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EMV-Eigenschaften von Treiberbausteinen und Entstör- komponenten beim High Speed CAN- Bus auf Schnittstel- lenebene

1.

Einordnung und Zielstellung

Das EMV-Verhalten eines CAN-Bus-Systems im Kfz wird von einer Vielzahl von Systemeigenschaften und Randbedingungen beeinflußt, welche komplexe Abhängigkeiten darstellen und somit bei Fahrzeugmessungen nur in ihrer Summenwirkung betrachtet werden können.

Die EMV-Beurteilung auf Schnittstellenebene im Labor ermöglicht die gezielte Bewertung der EMV-relevanten Eigenschaften von Bauelementen wie Trans- ceiver und Gleichtaktdrossel im CAN-Bus-Verband sowie die getrennte Analy- se der Auswirkung von elektrischen Umgebungsbedingungen wie Massever- satz und unsymmetrischer Störeinkopplung auf die Störfestigkeit und Störaus- sendung des Bussystems. Die zu diesem Zweck im Labor aufgebauten CAN- Bus-Systeme sind bis zur physischen Schicht 1 einer Busapplikation ausge- führt, so daß nur Busleitungen, Abschlüsse, Stütznetzwerk, Gleichtaktdrossel und Transceiver vorhanden sind. Somit wird das CAN-Bus-Protokoll gezielt umgangen und eine von Softwarerealisierungen unabhängige Hardwarebeur- teilung erreicht. Das führt zu einem effektiven Meßverfahren, da die Ergebnis- se mit automatischen Meßabläufen schneller gewonnen werden können und eindeutige Aussagekraft besitzen.

Auf Grund der guten Korrelation der Ergebnisse der EMV-Beurteilung auf Schnittstellenebene mit Fahrzeugmessungen ist es teilweise möglich, eine vom Fahrzeugtyp unabhängige Beurteilung von vorhandenen Bauelementen vorzunehmen sowie die EMV-Eigenschaften zukünftiger Bauelemente und Bustopologien schon in der frühen Entwicklungsphase zu beurteilen und zu optimieren.

2.

Einstrahlfestigkeit des Bussystems

Zur Beurteilung der Störfestigkeit des Bussystems gegenüber gestrahlten schmalbandigen Störungen wurden neben BCI- und Stripline- auch DPI (Di- rect Power Injection)- Messungen durchgeführt. Die konzentrierte symmetri- sche Einkopplung der HF-Störung auf den Bus bildet bei der DPI-Methode die durch elektromagnetische Felder verursachten Gleichtaktstörungen nach.

2.1

Testplatinensystem und Meßaufbau

Für die DPI-Messungen entstanden eine Reihe von Testplatinensysteme, die jeweils ein räumlich konzentriertes Bussystem mit 2 bzw. 3 Teilnehmern, die konzentrierte Einkoppelschaltung sowie die Anschlüsse für Stromversorgung

und Leitungen zu Test- und Meßgeräten realisieren. Die Platinen (Beispiel siehe Bild 1) entstanden einerseits unter der Randbedingung, alle möglichen, das EMV-Verhalten des Bussystems beeinflussenden Effekte im Fahrzeug auf Laborebene nachzubilden. Andererseits wurde das Layout unter hochfre- quenztechnischen Gesichtspunkten optimiert, um eine möglichst hohe Grenz- frequenz der Störeinkopplung zu erreichen.

hohe Grenz- frequenz der Störeinkopplung zu erreichen. 10 0 Übertragungsfunktion MPl V 1.1 mit Transceiver A
10 0 Übertragungsfunktion MPl V 1.1 mit Transceiver A 1: St.-Kn. 2: Ab.-Kn. 3: St.-Kn.
10
0
Übertragungsfunktion
MPl V 1.1 mit
Transceiver A
1: St.-Kn.
2: Ab.-Kn.
3: St.-Kn.
-10
HF in --> CAN_H 1
-20
HF in --> CAN_L 1
HF in --> CAN_H 2
-30
HF in --> CAN_L 2
HF in --> CAN_H 3
-40
HF in --> CAN_L 3
-50
1
10
100
1000
Dämpfung in dB

f in MHz

Bild 1 Testplatinensystem V 1.1 zur direkten Einkopplung von schmalbandigen HF- Störungen sowie Störimpulsen

