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Reinhard Lerch

Elektrische
Messtechnik
Analoge, digitale
und computergestützte Verfahren
7. Auflage
Elektrische Messtechnik
Reinhard Lerch

Elektrische Messtechnik
Analoge, digitale und computergestützte
Verfahren

7., aktualisierte Auflage


Reinhard Lerch
Erlangen, Deutschland

Extras im Web http://www.springer.com/de/book/9783662469408

ISBN 978-3-662-46940-8 ISBN 978-3-662-46941-5 (eBook)


DOI 10.1007/978-3-662-46941-5

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Berlin Heidelberg
Vorwort zur siebten Auflage

Nunmehr erscheint die 7. Auflage dieses Werkes, dessen Erstausgabe bereits


über 20 Jahre zurückliegt. Als Autor eines Buches über Elektrische Mess-
technik wird einem bei der Überarbeitung bewusst, wie rasch und in welch
gehörigem Umfang sich die technischen Inhalte auf diesem Gebiet ändern.
Nachdem aber andererseits das Buch auch einen nicht unerheblichen Anteil
der Grundlagen in diesem Fach abdeckt, die sich im Laufe der Jahre nur wenig
oder gar nicht verändern, ist doch auch ein solider Anteil der Kapitel über
die Jahre stabil geblieben und musste keine größeren Änderungen erfahren.
Die Abschnitte über die moderne digitale Messtechnik und insbesondere die
Kapitel zur computerunterstützten Messdatenerfassung sind hingegen dafür
um so volatiler. Dem wurde natürlich auch bei der Aufbereitung der 7. Auf-
lage wieder Rechnung getragen. Wir haben speziell diese Abschnitte ergänzt,
überarbeitet und neu aufbereitet. So wurden neue Unterkapitel zu den The-
men Computerschnittstellen, Feldbusse, Einbindung des Ethernets in die heu-
tige Automatisierungstechnik, Speicherprogrammierbare Steuerungen, Einpla-
tinencomputer für Embedded Systems und Digitaloszilloskope aufgenommen
bzw. bestehende auf den neuesten Stand gebracht. Daneben gab es in nahe-
zu allen Kapiteln eine Reihe von Korrekturen, die notwendig wurden, sowie
Verbesserungen in didaktischer Hinsicht. Allen Lesern, die mich dabei un-
terstützt haben und Anregungen sowie Hinweise gegeben haben, sei an dieser
Stelle herzlich gedankt.
Ansonsten gilt der ausdrückliche Dank all meinen Mitarbeitern vom Lehr-
stuhl für Sensorik der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg.
Sie haben mich auch dieses Mal wieder tatkräftig unterstützt, die Neuauf-
lage mit all ihren Ergänzungen und Verbesserungen zeitgerecht fertigzustel-
len. Ohne deren Hilfe wäre die Pflege eines solch umfangreichen Werkes kaum
denkbar. Besonders bedanken möchte ich mich bei meinen wissenschaftlichen
Mitarbeitern, Herrn M.Sc. Michael Fink und Herrn Dipl.-Ing. Dominik Gede-
on, die dieses Mal einen gehörigen Teil der Last getragen haben. Mein Kollege
und Honorarprofessor unserer Universität, Prof. Dr. Klaus-Dieter Sommer,
hat dankenswerterweise den Abschnitt zur Erneuerung des SI-Systems ver-
VI

fasst. Außerdem wurde auf der beiliegenden DVD ein Kapitel zur Messun-
sicherheit aufgenommen, dessen Autor er ist. Auch dafür sei ihm herzlich
gedankt.
Des Weiteren gilt mein spezieller Dank Frau Christine Peter, die für die
technische Erstellung des Manuskriptes verantwortlich zeichnete. Auch Herrn
Michael Günther sei für seine Mitwirkung beim Update technischer Inhalte
gedankt. Die Zusammenarbeit mit dem Springer-Verlag war wie immer aus-
gezeichnet und verlief in sehr freundschaftlicher Atmosphäre.

email: reinhard.lerch@fau.de

Erlangen, im Sommer 2016 Reinhard Lerch


Vorwort zur sechsten Auflage

Dank der regen Nachfrage kann bereits knapp zwei Jahre nach dem Erschei-
nen der letzten Auflage nunmehr die 6. Auflage dieses Werkes erscheinen.
Neben allfälligen Korrekturen kleiner Fehler und Aktualisierungen auf dem
Gebiet Computerunterstützte Messdatenerfassung wurde bei der Neuaufbe-
reitung ein umfangreicher Abschnitt zum Thema Energiemeter hinzugenom-
men. In diesem Abschnitt (Kap. 11.10) werden die technischen Aspekte der
modernen Leistungs- bzw. Energiemessung ausführlich diskutiert. Einen we-
sentlichen Teil nimmt dabei die Besprechung von integrierten Schaltkreisen
ein, die der Messung elektrischer Leistung und Energie im elektrischen Ener-
gieversorgungsnetz dienen. Diese integrierten Schaltkreise bilden ja auch das
Herzstück von neuartigen Energiemetern, den sog. Smart Metern, also elektro-
nischen Energiezählern, die leicht in moderne IT-Infrastrukturen eingebunden
werden können. Somit sind sie auch im Hinblick auf Energieeinsparung sowie
die Kanalisierung und Steuerung von Energieflüssen im Zuge der dezentra-
len elektrischen Energieversorgung unersetzlich geworden. Die Smart Meters
sind notwendig, um die derzeit in Diskussion bzw. Planung befindliche Smart-
Grid-Technologie des elektrischen Energieversorgungsnetzes zu realisieren.
Darüberhinaus werden auch die Verfahren vorgestellt, mit denen Leistun-
gen bzw. Energien von Mikrowellenkomponenten gemessen werden, wie z. B.
Leistungssensoren für den GHz-Bereich. In diesem Zusammenhang werden
die Hochfrequenz-Leistungsmessungen unter Verwendung von thermoelektri-
schen Umformern und Bolometern besprochen. Des Weiteren werden Lei-
stungsmssköpfe auf der Basis von kaskadierten logarithmischen Verstärkern
behandelt sowie solche, die mit Diodengleichrichtern arbeiten.
Bei all diesen Arbeiten konnte ich wieder auf das bewährte Team mei-
nes Lehrstuhls vertrauen. Mein besonderer Dank gilt Frau Bettina Melberg
und Frau Cornelia Salley-Sippel für ihre Unterstützung bei der Erstellung des
Layouts sowie den Herren Dipl.-Ing. Thorsten Albach, Dipl.-Ing. Dominik Ge-
deon, Dr. techn. Stefan J. Rupitsch, Dr.-Ing. Alexander Sutor und Michael
Günther für Ihre tatkräftige Mithilfe bei der inhaltlichen Gestaltung des Ma-
nuskriptes. Für die Unterstützung bei der technischen Erstellung des Werkes
VIII

sowie beim Marketing gebührt Frau Hestermann-Beyerle und Frau Kollmar-


Thoni vom Springer-Verlag Heidelberg mein Dank.
Abschließend darf ich mich bei allen Lesern bedanken, die dieses Werk
erwerben, und darf Ihnen große Freude beim Lesen wünschen.

email: reinhard.lerch@lse.eei.uni-erlangen.de

Erlangen, im Sommer 2012 Reinhard Lerch


Vorwort zur fünften Auflage

Für die 5. Auflage dieses Buches sind wichtige inhaltliche Erweiterungen vor-
genommen worden. So wurde beispielsweise im Kapitel Messverstärker ein
Abschnitt über Operationsverstärker mit differentiellem Ausgang hinzugefügt
und im Kapitel Analoges Messen elektrischer Größen ein Abschnitt über
Strommeßzangen neu aufgenommen. Außerdem wurden dort die Operations-
verstärker-Datentabellen aktualisiert. Da insbesondere die Hard- und Softwa-
re zur Messdatenerfassung und Laborautomation kontinuierlicher Innovation
unterliegen, wurden die entsprechenden Kapitel auf den neuesten Stand der
Technik gebracht, so zum Beispiel auch der Abschnitt über PXI-Systeme, wel-
che in letzter Zeit immer mehr an Bedeutung gewinnen. Auch der Abschnitt
über Analog-Digital-Umsetzer wurde aktualisiert. Das Angebot an Software,
Rechenbeispielen und sonstigen Übungsaufgaben, die sich auf der beiliegen-
den DVD befinden, wurde ergänzt und ebenfalls auf den neuesten Stand ge-
bracht. Weiterhin wurden alle Kapitel im Hinblick auf Inkompabilitäten in
der Schreibweise von Formeln und Formelzeichen überprüft und bestehende
Abweichungen korrigiert.
Bei all diesen Arbeiten konnte ich wieder auf das bewährte Team meines
Lehrstuhls vertrauen. Mein besonderer Dank gilt Frau B. Melberg und Frau
C. Salley-Sippel sowie den Herren Dipl.-Ing. Th. Albach, Dr. techn. S. J.
Rupitsch, Dr.-Ing. A. Sutor und M. Günther für Ihre tatkräftige Mithilfe.
Für die Unterstützung bei der technischen Erstellung des Werkes sowie beim
Marketing gebührt Frau Hestermann-Beyerle und Frau Kollmar-Thoni vom
Springer-Verlag Heidelberg mein Dank.
Abschließend darf ich mich bei allen Lesern bedanken, die dieses Werk
kaufen, und darf Ihnen große Freude beim Lesen wünschen.

email: reinhard.lerch@lse.eei.uni-erlangen.de

Erlangen, im Sommer 2010 Reinhard Lerch


Vorwort zur vierten Auflage

Zunächst einmal gilt mein besonders herzlicher Dank all denjenigen Lesern,
die im letzten Jahr dieses Buch käuflich erworben haben. Denn dank ihnen
ist es möglich geworden, schon ein Jahr nach Erscheinen der letzten Aufla-
ge die nunmehr 4. Edition dieses Werkes herauszugeben. Dadurch ist es in
relativ kurzer Frist gelungen, neben anstehenden kleineren Korrekturen we-
sentliche Erweiterungen bzw. Verbesserungen am Text und der beiliegenden
DVD vorzunehmen. Viele der Vorschläge dazu stammen von Fachkollegen an
Universitäten und Fachhochschulen. In diesem Zusammenhang gebührt mei-
nen Kollegen aus dem Kreise des AHMT (Arbeitskreis der Hochschullehrer
Messtechnik; www.ahmt.de) mein besonderer Dank. Denn vor allem von ih-
nen kamen konstruktive Vorschläge, das vorliegende Werk in Richtung Mess-
signalverarbeitung, Korrelationsmesstechnik, Regressions- und Test-Verfahren
auszubauen. Für diese sehr wertvollen Hinweise und Anmerkungen bei der
Evaluierung der letzten Auflage möchte ich an dieser Stelle nochmals meinen
besonderen Dank aussprechen.
Des Weiteren sind die Übungs- und Demonstrationsbeispiele auf beilie-
gender DVD in großem Umfang, insbesondere für die eben genannten Kapi-
tel, ausgebaut worden. Diese basieren im Wesentlichen auf dem Programm
LabVIEW (National Instruments), das auch bei dieser Auflage auf der DVD
in seiner neuesten Version (Studentenversion) vorliegt. Mit Hilfe der auf der
DVD enthaltenen Übungen, Programmier- und Demonstrationsbeispielen ist
es möglich, dass der Leser sein mit dem Studium des Werkes erworbenes
Wissen unmittelbar auf praktische ingenieurmäßige Problemstellungen an-
wendet. Das dieses Lehrbuch begleitende Übungsbuch “Elektrische Messtech-
nik - Übungsbuch” rundet die Übungsmöglichkeiten in den Bereichen ab, für
die Computerübungen weniger geeignet sind als Rechnungen mit Papier und
Bleistift. Für die entsprechende Unterstützung beim Erstellen der DVD und
die gewinnbringende Kooperation mit der Firma National Instruments möchte
ich mich vor allem bei den Herren Marc Backmeyer und Dipl.-Ing. Rahman
Jamal bedanken.
XII

Mein vorrangiger Dank gilt aber vor allem meinem Team des Lehrstuhls für
Sensorik, das durch seinen unermüdlichen Einsatz in der letzen Zeit die schnel-
le Erstellung dieser 4. Auflage ermöglicht hat. Hier sind vor allem zu nennen:
Herr Dipl.-Ing. Thorsten Albach, Frau Bettina Melberg, Frau Cornelia Salley-
Sippel, Herr Dr.-Ing. Alexander Sutor.
Nicht zuletzt darf ich auch die wiederum exzellente Zusammenarbeit mit
dem herausgebenden Verlag und seinen Mitarbeitern, vor allem Frau Eva
Hestermann-Beyerle und Frau Monika Lempe, hervorheben.

email: reinhard.lerch@lse.eei.uni-erlangen.de

Erlangen, im Sommer 2007 Reinhard Lerch


Vorwort zur dritten Auflage

Dank der recht großen Beliebtheit dieses Buches ist es möglich, bereits zwei
Jahre nach Erscheinen der letzten Auflage nunmehr die 3. Auflage dieses Wer-
kes vorstellen zu können.
Gegenüber der 2. Auflage wurden vor allem die Kapitel zur Rechner-
gestützten Meßdatenerfassung dem allerneuesten Stand der Technik angepaßt.
So wird der jüngst eingeführte LXI-Standard zur Vernetzung von Meßgeräten
ebenso behandelt wie die neuesten Entwicklungen auf dem Gebiet der Spei-
cherprogrammierbaren Steuerungen (SPS), der Digitaloszilloskope, der USB-
Meßmodule sowie moderne Source Measuring Units. Damit ist dieser Block
auf nunmehr 200 Seiten bzw. ein Drittel des Gesamtwerkes angewachsen.
Das Kapitel Elektromechanische Meßgeräte“(Kapitel 6.1) wurde beibe-

halten trotz der Tatsache, daß es sich dabei um eine in ihrer Bedeutung
zurückgehende Meßgeräteklasse handelt. Dennoch halte ich diesen Abschnitt
für äußerst wertvoll für Studierende des Faches Sensorik bzw. für das ge-
samte Gebiet der Mechatronik, da man anhand der Funktionsprinzipien für
elektromechanische Meßgeräte sehr schön die Interaktionen zwischen mecha-
nischen und elektromagnetischen Feldern lernen kann. Demzufolge sind die
hier behandelten elektromechanischen Grundprinzipien und Gesetzmäßigkei-
ten (z. B. die Lorentzkraft oder die Wirbelstromdämpfung) insbesondere für
das Verständnis von modernen elektromechanischen Sensoren und Aktoren
wichtig.
An dieser Stelle gilt es auch, zunächst einmal all denjenigen herzlich zu
danken, die mich in den beiden letzten Jahren auf Fehler bzw. unklare Dar-
stellungen in der 2. Auflage aufmerksam gemacht haben. Meistens handelte es
sich dabei um Studierende der Technischen Fakultät der Friedrich-Alexander-
Universität Erlangen-Nürnberg oder auch um Studierende anderer Univer-
sitäten und Fachhochschulen, die sich auf Prüfungen in ingenieurwissenschaft-
lichen Fächern vorbereitet haben. Alle berechtigten Einwände und Hinweise
wurden in der vorliegenden Auflage berücksichtigt.
Bei der Erweiterung des Buches haben mich die Mitarbeiter des Lehr-
stuhls für Sensorik der Universität Erlangen-Nürnberg wiederum mit großem
XIV

Einsatz unterstützt. In allererster Linie bin ich unserem akadem. Rat, Herrn
Dr.-Ing. Alexander Sutor, ebenso wie Herrn Dipl.-Ing. Martin Meiler, Herrn
Dipl.-Ing. Erich Leder sowie dem Leiter unserer Elektronikwerkstatt, Herrn
Michael Günther, für ihre Beiträge zu diesem Werk zu großem Dank verpflich-
tet. Für ihren unermüdlichen Einsatz bei der elektronischen Fertigstellung des
kamerafertigen Manuskriptes samt aller darin enthaltenen, teilweise diffizilen
Grafiken gilt mein besonders herzlicher Dank wiederum Frau Cornelia Salley-
Sippel und Frau Bettina Melberg.
Bedanken möchte ich mich auch bei den beiden verantwortlichen Mitar-
beiterinnen des Springer-Verlages, Frau Eva Hestermann-Beyerle und Frau
Monika Lempe, für die hervorragende Unterstützung und exzellente Zusam-
menarbeit.
Diesem Buch liegt eine CD-ROM mit Übungsaufgaben zur
Rechnergestützten Meßdatenerfassung in NI LabVIEW R
sowie
zur Programmierung von Speicherprogrammierbaren Steuerun-
gen (SPS) mit CoDeSys R
bei. Dabei gibt es Programmieraufga-
ben, deren Lösung via Internet auf eine am Lehrstuhl für Sensorik (Friedrich-
Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg) aufgebaute Speicherprogrammier-
bare Steuerung heruntergeladen werden können. Anhand helligkeitsgesteuer-
ter Lampen und LEDs läßt sich mittels einer WebCam die erfolgreiche Pro-
grammierung dieser SPS beobachten.
Das oben gezeigte Icon weist an entsprechenden Stellen des Buches auf
thematisch passende Übungsaufgaben auf der CD-ROM hin. Weitere Übungs-
beispiele und Hinweise findet man unter
www.lse.e-technik.uni-erlangen.de/elektrische_messtechnik

email: reinhard.lerch@lse.eei.uni-erlangen.de

Erlangen, im Sommer 2006 Reinhard Lerch


Vorwort zur zweiten Auflage

Die zweite Auflage trägt insbesondere den aktuellen Entwicklungen im Bereich


Computerunterstützte Meßdatenerfassung Rechnung. Daher sind die entspre-
chenden Kapitel in der zweiten Auflage stark angewachsen und nehmen nun-
mehr über ein Drittel des Gesamtumfanges ein. Infolgedessen können alle we-
sentlichen Hard- und Software-Komponenten der modernen rechnergestützten
Meßdatenerfassung behandelt werden. So werden beispielsweise die weltweite
Vernetzung von Meßdaten- und Prozeßrechnern wie auch die Meßdatenerfas-
sung unter Zuhilfenahme von Virtual Private Networks besprochen.
Die zweite Auflage wurde ebenfalls erweitert auf dem Gebiet der Aus-
gleichsvorgänge in elektrischen Netzwerken, was der detaillierten Erläuterung
der dynamischen Meßfehler und ihrer Korrekturmöglichkeiten zugute kommt.
Auch die Analyse und Messung von nichtlinearen Bauelementen wurde in den
Stoff aufgenommen.
Bei der Erweiterung des Buches haben mich die Mitarbeiter des Lehrstuhls
für Sensorik der Universität Erlangen-Nürnberg mit großem Engagement un-
terstützt. In allererster Linie bin ich Herrn Dr.-Ing. Alexander Sutor und
Herrn Dipl.-Ing. Martin Meiler für ihre fachlichen Beiträge zu diesem Werk
zu großem Dank verpflichtet. Für ihren unermüdlichen Einsatz bei der Er-
stellung des Manuskriptes und der Grafiken gilt Frau Cornelia Salley-Sippel
und Frau Bettina Melberg mein besonderer Dank. An der Korrekturlesung
des Werkes waren alle Mitarbeiter des Lehrstuhls sowie Herr Dr.-Ing. Günter
Pretzl vom Lehrstuhl für Technische Elektronik und meine Ehefrau Elke be-
teiligt. Auch ihnen sei an dieser Stelle dafür herzlich gedankt. Dank gilt auch
den Mitarbeitern des Springer-Verlages für die hervorragende Kooperation,
insbesondere Frau Eva Hestermann-Beyerle und Frau Monika Lempe.

email: reinhard.lerch@lse.eei.uni-erlangen.de

Erlangen, im Sommer 2004 Reinhard Lerch


Vorwort zur ersten Auflage

Die in der zweiten Hälfte unseres Jahrhunderts erfolgten innovativen Ent-


wicklungen auf dem Gebiet der Elektrotechnik haben für die Elektrische
Meßtechnik eine Vielzahl neuer Verfahren und Meßschaltungen mit sich ge-
bracht. So basiert die Messung elektrischer und nicht-elektrischer Größen heu-
te vorwiegend auf Schaltungen, die erst durch in jüngster Vergangenheit ent-
wickelte elektronische Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltkreise, wie
beispielsweise Operationsverstärker, digitale Grundschaltungen und Analog-
Digital- bzw. Digital-Analog-Umsetzer, ermöglicht wurden. Die Nutzung die-
ser modernen Elektronik und die enormen Fortschritte auf dem Gebiet der
Digitalrechner haben zu einer sehr engen Verflechtung von Elektrischer Meß-
technik und Computertechnik bzw. Informatik geführt. Dies zeigt sich unter
anderem in der Tatsache, daß die heutige Meßdatenerfassung und Meßsignal-
verarbeitung zunehmend auf Digitalrechner oder digitale Signalprozessoren
verlagert werden und zum Teil in Software implementiert sind. Nachdem in
den letzten Jahren eine Vielzahl von leistungsfähigen Sensoren zur Detekti-
on nicht-elektrischer Meßgrößen entwickelt wurde, verstärkt sich der Trend,
daß viele nicht-elektrotechnische Wissenschaftszweige, wie z. B. der Maschi-
nenbau und die Verfahrenstechnik, ihre meßtechnischen Probleme mit rein
elektrotechnischen bzw. informationstechnischen Mitteln lösen.
Es wurde versucht, dieser Entwicklung mit der Struktur des vorliegen-
den Werkes Rechnung zu tragen, ohne die klassischen Grundlagen zu ver-
nachlässigen. So werden nach einem einführenden Kapitel über Meßfehler,
die konventionellen elektromechanischen Meßwerke besprochen, welche zwar
zunehmend von digitalen Meßgeräten abgelöst werden, deren grundlegende
Wandlungsmechanismen aber für das Gebiet der elektromechanischen Meß-
wertaufnehmer (Sensoren) von großer Bedeutung sind. Nach den Abschnitten
zur Messung von elektrischer Spannung, elektrischem Strom und elektrischer
Impedanz folgen als thematische Schwerpunkte die Methoden und Verfah-
ren sowie die daraus resultierenden elektronischen Schaltungen der modernen
Elektrischen Meßtechnik. Diese werden in den Kapiteln Operationsverstärker,
Darstellung elektrischer Signale, Digitale Meßtechnik, Messung von Frequenz
XVIII

und Zeit sowie Meßsignalverarbeitung und Rechnergestützte Meßdatenerfas-


sung behandelt.
Die in diesem Buch angesprochenen Themen und Fragestellungen decken
den Stoff einer einführenden Vorlesung Elektrische Meßtechnik ab. Darüber-
hinaus ist die Thematik einer weiterführenden Vorlesung Rechnergestützte
Meßdatenverarbeitung und Meßsignalverarbeitung enthalten, die als Wahlvor-
lesung für Studenten höherer Semester Bestandteil des an der Johannes Kepler
Universität Linz im Jahre 1990 eingerichteten Diplomingenieurstudiengan-
ges Mechatronik ist. Das Buch wendet sich jedoch nicht nur an Studenten
der Fachrichtungen Elektrotechnik, Mechatronik, Maschinenbau, Informati-
onstechnik, Physik und Chemie sondern auch an die bereits auf dem Gebiet
der Meßtechnik praktisch tätigen Ingenieure und Naturwissenschaftler, die
ihr Wissen über Meßtechnik auffrischen bzw. vertiefen wollen. Mit dem vor-
liegenden Werk sollen sowohl Kenntnisse über die bei der Messung elektri-
scher Größen eingesetzten Standardverfahren vermittelt als auch der neueste
Stand der zur modernen Elektrischen Meßtechnik zählenden computergestütz-
ten Meßdatenerfassung und Meßsignalverarbeitung beschrieben werden.
Das Buch ist in Verbindung mit dem Begleitwerk Übungen zur Elek-

trischen Meßtechnik“ (R. Lerch; M. Kaltenbacher; F. Lindinger: Übungen
zur Elektrischen Meßtechnik. Berlin, Heidelberg: Springer-Verlag 1996) zum
Selbststudium geeignet. In diesem Übungsbuch werden neben kurzen Repe-
titorien zahlreiche praktische Aufgaben und weiterführende Beispiele zu dem
gesamten im Lehrbuch behandelten Stoff angeboten. Für das Verständnis
des in den beiden genannten Werken dargebotenen Stoffes werden lediglich
Grundkenntnisse auf den Gebieten Elektrotechnik, Mathematik sowie Schal-
tungstechnik erwartet.
Bei der Ausarbeitung des Manuskriptes habe ich viele Anregungen und
wesentliche Unterstützung von allen am Institut für Elektrische Meßtechnik
der Universität Linz tätigen Mitarbeitern erfahren. In allererster Linie bin ich
Herrn Dipl.-Ing. Manfred Kaltenbacher und Herrn Dipl.-Ing. Franz Lindin-
ger für ihre wesentlichen fachlichen Beiträge zu diesem Werk sowie ihren un-
ermüdlichen Einsatz im Zusammenhang mit der Erstellung des Manuskriptes
zu größtem Dank verpflichtet. Die wahrlich nicht immer einfachen Aufgaben
des computergerechten Textschreibens sowie der Anfertigung von Abbildun-
gen lagen in den Händen von Frau Waltraud Kratzer, die die immer wieder an-
stehenden Texterweiterungen und Änderungen der Abbildungen mit großem
Engagement und Sachverstand vorgenommen hat. Ihr gebührt mein herzlicher
Dank, ebenso wie Frau Sylvia Preßl, die ebenfalls viele der Grafiken angefer-
tigt hat, wie auch Frau Ingrid Hagelmüller, die für die Texteingabe sowie die
Erstellung der Abbildungen der ersten Manuskriptversion verantwortlich war.
All denjenigen, die an der Korrekturlesung dieses Werkes beteiligt waren und
Verbesserungsvorschläge eingebracht haben, d. h. meinen Kollegen, meinen
Assistenten, insbesondere den Herren Dipl.-Ing. Todor Sheljaskov und Dipl.-
Ing. Roland Exler, den Linzer Mechatronik-Studenten sowie meiner Ehefrau
XIX

Elke, möchte ich ebenfalls meinen herzlichen Dank für ihren großen Einsatz
aussprechen.
Mein Dank gilt auch dem Springer-Verlag, insbesondere Herrn Dr. Huber-
tus Riedesel, der die Anregung zur Abfassung des vorliegenden Werkes gab, so-
wie seinen Mitarbeiterinnen Frau Marianne Ozimkowski und Frau Gaby Maas
für ihre Unterstützung bei der Erstellung des kamerafertigen Manuskriptes.
Allen eben genannten Personen möchte ich auch danken für ihr Verständnis
und ihre Geduld bei der mehrmals verzögerten Abgabe des Manuskriptes.
Da es erwartungsgemäß auch bei noch so sorgfältiger Bearbeitung des Tex-
tes nicht möglich sein dürfte, die Erstauflage eines solchen Buches fehlerfrei zu
halten, möchte ich mich schon vorab bei allen Lesern für diese Fehler entschul-
digen und sie ermutigen, von ihnen eventuell entdeckte Fehler an die folgende
Adresse mitzuteilen:

O. Univ.-Prof. Dipl.-Ing. Dr. Reinhard Lerch


Institut für Elektrische Meßtechnik
Johannes Kepler Universität Linz
Altenberger Straße 69
A-4040 Linz
email: R.Lerch@jk.uni-linz.ac.at

Linz, im Januar 1996 Reinhard Lerch


Inhaltsverzeichnis

1 Umfang und Bedeutung der Elektrischen Messtechnik . . . . . 1


1.1 Zur Historie und Bedeutung der Messtechnik . . . . . . . . . . . . . . . 1
1.2 Der Begriff des Messens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
1.3 Begriffsdefinitionen in der Messtechnik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
1.3.1 Allgemeine Begriffe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
1.3.2 Messgerät und Messeinrichtung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
1.3.3 Messkette (Struktur einer elektrischen Messeinrichtung) 5
1.4 Vorschriften und Normen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
1.5 Klassifizierung von Messmethoden . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
1.5.1 Ausschlagmethode - Kompensationsmethode . . . . . . . . . 7
1.5.2 Analog - Digital . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
1.5.3 Kontinuierlich - Diskontinuierlich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
1.5.4 Direkt - Indirekt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.6 Die Informationsträger im Messsignal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9

2 Die Grundlagen des Messens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11


2.1 Maßsysteme, Einheiten, Naturkonstanten . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.1.1 Maßsysteme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.1.2 Naturkonstanten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
2.1.3 Das SI . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
2.1.4 Das künftige SI . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
2.1.5 Abgeleitete Einheiten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
2.2 Größen- und Zahlenwertgleichungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18

3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und


Vierpol-Übertragungsverhalten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
3.1 Fourier-Transformation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
3.2 Ausgleichsvorgänge in linearen Netzwerken . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
3.3 Die Laplace-Transformation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
3.4 Die Laplace-Transformierte elementarer Zeitfunktionen . . . . . . 31
XXII Inhaltsverzeichnis

3.5 Die Eigenschaften der Laplace-Transformation —


Laplace-Transformation einfacher mathematischer
Operationen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
3.5.1 Überlagerung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
3.5.2 Integration . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
3.5.3 Differentiation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
3.5.4 Produkt zweier Laplace-Funktionen — Faltung . . . . . . . 35
3.5.5 Multiplikationssatz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 37
3.5.6 Verschiebung im Zeitbereich (Oberbereich) . . . . . . . . . . 38
3.5.7 Verschiebung im Laplace-Bereich (Unterbereich) . . . . . . 38
3.5.8 Dehnung bzw. Stauchung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
3.5.9 Anfangswert-Theorem . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
3.5.10 Endwert-Theorem . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
3.5.11 Tabelle mathematischer Operationen . . . . . . . . . . . . . . . . 39
3.6 Analyse eines RC-Netzwerkes mittels Laplace-Transformation . 40
3.7 Die Rücktransformation von Laplace-Transformierten in den
Zeitbereich . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
3.8 Lösung von linearen Differentialgleichungen mit konstanten
Koeffizienten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
3.9 Berechnung von Einschwingvorgängen in elektrischen
Netzwerken mit konzentrierten linearen passiven Bauelementen 46
3.10 Rücktransformation mittels Residuenmethode -
Heavisidescher Entwicklungssatz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
3.11 Vierpol-Übertragungsfunktion im Zeit- und Frequenzbereich . . 60
3.12 Beschreibung von linearen zeitinvarianten Netzwerken durch
ihre Sprungantwort . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
3.13 Bode-Diagramme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
3.13.1 Regeln für Bode-Diagramme (reelle Pole und
Nullstellen) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
3.13.2 Regeln für Bode-Diagramme mit komplexen Polpaaren 72

4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und


Systeme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C) . . . . . . . . . . . . 77
4.1.1 Vorbemerkungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
4.1.2 Nichtlinearer Widerstand . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
4.1.3 Nichtlineare Induktivität . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85
4.1.4 Nichtlineare Kapazität . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 92
4.2 Gesteuerte Quellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95
4.3 Analyse nichtlinearer elektrischer Netzwerke . . . . . . . . . . . . . . . . 96

5 Messfehler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 103
5.1 Systematische Messfehler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104
5.2 Zufällige Messfehler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 106
5.2.1 Normalverteilung, Mittelwert, Standardabweichung . . . 106
Inhaltsverzeichnis XXIII

5.2.2 Vertrauensbereich für den Schätzwert . . . . . . . . . . . . . . . 109


5.2.3 Fortpflanzung zufälliger Fehler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113
5.3 Genauigkeitsklassen bei Messgeräten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114
5.4 Dynamische Messfehler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114
5.4.1 Das Übertragungsverhalten von Messsystemen . . . . . . . 115
5.4.2 Definition des dynamischen Messfehlers . . . . . . . . . . . . . 119
5.4.3 Bestimmung des dynamischen Messfehlers . . . . . . . . . . . 120
5.4.4 Messsystem mit Tiefpassverhalten . . . . . . . . . . . . . . . . . . 121

6 Analoges Messen elektrischer Größen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125


6.1 Elektromechanische Messgeräte . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125
6.1.1 Drehspulmesswerk . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126
6.1.2 Galvanometer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 131
6.1.3 Elektrodynamisches Messwerk . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 134
6.1.4 Dreheisenmesswerk . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 137
6.1.5 Drehspulquotientenmesswerk (Kreuzspulmesswerk) . . . 138
6.1.6 Drehmagnetmesswerk . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 140
6.1.7 Elektrostatisches Messwerk . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141
6.1.8 Schaltzeichen für Messgeräte . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143
6.2 Messung von Gleichstrom und Gleichspannung . . . . . . . . . . . . . . 144
6.2.1 Messung von Gleichströmen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 144
6.2.2 Messung von Gleichspannungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 147
6.2.3 Gleichzeitiges Messen von Strom und Spannung . . . . . . 150
6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung . . . . . . . . . . . 151
6.3.1 Begriffsdefinitionen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 151
6.3.2 Gleichrichtung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 152
6.3.3 Messung des Scheitelwertes (Spitzenwert, Peak Value) . 154
6.3.4 Messung des Gleichrichtwertes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 157
6.3.5 Messung des Effektivwertes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 158
6.3.6 Messwandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159
6.3.7 Strommesszange für Wechselstrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . 166
6.3.8 Hallelement (Galvanomagnetischer Effekt) . . . . . . . . . . . 172
6.3.9 Strommesszange für Gleichstrom . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 176

7 Messverstärker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 179
7.1 Operationsverstärker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 180
7.1.1 Idealer Operationsverstärker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 180
7.1.2 Realer Operationsverstärker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 181
7.1.3 Definitionen von Operationsverstärker-Kenngrößen . . . 184
7.1.4 Operationsverstärker-Grundschaltungen . . . . . . . . . . . . . 192
7.1.5 Operationsverstärker mit differentiellem Ausgang . . . . . 204
7.2 Spezielle Messverstärker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 209
7.2.1 Differenzverstärker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 209
7.2.2 Instrumentenverstärker (Instrumentierungsverstärker) . 211
7.2.3 Zerhacker-Verstärker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 212
XXIV Inhaltsverzeichnis

7.2.4 Ladungsverstärker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 214


7.3 Rauschen von Messverstärkern . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 215

8 Messung der elektrischen Leistung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 229


8.1 Leistungsmessung im Gleichstromkreis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 229
8.2 Leistungsmessung im Wechselstromkreis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 231
8.2.1 Begriffsdefinitionen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 231
8.2.2 Leistungsmessung im Einphasennetz . . . . . . . . . . . . . . . . 231
8.2.3 Leistungsmessung in Drehstromsystemen . . . . . . . . . . . . 233
8.3 Messung der elektrischen Arbeit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 241

9 Messung von elektrischen Impedanzen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 245


9.1 Messung von ohmschen Widerständen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 245
9.1.1 Strom- und Spannungsmessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 245
9.1.2 Vergleich mit einem Referenzwiderstand . . . . . . . . . . . . . 246
9.1.3 Verwendung einer Konstantstromquelle . . . . . . . . . . . . . 248
9.1.4 Verwendung eines Kreuzspulinstrumentes . . . . . . . . . . . . 249
9.2 Kompensationsschaltungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 250
9.2.1 Gleichspannungskompensation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 250
9.2.2 Gleichstromkompensation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 251
9.3 Gleichstrom-Messbrücken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 252
9.3.1 Gleichstrom-Ausschlagbrücken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 253
9.3.2 Gleichstrom-Abgleichbrücken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 255
9.4 Messung von Schein- und Blindwiderständen . . . . . . . . . . . . . . . 255
9.5 Wechselstrom-Messbrücken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 259
9.5.1 Wechselstrom-Abgleichbrücken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 259
9.5.2 Einflüsse von Erd- und Streukapazitäten . . . . . . . . . . . . 262
9.5.3 Halbautomatischer Brückenabgleich . . . . . . . . . . . . . . . . . 263
9.5.4 Wechselstrom-Ausschlagbrücken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 267

10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale . . . . . . . . . . 273


10.1 Analoges Elektronenstrahl-Oszilloskop . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 273
10.1.1 Aufbau und Funktion der Elektronenstrahl-Röhre . . . . 273
10.1.2 Zeitablenkung und Triggerung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 277
10.1.3 Funktionsgruppen eines Analog-Oszilloskops . . . . . . . . . 280
10.1.4 Sampling-Oszilloskop . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 283
10.2 Spannungsteiler in Elektronenstrahl-Oszilloskopen . . . . . . . . . . . 286
10.3 Fehler bei der analogen Elektronenstrahl-Oszilloskopie . . . . . . . 288
10.3.1 Statische Fehler (Fehler der Ablenkkoeffizienten) . . . . . 288
10.3.2 Linearitätsfehler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 289
10.3.3 Dynamische Fehler des Oszilloskops . . . . . . . . . . . . . . . . . 290
10.4 Digital-Speicheroszilloskop . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 297
10.4.1 Prinzipielle Funktionsweise . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 297
10.4.2 Wiedergabe des aufgezeichneten Bildes . . . . . . . . . . . . . . 299
10.4.3 Betriebsarten des Digital-Speicheroszilloskops . . . . . . . . 301
Inhaltsverzeichnis XXV

10.4.4 Einsatz von Digital-Oszilloskopen in Verbindung mit


Computern . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 302
10.5 Vergleich Analog- und Digital-Oszilloskope . . . . . . . . . . . . . . . . . 302
10.6 Digital-Phosphor-Oszilloskop . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 303
10.7 Analoger und digitaler Trigger . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 304
10.8 Mixed-Signal-Oszilloskope . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 306
10.9 Stand der Technik bei Digital-Oszilloskopen . . . . . . . . . . . . . . . . 308

11 Digitale Messtechnik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 311


11.1 Duales Zahlensystem und Binärcodes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 311
11.1.1 Dualzahlendarstellung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 311
11.1.2 BCD-, Hexadezimal- und Gray-Code . . . . . . . . . . . . . . . . 312
11.1.3 Fehlererkennung und Fehlerkorrektur . . . . . . . . . . . . . . . 313
11.2 Binäre Signale und ihre Verknüpfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 313
11.2.1 Grundregeln bei der logischen Verknüpfung . . . . . . . . . . 313
11.2.2 Digitale Grundschaltungen (Gatterschaltungen) . . . . . . 314
11.2.3 Digitale Addierer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 318
11.3 Bistabile Kippschaltungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 319
11.3.1 RS-Flip-Flop . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 320
11.3.2 Taktzustandgesteuertes RS-Flip-Flop . . . . . . . . . . . . . . . 321
11.3.3 Taktflankengesteuertes RS-Flip-Flop . . . . . . . . . . . . . . . . 322
11.3.4 Taktzustandgesteuertes D-Flip-Flop (Data-Latch) . . . . 322
11.3.5 Taktflankengesteuertes D-Flip-Flop . . . . . . . . . . . . . . . . . 324
11.3.6 Taktflankengesteuertes JK-Flip-Flop . . . . . . . . . . . . . . . . 325
11.3.7 Taktflankengesteuertes T-Flip-Flop . . . . . . . . . . . . . . . . . 326
11.4 Monostabile Kippstufe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 327
11.5 Zähler-Schaltungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 328
11.5.1 Dualzähler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 329
11.5.2 BCD-Zähler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 331
11.6 Digital-Analog-Umsetzung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 332
11.6.1 Grundlagen und Kenngrößen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 332
11.6.2 Schaltungstechnische Realisierungen . . . . . . . . . . . . . . . . 334
11.6.3 Fehler bei der Digital-Analog-Umsetzung . . . . . . . . . . . . 339
11.7 Analog-Digital-Umsetzung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 342
11.7.1 Abtastung (Sampling) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 343
11.7.2 Abtast-Halte-Schaltungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 346
11.7.3 Direktvergleichende Analog-Digital-Umsetzer . . . . . . . . 348
11.7.4 Analog-Digital-Umsetzung mit Delta-Sigma-Modulator 356
11.7.5 Time-Division-Multiplizierer (Impulsbreiten-
Multiplizierer, Sägezahn-Multiplizierer) . . . . . . . . . . . . . 364
11.7.6 Analog-Digital-Umsetzung mit Zeit oder Frequenz . . . . 366
11.7.7 Vergleich der Grundprinzipien . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 374
11.7.8 Fehler bei der Analog-Digital-Umsetzung . . . . . . . . . . . . 375
11.8 Digital-Multimeter (DMM) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 379
11.8.1 Anzahl der Stellen und Genauigkeit . . . . . . . . . . . . . . . . . 379
XXVI Inhaltsverzeichnis

11.8.2 Beispiel eines 4 1/2 -stelligen Digital-Multimeters . . . . . . 380


11.8.3 Messungen des echten Effektivwertes von Signalen
mit Gleichanteil . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 382
11.8.4 Gesamtfehler infolge Scheitelfaktor . . . . . . . . . . . . . . . . . 382
11.9 Strom-/Spannungsquellen mit Rückmessfunktion (Source
Measure Units) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 383
11.9.1 Source Measure Units in automatischen Testsystemen . 383
11.9.2 Messung kleiner Ströme bzw. Spannungen mit SMUs . 385
11.10 Elektronische Leistungsmesser . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 387
11.10.1 Leistungsmessung mit Hallelement . . . . . . . . . . . . . . . . . . 387
11.10.2 Integrierte Schaltkreise zur Leistungsmessung . . . . . . . . 388
11.10.3 Smart Meter für die Messung des Verbrauchs an
elektrischer Energie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 398
11.10.4 Leistungsmessungs-IC für HF-Anwendungen . . . . . . . . . 398
11.10.5 HF-Leistungsmessung mit kaskadiertem
logarithmischem Verstärker . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 402
11.10.6 HF-Leistungsmessung mittels thermoelektrischem
Wandler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 403
11.10.7 Thermoelement (Seebeck-Effekt) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 405
11.10.8 Bolometer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 407
11.10.9 HF-Leistungsmessung mit Diodengleichrichter . . . . . . . . 408

12 Die Messung von Frequenz und Zeit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 411


12.1 Mechanische Frequenzmessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 412
12.2 Digitale Frequenzmessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 413
12.3 Digitale Zeitmessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 414
12.3.1 Zeitintervallmessung (Zeitdifferenzmessung) . . . . . . . . . . 414
12.3.2 Periodendauermessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 418
12.4 Digitale Phasenwinkelmessung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 419
12.5 Rechnender Zähler . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 420
12.6 Zeit-Spannungs-Umsetzer (t/U-Umsetzer) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 421
12.7 Frequenz-Spannungs-Umsetzer (f/U-Umsetzer) . . . . . . . . . . . . . . 421
12.8 Oszillatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 422
12.8.1 Grundlagen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 422
12.8.2 Harmonische Oszillatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 424
12.8.3 LC-Oszillator . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 425
12.8.4 Relaxationsoszillatoren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 427
12.8.5 Quarzoszillator . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 430
12.8.6 Operationsverstärker-Schaltung eines Quarzoszillators . 433
12.8.7 Fehler von Schwingquarzen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 434
12.9 Fehler bei der digitalen Zeitintervall- bzw. Frequenzmessung . . 436
12.10 Atomuhren, Zeitzeichensender und Funknavigation . . . . . . . . . . 439
12.10.1 Atomuhren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 439
12.10.2 DCF-77 Zeitzeichensender . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 441
12.10.3 NAVSTAR/GPS-Satellitennavigation . . . . . . . . . . . . . . . 442
Inhaltsverzeichnis XXVII

12.10.4 Galileo-Satellitennavigation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 446


12.10.5 Störfaktoren bei der Satellitennavigation . . . . . . . . . . . . 449

13 Messsignalverarbeitung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 451
13.1 Aufgaben und Bedeutung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 451
13.2 Signalarten und Analyseformen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 453
13.3 Multiplizieren, Dividieren, Quadrieren, Radizieren . . . . . . . . . . . 454
13.4 Ermittlung des Effektivwertes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 457
13.4.1 Messung des Effektivwertes für beliebige Signalverläufe 459
13.5 Bestimmung von Mittelungswerten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 460
13.6 Kenngrößen nicht-sinusförmiger periodischer Signale . . . . . . . . . 462
13.7 Messung von Signaleigenschaften mittels Korrelationsfunktion 465
13.8 Äußere Störeinwirkungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 476
13.9 Optimalfilter (Wiener-Filter) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 479
13.9.1 Übertragungsfunktion eines Optimalfilters . . . . . . . . . . . 479
13.9.2 Beispiel für ein Optimalfilter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 483

14 Regression, lineare Korrelation und Hypothesen-


Testverfahren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 491
14.1 Regressionsverfahren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 491
14.1.1 Ausgleichsgerade (lineare Regression) . . . . . . . . . . . . . . . 492
14.1.2 Güte der Anpassung bei der linearen Regression
(Varianz, Kovarianz, Restvarianz und
Korrelationskoeffizient) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 495
14.1.3 Ausgleichspolynome . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 499
14.1.4 Mehrfache lineare Regression . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 500
14.2 Lineare Korrelation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 502
14.3 Testverfahren (Hypothesen-Testverfahren) . . . . . . . . . . . . . . . . . 505
14.3.1 Testen von Hypothesen, Entscheidungen . . . . . . . . . . . . . 505
14.3.2 Beispiele für Tests . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 509

15 Grundlagen der Rechnergestützten Messdatenerfassung . . . 515


15.1 Grundstrukturen von rechnergestützten Messsystemen . . . . . . . 515
15.2 Basis-Hardware zur Messdatenerfassung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 522
15.2.1 Multifunktions-Einsteckkarten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 524
15.2.2 Multiplexer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 527
15.2.3 Störungen infolge Erdschleifen und Einkopplungen . . . . 529
15.2.4 Serielle Schnittstellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 531
15.2.5 Parallelbussysteme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 531
15.2.6 Datenlogger . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 531
15.3 Grundtypen des Datentransfers . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 532
XXVIIIInhaltsverzeichnis

16 Messdatenerfassung im Labor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 533


16.1 Die serielle RS232C-Schnittstelle (V.24-Schnittstelle) . . . . . . . . 535
16.1.1 Übertragungsmedien . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 535
16.1.2 Leitungsbelegung und Steckerverbindung der
RS232C-Schnittstelle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 536
16.1.3 Pegelfestlegung und deren logische Zuordnung . . . . . . . . 539
16.1.4 Logikdefinition für Datenleitungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . 539
16.1.5 Logikdefinition für Steuer- und Meldeleitungen . . . . . . . 540
16.1.6 Synchronisierung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 540
16.1.7 Handshake-Verfahren (Quittierungsverfahren) . . . . . . . . 541
16.1.8 Software-Handshaking . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 541
16.1.9 Hardware-Handshaking . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 542
16.1.10 Hardware-Realisierung von seriellen Schnittstellen . . . . 543
16.2 Kenngrößen der seriellen Datenübertragung . . . . . . . . . . . . . . . . 546
16.3 Die RS485-Schnittstelle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 547
16.3.1 Eine Twisted-Pair-Leitung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 548
16.3.2 Zwei Twisted-Pair-Leitungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 548
16.4 Die 20 mA-Stromschleife . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 549
16.5 Inter Integrated Circuit (I2 C) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 549
16.6 Die USB-Schnittstelle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 551
16.7 Der IEC-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 555
16.7.1 Historie des IEC-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 555
16.7.2 Bezeichnungen des IEC-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 555
16.7.3 IEC-Bus-Komponenten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 556
16.7.4 Gerätegrundfunktionen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 557
16.7.5 IEC-Bus-Leitungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 557
16.7.6 Bus-Logik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 559
16.7.7 Handshake-Verfahren (Dreidraht-Handshake) . . . . . . . . 560
16.7.8 Nachrichtenarten . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 562
16.7.9 Schlusszeichen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 567
16.7.10 Statusabfrage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 567
16.7.11 IEC-Bus-Hardware . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 568
16.8 VXI-Bus, PXI-Bus und MXI-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 570
16.8.1 VXI-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 571
16.8.2 Resource Manager (System Manager) . . . . . . . . . . . . . . . 573
16.8.3 Commander . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 573
16.8.4 Servant . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 573
16.8.5 Busgliederung/Teilbusse . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 573
16.8.6 VXI- und IEC-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 574
16.8.7 PXI-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 574
16.8.8 PCI-Express . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 577
16.8.9 PXI-Express (PXIe) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 578
16.8.10 MXI-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 578
16.8.11 PXI MultiComputing (PXImc) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 580
16.8.12 Historie der bisher diskutierten Bus-Standards . . . . . . . 581
Inhaltsverzeichnis XXIX

17 Messdatenerfassung im Feld . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 583


17.1 Die speicherprogrammierbare Steuerung (SPS) . . . . . . . . . . . . . . 583
17.1.1 Aufbau einer SPS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 583
17.1.2 Programmstruktur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 583
17.1.3 Permanent-zyklischer Betrieb . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 584
17.1.4 Ausnahmen vom permanent-zyklischen Betrieb . . . . . . . 586
17.1.5 Besonderheiten der Programmierung . . . . . . . . . . . . . . . . 586
17.1.6 Programmiersprachen für SPS nach IEC 61131-3 . . . . . 586
17.1.7 Beispiele für die IEC-genormten SPS-
Programmiersprachen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 588
17.2 Neue Entwicklungen bei Speicherprogrammierbaren
Steuerungen (SPS) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 593
17.2.1 Vernetzung von Speicherprogrammierbaren
Steuerungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 593
17.2.2 Visualisierung von SPS-Daten und -Prozessen . . . . . . . . 597
17.2.3 Linux-basierte Speicherprogrammierbare Steuerungen . 602
17.2.4 SPS-Spezialklemmen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 603
17.2.5 EnOcean-Funkempfänger-Busklemmen . . . . . . . . . . . . . . 605
17.3 Einplatinen-Computer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 606
17.3.1 Einplatinen-Computer in der Mess- und
Automatisierungstechnik . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 607
17.4 Hierarchie industrieller Bussysteme . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 611
17.5 Vorschrift für eine einheitliche Kommunikation: Das
ISO-Schichtenmodell . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 612
17.6 Netzwerktopologien . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 614
17.7 Bus-Zugriffsverfahren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 615
17.7.1 Klassifizierung der Bus-Zugriffsverfahren . . . . . . . . . . . . 616
17.8 Modulationsverfahren und Bitcodierung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 616
17.8.1 Alternierende Puls Modulation (APM) . . . . . . . . . . . . . . 616
17.8.2 Fehlererkennung und Datensicherung . . . . . . . . . . . . . . . 618
17.8.3 Bitcodierung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 619
17.9 Schnittstellenkonverter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 620
17.10 Der Feldbus (FAN) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 621
17.10.1 ASI-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 624
17.10.2 CAN . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 625
17.10.3 Flex Ray . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 628
17.10.4 PROFIBUS-DP . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 630
17.10.5 FIP-Bus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 633
17.10.6 INTERBUS-S . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 634
17.10.7 BITBUS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 636
17.10.8 KNX . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 637
17.10.9 LON (Local Operating Network) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 641
17.10.10DIN-Messbus . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 642
XXX Inhaltsverzeichnis

18 Vernetzung von Messdatenrechnern (Industrie-LAN, WAN)645


18.1 IP-Adressen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 646
18.2 Subnetzmasken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 647
18.3 Internet-Protokoll (IP) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 648
18.4 Transmission Control Protocol (TCP) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 648
18.5 Echtzeitfähigkeit des Ethernet . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 648
18.6 Übergeordnete Kommunikationsebenen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 649
18.7 Physikalische Ethernet-Übertragung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 649
18.8 Ethernet-Telegrammstruktur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 650
18.9 Verbindung mehrerer lokaler Netze . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 650
18.10 Standortübergreifende Vernetzung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 652
18.10.1 Breitband-ISDN . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 652
18.10.2 Datex-P . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 653
18.10.3 GSM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 653
18.10.4 Powerline-Kommunikation (Power Line
Communication, PLC) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 654
18.10.5 Satellitenkommunikation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 655
18.10.6 Metropolitan Area Network (MAN) . . . . . . . . . . . . . . . . . 656
18.10.7 Wide Area Network (WAN) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 656
18.10.8 Hochgeschwindigkeits-Glasfasernetz FDDI . . . . . . . . . . . 657
18.11 Rechnernetze zur Messdatenübertragung . . . . . . . . . . . . . . . . . . 657
18.11.1 Spezielle Bussysteme zur Messdatenerfassung . . . . . . . . 658
18.11.2 Vernetzung von Messdatenerfassungssystemen
mittels Ethernet . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 658
18.12 Virtuelle Instrumentierung auf der Basis von USB-
Messmodulen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 660
18.12.1 Funktionsprinzip . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 660
18.12.2 Beispiele für USB-Messgeräte . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 663
18.13 Ethernet-Nutzung zur Messdatenerfassung . . . . . . . . . . . . . . . . . 666
18.13.1 LXI - Ein neuer Standard für die Messtechnik . . . . . . . . 666
18.13.2 Die technische Basis von LXI . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 667
18.13.3 Die 3 Geräteklassen A, B und C des LXI-Standards . . . 669
18.13.4 Triggermöglichkeiten von LXI-Geräten . . . . . . . . . . . . . . 669
18.13.5 Triggerung gemäß IEEE-1588 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 671
18.13.6 Die aktuelle Situation des LXI-Standards . . . . . . . . . . . . 672
18.14 EtherCAT . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 674
18.15 VPN - Virtual Private Network . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 677

19 Programmierung von Messdatenerfassungssystemen . . . . . . . 681


19.1 Allgemeine Bemerkungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 681
19.2 IEC- und VXI-Bus-Kommunikation, SCPI-Standard . . . . . . . . . 682
19.2.1 Syntax der SCPI-Sprache . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 684
19.2.2 SCPI-Datenformate . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 687
19.3 Einsatz kommerzieller Software . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 688
19.4 Kategorien von Softwarelösungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 688
Inhaltsverzeichnis XXXI

19.4.1 Dialoggeführte Komplettpakete (Fertiglösungen) . . . . . 688


19.4.2 Modul-Bibliotheken . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 689
19.4.3 Graphikorientierte Entwicklungssysteme
(Programmgeneratoren) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 689
19.4.4 Systeme mit speziellen Kommandosprachen . . . . . . . . . . 690
19.5 LabVIEW . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 691
19.6 LabWindows . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 695
19.7 MATLAB . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 696

20 Gebäudeautomatisierung (Smart Home) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 701


20.1 Struktur des Gesamtsystems . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 702
20.2 Datenerfassung mit frequenzanaloger Schnittstelle . . . . . . . . . . . 703
20.3 Datenerfassung mit digitaler Schnittstelle . . . . . . . . . . . . . . . . . . 705
20.4 Datenerfassung mit energieautarker digitaler Funkschnittstelle 706
20.5 Lokale und weltweite Vernetzung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 709
20.5.1 LAN - lokales Netzwerk . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 709
20.5.2 Standortübergreifende Vernetzung . . . . . . . . . . . . . . . . . . 710
20.5.3 Weltweite Vernetzung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 711
20.6 Software . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 711

Literaturverzeichnis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 715

Index . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 723
1
Umfang und Bedeutung der Elektrischen
Messtechnik

1.1 Zur Historie und Bedeutung der Messtechnik


Die messtechnische Erfassung von physikalisch-technischen Gegenständen und
Prozessen stellt zusammen mit der logischen Denkfähigkeit des Menschen, also
insbesondere auch der Fähigkeit, diese Objekte und Vorgänge mathematisch
zu beschreiben, eine wesentliche Grundlage aller Natur- und Ingenieurwissen-
schaften dar. Schon der griechische Philosoph Platon (427-347 v. Chr.) hat auf
die große Bedeutung der Messtechnik hingewiesen, als er im X. Buch seines
Werkes Der Staat“ schrieb [144]:

’Dieselben Gegenstände erscheinen uns krumm oder gerade, je nachdem

wir sie in oder außer Wasser erblicken, ebenso hohl oder erhaben infolge der
Täuschung unseres Gesichtssinnes durch die Farben; und all dies deutet auf
eine Verwirrung in der Seele hin.’ (...)
’Messen, Zählen und Wägen zeigen sich dagegen als die willkommensten Hel-
fer, so dass in uns nicht das scheinbar Größere oder Kleinere oder Zahlreichere
oder Schwerere von Ausschlag ist, sondern das Rechnende, Messende, Wägen-
de.’
’Wie auch nicht!’
’Das ist die Aufgabe des vernünftigen Teiles in unserer Seele.’(...)
’Der Teil, der auf Maß und Berechnung vertraut, ist wohl der beste Teil der
Seele?’
’Natürlich!’
’Sein Gegenteil gehört zu dem Schwachen in uns?’
’Notwendigerweise!’“
Zwischen der Messtechnik, deren grundlegende Aufgabe die experimentel-
le Bestimmung physikalischer Größen ist, und der Entwicklung der Industrie-
landschaft aber auch der kulturellen Entwicklung bestehen seit jeher große
Abhängigkeiten. Die Messtechnik spielte schon in der Antike eine zentrale
Rolle, insbesondere im Zusammenhang mit Messgrößen, die Bestandteil des
täglichen Leben sind, wie z. B. Entfernungen oder das Gewicht von Waren.
Die entsprechenden Maßeinheiten lieferte oft der menschliche Körper, wie u.a.

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_1
2 1 Umfang und Bedeutung der Elektrischen Messtechnik

die in früheren Zeiten gebräuchlichen Einheiten Fuß“, Spanne“ oder Klaf-


” ” ”
ter“ zeigen. Wie die Funde von Wägesteinen belegen, war das für die Ent-
wicklung der Ware-Geld-Beziehung notwendige, auf Gewichtseinheiten basie-
rende Wiegen bereits Jahrtausende vor Christus eingeführt. Eines der älte-
sten, aus Babylon stammenden Maßsysteme enthielt auch schon Einheiten für
die Größen Länge“ (babylonische Elle), Fläche“, Volumen“ und Gewicht“.
” ” ” ”
Um dem im Laufe der Jahrhunderte entstandenen Wildwuchs an Maßeinhei-
ten Einhalt zu gebieten, war es eine Forderung der Französischen Revolution,
dass einheitliche Maße vereinbart werden sollten. Schließlich wurde im Jahre
1799 die Längeneinheit Meter“ als der vierzigmillionste Teil des Erdmeri-

dians zunächst in Frankreich, später auch in Preußen und Sachsen, festge-
schrieben, während von der industriellen Entwicklung Englands die bekann-
ten angelsächsischen Längenmaßeinheiten ausgingen. Bis ins 19. Jahrhundert
hinein beschränkte man sich auf die Messung geometrischer, mechanischer
und thermischer Größen. Für die quantitative Erfassung weiterer wichtiger
Messgrößen, wie z. B. die Ionendosis oder die Energiedosis von radioaktiver
Strahlung, standen bis dahin keine entsprechenden Messgeräte zur Verfügung;
es bestand jedoch schon die Möglichkeit ihres qualitativen Nachweises.
Die Messtechnik hat auch ganz wesentlich zur Weiterentwicklung aller
Natur- und Ingenieurwissenschaften beigetragen. So verhalf beispielsweise die
Zeitmesstechnik zu Aussagen über Unregelmäßigkeiten bei der Erdrotation.
Heute ist die Messtechnik als ein zentrales Element der modernen Technologie-
und Industrielandschaft etabliert. Sie dient dort neben dem Warenaustausch
vor allem der Forschung und Entwicklung, der Fertigung sowie der Qualitäts-
sicherung von Produkten. Eine Vielzahl technischer Funktionsabläufe muss
ständig messtechnisch kontrolliert werden, um beispielsweise die gewünschte
Qualität in der Fertigung zu erreichen oder auch um die notwendige Sicherheit
und Umweltverträglichkeit von Prozessen zu gewährleisten.
Ein Beispiel aus dem Bereich des Umweltschutzes zeigt auch, dass sich
manche der dort anstehenden Aufgaben erst mit der Entwicklung und Bereit-
stellung eines hochwertigen Messverfahrens lösen lassen. So wurde am Institut
für Hochfrequenztechnik der Universität Erlangen ein Empfänger für elek-
tromagnetische Submillimeterwellen (Frequenzen im Terahertzbereich) ent-
wickelt, welcher in Flugzeugen, die in großer Höhe fliegen, eingesetzt wer-
den kann, um dort Schadstoffkonzentrationen zuverlässig zu messen. Diese
Messungen basieren im Wesentlichen auf der Detektion elektromagnetischer
Strahlung, die bei einer Frequenz von 2,5 Terahertz von sog. Hydroxyl-Ionen
emittiert wird. Diese Hydroxyl-Ionen werden neben den Fluorkohlenwasser-
stoffen (FCKW) als eine Substanz angesehen, die zum Abbau der Ozonschicht
führt.
Viele technische Fortschritte spiegeln sich in der Entwicklung von Messver-
fahren und dazugehörigen Messgeräten wider, die ihrerseits wiederum zu einer
Verbesserung des Kenntnisstandes auf dem Gebiet der Elektrotechnik beitra-
gen. Eines der jüngsten Beispiele dafür ist der Quanten-Halleffekt, für dessen
Entdeckung im Jahre 1985 der Nobelpreis an Prof. von Klitzing vergeben
1.2 Der Begriff des Messens 3

wurde. Der Effekt konnte nur durch Bereitstellung und Nutzung einer sehr
hochwertigen Messtechnik entdeckt werden. Andererseits kann der Quanten-
Halleffekt wiederum zur hochgenauen Definition der Einheit des ohmschen
Widerstandes genutzt werden, womit er zu einer größeren Präzision in der
Elektrischen Messtechnik beiträgt.
In nahezu allen Disziplinen der Technik geht die entsprechende Messtech-
nik zunehmend in eine rein elektrische Messwertverarbeitung über. Der allge-
meine Trend besteht darin, für die verschiedenen Messaufgaben Messwert-
aufnehmer zu entwickeln, welche die unterschiedlichsten nicht-elektrischen
Messgrößen detektieren und in entsprechende elektrische Signale umsetzen.
Die weitere Verarbeitung dieser nunmehr elektrischen Signale (Messwerte) ist
dann weitgehend standardisiert und mittlerweile ein fester Bestandteil der
Elektrischen Messtechnik geworden. Der große Vorzug der Elektrischen Mes-
stechnik liegt dabei vor allem in der großen Präzision, mit der sich elektrische
Signale, etwa im Gegensatz zu mechanischen Größen, bei relativ geringem
Aufwand verarbeiten und speichern lassen.
Auch die Tatsache, dass sich die beiden Größen Frequenz“ und Zeit“
” ”
mit Hilfe der Methoden der Elektrischen Messtechnik mit großer Genauigkeit
bestimmen lassen, bildet eine weitere Basis ihres Erfolges. So beruht beispiels-
weise das Prinzip des heute weltweit angewendeten Navigationssystems GPS
(Global Positioning System) auf einer präzisen Messung von Zeiten, in diesem
Fall von Laufzeiten, die ein elektromagnetisches Signal von einem in bekann-
ter Position befindlichen Satelliten bis zu einem Empfangsort benötigt. An
diesem Empfangsort befindet sich ein portabler Empfänger, dessen geometri-
sche Breiten-, Längen- und Höhenkoordinaten aus diesen Zeitmessungen mit
hoher Genauigkeit bestimmt werden können.

1.2 Der Begriff des Messens

Unter Messen versteht man das quantitative Erfassen einer Größe, der sog.
Messgröße. Präziser formuliert heißt Messen, eine zu messende Größe als Viel-
faches einer allgemein anerkannten Einheitsgröße derselben physikalischen Di-
mension zu bestimmen, und zwar durch experimentellen Vergleich mit einer
Maßverkörperung dieser Einheit. Dabei bedienen wir uns sog. Messgeräte.
Messgeräte können insbesondere auch den Teil der Natur erschließen helfen,
für den unsere Sinne keine Empfindungen haben, wie z.B. der Schall im Ultra-
schallbereich oder alle Arten von ionisierender Strahlung. Zur Durchführung
von Messungen müssen die folgenden drei Voraussetzungen erfüllt sein:
• Existenz eines Zahlensystems
• Definition einer Messgröße
• Festlegung der Einheit.
Die Elektrische Messtechnik behandelt zunächst die Messung rein elektrischer
Größen, wie Spannung, Strom, elektrische Leistung und Impedanz (Wider-
4 1 Umfang und Bedeutung der Elektrischen Messtechnik

stand, Induktivität, Kapazität). Nach der eigentlichen Gewinnung (Detekti-


on) des Messsignals wird dieses verarbeitet, d. h. es wird u. a. kompensiert,
verstärkt, übertragen, linearisiert oder digitalisiert, bevor das Messergebnis
(Messwert) entweder
• auf einer Anzeige (analog oder digital) ausgegeben,
• mittels Schreiber oder Drucker dokumentiert oder
• zur Regelung eines Prozesses benutzt wird.
Ein weiteres wichtiges Teilgebiet der Elektrischen Messtechnik beschäftigt sich
mit der Messung nicht-elektrischer Größen. Dazu bedient man sich sog. Sen-
soren (Aufnehmer, Messfühler, Detektoren), welche die jeweilige physikalische
Größe in ein elektrisches Signal umwandeln, das dann leicht mit bewährten
Methoden der Elektrischen Messtechnik weiterverarbeitet werden kann.
Zusammenfassend kann festgestellt werden, dass sich die Elektrische Mess-
technik mit den folgenden Teilaufgaben beschäftigt:
• Gewinnung des Messsignals, d. h. Detektion der (elektrischen oder nicht-
elektrischen) Messgröße und Umwandlung in ein für die weitere Verarbei-
tung geeignetes elektrisches Signal
• Verarbeitung und Übertragung des elektrischen Messsignals
• Darstellung, Dokumentation und Speicherung der Messwerte.
Die Verarbeitung elektrischer Messsignale zeichnet sich gegenüber den Messver-
fahren anderer Wissenschaftszweige durch folgende Vorzüge aus:
• leistungsarmes und damit rückwirkungsarmes Erfassen von Messgrößen
• großer Messbereichsumfang (hohe Dynamik)
• einfache Verarbeitbarkeit der Messsignale mit Hilfe elektronischer
Schaltungen
• leichte Übertragbarkeit und Speicherung der Messsignale mit
Standardverfahren der Nachrichtentechnik.

1.3 Begriffsdefinitionen in der Messtechnik


1.3.1 Allgemeine Begriffe

Im Folgenden werden die wichtigsten Begriffsdefinitionen der Messtechnik


nach DIN 1319 (Grundbegriffe der Messtechnik), VDI/VDE 2600 (Metrolo-
gie, Messtechnik) sowie DIN VDE 0410 (Bestimmungen für elektrische Mess-
geräte) zusammengefasst:
Messen ist der experimentelle Vorgang, durch den ein spezieller Wert ei-
ner physikalischen Größe als Vielfaches einer Einheit oder eines Bezugswertes
ermittelt wird (DIN 1319).
Die Messgröße ist die physikalische Größe, deren Wert durch eine Messung
ermittelt werden soll (VDI/VDE 2600).
1.3 Begriffsdefinitionen in der Messtechnik 5

Der Messwert ist der gemessene spezielle Wert einer Messgröße, er wird als
Produkt aus Zahlenwert und Einheit angegeben (DIN 1319).
Das Messergebnis ist ein aus mehreren Messwerten einer physikalischen
Größe oder aus Messwerten für verschiedene Größen nach einer festgelegten
Beziehung ermittelter Wert oder Werteverlauf. Ein einzelner Messwert kann
aber auch bereits das Messergebnis darstellen (VDI/VDE 2600).
Messprinzip heißt die charakteristische physikalische Erscheinung, die bei
der Messung benutzt wird (DIN 1319).
Messverfahren nennt man die spezielle Art der Anwendung eines Mess-
prinzips (VDI/VDE 2600). Man unterscheidet dabei im Wesentlichen zwi-
schen dem Ausschlagverfahren, bei dem der Ausschlag oder die Anzeige eines
Messwertes ein Maß für die Messgröße ist (idealerweise proportional), und
dem Nullabgleichverfahren, bei dem die in Kap. 1.5.1 beschriebene Kompen-
sationsmethode eingesetzt wird.

1.3.2 Messgerät und Messeinrichtung

Ein Messgerät liefert oder verkörpert Messwerte, auch die Verknüpfung meh-
rerer voneinander unabhängiger Messwerte, z. B. das Verhältnis von Messwer-
ten (DIN 1319).
Eine Messeinrichtung besteht aus einem Messgerät oder mehreren zusam-
menhängenden Messgeräten mit zusätzlichen Einrichtungen, die ein Ganzes
bilden (DIN 1319).
Als Hilfsgeräte werden die Komponenten bezeichnet, die nicht unmittelbar
der Aufnahme, der Umformung oder der Ausgabe von Messwerten dienen.
Messsignale stellen Messgrößen im Signalflussweg einer Messeinrichtung
durch zugeordnete physikalische Größen gleicher oder anderer Art dar (VDI/
VDE 2600).

1.3.3 Messkette (Struktur einer elektrischen Messeinrichtung)

Eine komplette Messkette besteht aus den in Abb. 1.1 gezeigten Komponenten.
Grundsätzlich besteht eine Messeinrichtung zur elektrischen Messung elektri-
scher bzw. nicht-elektrischer Größen aus den Messgeräten (Messgliedern), die
im Einzelnen folgende Aufgaben erfüllen:
• Aufnehmen der Messgröße
• Weitergeben, Anpassen und Verarbeiten des Messsignals
• Ausgeben des Messwertes.
Nach dem Geräteplan (Abb. 1.1) sind die hierfür notwendigen Messglieder in
einer Messkette zusammengeschaltet (VDI/VDE 2600, Bl. 3). Der Aufnehmer
wandelt die Messgröße entweder direkt oder über andere physikalische Größen
in ein elektrisches Messsignal y1 um. Die Anpasser enthalten Messgeräte, die
zwischen Aufnehmer und Ausgeber in der Messkette liegen. Dazu gehören vor
allem Messverstärker und elektronische Rechengeräte. Der Ausgeber gibt die
6 1 Umfang und Bedeutung der Elektrischen Messtechnik

Abb. 1.1. Struktur einer elektrischen Messeinrichtung nach VDI/VDE 2600

Messwerte z analog oder digital entweder direkt (d. h. sofort sichtbar und
verständlich) über eine Anzeige, Schreiber bzw. Zähler oder aber indirekt,
d. h. nicht ohne Spezialvorrichtung lesbar, zur weiteren Informationsverarbei-
tung aus. Die Hauptaufgabe des Hilfsgerätes ist es, die von den Messgeräten
eventuell benötigte Hilfsenergie zu liefern.

1.4 Vorschriften und Normen


In Tabelle 1.1 werden die wichtigsten nationalen und internationalen Institu-
tionen angeführt, die zur Normbildung und zur Definition von Vorschriften

Tabelle 1.1. Normbildende Institutionen und Standardisierungsgremien

ANSI American National Standards Institute, New York; USA/national


CCITT Comité Consultatif International Télégraphique et Téléphonique,
Genf; international
CEE Commission Internationale de Réglementation en vue
de l’approbation de l’Equipment Electrique; Europa
CENELEC Comité Européen de Coordination des Normes Electriques; Europa
DIN Deutsches Institut für Normung e. V., Berlin; national
EIA Electronic Industry Association; USA/national
IEC International Electrotechnical Commission; international
IEEE Institute of Electrical and Electronics Engineers,
New York; national/international
ISO International Standards Organisation, Genf; international
ÖVE Österreichischer Verband für Elektrotechnik, Wien; national
VDE Verband Deutscher Elektrotechniker e. V., Frankfurt; national
VDI Verband Deutscher Ingenieure e. V., Düsseldorf; national
DKE Deutsche Elektrotechnische Kommission im DIN und VDE; national
1.5 Klassifizierung von Messmethoden 7

Tabelle 1.2. VDE-Vorschriften und DIN-Normen (Auswahl)

Norm Inhalt
VDE 0410 Bestimmungen für elektrische Messgeräte
VDE 0411 Bestimmungen für elektronische Messgeräte und Regler
VDE 0414 Bestimmungen für Messwandler
VDE 0418 Bestimmungen für Elektrizitätszähler
VDE 2600 Metrologie (Messtechnik)
DIN 1301 Einheiten
DIN 1304 Formelzeichen
DIN 1313 Physikalische Größen und Gleichungen
DIN 1319 Grundbegriffe der Messtechnik
DIN 1333 Zahlenangaben
DIN 40108 Gleich- und Wechselstromsysteme
DIN 40110 Wechselstromgrößen
DIN 43710 Thermospannungen und Werkstoffe der Thermopaare
DIN 43780 Genauigkeitsklassen von Messgeräten
DIN 43802 Skalen und Zeiger für elektrische Messinstrumente
DIN 43808 Zungenfrequenzmesser
DIN 43821 Widerstandsferngeber
DIN 43830 Schreibende Messgeräte
DIN 43850 Elektrizitätszähler
DIN 5478 Maßstäbe in graphischen Darstellungen
DIN 5483 Zeitabhängige Größen

im Bereich der Elektrischen Messtechnik beitragen. In Tabelle 1.2 sind die


wichtigsten in der Elektrischen Messtechnik zu beachtenden Vorschriften und
Normen in tabellarischer Form zusammengefasst.

1.5 Klassifizierung von Messmethoden


Eine Klassifizierung von Messmethoden kann nach verschiedenen Kriterien
erfolgen. Die wichtigsten Klassifizierungsmethoden werden in den folgenden
vier Abschnitten kurz beschrieben.

1.5.1 Ausschlagmethode - Kompensationsmethode

Bei der Ausschlagmethode wird die Messgröße direkt oder über Zwischen-
größen in einen möglichst proportionalen Ausschlag umgewandelt, z. B. die
Winkelstellung eines Messgerätezeigers. Als Sonderfall kann dieser Ausschlag
auch in reiner Zahlendarstellung mit theoretisch unendlich vielen Nachkom-
mastellen erfolgen. Ein charakteristisches Kennzeichen dieser Messmethode
ist der Entzug von Energie aus dem Messobjekt, was eine Rückwirkung auf
die zu messende Größe zur Folge hat.
8 1 Umfang und Bedeutung der Elektrischen Messtechnik

Bei der Kompensationsmethode hingegen (Abb. 1.2) wird von der Messgröße
xE bzw. der daraus abgeleiteten Abbildungsgröße xB eine mittels einer Hilfs-
quelle erzeugte gleichartige und gleichgroße Kompensationsgröße xK (Ver-
gleichsgröße) subtrahiert, so dass die Differenz von Messgröße bzw. Abbil-
dungsgröße und Kompensationsgröße gerade Null ergibt. Die Messgröße wird
dabei zunächst mit Hilfe eines Aufnehmers in eine proportionale Abbildungs-
größe xB umgewandelt. Die Kompensationsgröße muß sowohl einstellbar als
auch messbar sein. Da hierbei die zur Messung notwendige Energie aus der
Hilfsquelle und nicht aus dem Messobjekt stammt, ist diese Messmethode
rückwirkungsfrei, d.h. die Messgröße wird nicht durch Energieentzug während
des Messvorganges verändert. Dem Nachteil des größeren gerätetechnischen
Aufwandes stehen bei dieser Methode aber weitere Vorteile gegenüber, wie
z. B. die Reduzierung des Störgrößeneinflusses beim Erzeugen der Kompen-
sationsgröße in einer zweiten gleichartigen Messstrecke oder die leichte Reali-
sierung großer Messbereiche [77].

Abb. 1.2. Signalfluss bei der Kompensationsmethode

1.5.2 Analog - Digital


Bei den analogen Messmethoden wird die Messgröße durch eine eindeutige
und stetige Anzeigegröße (Messwert) dargestellt. Häufig hat der Ausgeber
einer analog arbeitenden Messeinrichtung eine Skalenanzeige.
Im Gegensatz dazu wird bei den digitalen Messmethoden die Messgröße in
Form einer in festgelegten Schritten quantisierten Anzeigegröße dargestellt.
Der Ausgeber wird hier im Allgemeinen in Form einer Ziffernanzeige oder
einer Bildschirmausgabe realisiert.

1.5.3 Kontinuierlich - Diskontinuierlich


Von kontinuierlichen Messvorgängen spricht man, wenn die Messgröße ohne
zeitliche Unterbrechung erfasst und auch dargestellt wird. Von einer diskon-
1.6 Die Informationsträger im Messsignal 9

tinuierlichen Messung ist die Rede, wenn die Messgröße nur zu bestimmten
(diskreten) Zeitpunkten erfasst (abgetastet) wird.

1.5.4 Direkt - Indirekt


Bei den direkten Messmethoden wird die Messgröße unmittelbar mit einer
Maßverkörperung derselben physikalischen Dimension verglichen. Bei den in-
direkten Methoden wird die Messgröße zunächst in eine proportionale Zwi-
schengröße umgewandelt und erst diese wird schließlich mit der Maßverkörpe-
rung verglichen. Die Bestimmung des Volumens eines Zylinders über die Mes-
sung seines Durchmessers und seiner Länge ist ein typisches Beispiel für eine
indirekte Messung.

1.6 Die Informationsträger im Messsignal


Der Träger der Information in der Messtechnik ist das Messsignal, d. h. ei-
ne physikalische Größe mit einem informationstragenden Parameter, der eine
Information über eine Messgröße aufnehmen kann. In der Elektrischen Mess-
technik werden typischerweise elektrische Spannungen bzw. elektrische Ströme
als Informationsträger benutzt. Dabei werden von einem Signal folgende Ei-
genschaften verlangt:
• Das Signal ist eine physikalische Größe (Signalträger, Informationsträger),
die sich zeitlich verändern lässt.
• Der Signalträger besitzt einen wahrnehmbaren Parameter (Informations-
parameter), der die Werte der Messgröße eindeutig und reproduzierbar
wiedergeben kann, d. h. die Messgröße wird auf den Informationsparame-
ter in mathematisch eineindeutiger Weise abgebildet.
Da in der Elektrischen Messtechnik die Messsignale im Allgemeinen in Form
elektrischer Spannungen bzw. elektrischer Ströme verarbeitet werden, bieten
sich alle Standardformen des Informationsparameters an, die aus der elek-
trischen Nachrichtentechnik bekannt sind. Die den Messwert beschreibenden
Informationen werden dabei auf eine der folgenden Arten codiert:

Abb. 1.3. a) Amplitudenmoduliertes Signal (Der Messwert ist proportional zur Mo-
mentanamplitude.), b)Frequenzmoduliertes Signal (Der Messwert ist proportional
zur Momentanfrequenz.)
10 1 Umfang und Bedeutung der Elektrischen Messtechnik

• Amplitudenanaloges Signal (Amplitudenmodulation - AM)


Messwert ∼ Amplitude (Abb. 1.3a)
• Frequenzanaloges Signal (Frequenzmodulation - FM)
Messwert ∼ Frequenz eines zeitkontinuierlichen Signals oder einer Impuls-
folge (Abb. 1.3b)
• Zeitanaloges Signal (Pulsdauermodulation - PDM)
Messwert ∼ Pulsdauer (Abb. 1.4a)
• Digitales Signal (Pulscodemodulation - PCM)
Der Messwert wird digital codiert (Abb. 1.4b).

Abb. 1.4. a) Pulsdauermoduliertes Signal (Der Messwert ist proportional zur Puls-
dauer tX .), b) Pulscodemodulation (Der Messwert ist in Form einer Dualzahl co-
diert.)
2
Die Grundlagen des Messens

2.1 Maßsysteme, Einheiten, Naturkonstanten

2.1.1 Maßsysteme

Die Messung einer physikalischen Größe besteht im Vergleich mit einer Maß-
einheit, d. h. die physikalische Größe ergibt sich stets als Produkt aus einem
Zahlenwert und einer Maßeinheit:
Physikalische Größe = Zahlenwert · Einheit
Man ist bestrebt, die Einheiten durch unvergängliche atomare Größen zu de-
finieren, die prinzipiell an jedem Ort und zu jeder Zeit mit hoher Genauigkeit
bestimmt werden können. Die Generalkonferenz für Maße und Gewichte hat
daher im Jahre 1960 das inzwischen weltweit eingeführte Système Interna-

tional d’Unités“ (SI-System) vorgeschlagen, dessen Anwendung auch im deut-
schen Sprachraum gesetzlich vorgeschrieben ist. Das System definiert zunächst
die Basisgrößen und die dazugehörigen Basiseinheiten, welche beide in Tabel-
le 2.1 zusammengefasst werden.

Tabelle 2.1. SI-Basisgrößen und SI-Basiseinheiten

Basisgröße Formelzeichen Basiseinheit Einheitenzeichen


Länge l Meter m
Masse m Kilogramm kg
Zeit t Sekunde s
Stromstärke I Ampere A
Temperatur T Kelvin K
Lichtstärke Iv Candela cd
Stoffmenge n Mol mol

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_2
12 2 Die Grundlagen des Messens

Die Basiseinheiten der sieben Basisgrößen sind im SI-System exakt festgelegt


worden. Die entsprechenden Definitionen werden in der folgenden Aufstellung
beschrieben:
• Mechanik
– 1 Meter (Länge)
Länge der Strecke, die Licht im Vakuum während des Zeitintervalls von
(1/299 792 458) Sekunden durchläuft (1983).
– 1 Kilogramm (Masse)
Masse des internationalen Kilogrammprototyps (1889).
– 1 Sekunde (Zeit)
Die 9 192 631 770fache Periodendauer der dem Übergang zwischen den
beiden Hyperfeinstrukturniveaus des Grundzustandes von Atomen des
Nuklids 133 Cs entsprechenden Strahlung (1967).
• Elektrotechnik
– 1 Ampere (Stromstärke)
Stärke eines zeitlich unveränderlichen elektrischen Stromes, der, durch
zwei im Vakuum parallel im Abstand von 1 m voneinander angeord-
nete, geradlinige, unendlich lange Leiter von vernachlässigbar kleinem,
kreisförmigem Querschnitt fließend, zwischen diesen Leitern pro 1 m
Leiterlänge elektrodynamisch die Kraft 0, 2 · 10−6 N hervorrufen würde
(1948).
• Thermodynamik
– 1 Kelvin (Temperatur)
ist der 273,16te Teil der thermodynamischen Temperatur des Tripel-
punktes des Wassers (1967).
• Optik
– 1 Candela (Lichtstärke)
ist die Lichtstärke in einer bestimmten Richtung einer Strahlungsquelle,
die monochromatische Strahlung der Frequenz 540 · 1012 Hertz aussen-
det und deren Strahlstärke in dieser Richtung (1/683) Watt je Steradi-
ant beträgt (1979).
• Chemie
– 1 Mol (Stoffmenge)
ist die Stoffmenge eines Systems bestimmter Zusammensetzung, das
aus ebenso vielen Teilchen besteht, wie Atome in (12/1000) kg des Nu-
klids 12 C enthalten sind (1971).
2.1 Maßsysteme, Einheiten, Naturkonstanten 13

2.1.2 Naturkonstanten

Zahlenwerte und Einheiten von Naturkonstanten werden derzeit durch das


System der Einheiten, das SI-System, festgelegt (Tab. 2.2). So ergibt sich
beispielsweise aus der Definition der Einheit der elektrischen Stromstärke die
magnetische Feldkonstante zu μ0 = 4π · 10−7 Vs/Am = 1, 2566 · 10−6 Vs/Am
[163]. Es ist aber zu erwarten, dass in Zukunft sieben ausgewählte physika-
lische Konstanten in der Hierarchie der Metrologie über den Basiseinheiten
stehen. Bezüglich der SI-Basiseinheiten Meter und Sekunde ist dies schon seit
einigen Jahrzehnten der Fall.

Tabelle 2.2. Wichtige Naturkonstanten

Naturkonstante Zeichen Zahlenwert Einheit


−19
Elektrische Elementarladung e 1, 6022 · 10 As
Elektrische Feldkonstante ε0 8, 8542 · 10−12 AsV−1 m−1
Lichtgeschwindigkeit im Vakuum c 299 792 458 ms−1
Magnetische Feldkonstante μ0 1, 2566 · 10−6 VsA−1 m−1
Masse des Elektrons m0 9, 1095 · 10−31 kg
Plancksches Wirkungsquantum h 6, 6262 · 10−34 Js

2.1.3 Das SI

Das SI besteht aus den sieben Basiseinheiten Kilogramm, Meter, Sekunde,


Ampere, Kelvin, Mol und Candela und daraus abgeleiteten Einheiten. Die ab-
geleiteten Einheiten lassen sich als Produkte von Potenzen der Basiseinheiten
definieren, daher ist das SI ein sog. kohärentes System.
Die einzelnen Definitionen der Basiseinheiten sind aus aktueller Sicht völlig
unterschiedlich angelegt: Während sich das Kilogramm noch auf den Interna-
tionalen Kilogramm-Prototypen beim Internationalen Büro für Maß und Ge-
wicht (BIPM) in Paris, also einen Artefakt bezieht, ist die Ampere-Definition
in abstrakter Weise, d. h. experimentell nicht reproduzierbar, mit dem Wert
der magnetischen Feldkonstante verbunden. Dahingegen sind die Grundlagen
der Meter- und der Sekundendefinition bereits Naturkonstanten, nämlich die
Lichtgeschwindigkeit bzw. eine durch Hyperfeinwechselwirkung entstehende
Übergangsfrequenz zwischen Energieniveaus des Atoms 133 Cs.
Das derzeitige SI erfüllt die heutigen Bedürfnisse von Wissenschaft und
Technik, ist aber von der Idealvorstellung, immerwährender“ Konstanz in

Zeit und Ort sowie (experimenteller) Nachvollziehbarkeit für alle Völker“

weit entfernt [67].
14 2 Die Grundlagen des Messens

2.1.4 Das künftige SI


Das künftige oder neue SI wird, mit Ausnahme der SI-Basiseinheit Candela,
der Einheit der Lichtstärke, alle Basiseinheiten mit Bezug auf Werte von Na-
turkonstanten definieren, davon ausgehend, dass diese Naturkonstanten, oder
auch einfach physikalische Konstanten genannt, zumindest nach menschlichem
Ermessen konstant über Zeit und Ort sind. Zugleich soll ein konsistenter De-
finitionsansatz die Verständlichkeit und Akzeptanz des Systems fördern sowie
es zumindest vom Grundsatz her für Alle“ zugänglich machen.

