Mesure de l’émissivité thermique

par Philippe HERVÉ

Docteur ès Sciences
Professeur à l’Université Paris X (Institut Universitaire de Technologie de Ville-d’Avray)

1. Définitions de l’émissivité..................................................................... R 2 737 - 2

1.1 Émissivité monochromatique directionnelle ............................................ — 2
1.2 Émissivité directionnelle totale .................................................................. — 2
1.3 Émissivité hémisphérique monochromatique .......................................... — 2
2. Interprétation physique de l’émissivité............................................. — 3
2.1 Indice complexe........................................................................................... — 3
2.2 Théories de la dispersion de l’indice ......................................................... — 3
2.3 Modélisation de l’émissivité ....................................................................... — 4
3. Méthodes de mesure et appareillages ............................................... — 4
3.1 Méthodes directes à partir de l’émission de rayonnement ..................... — 4
3.1.1 Méthode utilisant un corps noir de référence .................................. — 4
3.1.2 Méthode absolue en lumière polarisée ............................................ — 5
3.2 Méthodes indirectes .................................................................................... — 6
3.2.1 Mesure de la réflectivité..................................................................... — 6
3.2.2 Mesure de l’indice complexe............................................................. — 6
3.2.3 Méthode calorimétrique..................................................................... — 6
4. Exemples de résultats expérimentaux
sur les matériaux lisses.......................................................................... — 7
4.1 Métaux.......................................................................................................... — 7
4.2 Diélectriques ................................................................................................ — 7
4.3 Couches minces. Surfaces sélectives ........................................................ — 7
5. Influence de l’état de surface sur l’émissivité................................. — 9
5.1 Influence de l’état chimique de la surface ................................................. — 9
5.2 Influence de la rugosité............................................................................... — 9
Pour en savoir plus........................................................................................... Doc. R 2 737

’émission de rayonnement thermique d’une surface solide ou liquide dépend

L de la température, de la longueur d’onde, mais aussi d’un facteur compris
entre 0 et 1 appelé émissivité.
Les échanges thermiques par rayonnement, les mesures de température par
pyrométrie nécessitent donc la connaissance de ce facteur, qui dépend lui-même
de la nature du matériau, de l’angle d’émission, de la polarisation du rayonne-
ment émis et enfin de l’état de surface. L’influence de ces différents paramètres
7 - 1989

sera examinée dans le présent article, qui complète l’article [R 2 735] Tempéra-
ture de surface. Mesure radiative.
Les symboles et notations seront donc identiques à ceux de l’article [R 2 735],
sauf la grandeur appelée facteur d’absorption-émission, notée  dans
[R 2 735], qui est appelée ici (puisqu’il s’agit d’émission) émissivité et notée ε,
conformément à la norme NF X 02-206.
R 2 737

Pour avoir une connaissance plus complète des phénomènes physiques de

base, on pourra se référer aux ouvrages généraux [1] [2] [4] [5] cités dans la fiche
[Doc. R 2 737].

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Dans le recueil de données de Y.S. Touloukian et D.P. De Witt [3], on trouvera

l’émissivité (facteur d’émission) de nombreux matériaux conducteurs et diélec-
triques, les mesures ayant été réalisées par de nombreux expérimentateurs. La
divergence des résultats obtenus sur un même matériau surprend au premier
abord. En fait, cette multiplicité des résultats est due à la composition chimique
des échantillons et à la variété infinie des états de surface. Il sera donc nécessaire
de ne pas se contenter de valeurs bibliographiques et d’effectuer des mesures
sur un échantillon du matériau, en étudiant en même temps sa composition
chimique et son état de surface. Nous examinerons plusieurs méthodes de
mesure, directes ou indirectes, de l’émissivité.

