Teorema del Muestreo

EMI - 2011
SISTEMAS DE CONTROL II

ndice
1.1. Introduccin 1.2. Conversin analgico-digital y digital-analgico 1.3. Proceso de muestreo 1.4. Teorema del muestreo 1.5. Alteracin de la tasa de muestreo 1.6. Tarea

Introduccin
1.1. Introduccin Las tcnicas de seales digitales proporciona un mtodo alternativo para procesar una seal analgica de inters prctico tales como la voz, seales biolgicas, ssmicas, del sonar y de los distintos tipos de comunicaciones son. Para realizar esto, es necesario antes que nada de una interfaz entre la seal analgica y el procesador digital y viceversa. Estas interfaces son el convertidor Analgico-Digital (ADC) y el convertidor Digital-Analgico (DAC) como se muestra en la Figura 1.1.

Seal Analgica

ADC

Procesador Digital

DAC

Seal Analgica

Figura 1.1: Diagrama a bloques de un sistema digital

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Introduccin
El procesador digital de seales puede ser un gran ordenador digital programable (p. e. una PC) o un pequeo microprocesador embebido (p. e. un DSP, FPGA, PIC) para realizar las operaciones deseadas sobre la seal de entrada.

Figura 1.2: DSP de la compaa Altera y uno de la Familia TMS320 de Texas Instruments
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Conversin AD y DA
1.2. Conversin Analgico-Digital y Digital-Analgico Para procesar seales analgicas por medios digitales es necesario convertirlas a formato digital, esto es, transformarlas en una secuencia de nmeros de precisin finita. Este procedimiento se denomina conversin analgico-digital (ADC). Conceptualmente, se puede ver que la ADC posee un proceso de tres pasos los cuales son: 1. Muestreo. Esta es la conversin de una seal en tiempo continuo a una seal en tiempo discreto obtenida tomando muestras de la seal en tiempo continuo en instantes de tiempo discreto. As xa(t) es la entrada al muestreador, la salida es xa(nT) x(n), donde T se denomina el intervalo de muestreo.
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Conversin AD y DA
2. Cuantificacin. Esta es la conversin de una seal en tiempo discreto con valores continuos a una seal en tiempo discreto con valores discretos (seal digital). El valor de cada muestra de la seal se representa mediante un valor seleccionado de un conjunto finito de valores posibles. La diferencia entre la muestra sin cuantificar x(n) y la salida cuantificada xq(n) se denomina error de cuantificacin. 3. Codificacin. En el proceso de codificacin, cada valor discreto xq(n) se representa mediante una secuencia binaria de b bits. xa(t) Muestreador x(n) Cuantificador xq(n) Codificador 1001

Figura 1.3: Diagrama a Bloques de un ADC

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Conversin AD y DA
ADC tipo flash (en paralelo). Consiste en una serie de comparadores arreglados en paralelo que comparan a la seal con una referencia para cada nivel. El resultado de las comparaciones ingresa a un circuito lgico que cuenta los comparadores activados.

Figura 1.4: ADC Flash

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Conversin AD y DA
ADC de simple rampa. Este tipo de convertidor utiliza un integrador con un condensador que se carga a pendiente constante hasta alcanzar la tensin a convertir, instante en el que cesa la integracin. El tiempo requerido es proporcional a la tensin de entrada, y puede medirse con un contador digital.

Figura 1.5: ADC Simple Rampa

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Conversin AD y DA
ADC de doble rampa. Este esquema permite independizarse de la precisin de la frecuencia del reloj, la resistencia y el condensador. La conversin se hace en dos etapas, la primera se realiza la integracin de la tensin de entrada durante un tiempo fijo, y en la segunda se produce la descarga con pendiente fija, durante un tiempo que depende de la cantidad de carga acumulada.

Figura 1.6: ADC doble rampa

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Conversin AD y DA
DAC de escalera. Esta configuracin permite un rango amplio de valores de las resistencias. En la actualidad, este tipo de circuito es superado por las redes de escalera del tipo R-2R

Figura 1.7: DAC de escalera

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Conversin AD y DA
DAC de escalera R-2R. La propiedad de esta configuracin es que cualquiera que sea el nmero de secciones en la red, la resistencia vista por el operacional es R.