Über jegliche Änderungen des SI entscheidet die Generalkonferenz der Me-
terkonvention auf der Grundlage von Empfehlungen des Comité International
des Poids et Mesures (CIPM). Das CIPM hat sich nun schon soweit festgelegt,
dass das Meter (weiterhin) auf der Basis des Wertes der Lichtgeschwindigkeit
c definiert werden wird, das Kilogramm künftig mit Bezug auf den Wert der
Planck-Konstante h, die Sekunde (weiterhin) auf die Frequenz ν einer Strah-
lung, die aus dem Übergang zwischen zwei Hyperfein-Strukturniveaus des
Grundzustandes von Atomen eines bestimmten Nuklids resultiert, das Ampe-
re auf die Elementarladung e, das Kelvin auf die Boltzmann-Konstante k und
das Mol auf die Avogadrozahl NA [34][35]. Abbildung 2.1 illustriert diesen
Ansatz.

U=0 Definierende Konstanten


c, h, v, e, kB, NA, Kcd (unsicherheitsfrei)

SI-Basiseinheiten
m, kg, s, A, K, mol, cd (unsicherheitsbehaftet)

Messunsicherheit
(in Pfeilrichtung
ansteigend) Pa, N, Hz, Ω, W, ... μ0, R, γ, ε0, NL, F, ...
abgeleitete Einheiten
(unsicherheitsbehaftet) andere physikalische Konstanten
(unsicherheitsbehaftet)

Weitergabe der Einheiten an


Wirtschaft und Gesellschaft

Abb. 2.1. Das neue SI-Einheiten-System: Zuordnung von Einheiten zu Konstanten

Die Definition eines neuen SI soll mit Blick auf evtl. gravierende wirtschaft-
liche Auswirkungen keinesfalls zu Skalensprüngen in Bezug auf das derzeiti-
ge SI führen, wie das CIPM ausdrücklich fordert. Daher sind zunächst die
Werte der o. a. Konstanten mit höchster Genauigkeit auf der Grundlage des
derzeitigen SI zu bestimmen und international, möglichst auf experimentell
2.1 Maßsysteme, Einheiten, Naturkonstanten 15

unterschiedlichen Wegen, zu verifizieren. Die Konsistenz der noch nicht neu


festgelegten Werte wird dann durch eine Ausgleichsrechnung der CODATA,
einer international anerkannten Expertenkommission, hergestellt werden.
Völlig neu könnte auch die Art Definition der Basiseinheiten selbst wer-
den. Es ist nicht auszuschließen, dass eine sog. Gruppendefinition Anwendung
findet, die etwa wie folgt strukturiert und formuliert sein könnte:
Die Sekunde, Symbol s, ist die SI-Einheit der Zeit. Das Meter, Symbol m,
ist die SI-Einheit der Länge. Das Kilogramm, Symbol kg, ist die SI-Einheit
der Masse. Das Ampere, Symbol A, ist die SI-Einheit der Stromstärke. Das
Kelvin, Symbol K, ist die SI-Einheit der Temperatur. Das Mol, Symbol mol,
ist die SI-Einheit der Stoffmenge eines spezifizierten elementaren Teilchens,
welches ein Atom, ein Molekül, ein Ion, ein Elektron oder ein anderes Parti-
kel oder eine Gruppe von Partikeln sein kann. Die Candela, Symbol cd, ist
die Einheit der Lichtintensität in einer gegebenen Richtung. Diese Einhei-
ten sind definiert durch die fixen numerischen Werte der Cäsium-Frequenz zu
9, 192631770 · 109 ausgedrückt in der Einheit s−1 , der Lichtgeschwindigkeit in
Vakuum zu 2, 99792458 · 108 ausgedrückt in der Einheit m s−1 , der Planck-
Konstante zu 6, 62607(0040) · 1034 ausgedrückt in der Einheit kg m2 s−1 , der
Elementarladung zu 1, 60217(66208) · 10−19 ausgedrückt in der Einheit A s,
der Boltzmann-Konstante zu 1, 3806(4852) · 10−23 ausgedrückt in der Einheit
kg m2 s−2 K−1 , der inversen Avogadrozahl zu 1/6,02214(0857) · 1023 ausge-
drückt in der Einheit mol, der Lichtausbeute einer monochromatischen Strah-
lung der Frequenz 540 ·1012 Hz zu 683 (Photometrisches Strahlungsäquivalent)
ausgedrückt in der Einheit kg−1 m−2 s3 cd sr. 1
Es wird in den Definitionen also keine experimentelle Grundlage für die
Realisierung der Definitionen festgelegt werden. Diese werden sinnvollerweise
auf den derzeit entwickelten leistungsfähigen Experimenten zur Bestimmung
der physikalischen Konstanten beruhen und in einem vom CIPM zu verab-
schiedenden Mise en Pratique, also in der Hierarchie eine Stufe tiefer ange-
siedelt sein. Ziel dieser Strategie ist es, den Nationalen Metrologie-Instituten
eine möglichst hohe Flexibilität bei Realisierung der Einheiten einzuräumen.
Eine weitere Konsequenz dieser voraussichtlichen künftigen Neufassung wird
sein, dass den auf fixen Werten der Konstanten fußenden SI-Basiseinheiten
selbst eine Unsicherheit quantitativ zuzuordnen ist, resultierend aus der ver-
bleibenden und unvermeidlichen Unvollkommenheit eines jeden Experiments.
Die derzeit für Elektrotechniker besonders interessanten Experimente zur Be-
stimmung der quantitativen Zusammenhänge von Planck-Konstante und Ki-
logramm, von Elementarladung und Ampere sowie von Boltzmann-Konstante
und Kelvin seien hier kurz benannt:
1
Die hier angegebenen Werte sind weiterhin Gegenstand aufwändiger experimen-
teller Forschung und keinesfalls schon die Werte, die die Generalkonferenz für Maß
und Gewicht der Internationalen Meterkonvention verabschieden wird. Sie dienen
lediglich einer ersten Orientierung. Die Werte in Klammern werden endgültig von
der CGPM im Ergebnis der internationalen Experimente und des erforderlichen
Werteausgleichs festgelegt.
16 2 Die Grundlagen des Messens

• Planck-Konstante und Kilogramm


Die neue Definition der SI-Basiseinheit Kilogramm (kg) soll auf die Planck-
Konstante h zurückgeführt werden. Aus der Anzahl der Atome eines hin-
sichtlich seiner Masse und seines Volumens sehr genau (rel. Unsicher-
heit besser als 1 · 10−8 ) bekannten Siliziumskörpers, der gut bekannten
Rydberg-Konstanten sowie dem Verhältnis der relativen atomaren Mas-
se des Siliziums zu der des Elektrons kann die Planck-Konstante er-
rechnet werden. Objekte zur experimentellen Bestimmung der Planck-
Konstanten h sind als nahezu perfekte gefertigte Kugeln mit einer Masse
von 1 kg, die jeweils aus einem hochreinen isotopenangereicherten Silizium-
28-Einkristall (Isotopenreinheit 99,998 %) höchster Gitterperfektion be-
stehen. Masse und Volumen sowie die Oxidschicht an der Kugelober-
fläche sind genauestens gemessen und bekannt. Das Gleiche gilt für die
effektive atomare Masse des Siliziums. Die indessen erreichte rel. Unsi-
cherheit für den mit diesem Experiment ermittelten Wert der Planck-
Konstante ist kleiner als 2 · 10−8 . An der Neubestimmung der Konstan-
ten auf dem sog. Silizium-Pfad“ sind führend die nationalen Metrolo-

gieinstitute Deutschlands, die Physikalisch-Technische Bundesanstalt in
Braunschweig und Berlin (PTB), Italiens (IMGC), Japans (NMIJ) der
USA (NIST) und Kanadas (NRC) sowie das Internationale Büro für Maß
und Gewicht in Paris (BIPM) beteiligt. Das isotopenangereicherte Silizium
kommt aus der Russischen Föderation. Neben der Bestimmung der Planck-
Konstante ermöglicht der Silizium-Pfad“ die Bestimmung der Avogadro-

zahl und bildet damit auch die Grundlage für die Definition der Einheit
der Stoffmenge, das Mol.
Für die künftige Massedefinition auf dem sog. Silizium-Pfad kann man
dann in umgekehrter Richtung vorgehen: Die Zahl der Si-Atome N in
einem makroskopischen Kristall (von angenommen völlig isotopenreinem
Silizium) wäre dann

N = 8VS /a(28 Si)3 (2.1)


mit
8: Zahl der Si-Atome pro Elementarzelle
a(28 Si)3 : Volumen einer Si-Elementarzelle
VS : Volumen der Kugel.

Die Masse der Kugel ergäbe sich zu

ms = N · m(28 Si) . (2.2)


Da der experimentell ermittelte Wert h/m(28 Si) mit hoher Genauigkeit
bekannt ist, kann man schließlich als Bestimmungsgleichung schreiben

m(28 Si)
ms = h · N . (2.3)
h
2.1 Maßsysteme, Einheiten, Naturkonstanten 17

Ein alternatives Experiment zur Bestimmung der Planck-Konstante und


später, nach Neudefinition, der Darstellung des Kilogramms, ist mithilfe
der sog. Wattwaage möglich. Hierbei wird eine Spule bestromt (Strom
durch Spule: I0 ), so dass ein Magnetfeld entsteht, das mit der daraus resul-
tierenden Magnetkraft einen Probekörper in der Schwebe hält. In diesem
Magnetfeld wird eine weitere Spule mit definierter Geschwindigkeit bewegt
und deren dabei induzierte Spannung U mit dem Strom I0 multipliziert.
Daraus ergibt sich eine sehr genau messbare Leistung. Mit der ebenfalls
hochgenau zu bestimmenden lokalen Erdbeschleunigung g an dem Mess-
ort lässt sich aus der wirkenden kinetischen und der potenziellen Energie
des Probekörpers (in Verbindung mit den Definitionen für das Meter und
die Sekunde) die Planck-Konstante ermitteln und festlegen. Eine große
experimentelle Herausforderung ist dabei die Bestimmung von Weg und
Geschwindigkeit der bewegten Spule mit extrem geringer Messunsicher-
heit.
• Elementarladung und Ampere
Das Ampere (1 A) entspricht dem Fluss von rund 1 · 1018 Elektronen pro
Sekunde (s. o.). Da die SI-Basiseinheit Sekunde mit einer rel. Unsicherheit
von besser als 1 · 10−14 definiert werden kann, ist es denk- und realisierbar,
das Ampere durch das Zählen von Elektronen in einem bestimmten Zeit-
intervall zu definieren bzw. in der derzeitigen Phase auf der Grundlage des
geltenden SI den Wert der Elementarladung e zu bestimmen. Um einen
entsprechenden messbaren Strom zu erzeugen, wurden sog. Einzelelektro-
nenpumpen (SET-Devices; SET=Single Electron Tunneling) entwickelt,
die mit sehr hoher Taktfrequenz Einzel-Elektroden durch eine Feldeffekt-
Halbleiteranordnung durchtunneln“ und zugleich detektieren. Die erreich-

bare relative Standardunsicherheit liegt derzeit schon unter 1 · 10−8 . Das
Hauptproblem besteht jedoch darin, dass die solcherart mit SET-Devices
erzeugten Ströme noch zu schwach sind (kleiner 10−6 A) und damit noch
nicht den mit hoher Genauigkeit klassisch messbaren Bereich erreichen.
• Boltzmann-Konstante und Kelvin
Die Definition der Einheit Kelvin (K) wird auf die Boltzmann-Konstante k
zurückgefürt werden. Die Boltzmann-Konstante wird derzeit international
nach mehreren physikalischen Prinzipien bestimmt, aus deren Mittel sie
einmal festgelegt werden soll. Das am häufigsten angewandte Messprin-
zip ist das der akustischen Gasthermometrie . Die Physikalisch-Technische
Bundesanstalt (PTB) in Braunschweig verwendet alternativ ein Dielektri-
zitätskonstanten-Gasthermometer. Die dabei mit einer Messunsicherheit
von 4 ppm (4 · 10−6 ) ermittelte Boltzmann-Konstante beträgt nach der-
zeitigem Stand
J
k = 1, 380 648 52 · 10−23 . (2.4)
K
18 2 Die Grundlagen des Messens

2.1.5 Abgeleitete Einheiten

Durch Multiplikation oder Divison der Basiseinheiten werden die für die ande-
ren physikalischen Größen benötigten Einheiten abgeleitet, d. h. das SI-System
der Einheiten ist ein sog. kohärentes System. Einige wichtige und häufig be-
nutzte abgeleitete Einheiten haben einen eigenständigen Namen (Tab. 2.3),
wie z. B. der Druck p, gemessen in der Einheit Pascal (Pa; 1 Pa = 1 N m−2 ;
1 N = 1 kg m s−2 ) und die (elektrische) Leistung Watt (W; 1 W = 1 J s−1 ; 1 J
= 1 N m). Andere wiederum werden nur in Form ihrer multiplikativ verknüpf-
ten Basiseinheiten ausgedrückt, wie beispielsweise die magnetische Feldstärke
H mit der Einheit Ampere/Meter (A/m). Durch Vorsätze entstehen dezimale
Vielfache oder Teile von Einheiten (Tab. 2.4), z. B. das Megapascal (MPa),
das 106 Pa entspricht, oder das Millimeter (mm), das 10−3 m entspricht.

2.2 Größen- und Zahlenwertgleichungen


Die mathematische Beziehung zwischen physikalischen Größen wird durch
Gleichungen beschrieben. Man spricht von Größengleichungen, wenn sie aus-
schließlich den Zahlenfaktor  1 enthalten. Die elektrische Energie beispiels-
weise ist gegeben durch die Größengleichung (2.5). Darin bezeichnen U die
Gleichspannung, gemessen in Volt (V), I den Gleichstrom, gemessen in Am-
pere (A), und t die Zeit, gemessen in Sekunden (s)

E = U It . (2.5)

Bei Verwendung kohärenter Einheiten gelten für die Einheiten die gleichen
Formeln. Gleichung (2.5) resultiert also in folgender Einheitengleichung

1 Ws = 1 VAs = 1 Nm . (2.6)

In Zahlenwertgleichungen hingegen werden nicht-kohärente Einheiten ver-


knüpft, wie z. B. bei der Berechnung der elektrischen Energie in der Einheit
Kilowattstunde (kWh)

E (kWh) = 0, 278 · 10−6 U (V) I (A) t (s) = 0, 278 · 10−6 E (Ws) . (2.7)

Bei Zahlenwertgleichungen müssen die Einheiten mit angegeben werden. Ver-


schiedene Einheiten werden in einer Einheitengleichung verknüpft
1
1 kWh = 1000 VA 3600 s = VAs . (2.8)
0, 278 · 10−6
2.2 Größen- und Zahlenwertgleichungen 19

Tabelle 2.3. Abgeleitete SI-Einheiten mit eigenständigen Namen

Größe Formel- Abgeleitete Beziehung


zeichen SI-Einheit zu SI-Einheiten
ebener Winkel α Radiant rad 1 rad = 1 m m−1
räumlicher Winkel Ω Steradiant sr 1 sr = 1 m2 m−2
Frequenz f, ν Hertz Hz 1 Hz = 1 s−1
Kraft F Newton N 1N = 1 kg m s−2
Druck p Pascal Pa 1 Pa = 1 N m−2
= 1 kg m−1 s−2
Energie, Arbeit, E Joule J 1J = 1 Nm
Wärmeenergie = 1 kg m2 s−2
Leistung, P Watt W 1W = 1 Nm s−1
Energiestrom = 1 kg m2 s−3
Ladung Q Coulomb C 1C = 1 As
Spannung U Volt V 1V = 1 kg m2 s−3 A−1
Widerstand R Ohm Ω 1Ω = 1 kg m2 s−3 A−2
Leitwert G Siemens S 1S = 1 s3 A2 kg−1 m−2
Kapazität C Farad F 1F = 1 As V−1
= 1 A2 s4 kg−1 m−2
magn. Fluss Φ Weber Wb 1 Wb = 1 Vs
= 1 kg m2 s−2 A−1
magn. Flussdichte B Tesla T 1T = 1 V s m−2
= 1 kg s−2 A−1
Induktivität L Henry H 1H = 1 Wb A−1
= 1 Vs A−1
= 1 kg m2 s−2 A−2
Lichtstrom Φ Lumen lm 1 lm = 1 cd sr
Beleuchtungsstärke Ev Lux lx 1 lx = 1 lm m−2
= 1 cd sr m−2
Aktivität einer radio- A Becquerel Bq 1 Bq = 1 s −1
aktiven Substanz
Energiedosis D Gray Gy 1 Gy = 1 J kg −1
= 1 m2 s−2

Tabelle 2.4. Vorsätze zur Bezeichnung von dezimalen Vielfachen und Teilen von
Einheiten

Vorsatz Zeichen Zahlenwert Vorsatz Zeichen Zahlenwert


Atto a 10−18 Deka da 10+1
Femto f 10−15 Hekto h 10+2
Piko p 10−12 Kilo k 10+3
Nano n 10−9 Mega M 10+6
Mikro μ 10−6 Giga G 10+9
Milli m 10−3 Tera T 10+12
Zenti c 10−2 Peta P 10+15
Dezi d 10−1 Exa E 10+18
3
Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation
und Vierpol-Übertragungsverhalten

3.1 Fourier-Transformation

Fourierreihen periodischer Funktionen

Wir beginnen mit der Beschreibung periodischer Funktionen mit Hilfe von
Fourier-Reihenentwicklungen und leiten daraus die Beschreibung auch nicht-
periodischer Funktionen mittels der Fourier-Transformation ab.
Die periodische Funktion f (t) = f (t + T ) lässt sich bekanntlich in Form
einer trigonometrischen Reihe angeben [45]

a0 
f (t) = + (aν cos(νω0 t) + bν sin(νω0 t)) , (3.1)
2 ν=1

wobei sich die Fourierkoeffizienten aν und bν mit


 +T /2
2
aν = f (t) cos (νω0 t) dt ν = 0, 1, 2, · · · (3.2)
T −T /2
 +T /2
2
bν = f (t) sin (νω0 t) dt ν = 1, 2, · · · (3.3)
T −T /2

berechnen lassen und T die Periodendauer darstellt.


Eine alternative Darstellung kann in Form einer Cosinus-Reihe mit den
Koeffizienten cν und Phasenwinkeln ϕν erfolgen


f (t) = cν cos(νω0 t + ϕν ) mit ϕ0 = 0 . (3.4)
ν=0

Mit der bekannten Beziehung


1 jx
cos x = (e + e−jx ) (3.5)
2

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_3
22 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

lässt sich daraus eine äquivalente Exponentialreihe ableiten




f (t) = dν ejνω0 t (3.6)
ν=−∞
1 1
mit dν = cν ejϕν ; d−ν = d∗ν = cν e−jϕν (3.7)
2 2
und d0 = c0 . (3.8)

Um die komplexwertigen Koeffizienten dν aus der Funktion f (t) zu erhalten,


lösen wir Gl. (3.6) nach dν auf. Dazu multiplizieren wir beide Seiten mit
e−jμω0 t (μ ∈ Z) und integrieren über eine Periode (Periodendauer T = 2π/ω0 )
 T  T ∞

−jμω0 t
f (t)e dt = dν e−j(μ−ν)ω0 t dt . (3.9)
0 0 ν=−∞

Auf der rechten Seite lassen sich Integral und Summe vertauschen und dν
kann vor das Integral gezogen werden. Für das Integral gilt dann
 T 
0 für ν = μ 2π
e−j(μ−ν)ω0 t dt = , wenn ω0 = . (3.10)
0 T für ν = μ T
Daraus folgt unmittelbar
 T
f (t)e−jμω0 t dt = T dμ . (3.11)
0

Jetzt ersetzen wir noch μ durch ν, so dass sich die Koeffizienten folgenderma-
ßen berechnen lassen 
1 T
dν = f (t)e−jνω0 t dt. (3.12)
T 0

Übergang zur Fourier-Transformation

Wir betrachten noch einmal die Exponentialentwicklung (Gl. (3.6)) und fügen
einige günstige Erweiterungen ein (s. auch [188], [189])

1  2πdν jνω0 t
f (t) = e ω0 . (3.13)
2π ν=−∞ ω0

In Gl. (3.12) verschieben wir die Integrationsgrenzen um eine halbe Periode


 T /2
1 2π
dν = f (t)e−jνω0 t dt mit T = . (3.14)
T −T /2 ω0

Die Verallgemeinerung auf nicht-periodische Funktionen erreicht man, indem


man die Periodendauer T → ∞ gehen lässt. Die diskreten Frequenzen νω0
3.1 Fourier-Transformation 23

werden ersetzt durch die kontinuierliche Frequenz ω und die endlichen Fre-
quenzschritte ω0 durch das Differential dω.
Wenn man in Gl. (3.14) den Ausdruck T = 2π/ω0 auf die linke Seite
bringt, erhält man die Fourier-Transformierte F (jω) der Zeitfunktion f (t)
 ∞
2πdν
= f (t)e−jωt dt = F (jω). (3.15)
ω0 −∞

Zur Rücktransformation wird in Gl. (3.13) die Summe über die diskreten ν
ersetzt durch ein Integral über ω. Wir setzen dementsprechend die Fourier-
Transformierte F (jω) nach Gl. (3.15) ein und erhalten die Fourier-Rück-
transformation (inverse Fourier-Transformation)
 ∞
1
f (t) = F (jω)ejωt dω . (3.16)
2π −∞

Es sei noch angemerkt, dass die Fourier-Transformation bzw. die Fourier-


Rücktransformation symbolisch folgendermaßen geschrieben wird

F (jω) = F {f (t)} (3.17)


f (t) = F −1 {F (jω)} . (3.18)

Die absolute Integrierbarkeit einer Funktion f (t) ist hinreichende Bedingung


für die Existenz ihrer Fouriertransformierten
 ∞
|f (t)|dt < ∞ . (3.19)
0

Beispiele zur Fourier-Transformation

Gegeben sei folgende Funktion



1 für −T ≤ t ≤ T
f1 (t) = pT (t) = , (3.20)
0 sonst

welche einen Rechteckimpuls beschreibt. Die Fourier-Transformierte dieser


Funktion lässt sich mit Gl. (3.15) leicht berechnen
 T
2
F 1 (jω) = e−jωt dt = sin(T ω) . (3.21)
−T ω

Die Anwendung des Satzes von L’Hospital liefert an der Stelle ω = 0 den
Grenzwert 2T . Abbildung 3.1 zeigt die Darstellung dieser Funktion im Zeit-
und Frequenzbereich.
Weiterhin sei ein zeitlich unendlich andauerndes Sinus-Signal gegeben

f2 (t) = sin ω0 t. (3.22)


24 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

p (t)
T

-T T t

Re {F1(jω)}
Im {F1(jω)} = 0
2T

−π/T π/T 2π/T ω

Abb. 3.1. Der Rechteckimpuls im Zeit- und Frequenzbereich

Die Fourier-Transformierte dieses Signals lautet


π
F 2 (jω) = jπ [δ(ω + ω0 ) − δ(ω − ω0 )] = [δ(ω − ω0 ) − δ(ω + ω0 )] , (3.23)
j

wobei δ dem Dirac-Stoß (s. Kap. 3.4) entspricht. Das Spektrum dieses Signals
ist in Abb. 3.2 dargestellt. Es enthält nur einen Anteil bei der Frequenz ω0
bzw. −ω0 .

Im {F2 (jω)}

Re {F2 (jω)} = 0

ω0
−ω0 ω

Abb. 3.2. Das Sinussignal im Frequenzbereich


3.2 Ausgleichsvorgänge in linearen Netzwerken 25

Nun wollen wir durch Multiplikation der beiden Signale einen Teil des Sinus-
signals ausschneiden
f3 (t) = f1 (t) · f2 (t) = pT (t) sin ω0 t. (3.24)
Die Multiplikation im Zeitbereich entspricht einer Faltung im Frequenzbereich
mit dem Vorfaktor 1/2π (s. Kap. 3.5.4), wodurch man leicht die Fourier-
Transformierte F 3 (jω) erhält (∗: Faltungssymbol)
1 2 π
F 3 (jω) = sin T ω ∗ [δ(ω − ω0 ) − δ(ω + ω0 )]
2π ω j
 ∞
1 sin T Ω
= [δ(ω − Ω − ω0 ) − δ(ω − Ω + ω0 )]dΩ
j −∞ Ω
 
1 sin T (ω − ω0 ) sin T (ω + ω0 )
= − . (3.25)
j ω − ω0 ω + ω0
In Abb. 3.3 ist der erste Term der Gl. (3.25) dargestellt. Bildlich gesprochen
wird durch das Ausschneiden der unendlich scharfe Dirac-Stoß über einen
Frequenzbereich um ω0 verschmiert“, wobei der Impuls umso unschärfer ist,

je kürzer der Ausschnitt ist. Für ein unendlich langes Zeitfenster ergibt sich
wiederum der Dirac-Stoß aus Abb. 3.2.

j . F3(jω)
Re {F3 (jω)} = 0
T

ω0 −π/Τ ω0 +π/Τ
ω0 ω

Abb. 3.3. Das ausgeschnittene Sinussignal im Frequenzbereich

3.2 Ausgleichsvorgänge in linearen Netzwerken


Es sollen die zeitlichen Verläufe von Spannung und Strom in einem elektri-
schen Netzwerk ermittelt werden, wenn die Anregung einen beliebigen zeitli-
chen Verlauf zeigt. Schwerpunktmäßig betrachtete Spezialfälle sind dabei ei-
ne zu einem bestimmten Zeitpunkt eingeschaltete periodische Anregung oder
eine nach dem Einschaltzeitpunkt konstante Anregung. Nach diesem (Ein-)
Schaltzeitpunkt läuft in dem Netzwerk ein sog. Einschwingvorgang ab, der
sich nach mehr oder weniger langer Zeit dem stationären oder eingeschwun-
genen Zustand annähert. Eine neuerliche Änderung der Anregung, z. B. das
Abschalten der Anregung, ruft einen weiteren Ausgleichsvorgang hervor.
26 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

Wenn wir uns auf ein elektrisches Netzwerk mit konzentrierten linearen und
zeitinvarianten Elementen beschränken, so erfolgt die mathematische Be-
schreibung dieser Ausgleichsvorgänge anhand einer linearen Differential-
gleichung (DGL) mit konstanten Koeffizienten.
Als Beispiel wollen wir den Einschwingvorgang einer RC-Tiefpassschaltung
betrachten, auf deren Eingangsklemmen zum Zeitpunkt t = 0 die Gleichspan-
nung U0 aufgeschaltet wird (Abb. 3.4).

t=0 R du c
i=C
dt

Uo C uc

Abb. 3.4. RC-Tiefpassschaltung, die zum Zeitpunkt t = 0 mit einer Gleichspannung


beaufschlagt wird.

Für Zeiten t > 0 kann die Maschengleichung

−U0 + R · i + uc = 0 (3.26)

unter Verwendung der Strom-Spannungs-Beziehung für den Kondensator

duc
i=C (3.27)
dt
zu einer Differentialgleichung 1. Ordnung mit konstanten Koeffizienten umge-
formt werden
duc
RC + uc = U0 . (3.28)
dt
Die allgemeine Lösung dieser Gleichung ergibt sich aus der Überlagerung der
Lösung der homogenen Differentialgleichung
duch
RC + uch = 0 (3.29)
dt
und einer partikulären Lösung der inhomogenen Differentialgleichung. Eine
solche spezielle Lösung ucp lässt sich leicht angeben, wenn man bedenkt, dass
für t → ∞ der Ausgleichsvorgang abgeschlossen sein muss. Dann ist der Kon-
densator auf die Spannung U0 aufgeladen und es fließt kein Strom mehr. Somit
ist diese partikuläre Lösung
ucp = U0 . (3.30)
Die allgemeine Lösung der homogenen DGL (Gl. (3.29)) lautet mit der Zeit-
konstanten τ = RC
uch = ke−t/τ , (3.31)
3.2 Ausgleichsvorgänge in linearen Netzwerken 27

wobei k eine noch festzulegende Konstante ist. Die Gesamtlösung lautet also

uc = uch + ucp = ke−t/τ + U0 . (3.32)

Aus dem Anfangswert der Kondensatorspannung zum Zeitpunkt t = 0


(uc (0) = 0) lässt sich die Konstante k bestimmen

k = −U0 . (3.33)

Die Gesamtlösung lautet somit

uc = U0 (1 − e−t/τ ) . (3.34)

Abbildung 3.5 zeigt den zeitlichen Verlauf der Kondensatorspannung uc .

uC(t)

U0

U0 (1-e -t/τ )

τ = RC t
Abb. 3.5. Zeitlicher Verlauf der Ausgangsspannung des RC-Tiefpasses

Auch bei komplizierteren Netzwerken ist die Vorgehensweise analog, d.h. unter
Verwendung der Kirchhoffschen Gesetze und den Strom-Spannungs-Beziehun-
gen von Widerstand, Spule und Kondensator wird ein System von linearen
Differentialgleichungen aufgestellt. Dessen Lösung ergibt sich aus der Über-
lagerung der allgemeinen Lösung des homogenen Systems und einer parti-
kulären Lösung des inhomogenen Systems. Wenn sich in einem Netzwerk nun
n unabhängige Energiespeicher (Kondensatoren und/oder Spulen) befinden,
so enthält die Lösung n Konstanten, die so bestimmt werden müssen, dass
die n Anfangswerte (Spannung bei Kondensatoren und Strom bei Spulen)
der Energiespeicher erfüllt werden, d. h. es muss ein lineares Differentialglei-
chungssystem mit n Unbekannten gelöst werden.
In aller Regel wendet man aber zur Berechnung von Einschwingvorgängen
eine elegantere Methode an, die uns das Auflösen dieses linearen Differential-
gleichungssystems erspart. Diese basiert auf der sog. Laplace-Transformation,
die eine spezielle Spektralzerlegung der Zeitfunktionen durchführt. Dies führt
schließlich zu einem Rechengang, der die bekannten Methoden der komplexen
Wechselstromrechnung [4], [161] benutzt.
28 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

3.3 Die Laplace-Transformation


Die Laplace-Transformation ist eine Verallgemeinerung der Fourier-Trans-
formation. Für die Berechnung von Einschwingvorgängen genügt die Be-
schränkung auf Zeitfunktionen, die für Zeiten t < 0 verschwinden. Man
spricht dann von einseitiger Laplace-Transformation. Bei dieser wird
nur über positive t integriert. Ausgangspunkt ist die einseitige Fourier-
Transformation  ∞
F (jω) = f (t)e−jωt dt (3.35)
0
bzw. die inverse Fourier-Transformation
 ∞
1
f (t) = F (jω)ejωt dω . (3.36)
2π −∞

Beim Übergang zur Laplace-Transformation wird nun die in Gl. (3.35) noch
rein imaginäre Frequenz jω durch die komplexe Frequenz

s = σ + jω (3.37)

ersetzt. Aus Gl. (3.35) wird dadurch die Basisgleichung der einseitigen
Laplace-Transformation (Laplace-Transformationsgleichung)
 ∞
F (σ + jω) = f (t)e−σt e−jωt dt (3.38)
0

bzw.  ∞
F (s) = f (t)e−st dt . (3.39)
0
Die hinreichende Bedingung für die Fourier-Transformierbarkeit einer Funk-
tion f (t) (Gl. (3.19))
 +∞
|f (t)| dt < ∞ (3.40)
−∞

wird nunmehr entschärft, da Gl. (3.40) in


 ∞
|f (t)| e−σt dt < ∞ (3.41)
0

übergeht. So genügen beispielsweise auch die Funktionen



1 für t ≥ 0
f (t) = (3.42)
0 für t < 0

für σ > 0 und



eα t t≥0
f (t) = (3.43)
0 t<0
3.3 Die Laplace-Transformation 29

für σ > α der Bedingung nach Gl. (3.41).


Wenn also der Wert σ in Abhängigkeit von f (t) nur genügend groß“

gewählt wird, so existiert die Laplace-Transformierte F (s). Das entsprechen-
de Integral (Gl. (3.39)) konvergiert absolut und gleichmäßig für alle s mit
σ > σmin , wobei der Wert σmin die von der jeweiligen Funktion f (t) abhängen-
de Konvergenzabszisse beschreibt.
Das Beispiel Gl. (3.42) impliziert, dass die Laplace-Transformation (im Gegen-
satz zur Fourier-Transformation) auch im Falle für t → ∞ nicht verschwinden-
der Funktionen ohne Distributionen auskommt. Für die Exponentialfunktion
(3.43) mit α > 0 existiert keine Fourier-Transformierte, aber sehr wohl deren
Laplace-Transformierte.
Die der Fourier-Rücktransformation entsprechende Laplace-Rücktransfor-
mation ergibt sich unter Verwendung der Gln. (3.35) bis (3.38) für t > 0
zu  ω=+∞
−σt 1
f (t)e = F (σ + jω) · ejωt dω (3.44)
2π ω=−∞
bzw.  ω=+∞
1
f (t) = F (σ + jω) · e(σ+jω)t dω . (3.45)
2π ω=−∞

Unter Verwendung der komplexen Frequenz s = σ + jω und der Beziehung


ds = jdω lässt sich die Laplace-Rücktransformation in der Form
 s=σ+j∞
1
f (t) = F (s)est ds (3.46)
2πj s=σ−j∞

darstellen.
Das Rücktransformations-Integral nach Gl. (3.46) existiert nur, wenn
F (s) an den Enden des Integrationspfades verschwindet. Der Integrationspfad
verläuft in der komplexen s-Ebene (Abb. 3.6) parallel zur imaginären Achse in
einem Bereich, wo σ > σmin gilt. Für σ > σmin ist F (s) eine holomorphe Funk-
tion. Es sei ergänzt, dass das Integral einer holomorphen Funktion nur von
den Endpunkten des Integrationspfades, nicht aber von dessen Wegführung
selbst, abhängt.

Symbolische Darstellungen

Laplace-Transformation:
F (s) = L{f (t)} . (3.47)
Rücktransformation:
f (t) = L−1 {F (s)} . (3.48)
Die Zuordnung wird auch durch folgendes Symbolzeichen dargestellt

f (t) ◦−−• F (s) , (3.49)


30 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

wobei wegen der Eindeutigkeit der Zuordnung (Eineindeutigkeit) aller im


Bereich t > 0 stetiger Funktionen diese Zuordnung in beiden Richtungen
der Transformation gilt, sofern der jeweilige Konvergenzbereich des Laplace-
Integrals bekannt ist.

Laplace-Ebene (s-Ebene)

j. ω
harmonische Schwingungen
mit konstanter Amplitude

exponentiell exponentiell
abklingende anwachsende
Schwingungen Schwingungen
σ = Re {s}

Abb. 3.6. Laplace-Ebene (s-Ebene)

Während die Fourier-Transformation auf die rein imaginäre Achse jω und


damit auf Sinusgrößen mit konstanter Amplitude beschränkt bleibt, kann mit
einer komplexen Frequenz auch eine exponentiell anwachsende oder exponen-
tiell abklingende Sinusgröße dargestellt werden (s. Abb. 3.6)
1
u(t) = Û · eσt cos(ωt + ϕ) = (U e(σ+jω)t + U ∗ e(σ−jω)t ) (3.50)
2
mit

U= Û · ejϕ (3.51)
U ∗ = Û · e−jϕ . (3.52)

Die äquivalente Darstellung in s bzw. s∗ lautet


1 ∗
u(t) = (U est + U ∗ es t ) (3.53)
2
mit

s∗ = σ − jω. (3.54)

Der Wert von σ stellt dabei das Dämpfungsmaß dar (σ < 0) und ω die Kreis-
frequenz (ω > 0). Es sei noch ergänzt, dass die rein reelle Achse (ω = 0) reine
Exponentialfunktionen mit reellen Exponenten verkörpert.
3.4 Die Laplace-Transformierte elementarer Zeitfunktionen 31

3.4 Die Laplace-Transformierte elementarer


Zeitfunktionen
Ziel dieses Abschnittes ist die Aufstellung einer Zuordnungstabelle, die ele-
mentare Zeitfunktionen und ihre entsprechenden einseitigen Laplace-Trans-
formierten enthält. Bei der einseitigen Laplace-Transformation wird vorausge-
setzt, dass die zu transformierende Zeitfunktion für Zeiten t < 0 stets identisch
Null ist.
Dies wird für jede Zeitfunktion durch Multiplikation mit der im folgenden
definierten Sprungfunktion ε(t) erreicht. Aufgrund der eindeutigen Umkehr-
barkeit der Transformation kann diese sowohl beim Übergang vom Zeit- in
den Laplace-Bereich als auch in umgekehrter Richtung verwendet werden.

Sprungfunktion

Die Sprungfunktion1 ε(t) beschreibt ein zum Zeitnullpunkt eingeschaltetes


zeitlich konstantes Signal

1 für t ≥ 0
f (t) = ε(t) = . (3.55)
0 für t < 0
Die Laplace-Transformierte lautet
 ∞ ∞
1 
F (s) = e−st dt = − e−st  . (3.56)
0 s 0

Für Realteile σ > 0 konvergiert das Integral in Gl. (3.56) und man erhält
1
F (s) = . (3.57)
s

Rampenfunktion

Für die ab dem Zeitnullpunkt linear ansteigende Rampenfunktion



t für t ≥ 0
f (t) = oder f (t) = ε(t) · t (3.58)
0 für t < 0
erhält man die Laplace-Transformierte nach einmaliger partieller Integration
 ∞ ∞ 
−st t −st  1 ∞ −st
F (s) = te dt = − e  + e dt . (3.59)
0 s 0 s 0
Auch hier konvergiert das Integral nur für komplexe Frequenzen s, deren Re-
alteil positiv ist (σ > 0). Man erhält schließlich
1
F (s) = . (3.60)
s2
1
Die Sprungfunktion wird im Folgenden stets mit ε(t) bezeichnet.
32 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

Parabelfunktionen

Die Laplace-Transformierte einer Parabel n-ten Grades (n = 0, 1, 2, 3, ...) er-


gibt sich durch n-malige partielle Integration
 n
t für t ≥ 0
f (t) = oder f (t) = ε(t) · tn (3.61)
0 für t < 0

entsprechend zu
n!
F (s) = . (3.62)
sn+1

Exponentialfunktion

Die Laplace-Transformierte der Exponentialfunktion


 st
e0 für t ≥ 0
f (t) = oder f (t) = ε(t) · es0 t (3.63)
0 für t < 0

ergibt sich zu
 ∞

(s0 −s)t 1 
(s0 −s)t 
F (s) = e dt = e  . (3.64)
0 s0 − s 0

Für σ > Re{s0 } erhält man Konvergenz und es folgt


1
F (s) = . (3.65)
s − s0

Hyperbelfunktionen

Da sich die Hyperbelfunktionen aus der Superposition von Exponentialfunk-


tionen ergeben
1  s0 t
cosh(s0 t) = e + e−s0 t (3.66)
2
1  s0 t
sinh(s0 t) = e − e−s0 t , (3.67)
2
lassen sich ihre Laplace-Transformierten aufgrund ihrer linearen Transforma-
tionseigenschaften leicht angeben


1 1 1 s
L{ε(t) · cosh(s0 t)} = + = 2 (3.68)
2 s − s0 s + s0 s − s20
bzw.


1 1 1 s0
L{ε(t) · sinh(s0 t)} = − = . (3.69)
2 s − s0 s + s0 s2 − s20
3.4 Die Laplace-Transformierte elementarer Zeitfunktionen 33

sin- und cos-Funktionen

Der Spezialfall s0 = jω0 liefert mit den Gln. (3.66), (3.67) und

cosh jω0 t = cos ω0 t (3.70)


sinh jω0 t = j sin ω0 t (3.71)

die Laplace-Transformierte harmonischer Signale


s
L{ε(t) · cos ω0 t} = (3.72)
+ ω02
s2
ω0
L{ε(t) · sin ω0 t} = 2 . (3.73)
s + ω02

Delta-Impuls δ(t)

Der Delta-Impuls (auch Dirac-Impuls bzw. Dirac-Stoß genannt), der bei


der Analyse elektrischer Netzwerke große Bedeutung hat, ist keine Funktion
im herkömmlichen Sinne, sondern mathematisch gesehen eine sog. Distribu-
tion. Die Distribution lässt sich durch einen Grenzübergang definieren. Dazu
betrachten wir Abb. 3.7. Der dort gezeigte Signalverlauf lässt sich folgender-
maßen beschreiben
1
für 0 < t < T
δT = T . (3.74)
0 sonst

Für T → 0 erhält man daraus den Delta-Impuls. +∞


Für den Dirac-Impuls gilt die Nebenbedingung −∞ δ(t)dt = 1. Die
Laplace-Transformierte des Zeitsignals nach Gl. (3.74) ergibt
 T 
1 −st 1 T −st 1 − e−sT
FT (s) = e dt = e dt = . (3.75)
0 T T 0 sT

δT δ

1 1
T
δ (t)

T t t
a) b)

Abb. 3.7. Delta-Impuls: a) Zeitfunktion, welche durch den Grenzübergang T → 0


den Delta-Puls definiert, b) Symbolische Darstellung: der Zahlenwert an der Spitze
+∞
des Pfeiles repräsentiert den Flächeninhalt des Integrals −∞ δ(t)dt.
34 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

Die Laplace-Transformierte des Delta-Impulses erhält man schließlich durch


den Grenzübergang T → 0

1 − e−sT
lim FT (s) = Fδ (s) = lim =1. (3.76)
T →0 T →0 sT

3.5 Die Eigenschaften der Laplace-Transformation —


Laplace-Transformation einfacher mathematischer
Operationen

Bei der Anwendung der Laplace-Transformation ist es allgemein von Inter-


esse, wie sich die Transformation auf einfache mathematische Operationen
auswirkt. Bei der Lösung von Differentialgleichungen mit Hilfe der Laplace-
Transformation ist es beispielsweise wichtig zu wissen, wie sich die Operatio-
nen Differentiation oder Integration transformieren.

3.5.1 Überlagerung

Wenn die Laplace-Transformierten zweier Zeitfunktionen f1 (t) und f2 (t) exi-


stieren

f1 (t) ◦−−• F1 (s) (3.77)


f2 (t) ◦−−• F2 (s) , (3.78)

so gilt für beliebige Konstanten c1 und c2 der Überlagerungssatz

c1 f1 (t) + c2 f2 (t) ◦−−• c1 F1 (s) + c2 F2 (s) . (3.79)

Seine Gültigkeit folgt unmittelbar aus der Linearität der Transformationsin-


tegrale.

3.5.2 Integration

Die Laplace-Transformierte des Integrals


 t
f (τ )dτ (3.80)
0

ergibt sich durch Einsetzen in die Transformationsformel (Gl. (3.39)) und


partielle Integration zu
 t
1
f (τ ) dτ ◦−−• F (s) , (3.81)
0 s
wobei F (s) die Laplace-Transformierte der Funktion f (t) ist.
3.5 Laplace-Transformation einfacher mathematischer Operationen 35

3.5.3 Differentiation

Unter der Voraussetzung, dass die Funktion f (t) differenzierbar ist und ihre
Laplace-Transformierte F (s) existiert, erhält man nach einmaliger partieller
Integration für die Laplace-Transformierte der Ableitung
 ∞
df (t) −st
F̃ (s) = e dt (3.82)
0 dt
die Zuordnung
df (t)
◦−−• s F (s) − f (0+ ) . (3.83)
dt
Der rechtsseitige Grenzwert f (0+ ) ist der Funktionswert zum Zeitpunkt t = 0,
wenn man den Funktionsverlauf von f (t) von Zeiten t > 0 kommend bis hin
zum Grenzwert für t → 0 verfolgt. Wenn alle Ableitungen von f (t) bis zur n-
ten sowie die entsprechenden Laplace-Transformierten existieren, kann analog
abgeleitet werden

dn f (t) d(n−1) f (t)


◦−−• snF (s)−sn−1 f (0+ )−sn−2 f  (0+ )−· · ·− | + . (3.84)
dt n dt(n−1) t=0
Nachdem sich die Operationen Integration und Differentiation im Laplace-
Bereich in eine Multiplikation mit 1s bzw. s überführen lassen, gehen linea-
re Differentialgleichungen mit konstanten Koeffizienten, wie sie auch bei der
Analyse elektrischer Netzwerke auftreten, in lineare algebraische Gleichungen
über. Damit lassen sich insbesondere Einschwingvorgänge in linearen mecha-
nischen und elektrischen Netzwerken einfach berechnen (s. auch Kap. 5.4).

3.5.4 Produkt zweier Laplace-Funktionen — Faltung

Die für die Netzwerkanalyse wichtigste Eigenschaft ist die Transformation


des zeitlichen Faltungsintegrals, das die Berechnung einer Systemantwort bei
bekannter Erregung und gegebener Impulsantwort des Systems erlaubt (s.
auch Kap. 3.11).
Das Produkt zweier Laplace-Funktionen F1 (s) · F2 (s)
 ∞
F1 (s) = f1 (τ )e−sτ dτ (3.85)
 ∞
0

F2 (s) = f2 (ϑ)e−sϑ dϑ (3.86)


0

lässt sich (gleichmäßige Konvergenz vorausgesetzt) als Doppelintegral formu-


lieren  ∞ ∞
F1 (s) · F2 (s) = f1 (τ )f2 (ϑ)e−s(τ +ϑ) dτ dϑ . (3.87)
0 0
Die Variablensubstitution t = τ + ϑ führt mit ϑ = t − τ und dϑ = dt zu
36 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten
 t=∞  τ =t 
F1 (s) · F2 (s) = f1 (τ )f2 (t − τ )dτ e−st dt . (3.88)
t=0 τ =0

Die obere Grenze des inneren Integrals darf auf τ = t gesetzt werden, weil
f2 (t − τ ) bei kausalen Netzwerken für negative Zeiten verschwindet.
Das innere Integral ist gemäß der Laplace-Transformationsgleichung die
zu F1 (s) · F2 (s) gehörende Zeitfunktion. Daher ist die Integraloperation
 t
f1 (τ )f2 (t − τ )dτ (3.89)
0

das Zeitbereichsergebnis der Multiplikation F1 (s)·F2 (s). Man bezeichnet diese


Operation als Faltung und kürzt sie mit dem Symbol ∗ ab, um sie von der
gewöhnlichen Multiplikation zu unterscheiden
 t
f1 (t) ∗ f2 (t) = f1 (τ )f2 (t − τ )dτ . (3.90)
0

Es gilt also die Zuordnung

f1 (t) ∗ f2 (t) ◦−−•F1(s) · F2 (s) . (3.91)

Das Faltungsprodukt ist kommutativ, d. h. es gilt

f1 ∗ f2 = f2 ∗ f1 . (3.92)

Es sei ergänzt, dass sich die Faltung nach Gl. (3.90) auch ausführen lässt,
wenn f1 (t) und f2 (t) nur in rein graphischer oder numerischer Form gegeben
sind. Abbildung 3.8 soll die Faltungsoperation verdeutlichen.

f1 (t) f2 (t)

f2 (-t) f 2 (t)

t1 t t2 t

f 1, 2 f 1 (t) * f2 (t)
f1 (τ) : f 2 (t - τ) Faltungsergebnis
t=0 t > t2 t > t1 + t 2

-t 2 t1 τ t2 t1 t1+ t2 t
Abb. 3.8. Zur Veranschaulichung des Faltungsintegrals
3.5 Laplace-Transformation einfacher mathematischer Operationen 37

Aufgrund des Vorfaktors 1/πj in der Rücktransformationsformel Gl. (3.46)


erscheint dieser auch bei der Umkehrung von Gl. (3.90) bzw. (3.91) wie folgt
1
f1 (t) · f2 (t) ◦−−• F1 (s) ∗ F2 (s) . (3.93)
2πj
Dies bedeutet, dass einer Multiplikation im Zeitbereich das mit dem Vor-
faktor 1/2π versehene Faltungsprodukt der beiden entsprechenden Laplace-
Transformierten entspricht. Für die Fourier-Transformation gelten diese Re-
geln analog. Der Vorfaktor beträgt hier 1/2π
1
f1 (t) · f2 (t) ◦−−• F (jω) ∗ F 2 (jw) . (3.94)
2π 1
Analog zu Gl. (3.91) gilt

f1 (t) ∗ f2 (t) ◦−−•F 1 (jω) · F 2 (jw) . (3.95)

3.5.5 Multiplikationssatz

Ausgehend von der Transformationsgleichung (Gl. 3.39)


 ∞
F (s) = f (t)e−st dt (3.96)
0

erhält man durch Differenzieren nach s


 ∞
dF
= f (t)(−t) · e−st dt = L{−t · f (t)} . (3.97)
ds 0

Die n-malige Ableitung ergibt unmittelbar den Multiplikationssatz


dn F
= (−1)n L{tn · f (t)} (3.98)
dsn
bzw.
dn F
tn · f (t) ◦−−• (−1)n . (3.99)
dsn
38 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

3.5.6 Verschiebung im Zeitbereich (Oberbereich)

Es soll eine Funktion f (t) im Zeitbereich um eine Zeit t0 > 0 verschoben


werden. Für die daraus resultierende Funktion (Abb. 3.9)

f (t) f1 (t)

0 t 0 t0 t

Abb. 3.9. Verschiebung im Zeitbereich um die Zeit to


f (t − t0 ) für t ≥ t0
f1 (t) = bzw. f1 (t) = ε(t − t0 ) · f (t − t0 ) (3.100)
0 für t < t0

folgt deren Laplace-Transformierte


 ∞
F1 (s) = f (t − t0 )e−st dt . (3.101)
t0

Durch die Variablensubstitution τ = t − t0 wird

e−st = e−st0 · e−sτ (3.102)

und es folgt  ∞
F1 (s) = e−st0 f (τ )e−sτ dτ = e−st0 F (s) . (3.103)
0
Die Verschiebung im Zeitbereich um eine Zeit t0 entspricht also der Multipli-
kation im Frequenzbereich mit e−st0

ε(t − t0 ) · f (t − t0 ) ◦−−• e−st0 F (s) . (3.104)

3.5.7 Verschiebung im Laplace-Bereich (Unterbereich)

Wenn wir hingegen eine Verschiebung im Laplace-Bereich gemäß

F1 (s) = F (s + s0 ) (3.105)

vornehmen, folgt  ∞
F1 (s) = f (t)e−s0 t e−st dt . (3.106)
0

Dies bedeutet, dass F (s + s0 ) der mit e−s0 t multiplizierten Zeitfunktion f (t)


entspricht
3.5 Analyse eines RC-Netzwerkes mittels Laplace-Transformation 39

e−s0 t f (t) ◦−−•F (s + s0 ) . (3.107)


Die Anwendung dieses Satzes auf Gl. (3.62) ergibt schließlich
tn −s0 t 1
e ◦−−• . (3.108)
n! (s + s0 )n+1
Demnach lässt sich zu einer beliebigen rationalen Funktion in s die zugehöri-
ge Zeitfunktion direkt ermitteln. Dazu wird die Funktion in Partialbrüche
zerlegt und anschließend rücktransformiert. Für den Fall, dass die gebrochen
rationale Funktion denselben Zähler- und Nennergrad aufweist, muss vor der
Partialbruchzerlegung eine Polynomdivision durchgeführt werden.

3.5.8 Dehnung bzw. Stauchung

Eine multiplikative reelle Konstante c, die auch als zeitlicher Dehnungs-


bzw. Stauchungsfaktor interpretiert werden kann, wirkt sich wie folgt auf die
Laplace-Transformation aus
1 s
f (ct) ◦−−• F (c > 0) . (3.109)
c c

3.5.9 Anfangswert-Theorem

Mit Hilfe dieses Theorems kann aus einer Laplace-Transformierten F (s) direkt
der Anfangswert f (0+ ) der zugehörigen Zeitfunktion f (t) bestimmt werden,
ohne die Zeitfunktion selbst zu ermitteln [45]

lim f (t) = f (0+ ) = lim sF (s) . (3.110)


t↓0 Re(s)→∞

3.5.10 Endwert-Theorem

Mit Hilfe dieses Theorems kann aus einer Laplace-Transformierten F (s) direkt
der Grenzwert f (t → ∞) der zugehörigen Zeitfunktion f (t) ermittelt werden,
ohne diese direkt zu kennen [45]

lim f (t) = lim sF (s). (3.111)


t→∞ s→0

Voraussetzung hierfür ist natürlich die Existenz eines asymptotischen Grenz-


wertes im Zeitbereich.

3.5.11 Tabelle mathematischer Operationen

In Tabelle 3.1 sind nochmals die in den vorhergehenden Abschnitten disku-


tierten mathematischen Operationen bei der Laplace-Transformation zusam-
mengestellt.
40 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

Tabelle 3.1. Zusammenfassung der Laplace-Transformation einfacher mathemati-


scher Operationen

f (t) F (s) Bezeichnung

c1 f1 (t) + c2 f2 (t) c1 F1 (s) + c2 F2 (s) (Überlagerung)


t 1
0
f (τ ) dτ s
F (s) (Integration)

df (t)
dt
s F (s) − f (0+ ) (Differentiation)

dn f (t)
dtn
sn F (s) − sn−1 f (0+ ) − ...
... − sn−2 dfdt(t) |t=0+ − · · ·
d(n−1) f (t)
··· − dt(n−1)
|t=0+

f1 (t) ∗ f2 (t) F1 (s) · F2 (s) Produkt im Laplace-Ber.

f1 (t) · f2 (t) 1
F (s)
2πj 1
∗ F2 (s) Produkt im Zeitbereich

dn F
tn · f (t) (−1)n dsn
Multiplikationssatz

ε(t − t0 ) · f (t − t0 ) e−st0 F (s) Zeitverschiebung

e−s0 t f (t) F (s + s0 ) Frequenzverschiebung

1
s
f (ct) c
F c
(c > 0) Dehnung/Stauchung

lim f (t) = f (0+ ) = lim sF (s) (Anfangswert-Theorem)


t↓0 Re(s)→∞

lim f (t) = lim sF (s) (Endwert-Theorem)


t→∞ s→0

3.6 Analyse eines RC-Netzwerkes mittels


Laplace-Transformation
Mit Hilfe der Laplace-Transformation lässt sich beispielsweise der bereits in
Kapitel 3.2 behandelte Einschwingvorgang einer RC-Tiefpassschaltung (Abb.
3.4) wesentlich eleganter berechnen als im Zeitbereich. Wir gehen dazu von der
DGL (Gl. (3.28)) aus, welche die Spannung uc (t) am Kondensator beschreibt

duc (t)
RC + uc (t) = u(t) . (3.112)
dt
3.7 Die Rücktransformation von Laplace-Transformierten in den Zeitbereich 41

Die Anwendung der Laplace-Transformation führt mit Einführung der Zeit-


konstanten τ = RC zu folgender linearer Gleichung

τ [sUc (s) − uc (0+ )] + Uc (s) = U (s) , (3.113)

wobei gilt
Uc (s) = L{uc (t)} und U (s) = L{u(t)} . (3.114)
Diese Gleichung kann leicht nach Uc (s) aufgelöst werden
1
Uc (s) = [U (s) + τ uc (0+ )] (3.115)
1 + sτ
bzw.  
1 1 +
Uc (s) = 1 U (s) + uc (0 ) . (3.116)
s+ τ
τ
Wenn wir voraussetzen, dass der Kondensator zu Beginn des Einschaltvor-
ganges ungeladen ist
uc (0+ ) = 0 (3.117)
und zum Zeitnullpunkt eine Gleichspannung U0 eingeschaltet wird, erhalten
wir mit der Laplace-Transformierten der Sprungfunktion
1
ε(t) ◦−−• (3.118)
s
U0
U (s) = (3.119)
s
und Gleichung (3.115)
U0
Uc (s) = . (3.120)
s(1 + sτ )
Abschließend erfolgt nun die Rücktransformation von Gl. (3.120) in den Zeit-
bereich, was im folgenden Kapitel behandelt wird.

3.7 Die Rücktransformation von


Laplace-Transformierten in den Zeitbereich
Zur Rücktransformation einer Laplace-Funktion in den Zeitbereich ist prin-
zipiell das Umkehrintegral oder Rücktransformations-Integral (Gl. (3.46)) zu
lösen  s=σ+j∞
1
f (t) = F (s)est ds . (3.121)
2πj s=σ−j∞
Dieses Integral existiert, wenn F (s) für ω → ±∞ gegen Null strebt. Für die
Rücktransformation aus dem Laplace-Bereich in den Zeitbereich existieren die
bereits in Kapitel 3.3 eingeführten Nomenklaturen
42 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

Tabelle 3.2. Laplace-Transformierte einiger wichtiger Zeitfunktionen

f (t) F (s)

δ(t) 1
ε(t) 1/s
ε(t) · tn /n! (n = 0, 1, · · ·) 1/(sn+1 )
ε(t) · tn e−αt /n! (n = 0, 1, · · ·) 1/(s + α)n+1
ε(t) · cos βt s/(s2 + β 2 )
ε(t) · sin βt β/(s2 + β 2 )
ε(t) · sin(βt + ϕ) (s · sin ϕ + β · cos ϕ)/(s2 + β 2 )
ε(t) · cos(βt + ϕ) (s · cos ϕ − β sin ϕ)/(s2 + β 2 )
ε(t) · e−αt sin(βt + ϕ) [(s + α) sin ϕ + β · cos ϕ]/[(s + α)2 + β 2 ]
ε(t) · e−αt cos(βt + ϕ) [(s + α) cos ϕ − β · sin ϕ]/[(s + α)2 + β 2 ]
 
ε(t) · e−αt cos βt (s + α)/ (s + α)2 + β 2
 
ε(t) · e−αt sin βt β/ (s + α)2 + β 2
ε(t) · t cos βt (s2 − β 2 )/(s2 + β 2 )2
ε(t) · t sin βt 2βs/(s2 + β 2 )2
ε(t) · t2 sin βt 2β(3s2 − β 2 )/(s2 + β 2 )3
ε(t) · t2 cos βt 2(s3 − 3β 2 s)/(s2 + β 2 )3
 
ε(t) · cos2 βt (s2 + 2β 2 )/ s(s2 + 4β 2 )
 
ε(t) · sin2 βt 2β 2 / s(s2 + 4β 2 )
ε(t) · cosh βt s/(s2 − β 2 )
ε(t) · sinh βt β/(s2 − β 2 )
t
ε(t) · 2β
sinh(βt) s/(s2 − β 2 )2
sin βt
ε(t) · t
arctan βs
√ √
ε(t) · 1/ πt 1/ s
 √
ε(t) · 2 t/π 1/(s s)
3.8 Lösung von linearen Differentialgleichungen mit konstanten Koeffizienten 43

f (t) = L−1 {F (s)} (3.122)

bzw.
f (t) ◦−−•F (s) . (3.123)
Genauso wie bei der Fourier-Transformation ist die Zuordnung zwischen f (t)
und F (s) für alle im Bereich t > 0 stetigen Funktionen umkehrbar eindeu-
tig. Dies bedeutet, dass das Symbol ◦−−• in beiden Richtungen gelesen werden
kann. Diese Tatsache gibt Anlass zu folgender Strategie für die Rücktransfor-
mation:
Man zerlegt die rückzutransformierende Laplace-Funktion F (s) in eine Sum-
me von Teilfunktionen

F (s) = F1 (s) + F2 (s) + · · · Fn (s) , (3.124)

deren jeweilige Rücktransformation aus Tab. 3.2 bekannt ist. Insbesondere


lässt sich in Verbindung mit der Beziehung
tn −s0 t 1
ε(t) · e ◦−−• (3.125)
n! (s + s0 )n+1
zu jeder rationalen Funktion in s die dazugehörige Zeitfunktion unmittelbar
angeben, nachdem man die Funktion in Partialbrüche zerlegt hat.
Da andererseits die Lösung von linearen Differentialgleichungen mit kon-
stanten Koeffizienten im Laplace-Bereich auf rationale Funktionen führt, las-
sen sich diese DGLn, die ja lineare elektrische Netzwerke mit konzentrierten
Elementen beschreiben, mit Hilfe der Laplace-Transformation besonders leicht
lösen.

3.8 Lösung von linearen Differentialgleichungen mit


konstanten Koeffizienten
Zwecks leichterer Überprüfbarkeit der Lösung wenden wir uns nochmals dem
Beispiel aus Kapitel 3.2 zu. Die Differentialgleichung, die den Einschwing-
vorgang der RC-Schaltung aus Abb. 3.4 beschreibt, lautet (Gl. (3.28) bzw.
Gl. (3.112))
duc (t)
RC + uc (t) = u(t) . (3.126)
dt
Die Anwendung der Laplace-Transformation führt mit τ = RC zu

τ [sUc (s) − uc (0+ )] + Uc (s) = U (s) . (3.127)

Diese algebraische Gleichung lässt sich leicht nach der gesuchten Größe Uc (s)
auflösen (vgl. Gl. (3.116))
 
1 1 +
Uc (s) = U (s) + u c (0 ) . (3.128)
s + τ1 τ
44 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

Für den Fall, dass u(t) eine im Zeitnullpunkt t = 0 eingeschaltete Gleichspan-


nung U0 ist, d. h.
U0
U (s) = , (3.129)
s
und der Kondensator zu diesem Zeitpunkt ungeladen ist (uc (0+ ) = 0), folgt

U0
Uc (s) = . (3.130)
τ s(s + τ1 )

Diese rationale Funktion wird nun in Partialbrüche zerlegt, d. h. also in ratio-


nale Grundfunktionen, die in Tab. 3.2 enthalten sind
 
U0 C1 C2
Uc (s) = = U0 + . (3.131)
τ s(s + τ1 ) s+α s+β

Durch Koeffizientenvergleich erhält man die Werte der Konstanten


1
α= ; β=0 und C2 = −C1 = 1 . (3.132)
τ
Daraus folgt

−1 1
Uc (s) = U0 1 + s . (3.133)
s+ τ
Gemäß Superpositionsregel und Tab. 3.2 ergibt sich folgende Zeitfunktion
 
uc (t) = U0 − U0 e−t/τ = U0 (1 − e−t/τ ) . (3.134)

Der zeitliche Spannungsverlauf der Kondensatorspannung uc (t) wurde bereits


in Abb. 3.5 gezeigt. Das Ergebnis (Gl. (3.134)) entspricht der auf anderem
Wege ermittelten Lösung der linearen Differentialgleichung im Zeitbereich
(Gl. (3.34)).

Lösung für eingeschaltete Sinusspannung

Wenn die RC-Tiefpassschaltung gemäß Abb. 3.4 nun mit einer bei t = 0
eingeschalteten harmonischen Wechselspannung beaufschlagt wird, so lässt
sich das Ergebnis analog ermitteln. Dazu wird zunächst die Eingangsspannung
u(t)
u(t) = ε(t) · U0 sin ω0 t (3.135)
gemäß der Tab. 3.2 in den Laplace-Bereich transformiert
ω0
U (s) = U0 . (3.136)
s2 + ω02

Durch Einsetzen in Gleichung (3.128) erhält man die Kondensatorspannung


Uc im Laplace-Bereich
3.8 Lösung von linearen Differentialgleichungen mit konstanten Koeffizienten 45
 
1 1 U0 ω0
Uc (s) = 1 · +
+ uc (0 ) . (3.137)
s+ τ
τ s2 + ω02
Eine Partialbruchzerlegung führt zu


τ −s
1
1 U0 ω0 1 uc (0+ )
Uc (s) = 1 1 + 2 + . (3.138)
τ ω02 + τ 2 s + τ s2 + ω 0 s + τ1
Die Zuordnungstabelle (Tab. 3.2) liefert
1
1
τ

•−◦ ε(t) · sin ω0 t (3.139)
s2 + ω02 τ ω0
s

•−◦ ε(t) · cos ω0 t . (3.140)
s2 + ω02
Das Ergebnis im Zeitbereich lautet also


1 U0 ω0 1 −t/τ −t/τ
uc (t) = ε(t) · sin ω0 t − cos ω0 t + e + uc (0 ) · e
+
.
τ ω02 + τ12 τ ω0
(3.141)
Abbildung 3.10 zeigt den Spannungsverlauf für einen anfänglich ungeladenen
Kondensator uc (0+ ) = 0. Nach dem Ausgleichsvorgang (e−t/τ -Term), der mit
der Zeitkonstanten τ abklingt, bleiben nur noch die beiden sin −/ cos −Wechsel-
anteile übrig, die zu einer einzigen Sinusfunktion zusammengefasst werden
können 
1 1
sin ω0 t − ω0 cos ω0 t = ω02 + 2 sin(ω0 t − ϕ) (3.142)
τ τ
mit
ϕ = arctan(ω0 τ ) . (3.143)
Dieser Teil der Lösung beschreibt den eingeschwungenen Zustand, wie ihn
auch die einfache Wechselstromrechnung liefert. Für einen anfänglich ungela-
denen Kondensator (uc (0+ ) = 0) folgt also

uC(t)
U0 1/τ
sin(ω0 t-ϕ)
(1/τ)2+ω02

ϕ
t= ω t
0

Abb. 3.10. Einschwingverhalten des RC-Netzwerkes nach dem Einschalten der


Sinus-Spannung. Der stationäre Anteil ist gestrichelt gezeichnet.
46 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten
⎡ ⎤
U0 ⎣ 1 ω0
uc (t) = ε(t) ·  sin(ω0 t − ϕ) + e−t/τ ⎦ . (3.144)
τ 2
ω + 1 ω02 + τ12
0 τ2

3.9 Berechnung von Einschwingvorgängen in


elektrischen Netzwerken mit konzentrierten linearen
passiven Bauelementen
In diesem Abschnitt soll das der linearen Netzwerkanalyse zugrundeliegen-
de Schema erarbeitet werden, das die Berechnung von Ausgleichsvorgängen
mittels Laplace-Transformation behandelt.
Neben der bereits im vorhergehenden Abschnitt besprochenen Methode,
bei welcher die lineare Differentialgleichung des gegebenen Netzwerkes auf-
gestellt und mit Hilfe der Laplace-Transformation (Überführung der DGL in
eine algebraische Gleichung) gelöst wird, gibt es nämlich auch die Möglichkeit,
das zu analysierende Netzwerk direkt im Laplace-Bereich (Frequenzbereich)
zu beschreiben. Dazu müssen die einzelnen Elemente (Widerstand, Kondensa-
tor oder Spule) mit Anfangswertgeneratoren versehen werden. Im Folgenden
wird gezeigt, wie man daraus unmittelbar eine lineare algebraische Gleichung
in der Laplace-Variablen s gewinnen kann, welche nach Auflösen nach der
gesuchten Größe U (s) bzw. I(s) durch eine Laplace-Rücktransformation den
gesuchten Spannungs- und Stromverlauf u(t) bzw. i(t) liefert (Abb. 3.11) [25].

lineare Differential-
gleichungen +
Anfangsbedingungen

Laplace-
Transformation

gesuchte Größen im Zeitbereich


lineare algebraische In (s), Un (s)
Gleichungen in s in(t), un(t)
im Laplace-Bereich

Kirchhoff-
Gleichungen

Auflösen nach den Laplace-


Netzwerk mit Anfangs- gesuchten Rücktransformation
wertgeneratoren Spannungen und
im Frequenzbereich Strömen

Abb. 3.11. Prinzipielles Vorgehen bei der Berechnung von linearen Netzwerken mit
Hilfe der Laplace-Transformation
3.9 Einschwingvorgänge in Netzwerken mit linearen Bauelementen 47

Zwecks Gewinnung eines Ersatzschaltbildes im Laplace-Bereich müssen so-


wohl die Kirchhoffschen Gleichungen

uν (t) = 0 (Maschengleichung)
und (3.145)

iν (t) = 0 (Knotengleichung)

als auch die die Netzwerkelemente beschreibenden Spannungs-Strom-Be-


ziehungen

uR = RiR (ohmscher Widerstand) (3.146)


diL
uL = L (Spule)
dt
duC
iC = C (Kondensator)
dt
in den Laplace-Bereich transformiert werden.

Transformation der Kirchhoffschen Gleichungen

Wenden wir uns zunächst den Kirchhoffschen Gleichungen zu. Da die Laplace-
Transformation eine lineare Operation ist, gelten die Kirchhoffschen Gleichun-
gen für die Spannungen und Ströme in derselben Form wie im Zeitbereich

Uν (s) = 0 (Maschengleichung)
und (3.147)

Iν (s) = 0 (Knotengleichung) .

Transformation der Netzwerkelementgleichungen

1. Widerstandsgleichung
Da ein idealer ohmscher Widerstand keinerlei Zeitverhalten zeigt, bleibt
die Widerstandsgleichung bei der Laplace-Transformation unverändert
(Abb. 3.12)
UR (s) = RIR (s) . (3.148)

iR(t) I R(s)
R u R(t) R UR(s)

Abb. 3.12. Transformation eines ohmschen Widerstandes in den Laplace-Bereich


48 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

2. Kondensatorgleichung
Bei der Transformation der Kondensatorgleichung müssen die Anfangs-
werte der Kondensatorspannung berücksichtigt werden. Dazu betrachten
wir den allgemeinen Fall, dass ein ursprünglich auf eine Spannung uC (0− )
aufgeladener Kondensator zum Zeitpunkt t = 0 mit einer idealen (Innen-
widerstand Ri = 0) Spannungsquelle verbunden wird (Abb. 3.13).
Dabei springt die Kondensatorspannung2 von uC (0− ) auf uC (0+ ) = U0 .

i (t)
t=0
U0 uc (0-)

Abb. 3.13. Kondensator, der zum Zeitpunkt t = 0 mit einer idealen Spannungs-
quelle verbunden wird.

Dies geht einher mit einer ebenso sprunghaft stattfindenden Ladungsände-


rung, die von einem diracförmigen Strom begleitet wird [25]

i(t = 0) = C[uC (0+ ) − uC (0− )]δ(t) . (3.149)

Damit kann die allgemeine Spannungs-Strom-Beziehung des Kondensators


abgeleitet werden
 
duC
iC (t) = C + [uC (0+ ) − uC (0− )]δ(t) . (3.150)
dt

Mit der Laplace-Transformation geht Gl. (3.150) über in


2
Anmerkung: Es sei an dieser Stelle ausdrücklich darauf hingewiesen, dass die
Kondensatorspannung und der Spulenstrom im Schaltzeitpunkt (hier t = 0)
nur im theoretischen Grenzfall bei idealen Netzwerkelementen, d. h. nicht ver-
lustbhafteten Kapazitäten bzw. Induktivitäten, und idealen Quellen (ohne In-
nenwiderstand) springen können. In der Praxis kommen diese Fälle jedoch nicht
vor, so dass hierbei nicht zwischen einem rechtsseitigen und linksseitigen Grenz-
wert unterschieden werden muss. Es gilt hier stets uC (0− ) = uC (0+ ) bzw.
iL (0− ) = iL (0+ ). Das Einschließen des o. g. theoretischen Grenzfalles und die
daraus resultierende Unterscheidung zwischen links- und rechtsseitigem Grenz-
wert wird jedoch hier in Anlehnung an die Lehre von Bosse [25] beibehalten,
weil sie aus Sicht des Autors das Übertragen des Netzwerkes vom Zeit- in den
Laplace-Bereich von der Vorstellung her erleichtert. Schließlich verbindet man
mit den Anfangswerten zum Zeitpunkt t = 0− gedanklich stets den Zustand
der Elemente (Kapazität bzw. Induktivität) unmittelbar vor dem Schalten.
Man muss bei der Analyse des Netzwerkes keine Überlegungen mehr anstellen,
was im Schaltzeitpunkt geschieht.
3.9 Einschwingvorgänge in Netzwerken mit linearen Bauelementen 49
 
IC (s) = C sUC (s) − uC (0+ ) + uC (0+ ) − uC (0− ) (3.151)
 
uC (0− )
IC (s) = sC UC (s) − . (3.152)
s

Ein Kondensator im Zeitbereich lässt sich also gemäß Abb. 3.14 in den
Laplace-Bereich transformieren. Die Spannungsquelle im Ersatzschaltbild
repräsentiert die Kondensatorspannung zum Zeitnullpunkt. Es handelt
sich dabei um die Kondensatorspannung unmittelbar vor einem eventuell
zum Zeitnullpunkt stattfindenden Spannungssprung.

I C (s)
iC (t) uc (0-)
s
C u C (t) UC (s)
sC

Abb. 3.14. Transformation eines Kondensators in den Laplace-Bereich [25]

3. Spulengleichung
Die Strom-Spannungs-Beziehung einer Induktivität
diL
uL = L (3.153)
dt
besagt, dass die Spannung uL einen δ-Impuls erfährt, wenn der Spulen-
strom iL und damit der magnetische Fluss in der Spule springt.
Wenn man nun zulässt, dass der Strom zum Zeitnullpunkt t = 0 von
iL (0− ) auf iL (0+ ) springt, so ergibt sich die Spannungs-Strom-Beziehung
in folgender ausführlicher Form [25]
 
diL
uL = L + [iL (0+ ) − iL (0− )]δ(t) . (3.154)
dt

Die Laplace-Transformation dieser Gleichung liefert mit Gl. (3.83)


 
UL (s) = L s · IL (s) − iL (0+ ) + iL (0+ ) − iL (0− ) (3.155)



iL (0 )
UL (s) = sL IL (s) − . (3.156)
s

Die entsprechende Ersatzschaltung wird in Abb. 3.15 gezeigt. Der Spule


mit der Impedanz sL ist eine Gleichstromquelle parallelgeschaltet, die den
im Zeitnullpunkt durch die Spule fließenden Strom repräsentiert und zwar
den Strom unmittelbar vor der eventuellen sprunghaften Änderung.
50 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

iL (t) I L(s)
i L(0-)
s UL(s)
L u L(t) sL

Abb. 3.15. Transformation einer Induktivität in den Laplace-Bereich [25]

Die eben hergeleiteten Ersatzschaltungen für Induktivitäten, Kapazitäten und


ohmsche Widerstände reduzieren sich auf die vereinfachte Form aus der Wech-
selstromrechnung, wenn die Elemente vor dem Schaltzeitpunkt (hier stets
als Zeitnullpunkt angenommen) energiefrei sind, d. h. die Kapazitäten sind
spannungs- und damit ladungsfrei und die Induktivitäten sind strom- bzw.
flussfrei.

Zusammenfassung der Regeln für die Netzwerkanalyse im


Laplace-Bereich

• Alle Zeitgrößen werden für t > 0 durch ihre Laplace-Transformierten er-


setzt
• Für die Impedanz im Laplace-Bereich

U (s)
Z(s) = (3.157)
I(s)
gilt

– ohmscher Widerstand
ZR (s) = R (3.158)
– Induktivität
ZL (s) = sL (3.159)
– Kapazität
1
ZC (s) = . (3.160)
sC
• Die Anfangswerte der Kondensatorspannungen und Spulenströme (Werte
zum Zeitpunkt t = 0− , also unmittelbar vor dem Schalt-Zeitpunkt t = 0)
werden durch zusätzliche Quellen (in Serienschaltung beim Kondensator
bzw. in Parallelschaltung bei der Spule) mit der Quellspannung uC (0− )/s
bzw. dem Quellstrom iL (0− )/s erfasst.
• Die Spannungen und Ströme lassen sich mit den Methoden der Wechsel-
stromrechnung und der linearen Netzwerkanalyse berechnen:
– beim Übergang zur Laplace-Transformation wird der Frequenzterm jω
durch die komplexe Frequenz s ersetzt
3.9 Einschwingvorgänge in Netzwerken mit linearen Bauelementen 51

– die transformierten Spannungen U (s) bzw. Ströme I(s) entsprechen


den komplexen Amplituden der Wechselstromrechnung; allerdings tra-
gen die Laplace-Transformierten die Dimension einer Amplitudendichte
(Einheit V/Hz“ bzw. A/Hz“).
” ”
• Nach dem Lösen der Netzwerkgleichungen im Frequenzbereich werden die
gesuchten Spannungen bzw. Ströme in den Zeitbereich zurücktransfor-
miert.

Beispiel — Analyse eines Serienschwingkreises

Für den in Abb. 3.16 gezeigten Serienschwingkreis (Reihenschwingkreis) ist


der Strom i(t) für t ≥ 0 zu berechnen. Dabei sind sowohl die Spannung u(t)
als auch die Anfangswerte des Spulenstromes iL (0− ) und der Kondensator-
spannung uC (0− ) bekannt.

R L C

i(t)

u(t)
Abb. 3.16. Serienschwingkreis im Zeitbereich

Zur Berechnung wird zunächst das Zeitbereichsersatzschaltbild (Abb. 3.16) in


den Laplace-Bereich transformiert (Abb. 3.17).
Aus dem Ersatzschaltbild des Serienschwingkreises im Laplace-Bereich
kann die Spannung U (s) abgeleitet werden


iL (0− ) I(s) uc (0− )
U (s) = RI(s) + sL I(s) − + + . (3.161)
s sC s

Diese Gleichung wird schließlich nach der gesuchten Größe I(s) aufgelöst

U (s) + LiL (0− ) − uc (0− )/s


I(s) = 1 . (3.162)
R + sL + sC

Wir gehen davon aus, dass die beiden Energiespeicher zum Zeitnullpunkt leer
sind und zu diesem Zeitpunkt eine Gleichspannung mit dem Wert U0 aufge-
schaltet wird
u(t) = ε(t) · U0 (3.163)
iL (0− ) = 0 und uc (0− ) = 0 . (3.164)
Daraus folgt
U0
I(s) = 1 (3.165)
s(R + sL + sC )
52 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

sL
R sC

I(s) uC(0-)
i L (0-) s
s
U(s)

Abb. 3.17. Serienschwingkreis im Laplace-Bereich

bzw.
1 U0
I(s) = · . (3.166)
L s2 + s R
L +
1
LC

Laplace-Rücktransformation einer rationalen Funktion zweiten


Grades

Die Aufgabe, den Strom I(s) nach Gl. (3.166) in den Zeitbereich zurückzu-
transformieren, soll möglichst allgemein formuliert werden. Deshalb wird die
Rücktransformierte folgender rationaler Funktion 2. Grades gesucht
A s+B
F (s) = . (3.167)
s2 + 2 d s + ω02

Diese Funktion hat die beiden Pole s1 und s2



s1 = −d + d2 − ω02 (3.168)

s2 = −d − d2 − ω02 . (3.169)

Für ω02 ≤ d2 liegen die Pole bei reellen und für ω02 > d2 bei komplexwertigen
Frequenzen.
Das mit einer Partialbruchzerlegung eventuell einhergehende Rechnen mit
komplexwertigen Größen lässt sich umgehen, indem man den Nenner von
Gl. (3.166) in eine Summe von Quadraten zerlegt

s2 + 2 d s + ω02 = (s + d)2 + (ω02 − d2 ) . (3.170)

Mit der Hilfsgröße ωd (sie entspricht der Kreisfrequenz, die sich im gedämpften
Schwingkreis einstellt)
ωd2 = ω02 − d2 (3.171)
lässt sich F (s) wie folgt angeben

A(s + d) + B − Ad
F (s) = . (3.172)
(s + d)2 + ωd2
3.9 Einschwingvorgänge in Netzwerken mit linearen Bauelementen 53

Die Anwendung des Verschiebungssatzes (Gl. (3.105)) auf die Beziehungen


s
ε(t) · cos ω0 t ◦−−• (3.173)
s2 + ω02
und
ω0
ε(t) · sin ω0 t ◦−−• (3.174)
s2 + ω02

liefert für ωd2 > 0, also für komplexwertige Pole, die Laplace-Zuordnungen

s+d
•−◦ ε(t) · e−dt cos ωd t
− (3.175)
(s + d)2 + ωd2
ωd
•−◦ ε(t) · e−dt sin ωd t .
− (3.176)
(s + d)2 + ωd2

Unter Zuhilfenahme dieser Zuordnungen kann die zu F (s) gehörige Zeitfunk-


tion f (t) angegeben werden


B − Ad
f (t) = ε(t) · e−dt A cos ωd t + sin ωd t . (3.177)
ωd
Sollten jedoch die Pole im Reellen liegen, so wird anstatt ωd die Hilfsgröße

ωr2 = d2 − ω02 (3.178)

verwendet. Dies führt schließlich mit den Korrespondenzen


s+d
•−◦ ε(t) · e−dt cosh ωr t
− (3.179)
(s + d)2 − ωr2
und
ωr
•−◦ ε(t) · e−dt sinh ωr t
− (3.180)
(s + d)2 − ωr2
zu der entsprechenden Zeitfunktion


−dt B − Ad
f (t) = ε(t) · e A cosh ωr t + sinh ωr t . (3.181)
ωr

Die Lösungen für komplexwertige Pole (Gl. (3.177)) und für reellwertige Pole
(Gl. (3.181)) lassen sich mit der Beziehung

ωd2 = −ωr2 (3.182)

bzw.
ωd = ±jωr (3.183)
ineinander überführen.
54 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

Es ist noch der sog. aperiodische Grenzfall zu behandeln, bei dem die
beiden Polstellen zusammenfallen, d. h. es gilt

s1 = s2 (3.184)
ω02 = d2 (3.185)

und
ωd = ωr = 0 . (3.186)
Die physikalische Deutung von Gl. (3.186) besagt, dass sich in der Sprung-
antwort gerade keine Schwingung mehr einstellt. Zur Berechnung der ent-
sprechenden Zeitfunktion f (t) ist ein Grenzübergang von Gl. (3.177) bzw.
Gl. (3.181) notwendig. Gleichung (3.177) beispielsweise führt mit

sin ωd t
lim =t (3.187)
ωd →0 ωd
zu
f (t) = ε(t) · e−dt [A + (B − Ad)t] . (3.188)

Anwendung auf den Serienschwingkreis

Wenn man nun die eben abgeleiteten Transformationen auf die Laplace-
Gleichung anwendet, die den Strom im Serienschwingkreis beschreibt (Gl.
(3.166)), so folgt mit

R
d= (3.189)
2L
1
ω02 = (3.190)
LC
A=0 (3.191)
2dU0 U0
B= = (3.192)
R L
und


1 R2 C
ωd2 = −ωr2 = 1− (3.193)
LC 4L

der Strom im Serienschwingkreis beim Anlegen eines Gleichspannungssprun-


ges
U0 −dt 2d
i(t) = ε(t) · e sin ωd t , (3.194)
R ωd
wenn die Pole komplexwertig sind, bzw.
3.9 Einschwingvorgänge in Netzwerken mit linearen Bauelementen 55

U0 −dt 2d
i(t) = ε(t) · e sinh ωr t
R ωr
U0 d −dt ωr t
= ε(t) · e (e − e−ωr t )
R ωr
U0 −t/τ1 
= ε(t) · e − e−t/τ2
2ωr L
U0 −(d−ωr )t 
= ε(t) · e − e−(d+ωr )t (3.195)
2ωr L
für reellwertige Pole, d. h. wenn

d2 − ω02 = ωr2 > 0 . (3.196)

Gleichung (3.194) beschreibt eine gedämpfte Sinusschwingung mit der Ab-


klingkonstanten d und der Kreisfrequenz

2
d
ωd = ω0 1 − . (3.197)
ω0

Für verschwindende Dämpfung (d = 0) handelt es sich dabei um eine harmo-


1
nische Schwingung mit der Kreisfrequenz ω0 = √LC .
Abbildung 3.18 zeigt den Stromverlauf für solche Dämpfungswerte, bei de-
nen die Pole konjugiert komplex sind, so dass eine abklingende Schwingung
entsteht. Liegen jedoch die Pole im Reellen, so dass i(t) durch Gl. (3.195)

i(t)
Hüllkurve
U0 U0 - d t ω0
ωd L
e d=
ωd L 4
ω0
d=
2
aperiodischer Grenzfall (d = ω0 )

U0
-
ωd L

Abb. 3.18. Der Stromverlauf des Serienschwingkreises für verschiedene Dämpfungs-


werte sowie für den aperiodischen Grenzfall. Die Polstellen sind konjugiert-komplex.
56 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

beschrieben wird, ergibt sich ein Zeitverlauf gemäß Abb. 3.19. Der zeitliche
Funktionsverlauf errechnet sich aus der Differenz zweier Exponentialfunktio-
nen mit negativen Exponenten. Der aperiodische Grenzfall ω02 = d2 führt zu
U0 Uo −dt
i(t) = ε(t) · 2 d t e−dt = ε(t) · te . (3.198)
R L
In den Abbildungen 3.18 und 3.19 ist dieser Stromverlauf zum Vergleich eben-
falls eingezeichnet.

i(t)
U0 . - t / τ
U0 e 1
2ωr L 3
2ωr L d= ω
2 0
aperiodischer Grenzfall (d = ω0 )

1
τ2 = d+
ωr
1
τ1 = d-ω t
r

U0 . - t / τ
- e 2
2ωr L
U0
-
2ωr L

Abb. 3.19. Vergleich des Stromverlaufs im aperiodischen Grenzfall mit dem Strom-
verlauf bei stärkerer Dämpfung. Die Pole liegen im Reellen. Es bilden sich keine
harmonischen Schwingungen mehr aus.

