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Seis-Sigma
UNIDAD V.
Evaluar la Capacidad del Proceso
M.C. Jos Armando Rodrguez Romo
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Contenido
5.1 Grficas de Control
5.2 Grficas de Control para variables
5.3 Grficas de control para atributos
5.4 Reclculo de lmites de control
5.5 Interpretacin de grficas de control
5.6 Capacidad del proceso
5.7 Rendimiento de un proceso (Yield)
5.8 Mtricas de Seis-Sigma
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Figura 5.1 Flujo de la Metodologa Seis-Sigma
Definir Problema
Describir Proceso
Mejorar
Determinar
Variables
significativas
Evaluar Estabilidad
y Capacidad del
Proceso
Eliminar causas
especiales
Medicin capaz
y estable
Proceso estable
Proceso capaz
Optimizar
Validar la mejora
Controlar el
proceso
Mejorar
cuantitativamente
s
s
s
N
N
N
1
2
3
4
5
6
7
8
9
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5.1 Grficas de Control
Una vez ajustado el proceso y disminuido su variacin, se
evala la capacidad del proceso.
Un estudio de capacidad es un procedimiento ordenado
de planeacin, recoleccin y anlisis de informacin, con la
finalidad de evaluar la estabilidad de un proceso, y la
capacidad que ste tiene para producir dentro de
especificaciones.
Los estudios de capacidad miden la variacin y el
centrado de un proceso con respecto a sus
especificaciones.
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5.1 Grficas de Control
Grficas de Control (Shewhart, 1931)
Las grficas de control son herramientas
estadsticas que muestran el comportamiento de
cierta caracterstica de calidad de un proceso con
respecto al tiempo.
El objetivo de las grficas de control es evaluar,
controlar y mejorar procesos.
Un concepto bsico en las grficas de control es el de
las causas de variacin de un proceso.
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5.1 Grficas de Control
Las grficas de control sirven para distinguir entre causas
comunes y causas especiales de variacin.
Un proceso estable solamente est sujeto a causas
comunes de variacin, o lo que se conoce como un
sistema constante de causas, est en control estadstico
y por tanto su variacin es predecible dentro de los
lmites de control.
En el caso de un proceso inestable no
necesariamente tiene una gran variacin, sin embargo
sta no es predecible. El mejoramiento del mismo
generalmente se logra a travs del personal del rea.
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5.1 Grficas de Control
Concretamente las grficas de control se utilizan :
1. Para evaluar el desempeo de un proceso por
medio de estudios de capacidad.
2. Para mejorar el desempeo de un proceso al dar
indicaciones sobre las posibles causas de
variacin, y ayudan a la prevencin de problemas.
3. Para mantener el desempeo de un proceso al
indicar el tiempo de ajustes del mismo.
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5.2 Grficas de Control para
variables
GRFI CAS DE CONTROL
GRFI CA LI MI TES
Media, X
R A X LCI
X LC
R A X LCS
2
2

Rango, R
R D LCI
R LC
R D LCS
3
4

Desviacin Estndar, S
S B LCI
S LC
S B LCS
3
4

Varianza,
2
S
1 n 2 1
2
2
1 n 2
2
1 n
S
CCI
S LC
1 n
S
LCS

, /
, /

Mediciones I ndividuales, X
2
2
d
R
3 X LCI
X LC
d
R
3 X LCS

Fraccin Defectuosa, p
n
p 1 p
3 p LCI
p LC
n
p 1 p
3 p LCS
) (
) (

N de defectuosos, p n
) (
) (
p 1 p n 3 p n LCI
p n LC
p 1 p n 3 p n LCS

N de defectos, c
c 3 c LCI
c LC
c 3 c LCS

N de defectos por unidad, u
n
u
3 u LCI
u LC
n
u
3 u LCS

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Factores para Grficos de control
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5.2 Grficas de Control para
variables
Los parmetros tpicos de una grfica de control
son.
1. Tamao de los subgrupos, n. Shewhart (1931)
recomienda n = 4 o 5.
2. Frecuencia de muestreo, f . En promedio debe haber
uno de cada 25 puntos fuera de los lmites de control. Si
hay ms, incrementar la frecuencia. Si hay menos
disminuirla, (Pyzdek).
3. Nmero de subgrupos, k. Vente subgrupos con n = 5, o
25 subgrupos con n = 4. (100 observaciones
individuales)
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Grfico de la media,
x
Grfico X-bar para cereal
Subgrupo
X
-
b
a
r
CTR = 16.32
UCL = 16.82
LCL = 15.82
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
15.2
15.4
15.6
15.8
16
16.2
16.4
16.6
16.8
17
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Grfico del rango, R
Grfico de Rango para cereal
Subgrupo
R
a
n
g
o
CTR = 0.86
UCL = 1.83
LCL = 0.00
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
1.2
1.4
1.6
1.8
2
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5.3 Grficas de control
para atributos
GRFI CAS DE CONTROL
GRFI CA LI MI TES
Media, X
R A X LCI
X LC
R A X LCS
2
2