Figura 1.8: DAC escalera R-2R

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Conversin AD y DA
Existen otros circuitos convertidores analgico-digital y digital-analgico que poseen circuitera mucho ms compleja para mejorar que las vistas atrs. Por ejemplo, los ADC usan DAC dentro de su propia circuiteria. Algunos ejemplos son: de aproximaciones sucesivas, balance continuo y de rampa discreta

Figura 1.9: aproximaciones sucesivas

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Conversin AD y DA
Algunos parmetros de inters para los DAC son: La resolucin, exactitud, el error de escala, error de offset, monotona, Tiempo de establecimiento, slew-rate, sobrepico y glith, derivadas con la temperatura y con el envejecimiento entre otros parmetros. Para los ADC son: Rechazo al ruido, resolucin, error de cuantizacin, error de histresis, error de offset, error de cero, y error de escala.

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Muestreo de Seales
5.3. Muestreo de seales analgicas Existen muchas maneras de muestrear una seal, la ms comn es el muestreo peridico o uniforme. Este proceso se describe mediante la relacin

x(n ) = xa (nT )

< n < +

(1.1)

donde x(n) es la seal en tiempo discreto obtenida tomando muestras de la seal analgica xa(t) cada T segundos. Este proceso se ilustra en la Figura 1.10. El intervalo de tiempo T entre dos muestras sucesivas se denomina periodo de muestreo o intervalo de muestreo, y su reciproco (1/T = Fs) se llama velocidad de muestreo (muestras por segundo) o frecuencia de muestreo (Hertz).
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Muestreo de Seales
xa(t)
Fs = 1/T Muestreador

x(n) = xa(nt)

xa(t)

x(n)

xa(t) x(n) = xa(nt)

1 2 3 4 5 6 7 8 9

T 2T 5T

9T t = nT

Figura 1.10: Muestreo peridico de una seal analgica

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Muestreo de Seales
El muestreo peridico establece una relacin entre las variables t de tiempo continuo y n de tiempo discreto. De hecho, estas variables se relacionan linealmente a travs del periodo de muestreo T o equivalentemente, a travs de la velocidad de muestreo como

t = nT =

n T

(1.2)

Como consecuencia de (1.2), existe una relacin entre la variable frecuencia F de las seales analgicas y la variables frecuencia f de las en tiempo discreto. Para establecer dicha relacin si se considera una seal analgica de la forma

xa (t ) = A cos(2Ft + )

(1.3)
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Muestreo de Seales
que, cuando se muestrea peridicamente a una velocidad de Fs = 1 /T muestras por segundo, da lugar a

xa (nT ) x(n ) = A cos(2nFT + )

2nF x(n ) = A cos F + s
Si una seal en tiempo discreto es expresada como (1.4)

x(n ) = A cos(2nf + )
entonces, al comparar la relacin (1.4) con la (1.5), se observa que las variables de frecuencia F y f estn linealmente relacionadas como

(1.5)

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Muestreo de Seales
f = F Fs
(1.6) Si = 2f y = 2F, entonces, la (1.6) queda como

= T

(1.7)

La relacin dada en (1.6) justifica el nombre de frecuencia normalizada o relativa, que se usa a veces para describir a la variable f. Como se ve en (1.6), se puede usar a f para determinar a la frecuencia F solo si la frecuencia de muestreo Fs es conocida. El rango de la variable de frecuencia F para senoides en tiempo continuo es < < + < F < +

(1.8)
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Muestreo de Seales
Sin embargo, la situacin es diferente para senoides en tiempo discreto, las cuales establecen que < F < < < (1.9)

Sustituyendo (1.6) y (1.7) en (1.9) se encuentra que la frecuencia de la senoide en tiempo continuo cuando se muestreo a una velocidad Fs = 1/T debe encontrarse en el rango

o equivalentemente

1 1 F F = s F s = 2T 2 2 2T

(1.10)

= Fs Fs =

(1.11)
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Dr. Luis Javier Morales Mendoza