3.10 Rücktransformation mittels Residuenmethode -


Heavisidescher Entwicklungssatz
Ist die Laplace-Transformierte F (s) als Quotient zweier Polynome gegeben
Z(s)
F (s) = , (3.199)
N (s)
und hat F (s) nur einfache Pole bei s1 · · · sn
Z(s)
F (s) = , (3.200)
(s − s1 )(s − s2 ) · · · (s − sn )
so lässt sich die zu F (s) gehörende Zeitfunktion f (t) nach der sog. Resi-
duenmethode (auch als Heavisidescher Entwicklungssatz bezeichnet)
berechnen [25]
3.10 Heavisidescher Entwicklungssatz 57

n
Z(sν ) sν t 
n
f (t) =  (s )
e = rν esν t . (3.201)
ν=1
N ν ν=1

Dabei stellt N  (sν ) die Ableitung von N (s) nach s an der Stelle sν dar. Für
den Fall, dass N (s) Mehrfachpolstellen enthält, ist die Auswertung nach der
Residuenmethode etwas aufwendiger. Daher soll an dieser Stelle nur auf die
entsprechende Literatur verwiesen werden [25], [45].

Beispiel für die Anwendung des Heavisideschen Entwicklungssatzes

Wir betrachten einen Vierpol (Abb. 3.20) mit folgendem Übertragungsver-


halten

U2 (s) s2 − 2ds + ω02


GAP (s) = = 2 . (3.202)
U1 (s) s + 2ds + ω02
Ein solcher Vierpol wird auch als Allpass bezeichnet, weil er alle Frequen-
zen bezüglich ihren Amplituden gleichermaßen behandelt. Das heißt, für jede
beliebige harmonische Anregung mit jω ergibt sich ein konstanter Betrag der
Übertragungsfunktion von

|U 2 (jω)|
|GAP (jω)| = =1. (3.203)
|U 1 (jω)|

Abb. 3.20. Vierpol mit Allpasscharakter

Nur die Phase bzw. die Laufzeit der Signale wird durch den Allpass beein-
flusst. Dies kann auch anhand der vollkommen symmetrischen Anordnung
der Pole und Nullstellen eines Allpasses in der s-Ebene veranschaulicht wer-
den (Abb. 3.21). Die eingerahmten Pole bzw. Nullstellen entsprechen dem Fall
d2 > ω02 ; die konjugiert-komplexen Paare dem Fall d2 < ω02 . GAP (s) besitzt
Pole bei 
s1,2 = −d± d2 − ω02 . (3.204)
Es sind wiederum die drei Standardfälle

d2 > ω02 (3.205)


d2 < ω02 (3.206)
58 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

j. ω

j . √ω02 - d 2
s1 q1

-d +d

σ = Re {s}

s2 q2
- j . √ω 2 - d 2
0

Abb. 3.21. Pol-Nullstellen-Diagramm (s. S. 62) eines Allpasses. x: Polstellen, o:


Nullstellen, 2 : d2 > ωo2 (s. Gl. (3.202))

und

d2 = ω02 (3.207)

zu unterscheiden.
Die zu GAP (s) gehörende Zeitfunktion gAP (t) wird als Impulsantwort des
Vierpols bezeichnet (s. auch Kap. 3.11). Sie lässt sich nach der Residuen-
methode erst berechnen, wenn wir eine Polynomdivision vornehmen. Damit
wird sichergestellt, dass der Grad des Zählerpolynoms kleiner ist als der des
Nennerpolynoms

s2 − 2ds + ω02 4ds


GAP (s) = =1− 2 (3.208)
s2 + 2ds + ω02 s + 2ds + ω02
GAP (s) = 1 + G∗AP (s) . (3.209)

Wir wollen nun GAP (s) mit Hilfe der Residuenmethode zurück in den Zeitbe-
reich transformieren

gAP (t) = δ(t) + gAP (t) = δ(t) + r1 · es1 t + r2 · es2 t . (3.210)

Für die beiden Residuen von G∗AP (s) ergibt sich

Z(s1 ) −2ds1
r1 = = (3.211)
N  (s1 ) s1 + d
und
Z(s2 ) −2ds2
r2 = = . (3.212)
N  (s2 ) s2 + d
3.10 Heavisidescher Entwicklungssatz 59

Mit Gl. (3.204) folgt 


2d(d − d2 − ω02 )
r1 =  (3.213)
d2 − ω02
bzw. 
−2d(d + d2 − ω02 )
r2 =  . (3.214)
d2 − ω02
Mit der Hilfsgröße 
ωr = d2 − ω02 (3.215)
und Gl. (3.201) erhält man

gAP (t) = r1 e−dt eωr t + r2 e−dt e−ωr t . (3.216)

Schließlich ergibt sich mit Gl. (3.209) die Impulsantwort

gAP (t) = δ(t) + e−dt (r1 eωr t + r2 e−ωr t ) . (3.217)

Nun sind wiederum die drei bekannten Fallunterscheidungen zu treffen:


1. d2 > ω02 :
Es ergeben sich reelle Werte für r1 , r2 und ωr .

2. d2 < ω02 :
Es ergeben sich konjugiert-komplexe Werte r1 und r2 sowie ein rein ima-
ginärer Wert ωr . Mit der Beziehung ωd2 = −ωr2 (Gl. (3.182)) folgt


−2d(−d ± jωd ) d
r 1,2 = = −2d 1 ± j (3.218)
±jωd ωd

gAP (t) = r1 es1 t + r2 es2 t



d d
= −2d e−dt 1 + j ejωd t + 1 − j e−jωd t
ωd ωd
 
 d  jωd t
= −2d e−dt ejωd t + e−jωd t + j e − e−jωd t
ωd


d
gAP (t) = δ(t) − 4de−dt cos ωd t − sin ωd t . (3.219)
ωd

3. d2 = ω02 (aperiodischer Grenzfall):


Mit Anwendung der Regel von L’Hospital folgt

gAP (t) = δ(t) − 4de−dt (1 − d t) . (3.220)

Abbildung 3.22 zeigt die Impulsantworten des betrachteten Allpasses für ver-
schiedene Werte von d bezüglich ω0 .
60 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten
2
g (t) 2 2 d = ω2
d <ω 0
AP 0
1

2
d > ω2
0

-4d

Abb. 3.22. Impulsantwort des Allpasses für verschiedene Werte von d

3.11 Vierpol-Übertragungsfunktion im Zeit- und


Frequenzbereich
Wir gehen von einem Vierpol (Abb. 3.23) aus, der aus passiven linearen kon-
zentrierten Netzwerkelementen aufgebaut ist. Der Zusammenhang zwischen
dem zeitlichen Verlauf des Ausgangssignals y(t) und der zeitabhängigen Ein-
gangsgröße x(t) wird über das Faltungsintegral hergestellt
 +∞  +∞
y(t) = x(t) ∗ g(t) = x(τ )g(t − τ )dτ = x(t − τ )g(τ )dτ . (3.221)
−∞ −∞

Da wir kausale Systeme voraussetzen, deren Impulsantwort g(t) für t < 0


verschwindet, und auch die Anregungsfunktion für t < 0 zu Null angenommen
werden darf, kann die untere Grenze des Faltungsintegrals (−∞) durch 0“

und die obere Grenze (+∞) durch t“ ersetzt werden

 t  t
y(t) = x(τ )g(t − τ )dτ = x(t − τ )g(τ )dτ . (3.222)
0 0

Dabei bezeichnet g(t) die sog. Impulsantwort oder Gewichtsfunktion.


Man erhält sie als Ausgangssignal für den Fall, dass die Erregung am Ein-

x (t) g (t) y (t)

Abb. 3.23. Ein Vierpol kann durch seine Impulsantwort g(t) charakterisiert werden
3.11 Vierpol-Übertragungsfunktion im Zeit- und Frequenzbereich 61

gang ein Dirac-Impuls δ(t) ist, d. h. (Abb. 3.24)

y(t) = g(t) für x(t) = δ(t) . (3.223)

Im Laplace-Bereich vereinfacht sich das Faltungsintegral gemäß Kap. 3.5.4 zu


einer Multiplikation der entsprechenden Laplace-Transformierten der an der
Faltung beteiligten Funktionen, d. h.

y(t) = L−1 {Y (s)} = L−1 {G(s) · X(s)} . (3.224)

Dabei wird G(s) als Laplace-Übertragungsfunktion (auch Netzwerk-


übertragungsfunktion) des Systems bzw. Vierpols bezeichnet. Im Folgen-
den sollen die Eigenschaften und die Darstellungsmöglichkeiten dieser Über-
tragungsfunktion G(s) und der dazugehörigen Zeitfunktion g(t) (Impulsant-
wort) näher betrachtet werden.

Dirac-Stoß lineares Netzwerk Impulsantwort

x(t) δ (t) x(t) y(t) y(t)


Impulsant-
wort g(t) g(t)

t=0 t t
Abb. 3.24. Anregung eines linearen Systems durch einen Dirac-Stoß

Es kann gezeigt werden, dass G(s) für ein lineares passives Netzwerk aus
konzentrierten Elementen als Quotient zweier Polynome darstellbar ist

Z(s)
G(s) = . (3.225)
N (s)

Da G(s) gleichermaßen auch als Quotient von Laplace-Ausgangsfunktion Y (s)


zu Laplace-Eingangsfunktion X(s) dargestellt werden kann

Y (s)
G(s) = , (3.226)
X(s)

sind die Koeffizienten der Polynome Z(s) und N (s) reell und identisch mit
den Koeffizienten der Differentialgleichung (Gl. (5.69)), die den Zusammen-
hang zwischen y(t) und x(t) für t > 0 beschreibt. Aus diesem Grund liegen die
Nullstellen der Polynome Z(s) und N (s) bei reellen, bei paarweise entgegen-
gesetzt gleichen imaginären oder bei paarweise konjugiert komplexen Werten.
Die Pole sν von G(s), d. h. also die Nullstellen des Nennerpolynoms N (s),
werden auch als Eigenwerte des Netzwerkes bezeichnet. Liegen diese Pole
in der linken Laplace-Halbebene (σν < 0), dann gilt das Netzwerk als stabil,
weil keine aufklingenden Schwingungen auftreten können. Dies liegt daran,
dass die Pole bzw. Eigenwerte sν die Exponenten der in der Impulsantwort
62 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

auftretenden Schwingungen in der Form esν t festlegen. Bei Netzwerken, die


nur aus passiven Elementen bestehen, liegen die Pole immer in der abgeschlos-
senen linken Halbebene. Die Nullstellen qμ des Zählerpolynoms Z(s) hingegen
sind bzgl. ihrer Lage nicht auf die linke s-Halbebene beschränkt.
Zur anschaulichen Darstellung von Übertragungsfunktionen verwendet
man des öfteren sog. Pol-Nullstellen-Diagramme. Abbildung 3.25 zeigt
die Pol-Nullstellenverteilung einer Übertragungsfunktion vom Grad n = 3,
d. h. sie weist drei Pole auf,
(s − q1 )(s − q2 )
G(s) = const. · . (3.227)
(s − s1 )(s − s2 )(s − s3 )
Die Pole sind im Diagramm mit Kreuzen (x) und die Nullstellen mit Rin-
gen (o) gekennzeichnet. Das Pol-Nullstellen-Diagramm lässt das Übertra-
gungsverhalten des Vierpols, das ja durch G(s) mathematisch beschrieben
wird, für beliebige s, insbesondere auch für s = jω, d. h. also für ungedämpfte
harmonische Schwingungen, unmittelbar erkennen. Wenn nämlich das lineare
Netzwerk eine rein harmonische Anregung der Form
x(t) = Re{X̂(ω)ejωt } = Re{X̂(ω)ejϕx (ω) ejωt } (3.228)
erfährt, führt dies im eingeschwungenen Zustand bei einem linearen Vierpol
stets zu einem Antwortsignal y(t) mit derselben Frequenz aber veränderter
Amplitude und Phasenlage
y(t) = Re{Ŷ (ω)ejωt } = Re{Ŷ (ω)ejϕy (ω) ejωt } , (3.229)
wobei |X̂| = X̂ und |Ŷ | = Ŷ gilt. Die Übertragungsfunktion G(jω) des linearen
Systems ist dann folgendermaßen definiert

j. ω

s1

s3 q1 q2
σ = Re {s}

s2

Abb. 3.25. Pol-Nullstellen-Diagramm einer Übertragungsfunktion mit 2 Nullstellen


(o) und 3 Polen (x)
3.11 Vierpol-Übertragungsfunktion im Zeit- und Frequenzbereich 63

Ŷ (ω) Ŷ (ω)
G(jω) = = ej(ϕy −ϕx ) = |G(jω)|ejϕ(ω) . (3.230)
X̂(ω) X̂(ω)

Die komplexe Übertragungsfunktion G(jω) lässt sich aufspalten in den Be-


tragsgang |G(jω)| und den dazugehörigen Phasengang arg{G(jω)} = ϕ(ω).
Für den Sonderfall s = jω beschreibt also diese Übertragungsfunktion das
Netzwerkverhalten für den stationären harmonischen Betrieb bei der Kreis-
frequenz ω. Der Funktionsverlauf G(jω) wird als Frequenzgang bezeichnet.
Er ist komplexwertig und wird daher oft in den Amplitudengang und den
Phasengang aufgespalten.
Amplitudengang: |G(jω)|
Phasengang: arg{G(jω)}
Wir wollen zunächst den Amplitudengang betrachten
|jω − q1 ||jω − q2 |
|G(jω)| = |const.| · . (3.231)
|jω − s1 ||jω − s2 ||jω − s3 |
Die einzelnen Betragskomponenten in dieser Gleichung entsprechen den Di-
stanzen des beliebig variierbaren Aufpunktes jω zu den einzelnen Pol- und
Nullstellen sν bzw. qμ . Das Verhältnis dieser Beträge charakterisiert den Am-
plitudengang. Es lässt sich direkt aus dem Pol-Nullstellen-Diagramm ermit-
teln (Abb. 3.26). Es verdeutlicht auch, wie sich |G(jω)| bei Annäherung an
eine Polstelle vergrößert und bei Annäherung an eine Nullstelle verkleinert.
Der Phasenwinkel von G(jω) lässt sich ebenfalls aus dem Diagramm bestim-
men

j. ω

s1 jω − s 1
ϕP1 frei variierbares ω
jω − s 3 s = jω
jω − q = √ω 2 + q 2
jω − q1 2 2

ϕP3 ϕN1
ϕN2

s3 q1 q2 σ = Re {s}
jω − s2
= √s 2+ (s + ω  2 ϕ
P2
2R 2I
s2

Abb. 3.26. Bestimmung von Betrag und Phase einer Übertragungsfunktion anhand
der Einzelbeiträge aller Nullstellen und Pole
64 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

) G(jω) = ϕN1 + ϕN2 − ϕP1 − ϕP2 − ϕP3 .


< (3.232)
Allgemein kann man feststellen, dass in der linken Halbebene liegende Pole
sowie die in der rechten Halbebene liegende Nullstellen mit wachsendem ω den
Phasenwinkel verringern, während ihn die Nullstellen in der linken Halbebene
erhöhen. Nullstellen auf der imaginären Achse liefern einen Winkel von ±π/2,
der beim Überschreiten einer Nullstelle um π springt.
Der kleinstmögliche Winkelbeitrag ergibt sich, wenn alle Nullstellen von
G(s) in der linken Halbebene liegen. Übertragungsnetzwerke mit dieser Ei-
genschaft bezeichnet man als Minimalphasensysteme. Sobald Nullstellen
in der rechten Halbebene auftreten, enthält das Übertragungsnetzwerk einen
Allpassanteil (s. auch Kap. 3.10).

3.12 Beschreibung von linearen zeitinvarianten


Netzwerken durch ihre Sprungantwort
Die Antwort y(t) eines vom Ruhezustand aus mit der Sprungfunktion ε(t)

0 für t < 0
ε(t) = (3.233)
1 für t ≥ 0

angeregten Netzwerkes wird Sprungantwort h(t) oder auch Übergangsfunktion


genannt (Abb. 3.27). Sie charakterisiert das Netzwerk ebenso vollständig wie
die Impulsantwort g(t). Der Zusammenhang zwischen Sprungantwort h(t) und
Impulsantwort g(t) lässt sich leicht herleiten
 t
h(t) = g(τ )dτ . (3.234)
0

Sprunganregung Sprungantwort
x(t) x(t) y(t) y(t) h(t)
Lineares
Netzwerk
t=0 t t
Abb. 3.27. Anregung eines linearen Netzwerkes durch einen Sprung
3.13 Bode-Diagramme 65

3.13 Bode-Diagramme

Wir betrachten die Übertragungsfunktion G(s) eines zeitinvarianten linearen


Netzwerkes. Diese lässt sich gemäß Gl. (3.227) durch eine gebrochen rationale
Funktion der Form
(s − q1 )(s − q2 ) · · · (s − qn )
G(s) = (3.235)
(s − s1 )(s − s2 ) · · · (s − sm )

darstellen. Für den Spezialfall s = jω folgt die Übertragungsfunktion G(jω)

(jω − q1 )(jω − q2 ) · · · (jω − qn )


G(jω) = . (3.236)
(jω − s1 )(jω − s2 ) · · · (jω − sm )

Als erstes Beispiel wollen wir die einfache Übertragungsfunktion


10
G(jω) = (3.237)
jω + 10

betrachten. Abbildung 3.283 zeigt den im linearen Maßstab gezeichneten Am-


plitudengang.

G(jω)

1 10
G (s) =
s + 10

ω
100 200 300

10
Abb. 3.28. Amplitudengang der Übertragungsfunktion G(s) = s+10
in linearer
Darstellung

In der Praxis ist es jedoch üblich, solche Amplitudengänge in doppelt logarith-


mischer Form aufzutragen. Dazu wird |G(jω)| logarithmiert4 , mit 20 multi-
pliziert und in der Einheit Dezibel dB dargestellt (Abb. 3.29)
3
Die Einheitenbezeichnung der Frequenzachse wird hier wie in den folgenden Dia-
grammen weggelassen, da es sich hierbei um abstrakte Beispiele ohne konkreten
Bezug zu realen Systemen handelt.
4
Der hier verwendete Logarithmus mit der Basis 10 (Zehnerlogarithmus) wird in
diesem Buch stets mit lg“ bezeichnet.

66 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

G(jω)
0
dB 10
G (s) =
-10 s + 10

-20

-30

0,1 1 10 100 1000 ω

Abb. 3.29. Amplitudengang in doppelt logarithmischer Darstellung (sowohl die


Abszisse als auch die Ordinate ist logarithmisch unterteilt)

|G(jω)| = 20 · lg |G(jω)| dB . (3.238)

Die graphische Darstellung des Phasenganges

ϕ(jω) = arg{G(jω)} (3.239)

erfolgt in aller Regel einfachlogarithmisch, d. h. man trägt ϕ linear und ω lo-


garithmisch auf. Abbildung 3.30 zeigt den Phasengang der oben betrachteten
Übertragungsfunktion (Gl. (3.237)). Man bezeichnet diese Darstellungen als
Bode-Diagramm.
Solange die Pole und Nullstellen der Übertragungsfunktion im Pol-Nullstel-
len-Diagramm auf der negativen reellen Achse liegen, können die Asymptoten

arg{G(jω)}

10
G (s) =
s + 10
-45°

-90°
0,1 1 10 100 1000 ω

10
Abb. 3.30. Phasengang von G(s) = s+10
3.13 Bode-Diagramme 67

der Diagrammverläufe nach einem einfachen Schema festgelegt werden. Dazu


betrachten wir wiederum beispielhaft die Funktion
10
G(s) = , (3.240)
s + 10
die einen Pol bei s1 = −10 hat.
Eine einfache Analyse der Situation führt zu Tab. 3.3 und dem in den
Abbn. 3.31 und 3.32 dargestellten asymptotischen Verhalten.

10
Tabelle 3.3. Analyse der Übertragungsfunktion G(s) = s+10

ω G(jω) 20 · lg |G(jω)| dB Phase

ω=0 1 0 dB 0o

ω < 0, 1|s1 | 1 0 dB ≈ 0o

ω < |s1 | ≈1 0 dB

ω = |s1 | 10
js1 +10
- 3 dB −45o

ω > |s1 | ≈ 10

- 20 dB/Dekade

ω > 10|s1 | ≈ 10

- 20 dB/Dekade ≈ −90o

G(jω) approximierter
0 exakter Verlauf
-3
-10
10
dB G (s) =
s + 10
-20

-30

0,1 1 10 100 1000 ω

Abb. 3.31. Mit Hilfe von Asymptoten bestimmter Amplitudengang von


10
G(s) = s+10
68 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

arg{G(jω)}

-6°
exakter Verlauf

10
-45° G (s) =
s + 10

-84°
-90°

0,1 1 10 100 1000 ω

10
Abb. 3.32. Mit Hilfslinien angenäherter Phasengang von G(s) = s+10

Hat die Übertragungsfunktion statt des Pols eine entsprechende Nullstelle bei
s = q1 , kehrt sich das Diagramm um (Abbn. 3.33 und 3.34).

G(jω)
50
dB
40
G (s) = s + 10
30
exakter Verlauf
23
20

0,1 1 10 100 1000 ω

Abb. 3.33. Mit Asymptoten angenäherter Amplitudengang von G(s) = s + 10


3.13 Bode-Diagramme 69

arg{G(jω)}
+90°
+84°

G (s) = s + 10

+45°

+6° exakter Verlauf


0,1 1 10 100 1000 ω

Abb. 3.34. Vergleich des exakt berechneten sowie des mit Hilfslinien angenäherten
Phasenganges der Übertragungsfunktion G(s) = s + 10

3.13.1 Regeln für Bode-Diagramme (reelle Pole und Nullstellen)

Für den Fall, dass die Übertragungsfunktion mehrere reelle Pole und Null-
stellen enthält, geht man folgendermaßen vor: Man zerlegt die Übertra-
gungsfunktion multiplikativ in Systeme 1. Ordnung und addiert dann den
logarithmisch dargestellten Amplitudengang sowie die linear dargestellte Pha-
se. Unter der Bedingung, dass sich alle Pole und Nullstellen auf der negativen
reellen Achse des Pol-Nullstellen-Diagramms befinden und der gegenseitige
Abstand genügend groß ist, lassen sich Regeln definieren, die das Abschätzen
der Amplituden- und Phasenverläufe erleichtern [66], [151]:

Amplitudengang

1. Lage und Vielfachheit von Polen und Nullstellen bestimmen


2. Achsen zeichnen und Eckfrequenzen eintragen
3. Bei ω → 0 beginnen:
a) weder Pol noch Nullstelle bei s = 0: Steigung 0 dB/Dekade
b) pro Pol bei s = 0: Steigung -20 dB/Dekade
c) pro Nullstelle bei s = 0: Steigung +20 dB/Dekade
4. Gerade Linie bis zur nächsten Eckfrequenz
5. Für jeden Pol Steigung um 20 dB/Dekade verringern, für jede Nullstelle
Steigung um 20 dB/Dekade erhöhen. Punkte 4 und 5 so lange wiederholen,
bis alle Eckfrequenzen abgearbeitet sind
6. Beschriftung der vertikalen Achse durch Ausrechnen von |G(jω)| in einem
waagrechten Bereich des Bode-Diagrammes.
7. Ecken um 3 dB pro Pol bzw. Nullstelle abrunden
70 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

Phasengang

1. Achsen zeichnen und Eckfrequenzen eintragen


2. Bei ω → 0 beginnen:
a) weder Pol noch Nullstelle bei s = 0: Phase 0◦
b) pro Pol bei s = 0: Phase −90◦
c) pro Nullstelle bei s = 0: Phase +90◦
d) Ein negativer reeller Vorfaktor bewirkt einen Phasenoffset von 180◦ .
3. Gerade Linie bis 0, 1× nächste Eckfrequenz
4. Jeder Pol subtrahiert 90◦ , jede Nullstelle addiert 90◦ über einen Bereich
von 0, 1× Eckfrequenz bis 10× Eckfrequenz verteilt. Auf diese Art alle
Eckfrequenzen abarbeiten
5. Phasenskizze glätten, so dass arctan-Verläufe entstehen. Abrundungen ca.
6◦ pro Pol bzw. Nullstelle bei 0, 1× Eckfrequenz und 10× Eckfrequenz

Beispiel: Bode-Diagramm mit reeller Pol-Nullstellenverteilung

Betrachten wir folgende Laplace-Übertragungsfunktion


s + 1000
G(s) = . (3.241)
(s + 10)2

Es befinden sich weder Pole noch Nullstellen bei s = 0, daher ergibt sich
bei ω → 0 für den Amplitudengang |G(jω)| = 20 dB und eine Steigung von
0 dB sowie für den Phasengang arg{G(jω)} = 0. Bei s = −10 befindet sich ein
doppelter Pol, daher fällt der Amplitudengang ab ω = 10 mit −40 dB/Dekade
ab und die Phase verringert sich auf −180◦ über einen Bereich von ω = 1 bis
ω = 100 verteilt. Die Nullstelle bei s = −1000 führt dazu, dass die Steigung
des Amplitudenganges sich ab ω = 1000 auf −20 dB/Dekade erhöht und die
Phase auf −90◦ ansteigt. Die Abbildung 3.35 zeigt die approximierten sowie
die exakten Verläufe.
3.13 Bode-Diagramme 71

G(jω)
20
17 s + 1000
14 G (s) = 2
10 (s + 10)
dB

0,1 1 10 100 1000 10000 ω

-20

-40

exakter Verlauf
-60

arg{G(jω)}

0,1 1 10 100 1000 10000 ω

-45° exakter Verlauf


s + 1000
G (s) = 2
(s + 10)
-90°

-135°

-180°
Abb. 3.35. Approximierter und exakt berechneter Amplituden- und Phasengang
72 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

3.13.2 Regeln für Bode-Diagramme mit komplexen Polpaaren

Wenn die Übertragungsfunktion ein komplexes Polpaar aufweist, bedeutet


dies, dass ein schwingungsfähiges System beschrieben wird, z. B. ein Reso-
nanzkreis. Man hat zwei Fälle zu unterscheiden (Abb. 3.36):

j. ω

schwach gedämpft

σ = Re {s}

stark gedämpft

Abb. 3.36. Konjugiert-komplexe Polstellen für schwach gedämpftes sowie stark


gedämpftes System

schwach gedämpftes System

Ob eine schwache oder eine starke Dämpfung vorliegt, lässt sich an der Lage
der Doppelpolstelle ablesen. Gilt für den Betrag des Imaginärteils |Im(si )|
|Re(si )|, so herrscht schwache Dämpfung vor, was dazu führt, dass es im Am-
plitudengang zu einer deutlichen Resonanzüberhöhung kommt.
Für Frequenzen weit oberhalb der Eckfrequenz fällt der Amplituden-
gang mit 40 dB/Dekade aufgrund des doppelten Pols. Ferner findet die Reso-
nanzüberhöhung bei ω ≈ |Im (si )| statt, d.h. in der Nähe des Imaginärteils des
Pols. Diese ist umso ausgeprägter, je näher der Pol an der imaginären Achse
liegt. Näher“ heißt, dass der Winkel zwischen der Verbindungsgeraden (Pol

- Nullpunkt) und der imaginären Achse kleiner ist. Die Phase fällt an dieser
Stelle wegen des doppelten Pols nahezu sprunghaft um 180◦ ab. Die Nähe der
Pole zur imaginären Achse ist ein Maß für die Steilheit dieses Phasensprungs.
3.13 Bode-Diagramme 73

stark gedämpftes System

Bei stark gedämpften Systemen ist der Realteil der konjugiert-komplexen Pol-
stelle wesentlich größer als der Imaginärteil. Es gilt |Im(si )| |Re(si )|. Auch
hier fällt der Amplitudengang mit 40 dB/Dekade für Frequenzen oberhalb der
Eckfrequenz ab. Die Überhöhung im Amplitudengang infolge Resonanz geht
allerdings immer mehr zurück und verschwindet für den Grenzfall, dass die
konjugiert-komplexe Polstelle in einen Doppelpol übergeht. In diesem Grenz-
fall zeigt der Amplitudengang den bereits oben diskutierten 6 dB-Abfall bei
der Eckfrequenz ω ≈ |Re(si )|.

Systeme mit mittlerer Dämpfung

Für Fälle, die zwischen den o. g. Extrema (|Im(si )| |Re(si )| und |Im(si )|
|Re(si )|) liegen, gelten folgende Regeln:
1. Ein Überschwingen tritt auf, sobald der Imaginärteil der Polstelle größer
wird als der Realteil, d. h. für |Re(si )| < |Im(si )|.
2. Die Eckfrequenz ω ergibt sich aus dem Betrag der Polstelle

ω = Re(si )2 + Im(si )2 . (3.242)

3. Das Maximum der Überschwingungsamplitude liegt zwischen der Fre-


quenz ω = 0 und der Eckfrequenz aus Pkt. 2.

Beispiele: Bode-Diagramme für komplexe Polpaare

Im Folgenden wollen wir zwei Beispiele diskutieren. Zunächst betrachten wir


die Übertragungsfunktion
1
G(s) = . (3.243)
s2 + 0, 4s + 1, 04

Sie besitzt lediglich ein komplexes Polpaar bei s1,2 = −0, 2 ± j. Daraus
folgt, dass für kleine ω die Phase gleich Null ist. Außerdem erhält man für
ω → 0 einen waagrechten Amplitudenverlauf mit |G(jω)| ≈ 0 dB. Das Pol-
paar führt zu einer deutlichen Resonanzüberhöhung an der Stelle ω ≈ 1; für
höhere Frequenzen lässt sich der Amplitudenverlauf durch eine Gerade mit
−40 dB/Dekade Steigung annähern. Die Phase fällt bei ω ≈ 1 um −180◦ ab
(Abb. 3.37). Um den Einfluss der Pol-Nullstellenkonfiguration auf das Über-
tragungsverhalten eines Netzwerkes zu verdeutlichen, betrachten wir die Über-
tragungsfunktion

s(s + 100)2 (s + 104 )


G(s) = . (3.244)
(s + 0, 2 + j)(s + 0, 2 − j)(s + 20 + 1000j)(s + 20 − 1000j)
74 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

G(jω)
20
17
10

dB
0,01 0,1 1 10 100 1000 ω

-20
1
G (s) =
s2 + 0,4s + 1,04

-40

-60

arg{G(jω)}

0,01 0,1 1 10 100 1000 ω

-45°
1
G (s) =
s2 + 0,4s + 1,04

-90°

-135°

-180°
Abb. 3.37. Amplituden- und Phasengang mit einer Resonanzüberhöhung bei ω ≈ 1
3.13 Bode-Diagramme 75

j. ω

s5

s2
s1
s7 s4 σ = Re {s}
s3

s6

Abb. 3.38. Pol(x)-Nullstellen(o)-Diagramm der Übertragungsfunktion nach


Gl. (3.244)

Diese Darstellung lässt die Lage der Pole und Nullstellen sofort erkennen
(Abb. 3.38). Die Nullstelle bei s1 = 0 führt dazu, dass die Amplitude für kleine
ω mit 20 dB/Dekade ansteigt (Abb. 3.39). Die erste Resonanzüberhöhung wird
durch das komplexe Polpaar s2,3 = −0, 2 ± j verursacht und befindet sich bei
ω ≈ 1. Hier ändert sich die Steigung um −40 dB/Dekade auf −20 dB/Dekade.
Als nächstes folgt eine doppelte Nullstelle auf der reellen Achse bei s4 =
−100. Daher ändert sich die Steigung bei ω = 100 um +40 dB/Dekade auf
+20 dB/Dekade. Wegen des komplexen Polpaares s5,6 = −20±1000j kommt es
bei ω ≈ 1000 abermals zu einer Resonanzüberhöhung. Die Steigung des Am-
plitudenganges ändert sich um −40 dB/Dekade auf −20 dB/Dekade. Schließ-
lich gilt es noch die Nullstelle s7 = −104 zu beachten, welche dazu führt, dass
sich die Steigung bei ω = 104 um +20 dB/Dekade auf 0 dB/Dekade erhöht.
Beim Vergleich des approximierten Amplitudenganges (Abb. 3.39) mit der
exakten Lösung fällt auf, dass die zweite Resonanz wesentlich stärker ausge-
prägt ist als die erste. Dies ist darauf zurückzuführen, dass das Polpaar s5,6
näher an der imaginären Achse liegt als das Polpaar s2,3 . Näher“ heißt, dass

der Winkel der Pole mit der imaginären Achse kleiner ist. Abschließend muss
noch die vertikale Achse beschriftet werden. Hierzu benutzt man die Tatsache,
dass der Amplitudenverlauf für ω → ∞ waagrecht ist und dass die Amplitude
dort 0 dB beträgt (limω→∞ |G(jω)| = 1). Für die Phase bei kleinen Frequen-
zen erhält man wegen der Nullstelle bei s1 = 0 den Wert +90◦. Beim ersten
komplexen Polpaar ändert sich die Phase um −180◦ auf −90◦ . Die doppel-
te Nullstelle bei s4 = −100 führt zu einem Anstieg um 180◦ auf (ungefähr)
zwei Dekaden verteilt. Das zweite komplexe Polpaar verursacht wiederum eine
Phasenänderung um −180◦. Schließlich bleibt noch die Nullstelle s7 = −104
76 3 Ausgleichsvorgänge, Frequenz-Transformation und Übertragungsverhalten

G(jω) s (s + 100)2 (s + 104 )


60 G (s) =
(s + 0,2 + j) (s + 0,2 - j) (s + 20 + 1000j) (s + 20 - 1000j)
dB

40

20 exakter
Verlauf
approximierter

0
0,1 1 10 100 1000 10000 ω

4
arg{G(jω)} s (s + 100)2 (s + 10 )
G (s) =
(s + 0,2 + j) (s + 0,2 - j) (s + 20 + 1000j) (s + 20 - 1000j)
+90°

exakter
Verlauf
+45° approximierter


0,1 1 10 100 1000 10000 ω

-45°

-90°
Abb. 3.39. Amplituden- und Phasengang mit zwei Resonanzüberhöhungen bei
ω ≈ 1 und ω ≈ 1000

wodurch die Phase auf 0◦ zurückgeht. Betrachtet man den exakten Phasenver-
lauf in Abb. 3.39, so erkennt man, dass sich hier die stärkere zweite Resonanz
in einem deutlich steileren Phasenübergang auswirkt.
4
Nichtlineare elektrische Bauelemente,
Schaltungen und Systeme

Im Gegensatz zu den vereinfachenden Annahmen, dass die in den betrachte-


ten elektrischen Netzwerken enthaltenen Bauelemente zeitinvariant, d.h. keine
Funktion der Zeit darstellen, und linear sind, d. h. keine Abhängigkeiten der
Widerstands-, Kapazitäts- und Induktivitätswerte von den angelegten Span-
nungen bzw. den durch sie fließenden Strömen vorhanden sind, wollen wir in
diesem Kapitel gerade diese Abhängigkeiten zulassen. Wir sprechen in diesem
Fall allgemein von zeitvarianten
R, L, C = f (t) (4.1)
bzw. nichtlinearen
R, L, C = f (u, i) (4.2)
Bauelementen und Netzwerken. Sie stellen eine Verallgemeinerung der linearen
Bauelemente und Netzwerke dar.

4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C)


4.1.1 Vorbemerkungen
Nichtlineare Bauelemente werden im Allgemeinen durch ihre Kennlinien be-
schrieben. Kennlinien können als geschlossene analytische Ausdrücke, in Form
von Tabellen oder als gemessene Kurven vorliegen. Bei einem Widerstand
spricht man von einer Strom-Spannungs-Kennlinie, bei einer Induktivität
von einer Fluss-Strom-Kennlinie und bei einer Kapazität von einer Ladungs-
Spannungs-Kennlinie. Ist der Kennliniengraph punktsymmetrisch zum Ur-
sprung, so bezeichnet man diesen als bilaterale Kennlinie. Kennlinien, die
bei sehr langsam veränderlichen oder zeitlich konstanten anregenden Größen
aufgenommen werden, heißen statische Kennlinien.
Bei linearen Elementen und sinusförmiger Anregung kann eine Kennlinie,
welche die Momentanwerte von Strom√ und Spannung beschreibt, durch ein-
fache Skalierung mit dem Faktor 2 auf beiden Achsen gemäß

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_4
78 4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

Û Iˆ
Ueff = √ und Ieff = √ (4.3)
2 2
in eine Kennlinie zur Beschreibung der Effektivwerte umgewandelt werden,
wobei Û und Iˆ die Scheitelwerte von Spannung bzw. Strom bezeichnen.
Bei Bauelementen mit nichtlinearer Kennlinie besteht natürlich keine li-
neare Beziehung mehr zwischen Strom und Spannung. Bei Anlegen einer si-
nusförmigen Wechselspannung an ein nichtlineares Element ist der Strom nicht
mehr sinusförmig. Er enthält neben der Grundfrequenz noch höhere Harmo-
nische. Der Effektivwert bestimmt sich dann zu


1 T 2
Ieff = i (t) dt . (4.4)
T 0

Aus diesem Grunde gehen Momentanwert- und Effektivwertkennlinie nicht


mehr einfach durch Maßstabsänderung auseinander hervor. Der Unterschied
zwischen beiden Kurven ist aber im Allgemeinen gering, da sich bei der Bil-
dung des Effektivwertes die Oberwellen quadratisch zur Grundwelle addieren
und deren Amplituden (im Vergleich zur Grundwelle) mit der Ordnungszahl
der Harmonischen abnehmen.

4.1.2 Nichtlinearer Widerstand

Das Schaltsymbol für einen nichtlinearen Widerstand ist in Abb. 4.1 gezeigt.
Man unterscheidet zwischen stromgesteuerten Widerständen, die in
der Form
u = R(i) i (4.5)
und spannungsgesteuerten Widerständen, die in der Form

i = G(u) u (4.6)

dargestellt werden. Im zeitvarianten Fall tritt zu der jeweiligen Abhängigkeit


noch die der Zeit t hinzu.

u
Abb. 4.1. Schaltsymbol für nichtlinearen Widerstand

In Abb. 4.2 ist exemplarisch eine Strom-Spannungs-Kennlinie eines nichtlinea-


ren (stromgesteuerten) Widerstandes gezeigt. An dieser Kennlinie sind nun
allgemein zwei verschiedene Größen zur Beschreibung des Bauteils definiert.
Betrachtet man einen speziellen Arbeitspunkt (u0 , i0 ), so wird die Steigung
der Ursprungsgeraden durch diesen Punkt als statischer Widerstand
4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C) 79

R s (i 0) R(i 0)
u
u0

a)
i0 i

R s (i)

R(i)
b)
i
Abb. 4.2. a) Strom-Spannungs-Kennlinie eines nichtlinearen ohmschen Widerstan-
des mit Ursprungsgerade und Tangente im Arbeitspunkt (u0 , i0 ), b) statischer RS
und differentieller Widerstand R

u0
Rs (i0 ) = (4.7)
i0
bezeichnet (Abb. 4.2). Er ist eine Funktion des Arbeitspunktes. Die Steigung
der Tangente an die Kurve im Arbeitspunkt (i0 ) hingegen entspricht dem
differentiellen Widerstand

du 
R(i0 ) = . (4.8)
di i=i0

Neben der Betrachtung der (statischen) Kennlinie des nichtlinearen Bauele-


ments ist auch dessen Zeitverhalten von grundlegender Wichtigkeit. So rea-
giert ein reales nichtlineares Bauelement, je nach zugrundeliegendem physika-
lischem Mechanismus, der für die Nichtlinearität verantwortlich ist, nicht so-
fort auf eine Änderung der äußeren elektrischen Größen. Innere physikalische
Vorgänge, die zur Nichtlinearität führen, können z. B. einem Exponentialge-
setz mit einer bestimmten Zeitkonstante τ gehorchen. Ist die Nichtlinearität
des Bauteils temperaturbedingt, so kann die entsprechende Erwärmungszeit-
konstante im Bereich von Sekunden oder Minuten liegen. Bauelemente mit
einer im Vergleich zur Periodendauer der anregenden Größe T großen Zeit-
konstanten τ bezeichnet man als träge Bauelemente. Man hat drei Fälle
zu unterscheiden [140]:
80 4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

1. Die Periodendauer der anregenden Größe ist sehr groß im Vergleich zur
Zeitkonstanten des nichtlinearen Bauelementes (T  τ ):
Hier verhält sich das Bauelement trägheitslos. Ein nichtlinearer Wider-
stand verhält sich hier wie sein differentieller Widerstand im jeweiligen
Arbeitspunkt.
2. Die Periodendauer der anregenden Größe ist sehr klein im Vergleich zur
Zeitkonstanten des nichtlinearen Bauelementes (T  τ ):
Das Bauelement ist träge, d. h. es ändert seinen Widerstandswert fast
nicht. Somit verhält es sich bei dieser Anregung wie ein lineares Bauele-
ment mit konstantem Widerstandswert, der seinem statischen Widerstand
entspricht. Die Kennlinie geht über in eine Ursprungsgerade mit dem An-
stieg des statischen Widerstandes.
3. Die Periodendauer der anregenden Größe liegt in der Größenordnung der
Zeitkonstanten des nichtlinearen Bauelementes (T ≈ τ ):
Der Widerstandswert ändert sich verzögert, d. h. die Kennlinie erhält die
Form einer geschlossenen Kurve, die den Arbeitspunkt umfasst. Es tritt
also eine Hysterese auf und Strom sowie Spannung am Widerstand werden
gegeneinander in der Phase verschoben, so dass zusätzlich zum ohmschen
Widerstand kapazitive und induktive Anteile hinzutreten.

Abb. 4.3. Kennlinie eines bilateralen Widerstandes

Passive Widerstände sind Widerstände, die weder Quellen enthalten noch


Halbleitereigenschaften aufweisen. Sie zeigen eine bzgl. des Koordinatenur-
sprunges im u − i−Kennlinienfeld punktsymmetrische Kennlinie (Abb. 4.3).
Man bezeichnet diese Widerstände bzw. ihre entsprechende Kennlinie auch
als bilateral. Die Klemmen dieses Widerstandes sind beliebig vertauschbar.
Diese Punktsymmetrie geht verloren, wenn die Bauelemente Halbleiter mit
pn−Übergängen enthalten, wie z. B. Dioden. Abbildung 4.4 zeigt die typische
i − u−Kennlinie einer Diode
4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C) 81

IS u

Abb. 4.4. Typische Diodenkennlinie mit Schaltzeichen

i = Is (eu/UT − 1), (4.9)

wobei UT die Temperaturspannung bezeichnet


k·T
UT = (4.10)
e
mit
k: Boltzmannkonstante k = 1, 38 · 10−23 Ws K
e: Elektronenladung e = 1, 6 · 10−19 As
T : absolute Temperatur.

Eine besondere Eigenschaft weisen die sog. Tunneldioden auf; sie zeigen
nämlich in ihrer i − u−Kennlinie Bereiche mit negativer Steigung (Abb. 4.5).
Dies bedeutet, dass sich die Tunneldiode dort wie ein negativer differentiel-
ler Widerstand verhält. Bezüglich eines vorgegebenen Stromwertes i kann es

i
di
<0
du
u

Abb. 4.5. Kennlinie und Schaltzeichen einer Tunneldiode


82 4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

zu Mehrdeutigkeiten kommen. So weist die Kennlinie für gewisse Stromwerte


beispielsweise 3 Schnittpunkte mit dazugehörigen Spannungswerten auf. Die
Tunneldiode ist daher als spannungsgesteuerter, zeitinvarianter nichtlinearer
Widerstand zu betrachten.
Aufgrund des negativen differentiallen Widerstands eignen sich Tunneldi-
oden für den Aufbau von Oszillatorschaltungen. Eine solche Schaltung ist in
Abb. 4.6 gezeigt. Sie enthält neben der Tunneldiode noch eine Induktivität LS

Abb. 4.6. Einfache Oszillatorschaltung mit einer Tunneldiode und Induktivität.

mit zugehörigem Wicklungswiderstand RS . Der Messwiderstand RShunt dient


der Strommessung im Experiment. Die Schaltung wird von einer Gleichspan-
nungsquelle U0 > 0 mit vernachlässigbarem Innenwiderstand gespeist. Die
Differentialgleichung des vorliegenden Netzwerks lautet für Zeiten t ≥ 0
diD (t)
U0 = iD (t)(RS + RShunt ) + uD (t) + LS . (4.11)
dt
Diese muss zu jedem Zeitpunkt erfüllt sein. Die Spannung an der Tunneldi-
ode uD (t) ist dabei mit dem Strom iD (t) über deren nichtlineare Kennlinie
(Abb. 4.7) verknüpft. Da der Diodenstrom iD (t) auch durch die Spule fließt,
können keine Unstetigkeiten (Sprünge) in dessen zeitlichem Verlauf auftreten.
Abhängig vom Wert der Gleichspannung U0 sind prinzipiell drei verschiedene
statische Arbeitspunkte (AP) denkbar: (i) AP auf dem linken steigenden Ast
der Kennlinie (bis Punkt B). (ii) AP auf dem fallenden Ast der Kennlinie
(zwischen den Punkten B und D). (iii) AP auf dem rechten steigenden Ast
der Kennlinie (ab D).
Wird nun die Quelle U0 zum Zeitpunkt t = 0 mit dem Netzwerk verbun-
den, steigt der Strom zunächst an. Wird die Spannung U0 derart gewählt,
dass sich ein statischer AP (i) ergibt, so wird der steigende Kennlinienast bis
zu diesem Punkt durchlaufen und das Netzwerk hat einen stabilen Zustand
erreicht. Auch der AP (iii) stellt einen stabilen Zustand des Netwerks dar. Ein
AP im Bereich (ii) kann dagegen mit dem vorliegenden Netzwerk nicht erreicht
werden. Der Grund hierfür ist der negative differentielle Widerstand der Tun-
neldiode in diesem Bereich. Wird nach Durchlaufen des steigenden Asts das
lokale Maximum der Kennlinie (Punkt B) überschritten, müsste der Strom
4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C) 83

Strom iD
10
mA
8 u-i Diagramm der Oszillation

6
B C
4

2
D
0 A

-2
Diodenkennlinie
-4

-6

-8

-10
-0.1 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6
V
Spannung uD
Abb. 4.7. Gemessene Kennlinie der Tunneldiode und XY-Auftragung der Messda-
ten aus Abb 4.8.

wieder sinken, um den AP zu erreichen. Durch den negativen Spannungsbei-


trag der Spule im Maschenumlauf, stellt dies aber keine gültige Lösung der
DGL (4.11) dar. Nach Überschreiten von Punkt B springt daher die Spannung
bei konstantem Strom zum Punkt C auf der Kennlinie. Von hier aus wird der
steigende Ast der Kennlinie von C nach D durchlaufen. Am Punkt D der
Kennlinie müsste wiederum der Ast mit negativem differentiellen Widerstand
durchlaufen werden, um den AP zu erreichen, was aus den genannten Gründen
nicht möglich ist. Daher springt die Spannung am Punkt D bei konstantem
Strom zurück nach Punkt A. Die beim entsprechend Abb. 4.7 eingezeichneten
Durchlaufen der Kennlinie entstehenden Strom- und Spannungsverläufe sind
in Abb. 4.8 als Oszillogram dargestellt.
Ein weiterer Typ von Widerständen wird in der Sensorik zur Tempera-
turmessung eingesetzt. Es handelt sich dabei um sog. Heißleiter (NTC-
Widerstände) oder um Kaltleiter (PTC-Widerstände) (NTC: Negative
Temperature Coefficient; PTC: Positive Temperature Coefficient). Ihr Wi-
derstandswert ist temperaturabhängig (Abb. 4.9).
Heißleiter bestehen aus oxidischen Mischkristallen, deren Kristallgitterauf-
bau an den Korngrenzen durch Mischung verschiedener Oxide gestört wird.
84 4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

Strom iD Spannung uD
6 0.6
mA
uD V
iD C
5 0.5

4 0.4
D

3 0.3

2 0.2

1 0.1

0 B 0
A
-1 -0.1
0 0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4
ms
Zeit t
Abb. 4.8. Strom und Spannungsverläufe der Oszillatorschaltug mit Tunneldiode.

Dadurch wird der ursprünglich hohe spezifische Widerstand der reinen Oxide
stark vermindert. Dieser Effekt ist, wie die Kennlinie aus Abb. 4.9 belegt, stark
temperaturabhängig. Im Bereich der Raumtemperatur betragen die Tempe-
raturkoeffizienten ca. −3 bis −6%/K. Heißleiter werden bis zu Temperaturen
von mehreren Hundert Grad Celsius eingesetzt.

R
R0
3
Heißleiter Kaltleiter

- 100 - 50 0 +50 +100


°C ϑ

Abb. 4.9. Widerstandscharakteristiken von Heiß- und Kaltleitern

Kaltleiter hingegen weisen positive Temperaturkoeffizienten auf (Abb. 4.9).


Sie bestehen aus halbleitenden polykristallinen ferroelektrischen Keramiken,
z. B. Bariumtitanat (BaTiO3 ). Ihr ohmscher Widerstand steigt oberhalb der
4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C) 85

sog. Curie-Temperatur sprunghaft an (Abb. 4.9), da sich an den Korngrenzen


Sperrschichten ausbilden. Sie werden aufgrund ihrer relativ hohen Kennli-
nienstreuung in aller Regel weniger für Messaufgaben als für Regelungs- und
Überwachungsaufgaben herangezogen. Die Strom-Spannungs-Kennlinie eines
typischen Kaltleiters wird in Abb. 4.10 gezeigt. Sie hat zunächst den Charak-

i
iE

uE u max uD
u
Abb. 4.10. Strom-Spannungs-Kennlinie eines typischen Kaltleiters [185, 153]

ter eines nahezu linearen ohmschen Widerstandes. Wird die Spannung weiter
gesteigert, so steigt mit der zunehmend verbrauchten Leistung infolge Eigen-
erwärmung die Temperatur des Bauelementes an, bis zur sog. Einsetztempera-
tur, bei der sich der Widerstand nahezu sprunghaft ändert, so dass der Strom
abnimmt (Werte uE , iE ). Der Kaltleiter könnte zwar prinzipiell bis zur Durch-
bruchspannung uD (Abb. 4.10) betrieben werden; aus Sicherheitsgründen be-
schränkt man sich aber auf Betriebsspannungen u ≤ umax . Außerdem muss
die Betriebsspannung auf umax begrenzt werden, um die ansonsten zu groß
werdende Eigenerwärmung zu vermeiden.

4.1.3 Nichtlineare Induktivität

Induktivitäten weisen häufig nichtlineare Eigenschaften auf, die auf die Ma-
gnetisierungseigenschaften der verwendeten permeablen Kernmaterialien zu-
rückzuführen sind. Auch können sie, insbesondere in elektrischen Maschinen,
ein zeitabhängiges Verhalten zeigen. Das Schaltsymbol für eine nichtlinea-
re Induktivität ist in Abb. 4.11 dargestellt. Eine allgemeine, zeitvariante,
nichtlineare Induktivität kann durch eine Funktion
Φ = fL (i(t), t) (4.12)
beschrieben werden. Dabei bedeutet Φ den magnetischen Fluss durch die In-
duktivität, welcher bei Betrachtung einer realen Spule dem mit der Windungs-
86 4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

u
Abb. 4.11. Schaltsymbol für nichtlineare Induktivität

zahl verketteten Gesamtfluss entspricht. Die Induktivität heißt dann stromge-


steuert. Es ist zu beachten, daß in Gl. (4.12) neben der direkten Zeitabhängig-
keit außerdem der Strom i(t) eine Funktion der Zeit darstellt. Im Weiteren
wird aus Gründen der Lesbarkeit nur noch i anstelle von i(t) geschrieben.
Die Zeitabhängigkeit des Stromes ist aber insbesondere bei der Bildung der
Differentialquotienten zu beachten.
Eine nichtlineare Induktivität wird durch eine Fluss-Strom-Kennlinie be-
schrieben, wie sie bespielhaft in Abb. 4.12 dargestellt ist. Die Kennlinie ist
wiederum punktsymmetrisch zum Koordinatenursprung und wird daher auch
als bilateral bezeichnet. Bei einer zusätzlichen Zeitabhängigkeit ergibt sich
eine Fluss-Strom-Kurvenschar mit dem Scharparameter t. Mögliche Hystere-
seerscheinungen werden hier nicht berücksichtigt.

Abb. 4.12. Fluss-Strom-Kennlinie einer nichtlinearen, sättigungsbehafteten Induk-


tivität. Der Begriff Sättigungsfluß ist so zu verstehen, daß ab Erreichen dieses Wertes
der Fluß nur noch mit der Steigung der Vakkuumpermeabilität μ0 ansteigt.

Die allgemeine Strom-Spannungs-Beziehung lautet nach dem Induktionsgesetz

dΦ(i, t)
u(i, t) = . (4.13)
dt
Unter Berücksichtigung der Zeitabhängigkeit des Stromes ergibt sich

∂Φ(i, t) di ∂Φ(i, t)
u(i, t) = + . (4.14)
∂i dt ∂t
4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C) 87

Dabei wird der Term 


∂Φ(i, t) 
L(i0 , t) := (4.15)
∂i i=i0
als differentielle Induktivität (im Arbeitspunkt (i0 )) definiert. Sie ent-
spricht der Steigung der in Abb. 4.12 gezeigten Kennlinie in einem jeweils
betrachteten Arbeitspunkt (i0 , Φ0 ) zu einem fixen Zeitpunkt t0 und wird auch
als Kleinsignalinduktivität in der Umgebung dieses Arbeitspunktes be-
zeichnet. Ihr typischer Verlauf ist in Abb. 4.13 zu sehen.

Abb. 4.13. Typischer Verlauf einer Kleinsignalinduktivität (differentielle Indukti-


vität)

Aus Gl. (4.15) ergibt sich



Φ(i, t) = L(i, t) di . (4.16)

Unter Verwendung von Gl. (4.14) bis Gl. (4.16) findet sich schließlich als
Linearisierung um den Arbeits (i0 )- bzw. Zeitpunkt t0
 
di  dL(i, t) 
u(i, t) = L(i, t)  +i . (4.17)
dt t=t0 dt i=i0

Es sind nun verschiedene Fälle zu unterscheiden, bei denen sich die allgemei-
nen Gleichungen vereinfachen:
1. zeitvariante, nichtlineare Induktivität:
Dies ist der allgemeine Fall und wird durch Gl. (4.15) und Gl. (4.17) be-
schrieben.

2. zeitinvariante, nichtlineare Induktivität:

di dΦ(i)
u(i) = L(i) und L(i) = (4.18)
dt di
88 4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

3. zeitvariante, lineare Induktivität:

di dL(t) Φ(t)
u(t) = L(t) +i und L(t) = (4.19)
dt dt i

4. zeitinvariante, lineare Induktivität:


Dies ist der einfachste Fall, die Induktivität ist konstant und es gilt
di Φ
u=L und L = . (4.20)
dt i
Im Fall der linearen Induktivität ergibt sich als Fluss-Strom-Kennlinie eine
Ursprungsgerade, deren Steigung der Induktivität L entspricht. Zeitvarianz
führt hier zu einer Schar von Ursprungsgeraden mit dem Scharparameter t.
Neben der differentiellen Induktivität lässt sich für ein nichtlineares Bau-
element auch eine statische Induktivität definieren, und zwar als die Stei-
gung der Ursprungsgeraden durch den Arbeitspunkt (i0 , Φ0 ) der Fluss-Strom-
Kennlinie
Φ0
Ls (i0 , t) = . (4.21)
i0
Im linearen Fall ist sie gleich der differentiellen Induktivität (vgl. Abb. 4.2).
Die in der nichtlinearen Kennlinie (Abb. 4.12) erkennbaren Sättigungsei-
genschaften sind auf magnetische Eigenschaften der meist verwendeten fer-
romagnetischen Spulenkernmaterialien zurückzuführen. Da die Magnetisie-
rungsvorgänge in Ferromagnetika, wie z. B. Eisen, recht kompliziert sind, wer-
den sie in aller Regel nicht auf die physikalischen Vorgänge in der Mikrostruk-
tur zurückgeführt, sondern mit der experimentell bestimmten Abhängigkeit
des magnetischen Flusses bzw. der magnetischen Flussdichte B  (= ma-
gnetische Induktion) von der magnetischen Feldstärke H  beschrieben.
 
Die Funktion B = f (H) (Abb. 4.15) wird auch als Magnetisierungskenn-
linie oder Magnetisierungskurve bezeichnet.
Die Permeabilität des Materials ist im nichtlinearen Fall nicht mehr kon-
stant, sondern eine Funktion der anregenden magnetischen Feldstärke
 .
μr = f (H) (4.22)
Man bezeichnet die Permeabilität (Kleinsignalpermeabilität) in einem be-
stimmten Arbeitspunkt H0 als sog. differentielle Permeabilität μd . Sie
entspricht der Steigung der Magnetisierungskurve im jeweiligen Arbeitspunkt.
Abbildung 4.14 zeigt die Permeabilitätskurve von sog. Elektroblech.

Hysteresekurven
Wenn ein typisch ferromagnetisches Material, wie z. B. Eisen, aus einem völlig
unmagnetisierten Zustand heraus erregt wird, startet die Magnetisierungskur-
ve im Ursprung, d. h. für i = 0 und damit H = 0 ist auch der Wert der
4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C) 89

μr
5000
4000
3000
2000
1000

0 1 2 3 4 A 5 H
cm
Abb. 4.14. Relative Permeabilität von Elektroblech als Funktion der magnetischen
Feldstärke

Induktion B = 0. Mit zunehmendem Strom und damit zunehmender magne-


tischer Feldstärke1 H steigt die magnetische Flussdichte entsprechend der in
Abb. 4.15 mit Neukurve bezeichneten Kurve an.

2,0
T
1,5 Br : weichmagnetisch
1,0
: hartmagnetisch
0,5
0 : Neukurve
-0,5 -Hc Hc Hc : Koerzitivfeldstärke
-1,0
-Br Br : Remanenzinduktion
-1,5
-2,0
-100 -60 -20 0 20 60 A 100 H
cm
Abb. 4.15. Hystereseschleifen einer magnetisch harten und einer magnetisch wei-
chen Eisensorte

Wenn dann ab einem bestimmten erreichten Wert für H bzw. B die magneti-
sche Erregung wieder verringert wird, nimmt die magnetische Flussdichte we-
niger ab, d. h. sie bleibt auf höheren Werten, als dies der Neukurve entspricht.
1
Bei den in diesem Kapitel folgenden Betrachtungen können wir uns auf die Be-
träge der magnetischen Flussdichte B und der magnetischen Feldstärke H
be-
schränken, die vereinfacht mit B bzw. H bezeichnet werden.
90 4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

Insbesondere nimmt sie noch einen positiven Wert Brem (Remanenzinduk-


tion) an, wenn die magnetische Feldstärke bereits auf H = 0 reduziert wurde.
Der weitere Verlauf führt bis zu einem negativen Sättigungswert. Für danach
wieder ansteigende H-Werte wird bei H = 0 die negative Remanenzinduktion
−Brem erreicht und schließlich mündet die Kurve wieder in den o.g. positiven
Umkehrpunkt. Dazwischen erreicht bei der sog. Koerzitivfeldstärke Hc die
magnetische Induktion den Wert B = 0. Die negative Koerzitivfeldstärke −Hc
ergibt sich entsprechend im linken Kurvenast.
Man bezeichnet die so gewonnene Magnetisierungskennlinie auch als Hy-
steresekurve. Abbildung 4.16 zeigt solche Hysteresekurven für verschiedene
Umkehrpunkte. Die von einer Hysteresekurve umschlossene Fläche entspricht

Abb. 4.16. Hysteresekurven eines magnetischen Materials für verschiedene Um-


kehrpunkte

der dem ferromagnetischen Material bei einem Ummagnetisierungszyklus zu-


geführten Wärmeenergie. Diese auch als Hystereseverlustenergie bezeichnete
Energie wird bei der Drehung (Umorientierung) der Elementardipole dem
Magnetfeld entzogen und in Wärme umgewandelt.
Zur näherungsweisen Berücksichtigung des Hysterese-Verhaltens bei der
Beschreibung der nichtlinearen Induktivität kann das Bauelement um einen
nichtlinearen Wirkwiderstand erweitert werden. Dieser beschreibt nun die auf-
tretenden Hystereseverluste. Beide Elemente können dann wieder durch eine
jeweils eindeutige Kennlinie beschrieben werden. Somit wird die Mehrdeu-
tigkeit der Hysterese-Kennlinie eliminiert. Eine detaillierte Beschreibung der
Vorgehensweise findet sich in [140].

Messung von Hysteresekurven


Die Hysteresekurven von magnetischen Materialien (Abb. 4.17a)
4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C) 91

B(H) = μH (4.23)

können mittels der in Abb. 4.17b gezeigten Anordnung gemessen werden.


Dazu wird ein Oszilloskop (Kap. 8) benötigt, dessen Horizontalkanal (x-
Ablenkung) von außen angesteuert werden kann, d. h. es wird nicht die stan-
dardmäßige Zeitablenkung (Sägezahnspannung) auf das x-Plattenpaar gege-
ben. Stattdessen nimmt man eine Spannung uR , die proportional zum Erre-

Br

Hc H

a)

Magnetische Probe
R
Oszilloskop
u uc C
u0
I R shunt

uR

b)

Abb. 4.17. a) Hystereskurve von ferromagnetischem Material, b) Anordnung zur


Messung der Hysteresekurve

gerstrom I der Primärwicklung ist. Nach dem Durchflutungsgesetz ist dieser


Strom nämlich proportional der magnetischen Feldstärke

I∼H. (4.24)

Nach dem Induktionsgesetz ist andererseits die an der Sekundärwicklung ab-


greifbare Spannung
dB
u∼ , (4.25)
dt
so dass nach zeitlicher Integration dieser Spannung ein der magnetischen In-
duktion B proportionales Signal vorliegt

B ∼ udt . (4.26)
92 4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

Diese Integration wird von dem an die Sekundärwicklung angeschlossenen


RC-Tiefpass vorgenommen. Die integrierte Spannung kann am Kondensator
in Form von uc abgegriffen werden, d. h.

uc ∼ B . (4.27)

Sie wird zur Darstellung der Hysteresekurve auf den Vertikalkanal gelegt.

4.1.4 Nichtlineare Kapazität

Das Schaltungssymbol für eine nichtlineare Kapazität wird in Abb. 4.18


gezeigt. Eine allgemeine, zeitvariante, nichtlineare Kapazität kann durch

u
Abb. 4.18. Schaltsymbol für eine nichtlineare Kapazität

eine Funktion
q = fC (u(t), t) (4.28)
beschrieben werden. Dann heißt die Kapazität spannungsgesteuer t. Durch q
wird die im Kondensator gespeicherte elektrische Ladung beschrieben. Im
Weiteren wird für die Spannung u(t) aus Gründen der Übersicht nur u ge-
schrieben. Die Kennlinie beschreibt die von der Kapazität gespeicherte Ladung
q als Funktion der angelegten Spannung (Abb. 4.19). Man spricht von einer
Ladungs-Spannungs-Kennlinie. Auch hier kann eine zusätzliche Zeitabhängig-
keit durch eine Kennlinienschar mit dem Scharparameter t ausgedrückt wer-
den.

Abb. 4.19. Bilaterale Ladungs-Spannungs-Kennlinie einer nichtlinearen Kapazität


4.1 Nichtlineare konzentrierte Bauelemente (R, L, C) 93

Für den allgemeinen Fall einer nichtlinearen und zeitvarianten Kapazität gilt
folgende Strom-Spannungs-Beziehung
dq(u, t) ∂q(u, t) du ∂q(u, t)
i(u, t) = = + . (4.29)
dt ∂u dt ∂t
Dabei wird der Term

∂q(u, t) 
C(u0 , t) := (4.30)
∂u u=u0

als differentielle Kapazität oder Kleinsignalkapazität definiert. Sie


entspricht der Steigung der Kennlinie aus Abb. 4.19 im jeweiligen Arbeits-
punkt (u0 , q0 ) sowie zu einem Zeitpunkt t0 und hat typischerweise den in
Abb. 4.20 gezeigten Verlauf.

Abb. 4.20. Typischer Verlauf einer Kleinsignalkapazität

Für die Ladung ergibt sich aus Gl. (4.30)



q(u, t) = C(u, t) du (4.31)

und unter Verwendung von Gl. (4.29) bis Gl. (4.31) folgt als Linearisierung
um den Arbeits- (i0 ) bzw. Zeitpunkt (t0 )
 
du  dC(u, t) 
i(u, t) = C(u, t) +u . (4.32)
dt t=t0 dt u=u0

Auch hier vereinfacht sich Gl. (4.32) in vielen praktischen Fällen:


• zeitvariante, nichtlineare Kapazität:
Dies ist der allgemeine Fall, beschrieben durch Gl. (4.30) und Gl. (4.32).

• zeitinvariante, nichtlineare Kapazität:

du dq(u)
i(u) = C(u) und C(u) = (4.33)
dt du
94 4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

• zeitvariante, lineare Kapazität:

du dC(t) q(t)
i(t) = C(t) +u und C(t) = (4.34)
dt dt u

• zeitinvariante, lineare Kapazität:


In diesem Fall ist die Kapazität konstant und es gilt
du q
i=C und C = . (4.35)
dt u
Als Ladungs-Spannungs-Kennlinie der linearen Kapazität ergibt sich wieder
eine Ursprungsgerade deren Steigung der Kapazität C entspricht.
Für die statische Kapazität, definiert als die Steigung der Ursprungsge-
raden durch den Arbeitspunkt der Ladungs-Spannungs-Kennlinie, ergibt sich
q0
Cs (u0 , t) = . (4.36)
u0
Im linearen Fall ist sie gleich der differentiellen Kapazität.
Kapazitäten können nichtlineare Eigenschaften aufweisen, wenn als Dielektri-
kum ein ferroelektrischer Stoff verwendet wird. Die im Dielektrikum stattfin-
denden Polarisationsvorgänge führen zur gezeigten Krümmung der Kennlinie
und zu den ersichtlichen Sättigungserscheinungen. Wie bereits betrachtet zei-
gen die ferromagnetischen Materialien Hysterese-Verhalten in Bezug auf die
magnetischen Feldgrößen. Ähnlich zeigen auch die ferroelektrischen Materia-
lien eine Hystereseerscheinung in Bezug auf die elektrischen Feldgrößen D
(dielektrische Verschiebung) und E (elektrisches Feld). Auch hier kann das
Hysterese-Verhalten, analog zur hysteresebehafteten Induktivität, näherungs-
weise durch eine Erweiterung um einen nichtlinearen Wirkwiderstand erfasst
werden. Eine mögliches zeitabhängiges Verhalten einer Kapazität zeigt sich
beispielsweise durch Verstellen eines Drehkondensators oder durch das Ändern
des Plattenabstandes eines Plattenkondensators.

Varaktordiode

Das klassische Beispiel für eine nichtlineare Kapazität ist die sog. Varaktordi-
ode. Diese stellt eine im Sperrbereich betriebene Halbleiterdiode dar, welche
die Spannungsabhängigkeit der Kapazität von Halbleiterdioden nutzt. Die
klassischen Sperrschicht-Varaktoren mit ihrer veränderlichen Sperrschichtka-
pazität werden oft zur Abstimmung von Schwingkreisen eingesetzt. Mit der
folgenden Gleichung kann in vielen Fällen die Abhängigkeit der Kapazität C
von der Spannung u über dem pn-Übergang beschrieben werden

C = γ(UD + u)− k ,
1
(4.37)

wobei UD die sog. Diffusionsspannung darstellt. Für den abrupten pn-Über-


gang mit beidseitig konstanter Dotierung wird
4.2 Gesteuerte Quellen 95

εe NA ND
γ=A (4.38)
2 (NA + ND )

und k = 2. Dabei bedeuten A die Kapazitätsfläche, ε die Permittivität des


Halbleitermaterials, e die Elementarladung, NA die Akzeptor-Konzentration
und ND die Donator-Konzentration. Für diesen Fall zeigt Abb. 4.21 einen
Funktionsverlauf. Beim pn-Übergang mit linear ortsveränderlicher Dotierung
C

60
pF
40

20

-6 -4 -2 0 u
V
a) b)

Abb. 4.21. Varaktordiode: a) Kennlinie, b) Schaltzeichen

wird k = 3, wobei sich der Wert von γ gegenüber dem vorgenannten Fall
entsprechend ändert. Durch spezielle Dotierungsverläufe können auch andere
k- und γ-Werte eingestellt werden.

4.2 Gesteuerte Quellen

uA

Stg. V
uE uE . V uA
uE

Abb. 4.22. Spannungsgesteuerte Spannungsquelle als Ersatzschaltung für einen


idealen Verstärker

Insbesondere zur vereinfachten Beschreibung aktiver Bauelemente, wie z. B.


Transistoren, oder ganzer Schaltungen, wie z. B. Operationsverstärker, ver-
wendet man sog. gesteuerte Quellen. Gesteuerte Quellen sind Spannungs- oder
Stromquellen, deren Quellspannung bzw. deren Quellstrom von einer Steuer-
größe abhängt. Diese Steuergröße ist in aller Regel eine Spannung oder ein
96 4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

Strom. So wird beispielsweise ein, abgesehen vom nicht unendlich hohen Ver-
stärkungsgrad, idealer Operationsverstärker durch die in Abb. 4.22 gezeigte
gesteuerte Quelle beschrieben. Wird zusätzlich die Begrenzung der Ausgangs-
spannung infolge Sättigung berücksichtigt, so ändert sich die approximierte
Kennlinie gemäß Abbildung 4.23.

uA
+UB

-UB/V
+UB/V uE

-UB

Abb. 4.23. Kennlinie eines Verstärkers (Verstärkungsgrad V), bei dem die Sätti-
gungserscheinungen berücksichtigt sind (approximierter Verlauf)

Die Spannung der Quelle lässt sich nun wie folgt angeben:

⎨ uE V für − UVB ≤ uE ≤ UVB
uA = +UB für uE > UVB . (4.39)

−UB für uE < − UVB

UB entspricht in der Praxis der um ca. 1 Volt reduzierten Versorgungsspan-


nung des Operationsverstärkers.

Kollektor
Basis iC
iB u CE
uBE
Emitter

Abb. 4.24. Schaltzeichen eines Bipolartransistors

Auch Transistoren lassen sich in Form von gesteuerten Quellen darstellen. Bei
Bipolartransistoren (Abb. 4.24) ist der Basisstrom iB die steuernde Größe und
der Kollektorstrom die gesteuerte Größe (Abb. 4.25).

4.3 Analyse nichtlinearer elektrischer Netzwerke


Die Analyse von elektrischen Netzwerken, die nichtlineare Bauelemente ent-
halten, ist in aller Regel bedeutend aufwendiger als die Analyse vergleichba-
rer linearer Netzwerke. Dies beginnt damit, dass das Superpositionsprinzip
nicht mehr anwendbar ist. Selbst einfache Netzwerke mit nur einem oder zwei
nichtlinearen Elementen erfordern oft numerische Lösungen. Bei einfacheren
4.3 Analyse nichtlinearer elektrischer Netzwerke 97

iB
iC

u CE
iB

u BE u CE
a) b)

Abb. 4.25. Transistorkennlinien: a) Eingangskennlinienfeld eines Bipolartransistors


und b) Ausgangskennlinienfeld

Netzwerken ist die graphische Bestimmung der (des) Arbeitspunkte(s) oft eine
Alternative mit Anschauungscharakter. Wir beginnen daher mit der graphi-

Ri
Uo u RL

Abb. 4.26. Zu analysierendes Netzwerk

schen Bestimmung des Arbeitspunktes des in Abb. 4.26 gezeigten linearen


Widerstandsnetzwerkes, das von einer Quelle gespeist wird.
Bei der graphischen Lösung werden die beiden Geraden, welche einerseits
den ohmschen Lastwiderstand RL und andererseits die Quelle mit dem Innen-
widerstand Ri beschreiben, in das i−u-Kennlinienfeld eingetragen (Abb. 4.27).
Der Schnittpunkt, der auch als Arbeitspunkt bezeichnet wird, liefert die Lösung
für den Strom iAP , der durch den Zweig des Netzwerkes fließt, sowie die Span-
nung uAP am eingezeichneten Klemmenpaar
U0
iAP = , (4.40)
Ri + RL
RL
uAP = U0 . (4.41)
Ri + RL
Im Falle eines nichtlinearen Lastwiderstandes kann es keine, eine, mehrere
oder sogar unendlich viele Lösungen, sprich Arbeitspunkte, geben (Abb. 4.28
und 4.29).
Formelmäßig lässt sich die Situation der mit einem nichtlinearen Wider-
stand belasteten Quelle folgendermaßen beschreiben. Die unabhängige Quelle
mit Innenwiderstand Ri wird durch
98 4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

Arbeitspunkt
u = RL i
U0
u u = U0 - R i i
AP

i U0 i
AP
Ri

Abb. 4.27. Graphische Arbeitspunktbestimmung der Schaltung aus Abb. 4.26

u = U0 − Ri i (4.42)

charakterisiert.
Wenn sich der Lastwiderstand RL durch eine analytische Funktion der
Form
FRL (i, u) = 0 (4.43)
darstellen lässt, so führt die Tatsache, dass der Strom durch die Quelle mit
dem durch den Lastwiderstand in Betrag und Richtung identisch ist, zu der
Gleichung
FRL (i, U0 − Ri i) = 0 . (4.44)

U0
Kennlinie der Quelle
Kennlinie des
nichtlinearen
Lastwiderstandes

Abb. 4.28. Graphische Bestimmung des Arbeitspunktes – Beispiel für nichtexisten-


te Lösung
4.3 Analyse nichtlinearer elektrischer Netzwerke 99

Dies ist im allgemeinen Fall eine nichtlineare transzendente Gleichung, die mit
Hilfe eines geeigneten numerischen Verfahrens, z.B. mit der Newton-Raphson-
Methode, gelöst werden kann.
Prinzipiell ist also eine Gleichung der Form

f (x) = 0 (4.45)

iterativ zu lösen, bis ein gewünschtes Abbruchkriterium unterschritten wird.


Dabei muss die Lösung, wie Abb. 4.29 zeigt, nicht eindeutig sein, sondern sie

Kennlinie der Quelle


U0
uAP

Kennlinien zweier beispielhafter


nichtlinearer Lastwiderstände

iAP i

Abb. 4.29. Graphische Bestimmung des Arbeitspunktes der Schaltung aus


Abb. 4.26. Die durchgezogene Kennlinie liefert einen Arbeitspunkt, auf der gestri-
chelten sind zwei Arbeitspunkte möglich.

kann vom Startpunkt x(0) abhängen. Die Lösung erhält man durch fortlau-
fende Iterationen über n
f (x(n) )
x(n+1) = x(n) − . (4.46)
f  (x(n) )
Voraussetzung für die Anwendbarkeit des Verfahrens ist die stetige Differen-
zierbarkeit der Funktion f (x).

Beispiel — Lineare Spannungsquelle mit Diode

Es soll die in Abb. 4.30 gezeigte Schaltung analysiert werden. Die Diode lässt
sich durch u
i = Is (e UT − 1) (4.47)
beschreiben. Im konkreten Fall betragen die Werte für den Sättigungssperr-
strom der verwendeten Siliziumdiode

IS = 10 pA (4.48)
100 4 Nichtlineare elektrische Bauelemente, Schaltungen und Systeme

und für die Temperaturspannung bei Raumtemperatur

UT = 26 mV . (4.49)

Für die Leerlaufspannung der Quelle gilt U0 = 3 V und für ihren Innenwider-
stand Ri = 1 kΩ. Da in diesem Fall zu erwarten ist, dass i IS ist, vereinfacht
sich die Diodengleichung zu u
i = IS e UT . (4.50)

Ri
i

Uo u

Abb. 4.30. Zu analysierende Schaltung

Wenn man jetzt die Quelle mit der Gleichung

u = U0 − Ri i (4.51)

berücksichtigt, erhält man folgende transzendente Gleichung zur Beschreibung


der Schaltung u
f (u) = u − U0 + Ri IS e UT = 0 . (4.52)
Die Ableitung nach u ergibt
df Ri IS Uu
f = =1+ e T. (4.53)
du UT
Da wir wissen, dass die Durchlassspannung von Siliziumdioden bei etwa 0, 6 V
liegt, nehmen wir diesen Wert als Startwert u(0) für das Iterationsverfahren.
Es ergeben sich die Iterationen von Spalte 1 der Tab. 4.1. Auch für kleinere
Startwerte konvergiert der Algorithmus (Spalte 2). Je schlechter der Startwert
gewählt wird, umso mehr Iterationen werden benötigt (Spalte 3).
Weitere Verfahren zur Analyse von nichtlinearen Netzwerken finden sich
in [189].
4.3 Analyse nichtlinearer elektrischer Netzwerke 101

Tabelle 4.1. Iterative Lösung von Gl. (4.52) für verschiedene Startwerte u(0)

Spalte 1 Spalte 2 Spalte 3


(0) (0) (0)
u = 0.6000 V u = 0.4500 V u = 2.0000 V
u(1) = 0.5746 V u(1) = 0.6127 V u(1) = 1.9740 V
(2) (2) (2)
u = 0.5503 V u = 0.5871 V u = 1.9481 V
(3) (3) (3)
u = 0.5284 V u = 0.5621 V u = 1.9221 V
(4) (4) (4)
u = 0.5121 V u = 0.5388 V u = 1.8961 V
..
u(5) = 0.5042 V u(5) = 0.5193 V .
(6) (6)
u = 0.5028 V u = 0.5070 V u(58) = 0.5110 V
(7) (7) (59)
u = 0.5027 V u = 0.5031 V u = 0.5039 V
u(8) = 0.5027 V u(8) = 0.5027 V u(60) = 0.5028 V
(61)
u = 0.5027 V
5
Messfehler

Messungen sind in der Regel fehlerbehaftet, auch wenn sie noch so präzi-
se durchgeführt werden. Die Ermittlung und Angabe der entsprechenden
Messfehler sollte zu jeder zuverlässigen Messung gehören, damit die aus dem
Messergebnis abgeleiteten Schlüsse bzw. Entscheidungen auf einer sicheren
Grundlage basieren. So besteht bei vielen Arten von Messungen die Gefahr,
dass sich die zu messenden Größen durch das Einbringen der Messgeräte
verändern. Beispielsweise kann ein Spannungsmesser die zu messende Span-
nung verändern, weil er infolge seiner nicht idealen (d. h. nicht unendlich
hohen) Innenimpedanz die Spannungsquelle belastet. Generell ist darauf zu
achten, dass solche Rückwirkungen der Messeinrichtung auf die Quelle, der die
Messgröße entstammt, so gering wie möglich gehalten werden. Eine weitere
typische Fehlerquelle besteht in der unsachgemäßen Anwendung der Geräte,
wie z. B. dem Betrieb in einem nicht spezifizierten Frequenz- oder Tempe-
raturbereich. Aber selbst bei bestimmungsgerechter und rückwirkungsfreier
Anwendung von Messgeräten gibt es Messfehler, die zufälliger Natur sind, wie
z. B. die Ablesefehler.
Die Charakterisierung eines Messfehlers erfolgt durch Angabe des absolu-
ten oder des relativen Messfehlers. Der absolute Messfehler F ist definiert als
Differenz aus dem Messwert A (Anzeigewert) und dem wahren Wert W

F = A−W . (5.1)

Der relative Fehler f entspricht dem absoluten Fehler, bezogen auf den wahren
Wert
F
f= 100% . (5.2)
W
Bei nicht bekanntem wahren Wert W und kleinem Messfehler (|F/A| 1)
darf folgende Näherung angewendet werden
F
f≈ 100% . (5.3)
A

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_5
104 5 Messfehler

Zur Charakterisierung von Messgeräten bezieht man den absoluten Messfeh-


ler des Gerätes häufig auf den Messbereichsumfang, die sog. Messspanne Msp,
welche der Differenz zwischen Messbereichsendwert und Messbereichsanfangs-
wert entspricht
F
f˜ = 100% . (5.4)
Msp
Die Größe f˜ wird als normierter bzw. zum Teil auch als reduzierter Fehler
bezeichnet.
In der Messtechnik unterscheidet man prinzipiell zwischen systematischen
Messfehlern und zufälligen Messfehlern. Der wesentliche Unterschied zwischen
diesen Fehlerarten liegt in der Vorhersagbarkeit und damit der Korrigierbar-
keit der systematischen Fehler, welche bei den zufälligen nicht gegeben ist.
Die zufälligen Fehler lassen sich nur noch mit Hilfe von Wahrscheinlichkei-
ten beziffern. Der Fehler beim Ablesen einer Messgeräteskala ist ein typischer
zufälliger Fehler. Eine weitere Klassifizierung unterscheidet zwischen stati-
schen und dynamischen Fehlern. Während sich die statischen Fehler nur auf
die statischen Eigenschaften der Messeinrichtung beziehen und damit nur für
rein statische Messgrößen bzw. für den statischen Anteil von dynamischen
Messgrößen relevant sind, beschreiben die dynamischen Messfehler das Ver-
halten bei zeitlich variablen Messgrößen. Dynamische Messfehler sind die aus
den nicht idealen Übertragungseigenschaften des Messsystems resultierenden
Abweichungen vom wahren zeitlichen Verlauf der Messgröße.

5.1 Systematische Messfehler


Bei den systematischen Fehlern sind die Ursachen bekannt. Es gibt systema-
tische Abweichungen, die während einer Messung einen konstanten Betrag
und ein bestimmtes Vorzeichen haben (statische Messfehler) und solche, die
eine zeitliche Veränderung des Messwertes während einer Messreihe bewirken
(dynamische Messfehler). Wenn die systematischen Fehler bekannt sind, kann
nach Gl. (5.1) der wahre Wert berechnet werden. Da systematische Fehler also
prinzipiell korrigierbar sind, sollten sie nach Möglichkeit im ersten Schritt der
Messwertverarbeitung berichtigt werden.