HF-optimierte Platine für 3 Busteilnehmer

Bild 2

Übertragungseigen-

schaften des

Testplatinen-

systems V 1.1, Einkopplung über C = 1nF

Beim angeführten Beispiel für eine konzentrierte Einkoppelschaltung für High- Speed-CAN-Systeme (Testplatine V1.1) konnte durch Layout-Optimierung ei- ne symmetrisch Störeinkopplung (maximal 2 dB Differenz in Resonanzstellen) auf die beiden Busleitungen CAN-H und CAN-L erzielt werden. Die Reso-

nanzstellen in der Dämpfungsfunktion des Einkoppelsystems sind auf die Rückwirkung der verwendeten Transceiver-IC’s sowie notwendige Anschlüsse für Meßleitungen zurückzuführen.

Die für die DPI-Messungen entwickelten Testplatinensysteme stellen das Kernstück des Meßaufbaus dar. Die erzeugte HF-Störung wird über kurze Lei- tungen zur SMA-LP-Buchse der Testplatine geführt. Das zwischengeschaltete Dämpfungsglied dient der Verbesserung der lastseitigen Anpassung an die Ausgangsimpedanz der Leistungsverstärker und somit der Vermeidung ste- hender Wellen im Meßaufbau. Im getesteten Bussystem fungiert immer ein Knoten als Sender (meist Knoten 3), einer als Testempfänger und, falls vor- handen, der dritte Knoten als Komplettierung der Buskonfiguration. Alle Bus- teilnehmer werden bis auf die Abschlußwiderstände bei jeder Messung jeweils identisch ausgeführt.

HF-Erzeugung

Monitoring

Feldstärkemeßgerät Leistungsmeßgerät Steuer-PC HF-Generator E A Koax-Schaltmatrix V 1 400 - 1000 MHz DSO
Feldstärkemeßgerät
Leistungsmeßgerät
Steuer-PC
HF-Generator
E
A
Koax-Schaltmatrix
V
1
400 - 1000 MHz
DSO
IEC-Bus
IEC-Bus
Bitmuster-Gen.
V
2
220 - 400 MHz
/TX
V
3 0,01 - 220 MHz
Testplatinensystem
Leistungsmeßkopf
ATT 3 dB/50W
/RX
SMA-LP-Buchse
BNC-LP-Buchsen
Einkopplung der HF-Störung auf den Bus: CAN_H 1 nF 62 Ohm 62 Ohm SMA-LP- Buchse
Einkopplung der HF-Störung auf den Bus:
CAN_H
1 nF
62
Ohm
62
Ohm
SMA-LP-
Buchse
CAN_L

Bild 3 Meßschaltung für DPI-Messungen mit 3 Busteilnehmern

Durch die nachgewiesenen Übertragungseigenschaften der verwendeten Meßplatinen wird jeder Busteilnehmer in gleicher Weise mit der eingeprägten HF-Störung belastet. Somit wird sichergestellt, das sowohl die Eigenschaften des Empfängers als Test-Transceiver als auch die des Senders in die Bewer- tung der Störfestigkeit des Bussystems eingehen.

