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Phased-Array-Prüfung

Grundlagen für industrielle


Anwendungen

NDT Field Guides


Phased-Array-Prüfung
Grundlagen für industrielle
Anwendungen

Olympus NDT

NDT Field Guides


Phased-Array-Prüfung, Grundlagen für industrielle Anwendungen
Koordinator der Serie: Meindert Anderson
Technische Korrektur und Beratung:
Daniel Kass, Michael Moles Ph. D., Tom Nelligan
Layout, graphische Gestaltung, Korrektur und Stichwortverzeichnis:
Technischer Kommunikationsdienst von Olympus NDT
Herausgegeben von:
Olympus NDT, 48 Woerd Avenue, Waltham, Massachusetts 02453, USA
Vermarktung und Vertrieb: Olympus NDT
Änderungen vorbehalten.
Olympus NDT Teilenummer: DMTA-20003-01DE, Überarbeitung A
© 2014 Olympus. Alle Rechte vorbehalten. Diese Schrift kann weder als Ganzes
noch in Teilen ohne die ausdrückliche schriftliche Genehmigung von Olympus re-
produziert, kopiert, übersetzt oder vertrieben werden.
Titel der englischen Originalausgabe: Phased Array Testing: Basic Theory for Indust-
rial Applications (DMTA-20003-01EN – Revision A, November 2010)
© 2010 Olympus
Printed in Canada
Erste Ausgabe, Januar 2014
Hinweis
Die in diesem Werk enthaltenen Informationen sind nach bestem Wissen des Her-
ausgebers exakt. Der Herausgeber übernimmt jedoch keine Verantwortung oder
Haftung für die Genauigkeit oder Vollständigkeit dieser Informationen, noch für
etwa entstehende Folgen dieser Information. Dieses Buch dient lediglich Informa-
tionszwecken. Die endgültige Entscheidung über die Brauchbarkeit von allen In-
formationen oder von allen Produkten liegt beim Nutzer, ebenso wie die Art und
Weise dieser Benutzung einzig die Verantwortung des Nutzers ist. Der Herausge-
ber empfiehlt Jedem, der auf eine in diesem Buch genannte Empfehlung von Ma-
terial oder Verfahren vertraut, sich von der Tauglichkeit des Materials oder des
Verfahrens zu überzeugen, und alle maßgeblichen Sicherheits- und Gesundheits-
normen einzuhalten.
Alle Markennamen sind Warenzeichen oder eingeschriebene Warenzeichen ihres
jeweiligen Eigentümers oder eines Dritten.
Inhaltsverzeichnis

Vorwort ......................................................................................... 1
Über dieses Buch .................................................................... 1
Über Olympus ........................................................................ 2
Hinweis zur Terminologie .................................................... 3

1. Einführung ......................................................................... 5
1.1 Allgemeine Einführung in die Prüfung mit der Phased-
Array-Technik ......................................................................... 5
1.2 Was ist ein Phased-Array-System? ...................................... 7
1.3 Wie funktioniert Ultraschall Phased-Array? ..................... 8
1.4 Vorteile der Phased-Array-Technik gegenüber konventio-
nellem Ultraschall ................................................................ 10

2. Phased-Array-Sensoren ................................................. 13
2.1 Eigenschaften des Ultraschallbündels .............................. 13
2.2 Grundeigenschaften von Schallwellen ............................. 17
2.3 Eigenschaften der Phased-Array-Sensoren ...................... 24
2.4 Phased-Array-Vorlaufkeile ................................................. 27
2.5 Phasengesteuerte Impulserzeugung ................................. 28
2.6 Gestaltung und Steuerung des Schallbündels ................. 31
2.7 Fokussieren des Schallbündels mit Phased-Array-Senso-
ren .......................................................................................... 36
2.8 Gitterkeulen und Seitenkeulen .......................................... 38
2.9 Zusammenfassung der Auswahlkriterien für Phased-Ar-
ray-Sensoren ......................................................................... 39

3. Grundprinzipien der Phased-Array-Darstellung ..... 41


3.1 A-Bild ..................................................................................... 42
3.2 B-Bild mit Einzelwert .......................................................... 43
3.3 Querschnitts-B-Bild ............................................................. 44
3.4 Linien-Scan ........................................................................... 46
3.5 C-Bild ..................................................................................... 47
3.6 S-Bild ...................................................................................... 50
3.7 Kombination verschiedener Darstellungsformate .......... 53
3.8 Prüfgeschwindigkeit und Datenerfassung ...................... 53

4. Geräte für die Phased-Array-Prüfung ......................... 57


4.1 Wichtige technische Daten ................................................. 57

Olympus Inhaltsverzeichnis 3
4.2 Justier- und Normalisationsmethoden ............................ 65

5. Prüfkonfiguration und Darstellungsformate mit


Phased-Array .................................................................... 69
5.1 Die Gerätekonfiguration .................................................... 69
5.2 Linien-Scan mit Senkrechteinschallung ........................... 72
5.3 Linien-Scan mit Winkeleinschallung ................................ 76
5.4 Beispiele der S-Bildanzeige ................................................ 79
5.5 Analyse der Reflektorposition .......................................... 84

Anhang A: Konstanten und praktische Formeln ............... 89

Anhang B: Umrechnung der Maßeinheiten ....................... 99

Anhang C: Unterstützung – Lehrgänge ............................. 101

Anhang D: Phased-Array-Geräte ........................................ 103


D.1 Serie EPOCH 1000 — Ausgereifte Ultraschallprüfgeräte
mit PA-Darstellung ........................................................... 104
D.2 Serie OmniScan — hochleistungsfähiges Gerät mit US-,
PA-, EC- und ECA-Modulen ........................................... 106
D.3 TomoScan FOCUS LT — leistungsstarkes, vielseitiges und
kompaktes Ultraschallprüfsystem .................................. 107
D.4 TomoView — Software zur Erfassung und Analyse von
Ultraschalldaten ................................................................ 108

Phased-Array-Glossar ........................................................... 111

Quellenangaben ..................................................................... 117

Stichwortverzeichnis ............................................................. 119

4 Inhaltsverzeichnis Olympus
Vorwort

Eine der wichtigsten Entwicklungen im Bereich der industriellen Ult-


raschallprüfung zu Beginn des 21. Jahrhunderts ist wohl die erhöhte
Verfügbarkeit und Annehmbarkeit tragbarer Gerät mit Phased-Array-
Darstellung. Die Prüfung mit Phased-Array beruht auf denselben
Prinzipien der Wellenphysik wie die seit über fünfzig Jahren in der In-
dustrie eingesetzten Prüfgeräte und Dickenmesser mit konventionel-
lem Ultraschall. Die größere Leistung der Phased-Array-Prüfung for-
dert allerdings oft vom Prüfer mehr Wissen und Fachkönnen. Die
Einführung von neuen Phased-Array-Geräten geht deswegen auch
Hand in Hand mit der Entwicklung von neuen Schulungsmöglichkei-
ten.

Olympus hat ein neues Referenzhandbuch für die Phased-Array Prü-


fung als praktische Quelle für Kunden und alle anderen an der
Phased-Array-Technik interessierten Personen herausgebracht. Er ist
als leicht zu folgende Einführung in die Phased-Array-Prüfung ge-
dacht, für Anfänger aber auch für erfahrene Prüfer die ihr Grundwis-
sen wieder auffrischen wollen. Das Referenzhandbuch beginnt mit Er-
klärungen über Theorie und Praxis der Phased-Array-Prüfung, stellt
dann einige Überlegungen zur Auswahl von Sensoren und Geräten an
und schließt mit weiteren Referenzen und einem „Phased-Array-
Glossar”.

Über dieses Buch


Dieses Buch ist in folgende Kapitel unterteilt:

Kapitel 1, „Einführung” In diesem Kapitel wird kurz die Geschichte


der Ultraschallprüfung mit konventionellem Ultraschall und Phased-
Array beschrieben. Es stellt auch die Vorteile der Phased-Array-Prü-
fung gegenüber der Prüfung mit konventionellem Ultraschall heraus.

Kapitel 2, „Phased-Array-Sensoren” In diesem Kapitel werden der


Aufbau und die Merkmale von Ultraschallprüfköpfen und Phased-
Array-Sensoren beschrieben. Der Leser wird darüber hinaus über
Sendemodulierungssequenzen, die Schallbündelbildung und -steue-
rung und die Sensorfokussierung informiert.

Kapitel 3, „Grundprinzipien der Phased-Array-Darstellung” In die-


sem Kapitel werden anhand von verständlichen Abbildungen die ver-

Olympus Vorwort 1
schiedenen Darstellungsweisen erklärt, mit denen die Prüfdaten von
konventionellen und Phased-Array-Geräten angezeigt werden kön-
nen, d. h. das A-Bild, B-Bild, C-Bild und S-Bild (für Linien- und Sek-
tor-Scan).

Kapitel 4, „Geräte für die Phased-Array-Prüfung” Dieses Kapitel


enthält einen kurzen Überblick über die auf dem Markt erhältlichen
Gerätegruppen. Es enthält darüberhinaus wichtige Angaben und
Merkmale, die bei der Auswahl eines Prüfgeräts mit konventionellem
oder Phased-Array-Ultraschall bedacht werden müssen.

Kapitel 5, „Prüfkonfiguration und Darstellungsformate mit Phased-


Array” In diesem wird Kapitel erklärt, wie ein Bild analysiert und
Fehler vermessen werden.

„Anhänge” Dieser Teil enthält verschiedenen Referenzen: praktische


Ultraschallformeln, Schallgeschwindigkeiten, akustische Impedan-
zen, Umrechnung von Maßeinheiten, Quellen für die Fortbildung und
für Referenzmaterial und Angaben über Geräte, die mit diesen Me-
thoden arbeiten.

„Phased-Array-Glossar” Dieser letzte Teil enthält eine praktische Lis-


te von Definitionen von in der Prüfung mit konventionellem und
Phased-Array-Ultraschall benutzten Begriffen.

Wir hoffen, dass dieses Referenzhandbuch Ihnen bei der Ultraschall-


prüfung mit der Phased-Array-Technik behilflich sein wird. Kom-
mentare und Vorschläge sind immer willkommen. Sie können sie an
info@olympusNDT.com senden.

Über Olympus
Die Olympus Corporation ist ein internationaler, auf dem Industrie-,
Medizin- und Verbrauchermarkt tätiger Konzern, der sich auf Optik,
Elektronik und Präzisionsgeräte spezialisiert. Die Geräte von Olym-
pus tragen zur Steigerung der Produktqualität und zur Sicherheit von
Strukturen und Einrichtungen bei.

Olympus ist weltweit branchenführend in der Herstellung von inno-


vativen Geräten zur zerstörungsfreien Prüfung in Industrie und For-
schung, in Bereichen wie Luftfahrt, Energiegewinnung, Petrochemie,
Hoch- und Tiefbau und Automobil- oder Verbraucherproduktherstel-
lung. Die Olympus Prüfmethoden stehen auf dem neuesten Stand der
Technik und umfassen Ultraschall, Ultraschall Phased-Array, Wirbel-
strom, Wirbelstrom-Array, Mikroskopie, optische Messtechnik und
Röntgenfluoreszenzanalyse. Olympus stellt Prüfgeräte, Dickenmes-
ser, Geräte für die industrielle zfP-Prüfung, Industrie-Scanner, Video-
skope, Industrieendoskope, Hochgeschwindigkeitskameras, Mikros-
kope, Sensoren und verschiedene Zubehörteile her.

Der Hauptgeschäftssitz von Olympus NDT befindet sich in Waltham,


Massachusetts (USA), mit Verkaufs- und Kundendienst-Zentren in al-
len wichtigen Industriegebieten der Welt. Sie finden Anwendungsbe-

2 Vorwort Olympus
reiche und Kundendienstzentren unter www.olympus-ims.com.

Hinweis zur Terminologie


Da in der zerstörungsfreien Prüfung der breite Einsatz der Phased-Ar-
ray-Prüfung noch relativ neu ist, ist die entsprechende Terminologie
noch nicht gefestigt. In manchen Fällen benutzen unterschiedliche In-
dustriebereiche (z. B. ASME und die Hersteller von Phased-Array-Ge-
räten) verschiedene Begriffe für denselben Sachverhalt. Die größen
Unterschiede findet man in den vielen Ausdrücken für S-Bild und im
Gebrauch des Wortes Linien-Scan. Beziehen Sie sich für diese Fälle auf
das „Phased-Array-Glossar” am Ende dieses Buches. Die in diesem
Referenzhandbuch benutzte Terminologie stimmt weitgehend mit der
der Phased-Array-Geräte von Olympus, wie OmniScan und EPOCH
1000 überein.

• Linien-Scan beschreibt die Scan-Geometrie in der ein Schallbündel –


in Senkrechteinschallung oder mit einem festen Winkel – elektro-
nisch entlang der Zeile der Elemente eines Linien-PA-Prüfkopfes
geführt wird. Die Größe der aktiven Apertur wird durch die defi-
nierte Anzahl von nebeneinander liegenden PA-Elementen festge-
legt. Die Länge des Linien-Scans kann die gesamte Länge des Lini-
en-Arrays betragen oder eines Teils dessen. In manchen
Dokumenten von ASME und IIW wird der Linien-Scan auch „E-
Scan” genannt.
• Sektor-Scan beschreibt die Scan-Geometrie, in der ein Schallbündel
elektronisch in einem definierten Winkelsektor geschwenkt wird.
Diese Geometrie ist auch als „Azimuth” oder „Schwenkwinkel-
Scan” bekannt.
• Die zweidimensionale Darstellung des Linien-Scans und des Sek-
tor-Scans auf dem Display moderner UT-PA-Prüfgeräte wird als
„S-Bild” bezeichnet.
• Einzeilen-Scan bezeichnet einen Linien-Scan oder einen Sektor-
Scan der entlang einer definierten Spur ausgeführt wird. Dabei
wird das Amplitudenmaximum der Signale über die Linie oder
den Sektor in einem Blendenbereich registriert und aufgezeichnet.
Die Position des Prüfkopfes entlang der Zeile wird unter Einsatz
eines mechanischen Weggebers in Koordination mit den Ultra-
schallsignalen aufgezeichnet.
• Die zweidimensionale Darstellung des Amplitudenmaximums im
Blendenbereich des Schallwegs in Projektion auf die Richtung des
Schallwegs wird als „C-Bild” bezeichnet.
• Die zeitabhängige Verstärkungsregelung wird im Englischen so-
wohl Time-Varied Gain (TVG) als auch Time-Corrected Gain (TCG) ge-
nannt. Die europäische Nomenklatur wird in einer separaten
Norm zusammengefasst.

Olympus Vorwort 3
1. Einführung

1.1 Allgemeine Einführung in die Prüfung


mit der Phased-Array-Technik
Die medizinische Anwendung von Ultraschallbildern, bei der mit
hochfrequenten Schallwellen sehr detaillierte Querschnittsbilder von
Organen erstellt werden, ist weit bekannt. Medizinische Ultraschall-
bilder werden normalerweise mit spezialisierten, Phased-Array-Sen-
soren genannten Mehrelementprüfköpfen1 und mit der dazugehöri-
gen Software und Hardware erzeugt. Die Anwendung von
Ultraschall-Phased-Arrays ist aber nicht auf die Medizin beschränkt.
In den letzten Jahren wurden Phased-Array-Systeme mehr und mehr
in der Industrie, zur Schweißnahtprüfung, Haftprüfung, zur Erstel-
lung von Dickenprofilen und zur Risserkennung während des Be-
triebs eingesetzt. Dadurch wurde ein bisher unerreichtes Informa-
tions- und Darstellungsniveau möglich.

In den ersten beiden Jahrzehnten wurden für industrielle Ultraschall-


geräte nur Einzelschwingerprüfköpfe, die mit einem einzigen piezo-
elektrischen Wandler Schallwellen erzeugen und empfangen, Impuls-
Echoprüfköpfe mit einem sendenden und einem empfangenden Ele-
ment und Sender-Empfänger- oder Durchschallungssysteme mit zwei
Einzelschwingerelementen paarweise eingesetzt. Mit diesen Metho-
den arbeiten auch heute noch die meisten industriellen Ultraschallge-
räte zur Prüfung und Dickenmessung; Phased-Array-Geräte nehmen
jedoch ständig einen wichtigeren Platz in der zerstörungsfreien Prü-
fung mit Ultraschall ein.

Das Prinzip der konstruktiven und destruktiven Interferenz von Wel-


len wurde 1801 von dem englischen Wissenschaftler Thomas Young in
einem bekannten Experiment demonstriert, bei dem er mit zwei
Punktlichtquellen Interferenzmuster schaffte. Kombiniert man Wellen
mit gleicher Phase, so verstärken sie sich gegenseitig, während sich
Wellen mit entgegengesetzter Phase gegenseitig aufheben (siehe
Abbildung 1-1).

1. Als weltweite tätige Firma benutzt Olympus NDT für seine Geräte die von
ISO geprägten Begriffe; zum Beispiel wird in diesem Referenzhandbuch
ein Array „Sensor” und nicht „Prüfkopf” genannt.

Olympus Einführung 5
Q = maximaler Druck
Q = minimaler Druck

Abbildung 1-1 Interferenzmuster bei zwei Quellpunkten

Mit der Phasenverschiebung ist nun eine Kontrolle dieser Interferenzen


möglich, indem die Wellenfronten von zwei oder mehr Quellen zeit-
lich versetzt werden. Mit ihr kann die Energie einer Wellenfront ge-
beugt, gesteuert oder fokussiert werden. In den 60er Jahren begannen
Forscher Ultraschall Phased-Array-Systeme mit Sensoren mit Mehr-
punktquellen zu entwickeln, deren Schallbündel von kontrollierten
Interferenzmustern gesteuert wurden. In den frühen 70er Jahren er-
schienen die ersten Phased-Array-Systeme für medizinische Zwecke
auf dem Markt. Sie erstellten mit gesteuerten Schallbündeln Quer-
schnittsbilder des menschlichen Körpers (siehe Abbildung 1-2).

Abbildung 1-2 Phased-Array für die medizinische Diagnose

Zunächst war der Einsatz von Ultraschall Phased-Array-Systemen


weitgehend auf die Medizin beschränkt, auch weil wegen der vorher-
sehbare Zusammensetzung und Struktur des menschlichen Körpers
die Geräteauslegung und Bildanalyse relativ unkompliziert ist. Die in-
dustrielle Anwendung ist weitaus schwieriger, da hier viele verschie-
dene Stoffe wie Metalle, Verbundwerkstoffe, Keramik, Kunststoffe
und GFK mit sehr unterschiedlichen akustischen Eigenschaften und

6 Kapitel 1 Olympus
sehr verschiedenen Dicken und Geometrien geprüft werden. Die ers-
ten, in den 80er Jahren eingeführten industriellen Phased-Array-Sys-
teme waren sehr groß und die Daten mussten zur Verarbeitung und
Darstellung auf einen Computer übertragen werden. Diese Systeme
wurden meist zur Prüfung während des Betriebs von Energiegewin-
nungsanlagen eingesetzt. Die Phased-Array-Technologie wurde von
der Kernkraftindustrie stark gefördert, für die die Prüfung von kriti-
schen Komponenten mit der modernsten Technologie zur Verbesse-
rung der Nachweiswahrscheinlichkeit ein Muss ist. Andere frühe Ein-
satzbereiche waren große geschmiedete Wellen und Komponenten
von Niederdruckturbinen.

Tragbare, akkubetriebene Phased-Array-Geräte für den Industrieein-


satz erschienen in den ersten Jahren des zweiten Jahrtausends. Diese
Analoggeräte brauchten zur Schallbündelsteuerung mit mehreren Ka-
nälen viel Energie und Raum. Der Übergang zur Elektronik und die
schnelle Entwicklung von kostengünstigen eingebetteten Mikropro-
zessoren ermöglichten jedoch die schnelle Entwicklung der nächsten
Generation von Phased-Array-Geräten. Zusätzlich führte die Verfüg-
barkeit von elektronischen Schwachstromkomponenten, stromsparen-
deren Architekturen und der industrieweite Einsatz von aufgelöteten
Leiterplatten zur Miniaturisierung dieser modernen Technik. So ent-
standen Hilfsmittel für Phased-Array, mit denen die elektronische
Konfiguration, Prüfdatenverarbeitung, bildliche Darstellungen Da-
tenanalyse möglich wurde, dies alles in einem tragbaren Gerät, das
wiedrum den Weg zu ausgedehnterem Gebrauch im industriellen Be-
reich ebnete. Jetzt konnten für gängige Anwendungsbereiche Stan-
dard Phased-Array-Sensoren entwickelt werden.

1.2 Was ist ein Phased-Array-System?


Prüfköpfe für die zerstörungsfreie Prüfung mit konventionellem Ult-
raschall bestehen gewöhnlich aus einem einzigen aktiven, hochfre-
quente Schallwellen erzeugendem und empfangendem Element, oder
aus zwei Elementen, jeweils einem für Sendeimpuls und für Empfang.
Phased-Array-Sensoren bestehen dagegen aus einer Gruppe von
16 bis 256 kleinen Einzelelementen, die jedes einzeln angeregt werden
können (siehe Abbildung 1-3 und Abbildung 1-4). Diese Elemente
können in einem Streifen (Linien-Array), als 2D-Matrix, als Ring
(Ring-Array), als Ringmatrix (Kreis-Array) oder auch in einer komple-
xeren Form angeordnet sein. Wie auch Prüfköpfe für konventionellen
Ultraschall, können Phased-Array-Sensoren als Kontaktsensor, mit ei-
nem Vorlaufkeil als Winkelsensor oder für die Tauchtechnik mit An-
koppelung durch einen Wasservorlauf gebaut werden. Der Frequenz-
bereich liegt im Allgemeinen zwischen 2 MHz und 10 MHz. Zu einem
Phased-Array-System gehört außerdem ein komplexes, rechnerge-
stütztes Gerät, das die vielen Elemente anregt, die zurückgeschallten
Echos empfängt und digitalisiert und diese Echoinformationen in ver-
schiedenen Standardformaten darstellt. Anders als Prüfgeräte mit
konventionellem Ultraschall können Phased-Array-Systeme das
Schallbündel durch eine Reihe von Einschallwinkeln schwenken, über

Olympus Einführung 7
eine Zeile takten oder dynamisch in verschiedenen Tiefen fokussieren,
wodurch die Flexibilität und die Möglichkeiten der Prüfkopfkonfigu-
ration erhöht werden.

Abbildung 1-3 Übliche Formen von Phased-Array-Sensoren

Einzelelemente

piezoelektrischer Verbundwerkstoff

Abbildung 1-4 Multielementbauform

1.3 Wie funktioniert Ultraschall Phased-Ar-


ray?
Das Grundprinzip eines Phased-Array-Systems ist die aus der Wellen-
physik bekannte Phasenverschiebung. Bei der Phasenverschiebung
wird der Sendeimpuls einer Reihe von Ultraschallelementen zeitlich
so verschoben, dass die von jedem einzelnen Element des Arrays er-
zeugte Wellenfront sich mit allen anderen kombiniert. Dadurch er-
höht sich, in vorhersehbarer Weise, die Schallenergie der einzelnen
Wellenfronten oder hebt sich auf, wodurch das Schallbündel aktiv ge-
formt und gesteuert werden kann. Die Zeitverschiebung entsteht
durch Anregung der einzelnen Sensorelemente zu leicht verschiede-
nen Zeiten.

Oft werden die Elemente in Gruppen von 4 bis 32 angeregt um die ef-
fektive Empfindlichkeit durch eine erhöhte Apertur zu verbessern,
was wiederum eine ungewollte Verbreiterung des Schallfelds vermin-
dert und einen schärferen Fokus ermöglicht. Eine Focal Law Calculator
genannte Software zur Berechnung von Schallfeld und Sendemodu-
lierungen erstellt die zur Erzeugung der gewünschten Schallbündel-
form nötigen spezifischen Verzögerungen beim Anregen der einzel-
nen Elementgruppen, wobei die Merkmale von Sensor und
Vorlaufkeil, sowie die Geometrie und die akustischen Eigenschaften

8 Kapitel 1 Olympus
des geprüften Werkstoffs berücksichtigt werden. Die von der Betriebs-
software des Geräts programmierte Impulssequenz schallt dann eine
Reihe von einzelnen Wellenfronten in den zu prüfenden Werkstoff
ein. Diese Wellenfronten überlagern sich konstruktiv und destruktiv
zu einer einzigen Hauptwellenfront, die sich im zu prüfenden Werk-
stoff ausbreitet und an Rissen, Ungänzen, der Rückwand und an an-
deren Materialgrenzen wie eine konventionelle Ultraschallwelle re-
flektiert wird. Winkel, Fokusabstand und Fokuspunktgröße des
Schallbündels können dynamisch so geändert werden, dass ein einzi-
ger Sensor das zu prüfende Material aus verschiedenen Perspektiven
prüfen kann. Die Schallbündelparameter werden sehr schnell geän-
dert, so dass im Bruchteil einer Sekunde mit verschiedenen Winkeln
oder mit mehreren Fokustiefen geprüft werden kann.

Die zurückgeschallten Echos werden von den verschiedenen Elemen-


ten oder Elementgruppen empfangen und wie zum Ausgleich der
verschiedenen Vorlaufkeilvorläufe erforderlich zeitlich versetzt und
dann summiert. Anders als ein Einzelschwingerprüfkopf für konven-
tionellen Ultraschall, der die Effekte aller Schallbündelkomponenten
in seinem Prüfbereich zusammenlegt, kann ein Phased-Array-Sensor
die zurückgeschallte Wellenfront an jedem Element räumlich nach
Ankunftszeit und Amplitude sortieren. Nach Verarbeitung durch die
Gerätesoftware, stellt jede zurückgeschallte Sendemodulierung die
Reflexion eines bestimmten Winkelelements des Schallbündels, eines
bestimmten Punktes auf einem linearen Schallweg oder einer be-
stimmten Fokustiefe dar (siehe Abbildung 1-5 und Abbildung 1-6).
Die Echoinformationen können sodann in dem gewünschten Format
angezeigt werden.

Verzöge-
rung (ns)
PA-Sensor
Steuerung des
Winkels

eingeschallte Wellenfront

Abbildung 1-5 Beispiel eines von einem flachen Sensor durch variable Verzögerun-
gen erzeugten Winkelschallbündel

Olympus Einführung 9
aktive Gruppe
16
1 128

Prüfrichtung

Abbildung 1-6 Beispiel eines Linien-Scans mit fokussiertem Winkelschallbündel

1.4 Vorteile der Phased-Array-Technik ge-


genüber konventionellem Ultraschall
Ultraschall Phased-Array-Systeme können praktisch überall dort ein-
gesetzt werden, wo man auch mit konventionellem Ultraschall prüft.
Schweißnahtprüfung und Risserkennung sind die wichtigsten An-
wendungsbereiche. Sie sind in vielen Industriebranchen üblich, wie in
der Luftfahrt, der Energiegewinnung, der Petrochemie, der Herstel-
lung von Metallstäben und -rohren, dem Bau und der Wartung von
Pipelines, für Metallstrukturen und allgemein in der Herstellung von
Konsumgütern. Die Phased-Array-Technik ist auch sehr praktisch bei
der Ermittelung der restlichen Wanddicke in der Korrosionsprüfung.