Fortpflanzung systematischer Fehler

Ist das Messergebnis y eine Funktion mehrerer Messgrößen xi (i = 1 ... n), so


muss die gesuchte Größe y durch Auswertung des sog. Aufgabengesetzes

y = Fkt.(x1 , ..., xn ) (5.5)

ermittelt werden. Mit dem wahren Wert yw ergibt sich schließlich der absolute
Messfehler Δy zu
5.1 Systematische Messfehler 105

Δy = y − yw
= f (x1 + Δx1 , ..., xn + Δxn ) − f (x1 , ..., xn ) . (5.6)

Wenn der absolute Einzelmessfehler Δxi klein ist gegenüber der entsprechen-
den Einzelmessgröße xi (|Δxi | |xi |), lässt sich Δy aus den partiellen Ablei-
tungen und den kleinen Änderungen Δxi auf der Basis der nach den linearen
Gliedern abgebrochenen Taylorreihe der Funktion y entwickeln
n
∂y
Δy = Δxi . (5.7)
i=1
∂xi

Aus Gl. (5.7) lassen sich die folgenden Regeln für die Fortpflanzung systema-
tischer Fehler herleiten:
• Bei der Addition von Messgrößen werden die absoluten Fehler addiert.
• Bei der Subtraktion von Messgrößen werden die absoluten Fehler subtra-
hiert.
• Bei der Multiplikation von Messgrößen werden die relativen Fehler addiert.
• Bei der Division von Messgrößen werden die relativen Fehler subtrahiert.
Besteht das Aufgabengesetz beispielsweise aus einer Multiplikation von Mess-
größen mit gleichzeitiger Potenzierung

y = kxr11 xr22 · · · xrnn , (5.8)

so ergibt sich der absolute Fehler Δy durch Auswertung von Gl. (5.7)

n
Δxi
Δy = y ri . (5.9)
i=1
xi

Daraus kann der gesamte relative Fehler Δy/y als Summe der mit den Expo-
nenten ri gewichteten relativen Einzelfehler fi errechnet werden

Δy  Δxi 
n n
= ri = ri fi . (5.10)
y i=1
xi i=1

Es sei an dieser Stelle darauf hingewiesen, dass die oben beschriebene vorzei-
chenbehaftete Behandlung von Fehlern nur Sinn macht, wenn man die Vorzei-
chen der Fehler explizit kennt. In vielen Fällen allerdings sind die Richtungsab-
weichungen der Fehler und damit ihre Vorzeichen unbekannt. Deshalb macht
man von Gl. (5.7) in abgewandelter Form Gebrauch
n  
 ∂y 
Δy =  
 ∂xi Δxi  , (5.11)
i=1

d. h. man geht vom “worst case” aus, dass alle Fehler in die selbe Richtung
weisen. Die Abweichung Δy entspricht also dann dem maximalen (Absolut-)
Fehler, der auftreten kann.
106 5 Messfehler

5.2 Zufällige Messfehler

5.2.1 Normalverteilung, Mittelwert, Standardabweichung


und Stichprobe

Zufällige Fehler sind nicht unmittelbar erfassbare Abweichungen vom wahren


Wert. Sie können nur in Form von Wahrscheinlichkeitsaussagen beschrieben
werden. Typischerweise liefern die Wiederholungen eines Messvorganges un-
terschiedliche, streuende Messwerte xi . Zur Beurteilung zufälliger Fehler ist es
daher notwendig, mehrere bzw. soviele Messungen wie möglich durchzuführen.
Aus der Annahme, dass unendlich viele voneinander unabhängige, gleichver-
teilte (rein zufällige) Einflussgrößen wirksam sind und genügend (theoretisch
unendlich) viele Einzelmessungen durchgeführt wurden, liegt eine Normalver-
teilung (Gaußverteilung) der Messwerte vor. Dies geht aus dem Normalver-
teilungsgesetz für zufällige Fehler hervor. Die Abweichungen sind dann durch
folgende Eigenschaften charakterisiert: positive und negative Abweichungen
treten gleich häufig auf und mit zunehmender Größe der Abweichung nimmt
die Wahrscheinlichkeit für ihr Auftreten ab. Die Häufigkeit ihres Auftretens
wird durch die Wahrscheinlichkeitsdichte p(x) beschrieben. Sie entspricht ei-
ner Gauß- bzw. Normalverteilung (Abb. 5.1)
1 1 x−μ 2
p(x) = √ e− 2 ( σ ) . (5.12)
σ 2π
Der arithmetische Mittelwert μ aller Messwerte xi , der auch als Erwartungs-
wert bezeichnet wird, ergibt schließlich den gesuchten wahren Wert xw

1 
N
xw = μ = lim xi . (5.13)
N →∞ N
i=1

Abb. 5.1. Gaußsche Verteilungsfunktion p(x)


5.2 Zufällige Messfehler 107

Ein Maß für die Abweichung der Einzelwerte vom Mittelwert μ ist die mitt-
lere quadratische Abweichung, die man als Standardabweichung σ und deren
Quadrat als Varianz σ 2 bezeichnet

1 
N
σ = ! lim (xi − μ)2 . (5.14)
N →∞ N
i=1

Die statistische Sicherheit (Wahrscheinlichkeit) P für das Auftreten eines ein-


zelnen Messwertes in einem Intervall x1 ≤ x ≤ x2 errechnet sich wie folgt
 x2  x2
1
e−(x−μ) /2σ dx
2 2
P = p(x) dx = √
x1 σ 2π x1
 x2  x1
1 −(x−μ)2 /2σ2 1 2 2
= √ e dx − √ e−(x−μ) /2σ dx . (5.15)
σ 2π 0 σ 2π 0
2
Da das Integral ekx dx keine analytische Lösung besitzt, wurde die sog.
Errorfunction erf(x) eingeführt
 w
2
e−c dc ,
2
erf(w) = √ (5.16)
π 0

welche in Tafelwerken, z. B. in [1], tabelliert ist. Dabei besteht folgender Zu-


sammenhang zwischen der Variablen c der Errorfunction und der Variablen x
der Wahrscheinlichkeitsdichte
x−μ
c= √ . (5.17)
σ 2
Aus Gl. (5.15) folgt unter Zuhilfenahme der Errorfunction die statistische
Sicherheit P 


1 x2 − μ x1 − μ
P = erf √ − erf √ . (5.18)
2 σ 2 σ 2
Aufgrund des schiefsymmetrischen Verhaltens der Errorfunction

erf(w) = −erf(−w) (5.19)

errechnet sich die statistische Sicherheit P für das Auftreten eines Messwertes
xi im Bereich −δ ≤ x − μ ≤ δ zu


δ
P (δ) = erf √ . (5.20)
σ 2
In Tab. 5.1 sind charakteristische Werte von P (δ) notiert (s. auch Abb. 5.1).
Wenn im Rahmen einer Messreihe die Standardabweichung σ ermittelt wur-
de, lässt sich mit Hilfe von Tab. 5.1 der zu einer bestimmten statistischen
Sicherheit P gehörende Vertrauensfaktor t bestimmen
108 5 Messfehler

Tabelle 5.1. Fehlerwahrscheinlichkeit P (statistische Sicherheit) bei sym-


metrischem Intervall −δ ≤ x − μ ≤ +δ

δ 0,5 σ 0,67 σ 1 σ 1,65 σ 1,96 σ 2,58 σ 3,0 σ 3,3 σ


P [%] 38,3 50 68,3 90 95 99 99,73 99,9

δ = tσ . (5.21)

Der zufällige Fehler Fxi eines Einzelmesswertes xi liegt dann mit einer stati-
stischen Sicherheit (Wahrscheinlichkeit) von P innerhalb des Intervalls ±tσ

Fxi = ±tσ . (5.22)

Bei der hier zunächst angenommenen unendlich hohen Anzahl von Messungen
hängt der Vertrauensfaktor t in der nach Tab. 5.1 bezifferten Weise nur von
der frei gewählten statistischen Sicherheit P (Wahrscheinlichkeit) ab. Wenn
beispielsweise eine statistische Sicherheit von 95 % gefordert wird, beträgt der
Vertrauensfaktor t nach Tab. 5.1 t = 1,96. Dies bedeutet, dass die Abweichung
des Einzelmesswertes vom wahren Wert μ = xw bei einer Wahrscheinlichkeit
von 95 % nicht größer ist als ± 1,96 σ.
Wird die Messung einer Messgröße mit denselben Mitteln und unter glei-
chen Bedingungen N-mal wiederholt, bezeichnet man dies als Stichprobe aus
der Grundgesamtheit der theoretisch unendlich vielen Messungen. Für den
praktischen Fall einer nur endlichen Anzahl von Messungen (N < ∞) kann
aus den einzelnen Messwerten xi (i = 1...N ) der Mittelwert μ (wahrer Wert
xw ) nicht mehr nach Gl. (5.13) gebildet werden, sondern nur noch ein Schätz-
wert x̃ angegeben werden
1 
N
x̃ = xi . (5.23)
N i=1
Für eine endliche Anzahl N von Messwerten definiert man anstelle der Stan-
dardabweichung σ die Schwankung s (empirische Standardabweichung) bzw.
die Streuung s2 
1 
N
s=! (xi − x̃)2 . (5.24)
N − 1 i=1

Der Wert von s wird auch als mittlerer quadratischer Fehler (vom Schätzwert)
der Messwerte xi bezeichnet.

Tip:
Diese Thematik kann man anhand der LabVIEW Übungs-
aufgabe 2.2a auf der CD-ROM vertiefen.
5.2 Zufällige Messfehler 109

5.2.2 Vertrauensbereich für den Schätzwert

Im Zusammenhang mit Messfehlerabschätzungen stellt sich im allgemeinen


auch die Frage nach der Güte des im Rahmen einer Messserie ermittelten
Schätzwertes x̃. Die Antwort auf diese Frage kann ebenfalls nur in Form ei-
ner statistischen Sicherheit P (Wahrscheinlichkeit) gegeben werden. Um die
Güte des Schätzwertes x̃ anzugeben, muss festgestellt werden, wie nahe dieser
Schätzwert x̃ (Mittelwert aus N Messungen) dem wahren Wert xw (Mittelwert
für N → ∞) liegt. Dazu nehmen wir zunächst an, dass eine unendlich hohe
Anzahl von Einzelmessungen xi vorliegt. Die Standardabweichung dieser sog.
Grundgesamtheit wird mit σ bezeichnet. Wenn wir dieser Grundgesamtheit ei-
ne Stichprobe mit N Einzelmesswerten entnehmen, können wir deren Schätz-
wert x̃ errechnen (Abb. 5.2). Werden mehrere solcher Stichproben genommen,
so gelangt man zu einer Verteilung von Schätzwerten. Die Schwankung sx̃ die-
ser Schätzwerteverteilung liefert schließlich den gesuchten Vertrauensbereich
des Schätzwertes x̃. In der Praxis jedoch wird man nicht mehrere Stichpro-
ben entnehmen, sondern sich auf eine beschränken. Dies führt letztendlich
zum selben Ergebnis, da wir davon ausgehen, dass alle in der Grundgesamt-
heit vorkommenden Messwerte xi voneinander unabhängig sind. Aus diesem
Grund lässt sich die Schwankung sx̃ berechnen, indem man das Gaußsche
Fehlerfortpflanzungsgesetz (Kap. 5.2.3) auf die in Abb. 5.2 gezeigte Stichpro-
be selbst anwendet. Die Schwankung sx̃ lässt sich demnach wie folgt ermitteln

Grundgesamtheit

s: Standardabweichung
N, ~
x, s der Grundgesamtheit

Stichprobe x w : wahrer Wert = Schätzwert


der Grundgesamtheit

Abb. 5.2. Grundgesamtheit von Messwerten mit einer Stichprobe zu N Einzel-


messwerten. Die Stichprobe hat den Schätzwert x̃ und die Schwankung s.
110 5 Messfehler

N

 2
∂x̃
sx̃ = ! σ2 . (5.25)
i=1
∂xi

Mit " #
1 
N
∂x̃ ∂ 1
= xi = (5.26)
∂xi ∂xi N i=1 N
folgt aus dem Gaußschen Fehlerfortpflanzungsgesetz (Gl. (5.25))


N
1 2 1 1
sx̃ = ! σ = N σ2 = √ σ . (5.27)
N 2 N 2
i=1
N

Die Schwankung der √ Verteilung der Schätzwerte x̃ ist also gemäß Gl. (5.27)
um den Faktor 1/ N kleiner als die der Einzelwerte xi (s. auch Gl. (5.24)).
In der Praxis kann man den exakten Wert von σ nicht ermitteln, da unend-
lich viele Messungen vorausgesetzt werden. Daher wird man anstatt σ die
Schwankung s aus der aktuellen Stichprobenverteilung (Abb. 5.2) verwenden.
Die vollständige Angabe eines Messergebnisses x erfolgt durch Bezifferung
des Schätzwertes x̃ und seiner Vertrauensgrenzen V in der Form
ts
x = x̃ ± V = x̃ ± √ . (5.28)
N
Der zufällige Fehler Fx̃ des Schätzwertes beträgt demnach
ts
Fx̃ = ± √ . (5.29)
N
Der Vertrauensfaktor t ist bei einer endlichen Anzahl von Messwerten neben
der gewählten statistischen Sicherheit P auch von der Anzahl N der Einzel-
messungen abhängig. Die Funktion der entsprechenden Fehlerverteilung ist die
sog. Student-Verteilung (Abb. 5.3), die auch als t-Verteilung bezeichnet
wird. Die Student-Verteilung ist also die Verteilung der Stichprobe (N < ∞),
welche verständlicherweise breiter ist als die Normalverteilung, weil die Ver-
trauensgrenzen bei gleicher statistischer Sicherheit P aufgrund der Tatsache,
dass man über weniger Messwerte mittelt, größer sind als bei der für N → ∞
geltenden Normalverteilung (Tab. 5.2). Mit einer für die Praxis ausreichen-
den Genauigkeit gehen Student- und Normalverteilung ab N > 200 ineinander
über.

Tip:
Auf der CDROM befindet sich das LabVIEW-Programm
student_density.vi, mit dem die Studentverteilung gra-
phisch dargestellt werden kann. Der Wertebereich kann frei
gewählt und Werte für N können definiert werden.
5.2 Zufällige Messfehler 111

p(x)

pN

pt

μ−σ μ μ+σ x
Abb. 5.3. Vergleich von Normalverteilung pN und Student-Verteilung (t-Verteilung)
pt für N = 5

Für N = 50 Messwerte beispielsweise bedeutet dies, dass der gefundene


Mittelwert (= Schätzwert
√ x̃) mit einer Wahrscheinlichkeit von 99,73 % um
höchstens ±3, 16 sx̃/ 50 vom unbekannten wahren Wert xw abweicht. Der
Wert von t = 3, 16 kann Tab. 5.2 entnommen werden. Aus Tab. 5.2 ist auch
abzulesen, dass der Vertrauensfaktor für die Normalverteilung (N → ∞) mit
dem für die Student-Verteilung (N < ∞) ab einer Losgröße von N > 200
nahezu identisch ist.
Die bei einer Wahrscheinlichkeit von 68,3 % bestehende Unsicherheit wird
als der mittlere Fehler Δx des Schätzwertes bezeichnet
s
Δx = |xw − x̃| = √ . (5.30)
N
Die zufälligen Fehler können im Gegensatz zu den systematischen Fehlern

Tabelle 5.2. Abhängigkeit des Vertrauensfaktors t von der Anzahl der Messungen
N bei verschiedener statistischer Sicherheit P

P = 68, 3% =
ˆ 1, 0σ P = 95% =
ˆ 1, 96σ P = 99% =
ˆ 2, 58σ P = 99, 73% =
ˆ 3, 0σ
√ √ √ √
N t t/ N t t/ N t t/ N t t/ N
2 1,84 1,30 12,7 8,98 63,7 45,0 236 167
3 1,32 0,76 4,30 2,48 9,92 5,73 19,2 11,1
4 1,20 0,60 3,18 1,59 5,84 2,92 9,22 4,61
6 1,11 0,45 2,57 1,05 4,03 1,65 5,51 2,25
10 1,06 0,34 2,26 0,72 3,25 1,03 4,09 1,29
20 1,03 0,23 2,09 0,47 2,86 0,64 3,45 0,77
50 1,01 0,14 2,01 0,28 2,68 0,38 3,16 0,45
100 1,01 0,10 1,98 0,20 2,63 0,26 3,08 0,31
200 1,00 0,07 1,97 0,14 2,60 0,18 3,04 0,22
> 200 1,00 1,00

N
≈0 1,96 1,96

N
≈0 2,58 2,58

N
≈0 3,0 3,00

N
≈0
112 5 Messfehler

grundsätzlich nicht korrigiert werden. Zufällige Fehler können allerdings durch


eine hinreichend große Anzahl von Einzelmessungen beliebig klein gehalten
werden.

Tip:
Mit dem LabVIEW-Programm student_table.vi kann die
Tab. 5.2 berechnet werden. Die Wahrscheinlichkeiten sowie
die Werte für N können eingestellt werden.

Beispiel — Messreihe mit zufälligen Fehlern

Im Rahmen einer Messreihe wurden folgende 10 Werte gemessen:


i 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
xi 85,0 85,6 84,7 84,9 85,8 85,2 84,6 85,3 85,1 85,4

Der Schätzwert x̃ beträgt nach Gl. (5.23)

1 
10
x̃ = xi = 85, 16 . (5.31)
10 i=1

Die Schwankung s (empirische Standardabweichung) berechnet sich nach (Gl.


(5.24)) zu 
1 
10
s=! (xi − x̃)2 = 0, 381 . (5.32)
10 − 1 i=1

Der zufällige Fehler Fxi der Einzelmessung beziffert sich bei einer (frei gewähl-
ten) statistischen Sicherheit von 95 % nach Tab. 5.2 auf

Fxi (95 %) = ±ts = ±2, 26 · 0, 381 = ±0, 861 . (5.33)

Der zufällige Fehler des Schätzwertes Fx̃ ergibt sich bei derselben statistischen
Sicherheit von 95 % zu
ts
Fx̃ (95 %) = ± √ = ±0, 272 . (5.34)
N
Damit kann die vollständige Angabe des Messergebnisses in folgender Form
geschehen
x = 85, 16 ± 0, 272 , (5.35)
wobei sich die Angabe der absoluten Toleranzgrenzen von ±0, 272 auf eine
gewählte statistische Sicherheit von 95 % bezieht.
5.2 Zufällige Messfehler 113

Tip:
Eine LabVIEW-Aufgabe zum Thema “Schwankung des
Schätzwertes in Abhängigkeit von der Probenlänge” findet
sich auf der CD-ROM (Aufgabe 2.2b).

5.2.3 Fortpflanzung zufälliger Fehler

Wenn die gesuchte Messgröße y eine Funktion mehrerer mit voneinander un-
abhängigen zufälligen Fehlern behafteter Einzelmessgrößen xi (i = 1, . . . , n)
ist
y = Fkt.(x1 , . . . , xn ) , (5.36)
lässt sich der Mittelwert μy , der dem wahren Wert yw entspricht, wie folgt
berechnen
yw = μy = Fkt.(μ1 , . . . , μn ) , (5.37)
wobei μi die Mittelwerte der Einzelmessgrößen xi bezeichnen (Anzahl der
jeweils aufgenommenen Messwerte N → ∞). Unter der Voraussetzung klei-
ner Einzelstandardabweichungen σi lässt sich die Standardabweichung σy des
Mittelwertes μy nach dem Gaußschen Fehlerfortpflanzungsgesetz (Gl. (5.38))
ermitteln 
n
2 
∂y 
σy = !  σi2 . (5.38)
∂xi 
i=1 (μ1 ,μ2 ,...,μn )

Ist beispielsweise das Aufgabengesetz vom Typ

y = kxr11 xr22 , (5.39)

so ergibt sich der mittlere relative Fehler fy (Wahrscheinlichkeit von 68,3 %)


zu
Fy σy
fy = =
y y


2
2
r1 2 r2
= σ1 + σ22 . (5.40)
x1 x2

Dabei wurde berücksichtigt, dass der absolute zufällige mittlere Fehler Fy ,


d. h. der Fehler für eine Wahrscheinlichkeit von 68,3 %, gerade der Standard-
abweichung σy entspricht.
Da im praktischen Fall die Anzahl der aufgenommenen Messwerte endlich
bleibt (N < ∞), handelt es sich bei dem errechneten Mittelwert nur um einen
Schätzwert ỹ des wahren Wertes yw . Wenn x̃i den Schätzwert der Einzelmess-
größe xi bezeichnet, gilt

ỹ = Fkt.(x̃1 , . . . , x̃n ) . (5.41)


114 5 Messfehler

Unter der Voraussetzung einer Normalverteilung und für kleine Schwankungen


(si |xi |) berechnet sich die Schwankung sỹ des Schätzwertes ỹ wiederum
nach dem Gaußschen Fehlerfortpflanzungsgesetz aus den Schwankungen si der
Einzelmessgrößen

n
2 
∂y 
sỹ = !  s2i . (5.42)
∂xi 
i=1 (x̃1 ,x̃2 ,...,x̃n )

5.3 Genauigkeitsklassen bei Messgeräten


Für standardmäßige elektrische Messgeräte wird vom Hersteller eine Genau-
igkeitsklasse, d. h. eine garantierte obere Fehlergrenze angegeben, die i. Allg.
mit G oder Gk bezeichnet wird. Sie gibt den Betrag der auf den Messbereichs-
endwert bezogenen maximal möglichen Abweichung Δx vom wahren Wert in
Prozent an
 
 Δx  |Fehlangabe|
G=   100% = 100% . (5.43)
xend  |Messbereichsendwert|
Es gibt folgende genormte Genauigkeitsklassen nach VDE 0410:
• Betriebsmessgeräte: 1; 1,5; 2,5; 5,0
• Feinmessgeräte: 0,05; 0,1; 0,2; 0,5.
Der entsprechende maximale relative Fehler beträgt demnach
Δx xend G
=± . (5.44)
x x 100%
Er nimmt also stark zu, wenn der Messbereich nur im unteren Teil genutzt
wird. Der durch die Genauigkeitsklasse beschriebene Maximalfehler gilt selbst-
verständlich nur bei Einhaltung der ansonsten vom Hersteller spezifizierten
Randbedingungen, wie der Einhaltung von Temperaturgrenzen, Frequenzbe-
reich, Fremdfeldeinfluss, Lage etc.. Bei Instrumenten, deren Messbereichsan-
fangswert nicht mit dem Nullpunkt identisch ist, wird die Fehlangabe statt
auf den Messbereichsendwert auf den Messbereichsumfang bezogen, die auch
als Messspanne Msp bezeichnet wird (Gl. (5.4)).

5.4 Dynamische Messfehler


Bei der Messung zeitlich variabler Größen treten infolge der nicht-idealen
Übertragungseigenschaften der Messsysteme stets dynamische Messfehler auf.
Diese sind im Wesentlichen auf Trägheiten der Messeinrichtungen (Tief-
passverhalten) zurückzuführen, welche sich infolge ihrer Speichereigenschaften
bezüglich mechanischer, thermischer oder elektromagnetischer Energie nicht
5.4 Dynamische Messfehler 115

vermeiden lassen. Da das Verständnis von dynamischen Messfehlern grundle-


gende Kenntnisse auf dem Gebiet der systemtheoretischen Beschreibung von
Messsystemen verlangt, folgt zunächst ein Abschnitt, der die entsprechende
Systemtheorie kurz wiederholen soll (s. Kap. 3).

5.4.1 Das Übertragungsverhalten von Messsystemen

Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch Impulsantwort


bzw. Sprungantwort

Ein lineares Messsystem liefert an seinem Ausgang die Impulsantwort g(t)


(Gewichtsfunktion), wenn die Eingangsgröße ein Dirac-Impuls δ(t) ist (Abb.
5.4) (Kap. 3.11).

Abb. 5.4. Impulsantwort g(t) eines linearen Messsystems

Für eine beliebige Anregungsfunktion x(t) ergibt sich das Ausgangssignal y(t)
durch Faltung mit der Impulsantwort (Kap. 3.11)
 +∞  +∞
y(t) = x(τ )g(t − τ ) dτ = x(t − τ )g(τ )dτ = x(t)  g(t) . (5.45)
−∞ −∞

Da wir kausale Messsysteme voraussetzen, deren Impulsantwort g(t) für t < 0


verschwindet und auch die Anregungsfunktion x(t) für t < 0 zu Null anneh-
men, kann man die untere Grenze des Faltungsintegrals (−∞) durch  0 und
die obere Grenze (+∞) durch  t ersetzen (Gl. (3.222))
 t  t
y(t) = x(τ )g(t − τ ) dτ = x(t − τ )g(τ ) dτ . (5.46)
0 0

Anstatt ein Messsystem durch seine Impulsantwort zu beschreiben, ist es in


der Messtechnik auch gebräuchlich, seine Sprungantwort h(t) anzugeben.
Diese erhält man als Ausgangssignal, wenn man als Anregungssignal x(t) eine
Sprungfunktion verwendet (Abb. 5.5), wobei die Sprungfunktion folgender-
maßen definiert ist ⎧
⎨ 1 f ür t ≥ 0
ε(t) = (5.47)

0 f ür t < 0 .
Der Zusammenhang zwischen Sprungantwort h(t) und Impulsantwort g(t)
wurde bereits in Kapitel 3.12 hergeleitet (Gl. (3.234))
116 5 Messfehler
 t
h(t) = g(τ ) dτ . (5.48)
0

Der Wert, der sich nach einer Sprunganregung als stabiler Wert einstellt, wird
als Beharrungswert bezeichnet.

Abb. 5.5. Sprungantwort h(t) eines linearen Messsystems

Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch


Übertragungsfunktionen

Aus der linearen Systemtheorie weiß man (Kap. 3.11), dass harmonische An-
regungen der Form

x(t) = Re{X̂(ω)ejωt } = Re{X̂(ω)ejϕx (ω) ejωt } (5.49)

bei linearen Systemen im eingeschwungenen Zustand stets zu einem Antwort-


signal y(t) mit derselben Frequenz aber veränderter Amplitude und Phasen-
lage führen
y(t) = Re{Ŷ (ω)ejωt } = Re{Ŷ (ω)ejϕy (ω) ejωt } , (5.50)
wobei |X̂| = X̂ und |Ŷ | = Ŷ gilt. Die Übertragungsfunktion G(ω) des linearen
Systems ist dann folgendermaßen definiert

Ŷ (ω) Ŷ (ω)
G(ω) = = ej(ϕy −ϕx ) = |G(ω)|ejϕ(ω) . (5.51)
X̂(ω) X̂(ω)

Die komplexe Übertragungsfunktion G(ω) lässt sich aufspalten in den Betrags-


gang |G(ω)| und den dazugehörigen Phasengang arg{G(ω)} = ϕ(ω). Daraus
lassen sich die Dämpfung a(ω) und deren Phase b(ω) wie folgt errechnen

a(ω) = −20 lg |G(ω)| [dB] (5.52)


b(ω) = −arg(G(ω)) . (5.53)

Die Übertragungsfunktion gibt also Auskunft darüber, wie das Messsystem


die Amplitude und die Phasenlage einer harmonischen Anregung verändert.
Für beliebige (nicht-periodische) Zeitsignale berechnet sich die Über-
tragungsfunktion eines linearen Systems aus den Quotienten der Fourier-
Transformierten (Tab. 5.3) F {y(t)} und F {x(t)} vom Ausgangs- und Ein-
gangssignal y(t) bzw. x(t)
F {y(t)}
G(ω) = . (5.54)
F {x(t)}
5.4 Dynamische Messfehler 117

Tabelle 5.3. Definitionsgleichungen der Laplace- und Fourier-Transformationen


(Kap. 3)

Fourier-Transformation Fourier-Rücktransformation
F{x(t)} = X(ω) x(t) = F −1 {X (ω)}
 +∞  +∞
= −∞ x(t)e−jωt dt 1
= 2π −∞
X(ω)ejωt dω

Laplace-Transformation Laplace-Rücktransformation
L{x(t)} = X(s) x(t) = L−1 {X (s)}
∞  σ+j∞
= 0 x(t)e−st dt 1
= 2πj σ−j∞
X(s)est ds

Mit diesen Zusammenhängen und der Eigenschaft, dass eine Faltung zweier
Signale im Zeitbereich einer Multiplikation der Fourier-Transformierten im
Frequenzbereich entspricht, erhält man aus Gl. (5.45)

Y (ω) = X(ω) G(ω) . (5.55)

Daraus folgt auch, dass die Fourier-Transformierte der Gewichtsfunktion der


Übertragungsfunktion entspricht.

G(ω) = F {g(t)} . (5.56)

Beschränkt man sich auf kausale Zeitsignale (x(t) = 0 für t < 0), so ist es
zweckmäßig, anstatt der Fourier-Transformation die Laplace-Transformation
(Tab. 5.3) zu verwenden. Die Laplace-Übertragungsfunktion G(s) eines linea-
ren Systems ist folgendermaßen definiert

L{y(t)} Y (s)
G(s) = = . (5.57)
L{x(t)} X(s)

Dabei sind L{x(t)} und L{y(t)} die Laplace-Transformierten (Tab. 5.3) der
Zeitfunktionen x(t) und y(t), wobei s = σ + jω die Laplace-Variable darstellt.
Die Faltungsoperation (Gl. (5.46)) vereinfacht sich für kausale Zeitsignale und
Systeme im Laplace-Bereich ebenfalls zu einer Multiplikation der entsprechen-
den Laplace-Transformierten (Kap. 3.5.4)

Y (s) = G(s)X(s) . (5.58)

Die Übertragungsfunktion G(s) ist demnach auch die Laplace-Transformierte


der Impulsantwort g(t)
G(s) = L{g(t)} . (5.59)
Entsprechend dem Integrationssatz der Laplace-Transformation (Kap. 3.5.2)
 t $
1
L f (τ ) dτ = F (s) , (5.60)
0 s
118 5 Messfehler

wobei
L{f (t)} = F (s) , (5.61)
folgt aus Gl. (5.48) der Zusammenhang zwischen der Übertragungsfunktion
G(s) und der Sprungantwort h(t)
 $
G(s)
h(t) = L−1 . (5.62)
s

Zusammengesetzte Systeme

Die Gesamtübertragungsfunktionen der in Abb. 5.6 gezeigten zusammenge-


setzten Systeme ergeben sich wie folgt: Serienschaltung (Abb. 5.6a)

Y (s)
G(s) = = G1 (s)G2 (s) (5.63)
X(s)

Parallelschaltung (Abb. 5.6b)

Y (s)
G(s) = = G1 (s) + G2 (s) (5.64)
X(s)

Rückkoppelschaltung (Kreisschaltung) (Abb. 5.6c)

Y (s) G1 (s)
G(s) = = . (5.65)
X(s) 1 + G1 (s)G2 (s)

Abb. 5.6. Zusammengesetzte Übertragungssysteme: a) Serienschaltung (Hinterein-


anderschaltung), b) Parallelschaltung, c) Rückkoppelschaltung (Kreisschaltung)
5.4 Dynamische Messfehler 119

Beschreibung des Übertragungsverhaltens durch


Differentialgleichungen

Für lineare Systeme kann der mathematische Zusammenhang zwischen dem


Anregungssignal x(t) und dem Ausgangssignal y(t) in Form einer Differenti-
algleichung mit konstanten Koeffizienten beschrieben werden ( =d/dt)
ˆ

a0 x + a1 x + . . . + an x(n) = b0 y + b1 y  + . . . + bm y (m) . (5.66)

Gemäß dem Differentiationssatz der Laplace-Transformation (Kap. 3.5.3)

L{f (n) (t)} = sn F (s) − sn−1 f (t)|t=0


− . . . sf (t)(n−2) |t=0 − f (t)(n−1) |t=0 , (5.67)

wobei f (n) die n-te Ableitung der Funktion f nach der Zeit t ist, kann
Gl. (5.66) für den vereinfachten Fall, dass alle Anfangswerte f (t = 0) bis
f (t)(n−1) |t=0 Null sind, folgendermaßen im Laplace-Bereich dargestellt wer-
den

a0 X(s) + a1 sX(s) + . . . + an sn X(s) = b0 Y (s) + b1 sY (s) + . . . + bm sm Y (s) .


(5.68)
Damit ergibt sich folgender fester Zusammenhang zwischen der Übertra-
gungsfunktion G(s) im Laplace-Bereich und den Koeffizienten der Differenti-
algleichung
a 0 + a1 s + a2 s 2 + . . . + an s n
G(s) = , (5.69)
b 0 + b 1 s + b 2 s2 + . . . + b m sm
wobei stets n ≤ m gilt. Der Quotient E
a0
E= (5.70)
b0
wird auch als Empfindlichkeit des Messsystems bezeichnet.
Bei Kenntnis der Laplace-Übertragungsfunktion G(s) bzw. der Fourier-
Übertragungsfunktion G(ω), der Impulsantwort g(t) bzw. der Sprungantwort
h(t) oder auch der Koeffizienten ai und bj der Differentialgleichung lassen sich
die dynamischen Messfehler eines Messsystems beschreiben. Die Definition
des dynamischen Messfehlers und seine Bestimmung anhand dieser Kennwerte
wird in den beiden folgenden Abschnitten beschrieben.

5.4.2 Definition des dynamischen Messfehlers

Beim Erfassen zeitlich veränderlicher Messgrößen entstehen aufgrund der oben


beschriebenen (nicht-idealen) Übertragungseigenschaften unweigerlich dyna-
mische Messfehler. Da sich im Falle linearer Messsysteme die dynamischen
Fehler von den statischen separieren lassen, können wir uns im Folgenden oh-
ne Einschränkung der Allgemeinheit auf dynamische Messfehler konzentrieren
120 5 Messfehler

und die statischen ausschließen. Der momentane dynamische Messfehler


Fdyn ist definiert als
Fdyn = x(t) − xw (t) , (5.71)
wobei x(t) und xw (t) die zeitlichen Verläufe des Messwertes bzw. des wahren
Wertes darstellen.
Praktischer als die Angabe der Momentanverläufe von Fehlern ist die An-
gabe ihrer Mittelwerte. Wenn wir einen stationären Verlauf der Messgröße
voraussetzen (stationär heißt, dass die sich durch zeitliche Mittelung erge-
benden Kenngrößen, wie z. B. der quadratische Mittelwert des Signals (Kap.
6.3.1), konstant bleiben), lässt sich als wichtige Kenngröße der mittlere qua-
dratische dynamische Fehler angeben

2 1 T 2
Fdyn = lim Fdyn (t) dt . (5.72)
T →∞ T 0

Wenn der Messgrößenverlauf periodisch ist, darf die Integrationszeit T auf die
2
Periodendauer begrenzt werden. Da Fdyn einen absoluten Fehler beziffert, ist
es zweckmäßig, diesen auf den quadratischen Mittelwert x2 des Messsignals
zu normieren (Kap. 6.3.1)
 T
1
x2 = x2 (t) dt . (5.73)
T 0

Es ergibt sich somit der bezogene quadratische Mittelwert des dynamischen


2
Fehlers fdyn
2
Fdyn
2
fdyn = . (5.74)
x2

5.4.3 Bestimmung des dynamischen Messfehlers

Im Folgenden wird angenommen, dass der dynamische Fehler durch das (nicht-
ideale) Übertragungsverhalten des Messsystems, das sich durch die Übertra-
gungsfunktion G(s) beschreiben lässt (Abb. 5.7), verursacht wird. Bei deter-
ministischen Anregungssignalen lässt sich der dynamische Messfehler mit der
bekannten Übertragungsfunktion des Messsystems G(s) ermitteln

Abb. 5.7. Dynamischer Messfehler aufgrund des (nicht-idealen) Übertra-


gungsverhaltens des Messsystems. G(s) ist die Übertragungsfunktion im Laplace-
Bereich.
5.4 Dynamische Messfehler 121

Fdyn (s) = X(s) − Xw (s)


= Xw (s)[G(s) − 1]
 
1
= X(s) 1 − . (5.75)
G(s)

Für den Fall, dass das Eingangssignal (wahrer Wert) des Messsystems be-
kannt ist (Vorwärtsanalyse), erhält man den Momentanverlauf des absolu-
ten Messfehlers Fdyn (t) durch folgende Laplace-Rücktransformation

Fdyn (t) = L−1 {Xw (s)[G(s) − 1]} . (5.76)

Im umgekehrten Fall (Rückwärtsanalyse) ist der Messwert x(t) bekannt,


und man erhält Fdyn (t) als
  $
−1 1
Fdyn (t) = L X(s) 1 − . (5.77)
G(s)

5.4.4 Messsystem mit Tiefpassverhalten

In aller Regel zeigen Messsysteme ein mehr oder weniger ausgeprägtes Tief-
passverhalten. Im Folgenden soll daher zunächst der aus einem Tiefpass 1.
Ordnung resultierende dynamische Fehler berechnet werden (Abb. 5.8), wenn
der wahre Wert zum Zeitpunkt t = 0 auf den Wert X0 springt.

1
xw (t) Xw (s) GM(s) = X (s) x (t)
1+sτ
M

Abb. 5.8. Messsystem (Tiefpass 1. Ordnung)

Vorwärtsanalyse

Wenn der wahre Wert bekannt ist, lässt sich gemäß Gl. (5.76) der absolute
dynamische Messfehler wie folgt berechnen

Fdyn (t) = L−1 {Xw (s)[GM (s) − 1]} = L−1 {F (s)} . (5.78)

Mit
X0
Xw (s) = (5.79)
s
folgt  
X0 1 X0 τM
F (s) = −1 =− . (5.80)
s 1 + sτM 1 + sτM
122 5 Messfehler

Der zeitliche Verlauf des dynamischen Messfehlers lautet

Fdyn (t) = −X0 · e−t/τM . (5.81)

Der mittlere quadratische dynamische Fehler beträgt (Gl. (5.72))


 T
1
2
Fdyn = lim X02 e−2t/τM dt
T →∞ T 0
T
−X02 τM 1 −2t/τM 
= lim e 
2 T →∞ T 0
−X02 τM 1  −2T /τM 
= lim e −1 =0. (5.82)
2 T →∞ T

Rückwärtsanalyse

Hier ist nur der gemessene Wert bekannt. Aus Gl. (5.77) folgt der dynamische
Fehler   $
−1 1
Fdyn (t) = L X(s) 1 − . (5.83)
GM (s)
Die Auswertung führt zum selben Ergebnis wie die Vorwärtsanalyse
 $
−1 −X0 τM
Fdyn (t) = L = −X0 · e−t/τM . (5.84)
1 + sτM

Verringerung des dynamischen Fehlers durch Korrekturnetzwerk

Der vom Messsystem herrührende dynamische Fehler kann durch ein nach-
geschaltetes Korrekturnetzwerk zum Teil kompensiert werden. Dies soll an-
hand eines Beispiels demonstriert werden. Das Ausgangssignal des Messsy-
stems (Tiefpass 1. Ordnung) wird aus diesem Grund mittels eines Oszilloskop-
Tastkopfes abgegriffen (s. auch Kap. 10.2). Die gesamte Messkette wird in
Abb. 5.9 gezeigt.
Mit
RT
VR = . (5.85)
RE
lautet die Übertragungsfunktion der gesamten Messkette (Messsystem und
Tastkopf)

XT (s) 1 1 + sτT
Gges (s) = = · . (5.86)
XW (s) 1 + sτM 1 + sτT + VR (1 + sτE )
Dabei wird vorausgesetzt, dass die Ein- bzw. Ausgangsimpedanzen vom
Messsystem und dem Tastkopf so gewählt wurden, dass die beiden Netzwerke
auch nach der Zusammenschaltung ihr ursprüngliches Übertragungsverhalten
beibehalten.
5.4 Dynamische Messfehler 123

Abb. 5.9. Messsystem mit Korrekturnetzwerk (Tastkopf). Die Zeitkonstanten sind


folgendermaßen definiert: τT = RT CT ; τE = RE CE .

Um die Auswirkung des Korrekturnetzwerkes auf das Ausgangssignal zu de-


monstrieren, werten wir wiederum das Ausgangssignal xT (t) (bzw. zunächst
XT (s)) für eine Sprunganregung aus
X0 1 1 1 + sτT
XT (s) = · · · . (5.87)
s 1 + sτM 1 + VR 1 + s τT1+V
+VR τE
R

Mit
τT + VR τE
τ∗ = (5.88)
1 + VR
erhält man
1 + VR 1 1 1 + sτT
XT · = · · . (5.89)
X0 s 1 + sτM 1 + sτ ∗
Eine Partialbruchzerlegung
1 + VR A B C
XT · = + + (5.90)
X0 s 1 + sτM 1 + sτ ∗
liefert

A=1 (5.91)
τM (τT − τM )
B = τB = (5.92)
τM − τ ∗
τ ∗ (τT − τ ∗ )
C = −τC = − . (5.93)
τM − τ ∗
Mit
 
X0 1 τB 1 τC 1
XT (s) = + · − ∗ · (5.94)
1 + VR s τM s + 1/τM τ s + 1/τ ∗
ergibt sich die entsprechende Zeitfunktion zu
 
X0 τB −t/τM τC −t/τ ∗
x(t) = ε(t) + ·e − ∗ ·e . (5.95)
1 + VR τM τ
124 5 Messfehler

Abbildung 5.10 verdeutlicht die Verbesserung des dynamischen Verhaltens


der Messeinrichtung durch das nachgeschaltete Korrekturnetzwerk. Es wur-
den folgende Werte verwendet: X0 = 10 V; τM = 100 μs; VR = 9; τE = 0
(Weglassen von CE ). Die Zeitkonstante τT wird variiert.

x (t)
T τ T = 1,17 τ
M

1V

τ = 1,00 τ
T M
0,5V
τ T = 0,81 τ
M
τ =0
T

100 500 t (μs)

Abb. 5.10. Den schnellsten Einschwingvorgang ohne Überschwingen erhält man,


wenn die Nullstelle des Tastkopfes genau auf dem Pol des Tiefpasses liegt. Der Wert
τT = 0 liefert den prinzipiellen Zeitverlauf der Sprungantwort des Messsystems ohne
Korrekturnetzwerk.
6
Analoges Messen elektrischer Größen

Die Grundfunktionen eines Messgerätes gliedern sich in die Aufnahme der


Messgröße, die Verarbeitung des Messsignals und in die Ausgabe des Messwer-
tes (Abb. 6.1). Bei den Messgeräten zur Messung von elektrischem Strom bzw.
elektrischer Spannung unterscheidet man zwischen den klassischen elektro-
mechanischen Instrumenten mit analogen Zeigerskalen und den moderneren
elektronischen, auf digitaler Basis arbeitenden Geräten mit interner Analog-
Digital-Umsetzung und Ziffern- oder Bildschirmausgabe. Obwohl die klassi-
schen Zeigergeräte in den letzten Jahren an Bedeutung verloren haben, sollen
diese im Kap. 6.1 ausführlich beschrieben werden, da die in diesen Geräten
genutzten Wandlungsprinzipien von grundlegender Bedeutung für die Elek-
trische Messtechnik sind, insbesondere für die Sensortechnik bei der Messung
mechanischer Größen. Auf die auf digitaler Basis arbeitenden Messgeräte wird
in Kap. 11 näher eingegangen.

Abb. 6.1. Grundfunktionen eines Messgerätes

6.1 Elektromechanische Messgeräte


Elektromechanische Messgeräte beruhen auf dem Prinzip, einer zu messenden
elektrischen Größe (i. Allg. Strom oder Spannung) mit Hilfe eines geeigneten
physikalischen Effektes eine Kraftwirkung zuzuordnen. Diese Kraft wird auf

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_6
126 6 Analoges Messen elektrischer Größen

einen Zeiger übertragen, der durch eine im Allgemeinen von einer Feder er-
zeugten Gegenkraft in einer Stellung verharrt, so dass der Zeigerausschlag ein
Maß für die Messgröße darstellt, wenn möglich ihr proportional ist.

6.1.1 Drehspulmesswerk

Kraft auf einen stromdurchflossenen Leiter im Magnetfeld

Einer der im Bereich der Elektromechanik vielfach genutzten Effekte ist die
Kraftwirkung auf einen stromdurchflossenen Leiter im Magnetfeld. Wenn sich
ein gerader linienförmiger Leiter der Länge l, der einen Strom I führt, in
einem homogenen Magnetfeld mit der magnetischen Induktion B  befindet

(Abb. 6.2), wirkt auf ihn die mechanische Kraft F [25]

F = I(l × B)
 . (6.1)

Dabei zeigt l in die positive Stromrichtung des Leiters.

Abb. 6.2. Kraft auf einen stromdurchflossenen Leiter im Magnetfeld

Aufbau und Prinzip

Das Drehspulmesswerk ist ein Standardmesswerk, bei dem der eben beschrie-
bene physikalische Effekt genutzt wird, gemäß dem auf einen stromdurch-
flossenen Leiter in einem Magnetfeld eine mechanische Kraft ausgeübt wird.
Das Drehspulmesswerk besteht aus einem mit Polschuhen versehenen, festste-
henden Dauermagneten, der in Verbindung mit einem zylindrischen Weich-
eisenkern in einem begrenzten Winkelabschnitt des Luftspaltes ein radial-

homogenes B-Feld erzeugt (Abb. 6.3). Der Weicheisenkern wird von einer
drehbar gelagerten Spule mit rechteckigem Spulenrahmen und Windungszahl
N umschlossen. Die Höhe des Spulenrahmens beträgt l, seine Breite 2r. Wird
die Spule von einem Strom I durchflossen, ergibt sich die Kraftwirkung auf
einen einzelnen Leiter nach Gl. (6.1). Das auf die aus N Leiterwindungen
bestehende Spule wirkende Drehmoment M  el berechnet sich somit zu
6.1 Elektromechanische Messgeräte 127

Abb. 6.3. Drehspulmesswerk: a) Prinzipieller Aufbau, b) Schnitt durch den Spu-


lenrahmen, c) Symbol

 el = 2Nr × F
M
= 2Nr × [I(l × B)]

= 2N rIlBea , (6.2)

wobei der Einheitsvektor ea in Richtung der Drehachse zeigt. Durch eine an
der Spule angebrachte Spiralfeder (Federkonstante D) wird das Rückstellmo-
ment M mech erzeugt
 mech = −Dαea .
M (6.3)
Aus der Gleichgewichtsbedingung M  mech = 0 folgt der Winkel α, bei
 el + M
dem sich Gleichgewicht einstellt bzw. bei dem der Zeiger verharrt
2N lBr
α= I = Si I . (6.4)
D
Dabei bezeichnet Si die Stromempfindlichkeit des Drehspulmesswerkes. In
technischen Ausführungen wird anstatt der Spiralfeder oft ein Spannband
benutzt, das neben der Erzeugung des Rückstellmomentes sowohl der Strom-
zuführung als auch der reibungsarmen Lagerung der Drehspule dient.

Dynamisches Verhalten eines Drehspulmesswerkes

Für eine winkelgeschwindigkeitsproportionale Dämpfung mit dem Dämp-


fungsmoment η α̇ und dem Beschleunigungsmoment Θα̈ (das Trägheitsmoment
der Drehspule wird mit Θ bezeichnet) ergibt sich die den Winkelausschlag α
beschreibende Differentialgleichung zu

Θα̈ + η α̇ + Dα = Mel (t) , (6.5)

wobei ein Punkt über dem Formelzeichen die zeitliche Ableitung der entspre-
chenden Formelgröße nach der Zeit und zwei Punkte die zweifache zeitliche
Ableitung bedeuten. Mit den Substitutionen für die Eigenkreisfrequenz ω0 des
ungedämpften Systems
128 6 Analoges Messen elektrischer Größen

D
ω0 = (6.6)
Θ
und mit dem normierten Dämpfungskoeffizient η̃
η
η̃ = √ (6.7)
2 ΘD
ergibt sich die folgende Differentialgleichung
1 2η̃ 1
2 α̈ + α̇ + α = Mel (t) . (6.8)
ω0 ω0 D

Von den Lösungen dieser Differentialgleichung interessiert im Allgemeinen die


Antwort auf eine zeitlich sprunghaft ansteigende Eingangsgröße (Sprungant-
wort). In Abhängigkeit des (normierten) Dämpfungskoeffizienten η̃ erhält man
die normierte Sprungantwort α/α0 , wobei α0 den Ausschlag für t → ∞ be-
zeichnet (Abb. 6.4):
• keine Dämpfung (η̃ = 0)
α
= 1 − cos ω0 t (6.9)
α0
• periodische (schwingende) Einstellung η̃ < 1
α ω0 −η̃ω0 t
= 1− e cos(ωt − ϕ) (6.10)
α0 ω
mit 
ω = ω0 1 − η̃ 2 (6.11)

Abb. 6.4. Auf den Endausschlag α0 bezogene Sprungantwort eines Drehspulinstru-


mentes bei verschiedenen (normierten) Dämpfungskoeffizienten η̃
6.1 Elektromechanische Messgeräte 129

und " #
η̃
ϕ = arctan  (6.12)
1 − η̃ 2
• aperiodischer Grenzfall (η̃ = 1)
α
= 1 − e−ω0 t (1 + ω0 t) (6.13)
α0
• aperiodische (kriechende) Einstellung (η̃ > 1)
 
α 1 1 1
=1+ √ − e−t/τ1 + e−t/τ2 (6.14)
α0 2ω0 η̃ − 1 τ2 τ1
mit
1
τ1 =  (6.15)
ω0 (η̃ − η̃ 2 − 1)
und
1
τ2 =  . (6.16)
ω0 (η̃ + η̃ 2 − 1)

Dämpfung beim Drehspulmesswerk

Ein Dämpfungsmoment entsteht, wenn die durch die Drehspulenbewegung im


Magnetfeld induzierte Spannung über einen Widerstand zu einem Strom führt.
Nach der Lenzschen Regel wirkt dieser Ausgleichstrom dem Messstrom ent-
gegen und dämpft damit die Ausschlagbewegung des Zeigers. Bei einer Spule
mit Rahmenhöhe l und Windungszahl N beträgt die induzierte Spannung uind

dφ d  dA

uind = −N = −N B
dt dt
% & '
∂B
=N dA − (v × B)
 ds
A ∂t
&
= −N ωrB ds

= −2N lrB . (6.17)
dt

Dabei wurde berücksichtigt, dass ∂ B/∂t  d ist
= 0. Das Dämpfungsmoment M
dem resultierenden Strom iind proportional
 d = 2Nr × F = 2Nr × [iind (l × B)]
M  (6.18)
Md = 2N rlBiind . (6.19)

Wenn die induzierte Spannung uind den Strom iind in einem Kreis mit Wider-
stand RK hervorruft, ergibt sich das Dämpfungsmoment
130 6 Analoges Messen elektrischer Größen

1 dα
Md = (2N rlB)2 . (6.20)
RK dt
Mit
Md = η α̇ (6.21)
folgt für den (nicht-normierten) Dämpfungskoeffizienten η aus Gl. (6.5)

(2N rlB)2
η= . (6.22)
RK
Dabei setzt sich der Gesamtwiderstand des Messkreises RK , der sog. Schlie-
ßungswiderstand, aus dem Widerstand der Messspule RSP , einem eventuell
vorhandenen Abgleichwiderstand RT und dem Widerstand des äußeren Krei-
ses RA zusammen
RK = RSP + RT + RA . (6.23)
Wenn ein Abgleichwiderstand RT vorhanden ist, kann dieser bei konstan-
tem RA genutzt werden, um beispielsweise eine aperiodische Dämpfung zu
erzielen. Die kürzeste Einstellzeit wird allerdings für einen Dämpfungsgrad
η̃ < 1, also nach leichtem Überschwingen erreicht. Abbildung 6.5 zeigt die auf
die Periodendauer T0 der Grundschwingung bezogene Einstellzeit TE , die das
Messwerk nach einer Sprunganregung benötigt, um innerhalb einer Schwan-
kungsbreite von ± 1,5 % des Endausschlages zu bleiben. Die für den Wert
± 1,5 % ermittelte Zeit wird auch als Beruhigungszeit bezeichnet. Nachtei-
lig an dem eben beschriebenen Dämpfungsmechanismus ist allerdings, dass
die Größe der Dämpfung über den Schließungswiderstand RK vom jeweiligen
Widerstand RA des äußeren Kreises abhängt.

Abb. 6.5. Bezogene Einstellzeit TE /T0 als Funktion des normierten Dämpfungsko-
effizienten η̃ bei einem zulässigen Toleranzbereich von ± 1,5 % um den Endausschlag
6.1 Elektromechanische Messgeräte 131

Um diese Abhängigkeit zu vermeiden, setzt man vorzugsweise die sog. Rah-


mendämpfung ein, bei der die Spule auf einen elektrisch leitenden Alumini-
umrahmen aufgebracht wird. In dem Aluminiumrahmen werden infolge der
Drehbewegung elektrische Spannungen induziert, die im geschlossenen Rah-
men Wirbelströme zur Folge haben. In Verbindung mit dem Magnetfeld des
Permanentmagneten bilden sich infolge dieser Ströme Kräfte (Gegenkräfte)
aus, die gemäß der Lenzschen Regel so gerichtet sind, dass sie die Bewegung
bremsen und damit dämpfen. Im Allgemeinen werden Drehspulinstrumente
so ausgelegt, dass die Rahmendämpfung überwiegt, um die Dämpfungswerte
von den oben beschriebenen Einflüssen des jeweiligen Messkreises (Gln. (6.22)
und (6.23)) unbeeinflusst zu lassen.

6.1.2 Galvanometer

Spezielle Bauformen des Drehspulinstrumentes, die darauf abzielen, eine be-


sonders hohe Stromempfindlichkeit zu erreichen, werden als Galvanometer
bezeichnet. Da sie im Allgemeinen zum Feststellen der Stromlosigkeit in
Messbrücken oder Kompensatoren eingesetzt werden, benötigen Galvanome-
ter keine in Strom- bzw. Spannungswerten kalibrierte Skala. Wenn der me-
chanische Zeiger durch einen Lichtzeiger ersetzt wird, führt dies zu besonders
hoher Empfindlichkeit. Dieser Lichtzeiger besteht aus einem am Spannband
befestigten Spiegel, dessen Winkelstellung mit Hilfe eines auf ihn auftreffen-
den und aus seiner Ruhelage ausgelenkten Lichtstrahles detektiert wird (Abb.
6.6). Typische Werte für die Stromempfindlichkeit von solchen Drehspul-
Spiegelgalvanometern liegen zwischen Si = 10 mm/pA und Si = 105 mm/pA
für 1 m Lichtzeigerlänge. Die hohe Stromempfindlichkeit Si wird durch Ver-
wenden einer Feder mit kleiner Drehfederkonstante D erreicht (Gl. (6.4)).
Damit andererseits die Eigenfrequenz ω0 nicht zu klein und damit die Ein-
schwingdauer nicht zu groß werden, muss auch das Trägheitsmoment Θ gemäß
Gl. (6.6) gering gehalten werden, was durch eine Spule mit geringem Rahmen-
durchmesser erreicht wird.
Das dynamische Verhalten von Galvanometern wird durch die dämpfende
Wirkung des im Messkreis induzierten Stromes gesteuert. Für die aperiodi-
sche Dämpfung η̃ = 1 fordern die Gln. (6.7) und (6.22) einen Schließungswi-
derstand RKaper , der sich wie folgt ergibt

Abb. 6.6. Spiegelgalvanometer


132 6 Analoges Messen elektrischer Größen

2
RKaper = √ (N rlB)2 . (6.24)
ΘD
Durch eine geeignete Wahl des Abgleichwiderstandes RT kann nach Gl. (6.23)
das Galvanometer so eingestellt werden, dass sein Zeiger entweder schwingend
(RK > RKaper ) oder kriechend (RK < RKaper ) seine Endstellung erreicht. Die
Einstellung der Dämpfung von Galvanometern lässt sich gemäß Gl. (6.22) bei
entsprechenden Bauformen auch durch Verändern der magnetischen Induktion
 in Form eines veränderlichen magnetischen Nebenschlusses erreichen. Es ist
B
allerdings zu beachten, dass durch diese Maßnahmen auch die Empfindlichkeit
des Galvanometers verändert wird.

Kriechgalvanometer

Mit Hilfe eines kriechend gedämpften Galvanometers (RK RKaper ), einem


sog. Kriechgalvanometer, bei dem außerdem das Richtmoment vernachlässig-
bar klein ist (D → 0), kann ein

Spannungsstoß = u dt (6.25)

unmittelbar gemessen werden. Da wegen der kriechenden Einstellung (RK ist


sehr klein) außerdem das Beschleunigungsmoment Θα̈ vernachlässigt werden
darf, ist in diesem Fall nur das Dämpfungsmoment relevant. Aus den Gln.
(6.2) und (6.5) folgt für D = 0
Θα̈ + η α̇ = Mel (t) = 2N rlBi(t) . (6.26)
Wegen der dominierenden Spulendämpfung ergibt sich mit Gl. (6.20) aus
(2N rlB)2 2N rlBu(t)
Θα̈ + α̇ = (6.27)
RK RK
unter Vernachlässigung des Beschleunigungsmoments die Spannung zu
dα dα
u(t) = 2N lrB = cf (6.28)
dt dt
bzw. der Spannungsstoß
 t2
u(t) dt = cf [α(t2 ) − α(t1 )]
t1
= cf [α2 − α1 ] . (6.29)
Bei bekannter Flussmeterkonstante cf kann die Größe des Spannungsstoßes
unmittelbar aus der Differenz der Winkelstellungen (α2 − α1 ) des Zeigers zu
den Zeiten t2 und t1 ermittelt
werden. Eine solche Anordnung kann aufgrund
des Zusammenhanges φ = u dt zur Messung des magnetischen Flusses φ
bzw. der magnetischen Induktion unter Verwendung von Prüfspulen eingesetzt
werden.
6.1 Elektromechanische Messgeräte 133

Ballistisches Galvanometer

Das ballistische Galvanometer dient dem Zweck, die von einem Stromstoß ge-
lieferte Ladungsmenge zu messen. Dies wird dadurch erreicht, dass beim bal-
listischen Galvanometer ein im Vergleich zur Periodendauer der Messwerk-
grundschwingung zeitlich sehr kurzer Stromstoß einen Drehimpuls erzeugt.
Mit Hilfe von Gl. (6.2) lässt sich der Drehimpuls M (t) dt, welcher der Dreh-
spule durch den Stromstoß verliehen wird, wie folgt angeben
 T  T
M (t) dt = 2N rlB i(t) dt = 2N rlBQ0 . (6.30)
0 0

Q0 ist die mit dem Stromstoß zugeführte Ladungsmenge. Die Integrationszeit


T in Gl. (6.30) wird so gewählt, dass der Strompuls bei t = T bereits wie-
der abgeklungen ist. Aus diesem Drehimpuls resultiert eine Schwingbewegung
der Drehspule, die nach Gl. (6.5) beschrieben werden kann. Bei der Lösung
dieser Differentialgleichung gehen wir davon aus, dass der Drehimpuls der
Drehspule eine Anfangswinkelgeschwindigkeit α̇(t = 0) verleiht, aber bereits
zu Beginn der eigentlichen Schwingung die Anregung durch das Moment M 
wieder abgeklungen ist. Damit kann man sich auf die Lösung der homogenen
Differentialgleichung beschränken

Θα̈ + η α̇ + Dα = 0 . (6.31)

Mit den geltenden Anfangsbedingungen

α(0) = 0 (6.32)

und

1 T
α̇(0) = ω(0) ≈ ω(T ) = M (t)dt
Θ 0
1 Si DQ0
= 2N rlBQ0 = = Si ω02 Q0 (6.33)
Θ Θ
folgt als Lösung der Differentialgleichung für den aperiodischen Grenzfall

α(t) = ω(0)te−ω0 t , (6.34)

wobei ω0 die Kreisfrequenz der Grundschwingung der an der Drehfeder (Fe-


derkonstante D) aufgehängten Drehspule mit dem Trägheitsmoment Θ be-
zeichnet 
D
ω0 = . (6.35)
Θ
Es sei erwähnt, dass der Standardbetriebsfall für das ballistische Galvanome-
ter der aperiodische Grenzfall (η̃ = 1) (Gl. (6.7)) ist.
134 6 Analoges Messen elektrischer Größen

Beim ballistischen Galvanometer interessiert von der Drehbewegung im we-


sentlichen nur der sog. ballistische Ausschlag αball , welcher der ersten Schwin-
gungsamplitude entspricht. Dieses Schwingungsmaximum erhält man durch
Nullsetzen der Funktion α̇(t)

α̇(t) = ω(0)e−ω0 t (1 − ω0 t) = 0 . (6.36)

Daraus folgt, dass sich der als ballistische Ausschlag bezeichnete Maximalaus-
schlag αmax zu einem Zeitpunkt t = 1/ω0 einstellt. Der dazugehörige Winkel
αball ergibt sich zu
ω(0) Si ω 0
αball = αmax = = Q0 . (6.37)
eω0 e
Der ballistische Ausschlag ist somit proportional zur zugeführten Ladungs-
menge Q0 . Die Proportionalitätskonstante zwischen dem ballistischen Aus-
schlag αball und der Ladungsmenge Q0 wird als sog. ballistische Konstante
cball bezeichnet
e eT0
cball = = , (6.38)
Si ω 0 2πSi
wobei cball folgendermaßen definiert ist
T
Q0 = i(t)dt = cball αball . (6.39)
0

In Gl. (6.38) bezeichnen e die Eulersche Zahl (e = 2, 71828) und T0 die Peri-
odendauer der ungedämpften Messwerkgrundschwingung.

6.1.3 Elektrodynamisches Messwerk

Das elektrodynamische Messwerk besitzt, ähnlich dem Drehspulmesswerk, ei-


ne bewegliche, von einem Messstrom durchflossene Drehspule, die an einer
Drehfeder aufgehängt ist. Der Unterschied zum Drehspulmesswerk besteht
darin, dass das zur Erzeugung der mechanischen Auslenkkraft notwendige
Magnetfeld von einer zweiten, feststehenden Spule, der sog. Feldspule gelie-
fert wird. Wenn diese Feldspule einen Eisenkern besitzt, spricht man von der
sog. eisengeschlossenen Form des elektrodynamischen Messwerkes (Abb. 6.7).
Die feststehende Spule mit der Windungszahl N1 wird vom Strom I1 , die be-
wegliche mit Windungszahl N2 vom Strom I2 durchflossen. Mit dem auf die
Feldspule angewendeten Durchflutungsgesetz [25]
&
H · ds = N I (6.40)

folgt
2bL · H
 L + lFe · H
 Fe = N1 I1 , (6.41)
6.1 Elektromechanische Messgeräte 135

I1
N1
N2 b)

B feststehende
Spule

bL
I2
hochpermeabler
a) Weicheisenkern Drehspule Weicheisenkern c)

Abb. 6.7. Elektrodynamisches Messwerk (eisengeschlossen): a) Prinzipieller Auf-


bau, b) Schaltzeichen, c) Symbol für die eisengeschlossene Form

wobei bL den radialen Abstand zwischen Weicheisenzylinder und Polschuh,


lFe die Weglänge des magnetischen Feldes im Eisen, H  Fe die magnetische

Feldstärke im Eisen und HL die magnetische Feldstärke im Luftspalt bezeich-
nen. Mit B  = μH ergibt sich unter der Voraussetzung einer sehr großen Per-
meabilität des Eisenkerns (μFe μ0 ) die im Luftspalt erzeugte magnetische
Induktion B L
 L | = BL = μ0 N1 I1 .
|B (6.42)
2bL
Das Drehmoment M  el auf die vom Strom I2 durchflossene Drehspule mit der
Spulenquerschnittsfläche 2rl und der Windungszahl N2 beträgt mit Gl. (6.2)
(ea : Einheitsvektor in Richtung der Drehachse)
 
M el = 2N2r × F = 2N2r × I2 (l × B
 L)

μ0 rlN1 N2
= 2N2 rI2 lBLea = I1 I2ea . (6.43)
bL
Analog zum Drehspulmesswerk resultiert daraus für das mit einer Rückstell-
feder der Federkonstanten D ausgestattete elektrodynamische Messwerk ein
Zeigerausschlag um den Winkel α
μ0 rlN1 N2
α= I1 I2 = kI1 I2 . (6.44)
bL D
Das elektrodynamische Messwerk ist also ein multiplizierendes Instrument,
welches das Produkt zweier Ströme anzeigt. Wenn man das elektrodynamische
Messwerk mit sinusförmigen Strömen i1 (t) und i2 (t) (Kap. 6.3) derselben
Frequenz speist
136 6 Analoges Messen elektrischer Größen

i1 (t) = Iˆ1 sin ωt (6.45)


i2 (t) = Iˆ2 sin(ωt + ϕ) , (6.46)

dann ist die Anzeige zu dem Produkt der Effektivwerte und dem Cosinus des
Phasenwinkels ϕ zwischen den Strömen proportional
 T
1
α = ki1 (t)i2 (t) = k i1 (t)i2 (t) dt
T 0
 T
1
=k Iˆ1 Iˆ2 sin ωt sin(ωt + ϕ) dt
T 0
 T
k Iˆ1 Iˆ2
= Iˆ1 Iˆ2 [cos ϕ − cos(2ωt + ϕ)] dt = k cos ϕ
2T 0 2
= kI1eff I2eff cos ϕ . (6.47)

Bei der Auswertung von Gl. (6.47) wurde angenommen, dass die Trägheit des
Instrumentes so groß ist, dass es in Bezug auf die Wechselgrößen eine zeitliche
T
Mittelung vornimmt, d. h. der Term 0 cos(2ωt + ϕ) leistet keinen Beitrag
zum Zeigerausschlag α.
Das Haupteinsatzgebiet von elektrodynamischen Messwerken liegt dem-
zufolge auf dem Gebiet der Leistungsmessung. Man unterscheidet beim elek-
trodynamischen Messwerk zwei Bauformen: Das eisengeschlossene elektrody-
namische Messwerk besitzt einen hochpermeablen Eisenkern, der oft aus ge-
schichteten und isolierten Blechen aufgebaut ist, um die Wirbelstromverluste
gering zu halten. Dabei wird auch auf geringe Hystereseverluste geachtet. Die
eisengeschlossene Form ermöglicht geometrisch kleine Bauausführungen, bei
der die magnetische Induktion B  L innerhalb des Luftspaltes stets in radialer
Richtung verläuft, so dass der Übergang vom Vektorprodukt zum Skalarpro-
dukt in Gl. (6.43) analog zum Drehspulmesswerk erlaubt ist. Außerdem bleibt
der Fremdfeldeinfluss bei dieser Bauform gering.
Beim eisenlosen elektrodynamischen Messwerk nach Abb. 6.8 lässt sich

Abb. 6.8. Elektrodynamisches Messwerk (eisenlos): a) Prinzip, b) Symbol


6.1 Elektromechanische Messgeräte 137

durch geeignete Bauformen der Spulen erreichen, dass die am Spulenrahmen


in tangentialer Richtung angreifende und für die Drehbewegung maßgeben-
de Kraftkomponente (in Abb. 6.8 eingezeichnet) in einem Drehwinkelbereich
von α = ±45◦ bei konstanten Strömen I1 und I2 praktisch einen konstan-
ten Betrag hat. Denn durch spezielle Spulenformen wird gerade ein solches
Magnetfeld aufgebaut, dass die sich gemäß Gl. (6.43) ergebende Kraft eine
auf den Spulenrahmen bezogene konstante und nicht von der Winkelstellung
abhängige Tangentialkomponente aufweist. Damit ist das mechanische An-
triebsmoment und in Folge auch der Ausschlag α wiederum proportional zum
Produkt I1 I2 aus Feld- und Drehspulenstrom.
Nachdem die magnetische Induktion der Feldspulen typischerweise in der
Größenordnung B = 0, 01 T liegt, ist auf Messfehler durch Fremdfelder zu
achten, z. B. auch auf die Ausrichtung im Erdmagnetfeld (B = 10−4 T). Bei
eisenlosen Messwerken entfallen die Fehlereinflüsse infolge von Wirbelstrom-
und Hystereseverlusten, so dass sie als Präzisionsleistungsmesser eingesetzt
werden können.

6.1.4 Dreheisenmesswerk

Als physikalischen Effekt nutzt das Dreheisenmesswerk die Kraft zwischen


zwei Magnetpolen, wobei das benötigte Magnetfeld von dem zu messenden
Strom erzeugt wird. Man verwendet eine feststehende Spule, in deren Feld zwei
Eisenplättchen gleichsinnig magnetisiert werden und sich infolgedessen absto-
ßen (Abb. 6.9). Die mechanische Kraft (Kraft zwischen zwei Magnetpolen) ist
proportional dem Quadrat der von der Spule erzeugten magnetischen Induk-
tion, welche wiederum proportional dem durch die Spule fließenden Strom I
ist.

Abb. 6.9. Dreheisenmesswerk: a) Prinzip, b) Aufbau, c) Symbol


138 6 Analoges Messen elektrischer Größen

Die in der Spule mit der Selbstinduktivität L des Dreheisenmesswerks auf-


grund des Messstromes I gespeicherte magnetische Energie Emagn beträgt
1 2
Emagn = LI . (6.48)
2
Wenn das Messgerät als verlustfrei angenommen wird, entspricht die Redu-
zierung der magnetischen Feldenergie bei einer Zeigerdrehung exakt der Zu-
nahme der in der Drehfeder gespeicherten potentiellen Energie (dEmech =
−dEmagn ). Damit lässt sich das erzeugte Drehmoment M el aus der Änderung
der magnetischen Feldenergie errechnen

 el = dEmagn ea = 1 dL I 2ea .


M (6.49)
dα 2 dα
Dabei bezeichnet ea den Einheitsvektor in Richtung der Drehachse. Da der
Term dL/dα von der Winkelstellung abhängt, ergibt sich ein bauformabhängi-
ger, im Allgemeinen nichtlinearer Verlauf des Drehmoments als Funktion des
Winkels α. Mit dem durch eine Drehfeder (Drehfederkonstante D) erzeugten
Gegendrehmoment M  mech

 mech = −Dαea
M (6.50)

lässt sich der Winkel α des Zeigerausschlages für den Gleichgewichtszustand


(M  el + M
 mech = 0) angeben

1 dL 2
α= I = k(α)I 2 . (6.51)
2D dα
Durch entsprechende geometrische Formgebung der Plättchen, d. h. eine
Beeinflussung des Terms dL/dα bzw. k(α), kann eine annähernd lineare
Abhängigkeit des Ausschlags α vom Strom I erreicht werden. Bei Wechsel-
strom schwankt das Drehmoment infolge der quadratischen Abhängigkeit vom
Strom mit der doppelten Frequenz. Infolge der mechanischen Trägheit des
Messwerkes wird damit der quadratische Mittelwert, also der Effektivwert,
angezeigt. Dies kann analog zum elektrodynamischen Messwerk abgeleitet
werden (Gl. (6.47)).
Der Energieverbrauch des Dreheiseninstrumentes und damit auch seine
Rückwirkung auf den Messvorgang sind größer als beim Drehspulinstrument.
Es wird als robustes und preiswertes Betriebsinstrument vorwiegend in der
elektrischen Energietechnik eingesetzt. Bei höheren Frequenzen wird der Feh-
ler vor allem von Wirbelstromverlusten in den Blechteilen des Messwerkes
bestimmt.

6.1.5 Drehspulquotientenmesswerk (Kreuzspulmesswerk)

Beim Drehspulquotientenmesswerk, das auch als Kreuzspulmesswerk bezeich-


net wird, sind zwei Spulen mit rechteckigem Spulenquerschnitt und demselben
6.1 Elektromechanische Messgeräte 139

Kreuzspule
F1 F2

I1 I2 Permanentmagnet
N α S
B
β=90°
F2 F1 r
a) b)

Abb. 6.10. Drehspulquotientenmesswerk: a) Prinzipieller Aufbau, b) Symbol

Rahmendurchmesser (Windungszahlen: N1 bzw. N2 ; Spulenströme: I1 bzw.


I2 ) starr miteinander verbunden, so dass ihre Querschnittsebenen einen Win-
kel von β = 90◦ bilden (Abb. 6.10) . Das Magnetfeld sei homogen zwischen den
Polen N und S, was bedeutet, dass es im Gegensatz zum Drehspulmesswerk
radial inhomogen ist. Die von den Messströmen I1 und I2 hervorgerufenen
mechanischen Kräfte F1 und F2 ergeben sich zu

F1 = N1 I1 (l × B)
 (6.52)
F1 = N1 I1 lB (6.53)
F2 = N2 I2 (l × B)
 (6.54)
F2 = N2 I2 lB . (6.55)

Wenn ea den in Richtung der Drehachse der Spule zeigenden Einheitsvektor
und r den Radius der Spulenrahmen bezeichnen, folgen mit M = 2r × F die

Einzeldrehmomente M1 und M2 

 1 = 2rF1 sin α ea


M (6.56)
 2 = −2rF2 cos α ea .
M (6.57)

Nachdem Kreuzspulinstrumente keine Drehfedern zur Erzeugung der mecha-


nischen Rückstellkraft enthalten, lautet die Gleichgewichtsbedingung

M 2 = 0 .
1 +M (6.58)

Daraus folgt der Zusammenhang zwischen den Strömen I1 und I2 sowie dem
Winkel α des Zeigerausschlages
F2 N2 I2
tan α = = (6.59)
F1 N1 I1
bzw.

I2
α = arctan k . (6.60)
I1
140 6 Analoges Messen elektrischer Größen

Es ist anzumerken, dass Drehspulquotientenmesswerke nach Gl. (6.60) unmit-


telbar zur Widerstandsmessung eingesetzt werden können, da ihr Ausschlag
vom Quotient zweier Ströme bestimmt wird (Kap. 9.1.4).
Für Ausführungsformen, bei denen die Winkelstellung zwischen den beiden
Spulen nicht 90◦ sondern β beträgt, gilt
"I N #
I1 N1 + cos β
2 2

α = arctan . (6.61)
sin β

6.1.6 Drehmagnetmesswerk
Das Drehmagnetmesswerk besteht aus einer feststehenden, vom Messstrom I
durchflossenen Feldspule der Länge l und Windungszahl N (Abb. 6.11). Bei
Vernachlässigung der Streuverluste erzeugt der Strom in ihrem Inneren ein
Magnetfeld der magnetischen Feldstärke H I , die sich aus dem Durchflutungs-
gesetz berechnet
&
 s = NI
Hd (6.62)
N
HI = I. (6.63)
l

Abb. 6.11. Drehmagnetmesswerk: a) Prinzip, b) Symbol

In diesem Magnetfeld dreht sich ein Permanentmagnet. Die notwendige Rück-


stellkraft wird durch das Feld H R eines zusätzlichen permanenten Richtma-
gneten gebildet. Die magnetischen Felder der Spule (H  I ∼ I) und des Richt-

magneten (HR = const.) überlagern sich vektoriell (Abb. 6.12) und der be-
wegliche Magnet zeigt in Richtung des resultierenden Feldes, dessen Richtung
(und Stärke) vom Strom I abhängt. Der Proportionalitätsfaktor k ist wieder-
um eine Funktion des Ausschlagwinkels α, so dass die Skala nichtlinear geteilt
ist. Für obige Anordnung gilt nach Abb. 6.12
6.1 Elektromechanische Messgeräte 141

Abb. 6.12. Vektorielle Überlagerung der magnetischen Felder im Drehmagnetmess-


werk

HI N
tan α = = I. (6.64)
HR lHR
Mit der Stromrichtung ändert sich also auch das Vorzeichen des Drehwinkels,
der infolge der mechanischen Trägheit des Messwerkes letztlich ein Maß für
den zeitlichen Mittelwert (Gleichstromwert) des Spulenstromes ist.
Die Vorzüge des Drehmagnetmesswerkes liegen in seiner einfachen Kon-
struktion; so ist beispielsweise keine Stromzuführung zu den beweglichen Tei-
len notwendig, wie dies beim Drehspulmesswerk der Fall ist. Nachteilig wirkt
sich jedoch der hohe Eigenverbrauch und seine im Vergleich zum Drehspul-
messwerk geringere Empfindlichkeit aus.

6.1.7 Elektrostatisches Messwerk

Die nach dem elektrostatischen Prinzip arbeitenden Messwerke beruhen auf


der Coulombschen Anziehungskraft zwischen elektrischen Ladungen. Die elek-
trostatischen Messwerke dienen der Messung elektrischer Spannungen bzw.
Ladungen. Im allgemeinen wird eine feststehende Elektrode mit dem span-
nungsmäßig hohen Messpotential verbunden und eine mechanisch bewegliche,
meist drehbar gelagerte Elektrode auf Massepotential gelegt (Abb. 6.13).
Das aus der Coulombschen Anziehungskraft resultierende Drehmoment
M el lässt sich auf der Basis des Energieerhaltungssatzes berechnen, demzufolge
sich die Zunahme der mechanischen Energie Emech aus der Abnahme der
elektrischen Energie Eel ergibt

bewegliche Platte

α U
Δx

a) feststehende Platte (Stator) b)


Abb. 6.13. Elektrostatisches Messwerk: a) Prinzip, b) Symbol
142 6 Analoges Messen elektrischer Größen

dEmech = −dEel . (6.65)

Die elektrische Energie Eel entspricht der Energie, die im Kondensator gespei-
chert ist, während sich die mechanische aus dem Produkt von Drehmoment
M el und Drehwinkel α errechnet. Mit Gl. (6.65) folgt

1 2
Mel dα = u dC , (6.66)
2
wobei u die am Messwerk anliegende Spannung und C die Kapazität zwischen
den Elektroden bezeichnen. Infolge des mit Federkraft erzeugten Rückstellmo-
mentes
Mmech = Dα (6.67)
ergibt sich der Ausschlagwinkel α aus der Gleichgewichtsbedingung (Mmech +
Mel = 0)
1 dC 2
α= u = k(α)u2 . (6.68)
2D dα
Bei angelegter Wechselspannung zeigt das Gerät den quadrierten Effektiv-
wert der Spannung an, falls das Messwerk als mechanisch träge gegenüber
der Wechselspannungsfrequenz bezeichnet werden kann. Diese Tatsache kann
wiederum analog zu Gl. (6.47) abgeleitet werden. Durch spezielle Plattengeo-
metrien kann der Zusammenhang zwischen dem Ausschlagwinkel α und der
angelegten Spannung u linearisiert werden. Absolute elektrostatische Hoch-
spannungsmesser beruhen auf der Messung der Anziehungskraft zwischen par-
allelen Kondensatorplatten. Dabei werden Messgenauigkeiten im Bereich von
0,01 % erreicht [162].
Der ohmsche Innenwiderstand elektrostatischer Messwerke liegt in der
Größenordnung 1012 bis 1014 Ω. Die Hochfrequenztauglichkeit wird allerdings
durch den mit der Frequenz zunehmenden Blindstrom sowie den ebenfalls

Abb. 6.14. Aufbau eines elektrostatischen Messwerkes, das auf der Influenz von
Ladungen basiert.
6.1 Elektromechanische Messgeräte 143

parasitären Einfluss der Zuleitungsinduktivitäten begrenzt. Eine besondere


Bauform eines elektrostatischen Hochspannungsmesswerkes wird in Abb. 6.14
gezeigt. Es beruht auf der Influenz von Ladung auf der beweglichen Rotor-
elektrode, die über die Drehfeder geerdet ist. Die Dämpfung des Messwerkes
wird bei dieser Bauform durch Luftkammerdämpfung erzielt, also eine durch
die Bewegung der Rotorplatte hervorgerufene Strömungsdämpfung.

6.1.8 Schaltzeichen für Messgeräte

In Tabelle 6.1 sind die für den Bereich der elektromechanischen Messgeräte
wichtigsten Schaltzeichen und Symbole zusammengefasst.

Tabelle 6.1. Symbole für Messgeräte nach VDE 0410 und DIN 43802
144 6 Analoges Messen elektrischer Größen

6.2 Messung von Gleichstrom und Gleichspannung


In diesem Abschnitt wird die direkte Messung von Gleichstrom und Gleich-
spannung mit Hilfe von Strom- und Spannungs-Messwerken beschrieben.

6.2.1 Messung von Gleichströmen

Die Messung des Gleichstromes in einem Zweig eines beliebigen, aus ohmschen
Widerständen, Gleichspannungs- und Gleichstromquellen zusammengesetzten
linearen Netzwerkes kann nach dem in Abb. 6.15 gezeigten Prinzip der Er-
satzspannungsquelle ohne Einschränkung der Allgemeinheit auf das in Abb.
6.16 dargestellte Problem reduziert werden. Wenn der Messzweig aus dem Wi-
derstand RL besteht und das restliche Netzwerk durch die Spannungsquelle
(mit Leerlaufspannung UQ und Innenwiderstand RQ ) ersetzt wird, lässt sich
der zu messende Strom IL mit einem idealen, d. h. widerstandslosen (RM = 0)
Strommesser exakt bestimmen
UQ
IL = . (6.69)
RQ + RL

Bei einem realen Messgerät fließt infolge des endlichen Innenwiderstandes RM


des Messgerätes nicht mehr der ursprünglich zu messende Strom IL (wahrer

Abb. 6.15. Äquivalenz von einem Tor eines linearen Netzwerkes und einer Ersatz-
spannungsquelle bzw. einer Ersatzstromquelle
6.2 Messung von Gleichstrom und Gleichspannung 145

Abb. 6.16. Strommessung in einem Zweig eines Gleichstromnetzwerkes

Wert), sondern der geringere Strom IL

UQ
IL = . (6.70)
RQ + RL + RM

Nur für RM (RQ + RL ) wird näherungsweise der wahre Wert gemessen


(IL ≈ IL ), ansonsten führt der endliche Innenwiderstand des Messgerätes
bei der Strommessung zu einem Belastungsfehler. Dies ist ein systemati-
scher Messfehler, der sich wie folgt ermitteln lässt. Für den vereinfachten Fall
RL = 0 (Kurzschluss) berechnen sich der wahre Wert IL und der tatsächlich
gemessene Wert IL zu

UQ
IL = (6.71)
RQ
UQ
IL = . (6.72)
RQ + RM

Der relative Messfehler fI beträgt in diesem Fall also

IL − IL −1
fI = = RQ
. (6.73)
IL 1 + RM

Bei unbekanntem Innenwiderstand der Quelle RQ , muss dieser vor einer Feh-
lerermittlung bzw. -korrektur nach Gl. (6.73) ebenfalls gemessen werden. Dies
kann im (theoretisch vereinfachten) Fall durch Messung von Leerlaufspannung
UQ und Kurzschlussstrom IK der Ersatzspannungsquelle geschehen. Der In-
nenwiderstand RQ ergibt sich bei Messungen von UQ und IK mit idealen
Messwerken zu
UQ
RQ = . (6.74)
IK
Für den allgemeinen Fall RL = 0 ist RQ durch (RQ + RL ) zu ersetzen. Das
negative Vorzeichen in Gl. (6.73) bedeutet, dass infolge des systematischen
Fehlers bei der Strommessung stets ein zu niedriger Wert gemessen wird. Man
kann aus Gl. (6.73) bzw. der entsprechenden graphischen Darstellung (Abb.
6.17) als Regel ableiten, dass bei der Strommessung der Innenwiderstand
146 6 Analoges Messen elektrischer Größen

Abb. 6.17. Betrag des relativen Fehlers fI bei der Strommessung als Funktion
von RQ /RM . RM : Messgeräteinnenwiderstand, RQ : Innenwiderstand der Ersatzspan-
nungsquelle

des Messgerätes möglichst klein sein sollte. Bei bekannten Innenwiderständen


RMU bzw. RMI von Spannungs- bzw. Strommesswerk kann RQ aus der mit
 
systematischen Fehlern behafteten Spannung UQ (UQ ist der Messwert, den
ein an die Klemmen der Ersatzspannungsquelle angeschlossenes Spannungs-
 
messwerk mit Innenwiderstand RMU anzeigt) und dem Strom IK (IK ist der
Messwert, den ein an die Klemmen der Ersatzspannungsquelle angeschlosse-
nes Strommesswerk mit Innenwiderstand RMI anzeigt) ermittelt werden. Die
entsprechende Fehlerkorrektur liefert den exakten Wert von RQ

U
RMU RMI − I Q
K
RQ = UQ . (6.75)
I  − RMU
K

Messbereichserweiterung für die Strommessung

Zur Messung von Strömen, welche den Messbereich des unbeschalteten Messwer-
kes übersteigen, sind entsprechende Maßnahmen zur Messbereichserweiterung
zu treffen. Drehspulmesswerke beispielsweise haben, je nach Auslegung, End-
bereichswerte von nur IMend = 10 μA...100 mA bei einem Spannungsabfall von
UMend = 2 mV...200 mV. Praktische Messgeräte hingegen weisen mehrere um-
schaltbare Messbereiche auf, so dass auch wesentlich höhere Ströme mit ein-
und demselben Instrument gemessen werden können. Um einen Strommesser
für einen höheren Messbereich vorzubereiten, wird dem Messwerk ein Wider-
stand RP , ein sogenannter Shunt, parallel geschaltet (Abb. 6.18). Wegen der
Parallelschaltung der Widerstände RM und RP gilt
RM IM = RP IP = RP (I − IM ) . (6.76)
6.2 Messung von Gleichstrom und Gleichspannung 147

RM
IM

IP

I RP

Abb. 6.18. Messbereichserweiterung für die Strommessung

Damit kann die Dimensionierung von RP für einen geforderten Messbereichs-


endwert Iend = vi IMend nach folgender Formel erfolgen
IMend RM
RP = RM = . (6.77)
Iend − IMend vi − 1
In Gl. (6.77) bezeichnet IMend den Strom durch das Messwerk bei Vollaus-
schlag und vi den Faktor, um den der Strommessbereich erweitert wird. Ab-
bildung 6.19 zeigt die Schaltung eines Vielfachmessgerätes für Strom mit den
Messbereichsendwerten 1 mA, 10 mA und 0,1 A. Durch die gezeigte Schaltung
(Abb. 6.19) wird vermieden, dass der Kontaktwiderstand des Schalters das
Verhältnis RM /RP beeinflusst.

Abb. 6.19. Vielfachmessgerät zur Strommessung (IMend =0,1 mA; Iend = 1 mA bis
0,1 A)

6.2.2 Messung von Gleichspannungen

Messwerke, die der Strommessung dienen, können prinzipiell auch zur Span-
nungsmessung eingesetzt werden, indem der bei Anlegen einer Spannung U
an das Messwerk fließende Strom mit dem Innenwiderstand RM multipliziert
und als Spannung ausgegeben wird. Abbildung 6.20 zeigt die entsprechen-
de Messschaltung. Für eine nicht vorhandene Last (RL → ∞) kann folgende
Maschengleichung angegeben werden

IM RQ + IM RM − UQ = 0 . (6.78)

Daraus folgt
148 6 Analoges Messen elektrischer Größen

Abb. 6.20. Spannungsmessung in einem Zweig eines Gleichstromnetzwerkes

IM RM = UM = UQ − IM RQ . (6.79)
Der relative Messfehler fU (Belastungsfehler) beträgt somit
UM − UQ −1
fU = = . (6.80)
UQ 1+ R
RQ
M

Für den Fall eines endlichen Lastwiderstandes RL verringert sich der relati-
ve Messfehler fU , da anstatt RQ in Gl. (6.80) jetzt der geringere Wert der
Parallelschaltung von RQ und RL einzusetzen ist
−1 −1
fU = RM RM
= RQ +RL
. (6.81)
1+ RQ + RL 1 + RM RQ RL

Abbildung 6.21 zeigt den Betrag des relativen Messfehlers bei der Spannungs-
messung. Aus den Gln. (6.80) und (6.81) und der entsprechenden graphischen
Darstellung kann die Regel abgeleitet werden, dass bei der Spannungsmessung
der Innenwiderstand des Messgerätes möglichst groß sein sollte.

