDEO DIPOLAR

Según se deduce de 10 expuesto en el apartado anterior y en el capí-

tulo lU, Ias tipos básicos de SD serían el radial, el azimutal, el perpen-
dicular y el paralelo, en correspondencia con Ias dispositivos fundamenta-
les. Ahora bien, en Ia práctica se utilizan solamente tres tipos de SD, que
son el sondeo dipolar axil (SDO) * como caso particular dei radial con
()= O; el sondeo dipolar ecuatorial (SDE) como caso particular deI para-
• 1T

leio, por una parte, y dei aZlmutal con () = ·-2- por otra, y el sondeo
dipolar azimutal (SDA). Los otros tipos posibles no suelen aplicarse, aun-
que no carecen de interés, aI menos teórico.
Durante Ia ejecución de cada uno de estas tipos de sondeo, van efec-
tuándose sucesivamente medidas de resistividad aparente, aumentándose
después de cada una de ellas Ia distancia R entre Ias centros de los dipo-
Ias (fig. VI-I, a, b, y c). Este aumento de distancia podría conseguirse
desplazando ambos dipolos, pero en Ia práctica sue1e mantenerse fijo el
AB, mientras que el dipolo de potencial MN va siendo colocado en po-
siciones cada vez más alejadasdel primero. Aunque cabría hacer 10 con-
trario, no suele hacerse así, por razones prácticas.
Con objeto de poder aplicar Ia teoría de dipolos infinitesimales ex-
puesta en el capítulo lU, Ias longitudes AB y MN han de ser pequenas
frente a R. AI crecer esta distancia, Ia d.cl.p. medida por el dipolo MN
disminuye rápidamente, y su valor llega a ser de difícil evaluación. Para
evitar esta se aumenta de vez en cuando Ia longitud AB o Ia MN, con

* Usamos Ia letra O en vez de A para distinguir este rlispositivo deI azi-

mutaL
356
 TIPOS DE SONDEO DIPOLAR

10 que crece dicha d.d.p. Esta operación se llama empalme y es análoga

a Ia que, con el mismo nambre, se efectúa en el SEV. Como en éste, deben
efectuarse dos o tres mediciones dobles cuando se pasa de una longitud
AB (o MN) a otra mayor, cada una de ellas para el valor previ o de AB
(o MN) y eI nuevo. ias curvas de sondeo dipoIar se componen, pues,
de cierto número de trozos, cada uno de los cuaIes corresponde à un valor
de AB y otro de MN.

,4----------
I
R -------.---tt
I
I I
A I B M I N
I I
X I X -----------. , •
Q o
a
M
M o N
• /1 •
I I
I
I
I I
- / I
I
R/
/
IR
I
/ I
/ I
/ I
Xl I -----i(
Q Q
A B

b c
FIG. VI-I. Los tres dispositivos dipolares más usados: a) axil; b) ecuatoria!; c) azimuta1.
Durante Ia ejecución de cada sondeo el dipolo AB suei e permanecer fiío. mientras que
se va aumentando Ia distancia R.

En todo caso, tanto AB como MN no han de superar una determinada

fracción de R. ios geofísicos soviéticos utilizan en Ia práctica Ias si-
guientes condiciones, que han de cumplirse en eI campo para que Ia
teoría de dipoIos infinitesimales sea aceptablernente válida.

a) Sondeos dipolares axiles

AB <0,2 R
MN:S;;;0,2 R
357
SONDEOS DIPOLARES

b) Sondeos dipolares ecuatoriales

O,6R ~AB ~ 1,3 R
MN~O,2 R
c) Sondeos dipolares azimutales
AB~O,6 R
MN~0,2 R
(Para SDA con 70° ~ () ~ llOO)

Los SD pueden efectuarse bilateralmente. EI concepto de sondeo bi-

lateral se aclara fáciImente mediante un ejempIo. Supóngase que va a
realizarse un SD con el dipolo AB en Ia ubicación indicada en Ia figura
VI-2 a. EI dipolo MN ha de despIazarse sobre Ia línea AB, pero esto
puede cumpIirse tanto a un lado como aI otro deI segmento AB. Por 10
tanto, para una misma posición dei dipolo de corriente pueden efectuarse

a
•..
----- R-----M------ R ------+
•• XIX ••

M, N1 A Q B M? N2

MI• I • N1 N1 ••••.••.•.
I~MI
I I
I I
IR IIR
I I
X I )( X ( )(
A I B A Q \\ B
I
IR
I \R
I \
I
M2• I • N2
N2r\..,.e M2

b
c
FIG. YI-2. Ubicación de los electrodos en los sondeos dipolares bilaterales: a) Sondeo
axil; b) Sondeo ecuatorial; c) Sondeo azimutai.
358·
 DISTANCIA REPRESENTATIVA

dos SDO diferentes, eI uno con eI dipolo de medición situado tal como
eI Mt N1 de Ia figura, y eI otro con dicho dipolo avanzando en sentido
opuesto como eI M2N2• En Ia práctica es corriente efectuar ambos son-
deos, obteniéndose asÍ un sondeo doble o bilateral. Cuando se efectúa
sólo uno de Ios dos sondeos posibles se habla de sondeo monolateral. En
Ias figuras VI-2 b y VI-2 c se ilustran Ios casos de SDE y SDA bilate-
rales. Los geofísicos soviéticos distinguen entre sÍ Ios dos sondeos que
componen uno bilateral, atribuyéndoles respectivamente Ios signos más
y menos, 10 que, en opinión deI autor, puede ser causa de interpreta-
ciones erróneas.

La ventaja principal de Ios sondeos bilaterales resulta de Ia posibilidad

de comparar entre ellos Ios resultados de Ias dos mediciones. Supóngase
que eI SDO bilateral de Ia figura VI.2 a se ha efectuado en eI curso de
una campaÍÍa para la determinación de Ia marcha de un sustrato resis-
tivo. Entonces, si Ia interpretación deI sondeo obtenido con eI dipolo
Mt Nt y que podemos denominar sondeo Oeste, encuentra eI sustrato a
mayor profundidad que eI sondeo realizado mediante eI dipolo M2N2
(Sondeo Este) se puede asegurar que el techo deI sustrato buza hacia
el Oeste, 10 que no habría podido establecerse con un sólo sondeo mono-
lateral.

VI.3 DISTANCIA REPRESENTATIVA

Los resultados de un SD se expresan, según se ha dicho más arriba,

por una curva de resistividad aparente en función deI tamaÍÍo geomé-
trico deI dispositivo. EI parámetro que mejor caracteriza dicho tamaÍÍo
es Iógicamente R, ya que AB y MN pueden tom.arse como constantes si
son despreciables frente a R. Sin embargo, no siempre ocurre así en Ia
práctica, aun dentro de Ias condiciones expuestas en eI apartado anterior,
10 que obliga a aplicar correcciones, y por otra parte, es muy conveniente
poder comparar Ias curvas de SD con Ias de SEV. Por esta causa, en
Ia representación de Ias curvas de SD, no siempre se llevan en abscisas Ias
distancias R, sino una Iongitud algo diferente, que llamaremos distancia
representativa. Las utilizadas en Ia práctica por Al'pin y sus compatriotas
son Ias siguientes:

a) Sondeo dipolar axil.

En este caso, Ia distancia representativa es sencillamente Ia distan-

cia R entre Ios centros respectivos de emisión y recepción (fig. VI-I a).
359
 SONDEOS DIPOLARES

b) Sondeo dipolar ecuatorial.

Como Ia longitud AB no suele ser despreciable frente a R,. se toma

distancia representativa Ia R = AO = BO (fig. VI-l b).

c) Sol1deo dipolar azimutal.

La distancia representativa utilizada en Ia práctica es p R donde p es

un facto r correctivo que se aplica para tener en cuenta que Ia longitud
AB no es nula (fig. VI-l c).

EI valor de p, que depende de Ia relación AB/R y deI ángulo B, puede

determinarse por medio deI adjunto ábaco, que aparece en varias obras
soviéticas sin ninguna indicación sobre Ia fórmula utilizada para su
cálculo (fig. VI-3).

VI.4 CLASES DE RESISTIVIDAD APARENTE EN LOS SONDEOS DIPOLARES

Según se indicó en eI apartado 111.10,Ia resistividad aparente obtenida

con un dispositivo dipolar depende, en igualdad de Ias demás condicio-
nes, deI ángulo y determinado por Ia línea MN con elradio vector QO
(fig. VI-4). Para evitar dificultades de signo, se supondrá que el electrodo
A es eI que está conectado aI polo positivo de Ia fuente deI circuito de

AB
~~~~~<:; ~::5 ~
..:
0,30 <::>-<::>- <::>- ••••- ••••- i'\
••••- ••••-

I 0,28 \ r-....

0,24
O e_
/ N~I M
0,20 I
I
0,16
I
0,12 I
010 I
, 6062 66 70 74 78 82 86 9080
\e
A 3: ~8
.N

8
R=pR
x
B
/)(
Q A

FIG. VI-3. Abaco para Ia determinación deI FIG. VI-4. Sentido de medición
coeficiente de 'corrección p en los sondeos de án&ulos en los dispositivos
azimutaIes. (Según Vedrintsev, en Tarkhov.) dipoIares.

360
 CLASES DE RESISTIVIDAD APARENTE EN LOS SONDEOS DIPOLAR'ES

emlslOn. También es preciso un convenio sobre el signo que debe darse

aI ángulo y. Para ello hay que. comenzar por establecer cuál de los elec-
trodos de recepción es M y cuál es N. Siguiendo a Al'pin se toma el cono
venio de designar por Ia letra N aI electrodo de recepción que tenga
mayor su coordenada R, a, x o y según que el dispositivo considerado
sea, respectivamente, radial, azimutal, paralelo o perpendicular. * Una vez
fijado cuál es el electrodo N, se. mide el ángulo y partiendo deI radio
vector QO en sentido positivo, hasta Ia semirrecta ON. Estos convenios
no tienen gran importancia si se' toma en valor absoluto 13. d.d.p. entre
M y N, pero Al'pin prefiere seguirIos estrictamente, y entonces puede
ocurrir que Ia resistividad aparente resulte negativa, 10 que no tendría
sentido si se tratas e de resistividades verdaderas, pero puede dar útil
información, según dicho autor, sobre ladistribución del potencial en Ia
superfície deI terreno.

Si manteniendo fijo el dipolo AB y el centro O deI MN se hace girar

éste alrededor de dicho centro, Ia resistividad aparente medida iráva-
riando en función deI ángulo y. Los· valores más característicos corres-
ponden ·a Ias orientaciones de MN que coinciden con alguno de los ejes

Py

a'
>(
\
-fx A~
\
\
-)( A' N
P9

FIG. VI-5. Direcciones deI dipolo
MN a que corresponden Ias resis-
tividades principales: azimutal (Pé>,
paralela (Px), radial (PR) y perpen-
dicular (py).
FIG. VI-6. Utilizada para el estableci-
miento de Ias relaciones entre Ias resisti-
vidades dipolares y Ia Schlumberger, en
medios lateralmente homogéneos.

* Este criterio presenta el inconveniente de que ai ser aplicado ai dispositivo

ecuatorial, Ia letra N cor responde a diferentes electrodos según que el disposi-
tivo se considere como azimutal o como paralelo. Esta ambigüedad se resuelve en
Ia práctica poniendo Ias letras M,N en el mismo sentido que Ias A,B.
361
SONDEOS DIPOLARES

de coordenadas cartesianas o polares. Resultan asÍ Ias resistividades PR,

Pa, px Y Pu que se denominan respectivamente radial, azimutal, paralela y
perpendiclflar .. Las direcciones respectivas se indican en Ia figura VI.5.
Los valores de los ángulos correspondientes, son por el mjsmo orden,
O, h/2, 21f- () y rr/2 - ().

Es de gran importancia establecer Ias relaciones existentes entre Ias

cuatro resistividades mencionadas y Ias de éstas con Ia correspondiente
aI dispositivo Schlumberger, Ia cual representaremos por Ps. Con este
fin, consideremos un dispositivo trielectródico AMN, en el que los elec-
trodos de recepción no están alineados con el de emisión A (fig. VI-6).
Sea () el ángulo determinado por el segmento MN con el OA, que pasa por
su centro. Si se aplica aI electrodo A una intensidad de corriente I, apa-
recerá entre M y N una d.d.p. Ó V Ia cual, según se deduce de Ia ecua-
ción (I1I,12) valdrá

2rr
ÓV=-!!~( AM
1 - AN'
1) (VI,l)

donde P es Ia resistividad deI medio, supuesto homogéneo.

Si se cumple Ia condición de Schlumberger MN ~ AO Y llamamos
a = MN se cumplirán Ias igualdades aproximadas
- - a
AM~OA---cos(}
- 2
-.- a
AN = OA + -2- cos ()
que llevadas a Ia (VI,I), dan

pI __

óV =b( OA -Tcos()
1 1 ) =
=L 2rr
a cos () pI a cos ()
(VI,2)
OA2 ---coscf 2 () ="2-;- OA-2-
4

La igualdad aproximada (VI,2) puede tomarse como válida siempre

que a sea suficientemente pequena. Si el medio fuera homogéneo sólo
lateralmente, como ocurre en los medios estratificados, podríamos sus-
tituir p por Pa y se tendrá
362
 CLASES DE RESISTIVIDAD APARENTE EN LOS SONDEOS DIPOLAR'ES

Pa = 21T OA2 ---- ÔV

a cos e
--
I1 = 21T -OA 2 --- E'
cos e
--1
I (VI,3)

donde E' = ôVfa es el campo eléctrico en Ia dirección MN. Pero si na-

mamos E aI campo eléctrico total, cuya dirección es OA, se tendrá
E' = E cos e, por 10 que Ia (VI,3) puede escribirse

Pa = 21T0A2~
I (VI,4)

que prueba qu~ Ia resistividad aparente medida con el dispositivo que

estam os considerando es independiente deI ángulo e, y es igual a Ia ob-
tenída por un dispositivo trielectródico Schlumberger, ya que Ia (VI,4) es
idéntica a Ia (111,29)aplicable a dicho dispositivo, puesto que en esta última
L = OA Y ôVfa = E.
Si ahora se sustituye el dipolo pasivo MN por un dipolo activo o de
emisión de Ia misma longitud y posición, éste creará en A un potencial
igual ai ô V producido entre M y N por el electrodo inicial A, según se
deduce fácilmente deI principio de reciprocidad. Teniendo en cuenta que.
el medio es lateralmente homogéneo, podrá efectuarse un giro de 1800
de todo el conjunto alrededor deI centro T deI segmento OA sin que
nada cambie. EI dipolo de emisión. quedará ahora en laposición A'B'.
Como consecuencia de 10 dicho, el potencial U en el punto O,. producido
por el dipolo A' B' será igual aI ôV ya calculado, o sea

U = PaI
21T
a cos e
OA~

Conviene efectuar en esta fórmula aIgunos cambios de notación, para

seguir Ia empleada en el capítulo lU para los· campos dipolares. Para
ello se pone OA = R y se sustituye a por b ya que es esta Ia letra que se
suele utilizar para expresar Ia longitud AB. Por otra parte Ia Pa es, según
se ha visto, Ia que se obtendría con un dispositivo Schlumberger, y Ia
escribiremos Ps para distinguirIa de Ias resistividades correspondientes à
los dispositivos dipolares. Después de efectuados los cambios reseÍÍados
se tiene

U = p.I
21T
b cos e
~2- (VI,5)

Para calcular Ias resistividades dipolares que corresponden a Ias di-

versas direcciones deI dipolo MN habrá que determinar 10s valores dei
363
SONDEOS DIPOLARES

campo e1éctrico en ellas. Para Ias direcciones de Ias. ejes polares se

tendrá

ER __
- aR
au = _~
2rr R3 ( 2ps
R _!!!2.)
iJR cos O
(VI,6)
Ee=-l-
R
_au _
ao -
bZ
2rr R3 sen O Ps

donde, aI efectuar Ias derivaciones, se ha tenido en cuenta que Ps de-

pende de R, pero no de O por haber homogeneidad lateral.

Si en Ia fórmula general de Ia resistividad aparente

Pa = K~Y
Z-
se dan a K respectivamente Ias valores dados por Ias (1II,46) y (111,47)
se tiene
rr R3 1 tJ. V rr 1
PR = AB
==--==
. MN
---
cos O
--
Z
= --bZ R3 ---
cos O
ER

(VI,7)
2rr R3 1 tJ. V 2rr R3 1
Pe = ==--==. -- -- = ---- --- Eo
AB • MN sen O Z bZ sen O

con b = AB Y E = tJ.VjMN para cada componente. Sustituyendo ER y

Eo por sus expresiones (IV,3) resultan Ias importantes relaciones

R aps
(VI,8)
PR = Ps-2- aR
Pe = Ps (V 1,9)

Para Ias direcciones de los ejes cartesianos se procede de. modo aná-
logo. De Ias (1II,44) y (IIl,45) se deduce que

2rr R3 V R3 2rr
px =
AB·
_
MN
(3 cos2 0-1)-1--
I
= --
bZ
tJ.
(3 cos2 0- 1)-1 E:z;

(VI;IO)
rr R3 4 tJ. V rr R3 4
Pu = ==--=-= ---- -- = -- ---- Ey
AB . MN 3 sen 20 I bZ 3 sen 20
364
 CLASES DE RESISTIVIDAD APARENTE EN LOS SONDEOS DIPOLARES

Ahora bien, los valores de Ex y Ev pueden obtenerse a partir de Ias

componentes polares ER, Ee por medio de Ia transformación
Ex = ER cos ()-Ee sen ()
Ev = ER sen () + Ee cos ()
que aplicado a Ias (VI,6) da

Ex=--cos
211"
e -----
R -----senR3 eps=
blR2 2 (2ps aR )
iJps bI
211"
2

= ~-
211"R3 [(3 cos2 e -1) ,os - R cos2 () aR ]
!!-Ps

Ev = ---
211"R2
bI
sen () . cos () --R
( 2ps
- -~-
aR
uPs )
-I- ---211" bl'R3
sen• ()cos (j ,os =
(VI,ll)

_- 411"R3
bl sen2 ()( 3ps-R aR )
aps

expresiones que, sustituidas en Ias (VI,lO) llevan a Ias relaciones

px = ,os-R"
cos2
_9 f>
()
,
aps
-aR
(VI,12)

Pv = ,os -
R
-3-- aps
aR-o
(VI,13)

En el caso general, en el que el ángulo y es cualquiera, se cumple Ia

ecuación (III,43) que, con Ia notación empleada en este apartado, se es-
cribirá
211"R3
Py = --ar- (2 cos y • cos () + sen y • sen ()-l Ey (VI,14)

pero, siendo Ey = Er cos y + Ee sen y y utilizando Ias expresiones de

Er y Ee dadas por Ias (VI,6) resulta
2 cos ()cos y • pr+sen ()sen y • Pe
,0= . ---- (VI,15)
y 2 cos ecos y + sen ()sen y

Sustituyendo en ésta pR Y Pe por Ias (VI,8) y (VI,9) se obtiene

cos e . cos y ( 2 ,os - R aR

aps) + sen ()sen y' s
Py = 2 cos () . cos y + sen fi • sen y
(VI,16)

365
SONDEOS DIPOLARES

expresión que da el valor de Py en función de Ps para cualquier án-

guIo y.
También puede expresarse Py en función de p" y Pu' Para ellos ha
de tenerse en cuenta que, según Ia figura III-ll, es

Ey = E" cos (y + B) + Eu sen (y + B) (VI,1?)

por 10 que de Ia (VI,14) se deduce que

cos (y + B) + Eu sen (y +
P
y
=-- 211" R3

aI
E"
2 cos B • cos y + sen B sen y
. B)
(VI,1B)

donde, sustituyendo E" y Eu por sus expresiones deducidas de Ias (VI,IO)

resulta fácilmente

P:r
= (3 cos2 B -1) cos2(y+B)
cos B .
• p,,+3
cos y +sen B • cos B . sen (y+O)
sen sen y B
. Pu!!-
a
(VI,19)

Si en 'ia (VI,1?) se sustituyen E" y Eu por Ias (VI,ll) y se efectúan algunas

transformaciones trigonométricas, vuelve a obtenerse Ia (VI,16).
Combinando entre sí Ias (VI,B) y (VI,9) con Ias (VI,ll) y (VI,lO) resul-
tan Ias ecuaciones
2 cos2 B sen2 B
px = 3 cos2 fi _ 1 PR - 3 cos2 (j _ 1 Pe
(VI,20)

1
Pu = -3- (2PR + Pe) (VI,21)

1 3
PR = -2- (3 cos2 B -1) P" + -2- sen2 B • Pu
(VI,22)

Pe = (1 - 3 cos2 B) p" + 3 cos2 (j • Pu (VI,23)

Llegados a este punto, conviene resumir los resultados obtenidos y

deducir consecuencias. En primer lugar, se ha demostrado que Ia resis-
tividad Py correspondiente a una orientación cualquiera y deI dipolo de
medición MN puede expresarse, bien en· función de PR Y Pe, bien de p"
y Pu' Además se han establecido Ias relaciones entre Ias dos primeras y
Ias dos últimas y Ia de cada una de ellas con Ia· resistivfdad Schlumber-
ger Ps.
366
 DISPOSITIVOS DIPOLARES RECIPROCOS

Ocurre que, según Ias (VI,8), (VI,9) Y (VI,13), Ias resistividades

PR, P6 Y Pu son independientes deI ángulo e, siempre que Ps no varíe con
éI, 10 que se cumple en los medios lateralmente homogéneos. Esta conse-
cuencia es de gran importancia práctica puesto que según ello, en los dis-
positivos radial, azimutal y perpendicular basta, para efectuar un sondeo,
aumentar Ia distancia R, modificando el ángulo e siempre que sea preciso
para contornear obstáculos o por otras causas. De este modo se llega a Ia
idea deI sondeo dipolar curvo, en eI que Ia trayectoria deI centro O deI
dipolo MN puede ser, en principio, cualquiera.

Otro resultado notable es Ia igualdad entre Ia resistividad P6 y Ia resis-

tividad Schlumberger Ps expresada por Ia ecuación (VI,9). Según esto, en
Ios SDA (y como caso particular los SDE) pueden utilizarse Ias mismas
curvas maestras y métodos interpretativos que se emplean en el SEV. Ta-
les métodos y curvas no son, válidos para, Ias sondeos dipolares radiales,
y entre ellos Ios SDO, por 10 que éstos exigen eI cálculo de una núeva
colección de curvas maestr.as, para Ia PR' Una vez que se dispone de am-
bas colecciones (Ia usual de SEV Y.Ia de PR) puede obtenerse a partir de
ellas Ia correspondiente a cualquier otro tipo de sondeo dipolar, por medio
de Ia (VI,15).

VI.5 DISPOSITIVOS DIPOLARES RECIPROCOS

Se deduce deI principio de reciprocidad que, si se intercambian Ias po-

siciõnes de Ias dipolos de emisión y de recepción, Ia resistividad aparente
observada no sufre variaci6n. Así, en Ia figura VI-? si los electrodos A y
B se truecan respectivamente con los M y N, se observará Ia misma resis-
tividad aparente que en Ia posición inicial y los ángulos e y y intercambian
sus valores. Esto, por otra parte, puede deducirse de Ias ecuaciones (VI,16)
y (VI,18). La posición final de los electrodos se indica entre paréntesis.
Si se aplican estas consideraciones a un dispositivo radial (fig. VI-8) su re-
cíproco será un dispositivo axil de dipolos no paralelo~. Como Ia resisti-
vidad deI primero es independiente deI ángulo e, Ia dél segundo no depen-
derá de )' y será igual a PR para cualquier valor de este último ángulo. Esto .
puede deducirse análogamente de Ia (VI,15). El coeficiente de dispositivo,
será en este caso, según se deduce de Ia ecuación (VI,14)

1
K= 7f'R3 (VI,24)
cos y
367
SONDEOS DIPOLARES

Análogas consideraciones y resultados pueden obtenerse para un dis-

. 1r

positivo ecuatorial de dipolos no paralelos (8 = 2-' y arbitrario).

I
(B l
NX(f/ M /N(B)
/ /M(A)
/
/ (Al
/
I
/
/
/
19 /
~
B
/\ X
A B X I~ e(6)
XA
(N) (M) (M) (N)

FIG. VI-7. Ejemplo de dispositivos FIG. VI-8. Dispositivo recíproco de uno

dipolares recíprocos. EI constituído dipolar radial.
por electrodos entre paréntesis es
recíproco dei de electrodos sin
paréntesis.

VJ.6 RESISTlVIDADES APARENTES PARA DISPOSITIVOS FINITOS

Los dipolos cuya longitud tiende a cero, considerados hasta aquí, son
naturalmente, irrealizables en Ia práctica. Incluso los dipolos de emisión
10 suficientemente peque fios como para ser considerados como dipolos
ideales son de poco uso por Ia debilidad dei campo que producen. Por
este motivo, y por su empleo en Ia cartografía bipolar de resistividades,
es necesario el estudio de Ias resistividades aparentes medidas con dispo-
sitivos dipolares en que el dipolo de emisión es de longitud no despre-
ciable. Este tema ha sido tratado con gran competencia por ZOHDY (1978),
cuyas fórmulas se exponen a continuación.
De acuerdo con Ia costumbre norteamericana, se llamará bipolo a un
dipolo de longitud finita no despreciable. Sea AB un bipolo de emisión,
cuyo centro Q se tomará como origen de coordenadas cartesianas con eje
x en Ia dirección AB. El campo eléctrico producido por el bipolo AB
368
 RESISTIVIDADES APARENTES PARA DISPOSITIVOS FINITOS

en un punto genérico O deI plano podrá medirse por medio de un dipolo

Schlumberger (esto es, muy corto) MN. EI campo en O debido aI eIec·
trodo A vaIdrá, según Ia (III,9)

EAp = pI
--
211" A02
1 (VI,25)

si se supone que eI dispositivo está situado sobre un semiespacio homo-

géneo de resistividad p. La dirección de] campo será AO. Análogamente,
el eIectrodo B creará un campo de dirección BO e intensidad. '

EBp =_ --
pI
271"
.
1
B02
(VI,26)

donde eI signo menos se debe a que Ia poIaridad de B es opuesta a Ia

de A.

La composición de estos campos parciales produce un campo total

E~B, donde eI subíndice p indica que este campo es el que Zohdy llama
"primario" y que es eI que se observarÍa sobre eI semiespacio homogé-
neo mencionado. Las componentes cartesianas de este campo en el punto
O, de coordenadas x,y serán

Ep,x = (E;B)x = E~ cos (E~, x) + E: cos (E:, x) =

= z;-
pI [X A03 +L - x-L'
B03 J
(L = ABf2) (VI,27)

E ,p,y = (EAB) = EA
1/ Y P cos (EAp' y) + EB P cos (EB'p' y) =

=~ 211"
y (Aó-a - BO-a) (VI,28)

EI módulo deI campo total primaria será

p _ __ __ _ _ ~ 1/2 (VI,29)
I E 1- pI
271" [( xAOa
+L - x- L
-BOa )2 + y2(AO-3 - BO-3? ]

y el ángulo <Pp de dicho campo con el eje x valdrá

<Pp = tg-1 Ep,v

Ep,x
(VI,29)

369
SOND~OS DIPOLARES

A
Ep
IV
I
I
I /
I //
I /
I //
I /
I /// EB
I // P I
I/I
...• /
/ I I
// I I
/ // I II
/'"
// I
I I
I
~/ I ~
A Q B

FIG. VI-9. Cálculo dei campo de un dipolo.

Si el dipolo MN, colocado en eI punto O, no tiene Ia dirección deI

campo E,,, sino otra cualquiera definida por el ángulo y (con el eje x), el
campo medido será
Ep.'Y = Ep cos (y -- tpp) (VI,30)

EI coeficiente de dispositivo para el bipolo AB y el dipolo MN (en el

punto O) se deduce de Ias (VI,29) y (VI,30) Y es

K 'Y = COS (y211"_ tpp) [( ~X +L - -N

x- L ) 2 + if(R1-3 - R2-3) ] 1/2
(VI,31)

donde se ha puesto RI = OA Y R2 = OB para simplificar Ia notación.

Para el caso particular deI dispositivo paralelo se tiene

(VI,32)
'! K", = 211' [ X +L
RI3 _ x R23
- L ]-1

y para el perpendicular
211'

Ky = -- [R1-S + R2-3]-1 (VI,33)

y

370
 RESISTIVIDADES APARENTES PARA DISPOSITIVOS FINITOS

EI dispositivo paralelo tiene a su vez dos casos particulares impor-

tantes: eI axiI, donde Rj = x + L Y R2 = X - L, por loque
Ka" = 2rr [(x + L)-2 - (x - L)-2]-1 (VI,34)

y eI ecuatoriaI, para eI que x = O y Rj = R2 = (L2 + if)1/2, de modo que

su coeficiente es
'Ir

Kec = L (L2 + if)3/2 (VI,35)

Si estas coeficientes, deducidos para un semiespacio homogéneo, se

aplican aI caso general, se obtendrán resistividades aparentes.
Ahora bien, si se. trata de un media estratificado, en Ias ecuaciones
(VI,25) y (VI,26) habrá que sustituir Ia resistividad .p deI media homo-
géneo por Ia resistividad aparente que se obtendría con el dispositivo
semi-Schlumberger constituido por eI electrodo de emisi6n que se consi-
dera y un dipolo MN situado en O y alineado con aquél. Esta resistividad
no es Ia misma para A que para B, ya queen general, AO;;i: BO. Por con-
siguiente, no podrá sacarse como factor común Ia resistividad en Ias ecua-
ciones (VI,27) y siguientes, que deberán sustituirse por otras más com-
plejas.
Una de Ias consecuencias de Ia nueva situaci6n, que es Ia que suele
darse en Ia práctica, es que Ia direcci6n '/l deI campo total no es ya Ia deI
campo "primaria" o de media homogéneo, sino que forma con dIa un
ángulo ~ = qJ - qJp'
Zohdy hace notar que caben tres modos distintos de proceder que
originan otras tantas resistividades aparentes. EI primero es Ia medici6n
deI campo en Ia direcci6n qJr'que tendría sobre media homogéneo; se
obtiene así Ia que dicho autor denominá "resistividad aparente ,deI campo
primaria". Otra posibilidad es eI cálculo de Ia resistividad partiendo del
campo total observado, con 10 que se obtiene un valor PT que Zohdy
llama "resistividad aparente deI campo total". En ambos casos debe darse
aI coeficiente (VI,3l) eI valor correspondiente, para 10 que debe ponerse
y = '!'p para py Y Y = qJ para PT'

Por último, en Ia inmensa mayoría de Ias casos publicados se utiliza

una tercera resistividad, Ia PP'" o "resistividad aparente de campo total
simple" en Ia nomenclatura de Zohdy, y es Ia que se obtiene deI campo
total observado y eI coeficiente para eI campo primaria. Las tres resisti·
"idades aparentes están relacionadas entre sÍ por Ias expresiones
PT = qJpa / cos ~
(VI,36)
fJp = ,!,p, cos ~
371
 SONDEOS DIPOLARES

La dirección real 'P = f('p + deI campo total observado es informa-

<5

tiva y de valor diagnóstico. Su conocimiento exige Ia medición deI campo

eléctrico en dos direcciones ortogonales ("método deI campo total"). Este
método se ha empleado sobre todo en cartografía de resistividades. (Véase
el apartado VI.l5.) Una de Ias ventajas de Ia medición deI campo total
es que permite, con sólo dos medidas dei campo eléctrico en cada punto,
el cálculo de Ias resistividades aparentes para los dispositivos paralelo,
perpendicular, radial y azimuta1.
Sobre medios estratificados, no excede de ± 20°.
<5

VI.7 TRABAJO DE CAMPO

EI trabajo de campo para Ia ejecución de SD es müY semejante aI

deI SEV. Las diferencias principales resultan, por una parte, de Ia nece.-
sidad de más trabajo topográfico, pues hay que situar en eI terreno, para
cada' estación, Ios centros de uno o dos. dipoIos, y dar a cada uno su
orientación respectiva, y otra, que Ia pequenez deI campo dipolar obliga
ai empleo de corrientes de emisión muy intensas, Ias cuales se obtienen
generalmente por medio de grupos motor-generador ("estaciones geoeléc-
tricas") y llegan a ser deI orden de varias decenas de amperios cuando
Ias distancias R son de muchos Km. Esto exige que Ias tomas de tierra
deI dipolo AB presenten resistencias óhmicas 10 más pequenas que. sea
posible, por 10 que se prefiere mantener fijo este dipolo en vez deI MN,
a fin de no repetir para cada estación Ia tarea de establecer bueJ;!as tomas
de tierra. En Ias investigaciones profundas realizadas en eI sudoeste de
Estados Unidos (JACKSON, 1966) se utilizaban dipolos de emisión de
8 Km de longitud, cuyos tomatierras se formaban enterrando cables tren-
zados de cobre en zanjas excavadas ai efecto, regadas con gran cantidad
de agua salada. Como generador se utilizaba una batería de acumuladores
de 720 V y 55 A-h.

La medición de V se efectúa por medio de un registrador, como en

!'1

los SEV largos. No obstante, los SD relativamente cortas o en zonas de

resistividad elevada pueden llevarse a cabo con Ia misma clase de equipo
que los SEV normales. .

A fin de simplificar Ias operaciones de ca,mpo, cuando se ejecutan

sondeos ecuatoriales, suele comenzarse por efectuar un SEV, hasta que
AB es deI.orden de 1 Ó '2 Km, continuándose entonces Ias mediciones con
dispositivo ecuatorial, para 10 que basta ir desplazando eI dipolo MN
372
 CARACTERISTICAS PRACTICAS DE LOS DIFERENTES DISPOSITIVOS

paralelamente a sí miStllO, con su centro en Ia mediatriz de AB. EI fun-

damento de este modo de proceder es Ia concidencia de Ias curvas
Schlumberger con Ias deI dispositivo azimutal.
Una cuestión de importancia para Ia programación de Ias campafias
de SD es Ia determinación de Ia distancia OQ final. Esta puede hacerse
deI mismo modo que para el SEV, teniendo en cuenta que si es AB Ia
distancia electródica final requeri da en caso de emplearse SEV, para los
SD se necesita alcanzar Ias siguientes distancias OQ finales:
AB para el dispositivo radial (y axiI)

AB/2 para el azimutaI (y ecuatorial)

3 cos2 e -·1
2 cos 2 B AB para dispositivos paralelos

-~-- AB para dispositivos perpendiculares.

Estos valores son los indicados por AI'pin, y se han .determinado por
medi o de Ia posición de Ias asíntotas en curvas de dos capas con sustrato
infinito, pero pueden utilizarse como aproximados para SD realizados
sobre otros cortes.
En cuanto a Ia elección dei tipo de dispositivo, debe efectuarse te-
niendo en cuenta Ias características de cada uno que se exponen en el
apartado siguiente.

VI.8 CARACTERISTICAS PRACTICAS DE LOS DIFERENTES DISPOSITIVOS

V1.8.1 Dispositivo radial

Es eI de ejecución práctica más fácil, pues el dipolo MN se mueve

siempre sobre Ia misma recta. Para Ia misma distancia R es el de menor
penetración, Ia cual es sin embargo comparabIe a la deI Schlumberger,
pero es en cambio el de mayor poder resoIvente. Es muy adecuado para
determinar Ia profundidad de sustratos resistivos, dada Ia facilidad que
presenta para Ia determinación de Ia resistividaà longitudinal p! (véanse
los apartados siguientes). EI valor observado de /).V decrece con el au-
mento de () desde O hasta ••/2, siendo nulo para este último ángulo en
terreno homogéneo. Cuando () = O se tiene el dispositivo axil.
373
SONDEOS DIPOLARES

VI.8.2 Dispositivo azimutal

Su penetración es doble que Ia deI dispositivo Schlumberger, y da cur-

vas iguales a Ia de éste, pero ello sólo cuando el corte geoeléctrico pre-
senta homogeneidad lateral. El valor de A V crece con y es nulo, en
(J

terreno homogéneo, para = 0, siendo en cambio máximo para = 7r/2

(J (J

que corresponde aI dispositivo ecuatorial.

EI dispositivo azimutal se presta muy bien para Ia ejecución de son-

deos curvos, los cuales resultan muy prácticos cuando existen obstáculos
que impiden tender una línea AB 10 suficientemente larga. La figura
VI-H, inspirada en Yakubovskiy-Liakhov, ilustra Ia aplicación de un SDA
curvo sobre una carretera, en una zona cubierta por bosques.

FIG. VIolO. Ejecuci6n de un sondeo azimlltal "curvo" con los centros de los dipolos MN
sobre una carretera en zona de bosque.

VI.8.3 Dispositivo paralelo

A diferencia de los ·demás dispositivos,' en el paralelo Ia forma de Ia

curva depende dei ángulo (J, y si se tiene en cuenta el sentido de ôV
pueden obtenerse valores negativos para Ia resistividad. Ô V es máximo
para = O,y = 7r/2 Y mínimo para valores de comprendidos entre
(J (J (J

40° y 60°. Entonces el poder resolvente es máximo, pero es también

máxima Ia sensibilidad a Ias heterogeneidades superficiales.
En efecto, en medio homogéneo, según se demostró en el apartado
lII.9,la componente Ex deI campo eléctrico se anula cuando (J= 54°44'8".
Entonces ô V es cero, y el coeficiente dei dispositivo se hace infinito.
Cualquier heterogeneidad en Ia resistividad, superficial o profunda, pro-
duce en este caso un valor A V no nulo, y claramente detectable. AIguna
vez se ha expresado este hecho diciendo que en tales condiciones Ia pe-
net.ración dei dispositivo es infinita, afirmación peligrClsa, pue~ se prest_a
374
 CARACTERISTICAS
PRACTICASDE LOS DIFERENTES DISPOSITIVOS

a ser mal interpretada: Si el medio no es homogéneo, el ángulo B crítico

cambia y depende de R. Esto ocurre incluso cuando el medio es estra-
tificado, pues entonces se produce una rotación en el vector campo
(AL'PIN et al 1966). Cuando el sustrato es aislante, Ia posición singular
corresponde a B = 45 o para valores grandes de R. Por esta causa, la fór-
mula dada en el apartado anterior para Ia longitud OQ da valores anó-
maIos para los ángulos B mencionados. EI resultado de todo esto es que
para el intervalo de valores de B entre 40° y 600 el dispositivo paralelo
se vuelve muy sensible, pero de aplicación muy delicada.

VI.8.4 Dispositivo perpendicular

Esta modalidad de sondeo dipolar (SDP) se ha utilizadomuy poco,

pero algunos geofísicos (VEDRINTSEV, 1968; ZOHDY, 1970 b) se han inte-
resado por él, por 10 que parece conveniente dedicarle un párrafo. Ve-
drintsev indica que, entre Ias propiedades interesantes deI SDP figuran
su mayor poder resolvente respecto deI SDE, Ia inexistencia práctica de
efectos inductivos entre uno y otro dipolo, por causa de su perpendicu- .
laridad, y. el mayor valor de ó. V sobre cortes H. A e11õ hay que anadir
Ia posibilidad de determinar directamente el buzamiento de sustratos
aislantes, y Ia precisión con que pUf::de obtenerse S.

EI citado autor indica que c1 SDP "reune una afortunada combina-

ción de Ias ventajas de los SDE y SDO, y está libre de algunos incon-
venientes de estos". EI cálculo de una serie de curvas teóricas de dos y
tres capas ha permitido a Vedrintsev el establecimiento de nuevas pro-
piedades deI SDP. Tales curvas carecen de los extremos ficticios que
aparecen en Ias de SDO, y cuando el buzamiento deI sustrato aislante
está com prendido entre 2 o y 12 o, permiten Ia determinación directa de
dicha inclinación, así como Ia de Ia resistividad pz (resistividad longitu-
dinal media de Ias capas suprayacentes aI sustrato). Cuando el buza-
miento excede deI límite superior indicado, el valor de Pl puede deter-
minarse en muchos casos por transfOrmación de Ia curva. Estos resulta-
dos requieren comprobación para cortes más complejos. Según parece,
el SDP es menos sensible a Ias heterogeneidades laterales que otros tipos
de ·SD.

ZOHDY (1970 b) se ha ocupado de una caso particular de SDP que él

11ama sondeo en L, en el cual Ia prolongación deI segmento MN pasa por
el electrodo A. Cuando AO/AB es pequeno, el dispositivo se reduce a un
medio Schlumberger.
375
SONDEOS DIPOLARES

VI.9 CALCULO DE CURVAS TEORICAS

Las curvas teóricas para SD pueden calcularse por procedimientos

análogos a Ias empleados para Ias de SEV. Aunque en eI caso de me-
dias estratificados podría plantearse el problema desde el principio, y
resolverla de modo análogo aI seguido por Stefanesco, resulta más sen-
cillo aprovechar 10 ya existente para el SEV, utilizando Ias relaciones ha-
Iladas en el apartado VI.4 entre Ias resistividades dipoIares y Ias Schlum-
berger. En particular, Ia fórmula (VI,16) permite haBar cualquier resisti-
vidad dipolar en función de Ia resistividad de Schlumberger y de su deri-
vada respecto de R.
Más concretamente, basta conocer Pe = Ps Y PR para poder calcular
cualquier resistividad dipolar sobre medias lateralmente homogéneos.
Pero

R aps
(VI. 8)
PR = Ps- -'-2- aR

y Ps puede calcularse por media de Ia fórmula de Mooney (IV,32) de

donde se deduce que
aps 00 24 m2 P Q(m) PI
(IV,37)
fi m~l R3 1 ~ J
"R - = 2: ( + 4" R2 E2 ) - /2

si se tiene en cuenta que R tiene el mismo significado que r en Ia (IV,32).

Por 10 tanto,

1 +2 2: ---------
(VI,38)
PR = Pl [ 00
m~l Q(m)
R2 ( [R2_ 1+ 4~:p tz
2 m,2PJ]
Cuyos coeficientes Q(m) son, como se ve, Ias mismos que se utilizan
para el dispositivo Schlumberger.
De modo análogo puede hallarse, utilizando Ias (IV,32) y (VI,13) Ia
resistividad perpendicular, que resulta ser

p,=p,[1+2 i, ( 1+
Q(m) R2 P)5/Z
4 m2 ]
(VI,39)

Las curvas teóricas de SD pueden obtenerse de modo más cómodo y

rápido por media de Ia PC deI corte en cuestión con filtros adecuados.
376
 CALCULO
DE CURVAS
TEORICAS

Operadores de este tipo han sido calculados por DAS y GHOSH (1974).
SEARA(1979) ha public2.do programas para Ia obtención de estos filtros
con Ia longitud e intervalo de muestreo que se deseen.
Las curvas teóricas para SD sou, en general, semejantes a Ias de SEV.
Como se ha dicho, Ias curvas correspondientes a los dispositivos azimutal,
radial y perpendicular sou independientes deI ángulo 8, 10 que no ocurre
con el dispositivo paralelo. No obstante, eu todos Ias casos, salvo en cier-
tas circul1stancias para este último dispositivo, cuando el sondeo se efec-
túa sobre un medio estratificado con sustrato éXislante,Ia curva asciende,
aproximándose a una asÍntota con pendiente unidad, como ocurre en el
SEV. ia abcisa de Ia intersección de esta asÍntota con el eje p = 1 ihdica
el valor de Ia S total deI conjunto de capas superiores aI sustrato, salvo
un factor constante que depende deI tipo de dispositivo, y deI parámetro
tomado como distancia representativa. Tomando para esta R (con Ias
correcciones para dipolos tinitos indicadas en el apartado VI.3 si se trata
de curvas de campo), Ia abscisade Ia citada intersección da directamente
S si el dispositivo es azimutal; si es radial, el valor leÍdo ha de ser divi-
dido por 2; y por 1,5 si el dispositivo es perpendicular. Para el dispo-
sitivo paralelo, Ia abscisa ha de ser multiplicada por

cos 2 ()
3 cosz ()--1

factor que, según se ve, depende deI ángulo &, y toma valores singulares
para los críticos de () que se mencionaronen el apartado VI.8.3. En con-
sonancia con 10 alJi dicho, Ias curvas de resistividad aparente para dis-
positivo paralelo, sobre medi os estratificados con sustrato aislante, des-
cienden indefinidamente, en vez de ascender, cuando () = 45° o está pró-
ximo a este valor. Este es elocaso excepcional a que sehacÍa referencia
aI principio de este párrafa.
En Ia zona crítica, como ya se ha dicho, resultan valores negativos
para la resistividad aparente, 10 que obliga a prescindir de Ia representa-
ción logarítmica, a menos que se utilicen dos escalas separadas, una para
Ias valores positivos, y atra, en sentido opuesto, para los negativos.
En eI dispositivo axil, eI factor 2 puede evitarse si se representan Ias
curvas en función de Rj2, como ocurre en Ia figura VI-12, que correspol1-
de a Ia familía de curvas de dos capas para dicho dispositivo. Esta fi-
gura refleja una característica muy curiosa de Ias curvas de SDO, y es
que éstas presentan "extremos falsos", es decir, máximos o mínimos, sin
correspondencia con Ia distribución de resistividades. Estas aparecen en
Ia parte izquierda de Ia figura, y sólo para Ias curvas extremas, pues se
han omitido Ias de' Ias restantes para evitar Ia confusión entre líneas
prÓximas.
377
 J.
~~~t
~~
- 99,0000

e
_/?.E. @- 39,0000
@
AI @-19,0000

'1',

0.1765
W't29
o. f111

®-- 0.0526
@- 0.0256

h,
@- 00101

@ - valor de ~/f,
FIG. VI-lI. Familia de curvas de dos capas para el dispositivo dipo)ar axil.
(Según Yakuboskiy-Liakhov.)
378
 CALCULO DE CURVAS TEORICAS

Otra propiedad de Ias curvas de SDO cuando éstas corresponden a

medios estratificados deI tipo H, es que Ia resistividad aparente en el
mínimo, puede considerarse igual, con error inferior aI 10 %, a Ia resis-
tividad longitudinal media pz dei conjunto de capas que recubren ai basa-
mento resistivo, siempre que sea E2/E1> 3, y a pz si E2/E1> 5. Esta pro-
piedad, válida para todo dispositivo radial, puede extenderse a cortes más
complejos reducibles a H, siempre que no existan capas intermedias de
fuerte contraste que aumenten notablemente Ia pseudo-anisotropía.
La figura VI-13 ilustra el mayor poder resolvente dei dispositivo axil,
por comparación de Ias curvas de SDO y SEV para un mismo corte
de tres capas tipo K. EI máximo de Ia primera es más pronunciado.
También pueden calctiIarse curvas teóricas de SD para capas inclina-
das o para cortes con contactos verti cales y horizontales. EI cálculo se
efectúa de modo análogo ai utilizado en el SEV. Las fórmulas pueden
deducirse a partir de Ias establecidas para éste, teniendo en cuenta que
aI potencial U calculado para un electrodo puntual corresponde para un
dipolo el potencial U D dado por

UD = b au
ax (VI,40)

donde b es Ia distancia AB, supuesta pequena, y x se mide en Ia direc-

ción deI eje deI dipolo. Esta expresión se obtiene por comparación entre
Ia ecuación (I1I,30) correspondiente a un dipolo y Ia (I1I,12), válida para
un electrodo puntual.
La morfología y propiedades principales de Ias curvas de SD para
estos cortes no estratificados se exponen en el apartado VI.12.

Pc

AS ,R
2

FIG. VI-12. Comparación de Ias curvas de SEV y de SPO correspondientes

a un mismo cort(~ K.

379
SONDEOSDIPOLARES

VI.i0 TRANSFORMACION DE CURVAS

Como se ha dicho anteriormente, Ias curvas teóricas para dispositivos

dipolares pueden calcularse partiendo de Ias curvas de SEV Schlumber-
ger para los mismos cortes, por media de Ia expresión (VI,B) y Ia más
general (VI,16). En losmomentos actuales el interés práctico de este
procedimiento de cálculo radica en que permite transformar curvas de
campo en Ias correspondientes a otro dispositivo más adecuado para Ia
finalidad propuesta. En particular, pueden transformarse Ias curvas de
SEV Schlumberger en. curvas de dispositivo dipolar axil, más expresivas
en razón deI mayor poder resolvente de este último, y útiles para Ia
determinación aproximada de Pi (apartado V1.9). Esta transformación ha
sido estudiada detalladamente por varios autores, en especial por AI'pin
(AL'PIN et ai, 1966) y por PATELLA (1974). EI método más sencillo y re-
ciente es Ia transformación mediante filtro numérico (KUMAR y DAS, 1977).
Los coeficientes deI filtro pueden obtenerse de modo muy simple si-
guiendo el procedimiento indicado por KOEFOED (1977), que se expone
a continuación.
Las cuatro fórmulas (VI,B), (VI,9), (VI,12) y (VI,13) pueden compen-
diarse en una sola:

Pn = Ps.-KR aps
aR
(VI,41)

donde Pn representa una resistividad dipolar, y K es un factor constante

cuyo valor depende de cuál sea Ia Pu considerada. Poniendo x = ln R se
obtiene
aps
PD= Ps-K-- ax
(VI,42)

Si se designa por 5 el espectro de Ias funciones de resistividad apa-

rente, se tendrá
5D = 5s - i 2rr f 5s K = 55(1- i 2rr f K) (VI,43)
Luego el espectro deI filtro que transforma PD en Ps es
5F = (1 -- i 2rr f Kt1 (V 1,44)

espectro aI que aplicada Ia transformación de Fourier inver8a, dará los

coeficientes deI filtro buscado.

VI,11 INTERPRETACION CUALITATlVA

La interpretación cualitativa de Ias curvas de SD se efectúa por los

mismos procedimientos que en Ias de SEV, juntamente con otros es-
380
 INTERPRETACION CUALITATIVA .

pecíficos para Ios sondeos bilaterales. En estas se acostumbra a distinguir

Ias dos partes o alas de cada sondeo completo, atribuyéndoles Ios signos
(+) o (-), reservando eI primero, por ejemplo, a todas Ias medidones
en Ias que eI dipolo móvil se mueve hacia e1 Este, y eI segundo a aquellas
mediciones en que el alejamiento se ha hecho en sentido opuesto.
La simple comparación visual de Ias dos curvas de cada sondeo bila-
teral permite deducir baja cuáI de Ias alas se encuentran Ias mayores
profundidades deI sustrato, o de Ias capas intermedias.
Tal comparación puede hacerse de modo más refinado y exacto, por
medio de Ios que podemos llamar vectores de resistividad, los cuales
representan Ia variación de Ia resistividad aparente para una misma dis-
tancia R, en Ia dirección deI sondeo. Tales vectores se llevan a un mapa
de Ia zona estudiada, con origen en el centro deI dipolo fijo de cada SEV
bilateral y dirección coincidente con Ia de movimienta de los dipolos. EI
módulo y sentido de estos vectores quedan definidos por Ia expresión

p+ -p- (VI,45)
l"J.p = p+ +p_

donde Ias resistividades se refieren a Ia distancia final (igual para todos

los SD) de cada serie de medidas (+) y (-). EI valor de esta expresión
es proporcional a Ia diferencia relativa entre ambas resistividades. AI
dibujar estos vectores no debe olvidarse el signo de dicha magnitud, que
determina el sentido, e indica el lado hacia donde se encuentran Ias

FIG. VI-13. Vectores simbólicos de resistividad, correspondientes a una campaiía de

sondeos bilaterales, superpuestos ai mapa de isohipsas dei sustrato resistivo de Ia zona.