2.2

Bewertung der Störfestigkeit des Bussystems

Zur Bewertung der Störfestigkeit des Bussystems wird durch einen automati- schen Limit-Test im DSO das /RX-Signal des Test-Transceivers mit dem Sen- designal verglichen: Das generierte Bitmuster besitzt eine Bitzeit von 2 µs und eine Periodendauer von 10 µs. Das entspricht einem Tastverhältnis von 80 %. Durch den Limit-Test wird eine Abweichung von mehr als ± 2 % von diesem Tastverhältnis als Funktionsstörung bewertet. Das Tastverhältnis wird beein- flußt durch:

zusätzlich zum Bitmuster entstehende Störimpulse im Rezessiv- o- der Dominant- Pegel mit einer Amplitude von mindestes 2,5 V,

Ausfall des Bitmusters (statisch Rezessiv- oder Dominant- Pegel) und

Änderung der Pulsbreite des Dominant- Pegels.

Die untersuchten Transceiver zeigten unterschiedliche Ausfallbilder:

 

6

ohne HF DPI-Messung HF ++ Transceiver A HF + CW-Störung mit f = 1 MHz
ohne HF
DPI-Messung
HF ++
Transceiver A
HF +
CW-Störung mit f = 1 MHz
HF Grenze

5

4

3

[V]

 

2

1

0

-1

 

0

5

10

15

20

 

[µs]

 

6

ohne HF DPI-Messung HF ++ Transceiver A HF + CW-Störung mit f = 10 MHz
ohne HF
DPI-Messung
HF ++
Transceiver A
HF +
CW-Störung mit f = 10 MHz
HF Grenze

5

4

3

[V]

 

2

1

0

-1

 

0

5

10

15

20

 

[µs]

 

6

ohne HF HF ++ HF + HF Grenze
ohne HF
HF ++
HF +
HF Grenze
DPI-Messung Transceiver A CW-Störung mit f = 20 MHz
DPI-Messung
Transceiver A
CW-Störung mit f = 20 MHz

5

4

3

[V]

 

2

1

0

-1

 

0

5

10

15

20

 

[µs]

a) f stör = 1 MHz

b) f stör = 10 MHz

c) f stör = 20 MHz

Bild 4 Ausfallverhalten Trans- ceiver A bei symmetri- scher HF-Einkopplung auf die Busleitungen

[V]

[V]

[V]

6

5

4

3

2

1

0

-1

6

5

4

3

2

1

0

-1

6

5

4

3

2

1

0

-1

ohne HF DPI-Messung HF ++ Transceiver B HF + CW-Störung mit f = 1 MHz
ohne HF
DPI-Messung
HF ++
Transceiver B
HF +
CW-Störung mit f = 1 MHz
HF Grenze
0
5
10
15
20
[µs]
ohne HF DPI-Messung HF ++ Transceiver B HF + CW-Störung mit f = 10 MHz
ohne HF
DPI-Messung
HF ++
Transceiver B
HF +
CW-Störung mit f = 10 MHz
HF Grenze
0
5
10
15
20
[µs]
ohne HF DPI-Messung HF ++ Transceiver B HF + CW-Störung mit f = 20 MHz
ohne HF
DPI-Messung
HF ++
Transceiver B
HF +
CW-Störung mit f = 20 MHz
HF Grenze
0
5
10
15
20
[µs]

a) f stör = 1 MHz

b) f stör = 10 MHz

c) f stör = 20 MHz

Bild 5 Ausfallverhalten Trans- ceiver B bei symmetri- scher HF-Einkopplung auf die Busleitungen

2.3 Quantifizierung der eingeprägten Störung im Meßaufbau

Bei Vergleich der Störfestigkeit der verschiedenen Varianten des Bussystems ist zu beachten, daß bei dem verwendeten Modulationsgrad von 90 % durch den Regelalgorithmus des Steuerprogramms die Amplitude des modulierten Störsignals dem 1,9- fachen CW-Wert entspricht.

