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Difrao

Em meados do sculo XVII foi publicado um trabalho, de autoria de Francesco Grimaldi descrevendo o fenmeno que o autor chamou de Diffractio. Esse fenmeno era a propagao no retilnea da luz, que percebido a olho nu sob determinadas circunstncias. Na verdade, esse efeito uma caracterstica de todos os fenmenos ondulatrios, sejam eles sonoros, eletromagnticos ou ondas de matria e ele ocorre toda vez que uma poro de uma frente de onda obstruda de alguma maneira. O que acontece que ao encontrar o obstculo (seja ele transparente ou opaco), os vrios segmentos da frente de onda vo sofrer alteraes de amplitude ou fase tais que, ao se propagarem para alm do obstculo, vo interferir ocasionando uma distribuio particular de energia que conhecida como espectro de difrao ou figura de difrao. Esse comportamento, apesar de ocorrer sempre, pode no ser notado. O domnio da ptica Geomtrica ou os fenmenos pticos que podem ser explicados por essa teoria so aqueles que ocorrem em condies tais que os efeitos da difrao so desprezveis. O tratamento completo da difrao deve ser realizado atravs da teoria da eletrodinmica quntica, entretanto, para as experincias que estamos propondo, a teoria eletromagntica clssica, que possibilita um tratamento extremamente mais simples, mais que suficiente.

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O Princpio de Huygens-Fresnel
Uma primeira tentativa de explicar o fenmeno da difrao seria considerar o princpio de Huygens. Esse princpio diz que cada ponto de uma frente de onda pode ser considerado como uma fonte secundria de ondas esfricas. Portanto, o progresso no espao dessa frente de onda, ou de qualquer parte dela, poderia ser determinado: em qualquer instante a forma da frente de onda seria o envelope das ondas esfricas secundrias. (Para uma discusso mais detalhada veja o captulo 4, seo 4.42 do livro Optica de E. Hecht). Esse princpio independe do comprimento de onda e prev o mesmo comportamento para ondas de diferentes comprimentos de onda ao encontrarem o mesmo obstculo. Essa tcnica, entretanto, ignora a maior parte da onda secundria, tratando somente da parte das ondas que se somam para formar o envelope. O resultado disso que o princpio de Huygens, sozinho, no consegue explicar vrios detalhes do processo de difrao, por exemplo: ondas sonoras de comprimento de onda da ordem de 70 cm, sofrem difrao, isto , se curvam em torno de obstculos grandes como rvores ou postes de telefone, enquanto que ondas de luz visvel, de comprimento de onda muito menor (~600x10-7cm) no sofrem difrao nos mesmos obstculos, projetando deles sombras que podem ser previstas pela teoria que leva em conta a propagao retilnea da luz. Essa dificuldade foi resolvida por Fresnel, adicionando a esse princpio, o conceito de interferncia. Foi elaborado um novo princpio que conhecido como Princpio de Huygens-Fresnel que diz que qualquer ponto de uma frente de onda que no seja obstrudo, em qualquer instante se comporta como uma fonte de ondas esfricas secundrias, da mesma freqncia da onda primria. A amplitude do campo ptico em qualquer ponto aps a passagem pelo obstculo, a superposio das amplitudes das ondas esfricas secundrias, levando em conta suas fases relativas.
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Figura 4.1: Difrao de ondas na gua atravs de uma abertura para trs diferentes comprimentos de onda. Classicamente, a razo pela qual a luz atinge regies para alm do obstculo, regies que no seriam atingidas caso a luz se
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propagasse em linha reta, que o grande nmero de ondas secundrias esfricas emitidas pela abertura no anteparo, interferem. Interferir quer dizer se combinar, levando em conta as diferenas de fase. Essa interferncia ocorre em cada ponto da regio alm do obstculo, de maneira que, s vezes, as ondas se somam, s vezes, se cancelam, dependendo do comprimento do caminho ptico de cada uma. bom ter sempre em mente que quando se fala em caminho ptico est-se falando de fase, e diferena de caminho ptico significa diferena de fase. Vamos estudar o que ocorre com o exemplo da figura 4.1, que a foto de um tanque com gua, em que so formadas ondas planas. Essas ondas encontram um obstculo, paralelo s frentes de onda, que possui uma abertura. Nessas figuras, o comprimento de onda varia e a dimenso da abertura no obstculo permanece constante. Na figura 4.1(a) o comprimento de onda pequeno em relao largura da abertura. Na figura 4.1(b) ele da ordem da dimenso da abertura, enquanto que na figura 4.1(c) o comprimento de onda maior que a dimenso da abertura. Aplicando o princpio de Huygens-Fresnel a esse exemplo, a figura 4.2 um esquema do que est ocorrendo no exemplo da figura 4.1 e ajuda a compreender o que estar acontecendo num ponto P, qualquer, situado alm do obstculo: Se cada ponto da frente de onda plana que chega abertura funciona como uma fonte secundria coerente, a diferena mxima de caminho ptico entre elas, max, seria o mdulo de (AP BP), que corresponde s fontes secundrias mais afastadas, situadas nos extremos da abertura. Mas essa diferena mxima de caminho ptico seria menor ou igual dimenso da abertura, AB (que seria o caso em que o ponto P estaria sobre a abertura): (4.1)

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Figura 4.2: Esquema da difrao atravs de uma abertura num obstculo opaco.

Portanto, se o comprimento de onda incidente maior que AB, esse comprimento de onda ser maior que max, que a diferena de caminho ptico entre os raios que saem dos extremos da fenda. Considerando que as ondas, na abertura, estivessem inicialmente em fase, para alm do anteparo elas vo todas interferir construtivamente (em diferentes graus, mas praticamente s interferem construtivamente porque a diferena de caminho ptico (ou diferena de fase) vai ser sempre bem menor que um comprimento de onda), qualquer que seja o ponto P. o que se v na figura 4.1c. Ento, se o comprimento de onda grande comparado abertura da fenda, as ondas vo se espalhar em ngulos grandes na regio alm (ou atrs) do obstculo. De fato quanto menor a

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abertura, mais esfricas so as ondas difratadas e maior ser a regio iluminada do anteparo. A situao oposta ocorre quando o comprimento de onda menor que a abertura no anteparo como visto na figura 4.1a. A rea correspondente aos pontos do anteparo para os quais o comprimento de onda maior que a diferena de caminho ptico entre os raios provenientes das extremidades da abertura, restrita regio praticamente em frente a abertura (onde (AP-BP) pequeno). Nessa regio, as ondas esfricas secundrias provenientes da abertura interferem construtivamente com intensidade alta. Fora dessa regio comea a interferncia destrutiva ou sombra. Na verdade, pode haver outras regies, em ngulos maiores, onde vai ocorrer interferncia construtiva, mas a intensidade ter cado tanto que essas regies so praticamente inobservveis. A sombra geomtrica descrita classicamente corresponderia ao limite de 0. Dependendo da relao entre o comprimento de onda incidente e a dimenso da abertura, ser possvel observar regies de interferncia construtiva e de interferncia destrutiva para alm do anteparo. Ou seja, nessa situao possvel observar um padro de mximos e mnimos que conhecido como figura de difrao. Pode-se concluir que, do ponto de vista qualitativo, o princpio de Huygens -Fresnel leva concluso de que a luz (ou outra onda qualquer) sofre difrao e isso ocorre devido interferncia. Analisando o fenmeno qualitativamente, do ponto de vista da eletrodinmica quntica chega-se mesma concluso. Do ponto de vista quantitativo, o tratamento da difrao baseado nesse princpio apresenta alguns dificuldades. Depois de Huygens, Kirchhoff refinou a anlise do fenmeno e levou formulao do princpio de Huygens -Fresnel como uma conseqncia direta da equao de onda. A teoria de Kirchhoff, entretanto, tambm uma aproximao. Foi somente em 1896 que A. J. W. Sommerfeld chegou primeira soluo exata para uma configurao difratora particular (e simples) utilizando a teoria eletromagntica da luz.
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Solues exatas desse tipo no existem, ainda hoje, para muitas configuraes de interesse prtico. Portanto, no presente estudo vamos nos ater a solues obtidas com os tratamentos mais simples, mas aproximados, desenvolvidos por Huygens-Fresnel e Kirchhoff. Essas solues provaram serem adequadas para os casos que nos propomos a estudar.

