Difraccin e

Interferencia
Curso de Fsica 103 2013
Leopoldo Suescun
Mariano Romero
Benjamn Montenegro

Introduccin

Los fenmenos conocidos como Difraccin e

Interferencia que estudiaremos en este curso no son
en realidad distintos.
Ambos se generan cuando ondas
(electromagnticas o mecnicas) se desplazan en un
medio contnuo (con respecto a la onda) y
encuentran uno (difraccin) o ms (interferencia)
obstculos que presenta distintas caractersticas que
el medio original.
En particular estudiaremos ondas electromagnticas
atravesando uno o ms orificios en un material
opaco.

Introduccin: dos ejemplos.

La difraccin de las ondas sonoras en los bordes de

los edificios en una esquina (junto con la reflexin
en las paredes de los mismos), permiten a un
conductor saber, a travs del sonido del motor, si
otro vehculo se acerca fuera de su lnea visual.
La difraccin de rayos X ha jugado un papel
fundamental en el entendimiento actual de la
materia. Ha permitido examinar la estructura
tridimensional de los materiales cristalinos a escala
atmica.

Interferencia: Fuentes coherentes

Estudiaremos que
sucede cuando dos
fuentes de luz
monocromticas y
coherentes iluminan
simultneamente una
pantalla blanca.
Coherentes: Que
presentan una relacin
de fase constante en el
tiempo

d
2

Inteferencia: Luces coherentes

Para simplificar el tratamiento matemtico

supondremos que la luz de la fuente 1 se puede
escribir:
E1=E01sin(tkz) donde k=2/ y =hc/
Como ambas fuentes de luz son coherentes, la expresin
de la luz de la fuente 2 deber ser:
E2=E02sin(tkz+) donde es la diferencia de fase
(constante) entre ambas fuentes.
La pantalla no es plana sino semicircular y est centrada
en las fuentes. Adems el radio de la pantalla es muy
grande respecto a la distancia entre las fuentes de luz.

Interferencia: Expresiones de la luz

Las

expresiones anteriores de los rayos de

luz pueden simplificarse an ms sin perder
generalidad en el razonamiento suponiendo:

La amplitud de ambas ondas es igual a E0.

La diferencia de fase es nula en ciertas
circunstancias.
z=0 en el punto donde estudiaremos ambas
ondas.

E =E sin(t)
1

E2=E0sin(t)

Interferencia: Tratamiento geomtrico

Estudiaremos entonces
que se observara en un
punto P de una pantalla
semicircular de radio D
(D>>d) centrada en
ambas fuentes cuando los
haces de luz E1 y E2 llegan
a l teniendo en cuenta
que ambos recorren
caminos pticos distintos.

d
D>>d

Interferencia: Condiciones de Fraunhoffer

Si D>>d es una
aproximacin razonable
considerar que r1 y r2 son
rayos paralelos a r (que une
el centro del sistema con P).
El ngulo que define r con
la mediatriz de d describe
por tanto a r1 y r2.
La diferencia de caminos
pticos r entre r1 y r2 est
determinada por la
geometra del sistema.

r1
r

r2

d
2

r=dsin()

Interferencia: Luces en P

Si al salir de la fuente las luces son: E1=E0sin(t) y

E2=E0sin(t)
Al llegar al punto P sern:
E1P=E0sin(tkr1) y E2P=E0sin(tkr2)
Tomando como referencia de fases el rayo 1 y
calculando el desfasaje del 2:
E1P=E0sin(t) y
E2P=E0sin(tkr)
donde el trmino kr representa un ngulo de
desfasaje r entre ambas funciones
sinusoidales.

Interferencia: Campo total en P

La expresin del campo elctrico de la luz total en

P ser:
EP=E1P+E2P=E0sin(t)+E0sin(tkr)=
=2E0sin(tkr/2)cos(kr/2).

Recordando que kr es un ngulo y definiendo

=kr/2 queda:
EP=2E0cos()sin(t)

Incluyendo la expresin r=dsin() se obtiene:

d sin

Interferencia: Intesidad de luz en P

La

intensidad de iluminacin se obtiene a

partir de la ecuacin del campo como:
I=k<E2>
Aplicando esta expresin a EP:
IP=k<(EP)2>=k<(2E0cos()sin(t))2>
IP=2kE02cos2()
Si hallamos la intensidad de iluminacin de la
luz 1 o la luz 2 inicial se obtiene
I1=I2=kE02/2=I0

Inteferencia: Intensidad en pantalla

La intensidad de iluminacin para el punto P ser

entonces:

IP=4I0cos2()

d sin
con

Esta expresin de intensidad en pantalla puede

rpidamente analizarse encontrndose una distribucin
simtrica de intensidad y con mximos y mnimos acorde a
como evoluciona cos2(x) con x. La funcin slo existe entre
=-90 y 90 debido a la geometra del sistema.