2.4

Störfestigkeit verschiedener Transceiver

4,5 4 DPI-Messung Transceiver A St.-Knoten (1) 3,5 3 2,5 2 c CW 1,5 AM
4,5
4
DPI-Messung
Transceiver
A
St.-Knoten (1)
3,5
3
2,5
2
c
CW
1,5
AM 90 % 60 Hz
AM 90 % 1
kHz
1
AM 90 % 5
kHz
0,5
0
1
10
100
1000
P netto in W

f in MHz

4,5 4 DPI-Messung Transceiver A 3,5 Ab.-Knoten (2) 3 2,5 2 1,5 CW 1 AM
4,5
4
DPI-Messung
Transceiver
A
3,5
Ab.-Knoten (2)
3
2,5
2
1,5
CW
1
AM 90 % 60 Hz
AM 90 % 1
kHz
0,5
AM 90 % 5
kHz
0
1
10
100
1000
P netto in W

f in MHz

4,5 4 DPI-Messung Transceiver B 3,5 Ab.-Knoten (2) 3 2,5 2 1,5 CW 1 AM
4,5
4
DPI-Messung
Transceiver
B
3,5
Ab.-Knoten (2)
3
2,5
2
1,5
CW
1
AM 90 % 60 Hz
AM 90 % 1
kHz
0,5
AM 90 % 5
kHz
0
1
10
100
1000
P netto in W

f in MHz

CAN_H 62 (1K2) 62 (1K2) Transceiver
CAN_H
62
(1K2)
62
(1K2)
Transceiver

CAN_L

a)

b)

c)

d)

Bild 6 DPI-Messung mit verschiedenen Mo-

dulationen der Störung

a) ESB Beschaltung

b) TC A als Abschluß- knoten

c) TC A als Standardk.

d) TC B als Abschlußk.

2.5

Wirkung verschiedener Entstördrosseln

4,5 4 DPI-Messung 3,5 Transceiver A AM 90 % 5 kHz 3 Ab.-Knoten (2) 2,5
4,5
4
DPI-Messung
3,5
Transceiver A
AM 90 %
5 kHz
3
Ab.-Knoten
(2)
2,5
2
ohne Drossel
HSt.
A,
11
µH
1,5
HSt.
A,
25
µH
1
HSt.
B,
25
µH
HSt.
A,
51
µH
0,5
HSt.
B,
51
µH
0
1
10
100
1000
P netto in W

f in MHz

4,5 4 3,5 DPI-Messung Transceiver A 3 AM 90 % 5 kHz Ab.-Knoten (2) 2,5
4,5
4
3,5
DPI-Messung
Transceiver
A
3
AM
90 % 5 kHz
Ab.-Knoten (2)
2,5
2
ohne Drossel
HSt.
A,
100
µH
1,5
HSt.
A, 220 µH
1
HSt.
A, 470 µH
HSt.
A,
1
mH
0,5
HSt.
A, 2,2 mH
0
1
10
100
1000
P netto in W

f in MHz

4,5 4 3,5 DPI-Messung 3 Transceiver B AM 90 % 5 kHz 2,5 Ab.-Knoten (2)
4,5
4
3,5
DPI-Messung
3
Transceiver B
AM 90
% 5
kHz
2,5
Ab.-Knoten (2)
2
ohne Drossel
1,5
HSt. A, 11
µH
1
HSt. A, 51
µH
HSt. B, 51
µH
0,5
HSt. A, 470 µH
0
1
10
100
1000
P netto in W

f in MHz

CAN_H 62 L cm 62 Transceiver
CAN_H
62
L cm
62
Transceiver

CAN_L

a)

b)

c)

d)

Bild 7

DPI-Messung

mit AM-Störungen, Wir- kung von Drosseln

a) ESB Beschaltung

b) TC A, Drosseln 1

c) TC A, Drosseln 2

d) TC B, Drosseln 1/2

2.6

Wirkung von Stützschaltungen

CAN_H (1k2) (560) 62 1K2 L cm 62 1K2 4n7 (1k2) (560) Transceiver
CAN_H
(1k2)
(560)
62
1K2
L cm
62
1K2
4n7
(1k2)
(560)
Transceiver

