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Fhigkeitskennzahlen

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Grundlagen
Fhigkeitskennzahlen dienen zur Beschreibung der aktuellen sowie der zuknftig zu
erwartenden Leistung eines Prozesses.
Allgemein versteht man unter einer Fhigkeitskennzahl das Verhltnis aus Toleranz
zur Streuung des Prozesses. Dabei bezieht man sich auf einen Bereich, bei dem
99,73% innerhalb der Spezifikation liegen (3o bzw. 3s). Im Falle eines Herstel-
lungsprozesses handelt es sich um die Prozessfhigkeit C
p
. Zur Bercksichtigung
einer Mittelwertverschiebung (Abweichung von der idealen Prozesslage), wird der
Wert C
pk
eingefhrt, der immer schlechter oder gleich gro ist wie C
p
(C
pk s
C
p
). In
der Regel gilt ein Prozess als fhig, wenn C
pk
> 1,33 ist.

Im folgendem werden fr verschiedene Verteilungsformen die Beziehungen darge-
stellt:
Normalverteilung
Die Normalverteilung ist anzuwenden, wenn Abweichungen vom Sollwert durch zu-
fllige Einflsse vorliegen, die auditiv wirken.

s
T
s
UTG OTG
C
p
6 6
=

=

s
UTG x
C
pu
3

=
s
x OTG
C
po
3

=

( )
po pu pk
C C Min C ; =

Ist der tatschliche Mittelwert und die Standardabweichung bekannt, so ist und o
anstelle von x und s einzusetzen. Der C
pk
- Wert kann ber
( ) z C C
p pk
= 1
berechnet werden, mit

2 / ) (
2 / ) (
UTG OTG
UTG OTG x
z

+
=
2 / ) ( UTG OTG
x x
z
soll


=
fr mittigen Sollwert fr nicht mittigen Sollwert

Beispiele:






C
p
= 1,33 C
pu
= 1,33 C
po
= 1,33 C
pk
= 1,33 C
p
= 1,33 C
pu
= 2,0 C
po
= 0,67 C
pk
= 0,67

mit
UTG : untere Toleranzgrenze
OTG : obere Toleranzgrenze
T : Toleranz
: Mittelwert
OTG-UTG = 8 o
4 o
OTG-UTG = 8 o
6 o 4 o
2 o

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Lognormalverteilung
Die Lognormalverteilung ist anzuwenden, wenn die Verteilung links einseitig be-
grenzt ist, nur positive Werte vorkommen und Abweichungen vom Sollwert durch
zufllige Einflsse entstehen, die multiplikativ wirken.

log
6
) ln( ) ln(
s
UTG OTG
C
p

=

log
log
3
) ln(
s
UTG x
C
pu

=
log
log
3
) ln(
s
x OTG
C
po

=
( )
po pu pk
C C Min C ; =

|
|
.
|

\
|
=

=
) ln(
1
1
log
n
i
i
x
n
x
( )

=
n
i
i
x x
n
s
1
2
log log
) ) ln(
1
1


Liegen die Einzelwerte nicht vor, so kann nherungsweise
log
x und
log
s aus dem
Mittelwert und der Standardabweichung der Normalverteilung mit

|
|
.
|

\
|
+ ~
2
2
log
1 ln
2
1
) ln(
x
s
x x
|
|
.
|

\
|
+ ~
2
2
log
1 ln
x
s
s

berechnet werden.

Betragsverteilung 1. Art
Diese ist anzuwenden wie bei der Normalverteilung, jedoch wenn die Verteilung
einseitig begrenzt ist und nur positive Werte vorkommen knnen. Der Fhigkeits-
index wird ber eine allgemeingltige Formel berechnet:
p pk
u C

=
1
3
1

p = Anteil auerhalb der oberen Spezifikationsgrenze und u die Verteilungsform
der standardisierten Normalverteilung.

Anstelle dieser Beziehung kann auch die weiter unten beschriebene Percentil-Me-
thode verwendet werden, was bei kleinen berschreitungsanteilen p sinnvoll ist.

Betragsverteilung 2. Art (Rayleigh-Verteilung)
Die Anwendung dieser Verteilungsart ist z.B. fr Unwuchten gegeben.
Auch hier gilt die allgemeine Formel:
p pk
u C

=
1
3
1
mit

2
4
|
|
.
|

\
|

=
r
OTG
e p

t

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Verteilungsfreie Percentil-Methode
Bei nicht bekannter Verteilung ist die so genannte Percentil-Methode zu verwenden.
Allgemein gilt:
% 135 , 0 % 865 , 99
X X
UTG OTG
C
p

=
Fr eine Normalverteilung entspricht der Nenner 6s. Fr eine nicht normal verteilte
Form kann der Bezugsbereich ermittelt werden, wie in der ISO/TR 12783 beschrie-
ben.
Analog zur Normalverteilung gilt:


% 135 , 0 % 50
% 50
X X
UTG X
C
pu

= und
% 50 % 865 , 99
% 50
X X
X OTG
C
po

=

( )
po pu pk
C C Min C ; =


99,73%
X
0,135%

X
99,865%

X
50%


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Verteilungsformen verschiedener Konstruktionsmerkmale

Die folgende Tabelle zeigt eine bersicht, fr welche Konstruktionsmerkmale
welche Verteilung vorkommt:
























Merkmal Symbol Verteilg.
Lngenma N
Geradheit B1
Ebenheit B1
Rundheit B1
Zylinderform B1
Linienform B1
Flchenform B1
Rauheit B1
Unwucht B2
Parallelitt B1
Rechtwinkeligkeit B1
Neigung / Winkeligkeit B1
Position B2
Koaxialitt, Konzentrizitt B2
Symmetrie B1
Rundlauf B1/B2
Planlauf B1
N : Normalverteilung
B1 : Betragsnormal 1. Art
B2 : Betragsnormal 2. Art