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Difrao de Fresnel e Difrao de Fraunhofer


Vamos supor que temos uma tela opaca que indicaremos por que contenha uma nica e pequena abertura e que essa tela seja iluminada por ondas planas de luz. Como j mencionado, pode ocorrer o fenmeno de difrao. Se isso ocorre pode-se pensar que a difrao uma conseqncia da interao das ondas eletromagnticas com o material da tela. Ento, seria interessante examinar (muito rapidamente) o que de fato est ocorrendo dentro do material dessa tela quando atingido por radiao eletromagntica. Considerando a tela numa escala submicroscpica, podemos imaginar que a nuvem eletrnica de cada tomo colocada para vibrar pelo campo eltrico da radiao incidente. O modelo clssico que descreve os eltrons como osciladores vibrando e reemitindo com a mesma freqncia da fonte, funciona muito bem para a descrio desse fenmeno, portanto, no necessrio nos preocuparmos aqui com a descrio quntica da difrao. A amplitude e a fase de um desses osciladores dentro da tela vo ser definidas pelo campo eltrico local que o envolve, que por sua vez, a superposio do campo eletromagntico incidente e dos campos de todos os outros eltrons que esto oscilando. Se a tela opaca e no contm aberturas, observa-se que quando for iluminada de um lado, no haver campo ptico do outro lado. Do ponto de vista clssico, pode-se compreender esse efeito considerando que os eltrons perto da superfcie iluminada vo ser colocados para oscilar pela radiao incidente. Portanto, eles vo emitir energia eletromagntica que poder ser refletida para trs, ou absorvida pelo material, ou ambos. Se o material opaco, os campos da onda incidente e o da onda emitida pelos eltrons-osciladores vo se superpor de tal maneira que se cancelam completamente na regio no iluminada do anteparo. Em geral, a onda incidente se propaga para alm dos eltrons-osciladores da superfcie do anteparo, excitando mais eltrons que vo irradiar e essa radiao emitida tende a cancelar a onda incidente. Assim, medida que ela penetra no material, a onda incidente vai ficando cada vez mais fraca
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at sumir completamente, se o material do anteparo for suficientemente espesso. A espessura importante porque mesmo materiais opacos, como metais em geral, ficam semitransparentes quando usinados sob forma de folhas muito finas. Agora vamos ver o que acontece quando fazemos uma abertura pequena no centro da tela, ou seja, retiramos um pequeno disco dessa tela. Os eltrons-osciladores que estavam na parte que foi removida no vo mais afetar os demais eltrons, entretanto, por simplicidade, vamos assumir que a interao mtua entre os eltronsosciladores desprezvel. Isso quer dizer que os eltrons que continuam na tela no vo ser afetados pela remoo dos eltrons pertencentes ao disco retirado. O campo eletromagntico na regio no iluminada, ou alm da tela, vai ser o campo que existia a antes da retirada do disco (ou seja, nulo) menos a contribuio dessa parte retirada. Exceto pelo sinal, como se a fonte e a tela no existissem e o campo eletromagntico fosse aquele emitido pelos eltrons-osciladores pertencentes ao disco retirado. Que justamente a essncia do que diz o princpio de Huygens-Fresnel. Se quisermos ser mais realistas, no mnimo, devemos esperar que essa aproximao, que considera desprezvel a interao entre os eltrons-osciladores, no pode valer em qualquer situao. O bom senso diz que deve haver uma interao de curto alcance, j que o campo produzido por esses osciladores decai com a distncia. Nesse caso os eltrons na vizinhana da abertura vo ser afetados quando uma parte da tela, ou disco, retirada. Para aberturas grandes o nmero de eltrons-osciladores do disco retirado muito maior que o nmero de eltrons-osciladores ao longo da borda da abertura. Nesses casos, se o ponto de observao est a uma distncia grande do anteparo, se comparada s dimenses da abertura, a aproximao que despreza a interao entre os eltrons-osciladores entre si, funciona bem na descrio do fenmeno da difrao. Em outras palavras, nesse caso o princpio de Huygens-Fresnel funciona bem. Isso pode ser observado na figura 4.3 a seguir. Essa
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figura mostra duas fotos de ondas na gua, na foto da esquerda as ondas sofrem difrao aps passarem por uma abertura num anteparo e na foto da direita as ondas so criadas por fontes pontuais, igualmente espaadas, distribudas ao longo de um intervalo da mesma dimenso da abertura da outra foto. Nota-se que as ondas so praticamente idnticas a distncias grandes (comparadas s dimenses da abertura), mas para regies prximas da abertura, ou das fontes, as ondas so sensivelmente diferentes.

Figura 4.3: Fotos de ondas na gua. direita as ondas so difratadas e esquerda so geradas por fontes pontuais. A concluso que para o caso de aberturas muito pequenas se comparadas ao comprimento de onda ou para pontos de observao prximos abertura, os efeitos de borda se tornam importantes e o princpio de Huygens-Fresnel no consegue mais explicar o fenmeno. Resumindo tudo que foi dito, se temos uma tela opaca com uma abertura pequena e a iluminamos com uma frente de ondas planas provenientes de uma fonte distante, o que vai ser observado
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depende da distncia que o plano de observao vai estar da tela que contm a abertura. Se esse plano ou anteparo est muito prximo e paralelo tela , a imagem da abertura projetada nesse anteparo e a forma da abertura ser claramente reconhecvel (poder haver algum pequeno efeito de franja luminosa nas bordas da imagem). Se o plano de observao movido para uma distncia um pouco maior da abertura, a imagem projetada da abertura ainda ser reconhecvel, mas ter estruturas bem visveis, medida que as franjas de difrao ficam mais proeminentes. Esse fenmeno conhecido como difrao de Fresnel ou difrao de campo prximo. Se o plano de observao afastado ainda mais da abertura, nota-se uma mudana contnua na imagem da abertura nele projetada, como se pode ver na figura 4.4 a seguir. Finalmente, a uma distncia, do plano de observao em relao tela que contm a abertura, muito grande, praticamente no haver mais semelhana entre a imagem observada nesse plano e a forma da abertura, porque as franjas que comearam a aparecer antes vo se espalhar. A partir da, se o anteparo de observao for afastado ainda mais, s muda a largura desse padro de franjas luminosas. Esse caso da difrao de Fraunhofer ou difrao de campo distante. Nesta experincia vamos considerar somente o caso da difrao de Fraunhofer. Portanto, temos que satisfazer as duas condies acima, ou seja, tanto a fonte quanto o plano de observao devem estar muito distantes da fenda. Ou, colocando de outra maneira, tanto a onda que chega quanto a que deixa a abertura na tela, tm que ser planas. Essas condies garantem a linearidade da relao entre as dimenses da abertura, o comprimento de onda e a distncia do plano de observao fenda, que o critrio matemtico da difrao de Fraunhofer. H uma discusso mais completa sobre esse assunto no captulo 10, seo 10.1.2 do livro Optica de E. Hecht.

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Figura 4.4: Sucesso de figuras de difrao observadas a distncias decrescentes da fenda. A figura do topo uma figura de difrao de Fraunhofer e a da base uma figura de difrao de Fresnel da mesma fenda.