Muestreo de Seales
Ejemplo 1. considere la siguiente seal analgica

xa (t ) = 3 cos(100t )
Si la seal se muestrea a una velocidad de Fs = 200Hz cul es la seal en tiempo discreto obtenida tras el muestreo?. b) Si la velocidad de muestreo cambia a Fs = 75Hz. a) Sol. Aplicando la (1.4) se tiene a)

100 x(n ) = 3 cos n = 3 cos n 200 2 100 4 x(n ) = 3 cos n = 3 cos n 75 3

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b)

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Muestreo de Seales

Figura 1.11: Muestreo de la seal xa(t)

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Teorema del Muestreo

5.4. Teorema de Muestreo Dada una seal analgica cualesquiera, cmo se debe elegir el periodo de muestreo T? cual es velocidad de muestres Fs? Para contestar esta pregunta es necesario cierta informacin sobre la caracterstica de la seal que va a ser muestreada. En particular, se debe tener cierta informacin general sobre el contenido de frecuencia de la seal. Generalmente, dicha informacin se encuentra disponible, por ejemplo se sabe que la frecuencia mayor en seales de voz ronda los 3KHz o en las seales de televisin tiene componentes de frecuencia importante hasta los 5MHz. La informacin contenida en dichas seales se encuentra en la amplitud, frecuencia y fase de las distintas componentes de frecuencia, pero antes de obtener dichas seales no se conoce sus caractersticas con detalle.
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Teorema del Muestreo

De hecho, el propsito del procesado de seal es normalmente la extraccin de dichas caractersticas. Sin embargo, si se conoce la mxima frecuencia de una determinada clase de seal, se puede especificar la velocidad de muestreo necesaria para convertir las seales analgicas en seales digitales. Si se supone que cualquier seal analgica se puede representar como una suma de senoides de diferentes amplitudes, frecuencias y fases, es decir

xa (t ) = Ai cos(2Fi t + i )
i =1

(1.12)

donde N indica el nmero de componentes de frecuencia. Todas las seales, como las de voz video se prestan a dicha representacin en cualquier intervalo de tiempo pequeo.
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Teorema del Muestreo

Normalmente, las amplitudes, fases y frecuencias varan lentamente de un intervalo de tiempo al siguiente. Si se supone que la frecuencia de una determinada seal no excede una frecuencia mxima conocida Fmax. Por ejemplo, si Fmax = 3KHz, para seales de voz y Fmax = 5MHz para seales de video, se puede ver que la mxima frecuencia puede variar ligeramente, y para asegurar que Fmax no sobrepase determinado valor, la seal analgica es pasada a travs de un filtro que atene fuertemente las componentes de frecuencia por encima de Fmax. En la prctica, este filtrado se realiza antes del muestreo. Se sabe que la frecuencia ms alta de una seal analgica que puede reconstruirse sin ambigedad cuando la seal se muestrea a una velocidad de Fs = 1/T es Fs/2. Cualquier frecuencia por encima de Fs/2 o por debajo de Fs/2 produce muestras que son idnticas a las correspondientes a las frecuencias dentro del intervalo Fs/2 F Fs/2.
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Teorema del Muestreo

Para evitar las ambigedades, que resultan del aliasing, se debe seleccionar una velocidad de muestreo lo suficientemente alta, esto es, se debe escoger a Fs/2 mayor que a Fmax. Por lo tanto para evitar el problema de aliasing, se selecciona a Fs como Fs > 2Fmax (1.13)

Teorema: Si la frecuencia ms alta contenida en una seal analgica xa(t) es Fmax = B y la seal se muestrea a una velocidad Fs > 2Fmax, entonces xa(t) se puede recuperar totalmente de sus muestras mediante la siguiente funcin de interpolacin:

g (t ) =

sin (2Bt ) 2Bt

(1.14)

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Teorema del Muestreo

As, xa(t) se puede expresar como

xa (t ) =

n =

x F
a

n n g t s Fs

(1.15)

donde xa(n/Fs) = xa(nT) = x(n). Cuando el muestreo de xa(t) se realiza a la tasa mnima de muestreo Fs =2B, la formula de reconstruccin (1.15) se transforma en

xa (t ) =

n sin 2B(t n 2 B ) xa 2 B 2B(t n 2 B ) n =

(1.16)

