DIFRACCIN DE RAYOS X

Espectro electromagntico
Denominacin Longitud de Onda
Rayos Gamma 0,00000007 a 0,001 A
Rayos X 0,001 A 100 A
Luz Ultravioleta 100 a 3.900 A
Luz Visible 3.900 a 7.500 A
Luz Infrarroja (fotogrfica) 7.500 a 15.000 A
Infrarrojo Cercano 15.000 a 200.000 A
Infrarrojo Lejano 0,002 a 0,1 cm.
Microondas (ondas de radar) 0,1 a 250 cm.
Frecuencias Elevadas (televisin) 2,5 a 15 m.
Onda corta de radio. 15 a 180 m.
Banda de control aeronutico 750 a 1.500 m
Onda Larga de radio 1.500 m en adelante

Difraccin de Rayos-X
por una sustancia cristalina

El uso de la difraccin de Rayos-X para estudiar la estructura
cristalina fue la primera aplicacin de esta radiacin.

Los primeros investigadores fueron W.H. Bragg, W.L. Bragg, y H.
von Laue.

Porqu se usan los Rayos X para identificar
sustancias cristalinas
Los rayos X son del mismo orden de magnitud que los
espaciados cristalinos.
Los cristales son excelentes redes de difraccin

Difraccin de la radiacin monocromtica por
medio de rendijas
Aplicaciones de la difraccin de Rayos X
Identificar fases cristalinas solas o en mezcla.
En mayor proporcin cualitativamente
Es posible semicuantificar fases
altura de peak
adicin estndar
comparacin con curvas de difraccin calculadas
Es posible determinar soluciones slidas entre dos fases cristalinas, si
existen curvas de calibracin adecuadas.
Generacin de radiacin X
En cada colisin el electrn se desacelera y se produce un fotn de energa de rayos X
En ciertas condiciones, se obtiene unicamente un espectro continuo y en otras un
espectro de lneas se superpone al continuo




(
-
)
(
+
)
Rayos X
electrones
Anodo de Cu
Target o blanco
Ctodo de W

Esquema de un tubo de rayos X

Por el filamento de tungsteno pasa una
corriente suficiente para que ste se vuelva
incandescente.
Se produce una emisin termoinica de
electrones que son acelerados entre ctodo y
nodo.
El impacto sobre el nodo causa la emisin
de Rayos-X.
Los rayos-X salen del tubo a travs de
ventanas de berilio, transparentes a los R-X.
Aprox. el 1% de la energa aplicada al tubo
se transforma en R-X, el resto se convierte
en calor.
Para prevenir la fusin y desgaste del blanco
metlico del tubo se debe refrigerar con agua
o aire.

Blanco metlico
El impacto de los electrones sobre el blanco genera la excitacin de los tomos y la
emisin de espectros caractersticos:
K, L, M del material del blanco
Segn el modelo atmico de Bohr, un electrn que golpea la superficie del blanco puede
tener la energa suficiente para desplazar un electrn de un orbital.
Esta inestabilidad es de fraccin de segundo y un electrn de los orbitales exteriores
ocupa la posicin vacante.
La transicin emite un rayo X caracterstico, con una longitud de onda definida.
Si la vacante en el orbital K es ocupada por un electrn del orbital M se genera un rayo
K.
Si el electrn proviene del orbital L se generan rayos del tipo K


Espectro de radiacin continua
generada por un tubo de rayos X con un blanco de W
Los N sobre las curvas indican
los potenciales de aceleracin
El espectro continuo tiene energas desde 0 hasta el potencial mximo del
tubo de Rayos-X.
El lmite inferior representa la perdida total de energa de los electrones
durante el impacto.

Espectro de lneas para un tubo con un blanco de Mo
DIAGRAMA DE ENERGIAS ORBITALES DE Ba
Ref. 1
Generacin de lneas de rayos X en un tomo de Fe
a: Ionizacin
fotoelctrica de un
electrn de la capa K.
b: Transicin L - K,
generacin de un rayo
K.
Ref. 1


Difraccin de Rayos X: ecuacin de Bragg

Y
x
d
q
en fase en fase
q
q
q
q


Difraccin de Rayos X: ecuacin de Bragg

Hay difraccin a ciertos ngulos
Los que cumplen la relacin entre l , d y q : ecuacin de Bragg
n l= 2 d sen q
Y
x
d

Ecuacin de Bragg: n l = 2 d sen q
n = AP+PC
AP= d sen q
PC= d sen q
AP + PC= 2 d sen q
n: orden
: long de onda del tubo
q: angulo de incidencia
d: espaciamiento cristalino