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Difrao de Fraunhofer
Para entender como se processa a difrao de Fraunhofer por uma fenda longa e de largura infinitesimal, substitumos a fenda por uma linha de osciladores coerentes, pontuais, um ao lado do outro. Essa uma boa aproximao se a onda que chegou a essa fenda era plana. A figura 4.5 a seguir mostra uma linha desses emissores pontuais:

Figura 4.5: Linha de fontes pontuais coerentes que simula uma fenda longa de largura infinitesimal.

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Para poder fazer o tratamento de Fraunhofer, o plano ou anteparo de observao deve estar a uma distncia muito grande da fenda, em relao ao comprimento dessa linha de fontes pontuais (R>>D). Quando isso ocorre, pode-se deduzir uma equao que descreve a irradincia dessa linha ideal de emissores. A irradincia (I) de uma fonte de ondas eletromagnticas definida como sendo a energia mdia emitida por unidade de rea, por unidade de tempo (no caso da linha, por unidade de comprimento, j que a largura infinitesimal). Isso a mdia, no tempo, da magnitude do vetor de Poynting e proporcional ao quadrado da amplitude do campo eltrico emitido. No caso da linha de fontes pontuais da figura 4.5, a irradincia : (4.2)

onde o ngulo medido a partir do plano x-z, I(0) a irradincia para = 0, que corresponde ao mximo principal, o comprimento de onda emitido e D o comprimento da linha de emissores. Essa equao vlida para qualquer plano que contenha o eixo y (planos paralelos ao plano y-z) e sua deduo feita passo a passo, tanto no captulo 10, seo 10.2 do livro Optica de E. Hecht, como na aula 17 da Fsica 4 - Notas de Aula de M. J. Bechara et al. Vamos examinar a varivel na equao 4.2:

Se o comprimento da linha de fontes for muito maior que o comprimento de onda da radiao emitida, D>>, se torna muito
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grande e, portanto, I() fica muito pequeno. Em outras palavras, I() cai muito rapidamente quando se desvia de zero (lembrando que para = 0 a funo [sen / ] = 1). A fase das ondas emitidas pela linha de fontes equivalente de uma fonte pontual localizada no centro da linha de emissores (isso pode ser observado na demonstrao mencionada acima). Ento, podemos considerar que a linha de fontes pontuais equivalente a uma nica fonte pontual, localizada no centro dessa linha e emitindo predominantemente ao longo do eixo x (=0). Ou seja, a emisso se assemelha a uma onda circular no plano x-z.

Figura 4.6: Difrao de Fraunhofer para uma fenda retangular e foto da figura produzida por essa fenda.
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Podemos agora considerar o caso da difrao de Fraunhofer para uma fenda retangular de comprimento D e largura d. Quando no possvel afastar a fonte e o anteparo de observao suficientemente da fenda, as condies de Fraunhofer podem ser satisfeitas com o auxlio de duas lentes convergentes, que simulam essas condies de fonte e plano de observao muito distantes da fenda. A figura 4.6 abaixo mostra a formao da figura de difrao nesse caso:

Figura 4.7: (a) a fenda retangular simulada por uma srie de linhas emissoras de comprimento D e largura dz; (b) ondas emitidas pelas fontes pontuais de Huygens que preenchem a fenda; (c) a representao equivalente em termos de raios; (d) os raios correspondem a ondas planas; (e) a fenda iluminada por luz monocromtica e a figura de difrao de Fraunhofer.
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A primeira lente torna planas as ondas esfricas provenientes da fonte prxima e, a segunda, traz a figura de difrao de Fraunhofer, que se formaria longe da fenda, para uma posio mais prxima. O procedimento usual para encontrar o padro de intensidades da figura de difrao desse tipo de abertura dividir a fenda numa srie de tiras longas (de comprimento D e largura dz) paralelas ao eixo y, como mostrado na figura 4.7: Ao representarmos uma fenda de largura finita por uma srie de fendas de largura infinitesimal, podemos substituir cada uma delas por uma linha de fontes pontuais, que por sua vez so equivalentes a emissores pontuais localizados em seu centro, ou ao longo da largura da fenda, sobre o eixo z. Como vimos, cada um desses emissores vai irradiar uma onda esfrica, no plano x-z, centrada em y=0. Desta maneira o problema fica reduzido a encontrar o campo resultante emitido no plano x-z, devido a uma linha de fontes pontuais que se estende ao longo da largura (e no do comprimento) da fenda. Isso fcil de resolver, s integrar a contribuio ao campo, dE, (j obtida para uma linha de fontes pontuais, equao 4.2) de cada linha de fontes pontuais de largura dz, vamos obter: (4.3) que tem a mesma forma da equao 4.2 porque a simetria a mesma, s que dado por: (4.4)

onde k o nmero de onda e d a largura da fenda.


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Neste caso, ao contrrio do que foi analisado antes (linha longa de fontes pontuais, D>>), o comprimento da linha de fontes pontuais pequeno, portanto, no vai ser grande, e, embora a intensidade caia rapidamente, mximos secundrios de interferncia sero observveis.

Figura 4.8: Intensidades relativas dos mximos para difrao de Fraunhofer. Falta obter as posies dos mximos e mnimos de difrao para essa fenda. Para obter os mnimos derivamos a equao 4.3 em relao a e igualamos a zero. fcil verificar que os mnimos ocorrem para sen=0, que corresponde a: (4.5)
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ou a intensidade I() se anula quando: (4.6) A figura 4.8 mostra as intensidades relativas dos mximos para a difrao de Fraunhofer de uma fenda retangular simples: Uma outra maneira de entender mais facilmente o que est se passando, quando esse fenmeno ocorre, observar a figura 4.9 a seguir. Temos uma fenda simples, de largura d, numa tela opaca e ondas planas que chegam e saem dela, representadas por feixes de raios paralelos. Como j foi discutido, podemos imaginar que cada ponto da fenda est emitindo em todas as direes no plano x-z. A luz que continua a se propagar para frente, em direo ao anteparo de observao, ilustrada na figura 4.9a, representa o feixe no difratado, em que todos os raios chegam em fase no anteparo. Essa regio do anteparo estar iluminada e aparecer como uma mancha clara. A figura 4.9b mostra um conjunto especfico de raios que saem da fenda formando um ngulo 1 com o eixo x. A diferena de caminho mxima entre esses raios (que a diferena de caminho entre os raios que partem dos extremos da fenda) ser d sen 1. Vamos fazer com que essa diferena de caminho seja igual a um comprimento de onda : ou (4.7)

Ento, a diferena de caminho ptico (diferena de fase) entre o raio que sai do ponto central da fenda e o raio que saiu o topo da fenda ser /2, ou seja, eles estaro /2 fora de fase, portanto se cancelam exatamente. Analogamente, um raio que sai do ponto imediatamente abaixo do topo da fenda vai ser cancelado pelo raio que saiu do ponto imediatamente abaixo do ponto central da fenda. E assim sucessivamente, para os pares de raios que saem dos pontos sucessivamente abaixo dos acima mencionados. E, pela mesma razo,
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a soma desses raios vai ter intensidade zero gerando um mnimo de difrao.

Figura 4.9: Difrao da luz em fenda simples, em vrias direes.

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medida que o ngulo aumenta, uma frao pequena dos raios que saem da fenda vai de novo interferir construtivamente e vamos observar um segundo mximo bem menos intenso que o mximo principal. Se o ngulo continuar aumentando, ele vai chegar a um valor tal que d sen 2 = 2. Nesse caso, vamos imaginar a fenda dividida em quatro partes, e, exatamente com foi descrito acima, vai acontecer que o raio proveniente do topo da fenda vai ser cancelado pelo raio do topo da segunda parte, porque eles estaro exatamente /2 fora de fase. Pela mesma razo, o raio do topo da terceira parte da fenda vai ser cancelado pelo raio do topo da quarta parte e assim sucessivamente, para os pares de raios da primeira e da segunda e os da terceira e da quarta parte respectivamente. Em outras palavras, pares de raios provenientes dos mesmos pontos de segmentos adjacentes da fenda estaro /2 fora de fase e se cancelaro produzindo um novo mnimo. Generalizando, mnimos de difrao vo aparecer quando:

que a equao 4.6.