Die Vorteile der Phased-Array-Technologie gegenüber konventionel-


lem Ultraschall liegen in der Fähigkeit, mit den vielen Elementen ei-
nes einzigen Sensors Schallbündel steuern, fokussieren und prüfen zu
können. Mit der Schallbündelsteuerung können Komponenten in ei-
nem Durchgang mit verschiedenen Winkeln geprüft werden. Dies
Verfahren heißt Sektor-Scan, es vereinfacht wesentlich die Prüfung von
Komponenten mit komplexer Geometrie. Die kleine Sohle des Sensors
und die Schallbündellenkfähigkeit ohne Bewegung des Sensors helfen
auch bei der Prüfung von solchen Komponenten, wenn die Zugäng-
lichkeit für mechanisches Prüfen schwierig oder unzureichend ist.
Der Sektor-Scan ist auch bei der Schweißnahtprüfung üblich. Die Tat-
sache Schweißnähte unter vielen Winkeln mit nur einem Sensor prü-
fen zu können, erhöht die Wahrscheinlichkeit Ungänzen zu erkennen.
Die elektronische Fokussierung optimiert die Schallbündelform und -
größe an der erwarteten Fehlerstelle und erhöht die Wahrscheinlich-
keit einen Fehler zu erkennen. Die Fokussierung des Schallbündels in
verschiedenen Tiefen erhöht auch die Fähigkeit in der Volumenprü-
fung die Größe von kritischen Fehlern zu bestimmen. Die Fokussie-
rung verbessert auch in schwierigen Anwendungsbereichen das Sig-
nal-Rauschverhältnis wesentlich, und mit einem elektronischen Scan
durch viele Elementegruppen können C-Bilder schnell erstellt wer-
den. Die Möglichkeit gleichzeitig mit vielen Winkeln zu prüfen oder
einen breiteren Bereich des Prüflings abtasten zu können erhöht die

10 Kapitel 1 Olympus
Prüfgeschwindigkeit. Die Phased-Array-Prüfung ist bis 10 mal
schneller als die Prüfung mit konventionellem Ultraschall, was einen
erheblichen Vorteil darstellt.

Die eventuellen Nachteile der Phased-Array-Systeme sind die etwas


höheren Kosten und die Schulung der Prüfer. Diese Kosten werden al-
lerdings meist durch große Vielseitigkeit und Zeitersparnis beim Prü-
fen ausgeglichen.

Olympus Einführung 11
2. Phased-Array-Sensoren

2.1 Eigenschaften des Ultraschallbündels


Schallköpfe für konventionellen Ultraschall für Longitudinalwellen
wirken wie ein elastischer Körper von hochfrequenten mechanischen
Vibrationen oder Schallwellen. Wenn eine Spannung an den Schwin-
ger angelegt wird, wird das piezoelektrische Wandlerelement (oft
Kristall genannt) lotrecht zu seiner Vorderkante komprimiert. Wird
die Spannung unterbrochen, normalerweise nach weniger als einer
Mikrosekunde, springt das Element in seine alte Form zurück und er-
zeugt einen mechanischen Energieimpuls, der eine Ultraschallwelle
erzeugt (siehe Abbildung 2-1). Umgekehrt erzeugt der Druck einer
ankommenden Ultraschallwelle im Element eine Spannung an seinen
Seiten. So ist kann einziges piezoelektrisches Element sowohl Sender
als auch Empfänger von Ultraschallimpulsen sein.

+

Ruhezustand

++++++++++++++++++
++++++++
–––––––– ––––––––––––––––––
unter Spannung

+

ohne Spannung

+

Rückkehr in den Ruhezustand

Abbildung 2-1 Prinzip des piezoelektrischen Wandlerelements

Olympus Phased-Array-Sensoren 13
Alle Schallköpfe der am häufigsten eingesetzten Art haben die folgen-
de, grundlegende Parameter:

Schallkopftyp: Schallköpfe werden gemäß ihrer Funktion in Kontakt-,


Vorlaufkeil-, Winkel- oder Tauchtechnikschallköpfe eingeteilt. Die Ei-
genschaften des zu prüfenden Werkstoffs (wie Oberflächenbeschaf-
fenheit, Prüftemperatur, Zugang zum Prüfteil, Position des Defekts
im Werkstoff sowie die Prüfgeschwindigkeit) beeinflussen ebenfalls
die Wahl eines Schallkopfs.

Abmessungen: Durchmesser oder Länge und Breite des aktiven Schall-


kopfelements, welches normalerweise in einem etwas größeren Ge-
häuse untergebracht ist.

Frequenz: Die Anzahl Schwingungen pro Sekunde, normalerweise in


Kilohertz (kHz) oder Megahertz (MHz) ausgedrückt. In der Industrie
wird meist mit einer Frequenz von 500 kHz bis 20 MHz geprüft, des-
wegen fallen die meisten Schallköpfe in diesen Bereich. Man findet
aber auch Schallköpfe von unter 50 kHz bis über 200 MHz im Handel.
Bei niedrigerer Frequenz erhöht sich die Durchdringung, wohingegen
mit höherer Frequenz die Auflösung und die Fokusschärfe zuneh-
men.

Bandbreite: Der Teil der Frequenz, der sich innerhalb einer angegebe-
nen Amplitudengrenze befindet. In diesem Zusammenhang muss er-
wähnt werden, dass die für die zerstörungsfreie Prüfung typischen
Schallköpfe Schallwellen nicht mit einer einzigen reinen Frequenz er-
zeugen, sondern mit einem auf der Nennfrequenz zentrierten Fre-
quenzbereich. Allgemein wird in der Industrie die Bandbreite bei
–6 dB (oder bei der halben Amplitude) angegeben.

Dauer der Wellenform: Anzahl Schwingungen die ein Schallkopf bei je-
der Erregung erzeugt. Ein Schallkopf mit kleiner Bandbreite hat mehr
komplette Schwingungen als ein Schallkopf mit großer Bandbreite.
Elementdurchmesser, Trägermaterial, elektrische Einstellungen und
Impulsmethode des Schallkopfs wirken sich alle auf die Dauer der
Wellenform aus.

Empfindlichkeit: Verhältnis zwischen der Amplitude des Sendeimpul-


ses und der Amplitude des von einem bestimmten Ziel zurückge-
schallten Echos.

Schallbündelprofil: Als Annäherung kann man sich das Schallbündel ei-


nes nicht fokussierten runden Schallkopfs als eine vom aktiven Ele-
ment ausgehende Energiesäule vorstellen, deren Durchmesser sich
ständig verbreitert und die schließlich völlig zerstreut wird (siehe
Abbildung 2-2).

14 Kapitel 2 Olympus
Abbildung 2-2 Schallbündelprofil

In der Praxis ist das Schallbündelprofil allerdings komplexer, mit


Druckunterschieden in Quer- und Achsrichtung. Im unten dargestell-
ten Schallbündelprofil (Abbildung 2-3) werden die Bereiche mit der
höchsten Energie rot, die Bereiche mit niedrigerer Energie grün und
blau angezeigt.

Abbildung 2-3 Energiebereiche im Schallbündelprofil

Das Schallfeld eines Schallkopfes wird in zwei Bereiche eingeteilt: das


Nahfeld und das Fernfeld (siehe Abbildung 2-4). Das Nahfeld ist der
Bereich in der Nähe des Schallkopfs, in dem der Schalldruck eine Se-
rie von Maxima und Minima durchläuft. Es endet beim letzen Maxi-
mum auf der Achse im Abstand N von der Sensorvorderkante. Der
Nahfeldabstand N ist der natürliche Fokus des Schallkopfs.

FERNFELD

N Amplitudenvariatio-
nen
NAHFELD

Abbildung 2-4 Schallfeld eines Prüfkopfs

Das Fernfeld ist der Bereich über N hinaus, in dem der Schalldruck all-
mählich bis null abfällt, da der Durchmesser des Schallbündels sich
erweitert und so die Energie zerstreut. Der Nahfeldabstand ist eine
Funktion der Schallkopffrequenz, der Elementgröße und der Schallge-

Olympus Phased-Array-Sensoren 15
schwindigkeit im geprüften Werkstoff und wird für die in der Phased-
Array-Prüfung häufig gefundenen quadratischen oder recht-eckigen
Elemente wie folgt berechnet:

kL 2 f kL 2
N = ----------- oder N = ---------
4c 4λ

wobei:
N = Länge des Nahfeldes
k = Konstante des Seitenverhältnisses (siehe unten)
L = Länge des Elements oder der Apertur
f = Frequenz
c = Schallgeschwindigkeit im zu prüfenden Werkstoff
c
λ = Wellenlänge = --
f
Die Konstante des Seitenverhältnisses wird in Tabelle 2-1 aufgezeigt.
Sie beruht auf dem Verhältnis zwischen der langen und der kurzen
Abmessung des Elements oder der Apertur.
Tabelle 2-1 Konstante des Seitenverhältnisses

Verhältnis kurz/lang K
1,0 1,37 (quadratisches
Element)
0,9 1,25
0,8 1,15
0,7 1,09
0,6 1,04
0,5 1,01
0,4 1,00
0,3 und niedriger 0,99

Für runde Elemente wird k nicht genommen, der Durchmesser (D)


des Elements ersetzt die Länge.

D2 f D2
N = --------- oder N = -------
4c 4λ

Wegen der Schalldruckschwankungen im Nahfeld kann es schwierig


sein, Fehler mit auf Amplitude beruhenden Methoden genau zu be-
stimmen (das Messen der Dicke im Nahfeld stellt allerdings keine
Schwierigkeit dar). Auch stellt N den größten Abstand dar, bei dem
ein Schallkopf mit einer Schalllinse oder der Phasenverschiebung fo-
kussiert werden kann. Das Fokussieren wird in Abschnitt 2.7 auf
Seite 36 näher behandelt.

16 Kapitel 2 Olympus
2.2 Grundeigenschaften von Schallwellen
Erzeugen einer Wellenfront: Man kann sich einen Einzelschwinger-
schallkopf wie einen elastischen Körper vorstellen, der seine Energie
an das zu prüfende Material überträgt. Die so erzeugte Schallwelle
wird entsprechend dem Huygensschen Prinzip mathematisch als Sum-
me der Wellen einer großen Anzahl Ausgangspunkte errechnet. Dies
Prinzip, das von dem holländischen Physiker Christiaan Huygens als
erstem erkannt wurde, besagt, dass jeder Punkt einer sich ausbreiten-
den Wellenfront der Ausgangspunkt einer neuen, kugelförmigen Wel-
le ist, und dass die daraus entstehende vereinte Wellenfront die Sum-
me aller einzelnen kugelförmigen Wellen darstellt.

Schallbündelausbreitung: Im Prinzip breitet sich eine von einem Schall-


kopf erzeugte Schallwelle in gerader Linie aus, bis sie auf eine Materi-
algrenze stößt. Was dann geschieht wird weiter unten beschrieben. Ist
jedoch der Schallweg länger als das Nahfeld, verbreitert sich der
Durchmesser des Schallbündels wie der Lichtkegel eines Scheinwer-
fers (siehe Abbildung 2-5).

α SCHALLBÜNDEL-
D ACHSE
N

0 N 2N 3N 4N

Abbildung 2-5 Schallbündelausbreitung

Der Winkel der Schallbündelausbreitung eines nicht fokussierten


kreisförmigen Schallkopfes wird wie folgt berechnet:

D2 f D2
Länge des Nahfelds = --------- = -------
4c 4λ

D = Elementdurchmesser oder Apertur


f = Frequenz
c = Schallgeschwindigkeit im zu prüfenden Werkstoff
c
λ = Wellenlänge = --
f
Ausbreitungswinkel bei der halben Länge des Schallbündels bei –6 dB
(α) eines nicht fokussierten Schallkopfs:

0,514c
α = sin – 1  ----------------
 fD 

Aus dieser Gleichung ist ersichtlich, dass die Schallbündelausbreitung


sich mit niedriger Frequenz und kleinem Durchmesser verstärkt. Bei

Olympus Phased-Array-Sensoren 17
einem großen Ausbreitungswinkel des Schallbündels nimmt die
Schallenergie pro Einheit schnell mit der Distanz ab. Dies vermindert
die Empfindlichkeit für kleine Reflektoren in Anwendungsbereichen
mit langen Schallwegen. In solchen Fällen kann das Echo durch den
Einsatz eines Schallkopfes mit höherer Frequenz und/oder größerem
Durchmesser verbessert werden.

Bei rechteckigen Elementen ist die Schallbündelausbreitung asymme-


trisch, mit einem größeren Ausbreitungswinkel auf der schmalen Sei-
te des Schallbündels. Der Winkel jeder Achse wird mit der im Folgen-
den angegebenen Formel errechnet, wobei für L die adäquate Länge
oder Breite angegeben werden muss:

0,44c 0,44λ
α = sin –1  ------------- oder α = sin – 1  --------------
 fL   L 

Die folgenden Abbildungen zeigen wie die Schallbündelausbreitung


sich mit der Änderung des Schallkopfdurchmessers und der Frequenz
ändert. Bei konstanter Frequenz nimmt die Schallbündelausbreitung
mit wachsendem Schallkopfdurchmesser ab (siehe Abbildung 2-6 und
Abbildung 2-7).

Schallgeschwindigkeit: 5850 m/s Durchmesser: 3 mm


Frequenz: 5,0 MHz

Abbildung 2-6 Schallbündelausbreitung mit einem Element von 3 mm

Schallgeschwindigkeit: 5850 m/s Durchmesser: 13 mm


Frequenz: 5,0 MHz

Abbildung 2-7 Schallbündelausbreitung mit einem Element von 13 mm

18 Kapitel 2 Olympus
Bei konstantem Durchmesser erhöht sich die Schallbündelausbrei-
tung mit der Erhöhung der Frequenz (siehe Abbildung 2-8 und
Abbildung 2-9).

Schallgeschwindigkeit: 5850 m/s Durchmesser: 13 mm


Frequenz: 2,25 MHz

Abbildung 2-8 Schallbündelausbreitung mit einem Element mit 2,25 MHz

Schallgeschwindigkeit: 5850 m/s Durchmesser: 13 mm


Frequenz: 10,0 MHz

Abbildung 2-9 Schallbündelausbreitung mit einem Element von 10 MHz

Dämpfung: Bei der Ausbreitung in einem gegebenen Stoff zerfällt auf-


grund einer unvollkommenen Energieübertragung durch die Mikro-
struktur des Stoffes allmählich die von einem Ultraschallkopf erzeug-
te geordnete Wellenfront. Geordnete mechanische Vibrationen
(Schallwellen) verwandeln sich in willkürliche mechanische Vibratio-
nen (Hitze), bis die Wellenfront nicht mehr erkennbar ist. Diesen Vor-
gang nennt man Schallschwächung.

Die mathematische Theorie der Schallschwächung und der Schall-


streuung ist komplex. Der Amplitudenverlust auf einem gegebenen
Schallweg ist die Summe der Absorptionseffekte und der Streuungs-
effekte. Die Absorption wächst linear mit der Frequenz, während die
Schallstreuung in drei Bereichen verschieden ist, abhängig vom Ver-
hältnis der Wellenlänge zur Korngrößengrenze oder von anderen
Streuungsfaktoren. In jedem Fall erhöht sich der Streuungseffekt mit
der Frequenz. Jedes bei gegebener Temperatur mit gegebener Fre-
quenz geprüfte Material besitzt einen spezifischen Dämpfungskoeffi-
zienten, der üblicherweis in Neper pro Zentimeter (Np/cm) ausge-
drückt wird. Wenn dieser Dämpfungskoeffizient bekannt ist, kann
der Verlust auf einem gegebenen Schallweg mit folgender Gleichung
berechnet werden:

p = p 0 e – ad

Olympus Phased-Array-Sensoren 19
wobei:

p = Schalldruck am Ende des Schallwegs


p0 = Schalldruck am Anfang des Schallwegs
e = Basis des natürlichen Logarithmus
a = Dämpfungskoeffizient
d = Länge des Schallwegs

In der Praxis wird in der zerstörungsfreien Ultraschallprüfung der


Dämpfungskoeffizient eher gemessen als berechnet. Hohe Frequen-
zen werden in jedem Medium schneller gedämpft als niedrige, wes-
wegen üblicherweise niedrige Prüffrequenzen in Werkstoffen mit ho-
hem Dämpfungskoeffizient, wie Kunststoffe mit geringer Dichte und
Kautschuk eingesetzt werden.

Reflexion und Transmission an senkrecht aufeinander treffenden Grenzebe-


nen: Trifft eine sich in einem bestimmten Medium ausbreitende Schall-
welle auf die Grenzen zu einem anderen, senkrecht zur Wellenrich-
tung liegenden Medium, wird ein Teil der Wellenenergie wieder
zurückgeschallt und eine Teil breitet sich weiter geradlinig aus. Der
Anteil an reflektierten und weitergeleiteten Wellen hängt von der
akustischen Impedanz der jeweiligen Medien ab, wobei die akustische
Impedanz als Materialdichte mal Schallausbreitungsgeschwindigkeit
definiert wird. Der Reflexionskoeffizient an der Grenze von zwei Ebe-
nen (also der Prozentsatz zurück zur Schallquelle reflektierter Schall-
energie) wird folgendermaßen berechnet:

Z2 – Z1
R = -------------------
Z2 + Z1

wobei:

R = Reflexionskoeffizient in Prozent
Z1 = akustische Impedanz des ersten Mediums
Z2 = akustische Impedanz des zweiten Mediums

Aus dieser Gleichung ist ersichtlich, dass je ähnlicher die akustische


Impedanz der beiden Stoffe ist, desto kleiner ist der Reflexionskoeffi-
zient, und je verschiedener die akustische Impedanz ist, desto größer
ist der Reflexionskoeffizient. Theoretisch ist die Reflexion an der
Grenze von zwei Stoffen mit derselben akustischen Impedanz gleich
null, während im Fall von zwei Stoffen mit sehr verschiedener akusti-
scher Impedanz, wie an der Grenze von Stahl und Luft, der Reflexi-
onskoeffizent fast 100 % beträgt.

Reflexion und Modenwandlung an nicht senkrecht aufeinader treffenden


Ebenen: Wenn eine sich in einem Medium ausbreitende Schallwelle in
einem nicht null Grad betragenden Winkel auf die Grenze zu einem
anderen Medium auftrifft, wird ein Teil der Wellenenergie nach vor-

20 Kapitel 2 Olympus
ne, in einem dem Einschallwinkel gleichen Winkel reflektiert. Gleich-
zeitig wird der in das zweite Medium geleitete Teil der Wellenenergie
gemäß dem Snelliusschen Gesetz reflektiert. Dieses Gesetz wurde von
mindestens zwei Mathematikern des 17. Jahrhunderts unabhängig
voneinander gefunden. Das Snelliussche Gesetz definiert das Verhält-
nis des Sinus des Einschallwinkels und des reflektierten Winkels zur
Ausbreitungsgeschwindigkeit der Schallwellen in beiden Stoffen wie
in untenstehendem Diagramm gezeigt.

Achse
Schallabsorbie-
rendes Material

Schallkopf

Vorlaufkeil

Schallweg
reflektierte
Longitudinal- Longitudinalwelle
welle
reflektierte
Transversal-
θP
welle
θYS
θrtYZ

Abbildung 2-10 Schallwellenreflektion und Modenwandlung

sin θ sin θ sin θ rs


------------i = -------------rl- = --------------
-
ci c rl c rs

wobei:

θi = Einschallwinkel des Vorlaufkeils


θrl = Winkel der reflektierten Longitudinalwelle
θrt = Winkel der reflektierten Transversalwelle
ci = Schallgeschwindigkeit im Einschallmaterial (Longitudinal)
crl = Schallgeschwindigkeit im Material (Longitudinalwelle)
crt = Schallgeschwindigkeit im Prüfmaterial (Transversalwelle)

Olympus Phased-Array-Sensoren 21
R
L
S S

Longitudinalwelle Transversalwelle

Oberflächenwelle

0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80
Einschallwinkel
erster kritischer zweiter kritischer
Winkel Winkel

Abbildung 2-11 Relative Amplitude der Wellenmodi

Wenn die Schallgeschwindigkeit im zweiten Medium höher als im


ersten ist, geht bei Winkeln über einer bestimmten Größe die Bre-
chung mit einer Modenkonversion einher, meistens vom Longitudi-
nalwellenmodus in den Transversalwellenmodus. Dies ist die Grund-
lage der weitverbreiteten Prüfmethode mit Winkelschallbündeln. Mit
Erhöhung des Einschallwinkels im ersten (langsameren) Medium (z.
B. Vorlaufkeil oder Wasser) erhöht sich auch der Winkel der reflektier-
ten Longitudinalwelle im zweiten (schnelleren) Medium (z. B. Metall).
Mit der Annäherung des Winkels der reflektierten Longitudinalwelle
an 90 Grad wird ein immer größerer Teil der Wellenenergie in Trans-
versalwellen mit niedrigerer Energie umgewandelt, die in dem vom
Snelliusschen Gesetz vorhergesehenen Winkel reflektiert werden. Bei
größeren Einschallwinkeln, die eine mit 90 Grad reflektierte Longitu-
dinalwelle erzeugen würden, geht die gesamte reflektierte Welle in
den Transversalmodus über. Bei noch größeren Einschallwinkeln, bei
denen die Transversalwelle theoretisch mit 90 Grad reflektiert würde,
erreicht man einen Punkt, in dem im zweiten Medium eine Oberflä-
chenwelle erzeugt wird. In Abbildung 2-12, Abbildung 2-13 und
Abbildung 2-14 wird dieser Effekt für einen typischen, an Stahl ange-
koppelten Winkelsensor gezeigt.

22 Kapitel 2 Olympus
Abbildung 2-12 Einschallwinkel 10° - Starke Longitudinalwelle und schwache
Transversalwelle

Abbildung 2-13 Einschallwinkel 30° - Über den ersten kritischen Winkel hinaus gibt
es keine Longitudinalwelle mehr, die gesamte reflektierte Energie ist in die Transver-
salwelle übergegegangen

Abbildung 2-14 Einschallwinkel 65° - Über den zweiten kritischen Winkel hinaus
gibt es keine Transversalwelle mehr, die gesamte reflektierte Energie ist in die Ober-
flächenwelle übergegegangen

Olympus Phased-Array-Sensoren 23
2.3 Eigenschaften der Phased-Array-Senso-
ren

Abbildung 2-15 Phased-Array-Sensoren

Ein Array ist eine regelmäßige Anordnung von mehreren Objekten.


Die einfachste Form eines Ultraschall-Arrays für die zerstörungsfreie
Prüfung wäre eine Reihe von mehreren Einzelschwingerschallköpfen,
die so angeordnet sind, dass der Prüfbereich vergrößert und die Prüf-
geschwindigkeit für eine bestimmte Prüfung erhöht wird. Beispiele
dafür sind:

• die Rohrprüfung, bei der oft mehrere Prüfköpfe benutzt werden


um Risse zu erkennen, flächige Fehlstellen zu finden und allge-
mein die Dicke zu messen;
• geschmiedete Metallteile, bei denen oft mit mehreren in verschie-
denen Tiefen fokussierten Prüfköpfen kleine Defekte bereichsweise
erfasst werden;
• zeilenmäßige Anordnung von Prüfköpfen auf einer Fläche zum Er-
kennen von Laminarfehlern in Verbundwerkstoffen oder Korrosi-
on in Metall.

Für diese Prüfungen braucht man mehrkanalige Hochgeschwindig-


keitsultraschallgeräte mit entsprechenden Impulsgeneratoren, Emp-
fängern und der richtigen Blendenlogik zur Bearbeitung von allen Ka-
nälen, dazu muss zur korrekten Einstellung des Prüfbereichs jeder
Prüfkopf sorgfältig befestigt werden.

In seiner einfachsten Form kann man sich einen Phased-Array-Sensor


als eine Reihe von einzelnen Elementen in einem Gehäuse vorstellen
(siehe Abbildung 2-16). Diese Elemente sind wesentlich kleiner als
Prüfköpfe für konventionellen Ultraschall, und können gruppenweise
angeregt werden um eine lenkbare Wellenfront zu erzeugen. Durch
diese programmierte „elektronische Schallbündelgestaltung” können
viele Prüfbereiche sehr schnell und ohne Bewegung des Sensors ana-
lysiert werden. Dieses Thema wird in den folgenden Seiten eingehen-
der behandelt.

24 Kapitel 2 Olympus
Abbildung 2-16 Phased-Array-Sensor

Sensoren gibt es in vielen verschiedenen Größen, Formen, Frequenzen


und mit einer verschiedenen Anzahl von Elementen, eins haben sie
aber alle gemein: ein in Segmente unterteiltes piezoelektrisches Ele-
ment.

Moderne Phased-Array-Sensoren für die zerstörungsfreie Prüfung in


der Industrie haben meistens einen Kern aus einem piezoelektrischen
Verbundwerkstoff, der aus winzigen, dünnen, in eine Polymer-Matrix
eingebetteten Piezocompositestäben besteht. Wenn diese Sensoren
aus Verbundwerkstoffen auch schwieriger herzustellen sind, bieten
sie doch, verglichen mit piezokeramischen Sensoren derselben Bau-
weise, eine 10 dB bis 30 dB höhere Empfindlichkeit. Eine segmentierte
metallisierte Schicht trennt die Verbundstoffstreifen in mehrere elekt-
risch isolierte Elemente, die einzeln erregt werden können. Diese seg-
mentierte Einheit wird dann in den Sensor eingefügt, der aus einer
Schutzschicht, der Ausfütterung, Kabelverbindungen und dem Ge-
häuse besteht (siehe Abbildung 2-17).

Mehradriges
Koaxialkabel

Ausfüt-
terung
Gehäuse
innere
Man-
schette

metalli-
sierte
Schicht
Elemente aus piezoelekt-
Schutz- rischem Verbundstoff
schicht

Abbildung 2-17 Querschnitt eines Phased-Array-Sensors

Phased-Array-Sensoren werden nach ihrer Funktion und nach folgen-


den Parametern eingeteilt:

Typ: Die meisten Phased-Array-Sensoren sind Winkelsensoren, mit ei-


nem Kunststoffvorlaufkeil, einem geraden Kunststoffschuh (Null-
Grad-Vorlaufkeil) oder einer Vorlaufstrecke. Es gibt auch Kontakt-
und Tauchtechniksensoren.

