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Macrografia

Consiste no exame do aspecto de uma superfcie plana seccionada de uma pea ou amostra metlica, devidamente polida e atacada por um reagente adequado. Por seu intermdio tem-se uma idia de conjunto, referente homogeneidade do material, distribuio e natureza de falhas, impurezas; ao processo de fabricao. Para a macrografia o ao o material de maior interesse. Algumas das heterogeneidades mais comuns nos aos so as seguintes: - vazio, causado pelo resfriamento lento; - segregao, causadas pelas impurezas e outros metais; - dendritas, formao de gros de vrios tamanhos; - trincas, devido s tenses excessivas no resfriamento.

Fonte: Metalografia dos Produtos Siderrgicos Comuns Prof. Hubertus Colpaert, So Paulo, 2 edio, Outubro 1965.

Tcnica macrogrfica o primeiro passo consiste em saber qual o fim visado e o que se deseja obter. Para isto necessita-se de um corpo de prova escolhido e preparado com critrio. A tcnica do preparo de um corpo de prova de macrografia abrage as seguintes fases: Escolha e localizao a ser estudada, a qual ficar a critrio do analista, que ser guiado na sua escolha pela forma, pelos dados que se quer obter e por outras consideraes da pea em estudo. Um corte transversal permitir verificar: - a natureza do material (ao, ferro fundido); - seo homognea ou no; - forma e intensidade da segregao; - posio, forma e dimenses das bolhas; - forma e dimenses dos dendritas; - existncia de restos do vazio; - profundidade da tmpera, etc. Um corte longitudinal ser prefervel quando se quiser verificar: - se uma pea fundida, forjada ou laminada; - se a pea foi estampada ou torneada; - solda de barras; - extenso de tratamentos trmicos superficiais. Etc. Preparao de uma superfcie plana e polida na rea escolhida compreende duas etapas: a) O corte que feito com serra ou com cortador de disco abrasivo adequado; quando este meio no vivel, recorre-se ao desbaste, que praticado com esmeril comum at atingir a regio que interessa. Todas estas operaes devero ser levadas a cabo com o devido cuidado, de modo a evitar encruamentos locais excessivos, bem como aquecimento a mais de 100C em peas temperadas, pois estes fenmenos seriam mais tarde postos em evidncia pelo ataque, adulterando a concluso do exame.

b) O polimento iniciado com lixa, em direo normal aos riscos j existentes; passase sucessivamente para lixa de granulao mais fina, sempre mudando a direo de 90. Deve-se tomar cuidados especiais para no arredondar as arestas dos corpos de prova. Aps cada lixamento a superfcie deve ser cuidadosamente limpa a fim de que o novo lixamento no fique contaminado com resduos do lixamento anterior. Neste estgio, a superfcie denota por vezes algumas particularidades tais como: - restos do vazio; - trincas, grandes incluses; - porosidades, falhas em soldas. Ataque da superfcie preparada Para por em evidncia outras heterogeneidades, indispensvel proceder-se a um ataque comparativo qumico. De acordo com o material e com a finalidade do exame, tm-se diversos reativos: - reativo de iodo; - reativo de cido sulfrico; - reativo de cido clordrico; - reativo Fry; - reativo Heyn.

Micrografia
Consiste no estudo dos produtos metalrgicos, com o auxlio do microscpio, permitindo observar a granulao do material, a natureza, forma, quantidade e distribuio dos diversos constituintes ou de certas incluses, etc. Estas observaes so de grande utilidade prtica.

Fonte: Metalografia dos Produtos Siderrgicos Comuns Prof. Hubertus Colpaert, So Paulo, 2 edio, Outubro 1965.

Tcnica microgrfica a tcnica do preparo de um corpo de prova de micrografia abrange as seguintes fases: Preparao da amostra O primeiro passo para a obteno de um bom resultado a escolha e preparao adequada da amostra. Esta deve representar a pea em estudo; para isto no deve sofrer qualquer alterao em sua estrutura. Um aquecimento demasiado (acima de 100C), deformaes plsticas (em metais moles), ou a formao de novos gros por recristalizao devem ser evitados. A rea da amostra a ser examinada no deveria exceder de 1 a 2 cm2, sob pena de se ter um tempo de preparao excessivo. Qualquer preparao depende igualmente do material da amostra; a tcnica de lixamento e polimento deve ser adaptada mesma. 1. Embutimento da amostra A necessidade do embutimento de amostras metalogrficas de grande importncia em micrografia, pois alm de facilitar o manuseio de peas pequenas, evita que corpos de prova com arestas rasguem a lixa e o pano de polimento, bem como evita o abaulamento dos corpos de prova durante o polimento, o que influencia bastante na observao microscpia (facilita a observao dos bordos, que ficam planos). O embutimento com resinas sintticas apresenta ainda as seguintes vantagens: a) so neutras em relao as solues de ataque; b) impedem a infiltrao das solues em poros e fendas; c) a dureza pode ser adaptada dureza do material a ser embutido, atravs de aditivos especficos. O embutimento pode ser: a) a frio quando se usa resinas sintticas de polimerizao rpida; b) a quente quando a amostra embutida em materiais termoplsticos por meio de prensas.