Abb. 6.21. Betrag des relativen Fehlers fU bei der Spannungsmessung als Funktion
von RM /RQ . RM Messgeräteinnenwiderstand; RQ Innenwiderstand der Quelle, deren
Leerlaufspannung gemessen wird.
6.2 Messung von Gleichstrom und Gleichspannung 149

Messbereichserweiterung für die Spannungsmessung

Durch Vorschalten eines Präzisionswiderstandes RS kann eine Erweiterung des


Spannungsmessbereiches erfolgen (Abb. 6.22). Für einen geforderten Messbe-
reichsendwert von Uend = vu UMend folgt für die Dimensionierung von RS
vu − 1
RS = RM . (6.82)
vi

Abb. 6.22. Messbereichserweiterung für die Spannungsmessung

Für den Fall, dass keine Strommessbereichserweiterung (vi = 1 bzw. RP → ∞)


vorgenommen wird, gilt
Uend
RS = (vu − 1)RM = − RM . (6.83)
IMend
Durch Vorschalten von Widerständen kann das in (Abb. 6.19) gezeigte Strom-
messgerät zu einem Universal-Vielfachmessgerät aufgerüstet werden (Abb.
6.23). Es ist anzumerken, dass der Innenwiderstand von Spannungsmess-
geräten meistens auf den Messbereichsendwert bezogen wird. Die Angabe
100 kΩ/V beispielsweise bedeutet, dass im Messbereich mit dem Endwert 10 V
der Innenwiderstand des Gerätes 1 MΩ beträgt.

Abb. 6.23. Universal-Vielfachmessgerät für Spannung und Strom


150 6 Analoges Messen elektrischer Größen

6.2.3 Gleichzeitiges Messen von Strom und Spannung

Bei der gleichzeitigen Messung von Strom und Spannung ergeben sich zusätz-
liche Fehler. Es gibt zwei Möglichkeiten der Schaltungsanordnung. Bei der
Variante nach Abb. 6.24a wird die Generatorspannung UM sowie der Last-
strom IL pseudokorrekt angezeigt, bei der Variante nach Abb. 6.24b hingegen
wird die Lastspannung UL sowie der Generatorstrom IQ pseudorichtig gemes-
sen. Der Begriff pseudokorrekt“ bzw. pseudorichtig“ soll aussagen, dass
” ”
die entsprechenden Messwerke zwar die aktuelle Messgröße richtig messen,
dass jedoch durch das Vorhandensein eines realen (nicht-idealen) Messwerkes
die ursprüngliche Messgröße infolge des oben besprochenen Belastungsfehlers
verfälscht wird.

Abb. 6.24. Gleichzeitige Messung von Strom und Spannung: a) Messung pseudo-
korrekt für Generatorspannung UM und Laststrom IL , b) Messung pseudokorrekt
für Lastspannung UL und Generatorstrom IQ

Bei den nicht pseudokorrekt“ gemessenen Größen hingegen wird noch nicht

einmal die aktuelle Größe richtig angezeigt. So wird beispielsweise bei der
Schaltungsvariante nach Abb. 6.24a die aktuelle Lastspannung UL vom Span-
nungsmesser nicht erfasst. Für die Schaltungsvariante nach Abb. 6.24a ergibt
sich folgender relativer Messfehler fIL bei der Bestimmung des Laststromes
IL
RQ RL + RMI (RMU + RQ )
fIL = − . (6.84)
RMU RQ + (RMI + RL )(RMU + RQ )
Für die Schaltungsvariante nach Abb. 6.24b hingegen errechnet sich der rela-
tive Fehler bei der Strommessung zu

RQ RL + RMI (RMU + RL )
fIL = − . (6.85)
RMU RL + (RMI + RQ )(RMU + RL )

Bei den relativen Messfehlern nach den Gln. (6.84) und (6.85) ist als wahrer
Wert stets derjenige Laststrom angenommen, welcher bei nicht vorhandenen
bzw. idealen Messgeräten fließen würde.
6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung 151

6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung


6.3.1 Begriffsdefinitionen

Es sei vorausgeschickt, dass die folgenden Definitionen gleichermaßen für eine


elektrische Spannung u(t) und für einen elektrischen Strom i(t) gelten. Eine
Wechselspannung u(t) mit sinusförmigem Zeitverlauf wird durch Gl. (6.86)
beschrieben, wobei U( den Scheitelwert der Wechselspannung, ω = 2πf ihre
Kreisfrequenz (Einheit (s−1 )), f die Frequenz der Wechselspannung (Einheit
(Hz)) und ϕ den Phasenwinkel (Einheit (rad)) bezeichnen

( sin(ωt + ϕ) .
u(t) = U (6.86)

In der Messtechnik sind folgende Größen von Bedeutung:


• Arithmetischer Mittelwert
 T
1
u= u(t) dt (6.87)
T 0

• Gleichrichtwert  T
1
|u| = |u(t)| dt (6.88)
T 0

• Effektivwert (quadratischer Mittelwert)




1 T 2
Ueff = u (t) dt . (6.89)
T 0

Eine Gleichspannung mit U = Ueff setzt in einem Verbraucher (ohmscher


Widerstand) die gleiche Leistung um wie die Wechselspannung mit dem Ef-
fektivwert Ueff . In den Gln. (6.87 - 6.89) versteht man unter T = 1/f die
Periodendauer der Wechselspannung (Einheit (s)). Es sei ausdrücklich darauf
hingewiesen, dass obige Definitionsgleichungen auch auf nicht-sinusförmige
Zeitverläufe angewendet werden dürfen, solange das Signal periodisch ist. Sie
gelten beispielsweise auch für Wechselspannungen mit überlagertem Gleich-
anteil. Wie man den Effektivwert von Signalen ermittelt, die nicht periodisch
sind, wird in Kap. 13.4.1 behandelt. Weiterhin sind definiert:
• Scheitelfaktor

Scheitelwert (
U
Scheitelfaktor (crest factor) = C = = (6.90)
Effektivwert Ueff
• Formfaktor
Effektivwert Ueff
Formfaktor = F = = . (6.91)
Gleichrichtwert |u|
152 6 Analoges Messen elektrischer Größen

Für rein sinusförmige √
Größen beträgt der Scheitelfaktor C = 2 und der
Formfaktor F = π/(2 2) = 1, 11. Setzt sich eine Spannung uges (t) aus ei-
ner Überlagerung von n Teilspannungen ui (t) (Gleichspannungen oder Wech-
selspannungen mit sinusförmigem Zeitverlauf und Frequenzen, die in einem
ganzzahligen Verhältnis stehen) zusammen

n
uges (t) = ui (t) , (6.92)
i=1

so ergibt sich deren Effektivwert Ueffges aus der quadratischen Überlagerung


der Effektivwerte der Teilspannungen

n
Ueffges = ! 2 .
Uieff (6.93)
i=1

Dies gilt insbesondere für eine aus einem Gleich- (u ) und einem (reinen)
Wechselanteil (u∼ ) zusammengesetzte Mischgröße der Form
u(t) = u + u∼ (t) . (6.94)
Der Effektivwert des Wechselanteils U∼eff ergibt sich gemäß Definitionsglei-
chung (6.89) zu 

1 T 2
U∼eff = u (t) dt . (6.95)
T 0 ∼
Der Effektivwert der Mischspannung Ugeseff lässt sich schließlich anhand von
Gl. (6.93) berechnen 
Ueffges = u 2 + U∼eff2 . (6.96)
In diesem Zusammenhang sollen auch die folgenden Größen definiert werden:
• Schwingungsgehalt s
U∼eff
s= (6.97)
Ueffges
• Welligkeit w
U∼eff
w= . (6.98)
u
Es sei nochmals darauf hingewiesen, dass alle obigen Definitionen in analoger
Weise für einen Wechselstrom i(t) gelten.

6.3.2 Gleichrichtung
Zur Messung von Wechselgrößen mit Hilfe der in der elektrischen Messtechnik
vorzugsweise eingesetzten Messwerke benötigt man Schaltungen zur Gleich-
richtung des Messstromes bzw. der Messspannung. In diesen Schaltungen ver-
wendet man heute im Allgemeinen Halbleiterdioden, die der Einweg- bzw. der
Zweiweg-Gleichrichtung der elektrischen Wechselgrößen dienen.
6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung 153

Einweg-Gleichrichtung

Wenn bei der Messung einer Wechselspannung eine Halbwelle unterdrückt


werden soll, so ist die Gleichrichtung mit einer einfachen Diode zu bewerk-
stelligen. Die Anordnung nach Abb. 6.25 misst den halben Gleichrichtwert
der angelegten Spannung bzw. des Stromes. Genaugenommen ist noch das
nicht-ideale Diodenverhalten in Form des Diodeninnenwiderstandes sowie der
Schwellenspannung von 0,7 V (bei Siliziumdioden) zu berücksichtigen, die im

Abb. 6.25. Messung des halben Gleichrichtwertes einer Wechselspannung mit Hilfe
eines Drehspulmessgerätes

Durchlassbetrieb stets an der Diode abfällt. Aus dem nicht-idealen Diodenver-


halten (s. dazu die Kennlinien (ideal, idealisiert und real) einer Siliziumdiode
in Abb. 6.26) resultiert das in Abb. 6.27 gezeigte Ersatzschaltbild einer Halb-
leiterdiode, das aus einer Serienschaltung von idealer Diode, Diodeninnenwi-
derstand und einer Spannungsquelle, welche die Schwellenspannung1 repräsen-
tiert, besteht. Die Schwellenspannung von typischen Siliziumdioden beträgt
ca. 0,7 V. Die Schwellenspannung von Germanium- und auch Schottky-Dioden
[183] liegen bei 0,3 V. Die parasitäre Parallelkapazität (= Sperrschichtkapa-
zität) Cg wirkt sich bei höheren Frequenzen (typischerweise oberhalb 10 kHz)
aus, indem sie die Diode für hochfrequente Ströme überbrückt und damit zum
Teil ihre Gleichrichterwirkung aufhebt.

iD iD

ideale reale idealisierte


Diode Kennlinie Kennlinie

uD 0,7 V uD

Abb. 6.26. Kennlinie einer Siliziumdiode (ideal, idealisiert und real)

1
Die Schwellenspannung wird auch als Durchlassspannung, Schleusenspannung
oder Kniespannung bezeichnet.
154 6 Analoges Messen elektrischer Größen

0,7 V
iD

Cg uD

Abb. 6.27. Ersatzschaltbild einer Siliziumdiode

Zweiweg-Gleichrichtung (Vollweg-Gleichrichtung)

Die Graetz-Schaltung (Abb. 6.28) ermöglicht die vollständige Gleichrichtung


beider Halbwellen, womit der vollständige Gleichrichtwert mit Hilfe eines
Drehspulmessgerätes gemessen wird. Bei dieser Schaltung sind stets zwei der
vier Dioden in Durchlassrichtung geschaltet, so dass die am Messgerät anlie-
gende Spannung uM im Vergleich zur Eingangsspannung u∼ um den doppelten
Wert der Diodenschwellenspannung reduziert wird (Abb. 6.28b). Bei Anliegen
der positiven Halbwelle sind die Dioden D1 und D4 leitend, während hingegen
bei der negativen Halbwelle die Dioden D2 und D3 leiten.

Abb. 6.28. a) Graetz-Schaltung zur Erfassung beider Halbwellen bei der Gleich-
richtung, b) Spannungsverlauf

6.3.3 Messung des Scheitelwertes (Spitzenwert, Peak Value)

Der Scheitelwert US (Spitzenwert, Peak Value) ist der innerhalb eines definier-
ten Zeitraumes betragsmäßig größte Wert des Signals. Bei unsymmetrischem
Kurvenverlauf gilt
US = Û = max{Û+ , Û− } , (6.99)
wobei Û+ und Û− die im positiven bzw. negativen Amplitudenbereich liegen-
den Spitzenwerte sind (Û+ ≥ 0 und Û− ≥ 0). Zur Messung des positiven
Spannungs-Scheitelwertes (Û+ ) dient die Schaltung nach Abb. 6.29. Es wird
hierbei der Ladekondensator auf den Spitzenwert der angelegten Spannung
6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung 155

Abb. 6.29. Schaltung zur Messung des Spannungs-Spitzenwertes (bei symmetri-


schem Spannungsverlauf)

aufgeladen und vom Messgerät gemessen. Zur Messung des negativen Spit-
zenwertes Û− muss lediglich die Diode in der Messschaltung (Abb. 6.29) um-
gepolt werden. Die durch das Messgerät verursachten Ladungsverluste werden
durch kurzzeitige Ladeströme, die je Periode einmal auftreten, ausgeglichen
(Abb. 6.30). Zur exakten Messung des Spitzenwertes werden daher vorwie-
gend Geräte mit elektronischem Eingangsverstärker eingesetzt, welche sehr
hohe Eingangsimpedanzen aufweisen.

Abb. 6.30. Spannungsverlauf bei der Spitzenwertgleichrichtung nach Abb. 6.29

Zur Messung des Spitzenwertes von Spannungen mit unsymmetrischem Kur-


venverlauf eignet sich die sog. Villard-Schaltung (Abb. 6.31), die auch als
ein-stufige Kaskadenschaltung bezeichnet wird. Die beiden Dioden laden den
Kondensator C2 auf die Summe der Beträge von positivem und negativem
Spitzenwert auf. Es handelt sich also um die Messung des Spitze-Spitze-Wertes
(Peak to Peak Value) USS

USS = Û+ + Û− . (6.100)

Die Schaltung funktioniert so, dass während der negativen Halbwelle nur
die Diode D1 leitet und den Kondensator C1 auf den negativen Spitzenwert
auflädt
156 6 Analoges Messen elektrischer Größen

Abb. 6.31. Villard-Schaltung zur Messung des Spitze-Spitze-Wertes USS (Peak to


Peak Value) bei Spannungen mit unsymmetrischem Kurvenverlauf

uC1 = Û− . (6.101)


Während der positiven Halbwelle leitet D2 und lädt die Kapazität C2 am
Ausgang auf die Spannung

uA = uC1 + Û+ = Û− + Û+ (6.102)

auf. In praktischen Schaltungen sind allerdings noch die Diodenschwellenspan-


nungen und die Entladung durch den Innenwiderstand des angeschlossenen
Spannungsmesswerkes zu berücksichtigen. Die Villard-Schaltung kann also
bei gewöhnlicher symmetrischer Eingangsspannung zur Spannungsverdopp-
lung eingesetzt werden. Sie lässt sich aber auch in Form einer mehrstufigen
Kaskadenschaltung aufbauen, so dass in jeder Stufe die Spannung verdoppelt
wird. Allerdings treten dabei relativ hohe Innenwiderstände auf.
Die in Abb. 6.32 gezeigte Delon-Schaltung eignet sich ebenfalls zur Mes-
sung des Spitze-Spitze-Wertes USS . Während der positiven Halbwelle wird C1
über D1 auf Û+ aufgeladen, während in der negativen Halbwelle die Span-
nung am Kondensator C2 auf Û− ansteigt, so dass sich als Ausgangsspannung
uA wiederum der nach Gl. (6.100) definierte Spitze-Spitze-Wert USS ergibt.
Die Delon-Schaltung wird auch als Greinacher-Schaltung oder als doppelte
Einweg-Gleichrichterschaltung bezeichnet.

Abb. 6.32. Delon-Schaltung zur Messung des Spitze-Spitze-Wertes USS


6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung 157

6.3.4 Messung des Gleichrichtwertes

Prinzipiell lässt sich die Bestimmung des Gleichrichtwertes von Wechselgrößen


mit Hilfe eines Doppelweggleichrichters durchführen. Nachteilig wirkt sich al-
lerdings die Nichtlinearität der Dioden aus. Es besteht außerdem das Pro-
blem, dass die Diodenschwellenspannung zweifach vorhanden ist. Aus diesen
Gründen ist die Schaltungsvariante nach Abb. 6.34a günstiger, bei der in Reihe
mit dem Messgerät jeweils eine Diode und ein Vorwiderstand RV liegen. Der
Vorwiderstand dient der in Abb. 6.33 erläuterten Linearisierung der Kennlinie.
Da jedoch ein Teil des Stromes am Messwerk vorbeifließt, werden für Wechsel-
größen sowohl die Empfindlichkeit des Messgerätes als auch sein Innenwider-
stand geringer. Dies belegt das Beispiel eines Standard-Messgerätes, dessen
Innenwiderstand mit RM = 33 kΩ/V für Gleichstrom und RM = 10 kΩ/V für
Wechselstrom angegeben wird.

Abb. 6.33. Linearisierung einer Diodenkennlinie durch eine Serienschaltung mit


einem hochohmigen Widerstand

Bei Verwendung eines Messwandlers (Transformator mit Mittelanzapfung)


(Abb. 6.34b) kann der Nachteil der Schaltungsvariante mit Vorwiderständen
(Abb. 6.34a) vermieden werden. Die bessere Linearität erreicht man bei die-
ser Schaltung durch Hochtransformieren der Spannung (ü < 1), wodurch die
Kennlinienkrümmung der Diode einen geringeren Einfluss hat. Dies geht aller-
dings wiederum auf Kosten des Innenwiderstandes, denn der Transformator
setzt diesen um den Faktor ü2 herab (Zprimär = Zsekundär · ü2 ; ü: Übersetzungs-
verhältnis des Transformators; ü < 1, s. Abb. 6.34b). Außerdem lassen sich
158 6 Analoges Messen elektrischer Größen

RM ü:1 RM
iM iM
u u

Z primär
Z sekundär

a) b)

Abb. 6.34. Schaltungen zur Messung des Gleichrichtwertes von Spannungen: a)


Brückenschaltung mit Dioden und Widerständen, b) Transformatorbrücke

Messwandler nur zur Messung reiner Wechselspannungen (ohne Gleichanteil)


einsetzen.

6.3.5 Messung des Effektivwertes

Bei Verwendung eines Drehspulmesswerkes in Verbindung mit den oben ge-


zeigten Vollweg-Gleichrichterschaltungen misst man den Gleichrichtwert |u|
einer Spannung (bzw. eines Stromes |i|). Für einen bekannten Zeitverlauf kann
dieser Gleichrichtwert in einen Effektivwert umgerechnet werden. Bei entspre-
chender Kalibrierung zeigt das Gerät dann den im Allgemeinen interessieren-
den Effektivwert an. Meistens erfolgt diese Kalibrierung für rein sinusförmige
Zeitverläufe (Formfaktor F = 1,11). Für nicht sinusförmige Messgrößen wird
somit ein falscher Messwert angezeigt.
Das Dreheiseninstrument hingegen lässt sich unmittelbar zur Effektivwert-
messung einsetzen. Es handelt sich hierbei um einen echten Effektivwertmes-
ser, da das Messwerk die Operationen Quadrieren und Mitteln bis zu Frequen-
zen in der Größenordnung von 1 kHz ohne weitere Beschaltung durchführt. Bei
Dreheiseninstrumenten ist allerdings zu beachten, dass ihr Innenwiderstand
nicht rein ohmsch ist, sondern auch merkliche induktive Anteile enthält. Dies
kann aber durch Zuschalten von Kapazitäten für einen bestimmten Frequenz-
bereich wieder kompensiert werden.
Auch das elektrodynamische Messwerk kann zur Effektivwertmessung ein-
gesetzt werden. Zur Messung des Stromeffektivwertes werden beide Spulen des
Messwerkes in der Regel parallel- oder auch in Reihe geschaltet. Aufgrund der
mechanischen Trägheit bildet das Messwerk den Mittelwert des Stromquadra-
tes, d. h. der Ausschlagwinkel α seines Zeigers ergibt sich wie folgt

α = ki2 . (6.103)

Somit entsteht eine Anzeige, die dem quadratischen Mittelwert des Stromes
und damit dem Quadrat des Effektivwertes proportional ist. Dabei ist aller-
dings darauf zu achten, dass die Innenwiderstände beider Pfade (feststehende
Spule und Drehspule) klein gegenüber dem Widerstand des Messkreises sein
6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung 159

sollten, um die systematischen Belastungsfehler so gering wie möglich zu hal-


ten.

Verhalten von Standard-Zeigermesswerken bei Wechselstrom

In Tabelle 6.2 wird das Verhalten der Standard-Zeigermessgeräte im Wechsel-


stromfall zusammengefasst.

Tabelle 6.2. Das Verhalten von Standard-Zeigermessgeräten bei der Messung von
Wechselgrößen

Typ Anzeige Verwendung


Drehspulmesswerk α ∼ i(t) = ī Universelles Messwerk
(hohe Empfindlichkeit)
Drehspulmesswerk α ∼ |i(t)| ∼ |i|· Formfaktor i. Allg. werden die Geräte
mit Gleichrichter mit einem Formfaktor
F = 1, 11 für rein sinusförmige
Wechselgrößen kalibriert
elektrodynamisches α ∼ i1 (t)i2 (t) Leistungsmessung
Messwerk (Effektivwertmesser)
Dreheisenmesswerk α ∼ i(t)2 = Ieff
2
robustes
Betriebsmessgerät
(Effektivwertmesser)
 
i2 (t)
Drehspulquotienten- α = arctan const. i1 (t)
Widerstandsmessung
messwerk = Kreuz-
spulinstrument
Drehmagnetmesswerk α = arctan(const. i(t)) robustes Betriebsmessgerät

6.3.6 Messwandler

Messwandler haben die primäre Aufgabe, hohe Ströme bzw. Spannungen


auf einfach messbare Werte zu transformieren. Weiterhin werden sie aus
Sicherheitsgründen eingesetzt, wenn das Messgerät galvanisch von den span-
nungsführenden Leitern getrennt werden soll, wie z. B. bei Messungen an
Hochspannungsanlagen. Sie sind aber auch in der Lage, infolge ihrer Übertra-
gungseigenschaften bezüglich hoher (Kurzschluss-) Ströme Schutzfunktionen
auszuüben.
Messwandler sind von ihrem Aufbau her Übertrager bzw. Transformatoren,
die aus einer auf einen gemeinsamen Eisenkern gewickelten Primärspule mit
Windungszahl N1 und einer Sekundärspule mit Windungszahl N2 bestehen
160 6 Analoges Messen elektrischer Größen

Abb. 6.35. Transformator

(Abb. 6.35). Das entsprechende, aus diskreten Schaltelementen bestehende all-


gemeine Ersatzschaltbild eines Transformators wird in Abb. 6.36 gezeigt. In
diesem Ersatzschaltbild stellen die Widerstände R1 bzw. R2 die ohmschen Wi-
derstände von Primär- bzw. Sekundärwicklung dar, während R1E die Verluste
im Eisenkern beschreibt. Die Induktivitäten X1σ bzw. X2σ repräsentieren die
Streuverluste auf der Primär- bzw. Sekundärseite. X1h ist die Primärinduk-
tivität, die den Magnetisierungsstrom trägt. Für einen idealen Transformator
gilt

R1 = R2 = 0 (6.104)
X1σ = X2σ = 0 (6.105)
X1h → ∞ (6.106)
R1E → ∞ . (6.107)

Das Ersatzschaltbild beschränkt sich damit auf den idealen Übertrager mit
dem Übersetzungsverhältnis ü. Die sekundärseitig angeschlossene Lastimpe-
danz (RL , XL ) wird Bürde genannt. In Abb. 6.37 wird ein zu dem Ersatzschalt-
bild von Abb. 6.36 äquivalentes Netzwerk gezeigt. Es wurden hier jedoch alle
sekundärseitig auftretenden Größen (Ströme und Spannungen) und Elemente
auf die Primärseite umgerechnet; außerdem wurde die infolge des Übertragers
stets vorhandene Potentialtrennung zwischen Primär- und Sekundärseite nicht
berücksichtigt. Prinzipiell wäre auch ein weiteres Ersatzschaltbild denkbar, bei
dem alle primärseitigen Größen und Netzwerkelemente auf die Sekundärseite
transformiert werden.

Abb. 6.36. Ersatzschaltbild eines Transformators. Der im Ersatzschaltbild enthal-


tene Übertrager (Übersetzungsverhältnis ü: 1) weist ideale Eigenschaften auf.
6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung 161

Abb. 6.37. Transformator-Ersatzschaltbild, bei dem alle sekundärseitig auftreten-


den Größen und Elemente auf die Primärseite umgerechnet wurden.

Stromwandler
Beim Stromwandler wird der zu messende (Wechsel-) Strom durch die Primär-
wicklung des Transformators geschickt, während die Sekundärwicklung im
Idealfall von einem Strommesswerk kurzgeschlossen wird (Abb. 6.38). Für
einen idealen Stromwandler (Übertrager) ergibt sich das Verhältnis von Primär-
zu Sekundärstrom aus dem Übersetzungsverhältnis ü, dessen Kehrwert im
Zusammenhang mit Messwandlern meistens mit ki bezeichnet wird
I1eff N2 1
= = = ki . (6.108)
I2eff N1 ü
Der Stromwandler ist also ein sekundärseitig kurzgeschlossener bzw. nieder-
ohmig abgeschlossener Transformator, der nur aus wenigen Primärwindungen
besteht. Der Transformator ist i. Allg. so ausgelegt, dass bei primärem Nenn-
strom I1 = INenn der Sekundärstrom I2 = 5 A bzw. I2 = 1 A beträgt. Bei
hohen Primärströmen I1 > 500 A genügt primärseitig meist eine Windung.
Der Kern eines Stromwandlers ist lediglich für den relativ geringen Dif-
ferenzfluss bemessen, da der vom Primärstrom erzeugte magnetische Fluss
im Falle des niederohmigen sekundärseitigen Abschlusses bzw. Kurzschlus-
ses von dem vom Sekundärstrom herrührenden Gegenfluss kompensiert wird.
Eine Auftrennung des Sekundärkreises hätte zur Folge, dass der gesamte
Primärfluss plötzlich vom Kern aufgenommen werden müsste, was leicht zu
thermischer Überlastung führen kann. Gleichzeitig würde eine sich aus dem
Übersetzungsverhältnis ergebende hohe Spannung an den Sekundärklemmen
anliegen.

Abb. 6.38. Stromwandlerschaltung mit standardmäßiger Bezeichnung der An-


schlussklemmen. K, L: Primäranschlussklemmen; k, l: Sekundäranschlussklemmen.
162 6 Analoges Messen elektrischer Größen

Um Spannungsüberschläge und Überhitzung zu vermeiden, dürfen Strom-


wandler daher sekundärseitig nicht im Leerlauf betrieben werden. Oft werden
aus diesem Grund Überspannungsableiter an Stromwandlern angebracht. Ab-
bildung 6.39 zeigt einen handelsüblichen Durchsteck-Stromwandler. Bei dieser
Ausführungsform wird der den Messstrom tragende Leiter durch den Messum-
former gesteckt. Dabei wird der Leiter von einem Sondenkern, auf den eine
Sondenspule gewickelt ist, umschlossen. Dieses Funktionsprinzip ist prinzipiell
identisch mit dem einer Strommesszange für Wechselstrom (s. Kap. 6.3.7).

Abb. 6.39. Durchsteck-Stromwandler für Schienenmontage mit ki = 8 (s. Gl.


(6.108)) und primärseitigen Nennstrom von I1eff =40 A.

Fehler des Stromwandlers

Der Fehler des Stromwandlers ist bei gegebenem Primärstrom I1 die Abwei-
chung des mit der Nennübersetzung kNi multiplizierten Sekundärstromes I2
vom Primärstrom. Der relative Fehler beträgt
I2ist − I2soll I2eff kNi − I1eff
fi = 100% = 100% . (6.109)
I2soll I1eff
Neben diesem in Gl. (6.109) angegebenen Betragsfehler gibt es noch einen
Winkelfehler. Der entsprechende Fehlwinkel δi ist die Voreilung des Sekundär-
stromes gegenüber dem Primärstrom. Beide Fehler (Betragsfehler und Win-
kelfehler) lassen sich dem Zeigerdiagramm entnehmen, welches in Abb. 6.40
6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung 163

I1R1

j . I1X1σ
U1
U1h

ü. j.I2 X2 σ
ü.I2R2
I2
ü .U2 ü
δi Iμ
Iμ I1
I1h
I1E

Abb. 6.40. Zeigerdiagramm eines Stromwandlers. I μ entspricht dem Magnetisie-


rungsstrom (= Primärstrom bei sekundärseitigem Leerlauf).

gezeigt ist. Man kann diesem Diagramm auch entnehmen, dass der Fehler des
Stromwandlers mit dem magnetischen Fluss bzw. dem Magnetisierungsstrom
I μ zunimmt.
Der Magnetisierungsstrom I μ ergibt sich als vektorielle Überlagerung aus
dem eigentlichen Magnetisierungsstrom I 1h und dem entsprechenden Verlust-
strom I 1E (Abb. 6.36 und 6.37). Durch geeignete Dimensionierung und Ma-
terialauswahl wird daher versucht, den Magnetisierungsstrom klein zu halten.
Die für Stromwandler standardisierten Fehlerklassen sind in Tab. 6.3 notiert.
Die jeweilige Fehlerklasse beziffert den maximalen relativen Betragsfehler nach
Gl. (6.109) in Prozent, während der zulässige Winkelfehler von der aktuellen
Belastung durch die Bürde abhängt. Mit Hilfe der Operationsverstärkerschal-
tung nach Abb. 6.41 kann der mit dem Magnetisierungsstrom gekoppelte Fluss
annähernd zu Null abgeglichen werden, so dass die Stromwandlerfehler sehr
klein werden, wenn es gelingt, die Streuverluste sowie die Windungsverluste

Tabelle 6.3. Fehlerklassen und Winkelfehler für Messwandler bei 25 bis 100 %
Nennbürde

Stromwandler Winkelfehler Spannungswandler Winkelfehler


in Bogenminuten in Bogenminuten
Fehlerklasse bei 1 . . . 1, 2Inenn Fehlerklasse 0, 1Inenn bei 0, 8 . . . 1, 2Unenn
0,1 5 0,1 5
0,2 10 0,2 10
0,5 30 0,5 20
1 60 1 40
164 6 Analoges Messen elektrischer Größen

Abb. 6.41. Fehlerkompensierende Stromwandlerschaltung; P r: Primärwicklung;


Se: Sekundärwicklung; F ü: Fühlerwicklung; R: (rein) ohmscher Widerstand.

ebenfalls klein zu halten [174]. Der in der Schaltung verwendete ohmsche Wi-
derstand sollte eine möglichst geringe parasitäre Kapazität bzw. Induktivität
aufweisen, weil eventuelle Blindanteile einen entsprechenden Winkelfehler ver-
ursachen.

Spannungswandler

Beim Spannungswandler wird die zu messende Wechselspannung an die Pri-


märwicklung des Transformators gelegt, während an die Sekundärwicklung ein
Spannungsmesser mit sehr hohem Innenwiderstand angeschlossen wird (Abb.
6.42). Für einen idealen Spannungswandler (idealer Übertrager) ergibt sich
das Verhältnis von Primär- zu Sekundärspannung wiederum aus dem Über-
setzungsverhältnis ü, das bei Spannungswandlern meistens mit ku bezeichnet
wird
U1eff N1
= = ü = ku . (6.110)
U2eff N2
Spannungswandler sind also sekundärseitig im Leerlauf betriebene bzw. sehr
hochohmig abgeschlossene Transformatoren. Die Sekundärspannung beträgt
bei primärseitig angelegter Nennspannung im Falle standardmäßiger Ausle-
gung U2 = 100 V.

Abb. 6.42. Spannungswandlerschaltung mit standardmäßiger Bezeichnung der An-


schlussklemmen. U , V : Primäranschlussklemmen; u, v: Sekundäranschlussklemmen.
6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung 165

Fehler des Spannungswandlers


Der Spannungsfehler eines Spannungswandlers ist bei gegebener Primärspan-
nung U1 die Abweichung der mit der Nennübersetzung kNu multiplizierten
Sekundärspannung U2 von der Primärspannung. Der entsprechende relative
Fehler fu beträgt
U2ist − U2soll U2eff kNu − U1eff
fu = 100% = 100% . (6.111)
U2soll U1eff

Abb. 6.43. Zeigerdiagramm eines Spannungswandlers

Sowohl dieser Betragsfehler als auch der ihm zugeordnete Winkelfehler (Win-
kel zwischen dem Spannungszeiger U 1 (Primärspannung) und dem Span-
nungszeiger U 2 (Sekundärspannung)) sind dem Zeigerdiagramm des Span-
nungswandlers (Abb. 6.43) zu entnehmen. Aus dem Zeigerdiagramm ist er-
sichtlich, dass der Fehler des Spannungswandlers sowohl vom Wandler selbst
als auch von der Bürde abhängt. Denn mit Verändern der Bürde ändert sich
der Stromzeiger I 2 und somit das Teilzeigerdiagramm, bestehend aus den
Zeigern üU 2 , üI 2 R2 , jüI 2 X2σ und U 1h , und damit letztlich auch der Fehler.
Die Genauigkeitsklassen beziffern wiederum den zulässigen relativen Span-
nungsfehler fu nach Gl. (6.111) in Prozent. Der entsprechende Spannunsfehl-
winkel δu ist in Tab. 6.3 notiert.
Für Messspannungen oberhalb 200 kV verwendet man kapazitive Span-
nungsteiler, welche die Hochspannung auf etwa 10 % ihres ursprünglichen Wer-
tes herabsetzen (Abb. 6.44). Die nachgeschaltete Drossel wird so bemessen,

Spannungswandler
C1
Drossel
U1

C2 U2

Abb. 6.44. Grundschaltung des Spannungswandlers mit kapazitiver Teilung zur


Messung sehr hoher Spannungen. C1 , C2 : Hochspannungs-Kondensatoren.
166 6 Analoges Messen elektrischer Größen

dass bei Nennfrequenz im Messkreis Resonanz herrscht [166]. Die zu messen-


de Spannung U 1 und die am Spannungsmessgerät anliegende Spannung U 2
haben in diesem Fall dieselbe Phasenlage.

6.3.7 Strommesszange für Wechselstrom

Strommesszangen sind potentialfrei arbeitende Strommesser, die nach dem


Induktionsprinzip arbeiten. Es handelt sich dabei um Messsonden, die den
Messstrom führenden Leiter zangenförmig umschließen, ohne dass dabei ir-
gendein elektrisch leitender Kontakt zwischen dem Leiter und der Messein-
richtung besteht (Abb. 6.45). Sie werden daher auch als Zangenamperemeter
bezeichnet. Man setzt sie heute sowohl im Bereich der Energie- als auch der
Nachrichtentechnik ein. Während in der Energietechnik typischerweise ho-
he Ströme (bis einige kA) niedriger Frequenz (bis 10 kHz) gemessen werden,
handelt es sich bei den nachrichtentechnischen Anwendungen eher um den
umgekehrten Fall niedriger Stromwerte (ab μA) bei höheren Frequenzen (bis
1 GHz). Die heutigen Zangenamperemeter sind im Allgemeinen in der Lage,

Abb. 6.45. Strommesszange

sowohl Wechselstrom als auch Gleichstrom zu messen. Das Funktionsprinzip


ist allerdings bei Gleichstrom ein gänzlich anderes. Während Wechselstrom-
zangen nach dem Induktionsprinzip arbeiten, basieren gleichstromgeeignete
Zangen auf einem Hallsensor, der das Magnetfeld in einem hochpermeablen
Kern misst, welcher den stromführenden Leiter wie im Wechselstromfall um-
schließt. Dieser gewichtige Unterschied führt zu der hier gewählten Gliede-
6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung 167

rung. Wir werden im direkten Anschluss die Wechselstrommesszangen behan-


deln. Danach folgt zunächst eine allgemeine Einführung in den galvanoma-
gnetischen Effekt sowie den Aufbau von Hallelementen, bevor abschließend
die Gleichstrommesszangen besprochen werden.

Funktionsprinzip und Ersatzschaltbilder

Strommesszangen koppeln das den Wechselstrom führenden Leiter stets um-


gebende Magnetfeld rein induktiv in die Sondenspule der Strommesszange.
Abbildung 6.46 zeigt den prinzipiellen Aufbau einer Wechselstrommesszange
und Abb. 6.48 das entsprechende Ersatzschaltbild. Die an der Sondenspule ab-
greifbare elektrische Wechselspannung ist proportional zum Strom durch den
Messleiter. Diese Proportionalität folgt unmittelbar aus dem Induktionsge-
setz, das hier Anwendung findet. Es handelt sich bei der Anordnung aus Mes-
sleiter und Sondenspule nämlich um einen Übertrager oder Transformator,
dessen Grundgleichungen (Gln. (6.112) und (6.113)) und Ersatzschaltbilder
(Abb. 6.47) hier gelten [4]

U 1 = jωL1 I 1 − jωM I 2 (6.112)


U 2 = jωM I 1 − jωL2 I 2 . (6.113)

I mess

Kern

Sondenwicklung

I mess

a) ZL

I mess

rm
Kernquer-
schnittsfläche A K
b)

Abb. 6.46. Strommesszange: a) prinzipielle Anordnung [33]; b) Querschnittsgeo-


metrie.
168 6 Analoges Messen elektrischer Größen

1 L1 - M L2 - M 2
I1 I2

U1 M U2

1' 2'
Abb. 6.47. Ersatzschaltbild eines Transformators. L1 und L2 sind die Eigen-
Induktivitäten von Primär- bzw. Sekundärwicklungen. M bezeichnet die Koppel-
induktivität zwischen Primär- und Sekundärseite.

Die Primärseite des Transformators (Eigeninduktivität L1 ) wird vom Mes-


sleiter und seine Sekundärseite (Eigeninduktivität L2 ) von der Sondenspule
gebildet (s. Abb. 6.48). Die Koppelinduktivität M sorgt für die Kopplung
von Primär- und Sekundärseite. Der Kern der Sondenspule, der gleichzeitig
den Messleiter umschließt, muss hochpermeabel sein, damit das Magnetfeld,
das der Messleiter generiert, sich vollständig im Kern konzentriert. Dadurch
werden zu Messfehlern führende Streufelder vermieden.
Der Strom durch den Messleiter erzeugt in der Umgebung des Leiters ein
 bzw. H-Feldlinien
Magnetfeld, dessen B-  den Leiter konzentrisch umschließen.
Die magnetische Feldstärke H  in radialer Entfernung r lässt sich aus dem
Maxwellschen Durchflutungsgesetz berechnen

 I
|H(r)| = . (6.114)
2πr
Aufgrund seiner hohen Permeabilität konzentriert sich das Magnetfeld auf
den Kern der Sondenwicklung. In dieser wird nach dem Induktionsgesetz eine
Spannung induziert, die dem Messstrom proportional ist. Wenn die Sonden-

I mess
L1 - M L2 - M

ZE M UL ZL

Messleiter
I mess

Abb. 6.48. Ersatzschaltbild einer Strommesszange, das aus konzentrierten Ele-


menten besteht. L1 ist die Eigeninduktivität des stromführenden Messleiters, M
die Koppelinduktivität und L2 die Eigeninduktivität der Stromzangenwicklung. Z E
die Lastimpedanz am Messort der Zange und Z L ist die Lastimpedanz des an die
Sondenwicklung angeschlossenen Spannungsmessgerätes.
6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung 169

spule (Kernquerschnittsfläche AK ) N Windungen aufweist, wird die Spannung


  
u0 (t) =  ds = −N ∂Φ = −N
E μ0 μrK
∂H 
dA (6.115)
L ∂t AK ∂t

induziert, wobei E die induzierte elektrische Feldstärke, L die Gesamtlänge


der Spulenwindungen, Φ den magnetischen Fluss, AK die Querschnittsfläche
und μ0 μrK die Permeabilität des Sondenkerns bezeichnen.
Infolge der Annahme sinusförmiger Zeitabhängigkeit lässt es sich die zeit-
liche Ableitung durch eine Multiplikation mit jω im Komplexen ersetzen

( jω .
= (6.116)
∂t
Daraus folgt für die komplexe Amplitude U 0 der induzierten (Leerlauf-) Span-
nung (s. auch Abb. 6.49)

Z i = jωL 2

U0= jωΜΙ mess UL ZL

Abb. 6.49. (Sekundärseitiges) Ersatzschaltbild einer Strommesszange. Z i = jωL2


wird auch als Schleifenimpedanz der Strommesszange bezeichnet. Z L stellt die La-
stimpedanz dar.


U0 = −  A
jωN μ0 μrK Hd  ≈ −jωN μ0 μrK H AK = −jωM I
m mess . (6.117)
AK

Dabei approximiert man das Integral in Gl. (6.117) durch die mittlere Induk-
tion B m bzw. die mittlere magnetische Feldstärke H m (s. auch Abb. 6.46b)
μ0 μrK
B m = μ0 μrK H m = I . (6.118)
2πrm mess
Die Koppelinduktivität M ergibt sich demnach wie folgt
μ0 μrK AK
M =N . (6.119)
2πrm
Die Messspannung U L lässt sich anhand von Abbildung 6.49 angeben. Sie
beträgt
ZL
UL = jωM I mess . (6.120)
Z L + jωL2
170 6 Analoges Messen elektrischer Größen

Um die Lastimpedanz Z E am Messort der Zange zu ermitteln, verwenden wir


die Ersatzschaltbilder aus Abbildung 6.48 bzw. 6.50. Die Impedanz ergibt sich
demnach zu
ω2M 2
Z E = jωL1 + . (6.121)
Z L + jωL2
Dabei ist L1 die primärseitige Eigeninduktivität, d. h. die Eigeninduktivität
des Messleiters, wenn sich die Zange am Messort befindet.

I mess 1 2

ZE UL ZL
I mess

1' 2'
Abb. 6.50. Transformatoren-Ersatzschaltbild einer Strommesszange. Z E bezeichnet
die Lastimpedanz der Strommesszange am Messort.

Übertragungsfaktor der Strommesszange (Transferimpedanz)

Der Übertragungsfaktor einer Strommesszange ist das Verhältnis aus der an


der Sondenspule induzierten Spannung und dem Messstrom
UL
Z Tr = . (6.122)
I mess

Da dieser Übertragungsfaktor die Einheit einer Impedanz trägt, wird er auch


als Transferimpedanz Z Tr bezeichnet. Infolge der Spannungsteilung an Z L
und jωL2 (s. Abb. 6.49) ergibt sich die Transferimpedanz zu (s. auch Gl.
(6.120))
UL jωM Z L
Z Tr = = . (6.123)
I mess Z L + jωL2
In Abhängigkeit der Lastimpedanz Z L (s. Abb. 6.49) unterscheidet man fol-
gende Fälle:
• 1. hochohmige Last Z L :
Die Transferimpedanz hat (zeitlich gesehen) differenzierenden Charakter
(Anstieg von 20 dB/Dek. im Bodediagramm, s. Kap. 3.13)

|Z L | ωL2 → Z Tr = jωM . (6.124)

• 2. niederohmige Last Z L :
Die Transferimpedanz ist frequenzunabhängig (ebener Verlauf ohne Stei-
gung im Bodediagramm)
6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung 171

M
|Z L | ωL2 → Z Tr = Z . (6.125)
L2 L
Insgesamt ergibt sich der typische Hochpasscharakter (Abb. 6.51) mit einer
3 dB-Eckfrequenz fg von
1 |Z L |
fg = , (6.126)
2π L2
d. h., wenn |Z L | kleiner wird, verringert sich auch fg .
Dies bedeutet, dass bei höherer Belastung (d. h. Z L wird kleiner) die Eck-
frequenz sinkt. Der von Stromzangen prinzipiell nutzbare Frequenzbereich
geht von der Rauschgrenze, die stets im differenzierenden Bereich liegt, bis
zu dem Resonanzbereich, der an den konstanten Frequenzgang oberhalb der
Eckfrequenz anschließt. Diese Resonanzen lassen sich nicht mehr anhand des
Ersatzschaltbildes (Abb. 6.48) beschreiben. Zur Erklärung dieses Phänomens
sei auf weiterführende Literatur verwiesen [119]. Abbildung 6.51 zeigt die
Transferimpedanz einer typischen Strommesszange. Im Allgemeinen wird man
bestrebt sein, den frequenzunabhängigen mittleren Teil oberhalb der Grenz-
frequenz fg für die Strommessung zu nutzen.

Z Tr

1000
Ω
100

10

0,1
1 10 100 1000
MHz
Frequenz

Abb. 6.51. Transferimpedanz einer Strommesszange [50]

Einfügeimpedanz einer Strommesszange

Die Strommesszange hat infolge der induktiven Kopplung zwischen ihrer Son-
denspule und dem Messleiter eine Rückwirkung auf die Strombelegung des
Leiters. Die Stärke dieser Rückwirkung lässt sich an der Größe der sog.
Einfügeimpedanz ablesen. Die Einfügeimpedanz Z ins der Strommesszange
entspricht der Impedanz Z E der Zange am Messort minus der Eigenimpedanz
des Messleiters Z 10 = jωL10
172 6 Analoges Messen elektrischer Größen

ω2M 2
Z ins = Z E − Z 10 = jωL1 + − jωL10 (6.127)
Z L + jωL2

mit (s. Gl. (6.119))


μ0 μrK AK
M =N . (6.128)
2πrm
Abbildung 6.52 zeigt die Einfügeimpedanz einer typischen Strommesszange.

Z ins

10
Ω
1

0,1

0,01

0,001

100 1k 10 k 100 k 1 M 10 M Hz 1G
Frequenz

Abb. 6.52. Einfügeimpedanz einer Strommesszange [100]

6.3.8 Hallelement (Galvanomagnetischer Effekt)

Der Halleffekt (galvanomagnetischer Effekt) wurde vom amerikanischen Phy-


siker Edwin Herbert Hall im Jahre 1879 entdeckt und ist eine Folge der Lor-
entzkraft. Bewegt sich nämlich ein geladenes Teilchen mit der Ladung q und

der Geschwindigkeit v in einem Magnetfeld der magnetischen Flussdichte B,
so wirkt auf dieses die mechanische Kraft (Lorentzkraft)

FL = Fmag = q(v × B).


 (6.129)

Diese Kraft bewirkt eine Ablenkung der Ladungsträger und führt in einem
Hallelement (Abb. 6.53) zu einer Ansammlung von Ladungsträgern bzw. einer
Aufladung der Hilfselektroden, was wiederum ein elektrisches Feld E H normal
zum Geschwindigkeitsvektor v zur Folge hat. Dieses elektrische Feld übt nun
seinerseits wiederum die Kraft

Fel = q E
H (6.130)
6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung 173

äußeres Magnetfeld b
B d

J EH _
+
Sensorelektrode
UH ez
ey

I ex

Abb. 6.53. Hallelement (Hallsensor)

auf die Ladungsträger aus. Der Gleichgewichtszustand stellt sich für

Fmag + Fel = 0 (6.131)

ein.
Mit dem in Abb. 6.53 eingeführten Koordinatensystem und der Festlegung
von Elektronen als Ladungsträger (q = −e0 ; mit der Elementarladung e0 ) gilt

Fmag = −e0 vB(−ey × ez ) = e0 vBex (6.132)


Fel = −e0 E
H . (6.133)

Mit Hilfe der Gleichgewichtsbedingung (Gl. (6.131))

 H + e0 vBex
0 = −e0 E (6.134)

H
berechnet sich das im Hallelement einstellende maximale elektrische Feld E
zu
 H = vBex .
E (6.135)
Nun kennt man noch den Zusammenhang zwischen der Geschwindigkeit v der
Ladungsträger und der elektrischen Stromdichte J

J = −e0 nv = e0 nvey , (6.136)

wobei n die Ladungsträgerdichte bezeichnet, d. h. die Anzahl der freien La-


dungsträger pro Volumeneinheit. Drückt man den Betrag der elektrischen
 durch den Strom I aus
Stromdichte |J|

 = I
|J| , (6.137)
bd
so erhält man unter Berücksichtigung von Gl. (6.135) den folgenden Ausdruck
H
für die elektrische Feldstärke E

 H = 1 I Bex .
E (6.138)
ne0 bd
174 6 Analoges Messen elektrischer Größen

Die an den (Sensor-)Elektroden messbare Hallspannung beträgt somit

2
UH =  H ds = 1 1 IB = RH 1 IB .
E (6.139)
ne0 d d
1

Dabei bezeichnet man den materialabhängigen Wert 1/(ne0 ) als Hallkonstante


1
RH = + . (6.140)
ne0
Man erkennt, dass für eine große Hallkonstante und somit eine hohe Empfind-
lichkeit die Anzahl der Ladungsträger gering sein muss. Damit kommen für
diesen Effekt nicht Metalle, sondern in erster Linie Halbleiter in Frage, wie
die folgende Gegenüberstellung zeigt:
Kupfer : n = 8, 7 · 1022 1/cm3
Silizium : n = 1, 5 · 1010 1/cm3 .
Ein Hallsensor liefert gemäß Gl. (6.139) eine Ausgangsspannung UH , die di-
rekt proportional der magnetischen Induktion B ist, welche ihn in senkrechter
Richtung durchsetzt. Allerdings hängt diese Hallspannung auch von der Um-
gebungstemperatur ab. Dies ist darauf zurückzuführen, dass wiederum die
Ladungsträgerbeweglichkeit und damit die Hallkonstante RH z. T. stark von
der Temperatur abhängig ist. In Tab. 6.4 findet man die Kennwerte von ty-
pischen Hallelementen.

Tabelle 6.4. Kennwerte von typischen Hallelementen

Type KSY10 SV200 Erklärung


Material GaAs InAs
KH in V/AT 170-230 > 10 Leerlaufempfindlichkeit (=UH /(BI))
IN in mA 5 20 Nennstrom
UH in mV bei B=0,5 T 25 > 100 Hallspannung
R1 in kΩ 1 60 Bahnwiderstand im Strompfad
R2 in kΩ 1 60 Bahnwiderstand im Spannungspfad
α in %/K -0,05 -0,1 Temperaturkoeffizient

Abbildung 6.54 zeigt schematisch die Feldverteilung in einem Hallelement.


Bei nicht vorhandenem Magnetfeld (Bz = 0) handelt es sich um den Stan-
dardfall, dass die Strombahnen auf kürzestem Wege von der Elektrode 1 zur
Elektrode 2 verlaufen. Die Äquipotentiallinien verlaufen in vertikaler Rich-
tung (y-Richtung). Bei eingeschaltetem Magnetfeld (Bz = 0) hingegen wirkt
die Lorentzkraft und es kommt zu Feldverzerrungen. Die Äquipotentiallini-
en verlaufen schräg, so dass an direkt gegenüberliegenden Punkten (dort, wo
6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung 175

Ua

UH

Äquipotentialflächen
ohne / mit Magnetfeld
1 ΘH
Elektrode
+ + + + + + + + + +
E ax
Fläche A jn
I
_ _ _ _ _ _ _ _ _ _
Elektrode 2 EH
ΘH E
Potentialdifferenz der
Äquipotentiallinien = Hallspannung Beispiel:
n-Halbleiter

x
B
Abb. 6.54. Verlauf der Äquipotentiallinien mit und ohne äußeres Magnetfeld. ΘH
ist der Hallwinkel.

die Sensorelektroden angebracht sind) eine Hallspannung anliegt. Da die bei-


den stromzuführenden Elektroden 1 und 2 aufgrund ihrer (idealen) Leiterei-
genschaften Äquipotentialflächen darstellen, kommt es in ihrer Nähe zu einer
weiteren Feldverzerrung. Der in Abb. 6.54 eingezeichnete Hallwinkel lässt sich
wie folgt berechnen
H|
|E
ΘH = arctan . (6.141)
 ax |
|E
Die Feldstärke E  in einem Hallelement ergibt sich aus der Überlagerung der
Feldstärke E ax , die durch die an die stromzuführenden Elektroden angelegte
äußere Spannung entsteht, mit der Feldstärke aufgrund des Halleffektes, der
Hallfeldstärke E  H , die Gesamtfeldstärke

 =E
E  ax + E
H = E
 ax − v n · B
z , (6.142)
dr

n
wobei vdr die Driftgeschwindigkeit der (negativen) Ladungsträger darstellt.
Der sog. Hallwinkel ΘH ist der Winkel zwischen dem resultierenden elektri-
schen Feld E und dem von außen angelegten Feld E  ax .
Eine typische Anwendung von Hallelementen ist die Messung von Gleich-
strömen mit Hilfe von Strommesszangen.
176 6 Analoges Messen elektrischer Größen

6.3.9 Strommesszange für Gleichstrom

Da das Induktionsprinzip wegen der fehlenden Zeitabhängigkeit nicht genutzt


werden kann, erfordert das Messen von Gleichströmen mittels Zangenam-
peremeter einen Sensor, der in der Lage ist, das vom Messleiter erzeugte

statische B-Feld in eine proportionale Messspannung umzuwandeln. Stan-
dardmäßig geschieht dies mit Hilfe der im vorhergehenden Abschnitt beschrie-
benen Hallelemente, die sehr wohl in der Lage sind, auch zeitlich konstante
Magnetfelder zu bestimmen. Dazu wird das Hallelement in den bei einem
bestimmten Umfangswinkel in radialer Richtung geschlitzten Sondenkern ein-
gebracht (s. Abb. 6.55). Aufgrund der im Vergleich zur Luftumgebung sehr ho-
hen Permeabilität des Kerns konzentriert sich auch hier (wie schon beim nicht
geschlitzten Sondenkern der Wechselstromsonde) das vom Strom im Messlei-
ter erzeugte Magnetfeld im Kern. Die Feldlinien der magnetischen Induktion
 verlaufen wie schon bei der Wechselstromsonde (s. Kap. 6.3.7) im Sonden-
B
kern prinzipiell in Umfangsrichtung. Aufgrund der Stetigkeitsbedingungen von
Magnetfeldern an permeablen Grenzschichten gehen die in normaler Richtung

aus der Sondenfläche austretenden B-Linien 
kontinuierlich in die B-Linien des
Luftspaltfeldes bzw. in das das Hallelement durchdringende Magnetfeld über.
Der in den Sondenkern eingebrachte Schlitz nimmt das Hallelement so auf,

dass das B-Feld das Hallplättchen in senkrechter Richtung durchsetzt. Die
Öffnung im Kern sollte möglichst klein gehalten werden, damit keine nen-
nenswerten Streufelder seitlich austreten können.
Geht man wie schon beim Wechselstromzangenamperemeter von einer
mittleren magnetischen Induktion |B  |=B
m m

Feldlinien der
magnetischen
Induktion B IS
Wicklungen zur Hallelement
Erzeugung des
Kompensationsflusses

I mess IH

stromführender Leiter
RM

UM
IS

Abb. 6.55. Prinzip einer Gleichstrommesszange mit Kompensationsprinzip nach


[158]. Die Messspannung UM ist proportional zum Messstrom Imess .
6.3 Messung von Wechselstrom und Wechselspannung 177
μ0 μrK
B m = μ0 μrK H m = I (6.143)
2πrm mess
aus, so lässt sich die Hallspannung nach Gl. (6.139) ermitteln

RH RH μ0 I mess
UH = IH B m = IH . (6.144)
d d 2πrm
Damit ist die Hallspannung proportional zum Messstrom. Bei der Messung
können aber verschiedene Fehler auftreten. Neben dem Erdmagnetfeld, das
die Genauigkeit im Allgemeinen negativ beeinflussen wird, verfälscht auch die
Temperaturempfindlichkeit des Hallelementes die Messung. Eine Möglichkeit,
die Messgenauigkeit zu erhöhen, besteht in der Anwendung des Kompensati-
onsprinzips (s. auch Kap. 9.2). Dazu wird im Sondenkern ein dem Magnetfeld
des Messstromes entgegengesetztes Magnetfeld erzeugt. Die Stärke des Gegen-
feldes entspricht genau der des primären Feldes, so dass das Magnetfeld im
Sondenkern zu Null abgeglichen wird. Da somit die Hallspannung stets Null
ist, geht beispielsweise auch der (temperaturempfindliche) Hallwiderstand RH
nicht mehr in die Messgenauigkeit ein. Um das Gegenfeld im Sondenkern zu er-
zeugen, wird eine Kompensationsspule auf den Kern gewickelt (s. Abb. 6.55),
die von einem geregelten Strom beschickt wird. Die Kompensationsschaltung
besteht aus dem Hallelement, dessen Hallspannung auf Null abgeglichen wird,
und einem Operationsverstärker, dessen Differenzeingangsspannung im einge-
regelten Zustand ebenfalls Null ist. Der Ausgangsstrom IS des Operations-
verstärkers wird durch die Kompensationswicklung geschickt und erzeugt das
Gegenfeld. Dieser Strom ist proportional zum Messstrom. Er wird mit Hil-
fe des Shunt-Widerstandes in eine Messspannung UM umgesetzt. Diese ist
die Ausgangsgröße der Gesamtanordnung und ein originalgetreues Abbild der
Messgröße, d. h. UM ∼ Imess .
7
Messverstärker

Um mit Messgeräten auch Spannungen und Ströme messen zu können,


die unterhalb der Ansprechempfindlichkeit des Messwerkes liegen, werden
Messverstärker eingesetzt. Sie wandeln die zu messende Spannung bzw. den zu
messenden Strom in ein proportionales Signal höherer Amplitude um. Dabei
werden folgende Eigenschaften der Messverstärker gefordert:
• geringe Rückwirkung auf die Messgröße
• Signaltreue (Linearität)
• hohe Amplitudendynamik
(niedriges Eigenrauschen, geringe Verzerrungen bei großen Amplituden)
• ausreichende Bandbreite
(Ausgangssignal muss dem Eingangssignal zeitlich folgen können)
• eingeprägtes Ausgangssignal (Spannung oder Strom).
Während man in der klassischen Messtechnik versucht hat, die Rückwirkungs-
freiheit einer Messung durch Kompensationsverfahren zu erreichen, bedient
sich die elektronische Messtechnik dazu eines Messverstärkers mit geeigneter
Eingangs- bzw. Ausgangsimpedanz. So kann beispielsweise die bei der Span-
nungsmessung stets vorhandene Belastung eines Messkreises infolge der endli-
chen Innenimpedanz des Messgerätes und der daraus resultierende Messfehler
durch die Verwendung eines Messverstärkers mit sehr hohem Eingangswider-
stand i. Allg. soweit reduziert werden, dass sie nicht mehr stört.
Elektronische Verstärkerschaltungen werden weiterhin eingesetzt, um die
in Form elektrischer Signale vorliegenden Messwerte in analoger Form weiter-
zuverarbeiten. So werden beispielsweise Verstärker verwendet, um Messwerte
zu addieren, subtrahieren, multiplizieren, logarithmieren, integrieren oder zu
differenzieren. Bei der Realisierung elektronischer Messverstärker werden, ab-
gesehen von Anwendungen im Bereich sehr hoher Frequenzen (> 150 MHz)
oder hoher Spannungen (> 150 V), heute vorwiegend integrierte Operati-
onsverstärkerschaltungen eingesetzt. Diese Operationsverstärker (Operational
Amplifier, OpAmp) dienen dabei nicht nur als reine Messverstärker sondern

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_7
180 7 Messverstärker

auch als universelle Grundbausteine der gesamten analogen Signalverarbei-


tung. Abbildung 7.1 zeigt die standardmäßig verwendeten Schaltsymbole für
elektronische Messverstärker.

Eingang Ausgang Eingang Ausgang


a)

uE uA uE uA uE uA

b)

Abb. 7.1. Schaltsymbole für elektronische Messverstärker: a) allgemeine Symbole,


b) massebezogene Darstellungen (allgemein, nicht-invertierend, invertierend)

7.1 Operationsverstärker

7.1.1 Idealer Operationsverstärker

Abbildung 7.2 zeigt das Schaltbild eines (idealen) Operationsverstärkers. Er


besitzt stets einen invertierenden mit  N bzw.  − gekennzeichneten und einen
mit  P bzw.  + gekennzeichneten nicht-invertierenden Eingang sowie einen
Ausgang. Sowohl die beiden Eingangsklemmen als auch die Ausgangsklem-
me bilden mit der Masseleitung jeweils ein elektrisches Tor. Das wichtigste
Kennzeichen eines (idealen) Operationsverstärkers ist, dass die Eigenschaf-
ten des mit ihm realisierten Verstärkers nur durch die äußere Beschaltung
des Operationsverstärkerbausteins festgelegt werden, welche i. Allg. auf rein
passiven Bauelementen basiert. Ein idealer Operationsverstärker ist äquiva-
lent einer spannungsgesteuerten Spannungsquelle mit der Leerlaufspannungs-

N iN

iA
uD
uN u DV0
P iP
uA
uP

Abb. 7.2. Ersatzschaltbild eines (idealen) Operationsverstärkers


7.1 Operationsverstärker 181

verstärkung V0 → ∞. Für die Ausgangsspannung uA gilt allgemein (Abb. 7.2)


uA = V0 uD = V0 (uP − uN ) . (7.1)
Die Eingangsströme iN bzw iP des idealen Operationsverstärkers sind Null
iN = iP = 0 . (7.2)
Infolgedessen muss für den Eingangswiderstand rE , der bei einem realen Ope-
rationsverstärker zwischen P - und N -Eingang liegt (Abb. 7.3),
rE → ∞ (7.3)
gelten. Der Ausgangswiderstand rA (Widerstand in Serie zur spannungsge-
steuerten Spannungsquelle, s. Abb. 7.3) beträgt wie bei einer idealen Span-
nungsquelle
rA = 0 . (7.4)
Weiterhin sind beim idealen Operationsverstärker alle Eigenschaften frequenz-
und temperaturunabhängig.

+UB
iN
u gl Vgl
u DV0 rA iA
u'D UD0 rE uD
iP
uN
uA
uP r gl r gl -UB

I N0 I P0

Abb. 7.3. Kleinsignal-Ersatzschaltbild eines realen Operationsverstärkers

7.1.2 Realer Operationsverstärker


In Abb. 7.3 wird das Schaltbild und in Abb. 7.4 die Kennlinie der Leerlauf-
verstärkung eines realen Operationsverstärkers gezeigt. Genauer gesagt han-
delt es sich dabei um einen dahingehend idealisierten Operationsverstärker,
dass er innerhalb seiner Aussteuerungsgrenzen (uAmin ≤ uA ≤ uAmax )
lineare Übertragungseigenschaften aufweist (s. Kennlinie der Leerlaufspan-
nungsverstärkung in Abb. 7.4). Die maximale und die minimale Ausgangs-
spannung uAmax bzw. uAmin liegen bei Standard-Operationsverstärkern be-
tragsmäßig etwa um 1 bis 3 V unter der Betriebsspannung ±UB des Ope-
rationsverstärkers. Die wesentlichen Unterschiede zum idealen Operations-
verstärker sind: a) Der Eingangs- und der Ausgangswiderstand nehmen end-
182 7 Messverstärker
uA
+UB
u Amax

UD0 uD
u Amin
-UB

Abb. 7.4. Kennlinie der Leerlaufverstärkung eines Operationsverstärkers


(gestrichelt: mit Offsetspannung)

liche Werte an: rE ≈ 1 MΩ bis 1 TΩ; rA ≈ 2 Ω bis 100 Ω, b) der reale


Verstärkungsgrad liegt zwischen 104 ≤ V0 ≤ 107 . Für den realen Operations-
verstärker sind die im Kap. 7.1.3 enthaltenen wichtigen Kenngrößen definiert.
Zum Verständnis dieser Kenngrößen ist die Erläuterung der Funktionsweise
einer Rückkopplungsschaltung, und im speziellen Fall die Funktion einer Ge-
genkopplungsschaltung, gemäß Abb. 7.5 notwendig. Eine solche Gegenkopp-
lungsschaltung enthält einen Verstärker mit der Leerlaufverstärkung V0 , ein
Rückkoppel-Netzwerk mit der Übertragungsfunktion Vg , welche im allgemei-
nen Fall frequenzabhängig sein kann, und einen Subtrahierer. Die Ausgangs-
spannung uA lässt sich anhand von Abb. 7.5 wie folgt angeben

uA = V0 uD = V0 (uE − uA Vg ) . (7.5)

Daraus folgt für die Gesamtverstärkung V


uA 1
V = = 1 . (7.6)
uE V0 + Vg

Im Falle eines idealen Verstärkers (V0 → ∞) ergibt sich die Gesamtverstärkung


der Gegenkopplungsschaltung zu
1 1
lim V = lim 1 = . (7.7)
V0 →∞ V0 →∞ Vg + V0
Vg

Die Gegenkopplungsschaltung aus Abb. 7.5 lässt sich für den Fall einer
sehr hohen Verstärkung (V0 → ∞) (Gl. (7.7)) durch einen invertierenden

V0
uD
uE uA

Vg
Rückkoppel-Netzwerk

Abb. 7.5. Gegenkopplungsschaltung


7.1 Operationsverstärker 183

Verstärker nach Abb. 7.6 realisieren, wenn die Leerlaufverstärkung des dort
verwendeten Operationsverstärkers ebenfalls gegen einen unendlich hohen
Wert strebt. Da bei einem Operationsverstärker die Eingangsströme idealer-
weise verschwinden (iP = iN = 0), ergibt sich aus der Schaltung nach Abb. 7.6

i1 + i2 = 0 . (7.8)

Zwei im Schaltbild (Abb. 7.6) vorgenommene Maschenumläufe ergeben wei-


terhin

uE = R1 i1 − uD (7.9)
uA = R2 i2 − uD = V0 uD . (7.10)

R2 i2

i1 R1 iN
uD V0
uE uA

Abb. 7.6. Invertierende Verstärkerschaltung

Aus den Gln. (7.8 - 7.10) folgt die Gesamtverstärkung V

uA −R R2
1
V = = R2
. (7.11)
uE 1 + V10 (1 + R1 )

Für einen idealen Operationsverstärker (V0 → ∞) folgt für die Gesamtverstär-


kung V schließlich
uA R2
lim V = =− . (7.12)
V0 →∞ uE R1
Ein Koeffizientenvergleich zwischen den Gln. (7.7) und (7.12) liefert die Be-
ziehung zwischen der Übertragungsfunktion Vg des Rückkoppel-Netzwerkes
(Abb. 7.5) und den Werten R1 und R2 der ohmschen Widerstände der Ope-
rationsverstärkerschaltung nach Abb. 7.6
R1
Vg = − . (7.13)
R2
Es sei nochmals darauf hingewiesen, dass die in Gl. (7.13) angeführte Verstär-
kung Vg des Rückkoppel-Netzwerkes nur dann mit der aus Gl. (7.6) bzw.
Gl. (7.7) identisch ist, wenn V0 einen sehr hohen Wert annimmt.
Für die Analyse von Operationsverstärkerschaltungen in Gegenkopplung
(Rückkopplung vom Ausgang auf den invertierenden Eingang) ist es sinnvoll,
184 7 Messverstärker

die Differenzeingangsspannung uD zu betrachten. Ausgehend von Gl. (7.5)


ergibt sich
uE
uD = . (7.14)
V0 Vg + 1
Wird nun wiederum eine sehr hohe Leerlaufverstärkung (V0 → ∞) angenom-
men, so verschwindet die Differenzeingangsspannung
uE
lim = lim uD = 0 . (7.15)
V0 →∞ V0 Vg + 1 V0 →∞

Die verschwindende Differenzeingangspannung uD (auch als virtueller Kurz-


schluss bezeichnet) erleichtert die Analyse von Operationsverstärkerschaltun-
gen in Gegenkopplung erheblich. Man sollte sich aber darüber bewusst sein,
dass uD = 0 eine Idealisierende Annahme darstellt, deren Gültigkeit sicher-
gestellt sein muss. Für ein großes, aber endliches V0 darf beispielsweise Vg in
Gl. (7.15) nicht zu klein gewählt werden, um uD = 0 zu gewährleisten.

7.1.3 Definitionen von Operationsverstärker-Kenngrößen

Im Folgenden werden die wichtigsten Kenngrößen von Operationsverstärkern


bzw. Operationsverstärkerschaltungen beschrieben. Die verwendeten Größen-
bezeichnungen beziehen sich auf die in Abb. 7.2 und Abb. 7.3 gezeigten Er-
satzschaltbilder von idealem und realem Operationsverstärker sowie die in
Abb. 7.5 gezeigte Gegenkopplungsschaltung.
• Leerlaufspannungsverstärkung (open loop voltage gain) V0
Es handelt sich hierbei um die Differenzverstärkung der offenen Schleife,
d. h. des nicht-rückgekoppelten, unbeschalteten Operationsverstärkers.
∂uA
V0 = (7.16)
∂uD

- ideal: V0 → ∞
- real: 104 ≤ V0 ≤ 107
• Leerlaufspannungsverstärkungsmaß V0 [dB]


∂uA
V0 [dB] = 20 lg V0 = 20 lg (7.17)
∂uD

- ideal: V0 → ∞
- real: 80 dB ≤ V0 ≤ 140 dB
• Gleichtaktspannung (common mode voltage) ugl
Die Gleichtaktspannung entspricht dem arithmetischen Mittel der beiden
Eingangsspannungen uN und uP
uP + uN
ugl = . (7.18)
2
7.1 Operationsverstärker 185

• Gleichtaktspannungsverstärkung (common mode voltage gain) Vgl


Bei einem realen Operationsverstärker erscheint die um den Faktor Vgl ver-
stärkte Gleichtaktspannung Ugl am Ausgang

∂uA
Vgl = . (7.19)
∂ugl

- ideal: Vgl = 0
- real: Vgl ≈ 1
• Gleichtaktunterdrückung (common mode rejection ratio) CMRR


V0
CMRR [dB] = 20 lg (7.20)
Vgl

- ideal: CMRR → ∞
- real: CMRR ≈ 100 dB

• Verstärkung der geschlossenen Schleife (closed loop voltage gain),


Gesamtverstärkung V
Es handelt sich hierbei um die Gesamtverstärkung V des rückgekoppel-
ten Verstärkers nach Abb. 7.5 (die Übertragungsfunktion des Rückkoppel-
Netzwerkes wird mit Vg bezeichnet)

∂uA
V = (7.21)
∂uE
- ideal (V0 → ∞):
1
V = (7.22)
Vg
- real (Gl. (7.6)):
V0
V = (7.23)
1 + Vg V0
• Übertragungsfunktion (frequency response) G(ω)
Die komplexe Übertragungsfunktion G(ω) von Operationsverstärkerschal-
tungen, die auch als Übertragungsfaktor bezeichnet wird, entspricht der
komplexen Verstärkung, d. h. dem Verhältnis der in Zeigerform darge-
stellten Ausgangsspannung U A zur Differenzeingangsspannung U D . Die-
se Übertragungsfunktion lässt sich für reale Operationsverstärker nach
Gl. (7.24) approximieren

U A (ω) V
G(ω) = =  0  . (7.24)
U D (ω) ω
1 + j ω1 1 + j ωω2

G(ω) entspricht also der Übertragungsfunktion eines Tiefpasses mit den


beiden Eckfrequenzen ω1 und ω2 (ω2 > ω1 ) [165]. Dies bedeutet, dass
186 7 Messverstärker

der Betrag der Übertragungsfunktion ab der Frequenz ω1 = 2πf1 mit


20 dB/Dekade (= ( 6 dB/Oktave) und ab der Frequenz ω2 = 2πf2 mit
40 dB/Dekade (= ( 12 dB/Oktave) fällt. Der Wert V0 stellt die Gleichspan-
nungsverstärkung dar. Bei unbeschalteten Operationsverstärkern liegt f1
typischerweise im Bereich einiger Hertz, während f2 der oberen Grenzfre-
quenz des unbeschalteten Operationsverstärkers entspricht. Abbildung 7.7
zeigt den Frequenzgang der Leerlaufverstärkung des Universal-Operations-
verstärkers vom Typ μA 741 nach Betrag und Phase (Tiefpass-Eckfrequen-
zen: f1 ≈ 10 Hz und f2 ≈ 5 MHz).

|G(w)| [dB] j (°)

120 0

80 -45
-90
40
-135
0
-20 -180
100 102 104 106 f (Hz) 100 102 104 106 f (Hz)
a) b)
Abb. 7.7. Frequenzgang der Leerlaufspannungsverstärkung des Operations-
verstärkers μA 741 (UB = ±15 V) bei einer Temperatur von 25◦ C: a) Betrag,
b) Phase

• Gleichtakteingangswiderstand (common mode input resistance)


Der Gleichtakteingangswiderstand rgl wird wie folgt berechnet

∂ugl
rgl = 1 (7.25)
2 ∂(iP+ iN )

- ideal: rgl = ∞
- real: rgl = 1 GΩ . . . 100 TΩ
• Differenzeingangswiderstand (differential input resistance) rE
Da im Allgemeinen der Gleichtaktwiderstand rgl groß ist gegenüber dem
Differenzeingangswiderstand rE (rgl rE ), gilt folgende Definitionsglei-
chung für den Differenzeingangswiderstand
∂uD
rE = (7.26)
1
2 ∂(iP− iN )

- ideal: rE = ∞
- real: rE = 1 MΩ . . . 1 TΩ
• Ausgangswiderstand (output resistance) rA
7.1 Operationsverstärker 187

∂uA 
rA = − (7.27)
∂iA  uD =const.

- ideal: rA = 0
- real: rA = 2 Ω . . . 100 Ω
• Eingangsfehlspannung (input offset voltage), Offsetspannung UD0
Durch nicht-identische Eingangstransistoren des bei Operationsverstärkern
stets vorhandenen Differenzeingangsverstärkers [182] wird auch für uN =
uP = 0 beim realen Operationsverstärker eine Ausgangsspannung uA = 0
erzeugt. Jene Spannungsdifferenz UD0 , welche am Eingang angelegt wer-
den muss, um die Ausgangspannung auf Null abzugleichen, wird als Ein-
gangsfehlspannung oder als Eingangs-Offsetspannung UD0 bezeichnet. Sie
erscheint im Schaltbild des realen Operationsverstärkers als Spannungs-
quelle am Eingang (Abb. 7.3).
- ideal: UD0 = 0
- real: UD0 = 0, 5 μV . . . 5 mV
• Gesamtausgangsspannung (output voltage) uA
Die Gesamtausgangsspannung uA ergibt sich als Überlagerung aus der ver-
stärkten Leerlauf-Differenzeingangsspannung uD , die um die Offsetspan-
nung UD0 vermindert wird, und der mit der Gleichtaktverstärkung multi-
plizierten Gleichtaktspannung
uD = uP − uN (7.28)
uA = V0 uD + Vgl ugl = V0 (uD − UD0 ) + Vgl ugl (7.29)
= V0 (uP − uN − UD0 ) + Vgl ugl (7.30)
• Versorgungsspannungsunterdrückung (power supply rejection
ratio) PSRR
Die Versorgungsspannungsunterdrückung ist ein Maß dafür, welchen Ein-
fluss eine Spannungsschwankung der Versorgung auf die Ausgangsspan-
nung hat

∂uA
PSRR [dB] = −20 lg (7.31)
∂uB
- ideal: PSRR → ∞
- real: PSRR ≈ 100 dB
• Grenzfrequenz (cutoff frequency) fg , Bandbreite (bandwidth)
Die 3-dB-Grenzfrequenz fg ist jene Frequenz, bei der die Verstärkung ge-
genüber√ ihrem Gleichspannungswert um 3 dB (entspricht einem Faktor
von 1/ 2) gesunken ist. Diese obere Grenzfrequenz, die im Allgemeinen der
Bandbreite des Verstärkers entspricht, ist von der äußeren Beschaltung des
Operationsverstärkers abhängig. Für unbeschaltete Operationsverstärker
liegt sie bei einigen Hertz (Abb. 7.7).
• Anstiegsgeschwindigkeit (slew rate) SR
Die Anstiegsgeschwindigkeit (Einheit V/μs) entspricht der zeitlichen Ablei-
tung der Ausgangsspannung im Großsignalbetrieb bei Anlegen eines Span-
nungssprunges am Eingang
188 7 Messverstärker


∂uA
SR = (7.32)
∂t max

- ideal: SR → ∞
V V
- real: SR = 0, 5 μs . . . 10.000 μs
• Eingangsruhestrom (input bias current) IB
Die Eingangstransistoren eines Operationsverstärkers weisen grundsätzlich
Basis- bzw. Gateströme auf. Selbst bei Operationsverstärkerschaltungen
mit einer sog. inneren Bias-Stromversorgung sind die Ströme IN und IP
noch ungleich Null und müssen durch die äußere Beschaltung aufgebracht
werden. Trotz des möglichst symmetrischen Aufbaus der meisten Diffe-
renzeingangsstufen ist darüber hinaus IN = IP . In Datenblättern sind
stets die Mittelwerte von IN und IP sowie der Betrag ihrer Abweichungen
voneinander angegeben. Für den mittleren Eingangsruhestrom (Biasstrom,
Input Bias Current) IB gilt dabei folgende Definition
IN0 + IP0
IB = (7.33)
2
- ideal: IB = 0
- real: IB = 3 fA(FET) . . . 1 μA (bipolar, in Sonderfällen bis 25 μA)
• Eingangsfehlstrom (input offset current), Offsetstrom ID0
Der Offsetstrom ID0 eines Operationsverstärkers entspricht der Differenz
der Eingangsruheströme IN0 und IP0

ID0 = IN0 − IP0 (7.34)

- ideal: ID0 = 0
- real: ID0 = 1 fA ... 20 nA
• Offsetspannungsdrift (offset voltage drift)
Die Offsetspannungsdrift beschreibt die Abhängigkeit der Offsetspannung
UD0 von der Temperatur ϑ
∂UD0
(7.35)
∂ϑ
- ideal: 0
- real: 0, 01 μV/◦C . . . 15 μV/◦ C
• Eingangsstromdrift
Die Eingangsstromdrift beschreibt die Temperaturabhängigkeit des Ein-
gangsstromes 
∂(iP , iN ) 
(7.36)
∂ϑ uN =const.,uP =const.
- ideal: 0
- real: 10 fA/◦ C . . . 1 μA/◦ C
• Verstärkungs-Bandbreite-Produkt (gain bandwidth product) V fg
Wichtiger noch als der reine Verstärkungsfaktor ist das sogenannte Ver-
stärkungs-Bandbreite-Produkt fg0 V0 , welches bei Universaltypen bei etwa
7.1 Operationsverstärker 189

V0 fg0 = 106 Hz liegt und bei auf hohe Bandbreite ausgerichteten Operati-
onsverstärkern bis zu 3 · 109 Hz reicht. Durch eine Gegenkopplungsschal-
tung gemäß Abb. 7.5 wird der effektive Verstärkungsfaktor V und die effek-
tive Grenzfrequenz fg der Messschaltung eingestellt. Das Produkt aus Ver-
stärkungsfaktor V und Bandbreite bzw. Grenzfrequenz fg ist für Grenz-

V
V0
1

0,1

0,01 f g0 fg
0,01 0,1 1 10 100 f
f g0

Abb. 7.8. Zusammenhang zwischen Grenzfrequenz und Verstärkungsfaktor eines


Operationsverstärkers (Konstanz des Verstärkungs-Bandbreite-Produktes V fg )

frequenzen oberhalb von fg0 (fg > fg0 ) bei einem bestimmten Operations-
verstärkertyp stets ein konstanter Wert (Abb. 7.8)

V fg = V0 fg0 . (7.37)

• Transitfrequenz (unity gain bandwidth) fT


Die Transitfrequenz fT ist jene Frequenz, bei der die Leerlaufspannungs-
verstärkung auf 0 dB abgesunken ist.
In Tabelle 7.1 sind die Leistungsdaten einiger kommerziell erhältlicher Opera-
tionsverstärker zusammengefasst. Diese Zusammenstellung enthält neben den
beiden Universaltypen (μA 741, TL 081) Operationsverstärker, die im Hin-
blick auf bestimmte Leistungsdaten optimiert wurden, wie z. B. hohe Transit-
frequenz und hohe Slew-Rate (LMH5401), geringes Rauschen (AD797) oder
hohe Ausgangsspannung (PA99).
Anmerkung zu Tabelle 7.1:
Rail to Rail heißt, dass der jeweilige Operationsverstärker bezüglich Eingangs-
spannung (IN) bzw. Ausgangsspannung (OUT) bis an die Grenzen der Be-
triebsspannung betrieben werden kann [182].
190 7 Messverstärker

Tabelle 7.1: Leistungsdaten kommerziell erhältlicher Operations-


verstärker

Bezeichnung μA 741 TL 081 LM324 LMH5401


Hersteller Philips TI NXP TI
OPV-Typ Urvater Universal Low Cost High Slew-Rate
J-FET Universal
UD0 ± 1 mV 3 mV ± 2 mV ± 0,4 mV
IB 80 nA 30 pA 45 nA ∼ 1 mA
ID0 20 nA 5 pA ± 5 nA
rgl 2 MΩ 1012 Ω 4,6 kΩ
V0 200 V/mV 200 V/mV 100 V/mV
CMRR 90 dB 86 dB 85 dB 72 dB
SR 0,5 V/μs 13 V/μs 0,3 V/μs 17,5 kV/μs
fT 1 MHz 3 MHz 1 MHz 8 GHz
ts ∼ 1 μs ∼ 0,2 √
μs ∼ 12 μs√ 1 ns √
u-Rauschen 18 nV Hz 40 nV/ Hz 1,25 nV/ Hz
bei 1 kHz√ 1 kHz > 10 MHz

i-Rauschen 10 fA HZ 3,5 pA/ Hz
bei 1 kHz > 200 MHz
Iout ∼ 10 mA ∼ 50 mA ± 8 mA 50 mA
Ub max ± 18 V ± 18 V ± 16 V 5,25 V
Preis ca. 0,3 EUR 0,2 EUR 0,15 EUR 20,00 EUR

Bezeichnung ACPL-790B ADA4528 AD797 LTC2053


Hersteller Avago Analog Devices Analog Devices Linear Tech.
OPV-Typ Galvanische Zero Drift Ultralow Noise Instrumenten-
Trennung verstärker
UD0 ± 0,4 mV 0,3 μV 25 μV -5 μV
IB -0,1 μA 220 pA 250 nA 4 nA
ID0 440 pA 100 nA 1 nA
rgl 27 kΩ 225 kΩ 7,5 kΩ
V0 1 V/V 140 dB 20 V/μV
CMRR 76 dB 158 dB 130 dB 113 dB
SR 0,45 V/μs 20 V/μs 0,2 V/μs
fT 200 kHz 3 MHz 110 MHz 200 kHz
ts 2,6 μs 7 μs √ 800 ns √ √
u-Rauschen SNR: -62 dB 5,5 nV/ Hz 0,9 nV/ Hz 2,5 μV/ Hz
bei 1 kHz √ 1 kHz √ DC - 10 Hz
i-Rauschen 0,7 pA/ Hz 2 pA/ Hz
bei 1 kHz 1 kHz
Iout 11 mA ± 30 mA 50 mA ∼ 1 mA
Ub max 5,5 V +6 V ± 18 V ± 5,5 V
Rail to Rail IN + OUT IN + OUT
Preis ca. 7 EUR 3 EUR 10 USD 8 EUR
7.1 Operationsverstärker 191

Bezeichnung PA52 PA99A MCP6441 LM4702


Hersteller Apex Apex Microchip TI
OPV-Typ High Output High Output Low Power Audioendstufen
Current Voltage 450 nA Driver
UD0 5 mV 2 mV ± 4 mV 10 mV
IB 10 pA 50 pA ± 1 pA 500 nA
ID0 10 pA 5 pA ± 1 pA
rgl 100 GΩ 100 GΩ 10 TΩ 50 kΩ
V0 102 dB 117 dB 110 dB 93 dB
CMRR 100 dB 134 dB 76 dB
SR > 50 V/μs 30 V/μs 3 V/ms 15 V/μs
fT 3 MHz 28 MHz 9 kHz
ts 1 μs √
u-Rauschen 10 μV RMS 2 μV RMS 190 nV/ Hz 150μV
bei 100 kHz BW 20 kHz BW 1 kHz √ 0-30kHz√
i-Rauschen 0,6 fA/ Hz 1,1 pA/ Hz
bei 1 kHz
Iout 40 A 50 mA ±3 mA 5,5 mA
Ub max ± 100 V ± 1250 V +6 V ±100 V
Rail to Rail IN + OUT
Preis ca. 550 EUR 900 EUR 0,75 EUR 15 EUR

Bezeichnung LMC6041 LTC6090 MAX4223 TLC081


Hersteller National Linear Maxim TI
Technology
OPV-Typ Ultralow Bias High Voltage Current R/R Low cost
Feedback
UD0 1 mV 300 μV 0,5 mV 390 μV
IB 2 fA 3 pA 4 μA 2 pA
ID0 1 fA 0,5 pA 3 pA
rgl > 10 TΩ 45 Ω 1 TΩ
V0 120 dB 10 kV/mV 120 dB
CMRR 75 dB 140 dB 61 dB 110 dB
SR 0,02 V/μs 21 V/μs 1100 V/μs 16 V/μs
fT 75 kHz 12 MHz 1 GHz 10 MHz
ts 200 μs √ 2 μs √ 8 ns 180ns √
u-Rauschen 83 nV/ Hz 14 nV/ Hz 12 nV/ Hz
bei 1 kHz √ 1 kHz√ 1 kHz √
i-Rauschen 0,2 fA/ Hz 1 fA/ Hz 0,6 fA/ Hz
bei 1 kHz 1 kHz
Iout 22 mA 50 mA 80 mA 55 mA
Ub max 15,5 V 140 V ± 6V ± 17 V
Rail to Rail OUT OUT
Preis ca. 2 EUR 10 EUR 9 EUR 2 EUR
192 7 Messverstärker

7.1.4 Operationsverstärker-Grundschaltungen

Ein Operationsverstärker kann durch entsprechende äußere Beschaltung in


sehr vielfältiger Weise für Messaufgaben eingesetzt werden. Im Folgenden wer-
den verschiedene Standard-Operationsverstärkerschaltungen vorgestellt, wo-
bei jeweils das Verhältnis von Ausgangsgröße (i. Allg. die Ausgangsspannung
uA ) zu Eingangsgröße (i. Allg. die Eingangsspannung uE ) angegeben wird.
Die Beziehung zwischen Ausgangs- und Eingangsgröße lässt sich leicht ablei-
ten, wenn man den Operationsverstärker in der folgenden Weise idealisiert:
Eingangswiderstand rE → ∞, Eingangsströme iN = 0 bzw. iP = 0, Leer-
laufverstärkung V0 → ∞. Wird der Operationsverstärker in Gegenkopplung
betrieben, kann zudem uD = 0 angenommen werden, (siehe Kap. 7.1.2) Die
Auswertung der aus dem jeweiligen Schaltbild resultierenden Knoten- und
Maschengleichungen liefert dann unmittelbar den gesuchten mathematischen
Zusammenhang zwischen Ausgangs- und Eingangsgröße.