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Difrao em fenda dupla


Vamos supor que temos duas fendas retangulares, longas de largura b e separao centro a centro igual a a, como se pode observar na figura 4.10. Cada uma das duas fendas se estivesse sozinha, geraria a mesma figura de difrao de Fraunhofer, num anteparo longe da fenda. Com as duas fendas, lado a lado, em qualquer ponto do anteparo as duas figuras de difrao devem se superpor. Embora elas sejam essencialmente iguais em amplitude, podem ter diferenas de fase apreciveis. Como a mesma onda plana incidente que d origem s fontes de ondas secundrias em cada fenda, as ondas secundrias sero coerentes e deve ocorrer interferncia entre elas. Se a incidncia da onda plana, na tela opaca que contm as fendas normal tela, as ondas secundrias emitidas pelas fendas estaro em fase. A franja de interferncia num ponto qualquer do anteparo de observao vai depender da diferena de caminho ptico entre as ondas secundrias provenientes de cada fenda.

Figura 4.10: Difrao em fenda dupla: geometria da fenda (a), e padro de difrao observado para a=3b.
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O fato que o resultado final para a distribuio de densidade de fluxo do campo eltrico I (irradincia), neste caso, vai ser uma funo que varia rapidamente devido interferncia modulada pelo padro de difrao de fenda simples. A deduo dessa funo feita na aula 17 da apostila Fsica 4 - Notas de aula de M. J. Bechara et al e no captulo 10, seo 10.2.2 do livro Optica de E. Hecht. A funo obtida : (4.8) sendo que I0 a contribuio de cada fenda na direo =0, e: (4.9)

onde k = 2/ o nmero de onda. Na direo =0 (isto , quando = = 0), como I0 a contribuio de cada fenda, I(0) = 4I0 a irradincia total e o fator 4 vem do fato de que a amplitude do campo eltrico duas vezes o que seria caso uma das fendas estivesse coberta. A figura 4.11(a) a seguir uma foto da figura de difrao para uma fenda simples e a figura 4.11(b) a foto do padro observado quando temos duas fendas idnticas fenda da figura 4.11(a).

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Figura 4.11: Fotos de figuras de difrao de Fraunhofer para fenda nica (a) e fenda dupla (b).

A funo I() ser zero para valores de onde: (4.10)

quando os efeitos da difrao so tais que as contribuies das ondas secundrias provenientes de cada fenda se cancelam. Por outro lado, I() tambm se anula para pontos do anteparo que correspondem a:

(4.11)

caso em que as contribuies ao campo eltrico de cada uma das fendas estaro completamente fora de fase e somam zero.

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Combinando as equaes 4.10 e 4.11 com a equao 4.9, vamos obter as relaes entre as posies dos mnimos ou mximos de difrao e de interferncia e as dimenses das fendas. Para os mnimos de difrao se obtm, como anteriormente: (4.12) lembrando que b a largura da fenda. E para os mnimos de interferncia:

(4.13) ou, para os mximos de interferncia: (4.14) onde a a distncia entre as fendas. Ento, da medida da separao entre os mnimos da figura de difrao pode-se calcular a largura da fenda. E da separao entre os mximos (ou mnimos) do padro de interferncia pode-se calcular a separao entre elas. Nos dois casos, desde que se conhea a distncia entre as fendas e o anteparo e que as condies para a ocorrncia da difrao de Fraunhofer estejam satisfeitas. Para um estudo mais detalhado do fenmeno de interferncia consultar a aula 16 da apostila Fsica 4 - Notas de Aula de M. J. Bechara et al e o captulo 9 do livro Optica de E. Hecht.

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Difrao numa abertura quadrada


De maneira intuitiva podemos esperar que uma fenda quadrada seja equivalente a duas fendas simples cruzadas, e, portanto apresente mais ou menos o mesmo padro de difrao de Fraunhofer que cada fenda, s que, ento, esses padres apareceriam cruzados. Na verdade, o padro de difrao de Fraunhofer de uma abertura quadrada prximo disso. A deduo completa do padro de intensidades para essa abertura apresentada no captulo 10, seo 10.2.4 do livro Optica de E. Hecht.

Figura 4.12: Figura de difrao de Fraunhofer para uma fenda quadrada. A figura (b) s difere da (a) pelo maior tempo de exposio da fotografia.

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Figura 4.13: Distribuio de irradincia produzida pela difrao de Fraunhofer numa fenda quadrada (a) e (b). A figura (c) a distribuio de campo eltrico para a mesma fenda.

Na figura 4.12 vemos o padro de difrao de Fraunhofer. possvel notar, principalmente na figura 4.12(b) que a analogia com um sistema de duas fendas simples no perfeito porque aparecem
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outros mximos, entre os braos da cruz que era esperada. Esses mximos so muito menos intensos que os da cruz e difceis de serem percebidos sem equipamento adequado. Embora no seja possvel, por falta de tempo, deduzir a expresso da irradincia para fendas quadradas, interessante verificar como essa funo se comporta. Nas figuras 4.13(a) e (b) a seguir, vemos a distribuio de irradincia para a fenda quadrada. A figura 4.13(c) a distribuio da amplitude de campo eltrico para a mesma fenda. Notar o rpido decrscimo de intensidade dos mximos secundrios em relao ao principal.

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Difrao num orifcio circular


A difrao de Fraunhofer em aberturas circulares extremamente importante para o estudo de instrumentao ptica. Vamos imaginar que temos uma abertura circular numa tela opaca , sobre a qual incidem ondas planas. Colocando um anteparo a uma distncia suficientemente grande da tela, vamos observar o padro de difrao de Fraunhofer para essa abertura. Com o auxlio de uma lente convergente colocada convenientemente entre a fenda e o anteparo, poderemos trazer a figura de difrao para uma posio mais prxima da fenda, sem alter-la. Se essa lente colocada dentro da abertura circular e a preenche completamente, a forma do padro de difrao, observado no anteparo, no sofre alterao. O que aconteceu que a onda plana que chegou tela sofreu um corte, de maneira que s um segmento circular dela se propagou at a lente, para formar uma imagem no plano focal. Esse exatamente o processo que ocorre num olho, num telescpio, microscpio, na lente de uma cmera, etc. A imagem de uma fonte pontual formada por uma lente convergente, totalmente livre de aberraes, nunca um ponto, ela o mximo principal correspondente a algum tipo de difrao. Qualquer que seja a lente, ou qualquer que seja o instrumento ptico, ele nunca coleta toda a frente de onda que incide sobre ele, mas apenas uma frao dela, e, por isso, jamais forma uma imagem perfeita. No vamos deduzir aqui as expresses das intensidades para uma abertura circular, nem para as posies dos mximos. Isso feito no captulo 10, seo10.2.5 do livro Optica de E. Hecht, mas vamos colocar as figuras que as representam.

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Os mximos, neste caso, so chamados de discos de Airy, porque foi Sir George Biddell Airy quem primeiro derivou a frmula que descreve a distribuio de intensidade para a abertura circular. Na figura 4.14 podemos ver uma foto de uma figura de difrao de Fraunhofer para uma abertura circular.

Figura 4.14: Discos de Airy para uma fenda circular de 1mm de dimetro.

Figura 4.15: Difrao num orifcio circular.