Rango, R
R D LCI
R LC
R D LCS
3
4

Desviacin Estndar, S
S B LCI
S LC
S B LCS
3
4

Varianza,
2
S
1 n 2 1
2
2
1 n 2
2
1 n
S
CCI
S LC
1 n
S
LCS

, /
, /

Mediciones I ndividuales, X
2
2
d
R
3 X LCI
X LC
d
R
3 X LCS

Fraccin Defectuosa, p
n
p 1 p
3 p LCI
p LC
n
p 1 p
3 p LCS
) (
) (

N de defectuosos, p n
) (
) (
p 1 p n 3 p n LCI
p n LC
p 1 p n 3 p n LCS

N de defectos, c
c 3 c LCI
c LC
c 3 c LCS

N de defectos por unidad, u
n
u
3 u LCI
u LC
n
u
3 u LCS

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Grfica, p
Grfico p para tprops
Subgrupo
p
CTR = 0.04
UCL = 0.13
LCL = 0.00
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24
0
0.02
0.04
0.06
0.08
0.1
0.12
0.14
0.16
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5.4 Reclculo de lmites
de control
De acuerdo con Perry Regier (1998), todas las siguientes
preguntas debern tener respuesta afirmativa para
proceder a recalcular los lmites de control a partir
de donde inici el cambio.
1. Los datos muestran un comportamiento diferente que en el
pasado?
2. Se conoce la razn de ese cambio?
3. Es deseable el nuevo comportamiento?
4. Se espera que el nuevo comportamiento contine?
De acuerdo con Wheeler (1998), el nmero de puntos necesarios
para empezar a calcular lmites de control son dos grupos de
tamao 4.
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Patrn 1. Cambios en el Nivel del Proceso
1. Un punto fuera de los lmites
de control
2. 2 de 3 puntos consecutivos en
la zona A o ms all
3. 4 de 5 puntos consecutivos en
la zona B o ms all


4. 8 puntos consecutivos de un
solo lado de la lnea central
A
A
C
C
B
B
A
A
C
C
B
B
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Patrn 2. Tendencias en el Nivel del Proceso
5. 6 puntos
consecutivos
ascendentes
(o descendentes)
A
A
C
C
B
B
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Patrn 3. Ciclos Recurrentes (Periodicidad)
6. Ciclos recurrentes
(periodicidad) catorce
puntos consecutivos
alternando entre altos
y bajos

A
A
C
C
B
B
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Patrn 4. Mucha Variabilidad
7. 8 puntos
consecutivos a
ambos lados de la
lnea central con
ninguno en la zona C
A
A
C
C
B
B
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Patrn 5. Falta de Variabilidad (Estatificacin)
8. 15 puntos o ms en
la zona C, arriba o
abajo de la lnea
central
A
A
C
C
B
B
10/09/2014 13:50 Ingeniera Indusrial 21
5.6 Capacidad del proceso
La capacidad del proceso es igual a
6
0
cuando el proceso est bajo
control estadstico
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La Capacidad se define por 3

+
+2 +3 -3 -2 -
Mean,Std. dev.
0,1
Normal Distribution
-5 -3 -1 1 3 5
x
0
0.1
0.2
0.3
0.4
d
e
n
s
i
t
y
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Capacidad del Proceso y Tolerancia
Se tienen tres posibles casos:
i. La capacidad del proceso sea menor que la
tolerancia, 6 < LES LEI, (lo ideal).
ii. La capacidad del proceso sea igual a la
tolerancia. (6 = LES LEI )
iii. La capacidad del proceso sea mayor que la
tolerancia. (6 > LES LEI )
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Capacidad del Proceso y Tolerancia
i. La capacidad del proceso sea menor que la
tolerancia, 6 < LES LEI, (lo ideal).
Pp = 2.25
Ppk = 2.01
Ppk (upper) = 2.01
Ppk (lower) = 2.50
K = 0.11
Process Capability for cereal
LSL = 13.0, Nominal = 16.0, USL = 19.0
cereal
f
r
e
q
u
e
n
c
y
13 14 15 16 17 18 19
0
10
20
30
40
50
60
LES
LEI
N
6
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Capacidad del Proceso y Tolerancia
ii. La capacidad del proceso sea igual a la
tolerancia. (6 = LES LEI )
Pp = 1.00
Ppk = 1.00
Ppk (upper) = 1.00
Ppk (lower) = 1.00
K = 0.00
Process Capability for cereal
LSL = 14.9915, Nominal = 16.322, USL = 17.6525
cereal
f
r
e
q
u
e
n
c
y
14 15 16 17 18
0
10
20
30
40
50
60
LEI LES N
6
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Capacidad del Proceso y Tolerancia
iii. La capacidad del proceso sea mayor que la
tolerancia. (6 > LES LEI )
Pp = 0.70
Ppk = 0.70
Ppk (upper) = 0.70
Ppk (lower) = 0.70
K = 0.00
Process Capability for cereal
LSL = 15.3915, Nominal = 16.322, USL = 17.2525
cereal
f
r
e
q
u
e
n
c
y
14 15 16 17 18
0
10
20
30
40
50
60
LEI N LES
6
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ndices de Capacidad
C
r
Relacin de capacidad que representa la
proporcin de la banda de especificaciones que
es utilizada por la mquina