Invertierender Verstärker

Der invertierende Verstärker wurde bereits in Kap. 7.1.2 besprochen (s.


Abb. 7.6). Für einen idealen Operationsverstärker ergibt sich das Verhältnis
von Ausgangsspannung uA zur Eingangsspannung uE zu (s. Gl. (7.12))

uA R2
=− . (7.38)
uE R1

Invertierer

Der reine Invertierer (Abb. 7.9) hat die Aufgabe, die Polarität der Eingangs-
spannung am Ausgang umzukehren

uA = −uE , (7.39)

was dadurch erreicht wird, dass beim invertierenden Verstärker (Abb. 7.6) die
Widerstände R1 und R2 identisch gewählt werden.

Abb. 7.9. Grundschaltung des Invertierers


7.1 Operationsverstärker 193

Nicht-invertierender Spannungsverstärker

Der nicht-invertierende Spannungsverstärker (Abb. 7.10) behält die Polarität


der Eingangsspannung bei und erlaubt die Einstellung des Verstärkungsfak-
tors über die Widerstandskombination R1 und R2
uA R2
=1+ . (7.40)
uE R1

Abb. 7.10. Nicht-invertierender Spannungsverstärker

Addierender Verstärker

Der addierende Verstärker (Abb. 7.11) addiert die Eingangsspannungen und


dreht die Polarität nach der Summenbildung um. Mit Hilfe der Widerstands-
werte R1 und R2 lassen sich die Eingangsspannungen u1 und u2 mit Gewichts-
faktoren versehen


u1 u2
uA = iG R3 = −(i1 + i2 )R3 = − + R3 . (7.41)
R1 R2
Im Allgemeinen wählt man R1 = R2 = R3 , so dass eine ungewichtete Sum-
menbildung erzielt wird
uA = −(u1 + u2 ) . (7.42)

Abb. 7.11. Addierender Verstärker


194 7 Messverstärker

Subtrahierender Verstärker

Der subtrahierende Verstärker (Abb. 7.12) erlaubt die Differenzbildung der


beiden Eingangsspannungen u1 und u2 . Für beliebige Widerstandswerte lassen
sich wiederum Gewichtsfaktoren einstellen
R4 (R1 + R3 ) R3
uA = u2 − u1 . (7.43)
R1 (R2 + R4 ) R1

Für den Fall R1 /R3 = R2 /R4 ergibt sich die gewünschte Subtraktion der
Eingangsspannungen mit zusätzlicher Verstärkung um den Faktor R3 /R1

R3
uA = (u2 − u1 ) . (7.44)
R1
Für den reinen Subtrahierer wählt man R1 = R2 = R3 = R4 , so dass unge-
wichtet subtrahiert wird
uA = u2 − u1 . (7.45)

Abb. 7.12. Subtrahierender Verstärker

Impedanzwandler

Mit Hilfe des Impedanzwandlers (Abb. 7.13), der auch als Spannungsfolger
bezeichnet wird, werden Quellen mit hohem Innenwiderstand an Schaltungen
mit niedrigem Widerstand angepasst. So kann beispielsweise an hochohmigen
Schaltungen mit weniger hochohmigen Messwerken rückwirkungsfrei gemessen
werden. Die Eingangsspannung erscheint dabei unverändert am Ausgang

uA = uE . (7.46)
7.1 Operationsverstärker 195

Abb. 7.13. Impedanzwandler

Integrierender Verstärker

In der analogen Signalverarbeitung ist der auf einem Operationsverstärker


basierende Integrierer (Integrator) eines der zentralen Elemente. Der inte-
grierende Verstärker (Abb. 7.14) bildet das zeitliche Integral einer Eingangs-
spannung. Für den Fall, dass der Anfangswert der Ausgangsspannung uA zu
Beginn der Integration den Wert Null annimmt, folgt
   t
1 t 1 t 1
uA = iG dt = − iE dt = − uE dt . (7.47)
C 0 C 0 RC 0

Abb. 7.14. Integrierende Operationsverstärkerschaltung

Differenzierender Verstärker (Prinzip)

Der differenzierende Verstärker (Abb. 7.15) hat die Aufgabe, die Eingangs-
spannung uE zeitlich zu differenzieren
duE
uA = iG R = −iE R = −RC . (7.48)
dt

Abb. 7.15. Prinzip einer differenzierenden Operationsverstärkerschaltung


196 7 Messverstärker

Differenzierender Verstärker (praktische Realisierung)

Die Schwingneigung der Prinzipschaltung nach Abb. 7.15 kann vermieden wer-
den, wenn die modifizierte Differenzierer-Schaltung nach Abb. 7.16 verwendet
wird. Die reine Differenzierung der Eingangsspannung erreicht man durch die
Wahl entsprechender Zeitkonstanten R1 C1 und R2 C2 . Denn wählt man diese
so klein, dass die höchste in der Eingangsspannung enthaltene Signalfrequenz
ω klein ist gegenüber den Kehrwerten der beiden Zeitkonstanten
1
ω (7.49)
R1 C1
1
ω , (7.50)
R2 C2
folgt wiederum
duE
uA = −R2 C1 . (7.51)
dt
Eine modifizierte Operationsverstärkerschaltung eines Differenzierers wird in
[102] behandelt.

Abb. 7.16. Differenzierende Operationsverstärkerschaltung (technisch verwendbar)

Logarithmierender Verstärker mit Diode

Eine die Eingangsspannung logarithmierende Operationsverstärkerschaltung


enthält eine Diode im Rückkoppelzweig (Abb. 7.17). Mit der für den Durch-
lassbereich vereinfachten (Diodensperrstrom IS Diodenstrom iD ) Dioden-
kennlinie iD = f (uD )
uD
iD = IS e mUT (7.52)
folgt unter Berücksichtigung der Knotengleichung iD = iE die Ausgangsspan-
nung uA als logarithmierte Eingangsspannung uE


iE uE
uA = −mUT ln = −mUT ln für uE > 0 . (7.53)
IS IS R
7.1 Operationsverstärker 197

Dabei bezeichnen IS den temperaturabhängigen Sperrstrom der Diode, m =


1...2 den stromabhängigen Korrekturfaktor und UT die Temperaturspannung
der Diode
kT
UT = , (7.54)
e0
die bei einer Temperatur T = 25◦ C einen Wert von UT = 25, 7 mV aufweist.
In Gl. (7.54) wurden folgende Bezeichnungen verwendet: die Boltzmann-Kon-
stante k = 1, 38 · 10−23 Ws/K, die absolute Temperatur T (K) und die Ele-
mentarladung e0 = 1, 6 · 10−19 As.

Abb. 7.17. Logarithmierende Operationsverstärkerschaltung mit Diode

Logarithmierender Verstärker mit Transistor

Der Einfluss des stromabhängigen Korrekturfaktors m (Gl. (7.53)) lässt sich


umgehen, wenn man statt der Diode einen Transistor gemäß Abb. 7.18 ein-
setzt. Für den Kollektorstrom iC gilt bei kleinem Kollektorsperrstrom ICS
(ICS iC )
uBE
iC = ICS e UT , (7.55)
wobei uBE die Basis-Emitter-Spannung und UT die Temperaturspannung be-
zeichnen.

Abb. 7.18. Prinzipschaltung eines Logarithmierers mit Operationsverstärker und


einem Transistor im Rückkoppelzweig

Für die Ausgangsspannung uA des Logarithmierers folgt daraus für uE > 0


198 7 Messverstärker


uE
uA = −UT ln . (7.56)
RICS
e-Funktionsgenerator

Wenn man in der logarithmierenden Operationsverstärkerschaltung (Abb.


7.19) Widerstand und Transistor vertauscht, invertiert man die mathema-
tische Operation des Logarithmierens, d. h. der natürliche Logarithmus aus
Gl. (7.56) geht über in eine Exponentialfunktion. Für uE < 0 kann die Aus-
gangsspannung wie folgt angegeben werden

uA = RiC = RICS e−uE /UT . (7.57)

Abb. 7.19. Einfacher e-Funktionsgenerator

Komparator ohne Hysterese

Ein unbeschalteter Operationsverstärker, wie er in Abb. 7.20 gezeigt wird,


stellt einen Komparator ohne Hysterese dar. Seine Ausgangsspannung läuft
für positive Eingangsspannungen uD > 0, d. h. u1 < u2 , auf ihren positiven
Grenzwert uAmax
uA = +uAmax für u1 < u2 . (7.58)
Umgekehrt wird für eine negative Differenzeingangsspannung uD < 0, d. h.
u1 > u2 , der negative Grenzwert erreicht, der dem positiven mit umgekehrtem
Vorzeichen entspricht

uA = −uAmax für u1 > u2 . (7.59)

Abb. 7.20. Komparator ohne Hysterese


7.1 Operationsverstärker 199

Invertierender Komparator mit Hysterese (Invertierender


Schmitt-Trigger)

Bei einem Komparator mit Hysterese, der auch als invertierender Schmitt-
Trigger bezeichnet wird, gibt es im Gegensatz zu einem Komparator ohne
Hysterese zwei Schaltschwellen, die im Folgenden mit uEauf und uEab bezeich-
net werden. Dieses Schaltverhalten wird über eine Mitkopplung des Kompa-
rators erreicht (Abb. 7.21a), d. h. ein Teil der Ausgangsspannung uA wird
mit Hilfe des aus R1 und R2 bestehenden Spannungsteilers auf den nicht-
invertierenden Eingang des Operationsverstärkers zurückgekoppelt. Bei ver-
nachlässigbarer Differenzeingangsspannung liegt die Eingangsspannung uE am
Widerstand R1 des Spannungsteilers an, so dass unter Berücksichtigung der
Tatsache, dass die Ausgangsspannung infolge der Mitkopplung nur die Werte
+uAmax bzw. −uAmax annehmen kann, die Schaltschwellen uEauf bzw. uEab
(Abb. 7.21b) wie folgt hergeleitet werden können

R1
uEauf = −uAmax , (7.60)
R1 + R2
R1
uEab = +uAmax . (7.61)
R1 + R2
Es sei darauf hingewiesen, dass der einzige Unterschied zwischen der Schal-
tung eines Schmitt-Triggers (Abb. 7.21) und einem nicht-invertierenden Span-
nungsverstärker (Abb. 7.10) die Form der Rückkopplung ist. Während der
nicht-invertierende Spannungsverstärker gegengekoppelt ist (Rückkopplung
des Spannungsteilers auf den invertierenden Eingang des Operationsverstär-
kers) und damit absolut stabil arbeitet, ist die Rückkopplung beim Schmitt-
Trigger eine Mitkopplung (Rückkopplung auf den nicht-invertierenden Ein-
gang des Operationsverstärkers), so dass sich das gezeigte bistabile Verhalten
einstellt, d. h. die Ausgangsspannung läuft entweder auf ihren positiven oder
ihren negativen Endwert.

Abb. 7.21. Invertierender Schmitt-Trigger: a) Operationsverstärkerschaltung, b)


Kennlinien des invertierenden Schmitt-Triggers
200 7 Messverstärker

Multivibrator

Wenn die Ausgangsspannung eines invertierenden Schmitt-Triggers zeitlich


verzögert auf den Eingang zurückgeführt wird, entsteht ein sog. Multivibra-
tor. Dies ist ein Oszillator, der eine Rechteckschwingung liefert. Anhand des
Schaltbildes nach Abb. 7.22 lässt sich die Differentialgleichung für uC (t) ablei-
ten, indem man die Knotenregel für den Verbindungsknoten zwischen R und
C anwendet
duC ±uAmax − uC
= . (7.62)
dt RC

Abb. 7.22. a) Multivibrator mit Komparator, b) Spannungsverläufe in der


Multivibrator-Schaltung

Mit der Anfangsbedingung uC (t = 0) = uEauf ergibt sich die Lösung dieser


Differentialgleichung zu


2R1 + R2 −t/RC
uC (t) = uAmax 1 − e . (7.63)
R1 + R2
Die Periodendauer T der Rechteckschwingung beträgt somit


2R1
T = 2RC ln 1 + . (7.64)
R2
Für R1 = R2 folgt
T = 2RC ln 3 ≈ 2, 2RC . (7.65)

Voltmeterschaltung

Die Voltmeterschaltung (Abb. 7.23) ermöglicht eine hochohmige Spannungs-


messung mit einem Strommessgerät. Es handelt sich dabei um einen Span-
nungsverstärker mit Stromausgang. Bei Vernachlässigung der Differenzein-
gangsspannung fällt die Eingangsspannung uE direkt am Widerstand R ab,
so dass
7.1 Operationsverstärker 201
uE
iM = (7.66)
R
gilt, woraus unmittelbar die gewünschte Proportionalität zwischen uE und iM
folgt
iM ∼ uE . (7.67)

Abb. 7.23. Voltmeterschaltung

Stromgesteuerte Spannungsquelle

Abbildung 7.24 zeigt die Schaltung einer mit Hilfe eines Operationsverstärkers
realisierten stromgesteuerten Spannungsquelle. Bei einer stromgesteuerten
Spannungsquelle ist die Ausgangsspannung uA proportional dem Eingangs-
strom iE . Wenn man den Operationsverstärkereingangsstrom iN vernachlässigt,
folgt unmittelbar der Zusammenhang zwischen Eingangsstrom iE und der
Ausgangsspannung uA
uA = −iE R . (7.68)
Prinzipiell könnte diese Schaltung auch der Strommessung mit niedrigem In-
nenwiderstand dienen. Der Nachteil, dass eine Eingangsklemme auf Massepo-
tential liegt, wird allerdings erst durch die folgende Amperemeterschaltung
vermieden.

Abb. 7.24. Stromgesteuerte Spannungsquelle


202 7 Messverstärker

Amperemeterschaltung

Die Amperemeterschaltung (Abb. 7.25) erlaubt die niederohmige Strommes-


sung mit einem Spannungsmessgerät, wobei an den Messkontakten keine
Spannung abfällt, d. h. es wird leistungslos und damit ohne einen durch den
Innenwiderstand eines Messgerätes bedingten systematischen Fehler gemes-
sen. Bei Vernachlässigung der Eingangsdifferenzspannungen der Operations-
verstärker verschwindet die Eingangsspannung uE

uE = 0 . (7.69)

Weiterhin liegen die mit u gekennzeichneten Punkte auf gleichem Potential.


Die Potentialdifferenz gegen Masse beträgt u . Damit kann man bezüglich
der Operationsverstärker 1 und 2 die beiden folgenden Spannungsumläufe
angeben
−u + iE R1 + u2 = 0 (7.70)
und
−u − iE R1 + u1 = 0 . (7.71)
Die Subtraktion der Gl. (7.71) von Gl. (7.70) liefert

2iE R1 = −(u2 − u1 ) . (7.72)

Die Differenzbildung (u2 − u1 ) der beiden Teilspannungen wird von dem nach-
folgenden subtrahierenden Verstärker vorgenommen (siehe auch Abb. 7.12
bzw. Gl. (7.45)), so dass, wie bei der Strommessung gefordert, die Ausgangs-
spannung uA proportional dem Eingangsstrom iE ist

uA = u1 − u2 = −(u2 − u1 ) = 2R1 iE . (7.73)

Abb. 7.25. Erdfreie Amperemeterschaltung


7.1 Operationsverstärker 203
u

R1
iE
iM
iE + iM
R2 u

Abb. 7.26. Stromverstärker

Stromverstärker

Beim Stromverstärker (Abb. 7.26) ist der Strom iM , welcher durch das am
Ausgang des Operationsverstärkers liegende Messwerk fließt, proportional
zum Eingangsstrom iE . Wenn man wiederum die Differenzeingangsspannung
des Operationsverstärkers vernachlässigt, fällt an den Widerständen R1 und
R2 dieselbe Spannung u ab

iE R1 = −u (7.74)
(iE + iM )R2 = u . (7.75)

Aus den Gln. (7.74) und (7.75) folgt


R1 + R2
iM = − iE (7.76)
R2
bzw. die gewünschte Proportionalität zwischen dem Eingangsstrom iE und
dem Strom iM durch das Messgerät

iM ∼ iE . (7.77)

Aktiver Vollweg-Gleichrichter

Mit Hilfe von Operationsverstärkern lassen sich auch mit realen Dioden na-
hezu ideale Gleichrichter in Form sog. aktiver Gleichrichterschaltungen rea-
lisieren. Der Hauptnachteil von nicht-aktiven Gleichrichterschaltungen, also
Schaltungen, die nur auf Dioden basieren, beruht auf der endlichen Dioden-
schwellenspannung (0,7 V bei Siliziumdioden (Kap. 6.3.2)). Abbildung 7.27
zeigt eine aktive Vollweg-Gleichrichterschaltung, deren Ausgangsspannung uA
dem Betrag der Eingangsspannung uE entspricht

uA = |uE | . (7.78)

Der linke Abschnitt der Schaltung stellt einen aktiven Einweg-Gleichrichter


dar. Es gilt
204 7 Messverstärker

Abb. 7.27. Aktive Vollweg-Gleichrichterschaltung

uA1 = −uE für uE ≥ 0 (7.79)


bzw.
uA1 = 0 für uE < 0 . (7.80)
Die rechte Teilschaltung ist ein addierender Verstärker (Abb. 7.11 bzw.
Gl. (7.41)), der in Verbindung mit dem Einweg-Gleichrichter insgesamt zu
einem Vollweg-Gleichrichter führt. Damit ergibt sich die Ausgangsspannung
uA für negative Eingangsspannungswerte zu

uA = −uE für uE < 0 . (7.81)

Für positive Eingangsspannungen uE folgt aus der für den Addierer geltenden
Beziehung zwischen Ausgangsspannung und Eingangsspannung (Gl. (7.41))
" #
uE −uE
uA = − + R R = uE für uE > 0 . (7.82)
R 2

Die Auswirkungen von nicht vernachlässigbaren Diodenschwellenspannungen


bei endlicher Verstärkung der Operationsverstärker wird in [102] behandelt.
Es sei darauf hingewiesen, dass aus Offsetspannungen und Eingangsströmen
des Operationsverstärkers weitere Fehler resultieren können.

7.1.5 Operationsverstärker mit differentiellem Ausgang

Während die bisher behandelten Standard-Operationsverstärker einen masse-


bezogenen Ausgang (Single-ended Output) haben, finden seit einiger Zeit auch
spezielle Operationsverstärker mit einem differentiellen Ausgang (Abb. 7.28a)
häufiger Anwendung. Statt des einen Ausgangs gibt es hierbei zwei Aus-
gangsleitungen, eine positive und eine negative. Die negative Ausgangslei-
tung ist am Invertierungszeichen zu erkennen. Die Ausgänge sind hier wie
die Eingänge differentiell geschaltet. Dies bedeutet, dass die beiden Ausgänge
gegenüber Masse betragsmäßig dieselbe Spannung aufweisen, sie haben nur
umgekehrte Vorzeichen. Im Gegensatz zu den bisher behandelten Schaltungen
7.1 Operationsverstärker 205

mit Single-ended Ausgang sind nunmehr zwei Rückkopplungschleifen notwen-


dig (Abbn. 7.29 - 7.31), welche identisch aufgebaut sein müssen. Um einen
stabilen Betrieb zu ermöglichen, müssen die Ausgänge auf den Eingang mit
jeweilig umgekehrter Polarität (Vorzeichen) zurückgeführt werden.
Ein weiterer Unterschied zum klassischen Operationsverstärker ist die
zusätzliche Eingangsklemme uglA (Abb. 7.28b). Sie hat die Aufgabe, eventu-
ell auf beiden Eingängen (uP und uN ) gleichsinnig lastende Störspannungen,
d. h. also Gleichtaktspannungen, am Ausgang zu kompensieren. Dies bedeu-
tet, dass der Operationsverstärker mit differentiellem Ausgang in der Lage ist,
Gleichtaktstörungen zu unterdrücken. Für den Fall, dass kein Signal an den
uglA -Eingang angelegt wird, erscheint die halbe Betriebsspannung als Gleich-
taktsignal am Ausgang. Ansonsten erhält man das angelegte uglA -Signal als
Offset im Ausgangssignal.

Abb. 7.28. Differentieller Operationsverstärker: a) vereinfachte Darstellung; b)


Darstellung mit Eingang zur Regelung der Ausgangsgleichtaktspannung
206 7 Messverstärker

Definitionen für differentielle Operationsverstärker

• Differentielle Ausgangsspannung uDA



A − uA
uDA = u+ (7.83)

• Gleichtakt-Ausgangsspannung uglA

u+
a + uA
uglA = (7.84)
2
• (Gesamt-)Spannungsverstärkung VDA

A − uA
u+ uDA
VDA = = = 2 V0 (7.85)
uP − uN uD
Abbildung 7.29 zeigt eine Verstärkerstufe mit differentiellem Ausgang. Es gibt
nunnmehr zwei Rückkopplungsschleifen, welche identische Rückkopplungswi-
derstände (R1 ) enthalten. Die (differentielle) Spannungsverstärkung ergibt
sich wie im Fall des Operationsverstärkers mit nicht-differentiellem Ausgang
zu
u+ − u− R1
V = A A
− = , (7.86)
uE − uE
+
R2
d. h. wie gewohnt aus dem Verhältnis der Widerstände von Rückkopplungs-
und Eingangszweig. Es sei nochmals betont, dass im Gegensatz zum klas-
sischen Operationsverstärker hier beide Rückkopplungsschleifen geschlossen
werden müssen, um ein einwandfreies Arbeiten der Schaltung zu gewähr-
leisten. Im Falle von nicht identischen Rückkopplungszweigen kommt es zu
Gleichtaktfehlern im Ausgangssignal. So führt beispielsweise eine Abweichung
von 0,1 % in den Widerständen zu einem CMRR (s. Gl. (7.20)) von 60 dB.
In der Praxis ist oft die Konvertierung eines massebezogenen Signals in
ein nicht-massebezogenes differentielles Signal gefragt. Abbildung 7.30 zeigt
die beiden Schaltungsvarianten, die diese Aufgabe erfüllen. Sie arbeiten beide
gleichermaßen, auch wenn einmal das Eingangssignal auf den invertierenden
und das andere Mal auf den nicht-invertierenden Eingang gelegt wird.
Die Verstärkung V ergibt sich in beiden Fällen wiederum aus dem Verhältnis
der Widerstände von Rückkopplungs- und Eingangszweig

R1
_ R2 +
uE uA
+ _
uE uA
R2
R1

Abb. 7.29. Differentielle Verstärkerstufe


7.1 Operationsverstärker 207

Abb. 7.30. Schaltungen zur Konvertierung von massebezogenen Eingangssignalen


(single-ended input) in differentielle Ausgangssignale


A − uA
u+ R1
V = = . (7.87)
uE R2
Hierbei ist zu beachten, dass der Innenwiderstand RiQ der am Eingang ange-
 
schlossenen Quelle (z. B. RiQ = 50 Ω) in die Berechnung von R2 eingeht. R2
ist also um diesen Wert (50 Ω) zu vergrößern.
Eine der Hauptanwendungen von differentiellen Operationsverstärkern
ist die Ansteuerung von Analog-Digital-Umsetzern (s. Kap. 11.6). Moderne
Analog-Digital-Umsetzer (ADU bzw. ADC) besitzen in der Regel einen diffe-

rentiellen Eingang mit zwei Eingangssignalen u+IN und uIN (s. Abb. 7.31). Das

C1
R3

R1 + UB C2
_ R2
uE
u Esignal u+IN
_ ADU
+ R3 u IN
uE C2
R2 u glA u refADU
R1 _U
B

C1

Abb. 7.31. Schaltung mit differentiellem Operationsverstärker zur Ansteuerung


eines Analog-Digital-Umsetzers

auf diesen differentiellen Eingang bezogene Nullsignal entspricht der Gleich-



taktspannung an seinem Eingang. Diese beträgt 1/2 (u+ IN +uIN ). Das maximale

Eingangssignal uIN − uIN darf die Versorgungsspannung nicht überschreiten;
+

sie liegt meist bei wenigen Volt (3 V - 5 V). Die Bezugspotentiale des differenti-
ellen Eingangs entsprechen dabei einerseits dem Massepotential der Schaltung
208 7 Messverstärker

und andererseits dem Wert der Versorgungsspannung. In der potentialmäßi-


gen Mitte liegt das Nullsignal des ADU-Eingangs, welches, wie bereits oben
erwähnt, identisch ist mit der Gleichtaktspannung am Eingang des ADUs.
Die klassische Schaltungstechnik zur Ansteuerung von ADUs besteht in der
Verwendung von zwei Operationsverstärkern, die als Differenzverstärker ar-
beiten. Zusätzlich ist ein dritter Operationsverstärker notwendig, um den Dif-
ferenzverstärker mit der vom ADU benötigten Gleichtaktspannung vorzuspan-
nen. Die Alternativlösung verwendet einen Transformator zur Signalübertra-
gung am Eingang des ADU. Die letztgenannte Lösung schließt allerdings die
Analog-Digital-Umsetzung von Gleichsignalen aus.
Hier bieten differentielle Operationsverstärker nunmehr die Möglichkeit,
mit nur einem aktiven Bauteil und auch weniger passiven Bauelementen aus-
zukommen [134]. Um ein massebezogenes Eingangssignal in der oben be-
schriebenen Weise auf das Eingangsspannungsintervall abzubilden, muss al-
so die Gleichtaktspannung am Eingang des ADUs (entspricht dem Wert des
Nullsignals am Eingang) von der differentiellen Ausgangsstufe des Operati-
onsverstärkers bereitgestellt werden. Da die Ausgangsgleichtaktspannung am
Eingang uglA vorgegeben werden kann, nutzt man die Möglichkeit von mo-
dernen ADUs, genau diesen Spannungswert bereitzustellen. Die Treiberstufe
für den ADU auf Basis eines differentiellen Operationverstärkers funktioniert
also, wenn man dieses Ausgangssignal des ADU auf den uglA -Eingang des
Operationsverstärkers gibt.
Diese Schaltung hat den Vorteil einer im Idealfall nahezu vollständigen
Unterdrückung von Gleichtaktstörsignalen am Eingang. Zudem werden infol-
ge der differentiellen Ausführung die geradzahligen Vielfachen der Grundwelle
und damit die harmonischen Verzerrungen (s. a. Kap. 13.6 Klirrfaktor“) re-

duziert [134].

Tabelle 7.2: Leistungsdaten differentieller Operationsverstärker (Stand:


April 2016)

Bezeichnung ADA4960-1 LTC6406 LMH6554 LTC6412


Hersteller Analog Linear Texas Linear
Devices Technology Instruments Technology
Auswahl- ∗1 ∗2 ∗3 ∗4
kriterium
max. Leistung 300 mW 63 mW 260 mW 330 mW
SR 8,7 kV/μs 630 V/μs 6,2 kV/μs
fT 5 GHz 3 GHz 2,8 GHz 800 MHz
√ √ √ √
u-Rauschen 1,6 nV/ Hz 1,6 nV/ Hz 0,9 nV/ Hz 2,7 nV/ Hz
Ubmax 5,25 V 3,5 V ± 5,5 V 3,8 V
Preis ca. 14,99 EUR 7,23 EUR 9,03 EUR 10,50 EUR
7.2 Spezielle Messverstärker 209

Bezeichnung OPA1632 THS4532 LTC6409 LMH5401


Hersteller Texas Texas Linear Texas
Instruments Instruments Technology Instruments
Auswahl- ∗5 ∗6 ∗7 ∗8
kriterium
max. Leistung 210 mW 2,5 mW 275 mW 275 mW
SR 50 V/μs 200 V/s 3,3 kV/μs 17,5 kV/μs
fT 180 MHz 36 MHz 10 GHz 8 GHz
√ √ √ √
u-Rauschen 1,3 nV/ Hz 10 nV/ Hz 1,1 nV/ Hz 1,25 nV/ Hz
Ubmax 32 V 5,5 V ± 5,25 V 5,5 V
Preis ca. 5,72 EUR 5,54 EUR 11,41 EUR 13,35 EUR

∗1 Die Verstärkung des ADA4960-1 kann mittels eines Widerstandes eingestellt


werden.
∗2 Hohe Linearität für 16 Bit ADCs.
∗3 Der LMH6554 hat einen Abschalteingang, um die Leistungsaufnahme zu
reduzieren.
∗4 Die Verstärkung des LTC6412 ist mittels einer analogen Steuerspannung
beeinflussbar (AGC).
∗5 Audio Anwendung nur 0,000022% THD (Oberwellen).
∗6 Low Power.
∗7 Single-Ended to Differential Amplifiers.
∗8 Low Noise.
Es sei noch erwähnt, dass der durch die Bauelemente R1 und C1 gebildete
Tiefpass ein Anti-Aliasing-Filter (s. Kap. 11.7.1) darstellt. Es hat ein 3 dB-
Grenzfrequenz von
1
fg = . (7.88)
2πR1 C1
Der Widerstand R3 entkoppelt den Ausgang des Operationsverstärkers von
C2 , dessen Aufgabe das schnelle Laden der Eingangskapazität des Wandlers
(s. Kap. 11.7.2) ist. Typisch sind Werte R3 =10 bis 30 Ω und C2 = 0,1 bis 2 nF.
Tabelle 7.1.5 enthält typische Vertreter von kommerziell erhältlichen Ope-
rationsverstärkern mit differentiellem Ausgang. Weitere Informationen zu dif-
ferentiellen Operationsverstärkern findet der interessierte Leser in [88], [89].

7.2 Spezielle Messverstärker


7.2.1 Differenzverstärker

Ein Differenzverstärker ist notwendig, um die Signale von Quellen mit floaten-
dem Eingang (nicht massebezogenem Eingang) zu verstärken. Dabei handelt
210 7 Messverstärker

es sich um Quellen, deren Potentiale gegenüber Masse schwanken. Dies ist


z. B. bei Strommessungen mittels Shunt oft der Fall. Auch bei massebezoge-
nen Signalquellen bietet der Differenzverstärker den Vorteil hoher Gleichtakt-
unterdrückung (> 100 dB). Abbildung 7.32 zeigt den Schaltungsaufbau. Der

Abb. 7.32. Differenzverstärker

Verstärkungsgrad dieser Schaltung kann leicht nach dem Superpositionsprin-


zip berechnet werden
uA R1
V = = . (7.89)
uE2 − uE1 R2
Um die Eigenschaften des Differenzverstärkers zu verbessern, insbesondere im
Hinblick auf eine Erhöhung der Eingangsimpedanz werden sog. Instrumen-
tenverstärker eingesetzt, die auch als Instrumentierungsverstärker bezeichnet
werden (s. Kap. 7.2.2). Diese besitzen eine sehr hohe Eingangsimpedanz. Da-
bei ist zu bedenken, dass der Innenwiderstand Ri einer an den Differenzein-
gang des Verstärkers nach Abbildung 7.32 angeschlossenen Spannungsquelle
den Verstärkungsgrad verändert (s. Abb. 7.33)

2R1
V →V = . (7.90)
2R2 + Ri

Abb. 7.33. Differenzverstärker mit Signalquelle am Eingang


7.2 Spezielle Messverstärker 211

7.2.2 Instrumentenverstärker (Instrumentierungsverstärker)

In der Elektrischen Messtechnik werden häufig präzise arbeitende Mess-


verstärker benötigt, die in der Lage sind, einen hohen Gleichtaktstöranteil
möglichst vollständig zu unterdrücken und nur den Differenzanteil, der in
diesem Fall dem Nutzsignal entspricht, zu verstärken. Zur Erfüllung die-

Abb. 7.34. Schaltung eines Instrumentenverstärkers

ser Anforderungen scheiden somit alle Verstärkertypen aus, bei denen ei-
ner der Eingänge auf Bezugspotential liegt. Mit dem in Abb. 7.34 gezeig-
ten Instrumentenverstärker, der von einem Subtrahierverstärker mit zwei
vorgeschalteten Elektrometerverstärkern gebildet wird, werden die gestell-
ten Anforderungen erfüllt. Neben der hohen Gleichtaktunterdrückung zeich-
net sich der Instrumentenverstärker vor allem durch gute Linearitätseigen-
schaften, hohen Eingangswiderstand sowie eine geringe Beeinflussung durch
Eingangsstörgrößen aus. Die beiden Operationsverstärker 1 und 2 liefern die
Spannung u1


uE1 − uE2 R1 R1
u1 = uE1 + R1 = 1+ uE1 − uE2 (7.91)
R R R

bzw. die Spannung u2




uE1 − uE2 R2 R2
u2 = uE2 − R2 = 1+ uE2 − uE1 . (7.92)
R R R

Für eine reine Gleichtakteingangsspannung uE1 = uE2 = ugl ergibt sich dem-
nach für beide Stufen (1 und 2) eine Gleichtaktverstärkung vom Wert 1
u1 u2
= =1. (7.93)
ugl ugl
212 7 Messverstärker

Der nachgeschaltete Subtrahiererverstärker (OpAmp 3) liefert für die folgen-


dermaßen dimensionierten Widerstände
R4 R6
= (7.94)
R3 R5
die Ausgangsspannung uA (Gl. (7.43))
R4
uA = (u2 − u1 ) . (7.95)
R3
Mit den Gln. (7.91) und (7.92) ergibt sich die Differenzverstärkung zu


uA R4 R1 + R2
= 1+ . (7.96)
uE2 − uE1 R3 R
Wenn man die Schaltung vollkommen symmetrisch aufbaut (R1 = R2 = R
und R3 = R4 = R5 = R6 ), folgt
uA 2R
=1+ . (7.97)
uE2 − uE1 R
Die Gleichtaktverstärkung der Gesamtschaltung ist dann aus Symmetriegrün-
den (Gl. (7.93)) gleich Null. Die Differenzverstärkung lässt sich über R einstel-
len, ohne dass in die (abgeglichene) Stufe 3 eingegriffen werden muss. Instru-
mentenverstärker sind komplett integriert als 1-Chip-Bausteine kommerziell
erhältlich (z. B. LTC 2053 von Linear Technology (s. Tab. 7.1)).

7.2.3 Zerhacker-Verstärker

Mit Hilfe von Zerhacker-Verstärkern, die auch unter dem Begriff Chopper-
Verstärker bekannt sind, werden Gleichspannungen verstärkt, ohne dass größe-
re Fehler durch Offsetspannungen auftreten. Sie stellen hochwertige Gleich-
spannungsverstärker mit geringen Spannungsdriften (5. . . 25 nV/K) dar, al-
lerdings weisen sie höhere Rauschpegel als Verstärker ohne Chopper auf.
Das Prinzip des Zerhacker-Verstärkers beruht auf der Umwandlung (Zer-
hacken) einer Gleichspannung in eine Wechselspannung, der Verstärkung die-
ser Wechselspannung mit einem Wechselspannungsverstärker und einer an-
schließenden Synchron-Gleichrichtung. Abbildung 7.35 zeigt das Prinzip ei-
nes Eintakt-Zerhacker-Verstärkers. Der RC-Tiefpass am Eingang stellt sicher,
dass eventuell im Eingangssignal uE enthaltene höher frequente Spektralantei-
le weggefiltert werden; denn zum einwandfreien Funktionieren des Zerhacker-
Verstärkers ist es notwendig, dass die Zerhackerfrequenz wesentlich größer
ist als die höchste zu verstärkende Signalfrequenz. Die Hochpassfilternetzwer-
ke C2 R2 und C3 R3 befreien Verstärkereingangs- und -ausgangssignal jeweils
vom Gleichspannungsanteil. Für den Fall eines idealen Wechselspannungs-
verstärkers (frequenzunabhängige Verstärkung und keine Frequenzabhängig-
keit der Phasenverschiebung) sorgt das synchrone Umschalten der beiden
7.2 Spezielle Messverstärker 213

Abb. 7.35. Prinzipschaltung eines Zerhacker-Verstärkers. Der Verstärker V muss


keine Gleichspannungsübertragungseigenschaften aufweisen, da er als reiner Wech-
selspannungsverstärker arbeitet. Die Signalverläufe gelten für einen Verstärker, der
einen Gesamt-Verstärkungsfaktor (uA /uE ) von V = 2 aufweist.

Schalter S1 und S2 für eine am Ausgangstiefpass R4 C4 anliegende Signal-


spannung, die im wesentlichen wieder eine Gleichspannung ist. Die Schalter
S1 und S2 arbeiten dabei als Synchrongleichrichter. Wenn für die Zerhacker-
kreisfrequenz die Relation
1
ωtakt (7.98)
R4 C4
eingehalten wird, ergibt sich die Ausgangsspannung uA zu [93]
uA = V uE . (7.99)
Als nachteilig kann sich bei Zerhacker-Verstärkern die geringe Signalband-
breite auswirken, welche auf die am Eingang notwendige Tiefpassfilterung
zurückzuführen ist. In der Praxis lassen sich nur Signalbandbreiten von etwa
0, 1 · ftakt bis 0, 3 · ftakt realisieren.
214 7 Messverstärker

7.2.4 Ladungsverstärker

Die elektrische Ladung kann mit Hilfe eines ballistischen Galvanometers ge-
messen werden. Das ballistische Galvanometer ist eine spezielle Ausführungs-
form des Drehspulmessgerätes, dessen Wirkung darauf beruht, dass der balli-
stische Zeigerausschlag des Instrumentes unter bestimmten Bedingungen der
ihm zugeführten elektrischen Ladung proportional ist (siehe Kap. 6.1.2). Mit
ballistischen Galvanometern sind Ladungsmessungen ab Q = 1 nC möglich,
wenn die Integrationszeit (jene Zeit, in der dem Drehspulmesswerk die Ladung
durch einen Strom zugeführt wird) nicht größer ist als 10 % der Periodendau-
er der mechanischen Eigenschwingung des Galvanometers. In der modernen
(elektronischen) Messtechnik bedient man sich bei der Ladungsmessung elek-
tronischer Verstärkerschaltungen, die als Ladungsverstärker bezeichnet wer-
den. Mit Hilfe von Ladungsverstärkern lassen sich auch Ladungsmengen mes-
sen, die wesentlich kleiner sind als die oben angegebene Grenze von Q = 1 nC.
Beim Ladungsverstärker (Abb. 7.36) wird eine verlustarme Kapazität C ver-

Abb. 7.36. Ladungsverstärker

wendet, um die von einem Strom i(t) in einem definierten Zeitintervall [0,t]
gelieferte Ladung zu integrieren. Es gilt
 t
q(t) = i(t ) dt = Cu(t) . (7.100)
0

Bei Vernachlässigung der Eingangsdifferenzspannung (uA = −u(t)) folgt


1
uA (t) = − q(t) . (7.101)
C
Die Ausgangsspannung uA (t) ist also proportional der vom Strom i(t) gelie-
ferten Ladung q(t). Der effektive Eingangswiderstand eines idealen Ladungs-
verstärkers beträgt RE = 0. Problematisch sind bei Ladungs- und Integra-
tionsverstärkern die Nullpunktfehlergrößen, die auch bei nicht vorhandenem
Eingangssignal eine Hochintegration der Ausgangsspannung bis zur Begren-
zung durch eine der beiden Speisespannungen bewirken. Im Dauerbetrieb ist
entweder eine zyklische Rücksetzung der Spannung an der Integrationska-
pazität notwendig, oder es muss mit einem hochohmigen Parallelwiderstand
7.3 Rauschen von Messverstärkern 215

zur Kapazität dafür gesorgt werden, dass die durch Nullpunktfehler bedingte
langsame Aufladung der Kapazität durch einen ebenso großen Entladestrom
kompensiert wird.

7.3 Rauschen von Messverstärkern


Unter Rauschen versteht man die statistische Abweichung eines Signals von
seinem Sollwert. Bei elektronischen Bauteilen und damit auch bei elektroni-
schen Messverstärkern unterscheidet man die folgenden, auf unterschiedlichen
physikalischen Ursachen beruhenden Arten von Rauschen, welche verschiede-
nen Spektralbereichen zugeordnet werden können (Abb. 7.37).

spektrale Rausch- Popcorn-


leistungsdichte Rauschen

1/f - Rauschen
(Funkelrauschen)
Thermisches Rauschen,
Schrotrauschen

f
Abb. 7.37. Spektrale Zuordnung verschiedener Rauscharten

• Thermisches Rauschen (Johnson-noise)


Das thermische Rauschen, das auch Widerstandsrauschen genannt wird,
findet man in allen elektrischen Bauteilen mit Verlustwiderständen. Es ist
auf willkürliche Ladungsträgerbewegungen (Wärmebewegung der freien
Elektronen (Valenzelektronen)) zurückzuführen, die mit der Temperatur
an Intensität zunehmen. Ein ohmscher Widerstand kann bezüglich seines
Rauschverhaltens durch eines der in Abb. 7.38 gezeigten Ersatzschaltbil-
der dargestellt werden [20]. Die Effektivwerte der dort gezeigten Rausch-
Ersatzspannungs- bzw. Rausch-Ersatzstromquelle lassen sich anhand der
sog. NYQUIST-Formel ermitteln:
– NYQUIST-Formel in Bezug auf eine Ersatzspannungsquelle
2
Ureff = u2r (t) = 4kT RB (7.102)

– NYQUIST-Formel in Bezug auf eine Ersatzstromquelle (Abb. 7.38c)

2 1
Ireff = i2r (t) = 4kT B. (7.103)
R
216 7 Messverstärker

R
R bzw. G = 1R
ur ir
a) b) c)

Abb. 7.38. Ersatzrauschquellen eines ohmschen Widerstandes: a) rauschender


ohmscher Widerstand, b) Ersatzspannungsquelle: rauschfreier Widerstand mit
Rausch-Ersatzspannungsquelle, c) Ersatzstromquelle: rauschfreier Widerstand
(Leitwert G = 1/R) mit Rausch-Ersatzstromquelle

Dabei bezeichnen k = 1, 38 · 10−23 Ws/K die Boltzmann-Konstante, T (K)


die absolute Temperatur, B (Hz) die Beobachtungsbandbreite, R (Ω) den
Wert des ohmschen Widerstandes, Ureff die effektive Leerlaufspannung der
Rausch-Ersatzspannungsquelle und Ireff den effektiven Kurzschlussstrom
der Rausch-Ersatzstromquelle. Das thermische Rauschen ist ein sog. Wei-
ßes Rauschen, d. h. es zeigt im interessierenden Frequenzbereich keinerlei
spektrale Abhängigkeit.
• Schrotrauschen (Schottky-Rauschen)
Das Schrotrauschen, das auch als Stromrauschen bzw. Schottky-Rauschen
bezeichnet wird, entsteht in Halbleitern, wenn Ladungsträger eine Sperr-
schicht passieren. Abbildung 7.39 zeigt die Rausch-Ersatzschaltung eines
rauschenden pn-Überganges. Es handelt sich hierbei ebenfalls um weißes
Rauschen. Bei Operationsverstärkern wird das Schrotrauschen vom Ein-
gangsruhestrom verursacht. Der entsprechende Effektivwert des Rausch-
stroms Irschrot ergibt sich aus dem Eingangsruhestrom IB , der Elektronen-
ladung e0 sowie der Beobachtungsbandbreite B
2
Irschrot = 2|e0 |IB B . (7.104)

I I
rauschend rauschfrei

i rschrot

Abb. 7.39. Ersatzschaltung eines rauschenden pn-Überganges in Bezug auf sein


Schrotrauschen

• 1/f-Rauschen (Funkelrauschen)
Das 1/f-Rauschen, das auch als Funkelrauschen (Flicker Noise) bezeichnet
7.3 Rauschen von Messverstärkern 217

wird, erzeugt ein Rauschsignal mit einer Spektralverteilung, die mit 1/f zu
höheren Frequenzen hin abfällt. Bei Halbleiterbauelementen werden Ober-
flächeneigenschaften dafür verantwortlich gemacht, genau genommen han-
delt es sich dabei um fluktuierende Umladungen von Oberflächenzuständen
[20]. Das Funkelrauschen ist von seiner spektralen Verteilung her gesehen
ein Rosa Rauschen, d. h. ein Rauschen, dessen charakteristisches Merkmal
eine konstante Rauschleistung pro Frequenzdekade ist.
• Rekombinationsrauschen (r-g-noise) (Quantenrauschen)
Das Rekombinationsrauschen ist auf das willkürliche Einfangen (Trapping)
und Freigeben von Ladungsträgern in Halbleitern zurückzuführen, d. h. es
wird durch die zufällige Generation bzw. Rekombination von Ladungs-
trägern hervorgerufen.
• Popcorn-Rauschen
Das Popcorn-Rauschen, das auch als Burst-Rauschen bezeichnet wird, ist
auf metallische Verunreinigungen im Halbleiter zurückzuführen und äußert
sich in Form zufällig auftretender Änderungen der Gleichstrom-Parameter.
Es erscheint in der spektralen Rauschleistungsverteilung in Form eines
diracförmigen Gleichanteils bei der Frequenz f = 0 (Abb. 7.37) [64].

Die Beschreibung des Verstärkerrauschens

Das Verstärkerrauschen wird im Allgemeinen in Form der von den (inter-


nen) Rauschquellen des Verstärkers erzeugten Rauschleistung bzw. der dar-
aus resultierenden Reduzierung des Signal/Rausch-Verhältnisses zwischen
Eingangs- und Ausgangstor angegeben. Der Berechnung dieses Signal/Rausch-
Verhältnisses legt man bei Vierpolen und somit auch bei Verstärkern die
in Abb. 7.40 gezeigte Rauschersatzschaltung zugrunde. Dabei wird das ei-
gentliche Verstärkerrauschen durch die Angabe einer Rauschspannungsquelle
und einer Rauschstromquelle beschrieben. Beide Rauschquellen sind auf den
Verstärkereingang bezogen. Diese Rauschersatzquellen sind im Allgemeinen

durch die spektralen Werte der Rauschspannungsdichte
√ Ufr (f ) [nV/ Hz] bzw.
der Rauschstromdichte Ifr (f ) [pA/ Hz] gekennzeichnet. Die äquivalente Rau-
scheingangsspannung UrEges am Verstärkereingang erhält man durch quadra-
tische Überlagerung der von den Rauschquellen am Verstärkereingang hervor-
gerufenen Spannungsanteile. Diese wiederum ergeben sich aus der Integration
der spektralen Rauschdichtegrößen über das Frequenzintervall [fmin , fmax ],
in dem gemessen wird. Die Effektivwerte der Rauschspannung Ureff sowie des
Rauschstromes Ireff berechnen sich demnach wie folgt
 fmax
2
Ureff = Ufr2 (f ) df (7.105)
fmin
 fmax
2
Ireff = Ifr2 (f ) df . (7.106)
fmin
218 7 Messverstärker

Rausch- Rausch-
spannungsquelle stromquelle
ur

ir
uE uA uE uA
RE RE
Vierpol mit
rauschender Verstärker Rauschquellen rauschfreier Verstärker

Abb. 7.40. Ersatzschaltung eines rauschenden Verstärkers

Infolge der ohmschen Spannungsteilung (Abb. 7.41) ergibt sich die quadrati-
sche Überlagerung der Effektivwerte zu

2
2
2 RE 2 RE RQ
UrEges = Ureff + Ireff . (7.107)
RE + RQ RE + RQ

Rausch-Ersatz-
Spannungsquelle

RQ ir
uE ur uA
U0Signal RE
Rausch-Ersatz-
Stromquelle

Abb. 7.41. Rauschersatzschaltung eines mit einer Signalquelle beschalteten elek-


trischen Vierpoles

Die Spannung UrEges ist der Effektivwert der auf den Verstärkereingang bezo-
genen Rauschspannung, welche das gesamte Verstärkerrauschen im Frequenz-
intervall [fmin , fmax ] repräsentiert, d. h. der in Abb. 7.41 gezeigte eigentliche
Verstärker ist frei von Rauschquellen. In obiger Ableitung wurde die Korrela-
tion zwischen den beiden Rauschquellen vernachlässigt, was in vielen prakti-
schen Fällen in erster Näherung erlaubt ist. Für den Fall nicht vernachlässig-
barer Korrelation findet sich die entsprechende Herleitung in der Literatur,
z. B. in [111].

Das Rauschen von Operationsverstärkern

Im Gegensatz zu den oben beschriebenen Verstärkern ist beim Operations-


verstärker zu beachten, dass es sich hier nicht um ein Zweitor handelt. Der
7.3 Rauschen von Messverstärkern 219

Eingang des Operationsverstärkers besteht strenggenommen aus drei Klem-


men (invertierender Eingang, nichtinvertierender Eingang und Masse). Da-
her sind für die Beschreibung des Rauschens von Operationsverstärkern drei
voneinander unabhängige Rauschquellen erforderlich. Abbildung 7.42 zeigt

ur

uD uA uD uA

i r,1 i r,2

Abb. 7.42. Rauschersatzschaltung eines Operationsverstärkers

einen Operationsverstärker und dessen Rauschersatzschaltung. Die Beschrei-


bung mit einer Spannungsquelle und zwei Stromquellen ist die gängigste Dar-
stellung, wenn auch prinzipiell andere Darstellungsformen möglich sind. Für
die Stromquellen gilt aus Symmetriegründen, dass die Rauschleistungsdichten
gleich sind
i2r,1 = i2r,2 . (7.108)
Die Stromquellen sind dennoch als unkorreliert zu betrachten. Beispiele zum
Rauschen von Operationsverstärkern finden sich in [102].

Signal/Rausch-Verhältnis

Das Signal/Rausch-Verhältnis (Signal-to-Noise-Ratio) S/N an einem elektri-


schen Tor ist definiert als das Verhältnis von Signalspannung zu Rauschspan-
nung an diesem Tor. So ergibt sich das Signal/Rausch-Verhältnis am Aus-
gangstor des Verstärkers zu


S UArauschfrei
[dB] = 20 lg , (7.109)
N UrA
wobei UArauschfrei das Nutzsignal am Verstärkerausgang (Effektivwert) und
UrA die Rauschspannung am Verstärkerausgang (Effektivwert) bezeichnen.
Das Signal/Rausch-Verhältnis lässt sich aber auch auf den Verstärkereingang
beziehen. Für die in Abb. 7.41 gezeigte Beschaltung des Verstärkers gilt

" RE #
S UErauschfrei RQ +RE U0Signal
[dB] = 20 lg = 20 lg , (7.110)
N UrEges UrEges

wobei UErauschfrei das Nutzsignal am Verstärkereingang (Effektivwert) und


UrEges die Rauschspannung am Verstärkereingang (Effektivwert) bezeichnen.
220 7 Messverstärker

Bei obiger Berechnung wurde die Signalquelle (Abb. 7.41) zunächst als rausch-
frei angenommen. Soll das Rauschen des Innenwiderstandes RQ der Signal-

quelle berücksichtigt werden, muss UrEges in Gl. (7.110) durch UrEges ersetzt
werden

2
 RE
UrEges 2
= UrEges + 4kT RQ(fmax − fmin ) , (7.111)
RQ + RE

wobei UrEges die bereits in Gl. (7.107) berechnete, von den internen Rausch-
quellen des Verstärkers hervorgerufene Rauschspannung bezeichnet.

Rauschzahl

Die Rauschzahl F eines rauschenden (Verstärker-)Vierpols ist definiert als das


Verhältnis von Signal/Rausch-Verhältnis am Eingangstor zum Signal/Rausch-
Verhältnis am Ausgangstor
PsE
PrE PsE PrA
F = PsA
= . (7.112)
PrA
PsA PrE

Dabei bezeichnen PsE die Signalleistung am Eingang, PsA die Signalleistung


am Ausgang, PrE die Rauschleistung am Eingang (die von der Signalquel-
le oder von externen Störquellen eingespeiste Rauschleistung) und PrA die
Rauschleistung am Ausgang. Die Rauschzahl wird oft auch in logarithmischer
Form angegeben
F̃ (dB) = 10 lg F . (7.113)
Unter Einbeziehung der Leistungsverstärkung Vp des Vierpols

PsA
Vp = (7.114)
PsE
erhält man
PrA
F = . (7.115)
Vp PrE
Wenn man voraussetzt, dass der Verstärker für das Signal und das Rauschen
dieselbe Leistungsverstärkung aufweist, folgt für die Rauschleistung PrA am
Ausgang

PrA = PrE Vp + PrAamp = PrE Vp + PrEamp Vp = PrEtot Vp , (7.116)

wenn PrEamp die auf den Verstärkereingang bezogene und PrAamp die auf
den Ausgang bezogene Rauschleistung des Verstärkers darstellen. Aus den
Gln. (7.115) und (7.116) folgt für die Rauschzahl F
PrEtot PrAamp PrEamp
F = =1+ =1+ = 1 + Fz . (7.117)
PrE PrE Vp PrE
7.3 Rauschen von Messverstärkern 221

Der Term Fz bezeichnet die sog. Zusatzrauschzahl, welche im Falle eines nicht-
rauschenden Verstärkers identisch Null ist, d. h. F = 1. Da die Leistungen
PrEtot und PrE am selben Widerstand, nämlich dem Eingangswiderstand RE
des Verstärkers, wirken, folgt mit den oben gewählten Bezeichnungen und der
Rauschspannung UrEges aus Gl. (7.107)
2
UrEges
F =1+ 2 = 1 + Fz . (7.118)
UrQuelle

In Gl. (7.118) bezeichnet UrQuelle die effektive Rauschspannung der Quelle,
die mit dem Teilerverhältnis des Eingangsspannungsteilers gewichtet am Ver-
stärkereingang wirksam wird

 RE
UrQuelle = UrQuelle . (7.119)
RE + RQ

Wenn das Rauschen der Quelle durch das thermische Rauschen des Innenwi-
derstandes RQ der Quelle beschrieben werden kann, folgt für die entsprechen-
de Rauschspannung UrQuelle
2
UrQuelle = 4kT RQ(fmax − fmin ) . (7.120)

Im Weiteren wollen wir annehmen, dass der Eingangswiderstand RE des


Verstärkers wesentlich größer ist als der Innenwiderstand der Signalquelle
(RE RQ ). Unter dieser Annahme folgt mit Gl. (7.107) und den Gln. (7.118)-
(7.120)
2 2 2
Ureff + Ireff RQ
F =1+ = 1 + Fz . (7.121)
4kT RQ(fmax − fmin )
Im Allgemeinen definiert man noch den sog. äquivalenten Rauschwiderstand
Rr und den äquivalenten Rauschleitwert Gr des Vierpols, indem man den in
Gl. (7.121) vorkommenden Rauschleistungen diese Werte wie folgt zuordnet
2
Ureff = 4kT (fmax − fmin )Rr (7.122)
2
Ireff = 4kT (fmax − fmin )Gr . (7.123)

Damit lässt sich Gl. (7.121) in folgender Form schreiben


2
Rr + Gr RQ
F =1+ . (7.124)
RQ

Die durch Gl. (7.124) beschriebene Funktion F durchläuft in Abhängigkeit von


RQ ein charakteristisches Minimum (Abb. 7.43). Man spricht von Rauschan-
passung, wenn der Minimalwert Fmin der Rauschzahl erreicht wird. Der dazu
notwendige optimale Innenwiderstand RQopt der Signalquelle ergibt sich durch
Ableitung von Gl. (7.124) nach RQ und anschließendem Nullsetzen zu
222 7 Messverstärker

log F

F min

R Q opt log R Q

Abb. 7.43. Abhängigkeit der Rauschzahl vom Quellenwiderstand RQ


Rr
RQopt = . (7.125)
Gr
Damit lässt sich auch die bestenfalls erreichbare minimale Rauschzahl Fmin
angeben
 Ureff Ireff
Fmin = 1 + 2 Rr Gr = 1 + . (7.126)
2kT (fmax − fmin )

Rauschen von Kettenschaltungen

Um die resultierende Rauschzahl einer Verstärker-Kettenschaltung (Abb. 7.44)


zu ermitteln, wird zunächst jedem Vierpol eine Ersatzrauschspannungsquelle
(mit der effektiven Rauschspannung UrEgesi ) zugeordnet, welche die internen
Rauschquellen des Vierpoles äquivalent ersetzt. Wenn man alle Spannungen
auf den Eingang der ersten Vierpolstufe bezieht, folgt für den Signal/Rausch-
Verhältnis
" #
S U0Signal
= 20 lg  (7.127)
N UrEges
⎛ ⎞
⎜ U0Signal ⎟
= 20 lg ⎜
⎝
⎟ ,

2 2 U2 2
UrEges3
UrQuelle + UrEges1 + rEges2
V2
+ 2 V2
Vu1
+ ...
u1 u2

wobei UrEgesi die Ersatzrauschspannung des i-ten Vierpols und Vui die Span-
nungsverstärkung des i-ten Vierpols bezeichnen.
Friis hat in einer grundlegenden Arbeit [60] die Gesamtrauschzahl Fges einer
Vierpol-Kettenschaltung abgeleitet (siehe auch [20])

F2 − 1 F3 − 1 Fn − 1
Fges = F1 + + + ...+ . (7.128)
Vp1 Vp1 Vp2 Vp1 Vp2 . . . Vp(n−1)

In Gl. (7.128) bezeichnen Fi die Rauschzahl des i-ten Vierpoles und Vpi seine
Leistungsverstärkung. Für mehrstufige Verstärkerschaltungen kann bei genü-
7.3 Rauschen von Messverstärkern 223

UrQuelle UrEges1 UrEges2 UrEgesn


.....

RQ Vierpol 1 Vierpol 2 Vierpol n

VU1 VU2 VUn


U0Signal
.....

Abb. 7.44. Rauschen von Vierpol-Kettenschaltungen

gend hoher Leistungsverstärkung der einzelnen Stufen folgende Näherung an-


genommen werden
F2 − 1 F3 − 1 Fn − 1
F1 ... . (7.129)
Vp1 Vp1 Vp2 Vp1 Vp2 . . . Vp(n−1)
Dies bedeutet, dass das Rauschverhalten der Kettenschaltung im Wesentlichen
vom Rauschen der Eingangsstufe bestimmt wird.

Rauschmessung: Bestimmung der Rauschzahl

Ein ohmscher Widerstand gibt bei der absoluten Temperatur T gemäß den
Gln. (7.102) und (7.103) im Frequenzintervall B = fmax − fmin bei Leistungs-
anpassung die Rauschleistung PrR ab

PrR = kT B , (7.130)

wobei k die Boltzmann-Konstante k = 1, 38 · 10−23 Ws/K bezeichnet. Lei-


stungsanpassung heißt, dass der rauschende Widerstand seine Leistung an
einen Zweipol bzw. das Eingangstor eines Vierpols abgibt, dessen Innenwider-
standswert mit dem des Rauschwiderstandes übereinstimmt, so dass am Zwei-
pol nur die Hälfte der ursprünglichen Rauschspannung (Gl. (7.102)) anliegt.
Die auf diese Weise von einem ohmschen Widerstand abgegebene Rauschlei-
stung hängt nicht vom Widerstandswert ab, sondern wird nur von der Tem-
peratur des Widerstandes und der Beobachtungsbandbreite B bestimmt.
Gemäß einer zweiten Rauschzahl-Definition gibt die Rauschzahl F auch
an, um welchen Faktor ein Vierpol mit der Leistungsverstärkung Vp bei der
Referenztemperatur T0 = 290 K die thermische Rauschleistung PrR des In-
nenwiderstandes der Signalquelle durch sein Eigenrauschen vergrößert [111].
Die Umrechnung in die ursprüngliche Definition (Gl. (7.112)) lässt sich wie
folgt durchführen
PsE PrA PrA PrA
F = = = . (7.131)
PsA PrE Vp PrR Vp kT0 B
Gleichung (7.130) findet Anwendung, um die Rauscheigenschaften von Vier-
polen durch Angabe einer fiktiven Rauschtemperatur TR zu beschreiben. Dazu
224 7 Messverstärker

wird der Rauschleistung PrE mit Hilfe von Gl. (7.130) die Temperatur T0 und
der Rauschleistung PrEamp die Temperatur TR zugeordnet (s. auch Abb. 7.45).

Abb. 7.45. Prinzipschaltung zur Messung der Rauschzahl eines Verstärkers (=DUT
(Device Under Test)). Der Widerstand R gibt im Frequenzintervall B die tempe-
raturabhängige Rauschleistung PrE = PrR = kT B ab. Es wird Leistungsanpassung
zwischen dem als Rauschgenerator dienenden ohmschen Widerstand R und dem
Verstärkereingang vorausgesetzt.

Mit Gl. (7.117) ergibt sich dann die fiktive Rauschtemperatur TR zu


TR = (F − 1)T0 . (7.132)
Die Rauschmessung kann mit Hilfe der Prinzipschaltung nach Abb. 7.45 er-
folgen. Dabei wird die Rauschleistung am Ausgang eines Verstärkers, des-
sen Rauschzahl gemessen werden soll, für zwei unterschiedliche (aber bekann-
te) Eingangsrauschleistungen mit Hilfe eines Leistungsmessgerätes gemessen.
Bei linearem Verhalten des Verstärkervierpols gilt für die Gesamtrauschlei-
stung PrA an seinem Ausgang in Abhängigkeit der am Eingang eingespeisten
Rauschleistung PrE = kT B (Abb. 7.46)
PrA0 = kT0 BVp + Pramp = kT0 BVp F (7.133)
bzw.
PrA1 = kT1 BVp + Pramp , (7.134)
wobei Pramp die Gesamtrauschleistung der internen Rauschquellen des Ver-
stärkers bezeichnet. Infolge des linearen Verhaltens (Abb. 7.46) gilt weiterhin

T0 − 1
T1
F = (7.135)
PrA0 − 1
PrA1

bzw.


ΔT PrA1
F̃ (dB) = 10 lg − 10 lg −1 , (7.136)
T0 PrA0
wobei ΔT = T1 − T0 die Rauschtemperaturdifferenz beschreibt. In der Praxis
werden keine rauschenden Widerstände sondern Rauschgeneratoren verwen-
det, die in der Lage sind, definiert einstellbare Rauschleistungen abzugeben.
7.3 Rauschen von Messverstärkern 225

PrA

PrA1

kTBVP
PrA0 = kT 0 BVP F

Pramp

Pramp
-T R = - 0 T0 T1 T
kBVP

P rE0 PrE1 PrE =kTB


Abb. 7.46. Rauschleistung am Vierpolausgang als Funktion der Temperatur des
Quellwiderstandes bzw. als Funktion der Eingangsrauschleistung. Die Steigung bei-
der Geraden beträgt kBVp

Im Allgemeinen wird dann auch die in dB gemessene Rauschleistungserhöhung


ENR (Excess Noise Ratio)


ΔT
EN R = 10 lg (7.137)
T0

anstatt der Rauschtemperaturdifferenz ΔT angegeben. Der Quotient PrA1 /PrA0


wird oft auch als Y-Faktor bezeichnet
PrA1
Y = . (7.138)
PrA0
Daraus folgt
F̃ (dB) = EN R − 10 lg(Y − 1) . (7.139)
Bei vorgegebenem Wert von ENR kann mit Hilfe eines geeigneten Lei-
stungsmessers der Y-Faktor gemessen und damit die Rauschzahl anhand von
Gl. (7.139) bestimmt werden. Diese Art der Rauschmessung wird oft auch als
Y-Faktor-Methode bezeichnet. Als Rauschgenerator (Noise Source) kann
man eine der handelsüblichen Rauschquellen verwenden. Einer der meist ge-
bräuchlichen Rauschgeneratoren ist die Rauschquelle No. 346 in Ausführungs-
form A, B bzw. C (Abb. 7.47). Diese Quelle ist in der Lage, Rauschsignale im
Frequenzbereich 10 MHz bis 26,5 GHz zu liefern. Ihr Excess Noise Ratio be-
trägt 15 dB, entsprechend einer Rauschtemperatur von etwa 10.000 K (s. Gl.
(7.137)). Die Kalibrierung des ENR-Wertes hat aufgrund der hohen Bandbrei-
te, die das Gerät abdeckt, für spezifische Frequenzbänder separat zu erfolgen.
Abbildung 7.47b zeigt einen weiteren handelsüblichen Rauschgenerator, der
bis 50 GHz spezifiziert ist. Als eigentliche Rauschquellen werden in diesen
Rauschgeneratoren Siliziumdioden mit niedriger Kapazität genutzt, die mit
226 7 Messverstärker

Hilfe einer Konstantstromquelle im Bereich ihres Zenerdurchbruchs betrieben


werden. Die Dioden liefern in diesem Betriebszustand bis zu Frequenzen von
ca. 50 GHz ein nahezu konstantes Rauschspektrum [3], [74], [75].

a) b)
Abb. 7.47. Standard-Rauschquellen: a) Rauschgenerator 346B; b) Rauschgenera-
tor 4001A

Die Rauschzahl kann schließlich mit Hilfe eines Rauschzahlmessgerätes (NFA


(Noise Figure Analyzer)) (Abb. 7.48) oder auch eines Spektrumanalysators ge-

Abb. 7.48. Rauschzahlmessgerät (Noise Figure Analyzer (NFA))

messen werden. Das Herz eines Noise-Figure-Analysators besteht aus einem


hochgenauen Leistungsmesser (Power Detector), der in Kombination mit ei-
nem Rauschgenerator die Rauschzahl nach der oben beschriebenen Y-Faktor-
Methode bestimmt. Da Spektrumanalysatoren in der Lage sind, spektrale
Leistungsdichteverteilungen zu messen, läßt sich mit ihrer Hilfe ebenfalls die
Rauschzahl in Abhängigkeit der Frequenz bestimmen. Gegenüber einem rei-
nen Rauschzahlmessgerät besitzen sie den Vorteil einer universellen Verwend-
barkeit.
7.3 Rauschen von Messverstärkern 227

Rauschzahlmessung in geschirmter Umgebung

Die Messung von Rauschzahlen erweist sich in normaler Laborumgebung


aufgrund der dort im Allgemeinen vorhandenen Störeinflüsse oft als nicht
durchführbar. Dies gilt insbesondere dann, wenn eine niedrige Rauschzahl
(F < 3 dB) gemessen oder wenn eine hohe Messgenauigkeit gefordert wird.
Solche Messungen erfordern dann entweder einen speziellen EMV-Messraum
oder zumindest eine Messbox, die für die notwendige Abschirmung gegen äuße-
re elektromagnetische Felder und auch Leitungsstörungen sorgt. Kommerziell
erhältlich gibt es verschiedene Ausführungsformen solcher Messboxen. Eine
davon wird von dem Messgeräte-Hersteller Rohde & Schwarz (R & S) ange-
boten [192]. Ihre äußeren Abmessungen (B×H×T) betragen ca. 700 mm ×
300 mm × 500 mm. Der Prüfling (DUT (Device Under Test)) wird zur Mes-
sung in das geschirmte Innere der Messbox gegeben. Die Box weist in ihrer
Hülle eine elektromagnetische Schirmung auf, die für eine obere Frequenz von
3 GHz und ein (frequenzabhängiges) Schirmmaß von 40 bis 75 dB spezifiziert
ist. In Verbindung mit einem Rauschgenerator und einem Vorverstärker, die
sich ebenfalls beide in der Messbox befinden, sowie einem außerhalb der Box
befindlichen Spektrumanalysator wird das Messsystem zur Rauschzahlmes-
sung komplettiert (Abb. 7.49). Die Rauschmessung kann dabei automatisch
per Softwaresteuerung von statten gehen. Dazu wird eine spezielle Messsoft-
ware (FS-3K) zur Verfügung gestellt, die seitens des Spektrumanalysators,
beispielsweise ein FSPx (x=3/7/13/30 steht für die obere Grenzfrequenz des
Analysators in GHz) von R & S, eine 28 V Gleichspannung bereitstellt. Mit-
tels dieser Spannung wird der Rauschgenerator gezielt ein- und ausschaltet.
Im ausgeschalteten Zustand beträgt seine Rauschtemperatur T0 =290 K (s.
Abb. 7.46), während sich im eingeschalteten Zustand die Rauschtemperatur
um ΔT auf T1 erhöht. Der Wert von ΔT lässt sich aus Gl. (7.137) aus dem
von Hersteller angegebenen ENR-Wert ermitteln. Das vor der Rauschquelle
angeordnete Filter dient der Eliminierung von Störungen, die sich eventuell
auf der 28V-Leitung befinden. Das Meßsignal gelangt nach der (eventuellen)
Vorverstärkung auf den Eingang des Spektrumanalysators. Der Spektrumana-
lysator mißt die frequenzabhängigen Signalleistungen (Y-Faktor) in Abhängig-
keit des vom Rauschgenerator vorgegebenen ENR-Wertes. Der Vorverstärker
wird aus Entstörgründen von einem in der Meßbox befindlichen Akkumula-
tor gespeist. Für den Fall, daß das Testobjekt einen Anschluß nach außen
benötigt, sind weitere Anschlüsse in Form entstörter Leitungsdurchführungen
vorhanden.
228 7 Messverstärker

28 VDC
Spektrumanalysator FSPx

elektromagnetisch
geschirmte
Messbox

Device
Vorver- under Test
stärker
Akku DUT

optionale
Anschlussleitungen
für DUT Rausch-
Filter
generator

Abb. 7.49. Rausch-Messplatz mit elektromagnetisch geschirmter Messbox der Fir-


ma Rohde & Schwarz [192]
8
Messung der elektrischen Leistung

8.1 Leistungsmessung im Gleichstromkreis


Die elektrische Leistung P an einem elektrischen Tor ergibt sich aus dem
Produkt von Spannung U und Strom I

P = UI . (8.1)

Diese Leistung kann mit Hilfe eines elektrodynamischen Messwerkes gemessen


werden. Dazu schickt man den Strom I durch die Feldspule (Widerstand RWA )
und legt die Spannung U an die Drehspule (Widerstand RWV ) an. Abbildung
8.1 zeigt die entsprechende Schaltung mit dem elektrodynamischen Messwerk.
Falls der Strom I2 durch die Drehspule gegenüber dem Verbraucherstrom IV
vernachlässigt werden darf, ist der Zeigerausschlag α proportional zur Lei-
stung PV des Verbrauchers

α = k̃I1 I2 = k̃(I2 + IV )I2 ≈ k̃IV I2


UV
= k̃IV = kUV IV = kPV . (8.2)
RWV
Die Feldspule sollte wegen der Strommessung niederohmig und die Drehspule
wegen der Spannungsmessung hochohmig sein.

Abb. 8.1. Leistungsmessung mit einem elektrodynamischen Messwerk. Der Punkt


kennzeichnet die Polarität des Spannungspfades.

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_8
230 8 Messung der elektrischen Leistung

Abb. 8.2. Leistungsmessung mit einem elektrodynamischen Messwerk: a) Es wer-


den der Quellstrom und die Verbraucherspannung richtig gemessen. b) Es werden
die Quellspannung und der Verbraucherstrom richtig gemessen.

Die von der Quelle gelieferte Leistung PQ teilt sich in die vom Verbraucher
umgesetzte Leistung PV und die vom Messgerät benötigte Leistung PM

PQ = PV + PM . (8.3)

Wie anhand von Abb. 8.2 deutlich wird, kann ein elektrodynamisches Mess-
werk stromrichtig oder spannungsrichtig angeschlossen werden. Die Begriffe
strom- und spannungsrichtig beziehen sich dabei entweder auf die Quellensei-
te (Quellentor) oder die Verbraucherseite (Verbrauchertor) des Messgerätes.
Spannungsrichtig in Bezug auf die Verbraucherseite heißt, dass die am Ver-
braucherwiderstand RV anliegende Spannung UV gemessen wird, während der
Strom, der durch die Stromspule des Messgerätes fließt, dem Quellstrom, d. h.
also der Summe aus Verbraucherstrom IV und Drehspulenstrom I2 , entspricht
(Abb. 8.2a). Bei der in Bezug auf die Verbraucherseite stromrichtigen Messung
ist es umgekehrt, hier wird der richtige Wert des Verbraucherstroms gemessen,
während am Spannungseingang die Summe aus Verbraucherspannung und
Feldspulenspannung anliegt. Eine korrekte Messung der Verbraucherleistung
PV bzw. der Quelleistung PQ ist erst möglich, wenn das elektrodynamische
Messwerk um eine Korrekturspule erweitert wird, welche dieselbe Windungs-
zahl aufweist wie die Stromspule (Abb. 8.3). Durch diese Korrekturspule fließt
der Strom, den auch die Drehspule führt (I2 ). Bei der Stromrichtung nach
Abb. 8.3a addiert sich die Wirkung dieses Korrekturspulenstroms zu der des
Feldspulenstroms I1 , so dass die Leistung quellrichtig gemessen wird. Bei Stro-
mumkehr nach Abb. 8.3b kann die Leistung verbraucherrichtig gemessen wer-
den. Es sollte jedoch erwähnt werden, dass generell bei allen Messungen durch
das Einbringen des elektrodynamischen Messwerkes systematische Messfehler

Abb. 8.3. Leistungsmessung mit einem elektrodynamischen Messwerk, das mit


einer Korrekturspule ausgestattet ist: a) Es wird die Quelleistung richtig gemessen.
b) Es wird die Verbraucherleistung richtig gemessen.
8.2 Leistungsmessung im Wechselstromkreis 231

auftreten. So wird bei einer verbraucherrichtigen Messung beispielsweise zwar


die aktuelle Verbraucherleistung korrekt erfasst, die Verbraucherleistung je-
doch, die bei nicht vorhandenem Messwerk im Verbraucher umgesetzt würde,
erhält man erst nach einer Fehlerkorrektur der systematischen Messfehler.

8.2 Leistungsmessung im Wechselstromkreis


8.2.1 Begriffsdefinitionen

Nachdem sich mit Hilfe der Fourieranalyse jeder beliebige periodische Zeit-
verlauf einer Spannung bzw. eines Stromes in seine rein sinusförmigen Spek-
tralkomponenten zerlegen und in Form einer Fourierreihe darstellen lässt,
können wir uns im Folgenden ohne Einschränkung der Allgemeinheit auf rein
sinusförmige Zeitverläufe beschränken

u(t) = Û sin(ωt + ϕu ) (8.4)


i(t) = Iˆ sin(ωt + ϕi ) . (8.5)

Die entsprechenden Effektivwertbeträge erhält man mit der Definition aus


Kap. 6.3.1


Ueff = √ (8.6)
2

Ieff = √ . (8.7)
2
Die Wechselgrößen aus Gln. (8.4) und (8.5) lassen sich alternativ in komplexer
Schreibweise als Zeigergrößen

U = Û ejϕu U ∗ = Û e−jϕu (8.8)


ˆ jϕi I ∗ = Ie
I = Ie ˆ −jϕi , (8.9)

oder als Effektivwertzeiger angeben

U eff = Ueff ejϕu (8.10)


I eff = Ieff ejϕi . (8.11)

8.2.2 Leistungsmessung im Einphasennetz

In (einphasigen) Wechselstromkreisen sind die folgenden Leistungsgrößen de-


finiert:
232 8 Messung der elektrischen Leistung

Komplexe Leistung P

Die komplexe Leistung P ist folgendermaßen definiert

P = U eff I ∗eff = Ueff Ieff ejϕu −ϕi (8.12)


= Ueff Ieff ejϕui
P = Re(P ) + jIm(P ) = PW + jPB . (8.13)

Wirkleistung PW

Die Wirkleistung PW ist der Teil der komplexen elektrischen Leistung, der
in der Impedanz Z in eine andere (nicht-elektrische) Energieform, wie z. B.
in mechanische Energie oder in Wärmeenergie umgesetzt wird. Sie entspricht
dem Produkt von Spannungs- und Stromeffektivwert, multipliziert mit dem
Cosinus der Phasenwinkeldifferenz zwischen Strom und Spannung (Einheit
Watt (W))
PW = Re(P ) = Ueff Ieff cos ϕui . (8.14)
Die Messung der Wirkleistung kann direkt mit Hilfe eines elektrodynami-
schen Messwerkes erfolgen, da bei diesem der Zeigerausschlag dem Produkt
I1eff I2eff cos ϕ proportional ist (Gl. (6.47)). Es gelten ansonsten die bereits für
den Gleichstromkreis aufgestellten Regeln (Kap. 8.1).

Blindleistung PB

Die Blindleistung PB wird durch das Speicherverhalten einer komplexen Im-


pedanz verursacht. Dieser Teil der Leistung pendelt periodisch zwischen der
Quelle und dem Verbraucher mit der Impedanz Z hin und her (Einheit Volt-
Ampere-reaktiv (VAR bzw. VAr))

PB = Im(P ) = Ueff Ieff sin ϕui . (8.15)

Die Blindleistung wird ebenfalls mit Hilfe eines elektrodynamischen Messwer-


kes bestimmt. Allerdings muss ein 90◦ -Phasenschieber verwendet werden, der
den Strom des Spannungspfades gegenüber der Spannung U V um −90◦ dreht

Abb. 8.4. Messung der Blindleistung in einem Wechselstromkreis mit Hilfe eines
elektrodynamischen Messwerkes und einem 90◦ -Phasenschieber.
8.2 Leistungsmessung im Wechselstromkreis 233

(Abb. 8.4). Für den Zeigerausschlag α gilt dann

α = k̃I1eff I2eff cos ϕ ≈ kIVeff UVeff cos(ϕ − 90◦ ) = kIVeff UVeff sin ϕ . (8.16)

Da die 90◦ -Phasenverschiebung frequenzabhängig ist, sind die Geräte zur


Blindleistungsmessung üblicherweise für eine Frequenz von 50 Hz bzw. 60 Hz
konzipiert. Für stark oberwellenhaltige Signale ergeben sich daher fehlerhaf-
te Messwerte. Die Blindleistung wird bei induktiven Lasten positiv und bei
kapazitiven Lasten negativ angezeigt.

Scheinleistung PS

Die Scheinleistung ist die in einer komplexen Impedanz Z umgesetzte Lei-


stung. Sie entspricht dem Produkt der Effektivwerte von Strom und Spannung
an der Impedanz Z (Einheit Volt-Ampere (VA))

PS = |P | = Ueff Ieff = PW
2 + P2 .
B (8.17)

Messtechnisch lässt sich die Scheinleistung am einfachsten durch separate


Strom- und Spannungsmessungen der Effektivwerte Ieff und Ueff und die an-
schließende Produktbildung gemäß Gl. (8.17) ermitteln.

8.2.3 Leistungsmessung in Drehstromsystemen

Prinzipielle Schaltungsvarianten in Drehstromsystemen

Bei Drehstromsystemen unterscheidet man zwischen dem 3-Leiter-System und


dem 4-Leiter-System, je nachdem, ob ein Neutralleiter vorhanden ist oder
nicht. Abbildung 8.5 zeigt beide Varianten. Die komplexen Verbraucher Z 1 ,

Abb. 8.5. a) 4-Leiter-Drehstromsystem mit Sternschaltung der Verbraucher (N:


Neutralleiter), b) 3-Leiter-Drehstromsystem mit Dreieckschaltung der Verbraucher
234 8 Messung der elektrischen Leistung

Z 2 und Z 3 können in Form einer Sternschaltung (Abb. 8.5a) oder einer Drei-
eckschaltung (Abb. 8.5b) zusammengeschaltet werden. Beim 4-Leiter-System
hat man zwischen den Leiterspannungen (verkettete Spannung) U 12 , U 23 und
U 31 (Spannungen zwischen zwei Außenleitern) und den Sternspannungen U 1N ,
U 2N und U 3N (Spannungen zwischen Außenleiter und Neutralleiter) zu unter-
scheiden (Abb. 8.5). Der Neutralleiter wird auch als Sternpunkt bezeichnet.
Im Falle eines 3-Leiter-Systems kann man sich zu messtechnischen Zwecken
(Abb. 8.9) einen künstlichen Sternpunkt N  schaffen, indem man die drei Lei-
ter L1 , L2 und L3 jeweils mit einem hochohmigen Widerstand R zu dem
künstlichen Sternpunkt N  verbindet.
Im Folgenden wollen wir zunächst eine symmetrische Belastung voraus-
setzen, d. h. die drei Lastimpedanzen sind identisch Z 1 = Z 2 = Z 3 . Im Zei-
gerdiagramm (Abb. 8.6) erkennt man, dass sowohl die Leiterspannungen als
auch die Sternspannungen um jeweils 120◦ gegeneinander phasenverschoben
sind. In Drehstromnetzen gilt generell

U 12 = U 1N − U 2N (8.18)
U 23 = U 2N − U 3N (8.19)
U 31 = U 3N − U 1N . (8.20)

Dabei sollte erwähnt werden, dass sich in 3-Leiter-Systemen die Bezeichnung


N auf den künstlichen Sternpunkt N  bezieht. Im Speziellen gilt bei symme-
trischer Belastung

U 1N = U (8.21)
−j120◦
U 2N = U e (8.22)
+j120◦
U 3N = U e (8.23)

und
 √
|U 31 | = |U 1N |2 + |U 3N |2 − 2|U 1N ||U 3N | cos 120◦ = |U 1N | 3 . (8.24)

Die Leiterspannungen sind betragsmäßig stets gleich

Abb. 8.6. Zeigerdiagramm eines symmetrisch belasteten Drehstromsystems. Lei-


terspannungen: U 12 , U 23 , U 31 ; Sternspannungen: U 1N , U 2N , U 3N
8.2 Leistungsmessung im Wechselstromkreis 235
√ √
|U 12 | = |U 23 | = |U 31 | = |U | 3 = U 3 (8.25)

und ihre (Zeiger)-Summe ergibt Null

U 12 + U 23 + U 31 = 0 . (8.26)

Die Ströme des 4-Leiter-Systems genügen folgender Bedingung

I1 + I2 + I3 = IN . (8.27)

Für den Fall symmetrischer Belastung (gleiche Lastimpedanzen Z 1 = Z 2 =


Z 3 ) verschwindet der Strom im Neutralleiter des 4-Leiter-Systems. Weiterhin
gilt für die Leiterströme

I1 = I (8.28)
−j120◦
I2 = I e (8.29)
+j120◦
I3 = I e . (8.30)

Aus Abb. 8.7 folgt der Zusammenhang zwischen Leiterströmen und Strang-
strömen bei einer Dreieckschaltung
1
|I 12 | = |I 23 | = |I 31 | = √ |I| . (8.31)
3
Im 3-Leiter-System ist die Summe der drei Leiterströme infolge des nicht
vorhandenen Neutralleiters stets Null

I1 + I2 + I3 = 0 . (8.32)

Abb. 8.7. Zeigerdiagramm von Leiterströmen I i und Strangströmen I ij bei der


Dreieckschaltung. Die Form des gleichseitigen Dreiecks erhält man nur für symme-
trische (gleiche) Lasten Z i .
236 8 Messung der elektrischen Leistung

Messung der Wirkleistung in Drehstromsystemen

Für den Fall symmetrischer Belastung genügt ein Leistungsmesser, i. Allg.


wiederum ein elektrodynamisches Messwerk. Die umgesetzte Gesamtleistung
ergibt sich dabei als die dreifache Einzelleistung, welche gerade von dem einen
Leistungsmesser angezeigt wird. Für den allgemeinen Fall unsymmetrischer
Belastung jedoch werden beim 4-Leiter-System drei und beim 3-Leiter-System
zwei Leistungsmesser benötigt. Es gilt die generelle Regel, dass n−1 Leistungs-
messer eingesetzt werden müssen, wenn n Leitungen zu einem Verbraucher
führen, da eine der Leitungen stets als Rückleitung angesehen werden kann.

4-Leiter-System

Zur Wirkleistungsmessung in einem 4-Leiter-System werden drei elektrody-


namische Messwerke gemäß Abb. 8.8 zusammengeschaltet. Die Gesamtwirk-
leistung PWges ergibt sich als Summe der einzelnen Leistungen PWi

PWges = PW1 + PW2 + PW3


= U1Neff I1eff cos ϕ1 + U2Neff I2eff cos ϕ2 + U3Neff I3eff cos ϕ3 . (8.33)

Dabei bezeichnet ϕi den Phasenwinkel zwischen dem Strom Ii und der Span-
nung UiN .