Frequenz: Die meisten Ultraschallprüfungen finden bei 2 MHz bis


10 MHz statt, die meisten Phased-Array-Sensoren gehören also in die-

Olympus Phased-Array-Sensoren 25
sen Bereich. Es gibt aber auch Sensoren mit höherer oder niedrigerer
Frequenz. Wie bei den Prüfköpfen für konventionellen Ultraschall er-
höht sich die Durchdringung mit der Abnahme der Frequenz, wäh-
rend Auflösung und Fokusschärfe sich mit steigender Frequenz erhö-
hen.

Anzahl Elemente: Phased-Array-Sensoren besitzen allgemein 16 bis


128 Elemente, manche sogar bis 256. Eine hohe Anzahl Elemente er-
höht die Fähigkeit das Schallbündel zu fokussieren und zu steuern,
was seinerseits den Prüfbereich erhöht, aber die Kosten für Sensor
und Gerät wachsen dabei ebenfalls. Jedes dieser Elemente wird ein-
zeln angeregt um die gewünschte Wellenfront zu erzeugen. Deswe-
gen wird die Abmessung quer über diese Elemente oft aktive oder
Steuerrichtung genannt.

Größe der Sensorelemente: Mit Abnahme der Elementbreite nimmt die


Steuerfähigkeit des Schallbündels zu. Um jedoch große Flächen prü-
fen zu können, braucht man mehr Elemente, was die Kosten erhöht.

Die Abmessungen eines Phased-Array-Sensors werden üblicherweise


wie folgt definiert:

(
L

W N

Abbildung 2-18 Abmessungen eines Phased-Array-Sensors

A = Gesamtapertur (Anzahl der Elemente für ein A-Bild) bei


Steuerung in der aktiven Richtung
H = Höhe der Elemente; da diese Dimension vorgegeben ist,
wird sie oft die passive Ebene genannt.
p = Abstand von Mitte zu Mitte zweier nebeneinanderliegen-
der Elemente
e = Breite des einzelnen Elements
g = Abstand zwischen den aktiven Elementen

Diese Angaben braucht die Gerätesoftware um dem Schallbündel die


gewünschte Form zu geben. Wenn sie nicht durch die automatische
Sensorerkennung geliefert wurden, müssen sie vom Prüfer während
der Konfiguration eingegeben werden.

26 Kapitel 2 Olympus
2.4 Phased-Array-Vorlaufkeile
Der Sensor als Bauteil enthält meistens auch einen Vorlaufkeil aus
Kunststoff. Vorlaufkeile werden in Applikationen mit Transversal-
und auch Longitudinalwellen eingesetzt, auch für Linien-Scan mit
Senkrechteinschallung. Diese Vorlaufkeile haben dieselbe Funktion
wie bei der Prüfung mit konventionellem Ultraschall mit Einzel-
schwingerprüfköpfen, das heißt, sie leiten die Schallenergie derart
vom Sensor in den Prüfling, dass diese nach den Regeln des Snelliuss-
chen Gesetzes mit dem gewünschten Winkel reflektiert wird
und/oder eine Modenwandlung stattfindet. Phased-Array-Systeme
können mit der Schallbündelsteuerung mit einem einzigen Vorlauf-
keil Schallbündel mit mehreren Winkeln erzeugen, was durch die Bre-
chungsgesetze unterstützt wird. Transversalwellenvorlaufkeile sehen
wie Vorlaufkeile für konventionellen Ultraschall aus, und es gibt auch
sie in vielen Größen und Formen. Einige haben Bohrungen für die
Koppelmittelzuführung in Scan-Applikationen. Einige typische Vor-
laufkeile für Phased-Array-Sensoren werden in Abbildung 2-19 ge-
zeigt.

Abbildung 2-19 Vorlaufkeile für Phased-Array-Sensoren

Null-Grad-Vorlaufkeile sind im Wesentlichen flache Kunststoffblöcke,


die bei geradem Linien-Scan und bei Winkel-Scan mit Longitudinal-
wellen mit kleinem Winkel, die Schallenergie in den Prüfling einkop-
peln und die Grundfläche des Sensors vor Kratzern und Abnutzung
schützen (siehe Abbildung 2-20).

Abbildung 2-20 Null-Grad-Vorlaufkeil

Olympus Phased-Array-Sensoren 27
2.5 Phasengesteuerte Impulserzeugung
Wenn sich Wellen aus zwei oder mehr Quellen überlagern, führt der
Phaseneffekt zu einer Erhöhung oder Abschwächung der Wellenener-
gie im Überlagerungspunkt. Wenn sich elastische Wellen derselben
Frequenz derart treffen, dass ihre Schwingungen genau synchroni-
siert sind (phasengleich oder Phasenwinkel von null Grad), addieren
sich diese Wellenenergien gegenseitig auf, wodurch eine Welle mit
größerer Amplitude erzeugt wird (siehe Abbildung 2-21a). Wenn ihre
Schwingungen genau entgegengesetzt sind (gegenphasig oder
180 Grad) hebt sich die Wellenenergie gegenseitig auf (siehe
Abbildung 2-21c). Bei Phasenwinkeln von 0 Grad bis 180 Grad gibt es
viele Zwischenstadien zwischen voller Aufsummierung und voller
Aufhebung (siehe Abbildung 2-21b). Mit der zeitlichen Versetzung
von Wellen aus vielen verschiedenen Quellen kann man nun an-
hand dieses Effekts die kombinierte Wellenfront steuern und fo-
kussieren. Dies ist eins der wichtigsten Prinzipien der Phased-Array-
Technik.

Phasengleiche Wellen - Verstärkung

Zwischenstadium

28 Kapitel 2 Olympus
c

Gegenphasige Wellen - Aufhebung

Abbildung 2-21 Phasenverschiebung: Verstärkung und Aufhebung

Bei Prüfköpfen für konventionellen Ultraschall erzeugen konstruktive


und destruktive Interferenz den Nahfeld- und den Fernfeldbereich
und die verschiedenen Druckgradienten in ihnen. Außerdem schallt
ein Winkelprüfkopf für konventionellen Ultraschall mit Einzelschwin-
ger Wellen in den Vorlaufkeil ein. Die Punkte dieser Wellenfront ha-
ben verschiedene, von der Form des Vorlaufkeils verursachte Verzö-
gerungen. Dies ist eine mechanische Verzögerung, keine
elektronische, wie bei Phased-Arrays. Wenn die Wellenfront die Bo-
denfläche erreicht, kann sie entsprechend dem Huygensschen Prinzip
als eine Reihe von Quellpunkten angesehen werden. Die in der Theo-
rie kugelförmigen, von jedem dieser Quellpunkte ausgehenden Wel-
len bilden eine einzige Wellenfront in einem durch das Snelliussche
Gesetz festgelegten Winkel.

In der Phased-Array-Prüfung wird die von der Phasenverschiebung


verursachte berechenbare Verstärkung oder Aufhebung der Schall-
wellen zur Gestaltung und Steuerung des Ultraschallbündels genutzt.
Die Erregung einzelner Elemente oder Elementgruppen mit verschie-
denen Verzögerungen erzeugt viele Quellpunktwellen, die sich zu ei-
ner einzigen Wellenfront vereinen, die sich im gewählten Winkel aus-
breitet (Abbildung 2-22). Dieser elektronische Effekt erreicht dasselbe
wie die mechanische Verzögerung eines Vorlaufkeils für konventio-
nellen Ultraschall, die Steuerungsmöglichkeiten sind aber durch die
Änderung des Verzögerungsmusters größer. Bei konstruktiver Inter-
ferenz ist die Amplitude dieser überlagerten Wellen beträchtlich hö-
her als die einzelnen Amplituden aller sie erzeugeder Wellen. In glei-
cher Weise werden auch die von jedem Element im Array
empfangenen Echos verzögert. Die Echos werden summiert, so dass
sie eine einzige Winkel- oder Fokuskomponente des Gesamtschall-
bündels darstellen. Diese Kombination von einzelnen Schallbündel-
komponenten kann nicht nur die Richtung der ursprünglichen Wel-
lenfront ändern, sondern ermöglicht auch die Fokusbildung des
Schallbündels in jedem beliebigen Punkt des Nahfelds.

Olympus Phased-Array-Sensoren 29
Wellenfront

Abbildung 2-22 Abgewinkelte Wellenfront

Die Elemente werden gewöhnlich in Gruppen von 4 bis 32 angeregt,


was die Empfindlichkeit durch eine Vergrößerung der Apertur ver-
bessert, eine unerwünschte Ausbreitung des Schallbündels verringert
und einen schärferer Fokus ermöglicht.

Die Reflektionen werden von den verschiedenen Elementen oder


Elementgruppen empfangen und wie zum Ausgleich der verschiede-
nen Vorlaufkeilvorläufe erforderlich zeitlich versetzt und dann sum-
miert. Anders als ein Einzelschwingerprüfkopf für konventionellen
Ultraschall, der die Effekte aller Schallbündelkomponenten in seinem
Prüfbereich zusammenlegt, kann ein Phased-Array-Sensor die reflek-
tierten Wellen an jedem Element räumlich nach Ankunftszeit und
Amplitude sortieren. Nach Verarbeitung durch die Gerätesoftware
stellt jede zurückgeschallte Sendemodulierung die Reflektierung ei-
nes bestimmten Winkelelements des Schallbündels, eines bestimmten
Punkts auf einem linearen Schallweg oder einer bestimmten Fokustie-
fe dar. Die Echoinformationen können sodann in einem beliebigen
Format auf dem Bildschirm angezeigt werden.

Wie bereits bemerkt, werden Phased-Array-Schallbündel durch die


Erregung einzelner Sensorelemente oder Elementgruppen nach einem
bestimmten Muster erzeugt. Die Phased-Array-Geräte erstellen diese
Muster auf Grund der Informationen, die der Prüfer eingegeben hat.

Eine Focal Law Calculator genannte Software zur Berechnung von


Schallfeld und Sendemodulierungen erstellt die zur Erzeugung der
gewünschten Schallbündelform nötigen spezifischen Verzögerungen
beim Anregen der einzelnen Elementgruppen, wobei die Merkmale
von Sensor und Vorlaufkeil, sowie die Geometrie und die akustischen
Eigenschaften des geprüften Werkstoffs berücksichtigt werden. Die
von der Betriebssoftware des Geräts programmierte Impulssequenz
schallt dann eine Reihe von einzelnen Wellenfronten in den zu prü-
fenden Werkstoff ein. Diese Wellenfronten überlagern sich konstruk-
tiv und destruktiv zu einer einzigen Hautptwellenfront, die sich im zu

30 Kapitel 2 Olympus
prüfenden Werkstoff ausbreitet und an Rissen, Ungänzen, der Rück-
wand und an anderen Materialgrenzen wie eine konventionelle Ultra-
schallwelle reflektiert wird. Winkel, Fokusabstand und Fokuspunkt-
größe des Schallbündels können dynamisch so geändert werden, dass
ein einziger Sensor das zu prüfende Material aus verschiedenen Pers-
pektiven prüfen kann. Die Schallbündelparameter werden sehr
schnell geändert, so dass im Bruchteil einer Sekunde mit verschiede-
nen Winkeln oder mit mehreren Fokustiefen geprüft werden kann.

2.6 Gestaltung und Steuerung des Schall-


bündels
Die Leistung aller Ultraschallprüfgeräte hängt von der Kombination
verschiedener Faktoren ab: dem Prüfkopf, der Art und der Einstel-
lung des Geräts sowie den akustischen Eigenschaften des zu prüfen-
den Werkstoffs. Die Leistung von Phased-Array-Sensoren, wie die al-
ler anderer Ultraschallköpfe für die zerstörungsfreie Prüfung, hängt
ab von den Sensorparametern (wie Frequenz, Größe und mechanische
Dämpfung) sowie von den Parametern des Impulses mit dem der Sen-
sor erregt wird.

Vier wichtige, von einander abhängige Parameter bestimmen die Leis-


tung eines Sensors.

Frequenz: Wie bereits im vorherigen Abschnitt bemerkt, hat die Prüf-


frequenz einen erheblichen Einfluss auf Nahfeldlänge und Schallbün-
delausbreitung. In der Praxis bewirken hohe Frequenzen ein besseres
Signal-Rauschverhältnis als niedrige Frequenzen, weil man mit ihnen
schärfer fokussieren und einen maximalen, dichteren Fokuspunkt er-
reicht. Gleichzeit vermindert sich mit der Erhöhung der Frequenz die
Durchdringung des Werkstoffs, da die Dämpfung im Material mit
steigender Frequenz stärker wird. In Anwendungsbereichen mit sehr
langen Schallwegen oder mit stark schalldämpfenden oder schall-
streuenden Werkstoffen muss mit niedrigen Frequenzen geprüft wer-
den. Allgemein werden Phased-Array-Sensoren für die Industrie im
Frequenzbereich 1 MHz bis 15 MHz angeboten.

Elementgröße: Je kleiner die einzelnen Elemente eines Arrays sind, des-


to besser kann das Schallbündel gesteuert werden. In der Praxis sind
die kleinsten im Handel erhältlichen Sensoren etwa 0,2 mm groß. Bei
Elementen die kleiner als eine Wellenlänge sind, treten allerdings un-
erwünschte Seitenkeulen auf.

Anzahl Elemente: Wird die Anzahl Elemente im Array erhöht, erhöhen


sich auch die Größe des Prüfbereichs, die Empfindlichkeit, die Fokus-
sierfähigkeit und die Steuerfähigkeit des Sensors. Gleichzeitig müssen
beim Einsatz von großen Arrays oft die Komplexität des Systems und
die Kosten in Betracht gezogen werden.

Abstand und Apertur: Unter Abstand versteht man den Abstand zwi-
schen den einzelnen Elementen; Apertur ist die effektive Größe eines

Olympus Phased-Array-Sensoren 31
impulsgebenden Elements, welches normalerweise aus einer Gruppe
gleichzeitig angeregter Einzelelemente besteht (virtuelle Apertur). Für
einen maximalen Steuerbereich muss der Abstand klein sein, wohin-
gegen für maximale Empfindlichkeit, minimale unerwünschte Schall-
bündelausbreitung und einen starken Fokus die Apertur groß sein
muss. Die heutigen Phased-Array-Geräte müssen Sendemodulierun-
gen mit Aperturen bis zu 16 Elementen unterstützen können. Höher
entwickelte Systeme unterstützen Aperturen bis 32 oder sogar
64 Elementen.

Die wichtigsten Elemente für ein allgemeines Verständnis des Phased-


Array-Konzepts können wie folgt zusammengefasst werden: eine
Gruppe von Elementen wird entsprechend einer vorprogrammierten
Sendemodulierung angeregt. Dadurch werden die gewünschte Senso-
rapertur und die gewünschten Schallbündelmerkmale erreicht.

Abnahme des Abstands und Erhöht die Fähigkeit das Schallbündel


der Elementbreite mit kons- zu steuern
tanter Anzahl Elemente
Erhöhung des Abstands oder Erzeugt unerwünschte Gitterkeulen
der Frequenz
Erhöhung der Elementbreite Erzeugt Seitenkeulen (wie bei konven-
tionellem Ultraschall), vermindert die
Steuerfähigkeit des Schallbündels
Vergrößerung der aktiven Erzeugt einen schärferen Fokus des
Apertur durch den Einsatz Schallbündels
von vielen kleinen Elementen
mit kleinem Abstand

Wie bereits in den vorhergehenden Seiten erläutert, ist das Wesentli-


che an der Phased-Array-Prüfung ein Ultraschallbündel dessen Rich-
tung (reflektierter Winkel) und Fokus durch unterschiedliche Verzö-
gerungen bei der Erregung der einzelnen Elemente oder Element-
gruppen elektronisch gesteuert wird. Durch diese Schallbündelsteue-
rung kann mit einem einzigen Sensor in einer einzigen Position unter
verschiedenen Winkeln und in verschiedenen Punkten geprüft wer-
den.

32 Kapitel 2 Olympus
Linien-Scan San mit festem Linien-Scan mit Senkrecht- Sektorschwenk mit
Winkel einschallung Longitudinalwellen

Reflektierter Sektor-Scan mit Scan in mehreren Tiefen


Transversalwellen

Abbildung 2-23 Sendemodulierungssequenzen

Wie bereits erklärt, werden die Eigenschaften eines Ultraschallbün-


dels von vielen Faktoren bestimmt. Außer von den Elementabmes-
sungen, der Frequenz und der Dämpfung, die auch die Leistung von
Einzelschwingerprüfköpfen für konventionellen Ultraschall beein-
flussen, wird das Verhalten der Phased-Array-Sensoren darüber hin-
aus von der Position, der Größe und der Gruppierung der kleinen
Einzelelemente beeinflusst, die eine dem konventionellen Ultraschall
entsprechende aktive Apertur erzeugen.

Für Phased-Array-Sensoren wird mit Gruppen von N Elementen eine


aktive Apertur gebildet, die dem Winkel der Schallbündelausbreitung
von entsprechenden Prüfkopfmodellen für konventionellen Ultra-
schall gleicht (siehe Abbildung 2-24).

Olympus Phased-Array-Sensoren 33
Konventioneller Array 16 Elemente Array 16 Elemente
Ultraschall, ein alle Elemente 4 Elemente
Element angeregt angeregt angeregt

Abbildung 2-24 Aktive Apertur

Bei Phased-Array-Sensoren wird der maximale Schwenkwinkel (bei


–6 dB) von der Schallbündelausbreitungsgleichung abgeleitet. Es ist
leicht zu erkennen, dass bei kleinen Elementen die Schallbündelaus-
breitung größer ist und folglich auch der Energiegehalt der Winkel-
komponenten, die für maximales Steuern kombiniert werden können.
Mit abnehmender Elementgröße müssen mehr Elemente gleichzeitig
angeregt werden um die Empfindlichkeit beizubehalten.

λ
sin θ st = 0,514 ---
e

wobei:

sinθst = Sinus des maximalen Schwenkwinkels


λ = Wellenlänge im geprüften Werkstoff
e = Elementbreite

34 Kapitel 2 Olympus
Apertur 64 mm

Apertur 32 mm

18˚

Apertur 16 mm

36˚

Abbildung 2-25 Grenzen der Schallbündelsteuerung: Bei konstanter Elementzahl


(16 im Beispiel) erhöht sich der maximale Schwenkwinkel bei Verkleinerung der Aper-
turbreite.

Eingedenk dessen, dass in der Praxis in der Herstellung von Phased-


Array-Sensoren die Breite des kleinsten Einzelelements auf 0,2 mm
beschränkt ist, ergibt sich für einen Sensor mit 16 Elementen von
0,2 mm eine Apertur von 3,2 mm. Für eine Apertur von 6,4 mm
bräuchte man also 32 Elemente. Ein solcher Sensor wäre sicherlich
sehr leicht steuerbar, die kleine Apertur würde aber den statischen
Prüfbereich, die Empfindlichkeit, Durchdringung und Fokussierfä-
higkeit begrenzen.

Der Schwenkbereich kann weiterhin mit einem gewinkelten Vorlauf-


keil geändert werden, der den Einschallwinkel des Schallbündels un-
abhängig von der elektronischen Steuerung ändert.

Mit dem Winkel der Schallbündelausbreitung kann in jedem Abstand


vom Sensor der Schallbündeldurchmesser berechnet werden. Bei
rechteckigen oder quadratischen Sensoren ist die Schallbündelaus-
breitung in der passiven Ebene genauso wie die eines nicht fokussier-
ten Prüfkopfs. In der Schwenkebene (oder aktiven Ebene) kann das
Schallbündel elektronisch so fokussiert werden, dass die akustische
Energie in der gewünschten Tiefe konvergiert. Mit einem fokussierten
Sensor kann man sich das Schallbündelprofil als zulaufenden Kegel
(oder Keil bei Fokussierung nur einer Achsrichtung) vorstellen, der
im Fokuspunkt konvergiert und sich dann im gleichen Winkel nach
dem Fokuspunkt wieder ausbreitet, wie im Folgenden beschrieben:

Die Nahfeldlänge und folglich die natürliche Divergenz des Ultra-


schallbündels werden bestimmt durch die Apertur (entspricht dem
Elementdurchmesser von Prüfköpfen für konventionellen Ultraschall
mit Einzelelement) und die Wellenlänge (Wellengeschwindigkeit divi-
diert durch die Frequenz). Für einen nicht fokussierten runden Sensor
werden die Nahfeldlänge, der Winkel der Schallbündelausbreitung
und der Schallbündeldurchmesser wie folgt berechnet:

Olympus Phased-Array-Sensoren 35
D2 f D2
Länge des Nahfelds = --------- = -------
4c 4λ

wobei:

D = Elementdurchmesser oder Apertur


f = Frequenz
c = Schallgeschwindigkeit im geprüften Stoff
c
λ = Wellenlänge = --
f
Die Formel für quadratische oder rechteckige Element finden Sie auf
Seite 16.

2.7 Fokussieren des Schallbündels mit


Phased-Array-Sensoren
Schallbündel können wie Lichtstrahlen fokussiert werden, wodurch
ein sanduhrförmiges Schallbündel entsteht, das sich bis zu einem
Mindestdurchmesser im Fokuspunkt verengt und nach diesem wie-
der ausbreitet (siehe Abbildung 2-26).

Abbildung 2-26 Schallbündel mit Fokus

Die Tiefe, in der ein Phased-Array-Schallbündel fokussiert, wird mit


der Impulsverzögerung eingestellt. Die Nahfeldlänge in einem gege-
benen Werkstoff definiert die maximale Tiefe in der das Schallbündel
fokussieren kann. Nach dem Nahfeld kann das Schallbündel keinen
Fokus im geprüften Material bilden.

Die effektive Empfindlichkeit eines Sensors wird beeinflusst vom


Schallbündeldurchmesser im betrachteten Punkt. Je kleiner der

36 Kapitel 2 Olympus
Durchmesser, desto höher ist die Energiemenge, die von einem klei-
nen Fehler zurückreflektiert wird. Der kleine Schallbündeldurchmes-
ser im Fokuspunkt verbessert auch die Seitenauflösung. Der Durch-
messer oder die Breite des Schallbündels eines fokussierten Sensors
im Fokuspunkt bei –6 dB wird wie folgt berechnet:

1,02 Fc
–6 dB Schallbündeldurchmesser oder -breite = ------------------
fD

wobei:

F = Fokuslänge im geprüften Werkstoff


c = Schallgeschwindigkeit im geprüften Werkstoff
D = Elementdurchmesser oder Apertur
Bei rechteckigen Elementen müssen die aktive und die passive Rich-
tung getrennt berechnet werden.

Aus diesen Formeln ist ersichtlich, dass bei zunehmender Element-


größe und Frequenz der Winkel der Schallbündelausbreitung ab-
nimmt. Ein kleinerer Winkel der Schallausbreitung bewirkt wiederum
eine höhere effektive Empfindlichkeit im Fernfeldbereich, da die
Schallbündelenergie sich langsamer zerstreut. Innerhalb des Nahfelds
kann ein Sensor so fokussiert werden, dass das erzeugte Schallbündel
konvergiert, statt divergiert. Die Verkleinerung des Schallbündel-
durchmessers oder der Schallbündelbreite zu einem Fokuspunkt er-
höht im Fokusbereich die Schallenergie pro Oberflächeneinheit und
erhöht so auch die Empfindlichkeit für kleine Reflektoren. Prüfköpfe
für konventionellen Ultraschall erreichen dies meist mit einer reakti-
ven Schalllinse, wohingegen Phased-Array-Sensoren es durch die
Phasenverschiebung der Impulserregung und die dadurch entstehen-
den Möglichkeiten der Schallbündelgestaltung erreichen.

Bei den üblichsten Linien-Arrays mit rechteckigen Elementen ist das


Schallbündel in der Schwenkrichtung fokussiert, in der passiven Rich-
tung nicht fokussiert. Mit größerer Apertur wird der Fokus des Schall-
bündels schärfer, wie in den Profilen in Abbildung 2-27 dargestellt.
Die roten Bereiche entsprechen dem höchsten Schalldruck, die blauen
Bereiche entsprechen niedrigem Schalldruck.

Olympus Phased-Array-Sensoren 37
10 Elemente 16 Elemente 32 Elemente
Apertur 10 × 10 mm Apertur 16 × 10 mm Apertur 32 × 10 mm

Abbildung 2-27 Schallbündelfokussierung mit verschiedenen Aperturbreiten

2.8 Gitterkeulen und Seitenkeulen


Eine andere, mit Phased-Array-Sensoren verbundene Erscheinung ist
das Entstehen von unerwünschten Gitterkeulen und Seitenkeulen.
Diese beiden eng verwandten Erscheinungen werden durch Schallen-
ergie verursacht, die sich vom Sensor aus in anderen Winkeln als der
Hauptschallweg ausbreitet. Seitenkeulen beschränken sich nicht auf
Phased-Array-Systeme, sie erscheinen auch bei konventionellem Ult-
raschall mit zunehmender Größe der Prüfkopfelemente. Gitterkeulen
gibt es nur bei Phased-Array-Sensoren. Sie werden von Strahlenkom-
ponenten hervorgerufen, die bei regelmäßigen, periodischen Abstän-
den von kleinen Einzelelementen entstehen. Diese unerwünschten
Strahlen werden an den Flächen des Prüflings reflektiert und erschei-
nen fälschlicherweise als Fehlerindikationen auf dem Bildschirm. Die
Amplitude von Gitterkeulen wird erheblich beeinflusst von Abstand
und Anzahl der Elemente, Frequenz und Bandbreite. Die Schallbün-
delprofile in Abbildung 2-28 zeigen zum Vergleich zwei Situationen
in denen die Sensorapertur etwa gleich ist, das Schallbündel links aber
von sechs Elementen mit 0,4 mm Abstand erzeugt wird und das
Schallbündel rechts von drei Elementen mit 1 mm Abstand. Das linke
Schallbündel ist in etwa kegelförmig, das rechte Schallbündel weist
hingegen zwei flache Keulen in einem Winkel von ca. 30 Grad zur
Mittelachse des Schallbündels auf.