381
SONDEOS DIPOLARES

profundidades mpncres deI basamento resistivo, según se indica en Ia

figura VI-l4, donde se han superpuesto Ias isohipsas de un basamento de
este tipo aI mapa de vectores, y se observa cómo el conjunto de éstos
refleja, de modo cualitativo, el relieve deI citado horizonte. Cuando el
basamento es conductor, los vectores se comportan de modo opuesto.
Sue1e incluirse en Ia interpretación cualitativa Ia determinación grá-
fica de Ia conQuctancia longitudinal S deI conjunto de capas que recu-
bren un basamento resistivo. Para los sondeos dipobres este valor se
determina siguiendo el mismo procedimiento descrito para el SEV en
el apartado V.13.3, pero el valor obtenido debe multiplicarse por el factor
indicado en el apartado VI.9 en relación con Ias propiedades asintóticas
de Ias curvas de SD. Cuando los sondeos son bilaterales, cada curva su-
ministra un valor para S, los cuales son designados por S+ y S_ respecti-
vamente. Las curvas patrón 'deben corresponder aI tipo deI dispositivo
empleado.
Dichos valores puederi utilizarse para una construcción gráfica de in-
terpretación cualitativa, descrita por Berdichevsky y Zagarmistr (en
ALP'IN et al, 1966) denominada corte de segmentos S. Estos se represen-
tan en el perfil de sondeos, llevando hacia abajo, * a escala conveniente,
los valores S+ y S_, cada uno de ellos bajo el centro deI dispositivo co-
rrespondiente en su posición final, y uniendo los puntos así determinados
(fig. VI-H), por medio de un segmento". Cada uno de estos indica el
lado hacia el que buza el sustrato resistivo, y sefíala de modo cualitativo

t .!

js s-v
i >J
FIG. VI-l4. Trazado de un "segmento S" para Ia
interpretación cualitativa de sondeos bilaterales.

el valor deI buzamiento (fig. VI-15). Otro modo de proceder, más sen-
cillo, es atribuir aI centro de cada SD bilateral, Ia S .promedio de S+ y
S_ con 10 que se obtienen cortes semejantes a los descritos para SEV,

* Los citados autores llevan diehas distancias hacia arriba, con 10 que
eI corte pierde su expresividad' visual, aI quedar invertidos Ios segmentos.
382
 INTERPRETACION CUALITATIVA

2 3 6 7
5

/~
~

--
FIG. VI-15. Corte de "segmentos S", con Ia posición real deI techo deI sustrato resistivo.

pero de esta forma se pierde Ia información debida aI carácter bilateral

de Ios sondeos.
Para cada ala o medición monolateraI, eI valor dado para S por Ia
interpretación de Ia curva, puede considerar se como promedio de Ios
valores que corresponden respectivamente aI punto donde se encuentra
eI dipolo fijo AB y a Ia posición final deI MN. Si a Ia medición consi-
derada corresponde eI indicativo (+) se tendrá
1
S+ = -2- (SAB + SAfN) (VI,46)

y 10 mismo para S_. Cuando se dispone de una serie de SD bilaterales

que se soIapan sobre un perfil, Ia relación anterior puede utilizarse para
determinar de modo relativamente detallado Ia distribución de Ia mag-
nitud SaIo largo de éI. Para ello se comienza por atribuir a SAB eI valor
SI! promedio de S+ y S_ para eI sondeo considerado, con 10 que se tiene

SMN = 2S+-SI (VI,47)

El valor de SMN se atribuye a Ia vertical de Ia posición deI dipolo corres-

pondiente. Este dato y SI pueden combinarse con Ios deI sondeo siguien-
te teniendo en cuenta Ia posición relativa de Ios centros y posiciones fi-
nales de unos y otros. Por otra parte, Ias (VI,46) y (VI,47) son aplicables
a cada medición. De este modo se deterrninan Ios valores de S para una
serie de puntos deI perfil, 10 que proporciona útil información sobre Ia
marcha deI basamento.
383
SONDEOS DIPOLARES

VI.12 INTERPRETACION CUANTITATIVA

En Ia interpretación cuantitativa de Ias curvas de campo de SD, surge

como cuestión previa Ia de saber a qué punto deI perfil deben atribuirse
los resultados obtenidos. Este problema deI "punta de atribución" (apar-
tado IV.3) podría orillarse si en Ia medición de campo se desp~azasen
simultáneamente ambos dipolos, siempre en posición simétrica respecto
de un punto fijo, aI cual se atribuirÍan 10s resultados. Tal proceder no
resulta conveniente en Ia práctica a causa de Ias dificultades que implica,
junto con el al,lmento en Ia' duración de Ias operaciones de campo. Sin
embargo, pueden obtenerse de modo aproximado curvas de campo equi-
valentes a Ias que resultarían en dichas mediciones, por el procedimiento
denominado de "reconstrucción de curvas", descrito por Ias autores
mencionados en el apartado anterior, en Ia misma publicación.
Para efectuar dicha reeonstruceión es necesario que. el perfil que se
estudia haya s.ido investigado por medio de una serie de SD deI mismo
tipo, y que se solapen unos con otros. En tal caso, se representa Ia varia-
ción de Ia resistividad aparente a 10 largo del perfil, por media. de una
curva para cada longitud R, atribuyendo cada valor de resistividad aI
punio medio deI dispositivo correspontliente, en el momento en que se
obtenÍa esta resistividad. De este modo, por interpolación, para cada
punto deI perfil (salvo cerca de 10s extremos) se dispone de una serie de
valores de resistividad eon los que. puede construirse una' curva cuyos
resultados de interpretación se atribuyen a dicho punto. Este proceso
resulta conveniente para zonas de estructura geoeléctrica relativamente
compleja.
Cuando se interpreta separadamente cada una de Ias alas de un son-
deo bilateral; Ias profundidades obtenidas corresponden a puntos tanto
más desplazados en Ia direeción deI movimiento deI dipolo MN (supuesto
fijo el AB) euanto mayores sean estas profundidades. EUo se debe a que
Ia parte de curva influida por un determinado contacto se obtiene para un
margen de valores de R, y no para R = O. Por ello Ias profundidades in-
terpretadas pueden' llevarse sobre una recta inclinada que pasa por el
centro del dipolo fijo, en vez de una vertical, pero es difícil fijar con
exactitud y rigor Ia inclinación de esta recta.
En primera aproximación, Ias profundidades pueden atribuirse a Ia
zona donde se encontraba el punto medio deI dispositivo para los valores
de R considerados.
En zonas donde Ias capas presentan inclinación más o menos· cons-
tánte, puede aplicarse el método de Ias curvas medias, que consiste en Ia
interpretación de Ias curvas que resultan de promediar los valores de
resistividad aparente obtenidos con Ias dispositivos (+) y (-) para cada
distancia R. Los resultados de Ia interpretaeión de Ia curva promedio
384
 INTERPRETACION
CUANTITATIVA

se atribuyen a Ia vertical deI dipolo fijo común a Ias dos mediciones que
componen el sondeo bilateral. Vale Ia pena indicar que este procedimiento
es en realidad el que se sigue en el SEV, ya que, por ejemplo, cada curva
de SEV Schlumherger es el promedio de Ias curvas de los dos semi-
Schlumberger en que puede considerarse descompuesto. .
La interpretación de Ias curvas de SD se efectúa mediante procedi-
mientos análogos a Ias empleados para el SEV. Para el dispositivo azi~
mutal y su caso particular ecuatorial valen Ias mismas curvas patrón,
filtros y procesos que en el SEV Schlumberger. Para sondeos radi<iJes,
entre los cuales figura el SDO, el VNIl Geofizika de Ia URSS publicó
ya en 1957 una colección de curvas patrón. No existe en Ocddente una
publicación análoga, pero no hay ningún problema para su cálculo, bieu
directo, bien por transformación de curvas de SEV.
DAS et ai (1974) han dado los filtros para el cálculo de Ia FC partien-
do de Ia curva de un SD. Las fases siguientes deI proceso son Ias mismas
que en el SEV. Los métodos de inversión se pueden aplicar también en
el SD deI mismo modo que en el SEV. Otra posibilidad es Ia transfor-
mación de Ias curvas de SD en Ias correspondientes de SEV,. seguida de
Ia aplicación de cualquier método válido para éstas.
Debido a Ia mayor sensibilidad deI SD ante Ia inclinación de Ias ca-
pas, Ias curvas' teóricas para contactos horizontales sólo pueden utilizarse,
dentro de márgenes de error razonables, y en el caso de curvas prome-
diádas, para buzamientos inferiores a 15 o. Si se consideran separadamente
cada una de Ias dos curvas de un SD bilateral, el efecto de Ia inclinación
se manifiesta para valores de ésta de sólo. unos pocos grados. Esta cir-
cunstancia hace doblemente interesantes Ias curvas teóricas de SD para
contactos inclinados. En Ia colección de Berdichevsky y Krolenko citada
en el apartado V.17 se incluyen curvas para dispositivos dipolares.
Las curvas teóricas para SD sobre cortes de dos capas con contacto
inclinado son semejantes alas de SEV para el mismo caso, y como éstas,
presentan discontinuidades cuando algún dipolo cruza sobre el aflora-
miento deI contacto. Cuando Ia orientacióll de los dipolos es perpendi-
cular a Ia traza deI contacto', Ia forma de Ia curva se complica, tomando
aspecto semejante aI de curvas de tres capas tipo K o Q. EI efecto de
cambios pequenos en Ia inclinación es muy marcado.
Vedrintsev (en AL'PIN et ai 1966) ha estudiado el comportamiento
de los dispositivos axil y ecuatorial sobre Ias mismas estructuras com-
puestas por capas verti cales y horizontales que se consideraron en el
apartado V.18. Las curvas correspondientes se encuentran reducidas, en
Ia misma publicación. En los cortes deI tipo HVC (fig. V-33), el valor
S' determinado por Ia curva para Ia conductancia longitudinal, es el pro-
medio de Ias valores SI y S2, tanto para el SDO como para el SDE, y esto
385
SONDEOS DIPOLARES

para todos los azimutes, salvo para el SOE orientado (Ia línea OQ) para-
lelamente a Ia estructura. Entonces,

+
- S' - SI
- --s;- --2-
SI S2 (VI,48)

En los cortes de tipo HVC-2, cuando el centro deI sondeo se encuentra

sobre uno de los medios laterales, vale 10 dicho anteriormente, sin más
que sustituir S2 por S3' excepto para el SOE paralelo a Ia estructura. En
este caso,

S' = SI + S3 ---- 52
(VI,49)
2 SI + S3 --S2
La extensión de estos resultados a estructuras tales como fosas, es-
calones, etc., no es inmediata, y dada Ia diversidad de casos posibles, no
puede tratarse aquí por razones de espacio. No obstante se indicarán los
casos más simples.
En Ia estructura en forma de escalón Ia profundidad interpretada es
el promedio de Ias dos El y E2 (fig. V -22 a) para los soa y SOE para-
lelos a Ia estructura, así como para los soa perpendiculares a ella. So-
_bre un pilar, Ia profundidad obtenida es el promedio de Ias profundidades
deI sustrato horizontal a un lado y otro deI accidente para el SOE per-
pendicular y para el soa paralelo. En todo 10 anterior se toma como
dirección deI dispositivo Ia OQ.
No debe olvidarse que en los cortes con contactos inclinados- o verti-
cales, cesa de cumplirse Ia igualdad entre Ia Pe Y Ia Ps. Se indicará, por
último, que en el estudio de estructuras pequenas deI sU6trato, no es
conveniente el empleo de SOE perpendiculares a ellas, ni Ia interpreta-
ción de curvas promediadas, puesto que en tales casos, estas estructuras
pueden pasar inadvertidas.

VI.13 SONDEOS DIPOLARES EN EL MAR

Ya hemos indicado Ias grandes ventajas que presenta el mar sobre

Ia tierra para Ia aplicación de Ia mayoría de los métodos prospectivos.
La aplicación de SEV marinos de alguna longitud presenta ciertas di-
ficultades prácticas, por 10 que resulta preferible el empleo deI dispositivo
dipolar axil. Este ha sido frecuentemente utilizado en prospecciones ma-
rinas realizadas en Ia Unión Soviética, por medio de Ias técnicas des-
critas por Nazarenko y Terekhin (en TARKHOV, 1963) Ias cuales se resu-
men a continuación.
386
 SONDEOS DIPOLARES EN EL MAR

~i7{=-~--~
WY~~_
FIG. VI-16. Ejecuci6n de sondeos axiles marinos. El barco de emisi6n AB se mueve
hacia el de recepci6n MN, que permanece fijo.

En el sondeo dipolar marino es más ventajoso que el dipolo fijo sea

el MN de medición entre otros motivos porque en un dipolo pasivo mó-
vil se inducirían corrientes, debidas por ejemplo, aI campo geomagnético
y aI propio campo deI dipolode emisión. Cada uno de los dipolos va
unido a un barco (fig. VI-I6), de modo que existen dos, el barco de em i-
sión y el barco de recepción. EI perfil recto que va a medirse se baliza
por medio de boyas distantes entre sÍ de Ia 5 km, correspondiendo los
intervalos mayores a los casos en que se dispone de sistemas de radio-
localización. Tanto uno como otro dipolo están constituidos por "haces"
como los descritos en el apartado V.25.Cada uno de ellos permite el
empleo de siete longitudes de dipolo, entre 10 y 1000 metros. El proceso
de medición, en esencia, consiste en que el barco de recepción fondea su
haz correspondiente en el punto previsto para el centro deI sondeo bila-
teral, mientras que el barco de emisión fondea el suyo a Ia distancia R
máxima prevista. Las mediciones se efectúan de modo continuo, mien-
tras el barco de emisión arrastra su dipolo, avanzando hacia el de re-
cepción, que permanece fijo, ,pasando junto a él y sobrepasándole en una
distancia igual a Ia que les separaba inicialmente, efectuando asi Ia me-
dición de Ia otra ala deI sondeo bilateral.

A medida que el primer barco va acercándose aI segundo, Ia longitud

máxima permisible para cada dipolo va disminuyendo, por 10 que se van
conectando sucesivamente dipolos más cortos de cada haz. El generador
de emisión tiene 450 V de tensión de salida, Ia cual se invierte periódi-
camente, de modo que se obtienen impulsos de intensidad deI orden de
70 A. La duración de cada impulso depende deI tiempo de establecimiento
de campo, y va disminuyendo conforme decrece R, a medida que el. barco
de emisión avanza.

La d.d.p. ~v entre M y N se mide, como en los SEV largos, por me·

dio de un registrador, cuya sensibilidad va haciéndose disminuir escalo-
nadam ente según va aumentándose Ia amplitud de Ias senales con Ia pro-
ximidad deI barco emisor.
387
SONDEOS DIPOLARES

La ehboración deI registro de t:. V para eI cálculo de Ias resistividades

aparentes exige eI conocimiento de Ia posición deI barco móvil en cada
punto de este registro y deI de I (que también se toma). Paraello se
aplican senales de tiempo en ambos oscilogramas, y cada vez que el barco
de emisión pasa junto a una de Ias boyas de referencia se cambia, du-
rante unos segundos, Ia duración de los· impulsos ·haciéndolos mucho
más breves, 10 que permite su identificación en Ios registros. Además,
cuando eI barco de emisión pasa junto aI de recepción, se produce en eI
registro de t:. V un máximo acompanado de dos mínimos laterales (o 10
contrario, según el sentido de I). Durante Ia fase de inmediata proximi-
dad de ambos barcos, se suprimen los impulsos, manteniendo constante
Ia intensidad, a 10 cual se deben Ias extremos citados en el registro
de t:.V.
Dicha fase de cruce de Ios barcos lleva· consigo eI que Ia posición de
Ias dipolos no corresponda aI dispositivo axil, y sÍ aI ecuatoriaI en eI mo-
mento preciso deI cruce, por 10 que durante ella no pueden efectuarse
medidas. Estas se completan, para Ios valores menores de R (de 10 a
140 m) con mediciones efectuadas desde un solo barco por medio de un
haz especial con conductores para constituir tanto dipolos AB como
MN; ambos muy cortos.
En el cálculo de distancias R hay que tener en cuenta Ia asimetría
de Ios haces, en Ios cuales todos Ias dipolos tienen un extremo común,
por 10 que sus centros no coinciden.
EI rendimiento de Ias mediciones es muy grande, pues con Ia marcha
normal deI barco de emisión, que es de unos 6 nudos (10-12 km/hora)
puede efectuarse un sondeo bilateral con alas de 8 km en una hora y
media.
Para h interpretación se utilizan curvas patrón como Ias citadas en
el apartado IV.l4. Cuando Ia profundidad deI mar es pequena frente aI
tamano deI dispositivo pueden emplearse Ias curvas patrón usuales para
dispositivos situados en Ia superficie deI terreno. Los autores menciona··
dos aI principio de este apartado incIuyen, en eI trabajo citado, ábacos
para determinar Ias límites de aplicación de Ias curvas corrientes. Sobre
eI cálculo de Ias primeras puede verse el trabajo de Terekhin incluido en
RAST (1962).

VL14 APLlCACIONES DE LOS SONDEOS DIPOlARES

Aunque en princlplO Ias aplicaciones de Ios sondeos dipolares son Ias

mismas deI SEV, su principal campo de aplicación ha sido hasta ahora
Ia prospección petrolera. En Ia Unión Soviética, estas sondeos han sus-
388
 APLICAClONES DE LOS SONDEOS DIPOLARES

tituido aI SEV en gran parte deI trabajo de investigación tectéUlica efec-

tua do con tal fino
También se ha utilizado el SD en el estudio de Ias propiedades eléc-
tricas de Ia certeza terrestre a grandes profundidades, como en los tra-
bajos realizados en Estados Unidos y mencionados en el apartado V.24 en
10s que se alcanzaron distancias de 100 km entre centros de dipolos.
En Ias investigaciones hidrogeol6gicas, eI SD se ha empleado poco
hasta ahora, pero ha sido utilizado en algunos casos, y con resultado po-
sitivo, Véase, por ejemplo, ZOHDY (1969) Y ZOHDY Y JACKSON (1969).
También se ha usado el SD, en combinaci6n' con otros métodos, en
investigaciones geotérmicas (WARD et ai, 1978, entre varios).
En general, el SD puede utilizarse cuando existen dificultades u obs-
táculos para el tendido de líneas AB largas (dispositivo ecuatorial, disposi-
tivo azimutal en sondeos curvos), cuando se requiera mayor poder resol-
vente que el deI SEV (dispositivo axil) o cuando se deseen estudiar, con
precisi6n, buzamientos débiles de un sustrato (sondeos bilateraIes).
Sin embargo, tanto Ias publicaciones como los contactos personales
demuestran que en Occidente el SD no ha satisfecho Ias esperanzas que
en éI se pusieron aI ser conocidos los trabajos soviéticos en este campo.
La causa principal de este desencanto es Ia extrema sensibilidad deI SD
ante los efectos topográficos y sobre todo, frente aIos cambios laterales
de resistividad.
En cuanto aIos SD marinos, considerados en el apartado aÍlterior,
tienen por aplicaci6n principal Ia búsqueda de estructuras petrolíferas,
eu zonas recubiertas por lagos o mares.

B2

~Nl
M2

>(
AI ~BI

A2

FIG, VI-I? Principio de Ia cartogl'afía bipolar.

389
SONDEOSDIPOLARES

VI.15 CARTOGRAFIA BIPOLAR

V1.15.1 Aspectos teóricos

La apreciación de ·Ia sensibilidad de Ios SD frente aIos cambios la-

terales de resistividad llevó a Ia idea de utilizar esta sensibilidad para Ia
detección de tales cambios. En esencia el método consiste en el empleo
de un bipolo fijo deemisión A]B] y dos dipolos de medición ortogonales
entre sí, los cuaIes forman un sistema móvil que se sitúa sucesivamente
sobre cada uno de los vértices de una malla más o menos regular. En
todos estos vértices se determina el campo total deI cual se deduce una
resistividad aparente, general mente Ia denominada "simple" (apartado
VI.6).
De este modo se efectúa una exploraci6n en planta de Ia zona, y Ias
resistividades observadas se utilizan, mediante el trazado de un mapa
de líneas isorresistivas, para Ia detección de fallas, zonas conductoras o
resistivas, etc. Este procedimiento se ha empleado, principalmente, en
investigaciones geotérmicas, aunque no faItan referencias de su aplica-
cióll' en Minería o Geotecnia. La idea deI método se debe a Keller, y
una de sus primeras aplicaciones fue Ia de RISK, MACDONALD Y DAWSON
(1970) en estudios geotérmicos en Nueva Zelanda.
El empleo de dos bipolos de emisi6n fue sugerido por Stefanescu y
Tanasescu en 1965, y vuelto a proponer por FURGERSONy KELLER(1975).
Se trata de utilizar dos bipoIos ortogonales A]B] y A2B2 con objeto de
eliminar el efecto de Ia orientaci6n deI bipoIo único respecto de Ias es-
tructuras geológicas. En este procedimiento, llamado de resistividad cua-
dripoIar y "Rotating Dipole Method", Ios bipoIos emisores no tienen que
tener necesariamente un centro común Q, sino que basta que estén
próximos entre sí; por ejempIo Ios eIectrodos B] y B2 pueden coincidir,
con 10 quê se ahorra una toma de tierra.
La existencia de dos fuentes origina Ia aparición de varias resistivida-
des aparentes, que conviene clarificar y relacionar entre sí, 10 que se hace
a continuación.
La expresión de Ia resistividad aparente para un dispositivo tipo
SchIumberger es
E E E E
p
a
=K-=-=--=-
1 l/K 1/2rrr J
(VISO)
'

de acuerdo con Ia ecuaci6n (111,9); por 10 que Ia resistividad aparente

puede definirse como el cociente deI campo por Ia densidad de corriente
que se observaría en medio homogéneo. Cuando se trata de dispositivos
bipolares o dipoIares puede definirse, análoga mente
390
 CARTOGRAFIA BIPOLAR

IEABI
(VI,51)
Pa=~
donde EAB Y JAB no tienen, en general, Ia misma dirección.
Cuando se usan dos fuentes bipolares o dipolares, Ia primera de ellas
producirá en O una densidad de corriente cuyas componentes según los
ejes coordenados serán, respectivamente, lu y 112, mientras que Ias debi-
das a Ia segunda fuente serán /21 y 1'l2. EI campo eléctrico tendrá, análo-
gamente, Ias cuatro componentes Eu, E12, E21, E22• BIBBY (1977) demues-
tra que Ias diversas resistividades que se deducen de estas componentes
pueden expresarse por medio de un tenso r plano P/i tal que
E = P/iJ (VI,52)
de donde se deduce que

(VI, 53)
Pij=
I /AB X1 /CD I I Eul22
E1J22 -- E2,fl?
E'l2/12 E'l2/u --
E2,fu EJ',f2J
E1d2J I

Las cuatro componentes Pu, P12, P2h P22 contienen información que se
pierde en parte cuando por razones de comodidad se combinan estos
valores en una sola resistividad, de más fácil manejo y representación
gráfica. BIBBY (1977)1 indica que los valores de resistividad combinada
propuestos por diversos autores se pueden expresar en función deI tensor
de resistividadés. Este puede escribirse en Ia forma
(VI,54)
/' = III + II2 -
P 1 I sen 2a
cos 2a - cos
sen 2a I I sen
cos 2(3 cos
sen 2(3 \
2(3

siendo
1
TIl = T [(Pu - P22'f + (P12 + P212]lf2

, 1
II = T {(Pu
2 + P22'f + (P12 - P212]l'"
(VI,55)
1 P12 + P21
a =- tg-1 -'-----
2 -Pu - P22"

1 1 PI2-Pm

(3 =T tg-Pll + P22,

391
SONDEOSDIPOLARES

Entonces, Ias valores extremos propuestos por TASCI (1975) Y deter-

minados por él mediante cálculo para 40 direcciones, se deducen, senci-
llamente, mediante Ias expresiones
Pmax = I TIl + IT2 I
(VI,56)
Pmin == I IT2 - IT} I
DeI mismo modo, Ia resistividad aparente usada por DOICIN(1976) es
I EAB X ECD I
(VI, 57)
Paa = 11AB X lCD I
que equivale a
pqq = (Pmn, PminYf2 = 1 IT22 - 11]211/2 (VI,58)

VI.15.2 Aspectos prácticos

Como se ha visto en el apartado anterior, el método de Ia cartografía

bipolar permite obtener en cada punto aI menos cuatro resistividades apa-
rentes distintas, cuyas isolíneas reflejan, entre otras variables, Ias cam-
bias late rales de resistividad.
Se han estudiado Ias distribuciones de resistividad aparente que co-
rresponden a diversos modelos de interés pl."áctico. Así, BIBBY y RISK
(1973) han calculado, como aproximación a un yacirniento geotérmico, un
modelo que consta de un semiesferoide conductor rodeado por un medio
homogéneo, mientras que el efecto de contactos verti cales y diques ha
sido considerado por KELLER et al (1975), DOICIN (1976) Y HARTHILL
(1978). SINGH y ESPINDOLA(1976) han estudiado el caso de una esfera
perfectamente conductora.
La presencia de una discontinuidad vertical rompe Ias líneas iso-
resistivas, cuya pauta se altera aI cruzar Ia discontinuidad, según se indi-
ca esquemáticamente en Ia figura VI-I8.
Si en Ia zona estudiada se produjesen todos Ias cambios de resistivi-
dad en sentido horizontal, Ia interpretación de los mapas de isolíneas no
tendría grandes dificultades. Desgraciadamente, los cambios verticales de
resistividad influyen también, y a veces de modo decisivo, en Ias resisti-
vidades q,parentes observadas, por 10 que hay que evitar, en 10 posible,
eI error de atribuir a un cambio lateral 10 que es reflejo de un cambio
vertical.
KELLERet al (1975) han considerado el caso en que Ia zona que se
estudia posea un sustrato horizontal muy resistivo. La presencia de éste
producirá, desde cierta distancia fuente-receptor, un aumento paulatino
392
 CARTOGRAFIA BIPOLAR

:r
1.2
"'-

1.4
""" "\

--'-,-
1.2 )0.3

--:..::::--.
0.38 j /~-;,;j~ 7,,---
/0.42
FIG. VI-18. Discontínuidades en Ias curvas de iso-resistividad aparente (lfnea
continua) causadas por contactos verticales ()íneas de trazos) que delimitan
un bloque conductor.

de Ia resistividad aparente con dicha distancia, que puede ser atribuido

equivocadamente a un cambio en sentido horizontal. Para evitar esto,
los autores proponen Ia sustitución de Ia resistividad aparente por Ia con-
ductancia S deI conjunto de capas que recubren el sustrato. Si el sustrato
horizontal, Ia S será inversamente proporcional a Ia resistividad media
de dicho conjunto. Dichos autores suponen que, por efecto deI sustrato
considerado como aislante, Ia densidad de corriente será inversamente
proporcional a Ia distancia a Ia fuente, desde cierto valor de ésta que
depende de Ia profundidad deI sustrato. Partiendo de esta hipótesis, se
justifica fácilmente que el recíproco de S en cada punto puede calcularse
por fórmulas casi idénticas a Ias que dan Ia resistividad aparente.
EI caso más complejo de un medio estratificado de n capas ha sido
estudiado por ZOHDY (1978), quien prueba que en tales casos Ias isolíneas
forman figuras simétricas alrededor de Ia fuente. Así, Ia presencia de una
capa conductora origina zonas de resistividad mínima como Ias repre-
sentadas esquemáticamente en Ia figura VI-19, y cuya situación depende
de Ia dirección en que se mide Ia resistividad (campo total,. paralela, etc.).
Estas zonas pueden interpretarse erróneamente· como estructuras geoló-
gicas subyacentes.
393
SONOEOS DIPOLARES

Por ello, en Ia cartografía bipolar, Ia interpretación de Ias observacio-

nes debe efectuarse con sumo cuidado, teniendo en cuenta que Ias resis-.
tividades aparentes que seobtienen dependen tanto de Ias resistividades

FIG. VI-19. Isolíneas de resistividad aparente de campo total sobre corte

estratificado con capa conductora. (Segiín Zohdy.)

verdaderas que existen. a diversas profundidades bajo el punto conside-

rado, como de Ia distancia de éste a Ia fuente. Tampoco hay que olvidar
que Ios invariantes deI tensor de resistividades se Ilaman así para con-
servación de Ia terminología matemática usual, pero en realidad varían
con Ia posicióny orientación de Ia fuente. A este respecto, y también
para una vaIoración dei método bipoIar, recomiendo Ia lectura de Ia po-
lémica entre Meidav y Harthill (Geophysics, de diciembre de 1979).
ia técnica de campo de Ia cartografía bipolar es análoga a Ia de los
sondeos bipolares. EI bipolo emisor suele tener longitudes que van desde
unos pocos cientos de m hasta algunos km. ia distancia máxima emisor-
receptor suele ser deI orden de cuatro veces Ia longitud dei bipolo fuente.
ias intensidades de corriente en éste varían, en función de Ias condicio-
nes dei problema, entre unos pocos amperios hasta centenares de A; en
algún caso se han mencionado intensidades de 700 A. Naturalmente, el
instrumento acoplado aios MN debe ser de gran sensibilidad.
394
 Capítulo VII

CAL/CATAS ELECTRICAS'

VII.1 DEFINICION Y GENERALIDADES

La finalid,ad de Ias calicatas eléctricas es el estudio de Ias variaciones

laterales en Ia resistividad deI subsuelo. Se trata, pues, de un método de
investigación horizontal, a profundidad aproximadamente constante, muy
adecuada' para detectar contactos geológicos verticales o inclinados, cam-
bios laterales de facies, metalizaciones, diques y otros cuerpos o estruc-
turas que se presentan como heterogeneidades laterales de resistividad.
Este tipo de investigación suele denominarse, en varios Idiomas, "mé~
todo de perfiles eléctricos" denominación que el autor encuentra bastante
ambigua, por 10 que estima preferible Ia de calicatas eléctricas, que deri-
va de Ia expresión inglesa, de origen sueco, "electrical trenching" y alude
a que este método es el equivalente eléctrico de Ias labores mecáQicas de
exploración minera, en forma de zanjas o galerías, denominad,as "cali-
catas" .
Las investigaciones horizontales suelen efectuarse a 10 largo de perfi-
les previamente senalados en el terreno, generalmente paralelos, y los'
resultados obtenidos se relacionan eQtré sí, con 10 que resulta un estudio
en planta, hasta una profundidad más o menos constante, es decir, Una
verdadera cartografía eléctrica. Dentro de este concepto pueden incluirse
los mapas de resistividad o de líneas iso-óhmicas, ya tratados en los ca-
pítulos V y VI.
Es de fundamental importancia darse cuenta de que Ia zona explora-
da en el calicateo eléctrico se extiende desde Ia superficie hasta una pro-
fundidad más o menos constante, que es función tanto de Ia separación'
entre electrodos como de Ia distribucí6n de resistividades haja elIos.
395
CALICATAS ELECTRICAS

Muchos entienden que 10 que se investiga es un estrecho margen de pro-

fundidades, es decir, confunden una calicata con una galeria. Cuando se
habla de que Ia penetración de una calicata e1éctrica es de 50 m debe
entenderse que mediante ella se detectan los cambios laterales de resis-
tividad que ocurren entre Ia superficie deI terreno y una profundidad
aproximada de 50 m, y no sólo los que tienen lugar más o menos a dicha
profundidad. La falta de comprensión de este punto Ileva a investigacio-
nes mucho más costosas de 10 necesario y a interpretaciones erróneas.
EI calicateo eléctrico se aplica mal en muchas ocasiones,. por enten-
dimiento inadecuado de sus principios básicos. La obra fundamental so-
bre este método (BLOKH, 1966, 1971) es prácticamente desconocida en
Occidente.

•
VII.2 ClASIFICACION DE lAS CALlCATAS ElECTRICAS

Existe una gran variedad de tipos de calicatas eléctricas, pero todas

ellas Eueden clasificarse en dos grandes grupos. En el primero de éstos,
los electrodos de corriente permanecen fijos durante Ia medición, de modo
que se crea en el terreno un campo estacionario, el cual es explorado
colocando 10s electrodos M y N en diversas posiciones.
EI segundo grupo Ia constituyen aquellos métodos en 10s que los cua-
iro electrodos se desplazan conjuntamente, conservando sus distancias y
posiciones mutuas, es decir, que el dispositivo se traslada sobre el perfil
como un todo rígido. En cierto modo, estos métodos pueden considerarse
como Ias de calicatas eléctricas propiamente dichas. En elIas eI campo
eléctrico en el terreno es diferente para cada posición dd dispositivo.
Los métodos principales de calicateo eléctrico son los siguientes.

A. Métodos de campo fijo.

A-I Método de gradientes.
A·2 Método Racom (o de relaciones de diferencias de potencial).
A-3 Calicata "Schlumberger".
A-4 Método de bloques.

B. Métodos de dispositivo móvi[.

B-I Calicatas dipolares axiles (mono y bilaterales).
B-2 Calicatas trielectródicas (simples y combinadas).
B-3 Calicatas de dispositivo simétrico.
B-4 Calicatas de dispositivos apantallados y de cera.
396
 ALGUNAS CONSIDERACIONES TEORICAS

B-5 Calicatas circulares.

B-6 Otros tipos de calicatas.

Un tipo de calicateo muy diferente de Ias anteriores es el constituido

por Ias calicatas magnetométricas, en Ias queel voItímetro se sustituye
por un magnetómetro, según se describe en eI apartado VII.22.

VII.3 ALGUNAS CONSIDEAACIONES TEORICAS

La inrerpretación de Ias curvas de resistividad aparente suministradas

por Ias calicatas ha solido hacerse de modo cualitativo, basándose en ideas
intuitivas, muchas .veces desprovistas de base, y no pocas, erróneas. Por
este motivo, el autor cree conveniente estudiar un caso teórico muy sen-
cillo, con objeto, por una parte, de dar una primera indicación acerca de
deI modo en que pueden resolverse Ias problemas de este tipo, y por
otra, de demostrar que el comportamiento de Ias curvas de resistividad
aparente de Ias calicatas eléctricas, no es el que podía esperarse "intuiti-
vamente". *
Consideremos el caso de un coli.1;acto vertical entre dos medias, de
resistividades respectivas fi1 y fiz (fig. VII-I). EI e1ectrodo A, por e1 que pe-
netrauna corriente de intensidad I, se encuentra a Ia distancia Xo deI con-
tacto, sobre el primer medio, mientras que eI electrodo B se haBa situa-
do a distancia arbitrariamente grande (en el infinito). Para simplificar Ias
expresiones matemáticas, designaremos con .Ia letra e (emisividad) a Ia
expresión
e=~ (VIl,I)
2:rt

I
A'
I
~M ~
---Xo--~
----Xo---

R f{
FIG. VII-I. Cálculo de Ia anomalfa de potencial producida por un contacto vert1c::1.

* Véase también Ia nota de B. N. SATPATHY (1974), donde se comenta eI Ira-

caso de Ia intuici6n 'en otro tipo de corte.
397
CALICATAS ELECTRICAS

En ausencia deI segundo medio, el potencial en Ia superficie, medido

por un electrodo M distante x de A sería
P1I
UM=--
2'l:
--1
X
(VII,2)

EI efecto deI segundo medio (supongamos que el contacto es normal a

Ia línea AM) puede sustituirse, en 10 que respecta aI primero, por un elec-
trodo ficticio o imagen A', simétrico deI A respecto deI contacto, y cuya
emisividad e' habrá que determinar. EI potencial en el medio 2 puede
obtenerse dando a Ia emisividad e deI clectrodo A un nuevo valor e" que
incluya el efecto deI contacto. Este modo de proceder es el habitual en el
método de Ias imágenes.
Las emisividades e' y e" se calculan mediante Ias condiciones de
contorno deI modo siguiente:
En el medio 1, el potencial vendrá dado por
e e'
U1 = -- + ----,.......... (x ~xo) (VIJ,3)
x 2xo-x
mientras que el potencial eu el medio 2, habráde expresarse en Ia forma

U 2=-x eU (x> xo) (VII,4)

De Ia continuidad deI potencial (apartado III,3) se deduce que

, e"

o sea
U1 = U---+
2 -x
e e
..
2xo-x -x _ (x = xo)

e" = e + e' (VII,5)

Por otra parte, Ia continuidad de Ia componente normal de Ia den-
sidad de cOI'riente se expresa por Ia ecuación (III,14) que puede escri-
birse
1 au] _ 1 aU2
P: ax - -,;; ax (x = xo)

Sustituyendo U] Y U2 por Ias (VII,3) y (VII,4), derivando y haciendo

x = xo, resulta
--+--
l(e
Pl
-----
xo2 e')
X02
=-.----
1 e" P2 X02

10 que equivale a
P2 (e - e') = Pl eU (VII,5 bis)
398
 ALGUNASCONSlDERACIONES TEORICAS

Las dos ecuaciones (VII,5) y VII,5 bis), combinadas, permiten obtener e'
y e" en función de e, PI y P2'
P2- PI
e'= e
P2 + PI
(VII,6)
P2 e
e" = 2P2 + PI
Estas expresiones pueden transformarse utilizando el factor de re-
flexión K empleado en eI método de Ias imágenes, cuya definición es

K = PZ-Pl (VII,7)
P2+PI

Entonces Ias (VII,6) toman Ia forma

e' = Ke
e" = (1- K) ~eP2 (VII,8)
PI

Llevando estos valores a }.as (VII,3) y (VII,4) resultan para eI potencial

Ias fórmulas

U1=--+---
e
x 2
Ke
x xo --

u2= _~
PI
I-K
~e
(VII,9)

donde, sustituyendo e por su valor (VII,1) se obtiene finalmente:

U 1=2";-
Ipl ( -x-
1 + 2xo-X
K)
1-K
U2=-Ip22Jt ---<- (VII,lO)
X

En Ia práctica, Ia medición de Ia caída deI potencial a partir deI elec-

trodo A, y de Ia perturbación producida en ella por Ia presencia deI
contacto, se efectuaría más cómodamente afíadiendo un segundo electro-
do de potencial N, y midiendo Ia diferencia de potencial Ventre am- t:..

bos para diversas posiciones deI par. EI cálculo se simplifica si M y N

399
CALICATAS ELECTRICAS

están muy próximos entre sí, pues entonces, según eI principio deI dis-
positivo SchIumberger (apartado lII,7) puede suponerse que
~v
--:::::=.E
MN

En estas condiciones, supongamos que manteniendo fijo el eIectrodo

A, vamos colocando eI par MN en una serie de posiciones a 10 largo dei
perfil, sobrepasando ampliamente eI contacto. Los resultados podrían
representarse como una curva de Ia variación de E con Ia distancia x,
pero es más expresivo transformaria en una curva de resistividades apa-
rentes, mediante Ia fórmula

Pu = 2~ x~-IE_ (VlI,ll)

idéntica, salvo en notación, con Ia (III,29). La abscisa x representa Ia dis-

tancia deI eIectrodo A aI centro deI segmento MN, supuesto muy corto.
Antes de efectuar el cálculo, será conveniente e instructivo tratar de
imaginar a pl'iori, cuáI será eI comportamiento de Ia resistividad aparente
en función de Ia distancia deI par MN aI eontacto. Supongamos, para
fijar ideas, que PI < P2' Podría pensarse, desde un punto de vista "intui-
tivo" o de "sentido común", que Ia citada magnitud será aproximada-
mente igual a PI a corta distancia deI eIectrodo A, y que Ia presencia deI
segundo media se manifestará por un aumento gradual de Ia resistividad
aparente conforme Ios eIectrodos M y N se aproximen (l.1 contacto. Una
vez que dichos eleetrodos hayan penetrado en el segundo medio, Ia re-
sistividad aparente sería próxima a P2 y esta tanto más cuanto más aden-
trados se encuentren Ios electrodos en este media. Sin embargo, 10 que
ocurre en reaIidad es muy distinto, según se verá .a continuación.
Para determinar rigurosamente eI comportamiento real de Ia resis-
tividad aparente, bastará sustituir E en Ia fórmula (VlI,ll)' por Ias va-
lores respectivos para cada uno de Ios medi os que se obtienen de Ias
(VII,IO) por derivación y cambio de signo. TaIes valores son:

,EI = _1(Jj
2n (_1
x2 K_)
(2 Xo _. x)~

E2 =!!!-
2n
1-x2 K (VII,12)

Por 10 tanto, se tendrá para el primer ::nedio,

(1)_ _ X
(VII,13)
Pu -PI ( 1 K(2xo-X)22)

400
 ALGUNAS CONSIDERACIONES TEORICAS

y en eI segundo,

(1 - K) -_ ---2 'h (VII,14)

Pa(2) _- P2
PI +P2P2
Como se ve, Ia variación de Ia resistividad aparente con Ia distancia
x deI eIectrodo fijo A aI centro deI par MN, es muy diferente de 10 su-
puesto "intuitivamente" (fig. VII-2). Cuando x es muy pequeno, eI valor
observado es prácticamente igual a PI pero aI acercarse Ios electrodos
M y N aI medio más resistivo Ia resistividad aparente no aumenta, sino
que disminuye. Cuando Ios eIectrodos móviIes cruzan sobre eI contacto,
Ia resistividad aparente experimenta un brusco aumento, y desde enton-
ces, cuando Ios eIectrodos se mueven en eI segundo medio, Pa permanece

f{-

--x--
R Pz

FIG. VIl-2. Curva de resistividades aparentes obtenida sobre un contacto vertical,

con electrodo de emisión fijo (método de gradientes).

constante, con valor diferente deI verdadero de dicho medio. Por ejem-
pIo, si PI = 1 Y P2 = 5, Ia resistividad aparente decrece con eI aumento
de x, desde 1 hasta 0,33, valor que se obtiene cuando Ios eIectrodos están
en eI primer medio, inmediatamente aI lado deI contacto. Dentro deI se-
gundo medio eI valor observado es constantemente igual a 1,67.
Si fuese PI> P2 Ia variación de Ia resistividad aparente es serriejante
a Ia descrita, salvo que aumenta con Ia aproximación de 10s electrodos
aI medio más conductor.
En 10s razonamientos anteriores se ha supuesto que el electrodo de
corriente permanece fijo, mientras que se despIazan conjuntamente Ios de
potencial. Se trata, pues, de un método de Ios que en el apartado anterior
401
CALICATAS ELECTRICAS

se han denominado de campo fijo, y más concretamente correspondiente

a Ia división A-I (método de gradientes).
Si en vez de mantener inmóvil el electrodo A, se hubiese trasladado
conjuntamente con los M y N tendríamos una calicata deI tipo de dis-
positivo móvil (B-2, calicata trielectródica). En este caso, hay que con-
siderar Ia variación de Ia resistividad aparente en función de Ia distancia
aI contacto de alguno de los electrodos, por ejemplo, el A. Esta variación
puede calcular se por medio de Ias mismas fórmulas anteriores, sin más
que tener en cuenta que ahora Ia variable es xo, mientras que x tiene valor
constante, que podremos representar por L y es igual a Ia distancia de
A .aI centro deI corto dipolo MN. Entonces, Ias expresiones (VII,13) y
(VII,14) se escribirán:
L2 K
(VII,15)
p~I) = PI ( 1- K (2 Xo _ Lf ) = PI ( 1- (2 x' -1)2 )
p~I.2)=2~ (VII, 14)
PI + P2
en I<,t primera de Ias cuales se ha puesto x' = xo/L. En este caso, Ia re-
sistividad aparente se comporta de modo semejante a como 10 hace en
eI método de gradientes .anteriormente estudiado, es decir, que Ia apro-
ximación deI dispositivo aI contacto, va acompafiada de una disminución
gradual de Ia resistividad aparente, si eI segundo medio es más resistivo
que el primero y un aumento si ocurre 10 contrario (fig. VII-3).
La ecuación (VII,14) es aplicable cuando el dispositivo se encuentra
"a horcajadas" de ambos medios, con el electrodo A en el primer medio,
y Ios MN en el segundo. En estas condiciones, Ia resistividad aparente
permanece constante.
Cuando todo eI dispositivo se encuentra sobre el segundo medio, ya
no es aplicable Ia ecuación (VII, 14). Podemos utilizar Ia (VII,15.) válida
cuando Ios tres electrodos se encuentran en el mismo medio, pero susti-
tuyendo PI por P2, cambiando de signo K en virtud de. su definición, y
teniendo en cuenta que Xo Y L tienen ahora signos opuestos. Efectuados
estos cambios queda finalmente

p~) = P2 (1 + (2x,K+ 1)2 ) (VII,16)

ecuación que expresa que Ia resistividad aparente en el segundo medio

se aproxima asintóticamente a Ia resistividad verdadera de éste cuando
el dispositivo se alejadel contacto.
402
 RESOLUCION DE PROBLEMAS DIRECTOS

P,

R ~

FIG. VII-3. Curva de resistividades aparentes obtenida sobre un contacto vertical,

con un dispositivo trielectródico m6vil.

Los ejemplos anteriores indican que Ias curvas de resistividad al?arente

representativas de Ias calicatas eléctricas poseen características muy di-
ferentes de !.as que podían atribuírseles a primera vista, o con base en
consideraciones cualitativas o intuitivas. Se deduce de ello que Ia inter-
pretación correcta de tales curvas sólo puede efectuarse si se dispone de
juegos de curvas maestras obtenidas mediante cálculos rigurosos o cui-
dadosas mediciones sobre modelos reducidos.

VII.4 RESOLUCION DE PROBLEMAS DIRECTOS

VII.4.1 Generalidades

Hasta ahora sólo se conoce un método científico para Ia interpreta-

ción de Ias calicatas eléctricas, que consiste en comparar Ias curvas de
resistividad aparente obtenidas en el campo, con curvas patróIl, corres-
pondientes a cortes geoeléctricos conocidos. Esta comparación puede
hacerse visualmente, o por superposición en gráficos semilogarítmicos;
un tercer procedimiento consiste en establecer, mediante análisis de Ias
curvas patrón, relaciones entre Ia posición de Ias puntos característicos
403
CALICATAS ELECTRICAS

de aquellas (máximos, mínimos, etc.), y Ia geometria deI corte geoeléctrico

correspondiente. Estas relaciones se aplican Iuego a Ias curvas de campo
para Ia determinación de Ias discontinuidades laterales de Ia resistividad
deI subsuelo.
Las curvas patrón o maestras exigidas por eI método de interpreta-
ción aludido, pueden obtenerse mediante cálculo, pero en muchos casos
aparentemente sencillos se presentan dificultades matemáticas muy gran-
des. Por esta causa se ha recurrido a diversos tipos de ensayos sobre mo-
delos redúcidos.
En Ios momentos actuales parece preferible eI recurso aI cálculo nu-
mérico automático de métodos de aproximación, como el de elementos
finitos, y el de diferencias finitas ya mencionados en eI apartado IV.I8,
Lo que en realidad ha de calcularse es la desviación o anomalía res-
pecto deI campo correspondiente a un medio homogéneo, producida por
alguna heterogeneidad en Ia distribución de resistividades, Ia cual, por sus
características, pueda representar algún accidente geológico de interés.
Dentro de Ia dificultad general, los problemas más sencillos son los
de geometría bidimensionaI, en los que Ia heterogeneidad se extiende in-
definidamente en dirección perpendicular aI plano vertical que pasa por
el perfil de observaciones. Tales casos no se dan estrictamente en Ia rea-
Iidad, pero son asimilables a 10s de accidentes geológicos aproximada-
mente rectilíneos, de Iongitud o corrida muy grande respecto deI tamano
de Ios dispositivos electródicos. Dentro deI tipo bidimensionaI, Ios pro-
blemas más importantes son los siguientes:

a) Contacto plano vertical entre dos medias de resistividad diferente.

b) Capa vertical en medio homogéneo.
c) Capa vertical que separa dos medias de resistividad diferente.
d) Los mismos tres casos anteriores con interfaces oblicuas respecto
de Ia superficie plana deI terreno.
e) Los cuatro casos anteriores con recubrimiento, esto es, con una
capa superficial de resistividad distinta a Ia presentada por el me-
dio o medios indicados anteriormente.
El caso e) es de fundamental importancia práctica, ya que es el
que se da en Ia realidad. Cuando no existe recubrimiento, Ios
contactos afloran y pueden ser cartografiados directamente por el
geólogo, sin necesidàd de recurrir a Ia Geofísica, salvo para acla-
rar cuestiones secundarias. Por desgracia, Ia presencia deI recu-
brimiento complica grandemente el problema matemático.
f) Heterogeneidades de extensión lateral indefinida, y sección de for-
ma geométrica regular (circular, elíptica, rectangular, etc.), que
pueden representar estructuras geológicas tales como metalizacio-
404
 RESOLUCION DE PROBLEMAS DIRECTOS

nes, cavidades cársticas, etc., de gran longitud respecto deI tama-

fio de 10s dispositivos.

Por último, existen problemas tridimensionales, en los cuales Ias he-

terogeneidades tienen tamano limitado en sus tres dimensiones, en forma
de prisma, esferas, elipsoides, etc., o de canos que salen a Ia superficie
deI terreno. '"
La solución de Ia mayoría de ·los problemas aludidos es muy compleja
desde el punto de vista matemático. Por esta circunstancia no se tratarán
aquí con amplitud, pues eIlo se apartaria de Ia finalidad práctica de esta
obra y aumentaría notablemente su extensión. Se incluirán sólo algunos
ejemplos que den idea de los métodos que pueden utilizarse y de los
resultados que se obtienen. Mayor información puede hallarse en GRANT
y WEST (1965), V AN N OSTRAND Y COOK (1966) Y W ARD (1967), así como
en el apartado IV.18 de esta obra.

VII.4.2 Capa vertical

Como ejemplo de Ia aplicación deI método de Ias imágenes, ya uti-

Ii.zado en este capítulo, se considerará el caso de una capa vertical inde-
finida de resistividad P2 y espesor E, intercalado .en un semiespacio ho-
mogéneo de resistividad PI (fig. VIl-4). A distancia d deI primeI' contacto
se encuentréi un eleetrodo fijo A de emisión, por el que penetra en el
terreno corriente e1éctrica de intensidad 1. EI potencial se mide en un
I
I M A A'
-I s:A I
P2

l fI
=~
:-d- E

FIG. VII-4. Cálculo de Ia anomalía producida por una heterogeneidad limitada

por dos planosverticales (método de Ias imágenes).

electrodo M situado a Ia distancia x de A, sobre un perfil perpendicular

a Ia capa.

'" Dn caso particular de ello es Ia detecci6n de galerías subterráneas, que ha

sido estudiado por MILITZÉR et alo (1979).
405
CALICATAS ELECTRICAS

Cuando M está en el primer medio, aI potencial que produciría el

electrodo A en medio homogéneo

Içh _1_.
UA= 2" x

se suma el de Ia imagen A', simétrica de A respecto del primer contacto.