1. Définitions de l’émissivité Après un calcul intégral, on montre que l’émissivité non polarisée
s’écrit :
1
Par définition, on appelle émissivité (en anglais emissivity ) le rap- ε = ------ [ ε // (θ ) + ε : (θ ) ] (3)
2
port entre l’émission du corps réel et celle du corps idéal, appelé
corps noir, porté à la même température T : Dans le cas fréquent où l’on s’intéresse à l’émission normale à
la surface, on utilise :
L corps réel ( T )
ε ( T ) = ------------------------------------
- (1) ε (θ = 0 o , λ , T ) = ε n (λ , T )
L corps noir ( T )
appelée émissivité normale monochromatique. C’est ce facteur qui
La luminance L du corps noir en fonction de la longueur d’onde permet de corriger la température de luminance donnée par les pyro-
λ et de T est déterminée par la loi de Planck. mètres monochromatiques (article Pyrométrie optique [R 2 610]
Nota : la loi de Planck est explicitée dans l’article Température de surface. Mesure
radiative [R 2 735], déjà cité.
dans le présent traité).
Suivant le but recherché (échanges thermiques, pyrométrie,
propriétés des surfaces sélectives), on distinguera différentes émis-
sivités spécifiques. 1.2 Émissivité directionnelle totale
Dans l’étude des échanges thermiques, on désire connaître l’éner-
gie totale émise à toutes les longueurs d’onde. On définit alors l’émis-
1.1 Émissivité monochromatique sivité directionnelle totale ε totale :
directionnelle
ελ
∞

Cette émissivité est à la base des autres émissivités ε : ( ,T, θ ) L corps noir ( λ , T ) d λ
ε totale ( T, θ ) = ----------------------------------------------------------------------------------------
0
- (4)

∞
L corps réel ( λ ,T, θ )
ε ( λ ,T, θ ) = ------------------------------------------------
- (2) L corps noir ( λ , T ) d λ
L corps noir ( λ , T ) 0

avec θ angle d’émission.
Nota : certains auteurs notent L 0 à la place de L corps noir .
C’est ce facteur qui permet les calculs les plus précis, par exemple
dans le cas des échanges de rayonnement entre surfaces réfléchis-
santes à l’intérieur d’un cryostat.
Dans le cas des surfaces réfléchissantes, il faudra tenir compte
de la polarisation des rayonnements émis. Avec les conventions se
rapportant au champ électrique E (figure 1), on définira les émissi-
vités polarisées ε // (θ ) et ε : ( θ ) .
Cette émissivité est définie pour un angle particulier θ.
On restreint souvent l’intégration en longueur d’onde à une fenêtre
de transmission atmosphérique ou à la zone de réponse d’un détec-
teur infrarouge entre deux longueurs d’onde λ1 et λ 2 . On définit alors
une émissivité effective pour cette bande. Cette émissivité est par
exemple utilisée en thermographie (article Thermographie infra-
rouge [R 2 740] dans le présent traité).
1.3 Émissivité hémisphérique
monochromatique
Dans les échanges thermiques, l’énergie est rayonnée dans tout
le demi-espace situé vers l’extérieur du corps rayonnant. L’émissivité
utile s’obtient en intégrant ε (λ , T, θ ) sur ce demi-espace et elle est
appelée émissivité hémisphérique monochromatique :

2π sr

ε ( λ ,T, θ ) L corps noir ( λ , T ) cos θ d Ω
ε hémisphérique ( λ , T ) = ----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- (5)
 2π sr
L corps noir ( λ , T ) cos θ d Ω

l’indice 2π sr indiquant que l’intégration sur l’angle solide dΩ s’effec-

Figure 1 – Plan d’émission tue sur le demi-espace (2π stéradians).

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εhémisphérique est aussi souvent notée ε*.

Quand la surface n’est pas isotrope (par exemple un acier laminé),
il faut définir des émissivités bidirectionnelles ε (θ , ϕ ) et faire l’inté-
gration correspondante.
ε hémisphérique peut aussi être intégrée sur le spectre de longueurs
d’onde et l’on obtient alors ε hémisphérique, totale qui caractérise les flux
de rayonnement émis par un corps isolé dans l’espace, tel qu’un
satellite.

