DIFRACCION DE RAYOS X EN

DIAGRAMAS DE FASE
Eber Manuel Garca Rosales
Ulises
Carlos
Alacran

Los rayos x son ondas

electromagnticas producidas por la
desaceleracin de los electrones
cuando se detienen en un blanco. Los
rayos x son una radiacin de elevada
energa y pequea longitud de onda, la
cual se encuentra entre 10-8 y 10 -12
m.
Los rayos x fueron descubiertos
por Roentgen en 1895,
mientras trabajaba con un tubo
de rayos catdicos.

Es una tcnica que sirve para

determinar la estructura detallada de
un material, es decir, permite conocer
la posicin que ocupan los tomos,
iones o molculas que lo forman.
Debido a este ordenamiento podemos
determinar propiedades tanto fsicas
como qumicas de los materiales.

Uno de los ejemplos mas comunes

donde se aplica una concisa
caracterizacin de los materiales son
las dos cristalizaciones del carbono: el
grafito y el diamante, los cuales poseen
propiedades totalmente distintas pero
tienen la misma composicin qumica.

Se
denominadiagrama
de
faseodiagrama de estados
de
la
materia,
a
la
representacin
entre
diferentesestados
de
la
materia,
en
funcin
de
variables
elegidas
para
facilitar el estudio del mismo.

Existen varias tcnicas de difraccin de

rayos x .La difraccin de rayos X junto
con el anlisis trmico y la microscopa
son las tcnicas ms utilizadas para
establecer los diagramas de fase.

Ley de Bragg
Mtodo de Laue
Mtodo de Polvo o Debye-Scherrer

Los rayos-X son un tipo de radiacin

electromagntica que tiene una alta energa y
longitudes de onda muy cortas, las longitudes
de onda son del orden de espacios atmicos
de los slidos. Cuando un haz de rayos-X
incide sobre un material slido, una porcin
de este rayo se dispersar en todas las
direcciones por los electrones asociados a
cada tomo o in que est dentro del camino
del haz.
n =2dsin

Histricamente fue el primer mtodo.

Se utiliza un Policromatico de Rayos X
que incide sobre un cristal fijo y
perpendicularmente a este se sita una
placa fotogrfica plana encerrada en un
sobre a prueba de luz. El haz directo
produce un ennegrecimiento en el
centro de la pelcula y por lo tanto, se
pone un pequeo disco de plomo
delante
de
la
pelcula
para
interceptarlo y absorberlo.

En este mtodo la pelcula se coloca

detrs del cristal y se hacen pasar los
rayos x, el efecto
de las ondas dar como resultado una
elipse proyectada en la
placa fotogrfica.

Aqu se coloca la placa fotogrfica

delante
del cristal con un pequeo agujero,
cuando
las ondas atraviesan el cristal se
reflejan
hacia arriba y generan una especie de
parbola proyectada en la
placa fotogrfica.

En este mtodo se tiene que pulverizar de

una manera muy fina los cristales de la
muestra los cuales se mezclan con un
material amorfo para compactarlo y poder
obtener una buena reflexin de los rayos. El
mtodo consta de tener la placa fotogrfica
y en el centro la muestra del polvo
cristalino, cuando el efecto
del haz incide en el polvo,
los rayos se reflejan sobre
la placa fotogrfica.

Identificacin de sustancias cristalinas

desconocidas.
Anlisis cualitativo y cuantitativo de fases
cristalinas.
Caracterizacin y desarrollo de nuevos
materiales.
Control de calidad de materias primas y
productos finales.
Especiacin de arcillas.
Determinacin de transformaciones de fase.
Determinacin de parmetros estructurales.
Determinacin del grado de orden estructural.
Deteccin de imperfecciones cristalinas.

Ciencia e ingenieria de los materiales D.R

askelland.
Caracterizacion de materiales , libro de J. Albella.
Tecnicas de caracterizacion RPS, consultoria de
laboratorios S.L.
Estudio de la estructura y propiedades mecanicas.
Magnetron sputtering.
http://www.upct.es/~dimgc/webjoseperez/DOCEN
CIA_archivos/Aplicaciones_DRX_Apuntes_y_ejercici
os.pdf