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MARCO TERICO
TEORA DE FOTOELASTICIDAD
Es una tcnica experimental para el anlisis de los esfuerzos
en un punto determinado de la pieza a analizar cuando su estructura o su geometra son muy complicadas o sus condiciones de carga son muy complejas, donde la solucin por mtodos analticos resulta muy tediosa. El principio de esta tcnica descansa en el descubrimiento realizado en 1816 por Sir David Brewster (1781-1868), profesor de Fsica de la Universidad de St. Andrews en Escocia, quien observ que al hacer pasar luz polarizada a travs de una pieza de vidrio cargada, se forma un mapeado de lneas de colores diversos, las cuales llevan un patrn cclico.
Fig. 1 . Se puede apreciar que la concentracin de esfuerzos se da en el centro de la muesca. Los patrones o franjas isocromticas se encuentran muy cerca en relacin a otras zonas del espcimen.
superficie reflectiva en una de sus caras, primeramente se adhiere a la superficie del espcimen que se va a analizar. Cuando esta placa fotoelstica se encuentra sujeta a cargas y es observada con luz polarizada, se obtiene un patrn de colores y estos colores que se aprecian son directamente proporcionales a las deformaciones. A esto se le conoce como fenmeno de birrefringencia. Esta gama de colores se aprecia cuando se refleja luz polarizada en la placa fotoelstica por medio de un polariscopio reflectivo, el cual consta de un polarizador que emite la luz polarizada y un analizador, que es una lente donde se aprecia la gama de colores que se forma al momento de aplicar carga sobre la pieza a analizar, as como las direcciones principales donde actan las deformaciones en el punto de inters.
isocromticas: las isclinas son lneas oscuras que se posicionan sobre el punto de inters rotando el analizador, y con esto se obtiene el ngulo en el que encuentran las deformaciones principales en dicho punto, y las isocromticas son las lneas coloreadas que nos permiten obtener el orden de franja N, con el cual se puede saber el valor de las deformaciones en el punto dado; una vez realizado el anlisis completo, se pueden conocer las deformaciones principales y el ngulo al cual se encuentran actuando sobre la zona de inters.
realizado el anlisis por fotoelasticidad, otros estudios con diferentes tcnicas, ya sea por galgas de deformacin o por elemento finito, con el fin de corroborar los resultados obtenidos y complementar dichos anlisis.
Mediciones de las direcciones principales y de la magnitud de las deformaciones por el mtodo de Fotoelasticidad.
siguiente manera: Identificar las reas crticas de la pieza a analizar, resaltando las regiones donde se registren deformaciones y las regiones donde la deformacin es cero. Medir con gran precisin los esfuerzos mximos y determinar la concentracin de esfuerzos en discontinuidades tales como agujeros, muescas, filetes y otras reas donde puedan presentarse fallas potenciales. Medir los esfuerzos principales y direcciones en un solo punto del elemento analizado. Llevar a cabo mediciones en laboratorio o pruebas de campo. Medir e identificar esfuerzos residuales. Visualizar la distribucin de las deformaciones en los rangos plsticos de deformacin.
El
polariscopio reflectivo funciona mediante vibraciones electromagnticas provenientes de una fuente de luz; sin embargo, con la introduccin de un filtro polarizado solo una componente de esas vibraciones se transmite, la cual es paralela a los ejes del filtro. Este tipo de ondas organizadas se conocen como planos polarizados o luz polarizada, ya que la vibracin se contiene en un solo plano.
Polarizacin de la luz
el vaco o en el aire es c = 300 000 km/s (3 x 108 m/s) y en otros cuerpos transparentes, la velocidad de propagacin (V) es ms lenta; de aqu obtenemos la relacin dada por c/V, que se conoce como ndice de refraccin n. Existen dos tipos de polariscopios: el plano y el circular. En la siguiente figura se observa el esquema de cada uno de estos tipos de polariscopio.
colocada a la salida del polarizador y otra colocada a la entrada del analizador, como se puede apreciar en la figura. Este polariscopio nos permite determinar las deformaciones principales que actan sobre la zona de inters al momento de aplicarle carga a toda la pieza a analizar.
