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Metales y aleaciones
Cermicos, vidrios y vitrocermicos
Polmeros
Semiconductores
Materiales compuestos
Biomateriales
Ejemplos de
Aplicaciones
Propiedades
Se endurece bastante
con tratamiento
trmico
Cermicos y vidrios
Slice
ndice de refraccin,
bajas prdidas pticas
Polmeros
Polietileno
Empaque de alimentos
Se moldea con
facilidad en lminas
delgadas
Semiconductores
Silicio
Transistores y circuitos
integrados
Comportamiento
elctrico nico
Materiales
Compuestos
Grafito-resina epxica
Componentes de
aviones
Alta relacin de
resistencia a peso
Estructural
es
Aceros,
aleaciones
de aluminio,
concreto
plstico
reforzado
Aeroespaci
ales
Materiales
compuestos
C-C, silicio
amorfo
CLASIFICAC
IN DE LOS
MATERIALE
S
FUNCIONAL
ES
Inteligente
s
Aleaciones
de Ni-Ti con
memoria de
forma
pticos
SiO2, GaAs,
vidrios
Magnticos
Fe,
Fe-Si,
NiZn
y
ferritas entre
otros
Biomdicos
Hidroxiapatit
a, aleaciones
de
titanio,
aceros
inoxidables
Electrnico
s
Si, GaAS, Ge,
BaTiO3
Tecnologa
de energa
y ambiente
UO2, Ni-Cd
ENLAZAMIENTO ATMICO
Enlace
Enlace
Enlace
Enlace
metlico
covalente
inico
de van der Waals
alto
buena
Comparten
2003 Brooks/Cole Publishing / Thomson Learning
valencia
electrones
entre
dos
de
ms
tomos.
Los enlaces covalentes son muy
fuertes, por lo tanto materiales
con este tipo de enlaces son
muy duros, ej.: diamante
Altamente direccionales
Presentan ductilidad reducida.
unos
pueden
donar
sus
slidos
con
frecuencia
son
dipolar
inducido
Gases
Monoatmi
cos
No orden
Ej: Ar
Materiales
Amorfos
Solo orden de
Corto Alcance
Ej: Si amorfo,
vidrios, plsticos
Cristales
lquidos
Orden de Corto y
de largo Alcance
en pequeos
volmenes
Materiales
Cristalinos
Orden de
corto y largo
alcance
Cristales
Sencillos
Ej: Si, GaAs
Policristalin
os
Ej: metales,
aleaciones
SISTEMAS CRISTALINOS
Cbico, Tetragonal, Hexagonal,
Ortorrmbico,
Rombodrico,
Monoclnico, Triclnico
Existen 14 arreglos cristalinos,
Redes de Bravais
7
.
882
g
/
cm
(23.54 10 24 )(6.02 10 23 )
La densidad medida es 7.870 g/cm3. La pequea
discrepancia entre las densidades obedece a los
defectos presentes en el material.
PROPIEDADES DE LA ESTRUCTURA
CRISTALINA DE ALGUNOS METALES
TRANSFORMACIONES ALOTRPICAS O
POLIMORFAS
SOLUCION
El volumen de una celda unitaria BCC del hierro antes de
transformacin:
3
(0.046307 - 0.046934)
Cambio de volumen
100 1.34%
0.046934
El cubo de 1-cm3 se contrae 1 - 0.0134 = 0.9866 cm3 despus
de la transformacin; por lo tanto para asegurar una exactitud de 1%,
el instrumento debe detectar un cambio de:
V = (0.01)(0.0134) = 0.000134 cm3
DIRECCIONES EN LA CELDA
UNITARIA
Los ndices de Miller de las direcciones son la notacin
abreviada para describir esas direcciones. El procedimiento
para determinarlos es el siguiente:
Determinar las coordenadas de dos puntos que estn en la
direccin.
Restar las coordenadas del punto cola de las coordenadas
de las del punto cabeza.
Reducir a mnimos enteros.
Encerrar los nmeros entre corchetes [ ]. Si se produce un
signo negativo, se representa con una barra o raya sobre el
nmero.
SOLUCIN
Direccin A:
1. Dos puntos son 1,0,0 y 0,0,0.
2. 1,0,0 0,0,0 = 1,0,0.
3. No hay que reducir a mnimos enteros.
4. [100]
Direccin B:
1. Dos puntos son 1,1,1 y 0,0,0.
2. 1,1,1 0,0,0 = 1,1,1.
3. No hay que reducir a mnimos enteros.
4. [111]
SOLUCIN
Direccin C:
Dos puntos son 0,0,1 y , 1,0.
0,0,1 ,1,1 = -,-1,1.
2(-,-1,1) = -1,-2,2.
Conjunto
de
tomos
en
una
direccin
determinada.
Determinan
materiales
el
crecimiento
de
los
ciertos
SOLUCION
Plano A
1. x = 1, y = 1, z = 1
2. 1/x = 1, 1/y = 1,1 /z = 1
3. No hay fracciones para eliminar
4. (111)
Plano B
1. El plano no intercepta el eje z x = 1, y = 2, and z =
2. 1/x = 1, 1/y =1/2, 1/z = 0
3. Eliminando fracciones:
1/x = 2, 1/y = 1, 1/z = 0
4. (210)
Plano C
1. Se debe cambiar el origen, puesto que el plano pasa por 0, 0, 0. Entonces,
se mueve un parmetro de red en direccin y, x = , y = -1, and z =
2. 1/x = 0, 1/y = -1, 1/z = 0
3. No hay fracciones para eliminar.
4. (0 1 0)
r 2
0.79
2
( 2r )
(a) direccin
siguientes
formulas,
un
sistema
de
tres
1
h (2h'k ' )
3
1
k (2k 'h' )
3
1
i (h' k ' )
3
l l'
Plane A
1. a1 = a2 = a3 = , c = 1
2. 1/a1 = 1/a2 = 1/a3 = 0, 1/c = 1
3. No hay fracciones que simplificar
4. (0001)
Plane B
1. a1 = 1, a2 = 1, a3 = -1/2, c = 1
2. 1/a1 = 1, 1/a2 = 1, 1/a3 = -2, 1/c = 1
3. No hay fracciones que simplificar
(1121)
4.