Inteferencia: Intensidad en pantalla

Interferencia: puntos notables

Mnimos de interferencia:
IP=4I0cos2() es mnimo cuando cos2()=0 es decir
cuando , etc.
d sin n
n

min arcsin
con n impar.

2d

Mximos de interferencia:
IP=4I0cos2() es mximo cuando cos2()=1 es decir
cuando , etc. es decir n con
n par.
d sin n
n

max arcsin
con n par.

2
2d

Interferencia: sistemas reales

No se ha logrado an
construir dos fuentes de luz
independientes coherentes
entre s.
Para obtener un sistema
como el necesario para
realizar un experimento de
difraccin se apela a la
divisin de un nico rayo de
luz en 2 rayos (que sern
coherentes por definicin)
Existen distintos mtodos
para obtener los dos rayos
separados una distancia d

Pantalla con 2 orificios separados d

Divisor de nico haz de espesor d

Difraccin

Analizaremos un sistema
particular: Un haz de luz
monocromtica (de longitud
de onda llega a una
placa de material opaco
donde se encuentra un
orificio de dimetro a.
Detrs de la placa, a 1 m de
distancia hay una pantalla
donde observaremos qu
sucede a la luz.

Difraccin: Anlisis de sistema simplificado

Consideremos un
sistema donde el
orificio iluminado por
una fuente de radiacin
() es unidimensional
de largo a y que la luz
llega a una pantalla
como en Interferencia.
Analicemos que
intensidad llega a P
aplicando la aprox. de
Fraunhoffer.

a
D>>a

Difraccin: Anlisis de sistema simplificado

El orificio en pantalla
ahora no es ms una
fuente de luz, sino que
le llega desde una
fuente anterior en
forma de una onda
plana.
Cada segmento
infinitesimal de orificio
a se comporta como
una fuente de luz y
emite un rayo hacia P.

r1
ri

r3
a

rN

an

ri=aisin()

Difraccin: Anlisis matemtico

Razonando

anlogamente con el caso de

Interferencia, considerando cada rayo ri como
uno de los contribuyentes al campo total en P:
EiP=E0sin(t-kri)ai/a
cada desfasaje i del rayo i
respecto al rayo 1 (es decir 1=0) se obtiene:

Expresando

EiP=E0sin(t-kri)ai/a
Donde ai/a representa la porcin infinitesimal de rendija que se evala en el paso i.

Difraccin: Anlisis matemtico

Sumando todas las contribuciones de los segmentos

infinitesimales ai se obtiene EP total:

2 ai
sin( )

ai
EP i 1 E0 sin t

a
N

La suma se transformar en integral al reducir el

tamao de los ai en dai.

E0
2 ai
sin( )

EP sin t
dai
a

0
a

Difraccin: Anlisis matemtico

Integrando entre los bordes de la rendija 0<ai<a:

EP

E0
2a sen( )

cos(

cos(

t
)

2a sen( )

Y como cos(a)-cos(b)=-2sen[(a+b)/2]sen[(a-b)/2]

a sen( )
a sen( )

EP E0
sen
sen t

a sen( )

Si ahora calculamos la intensidad en P recordando

que I=k<E2> y definimos (anlogo a en
interferencia) un ngulo matemtico segn:

a sen( )

Difraccin: Intensidad de luz en pantalla

La expresin final de la intensidad ser:

sin( )
I Im

a sin( )

Es interesante notar que la expresin depende

nicamente de Esto permite pensar que el sistema
presenta simetra cilndrica.
La relacin entre I0 (intensidad del haz incidente) e Im es
complicada dependiendo del tamao de la rendija, de la
distancia del orificio a la pantalla y otros factores.
El valor de que se halla con la ecuacin anterior est en
radianes.

Difraccin: En una pantalla plana

Difraccin: En una pantalla plana

Difraccin: Puntos notables

Mnimos de Difraccin:
sin( )
I Im

tendr un mnimo si sin()=0

a sin( )
n

0, ,2 ,...

n
con n par arcsin

2a

En n=0 sin()=0 pero =0 por lo que se llega a un punto de

indeterminacin en la ecuacin. Este punto corresponde en
realidad al mximo principal de la difraccin por lo que no se
puede incluir n=0 en la lsta de mnimos, por lo tanto se tiene:

min

n
arcsin

2a

con n par0

Difraccin: Puntos notables

Mximos de Difraccin:
2
sin( )
tendr un mximo aproximadamente en los
I Im

mximos de sin2() aunque no en forma exacta al

haber modulacin por 1/2 los mximos se encuentran desplazados hacia

ngulos menores.

