Espectrometra de Rayos

Cristalografa de Rayos X

Conjunto de tcnicas para la determinacin de estructura cristalogrfica de

materiales mediante excitaciones de rayos X.

Cristalografa de Rayos X

Tcnica experimental basada en la difraccin de Rayos X en slidos con algn

tipo de estructura cristalina.

Los electrones de la muestra difractan los rayos X incidentes, ya que tiene

longitudes de onda similares a las de los radios de los tomos.

Los rayos X pueden ser generados por sincrotrones o tubos de rayos X.

Los rayos X emergentes de la muestra, llevan informacin de posiciones y tipos

de tomos presentes en la muestra.

Cristalografa de Rayos X

Cuando la muestra es cristalina,

elsticamente los rayos X.

gracias

su

periodicidad,

dispersan

La amplificacin de ciertos haces de rayos X se da por el fenmeno de

interferencia constructiva en algunas direcciones preferenciales y originan un
patrn de difraccin caracterstico de molculas y tomos.

Von Laue fue el primero en experimentar con difracciones de Rayos X, y su

trabajo fue seguido por William Henry Bragg y William Laurence Bragg. difracta
en el cristal segn la ley de Bragg, quedando el ngulo en funcin de la longitud
de onda.

Se pude estudiar una serie de compuestos y materiales diversos, desde

componentes celulares hasta muestras inorgnicos.

En muestras cristalinas permite medir la posicin de los tomos y en muestras

policristalinas o texturadas permite medir parmetros asociados a las redes
cristalinas, como la distancia entre planos cristalogrficos.

Ley de Bragg

La reflexin en los planos cristalogrficos de la muestra puede ser constructiva o

destructiva.

La difraccin en una direccin dada se debe a la relacin entre las fases de las
ondas reflejadas por cada celda unidad del cristal en esa direccin.

Los rayos que han atravesado distintos puntos del cristal siguen distintos
caminos pticos, lo que genera diferencias en la intensidad del rayo resultante
reflejado.

Cuando la diferencia es de 180, las ondas se anulan entre s. Cuando estn en

fase, la amplitud de la onda final emergente ser la suma de las intensidades de

Ley de Bragg

Para que se de una interferencia constructiva, es necesario que la diferencia de

caminos pticos sea un mltiplo entero de la longitud de onda.

La difraccin en una direccin dada se debe a la relacin entre las fases de las
ondas reflejadas por cada celda unidad del cristal en esa direccin.

La diferencia de caminos entre dos haces difractados en planos separados por

una distancia d, es 2dsin.

Ley de Bragg: 2dsin = n

Limitaciones de la cristalografa de Rayos

X

Es efectiva solamente cuando hay parmetros asociados a cristalinidades

(periodicidades de algn tipo en la red atmica).

Fuentes de Rayos X

Tubos de rayos X: Se aplica un voltaje para acelerar un haz de electrones

producido por un filamento (tpicamente wolframio) que hace de ctodo. Los
electrones generados colisionan con un metal (nodo) y al desacelerarse emiten
una radiacin de Bremsstrahlung de espectro continuo.

El nodo absorbe ciertas longitudes de onda caractersticas del metal y emite

rayos X de esa longitud. En cobre, tpicamente de 1.5405 . El resto de la
radiacin es absorbida por algn otro metal que sea transparente a la
radiacin del primer metal. Para el cobre, tpicamente se utiliza nquel.

Los tubos de Rayos X son relativamente econmicos y se utilizan in-situ en los

laboratorios.

Fuentes de Rayos X

Radiacin de sincrotrn: Se aceleran electrones a velocidades cercanas a la de la

luz y son desviados por un campo magntico.

Esta radiacin es de espectro continuo y es necesario utilizar un monocromador.

Los rayos X de sincrotrn son mucho ms intensos que los de los tubos de rayos
X.

Son necesarios para mejorar la calidad de la difraccin en cristales muy

pequeos o compuestos de tomos ligeros que interactan dbilmente con los
Rayos X.

Detectores de Rayos X

Pelcula fotogrfica.

Contador proporcional o detector de centelleo.

Placas de imagen, recubiertas con un material fosforescente.

Detectores electrnicos de rea.

Cmaras de ionizacin acopladas a cmaras CCD.

Fotodiodos alineados PAD (Pixel Array Detectors)

Espectrometra de emisin de Rayos X

(fluorescencia de rayos x)

En un material, los rayos X pueden sufrir una prdida de energa en comparacin con el
haz de luz que entra. Esta prdida de energa del haz re-emergente refleja una excitacin
interna del sistema atmico, de forma anloga a la conocidaespectrometra Ramanque se
utiliza ampliamente en la regin ptica.

En la regin de los rayos X hay suficiente energa para producir cambios en el estado
electrnico (transiciones entre orbitales, lo que contrasta con la regin ptica, donde la
prdida de energa es a menudo debida a los cambios en el estado de rotacin o los grados
de libertad vibracionales). Por ejemplo, en la regin ultraligera de los rayos X (por debajo
de aproximadamente 1 k eV), las excitaciones de los campos cristalinos dan lugar a la
prdida de energa.

Espectrometra de emisin de Rayos X

(fluorescencia de rayos x)

Podemos pensar en el proceso fotn-dentro-fotn-fuera como un evento de dispersin.

Cuando la energa del rayo X corresponde a la energa de enlace de un nivel electrnico
bsico, este proceso de dispersin potencia su resonancia en muchos rdenes de
magnitud. Este tipo de espectrometra de emisin de rayos X se conoce a menudo como
dispersin inelstica resonante de rayos X (RIXS).

Debido a la amplia separacin de energas orbitales de los niveles bsicos, es posible

seleccionar un determinado tomo de inters. As, se puede obtener informacin valiosa
sobre la estructura electrnica local de sistemas complejos, y los clculos tericos son
relativamente sencillos de realizar.

MUCHAS GRACIAS !!!