CAN_L

4,5 4 DPI-Messung 3,5 Transceiver A AM 90 % 5 kHz 3 Ab.-Knoten (2) 2,5
4,5
4
DPI-Messung
3,5
Transceiver A
AM 90 %
5 kHz
3
Ab.-Knoten
(2)
2,5
2
1,5
ohne Stütz-NW
Stütz-C 4,7 nF
1
Drossel 51µH
0,5
Stütz-C und Drossel
0
1
10
100
1000
P netto in W

f in MHz

4,5 4 3,5 DPI-Messung Transceiver B 3 AM 90 % 5 kHz Ab.-Knoten (2) 2,5
4,5
4
3,5
DPI-Messung
Transceiver B
3
AM 90
% 5
kHz
Ab.-Knoten (2)
2,5
2
1,5
ohne Stütz-NW
Stütz-C
4,7 nF
1
Drossel
51µH
0,5
Stütz-C
und
Drossel
0
1
10
100
1000
P netto in W

f in MHz

a)

b)

c)

4,5 4 DPI-Messung 3,5 Transceiver A AM 90 % 5 kHz 3 Ab.-Knoten (2 )
4,5
4
DPI-Messung
3,5
Transceiver A
AM 90 % 5 kHz
3
Ab.-Knoten
(2
)
2,5
2
1,5
ohne
Stütz-NW
Stütz-NW
1
Drossel 51µH
0,5
Stütz-NW und Drossel
0
1
10
100
1000
P netto in W

f in MHz

4,5 4 3,5 DPI-Messung Transceiver B 3 AM 90 % 5 kHz Ab.-Knoten (2) 2,5
4,5
4
3,5
DPI-Messung
Transceiver B
3
AM 90 % 5
kHz
Ab.-Knoten (2)
2,5
2
1,5
ohne
Stütz-NW
Stütz-NW
1
Drossel 51µH
0,5
Stütz-NW und
Drossel
0
1
10
100
1000
P netto in W

f in MHz

d)

e)

Bild 8

DPI-Messung mit AM-Störungen, Wir- kung von Stützschaltun- gen

a) ESB Beschaltung

b) TC A, Stütz-C

c) TC B, Stütz-C

d) TC A, Stütz-NW

e) TC B, Stütz-NW

2.7

Einfluß des Masseversatzes im Bussystem

4,5 DPI-Messung 4 Transceiver B CW 3,5 St.-Knoten (1) Stütz-NW (1 ,2,3) 3 2,5 2
4,5
DPI-Messung
4
Transceiver B
CW
3,5
St.-Knoten
(1)
Stütz-NW (1
,2,3)
3
2,5
2
,
MV
0,0 V
1,5
MV
0,5 V
MV
1,0 V
1
MV
1,5 V
0,5
MV
2,0 V
0
1
10
100
1000
P netto in W

f in MHz

4,5 DPI-Messung 4 Transceiver B CW 3,5 St.-Knoten (1) Stütz-NW (1,2,3) 3 Drossel 51 µH
4,5
DPI-Messung
4
Transceiver B
CW
3,5
St.-Knoten
(1)
Stütz-NW (1,2,3)
3
Drossel
51
µH
2,5
2
MV
0,0 V
1,5
MV
0,5 V
MV
1,0 V
1
MV
1,5 V
0,5
MV
2,0 V
0
1
10
100
1000
f
in MHz
P netto in W
4,5 DPI-Messung 4 Transceiver A CW 3,5 St.-Knoten (1) Stütz-NW (1,2,3) 3 Drossel 51 µH
4,5
DPI-Messung
4
Transceiver A
CW
3,5
St.-Knoten
(1)
Stütz-NW (1,2,3)
3
Drossel
51
µH
2,5
2
MV
0,0 V
1,5
MV
0,5 V
MV
1,0 V
1
MV
1,5 V
0,5
MV
2,0 V
0
1
10
100
1000
P netto in W

f in MHz

CAN_H

Transceiver (1K2) 62 1K2 L cm 62 1K2 4n7 (1K2) U MV CAN_L
Transceiver
(1K2)
62
1K2
L
cm
62
1K2
4n7
(1K2)
U MV
CAN_L

a)

b)

c)

d)