Los mximos de sin2() se producen cuando

n/2 con n impar a sin( ) 0, ,3 ,5
n

2
a

max arcsin

con n impar

La ausencia del mnimo en =0, y que en cambio se observe

un mximo hace que el mximo previsto por considerar los
mximos de sin2() en n=1 no est presente, debindose
adicionar la condicin n impar 1 a la condicin anterior.

Difraccin: Mximo principal

El mximo principal de difraccin se produce en

=0. Esta posicin corresponde a =0 y la expresin
matemtica de intensidad presenta una
discontinuidad.
Fsicamente la discontinuidad no existe,
matemticamente se puede demostrar que se trata
de una discontinuidad evitable:

sin( )
lim

2 1 I ( )

sin 2 ( )
Im
0
2

Im
0

Difraccin: Relacin a/

Difraccin: Relacin a/

La

extensin del diagrama de difraccin

(abajo) es complementario al tamao del
orificio a (arriba).

Difraccin e Interferencia

Si dos rendijas en un
material opaco, de dimetro
a y separacin d son
iluminadas por luz
monocromtica, se observa
en pantalla la superposicin
de los dos fenmenos
descritos.
Los haces difractados por
cada orificio (con su propia
distribucin de intensidad)
interfieren entre si formando
un nuevo patrn en pantalla
debido simultneamente a
interferencia y difraccin.

Interferencia y Difraccin

Difraccin e Interferencia

sin
I I M cos

a sin

d sin

Los mnimos de este

fenmeno son la
superposicin de los
mnimos de difraccin
con los de interferencia:
n
min ( I ) arcsin

con n impar

2d

n
min ( D) arcsin

2a

con n par 0

Mltiples orificios
Utilizando

los
mismos conceptos
estudiados antes se
pueden obtener los
diagramas de
difraccin de
conjuntos complejos
de orificios en un
material absorbente.

Mltiples orificios

Mltiples orificios

Mltiples orificios

Mltiples orificios

Mltiples rendijas

Las

rendijas en un arreglo peridico dan lugar

a la prdida de algunos mximos

Mltiples rendijas

Mltiples rendijas
El

sistema del practico consiste en una

porcin de circunferencia donde se colocara
un CD o un DVD para hacerle incidir un haz
de luz monocromtico
La semicircunferencia cuenta con una escala
de manera que se podrn medir los ngulos
a los que ocurren los mximos

Mltiples rendijas

Mltiples rendijas

Mltiples rendijas
La

intensidad en este caso se calcua como:

Los

mximos ocurren cuando la diferencia de

caminos es un mltiplo de la longitud de
onda: m=dsen()

Difraccin de rayos X

Ley de Bragg

2 d sen

Los tomos en un material

cristalino se comportan como
orificios en un material opaco y
producen fenmenos de
difraccin e interferencia
cuando son iluminados con
luz de la longitud de onda
adecuada.
A diferencia de un sistema con
2 rendijas o 200 orificios, ~1020
tomos producen un diagrama
de difraccin tridimensional
complejo.

Difraccin de rayos X

Cuando se utiliza un cristal

nico se puede obtener un
diagrama de puntos
(mximos de difraccin)
que contienen informacin
sobre el tipo y forma en
que estn ordenados los
tomos en una estructura.
El ejemplo corresponde a
la protena Lisozima
extrada de la clara de
huevo.

Difraccin de Policristales

Cuando se utiliza polvo

cristalino para hacer el
experimento de difraccin
la situacin se simplifica y
se obtienen diagramas
con un nmero reducido
de mximos de
difraccin.
La aplicacin de la Ley
de Bragg permite calcular
el tamao de la celda
unidad en forma sencilla.

Difraccin de Policristales

Difraccin de policristales

La posicin de cada
mximo de difraccin se
puede asociar a
direcciones en el cristal.
Estas direcciones se
designan con 3 ndices hkl
(Indices de Miller)
Los Indices de Miller
permiten relacionar el
diagrama con la celda
unitaria del compuesto en
estudio.

2d hkl sen
a
d hkl
2
2
2
h k l
para sistemas cbicos

Investigacin
Los

interesados
podrn visitar el
CADIFRAX
(Centro de
Anlisis por
Difraccin de
Rayos X)
dependiente de la
ctedra de Fsica.