2. Lixamento ou pr-polimento O lixamento essencialmente o processo de preparao de uma superfcie lisa e

plana da amostra metalogrfica para o subsequente polimento. Para isto, comea-se por lixar a amostra em lixas de granulao cada vez menor, modando de direo (90) em cada mudana de lixa at desaparecerem os traos da lixa anterior. De acordo com a dureza da amostra, da presso do trabalho e da velocidade de lixamento surgem deformaes plsticas de toda a superfcie por amassamento e um aumento de temperatura. Estes fatores devem ser evitados ao mximo, pois podem dar origem a uma imagem falseada. Incluses duras se desgastam menos; aps um certo tempo so arrancadas da superfcie e a depresso resultante preenchida com p ou ento exageradamente ampliada. Por isso o requerimento primordial da tcnica microgrfica de lixamento : a) Escolha adequada do material de lixamento em relao amostra e ao tipo de exame final; b) A superfcie deve estar sempre rigorosamente limpa isenta de lquidos e graxas que possam provocar reaes qumicas na superfcie. c) Na mudana de lixas deve-se limpar perfeitamente a superfcie da amostra. d) Riscos profundos que surgiram durante o lixamento, de preferncia devem ser eliminados por novo lixamento, pois um polimento demorado em geral no resolva. e) Metais diferentes no devem ser lixados sobre a mesma lixa. O lixamento pode ser: a) seco: a amostra lixada diretamente sobre a superfcie da lixa; b) mido: este processo facilita o lixamento, evitando aquecimento e a formao de poeira no ar; c) manual: quando a amostra trabalhada pelo analista diretamente sobre a lixadeira; d) automtico: o trabalho montono de lixamento substitudo por este processo. Diversas amostras so presas em suportes e lixadas sobre a ao de cargas variveis. Pode-se assim comparar diversas amostras sobre as mesmas condies. As lixas normalmente so de carbeto de silcio, com granulao classificada em

grupos. O tamanho dos gros diminui com o aumento deste nmero. Aconselha-se sempre usar lixas do mesmo fabricante, pois uma numerao idntica no uma garantia suficiente para se obter os mesmos resultados. O tratamento diferente da matria-prima e, principalmente, variao do teor de xido de ferro, so as causas destas diferenas. 1. Polimento Consiste na obteno de uma superfcie isenta de risco, do modo a se obter uma imagem clara ao microscpio. Para isto, inicia-se por polir a amostra com material de granulao cada vez menor. Para se obter uma superfcie perfeitamente polida, os seguintes cuidados devem ser observados: a) Escolha adequada do material de polimento em relao em relao amostra e ao tipo de exame final. b) A superfcie deve estar sempre rigorosamente limpa, isenta de poeira de vestgio do polimento anterior, a fim de no provocar riscos. c) Na mudana dos panos ou feltros de polimento, deve-se limpar perfeitamente a superfcie da amostra. O polimento pode ser: a) mecnico quando se usa uma politriz fixa ou motorizada, apresentando esta lyima geralmente velocidade varivel. O polimento mecnico pede ser ainda manual, quando a amostra trabalhada manualmente no disco de polimento; e automtico quando a amostra so fixadas em dispositivos especiais e polidas sobre a ao de cargas variveis. Como o material de polimento tem-se xido de alumina ou alumina ( natural ou sinttica), xido de cromo, pasta de diamante os quais so aplicados sobre panos especiais ou feltros. No caso da pasta de diamante, esta fixa-se no pano e o mesmo pode ser regenerado de tempos em tempos eliminando-se o material retirado das amostras. b) eletroltico neste processo, descoberto por Jacquet em 1935, as irregularidades de superfcie so alisadas quando a amostra funciona como nodo dentro de um banho eletroltico. Sendo a distancia no local de protuberncias, entre nodo e ctodo, inferior quele existente no local de depresses, a passagem da corrente faz-se com maior facilidade, gastando-se mais estes pontos; obtm-se assim uma superfcie plana. As vantagens do processo so economia de tempo e de

