METHODES DANALYSES EN MICROSCOPIE INFRAROUGE & TRAVAUX PRATIQUES (1/2)

REF. FO CARA MIR - 2 jours (14 heures)

Objectif(s) : Connatre les mthodes qui permettent de caractriser des microchantillons ou des traces, des contaminants par spectroscopie infrarouge. Sessions en 2012 Paris : 25-26 septembre PROGRAMME Mthodes danalyse en microscopie infrarouge 1. Rgles de macro chantillonnage et analyse des microchantillons Utilit des condenseurs de faisceau et leurs limites. Particularits des prparations pour la microanalyse (problmes de contamination). Outils de prparation des microchantillons 2. Schma optique du microscope infrarouge. Rglages d'optimisation maintenance Possibilits et limites d'utilisation du microscope infrarouge a) Limites dues au phnomne de diffraction b) Limite due au flux dnergie du faisceau infrarouge 3. Fonctionnement en lumire visible Mode transmission Mode rflexion Reprage et masquage des chantillons Cartographie en lumire visible 4. Fonctionnement en lumire infrarouge Mode transmission avantages et inconvnients Mode rflexion avantages et inconvnients Mode micro ATR avantages et inconvnients

Public : Techniciens, ingnieurs

Prix : 900 H.T. Djeuners : 39 H.T.

ATOMER
Formation Continue - N dorganisme de formation : 11 95 02 857 95 Tl. : +33 (0)1 39 84 15 87 - E-mail : contact@atomer.fr 13, rue de la Coque F-95410 GROSLAY

METHODES DANALYSE EN MICROSCOPIE INFRAROUGE & TRAVAUX PRATIQUES (2/2)

REF. FO CARA MIR - 2 jours (14 heures)

Objectif(s) : Connatre les mthodes qui permettent de caractriser des microchantillons ou des traces, des contaminants par spectroscopie infrarouge. Sessions en 2012 Paris : 25-26 septembre PROGRAMME 5. Mthodes de prparation des chantillons Prparation des chantillons pour analyse en transmission a) Positionnement, fixation choix du support b) Rduction de lpaisseur coupes microtomiques Prparation des chantillons pour analyse en rflexion a) Influence de la qualit de la surface dchantillon sur les spectres de rflexion (spculaire & diffuse) b) Supports pour les spectres de fond c) Facteurs qui affectent la rflexion totale attnue, Application aux chantillons tudis. 6. Traitement des spectres en fonction des techniques d'chantillonnage et du but d'analyse. Traitements possibles Traitements indispensables. 7. Utilisation du logiciel en relation avec les sujets de recherche et les chantillons analyser Configuration de FTIR, choix des paramtres dacquisition Dtection dventuelles disfonctionnements ; Intrt de la fonction MONITOR (sur PERKIN-ELMER) Analyse ponctuelle, Cartographie alatoire.

Public : Techniciens, ingnieurs

Prix : 900 H.T. Djeuners : 39 H.T.

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Formation Continue - N dorganisme de formation : 11 95 02 857 95 Tl. : +33 (0)1 39 84 15 87 - E-mail : contact@atomer.fr 13, rue de la Coque F-95410 GROSLAY