Ipl K..__
UA, =~ 2d-x

siendo K el valor definido por Ia (VII,7) como de costumbre. A estas po-

ten,ciales hay que afíadir los debidos a Una serie infinita de imágenes si-
tuadas a distancias crecientes hacia Ia derecha, con intervalo constante
2 E, Y cuya intensidad se obtiene multiplicando por K2 Ia de Ia imagen
anterior. La primera de esta serie es Ia Ali, simétrica de A respecto deI
segundo contacto, y Ia. intensidad (1- K2) K veces Ia de A. Por 10tanto,
Ia imagen .enésima Anil de esta serie producirá en M el potencial

UAU = !!.!_
2rr
(1 - K2) [(2/t-l

y el potencial total será

(VII,l7)
U = ~2rr x +
(_1_ 2d -K x + (1 _ K2) n=1
~ K2n-1 )

Si el electrodo M se sustituye por un dipolo de medición Schlumberger,

se obtendrá Ia componente Ex deI campo eléctrico, que vendrá dada por
Ia derivada deI potencial U respecto de x cambiada de signo, o sea

Ex = ~Ip1 ( 7"-
1 (2d _K X)2 (1 - [(2) E (2d + 2K2n-1
co nE - xl )
(Vrr,18)

EI potencial en el tercer medio, o sea a Ia derecha de Ia capa, según

Ia figura, es igual aI producido por una serie infinita de imágenes, Ia pri-
mera de Ias cuales coincide con A en posicián, y su emisividad es Ia de
ésta multiplicada por (1 - K2); Ias demás guardan intervalos de 2E y Ia
emisividad de cada una es igual a de Ia anterior multiplicada por [(2. Se-
gún esto, el potencial en el tercer medio es
lp co [(2"
U3 = __
2rr
1 (1 - K2) 2: ----
n=O x +2E n
(Vrr,19)

406
 RESOLUCION DE PROBLEMAS DIRECTOS

y Ia componente x deI campo

Ipl 00 K2n
(VII,20)
Ex = -2- (1-
11' K2) 11=0
~ (X + 2E n )2

Cuando eI electrodo M se encuentra sobre Ia capa, eI potencial puede

considerarse como debido a dos series de imágenes situadas en Ios mis-
mos puntos que en Ios casos anteriores y con Ia misma relación entre
sus emisividades. La emisividad de Ia primera imagen deI primer media
es (1 + K) Y de Ia primera deI tercer medio - (1 + K) K, tomando como
unidad Ia de Ia fuente real A. EI potencial en M resulta en este caso,

U2 = ~IPl (1 + K) [ n~00 K2n+ x -

2n E n~
00 x + 2nE
2 d _ K2n-l ] (VII,21)
Y el campo

Ex = -211'
lpl
(1 + K) ~
( n=O
00
-
(2n EK2n+ x)
2 -
n=1
00
L,
+ 2 n E)
(2 d --·xK2n-1
2
)
(VII,22)

Si el electrodo A fuese móvil habría que considerar Ios casos en que

se encontrara sobre el segundo o tercer medios, a los que corresponden
fórmulas análogas a Ias anteriores.

VII.4.3 Método de Logn

EI geofísico noruego O .• LOGN (1954) ha utilizado un método aná-

logo aI de Stefanesco para Ia resolución de problemas referentes a con-
tactos verti cales. Consideraremos el caso más sencillo, que es eI de un
contacto vertical entre dos medios de resistividades respectivas Pl y P2'
Sean, como en el problema anterior, d Ia distancia deI electrodo A aI con-
tacto, y x Ia deI primero aI electrodo de medida. Puede tomar se un sistema
cartesiano de coordenadas x, y, z con su origen en A (fig. VII-5), pero cabe
también utilizar un sistema cilíndrico, con r=if+z2. En tal caso, dado Ia

A M

---d ----j z
I
FIG. VII-5. Para ilustrar el cálculo de Ia R I{
anomalíá de un contacto vertical por el
método de Logn.
407
CALICATAS ELECTRICAS

simetría deI problema, el ángulo 'f no influye enel potencial, por 10 que
habrá de cumplirse Ia ecuación de Laplace, prescindiendo deI término
en 'f o sea

-+--
a2u
ar -.-+-=0
1 au
r ar
a2u.
ax2
(VII,23)

que puede separarse en dos, poniendo

u = R (r) . X (x) (VII,24)
y entonces

dr + __
d2R
r
1 dR
dr
= _)..2R (VII,25)

d2X
dx2
= )..2X

que tienen por soluciones

R= lo()..r)
X = e±)..'"
(VII,26)

y hmbién su combinación lineal

(VII,27)
U = J ~ A()..) e-'''' lo()..r) dx + J ~ B()..)é'" lo()..r) dx

A esta solución general deI problema homogéneo hay que afiadir, para
el primer media, una solución particular deI problema no homogéneo
que, como en el caso deI SEV (apartado IV.6.2), puede ser

---- 1
(r + X2)I/2 = Joo o
e-'I"'I J ()..r) dÁ
o
(IV,37)

donde x debe tomarse en valor absoluto.

Por 10 tanto, se tendrán, para Ias potenciales UI Y U2 en el primero
y segundo medio, Ias soluciones

UI = J ~ (e-'''' + AI()..) e-'''' + BI()..)eAx] lo(Ar) d)..

(VII,28)
U2 = J ~ (A2(A) e-'''' + B2()..) e''''] lo(Ar) d)..
Apliquemos ahora Ias condiciones de contorno. EI potencial habrá de
408
 RESOLUCION DE PROBLEMAS DIRECTOS

anularse en el infinito, por 10 que tendrá que ser

Al',) = O
(VJI,29)
B2(Â) = O

U1 Y Uz serán iguales para x =d por Ia continuidad deI potencial, o sea

r),.d + Bj(Â) éd = Az(Â) e-)"d

equivalente a
1 + Bj(,1.) eZ).d = AzO.) (VII,30)

En el mismo plano habrán de ser iguales Ias componentes normales de

Ia densidad de corriente:

_1_ }Uj = _._1_ auz.

Pl ax Pz ÜX

que deriva directamente de Ia (IlI,14) y aplicada a Ia (VII,28) después

de introducir en ella los resultados (VII,29), da
pz [- Â e-).d + Â BlO.) eM] = Pl [- Â Az(Â)e-M]

Ia cual combinada con Ia (VII,30) lleva a

Pz - Pl = (pz + Pl) Bl(Â) rj2),.d

que puede transformarse en

Bl(Â) = K e-2),.d
Az(Â) = I+K
expresiones que sustituidas en Ias (VII,28) dan los resultados finales bus-
cados'

Ul = __
12-
I Joo
2" o
[e-Àx +K e-À(Zd-X)] /o(Âr) d =
= ~2"
I Joo
o
e-)..X fo(Âr) d + .-..0_
I K Jooo
2rr
e-À(2d-x) /0 (Âr) d =
(VII,31)
= 2;;:-
Ipl [1
(x2 + r2)1/Z + [(2d - K] +
X)2 r2]l/2

Uz = ---
2rr
IPl
(1 + K) J o00 e- )..
x fo{Àr)
.
d = --21r
Ipl
---
(x21++ K r (VII, 32)

Soluciones que coinciden con Ias (VII,lO) haBadas por el método de Ias
409
CALICATAS ELECTRICAS

imágenes, salvo diferencias de notación, y que en ellas se suponía r = O,

por considerarse sólo el potencial en Ia línea deI perfil.
En el trabajo original de Logn puede verse Ia solución, por el mismo
método, deI caso de una capa vertical que separa dos medios de resisti-
vidades diferentes.·

VII.4.4 Heterogeneidad en forma de cilindro

Consideremos ahora una heterogeneidad que sólo sea infinita en una
dirección. Se trata de un cilindro horizontal de radio R y resistividad
Pz intercalado a Ia profundidad Zo en un subsuelo homogéneo de resisti-
vidad Pl (fig. VII-6). A fin de simplificar Ia solución deI problema, su-
pondremos que eI electrodo que crea el campo está tan distante que el
campo que produce en ausencia deI cilindro puede considerarse como
uniforme, y de intensidad Eo•

M
~~
P.
I
1 /

120 //

~ ~--x=---
FIG. VII-6. Heterogeneidad de forma cilíndrica, en campo eléctrico uniforme.

Dada Ia geometría deI problema, se tomarán coordenadas cilíndricas

y, r, ~, siendo y el eje deI cilindro.
Como no existe ninguna fuente a distancia finita, habrá de cumplirse
en todos los puntos Ia ecuación de Laplace

- I -+-+- 1r -+--=0
r
au
ar
azu
a1'2
azu
a:pz
àZU

àtj
(VII,33)

donde es nulo eI último término, ya que, en este caso, el potencial no

varía en Ia dirección deI eje deI cilindro.
Para separar Ias variables, pondremos
u = R(r) . <I> (10) (VII,34)
con 10 que procediendo deI modo acostumbrado, se llega a Ias dos ecua-
ciones diferenciales ordinarias

r--aZR
ar + r---mR
aR
ar
= o (VII,35)

410
 RESOLUCION DE PROBLEMAS DIRECTOS

{j2ifJ
--+mifJ=O (VII,36)
arl
cuyas soluciones respectivas son
R = Arm + Br-m (VII,37)
ifJ = C cos m + D sen m rp rp (VII,38)
por 10 que Ia solución general puede escribirse
00
v= :L;
m=l
(Am rm + Bm r-m) (Cm COS m rp + Dm sen m rp) (VII,39)

ya que hayque dar a m valores enteros exclusivamente si Ia solución ha

de ser función uniforme.
En eI potencial VI (exterior aI cilindro) Ia anulación en el infinito
exige que desaparezc:m los términos rm por 10 que
Am=O

Además eI potencial es simétrico respecto deI eje x, por 10 que ha-

brán de anularse los términos que contienen senos
Dm= O
En VI hay que incluir el potencial debido aI campo uniforme Eo, que
será
Vo = - Eo x = - Eo r cos rp

En resumen, se tendrá
00
VI =- Eo r cos rp + m=l:L; F m r-m cos m rp (VII,40)

siendo
Fm = BmCm
En el interior deI cilindro existirá un potencial V2 para el que habrán
de anularse Ias coeficientes Bm, pues de 10 contrario, el potencial se haría
infinito en el origen de coordenadas. Por otra parte, los coeficientes Dm
de los términos de seno, habrán de anularse por Ia misma razón de si-
metría ya expuesta, de modo que
CX)

V2 = :L;
m=l
Gm cos m rp rm (VII,4l)

Se considerarán ahora Ias condiciones de contorno. En Ia superficie

deI cilindro, r = R, habrán de coincidir ambos potenciales, por 10 que m
411
CALICATAS ELECTRICAS

sólo puede tomar el valor unidad. Se tiene, pues,

VI = ~ Eo rcos 'f + FI r,-I cos 'f
(VII,42)
Vz = GI r cos 'f
y para r =R
- Eo R cos'f + FI R-I cos 'f = GI r cos 'f
o sea
- Eo R + FI R-I = GI R (VII,43)
La segunda condición de contorno es Ia continuidad de Ia componente
normal de Ia dcnsidad de corriente

_.~ jYI = __I_ éJVz

PI ar Pa ar
para r = R.
Aplicada esta condición a Ias (VII,42) resulta
- pz (Eo cos 'f + FI R-z cos 'f) = GI PI COS 'f
y de esta
Pz (Eo + FI R-2) = - GI PI (VIl,44)
que combinada con Ia (VII,43) da

Pa- PI EoR2
FI = -- P2 + PI
(Vn,45)
P2-- PI
GI = - Eo -- ----
Pa + PI Eo =- Eo (l + K)
de donde se deduce que el potencial VI en el exterior deI cilindro es
R2
VI =- Eo r cos 'f - K Eo --
r
cos g; (VII,46)

que es el potencial buscado. El primer término representa el potencial

normal, en ausencia deI cilindro, y el segundo, el efecto perturbador o
anomalÍa producido por éste. Obséi.-vese que Ia intensidad de Ia anomalía
no es proporcional aI contraste de resistividades Pz/ PI sino a K, por 10
que ya para un contraste de 10, Ia anomalía producida es el 82 % de Ia
correspondiente a un cilindro perfectamente aislante. Lo propio ocurre
cuando el cilindro es más conductor que el media que 10 rodea. A este
efecto se le llama saturación.
Si en vez deI potencial se quiere calcular el campo eléctrico, que es
Ia magnitud que se mide con electrodos M y N muy poco separados entre
412
 RESOLUClON DE PROBLEMAS DIRECTOS

sí, y se supone que Ia alineación de éstos es perpendicular aI eje deI ci-

lindro bastará derivar U1 respecto de x, con 10 que se obtiene

E" = Eo + KEoRz (x2_ZZ)

r~ (VII,47)

VII.4.5 Heterogeneidad esférica

La forma más sencilla de heterogeneidad limitada en tres dimensiones

es Ia esfera. Sea R el radio de una esfera de resistividad Pz intercalada en
un terreno homogéneo de resistividad P1 de modo que su centro se en-
cuentra a Ia profundidad zo. Supongamos, como en el caso anterior, que
el campo aplicado es uniforme, de intensidad Eo• Utilizaremos un sistema
cartesiano de coordenadas con origen en el centro de Ia esfera y orien-
tado del mismo modo que en el problema deI cilindro (fig. VII-7). Simultá-

~
~~o

E
o
I? I __
2 Ok::..
~
x- _

R ~ -
FIG. VII-7. Heterogeneidad de forma esférica, en campo eléctrico uniforme.

neamente pueden emplearse coordenadas esféricas r, e, 'f con el mismo

origen. En todos los puntos habrá de anularse Ia ecuación de LapIace
que expresada en estas últimas coordenadas es

iira ( r2 ---a;:-
au) + sen1 e a ( sen e 7iO
----ao au ) + 1B
senZ al
azu = o (VIl,48)
Por Ia simetría respecto deI eje x puede suprimirse el término en 'f.
La ecuación resultante puede descomponerse en dos, por el método usual,
si se pone
u = e(B)R(r)
con 10 que resultan Ias dos ecuaciones
d2R dR
rZ--
dr~ + 2r---p2R
dr = O

(VII,49)
sen1 e -----;]B
d ( sen B de
de ) + V' e = o
413
CALICATAS ELECTRICAS

cuyas soluciones generales con p2 = n (n + 1) respectivamente

R(r) = An rn + Bn r-n-l (VII,50)
e(O) = Pn (cos O) (VII, 51)
donde P" representa, como de costumbre, el polinomio de Legendre de
orden n.
La solución general será, pues,
00
U = L:
11.=1
(An rn + Bn r-n-I) P" (cos O) (VII,52)

El potencial exterior UI habrá de anularse en el infinito y el interior

U2 en el origen. por 10 que habrá de ser A1l = O en eI primer caso, y
B" = O en el segundo. Se tendrá,
00
UI =.- Eo r cos O + L:
n=O
Bn r-n-l P" (cos O)
00

U2 = L: An rn P" (cos O)
n=O

Por ser Po (cos O) = 1, será Ao = O, pues de 10 contrario existiría siem-

pre en eI origen un potencial U2 = 1, independientemente de Ias demás
condiciones. Por otra parte, a distancias grandes de Ia esfera el potencial
UI habrá de coincidir con eI deI campo Eo, 10 que exige que B1l = O para
n::;i=l. •
La continuidad deI potencial en Ia superficie de Ia esfera hace que

-Eo BI
R cos 0+ WP1 (cos B) =. ( -E().R + R2}
BI \ .
COS O = ~ A" R" P" (cos
"~l O)

de donde se deduce que A" = O para n::;i= 1 y que

A1RcosO= (-EoR + :~ ) cosO

o sea
B1
A1=-Eo+-w (VII,53)

y por 10 tanto,
(VII,54)
U2 = (- Eo + ~~) r cos O
que indica que eI campo en su interior es constante y vale
aU2 . B1·
Ez=---=Eo---
ax R3
(VII,55)

414
 RESOLUCION DE PROBLEMAS DIRECTOS

Aplicando ahora Ia ecuación de continuidad de Ias componentes nor-

males de Ia intensidad de corriente
1 aUl _ 1 auz
---;;;-
ar - P;- ar-
para r =R resulta

Pz ( - Eo cos B - 2 ~~ cos B ) = P1 ( - Eo + ~~) cos B

o sea

P1- (VII, 56)

B1 = 2 pz +PzP1 EoR3
y por 10 tanto,

U1 = [ -Eor + 2P1-
PZ+P1pz Eo~ rR3 ] cosB
(VII,57)

que es Ia Jórmula buscada para el potencial exterior. Por derivación res-

pecto de x se obtiene el campo en Ia dirección dei campo inductor, que es

Ex = Eo + P1 -
2P2+P10
P2 E R3 2 x2 -
r5
z2 (VII,58)

Obsérvese que Ias resistividades aparecen en una fracción semejante,

pero no idéntica, aI factor K deI método de Ias imágenes y que dá lugar
también a saturación, aunque algo más débil que en el caso deI cilindro.

VII.4.6 Comentarios

Si el lector posee sentido crítico, es probable que no le hayan con-

vencido Ias soluciones dadas para el cilindro y Ia esfera. Si ha sido así,
está eu 10 cierto, pues tales soluciones no son exactas. AI suponer Ia si-
metría deI potencial no se han tenido en cuenta el efecto deI plano de
separación tierra-aire. Este efecto se comprende más fácilmente pasando
aI caso electrostático (apartado I1L13). Entonces el campo Eo es un campo
electrostático que induce 'una distribución de cargas, simétrica respecto
deI eje x sobre Ia superficie de Ia esfera o deI cilindro. Tal simetría des-
aparece en cuanto se introduce Ia interfaz tierra-aire, pues en ella el cuer-
po inducirá nuev.as cargas que a su vez modificarán Ia distribuci6n en Ia
superficie de aquél. Por 10 tanto, Ias soluciones dadas más arriba s610
son aproximadas.
Para encontrar soluciones exactas, por separación de variables, es
necesario utilizar en cada caso un sistema de coordenadas en Ias que
415
CALICATASELECTRICAS

todas Ias superfícies límites (incluso Ia deI suelo) 10 sean de nivel (esto
es, tengan constantes una de sus coordenadas). Esto puede conseguirse
simplemente, en el caso de superfícies planas paralelas o perpendiculares,
recurriendo a coordenadas cartesianas, pero en los demás no es fácil, y
hay que utilizar sistemas de coordenadas poco comunes, como Ias elípti-
cas, parabólicas, dipolares, etc. Sobre estos sistemas pueden consultarse
GRANT y WEST (1965) Y STRATTON(1941).
EI caso de Ia esfera requiere el empleo de coordenadas bipolares (tam·
bién Ilamadas biesféricas). Si se compara Ia solución exacta haIlada por
este camino con Ia encontrada más arriba, resulta que el error de ésta
crece, como es lógico, con Ia proximidad de Ia esfera aI suel0, y es in-
ferior alIO % si Zo < 1,3 R. No siempre, por no decir en muy pocos casos,
puede encontrarse un sistema de coordenadas adecuado para el problema
propuesto, máxime si los electrodos de emisión se encuentran a distan-
cia finita deI cuerpo.

SCURTU (1972) ha estudiado el caso de Ia esfera de resistividad nula

sumergida en media homogéneo, considerando Ias fuentes fictícias· crea-
das por Ia interfaz tierra-aire, infinitas en número. Dentro de una aproxi-
mación suficiente, ha calculado Ias resistividades aparentes que se obten-
drÍan para diversas profundidades y radios de Ia esfera y diferentes
dispositivos electródicos.

VII.4.7 Efectos topográficos

Cuando Ia superficie deI terreno no es plana, Ia distribución deI po-
tencial se perturba, con 10 que aparecen anomalías que pueden atribuirse
erróneamente a estructuras deI subsuelo, o bien deformar u ocultar Ias que
tengan realmente este origen.

EI cálculo de estos efectos y su corrección, presenta Ias mismas difi-

cultades que el de Ias anomalías producidas por heterogeneidades deI
subsuelo. Las depresiones deI terreno pueden considerarse como. inclu-
siones aislantes; Ias elevaciones, como zonas conductoras suplementar ias.
La ortogonalidad de Ias equipotenciales a Ia superficie deI terreno, hace
que Ias líneas de corriente coincidan con ésta, condensándose bajo Ias
depresiones y enrareciéndose en Ias elevaciones deI terreno. Grant y West
sugieren el empleo deI método de reIajación para el cálculo de estos efec-
tos topográficos. Dicho método consiste en esencia, como es sabido, en
determinar Ia solución de Ia ecuación diferencial planteada, en este caso
Ia de, Laplace, en un número finito de puntos que forman una red re-
gular.
416
 RESOLUCION DE PROBLEMAS DIRECTOS

VII.4.8 Ensayos sobre modelos reducidos

Las dificultades que presenta el cálculo numérico de Ias anomalías
producidas por heterogeneidades deI subsuelo, incluso de forma regular,
llevaron a diversos investigadores a su estudio experimental por me-
dio de ensayos sobre modelos reducidos. Hasta ahora se han empleado
tres clases de estos modelos.
a) Ensayos efectuados en el terreno, excavando una zanja y reUe-
nándola con materiales sólidos (arcilla, cemento, arena, etc.), dispuestos
de forma que reproduzcan, en proporciones reducidas, el corte que se
desea estudiar. El inconveniente principal de este métoqo, utilizado en
Ia Dnión Soviética, es Ia dificultad de conseguir Ia homogeneidad eléc-
trica de cada capa o zona.
b) Ensayos en la cuba electrolítica, Ia cual consiste en un recipiente
grande, deI orden de un metro en su dimensión mínima, lleno de agua
con algo de sal común u otro líquido débilmente conductor. La superficie
límite de éste representa Ia deI terreno. Dentro deI líquido se colocan
cuerpos de Ia forma deseada, que representan, a escala conveniente, hete-
rogeneidades perfectamente conductoras si S011 de metal, o aislantes,
si S011de bakelita, plexiglás, etc. Las heterogeneidades de resistividad no
nula ni infinita son más clifíciles de conseguir. D11 modo de lograrIos
serÍa Ia utilización de electrólitos de diferente concentración, cuya con-
ductividad podría ajustarse aI valor deseado, pero en estas circunstan-
cias surge el problema de separar unos de otros. Si este se hiciera por
medio de tabiques aislantes o muy conductores se introducirÍa un nuevo
elemento que perturbaría Ias condiciones previstas. Por otra parte, es muy
difícil conseguir tabiques de resistividad intermedia entre Ias dos que se
trata de separar, y aún así, Ia perturbación, aunque menor, podría no ser
despreeiable. Al'pin ha utilizado a este efecto láminas aislalltes con per-
foraciones, que forman una red regular, en cada una de Ias cuales se in-
troduce un remache o tapón metálico. De este modo, el tabique actúa
como elemento neutro, porque tanto su conductancia longitudinal, como
su resistencia transversal, son nulas.
Aunque Ias mediciones pueden efectuarse con corriente continua y .
micro-electrodos impolarizables, es preferible utilizar electrodos metáli-
cos y corri ente alterna, de frecuencia tal que no produzca polarización y
aI mismo tiempo sea 10 suficientemente baja para que sus efectos sean
prácticamente iguales a los de corriente continua.
Los valores de potencial medidos se aplican-al caso real por simple
relación de semejanza geométrica.
c) Ensúyos con papel conductor. Este método, de mayor sencillez
experimental que los dos anteriores, es válida para el estudio de cortes
bidimensionales, esto es, de heterogeneidades de extensión indefinida en
417
CALICATAS ELECTRICAS

dirección perpendicular aI perfil sobre eI que se hacen Ias mediciones.

EI modelo se construye cortando y pegando trozos de papel conductor,
como eI "Teledeltos", para formar una reducción a escala deI corte que
desea estudiarse. Las heterogeneidades perfectamente conductoras pue-
den representarse por papel de estano oaluminio, o pintando sobre eI
papel conductor con amalgama de plata. Hay que tener en cuenta Ia
resistividad deI pegamento empleado. Blokh recomienda para este uso Ia
tinta china incongelable cuando Ias resistividades son pequenas, y Ia cola
de Filchakov * para resistividades grandes.
En los modelos de papel conductor no puede aplicarse directamente
Ia semejanza geoeléctrica, puesto que eI potencial Vt en el terreno (se-
miespacio) decrece en proporción inversa con Ia distancia, mientras que
en el modelo (semiplano) el potencial Vm es logarítmico. Puede demos-
trarse que
V. = Vm ·2rlnr (VII,59)

donde r es Ia distancia deI punto donde se mide el potencial aI electrodo

de corriente A. Cuando se mide Ia diferencia de potencial 11Ventre dos
eleetrodos M y N, separados por Ia distancia 2a y es r Ia que existe entre
A y el centro O deI segmento MN, eI factor de semejanza para Ia dife-
renciade potencial es

= r-cr ln r-a (VII,60)

f a r+a
Si 10 que desea obtener es Ia anomalía correspondiente a aIgún tipo
de calicata en Ia que todos los electrodos se mueven conjuntamente, pue-
de prescindirse deI coeficiente f, pues éste será constante aI ser invaria-
bles Ias distancias entre electrodos.
En este tipo de modelos puede emplearse corri ente continua, ya que
Ia conductividad de Ios papeles conductores es electrónica.
En los tres tipos de modelos descritos es preciso tener en cuenta eI
efecto perturbador de los límites deI modelo (paredes de Ia cuba, etc.),
que actúan como medios aislantes sin homólogos en Ia realidad, por 10
general.

* La composición de esta cola, según el autor citado, es Ia siguiente: gelatina

fotográfica, 5-10 %; glicerina, 0,5-1 % alcohol de 96°, 15-20 % negro de humo,
0,5-5 %; agua, 64-79 %. Su resistividad varÍa dentro de amplios límites en fun-
ción de su composición.
418
 DISPOSICION Y MOVIMIENTO DE LOS ELnCTRODOS

VII.5 DISPOSICION Y MOVIMIENTO DE LOS ELECTRODOS

EN DIVERSOS TIPOS DE CALlCATAS

A continuación se enumeran los distintos tipos de dispositivos elec-

tródicos y el movimiento de los electrodos para los diversos tipos de ca-
licatas enumerados en el apartado VII.2.
a) Método de gradientes.
Corresponde aI primer ejemplo deI apartado VII.3. EI electrodo de
corri ente A permanece fijo (fig. VII-8) mientras que el B está situado en
el "infinito". Los electrodos de potencial M y N se' desplazan conjun-
tamente, manteniéndose alineados con el A, y poco separados entre sí.

--Bco
M N

l14
J#.-1o/§~M
A
.•.. ---- X ----.
FIG. VII-8. Movimieuto de los eleetrodos
eu Ias calieatas por el método de gra-
dientes .

Este dispositivo es realmente un medio Schlumberger, en el que se mue-

ven los electrodos M y N en vez deI A. Por esta causa, Ia penetración
va aumentando con Ia distancia de A aI centro de los otros dos, 10 que
constituye un inconveniente de este método, pues en Ias calicatas se
intenta conseguir penetración constante.
b) Método "Racom".
También se le denomina método de relaciones de caída de potencial
(en inglésPotencial Drop Ratio = P. D.R.). Deriva deI anterior por adi-
ción de un tercer electrodo de potencial P colocado entre el M y el N.
(Fig. VIl-9.) Lo que se mide es el cociente entre Ia d.d.p. entre M y P
800

A M P N

FIG. VII-9. Disposición y movi- ,

miento de los eleetrodos en el
método Raeom. -----X-----
419
CALICATAS ELECTRICAS

y Ia existente entre P y N. Esta relación, que es independiente de Ia in-

tensidad I
se determina directamente por medio de un circuito puente
especial denominado "pu ente de relaciones" (en inglês "Ratio compen-
sator" y abreviadamente "Racom", 10 que ha dado a este procedimiento
uno de sus nombres). Este método, muy empleado en tiempos por los geo-
físicos suecos, tiene el mismo inconveniente que el sistema anterior. Suele
utlizarse con corriente alterna de baja frecuencia.
c) Calieata "Schlumberger".
No debe confundirse con Ias calicatas de dispositivos Sehlumberger
con cuatro eleetrodos móviles (párrafo g). Es también una modificaeión
deI método de gradientes, con el electrodo B a distancia finita, alineado
con los A, 1\1 y N Y situado aI lado opuesto deI primero respecto de 10s
otros dos (fig. VII-IO). Los electrodos 1\1 y N se mueven sobre el ter cio

A M N 8

~
FIG. VII-IO. Calieata "Sehlumberger" de dos eleetrodos de potencial móviles.

central deI segmento AB, donde el c.:lmpo es inás uniforme y pueden de-
tectarse más fácil mente 10s cambios laterales de resistividad. La pene-
traeión tampoco es constante, siendo máxima cuando 10s electrodos 1\1
y N se hallan en el centro deI segmento AB, pero varía de modo mucho
más tolerable que en los dos casos anteriores.
d) Método de bloques.
Se le conoce también por los nombres de reetángulo de resistividad
y de método dei gradiente media. Resulta de extender Ias mediciones
de una "calicata Schlumberger" a perfiles paralelos aI principal, esta es
aI que pasa por los electrodos A y B, a ambas lados de éste (fig. VII-H).
Se investiga así una zona cuadrada o rectangular de terreno.

A B
x-------- -------x

FIG. VII-ll. Electrodos de emlsión y perfiles (líneas gruesas) en el método

de bloques (en planta).

420
 DISPOSICION Y MOVIMIENTO DE LOS EL'ECTRODOS

Los tipos de calicatas que acaban de describirse, corresponden aIos

métodos de campo fijo, este es, con Ios eleetrodos de corriente inmó-
viles. Los que siguen se caracterizan por eI desplazariüento simultáneo
de todos Ios electrodos, por 10 que Ias distancias entre eUas son cons-
tantes en toda Ia investigación.
e) Calicatas dipolares.
En eUas se desplaza sobre eI terreno, a 10 largo de un perfil rectilíneo,
un dispositivo dipolar axiI (apartado III.8 f) mateniendo constantes Ias
separaciones interelectródicas (fig. VII-12).

A' A M N B B'

-+ 1-+ -+ 1-...• -+ -----.

FIG. VII-li. Dispositivo electródico en Ias calicatas dipolares bilaterales (CED).

Es muy frecuente eI uso de calicatas dipolares biIaterales (fig. VII-12)

en los que se emplean dos dipolos de emisión A' A y BB' situados simé·
tricarnente respecto deI dipol0 MN. Para cada posición deI conjunto, se
efectúan dos IÍ1ediciones de resistividad aparente, una con el dipolo de emi-
sión A~A * y el otro eon el BB', ambas con eI mismo dipolo de recepción
MN. Se obtienen así dos curvas de resistividad aparente, una para cada
dipolo de corriente, 10 que facilita grandemente Ia interpretación.
f) Calicatas trielectródicas.
Se emplea en eUas un dispositivo trielectródico o semi-Schlumberger,
que es desplazado a 10 largo de cada· perfil sin modifieación de sus se-
paraciones mutuas.
También aquí. es frecuente, casi se diría que obligado, el empleo de
Ia modalidad bilateral (fig. VII-13). En eUa se emplean dos eleetrodos de
emisión A y B, colocados simétricamente respccto deI centro deI dipolo
MN y un tercer eleetrodo C situado en eI infinito. Para cada eoloeaeión
deI dispositivo se toman dos valores de resistividad aparente, eI primero
con Ios electrodos AMNC y eI segundo COl1 10s BMNC. Como en el caso
anterior, se obtienen dos curvas, con Ias mismas ventajas.

* Parece más l6gico den'cminar respectivamente, AB y A'B' aIos dipolos de

emisión, pero aquí se sigue el. uso de Blokh, empleado en su colección de curvas
patr6n.
421
CALICATAS ELECTRICAS

CQC)
A M N B
---. ---+ 1--+ -.
/:
FIG. VIl-I3. Dispositivo eIectródico en Ias caIicatas trieIectródicas combinadas.

Aún es posibIe conseguir mayor información con este tipo de caIicata

si se anaden dos nuevos eIectrodos de emisión A' y B' (fig. VII-l4). En
tal caso, resultan de cada estación cuatro valores de resistividad aparente,
Ias dos indicados y Ias correspondientes a Ias combinaciones A' MNC
y. B' MNC, Ias cuaIes en general estarán influidas por capas más pro-
fundas deI terreno. Pueden incluso efectuarse caIicatas trieIectródicas con
tres penetraciones, introduciendo dos nuevos eIectrodos de emisión A"
y B" pero ello vueIve aI dispositivo muy complicado.

C a:::>

FIG. VIl-l4. Dispositivo eIectródico en Ias calicatas trieIectródicas combinadas,

con dos distancias.

Como Ia penetración, según se ha visto en eI caso deI SEV, no está

relacionada de modo sencillo con Ia distancia entre eIectrodos, es pre-
feribIe habIar de calicatas con dos distancias (o dos separaciones) en vez
de caIicatas con dos penetraciones.
Las caIicatas trieIectródicas biIateraIes sueIen llamarse también trie-
lectródicas combinadas, denominación que se utilizará en 10 sucesivo.
Calicatas de dispostivo simétrico.
g)
La investigación por este método consiste en una serie de determina-
dones de resistividad aparente por medio de un dispositivo simétrico
de cuatro electrodos de separaci6n constante. Se usan generaImente eI
de Wenner, o eI de SchIumberger. El primero es eI más extendido en Ios
422
 DISPOSICION Y MOVIMIENTO DE LOS ELECTRODOS

países anglo-sajones o de tradición científica anglosajona, pero en Ia ma-

yoría de los casos es mucho más ventajoso el empleo deI dispositivo
Schlumberger, según se probará más adelante.

Ali A' A
M N
8 8' 8"
--+ --+ 1- -+ 1-+
--+ --+ --+

FIG. VII-I5. Dispositivo electródico en Ias calicatas simétricas (eES) con tres distancias.

Estas calicatas 'pueden hacerse con dos o tres distancias para efectuar
el estudio' con otras tantas penetraciones (fig. VII-I 5). Una ventaja de
este método frente aI de calicatas trielectródicas combinadas es Ia de no
requerir Ia colocación de un electrodo de "infinito".
Una modalidad de este tipo de investigación consiste en Ia adición
de un tercer electrodo de potencial, colocado en el centro O deI dipolo
MN (fig. VII-I 6). Para cada estación se efectúan dos Iecturas de resis-
tividades correspondientes a Ios dispositivos AMOB y AONB, con objeto
de obtener información sobre Ia inhomogeneidad deI terreno en Ia zona
donde se encuentran los electrodos de potencial. Cuando eI dispositivo
inicial AMNB es un Wenner, recibe el nombre de dispositivo de Lee.
Este tipo de caIicatas, a veces denominado "de repetición", no presenta
ventajas apreciables en el estado actual de Ia técnica.

A M O N 8
-+ -+1-+1--+ -+

FIG. VII-I6. Dispositivo electródico "de repetición" en calicatas simétricas.

h) Calicatas con dispositivos apantallados y de cero.

Se emplea en este tipo de investigación alguno de los dispositivos com-
puestos descritos en el apartado III,ll bien deI tipo cero, bien apanta-
llado. Como Ios casos anteriores, se efectúa una serie de determinaciones
423
CALICATAS
ELECTRICAS

de resistividad aparente, a 10 largo de un perfil rectilíneo, sin modificar

Ias separaciones interelectródicas.
En vista deI gran número de variedades de dispositivo posibles, y de
su hasta ahora escasa difusión, no se tratará este asunto más detallada-
mente en este apartado.
i)Calicatas circulares.
En este metodo, el dispositivo no se traslada, sino que gira alrededor
de un punto fijo que puede ser el centro deI dipoIo de recepción MN.
La variable independiente no es, pues, Ia distancia a un origen, sino el
azirnut deI dispositivo. Este suele ser un semi-Schlumberger) pel'o puede
utiJizarse cualquier dispositivo rectilíneo, por ejemplo, de tipo apanta-
llado, o dipolar.
1.os resultados se expresan en coordenadas polares, en forma de dia-
gramas resistividad aparente-azimut. Las medici.ones pueden repetirse con
diferente distancia entre electrodos.
Este procedimiento se emplea para determinar rumbos y buzamientos
de filones, capas conductoras, fallas o diaclasas, etc.
j)Otros tipos de calicatas.
1.a diversidad de tipos posibles de calicatas es inagotable, pero no
obstante, los enumerados más arriba son los más difundidos en Ia prác-
tica. A título de ejemplo, se mencionan dos modalidades originarias. de
Inglaterra.
En el método denominado Tripotencial, propuesto por CARPENTERy
HABBERJAM (1956) se utiliza un dispositivo de cuatro electrodos igual-
mente espaciados, como en el dispositivo Wenner. En cada estación se
efectúan tres determinaciones de resistividad aparente, en Ias que se al-
tera el carácter de emisión o recepci6n de los eIectrodos que correspon-
den respectivamente, para el mismo orden geométrico de estos, a Ias com-
binaciones AMNB, ABMN y AMBN.
En el dispositivo cuadrado, de.bido a HABBERJAM y WATKINS(1967) se
toman también tres valores de resistividad aparente en cada estación,
correspondientes a Ias tres combinaciones que acaban de citarse, pero los
electrodos están ubicados en los vértices de un cuadrado. AI pasar a Ia
estación siguiente, eI cuadrado puede despIazarse bien en Ia dirección de
dos de sus lados, bien en Ia de una de Ias diagonales.
KELLi>Ry FRISCHKNECHT (1966) describen un dispositivo que denomina
semi-Wenner, el cual consta de sólo dos electrodos A y M, estando en
el infinito los B y N. Este dispositivo, descrito por los autores soviéticos
como "bielectródico" con fines puramente pcdagogicos, no creemos que
se haya usado nunca en Ia práctica.
Conviene mencionar también que, a veces, Ias mediciones de algunos

424
 REPRESENTACION GRAFICA DE LAS RESISTIVIDADES

de los tipos descritos en los párrafos anteriores, se efectúan simultánea-

mente sobre varios perfiles, con los mismos electrodos de emisión. ASÍ,
si se trata de una calicata de dispositivo simétrico, pueden emplearse dos
dipolos de recepción supletorios M1 NI1 M2 N2 que se desplazan sobre per-
files paralelos ,aI principal, conservándose siempre sus centros en Ia me-
dia triz deI segmento AB (fig. VII-I?).

-- - ... --.- --
M, N1

FIG. VII-I7. Ejecuci6n simultánea de CES

* M
• N
III )(

sobre varios perfiles. A B

.- - ---+- ...•- - -
M2 N2

VII.6 REPRESENTACION GRAFICA DE LAS RESISTlVIDADES

APARENTES. NOTACION Y NOMENCLATURA

Las observaciones efectuadas en Ias diferentes modalidades de calica-

tas eléctricas se traducen en resistividades aparentes deI modo acostum-
brado, esto es, por aplicación de Ia fórmula (IIJ,2I), cuyo coeficiente de
dispositivo K se calcula por medio de Ia (1II,23).
Los valores de Pa asÍ obtenidos se representan gráficamente (salvo para
calicatas circulares) en funeióll de Ia distancia deI oTigen deI perfil a al-
guno de los electrodos, que puede elegirse arbitrariamente. No obstante,
en evitación de errares y confusiones, es conveniente tomar como elec-
trodo de referencia eI rnismo utilizado en Ias curvas maestras que se em-
pleen en Ia interpretación. Por esta causa, y de acuerdo con el uso más
general se atribuirá en esta obra cada valor de Pa a Ia posición ocupada
en Ia estación correspondiente por e1 centro O deI dipolo MN.
La escaJa horizontal deI gráfico puede ser cualquiera lineal. Resulta
cómodo en Ia práctica el empleo de una escala tal que Ia distancia entre
cada dos estaciones sueesivas (llamada paso) quede representada por
5 mm de longitud, salvo en perfiles muy largos o muy cortos. La orien-
tación deI dibujo debe coincidir con Ia habitual en los mapas, esto es,
deben colocarse en Ia parte izquierda deI dibujo Ias estaciones situadas
más aI Oeste. Si Ia orientación deI perfil fuese N-S se colocará el SUl' a
Ia izquierda.
Cuando Ias calicatas sean de medición múltiple (calicatas con dos
distancias, trielectródicas combinadas, etc.), Ias curvas, correspondüintes
deben trazarse en el mismo gráfico, a fin de facilitar su comparación e
interpretación, distinguiéndolas por colores diferentes o por Ia c1ase de
425
CALICATAS ELECTRICAS

línea (continua, de trazos, etc.). En el caso de calicatas combinadas o bila-

terales es conveniente distinguir de algún modo los dos dispositivos uti-
lizados. El autor recomienda utilizar Ias denominaciones propu estas por
Blokh: se llama dispositivo directo a aquel cuyo electrodo (o electrodos)
de emisión se encuentren, en Ia orientación deI gráfico, a Ia izquierda (es
decir, aI Oeste o Sur) de los de potencial, y dispositivo inverso aI que cum-
pIe Ia condición opuesta. Es conveniente el empleo de línea continua
para Ia curva deI dispositivo directo y de traz os para ~l inverso; de este
modo pueden compararse directamente con Ias curvas patrón deI autor
citado.
En el gráfico debe dibujarse también a Ia misma escala horizontal, el
dispositivo o dispositivos empleados, 10 que resulta muy útil en Ia in-
terpretación. Para expresar por escrito Ias características deI dispositivo
puede adoptarse el siguiente· convenio: se colocan, por su orden, de Oeste
a Este, Ias letras representativas de los electrodos, y entre elIas, los
números que expresan Ias distancias de metros entre cada dos electrodos
contiguos. Así, un dispositivo simétrico con AB = 60 m y MN = 5 m
se expresará A27,5M5N27,5B.
En cuanto a Ia escala vertical, es decir, Ia de resistividades aparen-
tes, está muy extendida Ia equivocada costumbre de utilizar Ia lineal
cuando el uso correcto exige que sea logarítmica, como en los SEV. Es
fácil ver Ia razón de esto: si entre Ias Pa de dos estaciones sucesivas
existe Ia diferencia de 50 O-m ésta será significativa si el valor medio en
el perfil es de 100 O-m, pero irrevelante por completo si dicho valor me-
dio es de 2000 O-mo Sin embargo, en ambos casos Ia curva refleja Ia mis-
ma variación en Ia resistividad aparente si Ia escala empleada es lineal.
La representación logarítmica está exenta de este inconveniente, puesto
que en realidad es una representación de relaciones. Por otra .parte, Ias
dos únicas colecciones de curvas patrón para caIicatas eIéctricas publi-
cadas hasta ahora emplean escala logarítmica para Ias resistividades.
Por consiguiente, Ias curvas de calicatas eléctricas deben trazarse sobre
papel semilogarítmico. EI de 62,5 mm de módulo resulta de tamano muy
adecuado.
Los diagramas polares de Ias calicatas circulares deben trazarse tam-
bién en escala logarítmica. EI módulo indicado es también aconsejable
en este caso. AI origen de coordenadas se atribuye un valor de resistivi-
dad aparente algo inferÍor a todos Ias observados, ya que en Ia represen-
tación logarítmica no existe el cero.

VII.7 PUNTOS CARACTERISTlCOS

En terreno homogéneo, Ia curva de resistividades aparentes es una

recta paralela aI eje de abcisas. En los métodos de calicatas de campo
426
 PUNTOS CARACTERISTIÇOS

m6vil (grupo B del apartado VII.2), basta Ia condici6n de homogeneidad

lateral. La presencia de cambios laterales en Ia resistividad se manifiesta
en Ia curva de Pa por desviaciones respecto de Ia línea horizontal indi-
cada. Las desviaciones producidas por una sola heterogeneidad consti-
tuyen una anomalía. La forma de estas anomalías suele ser complicada,
y presenta varios puntos característicos tales como máximos; mínimos,
etc., de diferentes clases.
A fin de poder describir e interpretar los diversos tipos de anomalías
que aparecen tanto en Ias curvas te6ricas como en Ias de campo, BLOKH
(1957), ha introducido un sistema de notaci6n y nomenclatura que se
expone a continuaci6n, convenientemente adaptada Ia primera aI alfabeto
latino. El símbolo para cada clase de punto .caracterÍstico o discontinui-
dad se indica entre paréntesis, y el nombre en letra cursiva.
a) Máximo cuspi daI, que se denominará punta o pico (P).
b) Máximo normal, es decir,sin discontinuidad en Ia derivada (M).
c) Mínimo cuspi daI o sima (5).
d) Mínimo normal, sin discontinuidad en Ia derivada (m).
e) Punto de inflexión (I).
J) Discontinuidad vertical o escalón (E):
El significado de estos términos se ilustra en Ia figura VII-I8.
La presencia de dos curvas en los gráficos de calicatas trielectr6dicas
combinadas y dipolares bilaterales, da lugar a dos nuevos rasgos carac-
terísticos (fig. VII-I9).
g) Zonas en Ias que los valores de resistividad aparente de las dos
curvas son sensiblemente diferentes entre sÍ. Cada una de estas
zonas se llama de divergencia (D).
h) Puntos donde Ias dos turvas se cortan, o cruces (C).

s
FIG."VII-IS. p'untos característiCos y sus FIG. VII-I9. Cruces (C) y diver-
símbolos eu Ias curvas de calicata eléctrica. gencias (D) en Ias calicatas de dos
curvas.
427
CALICATAS ELECTRICAS

Los cruces son de gran importancia en la interpretación. Se denomi-

p.an directos cuando a Ia izquierda deI punto de intersección de Ias dos
eurvas, 10s mayores valores de Ia resistividad aparente son Ias que eo-
rresponden aI dispositivo directo, e inversos en eI caso ~ontrario.
Cada uno de Ios puntos característicos suele deberse aI paso de algún
electrodo sobre una superfície de discontinuidad eIéctrica. Por ello, pue-
den distinguirse por un subíndice que indique qué electrodo es eI que
produce eI punto considerado. Si por ejemplo, aparece en Ia curva una
punta debido aI paso del electrodo B sobre un contacto, se utilizará el
símbolo PB• Cuando hay dos superficies de discontinuidad, como ocurre
cuando Ia heterogeneidad es una capa estrecha, puede anadirse un se-
gundosubÍndice, que indica cuáI de Ias dos interfases que limitan Ia capa
es causa deI punto característico. Este nuevo subÍndice suele ser i o d
aludiendo a Ia posición en eI gráfico a Ia izquierda o Ia derecha, de Ia
interfaz correspondiente.

ViI.8 VALORACION DE LAS ANOMALIAS

Es conveniente disponer de un índice o medida de Ia intensidad con

que una anomalía determinada aparece en Ia curv.a, a fin de poder com-
pararla con otras, o para separar Ias más destacadas de un perfil o zona.
Dicha valoración ha de basarse en comparar Ia resistividad máxima
PM observada en Ia anomalía, con Ia mínima Pm de Ias misma. Esta com-
paración no puede hacerse obteniendo Ia diferencia PM - Pm por Ias ra-
zones expuestas en eI apartado VII.6. Esta diferencia puede normalizarse
dividiendo por el valor medio Po de Ia resistividad aparente en Ia parte
de Ia curva exterior a Ia zona de anomalía. Se tiene asÍ una medida 11 de
Ia intensidao. de Ia anomalía

11=----PM-Pm

Po
(VII,61)

Esta medida ha alcanzado bastante difusión, tanto en Occidente como

en Ia Unión Soviética. pero ha merecido Ias objeciones de Blokh, quien
indica que eI valor medio Po es de determinación imprecisa, sobre todo
cuando Ia anomalía corresponde aI contacto entre dos medias. En con-
secuencia, Blokh propone eI empleo de un nuevo índice, que denomina
amplitud de Ia anomalía y cuyo valor es

12 =--
PM
pm
(VII,62)

Tarkhov, por su parte, propone uno tercer índice, que resulta de divi-
dir Ia diferencia de resistividades entre eI máximo y el mínimo, por eI
428
 CATALOGOS DE CURVAS PATRON

promedio de éstas, y multiplicar por 2 el resultado, con 10 que queda

finalmente
1-
3 - PM-Pm (VII,63)
fiM + pm
El autor ha empleado en algunos trabajos el Índice 13 multiplicado por
10 a fin de hacerlo más expresivo, ya que en Ia definición de Tarkhov
el valor máximo posible es 1; entonces una anomalía muy intensa val-
drÍa por ejemplo 0,8, 10 que podría ser mal interpretada por personas
poco técnicas. Quizás sea preferible utilizar el Índice de Tarkhov en for-
ma de tanto por Ciento:
PM-Pm
1, = 100 ----- (VII, 64)
PM + p",
En general, Ia va!oración de Ias anomalías debe hacerse por los índi-
ces 12 o I,. El segundo varÍa desde cero (medio lateralmente homogéneo)
hasta 100, que representa Ia máxima anomalía posible; el primero desde
cero hasta cualquier valor positivo, sin límite.

VI1.9 CATALOGOS DE CURVAS PATRON

Hasta ahora son muy pocas Ias colecciones de curvas maestras pu-
blicadas. Las más importantes entre Ias conocidas por el autor ·son Ias
siguientes:
a) Un álbum de 21 láminas con 277 curvas publicadas por Blokh
como suplemento a su obra sobre calicatas eléctricas (BLOKH,
1962 y 1971).
b) Una colección de 30 grandes lâminas concernientes aI dispositivo
dipolar axil, pero de Ias que pueden deducirse datos para otros
dispositivos. EI total de curvas inclui das es de 296. Se publicá
como suplemento a otro libro deI mismo autor, éste sobre cali-
catas dipolares. (BLOKH, 1957.)
c) Una serie de 85 curvas referentes a Ias anomalías producidas por
cavidades esféricas o semielipsoidales situadas en Ia superficie lí-
mite de nn medi o homogéneo, y rellenas por material de resisti-
vidad diferente. Sólo para el dispositivo Wenner y en algún caso
el de Lee. Estas curvas se encuentran en dos trabajos publicados
en Ia revista Geophysícs (COOK y V AN N OSTRAND, 1954; COOK y
GRAY, 1961).

Además, en diversos artículos se encuentran, de forma un tanto dis-

persa, curvas tE:óricas correspondientes a cortes geoeléctricos diversos.
429
CALICATAS ELECTRICAS

Entre ellas, mencionaremos los siguientes trabajos: LOGN (1954), NAIDU

(1966), DIETER et al (1969).
Las dos publicaciones de Blokh merecen descripción algo más deta-
llada.
EI catálogo de 1962 se refiere a los dispositivos dipolares axil (bila-
teral), trielectródico combinado y simétrico. Los tipos de corte estudiado
son tres:
a) Contacto entre dos medios de resistividad diferente.
b) Heterogeneidad en forma de capa ancha, es decir, de cspesor ho-
rizontal mayor que Ia longitud deI dispositivo, pel'o menor que
el doble o triple de ésta. *
c) Capa estrecha (dique), de espesor horizontal h inferior a Ia lon-
gitud deI dispositivo. * Se consideran dos casos, según que h> MN
o que h < MN. Se representa el efecto de Ia relación MN/AB
sobre Ia forma de Ia anomalía.