Abb. 8.8. Wirkleistungsmessung in einem 4-Leiter-Drehstromsystem

3-Leiter-System

Oft werden auch bei 3-Leiter-Systemen drei Leistungsmesser eingesetzt, um


die einzelnen Leistungen getrennt beobachten zu können. Das Messergebnis
ist damit außerdem genauer, insbesondere bei kleinen Leistungen und großen
Phasenwinkeln. Da das 3-Leiter-System keinen Mittelpunktleiter aufweist,
8.2 Leistungsmessung im Wechselstromkreis 237

Abb. 8.9. Wirkleistungsmessung im 3-Leiter-System

müssen die drei Spannungspfade zu einem künstlichen Sternpunkt N  verbun-


den werden. Dies entspricht der Schaltung nach Abb. 8.9. Dabei müssen die
Widerstände bzw. Impedanzen der Spannungspfade aus Symmetriegründen
gleich sein. Die Gesamtwirkleistung lässt sich dann wiederum nach Gl. (8.33)
ermitteln.
Im 3-Leiter-System genügen allerdings auch zwei Leistungsmesser, wenn
man sie in Form der sog. Aaronschaltung (Abb. 8.10) zusammenschaltet. Die
beiden Messwerke zeigen die von ihnen gemessenen Wirkleistungen PW1 und
PW2 an, die sich in der Summe wie folgt darstellen

PW1 + PW2 = U13eff I1eff cos(<)U 13 , I 1 ) + U23eff I2eff cos(<)U 23 , I 2 ) . (8.34)

Die gesamte in einem Drehstromsystem umgesetzte komplexe Leistung P an-


dererseits beträgt definitionsgemäß

P = U 1N I ∗1 + U 2N I ∗2 + U 3N I ∗3 . (8.35)

Im Falle eines 3-Leiter-Systems stellen die Werte von UiN die Spannungen dar,
die zwischen dem jeweiligen Leiter Li und dem künstlichen Sternpunkt liegen.

Abb. 8.10. Zwei-Wattmeter-Verfahren (Aaronschaltung)


238 8 Messung der elektrischen Leistung

Aus dem Spannungszeigerdiagramm (Abb. 8.6) lassen sich die folgenden Zu-
sammenhänge ablesen

U 1N = U 13 + U 3N (8.36)
U 2N = U 23 + U 3N . (8.37)

Da außerdem die Summe der drei Leiterströme Null ergibt

0 = I1 + I2 + I3 , (8.38)

folgt aus Gl. (8.35) die gesamte komplexe Leistung P

P = U 13 I ∗1 + U 23 I ∗2 + U 3N (I ∗1 + I ∗2 + I ∗3 ) (8.39)
P = U 13 I ∗1 + U 23 I ∗2 . (8.40)

Der Realteil von P entspricht also der im Drehstromsystem umgesetzten Wirk-


leistung PW

PW = Re(P ) = U13eff I1eff cos(<


)U 13 , I 1 ) + U23eff I2eff cos(<)U 23 , I 2 ) . (8.41)

Die Identität mit Gl. (8.34) beweist, dass sich diese Gesamtwirkleistung auch
als Summe von PW1 und PW2 ergibt, jenen Leistungen also, die mit den beiden
Leistungsmessern der Aaronschaltung (Abb. 8.10) gemessen werden.

Messung der Blindleistung

Zur Messung der Blindleistung in Drehstromnetzen wird die Tatsache genutzt,


dass bei (annähernd) symmetrischer Lastverteilung die Sternspannungen und
Leiterspannungen paarweise um 90◦ phasenverschoben sind (Abb. 8.11). Nach
diesem Prinzip arbeiten die Schaltungen nach Abb. 8.12 und 8.14.

Abb. 8.11. Spannungszeiger in Drehstromsystemen


8.2 Leistungsmessung im Wechselstromkreis 239

4-Leiter-System

Die Blindleistung in einem 4-Leiter-Drehstromsystem kann mit Hilfe von drei


elektrodynamischen Messwerken ermittelt werden. Dazu werden diese gemäß
Abb. 8.12
√ angeschlossen. Die Gesamtblindleistung ergibt sich nämlich aus der
durch 3 dividierten Summe (PB1 + PB2 + PB3 ) der Leistungen, welche die
Einzelmesswerke anzeigen
1
PBges = √ (PB1 + PB2 + PB3 ) . (8.42)
3
Die Einzelleistungen PB1 , PB2 und PB3 lassen sich unter Zuhilfenahme des
Spannungszeigerdiagrammes (Abb. 8.11) und der Annahme RV = 0 wie folgt
ableiten

) U 23 , I 1 ) = U23eff I1eff cos(<) (U 1N , I 1 ) − 90◦ )


PB1 = U23eff I1eff cos(<
= U23eff I1eff cos(ϕ1 − 90◦ ) = U23eff I1eff sin ϕ1

= 3U1Neff I1eff sin ϕ1 . (8.43)

Analog zu Gl. (8.43) gilt für die Anzeigen PB2 und PB3

) U 31 , I 2 ) = U31eff I2eff cos(<) (U 2N , I 2 ) − 90◦ )


PB2 = U31eff I2eff cos(<
= U31eff I2eff cos(ϕ2 − 90◦ ) = U31eff I2eff sin ϕ2

= 3U2Neff I2eff sin ϕ2 (8.44)

) U 12 , I 3 ) = U12eff I3eff cos(<) (U 3N , I 3 ) − 90 )
PB3 = U12eff I3eff cos(<
= U12eff I3eff cos(ϕ3 − 90◦ ) = U12eff I3eff sin ϕ3

= 3U3Neff I3eff sin ϕ3 . (8.45)

Abb. 8.12. Messung der Blindleistung im 4-Leiter-System. Die Leistungsmesser


haben identische Innenwiderstände.
240 8 Messung der elektrischen Leistung

Beim Anschließen der Leistungsmesser ist auf die richtige Polarität zu ach-
ten, welche durch die Punkte in Abb. 8.12 angezeigt wird. Wenn die Vorwi-
derstände RV so gewählt werden,
√ dass an den Spannungspfaden der Mess-
geräte eine um den Faktor 3 kleinere Spannung wirksam wird, ergibt sich
die Gesamtblindleistung als Summe der drei Anzeigewerte, was durch einen
Vergleich der Gln. (8.42 - 8.45) leicht verifiziert werden kann.

3-Leiter-System

Im 3-Leiter-System genügen wiederum zwei Leistungsmesser, deren Span-


nungspfade zu einem künstlichen Sternpunkt N  gemäß Abb. 8.14 zusam-
mengeschaltet werden. Dabei ist wiederum auf die richtige Polarität der Lei-
stungsmesser zu achten, die√in Abb. 8.14 durch einen Punkt am Messwerk
gekennzeichnet ist. Die mit 3 multiplizierte Summe PBges der von den bei-
den in Abb. 8.14 dargestellten Leistungsmessern angezeigten Leistung beträgt
√ √
PBges = 3(PB3 + PB1 ) = 3(Re(U 1N I ∗3 − U 3N I ∗1 )) . (8.46)

Unter Zuhilfenahme der Abb. 8.13 kann Gl. (8.46) folgendermaßen dargestellt
werden
1
PBges = √ Re((U 13 + U 12 )I ∗3 + (U 23 + U 13 )I ∗1 ) . (8.47)
3
Indem man Gl. (8.47) wie folgt erweitert
1
PBges = √ Re ((U 13 + U 12 )I ∗3 + (U 23 + U 13 )I ∗1 + U 31 I ∗2 − U 31 I ∗2 )
3
1
= √ Re (U 23 I ∗1 + U 31 I ∗2 + U 12 I ∗3 + U 13 (I ∗1 + I ∗2 + I ∗3 )) (8.48)
3
und die Tatsache berücksichtigt, dass die Summe der Leiterströme im 3-Leiter-
System verschwindet

Abb. 8.13. Zusammenhänge zwischen Stern- und verketteten Spannungen


8.3 Messung der elektrischen Arbeit 241

I 1 + I 2 + I 3 = I ∗1 + I ∗2 + I ∗3 = 0 , (8.49)

gelangt man zur allgemeinen Blindleistungs-Beziehung


1
PBges = √ Re(U 23 I ∗1 + U 31 I ∗2 + U 12 I ∗3 ) . (8.50)
3

Abb. 8.14. Messung der Blindleistung im 3-Leiter-System. Der Punkt gibt die
Polarität des Spannungspfades an. Der Widerstand RWV entspricht dem Innenwi-
derstand des Spannungspfades der (identischen) Leistungsmesser.

8.3 Messung der elektrischen Arbeit

Die elektrische Arbeit (Energie) ergibt sich aus der zeitlichen Integration der
elektrischen Wirkleistung PW (t)
 t
E= PW (t) dt . (8.51)
0

Zur Messung der elektrischen Energie werden im Wechselstromfall sog. Induk-


tionsmesswerke eingesetzt, die üblicherweise als Elektrizitätszähler bezeichnet
werden. In diesen Induktionsmesswerken wird vom Strom des Leistungskrei-
ses ein magnetisches Wechselfeld aufgebaut, das in einer elektrisch leitfähigen
Scheibe Induktionsspannungen und damit Wirbelströme hervorruft. Auf diese
wirkt ein zweites, von der Spannung des Leistungskreises generiertes Magnet-
feld, das in Verbindung mit den Wirbelströmen Kräfte erzeugt, welche die
Scheibe in Rotation versetzen. Die Rotationsgeschwindigkeit der Scheibe ist
letztlich ein Maß für die elektrische Momentanleistung. Induktionsmesswerke
können allerdings nur für Wechselstromanwendungen eingesetzt werden, da
sie auf dem Induktionsprinzip beruhen.
242 8 Messung der elektrischen Leistung

Funktionsprinzip des Induktionsmesswerkes (Elektrizitätszähler)

Der prinzipielle Aufbau eines Elektrizitätszählers wird in Abb. 8.16 gezeigt.


Die auf dem hufeisenförmigen Joch (Stromeisen) befindliche Spule 1 führt den
Strom i(t) des Leistungskreises

i(t) = Iˆ sin(ωt + ϕ) . (8.52)

Der dadurch entstehende magnetische Fluss φ1 durchsetzt die Aluminium-


scheibe und induziert in dieser die Wirbelströme iw . Entsprechend dem Durch-
flutungsgesetz sowie dem Induktionsgesetz lassen sich die folgenden Zusam-
menhänge für den magnetischen Fluss φ1

N1 i(t) N1 ˆ
φ1 ∼ B1 ≈ μ0 = μ0 I sin(ωt + ϕ) (8.53)
2δ 2δ
bzw. den Wirbelstrom iw ableiten
dφ1
iw ∼ uind ∼ ∼ ω Iˆ cos(ωt + ϕ) . (8.54)
dt
Dabei bezeichnen B1 den Betrag der magnetischen Induktion im Stromeisen,
φ1 den magnetischen Fluss im Stromeisen, N1 die Windungszahl des Stromei-
sens, δ den Luftspalt in Strom- und Spannungseisen (die Aluminiumscheibe
zählt in diesem Fall wegen μr = 1 zum Luftspalt) und ϕ den Phasenwinkel
zwischen Spannung u und Strom i. Legt man die Spannung u(t) des Leistungs-
kreises an die Spule 2 des Spannungseisens, welches die Aluminiumscheibe
U-förmig umschließt, entsteht im Luftspalt die magnetische Induktion B2 ,
welche sich wie folgt aus der angelegten Spannung u(t) über den durch die
Spule fließenden Strom i2 (t) berechnen lässt

u(t) = Û sin ωt (8.55)



1 t 1
i2 (t) = u dt = − Û cos ωt (8.56)
L 0 ωL
i 2 N2
B 2 ≈ μ0 ∼ −Û cos ωt . (8.57)
δ
Dieses magnetische Feld wirkt nun auf die in der Aluminiumscheibe induzierten
Wirbelströme (Abb. 8.15) und verursacht eine mechanische Kraftwirkung. Die
entsprechende Volumenskraft fr (räumliche Kraftdichte) ergibt sich nach [170]

 2 − 1 H 2 gradμ ,
fr = Jw × B (8.58)
2

wobei Jw den Stromdichtevektor bezeichnet, der dem Wirbelstrom iw propor-


tional ist. Da die Aluminiumscheibe eine konstante Permeabilität μ aufweist,
verschwindet der Term gradμ, und der Betrag F der Gesamtkraft lässt sich
wie folgt ermitteln
8.3 Messung der elektrischen Arbeit 243

Abb. 8.15. Wirbelströme in der Aluminiumläuferscheibe eines Elektrizitätszählers

F ∼ iw B2 ∼ IˆÛ cos(ωt + ϕ) cos ωt . (8.59)

Das auf die Aluminiumscheibe wirkende mittlere Moment Mel erhält man,
wenn man über die Periodendauer T integriert

1 T
Mel ∼ F (t) dt (8.60)
T 0

Û Iˆ T 1 Û Iˆ
∼ (cos ϕ + cos(2ωt + ϕ)) dt = cos ϕ .
T 0 2 2

Gleichung (8.60) sagt aus, dass das Antriebsmoment Mel proportional der
Wirkleistung PW des Leistungskreises ist

Mel = k1 Ueff Ieff cos ϕ = k1 PW . (8.61)

In der Praxis entsteht aufgrund des relativ großen Luftspaltes sowie der Eisen-
und Kupferverluste keine exakte 90◦ -Verschiebung zwischen dem Strom i2
in der Spule 2 und der Spannung u des Leistungskreises. Die exakte 90◦ -
Phasenverschiebung erreicht man erst durch den in Abb. 8.16 gezeigten ma-
gnetischen Nebenschluss des Spannungseisens (Grobabgleich der 90◦ -Phasen-
verschiebung durch Veränderung von δN ) und eine Hilfswicklung am Stromei-
sen, die über den regelbaren Widerstand R kurzgeschlossen ist (Feinabgleich
der 90◦ -Phasenverschiebung durch Veränderung des Widerstandes R).
Der als Wirbelstrombremse wirkende Permanentmagnet (Abb. 8.16), der
auch als Bremsmagnet bezeichnet wird, erzeugt ein Bremsmoment mit dem
244 8 Messung der elektrischen Leistung

Abb. 8.16. Prinzipieller Aufbau eines Elektrizitätszählers

Betrag Mbrems
Mbrems = k2 n , (8.62)
wobei n die Drehzahl der Aluminiumscheibe bezeichnet. Die Drehzahl n der
Scheibe lässt sich nun aus der Gleichgewichtsbedingung Mbrems = Mel ermit-
teln
k1
n = Ueff Ieff cos ϕ = kPW . (8.63)
k2
Nachdem die Drehzahl n der Scheibe proportional zur Wirkleistung PW ist,
erhält man die elektrische Energie durch Aufsummieren (zeitliche Integration)
der Umdrehungen der Aluminiumscheibe. Dies geschieht in einfacher Weise
mit Hilfe eines mechanischen Zählwerkes.

Hinweis:
Die Leistungsmessung in Energieversorgungsnetzen und insbesondere beim
Endverbraucher hat in den letzten Jahren an Bedeutung gewonnen. Denn der
erste Schritt zu einer Energieverbrauchsreduzierung ist die komfortable und
effiziente elektronische Messung von Wirk- und Scheinleistung sowie die des
Energieverbrauches. Dabei wird gefordert, dass die elektronischen Leistungs-
messer in moderne Informationsarchitekturen, wie z. B. das Internet, einbind-
bar sind. Das Herzstück eines solchen elektronischen Energiemeters ist ein in-
tegrierter Schaltkreis, der mit zwei Eingangssignalen, welche dem Laststrom
bzw. der Lastspannung proportional sind, gespeist werden und der an seinem
Ausgang ein Signal liefert, das der verbrauchten Wirkleistung oder alternativ
der verbrauchten Energiemenge entspricht. Diese elektronischen Energiemeter
werden in Kap. 11.10 behandelt.
9
Messung von elektrischen Impedanzen

9.1 Messung von ohmschen Widerständen

Ein ohmscher Widerstand R unterscheidet sich von einer komplexen Impedanz


Z dadurch, dass er keine kapazitiven oder induktiven Anteile enthält, was
eigentlich einen Idealfall darstellt, der in der Praxis nie ganz erreicht werden
kann. Für den ohmschen Widerstand gilt das Ohmsche Gesetz in der Form

u(t)
R= , (9.1)
i(t)

d. h. Strom und Spannung sind zu jedem beliebigen Zeitpunkt direkt propor-


tional. Die Messung ohmscher Widerstände ist im Rahmen der messtechni-
schen Praxis eine wichtige Aufgabe, weil einige Sensoren als Widerstandsauf-
nehmer arbeiten; d. h. ihr Widerstandswert ist ein Maß für die Messgröße.

9.1.1 Strom- und Spannungsmessung

Die Bestimmung des ohmschen Widerstandes kann durch eine Strom- und
eine Spannungsmessung erfolgen. Der Widerstandswert R wird dann nach
dem Ohmschen Gesetz (Gl. (9.1)) berechnet. Da hierbei stets zwei getrennte
Messungen erforderlich sind, tragen sowohl der Fehler der Strommessung als
auch der Fehler der Spannungsmessung zum Fehler des Messwertes R bei. Es
kommen die beiden in den Abb. 9.1a und 9.1b gezeigten Schaltungsvarianten
in Frage. Die jeweiligen systematischen Fehler können korrigiert werden, wenn
die Innenwiderstände des Spannungs- und des Strommessgerätes bekannt sind.
In der stromrichtigen Schaltung (Abb. 9.1a) ist die Spannungsmessung feh-
lerhaft und der Spannungsabfall RMI I am Strommesser ist zwecks Korrektur
des systematischen Messfehlers von der gemessenen Spannung abzuziehen
U − RMI I U
RX = = − RMI . (9.2)
I I

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_9
246 9 Messung von elektrischen Impedanzen

Abb. 9.1. Bestimmung des ohmschen Widerstandes RX durch separate Strom- und
Spannungsmessung: a) Stromrichtige Schaltung, b) Spannungsrichtige Schaltung

In der spannungsrichtigen Schaltung (Abb. 9.1b) ist der gemessene Strom zu


groß, so dass vom gemessenen Wert I der Teilstrom U/RMU abzuziehen ist,
der durch den Spannungsmesser fließt
U
RX = . (9.3)
I − RU
MU

Da im Allgemeinen der Innenwiderstand des Strommessers RMI viel kleiner ist


als der des Spannungsmessers RMU , wird die stromrichtige Schaltungsvariante
für große Widerstände (RX RMI ) und die spannungsrichtige für kleine
Widerstände (RX RMU ) eingesetzt.

9.1.2 Vergleich mit einem Referenzwiderstand

Spannungsvergleich

Der bei getrennter Spannungs- und Strommessung auftretende Fehler lässt


sich vermeiden, wenn ein Referenzwiderstand Rref zur Verfügung steht. Durch
Messung der beiden Spannungen URX und URref (Abb. 9.2) kann bei be-
kanntem Referenzwiderstand Rref der Widerstand RX bestimmt werden. Die
Spannung U0 , die an die aus den Widerständen RX und Rref bestehende Se-
rienschaltung angelegt wird, muss während der beiden Messungen konstant
gehalten werden. Der Innenwiderstand des Messgerätes geht für den Fall, dass
er bei beiden Messungen derselbe ist (Vorsicht bei Messbereichsumschaltung),
nicht in den Fehler ein, da die beiden Spannungsmesswerte ins Verhältnis ge-
setzt werden. Wenn man die Spannungen URref und URX in der Schaltung
nach Abb. 9.2 mit Hilfe eines Spannungsmessgerätes mit Innenwiderstand
RMU misst, ergeben sich infolge des endlichen Innenwiderstandes RMU die
 
fehlerbehafteten Messwerte URref und URX

 (Rref RMU )
URref = U0 (9.4)
(Rref RMU ) + RX
 (RX RMU )
URX = U0 . (9.5)
(RX RMU ) + Rref
9.1 Messung von ohmschen Widerständen 247

Abb. 9.2. Messung eines ohmschen Widerstandes mit Hilfe eines Referenzwider-
standes Rref und einer Konstantspannungsquelle

 
Wenn man jedoch die beiden Messwerte URref und URX ins Verhältnis setzt,
kürzt sich der Innenwiderstand RMU heraus, so dass das Spannungsverhältnis


URX RX URX
 = = (9.6)
URref Rref URref
frei von systematischen Fehlern bleibt
URX
RX = Rref . (9.7)
URref

Stromvergleich

Alternativ kann ein Stromvergleich nach Abb. 9.3 genutzt werden, um den
ohmschen Widerstand RX zu bestimmen. Auch hier heben sich die systema-
tischen Messfehler bei der Messung der Einzelströme IRX und IRref auf und
gehen somit nicht in die Bestimmung von RX ein. Die infolge des Innenwi-
derstandes RMI des Strommessgerätes mit systematischen Fehlern behafteten
 
Teilströme IRref und IRX ergeben sich entsprechend der Stromteilerregel bei
parallelgeschalteten Widerständen zu

Abb. 9.3. Messung eines ohmschen Widerstandes mit Hilfe eines Referenzwider-
standes Rref und einer Konstantstromquelle
248 9 Messung von elektrischen Impedanzen

 RX
IRref = I0 (9.8)
RRref + RMI + RX
 RRref
IRX = I0 . (9.9)
RRref + RMI + RX
Das Verhältnis dieser Teilströme ist wiederum frei von Belastungsfehlern

IRref RX IRref
 = = (9.10)
IRX Rref IRX

bzw.
IRref
RX = Rref . (9.11)
IRX
Während der beiden Strommessungen muss der in die Parallelschaltung ein-
gespeiste Strom I0 sowie der Innenwiderstand RMI des Messgerätes konstant
gehalten werden.

9.1.3 Verwendung einer Konstantstromquelle

Eine direkte und kontinuierliche Anzeige des Widerstandswertes ist mit Hilfe
einer Konstantstromquelle möglich (Abb. 9.4).

Abb. 9.4. Messung eines ohmschen Widerstandes unter Verwendung einer Kon-
stantstromquelle

Der eingeprägte Konstantstrom I0 fließt dabei über den zu messenden Wider-


stand RX , der gemäß Gl. (9.12) proportional zur gemessenen Spannung UX
ist
UX
RX = . (9.12)
I0
Mit der Korrektur des systematischen Fehlers, der durch den Innenwiderstand
RMU des angeschlossenen Spannungsmessers verursacht wird, erhält man
UX
RX = . (9.13)
I0 − RUMU
X

Eine auf einer Konstantstromquelle basierende Messschaltung wird in Abb. 9.5


gezeigt. Wenn man einen idealen Operationsverstärker voraussetzt (uD = 0),
9.1 Messung von ohmschen Widerständen 249

Abb. 9.5. Messung eines ohmschen Widerstandes mit Hilfe einer Konstantstrom-
quelle. Bei der Verwendung in Digital-Multimetern werden die Spannungen an den
Abgriffpunkten (1) und (2) dem Analog-Digital-Umsetzer zugeführt.

kann die Spannung UX auch mit einem nicht-idealen Spannungsmesser ohne


systematischen Messfehler gemessen werden, so dass die Auswertung für RX
nach Gl. (9.12) vorgenommen werden kann
UX UX
RX = = R0 . (9.14)
I0 Uref
Für Präzisionsmessungen sind allerdings die nicht-idealen Eigenschaften des
Operationsverstärkers zu berücksichtigen, wie z.B. endliche Verstärkung, Ein-
gangsstrom oder Offsetspannung. Als nachteilig kann sich auch die nicht-
massebezogene Messung erweisen, da so leicht Störspannungen auftreten
können.
In Digital-Multimetern werden die beiden Spannungen Uref und UX (s.
Abgriffpunkte (1) und (2) in Abb. 9.5) vom Analog-Digital-Umsetzer digita-
lisiert und anschließend nach Gl. (9.14) ausgewertet. Die relative Genauigkeit
für diese Messung liegt bei Standard-Digital-Multimetern typischerweise bei
0,02 bis 0,2 % (s. auch Tab. 11.14).

9.1.4 Verwendung eines Kreuzspulinstrumentes

Da der Zeigerausschlag α eines Kreuzspulinstrumentes eine Funktion des Ver-


hältnisses zweier Ströme I2 /I1 ist (Gl. (6.60)), kann es unmittelbar zur Wi-
derstandsmessung eingesetzt werden. Abbildung 9.6 zeigt die dazu notwendige
Beschaltung. Wenn der zu bestimmende Widerstand RX gegenüber dem Spu-
lenwiderstand R1 groß ist (RX R1 ) und außerdem der Widerstand R3 groß
im Vergleich zum Spulenwiderstand R2 (R3 R2 ) gewählt wird, kann RX
mit Hilfe der Schaltung nach Abb. 9.6a unmittelbar gemessen werden. Der
zu bestimmende Widerstand RX ergibt sich dann aus der Stromteilerregel, da
die beiden Widerstände RX und R3 näherungsweise an der Speisespannung
U0 liegen. Der Zeigerausschlag α hängt aber i.Allg. in nichtlinearer Weise vom
Stromverhältnis I2 /I1 ab (Gl. (6.60))
I2 1
RX = R3 = R3 f (α) = R3 tan α . (9.15)
I1 k
250 9 Messung von elektrischen Impedanzen

Abb. 9.6. Widerstandsmessung mit Hilfe eines Kreuzspulinstrumentes: a) Schal-


tungsvariante für große Widerstände, b) Schaltungsvariante für kleine Widerstände

Zur Messung kleiner Widerstände wird die Schaltungsvariante nach Abb. 9.6b
eingesetzt. Unter der Voraussetzung (R1 + R1 ) RX und (R2 + R2 ) R3
gilt näherungsweise

UX I1 (R1 + R1 ) (R1 + R1 )


RX = ≈ = R3 f˜(α) . (9.16)
IX I2 (R2 + R2 )/R3 (R2 + R2 )

9.2 Kompensationsschaltungen
Mit Hilfe sog. Kompensationsschaltungen kann die Beeinflussung des Messvor-
ganges durch das Messgerät infolge seiner nicht-idealen Innenimpedanz elimi-
niert werden. Ströme und Spannungen werden dabei leistungslos gemessen,
d. h. Ströme ohne Spannungsabfall über den Messkontakten und Spannun-
gen ohne (Parallel)-Ströme durch ein angeschlossenes Spannungsmessgerät.
Die von klassischen Messgeräten jedoch stets benötigte Energie wird dabei
einer Hilfsquelle und nicht, wie bei Standardmessungen üblich, der zu mes-
senden Schaltung entnommen. Der Hauptvorzug der Kompensatoren besteht
also darin, dass bei der Messung keine Belastung des Messkreises erfolgt. In-
folge der rückwirkungsfreien Messung wird eine sehr hohe Messgenauigkeit
erreicht. Als eigentliches Messinstrument ist dazu lediglich ein Galvanometer
zum Nullabgleich erforderlich. Da die Kompensationsschaltungen eine Vor-
stufe der Brückenschaltungen darstellen, die zur Messung von ohmschen Wi-
derständen bzw. komplexen Impedanzen eingesetzt werden, sollen sie an dieser
Stelle besprochen werden.

9.2.1 Gleichspannungskompensation

Abbildung 9.7 zeigt das Kompensationsprinzip für eine Gleichspannungsmes-


sung. Der Abgriff des Widerstandes wird dabei solange verändert, bis das
Galvanometer G stromlos ist. Es folgt damit
9.2 Kompensationsschaltungen 251

R
UX = UR = U0 . (9.17)
R0
Bei bekannten Größen U0 , R0 , R kann UX ohne einen durch den Leistungsver-
brauch eines Messgerätes hervorgerufenen Fehler bestimmt werden.

Abb. 9.7. Prinzip der Gleichspannungskompensation (UX ≤ U0 )

9.2.2 Gleichstromkompensation

Mit der Kompensationsschaltung nach Abb. 9.8 kann ein unbekannter Strom
IX kompensiert werden, indem Spannungsgleichheit an dem von dem Diffe-
renzstrom (I0 − IX ) durchflossenen Widerstand R und an dem vom Strom IX
durchflossenen Widerstand R1 erreicht wird

(I0 − IX )R = IX R1 . (9.18)

Weiterhin kann die folgende Maschengleichung aufgestellt werden

(I0 − IX )R + I0 (R0 − R) = U0 . (9.19)

Aus den Gln. (9.18) und (9.19) kann unmittelbar der zu messende Strom IX
bestimmt werden
R
IX = U0 . (9.20)
R0 (R1 + R) − R2
Da über den Messkontakten keine Spannung abfällt, wird leistungslos, d. h.
ohne Belastung des Messkreises, gemessen. Als Nulldetektoren verwendet man

Abb. 9.8. Gleichstromkompensationsschaltung. R0 ist der Gesamtwiderstand des


Spannungsteilers und R der Wert zwischen dem Teilerabgriff und dem positiven Pol
der Spannungsquelle
252 9 Messung von elektrischen Impedanzen

empfindliche Galvanometer mit Spannungsanzeigen im Bereich von 0,1 μV bis


1 μV bzw. empfindliche Spannungsverstärker mit kleiner Offsetspannung. In
der Praxis wird oft anstelle des Galvanometers ein Nullverstärker verwendet,
der ein motorbetätigtes Potentiometer ansteuert. Dabei wird der Schleifer ei-
nes Potentiometers mit Hilfe eines Stellmotors so lange verstellt, bis die Ein-
gangsspannungsdifferenz des Verstärkers zu Null abgeglichen ist. Damit ist die
Verstellung des Schleifers der zu messenden Spannung uE proportional. Ein
angekoppeltes Schreibgerät schreibt auf einem kontinuierlich bewegten Regi-
strierpapier einen Linienzug, der für den Fall entsprechend schneller Regelung
dem Signalverlauf uE (t) entspricht. Solche Anordnungen werden in Form sog.
Kompensationsschreiber realisiert (Abb. 9.9).

Abb. 9.9. Prinzip eines Kompensationsschreibers

9.3 Gleichstrom-Messbrücken

Die genaue Bestimmung von ohmschen Widerständen erfolgt in der Praxis oft
mit Hilfe von sog. Brückenschaltungen. Die dazu von Wheatstone vorgeschla-
gene Messbrücke (Wheatstonesche Messbrücke) besteht aus zwei parallelge-
schalteten Spannungsteilern (Abb. 9.10), die mit der Spannung UE gespeist
werden. Beim Betrieb unterscheidet man zwischen dem Ausschlagverfahren
(Gleichstrom-Ausschlagbrücke), bei dem die Diagonalspannung UD mit ei-
nem hochohmigen Instrument gemessen wird, und dem Abgleich- oder Null-
verfahren (Gleichstrom-Abgleichbrücke), bei dem die Diagonalspannung zu
Null abgeglichen wird.

Abb. 9.10. Wheatstonesche Messbrücke


9.3 Gleichstrom-Messbrücken 253

9.3.1 Gleichstrom-Ausschlagbrücken
Im nicht-abgeglichenen Zustand resultiert aus der Speisespannung UE eine
Diagonalspannung UD


R2 R4 R2 R3 − R1 R4
UD = UE − = UE . (9.21)
R1 + R2 R3 + R4 (R1 + R2 )(R3 + R4 )
Durch Messung der Spannungen UD und UE kann bei drei bekannten Wi-
derständen auf den vierten unbekannten Widerstand geschlossen werden. Die
Genauigkeit des Verfahrens hängt neben der Toleranz der Brückenwiderstände
von der Genauigkeit der Messgeräte zur Bestimmung von UD und UE ab. Bei
der Messung der Spannung UD ist zu berücksichtigen, dass der Innenwider-
stand RM des Messgerätes zu einem Fehler führt.

Abb. 9.11. a) Gleichstrom-Ausschlag-Brückenschaltung bei Berücksichtigung der


Innenwiderstände von Speisespannungsquelle und Messgerät, b) bezüglich der Klem-
men 1 und 1 wirksame Ersatzspannungsquelle

Die unter Berücksichtigung der Innenwiderstände der Quelle RI und des Mess-
gerätes RM geltende Ersatzschaltung wird in Abb. 9.11a gezeigt. Die im Falle
offener Klemmen (RM → ∞) effektiv wirksame Brückenspeisespannung UE
kann aus der Leerlaufspannung UE0 der Speisequelle mit
RB = (R1 + R2 )  (R3 + R4 ) (9.22)
wie folgt errechnet werden
RB
UE = UE0 . (9.23)
RI + RB
Damit lässt sich auch die Leerlaufspannung UQ der Ersatzspannungsquelle
aus Abb. 9.11b angeben
R2 R3 − R1 R4
UQ = UD |RM→∞ = UE (9.24)
(R1 + R2 )(R3 + R4 )
1 R2 R3 − R1 R4
UQ = UD |RM→∞ = UE0 RI (R1 +R2 +R3 +R4 )
1+ (R1 + R2 )(R3 + R4 )
(R1 +R2 )(R3 +R4 )
R2 R3 − R1 R4
= UE0 . (9.25)
(R1 + R2 )(R3 + R4 ) + RI (R1 + R2 + R3 + R4 )
254 9 Messung von elektrischen Impedanzen

Abb. 9.12. Dreieck-Stern-Umwandlung

Der Innenwiderstand RQ der Ersatzspannungsquelle ist der Widerstand, den


man von den Klemmen 1 und 1 des Netzwerkes aus sieht. Dieser lässt
sich durch eine sog. Dreieck-Stern-Umwandlung (Abb. 9.12) der Widerstände
R1 , R2 und RI zu der in der Abb. 9.13 gezeigten Schaltung vereinfachen. Die
beiden Schaltungen in Abb. 9.12 sind bezüglich der äußeren Klemmen 1, 2
und 3 äquivalent. Diese Umwandlung sowie die entsprechende Stern-Dreieck-
Umwandlung sind z. B. in [139] beschrieben. Der Innenwiderstand RQ der
Ersatzspannungsquelle nach Abb. 9.13 ergibt sich dann zu
RQ = R1S + (R3 + R3S )  (R4 + R2S )
(R3 + R3S )(R4 + R2S )
= R1S + . (9.26)
R3 + R3S + R4 + R2S
Unter Berücksichtigung des von den Widerständen RM und RQ gebildeten
Spannungsteilers in Abb. 9.11b lässt sich die Diagonalspannung UD für den
Fall nicht-idealer Innenwiderstände von Quelle und Messgerät wie folgt ablei-
ten
RM
UD = UQ . (9.27)
RM + RQ
Aus dem Vergleich mit der Diagonalspannung UD des idealen Falles (Gl. (9.21))
lässt sich schließlich der entsprechende Fehler ermitteln.

Abb. 9.13. Durch Dreieck-Stern-Umwandlung vereinfachte Schaltung aus Abb. 9.11


9.4 Messung von Schein- und Blindwiderständen 255

9.3.2 Gleichstrom-Abgleichbrücken

Zur Messung von ohmschen Widerständen wird i. Allg. das Abgleichverfah-


ren eingesetzt. Dabei wird einer der bekannten Brückenwiderstände, z. B. der
Widerstand R4 (Abb. 9.10), solange verändert, bis die Diagonalspannung UD
Null wird. Mit Gl. (9.21) folgt daraus


R2 R4 R2 R3 − R1 R4
UD = 0 = UE − = UE . (9.28)
R1 + R2 R3 + R4 (R1 + R2 )(R3 + R4 )
So kann ein unbekannter Widerstand, beispielsweise R2 , aus den übrigen
bekannten Widerstandswerten ermittelt werden. Die Abgleichbedingung aus
Gl. (9.28) lautet
R2 R3 = R1 R4 , (9.29)
bzw. nach dem gesuchten Widerstandswert R2 aufgelöst
R4
R2 = R1 . (9.30)
R3
Bei Präzisionsmessbrücken werden als einstellbare Widerstände sehr genaue
Widerstandsdekaden verwendet. Die Messunsicherheiten liegen hierbei im Be-
reich 10−5 . Ein wesentlicher Vorzug des Abgleichverfahrens besteht darin, dass
keine Absolutwerte von Spannungen oder Strömen gemessen werden müssen.
Auch die Brückenspeisespannung UE geht nicht in die Messung ein, so dass
an deren Konstanz keine hohen Anforderungen gestellt werden müssen. Ein
weiterer Vorzug besteht in der Tatsache, dass die Diagonalspannung UD nur
mittels Nullgalvanometer zu Null abgeglichen und nicht absolut erfasst werden
muss.

9.4 Messung von Schein- und Blindwiderständen


Eine komplexe Impedanz (Scheinwiderstand) setzt sich aus einer Wirkkompo-
nente R und einer Blindkomponente X zusammen
Z = Re(Z) + jIm(Z) = R + jX = |Z|ejϕz . (9.31)
Bei vernachlässigbarem ohmschen Anteil ergeben sich für
• eine Kapazität C (idealer Kondensator)
−j
Z = jX = (9.32)
ωC
• eine Induktivität L (ideale Spule)
Z = jX = jωL . (9.33)
Im realen verlustbehafteten Fall wendet man die im Folgenden beschriebenen
Ersatzschaltbilder an.
256 9 Messung von elektrischen Impedanzen

Reihen- und Parallel-Ersatzschaltbilder einer verlustbehafteten


Induktivität

Die Reihen- und die Parallel-Ersatzschaltung einer verlustbehafteten In-


duktivität werden in Abb. 9.14 neben den entsprechenden Impedanz- bzw.
Admittanz-Diagrammen gezeigt. Die Impedanz Z und die Admittanz Y der
verlustbehafteten Spule ergeben sich wie folgt
1 1
Z = RS + jωLS = = 1 1 . (9.34)
Y RP + jωL P

Mit den Ersatzschaltbildelementen können der Verlustfaktor tan δL sowie die


Güte Q angegeben werden
1 RS ωLP
tan δL = = = . (9.35)
Q ωLS RP

Abb. 9.14. Ersatzschaltbilder einer verlustbehafteten Induktivität mit entsprechen-


dem Impedanz- bzw. Admittanz-Diagramm: a) Reihenersatzschaltbild (Seriener-
satzschaltbild), b) Parallelersatzschaltbild

Reihen- und Parallel-Ersatzschaltbilder einer verlustbehafteten


Kapazität

Die Reihen- und die Parallel-Ersatzschaltung einer verlustbehafteten Ka-


pazität werden in Abb. 9.15 neben den entsprechenden Impedanz- bzw.
Admittanz-Diagrammen gezeigt. Die Impedanz Z und die Admittanz Y des
verlustbehafteten Kondensators ergeben sich zu
j 1 1
Z = RS − = = 1 . (9.36)
ωCS Y RP + jωCP

Mit den Ersatzschaltbildelementen lassen sich der Verlustfaktor tan δC sowie


die Güte Q bestimmen
1 1
tan δC = = ωRS CS = . (9.37)
Q ωRP CP
9.4 Messung von Schein- und Blindwiderständen 257

Abb. 9.15. Ersatzschaltbilder einer verlustbehafteten Kapazität mit entsprechen-


dem Impedanz- bzw. Admittanz-Diagramm: a) Reihenersatzschaltbild (Seriener-
satzschaltbild), b) Parallelersatzschaltbild

Ermittlung des Scheinwiderstandes

Zur Messung von Scheinwiderständen wird eine Wechselspannungsquelle be-


kannter Frequenz benötigt, welche die Impedanz Z speist

Z = Re(Z) + jIm(Z) . (9.38)

Der Scheinwiderstand |Z| kann nach separaten Messungen von Spannung und
Strom berechnet werden
Ueff
|Z| = . (9.39)
Ieff
Nachdem die komplexe Impedanz zwei skalare Unbekannte aufweist (Betrag
und Phase bzw. Real- und Imaginärteil), müssen zu ihrer vollständigen Be-
stimmung immer zwei getrennte Größen gemessen werden, wie z.B. der Schein-
widerstand und der Phasenwinkel oder der Scheinwiderstand und der Wirk-
widerstand.
Bei einer Spule beispielsweise können Schein- und Wirkwiderstand auf die
im folgenden beschriebene Art gemessen werden. Bei Anlegen einer Gleich-
spannung u− ergibt sich wegen X = 0 (Gl. (9.31)) der Wirkwiderstand R aus
einer Gleichstrommessung
u−
R= . (9.40)
i−
Bei Anlegen einer Wechselspannung u∼ lässt sich gemäß Gl. (9.39) der Schein-
widerstand |Z| aus der Messung der Effektivwerte von Spannung Ueff und
Strom Ieff ermitteln
Ueff u∼
|Z| = = . (9.41)
Ieff i∼
Anhand der Gln. (9.38), (9.40) und (9.41) kann schließlich auch der Blindwi-
derstand X berechnet werden

X = ωL = |Z|2 − R2 . (9.42)
258 9 Messung von elektrischen Impedanzen

Ermittlung einer komplexen Impedanz mittels der


3-Spannungsmesser-Methode

Verlustbehaftete Kondensatoren oder verlustbehaftete Spulen lassen sich mit-


tels der sog. 3-Spannungsmesser-Methode anhand von drei unabhängigen
Spannungsmessungen ermitteln (Abb. 9.16). Dazu schaltet man der unbe-
kannten Impedanz Z X einen ohmschen Widerstand RN in Serie und legt an
diese Serienschaltung eine Wechselspannung U an. Anschließend misst man
die Beträge bzw. Effektivwerte der Spannungen U N und U X , die an dem
Widerstand RN und der komplexen Impedanz Z X abfallen. Bei bekannter
Zeigerlänge von U hat man nunmehr drei Spannungszeiger in der komplexen
Ebene, von denen man lediglich die Beträge kennt. Damit lässt sich aber be-
reits das in Abb. 9.16 gezeigte Zeigerdiagramm konstruieren. Allerdings gibt
es ein zweites spiegelbildliches Zeigerdiagramm, das ebenfalls möglich wäre,
d. h. es lässt sich letztlich nur der Betrag des Phasenwinkels ϕ, nicht aber sein
Vorzeichen bestimmen. Durch Anwendung des Cosinussatzes auf das Dreieck
der Spannungszeiger erhält man den Phasenwinkel ϕ

2
|U | − |U N |2 − |U X |2
ϕ = ± arccos . (9.43)
2|U N ||U X |

Mit bekanntem Widerstandswert RN , dem ermittelten Phasenwinkel ϕ sowie


den Messwerten für |U X | und |U N | kann nunmehr Z X in Form der Elemente
der Reihenersatzschaltung (Z X = RX + jXX ) angegeben werden

|U X | |U |
RX = cos ϕ = RN X cos ϕ , (9.44)
|I| |U N |

|U X | |U |
XX = sin ϕ = RN X sin ϕ . (9.45)
|I| |U N |

Abb. 9.16. Bestimmung des Wirk- und Blindanteils verlustbehafteter passiver Bau-
elemente mit Hilfe der 3-Spannungsmesser-Methode. ϕ: Phasenwinkel von Z X
9.5 Wechselstrom-Messbrücken 259

9.5 Wechselstrom-Messbrücken
9.5.1 Wechselstrom-Abgleichbrücken

Prinzipiell ist die Funktionsweise einer Wechselstrom-Messbrücke mit der in


Kap. 9.3 vorgestellten Gleichstrom-Messbrücke identisch. Die Bedingung für
den Nullabgleich der Brückendiagonalspannung bezieht sich hier allerdings
auf die komplexen Impedanzen Z 1 , Z 2 , Z 3 , Z 4 (Abb. 9.17)

Z 2Z 3 = Z 1Z 4 . (9.46)

Abb. 9.17. Wechselstrom-Messbrücke

Gleichung (9.46) lässt sich in eine Betrags- und eine Winkelgleichung zerlegen

|Z 2 ||Z 3 | = |Z 1 ||Z 4 | (9.47)


ϕ2 + ϕ3 = ϕ1 + ϕ4 . (9.48)

Aus der Tatsache, dass Gl. (9.46) jeweils für Real- und Imaginärteil erfüllt
sein muss, ergeben sich mit

Z i = Ri + jXi (9.49)

folgende, zu den Gln. (9.47) und (9.48) äquivalente, Abgleichbedingungen

R2 R3 − X2 X3 = R1 R4 − X1 X4 (9.50)
X2 R3 + R2 X3 = X1 R4 + R1 X4 . (9.51)

Da beim Brückenabgleich zwei Bedingungen zu erfüllen sind, müssen auch


zwei unabhängig voneinander abgleichbare Elemente vorhanden sein.
Standard-Wechselstrom-Messbrücken sind beispielsweise die Kapazitäts-
messbrücke nach Wien (Wien-Brücke) zur Messung verlustbehafteter Kon-
densatoren oder die Induktivitätsmessbrücke (Maxwell-Wien-Brücke) zur Be-
stimmung verlustbehafteter Induktivitäten. Solche Standard-Brücken werden
in den folgenden Abschnitten beschrieben.
260 9 Messung von elektrischen Impedanzen

Wien-Brücke

Die Kapazitätsmessbrücke nach Wien wird in Abb. 9.18 in zwei unterschiedli-


chen Darstellungen gezeigt, und zwar einmal nach Abb. 9.18a zur Ausmessung
der Elemente des Reihenersatzschaltbildes und in Abb. 9.18b zur Ausmessung
der Elemente des Parallelersatzschaltbildes einer verlustbehafteten Kapazität.

Abb. 9.18. Zwei Schaltungsvarianten der Wien-Brücke: a) zum Bestimmen des


Reihenersatzschaltbildes einer verlustbehafteten Kapazität, b) zum Bestimmen des
Parallelersatzschaltbildes einer verlustbehafteten Kapazität

Die Abgleichbedingungen der Wien-Brücke lauten für beide Varianten


R4
CX = C2 (9.52)
R3
R3
RX = R2 . (9.53)
R4
Der Verlustfaktor der zu bestimmenden Kapazität tan δ beträgt damit bei der
Schaltungsvariante nach Abb. 9.18a (Reihenersatzschaltbild)

tan δR = ωC2 R2 (9.54)

und bei der Schaltung nach Abb. 9.18b (Parallelersatzschaltbild)


1
tan δP = . (9.55)
ωC2 R2

Schering-Messbrücke

Die Schering-Messbrücke wird vorwiegend zur Bestimmung der Elemente des


Ersatzschaltbildes von Hochspannungskondensatoren bzw. Hochspannungska-
beln eingesetzt (Abb. 9.19). Nachdem die Brücke mit Hochspannung gespeist
wird, ist Vorsicht in der Hinsicht geboten, dass die Brückendiagonalspannung
nicht zu groß wird. Es werden dementsprechend folgende Größenverhältnisse
gewählt: |Z X | R2 und |Z 4 | 1/ωC3 . Die Kapazität C3 muss also ein hoch-
spannungsfester und verlustarmer Kondensator sein. Die Abgleichelemente
9.5 Wechselstrom-Messbrücken 261

Abb. 9.19. Schering-Messbrücke zur Messung von Hochspannungskondensatoren

sollten jedoch vorsichtshalber mit Überspannungsableitern geschützt werden.


Für den Kapazitätswert CX folgt
R4
CX = C3 . (9.56)
R2 [1 + (ωR4 C4 )2 ]

Der im Allgemeinen interessierende Verlustfaktor tan δX ergibt sich mit Glei-


chung (9.48) zu
1
tan δX = tan(90◦ − δ4 ) = = ωC4 R4 . (9.57)
tan δ4

Wien-Robinson-Brücke

Brücken mit frequenzabhängigem Abgleich, wie die Wien-Robinson-Brücke


(Abb. 9.20), können als einfache Frequenzmessgeräte genutzt werden. Die Ab-
gleichbedingungen der Wien-Robinson-Brücke lauten
C4 R1 R3
= − (9.58)
C3 R2 R4
1
C3 C4 = . (9.59)
ω 2 R3 R4
Häufig wählt man R2 = R3 = R4 = R, R1 = 2R und C3 = C4 = C. Damit ist
Gl. (9.58) automatisch erfüllt, während Gl. (9.59) eine neue Abgleichbedin-
gung ergibt, aus der die Frequenz ω der Brückeneingangsspannung ermittelt
werden kann
1
ω= . (9.60)
RC
262 9 Messung von elektrischen Impedanzen

Abb. 9.20. Wien-Robinson-Brücke

Maxwell-Wien-Brücke

Die Maxwell-Wien-Brücke (Abb. 9.21) wird zur Messung verlustbehafteter In-


duktivitäten eingesetzt. Aus den Abgleichbedingungen dieser Brücke können
unmittelbar die Elemente LX und RX des Reihenersatzschaltbildes für ver-
lustbehaftete Spulen abgeleitet werden

LX = C4 R2 R3 (9.61)
R3
RX = R2 . (9.62)
R4

Abb. 9.21. Maxwell-Wien-Brücke

9.5.2 Einflüsse von Erd- und Streukapazitäten

Die Einflüsse von Erd- und Streukapazitäten kommen beim technischen Auf-
bau einer Wechselstrom-Messbrücke schnell zum Tragen. Abbildung 9.22 zeigt
sämtliche Erd- und Streukapazitäten, welche beim Aufbau einer Messbrücke
auftreten können. Durch die Einführung definierter Erdungs- und Schirm-
verhältnisse gilt es, die Einflüsse der parasitären Kapazitäten zu eliminieren
oder diese zumindest vernachlässigbar klein zu machen.
9.5 Wechselstrom-Messbrücken 263

Wagnerscher Hilfszweig

CAE CAC CAD


Z1 Z3 Z5

F
C D
CAB CCD

CCE CDE
E
Z2 Z4 Z6
CBE CBC CBD

B
Abb. 9.22. Potentielle parasitäre Erd- und Streukapazitäten bei Wechselstrom-
brücken

Möglichkeiten, dies praktisch zu realisieren, sind die einseitige Erdung der


Speisespannungsquelle oder die einseitige Erdung der Nullanzeigeeinrichtung.
Eine weitere Möglichkeit zur Beseitigung der Erdkapazitäten stellt die Ver-
wendung des Wagnerschen Hilfszweigs dar. Hierbei wird ein Hilfszweig
analog zu Z 3 und Z 4 eingeführt (siehe Abb. 9.22), welcher zwischen den ein-
geführten Hilfszweig-Impedanzen Z 5 und Z 6 auf Erdpotential liegt. Dieser
Punkt soll mit F bezeichnet werden. Nun wird abwechselnd der Zweig Z 3 ,Z 4
bzw. der Zweig Z 5 ,Z 6 hinzugeschaltet und beispielsweise anhand der Impe-
danzen Z 3 und Z 5 der jeweilige Zweig abgeglichen. Zeigt in beiden Fällen das
Anzeigeinstrument Null an, so liegen Punkt C und D ebenfalls auf Erdpoten-
tial und die hier angreifenden Erdkapazitäten werden wirkungslos [21]. Es sei
angemerkt, dass der Abgleich einer Messbrücke mit Wagnerschem Hilfszweig
aufwendig werden kann.

9.5.3 Halbautomatischer Brückenabgleich

Abgleich von Wechselstrom-Messbrücken

Da gemäß den Gln. (9.47) und (9.48) bzw. den Gln. (9.50) und (9.51) bei
Wechselstrom-Messbrücken stets zwei Abgleichbedingungen gleichzeitig zu
erfüllen sind, müssen in der Brücke mindestens zwei voneinander unabhängig
264 9 Messung von elektrischen Impedanzen

verstimmbare Bauelemente enthalten sein, welche den Betrags- und den Pha-
senabgleich (bzw. den Real- und den Imaginärteilabgleich) ermöglichen. Da
sich diese beiden Abgleichvorgänge in der Regel gegenseitig beeinflussen, ist
ein stetiger Wechsel zwischen den beiden erforderlich. Dies bedeutet konkret,
dass man zunächst mit Hilfe eines Abgleichelementes die Diagonalspannung
in ein lokales Minimum bringt. Dann setzt man den Abgleich mit dem zweiten
Abgleichelement fort, bis wiederum ein neues lokales Minimum erreicht wird.
Dieses schrittweise und wechselseitige Abgleichen wird solange fortgesetzt, bis
die Diagonalspannung ein globales Minimum bzw. im Idealfall den Wert Null
erreicht hat. Die Geschwindigkeit, mit der dieses globale Minimum eingestellt
werden kann, also die Schnelligkeit des Abgleichvorganges, ist ein wesentliches
Gütekriterium einer Wechselstrom-Messbrücke. Die dabei erzielbare Konver-
genz hängt von der Brückenstruktur, der Wahl der Abgleichelemente und der
Empfindlichkeit des Nullindikators ab. Es sei abschließend darauf hingewiesen,
dass auch bei prinzipiell abgleichbaren Brücken die Konvergenz des Abgleich-
vorganges nicht allgemein sichergestellt ist und von Fall zu Fall überprüft
werden muss. Dazu bedient man sich meist graphischer Methoden, bei denen
die Diagonalspannung U D in Form von Ortskurven in der komplexen Ebene
aufgetragen wird [73]. Eine solche Ortskurve beschreibt den Real- und Ima-
ginärteil von U D in Form einer graphischen Kurve, wobei das Abgleichelement,
z. B. ein einstellbarer Widerstand, innerhalb eines bestimmten Wertebereiches
variiert wird. Jedem Punkt dieser Ortskurve kann dann ein bestimmter Wert
des Abgleichelements zugeordnet werden.

Phasenempfindlicher Gleichrichter
Da beim halb- und vollautomatischen Abgleich von Wechselstrom-Messbrücken
sehr oft phasenempfindliche Gleichrichter (Synchrongleichrichter) benötigt
werden, soll deren Funktionsweise zunächst erläutert werden. Bei einem pha-
senempfindlichen Gleichrichter wird die Gleichrichterwirkung nicht, wie beim
normalen Gleichrichter üblich, von der Polarität der Eingangsspannung uE
gesteuert, sondern von der Phasenlage bzw. Polarität einer separaten Steuer-
spannung bestimmt (Abb. 9.23). Die Ausgangsspannung ūA ergibt sich auf-
grund der Tiefpassfilterung als zeitlicher Mittelwert des Produktes aus uE (t)
und einem Schaltersignal s(t)
ūA = uE (t)s(t) , (9.63)
wobei das Schaltersignal s(t) von der Polarität der Steuerspannung bestimmt
wird, d. h. ⎧
⎨ +1 f ür ust > 0
s(t) = sign(ust ) = . (9.64)

−1 f ür ust < 0
Für den Fall, dass die Steuerspannung einen sinusförmigen Zeitverlauf mit
derselben Frequenz wie die Eingangsspannung uE aufweist, jedoch zu dieser
phasenverschoben ist, ergibt sich
9.5 Wechselstrom-Messbrücken 265

Abb. 9.23. Phasenempfindlicher Gleichrichter: a) Prinzipschaltung bestehend


aus Schmitt-Trigger, Multiplizierer und RC-Tiefpass, b) Spannungsverläufe für si-
nusförmige Eingangs- und Steuerspannung, c) Schaltsymbol

uA (t) = ÛE sin(ωt) sign(Ûst sin(ωt − ϕ)) (9.65)

bzw.
uA (t) = ÛE sin(ωt + ϕ) sign(Ûst sin ωt) . (9.66)
Daraus kann der zeitliche Mittelwert ūA durch Integration über die Perioden-
dauer errechnet werden

1 T
ūA = ÛE sin(ωt + ϕ) sign(Ûst sin ωt) dt . (9.67)
T 0

Die Signum-Funktion kann ausgewertet werden, indem man das Integral in


zwei Teile aufspaltet
" T  T #
ÛE 2
ūA = sin(ωt + ϕ) dt − sin(ωt + ϕ) dt . (9.68)
T 0 T
2

Die Auswertung der beiden Teilintegrale liefert schließlich das Ergebnis, dass
die Ausgangsspannung ūA dem Gleichrichtwert der Eingangsspannung, die
mit dem Cosinus der Phasenwinkeldifferenz ϕ zwischen der Eingangs- und
Steuerspannung multipliziert wurde, entspricht

ÛE 4 ÛE 4T 2ÛE


ūA = cos ϕ = cos ϕ = cos ϕ . (9.69)
T ω T 2π π
Sollten in der Steuerspannung ust (t) Spektralanteile enthalten sein, die nicht
mit der Frequenz der Eingangsspannung uE identisch sind, liefern diese infol-
ge der zeitlichen Mittelwertbildung keinen Beitrag zur Ausgangsspannung ūA .
266 9 Messung von elektrischen Impedanzen

Unter Verwendung von zwei phasenempfindlichen Gleichrichtern, die aufgrund


ihrer Steuerspannungen um 90◦ gegeneinander phasenverschoben arbeiten,
lässt sich eine Wechselspannung, die an beiden Eingangstoren als Eingangs-
spannung anliegt, in ihren Real- und Imaginärteil zerlegen. Wenn man in die-
sem Fall die beiden Ausgangsspannungen quadratisch addiert, erhält man das
Quadrat des (mit dem Faktor 2/π multiplizierten) Betrages des komplexen
Zeigers der Eingangsspannung.

Halbautomatisch abgleichbare Wien-Brücke

Um den iterativen und wechselseitigen Abgleich von Wechselspannungs-Mess-


brücken nach Betrag und Phase zu umgehen, setzt man sog. halbautomati-
sche Messbrücken ein, die nur noch einen einfachen manuellen Abgleich erfor-
dern. Der zweite Abgleich erfolgt dabei automatisch im Gerät. Abbildung 9.24
zeigt das Prinzipschaltbild einer halbautomatisch abgleichbaren Wien-Brücke.
Wenn U R2 und U R4 die Spannungen an den Widerständen R2 bzw. R4 be-
zeichnen, ergibt sich die Brückendiagonalspannung U D wie folgt

U D = U R4 − U R2 = U R4 − Re(U R2 ) − jIm(U R2 ) . (9.70)

Da U R4 rein reell ist (U R4 = UR4 ), kann die Aufspaltung von Gl. (9.70) in
Real- und Imaginärteil in einfacher Weise erfolgen

Re(U D ) = UR4 − Re(U R2 ) (9.71)


Im(U D ) = −Im(U R2 ) = f (R3 , R4 ) . (9.72)

Phaseninformation

Nullabgleich 90° -
durch R 4 Phasen-
schieber
CX RX R3
U st
Verstärker
U E0 UD
UD V U DV
ϕ

C2 R 2 U R2 R 4 U R4

Regler Im ( U D )
R 2 : spannungssteuerbarer
Widerstand
Abb. 9.24. Halbautomatisch abgleichbare Wien-Brücke
9.5 Wechselstrom-Messbrücken 267

Der in der Schaltung nach Abb. 9.24 enthaltene phasenempfindliche Gleich-


richter filtert den Imaginärteil der Diagonalspannung U D heraus und gibt die-
se auf einen Regler, der den spannungssteuerbaren Widerstand R2 ansteuert.
Der Realteilabgleich wird per Hand an R4 vorgenommen, während der Ima-
ginärteilabgleich automatisch durch den spannungssteuerbaren Widerstand
R2 erfolgt. Der Realteilabgleich kann anhand des Betrages der Diagonalspan-
nung U D durchgeführt werden, da mit Hilfe der eben beschriebenen Regel-
schleife der Imaginärteilabgleich ständig nachgeführt wird. Aus den Abgleich-
bedingungen ergeben sich schließlich die zu ermittelnden Bauelementgrößen
der verlustbehafteten Kapazität
R4
CX = C2 (9.73)
R3
R3
RX = R2 . (9.74)
R4

9.5.4 Wechselstrom-Ausschlagbrücken

Mit Hilfe von Wechselstrom-Ausschlagbrücken werden oft die Impedanzände-


rungen von kapazitiven bzw. induktiven Sensoren gemessen. Dabei geht man
i. Allg. davon aus, dass die Kapazitäten bzw. Induktivitäten der Aufnehmer
verlustlos sind und verwendet die Schaltung nach Abb. 9.25. Bei einer solchen
Messbrücke stellt zumindest eine der Reaktanzen X1 oder X2 den Aufnehmer
dar, es können jedoch auch sowohl X1 als auch X2 dem Aufnehmer zugeordnet
sein. Die Diagonalspannung U D dieser Brücke ergibt sich analog zu Gl. (9.21)

j(X2 − X1 ) R0 U (X2 − X1 )
UD = UE = E . (9.75)
j(X2 + X1 ) 2R0 2 (X2 + X1 )

Im Weiteren unterscheidet man zwischen Viertel-, Halb- und Vollbrücken.

Abb. 9.25. Wechselstrom-Ausschlag-Messbrücke


268 9 Messung von elektrischen Impedanzen

Viertelbrücke

Man spricht von einer Viertelbrücke, wenn X1 = X0 und X2 = X0 + ΔX. Die


Diagonalspannung U D ist dann annähernd proportional zu ΔX
UE ΔX U
UD = ≈ E ΔX . (9.76)
2 2X0 + ΔX 4X0
Der Reaktanzanteil ΔX stellt dabei ein Maß für die aktuelle Messgröße des
Aufnehmers dar.

Halbbrücke

Bei der Halbbrücke wählt man

X1 = X0 − ΔX (9.77)

und
X2 = X0 + ΔX . (9.78)
Die Diagonalspannung U D ist damit exakt proportional zu ΔX

U E ΔX
UD = . (9.79)
2 X0
Auch hier ist ΔX ein Maß für die Messgröße; nach Möglichkeit sollte ΔX pro-
portional der vom Sensor zu detektierenden Messgröße sein. Die in Gln. (9.77)
und (9.78) vorkommenden entgegengesetzten Änderungen ±ΔX der Sensor-
reaktanz ergeben sich bei sog. Differentialsensoren [184].

Anwendungsbeispiel für eine Halbbrücke:


Tauchankersystem als Wegaufnehmer

Eine Spule mit verschiebbarem ferromagnetischem Kern (Abb. 9.26) kann als
einfacher Wegaufnehmer verwendet werden, da die Induktivität in eindeutiger
Weise von der Position des Kerns abhängt. Nachteilig an diesem als Tauchan-
kersystem bezeichneten Wegsensor ist allerdings die nichtlineare Abhängigkeit
von (Verschiebungs-)Weg und Induktivität.
Die Anwendung des Differenzprinzips führt in Erweiterung zu einem
Doppelspulen-Tauchankersystem nach Abb. 9.27. Dieser Differentialsensor
weist eine wesentlich bessere Kennlinien-Linearität als das einfache Tauch-
ankersystem auf. Außerdem lässt sich das Differenzprinzip zur Temperatur-
kompensation nutzen, wenn der Differential-Tauchankergeber, wie in Abb.
9.27 dargestellt, in Halbbrücken-Schaltung verwendet wird. Bei der Halb-
brücke werden nämlich gleichsinnige Änderungen bezüglich der Induktivität
der beiden Sensorspulen (Gleichtaktstörungen, wie Temperatureinfluss, etc.)
eliminiert und gegensinnige Änderungen (der eigentliche Messeffekt) addiert.
9.5 Wechselstrom-Messbrücken 269

verschiebbarer
Kern

a)
x0 Δx
Spule
L, L d

Ld
L0

-3 -2 -1 0 1 2 3 Δx
b) 0 1 2 3 4 x0 6 7 8 x

Abb. 9.26. Tauchanker-System als Wegsensor. a) Aufbau; b) Induktivität L der


Tauchankerspule als Funktion der Kernposition x. Ld bezeichnet die im Arbeits-
punkt x0 in Näherung linearsierte Induktivität.

Der Messeffekt führt zu gegensinnigen Änderungen in den Induktivitäten der


Teilspulen, da sich der Kern aus der einen heraus und in die andere hinein
bewegt. Dies führt zum gewünschten Ergebnis, dass die Brückendiagonalspan-

-x x=0 +x

verschiebbarer
Kern
Spule 2 Spule 1

UD
R0 R0

UE

Abb. 9.27. Doppelspulen-Tauchankersystem in Halbbrücken-Schaltung


270 9 Messung von elektrischen Impedanzen

nung UD über eine weite Wegstrecke linear von der Wegverschiebung (des
Kerns) abhängt.

Vollbrücke

Bei den Vollbrücken (Abb. 9.28) ändern sich alle vier Brückenreaktanzen um
den Betrag ΔX. Die Änderungen erfolgen in den Brückenzweigen 1 und 4
sowie den Brückenzweigen 2 und 3 jeweils gleichsinnig gemäß

X1 = X4 = X0 − ΔX (9.80)

und
X2 = X3 = X0 + ΔX . (9.81)
Analog zu Gl. (9.21) kann die Diagonalspannung U D abgeleitet werden

X2 X3 − X1 X4
UD = UE . (9.82)
(X1 + X2 )(X3 + X4 )

Die Auswertung von Gl. (9.82) ergibt, dass die Diagonalspannung U D der
doppelten der Halbbrücke entspricht
ΔX
U D = UE . (9.83)
X0

Abb. 9.28. Wechselstrom-Vollbrücke

Anwendungsbeispiel für eine Vollbrücke:


Druckmessung mit Halbleiter-DMS

Zur Messung von mechanischen Kräften oder auch Drücken werden des öfteren
Dehnungsmessstreifen in Verbindung mit Federkörpern eingesetzt. Sie wan-
deln die kraft- bzw. druck-proportionale Längendehnung des Federkörpers in
9.5 Wechselstrom-Messbrücken 271

ein entsprechendes elektrisches Signal um, wenn sie mit einer Hilfsquelle ge-
speist werden. Dehnungsmessstreifen (DMS) ändern ihren relativen ohmschen
Widerstand in Abhängigkeit einer mechanischen Längendehnung in linearer
Weise
ΔR Δl
=k . (9.84)
R l
Standardmäßig werden trotz ihres geringen k-Faktors (k ≈ 2) metallische
DMS eingesetzt. Dehnungsmessstreifen aus monokristallinem Silizium hinge-
gen zeigen sehr große k-Faktoren (typische k-Faktoren im Bereich k = 100),
so dass gegenüber den Metall-DMS eine wesentliche Erhöhung der Empfind-
lichkeit erreicht werden kann. Auf diesem Sachverhalt basiert die Technologie
der Silizium-Drucksensoren. Die Fertigung der Federkörper erfolgt in Form
dünner Kreis- oder Rechteckmembranen. Da die Herstellung monokristalli-
ner Dünnfilme technologisch nur mit hohem Aufwand zu realisieren ist, wird
die gesamte Druckmembran aus monokristallinem Silizium hergestellt und die
Dehnungsmessstreifen in Form piezoresistiver Zonen (Widerstände) in diese
hineindiffundiert (Abb. 9.29). Die Diffusion erfolgt mit typischen Fremdato-
men, wie etwa Bor. Die mechanische Bearbeitung des Siliziums geschieht mit
Methoden der sog. Silizium-Mikromechanik [80]. Dabei werden kleinste me-
chanische Strukturen aus Silizumwafern mit Hilfe von Fotolithographie und
anisotropen Ätzverfahren gefertigt. Dazu kommen noch Dünnschichtprozesse,

Kontaktierung
(Leiterbahn)
Membranzone
Druck p
DMS Kontaktierung
1 2 (piezoresistive (Leiterbahn)
Widerstände)
R1 Si 3N 4 SiO 2
R2 R3
R4

2' 1'
DMS
(piezoresistive Silizium- Glasträger Silizium-
Widerstände R 1 Substrat Epitaxie-
bis R 4 ) schicht
a) b)

Abb. 9.29. a) Anordnung (Aufsicht) der piezoresistiven Widerstände


(R1 , R2 , R3 , R4 ) in der Siliziummembran eines Drucksensors. Die Widerstände
sind zu einer Vollbrückenschaltung verschaltet. An den Kontakten 1 und 1’ kann die
Diagonalspannung abgegriffen werden. An den Kontakten 2 und 2’ wird die Spei-
sespannung der Brücke zugeführt; b) Aufbau des mikromechanisch hergestellten
Drucksensors im Querschnitt.
272 9 Messung von elektrischen Impedanzen

mit denen dünne Schichten aus Siliziumoxid (SiO2 ) und Siliziumnitrid (Si3 N4 )
auf dem Siliziummaterial aufgebracht werden.
Silizium zeigt ausgezeichnete elastische Eigenschaften: Es ist mit konstan-
tem Elastizitätsmodul dehnbar bis zu einer Bruchdehnung von ca. 0,5 %, wobei
die Reproduzierbarkeit der Dehnung und die Hysterese nicht schlechter sind
als bei anderen guten Federwerkstoffen.
Die Verschaltung der 4 DMS (piezoresistive Widerstände) erfolgt vorteil-
hafterweise in Voll-Brückenschaltung. Dies ist möglich, da die Widerstande R1
und R4 , die nahe dem Zentrum der Membran angeordnet sind, eine im Ver-
gleich zu den im Außenbereich der Membran angeordeneten Widerständen R2
und R3 entgegengesetzte Dehnung erfahren. Dies liegt daran, dass in der Zone
zwischen diesen beiden Widerstandspaaren, also bei einem mittleren Radius,
die spannungsneutrale Faser liegt. In Zonen mit größeren (von der neutra-
len Faser aus gesehen) Radien wird die Membran gedehnt, während sie bei
kleineren Radien gestaucht wird. Dies führt zu einer Vergrößerung der Wi-
derstandswerte bei R2 und R3 und zu einer Verringerung bei R1 und R4 .
Bei Umkehr des Druckes (Überdruck → Unterdruck) kehren sich auch bei
den Widerstandswerten die Verhältnisse um. Somit können die Widerstände
idealerweise zu einer Vollbrücke verschaltet werden. Dies führt, wie schon bei
dem Anwendungsbeispiel zur Halbbrückenschaltung, einerseits zu einer Linea-
risierung sowie andererseits zu einer Erhöhung der Empfindlichkeit gegenüber
Viertel- bzw. Halbbrückenschaltungen. Man erreicht dadurch schließlich über
weite Druckbereiche eine lineare Abhängigkeit der Brückendiagonalspannung
vom angelegten mechanischen Druck.
Bei Absolutdrucksensoren ist die untere Seite des Sensors gasdicht ge-
schlossen, so dass im Sensor ein vorgegebener permanenter Druck eingestellt
werden kann. Bei Differenzdrucksensoren hingegen ist die untere Seite
durchbohrt, so dass von unten ein Referenzdruck wirkt. Die Abb. 9.29b zeigt
den Aufbau eines monokristallinen (monolithischen) Silizium-Drucksensors.
Die Herstellung von Silizium-Drucksensoren mit niedrigen Temperaturkoeffizi-
enten erfordert einigen Aufwand, insbesondere wegen der vergleichsweise star-
ken Temperaturabhängigkeit des spezifischen Widerstands und des k-Faktors
von Silizium. Eine Reduktion der Temperaturabhängigkeit kann u. a. durch
eine Konstantstromspeisung der Brücke erreicht werden, da der Widerstand
des Siliziums mit der Temperatur ansteigt, während der k-Faktor hingegen
mit der Temperatur abnimmt.
10
Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer
Signale (Oszilloskope)

Es zählt zu den Standardaufgaben der elektrischen Messtechnik, den Zeit-


verlauf von elektrischen Signalen unter Angabe von Zeit- und Amplituden-
werten darzustellen bzw. zu registrieren. Sehr häufig wird dabei auf eine
Realzeitdarstellung Wert gelegt, bei der das Signal zeitgleich mit seinem
Auftreten bildlich dargestellt wird. In der Elektrischen Messtechnik setzt
man zu diesem Zweck Elektronenstrahl-Oszilloskope ein, welche der Visua-
lisierung des Zeitverlaufes einer elektrischen Spannung u(t) dienen. Die im
Folgenden beschriebenen Oszilloskope sind Geräte, die eine solche bildliche
Darstellung des Signals entweder in Realzeit oder in Äquivalenzzeit (zeitlich
gestaffelte Abtastung periodischer Signale) erlauben. Die Geräte können da-
bei auf analoger oder digitaler Basis arbeiten. Sie werden dementsprechend
als Analog-Oszilloskope (analoge Elektronenstrahl-Oszilloskope) (Kap. 10.1)
bzw. als Digital-Oszilloskope (Digital-Speicheroszilloskope, Digital Sampling
Oscilloscope (DSO)) (Kap. 10.4) bezeichnet. Im Gegensatz zu den früher ver-
wendeten Oszillographen, welche die Registrierung von elektrischen Signalen
auf fotografischem Papier ermöglichten, handelt es sich bei den heute ein-
gesetzten Oszilloskopen um Sichtgeräte, bei denen ein Elektronenstrahl mit
konstanter Geschwindigkeit in horizontaler Richtung über eine phosphoreszie-
rende Schicht geführt wird und beim Auftreffen auf diese Leuchtschicht für
eine kurze Zeitdauer einen sichtbaren Punkt erzeugt. Die vertikale Strahlab-
lenkung ist proportional der dargestellten Spannung, so dass bei entsprechend
schneller und permanenter Wiederholung des Schreibvorganges ein dauernd
sichtbares Leuchtbild der darzustellenden Signalspannung entsteht.

10.1 Analoges Elektronenstrahl-Oszilloskop


10.1.1 Aufbau und Funktion der Elektronenstrahl-Röhre

Das analoge Elektronenstrahl-Oszilloskop besitzt als Herzstück eine Braun-


sche Röhre, in der ein Elektronenstrahl den Zeitverlauf des angelegten elek-

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_10
274 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Abb. 10.1. Elektronenstrahl-Röhre (Braunsche Röhre) mit elektrostatischer Strahl-


fokussierung und elektrostatischer Strahlablenkung

trischen Signals auf eine Leuchtschicht schreibt. Abbildung 10.1 zeigt den Auf-
bau einer solchen Elektronenstrahl-Röhre. Die Röhre besteht aus einem eva-
kuierten Glaskolben, der die zur Erzeugung, Fokussierung und Ablenkung des
Elektronenstrahls erforderlichen Einheiten enthält. Dabei werden die von einer
Glüh-Kathode emittierten Elektronen infolge der zwischen Kathode und An-
ode anliegenden elektrischen Spannung zunächst in Richtung des Leuchtschir-
mes beschleunigt. Auf diesem Wege wird der Elektronenstrahl durch weitere
elektrische Felder fokussiert, welche durch Anlegen von geeigneten elektrischen
Spannungen an den Wehnelt-Zylinder, die Anoden 1 und 2 sowie die beiden
Hilfsgitter erzeugt werden. Danach durchlaufen die Elektronen das Vertikal-
(y-Platten) sowie das Horizontal-Ablenksystem (x-Platten) und treffen schließ-
lich auf der Leuchtschicht der Röhrenvorderseite auf. Abbildung 10.2 ver-
deutlicht die Geometrie der vertikalen Strahlablenkung, die im Folgenden in
Abhängigkeit der Ablenkspannung sowie der Geometrie des Ablenksystems
berechnet wird. Durch das Anlegen einer Spannung uz zwischen Kathode

Abb. 10.2. Geometrie der Strahlablenkung in einer Oszilloskop-Röhre


10.1 Analoges Elektronenstrahl-Oszilloskop 275

und Anode entsteht ein elektrisches Feld Ez , welches die emittierten Elek-
tronen (Masse m0 = 9, 1 · 10−31 kg; Ladung e0 = 1, 6 · 10−19 As) auf eine
Horizontalgeschwindigkeit vz beschleunigt. Aus Energieerhaltungsgründen ist
die kinetische Energie Wkin des Elektrons gleich der beim Durchlaufen des
elektrostatischen Feldes aufgenommenen elektrischen Energie Wel , sodass die
Horizontalgeschwindigkeit vz des Elektrons aus der Anodenspannung uz wie
folgt ermittelt werden kann

Wkin = Wel (10.1)


1
m0 vz2 = e0 uz (10.2)
2 
e0
vz = 2 uz (10.3)
m0

vz (kms−1 ) = 1, 88 · 104 uz (kV) . (10.4)

Die mechanische Kraft Fy , die das Elektron in vertikaler Richtung ablenkt,


ergibt sich aus dem Produkt von Elektronenladung und der Feldstärke Ey ,
die zwischen den Vertikalablenkplatten herrscht

Fy = m0 ay = e0 Ey . (10.5)

Nach Durchlaufen der y-Plattenstrecke sz (Abb. 10.2) erreicht das Elektron


seine vorerst maximale y-Geschwindigkeit vymax , die sich aus dem Produkt von
y-Beschleunigung ay und der Verweilzeit Tz des Elektrons im y-Plattenpaar
errechnet
sz
vymax = ay Tz = ay . (10.6)
vz
Dabei wurde die Ablenkspannung uy und damit die Vertikalbeschleunigung
ay für die Verweildauer Tz des Elektrons im Vertikalablenksystem als konstant
angenommen. Die Ablenkung yL des Elektrons auf dem Schirm und damit die
Vertikalposition des Leuchtflecks ergibt sich mit den in Abb. 10.2 bezeichneten
Größen und unter Zuhilfenahme von Gln. (10.5) und (10.6)
lz sz l z e0 sz l z
yL = yp + vymax = y p + ay = yp + Ey 2 . (10.7)
vz vz vz m0 vz
Mit der Vertikalkomponente Ey der elektrischen Feldstärke zwischen den pa-
rallelen y-Ablenkplatten
uy
Ey = (10.8)
dy
und Gl. (10.3) erhält man schließlich den gesuchten Zusammenhang zwischen
der vertikalen Strahlablenkung yL , der Ablenkspannung uy , der Anodenspan-
nung uz und den geometrischen Abmessungen des Vertikalablenksystems so-
wie dessen Distanz lz zur Leuchtschicht
u y sz l z
yL = yp + . (10.9)
uz 2dy
276 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Die absolute Auslenkung yL auf dem Leuchtschirm ist exakt proportional


der Ablenkspannung uy , wenn der Beitrag von yp (Abb. 10.2) vernachlässigt
werden darf (yp yL ), was in praktischen Fällen in der Regel erlaubt ist
u y sz l z
yL ≈ (10.10)
uz 2dy
bzw.
e 0 u y sz l z
yL ≈ . (10.11)
m0 dy vz2
Die Proportionalitätskonstante zwischen uy und yL wird als Ablenkkoeffizient
Ky bezeichnet
uy 2dy
Ky = = uz . (10.12)
yL sz l z
Der Ablenkkoeffizient wird i. Allg. in (V/cm) angegeben. Der Kehrwert
des Ablenkkoeffizienten Ky wird Ablenkempfindlichkeit genannt. Ein klei-
ner Vertikal-Ablenkkoeffizient Ky und damit eine hohe Ablenkempfindlichkeit
lässt sich durch folgende Maßnahmen erreichen:
- große Plattenlänge sz :
Wenn die Länge sz der y-Ablenkplatten groß ist, sind die Elektronen der
Beschleunigungskraft Fy länger ausgesetzt und infolgedessen nimmt die
Geschwindigkeitskomponente vymax zu, was wiederum zu höheren Auslen-
kungen auf dem Schirm führt (Gln. (10.7 - 10.12)). Lange Platten führen
allerdings zu Laufzeitfehlern, da sich während der Verweilzeit der Elektro-
nen zwischen den Platten die Ablenkspannung uy bereits zeitlich ändern
kann (Kap. 10.3). So ist es zum Erreichen einer hohen Grenzfrequenz des
Ablenksystems gerade notwendig, auf eine kurze Einwirkdauer der Cou-
lombschen Anziehungskraft Wert zu legen, d. h. man fordert dementspre-
chend eine hohe Elektronengeschwindigkeit im Ablenksystem und kurze
Ablenkplatten.
- großer Abstand lz Ablenkplatten - Leuchtschirm“:

Die Schirmauslenkung yL ist dem Abstand lz zwischen Ablenkplatten und
Schirm direkt proportional. Der Verlängerung dieses Abstandes steht al-
lerdings der Wunsch nach kompakten Röhren mit kurzen Baulängen ent-
gegen.
- geringer Plattenabstand dy :
Je kleiner der Plattenabstand dy , desto höher wird die Feldstärke Ey
(Gl. (10.8)) und damit auch die beschleunigende Kraft Fy (Gl. (10.5)).
Allerdings steht diese Forderung indirekt dem Wunsch nach langen y-
Ablenkplatten entgegen. Denn bei langen Platten mit geringen Abständen
läuft man Gefahr, dass die Elektronen auf die Platten auftreffen.
- geringe Anodenspannung uz :

Da die Horizontalgeschwindigkeit vz proportional uz ist, sinkt mit der
Anodenspannung die Horizontalgeschwindigkeit und damit steigt die Ver-
weildauer der Elektronen zwischen den Ablenkplatten. In ihrer Wirkung
10.1 Analoges Elektronenstrahl-Oszilloskop 277

ist diese Maßnahme vergleichbar mit der Verlängerung der Platten. Da


eine niedrige Elektronengeschwindigkeit aber aufgrund der niedrigen kine-
tischen Energie der auftreffenden Elektronen auch zu einer Verringerung
der Strahlhelligkeit führt, verwendet man sog. Nachbeschleunigungselektro-
den (siehe Abb. 10.1). Diese auf hohem positivem Potential (10 bis 20 kV)
liegenden Elektroden haben die Aufgabe, die Elektronen zu beschleunigen,
nachdem sie das Ablenksystem bereits durchlaufen haben. Es wird damit
erreicht, dass einerseits die Elektronengeschwindigkeit im Ablenksystem
gering ist, während sie andererseits beim Auftreffen auf die Leuchtschicht
hoch ist. Es lassen sich also hohe Ablenkempfindlichkeiten bei gleichzei-
tig hoher Strahlhelligkeit verwirklichen. Die Nachbeschleunigungselektrode
ist i. Allg. in Form einer Graphitwendel ausgeführt, die so aufgebaut ist,
dass bei der Nachbeschleunigung eine möglichst geringe parasitäre Rich-
tungsbeeinflussung stattfindet. Aufgrund der Nachbeschleunigung kommt
es i. Allg. zu Linearitätsfehlern (Kap. 10.3.2), d. h. die Ablenkempfindlich-
keit am Rand ist nicht mehr mit der in der Bildmitte identisch.
Abschließend sei bemerkt, dass die oben abgeleiteten Beziehungen in ana-
loger Weise auch für das Horizontal-Ablenksystem gelten. Die Horizontala-
blenkplatten sind meistens nach dem Vertikal-Ablenksystem angeordnet, was
aufgrund der geringeren Entfernung lz zum Leuchtschirm zu einer kleineren
Ablenkempfindlichkeit führt (Gl. (10.12)).

10.1.2 Zeitablenkung und Triggerung

Üblicherweise werden Oszilloskope als Spannungs-Zeit-Schreiber (y-t-Schrei-


ber) genutzt. Dazu erzeugt der Horizontalverstärker (x-Verstärker) eine Span-
nung, die proportional zur Zeit ansteigt (Sägezahnspannung) (Abb. 10.3). Die
Anstiegszeit dieser Sägezahnspannung legt den Zeitmaßstab für die x-Achse
fest. Der Zeitablenk-Koeff izient dieser Sägezahnspannung Kx gibt somit je-
ne Zeit an, die der Strahl zum Durchlaufen einer Rastereinheit benötigt, z. B.
Kx = 100 μs/cm. Ein scheinbar stehendes Bild entsteht nur dann, wenn immer
wieder derselbe zeitliche Abschnitt eines Signals erfasst und dargestellt wird
(Abb. 10.5). Dafür sorgt die sog. Triggerschaltung, die erkennt, wann der ent-
sprechende Signalausschnitt beginnt. Nach Eintreten dieses Triggerereignisses
wird die horizontale Strahlablenkung gestartet, d. h. es wird die Sägezahn-
spannung an die x-Ablenkplatten gelegt.
Eine Triggereinrichtung (Abb. 10.4) gestattet zunächst die Erzeugung ei-
ner beliebigen Vergleichsspannung mit Hilfe des Level-Potentiometers. Ein
Komparator vergleicht schließlich den so gewählten Triggerpegel mit dem Ein-
gangssignal, und wenn die Eingangsspannung den voreingestellten Pegelwert
übersteigt, liefert der Komparator eine positive Taktflanke, die wiederum die
monostabile Kippstufe auslöst. Bei in  − -Stellung befindlichem Slope-Schalter
ist der Invertierer aktiv und das Monoflop wird bei Unterschreiten des vorein-
gestellten Pegels ausgelöst, d. h. es wird auf die abfallende Flanke (negative
278 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Abb. 10.3. Erzeugung eines Oszillogramms (Schirmbildes) mit Hilfe der Spannung
uy (t) und der Sägezahnspannung ux (t)

Triggerflanke (Abb. 10.5)) getriggert. Bei Anliegen eines periodischen Ein-


gangssignals (Triggersignal) wird am Komparatorausgang ein Rechtecksignal
erzeugt, dessen Frequenz der des Triggersignals entspricht. Die monostabi-
le Kippstufe erzeugt bei jeder positiven bzw. negativen Flanke des Recht-
ecksignals einen Impuls konstanter zeitlicher Länge, welcher wiederum den
Sägezahngenerator startet. Die Impulsdauer muss so kurz sein, dass auch bei
der höchsten Triggersignalfrequenz die entstehenden Triggerimpulse getrennt
werden können.

Abb. 10.4. Prinzipschaltbild einer Triggereinrichtung


10.1 Analoges Elektronenstrahl-Oszilloskop 279

Abb. 10.5. Prinzip der Triggerung: a) Generieren der Sägezahnspannung ux (t) bei
positiver und negativer Triggerflanke, b) Schirmbilder bei positiver und negativer
Triggerflanke

Mit Hilfe einer sog. verzögerten Zeitbasis gelingt es, einen beliebigen zeitli-
chen Ausschnitt eines dargestellten Oszilloskopbildes auf die gesamte Breite
des Schirmes zu expandieren. Diese Lupenwirkung lässt sich unter Verwen-
dung von zwei unabhängigen Zeitbasen, der sog. Hauptzeitbasis (Main Time
Base MTB) und der verzögerten Zeitbasis (Delayed Time Base DTB), errei-
chen. Abbildung 10.6 erläutert die prinzipielle Arbeitsweise einer verzögerten
Zeitbasis. Sie enthält am Eingang eine der Abb. 10.4 entsprechende Trigger-
einheit, welche die Hauptzeitbasis und damit die gewöhnliche Schirmbilddar-
stellung startet. Die dazu notwendige Sägezahnspannung der Hauptzeitbasis
wird gleichzeitig mit Hilfe des gezeigten Komparators mit einem voreinge-
stellten Spannungswert verglichen, der einem Wert tV auf der Zeitachse des
Schirmbildes entspricht. Bei Erreichen dieses Schwellwertes bzw. der Zeit-
marke tV wird die verzögerte Zeitbasis gestartet, deren Sägezahnanstiegsge-
schwindigkeit i. Allg. um ein Mehrfaches höher liegt als die der Hauptzeit-
basis. Wenn für das dargestellte Schirmbild die Sägezahnspannung uXV der
verzögerten Zeitbasis verwendet wird, erscheint auf dem Schirmbild der mit
tV bezeichnete Ausschnitt des ursprünglichen Bildes (Ablenkspannung uXH )
auf der ganzen Breite des Schirmes. Im ursprünglichen Schirmbild wird dieser
280 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Abb. 10.6. Prinzip einer verzögerten Zeitbasis: a) Prinzipschaltbild, b) Ablenkung


mit Hauptzeitbasis, c) Ablenkung mit verzögerter Zeitbasis

Ausschnitt zwecks Positionierung der Zeitmarke tV und Einstellen der Länge


tV des zu spreizenden Bildausschnittes aufgehellt dargestellt. Von dieser Art
der Darstellung wird man vor allem dann Gebrauch machen, wenn ein zeitlich
zu spreizendes Signaldetail erst lange Zeit nach einer möglichen Triggerstelle
im Signal folgt.