Polariscopio plano
encuentran en fase cuando emergen del plstico y el analizador A transmitir simplemente una componente de cada una de esas ondas; estas ondas pueden interferirse y la intensidad de la luz que resulta queda en funcin de: El retardo . El ngulo entre el analizador y la direccin de deformaciones principales ( - ). Para el caso de un polariscopio plano, la intensidad de la luz ser I = a2sen2 [2( ) sen2 / ] donde l es la longitud de onda de la luz polarizada.
conocidos como lminas de de onda a las dos placas mencionadas en el polariscopio plano (una a la salida del polarizador y otra a la entrada del analizador) con lo que se obtendr luz polarizada circularmente. Con este polariscopio se obtiene la distribucin de las deformaciones en la zona de inters.
La intensidad de la luz emergente ser
I = a2sen2 / En un polariscopio circular, esta intensidad llegar a ser
el tamao de . Con esto, podemos expresar la diferencia de las deformaciones como x y = Nf donde N es el valor del orden de franja que se determina durante la prueba y f es el factor de franja proporcionado por el fabricante de la placa fotoelstica.
Polariscopio circular
EXPERIMENTACIN
Antes
PROCEDIMIENTO DE INSTRUMENTACIN
de comenzar la instrumentacin debe determinarse el cordn de soldadura en las probetas, por lo que primero se ataca dicha probeta con cido ntrico al 5%, que muestra claramente el cordn de soldadura; una vez determinado el cordn de soldadura, se procede a marcar el cordn con un plumn para tener la referencia al momento de pegar la placa fotoelstica en la pieza a analizar. Posteriormente, se prepara la superficie primero humedeciendo un poco la superficie con acondicionador y despus lijndola con lija de nmero 120; una vez lijada, se le aplica neutralizador y con esto ya queda lista la probeta para el siguiente paso.
humedeciendo un poco la superficie con acondicionador y despus lijndola con lija de nmero 120; una vez lijada, se le aplica neutralizador y con esto ya queda lista la probeta para el siguiente paso. Despus de esto, ahora se procede a la elaboracin del adhesivo, el cual se prepara mezclando apropiadamente una resina y un endurecedor, y la cantidad de dicho adhesivo depende del rea que se va a analizar con la placa.
realizar el adhesivo son el endurecedor PCH-1 y la resina PC-1, donde tenemos la referencia de que para cada 10 cm2 de rea se debe preparar 1 g de adhesivo, y la cantidad de resina y endurecedor necesarias para la mezcla son las siguientes: Resina: Cantidad de gramos requerida Endurecedor: Cantidad de gramos requerida Una vez realizada la mezcla adecuadamente, se esparce sobre el rea de inters y se pega la placa; una vez colocada la placa, se deja pasar un tiempo de 24 horas para que el pegado sea el apropiado.
las mediciones es el Modelo 031 fabricado por Vishay Intertechnology, Inc. que incluye como accesorios un compensador que consta de un compensador que viene integrado al cuerpo del analizador para realizar el mtodo de compensacin tarda con el cual se mide tambin la fraccin de orden de franja en el punto de inters de la pieza a analizar.
MTODO DE INCIDENCIA NORMAL Para el anlisis fotoelstico de la probeta, se utiliza este mtodo para determinar las deformaciones en el punto o en los puntos de inters. El procedimiento para llevar a cabo las mediciones se desarrolla de la siguiente manera: Primero, se coloca la probeta en la mquina universal 810 Material Test System y se mide la longitud que hay entre las mordazas de la mquina y, con ese parmetro, determinamos el 5% de deformacin requerido para la realizacin del ensayo. Despus se coloca el polariscopio de forma en que la luz polarizada de ste se refleje en la placa fotoelstica y se posiciona el analizador adecuadamente para llevar a cabo las mediciones pertinentes. Una vez colocado el polariscopio, se le aplica carga a la probeta en modo desplazamiento hasta llegar al 5% de deformacin determinado con anterioridad; en este lapso, se enciende el polariscopio para observar el mapeo que se va dando en la placa durante el ensayo de tensin. Al alcanzar esta deformacin, se pausa la carga y se empiezan a tomar las mediciones. Para esto, se coloca la perilla en D y se mueve el analizador hasta observar una lnea isclina en el punto de inters. Ms adelante, se cambia la perilla de D a M para observar el orden de franja que se aprecia en la placa fotoelstica, y se determina el valor pertinente.