Las superficies que limitan Ias heterogeneidades son planas,con rum-

bo perpendicular aI perfil, y forman ángulos de 30°, 60°, 90°, 120° ó
150°' con Ia superficie deI terreno. El contraste de resistividad entre los
dos medios considerados es 7 ó 1/7. Se indica el efecto producido sobre
Ias anomalías por una capa de recubrimiento más resistiva que el medio
general y de espesor 1/5, 21/5, ó l, siendo 1 Ia longitud deI dispositivo.
Las distancias horizontales se expresan en escala lineal, tomando como
unidad Ia longitud deI dispositivo, y Ias resistividades aparentes en esca-
la logarítmica, de 26 mm de módulo.
La publicación de 1957 se refiere exclusivamente a dispositivos dipo-
lares, con distancia entre centros OQ = 22 MN, Y para dos relaciones
P = AB/MN, iguales respectivamente a 2 y 10. Los cortes geoeléctricos
considerados corresponden a uno o dos contactos verti cales entre medios
de dos o tres resistividades distintas, para diversas distancias entre los
contactos (ocho por 10 general) y varias cornbinaciones entre Ias resisti-
vidades. También se incluyen algunas curvas para contactos inclinados.
La escala horizontal de distancias es lineal, de unidad igual a Ia longitud
deI dipolo y Ia de resistividades aparentes es logarítmica, de 62,5 mm de
módulo. Blokh indica el modo de utilizar esta colección para el cálculo
aproximado de curvas para dispositivos trielectródicos y simétricos. Se
basa en que el dispositivo dipolar con P = 10 tiene uno de los electrodos
de emisión mucho más alejado que el otro respecto de los de recepción,

* Blokh denomina longitud de un dispositivo a Ia distancia AN, o sea Ia que

existe entre un electrodo de emisión y el de potencial más alejado de él. En los
dispositivos dipolares el electrodo de emisión que se considera es el interior
o más próximo aI dipolo MN.
430
 ELECCION DEL TIPO DE CALICATA MAS ADECUADO

por 10 que predomina el campo del más próximo y el dispositivo difiere

poco de uno trielectródico.
En ambos catálogos de Blokh, Ias curvas se dan tanto para el dispo-
sitivo directo como para el inverso; en láminas separadas en Ia publica-
ción de 1957, y en el mismo gráfico en Ia de 1962.
En Ia edición de 1971, Blokh afiade curvas para perfiles que cortan
oblicuamente (20°) a Ias diversas heterogeneidades, tanto para dispositi-
vos dipolares lineales como para el caso en que un dipolo de recepción
se mueve sobre un perfil paralelo aI deI dispositivo principal.

VII.10 ELECCION DEL TIPO DE CALlCATA MAS ADECUADO

En general, y como suele ocurrir en Prospección Geofísica, no puede

afirmarse que tal o cual tipo de calicata eléctrica sea superior aIos
demás. Para cada problema concreto, cada uno de estas tipos presenta
ventajas e inconvenientes, y una de Ias tareas deI geofísico es Ia de elegi r
el más adecuado.
Dicha elección debe tener en cuenta muchos factores, tales como el
corte geoeléctrico esperado (anchura de Ias heterogeneidades, contras-
tes de resistividad, espesor y grado de homogeneidad deI recubrimiento)
Ias características de Ia zona de trabajo en 10 que respecta a su relieve,
vegetación, presencia de perturbaciones eléctricas, Ia clase de prospección
(estudio general' o de detalle, escala, etc.), así como Ias consideraciones
económicas.
Existen tres tipos de calicata eléctrica que, por sus características,
deben considerarse básicas y tenerse en cuenta en primer lugar. Son res-
pectivamente Ias de dispositivo dipolar axil, Ia trielectródica combinada
y Ia simétrica. Como Ias mencionaremos muy frecuentemente, será venta-
joso representarIas por siglas, que respectivamente serán CED, CETC y
CES, mientras que CE aludirá a cualquier tipo de calicàta eléctrica.
Antes de determinar en qué casos debe emplearse cada uno de estos
tipos es necesario resolver una cuestión previa. Se trata de que hay dos
modalidades muy difundidas de CES, en Ias que se emplean respectiva-
mente el dispositivo de Wenner y el de Schlumberger. En algunos países
se aplica casi exclusivamente el primero, y en otros ocurre 10 propio
con el segundo. La cuestión previa aludida es Ia de determinar si estos
dispositivos dan resultados análogos, o debe darse preferencia "a uno de
ellos.
Como es sabido, en el dispositivo Wenner es AB = MN = NB. Si se
toma el paso o distancia entre estaciones igual a estas tres distancias, el
movimiento de los electrodos sobre el terreno se simplifica notablemente,
431
CALICATAS ELECTRICAS

pues en el traslado deI dispositivo a Ia estación siguiente, cada eIectrodo

pasa a ocupar Ia posición deI anterior (excepto el primero, como es obvio).
Esta ventaja práctica no compensa, sin embargo, Ias ventajas deI dis-
positivo Wenner si se le compara con el Schlumberger en 10 que respecta
a Ia intensidad y nitidez de Ias anomalías.
En Ia curva de resistividades aparentes se produce alguna disconti-
nuidad, extremo o inilexión cada vez que un electrodo pasa sobre un
cambio lateral de resistividad, con 10 que resulta que cuanto mayor sea
el número de electrodos, tanto más ancha y complicada será Ia anomalía.
La complejidad hace más difícil Ia interpretación, y el aumento en an-
chura incrementa el peligro de solape entre dos anomalías próximas, 10
que también redunda en dificultades interpretativas. En el dispositivo
Wenner, cada uno de los electrodos de potencial produce su correspon-
diente anomalía dada Ia separación entre ellos, mientras que en el
Schlumberger estos electrodos están muy próximos 'y sus anomalías res-
pectivas se superponen, originando una anomalía más sencilla.
Por otra parte, Ia d.d.p. entre los electrodos M y N representa una
integral deI gradiente deI potencial entre eHos. Cuanto más separados
estén los electrodos, tanto más suavizado o promediado estará dicho
gradiente, diluyéndose más los máximos o mínimos en el valor medio.
Por esta causa, Jas anomalías obtenidas con el dispositivo Wenner son
mucho menos intensas que Ias proporcionadas sobre el mismo corte por
un dispositivo Schlumberger de Ia misma distancia AB.
Así, para capas resistivas muy delgadas, Ia intensidad de Ia anomalía
dada por un dispositivo Wenner es sólo un 67 % de Ia correspondiente
a un Schlurnberger de Ia misma AR, según se deduce de Ias curvas de
BIokh. Cuando Ia capa esconductora, Ia anomalía Schlumberger es unas
8 veces más intensa que Ia Wenner. Estas intensidades se han medido
según el criterio 12 (ecuación VII,62).
La figura VII-20 ilustra otro ejemplo, que corresponde a Ia anomalía
producida por un contacto vertical entre dos medios. Como puede verse,
Ia curva deI dispositivo Wenner es más ancha y complicada, y de menor
amplitud que Ia deI Schlumberger. *
Otro inconveniente deI dispositivo Wenner, es que una capa subver-
ti cal conductora y muy delgada puede producir un máximo envez deI
mínimo esperado en Ia curva de resistividades aparentes.

* KUMAR (1973), que en apariencia desconoce los resultados de Blokh, con-'

firma independientemente Ia mayor sencillez y amplitud de Ias anomalías de los
dispositivos tipo Schlumberger respecto deI Wenner. Los cálculos de SCURTU (1972)
confirman este mismo hecho para el caso de una heterogeneidad esférica perfec-
tamente cOllductora. •
432
 ELECCION DEL TIPO DE CALICATA MAS ADECUADO

Resalta, pues, Ia superioridad general dei dispositivo Schlumberger

sobre el Wenner en 10 que respecta aI calicateo eléctrico. La preferencia
que se da en algunos países aI segundo de éstos ha de obedecer, pues, a
motivos de costumbre y tradición y no a razones objetivas.
No obstante, y confirmando 10 dicho aI principio de este apartado,
hay casos en que debe aplicarse el dispositivo Wenner, y no el de Schlum-
berger. Esto ocurre, por ejemplo, en Ias prospecciones muy som eras que
se efectúan a veces como ayuda de Ias investigaciones arqueológicas, por
Ias mismas razones expuestas en el apartado V.lO. En tales casos se uti-
lizan dispositivos Wenner con separaciones a deI orden de varios deci-
metros a 1 metro, por 10 que el conjunto de electrodos puede montarse
permanentemente sobre un soporte de madera o material análogo, el
cual se traslada desde cada estación a Ia siguiente (HESSE, 1966).
En 10 que sigue, se supondrá, por Ias razones expuestas más arriba,
que cuando se habla de CES, el dispositivo empleado es deI tipo Schlum-
berger.

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FIG. VII-20. Comparación entre Ias curvas Wenner y Schlumberger correspondientes aI

contacto vertical entre dos medios. (Según datos de Mahboub AI-Chalabi.) Línea continua,
Schlumberger. Línea de trazos, Wenner.

De Ia comparación entre Ias anomalías obtenidas por CE de diver-

sos tipos y sus técnicas de campo resultan Ias siguientes conclusiones.
433
CALICATAS ELECTRICAS

a) Entre Ios tres tipos básicos de calicatas, Ias CED y CETC su-
ministran, en igualdad de condiciones, anomalías de intensidad poco di-
ferente entre sí, algo mayores Ias deI primero, pero muy superiores a Ias
que proporcionada una CES, deI orden de unas cuatro o más veces ma-
yor para contactos verticales o inclinados y de una vez y media para
capas delgadas.
b)· En cuanto aI trabajo de. campo, eI más sencillo corresponde a
Ias CES, mientras que Ias CETC y CED son más complicadas, puesto
que Ia primera de ellas exige eI tendido de una línea "de infinito" y Ias
segundas exigen mayor número de operaciones ell Ia medida de Ias dis-
tancias que avanzan los electrodos.
c) Entre todos Ias tipos de CE son los de campo fijo Ios de mayor
sencillez en eI trabajo de campo, una vez establecida Ia línea AB, pues
sólo hay que mover los e1ectrodos M y N, y los de empleo más complejo,
por 10 general, los dispositivos compuestos (apantallados y de cero). Los
tipos básicos son de dificultad intermedia.
La e1ección dei tipo de CE más adecuado para cada problema con-
creto puede hacerse siguiendo Ias recomendaciones que se exponen a
con:tinuación, basadas tanto en Ias ideas de Blokh como en Ia experiencia
dei autor.
En el caso general debe darse preferencia a Ias CETC que, si bien
tienen eI inconveniente de necesitar una línea de "infinito", se aplican en
eI campo con más faciIidad que Ias dipolares, y dan anomaIías cuya am-
plitud es comparable a Ias de éstas,·y mucho mayor que Ias que propor-
cionan Ias CES.
Otra ventaja de Ias CETC es Ia mejor separación de Ias anomalías
cuando éstas abundan y distan poco entre sÍ; en este aspecto, superan
a Ias dipolares.
Sin embargo, tanto Ias CETC como Ias dipolares son más sensibIes
que Ias simétricas respecto de Ios efectos topográficos; aunque se pueden
elegir Ias distancias entre eIectrodos de modo que se atenúen dichos efec-
tos (véase .eI apartado VII.l3.5), no siempre es posibIe hacerlo mante-
niendo Ia penetración adecuada. En tales circunstancias hay que pasar
aI dispositivo simétrico.
Hay que hacer notar, no obstante, que eI uso de Ias CES es delicado
cuando Io~ objetivos son capas delgadas conductoras. SieI buzamiento
de ésas es menor que 700 puede emplearse este tipo de calicata, con Ia
reIación MN/AB 10 más pequena posible, a fin de aumentar Ia amplitud
de Ias anomalías. Cuando Ias capas son subverticaIes y de espesor pro-
bable inferior a Ia menor distancia MN que puede utilizarse, debe ex-
cluirse eI empleo de Ias CES y trabajar con CETC, eliminando como se
pueda los efectos topográficos.
434
 PROGRAMACION DEL TRABAJO

El motivo de esta exclusión es que, según se indica aI final deI apar-

tado VII.13.3, cuando se cumplen Ias condiciones senaladas más arriba,
Ias anomalías son débiles, y espesores pequenos de recubrimiento Ias anu-
lan e incluso Ias invierten, enganando aI interpretado r, que Ias puede
tomar como causadas por capas resistivas.
Por el contrario, cuando el objetivo 10 constituyen capas delgadas
resistivas y subverticales, Ia detección es fácil, y Ias CETC pueden sus·
tituirse por Ias calicatas "Schlumberger" descritas en el apartado VII.5.6
o por el método de bloques.
Frente a Ia creencia generalizada de que el calicateo debe hacerse a
varias "profundidades" (dist;mcias) por 10 común basta con una bien ele-
gida (apartado siguiente), y sól0 cuando Ias variaciones dei recubrimiento
puedan afectar los resultados, debe emplearse una segunda separación,
general mente mucho más corta que Ia principal, para el estudio de dichas
variaciones.

VII.11 PROGRAMACION DEL TRABAJO

AI establecer el programa de trabajb, debe comenzarse por fijar· Ia

posición y longitud de los perfiles, y Ia distancia entre éstos; luego se
determina Ia densidad de Ias observaciones que se efectuarán sobre ellos.
Esta' densidad se expresa por Ia distancia entre cada dos estaciones con-
tiguas o paso. Finalmente, deben escogerse Ias separaciones entre elec-
trodos.

La orientación de los perfiles debe ser perpendicular aI rumbo suo

puesto para Ias estructuras o cuerpos buscados; por otra parte, el relieve
debe ser mínimo, por loque los perfiles pueden situar se a 10 largo de
val1es, depresiones, lomas alargadas, etc., esto es, siguiendo en lQ posible
una curva de nivel. Ambas condiciones pueden resultar contradictorias,
y entonces puede variarse un tanto Ia condición de perpenclicularidad, so-
bre todo si Ias contactos tienen buzamiento suave; si son subverticales
no es conveniente desviarse más de 30° (Blokh).
La longitud de los perfiles debe ser tal que cubra, con ligero exceso,
Ia zona que se estudia. El sobrepasarla un poco tiene por objeto evitar
que alguna anomalía quede registrada de modo incompleto, y no pueda
interpretar se debidamente.
La distancia entre cada dos perfiles contiguos depende deI grado de
detalle requerido y de Ia complejidad de Ias circunstancias geológicas;
nunca debe ser tan grande que dificulte Ia correlación de unos perfiles
con otros. Cuando Ias resultados hayan de representarse en un mapa de
435
CALICATAS ELECTRICAS

escala determinada, puede utilizarse Ia siguiente regIa práctica para Ia

determinación de Ia distancia máxima admisible entre perfiles. Se divide
por 20 el número que expresa Ia escala deI mapa y el resultado es Ia se-
paración en metros entre perfiles. Así, si el mapa es de escala 1: 10000,
Ia distancia máxima entre perfiles será de 500 m. El fundamento de esta
regIa es que cuanto menor sea el número que expresa Ia escala deI mapa
más detallada habrá de ser Ia investigación. La cifra 20 se ha establecido
empíricamente. Esta distancia habrá de disminuirse en el grado requerido
por el problema propuesto y sus circunstancias, pel'o nunca hasta el ex-
tremo de que Ias curvas correspondientes difieran muy poco entre sí, de
modo que Ia investigación se encarezca sin Ia contrapartida de aumento
de información.
En algunos casos en que el ruido geológico es muy intenso,· puede
resultar difícil Ia correlación entre pérfiles. En estas circunstancias puede
resultar el calicateo en zig-zag. Siempre que se conozca -por labor me-
cánica o afloramiento- Ia existencia, en un punto determin.ado, de Ia
capa o estructura que desea cartografiarse, se realiza deI modo siguiente:
Se efectúa una calicata que pase sobre dicho punto, y se anota Ia ano-
malía producida por el objeto problema. Sobrepasado éste, se da aI perfil
un giro de más de 90'° de modo que vuelva a cruzar sobre el objetivo.
Una vez que Ia presencia de éste haya sido registrada por Ia anomalía
correspondiente, vuelve a darse otro quiebro aI perfil, y asÍ sucesivamente,
hasta localizar el objetivo en toda su extensión.
EI paso o distancia entre cada dos estaciones depende sobre todo deI
tamano de los objetos buscados, o más exactamente, de Ia anchura de
Ia anomalía que éstos produzcan, pues por ejempIo, Ias capas delgadas
con buzamiento suave, dan anomalías anchas. Un valor para el paso,. en
primera aproximación, puede obtenerse tomando Ia tercera parte de Ia
anchura de Ia anomalía; Ia cifra resultante se redondea luego, transfor-
mándola en longitud de fácil medida, por ejemplo, un número entero dé
decenas de metros. Los pasos más cortos dan con mayor detalle Ias ano-
malías, pel'O ,aumentan Ia duración deI trabajo; por ello debe elegirse el
paso más largo compatible con Ia adecuada representación de Ias ano-
malías. Por otra parte, Ia comodidad y rapidez de Ias operaciones de
-~ --
campo exige que el paso guarde relación con Ias distancias MN y AR,
pues debe ser divisor exacto de AR y no menor que MN, salvo cuando
interese separar capas muy delgadas próximas entre sí. En este caso,
puede elegirse como paso Ia mitad de MN. En general, 10 más conve-
niente, es tomar el paso igual a MN, pues entonces el perfil queda cu-
bierto en su totalidad, y el electrodo N pasa a ocupar el mismo punto
donde se encontraba el M en Ia estación anterior. Esto representa, en
algunos casos, Ia medición de un número excesivo· de estaciones: de ser
asÍ puede tomarse como longitud deI paso un múltiplo pequeno de MN.
436
 PROGRAMACION DEL TRABAJO

La elección de Ia Iongitud deI dispositivo está relacionada con Ia

profundidad de investigación. Esta depende, para un corte dado, de Ia
distancia AB para Ias CES, de Ia OA = 013 para Ias CETC, y de 00
para Ias CED. Llamaremos a cada una de estas distancias tamano deI dis-
positivo correspondiente. Este tamarro debe ser tal, que Ias resistividades
aparentes leídas estén influi das, de modo decisivo, por Ia roca donde en-
cajan Ias heterogeneidades buscadas, y no por eI recubrimiento.
Desgraciadamente, no existe ninguna regIa, de base teórica, o de re-
sultados prácticos, que permita deducir eI tamarro deI dispositivo multipli-
cando Ia penetración deseada por un factor constante. Esta cuestión se
ha tratado, desde un punto de vista general, "en eI apartado V.2. La
causa de que no exista tal factor constante, es que además deI tamano
deI dispositivo influye eI contraste de resistividades entre eI recubrimien-
to y Ia roca de caja.
Consideremos un ejemplo. Se supone que se intenta Ia Iocalización de
diques que arman en una roca de resistividad P2 = 10 en unidades arbi-
trarias y recubierta por un suelo y capa de alteración de Ia resistividad
Pl = 1 Y espesor E. Parece suficiente el empleo de un dispositivo tal que
dé, en ausencia de diques, una resistividad aparente Pa =5, mitad de Ia
real de Ia roca, y por 10 tanto, suficientemente afectada por ella. Las cur-
vas maestras de dos capas o Ias tablas de Orellana y Mooney indican que
habrá que tomar AR = 18 E si van a emplearse CES. Se deduce directa-
mente que para Ias CETC habrá de ser DA = 9 E. Si eI método elegido
es eI de CED, habrá que utilizar curvas o tablas para eI dispositivo dipo-
lar axil. EI resultado que se obtiene es aproximadamente OQ = 15 E. Los
valores obtenidos son notablemente superiores a Ios que resultan de Ia
vieja regIa "de dedo" de AB/4. Si eI espesor deI recubrimiento es 10 m,
AB tendrá que ser de 180 m. Esta separación parece excesiva, pero no
es así. Lo que ocurre es que por ser el recubrimiento mucho más con-
ductor que Ia roca subyacente, absorbe casi toda Ia corriente.
Si el recubrimiento fuese más resistivo que Ia roca, eI tamano deI
dispositivo puede ser mucho menor. Consideremos eI mismo caso an-
terior, pero con relación de resistividades inversa, o sea Pl = 10; Pz = 2.
Entonces, por aplicación deI mismo procedimiento, resulta que si se desea
-
una resistividad aparente pa--~ 2, poco influi - da por Ia deI recubrimiento,
habrá de ser AB = 7 E; OA = 3,5 E, Y OQ =5 E. En este caso, por
ser Ia roca más conductora que eI recubrimiento, Ia corriente tiende a cir-
cular a través de ella, y los dispositivos necesarios son más cortos.
En virtud de Ia "paradoja de Ias suelos" (apartado n.l0), resulta que
en condiciones geológicas análogas, eI tamarro de Ios dispositivos habrá
de ser mayor en Ias regiones secas que en Ias de clima húmedo.
437
CALICATAS ELECTRICAS

El procedimiento indicado más arriba, es de aplicaciól\ general, pel'o

requiere conocer previamente el espesor y resistividad deI recubrimiento,
así çomo Ia resistividad de Ias rocas. Si. no se dispone de estas datos, de-
ben efectuarse varios SEV esparcidos sobre Ia zona de investigación, y
aplicar el procedimiento descrito, a Ias curvas de estos SEV. Si el dis-
positivo que va a emplearse es el dipolar, su tamano OQ puede tomarse
como 0,75 AB, aunque Blokh da Ia relación· OQ = 0,67 AB.
Debe procurarse además que eI tamano deI dispositivo no sea seme-
jante a Ia anchura de Ios accidentes topográficos,· a fin de minimizar Ia
perturbación producida por éstos.
En los métodos de calicateo por campo constante (grupo A deI apar-
tado VI.2), Ia separación AB depende más bien de Ia Iongitud deI perfil
que va a estudiarse, y suele ser suficiente para Ia profundidad de inves-
tigación requerida en Ia práctica. En todo caso,· puede aplicarse el pro-
cedimiento descrito aI centro deI perfil, con un margen de seguridad
para los bordes deI tercio central. Si uno de los electrodos de corriente
está en el "infinito", Ia penetración práctica crece con el alejamiento
deI d,ipolo MN aI electrodo próximo.
En los dispositivos dipolares, además de Ia distancia R = OQ hay
que determinar Ia separación AB. Esta ha de ser muy corta, y su tamano
ideal es AB = MN. Entonces el dispositivo se llama isodipolar por causa
de Ia igualdad de los dos dipolos, y resulta muy ventajoso para Ia inter-
pretación. Pel'o aI ser muy corto AB, el /';.V leído entre M y N es muy
pequeno, y Ia medición puede hacerse difícil e imprecisa. Por esta causa,
Ia distancia AB ha de aumentarse eu muchos casos respecto deI valor
ideal indicado. EI valor práctico de AB puede determinarse calculando
Ia distancia mínima AB para Ia cual, dentro deI margen de resistividades
aparentes esperado, 1a d.d.p. /';.V es 10 suficientemente grande para ser
leída en eI instrumento que vaya a utilizarse, habida cuenta deI nivel
de ruidos presente.
La distancia MN debe ser Ia menor compatible con valores 10 sufi-
cientemente grandes para ser leídas con exactitud, y nunca mayor que
Ia anchura horizontal supuesta de los cuerpos o estructuras buscadas. En
general puede tomarse lvIN = AB/lO, procurando que el valor elegido sea
igual aI paso o divisor de él y también divisor de AB, para 10 que deben
acomodarse entre sí estas tres longitudes. Si se cumplen estas condiciones,
los diferentes electrodos caen sieinpre en los mismos puntos, con notable
simplificación deI trabajo topográfico y geofísico.
Es muy conveniente que sobre cada perfil de calicata se efectúen uno
o varios SEV, 10 que ayuda mucho en Ia interpretación.
438
 INSTRUMENTAL Y TRABAJO DE CAMPO

VII.12 INSTRUMENTAL Y TRABAJO DE CAMPO

La técnica de campo de las calicatas eléctricas es semejante a Ia dei

SEV, por 10 que vale en líneas generales todo 10 dicho a este respecto
eu el capítulo V. Lo mismo puede decirse del instrumental.
La principal diferencia respecto dei SEV radica en que los electrodos
M y N han de despIazarse después de efectuada cada estación. Por este
motivo es conveniente que los electrodos impolarizables vayan provistos
de un mango largo y liviano que facilite su manejo. Si las circunstancias
son favorables (distancia MN pequena, etc.), deben emplearse eIectrodos
metálicos, cuyo uso es más fácil y rápido que el de los impolarizables.
En relación con esto, Ias operaciones se simplifican con el empleo
de corriente alterna de baja frecuencia, que no requiere Ia utilización
de electrodos impolarizables y operaciones· ~ compensación. Esta clase
de corriente puede utilizarse si Ias calicatas se efectúan en terrenos de
resistividad elevada o si Ia profundidad de investigación es relativa-
mente pequena. Es necesario que el milivoltímetro esté sintonizado a Ia
frecuencia del generador, o que aI menos disponga de filtros que eliminen
prácticamente 105 parásitos industriales de 50 Hz. Deben tomarse precau-
ciones para evitar el acoplo inductivo entre los circuitos de emisión y
de recepción, pel'O éstas no son necesarias para el dispositivo dipolar
axil. Blokh describe un equipo de corriente alterna proyectado especial-
mente para calicatas, denominado ANCH-I, cuya frecuencia de trabajo
es de 20 Hz. La potencia de salida del generador es de 30-40 watios y el
margen más sensible deI milivoltímetro es de 0,3 mV a fondo de escala.
Este aparato utiliza válvulas electrónicas tanto en el generador como en
el milivoltímetro, por 10 que resulta un tanto pesado (unos 12,5 Kgs sin
los trípodes). Es evidente que en el estadoactual de Ia técnica electrónica
podría construirse un equipo semejante de estado sólido con posibilida-
des parecidas o más amplias y aI mismo tiempo, más robusto y mucho
más liviano.
Enalgunos tipos de calicatas como los de campo fijo, o con electrodo
de infinito, el. generador puede quedar en el mismo sitio durante las me-
diciones; y s'ólo hay que desplazar el milivoltímetro. Si éste es de estado
sólido, puede llevarlo el operador en Ia mano, 10 que es mucho más
fácil y rápido que el empleo de aparatos pesados que exigen un trípode,
como ocurre con los potenciómetros.
En otros tipos de calicatas, en que se desplazan todos los electrodos,
han de transportarse simultáneamente tanto la fuente de alimentación
como el milivoltímetro, por 10 que conviene que tanto uno como Ia otra
sean 10 más liviano y pequenos que sea posible. Cuando el paso es pe-
queno pueden hacerse varias estaciones sin cambiar Ia ubicación de los
instrumentos, colocando éstos junto al centro dei tramo correspondiente
439
CALICATAS ELECTRICAS

deI perfil y recogiendo o desenrollando cable conforme Ios eleetrodos

van acercándose o alejándose de dicho centro.
EI mejor modo de establecer Ia posición de Ias estaciones sobre eI te-
rreno es eI estacado previo. Para evitar confusiones es conveniente co-
locar estacas sólo en Ias posiciones correspondientes aI centro deI dis-
positivo, y mantener Ias distancias mutuas entre Ios electl'odos uniendo
éstos con cuerdas, o utilizando los mismos cables.
Cuando Ios perfiles son cortos puede suprimirse eI estacado previo,
bastando unir entre sí Ios electrodos deI modo indicado para conservar
Ias distancias y midiendo con Ia cuerda o cinta métrica el avance que
debe experimentar uno de Ios electrodos para pasar a Ia estación si-
guiente.
En Ias hojas de campo deben anotarse Ios valores de /1V e I obser-
vados para cada estación, aI lado deI número correspondiente a ella. Es
importante anotar en Ia columna de observaciones eI paso por accidentes
topográficos, caminos y otras referencias, en especial cuando no se ha
hecho estacado previo. Más importante aún es anotar correctamente Ias
características deI dispositivo, y eI paso o intervalo entre estaciones, y
sobre todo Ia orientación relativa de Ios puntos inicial o final deI perfil,
y cu.ando Ia calicata es combinada o bilateral, Ia orientación deI electrodo
activo respecto deI centro a que corresponde cada Iectura. EI autor ha
perdido a veces bastante tiempo tratando de averiguar estos extremos en
hojas de campo donde constaban todo Ios demás datos, salvo estos tan
importantes, de conocimiento necesario para saber a qué punto deI perfil
corresponde cada anomalía, o hacia qué lado buzan Ias heterogeneidade~
detectadas.

VII.13 ANOMALIAS TIPICAS

A continuación se describen Ios rasgos principales de Ias anomalías

correspondientes a Ios cortes geoeléctricos más importantes, siguiendo Ias
curvas teóricas e investigaciones de I. M. Blokh. Los primeros párrafos
se refieren aIos tres tipos fundamentales de caIicata.

VII.13.1 Contacto entre dos medios

La figura VII-2I reproduce Ia curva teórica de Blokh para eI con-

tacto vertical entre dos medios, más resistivo eI de Ia derecha (P2 7 Pl)'=
EI gráfico corresponde aI dispositivo simétrico.
Como puede verse, Ias resistividades aparentes pasan deI valor Pl aI
P2 a través de una serie de puntos característicos, que incluyen simas,
440
 ANOMALIAS TIPICAS

puntas, escalones, etc., de modo que Ia anomalía ocupa una zona relati-
vamente ancha. En el caso de dispositivo dipolar Ias cu.rvas correspon-
dientes respectivamente aI dispositivo directo y aI inverso, son iguales,
salvo un desplazamento lateral. Si los dos dipolos son de diferente lon-
gitud, Ias dos curvas dejan de ser iguales, y su diferencia aumenta con Ia
desigualdad de Ios dipoIos.
Las curvas de CETC presentan dos divergencias y cuatro escalones;
Ia sima y Ia punta se deben aI paso sobre el contacto deI electrodo M
o deI N, mientras que el deI A o el B produce un máximo, mínimo o
punto de infIexión. En total hay tres puntos característicos por curva y
10 mismo ocurre con Ias CED; éstas presentan, además, dos divergencias
adicionales. Si el contacto no es 'vertical, Ias curvas se modifican algún
tanto. Cuapdo el diedro obtuso formado por el contacto y Ia superfície
deI terreno corresponde aI medio más resistivo, se acentúan Ias puntas,
10 que puede utilizarse para dIagnosticar Ia dirección deI buzamiento.
Además, en el primer caso, Ias zonas de divergencia presentan áreas rela-
tivamente iguales mientras que difieren sensiblernente en el segundo.
Esto vale tanto para Ias CED como para Ias CETC.

64231 I
81,5
Pc

P, I -2

-E3

o
T
SN P2

A· -f--.-.!
M1N ·B
I
t--D---1
P, W'f/~
P2

FIG. VIl-2I. Curva de resistividades aparentes (en escala logarítmica) obtenida en una CES
sobre un contacto vertical entre dos medios (según Blokh).

La curva para CES es Ia media aritmética de Ias dos correspondientes

a Ias CETC, por 10 que resulta menos expresiva que éstas. Tiene tres
441
CALICATAS ELECTRICAS

escalones, el más grandede los cuales corresponde aI paso deI 'dipolo

MN sobre el contacto. Si se aumenta Ia longitud MN se hacen menos
marcadas Ias anomalías (dispositivo Wenner). Si el contacto no es ver-
tical Ia curva se modifica deI modo indicado más arriba, pel'O en menor
proporción que en los otros dos tipos básicos.

La presencia de recubrimiento suaviza Ias curvas, y hace menos cla-

ros los puntos característicos; Ias puntas pueden transformarse en má-
ximos, Ias simas en mínimos. Esta atenuación es tanto más intensa cuanto
mayor sea el espesor deI' recubrimiento, y cuando éste es aproximada-
mente igual a Ia longitud deI dispositivo, Ia anomalía se reduce a una
zona de divergencia muy extendida lateralmente, que no permite localizar
Ia situación exacta deI contacto. En Ias CES, por haber una sola curva,
Ia misma presencia deI contacto resulta prácticamente inobservable en
tales condiciones.

Las curvas CE obtenidas en Ia práctica son semejalltes a Ias teóricas,

si bien el rui do geológico, topografÍa, y el hecho de que el trazado de Ias
curvas se hagan por puntos, y no continuo, hacen que se suavicen Ias
puntas y simas y se modifique el salto en los escalones. Estos, sin em-
bargo; y Ias zonas de divergencia, suelen aparecer con claridad, incluso
con contrastes pequenos.

VII.13.2 Capas anchas

Según se dijo más arriba, cuando Ia distancia entre dos contactos

sucesivos es menor que el doble o triple de Ia longitud deI dispositivo,
es preferible considerarIos como una sola heterogeneidad, ya que sus
anomalías se solapan. Se tiene asÍ Ia "capa ancha", que se denominará
resistit'a o conductora según sea de mayor o menor resistividad que el
medio encajante.
La anomalía correspondiente, para CETC o CED (figs. VII-22 y VII-23)
es extensa (más larga que el dispositivo) y asimétrica, con un punto ca-
racterístico central (punta o máximo para capa resistiva; sima o mínimo
para capa conductora). Es muy importante Ia presencia de un cruce, di-
recto SI Ia capa es conductora e inverso en caso contrario. En general,
para Ias CETC existen, en cada CUrva, de tres a seis puntos caracterís-
ticos, y en Ias CED este número puede elevarse hasta ocho. Tales puntos
se indican en Ias figuras, anadiendo a Ia letra que caracteriza su clase,
dos subÍndices que aluden aI electrodo y contacto (izquierdo o derecho)
que los causen.

Las distancias sobre el perfil de Ios puntos característicos, está rela-

cionada con Ia anchura horizontal h de Ia capa y Ia distancia MN. Blokh
442
 ANOMALIAS TIPJCAS

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P,
Pa
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P,
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..
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-1 ------,
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MN
A _····t~N B

I~ . :í-;-~
~1._ P2

FIG. VII··22. Curva de resistividades aparentes (en escala logarítmica) obtenida en una CETC
sobre una capa gruesa conductora (según Blokh).

10 PM1 PB'd PAi PNd

1 ;,-._-_ ...,-I
5 I
4
3
I I
I
2 181
_____ .J
I IMi
1,5
, -1 I
o
T

A~t-=1t
JI~ Bi
I-'-j----I-'-<

t:o=-
FIG. VII-23. Curva de resistividades aparentes (en escala logarítmica) obtenida en una CED
isodipolar sobre una capa gruesa resistiva (según Blokh).

443
CALICATAS ELECTRICAS

establece para ello una serie de ecuaciones, Ias más importantes de Ias
cuales son Ias siguientes: *
Para capa resistiva:
SNiPNd = h (VII,65 a)
SMdPMi = h (VII,65 b)
SNiPMi = MN (VII,65 c)
PMiPNlj = h-MN (VII,65 d)

Para capas conductoras

PNiSNd =h (VII,66 a)
SMiPA!l! =h (VII,66 b)
PNiSMi = MN (VII,66 c)
SMiSNd = h--MN (VII,66 d)

Puede observarse que Ias ecuaciones deI primeI' grupo sólo difieren
de Ias deI segundo en que están troca das Ias S con Ias P.
Si el buzamiento es suave, Ias puntas y simas se conservan sólo en
eI dispositivo denominado de techo, que es, de Ios dos que componen
Ia calicata bilateral, aqueI en que Ios electrodos de potencial están si·
tuados, respecto dei de emisión, en eI mismo lado hacia el que buza Ia
capa. El otro se denomina dispositivo de muro.
Para Ias CED, valen Ias mismas ecuaciones, y además son aplicables
otras varias, entre ellas:
Para capa resistiva:
SMd SA'd = A'M (VII,65 e)
SB'iPB'd =h (VII,65 f)
PA,·; SA'd =h (VII,65 g)
PNd PB'd = NB' (VII,65 h)

Para capa conductora:

PMd P A'd = A'M (VII,66 e)
PB'i SB"d =h (VII,66 f)
SA'i PA'd =h (VII,66 g)
SNd SB'd = NB' (VII,66 h)

En estas calicatas, cuando eI buzamiento es suave, destacán más Ias

puntas y simas debidas aI electrodo de medida extremo deI dispositivo

* Tales ecuaciones, y otras semejantes, pueden deducirse fácilmente de con-

sideraciones' geométricas muy sencilIas.
444
 ANOMALIAS TIPICAS

de techo, y Ias producidas por electrodos de emisión extremos en eI

de muro. La distancia entre punta y sima es igual a Ia anchura horizontal
de Ia capa.
Los efectos de Ia presencia de recubrimiento son Ios mismos que en
el caso de contacto, y serán tanto más intensos cuanto más grueso y
conductor sea el recubrimiento. Los puntos característicos que mejor se
conservan son los producidos por el paso sobre los contactos de los
electrodos de potencial, así como Ios cruces.
Para Ias CES, y en ausencia de recubrimiento valen Ias mismas ecua-
ciones que para Ias CETC. Cuando existe recubrimiento y el buzamiento
es fuerte, sólo son válidas Ias (VII,65 d) y (VII,66 j) y si el buzamiento
es suave pueden aplicar se además Ias (VII,65 a) y (VII,66 a) cuando el
buzarniento es hacia Ia derecha o Ias (VII,65 b) y (VII,66 b) en el caso
opuesto. .

VII.13.3 Capas delgadas

Debe recordarse que, en Ia nomenclatura de Blokh, se llama capa del-

gada a cada heterogeneidad lateral cuya anchura es inferior a Ia longitud
deI dispositivo (apartado VII,9, nota). Estas capas se clasifican en dos
subtipos según que su anchura h (medida siempre en dirección paralela
a Ia superficie deI terreno) sea h> MN (subtipo A) o bien h < MN (sub-
tipo B).
En Ias CETC, si Ia capa es resistiva, Ia anomalía consiste en dos zo-
nas de resistividad alta, superpuestas más o menos en función deI buza-
miento, limitadas por puntos de inflexión o puntas que, a veces y tam-
bién en relación con el buzamiento, se funden en una sola punta o má-
ximo. Si Ia capa es conductora, Ia anomalía es correlativa de Ia anterior,
esto es, con resistividad baja en vez de alta, simas en lugar de puntas,
y mínimo en lugar de máximo (fig. VII-24), pero Ias anomalías sólo se
superponen parcialmente cuando h < MN Y tienen un cruce directo so-
bre el centro de Ia capa. .

Además existen dos máximos laterales (capa resistiva) o dos mlmmos

(capa conductora) debidos aI paso por Ia capa de los electrodos de emisión.

EI número de puntos característicos puede llegar pasta seis por cada

curva (sin recubrimiento y con capa vertical). La distancia entre estos
puntos obedece a una serie de ecuaciones, Ias más importantes de Ias
cuales parecen ser Ias siguientes:
445
CALICATAS ELECTRICAS

~.
Pi
,O
7
5
3 PMi PNd

',5
--~-~ - ~ Q
1
-. '---
Pai
P.I
~~
IBi SNi P2•
-,/_--
SNd
"..- 1
IAd
PAd
f-1
li
ft

~e~~
~tj J3

~~- "z

FIG. VIl-24. Curva de resistividades aparentes (en escala logarítmica) obtenida eu una CETC
sobre una capa delgada resistiva (según Blokh).

Para capa resistiva:

SNPN =h (VII,67 a)
PMSM = h (VII,67 b)
SNSM = + MNh (VII,67 c)
PMPN = h-MN (VII,67 d)
SMSN = MN-h (VII,67 e)

Para capa conductora:

PNSN =h (VII,68 a)
PMSM =h (VII,68 b)
PMPN= h +MN (VII,68 c)
SMSN = h-MN (VII,68 d)
SMSN = MN-h (VII,68 e)

De estas ecuaciones, Ias tres primeras de cada grupo tienen validez

general, siempre que Ia capa sea delgada, mientras que Ias d y e sólo son
aplicables respectivamente aIos subtipos A y B. Las letras S y P pueden
representar también puntos de inflexión I.
446
 ANOMALIAS TlPICAS

En cuanto a Ia distancia entre Ios puntos característicos debidos a

Ios electrodos A y B es siempre igual a h cuando se consideran Ia sima
y Ia punta producidas por eI mismo electrodo.
Si Ia capa es vertical, Ias dos curvas de Ia CETC, tienen Ia misma am-
plitud de anomaIía, y son simétricas, pero esto deja de ocurrir cuando
Ia capa está inclinada. En este caso, eI dispositivo de muro es eI que da
mayor anomalía, salvo cuando Ia capa es conductora con h < MN, pues
entonces Ia mayor amplitud corresponde aI dispositivo de techo. Confor-
me Ia capa se acerca a Ia horizontal, aumenta Ia disparidad entre ambas
curvas.
En Ias anomalías producidas por Ias capas conductoras muy estre-
chas influye mucho Ia relación h/MN. A medida que decrece ésta, con
Ia misma distancia OA = OB, disminuye Ia amplitud de Ia anomalía y Ias
zonas de resistividad mínima de Ias curvas se separan y origillan un
cruce directo. Así, si se pasa de. un dispositivo Schlumberger a otro
Wenller, con Ia misma distancia entre electrodos de corriellte, Ia amplitud
de Ia anomaIía se reduce a menos de Ia mitad, para una misma anchura
h igual a Ia distancia deI dispositivo Schlumberger.
Las curvas deCED sobre capas delgadas presentan en principio Ios
mismos puntos característicos que Ias de CETe, más Ios debidos aI paso
sobre Ia Cilpa deI segundo eIectrodo de emisión.
Las anomalías producidas por. ambos dipoIos (de emisión y de recep-
ción) son semejantes, y exactamente iguales cuando eI dispositivo es iso-
dipoIar y Ia capa es vertical.
Las igualdades (VII,67 y 68), conservan su validez para Ias CED, y
además aparecen otras nuevas debidas aI dipoIo de. emisión; entre ellas
Ias siguientes:

Para capas resistivas:

SB' PB' =h (VIJ,67f)
SA'PA, =h (VII,67 g)
SB PB, = BB' (VII,67 h)
SA,PA = A'Ã (VII,67 i)
Para capas conductoras:
PB'SB' =h (VII,68 f)
PA,SA' = h (VII,68 g)
PB SB' = BB' (VII,68 h)
PA, SA = A'A (VII,68 i)

Las anomalías de CES sobre capas delgadas constan de tres .partes

separadas de resistividad alta si Ia capa es resistiva, y baja si es con-
447
CALICATAS ELECTRICAS

ductora, que se deben respectivamente aI· pasosobre ella deI electtodo

A, dei dipolo MN y deI electrodo B, siendo Ia central Ia de mayor am-
plitud. En conjunto Ia anomalfa es simétrica cuando Ia capa es subver-
tical. Pueden aplicarse a ella Ias ecuaciones (Vn,67 a-d) y (VII,68a-d).
Cuando el espesor de Ia capa es menor que Ia distancia MN~ éste no pue-
de determinarse partiendo de Ia anomalía de CES.
Como en los casos anteriores, Ia presencia de recubrimiento atenúa
Ias anomalías y difumina los puntos característicos, siendo el rasgo más
estable y el último en borrarse con el aumento dei espesor dei recubri-
miento, Ia presencia de un cruce directo o inverso según que Ia capa sea
conductora o resistiva.
Las capas delgadas no pueden detectarse cuando su espesor es inferior
a una fracción determinada dei espesor dei recubrimiento, fracción muy
difícil de calcular teóricamente, pero que es tanto más pequena cuanto
mayor sea el contraste de resistividades entre Ia capa y el medio enca-
jante. Las condiciones de detectabilidad empeoran cuando el recubrirnien-
to es más conductor que Ias medios subyacentes. En general Ias capas
conductoras se detectan con más facilidad que Ias resistivas.
De los tres tipos básicos de calicatas, Ia CES es Ia de anomalías de
menór amplitud. En el caso de capa conductora con h < MN, Ias CES
presentan el grave inconveniente de que en presencia de recubrimiento,
Ia anomalía puede reducirse a un máximo suave, que puede atribuirse
erróneamente a una capa resistiva.

VII.13.4 Heterogeneidades de tamaiío finito

Las heterogeneidades dei subsuelo consideradas en los párrafos an-
teriores se suponían extendidas indefinidamente en dirección normal ai per-
fil, pero en Ia práctica aparecen muchas veces, e incluso puede constituir el
objetivo de Ia investigación, heterogeneidades limitadas tanto en pro-
fundidad como en corrida (filones, bolsa das).
Las anomalías producidas sobre tales cuerpos por los tres tipos bási-
cos de calicata poseen Ia misma forma y el mismo número y distribución
de puntos característicos que Ias heterogeneidades subverticales d~ exten-
sión lateral indefinida, pero Ia amplitud es menor, y más intensa Ia ate-
nuación debida ai recubrimiento.
Existe, sin embargo, una diferencia importante entre Ias anomalías de
cuerpos finitos respecto de Ias correspondientes a heterogeneidades late-
ralmente indefinidas y es Ia inversión dei carácter de los cruces. Por
ejemplo, sobre una semiesfera conductora, el cruce es inverso, y directo
si es resistiva. Sin embargo, Ia interpretación errónea p'uede evitarse por-
que, en conjunto, Ia anomalía es de resistividades bajas en el primer caso
y altas en el segundo.
448
 ANOMALIAS TIPICAS

Como es natural, en el caso de cuerpos de extensión limitada es ne-

cesario que el perfil pase sobre él, puesto que Ia amplitud de Ia anomalía
varía poco si eI perfil en vez de pasar por su centro pasa por su borde,
pero disminuye rápidamente fuera de éste, de modo que es casi inapre-
ciable a distancias dei borde superiores a Ia Iongitud deI dispositivo.

VII.13.5 Anomalías producidas por el relieve dei terreno

Además de Ias anomalías producidas por Ias cambios Iaterales de

resistividad, pueden aparecer otras debidas a que Ia superficie del terreno
no '·~s plana. Cuando esta superficie es plana, pero no horizontal, no se
origl. 'ln anomalías topográficas y Ias curvas de CE pueden interpretarse
dei u1odo usual, sin más modificación que Ias distancias laterales y buza-
mier:tos han de medirse sobre o con respecto aI plano inclinado que cons-
tituye
I Ia superficie dei terreno.
(En general, los valles y depresiones producen anomalías "positivas",
es'to es, de valores altos de Ia resistividad, pero con cruce directo, y Ias
lomas y elevaciones dei terreno producen anomalías "negativas" o sea de
resistividad baja, aunque con cruce inverso. Las lamas producen anoma-
lías de mayor amplitud que los valles. Las perturbaciones topográficas
son más intensas en Ias dispositivos trielectródicos y dipolares que en Ios
simétricos, en razón de Ia mayor sensibilidad de Ios primeros.
"" Las lomas y valles pueden ser estilizados considerándolos como die-
d-ros limitados por otros dos que representan el paso a Ia superficie hori-
zemtal. EI efecto de tales accidentes sobre Ias curvas de CE depende en
gfan medida de Ia relación entre Ia longitud dei dispositivo y Ia de Ia
.1adera, supuesto que eI perfil sea perpendicular a Ia arista de Ios diedros.
Cuando Ia longitud de Ia Iadera es má.s de tres o cuatro veces mayor
que Ia Iongitud dei dispositivo, Ia anomalía producida por Ia cresta o Ia
vaguada queda separada de Ia debida aI paso de Ia llanura a Ia Iadera.
Entonces Ia anomalía de una cuesta se compone de un mínimo con dos
máximos laterales debidos aIos electrodos de emisión y Ia de una va-
guada es de características opuestas. Si se trata de CETC o de CED, el
mínimo de Ia cresta va acompanado por un cruce inverso, y el máximo
de Ia vaguada por un cruce directo.
• Cuando el tamano deI dispositivo es semejante 031 de Ia ladera, Ias
anomalías de Ios bordes dei accidente se superponen a Ia producida por
'\ el centro de éste, originando una anomalía más complicada. Este caso es
el de mayor perturbación.
Por último, cuando Ia anchura deI accidente topográfico es menor que
Ia longitud deI dispositivo, Ia anomalía es menor que en Ios otros casos
449
CALICATAS ELECTRICAS

y tiene poca importancia cuando Ia Iongitud deI dispositivo es de más

de tres veces Ia anchura de Ia Iadera. Si Ios accidentes topográficos son
de muy pequena extensión, sus anomalfas dependen de Ia Iongit~d MN
y disminuye con eI aumento de éste (pues eI dispositivo se vuelve menos
sensible, de modo que, cuando Ia anchura deI accidente es menor que Ia
tercera parte de MN, Ia perturbación es casi inapreciable.
En aIgunos casos puede ocurrir que eI objeto buscado se encuentre
precisamente en Ia cresta o Ia vaguada, 10 que puede dificultar e incluso
impedir su detección. La anomalía topográfica puede atenuar Ia debida aI
objeto, o sumarse a ella, con eI peligro, en este último caso, de ser a;tri-
buida
situadasexclusivamente a Iaconductoras
en valles o Ias topografía. Esto ocurre para Ias capas resisfflvas
en crestas. (
Cuando el accidente es de forma geométrica relativamente regular
pueden corregirse Ias curvas de campo de CE medi·ante ábacos obtenipos
te6ricamente o por medio de ensayos sobre modelos reducidos. 1..-;'\

VII.13.6 Anomalías en Ias medícíones símultáneas sobre perfiles paralelos

En el apartado VII.5 j, se indicó que, a veces, con Ios mismos electro-

dos de emisi6n, se efectúan calicatas e1éctricas sobre varios perfiles para-
lelos. Esto se hace esencialm~nte por el aumento de productividad que.,
representa. )
{
M -- N~ \
------ ------º-"...--- ------- \.
"" \"
,/
"-

,
"-

"-

"
,----------~----
A~ B--
Coo

FIG. VII-25. Disposieión de los eleetrodos en Ia ejeeueión CETC sobre dos perfiles. '1"

/
;'
En el caso de dispositivo simétrico (fig. VII-I?), Ias curvas obtenidas \
de este modo representan Ia misma forma y puntos característicos que \
Ias de dispositivos rectilíneos. Lo mismo ocurre con el dispositivo trielec- \,
tródico paralelo (fig: VII-25) y con el dipolar (fig. VII-26), por 10 que ;~
450
 ANOMALIAS TIPICAS

M--+ N--

A----+ B-
,
I:IG.
I
VII-26. Disposición de Ios eleetrodos eu Ia ejeeución de CED sobre dos perfiles.

puedm interpretarse sus curvas por Ias mismas regIas y curvas patrórt
que ;los dispositivos rectilíneos, siempre que los perfiles sean ortogonales
a Ias heterogeneidades. No obstante, en el dispositivo dipolar paralelo
hay una excepción. Como ya se ha indicado (apartado III.9 e y f) cuan-
<ID el ángulo () tiene un valor crítico determinado (tg-1 v'2) el campo
normal es perpendicular a Ia línea AB, por 10 que en medio hoínogéneo
el potencial observado en MN será nulo Tel coeficiente [( deI dispositivo
será infinito, por 10 que el conjunto de electrodos se comporta como un
dispositivo de cero (apartado III.l1.2 y VIU7).
BLOKH (1971) da curvas para dispositivos dipolares sobre perfiles pa-
,'ralelos oblicubs a Ias heterogeneidades. Dichas curvas son diferentes para
~, perfil central y los laterales. En estos últimos, en algunos train.os se
io.vierte el signo de ó. V, por 10 que, en ellos, Ia resistividad aparente

/l~sulta negativa.