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A figura 4.15 mostra o esquema de uma fenda circular e a figura de difrao correspondente. Os ngulos correspondentes aos mnimos de difrao podem ser escritos em termos do dimetro da abertura: (4.15)

onde a o dimetro da abertura. A distribuio de intensidades correspondente mostrada na figura 4.16.

Figura 4.16: Distribuio de intensidades para a difrao em fenda circular. (a) e (c) so a irradincia e (b) o campo eltrico.

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Difrao por obstculo Complementaridade


J foi mencionado no item que tratou da difrao de Fresnel e difrao de Fraunhofer que o princpio de Huygens-Fresnel trata o fenmeno da difrao por uma abertura, substituindo a abertura por um conjunto de emissores pontuais exatamente igual abertura. Dizse, ento, que a abertura e o conjunto de emissores, idntico a ela, so complementares. Duas superfcies difratoras so complementares quando as regies transparentes numa so exatamente correspondentes s regies opacas na outra. Quando duas superfcies complementares so superpostas o resultado uma tela opaca. Sejam E1 e E2 as amplitudes de campo eltrico que chegam a um anteparo distante quando uma onda plana incide em cada uma das superfcies separadamente. Ento, E1 a amplitude de campo eltrico que chega a um determinado ponto P do anteparo quando a primeira superfcie exposta onda incidente e E2 o mesmo, quando a segunda superfcie, complementar da primeira, exposta. Se as duas superfcies esto presentes simultneamente: (4.16) ou seja: (4.17) Isso quer dizer que as intensidades, ou irradincias, da luz difratada por obstculos (telas) complementares so iguais. Esse o chamado Princpio de Babinet. Assim, o espectro de difrao de um orifcio circular e o espectro de difrao de um disco de mesma dimenso so iguais. Esse princpio vale tambm, por exemplo, para uma fenda simples e um obstculo do tipo um fio, cujo dimetro igual largura da fenda.
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Aplicao prtica do fenmeno da difrao para o processamento de imagem

A informao ptica ou imagem est espalhada numa regio do espao num instante de tempo fixo. Pode ser uma imagem projetada num anteparo, uma tela de TV, uma figura. Em qualquer caso, a imagem pode ser descrita por uma distribuio bidimensional de fluxo luminoso. Esse fluxo pode presumivelmente ser descrito por uma funo I(y,z), que atribui um valor de irradincia I para cada ponto do espao onde se distribui a imagem. Talvez fique mais fcil de se entender com o auxlio da figura 4.15a. H um valor para I em cada ponto dessa figura. Para simplificar, vamos imaginar que passamos pela figura 4.15(a), ao longo da reta z=0, um sensor que d o valor da irradincia I(y,0), em cada ponto dessa linha. Em seguida, fazemos um grfico dos valores da irradincia como funo da distncia e vamos obter a figura 4.15(b). Essa funo I(y,0) pode ser representada atravs de funes harmnicas, usando a tcnica de anlise de Fourier (a tcnica de anlise de Fourier pode ser estudada com mais detalhe no captulo 7, seo 7.3 do livro Optica de E. Hecht). A funo encontrada, figura 4.15(b), como se pode ver, bastante complicada e seriam necessrios muitos termos para represent-la adequadamente por meio de uma srie de Fourier. Entretanto, se a funo I(y,0) conhecida sempre se pode aplicar a tcnica de Fourier. O processo fica mais fcil de se compreender se a forma funcional da irradincia for mais simples. Por exemplo, se passarmos o mesmo sensor em uma outra linha, na linha z=a, fazendo o mesmo procedimento j descrito, obtemos o grfico que se v na figura 4.15(c).
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Esse grfico uma srie de pulsos retangulares igualmente espaados. Essa funo, como j foi visto numa experincia anterior, pode ser descrita por uma srie de funes harmnicas que so as suas componentes de Fourier. As principais delas esto desenhadas na figura 4.15(d). Se os pulsos retangulares da figura 4.15(c) esto separados, centro a centro, por intervalos de, digamos, 1cm, o chamado perodo espacial igual a 1cm e seu inverso a freqncia espacial que igual a 1 ciclo por centmetro.

Figura 4.15: Distribuio de irradincia bidimensional que representa a figura(a), (b) e (c) so as distribuies de irradincia para z=0 e z=a, respectivamente. E (d) representa as componentes de Fourier da figura (c).

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Esse exemplo pode ser generalizado e o resultado que podemos transformar a informao associada a cada uma das linhas de qualquer imagem, em uma srie de funes senoidais com amplitudes e freqncias espaciais adequadas. Para o caso da figura 4.15(a), cuja irradincia uma funo de y e z, vamos ter que pensar em termos de transformadas de Fourier bidimensionais (para estudar esse caso com mais detalhe, veja o captulo 7, seo 7.4.4 e captulo 11, seo 11.2.2 do livro Optica de E. Hecht). Embora no seja bvio, pode ser demonstrado que a figura de difrao de Fraunhofer de uma abertura idntica transformada de Fourier da funo que descreve essa abertura. Mas a funo que descreve a abertura proporcional distribuio da amplitude do campo eltrico por unidade de rea sobre a rea da abertura (isso pode ser visto no captulo 10, seo 10.2.4 do livro Optica de E. Hecht). Em outras palavras, se a distribuio da amplitude do campo eltrico na abertura dada por uma funo A(y,z), a sua transformada de Fourier bidimensional vai aparecer como a distribuio da amplitude de campo eltrico E(y,z), num anteparo muito distante da abertura. Podemos usar uma lente convergente para trazer essa imagem do anteparo, para uma distncia mais conveniente, como podemos ver na figura 4.16 a seguir. Nessa figura, o plano que contm a abertura chamado de plano objeto o. A lente recebe o nome de lente de transformada Lt e podemos imaginar esse aparato como sendo um computador ptico capaz de gerar transformadas de Fourier instantneas de objetos colocados no plano objeto o. A figura de difrao de Fraunhofer ser formada no plano focal dessa lente, que recebe o nome de plano de transformada t. Na figura 4.16 a abertura uma grade. Supondo que ela seja iluminada por luz quase monocromtica, coerente, em ondas planas
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(que o caso da luz laser), cuja amplitude pode ser considerada constante em cada frente de onda. A funo que descreve a abertura ser uma funo peridica do tipo degrau, como se v na figura 4.17. Isso quer dizer que se nos movermos de ponto para ponto no plano objeto o (sobre a abertura) a amplitude do campo eltrico ser ou zero ou uma constante. Se o espaamento das barras que compem a grade a, esse vai ser o perodo espacial da funo degrau e seu inverso a freqncia espacial fundamental da grade.

Figura 4.16: Figura de difrao produzida por um conjunto de fendas retangulares. A mancha central da figura de difrao corresponde freqncia espacial zero. Os pontos brilhantes na figura de difrao, ou da transformada de Fourier, so associados s freqncias espaciais (m/a). Lembrar que m a ordem dos mnimos de difrao,
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m = 1, 2, 3,... (a posio dos mnimos dada pela equao 4.6)

Figura 4.17: A onda quadrada que representa a grade e sua transformada de Fourier. Passando para duas dimenses, se tivermos uma grade quadriculada, vamos obter a figura de difrao mostrada na figura 4.18 a seguir:

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Figura 4.18: Figura de difrao ou transformada de Fourier de uma grade quadriculada