El problema que se presenta con este mtodo es que los puntos de inters caen entre franjas, por lo que se aplican mtodos de compensacin para determinar la fraccin de orden de franja. Los mtodos de compensacin son los siguientes: MTODO DE COMPENSACIN TARDA
Este mtodo utiliza el compensador que viene integrado en el analizador del polariscopio, el cual nos indica en una escala de centsimas el valor de la fraccin del orden de franja.
La metodologa para medir la fraccin de franja es la siguiente: Se posiciona el polariscopio con la perilla en D para observar las lneas isclinas,
haciendo pasar una de stas por el punto de inters; esto se logra rotando el analizador del polariscopio en sentido de las manecillas del reloj hasta visualizar este fenmeno. Una vez que la lnea isclina se encuentra sobre el punto de inters, se aprieta el husillo H para que no se mueva el analizador y, posteriormente, se mueve la perilla de D a M para observar la magnitud del orden de franja por medio de las lneas isocromticas. Como el punto de inters se encuentra entre dos cambios de lneas isocromticas, se rota ahora el compensador integrado al analizador hasta que una isclina pase por el punto de inters, obteniendo as el valor de la fraccin del orden de franja r y se observa tambin si el cambio de la parte superior de las lneas isocromticas o si el cambio de la parte inferior de las lneas isocromticas se desplaza hacia adelante. Una vez observado esto, se tienen las siguientes consideraciones: Si la parte superior del cambio de las lneas isocromticas se desplaza hacia adelante, se considera la medicin de la forma N= (n + 1) r. Si la parte inferior del cambio de las lneas isocromticas se desplaza hacia adelante, se considera la medicin de la forma N= n + r. Con estos resultados, podemos saber el valor exacto del orden de franja en el punto analizado por fotoelasticidad.
RESULTADOS PRELIMINARES
Durante el perodo de Verano del 2010 a la fecha, se han estado llevando a cabo la instrumentacin y el anlisis de las probetas designadas por el mtodo de Fotoelasticidad, de las cuales solo se han podido analizar dos de ellas. Al principio determinamos que el esfuerzo de cedencia era inferior al que el cliente nos haba facilitado e hicimos la correccin de ese dato; y, posteriormente, se lleg a la conclusin de que el rea de contacto de la placa fotoelstica es muy pequea y por eso se despegaba con facilidad la placa al momento de aplicarle carga en la mquina universal; en este trabajo se muestran los resultados preliminares de una de las probetas.
Descripcin
Placa Fotoelstica Tipo PS-1B 10" x 10"
Valor f Propiedades
Factor k Espesor
E v
ZONA SUPERIOR N 1 2 3 4 5 6 7 1,44 1,44 1,42 1,62 1,64 1,42 1,44 e 1,368E-03 1,368E-03 1,349E-03 1,539E-03 1,558E-03 1,349E-03 1,368E-03 N 1,54 1,48 1,64
ZONA CENTRAL e 1,463E-03 1,406E-03 1,558E-03 N 1,51 1,62 1,52 1,56 1,64 1,52 1,62
(a) (b) (c) (d) Mapeo de las deformaciones que presenta la probeta durante el ensayo de tensin realizado en la mquina MTS 810.
En las figuras anteriores, se observa el comportamiento de las deformaciones en la probeta ensayada. El ensayo se realiz al 5% de deformacin y un ciclo. En las figuras (a) y (b) se observa el campo completo de las deformaciones al inicio del ensayo. La figura (c) muestra un cambio de franjas isocromticas y a un mayor valor de deformacin. La figura (d) muestra el campo completo al 5% de deformacin, en el cual se observa una franja isocromtica de color rojo en la raz del cordn de soldadura, indicando esto un incremento de la deformacin en esta zona.