38 Kapitel 2 Olympus
6 Elemente, Abstand 0,4 3 Elemente, Abstand 1 mm

Abbildung 2-28 Schallbündelprofile mit verschiedener Elementanzahl

Gitterkeulen treten dann auf, wenn die Einzelelemente eines Arrays


gleich der oder größer als die Wellenlänge sind. Wenn die Elemente
kleiner als die halbe Wellenlänge sind, erscheinen keine Gitterkeulen
(für Elemente zwischen einer halben und einer ganzen Wellenlänge
hängt das Erscheinen von Gitterkeulen vom Schwenkwinkel ab). Der
einfachste Weg um Gitterkeulen in einem gegebenen Anwendungsbe-
reich zu vermeiden ist also der Einsatz von Sensoren mit kleinem Ele-
mentabstand. Eine spezielle Sensorauslegung mit in kleinere Unter-
elemente zerteilten Elementen und ungleichem Elementabstand
vermindern auch das Auftreten von unerwünschten Keulen.

2.9 Zusammenfassung der Auswahlkriteri-


en für Phased-Array-Sensoren
Die Herstellung von Phased-Array-Sensoren ist immer ein Kompro-
miss zwischen dem richtigen Elementabstand, der richtigen Element-
breite und Apertur. Der Einsatz einer hohen Anzahl kleiner Elemente
verbessert die Steuerbarkeit und den Fokus und reduziert Seitenkeu-
len, wird aber durch die Herstellungskosten und die Gerätekomplexi-
tät begrenzt. Die meisten Standardgeräte unterstützen bis
16 Elemente. Den Abstand der Elemente zu erhöhen scheint ein einfa-
cher Weg zu sein die Apertur zu vergrößern. Dies erzeugt aber uner-
wünschte Gitterkeulen.

Es ist wichtig zu bemerken, dass die Hersteller von Phased-Array-


Sensoren oft Standardmodelle anbieten, bei denen diese Kompromis-

Olympus Phased-Array-Sensoren 39
se berücksichtigt wurden und die eine optimale Leistung für den vor-
gesehenen Gebrauch vorweisen. Die Auswahl des Sensors hängt
schlussendlich von den Anforderungen des Anwendungsbereichs des
Endbenutzers ab. In manchen Fällen muss mit mehreren Winkeln auf
einem kurzen Laufweg im Metall geprüft werden, wofür große Aper-
turen unnötig sind. In anderen Fällen, z. b. wenn große Flächen auf
Bindefehler geprüft werden sollen, braucht man eine breite Apertur
und ein lineares Sensorformat mit vielen Elementgruppen. Hierbei ist
die Schallbündelsteuerung überflüssig. Ganz allgemein kann der Prü-
fer zur Auswahl von Apertur und Frequenz seine Erfahrung bei der
Prüfung mit konventionellem Ultraschall durchaus nützen.

Der Katalog für Olympus Phased-Array-Sensoren ist unter der folgen-


den Adresse zu finden:

www.olympus-ims.com/de/probes/pa/

Sie finden in ihm eine komplette Auswahl an Sensoren und Vorlauf-


keilen.

40 Kapitel 2 Olympus
3. Grundprinzipien der Phased-Array-
Darstellung

Sowohl bei konventionellem Ultraschall als auch mit Phased-Array


werden hochfrequente Schallwellen in einen Prüfling eingeschallt um
dessen Innenstruktur zu prüfen oder seine Dicke zu messen. Beide Ul-
traschalltechniken beruhen auf denselben Grundregeln der Physik
der Schallausbreitung, und beide werden nach denselben Konzepten
bildlich dargestellt.

Geräte für die zerstörungsfreie Prüfung mit konventionellem Ultra-


schall sind gewöhnlich mit einem Einzelschwingerelement ausgestat-
tet, das hochfrequente Schallwellen sendet und empfängt, oder mit
zwei Elementen, eins zum Senden, das andere zum Empfangen. Das
typische Gerät ist ein einkanaliges Handprüfgerät, das das Ultra-
schallsignal anhand eines integrierten, mit einem geräteeigenen An-
zeige- und Messmodul koordinierten digitalen Prüfsystems emp-
fängt. In komplexeren Geräten werden mehrere Impulsgenerator/Em-
pfängerkanäle mit einer Gruppe von Prüfköpfen eingesetzt, um den
Prüfbereich zu erhöhen und verschiedene Tiefen und Fehlerausrich-
tungen prüfen zu können. Oft besitzen sie auch Alarmausgänge. In
weiter entwickelten Systemen werden konventioneller Ultraschall mit
Positionsweggebern, Kontrollgeräten und Softwareprogrammen zu
einem Darstellungssystem integriert.

Phased-Array-Geräte sind dagegen mehrkanalig, da sie Erregungs-


muster (Sendemodulierungen) für Sensoren mit 16 bis 256 Elementen

Olympus Grundprinzipien der Phased-Array-Darstellung 41


liefern müssen. Anders als Prüfgeräte mit konventionellem Ultra-
schall können Phased-Array-Systeme das Schallbündel eines einzigen
Sensors auf einem geraden Schallweg steuern, durch eine Reihe von
Einschallwinkeln schwenken oder dynamisch in verschiedenen Tiefen
fokussieren, wodurch sich die Vielseitigkeit erhöht und mehr Prüf-
konfigurationen ermöglicht. Diese zusätzliche Fähigkeit mit einem
einzigen Sensor viele Schallwege erzeugen zu können ist ein deutli-
cher Vorteil bei der Fehlererkennung, der darüberhinaus die Möglich-
keit eröffnet den Prüfbereich bildlich anzuzeigen. Durch die bildliche
Darstellung des Phased-Arrays kann der Prüfer Änderungen von
Punkt zu Punkt und das Echo eines Defekts unter vielen Winkeln se-
hen, was beim Erkennen und bei der Größenbestimmung von Indika-
tionen hilft. Wenn dies auch sehr kompliziert erscheint, vereinfacht es
doch in der Praxis die Erweiterung des Prüfbereichs, da die komple-
xen Halterungen und die vielen Prüfköpfe überflüssig werden, die oft
für die Prüfung mit konventionellem Ultraschall nötig sind.

In den folgenden Abschnitten werden die wesentlichen Anzeigenfor-


mate von Prüfdaten mit konventionellem Ultraschall und Phased-Ar-
ray besprochen.

3.1 A-Bild
Alle Ultraschallgeräte zeichnen immer zwei grundsätzliche Parameter
eines Echos auf: seine Höhe (Amplitude) und seine zeitliche Position
relativ zu einem Nullpunkt (Impulslaufzeit). Die Laufzeit hängt ihrer-
seits von der Tiefenlage oder dem Abstand zum Reflektor ab, und ba-
siert auf der Schallgeschwindigkeit im geprüften Werkstoff nach dem
folgenden einfachen Verhältnis:

Abstand = Schallgeschwindigkeit × Laufzeit

Die einfachste Darstellung einer Ultraschallwelle ist das A-Bild, in


dem die Echoamplitude und die Laufzeit in einem einfachen Koordi-
natensystem aufgezeichnet werden, wobei die vertikale Achse die
Amplitude darstellt und die horizontale Achse die Zeit. Das Beispiel
in Abbildung 3-1 zeigt ein gleichgerichtetes A-Bild, es werden aber
auch nicht gleichgerichtete A-Bilder angezeigt. Der rote Balken auf
dem Bildschirm ist eine Blende, die einen Teil des Wellenzuges zur
Analyse auswählt, normalerweise zum Messen der Amplitude
und/oder der Tiefe.

42 Kapitel 3 Olympus
Abbildung 3-1 A-Bild

3.2 B-Bild mit Einzelwert


Eine andere Darstellungsweise des A-Bilds ist das B-Bild mit Einzel-
wert. Dieses Format wird oft zur Prüfung mit konventionellem Ultra-
schall und zur Dickenmessung eingesetzt, und zeichnet die Tiefe ei-
nes Reflektors relativ zu seiner linearen Position auf. Beim Abtasten
des Prüflings mit dem Prüfkopf wird die Dicke als Funktion der Zeit
oder der Position aufgezeichnet und ein Tiefenprofil erstellt. Anhand
der Beziehung zwischen Ultraschalldaten und Position des Prüfkopfs
wird eine proportionale Ansicht aufgezeichnet, in der Daten mit be-
stimmten Bereichen des Prüflings verknüpft sind. Die Position wird
meist von einem elektromechanischen, Weggeber genannten Gerät ge-
geben. Weggeber werden entweder in Halterungen von Hand geführt,
oder sind in automatische Anlagen eingebaut, die den Prüfkopf mit

Olympus Grundprinzipien der Phased-Array-Darstellung 43


einem programmierbaren, motorgesteuerten Scanner führen. In bei-
den Fällen zeichnet der Weggeber die genaue Position der Datenerfas-
sung nach einer vom Prüfer festgelegten Prüfsequenz und Indexauflö-
sung auf.

Im Beispiel in Abbildung 3-2 zeigt das B-Bild zwei tief liegende und
einen flach liegenden Reflektor, die der Position der Querbohrungen
im Justierkörper entsprechen.

Abbildung 3-2 B-Bild

3.3 Querschnitts-B-Bild
Ein Querschnitts-B-Bild zeigt eine detaillierte Vorderansicht des Prüf-
lings auf einer einzigen Achse an. Diese Darstellungsform liefert mehr
Informationen als das bereits besprochene B-Bild mit Einzelwert. Statt
nur einen einzigen Messwert aus dem Blendenbereich aufzuzeichnen,
wird das gesamte A-Bild in jeder Prüfkopfposition digitalisiert. Aufei-

44 Kapitel 3 Olympus
nanderfolgende A-Bilder werden über der Laufzeit oder der Wegge-
berposition aufgetragen und damit wird ein Querschnitt der Prüfzeile
erstellt. So kann der Prüfer oberflächennahe und tiefliegende Reflek-
toren im Prüfling sehen. Bei dieser Methode werden oft die gesamten
A-Bilddaten von jeder Position gespeichert und können zur Analyse
oder Überprüfung auf dem Bildschirm wieder aufgerufen werden.

Hierzu wird jeder digitalisierte Punkt der Wellenform so aufgezeich-


net, dass die die Signalamplitude darstellende Farbe in der richtigen
Tiefe erscheint.

Aufeinanderfolgende A-Bilder werden digitalisiert, ihnen wird eine


Farbe zugeordnet, sie werden in benutzerdefinierten Intervallen (Zeit
oder Position) aneinandergereiht und ergeben dann ein echtes Quer-
schnittsbild (siehe Abbildung 3-3).

Abbildung 3-3 Querschnitts-B-Bild

Olympus Grundprinzipien der Phased-Array-Darstellung 45


3.4 Linien-Scan
In Phased-Array-Systemen wird ohne den Sensor zu bewegen, nur
durch elektronisches Abtasten entlang der Zeile eines Linien-Arrays
ein Querschnittsprofil erstellt. Die Sendemodulierungen werden in
Sequenz durchtaktet und die dazugehörigen A-Bilder digitalisiert
und angezeigt. Aufeinanderfolgende Aperturen werden für das akti-
ven Querschnittsbild aneinandergereiht. In der Praxis wird, während
der Sensor sich vorwärtsbewegt in Echtzeit elektronisch abgetastet,
und so ständig ein aktualisiertes Querschnittsbild angezeigt.
Abbildung 3-4 ist ein mit einem Linien-Array mit 64 Elementen er-
stelltes Bild. In diesem Beispiel hat der Prüfer die Apertur mit der
Sendemodulierung auf 16 Elemente eingestellt, die Sequenz schreitet
um jeweils ein Element fort. Daraus ergeben sich 49 einzelne Wellen-
formen, die in Echtzeit zu einer Querschnittsansicht von der Länge
des Sensors (in diesem Beispiel 38,1 mm) aneinandergereiht werden.

Abbildung 3-4 Linien-Scan mit Senkrechteinschallung

46 Kapitel 3 Olympus
Es kann auch mit einer Schrägeinschallung mit demselben festen Win-
kel für alle Elemente geprüft werden (siehe Abbildung 3-5). Wie in
Abschnitt 5.3 auf Seite 76 besprochen, ist dies sehr praktisch für die
Schweißnahtprüfung. Dafür werden mit einem Linien-Array-Sensor
mit 64 Elementen und mit Vorlaufkeil Transversalwellen in einem be-
nutzerdefinierten Winkel erzeugt (oft 45, 60 oder 70 Grad). Durch das
Schalten der Apertur entlang der ganzen Elementzeile des Sensors
können die Daten des gesamten Schweißnahtvolumens erfasst wer-
den, ohne beim Prüfen den Abstand zur Schweißnahtmittelline zu än-
dern. So ist das Prüfen der Schweißnaht in Längsrichtung in einem
einzigen Durchgang möglich.

Abbildung 3-5 Linien-Scan mit Winkeleinschallung

3.5 C-Bild
Eine andere Darstellungsart ist das C-Bild. Das C-Bild ist eine zweidi-
mensionale Darstellung der Prüfdaten als Draufsicht oder Flächenan-
sicht des Prüflings. Diese Darstellung ähnelt einem Röntgenbild, in

Olympus Grundprinzipien der Phased-Array-Darstellung 47


dem die Amplitude oder die Tiefe des Signals in der Blende von je-
dem Punkt im Prüfling relativ zu dessen Position in verschiedenen
Farben dargestellt wird. Flächenbilder von flachen Prüflingen werden
durch die Zuordnung der Daten zu X/Y-Positionen erzeugt, Flächen-
bilder von zylindrischen Prüflingen durch die Zuordnung zu Achs-
/Winkelpositionen. Bei konventionellem Ultraschall werden die Koor-
dinaten des Prüfkopfs in der gewünschten Index-Auflösung mit ei-
nem mechanischen Weggeber ermittelt.

Ein von einem Phased-Array-Sensor erstelltes C-Bild ist dem von ei-
nem Prüfkopf für konventionellen Ultraschall erstellten sehr ähnlich.
Jedoch wird bei Phased-Array-Systemen der Sensor mechanisch auf
der einen Achse bewegt, während das Schallbündel die andere Achse
entsprechend der Sendemodulierungssequenz abtastet. Wie in C-Bil-
dern mit konventionellem Ultraschall wird die Signalamplitude oder -
tiefe im von der Blende begrenzten Bereich erfasst. Bei Phased-Array
werden die Prüfdaten bei jeder neuen Sendemodulierung mit der pro-
grammierten Schallbündelapertur aufgezeichnet.

In Abbildung 3-6 wird das C-Bild eines Justierkörpers dargestellt, der


von einem Linien-Array-Sensor von 5 MHz mit 64 Elementen und mit
Null-Grad-Vorlaufkeil erfasst wurde. Die Apertur aller Sendemodu-
lierungen besteht aus 16 Elementen, bei jedem Impuls rückt das erste
Element um eins weiter. Daraus ergeben sich auf der Länge von
37 mm des Sensors 49 Datenpunkte, die (horizontal in Abbildung
Abbildung 3-6) aufgezeichnet werden. Während der Sensor in gera-
der Linie vorwärts geführt wird, entsteht das C-Bild. Ist eine präzise
geometrische Entsprechung der Darstellung mit dem Prüfling not-
wendig, wird mit einem Weggeber geprüft, aber auch die manuelle
Prüfung ohne Weggeber liefert in vielen Fällen nützliche Informatio-
nen.

48 Kapitel 3 Olympus
Schematisches Schallbündelprofil Phased-Array-C-Bild und
und Prüfrichtung Position der Bohrungen

Abbildung 3-6 C-Bilddaten eines Linien-Array-Sensors

Das Phased-Array-System ist tragbar und kann vor Ort eingesetzt


werden, was mit einem System für konventionellem Ultraschall nicht
möglich ist, auch kostet es etwa ein Drittel des Preises. Darüberhinaus
wird eine Phased-Array-Darstellung in wenigen Sekunden erstellt,
was mit konventionellem Ultraschall und der Tauchtechnik normaler-
weise mehrere Minuten dauert.

Linien-Array-Sensoren werden auch häufig für die Prüfung längs ei-


ner Schweißnaht mit gebeugten Transversalwellen eingesetzt.
Abbildung 3-7 zeigt einen Phased-Array-Sensor von 2,25 MHz mit
64 Elementen, der zur Erzeugung von Transversalwellen auf einen
Winkelvorlaufkeil mit benutzerdefiniertem Winkel montiert ist, übli-
cherweise mit 45, 60 oder 70 Grad. Wenn der Sensor rechtwinklig zur
Schweißnaht ausgerichtet ist, kann die Apertur in Längsrichtung
durch den Sensor getaktet werden. Dadurch pflanzt sich die Transver-
salwelle im Schweißnahtvolumen fort, ohne dass der Sensor mecha-
nisch von der Schweißnahtmittellinie fortbewegt wird. Durch Führen
des Sensors parallel zur Schweißnaht werden Daten über das gesamte
Prüfvolumen erfasst. Mit einem Weggeber können die Daten wie in ei-
nem C-Bild aufgezeichnet werden, wobei die Amplitude des Reflek-
tors als Funktion der Aperturposition (Y-Achse) und der auf der
Schweißnaht zurückgelegten Distanz (X-Achse) aufgezeichnet wird.
Diese Form der Prüfung wird oft „Einzeilen-Scan” genannt. Für wie-
derholbare Ergebisse wird ein mechanischer Scanner empfohlen. In
Abbildung 3-7 wird oben am Bild die Reflexion einer ungeschliffenen
Schweißnahtwurzel über die gesamte Länge einer Schweißnaht aufge-
zeichnet. A-Bild und die Cursoren markieren eine große Fehlerindika-
tion aus dem Schweißnahtbereich, in diesem Fall einen Bindefehler.

Olympus Grundprinzipien der Phased-Array-Darstellung 49


Abbildung 3-7 Einzeilen-Scan für die Schweißnahtprüfung mit Weggeber und einem
Sensor mit 2,25 MHz, 64 Elementen und Winkel von 60 Grad

3.6 S-Bild
Von allen bis jetzt behandelten Darstellungsformen ist das S-Bild das
einzige, dass es nur mit Phased-Array gibt. Bei einem Linien-Scan ha-
ben alle Sendemodulierungen einen festen Winkel, die Aperturen
werden in Sequenz durchlaufen, wohingegen beim Sektor-Scan die
Apertur fest ist, und das Schallbündel durch eine Sequenz von Win-
keln geschwenkt wird.

Hauptsächlich werden zwei Formen benutzt: Bei der bekanntesten,


die sehr häufig in der Medizin auftritt, werden Longitudinalwellen
durch einen Null-Grad-Vorlaufkeil geschwenkt. Die so entstandene
Segmentdarstellung zeigt flächige und leicht angewinkelt liegende
Defekte (siehe Abbildung 3-8).

50 Kapitel 3 Olympus
Abbildung 3-8 S-Bild von –30° bis +30°

Bei der anderen Form wird mittels eines Kunststoffvorlaufkeils der


Einschallwinkel erhöht um Transversalwellen zu erzeugen, meist in
einem Bereich von 30 bis 70 Grad. Diese Methode ähnelt der Prüfung
mit einem Winkelprüfkopf mit konventionellem Ultraschall, nur dass
das Schallbündel durch eine Reihe von Winkeln geschwenkt wird,
statt dass mit einem einzigen starren, durch den Vorlaufkeil bestimm-
ten Winkel geprüft wird. Wie auch mit dem linearen Sektor-Scan wird
ein Querschnitt des Prüfbereichs dargestellt.

Olympus Grundprinzipien der Phased-Array-Darstellung 51


Abbildung 3-9 S-Bild von +35° bis +70°

Die tatsächliche Erzeugung des Bildes beruht auf demselben Prinzip


aneinandergereihter A-Bilder wie der Linien-Scan im vorhergehenden
Abschnitt. Der Prüfer definiert Start, Ende und Schrittauflösung des
zur Erzeugung des S-Bilds nötigen Winkels. Es ist zu beachten, dass
die Apertur konstant bleibt, und dass in jedem definierten Winkel ein
Schallbündel erzeugt wird, dessen Eigenschaften von Apertur, Fre-
quenz, Dämpfung usw. bestimmt werden. Die von jedem Winkel
(Sendemodulierung) erzeugte Wellenform wird digitalisiert, farbko-
diert und mit dem entsprechenden Winkel aufgezeichnet, wodurch
ein Querschnittsbild entsteht.

Das S-Bild wird in Echtzeit erzeugt, so dass mit der Sensorbewegung


das dynamische Bild ständig aktualisiert wird. Dies ist zur Darstel-
lung von Defekten sehr nützlich und erhöht die Wahrscheinlichkeit
Fehler zu finden, besonders bei unregelmäßig ausgerichteten Defek-
ten, da mit vielen verschiedenen Winkeln gleichzeitig geprüft wird.

52 Kapitel 3 Olympus
3.7 Kombination verschiedener Darstel-
lungsformate
Durch das elektronische Abtastverfahren werden bei Phased-Array-
Geräten die Daten in Echtzeit angezeigt. Dies ist bestens zur Anzeige
von volumenbezogenen Daten geeignet und erhöht für manuelle und
automatische Systeme die Wahrscheinlichkeit der Fehlererkennung.
Insbesondere mit automatisierten und fortgeschrittenen Phased-Ar-
ray-Geräten ermöglicht die Fähigkeit, verschiedene Darstellungsfor-
mate gleichzeitig anzeigen zu können und die kompletten unbearbei-
teten A-Bildinformationen der gesamten Prüfung speichern zu
können die nachträgliche Analyse der Prüfdaten. Da alle Ultraschall-
daten gespeichert werden, können für spätere Analyse S-Bilder, C-Bil-
der oder B-Bilder zusammen mit der entsprechenden A-Bildinforma-
tion jedes Prüfpunkts rekonstruiert werden. Die Bildschirmkopie in
Abbildung 3-10 zeigt zum Beispiel gleichzeitig das gleichgerichtete A-
Bild, ein S-Bild und ein Flächen-C-Bild des Schweißnahtprofils an.

Abbildung 3-10 Anzeige von mehreren Darstellungsformaten

3.8 Prüfgeschwindigkeit und Datenerfas-


sung
Zur Erzeugung von B-Bildern oder C-Bildern kann der Phased-Array-
Sensor von Hand oder mit einer automatischen Scan-Vorrichtung ge-
führt werden. In beiden Fällen können die Daten frei erfasst werden,
lediglich abhängig von der Prüfgeschwindigkeit des Geräts, oder in
Bezug auf die Sensorposition mit einem elektromechanischen Wegge-
ber. Wie bereits bemerkt, ermöglicht die Zuordnung von Ultraschall-
daten zur aktuellen Sensorposition das Erstellen einer proportionalen
Ansicht, und die Zuordnung der Daten zu bestimmten Bereichen des

Olympus Grundprinzipien der Phased-Array-Darstellung 53


Prüflings. Der Weggeber zeichnet die Position jedes Prüfpunktes auf,
und folgt dabei einem benutzerdefinierten Scan-Muster in der ange-
gebenen Indexauflösung.

Um Lücken in der Datenerfassung zu vermeiden, ist es wichtig, die


Bewegungsgeschwindigkeit des Sensors und die Abstandsauflösung
des Weggebers zu berücksichtigen. Kurz gesagt, muss die Datenge-
schwindigkeit des Geräts höher als die Prüfgeschwindigkeit des Sen-
sors, geteilt durch die Weggeberauflösung sein. Die Datengeschwin-
digkeit wird durch die Bauform und die Konfiguration des Geräts
bestimmt, vor allem aber durch die Impulsfolgefrequenz (IFF) und die
Anzahl Sendemodulierungen, die für jede Prüfung erstellt werden.
Beide Parameter sind konfigurierbare Variablen. Die Impulsfolgefre-
quenz dividiert durch die Anzahl Sendemodulierungen ist die
schnellstmögliche Datengeschwindigkeit eines Phased-Array-Sys-
tems. Dieser Wert kann sich aber noch durch Faktoren wie Mittelung,
digitale Erfassungsrate und Verarbeitungszeit ändern. Genaueres er-
fahren Sie vom Hersteller Ihres Geräts.

Wenn die Datengeschwindigkeit festgelegt ist, kann die maximale


Prüfgeschwindigkeit anhand der gewünschten Weggerauflösung er-
rechnet werden oder umgekehrt. Die Auswirkung einer zu hohen
Prüfgeschwindigkeit für eine gegebene Weggeberauflösung wird in
Abbildung 3-11 gezeigt.

WICHTIG

Abtastgeschwindigkeit
1. Prüfgeschwindigkeit > ----------------------------------------------------------------
Auflösung der Scan-Achse

2. Wenn für alle A-Bilder dieselbe IFF eingestellt wird, dann


ist:
Impulsfolgefrequenz
Prüfgeschwindigkeit < ---------------------------------------------------------------------
Anzahl Sendemodulierungen

54 Kapitel 3 Olympus
Abtastgeschwindigkeit
Prüfgeschwindigkeit > -------------------------------------------------------
Weggeberauflösung

20 mm/s 10 mm/s

Abbildung 3-11 Beispiel für den Einfluss der Datengeschwindigkeit auf die Prüfge-
schwindigkeit

Olympus Grundprinzipien der Phased-Array-Darstellung 55


4. Geräte für die Phased-Array-Prü-
fung

Es gibt viele verschiedene Phased-Array-Sensoren auf dem Markt,


wovon der Linien-Sensor sicher der am häufigsten eingesetzte ist. Es
gibt aber auch anwendungsspezifische Sensoren mit einer hohen An-
zahl Elemente und verschiedenen Elementanordnungen. Sie sind oft
für schwierige Anwendungsbereiche ausgelegt, welche Hochge-
schwindigkeit, Prüfung des gesamten Volumens oder eine komplexe
Schallbündelsteuerung fordern. Um alle diese Anforderungen zu er-
füllen, findet man heute auf dem Markt Phased-Array-Geräte von ver-
schiedenen Leistungsebene, die allgemein in drei Gruppen eingeteilt
werden können: tragbare Geräte für die Arbeit vor Ort, tragbare auto-
matisierte Geräte und Einbaugeräte für die Prüfung auf der Produkti-
onsstrasse.

4.1 Wichtige technische Daten


Zur Einschätzung von Prüfgeräten für konventionellen Ultraschall
werden verschiedene Leistungsmerkmale angegeben. Phased-Array-
Geräte besitzen allgemein dieselben Leistungsmerkmale. Nicht alle
unten aufgeführten Parameter treffen für alle Geräte zu.

Impulsgenerator und Empfänger


Diese Parameter definieren in großem Maße den Betriebsbereich der
mit diesem Gerät einzusetzenden Sensoren.