Era de se esperar a periodicidade dos pontos tanto na vertical quanto na horizontal, mas aparece tambm um padro repetitivo nas diagonais. Quer dizer, h um aumento significativo na complexidade da figura de difrao, embora, devido periodicidade, ainda possamos pensar em componentes de sries de Fourier, para reproduzi-la. Caso tenhamos algo realmente mais complicado e no peridico como uma fotografia, por exemplo, o padro de difrao ser de tal complexidade que teremos que pensar em termos das transformadas de Fourier e no mais em termos de sries de componentes. Qualquer que seja o caso, entretanto, sabemos que cada ponto (ou pequena mancha) na figura de difrao traduz a presena de uma particular freqncia espacial, que proporcional sua distncia do eixo ptico (que passa pelo ponto central do mximo principal). Quanto maior a distncia do eixo ptico, tanto maior a freqncia espacial. Se fosse possvel medir o campo eltrico em cada ponto no plano da transformada (plano onde aparece a figura de difrao)
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teramos de fato a transformada de Fourier da funo que descreve a abertura. Mas o que medimos a distribuio de densidade de fluxo de campo eltrico em cada ponto, ou irradincia, que igual mdia no tempo do quadrado do campo eltrico ou ao quadrado da amplitude da contribuio de uma particular freqncia espacial naquele ponto. A figura 4.19 a seguir um esquema da formao da imagem proposto na figura 4.16. Ondas planas (obtidas com o auxlio da lente colimadora Lc), chegam ao plano objeto (que no caso uma grade), so difratadas e podem se resolvidas num novo conjunto de ondas planas, cada uma correspondendo a uma ordem, m = 1, 2, 3,..., ou freqncia espacial, e cada uma viajando numa direo especfica. A lente de transformada, Lt, forma a figura de difrao de Fraunhofer no plano de transformada, t, que tambm o plano que contm o foco imagem dessa lente.

Figura 4.19: Formao da imagem.


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As ondas, ao se propagarem para alm do plano de transformada, t, formam a imagem invertida da grade no plano imagem, i. Na figura est desenhado o esquema de formao de imagem dos pontos objeto G1 e G2, cuja imagem formada em P1 e P2, respectivamente. A lente objetiva forma, portanto, dois padres de interesse. Um deles a transformada de Fourier no seu plano focal, que o plano conjugado do plano onde se situa a fonte, e o outro a imagem da grade ou objeto, formada no plano conjugado ao plano que contm a grade. Na figura 4.20 vemos o caso da formao da figura de difrao e da imagem para o caso de uma fenda simples, com o aparato experimental que foi discutido. Podemos considerar os pontos S0, S1, S2,... na figura 4.19 como se fossem fontes pontuais de ondas esfricas secundrias, que vo produzir um padro ou figura de difrao no plano imagem, i. Mas em i temos a imagem da grade. Portanto, de acordo com esse raciocnio, a imagem do objeto, que no caso a grade, resulta de um processo de dupla difrao. Ou, alternativamente, podemos tambm considerar que a onda plana incidente difratada pelo objeto (grade, no caso), e, que essa onda difratada resultante, por sua vez, vai ser novamente difratada pela lente objetiva (ou lente de transformada). Qualquer que seja a colocao, a imagem do objeto (ou grade) resulta de uma dupla difrao. Se a lente objetiva no fosse utilizada, a figura de difrao se formaria no plano imagem da figura 4.19, i, em lugar da imagem. Esse tipo de raciocnio foi proposto pela primeira vez em 1873 por E. Abbe e conhecida como a Teoria de Abbe de Formao de Imagem. Pelo que foi discutido chegamos concluso, mesmo antes de fazer os clculos tericos, que a imagem formada no plano imagem da figura 4.19 o padro de difrao de Fraunhofer, da figura de difrao de Fraunhofer do objeto, no caso, da grade.

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Figura 4.20: Imagem de uma fenda simples.

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Filtragem ptica Espacial


Suponha que o aparato experimental da figura 4.19 seja montado usando um laser como fonte de ondas planas. Se os pontos S0, S1, S2,... correspondem figura de difrao de Fraunhofer, esse padro estaria se formando a uma distncia muito grande da grade, porque essa uma das condies para a difrao de Fraunhofer. A utilizao da lente Lt foi originalmente para trazer essa figura de difrao da grade (ou objeto), do infinito. Por sua vez, como a imagem a figura de difrao de Fraunhofer da figura de difrao de Fraunhofer do objeto, ela vai se formar a uma distncia muito grande da primeira figura de difrao. Vamos, ento, introduzir uma lente Li, para trazer do infinito essa segunda figura de difrao que a imagem do objeto. O que vai ocorrer introduzindo essa segunda lente no aparato experimental descrito na figura 4.19, pode ser visto na figura 4.21 a seguir:

Figura 4.21: Plano objeto o, plano de transformada t e plano imagem i quando se introduz uma segunda lente Li.

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Resumindo, a lente de transformada ou lente objetiva Lt faz com que a luz que vem do objeto venha a convergir numa figura de difrao no plano de transformada t; ou seja produz em t a transformada de Fourier bidimensional do objeto, que o mesmo que dizer que essa lente faz com que o espectro de freqncias espaciais que compem a imagem do objeto aparea no plano de transformada (que o plano do foco imagem da lente Lt). A segunda lente Li, que pode ser chamada de lente de transformada inversa, projeta a figura de difrao da figura formada em t no plano imagem i. Em outras palavras, a lente Li difrata o feixe difratado o que efetivamente significa gerar uma transformada de Fourier inversa. Ento, a imagem uma transformada de Fourier inversa da figura que aparece no plano de transformada, t. Para construir o aparato descrito na figura 4.21, por uma questo de convenincia, as lentes Lt e Li so em geral lentes compostas, com o foco imagem da primeira igual ao foco objeto da segunda e de abertura adequada (vai depender do objeto). Em geral, para aplicaes no muito sofisticadas, essas lentes so lentes convergentes de aproximadamente 10cm de dimetro e de 30 a 40cm de distncia focal. O plano objeto o no necessariamente precisa ficar no foco imagem da primeira lente, porque a transformada de Fourier vai continuar a aparecer no plano de transformada t. Mover o vai afetar somente a fase da distribuio de amplitude de campo eltrico e no de interesse nesse caso. A figura 4.22 mostra, com mais detalhes, o aparato da figura 4.21.

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Figura 4.22:Computador ptico, mostrando a transformada de Fourrier da letra E. As imagens de (a) a (d) mostram a figura de difrao da letra E com clareza de detalhe crescente em razo do aumento do tempo de exposio das fotos.

Esse dispositivo recebe o nome de computador ptico coerente porque ele proporciona uma aplicao muito importante que o tratamento de imagem. Ele permite a insero de obstrues, mscaras ou filtros, no plano da transformada t, o que permite o bloqueio de certas freqncias espaciais, impedindo que
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cheguem ao plano imagem. Esse processo de alterar o espectro de freqncias espaciais da imagem recebe o nome de filtragem espacial. A esta altura do estudo desenvolvido sobre a difrao de Fraunhofer, podemos antecipar a estrutura aproximada da transformada de Fourier, ou figura de difrao de Fraunhofer, de vrios objetos. Todas essas transformadas esto sempre centradas em torno do eixo ptico (freqncia espacial igual a zero) do sistema. Sabemos, tambm, que elementos-objeto com dimenses pequenas, difratam em ngulos maiores. E que a transformada de pores verticais (horizontais) de um objeto uma nica sucesso de manchas horizontais (verticais) no plano da transformada, e, ainda, que a transformada de discos e anis tero simetria circular. Igualmente, a transformada de aberturas elpticas horizontais so bandas elpticas, concntricas orientadas verticalmente. Do estudo da transformada de Fourier em uma onda quadrada, sabemos que as freqncias espaciais altas so as que contribuem para a formao das arestas bem definidas entre as regies claras e escuras de uma figura. No caso da figura 4.22 as pores verticais da letra E geram o espectro de freqncias espaciais disposto horizontalmente, no plano t. Notar que todas as fontes que so linhas paralelas verticais, nesse objeto, correspondem a uma nica sucesso horizontal, linear de pequenas manchas no plano de transformada. O mesmo acontece em relao s pores horizontais. O primeiro trabalho publicado sobre o assunto de filtragem ptica espacial foi por A. B. Porter em 1906. A figura 4.23(a) mostra uma grade que contm partculas de poeira. Colocando essa grade como objeto no plano o da figura 4.22, vamos obter a figura 4.23(b) no plano da transformada t. E agora comea a parte interessante: a transformada das partculas de poeira est localizada como uma nuvem irregular em torno do ponto central da figura, enquanto que a transformada da grade aparece como um conjunto de pontos simetricamente dispostos (guarda a simetria da grade) em
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torno do ponto central. Ento, se colocarmos uma mscara opaca no plano da transformada t, que tenha furinhos que coincidam exatamente com os pontos de mximo correspondentes figura de difrao da grade, vamos obter no plano imagem i a imagem da grade sem poeira, que a figura 4.23(c).