LEI LES
6
C
r
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ndices de Capacidad
C
p
ndice de la capacidad potencial de la
mquina cuando hay lmites superior e inferior
en las especificaciones

6
LEI LES
C
p
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ndices de Capacidad
C
pk
ndice de la capacidad real de la mquina





El valor ms pequeo

3
LEI
C
3
LES
C
k p k p

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ndices de Capacidad
C
ps
ndice de la capacidad potencial de la
mquina para caractersticas de calidad entre
ms pequea es mejor

3
LES
C
s p
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ndices de Capacidad
C
pi
ndice de la capacidad potencial de la
mquina para caractersticas de calidad entre
ms grande es mejor

3
LEI
C
i p
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ndices de Capacidad
C
pm
ndice de Taguchi



2 2
m p
) N (
donde
6
LEI LES
C
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Categoras del ndice de Capacidad
C
p
Clase Descripcin
C
p
2 mundial Se tiene calidad 6
1.33 < C
p
< 2 1 Adecuado
1 < C
p
< 1.33 2
Parcialmente adecuado, pero conforme
el Cp se acerca a uno se generan ms
defectos.
0.67 < C
p
< 1 3
No adecuado, Un anlisis del proceso
es necesario. Requiere modificaciones
serias.
C
p
< 0.67 4
Totalmente inadecuado. Requiere de
modificaciones muy serias.
10/09/2014 13:50 Ingeniera Indusrial 34
Anlisis de la Capacidad de la Mquina
El objetivo es determinar si la mquina
es capaz de mantener una tolerancia
estrecha, cumplir las especificaciones,
o satisfacer los requerimientos del
cliente
10/09/2014 13:50 Ingeniera Indusrial 35
Directrices para los Estudios de
Capacidad de Mquina
1. Una sola mquina o parte del equipo es
seleccionada
2. Se usa un lote de material para procesar.
La uniformidad del material deber ser
vigilada para eliminar la influencia de la
variabilidad del material en los resultados
del estudio
10/09/2014 13:50 Ingeniera Indusrial 36
Directrices para los Estudios de
Capacidad de Mquina
3. Se selecciona un operador experimentado y
un inspector para desempear el trabajo.
4. Se calienta la mquina o equipo hasta
alcanzar las condiciones de operacin.
Normal. Ningn otro ajuste debr realizarse
una vez que el estudio ha comenzado
10/09/2014 13:50 Ingeniera Indusrial 37
Directrices para los Estudios de
Capacidad de Mquina
5. Se toman de 50 a 150 unidades producidas
consecutivamente para el anlisis. Un registro
cronolgico debe guardarse del orden de
unidades para descubrir cualquier cambio del
proceso durante el estudio.
6. Hacer una distribucin de frecuencias y calcular
la capacidad de la mquina siguiendo el
procedimiento paso a paso indicado al final de
esta seccin.
10/09/2014 13:50 Ingeniera Indusrial 38
Forma de la Distribucin
La Distribucin Normal es el fundamento para el
anlisis del estudio de la capacidad de la
mquina.
Si la forma de la distribucin no es normal, un
estudio previo deber realizarse para encontrar
las razones por las que no tiene forma normal.
10/09/2014 13:50 Ingeniera Indusrial 39
Procedimiento Paso a Paso para Obtener
la Distribucin de Frecuencias
1. Calcular el rango: R = Valor
max
-Valor
min