2. Interprétation physique
de l’émissivité
La théorie de la propagation d’un champ électromagnétique dans
un milieu homogène permet, à partir des équations de Maxwell, de
déterminer ε (λ, θ ) à partir de l’indice complexe n* (λ ). La variation
de n* en fonction de λ peut aussi être prévue en considérant les
atomes et les électrons comme des oscillateurs. Le facteur ε (λ, T, θ )
peut ainsi être calculé à partir d’un nombre très réduit de constantes
utilisées en physique du solide.

2.1 Indice complexe

Figure 2 – Propagation du rayonnement dans un dioptre
La relation bien connue de Descartes (sin θ = n sin r ) s’applique
aux diélectriques transparents mais aussi aux corps « opaques » tels
que les métaux et certains plastiques (figure 2), à condition d’intro- Suivant la valeur de l’indice complexe qui est la caractéristique
duire la notion d’indice complexe n* : optique du matériau, on trouve des indicatrices d’émission très pola-
n* = nr – j χ (6) risées pour les métaux et peu polarisées pour les diélectriques
(figure 3).
avec nr indice réel (caractérise la réfraction), La connaissance de nr (λ ) et de χ (λ ) permet donc de calculer toutes
χ indice d’extinction (caractérise l’absorption de l’onde les propriétés de l’émission d’une surface lisse et, éventuellement,
dans le matériau). d’une surface rugueuse dont la géométrie est connue.
Fresnel a montré que la réflectivité ρ et par conséquent l’émissivité
ε = 1 – ρ pouvaient s’exprimer en fonction de nr , χ et θ .
On montre que les émissivités polarisées s’écrivent : 2.2 Théories de la dispersion de l’indice
4ap
ε : = ------------------------------------ 
( p + a )2 + b 2  La variation de l’indice en fonction de la longueur d’onde peut
 (7)
s’expliquer [1] en considérant les atomes et les électrons comme
4cp
ε // = -----------------------------------
- 
( p + c )2 + d 2  étant des oscillateurs.
Cette théorie, énoncée par Drude, donne la même expression
avec p = cos θ que la théorie quantique des bandes d’énergie :
α+β Cte Cte
a = ---------------
2 n* 2 = 1 + ∑ ------------------------------------------------
2
+ ∑ -------------------------------
ω ( j ωq – ω )
p liés ( ω p – ω 2 + j k ′ω)
q libres
α–β (8)
b = --------------
2




















2 2 2 diélectriques conducteurs
α = ( n r – χ 2 – sin 2 θ ) + 4 n r χ 2
2
avec ω = 2π/λ,
β = n r – χ 2 – sin 2 θ
k’ constante d’amortissement,
2
a ( n r – χ 2 ) + 2bn r χ ωp et ωq pulsations propres des oscillateurs,
c = --------------------------------------------------------
-
2
(n r + χ 2)
2 en supposant qu’il existe p sortes d’électrons liés et q sortes
d’électrons libres.
2
b ( n r – χ 2 ) – 2an r χ L’émissivité des conducteurs (métaux) sera donc assez différente
d = --------------------------------------------------------
2 2
- de celle des diélectriques.
(n r + χ 2)
4n r
pour θ = 0o, on a : ε n = -------------------------------------
-
( nr + 1 ) 2 + χ 2

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Figure 4 – Émissivité normale du cuivre de pureté 99,9 %, à 40 oC

3. Méthodes de mesure
et appareillages
Pour déterminer l’émissivité, il y a deux possibilités : soit faire une
mesure directe à partir du rayonnement émis, soit utiliser une
méthode indirecte en déterminant d’abord la réflectivité de la surface
Figure 3 – Indicatrices d’émission en lumière polarisée ou l’indice complexe.