Impulsgenerator Empfänger
Vorhandener Nadelimpuls Gesamtbandbreite
Vorhandener Rechteckimpuls Schmalbandfilter verfügbar
Impulsfolgefrequenz zeitabhängige Verstärkungsrege-
lung
gesamter dynamischer Bereich

Olympus Geräte für die Phased-Array-Prüfung 57


Messarten und Anzeige
Parameter, die allgemein Messart und Anzeigemodi des Geräts defi-
nieren:

• Anzahl Alarm- und Messblenden


• A-Bildanzeige: Gleichrichtung (HF, ganze Welle, halbe Welle), Ma-
ximum, Komposit, Mittelwert, Umriss, Fläche und Spitzenwert-
speicher
• Bereich
• Messauflösung
• Messart (Schallweg, Tiefe, Abstand von Vorderkante Sensor, dB,
dB bis Kurve usw.)
• B-Bild mit Einzelwert (mit den meisten Prüfgeräten nicht verfüg-
bar)

Optionen für die Fehlergrößenbestimmung


Es wurden viele Normen für die Fehlererkennung mit konventionel-
lem Ultraschall entwickelt und zur Bestimmung der Größe von ver-
schiedenen Defekten eingesetzt. Diese gelten für die Schweißnahtprü-
fung, aber auch für die Prüfung einer Reihe von Strukturen aus Metall
und Verbundwerkstoffen. Bestimmte Prüfungen müssen entspre-
chend spezifischen Normen ausgeführt werden. Demzufolge wurden
für Prüfgeräte mit konventionellem Ultraschall eine Reihe von Hilfs-
mitteln für die automatische Prüfung und normengerechte Aufzeich-
nung der Prüfergebnisse entwickelt.

Eingänge und Ausgänge


Die Eingänge und Ausgänge bestimmen allgemein, wie das Gerät mit
Peripheriegeräten oder fremder Software eingesetzt werden kann:

• Anzahl und Art der Alarmausgänge


• USB-Port zum Drucken, Speichern und für die Datenübertragung
• Weggebereingänge für Zuweisung einer Position zu den Prüfdaten
• Triggereingang zur externen Kontrolle des Anregeimpulses und
des Prüfzyklus

Für Phased-Array spezifische Angaben


Wegen der vielen Elemente eines Phased-Array-Geräts müssen ande-
re wichtige Angaben beachtet werden. Sie werden im Weiteren erläu-
tert.

Anzahl Impulsgeneratoren Definiert die maximale Anzahl Elemente,


die in einer aktiven Apertur oder einer virtuellen Sensorapertur grup-
piert werden können.

Anzahl Kanäle Definiert die Gesamtzahl Kanäle, die zum Durchtak-


ten der Aperturen eingesetzt werden können, und die zur Vergröße-

58 Kapitel 4 Olympus
rung des Prüfbereichs in einer einzigen Sensorposition zur Verfügung
stehen.

XX:YY Benennungsregel, bei der XX = Anzahl Impulsgeneratoren,


und YY = Gesamtzahl der Kanäle ist. Die Anzahl Kanäle ist immer
gleich der Anzahl Impulsgeneratoren oder höher. Für tragbare Geräte
kann die Impulsgenerator/Empfängerkombination 16:16 bis 32:128 be-
tragen. Höhere Impulsgenerator/Empfängerkombinationen gibt es für
die Inline-Prüfung und für Systeme mit Sensoren mit höherer Ele-
mentzahl.

Sendemodulierungen Oft wird auch die Anzahl der in einem Bild


kombinierbaren Sendemodulierungen angegeben. Allgemein unter-
stützen Konfigurationen mit höherem Verhältnis XX:YY mehr Sende-
modulierungen, da sie größere Elementaperturen und bei Linien-Scan
mehr Schritte in der Apertur zulassen. Bitte beachten, dass mehr Sen-
demodulierungen nicht unbedingt auch eine größere Leistung bedeu-
tet, wie im Beispiel weiter unten gezeigt: bei der Prüfung mit einem
Sensor mit 64 Elementen und Sektor-Scan von 40 bis 70 Grad über
drei Querbohrungen wird das Schwenken mit Schritten von 1 Grad
(31 Sendemodulierungen), 2 Grad (16 Sendemodulierungen) und
4 Grad (8 Sendemodulierungen) auf einem Laufweg in Metall von
50 mm verglichen (siehe Abbildung 4-1, Abbildung 4-2 und
Abbildung 4-3). Die Definition ist mit kleineren Winkelschritten bes-
ser, die Fehlererkennung mit einer gröberen Auflösung ist aber durch-
aus zureichend. Sofern eine starke Fokussierung des Schallbündels
angewandt wird, muss sich die Anzahl der Sendemodulierungen er-
höhen.

Abbildung 4-1 S-Bild 40 bis 70 Grad: Schwenken des Winkels in Schritten von
1 Grad (31 Sendemodulierungen)

Olympus Geräte für die Phased-Array-Prüfung 59


Abbildung 4-2 S-Bild 40 bis 70 Grad: Schwenken des Winkels in Stufen von 2 Grad
(16 Sendemodulierungen)

Abbildung 4-3 S-Bild 40 bis 70 Grad: Schwenken des Winkels in Stufen von 4 Grad
(8 Sendemodulierungen)

In Tabelle 4-1 werden Beispiele für die Anzahl Sendemodulierungen


angezeigt, die für Linien-Scan mit verschiedenen Kombinationen der

60 Kapitel 4 Olympus
virtuellen Sensorapertur und der Gesamtzahl Elemente nötig sind.

Tabelle 4-1 Anzahl Elemente und Sendemodulierungen für Linien-Scan

Linien-Scan
Apertur Gesamtzahl Schritt Anzahl Sende-
Elemente Element modulierun-
gen
4 16 1 13
8 16 1 9
4 32 1 29
8 32 1 25
16 32 1 17
4 64 1 61
8 64 1 57
16 64 1 49
8 128 1 121
16 128 1 113
8 256 1 249
16 256 1 241

Es zeigt sich deutlich, dass eine 16:16 Konfiguration mit einem Sensor
mit 16 Elementen für ein S-Bild mit 1 Grad nur
31 Sendemodulierungen braucht, während eine Gerätekonfiguration
von 16:128 oder 32:128 für einen Linien-Scan mit einem Sensor mit
128 Elementen bis 121 Sendemodulierungen braucht.

IFF/Anzeigegeschwindigkeit Die Anzeigegeschwindigkeit der Gerä-


te ist in verschiedenen Bildformaten sehr verschieden. Für die Darstel-
lungsmodi mit Phased-Array gilt:

IFF × Anzahl Sendemodulierungen = maximale Anzeigegeschwindig-


keit

Das Schema einer auf vier Sendemodulierungen reduzierten Prüfse-


quenz mit Linien-Scan und Anzeigegeschwindigkeit von 60 Hz wird
in Abbildung 4-4 gezeigt. Prinzipielle wird die Anzeigegeschwindig-
keit durch das Display festegelegt. Die Datenerfassungsgeschwindig-
keit kann deutlich höher als die Anzeigegeschwindigkeit sein,

Olympus Geräte für die Phased-Array-Prüfung 61


Sendemo- Sendemodu- Sendemodu- Sendemodu- Sendemodu-
dulierung 1 lierung 2 lierung 3 lierung 4 lierung 1

150 ns 150 ns 150 ns 150 ns 150 ns

4.15 ms 8.30 ms 12.45 ms 16.6 ms

PRF
IFF = 240 Hz PRF = 240 Hz
IFF PRF = 240 Hz
IFF PRF
IFF = 240 Hz

Anzeigegeschwindigkeit = 60 Hz

Abbildung 4-4 Beispiel einer auf vier Sendemodulierungen reduzierten Prüfsequenz


(Linien-Scan)

Die tatsächliche Anzeigegeschwindigkeit hängt auch von anderen


Faktoren ab. Die Anzeigegeschwindigkeit des A-Bilds einer bestimm-
ten Sendemodulierung ist von Gerät zu Gerät verschieden. In man-
chen Geräten wird die IFF des A-Bildes durch die maximale Anzeige-
geschwindigkeit begrenzt, ob nun die Phased-Array-Darstellung oder
ein A-Bild auf dem ganzen Bildschirm angezeigt wird. Aus diesem
Grund ist es in gewissen Applikationen wichtig, die IFF des A-Bilds
zu überprüfen, wenn sie von einer Sendemodulierungssequenz in
verschiedenen Darstellungsformaten abgeleitet wird.

Automatisches Erkennen des Sensors Die Fähigkeit Phased-Array-


Sensoren zu erkennen verkürzt die Konfigurationszeit und verhindert
eventuelle Fehler durch die automatische Konfiguration des Geräts
mit der richtigen Anzahl Elemente und der richtigen Sensorgeomet-
rie.

Darstellungsarten Phased-Array-Geräte können Sektor-Scans und Li-


nien-Scans ausführen. Die Fähigkeit die mit diesen Prüfmethoden ge-
wonnen Daten in einem C-Bild der Tiefe oder der Amplitude aneinan-
derzureihen, macht eine flächige Darstellung möglich und erweitert
die Mittel zur Größenbestimmung von Defekten.

Speichern des A-Bilds Die Fähigkeit unbearbeitete HF-A-Bilder zu


speichern ermöglicht das Überprüfen der Daten offline. Dies ist be-
sonders praktisch bei der Datenerfassung auf sehr großen Flächen.

Unterstützung von mehreren Gruppen Bei fortgeschritteneren


Phased-Array-Geräten können mehrere Sendemodulierungsgruppen
mit einem oder mehreren Sensoren eingesetzt werden. Dies ist beson-
ders praktisch, wenn es wichtig ist, Volumendaten zu erfassen, um sie
offline zu analysieren. Es kann zum Beispiel ein Sensor mit 5 MHz

62 Kapitel 4 Olympus
und 64 Elementen so programmiert werden, dass die Elemente 1–16
für einen Sektor-Scan mit Winkeln von 40 bis 70 Grad eingesetzt wer-
den, während mit einer zweiten Gruppe ein Linien-Scan mit 60 Grad
und einer Apertur von 16 Elementen ausgeführt wird, der in Schritten
von einem Element durch alle 64 Elemente schaltet.

Weggeber Allgemein gibt es zwei Gerätegruppen, eine für die manu-


elle Prüfung und eine andere für die Prüfung mit Weggeber.

Ein manuelles Phased-Array-Gerät liefert, ähnlich wie ein Prüfgerät


für konventionellen Ultraschall, Prüfdaten in Echtzeit. Außer dem A-
Bild, zeigt das Gerät auch S-Bilder (von Sektor- oder Linien-Scans) an,
die beim Erkennen und der Analyse von Diskontinuitäten hilfreich
sind. Die Fähigkeit in einem Prüfgang mehr als einen Winkel oder ei-
ne Position gleichzeitig einsetzen und anzeigen zu können, ist der
Hauptgrund für den Gebrauch eines solchen Geräts. In manchen Fäl-
len, wie bei der Bestimmung der Rissgröße, ist die Darstellung ein
wertvolles Hilfsmittel um die Tiefe des Risses einzuschätzen.

Phased-Array-Geräte mit Weggeberschnittstelle erstellen anhand der


Positionsdaten, der Sensorgeometrie und der programmierten Sende-
modulierungssequenzen eine Draufsicht, Vorderansicht oder Seiten-
ansichten des Prüflings. In Geräten, die das komplette A-Bild spei-
chern können, werden Darstellungen rekonstruiert und Querschnitts-
ansichten in Längsrichtung des Scans oder flächige C-Bilder in ver-
schiedenen Tiefen erstellt. Diese kodierten Darstellungen ermöglichen
die flächige Größenbestimmung von Defekten.

Referenzcursor Die Geräte besitzen verschiedene Cursoren, die auf


dem Bildschirm für Analyse, Größenbestimmung und Tiefenmessung
zur Hilfe genommen werden können. In einem S-Bild wird die Riss-
höhe mit einem Cursor gemessen. In einem mit einem mit Weggeber
erstellten Datensatz wird die ungefähre Größe eines Defekts be-
stimmt. In den folgenden Abbildungen werden Beispiele der verschie-
denen Cursoren gezeigt.

Im einfachsten der folgenden Anzeigemodi (Abbildung 4-5) gibt der


blaue Cursor den Winkelausschnitt des S-Bilds an, der im A-Bild dar-
gestellt wird. Die horizontalen roten Linien begrenzen den Anfang
und das Ende der zum Messen eingesetzten Datenblende, und die
vertikale grüne Linie markiert die Position im Bild, die der Vorder-
kante des Vorlaufkeils entspricht. Letztere wird häufig als Bezugs-
punkt zur Berechnung der Reflektorposition benutzt, wobei beachtet
werden muss, dass oberflächennahe Reflektoren unter dem Vorlauf-
keil liegen können, da sich der genaue Schallaustrittspunkt bei
Phased-Array-Sensoren mit dem Winkel oder der Aperturgruppe än-
dert.

Olympus Geräte für die Phased-Array-Prüfung 63


Abbildung 4-5 Winkelcursor

Im S-Bild in Abbildung 4-6 findet man horizontale Cursoren, die das


Ende des ersten und des zweiten Sprungabstands des Schallwegs im
zu prüfenden Material darstellen. Es zeigt auch Winkelcursoren, die
die drei häufigsten Prüfwinkel von 45, 60 und 70 Grad markieren. Au-
ßerdem findet man im A-Bild einen vertikalen Cursor bei 80 % Ampli-
tude, ein Wert, der allgemein als Referenzpegel dient.

Abbildung 4-6 Winkelcursoren und horizontale Cursoren

Eine weiterentwickelte Software zur Interpretation der Prüfdaten ver-


bessert weiterhin die Darstellung und Analyse. Der Bildschirm in
Abbildung 4-7 zeigt das A-Bild eines Winkels, ein S-Bild, ein RayTra-
cing-Diagramm mit Schweißnahtmaske, das die Position eines Reflek-

64 Kapitel 4 Olympus
tors in der Schweißnaht zeigt, und eine zusammenfassende Tabelle, in
der die berechnete Position und gemessene Amplituden jeder Fehler-
indikation aufgelistet wird.

Abbildung 4-7 Anzeige von verschiedenen Darstellungsformaten

4.2 Justier- und Normalisationsmethoden


Nullpunktjustierung Da der Vorlaufkeilvorlauf sich bei Phased-Ar-
ray-Systemen mit dem Winkel ändert, ist es nötig, die Nullpunktver-
schiebung für jeden Winkel einzustellen. Auf der Vorlaufkeilgeomet-
rie beruhende Standard Nullprofile sind in der Gerätesoftware
programmiert, diese können aber für höhere Genauigkeit durch Ab-
tasten eines Referenzreflektors in fester Tiefe oder mit festem Abstand
nachjustiert werden.

Normalisierung der Verstärkung Da Schallbündel durch verschiede-


ne Elementverzögerungen und Gruppen gestaltet werden, ist es wich-
tig, die Amplitude aller Sendemodulierungen zu normalisieren, um
die verschiedenen Empfindlichkeiten der einzelnen Elemente des Ar-
ray-Sensors, die verschiedenen Schallschwächungen im Vorlaufkeil
und auch den unterschiedlichen Energietransfer bei verschiedenen
Einschallwinkeln auszugleichen. Durch die Justierung des Vorlauf-
keilvorlaufs und der Empfindlichkeit in der gesamten Prüfsequenz ist
nicht nur die Darstellung klarer, sondern es kann auch bei allen Sen-
demodulierungen gemessen und die Fehlergröße bestimmt werden.
Die Prüfgeräte für die zerstörungsfreie Prüfung von Olympus bieten
eine komplette Justierung, wohingegen viele andere Geräte aus der
Branche nur eine Sendemodulierung auf einmal justieren können.
Olympus-Geräte besitzen eine komplette winkelkorrigierte Verstär-
kung (ACG für angle-corrected gain) und zeitabhängige Verstärkungs-
regelung (TCG für time-corrected gain), wie in der ASME-Norm

Olympus Geräte für die Phased-Array-Prüfung 65


Abschnitt V vorgeschrieben.

Im Beispiel in Abbildung 4-8 ist das Echo eines Referenzreflektors vor


der Verstärkungsnormalisierung bei 65 Grad bedeutend niedriger als
vom selben Reflektor bei 45 Grad.

Abbildung 4-8 Echo vor der Verstärkungsregelung

66 Kapitel 4 Olympus
Nach der Normalisierung stellt das Gerät die Referenzverstärkung so
ein, dass die Echos der Referenzbohrung bei allen Winkeln gleich
groß sind, wie in Abbildung 4-9 gezeigt.

Abbildung 4-9 Echos nach der Verstärkungsnormalisierung

TVG/DAC für Phased-Array Zur Bestimmung der Defektgröße wer-


den häufig A-Bildamplitudenmethoden mit DAC-Kurven oder zeitab-

Olympus Geräte für die Phased-Array-Prüfung 67


hängiger Verstärkungsregelung eingesetzt. Diese Methoden berück-
sichtigen den Schalldämpfungseffekt im Werkstoff und die
Schallbündelausbreitung durch den Ausgleich des Verstärkungspe-
gels (TVG/TCG) oder durch Erstellen einer Referenz-DAC-Kurve, die
auf den Echos von Reflektoren derselben Größe als Funktion des Ab-
stands beruht. Wie bei der Empfindlichkeitsjustierung mit konventio-
nellem Ultraschall, können einige Phased-Array-Geräte eine TVG-
Kurve aus vielen Punkten im Bereich aller definierten Sendemodulie-
rungen erstellen. Diese Geräte können jederzeit von der TVG- auf die
DAC-Kurve umschalten. So können Größenbestimmungskurven mit
verschiedenen Winkeln (Sektor-Scan) oder bei allen virtuellen Apertu-
ren (Linien-Scan) benutzt werden. Mit aktivierter TVG/TCG wird das
Erkennen und Visualisieren von Defekten im Prüfvolumen wesentlich
verbessert.

68 Kapitel 4 Olympus
5. Prüfkonfiguration und Darstellungs-
formate mit Phased-Array

In diesem Kapitel wird näher erläutert wie eine Phased-Array-Dar-


stellung aufgebaut ist. Insbesondere werden die nötigen Eingaben
und das Verhältnis der verschiedenen Phased-Array-Darstellungsar-
ten zum eingesetzten Sensor und zum Prüfling näher erklärt. Es wer-
den auch die üblichen A-Bildanzeigen der Phased-Array-Darstellung
behandelt.

5.1 Die Gerätekonfiguration

Abbildung 5-1 Typische Phased-Array-Prüfung mit OmniScan

Wie bereits erwähnt, müssen für eine ordentliche Ultraschallprüfung


viele Faktoren überprüft und eingestellt werden. Zusammenfassend
braucht man, um genau prüfen zu können, zur Justierung des Geräts
materialspezifische und sensorspezifische Parameter.

Olympus Prüfkonfiguration und Darstellungsformate mit Phased-Array 69


Werkstoff
1. Die Schallgeschwindigkeit im Werkstoff muss eingestellt werden
um die Tiefe genau messen zu können. Es ist wichtig, den richtigen
Schallgeschwindigkeitsmodus einzustellen (longitudinal oder
transversal). Bei der Prüfung mit Senkrechteinschallung werden
normalerweise Longitudinalwellen eingesetzt, bei der Prüfung mit
Winkelsensor eher Transversalwellen.
2. Normalerweise wird die Dicke des Prüflings eingegeben. Dies ist
besonders wichtig bei der Prüfung mit Winkelsensor. So kann bei
dieser Prüfart die Tiefe anhand des Sprungabstands gemessen wer-
den. Auch können im S-Bild Positionsmarkierer genau eingestellt
werden.
3. Beim Prüfen von gekrümmten Teilen muss der Krümmungsradius
eingegeben werden. Dieser Krümmungsradius wird zur genauen
Tiefenmessung vom Algorithmus berücksichtigt.

Sensor
1. Die Frequenz muss zur genauen Einstellung der Impulsgenerator-
parameter und Empfängerfilter bekannt sein.
2. Die Nullpunktverschiebung muss ermittelt werden. Sie dient dazu,
die von Ankoppelung, zugehörigen Schichten, Kabeln und der
Elektronik verursachte Verzögerungen zu kompensieren.
3. Die Amplitude der Echos von bekannten Reflektoren muss als Re-
ferenz eingestellt werden, damit Größenbestimmungstechniken
anhand der Amplitude eingesetzt werden können.
4. Es muss der Einschallwinkel des Schallbündels angegeben werden.
5. Für Phased-Array-Sensoren muss die Anzahl Elemente und deren
Abstand bekannt sein.

Vorlaufkeil
1. Geschwindigkeit der Schallausbreitung im Vorlaufkeil
2. Einschallwinkel des Vorlaufkeils
3. Schallaustrittspunkt oder Sensorvorderkante als Referenz
4. Für Phased-Array: Offset der Höhe des ersten Elements
Bei der Prüfung mit konventionellem Ultraschall müssen für ein gutes
Prüfergebnis vor der Prüfung alle obenstehenden Parameter einge-
stellt werden. Da ein Einzelschwingerprüfkopf eine feste Apertur hat,
ist die Auswahl des Einschallwinkels, der Nullpunktverschiebung
und der Amplitudenjustierung nur für einen Prüfkopf oder eine Prüf-
kopf/Vorlaufkeilkombination gültig. Bei jedem Wechsel des Prüfkopfs
oder des Vorlaufkeils muss neu justiert werden.

Mit Phased-Array-Sensoren muss der Prüfer denselben Prinzipien fol-


gen. Der hauptsächliche Vorteil der Phased-Array-Prüfung ist, dass
Apertur, Fokuspunkt und Winkel dynamisch geändert, und so mehre-
re Winkel gleichzeitig eingesetzt werden können. Dadurch muss aber

70 Kapitel 5 Olympus
auch die Justierung und die Konfiguration auf jeden Zustand des
Phased-Array-Sensors (allgemein Sendemodulierung genannt) ausge-
dehnt werden. So werden nicht nur Amplitude und Tiefe in der ge-
samten programmierten Sendemodulierungssequenz genau gemes-
sen, sondern es werden auch Genauigkeit und bildliche Anzeige
durch die Phased-Array-Darstellung verbessert.

Einer der Hauptunterschiede zwischen konventionellem Ultraschall


und Phased-Array liegt in der Prüfung mit einem Winkelschallbün-
del. Bei konventionellem Ultraschall ist die Folge der Eingabe eines
falschen Vorlaufkeilwinkels oder einer falschen Schallgeschwindig-
keit im Werkstoff eine fehlerhafte Ortsangabe für den Defekt, die Wel-
lenausbreitung jedoch (und folglich das daraus entstehende A-Bild)
wird nicht beeinflusst, da sie lediglich auf mechanischer Brechung be-
ruht. Bei Phased-Array müssen jedoch die richtige Schallgeschwin-
digkeit im Werkstoff und im Vorlaufkeil, sowie die richtigen Sensor-
und Vorlaufkeilparameter eingegeben werden, um mit den richtigen
Sendemodulierungen die gewünschten Winkel zu schwenken und
deutliche Bilder erzeugen zu können. In fortgeschritteneren Geräten
werden wichtige Sensorparameter automatisch übertragen und die
benutzerdefinierten Vorlaufkeilparameter mittels gut organisierter
Konfigurationsbibliotheken verwaltet.

Folgende Parameter müssen normalerweise zum Programmieren ei-


ner Phased-Array-Prüfung eingegeben werden:

Sensorparameter
• Frequenz
• Bandbreite
• Abmessungen
• Anzahl Elemente
• Abstand der Elemente

Vorlaufkeilparameter
• Einschallwinkel des Vorlaufkeils
• Schallgeschwindigkeit im Vorlaufkeil (Nennwert)
• Abstand Z = Höhe bis Mitte des ersten Elements
• Abstand X (Index) = Abstand von Vorderkante Vorlaufkeil zum
ersten Element
• Abstand Y (Scan) = Abstand von Seite Vorlaufkeil bis Mitte der Ele-
mente

Olympus Prüfkonfiguration und Darstellungsformate mit Phased-Array 71


Abstand x

Abstand y
Schallge-
schwindig-
keit
Abstand z
Winkel

Abbildung 5-2 Vorlaufkeilparameter

Konfiguration der Sendemodulierungen


Die grundlegenden Sensor- und Vorlaufkeileinstellungen müssen ma-
nuell oder mit der automatischen Sensorerkennung in das Gerät ein-
gegeben werden. Außer den üblichen Ultraschalleinstellungen für Im-
pulsgenerator, Empfänger und Messblende, müssen zusätzlich Werte
für den Sensor und die elektronische Schallbündelsteuerung (Sende-
modulierung) eingegeben werden.

Werte, die vom Prüfer eingegeben werden müssen


• Schallgeschwindigkeit im Material
• Anzahl Elemente (in der Apertur)
• Auswahl der Gesamtzahl Elemente in der Sensorapertur
• Elementstufen (sie definieren, wie bei Linien-Scan die Apertur
durch die Sensorelemente schaltet)
• Gewünschte Fokustiefe, die, um einen Fokus zu bilden, kleiner als
die Nahfeldlänge (N) sein muss
• Prüfwinkel
Für S-Bilder wird dieser Parameter um drei Einstellungen erwei-
tert:
– erster Prüfwinkel
– letzter Prüfwinkel
– Schrittgröße, mit der die Winkel geschwenkt werden

5.2 Linien-Scan mit Senkrechteinschallung


Der Linien-Scan mit Senkrechteinschallung ist leicht auf dem Bild-
schirm zu visualisieren, da er eine einfache Querschnittsansicht des
Prüflings darstellt. Wie in Kapitel 3 beschrieben, wird bei Phased-Ar-
ray-Prüfung ohne Bewegung des Sensors, ledigleich durch elektroni-
sches Schalten durch die Elemente eines Linear-Array-Sensors ein
Querschnittsprofil erstellt. Für jede Sendemodulierung wird ein A-
Bild erstellt, digitalisiert und aufgezeichnet. Aufeinanderfolgende
Aperturen werden zu dem aktiven Querschnittsbild aneinanderge-
reiht. Der Effekt ähnelt dem B-Bild, das bei Führen eines Einzel-

72 Kapitel 5 Olympus
schwingerprüfkopfs mit konventionellem Ultraschall über einen Prüf-
ling und bei Speichern der Daten in bestimmten Intervallen entsteht.
Um alle Vorteile der Prüfung mit Linien-Scan ausnutzen zu können,
müssen die eingesetzten Sensoren mindestens 32 Elementen besitzen,
Sensoren mit 64 Elementen sind sogar noch häufiger. Mit mehr Ele-
menten können breitere Aperturen eingesetzt werden, was die Emp-
findlichkeit und die Fokussierfähigkeit erhöht und den Prüfbereich
vergrößert.

In der Praxis wird in Echtzeit elektronisch abgetastet, so dass bei der


mechanischen Bewegung des Sensors ständig ein aktualisiertes Quer-
schnittsbild angezeigt wird. Diese Querschnittsansicht zeigt die wah-
re Tiefe der Reflektoren im Werkstoff und auch deren aktuelle Positi-
on in Bezug auf die Vorderkante des Sensorbauteils. In Abbildung 5-3
wird die von einem Linear-Array-Sensor 5L64-A2 mit 64 Elementen
und 5 MHz erzeugte Darstellung von Bohrungen in einem Prüfkörper
gezeigt. Der Sensor hat einen Elementabstand von 0,6 mm.