VII.13.7 Anomalías en los dispositivos de gradientes

Las anomalías observadas en los métodos de gradiente son esencial-

mente iguales a Ias obtenidas por el mismo dispositivo con traslado simul-
táneo de todos los electrodos, si bien son algo más sencillas por Ia ausen-
cia de los puntos característicos debidos aI paso de los electrodos de
corriente sobre Ias heterogeneidades. Sin embargo, en Ias calicatas de
gradientes, Ia penetración varía a 10 largo deI perfil, puesto que aumenta
\ COIl ello Ia separación entre los electrodos de corriente y de potencial. El
resultado de esto es que Ias curvas sufren Ia influencia de los cambios
{' verticales de resistividad, y los métodos de gradientes resultan híbridos
.. de sondeo y calicata. Tales cambios verticales suelen producir en Ias
curvas de CE una especie de gradiente regional, esto es, un aumento pau-
latino de Ia resistividad aparente si Ia verdadera crece con Ia profundi-
451
CALICATAS ELECTRICAS

dad, o descenso en caso contrario, o influencias más complejas si 10 es

el corte geoeléctrico vertical. En todo caso, no se producen cambios brus-
cos, tales como puntas, simas, o escalones, por 10 que Ia interpretación
no resulta dificultada en genera1.
EI método de gradientes se efectúa frecuentemente sobre varios per-
files paralelos aI que contiene eI electrodo o Ios electrodos de emisión.
Para Ias anomalías observadas sobre estos perfiles vale 10 que acaba de
decirse.

VII.13.8 Influjo dei rumbo dei perfil

En 10 anterior se ha supuesto, en general, que el perfil sobre el que se

realiza Ia calicata era perpendicular aI rumbo de Ias heterogeneidades
que se trataban de detectar. Cuando no ocurre así, Ia curva de resistivi-
dades aparentes se suaviza, y los puntos característicos se sefialan '~on
menos c1aridad que en el caso de intersección normal. Este efecto':es
tanto más marcado cuanto más se aproximen los contactos a Ia posición
vertjcal, según se indicá en eI apartado VII.ll de este mismo capítulo.
La dependencia de Ias resistividades aparentes con eI ángulo de in-
tersección entre perfil y heterogeneidad se utiliza en Ias calicatas circu-
lares, Ias cuales se describen más abajo.
1
/
VII.14 INTERPRETACION CUALlTATlVA

Una vez efectuadas Ias operaciones de campo y dibujadas Ias curvas"

correspondientes en escala semilogarítmica, se procede a efectuar Ia pri-
mera fase de Ia interpretación, que tiene carácter cualitativo.
Se comienza por examinar Ias curvas, con objeto de identificar y se-
parar Ias anomalías interesantes de origen geológico, desechando Ias de-
bidas a perturbaciones eléctricas o a accidentes deI terreno. Estos últimos
se detectan por correlación con el mapa topográfico de Ia zona y teniendo
en cuenta Ias características de Ias anomalías producidas por 10mas o va-
lles, ya descritas. Cuando haya motivo para suponer que una anomalía de
origen geológico está deformada por algún defecto topográfico, puede
corregirse éste si se dispone de Ios ábacos adecuados. Las perturbaciones
irregulares, debidas a corrientes telúricas, parásitos industriales, ruido /
geológico, etc., pueden corregirse mediante Ia suavización de Ia curva de :i
resisti vidad aparente. \
Este suavizado se efectúa para cada estación, tomando el promedio de \
los valores de resistividad correspondientes a Ias estaciones anterior y
452
 ANOMALIAS TIPICAS

siguiente a Ia que se corrige y promediando a su vez eI valor obtenido

con eI de Ia estación considerada. Debe quedar bien entendido que este
procedimiento sólo debe emplearse en los tramos de curvas que se reco-
nocen como perturbados y de difícil ioterpretación, y nunca debe apli-
carse a mediciones de buena calidad, pues sólo se conseguirÍa estropear-
Ias aI hacerles perder expresividad.
Las anomalías escogidas como interesantes se comparan con el mapa
geológico de Ia zona, así como con Ia información subterránea disponible
(perforaciones, labores mineras), a fio de identificar sus causas. Junto con
ello, debe efectuarse Ia clasificación de Ias anomalías, atribuyéndolas a
contactos, capas gruesas o capas delgadas, basándose en Ias caracterís-
ticas i correspondientes descritas en el apartado VIII.13.
Lá etapa siguiente consiste en establecer correlación entre Ias anoma-
lías ,de Ios diferentes perfiles, 10 que se efectúa comparando entre sí las
cori'espondientes curvas. Blokh describe diversos gráficos utilizados para
ef!ablecel' Ia correlación y que consisten fundamentalmente en -Ia repro-
ducción, unas debajo de otras, de Ias curvas de resistividad aparente de
los diferentes perfiles, o bien en representar estas curvaS en tamano re-
ducido, sobre un mapa. El autor cree más sencilla Ia comparación directa
de Ias curvas originales, sin necesidad de volver a dibujarlas. Las ano-
malías que pueden seguirse de cada perfil aI siguiente Se designan por
medio de .letras o símbolos, y su posición aproximada se lleva aI mapa
(fe trabajo. BHlMASANKARAM et ai (1973) han dado métodos matemáticos
pkra establecer Ia correlación entre perfiles.
Si Ia causa geológica de Ia anomalía ha podido ser identificada en al-
gún perfil, Ia correlación permite seguir su marcha en Ia zona explorada
por Ios restantes. A veces, una anomalía que ha podido seguirse sobre
;' una serie de perfiles desaparece bruscamente aI pasar aI siguiente, 10 que
puede deberse aI acunamiento de Ia capa o filón que Ia produce, o bien
a Ia presencia de un bloque hundido. También puede ocurrir que una
anomalía o grupo de anomalías experimente un desplazamiento Iater'aI
brusco aI pasar de un perfil aI siguiente, 10 que atestigua Ia presencia de
una falla de movimiento horizontal o con componente en esta dirección.
Tales desplazamientos Iaterales de Ias anomalías no deben confundirse
con Ias ondulaciones debidas a Ia topografía, cuando Ias capas o con-
tactos detectados no son verticales o con buzamiento fuerte.
(
I A veces se observa un atenuamiento gradual de Ias anomalías aI pa-
\\ sal' de cada perfil aI siguiente, debido aI aumento de espesor deI recu-
brimiento. Por otra parte, Ias heterogeneidades superficiales, ,,10 conti-
nuación en profundidad, pueden reconocerse frecuentemente por Ia in-
versión deI carácter de los cruces, senalada .en eI apartado 13.4 de este
capítulo.
453
CALICATAS ELECTRICAS

Pa FIG. VIl-27. Estudio dei relieve de un

basamento por medio de CES. EI míni-
mo de resistividad podría deberse tanto a
hundimiento dei zócalo resistivo como a
~ .~A'B' levantamiento de zócalo conductor. EI
..•..__ .-----_..-."'"
~ _.-""AS empleo de dos distanéias permite salir de
dudas. (Inspirado en Yakuboskiy-Liakhov.)

J:'IG. VII-28. Eliminación dei efecto de

una inclusÍón resistiva en el recubrim~~hto
~ por el empleo de CES con dos distancias.
(Inspirado en Yakuboskiy-Liakhqv.)

~
f!.
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A A M N' S Si
,LU
~:-xP..2
~
L· Jr J,

{
/
)'

\.
/M ~ ~
\

Los cambios de espesor o naturaleza deI recubrimiento pueden detec-

tarse con cierta facilidad cuando sobre cada perfil se ban efectuado Ias CE
con dispositivos de dos o más distancias, ya que los efectos de varia-
ción en el recubrimiento se marcan más intensamente en Ia distancia entre
electrodos menor.
En relación con ello debe indicarse que en ciertos casos se emplean
Ias CE para determinar Ias zonas de profundidad máxima o mínima de
un zócalo con contrastes de resistividad con 10s materiales que 10 re- .'
r
cubren. Esta aplicación no corresponde realmente a calicatas eléctricas, lI
pues 10 que se trata de detectar son variaciones ,de profundidad de cam- I
\
bios verticales de resistividad, y constituye en realidad un modo de abo- \ I
rrar SEV cuando sólo interesan resultados cualitativos. En estas inves- I"

tigaciones se utilizan dispositivos simétricos con dos distancias. Las figu-

454
 INTERPRETACION CUANTITATIVA

ras adjuntas (fig. VII-27 Y VII-28) basadas en Yakuboskiy-Liakhov, son

muy instructivas. Las dos primeras indican claramente que una zona de
mínima resistividad puede deberse tanto a un hundimiento deI zócalo,
si éste es resistivo, como a un Ievantamiento deI mismo, si es conductor.
La .curva con menor separación AB permite salir dedudas. La presencia
de un máximo de resistividad produciría Ia ambigüedad. contraria. La
figura VII-28 sefíala cómo eI uso de dos separacionesl'ermite eliminar un
cambio de resistividad en eI recubrimiento, que en caso contrario seria
atribuido a cambio de profundidad en el zócaIo.
Otra modaIidad de interpretación cualitativa es eI trazado de mapas
delesistividad aparente. Estos se dibujan deI mismo modo que en eI
mét~.do SEV (apartado V:11.3~ aI cuaI remitimos. Las calicatas que más
se prestan aI trazado de tales mapas suelen ser Ias de dispositivos. simé-
trico, por ser sus anomalías Ias más suaves. Respecto de su interpreta-
ción, vale 10 dicho en eI. 'referido apartado.

<\

VII.15 INTERPRETACION CUANTlTATIVA

'Terminada Ia interpretación cualitativa puede pasarse a Ia cuantita-

tiva, cuya finalidad es determinar Ia posición exacta, anchura y buza-
miento aproximado de Ias heterogeneidades detectadas.
: La riqueza y precisión de Ios datos obtenidos en esta etapa de Ia in-
terpretación depende de Ia calidad de Ias mediciones, así como deI es-
pésor deI recubrimiento, ya que es preciso que Ios puntos característicos
aparezcan claramente visibles en Ias curvas.
En algunos casos puede resultar muy conveniente, una vez efectuada
, Ia interpretaci6n cualitativa, trazar perfiles de Iongitud adecuada y exac-
(amente perpendiculares aI rumbo de Ios objetos detectados. Sobre estos
perfiles de cálculo se efectúan calicatas eIéctricas cuyas curvas de re-
sistividad .aparente son Ias que se utilizan para Ia interpretaCi6n cuanti-
tativa.

Se comienza por identificar y sefíalar Ios puntos característicos de Ias

curvas, atribuyéndoIes Ias Ietrasy subíndices que Ies corresponden, de
acuerdo con Ias curvas patrón, que deben tenerse a Ia vista. En esta tarea
ayuda mucho eI dibujo deI dispositivo, que debe estar en eI. mismo papel
.~ de Ia curva, y en Ia misma escala horizontal, ya que, por ejempIo, Ia dis-
~\
tancia entre Ios puntos característicos producidos por Ios electrodos A
y M aI pasar sobre un mismo contacto, debe ser igual aI segmento AM,
;i y anáIogamente para Ios otros eIectrodos. Esta condición y otras análogas'
se comprueban cómodamente si se traslada eI dibujo deI dispositivo (con
inversi6n izquierda-derecha) a una tira de papel.
455
CALICATAS ELECTRICAS

Es conveniente comprobar aI mismo tiempo si Ia anomalía ha sido

clasificada correctamente. Para ello debe tenerse en cuenta que los con-
tactos aislados se caracterizan por Ia presencia de escalones y de zonas
de divergencia a ambos lados de aquellos (esto último en Ias calicatas
bilaterales); y Ias anomalías de capa ancha por una zona de resistividades
altas (bajas) si Ia capa es resistiva (conductora) acompafíadas en Ias CE
bilaterales por un cruce inverso (directo) con zonas de divergencia aIos
lados) con anchura total de Ia anomalía que no supera a AN o a MB
en más de dos o tres veces. Las anomalías debidas a capas delgadas se
reconocen por Ia presencia de una zona de resistividad alta o baja cuya
anchura no puede superar Ia longitud deI dispositivo (AN o BM). SJ' Ia
calicata es bilateral se observa además un cruce, que es directo/ con
dos simas a ambos lados a distancias deI orden de Ia longitud deI crispo-
sitivo, si Ia capa es conductora. Si es resistiva el cruce es inverso, y en
vez de simas aparecen puntas. \.
a) Determinaeián deI buzamiento. \.
(.

La verticalidad de un contacto aislado se manifiesta porque Ia punta

y Ia sima son igualmente claros. Si Ia punta es más marcada que Ia sima
el contacto buza hacia el medio más conductor, y bacia eI más resistivo
en caso contrario.
La anomalía de capa ancha vertical se distingue por Ia, simetría de Ia
curva respecto de Ia sima o punta central (CES) o Ia simetría de Ias
curvas respecto deI cruce (CETC o CED). Si Ia capa es inclinada, Ia'
curva o curvas son asimétricas y a un lado se sefíalan simas y aI o~/o
puntas. Si Ia capa es conductora, buza en eI sentido punta-sima, y,les
resistiva, en eI sima-punta.'
Cuando Ia capa detectada es deI tipo delgado, y Ia caIicata es bilateral, I
Ias amplitudes de los extremos de ambas curvas son aproximadamente lj)
iguales si Ia capa es vertical. Si hay diferencia clara entre estas ampli-
tudes, el buzamiento será a Ia izquierda deI dibujo cuando Ia anomalía
mayor es Ia deI dispositivo directo, y a Ia derecha si Ia anomalía más
intensa es Ia deI dispositivo inverso.
En Ias CES, Ia dirección deI buzamiento es menos clara, porque sólo
se obtiene una curva. En este caso, Ia capa buza hacia el lado en que
el escalón que limite lateralmente Ia parte central de la anomalía sea
más suave. ~
I
Debe tenerse en cuenta que Ia presencia de recubrimiento suele ate- ,~

nuar Ias puntas y simas en máximos y mínimos respectivamente, y en-

tonces Ias regIas anteriores habrán de aplicarse a estos últimos.
\.
b) Posieión exaeta de Ios eontaetos o interfaees.
EI caso más sencillo es el de un solo contacto entre dos medios, en
456
 INTERPRETACION CUANTITATIVA

posición vertical. Entonces, en Ias CES eI contacto queda debajo deI

escaIón vertical. Más exactamente, y para cuaIquiera de Ios tipos básicos
de caIicatas, su abscisa es Ia deI punto medio de Ias abscisas de Ios pun-
tos característicos PM y SN' Si eI contacto buza hacia eI medio conduc-
tor, Ia abscisa de Ia intersección deI plano deI contacto con Ia superficie
(recubrimiento excluido) se obtiene llevando Ia distancia MN/2 desde PM
hacia eI medio conductor. Cuando eI contacto buza hacia eI medio más
resistivo, se lleva hacia éste, desde SN, Ia distancia MN/2.
En eI caso de capa .ancha existen dos contactos, que llamaremos res-
pectivamente, con reIación aI gráfico, izquierdo y derecho. Cuando Ia
capa es conductora y eI buzamiento es fuerte, Ia intersección deI con-
tacto izquierdo con el muro deI recubrimiento tiene por abscisa Ia media
de Ias de PNi y SMi. En cuanto aI contacto derecho, Ia abscisa correspon-
diente es Ia deI centro de Ias de PMd y SNd' Si eI buzamiento es suave y
a Ia izquierda Ia abscisa deI contacto izquierdo está a Ia distancia MN/2
a Ia izquierda de SMi y Ia deI contacto derecho a Ia izquierda de PMd• Si
el buzamiento suave es a Ia derecha Ia abcisadel contacto izquierdo
distará MNj2 (a Ia derecha) de PNi y Ia deI derecho estará a Ia misma
distancia a Ia derecha de SNd' Si Ia capa fuese resistiva, vale todo 10 dicho
cambiando Ias simas por puntas y viceversa. Eu eI caso de CED pueden
utiIizarse además Ios puntos característicos debidos aIos eIectrodos de
emisión, teniendo en cuenta que están despIazados de Ios indicados una
distancia igual a Ia separación entre Ios eIectrodos correspondientes.
Cuando Ia anomalía es de capa delgada, sóIo puede determinarse Ia
posición de ambos contactos cuando eI corte es de clase A, o sea, cuando
Ia anchura horizontal h de Ia capa cumpIe Ia condición h> NIN. En este
caso, cuando Ia capa es conductora y buza a Ia derecha, eI contacto de
muro corta aI recubrimiento a distancia MN/2 a Ia derecha de Ia punta
PNi y el contacto derecho aI mismb lado y distancia de Ia sima SNd' Con
buzamiento a Ia izquierda, Ia misma distancia MN/2 se lleva a Ia izquierda
respectivamente de Ia sima SNi y de Ia punta PMd• Si Ia capa es respec-
tiva, vale todo 10 anterior, trocando entre sí Ias P con Ias S.
Si se trata de capa delgada deI tipo B (h < MN), sólo puede deter-
minarse, mediante Ias regIas anteriores, Ia posición deI muro de Ia capa.
EI contacto de techo sóIo puede situarse aproximadamente llevando a
partir deI primero, y en Ia dirección deI buzamiento, Ia distancia MN;
el contacto buscado quedará dentro de ella.
c) Anchura de la capa.
Independientemente de Ias construcciones indicadas, Ia anchura de
Ia capa (en sentido paralelo a Ia superficie deI terreno), puede determi-
narse por apIicación de Ias fórmulas inclui das en los apartados 13.2 a 13.4
457
CALICATAS ELECTRICAS

de este capítulo. Para ello se escogen los puntos característicos que apa-
rezcan con más claridad en Ias curvas y se buscan Ias fórmulas que
sean aplicables. Si hay más de una 1)e toma Ia media aritmética de los
resultados. Esta media se compara con Ia anchura obtenida por Ia posi-
ción de los contactos y si hubiera discrepancia se corrige ésta, adoptán-
dose como datos finales los que encajen más aproxidamente con unos
y otros resultados.
La exactitud de los procedimientos descritos en este apartado depende
dei número de puntos característicos que se vean en Ias curvas y de Ia
claridad de éstos, 10 que depende, entre otros factores, de 10 acertado
de Ia elección de Ia clase y tamano dei dispositivo, de Ia calidad dei tra-
bajo de campo y dei espesor dei recubrimiento.
Blokh expone otras' regias interpretativas semejantes a Ias aquí indi-
cadas, pel'O con objeto de no caer en una casuística prolija y algo con-
fusa, el autor se ha limitado a senalar, en forma concisa, Ias que parecen
más importantes. ' .
ia interpretación cuantitativa puede efectuarse también por superpo-
sición de Ias curvas de campo (en escala semilogarítmica de 62,5 mm de
módulo) con Ias curvas patrón de Ia colección de BLOKH(1957), previa
transfOrmación deéstas en el caso en que el dispositivo no sea dipolar.
Este procedimiento es más lento y complicado que el expuesto más
arriba, 'pero su empleo puede estar justificado en casos en que los puntos
característicos no estén suficientemente definidos.

Ejemplo: Como ilustración de 10 expuesto se comenta a continua-

ción un ejemplo real tomado de una investigaci6n poco profunda efec-
tuada aI N. de Madrid para localizar' zonas de rotura en una formación
granítica escasamente recubierta. ia figura VII-29 reproduce una ano-
malía de CETC encontrada en uno de los perfiles. El dispositivo, muy
corto, tenía OA = OB = 7 m; MN = 2 m; Paso =,2 m. ia presencia de
un mínimo claro en cada curva, y Ia separaci6n entre éstos, junto con un
cruce directo, indican que Ia anomalía corresponde a una zona conduc-
tora, deI tipo "capa ancha". La asimetría de Ias curvas indica que esta
capa buza hacia Ia izquierda, con buzamiento fuerte. Sólo se senalan con
claridad los puntos característicos correspondientes aI paso de los elec-
trados M y N sobre los contactos. La posición de éstos, determinada
según eI apartado VII.15 b se indica aI pie de Ia figura; Ia anchura hori-
zontal de l~ capa resulta ser de 5 m. Las ecuaciones (VII,66) confirman
este valor.
d) Nota final.
La cantidad de información que se obtiene mediante Ia interpretación
cuantitativa depende de Ia calidad de los datos de campo y de Ia ade-
cuada elección deI tamano deI dispositivo. Si los puntos característicos
458
 METODO DE BLOQUES

-- , 10
IrK/ í r\
"--ri---
c-"-
I O\ '.
,..,
O ----
A

~l-./,'
/d
IISi
I'"P •. SNd
"-
I
M N

__I
. B

L•••. /
l__
/ I i p'Ii/Id

Pa

500

300

200
150

20 25 30 35 40 m.

J1II
FIG. VII-29. Ejemplo de interpretación cuantitativa de una anomalía de capa ancha
conductora. (Cortesía de Tecnhydros, Madrid.)

están poco marcados, Ias resultados de Ia interpretación serán más po-

bres e incompletos que en caso contrario.
Por otra parte, pueden existir ruidos causados, bien por perturbacio-
nes eléctricas, bien por heterogeneidad de Ia capa superficial. Estas
ruidos pueden atenuarse filtrando Ias resistividades observadas por el mé-
todo de medias móviles. Debe tenerse muy presente, sin embargo, que
cualquier filtrado atenúa también (o elimina) Ias anomalías, por 10 que el
proceso de filtrado debe aplicarse a Ias calicatas con sumo cuidado. EI
filtrado sistemático de Ias calicatas es absolutamente desaconsejable.

VII.16 METODO DE BLOQUES

Este método, ya definido en el apartado 5 d) de este capítulo, requiere

consideración separada, porque sus resultados suelen representarse en
forma de mapa de resistividades aparentes, por 10 que se interpreta en
459
CALICATAS ELECTRICAS

planta, y no eu forma de perfiles separados como en Ias métodos rese-

fiados más arriba.
Entre Ias ventajas de este método figuran Ia rapidez y Ia simplicidad
de Ias mediciones de campo, una vez tendida Ia línea AB, máxime cuan-
do trabajan simultáneamente varias pares de electrodos MN con sus
instrumentos correspondientes. Entre sus inconvenientes figura el que
Ia profundidad de investigación no es constante, aparte de Ias inheren-
tes a los mapas de líneas iso-resistivas. Tanto una como otro son propias
de Ias métodos de gradientes. A ello deben afiadirse dos defectos espe-
cíficos deI método de bloques, que son Ias frecuentes dificultades en el
enlace de rectángulos contiguos y 10 engorroso deI cálculo de los coefi-
cientes de dispositivo, diferentes para cada estación.
El método de bloques se presta muy bien para investigaciones tectó-
nicas profundas que pueden requerir distancias AB de varios Km, muy
incómodas para dispositivos móviles en conjunto, y también para proble-
mas mineros en los que interese detectar y cartografia r objetos pequenos
y resistivos.
Las dimensiones más usuales para el rectángulo son Ias siguientes
(fig. VII-30):
AB
Longitud (según AB):
3
AB
Anchura:
4

MN' D AB AB
. e 50 a -2'5
AB
D" f'l D AB
lstancla entre per 1 es: e 8" a 4'0
EI número de perfiles y por 10 tanto, Ia distancia entre éstos depende
de Ias características y grado de detalle deI trabajo. En investigaciones
tectónicas, Ia distancia AB depende de Ia profundidad que trate de al-
canzarse, en función deI corte geoeléctrico.
Cuando Ia zona es demasiado grande para ser estudiada con un solo
rectángulo, ha de ser descompu esta en un cierto número de rectángulos
parciales, que se estudian sucesivamente. El inconveniente de esto es que
los valores obtenidos en los perfiles limítrofes y comunes a dos rectán-
gulos, pueden no coincidir exactamente, por corresponder a diversas po-
siciones de los electrodos A y B. Esto obliga a aplicar un factor de co-
rrección, a ser posible, el mismo para todo un rectángulo, con objeto
de poder trazar un mapa de resistividad en el que no aparezcan discon-
tinuidades ficticias en Ias líneas de unión de los rectángulos.
460
 METODO DE BLOQUES

4
--3 AS __

AS ======== AS
4 =======.= 2 B
A ~---- I )<
)( ---- I
I
I
I
~

FIG. VII-30. Dimensiones relativas usuales dei rectángulo ocupado por 10s
perfiles en el método de bloques.

EI cálculo de Ias coeficientes de dispositivo es molesto, porque a cada

estación corresponde uno distinto, si bien por Ia simetría de Ia figura
basta calcular los correspondientes a Ia cuarta parte deI rectángulo.
Dicho cálculo es fácil de programar para un ordenador electránico,
utilizando Ia fórmula (I1I,23) y expresando Ias distancias AM, BM, etc.,
en función de sus coordenadas en un sistema cartesiano con su origen
en el centro de simetrÍa deI dispositivo.
Cuando no .se dispone de ordenador, es conveniente el empleo de
alguna fórmula aproximada, más sencilla que Ia exacta. Esta fórmula
puede establecerse basándose en Ia idea fundamental deI dispositivo
Schlumberger, esto es, que si Ia distancia entre M y N es suficiente-
mente pequena respecto a Ia AB puede aceptarse que

!,V ~ E
MN
según se indicá en el apartado 111.7.
Entonces (fig. VII-31), el coeficiente para Ia estación indicada en Ia
figura, cuyocentro O deI segmento MN tiene coordenadas x y h puede
calcularse aproximadamente sustituyendo 11V por MN· E, siendo E Ia
componente deI campo eléctrico en el punto O según Ia dirección MN.
El campo debido aI electrodo A será

EA=~ 1
27l' x2 + h2

según se deducede Ia ecuación (111,9).

461
CALICATAS ELECTRICAS

MO N
.,/f'~
/1 .
/ I .
r/ I .
/ Ih .
// I - .
~o( I .
AX I /3 [»<8
---x---
---------f-----------
FIG. VII-31. Para el establecimiento de una fó.rmula aproximada para el coeficiente
de dispositivo en el método de bloques.

La componente E'A paralela a Ia dirección AB será

Ip x/r _ Ip __ x _
E'A = EA COS (1. = --2-;--x2 + h2 - b (x2 + h2)3/2

Análogamente, Ia componente E' B debida aI electrodo B vale

E'B =~ cos/3
Ip l-x
211' (l- X)2 + h2 ='2;- [(1- X)2 + h2]3/2
y por 10 tanto,

ôV
MN ê::=. E'A + E'B = ~-Ip [X (x2 + h2)3/2 + [(l_~2+ l-x h2]3/2 J'

de donde puede despejarse p, que en el caso general de medio hetero-

géneo será una resistividad aparente Pa

ôV
(VII,69)
Pa = 211' [X (x2 + h2ii;:+ [(l _ X)2
,.- +x h2]3/2 ]-1 MN·I

de donde se deduce Ia expresión buscada para el coeficiente, de dispo-

sitivo, que es

(VII,70)
K = MN 211' [X (x2 l-x+ h2]3/2 ]-1
+ h2)3/2 + [(l-- X)2
462
 METODODE BLOQUES

que puede escribirse en Ia forma

K = ~~ [-X2-(-1 -;- __x2

h-2-)3-/2 + (l- (l-h_2
x? [1 1+ __ X)2 -J 3/2 .]_1

de donde puede pasarse, por sencillas transformaciones trigonométricas, a

K = MN x2 r1.
2rr ( cos3 + (l-X)2
cos3 (.3 )_1
y de ella a

K = MN OA2r1.•
2rr_ (--..:.os + OB2(3 )
cos -1 (VII,71)
expresión dada por YAKUBOVSKY y LIAKHOV(1964).
Mediante Ias fórmulas anteriores puede calcuIarse que si tomamos
como unidad el valor de K en el centro de Ia línea AB,. que es el deI
rectángulo, en los extremos deI tercio central vale 0,709, y en los vérti-
ces deI rectángulo, 1,40, si éste tiene Ias dimensiones habituales.
Para terminar este apartado, se resenará una aplicación muy intere-
sante deI método de bloques para una investigación tectónica relativa-
mente profunda. Se trata deI estudio de los diapiros de AIsacia y Baden-
Wurtemberg, realizado por Ia Compagnie Générale de Géophysique y
descrito por BREUSSE-y ASTIER (1961). La superficie total estudiàda fue
de 171 km2, descompuesta en 45 bloques de 4,5 km2 cada una, y Ia dura-
ción deI trabajo fue de dos anos. EI problema que se trataba de resol-
ver era Ia cartograifa de diapiros salinos mucho más resistivos que Ias
margas conductoras que Ias recubren, de 2 ohmios m. Las margas pre-
sentan espesores variables entre 100 y 1000 m y tienen en su techo los
aluviones deI Rhin eon 400 ohm de resistividad media y espesor desde
30 hasta 200 m. La profundidad deI sustrato resistivo obligó aI empleo
de líneas AB de 6 km. La distancia entre estaciones era de 100 m y el
intervalo entre perfiles de 250 m. Dada Ia gran conductividad de Ias
margas, el valor de V era muy pequeno, inferior aI m V, por 10 que
to.

Ias medidas se efectuaban por medio de registradores, siguiendo Ia misma

técnica de los SEV profundos. Se utilizaban simultáneamente tres regis-
tradores sobre otros tantos perfiles deI mismo bloque. No se indica Ia
intensidad de Ia corriente aplicada. Los resultados de Ias mediciones se
representaron en forma de mapas de líneas isorresistivas, cuyas zonas de
máximo indicaron 1<1 posición de los diapiros (fig. VII-32). La proiundidad
deI techo de Ia formación salina pudo determinarse en cada punto, dado
que el contraste de resistividad entre margas y sales hada que Ia rClma
final de una curva de SEV efectuado en dicho punto fuese rectilínea
463
CALICATAS ELECTRICAS

(sustrato aislante). Entonees deI valor de resistividad observado podía

dedueirse el espesor de Ias margas, ya que Ia eontribueión deI reeubri-
miento a Ia S total era despreciable. EI espesor deI reeubrimiento se de-
terminó mediante 1213 SEV eon AB final de 100 m. Como apoyo de Ia
interpretaeión se realizaron 106 SEV eon AB final de 5 a 6 km amén de
ensayos sobre modelos redueidos.
~••rI;1 de rui,tividod y iu dui~no.c:iôn •
CU'YO de ho·R.liillv'dod y.u yglor •• o ohm·m ' __ 10 _
Sondeo clu;tuodo Gnlu de 10 p.o.ptc:dôn___ ••
7 10 15 to 300M·.
11::141%1.
,
.. 984
f
'"
I ".

'"
-'3M
N.,.

332~- .+_
'" .... ..,
FIG. VII-32. Uno de los mapas de resistividad aparente (Iíneas iso-resistivas) obtenidos
en el estudio de Jos diapiros de Alsacia. (Según Breusse y Astier. Cortesía de Ia EAEG.)

VI1.17 CALlCATAS CON DISPOSITIVOS COMPUESTOS V DE CERO

Como ya se ha indicado, los dispositivos de cero se distinguen porque

en medio homogéneo, el valor /).V observado es nulo. Entonces los va-
lores de /).V diferentes de cero representan directamente anomalías, por
Jo que se tiene un método de anomalía pura. A primera vista tal circuns-
tancia parece óptima, por Ia elevada sensibilidad que implica, pero aI
llevar a. Ia práctica dispositivos de esta clase se observa que no sólo se
amplifican Ias anomalías buscadas, sino también todos los efectos clasi~
ficables como rui dos. Por esta causa, Ias ventajas de estos dispositivos
son dudosas, por 10 que Tarkhov se pronunció en contra de su empleo
terrestre. Encambio, GUPTA y BHATTACHARYA (1963) aseguran haber ob·
464
 CALICATASCON DISPOSITIVOS COMPUESTOS Y DE CERO

tenido excelentes resultados con un dispositivo de este tipo. Blokh admite

su uso en casos especiales, en Ios que no se alcancen buenos resultados
con Ias disp'ositivos usuales.
Vn rasgo característico de Ias dispositivos de cera es que su constarite
K es infinita, ya que en medias de resistividad uniforme, !'> V es cera.
Por consiguiente, Ias resultados de Ia medición no pueden expresarse
como resistividades aparentes, sino que hay que contentarse con repre-
sentarIas por una curva deI cociente !'>VfI en función de Ia distancia
sobre eI perfil.
Otra circunstancia es que Ia diferencia de potencial observada puede
ser tanto positiva como negativa, por 10 que!'> VfI tendrá el correspon-
diente signo. Entonces Ia escala de Ia representación habrá de ser lineal,
pues Ia presencia de valores negativos impide Ia representación Iogarít-
mica. No obstante, Blokh utiliza esta última mediante un subterfugio,
que consiste en representar Ios valores positivos en escala logarítmica
normal, y en Ia ordenada deI valor mínimo observado, o un poco por de-
bajo de el1a, se comienza una escala Iogarítmica hacia abajo, empezando
por un valor arbitrario que puede ser eI mismo valor' mínimo, y esta se-
gunda escala se utiliza para Ios cocientes negativos.
EI más sencillo dispositivo de cero es el trieIectródico MAN, que se
obtiene l1evando "aI infinito'~ el electrodo B y colocando los M y N ali-
neados con 'éI a distancias iguales deI A (fig. VII-33). Las medidas !'>VfI
se refieren aI punto medio deI dispositivo,' o sea aI electrodo A.,. En Ia
figura VII·34 se reproduce Ia anomalía correspondiente aI contacto verti-
cal entre dos medios, según Ia obra de Blokh. Obsérvese que cuando el
electrodo A se encuentra sobre el contacto, el cociente es nulo. Intuiti-
vamente parece que no es aSÍ, dado que el medio de Ia derecha tiene
rsistividad P2 diez veces mayor que Ia PI deI medio de Ia izquierda, pero
un sencillo cálculo por el método de Ias imágenes indica que efectiva-
mente !'> V = O. Si e1 medio más conductor fuese el situado a Ia derecha,
Ia anomalía presentaría Ia misma forma pero invertida, es decir, Con va-
lores !'>V II negativos, suponiendo que se considere eI signo de !'>
V en e1
mismo sentido que en el primer caso, esto es, positivo cuando eI poten~
cial en M es mayor que en N, siendo A positivo. La penetración deI dis-
positivo depende de Ia reIación entre el espesor deI recubrimiento y Ia
distancia MN.

EI dispositivo descrito da anomalÍas más intensas que Ios usuaIes, peTo

presenta inconvenientes graves, como su sensibilidad ,a Ia diferencia en-
tre Ias resistencias de contacto de Ios electrodos de potencial, asÍ como
a Ia heterogeneidad deI recubrimiento. Por otra parte sus anomalías re-
sultan a veces de interpretación difícil. Los primeros inconvenientes no se
presentan en el calicateo marino. .
465
CALICATAS ELECTRICAS

AV
I

-800 M A N
--+'--+1--.

/: I( ~

FIG. VII-no Dispositivo trielectródico FIG. VII-H. AnomaIfa de un contacto verti-

"de cero" MAN. cal entre dos medios observada en un dispo-
sitivo "de cero" MAN.

Otros dispositivos de cero sencillos son el trielectródico ecuatorial y

el tetraelectródico ecuatoria1. Difieren éstos de 105 usuales en que el
eIectrodo A y el B se encuentran en Ia mediatriz dei segmento MN (figu-
ra VII-35). EI dispositivo ecuatorial paralelo también puede utilizarse
como de cero, según se indicó en el apartado 13.6 de este capítulo.
Entre los dispositivos apantallados más sencillos figura el unipolar
AMNA que, es un dispositivo rectilíneo simétrico usual, pero con los dos
electrodos de emisión conectados aI mismo polo dei generador de co-
rriente, cerrándose el circuito por un electrodo "de infinito" B. ia in-
tensidad que penetra por cada electrodo A ha de ser Ia misma (1/2),
para 10 que han de emplearse resistencias variables que han de ajustarse
en cada estación. ias anomalías deI dispositivo unipolar. son más inten-
sas respecto de los dispositivos corri entes en el caso de heterogeneidades
conductoras, en especial delgadas. En Ias mediciones terrestres, Ias va·
riaciones en Ia resistencia superficial pueden perturbar los resultados,
haciéndolos inseguros. Dicho dispositivo se representa en Ia figura 11I-15
con otra notación para los electrodos.
DEY et al (1975) han estudiado Ia distribución de corri ente en el sub-
suelo para el dispositivo unipolar: en medio homogéneo, por razón de
simetría, s610 existe Ia componente I.
de Ia densidad de corriente en el
plano vertical medio entre los electrodos, con valor nulo en Ia superficie
466
 CALICATASCON DISPOSITIVOSCOMPUESTOSY DE CERO

deI terreno y en el infinito y un máximo de 3/8 de Ia distancia AA. La

existencia de este máximo se sueIe describir como "efecto de enfoque",
pero 5U profundidad, en medios estratificados, depende de Ia distribu-
ci6n vertical de resistividades, de acuerdo con los autores citados.
BRIZZOLARI y BERNABINI (1979) han estudiado el comportamiento de
un dispositivo unipolar que ellos denominan "enfocado" (fig. VII-35) en
el que se mide /}.Ventre O y M y entre O y N. Encuentran que, en pre-
sencia de ruido superficial, este dispositivo es superior aI simétrico, y
es especialmente apto para Ia detección de cavidades e investigaciones
análogas. Es de lamentar que tales autores no hayan tomado como tér-
mino de comparación el dispositivo trieIectródico combinado.

M A o A N

lfffflp#71/T/fft471
FIG. VII-35. Dispositivo unipolar estudiado por BRIZZOLARI y BARNABINI.

Otro dispositivo apantallado es eI trielectródico APMN. Como ya se

ha dicho (apartado III.l1.2), para un cierto valor deI coeficiente n, que
suele representarse por no el dispositivo es de cero. Si n :;i= no el coeficiente
K es finito, y pueden calcularse Ias resistividades aparentes. La amplitud
• M
o
A X
5 N

• M
A X x B b
• N

FIG. VII-36. Dispositivos ecuatoriales de cero: a, trielectródico; b, tetraeJectródico.

de Ias anomalías depende deI valor de n y de Ia distancia entre los elec-

trodos. Según Blokh, Ia amplitud óptima de Ias anomalías se alcanzan
467
 CALICATAS ELECTRICA~

cuando.Ia distancia AP es 2/3 de Ia distancia AM, siendo M el electrodo

de potencial más próximo aI A. A estas distancias corresponde no = 0,11
pero conviene tomar un valor de n algo diferente que produzca anoma-
lías intensas, pero permita el cálculo de resistividades aparentes. La figu-
ra VIl-36 representa Ia anomalía obtenida en un dispositivo apantallado
sobre una capa resistiva, con n = no = 0,5 y reIación AP/AM = 1/3. Si
esta relación tuviese el valor óptimo. mencionado de 2/3 Ia anomalía po-
sitiva seda 2,5 veces mayor. Obsérvese Ias dos escalas Iogarítmicas, para
Ia representaciónl:Nde los valores
+10 I
+ 3 positivos y negativos.

I , , //

!\ I
I I AP MN
\ II \\~ _.-
\

I ., I
±Q5
__.:r_ \ '_//III1\I III\IO \ ~I\ IP.I (fi )'I ':..1,
60
J1\ ,

O -I ~~ o: ,/,\ m. 1\
1\
I
CAPA \

If
ti

A PMN
!! I
I
+ I -n1 M N P B
LL.l.._....J -10
-nl +I

FIG. VIl-37. Anomalía obtenida con un FIG. VlI-38. Anomalía observada sobre
dispositivo apantallado de cero APMN. una capa de carbón por medio de un
con n = no = 0.5. sobre una capa delgada dispositivo trielectródico apantalla.do.
resistiva. (Segün Blokh.) (Según BJokh.)

468
 CALICATAS CIRCULARES

Blokh da una regIa "universal" para Ia determinación deI signo de

A Y de pu válida para cualquier separación de electrodos para Ia que
V/I
exista no: Si el sentido electrodo de emisión positivo-electrodo de emi-
sión negativo es el mismo deI segmento MN, el signo de A V/I y de Pa es
el mismo de /\ V (potencial en M menos potencial en N).
EI dispositivo trielectródico apantallado puede utilizarse tambiénen
modalidad bilateral. La figura VII-37 representa Ia anomalía obtenida por
un dispositivo de esta c1ase sobre una capa de carbón cuyo subaflora-
miento se halla hajo Ia estación ·····4. En este caso, Ia relación de distan-
cias entre electrodos es Ia óptima, pero n # n,,, por 10 que pueden cal-
cularse resistividades aparentes.
La mayor amplitud de Ias anomalías obtenidas con el dispositivo trie-
lectródico apantallado equivale a un aumento en Ia penetración, pues
permite detectar objetos que por su profundidad pasarían inadvertidos
para calicatas de dispositivo simple.
No se considerarán aquí dispositivos compuestos más complicados,
dada su poca difusión y 10 incómodo de su apIicación.

VII.18 CALlCATAS CIRCULARES

Las calicatas eléctricas circulares (CEC) tienen por objeto Ia determi-

nación deI rumbo y buzamiento aproximado de capas, o cuerpos asimila-
bles a ellas, cuya situación se conozca en algún punto; así como tam-
bién el establecimiento de Ia dirección de esquistosidad o fisuración pre-
dominante en formaciones recubiertas. Puéden emplearse para com proba-
ción o detalle de los cuerpos detectados por calicatas usuaIes.
Las resistividades aparentes medidas en Ias CEC son función deI azi-
mut deI dispositivo. Por esta causa, Ios resultados de Ias mediciones se
expresan en diagramas polares pa = PIl (o:) siendo o: eI rumbo o azimut deI
dispositivo. I.;os ánguIos deI diagrama se corresponden directamente con
los azimutes de Ias diversas posiciones deI dispositivo; en cuanto a Ias
resistividades, pueden representarse, bien en escala lineal, bien en escala
10garítmica. Esta última es más recomendable, enespecial cuando Ia va-
riación de resistividades es grande, pero requiere atribuir aI origen deI
diagrama un valor arbitrario de resistividad inferior a todos los que hay
que representar, dada Ia imposibilidad de darle el valor cera, cuyo loga-
ritmo no es finito.
EI fundamento de Ias CEC es el hecho, indicado más arriba, de que
Ia amp1itud de Ia anomalía producida por una capa depende deI ángulo
que ésta forma con el perfil. Por 10 tanto, él diagrama polar tendrá resis-
tividad máxima o mínima en Ia dirección de Ia capa. Además, el carácter
469
CALICATAS ELECTRICAS

asimétrico de Ia anomalía producida por una capa inclinada, indica Ia

posibilidad de determinar el lado hacia el que buza Ia capa, e incluso es-
timar el ángulo de incnnación deI buzamiento, siempre que el dispositivo
empleado sea asimétrico.
Las CEC pueden realizarse con dispositivo trielectródico simple, que
tiene el inconveniente de exigir el tendido de una línea "de infinito", con
el dipolar axil, e incluso, con un dispositivo tetraelectródico asimétrico,
es decir, con el centro deI par MN mucho más cerca no a uno de los elec-
trodos de corriente que deI otro. También pueden emplearse dispositivos
apantallados que, si bien son más complejos, dan allomalías más in-
tensas.
La longitud deI dispositivo debe elegirse 10 suficientemente grande
para que se registre bien el efecto de Ia capa a través deI recubrimiento,
pero no tanto que puedan influir otras capas próximas a Ia que se estu-
dia. Es conveniente, para mayor seguridad, el empleo dedos dispositivos
de longitud diferente. En todo caso, el espesor deI recubrimiento no debe
superar el quíntuplo deI espesor de Ia capa (medido paralelamente a Ia
superficie deI terreno).
EI "centro de cada CEC debe elegirse con cuidado, en una zona 10 más
llana posible. Si Ia capa es resistiva, dicho centro se establecerá en el
punto en que Ia calicata lineal haya senalado máxima resistividad apa-
rente, y se efectuarán mediciones para diversos azjmutes deI dispositivo,
manteniendo fijo el centro deI dipolo MN. Cuando Ia capa es conductora,
puede tomar~e como centro de giro el punto de cruce de Ias calicatas
lineales, y el dispositivo debe girarse de modo que loque permanezca
fijo sea su centro, esto es, el punto medio deI segmento determinado por
los electrodos extremos deI dispositivo. Conviene efectuar lecturas sobre
12 azimutes diferentes, esto es, cada 30°.
Cuando el punto de giro es el centro de MN, Ias resistividades apa-
rentes se llevan aI diagrama en el sentido desde dicho centro hacia el
o los electrodos de alimentación. Cuando el centro de giro es el deI
dispositivo, se toma el sentido hacia los electrodos MN.
La interpretación se efectuará trazando sobre el diagrama tin seg-
mento, Ia línea de rumbo, que senala eI de Ia capa, y un vector perpendi-
cular a ella, que indica el sentido deI buzamiento. La prime!'a se traza
en el estrechamiento deI diagrama, de modo que divide a éste en dos
partes de área máxima y mínima, respectivamente. EI vector de buza-
miento se dibuja perpendicularmente hacia Ias resistividades mayores si
Ia capa es resistiva y hacia Ias menores si es conductora (fig. VII-39). Debe
advertirse que cuando el recubrimiento es de poco espesor y Ia capa
gruesa y con buzamiento fuerte, puede producirse un máximo local de
resistividad en Ia dirección deI rumbo, 10 cual si bien puede causar aI·
470
 CALICATAS CIRCULARES

FIG. VII-39. Diagrama polar de una calicata cir-

cular sobre una capa inclinada: R = Iínea de
rUll\bo; B = vector de buzamiento (el disposi.
tivo es asimétrico).

guna confusión, puede utilizarse para trazar Ia línea de rumbo según

dicha dirección. Cuando Ia capa es vertical, eI diagrama es simétrico.
Puede obtenerse una estimación deI valor deI buzamiento determi-
nando Ias superficies de Ias dos partes en que Ia línea de rumbo divide
aI diagrama polar logarítmico. Si esta relación está comprendida entre
1. y 2, el buzamiento será fuerte (60° a 90°), si se encuentra entre Ios
límites 2 y 5 eI buzamiento es medio (60° a 30°) y suave (menos de
30°) si dicha relación es mayor que 5 (BLOKH, 1962).
Para determinar eI rumbo de Ia esquistosidad o de Ia dirección pre-
dominante deI diac1asado se efectúan CEC con un dispositivo simétrico
(eI más sencillo es el Schlumberger), y se traza eI diagrama polar de Ia
forma acostumbrada, con Ia diferencia de que a Ios sentidos opuestos
de Ia misma dirección corresponde eI mismo valor. EI diagrama obtenido
tendrá forma aproxiinadamimte elíptica, y eu virtud de Ia paradoja de Ia
anisotropía, el eje mayor de Ia elipse indicará ].a dirección de mayor con-
ductividad que es Ia de diac1asado o fisuración predominante o Ia de es·
quistosidad (fig. VII·40) .

......

FIG. VII-40. Diagrama polar de una calicata circular con dispositivo simétrico. EI eje de
trazos (mayor de Ia elipse) indica Ia dirección predominante de fisuración o de esquistosidad.
471
CALICATAS ELECTRICAS

VII.19 OTROS TIPOS DE CAlICATAS

Conviene comentar, aun brevemente, algunos tipos de calicatas que,

aunque no se han empleado en Ia práctica, o se han utilizado muy poco,
parecen presentar algún interés teórico.
a) Las ealieatas de dos eleetrodos se caracterizan porque uno de lo~
de potencial y otro de los de corriente se llevan .aI "infinitivo" de modo
que el potencial que se mide puede considerarse "absoluto". Este es el
dispositivo que Keller denomina "medi o Wenner". Aparte de Ia inconve-
niencia práctica deI tendido de dos líneas de infinito, Ias anomalías que
registra este dispositivo son de escasa amplitud, por 10 que no es acon-
seja ble este procedimiento.
Recientemente, algunos geofísicos indios (p. ej., KUMAR, 1973) han
dado a conocer trabajos sobre el calicateo con dos electrodos, en el que
ven ventajas. Esta conclusión es dudosa, entre otros motivos porque
en Ias comparaciones que efectúan no se tiene en cuenta ias CETC ni Ias
CED.

b). En todos los métodos descritos en este capítulo, los electrodos

se mueven, uno tras otro, sobre el mismo perfil, o todo 10 más sobre dos
perfiles paralelos, pero en este caso sin que pasen cables de uno a otro
perfil. EI lector podrá preguntarse qué ocurriría si se emplease un dis-
positivo eIectródico rectilíneo que se desplazase perpendicularmente a
su alineación. EI cálculo indica que en tal caso Ias anomalías son muy
extendidas lateralmente, salvo en el caso excepcional en que todos los
electrodos entrasen simultáneamente en una zona más conductora. A
esta desventaja teórica se une el grave inconveniente práctico que supone
el traslado de cables de alguna longitud en dirección perpendicular a su
tendido. Esta operación es lenta y difícil, según experiencia deI autor, en
terreno llano desprovisto de arbustos, árboles y matorrales, aun dispo-
niendo de muchos hombres, y es impracticable fuera de tan favorables
condiciones. Se hace necesario entonces enrollar y desenrollar los cables
aI pasar de cada estación a Ia siguiente, 10 que hace lentísima Ia inves-
tigación. A pesar de ello, JAIN (1974) ha publicado curvas teóricas para
dispositivos simétricos, con este tipo de desplazamiento ("broadside")
en el supuesto, poco probable, de que Ias heterogeneidades sean, exacta-
mente, perpendiculares a Ia dirección de marcha, de modo que todos los
electrodos entran en ella aI mismo tiempo. AI no darse esta condición
desaparece Ia sencillez de Ias anomalías, presentada por dicho autor como
una ventaja deI método.
c) La imposibilidad práctica, en condiciones económicas, dei empleo
de líneas AB o MN perpendiculares aI perfil lleva a considerar como poco
aconsejables dispositivos tales como el ecuatorial con movimiento per-
472
 CALICATASMARINAS

pendicular a Ia dirección AB o el dispositivo cuadrado definido en el

apartado 5 j) de este capítulo.

VII.20 CALlCATAS MARINAS

La superficie tranquila de un mar o lago constituye, por su horizonta-

lidad y homogeneidad, un medio ideal para Ia ejecución de calicatas .eléc-
tricas. Donde este método parece haber sido ,utilizado más ampliam ente
es en Ia Unión Soviética, en Ia que destacan como especialistas en Pros-
pección Geoeléctrica marina, O.V. Nazarenko y E. J. Terekhin, aIos
cuales se sigue en este apartado, extractando un trabajo suyo (en TAR-
KHOV, 1963).

El calicateo marino se efectúa, bien para investigaciones tectónicas

petroleras, con profundidades efectivas de 2 ó 3 km, bien para trabajos
mineros. En ambos casos, el registro es continuo, y los electrodos se
desplazan sobre el fondo deI mar, arrastrados por uno o dos barcos.
En Ias investigaciones tectónicas se utilizan dispositivos dipolares,
axil si el sustrato cuya marcha se sigue es conductor, y ecuatorial si es
resistivo. La causa de esta elección es que el primer caso Pa es muy pe-
quena, por 10 que es preferible el dispositivo axil, que da mayor /',.V,
mientras que en el caso de sustrato resistivo, no existe tal problema,
por 10 que puede utilizarse el dispositivo ecuatorial, de mayor pene-
tración.