Direccin C
1. Los dos puntos son 0, 0, 1 and 1, 0, 0.
2. 0, 0, 1, - 1, 0, 0 = -1, 0, 1
3. No hay fracciones que eliminar ni enteros que reducir
4. [101] _ _[2113]
Direccin D
1. Los dos puntos son 0, 1, 0 and 1, 0, 0.
2. 0, 1, 0, -1, 0, 0 = -1, 1, 0
3. No hay fracciones que eliminar ni enteros que reducir
4. [110] _ _[1100]
Sitios
Octadricos
Sitios
Tetradricos
FCC
BCC
12
La relacin de radios en
este caso es de 0.536,
por lo tanto para cumplir
con el equilibrio de cargas
y la relacin de radios,
cada anin y catin debe
tener un nmero de
coordinacin de seis, la
estructura
que
cubre
estas condiciones es la
FCC, con los tomos de
Na+ ubicados en los sitios
octadricos.
DIFRACCIN DE RAYOS X
Cuando un haz de rayos X de una longitud de onda
especifica del mismo orden de magnitud de las
distancias interatmicas del material llega a este
Ley de Bragg:
sen
2d hkl
INTERACCIONES DESTRUCTIVA Y
CONSTRUCTIVA ENTRE LOS RAYOS X Y EL
MATERIAL CRISTALINO
SOLUCIN
puntuales,
lineales
Defectos puntuales: (a) vacancia, (b) tomo intersticial, (c) sustitucional con tomo
pequeo, (d) sustitucional con tomo grande, (e) defecto de Frenkel , (f) Defecto de
Schottky.
VACANCIAS
Se produce cuando falta un tomo o in en su sitio
normal de la estructura cristalina.
Todos los elementos cristalinos presenta este tipo de
defecto.
Q
n n exp
RT
SUSTITUCIONAL
Se presenta cuando un tomo o in es sustituido con un tipo distinto
de tomo o ion.
INTERSTICIAL
Se presenta cuando un tomo idntico a los
puntos normales de red est en una posicin
intersticial.
Este defecto se presenta en estructuras
cristalinas con bajo factor de empaquetamiento
FRENKEL
O par de Frenkel se presenta un par
vacancia-intersticial, formada cuando un
ion salta de un punto normal de red a uno
intersticial y deja atrs una vacancia.
SCHOTTKY
Exclusivo de materiales inicos. Se
presenta un par vacancial, manteniendo
la neutralidad elctrica.
DISLOCACIONES
Son imperfecciones lineales de un cristal, las cuales aparecen
durante la solidificacin del material o cuando este se deforma
permanentemente
En todos los materiales, incluyendo cermicos y polmeros, hay
dislocaciones. Los metales las poseen en un orden de 10 6 a 109
Las dislocaciones son tiles para explicar la deformacin y
endurecimiento de los materiales metlicos. Se mueven en
planos y direcciones de deslizamiento
Las dislocaciones se pueden clasificar
(helicoidal), de borde (escaln) y mixta
en:
de
tornillo
DISLOCACIN DE TORNILLO
DISLOCACIN DE BORDE
Este tipo de dislocacin se puede observar como: imaginar un
cristal perfecto, el cual se abre y en el punto de corte se llena
con un plano adicional de tomos. Su orilla inferior representa
este tipo de dislocacin.
DISLOCACION MVIL
CRISTAL
SISTEMA DE
DESLIZAMIE
NTO
Vector de
Burgers
Plano de
Deslizamie
nto
FCC
[110] (111)
a/2[110]
(111)
FCC
[111] (110)
a/2[111]
(110)
FCC
[111] (211)
a/2[111]
(211)
FCC
[111] (321)
a/2[111]
(321)
HCP
(0001)
a/3
HCP
a/3
HCP
a/3
(0001)
DISLOCACIN MIXTA
Este tipo de dislocacin tiene componentes de borde y de
tornillo, con una regin de transicin entre ellas.
Al aplicarse un esfuerzo
cortante:
a)Los tomos se desplazan
y hacen que la dislocacin
se mueva un vector b
b)El movimiento continuo de
la dislocacin crea un
escaln final
c)El cristal queda deformado
Fr=F cos
r = cos cos
r = Fr / A =
donde:
deslizamiento
= F / A0 =
Son los lmites o los planos que separan un material en regiones; cada regin
tiene la misma estructura cristalina, pero de distinta orientacin.
SUPERFICIE DEL MATERIAL
Lmites de grano: es la superficie que separa dos o mas granos individuales. En
estas zonas los tomos no tienen las distancias correctas. En ciertas posiciones
pueden estar generando fuerzas de compresin y en otras de tensin.
Grano: porcin de material dentro de la cual el arreglo de los tomos es casi
idntico. Pero la orientacin de los tomos o estructura cristalina es diferente en
cada grano vecino.
N 2
n 1
aumento
N
X
100
FALLAS DE APILAMIENTO
Estas fallas, son un error en la secuencia de apilamiento, especialmente en los
planos con empaquetamiento compacto
LMITES DE MACLA
Es un plano a travs del cual hay una desorientacin especial de imagen
especular de la estructura cristalina
Las maclas pueden producirse cuando una fuerza cortante, que acta a lo largo
del lmite de macla, hace que los tomos se desplacen de su posicin.