Utilizacin de un filtro para eliminar radiacin K
Difractmetro de R-X: RIGAKU
Difractmetro de rayos X Bruker
D4 Endeavor
Gonimetro
Para optimizar su funcin el gonimetro permite ajustar algunos parmetros:
- Radiacin
- Enfoque de los R-X en la muestra
- Tipo de porta muestra
- Uso del filtro K
- Apertura de recepcin
- Ajuste del detector
- Mtodo de registro
- Velocidad de registro
Estos ajustes dependen del tipo de equipo utilizado.
El detector o contador convierte los R-X provenientes de la muestra en pulsos
elctricos.
El N de pulsos generados es proporcional a la intensidad de los R-X que llegan al
detector
Detector y monocromador de rayos X
El detector est ubicado a un
ngulo 2q respecto al haz de
radiacin
La muestra se coloca en el haz del
tubo de rayos X.
Mtodo de polvo:
Es un mtodo fcil basado en las
infinitas orientaciones de la
muestra en estado de polvo.
Se necesita variar el ngulo de
irradiacin de la muestra montada
en una cmara o porta muestras

monocromador
Difractograma de un mineral
Resultado: difractograma de una roca
0
200
400
600
800
1000
1200
1400
1600
0 10 20 30 40 50 60 70
2 theta
c
p
s
C
l
i
n
o
p
t
i
l
o
l
i
t
a
M
o
r
d
e
n
i
t
a
M
o
r
d
e
n
i
t
a
C
u
a
r
z
o

Difractogramas de una fraccin de una roca: orientado (OR), saturado
con etilenglicol (EG), calentado a 375C y 550C

Difractogramas de la fraccin inferior a 2 micrones de una roca:
orientado (OR), saturado con etilenglicol (EG), calentado a 375C y
550C
Identificacin de una muestra:
Bases de datos: J.C.P.D.S. o I.C.D.D.
La identificacin de una fase cristalina (excepto fases nuevas) se
realiza comparando las lneas obtenidas en el difractograma,
con uno o varios estndares (minerales, fases inorgnicas u
orgnicas).
Existen miles de fases cristalinas descritas y aceptadas como
referencias difractomtricas.
La identificacin de una fase con poca sustitucin composicional
es relativamente fcil
La identificacin de una fase mineral dentro de una serie de
solucin slida tiene mayor grado de dificultad.
The International Centre for Diffraction Data
(ICDD)
The ICDD is a non-profit scientific organization dedicated to collecting, editing,
publishing, and distributing powder diffraction data for the identification of crystalline
materials. The membership of the ICDD consists of worldwide representation from
academe, government, and industry.
Vision - The ICDD will continue to develop tools and support the education
required for materials analyses of tomorrow..
Mission - The ICDD will continue to be the world center for quality diffraction and
related data to meet the needs of the technical community. ICDD promotes the
application of materials characterization methods in science and technology by
providing forums for the exchange of ideas and information.
www.icdd.com

Difractograma de dolomita
Bsqueda de minerales presentes
Uso de cmara Debye-Scherrer
Esquema de:
(a) una cmara de polvo cristalino
(b) una pelcula expuesta a los R-X
Indexacin de lneas
INTENSITY
(I)
MEASUREMENTS
A s= d hkl a
4
OUTSIDE
LINES
CENTRAL
LINES
40 138.8 100.2 119.5 19.3 2.33 111 4.04
30 141.8 97.2 119.5 22.3 2.03 200 4.06
30 152.0 87.0 119.5 32.5 1.435 220 4.059
40 158.5
5
80.6 119.55 38.9 1.228 311 4.073
10 - 78.5 - 41.0 1.175 222 4.070
5 - 70.3 - 49.2 1.018 400 4.072
40 - 63.9 - 55.6 0.9343 331 4.073
40 - 61.7 B 57.8 0.9110 420 4.074
50 7.4 51.7 29.55 67.8 0.8326 422 4.079
100 18.4 40.5 29.45 79.0
1
0.7847 333,511 4.077
50 19.3 39.7 29.5 79.8
2
0.7846 333,511 4.077
Promedio (de 3) = 119.5 mm. Promedio B = 29.5 mm. A - B = 90.0 mm.
Valores de tabla con = 1.5418 [(2 CuK
1
+ CuK
2
)3], excepto para las 2 ltimas, donde = 1.54050
(CuK
1
) y 1.54434 (CuK
2
).
4
Calculado de d y hkl. Los valores de lneas con bajo muestran considerable variacin, mientras que los de
valores altos son ms consistentes; el promediode las ltimas 4 (lineas de refleccin hacia atrs) 4.077 ,
estn de acuerdo con las entregadas en la tarjeta 4-0784
Medidas de fotografa de rayos X de polvo de oro
Resultados que entregan las distintas tcnicas de rayos-X y haz de electrones
Identificacin de fases cristalinas (difraccin de rayos X-DRX)
Determinacin cualitativa y cuantitativa de elementos mayores y trazas en muestras
homogeneizadas (espectrometra por fluorescencia de Rayos-X-FRX)
Determinacin de la composicin de superficies planas (microsonda electrnica -
EPMA)
Observacin de la morfologa de materiales (microscopio electrnico de barrido - SEM)
Determinacin de la morfologa, composicin y cristalografa de materiales
(microscopio electrnico de transmisin - TEM)
Escalas de resolucin de las tcnicas de R-X y haz de
electrones
DRX Polvo < 1 gramo
FRX Polvo o superficie lisa, <1gramo
EPMA Superficie 60 - 2 m
SEM Superficies sub mm - 2m
TEM Escala nanomtrica
Elementos comunes:
Generacin de rayos-X caractersticos en la muestra
Excitacin de la muestra con Rayos-X o un haz de electrones
Uso de un mecanismo de gonimetro (DRX, FRX, EPMA)
Uso de detectores de Si (EPMA, TEM)