La tasa de muestreo dada por FN = 2B = 2Fmax, se denomina tasa de Nyquist. La Figura 1.12 ilustra el proceso de un DAC ideal que usa esta funcin de interpolacin.
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Teorema del Muestreo

g (t ) =

sin 2B(t n 2 B ) 2B(t n 2 B )

Figura 1.12: Conversin analgico a digital ideal

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Teorema del Muestreo

Como puede observarse tanto en la (1.15) como en la (1.16), la reconstruccin de xa(t) a partir de la secuencia x(n) es un proceso complicado que supone la suma ponderada de la funcin de interpolacin g(t) y sus versiones correspondientemente desplazadas en el tiempo g(t - nT) con < n < , donde los coeficientes de ponderacin son las muestras de x(n). Dada la complejidad y el infinito nmero de muestras que se requiere en (1.15) y (1.16), stas formulas de reconstruccin, son puramente de inters terico. Ejemplo 2. Considere la siguiente seal analgica

xa (t ) = 3 cos 50t + 10 sin 300t cos100t

Cual es la tasa de Nyquist para esta seal?
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Teorema del Muestreo

Sol. Las frecuencias presentes en la seal son:

F1 = 25Hz

F2 = 150 Hz

F3 = 50 Hz

Por lo tanto, la frecuencia mxima contenida en la seal es 150Hz, y de acuerdo a (1.13) la tasa de Nyquist es

FN = 2Fmax

FN = 300 Hz

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Teorema del Muestreo

Ejemplo 3. Considere la siguiente seal analgica

xa (t ) = 3 cos 2000t + 5 sin 6000t + 10 cos12000t

a) Cual es la tasa de Nyquist para esta seal? b) suponga ahora que se muestrea esta seal a una velocidad de Fs = 5000 muestras por segundo Cul es la seal en tiempo discreto que se obtiene tras el muestreo? Sol.

F1 = 1KHz
Por lo tanto

F2 = 3KHz FN = 12 KHz

F3 = 6 KHz

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Teorema del Muestreo

b) Dado que se ha elegido a Fs = 5KHz, la mxima frecuencia que puede ser representada sin ambigedad mediante las muestras es

Fs = 2.5KHz 2
usando la (1.2) se obtiene
3 xa (t ) = 3 cos 2 ( 1 )n + 5 sin 2 ( 5 )n + 10 cos 2 ( 6 )n 5 5

2 = 13 cos 2 ( 1 )n 5 sin 2 ( 5 )n 5

2 = 3 cos 2 ( 1 )n + 5 sin 2 ( 5 )n + 10 cos 2 ( 1 )n 5 5

2 = 3 cos 2 ( 1 )n + 5 sin 2 (1 5 )n + 10 cos 2 (1 + 1 )n 5 5

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Tarea
1. Investigue en forma detallada cada uno de los convertidores analgicodigital que se presentaron en esta lectura, cubriendo el anlisis del circuito, aplicaciones, ventajas y desventajas que presenta cada uno, entre otros datos de inters. 2. Realice la programacin de un DAC y ADC en Matlab aplicando los mtodos de conversin descritos en esta lectura. 3. Investigue cual es el estado del arte de los convertidores analgicosdigitales y digitales-analgicos en cuestin de diseo electrnico, en programacin de algunos sistemas embebidos (PIC, FPGA, DSP), velocidad, etc.

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Tarea
4. Se tiene las siguientes seales analgicas

xa (t ) = 3 cos 600t + 2 cos1800t xa (t ) = 5 Re{exp( j 200t )}+ 7 Im{exp( j 400t )} xa (t ) = 3 Re{exp( j 200t )}Im{exp( j100t )}
Encuentre: a) La frecuencia mxima b) La tasa de Nyquist c) Si la frecuencia de muestreo cambia a Fs = 500 muestras por segundo Cul es la seal en tiempo discreto que se obtiene tras el muestreo?
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