trabalho e a no formao de camadas superficiais deformadas (principalmente para metais moles, ao inoxidvel austenticos). Apesar de ter sido recebido com desconfiana em relao aos materiais heterogneos, o processo desenvolveu-se tambm para estes, pois o ataque desigual da superfcie geralmente no tem grande importncia. c) Mecnico eletroltico este pode ser alternado, passando da pasta de diamante ao processo eletroltico, ou combinado. Neste caso tem-se o disco giratrio (ctodo) mergulhado no eletrlito; a amostra funciona como nodo. Sobre o disco temse ainda a pasta especial para o polimento. A escolha do tipo de polimento Os materiais podem ser divididos em trs grupos principais de acordo com o mtodo de polimento mais indicado: a) Materiais homogneos comuns (ao, cobre, etc.) Para estes tipos de materiais usa-se o polimento eletroltico, podendo ainda ser usado o polimento mecnico (pasta de diamante). b) Materiais heterogneos (ferro fundido, alumnio e ligas) Este grupo de materiais pode normalmente ser melhor polido por meio do polimento mecnico (mtodo do diamente). Porm, deve-se dar um tratamento especial durante o polimento mecnico do alumnio e suas ligas. c) Metais especiais ( metais preciosos, tungstnio, ligas de cobre, etc.) Para este grupo de materiais, o polimento mais indicado o polimento eletro-mecnico. 2. Ataque da superfcie preparada - O ataque feito agitando-se a superfcie polida mergulhada no reativo posto numa pequena cuba. A durao do ataque depende da concentrao de reativo e da natureza e textura da amostra. Em mdia, a durao do ataque para ferro fundido e aos comuns de 5 a 15 segundos. Aps o ataque lava-se imediatamente a superfcie atacada com lcool e em seguida efetua-se a secagem, passando-se primeiramente um pequeno chumao de algodo umedecido com lcool e depois um jato de ar quente superfcie. Reativos comumente usados - Soluo de cido ntrico a 1% em lcool etlico Nital. - Soluo de cido pcrico a 4% em lcool etlico Picral. - Soluo de picrato de sdio.

Macrografia
OBJETIVO Obter uma informao ampla da pea, facilitar a micrografia e determinar a regio crtica para anlise detalhada. 1) PREPARAO DA AMOSTRA a) escolha da seco a ser estudada; b) preparao da superfcie ( lixamento); c) ataque com reagente qumico adequado; d) interpretao dos resultados; e) documentao; 2.1) Escolha da seco: - Transversal Naturezas do material; Homogeneidade da seco; Intensidade da segregao; Forma de disposio das bolhas; Existncia de restos de vazios; Profundidade e uniformidade da carbonetao; Profundidade de descarbonetao; Profundidade de tmpera; Incluses; - Longitudinal processos de fabricao; anlise de cordo de solda; caldeamento; 3) PREPARAO DA SUPERFCIE - Cuidados : Mudana da estrutura; Aquecimento no superior a 100C; Presso excessiva ( encruamento)

- Lixamento : 100, 200, 400, 500, 800 mx. - Ataque qumico: Em funo de variaes estruturais ou qumicas o material mais ou menos atacado. Pode ser quanto a forma: Imerso Aplicao Impresso direta Quanto ao tempo: Longo ou profundo Rpido ou superficial Quanto a temperatura: A frio A quente - Interferem no comportamento do ataque: Variao da composio do material ( concentrao de impurezas); Variao de estrutura ( deformao a frio); Variao de cristalizao ( granulometria grosseira, textura acicular, gradiente trmico); 4) INTERPRETAO DOS RESULTADOS - Quanto a estrutura atacam mais: Regies encruadas; Regies temperada ou temperadas e revenidas; Granulao grosseira; - Quanto a composio qumica atacam mais: Regies com maior teor de carbono; Regies com maior teor de fsforo; Regies com maior quantidade de incluses no metlicas, principalmente enxofre e fsforo; vai ser

5) IDENTIFICAO Tcnica de polimento, repolimento e ataque, serve para definir o defeito: Regies ricas em carbono, desaparecem com um leve repolimento; Regies ricas em impurezas, principalmente incluses de S e P, sofrem um ataque profundo escurecendo mais, permanecendo assim mesmo aps um leve polimento; Regies com granulao grosseira, aparecem como mosaicos de lado escuro ( parte clara e parte escura); Regies com tmpera branda ou temperadas e revenidas, ficam mais brilhantes que o resto da amostra aps um repolimento; Regies encruadas, retira-se todo o ataque, com o polimento; 6.) REATIVO NECESSRIO PARA EFETUAR O ATAQUE MACROGRFICO