Für dieses Beispiel hat der Prüfer die Sendemodulierungen auf eine
Apertur von 16 Elementen und die Sequenz auf eine Erhöhung von ei-
nem Element pro Schritt programmiert. Apertur 1 besteht also aus
den Elementen 1 bis 16, Apertur 2 aus den Elementen 2 bis 17,
Apertur 3 aus den Elementen 3 bis 18 und so fort. Die daraus resultie-
renden 49 einzelnen A-Bilder der gesamten Länge des Sensors werden
in Echtzeit zu einer Querschnittsansicht aneinandergereiht.

Olympus Prüfkonfiguration und Darstellungsformate mit Phased-Array 73


Abtastrichtung
Abtastbereich

Abbildung 5-3 Linien-Scan mit Senkrechteinschallung

Das Ergebnis ist ein Bild, in dem deutlich die Position der Bohrungen
im Prüfbereich gezeigt werden (siehe Abbildung 5-4). Dieses Bild
wird zusammen mit dem A-Bild einer einzigen, vom Prüfer mit dem
blauen Cursor ausgewählten Apertur angezeigt. In diesem Fall ist es
die 30. der 49 Aperturen, die aus den Elementen 30 bis 46 gebildet
wird. Dies ist der Punkt in dem das Schallbündel die zweite Bohrung
schneidet.

74 Kapitel 5 Olympus
Abbildung 5-4 Linien-Scan mit Senkrechteinschallung

Die vertikale Skala an der linken Seite des Bildschirms gibt die Tiefe oder
den Abstand des durch das Amplitudenmaximum im A-Bild dargestell-
ten Reflektors an. Die horizontale Skala des A-Bilds gibt die relative
Echoamplitude an. Die horizontale Skala am unteren Rand des S-Bilds
zeigt die Position des Reflektors bezogen auf die Vorderkante des Sensors
an, und die Farbskala am rechten Rand des Bildschirms zeigt die Bezie-
hung zwischen Farbe und Signalamplitude an.

Das Gerät kann auch ein A-Bild von allen Sendemodulierungen anzei-
gen, das heißt eine aus den Wellenformen aller Aperturen zusammen-
gesetzte Darstellung. In diesem Fall zeigt das A-Bild die Fehlerindika-
tionen von allen vier Bohrungen im von der Blende begrenzten
Bereich an. Diese Darstellungsart ist besonders praktisch bei der Prü-
fung mit Senkrechteinschallung, kann aber bei komplexer Geometrie
des Prüflings zahlreiche verwirrende Echos hervorrufen. In
Abbildung 5-5 werden zum Beispiel im A-Bild alle Sendemodulierun-
gen auf dem Bildschirm angezeigt, die Signale aller Aperturen sind
aufsummiert und die Indikationen von drei Bohrungen werden
gleichzeitig angezeigt.

Olympus Prüfkonfiguration und Darstellungsformate mit Phased-Array 75


Abbildung 5-5 Linien-Scan mit Senkrechteinschallung und A-Bild von allen Sende-
modulierungen

Einige höher entwickelte Geräte können als Quelle des A-Bilds auch
das erste oder das höchste Signal in der Blende verwenden.

5.3 Linien-Scan mit Winkeleinschallung


Ein Linien-Scan kann auch für die Prüfung mit einem einzigen festen
Winkel programmiert werden, ähnlich wie die Prüfung mit Winkel-
prüfköpfen mit Einzelschwinger für konventionellen Ultraschall. Das
so erzeugte Schallbündel schaltet mit demselben Winkel durch alle
Elemente in Längsrichtung des Sensors, wobei ein größeres Volumen
ohne mechanische Bewegung des Sensors geprüft werden kann. Da-
durch wird die Prüfzeit verkürzt, besonders bei der Schweißnahtprü-
fung, bei der das gesamte Volumen der Schweißnaht mit einem festem
Abstand des Sensors geprüft werden kann.

aktive Gruppe
16
1 128

Prüfrichtung

Abbildung 5-6 Linien-Scan mit festem Winkel durch alle Elemente geschaltet

Im Beispiel in Abbildung 5-7 wird das Schallbündel mit einem Winkel


von 45 Grad durch den Prüfling geschwenkt wobei der Sensor bei sei-
ner Fortbewegung alle drei Bohrungen erfasst (oben). Der Schallbün-

76 Kapitel 5 Olympus
delaustrittspunkt bewegt sich ebenfalls in jeder Prüfsequenz von links
nach rechts. Im A-Bild wird zu jedem Zeitpunkt das Echomuster einer
bestimmten Apertur angezeigt, im S-Bild die Summe aller Schallbün-
delpositionen (unten).

Abbildung 5-7 Linien-Scan mit Winkelsensor (oben); A-Bild und S-Bild (unten)

Beim Prüfen von nicht zu dicken Werkstoffen mit Winkelschallbündel


muss auch die tatsächliche Position von Reflektoren beachtet werden,
die weiter entfernt als der erste Sprungabstand liegen, also weiter als
der Punkt, an dem das Schallbündel zum ersten Mal an der Rück-
wand des Prüflings reflektiert wird. Dieser Faktor spielt vor allem bei
der Rohr- und Blechprüfung eine Rolle. In Abbildung 5-8, in der das
Schallbündel von links nach rechts fortschreitet, wird die zentrale
Schallbündelkomponente des Sensors vom Boden des Stahlblechs re-
flektiert und trifft erst im zweiten Sprungabstand auf die Referenz-
bohrung.

Olympus Prüfkonfiguration und Darstellungsformate mit Phased-Array 77


Abbildung 5-8 Messen eines Reflektors im zweiten Sprungabstand

Auf dem Bildschirm zeigen die gestrichelten horizontalen Cursoren


das Ende des ersten und des zweiten Sprungabstands an. Dadurch
wird deutlich, dass die zwischen den beiden horizontalen Cursoren
liegende Indikation der Bohrung sich im ganzen Sprungabstand be-
findet. Dabei ist zu beachten, dass die Tiefenskala am linken Rand des
Bildschirms nur für den ersten Sprungabstand genau ist. Zur Bestim-
mung der Tiefe einer Fehlerindikation im zweiten Sprungabstand
muss die Dicke des Prüflings (in diesem Fall 25 mm) abgezogen wer-
den. Befindet sich die Indikation im dritten Sprungabstand, muss die
doppelte Dicke abgezogen werden. Die meisten Geräte machen dies
automatisch und zeigen das entsprechende Ergebnis an, wie in
Kapitel 4 besprochen.

78 Kapitel 5 Olympus
5.4 Beispiele der S-Bildanzeige
Bei S-Bildern kann die Analyse schwieriger sein, da u. U. Signale in
verschiedenen Sprungabständen von Rückwand oder Vorderwand
des Prüflings reflektiert werden. Im ersten Sprungabstand (Schall-
wegteil bis zur ersten Umleitung am Boden des Prüflings) wird ein
einfaches Querschnittsbild eines keilförmigen Prüfteilsegments ange-
zeigt. Über den ersten Sprungabstand hinaus muss jedoch wie bei
konventionellem Ultraschall die Darstellung vorsichtiger analysiert
werden.

Prüfgeräte für konventionellen Ultraschall zeigen mit einem norma-


len Winkelprüfkopf A-Bilder von einem einzigen Winkel an. Bei mo-
dernen Digitalgeräten werden anhand von trigonomischen Rechnun-
gen, die auf dem gemessenen Laufweg und der programmierten
Prüfteildicke beruhen, die Tiefe des Reflektors und der Oberflächen-
abstand gemessen. Aber die Geometrie des Prüflings kann auch Indi-
kationen im ersten und im zweiten Sprungabstand gleichzeitig her-
vorrufen, wie hier in Abbildung 5-9 mit einem Sensor von 5 MHz mit
Vorlaufkeil von 45 Grad. In diesem Fall wird ein Teil des Schallbün-
dels von der Nut am Boden des Prüflings zurückgeschallt, und ein
Teil wird aufwärts geschallt und verlässt in der rechten oberen Ecke
das Prüfteil. Die Position des Reflektors kann dann anhand der
Sprungabstandsangabe und der Abstandsberechnung überprüft wer-
den (siehe Abbildung 5-10).

Abbildung 5-9 Prüfung mit konventionellem Ultraschall und Winkelprüfkopf

Die Indikation im ersten Sprungabstand sind die großen, von der Nut
im Winkelspiegel erzeugten Echos. In Abbildung 5-10 wird in der lin-
ken oberen Ecke des Bildschirms der der Tiefe eines 25 mm dicken
Prüflings entsprechende Wert angezeigt, und in der rechten unteren
Ecke des Bildschirms sieht man, dass es sich um ein Signal aus dem
ersten Sprungabstand handelt.

Olympus Prüfkonfiguration und Darstellungsformate mit Phased-Array 79


Abbildung 5-10 Fehlerindikation im ersten Sprungabstands

Die Indikation im zweiten Sprungabstand ist eine kleine Reflexion an


der oberen Ecke des Prüflings. In Abbildung 5-11 werden der Tiefen-
wert der oberen Wand eines 25 mm dicken Prüflings, und der zweite
Sprungabstand angezeigt (der kleine Unterschied von Tiefe und
Oberflächenabstand zum erwarteten Nennwert von respektive 0 mm
und 50 mm wird durch die Schallbündelausbreitung verursacht.)

Abbildung 5-11 Fehlerindikation im zweiten Sprungabstand

Wird dieselbe Prüfung mit einem Phased-Array-Sensor von 5 MHz


wiederholt, der durch einen Winkelsektor von 40 bis 70 Grad ge-

80 Kapitel 5 Olympus
schwenkt wird, wird ein aus mehreren Winkeln gebildetes S-Bild an-
gezeigt, das entsprechende A-Bild zeigt nur die ausgewählte Winkel-
komponente an. Die Reflektortiefe und der Oberflächenabstand für
jeden Winkel werden trigonometrisch mit der gemessenen Länge des
Laufwegs und der eingegebenen Dicke des Prüflings berechnet. Bei
dieser Prüfart kann die Prüfteilgeometrie Indikationen im ersten und
im zweiten Sprungabstand gleichzeitig hervorrufen, sowie mehrfache
Reflektionen. Der Bildschirm kann mit eingeblendeten horizontalen
Linien in Bereiche für den ersten, zweiten und dritten Sprungabstand
eingeteilt werden, und die Abstandsberechnung hilft die Position ei-
nes Reflektors zu bestätigen.

In den S-Bildern in Abbildung 5-12, Abbildung 5-13 und


Abbildung 5-14 erkennt man drei Indikationen, die bei einem
Schwenk von 40 bis 70 Grad in einer einzigen Sensorposition erfasst
wurden. Die 58-Grad-Schallbündelkomponente reflektiert an der Bo-
dennut des Prüflings, es wird eine Indikation im ersten Sprungab-
stand angezeigt. Die 69-Grad-Komponente bricht sich an der unteren
Ecke des Prüflings, es wird ebenfalls eine Indikation im ersten
Sprungabstand angegeben. Die 42-Grad-Komponente wird von Vor-
der- und Rückwand des Prüflings zurückgeschallt und reflektiert an
der unteren Ecke, was als Indikation im dritten Sprungabstand ange-
zeigt wird.

Olympus Prüfkonfiguration und Darstellungsformate mit Phased-Array 81


Abbildung 5-12 58°-Schallbündelkomponente

82 Kapitel 5 Olympus
Abbildung 5-13 69°-Schallbündelkomponente

Olympus Prüfkonfiguration und Darstellungsformate mit Phased-Array 83


Abbildung 5-14 42°-Schallbündelkomponente

5.5 Analyse der Reflektorposition


Phased-Array-Geräte bieten Softwarehilfen zur Ortung von Defekten
und anderen Reflektoren. Diese Geräte lokalisieren üblicherweise:
(1) die horizontale Position des Reflektors bezogen auf den Sensor;
(2) seine Tiefe bezogen auf die Werkstoffoberfläche und (3) den Lauf-
weg zwischen Schallaustrittspunkt und Reflektor. Dazu sollte das Ge-
rät gegebenenfalls den Sprungabstand feststellen können, in dem sich
der Reflektor befindet.

Als erstes muss daran erinnert werden, dass der Schallaustrittspunkt


(der Punkt in dem das Zentrum des Schallbündels aus dem Vorlauf-
keil austritt) bei Prüfköpfen für konventionellen Ultraschall fest ist
(Abbildung 5-15a) und bei Phased-Array-Vorlaufkeilen beweglich
(Abbildung 5-15b). Beim Linien-Scan bewegt sich der Schallautritts-
punkt schrittweise in Längsrichtung des Sensors. Beim Sektor-Scan
treten verschiedene Winkelkomponenten an verschiedenen Stellen
aus dem Vorlaufkeil aus.

84 Kapitel 5 Olympus
a b

Abbildung 5-15 Schallaustrittspunkt an Vorlaufkeilen für konventionellen


Ultraschall (a) und Phased-Array (b)

Bei Prüfköpfen für konventionellen Ultraschall ist der Schallaustritts-


punkt des Vorlaufkeils normalerweise der Bezugspunkt für die Be-
rechnung von Tiefe und Abstand. Da der Schallaustrittspunkt eines
Phased-Array-Sensors variiert, wird üblicherweise als Bezugspunkt
für die Position des Defekts die Vorderkante des Sensors statt dem
Schallaustrittspunkt genommen. Die in Abbildung 5-16 gezeigten Di-
mensionen können dann von den Schallbündelinformationen abgelei-
tet werden:

RA
PA
DA

SA

Abbildung 5-16 Als Referenz für die Defektposition dienende Dimensionen

DA = Tiefe des Reflektors in Blende A


PA = vordere Position des Reflektors bezogen auf die Vorlauf-
keilspitze (deutsch: vPa A = verkürzter Projektionsab-
stand)
RA = Abstand zwischen dem Bezugspunkt des Vorlaufkeils und
dem Reflektor
SA = Laufweg bis zum Reflektor
Bei dieser Darstellungsweise wird der Übergang vom Bereich des ers-
ten zum Bereich des zweiten und vom Bereich des zweiten zum Be-
reich des dritten Sprungabstands mit gestrichelten horizontalen Lini-

Olympus Prüfkonfiguration und Darstellungsformate mit Phased-Array 85


en angegeben. In untenstehendem Beispiel erscheint der Reflektor der
unteren Ecke am Übergang zwischen erstem und zweitem Sprungab-
stand (Abbildung 5-17), und der Reflektor der oberen Ecke am Über-
gang zwischen zweitem und drittem Sprungabstand
(Abbildung 5-18). Dazu geben die Positionsmessfelder oben am Bild-
schirm die Lage des Reflektors an.

Abbildung 5-17 Reflektor der unteren Ecke

Abbildung 5-18 Reflektor der oberen Ecke

In gewisser Weise wird auf dem Bildschirm der zweite Sprungab-

86 Kapitel 5 Olympus
stand als Fortführung des Schallbündels in gerader Richtung proji-
ziert. Das Schallbündel wird vom Boden des Prüflings nach oben re-
flektiert, auf dem Bildschirm wird es jedoch dargestellt, als ob es auf
derselben Achse weiterliefe.

Ober-
fläche

B0 Unter-
fläche

45°
T1 Ober-
fläche

Abbildung 5-19 Darstellung des zweiten Sprungabstands verglichen mit dem


Schallweg im Prüfling

Olympus Prüfkonfiguration und Darstellungsformate mit Phased-Array 87


Anhang A: Konstanten und praktische
Formeln

Tabelle A1 Hauptsächliche Ultraschallgrößen, ihre Definition und


ihr gegenseitiges Verhältnis

Faktor Definition / Formel / Einheit / Bemerkung

E(1 – μ) 0,5
v L = ------------------------------------------ [m/s; mm/s; in./s]
ρ ( 1 + μ ) ( 1 – 2μ )
wobei:
Schallge-
schwindigkeit E = Elastizitätsmodul (Youngscher Modul)
von Longitudi- [N/m2]
nalwellen ρ = Massendichte [kg/m3]
(Tabelle A2)
( E – 2G )
μ = Poissonzahl; μ = ----------------------
2G
G = Schubmodul [N/m2]
Schallge- E 0,5
schwindigkeit v T = ------------------------ [m/s; mm/s; in./s]
2ρ ( 1 + μ )
von Transver-
salwellen
(Scherwellen)
(Tabelle A2)
Schallge- ( 0,87 + 1,12μ )
schwindigkeit v R = ------------------------------------ v T [m/s; mm/s; in./s]
(1 + μ)
der Ray-
leighwelle
(Oberflächen-
welle)
n
f = --- ; Anzahl Schwingungen in einem spezifi-
t
10 6
Frequenz schen Zeitinterval; MHz = 10 6 Hz = -------- ;
s
c
auch: f = ---
λ

Olympus Konstanten und praktische Formeln 89


Tabelle A1 Hauptsächliche Ultraschallgrößen, ihre Definition und
ihr gegenseitiges Verhältnis (Fortsetzung)

Faktor Definition / Formel / Einheit / Bemerkung


v IP
λ = -- ; auch: λ = ------ [mm/in.]
f Sz
Wellenlänge
(Tabelle A3) IP = Impulslänge ( v • Δτ –20 dB ) [mm/in.]
Sz = Schwingungszahl

( D2 – λ2 ) D2 f
N 0 = ------------------------ ; N 0 = --------- [mm/in.] für
Nahfeldlänge 4λ 4v
(rund) D
[siehe ---- > 10
λ
Tabelle A4]
D = Durchmesser des
aktiven Schwingers [mm/in.]
Nahfeldlänge k L 2 f
(rechteckig) N rechteckig = ---------------- [mm/in.]
[siehe 4v
Tabelle A5]

D2 f cos β 2
N eff =  ----------- •  -------------- [mm/in.]
 4v  cos α
für scheibenförmige Schwinger;
L Sensor cos β 2
k   ------------------------------- f L
 cos α  Keil v Keil
N eff  = -------------------------------------------------- – -------------------------
4v Prüfling v Prüfling
für rechteckigen Sensor mit Vorlaufkeil;
D = Durchmesser des aktiven
Schwingers [mm/in.]
Effektive Nah-
feldlänge α = Einschallwinkel (Vorlaufkeil) [°]
β = abgespaltener Winkel im Prüfling [°]
L = Schwingerlänge [mm/in.]
LKeil = UT-Schallweg im
Vorlaufkeil [mm/in.]
vKeil = Schallgeschwindigkeit im
Vorlaufkeil [m/s; mm/µs; in./µs]
vPrüflig = Schallgeschwindigkeit im
Prüfling [m/s; mm/µs; in./µs]
k = Nahfeldkorrekturfaktor

90 Anhang A Olympus
Tabelle A1 Hauptsächliche Ultraschallgrößen, ihre Definition und
ihr gegenseitiges Verhältnis (Fortsetzung)

Faktor Definition / Formel / Einheit / Bemerkung


2k Freifeld λz
Φ – ΔdB = ----------------------------- [1] [mm/in.]
Schallbündel- D
durchmesser z = Ultraschallweg [mm/in.];
(rund)
λz
Φ (–6 dB) PE = ------
D

Schallbündel- 2k Freifeld λz
Φ ( –ΔdB )W = ----------------------------- [mm/in.]
breite (recht- B
eckig)
B = Schwingerbreite [mm/in.]
Schallbündel- 2k Freifeld λz
länge (recht- Φ ( –ΔdB )L = ----------------------------- [mm/in.]
L
eckig)
k – Δ dB λ
γ –ΔdB = asin  ------------------- [rad/°];
 D 
Schallbündeldi-
0,5λ
vergenz bei hal- γ (–3 dB) Freifeld = γ (–6 dB) Impuls-Echo ≈ -----------
bem Winkel D
(rund) [rad / °]
k−ΔdB = Konstante der Schallbündeldiver-
genz bei halbem Winkel[1]
Schallbündeldi- γ
(–6 dB)L = asin ( 0,44λ ⁄ L ) [rad/°]
vergenz bei hal-
bem Winkel γ (–6 dB)B = asin ( 0,44λ ⁄ W ) [rad/°]
(rechteckig)
Z = v • ρ [kg/m2 s = Rayl]
Akustische Im-
pedanz (allgemein 106 [MRayl])
[siehe Tabelle A2]

Reflexions- ( Z2 – Z1 )
R = ------------------------
koeffizient ( Z1 + Z2 )

Transmissions- 2Z 2
T = ------------------------
koeffizient ( Z1 + Z2 )

Übertragungs- 4Z 1 Z 2
ΔG Übertragung = – 10 log 10 --------------------------- [dB]
verlust ( Z1 + Z2 ) 2

Olympus Konstanten und praktische Formeln 91


Tabelle A1 Hauptsächliche Ultraschallgrößen, ihre Definition und
ihr gegenseitiges Verhältnis (Fortsetzung)

Faktor Definition / Formel / Einheit / Bemerkung

Snelliussches sin α v1
----------- = -----
Gesetz sin β v2

92 Anhang A Olympus
Tabelle A2 Akustische Eigenschaften von verschiedenen
Werkstoffen
Schallgeschwin- Schallgeschwin- Akustische
MATERIAL digkeit (Lw) digkeit (Tw) Impedanz
in./µs m/s in./µs m/s kg/m2s × 106
Acrylglas
0,107 2730 0,056 1430 3,22
(PMMA)
Aluminium 0,249 6320 0,123 3130 17,06
Beryllium 0,508 12900 0,350 8880 23,50
Blei 0,085 2160 0,028 700 24,29
Diamant 0,709 18000 0,485 12320 63,35
Eisenoxyd
0,232 5890 0,128 3250 30,70
(Magnetit)
Glyzerin 0,076 1920 ------ ------ 2,42
Gusseisen
0,138 3500 0,087 2200 25,00
(globular)
Gusseisen
0,220 5600 0,126 3200 40,00
(laminar)
Inconel 0,229 5820 0,119 3020 49,47
Kautschuk
0,063 1610 ------ ------ 2,43
(Polybutadien)
Kupfer 0,183 4660 0,089 2260 41,61
Lucite 0,106 2680 0,050 1260 3,16
Molybdän 0,246 6250 0,132 3350 63,75
Motoröl
0,069 1740 ------ ------ 1,51
(SAE 20 / 30)
Nickel, rein 0,222 5630 0,117 2960 49,99
Nylon
0,102 2600 0,047 1200 3,10
(extrudiert)
Polyamid (gegos-
0,087 2200 0,043 1100 2,40
sen)
Polyäthylen, gerin-
0,082 2080 0,025 645 1,91
ge Dichte LDPE
Polyäthylen, hohe
0,097 2460 0,051 1295 2,36
Dichte HDPE
Polystyrol 0,092 2340 0,046 1160 2,47
Polyvinylchlorid
0,094 2395 0,042 1060 3,35
(PVC), hart
Rexolite 0,092 2330 0,045 1155 2,47
Schiffsbronze 0,174 4430 0,083 2120 37,30
Silicium 0,379 9620 0,206 5230 22,50
Silikon 0,058 1485 ------ ------ 1,56
Stahl, 1020 0,232 5890 0,128 3240 45,41
Stahl, 302 austeni-
0,223 5660 0,123 3120 45,45
tisch, rostfrei
Stahl, 347 austeni-
0,226 5740 0,122 3,090 45,40
tisch, rostfrei
Stahl, 4340 0,230 5850 0,128 3240 45,63
Titan, Ti 150A 0,240 6100 0,123 3120 27,69
Wasser (20 °C) 0,058 1480 ------ ------ 1,48
Wolfram 0,204 5180 0,113 2870 99,72
Zink 0,164 4170 0,095 2410 29,61

Olympus Konstanten und praktische Formeln 93


Tabelle A2 Akustische Eigenschaften von verschiedenen
Werkstoffen (Fortsetzung)
Schallgeschwin- Schallgeschwin- Akustische
MATERIAL digkeit (Lw) digkeit (Tw) Impedanz
in./µs m/s in./µs m/s kg/m2s × 106
Zinn 0,131 3320 0,066 1670 24,20
Zirkonium 0,183 4650 0,089 2250 30,13

94 Anhang A Olympus
Tabelle A3 Wellenlänge der am häufigsten geprüften Werk-
stoffe in der industriellen zfP mit Ultraschall

Wellenlänge
Frequenz Longitudinal- Transversal-
[MHz] wellen (Lw) wellen (Tw)
[mm] [in.] [mm] [in.]
Wasser [Koppelmittel]
1 1,5 0,059 - -
2 0,75 0,030 - -
4 0,4 0,016 - -
5 0,3 0,012 - -
10 0,15 0,006 - -
Glyzerin (Hamikleer) [Koppelmittel]
1 1,9 0,075 - -
2 0,95 0,037 - -
4 0,48 0,019 - -
5 0,38 0,015 - -
10 0,19 0,008 - -
Acrylglas [Vorlaufkeil]
1 2,7 0,106 - -
2 1,35 0,053 - -
4 0,75 0,030 - -
5 0,54 0,021 - -
10 0,27 0,011 - -
Rexolite [Vorlaufkeil]
1 2,3 0,091 - -
2 1,15 0,045 - -
4 0,58 0,023 - -
5 0,46 0,018 - -
10 0,23 0,009 - -
Stahl [Prüfling]
1 5,9 0,232 3,2 0,126
2 3 0,118 1,6 0,063
4 1,5 0,059 0,8 0,032
5 1,2 0,047 0,6 0,024
10 0,6 0,024 0,3 0,012
Aluminium [Prüfling]
1 6,1 0,240 3 0,118
2 3 0,118 1,5 0,059
4 1,5 0,059 0,8 0,032
5 1,2 0,047 0,6 0,024
10 0,6 0,024 0,3 0,012

Olympus Konstanten und praktische Formeln 95


Tabelle A4 Nahfeldlänge von runden Schwingern (in Millimetern)

Frequenz
Schwingerdurchmesser [mm]
(MHz]
5 6 10 12 20 24
Wasser; Lw; v = 1,5 mm/s
1 4,2 6 17 24 68 96
2 8,4 12 34 48 136 192
4 17 24 68 96 272 384
5 21 30 85 120 340 480
10 42 60 170 240 680 920
Stahl; Lw; v = 5,9 mm/s
1 1 1,5 4 6 16 24
2 2 3 8 12 32 48
4 4 6 16 24 64 96
5 5 7 20 30 80 120
10 10 15 40 60 160 240
Stahl; Tw; v = 3,2 mm/s
1 2 3 8 12 32 48
2 4 6 16 24 64 96
4 8 12 32 48 128 192
5 10 15 40 60 160 240
10 20 30 80 120 320 480
Kupfer; Lw; v = 4,7 mm/s
1 1,3 2 5 8 20 32
2 2,6 4 10 16 40 64
4 5 8 20 32 80 128
5 6,5 10 26 40 104 160
10 13 20 52 80 208 320
Aluminium; Lw; v = 6,3 mm/s
1 1 1,4 4 6 16 24
2 2 3 8 12 32 48
4 4 6 16 24 64 96
5 5 7 20 30 80 120
10 10 14 40 60 160 240

Tabelle A5 Nahfeldlänge (mm × mm) und Schallbündeldivergenz


halber Winkel bei –6 dB [°], rechteckige Schwinger,
Transversalwellen in Stahl (v = 3,250 m/s)

Frequenz 6×6 8×9 16 × 16 20 × 22


[MHz] N0 γ N0 γ N0 γ N0 γ
1 k. A. k. A. 8 10 32 5 45 4
2 9 6 15 5 64 2,5 90 2
4 k. A. k. A. 30 2,5 128 1,2 180 1

96 Anhang A Olympus
Tabelle A5 Nahfeldlänge (mm × mm) und Schallbündeldivergenz
halber Winkel bei –6 dB [°], rechteckige Schwinger,
Transversalwellen in Stahl (v = 3,250 m/s) (Fortsetzung)

Frequenz 6×6 8×9 16 × 16 20 × 22


[MHz] N0 γ N0 γ N0 γ N0 γ
5 20 2,5 40 2 160 1 225 0,8

Olympus Konstanten und praktische Formeln 97


98 Anhang A Olympus
Anhang B: Umrechnung der Maßeinhei-
ten

In diesem Anhang finden Sie die Umrechnung von den in diesem


Buch vorkommenden Maßeinheiten von metrisch auf amerikanisch.