Bild 9

DPI-Messung mit CW-Störungen,

Einfluß von Massever- satz

f) ESB Beschaltung g) TC B h) TC B, mit Drossel i) TC A, mit Drossel

2.8

Störfestigkeit bei unsymmetrischer Störeinkopplung

CAN_H (1K2) R 62 1K2 L cm K High R 62 1K2 4n7 K Low
CAN_H
(1K2)
R
62
1K2
L
cm
K High
R
62
1K2
4n7
K Low
(1K2)
Transceiver
a)
CAN_L
4,5 4 DPI-Messung Transceiver A CW 3,5 Stütz-NW (1,2,3) Ab.-Knoten (2) 3 2,5 2 EK
4,5
4
DPI-Messung
Transceiver
A
CW
3,5
Stütz-NW (1,2,3)
Ab.-Knoten (2)
3
2,5
2
EK 62/ 62 Ohm
1,5
EK 68/ 56 (10 %)
EK 75/ 51 (21
%)
1
EK 82/ 39 (37 %)
0,5
EK 100/
22
(62 %)
0
1
10
100
1000
P netto in W

f in MHz

4,5 DPI-Messung 4 Transceiver B CW 3,5 Stütz-NW (1,2,3) Ab.-Knoten (2) 3 2,5 2 EK
4,5
DPI-Messung
4
Transceiver
B
CW
3,5
Stütz-NW (1,2,3)
Ab.-Knoten (2)
3
2,5
2
EK 62/ 62 Ohm
1,5
EK 68/ 56 (10 %)
EK
75/ 51 (21 %)
1
EK 82/ 39 (37 %)
0,5
EK 100/ 22 (62
%)
0
1
10
100
1000
P netto in W

f in MHz

b)

c)

4,5 DPI-Messung 4 Transceiver A CW 3,5 Stütz-NW (1,2,3) Drossel 51 µH 3 Ab.-Knoten (2)
4,5
DPI-Messung
4
Transceiver
A
CW
3,5
Stütz-NW (1,2,3)
Drossel 51 µH
3
Ab.-Knoten (2)
2,5
2
EK 62/ 62
Ohm
1,5
EK 75/ 51
%)
(21
1
EK 82/ 39
%)
(37
0,5
EK 100/
22
(62
%)
0
P netto in W
1 10 100 1000 f in MHz 4,5 DPI-Messung 4 Transceiver B CW 3,5 Stütz-NW
1
10
100
1000
f
in MHz
4,5
DPI-Messung
4
Transceiver
B
CW
3,5
Stütz-NW (1,2,3)
Drossel 51 µH
3
Ab.-Knoten (2)
2,5
2
EK 62/ 62 Ohm
1,5
EK 68/ 56 (10
%)
EK 75/ 51 (21
%)
1
EK 82/ 39 (37
%)
0,5
EK 100/
22
(62 %)
0
1
10
100
1000
P netto in W

f in MHz

d)

e)

Bild 10

DPI-Messung mit CW-Störungen, Un- symmetrische Störein- kopplung

a) ESB Beschaltung

b) TC A

c) TC B

d) TC A, mit Drossel

e) TC B, mit Drossel

3.

Impulsfestigkeit des Bussystems

Durch die Ausführung der Busleitung als verdrillte Doppelleitung ist davon auszugehen, daß aus dem Bordnetz kapazitiv übergekoppelte Störimpulse überwiegend als Gleichtaktstörungen auftreten. Demzufolge wurde auch hier eine symmetrische Störeinkopplung auf beide Busleitungen zur Simulation der Bedrohung im Labor gewählt. Auf Grund der guten Ergebnisse mit den Test- platinensystemen bei den DPI-Messungen bezüglich Reproduzierbarkeit, Meßdynamik und Korrelation zu Fahrzeugmessungen wurde die konzentrierte Störeinkopplung auch zur Analyse der Impulsfestigkeit des Bussystems ein- gesetzt.