Extrao e seleo da amostra


EXTRAO DA AMOSTRA : Pode ser por : *Quebrar ; *Serrar ; *Estampagem ; *Usinagem ; *Oxi-corte . SELEO DA AMOSTRA 1) OBJETIVO Escolher e localizar a seco a ser estudada. 2) CONDIES GERAIS: 2.1) Cuidados a Observar: Em qualquer hiptese altamente prudente proceder a um exame detido da pea sob diversos pontos de vista, como o aspecto da fratura, a existncia de marcas de pancadas, gripamentos, rebarbas, vestgios trincas, de soldas, azulamento por aquecimento, corroses, porosidades, polimentos locais, enferrujamento,

desgastes, marcas punonadas, entortamentos, etc., antes de determinar cortes ou extrao de amostras ou de corpos de prova. Na apreciao dos sinais encontrados, preciso muita ateno para no confundir aqueles que possivelmente j existiam na pea, antes do evento que deu motivo ao estudo, e que podem conduzir a alguma pista para as investigaes, com os que possam ter sidos ocasionados pela aplicao de ferramentas para retirar a pea de onde estava instalada, ou ento, ocasionados por quedas, ou durante o transporte. 2.2) Rotina da Seleo da amostra 2.2.1) Na macrografia A escolha e localizao da seco intervm a critrio do operador, que ser guiado em sua escolha pela forma da pea, pelos dados que ele quer colher e por outras consideraes. Far-se- de preferncia um corte transversal, se o objetivo verificar: A natureza do material: ao, ferro fundido, etc; Se a seco inteiramente homognea ou no;

A forma e intensidade de segregao; A posio, forma e dimenses das bolhas; A forma e dimenses das dendritas; A existncia de restos do vazio; Se a pea sofreu cementao, a profundidade e regularidade desta; A profundidade da tmpera; Se um tubo inteirio, caldeado ou soldado; Certos detalhes de soldas de chapas (seco transversal solda); No caso de ferramentas de corte, caladas, a espessura e regularidade das camadas caldeadas (seco perpendicular ao gume); A regularidade e a profundidade de partes coquilhadas de ferro fundido, etc. Far-se- um corte longitudinal se prefervel quando se quer verificar: Se uma pea fundida, forjada ou laminada; Se a pea foi estampada ou torneada; A solda de barras; Como se processou um caldeamento de topo; Eventuais defeitos nas proximidades de fraturas; A extenso de tratamentos trmicos especiais, etc. 2.2.2) Na micrografia A localizao do corpo ou dos corpos para micrografia em peas grandes, freqentemente, feita aps o exame macrogrfico, porque, se o aspecto for homogneo, a localizao do corpo de micrografia em geral indiferente; se porm, no for e revelar anomalias ou heterogeneidades, o observador poder localizar corpos de prova em vrios pontos, caso julgue de interesse um exame mais detalhado dessas regies. Quando se trata de uma pea pequena ela diretamente seccionadas. 3) Amostragem A posio de onde tirado um corpo de prova a fim de ser usado para um estudo metalogrfico, depende do fim a que se destina o ensaio. Para atingir esse fim, os corpos de prova devem ser representativos das condies existentes. Se deve ser feito um exame geral sem o cuidado da preservao da amostra, eles podem ser tirados de qualquer parte da pea, conforme se deseje. Se a pea deve voltar ao servio, as posies disponveis para o exame so necessariamente limitadas. Se deve ser feito estudo de uma fratura, devem-se tomar sees do metal na vizinhana

dessa fratura, de modo que estes corpos de prova ofeream as maiores possibilidades na determinao de sua causa. Outra seo deve ser tomada a alguma distncia da fratura, para fins de comparao. Deve ser organizado um fichrio com o mximo de informaes sobre ao ensaios realizados, incluindo ainda a localizao das amostras, um nmero capaz de identificar a seo que foi tomada, se transversal, longitudinal ou em ngulo; a direo de laminao ou forjamento, anlise qumica, tratamento trmico e qualquer outro dado necessrio a um completo histrico. O tamanho dos corpos de prova deve ser mantido dentro dos limites razoveis ( 1 a 2,5 cm para o lado do quadrado ou dimetro do crculo ). Isto geralmente governado pela construo do microscpio, representando o espao disponvel no suporte, para exame; pela rea superficial do corpo de prova, pois o tempo gasto em polir uma polegada quadrada ( 6,4 cm2 ), muito maior que o tempo necessrio para o polimento de 4 corpos de prova de polegada ( 12,7 mm ) de lado; e pela espessura que deve ser menor que qualquer outra dimenso, de modo que durante o seu polimento no exista tendncia produo de cantos arredondados ou facetas suplementares.

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