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Anwendung
Bezglich der Anwendung unterscheidet man zwischen:
- Prozessfhigkeitsuntersuchung (PFU)
- Maschinenfhigkeitsuntersuchung (MFU)
- Messmittelfhigkeit (MGF)

Prozessfhigkeitsuntersuchungen werden ber einen lngen Zeitraum
durchgefhrt. Dabei zieht man in festgelegten Intervallen Stichproben und misst
relevante Qualittsmerkmale des Produktes (min. 20 Stichproben mit n= 3-5
Teilen). So gehen Einflsse der Maschine, des Materials, der Methode, des
Bedieners und der Umgebung in die Betrachtung ein. Zur Darstellung des
Ergebnisses werden die Prozessfhigkeitskoeffizienten C
p
und C
pk
verwendet. Die
Berechnung erfolgt nach den oben dargestellten Beziehungen.
Maschinenfhigkeitsuntersuchungen werden ber einen kurzen Zeitraum durchge-
fhrt. Damit gehen hier im Wesentlichen die Maschine und Methode ein. Einflsse
unterschiedlicher Materialien, Bediener oder Umgebungsbedingungen werden nicht
bercksichtigt und sollen daher mglichst konstant sein. Die Formeln sind die
gleichen, wie fr die Prozessfhigkeit. Die Ergebnisse werden jedoch als C
m
und
C
mk
bezeichnet. Empfohlener Stichprobenumfang 50, Mindestumfang 20 Teile. Man
spricht dabei auch von Kurzzeitfhigkeitsuntersuchungen. Daraus resultieren auch
die im Allgemeinen hheren Anforderungen an die Maschinenfhigkeitskennwerte
(C
m
,C
mk
> 1,67).
Hinweis: Die Benennung C
m
,C
mk
ist in der neuen DIN/ISO Norm 21747 nicht mehr
vorhanden, stattdessen werden die gleichen Benennungen P
p
/P
pk
oder C
p
/C
pk

verwendet.
Die Messmittelfhigkeit hat zum Ziel, die systematischen und/oder zuflligen
Abweichung eines Messgertes zu ermitteln und bei Bedarf am Messgert
Korrekturmanahmen vorzunehmen, oder das Messverfahren zu ndern. Die
Messmittelfhigkeit wird mit den Kennzahlen C
g
und C
gk
beschrieben. Die
Berechnung erfolgt nach den folgenden Formeln (nur Verfahren 1).

Messmittelfhigkeit
Verfahren 1
Anhand der Fhigkeitskennwerte C
g
und C
gk
wird entschieden, ob eine Mess-
einrichtung unter Verwendung eines Normals fr den vorgesehenen Einsatz unter
Betriebsbedingungen geeignet ist.
Bei der Messmittelfhigkeit wird anstelle der oberen und unteren Toleranzgrenze
auf 20% der direkten Toleranzangabe T bezogen. Es gilt:

g
g
s
T
C
6
2 , 0
= bzw.
g
m g
gk
s
x x T
C
3
1 , 0
=
mit = Angezeigter Mittelwert
= richtiger Mittelwert
= Wiederholstandardabweichung

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Es muss erreicht werden C
g
> 1,33 und C
gk
> 1,33
In der Regel werden 20 Wiederholungsmessungen durchgefhrt.
Hinweis: Die physikalische und angezeigte Auflsung eines Messgertes muss min-
destens 5% oder besser 2% der zu messenden Toleranz betragen.

Verfahren 2
Beim Verfahren 2 wird im Wesentlichen der Bedienereinfluss ermittelt. Hier wird der
Kennwert R&R verwendet um zu beurteilen, ob die Messeinrichtung geeignet ist.
Es werden mindestens 2 Prfer (k > 2) festgelegt. Weiterhin erfolgt die Auswahl von
10 Messobjekten (n > 5), die mglichst ber den Toleranzbereich verteilt sind. Mit
der Anzahl Messungen pro Prfer (r > 2) ergibt sich das Produkt k r n > 30. Zur
Auswertung wird jeweils der Mittelwert jedes Prfers x und die mittleren Spann-
weiten R berechnet. Danach wird die Wiederholprzision mit dem Mittelwert aller
mittleren Spannweiten bestimmt:
R K EV =
1
mit Korrekturfaktor K
1
(EV = Equipment Variation)
sowie die Vergleichsprzision
Diff
x K AV =
2
mit Korrekturfaktor K
2
(AV = Appraiser Variation)
min max
x x x
Diff
=
Hiermit entsteht:
R&R
2 2
AV EV + = bzw.
%R&R = R&R / RF 100% mit RF = Bezugsgre, meist Toleranz T

Es muss gelten:
Fr neue Messsysteme : %R&R s 20%
Fr Messsysteme im Einsatz : %R&R s 30%

Verfahren 3
Das Verfahren 3 ist ein Sonderfall des Verfahrens 2 und wird bei Messsystemen an-
gewendet, bei denen kein Bedienereinfluss vorliegt (z.B. mechanisierte Messein-
richtung, Prfautomaten usw.). Die Berechnung erfolgt wie bei Verfahren 2, jedoch
mit einem Prfer. Es muss gelten: r n > 20.
Die Methode wird im Gegensatz zu Verfahren 1 auch dann angewendet, wenn die
Messdaten nicht normalverteilt sind.



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Anwendung in Visual-XSel

11.0
Visual-XSel ist ein eingetragenes Warenzeichen

Programm noch nicht auf dem Rechner? Installation in 5 Minuten:
www.crgraph.de/WebDownload.htm


















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Beispiel Vorlage Messsytemanalyse_Verfahren1 CgCgk