Figura 4.23: (a) objeto colocado no plano objeto do computador ptico da figura 4.22. (b) transformada desse objeto. (c) imagem do objeto colocando o filtro mostrado ao lado dessa imagem, no plano da transformada t.

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A seguir temos uma srie de imagens (no plano i), figura 4.24, da mesma grade com poeira da figura 4.23, mas variando o tipo de mscara, ou filtro, que colocado no plano da transformada t.

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Figura 4.24: Imagens resultantes da colocao de mscaras diferentes no plano da transformada t.. As mscaras colocadas esto nas figuras da direita e as imagens correspondentes esquerda. interessante notar nas figuras 4.24 (c), (d) e (e) que medida que um maior nmero das freqncias mais altas eliminado, os detalhes da imagem so tambm perdidos, como era esperado. Quer dizer, a remoo das freqncias espaciais altas causa um arredondamento da funo degrau e uma conseqente perda de definio da imagem.

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Isso s vezes desejvel e melhora at a qualidade da imagem, como podemos ver na foto da figura 4.25 a seguir:

Figura 4.25: Foto de K. E. Bethe . Quando as freqncias espaciais altas so retiradas da figura da esquerda, que contm apenas regies ou brancas ou pretas, tons de cinza aparecem, facilitando a vizualizao.

Vamos ver o que acontece se colocamos uma mscara que deixa passar tudo menos a mancha central (o mximo de ordem zero). O que se observa est na figura 4.26. Pontos da imagem original que aparecem negros na foto, (irradincia prxima de zero), aparecem assim porque as vrias componentes de campo eltrico que contribuem nesse ponto se cancelam, ou quase. Entretanto, o mximo principal, na figura de difrao, correspondente freqncia espacial zero, pode ser considerado como se fosse um termo dc
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positivo. Isso vem do fato da funo que representa a distribuio de campo eltrico no plano do objeto, ser positiva em qualquer ponto. Ento se removermos esse termo dc, a soma das contribuies que era prxima de zero num determinado ponto, vai deixar de ser. Por isso regies que eram originalmente negras na foto da grade, aparecem quase brancas e o que era branco na foto, vai aparecer em tons de cinza.

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Figura 4.26:Figura (b) a verso filtrada da figura (a), o filtro utilizado removeu a freqncia de ordem zero. Esse tipo de procedimento utilizado para melhorar a qualidade da imagem em um grande nmero de aplicaes. claro
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que o desenvolvimento nesse campo tem sido muito rpido e atualmente as funes que manipulam a irradincia proveniente do objeto em estudo so realizadas por dispositivos ptico-eletrnicos, que permitem a obteno, em tempo real e de maneira contnua, de dados ou imagens de alta qualidade. A seguir duas fotos, de interesse cientfico, submetidas a esse tipo de processamento de imagem.

Figura 4.27: (a) foto no filtrada de traa os de partculas numa cmara de bolhas; (b)mesma foto filtrada

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Figura 4.28: A foto (a) uma foto no filtrada da superfcie lunar. Acima dela est sua transformada de Fourier (b). Ao lado (c) est a transformada com o filtro aplicado. E abaixo (d) a foto da superfcie lunar limpa dos riscos horizontais.
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Procedimento para o estudo da difrao em fenda simples.


A experincia realizada utilizando um laser de He-Ne. O feixe razoavelmente monocromtico e o comprimento de onda principal igual a 632,8nm ou 6328A, que corresponde luz visvel na faixa espectral da cor vermelha. Para fins de clculo, nesta experincia, esse comprimento de onda tem erro zero, isso na verdade significa que ele tem um erro associado muito menor que os erros experimentais introduzidos pelo aparato utilizado. Os princpios bsicos de funcionamento de um laser podem ser encontrados no captulo 13 do livro Optica de E. Hecht, no Interlude L, pgina 842, do livro Physics de H. C. Ohanian. A potncia desse laser baixa o suficiente para no causar nenhum tipo de dano pele humana ou a qualquer outro material do laboratrio. Entretanto, ele pode causar danos s clulas da retina, no caso de incidncia direta sobre o olho, portanto no se colocar jamais numa posio tal que isso possa ocorrer. Normalmente essa incidncia no acontece porque o laser est sobre a bancada que muito mais baixa que a linha de visada de qualquer pessoa. O equipamento disponvel, alm do laser, consiste de um slide que contm um conjunto de fendas, entre elas duas fendas simples de larguras diferentes. Esse slide est preso a um suporte de tal maneira que a fenda fique na altura do feixe de laser, o suporte permite o ajuste da altura da fenda em relao bancada. H um anteparo e uma cmera de TV CCD (que quer dizer Charged Coupled Device). A cmera de TV deve ser colocada de maneira a ter uma boa imagem do anteparo, sem prejudicar (distorcer ou encobrir) a figura de difrao a formada. Essa cmera est ligada placa de vdeo do micro-computador, e, atravs dela, a imagem da figura de difrao da fenda, est projetada no anteparo, pode ser captada e enviada ao micro-computador. O anteparo dispe

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de uma escala milimetrada para facilitar a medida das distncias na figura de difrao. Um aplicativo do tipo Paint e a escala graduada do anteparo permitem ler as distncias entre dois mximos, dois mnimos ou entre mximos e mnimos da figura de difrao, dependendo do interesse. A distncia entre a fenda e o anteparo deve ser medida com uma trena. Antes de iniciar a experincia seria interessante fazer uma simulao da difrao por fenda simples com o programa Wave Optics on the Computer (WOC). Fazer a simulao para duas fendas simples de largura diferentes para observar como o padro de difrao se altera com a largura da fenda. Para fazer as medidas, primeiro ajustar os parmetros que forem relevantes para obter uma boa figura de difrao com, pelo menos, alguns mximos secundrios bem visveis e o mais intensos possvel. O primeiro objetivo desta parte da experincia , atravs da medida dos parmetros geomtricos da figura de difrao projetada no anteparo, determinar a largura de cada uma das duas fendas simples utilizadas. Levar em conta os erros experimentais e calcular o erro que afeta a medida da largura de cada uma das fendas. Os erros de medida das distncias entre os mnimos so iguais em valor absoluto, para todos os mnimos? Porque? Comparar seu resultado com o valor nominal, que pode ser obtido com seu professor, e o desvio relativo. Comentar. O segundo objetivo a medida das intensidades relativas dos mximos secundrios de difrao. Para tanto, se dispe de um fotodiodo, montado sobre um suporte, que pode ser movido manualmente. Esse foto-diodo est ligado ao micro por intermdio de uma interface Pasco. Ento, alinha-se o laser, a fenda e o anteparo, retirando a cmera de TV. Obtenha uma boa figura de difrao sobre o anteparo. A seguir retire o anteparo e desloque lentamente o fotodiodo ao longo da figura de difrao.