■ Conducteurs : émission de rayonnement due aux oscillations des

électrons libres. ε (λ ) a une variation monotone et décroissante dans 3.1 Méthodes directes
l’infrarouge moyen et lointain. Dans le visible et le proche infrarouge,
quelques variations sont dues à des électrons liés. Dans l’ultraviolet, à partir de l’émission de rayonnement
les métaux deviennent transparents ( χ → 0 ) .
3.1.1 Méthode utilisant un corps noir de référence
■ Diélectriques : émission due aux oscillations des électrons liés.
nr (λ ) et χ (λ ) présentent des variations simultanées qui se traduisent C’est la méthode qui correspond directement à la définition de
par des bandes d’émission dans le visible et l’infrarouge. Ces bandes l’émissivité. L’émission du corps est comparée à celle d’un corps
sont de véritables « signatures » du type de diélectrique. noir porté à la même température (figure 5).
La principale difficulté de la méthode consiste à mesurer préci-
sément la température réelle T 1 du corps noir et celle T 2 de
2.3 Modélisation de l’émissivité l’échantillon :
L’erreur relative sur ε est en effet :
Pour de nombreux corps simples, la théorie de Drude permet
d’obtenir le spectre continu de ε (λ ) à partir de quelques mesures ∆ε exp ( c 2 / λ T ) c2 
 ------------
discrètes en λ. -------- = --------------------------------------------- - ( ∆T 1 + ∆T 2 ) (9)
ε exp ( c 2 / λ T ) – 1  λ T 2 
La figure 4 présente des résultats expérimentaux obtenus à trois
longueurs d’onde sur du cuivre [6] [7] [8] [9]. Les courbes spectrales avec c2 seconde constante de rayonnement
calculées à partir de la théorie de Drude sont en accord avec des (c 2 = 1,438 8 × 10–2 K · m),
résultats obtenus par mesure de la réflectivité. T moyenne de T1 et T2 ,
L’utilisation des modèles connus en physique du solide permet ∆T1, ∆T2 erreurs respectivement sur T1 et T2 .
de prévoir [10] les variations de ε en fonction de θ (relations de
La figure 6 représente l’erreur due à une différence de température
Fresnel) mais aussi en fonction de λ et T (loi de Drude) à partir d’un
de 2 K entre le corps noir et l’échantillon.
nombre très limité de constantes physiques.

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Figure 5 – Principe de mesure directe de l’émissivité

Figure 7 – Appareillage général de mesure de l’émissivité

et de l’indice complexe

— une solution élégante consiste à creuser un trou dans l’échan-

tillon (trou de dimensions faibles par rapport à l’échantillon) ; ce
trou sert donc de corps noir, à condition que le matériau soit assez
conducteur de la chaleur pour que la température du trou soit
homogène.
Enfin, il n’est pas nécessaire que le corps noir ou son substitut
soit à la même température T que l’échantillon. On fera alors la
correction :
L échantillon ( T ) L corps noir ( T 1 )
ε ( T ) = --------------------------------------- ⋅ ---------------------------------------
L corps noir ( T 1 ) L corps noir ( T )
(10)














mesuré calculé
Le terme calculé peut être facilement déterminé en lumière mono-
chromatique à partir de la loi de Planck.
Figure 6 – Erreur due à la mesure de la température T