2. Decidir el nmero de clases a usar,
3. Calcular la amplitud del intervalo de clase i = R / (k 1).
4. El lmite de la primera se obtiene restando i / 2 al
Valor
min
. Entonces se suma i a este valor para obtener
el otro lmite. Aada un lugar decimal y sume 0.5 a
cada lmite para asegurarse de que ninguna medida
caiga en algn limite de clase.
n k
10/09/2014 13:50 Ingeniera Indusrial 40
5.7 Rendimiento de un proceso (Yield)
El rendimiento tradicional de un proceso se
obtiene dividiendo el nmero de piezas que entran
entre el nmero de piezas que son producidas de
acuerdo a especificaciones.
200
180
Proceso productivo
Rendimiento = 180 / 200 = 0.90 = 90%
10/09/2014 13:50 Ingeniera Indusrial 41
5.7 Rendimiento de un
proceso (Yield)
El rendimiento de primera vez (First-Time Yield)
corresponde al nmero de piezas hechas bien la
primera vez en cada fase del proceso.
200
172
Unidades defectuosas
Y
FT
= 197/200 = 0.9850 177/197 = 0.8985 172/177 = 0.9718 172/172 = 1.00
197 177 172
3 20 5 0
Rendimiento de primera vez
10/09/2014 13:50 Ingeniera Indusrial 42
5.7 Rendimiento de un proceso (Yield)
El rendimiento en cadena (Rolled Troughput
Yield, Y
RT
) es el producto del rendimiento en cada
paso del proceso. En este caso no se incluye el
retrabajo.
Para el proceso anterior se tiene
Y
RT
= (0.985)(0.8985)(0.9718)(1) = 0.86 = Y
FT
= 172/200
10/09/2014 13:50 Ingeniera Indusrial 43
5.7 Rendimiento de un proceso (Yield)
En la siguiente figura se muestra un proceso que
incluye retrabajo
200 172
Unidades defectuosas
197 177 172
3 20 5 0
Retrabajo
5 3
Y
RT
= (0.985)(0.8985)(0.9718)(1) = 0.8600
Y
FT
= 192/200 = 0.96 177/197 = 0.8985 = 172/177 = 0.9718
= 169/172 = 0.9826
10/09/2014 13:50 Ingeniera Indusrial 44
5.8 Mtrica de Seis-Sigma
La mtrica de Seis Sigma evala el proceso basado en el nivel (),
con la finalidad de estandarizar dicha evaluacin y poder
comparar diferentes procesos entre s.
Los pasos de la mtrica son:
1. Identificar las CTQs (CCC, caractersticas crticas de calidad)
del proceso. Son las caractersticas o requerimientos de los
clientes.
2. Definir oportunidades de defecto. Cualquier paso en el
proceso en donde un defecto pueda ocurrir en CCC.
3. Buscar defectos en productos o en servicios. Contar los
defectos o fallas para satisfacer CCCs en todos los pasos del
proceso.
10/09/2014 13:50 Ingeniera Indusrial 45
5.8 Mtrica de Seis-Sigma
Los pasos de la mtrica son: (continua .)
4. Calcular dpmo individual. Para cada una de sus fases.
5. Convertir a niveles sigma individual. Para cada una de sus
fases.
6. Resumen del anlisis. Elaborar la tabla con los resultados
finales. Calcular Y
FT
, dpmo (proceso), la distribucin de
defectos y comentar sobre el nivel de calidad del proceso.
7. Deteccin de reas de oportunidad. Jerarquizar las fases
del proceso con base a sus niveles sigma.
10/09/2014 13:50 Ingeniera Indusrial 46
5.8 Mtrica de Seis-Sigma
La tabla 5.15 presenta los elementos de la mtrica Seis sigma

dpu
dpu = defectos por unidad (promedio)
dpu = nmero de defectos / nmero de unidades
dpmu
dpmu = defectos por milln de unidades = (dpu)(10
6
)
dpo
dpo = defectos por total de oportunidades (i)
dpo = nmero de defectos / nmero de oportunidades totales (i)
dpmo
dpmo = defectos por milln de oportunidades
dpmo = dpmu/nmero de oportunidades por unidad = (dpo)(10
6
)
Y
FT
Y
FT
= rendimiento de primera vez
Y
FT
= [1 dpmo/10
6
)
n
(n = nmero de oportunidades de defectos por unidad)
10/09/2014 13:50 Ingeniera Indusrial 47
5.8 Mtrica de Seis-Sigma
El procedimiento para obtener el nivel sigma de un
proceso en el caso de variables es:
1. Evaluar la fraccin defectuosa con base en la
especificacin.
2. Si el valor en el cuerpo de la tabla Z est en notacin
cientfica, expresar dpmo en dicha notacin con un
entero y dos decimales.
3. Buscar el valor Z en la tabla Z del apndice.