10.1.3 Funktionsgruppen eines Analog-Oszilloskops

Abbildung 10.7 zeigt das Blockschaltbild eines 2-Kanal-Oszilloskops mit Stan-


dardausstattung, allerdings ohne verzögerte Zeitbasis. Als Eingänge stehen
hier die beiden y-Eingänge y1 und y2 zur Messung zeitabhängiger Span-
nungen, der z-Eingang zur Helligkeitsmodulation des Elektronenstrahles, der
Triggereingang zum externen Start der Zeitbasis sowie ein x-Eingang zur
Einspeisung einer beliebigen Horizontal-Ablenkspannung zur Verfügung. So-
wohl der Eingang der Triggerschaltung als auch die Eingänge der y-Verstärker
sind mit einem Gleichspannungseingang (DC) und einem Wechselspannungs-
eingang (AC) versehen. Am Triggereingang ist ein Triggerfilter vorhanden,
welches das Ausblenden von hohen oder tiefen Spektralanteilen mit Hilfe ei-
nes RC-Tief- bzw. Hochpassfilters ermöglicht. Die Vertikalverstärker (Gleich-
und Wechselspannungsverstärker) sowie die Elektronenstrahl-Röhre samt ih-
rer Ablenksysteme bestimmen die obere Grenzfrequenz des Oszilloskops, wel-
che wiederum wesentlich den technischen Aufwand und damit die Herstel-
lungskosten beeinflusst. Zur unverfälschten Darstellung bzw. Aufzeichnung
eines Signals ist es generell notwendig, dass das Messsystem (Oszilloskop) ei-
10.1 Analoges Elektronenstrahl-Oszilloskop 281

Abb. 10.7. Blockschaltbild eines 2-Kanal-Oszilloskops


282 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

ne Grenzfrequenz fg−Messsystem aufweist, die mindestens so hoch liegt wie die


des zu messenden Signals

fg−Messsystem ≥ fg−Signal . (10.13)

Im Falle von Oszilloskopen wird vom Hersteller anstatt der oberen Grenzfre-
quenz oft die Anstiegszeit tr (Risetime) angegeben. Sie ist die Zeit, die der
Strahl bei einem Spannungssprung am Eingang zum Schreiben des zwischen
10 und 90 % des Endwertes liegenden Signalverlaufes benötigt (Abb. 10.8).

Abb. 10.8. Definition der Anstiegszeit (Risetime) tr

Die obere Grenzfrequenz fg lässt sich aus der Anstiegszeit tr anhand der
Näherungsformel
fg tr ≈ 0, 35 (10.14)
bestimmen, welche in Kap. 10.3.3 hergeleitet wird. Die Verzögerungsleitung
im y-Kanal hat die Aufgabe, die y-Spannung zeitlich verzögert auf die Ab-
lenkplatten zu geben. Damit wird sichergestellt, dass bei Sprungsignalen auch
die ansteigende bzw. abfallende Flanke noch deutlich auf dem Schirm sicht-
bar ist. Ohne eine solche Verzögerungsleitung bestünde bei sehr schnellen
Signalen die Gefahr, dass die Flanke schon anliegt, bevor die Zeitbasis die
Strahlablenkung starten konnte. Zur gleichzeitigen Darstellung mehrerer, im
Allgemeinen zweier, Signale verwendet man in der Regel ebenfalls einstrahli-
ge Elektronenstrahl-Röhren, deren Vertikalablenksystem im Wechsel von ver-
schiedenen y-Kanälen über einen elektronischen Umschalter angesteuert wer-
den. Dieser in Abb. 10.7 mit ALT/CHOP“ bezeichnete Schalter wird übli-

cherweise in Form eines schnellen Analog-Multiplexers [182] realisiert. Die
Ansteuerung der y-Platten geschieht dabei entweder im Alternierenden-Mode
oder im Chopper-Mode (Abb. 10.9):
• Alternierender-Mode
Während einer vollständigen x-Ablenkperiode wird immer nur das Signal
eines Kanals, z.B. das Signal y1 (t), an die y-Platten gelegt, während in der
darauffolgenden Periode der x-Ablenkung das Signal y2 (t) des 2. Kanals
geschrieben wird. Für Phasenvergleiche zwischen den Signalen y1 (t) und
10.1 Analoges Elektronenstrahl-Oszilloskop 283

Abb. 10.9. Funktionsprinzip des Chopperbetriebs: a) Zeitverläufe der Eingangssi-


gnale, b) Schirmbilddarstellung

y2 (t) ist darauf zu achten, dass die Triggerung immer vom selben Kanal,
entweder Kanal 1 oder Kanal 2, ausgelöst wird.
• Chopper-Mode
Im Gegensatz zum alternierenden Mode wird in dieser Betriebsart während
einer einzigen x-Ablenkperiode in zeitlich sehr kurzen Abständen zwi-
schen den Kanälen 1 und 2 umgeschaltet, so dass die Darstellung der
Signale y1 (t) und y2 (t) quasi zeitgleich, d. h. in einem, verglichen zur x-
Ablenkperiode und damit auch zum alternierenden Betrieb, kurzzeitigen
Wechsel erfolgt.

10.1.4 Sampling-Oszilloskop

Das Sampling-Oszilloskop ist eine Ausführungsform des Oszilloskops, das auf


die Darstellung periodisch wiederkehrender Signale mit sehr hohen Frequenz-
anteilen spezialisiert ist, wie z. B. die Visualisierung von in konstanten zeit-
lichen Abständen wiederkehrenden kurzen Pulsen. Dabei darf die Grenzfre-
quenz des (periodisch wiederkehrenden) Messsignals sogar weit über der obe-
ren Grenzfrequenz des Oszilloskops liegen. Die Funktionsweise des Sampling-
Oszilloskops beruht auf einer Signaldarstellung in Äquivalenzzeit, deren Prin-
zip anhand von Abb. 10.10 verdeutlicht werden soll. Das Messsignal wird von
einem Sampling-Oszilloskop stroboskopartig abgetastet, wobei die Abtastzeit-
punkte gegenüber einem zeitlich festen Bezugspunkt im Signalverlauf, z. B.
dem Triggerpunkt, um ein ganzzahliges Vielfaches von ΔT versetzt werden.
Dadurch gelingt die vollständige Abtastung des Signals mit einer Abtastfre-
quenz fa , die kleiner ist als der Kehrwert der Signalperiodendauer Ts
1
fa < . (10.15)
Ts
Die Dauer der Abtastperiode Ta beträgt im einfachen Fall (Abb. 10.10)

Ta = Ts + ΔT , (10.16)
284 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Abb. 10.10. Sequentielle Abtastung einer periodischen Signalfunktion in Äquiva-


lenzzeit: a) Darstellung im Realzeitmaßstab, b) Darstellung im Äquivalenzzeitmaß-
stab

und im allgemeinen Fall

Ta = kTs + ΔT k = 1, 2, 3, ... . (10.17)

Dadurch erreicht man pro Abtastperiode eine auf die Äquivalenzzeit, d. h. auf
den einmaligen Puls, bezogene zeitliche Verschiebung des aktuellen Abtast-
zeitpunktes gegenüber dem vorhergehenden um ΔT . Mit fa = 1/Ta , fs = 1/Ts
und für k = 1 lässt sich diese zeitliche Verschiebung ΔT der Abtastzeitpunkte
aus den Gln. (10.16) bzw. (10.17) wie folgt ableiten
1 1
ΔT = − . (10.18)
fa fs
Nach N Abtastungen ist eine Periode des Messsignals vollständig abgetastet
(Rundungsfehler außer acht gelassen)
Ts fa
N= = . (10.19)
ΔT fs − fa
Bei dieser Form der Signalerfassung muss der eigentliche Abtastvorgang der
einzelnen Signalwerte allerdings auch in Realzeit erfolgen, d. h. die Abtastung
muss so schnell erfolgen, dass das Signal während dieser Zeit als konstant
angesehen werden kann, wohingegen die restliche Verarbeitung des Abtast-
wertes in einem gegenüber der Realzeit gedehnten Maßstab erfolgen darf. Die
10.1 Analoges Elektronenstrahl-Oszilloskop 285

Grenzfrequenz des Oszilloskops wird damit letztlich von der Geschwindigkeit


bestimmt, mit der ein einzelner Wert erfasst (abgetastet) werden kann.
Das zeitliche Dehnungsverhältnis dvt , also das Verhältnis von Realzeit zu
Äquivalenzzeit (auf den abgetasteten Signalausschnitt bezogene Zeit) ergibt
sich zu (Abb. 10.10)
Tend N Ta Ta fs
dvt =  = = = . (10.20)
Tend N ΔT ΔT fs − fa
Wie die beim Sampling-Oszilloskop vorkommende Unterabtastung mit dem
Shannonschen Abtasttheorem (Kap. 11.6.1) vereinbar ist, soll anhand von
Abb. 10.10 und 10.11 demonstriert werden. Infolge der Abtastung entstehen
jeweils Duplikate des Spektrums des abgetasteten Signals bei den ganzzahligen
Vielfachen der Abtastfrequenz fa [135]. Die Abstände der Spektrallinien erge-
ben sich stets als Kehrwert der Zeit, bei der der gesamte Abtastvorgang been-
det wird. Im Falle der Abtastung nach Abb. 10.10a lassen sich zwei Endzeiten
definieren. Zum einen lässt sich die reale Endzeit Tend (Realzeit), nach der
die Abtastung aller N Signalperioden abgeschlossen ist (Abb. 10.10), gemäß
Gln. (10.16) und (10.19) wie folgt angeben

Tend = N Ta = N (Ts + ΔT ) . (10.21)

Damit ergibt sich der Spektrallinienabstand f0 für das abgetastete Spektrum
1 1 fs
f0 = = = . (10.22)
Tend N Ta dvt

Die zweite Endzeit Tend ist die, die auf den komprimierten Zeitmaßstab (Äqui-
valenzzeit) bezogen wird (Abb. 10.10b)

 Tend
Tend = = N ΔT = Ts . (10.23)
dvt

Diese Endzeit Tend ist hier vereinbarungsgemäß (Gl. (10.19)) mit der Peri-
odendauer Ts des Signals identisch. Der Frequenzabstand f0 zwischen den

Abb. 10.11. Spektrum (schematisiert) bei Abtastung in Äquivalenzzeit


286 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

einzelnen Linien im Spektrum des Originalsignals (in Abb. 10.11 mit Origi-

nalspektrum“ bezeichnet) entspricht damit der Wiederholfrequenz fs in der
Signalfunktion
1
f0 =  = f0 dvt = fs . (10.24)
Tend
Unter Berücksichtigung der oben abgeleiteten Zusammenhänge lässt sich das
Originalspektrum gemäß dem in Abb. 10.11 gezeigten Schema aus dem real
erhaltenen abgetasteten Spektrum rekonstruieren. Denn aus den Gln. (10.20),
(10.22) und (10.24) folgt die Beziehung

nf0 = nfa + nf0 n = 1, 2, . . . , N (10.25)

bzw.
fs
nfs = nfa + n n = 1, 2, . . . , N , (10.26)
dvt
welche besagt, dass die n-te Spektrallinie des Originalspektrums identisch ist
mit der n-ten Spektrallinie des abgetasteten Spektrums, das bei der n-fachen
Abtastfrequenz entsteht.

10.2 Spannungsteiler in Elektronenstrahl-Oszilloskopen


Spannungsteiler kommen in Elektronenstrahl-Oszilloskopen als Eingangstei-
ler oder als Tastkopf (s. auch Abb. 10.13) vor. Zur Erzielung eines guten
dynamischen Verhaltens ist es notwendig, diese Spannungsteiler frequenzkom-
pensiert auszuführen. Die daraus resultierende Schaltung besteht aus einem
Spannungsteiler, dessen Impedanzen jeweils aus einer Parallelschaltung eines
ohmschen Widerstandes und einer Kapazität bestehen (Abb. 10.12). Das Tei-
lerverhältnis V T , also das Verhältnis von Eingangs- zu Ausgangsspannung,
ergibt sich zu
U RT (1 + jωRE CE )
V T = E1 = 1 + . (10.27)
U E2 RE (1 + jωRT CT )
Wenn man die Zeitkonstanten τ1 und τ2 der beiden Impedanzen identisch
wählt

Abb. 10.12. Eingangsspannungsteiler eines Oszilloskops


10.2 Spannungsteiler in Elektronenstrahl-Oszilloskopen 287

τT = RT CT = RE CE = τE , (10.28)
ergibt sich das frequenzunabhängige Teilerverhältnis VTR

 RT
V T  = VTR = 1 + . (10.29)
τ1 =τ2 RE

Die Eingangsimpedanz Z Eges des Teilers ist aber auch in diesem Fall sehr wohl
frequenzabhängig. Sie beträgt bei Frequenzkompensation, d. h. für den Fall
τT = τE = τ ,
RT + RE RT + RE
Z Eges = = . (10.30)
1 + jωRE CE 1 + jωτ
Die entsprechende Eingangsadmittanz Y Eges ergibt sich dementsprechend zu

1
Y Eges = + jωCEges , (10.31)
REges

wobei sich REges und CEges mit dem reellen Teilerverhältnis VTR aus Gl. (10.29)
wie folgt berechnen

Abb. 10.13. Frequenzkompensation des Eingangsteilers: a) Ersatzschaltung eines


Tastteilers am Verstärkereingang, b) Unterkompensation (VTC > VTR ), Kompensa-
tion (VTC = VTR ) und Überkompensation (VTC < VTR )
288 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

REges = VTR RE (10.32)


CE
CEges = . (10.33)
VTR
Der Abgleich von CT kann gemäß Abb. 10.13 auf sehr einfache Weise durch
Anlegen einer Rechteckspannung überprüft bzw. eingestellt werden.

10.3 Fehler der analogen Elektronenstrahl-Oszilloskopie


10.3.1 Statische Fehler (Fehler der Ablenkkoeff izienten)

Die einzelnen in Serie geschalteten Messglieder des x- und des y-Kanals sind
mit Empfindlichkeitsfehlern behaftet, die sich infolge der Multiplikation der
Empfindlichkeiten der einzelnen Stufen im jeweiligen Kanal zum Gesamt-
empfindlichkeitsfehler summieren. Typische Werte der Fehlergrenzen von Ab-
lenkkoeffizienten liegen sowohl für die Vertikal- als auch für die Horizontal-
Ablenkung bei etwa 1 - 3 %. Die Fehlerangaben können mit der absoluten
Größe des Ablenkkoeffizienten variieren, wobei i. Allg. die kleineren Ablenk-
koeffizienten größere Fehler aufweisen. Bei diesen Fehlern handelt es sich vor-
wiegend um systematische Fehler, die über den gesamten Anzeigebereich kon-
stant bleiben. Sie lassen sich also quantitativ ermitteln und korrigieren.

Beispiel — Fehler bei der Anstiegszeit

Es sollen die maximalen Fehlergrenzen bei der Messung der Anstiegsgeschwin-


digkeit einer Rampenspannung ermittelt werden, wenn die relativen Fehler fy
und fx der Vertikal- bzw. der Horizontal-Ablenkeinheiten bekannt sind. Der
relative Gesamtfehler fan bei der Ermittlung der Anstiegsgeschwindigkeit er-
gibt sich zu
ΔUMess
− ΔUw
fan = ΔtMessΔUw Δtw , (10.34)
Δtw

wobei ΔUMess /ΔtMess die mit dem Oszilloskop gemessene und ΔUw /Δtw die
wahre Anstiegsgeschwindigkeit ist. Aus Gl. (10.34) folgt mit den Definitions-
gleichungen für die relativen Fehler fy und fx von Vertikal- und Horizontal-
Ablenkeinheit
ΔUMess
= 1 ± fy (10.35)
ΔUw
und
ΔtMess
= 1 ± fx (10.36)
Δtw
der relative Gesamtfehler fan
ΔUMess Δtw 1 ± fy
fan = −1= −1. (10.37)
ΔUw ΔtMess 1 ± fx
10.3 Fehler bei der analogen Elektronenstrahl-Oszilloskopie 289

Für kleine Fehler (|fy | 1) und (|fx | 1) gelten die Näherungen


1
≈ 1 ∓ fx (10.38)
1 ± fx
und
(1 ± fy )(1 ∓ fx ) ≈ 1 ± fy ∓ fx . (10.39)
Damit lassen sich die Fehlergrenzen bei der Messung der Anstiegszeit als Sum-
me der relativen (Einzel)-Fehler von Vertikal- und Horizontal-Ablenksystem
angeben
fan = ±(|fy | + |fx |) . (10.40)

10.3.2 Linearitätsfehler

Nichtlinearitäten im Horizontal- sowie dem Vertikal-Ablenksystem führen


zu Linearitätsfehlern, die sich darin äußern, dass die Ablenkkoeffizienten
Ky und Kx innerhalb des Schirmbildes nicht mehr konstant sind. Typi-
scherweise äußern sich Linearitätsfehler in den Randbereichen des Schirm-
bildes (Abb. 10.14). Zur Angabe des Linearitätsfehlers werden die Ablenk-
koeffizienten Ky und Kx jeweils im Bereich 1 des Schirmbildes (Abb. 10.14)
gemittelt (K x1 bzw. K y1 ) und als wahre Werte herangezogen. Als Istwerte
nimmt man jeweils die im Bereich 2 gemittelten Ablenkkoeffizienten (K x2
bzw. K y2 ), also die der Randbereiche. Damit ergibt sich der relative Linea-
ritätsfehler fNLy des Vertikalablenksystems zu

K y2 − K y1
fNLy = . (10.41)
K y1

Der entsprechende relative Linearitätsfehler fNLx des Horizontal-Ablenksys-


tems ergibt sich dementsprechend

Abb. 10.14. Beispiel eines Linearitätsfehlers bei der Vertikalablenkung. Die Soll-
Kennlinie ist eine Gerade.
290 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

K x2 − K x1
fNLx = . (10.42)
K x1
Typische Werte für die Linearitätsfehler liegen bei 2 - 5 %.

10.3.3 Dynamische Fehler des Oszilloskops

Da die Eingangsimpedanz eines Oszilloskops aus der Parallelschaltung eines


ohmschen Widerstandes und einer Kapazität besteht und damit frequenzab-
hängig ist, kann es bei der Messung von zeitlich veränderlichen Spannungen
zu dynamischen Messfehlern kommen. Der entsprechende systematische Feh-
ler soll im Folgenden für den Fall eines rein ohmschen Innenwiderstandes der
Signalquelle bestimmt werden (Abb. 10.15). Der Fehler f|U| in Bezug auf den
Betrag der gemessenen Spannung ergibt sich bei einer reinen Sinuswechsel-
spannung U Q (ω) der anregenden Signalquelle zu

|U E | − |U Q | 1
f|U| = =  2 −1. (10.43)
|U Q | RQ 2
1+ RE + (ωRQ CE )

Abb. 10.15. Beschaltung eines Oszilloskops mit einer Signalquelle

Dieser Betragsfehler ist in Abb. 10.16 als Funktion der Frequenz für verschie-
dene Widerstandswerte der Signalquelle aufgetragen. Für RE und CE werden
dabei die Standardwerte RE = 1 MΩ und CE = 20 pF verwendet. Bei Anre-
gung durch einen Spannungssprung kommt es aufgrund des (verlangsamten)
Anstiegs gemäß einer Exponentialfunktion zu Verzerrungen. Die Aufladung
des Eingangskondensators erfolgt dabei mit der Zeitkonstante
RE RQ
τ = CE . (10.44)
RE + RQ

Wenn man von einem ursprünglich ungeladenen Kondensator ausgeht, be-


trägt die Spannung uE (t) am Eingang des Oszilloskops bei einem Sprung der
Signalquellenspannung von 0 auf U0
10.3 Fehler bei der analogen Elektronenstrahl-Oszilloskopie 291

Abb. 10.16. Systematischer Betragsfehler bei Oszilloskopen infolge der komplexen


Eingangsimpedanz Z E = (1 MΩ  20 pF)

RE 
uE (t) = U0 1 − e−t/τ . (10.45)
RE + RQ

Abbildung 10.17 zeigt die Verzerrung eines anregenden Spannungssprunges


infolge einer Standardeingangsimpedanz für verschiedene Widerstandswerte
RQ der Signalquelle.

Abb. 10.17. Verzerrung der (normierten) Sprungantwort bei Oszilloskopen infolge


der komplexen Eingangsimpedanz (1 MΩ  20 pF) für verschiedene Werte des Si-
gnalquellenwiderstandes RQ . Die Normierung erfolgte auf U0 = U0 RE /(RE + RQ ).
Die Sprunganregung findet zum Zeitpunkt t = t0 statt.
292 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Verstärker-Grenzfrequenzen

Die Oszilloskop-Verstärker enthalten RC-Glieder, die zu einem Tiefpassver-


halten führen, das modellhaft durch ein Verstärkerersatzschaltbild gemäß
Abb. 10.18 beschrieben werden kann. Für ausgangsseitigen Leerlauf ergibt
sich das Übertragungsverhalten des Verstärkers im Frequenzbereich aus der
komplexen Übertragungsfunktion G(ω)

UA V
G(ω) = = , (10.46)
UE 1 + jωRC

wobei R und C die Werte des Tiefpasses aus Abb. 10.18 bezeichnen und
V eine in erster Näherung frequenzunabhängige Verstärkung ist. Die obere
Grenzfrequenz fg des Verstärkers ist erreicht, wenn die Ausgangsspannung
auf -3 dB ihres Gleichspannungswertes (ω = 0) abgesunken ist. Dies entspricht
einem Verhältnis von
 
 UA  1
  = √ ≈ 0, 707 . (10.47)
V U  2
E f =fg

Mit Gl. (10.46) ergibt sich daraus die obere Kreisgrenzfrequenz ωg bzw. die
obere Grenzfrequenz fg des Verstärkers zu

ωg RC = 1 (10.48)

bzw.
1
fg = . (10.49)
2πRC
Der Betragsfehler f|U| infolge dieser Bandbegrenzung beträgt
 
 UA 
f|U| =  −1 (10.50)
V UE 
1 1
f|U| =  −1=  2 − 1 . (10.51)
1 + (ωRC)2
1 + ffg

Abb. 10.18. Einfaches Modell eines Verstärkers mit der Verstärkung V


10.3 Fehler bei der analogen Elektronenstrahl-Oszilloskopie 293

Beispiel — Fehler infolge oberer Grenzfrequenz


Mit einem Oszilloskop, das eine obere Grenzfrequenz von 40 MHz aufweist,
wird eine Spannungsamplitude bei 20 MHz bestimmt. Der relative Betrags-
fehler f|U| ergibt sich somit wie folgt
1
f|U| =   2 − 1 = −11% . (10.52)
1 + 12
Dieser systematische Messfehler ließe sich aber gemäß Gl. (10.53) zur Korrek-
tur des Messwertes Umess nutzen

2
f
Uw = Umess 1 + . (10.53)
fg
Die anhand von Gl. (10.53) ermittelte Spannung Uw entspricht dem wahren
Wert im Sinne der Fehlerrechnung.
Aufgrund des Verstärker-Tiefpassverhaltens ergibt sich wiederum eine ex-
ponentiell ansteigende Sprungantwort

uA (t) = V U0 1 − e−t/τ , (10.54)

wobei die Zeitkonstante τ die des Eingangstiefpasses aus Abb. 10.18 ist. Die
Zeitkonstante τ ist demnach der Kehrwert der Kreisgrenzfrequenz ωg
1 1
ωg = = . (10.55)
τ RC
Somit lassen sich auch die Anstiegszeit tr und die Grenzfrequenz fg des Ver-
stärkers ineinander umrechnen. Die Anstiegszeit tr der Sprungantwort beträgt
mit Gl. (10.54) und unter Berücksichtigung der Anstiegszeitdefinition (tr ist
die Zeit, die die Sprungantwort zwischen 10 und 90 % ihres Endwertes ver-
weilt)
tr = t2 − t1 = τ (− ln(0, 1) + ln(0, 9)) = 2, 197τ . (10.56)
Mit der Beziehung (Gl. (10.49))
1 1
fg = = (10.57)
2πRC 2πτ
erhält man schließlich
2, 197 0, 35
tr = = . (10.58)
2πfg fg
Die Angabe der Anstiegszeit von Oszilloskopen ist von unmittelbarer prak-
tischer Bedeutung (Kap. 10.1.3), weil ihr Zahlenwert deutlich macht, welche
zeitliche Spannungsänderung noch korrekt darstellbar ist. Bei der Darstellung
einer Rechteckspannung werden beispielsweise die Flanken als zeitlich expo-
nentiell ansteigend bzw. abfallend mit einer Zeitkonstanten auf dem Schirm-
bild erscheinen, die nach den Gln. (10.55), (10.57) bzw. (10.58) aus der An-
stiegszeit oder auch der oberen Grenzfrequenz des Oszilloskops ermittelt wer-
den können.
294 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Anstiegszeit und Grenzfrequenz des eigentlichen Ablenksystems

Selbst wenn die Anstiegszeit des y-Verstärkers beliebig klein bzw. seine Grenz-
frequenz beliebig groß wäre, gäbe es ein weiteres Phänomen, das die Gesamt-
anstiegszeit des Horizontal-Ablenksystems nach unten begrenzt. Dies ist auf
die endliche Laufzeit der Elektronen zwischen den Platten des Ablenksystems
zurückzuführen. Wenn man sich den das Schirmbild schreibenden Elektro-
nenstrahl als eine Aneinanderreihung von gleich schnell fliegenden Elektronen
vorstellt, so dürfte klar werden, dass bei Anlegen eines Spannungssprunges
an den y-Ablenkplatten die Elektronen, die sich gerade am Eingang der y-
Ablenkeinheit befinden, zeitlich viel länger der in y-Richtung beschleunigen-
den Kraft ausgesetzt sind als die Elektronen, die bereits gerade die y-Platten
wieder verlassen. Diese endliche Verweilzeit zwischen den y-Platten führt im
Schirmbild bei Anlegen eines idealen Spannungssprunges zu einer mit der Zeit
linear ansteigenden Rampe (Abb. 10.19). Die Anstiegszeit dieser Rampe kann
anhand von Gl. (10.10) ermittelt werden, welche die Strahlablenkung yL auf
dem Schirm beschreibt, wenn dort anstatt der Plattenlänge sz die aktuelle
Lauflänge vz tz des Elektrons nach erfolgtem Sprung, also das Produkt aus
Horizontalgeschwindigkeit vz und der aktuellen Verweildauer des Elektrons
im y-Plattenpaar eingesetzt wird
uy vz tz lz
yL = . (10.59)
uz 2dy

In Gl. (10.59) wurden die bereits in den Kap. 10.1.1 (Abb. 10.2) eingeführten
Bezeichnungen verwendet. Mit Gl. (10.3) ergibt sich

lz 2e0 1
yL = u y tz . (10.60)
2dy m0 uz

Gleichung (10.60) verdeutlicht den linearen Anstieg der Strahlablenkung yL


mit der Verweildauer tz des Elektrons im y-Plattenpaar nach erfolgter Sprung-
anregung, wobei uy in diesem Fall der Amplitude des Spannungssprunges
entspricht. Erst wenn ein Elektron nach erfolgtem Sprung der Spannung uy

Abb. 10.19. Sprungantwort des Ablenksystems. tr : Anstiegszeit, yL : vertikale


Strahlablenkung
10.3 Fehler bei der analogen Elektronenstrahl-Oszilloskopie 295

die gesamte Länge sz durchlaufen hat, erhält man den Endwert yLend der
entsprechenden Strahlablenkung
u y sz l z
yLend = . (10.61)
uz 2dy
Nach Normierung der zeitabhängigen Ablenkung yL aus Gl. (10.60) auf den
stationären Endwert yLend ergibt sich schließlich

yL 2uz e0 tz
= . (10.62)
yLend m0 s z
Aus Gl. (10.62) folgt unmittelbar die Anstiegszeit tr (Zeit zwischen
yL = 0, 1yLend und yL = 0, 9yLend)

1 m0
tr = 0, 8sz . (10.63)
2uz e0
Für eine Plattenlänge sz = 5 cm und eine Anodenspannung uz = 1 kV ergibt
sich bereits eine Anstiegszeit von tr = 2,1 ns.
Das diesem Laufzeitfehler entsprechende Frequenzverhalten lässt sich aus
dem Zeitverhalten der Ablenkkraft ermitteln. Die vertikale Ablenkkraft Fy
beträgt
e0 uy (t)
Fy (t) = m0 ay (t) = e0 Ey (t) = . (10.64)
dy
Mit bekannter Kraft Fy kann unmittelbar die y-Komponente der Elektronen-
geschwindigkeit vy durch zeitliche Integration errechnet werden
  
Fy (t) e0 1
vy = ay (t) dt = dt = uy (t) dt . (10.65)
m0 m0 dy
Im Hinblick auf eine spektrale Bewertung des Laufzeitverhaltens wollen wir
eine harmonische Ablenkspannung uy (t) = Û0 cos ωt voraussetzen. Es soll also
zum Zeitpunkt t = 0 die Amplitude der Sinusschwingung dargestellt werden.
Die Geschwindigkeit vyp in y-Richtung, welche die Elektronen beim Verlassen
des y-Plattenpaares haben, lässt sich demnach wie folgt berechnen
 +
ty  sz
+ 2v
e0 1 2 e0 1 z
vyp = Û0 cos ωt dt = Û0 cos ωt dt
m0 dy ty
− 2 m 0 dy sz
− 2v z
+ 2vsz
e0 1 1  z
= Û0 sin ωt 
m0 dy ω sz
− 2v

z
e0 2 1 ωsz
= Û0 sin . (10.66)
m0 dy ω 2vz
Unter Zuhilfenahme von Gl. (10.7) und Vernachlässigung von yp kann die
Strahlablenkung yL wie folgt angegeben werden
296 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale


lz lz lz e 0 1 1 ωsz
yL = vymax = vyp = 2Û0 sin . (10.67)
vz vz vz m0 dy ω 2vz

Bezieht man diese Ablenkung auf ihren wahren Wert (Gl. (10.10))

l z sz
yLw = Û0 , (10.68)
uz 2dy

so ergibt sich unter Beachtung der Energiebeziehung (Gl. (10.2))


1
e0 u z = m0 vz2 (10.69)
2
der Amplitudengang der y-Ablenkeinheit wie folgt

sin ωsz


yL 2vz ωsz ω
= ωsz = sinc = sinc , (10.70)
yLw 2vz 2vz ω 0

wobei
2vz
ω0 = . (10.71)
sz
Dabei bezeichnet sinc(x) = sin(x)/x die Spaltfunktion. Die 3-dB-Grenzfre-
quenz dieses Amplitudenganges berechnet sich wiederum aus der Bedingung

yL  1
= √ ≈ 0, 707 (10.72)
yLw f =fg 2
zu 
1, 39 1, 39 2vz 0, 44 2e0 uz
fg = 1, 39f0 = ω0 = = . (10.73)
2π 2π sz sz m0
So ergibt beispielsweise eine Plattenlänge von sz = 5 cm und eine Anoden-
spannung von uz = 1 kV eine obere Grenzfrequenz der y-Ablenkeinheit von
fg = 165 MHz. Mit dem Ergebnis für die Anstiegszeit tr (Gl. (10.63)) lässt
sich wiederum der Zusammenhang zwischen der Anstiegszeit tr und der oberen
Grenzfrequenz ableiten (Gl. (10.58))

0, 44 2e0 uz 1 1
fg = = 0, 44 · 0, 8 = 0, 35 . (10.74)
sz m0 tr tr
Abbildung 10.20 zeigt den Amplitudengang der Ablenkempfindlichkeit. Zwei
naheliegende Maßnahmen zur Erhöhung dieser Grenzfrequenz bzw. zur Ver-
ringerung der Anstiegszeit sind die Erhöhung der Beschleunigungsspannung
sowie die Verkürzung der Ablenkplattenlänge. Diese Maßnahmen stehen je-
doch insbesondere der Forderung nach hoher Ablenkempfindlichkeit entge-
gen (Kap. 10.1.1). In Oszilloskopen mit Grenzfrequenzen oberhalb 200 MHz
finden daher besondere Formen von Ablenkplatten, die sog. Wanderfeld-
Ablenkplatten, Einsatz [113].
10.4 Digital-Speicheroszilloskop 297

Abb. 10.20. Amplitudengang der Ablenkempfindlichkeit, bedingt durch den Lauf-


zeitfehler der Elektronen während ihrer Flugzeit zwischen den Ablenkplatten

10.4 Digital-Speicheroszilloskop
Im Gegensatz zum analogen Elektronenstrahl-Oszilloskop werden die Messsi-
gnale in Digital-Speicheroszilloskopen (DSO) intern in Form zeitlich diskre-
ter Binärzahlen verarbeitet. Dadurch ermöglichen diese Geräte vor allem den
kompatiblen Anschluss an die digitale Welt der rechnergesteuerten Messdaten-
erfassung sowie die der gesamten digitalen Signalverarbeitung. Andererseits
kann man sie auch wie konventionelle Analog-Oszilloskope betreiben.
Die Mitte der siebziger Jahre begonnene Entwicklung der Transientenrekor-
der zur digitalen Aufzeichnung von elektrischen Einzelvorgängen führte im
Laufe der letzten beiden Jahrzehnte im Zuge ihrer konsequenten Weiterent-
wicklung zum Digital-Speicheroszilloskop. Diese Entwicklung stützt sich im
wesentlichen auf die schnell voranschreitende Technologie der Analog-Digital-
Umsetzer, welche das Herzstück eines jeden Digital-Speicheroszilloskops sind.
Die Vorzüge des Digital-Speicheroszilloskops beruhen auf der leichten Speicher-
barkeit von digitalen Messwerten, ihrer einfachen rechnergestützten Weiter-
verarbeitung sowie der gleichzeitig vorhandenen Möglichkeit einer komforta-
blen Bildschirmdarstellung. Die Grenzen der digitalen Speicherung und Ver-
arbeitung liegen in den Nachteilen der notwendigen zeitlichen und amplitu-
denmäßigen Diskretisierung der ursprünglich analogen Messwerte.

10.4.1 Prinzipielle Funktionsweise

Digital-Speicheroszilloskope bestehen aus den in Abb. 10.21 gezeigten Stan-


dardbaugruppen Messkanal, Triggermodul, dem Takt- und Steuerungsmodul
sowie der Anzeige. Die wesentliche Komponente eines jeden digitalen Speicher-
298 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Abb. 10.21. Blockschaltbild eines Digital-Speicheroszilloskops


10.4 Digital-Speicheroszilloskop 299

Oszilloskops bildet der Analog-Digital-Umsetzer mit einem nachgeschalteten


Speicher, den man sich zwecks einfacherer Erklärung in Form eines Schie-
beregisters (FIFO = First In First Out Speicher) vorstellen möge. Dieses
Schieberegister enthält k Digitalworte zu je n Bit. Mit jedem Taktwechsel
wird der Inhalt des Schieberegisters um eine Wortstelle nach rechts verscho-
ben, wobei das k-te Wort nach dem nächsten Wechsel in der Schalterstellung
S (Einspeichern) verlorengeht. Nur beim Auslesevorgang (Wiedergabe, Schal-
terstellung W ) wird das k-te Wort beim nächstfolgenden Taktwechsel an der 1.
Stelle wieder eingespeichert. Das Digitalwort an der k-ten Stelle wird mit Hil-
fe des Digital-Analog-Umsetzers jeweils in seinen entsprechenden Analogwert
umgewandelt und über den y-Endverstärker auf die Vertikal-Ablenkplatten
gegeben. Die Schalterstellung (S/W ) wird letztlich von der Triggereinheit ge-
steuert, welche aus einem Schwellwertkomparator mit nachgeschaltetem Flip-
Flop, einem UND-Gatter sowie einem Rückwärtszähler besteht, der eine Vor-
einstellung von  p erhält. Nach Eintreffen des Triggerereignisses zählt dieser
Zähler von  p auf  0 zurück und löst über die Steuerung das Umschalten
des Schalters von Einspeichern“ (S) auf Wiedergabe“ (W ) aus. Das be-
” ”
deutet, dass p Abtastwerte nach Eintreffen des Triggerereignisses und (k − p)
Abtastwerte vor Eintreffen des Triggerereignisses im Schieberegister gespei-
chert werden, die letztlich in der Wiedergabephase im Schirmbild erscheinen.
Bei den (k − p) Werten vor dem Triggerereignis spricht man vom sog. Pre-
trigger. Wählt man p = k, so wird nur das Signal nach dem Triggerzeitpunkt
dargestellt, so wie man es vom normalen Analog-Oszilloskop her gewohnt
ist. Bei der Einstellung p = 0 hingegen liegen alle k dargestellten Abtast-
werte vor dem Triggerzeitpunkt. Diese Art der Messung ist interessant bei
der Klärung unvorhergesehener Ereignisse, weil man auf diese Weise das Si-
gnal vor Eintreten des Triggerereignisses speichern bzw. analysieren kann. Die
Horizontal-Ablenkung erfolgt ebenfalls auf digitaler Basis, und zwar mit Hilfe
eines gewöhnlichen Vorwärtszählers, der mit einem nachgeschalteten Digital-
Analog-Umsetzer eine mit der Zeit ansteigende Rampenspannung erzeugt. Die
Anstiegsgeschwindigkeit wird über das Teilungsverhältnis r des Frequenztei-
lers vorgegeben. Nach Erreichen des Endwertes (der Strahl befindet sich dann
am rechten Bildschirmrand) wird der Zähler wieder zurückgesetzt, und der
Strahl springt an den linken Bildrand zurück.

10.4.2 Wiedergabe des aufgezeichneten Bildes

Die Wiedergabe des aufgezeichneten Bildes kann entweder, wie in Abb. 10.7
angedeutet, mit Hilfe einer konventionellen analogen Elektronenstrahl-Röhre
oder mit Hilfe eines mit magnetischer Ablenkung arbeitenden Rasterbildschir-
mes erfolgen. Bei neueren Geräten setzt sich allerdings die Verwendung von
TFT-LCD-Bildschirmen, die auch mehrfarbig ausgeführt sein können, immer
mehr durch (Abb. 10.22). Bei der letztgenannten Methode werden die digita-
len Amplitudenwerte (y-Werte) mit korrespondierenden x-Werten, welche den
zeitlichen Abtastpunkten entsprechen, verknüpft und als (x, y)-Bildpunkte auf
300 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Vorverstärker

Datenspeicher LCD-
ADC μP Bildspeicher
Display

Abb. 10.22. Prinzip-Blockschaltbild eines digitalen Speicher-Oszilloskops

dem Rasterschirm in Form heller Bildpunkte dargestellt. Dies entspricht der


sog. Punktdarstellung. Als weitere wichtige Darstellungsarten werden die li-
neare Interpolation und die Sinusinterpolation verwendet (Abb. 10.23). Bei der
linearen Interpolation werden zeitlich aufeinanderfolgende Bildpunkte durch
Geraden verbunden, was bei der Darstellung glatter Signalverläufe eine hohe
Anzahl von Abtastwerten erforderlich macht, z. B. mindestens 10 Abtastwerte
pro Periode bei Sinusschwingungen. Für die Darstellung glatter Signalverläufe
ist die Sinusinterpolation empfehlenswert, bei der jedem einzelnen Abtastwert
x(i) ein sin t/t-Ausgangssignal (mit Maximalwert an der Abtaststelle x(t)) zu-
geordnet wird.
Das Ausgangssignal y(t) ergibt sich aus der additiven Überlagerung aller
sin t/t-Kurven gemäß

Abb. 10.23. Die wichtigsten Darstellungsarten von Digital-Speicheroszilloskopen:


a) Eingangssignal, b) Punktdarstellung, c) lineare Interpolation, d) Sinusinterpo-
lation
10.4 Digital-Speicheroszilloskop 301

 sin π t−tTaa(i)
y(t) = x(i) , (10.75)
i π t−tTaa(i)

wobei ta (i) der Abtastzeitpunkt des i-ten Abtastwertes x(i) und Ta die Dau-
er der Abtastperiode bezeichnen. Ein entsprechend dem Nyquist-Kriterium
abgetastetes, aus diskreten Abtastwerten bestehendes Signal kann nämlich
wieder zu dem ursprünglichen (zeitlich kontinuierlichen) Signal verzerrungs-
frei rekonstruiert werden, wenn man die Abtastwerte in zeitlicher Folge auf
einen idealen Tiefpass mit der Grenzfrequenz
1
fg = (10.76)
2Ta
gibt [135]. Dieser Tiefpass hat aber bezüglich der einzelnen Abtastwerte ge-
nau die Impulsantwort, die durch Gl. (10.75) beschrieben wird. Um auch im
Zuge der in der Praxis unvermeidbaren zeitlichen Begrenzung bei der Realisie-
rung der sin t/t-Funktion noch eine gute Rekonstruktion des Originalsignals
aus den Abtastwerten zu erhalten, ist es in der Praxis notwendig, mit min-
destens 2,5 Abtastwerten pro Periode der höchsten im abzutastenden Signal
vorkommenden Frequenzkomponente zu arbeiten. Um auf der sicheren Seite
zu sein, wird in der Regel eine Abtastung von 10 Abtastwerten pro Periode
veranschlagt, wenn es die hardwaremäßigen Voraussetzungen zulassen.

10.4.3 Aufzeichnungs-/Anzeigebetriebsarten des


Digital-Speicheroszilloskops

Recurrent-Mode (Refresh-Mode)

Diese Arbeitsweise ist ähnlich dem eines gewöhnlichen analogen Oszilloskops.


Kennzeichnend dabei ist die ständige Erneuerung des Speicherinhaltes, die
nach jedem Triggersignal erfolgt. Das Auslesen und die Anzeige der Spei-
cherwerte erfolgt in den Pausen zwischen den Abtastphasen. Es können aber
auch alternativ die Daten nach der Speicherphase in einen zweiten Speicher
transferiert werden, aus dem sie dann zur Bilddarstellung beliebig oft und
unabhängig von der eigentlichen Signalerfassung ausgelesen werden können.

Single Shot

Nach Eintreten des Triggerereignisses wird nur eine Aufnahme gemacht, auch
wenn danach die Triggerbedingungen erfüllt sein sollten. Diese Einzelauf-
nahme kann im Gegensatz zum analogen Oszilloskop beliebig lange auf dem
Schirm dargestellt werden.
302 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Roll-Mode

Diese Aufzeichnungsart erlaubt das kontinuierliche Beobachten von langsamen


Vorgängen, deren zeitlicher Verlauf mit dem menschlichen Auge gerade noch
wahrgenommen werden kann. Das aufgezeichnete Signal wird dabei, ähnlich
wie auf einem Schreiber, von links nach rechts über den Bildschirm gezogen,
wobei der aktuelle Wert am gerade noch äußersten rechten Bildrand erscheint,
während der älteste Wert links aus dem Bild geschoben wird.

10.4.4 Einsatz von Digital-Oszilloskopen in Verbindung mit


Computern

Derzeit eingesetzte Digital-Oszilloskope sind in der Regel mit einer Schnittstel-


le zu Computern versehen, so dass die aufgezeichneten Signale zu einem Com-
puter übertragen und dort weiterverarbeitet oder archiviert werden können.
Die so erhaltenen Signale werden auf dem PC mit Hilfe von Signalverarbei-
tungsroutinen ausgewertet und können bei der heute üblichen Speichergröße
selbst bei größtem Umfang problemlos gespeichert werden. Dabei können
detaillierte Informationen über das betrachtete Signal extrahiert und dar-
gestellt werden. Weitere Informationen zu diesen neuen Digital-Oszilloskop-
Technologien finden sich in den Kapiteln 18.11 und 18.12.

10.5 Vergleich Analog- und Digital-Oszilloskope


In der Praxis werden für verschiedene Aufgaben unterschiedliche Oszillosko-
pe eingesetzt (Tab. 10.1). Analoge Oszilloskope werden vor allem bei schnel-

Tabelle 10.1. Vergleich der Vorteile von Analog- und Digital-Oszilloskopen


Analog-Oszilloskop Digital-Oszilloskop
+ schnelle Signalerfassung + Simultanbetrieb auf mehreren Kanälen
+ Darstellung der Signalintensität + Single-Shot Aufnahme möglich
+ Echtzeitdarstellung der Signale + Signalspeicherung möglich
+ Weiterverarbeitung der Daten im Computer
+ Signalanalyse möglich (z. B. FFT)
+ Pre-Trigger-Möglichkeiten

len Signalen verwendet, die in Echtzeit betrachtet werden und deren Inten-
sitätsänderung bzw. Signalstreuung durch die helligkeitsmodulierte Darstel-
lung sichtbar werden sollen. Analoge Oszilloskope eigenen sich daher in be-
sonderem Maße für periodische Signale.
Digitale Oszilloskope dagegen bieten den Vorteil, einmal aufgezeichnete
Signale langfristig und ohne Informationsverlust speichern zu können. Wei-
terhin erlauben sie einfache Analysefunktionalitäten, wie beispielsweise eine
10.6 Digital-Phosphor-Oszilloskop 303

Darstellung des betrachteten Signals im Frequenzbereich. Im Weiteren können


mit dem Digital-Oszilloskop aufgezeichnete Signale mittels eines Computers
weiterverarbeitet werden. Gemessene und aufgezeichnete Signale können bei
Bedarf wieder orginalgetreu abgerufen werden, so dass Vergleiche mit älteren
Messsignalen möglich sind.

10.6 Digital-Phosphor-Oszilloskop
Die Vorteile des Analog- sowie des Digital-Oszilloskops werden in einer neuar-
tigen Oszilloskopart, dem sogenannten Digital-Phosphor-Oszilloskop (DPO),
vereint. Dieses ermöglicht die Darstellung von schnellen Signalen in Echtzeit
und kann ebenfalls die Signalintensität bzw. Signalstreuung darstellen. Da-
durch ist es möglich, selten auftretende Signalstörungen zu erkennen, was
insbesondere bei der Fehlersuche von Vorteil ist [178].
Das Digital-Phosphor-Oszilloskop kann die Vorteile von analogem und di-
gitalem Oszilloskop nur deshalb vereinbaren, weil leistungsfähige Signalpro-
zessoren die Signalabbildung übernehmen. Dabei werden die Signaldaten in
Echtzeit von einem Erfassungs-Prozessor verarbeitet und in geeigneter Wei-
se gespeichert, während ein spezieller Signalabbildungsprozessor parallel dazu
die Signaldarstellung erledigt. Der Aufbau eines solchen Oszilloskops ist sche-
matisch in Abb. 10.24 dargestellt. Im Gegensatz zu einem digitalen Speicher-
Oszilloskop, welches keinen Mikroprozessor zur Aufbereitung der darzustellen-
den Daten besitzt (siehe Abb. 10.22), können Digital-Phosphor-Oszilloskope
die aufgezeichneten Daten schneller darstellen. Hierfür ist der spezielle Si-
gnalabbildungsprozessor verantwortlich, der die darzustellenden Werte ent-
sprechend aufbereitet.

Digital
Vorverstärker Phosphor Erfassungs-Prozessor

ADC Acquisition LCD-


Bildspeicher
Rasterizer Farbdisplay

μP

Abb. 10.24. Prinzip-Blockschaltbild eines Digital-Phosphor-Oszilloskops

Durch die Nachbildung des Nachleuchteffekts“ analoger Oszilloskope wurde



der Begriff Digital-Phosphor gewählt. Bei dieser Oszilloskopart werden die
vergangenen Bildsequenzen bzw. Signalverläufe in einer dritten Dimension
gespeichert und dann auf dem Bildschirm ausgegeben.
Die Intensität eines Signals ist ein Maß für die Signal-Varianz. So wird
beispielsweise ein rauschfreies Sinussignal immer mit gleicher Intensität dar-
304 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

gestellt. Wird nun dasselbe Sinussignal mit Rauschen überlagert, so ist die
Sinuswelle mit gleicher Intensität dargestellt. Die durch das Rauschen verur-
sachte Varianz des Sinussignals erscheint mit einer geringeren Intensität auf
dem Display.
Digital-Phosphor-Oszilloskope können die Signale im Gegensatz zu Ana-
log-Oszilloskopen farbig darstellen, wodurch sich die Signalverläufe vom Be-
obachter leichter erkennen lassen. Abbildung 10.25 zeigt ein Digital-Phosphor-
Oszilloskop moderner Bauart.

Abb. 10.25. Digital-Phosphor-Oszilloskop der Fa. Tektronix [178]

10.7 Analoger und digitaler Trigger


Standardmäßig wird das analoge Eingangssignal zum Festlegen des Trigger-
zeitpunktes herangezogen. Die Triggerung erfolgt also wie bei den klassischen
Analog-Oszilloskopen.
Im Gegensatz dazu spricht man von einem digitalen Trigger, wenn die
Triggerentscheidung auf der Basis des bereits digitalisierten Messsignals er-
folgt. Das bedeutet, dass der Triggerzeitpunkt unabhängig von der Abtastra-
te und einem eventuellen zeitlichen Versatz (Jitterfehler) zwischen analogem
Eingangssignal und dem weiter verarbeiteten digitalisierten Signal ist. Diese
Art von Oszilloskopen erreichen damit eine höhere Messgenauigkeit infolge
geringer Jitterfehler (Trigger-Jitter < 1 ps) [154]. Zudem werden oft diesel-
ben digitalen Filter für das Triggersignal vorgesehen wie für das Messsignal,
10.7 Analoger und digitaler Trigger 305

was das Ausfiltern von überlagerten Störsignalen, insbesondere Rauschen, er-


leichtert. Es kann auch das gefilterte Triggersignal verwendet werden, um das
ungefilterte Messsignal darzustellen.
Herkömmliche Oszillographen triggern in der Regel auf einen Spannungs-
pegel, d. h. die Zeitablenkung wird durch eine bestimmte Spannung am Ein-
gang gestartet. Mit der sogenannten Zone Trigger beschreitet Rohde & Schwarz
einen neuartigen Weg. Das digitalisierte Eingangssignal wird dabei mittels ei-
nes ASIC (application-specific integrated circuit) in Echtzeit mit einem vorge-
gebenen Muster verglichen, so dass sowohl auf Spannungswerte als auch auf
Pulsfolgen, bestimmte Frequenzen oder sonstige Merkmale getriggert werden
kann. Diese Ereignisse können vom Anwender frei definiert werden. Es gibt
praktisch keinen Triggerjitter. Diese Art von Triggerung ist zum Beispiel in
den akkubetriebenen Handheld-Oszilloskopen der Fa. Rohde & Schwarz im-
plementiert (siehe Bild 10.26).

Abb. 10.26. Akkubetriebenes Handheld Oszilloskop RTH1004 der Fa. Roh-


de & Schwarz. Die Abbildung erfolgt mit freundlicher Genehmigung des Herstellers.

Bei der digitalen Signalanalyse erlaubt ein sogenannter Serial Pattern Trigger
die Erkennung definierter Bitfolgen. Auf diese Art lassen sich spezielle Proto-
kollsequenzen, wie der Header eines Telegrammrahmens, erkennen.
306 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

10.8 Mixed-Signal-Oszilloskope

Zur Analyse von digitalen Logikschaltungen hat man in früheren Zeiten zwei
separate Messgeräte eingesetzt:
- Oszilloskope und
- Logikanalysatoren.
Diese sind mittlerweile in Form von sogenannten Mixed-Signal-Oszilloskopen
in einem einzigen Gerät vereint. Solche Oszilloskope lassen sich vor allem für
die messtechnische Analyse von sogenannten Mixed-Signal-Schaltungen einset-
zen. Bei diesen kommen in einer Schaltung sowohl analoge Signale (meistens
handelt es sich dabei um Hochfrequenz-Signale) und digitale Signale (im Sinne
von Logik-Signalen) vor.
Dazu weisen diese Oszilloskope neben 2 bzw. 4 Analogeingängen 16 bzw.
32 Digitaleingänge auf. Die anschließende Analyse der digitalen Eingangs-
signale ist neben allgemeinen Logikanalysemöglichkeiten auf die Analyse
von Standard-Bus-Systemen abgestellt, z. B. USB, I2 C, PCI, CAN, FlexRay,
RS 232, RS 485, SPI.
Als wesentliche Leistungsmerkmale sind zu nennen:
• Anzahl der Kanäle (analog und digital)
• Abtastrate bzw. Bandbreite der erfassbaren Signale
• Anzahl der aufgezeichneten Punkte (=Aufzeichnungslänge) und
• Zeitauflösung der digitalen Eingangskanäle.
Ist zusätzlich noch ein analoger Spektrumsanalysator in das Gerät integriert,
wie das zum Beispiel bei den von Tektronix vertriebenen Mixed-Domain-
Oszilloskopen der Fall ist, so ist als weiteres Leistungsmerkmal die
• Bandbreite des HF-Bereiches
mit anzuführen, die bei hochwertigen Geräten im einstelligen GHz liegt.
Mit Hilfe solcher Mixed-Domain-Oszilloskope ist nun erstmals die zeit-
gleiche bzw. zeitkorellierte Erfassung bzw. Darstellung von analogen, digi-
talen und HF-Signalen in einem einzigen Messgerät möglich. Dabei ist es
möglich, gleichzeitig das Zeitsignal und das mit Hilfe des (analogen) Spektral-
analysators ermittelte Spektrum des Signals auf dem Bildschirm darzustellen.
Gewöhnliche Digitaloszilloskope (DSOs) hingegen liefern als Ergebnis einer
Frequenzanalyse nur das per FFT (Fast Fourier Transformation) errechnete
Spektrum und das meist auch nur in sequentieller Reihenfolge mit der Si-
gnaldarstellung.
Mit Hilfe der Mixed-Signal-Oszilloskope ist vor allem auch ein Triggern
auf bestimmte Sequenzen, z. B. bestimmte Adressen, von Logiksignalen bis
hin zur automatischen Dekodierung verschiedener Datenformate möglich. Für
das genaue Messen des Timing-Verhaltens von Logik-Schaltungen ist eine hohe
zeitliche Auflösung notwendig, die bei Geräten der Oberklasse im Bereich von
ca. 60 ps liegt, was einer Abtastrate von etwa 16 Gsamples/s entspricht.
10.8 Mixed-Signal-Oszilloskope 307

Als Beispiel für eine typische Anwendung sei hier auf eine von der Firma
Tektronix vorgestellte Messung an einem seriellen USB-Interface verwiesen.
Bei seriellen Bus-Systemen enthält ein einziges Signal alle wesentlichen In-
formationen, wie Adresse, Kontroll-Bits, Daten und Takt(Clock). Die Fea-
tures automatischer Trigger, Dekodierung, Suche nach Bus-Ereignissen und
-Konditionen ermöglichen die effiziente und sichere Analyse von eventuellen
Problemen. Abbildung 10.27 zeigt die mit einem Tektronix Mixed-Signal Os-
zilloskop der Serie MSO 4000 aufgenommenen und analysierten USB-Signale.

Abb. 10.27. Signale, die an einem USB-Interface mit Triggerung auf ein OUT-
Zeichen aufgenommen wurden: oben: (D+)-Signal; unten: (D-)-Signal. Darunter ist
der dekodierte Inhalt des USB-Signals zu erkennen mit den Paketen: START, SYNC,
PID, Adresse, Ende-Zeichen, CRC, Daten und STOP.
308 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

10.9 Stand der Technik bei Digital-Oszilloskopen

Aufgrund der Tatsache, dass die Digital-Oszilloskope ihre analogen Counter-


parts mittlerweile vollständig vom Markt verdrängt haben, ist die Produkt-
vielfalt der angebotenen Digital-Oszilloskope heutzutage enorm groß. Zudem
werden die Produktzyklen aufgrund des rasanten Fortschritts der Digitaltech-
nik immer kürzer. Lesern, die sich über den jeweils aktuellen Stand auf dem
Markt der Digital-Oszilloskope informieren wollen, sei empfohlen, die Web-
seiten der führenden Hersteller zu besuchen. Die Webadressen der namhaften
Hersteller lauten:

Tektronix: www.tektronix.com bzw. www.tek.com


Keysight: www.keysight.com
LeCroy: www.teledynelecroy.com
Fluke: www.fluke.com
Rigol: www.rigol.eu
Rohde & Schwarz: www.rohde-schwarz.de
Yokogawa: www.yokogawa-mt.de

Einen Überblick über den derzeitigen Stand der Technik bieten die Tabel-
len 10.2 und 10.3, in denen die Oszilloskope von führenden Herstellern her-
ausgegriffen wurden.
Der in Tab. 10.2 angegebene theoretische Gewinn an Auflösung infolge Over-
sampling bzw. Mittelung kann anhand der Zusammenhänge (Gl. 11.85)

S
[dB] = (6N + 1, 76) (10.77)
N
bzw. (Gl. 11.43)
ΔS/N [dB] = 10 lg m (10.78)
ermittelt werden. Dabei bezeichnen N die Auflösung in Bit und m den Faktor
der Überabtastung.
Der Zugewinn ΔN [Bit] bezüglich der Auflösung lässt sich durch Gleichsetzen
obiger Gleichungen erreichen. Dies führt zu
10 lg m − 1, 76
ΔN [Bit] = . (10.79)
6
Die in Tab. 10.2 in der Spalte Theoretische Auflösungszunahme angegebenen
Werte lassen sich direkt aus Gl. 10.79 ermitteln. Die leichten Abweichungen
ergeben sich aufgrund der Tatsache, dass vom Hersteller anstatt Gl. 11.85
bzw. Gl. 10.77 die Überschlagsformel S/N = 6N verwendet wurde.
10.9 Stand der Technik bei Digital-Oszilloskopen 309

Tabelle 10.2. Leistungsdaten von Digital-Oszilloskopen, beispielhaft dargestellt


anhand der Digital-Oszilloskop-Familien der Fa. Tektronix
Produkt- Bandbreite Abtastrate Aufzeichnungs- Vertikale Auflösung
Familie [GHz] länge [Bit]
TPS2000B 0, 1 − 0, 2 1 − 2 GS/s 2, 5 kPoints 8+
DPO2000B 0, 07 − 0, 2 2x − 1 GS/s 1 MPoints 8+
MDO3000 0, 1 − 1 2x − 2, 5 GS/s 10 MPoints +
8 / <11**
MDO4000C 0, 2 − 1 2, 5 − 5 GS/s 20 MPoints 8+ / <11**
DPO7000 23 200 GS/s 1 GPoints 8+ / <11*

Produkt- Anzahl Theor. Aufl.- Prakt. Aufl.- Max. Aufl.


Familie Mittelungen Zunahme [Bit] Zunahme [Bit] Average [Bit]
TPS2000B 4 - 128 3,5 3,0 11,0
DPO2000B 2 - 512 4,5 4,0 13,0
MDO3000 2 - 512 4,5 4,0 13,0
MDO4000C 2 - 512 4,5 4,0 13,0
DPO7000 2 - 10000 6,6 6,0 14,1

Produkt- Max. Über- Theor. Aufl.- Prakt. Aufl.- Max. Aufl.-


Familie abtastzahl Zunahme [Bit] Zunahme [Bit] Zunahme [Bit]
TPS2000B 5.000 6,1 5,0 13,1
DPO2000B 5.000 6,1 5,0 13,1
MDO3000 5.000 6,1 5,0 13,1
MDO4000C 5.000 6,1 5,0 13,1
DPO7000 5.000 6,1 5,0 14,1

Produkt- Stand Preis Besonderheit


Familie [Euro]
TPS2000B Dez. 2012 2.940 Isolierte Eingänge, Akkubetrieb
DPO2000B Feb. 2015 1.050 Low Coast
MDO3000 Feb. 2016 3.180 Mixed-Signal
MDO4000C Feb. 2016 6.520 Hohe Speichertiefe
DPO7000 März 2016 166.000 Hohe Frequenz
+
= Single Shot; * = Average; ** = High Resolution

Die vier verschiedenen Aufzeichnungsmodi (= Aquisitionsmodi) Single Shot,


Average, High Resolution und Sequential Samling sind wie folgt charakteri-
siert:
Single Shot: Nicht repetierender Pulsbetrieb.
310 10 Darstellung des Zeitverlaufes elektrischer Signale

Average: Das Signal muss periodisch sein und es wird ein und derselbe
(zeitliche) Signalabschnitt mehrmals aufgenommen und gemittelt.

High Resolution: Das Signal muss nicht periodisch sein. Es erfolgt eine
um den Faktor m höhere zeitliche Abtastung als in der Darstellung. Da-
bei werden m Samplewerte zu einem Darstellungswert gemittelt.

Sequential Sampling: Das Signal muss periodisch sein. Es wird im sequen-


tiellen Samplingmode (s. Kap. 10.1.4) abgetastet.

Tabelle 10.3. Leistungsdaten von Digital-Oszilloskopen (Stand: 2016)


Modell Hersteller Bandbreite Anzahl Abtastrate
MHz Kanäle GSample/s
2025CL UNI-T 25 2 0,25
DS1102E RIGOL 100 2 1
1275 PeakTeck 300 2 1,6
DSOX2014A Keysight 100 4 2
RTH1024 R&S 200 4 5
190-204 Fluke 200 4 2,5
MSO4034B Tektronix 350 4 2,5
DLM4038 Yokogawa 350 8 1,5
HDO6054 LeCroy 500 4 2
RTO2044 R&S 4000 2 20
LabMaster10-100Zi LeCroy 100.000 4 bis 80 240

Modell Speicher- Auflösung Preis (ca.) Besonderheit


tiefe vertikal
Mpts Bit EUR
2025CL 1 8 280,- Low cost
DS1102E 1 8 390,- Low cost
1275 10 8 1.400,- 8 Zoll Display
DSOX2014A 1 8 2.200,-
RTH1024 0,5 8 4.450,- Handheld
190-204 0,04 10 5.250,- Handheld
MSO4034B 20 8 11.500
DLM4038 1,25 8 12.350,- 12 Zoll Display
HDO6054 250 12 18.950,- 16 Dig. Channels
RTO2044 50 16 35.000,- High Resolution
LabMaster10-100Zi 32 8 ca. 800.000,- High Speed
11
Digitale Messtechnik

Da die moderne Messtechnik zunehmend die Verfahren der rechnergestützten


Messwerterfassung und digitalen Signalverarbeitung nutzt, zählt es zu den
wichtigsten Aufgaben der Elektrischen Messtechnik, in analoger Form vorlie-
gende Messsignale zu digitalisieren. Während in der analogen Messtechnik alle
Messgrößen in wertkontinuierlicher Form verarbeitet werden, kennt die digi-
tale Messtechnik nur die binäre Darstellungsform. Binäre Signale können den
Wert  1 (alternativ  H für High) oder  0 (alternativ  L für Low) annehmen.
Für den Fall, dass der Wert  1 einem hohen Spannungspegel und der Wert  0
einem niedrigen Spannungspegel entspricht, bezeichnet man dies als positive
Logik, im umgekehrten Fall spricht man von negativer Logik. Binäre Signale
bieten den großen Vorteil, dass sie sich durch nur zwei, eindeutig zu unter-
scheidende Betriebszustände der verarbeitenden elektronischen Komponen-
ten darstellen lassen, wie z. B. Schalter EIN“ bzw. Schalter AUS“. Alle auf
” ”
Halbleiterelementen basierenden Schalter sind bezüglich ihrer High- und Low-
Spannungspegel mit so großzügigen Toleranzbändern versehen, dass Digital-
schaltungen im Allgemeinen sehr zuverlässig funktionieren. Beim Übergang in
die Digitalwelt müssen die wert- und zeitkontinuierlichen Signale in wert- und
zeitdiskrete Signale gewandelt werden. Dazu bedient man sich entweder der
Analog-Digital-Umsetzer (Kap. 11.7) oder der Zählerschaltungen (Kap. 11.5).
Zum Verständnis dieser Schaltungen sind Kenntnisse über Binärcodes und
digitale Grundschaltungen, wie Gatter und bistabile Kippschaltungen, not-
wendig. Diese Grundlagen sind Inhalt der Kap. 11.1 bis 11.3.

11.1 Duales Zahlensystem und Binärcodes

11.1.1 Dualzahlendarstellung

Da Digitalschaltungen Signale nur in binärer Form verarbeiten können, muss


man bezüglich der Zahlendarstellung vom üblichen Dezimalsystem zum binä-
ren System übergehen. Jede Dezimalzahl kann auch als Dualzahl dargestellt

© Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2016


R. Lerch, Elektrische Messtechnik, DOI 10.1007/978-3-662-46941-5_11
312 11 Digitale Messtechnik

werden. Wenn wir uns zunächst auf ganze Zahlen beschränken, lässt sich die
Dezimalzahl Zdez mit Hilfe einer Zweierpotenzzerlegung in eine entsprechende
Dualzahlendarstellung konvertieren
Zdez = zN 2N + zN−1 2N −1 + . . . + z1 21 + z0 20 . (11.1)
Die entsprechende Dualzahl Zdual besteht dann aus den  0 - oder  1 -wertigen
Binärstellen zi , die mit den Koeffizienten der Zweierpotenzen identisch sind
Zdual = zN zN−1 . . . z1 z0 . (11.2)
So entspricht beispielsweise die Dezimalzahl  68 der Dualzahl  1000100. Die
 
0 - oder  1 -wertige digitale Informationseinheit wird dabei als 1 Bit und die
zu 8 Bit zusammengefasste Datenmenge als 1 Byte bezeichnet.

11.1.2 BCD-, Hexadezimal- und Gray-Code


In der Elektrischen Messtechnik wird oft der sog. BCD-Code (Binary Coded
Decimals) verwendet, bei dem die Dezimalziffern 0 bis 9 mit einer vierstelligen
Dualzahl der Wertigkeit 8-4-2-1“ dargestellt werden. So entspricht beispiels-

weise die Dezimalzahl 68 der BCD-Zahl 0110 1000. Da die Dezimalziffer bei
der BCD-Darstellung von einer vierstelligen Dualzahl mit den Stellenwerten
23 , 22 , 21 und 20 repräsentiert wird, wird dieser Code auch als 8-4-2-1-Code
bezeichnet.
Ein weiterer, insbesondere in der Computertechnik sehr verbreiteter Code
ist der Hexadezimalcode, der die Zahlen 0 bis 9 mit den entsprechenden Zif-
fern und die Zahlen 10 bis 15 mit den Buchstaben A bis F darstellt. Der in

Tabelle 11.1. Gebräuchliche Formen binärer Zahlendarstellungen

Dezimalzahl Dualzahl BCD-Code Gray-Code Hexadezimalzahl


0 00000 0000 0000 0000 0
1 00001 0000 0001 0001 1
2 00010 0000 0010 0011 2
3 00011 0000 0011 0010 3
4 00100 0000 0100 0110 4
5 00101 0000 0101 0111 5
6 00110 0000 0110 0101 6
7 00111 0000 0111 0100 7
8 01000 0000 1000 1100 8
9 01001 0000 1001 1101 9
10 01010 0001 0000 1111 A
11 01011 0001 0001 1110 B
12 01100 0001 0010 1010 C
13 01101 0001 0011 1011 D
14 01110 0001 0100 1001 E
15 01111 0001 0101 1000 F
11.2 Binäre Signale und ihre Verknüpfung 313

der vierten Spalte von Tab. 11.1 enthaltene Gray-Code zeichnet sich dadurch
aus, dass beim Übergang von einer Zahl zur nächsthöheren nur ein einziges
Bit seine Wertigkeit ändert, was oft zum Umgehen von Timing-Problemen in
Digitalschaltungen genutzt wird. Tabelle 11.1 zeigt die Darstellung der Dezi-
malzahlen 0 bis 15 mittels der oben besprochenen Codes.

11.1.3 Fehlererkennung und Fehlerkorrektur

Die Verfälschung eines einzelnen oder auch einer ungeradzahligen Anzahl von
Bits im BCD-Code beispielsweise ist erkennbar, wenn pro 4-Bit-Wort ein 5.
Bit, ein sog. Prüfbit, angehängt wird. Dabei wird auf gerade oder ungerade
Parität geprüft. Man spricht dann von einem fehlererkennenden Code [163].
Wenn neben dieser Erkennung eines Fehlers eine lokale Ortung des fehlerhaf-
ten Bits durchgeführt werden soll, werden pro Dezimalstelle 8 Bit statt der
vier des BCD-Codes benötigt. Man bezeichnet diesen Code dann als einen
fehlerkorrigierenden Code.

11.2 Binäre Signale und ihre Verknüpfung


mittels digitaler Schaltungen
Die Funktionen digitaler Geräte basieren im Wesentlichen auf dem Zusam-
menwirken digitaler Grundschaltungen, die auch als Gatterschaltungen be-
zeichnet werden. Diese Gatterschaltungen führen die logische Verknüpfung
von Binärsignalen durch.
In Kap. 11.2.1 sollen zunächst einige wichtige mathematische Grundregeln
beschrieben werden, welche die Verknüpfung von logischen Variablen beinhal-
ten, bevor anschließend die digitalen Grundschaltungen selbst erklärt werden
(Kap. 11.2.2). In Abschnitt 11.2.3 wird schließlich eine komplexere, aus meh-
reren logischen Grundschaltungen zusammengesetzte Schaltung beschrieben.

11.2.1 Grundregeln bei der logischen Verknüpfung binärer Signale

Die Grundlage der Mathematik von logischen Variablen bildet die Boolesche
Algebra [196]. Die drei grundlegenden Verknüpfungen zwischen zwei logischen
Variablen (x1 und x2 ) zu einem Ergebnis y sind die Negation, die Konjunktion
und die Disjunktion:

Negation (NICHT-Verknüpfung)

y = x̄ (11.3)

Konjunktion (UND-Verknüpfung)

y = x1 ∧ x2 = x1 · x2 = x1 x2 (11.4)
314 11 Digitale Messtechnik

Disjunktion (ODER-Verknüpfung)

y = x1 ∨ x2 = x1 + x2 . (11.5)

Die hardwaremäßigen Implementierungen obiger Verknüpfungen erfolgen mit


den in Kap. 11.2.2 beschriebenen Gatterschaltungen NICHT-Gatter, UND-
Gatter und ODER-Gatter. Für diese Grundrechenoperationen gelten eine Rei-
he von Gesetzen, wie die aus der Algebra reeller Zahlen bekannten Gesetze
Kommutativ-Gesetz, Assoziativ-Gesetz und Distributiv-Gesetz. Besondere For-
men nehmen im Falle von binären Variablen die folgenden Gesetze an:

Negationsgesetz xx̄ = 0 x + x̄ = 1

Tautologie x+x=x xx = x

Absorptionsgesetz x1 (x1 + x2 ) = x1 x1 + x1 x2 = x1

Morgansches Gesetz x1 x2 = x̄1 + x̄2 x1 + x2 = x̄1 x̄2 .

11.2.2 Digitale Grundschaltungen (Gatterschaltungen)

Im Folgenden werden die wichtigsten digitalen Grundschaltungen beschrie-


ben, und zwar für den Fall von zwei logischen Eingangsvariablen x1 und x2 .
Das jeweilige Ergebnis bzw. das Ausgangssignal wird mit y bezeichnet. Die
Gatterschaltungen werden jeweils sowohl mit dem früher üblichen Schaltzei-
chen als auch in Form des eckigen Schaltzeichens dargestellt, das der heutigen
Norm [43] entspricht.

NICHT-Gatter (NOT-Gatter)

Das NICHT-Gatter liefert am Ausgang das negierte Eingangssignal (Abb. 11.1).


Der kleine Kreis, der am Ausgang des Schaltsymbols eingezeichnet ist, deutet
in der Digitaltechnik stets darauf hin, dass das Binärsignal bzw. die logische
Variable an dieser Stelle negiert (invertiert) wird.

y = x̄

xy
0 1
1 0
11.2 Binäre Signale und ihre Verknüpfung 315

Abb. 11.1. Wahrheitstabelle und Schaltsymbole für das NICHT-Gatter (früher


gebräuchliche Form und normgerechte Darstellung)

UND-Gatter (AND-Gatter)

Mit dem UND-Gatter wird die Konjunktion realisiert, d. h. sein Ausgangssi-


gnal ist nur dann  1 , wenn alle Eingänge auf  1 gesetzt sind (Abb. 11.2).
y = x1 x2

x1 x2 y
0 0 0
0 1 0
1 0 0
1 1 1

Abb. 11.2. Wahrheitstabelle und Schaltsymbole für das UND-Gatter

NAND-Gatter

Das NAND-Gatter entspricht dem UND-Gatter mit negiertem Ausgangssignal


(Abb. 11.3).
y = x1 x2

x1 x2 y
0 0 1
0 1 1
1 0 1
1 1 0

Abb. 11.3. Wahrheitstabelle und Schaltsymbole für das NAND-Gatter


316 11 Digitale Messtechnik

ODER-Gatter (OR-Gatter)

Mit dem ODER-Gatter wird die Disjunktion realisiert, d. h. sein Ausgang ist
dann  1 , wenn mindestens eine der Eingangsvariablen den Wert  1 aufweist
(Abb. 11.4).
y = x1 + x2
x1 x2 y
0 0 0
0 1 1
1 0 1
1 1 1

Abb. 11.4. Wahrheitstabelle und Schaltsymbole für das ODER-Gatter

NOR-Gatter

Das NOR-Gatter entspricht der ODER-Schaltung mit negiertem Ausgangssi-


gnal (Abb. 11.5).

y = x1 + x2

x1 x2 y
0 0
0 1 0
1 0 0
1 1 0

Abb. 11.5. Wahrheitstabelle und Schaltsymbole für das NOR-Gatter


11.2 Binäre Signale und ihre Verknüpfung 317

EXOR-Gatter (Antivalenz-Gatter, Exklusiv-Oder-Gatter)

Das Ausgangssignal des EXOR-Gatters ist  1 , wenn genau eine Eingangsva-


riable den Wert  1 hat (Abb. 11.6). Diese auch als Antivalenz-Gatter bezeich-
nete Schaltung liefert also nur dann eine  1 am Ausgang, wenn die beiden
Eingangsvariablen ungleiche binäre Wertigkeit aufweisen.

y = x̄1 x2 + x1 x̄2

x1 x2 y
0 0 0
0 1 1
1 0 1
1 1 0

Abb. 11.6. Wahrheitstabelle und Schaltsymbole für das EXOR-Gatter

Äquivalenz-Gatter

Der Ausgang des Äquivalenz-Gatters wird auf  1 gesetzt, wenn die Eingangs-
signale dieselbe binäre Wertigkeit haben. Die Äquivalenz entspricht also der
negierten Antivalenz (Abb. 11.7).

y = x̄1 x̄2 + x1 x2

x1 x2 y
0 0 1
0 1 0
1 0 0
1 1 1

Abb. 11.7. Wahrheitstabelle und Schaltsymbole für das Äquivalenz-Gatter


318 11 Digitale Messtechnik

11.2.3 Digitale Addierer

Halbaddierer

Die Addition von zwei einstelligen Dualzahlen kann in zwei verschiedenen


Ergebnis- sowie zwei unterschiedlichen Übertragswerten resultieren (Tab. 11.2).
Der entsprechende Addierer muss also einen Summenausgang s sowie einen
Übertragsausgang c besitzen. Die hardwaremäßige Implementierung der da-

Tabelle 11.2. Addition zweier einstelliger Dualzahlen

x + y = Summe s Übertrag c
0 0 0 0
0 1 1 0
1 0 1 0
1 1 0 1

zugehörigen Wahrheitstabelle (Tab. 11.2) enthält ein Antivalenz- und ein


UND-Gatter. Die entsprechende Schaltung (Abb. 11.8) wird als Halbaddie-
rer bezeichnet, da sie nur für die Addition der niedrigsten Dualzahlenstelle
eingesetzt werden kann. Bei allen anderen Stellen muss der Übertrag von der
nächstniedrigeren Stelle ebenfalls Berücksichtigung finden.

Abb. 11.8. Halbaddierer: a) Schaltung, b) Schaltsymbol

Tabelle 11.3. Wahrheitstabelle des dualen Volladdierers

xi yi ci si ci+1
0 0 0 0 0
0 0 1 1 0
0 1 0 1 0
0 1 1 0 1
1 0 0 1 0
1 0 1 0 1
1 1 0 0 1
1 1 1 1 1
11.3 Bistabile Kippschaltungen 319

Volladdierer

Zur Berücksichtigung des Übertragswertes ci muss die Wahrheitstabelle (Tab.


11.2) entsprechend modifiziert werden (Tab. 11.3). Abbildung 11.9 zeigt das

Abb. 11.9. Volladdierer: a) Schaltung, b) Schaltsymbol

aus dieser modifizierten Wahrheitstabelle nach den Regeln der Booleschen


Algebra abgeleitete Schaltbild des Volladdierers. Ein aus einem Halbaddierer
und drei Volladdierern zusammengesetzter 4-Bit-Volladdierer ist in Abb. 11.10
dargestellt.

Abb. 11.10. 4-Bit-Volladdierer mit seriellem Übertrag

11.3 Bistabile Kippschaltungen


Bei den bistabilen Kippschaltungen, die auch Flip-Flop-Schaltungen genannt
werden, hängt das Ausgangssignal sowohl von den Eingangssignalen als auch
dem jeweiligen, von der Vorgeschichte bestimmten Zustand der Schaltung ab.
Im Gegensatz zu den in Kap. 11.2 behandelten kombinatorischen Schaltwerken
zeigen demnach die bistabilen Kippschaltungen Speicherwirkung. Der Begriff
der Bistabilität sagt aus, dass die Schaltung zwei stabile Zustände kennt, die
durch ein Setz-Signal bzw. ein Rücksetz-Signal erreicht werden.
320 11 Digitale Messtechnik

11.3.1 RS-Flip-Flop

Die bekannteste bistabile Kippschaltung ist das asynchrone RS-Flip-Flop


(nicht-taktgesteuertes RS-Flip-Flop), dessen Realisierung mit Hilfe von zwei
rückgekoppelten NOR-Gattern erfolgen kann (Abb. 11.11). Durch die Signal-
kombination S = 1 und R = 0 wird das Flip-Flop gesetzt, d. h. der Ausgang
Q nimmt den Wert  1 an. Die Schaltung führt dabei folgende logische Ope-
rationen durch

Q = S+Q=1+Q=0 (11.6)
Q = R+Q=0+0=1. (11.7)

Abb. 11.11. RS-Flip-Flop (R: Reset-Eingang; S: Set-Eingang; Q: Ausgang; Q̄:


invertierter Ausgang): a) Realisierung mit NOR-Gattern, b) Schaltsymbol, c) Zeit-
diagramm

Mit der Eingangskombination S = 0 und R = 1 wird der Ausgang Q zurück-


gesetzt (Q = 0). Die Ergebnisse der übrigen Eingangssignalkombinationen
finden sich in Tab. 11.4. Eine alternative Implementierung des RS-Flip-Flops
ergibt sich, indem man die NOR- durch NAND-Gatter ersetzt. Dabei ist zu
beachten, dass die Eingänge des Flip-Flops nunmehr invertiert und die Zu-
ordnung der Ausgänge Q und Q̄ vertauscht sind (Abb. 11.12). Die Äquivalenz

Tabelle 11.4. Wahrheitstabelle eines auf der Basis von NOR-Gattern realisierten
RS-Flip-Flops; (* je nach Innenschaltung des RS-Flip-Flops)

SRQ Q
0 0 Qn−1 Qn−1 speichern
1 0 1 0 setzen
0 1 0 1 rücksetzen
1 1 * * nicht erlaubt
11.3 Bistabile Kippschaltungen 321

Abb. 11.12. Realisierung eines RS-Flip-Flops mit NAND-Gattern

der Schaltungen folgt auch aus dem Morganschen Gesetz, das zwei logische
Variablen x1 und x2 nach den Regeln eines NOR- bzw. NAND-Gatters ver-
knüpft
x1 + x2 = x̄1 x̄2 . (11.8)
Die oben beschriebenen Kippschaltungen gehören zu der Klasse der trans-
parenten Flip-Flops, zu denen auch die im Folgenden beschriebenen taktzu-
standgesteuerten und taktflankengesteuerten RS-Flip-Flops zählen.

11.3.2 Taktzustandgesteuertes RS-Flip-Flop

Das taktzustandgesteuerte RS-Flip-Flop, das auch statisch getaktetes RS-


Flip-Flop genannt wird, reagiert auf Eingangssignale nur dann, wenn die sta-
tische Taktvariable (Clock) C = 1 gesetzt wird (Abb. 11.13). Es entspricht
dann einem normalen RS-Flip-Flop. Für C = 0 hingegen speichert das Flip-
Flop gemäß der Wahrheitstabelle (Tab. 11.5) den alten Zustand, da in diesem
Fall R̄ = S̄ = 1 gilt.

Abb. 11.13. Taktzustandgesteuertes (statisch getaktetes) RS-Flip-Flop: a) Schal-


tungstechnische Realisierung auf der Basis von NAND-Gattern (Die Schaltung in-
nerhalb des gestrichelten Rahmens entspricht einem RS-Flip-Flop mit negiertem
Eingangssignal in NAND-Realisierung gemäß Abb. 11.12.), b) Schaltsymbol
322 11 Digitale Messtechnik

Tabelle 11.5. Wahrheitstabelle eines auf der Basis von NAND-Gattern realisierten
RS-Flip-Flops (* je nach Innenschaltung des RS-Flip-Flops)

SRQ Q
1 1 Qn−1 Q̄n−1
0 1 1 0 setzen
1 0 0 1 rücksetzen
0 0 * * nicht erlaubt

11.3.3 Taktflankengesteuertes RS-Flip-Flop

Das taktflankengesteuerte RS-Flip-Flop zeigt Änderungen am Ausgang erst


bei einer Flanke des Taktsignals. Das R- und S-Signal bereiten gemäß der
Wahrheitstabelle 11.4 das Flip-Flop zum Setzen, Rücksetzen bzw. Speichern
vor, jedoch erst bei einem Wechsel des Taktsignals von  0 auf  1 (ansteigende
Taktflanke) bzw. von  1 auf  0 (abfallende Taktflanke) führt das Flip-Flop
die logische Operation durch. Abbildung 11.14 zeigt die Schaltsymbole des
taktflankengesteuerten RS-Flip-Flops für beide Varianten, also für ansteigen-
de Taktflanken (Abb. 11.14a) und abfallende Taktflanken (Abb. 11.14b). Das
Zeitdiagramm (Abb. 11.14c) gilt für die Version, die auf die ansteigende Takt-
flanke reagiert.

Abb. 11.14. Taktflankengesteuertes RS-Flip-Flop: a) Schaltsymbol für ansteigende


Taktflanke, b) Schaltsymbol für abfallende Taktflanke, c) Zeitdiagramm für die
Version mit ansteigender Taktflanke: tS1 Setzvorgang vorbereitet, tS2 Setzvorgang
durchgeführt, tR1 Rücksetzvorgang vorbereitet, tR2 Rücksetzvorgang durchgeführt.

11.3.4 Taktzustandgesteuertes D-Flip-Flop (Data-Latch)

Das taktzustandgesteuerte D-Flip-Flop ist in der Lage, den Wert einer logi-
schen Eingangsvariablen D zu speichern. Die entsprechende Schaltung wird
mit Hilfe eines taktzustandgesteuerten RS-Flip-Flops realisiert, bei dem eine
Verdrahtung gemäß S = D und R = D̄ vorgenommen wird. Zusätzlich zu dem
11.3 Bistabile Kippschaltungen 323

Abb. 11.15. Taktzustandgesteuertes (transparentes) D-Flip-Flop (Data-Latch): a)


Schaltungstechnische Realisierung. Die innerhalb des gestrichelten Rahmens befind-
liche Schaltung entspricht einem taktzustandgesteuerten RS-Flip-Flop. b) Schalt-
symbol

RS-Flip-Flop wird noch ein Inverter benötigt (Abb. 11.15 ). Wenn die stati-
sche Taktvariable C = 1 gesetzt wird, erscheint der Wert von D am Ausgang
Q. Man spricht daher auch von einem transparenten D-Flip-Flop.

Tabelle 11.6. Wahrheitstabelle eines taktzustandgesteuerten D-Flip-Flops

C D Qn
0 0 Qn−1
0 1 Qn−1
1 0 0
1 1 1

Für C = 0 hingegen wird der Wert des Ausgangs Q gespe