3.1.2 Méthode absolue en lumière polarisée

On peut constater que cette erreur augmente aux courtes lon-
gueurs d’onde. Inversement, les pyromètres monochromatiques
L’émissivité d’un matériau lisse dépend de trois paramètres, nr ,
sont moins sensibles aux variations de ε lorsque la longueur d’onde
χ, θ . En effectuant trois mesures indépendantes de luminance, il est
de mesure est petite.
donc possible mathématiquement de déterminer ε. Le paragraphe
Aux basses températures, l’erreur principale de mesure est due 3.2.2 explique comment obtenir nr et χ à partir d’un calcul relative-
à la réflexion du rayonnement ambiant sur l’échantillon. À λ = 10 µm ment complexe.
et à 20 oC, l’émission du cuivre poli est 100 fois plus faible que le
Si l’on s’intéresse uniquement à εn , on remarque [6] que les
rayonnement ambiant réfléchi sur sa surface. L’appareillage repré-
senté schématiquement sur la figure 7 permet de mesurer des émis- relations (7) se simplifient pour θ = 45o.
sivités dans la gamme – 50 à 1 200 oC ou plus et dans la gamme On a en effet :
de longueurs d’onde 0,3 à 1 000 µm. La température minimale de 2
l’échantillon dépend de la longueur d’onde. Il s’agit évidemment d’un ρ : ( 45 o ) = ρ // ( 45 o ) (11)
appareillage assez complexe mais des variantes plus simples
peuvent répondre à des mesures de températures et de longueurs avec ρ réflectivité, les indices // et : ayant la même signification
d’ondes sur des gammes plus restreintes. qu’au paragraphe 1.1 (figure 1).
Des artifices peuvent être utilisés avec une précision satisfaisante, On en déduit :
de l’ordre de 2 %, pour supprimer la référence du corps noir : L ( 0o ) L // ( 45 o )
— l’échantillon peut être recouvert partiellement d’une mince ε n = ----------------------- 2 – -----------------------
- (12)
L : ( 45 ) o L : ( 45 o )
couche de peinture « noire » dont l’émissivité est d’environ 0,98 ; la
peinture prend une température inférieure de quelques degrés à celle
de l’échantillon ;