Los electrodos suelen ser impolarizables, de tipo especial. con funda

protectora de manguera de plástico, y son arrastrados por dos barcos,
uno para remolcar el dipolo de emisión y otro para el de recepción. EI
comienzo deI perfil se senala con una boya, partiendo de Ia cual ambos
barcos recorren el perfil, conservando su distancia mutua, en línea de
fila para e1 dispositivo axil, y de frente para el ecuatorial (fig. VII-4l).
Durante Ia navegación se determina periódicamente Ia situación por me-
dios de radiolocalización. En un día pueden explorarse de 60 a 80 kiló-
metros de perfil.
La longitud de cada dipolo varía entre 500 y 1000 m y Ia distancia
R entre 3 y 5 km. La intensidad en el circuito de emisión, prácticamente
invariable durante Ia medición, suele ser deI orden de 60 a 80 A,' en
impulsos de 30 segundos de duración aproximílda. Los registros de I
y de
t1 V son continuos, y en ellos aparecen senales de tiempo, que permiten
su confrontación mutua, y su ubicación en Ia carta marina por medio de
Ias senales de radiolocalización. EI cálculo de Ia resistivid2.d aparente se
efectúa solam ente para estos puntos de referenda, que suelen distar en-
tre sí unos 200 ó 300 m.
473
CALICATAS ELECTRICAS

a
N
.. M
~
A B
X-+--{S>
----- R ----~

M~
~
I
I
b R
I
I
I
, A
~
B

FIG. VII-4I. Ejecución de calicatas dipolares marinas: a) Dispositivo axil,

b) Dispositivo ecuatoriai.
-;/
Cuando se trata de detectar capas u objetos de buzamiento fuerte
que afloran en el fondo o bajo una capa no muy gruesa de sedimentos,
se utiliza el calicateo cartográfico continuo. Esta se efectúa por media de
un saio barco, que arrastra, en el extremo de un largo cable, un dispo-
sitivo de cera, tipo MAN, AMNA, AMANA a AMBNA. El penúltimo de
ellos alcanza mayor penetración, y el último mayor poder resolutivo para
capas delgadas. EI electrodo de infiQ1:L '. que cierra el circuito, se re-
molca a profundidad escasa y a pocã distancia de Ia popa.

VII.21 . CALlCATEO POR MEDICION MAGNETICA DE RESISTIVIDADES

(M.M.R.)

VII.21.1 Principias dei método

La circulación de corrientes enel subsuelo va acompaiíada por un

campo magnético, según se deduce de Ias leyes elementales de Ia electri-
cidad. Por 10 tanto, dicha distribución puede estudiarse mediante un mag-
net6metro, en vez del dipolo MN.
La idea es muy antigua, pues fue patentada en 1933 por el norteame-
ricano Jakosky. Pero, según se via en el apartado IV.13.3, el campo
magnético no suministra ninguna información sobre medias estratifica-
dos; no puede utilizarse, pues, en un método análogo aI SEV, pero sÍ
para Ia detecci6n de cambias laterales de resistividad,. esta es, para calí-
cateo. Esta aplicaci6n encontr6 un nuevo obstáculo :la debilidad de Ias
campos magnéticos que habría que medir, obstáculo no superado hasta
474
 CALICATEOPOR MEDICIONMAGNETICADE RESISTIVIDADES

hace pocos anos por Ia aparici6n de magnet6metros suficientemente sen-

sibIes.
En Ia actualidad, eI método magnetométrico de resistividades está
saliendo de Ia fase experimental y pueden darse por comprobadas sus
grandes posibilidades. Las ventajas de Ia MMR provienen de su carácter
integrador. En efecto, eI campo magnético que se mide en un punto
cualquiera de Ia superficie es Ia integral de Ios campos elementaIes debi-
dos a Ios segmentos de Ias líneas de corriente creadas por Ios eIectrodos
A y B. Esta integraci6n atenúa notabIemente Ios efectos IocaIes deI re-
lieve y de Ias heterogeneidades superficiales de resistividad, Ios cuales
pueden afectar notablemente aI valor de ô V medido con un MN.

VII.21.2 Ún caso práctico

Como ejemplo de aplicaci6n deI calicateo magnetométrico puede ci-

tarse el descrito por EDWARDS y HOWELL (1976). En él se Iogr6 Ia detec-
ción, en Ias rocas deI basamento, de un contacto vertical con contraste
"moderado" de resistividad, bajo 500 m de sedimentos y coladas vo1cá-
nicas deI Terciario. La existencia deI contacto se conocÍa por su afIora-
miento en unq de Ias Ia deras de Ia meseta sobre Ia que se efectuaron
Ias mediciones, cuya topografía .era muy accidentada.
La línea de Ios electrodos AB, de unos 3 km de Iomdtud, se coloc6
sobre Ia posici6n más probabIe deI contacto. EI cable (fig. VII-42) for-
mabâ· un cuadro con Ia línea AB, a fin de atenuar en 10 posible su campo

A B
"

FIG. VII-42. Dispositivo para Ia medición

magnética de resistividades. (MMR.) .
cable,

maQnético en Ias puntos de medici6n. La corriente aplicada alterna, de

frecuencia baja (3 Hz), creaba un campo magnético cuya componente
475
CALICATASELECTRICAS

horizontal ortogonal a Ia línea AB se medía con un magnetómetro de sa-

turación Scintrex modelo MFM-3 hasta Ia centésima de gamma.
De los valores observados se restaba el campo normal correspondien-
te a medio homogéneo, obteniéndose así el valor de Ia "anomalía". Los
puntos de medición estaban situados sobre perfiles ortogonales a Ia línea
AB, tal como el P de Ia figura. De este modo, si dicha línea está situada
aproximadamente sobre el contacto, Ia diferencia de resistividad a un
lado y otro de él producirá una clara asimetría en el campo magnético
que, lógicamente, será más intenso sobre Ia parte más conductora.
Las curvas de anomalía que se obtuvieron mostraban claramente Ia
asimetría debida aI contacto, a pesar deI gran espesor deI recubrimiento
y de Ias malas condíciones topográficas.
Obsérvese que en estas aplicaciones, y a pesar deI nombre deI mé-
todo, no se obtienen valores numéricos de Ia resistividad, sino relacio-
nes comparativas.

VII.21..3 Teoría

Los principios y métodos para el cálculo de Ias anomalías de Ia MMR

han sido establecidos por STEFANESCU(l958), STEFANESCU Y NABIGHIAN
(1961 y 1962), EDWARDS et ai (1978) y GÓMEZ TREVINO Y EDWARDS (1979).
EI campo magnético dB producido por un, elemento de corri ente
J di (dr = elemento de volumen) viene dado por Ia ley de Bíot-Savart
que, siguiendo Ia notación de Edwards y sus colaboradores, puede esc ri-
birse

dB = ,r
4f1.o. J(r') X V' r-r
(_1_1_'1) (VIl,72)

donde r = (x, y, z) es el vector de posición deI punto donde se calcula el

campo y r' = (x', y', z') el deI elemento de corriente. EI acento en el
operador indica, como de costumbre, que Ia derivación sólo afecta a r'.
Para el semiespacio que representa el terreno, esto es, el campo total
en r, será

B(r) = 4rr f1.0 f v J(r') X V' ( I r-r1, I ) dr

(VII,?3)

expresión que, según demuestran EDWARDS et ai (l978), equivale a

B(r) =- f li -----
V'r -- r'
XJ(r')
dr (VIl,74)
4rr
f1.0 I I

476
 CALICATEOPOR MEDICIONMAGNETICADE RESISTIVIDADES

Por ser (apartado III.2)

J = rrE = -cr(r') V'U(r')
se tiene que
V' X J = V' X (rrE) =rr'V X E-E X V'cr = V'U X V'er
ya que
V' X V'U=O.
Por consiguiente,

p.o f
(VII,75)
R(r) = 471". V'U(r')
I r - X r'V'CT(r')
I d.
Esta expresión, que es una de Ias básicas empleadas por Edwards y
sus colaboradores, tiene Ia ventaja de que en muchos casos se anula en
todos los puntos, salvo en Ias situados en Ias interfaces que separan vo-
lúmenes de diferente resistividad. Además, STEFANESCU (1958) y STEFA-
NESCU Y NA1HGHIAN(1962) dieron métodos para el cálculo de Ia compo-
nente vertical deI campo por aplicación de un semiespacio imagen, mien-
tras que Ia componente horizontal se obtenÍa de Ia vertical por media
de lasintegrales de Skeels-Watson.

FIG. VII-43. Sensor y consola deI magnetómetro MFM-3 de uso común en Ia MMR.
477
CALICATAS ELECTRICAS

Unos y otros medios han permitido el cálculo de Ias anomalías

correspondientes a diferentes modelos: semiespacio anisótropo (que pro-
duce anomalía cuando el eje de anisotropía no es vertical), contacto ver-
tical, contacto inclinado (con el electrodo en el contacto), dique aflorante,
semicilindro horizontal, depresión semiesférica aflorante, centros alfa, etc.
G6MEZ TREVINO Y EDWARDS (1979) han desarrollado métodos numé-
ricos capaces de atacar casos más complicados.

478
 Capítulo VIII
EL METODO DE LAS LINEAS
EQUIPOTENCIALES

VIII.1 INTRODUCCION

Este método, que figura entre los más antiguos y sencillos, se emplea
poco actualmente, salvo en Ia modalidad que denominaremos métódo deZ
cuerpo cargado.
EI método de Ias líneas equipotenciales consiste en esencia en el es-
tudio y trazado, sobre Ia superficie deI terreno, de Ias líneas equipoten-
ciales deI campo producido por uno o varios electrodos.
Cuando se emplea un ~olo electrodo (es decir, que el segundo elec-
trodo B está muy alejado de Ia parte de terreno que se estudia) y el sub-
sueblo es· homogéneo o estratificado horizontalmente, Ias equipotenciales
serán circulares. Lo mismo ocurrirá si Ias capas tienen anisotropía trans-
versal de eje normal a Ia superficie deI terreno, según se demostró en el
capítulo m.
Cuando el eje de anisotropía no es vertical, Ia forma elíptica de Ias
equipotenciales pone de manifiesto Ia anisotropía e indica Ia proyección
de los ejes de ésta sobre Ia superficie.
La presencia de un contacto vertical o inclinado entre dos formacio-
nes isótropas se refleja en un cambio de dirección en Ias equipotenciales
debido a Ia refracción que éstas sufren. En Ia primera aplicación de este
método, realizada por Schlumberger en Calvados durante 1912, este in-
vestigador pudo comprobar Ia desviación de Ias equipotenciales produ-
479
EL METODODE LAS LINEAS EQUIPOTENCIALES

.cidas por el contacto aflorante entre pizarras de Calymene y cuarcitas

armoricanas.
Más interesante es· eI empleo de este método para Ia detección de
inclusiones resistivas o conductoras en un medio homogéneo. Las pri-
meras pueden representar diques de cuarzo, y Ias segundas bolsadas o
filones de menas metálicas conductoras. Las inclusiones más resistivas
que eI medio encajante se manifiestan por una aproximación mutua de
Ias equipotenciales, y Ias más conductoras por una rarefacción de éstas.
En estas investigaciones, a fin de hacer más fác:ilmente visibles Ias
deformaciones de Ias equipotenciales, suelen emplearse dos electrodos
rectilíneos y paralelos (electrodos de Petroswsky) Ios cu.ales crean un
campo con equipotenciales también rectilíneas en medio homogéneo, cu-
yas deformaciones resaltan más claramente que cuando son circulares.
HEILAND (1940) resefia Ios trapajos efectuados de 1918 a 1922 en Ia re-
gión de Skellefte (Norte de Suecia). EI medio encajante estaba consti-
tuido por rocas arcaicas, recubiertaspor 7 u 8 m de acarreos gIaciáricos.
EI método de Ias equipotenciales con electrodos rectilíneos llevó aI des-
cubrimiento de muchos filones y bolsa das de pirita, calcopirita, pirrotita
y oro, con un total de 20 zonas productivas. La superficie explorada fue
de 300 km~. .

Sin embargo, Ios resultados deI método de equipotenciales pueden

obtenerse, en general, con mayor precisión y seguridad mediante calica-
tas eléctricas (capítulo VII) por 10 que eI primero no se emplea mucho
en Ia actualidad. Sin embargo, YAKUBOVSKIYy LIAKHOV(l964) Ioconsi-
deran muy adecuado para Ia búsqueda de metalizaciones metasomáticas
de contacto y magmáticas, y aluden a muchos descubrimientos en Ka-
zajstán. Rodionov (en TARKHOV,·1963) indica que cuando Ia zona meta-O
Iizada se encuentra en eI contacto entre dos formaciones de diferente
resistividad, puede pasar inadvertida para Ias calicatas combinadas, y sin
embargo, detectarse claramente por eI método de equipotenciales.
Entre Ios inconvenientes deI método figuran su sensibilidéld frente a
Ios accidentes topográficos, su exigua penetración (unas pocas decenas
de metros para cuerpos grandes) y Ia dificultad en el cálculo de profun-
didades .

. Existe, no obstante, una modalidad muy extendida en todo el mundo

y muy útil en minería, mencionada más arriba, Ia deI "cuerpo cargado" o
"mise à Ia masse" en Ia que se utiliza como electrodo creador deI cam-
po Ia propia mineralización conductora, siempre que esta aflore o sea ac-
cesible por medio de perforaciones o labores mineras. En estas condi-
ciones, se puede delimitar el cuerpo conductor y estudiar sus relaciones
y continuidad con otros próximos.
480
 TRABAJO DE CAMPO

VIII.2 TRABAJODE CAMPO

VIII.2.1 Modalidades dei trabajo

En el método de líneas equipotenciales cabe distinguir dos modos
principales de operar: en uno de ellos se sigue directamente sobre el
terreno Ia marcha de Ias líneas de igual potencial; en el otro, 10 que se
mide es Ia caída deI potencial a 10 largo de una serie de perfiles, y par-
tiendo de estos da tos, se trazan Ias equipotenciales en el plano o mapa
de Ia zona.
Puede hacerse otra división según que se emplee corri ente continua
o variable; esta última puede ser alterna (sinusoidal) o de impulsos. No
obstante, sea cual sea el tipo de corriente utilizado, Ias observaciones se
interpretan según Ias leyes de Ia corriente continua, 10 que es aproxima-
damente válido siempre que Ia frecuencia sea suficientemente baja y Ia
conductividad media deI subsuel0 no sea demasiado grande.
Salvo en 10 que respecta aI generador y aI circuito de exploración,
Ias técnicas de trabajo son Ias mismas para corriente continua que para
alterna, o de impulsos. Los párrafos que siguen sobre el trabajo de cam-
po se basan en gran parte en Ias descripciones de JAKUBOSKIY-LIAKHOV
(1964) y Rodionov (en TARKHOV, 1963) y se refieren exclusivamente aI
empleo de electrodos rectilíneos de Petrowsky, por ser los más difun-
didos y eficaces. El método deI cuerpo cargado se expone más adelante.

V1I1.2.2 Circuito de· exploración

Este circuito es el que se emplea para el trazado de Ias equipotencia-
les y consta esencia1mente de un instrumento de ceI'O unido por medio
de cables a dos electrodos en forma de varilla con mango aislante, de un
metro de longitud, y uno o dos cm de diámetro, aunque también pue-
den emplearse electrodos impolarizables.
Cuando se emplea corriente continua o de impulsos puede emplearse
como instrumento de ceI'O un galvanómetro robusto, un milivoltímetro
electrónico o un micro-amperímetro con ceI'O en el centro de Ia escala,
conectados en serie con un compensador de polarización. Para corri ente
alterna puede utilizarse un micro-amperímetro (con rectificador) o un
milivoltímetro electrónico para este tipo de corriente, no siendo preciso
el compensador de polarización, aunque puede ser conveniente y aún.·
neçesario un filtro para Ia frecuencia industrial de 50 Hz. Lundberg, hace
unos 60 anos, en Ias primeras aplicaciones de este método, utilizó como
aparato de ceI'O un receptor telefónico, cuya sensibilidad puede aumen-
tarse por medio de un amplificador.
El "modus operandi", es como sigue: se coloca uno de los electrodos
.en un punto de Ia equipotencial que se estudia y el segundo en un punto
481
EL METODO DE LAS LINEAS EQUIPOTENCIALE~

arbitrario situado, por ejemplo, a 10 ó 15 m de distancia, y se lee el ins-

trumento. Manteniendo fijo el primer electrodo, va desplazándose el se-
gundo en dirección perpendicular a Ia prevista (fig. VIII-I) para Ia equi-
potencial (Ia cual, ~n ausencia de anomalías debe ser paralela aIos elec-
trodos lineales que crean el campo) hasta que Ia lectura deI instrumento
sea cero. Entonces los dos electrodos exploradores estarán por definición
en Ia misma equipotencial. En el lugar ocupado por el primer electrodo
se coloca una estaca, seiíalada con el número de orden que se haya atri-
buido a Ia línea equipotencial. Luego, el primer electrodo pasa aI punto
donde se hallaba el segundo, y éste vuelve a despIazar se en busca de un
nuevo punto de Ia equipotencial. Para efectuar esta tarea bastan un
operador y uno o dos ayudantes; pudiendo trabajar simultáneamente
varios equipos de éstos para una misma posición de los electrodos line.ales.

\
EQUIPOTENCIAL
ELECTRODO
L1NEAL

FIG. VIII-l. Trazado de equipotenciales en el terreno.

Si se emplea corriente continua, Ia polaridad de Ia tensión leída in-

dica en qué sentido debe desplazarse el electrodo móvil para acercarse
a Ia equipotencial. Esta ventaja está contrarrestada por Ia presencia deI
potencial de polarización, y en muchos casos, deI potencial espontáneo,
10 que obliga a efectuar cada vez Ia compensación previa de tales rui-
482
 TRABAJO DE CAMPO

dos" con el circuito de emisión desconectado. Por 10 tanto, el operador

debe disponer de algún sistema de comunicación con el encargado deI
circuito de emisión, a fin de que éste conecte o desconecte el generador.
'Esta operación puede simplificarse si se utiliza corri ente interrumpida,
aprovechando los intervalos entre impulsos para Ia anulación deI ruido,
y haciendo esto sólo en Ias últimas aproximaciones aI punto buscado,
que es cuando tales ruidos tienen mayor importancia relativa.
Estas dificultades desaparecen con el empleo de corri ente alterna,
puesto que los ruidos de continua no afectan a 10s instrumentos para
aquel tipo de corri ente, siempre que estéri adecuadamente construidos,
con un condensador en serie o filtro a Ia entrada. Por 10 tanto es pre-
. ferible, en general, el uso de esta corriente, en 10 que respecta a rapidez
deI trabajo, aunque tampoco está exento de desventajas. Como Ias lec-
turas carecen de polaridad, no es posible conocer "a priori" el sentido
en que debe despÍazarse eI electrodo móvil después de cada una de ellas.
Por otra parte, Ia aplicación de tensiones alternas hace que a Ia corriente
"galvánica" que entra en el terreno a través de los electrodos, se sume
otra inducicla desfasada respecto de Ia primera un cuarto de período
aproximadamente, y que se compone con aquélla, dando lugar a una
polarización elíptica. Entonces 10 que se determina en realidad es Ia di-
rección, en cada punto, deI eje menor de Ia elipse de ipolarización que,
como Ias equipotenciales, es normal a Ia dirección de ÍTIáxima densidad
de corriente. Cuando el electrodo móvil está en ,eI punto buscado, no se
obtiene lectura nula, sino mínima, y eri caso de emplear teléfonos .no se
aprecia en ellos silencio, sino sonido mínimo. No obstante estos incon-
venientes, en general se puede trabajar eficazmente con corriente al-
terna.
En el segundo método de trabajo, mencionado más arriba, se traza
previamente sobre el terreno un sistema de perfiÍes paralelos entre sí
y perpendiculares aIos electrodos lineales, y a 10 largo de ellos se va
midiendo Ia caída de potencial en intervalos fijos y contiguos, por ejemplo
cada 20 m, intercalando cuando sea conveniente puntos intermedios. Se
utilizan dos electrodos y un instrumento de medida, que en caso de
emplearse corriente continua puede ser un potenciómetro o un milivol-
tímetro electrónico, ambos con dispositivos de compensación, y para co-
rriente alterna un milivoltímetro para este tipo de corriente. Los perfiles
se enlazan entre sí por uno o dos transversales, y de este modo, sumando
algebráicamente Ias lecturas se puede atribuir potencial a cada punto
respecto de un origen arbitrario. Estos valores, llevados a un plano, sir-
ven para trazar sobre él Ias equipotenciale? Esta modalidad de trabajo
es más rápida y regular que el trazado directo en el terreno, aunque Ias
equipotenciales no quedan determmadas de modo tan preciso.
483
EL METODO DE LAS LINEAS EQUIPOTENCIALES

VIII.2.3 Circuito de emisión

Consta de tres partes: generador, cables de conexión y electrodos

lineales.

Para corriente continua, el generador puede ser una dínamo de

100-200 watios de potencia, movido por un motor de gasolina, o una
bateríade acumuladores. Las pilas secas resultan menos adecuadas en
razón de Ia intensidad relativamente grande que suele ser necesaria (2 a
3 amperios). En el trabajo con corriente alterna se utiliza un alternador
movido por un motor de gasolina, o un oscilador de válvu~as. Este tie-
ne Ia ventaja de poder cambiar Ia frecuencia, pero son más delicados
y menos robustos que los alterna dores. La frecuencia que suele utilizar se
varía entre 80 y 500 Hz, siendo conveniente que no coincida con un armó-
nico de Ia frecuencia industrial. Cuanto más baja sea, menores serán los
efectos propios de Ia corriente alterna y más exactamente pueden apli-
carse Ias leyes de Ia corriente continua. Las tensiones de salida usuales
son de 100 a 200 Voltios, tanto para corri ente continua como para alterna.
Lá corriente de impulsos se obtiene anadiendo un interruptor periódico a
cualquiera de los generadores de corriente continua mencionados. Cada
impulso dura de 0,5 a 1 segundo y está separado deI siguiente por un
intervalo sin corriente de 2 a 3 segundos
Los cables de conexión unen el generador con los eleetrodos lineales,
y no tienen exigeneias especiales. Basta con que tengan sección adecuada
a Ia intensidad que los recorre, y que su recubrimiento aislante sea ro-
busto y suficiente.
Los electrodos lineales constan de una fila de piquetes metálicos cla-
vados en el suelo, y unidos eléctricarnente entre sí por 'media de UQ
eable o alambre. Este artificio es mucho más fácil de montar que un
cable desnudo enterrado, que sería el verdadero electrodo lineal, y pro.
duce el mismo campo que éste, salvo a muy corta distancia. En Oecidente
suelen emplearse piquetes de acero, de medio metro' de longitud, davados
a intervalos de unos 5 m y conectados entre sí por medio de alambre de
cobre desnudo que se eurolla con varias vueltas alrededor de cada pi-
quete. Los autores soviéticos describen un tipo de electrodo lineal que
resulta más ventajoso. Los piquetes, de hierro, tienen una encorvadura.
que les da aspecto de cayado (fig. VIII-2), Y que sirve para apretar el
cable contra el suelo. Este cable se com pane dehilos de cobre estanado
con seeción total de 6 a 10 mm2 por 10 que su resistencia es deI orden
de 1 Q por km de longitud. De este modo se consigue contacto más con-
tinuo con el sueJo, y menor caída de tensión a 10 largo de cada electrodo,
y sobre todo, se pueden quitar o poner piquetes con gran facilidad y Sill \
descomponer el conjunto. La conveniencia de esta (\peración se indica
más abajo.
484
 TRABAJO DE CAMPO

EI p~ralelismo entre Ias .equipotenciaIes y los e1ectrodos supone que

el medio es homogéneo, o 10 que es 10 mismo, que Ia intensidad de corri ente
que pasa aI terreno por unidad de longitud dei electrodo es la misma
a todo 10 largo de él. Esto no ocurre en Ia práctica, puesto que Ia resis-
tencia de contacto suele ser muy variabIe. Por esta causa PARASNIS (1971)
recomienda situar cada e1ectrodo a 10 largo de un arroyo más o menos
rectilíneo o junto a Ia orilla de un lago o marisma, 10 que como es obvio,
no puede hacerse en Ia mayoría de los casos. Más eficaz es el método
descrito por los autores soviéticos, en el que una vez instalados Ios e1ec-
trodos se procede a Ia "corrección deZ campo" que se efectúa como sigue.

FIG. VIII-2. Piquetes en forma de cayado para Ia colocaci6n y contacto

de electrodos Iineales.

Se trazan dos equipotenciales, situadas en Ia zona interior de los elec-

trodas y distantes de éstos alrededor de Ia décima parte de Ia separación
entre los eIectrodos. Frente aios puntos donde Ia densidad de corriente
emitida por el e1ectrodo, es menor, Ia equipotencial se separa dei electrodo
más próximo, mientras que donde Ia densidad de corriente sea mayor, Ias
equipotenciales se acercan ai electrodo. Entonces se aumenta Ia densidad
de piquetes en Ias partes donde ocurra 10 primero, y se disminuye donde
se produzca 10 contrario, hasta conseguir que Ias dos equipotenciales de
ensayo sean sensiblemente rectilíneas.

VIII.2.4 Fases dei trabajo

Se comienza por eIegir Ia ubicación de Ios electrodos lineales, los
cuales deben colocarse perpendicularmente aI rumbo previsto para Ia di-
mensión mayor deI objeto buscado, siempre que éste sea conductor.
La Iongitud de los eIectroaos lineales suele hacerse igual a Ia dis-
tancia que separa éstos, que suele oscilar entre 500 y 3 km, aunque a
veces se utilicen dispositivos rectangulares, por ejemplo de 2 X 3 km, co-
rrespondiendo aios electrodos Ias lados más largos.
Laconexión dei cable aios electrodos lineales puede hacerse en los
extremos de éstos más próximos ai generador, pero es preferible hacerlo
485
EL METODO DE LAS LINEAS EQUIPOTENCIALES

en el centro de cada electrodo, para mayor homogeneidad deI campo, si

bien en este caso hay que extremar Ias precauciones contra Ias fugas.
Es conveniente, sobre todo cuando Ia corriente es alterna, que el cable
de conexión se coloque en disposición simétrica, según se indica en Ia
figura VIII-3, a fin de disminuir Ias distorsiones producidas en el campo
por inducción o fugas pequenas. En Ia parte b donde los dos conduc-
tores van juntos, debe emplearse cable bifilar.

"

FIG. VIll-3. Colocación simétrica de los

~ Electrodos/ cables que conectan el generador aios elec-
lineales trodos lineales.

Una vez instalados los electrodos se procede a Ia "corrección deI

campo" deI modo descrito más arriba; a continuación puede comenzarse .
el trazado de Ias equipotenciales. Para ello debe estaquillarse un perfil
base perpendicular aIos electrodos lineales; sobre este perfil se senalan
los puntos de comienzo de Ias equipotenciales, que generalmente se es-
cogen a intervalos iguales. La extensión de estos intervalos depende deI
tamano supuesto para el cuerpo buscado y no debe ser mayor que Ia
mitad de Ia longitud esperada para éste.
La zona explorada es siempre Ia situada entre los electrodos, evitando
Ia proximidad de éstos. Cerca de los electrodos el potencial cambia más
rápidamente que en Ia parte central, sufre irregularidades proàucidas por
Ia heterogeneidad de Ias capas superficiales y está menos influi do por los
materiales que puedan existir a alguna profundidad, entre ellas, quizá, el
486
 TRABAJO DE CAMPO

objetivo de Ia investigación. Por esta causa, es recomendable trabajar so-

lamente en..el tercio central de Ia zona situada entre los electrodos, que
es donde Ia repartición es más homogénea. Así, cuando los electrodos
son LI y ~ (fig. VIII-4), se puede explorar Ia parte rayada; si se desea
extender Ia investigación hasta Ia línea determinada por el electrodo ~
debe efectuarse una segunda serie de mediciones con electrodos situados
en Ias posiciones 4
y Li' Si Ia zona en exploración es muy extensa, se
Ia cubre procediendo deI modo indicado cuantas veces sea necesario.

L4

~
.~
~
Lz
§=3

FIG. VIII-4. Zona útil y ampliaeión de Ias mediciones en el trabajo eon eleetrodos Iineales.

:Partiendo de 105 puntos sefialados en el perfil base, se trazan sobre

el terreno Ias respectivas equipotenciales, siguiendo eloprocedimiento ex-
puesto en el apartado 2.2 de este capítulo. El objeto de Ia oinvestigación
es el de encontrar zonas anómalas, o sea de curvatura de Ias eqllipoten-
ciales, que son síntomas de heterogeneidad en el subsuelo, Ia cual puede
°deberse a Ia presencia de alguno de los cuerpos buscados. Por consi-
guiente, cuando se observe que alguna equipotencial se desvía, debe acor-
tarse el paso o distancia entre los electrodos exploradores, a fin de cono-
cer más detalladamente Ia estructura de Ia anomalía. En estas zonas,
además, deben intercalarse nuevas equipotenciales entre Ias inicialmente
previstas.
El trazado de Ias equipotenciales ha de acompafiarse deI levantamiento
topográfico de Ias mismas. Este puede efectuarse por medio de taquí-
metro y mira, de plancheta y alidada o de brújula y cinta. Este último
método esel más sencilloy rápido y puede llevarse a cabo por dos per-
sonas que siguen aI operador con un retraso, por ejemplo, de dos estacio- o
487
EL METODO DE LAS LINEAS EQUIPOTENCIALE~

nes, y van midiendo yanotando el rumbo y distancia entre cada dos esta-
cas sucesivas de Ias que van colocando el operador y sus ayudantes. El
incop.veniente de este método es su poca precisión, pero ésta puede
aumentarse estaquíllando previamente en el terreno perfiles auxiliares
paralelos aI principal, cuyas intersecciones con Ias equipotenciales deter-
minan los topógrafos. Para mayor facilidad en el trabajo, cada vez que
el operador cruce sobre uno deestos perfiles, debe situar en él una de
Ias estacas de Ia equipotencial, tanteando su posición por medio deI elec-
trodo auxiliar móvil deI modo acostumbrado.
El intervalo entre equipotenciales se determina sobre el perfil base,
midiendo Ia caída de potencial entre Ias sucesivas estacas iniciales.
EI único tipo de comprobación o control de calidad que cabe en este
tipo de trabajo es repetir 'el trazado de alguna equipotencial, Según los
autores soviéticos, Ia máxima diferencia admisible entre Ia primera me-
dición y Ia repetida es de 10 m por km. La equ:ipotencial comprobada
no debe estar próxima aIos electrodos.
Los datos topográficos se llevan a un plano de escala adecuada, en
el que además de Ias ·líneas equipotenciales debe incluirse Ia situación deI
generador, cables y electrodos, así como los ·accidentes topográficos, afIo-
ramientos y otros datos útiles aI interruptor.

VIII.3 TEORIA E INTERPRETACION

La interpretación deI método de líneas equipotenciales es preferente-

mente cualitativa. EUo se debe principalmente. a que loscuerpos que se
buscan (filones, diques, bolsadas, etc.), suelen tener forma muy irregular,
por 10 que el cálculo de Ias anomalías que producen es, hasta ahora,
prácticamente imposible. Mayores posibilidades presenta Ia investigación
sobre modelos reducidos, como Ias efectuadas hace muchos afios por' el
japonés Y. Fujita, y por los suecos H. Lundberg y K. Sundberg (véase
HEILAND, 1940, pp. 701-706). EI lector interesado puede consultar Ia obra
de GRANT y WEST (1965), en sus páginas 420 y siguientes, donde podrá
darse cuenta de Ias grandes dificultades matemáticas deI problema para
cuerpos de forma regular sometidos a un campo eléctrico uniforme, 10
que representa condiciones mucho más sencíllas que Ias que se dan en Ia
práctica. Por estas razones, no parece conveniente entrar en el detalle
de tales cálculos, y sí el dar algunas orientaciones prácticas.
EI campo normal, esto es, en medio homogéneo de-superficie plana,
tiene carácter logarítmico, según sedemuestra a continuación. EI cono-
cimiento de este campo es necesario, ya que Ias anomalías son las des-
viaciones respecto de él.
488
 TEORIA E INTERPRETACION

Sean dos electrodos rectilíneos de longitud 2b separados por Ia dis-

tancia 2a (fig. VIlI-5). Tomemos el centro O deI rectángulo determinado
por los electrodos como origen de un sistema cartesiano de coordenadas
cuyo eje x sea perpendicular aIos electrodos. Entonces, el potencial dU
producido en un puntó cualquiera P de coordenadas Xli YI por un elemento
de longitud dy deI primer electrodo que diste rI deI punto P será
dU = pI d!L _1_
211"·2b rI
donde I es Ia corriente total.
.------ 20 ------4
t I
I

I I~
I II p
I

I I /'"
I
I
1//
),
\\
.o X /10 \r2
(\J -----r-r----~-
I
I
~/ I \
I
/ I \
I // I \
FIG. Vlll-5. Cálculo deI campo normal entre
I
I
/ I \
eleetrodos lineales. I I
+ I

Si se afíade Ia contribución aI potencial de un elemento análogo del

segundo electrodo, que diste r2 deI punto considerado P, se tendrá

_ dU = --E!-~1L
b (_1
411"rI ~_)
r2 =
= 411"dy
pI b (1]a -+ XI)2 +- (y - YI)2]1/2 [(a - XI)2 +-1)(y - Yl)2]1/2

donde Y es Ia ordenada deI punto considerado en cada electrodo, que

puede ser Ia misma en ambos casos. Entonces, el potencial total será

V = 411"pI b. [b-b [(a +- XIY +dy(y -' YI)2]1/2 ---- ,411"-ç

pI fb -b [(a--=--' dy
X1)2 +- (y - YI)2]1/2 -_

= --pI 1n b -- Yl + [(a + XI)2 + (b -

-.-------------------- Yl)2]1/2
4" b' -- (b + YI) + [(a + X,)2 + (b + YIY]1/2
__.!~ ln b- Yl + [(a - XI)2 + (b - Yl)2]1/2 (VIII 1)
411"b - (b + Yl) + [(a - Xl? (b + + YI)2]1/2 '

489
EL METODO DE LAS LINEAS EQUIPOTENCIALES

expresión de cálculo un tanto engorroso si no se dispone de ordenadores

electrónicos. Para transformarla en otro más manejable emplearemos Ia
notación

A=b-Yl'B=b+~'C=b-~'D=b+Yl (VIII,2)
a + Xl ' a + Xl.' . a- Xl' a- Xl

mediante Ia cuaI, Ia expresión anterior tomará Ia forma

U = L{In
4rr b
[A + (1 + A2)l/2]-In [-B + (l + B2)l/2]-

-In [C + (1 + 0)1/2] + In [-- D + (1 -+ .Q)1/2]}

Aplicando Ia conocida fórmula
Sh-l X = In [x + (l + X2)1/2]

donde Sh-1 indica Ia función inversa deI seno hiperbólico, y teniendo en

cuenta que Sh-l (- x) = - Sh-1 x se obtiene

V = 4:lb [Sh-l A + Sh-l B - Sh-l C - Sh-l D] (VIII ,3)

fórmula de cálculo mucho más c6modo si se dispone de tablas de fun-

ciones hiperbólicas. Las líneas equipotenciales correspondientes son apro-
ximadamente rectilíneas, con Iigera concavidad hacia el electrodo más
cercano, Ia cuaI se manifiesta con mayor curvatura en Ias líneas más pró-
ximas aIos electrodos.
Todo 10 anterior se refiere a medios homogéneos; si en uno de éstos
existiesen localmente zonas más conductoras o más resistivas, Ias equi-
potenciales se enrarecerÍan en eI primer caso, y se apifiarÍan en eI segun-
do * (fig. VIII-6).
Los estudios teóricos y Ias mediciones sobre modelos han permitido
establecer ciertas conclusiones sobre Ia detectabilidad de diferentes ~uer-
pos por aplicación deI método de Ias líneas equipotenciales. Las conclu-
siones más importantes son Ias siguientes: La zona más favorable para
Ia detección es Ia próxima aI centro deI rectángulo determinado por Ios
electrodos, dada Ia mayor homogeneidad deI campo en ella. Si eI cuerpo
es alargado, Ia posición más favorable para su detección es Ia perpendi-
cular aIos electrodos, si es más conductor qúe eI medio, y paralela en
caso opuesto. Estos resultados deben tenerse en cuenta aI colocar Ios
electrodos. La detectabilidad aumenta con el contraste' de· resistividad
entre eI cuerpo y eI medio circundante, y disminuye con Ia profundidad

* Las anomalías deI potencial observado pueden expresarse en forma de re-

sistividades aparentes. Véase PARASNIS:Geofísica Minera. Ed. Paraninfo.
490
 · TEORIA E INTERPRETACION

de aquél. Cuando el cuerpo, por su forma, puede considerarse como una

lámina (filones, diques) su detectabilidad aumenta cop el buzamiento,
mientras que el espesor influye relativamente poco.. Loscuerpos de po-
sición horizontal o de forma complicada son los de detección más difícil.

--------------
-
- --
FIG. VIII-6. Deformación de Ias equipotenciales producida por un cuerpo conductor
situado hajo el centro deI dispositivo.

No debe creerse sin embargo, que Ia intensidad de Ia anomalía crezca

proporcionalmente aI contraste de resistividades entre cuerpo y medio.
porque pronto se alcanza Ia saturación, salvo que se trate de un cuerpo
de forma muy alargada. Dicho fenórneno consiste en que ya para con-
trast"e relativamente pequenos, Ia anomalía producida es semejante a Ia
correspondiente aI contraste máximo. Así, para una esfera de conduc-
tividad 4 veces mayor que Ia deI medio, Ia anomalía es Ia mitad de Ia
que produciría una esfera perfectamente conductora de igual tamano y
ubiCación. El efecto es aún más intenso si Ia esfera es más resistiva que
el medio, pues entonces Ia anomalía mitad que Ia máxima (Ia de una
esfera aislante) se obtiene cuando el contraste de resistividades es de 2,5.
Suele ocurrir que Ia capa superficial dei terreno (recubrimiento o zona
meteorizada) sea más conductora que Ia roca infrayacente. En estas con-
diciones se produce una concentración de Ia corri ente en Ia capasuper-
ficial, que disminuye Ia penetración efectiva deI método, Ia cual, por
otra parte, crece con Ia separación entre los electrodos.
La deformación de Ias equipotenciales indica no sólo Ia presencia de
heterogeneidades sino Ia clase de éstas y su posición aproximada. Según
491
EL METODO DE LAS LINEAS EQUIPOTENCIALES

ya sefiaIamos, si Ias equipotenciaIes se separan entre sí, eI cuerpo hete-

rogéneo es más cOllductor que eI medio encajante, y si se aproximan
mutuamente, se deduce Ia conclusión opu esta. La heterogeneidad se en-
cuentra debajo de Ia zona anómala, y si es de forma alargada, Ia direc-
ción de su eje (en proyección horizontal) se obtiene uniendo los puntos
de deformación máxima. Si el cuerpo puede asimiIarse a una lámina del-
gada y estrecha (fiIón o dique) su inmersión puede determinarse sabiendo
que Ia deformación es más débil sobre Ia parte más profunda.
Mayor .información puede obtenerse si se considera el gradiente deI
potencial (campo eléctrico). Para eHo deben trazarse curvas de varia-
ción deI gradiente deI potencial a 10 largo de perfiles escogidos. Aunque
en rigor, estas curvas podrían dibujarse a partir de Ia posición de Ias
equipotenciaIes, se obtendría así poca exactitud, por 10 que es necesario
efectuar aIgunas mediciones compIementarias en eI campo. En estas se
determina, a 10 largo deI perfil, Ia caída de potencial sobre una serie de
cortos intervalos iguales. EI valor observado sobre cada uno de estos
se toma como medida aproximada deI gradiente deI potencial en su cen-
tro. * Los bordes deI cuerpo heterogéneo se manifiestan porque en Ia pro-
ximidad de Ia vertical de el1os, dicho gradiente tiene un extremo (máximo
o mínimo). Si eI cuerpo es subhorizontaI, su Iongitud puede estimarse
tomándoIa igual a Ia distancia entre Ios extremos deI gradiente sobre un
perfil efectuado sobre el eje deI cuerpo. EI lado hacia eI que buza el
cuerpo (si no está muy inclinado) puede determinarse porque eI gradiente
varía más bruscamente en eI lado opuesto aI buzamiento. Si se efectúa
\ln perfil de gradientes paralelamente aIos electrodos, y que pase por el
punto de potencial más perturbado, puede obtenerse una estimación de
Ia profundidad deI cuerpo, Ia cual sería, en primera aproximación, igual
a Ia mitad de Ia distancia entre los extremos deI gradiente. También po-
drían apIicarse Ias fórmulas y regIas que se resefian en el capítulo IX de .
esta obr·a.
AI efectuar Ia interpretación ha de tenerse cuidado con Ias anomalías
producidas por efectos topográficos o por variaciones en el medio enca-
jante. No deben tomarse en consideración Ios trozos de equipotenciaI que
sean perpendiculares a !.as líneas de nivel topográficas. Los cambios en
eI espesor deI recubrimiento también pueden producir anomalías "falsas".
Otras anomalías cuyo origen no radica en Ias metalizaciones buscadas
son Ias debidas a cavidades cárstiCas, grietas con agua o reHeno arciHoso,
zonas conductoras en el recubrimiento, etc., contactos, etc.
Una vez localizadas Ias anomalías interesantes, es conveniente estu-
diarlas con un segundo método geofísico, antes de recomendar perfora-
ciones.

* En tealidad, habría que dividir por Ia Iongitud deI intervalo, pero si estos
son iguales no es necesario efectuar esta operación.
492
 EL METODO DEL CUERPO CARGADO

VIII.4 EL METODO DEl CUERPO CARGADO

Esta modaIidad deI método de equipotenciaIes fue ideadapor Schlum-

berger, y se denomina en francés "mise à Ia masse". Esta expresión tiene
eI significado, como muy bien dice Parasnis, de "excitación de Ia masa",
donde Ia última paIabra indica "yacimiento" o "metalización". A veces
este método se denomina en espanoI "puesta a masa" Ia que, en opinión
deI autor, es inadecuado. En EIectrotecnia y EIectrónica, "poner a masa"
significa hacer inactivo un elemento, dándoIe eI potencial cero o de re-
ferencia, que es 10 contrario de excitar. Por estas motivos, se empleará
aquí Ia expresión método deZ cuerpo cargado, inspirada en Ia denomina-
ción rusa"método de carga", por estar exenta de Ios inconvenientes alu-
didos, y porque además da una idea clara deI método, ya que, matemá-
ticamente, eI efecto obtenido es el mismo que eI de cargar eIectrostáti-
camente un cuerpo conductor.
Para Ia apIicación de este método, es necesario que eI cuerpo conduc-
tor (generaImente un yacimiento de sulfuros, una falIa con relIeno con-
ductivo, etc.), sea accesibIe desde eI exterior, bien porque aflore, bien
por haber sido cortado en aIguna perforación o labor meçánica. Es tam-
bién necesario que Ia conductividad deI cuerpo sea notabIemente mayor
que Ia deI media encajante.
ia información obtenida se refiere 'principalmente a Ia forma, tamano
y posición deI cuerpo cargado, así como a Ia presencia de otros cuerpos
conductores próximos. Por Ia tanto, eI método resulta muy útil cuando se
conoce por aflorarniento, o por media de trabajos mecánicos de expIora-
ción, una zona metaIizada y se desea saber si forma parte de un yaci-
miento extenso, y en caso afirmativo, cuáIes son Ias características de
éste.

Según se indicó anteriormente, eI método consiste en esencia en eI

estudio de Ias equipotenciaIes producidas en eI terreno por un eIectrodo
que es Ia propia metaIización. EI circuito creador deI campo se cierra por
medio de una toma de tierra muy alejada o eIectrodo de infinito. Si en
Ias cercanÍas deI cuerpo cargado existen varias perforaciones, eI estudio
puede hacerse en tres dimensiones.
Los resultados deI método deI cuerpo cargado tienen carácter cuaIi-
tativo y de tosca aproximación, pel'o no por eso dejan de ser muy útiIes
en Ia práctica. EI alcance en profundidad depende deI tamano deI cuerpo
y no sueIe superar 1a mitad de Ia corrida de éste, si Ias mediciones se
efectúan en Ia superficie deI terreno. Cuando Ias mediciones se hacen
en eI interior de sondeos puede alcanzarse tanta profundidad como ten-
gan éstos.
493
EL METODO DE LAS LINEAS EQUIPOTENCIALES

VIII.5 TRABAJO DE CAMPO

EI método deI cuerpo cargado puede aplicarse en dos modalidades

diferentes, que son el trazado directo de líneas equipotenciales y el pro-
cedimiento llamado de gradientes. En ambos casos es necesario instalar
un circuito de excitación. Este circuito consta de Ia fuente de alimenta-
ción y de los cables que Ia unen, por una parte, aI cuerpo conductor, y
por otra ·al toma ti erra lejano. La distancia entre Ias dos tomas de ti erra
debe ser 10 a 15 veces Ia longitud de Ia zona que se pretende estudiar.

Si el cuerpo conductor es accesible en algún afloramiento o en labores

mineras, Ia toma de tierra correspondiente puede hacerse c1avando en
él varias barrenas cortas conectadas entre sí. Si el mineral es muy com-
pacto, puede ser necesario efectuar previamente los taladros con una
perforadora, introduciendo luego en ellos los electrodos, cuyo contacto
con Ias paredes de los taladros puede mejorarse con barro. Si existiesen
dificultades para Ia perforación, se deben emplear electrodos "blandos"
compuestos por fieltro, esponja, goma-espuma u otro material análogo im-
pregnado de agua salada. Si Ia superficie de contacto es más o menos
horizontal, sobre el electrodo "blando" deben colocarse piedras para fijar-
10 y asegurar el contacto. Si el afioramiento se encontras e en Ias paredes
o techo de una galería, Ia sujeción debe hacerse por medio demaderos
apoyados en Ia pared opuesta o suelo. Si el cuerpo conductor o yaci-
miento es accesible a través de un sondeo mecánico deI contacto puede
establecerse haciendo descender por el interior deI sondeo un cable con
aislamiento unido a una pieza lastrada de fieltro o material análogo, Ia
cual debe estar humedecida por una disolución salina en el caso que el
sondeo estuviese seco. Es conveniente que el sonde o no esté entubado, o
que si 10 está, los tubos no queden unidos e1éctricamente aI electrodo,
pues ello deformaría Ias equipotenciales. EI punto por donde el cuerpo
conductor recibe Ia corriente eléctrica (que estrictamente hablando no
es punto, sino Ia zona ocupada por 10s electrodos) recibe el nombre de
punto de carga.

EI tomatierras lejano debe estar compuesto por 4 ó 5 barrenas algo

separadas entre sí (véase el párrafo V.77 c) c1avadas en un lugar de bue-
nos contactos, preferiblemente una charca o lugar húmedo. Debe colo-
carse un letrero de aviso bien visible así como una cerca.

La fuente de alimentación puede estar constituida por una batería de

pilas secas o un grupo motor de explosión-dínamo que se conectará a un
interruptor automático cuando se trabaja por el método de impulsos. Tam-
bién puede emplearse un generador de baja frecuencia.

494
 TRABAJO DE CAMPO

VIII.5.1 Trazado de Iíneas equipotenciales

Este procedimiento no difiere esencialmente deI descrito más arriba
(apartado VIII.22) y el instrumental es el mismo.
Los puntos de comienzo de Ias sucesivas equipotenciales deben estar
situados sobre un perfil recto que pase por Ia vertical de los electrodos
clavados en el cuerpo cargado. Estos puntos pueden estar colocados bien
a intervalos geométricos iguales, bien ·a intervalos iguales de potencial (o
según una ley preestablecida). En este. caso es preciso efectuar una sede
de mediciones previas de potencial a 10 largo deI perfil, a fin de deter-
minar los puntos iniciales.
Por 10 demás, e! trazado de Ias líneas equipotenciales se efectúa deI
modo descrito anteriormente. Siempre que sea posible debe repetirse el
trazadb de equipotenciales, con el punto de carga en lugar distinto y se-
parado de! primeramente utilizado, dentro deI mismo cuerpo o yacimiento.
La comparación de los dos sistemas respectivos de equipotenciales sumi-
nistra información complementaria, y hace más segura Ia interpretación.
Las equipotenciales determinadas sobre el terreno se llevan a un plano
de escala adecuada, en, el que deben figurar los datos topográficos y
geológicos que puedan ser de ayuda para el interpretador.
Cabe Ia posibilidad de estudiar, en vez de Ias equipotenciales, Ias ano-
malías deI campo magnético creado por Ia corriente. En tal caso, los
cuerpos conductores aparecen como concentraciones de corriente, sobre
Ios cuales el campo magnético es especialmente intenso. Se debe emplear
para ello corriente alterna de frecuencia muy baja (para evitar el" efecto
superficial) junto con un magnetómetro adecuado, es decir, Ia .misma
técnica que se utiliza en Ia resistividad magnetométrica (apartado VII.22).
Se obtienen asÍ resultados excelentes (NABIGHIAN, 1980).

