Bericht Nr.

:
Record No.:
RT Prüfbericht / RT Examination Record Berichtsdatum:
Record Date:
Seite: von
DIN EN ISO 17636 – 1 / ASME Sec. V Article 2 Page: of

Kunde: Auftrag-Nr.: Pos.-Nr.: Projekt:

Customer: Job No.: Pos.-No.: Project:
Zeichnungs-Nr. (Rev.): Fabrik-Nr.: Prüfgegenstand:
Drawing No. (Rev.): Serial No.: Part Designation:

Prüfanweisung (Rev.): Zulässigkeitsgrenzen nach Regelwerk (Ausgabe) / Kundenspez. (Rev.) / Prüfanweisung:

Exam. Procedure(Rev.): Acceptance Criteria acc. Construction Code (Edition) / Customer Spec. (Rev.) / Exam. Procedure:

Grundwerkstoff: Abmessungen (Dicke): RT Technik – Gundtechnik Klasse A

Base Material: Dimension (Thickness): RT Technik – verbesserte Prüftechnik Klasse B
Schweißverfahren gem. DIN EN ISO 4063 / ASME IX: Schweißnahtgeometrie: Schweißnahtdicke: Schweißnahtüberhöhung:
Welding process acc. to DIN EN ISO 4063 / ASME IX: Weld Type: Weld Thickness: Weld Reinforcement Thickness:
unbehandel
Oberflächenzustand: gestrahlt beschliffen mech. bearbeitet Wärmebehandlung: ohne vor nach
t
Surface Condition: blasted grinded machined Heat Treatment: without before after
unfinished

Strahlenquelle: Röntgenröhrentyp max. Röhrenspannung: Isotop: Aktivität des Strahlenquelle:

Se 75 Ir 192 Co 60
Source of Radiation: Type of X-ray Tube max. X-ray Voltage: Isotope: Activity of Isotope:
Strahlenquelle Serien Nummer: Art des Brennflecks: Größe des Brennflecks (d): Datum der RT Prüfung:
Serial No. of Source of Radiation: Type of Source: Source Size (F): RT Examination date:
Entwicklungszeit:
Film Hersteller: Film Verarbeitung: manuell automatisch Temperatur der Verarbeitungschemikalien: Wässerungszeit
Time of
Film Manufacturer: Film Processing: manual automated Temperature of Processing Chemicals: Time of Washing:
Development:

Abkürzungen (DIN EN ISO 6520-1)

Abbreviations (DIN EN ISO 6520-1)
Längsrisse Porosität Schlackeneinschluß Lagenbindefehler Einbrandkerbe Wurzelrückfall
101 2012 301 4012 501 515
Longitudinal Cracks Porosity Slag Inclusions Incomplete Interpass Fusion Undercut Root Concavity
Querrisse Porennest Schlackenzeile Wurzelbindefehler Nahtüberhöhung Filmfehler
102 2013 3011 4013 502 600
Transverse Cracks Cluster Slag Line Lack of Root Fusion Weld Reinforcement Film Defect
Endkraterriss Gaskanal Wolframeinschlüsse ungen. Durchschweißung Wurzelüberhöhung Zündstelle
104 2013 3041 402 504 601
Crater Crack Elongated Gas Cavity Tungsten Inclusions Lack of Penetration Internal Protrusion Arc Strike
Pore Lunker Flankenbindefehler ungen. Wurzeleinbrand Kantenversatz Schweißspritzer
2011 202 4011 4021 507 602
Gas Pore Shrinkage Cavity Lack of Side Wall Fusion Lack of Root Penetration Misalignment Weld Spatter

Bemerkung:
Remarks:

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 Film Identifikation, Kennzeichnung:
Film Identification:, Tag

Auswertbarer Prüfbereich:
Examination Area evaluable:
Prüfabschnitt:
Examination Section

Formblatt Nr. / Form No.:

24171
Exposure Arrangement acc. DIN EN ISO: Aufnahmeanordnung (Bild) nach DIN EN ISO:

Exposure Arrangement acc. ASME: Aufnahmeanordnung (Bild) nach ASME:

Single- or Double-Wall Exposure:Einzel- oder Doppelwandaufnahme:

Single- or Double-Wall ViewingEinzel- oder Doppelwandbetrachtung:

Filmsystem & Anzahl der Filme je Kassette:

Film Type / Designation & Number of Films in each Film Holder / Cassette :(e.g. D4
/D5 / D4)

Art und Dicke der Vorder- & Hinerfolie:

Type and Thickness of Cover and Back Screens

Index / Revision:
0
used X-ray Voltage [kV]: verwendete Röhrenspannung [kV]:
Prüfaufbau:
DIN EN ISO 17636 – 1
Examination Setting

used X-ray Current [mA]: verwendeter Röhrenstrom [mA]:

Exposure Time: Belichtungszeit:

Abstand Strahlenquelle – Film (FFA):

Distance from Source Side to Film:

Source to Object Distance (D): Abstand Strahlenquelle – Prüfgegenstand (f):

RT Prüfbericht / RT Examination Record

Distance from Source of Object to Film (d): Abstand Oberfläche Prüfgegenstand –Film (b):
/ ASME Sec. V Article 2

Typ des Bildgüteprüfkörpers (BKP): z.B. W1FE

Image Quality Indicator (IQI): e.g. Set A

www.cis-inspector.com
IQI placement Source Side: Lage des BKP Strahler Seite:

IQI placement Film Side: Lage des BKP Film nah:

Essential Wire / Hole-Type Designation: Mindest Bildgütezahl (BZ):

thinnest Wire seen/ smallest Hole seen: Erreichte Bildgütezahl (BZ):

Record No.:

Page:
Berichtsdatum:
Bericht Nr.:

Seite:
Record Date:

Bildgüteprüfkörper (BKP):
Image Quality Indicator (IQI):

measured Density: gemessene Optische Dichte (Schwärzung):

of
von

Defects according
Fehlerkurzzeichen

DIN EN ISO 6520-1

No or Not Relevant Indications: Keine oder nicht Relevante Anzeigen:

Prüfergebnis:
Examination Result:

Relevant Indications: Relevante Anzeigen:

Unacceptable Indications: Unzulässige Anzeigen:

/conversion/tmp/scratch/482480498.docx
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 Film Identifikation, Kennzeichnung:
Film Identification:, Tag

Auswertbarer Prüfbereich:
Examination Area evaluable:
Prüfabschnitt:
Examination Section

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24171
Exposure Arrangement acc. DIN EN ISO: Aufnahmeanordnung (Bild) nach DIN EN ISO:

Exposure Arrangement acc. ASME: Aufnahmeanordnung (Bild) nach ASME:

Single- or Double-Wall Exposure:Einzel- oder Doppelwandaufnahme:

Single- or Double-Wall ViewingEinzel- oder Doppelwandbetrachtung:

Filmsystem & Anzahl der Filme je Kassette:

Film Type / Designation & Number of Films in each Film Holder / Cassette :(e.g. D4
/D5 / D4)

Art und Dicke der Vorder- & Hinerfolie:

Type and Thickness of Cover and Back Screens

Index / Revision:
0
used X-ray Voltage [kV]: verwendete Röhrenspannung [kV]:
Prüfaufbau:
DIN EN ISO 17636 – 1
Examination Setting

used X-ray Current [mA]: verwendeter Röhrenstrom [mA]:

Exposure Time: Belichtungszeit:

Abstand Strahlenquelle – Film (FFA):

Distance from Source Side to Film:

Source to Object Distance (D): Abstand Strahlenquelle – Prüfgegenstand (f):

RT Prüfbericht / RT Examination Record

Distance from Source of Object to Film (d): Abstand Oberfläche Prüfgegenstand –Film (b):
/ ASME Sec. V Article 2

Typ des Bildgüteprüfkörpers (BKP): z.B. W1FE

Image Quality Indicator (IQI): e.g. Set A

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IQI placement Source Side: Lage des BKP Strahler Seite:

IQI placement Film Side: Lage des BKP Film nah:

Essential Wire / Hole-Type Designation: Mindest Bildgütezahl (BZ):

thinnest Wire seen/ smallest Hole seen: Erreichte Bildgütezahl (BZ):

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Bildgüteprüfkörper (BKP):
Image Quality Indicator (IQI):

measured Density: gemessene Optische Dichte (Schwärzung):

of
von

Defects according
Fehlerkurzzeichen

DIN EN ISO 6520-1

No or Not Relevant Indications: Keine oder nicht Relevante Anzeigen:

Prüfergebnis:
Examination Result:

Relevant Indications: Relevante Anzeigen:

Unacceptable Indications: Unzulässige Anzeigen:

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Anforderungen: erfüllt nicht erfüllt Anlage: Filmlageplan:

Requirements: acceptable not acceptable Attachment: Dimensional Map:
Ort / Location: Stufe nach Prüfaufsicht Stufe nach
Prüfer DIN EN 473 / ISO9712 DIN EN 473 / ISO9712 Genehmigung des Herstellers Abnehmer des Kunden Abnehmer
Level acc.
Examiner Level acc.
Examiner Manufactures Approval Representative of Customer Inspector
Written Practice (SNT-TC-1A) Supervisor Written Practice (SNT-TC-1A)
Unterschrift:
Signature:
Stempel:
Stamp:
Datum:
Date:

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