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La luminance étant proportionnelle à l’émissivité, il suffit donc de
mesurer deux rapports de luminance (figure 8) pour obtenir εn par
une expression simple. Cette méthode ne fait appel à aucune hypo-
thèse et ne nécessite aucune référence extérieure. En pratique, elle
est applicable à tout matériau relativement lisse (rugosité
Ra < 1 µm).
Dans les applications industrielles, il peut être impossible d’effec-
tuer des mesures à des angles différents. En étudiant la variation
de εn en fonction du rapport des luminances polarisées au même
angle θ, on constate qu’à moins de 3 % près ce rapport suit une loi
linéarisable (figure 9) de la forme :
L // (θ )
ε n = A′ – B ′ ----------------- (13)
L : (θ )
Ce principe a servi de base [7] à l’élaboration d’un pyromètre
industriel (réalisé par la société Mesure Contrôle Commande) per-
mettant de mesurer simultanément εn et T par exemple dans le cas
d’un matériau s’oxydant (figure 16).
Figure 8 – Principe de mesure absolue de l’émissivité
Figure 9 – Polarisation de la luminance suivant l’angle d’émission 
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3.2 Méthodes indirectes
3.2.1 Mesure de la réflectivité
La loi de Kirchhoff, c’est-à-dire la loi de conservation de l’énergie,
relie ε à la réflectivité spéculaire ρ (réflexion sur une surface par-
faitement lisse) :
ε (λ, T, θ ) = 1 – ρ (λ, T, θ ) (14)
En pratique, la réflexion sur un matériau, même poli, est rarement
spéculaire et il faut mesurer l’indicatrice de réflexion diffuse dans
le demi-espace situé au-dessus de l’échantillon ; le système de
mesure est en général très complexe. On peut aussi utiliser une
demi-sphère intégrante entourant l’échantillon afin de recueillir tous
les rayons réfléchis. L’imprécision de la mesure est alors surtout due
à la qualité du revêtement de la sphère intégrante.
L’intérêt de la méthode a été de permettre l’utilisation de détec-
teurs de rayonnement peu sensibles, puisque l’échantillon peut être
illuminé avec une source puissante.
L’amélioration constante des détecteurs a donc fait disparaître peu
à peu le principal avantage de cette technique indirecte de mesure
de ε.
3.2.2 Mesure de l’indice complexe
L’indice complexe peut être déterminé à partir des indicatrices
d’émission ou de réflexion. La méthode la plus ancienne, connue
sous le nom d’ellipsométrie, consiste à mesurer le rapport des
réflectivités ρ // / ρ : à l’incidence principale ip .
Cette incidence, appelée angle de Brewster pour les corps trans-
parents, correspond au minimum de ρ// .
Dans le cas où χ est grand devant nr , les deux valeurs nr et χ
sont données par des formules simples :
nr = tan ip · sin ip · cos 2 ψ (15)
χ = nr tan 2 ψ (16)
avec ρ : / ρ // = tan ψ .
Cette méthode est couramment utilisée dans le domaine du
rayonnement visible, et des appareillages commerciaux existent.
L’inconvénient principal de cette détermination par réflexion est
d’être très sensible à la rugosité de l’échantillon.
Une autre méthode [6] [8], qui permet d’étudier des surfaces au
poli imparfait telles que celles des métaux laminés, consiste à
mesurer l’émission de rayonnement en lumière polarisée ou non.
Il faut effectuer au minimum deux mesures relatives à trois angles
différents, par exemple L// (θ 3)/L// (θ 1) et L// (θ2)/L// (θ1).
Ces rapports permettent d’obtenir, dans un plan nr et χ, la valeur
de l’indice. La figure 10 représente des courbes d’isoémission rela-
tives. En portant l’incertitude de mesure sur la luminance, on obtient
directement l’incertitude sur nr et χ et donc sur l’émissivité ε.
La principale difficulté provient en général de la mesure même
de l’émission de rayonnement. Lorsque l’énergie émise est insuffi-
sante, il faut adapter cette méthode en mesurant les facteurs de
réflexion sous incidence.
3.2.3 Méthode calorimétrique
Cette méthode, basée sur la mesure d’un flux de chaleur échangé
entre deux surfaces, permet d’obtenir l’émissivité hémisphérique
totale ε hémisphérique totale .
Un échantillon homogène de surface totale extérieure S est
porté à la température T au moyen d’une résistance électrique
noyée à l’intérieur de l’échantillon.
____________________________________________________________________________________________________
Le système est placé dans une enceinte noircie intérieurement
(figure 11), maintenue sous vide secondaire afin de supprimer les
échanges par convection, et dont la température de la paroi interne
est Tp .
La puissance électrique P nécessaire pour obtenir la température
T est :
4 Ce paragraphe présente trois cas typiques caractéristiques des
P = UI = ε hémisphérique totale σ S ( T 4 – T p )
avec σ constante de Stefan.
La mise en œuvre de la méthode est simple.
Les principales causes d’imprécision sur ε proviennent en général
de l’hétérogénéité de la température de l’échantillon, et des pertes
électriques et thermiques dans les fils d’amenée du courant. La
précision est de l’ordre de 5 %.
Figure 10 – Mesure pratique de l’indice complexe
avec une erreur expérimentale sur la luminance de ± 0,5 %
Figure 11 – Mesure calorimétrique de  hémisphérique totale
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MESURE DE L’ÉMISSIVITÉ THERMIQUE
4. Exemples de résultats
expérimentaux
sur les matériaux lisses
(17) matériaux usuels.
4.1 Métaux
La variation de εn = f (λ ) est relativement monotone pour tous
les métaux non oxydés. La figure 12 représente la variation de εn
en fonction de la température pour le tungstène, corps souvent uti-
lisé comme étalon en radiométrie [12].
4.2 Diélectriques
La variation de εn en fonction de λ est due aux électrons liés [§ 2.2,
formule (8)]. La présence d’impuretés peut modifier considéra-
blement les propriétés émissives (figure 13). De nombreux oxydes,
comme l’alumine, ont des propriétés optiques très différentes dans
le domaine visible (ils sont blancs et réfléchissants) et dans le
domaine infrarouge (ils sont « noirs » et absorbants). Les oxydes de
fer et de nickel sont par contre « gris » sur une grande partie du
spectre (c’est-à-dire que leurs propriétés ne varient pas, sur une
grande partie du spectre, en fonction de λ ).
4.3 Couches minces. Surfaces sélectives
Les couches minces déposées sur un substrat métallique ou dié-
lectrique sont souvent utilisées pour réaliser des surfaces sélectives.
Un capteur solaire idéal aura une émissivité, c’est-à-dire une absorp-
tivité, proche de 1, dans le domaine de longueurs d’onde 0,4 µm à
2 µm et au contraire une émissivité très faible aux grandes longueurs
d’onde afin d’éviter la réémission thermique du rayonnement
absorbé.
La furtivité infrarouge des matériels militaires conduit à l’emploi
de revêtements sélectifs ayant des propriétés assez voisines de celles
des capteurs solaires.
La figure 14 représente l’émission spectrale de deux surfaces
sélectives proches du capteur solaire idéal.
R 2 737 − 7
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Figure 12 – Émissivité normale de tungstène