VIII.5.2 Método de gradientes

En esta modalidad 10 que se mide son Ias diferencias de potencial
entre estacas contíguas y relativamente próximas entre sÍ (unos. 20 m),
situadas sobre perfiles paralelos que cubran Ia zona de trabajo. Si se
divide cada d.d.p. observada por Ia separación entre Ias estacas corres-
pondientes, se obtiene el valor medio deI gradiente deI potencial, y a esto
se debe el nombre de este método, que se emplea principalmente con co-
rriente continua, para el estudio de cuerpos conductores con buzamiento
fuerte.
Los perfiles deben tener orientación perpendicular aI rumbo supuesto
para Ia dimensión mayor deI cuerpo investigado. Las mediciones con-
sisten sencillamente en determinar Ia d.d.p. entre cada par de estacas
495
EL METODO DE LAS LINEAS EQUIPOTENCIALES

contiguas a 10 largo de todos Ios perfiles, por medio de dos electrodos

impolarizables conectados a un milivoltímetro, potenciómetro, etc., pre-
feriblemerite un aparato de estado sólido con compensador de polariza-
ción y mando de polaridad, como los utilizados modernamente para SEV.
EI modo operativo más rápido y recomendable, seglÍn Ia experiencia
deI autor, es el siguiente. Colocados los electrodos impolarizables en Ias
estacas O y 1 deI primer perfil, y conectados aI milivoltímetro, eI operador
actúa sobre eI compensador hasta llevar a cero Ia aguja deI instrumento,
eliminando así Ia polarización residual de los electrodos, potencial es-
pontáneo deI terreno, etc. Inmediatamente comunica por radioteléfono a
su ayudante, situado junto a Ia fuente de alimentación, que dé corriente,
lee el instrumento y da orden de cortar Ia corrierite de alimentación. De
este modo se consigue Ia independencia entre eI circuito de alimentación
y el de medición, que no puede Iogr.arse cuando se emplean potenció-
metros deI tipo tradicional. EI ayudante y Ia fuente de alimentación, pro-
vista de un pulsador para abrir o cerrar el circuito, deben situarse en Ia
proximidad deI punto de carga, a fin de facilitar la comunicación entre
operador y ayudante. Con ligero entrenamiento, Ias cuatro operaciones
de compensación, conexión de Ia corriente alimentadora, lectura y des-
conexión, se efectúan en pocos instantes. Leída Ia diferencia de potencial
entre Ias estacas O y 1 se trasladan los electrodos a Ias 1 y 2 Y se procede
deI mismo modo.
Las d.d.p. ó. Vi observadas sólo pueden compararse entre sí cuando Ia
intensidad de Ia corriente de emisión es Ia misma en todas Ias observa-
ciones. Como esta no suele ocurrir, por envejecimiento de Ias pilas, va-
riaciones en Ias tomas de tierra, etc., debe anotarse en cada observación
Ia intensidad correspondiente. Este dato puede ser comunicado por el
ayudante aI operador, a través deI radio-teléfono, o bien ser anotada por
el primero en una haja de campo auxiliar, junto aI número de Ia esta-
ción. PARASNIS (1967) ha utilizado una fuente de alimentación compuesta
por una batería de acumuladores y un estabilizador de intensidad, Ia que
evita Ia lectura de ésta, salvo para comprobación.
Los valores ó. Vi observados se reducen aI valor correspondiente a 1 A
en Ia corri ente de emisión, dividiendo por Ia intensidad li correspondiente.
Los valores finales deI gradiente medio que se utilizan para Ia interpre-
tación sou los

Gi=~ (VIII,4)
liMN

Los gradientes medias así calculados se representan gráficamente eu

función de Ia distancia sobre eI perfil, atribuyéndolos aI punto media de
cada intervalo. Los resultados de Ios diferentes perfiles pueden represen-
tarse conjuntamente en un mapa.
496
 TEORIA E INTERPRETACION

Como Ios Ô Vi IeÍdos son, en general, tanto menores cuanto mayor sea
Ia distancia aI punto de carga, no es conveniente eI uso de Ia misma escala
vertical para todos Ios perfiles. Un modo de orillar esta difícultad es
multiplicar Ios valores Gi de cada perfil por Ia distancia de éste aI punto
de carga.
Es muy importante Ia polaridad de cada Iectura; para evitar confu-
siones debe establecerse previamente un convenio, por ejemplo, eI de
que se anotarán como positivas Ias d.d.p. en que eI electrodo situado aI
Norte tenga mayor potencial que eI situado aI Sur. EI referirse aIos
e~ectrodos como "deIantero" y "trasero" es causa de frecuentes confu-
SlOnes.
Como en eI método anterior, es recomendabIe y fructÍfero repetir eI
Ievantamiento con Ia toma de ti erra en otro punto deI cuerpo, si elIo es
posible, y por Ias mismas razones.

VIII.6 TEORIA E INTERPRETACION

VIII.6.1 Mapa de equipotenciales

Cuando eI trabajo de campo se ha efectuado por eI procedimiento de

Iíneas equipotenciales, sus resultados quedan resumidos en un mapa de
estas Iíneas, que es Ia base de Ia interpretación, esenciaImente cualitativa.
La interpretación de Ios mapas de equipotenciaIes requiere, por parte
de Ia persona que Ia efectúe, una adecuada comprensión deI fenómeno
que Ias origina, por 10 que es conveniente fijar aIgunas ideas. En primer
lugar, Ia superficie exterior deI cuerpo cargado puede considerarsecomo
equipotenciaI, por ser dicho cuerpo mucho mejor conductor que eI media
circundante, de modo que Ia caída de potencial dentro deI cuerpo .suele
ser muy pequena. Las siguientes superficies equipotenciales rodean aI
cuerpo cargado paralelamente a su superfície, como capas de una cebolIa,
si bien aI aumentar la distancia se desvÍan de Ia forma deI cuerpo y se
acercan a Ia de una esfera.
Las Iíneas equipotenciales que se determinan en el trabajo de campo
no son otra cosa que Ias intersecciones de Ias superficies indicadas con
Ia superficie deI terreno, por 10 que su forma será muy parecida a Ia de
Ia proyección deI cuerpo sobre un plano horizontal, siempre que aquéI no
sea muy profundo. La forma de Ias Iíneas equipotenciales permite, pues,
fijar de modo aproximado dicha proyección, sobre todo si eI cuerpo está
más o menos horizontal.
497
EL METODO DE LAS LINEAS EQUIPOTENCIALES

Más importante que Ia forma deI cuerpo es su tamano, eI cuaI podría·

ser determinado si se conociese cuáI de Ias líneas equipotenciales es Ia
correspondiente a Ia superficie exterior del cuerpo. Para ello puede. servir
de guía eI siguiente principio. Dada Ia continuidad de Ia componente
normaI/.L de Ia densidad de corriente en Ia superficie de contacto entre
dos medios (Cap. I1I.3), si designamos con un acento aI cuerpo conductor
cargado y con dos aI medio encajante, se tendrá

/~ =/:{ (I1I,I4)

y por 10 tanto
E~ E:{
Pl P2

Ahora bien, como P2 ~ Ph pues en caso contrario el método no seda

aplicable, resulta que el campo eléctrico es muy intenso en Ia inmediata
proximidad deI cuerpo, 10 que produce una condensación de Ias equipo-
tenciales, observable en Ia superficie deI terreno, si .la diferencia de
potencial entre cada dos líneas en ella es constante. Habrá, pues, que
buscar en el plano Ia zona de condensación de equipotenciales, y tomar
una intermedia de ellas como traza aproximada del cuerpo.
Si el cuerpo investigado tiene buzamiento apreciable, su parte superior
influye mucho más en Ias equipotenciales ql,le el inferior. Una conden~a-
ción de equipotenciales concéntricas y de pequeno radio, cuyo centro
recibe el nombre de "punto umbilical", sefiala aproximadamente Ia posi-
ción de Ia cima o borde superior deI cuerpo cargado. En cambio, su ex-
tremo inferior no se refleja con claridad (fig. VIII,? a). La dirección en
que buza el cuerpo se establece fácilmente, pues se obtiene uniendo Ia
parte donde Ias equipotenciales están más apretadas con aquella otra
donde están más distantes entre sí. Esta última corresponde a Ia parte
más profunda deI cuerpo, cuyasituación podría determinarse más exac-
tamente mediante una segunda serie de mediciones con el punto de carga
más próximo a dicha parte deI cuerpo, o recurriendo aI método de gra-
dientes.
La existencia de una zona de enrarecimiento de Ias equipotenciales
puede sefiala"t Ia presencia de un segundo cuerpo conductor (por ejemplo,
una bolsada de mineral) próximo aI cargado, según se aprecia en Ia figu-
ra VIII,7 b, aI que llamaremos cuerpo no cargado. La detectabilidad de
éstos depende de su tamano y posición relativos respecto deI cuerpo
cargado. Influye muy favorablemente· en Ia detección el que Ios cuerpos
no cargados estén aI mismo o superior nivel que el punto de carga. Son
498
 TEORIA E INTERPRETACION

difícil mente detectables los cuerpos más pequenos que el cargado para-
lelos a él, ya que en este caso Ias equipotenciales apenas sufren defor-
mación. En cambio, se detectan fácilmente los cuerpos situados en Ia
prolongación deI eje o dimensión mayor que el cuerpo cargado, 10 que
se manifiesÚl por un alargamiento de Ias equipotenciales .

....:::.:.:.:-
.:::::'
:::::_-_-..
- -,.f" "
I'~~-,
II{'-...; A \
J

\ \~~- --' _ .... "

' ....~::::.:--=-:-:.==:.:.---- --

X·~:::'·1.
(a)

_--~~::;~=~~~~~~c;-----ç·
-----_-- ----..Ç \ ~
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/ _::::::----, \ I
\\ " ', __ ' \ I
I /
"
'I/~' ',',',__
,
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,<::__--------/ "
Z -,
,_
'
\I
/111
/ I

( b) •...
- __--.....:------ _.....
//
/ /1
____ - "."tI'

FIG. VIII·? Aplicación deI método deI cuerpo cargado a un yacimiento conductor:
a) Corte vertical con un solo cuerpo. b) Efecto de un segundo cuerpo conductor
próximo aI cargado, en planta. (Según Schlumberger.)

VIII.6.2 Interpretación de Ias gradientes

La modalidad de gradientes en el método deI cuerpo cargado es mu-

cho más sensible que el trazado directo de equipotenciales. Según Ro-
dionov, un cuerpo cargado de forma esférica con su centro a profundidad
igual a su diámetro produce una anomalía muy débil en el potencial,
mientras que Ia observada en el gradiente es mucho más clara y puede
llegar hasta el 50 %.
Para obtener una primera aproximación cuantitativa puede conside-
rarse el caso más sencillO de cuerpo cargado, que es el de una bolsada
de mineral conductor en forma de esfera homogénea. En este caso, como
499
EL METODO DE LAS LINEAS EQUIPOTENCIALES

es sabido, Ia distribución deI potencial en Ia superficie deI terreno será

Ia misma que Ia producida por una fuente puntual de Ia misma intensidad
I, situada en él centro de Ia esfera (fig. VIII-8). Sea a Ia profundidad de
dicho centro, y x y r Ias distancias indicadas en Ia figura para un punto
genérico P situado en Ia interfaz tierra-aire. El efecto de esta superficie
límite, según se deduce de Ia teoría de Ias imágenes, es Ia duplicación deI

o
---x----p
W$_ 01
I /r
/

G:
FIG. VIII-8. Variación de) gradiente Gx sobre un cuerpo cargado.

potencial observado en ella. Por 10 tanto el potencial U en Ia superficie

deI terreno valdrá

1 _ pl
U _
- bpl -r- - -:-h (d' +1 X2)1/2
(VIlJ,5)

y el gradiente Gx sobre dicha superficie será

G = _p_l__ 0 1__ = _!!_l x__ (VIII,6)

x 2" üx (a~ + X2)1/2 211' (a2 + X2)3/2

De esta expresión se deduce que el gradiente se anula para x = O, propie-

dad que puede emplearse para determinar el epicentro de Ia esfera, si
se dispone de un perfil de gradientes que pase sobre él. Para valores .po-
sitivos de x el gradiente es negativo, y positivo en caso contrario, 10
que puede deducirse independientemente si se tiene en cuenta que el gra-
diente es el campo eléctrico cambiado de signo.
500
 TEORIA E INTERPRETACION

A fin de averigU3.r Ia posición de Ias extremos de Ia curva de gradien-

tes, calcularemos Ia derivada

DG:c
UX
= __ ~
2rr
~ax [x (a2 + X2)-3/2] = _-'!-~_
2rr
. 2 x2 -
(ei +
a2
X2)5/2
(VIII,7)

expresión que indica que los extremos de Ia curva de gradientes están

situados simétricamentc respecto deI epicentro de Ia esfera a Ia distan-
cia Xc = ± ai'''!]'. Por 10 tanto, Ia profundidad deI centro de lá esfera
puede determinarse a partir de Ia distancia d = 2 Xc entre Ios extremos
de Ia curva mediante Ia ecuación

a = - "';2
2
d = 0,71 d = 1,41 Xc (VlII,8)

En cambio no puede calcularse eI radio de Ia esfera, o 10 que es 10'

rnismo, eI tamano de Ia bolsada, ya que Ia posición de Ias extremos sólo
depende de Ia profundidad deI cuerpo.
Se ha supuesto en el cálculo anterior, que el perfil de gradientes pa-
saba por el epicentro de Ia esfera. Si no fuese aSÍ, habría que tener en
cuenta Ia distancia y deI perfil aI epicentro, y poner r = a2 + y2 + x2.
Como y es constante, basta con sustituir ei por a2 + y2 en el resultado
final, de modo que los puntos extremos deI gradiente tendrán Ia ecua-
ción
2 x~ -- y:! = a2 ~VlII,9)
que corresponde a una hipérbola, sobre Ia cuaI se hallarán todos los
puntos de gradiente ext[t~mo correspondientes a un sistema de perfiles
paralelos aI primero considerado, cuya dirección es arbitraria.
Análogamente podrÍa calcularse eI gradiente en Ia superficie deI te-
rreno deI potencial producido por cuerpos cargados de diversas formas
geométricas regulares y con diferentes buzamientos. Los cálculos corres-
pondientes son bastante prolijos, y por otra parte, su utilidad es dudosa,
pues Ios cuerpos conductores geológicos no suelen tener forma regular.
Por esta razón no se exponen aquí tales cálculos, pero sÍ se darán al-
gunas de sus consecuençjas, juntamente con otras deducidas de ensayos
sobre modelos.
La figura VIll-9, tomada de Rodionov, representa. Ias resultados teó-
ricos obtenicJos para el gradiente (cambiado de signo) deI potencial pro-
ducido en Ia superficie deI terreno por un cilindro de base elíptica y
eje horizontal infinitamente largo, con relación de semiejes igual aIO.
EI semieje mayor se toma como unidad de Iongitud. La figura superior
se refiere aI caso en que Ia profundidad deI borde superior deI cuerpo es
de 0,1 y Ia figura inferior a profundidad doble. Se observa que cuando el
cuerpo es horizontal o poco inclinado (menos de 30°) Ia posición de Ias
501
EL METODO DE LAS LINEAS EQUIPOTENCIALES

oU
-ÔX

ho'O,1
li'

=kZ h d..
X
x
Z~

'1,0 .3,0
_--L--.J~ .
x~

Xo

FIG. VIII-9. Gradiente dei potencial (cambiado de signo) sobre un cuerpo cargado en
forma de cilindro elíptico. Se toma como unidad de longitud el semieje mayor. Los
números 1 a 7 corresponden a diversas inclinaciones ", respectivamente iguales a 900. 75°.
600. 450, 300. 150 y 00. (Según Rodionov, en Tarkhov.)

bordes deI cuerpo viene indicada aproximadamente por Ios extremos deI
gradiente. Destaca también eI hecho de que, aI aumentar eI buzamiento,
aumenta Ia asimetría de Ia curva de gradientes. El extremo más intenso
de dicha curva indica aproximadamente Ia posición deI epicentro deI
borde superior deI cuerpo, con cierto desplazamiento hacia fuera de Ia
traza horizontal deI mismo, según· se observa en Ia figura. Nótese que se
trata deI extremo más intenso y no deI máximo, pues este se transforma
502
 TEORIA E INTERPRETACION

en mlUlmo si se invierte Ia polaridad de Ia fuente de alimentación o el .

sentido considerado positivo sobre el perfil.
Si varios perfiles consecutivos tienen análoga separación entre los ex-
tremos de sus curvas respectivas, puede concluirse que el cuerpo estudia-
do es, muy probablemente, alargado y subhorizontal. La proyección de su
eje longitudinal se obtiene en el plano uniendo entre sí los puntos de
gradiente nulo; Ias proyecciones' de 10s bordes resultan de unir, por una
parte, Ias puntos de gradiente positivo máximo, y por. otra los de gra-
·1j----'-
-6
.•..L.//
I
-3 -2

",",'
,-
,
-, np. I!1Il-t3Z0

, ., I~-
-7 1 -8 -3 /-2 -1
\
np JlIl-t280
\ . \
...1- ..•.....
\ ",......\ -
-7 --'6 -{) -2\ -1 o
np fl+2/nJ

•. 1 .•.2 np.Yt200

'+"3 np a
"
'\
\

FIG. VIII-10. Mapa de gradientes sobre nn cuerpo cargado.Las líneas de trazos y puntos
representan los valores medidos sobre cad •. perfil; Ias de traz os unen Ias estaciones doevalo-
res extremos deI gradiep.te, y Ias de línea continua, sin rótulo, Ia posici6n teórica de dichos
extremos en medio homogêneo. CKB = punto de carga. (Según Yakuboskiy y Liakhov.)

503
EL METODO DE LAS LINEAS EQUIPOTENCIALES

diente negativo mínimo. La anchura real deI cuerpo suele ser algo menor
que Ia distancia entre extremos. En Ia figura VIII-IO se reproduce un
ejemplo dado por Yakuboskiy y Liakhov. En ella se ha representado so~
bre cada perfil, Ia curva de gradientes. La línea que une todos los puntos
de gradiente nulo indica Ia proyección horizontal deI eje deI cuerpo con-
ductor. Las líneas de trazos que unen Ias estaciones de gradiente extremo
senalan Ia proyección aproximada de los bordes deI cuerpo. En Ia figura
aparecen también, cerca de sus límites derecho e izquierdo, con línea
continua gruesa, Ias ramas de Ia hipérbola donde se hallarían Ias extre-
mos en caso de tratar se de una fuente puntual o esférica. Las tíneas con-
tinuas más finas son sus asíntotas.
En 'la interpretación deben tenerse en cuenta Ias desviaciones produ-
cidas en Ias equipotenciales por el medio encajante, tales como Ias debi-
das a contactos entre formaciones de diferente resistividad, anisotropía,
etc~tera.

VIII.7 OBSERVACIONES EN SONDEOS

En 10 anterior se ha supuesto que Ias observaciones se efectuaban en

Ia superficie deI terreno, y por esta causa Ia información obtenida era
predominantemente bidimensional, esto es, se refería en su mayor parte,
a Ia traza o proyección horizontal de los cuerpos investigados. Puede
obtenerse información más completa y tridimensional si se efectúan ob-
servaciones en eI interior de perforaciones no entubadas próximas ai
punto de carga.
EI punto de carga se estabIece deI modo ya. indicado,. pel'o en algunos
casos puede interesar que 105 electrodos queden a Ia altura de alguna
zona estéril en vez de una metalización.
Las mediciones se efectúan en Ias perforaciones próximas, determi-
nando Ia d.d.p. entre una toma de tierra N situada en Ia .superficie y a
grau distancia y un electrodo M que va descendiendo por eI interior deI
sondeo. Con este fin es conveniente eI empleo de un aparato de testifica-
ción eléctrica, que permite obtener un registro. continuo potenciaI-pro-
fundidad. Las lecturas pueden hacerse también a intervalosfijos, por
cjemplo cada 5 ó 10 m. En este caso puede compensarse el potencial es-
pontáneo. Es necesario conocer con exactitud Ias desviaciones de cada
sondeo en ángulo y rumbo, a fin de atribuir cada Iectura aI punto deI
espado a que verdaderamente corresponde. Los datos obtenidos pueden
representarse, bien eri forma de curva potencial-distancia a Ia boca deI
sondeo, bien tomando como variabIe dependiente eI gradiente deI po-
tencial.
504
 OBSERVACIONES EN SONDEOS

Reuniendo Ias datas obtenidos sobre varias perforaciones alineadas

.puede trazarse un corte vertical de equipotenciales; de modo análogo
pueden trazarse planos de equipotenciales a diferentes profundidades si
Ios sondeosestudiados cubren un área con suficiente densidad de datos.
Como ejemplo de estos planos de equipotenéiales en profundidad pueden
800 W

60·0 W

400 W L
3100 s L-
3000 2900 2800
1+'o M. A:S. L

2700 2600 S

FIG. VIII-H. Distribnci6n subterrânea (en planta) de 10s potenciales medidos en el interior
de perforaciones,. en el método dei cuerpo cargado. (Eu Suecia Central, según Parasnis.)

servir Ias figuras VIII-H y VIII-l2. Ambas corresponden a un' trabajo

realizado en Suecia Central por eI geofísico hindú PARASNIS (1967), en el
que un número relativamente grande de perforaciones habían cortado
metalizaciones en plomo y cobre, sin que resultase fácil obtener una iéfea
clara de w distribución en. el espacio. Con el propósito de determinar
esta distribución, o 10 que es 10 mismo, de relacionar entre sí los diversos·
hallazgos, se efectuó una serie de mediciones de cuerpo cargado. Una
novedad técnica en este trabajo es que, por medio de un interruptor
automático, el generador era conectado sucesivamente aIos puntos de
carga establecidos en zonas metalizadas de diferentes sondeos. De este
modo, todas Ias mediciones de potencial.a 10 largo de cada perforación
se hacían en una sola operación. La interpretación de los planos de equi-
potenciales obtenidos permitió establecer el buzamiento e inmersión de
Ias distintas metalizaciones, Ia forma .aproximada de éstas y Ias relaciones
entre ellas.

Esta última cuestión es una de Ias aplicaciones más interesantes de Ia

utilización en sondeos deI método deI cuerpo cargado. Dicho de otro
modo, se trata de averiguar si lasmetalizaciones cortadas en diferentes
sondeos for~an parte de un yacimiento continuo, o si por el contrario,
505
EL METODO DE LAS LINEAS EQUIPOTENCIALES

PROFllE 27205

eoow 700.... 600W 500W

t i i i '0f!1i IO~_ m.s.n.m.

~ ..'\'

50'

>
E

-50

-100

+ Proyección dei
pun to de carga
_ Mineralizoción con
Pb>O.5"1. Cu>O.l"1o

corriente 340 mA

FIG. VIII-12. Distribución subterránea de potenciales (en corte) obtenida en Ia misma

investigación de la figo VIII-lI. (Según Parasnis.)

son independientes. Sobre este particular, Rodionov (en TARKHOV, 1963)

hace útiIes consideraciones, que se resumen a continuación.
Si Ia zona conductora donde se haIla eI punto de carga fuese muy
pequena, y homogéneo eI medio encajante, Ia curva de potenciales ob-
tenida en una perforación próxima, más o menos vertical, presentará un
máximo aI nivel deI punto de carga. Si eI medio es anisótropo por causa
de esquistosidad o estratificación, eI máximo de potenciaIes se producirá
en Ia intersección del sondeo explorado con eI plano de conductividad
má,xima que pasa por eI punto de carga; es decir, que ambos puntos, eI
de potencial máximo yeI de carga se haIlarán en eI mismo estrato o plano
de esquistosidad. Cuando en Ia práctica se encuentran taIes condiciones
se puede concluir que Ia zona mineralizada es muy pequena, o tiene po-
sición vertical, o más rigurosamente, que no se extiende en dirección aI
sondeo donde se efectúen Ias medidas, a menos que eI buzamiento de
Ia metaIización coincida con eI de Ia anisotropía. La figura VIII-13 re-
presenta un ejempIo práctico, en el que Ia inclinación de Ia recta que une
Ios puntos de potencial máximo observados en Ios sondeos 7 y 8 coin-
cide con Ia de Ia .esquistosidad, por 10 que puede afirmarse que Ia meta-
Iización no es como se representa en Ia figura (zona rayada) donde se
expresa 10 que esperaba encontrarse antes de Ia apIicación deI método.
506
 OBSERVACIONES BN SONDEOS

La continuidad entre Ias metalizaciones cortadas por dos sondeos

diferentes puede investigar se si se toma como cuerpo carga do una de ellas
y se estudian Ias potenciales en Ia segunda perforación. Si en ésta se
observase un máximo de potencial en Ia zona metalizada, puede deberse,
bien a que ambas metalizaciones son partes de una sola, bien a que
siendo independientes, tienen partes próximas entre sí. La duda puede
resolverse repitiendo dos veces Ias mediciones con eI punto de carga en
zona estéril, por encima y por debajo, respectivamente, de Ia zona meta-
lizada. Sólo cuando Ia posición deI máximo de potencial es Ia misma en
Ias tres mediciones, puede concluirse Ia continuidad entre ambas meta-
Iizaciones.

M8

8
JOO

- -
.-./
4
5 7 6
'\/,/ , '--
100
"'-
3 B
MO
M8

100

200
@ a
b
c

300
M
.e
Df
d

FIG. VIII-l3. Relación entre perforaciones por el método dei cuerpo cargado: a, punto
de carga; b, curva de potencial en superficie, con el punto de carga 1; ,c, curvas de
gradiente de potencial en Ias perforaciones 7 y 8, con carga en 2; d, curvas de potencial
espontáneo; e, metalización de sulfuros supu esta antes de Ias mediciones; t, metalizaciones
pequenas que existían ~ealmente. (Según Golubev y Rodionov, en Tarkhov.)

En ciertos casos, cuando sólo existe un sondeo mecánico y éste es

estéril, puede intentarse eI trazado de equipotenciales en superficie, con
un punto de carga a profundidad razonable en eI interior deI sondeo.
En estas circunstancias, no existe cuerpo cargado, sino fuente puntual,
pero Ias posibilidades de encontrar metalizaciones conductoras que pue-
507
EL METODODE LASLINEASEQUIPOTENCIALES

dan existir en· Ias proximidades son mucho mayores que con electrodos
situàdos en Ia superficie deI terreno.
En dos interesantes artículos, J. J; DANIELS(1977, 1978) ha estudiado
cuantitativamente Ias mediciones entre dos sondeos mecánicos o entre
uno de éstos y Ia superficie, tanto para medios estratificados como para
heterogeneidades en forma de esfera o lente. Las fuentes y Ios receptores
pueden estar constituidos por un solo electrodo o por un par (AR o MN).
Efectuando sistemáticamente mediciones deI tipo descritp en Ios pá-
rrafos anteriores, puede orientarse una campana de sondeos mecánicos,
ampliando Ia información proporcionada por ellos, y suministrando cri te-
rios sobre eI emplazamiento de los sondeos' sucesivos.
LASFARGUES (1957) describe una aplicación similar deI método en el
interior de una mina. Cuando una galería ha cortado una falIa de relIeno
conductor (arcilloso o metalizado) y se desea estudiar su relación con
fallas o fracturas encontradas en otras galerías, se establece el punto de
carga en Ia falla ele Ia primera galería y en Ias demás se efectúan medi-
ciones de potencial con un electrodo N fijo y otro M móviJ. La conti·
nuidad con Ia falIa de Ia primera galería se manifiesta por Ia presencia
de un máximo de potencial aI cruzar sobre Ias fallas de Ias otras ga-
lerías.

VIII.8 APLlCACION AL MOVIMIENTO DE AGUAS SUBTERRANEAS

EI método dei cuerpo cargado puede aplicarse a Ia determinación de

Ia velocidad y dirección de marcha de Ias aguas de un acuífero cortado
por un pozo o sondeo, según un procedimiento descrito con cierto detalle
por YAKUBOSKY y LIAKHOV(1964). EI modo de operar se expone a con-
tinuación, siguiendo a estos autores.
EI punto de carga se establece en el agua deI pozo o sondeo, un poco
por encima (de medio a un metro) deI muro deI acuífero. Este ha de
estar constituido por un material poroso aproximadamente horizontal,
ya que el método no es aplicable a aguas que circulan a 10 largo de fallas
o de conductores cársticos. AI mismo niveI que el eIectrodo se coloca,
coIgando dei cable aislado conectado a éste, un saco de teJido poroso,
protegido por lona, de forma cilíndrica y de diámetro reducido, tal que
pueda introducirse sin dificultades en eI interior deI sondeo, cuando este
sea eI caso. El saco debe estar lleno de una sal muy soluble, generalmente
doruro sódico o amónico. EI circuito se cierra como de costumbre a
través de un manantial de corri ente de alguno delos tipos ya descritos,
con un tomatierras "de infinito".
508
 APLICACION AL MOVIMIENTO DE AGUAS SUBTERRANEAS

lnmediatamente después de instalado el dispositivo, se procede aI

trazado de una sola línea equipotencial en Ia superficie dei terreno, que
será aproximadamente circular si el subsuelo es razonablemente homo-
géneo en sentido horizontal. El radio de Ia equipotencial queda determi-
nado por su punto de partida, que es el de ubicación deI electrodo de
exploración fijo. La distancia de este punto ai centro dei pozo o agujero
dei sondeo debe ser de 1,5 a 2 veces Ia profundidad deI acuífero, salvo
que se trate de un sondeo entubado. En tal caso Ia distancia debe ser
doble de Ia que se acaba de indicar. Transcurrido un lapso prudencial
(de una a 10 horas, según que Ia velocidad de Ia corri ente sea grande
o pequena) se efectúa nuevamente el trazado de Ia equipotencial, y esta
operación se repite 5 ó 6 veces, a intervalos iguales de tiempo.

II

Vil! IV

y
VI
v a

<.::
:".
-;rnn--
v,cpI Vz
I cp.
I
vJCp
I I v~cp
I . .1v5CpI v6Cp
I t
tf tf tJ t~ 1.5

ó
FIG. VIII-l4. Determinación de )a dirección y velocidad de una corrientc de agua
subterránea por el método deI cuerpo cargado. En Ia parte inferior, gráfico de
velocidades. (Según Yakuboskiy y Liakhov.)

509
EL METODO DE LAS LINEAS EQUIPOTENCIALES

Como Ia sal contenida en el saco se disuelve en el agua, se forma en

ésta una zona muy conductora, que va siendo extendidapor el movimiento
de Ias aguas, con su misma velocidad y dirección. Como consecuencia
de ello, Ia equipotencial se alarga, pasando de su forma inicial de círculo
a otra oval. EI diâmetro mayor deI óvalo indica Ia dirección de avance
deI agua (fig. VIII-l4). La longitud de dicho diámetro va aumentando
conforme transcurre el tiempo; este crecimiento se hace sólo en un ex-
tremo deI diâmetro, el opuesto permanece fijo. Para calcular Ia velocidad
se dividen los sucesivos incrementos deI diâmetro mayor por los inter-
valos de tiempo correspondientes. Los cocientes obtenidos crecen monó-
tonamente, y se aproximan con rapidez a un valor asintóticó, que es Ia
velocidad buscada. EI aumento de los cocientes sucesivos se debe a que
Ia zona conductora tarda algún tiempo en establecerse.
Es muy conveniente para el trabajo de campo el estaquillado previ o
de un cierto número de perfiles radi~les que pasen por el centro deI pozo
o sondeo, sobre los cuales se desplace luego en Ias mediciones el electrodo
móvil. De este modo es muy sencillo determinar y pasar aI plano los
puntos observados para cada equipotencial. Si se conoce o sospecha Ia
direcçión de movimiento deI agua, el electrodo fijo debe colocarse en el
extremo inmóvil deI diâmetro mayor.

510
 Capítulo IX
EL METODO DEL POTENCIAL
ESPONTANEO

IX.1 INTRODUCC.ION

En contraste con los métoqos prospectivos descritos hasta aquí, el

deI potencial espontáneo es de campo natural, por 10 que no precisa de
circuito de emisión alguno. Destaca también este método por ser el más
antiguo, ya que su origen se remonta a 1815, aunque los primeros resul-
tados positivos no se obtuvieron hasta 1913 (véase el apartado 1.6.1).
A pesar de su antigüedad, este procedimiento sigue empleándose con
eficacia en Ia época actual. Su principal ventaja es Ia sencillez, tanto en
el instrumental como en el trabajo de campo. Se utiliza para el descu-
brimiento de cuerpos conductores, especialmente de yaciqlientos de sul-
furos. Se basa este método en que, en determinadas condiciones, ciertas
heterogeneidades conductoras deI subsuelo se polarizan, convirtiéndose
enverdaderas pilas eléctricas, que originan en el subsuelo corrientes eléc-.
tricas. Estas corri entes producen una distribución de potenciales obser-
vable en Ia superficie deI terreno, y que delata Ia presencia deI cuerpo
polarizado.
Entre los cuerpos que pueden presentar este fenómeno figuran los
yacimientos de algunos sulfuros (pirita, pirrotita, calcosina, etc.), ciertos
óxidos (magnetita, pirolusita), minerales o rocas carbonosos (grafito, an-
tracita). La P.E. * (Polarizáción espontánea) más intensa suele ser Ia de
Ia pirita y pirrotita.

* Dichas letras pueden significar también "Potencial espontáneo".

511·
EL METODODEL POTENCIAL
ESPONTANEO

IX.2 CAUSAS DEL POTENCIAL ESPONTANEO

El fenómeno de Ia P.E. tiene indudable origen electroquímico, pel'o

el mecanismo concreto de Ias reacciones correspondientes no parece estar
aclarado definitivamente. Algunas teorías atribuyen Ia P.E. a Ia oxidación
de los sulfuros, con diferencias de detalle entre unos y otros autores.
Otras teorías suponen que el proceso es más complicado, y que Ia oxida-
ción da lugar a condiciones que originan el potencial espontáneo. En
estas teorías se concede papel principal a Ia humedad deI subsuelo, o
a Ia diferencia ep. acidez de Ias aguas superiores o inferiores aI nivel
freático, o a otros factores. Vn tercer grupo de autores cree que Ia oxi-
dación no influye, y que Ia P.E. se debe a que el cuerpo que Ia origina
produce una pila de concentración de oxígeno, o bien a otros fenómenos
tales como potenciales de electro-ósmosis, potenciales de difusión, corrien-
tes telúricas, electrofiltración, etc. Esta proliferación de teorías parecía
indicar que no había llegado a comprenderse Ia esencia deI fenómeno, a
pesar de 10 cual, en Ias obras más afamadas sobre Prospección suele ex-
ponerse, como hecho demostrado, una de Ias teorías existentes, casi
siempre
, "
alguna variante de Ia teoría de Ia oxidación.
En 1960, el japonés Motoaki Sato y el estado-unidense Harold M. Mo-
oney publicaron un trabajo basado en el estudio crítico de unos 150 ar-
tículos sobre el tema, y en el que, después de anaIizar y rechazar Ias
teorías anteriores, proponen una nueva, que parece Ia más cercana a Ia
realidad y es Ia de mayor aceptación actualmente (SATOy MOONEY,1960).
DeI estudio de Ia amplia bibliografía consultada, los citados autores
deducen, entre otras cosas, Ias conclusiones siguientes:
a) Los cuerpos productores de P.E. son siempre buenos conductores
electrónicos, generalmente con continuidad eléctrica en su interior.
b) Las anomalías de Ia P.E. son casi siempre negativas en Ia proxi-
midad deI extremo superior deI cuerpo.
c) El valor, de Ia d.d.p. total observada suele ser de algunos cen-
tenares de mV y puede llegar hasta 0,5 V aunque excepcionalmente se
han registrado valores más altos, de hasta 1,3 V. (Después de Ia aparición
deI trabajo de Sato y Mooney se ha publicado una investigación reali-
zada en Hualgayoc (Perú), donde el valor total de Ia anomalía observada
fue de 1,8 V.) (P. S. GAY, 1967.)
d) El cuerpo debe yacer, aI menos en parte, en zona de oxidación
activa.
e) EI potencial espontáneo es relativamente estable en el tiempo.
Otros puntos mencionados por Sato y Mooney se refieren a Ia acidez
en Ia proximidad de los yacimientos de sulfuros y aI problema presen-
512
 CAUSAS DEL POTENCIAL ESPONTANEO

tado por el grafito y Ia galena. La región situada por encima deI nivel
freático, cerca de un yacimiento de sulfuros, suele tener acidez elevada
(pH = 2-5) y oxígeno libre en abundancia. Por debajo deI nivel freático,
no se encuentra oxígeno libre, mientras que el agua presenta reacción
ligeramente básica (pH = 7-9). Las cuestiones referentes aI grafito y a
Ia galena, son que el primero no suele oxidarse en Ias condiciones nor-
males deI subsuelo, a pesar de 10 cual, produce fuerte P.E.; en cambio,
Ia galena, buena conductora, y fácilmente oxidable, no presenta usual-
mente dicho fenómeno.
Partiendo de estas conclusiones de base experimental, Sato y Mooney
revisan y rechazan Ias teorÍas propu estas anteriormente. Los fenómenos
de electrofiltración, difusión, electro-ósmosis, etc., no pueden alcanzar,
ni con mucho, el orden de magnitud de ]os potenciales observados en Ia
P.E. por 10 que estos efectos pueden constituir una perturbación, pero
nunca el fenómeno .principal. Las teorías que suponen que Ia P.E. es de-
bida directamente a procesos de oxidación, no pueden aceptarse tampoco.
Sato y Mooney hacen notar que si el cuerpo productor deI fenómeno
funciona como una pila, el polo negativo de, ésta ha de ser su parte su-
perior (fig. IX-I), en virtud de Ia conclusión b) anterior. Como en el