Tabelle B1 Umrechnung von metrischen auf amerikanische


Maßeinheiten

Größe metrisch amerikanisch

= 39,37 mils
1 mm
= 0,03937 in.

Länge 1 cm = 0,3937 in.

= 39,37 in.
1m
= 3,28 ft

1 cm2 = 0,155 in.2


Fläche
1 m2 = 10,7639 ft2

1 mm/µs = 0,03937 in./µs


Schallge-
schwindig- = 3,28 ft/s
keit 1 m/s
= 196,85 ft/min

1g = 0,03527 oz
Masse = 35,2739 oz
1 kg
= 2,20462 lb

Dichte 1 kg/m3 = 0,062428 lb/ft3

akustische = 0,001423 lb/in.2s


Impedanz 1 kg/m2s
= 0,204816 lb/ft2s

Olympus Umrechnung der Maßeinheiten 99


Tabelle B1 Umrechnung von metrischen auf amerikanische
Maßeinheiten (Fortsetzung)

Größe metrisch amerikanisch

°C = (5/9) × (°F – 32)


Temperatur
(°C × 1,8) + 32 = °F

100 Anhang B Olympus


Anhang C: Unterstützung – Lehrgänge

Unterstützung
Olympus bietet Ihnen Gelegenheit, an einem Diskussionsforum im
Web teilzunehmen. Die Experten, die am Referenzhandbuch Phased-
Array-Prüfung, Grundtheorie für die Anwendung in der Industrie mitgear-
beitet haben, beantworten online Ihre Fragen und stellen zusätzliche
Informationen über die Phased-Array-Technik und ihre praktische
Anwendung ins Netz.

Browsen Sie durch diese reiche Informationsquelle, stellen Sie Ihre ei-
genen Fragen und tragen Sie zu diesem gemeinsamen Projekt bei.

Sie finden das Link zum Webforum unter folgender Adresse:

www.olympus-ims.com/de/ndt-forum/

Lehrgänge
Die Website von Olympus IMS unter www.olympus-ims.com enthält
viele Informationen für die Nutzer von Phased-Array-Produkten und
von anderen Olympus Prüf- und Wartungsgeräten.

Informationen über Einführungskurse und fortgeschrittene Phased-


Array-Lehrgänge werden von Partneranstalten von Olympus an den
verschiedensten Orten weltweit bereitgestellt. In diesen Lehrgängen
wird das Grundwissen mit praktischen Beispielen und der Lösung
von spezifischen Problemen bereichert. Genaueres finden Sie auf der
Website www.olympus-ims.com/de, auf der Seite Lehrveranstaltun-
gen.

Sie finden auch einen interaktiven Lehrgang zum Selbststudium über


die grundlegende Phased-Array-Theorie auf der Website
www.olympus-ims.com/de, auf der Seite Phased Array Tutorial.

Webinars über mehrere verwandte technische Themen finden Sie auf


der Website www.olympus-ims.com/de, auf der Seite Webinars.

Die Website von Olympus IMS enthält mehrere Artikel, die spezifi-
sche Phased-Array-Anwendungen beschreiben. Sie finden Sie auf der
Seite Anwendungen der Website www.olympus-ims.com/de.

Und schließlich finden Sie weitere Informationen über Olympus Ge-

Olympus Unterstützung – Lehrgänge 101


räte zur zerstörungsfreien Prüfung, über Veröffentlichungen, Anwen-
dungsbereiche und technische Unterstützung über das Formular Tech-
nische Unterstützung für Anwendungen der Website
www.olympus-ims.com/de finden.

102 Anhang C Olympus


Anhang D: Phased-Array-Geräte

Wie andere Kategorien von Ultraschallprüfgeräten, gibt es auch bei


Phased-Array-Geräten verschiedene Modelle mit unterschiedlicher
Komplexität und Leistung. Die Auswahl reicht von Grundmodellen,
die einfache Sektor- und Linien-Scans anhand von Sensoren mit
16 Schwingern vornehmen, bis zu Mehrkanal-Geräten mit komplexer
Analyse-Software und Sensoren bis zu 256 Elementen.

Olympus bietet eine komplette Gerätepalette für die zerstörungsfreie


Prüfung an. Weitere Informationen finden Sie auf der Website unter
folgender Adresse:

www.olympus-ims.com/de/ndt-forum/ (leider derzeit nur auf Eng-


lisch)

In diesem Anhang geben wir Ihnen einen Überblick über folgende Ge-
räte:

• Serie EPOCH 1000 — Ausgereifte Ultraschallprüfgeräte mit PA-


Darstellung
• Serie OmniScan — hochleistungsfähiges Gerät mit US-, PA-, EC-
und ECA-Modulen
• TomoScan FOCUS LT — leistungsstarkes, vielseitiges und kom-
paktes Ultraschallprüfsystem
• TomoView — Software zur Erfassung und Analyse von Ultra-
schalldaten

Olympus Phased-Array-Geräte 103


D.1 Serie EPOCH 1000 — Ausgereifte Ultra-
schallprüfgeräte mit PA-Darstellung
Die digitalen Ultraschallprüfgeräte der Serie EPOCH 1000 kombinie-
ren das hohe Leistungsniveau des konventionellen Ultraschalls mit
den Stärken der Phased-Array-Darstellung. EPOCH 1000, 1000iR und
1000i besitzen ein querformatiges, robustes Gehäuse mit großem
VGA-Bildschirm, Drehknopf und Pfeiltasten für die Parametereinstel-
lung und entsprechen der Norm EN12668-1. Die Prüffähigkeit der Se-
rie EPOCH 1000 mit konventionellem Ultraschall wird bei EPOCH
1000i (siehe Abbildung) durch die Phased-Array-Darstellung erwei-
tert.

Wichtigste Leistungsmerkmale
• Packet für die Phased-Array-Darstellung erhältlich
• Entspricht EN12668-1
• Mehr als 37 Einstellungen für den Digitalfilter des Empfängers
• Impulsfolgefrequenz von 6 kHz für Hochgeschwindigkeitsprü-
fung
• Automatisches Erkennen des Phased-Array-Sensors
• Intuitive Justierung von Vorlaufkeilvorlauf und Empfindlichkeit
für alle Sendemodulierungen
• Programmierbare Analog-/Alarmausgänge
• Entspricht der Schutzart IP66 für harte Prüfumgebung
• Horizontale Gehäuseform mit Navigationspfeilen und Drehknopf
• Digitaler Empfänger mit hochdynamischem Bereich
• Großer VGA-Bildschirm, selbst in hellstem Sonnenlicht einlesbar
• Mit Clear Wave Verbesserung der Anzeige bei der Auswertung
von konventionellen A-Bildern
• SureView Anzeigefunktion
• Referenz- und Messcursor
• Dynamische DAC/TGV ist Standard

104 Anhang D Olympus


• Integrierte DGS/AVG ist Standard

Olympus Phased-Array-Geräte 105


D.2 Serie OmniScan — hochleistungsfähiges
Gerät mit US-, PA-, EC- und ECA-Modulen
Mit tausenden von Geräten im Einsatz in der gesamten Welt ist das
OmniScan (siehe Abbildung) das erfolgreichste tragbare, modular
aufgebaute Gerät zur Phased-Array- und Wirbelstromprüfung von
Olympus NDT. Zur OmniScan-Gerätefamilie gehören die innovativen
Phased-Array- und Wirbelstrom-Array-Prüfmodule, sowie die Modu-
le für konventionelle Wirbelstrom- und Ultraschalltechnik. Alle Gerä-
te genügen den höchsten Ansprüchen in der zerstörungsfreien Prü-
fung.

OmniScan vereint hohe Datengeschwindigkeit und leistungsstarke


Software-Funktionen in einer tragbaren Basiseinheit mit modularem
Aufbau für wirtschaftliches Prüfen von Hand oder automatisch.

Wichtigste Leistungsmerkmale
• Robust, tragbar, akkubetrieben
• Kompakt und leicht, nur 4,6 kg
• Anzeige in Echtzeit auf Bildschirm von 10,2 Zoll (Anzeigegege-
schwindigkeit für A-Bild 60 Hz) mit SVGA Auflösung von
800 × 600
• Phased-Array-Module und Software:
16:16, 16:64, 16:64M, 16:128, 32:32, 32:128
• Komplettes A-Bild, B-Bild und C-Bild
• Komplettes S-Bild
• Für das Volumen korrigierte Darstellung in Echtzeit
• Leistungsstarke Datenbearbeitung in Echtzeit
• Verbesserung der räumlichen Darstellung des Defekts während
der Prüfung durch Prüfdateninterpolation in Echtzeit
• Vom Prüfer bestimmbare Hoch- und Tiefpassfilter zur Verbesse-
rung der Auflösung und Darstellungsqualität
• Gruppenassistent für alle Parameter und Sendemodulierungen

106 Anhang D Olympus


D.3 TomoScan FOCUS LT — leistungsstarkes,
vielseitiges und kompaktes Ultraschallprüf-
system
Das TomoScan FOCUS LT (siehe Abbildung) ist für die anspruchs-
vollsten Prüfaufgaben in der automatisierten Prüfung ausgelegt. Die-
ses Gerät setzt den neuen Maßstab für Ultraschall-Phased-Array-Ge-
räte mit seiner außergewöhnlichen Leistung sowohl bei
konventionellem Ultraschall als auch bei Phased-Array, mit vielen
verschiedenen Sensorkonfigurationen.

Das TomoScan FOCUS LT bietet Ihnen eine leichtere, kompaktere und


zuverlässlichere Lösung für die komplexesten Prüfaufgaben. Das To-
moScan FOCUS LT gibt es auch als 3U-Einbaugehäuse.

Wichtigste Leistungsmerkmale
• Komplette Software im PC-Format für die Prüfdatenerfassung und
-analyse (TomoView)
• viele Kanäle und Phased-Array-Sensor-Konfigurationen
• Kombination von Phased-Array und konventionellem Ultraschall
(TOFD + IE)
• Großer Prüfdatenspeicher bis 2 GB
• Schnelle Datenübertragung mit 100Base-T (4 MB/s)
• Konfiguration bis 64:128
• Impulsfolgefrequenz (IFF) bis 20 kHz
• Datenverdichtung und Signalmittelung in Echtzeit
• Schnittstelle für externe Motorsteuerung und Scanner

Olympus Phased-Array-Geräte 107


D.4 TomoView — Software zur Erfassung und
Analyse von Ultraschalldaten
TomoView ist eine Software im PC-Format zur Erfassung und Anzei-
ge von Ultraschallsignalen. Mit seiner Fähigkeit, die Ultraschallpara-
meter auf vielfältige Weise zu konfigurieren und in verschiedenen
Ansichten anzuzeigen, kann dies Gerät in den unterschiedlichsten
Anwendungsbereichen eingesetzt werden, von der Industrie bis zur
Forschung. TomoView ist zur Ultraschallprüfung und Datenerfassung
mit mehreren Olympus-Geräten für Phased-Array (PA) oder konven-
tionellen Ultraschall (UT) ausgelegt.

Kompatibel mit Microsoft Windows, XP, Windows Vista und Win-


dows 7, läuft TomoView genauso zuverlässig auf Standard Laptop-
Computern wie auf ausgereiften Desktop-Workstations, und kann
sehr große Datenmengen verarbeiten (Dateien bis 2 GB). Durch seine
Fähigkeit OmniScan-Prüfdaten zu lesen (Format .oud, .opd) und seine
benutzerfreundliche Berichtfunktion ist TomoView das ideale Gerät
zur Analyse von OmniScan-Daten.

• Leistungsstarkes Programm für Ultraschalldaten


• Prüfung und Analyse
• vielseitige Datenanzeige
• einfache, komplette Berichtfunktion
• die perfekte Ergänzung für OmniScan
• Offline-Analyse von A-, B-, C-, D- und S-Bildern
• Messhilfen, Tiefenlupe und anwendungsspezifische Farbpalette
• Mit der Hochleistungs-Software für Schallfeld und Sendemodulie-
rung kompatibel (Advanced Focal Law Calculator)
Außer dem kompletten TomoView-Software-Programm bietet Olym-
pus auch TomoView Lite und TomoVIEWER an.

TomoView Lite ist eine TomoView-Version, die speziell für die Analy-
se von OmniScan-Daten entwickelt wurde. Sie besitzt die wichtigsten
Funktionen von TomoView, wie Volumenansichten, zusammengeleg-
te Ansichten und Mehrgruppenanzeige.

108 Anhang D Olympus


TomoVIEWER ist eine kostenfreie Software zur Darstellung von
Phased-Array- und Ultraschalldaten. Mit dieser Software können von
der TomoView- oder OmniScan PA und UT-Software erstellte Prüfda-
tendateien hochgeladen werden.

Olympus Phased-Array-Geräte 109


110 Anhang D Olympus
Phased-Array-Glossar

A-Bild
Ultraschallwelle, dargestellt als Amplitude aufgetragen auf Zeit.
Kann gleichgerichtet oder nicht gleichgerichtet (HF) sein.
Winkelkorrigierte Verstärkung
Der an einen Sektor-Scan angewendete Verstärkungsausgleich zur
Normalisierung der von einem bestimmten Ziel reflektierten Echos
bei jedem Winkel, den der Sektor-Scan enthält.
Apertur
In der Gruppenstrahlerprüfung die Breite des Elements oder der
Gruppe von Elementen, die gleichzeitig angeregt werden.
Sektor-Scan
Schwenken des Schallbündels durch eine Reihe von Winkeln.
B-Bild
Zweidimensionales Bild der Ultraschalldaten, aufgezeichnet als
Tiefe oder Abstand des Reflektors zur Position des Schallbündels.
B-Bilder können einen Einzelwert oder einen Querschnitt darstel-
len.
B-Bild des Querschnitts
Zweidimensionale Darstellung der Ultraschalldaten, die auf dem
kompletten gespeicherten A-Bild jedes Datenpunktes beruht. Sie
kann alle Reflektoren in einem Querschnitt anzeigen, statt nur den
ersten oder den größten. So können Reflektoren an der Einschall-
fläche des Prüflings angezeigt werden.
B-Bild von Einzelwerten
Zweidimensionale Darstellung des ersten oder des größten Reflek-
tors in der Blende. Dieses Format ist für Ultraschallprüfgeräte und
fortgeschrittene Dickenmesser üblich, sie zeigt einen Reflektor pro
Datenpunkt.
Bandbreite
Teil der Frequenz, der innerhalb der angegebenen Grenzen der
Amplitude liegt. In diesem Zusammenhang muss erwähnt werden,
dass normale Schallköpfe für die zfP Schallwellen keine reine Fre-
quenz erzeugen, sondern eine Reihe von Frequenzen, deren Zent-
rum in der Nennfrequenz liegt. Laut Industrienorm wird diese

Olympus Phased-Array-Glossar 111


Bandbreite bei –6 dB angegeben (oder bei halber Amplitude). Im
Allgemeinen gilt, dass mit einer großen Bandbreite die Auflösung
nahe der Oberfläche und in Axialrichtung besser ist, wohingegen
eine schmale Bandbreite einen höheren Energieausstoß bewirkt,
was zu höherer Empfindlichkeit führt.
Schallbündelgestaltung
In der Phased-Array-Prüfung die Erzeugung eines Schallbündels
in einer bestimmten Position, mit einem bestimmten Winkel
und/oder Fokus, durch das sequentielle Auslösen von Impulsen
von den Elemente eines Phased-Array-Sensors.
Schallbündeldivergenz
Der an der Mittellinie eines Schallbündels anliegende Divergen-
zwinkel im akustischen Fernfeld.
Schallbündelsteuerung
Fähigkeit, den Einschallwinkel eines von einem Gruppenstrahler-
sensor erzeugten Schallbündels zu ändern.
Justierung der Empfindlichkeit
Ein Verfahren, das die Amplituden aller Schallbündelkomponen-
ten eines Phased-Array-Sensors elektronisch ausgleicht. Dadurch
wird die Empfindlichkeit der verschiedenen Elemente, und die un-
gleiche Energieübertragung der verschiedenen Einschallwinkel
kompensiert.
Justierung des Vorlaufkeilvorlaufs
Verfahren, mit dem elektronisch die verschiedenen Schallwege der
verschiedenen Schallbündelkomponenten im Vorlaufkeil kompen-
siert werden; dient der Normalisieren der Messung des Schallwegs
bis zu einem Reflektor.
C-Bild
Zweidimensionale Darstellung der Ultraschallamplitude oder der
Laufzeit-/Tiefendaten, angezeigt als Draufsicht des Prüflings.
E-Bild
Auch elektronisches Bild, Swept Index Point oder elektronischer
Raster-Scan genannt. In manchen Industriebereichen wird das E-
Bild auch „Linien-Scan” oder „elektronischer Linien-Scan” ge-
nannt. Fähigkeit das Schallbündel ohne mechanische Bewegung
den Phased-Array-Sensor entlang zu bewegen. Die entsprechende
Sendemodulierung wird durch eine Gruppe von aktiven Elemen-
ten getaktet. E-Scans werden mit konstantem Winkel entlang der
gesamten Zeile des Phased-Array-Sensors ausgeführt. Bei der Prü-
fung mit Winkelsensoren kompensieren die Sendemodulierungen
die Änderung der Vorlaufkeildicke.
Fernfeld
Der Teil des Schallbündels, der über das letzte Druckmaximum auf
der Achse hinausgeht. Die Schallbündeldivergenz findet im Fern-
feld statt.

112 Phased-Array-Glossar Olympus


Sendemodulierung
Programmierte Sequenz der Verzögerung von Impulsgenerator
und Empfänger der einzelnen Elemente eines Phased-Array-Sen-
sors, die das so entstandene Schallbündel und Echo steuern und fo-
kussieren.
Fokus
Beim Ultraschall der Punkt, in dem die Schallbündelstrahlen mit
dem kleinsten Durchmesser und dem höchsten Schalldruck zu-
sammentreffen, und von dem ab sie sich wieder ausweiten.
Gitterkeule
Störende Komponente eines Schallbündels, die sich auf den Seiten
des Energiezentrums ausbreitet, und durch gleichförmiges Prüfen
über mit den Sensorelementen entstehen. Gitterkeulen treten nur
bei Phased-Array-Sensoren auf und werden durch von regelmäßi-
gen periodischen Abständen kleiner Sensorelemente hervorgerufe-
ne Strahlekomponenten erzeugt. Siehe auch „Seitenkeulen”.
Huygenssches Prinzip
Mathematisches Modell des Wellenverhaltens, welchem zufolge je-
der Punkt einer sich ausbreitenden Wellenfront als Ausgangspunkt
einer neuen kugelförmigen Welle angesehen wird, und bei dem die
so entstehende vereinte Wellenfront die Summer dieser einzelnen
kugelförmigen Wellen ist.
Linien-Scan
Fähigkeit, ohne jegliche mechanische Bewegung das Schallbündel
entlang der Hauptachse eines Phased-Array-Sensors zu bewegen.
Die entsprechende Sendemodulierung wird dabei durch eine
Gruppe von aktiven Elemente getaktet. Linien-Scans werden mit
konstantem Winkel in Längsrichtung des Sensors ausgeführt. Bei
der Prüfung mit Winkelsensoren kompensieren die Sendemodulie-
rungen die verschiedenen Vorlaufkeildicken. In manchen Indust-
riebereichen bezeichnet dieser Begriff einen Einzeilen-Scan.
Nahfeld
Der Teil des Schallbündels zwischen dem Sensor und dem letzten
Schalldruckmaximum auf der Achse. Sensoren können nur im
Nahfeld fokussieren.
Einzeilen-Scan
Mechanisches Abtasten in einem einzigen Durchgang, parallel zur
zu prüfenden Schweißnaht oder zum prüfenden Bereich, mit ei-
nem Phased-Array-Sensor. wird normalerweise mit Linien-Sensor
ausgeführt. Dabei wird eine C-bildähnliche Darstellung von Amp-
lituden- oder Tiefendaten als Funktion der elektronischen Apertur-
positionen im Verhältnis zur mechanischen Position erstellt.
Phased-Array-Sensor
Ultraschallprüfkopf mit mehreren Elementen (normalerweise 16,
32 oder 64), der durch phasenversetzte Impulserzeugung und pha-
senversetzten Empfang steuerbare Schallbündel erzeugt.

Olympus Phased-Array-Glossar 113


Phasenregelung
Einwirkung von zwei oder mehr Wellen aufeinander, die dieselbe
Frequenz, aber unterschiedliche Verzögerungen haben, was zu
konstruktiver oder destruktiver Interferenz führen kann.
Abstand
Abstand der einzelnen Elemente eines Phased-Array-Sensors.
Ebene, aktive
Ausrichtung parallel zur Achse eines Phased-Array-Sensors beste-
hend aus mehreren Elementen.
Ebene, passive
Ausrichtung parallel zur Länge der einzelnen Elemente oder zur
Breite des Sensors.
Ebene, Steuerebene
Richtung in der das Schallbündel eines Phased-Array-Sensors ge-
ändert wird
Impulsdauer
Zeitintervall zwischen dem Punkt, in dem die erste Impulsflanke
im A-Bild eine vorgegebene Amplitude erreicht (üblicherweise mi-
nus 20 dB unter dem Maximum) bis zu dem Punkt auf der abfal-
lenden Flanke im A-Bild mit derselben Amplitude. Eine große
Bandbreite verringert im Allgemeinen die Impulsdauer, eine kleine
Bandbreite erhöht sie. Die Impulsdauer hängt stark von den Ein-
stellungen des Impulsgenerators ab.
Auflösung des Winkels
In Phased-Array-Systemen ist die Winkelauflösung der niedrigste
Winkel zwischen zwei A-Bildern, bei dem in derselben Tiefe ne-
beneinanderliegende Defekte einzeln erkannt werden können.
Auflösung in Achsrichtung
Minimaler Tiefenabstand zwischen zwei gegebenen Reflektoren,
mit dem sie auseinander gehalten werden können. Eine höhere
Frequenz oder eine größere Bandbreite erhöht allgemein den Ab-
stand in Achsrichtung.
Auflösung auf der Rückwand
Mindestabstand von der Rückwand, bei dem die Echoamplitude
eines gegebenen Reflektors mindestens 6 dB über der ersten Flanke
des Rückwandechos liegt. Allgemein der dichteste Abstand von
der Rückwand bei der ein Reflektor erkannt werden kann.
Auflösung, seitliche
In Phased-Array-Systemen, der kleinste seitliche Abstand zwi-
schen zwei bestimmten Reflektoren, mit dem sie einzeln erkannt
werden können. Er hängt sowohl von der Bauart des Sensors, als
auch von der Programmierung der Sendemodulierung ab.

114 Phased-Array-Glossar Olympus


Auflösung auf der Einschallfläche
Mindestabstand von der Einschallfläche, bei dem die Echoamplitu-
de eines gegebenen Reflektors mindestens 6 dB über der abfallen-
den Flanke des Sendeimpulses, der Vorlauflinie oder dem Vorlauf-
keilecho liegt. Allgemein der dichteste Abstand von der
Einschallebene, bei der ein Reflektor erkannt werden kann. Der Be-
reich über diesem Punkt wird tote Zone genannt und wächst im
Allgemeinen mit der Verstärkung.
S-Bild
Zweidimensionale Ansicht von allen Amplituden- und Laufzeit-
oder Tiefendaten von allen Sendemodulierungen eines Phased-Ar-
ray-Sensors, korrigiert für Verzögerung und Einschallwinkel.
Nicht zu verwechseln mit dem Sektor-Scan.
Seitenkeulen
Unerwünschte Komponenten eines Schallbündels, die seitlich vom
Energiezentrum abweichen und durch akustischen Druck hervor-
gerufen werden, der aus den Sensorelementen in von der Haupt-
keule abweichenden Winkeln austritt. Seitenkeulen werden von al-
len Prüfkopfarten erzeugt. Siehe auch „Gitterkeule”.
virtuelle Apertur
Die gesamte Breite einer Reihe von gleichzeitig angeregten Phased-
Array-Elementen.