3.1 Meßaufbau

Die Überprüfung der Störfestigkeit des Bussystems gegenüber kapazitiv ein- gekoppelten Störimpulsen auf die Busleitungen kann durch Messungen ge- mäß Bild 11 erfolgen. Dazu müssen beim Testplatinensystem die beiden Ein- koppelwiderstände (R = 62 ) durch zwei SMD-Kondensatoren mit C = 1 nF ersetzt und der zentrale Einkoppelkondensator entfernt werden. Die vom Normimpulsgenerator erzeugten Störimpulse werden somit über zwei konzent- rierte Kapazitäten symmetrisch auf die Busleitungen eingekoppelt. Das vom Bitmustergenerator erzeugte Sendesignal /TX sowie die 3 Emp-

werden über BNC-Leitungen von der Testplatine zu

den Meßgeräten geführt.

fangssignale /RX1

/RX3

Steuer-PC

Normimpuls- Monitoring Generator DSO RS 232 IEC-Bus Bitmuster-Gen. /TX Testplatinensystem /RX SMA-LP-Buchse
Normimpuls-
Monitoring
Generator
DSO
RS 232
IEC-Bus
Bitmuster-Gen.
/TX
Testplatinensystem
/RX
SMA-LP-Buchse
BNC-LP-Buchsen
Einkopplung der Burst-Pulse auf den Bus: CAN_H 1 nF SMA-LP- 1 nF Buchse CAN_L
Einkopplung der Burst-Pulse auf den Bus:
CAN_H
1 nF
SMA-LP-
1 nF
Buchse
CAN_L

3.2

Bewertung der Störfestigkeit des Bussystems

Zur Bewertung der Störfestigkeit des Bussystems können Messungen mit und ohne Nutzsignalübertragung durchgeführt werden.

Die vorgestellten Ergebnisse sind unter folgenden Randbedingungen zu be-

werten:

Fehlerkriterium:

Spannungswert:

ESB Beschal-

tung:

Bei Betrieb ohne Sendersignal auf dem Bus:

Fehlimpuls am Signal /RX des jeweiligen Transceivers mit U(t) 0,2 V Fehler

U(t) 5 V 0,2 V 0 t
U(t)
5 V
0,2 V
0
t

Quellspannungswert im Störimpulsgenerator

CAN_H (1k2) 62 1K2 L cm 62 1K2 4n7 (1k2) Transceiver
CAN_H
(1k2)
62
1K2
L cm
62
1K2
4n7
(1k2)
Transceiver

CAN_L

3.3 Störfestigkeit verschiedener Transceiver mit Einfluß der Entstördrossel

Konfiguration

   

Störfestigkeit bei

 
 

Abschlußknoten

TC

Drossel

Stütz-

3a [V]

3b [V]

3a [%]

3b [%]

NW

A

-

1,2,3

-34

+ 43

100

100

A

51

µH

1,2,3

- 105

+ 258

308

600

B

-

1,2,3

- 105

+ 135

308

313

B

51

µH

1,2,3

-120

+ 570

353

1325

Tabelle 1

Impulsfestigkeit bei Konfiguration als Abschluß- Knoten

Bei der Konfiguration der Transceiver als Standardknoten sind nahezu identi- sche Störfestigkeiten festzustellen.

