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UNIVERSIDAD NACIONAL DE

TRUJILLO de materiales
Caracterizacin

Microscopio electrnico de efecto


Integrantes:
tunel
-

Silva Aliaga Rosa Isabel


Olortiga Ortiz Elva
Campos Lpez Ericka
Chupe Mndez Jonatn
Zavaleta Neyra Cristian

Microscopio electrnico
efecto tnel

QU ES EL EFECTO
TNEL?
Desde el punto de vista de
la mecnica clsica un
electrn no puede superar
una barrera de potencial
superior a su energa.

Introduccin :

La microscopia de efecto tnel (MET) es una tcnica


poderosa para la observacin de superficies a nivel
atmico. Provee un perfil tridimensional de una superficie lo
cual es muy til para caracterizar dureza de la superficie,
observar defectos en la superficie y determinar el tamao y
conformacin de molculas y agregados en la misma. Su
desarrollo en 1981 fue merecedor del Premio Nobel de
Fsica en 1986 para sus inventores, Gerd Binning y Heinrich
Rohrer (en IBM Zrich).

Primeras imgenes tomadas por el STM


Primera imagen STM del Au(110)

Reconstruccin Si (111) 7x7

QU ES EL MICROSCOPIO EFECTO
TNEL?
Podramos definirlo como una mquina capaz
de revelar la estructura atmica de las
partculas. Las tcnicas aplicadas se conocen
tambin como "de barrido de tnel" y estn
asociadas a la mecnica cuntica. Se basan
en la capacidad de atrapar a los electrones
que escapan en ese efecto tnel, para lograr
una imagen de la estructura atmica de la
materia con una alta resolucin, en la que
cada tomo se puede distinguir de otro.

STM puede ser una tcnica de alto


desafo, ya que requiere una superficie
extremadamente limpia y lisa, puntas
precisas, y un control de vibracin
excelente.

Funcionamie
nto :
En una instalacin cuyo fin es tomar
medidas en escala atmica es necesario
que el elemento que se usa como sonda de
medida tenga una resolucin de esa misma
escala. En un microscopio de efecto tnel la
sonda es una punta conductora, p. ej. de
Wolframio. La punta se trata para eliminar
los xidos y para que sea lo ms afilada
posible, idealmente que en el extremo
aparezca un solo tomo.

Procedimiento de uso :
Se acerca una punta metlica afilada a una superficie y se aplica
una tensin entre punta y muestra.

Se establece una corriente cuando la punta est a unas pocas


distancias interatmicas de la muestra. Esta corriente es debida a
un efecto puramente cuntico, llamado tuneleo. La intensidad de
la corriente es extremadamente sensible a la distancia puntamuestra.

Se barre sobre la muestra con actuadores piezoelctricos, cuyo


movimiento vertical (z) es manejado por un lazo de control
electrnico .

Las variaciones de corriente o de seal al piezoelctrico z se


asocian a la topografa y densidad electrnica de la muestra (para
muestra homogneas esta seal tiene una buena
correspondencia con la topografa de la muestra).

Aplicaciones :
1) La microscopia de efecto tnel (MET) es ampliamente utilizada tanto en
investigaciones industriales como tericas para obtener imgenes a escala
atmica de superficies metlicas. Actualmente la microscopia de efecto tnel
es muy importante en muchas ciencias. El estudio de superficies es una
parte importante de la fsica, con aplicaciones particulares en la fsica de
semiconductores y microelectrnica.

2) El microscopio de efecto tnel


trabaja mejor con materiales
conductores, pero es tambin
posible preparar molculas
orgnicas en una superficie y
estudiar sus estructuras.
Por ejemplo, esta tcnica ha sido
usada en el estudio de molculas
de ADN

3) MET, dio lugar a grandes avances en la llamada Nano ingeniera. Cuanto ms


pequeo se disean los dispositivos, mayor es la influencia en su comportamiento y
desempeo del orden atmico de sus materiales constituyentes. Estos detalles incluyen
arreglos de tomos en estructuras cristalinas, presencia, tamao y densidad de bordes
de granos, impurezas, dislocaciones o imperfecciones
4) Microscopia con resolucin atmica: En esencia, el proceso consiste en realizar una
topografa a intensidad de tnel constante sobre una zona de la superficie de la
muestra. El sistema busca los parmetros en los que es capaz de medir una intensidad
de tnel prefijada y, a partir de estos, calcula la distancia a la que se encuentra la punta
de la superficie

Partes del STM:


- Una punta.
- Un sistema de nano
desplazamiento.
- Una muestra.
- Un dispositivo de
acercamiento punta/muestra.
- Una electrnica y/o
informtica de control.

Las caractersticas generales


de las tcnicas STM son:
- Desplazamientos de hasta 150 m en el plano, y 10 15 m en altura.
- Resolucin de hasta 0.01 , resolucin terica de las
cermicas piezoelctricas.
- Permiten trabajar en medios muy variables: al aire, en
atmsfera controlada, en vaco y ultra-alto vaco,
altas/bajas temperaturas, lquidos.

Conclusiones
Gracias a este importante avance, ser posible ver
en tiempo real las acciones de los experimentos a
escalas atmicas, comprendiendo mucho mejor sus
interacciones y ayudando al desarrollo de la
nanotecnologa.
El Microscopio Efecto Tnel tiene, sin embargo, una
seria limitacin: depende de la conductividad
elctrica de la muestra y de la punta.

FIN