u
·0

~~~0Wa
~ ----

W
/J} Cuerpo
polarizado

-----"'-
FIG. IX-l. Polarización espontánea. Ubicación de Ias. palas en el cuerpo polarizado
exigida por Ias valores negativos dei potencial. Las flechas indican el sentido de marcha
de Ias electrones e iones negativos.

513
EL METODO DEL POTEliCIAL ESPONTAN'EO

interior deI cuerpo Ia corriente es electrónica, e iónica en el exterior,

debe existir una transferencia de cargas en Ia superficie deI cuerpo. Los
electrones recorrerán éste hacia arriba, y serán adquiridos en Ia super-
ficie por iones positivos. Ahora bien, Ia oxidación del mineral no absor-
bería electrones, sino que produciría otros nuevos, pÇlr 10 que este fen6-
meno no puede intervenir en Ia forma supuesta por Ias teorías citadas.
De ser éstas ciertas, Ia parte superior deI cuerpo actuaría como polo
positivo, en contra de 10 observado. Otro argumento de carácter decisivo
contra Ia teoría de Ia oxidación es el hecho ya mencionado de que el
grafito produce intensa P.E. aunque no se oxida en el subsuelo, por 10
que, aI menos en este caso, Ias reacciones químicas han de producirse
entre los iones presentes en Ias soluciones acuosas deI subsuelo y no
en el grafito. La teoría que atribuye Ia P.E. a diferencias de pH tampoco
puede aceptarse, porque. no explica Ia transferencia de electrones aI cuer-
po o desde él.
Rechazadas Ias teorías propuestas, Sato y Mooney proceden a esta-
blecer Ia suya que, en 10 esencial, puede describirse como sigue. La P.E. se
debe a reacciones electroquímicas con diferente carácter en dos alturas
de Ia interfaz cuerpo-roca encajante, Ias cuales se encuentran, general y
respectivamente, por encima y por debajo deI nivel freático, con el cuerpo
sirviendo de enlace eléctrico entre eIlas. Las sustancias disueltas alrededor
de Ia parte superior deI cuerpo sufren reducci6n, tomandoelectrones deI
cuerpo, mientras que en Ia parte inferior Ias substancias disueltas se oxi-
dan, cediendo electrones aI cuerpo. Este sirve única mente como con-
ductor para los electrones, cuyo fiujo de abajo arriba hace que Ias reac-
ciones químicas puedan mantenerse indefinidamente, y no interviene en
tales reacciones, por 10 que permanece inalterable. El origen d~l conjunto
de reacciones está en Ia diferencia en el potencial de oxidación Eh (tam-
bién llamado potencial Redox) entre Ias disoluciones próximas a Ia parte
alta y baja deI cuerpo. Sobre el nivel freático, Ias substartcias disueltas
se hallan relativamente oxidadas, y bajo él relativamente reducidas; esto
produce Ia diferencia en el Eh que es causa deI. fenómeno. Es necesario
tener en cuenta que si bien Ia "parte alta" deI cuerpo es su extremo su-
perior, Ia "parte baja" no coincide muchas veces con el inferior, sino con
una zona intermedia.
En Ia zona superior, Ias reacciones más probables son Ias que afectan
aI oxígeno libre y aI ion férrico. Las reacciones correspondientes son

O2 + 4 H + + 4 e- = 2 H20
Fe+++ + e- = Fe++

En Ia zona inferior, Ias reacciones de oxidación más probables sou

aquéllas en Ias que intervienen el ion ferroso y el hidróxido ferroso, se-
514
 · CAUSAS DEL POTENCIAL ESPONTANEO

gún Ias ecuaciones

Fe++ + 3 H20 = Fe (OH)3 + 31-1+ + e-
Fe (OH)2 + H20 = Fe (OH)3 + H + + e-
Los electrones requeridos por Ias reacciones de Ia zona alta S011 pro-
porcionados por Ias reacciones de Ia zona baja a través deI cuerpo con·
ductor. La energía necesaria para el mantenimiento deI proceso es Ia
suministrada por el oxígeno atmosférico, que penetra en el subsuelo di-
suelto en Ias aguas de lluvia.

negotivos

) lones

S.reduci~ .
Minerolizocióri

FIG. IX-2. Sentido de marcha de electrones e iones en Ia Polarizaci6!l Espontánea,

según Ias ideas de Sato y Mooney. S = Sustancias.

La figura IX-2 indica de forma esquemática, Ia marcha de Ios eIectro·

nes e iones a través deI subsuelo. Comoes obvio, Ios iones de uno u otro
signo se desplazan a ambos lados deI cuerpo, y no a uno sólo como se
representa en Ia figura para mayor simplicidad. No es preciso que cada
ion recorra todo el camino, puesto que iones de distinto signo pueden
encontrarse y neutralizarse; 10 que importa es Ia dirección global deI
movimiento.
En Ia figura IX-3 se representa un ejempIo de reacciones y su ubi·
cación en el espacio. Aparte de Ias indicadas, pueden producirse otras
semejantes.
Para dar carácter cuantitativo a su teoría, Sato y Mooney utilizaron
mediciones directas de Ia variación deI pH y deI Eh en eI interior y
proximidades de diversas metalizaciones de sulfuros existentes en varias
515
EL METODO DEL POTENCIAL ESPONTANEO

zonas mineras de Arizona y Dtah. Estas determinaciones fueron llevadas

a cabo por Sato.
Con esta base, Sato y Mooney concluyen que en Ia mayoría de los
casos Ias condiciones naturales son tales que los cuerpos productores de
Ia P.E. se hallan dentro de su dominio de inmunidad, por 10 que no
tornan parte en Ias reacciones químicas y se limitan a actuar como con-
ductores electrónicos, deI modo indicado más arriba. Cuando no ocurre
así, el mineral se vuelve inestable, y va descomponiéndose hasta des-
aparecer.

1°2
/
/ "'"
"""
I
/ "-

/ c T+ "" H20
/ 'e "'"
/ / Fe+++\ O2 "-

Fe(OH)l!--
-
/' I . -ç--
......
__Fe (OH) 3
Fe(OHh
~
"'::>1·'·-:'~'
I"
......

H+/ .. " Fe++

FIG. IX-3. Ubicación y naturaleza de aIgunas reacciones en lâ Polarización Espontânea

(inspirado en Sato y Mooney).

Los autores mencionados pudieron calcular además el potencial eléc-

trico máximo observable en Ia superficie eu virtud de Ias reacciones es-
tudiadas. Este potencial depende de Ia naturaleza química deI cuerpo, y
será de unos 400 mV (respecto deI infinito) para el grafito y Ia pirita en
Ias condiciones más favorables. Este es un punto débil de Ia teoría de
Sato y Mooney, tan convincente por 10 demás, pues como se ha dicho
anteriormente, a veces se observan anomalías mayares que un voltio, Ias
cuales sólo podrían explicarse, dentro de esta teoría, recurriendo a con-
diclanes químicas anormales o a Ia superposición de otros potenciales
no relacionados con el cuerpo. PARASNIS (1969) ha efectuado mediciones
de P.E. en el interior de perforaciones, encontrando valores de varios cen-
tenares de mV, por ejemplo de -- 628 mV a 122 m de profundidad, pel'o
no indica cuál es el potencial tomado como cero.
516
 OTROS FENOMENOS DE POLARIZACION ELECTRICA EN EL TERRENO;

La teoría de Sato y Mooney lleva a Ia consecuencia que Ia P.E. puede

darse en condiciones que anteriormente no se estimaban favorables para Ia
aparición deI fenómeno. En particular, no es preciso que eI cuerpo forme
una faja continua de mineralización, parte bajo el nivel freático, parte sobre
él. Tales condiciones son muy favorables, pero no necesarias. Una meta-
Iización diseminada puede producir P.E. si Ia separacíón entre granas es
pequena, y Ia conducción entre ellos puede hacerse iónicamente dentro de
ciertas condiciones.
Condición necesaria es, desde Iuego, que Ia roca que rodea aI cuerpo
esté uu tanto meteorizada, de modo que Ios iones puedan desplazarse
adecuadamente. En rocas muy sanas y compactas, Ia P.E. no puede darse.
Lo mismo ocurre en zonas heIadas, pues Ia baja temperatura retrasa Ias
reacciones y Ias capas de congelación ("permafrost", etc.), impiden el
movimiento iónico. Las zonas desértjcas tampoco son favorables para Ia
aparición deI fenómeno, entre otros motivos, por Ia escasa humedad.
La polarización espontánea encuentra, pues, Ias condiciones más fa-
vorabIes en Ias zonas templadas.

IX.3 OTROS FENOMENOS DÊ POLARlZACiON ELECTRICA EN EL TERRENO

Además de Ia polarización espontánea descrita en el apartado ante-

rior, se observa en eI terreno Ia presencia de otros potenciales n~.turales.
Uno de éstos, el campo teIúrico, 110 será considerado aquí, pues por una
parte, dada su pequenez, 110 representa causa de errar apreciable en Ias
mediciones de P.E. y por otra merece capítulo aparte por ser base de
otros métodos de prospección. En cambio, conviene describir brevemente
otros fenómenos de polarización, que son Ios siguientes.

IX.3.1 potenciales de difusión

Estos potenciales aparecen cuando en Ias poros de Ias rocas se ponen

en contacto eIectrólitos diferentes, o existen diferencias de concentración'
en un mismo eIectrólito.
Los iones de distinto signo poseen diferente movilidad y como Ios
que Ia presentan mayor se difunden más rápidamente, llegan a formarse
dos zonas, en cada una Ias cuales predominan Ias iones de un signo, con
10 que se .establece una diferencia de potencial V. Cuando el origen de
t-,.

ésta es Ia diferencia de concentración en Ios mismos iones, se verifica

que

t-,.V = ~-
u-v
RT
-~ C.
In ._._. (IX,I)
u +v nF C2

517
EL METODO DEL POTENCIAL ESPONTANEO

donde son:
u, v, Ias movilidades respectivas deI catión y eI anión;
n, Ia valencia de estos;
R = 8,314 julios/CO (constante de Ios gases);
T = temperatura absoluta;
F = 96.487 eul. (Faradày);
C1, C2, Ias contentraciones respectivas de Ios electrólitos en
contacto.

Por 10 general, Ias d.d.p. debidas a este fen6meno no sue1en causar

error apreciable en Ias observaciones de P.E. Sin embargo, este fenómeno
tiene gran importancia en Ia testificaci6n eléctrica, donde se produce por
eI contacto de Ios electrólitos de Ias rocas con Ios lodos deI sondeo, y
puede servir para Ia determinación de porosidades.

IX.3.2Potenciales de filtración

El' fenómeno que origina estos potenciales, denominado eleetrofiltra-

ción, fue estudiado ya por Schlumberger, y consiste fundamentalmente en
Ia producción de un campo eléctrico por eI movimiento de electrólitos
(aguas subterráneas) en el subsuelo.
Cuando un electrolito pasa a través de una membrana porosa se
produce entre Ios dos lados de ésta una diferencia de potencial. Las
rocas pueden corisiderarse como una de tales membranas cuando poseen,
por su porosidad, una red de capilares a través de Ias cuales pueden
filtrarse Ias aguas subterráneas. Las paredes de Ios capilares pueden ab-
sorber los aniones, los cuales atraen cationes, formándose una capa eléc-
trica doble. Los aniones permànecen fijos pero los cationes son arras-
trados por Ia marcha deI electrolito a través deI capilar, con 10 que se con-
centran junto a Ia salida, y aparece una d.d.p. entre sus extremos, Ia
cuaI vale (ecuaci6n de Helmholtz)

tJ.V=~ (IX,2)
17U"

donde C es Ia diferencia de potencial en Ia capa doble; t, U" Y respec-

17

tivamente, Ia constante die1éctrica, conductividad y viscosidad deI elec-

trolito, y P Ia diferencia de presión hidrostática entre los extremos dei
capilar, a Ia cuaI se debe el movimiento dei electrolito.
Según se deduce de 10 anterior, eI fenómeno de Ia electrofiltración
se produce en toda clase de terrenos, pero el campo originado es muy
débil por 10 general, y no es utilizable para estudios hidroI6gicos ni cons-
tituye perturbación considerable para Ias estudios de P.E. Lo contrario
518
 OTROSFENOMENOS
DE POLARlZACION
ELECTRICA
EN EL TERRENO

ocurre en aIgunos casos particulares, como en zonas de rotura, arenas,

areniscas alteradas, flujo intenso de aguas subterráneas en zonas acci-
dentadas, etc. También se observan potenciales intensos de electrofiltra-
ción en Ios valIes fluviales, sobre todo en Ia dirección de Ia corriente.
EI potencial es mayor cuando eI río recibe aportación de Ias corri entes
subterráneas que cuando Ias alimenta. Los potenciales observados enla
práctica en Ios casos descritos suelen ser deI orden de varios cente-
nares de mYJKm.
Schlumberger distinguía dos tipos de electrofiltración: per descen-
sum y per ascensum. EI primer caso corresponde a Ia infiltración de
aguas de lluvia a través de terrenos permeables o a 10 largo de falIas.
Como eI agua arrastra aIos cationes, aparecen centros negativos en Ias
partes más elevadas topográficamente. La figura IX-4, inspirada en YA-
KUBOVSKIy-LIAKHOV (1964) aclara este fenómeno. P. LASFARGUES(1957)
llegó a observar potenciales de - 3 Y en un cerro de Ia formación Ka-
Iahari compuesto por arenas y areniscas alteradas, 10 que es excepcional.

u
+

FIG. IX-4. Producción de potenciaIes de electrofiltración per descensum. Flechas Benas:

marcha deI agua; flechas de traz os : líneas de Ia corri ente eIectrica (inspirado en
Yakuboskiy y Liakhov).

Los potenciales de electrofiltración per ascensum pueden ser grandes,

si Ia presión que hace subir Ias aguas 10 es. Potenciales de esta clase
relativamente débiles se observan, según Lasfargues, cuando se coloca
cada electrodo en una roca diferente, en zonas desérticaso semidesér-
ticas con poco espesor de recubrimiento, o cuando un electrodo está si-
519
EL METODO DEL POTENCIAL ESPONTANEO

tuado en terreno labrado recientemente y el otro en zona no trabajada

desde hace tiempo. El fenómeno se debe, en el primer caso, aI ascenso
de humedad a través de Ias capas superficiales, y se observan diferen-
cias de potencial de algunas decenas de mV; en el segundo caso Ia d.d.p.
es sólo de algunos mV y se debe aI ascenso por capilaridad provocado
por Ia evaporación en Ia tierra removida.
La electrofiltración se puede utilizar, en algunos casos, para estudiar
Ia marcha de Ias aguas subterráneas, incluso, y según parece con notabIe
éxito, para localizar y estimar Ias fugas de agua en los embaIses. En Ia
testificación eléctrica se producen potenciaIes de este tipo por Ia pene-
tracÍón en Ias paredes deI sondeo de Ios lodos de éste. Si los iones de los
Iodos difieren de los contenidos en Ios eIectrolitos de Ias rocas, se pro-
duce además eI potencial de difusión ya descrito.

IX.3.3 Polar,zación variable en el tiempo

Este curioso fenómeno, aún no aclarado por completo, fue descubierto

en 1951 por A.S. Semenov. Se produce en tiempo caluroso en zonas mon-
ta~osás, desnudas o con muy escaso sueIo y es más intenso cuando Ia
variaciôn de temperatura en Ia superficie es fuerte. La caracterís~ica
principal de este efecto es que varía de modo regular en eI transcurso
de cada día, con un máximo matinal y un mínimo en Ia tarde, con am-
plitud de osciIación que puede negar y aun superar los 500 mV. La curva
de esta variación temporal tiene marcha inversa a Ia de temperatura su-
perficial. Este fenômeno ha sido observado en el Altai Minero, en Ka-
zajstán Central, y en otras regiones. En Carelia se han registrado ano-
malías sobre filones pegmatíticos. EI "campo variable en el tiempo"
puede perturbar Ios trabajos de prospección por P.E. y quizá pudiera
empIearse a su vez para cartografía eIéctrica, según opina su descubridor.
Semenov atribuye este fenómeno, como causa más probable, a movi-
mientos deI agua en Ios capilares de Ia roca producidos por Ios cambios
térmicos. De ser esto cierto, sigue diciendo Semenov, eI fenômeno podría
Ilamarse termofiltración.

IX.4 INSTRUMENTAL
~

La falta de circuito de emisión hace que el instrumental requerido por

eI método deI potencial espontáneo sea muy sencillo, y conste solam ente
de un voltímetro, dos eIectrodos impolarizables, cabIe y un carrete (no
siempre). La palabra "voltímetro" ha de interpretarse en sentido amplio,
pues vale cuaIquier aparato con gran ímpedancia de entrada, capaz de
medir y apreciar Ia polaridad, de tensiones comprendidas entre 1 y aI-
520
 TRABAJO DE CAMPO'

gunos centenares de milivoltios. Se han construido aparatos de válvula

especiales para el trabajo de P.E. con lectura en instrumento ,de ceI'O
central, pero puede utilizarse cualquieni que cumpla Ias condiciones in-
dicadas, 10 que incluye potenciómetros, voltímetros de válvula e incluso
medidores de pH. Quedan exclui dos los aparatos que no distinguen Ia
polaridad de Ia sefial medida, como ocurre en algunos milivoltímetros
electránicos de "chopper". Los modernos milivoltímetros de estado sóli-
do, utilizados en el SEV (apartado V.2.3.b), son quizá los instrumentos
más adecuados. EI circuito de compensación no se utiliza.
Los electrodos impolarizables hall de estar provistos de un mango
largo que permita su rápida y cómoda colocación y levantamiento. El
cable puede ser de cualquier tipo flexible, ligero, y con buen recubri-
miento aislante.

IX.5 TRABAJO DE CAMPO

Existen dos modalidades básicas, que son el método de potenciales y

el método de gradientes. Aunque te6ricamente son equivalentes, desde
el punto de vista práctico son muy distintos. EI phmero, con mucho, es
el más empleado.

IX.5.1 Método de potenciales

Este método consiste, en esencia, en determinar directamente Ia di-

ferencia de potencial de una serie de estaciones respecto de un punto
fijo de referencia. Las estaciones o puntos de observación se disponen
a intervalos iguales (por ejemplo, de 25 Ó 50 m) sobre una serie de per-
files paralelos entre sí. Estos perfiles se estaquillan en el terreno par-
tiendo de una línea base o magistral perpendicular a todos ellos y que
contiene sus orígenes. Uno de los electrodos permanece fijo en el origen
deI primeI' perfil, junto eon el instrumento de medida y el segundo elec-
trodo, m6vil, se va colocando sucesivamente en los puntos de observa-
ci6n previamente estaquillados sobre el perfil. Para cada uno de ellos se
anota Ia d.d.p. observada, eon su signo. Esta operaei6n se repite en cada
periil.
El carrete puede estar fijo junto aI electrodo inmóvil, desenrollándose
el cable conforme se aleja el segundo electrodo, De este modo el ca-
ble se arrastra y roza contra el suelo, con 10 que se va deteriorando
su aislamiento. Por ello es preferible que el obreI'o que traslada el elec~
trodo móvil, lleve aI propio tiempo eI carrete, que ha de ser liviano, sol-
tando cabIe a medida que avanza. EI electrodo fijo debe instaIarse en un
pocillo húmedo de unos 5 ó 10 cm de profundidad, previamente excavado.
521
EL· METODO DEL POTENCIAL ESPONTANEO

Tal precaución no puede repetirse para el eleetrodo móvil, a menos que

los contactos sean muy maIos, pues esta operación disminuirá el rendi-
miento deI trabajo.
Las d.d.p. leídas en el instrumento incluyen Ia diferencia P entre Ias
polarizaciones de los electrodos, nunca nula a pesar deI nombre de éstos.
En este método, por ser de campo natural, no es posible utilizar el dis-
positivo de compensación, pues el operador no puede distinguir, como es
obvio, Ia parte deI potencial leído que corresponde aIos electrodos. El
valor P puede determinarse coloc,mdo los dos electrodos sobre tierra
húmeda, a pocos em de 'distancia mutua y leyendo Ia d.d.p. que aparece
entre ellos. Otro procedimiento más exacto es el que se describe a con-
tinuación.

M~~N
mV

o
2

----u------
MgN
2 b

----u ----
FIo. IX-5. Determinaeión de Ia d.d.p. en un· par de eleetrodos impolarizables.

Se excavan dos pocillos como los indicados más arriba a varios metros
de distancia mutua. Sea U Ia diferencia de potencial natural entre ellos
y ej Y e2 Ias f.e.m. producidas respectivamente por los electrodos 1 y 2.
AI colocar éstos en los pocillos (fig. IX-5) se observará entre ellos Ia
d.d.p.
IJ. VI = U + ej e2 = U + P - (IX.3)

Entonces se desconectan los electrodos y se truecan 10s lugares que

ocupaban,. cuidando que Ias bornas de entrada deI aparato vayan a elec-
522
 TRABAJO
DE CAMPO

trodo distinto que en Ia primera observación (fig. IX-5, b). EI valor leído
ahora, será
ôV2 = U -el + e2 = U -p (IX,4)
Partiendo de estas ecuaciones pueden determinarse los valores de U
y de P, que son
U = ôV1 +2--
ôV2

(IX,5)
p=ÔV1-ÔV2
2-
Prócediendo de este modo podría eliminarse el error debido a Ia po-
larización de electrodos, pero Ia operación de intercambio de electrodos
en todas Ias estaciones serÍa muy engorrosa, y absolutamente prohibitiva
desde el punto de vista de Ia productividad deI trabajo. Es muy preferi-
bIe, pues, determinar una vez el valor de P según 10 dicho, y restarIo de
todas Ias lecturas, prestando especial atención aI orden de los electrodos.
Pero esta operación es incómoda, y aunque HEILAND(1940) Ia recomienda,
LASFARGUES (1957) se asombra de ello, y afirma que no Ia ha visto apli-
car nunca. No es esta Ia única serie de restas que hay que aplicar en este
método, pues para Ia reducción de Ias d.d.p. observadas en cada perfil
a un origen común, .hay que deducir de todas Ias lecturas el potencial de
Ia estación cero deI perfil considerado. Estas operaciones se eliminan o
reducen grandemente siguiendo el procedimiento descrito por A. S. Se-
menov (en TARKHOV,1963) que se expone a cominuación.
Se coloca el instrumento de medida en Ia proximidad del origen O
deI perfil que va a estudiarse. A unos decímetros de distancia de este
origen (fig. IX-6) se excava un pocillo y se riega, colocando en él el elec-
trodo N. EI M se coloca primeramente en O y luego sucesivamente en
Ias estaciones 1, 2, 3, etc. La primera lectura equivale prácticamente
a Ia polarización P de Ios electrodos, pero no es necesario efectuar nin-
gura corrección si se recurre a un procedimiento gráfico. Para ello los
valores obtenidos se representan en una curva distancia-potencial, en
escala lineal, para 10 que puede utilizarse papel milimetrado. Una vez
dibujada esta curva, se traza una recta horizontal que pase por el valor
correspondiente a Ia estación O. De este modo el potencial corregido de
cada estación se lee directamente desde Ia recta, para 10 que puede utili-
zarse una escalilla. Cuando se ha llegado aI extremo deI perfil (o de Ia
longitud disponible de cable) el obrero deI electrodo M retrocede aI ori-
gen, rebobinando el cable. Este retroceso debe utilizarse, según Seme-
nov, para efectuar repeticiones de algunas estaciones, 10 que sirve de
comprobación y control de calidad. Entonces se efectúan Ias mediciones
en Ia parte deI perfil situada aI otro lado deI origen. En los restantes per-
files se procede de igual modo.
523
EL METODO DEL POTENCIAL ESPONTANEO

M
3
2 f-2

--- L1NEA
BASE
-1 1--1

-2 1--2

-3 1--3

FIG. IX-6. Técnica de Ia rnedición de potenciaIes en eI método de Ia

poIarización espQntánea.

Para el enlace de los perfiles entre sí, el mejor procedimiento, según el

mencionado geofísico, es el siguiente: Terminada Ia medición deI primer
perfil, y dejando en éste, en su lugar inicial, el electrodo N, se coloca el
M en el origen y primeras estaciones deI segundo perfil, se anotan Ias
lecturas y se traza Ia curva correspondiente. Luego se traslada el elec-
trodo N junto aI origen deI segundo perfil, y se efectúa éste. Por com-
paración de Ia curva deI segundo perfil con el trozo de curva obtenido
con el electrodo N junto aI origen deI primero se determina Ia línea cero
de potenciales en el segundo perfil.
Si los perfiles son muy largos, no es posible su medición. con el elec-
trodo N siempre en el mismo lugar. Entonces han de medirse por trozos,
cuyas curvas de potencial se enlazan por el procedimiento indicado más
arriba, esto es, haciendo que éstas tengan cuatro o cinco puntos comu-
nes y superponiéndolas. .
. Las mediciones de enlace deben efectuarse con todo cuidado, repi-
tiendo Ias lecturas dos o tres veces. En muchos casos puede ser conve-
niente efectuar enlaces entre los extremos de los perfiles .
.Si Ia zona estudiada se ha dividido para el trabajo de P.E. en varios
rectángulos, es preciso enlazar estas entre sí, a ser posible, mediante un
perfil camún, y si no se tocan, por un itinerario de enlace.
524
 TRABAJO DE CAMPO

No deben efectuarse Ias mediciones de enlace en zona de anomalía,

perturbaciones o maIos contactos. Desde este punto de vista, sería acon-
sejable posporier estas observaciones hasta el final deI trabajo, afin de
poder eIegir con conocimiento de causa entre Ia línea base u otra paralela
a ella, pero esto implica Ia grave desventaja de que Ias curvas de poten"
ciaI de Ios diferentes perfiles no pueden compararse entre sí hasta eI
final.

IX.5.2 Método de gradientes

Esta modaIidad de trabajo consiste en medir sucesivamente Ias' dife-

rencias de potencial 11VI = VI - Vo; !J. V2 = V2 - VII etc., entre cada dos
estacas contiguas deI perfil. EI trabajo es más lento y requiere más cui-
dado que el método de potcnciaIes; no obstante, puede ser necesario el
empIeo dei método de gradientes en zonas donde Ias perturbaciones, bien
de origen industrial, bien naturaIes, tengan valores apreciables.
La zona en estudio se estaquilla en perfiles, partiendo de una línea
base, deI misroo modo que en el método de potenciales. El intervalo entre
cada dos estacas o estaciones sueIe ser de 20-25 m. En zonas de anomalía
pueden estabIecerse, sobre Ia marcha, puntos de detalle a intervalos de
5 6 10 m.
La medici6n sueIe hace.rse en polígonos cerrados, deI modo indicado

- I II
-r--
en Ia figura IX-? La marcha deI operador y sus aparatos es Ia indicada

-- ~~--=-=-----
-------
i~ -:.:..::;.:. i
I 2
=1' Perfil Perfil
I

t
-- --: f'-
Perfil-,-'3
I
I Comienzo
i~
(:, =----- -! Perfil 4

FIG. IX-7. Orden de Ia medici6n en Ia rnodaIidad de gradientes (PoIarizaci6n espontánea).

525
EL METODO DEL POTENCIAL ESPONTANEO

por Ia línea de traz os y Ias flechas. Además hay que efectuar medidas
suplementarias entre Ios extremos de Ios perfiles, tales como Ios 2 y 3,
Ias cuales se sefíalan por línea de puntos.
La medición en polígonos cerrados tiene Ia gran ventaja de propor-
cionar un controI de Ia medición en eI errar de cierre.
En eI método de gradientes, eI error debido a Ia polarización residual
de Ios electrodos es mayor que en eI método de potenciales, porque en
en este caso son mucho menores Ias d.d.p. Ieídas, mientras que P es deI
mismo ordeno
Para corregir este error, debe determinarse de vez en cuando eI valor
de P, por ejemplo, aI empezar cada perfil, y anotarIo en Ia hoja de campo.
Este valor debería restarse de Ia Iectura obtenida en cada estación, 10
que puede evitarse si aI pasar de cada estación a Ia siguiente se invierte
eI orden de Ios electrodos. Esto debe efectuarse deI modo indicado en
Ia figura IX-S. Una vez observada Ia primera estación, eI electrodo impo-

-!l@-mv
~--, ,
,
l'

FIG. IX-8. Inversión deI orden de 10s eIectrodos impoIarizabIes en Ia técnica de gradientes.

Iarizable 1 avanza dos intervalos, mientras que eI 2 permanece fijo, y se

efectúa Ia Iectura correspondiente a Ia segunda estación. Para pasar a
Ia tercera, eI electrodo 2 avanza dos intervalos, mientras que eI 1 no cam-
bia de lugar. De este modo, el error debido a P es de signo opuesto en
cada par de estaciones, por 10 que aI sumar Ias d.d.p. correspondientes,
este error desaparece. AI ir sumando todas Ias d.d.p. !'1 Vi deI perfil, para
obtener los potenciales totales en Ias diferentes estacas, eI error final
será nulo si eI número de estaciones es par o soIamente P si es impar.
AI efectuar estas operaciones hay que cambiar cada vez Ias conexiones
de entrada en eI instrumento, de modo que Ia borna M quede unida aI
eleetrodo delantero, sea éste el 1 ó eI 2, a fin de que eI gradiente se mida
siempre en eI mismo sentido. Este cambio de conexiones se evita en los
instrumentos provistos de conmutador de polaridad, pues entonces basta
accionar éste en cada estación, sin tener que alterar ninguna de Ias co-
nexiones exteriores. Para. evitar confusiones, eI operador debe tomar una
norma: por ejemplo, en Ias estaciones pares el mando de polaridad debe
estar arriba para Ieer tensiones "positivas". Siguiendo eI procedimiento
descrito, Ia corrección de polariza,ción sólo ha de aplicarse cuando se
526
 TRABAJO DE CAMPO

desee conocer con mucha exactitud el valor deI gradiente en alguna esta-
ción determinada.
Si se suman algebráicamente todos los ô Vi obtenidos desde una estaca
cualquiera hasta volver a Ia misma después de dar Ia vuelta aI polígono,
deberia obtenerse cero como resultado, ya que el campo electrocinético
en corri ente continua es irrotaciona1. Sin embargo, en Ia práctica, Ia citada
suma suele dar un valor e no nulo, debido a Ia precisión limitada de los
instrumentos, variación durante el trabajo de Ias tensiones parásitas,
errores de apreciación en Ias lecturas, etc. Dicho valor e se denomina
errar de cierre y puede utilizarse como control de calidad de Ias medi-
dones en el polígono considerado. Como es
e = l: ôVi (IX,6)

eI tanto por ciento de error será

100 lei
(IX,7)
P=~IÔVil
Según Ias normas soviéticas, el trabajose considera satisfactorio si
P < 5 %.En caso contrario, Ia medición se considera inaceptable y debe
repetirse el polígono en cuestión.
EI error de cierre e debe repartirse entre todas Ias Iecturas deI polí-
gono. Si, como es usual, todos los intervalos son iguales, los valores ô Vi
observados deben sustituirse por los ô V/ definidos por
ôV/ = ôVi +e (IX,8)
con
e
e=--- n
(IX,9)

siendo n el número de intervalos que componen el polígono.

Las mediciones por el método de gradientes requieren gran cuidado,
puesto que una observación errónea influye eu todas Ias siguientes a tra-
vés de Ia suma para Ia determinación de potenciales. Debe prestarse aten-
ción especial aI signo o polaridad de Ia lectura; mejor que referir ésta
aI sentido de marcha (potencial deI electrodo delantero respecto deI pos-
terior) es relacionar Ias lecturas con Ia posición geográfica de los elec-
trodos: Así, por ejemplo, se consideran positivas Ias lecturas en que
el electrodo situado aI Oeste tenga potencial mayor que el colocado aI
Este.
Las zonas de anomalía, que por 10 general consisten en varias lecturas
sucesivas grandes, con un cambio de signo en el potencial, pueden deta-
Ilarse por el método de potenciales con intervalos pequenos.
527
EL METODO DEL POTENCIAL ESPONTANEO

IX.6 INTERPRETACION CUALlTATIVA

Los resultados de Ias mediciones de P.E. se representan en forma de

mapa de equipotenciales. Junto a cada línea se escribe el valor y signo
deI potencial correspondiente. EI cuerpo causante deI fenómeno puede
considerarse esquemáticamente como un dipolo, ya que tiene un polo
negativo en su parte superior y otro positivo más abajo. La línea que
Ios une se llama eje de polarización o eje deI dipolo.
La existencia de metalizaciones (o más exactamente de cuerpos pola-
rizados) viene indicada por Ia presencia de centros negativos, es decir,
por líneas equipotenciales de valor decreciente según se aproximan a un
centro de potencial mínimo (máximo en valor absoluto) aI que rodean.
Si estas líneas son aproximadamente circulares, puede deducirse que eI
cuerpo es aproximadamente isométrico, o sea de revoIución, con su eje
de simetría en posición más o menos vertical. Esta verticalidad deI eje
de simetría (que será también el de poIarización) se confirma por Ia au-
sencia de equipotenciales de valor máximo que rodeen a Ia zona de va-
lores mínimos. EI centro negativo coincide con el epicentro deI polo su-
perior deI cuerpo.
Si Ias equipotenciales son lÍneas cerradas alargadas, en forma de óva-
Ios o elipses, puede decirse 10 mismo deI cuerpo polarizado, cuyo eje, en
proyección horizontal, coincide en dirección con eI rumbo de Ia dimensión
mayor de Ias equipotenciaIes. El aIargamiento de Ia zona de potencia-
Ies mínimos suele ser muy intenso cuan'do el cuerpo investigado es una
capa de antracita.
Cuando junto a Ia zona de potenciales mínimos existe otra de PQ-
tenciales máximos, debe atribuirse a un cuerpo cuyo eje de polarización
difiere bastante de Ia vertical. En este caso, cada una de Ias zonas está
producida por uno de Ios paIos deI cuerpo.
Entre Ias causas de erro r en Ia interpretación figuran los efectos topo-
gráficos, y Ias potenciales debidos a Ia electrofiltración. Estos son difÍ-
cilmente separables de Ios producidos por cuerpos de interés minero,
aunque en Ia mayor parte de los casos no tienen valor suficiente para
perturbar. Ia interpretación de modo importante. La atribución de ano-
malías aIos fenómenos de eIectrofiItración sólo puede hacerse basándose
en información hidroIógica. Un factor perturbador en Ia búsqueda de
sulfuros por Ia P.E. (y también cuando se emplean otros métodos como
Ias caIicatas eIectromagnéticas o Ia poIarización inducida) 10 constituyen
Ias pizarras grafitosas, Ias cuales se comportan deI mismo modo que
Ios sulfuros, originando en Ios mapas de equipotenciaIes fuertes anoma-
lÍas negativas que pueden atribuirse erróneamente a yacimientos de suI-
furos. Estas circunstancias son frecuentes en Ia zona piritífera de Huelva,

528
 INTERPRETACIONCUANTITATIVA

en Suecia y etl muchas otras regiones. ias anomalías de P.E. debidas a

pizarras grafitosas suelen presentar un aspecto algo más extendido
e irregular que Ias debidas a sulfuros, pero de todos modos, Ia distin-
ción entre unos y otras no es fácil. Otras causas de error pueden ser Ias
debidas a perturbaciones e1éctricas de origen industrial (tomas de tierra,
ferrocarriles eléctricos) * o bien a fenómenos electroquímicos producidos
por corrosión de tuberías enterradas, cultivos conabonos químicos, es-
combreras de mina, etc. Estas últimas producen anomalías relativamente
fuertes, por 10 que debe prescindirse de efectuar trabajos de P.E. en su
proximidad.
Como se deduce de 10 dicho aI principio de este capítulo, Ia aplicación
más extendida deI método de P.E. es Ia búsqueda y exploración de yaci-
mientos de sulfuros, en especial de pirita, pirrotita o ca1copirita. EI mé-
todo es también aplicable a menas más complejas con contenido aprecia-
ble en Ios minerales resefíados, así como a Ia magnetita, grafito y capas
de antracita. En cambio, Ia galena y Ia blenda son sulfuros que, por Ia
frecuente discontinuidad eléctrica de Ia primem, y poca conductividad de
Ia segunda, producen débil o nula P.E. por 10 que no pueden ser estu-
diadas por este método, a menos que vayan acompafíadas por minerales
más activos.
ios minerales que aparecen en forma diseminada pueden producir
tarnbién P.E., como ya hemos visto que ocurre en Ias pizarras (y calizas)
grafitosas o carbonosas. 10 mismo sucede con rocas que contienen pirita
en forma dispersa. En estos casos suele tratarse de rocas y minerales
sin interés económico, pero el estudio de su P.E. puede ser muJ,o intere-
sante como ayuda para Ia cartografía geológica de Ia zona. A este res-
pecto, PARASNIS (1971) dice que el empleo de Ias anomalías' de P.E. para
Ia cartografía Iitológica y estructural de Ias rocas recubiertas constituye
un aspecto algo descuidado de Ia prospección geofísica, y que no cabe
duda de que Ia interpretación cuidadosa de tales anomalías puede dar
abundante información acerca de fisuras som eras, fallas, zonas de ro-
tura, etc.

IX.7 INTERPRETACION CUANTlTATlVA

IX.7.1 Introducción
El análisis deI mapa de equipotenciales lleva a Ia Iocalización de 10s
cuerpos productores de Ia P.E. y a Ia determinación de su forma, aunque
de modo bastante impreciso, según se ha visto en el apartado anterior.
Por otra parte, queda sin fijar un dato de gran importancia, que es Ia

* El efecto perturbador de Ias tomas de tierra ha sido estudiado reciente-

mente por NELSON (1977).
529
 EL METODO DEL FOTENCIAL ESPONTANEO

profundidad deI cuerpo. Mayor información puede obtenerse por medio

de la interpretación cuantitativa, pero ésta exige eI cumplimiento de cier-
tas condiciones, como son una razonable homogeneidad dei medio enca-
jante y una forma geométrica regular dei cuerpo. Estas condicionesno
suelen cumplirse en Ia práctica de modo riguroso, por 10 que los resul-
tados obtenidos sólo son aproximados, pero en el peor de los casos su-
ministran útil orientación sobre Ias características dei cuerpo investigado,
por 10 que siempre es conveniente ensayar Ia interpretación cuantitativa
de los resultados de campo. .
La interpretación cuantitativa se basa en el estudio teórico dei campo
producido por cuerpos polarizados de forma geométrica 10 suficiente-
mente sencilla para permitir su cálculo matemático sin grandes dificul-
tades. Las observaciones de campo se comparan con Ias diversos mode-
los teóricos asÍ obtenidos, entre los cuales se elige el que mejor se aco-
moda a aquellas. Enalgunos casos ocurre que Ias observaciones con-
cuerdan relativamente bien con los resultados de dos modelos teóricos
diferentes; entonces pueden atribuirse ai cuerpo investigado caracterís-
ticas intermedias entre Ias que corresponden a cada uno de los modelos.
La base de Ia interpretación cuantitativa no es directamente el mapa
de equipotenciales, sino curvas de Ia variación dei potencial a 10 largo
de perfiles rectilíneos que pasen por el centro de Ia anomalía. Cuando
ésta es alargada, el perfil debe ser, ·además, perpendicular ai eje mayor
de Ia anomalía. Estas curvas pueden obtenerse a partir dei mapa de equi-
potenciales, obien, 10 que es más seguro y exacto, por media de obser-
vaciones de campo efectuadas especial y detalladamente con este fin,
constituyendo 10 que se llama ~n perfil de cálculo.
Un estudio muy detallado de diferentes modelos se encuentra en Ia
obra rusa de SEMENOV (1968), única dedica da exclusivamente a este mé-
todo, que el autor sepa. Véase también FITTERMAN (1979).
A continuación se estudian brevemente algunos modelos teóricos. ~

IX.7.2 Cuerpo polarizado asimilable a un dipolo

EI tipo más sencillo de cuerpo polarizado es un dipolo. Una bolsada
• de mineral en forma más o menos esférica, o una metalización en forma
de columna, pueden representarse matemáticamente de este modo sim-
plificado.
EI potencial deI campo producido por un dipolo de momento M, vale,
segúu es salido

• Para ejémplos prácticos, véase Ia "Geofísica Minera", de Parasnis (Editorial

Paraninfo).
530
 INTERPRETACION CUANTITATIVA

U = MCos()r (IX,lO)

Supongamos que el dipolo es vertical y se encuentra a una profun-

didad zo. Habrá de tener en cuenta el efecto de Ia interfaz tierra-aire
que es el de duplicar el campo en ella, según se deduce de Ia teorÍa de
Ias imágenes, pues el factor de reflexión valdrá Ia unidad por ser finita
Ia resistividad deI medio inferior e infinita Ia deI superior. Habrá, pues,
que introducir un factor 2 en Ia expresión anterior. Si se toma el centro
deI dipolo como origen de un sistema de coordenadas cartesianas (figu-
ra IX-9), Ia expresión anterior tomará Ia forma
cos () Zo

U = -2M ~, =-2M (x + lf' + ,."".

2 ? Zo (IX,ll)
donde el signo menos se debe a que el polo más próximo a Ia superficie
deI terreno es negativo. En el epicentro deI dipolo, x = y =. O y el po-
tencial será máximo en valor absoluto, con un valor Um tal que

U--
m-'- -
2M (IX,12)
Z2o

i r--X---1
II I
I
I
Z
10 I /rIi
II
t! -.
f)/
I

,/
e /
/
+.
FIG. IX-9. Cálculo deI potencial ,en superficie producido, por un cuerpo
polarizado asimilable a un dipolo vertical.

Si el perfil pasa por el epicentro, y = O Y Ia expresión (IX,ll) puede

escribirse en Ia forma

Zo
3
_ = Um
(IX, 13)
U = U
m - --+--2)3/2
(X2 Zo

con

c= _X
Zo

531
EL METODO DEL POTENCIAL ESPONTAN'EO

De aquÍ, resulta,
------
U 1
(IX,l4)
Um (1 + c2)3/2
es decir, que Ia curva de potenciales es siempre Ia misma si se toman
como unidades de potencial y de distancia a Vm y 20 respectivamente.
Para C = 1 es V/Vm = 0,355, por 10 que Ia profundidad deI centro
deI cuerpo es. igual a Ia distancia desde el máximo V m hasta el punto
donde es V =. 0,355 Vm. Como comprobación puede obtenerse Ia profun-
didad mediante Ia ecuación· 20 = 2 XA siendo XA Ia distancia a Ia que
V =. 0,715 Vm.
La expresión (IX,14) puede representarse en un ábaco de escala loga-
rítmica (fig. IX-ll), desde un valor fraccionario de C, por ejemplo 0,1, ya
que C = ° es irrepresentable. Los valores V",/Vm observados en eI campo
se llevan a escala logarítmica deI mismo módulo en función de Ia distan-
cia x aI punto de potencial mínimo (máximo en valor absoluto), empleando
cualquier unidad de distancia. Este dibujo debe hacerse en papel trans-
parente, eI cuaI se superpone aI ábaco de modo que Ia curva de campo
coincida con Ia deI ábaco 10 mejor posible; entonces Ia distancia x de Ia
curva de campo que coincida con Ia abcisa C =. 1 deI ábaco es Ia pro-
fundidad zo.

I
I I ZI
!
20
I
x-
FIG. IX-IO. Cálculo dei potencial en superfície producido por un cuerpo polarizado
asimilable a un dipolo finito inclinado, de longítud 2 I.

IX.7.3 Dipolo inclinado

Si Ia línea deI dipolo forma tin ángulo o. con Ia vertical se tendrá
M
V =. -2T(x sen o. + Zo cos 0.)
(IX,15)

que es Ia misma (XI,10) con un giro en los ejes de coordenadas. En este

caso, eI potencial posee dos extremos, un máximo y un mínimo, cuyas
abscisas respectivas Xl y X2 pueden obtenerse calculando Ios valores de
532
 INTERPRETACION CUANTITATIVA

x para Ias que se anula Ia derivada respecto de x de la (IX,I5), que son

Ias raÍces de Ia ecuación
r
2 + 3 Zo x cot a- Z02 =O (IX,I6)
Y por Ia tanto, ocurrirá que
Xl + X2 = - --32 Zo
2
ctg a

Z03

X1X2='-2-
de donde se deduce que
Zo = v21x1 x21
(IX,I7)
tga=--2 3
_._-
v21x1 x21
Xl+ X2

Este caso se presta, como el anterior, para el empleo de ábacos logarít-

micos.

IX.7.4 Cuerpo de dimensiones fjnitas

Si Ias palas positivo y negativo dei cuerpo están tan separados entre
sÍ que no es válido considerarIa como un dipolo infinitesimal, el potencial
vendrá dado (fig. IX-IO), por
C
u= C . + ------------
Hx -l sen a)2+(zo --l cos a)2]1/2 [(x + l sen aY.+(zo + l cos aY]l/2
(IX,I8)
donde C es una constante que representa Ia emisividad de cada uno de
Ias palas, y se ha tomado como origen de coordenadas el centro deI seg-
mento determinado por e1los. .
Frecuentemente, el pala inferior, positivo, está mucho más alejado de
Ia superficie, por Ia que su efecto resulta despreciable frente aI deI pala
negativo, cuyo potencial será, tomando ahora como origen de coordenadas
ai mismo pala,
C
(IX,I9)
U =- (x2 + Z12)1/2
. do i; =
y pomen --Zlx .
se tlene

u=-~- C (IX,20)

533
EL METODO DEL POTENCIAL ESPONTAN'EO

y eI valor mínimo deI potencial será

C
Um=-~
por 10 que
U 1
(IX,21)
Um -. 0+ 1;2)1/2

expresión adecuada para su representación IogarÍtmica (fig. IX-1l, curva

II= (0).
En este caso, será U = 0,707 para x = Zh 10 que puede utilizarse para
determinar Ia profundidad deI paIo superior.
Si Ia posición deI cuerpo fuera vertical, Ia (IX,18) se reduciría a
C C
(IX,22)
U =- [x2 + (zo _l)2P/2 + [x2 + (zo + 1-)2]1/2

y to~ando como origen de coordenadas eI pala superior, de profundidad

ZI resulta
C C
U =- (x2 + ZI2)1/2 -I- [r -+- (21 + 21)2j1fJ
(IX,23)

que puede normalizarse como en Io~ casos anteriores con 1; = ~z -1 Y

1
4 = ----
ZI
y entonces

U=- C + C (IX,24)
ZI [C2 + l]1/2 + (1 +ZI [1;2 2 ll)2Jl/2

C C
Um = -T + 21(1 + 211)
(IX,25)

C
(IX,26)
Um 1+
2 I)211 [ (I +1c2)1/2 [(1 + 2 lI?1 + C2]1/2 ]
función cuya representación Iogarítmica aparece en Ia figura IX-1l para
varias valores de lI' Gtros diagramas Iogarítmicos pueden verse enun
trabajo de MEl SER (1954).
Cuando eI cuerpo polarizado posee corrida apreciable, puede consi-
derarse como un par de IÍneas de polos. Entonces hay que considerar
tambien Ia coordenada y en Ia dirección de dicha corrida. Si suponemos
534
 INTERPRETACION CUANTITATIVA

)
10
B
7
6
5
4
3

U/Um

I
10

B
7
6
5
4
3

2
10 .
0,1 0,2 Q,3 0,4 0;,0,6 C13 1 ~ 2 3 4 5 6 7 B 91C

FIG. IX-H. Abaco logarítmico para Ia interpretaci6n de anomalías .de P.E. en Ia hip6tesis
de que 10s dos polos están en ITamisma vertical.

que cada línea de polos posee Ia emisividád C1 por unidad de longitud,

un elemento diferencial deI cuerpo producirá eI potencial

dU = - ----------------C1dy +
[(x -l sen rx)2 + if + (zo --l cos rx?]1/2

+ C1 dy (IX 27)
[(x + l sen rx)2 + if + (zo + l cos "Y]1/2 '

535
EL METODO DEL POTENCIAL ESPONTANEO

Si para simplificar escribimos

(x -l sen "y + (zo -l cos ,,)2 = u2
(x + l sen "y + (zo + l cos '1y = v2
resulta

U =- C1 J'" YI
(y2 +
dy U2)1/2 + C1 JY' 1f[
(if +
dy v2)l/2 =

= C1 Sh-1 J!~---
U
C1 Sh-1 Y.:._.
u -- C1 Sh-1 v +
J!!_ C1 Sh-1 ~-
v (lX,28)

donde Y2 e Yl son Ias coordenadas de Ios extremos deI cuerpo.

IX.7.S Estimadores de Petrowsky

Este geofísico soviético ideó hace muchos anos un método sencillo

para determinar Ia profundidad de 10s cuerpos productores de P.E. EI
proceso operativo es como sigue: Se traza Ia curva de potenciaIes obser-
vados sobre un perfil que pase por eI centro negativo de Ia anomalía;
a ella se anaden dos rectas horizontaIes, una que pase por el mínimo de
Ia curva Um y otra que tenga por ordenada eI valor Uo normal o asintó-
tico correspondiente a distancias grandes (fig. IX-12). La determinación

Uo

2
- Um

-Um

FIG. IX-J.2. Defirúción de 105 estimadores de Petrowsky para Ia interpretaci6n

de anomalías de P.E.

de Ia profundidad se basa en dos parámetros, q y t denominados estima-

dores. EI primero es Ia anchura de Ia curva para Ia ordenada mitad de
Ia anomalía (Uo- Um)/2; el segundo se obtiene trazando Ia tangente a
Ia curva por uno de sus puntos de inflexión y es igual a Ia diferencia de
abscisas entre Ias intersecciones de Ia tangente con Ias dos rectas hori-
zontaIes. Si Ia curva no es simétrica, deben trazarse tangentes en Ios
536
 INTERPRETACION CUANTITATIVA

dos puntos de inflexión y dar ateI promedio de Ios valores correspon-

dientes.
Cada uno de los estimadores q y t suministra un valor independiente
de Ia profundidad Zo dei centro de simetría deI cuerpo o de Ia Zl de su
borde superior. En Ia prâctica deben aplicarse los dos y tomar su pro-
medio como estimación de Ia profundidad. Esta se determina por medio
de Ias fórmulas siguientes, basadas en Ias anomalías calculadas para di-
ferentes modelos teóricos.
a) Dipolo vertical de Iongitud pequena respecto de su profundidad:
Zo ~ 0,65 q
(IX,29)
Zo ~ 0,86 t
b) Dipolo vertical, de longitud cualquiera:

Z! ~ (0,29 a 0,65) q
(IX,30)
Zl ~ (0,38 a 0,86) t

Los valores mínimos corresponden aI caso en que Ia distancia l entre

los polos es l ;» Zo Y los mâximos aI de l ~ zo, que representa aI ya alu-
dido de dipolo diferencial. Si no se dispone de informacióll supletoria
sobre dicha distancia pueden darse aI coeficiente valores intermedios:

Zl ~ 0,5 q
(IX,3I)
Z! ~ 0,6 t

c) Cilindro horizontal muy largo, polarizado verticalmente:

Zo ~ 0,5 q
(IX,32)
Zo ~ 0,6 t
d) Lâmina polarizada:
Zl ~ (0,3 a 0,5) q
(IX,33)
Zl ~ (0,4 a 0,7) t
Estos coeficientes corresponden, en sus valores menores, a lâminas
cuadradas, y en los mayores, a lâminas estrechas cuya corrida es 'Ia
décima parte de su longitud según el buzamiento. Si no se conoce Ia
forma de Ia lâmina pueden tomarse:

Zl ~ 0,4 q
(IX,34)
Zl ~ 0,55 t
537
EL METODO DEL POTENCIAL ESPONTAN'EO

IX.7.6, Efecto dei recubrimiento

G. A. TARASOV (1960) ha calculado.eI efecto ejercido por Ia, presencia

de una capa de recubrimiento de resistividad Pl sobre Ia roca decaja,
de resistividad P2, en Ia que se encuentra eI cuerpo productor de Ia
P.E., aI que se supone asimilabIe a un dipoIo. Si Pl> P2, Ias anomalías
observadas en superficie se hacenalgo más intensas, si bien este aumento
es prácticamente inapreciable, a menos que eI dipolo esté muy somero.
Cuando Pl < P2, el potencial en superficie disminuye notablemente en valor
absoluto, tanto más cuanto menor sea Ia relación Pl/ P2. Por 10 tanto, Ia
presencia de un recubrimiento más resistivo que Ia roca de caja hace
que Ia variación deI potencial a 10 largo deI perfil sea más rápida, y Ias
profundidades obtenidas ,con Ios métodos expuestos más arriba resultan
menores que en Ia realidad. Lo contrario ocurre cuando el recubrimiento
es más conductor que Ia roca subyacente.

IX.8 ESTUDIOS POR ELECTROFILTRACION. GEOTERMIA

EI" fenómeno de Ia electrofiltraci6n sirve de base a un método pros-

pectivo que permite determinar Ia dirección deI movimiento de Ias aguas
subterráneas y detectar Ia presencia de éstas. Suele trabajarse por eI pro-
cedimiento de potenciales, pero en algunos casos puede utilizarse eI de
gradientes si el campo es 10 suficientemente intenso.
Si partiendo de un punto fijo se trazan perfiies radiales y se mide el
potencial, respecto de dicho punto, de varias estaciones de cada perfil, Ia
dirección de marcha de Ias aguas coincidirá aproximadamente con Ia deI
perfil donde se registre mayor gradiente deI potencial.,
En otros casos se traza un mapa de equipotenciales, que puede ser-
vir, por ejemplo, para Ia Iocalización de fuentes subterráneas y de zonas
de paso de aguas en grietas o en cavidades cársticas, zonas de influencia
en el bombeo de un pozo, etc.
Unaaplicación muy interesante de Ios estudios de electrofiltración
es Ia detección de fugas en los embalses, siguiendo los métodos descritos
por OGILVY et ai (1969), los cuales no sólo permiten localizar Ias zonas
de pérdida por Ias anomalías negativas de potencial que producen, sino
estimar el caudal de éstas. Las mediciones se efectúan tanto en ti erra
como en Ia zona cubierta por Ias aguas. En este último caso se emplea
un electrodo impolarizable especial que es arrastrado sobre eI fondo,
remolcado por un cable que se enrolla en un tambor situado en tierra,
mientras se efectúan mediciones continuas de potencial por medio de un
equipo de testificación eléctrica.
Para Ia descripción detallada de éste y otros métodos geoeléctricos
para el estudio de presas, remitimos aI Iector aI artículo mencionado y a
538
 EMPLEOEN EL MAR

otros de los mismos autores publicados en Geophysical Prospecting (ju-

nio y diciembre 1970), así como BOGULOVSKY y OGILVY(1972).
La circulación de aguas a 10 largo de grietas y fracturas puede produ-
cir potenciales de electrofiltración, susceptibles de ser utilizados para Ia
detección de aquélIas.
Los fenómenos de circulación de aguas o vapores en zonas geotérmi-
cas originan potenciales espontáneos, no sólo por electrofiltración, sino
también, según parece, por efectos termoeléctricos. Por esta causa, el P.E.
ha sido empleado bastante en investigaciones geotérmicas, en especial
para Ia localizaci6n de falIas y fracturas recorridas por aguas termales.
Las mediciones pueden verse perturbadas por causas muy diversas, como
efectos topográficos, yacimientos y sulfuros, rocas piritosas o grafito-
sas, etc., por "10 que este método aún no ha sido aceptado definitivamente
como específico para estos estudioso Más información puede halIarse en
CORWINy HOOVER(1979), en ZOHDY(1973) y en Ia revista Geothermics.

IX.9 EMPlEO EN El MAR

Se suele pensar en el P.E. como en un método esencialmente terrestre

pero, según se ha visto en el apartado anterior, puede aplicarse en zonas
cubiertas por el agua, como embaIses o lagos. Tampoco hay inconvenien-
te en su empleo en zonas marítimas poco profundas.
CORWIN(976) ha utilizado con éxito el método deI P.E. en zonas cos-
teras. Para elIo empleaba un par de electrodos flotantes Plata-Cloruro
de plata, conectados a un registrador y remolcados por una embarcaci6n
pequena. Según este autor, de este modo pueden detectarse yacimientos
submarinos, con o sin prolongaci6n bajo tierra o yacimientos terrestres
muy próximos a Ia costa.
En estas mediciones el inconveniente de Ia gran conductividad deI
agua de mar viene compensado por 10 bajo deI nivel de ruidoso No obs-
tante aparece un ruido nuevo, causado por Ias olas, ya que éstas repre-
sentan un conductor que se mueve en el campo geomagnético. Si Ia altu-
ra de Ias olas es inferior a un metro, el ruido producido por ellas es de
sólo unas décimas de mV y no representa inconveniente.

539
Apêndice 1

POTENCIAL ELECTRICO EN UN MEDlO ESTRATlFICADO DE N CAPAS

La solución deI problema directo, en el caso de n capas, se obtiene

de modo análogo' aI seguido cuando Ias capas son dos (apartado IV,6.2).
La ecuacióI:\ diferencial es 11 misma (IV,30) y Ias coudiciones de contorno
idénticas a Ias deI caso de dos capas, pero Ias que se refieren aI contacto
entre Ia primera y Ia segunda capa han de ser extendidas a todos los
contactos.
Resultan, pues, n potenciales, UI. Uz, ... , Ui, ... , U,,, de Ia forma

UI = ~Ibr fooo
[e-À: + A1 e-À: + BI é:] /o(/,r) dÁ

Ui = ~I211" • [00
o
[Ai e-À: + Bi é:] Jo(J.r) di, (l,I)

U" = ~; J ~[A" e-À: + B" é=] fo(Mo) dÁ

donde Ai, Bj son funciones de Á que han de determinarse por Ias condi-
ciones de contorno.
La anulación deI potencial en el infinito exige que Bll = 00 Por otra
parte, de Ia ausencia de componente normal deI campo en Ia superficie
z = O, se deduce que A1 = BI. deI mismo modo que en el caso de dos
capas (apartado IV.6.2, condición b).
Cada ecuación deI sistema (l,1) tiene dos funciones por determinar,
por 10 que hay en total 2 n funciones, que quedan reducidas a (2n - 2)
por ser ya conocidas B1 y B", en virtud de Ias condiciones anteriores. Si
para cada contacto o interfaz, (excepto para Ia que representa Ia super-
ficie deI terreno) se dan dos ecuaciones de condición, se tendrán 2 (n -1)
540
 APENDICE 1
ecuaciones, con 10 que el sistema que dará determinado. Tales ecuaciones
de condición pueden establecerse para cada contacto, expresando por una
parte, Ia continuidad deI potencial, y por otra, Ia de Ia densidad de co-
rrlente normal aI contacto.
La primera, para el contacto i, exige Ia igualdad de los integrandos
de Vi y Vi+1 para Ia profundidad Zi de dicho contacto, por 10 que se
tendrá,
Ai e-Àz, + Bi éZ' = Ai+l e-Àz, + Bi+l eÀz, (1,2)
En cuanto a Ia segunda, que se expresa, según Ia (III,14)
__1_ av/ = _1_ aui+!
Pi az pi+l az
(z = Zi) (1,3)
exige que
Pi+l (Ai e-Àz,) - Bi éZ,) = Pi (A/+1 e-Àz, -- B'+l e>-z,) (1,4)
El sistema de ecuaciones será pues,
AI-B1 = O

(1 + AI) e-Àz, + BI éZI - Az e-Àz! - Bz e>-z! =O

Pz AI e-·Àz1 - Pz BI éZJ - 'PI Az e-ÀZ! + PI Bz eÀz! = O

Ai e-Àz, + Bi éZ' -- Ai+1 e-Àz, -- .Bi+1 eÀz, = O

0,5)
Pql Ai e-Àz, - Pi+1 Bi éZi -- p/ Ai+1 e-Àz, + Pi B/+I eÀz, = O

A1I_1 e-Àzn-' + R1I_1 eÀzn-! - A1I e-Àzn-I = O

P1l A1I_1 e-Àzn-I - P1I B1I_1 eÀzn-! - P1I-1 A1I e-Ãzn-' = O

Sustituyendo RI por Ali poniendo Ui = e-2M, y multiplicando cada ecua-

ción por e-Àz" con el valor respectivo de Zi, queda
(1 + AI) UI + AI - Az UI - =O B2

pz AI Ul - P2 BI -~ Pl Az Ul + Pl B2 = O

Aiui + Bi-Ai+IUi--Bi = O
0,6)
Pitl Ai Ui - Pitl Bi - Pi Aitl Ui + Pi Bi+1 = O

541
POTENCIAL llLECTRICO EN UN MEDI O ESTRATIFICADO DE N CAPAS

An_1 Un_1 + Bn_.1 - An Un_1 = O

Pn An_1 Un_1 - Pn Bn_1 - Pn-l A·n Un_.1 = O

Este sistema puede ser resuelto partiendo de Ias últimas ecuaciones

hacia adelante, hasta determinar AI' de donde se pasa directamente a Ia
función característica de Slichter mediante Ia igualdad
Nn = 1 + 2 AI = 1 + 2 N'n
Sin embargo, resulta más cómodo en Ia práctica, para hallar Ia fun-
ción característica, el empleo deI algoritmo de Sunde (fórmulas IV,55), de
Ia fórmula de Vanyan (IV,65) o deI método recurrente expuesto en el
apéndice 2 de esta obra.
Comparando el determinante deI sistema (1,6) con el correspondiente
a n + 1 capas, pueden establecerse Ias fórmulas de Flathe utilizadas en
dicho apéndice.
En Ia segunda parte de esta obra, se volverán a tratar estas cuestiones
desde un punto de vista más general.

542
 Apéndice 2

DEMOSTRACION DE LA LEY DE RECURRENCIA PARA LA FUNCION

CARACTERISTlCA DE KING

Resumimos a continuación Ia demostración deI. autor (ORELLANA,

1965) sobre Ia Iey de recurrencia para Ia formación de Ia FC de King.
La FC de SIichter tiene Ia forma

NnO..) = Hn (u) + P~ (u) =A (u) (2,1]

Hn(u)-Pn(u) B(u)
. siendo u = e-2). y n eI número de capas, con Ia Iey de recutrencia
(FLATHE, 1955)
Hn+l (u) = Hn (u) + Pn (u-l) Kn UZ•

(2,2)
Pn+l (u) = Pn (u) + Hn (u-l) Kn UZ•

donde Zn es Ia profundidad deI último contacto

Zn = E1 + E2 + ... + En
De Ias ecuaciones anteriores se deduce
An+l (u) = An (u) -I- An (u-l)Kn UZ•

(2,3)
Bn+l (u) = Bn (u) - Bn (u-I) Kn UZ•

Para transformar Ia FC de Slichter en Ia de King, hay que empezar

por multiplicar ambos miembros de Ias (2,3) por 10s factores (p~ + Pn-I) •..
• .• (P2 + Pl) que aparecen en Ios denominadores de Ios factores de refle-
xión Kj contenidas en Ias expresiones An, Bn, agrupar 10s términos obte-
nidos y dividir por 10s factores
(1 + e-2J..E,) (1 + e-2)'E,) ... (1 + e-2).E.-t)
543
APENDICE 2

con 10 que aparecerán en Ias fórmulas Ias Th À ElI Th À E2, etc. Ahora bien,
en A" (u-1) y B" (u-1) no se originarán tangentes hiperbólicas sino co-
cientes deI tipo
1-éI.E, 1- e2l..E"-1

1 + f?-E, 1+ r?l..E,,-1

Ios cuales combinados con el factor

u-Z" = e-2l..E, e-2l..E2 ••• e-2l..E"-1 (2,4)

que multiplica a A" y B" en Ia (2,3) da lugar a expresiones

e-2l..E'_1 e-2l..E"-1 - 1
e-2l..E, +1 e-2l..E"-1 +1
equivalentes respectivamente, a
-ThÀE1; --ThÀE2; ••. --Th),E"_1
quedando sin combinar el factor e-2l..E" de (2,4).
Éntonces, los segundos términos de Ia derechá de Ias (2,3) quedan
transformados respectivamente, en

A" (--- h) K" e-2l..E"

B" (- h) K" e-2l..E"

donde A" (- h) y B" (-- h) representan respectivamente aI numerador y

denominador de Ia FC de n capas, expresada en función de tangentes
hiperbólicas, esto es, en Ia forma de King, peTO dando a estas tangentes
signos negativos.
Para completar Ia transformación en el caso de n + 1 capas, basta
multiplicar A"+l, B"+I por (Pn+l + p,,) y dividir por '(I + e-2l..E,,), con 10
que se obtiene
A"+l (h) = (P"+l + p,,) A" (h) + (P"+l - p,,) A" (-:--h) e-2l..E"1(l + e-2l..E"-1)
BIl+1 (h) = (P"+l + p,,) B" (h) + (P"+l - p,,) A" (- h) e-2l..E,,] (1 + e-2l..E"-J)
donde Ias A,,(h), B" (h), AIl+1 (h), B"+l (h) son respectivamente los numera-
dores y denominadores de Ias FC de King para n y n + 1 capas con sig-
nos correctos (positivos) en Ias tangentes hiperbólicas.
En Ias funciones A" (- h), B" (h) habrá términos que llamaremos pares,
que por contener un número par de tangentes hiperbólicas tendrán signo
positivo, mientras que otros, ímpares, serán negativos por ser impar eI
número de tangente hiperbóIica con signo negativo.
544
 , DEMOSTRACION DE LA LEY DE RECURRENCIA

Entonces, si es a un término par deI numeratior que está contenido

con- signo·positivo en An (h) y An (~h), según Ias (2,5) dará lugar aIos
siguientes términos de An+1 (h)
(Pn+l + Pn) a + (Pn+l - Pn) a Xn] (1 + Xn)-l =; a Pn+l + a pn Th  En
Siendo
Xn = e-2)"En
que son los dos términos que se deducen dei a según 10 anunciado en el
apartado IV.7.3.
Si es b un término impar deI numerador, que tendrá signos opuestos
en An (h) y An (- h) aI aplicar Ia transformación (2,5), originará en
An+1 (h) Ios siguientes términos

(Pn+l + Pn) b- (Pn+l - Pn) b Xn] (l + Xn)-l = pn b + b Pn+l Th  En

DeI mismo modo se procede con Ios términos pares e impares deI
denominador, llegando a Ios resultados expuestos en eI referido apar-
tado IV.7.3.

545