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TRUJILLO de materiales
Caracterizacin
Microscopio electrnico
efecto tnel
QU ES EL EFECTO
TNEL?
Desde el punto de vista de
la mecnica clsica un
electrn no puede superar
una barrera de potencial
superior a su energa.
Introduccin :
QU ES EL MICROSCOPIO EFECTO
TNEL?
Podramos definirlo como una mquina capaz
de revelar la estructura atmica de las
partculas. Las tcnicas aplicadas se conocen
tambin como "de barrido de tnel" y estn
asociadas a la mecnica cuntica. Se basan
en la capacidad de atrapar a los electrones
que escapan en ese efecto tnel, para lograr
una imagen de la estructura atmica de la
materia con una alta resolucin, en la que
cada tomo se puede distinguir de otro.
Funcionamie
nto :
En una instalacin cuyo fin es tomar
medidas en escala atmica es necesario
que el elemento que se usa como sonda de
medida tenga una resolucin de esa misma
escala. En un microscopio de efecto tnel la
sonda es una punta conductora, p. ej. de
Wolframio. La punta se trata para eliminar
los xidos y para que sea lo ms afilada
posible, idealmente que en el extremo
aparezca un solo tomo.
Procedimiento de uso :
Se acerca una punta metlica afilada a una superficie y se aplica
una tensin entre punta y muestra.
Aplicaciones :
1) La microscopia de efecto tnel (MET) es ampliamente utilizada tanto en
investigaciones industriales como tericas para obtener imgenes a escala
atmica de superficies metlicas. Actualmente la microscopia de efecto tnel
es muy importante en muchas ciencias. El estudio de superficies es una
parte importante de la fsica, con aplicaciones particulares en la fsica de
semiconductores y microelectrnica.
Conclusiones
Gracias a este importante avance, ser posible ver
en tiempo real las acciones de los experimentos a
escalas atmicas, comprendiendo mucho mejor sus
interacciones y ayudando al desarrollo de la
nanotecnologa.
El Microscopio Efecto Tnel tiene, sin embargo, una
seria limitacin: depende de la conductividad
elctrica de la muestra y de la punta.
FIN