Figure 14 – Émissivité de surfaces sélectives (d’après [14])

Figure 13 – Émissivité normale de l’alumine (d’après [13])

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5. Influence de l’état de surface
sur l’émissivité
Les exemples précédents correspondent à l’émission de matériaux
homogènes dont la surface est plane. En pratique, dans la majorité
des cas rencontrés dans l’industrie, les surfaces sont rugueuses et
le matériau est rarement homogène, souvent à cause de l’oxydation.
La variété de la géométrie des surfaces et de leur état physico-
chimique est infinie, et le plus gros recueil de données ne pourrait
en présenter qu’un échantillonnage très faible. Doit-on désespérer ?
En fait, on peut séparer les effets dus à l’état physico-chimique de
ceux dus à la forme géométrique de la surface et donner quelques
lois fondamentales permettant de prévoir les effets de l’état de
surface.
5.1 Influence de l’état chimique
de la surface
De nombreux matériaux ont une « histoire » et les derniers micro-
mètres proches de la surface peuvent présenter une hétérogénéité
physique.
Prenons le cas le plus fréquent rencontré dans l’industrie, celui
d’un métal oxydé. Que mesure-t-on : l’émission du métal caractérisé
par une faible émissivité ou l’émission de la mince couche d’oxydes
de forte émissivité (figure 15) ?
Le facteur important est la transmittivité de la couche d’oxydes
donnée par l’expression :
τ = exp (– 4π χe/ λ )
avec e épaisseur de la couche,
χ indice d’extinction,
τ transmittivité.
Nota : rappelons que (article Pyrométrie optique [R 2 610], dans le présent traité) :
α (λ ) + τ (λ ) + ρ (λ ) = 1
avec α (λ ) absorptivité [α (λ ) = ε (λ )],
τ (λ ) transmittivité,
ρ (λ ) réflectivité.
Figure 15 – Transmittivité de l’acier inoxydable 18/8 à 400 oC,
en fonction de l’épaisseur de la couche d’oxyde et de l’indice d’extinction
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MESURE DE L’ÉMISSIVITÉ THERMIQUE
Dans l’immense majorité des cas, ce facteur τ est, soit proche
de 0, dans ce cas c’est la surface d’oxydes qui émet (exemple :
calamine sur un lingot d’acier) ; soit proche de 1, dans ce cas c’est
le métal sous-jacent qui émet (exemple : aluminium recouvert par
une couche d’alumine transparente).
Dans quelques cas, très rares statistiquement, mais qui peuvent
avoir été créés artificiellement, la dernière couche peut être semi-
transparente ou sélective (§ 4.3), comme on le voit sur la figure 15
pour χ = 0,5.
Le problème pour l’utilisateur consiste donc à connaître l’ordre
de grandeur de l’épaisseur de la couche superficielle, à rechercher
l’indice d’extinction du matériau de cette couche puis à calculer la
transmittivité de la couche. Un moyen pratique consiste aussi à
mettre à nu le matériau sous-jacent et à faire un test comparatif
avec le matériau brut.
Inversement, la mesure de l’émissivité du matériau peut faire
connaître l’évolution de l’état physico-chimique de la surface et ainsi
permettre de suivre et de contrôler cet état. Ainsi, la variation de εn
pendant l’oxydation d’une plaque de nickel a pu être suivie
(figure 16) en utilisant un appareillage effectuant des mesures en
lumière polarisée [formule (13) et figure 9].
5.2 Influence de la rugosité
La rugosité de la surface d’un matériau provoque des réflexions
multiples (figure 17) qui augmentent l’émissivité. En connaissant
l’indice complexe et la forme géométrique de la surface, on peut
calculer l’émissivité dans une direction quelconque, mais le calcul
peut être assez long. On peut aussi mesurer la rugosité et essayer
de prévoir l’effet de cette rugosité sur ε. Il faut éviter d’utiliser les
critères classiques Ra, Rp, Rt, qui sont adaptés à des propriétés
mécaniques des surfaces.
Il est préférable de choisir un critère basé sur une propriété optique
de la surface, par exemple l’inverse de la largeur angulaire à
mi-hauteur de la figure de diffraction de la surface. En reportant dif-
férentes valeurs du rapport εrugueux / εlisse en fonction de ce critère
de rugosité, on constate (figure 18) que les valeurs s’ordonnent sur
des droites correspondant chacune à une valeur de ε du matériau
lisse. Ainsi, on constate qu’un matériau très peu émissif comme l’or
peut, par dépolissage, être 10 fois plus émissif.
Par contre, un corps très émissif comme un verre (ε = 0,90) voit
son émissivité augmenter de 3 % seulement après dépolissage.
Figure 16 – Variation de  n lors de l’oxydation du nickel
R 2 737 − 9
MESURE DE L’ÉMISSIVITÉ THERMIQUE _____________________________________________________________________________________________________