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A resposta do foto-diodo (em voltagem) diretamente proporcional intensidade da luz, ou irradincia, que incide sobre ele, desde que alimentado corretamente e que a intensidade de luz no ultrapasse o valor de saturao. Esses valores (da voltagem de alimentao e da intensidade de saturao do foto-diodo), sero informados por seu professor. Na caixa de alimentao do fotodiodo h um boto para ajuste do zero de intensidade, que deve ser usado se necessrio. A leitura da intensidade de cada mximo deve ser normalizada para a intensidade do mximo principal, porque no se dispe da calibrao do foto-diodo, nem isso necessrio para o estudo do fenmeno. Com os dados no computador mea, com o cursor, as intensidades dos mximos secundrios, normalizando-as pela intensidade do mximo principal. Os valores tericos dessas intensidades relativas so aproximadamente:, para os primeiros trs mximos:

(4.18) Faa a comparao dos dados experimentais com esses valores. Comente.

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Procedimento para a medida da espessura de um fio de cabelo


Um fio de cabelo (cabelo liso), esticado, o obstculo complementar da fenda simples. Seu padro de difrao, a menos de uma mancha brilhante central chamada de mancha de Poisson, idntico ao da fenda. Portanto, montando-se exatamente o mesmo arranjo experimental utilizado para a medida da largura da fenda pode-se determinar o dimetro de um fio de cabelo. Para a medida, monte o fio esticado sobre o suporte fornecido. Para verificar se o seu resultado aceitvel, comparar com os resultados obtidos pelos demais grupos para o mesmo tipo de obstculo. Os dimetros de todos os fios de cabelo humano, medidos, devem ser da mesma ordem de grandeza. importante uma boa anlise de erros e a comparao com os resultados obtidos pelos colegas. Essa comparao deve constar do seu relatrio. Explicar no relatrio, qualitativamente, porque se forma a mancha de Poisson para o obstculo e no se forma para a fenda. A medida das intensidades relativas dos mximos principais, com o aparato disponvel, no seria possvel neste caso. Explicar porque.

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Procedimento para a observao da figura de difrao de uma fenda quadrada


O aparato necessrio vai ser o mesmo que foi utilizado para a medida da largura de uma fenda simples. A fenda quadrada est no mesmo slide onde se encontram as fendas simples. Alinhar o laser, ajustar a altura do slide para que a luz do laser ilumine a fenda quadrada e posicionar o anteparo de maneira a obter a figura de difrao esperada (veja na parte terica). A seguir ajustar a cmera de TV. Comparar a figura obtida experimentalmente com a esperada. Comentar.

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Procedimento para o estudo da difrao em fenda dupla

Novamente montar o mesmo aparato que foi montado para a medida da difrao em fenda simples. H mais de um conjunto de fendas duplas no mesmo slide onde estavam as fendas simples. Deve ser escolhido o conjunto que apresentar o maior espaamento entre os mximos de interferncia para permitir uma boa leitura das intensidades. O primeiro objetivo determinar os parmetros da fenda atravs dos parmetros do padro das franjas de interferncia e difrao. Alinhar o laser com o conjunto de fenda dupla que vai ser estudado e obter uma figura de difrao com mximos secundrios de difrao em nmero suficiente para permitir a determinao dos parmetros das fendas com boa preciso. Posicionar a cmera de TV adequadamente para obter uma figura de difrao, com pouca distoro, na tela do computador. Determinar tanto a largura quanto o espaamento entre as fendas, levando em conta os erros experimentais e as variaes que ocorrem nos erros das medidas entre mximos, ou mnimos consecutivos. Comparar com os valores nominais e calcular os desvios relativos. Fazer uma comparao qualitativa com os resultados esperados teoricamente e comentar. A seguir, retirar tanto o anteparo como a cmera de TV e posicionar o foto-diodo para fazer a varredura da figura de difrao. Os mximos de interferncia devem estar suficientemente espaados para permitir uma leitura de intensidade sem ambigidade. Observar, no computador, a curva das intensidades dos mximos observados como funo da posio. Normalizar pela intensidade do mximo principal. Comparar qualitativamente com curva prevista teoricamente.

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Procedimento para o estudo da difrao num orifcio circular


O aparato experimental continua o mesmo e o procedimento realizado para as experincias anteriores tambm. O objetivo , atravs do padro de difrao num orifcio circular, determinar o dimetro do orifcio. Neste caso no vamos medir as intensidades. Antes de comear, fazer a simulao com o programa WOC, e, variando o dimetro do orifcio, ver como varia o padro de difrao. Varie tambm o comprimento de onda e veja como varia o padro de difrao. Relacionar as mudanas com a dimenso do orifcio e com o comprimento de onda. Em seguida fazer as medidas e calcular o dimetro do orifcio utilizado. Avaliar os erros e comparar com o valor nominal. Comparar qualitativamente com os resultados da simulao. Comentar.

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Procedimento para a experincia de processamento de imagem com o computador ptico


O objetivo ver como funciona o computador ptico comeando por utilizar como objeto uma fenda simples. Depois, estudar esse mesmo funcionamento substituindo-se a fenda por uma grade e o que acontece quando se usa diferentes tipos de filtro. Montar o laser e faz-lo incidir sobre uma fenda simples no banco ptico. Depois da fenda, colocar a lente Lt com a face plana voltada para a grade. A distncia entre a lente e a grade deve ser prxima da distncia do foco objeto dessa lente. De qualquer modo, essa distncia pode ser ajustada para se obter uma boa figura de difrao no plano de transformada t. Como j foi discutido, a figura de difrao ou transformada de Fourier da fenda simples deve se formar no plano que contm o foco imagem da lente objetiva Lt. Veja o esquema na figura 4.30 a seguir. As lentes Lt e Li so plano-convexas de 10cm de dimetro e de 40cm de distncia focal do lado convexo.

Figura 4.29: Esquema de montagem do computador ptico. Uma vez encontrado o plano de transformada t, colocar a segunda lente com a face convexa voltada para o plano t. A distncia entre essa lente e o plano de transformada deve ser
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prxima da distncia do foco objeto da lente. Da, sabemos que a imagem da fenda deve se formar no plano que contm o foco imagem da segunda lente i. Nesse plano deve-se observar a imagem da fenda. Entretanto, por ser a fenda muito pequena, h um pouco de dificuldade na visualizao. A seguir vamos substituir a fenda simples colocada no plano objeto o pela grade fornecida. Para poder fazer essa medida necessrio aumentar o dimetro do feixe do laser, sem perder o paralelismo. Para tanto vamos utilizar um sistema de duas lentes convergentes, a primeira de distncia focal igual a 1cm e a segunda de distncia focal 20cm. Voc deve saber qual deve ser a distncia correta entre as lentes. Observar a transformada de Fourier da grade (figura de difrao de Fraunhofer) no plano de transformada t. Inserir a segunda lente Li e observar a imagem da grade. Com o programa WOC fazer a simulao do funcionamento do computador ptico utilizando uma grade como objeto. Compare qualitativamente com os resultados experimentais observados. Como a principal aplicao prtica desse tipo de dispositivo o tratamento de imagem, vamos ver o que acontece com a imagem da grade quando introduzimos alguns tipos de filtro. Comparar qualitativamente o que acontece em cada caso com os resultados da simulao realizada com o programa WOC com filtros semelhantes. Alm do programa WOC foi instalado nos micros do laboratrio o programa DADISP que, entre outras coisas, faz processamento de imagem. A proposta , ento, simular um tratamento de imagem para uma figura ou foto. Com a cmera de TV CCD acoplada ao micro, filme uma imagem (o que quiser, pode ser o rosto de um colega, por exemplo). Leve essa imagem para o programa Paint para torn-la branca e preta. Como o processamento de imagem colorida com o programa DADISP muito demorado, vamos faz-lo com a imagem em branco e preto. A seguir transfira a imagem branca e
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preta para o programa DADISP. Encontre a transformada dessa imagem. Tente relacionar as estruturas da transformada com os principais padres existentes no objeto.

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