Olympus Phased-Array-Glossar 115


Quellenangaben

1. Olympus NDT, Introduction to Phased Array Ultrasonic Technology


Applications: R/D Tech Guideline, Waltham, Massachusetts,
Olympus NDT, 2007, xviii, 356 Seiten
2. Olympus NDT, Advances in Phased Array Ultrasonic Technology Ap-
plications, Waltham, Massachusetts, Olympus NDT, 2007, xvi,
394 Seiten
3. R/D Tech Corp., Phased Array Technical Guidelines: Useful Formulas,
Graphs, and Examples, Waltham, Massachusetts, R/D Tech Corp.,
2005, x, 86 Seiten
4. Olympus NDT, Serie EPOCH 1000, Benutzerhandbuch, Dokument-
nummer 910-269-DE, Waltham, Massachusetts, Olympus NDT,
August 2009, x, 358 Seiten
5. Olympus NDT, OmniScan MXU-M Software, Benutzerhandbuch, Do-
kumentnummer DMTA081-01DE, Quebec, Kanada, Olympus
NDT, März 2010, x, 284 Seiten
6. Olympus NDT, TomoView, Benutzerhandbuch, Dokumentnummer
DMTA079-01DE, Waltham, Massachusetts, Olympus NDT, Januar
2010, viii, 160 Seiten
7. Olympus NDT Phased Array Probes and Wedges Dokumentnummer
920-165C-EN Waltham, Massachusetts, Olympus NDT, 2009,
24 Seiten
8. Olympus NDT, Panametrics® Ultrasonic Transducers: Wedges, Cables,
Test Blocks, Dokumentnummer 920-041D-EN, Waltham, Massachu-
setts, Olympus NDT, 2009, ii, 50 Seiten
9. Davis, J. M. Advanced Ultrasonic Flaw Sizing Handbook, USA, The Art
Room Corporation, 1998, 38 Seiten
10.Krautkrämer, Josef und Herbert, in Zusammenarbeit mit
W. Grabendörfer [et al.], Werkstoffprüfung mit Ultraschall, 5. völlig
überarbeitete Ausgabe, Berlin, Springer-Verlag, c1986, xvi, 708 Sei-
ten

Olympus Quellenangaben 117


Stichwortverzeichnis

Zahlen Unterstützung und Lehrgän-


2D-Matrix 7 ge 101
42°-Schallbündelkomponente Anwendungsbereiche 101
84 (Abb. 5-14) Rissprüfung 10
58°-Schallbündelkomponente Schweißnahtprüfung 10
82 (Abb. 5-12) Anzahl Elemente 31
69°-Schallbündelkomponente Anzahl Elemente (Sensor) 26
83 (Abb. 5-13) Anzeige von mehreren Darstel-
lungsformaten 53
A (Abb. 3-10)
abgewinkelte Wellenfront 30 Anzeigegeschwindigkeit und
(Abb. 2-22) IFF 61
A-Bild 42 Anzeigemodi 58
Daten 43 (Abb. 3-1) Apertur 31
Datenanzeige 42 aktive Apertur 33, 34
Definition 111 (Abb. 2-24)
speichern 62 Definition 111
Abmessungen des Schallkopfs virtuelle 32
14 virtuelle, Definition 115
Abstand 31 Array 24
Definition 114 Art des Schallkopfs 14
Schwingerabstand 70 Art des Sensors 25
ACG (winkelkorrigierte Ver- ASME, Abschnitt V 66
stärkung) 65 Auflösung
Achsauflösung, Definition 114 an der Rückwand, Definition
aktive Apertur 33, 34 114
(Abb. 2-24) auf der Einschallfläche, Defi-
aktive Ebene, Definition 114 nition 115
akustische Impedanz 91, 93 des Winkels, Definition 114
Amplitude des Echos 70 in Achsrichtung, Definition
Analyse der Reflektorposition 114
84 seitliche, Definition 114
Angaben, wichtige für Phased- Ausbreitung des Schallbündels
Array-Geräte 57 17, 17 (Abb. 2-5)
Anhang Austrittspunkt des Schallbün-
Gerätemodelle 103 dels 77, 84
Konstanten und praktische Auswahl eines Phased-Array-
Formeln 89 Sensors 39
Umrechnung der Maßeinhei- Azimuth-Scan 3
ten 99

Olympus Stichwortverzeichnis 119


B Daten im A-Bild 42
Bandbreite Datenerfassung 53
Definition 111 Dauer des Impulses, Definition
Schallkopf 14 114
B-Bild Dichte der Masse (ρ) 89
~ des Querschnitts 44 Dicke des Prüflings 70
~ des Querschnitts, Definiti- digitale Erfassungsrate 54
on 111 Dimensionen eines Phased-Ar-
~ von Einzelwert 43 ray-Sensors 26 (Abb. 2-18)
~ von Einzelwert, Definition Divergenz des Schallbündels
111 bei halbem Winkel 91
Daten 44 (Abb. 3-2) Definition 112
Definition 111 Durchmesser des Schallbün-
Querschnitts-B-Bild 45 dels 91
(Abb. 3-3) E
Benennungsregel für IE 59
E (Elastizitätsmodul) 89
Berechner für Sendemodulie-
Ebene
rungen 9, 30
aktive Ebene, Definition 114
Bild (S-Bild) 79
passive Ebene, Definition
Blende 42
114
Breite des Schallbündels 91
Steuerebene, Definition 114
C E-Bild, Definition 112
C-Bild 3, 47 Echoamplitude 70
Anzeige 10 Eigenschaften
Definition 112 des Schallkopfs 14
mit Linien-Array-Sensor 49 des Sensors 24
(Abb. 3-6) von Schallwellen siehe Schall-
Christiaan Huygens (Physiker) wellen, Eigenschaften
17 Einfluss der Datengeschwindig-
Cursoren keit auf Prüfgeschwindig-
Referenzcursor 63 keit 55 (Abb. 3-11)
Winkelcursor 64 (Abb. 4-5) Einführung in die Phased-Ar-
ray-Prüfung 5
D Eingänge und Ausgänge 58
DAC 67 technische Angaben 58
siehe auch TVG Einschallflächenauflösung, De-
Dämpfung 19 finition 115
Koeffizient 19 Einschallwinkel 70
Darstellung 10 Grad 23 (Abb. 2-12)
Linien-Scan mit Senkrecht- 30 Grad 23 (Abb. 2-13)
einschallung 75 65 Grad 23 (Abb. 2-14)
(Abb. 5-4) Einzeilen-Scan 49
Phased-Array, Grundregeln Definition 113
41 für Schweißnahtprüfung 50
Darstellungsarten 62 (Abb. 3-7)
Darstellungsformat 69 Einzelwert-B-Bild 43
Darstellungsformate, kombi- Definition 111
nierte 53 Elastizitätsmodul (E) 89
Dateien elektronische Schallbündelge-
.opd 108 staltung 24
.oud 108 elektronischer Scan, Definition

120 Stichwortverzeichnis Olympus


112 Geräte für Phased-Array 57
Elementgröße 26, 31 wichtige Angaben 57
Empfänger, technische Anga- Gerätekonfiguration 69
ben 57 Sensor 70
Empfindlichkeit Vorlaufkeil 70
des Schallkopfs 14 Werkstoff 70
justieren 112 Gerätemodelle 103
Erfassungsrate, digitale 54 einfache tragbare Geräte 104
Erkennung des Sensors 62 leistungsstarke Geräte 107
erster Sprungabstand, Indikati- Prüf- und Analyse-Software
on in 80 (Abb. 5-10) 108
erstes Element, Offset Höhe 70 tragbare Universal-Geräte
Erzeugung einer Wellenfront 17 106
E-Scan 3 Geschwindigkeit der Prüfung
53
F
Gesetz von Snellius 29, 92
Fehlergrößenbestimmung 10 Gestaltung des Schallbündels
Optionen 58 31
Fehlerposition, als Referenz die- Abstand und Apertur 31
nende Parameter 85 Anzahl Elemente 31
(Abb. 5-16) Elementgröße 31
Feld Frequenz 31
Fernfeld 16 Gitterkeule 38
Fernfeld, Definition 112 Definition 113
Nahfeld 15 Glossar (Phased-Array-~) 111
Fernfeld 16 Grenzen der Schallbündelsteue-
Focal Law Calculator 30 rung 35 (Abb. 2-25)
FOCUS LT, TomoScan 107 Größe der Sensorelemente 26
wichtigste Leistungsmerk- Größen (Ultraschall~) 89
male 107 Grundregeln der Phased-Array-
Fokus des Schallbündels 36 Darstellung 41
Fokus, Definition 113
fokussiertes Schallbündel 36 H
(Abb. 2-26) Hinweis zur Terminologie 3
Fokussierung des Schallbündels Höhen-Offset erstes Element 70
mit verschiedenen Apertu- horizontaler und Winkelcursor
ren 38 (Abb. 2-27) 64 (Abb. 4-6)
Formeln 89 Huygens, Christiaan (Physiker)
siehe auch die Formeleinträge 17
Ultraschallgrößen 89 Huygenssches Prinzip 17, 29
Forum (Website) 101 Definition 113
Frequenz 31, 70, 89
I
des Sensors 25
Frequenzbereich, Sensor 8 IFF (Impulsfolgefrequenz) 54
Impulsfolgefrequenz (IFF) 54 IFF/Anzeigegeschwindigkeit 61
Schallkopffrequenz 14 Impedanz, akustische 91, 93
Impulsdauer, Definition 114
G Impulsfolgefrequenz (IFF) 54
G (Schubmodul) 89 Impulsgenerator und Empfän-
Gerät (Phased-Array) ger 57
Justierungs- und Normalisie- Impulsgenerator, technische
rungsmethoden 65 Angaben 57, 58

Olympus Stichwortverzeichnis 121


Impulslänge (IP) 90 Definition 113
Indikation mit festem Winkel 76
im 1. Sprungabstand 80 mit Senkrechteinschallung
(Abb. 5-10) 46 (Abb. 3-4), 72, 74
im 2. Sprungabstand 80 (Abb. 5-3)
(Abb. 5-11) A-Bild von allen Sende-
Interferenz 29 (Abb. 2-21) modulierungen 76
Interferenzmuster 6 (Abb. 1-1) (Abb. 5-5)
IP (Impulslänge) 90 Darstellung 75 (Abb. 5-4)
mit Weggeber 3
J
mit Winkeleinschallung 47
Justierung (Abb. 3-5)
Empfindlichkeit 112 mit Winkelschallbündel 10
Methode 65 (Abb. 1-6), 76
Nullpunkt 65 mit Winkelsensor, Darstel-
Vorlaufkeilvorlauf 112 lung 77 (Abb. 5-7)
K Sequenz 62 (Abb. 4-4)
Longitudinalwellen 70
Kanäle, technische Angaben 58
Schallgeschwindigkeit 93
Keule
Schallgeschwindigkeit (Ver-
Gitterkeule 38
dichtung) 89
Gitterkeule, Definition 113
Lücken in der Datenerfassung
Seitenkeule 38
54
Koeffizient
der Dämpfung 19 M
der Reflexion 20 μ (Poissonzahl) 89
Kombination von Darstellungs- Massendichte (ρ) 89
formaten 53 Maßeinheiten, Umrechnung 99
Konfiguration der Sendemodu- Matrix (2D) 7
lierungen 72 Matrix (Kreis) 7
Konfiguration des Geräts 69 Mehrbildanzeige 65 (Abb. 4-7)
Sensor 70 mehrere Gruppen, Prüfen mit
Vorlaufkeil 70 62
Werkstoff 70 Messarten 58
Konstanten 89 Messen eines Reflektors im
des Seitenverhältnisses 16 zweiten Sprungabstand
Kreismatrix 7 78 (Abb. 5-8)
Kristall 13 Mitteln 54
Krümmungsradius 70 Modelle
L einfache tragbare Geräte 104
Gerätemodelle 103
Länge des Nahfelds 90
leistungsstarke Geräte 107
runder Schwinger 96
Prüf- und Analyse-Software
Vierkantschwinger 96
108
Länge des Schallbündels 91
tragbare Universal-Geräte
Lehrgänge 101
106
Lehrveranstaltungen 101
Modenwandlung 21
leistungsstarke Geräte 107
(Abb. 2-10), 22
Linien-Array 7
an nicht senkrecht aufein-
Linien-Scan 3, 46
ader treffenden Ebe-
Anzahl Sendemodulierun-
nen 20
gen 61
Modul (E), Elastizitätsmodul 89

122 Stichwortverzeichnis Olympus


Modul (E), Youngscher 89 nose 6 (Abb. 1-2)
Modul (G), Schub~ 89 Prüfeinrichtung 69
Multielementbauform 8 Prüfen mit mehreren Grup-
(Abb. 1-4) pen 62
Prüfen mit Weggeber 63
N
Referenzcursor 63
Nachteile der Phased-Array- Sendemodulierungen 59
Prüfung 11 Sensorerkennung 62
Nahfeld 15 technische Angaben zu 58
Definition 113 Phased-Array-Geräte 57
Nahfeldlänge Justierungs- und Normalisie-
effektive 90 rungsverfahren 65
runder Schwinger 90, 96 technische Angaben
Vierkantschwinger 90, 96 Impulsgenerator 58
Normalisierung der Verstär- wichtige Angaben 57
kung 65 Phased-Array-Prüfung
Echo nach der ~ 67 (Abb. 4-9) Gerätemodelle 103
Echo vor der ~ 66 (Abb. 4-8) Nachteile 11
Normalisierungsverfahren 65 Phased-Array-System 7
Null-Grad-Vorlaufkeil 27 Phasenverschiebung 8
Nullpunktjustierung 65 Vorteile 10
Nullpunktverschiebung 70 Phased-Array-Sensoren 8, 13,
O 24 (Abb. 2-15), 25
(Abb. 2-16)
obere Ecke, Reflektor von 86
Auswahl 39
(Abb. 5-18)
Baugruppe 8 (Abb. 1-3)
Offset Höhe erstes Element 70
Dimensionen 26 (Abb. 2-18)
Olympus 2
Merkmale des Ultraschall-
.opd-Dateien 108
bündels 13
.oud-Dateien 108
Querschnitt 25 (Abb. 2-17)
P Vorlaufkeil 27 (Abb. 2-19)
Parameter Phased-Array-System 7
Dimensionen Phased-Array- Phased-Array-Vorlaufkeil 27
Sensor 26 (Abb. 2-18) Phasenregelung, Definition 114
für Sensor 71 Phasenverschiebung 6, 28
Referenz für Fehlerposition Effekte 29 (Abb. 2-21)
85 (Abb. 5-16) in Ultraschall 8
Vorlaufkeil 71, 72 (Abb. 5-2) piezoelektrischer Verbundstoff
passive Ebene, Definition 114 25
Phased-Array piezoelektrisches Wandlerele-
A-Bild speichern 62 ment 13
Anzahl Kanäle 58 Prinzip 13 (Abb. 2-1)
Benennungsregel für IE 59 Piezokeramiksensor 25
Darstellungsarten 62 Poissonzahl (μ) 89
Darstellungsformat 69 Position des Reflektors, Analyse
Darstellungsprinzipien 41 der 84
Definition 113 Prinzip von Huygens 17, 29
Glossar 111 Definition 113
IFF/Anzeigegeschwindig- Profil des Schallbündels 15
keit 61 (Abb. 2-2)
in der medizinischen Diag- des Schallkopfs 14

Olympus Stichwortverzeichnis 123


Energiebereiche 15 on 114
(Abb. 2-3) runde Schwinger, Länge des
mit verschiedener Element- Nahfelds 96
zahl 39 (Abb. 2-28)
S
Prüf- und Analyse-Software 108
Prüfeinrichtung 69 S-Bild 3, 50
Prüfgeschwindigkeit 53 –30° bis +30° 51 (Abb. 3-8)
Prüfkopf 5, 8, 13 –35° bis +70° 52 (Abb. 3-9)
siehe auch Sensor und Schall- Darstellung 79
kopf Definition 115
Interferenz 29 (Abb. 2-21) Winkelschwenk in Schritten
Prüfteildicke 70 von 1 Grad 59
Prüfung mit Winkelsensor 70 (Abb. 4-1)
Prüfung, zerstörungsfreie (zfP) Winkelschwenk in Schritten
5 von 2 Grad 60
(Abb. 4-2)
Q Winkelschwenk in Schritten
Querbohrung 44 von 4 Grad 60
Querschnitts-B-Bild 44, 45 (Abb. 4-3)
(Abb. 3-3) Scan
Definition 111 Azimuth 3
Einzeilen-Scan 49
R
Einzeilen-Scan, Definition
ρ (Massendichte) 89 113
Radius der Krümmung 70 Linien-Scan 3, 46
Rayleigh-Welle (Schallge- Linien-Scan mit Senkrecht-
schwindigkeit) 89 einschallung 72
Referenz für die Defektposition Linien-Scan mit Weggeber 3
(Parameter) 85 (Abb. 5-16) Linien-Scan mit Winkel-
Referenzcursor 63 schallbündel 76
Reflektion Linien-Scan mit Winkelsen-
von Schallwellen 21 sor, Darstellung 77
(Abb. 2-10) (Abb. 5-7)
Reflektoren Linien-Scan, Definition 113
von oberer Ecke 86 Schwenkwinkel-Scan 3
(Abb. 5-18) Sektor-Scan 10
von unterer Ecke 86 Sektor-Scan, Definition 111
(Abb. 5-17) Schallaustrittspunkt 63, 70, 84,
Reflektorposition, Analyse der 85 (Abb. 5-15)
84 Schallbündel
Reflexion Breite 91
an nicht senkrecht aufeinan- Divergenz bei halbem Win-
der treffenden Grenze- kel 91
benen 20 Durchmesser (runder
an senkrecht auftreffenden Schwinger) 91
Grenzebenen 20 fokussiertes Schallbündel 36
Reflexionskoeffizient 20, 91 (Abb. 2-26)
relative Amplitude der Wellen- Länge 91
modi 22 (Abb. 2-11) Merkmale 13
Ring-Array 7 Schallbündelausbreitung 17, 17
Rissprüfung 10 (Abb. 2-5)
Rückwandauflösung, Definiti- Element 10 MHz 19

124 Stichwortverzeichnis Olympus


(Abb. 2-9) Empfindlichkeit 14
Element 2,25 MHz 19 Frequenz 14
(Abb. 2-8) Schallbündelprofil 14
Elementdurchmesser 13mm Schallkopfart 14
18 (Abb. 2-7) Schallschwächung 19
Elementdurchmesser 3mm Schallwellen
18 (Abb. 2-6) Eigenschaften 17
viereckiges Element 18 Reflektion 21 (Abb. 2-10)
Winkel 17 (Abb. 2-5) Schubmodul (G) 89
Schallbündelaustrittspunkt 77 Schweißnahtprüfung 10
Schallbündeldivergenz Schwenkwinkel-Scan 3
bei halbem Winkel 91 Schwinger
Definition 112 Nahfeldlänge für runde ~ 96
Vierkantschwinger 96 Nahfeldlänge für vierkantige
Schallbündelfokus 36 ~ 96
Schallbündelfokussierung Vierkantschwinger, Schall-
mit verschiedenen Apertu- bündeldivergenz 96
ren 38 (Abb. 2-27) Schwingungszahl (Sz) 90
Schallbündelgestaltung Seitenkeule 38
Definition 112 Definition 115
elektronische ~ 24 Seitenverhältnis, Konstante des
Schallbündelgestaltung und - ~ 16
steuerung 31 seitliche Auflösung, Definition
Abstand und Apertur 31 114
Anzahl Elemente 31 Sektor-Scan 3, 10
Elementgröße 31 Definition 111
Frequenz 31 Selbststudium Phased-Array
Schallbündelprofil 15 (Abb. 2-2) Tutorial 101
des Schallkopfs 14 Sendemodulierung 71
Energiebereiche 15 Berechner 9, 30
(Abb. 2-3) Definition 113
mit verschiedener Element- Konfiguration 72
zahl 39 (Abb. 2-28) nötige Anzahl für Linien-
Schallbündelsteuerung 10 Scan 61
Definition 112 Sequenz 33 (Abb. 2-23)
Grenzen 35 (Abb. 2-25) technische Angaben 59
Schallfeld eines Sensors 15 Senkrechteinschallung
(Abb. 2-4) bei Linien-Scan 46 (Abb. 3-4),
Schallgeschwindigkeit 70 72, 74 (Abb. 5-3)
im Werkstoff 70 bei Linien-Scan, Darstellung
Longitudinalwellen 89, 93 75 (Abb. 5-4)
Rayleighwellen 89 Sensor
Schallwellenmodus 70 siehe auch Prüfkopf und
Transversalwellen 89, 93 Schallkopf
Schallkopf Anzahl Elemente 26
siehe auch Prüfkopf und Sen- Art 25
sor aus Piezokeramik 25
Abmessungen 14 aus Verbundstoff 25
Bandbreite 14 Auswahl 39
Dauer der Wellenform 14 automatische Erkennung 62
Eigenschaften 14 Baugruppe 8 (Abb. 1-3)

Olympus Stichwortverzeichnis 125


Dimensionen 26 (Abb. 2-18) T
Eigenschaften 24 Tabellen 89
Elementgröße 26 Nahfeldlänge
Frequenzbereich 8 runde Schwinger 96
für Phased-Array 8, 13, 25 Vierkantschwinger 96
(Abb. 2-16) Ultraschallgrößen 89
Gerätekonfiguration 70 Umrechnung der Maßeinhei-
Merkmale des Ultraschall- ten 99
bündels 13 Wellenlänge 95
Prinzip, piezoelektrisches TCG (time-corrected gain) 3
Element 13 (Abb. 2-1) TCG (zeitabhängige Verstär-
Prüfparameter 71 kungsregelung) 65, 68
Querschnitt 25 (Abb. 2-17) technische Angaben zu Phased-
Schallbündelausbreitung Array-Geräten 57, 58
(Winkel) 17 (Abb. 2-5) A-Bild speichern 62
Schallfeld 15 (Abb. 2-4) Anzahl Impulsgeneratoren
Sensorfrequenz 25 58
Vorlaufkeil 27 (Abb. 2-19) Anzahl Kanäle 58
Sequenz der Sendemodulierun- Benennungsregel 59
gen 33 (Abb. 2-23) Darstellungsarten 62
Serie EPOCH 1000 104 IFF/Anzeigegeschwindig-
Leistungsmerkmale 104 keit 61
Serie OmniScan 106 Messarten und Anzeigemodi
Leistungsmerkmale 106 58
Signal-Rauschverhältnis 10, 31 Optionen bei der Fehlergrö-
Snelliussches Gesetz 21, 29, 92 ßenbestimmung 58
Software Prüfen mit mehreren Grup-
Prüf- und Analyse-Software pen 62
108 Prüfen mit Weggeber 63
TomoView 108 Referenzcursor 63
Leistungsmerkmale 108 Sendemodulierungen 59
TomoView Lite 108 Sensorerkennung 62
TomoVIEWER 109 Terminologie, Hinweis auf 3
speichern, A-Bild 62 Thomas Young (Wissenschaft-
Sprungabstand ler) 5
Anzeige 2. Sprungabstand 87 TomoScan FOCUS LT 107
(Abb. 5-19) wichtigste Leistungsmerk-
Indikation im 1. Sprungab- male 107
stand 80 (Abb. 5-10) TomoView Lite Software 108
Indikation im 2. Sprungab- TomoVIEWER Software 109
stand 80 (Abb. 5-11) TomoView-Software 108
Steuerebene, Definition 114 Leistungsmerkmale 108
Steuerung des Schallbündels 10, tragbare Geräte
31 einfache 104
Abstand und Apertur 31 Universalgeräte 106
Anzahl Elemente 31 Transmissionskoeffizient 91
Definition 112 Transversalwellen 70
Elementgröße 31 Transversalwellen, Schallge-
Frequenz 31 schwindigkeit 89, 93
Sz (Schwingungszahl) 90 TVG (time-varied gain) 3
TVG/DAC 67

126 Stichwortverzeichnis Olympus


U W
Übertragung auf senkrecht auf- Wandlung (Modenwandlung)
treffenden Grenzebenen 21 (Abb. 2-10), 22
20 Webinar 101
Übertragungsverlust 91 Website 3, 101, 103
Ultraschallbündel, Merkmale Forum 101
13 Weggeber 43, 54, 63
Ultraschallgrößen 89 Wellenform
Umrechnung der Maßeinheiten Anzeige (A-Bild) 42
99 Schallkopf Wellenformdau-
untere Ecke, Reflektor von 86 er 14
(Abb. 5-17) Wellenfront 17
Unterstützung und Lehrgänge abgewinkelte Wellenfront 30
101 (Abb. 2-22)
Erzeugung 17
V
Wellenlänge 90, 95
Verarbeitungszeit 54 Werkstoff 70
Verbundstoff, Sensor aus 25 Winkel- und horizontaler Cur-
Verhältnis (Signal-Rausch~) 10 sor 64 (Abb. 4-6)
Verschiebung der Phase 28 Winkel, Einschallwinkel 70
Verschiebung des Nullpunkts Winkelauflösung, Definition
70 114
Verstärkung Winkelcursor 64 (Abb. 4-5)
winkelkorrigierte ~ 65 Winkeleinschallung bei Linien-
winkelkorrigierte, Definiti- Scan 47 (Abb. 3-5)
on 111 winkelkorrigierte Verstärkung
zeitabhängige 65 ACG (angle corrected gain) 65
Verstärkungsnormalisierung 65 Definition 111
Echo nach der ~ 67 (Abb. 4-9) Winkelprüfkopf mit konventio-
Echo vor der ~ 66 (Abb. 4-8) nellem Ultraschall 79
Verstärkungsregelung, zeitab- (Abb. 5-9)
hängige (TVG) 3 Winkelschallbündel 9 (Abb. 1-5)
viereckiges Element, Schallbün- Winkelschallbündel im Linien-
delausbreitung 18 Scan 76
Vierkantschwinger
Nahfeldlänge 96 Y
Schallbündeldivergenz 96 Young, Thomas (Wissenschaft-
virtuelle Apertur 32 ler) 5
Definition 115 Youngscher Modul (E) 89
Volumenprüfung 10
Z
Vorlaufkeil 70
für Phased-Array-Sensor 27 Zahl, Poisson~ (μ) 89
(Abb. 2-19) zeitabhängige Verstärkungsre-
null Grad 27 gelung
Parameter 71, 72 (Abb. 5-2) TCG 65, 68
Phased-Array 27 TVG 3
Vorlaufkeilvorlauf, Justierung zerstörungsfreie Prüfung (zfP) 5
112 zweiter Sprungabstand 80
Vorteile von Phased-Arrays 10 (Abb. 5-11)
Anzeige 87 (Abb. 5-19)

Olympus Stichwortverzeichnis 127


128 Stichwortverzeichnis Olympus
Phased-Array-Prüfung, Grundlagen für industrielle Anwendungen

Erste Ausgabe, September 2013

Herausgegeben von Olympus NDT, 48 Woerd Avenue, Waltham,


Massachusetts 02453, USA
NDT Field Guides

Dieses Referenzhandbuch zur Phased-Array-Prüfung ist als leicht


zu folgende Einführung gedacht, für Anfänger aber auch für er-
fahrene Prüfer die ihr Grundwissen wieder auffrischen wollen. Das
Referenzhandbuch beginnt mit Erklärungen über Theorie und Praxis
der Phased-Array-Prüfung, stellt dann einige Überlegungen zur
Auswahl von Sensoren und Geräten an und schließt mit weiteren
Referenzen und einem „Phased-Array-Glossar”.

48 Woerd Avenue
Waltham, Massachusetts
02453
USA
Tel.: (1) 781-419-3900
www.olympus-ims.com