Behrens GMA-SORP-1
Oberflächen im Rasterelektronenmikroskop
Poröse Materialien
Mikro- Meso- Makro- -porosität
M41S
"pillared clays"
Zeolithe
Porendurchmesser / nm
1 5 10 50 100
500 nm
poröses Glas
poröses Kieselgel
poröses Modellpartikel
mit Rissen und Poren
Monoschicht-Bedeckung
des porösen Modellpartikels
(ca. 15 % der Sättigung)
Multischicht- /
Kapillarkondensation
(ca. 70 % der Sättigung)
2 2
1
P / P0 3
Multischichtenadsorption / Kapillarkondensation
1 2
Va
4
5 3
1
2
P / P0
3 4 5
Grundlagen der Materialanalytik / Prof. Behrens GMA-SORP-5
Standard-Sorptionsisothermen starke
Adsorbat-Adsorbat-
Mikroporen Multischichtensorption Wechselwirkungen
I II III
Va
IV V VI
P/P
Multischichten- 0 Multischichten- / Kapillar- energetisch
sorption / kondensation bei starken heterogene
Kapillarkondensation Adsorbat-Adsorbat- Oberfläche
Wechselwirkungen
Standard-Hysteresetypen
H1 H2 H3 H4 H5
Grundlagen der Materialanalytik / Prof. Behrens GMA-SORP-06
20 20
nad / mmol g−1
10 10
5 5
0 0
0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0
P / P0 P / P0
BET-Plot
0.5 0.5
p / [na (p / p0)] in g/mmol
p / [na (p / p0)] in g/mmol
0.4 0.4
0.3 0.3
0.2 0.2
0.1 0.1
0.0 0.0
0.0 0.1 0.2 0.3 0.0 0.1 0.2 0.3
p / p0 p / p0
Porenweitenverteilung
0.10 0.5
dV / dd / ml g−1 nm−1
dV / dd / ml g−1 nm−1
0.08 0.4
0.06 0.3
0.04 0.2
0.02 0.1
0.00 0.0
1 10 100 1000 1 10 100 1000
dpore / nm dpore / nm
Grundlagen der Materialanalytik / Prof. Behrens GMA-SORP-7
Va
P / P0
Va Va
P / P0 P / P0
r1 r2 r3 Va
P / P0
Grundlagen der Materialanalytik / Prof. Behrens GMA-SORP-8
0.8
0.6
0.4
für Stickstoff:
0.2 -6 3
VL = 34.68 x 10 m /mol
g = 8.88 mN/m
0
0.1 1 10 100 1000 10000
dm (nm)
Porenweitenverteilungen
r1 r2 r3
1 2 3
Va Va
3
2 2
1 1
3
P / P0 rp
Grundlagen der Materialanalytik / Prof. Behrens GMA-SORP-9
MCM-48
Grundlagen der Materialanalytik / Prof. Behrens GMA-SORP-10
Flüssigkeit
Gas
Grundlagen der Materialanalytik / Prof. Behrens GMA-SORP-11
Sorptionsmessgerät
Probenhalter
Grundlagen der Materialanalytik GMA-SORP-12
Quecksilberintrusionsporosimetrie
Hg
Θ Washburn-Gleichung:
2γ cos Θ
ΔP =
2r rPore
Silicagel γ-Aluminiumoxid
Intrusionsmessung
1.2 1.2
1.0 1.0
Vad / ml g−1
Vad / ml g−1
0.8 0.8
0.6 0.6
0.4 0.4
0.2 0.2
0.0 0.0
0.1 1 10 100 1000 0.1 1 10 100 1000
P / MPa P / MPa
Porenweitenverteilung
0.08 0.5
dV / dd / ml g−1 nm−1
dV / dd / ml g−1 nm−1
0.4
0.06
0.3
0.04
0.2
0.02
0.1
0.00 0.0
1 10 100 1000 10000 1 10 100 1000 10000
dpore / nm dpore / nm
GMA-SORP-13
CPG® 50 nm
relatives Porenvolumen
0.5
0.4
0.2
Quecksilberintrusionsporosimetrie
0.1
500 nm 0.0
0.1 1 10 100 1000 10 50 100
Controlled Pore Glass CPG®
p / MPa dpore / nm
CPG® 70 nm
relatives Porenvolumen
0.5
0.4
0.2
0.1
500 nm
0.0
0.1 1 10 100 1000 10 50 100
p / MPa dpore / nm
CPG® 100 nm
Grundlagen der Materialanalytik
relatives Porenvolumen
0.6
0.5
Vad / cm3 g−1
0.4
0.3
0.2
0.1
500500nm
nm
0.0
0.1 1 10 100 1000 10 50 100
p / MPa dpore / nm
Rasterelektronen-
Quecksilberintrusionsporosimetrie
mikroskopie