Pour l’émission angulaire d’un matériau, la rugosité provoque

deux effets : dépolarisation du rayonnement émis et augmentation
de l’émissivité.
Les indicatrices d’émission de l’or (figure 19), corps dont l’émis-
sivité est très faible, dépendent fortement de la rugosité. Pour les
corps plus usuels, tels que les métaux industriels, les effets de la
rugosité sont moins marqués. Dans le cas des diélectriques, corps
de forte émissivité, la rugosité de la surface influe peu sur l’émission.

Figure 17 – Influence de la rugosité sur 

Figure 18 – Augmentation de  en fonction de la rugosité optique

Figure 19 – Indicatrices d’émission de l’or poli et de l’or dépoli

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Mesure de l’émissivité thermique R

E
par Philippe HERVÉ N
Docteur ès Sciences
Professeur à l’Université Paris X (Institut Universitaire de Technologie de Ville-d’Avray)

S
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L
Laboratoires spécialisés
(0)
U
Liste (non exhaustive) de laboratoires français effectuant des mesures de rayonnement S
Personne à contacter
Nom du laboratoire et organisme Type de mesure
(juillet 1989)

Laboratoire Central de l’Aérospatiale (Suresnes)
Laboratoire du CEA-CESTA (Bordeaux)
Laboratoire de mesures thermooptiques
Établissement Technique Central de l’Armement (ETCA)
Laboratoire de spectroréflectométrie et colorimétrie
Établissement Technique Central de l’Armement (ETCA)
Laboratoire d’infrarouge lointain
7 - 1989
Mesures indirectes par réflexion et méthode calorimétrique M. Beauhaire
Mesures directes et indirectes par réflectivité
Mesures directes d’émissivité dans le visible, l’infrarouge, M. Masclet
l’infrarouge lointain
Mesures indirectes par réflexion dans l’ultraviolet, le visible, Mlle Mermoud
le proche infrarouge
Mesures indirectes dans l’infrarouge lointain par transmission M. Mangin

Faculté des Sciences Nancy 1 et réflexion

Laboratoire d’Énergétique moléculaire et macroscopique- Mesures directes et indirectes dans l’infrarouge Mme Huetz-Aubert
combustion (CNRS), École Centrale de Paris
Centre de Thermique INSA de Lyon Mesures directes et indirectes d’émissivité dans l’infrarouge M. Saccadura
(Institut National des Sciences Appliquées)
Laboratoire d’Énergétique et d’économie d’énergie Mesures directes d’émissivité dans l’ultraviolet, le visible M. Hervé
Doc. R 2 737

Université Paris X et IUT de Ville-d’Avray et l’infrarouge

Département Énergie et matériaux du Laboratoire National d’Éssais Mesures de réflectivité dans l’infrarouge M. Meyer et M. Masson
LNE (Trappes)

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