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DIFRACCIN DE LA LUZ

OBJETIVOS Observacin experimental de la difraccin de Fraunhofer correspondiente a diversos obstculos, y estudio cuantitativo de la difraccin de la luz por una rendija, as como su aplicacin a la medida de pequeas distancias. FUNDAMENTO La difraccin es el fenmeno que se produce cuando las ondas (mecnicas, electromagnticas o asociadas a partculas) alcanzan un obstculo o abertura de dimensiones comparables a su propia longitud de onda, y que se manifiesta en forma de perturbaciones en la propagacin de la onda, bien sea rodeando el obstculo, bien sea producindose una divergencia a partir de la abertura. En nuestro caso consideraremos la difraccin de las ondas electromagnticas, y en un sentido amplio, podemos decir que la difraccin se define como toda desviacin de los rayos luminosos que no pueda explicarse ni como reflexin ni como refraccin. Cuando se observa la difraccin producida por un objeto proyectando sobre una pantalla a una distancia muy grande del propio objeto, la distribucin de intensidades observada se conoce como patrn de difraccin de Fraunhofer. Patrn de difraccin de Fraunhofer de una rendija estrecha . Consideremos un haz plano de luz monocromtica de longitud de onda que en su propagacin encuentra perpendicularmente una rendija estrecha de anchura 2b. De acuerdo con el principio de Huygens, cada punto de la rendija se convierte en un emisor de ondas secundarias. Puesto que por hiptesis el haz incidente es plano y la rendija se encuentra perpendicular a l, todas estas ondas secundarias se encuentran en fase. Y si recogemos sobre una pantalla lejana la radiacin procedente de todos estos focos emisores, encontraremos una distribucin de intensidad donde cada punto de la pantalla estar ms o menos iluminado dependiendo de las fases de las ondas secundarias que alcanzan el punto dado; fases que a su vez dependern del camino que cada uno de los rayos originados en estas fuentes secundarias haya tenido que recorrer para llegar all. Aparecern mximos y mnimos en la pantalla, y puntos con una intensidad intermedia, que constituyen el patrn de difraccin de la rendija. Consideremos el esquema presentado en la figura 1. En el centro de la pantalla (punto O) aparecer un mximo de intensidad, porque todos los focos secundarios que forman la rendija son equidistantes y las ondas secundarias que originan llegan en fase. A medida que nos alejamos de ese punto central, hacia un lado y otro hay desfases en las ondas secundarias que alcanzan cada punto y en consecuencia aparecen variaciones en la intensidad. Consideremos seguidamente el rayo que forma un ngulo con la direccin perpendicular a la rendija y la pantalla, cuya trayectoria es la hipotenusa de un tringulo rectngulo cuyos catetos son D, y. Llamando I0 a la intensidad del mximo central, si la rendija est lo suficientemente lejos de la pantalla y la distancia d es pequea comparada con D puede demostrarse (vase apndice) que la intensidad de la luz difractada segn la direccin dada por el ngulo es:

PARTE EXPERIMENTAL Observaciones cualitativas Hgase pasar un haz lser a travs de los siguientes objetos difractantes: una rendija estrecha, un cabello, varios cabellos cruzados y una abertura circular de pequeo tamao. Obsrvese cada figura de difraccin en una pantalla alejada. Medidas cuantitativas Dispngase el montaje experimental segn se indica en la figura 2a, usando un lser como fuente de luz monocromtica. En lugar de pantalla emplearemos una LDR montada sobre una pletina de desplazamiento, que gracias a su tornillo micromtrico permite mover el sensor LDR en fracciones de milmetro recorriendo la figura de difraccin. Haremos las medidas sobre el mximo central. (Esta LDR debe estar previamente calibrada para utilizar las lecturas de resistencia en el clculo de la iluminacin). Debe medirse cuidadosamente la distancia de la rendija a la LDR, y asegurarse de que el haz lser est dispuesto perpendicularmente a sta.

Comenzando en el primer mnimo iremos moviendo la LDR en pasos de 0.5 mm, de manera que recorramos completamente el mximo principal de difraccin. Cada 0.5 mm anotaremos las lecturas de posicin y resistencia medida por el hmetro. (Ser necesario cambiar la escala del hmetro a lo largo de la serie de medidas, ya que la resistencia cambia rdenes de magnitud desde el mnimo hasta el mximo de iluminacin). En las figuras 2b y 2c se muestran fotografas de la pletina de desplazamiento y del sistema de medida.