[V]

[V]

[V]

10

8

6

4

2

0

-2

10

8

6

4

2

0

-2

10

8

6

4

2

0

-2

Direkte Impulseinkopplung Transceiver A Normimpuls 3a Stütz-NW (1,2,3) Ab.-Knoten (2) - 34 V - 100
Direkte Impulseinkopplung
Transceiver A
Normimpuls 3a
Stütz-NW
(1,2,3)
Ab.-Knoten (2)
- 34 V
- 100 V
- 200 V
- 400 V
0 200 400 600 800 1000 [ns] Direkte Impulseinkopplung Transceiver A Normimpuls 3b Stütz-NW (1,2,3)
0 200
400
600
800
1000
[ns]
Direkte Impulseinkopplung
Transceiver A
Normimpuls 3b
Stütz-NW (1,2,3)
Ab.-Knoten (2)
+
43 V
+
100
V
+
200
V
+
400
V
0 200 400 600 800 1000 [ns] Direkte Impulseinkopplung Transceiver B Normimpuls 3a Stütz-NW (1,2,3)
0 200
400
600
800
1000
[ns]
Direkte Impulseinkopplung
Transceiver B
Normimpuls 3a
Stütz-NW (1,2,3)
Ab.-Knoten (2)
-
105 V
-
200 V
-
400 V
0 200
400
600
800
1000

[ns]

a)

b)

c)

[V]

[V]

[V]

10

8

6

4

2

0

-2

10

8

6

4

2

0

-2

10

8

6

4

2

0

-2

Direkte Impulseinkopplung Transceiver B Normimpuls 3b Stütz-NW (1,2,3) Ab.-Knoten (2) + 135 V + 200
Direkte Impulseinkopplung
Transceiver B
Normimpuls 3b
Stütz-NW (1,2,3)
Ab.-Knoten (2)
+ 135 V
+ 200 V
+ 400 V
0 200
400
600
800
1000

[ns]

Direkte Impulseinkopplung Transceiver A Normimpuls 3a Stütz-NW (1,2,3) Drossel 51 µH Ab.-Knoten (2) - 105
Direkte Impulseinkopplung
Transceiver A
Normimpuls 3a
Stütz-NW (1,2,3)
Drossel 51 µH
Ab.-Knoten (2)
- 105 V
- 200 V
- 400 V
0 200
400
600
800
1000
[ns] Direkte Impulseinkopplung Transceiver B Normimpuls 3a Stütz-NW (1,2,3) Drossel 51 µH Ab.-Knoten (2) -
[ns]
Direkte Impulseinkopplung
Transceiver B
Normimpuls 3a
Stütz-NW (1,2,3)
Drossel 51 µH
Ab.-Knoten (2)
- 120 V
- 200 V
- 400 V
0 200
400
600
800
1000

[ns]

d)

Bild 12 Direkte kapazitive Im- pulseinkopplung

a)

TC A, NI 3a

b)

TC A, NI 3b

c)

TC B, NI 3a

d)

TC B, NI 3b

a)

b)

Bild 13 Direkte kapazitive Im-

pulseinkopplung

Transceiver mit Drossel

a) TC A, NI 3a

b) TC B, NI 3a

Dipl.-Ing. Bernd Körber; Prof.Dr.-Ing. habil. Dieter Sperling Westsächsische Hochschule Zwickau ( FH )

EMV- Eigenschaften von Treiberbausteinen und Entstör- komponenten beim High Speed CAN- Bus auf Schnittstellenebene

Gliederung

1.

Einordnung und Zielstellung

2.

Einstrahlfestigkeit des Bussystems

2.1

Testplatinensystem und Meßaufbau

2.2

Bewertung der Störfestigkeit des Bussystems

2.3

Quantifizierung der eingeprägten Störung im Meßaufbau

2.4

Störfestigkeit verschiedener Transceiver

2.5

Wirkung verschiedener Stördrosseln

2.6

Wirkung von Stützschaltungen

2.7

Einfluß des Masseversatzes im Bussystem

2.8

Störfestigkeit bei unsymmetrischer Störeinkopplung

3.

Impulsfestigkeit des Bussystems

3.1

Meßaufbau

3.2

Bewertung der Störfestigkeit des Bussystems